KR20220073720A

KR20220073720A - Radiation inspection apparatus

Info

Publication number: KR20220073720A
Application number: KR1020220063052A
Authority: KR
Inventors: 주영철
Original assignee: 사회복지법인 삼성생명공익재단
Priority date: 2020-09-02
Filing date: 2022-05-23
Publication date: 2022-06-03
Also published as: KR102403652B1; KR102504339B1; KR20220029915A

Abstract

본 발명의 일 실시예는 환자와 접촉 가능한 검사본체부, 상기 검사본체부 상에서 미리 설정된 방향으로 이동가능하고, 방사선을 수용하는 디텍터가 배치되는 이동프레임부, 및 상기 이동프레임부에 설치되며 광원을 조사하는 광조사부;를 포함하고, 상기 이동프레임부는 상기 검사본체부 상에 위치 고정되거나 상기 검사본체부의 저면에 설치되는 제1 영역과, 상기 제1영역과 연결되며 상기 제1영역 상에서 이동 가능하고 상기 디텍터가 배치되는 제2영역을 포함하며, 상기 광조사부는 상기 제1영역에 회동가능하게 결합되고, 상기 광조사부는 상기 이동프레임부에 상기 디텍터가 배치되면 상기 디텍터를 향해 광원을 조사하는 방사선 검사 장치를 제공한다. An embodiment of the present invention provides an examination body that can come into contact with a patient, a movable frame portion that is movable in a preset direction on the examination body portion, and a detector that receives radiation is disposed, and is installed in the movable frame and receives a light source. a light irradiating unit for irradiating; including, wherein the movable frame unit has a first area fixed on the examination body or installed on a bottom surface of the examination body, is connected to the first area and is movable on the first area, a second region in which the detector is disposed, the light irradiator is rotatably coupled to the first region, and the light irradiator irradiates a light source toward the detector when the detector is disposed in the moving frame inspection equipment is provided.

Description

Radiation inspection apparatus

본 발명의 실시예들은 방사선 검사 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디텍터가 장착되는 동안 살균 및 소독 처리를 할 수 있는 방사선 검사 장치에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to a radiation examination apparatus, and more particularly, to a radiation examination apparatus capable of sterilizing and disinfecting while a detector is mounted.

일반적으로 방사선 치료는 암 조직에 방사선을 집중적으로 조사하면서도 주변 정상 조직 및 주요 장기에는 최소한의 선량을 조사하는 것을 목표로 수행된다.In general, radiation therapy is performed with the goal of irradiating a minimal dose to surrounding normal tissues and major organs while intensively irradiating radiation to cancerous tissue.

방사선 검사 장치는 대상체에 방사선을 조사하고 대상체를 투과한 방사선을 검출하여 대상체의 내부 구조를 영상화 할 수 있는 비침습적인 진단 장치이다.A radiographic examination apparatus is a non-invasive diagnostic apparatus capable of imaging an internal structure of an object by irradiating radiation to an object and detecting radiation that has passed through the object.

방사선 검사 장치는 방사선 조사부와 디텍터(detector)가 일정 공간에 고정되어 있어 엑스선 촬영을 하기 위해 대상체인 환자가 방사선 검사 장치가 위치하는 검사실로 이동하고, 장치에 맞게 몸을 움직여야 한다.In a radiographic examination apparatus, a radiation irradiation unit and a detector are fixed in a certain space, and in order to take an X-ray, a patient, an object, must move to an examination room where the radiation examination apparatus is located, and move the body according to the apparatus.

한편, 질병에 기인한 저하된 건강 상태와 더불어 신체적 저항력을 감소시키는 약제 사용, 장시간의 수술이나 다양한 보조 기구의 이용 등으로 환자는 건강한 사람에 비해 병원 내 감염에 걸릴 확률이 높다. On the other hand, patients are more likely to get hospital-acquired infections than healthy people due to the use of drugs that reduce physical resistance, prolonged surgery, or the use of various auxiliary devices, along with a deteriorated health state due to disease.

또한, 한정된 공간 내에 높은 밀도로 환자를 수용하는 병원 환경은 병원성 미생물의 전파를 용이하게 하여, 병원 감염 관리의 중요성이 날로 증가하고 있다.In addition, a hospital environment accommodating patients at a high density in a limited space facilitates the spread of pathogenic microorganisms, and thus the importance of hospital infection management is increasing day by day.

방사선 검사 장치에 따라 환자가 디텍터와 직간접적으로 접촉을 하게 되는데, 디텍터의 소독이 제대로 이루어지지 않을 경우에 환자가 병원성 세균 등에 의해 감염되는 문제점이 있었다.A patient comes into direct or indirect contact with the detector depending on the radiological examination device, but there is a problem in that the patient is infected by pathogenic bacteria or the like if the detector is not properly disinfected.

본 발명의 배경기술은 일본 공개특허공보 제2014-204823호(2014.10.30, 발명의 명칭: 이동형 X선 장치)에 개시되어 있다.Background art of the present invention is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-204823 (2014.10.30, title of invention: mobile X-ray device).

본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 안출된 것으로, 광조사부가 이동프레임부에 디텍터가 배치되면 디텍터를 향해 광원을 조사함으로써, 디텍터를 살균 및 소독 처리하여 병원성 세균 감염으로부터 환자를 보호할 수 있는 방사선 검사 장치를 제공하고자 한다.The present invention has been devised to improve the above problems, and when the detector is disposed in the moving frame portion of the light irradiation unit, by irradiating the light source toward the detector, the detector can be sterilized and disinfected to protect the patient from pathogenic bacterial infection. It is intended to provide a radiographic inspection device with

그러나 이러한 과제는 예시적인 것으로, 이에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.However, these problems are exemplary, and the scope of the present invention is not limited thereto.

본 발명의 실시예들에 따르면, 환자와 접촉 가능한 검사본체부, 상기 검사본체부 상에서 미리 설정된 방향으로 이동가능하고, 방사선을 수용하는 디텍터가 배치되는 이동프레임부, 및 상기 이동프레임부에 설치되며 광원을 조사하는 광조사부;를 포함하고, 상기 이동프레임부는 상기 검사본체부 상에 위치 고정되거나 상기 검사본체부의 저면에 설치되는 제1 영역과, 상기 제1영역과 연결되며 상기 제1영역 상에서 이동 가능하고 상기 디텍터가 배치되는 제2영역을 포함하며, 상기 광조사부는 상기 제1영역에 회동가능하게 결합되고, 상기 광조사부는 상기 이동프레임부에 상기 디텍터가 배치되면 상기 디텍터를 향해 광원을 조사할 수 있다. According to embodiments of the present invention, the examination body part that can be contacted with the patient, the moving frame part movable in a preset direction on the test body part, the detector for accommodating radiation is disposed, and the moving frame part are installed a light irradiator for irradiating a light source; includes, wherein the moving frame unit has a first area fixed on the examination body or installed on a bottom surface of the examination body, is connected to the first area and moves on the first area and a second region in which the detector is disposed, the light irradiator is rotatably coupled to the first region, and the light irradiator irradiates a light source toward the detector when the detector is disposed in the moving frame portion can do.

본 발명에 있어서, 상기 제1영역과 상기 제2영역이 일체형으로 형성되고, 상기 검사본체부의 저면 상에서 미리 설정된 방향으로 이동될 수 있다. In the present invention, the first region and the second region are integrally formed, and can be moved in a preset direction on the lower surface of the inspection body.

본 발명에 있어서, 상기 광조사부에서 조사되는 광원은 자외선일 수 있다.In the present invention, the light source irradiated from the light irradiator may be an ultraviolet ray.

본 발명에 있어서, 상기 광조사부는 복수 개가 구비되며, 상기 이동프레임부 상에서 서로 마주보며 배치될 수 있다. In the present invention, a plurality of the light irradiation unit may be provided, and may be disposed to face each other on the moving frame unit.

본 발명에 있어서, 상기 광조사부는, 광원을 조사하는 광조사본체; 및 상기 이동프레임부 상에서 이동가능하게 배치되고, 상기 광조사본체에 동력을 전달하는 광조사구동부;를 포함할 수 있다.In the present invention, the light irradiation unit, a light irradiation body for irradiating a light source; and a light irradiation driving unit that is movably disposed on the moving frame unit and transmits power to the light irradiation body.

본 발명에 있어서, 상기 광조사본체는 길이 방향 중심축을 따라 연장 형성될 수 있다.In the present invention, the light irradiation body may be formed to extend along a longitudinal central axis.

본 발명에 있어서, 상기 광조사본체는 상기 광조사구동부에서 동력을 전달받아 미리 설정된 각도 범위 내에서 회전될 수 있다.In the present invention, the light irradiation body may be rotated within a preset angle range by receiving power from the light irradiation driving unit.

본 발명에 있어서, 상기 광조사본체는 미리 설정된 경로를 따라 이동할 수 있다.In the present invention, the light irradiation body may move along a preset path.

본 발명에 있어서, 상기 검사본체부에 설치되고, 방사선 검사 시 상기 이동프레임부에 배치되는 상기 디텍터와 마주보며 배치되는 격자부;를 더 포함할 수 있다.In the present invention, it is installed in the inspection body portion, the grid portion disposed facing the detector disposed in the moving frame portion during the radiation examination; may further include.

본 발명에 있어서, 상기 이동프레임부에 설치되며, 적어도 하나의 절곡부가 형성되는 손잡이부;를 더 포함할 수 있다.In the present invention, it is installed on the moving frame portion, the handle portion at least one bent portion is formed; may further include.

본 발명에 있어서, 상기 손잡이부는 상기 제2영역에 배치될 수 있다.In the present invention, the handle portion may be disposed in the second region.

본 발명에 있어서, 상기 디텍터에 접촉가능하게 상기 이동프레임부에 설치되며, 상기 디텍터를 감지하는 센서부;를 더 포함할 수 있다.In the present invention, it is installed on the moving frame to be in contact with the detector, the sensor unit for sensing the detector; may further include.

본 발명에 있어서, 상기 센서부는 상기 제2영역 상에 복수의 영역에 배치될 수 있다. In the present invention, the sensor unit may be disposed in a plurality of areas on the second area.

본 발명에 있어서, 상기 센서부 및 상기 광조사부와 전기적으로 연결되고, 상기 센서부로부터 전기적 신호를 전달받아 상기 광조사부의 구동을 제어하는 제어부;를 더 포함할 수 있다. In the present invention, a control unit electrically connected to the sensor unit and the light irradiation unit, and receives an electrical signal from the sensor unit to control driving of the light irradiation unit; may further include.

본 발명에 있어서, 상기 센서부는, 상기 제어부와 전기적으로 연결되는 기판부; 상기 기판부와 이격배치되는 접촉부; 및 상기 접촉부와 상기 기판부 사이에 배치되는 탄성부재; 를 포함하고,상기 디텍터가 상기 이동프레임부 상에 배치되는 경우, 상기 디텍터의 무게에 의해 상기 탄성부재가 압축되고, 상기 접촉부와 상기 기판부가 접촉됨으로써 상기 전기적 신호를 발생할 수 있다.In the present invention, the sensor unit, the substrate unit electrically connected to the control unit; a contact portion spaced apart from the substrate portion; and an elastic member disposed between the contact part and the substrate part. and, when the detector is disposed on the moving frame part, the elastic member is compressed by the weight of the detector, and the contact part and the substrate part come into contact with each other to generate the electrical signal.

본 발명의 실시예들에 따른 방사선 검사 장치는, 광조사부가 이동프레임부 상에 배치되는 디텍터를 향해 광원, 구체적으로 자외선을 조사함으로써 이동프레임부 상에 수용되는 디텍터를 살균 처리할 수 있는 효과가 있다.The radiation inspection apparatus according to the embodiments of the present invention has an effect of sterilizing the detector accommodated on the moving frame unit by irradiating a light source, specifically, ultraviolet light, toward the detector disposed on the moving frame unit by the light irradiation unit. have.

또한, 광조사구동부가 광조사본체에 동력을 전달하여 이동프레임부 상에 배치되는 디텍터를 향해 조사되는 광원의 조사 방향을 조정할 수 있는 효과가 있다.In addition, there is an effect that the light irradiation driving unit transmits power to the light irradiation body to adjust the irradiation direction of the light source irradiated toward the detector disposed on the moving frame unit.

또한, 센서부로 인하여 디텍터가 이동프레임부 상에 배치되는지 여부를 감지하고, 이에 관한 정보를 제어부에 전달하여 디텍터가 이동프레임부 상에 배치될 때 광원조사부가 광원, 즉 자외선을 디텍터로 조사하도록 하여 살균 처리를 할 수 있도록 하는 효과가 있다. In addition, the sensor unit detects whether the detector is disposed on the moving frame unit, and transmits this information to the control unit so that when the detector is placed on the moving frame unit, the light source irradiator irradiates the light source, that is, ultraviolet light to the detector. It has the effect of enabling sterilization treatment.

또한, 디텍터를 살균 처리함으로써 청결한 상태를 유지할 수 있도록 하고, 디텍터와 환자 간 접촉 시 세균 등 감염으로부터 환자를 보호할 수 있는 효과가 있다.In addition, it is possible to maintain a clean state by sterilizing the detector and to protect the patient from infection such as bacteria when the detector and the patient are in contact.

물론 이러한 효과에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.Of course, the scope of the present invention is not limited by these effects.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검사 장치를 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검사 장치를 도시한 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검사 장치를 도시한 측면도이다.
도 4는 도 3의 A부분을 도시한 도면이다.
도 5는 도 4에서 디텍터가 배치되지 않은 상태를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 제어부를 도시한 도면이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 이동프레임부가 이동된 상태를 도시한 도면이다.1 is a perspective view illustrating a radiation inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view illustrating a radiation inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a side view illustrating a radiation inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a view showing a portion A of FIG. 3 .
FIG. 5 is a diagram illustrating a state in which a detector is not disposed in FIG. 4 .
6 is a diagram illustrating a control unit according to an embodiment of the present invention.
7 and 8 are diagrams illustrating a state in which a moving frame unit is moved according to embodiments of the present invention.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다. Since the present invention can apply various transformations and can have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. Effects and features of the present invention, and a method for achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below and may be implemented in various forms.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and when described with reference to the drawings, the same or corresponding components are given the same reference numerals, and the overlapping description thereof will be omitted. .

이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. In the following embodiments, terms such as first, second, etc. are used for the purpose of distinguishing one component from another, not in a limiting sense.

이하의 실시예에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.In the following examples, the singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise.

이하의 실시예에서, 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다. In the following embodiments, terms such as include or have means that the features or components described in the specification are present, and the possibility that one or more other features or components will be added is not excluded in advance.

이하의 실시예에서, 막, 영역, 구성 요소 등의 부분이 다른 부분 위에 또는 상에 있다고 할 때, 다른 부분의 바로 위에 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 막, 영역, 구성 요소 등이 개재되어 있는 경우도 포함한다. In the following embodiments, when it is said that a part such as a film, region, or component is on or on another part, not only when it is directly on the other part, but also another film, region, component, etc. is interposed therebetween. Including cases where there is

도면에서는 설명의 편의를 위하여 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 예컨대, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.In the drawings, the size of the components may be exaggerated or reduced for convenience of description. For example, since the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily indicated for convenience of description, the present invention is not necessarily limited to the illustrated bar.

어떤 실시예가 달리 구현 가능한 경우에 특정한 공정 순서는 설명되는 순서와 다르게 수행될 수도 있다. 예를 들어, 연속하여 설명되는 두 공정이 실질적으로 동시에 수행될 수도 있고, 설명되는 순서와 반대의 순서로 진행될 수 있다. In cases where certain embodiments may be implemented otherwise, a specific process sequence may be performed different from the described sequence. For example, two processes described in succession may be performed substantially simultaneously, or may be performed in an order opposite to the order described.

이하의 실시예에서, 막, 영역, 구성 요소 등이 연결되었다고 할 때, 막, 영역, 구성 요소들이 직접적으로 연결된 경우뿐만 아니라 막, 영역, 구성요소들 중간에 다른 막, 영역, 구성 요소들이 개재되어 간접적으로 연결된 경우도 포함한다. 예컨대, 본 명세서에서 막, 영역, 구성 요소 등이 전기적으로 연결되었다고 할 때, 막, 영역, 구성 요소 등이 직접 전기적으로 연결된 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 막, 영역, 구성 요소 등이 개재되어 간접적으로 전기적 연결된 경우도 포함한다.In the following embodiments, when a film, region, or component is connected, other films, regions, and components are interposed between the films, regions, and components as well as when the films, regions, and components are directly connected. and indirectly connected. For example, in the present specification, when it is said that a film, a region, a component, etc. are electrically connected, not only the case where the film, a region, a component, etc. are directly electrically connected, other films, regions, components, etc. are interposed therebetween. Indirect electrical connection is also included.

도 1 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검사 장치(1)는, 검사본체부(100), 이동프레임부(200), 디텍터(300), 광조사부(400), 격자부(500), 손잡이부(600), 센서부(700), 제어부(800)를 포함할 수 있다. 1 to 8 , a radiation inspection apparatus 1 according to an embodiment of the present invention includes an inspection body unit 100 , a moving frame unit 200 , a detector 300 , a light irradiation unit 400 , It may include a grid unit 500 , a handle unit 600 , a sensor unit 700 , and a control unit 800 .

도 1, 도 2, 도 3, 도 7, 도 8을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 검사본체부(100)는 환자와 접촉이 가능한 것으로, 일면이 편평하게 형성될 수 있다. 도 1, 도 2, 도 3, 도 7을 참조하면, 검사본체부(100)는 침대 형상으로 형성되며, 검사본체부(100) 상에 환자가 앉거나 누울 수 있다.1, 2, 3, 7, and 8, the examination body 100 according to embodiments of the present invention may be in contact with a patient and may have a flat surface. Referring to FIGS. 1, 2, 3, and 7 , the examination body 100 is formed in a bed shape, and a patient can sit or lie down on the examination body 100 .

그러나 이에 한정하는 것은 아니고 도 8과 같이, 환자가 서있는 상태에서 흉부나 등을 대고 서있을 수 있도록 지면과 수직을 이루도록 세워지며 배치되는 등 다양한 변형실시가 가능하다. However, the present invention is not limited thereto, and as shown in FIG. 8 , various modifications are possible, such as being erected and arranged perpendicular to the ground so that the patient can stand with his chest or back in a standing state.

검사본체부(100)의 저면에는 이동프레임부(200)가 이동가능하게 설치되며, 검사자는 검사본체부(100)의 저면에서 미리 설정된 경로를 따라 이동프레임부(200)를 추출하여 바깥으로 빼내고, 이동프레임부(200) 상에 디텍터(300)를 배치하여 디텍터(300)가 검사본체부(100)의 저면과 마주볼 수 있도록 다시 이동프레임부(200)를 집어넣을 수 있다.The moving frame unit 200 is movably installed on the bottom of the examination body 100, and the examiner extracts the moving frame 200 along a preset path from the bottom of the examination body 100 and pulls it out. , by disposing the detector 300 on the moving frame unit 200 so that the detector 300 faces the bottom of the inspection body unit 100 , the moving frame unit 200 may be inserted again.

본 발명의 일 실시예에 따른 검사본체부(100)의 저면에는 격자부(500)가 위치 고정되며 설치될 수 있다. On the bottom surface of the inspection body part 100 according to an embodiment of the present invention, the grid part 500 is fixed in position and may be installed.

격자부(500)(grid)는 방사선 검사 시 영상의 화질을 개선하기 위하여 방사선이 조사되는 방사선 조사부(도면 미도시)와 방사선을 수용하는 디텍터(300) 사이에 배치되는 것으로, 이동프레임부(200)가 이동됨에 따라 검사본체부(100)의 저면과 마주보며 배치되는 디텍터(300)와 마주보도록 검사본체부(100)에 위치 고정될 수 있다.The grid part 500 (grid) is disposed between the radiation irradiator (not shown) to which radiation is irradiated in order to improve the image quality during radiographic examination and the detector 300 for receiving the radiation, and the moving frame part 200 ) as it moves, it may be fixed in position on the test body part 100 to face the detector 300 disposed to face the bottom of the test body part 100 .

본 발명의 일 실시예에 따른 격자부(500)의 일반적인 구성에 관하여는 널리 알려진 바 본 명세서에서 더 이상의 자세한 설명은 생략한다.Since the general configuration of the grating unit 500 according to an embodiment of the present invention is widely known, further detailed description thereof will be omitted herein.

도 1, 도 2, 도 3, 도 5, 도 7, 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 이동프레임부(200)는 검사본체부(100) 상에서 미리 설정된 방향(도 2 기준 좌우 방향)으로 이동가능한 것으로, 방사선을 수용하는 디텍터(300)가 배치될 수 있다. 1, 2, 3, 5, 7, 8, the moving frame unit 200 according to an embodiment of the present invention is a preset direction on the inspection body unit 100 (see Fig. 2) The detector 300 for accommodating radiation may be disposed as being movable in the left and right direction).

도 1, 도 3을 참조하면, 이동프레임부(200)는 검사본체부(100) 상에 위치 고정되는 제1영역과, 상기 제1영역과 연결되며, 제1영역 상에서 이동이 가능하고, 디텍터(300)가 배치되는 제2영역을 포함할 수 있다. 1 and 3 , the movable frame unit 200 has a first region fixed in position on the inspection body unit 100 , is connected to the first region, is movable on the first region, and has a detector It may include a second region in which 300 is disposed.

이동프레임부(200)의 제1영역에는 뒤에 설명할 광조사부(400)가 설치될 수 있다. A light irradiator 400 to be described later may be installed in the first region of the moving frame unit 200 .

구체적으로 제1영역에 광조사부(400)가 회동가능하게 결합됨으로 인하여 광조사부(400)가 이동프레임부(200)의 제2영역 상에 배치되는 디텍터(300) 상의 복수의 영역에 균일하게 광원(L)을 조사할 수 있는 효과가 있다.Specifically, since the light irradiator 400 is rotatably coupled to the first region, the light irradiator 400 is uniformly light source in a plurality of regions on the detector 300 disposed on the second region of the moving frame unit 200 . (L) has an effect that can be investigated.

본 명세서에서는 이동프레임부(200)의 제1영역이 검사본체부(100)의 저면에 설치되고, 이동프레임부(200)의 제2영역이 제1영역 상에서 이동되나, 이에 한정하는 것은 아니고 이동프레임부(200)의 제1영역과 제2영역이 일체형으로 형성되고 검사본체부(100)의 저면 상에서 미리 설정된 방향(도 2 기준 좌우 방향)으로 이동될 수 있는 등 다양한 변형실시가 가능하다.In the present specification, the first region of the moving frame unit 200 is installed on the lower surface of the inspection body unit 100 , and the second region of the moving frame unit 200 is moved on the first region, but is not limited thereto. Various modifications such as the first region and the second region of the frame part 200 are integrally formed and can be moved in a preset direction (left and right direction based on FIG. 2 ) on the lower surface of the inspection body part 100 are possible.

본 명세서에서는 이동프레임부(200)의 제1영역이 검사본체부(100)의 저면에 위치 고정되고, 디텍터(300)가 배치되는 이동프레임부(200)의 제2영역이 미리 설정된 방향으로 이동되는 것을 기준으로 설명하도록 한다.In this specification, the first region of the moving frame unit 200 is fixed to the lower surface of the inspection body unit 100, and the second region of the moving frame unit 200 in which the detector 300 is disposed is moved in a preset direction. It should be explained on the basis of what

도 1, 도 2, 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 이동프레임부(200)에는 뒤에 설명할 손잡이부(600)가 연결될 수 있다. 1, 2 and 3 , a handle unit 600 to be described later may be connected to the moving frame unit 200 according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 손잡이부(600)는 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역에 설치되는 것으로 적어도 하나의 절곡부(610)가 형성될 수 있다.The handle portion 600 according to an embodiment of the present invention is installed in the moving frame portion 200, specifically, the second region, and at least one bent portion 610 may be formed.

본 명세서에서는 2회의 절곡부(610)가 형성되나 이에 한정하는 것은 아니고, 검사자가 절곡부(610)가 형성되는 손잡이부(600)를 감싸며 파지할 수 있는 기술적 사상 안에서 다양한 변형실시가 가능하다.In the present specification, the bending portion 610 is formed twice, but is not limited thereto, and various modifications are possible within the technical idea that the inspector can hold and wrap the handle portion 600 in which the bent portion 610 is formed.

도 2 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 이동프레임부(200)의 제2영역에는 디텍터(300)가 배치될 수 있고, 제2영역에 배치되는 디텍터(300)를 감지하는 센서부(700)가 설치될 수 있다. 센서부(700)에 관하여는 뒤에서 자세히 설명하도록 한다.2 to 5 , the detector 300 may be disposed in the second area of the moving frame unit 200 according to an embodiment of the present invention, and the detector 300 disposed in the second area is sensed. A sensor unit 700 may be installed. The sensor unit 700 will be described in detail later.

도 1 내지 도 4, 도 7, 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 디텍터(300)는 이동프레임부(200)에 배치 가능한 것으로, 판(plate) 형상으로 형성되며 방사선을 수용할 수 있다.1 to 4, 7, and 8, the detector 300 according to an embodiment of the present invention can be disposed on the moving frame unit 200, is formed in a plate shape and receives radiation. can do.

디텍터(300)는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검사 장치(1), 구체적으로 이동프레임부(200) 상에 배치되며 환자와 직접 접촉하는 검사본체부(100)의 일측(도 1 기준 상측)에 대향되는 타측(도 1 기준 하측)에 배치될 수 있다. The detector 300 is disposed on the radiation examination apparatus 1 according to an embodiment of the present invention, specifically, the moving frame unit 200, and is disposed on one side (the upper side of FIG. 1 ) of the examination body unit 100 in direct contact with the patient. ) may be disposed on the other side (lower side in reference to FIG. 1) opposite to the .

구체적으로 이동프레임부(200)의 제2영역을 검사본체부(100)의 외측으로 추출하고, 디텍터(300)를 제2영역 상에 배치한 후 다시 검사본체부(100)의 저면과 마주보며 배치되도록 집어넣어 디텍터(300)를 검사본체부(100)의 하측(도 3 기준)에 위치시킬 수 있다.Specifically, the second region of the moving frame unit 200 is extracted to the outside of the inspection body unit 100 , and the detector 300 is placed on the second region, and then facing the bottom of the inspection body unit 100 again. The detector 300 may be positioned on the lower side of the inspection body 100 (refer to FIG. 3 ) by inserting it to be disposed.

디텍터(300)는 이동프레임부(200)의 제2영역에 배치될 수 있으며, 제2영역에 설치되는 센서부(700)와 직간접적으로 접촉될 수 있다. 검사자는 이동프레임부(200)를 검사본체부(100)에 대하여 상대 이동시켜 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역을 검사본체부(100)의 외측 방향으로 추출할 수 있다.The detector 300 may be disposed in the second region of the moving frame unit 200 and may be in direct or indirect contact with the sensor unit 700 installed in the second region. The examiner may relatively move the moving frame unit 200 with respect to the examination body unit 100 to extract the moving frame unit 200 , specifically the second region, outward of the examination body unit 100 .

검사자는 검사본체부(100)의 외측 방향으로 추출된 이동프레임부(200)의 제2영역 상에 디텍터(300)를 배치하고 다시 검사본체부(100)의 저면과 디텍터(300)가 마주보며 배치될 수 있도록 검사본체부(100)의 저면으로 이동프레임부(200)의 제2영역을 밀어 넣을 수 있다. The inspector places the detector 300 on the second area of the moving frame unit 200 extracted in the outer direction of the inspection body unit 100, and the bottom surface of the inspection body unit 100 and the detector 300 face each other again. The second region of the moving frame unit 200 may be pushed into the lower surface of the inspection body unit 100 to be disposed.

본 발명의 일 실시예에 따른 디텍터(300)는 방사선 조사부로부터 조사되는 방사선을 수용하는 것으로, 이와 관련된 디텍터(300)의 일반적인 구성은 이미 공지된 바 이와 관련된 자세한 설명은 생략한다.The detector 300 according to an embodiment of the present invention receives radiation irradiated from the radiation irradiator, and the related general configuration of the detector 300 is already known, and detailed description thereof will be omitted.

도 2, 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사부(400)는 이동프레임부(200)에 설치되며 디텍터(300)를 향해 광원(L)을 조사할 수 있다. 광조사부(400)는 광조사본체(410), 광조사구동부(430)를 포함할 수 있다.2 and 3 , the light irradiation unit 400 according to an embodiment of the present invention is installed in the moving frame unit 200 and can irradiate the light source L toward the detector 300 . The light irradiation unit 400 may include a light irradiation body 410 and a light irradiation driving unit 430 .

도 2, 도 3을 참조하면, 광조사부(400)는 복수 개가 구비되며 이동프레임부(200), 구체적으로 제1영역에 설치될 수 있다. 그러나 이에 한정하는 것은 아니고 제2영역에도 설치되며 디텍터(300)를 향해 광원(L)을 조사하는 등 다양한 변형실시가 가능하다.2 and 3 , a plurality of light irradiation units 400 are provided and may be installed in the moving frame unit 200 , specifically, the first region. However, the present invention is not limited thereto, and it is installed in the second area and various modifications such as irradiating the light source L toward the detector 300 are possible.

도 2, 도 3을 참조하면, 복수 개의 광조사부(400)는 이동프레임부(200)의 제1영역에서 서로 마주보며 배치될 수 있다. 광조사부(400)는 이동프레임부(200) 상에서 미리 설정되는 각도로 회전이 가능하며, 회전됨에 따라 디텍터(300) 상의 전(all) 영역에 대하여 광원(L)을 조사할 수 있다. 2 and 3 , a plurality of light irradiation units 400 may be disposed to face each other in the first region of the moving frame unit 200 . The light irradiation unit 400 can be rotated at a preset angle on the moving frame unit 200 , and as it is rotated, the light source L can be irradiated to all areas on the detector 300 .

본 발명의 일 실시예에 다른 광조사부(400)에서 조사되는 광원(L)은 자외선일 수 있다. 광조사부(400)에서 자외선을 디텍터(300) 측을 향해 조사함으로써 디텍터(300)가 살균 및 소독 처리되는 효과가 있다. The light source L irradiated from the light irradiator 400 according to an embodiment of the present invention may be an ultraviolet ray. By irradiating ultraviolet rays from the light irradiation unit 400 toward the detector 300 , the detector 300 is sterilized and disinfected.

도 2, 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사본체(410)는 광원(L)을 조사하는 것으로, 길이 방향 중심축을 따라 연장 형성될 수 있다. 광조사본체(410)는 광조사구동부(430)로부터 동력을 전달받아 이동프레임부(200) 상에서 이동이 가능할 수 있다. 2 and 3 , the light irradiation body 410 according to an embodiment of the present invention irradiates a light source L, and may be formed to extend along a central axis in the longitudinal direction. The light irradiation body 410 may be moved on the moving frame unit 200 by receiving power from the light irradiation driving unit 430 .

도 3을 참조하면, 광조사구동부(430)는 광조사본체(410)에 동력을 전달하여 미리 설정된 각도 범위 내에서 회전될 수 있도록 한다. Referring to FIG. 3 , the light irradiation driver 430 transmits power to the light irradiation body 410 so that it can be rotated within a preset angle range.

이로 인하여 광조사본체(410)에서 조사되는 광원(L)이 디텍터(300)의 전 영역에 광원(L), 구체적으로 자외선이 균일하게 조사되며 살균 처리할 수 있는 효과가 있다.For this reason, the light source L irradiated from the light irradiation body 410 is uniformly irradiated with the light source L, specifically, ultraviolet rays, to the entire area of the detector 300 , and there is an effect that can be sterilized.

본 발명에서 광조사구동부(430)는 광조사본체(410)를 향해 동력을 전달하여 광조사본체(410)가 회전되나, 이에 한정하는 것은 아니고 미리 설정된 경로를 따라 광조사본체(410)가 이동되며 광원(L)을 조사하는 위치가 변경되는 등 다양한 변형실시가 가능하다.In the present invention, the light irradiation driving unit 430 transmits power toward the light irradiation body 410 to rotate the light irradiation body 410, but the present invention is not limited thereto, and the light irradiation body 410 moves along a preset path. and various modifications such as the position at which the light source L is irradiated is changed.

광조사부(400), 구체적으로 광조사본체(410), 광조사구동부(430)는 제어부(800)와 전기적으로 연결되고, 제어부(800)로부터 전기적 신호를 전달받아 구동될 수 있다. 이와 관련하여는 뒤에서 자세히 설명하도록 한다.The light irradiation unit 400 , specifically the light irradiation body 410 , and the light irradiation driving unit 430 may be electrically connected to the control unit 800 , and may be driven by receiving an electrical signal from the control unit 800 . In this regard, it will be described in detail later.

도 1, 도 2, 도 3, 도 7, 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 격자부(500)는 검사본체부(100)에 설치되는 것으로, 방사선 검사 시 이동프레임부(200)에 배치되는 디텍터(300)와 마주보며 배치될 수 있다. 1, 2, 3, 7, and 8, the grating unit 500 according to an embodiment of the present invention is installed in the inspection body unit 100, and a moving frame unit ( It may be disposed facing the detector 300 disposed on the 200 .

본 발명의 일 실시예에 따른 격자부(500)는 검사본체부(100)의 저면에 위치 고정되며 설치될 수 있다. The grid unit 500 according to an embodiment of the present invention may be installed and fixed to a position on the lower surface of the inspection body unit 100 .

격자부(500)는 방사선 검사 시 영상의 화질을 개선하기 위하여 방사선이 조사되는 방사선 조사부(도면 미도시)와 방사선을 수용하는 디텍터(300) 사이에 배치되는 것으로, 이동프레임부(200)가 이동됨에 따라 검사본체부(100)의 저면과 마주보며 배치되는 디텍터(300)와 마주보도록 검사본체부(100)에 위치 고정될 수 있다.The grating unit 500 is disposed between the radiation irradiator (not shown) to which radiation is irradiated and the detector 300 for receiving radiation in order to improve image quality during radiographic examination, and the moving frame unit 200 is moved. As a result, the position may be fixed to the test body part 100 to face the detector 300 disposed to face the bottom of the test body part 100 .

도 1 내지 도 3, 도 7, 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 손잡이부(600)는 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역에 설치되는 것으로 적어도 하나의 절곡부(610)가 형성될 수 있다. 1 to 3, 7, and 8, the handle 600 according to an embodiment of the present invention is installed in the moving frame 200, specifically the second region, and at least one bending part 610 may be formed.

도 1, 도 3을 참조하면, 검사자는 손잡이부(600)를 파지하고, 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역을 미리 설정된 방향(도 2 기준 좌우 방향)을 따라 이동시킬 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 3 , the examiner may hold the handle unit 600 and move the moving frame unit 200 , specifically the second region, along a preset direction (left and right direction based on FIG. 2 ).

도 2 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서부(700)는 디텍터(300)에 접촉가능하게 이동프레임부(200)에 설치되는 것으로, 이동프레임부(200) 상에 배치되는 디텍터(300)를 감지할 수 있다. 2 to 6 , the sensor unit 700 according to an embodiment of the present invention is installed on the moving frame unit 200 so as to be in contact with the detector 300 , and on the moving frame unit 200 . The disposed detector 300 may be detected.

본 발명의 일 실시예에 따른 센서부(700)는 기판부(710), 접촉부(730), 탄성부재(750)를 포함할 수 있다. The sensor unit 700 according to an embodiment of the present invention may include a substrate unit 710 , a contact unit 730 , and an elastic member 750 .

센서부(700)는 뒤에 설명할 제어부(800)와 전기적으로 연결되고, 디텍터(300)가 이동프레임부(200) 상에 배치되는 것을 감지하면 제어부(800)로 전기적 신호, 구체적으로 배치 신호를 전달한다.The sensor unit 700 is electrically connected to the control unit 800 to be described later, and when it detects that the detector 300 is disposed on the moving frame unit 200 , it sends an electrical signal, specifically, an arrangement signal to the control unit 800 . transmit

제어부(800)는 센서부(700)로부터 배치 신호를 전달받고 전기적으로 연결되는 광조사부(400)에 조사 신호를 전달할 수 있다. 광조사부(400)는 제어부(800)로부터 조사 신호를 전달받고 디텍터(300)를 향해 광원(L), 구체적으로 자외선을 조사할 수 있는 효과가 있다.The control unit 800 may receive the arrangement signal from the sensor unit 700 and transmit the irradiation signal to the light irradiation unit 400 electrically connected thereto. The light irradiation unit 400 has the effect of receiving the irradiation signal from the control unit 800 and irradiating the light source L, specifically, ultraviolet rays toward the detector 300 .

본 발명의 일 실시예에 따른 센서부(700)는 복수 개가 구비되며, 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역 상에서 복수의 영역에 배치될 수 있다. 센서부(700)는 디텍터(300)와 직접 또는 비접촉 방식으로 이동프레임부(200) 상에 배치되는 디텍터(300)를 감지할 수 있다. A plurality of sensor units 700 according to an embodiment of the present invention may be provided, and may be disposed in a plurality of regions on the moving frame unit 200 , specifically, the second region. The sensor unit 700 may detect the detector 300 disposed on the moving frame unit 200 in a direct or non-contact manner with the detector 300 .

도 2, 도 3을 참조하면, 센서부(700)는 디텍터(300)가 배치되는 이동프레임부(200) 상에 미리 설정되는 위치에 배치될 수 있다. 2 and 3 , the sensor unit 700 may be disposed at a preset position on the moving frame unit 200 where the detector 300 is disposed.

센서부(700)는 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역 상에서 복수의 지점에 배치될 수 있으며, 제2영역의 중앙부, 제2영역의 모서리 부분에 각각 배치될 수 있다. The sensor unit 700 may be disposed at a plurality of points on the moving frame unit 200 , specifically, the second area, and may be disposed at a central portion of the second area and a corner portion of the second area, respectively.

이로 인하여 복수의 지점에서 디텍터(300)가 배치되면, 센서부(700)에서 제어부(800)에 전기적 신호, 즉 배치 신호를 전달하고, 제어부(800)에서 광조사부(400)로 조사 신호를 전달하여 광조사부(400)에서 이동프레임부(200) 상에 배치되는 디텍터(300)를 향해 광원(L)을 조사할 수 있고, 디텍터(300)가 살균 및 소독 처리되는 효과가 있다.Accordingly, when the detector 300 is disposed at a plurality of points, the sensor unit 700 transmits an electrical signal, that is, an arrangement signal, to the control unit 800 , and the control unit 800 transmits an irradiation signal to the light irradiation unit 400 . Accordingly, the light source L can be irradiated from the light irradiation unit 400 toward the detector 300 disposed on the moving frame unit 200 , and the detector 300 is sterilized and disinfected.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서부(700)는 기판부(710), 접촉부(730), 탄성부재(750)를 포함할 수 있다. 기판부(710)는 이동프레임부(200)에 설치되는 것으로, 구체적으로 제2영역에 설치될 수 있다. 2 to 4 , the sensor unit 700 according to an embodiment of the present invention may include a substrate unit 710 , a contact unit 730 , and an elastic member 750 . The substrate unit 710 is installed in the moving frame unit 200 , and may be specifically installed in the second region.

도 4, 도 5를 참조하면, 기판부(710)는 제어부(800)와 전기적으로 연결될 수 있고, 접촉부(730)와 접촉됨에 따라 전기적 신호, 즉 배치 신호를 발생시켜 제어부(800)로 전달할 수 있다. 4 and 5 , the substrate unit 710 may be electrically connected to the control unit 800 , and as it comes into contact with the contact unit 730 , an electrical signal, that is, an arrangement signal, may be generated and transmitted to the control unit 800 . have.

도 3, 도 4를 참조하면, 기판부(710)는 접촉부(730)와 접촉되는 경우에는 전기적 신호를 발생시킬 수 있고, 접촉부(730)와 접촉되지 않는 경우에는 전기적 신호를 발생시킬 수 없다. Referring to FIGS. 3 and 4 , the substrate part 710 may generate an electrical signal when it comes into contact with the contact part 730 , and cannot generate an electrical signal when it does not come into contact with the contact part 730 .

도 4와 같이, 이동프레임부(200) 상에 디텍터(300)가 배치되지 않은 상태에서는 기판부(710)와 접촉부(730)는 서로 비접촉된 상태로 이격 배치 될 수 있다. As shown in FIG. 4 , in a state in which the detector 300 is not disposed on the moving frame unit 200 , the substrate unit 710 and the contact unit 730 may be spaced apart from each other in a non-contact state.

도 3을 참조하면, 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역에 센서부(700), 구체적으로 기판부(710), 접촉부(730), 탄성부재(750)가 배치될 수 있다. Referring to FIG. 3 , the sensor unit 700 , specifically the substrate unit 710 , the contact unit 730 , and the elastic member 750 may be disposed in the moving frame unit 200 , specifically the second region.

도 3, 도 4를 참조하면, 탄성부재(750)는 접촉부(730)와 기판부(710) 사이에 배치되는 것으로, 탄성 재질로 형성될 수 있다. 3 and 4 , the elastic member 750 is disposed between the contact part 730 and the substrate part 710 and may be formed of an elastic material.

탄성부재(750)가 탄성 재질로 형성됨으로써 탄성 복원력을 가질 수 있고, 디텍터(300)가 접촉부(730) 상에 배치되며, 디텍터(300)의 무게에 의해 탄성부재(750)가 압축되고, 접촉부(730)와 기판부(710)가 접촉됨으로써 전기적 신호, 구체적으로 배치 신호가 발생할 수 있다. The elastic member 750 may have elastic restoring force by being formed of an elastic material, the detector 300 is disposed on the contact portion 730 , the elastic member 750 is compressed by the weight of the detector 300 , and the contact portion When the 730 and the substrate 710 come into contact, an electrical signal, specifically, an arrangement signal may be generated.

다시 말하여 탄성부재(750)가 압축되며 기판부(710)와 접촉부(730)가 전기적으로 접촉되고, 배치 신호를 발생시켜 제어부(800)로 전달하고, 제어부(800)는 다시 광조사부(400)로 전기적 신호, 즉 조사 신호를 전달하여 광조사부(400)에서 광원(L), 구체적으로 자외선을 디텍터(300)로 조사하여 살균 처리할 수 있다.In other words, the elastic member 750 is compressed, and the substrate part 710 and the contact part 730 are electrically contacted, and the arrangement signal is generated and transmitted to the control unit 800 , and the control unit 800 is again the light irradiation unit 400 . ) by transmitting an electrical signal, that is, an irradiation signal, the light irradiation unit 400 irradiates the light source L, specifically, the ultraviolet light to the detector 300 to sterilize.

방사선 검사가 끝난 후 디텍터(300)를 이동프레임부(200), 구체적으로 제2영역 상에서 들어올리면 탄성부재(750)의 탄성 복원력에 의해 원래 길이로 복귀되고, 이로 인하여 접촉부(730)와 기판부(710)가 이격될 수 있다. 접촉부(730)와 기판부(710)가 이격됨에 따라 디텍터(300)가 이동프레임부(200) 상에 배치되지 않은 상황에서는 광조사부(400)를 통해 광원(L)이 조사되지 않도록 할 수 있다.When the detector 300 is lifted on the moving frame part 200 , specifically the second region after the radiation test is finished, it returns to its original length by the elastic restoring force of the elastic member 750 , and thereby the contact part 730 and the substrate part 710 may be spaced apart. As the contact unit 730 and the substrate unit 710 are spaced apart, the light source L may not be irradiated through the light irradiation unit 400 in a situation where the detector 300 is not disposed on the moving frame unit 200 . .

본 발명의 일 실시예에 따른 탄성부재(750)는 코일 스프링으로 형성될 수 있고, 복수 개가 구비되어 접촉부(730) 상의 복수의 지점에 각각 연결될 수 있다. 이로 인하여 접촉부(730)를 안정적으로 지지할 수 있는 효과가 있다. The elastic member 750 according to an embodiment of the present invention may be formed of a coil spring, and a plurality of elastic members 750 may be provided to be respectively connected to a plurality of points on the contact unit 730 . Due to this, there is an effect that can stably support the contact portion 730 .

도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제어부(800)는 센서부(700) 및 광조사부(400)와 전기적으로 연결되는 것으로, 센서부(700)로부터 전기적 신호를 전달받아 광조사부(400)의 구동을 제어할 수 있다. Referring to FIG. 6 , the control unit 800 according to an embodiment of the present invention is electrically connected to the sensor unit 700 and the light irradiation unit 400 , and receives an electrical signal from the sensor unit 700 to receive the light irradiation unit The driving of 400 can be controlled.

본 발명의 일 실시예에 따른 제어부(800)는. 센서부(700)가 이동프레임부(200) 상에 디텍터(300)가 배치되는 것을 감지하면 센서부(700)로부터 전기적 신호인 배치 신호를 전달받아 광조사부(400)에 조사 신호를 전달할 수 있다. The control unit 800 according to an embodiment of the present invention. When the sensor unit 700 detects that the detector 300 is disposed on the moving frame unit 200 , it may receive an electrical signal arrangement signal from the sensor unit 700 and transmit the irradiation signal to the light irradiation unit 400 . .

제어부(800)는 센서부(700), 구체적으로 접촉부(730)와 기판부(710)가 접촉 시 발생하는 전기적 신호인 배치 신호를 전달받을 수 있고, 조사 신호를 발생시켜 광조사부(400)로 전달할 수 있다.The control unit 800 may receive a placement signal, which is an electrical signal generated when the sensor unit 700, specifically, the contact unit 730 and the substrate unit 710 contact, and generates an irradiation signal to the light irradiation unit 400. can transmit

이에 더하여 제어부(800)는 광조사부(400), 구체적으로 광조사구동부(430)로 전기적 신호를 전달하여 광조사구동부(430)에 연결되는 광조사본체(410)를 이동시킬 수 있다. In addition, the control unit 800 may transmit an electrical signal to the light irradiation unit 400 , specifically, the light irradiation driver 430 , to move the light irradiation body 410 connected to the light irradiation driver 430 .

도 3을 참조하면, 광조사구동부(430)로부터 동력을 전달받은 광조사본체(410)는 회전 중심축을 기준으로 시계 방향 또는 반시계 방향으로 회전이 가능하며, 디텍터(300)를 향해 조사되는 광원(L)의 조사 방향을 조정할 수 있는 효과가 있다.Referring to FIG. 3 , the light irradiation body 410 receiving power from the light irradiation driver 430 can rotate clockwise or counterclockwise with respect to the central axis of rotation, and the light source irradiated toward the detector 300 . There is an effect that the irradiation direction of (L) can be adjusted.

본 발명의 실시예들에 따른 방사선 검사 장치(1)는, 광조사부(400)가 이동프레임부(200) 상에 배치되는 디텍터(300)를 향해 광원(L), 구체적으로 자외선을 조사함으로써 이동프레임부(200) 상에 수용되는 디텍터(300)를 살균 처리할 수 있는 효과가 있다.The radiation inspection apparatus 1 according to the embodiments of the present invention moves by irradiating a light source L, specifically, ultraviolet rays toward the detector 300 in which the light irradiation unit 400 is disposed on the moving frame unit 200 . There is an effect of sterilizing the detector 300 accommodated on the frame unit 200 .

또한, 광조사구동부(430)가 광조사본체(410)에 동력을 전달하여 이동프레임부(200) 상에 배치되는 디텍터(300)를 향해 조사되는 광원(L)의 조사 방향을 조정할 수 있는 효과가 있다.In addition, the light irradiation driving unit 430 transmits power to the light irradiation body 410 to adjust the irradiation direction of the light source L irradiated toward the detector 300 disposed on the moving frame unit 200 . there is

또한, 센서부(700)로 인하여 디텍터(300)가 이동프레임부(200) 상에 배치되는지 여부를 감지하고, 이에 관한 정보를 제어부(800)에 전달하여 디텍터(300)가 이동프레임부(200) 상에 배치될 때 광원(L)조사부가 광원(L), 즉 자외선을 디텍터(300)로 조사하도록 하여 살균 처리를 할 수 있도록 하는 효과가 있다. In addition, the detector 300 detects whether the detector 300 is disposed on the moving frame unit 200 due to the sensor unit 700 , and transmits this information to the control unit 800 so that the detector 300 moves the moving frame unit 200 . ), the light source (L) irradiation unit has the effect of irradiating the light source (L), that is, ultraviolet rays to the detector 300 when disposed on the sterilization process.

또한, 디텍터(300)를 살균 처리함으로써 청결한 상태를 유지할 수 있도록 하고, 디텍터(300)와 환자 간 접촉 시 세균 등 감염으로부터 환자를 보호할 수 있는 효과가 있다.In addition, it is possible to maintain a clean state by sterilizing the detector 300 , and there is an effect of protecting the patient from infection such as bacteria when the detector 300 and the patient come into contact.

본 발명에서 설명하는 특정 실행들은 일 실시 예들로서, 어떠한 방법으로도 본 발명의 범위를 한정하는 것은 아니다. 명세서의 간결함을 위하여, 종래 전자적인 구성들, 제어 시스템들, 소프트웨어, 상기 시스템들의 다른 기능적인 측면들의 기재는 생략될 수 있다. 또한, 도면에 도시된 구성 요소들 간의 선들의 연결 또는 연결 부재들은 기능적인 연결 및/또는 물리적 또는 회로적 연결들을 예시적으로 나타낸 것으로서, 실제 장치에서는 대체 가능하거나 추가의 다양한 기능적인 연결, 물리적인 연결, 또는 회로 연결들로서 나타내어질 수 있다. 또한, "필수적인", "중요하게" 등과 같이 구체적인 언급이 없다면 본 발명의 적용을 위하여 반드시 필요한 구성 요소가 아닐 수 있다.The specific implementations described in the present invention are only examples, and do not limit the scope of the present invention in any way. For brevity of the specification, descriptions of conventional electronic components, control systems, software, and other functional aspects of the systems may be omitted. In addition, the connection or connection members of lines between the components shown in the drawings illustratively represent functional connections and/or physical or circuit connections, and in an actual device, various functional connections, physical connections that are replaceable or additional may be referred to as connections, or circuit connections. In addition, unless there is a specific reference such as "essential" or "importantly", it may not be a necessary component for the application of the present invention.

따라서, 본 발명의 사상은 상기 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 또는 이로부터 등가적으로 변경된 모든 범위는 본 발명의 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.Therefore, the spirit of the present invention should not be limited to the above-described embodiments, and the scope of the spirit of the present invention is not limited to the scope of the scope of the present invention. will be said to belong to

1: 방사선 검사 장치 L: 광원
100: 검사본체부 200: 이동프레임부
300: 디텍터 400: 광조사부
410: 광조사본체 430: 광조사구동부
500: 격자부 600: 손잡이부
610: 절곡부 700: 센서부
710: 기판부 730: 접촉부
750: 탄성부재 800: 제어부1: Radiation inspection device L: Light source
100: inspection body unit 200: moving frame unit
300: detector 400: light irradiation unit
410: light irradiation body 430: light irradiation driving unit
500: grid part 600: handle part
610: bent part 700: sensor part
710: substrate portion 730: contact portion
750: elastic member 800: control unit

Claims

A test body that can be in contact with the patient;
a moving frame unit movable in a preset direction on the examination body unit and in which a detector for accommodating radiation is disposed; and
and a light irradiation unit installed in the moving frame unit and irradiating a light source;
The movable frame unit includes a first region fixed on the inspection body or installed on a lower surface of the inspection body, and a second region connected to the first region and movable on the first region and in which the detector is disposed. includes,
The light irradiation unit is rotatably coupled to the first region,
The light irradiation unit irradiates a light source toward the detector when the detector is disposed in the moving frame unit.

According to claim 1,
The first region and the second region are integrally formed, and the radiation inspection apparatus, characterized in that the movement on the lower surface of the inspection body in a predetermined direction.

According to claim 1,
The light source irradiated by the light irradiation unit is a radiation inspection apparatus, characterized in that the ultraviolet.

According to claim 1,
A plurality of the light irradiator is provided, and the radiation examination apparatus, characterized in that it is disposed to face each other on the moving frame unit.

According to claim 1,
The light irradiation unit,
Light irradiation body for irradiating a light source; and
Radiation inspection apparatus comprising a; a light irradiation driving unit that is movably disposed on the moving frame unit, and transmits power to the light irradiation body.

6. The method of claim 5,
The radiation examination apparatus, characterized in that the light irradiation body is formed to extend along the longitudinal central axis.

6. The method of claim 5,
The light irradiation body receives power from the light irradiation driver and rotates within a preset angle range.

6. The method of claim 5,
The radiation examination apparatus, characterized in that the light irradiation body moves along a preset path.

According to claim 1,
Radiation inspection apparatus according to claim 1, further comprising: a grating unit installed in the inspection body and facing the detector arranged in the moving frame unit during radiation inspection.

According to claim 1,
The radiographic examination apparatus further comprising; a handle part installed on the moving frame part and having at least one bent part formed thereon.

11. The method of claim 10,
The radiographic examination apparatus, characterized in that the handle is disposed in the second area.

The method of claim 1,
The radiation examination apparatus further comprising a; a sensor unit installed on the moving frame unit to be in contact with the detector and sensing the detector.

13. The method of claim 12,
The sensor unit is a radiation inspection apparatus, characterized in that disposed in a plurality of areas on the second area.

13. The method of claim 12,
The radiation examination apparatus further comprising a; a control unit electrically connected to the sensor unit and the light irradiation unit, and receives an electrical signal from the sensor unit to control the driving of the light irradiation unit.

15. The method of claim 14,
The sensor unit,
a substrate unit electrically connected to the control unit;
a contact portion spaced apart from the substrate portion; and
an elastic member disposed between the contact part and the substrate part; and, when the detector is disposed on the moving frame part, the elastic member is compressed by the weight of the detector, and the contact part and the substrate part come into contact with each other to generate the electrical signal. a radiographic examination device.