KR20220022548A - Method for determining status of placing of electronic in components equipment for processing electronic components - Google Patents

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KR20220022548A
KR20220022548A KR1020200103621A KR20200103621A KR20220022548A KR 20220022548 A KR20220022548 A KR 20220022548A KR 1020200103621 A KR1020200103621 A KR 1020200103621A KR 20200103621 A KR20200103621 A KR 20200103621A KR 20220022548 A KR20220022548 A KR 20220022548A
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Abstract

The present invention relates to an electronic component processing device, and a method for determining a seating status of an electronic component. According to the present invention, the electronic component processing device comprises: a first mover for moving an electronic component from a first to second loading element; a second mover for moving the electronic component from the second loading element to a third loading element; a camera for photographing the electronic component loaded on the second loading element; and a controller for determining whether the electronic component is not properly seated through an image photographed by the camera. The controller determines whether the electronic component is not properly seated through the extracted image obtained by extracting a certain area of a planar image photographed by the camera. According to the present invention, a failure of gripping the electronic component by the second mover is prevented, such that the reliability on an operation of the electronic component processing device is ultimately guaranteed.

Description

자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법{METHOD FOR DETERMINING STATUS OF PLACING OF ELECTRONIC IN COMPONENTS EQUIPMENT FOR PROCESSING ELECTRONIC COMPONENTS}Method for determining the seating status of electronic parts in magnetic parts processing equipment

본 발명은 적재요소에 적재된 전자부품의 안착 상태를 확인하는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to a technique for checking the seating state of electronic components loaded on loading elements.

생산된 전자부품들은 테스트 공정이나 분류 공정 등 다양한 형태의 공정들을 거친 후 출하된다. 이 과정에서 전자부품들을 처리하기 위한 전자부품 처리장비가 사용된다.Produced electronic components are shipped after passing through various types of processes such as a test process or a classification process. In this process, electronic component processing equipment for processing electronic components is used.

전자부품 처리장비는 그 작업 기능에 따라서 다양한 형태로 제작될 수 있다. 이러한 전자부품 처리장비에 전자부품들을 공급하거나 회수하는 작업, 전자부품들을 이동시키는 작업을 위해 전자부품들이 적재될 수 있는 적재요소가 사용된다. 적재요소는 전자부품의 종류, 그 사용되는 작업의 종류 등에 따라 다양한 형태로 제작될 수 있다.Electronic component processing equipment may be manufactured in various forms according to its work function. A loading element in which electronic components can be loaded is used for the operation of supplying or collecting electronic components to the electronic component processing equipment and the operation of moving the electronic components. The loading element may be manufactured in various forms depending on the type of electronic component, the type of work used, and the like.

적재요소가 사용되는 경우에는 적재요소로부터 다른 적재요소로 전자부품들을 이동시키거나, 적재요소에 실린 채로 전자부품들에 대해 요구되는 처리 작업이 이루어질 수 있으며, 경우에 따라서는 처리가 완료된 전자부품이 실린 적재요소를 빼내어 다른 처리장비로 공급할 필요도 있다. 따라서 전자부품의 적절한 이동 및 전자부품에 대한 적절한 처리 작업이 이루어지거나 다른 처리장비에서의 불량 처리를 사전에 방지하려면 전자부품들이 적재요소에 정확히 안착되어 있을 필요가 있다. 그렇지 않고 전자부품이 불량 안착 상태로 적재요소에 실려 있는 경우에는 당연히 불량 작업이 발생한다.When a loading element is used, the electronic parts may be moved from the loading element to another loading element, or a required processing operation may be performed on the electronic parts while being loaded on the loading element, and in some cases, the processed electronic parts may be It is also necessary to take out the loaded loading elements and supply them to other processing equipment. Therefore, in order to properly move electronic components and to properly handle electronic components, or to prevent defective processing in other processing equipment in advance, it is necessary for electronic components to be accurately seated on loading elements. Otherwise, if the electronic component is mounted on the loading element in a defective seating state, a defective operation will naturally occur.

그래서 전자부품의 안착 상태를 확인하기 위해 카메라로 촬영하여 기 입력된 이미지와의 비교하는 과정을 거치는 기술(이하 '종래기술1'이라 함)이 도입되었다. 그런데, 종래기술1은 이미지 대 이미지의 비교라는 점에서 처리 연산 속도가 느리기 때문에 전자부품의 빠른 물류가 필요한 경우에는 적용하기가 곤란하다. 또, 종래기술1은 이미지 대 이미지의 비교이기 때문에 조명과 촬영 상황 또는 장비의 흔들림에서 오는 초점은 순간적인 흐트러짐 등으로 인해 확인이 곤란한 경우가 발생할 수 있다. Therefore, a technology (hereinafter referred to as 'prior art 1') of photographing with a camera and comparing it with a pre-input image was introduced to confirm the seating state of the electronic component. However, the prior art 1 is difficult to apply when fast distribution of electronic parts is required because the processing speed is slow in terms of image-to-image comparison. In addition, since the prior art 1 is an image-to-image comparison, it may be difficult to check the focus from lighting, shooting conditions, or equipment shake due to momentary disturbance.

따라서 전자부품의 안착 상태를 보다 빠르고 정확하게 확인하기 위해서, 본 출원인은 대한민국 공개특허 10-2016-0018211호 및 10-2017-0093624호(이하 '종래기술'이라 함)를 제안한 바 있다.Therefore, in order to more quickly and accurately check the seating state of the electronic component, the present applicant has proposed Korean Patent Application Laid-Open Nos. 10-2016-0018211 and 10-2017-0093624 (hereinafter referred to as 'prior art').

종래기술은 레이저를 조사하여 카메라로 촬영한 후, 촬영된 레이저의 패턴을 분석함으로써 전자부품의 적재 오류를 확인할 수 있도록 하고 있다. 이러한 인용기술에 따르면 분석 팩터(Factor)를 단순화시켜서 전자부품의 안착 상태를 빠르게 확인할 수 있다. 그러나 종래기술2는 전자부품이 입상으로 세워진 경우에는 적절히 사용될 수 있으나, 전자부품이 와상으로 누워진 경우에는 사용되기에 곤란할 수 있다.In the prior art, after photographing with a camera by irradiating a laser, an error in the loading of electronic components can be checked by analyzing the pattern of the photographed laser. According to this cited technology, it is possible to quickly check the seating state of the electronic component by simplifying the analysis factor. However, prior art 2 can be appropriately used when the electronic component is erected in a standing position, but it may be difficult to use when the electronic component is laid in a supine position.

한편, 본 출원인의 대한민국 특허출원 10-2020-0015914호(이하 '선출원기술'이라 함)를 참고하면, 여러 개의 전자소자들이 하나의 기판에 설치된 형태로서 비교적 넓은 면적을 가진 전자부품의 테스트에 사용되는 전자부품 처리장비를 제안하고 있다.On the other hand, referring to the Korean Patent Application No. 10-2020-0015914 of the present applicant (hereinafter referred to as 'pre-application technology'), several electronic devices are installed on one substrate and used for testing electronic components having a relatively large area. We are proposing electronic parts processing equipment that can be used.

선출원기술을 참고하면, 제1 이동기(선출원기술에서는 '핸드'로 명명됨)로 와상(넓은 면이 상하 방향을 향하도록 누워 있는 자세)의 전자부품을 고객트레이에서 중계포켓(선출원기술에서는 '포켓유닛'으로 명명됨)으로 이동시키고, 다시 제2 이동기(선출원기술에서는 '그립퍼'로 명명됨)로 전자부품을 중계포켓에서 테스트트레이로 이동시키면서 전자부품을 입상(넓은 면이 측면을 향하도록 서 있는 자세)으로 전환시키는 구조를 가진다.Referring to the prior application technology, the electronic components of the reclining position (the wide side facing up and down) are transferred from the customer tray to the relay pocket (the ‘pocket unit) and move the electronic parts from the relay pocket to the test tray with the second mover (called 'gripper' in the prior art), while moving the electronic parts to the standing (with the wide side facing the side) It has a structure that converts it to a standing posture).

선출원기술에서 핸드로 전자부품을 이동시키는 작업에 불량이 발생하면, 중계포켓에 전자부품이 불량 안착될 수 있으며, 이러한 경우 그립퍼가 전자부품을 이동시키는 작업에도 불량이 발생할 수 있다. 즉, 그립퍼가 전자부품을 파지하지 못하거나 적절하지 못하게 파지함으로써 전자부품을 테스트트레이에 불량 안착시키는 경우가 발생할 수 있다. 이에 따라 궁극적으로 전자부품과 테스터 간의 전기적인 연결에 불량이 발생하게 되는 것이다.If a defect occurs in the operation of moving the electronic component by hand in the prior art, the electronic component may be defectively seated in the relay pocket. That is, the gripper may fail to grip the electronic component or improperly grip the electronic component, thereby causing the electronic component to be defectively seated on the test tray. Accordingly, ultimately, a defect occurs in the electrical connection between the electronic component and the tester.

따라서 선출원기술에서도 전자부품의 안착 상태를 확인하기 위한 기술이 필요하다. Therefore, even in the prior application technology, a technology for confirming the seating state of the electronic component is required.

본 발명은 선출원기술에서와 같이, 전자부품이 제1 이동기에 의해 제1 적재요소에서 제2 적재요소로 이동된 다음 제2 이동기에 의해 제2 적재요소에서 제3 적재요소로 이동되는 경우에 적절히 적용될 수 있는 전자부품의 안착 상태를 확인할 수 있는 기술에 대한 고민으로부터 안출되었다.As in the prior art, the present invention is suitable when the electronic component is moved from the first loading element to the second loading element by the first mover and then moved from the second loading element to the third loading element by the second mover. It was devised from concerns about technology that can check the seating status of applicable electronic components.

또한, 본 발명은 전자부품이 와상으로 적재된 상태이면서 단자가 돌출된 형태가 아니라 일 측으로 긴 평면 형태의 단자일 경우에 전자부품의 안착 상태를 확인할 수 있는 기술에 대한 고민으로부터 안출되었다.In addition, the present invention has been devised from concerns about a technology that can check the seating state of electronic components when the electronic components are stacked in a supine state and the terminals are long flat to one side rather than protruding.

본 발명에 따른 전자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법은 적재요소에 와상으로 적재되어 있는 전자부품의 평면을 촬영하는 평면 촬영 단계 ―전자부품의 단자들은 상방으로 노출되어 있음―; 상기 평면 촬영 단계에서 촬영된 평면 이미지에서 전자부품의 단자들이 있는 일부의 영역을 추출하여 추출 이미지를 생성하는 추출 이미지 생성 단계; 상기 추출 이미지 생성 단계에서 생성된 추출 이미지를 통해 전자부품의 불량 안착 여부를 판단하는 안착 상태 판단 단계; 를 포함한다.The method for determining the seating state of the electronic component in the electronic component processing equipment according to the present invention includes a plane photographing step of photographing the plane of the electronic component stacked on the loading element in a supine manner - the terminals of the electronic component are exposed upwardly; an extraction image generation step of generating an extraction image by extracting a partial region where terminals of electronic components are located from the plane image photographed in the plane photographing step; a seating state determination step of determining whether the electronic component is defectively seated through the extracted image generated in the extraction image generation step; includes

상기 안착 상태 판단 단계는 제1 기준선과 제2 기준선의 평행 여부를 비교하여 전자부품의 불량 안착 여부를 판단하며, 상기 제1 기준선은 전자부품이 테스터의 테스트소켓과 접촉할 시에 단자들이 테스트소켓에 처음으로 닿는 변이고, 상기 제2 기준선은 상기 적재요소에서 단자들과 대면하는 내벽이다.The seated state determination step determines whether the electronic component is defective by comparing whether the first reference line and the second reference line are parallel to each other. is the first side that touches the , and the second reference line is an inner wall facing the terminals in the loading element.

상기 안착 상태 판단 단계는 제1 기준선분의 양 끝점과 제2 기준선분의 양 끝점의 위치를 비교하여 전자부품의 불량 안착 여부를 판단하며, 상기 제1 기준선분은 전자부품이 테스터의 테스트소켓과 접촉할 시에 단자들이 테스트소켓에 처음으로 닿는 변을 기준으로 설정되고, 상기 제2 기준선분은 상기 적재요소에서 단자들과 대면하는 내벽을 기준으로 설정된다.The seating state determination step determines whether the electronic component is defective by comparing the positions of both endpoints of the first reference line segment and the second reference line segment, and the first reference line segment determines whether the electronic component is connected to the test socket of the tester. The terminals are set based on the side that first comes into contact with the test socket upon contact, and the second reference line is set based on the inner wall facing the terminals in the loading element.

상기 안착 상태 판단 단계는 단자부위를 블록화하는 제1 단계; 블록화된 영역의 중심을 구하는 제2 단계; 연산된 중심과 상기 중계포켓에 있는 기준점을 비교하여 양자 간의 좌표를 구하는 제3 단계; 및 계산된 양자 간의 좌표를 미리 설정된 좌표와 비교하여 전자부품의 안착 불량 여부를 판단하는 제4 단계; 를 포함한다.The step of determining the seating state includes a first step of blocking the terminal portion; a second step of finding the center of the blocked area; a third step of comparing the calculated center with a reference point in the relay pocket to obtain coordinates between the two; and a fourth step of determining whether the electronic component is not properly seated by comparing the calculated coordinates with a preset coordinate; includes

본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.According to the present invention, there are the following effects.

첫째, 전자부품이 제1 이동기와 제2 이동기에 의해 연속적으로 이동되어야 할 경우에, 제1 이동기의 이동 작업과 제2 이동기의 이동 작업 사이에 전자부품의 불량 안착 여부를 확인함으로써 전자부품이 제2 이동기에 의해 적절히 파지될 수 있다.First, when the electronic component is to be moved continuously by the first mover and the second mover, the electronic component is manufactured by checking whether the electronic component is defectively seated between the moving operation of the first mover and the second mover. 2 It can be properly gripped by a mover.

둘째, 와상으로 있으면서 일 측으로 긴 평면 형태의 단자가 적용된 경우에도 전자부품의 불량 안착 여부를 확인할 수 있다.Second, it is possible to check whether the electronic component is badly seated even when the terminal in the form of a long plane is applied to one side while being in a supine shape.

셋째, 제2 이동기에 의한 파지 불량으로 발생할 수 있는 기구물이나 전자부품의 손상을 방지할 수 있다.Third, it is possible to prevent damage to mechanical objects or electronic components that may occur due to a defective grip by the second mover.

따라서 궁극적으로 전자부품 처리장비의 작동에 대한 신뢰성이 담보되는 효과가 있다.Therefore, ultimately, there is an effect that the reliability of the operation of the electronic component processing equipment is guaranteed.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 처리장비에 대한 개념적인 평면도이다.
도 2는 도 1의 전자부품 처리장비에 적용된 제1 이동기와 카메라의 관계를 설명하기 위한 참조도이다.
도 3은 도 1의 전자부품 처리장비의 작동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 4는 도 1의 전자부품 처리장비에서 이루어지는 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법에 대한 흐름도이다.
도 5는 제1 실시예에 따른 안착 상태 판단 단계를 설명하기 위한 참조도이다.
도 6은 제2 실시예에 따른 안착 상태 판단 단계를 설명하기 위한 참조도이다.
도 7은 제3 실시예에 따른 안착 상태 판단 단계에 대한 흐름도이다.
도 8은 제3 실시예에 따른 안착 상태 판단 단계를 설명하기 위한 참조도이다.
1 is a conceptual plan view of an electronic component processing equipment according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a reference diagram for explaining a relationship between a first mover and a camera applied to the electronic component processing equipment of FIG. 1 .
3 is a flowchart for explaining an operation method of the electronic component processing equipment of FIG. 1 .
4 is a flowchart of a method of determining a seating state of an electronic component made in the electronic component processing equipment of FIG. 1 .
5 is a reference diagram for explaining the step of determining a seated state according to the first embodiment.
6 is a reference diagram for explaining the step of determining a seated state according to the second embodiment.
7 is a flowchart of a settling state determination step according to the third embodiment.
8 is a reference diagram for explaining the step of determining a seated state according to the third embodiment.

이하 상기한 바와 같은 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention as described above will be described with reference to the accompanying drawings, but overlapping descriptions will be omitted or compressed as much as possible for the sake of brevity of description.

<전자부품 처리장비에 대한 설명><Description of electronic parts processing equipment>

본 발명에 따른 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법이 적용되는 전자부품 처리장비는 앞서 언급한 선출원기술에 따른 전자부품 테스트 핸들러와 기본적으로 동일하다. 따라서 전자부품 처리장비(100)의 구체적이고 세세한 구성 및 작동에 대해서는 선출원을 통해 이미 제시되었으므로, 본 설명에서는 본 발명의 특징 위주로 설명한다.The electronic component processing equipment to which the method of determining the seating state of the electronic component according to the present invention is applied is basically the same as the electronic component test handler according to the above-mentioned prior application technique. Therefore, since the specific and detailed configuration and operation of the electronic component processing equipment 100 have already been presented through the previous application, the present description will mainly focus on the features of the present invention.

한편, 전자부품 처리장비(100)에는 전자부품을 적재할 수 있는 3 종류의 적재요소가 구비된다.On the other hand, the electronic component processing equipment 100 is provided with three types of loading elements capable of loading electronic components.

제1 적재요소는 고객트레이로서, 테스트되어야 할 전자부품을 전자부품 처리장비로 반입시키거나 테스트가 완료된 전자부품을 전자부품 처리장비로부터 반출하는데 사용된다.The first loading element is a customer tray and is used to bring in an electronic component to be tested into the electronic component processing equipment or take out the electronic component that has been tested from the electronic component processing equipment.

제2 적재요소는 중계포켓으로서, 제1 이동기와 제2 이동기 사이에서 전자부품을 중계하는 역할을 수행하며, 테스트되어야 할 전자부품 간의 간격을 조절하고, 전자부품의 정확한 위치를 설정하기 위해 사용된다.The second loading element is a relay pocket, which serves to relay electronic components between the first and second movers, and is used to adjust the distance between the electronic components to be tested and to set the exact position of the electronic components. .

제3 적재요소는 테스트트레이로서, 적재된 전자부품들을 한꺼번에 테스터에 전기적으로 연결하는데 사용된다.The third loading element is a test tray, which is used to electrically connect the loaded electronic components to the tester at once.

그래서 테스트되어야 할 전자부품은 고객트레이에서 중계포켓을 거쳐 테스트트레이로 이동된 후, 테스트가 완료되면 테스트트레이에서 중계포켓을 거쳐 고객트레이로 이동된다. 여기서 고객트레이와 중계포켓에는 전자부품이 와상으로 적재될 수 있고, 테스트트레이에는 입상으로 적재될 수 있다. 그리고 전자부품이 와상인 상태에서는 단자들이 상방을 향해 노출되도록 되어 있고, 전자부품이 입상인 상태에서는 단자들이 하방을 향하도록 되어 있다.Therefore, the electronic component to be tested is moved from the customer tray through the relay pocket to the test tray, and when the test is completed, the electronic component is moved from the test tray through the relay pocket to the customer tray. Here, electronic components can be stacked on the customer tray and relay pocket, and stacked on the test tray. In addition, in a state in which the electronic component is in a supine state, the terminals are exposed upward, and in a state in which the electronic component is in a standing state, the terminals are directed downward.

그리고 본 전자부품 처리장비(100)에서 처리되어지는 전자부품들의 단자는 골드 핑커이다. 여기서 골드 핑거는 테스트소켓과 접속하는 금속물질로 평평한 바(bar) 형태의 단자를 의미한다.And the terminals of the electronic components to be processed in the present electronic component processing equipment 100 is a gold pinker. Here, the gold finger is a metal material connected to the test socket and means a flat bar-shaped terminal.

도 1은 전자부품 처리장비(100)에 대한 개념적인 평면도이다.1 is a conceptual plan view of an electronic component processing equipment 100 .

도 1의 전자부품 처리장비(100)는 스택커(111 내지 115)들, 제1 이동기(120), 8개의 중계포켓(131 내지 138), 제2 이동기(140), 8개의 카메라(151 내지 158), 이송기(160, 선출원 기술에서는 '간격조절 셔틀'로 명명됨), 가압기(170, 선출원 기술에서는 '프레스 모듈'로 명명됨) 및 제어기(180)를 포함한다.The electronic component processing equipment 100 of FIG. 1 includes stackers 111 to 115, a first mover 120, eight relay pockets 131 to 138, a second mover 140, and eight cameras 151 to 158), a transfer machine 160 (referred to as a 'gap control shuttle' in the prior art), a pressurizer 170 (referred to as a 'press module' in the prior art), and a controller 180 .

스택커(111 내지 115)들은 전자부품을 적재할 수 있는 제1 적재요소인 고객트레이(CT)를 수납하기 위해 구비된다. 일부의 스택커(111, 112)들은 테스트되어야 할 전자부품들이 실린 고객트레이(CT)를 수납하고, 다른 일부의 스택커(113 내지 114)들은 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 고객트레이(CT)를 수납한다.The stackers 111 to 115 are provided to accommodate the customer tray CT, which is a first loading element capable of loading electronic components. Some of the stackers 111 and 112 accommodate the customer tray CT on which electronic components to be tested are loaded, and some of the stackers 113 to 114 receive the customer tray CT on which the tested electronic components are loaded. store it

제1 이동기(120)는 한 번에 8개의 전자부품을 고객트레이(CT)에서 중계포켓(131 내지 138)으로 이동시킨다. 이를 위해 제1 이동기(120)는 고객트레이(CT)에 와상으로 적재되어 있는 전자부품의 넓은 면을 진공 흡착 방식으로 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 8개의 픽커(P)를 가진다.The first mover 120 moves eight electronic components from the customer tray CT to the relay pockets 131 to 138 at a time. To this end, the first mover 120 has eight pickers P capable of holding or releasing the large surface of the electronic component stacked on the customer tray CT in a vacuum adsorption method.

중계포켓(131 내지 138)은 고객트레이(CT)로부터 온 전자부품을 적재시킬 수 있다. 이러한 중계포켓(131 내지 138)은 전자부품들 간의 간격을 조절하고, 전자부품의 위치를 정교하게 설정하기 위해 마련된다. 일반적으로 고객트레이(CT)에 적재된 전자부품들 간의 간격은 제1 간격으로 좁고, 테스트트레이(TT)에 적재된 전자부품들 간의 간격은 제2 간격으로 넓다. 따라서 전자부품이 고객트레이(CT)에서 테스트트레이(TT)로 이동하는 과정이나 그 역의 과정에서 전자부품들 간의 간격이 조절되어야 하는데, 본 실시예에서는 중계포켓(131 내지 138)을 활용하여 전자부품들 간의 간격을 조절한다. 따라서 8개의 중계포켓(131 내지 138)은 서로 간의 간격이 제1 간격으로 좁아지거나 제2 간격으로 넓어질 수 있다.The relay pockets 131 to 138 may load electronic components from the customer tray CT. The relay pockets 131 to 138 are provided to adjust the distance between the electronic components and to precisely set the positions of the electronic components. In general, the interval between electronic components loaded on the customer tray CT is narrow at the first interval, and the interval between the electronic components loaded on the test tray TT is wide at the second interval. Therefore, in the process of moving the electronic component from the customer tray CT to the test tray TT or vice versa, the distance between the electronic components must be adjusted. In this embodiment, the relay pockets 131 to 138 are used to Adjust the spacing between parts. Accordingly, the distance between the eight relay pockets 131 to 138 may be narrowed at the first interval or widened at the second interval.

제2 이동기(140)는 중계포켓(131 내지 138)에 적재된 전자부품을 테스트트레이(TT)로 이동시키기 위해 구비된다. 이러한 제2 이동기(140)는 중계포켓(131 내지 138)에 와상으로 안착되어 있는 전자부품을 파지한 후 입상으로 전환시켜서 테스트트레이(TT)로 적재시킨다. 여기서 제2 이동기(140)는 흡착 방식으로 전자부품을 파지하는 제1 이동기(120)의 파지 방식과는 달리 전자부품의 양 측을 가압하여 파지하는 방식을 취한다. 이 때, 전자부품의 단자들은 후방 쪽에 있으므로 제2 이동기(140)가 파지하는 부위는 전자부품의 전방 쪽인 것이 바람직하다. The second mover 140 is provided to move the electronic components loaded in the relay pockets 131 to 138 to the test tray TT. The second mover 140 holds the electronic components seated in the supine position in the relay pockets 131 to 138, converts them to a standing position, and loads them on the test tray TT. Here, the second mover 140 presses both sides of the electronic component and grips it, unlike the gripping method of the first mover 120 that grips the electronic component by an adsorption method. At this time, since the terminals of the electronic component are on the rear side, it is preferable that the portion gripped by the second mover 140 is the front side of the electronic component.

카메라(151 내지 158)는 중계포켓(131 내지 138)에 적재된 전자부품의 안착 상태를 확인하기 위해 마련된다. 왜냐하면, 제2 이동기(140)가 중계포켓(131 내지 138)에 안착된 전자부품을 파지할 때, 불량 안착된 경우에는 파지 불량이 발생하고, 이는 전자부품이 테스트트레이(TT)에 불량 안착될 개연성을 가지게 한다. 그래서 궁극적으로는 전자부품과 테스터의 전기적인 연결에 불량을 야기 시킬 수 있다. 따라서 제2 이동기(140)가 중계포켓(131 내지 138)에 있는 전자부품을 적절히 파지할 수 있는 상태인지 여부를 확인하는 것이 중요하고, 이를 위해 카메라(151 내지 158)가 구비되는 것이다. 이러한 카메라(151 내지 158)는 도 2의 개략적인 발췌도에서 참조되는 바와 같이 픽커(P)의 후방에 구비된다. 즉, 8개의 카메라(151 내지 158)는 8개의 픽커(P)에 전후 방향으로 대응되는 위치에 구비되며, 제1 이동기(120)에 장착되어서 8개의 픽커(P)와 함께 이동하도록 되어 있다. 본 실시예에 따르면 중계포켓(131 내지 138)이 8개가 구비되며, 제1 이동기(120)가 한 번에 이동시킬 수 있는 개수는 8개이고, 한 개의 카메라(151 내지 158)가 한 개의 전자부품을 촬영하는 구조를 취한다. 그러나 카메라의 개수를 줄이기 위해 한 개의 카메라가 2개 이상의 전자부품을 촬영하도록 하는 예를 취하는 것도 충분히 고려될 수 있다. 또한, 본 실시예에서는 카메라(151 내지 158)가 제1 이동기(120)에 장착되어서 픽커(P)와 함께 이동하도록 되어 있으나, 실시하기에 따라서는 카메라(151 내지 158)가 중계포켓(131 내지 138)의 상방에 고정되게 구비되는 것도 충분히 고려해볼 수 있다. 다만, 이미지의 해상도를 높이기 위해 카메라(151 내지 158)의 초점거리를 줄이면서 카메라(151 내지 158)가 전자부품에 최대한 근접하는 것이 바람직하므로, 한 개의 카메라(151 내지 158)는 한 개의 전자부품을 촬영하도록 하고, 픽커(P)와 함께 수평 및 수직 방향으로 이동될 수 있도록 구비되는 것이 바람직하다. The cameras 151 to 158 are provided to check the seating state of the electronic components loaded in the relay pockets 131 to 138 . Because, when the second mover 140 grips the electronic component seated in the relay pockets 131 to 138, a defective grip occurs when the electronic component is seated defectively, which means that the electronic component is not properly seated on the test tray TT. make it possible So, ultimately, it may cause a defect in the electrical connection between the electronic component and the tester. Therefore, it is important to check whether the second mover 140 is in a state capable of properly gripping the electronic components in the relay pockets 131 to 138, and for this purpose, the cameras 151 to 158 are provided. These cameras 151 to 158 are provided at the rear of the picker P as referenced in the schematic excerpt of FIG. 2 . That is, the eight cameras 151 to 158 are provided at positions corresponding to the eight pickers P in the front-rear direction, and are mounted on the first mover 120 to move together with the eight pickers P. According to this embodiment, eight relay pockets 131 to 138 are provided, the number that the first mover 120 can move at a time is eight, and one camera 151 to 158 is one electronic component. Take a structure to shoot However, in order to reduce the number of cameras, taking an example of allowing one camera to photograph two or more electronic components may be sufficiently considered. In addition, in this embodiment, the cameras 151 to 158 are mounted on the first mover 120 to move together with the picker P, but depending on the implementation, the cameras 151 to 158 are the relay pockets 131 to 158. 138) can be sufficiently considered to be fixedly provided above. However, since it is preferable that the cameras 151 to 158 be as close to the electronic component as possible while reducing the focal length of the cameras 151 to 158 in order to increase the resolution of the image, one camera 151 to 158 is one electronic component. It is preferable to be provided so as to be able to photograph and move in the horizontal and vertical directions together with the picker (P).

참고로, 도 2에서 미설명 부호 'LU'는 전자부품(ED)으로 빛을 조명하기 위한 조명기로서, 본 실시예에서는 조명기(LU)가 전자부품의 단자부위를 집중 조명하는 구조를 취한다. 본 실시예에 따른 도 2의 조명기는 LED들이 일렬로 나열되어 있고, 확산판으로 싸여있는 구조를 가지고 있다.For reference, unexplained reference numeral 'LU' in FIG. 2 is an illuminator for illuminating light with the electronic component ED, and in this embodiment, the illuminator LU takes a structure in which the terminal portion of the electronic component is focused. The illuminator of FIG. 2 according to this embodiment has a structure in which LEDs are arranged in a line and surrounded by a diffusion plate.

이송기(160)는 중계포켓(131 내지 138)들을 제1 이동기(120)가 전자부품을 이동시킬 수 있는 제1 영역(F1)과 제2 이동기(140)가 전자부품을 이동시킬 수 있는 제2 영역(F2) 간을 이송시킨다. 즉, 본 실시예에서는 제1 이동기(120)의 작업 영역(제1 영역)과 제2 이동기(140)의 작업 영역(제2 영역)이 중첩되어 제1 이동기(120)와 제2 이동기(140)가 간섭하는 경우를 방지하기 위해 고객트레이(CT)와 테스트트레이(TT) 사이에 중계포켓(131 내지 138)을 구비시키고, 이송기(160)에 의해 중계포켓(131 내지 138)이 제1 영역(F1)과 제2 영역(F2) 간을 오갈 수 있는 구조를 취하고 있다. 이처럼 중계포켓(131 내지 138)은 제1 이동기(120)와 제2 이동기(140) 사이에서 전자부품을 중계하는 역할을 수행한다. The transfer unit 160 includes the relay pockets 131 to 138 in a first area F1 in which the first mover 120 can move an electronic component and a second mover 140 in which the second mover 140 can move the electronic component. Transfer between the 2 areas F2. That is, in the present embodiment, the work area (first area) of the first mover 120 and the work area (second area) of the second mover 140 overlap, so that the first mover 120 and the second mover 140 are overlapped. ) to prevent interference, relay pockets 131 to 138 are provided between the customer tray CT and the test tray TT, and the relay pockets 131 to 138 are first It has a structure that can go back and forth between the area F1 and the second area F2. As such, the relay pockets 131 to 138 serve to relay electronic components between the first mover 120 and the second mover 140 .

그리고 이송기(160)는 중계포켓(131 내지 138)들 간의 간격을 제1 간격에서 제2 간격으로 넓히거나 제2 간격에서 제1 간격으로 좁히는 기능도 가진다(도 1의 이동 화살표 참조). 따라서 전자부품들은 중계포켓(131 내지 138)에 적재된 상태에서 서로 간의 간격이 조절될 수 있다. And the transfer unit 160 also has a function of widening the interval between the relay pockets 131 to 138 from the first interval to the second interval or narrowing the interval from the second interval to the first interval (refer to the movement arrow in FIG. 1 ). Accordingly, the distance between the electronic components can be adjusted while the electronic components are loaded in the relay pockets 131 to 138 .

가압기(170)는 테스트트레이(TT)에 적재된 전자부품을 하방으로 가압하여 전자부품과 테스터가 전기적으로 연결되게 한다. 물론, 하방에는 테스터의 테스트소켓이 구비되어 있다. 이러한 가압기(170)는 본 실시예에 따른 전자부품 처리장비(100)가 테스트용이기 때문에 구비되므로, 전자제품에 대한 테스트를 요하지 않는 처리(예를 들면 랏별 분류, 테스트 등급별 단순 분류 등의 처리)를 하기 위한 다른 전자부품 처리장비에서는 생략될 수 있다.The presser 170 presses the electronic component loaded on the test tray TT downward to electrically connect the electronic component and the tester. Of course, a test socket for the tester is provided on the lower side. Since this pressurizer 170 is provided because the electronic component processing equipment 100 according to the present embodiment is for testing, processing that does not require testing of electronic products (for example, processing of lot-by-lot classification, simple classification by test grade, etc.) It can be omitted in other electronic parts processing equipment for

제어기(180)는 상기한 각 구성을 제어한다. 특히, 제어기(180)는 제1 이동기(120)에 의해 고객트레이(CT)에서 중계포켓(131 내지 138)으로 이동된 전자부품을 촬영하도록 제1 이동기(120)와 카메라(151 내지 158)를 제어한다. 그리고 제어기(180)는 카메라(151 내지 158)에 의해 촬영된 이미지를 통해 전자부품이 중계포켓(131 내지 138)에 양호하게 안착되었는지를 판단하고, 양호하게 안착된 경우에만 제2 이동기(140)에 의한 전자부품의 이동이 이루어지도록 제어한다. 여기서 제어기(180)는 카메라(151 내지 158)에 의해 촬영된 이미지에서 전자부품의 단자부위를 추출하여 전자부품의 안착 불량 여부를 판단하는 방법을 취하며, 이러한 방법에 대해서는 추후 목차를 달리하여 더 자세히 설명한다.The controller 180 controls each of the above-described components. In particular, the controller 180 uses the first mover 120 and the cameras 151 to 158 to photograph the electronic components moved from the customer tray CT to the relay pockets 131 to 138 by the first mover 120 . control And the controller 180 determines whether the electronic component is satisfactorily seated in the relay pockets 131 to 138 through the images captured by the cameras 151 to 158, and only when it is satisfactorily satisfies the second mover 140 Controls the movement of electronic components by Here, the controller 180 extracts the terminal portion of the electronic component from the image taken by the cameras 151 to 158 to determine whether the electronic component is not properly seated. Describe in detail.

또한, 제어기(180)는 중계포켓(131 내지 138)에 적재된 전자부품의 안착 상태가 양호한 것으로 판단되면, 이송기(160)를 제어하여 중계포켓(131 내지 138)을 제1 영역(F1)에서 제2 영역(F2)으로 이송시킴으로써 제2 이동기(140)가 중계포켓(131 내지 138)으로부터 전자부품을 파지할 수 있게 한다. 물론, 이 과정에서 중계포켓(131 내지 138)들 간의 간격은 제2 간격으로 넓어진다.In addition, when it is determined that the seating state of the electronic components loaded in the relay pockets 131 to 138 is good, the controller 180 controls the transporter 160 to move the relay pockets 131 to 138 to the first area F1. By transferring it from the to the second area F2, the second mover 140 enables the electronic component to be gripped from the relay pockets 131 to 138. Of course, in this process, the interval between the relay pockets 131 to 138 is widened by the second interval.

한편, 본 실시예에 따르면, 제1 이동기(120)가 이동시킬 수 있는 전자부품의 개수와, 제2 이동기(140)가 이동시킬 수 있는 전자부품의 개수와, 중계포켓(131 내지 138)의 개수가 8개로 동일하다. 즉, 본 실시예에서는 하나의 고객트레이(CT)에 적재되어 있던 전자부품들이 모두 중계포켓(131 내지 138)으로 이동된 후에 다시 테스트트레이(TT)로 이동되는 구조가 아니라, 먼저 8개의 전자부품이 고객트레이(CT)에서 중계포켓(131 내지 138)을 거쳐 테스트트레이(TT)로 이동되고, 다시 다음 8개의 전자부품이 고객트레이(CT)에서 중계포켓(131 내지 138)을 거쳐 테스트트레이(TT)로 이동하는 순차적인 이동 방식을 취한다. 따라서 제1 이동기(120)에 의해 8개의 전자부품이 8개의 중계포켓(131 내지 138)으로 이동되는 제1 이동 작업이 이루어지면, 연이어서 8개의 카메라(151 내지 158)가 각각 대응하는 중계포켓(131 내지 138)에 적재된 전자부품을 촬영하는 촬영 작업이 이루어지게 된다. 물론, 카메라(151 내지 158)에 의해 전자부품들이 촬영될 수 있도록 제1 이동기(120)가 전자부품들의 상방에 카메라(151 내지 158)를 위치시켜야 할 것이다. 그리고 촬영 작업 후에는 제2 이동기(140)가 테스트트레이(TT)로 전자부품을 이동시키는 제2 이동 작업이 이루어짐으로써, 다음에 이동될 전자부품들이 중계포켓(131 내지 138)에 적재될 수 있도록 중계포켓(131 내지 138)을 비운다.Meanwhile, according to the present embodiment, the number of electronic components that the first mover 120 can move, the number of electronic components that the second mover 140 can move, and the number of relay pockets 131 to 138 are The number is equal to 8. That is, in the present embodiment, rather than the structure in which all electronic components loaded in one customer tray CT are moved to the relay pockets 131 to 138 and then moved back to the test tray TT, eight electronic components are first From this customer tray (CT), it is moved to the test tray (TT) through the relay pockets (131 to 138), and again the next 8 electronic components are transferred from the customer tray (CT) through the relay pockets (131 to 138) to the test tray ( TT) takes a sequential movement method. Therefore, when the first movement operation in which the eight electronic components are moved to the eight relay pockets 131 to 138 by the first mover 120 is performed, the eight cameras 151 to 158 are sequentially connected to the corresponding relay pockets, respectively. A photographing operation of photographing the electronic components loaded in (131 to 138) is performed. Of course, the first mover 120 will have to position the cameras 151 to 158 above the electronic components so that the electronic components can be photographed by the cameras 151 to 158 . And after the photographing operation, the second movement unit 140 moves the electronic components to the test tray TT, so that the electronic components to be moved next can be loaded into the relay pockets 131 to 138. The relay pockets 131 to 138 are emptied.

<작동 설명><Operation Description>

계속하여 위에서 설명한 전자부품 처리장비(100)의 작동에 대해서 도 3의 흐름도를 설명한다.Next, a flowchart of FIG. 3 will be described with respect to the operation of the electronic component processing equipment 100 described above.

1. 반입 단계<S310>1. Import step <S310>

작업자 또는 반입기구 등에 의해 테스트되어야 할 전자부품들이 적재된 고객트레이(CT)들이 일부의 스택커(111, 112)로 반입된다.The customer trays CT on which electronic components to be tested are loaded by a worker or a carrying mechanism are loaded into some of the stackers 111 and 112 .

2. 제1 이동 단계<S320>2. First moving step <S320>

반입된 고객트레이(CT)들이 순차적으로 한 장씩 공급위치(도시되지 않았으나 스택커의 상방에 있음)로 위치되고, 제1 이동기(120)는 공급위치에 있는 고객트레이(CT)로부터 8개의 전자부품을 흡착 파지하여 현재 제1 영역(F1)에 있는 8개의 중계포켓(131 내지 138)에 적재시킨다.The loaded customer trays (CT) are sequentially positioned one by one to the supply position (not shown, but located above the stacker), and the first mover 120 moves eight electronic components from the customer tray (CT) in the supply position. is adsorbed and held and loaded in the eight relay pockets 131 to 138 currently in the first area F1.

3. 판단 단계<S330>3. Judgment step <S330>

이어서 제1 이동기(120)가 중계포켓(131 내지 138)에 있는 전자부품의 상방에 카메라(151 내지 158)를 위치시키고, 카메라(151 내지 158)에 의한 전자부품의 촬영이 이루어진다. 그리고 제어기(180)는 8개의 카메라(151 내지 158)에 의해 획득된 8개의 이미지를 분석함으로써, 전자부품이 중계포켓(131 내지 138)에 적절히 안착되어 있는지를 판단한다. 그리고 전자부품이 정상적으로 양호하게 안착되어 있으면 제어기(180)는 후술할 이송 단계를 진행시키고, 전자부품이 불량 안착되어 있으면 제어기(180)는 후술할 이송 단계를 진행시키지 않고, 잼(jam)을 발생시키도록 제어한다. 만일 잼이 발생되면, 전자부품 처리장비(100)의 작동이 멈추게 되고, 이 상태에서 작업자는 전자부품을 정상적으로 안착시킨 후에 전자부품 처리장비(100)를 재작동시킨다. 이럴 경우, 전자부품 처리장비(100)는 판단 단계<S330>를 재수행한다.Next, the first mover 120 positions the cameras 151 to 158 above the electronic components in the relay pockets 131 to 138, and the electronic components are photographed by the cameras 151 to 158. Then, the controller 180 analyzes the eight images acquired by the eight cameras 151 to 158 to determine whether the electronic component is properly seated in the relay pockets 131 to 138 . And if the electronic component is properly seated, the controller 180 proceeds with a transfer step to be described later, and if the electronic component is not properly seated, the controller 180 does not proceed with the transfer step to be described later, and a jam occurs. control to make If the jam occurs, the operation of the electronic component processing equipment 100 is stopped, and in this state, the operator re-operates the electronic component processing equipment 100 after seating the electronic component normally. In this case, the electronic component processing equipment 100 re-performs the determination step <S330>.

본 발명은 이 판단 단계<S330>에 그 주요 특징이 있으므로, 판단 단계<S330>는 후에 목차를 달리하여 더욱 세분화하여 실시예 별로 설명한다.In the present invention, since the determination step <S330> has its main characteristics, the determination step <S330> will be further subdivided by changing the table of contents later and will be described for each embodiment.

4. 이송 단계<S340>4. Transfer step <S340>

전자부품들이 중계포켓(131 내지 138)들에 정상적으로 안착되어 있으면, 이송기(160)는 중계포켓(131 내지 138)들을 제1 영역(F1)에서 제2 영역(F2)으로 이송시킨다. 이 과정에서 이송기(160)는 중계포켓(131 내지 138)들 간의 간격을 제1 간격에서 제2 간격으로 벌린다.When the electronic components are normally seated in the relay pockets 131 to 138 , the transfer unit 160 transfers the relay pockets 131 to 138 from the first area F1 to the second area F2 . In this process, the transfer unit 160 spreads the interval between the relay pockets 131 to 138 from the first interval to the second interval.

5. 제2 이동 단계<S350>5. Second moving step <S350>

제2 이동기(140)는 제2 영역(F2)으로 이송되어 온 중계포켓(131 내지 138)들로부터 8개의 전자부품을 파지한 후, 입상으로 자세를 전환시켜서 테스트트레이(TT)로 이동시킨다.The second mover 140 grasps eight electronic components from the relay pockets 131 to 138 that have been transferred to the second area F2, and then changes their posture to a standing position and moves them to the test tray TT.

6. 가압 단계<S360>6. Pressurization step <S360>

테스트트레이(TT)에 전자부품이 채워지면, 가압기(170)가 작동하여 전자부품들을 테스트트레이(TT)의 하방에 있는 테스터의 테스트소켓들에 전기적으로 연결시킨다.When the electronic components are filled in the test tray TT, the pressurizer 170 operates to electrically connect the electronic components to the test sockets of the tester located below the test tray TT.

7. 반출 단계<S370>7. Carry out step <S370>

테스트가 종료되면, 가압기(170)가 전자부품들의 가압을 해제하고, 위의 역 과정을 거쳐 테스트가 완료된 전자부품들이 고객트레이(CT)에 실린다. 이 때, 제1 이동기(120)는 테스트가 완료된 전자부품들을 테스트 등급별로 구분하여 고객트레이(CT)로 이동시킨다. 그리고 테스트가 완료된 전자부품들로 채워진 고객트레이(CT)는 나머지 일부의 스택커(113 내지 115)로 수납된 후, 작업자 또는 반출기구에 의해 전자부품 처리장비로부터 반출된다. 참고로, 실시하기에 따라서는 불량 판정된 전자부품을 별도로 적재시키기 위한 테이블(또는 고객트레이)을 구비시킬 수도 있다. When the test is finished, the pressurizer 170 releases the pressurization of the electronic components, and the electronic components that have been tested through the reverse process are loaded onto the customer tray CT. At this time, the first mover 120 classifies the electronic components that have been tested by test grade and moves them to the customer tray CT. Then, the customer tray CT filled with the electronic components that have been tested is accommodated in the remaining part of the stackers 113 to 115, and then taken out from the electronic component processing equipment by a worker or a take-out mechanism. For reference, depending on implementation, a table (or customer tray) for separately loading electronic components determined to be defective may be provided.

<판단 단계에 대한 제1 실시예 ?? 도 4의 흐름도 참조><First Example for Judgment Step ?? See the flowchart of Fig. 4>

1. 평면 촬영<S331>1. Planar shooting<S331>

제2 적재요소인 중계포켓(131 내지 138)에 와상으로 적재되어 있는 전자부품의 평면을 촬영한다. 이 때, 카메라(151 내지 158)의 시야각에는 전자부품 뿐만 아니라 중계포켓(131 내지 138)까지 들어와 있기 때문에, 카메라(151 내지 158)에 의해 획득된 이미지에는 전자부품을 포함한 중계포켓(131 내지 138)까지 들어있다. 그리고 와상으로 적재된 전자부품의 단자들은 상방으로 노출되어 있기 때문에, 카메라(151 내지 158)에 의해 획득된 이미지에는 전자부품의 단자들도 포함되어 있다. The plane of the electronic component stacked in the relay pockets 131 to 138, which is the second loading element, is photographed. At this time, since not only electronic components but also relay pockets 131 to 138 are included in the viewing angle of the cameras 151 to 158, the images acquired by the cameras 151 to 158 include relay pockets 131 to 138 including electronic components. ) up to And, since the terminals of the electronic components stacked in the supine phase are exposed upward, the images acquired by the cameras 151 to 158 also include terminals of the electronic components.

2. 추출 이미지 생성<S332>2. Create extract image<S332>

제어기(180)는 도 5에서와 같이 평면 촬영 단계<S331>에서 촬영된 평면 이미지(I1)에서 전자부품(ED)의 단자(T)들이 있는 일부의 영역(A)을 추출하여 추출 이미지(I2)를 생성한다.The controller 180 extracts a part of the region A in which the terminals T of the electronic component ED are located from the plane image I 1 taken in the plane photographing step <S331> as in FIG. 5 and extracts the extracted image ( I 2 ) is generated.

3. 안착 상태 판단<S333>3. Determination of the seated state<S333>

제어기(180)는 추출 이미지 생성 단계<S312>에서 생성된 추출 이미지(I2)를 통해 전자부품(ED)의 불량 안착 여부를 판단한다. 이를 위해 제어기(180)는 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)을 설정한다.The controller 180 determines whether the electronic component ED is defectively seated through the extracted image I 2 generated in the extracted image generation step <S312>. To this end, the controller 180 sets the first reference line L1 and the second reference line L2.

제1 기준선(L1)은 전자부품이 테스터의 테스트소켓과 접촉할 시에 단자(T)들이 테스트소켓에 처음으로 닿는 변일 수 있고, 제2 기준선(L2)은 중계포켓(I2)에서 단자(T)들과 대면하는 내벽일 수 있다. 물론, 실시하기에 따라서 제1 기준선(L1)은 전자부품(ED) 측의 어떤 다른 기준선일 수 있고, 제2 기준선(L2)은 중계포켓(131 내지 138) 측의 어떤 다른 기준선일 수 있다.The first reference line L1 may be a side where the terminals T first contact the test socket when the electronic component comes into contact with the test socket of the tester, and the second reference line L2 is the terminal (I 2 ) in the relay pocket I 2 . It may be an inner wall facing T). Of course, depending on implementation, the first reference line L1 may be any other reference line on the side of the electronic component ED, and the second reference line L2 may be any other reference line on the side of the relay pockets 131 to 138 .

제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)이 설정되면, 제어기(180)는 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)이 평행한지 여부를 확인한다. 그래서 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)이 평행하면 제어기(180)는 전자부품(ED)들이 정상적으로 안착되었다고 판단하고, 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)이 평행하지 않으면 전자부품(ED)들이 불량 안착되었다고 판단한다. 물론, 양호한 안착과 불량 안착을 판단하는 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)의 평행 여부는 어느 정도 허용 오차범위를 가질 수 있다. 즉, 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)이 정확히 평행하지 않더라도 제2 이동기(140)가 중계포켓(131 내지 138)에 적재된 전자부품(ED)을 정상적으로 파지할 수 있는 정도의 오차 범위 내에서 평행하지 않은 경우라면, 제어기(180)는 전자부품(ED)이 정상적으로 중계포켓(131 내지 138)에 안착된 것으로 판단할 수 있다.When the first reference line L1 and the second reference line L2 are set, the controller 180 checks whether the first reference line L1 and the second reference line L2 are parallel to each other. Therefore, if the first reference line L1 and the second reference line L2 are parallel, the controller 180 determines that the electronic components ED are normally seated, and the first reference line L1 and the second reference line L2 are not parallel. Otherwise, it is judged that the electronic components (ED) are defectively seated. Of course, whether the first reference line L1 and the second reference line L2 for determining good seating and bad seating are parallel to each other may have a certain tolerance range. That is, even if the first reference line L1 and the second reference line L2 are not exactly parallel, the second mover 140 can normally grip the electronic component ED loaded in the relay pockets 131 to 138. If they are not parallel within the error range, the controller 180 may determine that the electronic component ED is normally seated in the relay pockets 131 to 138 .

여기서 양 기준선(L1, L2) 간의 거리 및 평행 여부는 이미지의 픽셀수를 파악하는 방식으로 판단될 수 있다. Here, the distance between the two reference lines L1 and L2 and whether they are parallel may be determined by determining the number of pixels in the image.

<판단 단계에 대한 제2 실시예 ?? 도 4의 흐름도 참조><Second Example for Judgment Step ?? See the flowchart of Fig. 4>

1. 평면 촬영<S331>1. Planar shooting<S331>

제2 적재요소인 중계포켓(131 내지 138)에 와상으로 적재되어 있는 전자부품의 평면을 촬영한다. The plane of the electronic component stacked in the relay pockets 131 to 138, which is the second loading element, is photographed.

2. 추출 이미지 생성<S312>2. Generate extracted image<S312>

제어기(180)는 도 5에 따른 설명과 동일하게 촬영 단계<S331>에서 촬영된 평면 이미지(I1)에서 전자부품(ED)의 단자(T)들이 있는 일부의 영역(A)을 추출하여 추출 이미지(I2)를 생성한다.The controller 180 extracts and extracts a partial area A in which the terminals T of the electronic component ED are located from the plane image I 1 taken in the photographing step <S331> in the same manner as described in FIG. 5 . Create an image I 2 .

3. 안착 상태 판단<S313>3. Settling status <S313>

제어기(100)는 추출 이미지 생성 단계<S332>에서 생성된 추출 이미지(I2)를 통해 전자부품(ED)의 불량 안착 여부를 판단한다. 이를 위해 도 6에서와 같이 제어기(180)는 제1 기준선분(S1)과 제2 기준선분(S2)을 설정한다.The controller 100 determines whether the electronic component ED is defectively seated through the extracted image I 2 generated in the extracted image generation step <S332>. To this end, as shown in FIG. 6 , the controller 180 sets the first reference line segment S1 and the second reference line segment S2 .

제1 기준선분(S1)은 전자부품(ED)이 테스터의 테스트소켓과 접촉할 시에 단자들이 테스트소켓에 처음으로 닿는 변을 기준으로 설정되고, 제2 기준선분(S2)은 중계포켓(131 내지 138)에서 단자(T)들과 대면하는 내벽을 기준으로 설정된다.The first reference line segment S1 is set based on the side where the terminals first contact the test socket when the electronic component ED comes into contact with the test socket of the tester, and the second reference line segment S2 is the relay pocket 131 to 138) based on the inner wall facing the terminals T.

제1 기준선분(S1)과 제2 기준선분(S2)이 설정되면, 제어기(180)는 제1 기준선분(S1)의 양 끝 점(P1, P2)과 제2 기준선분(S2)의 양 끝점(P3, P4)의 위치를 비교한다. 그래서 제1 기준선분(S1)의 양 끝점(P1, P2)과 제2 기준선분(S2)의 양 끝점(P3, P4) 간에 치우침이 없으면 제어기(180)는 전자부품(ED)들이 정상적으로 안착되었다고 판단하고, 제1 기준선분(S1)의 양 끝점(P1, P2)과 제2 기준선분(S2)의 양 끝점(P3, P4) 간에 치우침이 있으면 제어기(180)는 전자부품(ED)들이 불량 안착되었다고 판단한다. 물론, 본 실시예에서도 제1 기준선분(S1)의 양 끝점(P1, P2)과 제2 기준선분(S2)의 양 끝점(P3, P4) 간의 치우침에 어느 정도 허용 오차를 가질 수 있다.When the first reference line segment S1 and the second reference line segment S2 are set, the controller 180 controls both end points P 1 and P 2 of the first reference line segment S1 and the second reference line segment S2. Compare the positions of both endpoints (P 3 , P 4 ). So, if there is no bias between both endpoints P 1 , P 2 of the first reference line segment S1 and both endpoints P 3 , P 4 of the second reference line segment S2, the controller 180 controls the electronic component ED. If it is determined that they are normally seated, and there is a bias between both endpoints P 1 , P 2 of the first reference line segment S1 and both endpoints P 3 , P 4 of the second reference line segment S2, the controller 180 judges that the electronic components (ED) are seated defectively. Of course, even in this embodiment, the bias between both endpoints P 1 , P 2 of the first reference line segment S1 and both endpoints P 3 , P 4 of the second reference line segment S2 has a certain tolerance. can

본 실시예에서 끝점(P1, P2, P3, P4)들 간의 거리는 픽셀이 기준이 될 수 있다. 즉, 끝점(P1, P2, P3, P4)들이 몇 픽셀 떨어져 있는지 여부로 끝점(P1, P2, P3, P4)들 간의 거리를 환산한 후 이를 비교함으로써 끝점(P1, P2, P3, P4)들 간의 치우침 여부를 판단할 수 있는 것이다. 예를 들어 X-Y 평면상에서 픽셀을 기준으로 해서 끝점(P1, P2, P3, P4)들의 좌표를 구함으로써 끝점(P1, P2, P3, P4)들 간의 치우침을 확인할 수 있다. 또는, 끝점(P1, P2, P3, P4)들 간의 정상적인 위치를 가진 기준 이미지를 미리 설정하고, 해당 기준 이미지와의 비교를 통해 끝점(P1, P2, P3, P4)들 간의 치우침을 확인하는 방식도 얼마든지 고려될 수 있다.In the present embodiment, the distance between the endpoints P 1 , P 2 , P 3 , and P 4 may be a pixel as a reference. That is, by comparing the distance between the endpoints (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) by how many pixels apart the endpoints (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) are, and comparing them, the endpoint (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) can be determined whether there is a bias between them. For example, you can check the bias between the endpoints (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) by finding the coordinates of the endpoints (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) based on the pixel on the XY plane. there is. Alternatively, a reference image having a normal position between the endpoints (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) is preset, and the endpoint (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) is compared with the reference image. ), a method for checking the bias between the two can be considered.

<판단 단계에 대한 제3 실시예 ?? 도 4 및 7의 흐름도 참조><Third Example for Judgment Step ?? See the flow charts in Figs. 4 and 7>

1. 평면 촬영<S331>1. Planar shooting<S331>

제2 적재요소인 중계포켓(131 내지 138)에 와상으로 적재되어 있는 전자부품(ED)의 평면을 촬영한다. The plane of the electronic component (ED) which is stacked on the relay pockets 131 to 138, which is the second loading element, is photographed.

2. 추출 이미지 생성<S332>2. Create extract image<S332>

제어기(180)는 도 5에 따른 설명과 동일하게 촬영 단계<S331>에서 촬영된 평면 이미지(I1)에서 전자부품(ED)의 단자(T)들이 있는 일부의 영역(A)을 추출하여 추출 이미지(I2)를 생성한다.The controller 180 extracts and extracts a partial area A in which the terminals T of the electronic component ED are located from the plane image I 1 taken in the photographing step <S331> in the same manner as described in FIG. 5 . Create an image I 2 .

3. 안착 상태 판단<S333>3. Determination of the seated state<S333>

제어기(180)는 추출 이미지 생성 단계<S332>에서 생성된 추출 이미지(I2)를 통해 전자부품(ED)의 불량 안착 여부를 판단한다. 이를 위해 본 실시예에서의 안착 상태 판단 단계<S312>는 도 7을 참조하여 후술되는 바와 같이 더욱 세분화된 단계들을 가질 수 있다.The controller 180 determines whether the electronic component ED is defectively seated through the extracted image I 2 generated in the extracted image generation step <S332>. To this end, the step of determining the settling state <S312> in the present embodiment may have more subdivided steps as will be described later with reference to FIG. 7 .

3-1. 제1 단계<S333a>3-1. Step 1 <S333a>

도 8에서와 같이, 제어기(180)는 추출 이미지(I2)에서 단자(T)가 있는 단자부위를 블록화한다. 참고로, 단자(T)들 사이에는 역삽입 방지를 위한 홈(a)이나 돌기가 있을 수 있고, 이러할 경우 역삽입 방지를 위한 홈(a)이나 돌기를 기준으로 일 측에 있는 단자(T)들 부위만 블록화 할 수도 있고, 역삽입 방지를 위한 홈(a)이나 돌기를 포함하여 전제 단자(T)들을 모두 블록화 할 수도 있다. 이러한 블록화 과정은 위의 제1 실시예 및 제2 실시예에도 적용하는 것이 바람직하다.As in FIG. 8 , the controller 180 blocks the terminal portion having the terminal T in the extracted image I 2 . For reference, there may be a groove (a) or protrusion for preventing reverse insertion between the terminals (T). In this case, the terminal (T) on one side based on the groove (a) or protrusion for preventing reverse insertion It is also possible to block only these parts, or to block all the terminals (T) including the groove (a) or protrusion for preventing reverse insertion. This blocking process is preferably applied to the above first and second embodiments as well.

3-2. 제2 단계<S333b>3-2. Step 2 <S333b>

제어기(180)는 블록화된 영역(B)의 중심(O)을 구한다.The controller 180 obtains the center O of the blocked area B.

3-3. 제3 단계<S333c>3-3. Step 3 <S333c>

제2 단계<S313b>에서 연산된 중심(O)과 중계포켓(131 내지 138)에 있는 기준점(O')을 비교하여 양자 간의 상대적인 좌표를 구한다. 이를 위해 중계포켓(131 내지 138)에는 기준점(O')을 알게 하기 위한 구멍, 마킹, 돌기 또는 다른 형태의 표식 등이 형성되어 있을 수 있다.By comparing the center (O) calculated in the second step <S313b> and the reference point (O') in the relay pockets 131 to 138, the relative coordinates between the two are obtained. To this end, the relay pockets 131 to 138 may be provided with holes, markings, protrusions, or other types of marks for knowing the reference point O'.

3-4. 제4 단계<S333d)3-4. Step 4 <S333d)

계산된 좌표를 미리 설정된 정상적인 기준 좌표와 비교하여 전자부품(ED)의 안착 불량 여부를 판단한다.By comparing the calculated coordinates with preset normal reference coordinates, it is determined whether the electronic component (ED) is not properly seated.

위와 같은 제3 실시예의 방법은 중계포켓(131 내지 138)의 색이 너무 검거나 난반사 등으로 인해 카메라(151 내지 158)에 의한 촬영으로는 제2 기준선(L2)을 설정하기가 곤란한 경우에 유용하게 사용될 수 있다. 따라서 위의 제1 실시예, 제2 실시예, 제3 실시예는 프로그램적으로 모두 구현 가능하므로. 제1 내지 제3 실시예 모두를 프로그래밍한 후 상황에 따른 최적의 실시예로 동작하는 모드를 관리자가 선택하게 하는 예를 취하는 것도 바람직하게 고려될 수 있을 것이다.The method of the third embodiment as described above is useful when the color of the relay pockets 131 to 138 is too dark or it is difficult to set the second reference line L2 by shooting with the cameras 151 to 158 due to diffuse reflection, etc. can be used Therefore, the above first embodiment, second embodiment, and third embodiment can all be implemented programmatically. After programming all of the first to third embodiments, it may also be advantageously considered to take an example in which the administrator selects a mode that operates as an optimal embodiment according to a situation.

그리고 위와 같은 실시예들은 전자부품(ED)에 있는 단자(T)들이 볼타입처럼 돌출된 형태가 아니고, 일 측으로 긴 평면 형태로 구비될 때 특히 바람직하게 고려될 수 있다.In addition, the above embodiments may be considered particularly preferably when the terminals T of the electronic component ED are provided in a long planar shape to one side instead of a protruding shape like a ball type.

<부가적 참고 사항><Additional notes>

1. 제1 기준선과 제1 기준선분에 대한 사항 1. Matters concerning the first reference line and the first reference line segment

위의 제1 실시예에서의 제1 기준선과 제2 실시예에서의 제1 기준선분은 단자들이 기준이 되어서 설정된다. 따라서 제1 기준선과 제1 기준선분을 적절히 설정하기 위해 제3 실시예에서처럼 단자부위를 블록화하는 단계를 먼저 거치는 것이 더 바람직할 수 있다.The first reference line in the above first embodiment and the first reference line in the second embodiment are set with terminals serving as a reference. Therefore, in order to properly set the first reference line and the first reference line segment, it may be more preferable to first pass the step of blocking the terminal portion as in the third embodiment.

2. 단자부위를 기준으로 설정한 이유2. Reason for setting the terminal part as a standard

적재요소에 적재된 전자부품이 정위치에 안착되어 있지 아니한 경우를 안착 불량이라고 말한다. 그런데, 여기서 어떤 기준으로 어떻게 안착 불량 여부를 판단하는지가 중요하다.A case in which the electronic components loaded on the loading element are not seated in the correct position is called seating failure. However, it is important here how to determine whether the seating is defective based on what criteria.

본 발명에서는 그 기준 중 하나를 전자부품(ED)의 단자(T)로 잡았다. 이는 결국 단자(T)가 테스트소켓에 정확히 삽입되어서 전자부품(ED)과 테스터가 전기적으로 적절히 연결되므로, 단자(T)의 위치가 가장 중요하기 때문이다.In the present invention, one of the standards is taken as the terminal T of the electronic component ED. This is because the position of the terminal T is the most important because the terminal T is correctly inserted into the test socket so that the electronic component ED and the tester are electrically properly connected.

그러나 곤란한 점은 중계포켓(131 내지 138)에 적재되는 전자부품(ED)은 도 5의 사진에서 보여지 듯 크고 작은 수많은 전자부품이 PCB기판 상에 설치되어 있는 형태이고, 곳곳에 크고 작은 그리고 다양한 색상의 이차원 또는 삼차원 바코드와 전자요소들에 대한 각종 정보들이 숫자, 기호 또는 글씨 등으로 기록되어 있다. 그리고 이러한 정보가 전자요소에 직접 인쇄되거나 각인되어 있기도 하고, 스티커에 인쇄되어 부착되어 있기도 하다. 더욱이, 도 6에서 보여지 듯 테스트소켓과 접속하는 단자(T)의 주변에는 단자(T)와 수많은 전자요소들을 상호 연결시켜주는 각종 연결선들이 즐비하게 노출되어 존재한다. 이러한 정보 등은 때로는 육안으로도 잘 보여야 하며, 가시성이 우수하거나 빛 반사율이 높은 재질과 형태를 갖추기도 하고, 제작 공정상 필수 불가결하게 생성된 것들이 대부분이다. 따라서 그로 인해 카메라(151 내지 158)와 같은 촬영장치에서 전자부품(ED)의 단자(T)를 찾아 촬영하려면 빛 번짐과 반사 등의 문제까지 중첩되어서 단자(T)의 위치를 자동으로 찾아내기가 여간 쉽지 않다. 따라서 기판으로 사용되는 부분을 기준으로 시도해 보았으나, 제작 및 조립상의 미세한 오차뿐만 아니라 가시성도 떨어져 기판 부분이 안착 불량을 분석하는 기준으로서의 지위를 갖추기가 곤란하였다.However, the difficult point is that the electronic components (ED) loaded in the relay pockets 131 to 138 are in a form in which numerous large and small electronic components are installed on the PCB board as shown in the photo of FIG. 5, and large and small and various Various information on color two-dimensional or three-dimensional barcodes and electronic elements are recorded in numbers, symbols, or letters. In addition, this information is directly printed or engraved on the electronic element, or printed and attached to a sticker. Moreover, as shown in FIG. 6 , around the terminal T connected to the test socket, various connection lines connecting the terminal T and numerous electronic elements are exposed and exist in a row. Such information must sometimes be seen well with the naked eye, and some have materials and shapes with excellent visibility or high light reflectance, and most of them are created indispensably in the manufacturing process. Therefore, in order to find and photograph the terminal T of the electronic component ED in a photographing device such as the cameras 151 to 158, it is difficult to automatically find the position of the terminal T because problems such as light blur and reflection overlap. It's not easy at all Therefore, an attempt was made based on the part used as the substrate, but it was difficult to establish a position as a standard for analyzing the seating failure of the substrate part due to poor visibility as well as minute errors in manufacturing and assembly.

따라서 전자부품(ED)에 조명을 조사하는 조명기를 갖추되, 단자(T)가 존재하는 영역 쪽에 조명이 더 조사될 수 있도록 하고, 단자(T)를 포함한 주변부에서 가장 밝게 빛나는 곳을 찾는 방식을 시도하였다. 즉, 단자부위에 조명기(LU)에 의한 빛이 집중되도록 하면, 평면이 평평한 골드핑거 형태이기 때문에 반사율이 높은 단자(T)가 가장 밝게 빛나므로, 이 점을 이용하게 된 것이다.Therefore, the method of equipping the electronic component (ED) with a illuminator that irradiates light, allowing more light to be irradiated to the area where the terminal (T) exists, and finding the brightest spot in the periphery including the terminal (T) tried That is, when the light by the illuminator LU is concentrated on the terminal part, the terminal T with high reflectivity shines the brightest because the plane is in the form of a flat gold finger, so this point is used.

다만, 난반사로 인해 밝게 빛나는 부위가 단자(T)인지, 아니면 다른 부위가 밝게 빛나는 것인지를 구별하는 것에 곤란함이 있었다. 이에, 본 발명은 전자부품(D)의 가진 특이적 형태인 역삽입방지홈(a, 또는 오적재도 방지하는 기능을 가지므로 '오적재방지홈'으로 명명될 수 있다)이 단자(T)들과 단자(T)들 사이에 있음을 활용하는 특징을 가지게 되었다.However, there was a difficulty in distinguishing whether the brightly shining part due to the diffuse reflection is the terminal (T) or the other part is brightly lit. Accordingly, in the present invention, the reverse insertion prevention groove (a, or, since it has a function of preventing erroneous loading, it may be called 'misloading prevention groove'), which is a specific shape of the electronic component (D), is connected to the terminal (T) It has a feature that utilizes being between the fields and the terminals (T).

결국 촬영된 평면에서 가장 밝은 부분이 두 군데이며, 그 사이에 검은 부분이 있다면 바로 그 영역이 단자(T)의 영역이기 때문에, 이러한 점을 활용하여 자동으로 단자부위를 찾는 로직으로 본 발명에 이르게 된 것이다. 그리고 가장 검은 부분으로 나뉜 두 군데의 가장 밝은 영역 중 보다 넓은(긴) 영역을 차지하는 밝은 부위를 선정하여 해당 부위를 블록화한 뒤 블록화된 영역을 기준으로, 제1 기준선(L1) 또는 제1 기준선분(S1) 또는 중심(O)을 설정한 것이다. 실시하기에 따라서는 두 군데의 가장 밝은 영역 중 보다 좁은(짧은) 영역을 차지하는 밝은 부위를 선정할 수도 있지만, 보다 넓은 영역을 차지하는 밝은 부위를 선정하는 것이 양 기준선(L1, L2) 간의 평행도, 양 기준선분(S1, S2) 간의 좌표, 중심(O) 설정에 비교적 오차가 적기 때문이다. 물론 앞서 언급한 바와 같이 역삽입방지홈(a)을 포함하여 두 군데의 단자부위를 모두 포함시켜서 블록화된 영역(B)을 설정할 수도 있을 것이다.In the end, there are two brightest parts on the photographed plane, and if there is a black part between them, that area is the area of the terminal (T). it has become Then, among the two brightest areas divided by the blackest part, a bright area occupying a wider (longer) area is selected and the area is blocked, and then based on the blocked area, the first reference line (L1) or the first reference line segment (S1) or center (O) is set. Depending on the implementation, it is possible to select a bright area occupying a narrower (shorter) area among the two brightest areas, but selecting a bright area occupying a wider area will This is because there is relatively little error in setting the coordinates and the center O between the reference line segments S1 and S2. Of course, as mentioned above, it is also possible to set the blocked area (B) by including both terminal parts including the reverse insertion prevention groove (a).

즉, 제1 실시예에서 제1 기준선(L1)은 블록화된 영역(B)에서 테스트소켓과 먼저 닿는 쪽의 변에 의해 설정되는 것이 바람직하게 고려될 수 있다.That is, in the first embodiment, it may be preferably considered that the first reference line L1 is set by the side that first contacts the test socket in the blocked area B.

또, 제2 실시예에서 제1 기준선분(S1)은 블록화된 영역(B)에서 테스트소켓과 먼저 닿은 쪽의 변에 의해 설정되는 것이 바람직하게 고려될 수 있으며, 제2 기준선분(S1)은 중계포켓(131 내지 138)에서 단자(T)들과 대면하는 내벽을 기준으로 설정한다.In addition, in the second embodiment, it can be preferably considered that the first reference line segment S1 is set by the side that first contacts the test socket in the blocked area B, and the second reference line segment S1 is In the relay pockets (131 to 138), the inner wall facing the terminals (T) is set as a reference.

위의 제1 실시예에 의하면, 미리 저장된 기준 정보가 없더라도, 제1 기준선(L1)과 제2 기준선(L2)의 평행도를 비교함으로써 전자부품(ED)의 안착 불량 여부를 확인할 수 있다.According to the above first embodiment, even if there is no reference information stored in advance, it is possible to determine whether the electronic component ED is not properly seated by comparing the parallelism between the first reference line L1 and the second reference line L2 .

그런데, 제1 기준선분(S1)과 제2 기준선분(S2)의 양 끝점(P1, P2, P3, P4)의 좌표 값의 상대 비교함으로써 전자부품(ED)의 안착 불량 여부를 확인하는 것이므로, 미리 저장된 기준 정보가 있는 것이 바람직하다. 참고로, 도면상에서 상하 방향을 Y축으로 하고 좌우 방향을 X축이라 정의할 때, 양 끝점(P1, P2, P3, P4)들의 X축 좌표 및 Y축 좌표를 모두 비교하는 것이 가장 바람직하지만, 어느 일 측 방향(X축 방향 또는 Y축 방향)의 좌표만을 비교하여 불량 여부를 판단하는 것도 충분히 고려될 수 있다.By the way, by comparing the coordinate values of both end points (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) of the first reference line segment S1 and the second reference line segment S2 relative to each other, it is determined whether the electronic component ED is not properly seated. Since it is to confirm, it is preferable that there is reference information stored in advance. For reference, when defining the vertical direction as the Y-axis and the left-right direction as the X-axis in the drawing, comparing both the X-axis coordinates and the Y-axis coordinates of both endpoints (P 1 , P 2 , P 3 , P 4 ) Most preferably, determining whether a defect is determined by comparing only the coordinates of one side direction (X-axis direction or Y-axis direction) may be sufficiently considered.

다만, 바 형태의 단자(T)는 금속재질의 특성과 대면적의 평판이라는 특징을 가지고 있기 때문에, 반사율도 높고 난반사도 있을 수 있다. 그리고 경우에 따라서 단자부위는 다수개의 단자(T)가 모인 집합체이기에 어느 것은 보다 더 빛이 나고, 어느 것은 덜 빛이 날 수도 있다. 그래서 그러한 점을 감안하여, 바 형태의 단자(T)가 차지하는 영역이 위치정보와 크기정보를 추가로 활용하여 어느 정도 뿌옇게 보이는 곳까지는 단자(T)의 영역으로 인식하는 등의 로직이 더 필요 할 수도 있다.However, since the bar-shaped terminal T has the characteristics of a metal material and a large-area flat plate, the reflectance is high and there may be diffuse reflection. And in some cases, since the terminal part is an aggregate of a plurality of terminals (T), some may emit more light and some may emit less light. So, in consideration of such a point, more logic is needed, such as recognizing the area occupied by the bar-shaped terminal T as the area of the terminal T by additionally utilizing the location information and size information to a certain degree of blur. may be

물론, 블록화된 영역(B)의 테두리는 일정한 밝기의 한계값을 기준으로 설정될 수 있다.Of course, the edge of the blocked area B may be set based on a threshold value of a certain brightness.

위와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings, but since the above-described embodiments have only been described with preferred examples of the present invention, the present invention is limited only to the above embodiments It should not be understood as that, and the scope of the present invention should be understood as the following claims and their equivalents.

100 : 전자부품 처리장비
120 : 제1 이동기
131 내지 138 : 중계포켓
140 : 제2 이동기
151 내지 158 : 카메라
160 : 이송기
180 : 제어기
CT : 고객트레이
TT : 테스트트레이
F1 : 제1 영역
F2 : 제2 영역
100: electronic parts processing equipment
120: first mobile unit
131 to 138: relay pocket
140: second mobile unit
151 to 158: camera
160: transfer
180: controller
CT: customer tray
TT : test tray
F1: first area
F2: second area

Claims (5)

적재요소에 와상으로 적재되어 있는 전자부품의 평면을 촬영하는 평면 촬영 단계 ―전자부품의 단자들은 상방으로 노출되어 있음―;
상기 평면 촬영 단계에서 촬영된 평면 이미지에서 전자부품의 단자들이 있는 일부의 영역을 추출하여 추출 이미지를 생성하는 추출 이미지 생성 단계;
상기 추출 이미지 생성 단계에서 생성된 추출 이미지를 통해 전자부품의 불량 안착 여부를 판단하는 안착 상태 판단 단계; 를 포함하는
전자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법.
A plane photographing step of photographing the plane of the electronic component stacked on the stacking element in a vortex shape, the terminals of the electronic component being exposed upward;
an extraction image generation step of generating an extraction image by extracting a partial region where terminals of electronic components are located from the plane image photographed in the plane photographing step;
a seating state determination step of determining whether the electronic component is defectively seated through the extracted image generated in the extraction image generation step; containing
A method for determining the seating state of electronic components in electronic component processing equipment.
제1 항에 있어서,
상기 안착 상태 판단 단계는 제1 기준선과 제2 기준선의 평행 여부를 비교하여 전자부품의 불량 안착 여부를 판단하며,
상기 제1 기준선은 전자부품이 테스터의 테스트소켓과 접촉할 시에 단자들이 테스트소켓에 처음으로 닿는 변이고, 상기 제2 기준선은 상기 적재요소에서 단자들과 대면하는 내벽인
전자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법.
According to claim 1,
In the seated state determination step, it is determined whether or not the electronic component is seated badly by comparing whether the first reference line and the second reference line are parallel,
The first reference line is the side at which the terminals first contact the test socket when the electronic component comes into contact with the test socket of the tester, and the second reference line is the inner wall facing the terminals in the loading element.
A method for determining the seating state of electronic components in electronic component processing equipment.
제1 항에 있어서,
상기 안착 상태 판단 단계는 제1 기준선분의 양 끝점과 제2 기준선분의 양 끝점의 위치를 비교하여 전자부품의 불량 안착 여부를 판단하며,
상기 제1 기준선분은 전자부품이 테스터의 테스트소켓과 접촉할 시에 단자들이 테스트소켓에 처음으로 닿는 변을 기준으로 설정되고, 상기 제2 기준선분은 상기 적재요소에서 단자들과 대면하는 내벽을 기준으로 설정되는
전자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법.
According to claim 1,
In the seated state determination step, it is determined whether the electronic component is defectively seated by comparing the positions of both end points of the first reference line segment and both end points of the second reference line segment,
The first reference line segment is set based on the side where the terminals first contact the test socket when the electronic component comes into contact with the test socket of the tester, and the second reference line segment is the inner wall facing the terminals in the loading element. set on the basis
A method for determining the seating state of electronic components in electronic component processing equipment.
제3 항에 있어서,
상기 안착 상태 판단 단계는,
단자부위를 블록화하는 제1 단계;
블록화된 영역의 중심을 구하는 제2 단계;
연산된 중심과 상기 중계포켓에 있는 기준점을 비교하여 양자 간의 좌표를 구하는 제3 단계; 및
계산된 양자 간의 좌표를 미리 설정된 좌표와 비교하여 전자부품의 안착 불량 여부를 판단하는 제4 단계; 를 포함하는
전자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법.
4. The method of claim 3,
The settling state determination step is,
A first step of blocking the terminal portion;
a second step of finding the center of the blocked area;
a third step of comparing the calculated center with a reference point in the relay pocket to obtain coordinates between the two; and
a fourth step of determining whether the electronic component is not properly seated by comparing the calculated coordinates with a preset coordinate; containing
A method for determining the seating state of electronic components in electronic component processing equipment.
제1 항에 있어서,
전자부품의 단자들은 골드 핑거인
전자부품 처리장비에서 전자부품의 안착 상태를 판단하는 방법.
According to claim 1,
The terminals of electronic components are gold fingers.
A method for determining the seating state of electronic components in electronic component processing equipment.
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