KR20220046821A - 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전극조립체의 적층 불량 여부를 초기에 검출할 수 있는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀에 관한 것이다.
Description
본 발명은 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀에 관한 것이다.
최근, 충방전이 가능한 이차전지는 와이어리스 모바일 기기의 에너지원으로 광범위하게 사용되고 있다. 또한, 이차전지는, 화석 연료를 사용하는 기존의 가솔린 차량, 디젤 차량 등의 대기오염 등을 해결하기 위한 방안으로 제시되고 있는 전기자동차, 하이브리드 전기자동차 등의 에너지원으로서도 주목받고 있다. 따라서, 이차전지를 사용하는 애플리케이션의 종류는 이차전지의 장점으로 인해 매우 다양화되고 있으며, 향후에는 지금보다는 많은 분야와 제품들에 이차전지가 적용될 것으로 예상된다.
이러한 이차전지는 전극과 전해액의 구성에 따라 리튬이온 전지, 리튬이온폴리머 전지, 리튬 폴리머 전지 등으로 분류되기도 하며, 그 중 전해액의 누액 가능성이 적으며, 제조가 용이한 리튬 이온 폴리머 전지의 사용량이 늘어나고 있다. 일반적으로, 이차전지는 전지케이스의 형상에 따라, 전극조립체가 원통형 또는 각형의 금속 캔에 내장되어 있는 원통형 전지 및 각형 전지와, 전극조립체가 알루미늄 라미네이트 시트의 파우치형 케이스에 내장되어 있는 파우치형 전지로 분류되며, 전지케이스에 내장되는 전극조립체는 양극, 음극, 및 상기 양극과 음극 사이에 개재된 분리막 구조로 이루어져 충방전이 가능한 발전소자로서, 활물질이 도포된 긴 시트형의 양극과 음극 사이에 분리막을 개재하여 권취한 젤리-롤형과 소정 크기의 다수의 양극과 음극을 분리막에 개재된 상태에서 순차적으로 적층한 스택형으로 분류된다.
이 중, 전지의 고용량화로 인해 케이스의 대면적화 및 얇은 소재로의 가공이 많은 관심을 모으고 있고, 이에 따라, 스택형 또는 스택/폴딩형 전극조립체를 알루미늄 라미네이트 시트의 파우치형 전지케이스에 내장한 구조의 파우치형 전지가 낮은 제조비, 작은 중량, 용이한 형태 변형 등을 이유로, 사용량이 점차적으로 증가하고 있다.
도 1은 종래의 전극 제조공정을 나타낸 모식도이며, 도 2는 전극조립체의 구조를 보여주는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 종래의 전극 제조방법에서는 집전체(1) 상에 전극 활물질을 포함하는 전극 슬러리를 도포하여 전극 활물질(2)을 형성하고, 이를 건조 및 압연한 후 노칭하여 전극이 제조되었다. 양극의 경우, 양극 집전체 상에 양극 활물질을 포함하는 양극 슬러리를 도포함으로써 제조되며, 음극의 경우 음극 집전체 상에 음극 활물질을 포함하는 음극 슬러리를 도포함으로써 제조될 수 있다.
이렇게 제조된 양극(13) 및 음극(14)은 분리막(15)과 교번 적층되어 전극조립체(12) 형태로 제조되어 전지 케이스 내부에 내장됨으로써 전지 셀(10)이 제조된다. 한편, 정상적인 전극조립체(12)는 음극(14)의 가로 및 세로 길이가 양극(13)의 가로 및 세로 길이보다 각각 길게 재단되어 음극(14)이 양극(13)을 덮는 구조를 갖는다. 그러나, 전극조립체(12)의 제조시 양극(13) 또는 음극(14)의 배열이 정위치를 벗어남으로써 양극(13)의 단부가 음극(14)의 단부를 넘어서는 전극조립체(12)의 적층 불량 현상이 발생하는 경우가 있다. 즉, 음극(14)의 오버행 영역에 양극의 오버행 현상(A, B)이 발생할 수 있다.
상술한 바와 같이 전극조립체(12)의 적층 불량 현상이 발생하는 경우, 양극(13)과 음극(14)이 직접적으로 접촉하거나, 충방전에 따라 음극(14)으로부터 누적된 리튬 석출물이 양극과 접촉하여 단락 등의 문제가 발생할 수 있다.
따라서, 전극조립체의 제조시 적층 불량 여부를 초기에 검출할 수 있는 방법이 필요한 실정이다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, 전극조립체의 적층 불량 여부를 초기에 검출할 수 있는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀을 제공하고자 한다.
본 발명은 전극조립체의 적층 불량 검출 방법을 제공한다. 하나의 예에서, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 음극 일면의 일측 또는 양측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재를 형성하는 단계; 음극의 일면에 분리막과 양극을 순차적으로 적층하여 전극조립체를 제조하는 단계; 및 전극조립체의 두께를 측정하여, 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
하나의 예에서, 상기 절연 부재를 형성하는 단계는, 음극 일면의 일측 단부의 오버행 영역에 절연 부재를 형성하는 과정을 포함한다. 구체적인 예에서, 상기 절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)는, 양극의 폭 길이(W2)와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조를 갖는다.
다른 하나의 예에서, 상기 절연 부재를 형성하는 단계는, 음극 일면의 양측 단부의 오버행 영역에 각각 제1 및 제2 절연 부재를 형성하는 과정을 포함한다. 구체적인 예에서, 상기 제1 및 제2 절연 부재의 간격(L)은 양극의 폭 길이(W2) 와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조를 갖는다.
아울러, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법에서 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계는, 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합을 초과하는 경우, 적층 불량 전극조립체로 판단하는 과정을 포함한다.
다른 하나의 예에서, 상기 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계는, 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합과 대응되는 경우, 정상의 전극조립체로 판단하는 과정을 포함한다.
한편, 상기 전극조립체는, 양극/음극/양극 구조의 바이셀(bi-cell) 또는 양극/음극 구조의 모노셀(mono-cell) 단위를 하나 이상 포함하는 구조일 수 있다.
아울러, 본 발명은 전극조립체를 제공한다. 하나의 예에서, 본 발명에 따른 전극조립체는 음극 및 양극, 상기 음극과 양극 사이에 분리막이 개재된 구조이며, 상기 음극은, 음극 일면의 일측 또는 양측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재가 형성된 구조를 갖는다.
나아가, 본 발명은 상기 전극조립체를 포함하는 전지 셀을 제공한다.
본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀은 음극의 오버행 영역에 절연 부재를 형성한 후, 전극조립체를 제조하고, 상기 전극조립체의 두께를 측정함으로써, 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
특히, 전지 셀의 제조시 전해액 주액이나, 포장 절차 전에 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
도 1은 종래의 전극 제조공정을 나타낸 모식도이다.
도 2는 전극조립체의 구조를 보여주는 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출방법을 나타낸 흐름도이다.
도 4 내지 도 5는 본 발명의 하나의 실시예에서 절연 부재를 포함하는 전극조립체의 적층 구조를 보여주는 단면도이다.
도 6 내지 도 8은 본 발명의 다른 하나의 실시예에서 절연 부재를 포함하는 전극조립체의 적층 구조를 보여주는 단면도이다.
도 2는 전극조립체의 구조를 보여주는 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출방법을 나타낸 흐름도이다.
도 4 내지 도 5는 본 발명의 하나의 실시예에서 절연 부재를 포함하는 전극조립체의 적층 구조를 보여주는 단면도이다.
도 6 내지 도 8은 본 발명의 다른 하나의 실시예에서 절연 부재를 포함하는 전극조립체의 적층 구조를 보여주는 단면도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "하에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 또한, 본 출원에서 "상에" 배치된다고 하는 것은 상부뿐 아니라 하부에 배치되는 경우도 포함하는 것일 수 있다.
본 발명은 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀에 관한 것이다.
일반적으로, 전극 슬러리가 도포된 양극과 음극은 분리막과 교번 적층되어 전극조립체의 형태로 제조되어 케이스 내부에 내장됨으로써 전지 셀이 제조된다. 한편, 정상적인 전극조립체는 음극의 가로 및 세로 길이가 양극의 가로 및 세로 길이보다 각각 길게 재단되어 음극이 양극을 덮는 구조를 갖는다. 그러나, 전극조립체의 제조시 양극 또는 음극의 배열이 정위치를 벗어남으로써 양극의 단부가 음극의 단부를 넘어서는 전극조립체의 적층 불량 현상이 발생하는 경우가 있다. 이러한 경우, 양극과 음극이 직접적으로 접촉하거나, 충방전에 따라 음극으로부터 누적된 리튬 석출물이 양극과 접촉하여 단락 등의 문제가 발생할 수 있다.
이에, 본 발명에서는 전극조립체의 적층 불량 여부를 초기에 검출할 수 있는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법을 제공한다. 특히, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 음극의 오버행 영역에 절연 부재를 형성한 후, 전극조립체를 제조하고, 상기 전극조립체의 두께를 측정함으로써, 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있는 이점이 있다.
이하, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법, 절연 부재를 포함하는 전극조립체 및 이를 포함하는 전지 셀을 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출방법을 나타낸 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 음극 일면의 일측 또는 양측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재를 형성하는 단계(S10); 음극의 일면에 분리막과 양극을 순차적으로 적층하여 전극조립체를 제조하는 단계(S20); 및 전극조립체의 두께를 측정하여, 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계(S30)를 포함한다.
본 발명에서 "음극의 오버행 영역" 이라 함은, 음극의 일측 단부 또는 양측 단부에서 소정의 폭 영역을 의미한다. 구체적으로, 전극조립체의 제조시 음극의 가로 및 세로 길이는 양극의 가로 및 세로 길이 보다 각각 길게 재단되어 음극이 양극을 덮는 구조를 갖는다. 이때, 상기 음극의 오버행 영역은 음극이 양극을 덮을 때, 양극이 포함되지 않은 음극의 영역을 의미한다. 나아가, 상기 음극의 오버행 영역은 음극에서 전극 탭이 배치된 영역 및/또는 그 반대 영역의 폭을 의미할 수 있다.
본 발명에서는 상기 음극의 오버행 영역에 절연 부재를 형성한 후 음극, 분리막 및 양극을 순차적으로 적층한 전극조립체의 두께를 측정하여, 상기 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단할 수 있다. 구체적인 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 후술하도록 한다.
하나의 예에서, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 음극 일면의 일측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재를 형성하는 과정을 포함한다. 구체적인 예에서, 상기 절연 부재는 접착 또는 코팅 등의 공정을 이용하여 상기 음극의 일면에 형성된다.
하나의 예에서, 상기 절연 부재의 폭은 1 내지 500㎛ 범위, 5 내지 300㎛ 범위, 10 내지 100㎛ 범위, 또는 10 내지 50㎛ 범위일 수 있다. 아울러, 상기 절연 부재의 높이는 1 내지 500㎛ 범위, 5 내지 300㎛ 범위, 10 내지 100㎛ 범위, 10 내지 40㎛ 범위일 수 있다. 다만, 상기 절연 부재의 폭과 높이는 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 절연 부재의 폭과 높이는 전극조립체의 제조시 적층되는 음극과 양극의 구조 또는 크기에 따라서 달라질 수 있다.
한편, 상기 절연 부재의 폭이 너무 클 경우, 음극의 오버행 영역을 초과하여 형성될 수 있으므로 적당한 폭을 갖는 것이 바람직하다. 아울러, 상기 절연 부재의 높이가 너무 높을 경우, 정상의 전극조립체일 때에도 절연 부재의 높이도 함께 측정될 수 있다. 따라서, 상기 절연 부재의 높이는 양극 또는 양극 활물질층의 높이를 초과하지 않는 것이 바람직하다.
상기 절연 부재는 전기적으로 안정한 물질인 것이 바람직하며, 음극에서, 상기 절연 부재의 영역은 정상의 전지 셀에서 용량 발현이 않는 영역일 수 있다. 상기 절연 부재는 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리에테르이미드, 폴리아세탈, 폴리술폰, 폴리에테르에테르케톤, 폴리에스테르, 폴리아미드, 폴리스티렌, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리페닐렌, 폴리테트라플루오로에틸렌, 폴리실록산, 폴리이미드, 폴리비닐리덴플루오라이드 및 이들의 공중합체 또는 이들의 혼합물을 포함할 수 있다. 예를 들어, 절연 부재는 폴리에틸렌이 음극 일측 단부의 오버행 영역에서 소정의 폭과 높이를 갖도록 코팅하여 형성될 수 있다.
이때, 상기 절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)는, 양극의 폭 길이(W2)와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조일 수 있다. 이는, 상기 절연 부재가 음극의 오버행 영역에만 위치하는 것을 의미한다. 일반적으로, 음극의 폭 길이는 양극의 폭 길이 보다 큰 구조인데, 상기 절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)가 양극의 폭 길이(W2) 보다 작은 구조인 경우, 절연 부재가 음극의 오버행 영역을 초과하여 형성된 구조일 수 있다. 아울러, 절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)가 양극의 폭 길이(W2) 보다 작은 구조인 경우, 양극을 음극 상부에 적층할 때, 상기 양극이 절연 부재 상부에 적층되어 전극조립체의 적층 불량이 발생할 수 있다.
한편, 음극의 상부에 양극을 적층할 때, 양극의 일단부가 절연 부재가 형성된 음극의 오버행 영역에 배치되거나, 상기 음극의 오버행 영역을 초과하여 배치되는 경우 전극조립체의 적층 불량으로 판단할 수 있다.
다른 하나의 예에서, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 음극 일면의 양측 단부의 오버행 영역에 각각 제1 및 제2 절연 부재를 형성하는 과정을 포함한다.
이때, 제1 및 제2 절연 부재의 간격(L)은 양극의 폭 길이(W2) 와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조일 수 있다. 상기 제1 및 제2 절연 부재의 간격(L)은 절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이를 의미한다. 상술한 바와 같이, 통상적인 음극의 폭 길이는 양극의 폭 길이 보다 큰 구조인데, 상기 절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)가 양극의 폭 길이(W2) 보다 작은 구조인 경우, 절연 부재가 음극의 오버행 영역을 초과하여 형성된 구조일 수 있다. 아울러, 제1 및 제2 절연 부재의 간격(L)이 양극의 폭 길이(W2) 보다 작은 구조인 경우, 양극을 음극 상부에 적층할 때, 상기 양극이 절연 부재 상부에 적층되어 전극조립체의 적층 불량이 발생할 수 있다.
한편, 음극의 상부에 양극을 적층할 때, 양극의 일단부가 절연 부재가 형성된 음극의 오버행 영역에 배치되거나, 상기 음극의 오버행 영역을 초과하여 배치되는 경우 전극조립체의 적층 불량으로 판단할 수 있다.
하나의 예에서, 본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 상기 절연 부재가 형성된 음극의 일면에 분리막과 양극을 순차적으로 적층하여 전극조립체를 제조하는 단계(S20)를 포함한다. 아울러, 상기 제조한 전극조립체의 두께를 측정하여 제조된 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단할 수 있다.
본 발명에 따른 전극조립체의 적층 불량 검출 방법은 전극조립체의 두께를 측정하여, 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계(S30)를 포함한다.
하나의 예에서, 상기 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계(S30)는, 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합을 초과하는 경우, 적층 불량 전극조립체로 판단하는 과정을 포함한다. 상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 음극은 일측 단부의 오버행 영역에 절연 부재가 형성된 구조이다. 만일, 음극의 오버행 영역에 양극이 적층되는 경우에는 상기 양극은 절연 부재의 상부에 적층되어, 전극조립체의 두께 측정 시 절연 부재의 두께도 함께 측정될 수 있다. 이에 따라, 적층 불량 전극조립체의 두께는 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합을 초과하여 측정될 수 있다. 즉, 제조된 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합을 초과하는 경우, 적층 불량 전극조립체로 판단할 수 있다.
예를 들어, 음극, 분리막 및 양극의 두께가 각각 80㎛, 20㎛ 및 100㎛ 일 때, 제조된 전극조립체의 두께가 200㎛ 을 초과한다면, 제조된 전극조립체는 적층 불량 전극조립체이다.
다른 하나의 예에서, 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계(S30)는, 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합과 대응되는 경우, 정상의 전극조립체로 판단하는 과정을 포함한다. 이는, 양극이 음극 상부에 적층될 때, 절연 부재가 형성되지 않은 영역에 적층된 것을 의미한다.
예를 들어, 음극, 분리막 및 양극의 두께가 각각 80㎛, 20㎛ 및 100㎛ 일 때, 제조된 전극조립체의 두께가 200㎛ 이라면, 제조된 전극조립체는 정상의 전극조립체이다.
하나의 예에서, 상기 전극조립체는, 양극/음극/양극 구조의 바이셀(bi-cell) 또는 양극/음극 구조의 모노셀(mono-cell) 단위를 하나 이상 포함할 수 있다. 구체적인 예에서, 전극조립체는 양극/분리막/음극의 모노셀일 수 있으며, 상기 모노셀은 양극과 음극 사이에 분리막이 개재되어 있으며, 분리막은 양극 및 음극 보다 면적이 더 커서, 양극 및 음극으로부터 돌출되는 구조일 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 적층된 전극조립체의 두께 측정만으로 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
특히, 본 발명에 따르면, 음극과 양극을 적층한 것 만으로도 전극조립체의 두께 측정이 가능하여, 전해액 주액, 파우치/캔 등의 외장재 포장 절차 전에 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
아울러, 본 발명은 전극조립체를 제공한다. 보다 구체적으로, 본 발명은 음극 및 양극, 상기 음극과 양극 사이에 분리막이 개재된 전극조립체에 관한 것으로, 상기 음극은, 음극 일면의 일측 또는 양측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재가 형성된 구조를 갖는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이, 음극에는 절연 부재를 포함하고 있어, 전극조립체의 제조시 적층 불량 여부를 초기에 검출할 수 있다.
본 발명에서, 양극은, 양극 집전체의 일면 또는 양면에 양극 합제층이 적층된 구조이다. 하나의 예에서, 양극 합제층은 양극 활물질, 도전재 및 바인더 고분자 등을 포함되며, 필요에 따라, 당업계에서 통상적으로 사용되는 양극 첨가제를 더 포함할 수 있다.
상기 양극 활물질은 리튬 함유 산화물일 수 있으며, 동일하거나 상이할 수 있다. 상기 리튬 함유 산화물로는, 리튬 함유 전이금속 산화물이 사용될 수 있다.
예를 들어, 상기 리튬 함유 전이금속 산화물은, LixCoO2(0.5<x<1.3), LixNiO2(0.5<x<1.3), LixMnO2(0.5<x<1.3), LixMn2O4(0.5<x<1.3), Lix(NiaCobMnc)O2(0.5<x<1.3, 0<a<1, 0<b<1, 0<c<1, a+b+c=1), LixNi1-yCoyO2(0.5<x<1.3, 0<y<1), LixCo1-yMnyO2(0.5<x<1.3, 0≤y<1), LixNi1-yMnyO2(0.5<x<1.3, O≤y<1), Lix(NiaCobMnc)O4(0.5<x<1.3, 0<a<2, 0<b<2, 0<c<2, a+b+c=2), LixMn2-zNizO4(0.5<x<1.3, 0<z<2), LixMn2-zCozO4(0.5<x<1.3, 0<z<2), LixCoPO4(0.5<x<1.3) 및 LixFePO4(0.5<x<1.3)로 이루어진 군으로부터 선택되는 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 혼합물일 수 있으며, 상기 리튬 함유 전이금속 산화물은 알루미늄(Al) 등의 금속이나 금속산화물로 코팅될 수도 있다. 또한, 상기 리튬 함유 전이금속 산화물 외에 황화물(sulfide), 셀렌화물(selenide) 및 할로겐화물(halide) 중 1종 이상이 사용될 수 있다.
본 발명에 따른 양극은 다양한 형태의 리튬 이차전지에 적용 가능하나, 바람직하게는 고출력의 전지에 활용 가능하다. 본 발명의 양극 활물질층은 고함량 니켈(High-Ni)계 NCM 전지에 적용된다.
구체적인 예에서, 본 발명에 따른 양극 활물질층은, 하기 화학식 1 또는 화학식 2의 구조를 갖는 활물질 성분을 포함한다.
[화학식 1]
Lix(NiaCobMnc)O2
(0.5<x<1.3, 0.5<a<1, 0<b<0.25, 0<c<0.25, a+b+c=1)
상기 화학식 1에서, a값은 0.6 이상, 구체적으로는 0.8 이상이다. 상기 화학식 1에서, a값이 높아지면 b값 및/또는 c값은 위 화학식 1을 만족하는 범위 내에서 수치가 낮아진다. 이를 통해, 본 발명에 따른 리튬 이차전지용 양극은 고함량 니켈(High-Ni)계 NCM 이차전지에 적용된다.
[화학식 2]
Lix(NiaCobMncAld)O2
화학식 2에서, 0.5<x<1.3, 0.6<a<1, 0<b<0.2, 0<c<0.1, 0<d<0.1, a+b+c+d=1을 만족한다.
상기 화학식 2에서, a 값은 0.6 이상, 구체적으로, 0.8 이상, 보다 구체적으로, 0.83 이상이다.
상기 NCM 이차전지는 예를 들어, NCM 622, NCM 651520, NCM 712 또는 NCM 811(Ni≥80%) 일 수 있다. NCMA 의 경우, 코발트 비율을 줄이는 대신 알루미늄을 첨가하여 NCM 과 같은 안정석을 유지하면서 출력이 높다.
상기 양극에 사용되는 집전체는 전도성이 높은 금속으로, 양극 활물질 슬러리가 용이하게 접착할 수 있는 금속이면서, 전기화학소자의 전압 범위에서 반응성이 없는 것이면 어느 것이라도 사용할 수 있다. 구체적으로 양극용 집전체의 비제한적인 예로는 알루미늄, 니켈 또는 이들의 조합에 의하여 제조되는 호일 등이 있다.
상기 양극 활물질은 양극 합제층 중에 90.0 내지 98.5 중량% 범위로 포함될 수 있다. 양극 활물질의 함량이 상기 범위를 만족할 때 고용량 전지의 제작, 그리고 충분한 양극의 도전성이나 전극재간 접착력을 부여하는 면에서 유리하다.
상기 양극에 사용되는 집전체는 전도성이 높은 금속으로, 양극 활물질 슬러리가 용이하게 접착할 수 있는 금속이면서, 이차전지의 전압 범위에서 반응성이 없는 것이면 어느 것이라도 사용할 수 있다. 구체적으로 양극용 집전체의 비제한적인 예로는 알루미늄, 니켈 또는 이들의 조합에 의하여 제조되는 호일 등이 있다.
양극 합제층은 도전재를 더 포함한다. 상기 도전재는 통상적으로 양극 활물질을 포함한 혼합물 전체 중량을 기준으로 1 내지 30 중량%로 첨가된다. 이러한 도전재는 이차전지에 화학적 변화를 유발하지 않으면서 도전성을 가진 것이라면 특별히 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 상기 도전재로는 천연 흑연이나 인조 흑연 등의 흑연; 카본블랙, 아세틸렌 블랙, 케첸 블랙, 채널 블랙, 퍼네이스 블랙, 램프 블랙, 서머 블랙 등의 카본블랙; 탄소 섬유나 금속 섬유 등의 도전성 섬유; 불화 카본, 알루미늄, 니켈 분말 등의 금속 분말; 산화아연, 티탄산 칼륨 등의 도전성 위스키; 산화 티탄 등의 도전성 금속 산화물; 폴리페닐렌 유도체, 카본 나토 튜브(CNT) 등이 사용될 수 있다.
바인더 성분으로는 당업계에서 통상적으로 사용되는 바인더 고분자가 제한없이 사용될 수 있다. 예를 들면, 폴리비닐리덴 플루오라이드-헥사플루오로프로필렌(Poly(vinylidene fluoride-co-hexafluoropropylene), PVDF-co-HFP), 폴리비닐리덴 플루오라이드(polyvinylidene fluoride, PVDF), 폴리아크릴로니트릴(polyacrylonitrile), 폴리메틸 메타크릴레이트(polymethyl methacrylate), 스티렌-부타디엔 고무(styrene-butadiene rubber, SBR), 카르복실 메틸 셀룰로오스(carboxyl methyl cellulose, CMC) 등의 다양한 종류의 바인더가 사용될 수 있다.
상기 바인더 고분자 함량은 양극 합제층에 포함되는 도전재 함량에 비례한다. 이는 활물질에 비해 입자 크기가 상대적으로 매우 작은 도전재에 접착력을 부여하기 위함으로 도전재 함량이 증가하면 바인더 고분자가 더 필요하게 되고, 도전재 함량이 감소하면 바인더 고분자가 적게 사용될 수 있기 때문이다.
아울러, 상기 음극은, 상술한 바와 같이, 음극 집전체, 상기 음극 집전체 상에 형성된 이중층 구조의 합제층을 포함할 수 있다.
상기 음극에 사용되는 집전체의 비제한적인 예로는 구리, 금, 니켈 또는 구리 합금 또는 이들의 조합에 의하여 제조되는 호일 등이 있다. 또한, 상기 집전체는 상기 물질들로 이루어진 기재들을 적층하여 사용할 수도 있다.
상기 분리막은 리튬 이차전지에서 사용되는 다공성 기재라면 모두 사용이 가능하고, 예를 들면 폴리올레핀계 다공성 막(membrane) 또는 부직포를 사용할 수 있으나, 이에 특별히 한정되는 것은 아니다.
상기 폴리올레핀계 다공성 막의 예로는, 고밀도 폴리에틸렌, 선형 저밀도 폴리에틸렌, 저밀도 폴리에틸렌, 초고분자량 폴리에틸렌과 같은 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리부틸렌 또는 폴리펜텐 등의 폴리올레핀계 고분자를 각각 단독으로 또는 이들을 혼합한 고분자로 형성한 막(membrane)을 들 수 있다.
상기 부직포로는 폴리올레핀계 부직포 외에 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트(polyethyleneterephthalate), 폴리부틸렌테레프탈레이트(polybutyleneterephthalate), 폴리에스테르(polyester), 폴리아세탈(polyacetal), 폴리아미드(polyamide), 폴리카보네이트(polycarbonate), 폴리이미드(polyimide), 폴리에테르에테르케톤(polyetheretherketone), 폴리에테르설폰(polyethersulfone), 폴리페닐렌옥사이드(polyphenyleneoxide), 폴리페닐렌설파이드(polyphenylenesulfide) 또는 폴리에틸렌나프탈렌(polyethylenenaphthalene) 등을 각각 단독으로 또는 이들을 혼합한 고분자로 형성한 부직포를 들 수 있다.
부직포의 구조는 장섬유로 구성된 스폰본드 부직포 또는 멜트 블로운 부직포일 수 있다.
상기 다공성 기재의 두께는 특별히 제한되지 않으나, 5 내지 50㎛일 수 있고, 다공성 기재에 존재하는 기공 크기 및 기공도 역시 특별히 제한되지 않으나 각각 0.01 내지 50㎛ 및 10 내지 95 %일 수 있다.
한편, 상기 다공성 기재로 구성된 분리막의 기계적 강도 향상 및 양극과 음극 사이의 단락 억제를 위해, 상기 다공성 기재의 적어도 일면에, 무기물 입자와 바인더 고분자를 포함하는 다공성 코팅층을 더 포함할 수 있다.
전해액은 유기용매 및 전해질 염을 포함할 수 있으며, 상기 전해질 염은 리튬염이다. 상기 리튬염은 리튬 이차전지용 비수 전해액에 통상적으로 사용되는 것들이 제한 없이 사용될 수 있다. 예를 들어 상기 리튬염의 음이온으로는 F-, Cl-, Br-, I-, NO3 -, N(CN)2 -, BF4 -, ClO4 -, PF6 -, (CF3)2PF4 -, (CF3)3PF3 -, (CF3)4PF2 -, (CF3)5PF-, (CF3)6P-, CF3SO3 -, CF3CF2SO3 -, (CF3SO2)2N-, (FSO2)2N-, CF3CF2(CF3)2CO-, (CF3SO2)2CH-, (SF5)3C-, CF3(CF2)7SO3 -, CF3CO2 -, CH3CO2 -, SCN- 및 (CF3CF2SO2)2N-로 이루어진 군으로부터 선택되는 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상을 포함할 수 있다.
전술한 전해액에 포함되는 유기용매로는 리튬 이차전지용 전해액에 통상적으로 사용되는 것들을 제한없이 사용할 수 있으며, 예를 들면 에테르, 에스테르, 아미드, 선형 카보네이트 또는 환형 카보네이트 등을 각각 단독으로 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다. 그 중에서 대표적으로는 환형 카보네이트, 선형 카보네이트, 또는 이들의 혼합물인 카보네이트 화합물을 포함할 수 있다.
상기 환형 카보네이트 화합물의 구체적인 예로는 에틸렌 카보네이트(ethylene carbonate, EC), 프로필렌 카보네이트(propylene carbonate, PC), 1,2-부틸렌 카보네이트, 2,3-부틸렌 카보네이트, 1,2-펜틸렌 카보네이트, 2,3-펜틸렌 카보네이트, 비닐렌 카보네이트, 비닐에틸렌 카보네이트 및 이들의 할로겐화물로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 혼합물이 있다.
이들의 할로겐화물로는 예를 들면, 플루오로에틸렌 카보네이트(fluoroethylenecarbonate, FEC) 등이 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 상기 선형 카보네이트 화합물의 구체적인 예로는 디메틸 카보네이트(DMC), 디에틸 카보네이트(DEC), 디프로필 카보네이트, 에틸메틸 카보네이트(EMC), 메틸프로필 카보네이트 및 에틸프로필 카보네이트로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 혼합물 등이 대표적으로 사용될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
특히, 상기 카보네이트계 유기용매 중 환형 카보네이트인 에틸렌 카보네이트 및 프로필렌 카보네이트는 고점도의 유기용매로서 유전율이 높아 전해질 내의 리튬염을 보다 더 잘 해리시킬 수 있으며, 이러한 환형 카보네이트에 디메틸 카보네이트 및 디에틸 카보네이트와 같은 저점도, 저유전율 선형 카보네이트를 적당한 비율로 혼합하여 사용하면 보다 높은 전기 전도율을 갖는 전해액을 만들 수 있다.
또한, 상기 유기용매 중 에테르로는 디메틸 에테르, 디에틸 에테르, 디프로필 에테르, 메틸에틸 에테르, 메틸프로필 에테르 및 에틸프로필 에테르로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 혼합물을 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
그리고 상기 유기용매 중 에스테르로는 메틸 아세테이트, 에틸 아세테이트, 프로필 아세테이트, 메틸 프로피오 네이트, 에틸 프로피오네이트, 프로필 프로피오네이트, γ-부티로락톤, γ-발레로락톤, γ-카프로락톤, σ-발레로락톤 및 ε-카프로락톤으로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 혼합물을 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 비수 전해액의 주입은 최종 제품의 제조 공정 및 요구 물성에 따라, 이차전지의 제조 공정 중 적절한 단계에서 행해질 수 있다.
나아가, 본 발명은 전극조립체를 포함하는 전지 셀을 제공한다. 상기 전지 셀은 충방전이 가능한 이차 전지라면 특별히 제한되는 것은 아니다. 파우치형 전지 셀 또는 원통형의 전지 셀 일 수 있다.
구체적인 예에서, 전지 셀은 파우치형 전지 셀일 수 있다. 예를 들어, 상기 전지 셀은 파우치 타입의 단위 셀로, 라미네이트 시트 외장재에 양극/분리막/음극 구조의 전극조립체가 상기 외장재의 외부로 형성된 전극 리드들과 연결된 상태로 내장되어 있다. 상기 전극 리드는 시트 외측으로 인출되되 서로 동일한 방향 또는 반대 방향으로 연장될 수 있다.
이하, 도면과 실시예 등을 통해 본 발명을 보다 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
(제1 실시형태)
도 4 내지 도 5는 본 발명의 하나의 실시예에서 절연 부재를 포함하는 전극조립체의 적층 구조를 보여주는 단면도이다.
도 4을 참조하면, 본 발명에 따른 전극조립체(120)는 음극(130), 분리막(150) 및 양극(140)을 순차적으로 적층하여 전극조립체(120)를 제조한다. 이때, 상기 음극(130) 일면의 일측 단부의 오버행 영역(141)에는 절연 부재(160)가 형성된 구조이다.
아울러, 본 발명에서 절연 부재(160)가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)는 양극의 폭(W2)보다 큰 구조를 갖는다. 한편, 음극(140)의 상부에 양극(130)을 적층할 때, 양극(130)의 일단부가 음극의 오버행 영역(141)에 배치되거나, 상기 음극의 오버행 영역(141)을 초과하여 배치되는 경우 전극조립체(120)의 적층 불량으로 판단한다.
본 발명에서는 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)을 순차적으로 적층한 전극조립체(120)의 두께를 측정하여, 상기 전극조립체(120)의 적층 불량 여부를 판단한다. 한편, 전극조립체(120)의 두께는 절연 부재(160)가 위치한 영역의 두께를 측정한다. 구체적으로, 도 4에 도시된 바와 같이 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)을 순차적으로 적층한 전극조립체(120)의 두께를 측정하는 경우, 전극조립체의 두께는 200㎛가 된다. 이때, 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)의 두께는 각각 80㎛, 20㎛ 및 100㎛ 였다. 상기 전극조립체(120)의 두께는 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)의 두께 합과 대응되어 정상의 전극조립체(120)로 판단할 수 있다.
도 5에 도시된 바와 같이, 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)을 순차적으로 적층한 전극조립체(120)의 두께를 측정하는 경우, 전극조립체의 두께는 220㎛가 된다. 이때, 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)의 두께는 각각 80㎛, 20㎛ 및 100㎛ 였다. 상기 전극조립체(120)의 두께는 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)의 각 두께 합을 초과하여 적층 불량 전극조립체(120)로 판단할 수 있다.
구체적으로, 본 발명에서 음극(130)은 일측 단부의 오버행 영역(141)에 절연 부재(160)가 형성된 구조인데, 도 5에 도시된 전극조립체(120)는 양극(130)이 음극의 오버행 영역(141)에 적층되어 전극조립체(120)의 두께 측정 시 절연 부재(160)의 두께도 함께 측정된다. 이에 따라, 전극조립체(120)의 두께는 음극(140), 분리막(150) 및 양극(130)의 각 두께 합을 초과하여 측정될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 적층된 전극조립체의 두께 측정만으로 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
(제2 실시형태)
도 6 내지 도 8은 본 발명의 다른 하나의 실시예에서 절연 부재를 포함하는 전극조립체의 적층 구조를 보여주는 단면도이다.
도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 전극조립체(220)는 음극(230), 분리막(250) 및 양극(240)을 순차적으로 적층하여 전극조립체(220)를 제조한다. 이때, 상기 음극(230) 일면의 양측 단부의 오버행 영역(241, 242)에는 제1 및 제2 절연 부재(261, 262)가 형성된 구조이다.
아울러, 본 발명에서 제1 및 제2 절연 부재(261, 262)의 간격(L)은 양극의 폭 길이(W2) 와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조를 갖는다. 한편, 음극(240)의 상부에 양극(230)을 적층할 때, 양극(230)의 일단부가 음극의 오버행 영역(241, 242)에 배치되거나, 상기 음극의 오버행 영역(241, 242)을 초과하여 배치되는 경우 전극조립체(220)의 적층 불량으로 판단한다.
본 발명에서는 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)을 순차적으로 적층한 전극조립체(220)의 두께를 측정하여, 상기 전극조립체(220)의 적층 불량 여부를 판단한다. 한편, 전극조립체(220)의 두께는 절연 부재(260)가 위치한 영역의 두께를 측정한다. 구체적으로, 도 6에 도시된 바와 같이 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)을 순차적으로 적층한 전극조립체(220)의 두께를 측정하는 경우, 전극조립체의 두께는 200㎛가 된다. 이때, 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 두께는 각각 80㎛, 20㎛ 및 100㎛ 였다. 상기 전극조립체(220)의 두께는 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 두께 합과 대응되어 정상의 전극조립체(220)로 판단할 수 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 음극(240), 분리막(20) 및 양극(230)을 순차적으로 적층한 전극조립체(220)의 두께를 측정하는 경우, 전극조립체의 두께는 220㎛가 된다. 이때, 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 두께는 각각 80㎛, 20㎛ 및 100㎛ 였다. 상기 전극조립체(220)의 두께는 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 각 두께 합을 초과하여 적층 불량 전극조립체(220)로 판단할 수 있다.
구체적으로, 본 발명에서 음극(230)은 일측 단부의 오버행 영역(241)에 절연 부재(261)가 형성된 구조인데, 도 6에 도시된 전극조립체(220)는 양극(230)이 음극의 오버행 영역(241)에 적층되어 전극조립체(220)의 두께 측정 시 절연 부재(261)의 두께도 함께 측정된다. 이에 따라, 전극조립체(220)의 두께는 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 각 두께 합을 초과하여 측정될 수 있다.
나아가, 도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명에서 음극(230)은 타측 단부의 오버행 영역(242)에 절연 부재(262)가 형성된 구조인데, 도 8에 도시된 전극조립체(220)는 양극(230)이 음극의 오버행 영역(242)에 적층되어 전극조립체(220)의 두께 측정 시 절연 부재(262)의 두께도 함께 측정된다. 이에 따라, 전극조립체(220)의 두께는 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 각 두께 합을 초과하여 측정될 수 있다.
따라서, 음극(240), 분리막(20) 및 양극(230)을 순차적으로 적층한 전극조립체(220)의 두께를 측정하는 경우, 전극조립체의 두께는 220㎛가 된다. 상기 전극조립체(220)의 두께는 음극(240), 분리막(250) 및 양극(230)의 각 두께 합을 초과하여 적층 불량 전극조립체(220)로 판단할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 적층된 전극조립체의 두께 측정만으로 전극조립체의 적층 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
이상, 도면과 실시예 등을 통해 본 발명을 보다 상세히 설명하였다. 그러나, 본 명세서에 기재된 도면 또는 실시예 등에 기재된 구성은 본 발명의 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
1: 집전체
2: 전극 활물질
10: 전지 셀
11: 전극 케이스
12, 120,220: 전극 조립체
13, 130, 230: 양극
14, 140, 240: 음극
15, 150, 250: 분리막
160: 절연 부재
261: 제1 절연 부재
262: 제2 절연 부재
2: 전극 활물질
10: 전지 셀
11: 전극 케이스
12, 120,220: 전극 조립체
13, 130, 230: 양극
14, 140, 240: 음극
15, 150, 250: 분리막
160: 절연 부재
261: 제1 절연 부재
262: 제2 절연 부재
Claims (10)
- 음극 일면의 일측 또는 양측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재를 형성하는 단계;
음극의 일면에 분리막과 양극을 순차적으로 적층하여 전극조립체를 제조하는 단계; 및
전극조립체의 두께를 측정하여, 전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서,
절연 부재를 형성하는 단계는, 음극 일면의 일측 단부의 오버행 영역에 절연 부재를 형성하는 과정을 포함하는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서,
절연 부재가 형성된 영역을 제외한 음극의 폭 길이(W1)는, 양극의 폭 길이(W2)와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조를 갖는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서,
절연 부재를 형성하는 단계는, 음극 일면의 양측 단부의 오버행 영역에 각각 제1 및 제2 절연 부재를 형성하는 과정을 포함하는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 4 항에 있어서,
제1 및 제2 절연 부재의 간격(L)은 양극의 폭 길이(W2) 와 대응되거나, 또는 양극의 폭 길이(W2) 보다 큰 구조를 갖는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서,
전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계는, 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합을 초과하는 경우, 적층 불량 전극조립체로 판단하는 과정을 포함하는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서,
전극조립체의 적층 불량 여부를 판단하는 단계는, 전극조립체의 두께가 음극, 분리막 및 양극의 각 두께 합과 대응되는 경우, 정상의 전극조립체로 판단하는 과정을 포함하는 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 제 1 항에 있어서,
전극조립체는, 양극/음극/양극 구조의 바이셀(bi-cell) 또는 양극/음극 구조의 모노셀(mono-cell) 단위를 하나 이상 포함하는 구조인 전극조립체의 적층 불량 검출 방법.
- 음극 및 양극, 상기 음극과 양극 사이에 분리막이 개재된 전극조립체에 있어서,
상기 음극은, 음극 일면의 일측 또는 양측 단부의 오버행 영역에 소정의 폭과 높이를 갖는 절연 부재가 형성된 구조를 갖는 전극조립체.
- 제 9 항에 따른 전극조립체를 포함하는 전지 셀.
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