KR20220095186A - Resin composition, resin film, laminate, coverlay film, copper foil containing resin, metal clad laminate and circuit board - Google Patents

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KR20220095186A
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요시토 나카지마
요시키 스토
고타 가키사카
뎃페이 니시야마
히로유키 데아이
무쓰히토 다나카
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닛테츠 케미컬 앤드 머티리얼 가부시키가이샤
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Abstract

(A) 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 열가소성 수지와, (B) 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상을 함유하는 수지조성물.(A) Diamine containing 40 mol% or more of a dimer diamine composition comprising a tetracarboxylic anhydride component and a dimer diamine in which two terminal carboxylic acid groups of the dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component A resin composition comprising a thermoplastic resin containing a structural unit derived from a component, and (B) at least one selected from aromatic condensed phosphate ester, silica particles, or liquid crystalline polymer filler.

Description

수지조성물, 수지필름, 적층체, 커버레이 필름, 수지 함유 동박, 금속박적층판 및 회로기판Resin composition, resin film, laminate, coverlay film, copper foil containing resin, metal clad laminate and circuit board

본 발명은, 프린트 배선판 등의 회로기판에 있어서 접착제로서 유용한 수지조성물, 이것을 사용하는 수지필름, 적층체, 커버레이 필름, 수지 함유 동박, 금속박적층판 및 회로기판에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition useful as an adhesive in a circuit board such as a printed wiring board, a resin film, a laminate, a coverlay film, a resin-containing copper foil, a metal clad laminate, and a circuit board using the same.

최근에 전자기기의 소형화, 경량화, 공간절약화(空間節約化)의 진전에 따라, 얇고 경량이며 가요성(可撓性)을 가지고, 굴곡을 반복해도 우수한 내구성(耐久性)을 가지는 플렉시블 프린트 배선판(FPC;Flexible Printed Circuits)의 수요가 증가하고 있다. FPC는, 한정된 스페이스에서도 입체적이고 또한 고밀도의 실장(實裝)이 가능하기 때문에, 예를 들면 HDD, DVD, 휴대전화 등의 전자기기의 가동부분(可動部分)의 배선이나, 케이블, 커넥터 등의 부품으로 그 용도가 확대되고 있다.In recent years, with the progress of miniaturization, weight reduction, and space saving of electronic devices, a flexible printed wiring board that is thin, lightweight, flexible, and has excellent durability even after repeated bending. The demand for flexible printed circuits (FPCs) is increasing. Since the FPC can be mounted in a three-dimensional and high-density manner even in a limited space, for example, wiring of movable parts of electronic devices such as HDDs, DVDs, and mobile phones, cables, connectors, etc. Its use is expanding to parts.

상기한 고밀도화에 더하여, 기기의 고성능화가 진행됨으로써 전송신호의 고주파화에 대한 대응도 필요해지고 있다. 정보처리나 정보통신에 있어서는, 대용량 정보를 전송·처리하기 위해서 전송 주파수를 높게 하는 것들이 이루어지고 있어, 인쇄기판재료에는 절연층의 박화(薄化)와 절연층의 유전특성(誘電特性)의 개선에 의한 전송손실의 저하가 요구되고 있다. 금후에는, 고주파화에 대응하는 FPC나 접착제가 요구되어, 전송손실의 감소가 중요하게 된다.In addition to the above-mentioned densification, as the performance of equipment progresses, it is also necessary to cope with the increase in the frequency of transmission signals. In information processing and information communication, in order to transmit and process large-capacity information, the transmission frequency is increased, and in the printed circuit board material, thinning of the insulating layer and improvement of the dielectric properties of the insulating layer are made. A reduction in transmission loss is required. In the future, FPCs and adhesives corresponding to higher frequencies are required, and reduction of transmission loss becomes important.

예를 들면 5G 전송의 하나인 밀리파 전송(millimeter波 傳送)에서는, 안테나와 기판을 연결하는 FPC에 밀리파가 직접 흐르는 직접변환방식이 검토되고 있다. 밀리파대는 종래의 통신 주파수보다 주파수가 더 높아, 전송손실에 있어서의 유전손실이 더 커지게 되기 때문에, 절연수지층의 유전특성의 개선이 보다 중요하게 된다. 회로기판의 절연수지층의 유전특성을 개선하는 기술로서, 열가소성 수지 또는 열경화성 수지에 액정성 폴리머 입자를 배합하는 것이 제안되어 있다(특허문헌1). 다만, 특허문헌1은 에폭시 수지 이외의 실시예가 없고, 열가소성 수지에 대하여는 상세한 검토가 되어 있지 않다. 또한 회로기판의 절연수지층으로서 사용하는 폴리이미드계 수지에 실리카 입자를 배합함으로써, 열팽창계수와 비유전율의 감소를 도모하는 것이 제안되어 있다(특허문헌2, 특허문헌3).For example, in millimeter wave transmission, which is one of 5G transmission, a direct conversion method in which millimeter waves directly flow to the FPC connecting the antenna and the substrate is being considered. Since the milli-wave band has a higher frequency than the conventional communication frequency, and the dielectric loss in transmission loss becomes larger, improvement of the dielectric properties of the insulating resin layer becomes more important. As a technique for improving the dielectric properties of the insulating resin layer of a circuit board, it has been proposed to mix liquid crystalline polymer particles with a thermoplastic resin or a thermosetting resin (Patent Document 1). However, in Patent Document 1, there are no examples other than the epoxy resin, and detailed examination of the thermoplastic resin has not been made. Further, it has been proposed to reduce the coefficient of thermal expansion and the relative dielectric constant by blending silica particles with a polyimide-based resin used as an insulating resin layer of a circuit board (Patent Document 2, Patent Document 3).

그런데 폴리이미드를 주성분으로 하는 접착층에 관한 기술로서, 다이머산(이량체 지방산(二量體 脂肪酸)) 등의 지방족 디아민으로부터 유도되는 디아민 화합물을 원료로 하는 폴리이미드와, 적어도 2개의 제1급 아미노기를 관능기로서 구비하는 아미노 화합물을 반응시켜 얻어지는 가교 폴리이미드 수지를, 커버레이 필름의 접착제층에 적용하는 것이 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌4). 또한 이러한 폴리이미드와 에폭시 수지 등의 열경화성 수지와 가교제를 병용한 수지조성물을 동박적층판에 적용하는 것이 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌5). 또한 다이머산형 디아민을 사용한 폴리이미드에 유기 포스핀산의 금속염을 배합함으로써, 저유전정접(低誘電正接)과 난연성(難燃性)을 양립시키는 것도 제안되어 있다(특허문헌6). 그러나 특허문헌4∼6에서는, 원료에 포함되는 다이머산으로부터 유도되는 다이머디아민 이외의 부생성물(副生成物)의 영향에 대하여는, 조금도 고려하고 있지 않다.By the way, as a technology related to an adhesive layer containing polyimide as a main component, a polyimide using a diamine compound derived from an aliphatic diamine such as dimer acid (dimer fatty acid) as a raw material, and at least two primary amino groups It has been proposed to apply a crosslinked polyimide resin obtained by reacting an amino compound having as a functional group to an adhesive layer of a coverlay film (for example, Patent Document 4). Also, it has been proposed to apply a resin composition in which a thermosetting resin such as a polyimide and an epoxy resin and a crosslinking agent are used together to a copper clad laminate (for example, Patent Document 5). Moreover, it is also proposed to make a low dielectric loss tangent and a flame retardance compatible by mix|blending the metal salt of organic phosphinic acid with the polyimide using dimer acid type diamine (patent document 6). However, in Patent Documents 4 to 6, the influence of by-products other than dimerdiamine derived from the dimer acid contained in the raw material is not considered at all.

다이머산은, 예를 들면 대두유 지방산, 톨유 지방산, 채종유 지방산 등의 천연 지방산 및 이들을 정제한 올레인산, 리놀레산, 리놀렌산, 에루크산 등을 원료로 사용하여 디엘스-앨더 반응(Diels-Alder reaction)을 시켜서 얻어지는 이량체화 지방산이고, 다이머산으로부터 유도되는 다염기산 화합물은, 원료인 지방산이나 삼량체화 이상의 지방산의 조성물로서 얻어지는 것이 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌7).Dimer acid is obtained by, for example, a Diels-Alder reaction using natural fatty acids such as soybean oil fatty acid, tall oil fatty acid, rapeseed oil fatty acid, and purified oleic acid, linoleic acid, linolenic acid, erucic acid, etc. It is the dimerized fatty acid obtained, and it is known that the polybasic acid compound derived from a dimer acid is obtained as a composition of the fatty acid which is a raw material, or the fatty acid more than trimerization (for example, patent document 7).

특허문헌1 : 일본국 특허 제6295013호 공보Patent Document 1: Japanese Patent No. 6295013 Publication 특허문헌2 : 일본국 공개특허 특개2001-185853호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open No. 2001-185853 특허문헌3 : 일본국 공개특허 특개2018-012747호 공보Patent Document 3: Japanese Patent Laid-Open No. 2018-012747 특허문헌4 : 일본국 공개특허 특개2013-1730호 공보Patent Document 4: Japanese Patent Laid-Open No. 2013-1730 특허문헌5 : 일본국 공개특허 특개2017-119361호 공보Patent Document 5: Japanese Patent Laid-Open No. 2017-119361 특허문헌6 : 일본국 특허 제6267509호 공보Patent Document 6: Japanese Patent No. 6267509 특허문헌7 : 일본국 공개특허 특개2017-137375호 공보Patent Document 7: Japanese Patent Laid-Open No. 2017-137375

다이머디아민 등의 지방족 디아민 화합물을 원료로 하는 폴리이미드 등의 열가소성 수지(이하, 「지방족계 열가소성 수지」라고 기재하는 경우가 있다)는 난연성에 개선의 여지가 있지만, 낮은 유전정접(誘電正接)과 가요성을 구비하고 있고, 또한 이것을 가교(架橋)시킨 수지는 내열성과 접착성을 병유(倂有)하는 재료이다. 이것으로부터 지방족계 열가소성 수지는, 5G 통신의 보급에 의하여 사용량이 증가하고 있는 고속전송 FPC 용도의 재료로서 기대된다. 한편, FPC에 흐르는 신호의 주파수는 금후 더 높아지리라고 예상되기 때문에, 지방족계 열가소성 수지를 기초로 하고 더욱 양호한 유전특성을 가지는 재료가 요구되고 있다.Thermoplastic resins such as polyimide using aliphatic diamine compounds such as dimerdiamine as raw materials (hereinafter, may be referred to as "aliphatic thermoplastic resin") have room for improvement in flame retardancy, but have low dielectric loss tangent and The resin which is provided with flexibility and crosslinked this is a material which has heat resistance and adhesiveness at the same time. From this, the aliphatic thermoplastic resin is expected as a material for high-speed transmission FPC applications whose usage is increasing due to the spread of 5G communication. On the other hand, since the frequency of the signal flowing through the FPC is expected to become higher in the future, a material based on an aliphatic thermoplastic resin and having better dielectric properties is required.

또한 폴리이미드를 주성분으로 하는 수지의 물성을 제어하는 수단으로서, 폴리이미드의 전구체(前驅體)인 폴리아미드산 또는 폴리이미드의 분자량을 제어하는 것이 중요하다. 그러나 다이머디아민을 원료로서 적용하는 경우에, 다이머산으로부터 유도되는 다이머디아민 이외의 부생성물을 포함한 상태로 사용된다. 이러한 부생성물은, 폴리이미드의 분자량의 제어를 곤란하게 하는 것 이외에, 광역(廣域)의 주파수에서의 유전특성이나 그 습도의존성(濕度依存性)에 영향을 끼친다.In addition, as a means of controlling the physical properties of a resin containing polyimide as a main component, it is important to control the molecular weight of polyamic acid or polyimide, which is a precursor of polyimide. However, in the case of applying dimerdiamine as a raw material, it is used in a state including by-products other than dimerdiamine derived from dimer acid. These by-products not only make it difficult to control the molecular weight of polyimide, but also affect the dielectric properties in a wide frequency range and its humidity dependence.

따라서 본 발명의 제1목적은, 지방족계 열가소성 수지의 유전특성을 더 개선함으로써, 전자기기의 고주파화에 대한 대응이 가능한 수지조성물 및 수지필름을 제공하는 것에 있다. 또한 본 발명의 제2목적은, 다이머디아민을 원료로서 사용하면서, 유전특성의 개선에 의하여 전자기기의 고주파화에 대한 대응이 가능한 수지조성물 및 수지필름을 제공하는 것에 있다.Accordingly, a first object of the present invention is to provide a resin composition and a resin film capable of responding to the high frequency of electronic devices by further improving the dielectric properties of the aliphatic thermoplastic resin. A second object of the present invention is to provide a resin composition and a resin film capable of responding to the high frequency of electronic devices by improving dielectric properties while using dimerdiamine as a raw material.

본 발명의 수지조성물은, 하기 (A)성분 및 (B)성분;The resin composition of this invention is following (A) component and (B) component;

(A) 전체 디아민 성분에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 열가소성 수지, 및(A) A structure derived from a diamine component containing 40 mol% or more of a dimerdiamine composition containing as a main component dimerdiamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component a thermoplastic resin containing units, and

(B) 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상(B) at least one selected from aromatic condensed phosphate esters, silica particles, or liquid crystalline polymer fillers

을 함유한다.contains

본 발명의 수지조성물은, 상기 (A)성분이, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 상기 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 이루어지는 폴리이미드이어도 좋고, 또한 상기 (B)성분이 상기 방향족 축합 인산에스테르이어도 좋다. 이 경우에 있어서, 상기 (A)성분에 대한 상기 (B)성분의 중량비가 0.05∼0.7의 범위내여도 좋고, 바람직하게는 0.2∼0.5의 범위내여도 좋다. 또한 상기 (A)성분에 대한 상기 (B)성분의 방향족 축합 인산에스테르에서 유래하는 인의 중량비가 0.01∼0.1의 범위내여도 좋다. 또한 상기 (A)성분 중의 다이머디아민 조성물에 대한 상기 (B)성분의 방향족 축합 인산에스테르에서 유래하는 인의 중량비가 0.01∼0.15의 범위내여도 좋다.The resin composition of the present invention may be a polyimide in which the component (A) is made by reacting a tetracarboxylic acid anhydride component with a diamine component containing 40 mol% or more of the dimer diamine composition with respect to the total diamine components. B) The said aromatic condensed phosphoric acid ester may be sufficient as a component. In this case, the weight ratio of the said (B) component with respect to the said (A) component may exist in the range of 0.05-0.7, Preferably it may exist in the range of 0.2-0.5. Moreover, the weight ratio of the phosphorus derived from the aromatic condensed phosphate ester of the said (B) component with respect to the said (A) component may exist in the range of 0.01-0.1. Moreover, the weight ratio of the phosphorus derived from the aromatic condensed phosphate ester of the said (B) component with respect to the dimerdiamine composition in the said (A) component may exist in the range of 0.01-0.15.

본 발명의 수지조성물은, 적어도 2개의 제1급 아미노기를 관능기로서 구비하는 아미노 화합물을 더 함유하는 것이어도 좋다.The resin composition of the present invention may further contain an amino compound having at least two primary amino groups as functional groups.

본 발명의 수지조성물은, 상기 (A)성분이, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 상기 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 이루어지는 폴리아미드산 또는 폴리이미드이어도 좋고, 또한 상기 (B)성분이 크리스토발라이트 결정상 혹은 석영 결정상을 구비하는 실리카 입자이어도 좋다. 이 경우에 있어서, 상기 (B)성분이, 상기 (A)성분(다만, 폴리아미드산은 이미드화된 폴리이미드로 환산한다) 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 5∼60중량%의 범위내여도 좋다. 또한 상기 (B)성분의 실리카 입자는, CuKα선에 의한 X선 회절분석 스펙트럼의 2θ=10°∼90°의 범위에 있어서의 SiO2에서 유래하는 전체 피크의 총면적에 대한 크리스토발라이트 결정상 및 석영 결정상에서 유래하는 피크의 합계면적의 비율이 20중량% 이상이어도 좋다. 또한 상기 (B)성분의 실리카 입자는, 레이저 회절 산란법에 의한 부피기준의 입도분포측정에 의하여 얻은 빈도분포곡선에 있어서의 누적값이 50%가 되는 평균입자지름D50이 6∼20㎛의 범위내여도 좋다.In the resin composition of the present invention, the component (A) may be a polyamic acid or polyimide obtained by reacting a tetracarboxylic acid anhydride component with a diamine component containing 40 mol% or more of the dimer diamine composition with respect to all diamine components. Moreover, the silica particle provided with a cristobalite crystal phase or a quartz crystal phase may be sufficient as said (B) component. In this case, the said (B) component is within the range of 5 to 60 weight% with respect to the total of the said (A) component (however, polyamic acid is converted into imidated polyimide) and the said (B) component. it's good too Moreover, the silica particle of the said (B) component is a cristobalite crystal phase and a quartz crystal phase with respect to the total area of all the peaks derived from SiO2 in the range of 2θ=10° to 90° of the X-ray diffraction spectrum by CuKα ray. The ratio of the total area of the derived peaks may be 20 weight% or more. In addition, the silica particles of the component (B) have an average particle diameter D 50 of 6 to 20 μm, at which the cumulative value in the frequency distribution curve obtained by volume-based particle size distribution measurement by the laser diffraction scattering method is 50%. It may be within the range.

본 발명의 수지조성물은, 상기 (A)성분이, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 상기 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 이루어지는 폴리이미드이어도 좋고, 또한 상기 (B)성분이 상기 액정성 고분자 필러이어도 좋다. 이 경우에 있어서, 상기 (B)성분이, 상기 (A)성분 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 15∼50부피%의 범위내여도 좋다. 또한 상기 (A)성분의 10GHz에서의 유전정접을 Dfa, 상기 (B)성분의 액정성 고분자 필러의 10GHz에서의 유전정접을 Dfb라고 할 때에, Dfb가 0.0019 미만이어도 좋고, Dfa>Dfb이어도 좋다. 또한 상기 수지조성물의 불휘발성 유기화합물 성분 100중량%에 대하여, 인계 난연제가 15∼30중량% 더 첨가되어 있어도 좋다.The resin composition of the present invention may be a polyimide in which the component (A) is made by reacting a tetracarboxylic acid anhydride component with a diamine component containing 40 mol% or more of the dimer diamine composition with respect to the total diamine components. B) The component may be the liquid crystalline polymer filler. In this case, the said (B) component may exist in the range of 15-50 volume% with respect to the sum total of the said (A) component and the said (B) component. Further, when the dielectric loss tangent at 10 GHz of the component (A) is Dfa, and the dielectric loss tangent at 10 GHz of the liquid crystalline polymer filler of the component (B) is Dfb, Dfb may be less than 0.0019, and Dfa > Dfb. In addition, with respect to 100% by weight of the nonvolatile organic compound component of the resin composition, 15 to 30% by weight of a phosphorus-based flame retardant may be further added.

본 발명의 수지조성물에 있어서, 상기 성분(A)는, 상기 테트라카르복시산무수물 성분 100몰부에 대하여, 하기의 일반식(1) 및/또는 (2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물을 합계 90몰부 이상 함유하여도 좋다.In the resin composition of the present invention, the component (A) contains 90 mole parts or more in total of tetracarboxylic acid anhydride represented by the following general formulas (1) and/or (2) with respect to 100 mole parts of the tetracarboxylic acid anhydride component, also good

[화학식 1][Formula 1]

Figure pct00001
Figure pct00001

일반식(1)에서, X는, 단결합 또는 하기 식에서 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식(2)에서, Y로 나타내는 환상 부분은, 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환에서 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타낸다.In the general formula (1), X represents a single bond or a divalent group selected from the following formulae, and in the general formula (2), the cyclic moiety represented by Y is a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring or an 8-membered ring. indicates that a cyclic saturated hydrocarbon group selected from

[화학식 2][Formula 2]

Figure pct00002
Figure pct00002

상기 식에 있어서, Z는 ―C6H4-, ―(CH2)n― 또는 ―CH2―CH(―O―C(=O)―CH3)―CH2―를 나타내고, n은 1∼20의 정수를 나타낸다.In the above formula, Z represents —C 6 H 4 —, —(CH 2 )n— or —CH 2 —CH(—O—C(=O)—CH 3 )—CH 2 —, and n is 1 An integer of -20 is represented.

본 발명의 수지필름은, 열가소성 수지층을 포함하는 수지필름으로서, 하기 (A)성분 및 (B)성분;The resin film of the present invention is a resin film comprising a thermoplastic resin layer, the following (A) component and (B) component;

(A) 전체 디아민 성분에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 열가소성 수지, 및(A) A structure derived from a diamine component containing 40 mol% or more of a dimerdiamine composition containing as a main component dimerdiamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component a thermoplastic resin containing units, and

(B) 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상(B) at least one selected from aromatic condensed phosphate esters, silica particles, or liquid crystalline polymer fillers

을 함유한다.contains

본 발명의 수지필름은, 두께가 15∼100㎛의 범위내여도 좋다.The resin film of the present invention may have a thickness in the range of 15 to 100 µm.

본 발명의 수지필름은, 상기 (B)성분이 크리스토발라이트 결정상 혹은 석영 결정상을 구비하는 실리카 입자로 이루어지는 것인 경우에, 그 함유량이 상기 (A)성분 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 3∼41부피%의 범위내여도 좋다.In the resin film of the present invention, when the component (B) consists of silica particles having a cristobalite crystal phase or a quartz crystal phase, the content thereof is 3 to the total of the component (A) and the component (B). You may exist in the range of 41 volume%.

본 발명의 수지필름은, 상기 (B)성분이 상기 액정성 고분자 필러로 이루어지는 경우에, 그 함유량이 상기 (A)성분 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 15∼40부피%의 범위내여도 좋다.In the resin film of the present invention, when the component (B) is composed of the liquid crystalline polymer filler, its content is within the range of 15 to 40% by volume based on the total of the component (A) and the component (B). good night.

본 발명의 적층체는, 기재와, 상기 기재의 적어도 일방의 면에 적층된 접착제층을 구비하고, 상기 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어진다.The laminate of the present invention includes a substrate and an adhesive layer laminated on at least one surface of the substrate, and the adhesive layer is made of the resin film.

본 발명의 커버레이 필름은, 커버레이용 필름재층과, 상기 커버레이용 필름재층에 적층된 접착제층을 구비하고, 상기 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어진다.The coverlay film of the present invention includes a film material layer for a coverlay and an adhesive layer laminated on the film material layer for the coverlay, and the adhesive layer consists of the resin film.

본 발명의 수지 함유 동박은, 접착제층과 동박을 적층시킨 것으로서, 상기 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어진다.In the resin-containing copper foil of the present invention, an adhesive layer and a copper foil are laminated, and the adhesive layer is made of the resin film.

본 발명의 금속박적층판은, 절연수지층과, 상기 절연수지층의 적어도 일방의 면에 적층된 금속층을 구비하고, 상기 절연수지층의 적어도 1층이 상기 수지필름으로 이루어진다.The metal clad laminate of the present invention includes an insulating resin layer and a metal layer laminated on at least one surface of the insulating resin layer, wherein at least one of the insulating resin layers is made of the resin film.

본 발명의 회로기판은, 상기 금속박적층판의 상기 금속층을 배선가공하여 이루어지는 것이다.The circuit board of the present invention is formed by wiring the metal layer of the metal clad laminate.

본 발명의 수지조성물은 (A)성분 및 (B)성분을 함유하고 있으므로, 이것을 사용하여 형성한 수지필름은, 다이머디아민에서 유래하는 우수한 유전특성 및 가요성을 가지고, 또한 (B)성분의 배합에 의하여 더 개선된 유전특성을 구비하고 있다. 따라서 본 발명의 수지조성물 및 수지필름은, 예를 들면 고속신호전송을 필요로 하는 전자기기에 있어서, FPC 등의 회로기판재료로서 특히 적합하게 사용할 수 있다.Since the resin composition of the present invention contains component (A) and component (B), a resin film formed using this has excellent dielectric properties and flexibility derived from dimerdiamine, and contains component (B) has improved dielectric properties. Therefore, the resin composition and the resin film of the present invention can be particularly suitably used as a material for circuit boards such as FPC in, for example, electronic devices requiring high-speed signal transmission.

이하, 본 발명의 실시형태에 대하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described.

본 발명의 1실시형태의 수지조성물은, 하기 (A)성분 및 (B)성분;The resin composition of 1 Embodiment of this invention is following (A) component and (B) component;

(A) 전체 디아민 성분에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 열가소성 수지, 및(A) A structure derived from a diamine component containing 40 mol% or more of a dimerdiamine composition containing as a main component dimerdiamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component a thermoplastic resin containing units, and

(B) 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상(B) at least one selected from aromatic condensed phosphate esters, silica particles, or liquid crystalline polymer fillers

을 함유한다.contains

[(A)성분;열가소성 수지][(A) component; thermoplastic resin]

(A)성분의 열가소성 수지라고 함은, 전체 디아민 성분에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 수지로서, 동적점탄성 측정장치(動的粘彈性 測定裝置)(DMA)를 사용하여 측정한 손실정접(tanδ)의 극대값이 200℃ 미만인 수지를 의미한다. 따라서 열가소성 수지로는, 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 원료로 하는 것으로서, 열가소성 폴리이미드, 그 전구체인 폴리아미드산, 열가소성 비스말레이미드 수지, 열가소성 에폭시 수지, 열가소성 폴리아미드 수지, 그들의 경화물 등을 들 수 있다. 이들 열가소성 수지는 2종 이상을 조합시켜 배합할 수 있다. 이들 열가소성 수지 중에서도, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 얻어지는 전구체인 폴리아미드산을 이미드화한 열가소성 폴리이미드(이하, 「DDA계 열가소성 폴리이미드」라고 하는 경우가 있다) 및 그 가교 경화물이 더 바람직하다.The thermoplastic resin of component (A) refers to a dimer diamine composition containing as a main component dimer diamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to all diamine components 40 mol% or more A resin containing a structural unit derived from a diamine component contained therein, the maximum value of the loss tangent (tanδ) measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA) means a resin of less than 200 ° C. . Therefore, as the thermoplastic resin, a diamine component containing 40 mol% or more of the dimerdiamine composition is used as a raw material, and a thermoplastic polyimide, a polyamic acid precursor thereof, a thermoplastic bismaleimide resin, a thermoplastic epoxy resin, a thermoplastic polyamide resin, their hardened|cured material etc. are mentioned. These thermoplastic resins can be mix|blended in combination of 2 or more type. Among these thermoplastic resins, the tetracarboxylic acid anhydride component and the dimer diamine composition containing as a main component a dimer diamine in which two terminal carboxylic acid groups of the dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component are 40 mol% or more. More preferable are a thermoplastic polyimide (hereinafter, sometimes referred to as "DDA-based thermoplastic polyimide") obtained by imidizing a polyamic acid, which is a precursor obtained by reacting a diamine component, and a crosslinked cured product thereof.

이하, 열가소성 수지의 대표적인 예로서 DDA계 열가소성 폴리이미드를 들어서 상세하게 설명한다.Hereinafter, as a representative example of a thermoplastic resin, a DDA-type thermoplastic polyimide is given and demonstrated in detail.

또한 「열가소성 폴리이미드」는, 일반적으로 글라스 전이온도(Tg)가 명확하게 확인될 수 있는 폴리이미드이지만, 본 발명에서는, 동적점탄성 측정장치(DMA)를 사용하여 측정한 30℃에서의 저장탄성률(貯藏彈性率)이 1.0×108Pa 이상이고, 300℃에서의 저장탄성률이 3.0×107Pa 미만인 폴리이미드를 말한다. 또한 「비열가소성 폴리이미드」는, 일반적으로 가열하여도 연화, 접착성을 나타내지 않는 폴리이미드이지만, 본 발명에서는, 동적점탄성 측정장치(DMA)를 사용하여 측정한 30℃에서의 저장탄성률이 1.0×109Pa 이상이고, 300℃에서의 저장탄성률이 3.0×108Pa 이상인 폴리이미드를 말한다.In addition, although "thermoplastic polyimide" is generally a polyimide whose glass transition temperature (Tg) can be clearly confirmed, in the present invention, the storage modulus at 30°C measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA) (貯藏彈性率) is 1.0×10 8 Pa or more, and refers to a polyimide having a storage modulus at 300° C. of less than 3.0×10 7 Pa. In addition, "non-thermoplastic polyimide" is generally a polyimide that does not show softening or adhesion even when heated, but in the present invention, the storage modulus at 30°C measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA) is 1.0× It is 10 9 Pa or more and refers to a polyimide having a storage modulus at 300°C of 3.0×10 8 Pa or more.

<DDA계 열가소성 폴리이미드><DDA-based thermoplastic polyimide>

DDA계 열가소성 폴리이미드는 지방족계의 열가소성 폴리이미드로서, 가요성이 풍부하고, 액정성 고분자 필러를 대량으로 첨가한 경우에도 충분한 인성(靭性)을 가지며, 수지필름을 형성한 경우에 그 형상을 유지하는 능력이 높다. 그 때문에, (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 함유율은 60중량% 이상인 것이 바람직하고, 70중량% 이상이 더 바람직하고, 80중량% 이상이 가장 바람직하다. (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 함유율이 60중량% 미만이면, 열가소성 수지의 인성이 저하되고, 수지필름을 형성하였을 때의 필름 유지성이 저하된다.DDA-based thermoplastic polyimide is an aliphatic thermoplastic polyimide, which is highly flexible, has sufficient toughness even when a large amount of liquid crystalline polymer filler is added, and maintains its shape when a resin film is formed. high ability to Therefore, it is preferable that 60 weight% or more is preferable, as for the content rate of the DDA-type thermoplastic polyimide in (A) component, 70 weight% or more is more preferable, and 80 weight% or more is the most preferable. (A) When the content rate of the DDA type|system|group thermoplastic polyimide in component is less than 60 weight%, the toughness of a thermoplastic resin will fall, and film retentivity at the time of forming a resin film will fall.

DDA계 열가소성 폴리이미드는, 원료인 테트라카르복시산무수물로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기 및 원료인 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 포함하고 있다. 원료인 테트라카르복시산무수물 및 디아민 화합물을 거의 등몰로 반응시킴으로써, 원료의 종류와 양에 대하여, DDA계 열가소성 폴리이미드 중에 포함되는 테트라카르복시산 잔기 및 디아민 잔기의 종류와 양을 거의 대응시킬 수 있다.The DDA-based thermoplastic polyimide contains a tetracarboxylic acid residue derived from tetracarboxylic acid anhydride as a raw material and a diamine residue derived from a diamine compound as a raw material. By reacting the raw material tetracarboxylic anhydride and the diamine compound in substantially equimolar amounts, the types and amounts of tetracarboxylic acid residues and diamine residues contained in the DDA-based thermoplastic polyimide can be substantially matched to the type and amount of the raw material.

(테트라카르복시산무수물 성분)(Tetracarboxylic acid anhydride component)

DDA계 열가소성 폴리이미드는, 원료로서 일반적으로 열가소성 폴리이미드에 사용되는 테트라카르복시산무수물을 특별한 제한 없이 사용할 수 있지만, 전체 테트라카르복시산무수물 성분에 대하여, 하기의 일반식(1) 및/또는 (2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물을 합계 90몰% 이상 함유하는 것이 바람직하다. 즉, DDA계 열가소성 폴리이미드는, 전체 테트라카르복시산 잔기 100몰부에 대하여, 하기의 일반식(1) 및/또는 (2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기를 합계 90몰부 이상 함유하는 것이 바람직하다. 하기의 일반식(1) 및/또는 (2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기를 테트라카르복시산 잔기 100몰부에 대하여 합계 90몰부 이상 함유시킴으로써, DDA계 열가소성 폴리이미드의 유연성과 내열성의 양립이 용이하므로 바람직하다. 하기의 일반식(1) 및/또는 (2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기의 합계가 90몰부 미만에서는, DDA계 열가소성 폴리이미드의 용제 용해성이 저하되는 경향이 있다.For the DDA-based thermoplastic polyimide, as a raw material, tetracarboxylic anhydride generally used for thermoplastic polyimide can be used without any particular limitation, but with respect to all tetracarboxylic acid anhydride components, the following general formulas (1) and/or (2) It is preferable to contain a total of 90 mol% or more of the tetracarboxylic anhydride shown. That is, the DDA-based thermoplastic polyimide contains 90 mole parts or more in total of tetracarboxylic acid residues derived from tetracarboxylic acid anhydrides represented by the following general formulas (1) and/or (2) with respect to 100 mole parts of total tetracarboxylic acid residues. desirable. Coexistence of flexibility and heat resistance of DDA-based thermoplastic polyimide by containing 90 mol parts or more in total with respect to 100 mol parts of tetracarboxylic acid residues derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by the following general formulas (1) and/or (2) This is preferable because it is easy. When the total amount of tetracarboxylic acid residues derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by the following general formulas (1) and/or (2) is less than 90 mol parts, the solvent solubility of the DDA-based thermoplastic polyimide tends to decrease.

[화학식 3][Formula 3]

Figure pct00003
Figure pct00003

일반식(1)에서, X는, 단결합 또는 하기 식에서 선택되는 2가(價)의 기를 나타내고, 일반식(2)에서, Y로 나타내는 환상 부분은, 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환에서 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있는 것을 나타낸다.In the general formula (1), X represents a single bond or a divalent group selected from the following formula, and in the general formula (2), the cyclic moiety represented by Y is a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, or 7 It represents that a cyclic saturated hydrocarbon group selected from a membered ring or an 8 membered ring is formed.

[화학식 4][Formula 4]

Figure pct00004
Figure pct00004

상기 식에 있어서, Z는 ―C6H4―, ―(CH2)n― 또는 ―CH2―CH(―O―C(=O)―CH3)―CH2―를 나타내고, n은 1∼20의 정수를 나타낸다.In the above formula, Z represents —C 6 H 4 —, —(CH 2 )n— or —CH 2 —CH(—O—C(=O)—CH 3 )—CH 2 —, and n is 1 An integer of -20 is represented.

상기 일반식(1)로 나타내는 테트라카르복시산무수물로서는, 예를 들면 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복시산이무수물(BPDA), 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복시산이무수물(BTDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복시산이무수물(DSDA), 4,4'-옥시디프탈산무수물(ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산무수물(6FDA), 2,2-비스〔4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐〕프로판이무수물(BPADA), p-페닐렌비스(트리멜리트산모노에스테르산무수물)(TAHQ), 에틸렌글리콜비스안히드로트리멜리테이트(TMEG) 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 특히 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복시산이무수물(BTDA)이 바람직하다. BTDA를 사용하는 경우에는, 카르보닐기(케톤기)가 접착성을 부여하기 때문에 (B)성분으로서 액정성 고분자 필러를 첨가하였을 때의 박리강도의 저하를 억제하여, DDA계 열가소성 폴리이미드의 접착성을 향상시킬 수 있다. 또한 BTDA는 분자골격에 존재하는 케톤기와, 후술하는 가교형성을 위한 아미노 화합물의 아미노기가 반응해서 C=N 결합을 형성하는 경우가 있어, 내열성을 향상시키는 효과가 발현되기 쉽다. 이러한 관점에서, 테트라카르복시산 잔기 100몰부에 대하여, BTDA로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기를 바람직하게는 50몰부 이상, 더 바람직하게는 60몰부 이상 함유하는 것이 좋다.Examples of the tetracarboxylic anhydride represented by the general formula (1) include 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA), 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride (BTDA), 3,3',4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride (DSDA), 4,4'-oxydiphthalic anhydride (ODPA), 4,4'-(hexafluoroiso Propylidene) diphthalic anhydride (6FDA), 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride (BPADA), p-phenylene bis (trimellitic acid monoester acid anhydride) ) (TAHQ), ethylene glycol bisanhydro trimellitate (TMEG), etc. are mentioned. Among these, 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) is especially preferable. In the case of using BTDA, since the carbonyl group (ketone group) provides adhesiveness, the decrease in peel strength when a liquid crystalline polymer filler is added as component (B) is suppressed, and the adhesiveness of the DDA-based thermoplastic polyimide is improved. can be improved In addition, in BTDA, the ketone group present in the molecular skeleton and the amino group of an amino compound for crosslinking described later react to form a C=N bond in some cases, and the effect of improving heat resistance is likely to be expressed. From this point of view, it is preferable to contain at least 50 molar parts, more preferably at least 60 molar parts, of the tetracarboxylic acid moiety derived from BTDA with respect to 100 molar parts of the tetracarboxylic acid moiety.

또한 일반식(2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물로서는, 예를 들면 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복시산이무수물, 1,2,3,4-시클로펜탄테트라카르복시산이무수물, 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르복시산이무수물, 1,2,4,5-시클로헵탄테트라카르복시산이무수물, 1,2,5,6-시클로옥탄테트라카르복시산이무수물 등을 들 수 있다.Further, examples of the tetracarboxylic anhydride represented by the general formula (2) include 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 1,2, 4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cycloheptanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,5,6-cyclooctane tetracarboxylic dianhydride, etc. are mentioned.

DDA계 열가소성 폴리이미드는, 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 상기 일반식(1) 및 일반식(2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물 이외의 산무수물로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기를 함유할 수 있다. 그러한 테트라카르복시산 잔기로서는 특별한 제한은 없지만, 예를 들면 피로멜리트산이무수물, 2,3',3,4'-비페닐테트라카르복시산이무수물, 2,2',3,3'- 또는 2,3,3',4'-벤조페논테트라카르복시산이무수물, 2,3',3,4'-디페닐에테르테트라카르복시산이무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)에테르이무수물, 3,3'',4,4''-, 2,3,3'',4''- 또는 2,2'',3,3''-p-테르페닐테트라카르복시산이무수물, 2,2-비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)-프로판이무수물, 비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)메탄이무수물, 비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)술폰이무수물, 1,1-비스(2,3- 또는 3,4-디카르복시페닐)에탄이무수물, 1,2,7,8-, 1,2,6,7- 또는 1,2,9,10-페난트렌-테트라카르복시산이무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르복시산이무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)테트라플루오로프로판이무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복시산이무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르복시산이무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복시산이무수물, 4,8-디메틸-1,2,3,5,6,7-헥사히드로나프탈렌-1,2,5,6-테트라카르복시산이무수물, 2,6- 또는 2,7-디클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복시산이무수물, 2,3,6,7-(또는 1,4,5,8-)테트라클로로나프탈렌-1,4,5,8-(또는 2,3,6,7-)테트라카르복시산이무수물, 2,3,8,9-, 3,4,9,10-, 4,5,10,11- 또는 5,6,11,12-페릴렌-테트라카르복시산이무수물, 피라진-2,3,5,6-테트라카르복시산이무수물, 피롤리딘-2,3,4,5-테트라카르복시산이무수물, 티오펜-2,3,4,5-테트라카르복시산이무수물, 4,4'-비스(2,3-디카르복시페녹시)디페닐메탄이무수물 등의 방향족 테트라카르복시산이무수물로부터 유도되는 테트라카르복시산 잔기를 들 수 있다.The DDA-based thermoplastic polyimide may contain a tetracarboxylic acid residue derived from an acid anhydride other than the tetracarboxylic acid anhydride represented by the general formulas (1) and (2) in the range not impairing the effects of the invention. Although there is no particular limitation on the tetracarboxylic acid residue, for example, pyromellitic dianhydride, 2,3',3,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2',3,3'- or 2,3 ,3',4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2,3',3,4'-diphenyl ether tetracarboxylic dianhydride, bis(2,3-dicarboxyphenyl)ether dianhydride, 3,3'' ,4,4''-, 2,3,3'',4''- or 2,2'',3,3''-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis(2, 3- or 3,4-dicarboxyphenyl)-propanedianhydride, bis(2,3- or 3,4-dicarboxyphenyl)methandianhydride, bis(2,3- or 3,4-dicarboxyphenyl) Sulfonic anhydride, 1,1-bis (2,3- or 3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,2,7,8-, 1,2,6,7- or 1,2,9 , 10-phenanthrene-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-anthracene tetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) tetrafluoropropane dianhydride, 1,2, 5,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 4,8-dimethyl-1,2,3, 5,6,7-hexahydronaphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 2,6- or 2,7-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 2, 3,6,7-(or 1,4,5,8-)tetrachloronaphthalene-1,4,5,8-(or 2,3,6,7-)tetracarboxylic dianhydride, 2,3,8 ,9-, 3,4,9,10-, 4,5,10,11- or 5,6,11,12-perylene-tetracarboxylic dianhydride, pyrazine-2,3,5,6-tetracarboxylic acid Dianhydride, pyrrolidine-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, thiophene-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, 4,4'-bis(2,3-dicarboxyphenoxy) C) and tetracarboxylic acid residues derived from aromatic tetracarboxylic dianhydrides such as diphenylmethane dianhydride.

(디아민 성분)(diamine component)

DDA계 열가소성 폴리이미드는, 원료로서, 전체 디아민 성분에 대하여 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상, 더 바람직하게는 60몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 사용한다. 다이머디아민 조성물을 상기한 양으로 함유함으로써, 폴리이미드의 유전특성을 개선시킴과 아울러, 폴리이미드의 글라스 전이온도의 저온화(저Tg화)에 의한 열압착 특성의 개선 및 저탄성률화에 의한 내부응력을 완화시킬 수 있다.The DDA-based thermoplastic polyimide uses, as a raw material, a diamine component containing 40 mol% or more of the dimer diamine composition, more preferably 60 mol% or more, based on all the diamine components. By containing the dimerdiamine composition in the above amount, the dielectric properties of the polyimide are improved, and the thermocompression bonding properties are improved by lowering the glass transition temperature (lower Tg) of the polyimide and the interior by lowering the elastic modulus stress can be relieved.

(다이머디아민 조성물)(dimerdiamine composition)

다이머디아민 조성물은, 하기 성분(a)를 주성분으로서 함유함과 아울러 성분(b) 및 성분(c)의 양이 제어되어 있는 것이다.The dimerdiamine composition contains the following component (a) as a main component, and the quantity of a component (b) and a component (c) is controlled.

(a)다이머디아민;(a) dimerdiamine;

(a)성분의 다이머디아민이라 함은, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기(―COOH)가 1급의 아미노메틸기(―CH2―NH2) 또는 아미노기(―NH2)로 치환되어 이루어지는 디아민을 의미한다. 다이머산은, 불포화 지방산의 분자간 중합반응에 의하여 얻어지는 주지의 이염기산으로서, 그 공업적 제조 프로세스는 업계에서 거의 표준화되어 있고, 탄소수가 11∼22인 불포화 지방산을 점토촉매(粘土觸媒) 등에 의하여 이량화해서 얻어진다. 공업적으로 얻어지는 다이머산은, 올레인산이나 리놀레산, 리놀렌산 등의 탄소수 18의 불포화 지방산을 이량화함으로써 얻어지는 탄소수 36의 이염기산이 주성분이지만, 정제의 정도에 따라 임의량의 모노머산(탄소수 18), 트리머산(탄소수 54), 탄소수 20∼54의 다른 중합 지방산을 함유한다. 또한 다이머화 반응 후에는 이중결합이 잔존하지만, 본 발명에서는, 거기에다 수소첨가반응을 하여 불포화도를 저하시킨 것도 다이머산에 포함시키는 것으로 한다. (a)성분의 다이머디아민은, 탄소수 18∼54의 범위내, 바람직하게는 22∼44의 범위내에 있는 이염기산 화합물의 말단 카르복시산기를 1급 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환하여 얻어지는 디아민 화합물이라고 정의할 수 있다.(a) The dimer diamine of the component refers to a diamine in which two terminal carboxylic acid groups (-COOH) of the dimer acid are substituted with a primary aminomethyl group (-CH 2 -NH 2 ) or an amino group (-NH 2 ). it means. Dimer acid is a well-known dibasic acid obtained by intermolecular polymerization of unsaturated fatty acids, and its industrial production process is almost standardized in the industry, and dimerization of unsaturated fatty acids having 11 to 22 carbon atoms using a clay catalyst or the like. obtained by reconciliation. The industrially obtained dimer acid is mainly composed of a dibasic acid having 36 carbon atoms obtained by dimerizing an unsaturated fatty acid having 18 carbon atoms such as oleic acid, linoleic acid, and linolenic acid. (C54) and another polymerized fatty acid having 20 to 54 carbon atoms. In addition, although a double bond remains after the dimerization reaction, in the present invention, the dimer acid also includes a hydrogenation reaction to reduce the degree of unsaturation. The dimer diamine of component (a) can be defined as a diamine compound obtained by substituting a primary aminomethyl group or an amino group for the terminal carboxylic acid group of a dibasic acid compound having 18 to 54 carbon atoms, preferably 22 to 44 carbon atoms. have.

다이머디아민의 특징으로서, 다이머산의 골격에서 유래하는 특성을 부여할 수 있다. 즉 다이머디아민은 분자량 약 560∼620의 거대분자의 지방족이므로, 분자의 몰부피를 크게 하여, DDA계 열가소성 폴리이미드의 극성기(極性基)를 상대적으로 감소시킬 수 있다. 이러한 다이머산형 디아민의 특징은, DDA계 열가소성 폴리이미드의 내열성의 저하를 억제하면서, 비유전율과 유전정접을 작게 해서 유전특성을 향상시키는 것에 기여하는 것으로 생각된다. 또한 탄소수 7∼9의 자유롭게 움직이는 2개의 소수쇄(疏水鎖)와, 탄소수 18에 가까운 길이를 가지는 2개의 쇄상의 지방족 아미노기를 구비하기 때문에, DDA계 열가소성 폴리이미드에 유연성(柔軟性)을 줄 뿐만 아니라, DDA계 열가소성 폴리이미드를 비대칭적인 화학구조나 비평면적인 화학구조로 할 수 있기 때문에, 저유전율화(低誘電率化)를 도모할 수 있다고 생각된다.As a characteristic of dimerdiamine, the characteristic derived from the backbone of a dimer acid can be provided. That is, since dimerdiamine is an aliphatic macromolecule having a molecular weight of about 560 to 620, the molar volume of the molecule can be increased to relatively reduce the polar group of the DDA-based thermoplastic polyimide. The characteristics of such dimer acid-type diamine are considered to contribute to improving dielectric properties by reducing the relative dielectric constant and dielectric loss tangent while suppressing a decrease in the heat resistance of the DDA-based thermoplastic polyimide. In addition, since it has two free-moving minor chains having 7 to 9 carbon atoms and two chain aliphatic amino groups having a length close to 18 carbon atoms, it not only gives flexibility to the DDA-based thermoplastic polyimide, but also Rather, since the DDA-based thermoplastic polyimide can have an asymmetric chemical structure or a non-planar chemical structure, it is considered that the dielectric constant can be reduced.

다이머디아민 조성물은, 분자증류(分子蒸溜) 등의 정제방법에 의하여 (a)성분의 다이머디아민 함유량을 96중량% 이상, 바람직하게는 97중량% 이상, 더 바람직하게는 98중량% 이상까지 높인 것을 사용하는 것이 좋다. (a)성분의 다이머디아민 함유량을 96중량% 이상으로 함으로써, DDA계 열가소성 폴리이미드의 분자량 분포의 분산을 억제할 수 있다. 또한 기술적으로 가능하다면, 다이머디아민 조성물의 전부(100중량%)가 (a)성분의 다이머디아민으로 구성되어 있는 것이 가장 좋다.The dimerdiamine composition is obtained by increasing the dimerdiamine content of component (a) to 96% by weight or more, preferably 97% by weight or more, more preferably 98% by weight or more by a purification method such as molecular distillation. good to use (a) By making dimerdiamine content of component 96 weight% or more, dispersion|distribution of molecular weight distribution of a DDA type|system|group thermoplastic polyimide can be suppressed. Also, if technically possible, it is best that all (100% by weight) of the dimerdiamine composition is composed of the dimerdiamine of component (a).

(b)탄소수 10∼40의 범위내에 있는 일염기산 화합물의 말단 카르복시산기를 1급 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환하여 얻어지는 모노아민 화합물;(b) a monoamine compound obtained by substituting a terminal carboxylic acid group of a monobasic acid compound having 10 to 40 carbon atoms with a primary aminomethyl group or an amino group;

탄소수 10∼40의 범위내에 있는 일염기산 화합물은, 다이머산의 원료에서 유래하는 탄소수 10∼20의 범위내에 있는 일염기성 불포화 지방산과, 다이머산의 제조시의 부생성물인 탄소수 21∼40의 범위내에 있는 일염기산 화합물의 혼합물이다. 모노아민 화합물은, 이들 일염기산 화합물의 말단 카르복시산기를 1급 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환하여 얻어지는 것이다.The monobasic acid compound having 10 to 40 carbon atoms includes a monobasic unsaturated fatty acid having 10 to 20 carbon atoms derived from the raw material of dimer acid and a by-product in the production of dimer acid having 21 to 40 carbon atoms. It is a mixture of monobasic acid compounds in The monoamine compound is obtained by substituting a terminal carboxylic acid group of these monobasic acid compounds with a primary aminomethyl group or an amino group.

(b)성분의 모노아민 화합물은, 폴리이미드의 분자량 증가를 억제하는 성분이다. 폴리아미드산 또는 폴리이미드의 중합시에, 상기 모노아민 화합물의 단관능의 아미노기가 폴리아미드산 또는 폴리이미드의 말단 산무수물기와 반응함으로써, 말단 산무수물기가 실링(sealing)되어 폴리아미드산 또는 폴리이미드의 분자량 증가를 억제한다.(b) The monoamine compound of a component is a component which suppresses the molecular weight increase of a polyimide. During polymerization of polyamic acid or polyimide, the monofunctional amino group of the monoamine compound reacts with the terminal acid anhydride group of the polyamic acid or polyimide, whereby the terminal acid anhydride group is sealed and the polyamic acid or polyimide inhibit the increase in molecular weight of

(c)탄소수 41∼80의 범위내에 있는 탄화수소기를 구비하는 다염기산 화합물의 말단 카르복시산기를 1급 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환하여 얻어지는 아민 화합물(다만, 상기 다이머디아민을 제외한다);(c) an amine compound obtained by substituting a terminal carboxylic acid group of a polybasic acid compound having a hydrocarbon group within the range of 41 to 80 carbon atoms with a primary aminomethyl group or an amino group (however, the dimerdiamine is excluded);

탄소수 41∼80의 범위내에 있는 탄화수소기를 구비하는 다염기산 화합물은, 다이머산의 제조시의 부생성물인 탄소수 41∼80의 범위내에 있는 삼염기산 화합물을 주성분으로 하는 다염기산 화합물이다. 또한 탄소수 41∼80의 다이머산 이외의 중합 지방산을 포함하고 있어도 좋다. 아민 화합물은, 이들 다염기산 화합물의 말단 카르복시산기를 1급 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환하여 얻어지는 것이다.The polybasic acid compound having a hydrocarbon group in the range of 41 to 80 carbon atoms is a polybasic acid compound mainly comprising a tribasic acid compound in the range of 41 to 80 carbon atoms, which is a by-product in the production of dimer acid. Moreover, polymerized fatty acids other than a C41-C80 dimer acid may be included. The amine compound is obtained by substituting a terminal carboxylic acid group of these polybasic acid compounds with a primary aminomethyl group or an amino group.

(c)성분의 아민 화합물은, 폴리이미드의 분자량 증가를 조장(助長)하는 성분이다. 트리머산으로부터 유래된 트리아민체를 주성분으로 하는 3관능 이상의 아미노기가, 폴리아미드산 또는 폴리이미드의 말단 산무수물기와 반응하여, 폴리이미드의 분자량을 급격하게 증가시킨다. 또한 탄소수 41∼80의 다이머산 이외의 중합 지방산으로부터 유도되는 아민 화합물도, 폴리이미드의 분자량을 증가시켜서 폴리아미드산 또는 폴리이미드의 겔화의 원인이 된다.(c) The amine compound of a component is a component which promotes the molecular weight increase of a polyimide. A trifunctional or higher amino group containing a triamine derived from trimer acid as a main component reacts with a terminal acid anhydride group of a polyamic acid or polyimide to rapidly increase the molecular weight of the polyimide. In addition, amine compounds derived from polymerized fatty acids other than dimer acids having 41 to 80 carbon atoms also increase the molecular weight of polyimides and cause gelation of polyamic acids or polyimides.

상기 다이머디아민 조성물은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)를 사용한 측정에 의하여 각 성분의 정량(定量)을 하는 경우에, 다이머디아민 조성물의 각 성분의 피크스타트, 피크톱 및 피크엔드의 확인을 쉽게 하기 위하여, 다이머디아민 조성물을 무수아세트산 및 피리딘으로 처리한 샘플을 사용하고, 또한 내부표준물질로서 시클로헥사논을 사용한다. 이렇게 조제한 샘플을 사용하여 GPC의 크로마토그램의 면적 퍼센트로 각 성분을 정량한다. 각 성분의 피크스타트 및 피크엔드는 각 피크곡선의 극소값으로 하고, 이것을 기준으로 하여 크로마토그램의 면적 퍼센트의 산출을 할 수 있다.The dimerdiamine composition is, when quantification of each component by measurement using gel permeation chromatography (GPC), the peak start, peak top and peak end of each component of the dimerdiamine composition can be easily identified For this, a sample in which the dimerdiamine composition was treated with acetic anhydride and pyridine is used, and cyclohexanone is used as an internal standard. Using the thus prepared sample, each component is quantified by area percent of the chromatogram of GPC. The peak start and peak end of each component are taken as the minimum values of each peak curve, and the area percent of the chromatogram can be calculated based on this.

또한 본 발명에서 사용하는 다이머디아민 조성물은, GPC 측정에 의하여 얻은 크로마토그램의 면적 퍼센트로 성분(b) 및 성분(c)의 합계가 4% 이하, 바람직하게는 4% 미만이 좋다. 성분(b) 및 성분(c)의 합계를 4% 이하로 함으로써, 폴리이미드의 분자량 분포의 분산을 억제할 수 있다.In the dimerdiamine composition used in the present invention, the total of the components (b) and (c) is 4% or less, preferably less than 4%, in terms of area percent of the chromatogram obtained by GPC measurement. By making the sum total of a component (b) and a component (c) into 4 % or less, dispersion|distribution of molecular weight distribution of a polyimide can be suppressed.

또한 (b)성분의 크로마토그램의 면적 퍼센트는, 바람직하게는 3% 이하, 더 바람직하게는 2% 이하, 더욱 바람직하게는 1% 이하가 좋다. 이와 같은 범위로 함으로써, 폴리이미드의 분자량의 저하를 억제할 수 있고, 또한 테트라카르복시산무수물 성분 및 디아민 성분의 투입몰비의 범위를 넓힐 수 있다. 또한 (b)성분은, 다이머디아민 조성물 중에 포함되어 있지 않아도 좋다.Moreover, as for the area percent of the chromatogram of (b) component, Preferably it is 3 % or less, More preferably, it is 2 % or less, More preferably, 1 % or less is good. By setting it as such a range, the fall of the molecular weight of a polyimide can be suppressed and the range of the addition molar ratio of a tetracarboxylic anhydride component and a diamine component can be broadened. In addition, (b) component does not need to be contained in dimerdiamine composition.

또한 (c)성분의 크로마토그램의 면적 퍼센트는 2% 이하이고, 바람직하게는 1.8% 이하, 더 바람직하게는 1.5% 이하가 좋다. 이와 같은 범위로 함으로써, 폴리이미드의 분자량의 급격한 증가를 억제할 수 있고, 또한 수지필름의 광역의 주파수에서의 유전정접의 상승을 억제할 수 있다. 또한 (c)성분은, 다이머디아민 조성물 중에 포함되어 있지 않아도 좋다.Moreover, the area percent of the chromatogram of (c)component is 2 % or less, Preferably it is 1.8 % or less, More preferably, 1.5 % or less is good. By setting it as such a range, the rapid increase of the molecular weight of polyimide can be suppressed and also the raise of the dielectric loss tangent in the frequency range of a resin film can be suppressed. In addition, (c) component does not need to be contained in the dimer diamine composition.

또한 성분(b) 및 성분(c)의 크로마토그램의 면적 퍼센트의 비율(b/c)이 1 이상인 경우에, 테트라카르복시산무수물 성분 및 디아민 성분의 몰비(테트라카르복시산무수물 성분/디아민 성분)는, 바람직하게는 0.97 이상 1.0 미만으로 하는 것이 좋고, 이러한 몰비로 함으로써 폴리이미드의 분자량의 제어가 보다 용이해진다.In addition, when the ratio (b/c) of the area percent in the chromatograms of the components (b) and (c) is 1 or more, the molar ratio of the tetracarboxylic anhydride component and the diamine component (tetracarboxylic anhydride component/diamine component) is preferably Preferably, it is good to set it as 0.97 or more and less than 1.0, and control of the molecular weight of a polyimide becomes easier by setting it as such a molar ratio.

또한 성분(b) 및 성분(c)의 상기 크로마토그램의 면적 퍼센트의 비율(b/c)이 1 미만인 경우에, 테트라카르복시산무수물 성분 및 디아민 성분의 몰비(테트라카르복시산무수물 성분/디아민 성분)는, 바람직하게는 0.97 이상 1.1 이하로 하는 것이 좋고, 이러한 몰비로 함으로써 폴리이미드의 분자량의 제어가 보다 용이해진다.In addition, when the ratio (b/c) of the area percent of the chromatograms of the components (b) and (c) is less than 1, the molar ratio of the tetracarboxylic anhydride component and the diamine component (tetracarboxylic acid anhydride component/diamine component) is, Preferably, it is good to set it as 0.97 or more and 1.1 or less, and control of the molecular weight of a polyimide becomes easier by setting it as such a molar ratio.

본 발명에서 사용하는 다이머디아민 조성물은, (a)성분의 다이머디아민 이외의 성분을 감소시키는 목적으로 정제하는 것이 바람직하다. 정제방법으로서는 특별히 제한되지 않지만, 증류법이나 침전정제 등의 공지의 방법이 바람직하다. 정제전의 다이머디아민 조성물은, 시판품으로 입수가 가능하고, 예를 들면 크로다 재팬(주)(Croda Japan) 제품인 PRIAMINE1073(상품명), 동(同) PRIAMINE1074(상품명), 동(同) PRIAMINE1075(상품명) 등을 들 수 있다.It is preferable to refine|purify the dimer diamine composition used by this invention for the purpose of reducing components other than dimer diamine of (a) component. Although it does not restrict|limit especially as a purification method, Well-known methods, such as a distillation method and precipitation purification, are preferable. The dimerdiamine composition before purification can be obtained as a commercial item, for example, Croda Japan Co., Ltd. product PRIAMINE1073 (brand name), the same PRIAMINE1074 (brand name), the same PRIAMINE1075 (brand name) and the like.

DDA계 열가소성 폴리이미드에 사용되는 다이머디아민 이외의 디아민 화합물로서는, 방향족 디아민 화합물, 지방족 디아민 화합물을 들 수 있다. 그들의 구체적인 예로서는, 1,4-디아미노벤젠(p-PDA;파라페닐렌디아민), 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐(m-TB), 2,2'-n-프로필-4,4'-디아미노비페닐(m―NPB), 4-아미노페닐-4'-아미노벤조에이트(APAB), 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스[4-(3-아미노페녹시)]비페닐, 비스[1-(3-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)]벤조페논, 9,9-비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]플루오렌, 2,2-비스-[4-(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 4,4'-메틸렌디-o-톨루이딘, 4,4'-메틸렌디-2,6-크실리딘, 4,4'-메틸렌-2,6-디에틸아닐린, 3,3'-디아미노디페닐에탄, 3,3'-디아미노비페닐, 3,3'-디메톡시벤지딘, 3,3''-디아미노-p-테르페닐, 4,4'-[1,4-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 4,4'-[1,3-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 비스(p-아미노시클로헥실)메탄, 비스(p-β-아미노-t-부틸페닐)에테르, 비스(p-β-메틸-δ-아미노펜틸)벤젠, p-비스(2-메틸-4-아미노펜틸)벤젠, p-비스(1,1-디메틸-5-아미노펜틸)벤젠, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌, 2,4-비스(β-아미노-t-부틸)톨루엔, 2,4-디아미노톨루엔, m-크실렌-2,5-디아민, p-크실렌-2,5-디아민, m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민, 2,6-디아미노피리딘, 2,5-디아미노피리딘, 2,5-디아미노-1,3,4-옥사디아졸, 피페라진, 2'-메톡시-4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 1,3-비스[2-(4-아미노페닐)-2-프로필]벤젠, 6-아미노-2-(4-아미노페녹시)벤조옥사졸, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠 등의 디아민 화합물을 들 수 있다.As diamine compounds other than dimer diamine used for a DDA type|system|group thermoplastic polyimide, an aromatic diamine compound and an aliphatic diamine compound are mentioned. Specific examples thereof include 1,4-diaminobenzene (p-PDA; paraphenylenediamine), 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl (m-TB), 2,2'-n -Propyl-4,4'-diaminobiphenyl (m-NPB), 4-aminophenyl-4'-aminobenzoate (APAB), 2,2-bis-[4-(3-aminophenoxy)phenyl ]propane, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]sulfone, bis[4-(3-aminophenoxy)]biphenyl, bis[1-(3-aminophenoxy)]biphenyl, bis[ 4-(3-aminophenoxy)phenyl]methane, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]ether, bis[4-(3-aminophenoxy)]benzophenone, 9,9-bis[4 -(3-aminophenoxy)phenyl]fluorene, 2,2-bis-[4-(4-aminophenoxy)phenyl]hexafluoropropane, 2,2-bis-[4-(3-aminophenoxy) C)phenyl]hexafluoropropane, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 4,4'-methylenedi-o-toluidine, 4,4'-methylenedi-2,6- Xylidine, 4,4'-methylene-2,6-diethylaniline, 3,3'-diaminodiphenylethane, 3,3'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethoxybenzidine, 3 ,3''-diamino-p-terphenyl, 4,4'-[1,4-phenylenebis(1-methylethylidene)]bisaniline, 4,4'-[1,3-phenylene Bis(1-methylethylidene)]bisaniline, bis(p-aminocyclohexyl)methane, bis(p-β-amino-t-butylphenyl)ether, bis(p-β-methyl-δ-aminopentyl) ) Benzene, p-bis(2-methyl-4-aminopentyl)benzene, p-bis(1,1-dimethyl-5-aminopentyl)benzene, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6-diaminonaphthalene , 2,4-bis(β-amino-t-butyl)toluene, 2,4-diaminotoluene, m-xylene-2,5-diamine, p-xylene-2,5-diamine, m-xylylene Diamine, p-xylylenediamine, 2,6-diaminopyridine, 2,5-diaminopyridine, 2,5-diamino-1,3,4-oxadiazole, piperazine, 2'-methoxy -4,4'-diaminobenzanilide, 4,4'-diaminobenzanilide, 1,3-bis[2-(4-aminophenyl)-2-propyl]benzene, 6-amino- and diamine compounds such as 2-(4-aminophenoxy)benzoxazole and 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene.

DDA계 열가소성 폴리이미드는, 상기한 테트라카르복시산무수물 성분과 디아민 성분을 용매 중에서 반응시켜, 폴리아미드산을 생성한 다음에 가열폐환시킴으로써 제조할 수 있다. 예를 들면 테트라카르복시산무수물 성분과 디아민 성분을 거의 등몰로 유기용매 중에서 용해시켜, 0∼100℃의 범위내의 온도에서 30분∼24시간 교반하여 중합반응시킴으로써 폴리이미드의 전구체인 폴리아미드산이 얻어진다. 반응에 있어서는, 생성되는 전구체가 유기용매 중에 5∼50중량%의 범위내, 바람직하게는 10∼40중량%의 범위내가 되도록 반응성분을 용해시킨다. 중합반응에 사용하는 유기용매로서는, 예를 들면 N,N-디메틸포름아미드(DMF), N,N-디메틸아세트아미드(DMAc), N,N-디에틸아세트아미드, N-메틸-2-피롤리돈(NMP), 2-부타논, 디메틸술폭시드(DMSO), 헥사메틸포스포르아미드, N-메틸카프로락탐, 황산디메틸, 시클로헥사논, 메틸시클로헥산, 디옥산, 테트라하이드로퓨란, 디글라임, 트리글라임, 메탄올, 에탄올, 벤질알코올, 크레졸 등을 들 수 있다. 이들 용매를 2종 이상 병용하여 사용할 수도 있고, 그 위에 크실렌, 톨루엔과 같은 방향족 탄화수소의 병용도 가능하다. 또한 이러한 유기용매의 사용량이 특별히 제한되는 것은 아니지만, 중합반응에 의하여 얻어지는 폴리아미드산 용액의 농도가 5∼50중량% 정도가 되도록 사용량을 조정하여 사용하는 것이 바람직하다.The DDA-based thermoplastic polyimide can be produced by reacting the above-described tetracarboxylic acid anhydride component with the diamine component in a solvent to produce polyamic acid and then heat-ring closure. For example, polyamic acid, which is a precursor of polyimide, is obtained by dissolving a tetracarboxylic anhydride component and a diamine component in an organic solvent in approximately equimolar amounts, stirring at a temperature within the range of 0 to 100° C. for 30 minutes to 24 hours, and performing polymerization reaction. In the reaction, the reactant components are dissolved in the organic solvent so that the resulting precursor is in the range of 5 to 50% by weight, preferably in the range of 10 to 40% by weight. Examples of the organic solvent used for the polymerization reaction include N,N-dimethylformamide (DMF), N,N-dimethylacetamide (DMAc), N,N-diethylacetamide, and N-methyl-2-pi. Rollidone (NMP), 2-butanone, dimethyl sulfoxide (DMSO), hexamethylphosphoramide, N-methylcaprolactam, dimethyl sulfate, cyclohexanone, methylcyclohexane, dioxane, tetrahydrofuran, diglyme , triglyme, methanol, ethanol, benzyl alcohol, cresol, and the like. Two or more of these solvents may be used in combination, and an aromatic hydrocarbon such as xylene or toluene may be used in combination thereon. In addition, the amount of the organic solvent used is not particularly limited, but it is preferable to adjust the amount to be used so that the concentration of the polyamic acid solution obtained by the polymerization reaction is about 5 to 50 wt%.

합성된 폴리아미드산은, 보통 반응용매용액으로서 사용하는 것이 유리하지만, 필요에 따라 농축, 희석 또는 다른 유기용매로 치환할 수 있다. 또한 폴리아미드산은 일반적으로 용매 가용성이 우수하므로, 유리하게 사용된다. 폴리아미드산의 용액의 점도는 500cps∼100,000cps의 범위내인 것이 바람직하다. 이 범위를 벗어나면, 코터 등에 의한 도포작업시에 필름에 두께 불균일, 줄무늬 등의 불량이 쉽게 발생하게 된다.The synthesized polyamic acid is usually advantageously used as a reaction solvent, but may be concentrated, diluted or substituted with another organic solvent if necessary. In addition, polyamic acids are generally used advantageously because of their excellent solvent solubility. The viscosity of the solution of polyamic acid is preferably in the range of 500 cps to 100,000 cps. If it is out of this range, defects such as thickness non-uniformity and streaks easily occur on the film during coating by a coater or the like.

폴리아미드산을 이미드화시켜 폴리이미드를 형성하는 방법은, 특별히 제한되지 않고, 예를 들면 상기 용매 중에서 80∼400℃의 범위내의 온도조건에서 1∼24시간 동안 가열하는 방식의 열처리가 적합하게 채용된다. 또한 온도는, 일정한 온도조건에서 가열하여도 좋고 공정의 도중에 온도를 변경할 수도 있다.The method of imidizing polyamic acid to form polyimide is not particularly limited, and for example, heat treatment of heating in the above solvent at a temperature within the range of 80 to 400° C. for 1 to 24 hours is suitably employed. do. In addition, the temperature may be heated under constant temperature conditions, or the temperature may be changed during the process.

DDA계 열가소성 폴리이미드에 있어서, 상기 테트라카르복시산무수물 성분 및 디아민 성분의 종류나, 2종 이상의 테트라카르복시산무수물 성분 또는 디아민 성분을 적용하는 경우의 각각의 몰비를 선정함으로써, 유전특성, 열팽창계수, 인장탄성률, 글라스 전이온도 등을 제어할 수 있다. 또한 DDA계 열가소성 폴리이미드에 있어서, 폴리이미드의 구조단위를 복수 구비하는 경우에는, 블록으로 또는 랜덤으로 존재해도 좋지만, 랜덤으로 존재하는 것이 바람직하다.In the DDA-based thermoplastic polyimide, by selecting the types of the tetracarboxylic acid anhydride component and the diamine component, or each molar ratio in the case of applying two or more types of tetracarboxylic acid anhydride component or diamine component, dielectric properties, coefficient of thermal expansion, and tensile modulus of elasticity , glass transition temperature, etc. can be controlled. Further, in the DDA-based thermoplastic polyimide, when a plurality of structural units of polyimide are provided, they may exist in blocks or at random, but they are preferably present at random.

DDA계 열가소성 폴리이미드의 중량평균분자량은, 예를 들면 10,000∼200,000의 범위내가 바람직하고, 이러한 범위내이면 폴리이미드의 중량평균분자량의 제어가 용이해진다. 또한 예를 들면 FPC용의 접착제로서 적용하는 경우에, DDA계 열가소성 폴리이미드의 중량평균분자량은 20,000∼150,000의 범위내가 더 바람직하고, 40,000∼150,000의 범위내가 더 바람직하다. FPC용의 접착제로서 적용하는 경우에, DDA계 열가소성 폴리이미드의 중량평균분자량이 20,000 미만이면 플로우 내성(flow 耐性)이 악화되는 경향이 있다. 한편 DDA계 열가소성 폴리이미드의 중량평균분자량이 150,000을 넘으면, 과도하게 점도가 증가해서 용제에 불용(不溶)이 되어, 도포작업시에 접착제층의 두께 불균일, 줄무늬 등의 불량이 발생하기 쉬운 경향이 있다.The weight average molecular weight of the DDA-based thermoplastic polyimide is preferably in the range of, for example, 10,000 to 200,000, and if it is within this range, control of the weight average molecular weight of the polyimide becomes easy. Further, for example, when applied as an adhesive for FPC, the weight average molecular weight of the DDA-based thermoplastic polyimide is more preferably in the range of 20,000 to 150,000, and still more preferably in the range of 40,000 to 150,000. When applied as an adhesive for FPC, if the weight average molecular weight of the DDA-based thermoplastic polyimide is less than 20,000, flow resistance tends to deteriorate. On the other hand, if the weight average molecular weight of the DDA-based thermoplastic polyimide exceeds 150,000, the viscosity increases excessively and becomes insoluble in solvents, and defects such as uneven thickness and streaks of the adhesive layer during coating operation tend to occur. have.

DDA계 열가소성 폴리이미드의 이미드기 농도는, 바람직하게는 22중량% 이하, 더 바람직하게는 20중량% 이하가 좋다. 여기에서 「이미드기 농도」는, 폴리이미드 중의 이미드기부(-(CO)2―N-)의 분자량을, 폴리이미드의 구조 전체의 분자량으로 나눈 값을 의미한다. 이미드기 농도가 22중량%를 넘으면, 수지 자체의 분자량이 작아짐과 아울러 극성기의 증가에 의하여 저흡습성도 악화되고, Tg 및 탄성률이 상승한다.The imide group concentration of the DDA-based thermoplastic polyimide is preferably 22 wt% or less, and more preferably 20 wt% or less. Here, "imide group concentration" means the value obtained by dividing the molecular weight of the imide group moiety (-(CO) 2 —N-) in the polyimide by the molecular weight of the entire structure of the polyimide. When the imide group concentration exceeds 22% by weight, the molecular weight of the resin itself decreases, and the low hygroscopicity also deteriorates due to an increase in polar groups, and Tg and elastic modulus increase.

DDA계 열가소성 폴리이미드는 완전히 이미드화된 구조가 가장 바람직하다. 다만, 폴리이미드의 일부가 아미드산으로 되어 있어도 좋다. 그 이미드화율은, 푸리에 변환 적외 분광광도계(시판품:니혼분코(주)(JASCO corporation) 제품 FT/IR620)를 사용하여, 1회 반사 ATR법으로 폴리이미드 박막의 적외선 흡수 스펙트럼을 측정함으로써, 1015㎝-1 부근의 벤젠고리 흡수체를 기준으로 하여, 1780㎝-1의 이미드기에서 유래하는 C=O 신축의 흡광도(吸光度)로부터 산출할 수 있다.The most preferable DDA-based thermoplastic polyimide has a fully imidized structure. However, a part of polyimide may be made into amic acid. The imidization rate was determined by measuring the infrared absorption spectrum of the polyimide thin film by a single reflection ATR method using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercial product: FT/IR620 manufactured by JASCO Corporation), 1015 Based on the benzene ring absorber in the vicinity of cm -1 , it can be calculated from the absorbance of C=O stretching derived from the imide group at 1780 cm -1 .

<가교형성><Crosslinking Formation>

(A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드가 케톤기를 구비하는 경우에, 상기 케톤기와, 적어도 2개의 제1급 아미노기를 관능기로서 구비하는 아미노 화합물(이하, 「가교형성용 아미노 화합물」이라고 기재하는 경우가 있다)의 아미노기를 반응시켜 C=N 결합을 형성시킴으로써, 가교구조를 형성할 수 있다. 가교구조의 형성에 의하여 DDA계 열가소성 폴리이미드의 내열성을 향상시킬 수 있다. 케톤기를 구비하는 DDA계 열가소성 폴리이미드를 형성하기 위해서 바람직한 테트라카르복시산무수물로서는, 예를 들면 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복시산이무수물(BTDA)을, 디아민 화합물로서는, 예를 들면 4,4'-비스(3-아미노페녹시)벤조페논(BABP), 1,3-비스[4-(3-아미노페녹시)벤조일]벤젠(BABB) 등의 방향족 디아민을 들 수 있다.(A) When the DDA-based thermoplastic polyimide in the component has a ketone group, an amino compound having the ketone group and at least two primary amino groups as functional groups (hereinafter referred to as “amino compound for crosslinking”) A crosslinked structure can be formed by reacting the amino group of ) to form a C═N bond. The heat resistance of the DDA-based thermoplastic polyimide can be improved by forming a cross-linked structure. As a preferable tetracarboxylic anhydride for forming a DDA-type thermoplastic polyimide having a ketone group, for example, 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA), and as a diamine compound, for example, and aromatic diamines such as 4,4'-bis(3-aminophenoxy)benzophenone (BABP) and 1,3-bis[4-(3-aminophenoxy)benzoyl]benzene (BABB).

가교구조를 형성시키는 목적에 있어서, 본 실시형태의 수지조성물은, 특히 전체 테트라카르복시산 잔기에 대하여 BTDA로부터 유도되는 BTDA 잔기를 바람직하게는 50몰% 이상, 더 바람직하게는 60몰% 이상 함유하는 상기 (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드, 및 가교형성용 아미노 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 또한 본 발명에 있어서, 「BTDA 잔기」는, BTDA로부터 유도된 4가의 기를 의미한다.For the purpose of forming a crosslinked structure, the resin composition of the present embodiment contains, in particular, BTDA residues derived from BTDA with respect to all tetracarboxylic acid residues, preferably 50 mol% or more, more preferably 60 mol% or more. (A) It is preferable to contain the DDA-type thermoplastic polyimide in a component, and the amino compound for crosslinking formation. In the present invention, "BTDA residue" means a tetravalent group derived from BTDA.

가교형성용 아미노 화합물로서는, (I)디히드라지드 화합물, (II)방향족 디아민, (III)지방족 아민 등을 예시할 수 있다. 이들 중에서도 디히드라지드 화합물이 바람직하다. 디히드라지드 화합물 이외의 지방족 아민은, 실온에서도 가교구조를 형성하기 쉬워 바니시의 보존안정성의 우려가 있고, 한편 방향족 디아민은 가교구조의 형성을 위하여 고온으로 할 필요가 있다. 이와 같이 디히드라지드 화합물을 사용한 경우에는, 바니시의 보존안정성과 경화시간의 단축화를 양립시킬 수 있다. 디히드라지드 화합물로서는, 예를 들면 옥살산디히드라지드, 말론산디히드라지드, 호박산디히드라지드, 글루타르산디히드라지드, 아디핀산디히드라지드, 피멜산디히드라지드, 수베르산디히드라지드, 아젤라산디히드라지드, 세바스산디히드라지드, 도데칸이산디히드라지드, 말레인산디히드라지드, 푸마르산디히드라지드, 디글리콜산디히드라지드, 주석산디히드라지드, 말산디히드라지드, 프탈산디히드라지드, 이소프탈산디히드라지드, 테레프탈산디히드라지드, 2,6-나프토에산디히드라지드, 4,4-비스벤젠디히드라지드, 1,4-나프토에산디히드라지드, 2,6-피리딘이산디히드라지드, 이타콘산디히드라지드 등의 디히드라지드 화합물이 바람직하다. 이상의 디히드라지드 화합물은 단독이라도 좋고, 2종류 이상을 혼합하여 사용할 수도 있다.Examples of the amino compound for crosslinking include (I) dihydrazide compound, (II) aromatic diamine, (III) aliphatic amine, and the like. Among these, a dihydrazide compound is preferable. Aliphatic amines other than the dihydrazide compound easily form a crosslinked structure even at room temperature, and there is a concern about storage stability of the varnish. Thus, when a dihydrazide compound is used, the storage stability of a varnish and shortening of hardening time can be made compatible. As the dihydrazide compound, for example, oxalic acid dihydrazide, malonic acid dihydrazide, succinic acid dihydrazide, glutaric acid dihydrazide, adipic acid dihydrazide, pimelic acid dihydrazide, suberic acid dihydrazide, and azelaic acid dihydrazide. Zide, sebacic acid dihydrazide, dodecane diacid dihydrazide, maleic acid dihydrazide, fumaric acid dihydrazide, diglycolic acid dihydrazide, tartrate dihydrazide, malic acid dihydrazide, phthalic acid dihydrazide, isophthalic acid dihydrazide Zide, terephthalic acid dihydrazide, 2,6-naphthoic acid dihydrazide, 4,4-bisbenzene dihydrazide, 1,4-naphthoic acid dihydrazide, 2,6-pyridine diacid dihydrazide, ita Dihydrazide compounds, such as conic acid dihydrazide, are preferable. The above dihydrazide compounds may be used individually or in mixture of 2 or more types.

또한 상기 (I)디히드라지드 화합물, (II)방향족 디아민, (III)지방족 아민 등의 아미노 화합물은, 예를 들면 (I)과 (II)의 조합, (I)과 (III)의 조합, (I)과 (II)와 (III)의 조합과 같이, 카테고리를 넘어서 2종 이상 조합시켜 사용할 수도 있다.In addition, amino compounds such as (I) dihydrazide compound, (II) aromatic diamine, and (III) aliphatic amine include, for example, a combination of (I) and (II), a combination of (I) and (III), Like the combination of (I), (II) and (III), it is also possible to use a combination of two or more types beyond categories.

또한 가교형성용 아미노 화합물에 의한 가교로 형성되는 그물코 모양의 구조를 보다 촘촘하게 한다고 하는 관점에서, 본 발명에서 사용하는 가교형성용 아미노 화합물은, 그 분자량(가교형성용 아미노 화합물이 올리고머인 경우에는 중량평균분자량)이 5,000 이하인 것이 바람직하고, 더 바람직하게는 90∼2,000, 더욱 바람직하게는 100∼1,500이 좋다. 이 중에서도, 100∼1,000의 분자량을 가지는 가교형성용 아미노 화합물이 특히 바람직하다. 가교형성용 아미노 화합물의 분자량이 90 미만이 되면, 가교형성용 아미노 화합물의 1개의 아미노기가 DDA계 열가소성 폴리이미드의 케톤기와 C=N 결합을 형성하는 것에 그치고, 나머지 아미노기의 주변이 입체적으로 부피가 커지기 때문에 나머지 아미노기는 C=N 결합을 형성하기 어려운 경향이 있다.In addition, from the viewpoint of making the network-like structure formed by crosslinking with the amino compound for crosslinking more compact, the amino compound for crosslinking used in the present invention has a molecular weight (weight when the amino compound for crosslinking is an oligomer). Average molecular weight) is preferably 5,000 or less, more preferably 90 to 2,000, still more preferably 100 to 1,500. Among these, the amino compound for crosslinking which has a molecular weight of 100-1,000 is especially preferable. When the molecular weight of the amino compound for crosslinking is less than 90, one amino group of the amino compound for crosslinking only forms a C = N bond with the ketone group of the DDA-based thermoplastic polyimide, and the periphery of the remaining amino groups becomes sterically bulky. Since it becomes large, the remaining amino group tends to be difficult to form a C=N bond.

(A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드 중의 케톤기와 가교형성용 아미노 화합물을 가교형성시키는 경우에는, (A)성분을 포함하는 수지용액에 상기 가교형성용 아미노 화합물을 가하여, DDA계 열가소성 폴리이미드 중의 케톤기와 가교형성용 아미노 화합물의 제1급 아미노기를 축합반응시킨다. 이 축합반응에 의하여 수지용액은 경화되어 경화물이 된다. 이 경우에 가교형성용 아미노 화합물의 첨가량은, 케톤기 1몰에 대하여, 제1급 아미노기를 합계 0.004몰∼1.5몰, 바람직하게는 0.005몰∼1.2몰, 더 바람직하게는 0.03몰∼0.9몰, 가장 바람직하게는 0.04몰∼0.6몰로 할 수 있다. 케톤기 1몰에 대하여 제1급 아미노기가 합계 0.004몰 미만이 되는 가교형성용 아미노 화합물의 첨가량에서는, 가교형성용 아미노 화합물에 의한 가교가 충분하지 않기 때문에 경화후의 내열성이 발현되기 어려운 경향이 있고, 가교형성용 아미노 화합물의 첨가량이 1.5몰을 넘으면, 미반응의 가교형성용 아미노 화합물이 열가소제로서 작용하여 접착제층으로서의 내열성을 저하시키는 경향이 있다.When crosslinking the ketone group in the DDA-based thermoplastic polyimide in the component (A) and the amino compound for crosslinking, the amino compound for crosslinking is added to the resin solution containing the component (A), and The ketone group is subjected to a condensation reaction with the primary amino group of the amino compound for crosslinking. By this condensation reaction, the resin solution is cured to become a cured product. In this case, the addition amount of the amino compound for crosslinking is 0.004 to 1.5 moles, preferably 0.005 to 1.2 moles, more preferably 0.03 to 0.9 moles of primary amino groups in total with respect to 1 mole of the ketone group; Most preferably, it can be set as 0.04 mol to 0.6 mol. When the amount of the amino compound for crosslinking is less than 0.004 moles of primary amino groups in total with respect to 1 mole of ketone groups, the crosslinking by the amino compound for crosslinking is insufficient, so that heat resistance after curing tends to be difficult to be expressed, When the addition amount of the amino compound for crosslinking exceeds 1.5 mol, the unreacted amino compound for crosslinking acts as a thermoplastic and tends to decrease the heat resistance as an adhesive layer.

가교형성을 위한 축합반응의 조건은, (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드에 있어서의 케톤기와 상기 가교형성용 아미노 화합물의 제1급 아미노기가 반응해서 이민결합(C=N 결합)을 형성하는 조건이면, 특별히 제한되지 않는다. 가열축합의 온도는, 축합에 의하여 생성되는 물을 계(系) 외로 방출시키기 위하여, 또는 (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 합성 후에 연속하여 가열축합반응을 실시하는 경우에 당해 축합공정을 간략화하기 위하여 등의 이유로, 예를 들면 120∼220℃의 범위내가 바람직하고, 140∼200℃의 범위내가 더 바람직하다. 반응시간은, 30분∼24시간 정도가 바람직하다. 반응의 종점(終點)은, 예를 들면 푸리에 변환 적외 분광광도계(시판품:니혼분코(주) 제품 FT/IR620)를 사용하여, 적외선 흡수 스펙트럼을 측정함으로써, 1670㎝-1 부근의 폴리이미드 수지에 있어서의 케톤기에서 유래하는 흡수피크의 감소 또는 소실, 및 1635㎝-1 부근의 이민기에서 유래하는 흡수피크의 출현에 의하여 확인할 수 있다.The conditions of the condensation reaction for crosslinking are: a ketone group in the DDA-based thermoplastic polyimide in component (A) reacts with a primary amino group of the amino compound for crosslinking to form an imine bond (C=N bond) If it is a condition, it will not restrict|limit in particular. The temperature of the heat condensation is set to release the water generated by the condensation to the outside of the system, or when the heat condensation reaction is continuously carried out after the synthesis of the DDA-based thermoplastic polyimide in the component (A). For simplification, etc., for example, in the range of 120-220 degreeC is preferable, and the inside of the range of 140-200 degreeC is more preferable. The reaction time is preferably about 30 minutes to 24 hours. The end point of the reaction is, for example, by measuring the infrared absorption spectrum using a Fourier transform infrared spectrophotometer (commercially available: FT/IR620 manufactured by Nippon Bunko Co., Ltd.), to a polyimide resin in the vicinity of 1670 cm -1 . It can be confirmed by the decrease or disappearance of the absorption peak derived from the ketone group in the present invention, and the appearance of the absorption peak derived from the imine group near 1635 cm -1 .

(A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 케톤기와 상기 가교형성용 아미노 화합물의 제1급 아미노기의 가열축합은, 예를 들면Heat condensation of the ketone group of the DDA-based thermoplastic polyimide in the component (A) and the primary amino group of the amino compound for crosslinking is, for example,

(1)(A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 합성(이미드화)에 이어, 가교형성용 아미노 화합물을 첨가해서 가열하는 방법,(1) A method of heating by adding an amino compound for crosslinking formation following the synthesis (imidization) of the DDA-based thermoplastic polyimide in the component (A);

(2)디아민 성분으로서 미리 과잉량(過剩量)의 아미노 화합물을 준비하고, (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 합성(이미드화)에 연속하여, 이미드화 또는 아미드화에 관여하지 않은 나머지 아미노 화합물을 가교형성용 아미노 화합물로서 이용하여 DDA계 열가소성 폴리이미드와 함께 가열하는 방법,(2) Prepare an excess amount of amino compound in advance as a diamine component, and continue to the synthesis (imidization) of the DDA-based thermoplastic polyimide in component (A), and the remainder not involved in imidation or amidation A method of heating together with a DDA-based thermoplastic polyimide using an amino compound as an amino compound for crosslinking;

또는or

(3)상기의 가교형성용 아미노 화합물을 첨가한 (A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 조성물을 소정의 형상으로 가공한 후(예를 들면, 임의의 기재(基材)에 도포한 후나 필름상으로 형성한 후)에 가열하는 방법,(3) After processing the composition of the DDA-based thermoplastic polyimide in the component (A) to which the amino compound for crosslinking is added into a predetermined shape (for example, after coating on an arbitrary substrate or film) After forming into a phase), heating method,

등에 의하여 실시할 수 있다.etc. can be carried out.

(A)성분 중의 DDA계 열가소성 폴리이미드의 내열성 부여를 위하여 가교구조의 형성에 의하여 이민결합을 형성하는 것을 설명하였지만, 이에 한정되는 것은 아니고, (A)성분 중의 폴리이미드의 경화방법으로서, 예를 들면 에폭시 수지, 에폭시 수지 경화제, 말레이미드나 활성화 에스테르 수지나 스티렌 골격을 구비하는 수지 등의 불포화결합을 구비하는 화합물 등을 배합해 경화시킬 수도 있다.Although it has been described that an imine bond is formed by the formation of a crosslinked structure for imparting heat resistance to the DDA-based thermoplastic polyimide in component (A), it is not limited thereto. For example, a compound having an unsaturated bond, such as an epoxy resin, an epoxy resin curing agent, maleimide, an activated ester resin, or a resin having a styrene skeleton may be blended and cured.

[(B)성분][(B) component]

본 실시형태의 수지조성물은, (B)성분으로서, 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상을 함유한다. 또한 (B)성분으로서 2종 이상을 병용할 수도 있다.The resin composition of this embodiment contains 1 or more types chosen from aromatic condensed phosphoric acid ester, a silica particle, or a liquid crystalline polymer filler as (B) component. Moreover, 2 or more types can also be used together as (B)component.

이하, 방향족 축합 인산에스테르를 「(B1)성분」, 실리카 입자를 「(B2)성분」, 액정성 고분자 필러를 「(B3)성분」으로 하여 순서대로 설명한다.Hereinafter, the aromatic condensed phosphoric acid ester is described in order as "component (B1)", silica particles as "component (B2)", and liquid crystalline polymer filler as "component (B3)".

[(B1)성분;방향족 축합 인산에스테르][(B1) component; aromatic condensed phosphoric acid ester]

(B1)성분의 「방향족 축합 인산에스테르」는, 2개 이상의 인산에스테르 유닛이 방향환(芳香環)을 구비하는 2가의 유기기에 의하여 연결된 화학구조를 구비하는 인산에스테르 화합물, 또는 옥시염화인과, 2가의 페놀계 화합물 및 페놀 혹은 알킬페놀과의 반응생성물을 의미한다. 방향족 축합 인산에스테르를 일정량 이상의 다이머디아민 조성물을 사용하여 얻어지는 폴리이미드와 조합시킴으로써 유전특성을 개선할 수 있다. 그 이유는 아직 분명하지는 않지만, 방향족 축합 인산에스테르의 특유한 화학구조에 의하여, 방향족 축합 인산에스테르 자체의 유전특성과, 다이머디아민 조성물을 사용하여 얻어지는 폴리이미드와의 상용성은 있지만, 분자사슬의 운동성을 과도하게 높이지 않기 때문에, 저유전율화, 저유전정접화에 기여하는 것이라고 추측된다. 또한 (B1)성분을 사용하여 얻어지는 수지필름은, 유전특성의 습도의존성이 낮아 안정성이 우수하다.(B1) "aromatic condensed phosphoric acid ester" of component is a phosphoric acid ester compound or phosphorus oxychloride having a chemical structure in which two or more phosphoric acid ester units are linked by a divalent organic group having an aromatic ring; It refers to a reaction product of a divalent phenol-based compound and phenol or alkylphenol. The dielectric properties can be improved by combining the aromatic condensed phosphoric acid ester with a polyimide obtained by using a dimerdiamine composition in a certain amount or more. Although the reason is not yet clear, due to the unique chemical structure of the aromatic condensed phosphate ester, the dielectric properties of the aromatic condensed phosphate ester and the compatibility with the polyimide obtained using the dimerdiamine composition are high, but the molecular chain mobility is excessive. Since it is not increased so much, it is estimated that it contributes to low dielectric constant and low dielectric loss tangent. In addition, the resin film obtained by using the component (B1) has low humidity dependence of dielectric properties and is excellent in stability.

방향족 축합 인산에스테르의 바람직한 예로서는, 다음의 일반식(3)의 구조의 화합물을 들 수 있다.As a preferable example of aromatic condensed phosphoric acid ester, the compound of the structure of following General formula (3) is mentioned.

[화학식 5][Formula 5]

Figure pct00005
Figure pct00005

일반식(3)에서, 복수의 R은, 각각 독립하여 치환기를 구비하고 있어도 좋은 방향족 탄화수소기이고, Ar은 방향환을 구비하는 2가의 유기기이고, n은 1 이상의 정수를 의미한다. 일반식(3)으로 나타내는 방향족 축합 인산에스테르는, n이 1인 이량체 이외에, n이 2 이상인 다량체이어도 좋다. 또한 단독의 화합물에 한정되지 않고 혼합물이어도 좋다.In the general formula (3), a plurality of R's are each independently an aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, Ar is a divalent organic group having an aromatic ring, and n means an integer of 1 or more. The aromatic condensed phosphate ester represented by the general formula (3) may be a multimer in which n is 2 or more other than the dimer in which n is 1. Moreover, it is not limited to a single compound, A mixture may be sufficient.

일반식(3)에 있어서 R로 나타내는 치환기를 구비하고 있어도 좋은 방향족 탄화수소기로서는, 예를 들면 탄소수 6∼15의 아릴기를 들 수 있고, 더 구체적으로는, 페닐기, 메틸페닐기, 디메틸페닐기, 트리메틸페닐기, 에틸페닐기, 부틸페닐기, 노닐페닐기 등을 들 수 있다.Examples of the aromatic hydrocarbon group which may have a substituent represented by R in the general formula (3) include an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and more specifically, a phenyl group, a methylphenyl group, a dimethylphenyl group, and a trimethylphenyl group. , an ethylphenyl group, a butylphenyl group, a nonylphenyl group, and the like.

또한 일반식(3)에 있어서, Ar로 나타내는 2가의 유기기의 바람직한 예로서는, 예를 들면 알킬렌기, 아릴렌기 등을 들 수 있고, 이들은 치환기를 구비하고 있어도 좋다. 더 바람직한 것으로서, 예를 들면 페닐렌기나, 다음의 식(4)로 나타내는 기 등을 들 수 있다.Moreover, in General formula (3), as a preferable example of the divalent organic group represented by Ar, an alkylene group, an arylene group, etc. are mentioned, for example, These may be equipped with a substituent. As a more preferable thing, a phenylene group, group represented by following formula (4), etc. are mentioned, for example.

[화학식 6][Formula 6]

Figure pct00006
Figure pct00006

식(4)에서, Y1은 단결합, ―CH2-, ―C(CH3)2-, -SO2-, ―C5H10-, ―C6H12-, ―C7H14-, ―C8H16- 등을 의미한다.In Formula (4), Y 1 is a single bond, -CH 2 -, -C(CH 3 ) 2 -, -SO 2 -, -C 5 H 10 -, -C 6 H 12 -, -C 7 H 14 -, -C 8 H 16 -, etc.

식(4)로 나타내는 기 중에서도, Y1이 단결합인 비페닐디일기가 더 바람직하다.Among the groups represented by the formula (4), a biphenyldiyl group in which Y 1 is a single bond is more preferable.

방향족 축합 인산에스테르로서는, 예를 들면 레조르시놀비스-디페닐포스페이트, 레조르시놀비스-디크실레닐포스페이트, 비스페놀A비스-디페닐포스페이트 등을 들 수 있다. 이들 방향족 축합 인산에스테르로서는, 시판품을 입수 가능하고, 예를 들면 CR-733S(상품명), CR-741(상품명), CR-747(상품명), PX-200(상품명), PX-200B(상품명)[이상, 다이하치화학공업(주)(Daihachi Chemical Industry) 제품] 등을 들 수 있다. 이들 방향족 축합 인산에스테르는 2종 이상을 조합시켜 사용하여도 좋다.Examples of the aromatic condensed phosphate ester include resorcinol bis-diphenyl phosphate, resorcinol bis-dixylenyl phosphate, and bisphenol A bis-diphenyl phosphate. Commercially available products are available as these aromatic condensed phosphate esters, for example, CR-733S (trade name), CR-741 (trade name), CR-747 (trade name), PX-200 (trade name), PX-200B (trade name) [Above, Daihachi Chemical Industry Co., Ltd. product] etc. are mentioned. You may use these aromatic condensed phosphoric acid ester in combination of 2 or more type.

<(B1)성분의 배합량><(B1) compounding quantity of component>

본 실시형태의 수지조성물에 있어서의 (A)성분에 대한 상기 (B1)성분의 중량비는 0.05∼0.7의 범위내이고, 수지필름을 형성하였을 때의 인장탄성률 등의 필름물성을 고려하면 0.2∼0.5의 범위내인 것이 바람직하다(후술하는 수지필름에 있어서도 동일하다). (A)성분에 대한 상기 (B1)성분의 중량비가 0.05 미만에서는 유전특성의 개선이 불충분하게 되는 경우가 있고, 0.7을 넘으면 폴리이미드의 형성이 곤란해지는 경우가 있고 또한 얻어지는 폴리이미드 필름의 취약화(脆弱化)가 발생하는 경우가 있다. (B1)성분의 배합량을 상기 범위내로 함으로써 유전특성을 개선할 수 있다. 또한 (A)성분이 폴리아미드산인 경우에는 폴리이미드로 환산해서 중량비를 산출하는 것으로 한다(이하, 동일하다).The weight ratio of the component (B1) to the component (A) in the resin composition of the present embodiment is within the range of 0.05 to 0.7, and considering film properties such as tensile modulus of elasticity when a resin film is formed, 0.2 to 0.5 It is preferable that it is within the range of (the same applies to the resin film mentioned later). If the weight ratio of the component (B1) to the component (A) is less than 0.05, the improvement of the dielectric properties may be insufficient. (脆弱化) may occur. (B1) A dielectric characteristic can be improved by making the compounding quantity of a component into the said range. In addition, when (A) component is a polyamic acid, it converts into polyimide and shall compute weight ratio (it is the same hereafter).

또한 본 실시형태의 수지조성물에 있어서 (B1)성분은, (A)성분의 열가소성 수지에 대한 (B1)성분에서 유래하는 인의 중량비가 0.01∼0.1의 범위내가 되도록 배합되는 것이 바람직하다. (B1)성분에서 유래하는 인의 중량비가 0.01 미만에서는 유전특성의 개선이 불충분하고, 0.1을 넘으면 폴리이미드 필름(또는 폴리이미드층)의 취약화가 발생하는 경우가 있다.Moreover, in the resin composition of this embodiment, (B1) component is mix|blended so that the weight ratio of the phosphorus derived from (B1) component with respect to the thermoplastic resin of (A) component may become in the range of 0.01-0.1. If the weight ratio of phosphorus derived from component (B1) is less than 0.01, the improvement of the dielectric properties is insufficient, and when it exceeds 0.1, the polyimide film (or polyimide layer) may become brittle.

본 실시형태의 수지조성물에 있어서의 (B1)성분은, (A)성분 중에 포함되는 다이머디아민 조성물에 대한 (B1)성분에서 유래하는 인의 중량비{(B1)성분에서 유래하는 인/(A)성분 중의 다이머디아민 조성물}가 0.01∼0.15의 범위내인 것이 바람직하다. 상기 하한 미만에서는 유전특성의 개선이 불충분하게 되는 경우가 있고, 상기 상한을 넘으면 폴리이미드의 형성이 곤란해지는 경우가 있고 또한 얻어지는 폴리이미드 필름의 취약화가 발생하는 경우가 있다.(B1) component in the resin composition of this embodiment is the weight ratio of phosphorus derived from (B1) component with respect to the dimerdiamine composition contained in (A) component {phosphorus/(A) component derived from (B1) component) It is preferable that the dimerdiamine composition} in it exists in the range of 0.01-0.15. If it is less than the said lower limit, the improvement of a dielectric characteristic may become inadequate, and if it exceeds the said upper limit, formation of a polyimide may become difficult, and the brittleness of the polyimide film obtained may arise.

[(B2)성분:실리카 입자][(B2) component: silica particle]

(B2)성분의 실리카 입자는, 결정성 실리카 입자, 비정질 실리카 입자 중 어느 것이나 사용 가능하지만, 크리스토발라이트 결정상 혹은 석영 결정상을 구비하는 결정성 실리카 입자를 포함하는 것이 바람직하다.Although either a crystalline silica particle and an amorphous silica particle can be used for the silica particle of (B2) component, It is preferable that the crystalline silica particle provided with a cristobalite crystal phase or a quartz crystal phase is included.

(B2)성분의 실리카 입자를 배합함으로써, 수지필름을 형성하였을 때의 유전정접을 저하시킬 수 있다. 수지필름을 형성하였을 때의 저유전정접화를 도모하는 관점에서, 결정성 실리카 입자로서, 크리스토발라이트 결정상을 구비하는 실리카 입자를 사용하는 것이 특히 바람직하다. 크리스토발라이트 결정상을 구비하는 실리카 입자는, 일반적인 실리카 입자와 비교해서 매우 우수한 유전특성(예를 들면, 크리스토발라이트 결정상을 90중량% 이상 함유하는 실리카 입자는, 단체(單體)로 20GHz에서의 유전정접이 0.0001 정도)을 나타내므로, 수지필름의 저유전정접화에 크게 기여할 수 있다.By mix|blending the silica particle of (B2) component, the dielectric loss tangent at the time of forming a resin film can be reduced. From the viewpoint of achieving a low dielectric loss tangent when the resin film is formed, it is particularly preferable to use silica particles having a cristobalite crystal phase as the crystalline silica particles. Silica particles having a cristobalite crystal phase have very excellent dielectric properties compared to general silica particles (for example, silica particles containing 90% by weight or more of a cristobalite crystal phase alone have a dielectric loss tangent of 0.0001 at 20 GHz) degree), so it can greatly contribute to the low dielectric loss tangent of the resin film.

또한 (B2)성분의 실리카 입자로서는, 구상 실리카 입자를 사용하는 것이 바람직하다. 구상 실리카 입자는, 형상이 진구상(眞球狀)에 가까운 실리카 입자로서, 평균장경(平均長徑)과 평균단경(平均短徑)의 비가 1 또는 1에 가까운 것을 말한다.Moreover, as a silica particle of (B2) component, it is preferable to use a spherical silica particle. The spherical silica particle is a silica particle whose shape is close to a true spherical shape, and the ratio of an average long diameter to an average minor diameter means 1 or a thing close to 1.

또한 실리카는 통상의 연소온도에서는 열분해하지 않으므로, (B2)성분의 실리카 입자의 첨가에 의하여 난연성의 향상을 도모할 수 있다.In addition, since silica is not thermally decomposed at a normal combustion temperature, flame retardancy can be improved by adding silica particles as component (B2).

또한 수지필름을 형성하였을 때의 저유전정접화를 도모하는 관점에서, 사용하는 실리카 입자 전체로서, CuKα선에 의한 X선 회절분석 스펙트럼의 2θ=10°∼90°의 범위에서의 SiO2에서 유래하는 전체 피크의 총면적에 대한 크리스토발라이트 결정상 및 석영 결정상에서 유래하는 피크의 합계면적의 비율이 20중량% 이상인 것이 바람직하고, 40중량% 이상이 더 바람직하고, 80중량% 이상이 더욱 더 바람직하다. 실리카 입자 전체에 있어서의 크리스토발라이트 결정상 및/또는 석영 결정상의 비율을 높게 함으로써, 폴리이미드의 저유전정접화를 한층 더 도모하는 것이 가능하게 된다. 실리카 입자 전체에 있어서의 크리스토발라이트 결정상 및 석영 결정상에서 유래하는 피크의 면적의 비율이 20중량% 미만이면, 유전특성향상의 효과가 불명료해진다. 또한 X선 회절분석 스펙트럼에 있어서의 대상이 되는 피크가, 비정질의 브로드(broad)한 피크와의 분리가 곤란한 경우나 다른 결정상의 피크와 겹치는 경우에는, 공지의 각종 해석방법, 예를 들면 내부표준법이나 PONKCS법 등을 사용할 수 있다.In addition, from the viewpoint of achieving a low dielectric loss tangent when the resin film is formed, the total silica particles used are derived from SiO 2 in the range of 2θ = 10° to 90° in the X-ray diffraction spectrum by CuKα ray. The ratio of the total area of the peaks derived from the cristobalite crystal phase and the quartz crystal phase to the total area of the total peaks is preferably 20% by weight or more, more preferably 40% by weight or more, and still more preferably 80% by weight or more. By increasing the ratio of the cristobalite crystal phase and/or the quartz crystal phase in the entire silica particle, it becomes possible to further reduce the dielectric loss tangent of the polyimide. If the ratio of the area of the peaks derived from the cristobalite crystal phase and the quartz crystal phase in the whole silica particle is less than 20 wt%, the effect of improving the dielectric properties becomes unclear. In addition, when the target peak in the X-ray diffraction spectrum is difficult to separate from the amorphous broad peak or overlaps with the peak of another crystalline phase, various known analysis methods, for example, the internal standard method Alternatively, the PONKCS method may be used.

실리카 입자는, 평균입자지름D50이 6∼20㎛의 범위내인 것이 바람직하고, 8∼15㎛의 범위내인 것이 더 바람직하다. 여기에서 평균입자지름D50은, 레이저 회절 산란법에 의한 부피기준의 입도분포측정(粒度分布測定)에 의하여 얻은 빈도분포곡선(頻度分布曲線)에 있어서의 누적값이 50%가 되는 값이다. 평균입자지름D50이 이 범위내이면, 유전특성을 효과적으로 개선할 수 있음과 아울러 수지조성물에 의하여 수지필름을 형성하였을 때의 표면의 평활성(平滑性)을 악화시키는 일이 없어서 외관상 양호한 저유전 필름을 얻을 수 있다. 평균입자지름D50이 상기 범위를 하회(下廻)하면 실리카 입자의 비표면적이 증가하여, 실리카 입자표면의 흡착수(吸着水)나 극성기(極性基)가 유전특성에 영향을 미치는 경우가 있다. 평균입자지름D50이 상기 범위를 상회(上廻)하면 수지필름의 표면의 요철로서 나타나서, 필름 표면의 평활성을 악화시키는 경우가 있다.The silica particles preferably have an average particle diameter D 50 in the range of 6 to 20 µm, and more preferably in the range of 8 to 15 µm. Here, the average particle diameter D 50 is a value at which the cumulative value in the frequency distribution curve obtained by the volume-based particle size distribution measurement by the laser diffraction scattering method becomes 50%. When the average particle diameter D 50 is within this range, the dielectric properties can be effectively improved, and the surface smoothness when a resin film is formed with the resin composition is not deteriorated, and a low-k film good in appearance can get When the average particle diameter D 50 is less than the above range, the specific surface area of the silica particles increases, and the adsorbed water or polar groups on the surface of the silica particles may affect the dielectric properties. When the average particle diameter D 50 exceeds the above range, it may appear as irregularities on the surface of the resin film, which may deteriorate the smoothness of the film surface.

또한 입자지름이 3㎛ 이상인 실리카 입자의 90중량% 이상이 원형도(圓形度) 0.7 이상인 것이 바람직하고, 0.9 이상인 것이 더 바람직하다. 실리카 입자의 원형도는, 화상해석법에 의하여, 촬영된 입자와 같은 투영면적(投影面積)을 가지는 원을 상정하고, 그 원의 원주길이와 당해 입자의 원주길이의 비로 구할 수 있다. 원형도가 0.7 미만이면, 표면적이 증가하여 유전특성에 악영향이 발생하는 경우가 있고, 또한 수지용액에 배합하였을 때의 점도의 상승이 커져서 취급이 어려워진다. 또한 3차원적으로 요구되는 진구도(眞球度)에 있어서도 상기 원형도의 값과 실질적으로 대응하는 값이 바람직하다.Moreover, it is preferable that 90 weight% or more of the silica particle with a particle diameter of 3 micrometers or more has a circularity of 0.7 or more, and it is more preferable that it is 0.9 or more. The circularity of silica particles can be obtained by image analysis, assuming a circle having the same projected area as the photographed particles, and the ratio of the circumference length of the circle to the circumference length of the particle. When the circularity is less than 0.7, the surface area increases, which may adversely affect the dielectric properties, and the viscosity increases when blended with the resin solution, making handling difficult. Moreover, also in the sphericity required three-dimensionally, a value substantially corresponding to the value of the said circularity is preferable.

또한 실리카 입자는 진비중(眞比重)이 2.3 이상인 것이 바람직하다. 진비중이 2.3 미만이면 실리카 입자의 결정화도가 작은 것을 시사하며 유전특성향상의 효과가 작아진다.Moreover, it is preferable that a true specific gravity of a silica particle is 2.3 or more. If the true specific gravity is less than 2.3, it is suggested that the crystallinity of the silica particles is small, and the effect of improving the dielectric properties is small.

실리카 입자는, 시판품을 적절하게 선정하여 사용할 수 있다. 예를 들면 구상 크리스토발라이트 실리카 분말(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주)(NIPPON STEEL Chemical & Material) 제품, 상품명; CR10-20), 구상 비정질 실리카 분말(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; SC70-2) 등을 바람직하게 사용할 수 있다. 또한 실리카 입자로서 2종 이상의 서로 다른 실리카 입자를 병용하여도 좋다.The silica particle can select and use a commercial item suitably. For example, spherical cristobalite silica powder (NIPPON STEEL Chemical & Material, product name; CR10-20), spherical amorphous silica powder (Nitetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, brand name; SC70) -2) and the like can be preferably used. Moreover, you may use together 2 or more types of mutually different silica particles as a silica particle.

<(B2)성분의 배합량><(B2) compounding quantity of component>

본 실시형태의 수지조성물에 있어서의 (A)성분 및 (B2)성분의 합계에 대한 (B2)성분의 중량비는, 5∼60중량%의 범위내이다(후술하는 수지필름에 있어서도 동일하다). (A)성분 및 (B2)성분의 합계에 대한 (B2)성분의 중량비가 5중량% 미만에서는, 유전특성 및 난연성의 개선효과가 불충분하게 되는 경우가 있고, 60중량%를 넘으면, 폴리이미드의 형성이 곤란해지는 경우가 있고 또한 얻어지는 폴리이미드 필름의 취약화가 발생하는 경우가 있다. (B2)성분의 배합량을 상기 범위내로 함으로써 유전특성과 난연성을 개선할 수 있다.The weight ratio of the component (B2) to the total of the component (A) and the component (B2) in the resin composition of the present embodiment is within the range of 5 to 60% by weight (the same applies to the resin film described later). If the weight ratio of the component (B2) to the total of the component (A) and the component (B2) is less than 5% by weight, the effect of improving dielectric properties and flame retardancy may become insufficient. Formation may become difficult, and also the resulting polyimide film may become brittle. (B2) By making the compounding quantity of a component into the said range, a dielectric characteristic and a flame retardance can be improved.

또한 (B2)성분의 함유량이 (A)성분 및 (B2)성분의 합계에 대하여 5∼20중량%의 범위내인 경우에, CuKα선에 의한 X선 회절분석 스펙트럼의 2θ=10°∼90°의 범위에서의 SiO2에서 유래하는 전체 피크의 총면적에 대한 크리스토발라이트 결정상 및 석영 결정상에서 유래하는 피크의 합계면적이 40중량% 이상이 되도록 결정성 실리카 입자를 배합하는 것이 바람직하다. 한편 (B2)성분의 함유량이 (A)성분 및 (B2)성분의 합계에 대하여 20중량%를 넘는 경우에, 크리스토발라이트 결정상 및 석영 결정상에서 유래하는 피크면적이 30중량% 이상이 되도록 결정성 실리카 입자를 배합하는 것이 바람직하다.Moreover, when content of (B2) component exists in the range of 5 to 20 weight% with respect to the sum total of (A) component and (B2) component, 2θ = 10° to 90° of X-ray diffraction spectrum by CuKα ray It is preferable to mix the crystalline silica particles so that the total area of the peaks derived from the cristobalite crystal phase and the quartz crystal phase with respect to the total area of the total peaks derived from SiO 2 in the range of is 40% by weight or more. On the other hand, when the content of component (B2) exceeds 20% by weight with respect to the total of component (A) and component (B2), crystalline silica particles so that the peak area derived from the cristobalite crystal phase and the quartz crystal phase is 30% by weight or more It is preferable to combine

또한 수지필름을 형성하였을 때에 동박 등의 금속층에 대한 접착력을 높이는 관점에서, (A)성분 및 (B2)성분의 합계에 대한 (B2)성분의 부피비율이 3∼41%의 범위내인 것이 바람직하고, 10∼35%의 범위내인 것이 더 바람직하다(후술하는 수지필름에 있어서도 동일하다). 또한 부피비율은, 배합되는 (A)성분과 (B2)성분의 밀도 및 중량비로부터 산출하거나 또는 주사형 전자현미경에 의한 단면관찰에 의하여 구할 수 있다.In addition, from the viewpoint of enhancing the adhesion to the metal layer such as copper foil when the resin film is formed, the volume ratio of the component (B2) to the total of the component (A) and the component (B2) is preferably within the range of 3 to 41%. and more preferably within the range of 10 to 35% (the same applies to the resin film described later). In addition, a volume ratio can be calculated|required from the density and weight ratio of (A) component and (B2) component mix|blended, or can be calculated|required by cross-sectional observation with a scanning electron microscope.

[(B3)성분:액정성 고분자 필러][(B3) component: liquid crystalline polymer filler]

액정성 고분자 필러는, 광학적 이방성(光學的 異方性)의 용융상(溶融相)을 형성하는 액정 폴리머로 이루어지는 입자이다. 광학적 이방성의 용융상을 형성하는 액정 폴리머는, 서모트로픽 액정 고분자(thermotropic 液晶 高分子)라고도 부르고 있다. 광학적으로 이방성을 형성하는 용융상을 형성하는 고분자는, 가열장치를 구비한 편광현미경 직교 니콜하에서 용융상태의 시료를 관찰하였을 때에 편광을 투과하는 고분자이다. 액정 폴리머는, 주파수 의존성이 거의 없어, 매우 우수한 유전특성을 구비함과 아울러 난연성 향상에도 기여하므로, 이것을 배합함으로써 수지필름의 유전특성과 난연성을 개선할 수 있다.A liquid crystalline polymer filler is a particle|grain which consists of a liquid crystal polymer which forms the molten phase of optically anisotropy. The liquid crystal polymer forming the optically anisotropic melt phase is also called a thermotropic liquid crystal polymer. A polymer that forms a molten phase that forms optically anisotropy is a polymer that transmits polarized light when a sample in a molten state is observed under orthogonal nicol under a polarizing microscope equipped with a heating device. The liquid crystal polymer has almost no frequency dependence, has very excellent dielectric properties, and contributes to improvement of flame retardancy.

액정 폴리머로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면 이하의 (1)∼(4)로 분류되는 화합물 및 그 유도체로부터 유도되는 공지의 서모트로픽 액정 폴리에스테르 및 폴리에스테르아미드를 들 수 있다.Although it does not specifically limit as a liquid crystal polymer, For example, well-known thermotropic liquid crystal polyester and polyesteramide derived from the compound classified into the following (1)-(4), and its derivative(s) are mentioned.

(1)방향족 또는 지방족 디히드록시 화합물(1) aromatic or aliphatic dihydroxy compounds

(2)방향족 또는 지방족 디카르복시산(2) aromatic or aliphatic dicarboxylic acids

(3)방향족 히드록시카르복시산(3) aromatic hydroxycarboxylic acids

(4)방향족 디아민, 방향족 히드록시아민 또는 방향족 아미노카르복시산(4) aromatic diamines, aromatic hydroxylamines or aromatic aminocarboxylic acids

액정 폴리머 중의 방향환이 많아질수록, 유전특성이나 난연성을 향상시키는 효과를 기대할 수 있기 때문에, 상기 (1)로서 방향족 디히드록시 화합물(방향족 디올)을, 상기 (2)로서 방향족 디카르복시산을 포함하는 것이 바람직하다.As the number of aromatic rings in the liquid crystal polymer increases, the effect of improving dielectric properties and flame retardancy can be expected. it is preferable

이들 원료화합물로부터 얻어지는 액정 폴리머의 대표적인 예로서, 하기 식(a)∼(g)로 나타내는 구조단위에서 선택되는 2개 이상의 조합을 구비하는 공중합체로서, 식(a)로 나타내는 구조단위 또는 식(b)로 나타내는 구조단위 중의 어느 하나를 포함하는 공중합체가 바람직하고, 식(a)로 나타내는 구조단위와 식(b)로 나타내는 구조단위를 포함하는 공중합체가 더 바람직하다. 식(a) 및 식(b)는 방향족 히드록시카르복시산으로부터 유도되는 구조단위의 대표적인 예이고, 식(c), 식(d), 식(e)는 방향족 디카르복시산으로부터 유도되는 구조단위의 대표적인 예이고, 식(f), 식(g)는 방향족 디히드록시 화합물(방향족 디올)로부터 유도되는 구조단위의 대표적인 예이다. 또한 식(a)∼(g)로 나타내는 구조단위에 있어서, 방향환은 임의의 치환기를 구비하고 있어도 좋다.As a representative example of a liquid crystal polymer obtained from these raw material compounds, a copolymer comprising a combination of two or more selected from the structural units represented by the following formulas (a) to (g), the structural unit represented by the formula (a) or the formula ( A copolymer including any one of the structural units represented by b) is preferable, and a copolymer including the structural unit represented by the formula (a) and the structural unit represented by the formula (b) is more preferable. Formulas (a) and (b) are representative examples of structural units derived from aromatic hydroxycarboxylic acids, and Formulas (c), (d) and (e) are representative examples of structural units derived from aromatic dicarboxylic acids. and formulas (f) and (g) are representative examples of structural units derived from aromatic dihydroxy compounds (aromatic diols). Moreover, in the structural unit represented by Formula (a) - (g), the aromatic ring may be equipped with arbitrary substituents.

특히 유전정접이 낮은 액정 폴리머로서,In particular, as a liquid crystal polymer with a low dielectric loss tangent,

·식(a) 및 식(b)로 나타내는 구조단위와, 식(c), 식(d) 또는 식(e) 중에서 선택되는 구조단위와, 식(f) 또는 식(g) 중에서 선택되는 구조단위를 특정한 비율로 포함하는 액정 폴리머;A structural unit represented by formulas (a) and (b), a structural unit selected from formulas (c), (d) or (e), and a structure selected from formulas (f) or (g) liquid crystal polymers containing units in a specific ratio;

·식(b)로 나타내는 구조단위와, 식(c), 식(d) 또는 식(e) 중에서 선택되는 구조단위와, 식(f) 또는 식(g) 중에서 선택되는 구조단위를 특정한 비율로 포함하는 액정 폴리머;The structural unit represented by formula (b), the structural unit selected from formula (c), formula (d), or formula (e), and the structural unit selected from formula (f) or formula (g) in a specific ratio liquid crystal polymer comprising;

등을 들 수 있다.and the like.

[화학식 7][Formula 7]

Figure pct00007
Figure pct00007

수지조성물로부터 얻어지는 수지필름의 유전특성을 개선하기 위하여, 액정성 고분자 필러는 단체(單體)로서, 10GHz에서의 비유전율이 바람직하게는 2.8∼3.6의 범위내, 더 바람직하게는 3.0∼3.4의 범위내이고, 10GHz에서의 유전정접이 바람직하게는 0.0019 미만, 더 바람직하게는 0.0015 이하인 것을 사용하는 것이 좋다.In order to improve the dielectric properties of the resin film obtained from the resin composition, the liquid crystalline polymer filler is a single substance, and the dielectric constant at 10 GHz is preferably in the range of 2.8 to 3.6, more preferably in the range of 3.0 to 3.4. It is preferable to use one with a dielectric loss tangent in the range of preferably less than 0.0019, more preferably less than or equal to 0.0015 at 10 GHz.

또한 액정성 고분자 필러는, (A)성분의 10GHz에서의 유전정접을 Dfa, (B3)성분의 10GHz에서의 유전정접을 Dfb라고 할 때에, Dfb가 0.0019 미만이고, Dfa>Dfb인 것이 더 바람직하다.Further, in the liquid crystalline polymer filler, when the dielectric loss tangent at 10 GHz of component (A) is Dfa, and the dielectric loss tangent at 10 GHz of component (B3) is Dfb, Dfb is less than 0.0019, and Dfa > Dfb is more preferable. .

또한 액정 폴리머로서는, 난연성의 향상을 도모하는 관점에서 방향족 고리를 풍부하게 포함하는 것이 바람직하다. 액정성 고분자 필러중의 방향족 고리의 중량비율로서, 바람직하게는 60중량% 이상, 더 바람직하게는 70중량% 이상의 것을 사용하는 것이 좋다.Moreover, it is preferable as a liquid crystal polymer to contain an aromatic ring abundantly from a viewpoint of aiming at the improvement of a flame retardance. As the weight ratio of the aromatic ring in the liquid crystalline polymer filler, it is preferable to use 60% by weight or more, more preferably 70% by weight or more.

또한 액정 폴리머 입자로서는, 구상 액정 폴리머 입자를 사용하는 것이 바람직하다. 구상 액정 폴리머 입자는, 형상이 진구상에 가까운 액정 폴리머 입자로서, 평균장경과 평균단경의 비가 1 또는 1에 가까운 것을 말한다.Further, as the liquid crystal polymer particles, it is preferable to use spherical liquid crystal polymer particles. The spherical liquid crystal polymer particles are liquid crystal polymer particles having a shape close to a true spherical shape, and the ratio of the average major diameter to the average minor diameter is 1 or close to 1.

액정 폴리머 입자는, 평균입자지름D50이 6∼20㎛의 범위내인 것이 바람직하고, 8∼15㎛의 범위내인 것이 더 바람직하다. 여기에서 평균입자지름D50은, 레이저 회절 산란법에 의한 부피기준의 입도분포측정에 의하여 얻은 빈도분포곡선에 있어서의 누적값이 50%가 되는 값이다. 평균입자지름D50이 이 범위내이면, 수지조성물에 의하여 수지필름을 형성하였을 때의 표면의 평활성을 악화시키는 일이 없어, 외관이 양호한 저유전 필름이 얻어진다. 평균입자지름D50이 상기 범위를 하회하면 수지조성물로서 배합하였을 때에 액정 폴리머 입자가 응집하여, 균일한 수지조성물을 얻지 못할 가능성이 있다. 평균입자지름D50이 상기 범위를 상회하면 수지필름의 표면의 요철로서 나타나서, 필름 표면의 평활성을 악화시키는 경우가 있다.The liquid crystal polymer particles preferably have an average particle diameter D 50 in the range of 6 to 20 µm, and more preferably in the range of 8 to 15 µm. Here, the average particle diameter D 50 is a value at which the cumulative value in the frequency distribution curve obtained by the volume-based particle size distribution measurement by the laser diffraction scattering method becomes 50%. When the average particle diameter D 50 is within this range, the smoothness of the surface when the resin film is formed with the resin composition is not deteriorated, and a low-k film with good appearance can be obtained. If the average particle diameter D 50 is less than the above range, the liquid crystal polymer particles may agglomerate when blended as a resin composition, and a uniform resin composition may not be obtained. When the average particle diameter D 50 exceeds the above range, it may appear as irregularities on the surface of the resin film, thereby deteriorating the smoothness of the film surface.

액정 폴리머의 융점은 수지조성물의 경화온도보다 높은 것이 바람직하고, 예를 들면 250℃ 이상인 것이 좋다.The melting point of the liquid crystal polymer is preferably higher than the curing temperature of the resin composition, for example, 250° C. or higher.

액정 폴리머 입자는, 적절하게 선정하여 사용할 수 있다. 예를 들면 저유전 액정성 고분자(JXTG 에너지(주) 제품) 등을 바람직하게 사용할 수 있다. 또한 액정 폴리머 입자로서, 2종 이상의 서로 다른 액정 폴리머 입자를 병용하여도 좋다.Liquid crystal polymer particles can be appropriately selected and used. For example, a low dielectric liquid crystalline polymer (manufactured by JXTG Energy Co., Ltd.) or the like can be preferably used. Further, as the liquid crystal polymer particles, two or more types of different liquid crystal polymer particles may be used in combination.

<(B3)성분의 배합량><(B3) compounding quantity of component>

본 실시형태의 수지조성물에 있어서의 (A)성분 및 (B3)성분의 합계에 대한 (B3)성분의 비율은, 15∼50부피%의 범위내이고, 15∼40부피%의 범위내인 것이 바람직하다(후술하는 수지필름에 있어서도 동일하다). (A)성분 및 (B3)성분의 합계에 대한 (B3)성분의 부피비율이 15부피% 미만에서는, 유전특성 및 난연성의 개선효과가 불충분하게 되는 경우가 있고, 50부피%를 넘으면 폴리이미드의 형성이 곤란해지는 경우가 있고 또한 얻어지는 수지필름의 취약화가 발생하는 경우가 있다. (B3)성분의 배합량을 상기 범위내로 함으로써 유전특성과 난연성을 개선할 수 있다. 또한 (A)성분 및 (B3)성분의 합계에 대한 (B3)성분의 부피비율은, 경화시킨 필름에 대하여 주사형 전자현미경 등에 의한 단면관찰을 실시하고, 수지조성물 중의 액정성 고분자 필러의 비율을 산출하는 방법 등에 의하여 구할 수 있다.The ratio of (B3) component with respect to the sum total of (A) component and (B3) component in the resin composition of this embodiment exists in the range of 15-50 volume%, It is in the range of 15-40 volume% It is preferable (the same applies to the resin film mentioned later). If the volume ratio of the component (B3) to the total of the component (A) and the component (B3) is less than 15% by volume, the effect of improving dielectric properties and flame retardancy may become insufficient. Formation may become difficult, and the resulting resin film may become brittle. (B3) By carrying out the compounding quantity of a component within the said range, a dielectric characteristic and a flame retardance can be improved. In addition, the volume ratio of (B3) component with respect to the total of (A) component and (B3) component is cross-sectional observation with a scanning electron microscope etc. with respect to the cured film, The ratio of the liquid crystalline polymer filler in the resin composition It can be calculated|required by the calculation method etc.

[임의성분][Optional Ingredients]

본 실시형태의 수지조성물은 유기용매를 함유할 수 있다. 예를 들면 용제 가용성의 DDA계 열가소성 폴리이미드와 용매를 함유하는 폴리이미드 용액이어도 좋다. 유기용매로서는, 예를 들면 N,N-디메틸포름아미드(DMF), N,N-디메틸아세트아미드(DMAc), N,N-디에틸아세트아미드, N-메틸-2-피롤리돈(NMP), 2-부타논, 디메틸술폭시드(DMSO), 헥사메틸포스포르아미드, N-메틸카프로락탐, 황산디메틸, 시클로헥사논, 디옥산, 테트라하이드로퓨란, 디글라임, 트리글라임, 크레졸 등을 들 수 있다. 이들 용매를 2종 이상 병용할 수도 있고, 또한 크실렌, 톨루엔과 같은 방향족 탄화수소의 병용도 가능하다. 유기용매의 함유량으로서는 특별히 제한되는 것은 아니지만, 열가소성 수지의 농도가 5∼30중량% 정도가 되는 사용량으로 조정하여 사용하는 것이 바람직하다.The resin composition of this embodiment may contain an organic solvent. For example, a polyimide solution containing a solvent-soluble DDA-based thermoplastic polyimide and a solvent may be used. Examples of the organic solvent include N,N-dimethylformamide (DMF), N,N-dimethylacetamide (DMAc), N,N-diethylacetamide, and N-methyl-2-pyrrolidone (NMP). , 2-butanone, dimethylsulfoxide (DMSO), hexamethylphosphoramide, N-methylcaprolactam, dimethyl sulfate, cyclohexanone, dioxane, tetrahydrofuran, diglyme, triglyme, cresol, etc. can Two or more of these solvents may be used in combination, and an aromatic hydrocarbon such as xylene or toluene may also be used in combination. Although there is no restriction|limiting in particular as content of an organic solvent, The density|concentration of a thermoplastic resin is adjusted to the usage-amount which becomes about 5 to 30 weight%, and it is preferable to use.

또한 본 실시형태의 수지조성물은, (B)성분으로서 액정성 고분자 필러를 사용하는 경우에 난연제를 함유할 수 있다. 난연제로서는, 특별한 제한은 없지만 인계의 난연제가 바람직하다. DDA계 열가소성 폴리이미드 등의 지방족계 열가소성 수지는, 방향족 고리의 농도가 낮기 때문에 인계 난연제를 첨가해도 난연특성을 충분하게 발휘할 수 없지만, (B3)성분의 액정성 고분자 필러가 존재하는 수지조성물에서는, 액정 폴리머에서 유래하는 방향족 고리에 의하여 그 농도가 높아져 있기 때문에, 연소시의 차(char)(탄화막)의 형성이 촉진되어 높은 난연효과가 발휘된다. 이러한 관점에서, (B3)성분의 액정성 고분자 필러를 사용하는 경우에는, 수지조성물의 불휘발성 유기화합물 성분 100중량%에 대하여, 인계 난연제를 15∼30중량% 더 첨가하는 것이 바람직하다. 여기에서 「불휘발성 유기화합물 성분」은, 수지조성물로부터 용제 및 무기고형분을 제외한 나머지 고형분을 의미한다. 즉 불휘발성 유기화합물 성분은, (A)성분의 열가소성 수지 및 (B3)성분의 액정성 고분자 필러를 함유하고, 임의성분으로서, 열가소성 수지 이외의 수지, 액정성 고분자 필러 이외의 유기필러, 가소제, 경화촉진제, 커플링제, 유기안료, 인계 난연제 이외의 유기계 난연제 등을 함유할 수 있다.Moreover, the resin composition of this embodiment can contain a flame retardant, when using a liquid crystalline polymer filler as (B) component. Although there is no restriction|limiting in particular as a flame retardant, A phosphorus flame retardant is preferable. Since the aliphatic thermoplastic resin such as DDA-based thermoplastic polyimide has a low aromatic ring concentration, it cannot fully exhibit flame retardant properties even when a phosphorus-based flame retardant is added. Since the concentration is increased by the aromatic ring derived from the liquid crystal polymer, the formation of a char (carbonized film) during combustion is promoted and a high flame retardant effect is exhibited. From this point of view, when using the liquid crystalline polymer filler of component (B3), it is preferable to further add 15 to 30% by weight of a phosphorus-based flame retardant with respect to 100% by weight of the nonvolatile organic compound component of the resin composition. Here, the "nonvolatile organic compound component" means the remaining solid content after excluding the solvent and inorganic solid content from the resin composition. That is, the nonvolatile organic compound component contains the thermoplastic resin of component (A) and the liquid crystalline polymer filler of component (B3), and as optional components, resins other than thermoplastic resins, organic fillers other than liquid crystalline polymer fillers, plasticizers, It may contain a curing accelerator, a coupling agent, an organic pigment, an organic flame retardant other than a phosphorus flame retardant, and the like.

인계 난연제로서는, 예를 들면 상기 (B1)성분과 동일한 구조를 구비하는 방향족 축합 인산에스테르, 유기 포스핀산의 금속염, 알킬포스핀(다만, 적린(赤燐)을 제외한다) 등을 들 수 있다. 이들 난연제는, 종류가 서로 다른 화합물 2종 이상을 병용하여도 좋다.Examples of the phosphorus-based flame retardant include aromatic condensed phosphoric acid esters having the same structure as the component (B1), metal salts of organic phosphinic acids, and alkylphosphines (however, red phosphorus is excluded). These flame retardants may use together 2 or more types of compounds from which a type differs.

유기 포스핀산의 금속염은, 예를 들면 하기의 일반식(5)로 나타내는 바와 같이, 2개의 유기기가 인에 결합하고 있는 인산의 금속염이다.The metal salt of organic phosphinic acid is a metal salt of phosphoric acid in which two organic groups are bonded to phosphorus, for example, as represented by the following general formula (5).

[화학식 8][Formula 8]

Figure pct00008
Figure pct00008

일반식(5)에서, 2개의 유기기R11 및 R12는, 서로 동일하거나 또는 다른 직쇄상(直鎖狀) 혹은 분기(分岐)된 탄소수 1∼6의 알킬기 또는 페닐기 또는 톨릴기인 것이 바람직하다. 또한 일반식(5)에서, 금속종M은, Mg, Ca, Al, Sb, Sn, Ge, Ti, Fe, Zr, Ce, Bi, Sr, Mn, Li, Na 및 K로 이루어지는 군에서 선택되는 것이 바람직하다. 또한 금속종M이 2가 이상의 n가의 금속인 경우에는, 일반식(5)의 M을 M1/n으로 변형한다. 또한 난연효과를 향상시키기 위하여, 인함유율을 높이는 것이 바람직하고, 구체적으로는 2개의 유기기R11 및 R12는 탄소수 1∼3의 알킬기가 바람직하고, 또한 난연성 및 가요성(可撓性)을 향상시키고 금속염으로서의 물에 대한 용해성을 억제시키기 위하여, 금속종M은 알루미늄(Al)이 바람직하다.In the general formula (5), the two organic groups R 11 and R 12 are preferably the same or different from each other linear or branched C1-C6 alkyl group, phenyl group, or tolyl group. . In addition, in the general formula (5), the metal species M is selected from the group consisting of Mg, Ca, Al, Sb, Sn, Ge, Ti, Fe, Zr, Ce, Bi, Sr, Mn, Li, Na and K. it is preferable Further, when the metal species M is a divalent or higher n-valent metal, M in the general formula (5) is changed to M1/n. In addition, in order to improve the flame retardant effect, it is preferable to increase the phosphorus content, specifically, the two organic groups R 11 and R 12 are preferably an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and have flame retardancy and flexibility. In order to improve and suppress solubility in water as a metal salt, the metal species M is preferably aluminum (Al).

유기 포스핀산의 금속염으로서는, 시판품이 입수 가능하고, 예를 들면 클라리언트재팬(주)(Clariant Japan) 제품의 포스핀산 알루미늄염인 엑솔리트(Exolit)OP930(상품명), 엑솔리트OP935(상품명), 엑솔리트OP940(상품명) 등을 들 수 있다.As the metal salt of organic phosphinic acid, commercially available products are available, for example, Exolit OP930 (trade name), Exolit OP935 (trade name), Exolit OP935 (trade name), which are phosphinic acid aluminum salts manufactured by Clariant Japan. Lit OP940 (brand name) etc. are mentioned.

본 실시형태의 수지조성물에는, 필요에 따라 임의성분으로서, (A)성분의 열가소성 수지 이외의 다른 수지성분, 가교제, 실리카 입자 이외의 무기필러, 액정성 고분자 필러 이외의 유기필러, 가소제, 경화촉진제, 커플링제, 안료 등을 적절하게 더 배합할 수 있다. 가교제로서는, 적어도 2개의 제1급 아미노기를 관능기로서 구비하는 아미노 화합물(가교형성용 아미노 화합물), 에폭시 화합물, 비스말레이미드 화합물, 아크릴(메타크릴)계 화합물 등을 들 수 있다. 무기필러로서는, 예를 들면 산화알루미늄, 산화마그네슘, 산화베릴륨, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화규소, 불화알루미늄, 불화칼슘 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.In the resin composition of the present embodiment, as optional components, other resin components other than the thermoplastic resin of component (A), crosslinking agents, inorganic fillers other than silica particles, organic fillers other than liquid crystal polymer fillers, plasticizers, and curing accelerators , a coupling agent, a pigment, etc. can be further mix|blended suitably. Examples of the crosslinking agent include amino compounds having at least two primary amino groups as functional groups (amino compounds for crosslinking formation), epoxy compounds, bismaleimide compounds, and acrylic (methacrylic) compounds. Examples of the inorganic filler include aluminum oxide, magnesium oxide, beryllium oxide, boron nitride, aluminum nitride, silicon nitride, aluminum fluoride, and calcium fluoride. These can be used 1 type or in mixture of 2 or more types.

[점도(粘度)][Viscosity]

수지조성물의 점도는, 수지조성물을 도포할 때의 핸들링성(취급성/조작성)을 높여 균일한 두께의 도포막을 형성하기 쉬운 점도범위로서, 예를 들면 3000cps∼100000cps의 범위내로 하는 것이 바람직하고, 5000cps∼50000cps의 범위내로 하는 것이 더 바람직하다. 상기한 점도범위를 벗어나면, 코터 등에 의한 도포작업시에 필름에 두께 불균일, 줄무늬 등의 불량이 쉽게 발생하게 된다.The viscosity of the resin composition is a viscosity range in which it is easy to form a coating film of a uniform thickness by increasing handling (handleability / operability) when the resin composition is applied. It is more preferably within the range of 5000 cps to 50000 cps. If the viscosity is out of the above-mentioned range, defects such as thickness unevenness and streaks easily occur on the film during coating by a coater or the like.

[수지조성물의 조제(調製)][Preparation of resin composition]

본 실시형태의 수지조성물은, 예를 들면 임의의 용제를 사용하여 (A)성분의 용액을 작성하고, 거기에 (B)성분을 첨가해서 균일하게 혼합함으로써 조제할 수 있다.The resin composition of this embodiment can be prepared, for example by creating the solution of (A) component using arbitrary solvents, adding (B) component there, and mixing uniformly.

예를 들면 DDA계 열가소성 폴리이미드의 수지용액에 (B)성분을 직접 배합하여도 좋다. 또한 (A)성분의 일부분을, (B)성분과 동시에 또는 (B)성분을 첨가한 후에 배합하여도 좋다.For example, you may mix|blend (B) component directly into the resin solution of a DDA type|system|group thermoplastic polyimide. Moreover, you may mix|blend a part of (A) component simultaneously with (B) component, or after adding (B) component.

어느 방법이든, 1회에 (B)성분을 전량 투입하여도 좋고, 수회(數回)에 나누어서 조금씩 첨가하여도 좋다. 또한 원료도 일괄적으로 넣어도 좋고, 수회에 나누어서 조금씩 혼합하여도 좋다.Either method may inject|throw-in whole quantity of (B) component at a time, and it may divide into several times and may add little by little. In addition, the raw materials may be put in a batch, or may be divided into several times and mixed little by little.

본 실시형태의 수지조성물은, 이것을 사용하여 접착제층을 형성한 경우에, 우수한 유연성, 열가소성에 더하여, 우수한 유전특성과 난연성을 가지게 된다. 이 때문에 본 실시형태의 수지조성물은, 예를 들면 FPC, 리지드·플렉스 회로기판 등의 배선부를 보호하는 커버레이 필름용의 접착제로서 바람직한 특성을 구비하고 있다.When the resin composition of this embodiment is used to form an adhesive layer, in addition to excellent flexibility and thermoplasticity, it has excellent dielectric properties and flame retardancy. For this reason, the resin composition of this embodiment is equipped with the characteristic suitable as an adhesive agent for coverlay films which protect wiring parts, such as an FPC and a rigid flex circuit board, for example.

[수지필름][Resin Film]

본 실시형태의 수지필름은, 열가소성 수지층(바람직하게는, DDA계 열가소성 폴리이미드층)을 포함하는 수지필름으로서, 상기 열가소성 수지층이, 상기 수지조성물의 고형분(용제를 제외한 잔부)을 주요성분으로 하여 필름화되어 이루어지는 것이다. 즉 본 실시형태의 수지필름은, (A)성분 및 (B)성분을 함유함과 아울러, (A)성분에 대한 (B)성분의 중량비가, 상기 수지조성물과 마찬가지로 소정의 범위내로 조정되어 있다. 본 실시형태의 수지필름은, 가요성, 접착성에 더하여, 우수한 고주파 특성 및 난연성을 가지고 있기 때문에, 예를 들면 FPC, 리지드·플렉스 회로기판 등의 배선부를 보호하는 커버레이 필름용의 접착제층이나, 다층 FPC의 본딩시트 등의 용도로 바람직하게 이용할 수 있다.The resin film of this embodiment is a resin film including a thermoplastic resin layer (preferably, a DDA-based thermoplastic polyimide layer), wherein the thermoplastic resin layer contains a solid content (residue excluding a solvent) of the resin composition as a main component. is made into a film. That is, while the resin film of this embodiment contains (A) component and (B) component, the weight ratio of (B) component with respect to (A) component is adjusted within a predetermined range similarly to the said resin composition. . Since the resin film of this embodiment has excellent high-frequency characteristics and flame retardancy in addition to flexibility and adhesiveness, for example, an adhesive layer for a coverlay film that protects wiring portions such as FPC, rigid flex circuit board, and the like; It can be preferably used for applications, such as a bonding sheet of a multilayer FPC.

본 실시형태의 수지필름은, 상기한 수지조성물로 형성되는 열가소성 수지층을 포함하는 절연수지의 필름이면 특별하게 한정되는 것이 아니고, 절연수지로 이루어지는 필름(시트)이어도 좋고, 동박, 글라스판, 폴리이미드계 필름, 폴리아미드계 필름, 폴리에스테르계 필름 등의 수지시트 등의 기재에 적층된 상태의 절연수지의 필름이어도 좋다.The resin film of the present embodiment is not particularly limited as long as it is a film of an insulating resin including a thermoplastic resin layer formed of the above-described resin composition, and may be a film (sheet) made of an insulating resin, copper foil, glass plate, or polyimide. A film of an insulating resin laminated on a base material such as a resin sheet such as a mid-based film, a polyamide-based film, or a polyester-based film may be used.

<글라스 전이온도><Glass Transition Temperature>

본 실시형태의 수지필름은, 글라스 전이온도(Tg)가 250℃ 이하인 것이 바람직하고, 40℃ 이상 200℃ 이하의 범위내인 것이 더 바람직하다. 수지필름의 Tg가 250℃ 이하인 것에 의하여 저온에서의 열압착이 가능하게 되기 때문에, 적층시에 발생하는 내부응력을 완화시켜서 회로가공후의 치수변화를 억제할 수 있다. 수지필름의 Tg가 250℃를 넘으면, 접착온도가 높아져서 회로가공후의 치수안정성을 손상시킬 우려가 있다.It is preferable that the glass transition temperature (Tg) of the resin film of this embodiment is 250 degrees C or less, and it is more preferable that it exists in the range of 40 degrees C or more and 200 degrees C or less. When the Tg of the resin film is 250° C. or less, thermocompression bonding at a low temperature is possible, so that internal stress generated during lamination can be relieved, and dimensional change after circuit processing can be suppressed. When the Tg of the resin film exceeds 250 DEG C, the bonding temperature becomes high and there is a risk of impairing the dimensional stability after circuit processing.

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은 다음의 물성을 가지는 것이 바람직하다.When (B1) component is used as (B) component, it is preferable that a resin film has the following physical properties.

<유전특성><Genetic Characteristics>

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 하기 식(ⅰ),(B) In the case of using the component (B1) as the component, the resin film has the following formula (i),

Figure pct00009
Figure pct00009

[여기에서 ε1은, 23℃, 50%RH의 항온항습조건(보통의 상태)하에서 24시간 조습(調濕) 후에, 스플릿 포스트 유전체 공진기(SPDR)에 의하여 측정되는 10GHz에서의 비유전율을 나타내고, Tanδ1은, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후에, SPDR에 의하여 측정되는 10GHz에서의 유전정접을 나타낸다. 또한 「√ε1」은, ε1의 제곱근을 의미한다][Here, ε 1 represents the relative dielectric constant at 10 GHz measured by a split post dielectric resonator (SPDR) after 24 hours of humidity control under a constant temperature and humidity condition (normal state) of 23° C. and 50% RH , Tanδ 1 represents the dielectric loss tangent at 10 GHz measured by SPDR after 24 hours of humidity control under the conditions of constant temperature and humidity at 23° C. and 50% RH. In addition, "√ε 1 " means the square root of ε 1 ]

에 의거하여 산출되는 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 10GHz에서의 유전특성을 나타내는 지표인 E1값이 0.010 이하, 바람직하게는 0.009 이하가 좋고, 더 바람직하게는 0.008 이하가 좋다. E1값이 상기 상한을 넘으면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.E 1 value, which is an index indicating dielectric properties at 10 GHz after 24 hours of humidity control under constant temperature and humidity conditions of 23° C. and 50% RH, calculated based on The following is good. When the value of E 1 exceeds the upper limit, disadvantages such as loss of electric signals on the transmission path of high-frequency signals are likely to occur when, for example, when used for circuit boards such as FPC.

<비유전율><Relative permittivity>

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 임피던스 정합성을 확보하기 위하여,또한 전기신호의 손실 감소를 위하여, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 10GHz에서의 비유전율(ε1)이 바람직하게는 3.2 이하가 좋고, 더 바람직하게는 3.0 이하가 좋다. 이 비유전율이 3.2를 넘으면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에, 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.In the case of using the component (B1) as the component (B), the resin film is, for example, at 23 ° C. , The relative dielectric constant (ε 1 ) at 10 GHz after 24 hours of humidity control under the conditions of constant temperature and humidity of 50%RH is preferably 3.2 or less, and more preferably 3.0 or less. When the relative permittivity exceeds 3.2, for example, when used for circuit boards such as FPC, disadvantages such as loss of electric signals on the transmission path of high-frequency signals are likely to occur.

<유전정접><Dielectric loss tangent>

또한 (B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 전기신호의 손실 감소를 위하여, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 10GHz에서의 유전정접(Tanδ1)이 바람직하게는 0.005 미만이 좋고, 더 바람직하게는 0.004 이하가 좋다. 이 유전정접이 0.005 이상이면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.In addition, in the case of using the component (B1) as the component (B), the resin film is, for example, a constant temperature and humidity at 23°C and 50%RH for reducing the loss of electrical signals when used in circuit boards such as FPC. The dielectric loss tangent (Tanδ 1 ) at 10 GHz after 24 hours of humidity control under the condition of is preferably less than 0.005, more preferably less than 0.004. When this dielectric loss tangent is 0.005 or more, when it is used for circuit boards, such as an FPC, it becomes easy to generate|occur|produce disadvantages, such as an electrical signal loss, on the transmission path of a high frequency signal.

<흡습의존성><Dependence on moisture absorption>

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 건조시 및 습윤시에서의 전기신호의 손실 감소나 임피던스 정합성을 확보하기 위하여, 하기 식(ⅱ),In the case of using the component (B1) as the component (B), the resin film is used for, for example, a circuit board such as an FPC, to reduce loss of electrical signals in dry and wet conditions and to ensure impedance matching. For, the following formula (ii),

Figure pct00010
Figure pct00010

[여기에서 ε2는, 23℃, 24시간 흡수후에 SPDR에 의하여 측정되는 10GHz에서의 비유전율을 나타내고, Tanδ2는, 23℃, 24시간 흡수후에 SPDR에 의하여 측정되는 10GHz에서의 유전정접을 나타낸다. 또한 「√ε2」는, ε2의 제곱근을 의미한다][Here, ε 2 represents the dielectric constant at 10 GHz measured by SPDR after absorption at 23° C. for 24 hours, and Tanδ 2 represents the dielectric loss tangent at 10 GHz measured by SPDR after absorption at 23° C. for 24 hours. . In addition, "√ε 2 " means the square root of ε 2 ]

에 의거하여 산출되는 23℃, 24시간 흡수후의 10GHz에서의 유전특성을 나타내는 지표인 E2값에 있어서, 상기 식(ⅰ)에 의거하여 산출되는 E1값에 대한 E2값의 비(E2/E1)가 3.0∼1.0의 범위내이고, 바람직하게는 2.5∼1.0의 범위내가 좋고, 더 바람직하게는 2.2∼1.0의 범위내가 좋다. E2/E1이 상기 상한을 넘으면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에, 습윤시에서의 비유전율 및 유전정접의 상승을 초래하여, 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다. In the E 2 value, which is an index indicating the dielectric properties at 23° C. and 10 GHz after absorption for 24 hours, calculated based on the /E 1 ) is in the range of 3.0 to 1.0, preferably in the range of 2.5 to 1.0, more preferably in the range of 2.2 to 1.0. When E 2 /E 1 exceeds the upper limit, for example, when used in circuit boards such as FPC, the relative permittivity and dielectric loss tangent in wet conditions increase, resulting in loss of electrical signals in the transmission path of high-frequency signals, etc. disadvantages are more likely to occur.

<흡습률><Moisture absorption rate>

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 습도에 의한 영향을 감소시키기 위하여, 수지필름의 흡습률이 바람직하게는 0.5중량% 이하가 좋고, 더 바람직하게는 0.3중량% 미만이 좋다. 여기에서 「흡습률」은, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 이상 경과후의 흡습률을 의미한다(본 명세서에 있어서 동일한 의미이다). 수지필름의 흡습률이 0.5중량%를 넘으면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에, 습도의 영향을 받기 쉬워져서 고주파신호의 전송속도의 변동 등의 단점이 발생하기 쉬워진다. 즉 수지필름의 흡습률이 상기 범위를 상회하면, 비유전율이 높은 물을 흡수하기 쉬워지므로, 비유전율 및 유전정접의 상승을 초래하여 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.In the case of using the component (B1) as the component (B), the resin film preferably has a moisture absorption rate in order to reduce the influence of humidity when used for circuit boards such as FPC. 0.5 weight% or less is good, More preferably, less than 0.3 weight% is good. Here, the "moisture absorption rate" means the moisture absorption rate after 24 hours or more has elapsed under the conditions of 23 degreeC and 50%RH constant temperature and humidity (it has the same meaning in this specification). When the moisture absorption of the resin film exceeds 0.5% by weight, for example, when used for circuit boards such as FPC, it is likely to be affected by humidity, and disadvantages such as fluctuations in the transmission speed of high-frequency signals are likely to occur. That is, if the moisture absorption of the resin film exceeds the above range, it is easy to absorb water with a high relative permittivity. it gets easier

<저장탄성률><Storage modulus>

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 40∼250℃의 범위에서 온도상승에 따라 저장탄성률이 급격하게 감소하는 온도영역이 존재하여도 좋다. 이러한 수지필름의 특성이, 예를 들면 열압착시의 내부응력을 완화시켜, 회로가공후의 치수안정성을 유지하는 요인이라고 생각된다. 수지필름은, 상기 온도영역의 상한온도에서의 저장탄성률이 5×107[Pa] 이하인 것이 바람직하다. 이러한 저장탄성률로 함으로써, 가령 상기 온도범위의 상한으로 하여도 250℃ 이하에서의 열압착이 가능하게 되어, 밀착성을 담보하고 회로가공후의 치수변화를 억제할 수 있다. 또한 본 실시형태의 수지필름은 고열팽창성이지만 저탄성이기 때문에, 열팽창계수(CTE)가 30ppm/K를 넘어도 적층시에 발생하는 내부응력을 완화시킬 수 있다.In the case of using the component (B1) as the component (B), the resin film may have a temperature range in which the storage elastic modulus sharply decreases in the range of 40 to 250°C with a rise in temperature. It is thought that the characteristic of such a resin film is a factor which relieves the internal stress at the time of thermocompression bonding, for example, and maintains dimensional stability after circuit processing. The resin film preferably has a storage modulus of 5×10 7 [Pa] or less at the upper limit of the temperature range. By setting it as such a storage modulus, thermocompression bonding at 250 degrees C or less becomes possible even if it is the upper limit of the said temperature range, adhesiveness can be ensured and dimensional change after circuit processing can be suppressed. Moreover, since the resin film of this embodiment has high thermal expansibility but low elasticity, even if the coefficient of thermal expansion (CTE) exceeds 30 ppm/K, the internal stress generated during lamination can be relieved.

(B)성분으로서 (B2)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은 다음의 물성을 가지는 것이 바람직하다.When (B2) component is used as (B) component, it is preferable that a resin film has the following physical properties.

<비유전율><Relative permittivity>

(B)성분으로서 (B2)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 임피던스 정합성을 확보하기 위하여, 또한 전기신호의 손실의 감소를 위하여, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 20GHz에서의 비유전율이, 바람직하게는 3.2 이하가 좋고, 더 바람직하게는 3.0 이하가 좋다. 이 비유전율이 3.2를 넘으면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에, 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.When the component (B2) is used as the component (B), the resin film is used, for example, in order to ensure impedance matching when used in circuit boards such as FPC, and to reduce loss of electrical signals 23 The relative permittivity at 20 GHz after 24 hours of humidity control under constant temperature and humidity conditions of °C and 50%RH is preferably 3.2 or less, and more preferably 3.0 or less. When the relative permittivity exceeds 3.2, for example, when used for circuit boards such as FPC, disadvantages such as loss of electric signals on the transmission path of high-frequency signals are likely to occur.

<유전정접><Dielectric loss tangent>

또한 (B)성분으로서 (B2)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 전기신호의 손실 감소를 위하여, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 20GHz에서의 유전정접이, 바람직하게는 0.005 미만이 좋고, 더 바람직하게는 0.004 이하, 가장 바람직하게는 0.002 이하가 좋다. 이 유전정접이 0.005 이상이면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.In addition, in the case of using the component (B2) as the component (B), the resin film is, for example, a constant temperature and humidity at 23°C and 50%RH for reducing the loss of electrical signals when used in circuit boards such as FPC. The dielectric loss tangent at 20 GHz after humidity control for 24 hours under the condition of is preferably less than 0.005, more preferably 0.004 or less, and most preferably 0.002 or less. When this dielectric loss tangent is 0.005 or more, when it is used for circuit boards, such as an FPC, it becomes easy to generate|occur|produce disadvantages, such as an electrical signal loss, on the transmission path of a high frequency signal.

(B)성분으로서 (B3)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은 다음의 물성을 가지는 것이 바람직하다.When (B3) component is used as (B) component, it is preferable that a resin film has the following physical properties.

<비유전율><Relative permittivity>

(B)성분으로서 (B3)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 임피던스 정합성을 확보하고 전기신호의 손실의 감소를 위하여, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 20GHz에서의 비유전율이, 바람직하게는 3.2 이하가 좋고, 더 바람직하게는 3.0 이하가 좋다. 이 비유전율이 3.2를 넘으면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.In the case of using the component (B3) as the component (B), the resin film is, for example, at 23° C., 50 Under the condition of constant temperature and humidity of %RH, the relative permittivity at 20 GHz after humidity control for 24 hours is preferably 3.2 or less, and more preferably 3.0 or less. When the relative permittivity exceeds 3.2, when used for a circuit board such as an FPC, disadvantages such as loss of electrical signals on the transmission path of high-frequency signals are likely to occur.

<유전정접><Dielectric loss tangent>

또한 (B)성분으로서 (B3)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때의 전기신호의 손실 감소를 위하여, 23℃, 50%RH의 항온항습의 조건하에서 24시간 조습 후의 20GHz에서의 유전정접이, 바람직하게는 0.005 미만이 좋고, 더 바람직하게는 0.004 이하, 가장 바람직하게는 0.002 이하가 좋다. 이 유전정접이 0.005 이상이면, 예를 들면 FPC 등의 회로기판에 사용하였을 때에 고주파신호의 전송경로상에서 전기신호의 손실 등의 단점이 발생하기 쉬워진다.In addition, in the case of using the component (B3) as the component (B), the resin film is, for example, a constant temperature and humidity at 23°C and 50%RH for reducing the loss of electrical signals when used in circuit boards such as FPC. The dielectric loss tangent at 20 GHz after humidity control for 24 hours under the condition of is preferably less than 0.005, more preferably 0.004 or less, and most preferably 0.002 or less. When this dielectric loss tangent is 0.005 or more, when it is used for circuit boards, such as an FPC, it becomes easy to generate|occur|produce disadvantages, such as an electrical signal loss, on the transmission path of a high frequency signal.

<두께><thickness>

(B)성분으로서 (B1)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 두께가 예를 들면 5㎛ 이상 125㎛ 이하의 범위내가 바람직하고, 8㎛ 이상 100㎛ 이하의 범위내인 것이 더 바람직하다. 수지필름의 두께가 5㎛에 미치지 못하면, 수지필름의 제조 등에 있어서의 반송시에 주름이 생기는 등의 불량이 발생할 우려가 있고, 한편 수지필름의 두께가 125㎛를 넘으면 수지필름의 생산성저하의 우려가 있다.When the component (B1) is used as the component (B), the thickness of the resin film is, for example, preferably in the range of 5 µm or more and 125 µm or less, and more preferably in the range of 8 µm or more and 100 µm or less. . If the thickness of the resin film is less than 5 μm, there is a risk of defects such as wrinkles occurring during conveyance in the manufacture of the resin film, etc. there is

또한 (B)성분으로서 (B2)성분 또는 (B3)성분을 사용하는 경우에, 수지필름은, 두께가 예를 들면 15∼100㎛의 범위내가 바람직하고, 20∼50㎛의 범위내인 것이 더 바람직하다. 수지필름의 두께가 15㎛에 미치지 않으면, 수지필름의 제조 등에 있어서의 반송시에 주름이 생기는 등의 불량이 발생할 우려가 있고, 한편 수지필름의 두께가 100㎛를 넘으면 수지필름의 생산성저하의 우려가 있다.Further, when using the component (B2) or component (B3) as the component (B), the thickness of the resin film is, for example, preferably within the range of 15 to 100 µm, and more preferably within the range of 20 to 50 µm. desirable. If the thickness of the resin film is less than 15 μm, there is a risk of defects such as wrinkles occurring during conveyance in the production of the resin film, etc. there is

또한 수지필름의 두께가 15㎛∼20㎛의 범위내인 경우에는, 수지필름의 표면의 요철을 억제하여 필름 표면의 평활성을 유지하기 위하여, (B2)성분의 실리카 입자 또는 (B3)성분의 액정성 고분자 필러로서, 평균입자지름D50이 9∼12㎛의 범위내인 것을 사용하는 것이 바람직하다.In addition, when the thickness of the resin film is within the range of 15 µm to 20 µm, in order to suppress the unevenness of the surface of the resin film and maintain the smoothness of the film surface, silica particles of component (B2) or liquid crystal of component (B3) As the polymer filler, it is preferable to use one having an average particle diameter D 50 in the range of 9 to 12 µm.

[적층체][Laminate]

본 발명의 하나의 실시형태에 관한 적층체는, 기재와, 이 기재의 적어도 일방의 면에 적층된 접착제층을 구비하고, 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어지는 것이다. 또한 적층체는, 상기 이외의 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다. 적층체에 있어서의 기재로서는, 예를 들면 동박, 글라스판 등의 무기재료의 기재나, 폴리이미드계 필름, 폴리아미드계 필름, 폴리에스테르계 필름 등의 수지재료의 기재를 들 수 있다.A laminate according to one embodiment of the present invention includes a substrate and an adhesive layer laminated on at least one surface of the substrate, and the adhesive layer is made of the resin film. In addition, the laminated body may contain arbitrary layers other than the above. As a base material in a laminated body, base materials of inorganic materials, such as copper foil and a glass plate, and base materials of resin materials, such as a polyimide-type film, a polyamide-type film, and a polyester film, are mentioned, for example.

적층체의 바람직한 형태로서, 커버레이 필름, 수지 함유 동박 등을 들 수 있다.As a preferable aspect of a laminated body, a coverlay film, resin containing copper foil, etc. are mentioned.

[커버레이 필름][Coverlay Film]

적층체의 하나의 형태인 커버레이 필름은, 기재로서의 커버레이용 필름재층과, 상기 커버레이용 필름재층의 한 쪽의 면에 적층된 접착제층을 구비하고, 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어지는 것이다. 또한 커버레이 필름은, 상기 이외의 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다.A coverlay film, which is one form of a laminate, includes a film material layer for coverlay as a base material, and an adhesive layer laminated on one side of the film material layer for coverlay, and the adhesive layer is made of the resin film . Moreover, the coverlay film may contain the arbitrary layers other than the above.

커버레이용 필름재층의 재질은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 폴리이미드, 폴리에테르이미드, 폴리아미드이미드 등의 폴리이미드계 필름이나, 폴리아미드계 필름, 폴리에스테르계 필름 등을 사용할 수 있다. 이들 중에서도, 우수한 내열성을 가지는 폴리이미드계 필름을 사용하는 것이 바람직하다. 또한 커버레이용 필름재는, 차광성, 은폐성, 의장성 등을 효과적으로 발현시키기 위하여, 흑색안료를 함유할 수도 있고, 또한 유전특성의 개선효과를 손상시키지 않는 범위에서, 표면의 광택을 억제하는 광택제거안료 등의 임의성분을 포함할 수 있다.Although the material of the film material layer for a coverlay is not specifically limited, For example, polyimide-type films, such as polyimide, polyetherimide, and polyamideimide, a polyamide-type film, a polyester-type film, etc. can be used. Among these, it is preferable to use a polyimide-based film having excellent heat resistance. In addition, the film material for coverlay may contain a black pigment in order to effectively express light-shielding properties, hiding properties, design properties, etc. It may contain optional ingredients such as removal pigments.

커버레이용 필름재층의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면 5㎛ 이상 100㎛ 이하의 범위내가 바람직하다.Although the thickness of the film material layer for coverlays is not specifically limited, For example, the inside of the range of 5 micrometers or more and 100 micrometers or less is preferable.

또한 접착제층의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면 10㎛ 이상 75㎛ 이하의 범위내가 바람직하다.Moreover, although the thickness of an adhesive bond layer is not specifically limited, For example, the inside of the range of 10 micrometers or more and 75 micrometers or less is preferable.

본 실시형태의 커버레이 필름은, 이하에 예시하는 방법으로 제조할 수 있다.The coverlay film of this embodiment can be manufactured by the method illustrated below.

먼저 제1방법으로서, 커버레이용의 필름재층의 편면에, 용제를 함유하는 바니시상의 수지조성물을 도포한 후에, 예를 들면 80∼180℃의 온도에서 건조시켜 접착제층을 형성함으로써, 커버레이용 필름재층과 접착제층을 구비하는 커버레이 필름을 형성할 수 있다.First, as a first method, a varnish-like resin composition containing a solvent is applied to one side of the film material layer for a coverlay, and then dried at a temperature of, for example, 80 to 180° C. to form an adhesive layer. A coverlay film having a film material layer and an adhesive layer can be formed.

또한 제2방법으로서, 임의의 기재상에 용제를 함유하는 바니시상의 수지조성물을 도포하고, 예를 들면 80∼180℃의 온도에서 건조시킨 후에 박리함으로써, 접착제층용의 접착제 필름을 형성하고, 이 접착제 필름을 커버레이용의 필름재층과, 예를 들면 60∼220℃의 온도에서 열압착시킴으로써, 커버레이 필름을 형성할 수 있다.Further, as a second method, an adhesive film for an adhesive layer is formed by coating a varnish-like resin composition containing a solvent on an arbitrary substrate and peeling it after drying at a temperature of, for example, 80 to 180°C, and this adhesive A coverlay film can be formed by thermocompression-bonding a film with the film material layer for coverlays, for example at the temperature of 60-220 degreeC.

[수지 함유 동박][Copper foil containing resin]

적층체의 다른 형태인 수지 함유 동박은, 기재로서의 동박의 적어도 한 쪽에 접착제층을 적층한 것으로서, 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어지는 것이다. 또한 본 실시형태의 수지 함유 동박은, 상기 이외의 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다.The resin-containing copper foil, which is another form of the laminate, is one in which an adhesive layer is laminated on at least one side of the copper foil as a substrate, and the adhesive layer is made of the resin film. Moreover, the resin containing copper foil of this embodiment may contain the arbitrary layers other than the above.

수지 함유 동박에 있어서의 접착제층의 두께는, 예를 들면 2∼125㎛의 범위내에 있는 것이 바람직하고, 2∼100㎛의 범위내가 더 바람직하다. 접착제층의 두께가 상기 하한값에 미치지 않으면, 충분한 접착성이 담보될 수 없는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. 한편 접착제층의 두께가 상기 상한값을 넘으면, 치수안정성이 저하되는 등의 불량이 발생한다. 또한 저유전율화 및 저유전정접화의 관점에서, 접착제층의 두께를 3㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하다.It is preferable to exist in the range of 2-125 micrometers, for example, and, as for the thickness of the adhesive bond layer in resin containing copper foil, the inside of the range of 2-100 micrometers is more preferable. If the thickness of the adhesive layer does not reach the lower limit, there are cases in which problems such as sufficient adhesiveness cannot be ensured may occur. On the other hand, when the thickness of the adhesive layer exceeds the upper limit, defects such as a decrease in dimensional stability occur. Further, from the viewpoint of lowering the dielectric constant and lowering the dielectric loss tangent, it is preferable that the thickness of the adhesive layer be 3 µm or more.

수지 함유 동박에 있어서의 동박의 재질은, 구리 또는 구리합금을 주성분으로 하는 것이 바람직하다. 동박의 두께는, 바람직하게는 35㎛ 이하이고, 더 바람직하게는 5∼25㎛의 범위내가 좋다. 생산안정성 및 핸들링성의 관점에서, 동박의 두께의 하한값은 5㎛로 하는 것이 바람직하다. 또한 동박은 압연동박이어도 전해동박이어도 좋다. 또한 동박으로서는, 시판되고 있는 동박을 사용할 수 있다.It is preferable that the material of the copper foil in resin containing copper foil has copper or a copper alloy as a main component. The thickness of copper foil becomes like this. Preferably it is 35 micrometers or less, More preferably, it is good in the range of 5-25 micrometers. It is preferable that the lower limit of the thickness of copper foil shall be 5 micrometers from a viewpoint of production stability and handling property. Further, the copper foil may be a rolled copper foil or an electrodeposited copper foil. Moreover, as copper foil, commercially available copper foil can be used.

수지 함유 동박은, 예를 들면 수지필름에 금속을 스퍼터링해서 시드층(seed layer)을 형성한 후에, 예를 들면 구리도금에 의하여 구리층을 형성함으로써 조제하여도 좋고, 또는 수지필름과 동박을 열압착 등의 방법으로 래미네이트함으로써 조제하여도 좋다. 또한 수지 함유 동박은, 동박의 위에 접착제층을 형성하기 위하여, 수지조성물의 도포액을 캐스트하고 건조시켜 도포막으로 한 후에, 필요한 열처리를 하여 조제하여도 좋다.The resin-containing copper foil may be prepared, for example, by sputtering a metal on a resin film to form a seed layer, and then forming a copper layer by, for example, copper plating, or by heating the resin film and copper foil. You may prepare by laminating by methods, such as crimping|compression-bonding. In addition, in order to form an adhesive bond layer on copper foil, resin containing copper foil may cast and dry the coating liquid of a resin composition, and after drying it to make a coating film, you may perform necessary heat processing and may prepare it.

[금속박적층판][Metal clad laminate]

(제1형태)(Form 1)

본 발명의 하나의 실시형태에 관한 금속박적층판은, 절연수지층과, 이 절연수지층의 적어도 일방의 면에 적층된 금속층을 구비하고, 절연수지층의 적어도 1층이 상기 수지필름으로 이루어지는 것이다. 또한 본 실시형태의 금속박적층판은 상기 이외의 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다.A metal clad laminate according to an embodiment of the present invention includes an insulating resin layer and a metal layer laminated on at least one surface of the insulating resin layer, and at least one of the insulating resin layers is made of the resin film. In addition, the metal foil laminated board of this embodiment may contain arbitrary layers other than the above.

(제2형태)(Second form)

본 발명의 다른 실시형태에 관한 금속박적층판은, 예를 들면 절연수지층과, 절연수지층의 적어도 한 쪽의 면에 적층된 접착제층과, 이 접착제층을 사이에 두고 절연수지층에 적층된 금속층을 구비하는 소위 3층 금속박적층판으로서, 접착제층이 상기 수지필름으로 이루어지는 것이다. 또한 3층 금속박적층판은 상기 이외의 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다. 3층 금속박적층판은, 접착제층이 절연수지층의 편면 또는 양면에 형성되어 있으면 좋고, 금속층은 접착제층을 사이에 두고 절연수지층의 편면 또는 양면에 형성되어 있으면 좋다. 즉 3층 금속박적층판은, 편면 금속박적층판이어도 좋고, 양면 금속박적층판이어도 좋다. 3층 금속박적층판의 금속층을 에칭하는 등의 방법으로 배선회로가공을 함으로써, 편면 FPC 또는 양면 FPC를 제조할 수 있다.A metal clad laminate according to another embodiment of the present invention includes, for example, an insulating resin layer, an adhesive layer laminated on at least one surface of the insulating resin layer, and a metal layer laminated on the insulating resin layer with the adhesive layer interposed therebetween. A so-called three-layer metal clad laminate comprising a, wherein the adhesive layer is made of the resin film. In addition, the three-layer metal clad laminate may contain any layer other than the above. In the three-layer metal clad laminate, the adhesive layer may be formed on one or both sides of the insulating resin layer, and the metal layer may be formed on one or both sides of the insulating resin layer with the adhesive layer interposed therebetween. That is, the three-layer metal clad laminate may be a single-sided metal clad laminate or a double-sided metal clad laminate. A single-sided FPC or a double-sided FPC can be manufactured by performing wiring circuit processing in a method such as etching the metal layer of the three-layer metal clad laminate.

3층 금속박적층판에 있어서의 절연수지층으로서는, 전기적 절연성을 가지는 수지에 의하여 구성되는 것이면 특별한 제한은 없고, 예를 들면 폴리이미드, 에폭시 수지, 페놀수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리테트라플루오로에틸렌, 실리콘, ETFE 등을 들 수 있지만, 폴리이미드로 구성되는 것이 바람직하다. 절연수지층을 구성하는 폴리이미드층은 단층이어도 복수 층이어도 좋지만, 비열가소성 폴리이미드층을 포함하는 것이 바람직하다.The insulating resin layer in the three-layer metal clad laminate is not particularly limited as long as it is made of an electrically insulating resin, for example, polyimide, epoxy resin, phenol resin, polyethylene, polypropylene, polytetrafluoroethylene, Although silicone, ETFE, etc. are mentioned, It is preferable that it is comprised from polyimide. The polyimide layer constituting the insulating resin layer may be a single layer or a plurality of layers, but it is preferable to include a non-thermoplastic polyimide layer.

3층 금속박적층판에 있어서의 절연수지층의 두께는, 예를 들면 1∼125㎛의 범위내에 있는 것이 바람직하고, 5∼100㎛의 범위내가 더 바람직하다. 절연수지층의 두께가 상기 하한값에 미치지 않으면, 충분한 전기절연성을 담보할 수 없는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. 한편 절연수지층의 두께가 상기 상한값을 넘으면, 3층 금속박적층판의 휨이 발생하기 쉬워지는 등의 불량이 발생한다.The thickness of the insulating resin layer in the three-layer metal clad laminate is, for example, preferably in the range of 1 to 125 mu m, more preferably in the range of 5 to 100 mu m. If the thickness of the insulating resin layer does not reach the lower limit, there may be problems such as not being able to guarantee sufficient electrical insulation. On the other hand, when the thickness of the insulating resin layer exceeds the upper limit, defects such as warpage of the three-layer metal clad laminate easily occur.

3층 금속박적층판에 있어서의 접착제층의 두께는, 예를 들면 0.1∼125㎛의 범위내에 있는 것이 바람직하고, 0.3∼100㎛의 범위내가 더 바람직하다. 본 실시형태의 3층 금속박적층판에 있어서, 접착제층의 두께가 상기 하한값에 미치지 않으면, 충분한 접착성이 담보될 수 없는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. 한편 접착제층의 두께가 상기 상한값을 넘으면, 치수안정성이 저하되는 등의 불량이 발생한다. 또한 절연수지층과 접착제층과의 적층체인 절연층 전체의 저유전율화 및 저유전정접화의 관점에서, 접착제층의 두께는 3㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하다.The thickness of the adhesive layer in the three-layer metal clad laminate is, for example, preferably in the range of 0.1 to 125 µm, more preferably in the range of 0.3 to 100 µm. In the three-layer metal clad laminate of the present embodiment, if the thickness of the adhesive layer does not reach the above lower limit, there are cases in which problems such as sufficient adhesiveness cannot be ensured may occur. On the other hand, when the thickness of the adhesive layer exceeds the upper limit, defects such as a decrease in dimensional stability occur. In addition, from the viewpoint of lowering the dielectric constant and lowering the dielectric loss tangent of the entire insulating layer, which is a laminate of the insulating resin layer and the adhesive layer, the thickness of the adhesive layer is preferably 3 µm or more.

또한 절연수지층의 두께와 접착제층의 두께의 비(절연수지층의 두께/접착제층의 두께)는, 예를 들면 0.1∼3.0의 범위내가 바람직하고, 0.15∼2.0의 범위내가 더 바람직하다. 이러한 비율로 함으로써 3층 금속박적층판의 휨을 억제할 수 있다. 또한 절연수지층은, 필요에 따라 필러를 함유하여도 좋다. 필러로서는, 예를 들면 이산화규소, 산화알루미늄, 산화마그네슘, 산화베릴륨, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화규소, 불화알루미늄, 불화칼슘, 유기 포스핀산의 금속염 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Further, the ratio of the thickness of the insulating resin layer to the thickness of the adhesive layer (thickness of the insulating resin layer/thickness of the adhesive layer) is, for example, preferably within the range of 0.1 to 3.0, more preferably within the range of 0.15 to 2.0. By setting it as such a ratio, the curvature of a three-layer metal clad laminated board can be suppressed. Moreover, the insulating resin layer may contain a filler as needed. Examples of the filler include silicon dioxide, aluminum oxide, magnesium oxide, beryllium oxide, boron nitride, aluminum nitride, silicon nitride, aluminum fluoride, calcium fluoride, and metal salts of organic phosphinic acid. These can be used 1 type or in mixture of 2 or more types.

[회로기판][circuit board]

본 발명의 하나의 실시형태에 관한 회로기판은, 상기 어느 하나의 실시형태의 금속박적층판의 금속층을 배선가공하여 이루어지는 것이다. 금속박적층판의 1개 이상의 금속층을, 보통의 방법에 의하여 패턴상으로 가공해서 배선층(도체회로층)을 형성함으로써, FPC 등의 회로기판을 제조할 수 있다. 또한 회로기판은, 배선층을 피복하는 커버레이 필름을 구비하고 있어도 좋다.A circuit board according to an embodiment of the present invention is formed by wiring the metal layer of the metal clad laminate according to any one of the above embodiments. Circuit boards, such as FPC, can be manufactured by processing one or more metal layers of a metal clad laminated board into pattern shape by a normal method, and forming a wiring layer (conductor circuit layer). Moreover, the circuit board may be equipped with the coverlay film which coat|covers the wiring layer.

(실시예)(Example)

이하에 실시예를 나타내어, 본 발명의 특징을 더 구체적으로 설명한다. 다만 본 발명의 범위는 실시예에 한정되지 않는다. 또한 다음의 실시예에 있어서, 특별한 언급이 없는 한 각종 측정, 평가는 하기에 의한 것이다.Examples of the present invention will be described in more detail below with reference to examples. However, the scope of the present invention is not limited to the examples. In addition, in the following examples, various measurements and evaluations are based on the following unless otherwise indicated.

[아민가의 측정방법][Method for measuring amine value]

약 2g의 다이머디아민 조성물을 200∼250mL의 삼각 플라스크에 칭량(秤量)하고, 지시약으로서 페놀프탈레인을 사용하고, 용액이 옅은 핑크색을 나타낼 때까지 0.1mol/L의 에탄올성 수산화칼륨 용액을 적하(滴下)하여, 중화시킨 부탄올 약 100mL에 용해시킨다. 거기에 3∼7방울의 페놀프탈레인 용액을 가하여, 샘플의 용액이 옅은 핑크색으로 변할 때까지 0.1mol/L의 에탄올성 수산화칼륨 용액으로 교반하면서 적정(滴定)한다. 거기에 브로모페놀 블루 용액을 5방울 가하여, 샘플의 용액이 황색으로 변할 때까지 0.2mol/L의 염산/이소프로판올 용액으로 교반하면서 적정한다.About 2 g of dimerdiamine composition is weighed into a 200-250 mL Erlenmeyer flask, using phenolphthalein as an indicator, and 0.1 mol/L ethanolic potassium hydroxide solution is added dropwise until the solution shows a pale pink color. Then, it is dissolved in about 100 mL of neutralized butanol. 3 to 7 drops of a phenolphthalein solution is added thereto, and titration is performed with stirring with a 0.1 mol/L ethanolic potassium hydroxide solution until the sample solution turns pale pink. 5 drops of bromophenol blue solution are added thereto, and titrated with stirring with 0.2 mol/L hydrochloric acid/isopropanol solution until the sample solution turns yellow.

아민가는, 다음의 식(1)에 의하여 산출한다.An amine titer is computed by following formula (1).

아민가 = {(V2×C2)-(V1×C1)}×MKOH/m ···(1)Amine number = {(V 2 ×C 2 )-(V 1 ×C 1 )}×M KOH /m ...(1)

여기에서 아민가는 mgKOH/g로 나타내는 값이고, MKOH는 수산화칼륨의 분자량 56.1이다. 또한 V, C는 각각 적정에 사용한 용액의 부피와 농도이고, 첨자인 1, 2는 각각 0.1mol/L의 에탄올성 수산화칼륨 용액, 0.2mol/L의 염산/이소프로판올 용액을 나타낸다. 또한 m은 그램으로 나타내는 샘플의 중량이다.Here, the amine value is a value expressed in mgKOH/g, and M KOH is the molecular weight of potassium hydroxide 56.1. In addition, V and C are the volume and concentration of the solution used for titration, respectively, and the subscripts 1 and 2 represent 0.1 mol/L ethanolic potassium hydroxide solution and 0.2 mol/L hydrochloric acid/isopropanol solution, respectively. Also, m is the weight of the sample in grams.

[폴리이미드의 중량평균분자량(Mw)의 측정][Measurement of weight average molecular weight (Mw) of polyimide]

중량평균분자량은, 겔 침투 크로마토그래프(도소(Tosoh Corporation)(주) 제품, HLC-8220GPC를 사용)에 의하여 측정하였다. 표준물질로서 폴리스티렌을 사용하고, 전개용매(展開溶媒)로 테트라하이드로퓨란(THF)을 사용하였다.The weight average molecular weight was measured by a gel permeation chromatograph (HLC-8220GPC manufactured by Tosoh Corporation). Polystyrene was used as a standard material, and tetrahydrofuran (THF) was used as a developing solvent.

[GPC 및 크로마토그램의 면적 퍼센트의 산출][Calculation of area percent of GPC and chromatogram]

GPC에 있어서는, 20㎎의 다이머디아민 조성물을 200μL의 무수아세트산, 200μL의 피리딘 및 2mL의 THF로 전처리한 100㎎의 용액을, 10mL의 THF (1000ppm의 시클로헥사논을 함유)로 희석하여, 샘플을 조제하였다. 조제한 샘플을 도소(주) 제품, 상품명; HLC-8220GPC를 사용하여 칼럼:TSK-gel G2000HXL, G1000HXL, 플로우량: 1mL/min, 칼럼(오븐)온도: 40℃, 주입량:50μL의 조건으로 측정하였다. 또한 시클로헥사논은 유출시간의 보정을 위하여 표준물질로서 취급하였다.In GPC, a 100 mg solution of a 20 mg dimerdiamine composition pretreated with 200 µL of acetic anhydride, 200 µL of pyridine and 2 mL of THF was diluted with 10 mL of THF (containing 1000 ppm of cyclohexanone), and the sample was prepared prepared. Tosoh Co., Ltd. product, brand name of the prepared sample; Measurements were made using HLC-8220GPC under the conditions of column: TSK-gel G2000HXL, G1000HXL, flow rate: 1 mL/min, column (oven) temperature: 40°C, injection amount: 50 µL. In addition, cyclohexanone was treated as a standard material for the correction of the runoff time.

이때에, 시클로헥사논의 메인피크의 피크톱이 보존시간(retention time) 27분에서 31분이 되도록, 또한 상기 시클로헥사논의 메인피크의 피크스타트로부터 피크엔드가 2분이 되도록 조정하고, 시클로헥사논의 피크를 제외한 메인피크의 피크톱이 18분에서 19분이 되도록, 또한 상기 시클로헥사논의 피크를 제외한 메인피크의 피크스타트로부터 피크엔드까지가 2분에서 4분30초가 되도록 하는 조건으로, 각 성분(a)∼(c);At this time, the peak top of the main peak of cyclohexanone is adjusted so that the retention time is 27 minutes to 31 minutes, and the peak end is 2 minutes from the peak start of the main peak of cyclohexanone, and the peak of cyclohexanone is Each component (a) to (c);

(a)메인피크에 나타나는 성분;(a) components appearing in the main peak;

(b)메인피크에 있어서의 보존시간이 느린 시간측의 극소값을 기준으로 하여, 그것보다 느린 시간에 검출되는 GPC 피크에 나타나는 성분;(b) a component appearing in the GPC peak detected at a time slower than the minimum value on the time side of the slow retention time in the main peak as a reference;

(c)메인피크에 있어서의 보존시간이 빠른 시간측의 극소값을 기준으로 하여, 그것보다 빠른 시간에 검출되는 GPC 피크에 나타나는 성분;(c) a component appearing in the GPC peak detected at a time earlier than the minimum value on the time side with the earliest retention time in the main peak as a reference;

을 검출하였다.was detected.

[유전특성의 평가][Evaluation of genetic characteristics]

벡터 네트워크 애널라이저(Agilent 제품, 상품명; 벡터 네트워크 애널라이저 E8363C) 및 SPDR 공진기를 사용하여, 폴리이미드 필름(경화후의 폴리이미드 필름)을 온도; 23℃, 습도; 50%의 조건하에서 24시간 방치한 후에, 주파수 10GHz에서의 비유전율(ε1) 및 유전정접(Tanδ1)을 측정하였다. 또한 23℃, 24시간 흡수후에, 폴리이미드 필름(경화후의 폴리이미드 필름)의 주파수 10GHz에서의 비유전율(ε2) 및 유전정접(Tanδ2)을 측정하였다.The polyimide film (polyimide film after curing) was subjected to temperature; 23°C, humidity; After standing for 24 hours under the condition of 50%, the relative permittivity (ε 1 ) and the dielectric loss tangent (Tanδ 1 ) at a frequency of 10 GHz were measured. Further, after absorption at 23° C. for 24 hours, the dielectric constant (ε 2 ) and dielectric loss tangent (Tanδ 2 ) of the polyimide film (polyimide film after curing) at a frequency of 10 GHz were measured.

[흡습률의 측정][Measurement of moisture absorption]

폴리이미드 필름의 시험편(폭4cm×길이25㎝)을 2매 준비하고, 80℃에서 1시간 건조시켰다. 건조후 즉시 23℃/50%RH의 항온항습실에 넣고, 24시간 이상 정치(靜置)하고, 그 전후의 중량변화로부터 다음 식에 의하여 구하였다.Two test pieces (width 4 cm x length 25 cm) of a polyimide film were prepared, and were dried at 80 degreeC for 1 hour. Immediately after drying, it was placed in a constant temperature and humidity chamber at 23° C./50% RH, left still for 24 hours or more, and obtained from the weight change before and after that by the following formula.

흡습률(중량%) = [(흡습후 중량 - 건조후 중량)/건조후 중량] × 100Moisture absorption rate (wt%) = [(weight after moisture absorption - weight after drying)/weight after drying] × 100

[흡수율의 측정][Measurement of absorption rate]

폴리이미드 필름의 시험편(폭4cm×길이25㎝)을 2매 준비하고, 80℃에서 1시간 건조시겼다. 건조후 즉시 23℃의 순수(純水)에 넣고, 24시간 이상 정치하고, 그 전후의 중량변화로부터 다음 식에 의하여 구하였다.Two test pieces (width 4 cm x length 25 cm) of a polyimide film were prepared, and were dried at 80 degreeC for 1 hour. Immediately after drying, it was put into pure water at 23° C., left still for 24 hours or more, and obtained from the weight change before and after that by the following formula.

흡수율(중량%) = [(흡수후 중량 - 건조후 중량)/건조후 중량] × 100Water absorption (wt%) = [(weight after absorption - weight after drying)/weight after drying] × 100

[글라스 전이온도(Tg) 및 저장탄성률][Glass transition temperature (Tg) and storage modulus]

글라스 전이온도(Tg) 및 저장탄성률은, 5㎜×20㎜ 사이즈의 폴리이미드 필름을 동적점탄성 측정장치(DMA: 유비엠(UBM) 제품, 상품명; E4000F)를 사용하여, 30℃에서 400℃까지 승온속도 4℃/분, 주파수 11Hz로 하여 측정하였다. 탄성률 변화(tanδ)가 최대가 되는 온도를 글라스 전이온도라고 하였다.The glass transition temperature (Tg) and storage modulus were measured from 30°C to 400°C using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA: UBM product, trade name; E4000F) for a polyimide film of 5 mm × 20 mm size. Measurement was performed at a temperature increase rate of 4°C/min and a frequency of 11 Hz. The temperature at which the change in modulus of elasticity (tanδ) becomes maximum was referred to as the glass transition temperature.

[인장탄성률][Tensile Modulus]

인장탄성률은, 텐션테스터((주)오리엔텍(ORIENTEC) 제품, 상품명 텐실론(TENSILON))를 사용하여, 폭 12.7㎜ × 길이 127㎜의 시험편에 대하여 50㎜/min으로 인장시험을 실시하고, 25℃에서의 인장탄성률을 구하였다.The tensile modulus of elasticity is, using a tension tester (manufactured by ORIENTEC, trade name TENSILON), a tensile test is performed at 50 mm/min on a test piece having a width of 12.7 mm × a length of 127 mm, The tensile modulus at 25°C was obtained.

[땜납내열시험(건조)][Solder heat resistance test (dry)]

폴리이미드 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명:에스파넥스(ESPANEX) MB12-25-12UEG)에 대하여 회로가공을 하여 배선폭/배선간격(L/S) = 1㎜/1㎜의 회로가 형성된 인쇄기판을 준비하였다. 시험편의 접착제면을 인쇄기판의 배선의 위에 놓고, 온도 160℃, 압력 3.5MPa, 시간 60분의 조건으로 프레스를 하였다. 이 동박이 부착된 시험편을 105℃에서 건조시킨 후에, 각 평가온도로 설정한 땜납욕 중에 10초간 침지시키고, 그 접착상태를 관찰하여, 발포(發泡), 부풂, 박리 등의 불량의 유무를 확인하였다. 내열성은, 불량이 발생하지 않은 상한의 온도로 표현하였고, 예를 들면 「320℃」는 320℃의 땜납욕 중에서 평가하여 불량이 확인되지 않은 것을 의미한다.Circuit processing on polyimide copper clad laminate (Nitetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, product name: ESPANEX MB12-25-12UEG), wiring width / wiring spacing (L/S) = 1㎜/1㎜ A printed board on which the circuit of was formed was prepared. The adhesive side of the test piece was placed on the wiring of the printed circuit board, and pressed under the conditions of a temperature of 160°C, a pressure of 3.5 MPa, and a time of 60 minutes. After this copper foil-attached test piece was dried at 105°C, it was immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed to determine the presence or absence of defects such as foaming, swelling, and peeling. Confirmed. Heat resistance was expressed as the upper limit temperature at which no defects occurred. For example, “320° C.” means that no defects were confirmed by evaluation in a 320° C. solder bath.

[땜납내열시험(흡습)][Solder heat resistance test (moisture absorption)]

폴리이미드 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명:에스파넥스 MB12-25-12UEG)에 대하여 회로가공을 하여 배선폭/배선간격(L/S) = 1㎜/1㎜의 회로가 형성된 인쇄기판을 준비하였다. 시험편의 접착제면을 인쇄기판의 배선의 위에 놓고, 온도 160℃, 압력 3.5MPa, 시간 60분의 조건으로 프레스를 하였다. 이 동박이 부착된 시험편을 40℃, 상대습도 80%에서 72시간 방치시킨 후에, 각 평가온도로 설정한 땜납욕 중에 10초간 침지시키고, 그 접착상태를 관찰하여, 발포, 부풂, 박리 등의 불량의 유무를 확인하였다. 내열성은, 불량이 발생하지 않은 상한의 온도로 표현하였고, 예를 들면 「260℃」는 260℃의 땜납욕 중에서 평가하여 불량이 확인되지 않은 것을 의미한다.Circuit processing was performed on a polyimide copper clad laminate (Nitetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, trade name: Espanex MB12-25-12UEG) to produce a circuit with wiring width/interval (L/S) = 1 mm/1 mm. The formed printed board was prepared. The adhesive side of the test piece was placed on the wiring of the printed circuit board, and pressed under the conditions of a temperature of 160°C, a pressure of 3.5 MPa, and a time of 60 minutes. This copper foil-attached test piece was left to stand at 40°C and 80% relative humidity for 72 hours, then immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed, and defects such as foaming, swelling, and peeling were observed. The presence or absence of was confirmed. Heat resistance was expressed as the upper limit temperature at which no defects occurred, for example, “260° C.” means that no defects were confirmed by evaluation in a 260° C. solder bath.

[필강도의 측정][Measurement of Peel Strength]

필강도는, 텐실론테스터(Tensilon Tester)((주)도요세이키제작소(Toyo Seiki Seisaku-sho) 제품, 상품명; 스트로그래프(STROGRAPH) VE-10)를 사용하여, 폭 1㎜의 샘플(기재/수지층으로 구성된 적층체)의 수지층측을 양면 테이프에 의하여 알루미늄판에 고정하고, 기재를 180°방향으로 50㎜/분의 속도로 수지층과 기재를 박리할 때의 힘을 구하였다.Peel strength was measured using a Tensilon Tester (Toyo Seiki Seisaku-sho Co., Ltd. product, trade name; STROGRAPH VE-10), using a sample (substrate) having a width of 1 mm. / The resin layer side of the laminated body composed of a resin layer) was fixed to an aluminum plate with a double-sided tape, and the force at the time of peeling the resin layer and the base material at a speed of 50 mm/min in a 180 degree direction was calculated|required.

[휨의 평가][Evaluation of warpage]

두께 25㎛의 폴리이미드 필름재(도레이·듀폰(주)(DU PONT-TORAY) 제품, 상품명; 캡톤(Kapton) 100EN)의 위 또는 12㎛의 동박의 위에, 건조 후의 두께가 25㎛가 되도록 폴리이미드 용액을 도포하여 시험편을 제작하였다. 이 상태에서 폴리이미드 필름재 또는 동박이 하면이 되도록 놓고, 시험편의 4모서리의 휘어오른 높이의 평균을 측정하여, 5㎜ 이하를 「양호」, 5㎜를 넘는 경우를 「불가」라고 하였다.Polyimide film material with a thickness of 25 μm (DU PONT-TORAY Co., Ltd. product, trade name; Kapton 100EN) or on 12 μm copper foil so that the thickness after drying becomes 25 μm The mid solution was apply|coated and the test piece was produced. In this state, the polyimide film material or copper foil was placed so that it became the lower surface, the average of the heights of the four corners of the test piece were measured, and 5 mm or less was considered "good", and the case exceeding 5 mm was "impossible".

본 실시예에서 사용하는 약칭은, 다음의 화합물을 나타낸다.The abbreviation used in this Example shows the following compounds.

DDA1: 크로다 재팬(주) 제품, 상품명; PRIAMINE1075를 증류정제(蒸溜精製)한 것((a)성분; 98.2중량%, (b)성분: 0%, (c)성분;1.9%, 아민가: 206mgKOH/g)DDA1: Croda Japan Co., Ltd. product, trade name; Distilled and purified PRIAMINE1075 ((a) component; 98.2 wt%, (b) component: 0%, (c) component: 1.9%, amine value: 206 mgKOH/g)

DDA2: 크로다 재팬(주) 제품, 상품명; PRIAMINE1075를 증류정제한 것((a)성분; 99.2중량%, (b)성분: 0%, (c)성분; 0.8%, 아민가: 210mgKOH/g)DDA2: Croda Japan Co., Ltd. product, trade name; PRIAMINE1075 distilled and purified ((a) component; 99.2 wt%, (b) component: 0%, (c) component; 0.8%, amine value: 210 mgKOH/g)

APB: 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠APB: 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene

BTDA: 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복시산이무수물BTDA: 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride

N-12: 도데칸이산디히드라지드N-12: dodecane diacid dihydrazide

NMP: N-메틸-2-피롤리돈NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

PX-200: 인산에스테르(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; PX-200, 비할로겐 방향족 축합 인산에스테르, 인함유량; 9.0%)PX-200: phosphate ester (product of Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; PX-200, non-halogen aromatic condensed phosphate ester, phosphorus content; 9.0%)

PX-202: 인산에스테르(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; PX-202, 비할로겐 방향족 축합 인산에스테르, 인함유량;8.1%)PX-202: phosphate ester (product of Daihachi Chemical Industries, Ltd., trade name; PX-202, non-halogen aromatic condensed phosphate ester, phosphorus content; 8.1%)

SR-3000: 인산에스테르(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; SR-3000, 비할로겐 방향족 축합 인산에스테르, 인함유량; 7.0%)SR-3000: Phosphoric acid ester (manufactured by Daihachi Chemical Industries, Ltd., trade name; SR-3000, non-halogen aromatic condensed phosphoric acid ester, phosphorus content; 7.0%)

DA-850: 인산에스테르(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; DAIGUARD-850, 비할로겐 방향족 축합 인산에스테르, 인함유량; 16.0% 이상)DA-850: Phosphate ester (product of Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; DAIGUARD-850, non-halogen aromatic condensed phosphate ester, phosphorus content; 16.0% or more)

TPP(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; TPP, 비할로겐 인산에스테르, 인함유량; 9.5%)TPP (product of Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; TPP, non-halogenated phosphate ester, phosphorus content; 9.5%)

TCP(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; TCP, 비할로겐 인산에스테르, 인함유량; 8.4%)TCP (product of Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; TCP, non-halogen phosphate ester, phosphorus content; 8.4%)

TXP(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; TXP, 비할로겐 인산에스테르, 인함유량; 7.6%)TXP (product of Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; TXP, non-halogen phosphate ester, phosphorus content; 7.6%)

CR-733(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; CR-733S, 비할로겐 방향족 축합 인산에스테르, 인함유량; 10.9%)CR-733 (manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; CR-733S, non-halogen aromatic condensed phosphate ester, phosphorus content; 10.9%)

CR-741(다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; CR-741, 비할로겐 방향족 축합 인산에스테르, 인함유량; 8.9%)CR-741 (manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name; CR-741, non-halogen aromatic condensed phosphate ester, phosphorus content; 8.9%)

CM-6R: 인·질소화합물(다이와화학공업(주)(Daiwa Chemical Industries) 제품, 상품명; 프란(fran) CM-6R, 평균입경 5㎛)CM-6R: Phosphorus-nitrogen compound (Daiwa Chemical Industries, product name; fran CM-6R, average particle diameter 5㎛)

MC-6000(닛산화학(주)(Nissan Chemical Corporation) 제품, 상품명; MC-6000, 비할로겐 멜라민시아누레이트)MC-6000 (Nissan Chemical Corporation, trade name; MC-6000, non-halogen melamine cyanurate)

필러1: 닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; CR10-20(구상 크리스토발라이트 실리카 분말, 진구상, 실리카 함유율; 99.4중량%, 크리스토발라이트 결정상; 93중량%, 진비중; 2.33, D50; 10.8㎛, D90; 16.4㎛, D100; 24.1㎛, 10GHz에서의 비유전율; 3.16, 10GHz에서의 유전정접; 0.0008)Filler 1: Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, brand name; CR10-20 (spherical cristobalite silica powder, spherical, silica content; 99.4% by weight, cristobalite crystalline phase; 93% by weight, true specific gravity; 2.33, D 50 ; 10.8 μm, D 90 ; 16.4 μm, D 100 ; 24.1 μm, 10 GHz Relative permittivity at; 3.16, dissipation loss tangent at 10 GHz; 0.0008)

필러2: 닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; SC70-2(구상 비정질 실리카 분말, 진구상, 실리카 함유율; 99.9중량%, 진비중; 2.21, D50; 11.7㎛, D90; 16.4㎛, D100; 24.1㎛, 10GHz에서의 비유전율; 3.08, 10GHz에서의 유전정접; 0.0015)Filler 2: Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, trade name; SC70-2 (spherical amorphous silica powder, spherical, silica content; 99.9% by weight, true specific gravity; 2.21, D 50 ; 11.7 μm, D 90 ; 16.4 μm, D 100 ; 24.1 μm, relative permittivity at 10 GHz; 3.08, Dielectric loss tangent at 10 GHz; 0.0015)

난연제1: 클라리언트재팬(주) 제품, 상품명; ExolitOP935(알킬인산알루미늄)Flame retardant 1: Clariant Japan Co., Ltd. product, brand name; ExolitOP935 (Aluminum Alkyl Phosphate)

난연제2: 다이하치화학공업(주) 제품, 상품명; SR-3000(축합 인산에스테르)Flame retardant 2: Daihachi Chemical Industry Co., Ltd. product, trade name; SR-3000 (Condensed Phosphate Ester)

LCP 필러: JXTG 에너지(주) 제품(저유전 액정성 고분자, 입경(D50); 9.6㎛, 10GHz에서의 비유전율; 3.27, 10GHz에서의 유전정접; 0.0009)LCP filler: JXTG Energy Co., Ltd. product (low dielectric liquid crystalline polymer, particle size (D 50 ); 9.6㎛, relative permittivity at 10GHz; 3.27, dielectric loss tangent at 10GHz; 0.0009)

또한 상기 DDA1 및 DDA2에 있어서, (b)성분, (c)성분의 「%」는, GPC 측정에 있어서의 크로마토그램의 면적 퍼센트를 의미한다. 또한 DDA1 및 DDA2의 분자량은 하기 식(1)에 의하여 산출하였다.In addition, in said DDA1 and DDA2, "%" of (b) component and (c)component means the area percent of the chromatogram in a GPC measurement. In addition, the molecular weights of DDA1 and DDA2 were computed by following formula (1).

분자량 = 56.1×2×1000/아민가 ···(1)Molecular weight = 56.1 x 2 x 1000 / amine value ... (1)

(합성예1-1)(Synthesis Example 1-1)

1000ml의 세퍼러블 플라스크에, 55.51g의 BTDA(0.1721몰), 94.49g의 DDA1(0.1735몰), 210g의 NMP 및 140g의 크실렌을 넣고, 40℃에서 1시간 동안 잘 혼합하여 폴리아미드산 용액을 조제하였다. 이 폴리아미드산 용액을 190℃로 승온시켜 10시간 가열, 교반하고, 125g의 크실렌을 가하여 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액1-a(고형분 농도; 30중량%, 중량평균분자량; 82,900, 아민가; 206mgKOH/g)을 조제하였다.In a 1000 ml separable flask, 55.51 g of BTDA (0.1721 mol), 94.49 g of DDA1 (0.1735 mol), 210 g of NMP and 140 g of xylene were put, and mixed well at 40 ° C. for 1 hour to prepare a polyamic acid solution. did The polyamic acid solution was heated to 190° C., heated and stirred for 10 hours, and imidized by adding 125 g of xylene. Polyimide solution 1-a (solid content concentration; 30% by weight, weight average molecular weight; 82,900, amine value; 206 mgKOH/g) was prepared.

(합성예1-2∼1-3)(Synthesis Examples 1-2 to 1-3)

표1-1에 나타내는 원료조성으로 한 것 이외에는, 합성예1-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 용액1-b∼1-c를 조제하였다.Polyimide solutions 1-b to 1-c were prepared in the same manner as in Synthesis Example 1-1 except for the raw material composition shown in Table 1-1.

[표 1-1][Table 1-1]

Figure pct00011
Figure pct00011

(제작예1-1)(Production Example 1-1)

합성예1-1로 얻어진 폴리이미드 용액1-a의 169.49g(고형분으로서 50g)에 2.7g의 N-12(0.0105몰; BTDA의 케톤기 1몰에 대하여 제1급 아미노기가 0.35몰에 상당)를 배합하고, 6.0g의 NMP를 가하여 희석하고, 또한 1시간 교반함으로써 폴리이미드 용액1-1a를 얻었다.In 169.49 g (50 g as solid content) of polyimide solution 1-a obtained in Synthesis Example 1-1, 2.7 g of N-12 (0.0105 mol; primary amino group is equivalent to 0.35 mol per 1 mol of ketone group in BTDA) was blended, diluted by adding 6.0 g of NMP, and further stirred for 1 hour to obtain polyimide solution 1-1a.

얻어진 폴리이미드 용액1-1a를 이형 PET 필름(離型 PET film)(히가시야마필름(주)(HYNT) 제품, 상품명; HY-S05, 세로×가로×두께 = 200㎜×300㎜×25㎛)의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조시켜 이형 PET 필름으로부터 박리함으로써, 두께가 25㎛인 폴리이미드 필름1-1a'을 조제하였다. 이 폴리이미드 필름1-1a'을 온도 160℃, 압력 3.5MPa, 시간 60분의 조건으로 프레스를 실시하여 폴리이미드 필름1-1a를 얻었다.The obtained polyimide solution 1-1a was mixed with a release PET film (Higashiyama Film Co., Ltd. (HYNT) product, trade name; HY-S05, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm) of The polyimide film 1-1a' with a thickness of 25 micrometers was prepared by apply|coating to one side, drying at 80 degreeC for 15 minutes, and peeling from the mold release PET film. This polyimide film 1-1a' was pressed under the conditions of a temperature of 160 degreeC, a pressure of 3.5 MPa, and time of 60 minutes, and the polyimide film 1-1a was obtained.

폴리이미드 필름1-1a의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of polyimide film 1-1a are as follows.

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0024, 비유전율(ε2); 2.7, 유전정접(Tanδ2); 0.0034, 흡습률; 0.07%, 흡수율; 0.6%, Tg; 54℃, 200℃ 저장탄성률; 5.0×106Pa, 인장탄성률; 0.7GPa, 땜납내열(건조); 280℃, 땜납내열(흡습); 260℃, 필강도; 1.0kN/m 이상relative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0024, relative permittivity (ε 2 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 2 ); 0.0034, moisture absorption; 0.07%, water absorption; 0.6%, Tg; 54°C, 200°C storage modulus; 5.0×10 6 Pa, tensile modulus; 0.7 GPa, solder heat resistance (dry); 280°C, solder heat resistance (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.0 kN/m or more

(제작예1-2, 1-3)(Production Examples 1-2, 1-3)

폴리이미드 용액1-a를 대신하여 폴리이미드 용액1-b, 1-c를 사용한 것 이외에, 제작예1-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 용액1-1b, 1-1c 및 폴리이미드 필름1-1b, 1-1c를 얻었다.In the same manner as in Production Example 1-1, except that polyimide solutions 1-b and 1-c were used in place of polyimide solution 1-a, polyimide solutions 1-1b, 1-1c and polyimide film 1- 1b and 1-1c were obtained.

폴리이미드 필름1-1b, 1-1c의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of polyimide films 1-1b and 1-1c are as follows.

<폴리이미드 필름1-1b><Polyimide film 1-1b>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0024, 비유전율(ε2); 2.7, 유전정접(Tanδ2); 0.0034, 흡습률; 0.07%, 흡수율; 0.2%, Tg; 54℃, 200℃ 저장탄성률; 미측정, 인장탄성률; 0.7GParelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0024, relative permittivity (ε 2 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 2 ); 0.0034, moisture absorption; 0.07%, water absorption; 0.2%, Tg; 54°C, 200°C storage modulus; Unmeasured, tensile modulus; 0.7 GPa

<폴리이미드 필름1-1c><Polyimide film 1-1c>

비유전율(ε1); 2.9, 유전정접(Tanδ1); 0.0028, 비유전율(ε2); 2.9, 유전정접(Tanδ2); 0.0052, 흡습률; 0.17%, 흡수율; 0.7%, Tg; 106℃, 200℃ 저장탄성률; 1.0×106Pa 미만, 인장탄성률; 1.4GParelative permittivity (ε 1 ); 2.9, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0028, relative permittivity (ε 2 ); 2.9, dielectric loss tangent (Tanδ 2 ); 0.0052, moisture absorption; 0.17%, water absorption; 0.7%, Tg; 106°C, 200°C storage modulus; less than 1.0×10 6 Pa, tensile modulus; 1.4 GPa

[실시예1-1][Example 1-1]

제작예1-1로 얻어진 폴리이미드 용액1-1a(고형분으로서 100중량부)에 대하여, SR-3000의 10중량부를 배합하여 폴리이미드 조성물1-1을 얻었다. 얻어진 폴리이미드 조성물1-1을 이형 PET 필름의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조시켜 이형 PET 필름으로부터 박리함으로써, 두께가 25㎛인 폴리이미드 필름1-1'을 조제하였다.With respect to the polyimide solution 1-1a (100 weight part as solid content) obtained by Production Example 1-1, 10 weight part of SR-3000 was mix|blended, and the polyimide composition 1-1 was obtained. The obtained polyimide composition 1-1 was apply|coated to the single side|surface of a mold release PET film, and it dried at 80 degreeC for 15 minutes, and peeled from the mold release PET film, polyimide film 1-1' with a thickness of 25 micrometers was prepared.

이 폴리이미드 필름1-1'을 오븐에서 온도 160℃, 2시간의 조건으로 가열하여 폴리이미드 필름1-1을 얻었다.This polyimide film 1-1' was heated in oven at the temperature of 160 degreeC, and the conditions of 2 hours, and the polyimide film 1-1 was obtained.

폴리이미드 필름1-1의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of polyimide film 1-1 are as follows.

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0022relative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0022

[실시예1-2∼1-16][Examples 1-2 to 1-16]

표1-2에 기재되어 있는 비율(중량부)로 각 성분을 배합하고, 실시예1-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 조성물1-2∼1-16을 얻었다. 또한 표1-2에서 「DDA 조성물」은, 다이머디아민 조성물을 의미한다(표1-3에 있어서도 동일하다).Each component was mix|blended in the ratio (part by weight) shown in Table 1-2, and it carried out similarly to Example 1-1, and obtained polyimide compositions 1-2-1-16. In addition, in Table 1-2, "DDA composition" means a dimerdiamine composition (it is the same also in Table 1-3).

[표 1-2][Table 1-2]

Figure pct00012
Figure pct00012

얻어진 폴리이미드 조성물1-2∼1-16을 사용하고, 실시예1-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 필름1-2∼1-16을 조제하였다.Using the obtained polyimide compositions 1-2 to 1-16, in the same manner as in Example 1-1, polyimide films 1-2 to 1-16 were prepared.

폴리이미드 필름1-2∼1-16의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of polyimide films 1-2 to 1-16 are as follows.

<폴리이미드 필름1-2><Polyimide film 1-2>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0022, 인장탄성률; 0.7GPa, 필강도; 1.4kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0022, tensile modulus; 0.7 GPa, Peel Strength; 1.4 kN/m

<폴리이미드 필름1-3><Polyimide Film 1-3>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0020, 비유전율(ε2); 2.6, 유전정접(Tanδ2); 0.0021, 흡수율; 0.1%, Tg; 54℃, 인장탄성률; 0.7GPa, 필강도; 1.4kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0020, relative permittivity (ε 2 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 2 ); 0.0021, absorption rate; 0.1%, Tg; 54°C, tensile modulus; 0.7 GPa, Peel Strength; 1.4 kN/m

<폴리이미드 필름1-4><Polyimide Film 1-4>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0024, 인장탄성률; 0.5GPa, 필강도; 1.5kN/m relative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0024, tensile modulus; 0.5 GPa, Peel Strength; 1.5 kN/m

<폴리이미드 필름1-5><Polyimide Film 1-5>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0022, 인장탄성률; 0.7GParelative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0022, tensile modulus; 0.7 GPa

<폴리이미드 필름1-6><Polyimide Film 1-6>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0023, 인장탄성률; 0.1GPa, 필강도; 1.6kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0023, tensile modulus; 0.1 GPa, Peel Strength; 1.6 kN/m

<폴리이미드 필름1-7><Polyimide Film 1-7>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0022, 흡수율; 0.29%, 인장탄성률; 0.5GPa, 필강도; 1.6kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0022, absorption rate; 0.29%, tensile modulus; 0.5 GPa, Peel Strength; 1.6 kN/m

<폴리이미드 필름1-8><Polyimide Film 1-8>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0021, 흡수율; 0.54%, 인장탄성률; 0.4GPa, 필강도; 1.3kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0021, absorption rate; 0.54%, tensile modulus; 0.4 GPa, Peel Strength; 1.3 kN/m

<폴리이미드 필름1-9><Polyimide Film 1-9>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0021, 흡수율; 0.91%, 인장탄성률; 0.3GPa, 필강도; 1.4kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0021, absorption rate; 0.91%, tensile modulus; 0.3 GPa, Peel Strength; 1.4 kN/m

<폴리이미드 필름1-10><Polyimide Film 1-10>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0020, 필강도; 0.7kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0020, Peel Strength; 0.7 kN/m

<폴리이미드 필름1-11><Polyimide Film 1-11>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0022relative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0022

<폴리이미드 필름1-12><Polyimide Film 1-12>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0021relative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0021

<폴리이미드 필름1-13><Polyimide Film 1-13>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0020relative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0020

<폴리이미드 필름1-14><Polyimide Film 1-14>

비유전율(ε1); 2.8, 유전정접(Tanδ1); 0.0027relative permittivity (ε 1 ); 2.8, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0027

<폴리이미드 필름1-15><Polyimide Film 1-15>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0026relative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0026

<폴리이미드 필름1-16><Polyimide Film 1-16>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0025relative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0025

[참고예1-1∼1-18][Reference Examples 1-1 to 1-18]

표1-3에 기재되어 있는 비율(중량부)로 각 성분을 배합하고, 실시예1-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 조성물1-17∼1-34를 얻었다.Each component was blended in the proportions (parts by weight) shown in Table 1-3, and in the same manner as in Example 1-1, polyimide compositions 1-17 to 1-34 were obtained.

[표 1-3][Table 1-3]

Figure pct00013
Figure pct00013

얻어진 폴리이미드 조성물1-17∼1-34를 사용하고, 실시예1-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 필름1-17∼1-34를 조제하였다.Using the obtained polyimide compositions 1-17 to 1-34, polyimide films 1-17 to 1-34 were prepared in the same manner as in Example 1-1.

폴리이미드 필름1-17∼1-34의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the polyimide films 1-17 to 1-34 are as follows.

<폴리이미드 필름1-17><Polyimide Film 1-17>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0024, 비유전율(ε2); 2.7, 유전정접(Tanδ2); 0.0034, 흡수율; 0.2%, 인장탄성률; 0.9GPa, 필강도; 1.2kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0024, relative permittivity (ε 2 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 2 ); 0.0034, absorption rate; 0.2%, tensile modulus; 0.9 GPa, Peel Strength; 1.2 kN/m

<폴리이미드 필름1-18><Polyimide Film 1-18>

비유전율(ε1); 2.9, 유전정접(Tanδ1); 0.0025, 인장탄성률; 0.6GPa, 필강도; 0.4kN/mrelative permittivity (ε 1 ); 2.9, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0025, tensile modulus; 0.6 GPa, Peel Strength; 0.4 kN/m

<폴리이미드 필름1-19><Polyimide Film 1-19>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0031, 인장탄성률; 0.3GParelative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0031, tensile modulus; 0.3 GPa

<폴리이미드 필름1-20><Polyimide Film 1-20>

비유전율(ε1); 2.8, 유전정접(Tanδ1); 0.0041, 인장탄성률; 0.1GParelative permittivity (ε 1 ); 2.8, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0041, tensile modulus; 0.1 GPa

<폴리이미드 필름1-21><Polyimide Film 1-21>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0028, 인장탄성률; 0.2GParelative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0028, tensile modulus; 0.2 GPa

<폴리이미드 필름1-22><Polyimide Film 1-22>

비유전율(ε1); 2.8, 유전정접(Tanδ1); 0.0033, 인장탄성률; 0.0GParelative permittivity (ε 1 ); 2.8, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0033, tensile modulus; 0.0GPa

<폴리이미드 필름1-23><Polyimide Film 1-23>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0026, 인장탄성률; 0.3GParelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0026, tensile modulus; 0.3 GPa

<폴리이미드 필름1-24><Polyimide Film 1-24>

비유전율(ε1); 2.8, 유전정접(Tanδ1); 0.0028, 인장탄성률; 0.0GParelative permittivity (ε 1 ); 2.8, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0028, tensile modulus; 0.0GPa

<폴리이미드 필름1-25><Polyimide Film 1-25>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0028, 인장탄성률; 0.3GParelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0028, tensile modulus; 0.3 GPa

<폴리이미드 필름1-26><Polyimide Film 1-26>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0034, 인장탄성률; 0.1GParelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0034, tensile modulus; 0.1 GPa

<폴리이미드 필름1-27><Polyimide Film 1-27>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0027, 인장탄성률; 0.4GParelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0027, tensile modulus; 0.4 GPa

<폴리이미드 필름1-28><Polyimide Film 1-28>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0031, 인장탄성률; 0.2GParelative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0031, tensile modulus; 0.2 GPa

<폴리이미드 필름1-29><Polyimide Film 1-29>

비유전율(ε1); 2.7, 유전정접(Tanδ1); 0.0031relative permittivity (ε 1 ); 2.7, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0031

<폴리이미드 필름1-30><Polyimide Film 1-30>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0027relative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0027

<폴리이미드 필름1-31><Polyimide Film 1-31>

비유전율(ε1); 2.8, 유전정접(Tanδ1); 0.0035relative permittivity (ε 1 ); 2.8, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0035

<폴리이미드 필름1-32><Polyimide film 1-32>

비유전율(ε1); 2.9, 유전정접(Tanδ1); 0.0031relative permittivity (ε 1 ); 2.9, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0031

<폴리이미드 필름1-33><Polyimide Film 1-33>

비유전율(ε1); 3.0, 유전정접(Tanδ1); 0.0140relative permittivity (ε 1 ); 3.0, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0140

<폴리이미드 필름1-34><Polyimide Film 1-34>

비유전율(ε1); 2.6, 유전정접(Tanδ1); 0.0021relative permittivity (ε 1 ); 2.6, dielectric loss tangent (Tanδ 1 ); 0.0021

이상의 결과를 정리하여, 폴리이미드 필름1-1∼1-34의 유전특성의 평가결과를 표1-4 및 표1-5에 나타낸다.The above results are put together, and the evaluation results of the dielectric properties of the polyimide films 1-1 to 1-34 are shown in Tables 1-4 and 1-5.

[표 1-4][Table 1-4]

Figure pct00014
Figure pct00014

[표 1-5][Table 1-5]

Figure pct00015
Figure pct00015

[실시예1-17][Example 1-17]

표1-2에 기재되어 있는 비율(중량부)로 각 성분을 배합하고, 실시예1-1과 마찬가지 방식으로 조제한 폴리이미드 조성물1-2를 폴리이미드 필름재P1(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤50EN, 주파수 10GHz에서의 비유전율=3.6, 주파수 10GHz에서의 유전정접=0.0084, 세로×가로×두께=200㎜×300㎜×12㎛)의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 실시하여, 접착제층의 두께가 25㎛인 커버레이 필름1-17을 얻었다. 얻어진 커버레이 필름1-17의 휨의 상태는 「양호」였다.Each component was blended in the proportions (parts by weight) shown in Table 1-2, and the polyimide composition 1-2 prepared in the same manner as in Example 1-1 was prepared as a polyimide film material P1 (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.). , trade name: Kapton 50EN, relative permittivity at 10 GHz frequency = 3.6, dielectric loss tangent at frequency 10 GHz = 0.0084, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 12 μm) applied on one side, and at 80 ° C for 15 minutes It dried and obtained the coverlay film 1-17 whose thickness of an adhesive bond layer is 25 micrometers. The state of the curvature of the obtained coverlay film 1-17 was "good|favorableness".

[실시예1-18][Example 1-18]

커버레이 필름1-17의 접착제층측에 이형 PET 필름이 접촉하도록 적층하고, 진공 라미네이터를 사용하여 온도 160℃, 압력 0.8MPa, 2분간 압착시켰다. 그 후에 이형 PET 필름이 압착된 상태의 커버레이 필름1-17의 폴리이미드 필름재P1측에 폴리이미드 조성물1-2를 건조후의 두께가 25㎛가 되도록 도포하고, 80℃에서 15분간 건조시켰다. 그리고 폴리이미드 조성물1-2를 도포하여 건조시킨 면에 이형 PET 필름이 접촉하도록 적층하고, 진공 라미네이터를 사용하여 온도 160℃, 압력 0.8MPa, 2분간 압착시켜, 폴리이미드 필름재P1의 양면에 접착제층을 구비한 적층체1-18을 얻었다.The release PET film was laminated so as to be in contact with the adhesive layer side of the coverlay films 1-17, and the temperature was 160° C., the pressure was 0.8 MPa, and the pressure was pressed using a vacuum laminator for 2 minutes. Thereafter, the polyimide composition 1-2 was applied to the polyimide film material P1 side of the coverlay film 1-17 of the coverlay film 1-17 in which the release PET film was compressed so that the thickness after drying was 25 µm, and dried at 80°C for 15 minutes. Then, the polyimide composition 1-2 was applied and laminated so that the release PET film was in contact with the dried side, and the temperature was 160 ° C., the pressure was 0.8 MPa, and 2 minutes was pressed using a vacuum laminator, and the adhesive on both sides of the polyimide film material P1. A laminated body 1-18 provided with a layer was obtained.

[실시예1-19][Example 1-19]

폴리이미드 조성물1-2를 두께 12㎛의 전해동박의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 실시하여, 접착제층의 두께가 25㎛인 수지 함유 동박1-19를 얻었다. 얻어진 수지 함유 동박1-19의 휨의 상태는 「양호」였다.The polyimide composition 1-2 was applied to one side of an electrodeposited copper foil having a thickness of 12 µm and dried at 80°C for 15 minutes to obtain a resin-containing copper foil 1-19 having an adhesive layer having a thickness of 25 µm. The state of the curvature of the obtained resin containing copper foil 1-19 was "good|favorableness".

[실시예1-20][Example 1-20]

폴리이미드 조성물1-2를 두께 12㎛의 전해동박의 편면에 도포하고, 80℃에서 30분간 건조를 실시하여, 접착제층의 두께가 50㎛인 수지 함유 동박1-20을 얻었다. 얻어진 수지 함유 동박1-20의 휨의 상태는 「양호」였다.Polyimide composition 1-2 was applied to one side of an electrodeposited copper foil having a thickness of 12 µm, and dried at 80°C for 30 minutes to obtain a resin-containing copper foil 1-20 having an adhesive layer having a thickness of 50 µm. The state of the curvature of the obtained resin containing copper foil 1-20 was "good|favorableness".

[실시예1-21][Example 1-21]

수지 함유 동박1-19의 접착제층의 표면에 폴리이미드 조성물1-2를 다시 도포하고, 80℃에서 30분간 건조를 실시하여, 접착제층의 합계의 두께가 100㎛인 수지 함유 동박1-21을 얻었다. 얻어진 수지 함유 동박1-21의 휨의 상태는 「양호」였다.Polyimide composition 1-2 was applied again to the surface of the adhesive layer of the resin-containing copper foil 1-19, and dried at 80° C. for 30 minutes to obtain a resin-containing copper foil 1-21 having a total thickness of the adhesive layer of 100 μm. got it The state of the curvature of the obtained resin containing copper foil 1-21 was "good|favorableness".

[실시예1-22][Example 1-22]

폴리이미드 조성물1-2를 이형 PET 필름의 편면에 도포하고, 80℃에서 30분간 건조를 실시하여 이형 PET 필름으로부터 박리함으로써, 두께가 50㎛인 폴리이미드 필름1-35를 얻었다.Polyimide composition 1-2 was apply|coated to the single side|surface of a mold release PET film, and the 50 micrometers thickness polyimide film 1-35 was obtained by peeling from the mold release PET film by drying at 80 degreeC for 30 minutes.

[실시예1-23][Example 1-23]

두께 12㎛의 전해동박상에, 폴리이미드 필름1-2, 폴리이미드 필름재P2(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤100-EN, 두께 25㎛, 주파수 10GHz에서의 비유전율=3.6, 주파수 10GHz에서의 유전정접=0.0084), 폴리이미드 필름1-2 및 두께 12㎛의 전해동박을 순차적으로 적층하고, 진공 라미네이터를 사용하여 온도 160℃, 압력 0.8MPa, 2분간 압착시킨 후에, 실온으로부터 160℃까지 승온시켜 160℃에서 4시간 열처리하여, 동박적층판1-23을 얻었다.On an electrodeposited copper foil having a thickness of 12 µm, polyimide film 1-2, polyimide film material P2 (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name; Kapton 100-EN, thickness 25 µm, dielectric constant at a frequency of 10 GHz = 3.6, frequency Dielectric loss tangent at 10 GHz = 0.0084), polyimide film 1-2 and an electrodeposited copper foil having a thickness of 12 μm are sequentially laminated, and after pressing at a temperature of 160° C., a pressure of 0.8 MPa, and 2 minutes using a vacuum laminator, the temperature is 160° C. The temperature was raised to , and heat treatment was performed at 160° C. for 4 hours to obtain a copper clad laminate 1-23.

[실시예1-24][Example 1-24]

두께 12㎛의 전해동박상에, 커버레이 필름1-17의 접착제층측이 동박에 접촉하도록 적층하고, 진공 라미네이터를 사용하여 온도 160℃, 압력 0.8MPa, 2분간 압착시킨 후에, 실온으로부터 160℃까지 승온시켜 160℃에서 2시간 열처리하여, 동박적층판1-24를 얻었다.On an electrodeposited copper foil having a thickness of 12 µm, the coverlay film 1-17 is laminated so that the adhesive layer side of the coverlay film 1-17 is in contact with the copper foil, and is pressed using a vacuum laminator at a temperature of 160°C, a pressure of 0.8 MPa, and 2 minutes, and then the temperature is raised from room temperature to 160°C. and heat-treated at 160° C. for 2 hours to obtain a copper clad laminate 1-24.

[실시예1-25][Example 1-25]

두께 12㎛의 압연동박상에 폴리이미드 필름1-2를 적층하고, 커버레이 필름1-17의 폴리이미드 필름재P1측이 폴리이미드 필름1-2에 접촉하도록 적층하고, 또한 커버레이 필름1-17의 접착제층측에 두께 12㎛의 압연동박을 순차적으로 적층하고, 진공 라미네이터를 사용하여 온도 160℃, 압력 0.8MPa, 2분간 압착시킨 후에, 실온으로부터 160℃까지 승온시켜 160℃에서 2시간 열처리하여, 동박적층판1-25를 얻었다.A polyimide film 1-2 is laminated on a rolled copper foil having a thickness of 12 mu m, and the polyimide film material P1 side of the coverlay film 1-17 is laminated so that the polyimide film 1-2 is in contact with the coverlay film 1 - 17, a rolled copper foil having a thickness of 12 μm was sequentially laminated on the adhesive layer side, and after pressing at a temperature of 160° C., a pressure of 0.8 MPa, and 2 minutes using a vacuum laminator, the temperature was raised from room temperature to 160° C. and heat treatment was performed at 160° C. for 2 hours. , copper clad laminates 1-25 were obtained.

[실시예1-26][Example 1-26]

수지 함유 동박1-19를 2매 준비하고, 2매의 수지 함유 동박1-19의 접착제층측에 폴리이미드 필름재P3(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤200-EN, 두께 50㎛, 주파수 10GHz에서의 비유전율=3.6, 주파수 10GHz에서의 유전정접=0.0084)이 접촉하도록 적층하고, 진공 라미네이터를 사용하여 온도 160℃, 압력 0.8MPa, 5분간 압착시킨 후에, 실온으로부터 160℃까지 승온시켜 160℃에서 4시간 열처리하여, 동박적층판1-26을 얻었다.Prepare two resin-containing copper foils 1-19, and on the adhesive layer side of the two resin-containing copper foils 1-19, polyimide film material P3 (manufactured by Toray DuPont, trade name; Kapton 200-EN, thickness 50 µm, The dielectric constant at a frequency of 10 GHz = 3.6, the dielectric loss tangent at a frequency of 10 GHz = 0.0084) are laminated so that they are in contact, and after pressing at a temperature of 160 ° C, a pressure of 0.8 MPa and 5 minutes using a vacuum laminator, the temperature is raised from room temperature to 160 ° C. It was heat-treated at 160 degreeC for 4 hours, and copper clad laminated board 1-26 was obtained.

[실시예1-27][Example 1-27]

폴리이미드 조성물1-2를 편면 동박적층판M1(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; 에스파넥스 MC12-25-00UEM, 세로×가로×두께=200㎜×300㎜×25㎛)의 수지층측의 면에 도포하고, 80℃에서 30분간 건조를 실시하여, 접착제층의 두께가 50㎛인 접착제 부가 동박적층판1-27을 얻었다. 접착제 부가 동박적층판1-27의 접착제층측에, 편면 동박적층판M1의 수지층측의 면이 접촉하도록 적층하고, 소형 정밀 프레스기를 사용하여 온도 160℃, 압력 4.0MPa, 120분간 압착시켜, 동박적층판1-27을 얻었다.Polyimide composition 1-2 is a resin layer of single-sided copper clad laminate M1 (manufactured by Nittetsu Chemical & Materials, trade name; Espanex MC12-25-00UEM, length × width × thickness = 200 mm × 300 mm × 25 μm) It applied to the side surface and dried at 80 degreeC for 30 minutes, and the adhesive agent addition copper clad laminated board 1-27 whose thickness of an adhesive bond layer is 50 micrometers was obtained. The adhesive layer was laminated on the adhesive layer side of the copper clad laminate 1-27 with an adhesive so that the resin layer side of the single-sided copper clad laminate M1 was in contact with the copper clad laminate 1 -27 was obtained.

[실시예1-28][Example 1-28]

편면 동박적층판M1의 수지층측에 폴리이미드 필름1-2를 적층하고, 또한 그 위에 편면 동박적층판M1의 수지층측이 폴리이미드 필름1-2와 접촉하도록 적층하고, 소형 정밀 프레스기를 사용하여 온도 160℃, 압력 4.0MPa, 120분간 압착시켜, 동박적층판1-28을 얻었다.The polyimide film 1-2 is laminated on the resin layer side of the single-sided copper clad laminate M1, and the resin layer side of the single-sided copper clad laminate M1 is laminated on it so that the polyimide film 1-2 is in contact with it, and the temperature using a small precision press machine is used. It was crimped|bonded at 160 degreeC, the pressure of 4.0 MPa, and 120 minutes, and copper clad laminated board 1-28 was obtained.

[실시예1-29][Example 1-29]

폴리이미드 조성물1-2를 이형 PET 필름의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조를 실시하여 접착제층을 이형 PET 필름으로부터 박리함으로써, 두께가 15㎛인 폴리이미드 필름1-36을 얻었다.The polyimide composition 1-2 was apply|coated to the single side|surface of the mold release PET film, and the adhesive layer was peeled from the mold release PET film by drying at 80 degreeC for 15 minutes, and the polyimide film 1-36 with a thickness of 15 micrometers was obtained.

[실시예1-30][Example 1-30]

양면 동박적층판M2(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; 에스파넥스 MB12-25-00UEG)를 준비하고, 일방의 면의 동박에 에칭에 의한 회로가공을 실시하여, 도체회로층을 형성한 배선기판1-1A를 얻었다.A double-sided copper clad laminate M2 (manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd., trade name; Espanex MB12-25-00UEG) was prepared, and the copper foil on one side was subjected to circuit processing by etching to form a conductor circuit layer. A wiring board 1-1A was obtained.

양면 동박적층판M2의 일방의 면의 동박을 에칭으로 제거하여, 동박적층판1-1B를 얻었다.The copper foil on one side of the double-sided copper clad laminate M2 was removed by etching to obtain a copper clad laminate 1-1B.

배선기판1-1A의 도체회로층측의 면과 동박적층판1-1B의 수지층측의 면의 사이에 폴리이미드 필름1-2를 협지시켜 적층한 상태에서, 온도 160℃, 압력 4.0MPa, 120분간 열압착시켜 다층회로기판1-30을 얻었다.In a state where the polyimide film 1-2 was sandwiched between the surface of the wiring board 1-1A on the conductor circuit layer side and the surface of the copper clad laminate 1-1B on the resin layer side, the temperature was 160°C and the pressure was 4.0 MPa, for 120 minutes. By thermocompression bonding, multilayer circuit boards 1-30 were obtained.

[실시예1-31][Example 1-31]

액정 폴리머 필름((주)쿠라레(Kuraray) 제품, 상품명; CT-Z, 두께; 50㎛, CTE; 18ppm/K, 열변형온도; 300℃, 주파수 10GHz에서의 비유전율=3.40, 주파수 10GHz에서의 유전정접=0.0022)을 절연성 기재로 하고, 그 양면에 두께 18㎛의 전해동박이 형성된 동박적층판1-1C를 준비하고, 일방의 면의 동박에 에칭에 의한 회로가공을 실시하여, 도체회로층을 형성한 배선기판1-1C를 얻었다.Liquid crystal polymer film (Kuraray Co., Ltd. product, trade name; CT-Z, thickness; 50㎛, CTE; 18ppm/K, thermal deformation temperature; 300℃, relative permittivity at 10GHz frequency = 3.40, frequency at 10GHz (dielectric loss tangent = 0.0022) as an insulating substrate, a copper clad laminate 1-1C having an electrodeposited copper foil with a thickness of 18 μm on both sides was prepared, and circuit processing was performed on one side of the copper foil by etching to form a conductor circuit layer The formed wiring board 1-1C was obtained.

동박적층판1-1C의 편면의 동박을 에칭으로 제거하여, 동박적층판1-1D를 얻었다.The copper foil on one side of the copper-clad laminate 1-1C was removed by etching to obtain a copper-clad laminate 1-1D.

배선기판1-1C의 도체회로층측의 면과 동박적층판1-1D의 절연성 기재층측의 면의 사이에 폴리이미드 필름1-2를 협지시켜 적층한 상태에서, 온도 160℃, 압력 4.0MPa, 120분간 열압착시켜 다층회로기판1-31을 얻었다.In a state where the polyimide film 1-2 was sandwiched between the surface of the wiring board 1-1C on the conductor circuit layer side and the copper clad laminate 1-1D surface on the insulating base layer side, the temperature was 160°C, the pressure was 4.0 MPa, and for 120 minutes. A multilayer circuit board 1-31 was obtained by thermocompression bonding.

이하의 실시예에 있어서, 특별한 언급이 없는 한 각종 측정, 평가는 하기에 의한 것이다.In the following examples, unless otherwise specified, various measurements and evaluations are as follows.

[유전특성의 평가][Evaluation of genetic characteristics]

<실리카 입자><Silica Particles>

벡터 네트워크 애널라이저(키사이트 테크놀로지스(Keysight Technologies) 제품, 상품명; 벡터 네트워크 애널라이저 E8363C) 및 공동공진기 섭동법에 의한 (주)간토전자응용개발(KANTO Electronic Application and Development) 제품의 비유전율 측정장치를 사용하여, 비유전율 측정모드; TM020으로 설정하여 주파수 10GHz에서의 실리카 입자의 비유전율 및 유전정접을 측정하였다. 또한 실리카 입자는 분체상(粉體狀)으로서, 시료관 튜브(내경은 1.68㎜, 외경은 2.28㎜, 높이는 8cm)에 충전(充塡)하여 측정하였다.Using the vector network analyzer (Keysight Technologies product, trade name; Vector Network Analyzer E8363C) and the relative permittivity measuring device of KANTO Electronic Application and Development Co., Ltd. product by cavity resonator perturbation method , relative permittivity measurement mode; TM020 was set to measure the relative permittivity and dielectric loss tangent of silica particles at a frequency of 10 GHz. In addition, silica particles were measured by filling a sample tube tube (inner diameter 1.68 mm, outer diameter 2.28 mm, height 8 cm) as a powdery form.

<수지필름><Resin Film>

벡터 네트워크 애널라이저(키사이트 테크놀로지스 제품, 상품명; 벡터 네트워크 애널라이저 E8363C) 및 스플릿 포스트 유전체 공진기(SPDR)를 사용하여, 온도 160℃, 압력 3.5MPa, 시간 60분간의 조건으로 프레스한 접착제 시트를 온도; 23℃, 습도; 50%의 조건하에서 24시간 방치한 후에, 20GHz의 주파수에서의 비유전율 및 유전정접을 측정하였다.Using a Vector Network Analyzer (manufactured by Keysight Technologies, trade name; Vector Network Analyzer E8363C) and a split post dielectric resonator (SPDR), the adhesive sheet pressed under the conditions of a temperature of 160°C, a pressure of 3.5 MPa, and a time of 60 minutes was subjected to temperature; 23°C, humidity; After allowing to stand for 24 hours under the condition of 50%, the relative permittivity and dielectric loss tangent at a frequency of 20 GHz were measured.

[입자지름의 측정][Measurement of particle diameter]

레이저 회절식 입도분포 측정장치(말번(Malvern) 제품, 상품명; Master Sizer3000)를 사용하여, 물을 분산매(分散媒)로 하고, 입자굴절률 1.54의 조건으로 레이저 회절·산란식 측정방식에 의한 입자지름을 측정하였다.Particle diameter by laser diffraction/scattering measurement method using a laser diffraction particle size distribution measuring device (Malvern product, trade name; Master Sizer3000), water as a dispersion medium, and a particle refractive index of 1.54 was measured.

[진비중의 측정][Measurement of true specific gravity]

연속자동 분체 진밀도 측정장치((주)세이신기업(Seishin Enterprise) 제품, 상품명; AUTO TRUE DENSER MAT-7000)를 사용하여, 피크노미터법(pycnometer method)(액상치환법(液相置換法))에 의한 진비중의 측정을 하였다.Using a continuous automatic powder true density measuring device (Seishin Enterprise Co., Ltd. product, trade name; AUTO TRUE DENSER MAT-7000), the pycnometer method (liquid phase displacement method) ) was measured for true specific gravity.

[크리스토발라이트 결정상의 측정][Measurement of cristobalite crystal phase]

X선회절 측정장치(브루커(Bruker) 제품, 상품명; D2PHASER)를 사용하여, 회절각도(Cu, Kα) 2θ = 10°∼90°의 범위의 SiO2에서 유래하는 모든 회절패턴(피크위치, 피크폭 및 피크강도)으로부터, SiO2에서 유래하는 전체 피크의 총면적을 산출한다. 다음에 크리스토발라이트 결정상에서 유래하는 피크위치를 특정하고, 크리스토발라이트 결정상의 전체 피크의 총면적을 산출하여, SiO2에서 유래하는 전체 피크의 총면적에 대한 비율(중량%)을 구하였다. 또한 각 피크의 귀속은, International Centre for Diffraction Data(ICDD)의 데이터 베이스를 참조하였다.All diffraction patterns (peak positions , peak positions, From the peak width and peak intensity), the total area of all peaks derived from SiO 2 is calculated. Next, the peak position derived from the cristobalite crystal phase was specified, the total area of all peaks of the cristobalite crystal phase was calculated, and the ratio (weight%) to the total area of all peaks derived from SiO 2 was calculated. In addition, the attribution of each peak referred to the database of the International Center for Diffraction Data (ICDD).

[인장탄성률 및 최대신장도의 측정][Measurement of tensile modulus and maximum elongation]

텐션테스터((주)오리엔텍 제품 텐실론)를 사용하여, 시험편(폭; 12.7㎜, 길이; 127㎜)에 대하여 50㎜/min의 인장시험을 실시하고, 25℃에서의 인장탄성률 및 최대신장도를 구하였다.Using a tension tester (Tensilon manufactured by Orientec Co., Ltd.), a tensile test of 50 mm/min was performed on the specimen (width: 12.7 mm, length; 127 mm), and tensile modulus of elasticity and maximum elongation at 25°C figure was saved.

[글라스 전이온도(Tg)의 측정][Measurement of glass transition temperature (Tg)]

온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분간의 조건으로 프레스를 실시한 접착제 시트를 5㎜×20㎜ 사이즈의 시험편으로 잘라내고, 동적점탄성 측정장치(DMA: 유비엠(UBM) 제품, 상품명; E4000F)를 사용하여 30℃에서 300℃까지 승온속도 4℃/분, 주파수 11Hz로 측정을 실시하고, 탄성률 변화(tanδ)가 최대가 되는 온도를 글라스 전이온도로 하였다.temperature; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; The adhesive sheet pressed under the conditions for 60 minutes was cut into a 5 mm × 20 mm size test piece, and from 30° C. to 300° C. using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA: UBM product, trade name; E4000F). Measurement was performed at a temperature increase rate of 4°C/min and a frequency of 11 Hz, and the temperature at which the change in elastic modulus (tan δ) becomes the maximum was set as the glass transition temperature.

[필름 유지성의 평가][Evaluation of film retention properties]

필름 유지성은 다음의 절차에 의하여 평가하였다. 접착제 시트를 폭 20㎜, 길이 20㎜의 시험편으로 잘라내고, 대각선을 따라 접음선이 생기도록 접은 후에, 원래의 상태로 되돌려서 필름의 상태를 관찰하였다. 이때에, 접었다 편 후에도 시험편에 균열이 없는 것을 「양호」, 일부에라도 균열이 생긴 것을 「불가」라고 하였다.Film retention was evaluated by the following procedure. The adhesive sheet was cut out into a test piece having a width of 20 mm and a length of 20 mm, and after folding so that folds were formed along a diagonal line, it was returned to its original state and the state of the film was observed. At this time, the thing which did not crack in the test piece even after folding and unfolding was set as "good", and the thing which cracked even in a part was set as "impossible".

[땜납내열시험(건조)][Solder heat resistance test (dry)]

양면 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; 에스파넥스 MB12-25-12UEG)의 한 쪽의 동박을 에칭으로 제거하고, 다른 일방의 동박을 회로가공하여, 배선폭/배선간격(L/S) = 1㎜/1㎜의 회로가 형성된 인쇄기판을 준비하였다. 접착제 시트를 인쇄기판의 배선의 위에 놓고, 접착제 시트가 인쇄기판과 접촉하는 면의 반대의 면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤50EN-S)을 적층한 후에, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분간의 조건으로 프레스를 하였다. 이 동박이 부착된 시험편을 105℃에서 건조시킨 후에, 각 평가온도로 설정한 땜납욕 중에 10초간 침지시키고, 그 접착상태를 관찰하여, 발포, 부풂, 박리 등의 불량의 유무를 확인하였다. 내열성은, 불량이 발생하지 않은 상한의 온도로 표현하였고, 예를 들면 「320℃」는 320℃의 땜납욕 중에서 평가하여 불량이 확인되지 않은 것을 의미한다.Copper foil on one side of the double-sided copper clad laminate (Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, trade name; Espanex MB12-25-12UEG) is removed by etching, and the copper foil on the other side is circuit-processed, A printed board on which a circuit of L/S) = 1 mm/1 mm was formed was prepared. An adhesive sheet is placed on the wiring of the printed board, and a polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name; Kapton 50EN-S) is laminated on the opposite side of the side where the adhesive sheet is in contact with the printed board. ; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions for 60 minutes. After the copper foil-attached test piece was dried at 105° C., it was immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed to confirm the presence or absence of defects such as foaming, swelling, and peeling. Heat resistance was expressed as the upper limit temperature at which no defects occurred. For example, “320° C.” means that no defects were confirmed by evaluation in a 320° C. solder bath.

[땜납내열시험(흡습)][Solder heat resistance test (moisture absorption)]

양면 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; 에스파넥스 MB12-25-12UEG)의 편면의 동박을 에칭으로 제거하고, 다른 일방의 동박을 회로가공하여, 배선폭/배선간격(L/S) = 1㎜/1㎜의 회로가 형성된 인쇄기판을 준비하였다. 접착제 시트를 인쇄기판의 배선의 위에 놓고, 접착제 시트가 인쇄기판과 접촉하는 면의 반대의 면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤50EN-S)을 적층한 후에, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분간의 조건으로 프레스를 하였다. 이 동박이 부착된 시험편을 40℃, 상대습도; 80%에서 72시간 방치한 후에, 각 평가온도로 설정한 땜납욕 중에 10초간 침지시키고, 그 접착상태를 관찰하여, 발포, 부풂, 박리 등의 불량의 유무를 확인하였다. 내열성은, 불량이 발생하지 않은 상한의 온도로 표현하였고, 예를 들면 「260℃」는 260℃의 땜납욕 중에서 평가하여 불량이 확인되지 않은 것을 의미한다.Copper foil on one side of a double-sided copper clad laminate (Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, trade name; Espanex MB12-25-12UEG) is removed by etching, and the copper foil on the other side is circuit-processed, and the wiring width / wiring spacing (L /S) = 1mm/1mm A printed circuit board was prepared. An adhesive sheet is placed on the wiring of the printed board, and a polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name; Kapton 50EN-S) is laminated on the opposite side of the side where the adhesive sheet is in contact with the printed board. ; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions for 60 minutes. This copper foil-attached test piece was subjected to 40°C, relative humidity; After standing at 80% for 72 hours, it was immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed to confirm the presence or absence of defects such as foaming, swelling, and peeling. Heat resistance was expressed as the upper limit temperature at which no defects occurred, for example, “260° C.” means that no defects were confirmed by evaluation in a 260° C. solder bath.

[필강도의 측정][Measurement of Peel Strength]

양면 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명; 에스파넥스 MB12-25-12UEG)을 폭; 50㎜, 길이; 100㎜로 잘라낸 후에, 편면의 동박을 에칭으로 제거한 샘플의 동박측에 접착제 시트를 놓고, 이 접착제 시트의 위에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤50EN-S)을 또 적층하고, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간: 60분의 조건으로 프레스를 하였다. 적층체를 시험편폭 5㎜로 잘라내고, 인장시험기((주)도요세이키제작소 제품, 상품명; 스트로그래프 VE)를 사용하여, 시험편의 90°방향으로 속도 50㎜/min으로 잡아당겼을 때의 접착제층과 동박의 박리강도를 측정하였다.Width of double-sided copper clad laminate (Nitetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product name; Espanex MB12-25-12UEG); 50 mm, length; After cutting to 100 mm, an adhesive sheet is placed on the copper foil side of the sample from which the copper foil on one side has been removed by etching, and a polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name; Kapton 50EN-S) is further laminated on the adhesive sheet. and temperature; 160°C, pressure; Pressing was performed under the conditions of 3.5 MPa and time: 60 minutes. The laminate was cut to a width of 5 mm of the test piece and pulled at a speed of 50 mm/min in the 90° direction of the test piece using a tensile tester (manufactured by Toyo Seiki Corporation, trade name; Strograph VE). The peel strength of the adhesive layer and the copper foil was measured.

[난연성의 평가방법][Method for evaluating flame retardancy]

접착제 시트의 양면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명; 캡톤50EN-S)을 적층하고, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분의 조건으로 프레스를 하였다. 200±5㎜ × 50±1㎜로 샘플을 자르고, 지름 약12.7㎜, 길이 200±5㎜의 통모양이 되도록 말아, UL94VTM 규격에 준거한 시험편을 제작한 후 연소시험을 실시하고, VTM-0의 판정기준을 충족한 경우를 「양호」라고 하였다. VTM-1의 판정기준을 충족한 경우를 「가」, VTM-1의 판정기준을 충족하지 않은 경우를 「불가」라고 하였다.A polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name; Kapton 50EN-S) was laminated on both sides of the adhesive sheet, and the temperature was adjusted; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions of 60 minutes. Cut the sample to 200 ± 5 mm × 50 ± 1 mm, roll it into a cylindrical shape with a diameter of about 12.7 mm and a length of 200 ± 5 mm, prepare a test piece conforming to the UL94VTM standard, and conduct a combustion test, VTM-0 A case that satisfies the judgment criteria of The case where the criterion of VTM-1 was satisfied was referred to as "A", and the case where the criterion of VTM-1 was not met was referred to as "Disabled".

(합성예2-1)(Synthesis Example 2-1)

1000ml의 세퍼러블 플라스크에, 55.51g의 BTDA(0.1721몰), 94.49g의 DDA2(0.1735몰), 210g의 NMP 및 140g의 크실렌을 넣고, 40℃에서 1시간 동안 잘 혼합하여 폴리아미드산 용액을 조제하였다. 이 폴리아미드산 용액을 190℃로 승온시켜 10시간 가열, 교반하고, 125g의 크실렌을 가하여 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액2-1(고형분; 30중량%, 중량평균분자량; 80,900)을 조제하였다.In a 1000ml separable flask, 55.51 g of BTDA (0.1721 mol), 94.49 g of DDA2 (0.1735 mol), 210 g of NMP and 140 g of xylene were put, and mixed well at 40° C. for 1 hour to prepare a polyamic acid solution. did This polyamic acid solution was heated to 190° C., heated and stirred for 10 hours, and imidized by adding 125 g of xylene to prepare polyimide solution 2-1 (solid content; 30% by weight, weight average molecular weight; 80,900). .

[실시예2-1][Example 2-1]

합성예2-1에서 조제한 폴리이미드 용액2-1의 100g에, 1.09g의 N-12 및 7.50g의 필러1을 배합하고, 고형분이 30중량%가 되도록 크실렌을 가하여 희석하고 교반함으로써, 폴리이미드 바니시2-1a를 조제하였다.To 100 g of the polyimide solution 2-1 prepared in Synthesis Example 2-1, 1.09 g of N-12 and 7.50 g of Filler 1 were blended, and xylene was added to dilute and stirred so that the solid content became 30% by weight, followed by stirring to obtain a polyimide Varnish 2-1a was prepared.

[실시예2-2∼2-8][Examples 2-2 to 2-8]

필러1 및 필러2의 배합량을 표2-1과 같이 바꾼 것 이외에는, 실시예2-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시2-2a∼2-8a를 조제하였다.Polyimide varnishes 2-2a to 2-8a were prepared in the same manner as in Example 2-1 except that the blending amounts of the filler 1 and the filler 2 were changed as shown in Table 2-1.

[비교예2-1][Comparative Example 2-1]

필러1을 배합하지 않은 것 이외에는, 실시예2-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시2-9a를 조제하였다.Polyimide varnish 2-9a was prepared in the same manner as in Example 2-1 except that filler 1 was not blended.

[표 2-1][Table 2-1]

Figure pct00016
Figure pct00016

[실시예2-9][Example 2-9]

실시예2-1에서 조제한 폴리이미드 바니시2-1a를 이형처리된 PET 필름의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조시킨 후에 박리함으로써, 접착제 시트2-1b(두께; 25㎛)를 조제하였다.An adhesive sheet 2-1b (thickness: 25 µm) was prepared by applying the polyimide varnish 2-1a prepared in Example 2-1 to one side of a release-treated PET film, drying it at 80°C for 15 minutes, and peeling it off. .

접착제 시트2-1b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-1b are as follows.

비유전율; 2.7, 유전정접; 0.0015, 인장탄성률; 0.6GPa, 최대신장도; 165%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 260℃, 필강도; 1.8kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.7, dielectric loss tangent; 0.0015, tensile modulus; 0.6 GPa, maximum elongation; 165%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.8 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-10][Example 2-10]

폴리이미드 바니시2-2a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-2b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-2b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-2a.

접착제 시트2-2b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-2b are as follows.

비유전율; 2.9, 유전정접; 0.0013, 인장탄성률; 0.5GPa, 최대신장도; 77%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 260℃, 필강도; 1.8kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.9, dielectric loss tangent; 0.0013, tensile modulus; 0.5 GPa, maximum elongation; 77%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.8 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-11][Example 2-11]

폴리이미드 바니시2-3a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-3b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-3b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-3a.

접착제 시트2-3b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-3b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0012, 인장탄성률; 0.6GPa, 최대신장도; 59%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 270℃, 필강도; 1.8kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0012, tensile modulus; 0.6 GPa, maximum elongation; 59%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 270°C, Peel Strength; 1.8 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-12][Example 2-12]

폴리이미드 바니시2-4a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-4b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-4b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-4a.

접착제 시트2-4b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-4b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0011, 인장탄성률; 0.8GPa, 최대신장도; 31%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 1.9kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0011, tensile modulus; 0.8 GPa, maximum elongation; 31%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 1.9 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-13][Example 2-13]

폴리이미드 바니시2-5a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-5b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-5b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-5a.

접착제 시트2-5b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-5b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0016, 인장탄성률; 0.8GPa, 최대신장도; 29%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 270℃, 필강도; 1.9kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0016, tensile modulus; 0.8 GPa, maximum elongation; 29%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 270°C, Peel Strength; 1.9 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-14][Example 2-14]

폴리이미드 바니시2-6a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-6b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-6b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-6a.

접착제 시트2-6b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-6b are as follows.

비유전율; 2.7, 유전정접; 0.0015, 인장탄성률; 0.6GPa, 최대신장도; 169%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 260℃, 필강도; 1.7kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.7, dielectric loss tangent; 0.0015, tensile modulus; 0.6 GPa, maximum elongation; 169%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.7 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-15][Example 2-15]

폴리이미드 바니시2-7a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-7b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-7b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-7a.

접착제 시트2-7b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-7b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0012, 인장탄성률; 0.7GPa, 최대신장도; 28%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 1.8kN/m, 난연성; 양호relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0012, tensile modulus; 0.7 GPa, maximum elongation; 28%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 1.8 kN/m, flame retardant; Good

[실시예2-16][Example 2-16]

폴리이미드 바니시2-8a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-8b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-8b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-8a.

접착제 시트2-8b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-8b are as follows.

비유전율; 2.6, 유전정접; 0.0016, 인장탄성률; 0.5GPa, 최대신장도; 177%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 260℃, 필강도; 1.7kN/m, 난연성; 가relative permittivity; 2.6, dielectric loss tangent; 0.0016, tensile modulus; 0.5 GPa, maximum elongation; 177%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.7 kN/m, flame retardant; go

[비교예2-2][Comparative Example 2-2]

폴리이미드 바니시2-9a를 사용하고, 실시예2-9와 마찬가지 방식으로 하여 접착제 시트2-9b를 조제하였다.An adhesive sheet 2-9b was prepared in the same manner as in Example 2-9 using polyimide varnish 2-9a.

접착제 시트2-9b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the adhesive sheet 2-9b are as follows.

비유전율; 2.6, 유전정접; 0.0017, 인장탄성률; 0.4GPa, 최대신장도; 197%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 220℃, 필강도; 1.6kN/m, 난연성; 불가relative permittivity; 2.6, dielectric loss tangent; 0.0017, tensile modulus; 0.4 GPa, maximum elongation; 197%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 220°C, Peel Strength; 1.6 kN/m, flame retardant; impossible

이상의 결과를 정리해서 표2-2에 나타낸다.The above results are summarized and shown in Table 2-2.

[표 2-2][Table 2-2]

Figure pct00017
Figure pct00017

표2-2에서, 비교예2-2의 접착제 시트2-9b와 비교해서, 필러1 및 필러2를 첨가한 실시예2-9∼2-16의 접착제 시트2-1b∼2-8b는, 유전특성 및 땜납내열온도(흡습)가 개선되어 있는 것이 확인되었다. 이러한 결과로부터, 본 실시형태에 관한 수지필름으로서의 접착제 시트는, 예를 들면 20GHz의 고주파대에서의 전송손실의 감소를 기대할 수 있다. 또한 비교예2-2의 접착제 시트2-9b와 비교하면, 필러1 및 2를 첨가한 실시예2-9∼2-16의 접착제 시트2-1b∼2-8b는, 유연성이나 필름 유지성을 유지하면서, 흡습땜납내열성, 필강도 및 난연성이 향상되는 것으로 확인되었다.In Table 2-2, in comparison with the adhesive sheet 2-9b of Comparative Example 2-2, the adhesive sheets 2-1b to 2-8b of Examples 2-9 to 2-16 in which the filler 1 and the filler 2 were added were, It was confirmed that the dielectric properties and the solder heat resistance temperature (moisture absorption) were improved. From these results, in the adhesive sheet as a resin film according to the present embodiment, a reduction in transmission loss in a high frequency band of, for example, 20 GHz can be expected. Further, compared with the adhesive sheet 2-9b of Comparative Example 2-2, the adhesive sheets 2-1b to 2-8b of Examples 2-9 to 2-16 to which fillers 1 and 2 were added maintain flexibility and film retention properties. It was confirmed that the heat resistance, peel strength and flame retardancy of the moisture absorption solder were improved.

이상, 각 실시예에 나타내는 바와 같이 DDA/BTDA계 폴리이미드에 크리스토발라이트 실리카 입자를 첨가함으로써, 명확한 유전정접의 감소효과가 나타났다.As shown in the above examples, the addition of cristobalite silica particles to the DDA/BTDA-based polyimide showed a clear effect of reducing the dielectric loss tangent.

또한 폴리이미드 필름/접착제층/폴리이미드 필름의 층구성으로 난연성을 평가한 바, 크리스토발라이트 실리카 입자를 함유하는 접착제층은, VTM-1레벨 이상의 난연성이 발현되는 것으로 확인되었다.In addition, when the flame retardancy was evaluated by the layer composition of the polyimide film/adhesive layer/polyimide film, it was confirmed that the adhesive layer containing cristobalite silica particles exhibited flame retardancy of VTM-1 level or higher.

또한 각 실시예에서 얻은 접착제 시트는, 실용범위의 크리스토발라이트 실리카 입자의 배합량에 있어서, 필름으로서의 형상을 유지하고 있고, 폴리이미드 또는 구리에 대한 접착력도 향상되어 있다. 접착력 향상의 메커니즘에 대하여 명확히 밝혀지지 않았지만, 접착제 시트의 탄성률 향상이 이에 기여하고 있을 가능성이 있다고 추측된다.In addition, the adhesive sheet obtained in each Example maintained the shape as a film in the blending amount of cristobalite silica particles within the practical range, and the adhesive force to polyimide or copper was also improved. Although the mechanism of the improvement of adhesive force has not been clearly elucidated, it is estimated that the improvement of the elastic modulus of the adhesive sheet may be contributing to this.

또한 실시예에서 얻은 접착제 시트의 땜납내열성(건조·흡습)은 크리스토발라이트 실리카 입자를 배합하지 않은 비교예와 동등하거나 그 이상이어서, 고주파 다층 FPC용의 접착제로서 바람직한 특성을 나타냈다.In addition, the solder heat resistance (dry/moisture absorption) of the adhesive sheet obtained in Example was equal to or higher than that of Comparative Example in which cristobalite silica particles were not incorporated, indicating desirable properties as an adhesive for high-frequency multilayer FPC.

이상과 같은 결과로부터, 본 실시형태에 관한 수지필름은, 고주파 대응 플렉시블 인쇄기판용 재료로서 적합하게 사용되는 것이 확인되었다.From the above results, it was confirmed that the resin film according to the present embodiment is suitably used as a material for a flexible printed circuit board compatible with high frequency.

이하의 실시예에 있어서, 특별한 언급이 없는 한 각종 측정, 평가는 하기에 의한 것이다.In the following examples, unless otherwise specified, various measurements and evaluations are based on the following.

[유전특성의 평가][Evaluation of genetic characteristics]

<액정성 고분자 필러><Liquid crystalline polymer filler>

고형분 30중량%로 조정한 액정성 고분자 필러의 디메틸아세트아미드 분산액을 동박의 평활면에 도포하고, 120℃에서 10분간 건조시켰다. 그 후에 200℃에서 360℃까지 10분간에 걸쳐서 단계적으로 승온시키고, 얻어진 적층체의 동박을 에칭해서 제거함으로써, 액정성 고분자의 필름을 얻었다.The dimethylacetamide dispersion of the liquid crystalline polymer filler adjusted to 30 weight% of solid content was apply|coated to the smooth surface of copper foil, and it dried at 120 degreeC for 10 minutes. Thereafter, the temperature was raised stepwise from 200°C to 360°C over 10 minutes, and the copper foil of the obtained laminate was etched and removed to obtain a film of liquid crystalline polymer.

벡터 네트워크 애널라이저(키사이트 테크놀로지스 제품, 상품명; 벡터 네트워크 애널라이저 E8363C) 및 스플릿 포스트 유전체 공진기(SPDR 공진기)를 사용하여, 얻어진 액정성 고분자 필름을 온도; 23℃, 습도; 50%의 조건하에서 24시간 방치한 후에, 10GHz의 주파수에서의 비유전율 및 유전정접을 측정하였다.Using a Vector Network Analyzer (manufactured by Keysight Technologies, trade name; Vector Network Analyzer E8363C) and a split post dielectric resonator (SPDR resonator), the obtained liquid crystalline polymer film was subjected to temperature; 23°C, humidity; After standing for 24 hours under the condition of 50%, the relative permittivity and dielectric loss tangent at a frequency of 10 GHz were measured.

<수지필름><Resin Film>

벡터 네트워크 애널라이저(키사이트 테크놀로지스 제품, 상품명; 벡터 네트워크 애널라이저 E8363C) 및 SPDR 공진기를 사용하여, 온도 160℃, 압력 3.5MPa, 시간 60분간의 조건으로 프레스를 실시한 수지필름을 온도; 23℃, 습도; 50%의 조건하에서 24시간 방치한 후에, 20GHz의 주파수에서의 비유전율 및 유전정접을 측정하였다.Using a Vector Network Analyzer (manufactured by Keysight Technologies, trade name; Vector Network Analyzer E8363C) and an SPDR resonator, the resin film pressed under the conditions of a temperature of 160°C, a pressure of 3.5 MPa, and a time period of 60 minutes was subjected to temperature; 23°C, humidity; After allowing to stand for 24 hours under the condition of 50%, the relative permittivity and dielectric loss tangent at a frequency of 20 GHz were measured.

[인장탄성률 및 최대신장도의 측정][Measurement of tensile modulus and maximum elongation]

인장탄성률 및 최대신장도는 다음의 절차에 의하여 측정하였다. 먼저 텐션테스터((주)오리엔텍 제품 텐실론)를 사용하고, 수지필름으로부터 시험편(폭12.7㎜×길이127㎜)을 제작하였다. 이 시험편을 사용하여 50㎜/min로 인장시험을 실시하고, 25℃에서의 인장탄성률 및 최대신장도를 구하였다.Tensile modulus and maximum elongation were measured by the following procedure. First, using a tension tester (Tensilon manufactured by Orientec Co., Ltd.), a test piece (width 12.7 mm × length 127 mm) was prepared from a resin film. A tensile test was performed using this test piece at 50 mm/min, and the tensile modulus and maximum elongation at 25°C were obtained.

[글라스 전이온도(Tg)의 측정][Measurement of glass transition temperature (Tg)]

글라스 전이온도(Tg)에 있어서는, 온도 160℃, 압력 3.5MPa, 시간 60분간의 조건으로 프레스를 실시한 수지필름을 5㎜×20㎜ 사이즈의 시험편으로 잘라내고, 동적점탄성 측정장치(DMA: 유비엠(UBM) 제품, 상품명; E4000F)를 사용하여 30℃에서 300℃까지 승온속도 4℃/분, 주파수 11Hz로 측정을 실시하고, 탄성률 변화(tanδ)가 최대가 되는 온도를 글라스 전이온도로 하였다.At the glass transition temperature (Tg), the resin film pressed under the conditions of a temperature of 160° C., a pressure of 3.5 MPa, and a time of 60 minutes was cut into a 5 mm × 20 mm size test piece, and a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA: UB) (UBM) product, trade name; E4000F) was measured from 30°C to 300°C at a temperature increase rate of 4°C/min and a frequency of 11Hz, and the temperature at which the elastic modulus change (tanδ) was maximized was defined as the glass transition temperature.

[필름 유지성의 평가][Evaluation of film retention properties]

필름 유지성은 다음의 절차에 의하여 평가하였다. 수지필름을 폭 20㎜, 길이 20㎜의 시험편으로 잘라내고, 대각선을 따라 접음선이 생기도록 접은 후에, 원래의 상태로 되돌려서 필름의 상태를 관찰하였다. 이때에, 접었다 편 후에도 시험편에 균열이 없는 것을 「양호」, 일부에라도 균열이 생긴 것을 「불가」라고 하였다.Film retention was evaluated by the following procedure. The resin film was cut out into a test piece having a width of 20 mm and a length of 20 mm, folded so that fold lines were formed along a diagonal line, and then returned to the original state and the state of the film was observed. At this time, the thing which did not crack in the test piece even after folding and unfolding was set as "good", and the thing which cracked even in a part was set as "impossible".

[땜납내열시험(건조)][Solder heat resistance test (dry)]

폴리이미드 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명: 에스파넥스 MB12-25-12UEG)에 회로가공을 하여, 배선폭/배선간격(L/S) = 1㎜/1㎜의 회로가 형성된 인쇄기판을 준비하였다. 수지필름을 인쇄기판의 배선의 위에 놓고, 수지필름이 인쇄기판과 접촉하는 면의 반대의 면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명: 캡톤50EN-S)을 적층한 후에, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분간의 조건으로 프레스를 하였다. 이 동박이 부착된 시험편을 105℃에서 건조시킨 후에, 각 평가온도로 설정한 땜납욕 중에 10초간 침지시키고, 그 접착상태를 관찰하여, 발포, 부풂, 박리 등의 불량의 유무를 확인하였다. 내열성은, 불량이 발생하지 않은 상한의 온도로 표현하였고, 예를 들면 「320℃」는 320℃의 땜납욕 중에서 평가하여 불량이 확인되지 않은 것을 의미한다.Circuit processing is performed on a polyimide copper clad laminate (Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product name: Espanex MB12-25-12UEG), and a circuit of wiring width/wiring spacing (L/S) = 1mm/1mm is obtained. The formed printed board was prepared. A resin film is placed on the wiring of the printed board, and a polyimide film (Toray DuPont Co., Ltd. product name: Kapton 50EN-S) is laminated on the opposite side of the side where the resin film is in contact with the printed board. ; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions for 60 minutes. After the copper foil-attached test piece was dried at 105° C., it was immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed to confirm the presence or absence of defects such as foaming, swelling, and peeling. Heat resistance was expressed as the upper limit temperature at which no defects occurred. For example, “320° C.” means that no defects were confirmed by evaluation in a 320° C. solder bath.

[땜납내열시험(흡습)][Solder heat resistance test (moisture absorption)]

폴리이미드 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명: 에스파넥스 MB12-25-12UEG)에 대하여 회로가공을 하여, 배선폭/배선간격(L/S) = 1㎜/1㎜의 회로가 형성된 인쇄기판을 준비하였다. 수지필름을 인쇄기판의 배선 위에 놓고, 수지필름이 인쇄기판과 접촉하는 면의 반대의 면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명: 캡톤50EN-S)을 적층한 후에, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분간의 조건으로 프레스를 하였다. 이 동박이 부착된 시험편을 40℃, 상대습도 80%에서 72시간 방치한 후에, 각 평가온도로 설정한 땜납욕 중에 10초간 침지시키고, 그 접착상태를 관찰하여, 발포, 부풂, 박리 등의 불량의 유무를 확인하였다. 내열성은, 불량이 발생하지 않은 상한의 온도로 표현하였고, 예를 들면 「260℃」는 260℃의 땜납욕 중에서 평가하여 불량이 확인되지 않은 것을 의미한다.Circuit processing is performed on polyimide copper clad laminate (Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. product, trade name: Espanex MB12-25-12UEG), and wiring width / wiring spacing (L/S) = 1mm/1mm circuit A printed board on which was formed was prepared. Place the resin film on the wiring of the printed board, and after laminating the polyimide film (Toray DuPont Co., Ltd. product name: Kapton 50EN-S) on the opposite side of the side where the resin film is in contact with the printed board, the temperature; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions for 60 minutes. This copper foil-attached test piece was left to stand at 40°C and 80% relative humidity for 72 hours, then immersed in a solder bath set at each evaluation temperature for 10 seconds, and the adhesion state was observed, and defects such as foaming, swelling, and peeling were observed. The presence or absence of was confirmed. Heat resistance was expressed as the upper limit temperature at which no defects occurred, for example, “260° C.” means that no defects were confirmed by evaluation in a 260° C. solder bath.

[필강도의 측정][Measurement of Peel Strength]

필강도의 측정은 다음의 방법으로 실시하였다. 폭 50㎜, 길이 100㎜로 잘라낸 양면 폴리이미드 동박적층판(닛테츠케미컬앤드머티리얼(주) 제품, 상품명: 에스파넥스 MB12-25-12UEG)의 편면의 동박을 에칭하고, 나머지 다른 일방의 동박측에 수지필름을 놓고, 수지필름의 동박적층판과 반대의 면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명: 캡톤50EN-S)을 적층하고, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분의 조건으로 프레스를 하였다. 적층체를 시험편폭 5㎜로 잘라내고, 인장시험기((주)도요세이키제작소 제품, 스트로그래프 VE)를 사용하여, 시험편의 90° 방향으로 속도 50㎜/min으로 잡아당겼을 때의 접착제층으로서의 수지필름과 동박의 박리강도를 측정하였다.Peel strength was measured by the following method. The copper foil on one side of the double-sided polyimide copper clad laminate (manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd., trade name: Espanex MB12-25-12UEG) is cut to a width of 50 mm and a length of 100 mm, and the copper foil of the other side is etched. Place a resin film, and laminate a polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name: Kapton 50EN-S) on the opposite side to the copper clad laminate of the resin film, temperature; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions of 60 minutes. The adhesive layer when the laminate was cut to a width of 5 mm of the test piece and pulled at a speed of 50 mm/min in the 90° direction of the test piece using a tensile tester (manufactured by Toyo Seiki Seisakusho Co., Ltd., Strograph VE) The peel strength of the resin film and copper foil as

[난연성의 평가방법][Method for evaluating flame retardancy]

난연성의 평가는 다음의 방법으로 실시하였다. 100㎛가 되도록 4매 적층한 수지필름의 양면에 폴리이미드 필름(도레이·듀폰(주) 제품, 상품명: 캡톤50EN-S)을 적층하고, 온도; 160℃, 압력; 3.5MPa, 시간; 60분의 조건으로 프레스를 하였다. 200±5㎜ × 50±1㎜로 샘플을 자르고, 지름 약12.7㎜, 길이 200±5㎜의 통모양이 되도록 말아, UL94VTM 규격에 따른 시험편을 제작 및 연소시험을 실시하고, 소화까지의 시간이 0∼5초이면 「◎」(우량), 6∼10초이면 「○」(양호), 11∼20초이면 「△」(가), 21초를 넘는 경우를 「×」(불가)라고 하였다.The flame retardancy was evaluated by the following method. A polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name: Kapton 50EN-S) was laminated on both sides of a resin film laminated with 4 sheets so as to have a thickness of 100 µm, temperature; 160°C, pressure; 3.5 MPa, time; Pressing was performed under the conditions of 60 minutes. Cut the sample to 200±5mm × 50±1mm, roll it into a tubular shape with a diameter of about 12.7mm and a length of 200±5mm. If it was 0-5 seconds, it was “◎” (good), if it was 6-10 seconds, it was “○” (good), if it was 11-20 seconds, it was “△” (A), and when it exceeded 21 seconds, it was “×” (impossible). .

[합성예3-1][Synthesis Example 3-1]

1000ml의 세퍼러블 플라스크에, 55.51g의 BTDA(0.1721몰), 94.49g의 DDA2(0.1735몰), 210g의 NMP 및 140g의 크실렌을 넣고, 40℃에서 1시간 동안 잘 혼합하여 폴리아미드산 용액을 조제하였다. 이 폴리아미드산 용액을 190℃로 승온시켜 10시간 가열, 교반하고, 125g의 크실렌을 가하여 이미드화를 완결한 폴리이미드 용액3-1(고형분; 30중량%, 중량평균분자량; 80,900)을 조제하였다.In a 1000ml separable flask, 55.51 g of BTDA (0.1721 mol), 94.49 g of DDA2 (0.1735 mol), 210 g of NMP and 140 g of xylene were put, and mixed well at 40° C. for 1 hour to prepare a polyamic acid solution. did The polyamic acid solution was heated to 190° C., heated and stirred for 10 hours, and imidized by adding 125 g of xylene to prepare a polyimide solution 3-1 (solid content: 30 wt%, weight average molecular weight: 80,900). .

[실시예3-1][Example 3-1]

합성예3-1에서 조제한 폴리이미드 용액3-1의 100g에, 1.09g의 N-12 및 7.50g의 LCP 필러를 배합하고, 고형분이 30중량%가 되도록 크실렌을 가하여 희석하고 교반함으로써, 폴리이미드 바니시3-1a를 조제하였다.To 100 g of the polyimide solution 3-1 prepared in Synthesis Example 3-1, 1.09 g of N-12 and 7.50 g of LCP filler were blended, and xylene was added to dilute and stirred so that the solid content became 30 wt%, and the polyimide Varnish 3-1a was prepared.

[실시예3-2∼3-4][Examples 3-2-3-4]

LCP 필러의 배합량을 표3-1과 같이 바꾼 것 이외에는, 실시예3-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시3-2a∼3-4a를 조제하였다.Polyimide varnishes 3-2a to 3-4a were prepared in the same manner as in Example 3-1 except that the blending amount of the LCP filler was changed as shown in Table 3-1.

[실시예3-5][Example 3-5]

합성예3-1에서 조제한 폴리이미드 용액3-1의 100g에, 1.09g의 N-12 및 7.50g의 LCP 필러, 7.50g의 난연제1을 배합하고, 고형분이 30중량%가 되도록 크실렌을 가하여 희석하고 교반함으로써, 폴리이미드 바니시3-5a를 조제하였다.To 100 g of polyimide solution 3-1 prepared in Synthesis Example 3-1, 1.09 g of N-12, 7.50 g of LCP filler, and 7.50 g of flame retardant 1 were blended, and xylene was added to dilute so that the solid content was 30 wt%. And by stirring, polyimide varnish 3-5a was prepared.

[실시예3-6∼3-7][Examples 3-6 to 3-7]

LCP 필러의 배합량을 표3-1과 같이 바꾼 것 이외에는, 실시예3-5와 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시3-6a∼3-7a를 조제하였다.Polyimide varnishes 3-6a to 3-7a were prepared in the same manner as in Example 3-5, except that the blending amount of the LCP filler was changed as shown in Table 3-1.

[실시예3-8∼3-10][Examples 3-8 to 3-10]

난연제1 대신에 난연제2를 표3-1의 배합량으로 사용함과 아울러 LCP 필러를 표3-1과 같이 배합한 것 이외에는, 실시예3-5와 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시3-8a∼3-10a를 조제하였다.Polyimide varnishes 3-8a to 3- in the same manner as in Example 3-5, except that the flame retardant 2 was used in the amount shown in Table 3-1 instead of the flame retardant 1 and the LCP filler was blended as shown in Table 3-1. 10a was prepared.

[비교예3-1][Comparative Example 3-1]

LCP 필러를 배합하지 않은 것 이외에는, 실시예3-1과 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시3-11a를 조제하였다.Polyimide varnish 3-11a was prepared in the same manner as in Example 3-1, except that the LCP filler was not blended.

[비교예3-2][Comparative Example 3-2]

LCP 필러를 배합하지 않은 것 이외에는, 실시예3-5와 마찬가지 방식으로 하여 폴리이미드 바니시3-12a를 조제하였다.Polyimide varnish 3-12a was prepared in the same manner as in Example 3-5 except that the LCP filler was not blended.

[표 3-1][Table 3-1]

Figure pct00018
Figure pct00018

[실시예3-11][Example 3-11]

실시예3-1에서 조제한 폴리이미드 바니시3-1a를 이형처리된 PET 필름의 편면에 도포하고, 80℃에서 15분간 건조시킨 후에 박리함으로써, 수지필름3-1b(두께; 25㎛)를 조제하였다.The polyimide varnish 3-1a prepared in Example 3-1 was applied to one side of the release-treated PET film, dried at 80° C. for 15 minutes, and peeled to prepare a resin film 3-1b (thickness: 25 μm). .

수지필름3-1b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-1b are as follows.

비유전율; 2.7, 유전정접; 0.0015, 인장탄성률; 0.6GPa, 최대신장도; 131%, Tg; 54℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 260℃, 필강도; 1.6kN/m, 난연성; ○relative permittivity; 2.7, dielectric loss tangent; 0.0015, tensile modulus; 0.6 GPa, maximum elongation; 131%, Tg; 54°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.6 kN/m, flame retardant; ○

[실시예3-12][Example 3-12]

폴리이미드 바니시3-2a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-2b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-2a was used and a resin film 3-2b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-2b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-2b are as follows.

비유전율; 2.7, 유전정접; 0.0014, 인장탄성률; 0.7GPa, 최대신장도; 80%, Tg; 54℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 260℃, 필강도; 1.5kN/m, 난연성; ○relative permittivity; 2.7, dielectric loss tangent; 0.0014, tensile modulus; 0.7 GPa, maximum elongation; 80%, Tg; 54°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 260°C, Peel Strength; 1.5 kN/m, flame retardant; ○

[실시예3-13][Example 3-13]

폴리이미드 바니시3-3a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-3b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-3a was used and a resin film 3-3b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-3b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-3b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0014, 인장탄성률; 0.7GPa, 최대신장도; 38%, Tg; 58℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 270℃, 필강도; 1.2kN/m, 난연성; ○relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0014, tensile modulus; 0.7 GPa, maximum elongation; 38%, Tg; 58°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 270°C, Peel Strength; 1.2 kN/m, flame retardant; ○

[실시예3-14][Example 3-14]

폴리이미드 바니시3-4a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-4b를 조제하였다.A resin film 3-4b was prepared in the same manner as in Example 3-11 using polyimide varnish 3-4a.

수지필름3-4b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-4b are as follows.

비유전율; 2.9, 유전정접; 0.0013, 인장탄성률; 0.8GPa, 최대신장도; 18%, Tg; 58℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 1.2kN/m, 난연성; ○relative permittivity; 2.9, dielectric loss tangent; 0.0013, tensile modulus; 0.8 GPa, maximum elongation; 18%, Tg; 58°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 1.2 kN/m, flame retardant; ○

[실시예3-15][Example 3-15]

폴리이미드 바니시3-5a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-5b를 조제하였다.A resin film 3-5b was prepared in the same manner as in Example 3-11, using polyimide varnish 3-5a.

수지필름3-5b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-5b are as follows.

비유전율; 2.7, 유전정접; 0.0016, 인장탄성률; 0.5GPa, 최대신장도; 100%, Tg; 54℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 270℃, 필강도; 2.0kN/m, 난연성; ◎relative permittivity; 2.7, dielectric loss tangent; 0.0016, tensile modulus; 0.5 GPa, maximum elongation; 100%, Tg; 54°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 270°C, Peel Strength; 2.0 kN/m, flame retardant; ◎

[실시예3-16][Example 3-16]

폴리이미드 바니시3-6a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-6b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-6a was used, and resin film 3-6b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-6b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-6b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0015, 인장탄성률; 0.7GPa, 최대신장도; 33%, Tg; 58℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 270℃, 필강도; 1.3kN/m, 난연성; ◎relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0015, tensile modulus; 0.7 GPa, maximum elongation; 33%, Tg; 58°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 270°C, Peel Strength; 1.3 kN/m, flame retardant; ◎

[실시예3-17][Example 3-17]

폴리이미드 바니시3-7a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-7b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-7a was used, and in the same manner as in Example 3-11, a resin film 3-7b was prepared.

수지필름3-7b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-7b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0014, 인장탄성률; 0.7GPa, 최대신장도; 11%, Tg; 58℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 0.9kN/m, 난연성; ◎relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0014, tensile modulus; 0.7 GPa, maximum elongation; 11%, Tg; 58°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 0.9 kN/m, flame retardant; ◎

[실시예3-18][Example 3-18]

폴리이미드 바니시3-8a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-8b를 조제하였다.Using polyimide varnish 3-8a, in the same manner as in Example 3-11, a resin film 3-8b was prepared.

수지필름3-8b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-8b are as follows.

비유전율; 2.7, 유전정접; 0.0015, 인장탄성률; 0.5GPa, 최대신장도; 114%, Tg; 54℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 1.4kN/m, 난연성; ◎relative permittivity; 2.7, dielectric loss tangent; 0.0015, tensile modulus; 0.5 GPa, maximum elongation; 114%, Tg; 54°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 1.4 kN/m, flame retardant; ◎

[실시예3-19][Example 3-19]

폴리이미드 바니시3-9a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-9b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-9a was used, and a resin film 3-9b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-9b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-9b are as follows.

비유전율; 2.8, 유전정접; 0.0014, 인장탄성률; 0.6GPa, 최대신장도; 52%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 1.0kN/m, 난연성; ◎relative permittivity; 2.8, dielectric loss tangent; 0.0014, tensile modulus; 0.6 GPa, maximum elongation; 52%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 1.0 kN/m, flame retardant; ◎

[실시예3-20][Example 3-20]

폴리이미드 바니시3-10a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-10b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-10a was used, and resin film 3-10b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-10b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-10b are as follows.

비유전율; 2.9, 유전정접; 0.0013, 인장탄성률; 0.6GPa, 최대신장도; 22%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 290℃, 필강도; 0.7kN/m, 난연성; ◎relative permittivity; 2.9, dielectric loss tangent; 0.0013, tensile modulus; 0.6 GPa, maximum elongation; 22%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 290°C, Peel Strength; 0.7 kN/m, flame retardant; ◎

[비교예3-3][Comparative Example 3-3]

폴리이미드 바니시3-11a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-11b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-11a was used and a resin film 3-11b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-11b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-11b are as follows.

비유전율; 2.6, 유전정접; 0.0017, 인장탄성률; 0.4GPa, 최대신장도; 197%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 220℃, 필강도; 1.6kN/m, 난연성; ×relative permittivity; 2.6, dielectric loss tangent; 0.0017, tensile modulus; 0.4 GPa, maximum elongation; 197%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 220°C, Peel Strength; 1.6 kN/m, flame retardant; ×

[비교예3-4][Comparative Example 3-4]

폴리이미드 바니시3-12a를 사용하고, 실시예3-11과 마찬가지 방식으로 하여 수지필름3-12b를 조제하였다.Polyimide varnish 3-12a was used and a resin film 3-12b was prepared in the same manner as in Example 3-11.

수지필름3-12b의 각종 평가결과는 이하와 같다.Various evaluation results of the resin film 3-12b are as follows.

비유전율; 2.6, 유전정접; 0.0018, 인장탄성률; 0.8GPa, 최대신장도; 226%, Tg; 56℃, 필름 유지성; 양호, 땜납내열시험(건조); 320℃, 땜납내열시험(흡습); 280℃, 필강도; 1.7kN/m, 난연성; △relative permittivity; 2.6, dielectric loss tangent; 0.0018, tensile modulus; 0.8 GPa, maximum elongation; 226%, Tg; 56°C, film retention; Good, solder heat resistance test (dry); 320℃, solder heat resistance test (moisture absorption); 280°C, Peel Strength; 1.7 kN/m, flame retardant; △

이상의 결과를 정리해서 표3-2에 나타낸다.Table 3-2 summarizes the above results.

[표 3-2][Table 3-2]

Figure pct00019
Figure pct00019

표3-2로부터, 비교예3-3의 수지필름3-11b와 비교하면 LCP 필러를 첨가한 실시예3-11∼3-14의 수지필름3-1b∼3-4b는, 유전정접, 난연성 및 땜납내열온도(흡습)이 개선되어 있는 것이 확인되었다. DDA계 열가소성 폴리이미드보다 유전정접이 낮은 LCP 필러의 첨가량의 증가에 따라 수지필름의 유전정접이 작아진다. 또한 연소되기 쉬운 DDA계 열가소성 폴리이미드에 방향환 농도가 높은 LCP 필러를 배합함으로써, 우수한 난연효과가 발현되고 있다. 또한 LCP 필러의 첨가에 의하여 흡습분이 저하됨과 아울러 탄성률이 향상되기 때문에 땜납내열성이 향상된 것으로 생각된다.From Table 3-2, compared with the resin film 3-11b of Comparative Example 3-3, the resin films 3-1b to 3-4b of Examples 3-11 to 3-14 with LCP filler added had dielectric loss tangent and flame retardancy. And it was confirmed that the solder heat resistance temperature (moisture absorption) was improved. The dielectric loss tangent of the resin film decreases as the amount of LCP filler, which has a lower dielectric loss tangent than that of DDA-based thermoplastic polyimide, increases. In addition, by blending a DDA-based thermoplastic polyimide that is easily combusted with an LCP filler having a high aromatic ring concentration, an excellent flame retardant effect is exhibited. Further, it is considered that the heat resistance of the solder is improved because the moisture absorption content is decreased and the elastic modulus is improved by the addition of the LCP filler.

또한 수지필름3-1b∼3-4b는 필름성을 유지하고, 접착강도도 플렉시블 프린트 배선판의 작성에 통상 요구되는 0.6kN/m을 넘는 것으로부터, 본 실시형태에 관한 수지필름은, 예를 들면 10GHz 이상의 고주파대를 사용하는 플렉시블 프린트 배선판의 작성에 바람직하다. DDA계 열가소성 폴리이미드는 신장률이 크기 때문에, LCP 필러를 첨가해도 필름성을 유지할 수 있다. 또한 프레스 온도에 대하여 Tg가 충분히 낮기 때문에, 수지가 동박표면의 미세한 요철을 추종함과 아울러 산무수물로서 사용한 BTDA의 카르보닐기에 의하여 접착성이 담보되는 것이라고 생각된다.In addition, the resin films 3-1b to 3-4b maintain film properties and also have an adhesive strength exceeding 0.6 kN/m normally required for production of a flexible printed wiring board. It is suitable for creation of the flexible printed wiring board using the high frequency band of 10 GHz or more. Since the DDA-based thermoplastic polyimide has a large elongation, film properties can be maintained even if an LCP filler is added. Moreover, since Tg is sufficiently low with respect to a press temperature, while resin tracks the fine unevenness|corrugation of the copper foil surface, it is thought that adhesiveness is ensured by the carbonyl group of BTDA used as an acid anhydride.

또한 표3-2로부터, 비교예3-4의 수지필름3-12b와 비교하면 LCP 필러를 첨가한 실시예3-15∼3-20의 수지필름3-5b∼3-10b는, 유전정접이 저하됨과 아울러 난연성이 크게 개선되어 있어, 예를 들면 유전체층의 후막화(厚膜化)가 진행되고 있는 고주파 대응 플렉시블 프린트 배선판의 재료로서 바람직하다.Further, from Table 3-2, compared with the resin film 3-12b of Comparative Example 3-4, the resin films 3-5b to 3-10b of Examples 3-15 to 3-20 to which LCP filler was added had a dielectric loss tangent. While it falls, the flame retardance is greatly improved, and it is suitable as a material of the flexible printed wiring board corresponding to the high frequency in which thickness-ization of a dielectric material layer is progressing, for example.

DDA계 열가소성 폴리이미드와 인계 난연제만의 조합에서는, DDA계 열가소성 폴리이미드 중의 방향환 농도가 낮기 때문에 인계 난연제의 차(char) 형성효과가 충분히 발현되지 않는 경우가 많은 것에 대하여, 실시예3-15∼3-20에 나타내는 바와 같이 DDA계 열가소성 폴리이미드와 LCP 필러와 인계 난연제의 조합으로 함으로써 조성물 중의 방향환 농도가 높아지는 결과로 인해, 인계 난연제에 의한 난연효과가 커지는 것으로 생각된다.In the case of a combination of only the DDA-based thermoplastic polyimide and the phosphorus-based flame retardant, the char-forming effect of the phosphorus-based flame retardant is not sufficiently expressed in many cases because the aromatic ring concentration in the DDA-based thermoplastic polyimide is low, Example 3-15 As shown in 3-20, it is thought that the flame retardant effect by the phosphorus flame retardant is increased due to the result that the aromatic ring concentration in the composition is increased by using the combination of the DDA-based thermoplastic polyimide, the LCP filler, and the phosphorus-based flame retardant.

이상, 본 발명의 실시형태를 예시의 목적으로 상세하게 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시형태에 의하여 제약되는 것은 아니고, 다양한 변형이 가능하다.As mentioned above, although embodiment of this invention was described in detail for the purpose of illustration, this invention is not limited by the said embodiment, and various modifications are possible.

본 출원은, 2019년 10월 29일에 일본국에서 출원된 일본국 특허출원 2019-196671호, 2019년 12월 27일에 일본국에서 출원된 일본국 특허출원 2019-238107호 및 일본국 특허출원 2019-238108호에 의거한 우선권을 주장하는 것으로서, 당해출원의 전 내용을 여기에 원용한다.This application is a Japanese Patent Application No. 2019-196671 filed in Japan on October 29, 2019, Japanese Patent Application No. 2019-238107 filed in Japan on December 27, 2019 and a Japanese Patent Application As claiming priority under No. 2019-238108, the entire contents of the application are incorporated herein by reference.

Claims (22)

하기 (A)성분 및 (B)성분;
(A) 전체 디아민 성분에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 열가소성 수지, 및
(B) 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상
을 함유하는 수지조성물.
following (A) component and (B) component;
(A) A structure derived from a diamine component containing 40 mol% or more of a dimerdiamine composition containing as a main component dimerdiamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component a thermoplastic resin containing units, and
(B) at least one selected from aromatic condensed phosphate esters, silica particles, or liquid crystalline polymer fillers
A resin composition containing
제1항에 있어서,
상기 (A)성분이, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 상기 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 이루어지는 폴리이미드이고, 또한 상기 (B)성분이 상기 방향족 축합 인산에스테르이고,
상기 (A)성분에 대한 상기 (B)성분의 중량비가 0.05∼0.7의 범위 내인 수지조성물.
According to claim 1,
The component (A) is a polyimide obtained by reacting a tetracarboxylic anhydride component with a diamine component containing 40 mol% or more of the dimer diamine composition with respect to all the diamine components, and the component (B) is the aromatic condensed phosphoric acid. ester,
The resin composition in which the weight ratio of the said (B) component with respect to the said (A) component exists in the range of 0.05-0.7.
제2항에 있어서,
상기 (A)성분에 대한 상기 (B)성분의 중량비가 0.2∼0.5의 범위 내인 수지조성물.
3. The method of claim 2,
The resin composition in which the weight ratio of the said (B) component with respect to the said (A) component exists in the range of 0.2-0.5.
제2항에 있어서,
상기 (A)성분에 대한 (B)성분에서 유래하는 인의 중량비가 0.01∼0.1의 범위 내인 수지조성물.
3. The method of claim 2,
The resin composition whose weight ratio of the phosphorus derived from (B) component with respect to the said (A) component exists in the range of 0.01-0.1.
제2항에 있어서,
상기 (A)성분 중의 다이머디아민 조성물에 대한 (B)성분에서 유래하는 인의 중량비가 0.01∼0.15의 범위 내인 수지조성물.
3. The method of claim 2,
The resin composition in which the weight ratio of the phosphorus derived from (B) component with respect to the dimerdiamine composition in the said (A) component exists in the range of 0.01-0.15.
제2항에 있어서,
적어도 2개의 제1급 아미노기를 관능기로서 구비하는 아미노 화합물을 더 함유하는 수지조성물.
3. The method of claim 2,
A resin composition further comprising an amino compound having at least two primary amino groups as functional groups.
제1항에 있어서,
상기 (A)성분이, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 상기 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 이루어지는 폴리아미드산 또는 폴리이미드이고, 또한 상기 (B)성분이 크리스토발라이트 결정상 혹은 석영 결정상을 구비하는 실리카 입자이고,
상기 (B)성분이, 상기 (A)성분(다만, 폴리아미드산은 이미드화된 폴리이미드로 환산한다) 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 5∼60중량%의 범위 내인 수지조성물.
According to claim 1,
The component (A) is a polyamic acid or polyimide formed by reacting a tetracarboxylic anhydride component with a diamine component containing 40 mol% or more of the dimer diamine composition with respect to all the diamine components, and the component (B) is It is a silica particle having a cristobalite crystal phase or a quartz crystal phase,
The resin composition in which the said (B) component exists in the range of 5 to 60 weight% with respect to the sum total of the said (A) component (however, polyamic acid is converted into the imidated polyimide) and the said (B) component.
제7항에 있어서,
상기 (B)성분은, CuKα선에 의한 X선 회절분석 스펙트럼의 2θ=10°∼90°의 범위에 있어서의 SiO2에서 유래하는 전체 피크의 총면적에 대한 크리스토발라이트 결정상 및 석영 결정상에서 유래하는 피크의 합계면적의 비율이 20중량% 이상인 수지조성물.
8. The method of claim 7,
The component (B) is a peak derived from a cristobalite crystal phase and a quartz crystal phase with respect to the total area of all peaks derived from SiO 2 in the range of 2θ = 10° to 90° of the X-ray diffraction spectrum by CuKα ray. A resin composition having a total area ratio of 20% by weight or more.
제7항에 있어서,
상기 (B)성분의 레이저 회절 산란법에 의한 부피기준의 입도분포측정에 의하여 얻은 빈도분포곡선에 있어서의 누적값이 50%가 되는 평균입자지름D50이 6∼20㎛의 범위 내인 수지조성물.
8. The method of claim 7,
The resin composition having an average particle diameter D 50 of which the cumulative value in a frequency distribution curve obtained by volume-based particle size distribution measurement by a laser diffraction scattering method of the component (B) is 50% in the range of 6 to 20 µm.
제1항에 있어서,
상기 (A)성분이, 테트라카르복시산무수물 성분과, 전체 디아민 성분에 대하여 상기 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 이루어지는 폴리이미드이고, 또한 상기 (B)성분이 상기 액정성 고분자 필러이고,
상기 (B)성분이, 상기 (A)성분 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 15∼50부피%의 범위 내인 수지조성물.
According to claim 1,
The component (A) is a polyimide obtained by reacting a tetracarboxylic acid anhydride component with a diamine component containing 40 mol% or more of the dimerdiamine composition with respect to all the diamine components, and the component (B) is the liquid crystal polymer is a filler,
The resin composition in which the said (B)component exists in the range of 15-50 volume% with respect to the sum total of the said (A)component and the said (B)component.
제10항에 있어서,
상기 (A)성분의 10GHz에서의 유전정접(誘電正接)을 Dfa, 상기 (B)성분의 10GHz에서의 유전정접을 Dfb라고 할 때에, Dfb가 0.0019 미만이고, Dfa>Dfb인 수지조성물.
11. The method of claim 10,
When the dielectric loss tangent in 10 GHz of the said (A) component is Dfa, and the dielectric loss tangent in 10 GHz of the said (B) component is Dfb, Dfb is less than 0.0019, Dfa>Dfb The resin composition.
제10항에 있어서,
상기 수지조성물의 불휘발성 유기화합물 성분 100중량%에 대하여, 인계 난연제가 15∼30중량% 더 첨가되어 있는 수지조성물.
11. The method of claim 10,
A resin composition in which 15 to 30% by weight of a phosphorus-based flame retardant is further added with respect to 100% by weight of the nonvolatile organic compound component of the resin composition.
제2항, 제7항, 제10항 중의 어느 하나의 항에 있어서,
상기 성분(A)는, 상기 테트라카르복시산무수물 성분 100몰부에 대하여, 하기의 일반식(1) 및/또는 (2)로 나타내는 테트라카르복시산무수물을 합계 90몰부 이상 함유하는 것을 특징으로 하는 수지조성물.
(화학식 1)
Figure pct00020

[일반식(1) 중에서, X는 단결합 또는 하기 식에서 선택되는 2가의 기를 나타내고, 일반식(2) 중에서, Y로 나타내는 환상 부분은 4원환, 5원환, 6원환, 7원환 또는 8원환 중에서 선택되는 환상 포화 탄화수소기를 형성하고 있다는 것을 나타낸다]
(화학식 2)
Figure pct00021

[상기 식에 있어서, Z는 ―C6H4―, ―(CH2)n― 또는 ―CH2―CH(―O―C(=O)―CH3)―CH2―를 나타내고, n은 1∼20의 정수를 나타낸다]
11. The method of any one of claims 2, 7, and 10,
The component (A) contains 90 mole parts or more in total of the tetracarboxylic acid anhydride represented by the following general formulas (1) and/or (2) with respect to 100 mole parts of the tetracarboxylic acid anhydride component.
(Formula 1)
Figure pct00020

[In the general formula (1), X represents a single bond or a divalent group selected from the following formula, and in the general formula (2), the cyclic moiety represented by Y is a 4-membered ring, a 5-membered ring, a 6-membered ring, a 7-membered ring, or an 8-membered ring indicates that a selected cyclic saturated hydrocarbon group is formed]
(Formula 2)
Figure pct00021

[In the above formula, Z represents —C 6 H 4 —, —(CH 2 )n— or —CH 2 —CH(—O—C(=O)—CH 3 )—CH 2 —, and n is represents an integer from 1 to 20]
열가소성 수지층을 포함하는 수지필름으로서, 하기 (A)성분 및 (B)성분;
(A) 전체 디아민 성분에 대하여, 다이머산의 2개의 말단 카르복시산기가 1급의 아미노메틸기 또는 아미노기로 치환되어 이루어지는 다이머디아민을 주성분으로 하는 다이머디아민 조성물을 40몰% 이상 함유하는 디아민 성분에서 유도되는 구조단위를 함유하는 열가소성 수지, 및
(B) 방향족 축합 인산에스테르, 실리카 입자 또는 액정성 고분자 필러 중에서 선택되는 1종 이상
을 함유하는 것을 특징으로 하는 수지필름.
A resin film comprising a thermoplastic resin layer, the following (A) component and (B) component;
(A) A structure derived from a diamine component containing 40 mol% or more of a dimerdiamine composition containing as a main component dimerdiamine in which two terminal carboxylic acid groups of dimer acid are substituted with primary aminomethyl groups or amino groups with respect to the total diamine component a thermoplastic resin containing units, and
(B) at least one selected from aromatic condensed phosphate esters, silica particles, or liquid crystalline polymer fillers
A resin film comprising a.
제14항에 있어서,
두께가 15∼100㎛의 범위 내인 수지필름.
15. The method of claim 14,
A resin film having a thickness in the range of 15 to 100 μm.
제14항에 있어서,
상기 (B)성분이 크리스토발라이트 결정상 혹은 석영 결정상을 구비하는 실리카 입자로 이루어짐과 아울러, 그 함유량이 상기 (A)성분 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 3∼41부피%의 범위 내인 수지필름.
15. The method of claim 14,
A resin film in which the component (B) consists of silica particles having a cristobalite crystal phase or a quartz crystal phase, and the content is within the range of 3 to 41 vol% based on the total of the component (A) and the component (B).
제14항에 있어서,
상기 (B)성분이 상기 액정성 고분자 필러로 이루어짐과 아울러, 그 함유량이 상기 (A)성분 및 상기 (B)성분의 합계에 대하여 15∼40부피%의 범위 내인 수지필름.
15. The method of claim 14,
The resin film in which the said (B) component consists of the said liquid crystalline polymer filler, and the content exists in the range of 15-40 volume% with respect to the sum total of the said (A) component and the said (B) component.
기재(基材)와, 상기 기재의 적어도 일방(一方)의 면에 적층된 접착제층을 구비하는 적층체로서,
상기 접착제층이, 제14항의 수지필름으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 적층체.
A laminate comprising a substrate and an adhesive layer laminated on at least one surface of the substrate,
The said adhesive layer is laminated body, characterized in that it consists of the resin film of Claim 14.
커버레이용 필름재층과, 상기 커버레이용 필름재층에 적층된 접착제층을 구비하는 커버레이 필름으로서,
상기 접착제층이, 제14항의 수지필름으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 커버레이 필름.
A coverlay film comprising: a film material layer for a coverlay; and an adhesive layer laminated on the film material layer for a coverlay;
The adhesive layer is a coverlay film, characterized in that consisting of the resin film of claim 14.
접착제층과 동박(銅箔)을 적층시킨 수지 함유 동박으로서,
상기 접착제층이, 제14항의 수지필름으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 수지 함유 동박.
A resin-containing copper foil in which an adhesive layer and a copper foil are laminated,
The resin-containing copper foil, characterized in that the adhesive layer is made of the resin film of claim 14.
절연수지층과, 상기 절연수지층의 적어도 일방의 면에 적층된 금속층을 구비하는 금속박적층판으로서,
상기 절연수지층의 적어도 1층이, 제14항의 수지필름으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 금속박적층판.
A metal foil laminate comprising an insulating resin layer and a metal layer laminated on at least one surface of the insulating resin layer,
At least one layer of the insulating resin layer is a metal clad laminate, characterized in that it consists of the resin film of claim 14.
제21항의 금속박적층판의 상기 금속층을 배선가공하여 이루어지는 회로기판.A circuit board formed by wiring the metal layer of the metal clad laminate of claim 21 .
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