KR20220050301A - 표시장치 및 표시장치의 구동방법 - Google Patents

표시장치 및 표시장치의 구동방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시는, 복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시패널; 상기 센싱선들을 통해 상기 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 센싱부; 및 상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 보상부;를 포함하고, 상기 센싱부는 센싱기간의 과도기간에 상기 표시패널의 일부영역에 배치된 화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치를 개시한다.

Description

표시장치 및 표시장치의 구동방법{Display device and Driving method thereof}
본 발명의 실시예는 표시장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다
표시장치에 구비된 화소들은 주사선들로부터 공급되는 주사신호에 대응하여 데이터선들로부터 데이터신호를 공급받고, 데이터신호에 상응하는 휘도의 빛을 방출한다.
표시장치가 균일한 화질의 영상을 표시하기 위해서는 화소들 각각이 데이터신호에 대응하여 균일하게 빛을 방출하여야 한다. 그러나, 화소들 각각에 포함된 구동 트랜지스터 및/또는 유기 발광 다이오드와 같은 내부 소자들은 편차가 존재할
수 있는 고유의 특성값을 가지며, 또한 사용량이 증가할수록 열화되어 특성값이 변화된다. 이로 인하여 화소들 사이에 특성편차가 발생하게 되고, 이러한 특성편차는 표시장치의 화질 저하를 야기할 수 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 화소들의 특성편차를 효과적으로 보상하여 화질을 개선할 수 있는 표시장치 및 그의 구동방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른, 표시기간 및 센싱기간으로 구동하고, 상기 센싱기간이 과도기간과 과도기간에 후속하는 유효기간을 포함하는 표시장치는, 복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시패널; 상기 센싱선들을 통해 상기 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 센싱부; 및 상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 보상부;를 포함하고, 상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 표시패널의 일부영역에 배치된 화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리한다.
상기 표시패널은 표시영역 및 상기 표시영역 주변의 비표시영역에 더미영역을 포함하고, 상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미영역에 배치된 더미화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리할 수 있다.
상기 더미영역은 복수의 더미행들을 포함하고, 상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미행들에 배치된 더미화소들을 행 단위로 순차적으로 1회 센싱할 수 있다.
상기 더미영역은 하나의 더미행을 포함하고, 상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미행에 배치된 더미화소들을 복수회 센싱할 수 있다.
상기 더미영역은 상기 표시영역의 첫번째 행에 인접할 수 있다.
상기 센싱부는 상기 더미데이터를 상기 보상부로 출력하지 않을 수 있다.
상기 센싱부는 상기 유효기간에 상기 표시영역에 배치된 화소들을 행 단위로 순차적으로 선택하여 특성정보를 센싱할 수 있다.
상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 표시패널의 표시영역에 배치된 화소들 중 임의의 행에 배치된 화소들의 특성정보를 복수회 센싱하여 더미데이터로 처리할 수 있다.
상기 센싱부는 상기 유효기간에 상기 표시영역에 배치된 화소들을 행 단위로 순차적으로 선택하여 특성정보를 센싱할 수 있다.
상기 센싱부는, 상기 복수의 센싱선들에 1:1로 연결되고, 행 단위로 특성정보를 홀드하는 복수의 아날로그 프론트 앤드(AFE)들; 및 상기 복수의 AFE들에 순차적으로 연결되어 특성정보를 센싱데이터로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC);를 포함할 수 있다.
상기 표시장치는, 상기 AFE들 각각과 상기 ADC 사이에 구비된 복수의 스위칭 소자들;을 더 포함할 수 있다.
상기 표시장치는, 상기 복수의 화소들로 주사신호를 인가하는 주사구동부; 및 상기 센싱기간에 상기 복수의 화소들로 기준전압을 인가하고, 상기 구동기간에 상기 복수의 화소들로 데이터신호를 인가하는 데이터구동부;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른, 표시기간 및 센싱기간으로 구동하고, 상기 센싱기간이 과도기간과 과도기간에 후속하는 유효기간을 포함하는 표시장치는, 복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시패널; 상기 센싱선들을 통해 상기 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 센싱부; 및 상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 보상부;를 포함하고, 상기 센싱부는, 상기 복수의 센싱선들에 1:1로 연결되고, 행 단위로 특성정보를 홀드하는 복수의 아날로그 프론트 앤드(AFE)들; 상기 복수의 AFE들에 순차적으로 연결되어 특성정보를 센싱데이터로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC); 및 더미 AFE;를 포함하고, 상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미 AFE를 복수회 상기 ADC에 연결한다.
상기 표시장치는, 상기 AFE들 각각과 상기 ADC 사이에 구비된 복수의 스위칭 소자들; 및 상기 더미 AFE와 상기 ADC 사이에 구비된 더미 스위칭 소자;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시기간 및 센싱기간으로 구동하는 표시장치에서, 상기 센싱기간이 과도기간과 과도기간에 후속하는 유효기간을 포함하고, 상기 구동 방법은, 복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 단계; 및 상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 단계;를 포함하고, 상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 표시패널의 일부영역에 배치된 화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리한다.
상기 표시패널은 표시영역 및 상기 표시영역 주변의 비표시영역에 더미영역을 포함하고, 상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 더미영역에 배치된 더미화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리할 수 있다.
상기 더미영역은 복수의 더미행들을 포함하고, 상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 더미행들에 배치된 더미화소들을 행 단위로 순차적으로 1회 센싱하고, 센싱된 특성정보를 더미데이터로 처리할 수 있다.
상기 더미영역은 하나의 더미행을 포함하고, 상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 더미행에 배치된 더미화소들을 복수회 센싱하고, 센싱된 특성정보를 더미데이터로 처리할 수 있다.
상기 더미영역은 상기 표시영역의 첫번째 행에 인접할 수 있다.
상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 표시패널의 표시영역에 배치된 화소들 중 임의의 행에 배치된 화소들의 특성정보를 복수회 센싱하여 더미데이터로 처리할 수 있다.
본 발명의 실시예에 의한 표시장치 및 그의 구동방법에 의하면, 화소들의 특성편차를 효과적으로 보상할 수 있어, 균일한 화질의 영상을 표시할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 화소를 나타낸 등가 회로도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 센싱기간을 나타낸 도면이다.
도 4는 일 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 도면으로서, 특히 센싱부의 실시예를 나타내는 도면이다.
도 5는 일 실시예에 따른 센싱부에 구비된 채널을 나타내는 도면이다.
도 6은 일 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 도면이다.
도 7은 일 실시예에 따라 도 6의 일부(A)를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 8은 도 7의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 9는 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 10은 도 9의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 11은 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 12는 도 11의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 13은 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 14는 도 13의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 15는 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 16은 도 15의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 17은 일 실시예에 따른 표시패널을 개략적으로 나타낸 도면이다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.
이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다.
이하의 실시예에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
이하의 실시예에서, 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.
이하의 실시예에서, 막, 영역, 구성 요소 등의 부분이 다른 부분 위에 또는 상에 있다고 할 때, 다른 부분의 바로 위에 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 막, 영역, 구성 요소 등이 개재되어 있는 경우도 포함한다.
도면에서는 설명의 편의를 위하여 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 예를 들어, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.
본 명세서에서 "A 및/또는 B"는 A이거나, B이거나, A와 B인 경우를 나타낸다. 또한, 본 명세서에서 "A 및 B 중 적어도 어느 하나"는 A이거나, B이거나, A와 B인 경우를 나타낸다.
이하의 실시예에서, X와 Y가 연결되어 있다고 할 때, X와 Y가 전기적으로 연결되어 있는 경우, X와 Y가 기능적으로 연결되어 있는 경우, X와 Y가 직접 연결되어 있는 경우를 포함할 수 있다. 여기에서, X, Y는 대상물(예를 들면, 장치, 소자, 회로, 배선, 전극, 단자, 도전막, 층 등)일 수 있다. 따라서, 소정의 연결 관계, 예를 들면, 도면 또는 상세한 설명에 표시된 연결 관계에 한정되지 않고, 도면 또는 상세한 설명에 표시된 연결 관계 이외의 것도 포함할 수 있다.
X와 Y가 전기적으로 연결되어 있는 경우는, 예를 들어, X와 Y의 전기적인 연결을 가능하게 하는 소자(예를 들면, 스위치, 트랜지스터, 용량소자, 인덕터, 저항소자, 다이오드 등)가, X와 Y 사이에 1개 이상 연결되는 경우를 포함할 수 있다.
이하의 실시예에서, 소자 상태와 연관되어 사용되는 "온(ON)"은 소자의 활성화된 상태를 지칭하고, "오프(OFF)"는 소자의 비활성화된 상태를 지칭할 수 있다. 소자에 의해 수신된 신호와 연관되어 사용되는 "온"은 소자를 활성화하는 신호를 지칭하고, "오프"는 소자를 비활성화하는 신호를 지칭할 수 있다. 소자는 하이레벨의 전압 또는 로우레벨의 전압에 의해 활성화될 수 있다. 예를 들어, P채널 트랜지스터는 로우레벨 전압에 의해 활성화되고, N채널 트랜지스터는 하이레벨 전압에 의해 활성화된다. 따라서, P채널 트랜지스터와 N채널 트랜지스터에 대한 "온" 전압은 반대(낮음 대 높음) 전압 레벨임을 이해해야 한다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시장치(10)는 스마트폰, 휴대폰, 스마트 워치, 내비게이션 장치, 게임기, TV, 차량용 헤드 유닛, 노트북 컴퓨터, 랩탑 컴퓨터, 태블릿(Tablet) 컴퓨터, PMP(Personal Media Player), PDA(Personal Digital Assistants) 등의 전자장치로 구현될 수 있다. 또한, 전자장치는 플렉서블 장치일 수 있다.
도 1을 참조하면, 표시장치(10)는 표시패널(110), 주사구동부(120), 제어선구동부(130), 센싱부(140), 데이터구동부(150), 및 제어부(160)를 포함할 수 있다. 도 1에서는 표시패널(110)을 주사구동부(120) 등의 구동 회로들과 분리하여 도시하였지만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예컨대, 주사구동부(120), 제어선구동부(130), 센싱부(140), 데이터구동부(150) 중 적어도 하나는 표시패널(110)에 집적될 수도 있다.
일 실시예에 따라, 표시장치는 센싱모드로 구동하는 센싱기간 및 표시모드로 구동하는 구동기간으로 나뉘어 구동될 수 있다. 센싱기간은 표시패널(110)에 구비된 화소(P) 각각의 특성정보, 예컨대 화소(P)들 각각에 포함된 구동트랜지스터 및/또는 유기발광다이오드의 문턱전압, 이동도 및 열화정보 중 적어도 하나를 추출하는 기간일 수 있다. 구동기간은 데이터신호에 대응하여 소정의 영상을 표시하는 기간일 수 있다.
주사구동부(120)는 다수의 주사선(GL)들에 연결되고, 제어부(160)로부터의 제1제어신호(CONT1)에 대응하여 주사신호를 생성하여 주사선(GL)들에 순차적으로 공급할 수 있다. 주사구동부(120)는 쉬프트 레지스터를 포함할 수 있다. 일례로, 주사구동부(120)는 센싱기간 및 구동기간 동안 주사선(GL)들로 주사신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 주사신호는 화소(P)에 포함된 트랜지스터가 턴-온될 수 있는 온 전압으로 설정될 수 있다. 온 전압은 하이레벨 또는 로우레벨의 전압일 수 있다.
제어선구동부(130)는 다수의 제어선(CL)들에 연결되고, 제어부(160)로부터의 제2제어신호(CON2)에 대응하여 센싱기간 동안 제어선(CL)들로 제어신호를 공급할 수 있다. 일례로, 제어선 구동부(130)는 센싱기간 동안 제어선(CL)들로 제어신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 제어신호는 화소(P)에 포함된 트랜지스터가 턴-온될 수 있는 온 전압으로 설정될 수 있다. 온 전압은 하이레벨 또는 로우레벨의 전압일 수 있다. 제어신호를 공급받은 화소(P)들은 센싱선(SL)들에 전기적으로 연결될 수 있다.
도 1에서 제어선구동부(130)가 별개 구동부로 구비되어 있으나, 다른 실시예에서 제어선구동부(130)를 대신하여 주사구동부(120)가 제어선(CL)들로 제어신호를 공급할 수도 있다. 또는, 별도의 제어선(CL)을 형성하는 대신, 주사선(GL)을 이용하여 센싱기간 동안 화소(P)들과 센싱선(SL)들 사이의 연결을 제어할 수도 있다.
센싱부(140)는 다수의 센싱선(SL)들에 연결되고, 제어부(160)로부터의 제3제어신호(CON3)에 대응하여 센싱기간 동안 센싱선(SL)들을 통해 화소(P)들로부터의 특성정보를 센싱할 수 있다. 일 실시예에서, 센싱선(SL)은 각 수직라인(열)마다 구비될 수 있다. 다른 실시예에서, 도 17을 참조로 후술하는 바와 같이, 하나의 센싱선(SL)을 복수 열의 화소(P)들이 공유할 수도 있다.
센싱부(140)는 센싱된 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하여 출력할 수 있다. 이를 위해, 센싱부(140)는 적어도 하나의 ADC(Analog Digital Converter)를 포함할 수 있다. 센싱부(140)에서 출력된 센싱데이터는 제어부(160) 등에 의하여 메모리(미도시)에 저장될 수 있다. 저장된 센싱데이터는 화소(P)들의 특성편차가 보상되도록 제1데이터(DATA1)를 제2데이터(DATA2)로 변환하는 데에 이용될 수 있다. 이를 위하여, 센싱기간 동안 표시패널(110)에 구비된 모든 화소(P)들에 대응하는 센싱데이터가 메모리에 저장될 수 있다. 센싱부(140)는 센싱데이터 보정을 위한 IC 캘리브레이션(calibration), 결함 필터링(defect filtering), 에지 필터링(edge filtering) 등을 더 수행할 수 있다.
일 실시예에서, 센싱부(140)는 모든 화소(P)들의 특성정보를 센싱하여 센싱데이터를 생성할 수 있다. 다른 실시예에서, 센싱부(140)는 일부 화소(P)들의 특성정보는 센싱하지 않을 수 있다. 이 경우 센싱부(140)에 의해 특성정보가 센싱되지 않은 화소(P)의 특성정보는 주변 화소(P)들의 특성정보를 참조하여 산출될 수 있다. 일 실시예에서, 제어부(160)의 보상부(170)가 특성정보가 센싱되지 않은 화소(P)의 특성정보를 주변 화소(P)들의 특성정보를 참조하여 산출할 수 있다. 이 때 보상부(170)가 센싱데이터 보정을 위한 IC 캘리브레이션(calibration), 결함 필터링(Defect filtering), 에지 필터링(edge filtering) 등을 수행할 수도 있다.
데이터구동부(150)는 다수의 데이터선(DL)들에 연결되고, 제어부(160)로부터의 제4제어신호(CONT4)에 대응하여 구동기간 동안 데이터신호를 데이터선(DL)들에 공급할 수 있다. 데이터구동부(150)는 구동기간 동안 제어부(160)로부터 공급받은 제2데이터(DATA2)에 대응하여 데이터신호를 생성할 수 있다. 제2데이터(DATA2)는 표시패널(110)에서 표시하고자 하는 영상에 대응하여 외부로부터 입력되는 제1데이터(DATA1)에 기초한 값으로서, 특히 화소(P)들의 편차가 보상될 수 있도록 제1데이터(DATA1)를 변경한 값일 수 있다. 데이터구동부(150)에서 생성된 전압 또는 전류 형태의 데이터신호는 데이터선(DL)들로 공급될 수 있다. 데이터선(DL)들로 공급된 데이터신호는 주사신호에 의하여 선택된 화소(P)들로 공급될 수 있다. 화소(P)들은 구동기간 동안 데이터신호에 상응하는 휘도의 빛을 방출하고, 이에 따라 표시패널(110)에서 영상이 표시될 수 있다.
일 실시예에 따라, 데이터구동부(150)는 제어부(160)의 제어에 대응하여 센싱기간 동안 데이터선(DL)들로 기준전압을 공급할 수 있다. 일례로, 기준전압은 화소(P)들에 구비된 구동트랜지스터들에서 전류가 흐를 수 있는 소정의 전압으로 설정될 수 있다. 한편, 본 발명의 실시예에서, 센싱기간 동안 반드시 데이터구동부(150)가 화소(P)들로 기준전압을 공급해야만 하는 것은 아니다. 예컨대, 센싱기간 동안 화소(P)들이 다른 전압원 및/또는 전류원에 연결되는 경우, 데이터구동부(150)는 구동기간에만 데이터선(DL)들을 구동할 수도 있다.
표시패널(110)에는 복수의 주사선(GL)들, 복수의 데이터선(DL)들, 복수의 제어선(CL)들, 복수의 센싱선(SL)들, 및 이들에 연결된 복수의 화소(P)들이 구비될 수 있다. 복수의 화소(P)들은 제1방향(x방향, 행방향) 및 제2방향(y방향, 열방향)으로 반복적으로 배열될 수 있다. 복수의 주사선(GL)들은 일정하게 이격되어 행으로 배열되며 각각 주사신호를 전달할 수 있다. 복수의 제어선(CL)들은 일정하게 이격되어 행으로 배열되며 각각 제어신호를 전달할 수 있다. 복수의 데이터선(DL)들은 일정하게 이격되어 열로 배열되며 각각 데이터신호를 전달할 수 있다. 복수의 센싱선(SL)들은 일정하게 이격되어 열로 배열되며 각각 화소(P)의 특성정보를 센싱할 수 있다. 실시예에 따라, 표시패널(110)이 유기전계발광 표시장치의 표시패널인 경우, 표시패널(110)의 화소(P)들은 구동전압(ELVDD) 및 공통전압(ELVSS)을 공급받아 구동될 수 있다.
제어부(160)는 주사구동부(120), 제어선구동부(130), 센싱부(140) 및 데이터구동부(150)의 구동을 제어할 수 있다. 또한, 제어부(160)는 센싱부(140)로부터의 센싱데이터를 메모리에 저장하고, 저장된 센싱데이터를 이용하여 외부로부터 입력되는 제1데이터(DATA1)를 변환함에 의해 제2데이터(DATA2)를 생성할 수 있다. 생성된 제2데이터(DATA2)는 데이터구동부(150)로 출력될 수 있다. 일 실시예에서, 제1데이터(DATA1), 제2데이터(DATA2) 및 센싱데이터는 디지털 형태의 신호일 수 있다. 일례로, 제어부(160)는 센싱데이터를 이용하여 제1데이터(DATA1)의 비트 값을 변경하고, 이를 제2데이터(DATA2)로서 출력할 수 있다.
제어부(160)는 보상부(170)를 구비할 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예컨대, 다른 실시예에서 보상부(170)가 제어부(160)의 외부에 별개로 구성되고, 이러한 보상부(170)가 제1데이터(DATA1)를 변환하여 제2 데이터(DATA2)를 생성할 수도 있다.
보상부(170)는 제1데이터(DATA1) 및 센싱데이터를 입력받고, 이에 대응하여 제2데이터(DATA2)를 생성할 수 있다. 보상부(170)는 센싱데이터를 반영하여 제1데이터(DATA1)를 제2데이터(DATA2)로 변환할 수 있다. 일례로, 보상부(170)는 센싱데이터를 이용하여 외부로부터 입력되는 제1데이터(DATA1)의 비트 값을 변경함에 의해 제2데이터(DATA2)를 생성할 수 있다. 보상부(170)에서 생성된 제2데이터(DATA2)는 데이터구동부(150)로 출력되고, 데이터구동부(150)는 제2데이터(DATA2)에 대응하는 데이터신호를 생성하고, 생성된 데이터신호를 데이터선(DL)들을 통해 화소(P)들로 출력할 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치로서, 유기발광표시장치를 예로 하여 설명하지만, 본 발명의 표시장치는 이에 제한되지 않는다. 다른 실시예로서, 본 발명의 표시장치는 무기발광표시장치(Inorganic Light Emitting Display 또는 무기EL표시장치), 퀀텀닷발광표시장치(Quantum dot Light Emitting Display)와 같은 표시장치일 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 화소를 나타낸 등가 회로도이다. 도 3은 일 실시예에 따른 센싱기간을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 화소(P)들 각각은 화소회로(PC)와 화소회로(PC)에 연결된 표시요소로서 유기발광다이오드(OLED)를 포함할 수 있다. 화소회로(PC)는 제1트랜지스터(T1: 구동트랜지스터), 제2트랜지스터(T2: 스위칭트랜지스터), 제3트랜지스터(T3: 센싱제어트랜지스터) 및 커패시터(Cst)를 포함한다.
제1트랜지스터(T1)는 구동전압(ELVDD)을 공급하는 구동전압선(PL)에 연결된 제1전극, 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극(화소전극)에 연결된 제2전극을 포함할 수 있다. 제1트랜지스터(T1)의 게이트전극은 노드(N)에 연결될 수 있다. 제1트랜지스터(T1)는 커패시터(Cst)에 저장된 전압에 대응하여 구동전압선(PL)으로부터 유기발광다이오드(OLED)에 흐르는 구동전류를 제어할 수 있다. 유기발광다이오드(OLED)는 구동전류에 의해 소정의 휘도를 갖는 빛을 방출할 수 있다.
제2트랜지스터(T2)는 주사선(GL)에 연결된 게이트전극, 데이터선(DL)에 연결된 제1전극, 노드(N)에 연결된 제2전극을 포함할 수 있다. 제2트랜지스터(T2)는 주사선(GL)을 통해 입력되는 주사신호에 따라 턴-온되어 데이터선(DL)과 노드(N)를 전기적으로 연결하고, 데이터선(DL)을 통해 입력된 데이터신호를 노드(N)로 전달할 수 있다.
제3트랜지스터(T3)는 제어선(CL)에 연결된 게이트전극, 제1트랜지스터(T1)의 제2전극에 연결된 제1전극, 센싱선(SL)에 연결된 제2전극을 포함할 수 있다. 제3트랜지스터(T3)는 센싱기간 동안 제어선(CL)으로 공급되는 제어신호에 의해 턴-온되어 센싱선(SL)과 제1트랜지스터(T1)의 제2전극을 전기적으로 연결할 수 있다.
커패시터(Cst)는 노드(N)와 제1트랜지스터(T1)의 제2전극 사이에 연결될 수 있다. 커패시터(Cst)는 제2트랜지스터(T2)로부터 전달받은 전압과 제1트랜지스터(T1)의 제2전극의 전위의 차이에 해당하는 전압을 저장할 수 있다.
도 2에서 화소회로의 트랜지스터들은 N형 트랜지스터를 도시하고 있으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다. 예컨대, 화소회로의 트랜지스터들은 P형 트랜지스터이거나, 일부는 P형 트랜지스터이고 다른 일부는 N형 트랜지스터 등 다양한 실시예가 가능하다.
실시예에 따라, 적어도 제1트랜지스터(T1)는 비정질 혹은 결정질의 산화물 반도체로 구성된 활성층을 포함하는 산화물 반도체 박막트랜지스터일 수 있다. 예컨대, 제1 내지 제3트랜지스터들(T1 내지 T3)은 산화물 반도체 박막트랜지스터일 수 있다. 산화물 반도체 박막트랜지스터는 우수한 오프 전류 특성을 가진다. 또는, 실시예에 따라, 제1 내지 제3트랜지스터들(T1 내지 T3) 중 적어도 하나는 폴리 실리콘으로 형성된 활성층을 포함하는 LTPS(Low Temperature Poly-Silicon) 박막트랜지스터일 수도 있다. LTPS 박막트랜지스터는 높은 전자 이동도를 가지며, 이에 따라 빠른 구동 특성을 가진다.
화소(P)의 휘도는 주로 데이터신호에 따라 결정된다. 다만, 화소(P)의 휘도에는 제1트랜지스터(T1) 및/또는 유기발광다이오드(OLED)의 특성값이 추가로 반영될 수 있다. 또한, 제1트랜지스터(T1) 및/또는 유기발광다이오드(OLED)의 특성값은 사용시간에 따라 변화될 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예에서는 센싱기간 동안 제3트랜지스터(T3)를 이용하여 화소(P)의 특성정보를 센싱하고, 화소(P)별로 센싱된 특성정보를 반영하여 입력 데이터, 즉 제1데이터(DATA1)를 변경하는 외부 보상방식을 적용한다. 이에 따라, 균일한 화질의 영상을 표시할 수 있다.
보다 구체적으로, 화소(P)는 센싱기간 동안 센싱선(SL)을 통해 특성정보를 출력하고, 구동기간 동안 데이터선(DL)으로부터 공급되는 데이터신호에 대응하여 발광할 수 있다.
실시예에 따라, 화소(P)의 특성정보를 센싱하는 동작은 표시장치의 출하 전에 적어도 한 번 수행될 수 있다. 이에 따라, 화소(P)의 초기 특성정보를 미리 저장하고, 이를 이용해 입력 데이터를 보정함으로써, 표시패널(110)에 구비된 화소(P) 사이의 특성편차를 보상할 수 있다. 이에 따라, 표시패널(110)에서는 균일한 화질의 영상을 표시할 수 있게 된다.
또한, 실시예에 따라 화소(P)의 특성정보를 센싱하는 동작은 표시장치의 실사용 동안 소정의 센싱기간마다 수행될 수 있다. 이에 따라, 사용량에 따라 화소(P)들 사이의 특성편차가 발생하더라도 변경된 화소(P)들의 특성정보를 실시간으로 업데이트하여 데이터신호의 생성에 반영할 수 있다. 따라서, 표시패널(110)에서는 균일한 화질의 영상을 표시할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 센싱기간(ST)은 전원이 인가(파워 온)된 후, 구동기간(DT)들 사이, 전원이 꺼지기(파워 오프) 전일 수 있다.
센싱기간은 과도기간(TT) 및 유효기간(ET)을 포함할 수 있다. 표시장치가 센싱모드로 진입한 경우, 센싱기간의 초기에 표시패널(110)로의 입력전원(예컨대, 구동전압(ELVDD), 공통전압(ELVSS), 기준전압 등)이 불안정하여, 센싱 결과에 결함이 발생할 수 있다. 이하, 센싱기간(ST)이 시작되는 시점(t1, 도 8)부터 입력전원이 안정화되는 시점(t2, 도 8)까지의 기간을 과도기간(TT)이라 하고, 입력전원이 안정화되는 시점부터 센싱이 종료되는 시점까지의 기간을 유효기간(ET)이라 한다. 과도기간(TT)의 길이는 테스트에 의해 입력전원이 안정화되는데 소요되는 시간의 평균값으로 미리 설정될 수 있다.
센싱부(140)는 과도기간(TT)에 표시패널(110)의 일부 영역으로부터 센싱데이터를 획득할 수 있다. 센싱부(140, 도 1)가 과도기간(TT)에 획득한 센싱데이터는 보상부(170)에서 사용하지 않을 수 있다. 일 실시예에서, 센싱부(140)는 과도기간(TT)에 획득한 센싱데이터를 더미데이터로 처리하여 보상부(170)로 제공하지 않을 수 있다. 다른 실시예에서, 센싱부(140)는 과도기간(TT)에 획득한 센싱데이터를 보상부(170)로 제공하고, 보상부(170)에서 이를 더미데이터로 처리하여 제2데이터(DATA2)를 생성하는데 사용하지 않을 수 있다. 과도기간(TT)에 획득된 특성정보를 사용하지 않음으로써 센싱 결과의 정확성을 높일 수 있다.
도 4는 일 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 도면으로서, 특히 센싱부의 실시예를 나타내는 도면이다. 도 5는 일 실시예에 따른 센싱부에 구비된 채널을 나타내는 도면이다. 도 5에서는 도 4에 도시된 복수의 센싱채널들 중 하나의 센싱채널만을 도시하고 있다.
도 4를 참조하면, 일 실시예에 의한 센싱부(140)는 제1 내지 제j(j는 2 이상의 자연수) 센싱 IC(Integrated Circuit)들(1401 내지 140j)을 포함할 수 있다. 센싱 IC들(1401 내지 140j)은 화소(P)들의 특성정보를 추출하는 리드아웃(Readout) IC로 구현될수 있다. 센싱부(140)는 센싱기간에 인에이블되고 구동기간에 디스에이블될 수 있다.
센싱 IC들(1401 내지 140j) 각각은 복수의 센싱선(SL)들에 각각 연결된 복수의 AFE(Analog Front End)(142)들과, 복수의 AFE(142)들의 출력단에 연결된 ADC(146)와, AFE(142)들과 ADC(146)의 사이에 연결된 복수의 스위칭 소자(145)들을 포함하는 스위칭부(144)를 포함할 수 있다. 각 센싱선(SL)에 연결되는 AFE(142) 및 스위칭 소자(145)는 하나의 센싱채널(S-CH)을 구성할 수 있다. 즉, 센싱 IC들(1401 내지 140j) 각각은 복수의 센싱채널(S-CH)들을 포함할 수 있다.
AFE(142)는 센싱선(SL)으로부터 입력되는 화소의 특성정보를 샘플링 및 홀딩하여 일시 저장할 수 있다. AFE(142)는 이를 위해 센싱선(SL)에 연결되는 커패시터를 포함할 수 있다.
스위칭부(144)는 복수의 AFE(142)들을 하나의 ADC(146)에 순차적으로 연결함으로써 AFE(142) 각각에 저장된 특성정보가 ADC(146)에 순차적으로 공급되어 센싱데이터로 변환되도록 제어할 수 있다.
ADC(146)는 스위칭부(144)에 의해 할당된 센싱채널들의 복수의 AFE(142)들로부터 순차적으로 제공되는 아날로그 특성정보를 디지털 센싱데이터로 변환할 수 있다.
센싱부(140)는 ADC(146)에 연결된 메모리(148)를 더 포함할 수 있다. 메모리(148)는 ADC(146)로부터 공급되는 디지털 센싱데이터를 임시 저장하는 버퍼로서 기능할 수 있다. 메모리(148)에는 각 화소의 특성정보에 대응한 디지털 센싱데이터가 저장될 수 있다. 메모리(148)에 저장된 디지털 데이터는 제어부(160)의 보상부(170)로 공급될 수 있다.
보상부(170)는 각 화소(P)의 특성정보를 포함하는 센싱데이터에 기초하여 화소(P)들 사이의 특성편차가 보상되도록 제1데이터(DATA1)를 제2데이터(DATA2)로 변환하여 출력할 수 있다.
이하 도 5를 참조하여 화소 및 센싱부(140)의 동작을 센싱기간과 구동기간으로 나누어 보다 구체적으로 설명한다.
실시예에 따라, 센싱기간 동안 센싱부(140)는 센싱선(SL)들을 통해 화소(P)들의 특성정보를 추출하여 센싱데이터로 변환할 수 있다. 보상부(170)는 센싱데이터에 대응하여 화소(P)들의 특성편차가 보상되도록 보상값을 설정할 수 있다.
센싱기간 동안 데이터 구동부(150)는 화소(P)들에서 전류가 흐를 수 있는 정도의 기준전압을 데이터선(DL)으로 공급할 수 있다. 한편, 실시예에 따라서는 데이터 구동부(150)가 기준전압을 공급하지 않을 수도 있다. 이 경우, 센싱기간 동안 데이터선(DL)들을 소정의 전류원 및/또는 전압원에 전기적으로 연결하여 화소(P)들을 구동할 수도 있다.
또한, 센싱기간 중 소정의 기간 동안 주사선(GL)들 및 제어선(CL)들로 각각 주사신호 및 제어신호가 공급될 수 있다. 실시예에 따라, 주사신호 및 제어신호는 표시패널(110)의 각 수평라인(행) 별로 순차적으로 공급될 수 있다. 주사신호 및 제어신호를 공급받은 행의 화소(P)들에서는 제2트랜지스터(T2) 및 제3트랜지스터(T3)가 턴-온될 수 있다. 제3트랜지스터(T3)가 턴-온되면, 제1트랜지스터(T1)의 제2전극이 센싱선(SL)에 전기적으로 연결될 수 있다. 그리고, 제2 트랜지스터(T2)가 턴-온되면, 데이터선(DL)으로부터의 기준전압이 노드(N)로 전달될 수 있다.
노드(N)로 기준전압이 공급되면, 제1트랜지스터(T1)가 턴-온된다. 이에 따라, 해당 행의 화소(P)들에서는 기준전압에 상응하는 전류가 생성되고, 상기 전류는 화소(P)들의 제3트랜지스터(T3)를 경유하여 센싱선(SL)으로 공급될 수 있다.
센싱선(SL)은 소정의 저항값을 가지며, 이에 따라 센싱선(SL) 각각에는 해당 화소(P)에 흐르는 소정의 전류에 대응하는 전압이 인가된다. 센싱선(SL)에 인가된 전압은 센싱선(SL)에 기생적으로 형성되는 라인 커패시터(CLine)에 저장됨과 아울러, 센싱선(SL)에 연결된 AFE(142)에 저장될 수 있다.
센싱선(SL) 및 AFE(142)에 저장되는 전압은 현재 센싱된 행의 화소(P)에 포함된 제1트랜지스터(T1)의 특성정보를 포함할 수 있다. 기준 전압에 대응하여 제1트랜지스터(T1)에 흐르는 전류는 제1트랜지스터(T1)의 문턱전압, 이동도 및 열화에 대응할 수 있다.
한편, 실시예에 따라서는 유기발광다이오드(OLED)의 특성정보를 추가적으로 추출할 수도 있다. 예컨대, 센싱할 행의 화소(P)에 구비된 유기발광다이오드(OLED)를 소정의 전류 소스원에 연결함으로써 유기발광다이오드(OLED)에 전류가 흐르도록 할 수 있다. 그리고, 유기발광다이오드(OLED)의 일 전극(예컨대, 화소전극)에 인가되는 전압을 추출함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압 및 열화 등에 상응하는 특성정보를 추가적으로 추출할 수도 있다.
화소(P)의 특성정보를 추출하는 방법은 전술된 실시예에 한정되지는 않는다. 예컨대, 공지된 다양한 방식에 의해 화소(P)의 특성정보를 추출할 수 있다.
센싱선(SL)들에 인가되는 전압이 AFE(142)들을 통해 센싱부(140)로 입력되면, ADC(146)는 AFE(142)들에 저장된 아날로그 전압을 디지털 형태의 센싱데이터로 변환할 수 있다. ADC(146)에서 출력되는 센싱데이터는 메모리(148)에 임시 저장된 후 보상부(170)로 입력될 수 있다. 화소(P)들 각각에 상응하는 센싱데이터를 입력받은 보상부(170)는 각 화소(P)별로 센싱데이터에 상응하는 보상값을 설정할 수 있다. 보상부(170)는 센싱기간에 설정된 보상값을 반영하여 구동기간 동안 제1데이터(DATA1)를 제2데이터(DATA2)로 변환하고, 이를 데이터 구동부(150)로 출력할 수 있다.
구동기간 동안 보상부(170)로부터 출력되는 제2데이터(DATA2)는 데이터 구동부(150)로 입력되고, 데이터 구동부(150)는 제2데이터(DATA2)에 대응하는 데이터신호를 생성하고, 생성된 데이터신호를 데이터선(DL)들로 출력할 수 있다.
구동기간 동안 주사선(GL)들로는 주사신호가 공급될 수 있다. 실시예에 따라, 주사신호는 표시패널(110)의 각 행 별로 순차적으로 공급될 수 있다. 주사신호를 공급받은 화소(P)들에서는 제2트랜지스터(T2)가 턴-온될 수 있다. 이에 따라, 데이터선(DL)에 인가되는 데이터신호가 해당 화소(P)의 노드(N)로 전달되고, 커패시터(Cst)에는 데이터신호에 대응되는 전압이 충전될 수 있다.
데이터신호가 노드(N)로 공급되면, 제1트랜지스터(T1)가 턴-온되고, 턴-온된 제1트랜지스터(T1)는 데이터신호에 대응하는 구동전류를 유기발광다이오드(OLED)로 공급할 수 있다. 이에 따라, 구동전압선(PL)으로부터 제1트랜지스터(T1) 및 유기발광다이오드(OLED)를 경유하는 전류패스를 따라 구동전류가 흐르게 된다. 그러면, 유기발광다이오드(OLED)는 구동전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 데이터신호는 제2데이터(DATA2)에 대응하여 생성된 것이므로, 화소(P)들 사이의 특성편차가 보상되어 표시패널에서 균일한 화질의 영상이 표시될 수 있다.
도 6은 일 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 표시장치(10)는 표시패널(110) 및 복수의 구동회로(30)들을 포함할 수 있다. 복수의 구동회로(30)들은 표시패널(110)의 소정 영역들에 대응하고, 각 구동회로(30)는 대응 영역들에 배치된 복수의 데이터선들 및 복수의 센싱선들에 연결될 수 있다.
표시패널(110)은 복수의 화소(P)들이 배치된 표시영역(DA) 및 표시영역(DA) 외측의 주변영역(NDA)을 포함할 수 있다. 주변영역(NDA)은 화소(P)들이 배치되지 않은 일종의 비표시영역일 수 있다. 표시영역(DA)은 주변영역(NDA)에 의해 전체적으로 둘러싸일 수 있다. 일 실시예에서, 주변영역(NDA)에는 더미화소들이 배치될 수 있다. 더미화소는 영상의 표시에 관여하지 않는 화소일 수 있다. 더미화소는 표시요소를 구비하지 않을 수 있다.
복수의 구동회로(30)들 각각은 필름 타입의 연결회로기판(40) 상에 실장되고, 회로기판(50)에 의해 서로 연결될 수 있다. 연결회로기판(40)들 각각은 표시패널(110)의 주변영역(NDA)에 구비된 패드들에 연결될 수 있다. 구동회로(30)는 IC(Integrated Circuit)로서, 표시패널(110)의 대응 영역에 배치된 복수의 데이터선들에 연결된 데이터 구동부(150, 도 1) 및 복수의 센싱선들에 연결된 센싱부(140, 도 1)를 포함할 수 있다.
화소(P)는 소정의 색으로 발광하는 화소일 수 있다. 복수의 화소(P)들은 제1색으로 발광하는 제1화소, 제2색으로 발광하는 제2화소 및 제3색으로 발광하는 제3화소를 포함할 수 있다. 예컨대, 제1화소는 적색으로 발광하는 적색화소, 제2화소는 녹색으로 발광하는 녹색화소, 제3화소는 청색으로 발광하는 청색화소일 수 있다. 제1 내지 제3화소들 각각은 표시요소를 포함할 수 있다. 표시요소는 화소회로에 연결될 수 있다. 표시요소는 유기발광다이오드, 또는 퀀텀닷 유기발광다이오드 등을 포함할 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따라 도 6의 일부(A)를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 8은 도 7의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 7을 참조하면, 표시패널(110)은 표시영역(DA) 및 주변영역(NDA)을 포함하고, 주변영역(NDA)에 더미영역(DM)이 포함될 수 있다.
표시영역(DA)의 복수의 행들(R1 내지 Rn) 및 복수의 열들(C1 내지 Ck)에는 복수의 화소(P)들이 구비될 수 있다. 화소(P)들 각각은 복수의 주사선들(GL1 내지 GLn) 중 대응하는 주사선 및 복수의 데이터선(DL1 내지 DLk)들 중 대응하는 데이터선에 연결될 수 있다. 또한 화소(P)들 각각은 복수의 제어선들(CL1 내지 CLn)들 중 대응하는 제어선 및 복수의 센싱선들(SL1 내지 SLk)중 대응하는 센싱선에 연결될 수 있다. 주사선 및 제어선은 제1방향(D1)으로 연장되고, 데이터선(DL) 및 센싱선(SL)은 제2방향(D2)으로 연장될 수 있다.
더미영역(DM)은 예컨대, 표시영역(DA)의 첫번째 주사신호가 인가되는 첫번째 행(R1)의 상단에 위치할 수 있다. 더미영역(DM)은 복수의 더미화소(DP)들이 구비된 적어도 두 개의 더미행들(DR1 내지 DRm)을 포함할 수 있다. 더미화소(DP)들 각각은 복수의 더미 주사선들(DGL1 내지 DGLm) 중 대응하는 더미 주사선 및 복수의 데이터선(DL1 내지 DLk)들 중 대응하는 데이터선에 연결될 수 있다. 또한 더미화소(DP)들 각각은 복수의 더미 제어선들(DCL1 내지 DCLm) 중 대응하는 더미 제어선 및 복수의 센싱선들(SL1 내지 SLk) 중 대응하는 센싱선에 연결될 수 있다. 더미 주사선 및 더미 제어선은 제1방향(D1)으로 연장될 수 있다. 더미행의 개수는 과도기간(TT)의 길이에 따라 결정될 수 있다. 예컨대, 과도기간(TT)의 길이가 주사신호의 주사시간의 j배로 설정된 경우, 더미영역(DM)의 더미행은 j(j≤m)개일 수 있다.
센싱선들(SL1 내지 SLk) 각각의 일단은 센싱부(140)의 대응하는 AFE(142)에 연결될 수 있다. 스위칭 소자들(SW1 내지 SWk)이 순차적으로 턴-온됨에 따라 ADC(146)는 센싱채널들(S-CH1 내지 S-CHk)로부터 순차적으로 아날로그 형태의 특성정보를 제공받고, 이를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하여 메모리(148)에 저장할 수 있다.
도 8을 참조하면, 주사신호가 더미 주사선들(DGL1 내지 DGLm) 및 주사선들(GL1 내지 GLn)로 차례로 인가되고, 기준전압이 데이터선(DL1 내지 DLk)들로 인가되어 더미화소(DP)들 및 화소(P)들로 기준전압이 인가될 수 있다. 그리고, 제어신호가 더미 제어선들(DCL1 내지 DCLm) 및 제어선들(CL1 내지 CLn)로 차례로 인가될 수 있다. 제어신호는 주사신호와 중첩할 수 있다.
센싱부(140)는 더미영역(DM)을 센싱하여 획득한 센싱데이터는 더미데이터로 처리하여 보상부(170)로 전송하지 않고, 표시영역(DA)을 센싱하여 획득한 센싱데이터는 보상부(170)로 전송할 수 있다. 더미영역(DM)을 센싱하는 기간은 과도기간(TT)에 대응하고, 표시영역(DA)을 센싱하는 기간은 유효기간(ET)에 대응할 수 있다. 예컨대, 주사 구동부(120)로부터의 주사신호와 제어선 구동부(130)로부터의 제어신호가 더미영역(DM)의 더미행들(DR1 내지 DRm)로 순차적으로 인가되는 동안, 즉 과도기간(TT)에 센싱부(140)는 센싱선들(SL1 내지 SLk)을 통해 더미영역(DM)에 배치된 더미화소(DP)들을 행 단위로 순차적으로 1회 센싱할 수 있다. 주사 구동부(120)로부터의 주사신호와 제어선 구동부(130)로부터의 제어신호가 표시영역(DA)의 행들(R1 내지 Rn)로 순차적으로 인가되는 동안, 즉 유효기간(ET)에 센싱부(140)는 센싱선들(SL1 내지 SLk)을 통해 표시영역(DA)에 배치된 화소(P)들을 행 단위로 순차적으로 1회 센싱할 수 있다.
예컨대, 제1더미행(DR1)의 더미 제어선(DCL1)으로 제어신호가 인가되면 제1더미행(DR1)에 구비된 더미화소(DP)들은 센싱선들(SL1 내지 SLk)에 연결되고, 센싱선들(SL1 내지 SLk)로부터 AFE들(AFE1 내지 AFEk)로 인가된 더미화소(DP)의 특성정보가 스위칭 소자(145)에 의해 ADC(146)로 출력되고, ADC(146)는 더미데이터(DD1)를 생성할 수 있다. 그리고, 제m더미행(DRm)까지 센싱이 수행되고, 이어 제1행(DR1)의 제어선(DCL1)으로 제어신호가 인가되면 제1행(R1)에 구비된 화소(DP)들은 센싱선들(SL1 내지 SLk)에 연결되고, 센싱선들(SL1 내지 SLk)로부터 AFE들(AFE1 내지 AFEk)로 인가된 화소(P)의 특성정보가 스위칭 소자(145)에 의해 ADC(146)로 출력되고, ADC(146)는 제1행(R1)의 센싱데이터(SD1)를 생성할 수 있다. 센싱데이터(SD1)는 제1행(R1)의 제1 내지 제k센싱선들(SL1 내지 SLk)에 연결된 화소(P)들 각각에 대해 ADC(146)에서 순차적으로 생성된 센싱데이터(AD1 내지 ADk)를 포함할 수 있다. 제n행까지 센싱이 수행될 수 있다.
센싱부(140)는 제1 내지 제m더미행들(DR1 내지 DRm)의 더미화소(DP)들을 순차적으로 센싱하여 생성한 더미데이터(DD1 내지 DDm)를 보상부(170)로 출력하지 않을 수 있다. 센싱부(140)는 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)의 화소(P)들을 센싱하여 생성한 센싱데이터(SD1 내지 SDn)를 메모리(148)에 저장한 후 보상부(170)로 출력할 수 있다.
다른 실시예에서, 더미데이터(DD1 내지 DDm)는 보상부(170)로 출력되나, 보상부(170)에서 사용하지 않을 수 있다.
도 9는 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 10은 도 9의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 9에 도시된 실시예는 더미영역(DM)에 하나의 더미행(DR1)만 포함되는 점에서 도 7에 도시된 표시패널(110)과 상이하다. 이하 중복하는 구성의 상세한 설명은 생략한다.
도 10을 참조하면, 주사신호는 과도기간(TT)에 더미영역(DM)의 더미행(DR1)의 더미 주사선(DGL1)으로 소정 횟수 반복하여 인가된 후, 유효기간(ET)에 표시영역(DA)의 주사선들(GL1 내지 GLn)로 차례로 인가될 수 있다.
주사신호에 의해 더미행(DR1)이 선택되면 기준전압이 데이터선(DL1 내지 DLk)들로 인가되어 더미화소(DP)들로 기준전압이 인가될 수 있다. 그리고, 제어신호가 더미 제어선(DCL1)으로 소정 횟수 반복하여 인가될 수 있다. 제어신호는 주사신호와 중첩할 수 있다. 일 실시예에서 과도기간(TT)에 주사신호와 제어신호가 더미행(DR1)으로 소정 횟수 반복하여 인가될 수 있다. 더미 주사선(DGL1)으로 주사신호가 인가되는 횟수 및 더미 제어선(DCL1)으로 제어신호가 인가되는 횟수는 과도기간(TT)의 길이에 따라 결정될 수 있다. 예컨대, 과도기간(TT)의 길이가 주사신호의 주사시간의 j배로 설정된 경우, 주사신호와 제어신호는 더미영역(DM)의 더미행(DR1)으로 j번 반복하여 인가될 수 있다.
다른 실시예에서, 과도기간(TT)에 주사신호가 더미행(DR1)으로 1회 인가되는 동안 제어신호가 더미행(DR1)으로 소정 횟수 반복하여 인가될 수 있다. 이때 더미행(DR1)으로 인가되는 주사신호의 길이는 과도기간(TT)의 길이에 대응하고, 표시영역으로 인가되는 주사신호의 길이보다 길 수 있다.
유효기간(ET)에 주사신호에 의해 표시영역(DA)의 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)이 차례로 선택되면 기준전압이 데이터선(DL1 내지 DLk)들로 인가되어 화소(P)들로 기준전압이 인가될 수 있다. 그리고, 제어신호가 제어선들(CL1 내지 CLn)로 차례로 인가될 수 있다. 제어신호는 주사신호와 중첩할 수 있다.
센싱부(140)는 더미영역(DM)의 더미행(DR1)의 더미화소(DP)들을 복수 횟수 센싱하여 생성한 더미데이터(DD)를 보상부(170)로 출력하지 않을 수 있다. 센싱부(140)는 표시영역(DA)의 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)의 화소(P)들을 센싱하여 생성한 센싱데이터(SD1 내지 SDn)를 메모리(148)에 저장한 후 보상부(170)로 출력할 수 있다.
도 11은 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 12는 도 11의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 11에 도시된 실시예는 표시패널에 더미영역(DM)이 없는 점에서 도 7에 도시된 표시패널(110)과 상이하다.
도 12를 참조하면, 주사신호는 과도기간(TT)에 표시영역(DA)의 임의의 행의 주사선으로 소정 횟수 반복하여 인가된 후, 유효기간(ET)에 표시영역(DA)의 모든 행들의 주사선들(GL1 내지 GLn)로 차례로 인가될 수 있다. 과도기간(TT)에 주사신호에 의해 임의의 행이 선택되면 기준전압이 데이터선(DL1 내지 DLk)들로 인가되어 선택된 행의 화소(P)들로 기준전압이 인가될 수 있다. 그리고, 과도기간(TT)에 선택된 행의 제어선으로 제어신호가 소정 횟수 반복하여 인가될 수 있다. 제어신호는 주사신호와 중첩할 수 있다. 도 12는 과도기간(TT)에 제3행이 선택되어 제3행의 제어선(CL3)으로 제어신호가 소정 횟수 반복하여 인가되는 예를 나타낸다.
과도기간(TT)에 선택된 행으로 주사신호가 인가되는 횟수 및 제어신호가 인가되는 횟수는 과도기간(TT)의 길이에 따라 결정될 수 있다. 예컨대, 과도기간(TT)의 길이가 주사신호의 주사시간의 j배로 설정된 경우, 주사신호와 제어신호는 선택된 행의 주사선과 제어선으로 j배 반복하여 인가될 수 있다.
이어서 유효기간(ET)에 주사신호에 의해 표시영역(DA)의 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)이 차례로 선택되면 기준전압이 데이터선(DL1 내지 DLk)들로 인가되어 화소(P)들로 기준전압이 인가될 수 있다. 그리고, 제어신호가 제어선들(CL1 내지 CLn)로 차례로 인가될 수 있다. 제어신호는 주사신호와 중첩할 수 있다.
센싱부(140)는 과도기간(TT)에 표시영역(DA)에서 선택된 행의 화소(P)들을 복수 횟수 센싱하여 생성한 센싱데이터는 더미데이터(DD)로서 보상부(170)로 출력하지 않을 수 있다. 센싱부(140)는 유효기간(ET)에 표시영역(DA)에서 순차적으로 선택된 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)의 화소(P)들을 센싱하여 생성한 센싱데이터(SD1 내지 SDn)를 메모리(148)에 저장한 후 보상부(170)로 출력할 수 있다.
도 13은 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 14는 도 13의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 13에 도시된 실시예는 센싱부(140)에 더미 센싱채널(DS-CH)이 추가된 점에서 도 11에 도시된 표시패널(110)과 상이하다.
도 13을 참조하면, 센싱부(140)는 복수의 센싱채널들(S-CH1 내지 S-CHk)을 포함할 수 있다. 센싱부(140)는 더미 AFE(DAFE)(142')와 더미 AFE(142')와 ADC(146) 사이의 더미 스위칭 소자(DSW)로 구성되는 더미 센싱채널(DS-CH)을 더 포함할 수 있다. 더미 센싱채널(DS-CH)은 표시패널(110)의 센싱선(SL)에 연결되지 않을 수 있다.
도 14를 참조하면, 과도기간(TT)에 더미 센싱채널(DS-CH)의 더미 스위칭 소자(DSW)를 소정 횟수 반복하여 턴-온시키고, ADC(146)에서 더미 센싱채널(DS-CH)에서 출력되는 데이터를 더미데이터(ADD)로서 반복하여 생성할 수 있다. 일 실시예에서 더미 센싱채널(DS-CH)의 더미 AFE(142')로 소정의 신호가 인가될 수 있다. 예컨대, 더미 센싱채널(DS-CH)의 더미 AFE(142')로 기준전압에 대응하는 소정의 전압 또는 전류가 인가될 수 있다. 더미 센싱채널(DS-CH)이 ADC(146)에 연결되는 횟수는 과도기간(TT)의 길이에 따라 결정될 수 있다.
이어서 유효기간(ET)에 주사신호에 의해 표시영역(DA)의 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)이 차례로 선택되면 기준전압이 데이터선(DL1 내지 DLk)들로 인가되어 화소(P)들로 기준전압이 인가될 수 있다. 그리고, 제어신호가 제어선들(CL1 내지 CLn)로 차례로 인가될 수 있다. 제어신호는 주사신호와 중첩할 수 있다.
센싱부(140)는 과도기간(TT)에 더미 센싱채널(DS-CH)을 복수 횟수 구동하여 생성한 더미데이터(ADD)는 보상부(170)로 출력하지 않을 수 있다. 센싱부(140)는 유효기간(ET)에 표시영역(DA)의 제1 내지 제n행들(R1 내지 Rn)의 화소(P)들을 센싱하여 생성한 센싱데이터(SD1 내지 SDn)를 메모리(148)에 저장한 후 보상부(170)로 출력할 수 있다.
도 15는 일 실시예에 따라 도 6의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 16은 도 15의 표시장치에서 센싱기간에 인가되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 15에 도시된 실시예는 센싱부(140)에 IC 캘리브레이션을 위한 전류원(IREF)과, 전류원(IREF)과 복수의 AFE들(AFE1 내지 AFEk) 각각의 사이에 구비된 전류 스위칭 소자들(SI1 내지 SIk)이 더 추가된 점에서 도 11에 도시된 표시패널(110)과 상이하다.
일 실시예에서 센싱부(140)는 센싱기간에 IC 캘리브레이션을 수행할 수 있다. 표시패널(110)의 센싱모드 진입 시 과도기간이 존재하는 것과 유사하게, IC 캘리브레이션의 초기에 과도기간이 존재할 수 있다. 센싱부(140)는 IC 캘리브레이션을 수행하는 센싱기간의 과도기간 동안 임의의 센싱채널을 소정 횟수 반복하여 ADC(146)에 연결하고, 이 기간동안 생성된 센싱데이터는 더미데이터로 처리할 수 있다. 도 16은 과도기간에 제1센싱채널(S-CH1)을 소정 횟수 반복하여 ADC(146)에 연결하는 예를 나타낸다.
도 16을 참조하면, 표시장치가 IC 캘리브레이션을 수행하는 경우, 과도기간(TT)에 센싱부(140)는 전류 스위칭 소자들(SI1 내지 SIk) 중 제1센싱채널(S-CH1)에 연결된 전류 스위칭 소자(SI1)을 소정 횟수 반복하여 턴-온하여 전류원(IREF)으로부터의 전류를 제1센싱채널(S-CH1)의 AFE(AFE1)로 공급할 수 있다. 센싱부(140)는 전류 스위칭 소자(SI1)의 턴-온에 대응하여 제1센싱채널(S-CH1)의 스위칭 소자(SW1)를 소정 횟수 반복하여 턴-온함으로써 제1센싱채널(S-CH1)의 AFE(AFE1)를 ADC(146)에 소정 횟수 반복하여 연결할 수 있다.
이어서 유효기간(ET)에 전류 스위칭 소자들(SI1 내지 SIk)이 순처적으로 턴-온되며 전류원(IREF)으로부터의 전류를 AFE들(AFE1 내지 AFEk) 각각으로 제공할 수 있다.
센싱부(140)는 과도기간(TT)에 제1센싱채널(S-CH1)로부터 복수 횟수 출력되는 아날로그 데이터를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하고 이를 더미데이터(ADD)로 처리하여 보상부(170)로 출력하지 않을 수 있다. 센싱부(140)는 제1 내지 제k센싱채널들(S-CH1 내지 S-CHk)로부터 출력되는 아날로그 데이터를 디지털 형태의 센싱데이터(AD1 내지 ADk)로 변환하여 메모리(148)에 저장한 후 보상부(170)로 출력할 수 있다.
전술된 실시예들은 열마다 센싱선이 구비되고 있으나, 다른 실시예에서 센싱선은 복수의 열에 공유될 수 있다.
도 17은 일 실시예에 따른 표시패널을 개략적으로 나타낸 도면이다.
본 실시예에서, 제1화소(P1), 제2화소(P2), 제3화소(P3)의 집합을 단위 화소(UP)라 한다. 제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3) 각각은 표시요소를 포함할 수 있다. 표시요소는 화소회로에 연결될 수 있다. 표시요소는 유기발광다이오드, 또는 퀀텀닷 유기발광다이오드 등을 포함할 수 있다.
도 17을 참조하면, 표시패널(110)에는 단위 화소(UP)가 제1방향(D1) 및 제2방향(D2)으로 배열될 수 있다. 즉, 제1화소(P1), 제2화소(P2), 제3화소(P3)는 제1방향으로 교대로 배열될 수 있다. 예컨대, 제1화소(P1)들은 제1서브열(SC1)에 배열되고, 제2화소(P2)들은 제1서브열(SC1)에 인접한 제2서브열(SC2)에 배열되고, 제3화소(SP3)는 제2서브열(SC2)에 인접한 제3서브열(SC3)에 배열될 수 있다. 제1 내지 제3서브열들(SC1, SC2, SC3)을 하나의 열이라 한다.
제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3) 각각은 복수의 주사선(GL)들 중 대응하는 주사선 및 복수의 데이터선(DL)들 중 대응하는 데이터선에 연결될 수 있다. 예컨대, 제1화소(P1)는 제1서브열(SC1)에 배치된 데이터선(DL)에 연결되고, 제2화소(P2)는 제2서브열(SC2)에 배치된 데이터선(DL)에 연결되고, 제3화소(P3)는 제3서브열(SC3)에 배치된 데이터선(DL)에 연결될 수 있다.
또한 제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3) 각각은 복수의 제어선(CL)들 중 대응하는 제어선 및 복수의 센싱선(SL)들 중 대응하는 센싱선에 연결될 수 있다. 각 행에 하나의 제어선(CL)이 구비되고, 단위 화소(UP)를 구성하는 동일 행의 제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3)은 하나의 제어선(CL)을 공유할 수 있다. 제1방향으로 인접하고, 각 화소열에서 단위 화소(UP)를 구성하는 제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3)은 하나의 센싱선(SL)을 공유할 수 있다.
예컨대, 제1화소(P1)의 센싱기간에, 제k행의 주사선(GL)과 제어선(CL)으로 각각 주사신호와 제어신호가 인가되면, 제k행의 제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3) 각각의 제2트랜지스터(T2)와 제3트랜지스터(T3)가 턴온되어 커패시터(Cst)가 충전될 수 있다. 이때 센싱하고자 하는 제1화소(P1)의 데이터선(DL)을 통해 기준전압이 공급되어 제1트랜지스터(T1)가 턴온되고, 그 외 제2화소(P2)와 제3화소(P3)의 데이터선(DL)에는 제1트랜지스터(T1)가 턴오프되는 전압(예컨대, 0V)이 인가될 수 있다. 이에 따라 제1 내지 제3화소들(P1, P2, P3) 중 하나가 센싱선(SL)에 선택적으로 연결될 수 있다.
본 발명의 실시예들은 과도기간(TT)에 자동으로 표시패널의 일부영역(예컨대, 더미영역 또는 표시영역 내 일부 행)을 1회 또는 복수회 센싱하여 더미데이터로 처리하고, 입력전원이 안정화되는 유효기간(ET)에 표시패널 전체를 행 단위로 순차적으로 센싱한 결과로 보상값을 생성함으로써 보다 정확한 센싱데이터를 확보할 수 있다.
이와 같이 본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 하여 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 실시예의 변형이 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
10: 표시장치
110: 표시패널
120: 주사 구동부
130: 제어선 구동부
140: 센싱부
150: 데이터 구동부
160: 제어부
170: 보상부

Claims (20)

  1. 표시기간 및 센싱기간으로 구동하고, 상기 센싱기간이 과도기간과 과도기간에 후속하는 유효기간을 포함하는 표시장치에 있어서,
    복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시패널;
    상기 센싱선들을 통해 상기 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 센싱부; 및
    상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 보상부;를 포함하고,
    상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 표시패널의 일부영역에 배치된 화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 표시패널은 표시영역 및 상기 표시영역 주변의 비표시영역에 더미영역을 포함하고,
    상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미영역에 배치된 더미화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 더미영역은 복수의 더미행들을 포함하고,
    상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미행들에 배치된 더미화소들을 행 단위로 순차적으로 1회 센싱하는, 표시장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 더미영역은 하나의 더미행을 포함하고,
    상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미행에 배치된 더미화소들을 복수회 센싱하는, 표시장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 더미영역은 상기 표시영역의 첫번째 행에 인접한, 표시장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 센싱부는 상기 더미데이터를 상기 보상부로 출력하지 않는, 표시장치.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 센싱부는 상기 유효기간에 상기 표시영역에 배치된 화소들을 행 단위로 순차적으로 선택하여 특성정보를 센싱하는, 표시장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 표시패널의 표시영역에 배치된 화소들 중 임의의 행에 배치된 화소들의 특성정보를 복수회 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 센싱부는 상기 유효기간에 상기 표시영역에 배치된 화소들을 행 단위로 순차적으로 선택하여 특성정보를 센싱하는, 표시장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 센싱부는,
    상기 복수의 센싱선들에 1:1로 연결되고, 행 단위로 특성정보를 홀드하는 복수의 아날로그 프론트 앤드(AFE)들; 및
    상기 복수의 AFE들에 순차적으로 연결되어 특성정보를 센싱데이터로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC);를 포함하는 표시장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 AFE들 각각과 상기 ADC 사이에 구비된 복수의 스위칭 소자들;을 더 포함하는 표시장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 화소들로 주사신호를 인가하는 주사구동부; 및
    상기 센싱기간에 상기 복수의 화소들로 기준전압을 인가하고, 상기 구동기간에 상기 복수의 화소들로 데이터신호를 인가하는 데이터구동부;를 더 포함하는 표시장치.
  13. 표시기간 및 센싱기간으로 구동하고, 상기 센싱기간이 과도기간과 과도기간에 후속하는 유효기간을 포함하는 표시장치에 있어서,
    복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시패널;
    상기 센싱선들을 통해 상기 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 센싱부; 및
    상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 보상부;를 포함하고,
    상기 센싱부는,
    상기 복수의 센싱선들에 1:1로 연결되고, 행 단위로 특성정보를 홀드하는 복수의 아날로그 프론트 앤드(AFE)들;
    상기 복수의 AFE들에 순차적으로 연결되어 특성정보를 센싱데이터로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC); 및
    더미 AFE;를 포함하고,
    상기 센싱부는 상기 과도기간에 상기 더미 AFE를 복수회 상기 ADC에 연결하는, 표시장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 AFE들 각각과 상기 ADC 사이에 구비된 복수의 스위칭 소자들; 및
    상기 더미 AFE와 상기 ADC 사이에 구비된 더미 스위칭 소자;를 더 포함하는 표시장치.
  15. 표시기간 및 센싱기간으로 구동하는 표시장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 센싱기간이 과도기간과 과도기간에 후속하는 유효기간을 포함하고,
    상기 구동 방법은,
    복수의 센싱선들, 및 각각이 상기 복수의 센싱선들 중 대응하는 센싱선에 연결된 복수의 화소들의 특성정보를 센싱하고, 상기 특성정보를 디지털 형태의 센싱데이터로 변환하는 단계; 및
    상기 센싱데이터를 기초로 제1데이터를 제2데이터로 변환하는 단계;를 포함하고,
    상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 표시패널의 일부영역에 배치된 화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치의 구동 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 표시패널은 표시영역 및 상기 표시영역 주변의 비표시영역에 더미영역을 포함하고,
    상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 더미영역에 배치된 더미화소들의 특성정보를 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치의 구동 방법.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 더미영역은 복수의 더미행들을 포함하고,
    상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 더미행들에 배치된 더미화소들을 행 단위로 순차적으로 1회 센싱하고, 센싱된 특성정보를 더미데이터로 처리하는, 표시장치의 구동 방법.
  18. 제15항에 있어서,
    상기 더미영역은 하나의 더미행을 포함하고,
    상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 더미행에 배치된 더미화소들을 복수회 센싱하고, 센싱된 특성정보를 더미데이터로 처리하는, 표시장치의 구동 방법.
  19. 제15항에 있어서,
    상기 더미영역은 상기 표시영역의 첫번째 행에 인접한, 표시장치의 구동 방법.
  20. 제15항에 있어서,
    상기 센싱데이터 변환 단계는, 상기 과도기간에 상기 표시패널의 표시영역에 배치된 화소들 중 임의의 행에 배치된 화소들의 특성정보를 복수회 센싱하여 더미데이터로 처리하는, 표시장치.
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