KR20220028675A - 후면 조사형 이미지 센서 및 그 제조 방법 - Google Patents

후면 조사형 이미지 센서 및 그 제조 방법 Download PDF

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한창훈
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Abstract

후면 조사형 이미지 센서 및 그 제조 방법이 개시된다. 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 전면과 후면을 갖는 기판과, 상기 기판 내에 형성된 화소 영역들과, 상기 기판의 전면 상에 형성된 절연층과, 상기 절연층의 전면 상에 형성된 본딩 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 본딩 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되며 상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드를 포함한다.

Description

후면 조사형 이미지 센서 및 그 제조 방법{Backside illuminated image sensor and method of manufacturing the same}
본 발명의 실시예들은 후면 조사형 이미지 센서 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 기판의 후면 상에 컬러 필터층과 마이크로렌즈 어레이가 형성되는 후면 조사형 이미지 센서와 그 제조 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 이미지 센서는 광학적 영상(optical image)을 전기적 신호로 변환하는 반도체 소자로서, 전하결합소자(charge coupled device; CCD)와 씨모스 이미지 센서(CMOS image sensor; CIS)로 구분될 수 있다.
씨모스 이미지 센서는 단위 화소 내에 포토 다이오드와 모스 트랜지스터를 형성하고 스위칭 방식으로 단위 화소의 전기적 신호를 순차적으로 검출함으로써 이미지를 형성할 수 있다. 상기 씨모스 이미지 센서는 전면 조사형 이미지 센서와 후면 조사형 이미지 센서로 구분될 수 있다.
상기 후면 조사형 이미지 센서는, 화소 영역들이 형성된 기판, 상기 기판의 전면 상에 형성된 트랜지스터들, 상기 트랜지스터들 상에 형성된 절연층, 상기 절연층 상에 형성되며 트랜지스터들과 전기적으로 연결된 본딩 패드들, 상기 기판의 후면 상에 형성된 반사 방지층, 상기 반사 방지층 상에 형성된 차광 패턴층, 상기 반사 방지층과 상기 차광 패턴층 상에 형성된 컬러 필터층 및 상기 컬러 필터층 상에 형성된 마이크로렌즈 어레이를 포함할 수 있다.
상기 반사 방지층 상에는 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 통해 상기 본딩 패드들과 연결되는 제2 본딩 패드들이 형성될 수 있으며, 상기 제2 본딩 패드들 상에는 제3 본딩 패드들이 형성될 수 있다. 상기 제3 본딩 패드들 상에는 와이어 본딩 공정을 통해 와이어들이 연결되거나 솔더 범프들이 형성될 수 있다.
상기 컬러 필터층은 적색 필터들과 청색 필터들 및 녹색 필터들을 포함할 수 있다. 상기 각각의 필터들은 상기 반사 방지층과 상기 차광 패턴층 상에 색상을 갖는 포토레지스트 층을 형성한 후 포토리소그래피 공정을 수행함으로써 형성될 수 있다. 상기 포토레지스트 층은 스핀 코팅 공정에 의해 형성될 수 있으며, 이때 상기 제2 및 제3 본딩 패드들에 의해 상기 스핀 코팅 공정을 수행하는 동안 상기 포토레지스트 층에 줄무늬 결함이 발생되는 문제점이 있다.
상기 제2 본딩 패드들은 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 형성되는 콘택홀들을 통해 상기 본딩 패드들의 후면 부위들과 연결될 수 있다. 상기 콘택홀들은 상기 기판의 후면 상에 상기 반사 방지층을 형성한 후 이방성 식각 공정을 통해 형성될 수 있다. 그러나, 상기 콘택홀들의 깊이가 충분하지 않은 경우 상기 제2 본딩 패드들이 상기 본딩 패드들과 전기적으로 연결되지 않을 수 있다. 그러나, 상기 제2 본딩 패드들이 상기 본딩 패드들에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사할 수 있는 방법이 없기 때문에 이에 대한 개선이 요구되고 있다.
본 발명의 실시예들은 상술한 바와 같은 문제점을 해결할 수 있도록 개선된 구조를 갖는 후면 조사형 이미지 센서와 그 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 후면 조사형 이미지 센서는, 전면과 후면을 갖는 기판과, 상기 기판 내에 형성된 화소 영역들과, 상기 기판의 전면 상에 형성된 절연층과, 상기 절연층의 전면 상에 형성된 본딩 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 본딩 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되며 상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드를 포함할 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 기판은 후면 부위들에 형성된 제1 리세스와 제2 리세스를 갖고, 상기 제2 본딩 패드와 상기 검사 패드는 상기 제1 리세스의 저면 부위와 상기 제2 리세스의 저면 부위를 각각 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 기판의 후면, 상기 제1 리세스의 저면과 내측면들, 및 상기 제2 리세스의 저면과 내측면들 상에 형성되는 반사 방지층을 더 포함할 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 제2 본딩 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 제1 후면 부위를 노출시키는 제1 콘택홀을 통해 상기 본딩 패드와 연결되며, 상기 검사 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 제2 후면 부위를 노출시키는 제2 콘택홀을 통해 상기 본딩 패드와 연결될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 제2 본딩 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제1 콘택홀의 내측면 및 상기 본딩 패드의 제1 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되며, 상기 검사 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제2 콘택홀의 내측면 및 상기 본딩 패드의 제2 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 제2 본딩 패드 내에 형성되는 제3 본딩 패드와, 상기 검사 패드 내에 형성되는 제2 검사 패드를 더 포함할 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 검사 패드의 두께는 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일하게 구성될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 반사 방지층 상에 형성되며 상기 화소 영역들과 각각 대응하는 개구들을 갖는 차광 패턴층을 더 포함할 수 있으며, 상기 차광 패턴층은 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일한 두께를 가질 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 제2 본딩 패드의 내부를 매립하도록 상기 제2 본딩 패드 상에 형성되는 제3 본딩 패드와, 상기 검사 패드의 내부를 매립하도록 상기 검사 패드 상에 형성되는 제2 검사 패드를 더 포함할 수 있으며, 상기 기판의 후면이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드의 상부면과 상기 제2 검사 패드의 상부면은 상기 차광 패턴층의 상부면과 동일한 높이를 가질 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 기판은 전면 부위에 형성되며 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트를 포함할 수 있으며, 상기 기판의 후면 부위들에는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위와 제2 후면 부위를 각각 노출시키는 제1 리세스와 제2 리세스가 형성되고, 상기 제2 본딩 패드와 상기 검사 패드는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위와 상기 제2 후면 부위를 각각 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결될 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 후면 조사형 이미지 센서는, 전면과 후면을 갖는 기판과, 상기 기판 내에 형성된 화소 영역들과, 상기 기판의 전면 상에 형성된 절연층과, 상기 절연층의 전면 상에 형성된 본딩 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 본딩 패드와, 상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드 구조물을 포함할 수 있으며, 상기 검사 패드 구조물은, 상기 절연층의 전면 상에 형성된 검사 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 검사 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제3 검사 패드를 포함할 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 기판은 후면 부위들에 형성된 제1 리세스와 제2 리세스 및 제3 리세스를 갖고, 상기 제2 본딩 패드는 상기 제1 리세스의 저면 부위를 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되며, 상기 제2 검사 패드와 상기 제3 검사 패드는 상기 제2 리세스의 저면 부위와 상기 제3 리세스의 저면 부위를 각각 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 기판의 후면, 상기 제1 리세스의 저면과 내측면들, 상기 제2 리세스의 저면과 내측면들, 및 상기 제3 리세스의 저면과 내측면들 상에 형성되는 반사 방지층을 더 포함할 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 제2 본딩 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면 부위를 노출시키는 제1 콘택홀을 통해 상기 본딩 패드와 연결되고, 상기 제2 검사 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 제1 후면 부위를 노출시키는 제2 콘택홀을 통해 상기 검사 패드와 연결되며, 상기 제3 검사 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 제2 후면 부위를 노출시키는 제3 콘택홀을 통해 상기 검사 패드와 연결될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 제2 본딩 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제1 콘택홀의 내측면 및 상기 본딩 패드의 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되고, 상기 제2 검사 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제2 콘택홀의 내측면 및 상기 검사 패드의 제1 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되며, 상기 제3 검사 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제2 콘택홀의 내측면 및 상기 검사 패드의 제2 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 제2 본딩 패드 내에 형성되는 제3 본딩 패드와, 상기 제2 검사 패드 내에 형성되는 제4 검사 패드와, 상기 제3 검사 패드 내에 형성되는 제5 검사 패드를 더 포함할 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 제2 검사 패드와 제3 검사 패드의 두께는 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일하게 구성될 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 반사 방지층 상에 형성되며 상기 화소 영역들과 각각 대응하는 개구들을 갖는 차광 패턴층을 더 포함하며, 상기 차광 패턴층은 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일한 두께를 가질 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 제2 본딩 패드의 내부를 매립하도록 상기 제2 본딩 패드 상에 형성되는 제3 본딩 패드와, 상기 제2 검사 패드의 내부를 매립하도록 상기 제2 검사 패드 상에 형성되는 제4 검사 패드와, 상기 제3 검사 패드의 내부를 매립하도록 상기 제3 검사 패드 상에 형성되는 제5 검사 패드를 더 포함하며, 상기 기판의 후면이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드의 상부면과 상기 제4 검사 패드의 상부면 및 제5 검사 패드의 상부면은 상기 차광 패턴층의 상부면과 동일한 높이를 가질 수 있다.
본 발명이 일부 실시예들에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서는, 상기 기판은 전면 부위에 형성되며 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트를 포함하며, 상기 기판의 후면 부위들에는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위와 제2 후면 부위 및 제3 후면 부위를 각각 노출시키는 제1 리세스와 제2 리세스 및 제3 리세스가 형성되고, 상기 제2 본딩 패드는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위를 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고, 상기 제2 검사 패드와 제3 검사 패드는 상기 필드 플레이트의 제2 후면 부위와 상기 제3 후면 부위를 각각 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결될 수 있다.
상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드와 전기적으로 연결되어 있는지 여부는 상기 검사 패드 또는 검사 패드 구조물을 이용하여 검사될 수 있다. 예를 들면, 프로브 카드를 이용하여 상기 검사 패드와 상기 제3 본딩 패드 사이의 전기 저항을 측정하거나 상기 제4 검사 패드와 제5 검사 패드 사이의 전기 저항을 측정함으로써 상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드와 전기적으로 연결되어 있는지 여부가 검사될 수 있다.
또한, 상기 기판의 후면이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드의 상부면이 상기 차광 패턴층의 상부면과 동일한 높이를 가질 수 있으므로 컬러 필터층을 형성하기 위한 스핀 코팅 공정을 수행하는 동안 포토레지스트 층에 줄무늬 결함이 발생되는 것을 충분히 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 후면 조사형 이미지 센서를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 후면 조사형 이미지 센서를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 3 내지 도 12는 도 1에 도시된 후면 조사형 이미지 센서의 제조 방법을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 13 내지 도 19는 도 2에 도시된 후면 조사형 이미지 센서의 제조 방법을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
이하, 본 발명의 실시예들은 첨부 도면들을 참조하여 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.
본 발명의 실시예들에서 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들이 이들 사이에 개재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결되는 것으로 설명되는 경우 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.
본 발명의 실시예들에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.
본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화는 충분히 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차를 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 요소들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상은 요소들의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 후면 조사형 이미지 센서를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 후면 조사형 이미지 센서(100)는, 전면(102A)과 후면(102B)을 갖는 기판(102)과, 상기 기판(102) 내에 형성된 화소 영역들(120)과, 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에 형성된 절연층(130)과, 상기 절연층(130)의 전면 상에 형성된 본딩 패드(132)와, 상기 기판(102)과 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(132)의 후면과 연결되고 상기 기판(102)의 후면(102B)을 통해 노출되는 제2 본딩 패드(172)와, 상기 기판(102)과 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(132)의 후면과 연결되고 상기 기판(102)의 후면(102B)을 통해 노출되며 상기 제2 본딩 패드(172)가 상기 본딩 패드(132)의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드(174)를 포함할 수 있다.
상기 화소 영역들(120)은 입사광에 의해 생성된 전하들이 축적되는 전하 저장 영역(122)을 포함할 수 있으며, 상기 전하 저장 영역(122)과 소정 간격 이격된 상기 기판(102)의 전면 부위에는 플로팅 확산 영역(126)이 배치될 수 있다.
상기 기판(102)은 제1 도전형을 가질 수 있으며, 상기 전하 저장 영역(122)과 상기 플로팅 확산 영역(126)은 제2 도전형을 가질 수 있다. 일 예로서, 상기 기판(102)으로는 P형 기판이 사용될 수 있으며, 상기 전하 저장 영역(122)과 상기 플로팅 확산 영역(126)으로서 기능하는 N형 불순물 확산 영역들이 상기 P형 기판(102) 내에 형성될 수 있다. 다른 예로서, 상기 기판(102)은 P형 에피택시얼 층을 포함할 수 있으며, 이 경우, 상기 전하 저장 영역(122)과 상기 플로팅 확산 영역(126)은 상기 P형 에피택시얼 층 내에 형성될 수 있다.
상기 전하 저장 영역(122)과 상기 플로팅 확산 영역(126) 사이의 채널 영역 상에는 상기 전하 저장 영역(122)에 축적된 전하들을 상기 플로팅 확산 영역(126)으로 전달하기 위한 전달 게이트 구조물(110)이 배치될 수 있다. 상기 전달 게이트 구조물(110)은 상기 기판의(102) 전면(102A) 상에 형성된 게이트 절연막(112)과, 상기 게이트 절연막(112) 상에 형성된 게이트 전극(114)과, 상기 게이트 전극(114)의 측면들 상에 형성된 게이트 스페이서들(116)을 포함할 수 있다. 한편, 도시되지는 않았으나, 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에는 상기 플로팅 확산 영역(126)과 전기적으로 연결된 리셋 게이트 구조물(미도시)과 소스 팔로워 게이트 구조물(미도시) 및 선택 게이트 구조물(미도시)이 배치될 수 있다.
그러나, 상기와 다르게 상기 후면 조사형 이미지 센서(100)가 3T 레이아웃을 갖는 경우 상기 전달 게이트 구조물(110)은 리셋 게이트 구조물로서 기능할 수 있으며 상기 플로팅 확산 영역(126)은 상기 전하 저장 영역(122)을 리셋 회로에 연결하기 위한 활성 영역으로서 기능할 수 있다.
상기 화소 영역들(120)은 상기 전하 저장 영역(122)과 상기 기판(102)의 전면(102A) 사이에 배치된 전면 피닝층(124)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 화소 영역들(120)은 상기 전하 저장 영역(122)과 상기 기판(102)의 후면(102B) 사이에 배치된 후면 피닝층(128)을 포함할 수 있다. 상기 전면 및 후면 피닝층들(124, 128)은 상기 제1 도전형을 가질 수 있다. 예를 들면, P형 불순물 확산 영역들이 상기 전면 및 후면 피닝층들(124, 128)로서 사용될 수 있다.
상기 절연층(130)의 전면 상에는 상기 화소 영역들(120)과 전기적으로 연결되는 제1 배선층(134)이 형성될 수 있으며, 상기 본딩 패드(132)와 상기 제1 배선층(134)은 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
또한, 상기 절연층(130)의 전면과 상기 본딩 패드(132) 및 상기 제1 절연층(134) 상에는 제2 절연층(140)이 형성될 수 있으며, 상기 제2 절연층(140) 상에는 제2 배선층(142)이 형성될 수 있다. 상기 제2 절연층(140)과 제2 배선층(142) 상에는 제3 절연층(144)이 형성될 수 있으며, 상기 제3 절연층(144) 상에는 제3 배선층(146)이 형성될 수 있다. 아울러, 상기 제3 절연층(144)과 제3 배선층(146) 상에는 패시베이션 층(148)이 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 기판(102)의 후면 부위들에는 제1 리세스(150; 도 8 참조)와 제2 리세스(152; 도 8 참조)가 형성될 수 있으며, 상기 제2 본딩 패드(172)와 상기 검사 패드(174)는 상기 제1 리세스(150)의 저면 부위와 상기 제2 리세스(152)의 저면 부위를 각각 관통하여 상기 본딩 패드(132)의 후면과 연결될 수 있다.
상기 기판(102)의 후면(102B)과, 상기 제1 리세스(150)의 저면과 내측면들, 및 상기 제2 리세스(152)의 저면과 내측면들 상에는 반사 방지층(160)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 도시되지는 않았으나, 상기 반사 방지층(160)은 상기 기판(102)의 후면(102B) 상에 형성된 금속 산화막과, 상기 금속 산화막 상에 형성된 실리콘 산화막 및 상기 실리콘 산화막 상에 형성된 실리콘 질화막을 포함할 수 있다.
상기 제2 본딩 패드(172)는 상기 반사 방지층(160)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(132)의 제1 후면 부위(132A; 도 10 참조)를 노출시키는 제1 콘택홀(162; 도 10 참조)을 통해 상기 본딩 패드(132)와 연결될 수 있으며, 상기 검사 패드(174)는 상기 반사 방지층(160)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(132)의 제2 후면 부위(132B; 도 10 참조)를 노출시키는 제2 콘택홀(164; 도 10 참조)을 통해 상기 본딩 패드(132)와 연결될 수 있다.
상기 제2 본딩 패드(172)는 상기 반사 방지층(160)과 상기 제1 콘택홀(162)의 내측면 및 상기 본딩 패드(132)의 제1 후면 부위(132A) 상에 일정한 두께로 형성될 수 있으며, 상기 검사 패드(174)는 상기 반사 방지층(160)과 상기 제2 콘택홀(164)의 내측면 및 상기 본딩 패드(132)의 제2 후면 부위(132B) 상에 일정한 두께로 형성될 수 있다. 특히, 상기 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)은 이방성 식각 공정에 의해 동시에 형성될 수 있으며, 상기 제2 본딩 패드(172)와 상기 검사 패드(174)는 화학 기상 증착, 원자층 증착 등에 의해 서로 동일한 두께로 형성될 수 있다.
상기 제2 본딩 패드(172) 내에는 상기 제2 본딩 패드(172)의 내부를 매립하도록 제3 본딩 패드(180)가 형성될 수 있으며, 상기 검사 패드(174) 내에는 상기 검사 패드(174)의 내부를 매립하도록 제2 검사 패드(182)가 형성될 수 있다. 상기 제2 본딩 패드(172)가 상기 본딩 패드(132)와 정상적으로 연결되어 있는지 여부는 프로브 카드를 이용하는 검사 공정을 통해 검사될 수 있다. 구체적으로, 상기 프로브 카드의 탐침들을 이용하여 상기 제3 본딩 패드(180)와 상기 제2 검사 패드(182) 사이의 전기 저항을 측정함으로써 상기 제2 본딩 패드(172)가 상기 본딩 패드(132)와 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서(100)는, 상기 기판(102)의 전면 부위에 형성되며 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트(106)를 포함할 수 있다. 상기 제1 리세스(150)와 상기 제2 리세스(152)는 상기 필드 플레이트(106)의 제1 후면 부위(106A; 도 8 참조)와 제2 후면 부위(106B; 도 8 참조)를 각각 노출시키도록 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 반사 방지층(160)은 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152)의 내측면들 및 상기 필드 플레이트(106)의 제1 후면 부위(106A)와 제2 후면 부위(106B) 상에 형성될 수 있으며, 상기 제1 콘택홀(162)과 상기 제2 콘택홀(164)은 상기 반사 방지층(160)과 상기 필드 플레이트(106) 및 상기 절연층(130)을 관통하도록 형성될 수 있다. 즉, 상기 제2 본딩 패드(172)와 상기 검사 패드(174)는 상기 필드 플레이트(106)의 제1 후면 부위(106A)와 제2 후면 부위(106B)를 관통하여 상기 본딩 패드(130)의 후면과 연결될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 제2 본딩 패드(172)의 가장자리 부위와 상기 검사 패드(174)의 가장자리 부위는 상기 기판(102)의 후면 부위들 상에 형성될 수 있다. 아울러, 상기 반사 방지층(160) 상에는 상기 화소 영역들(120)과 각각 대응하는 개구들(178; 도 12 참조)을 갖는 차광 패턴층(176)이 형성될 수 있다. 특히, 상기 차광 패턴층(176)은 상기 제2 본딩 패드(172) 및 상기 검사 패드(174)와 동일한 물질로 동시에 형성될 수 있으며 상기 제2 본딩 패드(174) 및 상기 검사 패드(174)와 동일한 두께를 가질 수 있다. 특히, 도 1에 도시된 바와 같이 상기 기판(102)의 후면(102B)이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드(180)의 상부면과 상기 제2 검사 패드(182)의 상부면은 상기 차광 패턴층(176)의 상부면과 동일한 높이를 가질 수 있다. 즉, 상기 제3 본딩 패드(180)의 후면과 상기 제2 검사 패드(182)의 후면은 상기 차광 패턴층(176)의 후면과 동일한 높이를 가질 수 있다.
상기 반사 방지층(160)과 상기 차광 패턴층(176) 상에는 컬러 필터층(190)이 형성될 수 있으며, 상기 컬러 필터층(190) 상에는 마이크로렌즈 어레이(192)가 형성될 수 있다. 또한, 상기 제3 본딩 패드(180) 상에는 도시된 바와 같이 솔더 범프(200)가 형성될 수 있다. 이와 다르게, 상기 제3 본딩 패드(180) 상에는 와이어 본딩 공정에 의해 와이어가 본딩될 수도 있다. 다른 예로서, 도시되지는 않았으나, 상기 반사 방지층(160)과 상기 차광 패턴층(176) 상에는 평탄화 층(미도시)이 형성될 수 있으며, 이 경우 상기 컬러 필터층(190)과 상기 마이크로렌즈 어레이(192)는 상기 평탄화 층 상에 형성될 수 있다.
상기 컬러 필터층(190)은 적색 필터들과 녹색 필터들 및 청색 필터들을 포함할 수 있다. 상기 각각의 필터들은 스핀 코팅 공정을 통해 포토레지스트 층을 형성한 후 포토리소그래피 공정을 통해 형성될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 차광 패턴층(176)과 상기 제3 본딩 패드(180) 및 상기 제2 검사 패드(182)의 후면들이 모두 동일한 높이를 가질 수 있으므로, 상기 필터들을 형성하기 위한 스핀 코팅 공정에서 줄무늬 결함이 발생되는 것이 충분히 방지될 수 있다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 후면 조사형 이미지 센서를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 후면 조사형 이미지 센서(100)는, 전면(102A)과 후면(102B)을 갖는 기판(102)과, 상기 기판(102) 내에 형성된 화소 영역들(120)과, 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에 형성된 절연층(130)과, 상기 절연층(130)의 전면 상에 형성된 본딩 패드(210)와, 상기 기판(102)과 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(210)의 후면과 연결되고 상기 기판(102)의 후면(102B)을 통해 노출되는 제2 본딩 패드(242)와, 상기 제2 본딩 패드(242)가 상기 본딩 패드(210)의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드 구조물(240)을 포함할 수 있다. 특히, 상기 검사 패드 구조물(240)은, 상기 절연층(130)의 전면 상에 형성된 검사 패드(212)와, 상기 기판(102)과 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 검사 패드(212)의 후면과 연결되고 상기 기판(102)의 후면(102B)을 통해 노출되는 제2 검사 패드(244)와, 상기 기판(102)과 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 검사 패드(212)의 후면과 연결되고 상기 기판(102)의 후면(102B)을 통해 노출되는 제3 검사 패드(246)를 포함할 수 있다.
상기 기판(102)의 후면 부위들에는 상기 본딩 패드(210)와 대응하는 제1 리세스(220; 도 15 참조) 및 상기 검사 패드(212)와 대응하는 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224)가 형성될 수 있다. 상기 제2 본딩 패드(242)는 상기 제1 리세스(220)의 저면 부위를 관통하여 상기 본딩 패드(210)의 후면과 연결될 수 있으며, 상기 제2 검사 패드(244)와 제3 검사 패드(246)는 상기 제2 리세스(222)의 저면 부위와 상기 제3 리세스(224)의 저면 부위를 각각 관통하여 상기 검사 패드(212)의 후면과 연결될 수 있다.
상기 기판(102)의 후면(102B), 상기 제1 리세스(220)의 저면과 내측면들, 상기 제2 리세스(222)의 저면과 내측면들, 및 상기 제3 리세스(224)의 저면과 내측면들 상에는 반사 방지층(230)이 형성될 수 있다. 상기 제2 본딩 패드(242)는 상기 반사 방지층(230)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(210)의 후면 부위(210A; 도 17 참조)를 노출시키는 제1 콘택홀(232; 도 17 참조)을 통해 상기 본딩 패드(210)와 연결될 수 있으며, 상기 제2 검사 패드(244)와 제3 검사 패드(246)는 상기 반사 방지층(230)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 검사 패드(212)의 제1 및 제2 후면 부위들(212A, 212B; 도 17 참조)을 노출시키는 제2 콘택홀(234; 도 17 참조) 및 제3 콘택홀(236; 도 17 참조)을 통해 상기 검사 패드(212)와 연결될 수 있다.
상기 제2 본딩 패드(242)는 상기 반사 방지층(230)과 상기 제1 콘택홀(232)의 내측면 및 상기 본딩 패드(210)의 후면 부위(210A) 상에 일정한 두께로 형성될 수 있다. 상기 제2 검사 패드(244)는 상기 반사 방지층(230)과 상기 제2 콘택홀(234)의 내측면 및 상기 검사 패드(212)의 제1 후면 부위(212A) 상에 일정한 두께로 형성될 수 있으며, 상기 제3 검사 패드(246)는 상기 반사 방지층(230)과 상기 제3 콘택홀(236)의 내측면 및 상기 검사 패드(212)의 제2 후면 부위(212B) 상에 일정한 두께로 형성될 수 있다. 특히, 상기 제1 콘택홀(232)과 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)은 이방성 식각 공정에 의해 동시에 형성될 수 있으며, 상기 제2 본딩 패드(242)와 상기 제2 검사 패드(244) 및 제3 검사 패드(246)는 화학 기상 증착, 원자층 증착 등에 의해 서로 동일한 두께로 형성될 수 있다.
상기 제2 본딩 패드(242) 내에는 상기 제2 본딩 패드(242)의 내부를 매립하도록 제3 본딩 패드(250)가 형성될 수 있고, 상기 제2 검사 패드(244)와 제3 검사 패드(246) 내에는 상기 제2 검사 패드(244)와 제3 검사 패드(246)의 내부를 매립하도록 제4 검사 패드(252)와 제5 검사 패드(254)가 각각 형성될 수 있다. 상기 제2 본딩 패드(242)가 상기 본딩 패드(210)와 정상적으로 연결되어 있는지 여부는 프로브 카드를 이용하는 검사 공정을 통해 검사될 수 있다. 구체적으로, 상기 프로브 카드의 탐침들을 이용하여 상기 제4 검사 패드(252)와 상기 제5 검사 패드(254) 사이의 전기 저항을 측정함으로써 상기 제2 본딩 패드(242)가 상기 본딩 패드(210)와 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 상기 후면 조사형 이미지 센서(100)는, 상기 기판(102)의 전면 부위에 형성되며 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트(108)를 포함할 수 있다. 상기 제1 리세스(220)와 상기 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224)는 상기 필드 플레이트(108)의 후면 부위들을 노출시키도록 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 반사 방지층(230)은 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224)의 내측면들 및 상기 필드 플레이트(108)의 후면 부위들 상에 형성될 수 있으며, 상기 제1 콘택홀(232)과 상기 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)은 상기 반사 방지층(230)과 상기 필드 플레이트(108) 및 상기 절연층(130)을 관통하도록 형성될 수 있다. 즉, 상기 제2 본딩 패드(242)는 상기 필드 플레이트(108)를 관통하여 상기 본딩 패드(210)의 후면과 연결될 수 있으며, 상기 제2 검사 패드(244)와 상기 제3 검사 패드(246)는 상기 필드 플레이트(108)를 관통하여 상기 검사 패드(212)의 후면 부위들과 연결될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 상기 제2 본딩 패드(242)의 가장자리 부위와 상기 제2 및 제3 검사 패드들(244, 246)의 가장자리 부위들은 상기 기판(102)의 후면 부위들 상에 형성될 수 있다. 아울러, 상기 반사 방지층(230) 상에는 상기 화소 영역들(120)과 각각 대응하는 개구들(249; 도 19 참조)을 갖는 차광 패턴층(248)이 형성될 수 있다. 특히, 상기 차광 패턴층(248)은 상기 제2 본딩 패드(242) 및 상기 제2 및 제3 검사 패드들(244, 246)과 동일한 물질로 동시에 형성될 수 있으며 상기 제2 본딩 패드(242) 및 상기 제2 및 제3 검사 패드들(244, 246)과 동일한 두께를 가질 수 있다. 특히, 도 2에 도시된 바와 같이 상기 기판(102)의 후면(102B)이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드(250)의 상부면과 상기 제4 및 제5 검사 패드들(252, 254)의 상부면들은 상기 차광 패턴층(248)의 상부면과 동일한 높이를 가질 수 있다. 즉, 상기 제3 본딩 패드(250)의 후면과 상기 제4 및 제5 검사 패드들(252, 254)의 후면들은 상기 차광 패턴층(248)의 후면과 동일한 높이를 가질 수 있다.
상기 반사 방지층(230)과 상기 차광 패턴층(248) 상에는 컬러 필터층(260)이 형성될 수 있으며, 상기 컬러 필터층(260) 상에는 마이크로렌즈 어레이(262)가 형성될 수 있다. 또한, 상기 제3 본딩 패드(250) 상에는 도시된 바와 같이 솔더 범프(270)가 형성될 수 있다. 이와 다르게, 상기 제3 본딩 패드(250) 상에는 와이어 본딩 공정에 의해 와이어가 본딩될 수도 있다. 다른 예로서, 도시되지는 않았으나, 상기 반사 방지층(230)과 상기 차광 패턴층(248) 상에는 평탄화 층이 형성될 수 있으며, 이 경우 상기 컬러 필터층(260)과 상기 마이크로렌즈 어레이(262)는 상기 평탄화 층 상에 형성될 수 있다.
상기 컬러 필터층(260)은 적색 필터들과 녹색 필터들 및 청색 필터들을 포함할 수 있다. 상기 각각의 필터들은 스핀 코팅 공정을 통해 포토레지스트 층을 형성한 후 포토리소그래피 공정을 통해 형성될 수 있다. 상술한 바와 같이, 상기 차광 패턴층(248)과 상기 제3 본딩 패드(250) 및 상기 제4 및 제5 검사 패드들(252, 254)의 후면들이 모두 동일한 높이를 가질 수 있으므로, 상기 필터들을 형성하기 위한 스핀 코팅 공정에서 줄무늬 결함이 발생되는 것이 충분히 방지될 수 있다.
도 3 내지 도 12는 도 1에 도시된 후면 조사형 이미지 센서의 제조 방법을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 3을 참조하면, 기판(102)의 전면 부위들에 액티브 영역들을 정의하기 위한 소자 분리 영역들(104)을 형성할 수 있다. 상기 기판(102)은 제1 도전형을 가질 수 있다. 일 예로서, 상기 기판(102)으로는 P형 기판이 사용될 수 있으며, 다른 예로서, 상기 기판(102)은 실리콘 벌크 기판과 상기 실리콘 벌크 기판 상에 형성된 P형 에피택시얼 층을 포함할 수 있다. 상기 소자 분리 영역들(104)은 실리콘 산화물로 이루어질 수 있으며 얕은 트렌치 소자 분리(shallow trench isolation; STI) 공정을 통해 형성될 수 있다. 또한, 상기 기판(102)의 전면 부위에 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트(106)가 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 필드 플레이트(106)는 실리콘 산화물로 이루어질 수 있으며 상기 소자 분리 영역들(104)과 동시에 형성될 수 있다.
상기 소자 분리 영역들(104)과 상기 필드 플레이트(106)를 형성한 후 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에 전달 게이트 구조물들(110)이 형성될 수 있다. 상기 전달 게이트 구조물들(110)은 각각 게이트 절연막(112)과 상기 게이트 절연막(112) 상에 형성된 게이트 전극(114)과 상기 게이트 전극(114)의 측면들 상에 형성된 게이트 스페이서들(116)을 포함할 수 있다. 또한, 도시되지는 않았으나, 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에는 리셋 게이트 구조물들(미도시)과 소스 팔로워 게이트 구조물들(미도시) 및 선택 게이트 구조물들(미도시)이 상기 전달 게이트 구조물들(110)과 동시에 형성될 수 있다.
도 4를 참조하면, 상기 기판(102) 내에 화소 영역들(120)로서 기능하는 전하 저장 영역들(122)을 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 기판(102)의 액티브 영역들 내에 제2 도전형을 갖는 전하 저장 영역들(122)을 형성할 수 있다. 예를 들면, P형 기판(102) 내에 N형 전하 저장 영역들(122)을 형성할 수 있으며, 상기 N형 전하 저장 영역들(122)은 이온 주입 공정에 의해 형성된 N형 불순물 확산 영역들일 수 있다.
이어서, 상기 기판(102)의 전면(102A)과 상기 전하 저장 영역들(122) 사이에 제1 도전형을 갖는 전면 피닝층들(124)을 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 기판(102)의 전면(102A)과 상기 N형 전하 저장 영역들(122) 사이에는 이온 주입 공정을 통해 P형 전면 피닝층들(124)이 형성될 수 있으며, 상기 P형 전면 피닝층들(124)은 P형 불순물 확산 영역들일 수 있다. 상기 N형 전하 저장 영역들(122)과 P형 전면 피닝층들(124)은 후속하는 급속 열처리 공정에 의해 활성화될 수 있다.
도 5를 참조하면, 상기 전하 저장 영역들(122)로부터 소정 간격 이격되도록 상기 기판(102)의 전면 부위에 제2 도전형을 갖는 플로팅 확산 영역들(126)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 전하 저장 영역들(122)로부터 소정 간격 이격되도록 상기 기판(102)의 전면 부위에 상기 플로팅 확산 영역들(126)로서 기능하는 N형 고농도 불순물 영역들이 이온 주입 공정을 통해 형성될 수 있다. 이때, 상기 전달 게이트 구조물들(110)은 상기 전하 저장 영역들(122)과 상기 플로팅 확산 영역들(126) 사이의 채널 영역들 상에 배치될 수 있다.
도 6을 참조하면, 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에는 실리콘 산화물과 같은 절연 물질로 이루어지는 절연층(130)이 형성될 수 있으며, 상기 절연층(130)의 전면 상에는 본딩 패드(132)와 제1 배선층(134)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 절연층(130) 상에 알루미늄층과 같은 금속층을 형성한 후 상기 금속층을 패터닝함으로써 상기 본딩 패드(132)와 상기 제1 배선층(134)을 형성할 수 있다.
아울러, 상기 절연층(130)과 상기 본딩 패드(132) 및 상기 제1 배선층(134) 상에 제2 절연층(140)을 형성하고, 상기 제2 절연층(140) 상에 제2 배선층(142)을 형성할 수 있다. 또한, 상기 제2 절연층(140)과 상기 제2 배선층(142) 상에 제3 절연층(144)을 형성하고, 상기 제3 절연층(144) 상에 제3 배선층(146)을 형성할 수 있다. 상기 제3 절연층(144)과 제3 배선층(146) 상에 패시베이션 층(148)을 형성할 수 있다. 상기 제1, 제2 및 제3 배선층들(134, 142, 146)은 상기 화소 영역들(120)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 상기 본딩 패드(132)는 상기 제1, 제2 및 제3 배선층들(134, 142, 146)과 전기적으로 연결될 수 있다.
도 7을 참조하면, 상기 기판(102)의 두께를 감소시키기 위한 백그라인딩 공정 또는 화학적 기계적 연마 공정이 수행될 수 있으며, 이어서 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 전하 저장 영역들(122) 사이에 제1 도전형을 갖는 후면 피닝층들(128)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 도시된 바와 같이 상기 기판(102)의 후면(102B)이 위를 향하도록 상기 기판(102)을 반전시킨 후 이온 주입 공정을 통해 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 전하 저장 영역들(122) 사이에 P형 후면 피닝층들(128)이 형성될 수 있으며, 상기 P형 후면 피닝층들(128)은 레이저 어닐 공정을 통해 활성화될 수 있다.
상기와 다르게, 상기 후면 피닝층들(128)은 상기 전하 저장 영역들(122)보다 먼저 형성될 수도 있다. 예를 들면, 이온 주입 공정을 통해 상기 후면 피닝층들(128)을 형성한 후 상기 후면 피닝층들(128) 상에 상기 전하 저장 영역들(122)이 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 백그라인딩 공정은 상기 후면 피닝층들(128)이 노출되도록 수행될 수 있다.
한편, 상기 기판(102)이 P형 에피택시얼 층을 포함하는 경우, 상기 전하 저장 영역들(122)과 전면 및 후면 피닝층들(124, 128)은 상기 P형 에피택시얼 층 내에 형성될 수 있으며, 상기 실리콘 벌크 기판은 상기 백그라인딩 공정에 의해 제거될 수 있다.
도 8을 참조하면, 상기 기판(102)을 부분적으로 제거하여 상기 본딩 패드(132)와 대응하는 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152)를 상기 기판(102)의 후면 부위들에 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 기판(102)의 후면(102B) 상에 상기 본딩 패드(132)와 대응하는 상기 기판(102)의 후면 부위들을 노출시키는 제1 포토레지스트 패턴(미도시)을 형성할 수 있으며, 상기 제1 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로 이용하는 이방성 식각 공정에 의해 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152)가 형성될 수 있다. 특히, 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152)에 의해 상기 필드 플레이트(106)의 제1 후면 부위(106A)와 제2 후면 부위(106B)가 노출될 수 있다. 상기 제1 포토레지스트 패턴은 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152)를 형성한 후 애싱 또는 스트립 공정에 의해 제거될 수 있다.
도 9를 참조하면, 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 제1 리세스의(150)의 저면(상기 반사 방지층(106)의 제1 후면 부위(106A)) 및 내측면들 그리고 상기 제2 리세스(152)의 저면(상기 반사 방지층(106)의 제2 후면 부위(106B))과 내측면들 상에 반사 방지층(160)을 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 반사 방지층(160)으로서 기능하는 금속 산화막과 실리콘 산화막 및 실리콘 질화막이 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 제1 리세스의(150)의 저면 및 내측면들 그리고 상기 제2 리세스(152)의 저면과 내측면들 상에 순차적으로 형성될 수 있다.
도 10을 참조하면, 상기 반사 방지층(160)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(132)를 노출시키는 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)을 형성할 수 있다. 구체적으로, 상기 반사 방지층(160)과 상기 필드 플레이트(106)의 제1 후면 부위(106A) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(132)의 제1 후면 부위(132A)를 노출시키는 제1 콘택홀(162)이 형성될 수 있으며, 상기 반사 방지층(160)과 상기 필드 플레이트(106)의 제2 후면 부위(106B) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(130)의 제2 후면 부위(132B)를 노출시키는 제2 콘택홀(164)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152)의 저면들 상에 형성된 상기 반사 방지층(160) 부위들을 부분적으로 노출시키는 제2 포토레지스트 패턴(미도시)을 형성한 후, 상기 제2 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로서 이용하는 이방성 식각 공정을 수행함으로써 상기 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)을 형성할 수 있다. 상기 제2 포토레지스트 패턴은 상기 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)을 형성한 후 애싱 또는 스트립 공정에 의해 제거될 수 있다.
도 11을 참조하면, 상기 반사 방지층(160)과 상기 제1 및 제2 콘택홀들(162, 164)의 내측면들 및 상기 노출된 본딩 패드(132)의 제1 및 제2 후면 부위들(132A, 132B) 상에 텅스텐과 같은 금속 물질로 이루어진 제2 금속층(170)을 컨포멀하게(conformally) 즉 일정한 두께로 형성할 수 있다.
이어서, 상기 제2 금속층(170) 상에 알루미늄과 같은 금속 물질로 이루어진 제3 금속층(미도시)을 형성할 수 있다. 특히, 상기 제3 금속층은 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152) 그리고 상기 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)이 충분히 매립되도록 형성될 수 있으며, 상기 제3 금속층을 부분적으로 제거하여 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152) 내에 제3 본딩 패드(180)와 제2 검사 패드(182)를 각각 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 제3 금속층을 형성한 후 상기 제2 금속층(170)이 노출되도록 화학적 기계적 연마 공정과 같은 평탄화 공정이 수행될 수 있으며, 이에 의해 상기 제3 본딩 패드(180)와 상기 제2 검사 패드(182)가 형성될 수 있다.
도 12를 참조하면, 상기 제2 금속층(170)을 패터닝함으로써 상기 제1 리세스(150)와 제2 리세스(152) 내에 상기 본딩 패드(132)와 연결되는 제2 본딩 패드(172)와 검사 패드(174)를 각각 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 제2 금속층(170) 상에 제3 포토레지스트 패턴(미도시)을 형성하고, 상기 제3 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로 사용하는 이방성 식각 공정을 수행하여 상기 제2 본딩 패드(172)와 검사 패드(174)를 형성할 수 있다. 아울러, 상기 제2 금속층(170)을 패터닝함으로써 상기 화소 영역들(120)과 각각 대응하는 개구들(178)을 갖는 차광 패턴층(176)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 제2 본딩 패드(172)와 검사 패드(174) 및 상기 차광 패턴층(176)은 동일한 물질로 동시에 형성될 수 있다.
한편, 상기 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)의 깊이가 충분하지 않은 경우 상기 제2 본딩 패드(172)와 상기 검사 패드(174)가 상기 본딩 패드(132)와 전기적으로 연결되지 않을 수 있다. 즉 상기 제1 콘택홀(162)과 제2 콘택홀(164)에 의해 상기 본딩 패드(132)의 제1 후면 부위(132A)와 제2 후면 부위(132B)가 노출되지 않는 경우 제2 본딩 패드(172)와 상기 검사 패드(174)가 상기 본딩 패드(132)의 제1 후면 부위(132A)와 제2 후면 부위(132B)에 연결되지 않을 수 있다. 이 경우, 프로브 카드를 이용하는 검사 공정에서 상기 제3 본딩 패드(180)와 상기 제2 검사 패드(182) 사이의 전기 저항이 상대적으로 높게 측정될 수 있다.
다시 도 1을 참조하면, 상기 반사 방지층(160)과 상기 차광 패턴층(176) 상에 컬러 필터층(190) 및 마이크로렌즈 어레이(192)가 순차적으로 형성될 수 있으며, 아울러 상기 제3 본딩 패드(180) 상에 솔더 범프(200)가 형성될 수 있다.
도 13 내지 도 19는 도 2에 도시된 후면 조사형 이미지 센서의 제조 방법을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 13을 참조하면, 기판(102)의 전면 부위들에 소자 분리 영역들(104)과 필드 플레이트(108)가 형성될 수 있으며, 상기 기판(102) 내에는 화소 영역들(120)이 형성될 수 있다. 아울러, 상기 기판(102)의 전면(102A) 상에 절연층(130)이 형성될 수 있다. 상기 절연층(130) 상에는 본딩 패드(210)와 검사 패드(212) 및 제1 배선층(134)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 절연층(130) 상에 알루미늄층과 같은 금속층을 형성한 후 상기 금속층을 패터닝함으로써 상기 본딩 패드(210)와 상기 검사 패드(212) 및 상기 제1 배선층(134)을 형성할 수 있다. 이어서, 제2 절연층(140), 제2 배선층(142), 제3 절연층(144), 제3 배선층(146) 및 패시베이션 층(148)이 순차적으로 형성될 수 있다.
도 14를 참조하면, 상기 기판(102)의 두께를 감소시키기 위한 백그라인딩 공정 또는 화학적 기계적 연마 공정이 수행될 수 있으며, 이어서 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 전하 저장 영역들(122) 사이에 제1 도전형을 갖는 후면 피닝층들(128)이 형성될 수 있다.
도 15를 참조하면, 상기 기판(102)을 부분적으로 제거하여 상기 본딩 패드(210)와 대응하는 제1 리세스(220) 및 상기 검사 패드(212)와 대응하는 제2 리세스(222)와 제3 리세스(224)를 상기 기판(102)의 후면 부위들에 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 기판(102)의 후면(102B) 상에 제1 포토레지스트 패턴(미도시)을 형성할 수 있으며, 상기 제1 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로 이용하는 이방성 식각 공정에 의해 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224)가 형성될 수 있다. 특히, 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224)에 의해 상기 필드 플레이트(108)의 제1 후면 부위(108A)와 제2 후면 부위(108B) 및 제3 후면 부위(108C)가 노출될 수 있다. 상기 제1 포토레지스트 패턴은 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224)를 형성한 후 애싱 또는 스트립 공정에 의해 제거될 수 있다.
도 16을 참조하면, 상기 기판(102)의 후면(102B)과 상기 제1 리세스의(220)의 저면(상기 반사 방지층(108)의 제1 후면 부위(108A)) 및 내측면들 그리고 상기 제2 리세스(222)의 저면(상기 반사 방지층(108)의 제2 후면 부위(108B))과 내측면들 및 상기 제3 리세스(224)의 저면(상기 반사 방지층(108)의 제2 후면 부위(108C))과 내측면들 상에 반사 방지층(230)을 형성할 수 있다.
도 17을 참조하면, 상기 반사 방지층(230)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(210)를 노출시키는 제1 콘택홀(232)을 형성하고, 상기 반사 방지층(230)과 상기 기판(102) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 검사 패드(212)를 노출시키는 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)을 형성할 수 있다. 구체적으로, 상기 반사 방지층(230)과 상기 필드 플레이트(108)의 제1 후면 부위(108A) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 본딩 패드(210)의 후면 부위(210A)를 노출시키는 제1 콘택홀(232)이 형성될 수 있다. 또한, 상기 반사 방지층(230)과 상기 필드 플레이트(108)의 제2 후면 부위(108B) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 검사 패드(212)의 제1 후면 부위(212A)를 노출시키는 제2 콘택홀(234)이 형성될 수 있으며, 상기 반사 방지층(230)과 상기 필드 플레이트(108)의 제3 후면 부위(108C) 및 상기 절연층(130)을 관통하여 상기 검사 패드(212)의 제2 후면 부위(212B)를 노출시키는 제3 콘택홀(236)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 반사 방지층(230) 상에 제2 포토레지스트 패턴(미도시)을 형성한 후, 상기 제2 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로서 이용하는 이방성 식각 공정을 수행함으로써 상기 제1 콘택홀(232)과 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)을 형성할 수 있다. 상기 제2 포토레지스트 패턴은 상기 제1 콘택홀(232)과 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)을 형성한 후 애싱 또는 스트립 공정에 의해 제거될 수 있다.
도 18을 참조하면, 상기 반사 방지층(230), 상기 제1, 제2 및 제3 콘택홀들(232, 234, 236)의 내측면들, 상기 노출된 본딩 패드(210)의 후면 부위(210A), 및 상기 노출된 검사 패드(212)의 제1 및 제2 후면 부위들(212A, 212B) 상에 텅스텐과 같은 금속 물질로 이루어진 제2 금속층(241)을 컨포멀하게(conformally) 즉 일정한 두께로 형성할 수 있다.
이어서, 상기 제2 금속층(241) 상에 알루미늄과 같은 금속 물질로 이루어진 제3 금속층(미도시)을 형성할 수 있다. 특히, 상기 제3 금속층은 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224) 그리고 상기 제1 콘택홀(232)과 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)이 충분히 매립되도록 형성될 수 있으며, 상기 제3 금속층을 부분적으로 제거하여 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224) 내에 제3 본딩 패드(250)와 제4 검사 패드(252) 및 제5 검사 패드(254)를 각각 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 제3 금속층을 형성한 후 상기 제2 금속층(241)이 노출되도록 화학적 기계적 연마 공정과 같은 평탄화 공정이 수행될 수 있으며, 이에 의해 상기 제3 본딩 패드(250)와 상기 제4 검사 패드(252) 및 제5 검사 패드(254)가 형성될 수 있다.
도 19를 참조하면, 상기 제2 금속층(241)을 패터닝함으로써 상기 제1 리세스(220)와 제2 리세스(222) 및 제3 리세스(224) 내에 상기 본딩 패드(210)와 연결되는 제2 본딩 패드(242) 및 상기 검사 패드(212)와 연결되는 제2 검사 패드(244) 및 제3 검사 패드(246)를 각각 형성할 수 있다. 예를 들면, 상기 제2 금속층(241) 상에 제3 포토레지스트 패턴(미도시)을 형성하고, 상기 제3 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로 사용하는 이방성 식각 공정을 수행하여 상기 제2 본딩 패드(242)와 제2 검사 패드(244) 및 제3 검사 패드(246)를 형성할 수 있다. 아울러, 상기 제2 금속층(241)을 패터닝함으로써 상기 화소 영역들(120)과 각각 대응하는 개구들(249)을 갖는 차광 패턴층(248)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 제2 본딩 패드(242), 제2 검사 패드(244), 제3 검사 패드(246) 및 상기 차광 패턴층(248)은 동일한 물질로 동시에 형성될 수 있다.
한편, 상기 제1 콘택홀(232)과 제2 콘택홀(234) 및 제3 콘택홀(236)의 깊이가 충분하지 않은 경우 상기 제2 본딩 패드(242)가 상기 본딩 패드(210)와 전기적으로 연결되지 않을 수 있으며, 상기 제2 및 제3 검사 패드들(244, 246)이 상기 검사 패드(212)와 전기적으로 연결되지 않을 수 있다. 이 경우, 프로브 카드를 이용하는 검사 공정에서 상기 제4 검사 패드(252)와 상기 제5 검사 패드(254) 사이의 전기 저항이 상대적으로 높게 측정될 수 있다.
다시 도 2를 참조하면, 상기 반사 방지층(230)과 상기 차광 패턴층(248) 상에 컬러 필터층(260) 및 마이크로렌즈 어레이(262)가 순차적으로 형성될 수 있으며, 아울러 상기 제3 본딩 패드(250) 상에 솔더 범프(270)가 형성될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 후면 조사형 이미지 센서 102 : 기판
102A : 기판의 전면 102B : 기판의 후면
110 : 전달 게이트 구조물 120 : 화소 영역
122 : 전하 저장 영역 124 : 전면 피닝층
126 : 플로팅 확산 영역 128 : 후면 피닝층
130 : 절연층 132 : 본딩 패드
134 : 제1 배선층 150 : 제1 리세스
152 : 제2 리세스 160 : 반사 방지층
162 : 제1 콘택홀 164 : 제2 콘택홀
172 : 제2 금속층 172 : 제2 본딩 패드
174 : 검사 패드 176 : 차광 패턴층
178 : 개구 180 : 제3 본딩 패드
182 : 제2 검사 패드 190 : 컬러 필터층
192 : 마이크로렌즈 어레이 200 : 솔더 범프

Claims (20)

  1. 전면과 후면을 갖는 기판;
    상기 기판 내에 형성된 화소 영역들;
    상기 기판의 전면 상에 형성된 절연층;
    상기 절연층의 전면 상에 형성된 본딩 패드;
    상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 본딩 패드; 및
    상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되며 상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  2. 제1항에 있어서, 상기 기판은 후면 부위들에 형성된 제1 리세스와 제2 리세스를 갖고,
    상기 제2 본딩 패드와 상기 검사 패드는 상기 제1 리세스의 저면 부위와 상기 제2 리세스의 저면 부위를 각각 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  3. 제2항에 있어서, 상기 기판의 후면, 상기 제1 리세스의 저면과 내측면들, 및 상기 제2 리세스의 저면과 내측면들 상에 형성되는 반사 방지층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 제1 후면 부위를 노출시키는 제1 콘택홀을 통해 상기 본딩 패드와 연결되며,
    상기 검사 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 제2 후면 부위를 노출시키는 제2 콘택홀을 통해 상기 본딩 패드와 연결되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제1 콘택홀의 내측면 및 상기 본딩 패드의 제1 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되며,
    상기 검사 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제2 콘택홀의 내측면 및 상기 본딩 패드의 제2 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드 내에 형성되는 제3 본딩 패드와,
    상기 검사 패드 내에 형성되는 제2 검사 패드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  7. 제5항에 있어서, 상기 검사 패드의 두께는 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일한 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  8. 제5항에 있어서, 상기 반사 방지층 상에 형성되며 상기 화소 영역들과 각각 대응하는 개구들을 갖는 차광 패턴층을 더 포함하며,
    상기 차광 패턴층은 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일한 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드의 내부를 매립하도록 상기 제2 본딩 패드 상에 형성되는 제3 본딩 패드와,
    상기 검사 패드의 내부를 매립하도록 상기 검사 패드 상에 형성되는 제2 검사 패드를 더 포함하며,
    상기 기판의 후면이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드의 상부면과 상기 제2 검사 패드의 상부면은 상기 차광 패턴층의 상부면과 동일한 높이를 갖는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  10. 제1항에 있어서, 상기 기판은 전면 부위에 형성되며 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트를 포함하며,
    상기 기판의 후면 부위들에는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위와 제2 후면 부위를 각각 노출시키는 제1 리세스와 제2 리세스가 형성되고,
    상기 제2 본딩 패드와 상기 검사 패드는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위와 상기 제2 후면 부위를 각각 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  11. 전면과 후면을 갖는 기판;
    상기 기판 내에 형성된 화소 영역들;
    상기 기판의 전면 상에 형성된 절연층;
    상기 절연층의 전면 상에 형성된 본딩 패드;
    상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 본딩 패드; 및
    상기 제2 본딩 패드가 상기 본딩 패드의 후면에 정상적으로 연결되어 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 패드 구조물을 포함하되,
    상기 검사 패드 구조물은, 상기 절연층의 전면 상에 형성된 검사 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제2 검사 패드와, 상기 기판과 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결되고 상기 기판의 후면을 통해 노출되는 제3 검사 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  12. 제1항에 있어서, 상기 기판은 후면 부위들에 형성된 제1 리세스와 제2 리세스 및 제3 리세스를 갖고,
    상기 제2 본딩 패드는 상기 제1 리세스의 저면 부위를 관통하여 상기 본딩 패드의 후면과 연결되며,
    상기 제2 검사 패드와 상기 제3 검사 패드는 상기 제2 리세스의 저면 부위와 상기 제3 리세스의 저면 부위를 각각 관통하여 상기 검사 패드의 후면과 연결되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  13. 제12항에 있어서, 상기 기판의 후면, 상기 제1 리세스의 저면과 내측면들, 상기 제2 리세스의 저면과 내측면들, 및 상기 제3 리세스의 저면과 내측면들 상에 형성되는 반사 방지층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  14. 제13항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 본딩 패드의 후면 부위를 노출시키는 제1 콘택홀을 통해 상기 본딩 패드와 연결되고,
    상기 제2 검사 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 제1 후면 부위를 노출시키는 제2 콘택홀을 통해 상기 검사 패드와 연결되며,
    상기 제3 검사 패드는, 상기 반사 방지층과 상기 기판 및 상기 절연층을 관통하여 상기 검사 패드의 제2 후면 부위를 노출시키는 제3 콘택홀을 통해 상기 검사 패드와 연결되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  15. 제14항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제1 콘택홀의 내측면 및 상기 본딩 패드의 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되고,
    상기 제2 검사 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제2 콘택홀의 내측면 및 상기 검사 패드의 제1 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되며,
    상기 제3 검사 패드는 상기 반사 방지층과 상기 제2 콘택홀의 내측면 및 상기 검사 패드의 제2 후면 부위 상에 일정한 두께로 형성되는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  16. 제15항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드 내에 형성되는 제3 본딩 패드와,
    상기 제2 검사 패드 내에 형성되는 제4 검사 패드와,
    상기 제3 검사 패드 내에 형성되는 제5 검사 패드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  17. 제15항에 있어서, 상기 제2 검사 패드와 제3 검사 패드의 두께는 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일한 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  18. 제15항에 있어서, 상기 반사 방지층 상에 형성되며 상기 화소 영역들과 각각 대응하는 개구들을 갖는 차광 패턴층을 더 포함하며,
    상기 차광 패턴층은 상기 제2 본딩 패드의 두께와 동일한 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  19. 제18항에 있어서, 상기 제2 본딩 패드의 내부를 매립하도록 상기 제2 본딩 패드 상에 형성되는 제3 본딩 패드와,
    상기 제2 검사 패드의 내부를 매립하도록 상기 제2 검사 패드 상에 형성되는 제4 검사 패드와,
    상기 제3 검사 패드의 내부를 매립하도록 상기 제3 검사 패드 상에 형성되는 제5 검사 패드를 더 포함하며,
    상기 기판의 후면이 위를 향하는 경우 상기 제3 본딩 패드의 상부면과 상기 제4 검사 패드의 상부면 및 제5 검사 패드의 상부면은 상기 차광 패턴층의 상부면과 동일한 높이를 갖는 것을 특징으로 하는 후면 조사형 이미지 센서.
  20. 제11항에 있어서, 상기 기판은 전면 부위에 형성되며 절연 물질로 이루어진 필드 플레이트를 포함하며,
    상기 기판의 후면 부위들에는 상기 필드 플레이트의 제1 후면 부위와 제2 후면 부위 및 제3 후면 부위를 각각 노출시키는 제1 리세스와 제2 리세스 및 제3 리세스가 형성되고,
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