KR20220020211A - Film forming apparatus and manufacturing method of electronic device - Google Patents

Film forming apparatus and manufacturing method of electronic device Download PDF

Info

Publication number
KR20220020211A
KR20220020211A KR1020210102930A KR20210102930A KR20220020211A KR 20220020211 A KR20220020211 A KR 20220020211A KR 1020210102930 A KR1020210102930 A KR 1020210102930A KR 20210102930 A KR20210102930 A KR 20210102930A KR 20220020211 A KR20220020211 A KR 20220020211A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mask
substrate
holder
film forming
forming apparatus
Prior art date
Application number
KR1020210102930A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김재현
유키 아이자와
Original Assignee
캐논 톡키 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 캐논 톡키 가부시키가이샤 filed Critical 캐논 톡키 가부시키가이샤
Publication of KR20220020211A publication Critical patent/KR20220020211A/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C14/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • C23C14/505Substrate holders for rotation of the substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/682Mask-wafer alignment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/164Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using vacuum deposition
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask

Abstract

The present invention provides a film forming apparatus and a manufacturing method of electronic device, which can stabilize the rotation of a mask and a substrate to allow high-definition film formation. The film forming apparatus comprises: a mask holding support unit holding and supporting the mask; a substrate holding support unit holding and supporting the substrate; a center shaft connected to the substrate holding support unit, and moving the substrate holding support unit along a rotational centerline of the mask and the substrate; a rotational torque transfer means connected to one between the mask holding support unit and the substrate holding support unit; and a position changing means changing the relative positions of the mask holding support unit and the substrate holding support unit in a direction parallel with the rotational center line while maintaining the relative positions of the mask holding support unit and the substrate holding support unit in a rotational direction.

Description

성막 장치 및 전자 디바이스의 제조 방법{FILM FORMING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE}A film-forming apparatus and the manufacturing method of an electronic device TECHNICAL FIELD

본 발명은, 성막원에 대해 기판 및 마스크가 일체적으로 회전하는 성막 장치 및 전자 디바이스의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a film forming apparatus and a method for manufacturing an electronic device in which a substrate and a mask are integrally rotated with respect to a film forming source.

최근, 플랫 패널 디스플레이로서 유기 전계 발광 디스플레이(OLED)가 각광을 받고 있다. 유기 전계 발광 디스플레이는 자발광 디스플레이로, 응답 속도, 시야각, 박형화 등의 특성이 액정 패널 디스플레이보다 우수하며, 모니터, 텔레비전, 스마트폰으로 대표되는 각종의 휴대단말 등에서, 기존의 액정 패널 디스플레이를 급속히 대체하고 있다. 또한, 자동차용의 디스플레이 등에도, 그 응용 분야가 확장되고 있다.Recently, as a flat panel display, an organic electroluminescent display (OLED) has been in the spotlight. The organic electroluminescent display is a self-luminous display, and has superior characteristics such as response speed, viewing angle, and thinness compared to liquid crystal panel displays. are doing Moreover, the field of application is expanding also to the display etc. for automobiles.

종래의 회전 성막 장치로서는, 예를 들면, 특허문헌 1에 기재된 바와 같은 마스크 증착 장치(성막 장치)가 알려져 있다. 이 마스크 증착 장치는 진공 챔버를 가지며, 진공 챔버의 내부에, 성막 대상물(기판)과, 증착 마스크(마스크)와, 성막 대상물에 증착 분자 증발 원자를 공급하는 증발원이 배치되어 있다. 성막 대상물과 마스크는, 회전축을 구비한 회전 기구에 지지된 자석 유닛(기판 지지 부재)에 보유지지되어 있고, 증착 시에, 회전 기구에 의해, 자석 유닛, 성막 대상물 및 마스크를, 회전축을 중심으로 일체적으로 회전시키도록 구성되어 있다.As a conventional rotary film-forming apparatus, the mask vapor deposition apparatus (film-forming apparatus) as described in patent document 1 is known, for example. This mask vapor deposition apparatus has a vacuum chamber, and a film-forming object (substrate), a vapor deposition mask (mask), and an evaporation source for supplying vapor deposition molecules to the film-forming object are arranged inside the vacuum chamber. The film-forming object and the mask are held by a magnet unit (substrate support member) supported by a rotation mechanism having a rotation shaft, and during vapor deposition, the magnet unit, the film formation object and the mask are rotated around the rotation shaft by the rotation mechanism. It is configured to rotate integrally.

그러나, 최근의 기판의 대형화에 수반하여, 회전을 더욱 안정화시키는 요청이 높아지고 있다. 대형화하면, 기판과 마스크의 수평도가 저하되어 회전이 불안정하게 된다. 마스크나 기판의 처짐을 작게 하기 위해서는, 각 구조 부분을 고강성으로 할 필요가 있지만, 강성을 높이면, 대형화되어, 중량도 증대되어 버린다.However, with the recent increase in size of the substrate, the request for further stabilizing the rotation is increasing. If it is enlarged, the horizontality of a board|substrate and a mask will fall and rotation will become unstable. In order to reduce the sag of a mask or a board|substrate, it is necessary to make each structural part high rigidity. However, when rigidity is increased, it will enlarge and weight will also increase.

한편, 특허문헌 2에는, 진공 챔버 내에, 기판과 마스크를 위치맞춤하는 얼라인먼트 유닛과, 얼라인먼트 유닛으로부터 기판과 마스크를 수취하는 반송용 트레이와, 이 반송용 트레이의 반송 경로를 따라 배치되는 증발원이나 스퍼터 타겟 등의 성막 수단을 구비한 성막 장치가 기재되어 있다. 얼라인먼트 유닛은, 기판을 보유지지하는 기판 보유지지 유닛과, 마스크를 지지하는 마스크 홀더(마스크 보유지지 부재)를 가지며, 마스크 홀더는, 지축(支軸)(센터 샤프트에 상당)에, 가이드 부시(guide bush)를 갖는 가이드 로드를 통해 연결되어 있다. 지축은, 모터에 의해 회전 가능하며, X-Y 방향 이동부에 의해, 지축과 직교하는 X-Y 방향으로 이동 가능하게 되어 있다. 마스크 홀더도, 지축과 동기하여 회전하고, 또한, X-Y 방향으로 이동함으로써, 정지한 기판에 대해 얼라인먼트를 행하도록 되어 있다. 얼라인먼트 후에, 마스크와 기판을 하강시켜, 반송 트레이 상에 재치하는데, 마스크 홀더는, 가이드 로드에 의한 가이드 작용을 얻어 하강하고, 소정의 얼라인먼트 정밀도를 확보하고 있다.On the other hand, in Patent Document 2, an alignment unit for positioning a substrate and a mask in a vacuum chamber, a transport tray for receiving the substrate and mask from the alignment unit, and an evaporation source or sputter disposed along a transport path of the transport tray A film-forming apparatus provided with film-forming means, such as a target, is described. The alignment unit has a substrate holding unit for holding a substrate, and a mask holder (mask holding member) for supporting the mask, and the mask holder has a support shaft (corresponding to a center shaft) and a guide bush ( It is connected via a guide rod with a guide bush. The shaft is rotatable by a motor, and is movable in the X-Y direction orthogonal to the shaft by the X-Y direction moving unit. The mask holder also rotates in synchronization with the axis|shaft, and it aligns with respect to the stationary board|substrate by moving in an X-Y direction. After alignment, although a mask and a board|substrate are lowered and placed on a conveyance tray, the mask holder acquires the guide action by a guide rod, and falls, and is ensuring predetermined|prescribed alignment precision.

그러나, 이 마스크 홀더는 얼라인먼트용으로 마스크를 회전시키는 것으로서, 성막 시에는, 얼라인먼트 유닛으로부터 반송 트레이로 옮겨지고 있어, 성막 공정에서 회전하는 구조로는 되어 있지 않아, 회전 성막 장치에 적용할 수 없다.However, this mask holder rotates a mask for alignment, it is moved from an alignment unit to a conveyance tray at the time of film-forming, it does not have a structure which rotates in a film-forming process, It cannot be applied to a rotary film-forming apparatus.

특허문헌 1: 일본특허공개 제2010-185107호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open No. 2010-185107 특허문헌 2: 일본특허공개 제2005-248249호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open No. 2005-248249

본 발명의 목적은, 기판과 마스크의 회전을 보다 안정화시켜, 보다 고정세의 성막을 가능하게 하는 성막 장치 및 전자 디바이스의 제조 방법을 제공하는 것에 있다.It is an object of the present invention to provide a film forming apparatus and a method for manufacturing an electronic device that further stabilize rotation of a substrate and a mask and enable higher-definition film formation.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 성막 장치는,In order to achieve the above object, the film forming apparatus of the present invention,

기판과 상기 기판의 성막면에 겹쳐진 마스크를 일체적으로 회전시키면서, 상기 마스크를 통해 상기 기판에 성막 재료를 성막하는 성막 장치에 있어서,A film forming apparatus for forming a film forming material on the substrate through the mask while integrally rotating a substrate and a mask overlapping the film forming surface of the substrate,

상기 마스크를 보유지지하는 마스크 보유지지부와,a mask holder for holding the mask;

상기 기판을 보유지지하는 기판 보유지지부와,a substrate holding unit for holding the substrate;

상기 기판 보유지지부에 연결되며, 상기 기판과 상기 마스크의 회전 중심선을 따라 상기 기판 보유지지부를 이동시키는 센터 샤프트와,a center shaft connected to the substrate holder and configured to move the substrate holder along a rotation center line of the substrate and the mask;

상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부 중 어느 일방에 연결되는 회전 토크 전달 수단과,rotational torque transmitting means connected to either one of the mask holding part and the substrate holding part;

회전 방향에 있어서 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치를 유지한 채, 상기 회전 중심선과 평행한 방향에 있어서 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치를 변경하는 위치 변경 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.Position changing means for changing the relative positions of the mask holder and the substrate holder in a direction parallel to the rotation center line while maintaining the relative positions of the mask holder and the substrate holder in the rotational direction; characterized in that

또한, 본 발명의 전자 디바이스의 제조 방법은, In addition, the manufacturing method of the electronic device of the present invention,

상기 성막 장치를 사용하여 전자 디바이스를 제조하는 것을 특징으로 한다.An electronic device is manufactured using the said film-forming apparatus, It is characterized by the above-mentioned.

본 발명에 의하면, 기판과 마스크의 수평도가 향상되어, 회전을 안정시킬 수 있어, 고정세의 성막이 가능해진다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the horizontality of a board|substrate and a mask can improve, rotation can be stabilized, and high-definition film-forming is attained.

도 1은 전자 디바이스 제조 장치의 일부 모식도이다.
도 2는 실시형태에 따른 회전 성막 장치의 성막 시의 모식적 구성도이다.
도 3은 도 2의 성막 전의 상태의 모식적 구성도이다.
도 4의 (A)는, 도 2의 센터 샤프트의 부착부의 부분 확대 단면도, (B)는 도 2의 가이드 샤프트 부분의 부분 확대 단면도이다.
도 5의 (A)는, 가이드 부시의 접속부에 심을 삽입한 상태의 부분 단면도, (B)는 심의 접촉 상태를 모식적으로 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 2의 마스크 보유지지 유닛과 기판 보유지지 유닛의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 7은 도 2의 성막 장치의 얼라인먼트 공정, 성막 공정의 설명도이다.
도 8은 본 발명의 제조 방법에 의해 제조되는 유기 EL 표시 장치의 개략도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a partial schematic diagram of an electronic device manufacturing apparatus.
2 is a schematic configuration diagram at the time of film formation of the rotary film forming apparatus according to the embodiment.
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a state before film formation in FIG. 2 .
Fig. 4 (A) is a partially enlarged cross-sectional view of the attachment portion of the center shaft of Fig. 2 , (B) is a partially enlarged cross-sectional view of the guide shaft portion of Fig. 2 .
Fig. 5 (A) is a partial cross-sectional view of a state in which a shim is inserted into a connecting portion of a guide bush, and (B) is a plan view schematically showing a contact state of the shim.
Fig. 6 is a perspective view showing the configuration of the mask holding unit and the substrate holding unit of Fig. 2;
It is explanatory drawing of the alignment process of the film-forming apparatus of FIG. 2, and a film-forming process.
8 is a schematic diagram of an organic EL display device manufactured by the manufacturing method of the present invention.

이하에, 본 발명의 실시형태를, 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 다만, 이하의 실시형태는, 본 발명의 바람직한 구성을 예시적으로 나타내는 것에 지나지 않고, 본 발명의 범위는 이들 구성에 한정되지 않는다. 또한, 이하의 설명에서, 장치의 하드웨어 구성 및 소프트웨어 구성, 처리의 흐름, 제조 조건, 크기, 재질, 형상 등은, 특정적인 기재가 없는 한, 본 발명의 범위를 이들로만 한정하는 취지가 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, embodiment of this invention is described in detail with reference to drawings. However, the following embodiment only shows the preferable structure of this invention by way of example, and the scope of the present invention is not limited to these structures. In addition, in the following description, the hardware configuration and software configuration of the device, the flow of processing, manufacturing conditions, size, material, shape, etc. are not intended to limit the scope of the present invention only to these unless otherwise specified.

<전자 디바이스의 제조 장치><Electronic device manufacturing apparatus>

도 1은 전자 디바이스의 제조 장치의 구성의 일부를 모식적으로 나타내는 상면도이다. 도 1의 제조 장치는, 예를 들면, 스마트폰용의 유기 EL 표시 장치의 표시 패널의 제조에 사용된다. 스마트폰용의 표시 패널의 경우, 예를 들면 약 1800mm×약 1500mm, 두께 약 0.5mm의 사이즈의 기판에 유기 EL의 성막을 행한 후, 해당 기판을 다이싱하여 복수의 작은 사이즈의 패널이 제작된다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a top view which shows typically a part of structure of the manufacturing apparatus of an electronic device. The manufacturing apparatus of FIG. 1 is used for manufacture of the display panel of the organic electroluminescent display for smartphones, for example. In the case of a display panel for a smartphone, for example, an organic EL film is formed on a substrate having a size of about 1800 mm × about 1500 mm and a thickness of about 0.5 mm, and then the substrate is diced to produce a plurality of small-sized panels.

전자 디바이스의 제조 장치는, 일반적으로, 도 1에 나타내는 바와 같이, 복수의 성막실(111, 112)과, 반송실(110)을 갖는다. 반송실(110) 내에는, 기판(3)을 보유지지하여 반송하는 반송 로봇(119)이 설치되어 있다. 반송 로봇(119)은, 예를 들면, 다관절 아암에, 기판을 보유지지하는 로봇 핸드가 부착된 구조를 가지는 로봇이며, 각 성막실로의 기판(3)의 반입/반출을 행한다.Generally, as shown in FIG. 1 , an electronic device manufacturing apparatus has a plurality of film formation chambers 111 , 112 and a transfer chamber 110 . In the transfer chamber 110 , a transfer robot 119 that holds and transfers the substrate 3 is installed. The transfer robot 119 is, for example, a robot having a structure in which a robot hand for holding a substrate is attached to an articulated arm, and carries in/out of the substrate 3 to each film formation chamber.

각 성막실(111, 112)에는 각각 성막 장치(증착 장치라고도 부름)이 설치되어 있다. 반송 로봇(119)과의 기판(3)의 전달, 기판(3)과 마스크의 상대 위치의 조정(얼라인먼트), 마스크 상으로의 기판(3)의 고정, 성막(증착) 등의 일련의 성막 프로세스는, 성막 장치에 의해 자동으로 행해진다.A film forming apparatus (also called a vapor deposition apparatus) is provided in each of the film forming chambers 111 and 112 , respectively. A series of film formation processes such as transfer of the substrate 3 with the transfer robot 119, adjustment (alignment) of the relative positions of the substrate 3 and the mask, fixing of the substrate 3 on the mask, and film formation (deposition) is automatically performed by the film forming apparatus.

이하, 성막실에 설치되는 성막 장치의 구성에 대해 설명한다.Hereinafter, the structure of the film-forming apparatus installed in the film-forming chamber is demonstrated.

<성막 장치><Film forming device>

도 2는 본 발명의 실시형태에 따른 회전 성막 장치(1)의 성막 시의 구성을 모식적으로 나타내는 구성도, 도 3은 성막 전의 상태를 모식적으로 나타내는 구성도이다.FIG. 2 is a block diagram schematically showing the configuration at the time of film formation of the rotary film forming apparatus 1 according to the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram schematically illustrating a state before film formation.

이하의 설명에서는, 연직 방향을 Z 방향으로 하고, Z 방향에 직교하며 서로 직교하는 방향을 XY 방향으로 하는 XYZ 직교 좌표계를 사용한다. 성막 시에 기판은 수평면(XY 평면)과 평행하게 되도록 고정되는 것으로 하고, 이 때의 기판의 짧은 길이 방향(단변에 평행한 방향)을 X 방향, 긴 길이 방향(장변에 평행한 방향)을 Y 방향으로 한다. 또한, Z축 주위의 회전각을 θ로 나타낸다.In the following description, the XYZ rectangular coordinate system which makes a perpendicular direction a Z direction, and makes a direction orthogonal to a Z direction an XY direction orthogonal to a Z direction is used. At the time of film formation, the substrate is fixed so as to be parallel to the horizontal plane (XY plane). At this time, the short longitudinal direction (direction parallel to the short side) of the substrate is the X direction, and the long longitudinal direction (the direction parallel to the long side) is the Y direction of the substrate. do in the direction In addition, the rotation angle around the Z-axis is represented by θ.

성막 장치(1)는 진공 챔버(100)를 가지고 있다. 진공 챔버(100)의 내부는 진공 등의 감압 분위기, 또는 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기로 유지된다. 진공 챔버(100)의 내부의 상부 공간에는, 마스크(2)를 보유지지하는 마스크 보유지지 유닛(마스크 보유지지부)(20)과, 마스크(2)에 겹쳐진 성막 대상물인 기판(3)을 보유지지하는 기판 보유지지 유닛(기판 보유지지부)(30)이 배치되어 있다.The film forming apparatus 1 has a vacuum chamber 100 . The inside of the vacuum chamber 100 is maintained in a reduced pressure atmosphere such as vacuum or an inert gas atmosphere such as nitrogen gas. In the upper space inside the vacuum chamber 100 , a mask holding unit (mask holding part) 20 for holding the mask 2 , and a substrate 3 as a film forming object superimposed on the mask 2 are held. A substrate holding unit (substrate holding unit) 30 is disposed.

기판 보유지지 유닛(30)에는 센터 샤프트(32)가 연결되고, 마스크 보유지지 유닛(20)에는 회전 토크 전달 수단으로서의 중공 회전축(구동축)(15)이 연결되어 있다. 센터 샤프트(32)는, 중공 회전축(15)의 내주에 슬라이딩 가능하게 삽입되어 있다.A center shaft 32 is connected to the substrate holding unit 30 , and a hollow rotating shaft (drive shaft) 15 as a rotating torque transmitting means is connected to the mask holding unit 20 . The center shaft 32 is slidably inserted into the inner periphery of the hollow rotating shaft 15 .

또한, 마스크 보유지지 유닛(20)과 기판 보유지지 유닛(30)을, 회전 방향에 있어서는 상대적인 위치를 변경하지 않고, 회전 중심선과 평행한 방향에 있어서는 상대적으로 이동 가능하게 지지하는 가이드 기구(10)가 설치되어 있다. 이 가이드 기구(10)를 통해, 중공 회전축(15)으로부터 전달되는 회전 토크가, 마스크 보유지지 유닛(20)으로부터 기판 보유지지 유닛(30)으로 전달되고, 마스크 보유지지 유닛(20)과 기판 보유지지 유닛(30)을 일체적으로 회전시키도록 되어 있다.In addition, the guide mechanism 10 for supporting the mask holding unit 20 and the substrate holding unit 30 to be relatively movable in the direction parallel to the rotation center line without changing their relative positions in the rotation direction. is installed Via this guide mechanism 10 , the rotation torque transmitted from the hollow rotation shaft 15 is transmitted from the mask holding unit 20 to the substrate holding unit 30 , and the mask holding unit 20 and the substrate holding unit are transmitted. The support unit 30 is designed to rotate integrally.

한편, 진공 챔버(100)의 내부의 하부 공간에는 증발원(50)이 설치되고, 기판(3)에 대해 마스크를 통해 성막 재료를 증착한다. 증발원(50)은, 증착 재료가 수납되는 도가니, 히터, 셔터, 증발원의 구동 기구, 증발 레이트 모니터 등으로 구성된다(모두 도시하지 않음). 셔터는, 기판(3)에 대한 성막 시 이외에서는 기판(3)을 덮고, 증발원(50)으로부터 증발된 증착 재료가 기판(3)에 퇴적하는 것을 억제한다.Meanwhile, an evaporation source 50 is installed in the lower space of the vacuum chamber 100 , and a film-forming material is deposited with respect to the substrate 3 through a mask. The evaporation source 50 is constituted by a crucible in which the evaporation material is accommodated, a heater, a shutter, a driving mechanism of the evaporation source, an evaporation rate monitor, and the like (all not shown). The shutter covers the substrate 3 except at the time of film formation on the substrate 3 , and suppresses deposition of the vapor deposition material evaporated from the evaporation source 50 on the substrate 3 .

또한, 마스크 보유지지 유닛(20), 기판 보유지지 유닛(30)과는 별도로, 상기 반송실(110)의 반송 로봇(119)으로부터 기판(3)을 수취하는 지지구(41)를 구비하고, 마스크 보유지지 유닛에 보유지지된 마스크(2) 상으로 반송하여, 마스크 상에 겹쳐 재치하는 기판 승강 유닛(40)이 설치되어 있다.Further, separate from the mask holding unit 20 and the substrate holding unit 30, a support 41 for receiving the substrate 3 from the transfer robot 119 in the transfer chamber 110 is provided; The board|substrate raising/lowering unit 40 conveyed on the mask 2 hold|maintained by the mask holding unit, and superimposed on the mask is provided.

이하, 각 부의 구성에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, the structure of each part is demonstrated in detail.

마스크 보유지지 유닛(20)의 구성Configuration of the mask holding unit 20

마스크 보유지지 유닛(20)은, 마스크(2)가 재치되는 마스크대(21)와, 마스크대(21)의 상방에 소정 간격을 두고 평행하게 배치되는 지지 플레이트(22)와, 마스크대(21)와 지지 플레이트(22)를 연결하는 연결 부재(23)를 갖는 프레임 구조의 구조체이다. 마스크(2)는, 기판(3) 상에 형성하는 박막 패턴에 대응하는 개구 패턴을 갖는 메탈 마스크이다. 마스크대(21)는, 마스크(2)의 주연을 보유지지하는 프레임구성이며, 성막 시에는 마스크(2) 위에 기판(3)이 재치된다. 따라서, 마스크(2)는 기판(3)을 재치하는 재치체로서의 역할도 담당한다.The mask holding unit 20 includes a mask stand 21 on which the mask 2 is mounted, a support plate 22 arranged in parallel above the mask stand 21 with a predetermined interval therebetween, and the mask stand 21 . ) and a structure of a frame structure having a connecting member 23 connecting the support plate 22 . The mask 2 is a metal mask which has an opening pattern corresponding to the thin film pattern formed on the board|substrate 3 . The mask base 21 has a frame structure that holds the periphery of the mask 2 , and the substrate 3 is placed on the mask 2 during film formation. Therefore, the mask 2 also plays a role as a mounting body on which the board|substrate 3 is mounted.

이 마스크 보유지지 유닛(20)에, 중공 회전축(15)이 연결되어 있다. 중공 회전축(15)은, 진공 챔버(100)의 외부로부터 삽입되며, 마스크 보유지지 유닛(20)에 회전 토크를 전달하는 것으로, 중공 회전축(15)의 단부가 지지 플레이트(22)의 중앙에 연결 고정되어 있다.A hollow rotating shaft 15 is connected to this mask holding unit 20 . The hollow rotation shaft 15 is inserted from the outside of the vacuum chamber 100 , and transmits rotation torque to the mask holding unit 20 , and the end of the hollow rotation shaft 15 is connected to the center of the support plate 22 . It is fixed.

기판 보유지지 유닛(30)의 구성Configuration of the substrate holding unit 30

기판 보유지지 유닛(30)은, 마스크 보유지지 유닛(20)의 마스크대(21)와 지지 플레이트(22)의 사이에 배치된다.The substrate holding unit 30 is disposed between the mask stand 21 of the mask holding unit 20 and the support plate 22 .

도 4의 (A)는 기판 보유지지 유닛(30)의 일례를 나타내는 부분 구성도이다.4A is a partial configuration diagram showing an example of the substrate holding unit 30 .

즉, 기판 보유지지 유닛(30)은, 냉각판(31)과, 마그넷(33a)과, 마그넷(33a)을 지지하는 요크판(33)과, 고정 플레이트(34)를 갖는 적층 유닛이며, 냉각판 유닛이라고도 불린다. 냉각판(31)은, 마스크대(21)에 대향하여 배치되고, 성막 시에 기판(3)(마스크(2)와는 반대측의 면)에 밀착하여, 기판(3)의 온도 상승을 억제하는 부재이다. 또한, 요크판(33)은, 냉각판(31)에 겹쳐 마그넷(33a)을 지지하는 요크판(33)이 적층되어, 자력에 의해 마스크(2)를 자기 흡인함으로써, 성막 시에 있어서 기판(3)과 마스크(2)의 밀착성을 높이고 있다. 나아가, 한편, 냉각판(31)이 마그넷 또는 요크판을 겸하고 있어도 된다. 고정 플레이트(34)는 기판 보유지지 유닛(30)의 베이스 플레이트이며, 이 고정 플레이트(34)에 대해, 요크판(33), 마그넷(33a), 냉각판(31)이 적층되어 고정된다.That is, the substrate holding unit 30 is a lamination unit having a cooling plate 31 , a magnet 33a , a yoke plate 33 supporting the magnet 33a , and a fixing plate 34 , and is cooled Also called plate unit. The cooling plate 31 is a member that is disposed opposite to the mask base 21 and is in close contact with the substrate 3 (surface on the opposite side to the mask 2 ) during film formation to suppress the temperature rise of the substrate 3 . am. In addition, the yoke plate 33 is laminated with a yoke plate 33 supporting the magnet 33a overlaid on the cooling plate 31, and magnetically attracts the mask 2 by magnetic force, so that the substrate ( 3) and the adhesiveness of the mask 2 are improved. Furthermore, on the other hand, the cooling plate 31 may also serve as a magnet or a yoke plate. The fixing plate 34 is a base plate of the substrate holding unit 30 , and the yoke plate 33 , the magnet 33a and the cooling plate 31 are laminated and fixed to the fixing plate 34 .

이 고정 플레이트(34)의 중앙에, 마스크 보유지지 유닛(20)의 지지 플레이트(22)를 관통하여, 중공 회전축(15)의 내주에 슬라이딩 가능하게 삽입되는 센터 샤프트(32)의 일단이 연결되어 있다. 이 센터 샤프트(32)는, 기판 보유지지 유닛(30)을 Z축 방향으로 승강시킨다.At the center of this fixed plate 34, one end of the center shaft 32 that penetrates the support plate 22 of the mask holding unit 20 and is slidably inserted into the inner periphery of the hollow rotating shaft 15 is connected, there is. The center shaft 32 raises and lowers the substrate holding unit 30 in the Z-axis direction.

가이드 기구(10)의 구성Configuration of the guide mechanism (10)

가이드 기구(10)는, 도 2 및 도 3에 나타내는 바와 같이, 기판 보유지지 유닛(30)과 마스크 보유지지 유닛(20)의 회전 중심선(N)과 평행하게 배치되는 가이드 샤프트(11)와, 가이드 샤프트(11)에 대해 상대 이동 가능하게 감합하는 감합 부재로서의 가이드 부시(12)를 구비하고 있다. 가이드 부시(12)는 마스크 보유지지 유닛(20)의 지지 플레이트(22)에 장착되고, 가이드 부시(12)에 삽통되는 가이드 샤프트(11)의 일단이 기판 보유지지 유닛(30)에 고정되어 있다.The guide mechanism 10, as shown in FIGS. 2 and 3, a guide shaft 11 arranged parallel to the rotation center line N of the substrate holding unit 30 and the mask holding unit 20; A guide bush (12) as a fitting member that fits relative to the guide shaft (11) is provided. The guide bush 12 is mounted on the support plate 22 of the mask holding unit 20 , and one end of the guide shaft 11 inserted into the guide bush 12 is fixed to the substrate holding unit 30 . .

도 4의 (B)는, 가이드 샤프트(11)와 기판 보유지지 유닛(30)의 고정 상태를 나타내는 도면이다.FIG. 4B is a diagram showing a fixed state of the guide shaft 11 and the substrate holding unit 30 .

가이드 샤프트(11)의 단부는, 기판 보유지지 유닛(30)의 고정 플레이트(34)에 설치된 단면 모자 형상의 수용구(13)에 삽입되고, 그 저면에 볼트에 의해 고정되어 있다. 수용구(13)에는, 가이드 부시(12)의 선단도 삽입 가능하고, 가이드 부시의 단부는 저면에 당접하여 기판 보유지지 유닛(30)의 상방 이동은 규제된다.The end of the guide shaft 11 is inserted into a cross-sectional hat-shaped receiving port 13 provided on the fixing plate 34 of the substrate holding unit 30, and is fixed to the bottom surface by bolts. The distal end of the guide bushing 12 can also be inserted into the receiving tool 13 , and the end of the guide bushing abuts against the bottom so that upward movement of the substrate holding unit 30 is restricted.

다음으로, 이 가이드 기구(10)를 도 6을 참조하여 설명한다.Next, this guide mechanism 10 is demonstrated with reference to FIG.

도 6은 마스크 보유지지 유닛과 기판 보유지지 유닛을 나타내는 사시도이다.6 is a perspective view showing a mask holding unit and a substrate holding unit.

도 6에 나타내는 바와 같이, 가이드 샤프트(11)를 복수 구비하고 있고, 가이드 샤프트(11)와 가이드 부시(12)는, 복수 세트, 이 예에서는 4세트 설치되어 있다. 복수의 가이드 샤프트(11)는, 회전 중심선(N)에 대해 서로 대칭 위치에 배치되어 있다. 이 예에서는, 마스크 보유지지 유닛(20)의 지지 플레이트(22)는, 사각 형상의 판형상 부재이며, 4개의 코너부의 위치에 배치되어 있다. 가이드 샤프트(11)는 센터 샤프트(32)와 서로 평행하게 배치되고, 한편, 가이드 부시(12)의 중심선도, 회전 중심선(N)에 대해 평행하게 되도록 조립된다.As shown in FIG. 6, the guide shaft 11 is provided in multiple numbers, and the guide shaft 11 and the guide bushing 12 are provided in multiple sets, 4 sets in this example. The plurality of guide shafts 11 are arranged at positions symmetrical to each other with respect to the rotational center line N. In this example, the support plate 22 of the mask holding unit 20 is a rectangular plate-shaped member, and is arrange|positioned at the position of four corner|angular parts. The guide shaft 11 is arranged parallel to the center shaft 32 and, on the other hand, is assembled so that the center line of the guide bush 12 is also parallel to the rotation center line N.

<심에 의한 가이드 샤프트의 기울기 조정><Inclination adjustment of guide shaft by shim>

다음으로, 도 5를 참조하여, 각 가이드 샤프트(11)의 기울기 조정에 대해 설명한다.Next, with reference to FIG. 5 , the inclination adjustment of each guide shaft 11 will be described.

도 5의 (A)는, 가이드 부시의 접속부에 심을 삽입한 상태의 부분 단면도, (B)는 심의 접촉 상태를 모식적으로 나타내는 평면도이다.Fig. 5 (A) is a partial cross-sectional view of a state in which a shim is inserted into a connecting portion of a guide bush, and (B) is a plan view schematically showing a contact state of the shim.

이 실시형태에서는, 가이드 부시(12)와 마스크 보유지지 유닛(20)의 지지 플레이트(22)와의 4군데의 접속 위치(A, B, C, D)에, 가이드 샤프트(11)의 기울기를 조정하는 조절 수단으로서의 심(18)이 삽입되어 있다. 즉, 가이드 부시(12)의 고정 플랜지(12a)가, 둘레 방향 4군데에서 볼트(13)에 의해 고정되어 있다. 이 4군데의 간극을 심(18)으로 조절함으로써, 가이드 부시(12)의 중심 축선을, Z축 방향에 대해, XY축 방향의 모든 방향으로 기울일 수 있고, 이것에 감합하는 가이드 샤프트(11)의 기울기 조정이 가능하게 된다. 심(18)의 삽입 위치로서는, 가이드 샤프트(11)와 기판 보유지지 유닛(30)의 접속 위치에 설치해도 되고, 가이드 샤프트(11)와 가이드 부시(12)의 접속 위치의 양쪽 모두에 설치해도 된다.In this embodiment, the inclination of the guide shaft 11 is adjusted in the four connection positions A, B, C, D of the guide bush 12 and the support plate 22 of the mask holding unit 20. A shim 18 is inserted as an adjustment means. That is, the fixing flange 12a of the guide bushing 12 is being fixed with the bolt 13 at four circumferential directions. By adjusting the gaps in these four places with the shims 18, the central axis of the guide bushing 12 can be tilted in all directions in the XY-axis direction with respect to the Z-axis direction, and the guide shaft 11 fits this. It is possible to adjust the inclination of As the insertion position of the shim 18, it may be provided in the connection position of the guide shaft 11 and the board|substrate holding unit 30, and may be installed in both the connection positions of the guide shaft 11 and the guide bushing 12. do.

가이드 샤프트(11)의 기울기 조정 방법으로서는, 심(18)의 삽입에 의한 방법 이외에, 기울기 조정 나사를 설치하여 접속 위치의 기울기를 조정해도 되고, 심(18)의 삽입에 한정되지 않는다.As a method of adjusting the inclination of the guide shaft 11 , in addition to the method by inserting the shim 18 , an inclination adjusting screw may be provided to adjust the inclination of the connection position, and the method is not limited to insertion of the shim 18 .

진공 챔버(100)의 상부(외측) 구조에 대해About the upper (outer) structure of the vacuum chamber 100

다음으로, 도 2 및 도 3으로 돌아가서, 진공 챔버(100)의 상부(외측) 구조에 대해 설명한다.Next, returning to FIGS. 2 and 3 , the upper (outer) structure of the vacuum chamber 100 will be described.

진공 챔버(100)의 외측 상부에는, 로터리 조인트(120), 자기 시일(125), 중공 회전축(15)을 XY 방향으로 이동시키는 X 액추에이터(130X) 및 Y 액추에이터(130Y) 및 회전시키는 θ 액추에이터(130θ), 나아가, 센터 샤프트(32)를 통해 기판 보유지지 유닛을 Z축 방향으로 이동시키는 Z 액추에이터(130Z)가 설치되어 있다.On the upper outer side of the vacuum chamber 100, the rotary joint 120, the magnetic seal 125, the X actuator 130X and Y actuator 130Y for moving the hollow rotation shaft 15 in the XY direction, and the θ actuator for rotating ( 130θ), and further, a Z actuator 130Z for moving the substrate holding unit in the Z-axis direction via the center shaft 32 is provided.

X 액추에이터(130X) 및 Y 액추에이터(130Y)는, 진공 챔버(100)에 대해 제1 스테이지(141)를 XY 방향으로 이동시키는 것으로, 이 제1 스테이지(141)에, 자기 시일(125)을 통해 중공 회전축(15)이 지지되어 있다. 나아가, 제1 스테이지(141) 상에는, 지주(支柱)(142a)를 개재하여 고정되는 제2 스테이지(142)가 설치되고, 이 제2 스테이지(142)에 로터리 조인트(120)가 고정되어 있다. 또한, 이 제2 스테이지(142)에 θ 액추에이터(130θ)가 장착되고, 기어 등의 구동 전달 부재(135)를 통해 중공 회전축(15)을 회전 구동하도록 되어 있다.The X actuator 130X and the Y actuator 130Y move the first stage 141 in the XY direction with respect to the vacuum chamber 100 , and on this first stage 141 through a magnetic seal 125 . A hollow rotating shaft 15 is supported. Furthermore, on the 1st stage 141, the 2nd stage 142 fixed via the support|pillar 142a is provided, and the rotary joint 120 is being fixed to this 2nd stage 142. As shown in FIG. In addition, a θ actuator 130θ is mounted on the second stage 142, and the hollow rotating shaft 15 is rotationally driven via a drive transmission member 135 such as a gear.

또한, 제2 스테이지(142)의 상방에는, 또한 지주(143a)를 개재하여 제3 스테이지(143)가 설치되고, 이 제3 스테이지(143)에 Z 액추에이터(130Z)가 설치되고, 센터 샤프트(32)를 Z축 방향으로 이동시킨다.Further, above the second stage 142, a third stage 143 is further provided via a post 143a, and a Z actuator 130Z is provided on this third stage 143, and the center shaft ( 32) is moved in the Z-axis direction.

로터리 조인트(120)는, 기판 보유지지 유닛(30)의 냉각판(31)에 냉각 매체를 순환시키는 것으로, 중공 회전축(15)에, 공급로 및 배출로가 설치되고, 공급로 및 배출로의 포트에 대해 환상 유로를 거쳐, 로터리 조인트에 설치한 공급 포트, 배출 포트에 접속하도록 구성된다.The rotary joint 120 circulates a cooling medium through the cooling plate 31 of the substrate holding unit 30, and a supply path and a discharge path are provided on the hollow rotating shaft 15, and the supply path and the discharge path It is comprised so that it may connect to the supply port and the discharge port provided in the rotary joint via an annular flow path with respect to a port.

자기 시일(125)은 자성 유체 시일이며, 중공 회전축(15)과 함께 회전하는 회전 링과, 제1 스테이지에 고정되는 고정 링의 사이에 설치된 간극에, 마그넷에 의해 자성 유체를 흡착하여 진공 챔버(100)를 봉지한다.The magnetic seal 125 is a magnetic fluid seal, and a vacuum chamber ( 100) is sealed.

또한, 자기 시일(125)과, 진공 챔버(100)의 상벽(101)에 설치된 중공 회전축(15)의 삽통 구멍(102)과의 사이는, 변형 가능한 벨로우즈(150)에 의해 시일된다.In addition, the magnetic seal 125 and the insertion hole 102 of the hollow rotating shaft 15 provided in the upper wall 101 of the vacuum chamber 100 are sealed by the deformable bellows 150.

또한, 기판 승강 유닛(40)을 구동하기 위한 기판 승강 액추에이터(160)는, 진공 챔버(100)의 상벽(101)에 별도 설치되어 있다.In addition, the substrate lifting actuator 160 for driving the substrate lifting unit 40 is provided separately on the upper wall 101 of the vacuum chamber 100 .

X 액추에이터(130X), Y 액추에이터(130Y), θ 액추에이터(130θ)는, 중공 회전축(15)을 통해, 마스크 보유지지 유닛(20)을, X 방향 이동, Y 방향 이동, θ 방향으로 회전시키고, 얼라인먼트 시에는, 정지한 기판(3)에 대해 마스크(2)를 이동시킴으로써, 기판(3)과 마스크(2)의 얼라인먼트 조정을 행한다. 성막 시에 있어서는, 중공 회전축(15)을, θ 액추에이터(130θ)에 의해 회전 구동함으로서, 마스크 보유지지 유닛(20), 가이드 기구(10)를 통해, 구동 토크를 기판 보유지지 유닛(30)으로 전달하고, 마스크 보유지지 유닛(20)과 기판 보유지지 유닛(30) 전체를, 일체적으로 회전 구동하도록 되어 있다.The X actuator 130X, the Y actuator 130Y, and the θ actuator 130θ rotate the mask holding unit 20 through the hollow rotation shaft 15 in the X direction, the Y direction, and the θ direction, In the case of alignment, alignment adjustment of the board|substrate 3 and the mask 2 is performed by moving the mask 2 with respect to the stationary board|substrate 3 . At the time of film formation, the drive torque is transferred to the substrate holding unit 30 via the mask holding unit 20 and the guide mechanism 10 by rotationally driving the hollow rotating shaft 15 by the θ actuator 130θ. It transmits, and the mask holding unit 20 and the whole board|substrate holding unit 30 are rotationally driven integrally.

진공 챔버(100)의 위(외측)에는, 기판(3)과 마스크(2)의 얼라인먼트 조정을 위해, 기판(3) 및 마스크(2) 각각의 위치를 측정하는 도시하지 않은 카메라가 설치되어 있다. 카메라는, 진공 챔버(100)에 설치된 창을 통해, 기판(3)과 마스크(2)를 촬영한다. 그 화상으로부터 기판(3) 상의 얼라인먼트 마크 및 마스크(2) 상의 얼라인먼트 마크를 인식함으로써, 각각의 XY 위치나 XY면 내에서의 상대 어긋남을 계측할 수 있다.Above (outside) the vacuum chamber 100, for alignment adjustment of the substrate 3 and the mask 2, a camera (not shown) for measuring the positions of the substrate 3 and the mask 2, respectively, is installed. . The camera takes pictures of the substrate 3 and the mask 2 through a window installed in the vacuum chamber 100 . By recognizing the alignment mark on the board|substrate 3 and the alignment mark on the mask 2 from the image, each XY position and the relative shift in XY plane can be measured.

성막 장치(1)는 제어부(170)를 갖는다. 제어부(170)는, X 액추에이터(130X), Y 액추에이터(130Y), Z 액추에이터(130Z), θ 액추에이터(130θ), 기판 승강 액추에이터(160), 및 카메라(도시하지 않음), 증발원(50) 등을 제어하여, 기판(3)의 반송, 얼라인먼트 공정, 성막 공정의 일련의 공정을 실행한다. 제어부(170)는, 예를 들면, 프로세서, 메모리, 스토리지, I/O 등을 갖는 컴퓨터에 의해 구성 가능하다. 이 경우, 제어부(170)의 기능은, 메모리 또는 스토리지에 기억된 프로그램을 프로세서가 실행함으로써 실현된다. 컴퓨터로서는, 범용 컴퓨터를 사용해도 되고, 임베디드형 컴퓨터 또는 PLC(programmable logic controller)를 사용해도 된다. 또는, 제어부(170)의 기능의 일부 또는 전부를 ASIC나 FPGA와 같은 회로로 구성해도 된다. 한편, 성막 장치마다 제어부(170)가 설치되어 있어도 되고, 1개의 제어부(170)가 복수의 성막 장치를 제어해도 된다.The film forming apparatus 1 has a control unit 170 . The control unit 170 includes an X actuator 130X, a Y actuator 130Y, a Z actuator 130Z, a θ actuator 130θ, a substrate lifting actuator 160, and a camera (not shown), an evaporation source 50, etc. control to execute a series of steps of conveying the substrate 3 , an alignment step, and a film forming step. The control unit 170 can be configured by, for example, a computer having a processor, memory, storage, I/O, and the like. In this case, the function of the control unit 170 is realized when the processor executes the program stored in the memory or storage. As the computer, a general-purpose computer may be used, an embedded computer or a programmable logic controller (PLC) may be used. Alternatively, some or all of the functions of the control unit 170 may be configured by circuits such as ASICs or FPGAs. In addition, the control part 170 may be provided for each film-forming apparatus, and one control part 170 may control a plurality of film-forming apparatuses.

다음으로, 성막의 기본적인 순서에 대해, 도 7을 참조하여 설명한다.Next, the basic procedure of film-forming is demonstrated with reference to FIG.

도 7은 도 2의 성막 장치의 얼라인먼트 공정, 성막 공정의 설명도이다.It is explanatory drawing of the alignment process of the film-forming apparatus of FIG. 2, and a film-forming process.

얼라인먼트 공정alignment process

성막 전에는, 도 7의 (A)에 나타내는 바와 같이, 기판 승강 유닛(40)의 지지구(41)에 의해 기판(3)이 소정 위치에 지지된다. 이 기판(3)의 위치는, 마스크대(21)와 기판 보유지지 유닛(30)의 사이의 위치에 있다. 이 위치에서, X 액추에이터(130X) 및 Y 액추에이터(130Y) 및 θ 액추에이터(130θ)에 의해, 중공 회전축(15)을 XY 방향으로 이동시킴과 함께, 회전 중심선(N)에 대해 θ 방향으로 회전시키고, 중공 회전축(15)에 연결되어 있는 마스크 보유지지 유닛(20)에 보유지지되어 있는 마스크(2)를, 기판(3)에 대해 상대 이동시켜, 얼라인먼트 조정을 행한다.Before film formation, the board|substrate 3 is supported at a predetermined position by the support tool 41 of the board|substrate raising/lowering unit 40, as shown to Fig.7 (A). The position of the substrate 3 is between the mask stand 21 and the substrate holding unit 30 . In this position, the hollow rotation shaft 15 is moved in the XY direction by the X actuator 130X, the Y actuator 130Y, and the θ actuator 130θ, and rotates in the θ direction with respect to the rotation center line N , The mask 2 held by the mask holding unit 20 connected to the hollow rotating shaft 15 is moved relative to the substrate 3 to perform alignment adjustment.

이 때, 마스크 보유지지 유닛(20)에 가이드 기구(10)를 통해 연결되어 있는 기판 보유지지 유닛(30)도, 마스크 보유지지 유닛(20)과 동기하여 이동한다.At this time, the substrate holding unit 30 connected to the mask holding unit 20 via the guide mechanism 10 also moves in synchronization with the mask holding unit 20 .

얼라인먼트 조정 후, 도 7의 (B)에 나타내는 바와 같이, 기판 승강 유닛(40)에 의해, 기판(3)을 하강시켜, 마스크대(21)에 지지된 마스크(2) 상에 재치하고, 지지구(41)는 도시하지 않은 액추에이터에 의해 기판(3)로부터 퇴피한다.After the alignment adjustment, as shown in FIG. 7B , the substrate 3 is lowered by the substrate lifting unit 40 and placed on the mask 2 supported by the mask stand 21 , The earth 41 is evacuated from the substrate 3 by an actuator not shown.

다음으로, 도 7의 (C)에 나타내는 바와 같이, Z 액추에이터(130Z)(도 2, 도 3 참조)에 의해, 센터 샤프트(32)를 통해, 기판 보유지지 유닛(30)을 하강시켜, 냉각판(31)을, 기판(3)의, 마스크(2)와는 반대측의 면에 당접시킨다. 기판 보유지지 유닛(30)에 설치된 마그넷(33a)에 의해 마스크(2)는, 기판(3)에 밀착하도록 흡인된다.Next, as shown in FIG.7(C), by Z actuator 130Z (refer FIG.2, FIG.3), the board|substrate holding unit 30 is lowered through the center shaft 32, and it cools. The plate 31 is brought into contact with the surface of the substrate 3 on the opposite side to the mask 2 . The mask 2 is attracted|sucked so that it may closely_contact|adhere to the board|substrate 3 by the magnet 33a provided in the board|substrate holding unit 30 .

성막 공정film formation process

성막 시에는, 얼라인먼트에서 사용한 θ 액추에이터(130θ)에 의해, 중공 회전축(15)을 통해, 마스크 보유지지 유닛(20)을 회전 구동한다. 이 마스크 보유지지 유닛(20)의 회전 토크가, 가이드 기구(10)의 4개의 가이드 샤프트(11) 및 가이드 부시(12)를 통해 기판 보유지지 유닛(30)에 전달되어, 마스크 보유지지 유닛(20)과 기판 보유지지 유닛(30)이 일체적으로 회전 구동된다.At the time of film-forming, the mask holding unit 20 is rotationally driven via the hollow rotating shaft 15 by the (theta) actuator 130(theta) used by alignment. The rotational torque of this mask holding unit 20 is transmitted to the substrate holding unit 30 via the four guide shafts 11 and the guide bushing 12 of the guide mechanism 10, so that the mask holding unit ( 20) and the substrate holding unit 30 are integrally rotationally driven.

이 때, 가이드 샤프트(11) 및 가이드 부시(12)에 의해 가이드되고 있으므로, 안정된 회전이 유지된다. 회전은 통상 50 rpm 정도의 속도로 회전되지만, 회전 속도는 임의이다.At this time, since it is guided by the guide shaft 11 and the guide bush 12, stable rotation is maintained. The rotation is usually rotated at a speed of about 50 rpm, but the rotation speed is arbitrary.

이에 의해, 기판(3)에, 균등하게 성막 재료가 증착되어, 균일한 막두께의 피막을 생성할 수 있다.Thereby, the film-forming material can be vapor-deposited uniformly on the board|substrate 3, and the film of a uniform film thickness can be produced|generated.

한편, 상기 실시형태에서는, 중공 회전축(15)을 회전 토크 전달 수단으로 하고, 가이드 기구(10)를 통해, 마스크 보유지지 유닛(20)으로부터 기판 보유지지 유닛(30)으로 토크를 전달하도록 되어 있지만, 센터 샤프트(32)를 회전 토크 전달 수단으로 하고, 가이드 기구(10)를 통해, 기판 보유지지 유닛(30)로부터 마스크 보유지지 유닛(20)으로 토크를 전달하도록 구성해도 된다. 예를 들면, θ 액추에이터(130θ)를 센터 샤프트(32) 측에 설치하는 등, 다양한 구성을 채용할 수 있다. 구체적으로는, 액추에이터(130θ)는, 볼 스플라인 기구를 통해 센터 샤프트(32)를 회전 구동시키는 구성으로 하고, Z 액추에이터(130Z)는, 볼나사 기구를 통해 회전 운동을 직선 운동으로 변환시키는 구성으로 하면 된다. 이와 같이 하면, θ 액추에이터(130θ)에 의해 볼 스플라인 기구를 통해 센터 샤프트(32)를 회전시키면서, 센터 샤프트(32)가 축방향으로 이동하지 않도록, Z 액추에이터(130Z)에 의해, 볼나사 기구의 너트도 회전시킴으로써, 회전 운동만을 실현할 수 있다. 요컨대, 회전 토크 전달 수단으로부터의 회전 토크를, 가이드 기구를 통해, 마스크 보유지지부와 기판 보유지지부의 일방으로부터 타방으로 전달하여, 마스크 보유지지부와 기판 보유지지부를 일체적으로 회전시키는 구성으로 하면 된다.On the other hand, in the above embodiment, the hollow rotating shaft 15 is used as the rotational torque transmitting means, and the torque is transmitted from the mask holding unit 20 to the substrate holding unit 30 through the guide mechanism 10 . , Using the center shaft 32 as a rotational torque transmitting means, you may comprise so that a torque may be transmitted from the board|substrate holding|maintenance unit 30 to the mask holding|maintenance unit 20 via the guide mechanism 10. For example, various configurations can be employed, such as providing the θ actuator 130θ on the center shaft 32 side. Specifically, the actuator 130θ is configured to rotationally drive the center shaft 32 through a ball spline mechanism, and the Z actuator 130Z is configured to convert rotational motion into linear motion through a ball screw mechanism. Do it. In this way, while rotating the center shaft 32 through the ball spline mechanism by the θ actuator 130θ, the Z actuator 130Z prevents the center shaft 32 from moving in the axial direction. By also rotating the nut, only rotational motion can be realized. In other words, the rotational torque from the rotational torque transmitting means is transmitted from one of the mask holder and the substrate holder to the other via the guide mechanism, and the mask holder and the substrate holder are configured to rotate integrally.

또한, 가이드 기구(10)에 대해서는, 상기 실시형태에서는, 가이드 샤프트와 가이드 부시에 의해 구성하였지만, 상대 회전 불능이며, 또한 회전 중심선과 평행 방향으로 직선적으로 상대 이동 가능한 기구이면 되고, 예를 들면, 궤도 레일과, 궤도 레일을 따라 이동하는 슬라이딩대로 구성되는 직선 가이드를 사용할 수도 있으며, 가이드 샤프트와 가이드 부시에 한정되지 않는다.In addition, about the guide mechanism 10, although it comprised by the guide shaft and the guide bush in the said embodiment, it should just be a mechanism which is relatively non-rotatable and can be relatively moved linearly in the direction parallel to the rotation center line, for example, A straight guide composed of a track rail and a sliding bar moving along the track rail may be used, but is not limited to a guide shaft and a guide bush.

<전자 디바이스의 제조 방법의 실시예><Example of manufacturing method of electronic device>

다음으로, 본 실시형태의 성막 장치를 사용한 전자 디바이스의 제조 방법의 일례를 설명한다. 이하, 전자 디바이스의 예로서 유기 EL 표시 장치의 구성 및 제조 방법을 예시한다.Next, an example of the manufacturing method of the electronic device using the film-forming apparatus of this embodiment is demonstrated. Hereinafter, the structure and manufacturing method of an organic electroluminescent display are illustrated as an example of an electronic device.

먼저, 제조하는 유기 EL 표시 장치에 대해 설명한다. 도 8의 (A)는 유기 EL 표시 장치(60)의 전체도, 도 8의 (B)는 1화소의 단면 구조를 나타내고 있다.First, an organic EL display device to be manufactured will be described. Fig. 8A is an overall view of the organic EL display device 60, and Fig. 8B is a cross-sectional structure of one pixel.

도 8의 (A)에 나타내는 바와 같이, 유기 EL 표시 장치(60)의 표시 영역(61)에는, 발광 소자를 복수 구비하는 화소(62)가 매트릭스 형상으로 복수 배치되어 있다. 상세한 것은 나중에 설명하지만, 발광 소자의 각각은, 한 쌍의 전극에 끼워진 유기층을 구비한 구조를 가지고 있다. 한편, 여기서 말하는 화소란, 표시 영역(61)에 있어서 원하는 색의 표시를 가능하게 하는 최소 단위를 가리키고 있다. 본 실시예에 따른 유기 EL 표시 장치의 경우, 서로 다른 발광을 나타내는 제1 발광 소자(62R), 제2 발광 소자(62G), 제3 발광 소자(62B)의 조합에 의해 화소(62)가 구성되어 있다. 화소(62)는, 적색 발광 소자와 녹색 발광 소자와 청색 발광 소자의 조합으로 구성되는 경우가 많지만, 황색 발광 소자와 시안 발광 소자와 백색 발광 소자의 조합이어도 되고, 적어도 1색 이상이라면 특별히 제한되는 것이 아니다.As shown in FIG. 8A , in the display area 61 of the organic EL display device 60 , a plurality of pixels 62 including a plurality of light emitting elements are arranged in a matrix shape. Although the details will be described later, each of the light emitting elements has a structure including an organic layer sandwiched between a pair of electrodes. In addition, the pixel here refers to the minimum unit which enables display of a desired color in the display area 61. As shown in FIG. In the case of the organic EL display device according to the present embodiment, the pixel 62 is constituted by a combination of the first light emitting element 62R, the second light emitting element 62G, and the third light emitting element 62B that emit light different from each other. has been The pixel 62 is often composed of a combination of a red light-emitting element, a green light-emitting element, and a blue light-emitting element, but may be a combination of a yellow light-emitting element, a cyan light-emitting element, and a white light-emitting element, and is particularly limited if at least one color or more it is not

도 8의 (B)는, 도 8의 (A)의 A-B선에 있어서의 부분 단면 모식도이다. 화소(62)는, 기판(63) 상에, 제1 전극(양극)(64)과, 정공 수송층(65)과, 발광층(66R, 66G, 66B) 중 어느 하나와, 전자 수송층(67)과, 제2 전극(음극)(68)을 구비하는 유기 EL 소자를 가지고 있다. 이들 중, 정공 수송층(65), 발광층(66R, 66G, 66B), 전자 수송층(67)이 유기층에 해당한다. 또한, 본 실시형태에서는, 발광층(66R)은 적색을 발하는 유기 EL 층, 발광층(66G)은 녹색을 발하는 유기 EL 층, 발광층(66B)는 청색을 발하는 유기 EL 층이다. 발광층(66R, 66G, 66B)은, 각각 적색, 녹색, 청색을 발하는 발광 소자(유기 EL 소자라고 기술하는 경우도 있음)에 대응하는 패턴으로 형성되어 있다. 또한, 제1 전극(64)은, 발광 소자마다 분리하여 형성되어 있다. 정공 수송층(65)과 전자 수송층(67)과 제2 전극(68)은, 복수의 발광 소자와 공통으로 형성되어 있어도 되고, 발광 소자마다 형성되어 있어도 된다. 한편, 제1 전극(64)과 제2 전극(68)이 이물에 의해 쇼트하는 것을 방지하기 위해, 제1 전극(64) 사이에 절연층(69)이 설치되어 있다. 나아가, 유기 EL 층은 수분이나 산소에 의해 열화하기 때문에, 수분이나 산소로부터 유기 EL 소자를 보호하기 위한 보호층(70)이 설치되어 있다.Fig. 8(B) is a schematic partial cross-sectional view taken along line A-B of Fig. 8(A). The pixel 62 includes, on a substrate 63 , a first electrode (anode) 64 , a hole transport layer 65 , any one of the light emitting layers 66R, 66G, and 66B, an electron transport layer 67 and , an organic EL element including a second electrode (cathode) 68 . Among them, the hole transport layer 65, the light emitting layers 66R, 66G, and 66B, and the electron transport layer 67 correspond to organic layers. In the present embodiment, the light emitting layer 66R is an organic EL layer emitting red light, the light emitting layer 66G is an organic EL layer emitting green color, and the light emitting layer 66B is an organic EL layer emitting blue color. The light-emitting layers 66R, 66G, and 66B are formed in a pattern corresponding to light-emitting elements (sometimes referred to as organic EL elements) emitting red, green, and blue, respectively. In addition, the 1st electrode 64 is formed separately for each light emitting element. The hole transport layer 65 , the electron transport layer 67 , and the second electrode 68 may be formed in common with a plurality of light emitting elements, or may be formed for each light emitting element. On the other hand, in order to prevent the first electrode 64 and the second electrode 68 from being short-circuited by foreign substances, an insulating layer 69 is provided between the first electrodes 64 . Furthermore, since the organic EL layer is deteriorated by moisture or oxygen, a protective layer 70 for protecting the organic EL element from moisture and oxygen is provided.

유기 EL 층을 발광 소자 단위에 형성하기 위해서는, 마스크를 통해 성막하는 방법이 이용된다. 최근, 표시 장치의 고정세화가 진행하고 있고, 유기 EL 층의 형성에는 개구의 폭이 수십 ㎛의 마스크가 사용된다. 이러한 마스크를 사용한 성막의 경우, 마스크가 성막 중에 증발원으로부터 열을 받아 열 변형되면 마스크와 기판의 위치가 어긋나 버리고, 기판 상에 형성되는 박막의 패턴이 원하는 위치로부터 어긋나 형성되어 버린다. 이에, 이들 유기 EL 층의 성막에는 본 발명에 따른 성막 장치(진공 증착 장치)이 바람직하게 사용된다.In order to form an organic EL layer in a light emitting element unit, the method of film-forming through a mask is used. In recent years, high definition of a display device is progressing, and a mask with an opening width|variety of several tens of micrometers is used for formation of an organic electroluminescent layer. In the case of film formation using such a mask, when the mask receives heat from an evaporation source and is thermally deformed during film formation, the positions of the mask and the substrate are shifted, and the pattern of the thin film formed on the substrate is shifted from the desired position. Accordingly, the film forming apparatus (vacuum vapor deposition apparatus) according to the present invention is preferably used for film formation of these organic EL layers.

다음으로, 유기 EL 표시 장치의 제조 방법의 예에 대해 구체적으로 설명한다.Next, the example of the manufacturing method of an organic electroluminescent display apparatus is demonstrated concretely.

먼저, 유기 EL 표시 장치를 구동하기 위한 회로(도시하지 않음) 및 제1 전극(64)이 형성된 기판(63)을 준비한다.First, a substrate 63 on which a circuit (not shown) for driving an organic EL display device and a first electrode 64 are formed is prepared.

제1 전극(64)이 형성된 기판(63) 위에 아크릴 수지를 스핀 코트로 형성하고, 아크릴 수지를 리소그래피법에 의해, 제1 전극(64)이 형성된 부분에 개구가 형성되도록 패터닝하여 절연층(69)을 형성한다. 이 개구부가, 발광 소자가 실제로 발광하는 발광 영역에 상당한다.An acrylic resin is formed by spin coating on the substrate 63 on which the first electrode 64 is formed, and the acrylic resin is patterned by a lithography method to form an opening in the portion where the first electrode 64 is formed to form an insulating layer 69 ) to form This opening corresponds to the light emitting region in which the light emitting element actually emits light.

절연층(69)이 패터닝된 기판(63)을 제1 성막 장치에 반입하고, 기판 보유지지 유닛에서 기판을 보유지지하고, 정공 수송층(65)을, 표시 영역의 제1 전극(64) 위에 공통 층으로서 성막한다. 정공 수송층(65)은 진공 증착에 의해 성막된다. 실제로는 정공 수송층(65)은 표시 영역(61)보다 큰 사이즈로 형성되기 때문에, 매우 세밀한(고정세) 마스크는 불필요하다.The substrate 63 on which the insulating layer 69 has been patterned is loaded into the first film forming apparatus, the substrate is held in the substrate holding unit, and the hole transport layer 65 is shared over the first electrode 64 of the display area. It forms a film as a layer. The hole transport layer 65 is formed by vacuum deposition. In reality, since the hole transport layer 65 is formed to have a size larger than that of the display area 61 , a very fine (high definition) mask is unnecessary.

다음으로, 정공 수송층(65)까지가 형성된 기판(63)을 제2 성막 장치에 반입하고, 기판 보유지지 유닛에서 보유지지한다. 기판과 마스크의 얼라인먼트를 행하고, 기판을 마스크 위에 재치하고, 기판(63)의 적색을 발하는 소자를 배치하는 부분에, 적색을 발하는 발광층(66R)을 성막한다. 본 예에 의하면, 마스크와 기판을 양호하게 겹칠 수 있어, 고정밀도의 성막을 행할 수 있다.Next, the substrate 63 on which up to the hole transport layer 65 has been formed is loaded into the second film forming apparatus, and is held by the substrate holding unit. The substrate and the mask are aligned, the substrate is placed on the mask, and the red light emitting layer 66R is formed on the portion of the substrate 63 where the red light emitting element is disposed. According to this example, a mask and a board|substrate can be laminated|stacked favorably, and high-precision film-forming can be performed.

발광층(66R)의 성막과 마찬가지로, 제3 성막 장치에 의해 녹색을 발하는 발광층(66G)을 성막하고, 또한 제4 성막 장치에 의해 청색을 발하는 발광층(66B)을 성막한다. 발광층(66R, 66G, 66B)의 성막이 완료된 후, 제5 성막 장치에 의해 표시 영역(61)의 전체에 전자 수송층(67)을 성막한다. 전자 수송층(67)은, 3색의 발광층(66R, 66G, 66B)에 공통 층으로서 형성된다.Similar to the film formation of the light emitting layer 66R, the light emitting layer 66G emitting green light is formed by the third film forming apparatus, and the light emitting layer 66B which emits blue light is further formed by the fourth film forming apparatus. After the formation of the light emitting layers 66R, 66G, and 66B is completed, the electron transporting layer 67 is formed over the entire display area 61 by the fifth film forming apparatus. The electron transport layer 67 is formed as a common layer to the light emitting layers 66R, 66G, and 66B of the three colors.

전자 수송층(67)까지가 형성된 기판을 스퍼터링 장치로 이동하고, 제2 전극(68)을 성막하고, 그 후 플라즈마 CVD 장치로 이동하여 보호층(70)을 성막하고, 유기 EL 표시 장치(60)가 완성된다.The substrate on which the electron transport layer 67 has been formed is moved to a sputtering device, a second electrode 68 is formed, and then moved to a plasma CVD device to form a protective layer 70, and an organic EL display device 60 is completed

절연층(69)이 패터닝된 기판(63)을 성막 장치에 반입하고 나서 보호층(70)의 성막이 완료될 때까지는, 수분이나 산소를 포함하는 분위기에 노출되어 버리면, 유기 EL 재료로 이루어지는 발광층이 수분이나 산소에 의해 열화될 우려가 있다. 따라서, 본 예에 있어서, 성막 장치 사이의 기판의 반입 반출은, 진공 분위기 또는 불활성 가스 분위기 하에서 행해진다.The light emitting layer made of an organic EL material is exposed to an atmosphere containing moisture or oxygen until the film formation of the protective layer 70 is completed after the substrate 63 on which the insulating layer 69 has been patterned is loaded into the film forming apparatus. There is a possibility of deterioration by this moisture or oxygen. Therefore, in this example, carrying in and carrying out of the board|substrate between film forming apparatuses is performed in a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere.

이와 같이 하여 얻어진 유기 EL 표시 장치는, 발광 소자마다 발광층이 정밀하게 형성된다. 따라서, 상기 제조 방법을 이용하면, 발광층의 위치 어긋남에 기인하는 유기 EL 표시 장치의 불량 발생을 억제할 수 있다.In the organic EL display device thus obtained, a light emitting layer is precisely formed for each light emitting element. Accordingly, by using the above manufacturing method, it is possible to suppress the occurrence of defects in the organic EL display device due to the displacement of the light emitting layer.

1: 회전 성막 장치, 2: 마스크, 3: 기판,
10: 가이드 기구, 11: 가이드 샤프트, 12: 가이드 부시,
15: 중공 회전축(토크 전달 수단),
18: 심,
20: 마스크 보유지지 유닛, 21: 마스크대, 22: 지지 플레이트,
23: 연결 부재,
30: 기판 보유지지 유닛, 31: 냉각판, 33: 요크판,
33a: 마그넷,
32: 센터 샤프트,
40: 기판 승강 유닛, 41: 지지구,
50: 증발원,
100: 진공 챔버,
130θ: θ 액추에이터,
130Z: Z 액추에이터,
N: 회전 중심선
1: rotational film forming apparatus, 2: mask, 3: substrate,
10: guide mechanism, 11: guide shaft, 12: guide bush,
15: hollow rotating shaft (torque transmission means),
18: Sim,
20: mask holding unit, 21: mask stand, 22: support plate,
23: connection member;
30: substrate holding unit, 31: cooling plate, 33: yoke plate;
33a: magnet,
32: center shaft,
40: substrate lifting unit, 41: support,
50: evaporation source,
100: vacuum chamber;
130θ: θ actuator,
130Z: Z actuator,
N: center of rotation

Claims (29)

기판과 상기 기판의 성막면에 겹쳐진 마스크를 일체적으로 회전시키면서, 상기 마스크를 통해 상기 기판에 성막 재료를 성막하는 성막 장치에 있어서,
상기 마스크를 보유지지하는 마스크 보유지지부와,
상기 기판을 보유지지하는 기판 보유지지부와,
상기 기판 보유지지부에 연결되며, 상기 기판과 상기 마스크의 회전 중심선을 따라 상기 기판 보유지지부를 이동시키는 센터 샤프트와,
상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부 중 어느 일방에 연결되는 회전 토크 전달 수단과,
회전 방향에 있어서 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치를 유지한 채, 상기 회전 중심선과 평행한 방향에 있어서 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치를 변경하는 위치 변경 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 성막 장치.
A film forming apparatus for forming a film forming material on the substrate through the mask while integrally rotating a substrate and a mask overlapping the film forming surface of the substrate,
a mask holder for holding the mask;
a substrate holding unit for holding the substrate;
a center shaft connected to the substrate holder and configured to move the substrate holder along a rotation center line of the substrate and the mask;
rotational torque transmitting means connected to either one of the mask holding part and the substrate holding part;
Position changing means for changing the relative positions of the mask holder and the substrate holder in a direction parallel to the rotation center line while maintaining the relative positions of the mask holder and the substrate holder in the rotational direction; A film forming apparatus, characterized in that.
제1항에 있어서,
상기 회전 토크 전달 수단은, 상기 마스크 보유지지부에 연결되는 구동축을 포함하는, 성막 장치.
According to claim 1,
The rotational torque transmitting means includes a drive shaft connected to the mask holder.
제2항에 있어서,
상기 회전 토크 전달 수단의 상기 구동축은 중공이며,
상기 구동축의 중공부에 상기 센터 샤프트가 삽통되는, 성막 장치.
3. The method of claim 2,
The drive shaft of the rotation torque transmitting means is hollow,
and the center shaft is inserted into the hollow part of the drive shaft.
제3항에 있어서,
상기 회전 방향에 있어서의 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치의 변경을 규제하는 가이드 수단을 더 구비하고,
상기 마스크 보유지지부로부터, 상기 가이드 수단을 통해, 상기 기판 보유지지부에 회전 토크를 전달하는, 성막 장치.
4. The method of claim 3,
and guide means for regulating a change in the relative positions of the mask holder and the substrate holder in the rotational direction;
and transmitting a rotational torque from the mask holder to the substrate holder via the guide means.
제1항에 있어서,
상기 센터 샤프트가, 상기 회전 토크 전달 수단으로서, 상기 기판 보유지지부에 회전 토크를 전달하는, 성막 장치.
According to claim 1,
The film forming apparatus, wherein the center shaft transmits the rotation torque to the substrate holding unit as the rotation torque transmitting means.
제5항에 있어서,
상기 회전 방향에 있어서의 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치의 변경을 규제하는 가이드 수단을 더 구비하고,
상기 기판 보유지지부로부터, 상기 가이드 수단을 통해, 상기 마스크 보유지지부에 회전 토크를 전달하는, 성막 장치.
6. The method of claim 5,
and guide means for regulating a change in the relative positions of the mask holder and the substrate holder in the rotational direction;
and transmitting a rotational torque from the substrate holder to the mask holder via the guide means.
제1항에 있어서,
상기 회전 중심선과 평행하게 배치되는 가이드 샤프트와,
상기 가이드 샤프트에 대해 상대 이동 가능하게 감합하는 감합 부재를 구비하는, 성막 장치.
According to claim 1,
a guide shaft disposed parallel to the rotation center line;
and a fitting member that fits relative to the guide shaft so as to be movable relative to the guide shaft.
제7항에 있어서,
상기 가이드 샤프트를 복수 구비하는, 성막 장치.
8. The method of claim 7,
A film forming apparatus comprising a plurality of the guide shafts.
제8항에 있어서,
상기 복수의 가이드 샤프트는, 상기 회전 중심선에 대해 대칭 위치에 배치되어 있는, 성막 장치.
9. The method of claim 8,
The plurality of guide shafts are disposed at symmetrical positions with respect to the rotation center line.
제7항에 있어서,
상기 가이드 샤프트와 상기 감합 부재 중 적어도 어느 일방과, 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부 중 적어도 어느 일방과의 접속 위치에, 상기 기판 보유지지부의 기판 보유지지면과 상기 마스크 보유지지부의 마스크 보유지지면과의 평행도를 조절하는 조절 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 성막 장치.
8. The method of claim 7,
At a connection position between at least one of the guide shaft and the fitting member, and at least one of the mask holder and the substrate holder, the substrate holding surface of the substrate holding part and the mask holding part of the mask holding part are connected. A film forming apparatus comprising an adjustment means for adjusting the parallelism with the surface.
제10항에 있어서,
상기 조절 수단은 심인 것을 특징으로 하는 성막 장치.
11. The method of claim 10,
The film forming apparatus according to claim 1, wherein the adjusting means is a shim.
제7항에 있어서,
상기 마스크 보유지지부는,
상기 마스크가 재치되는 마스크대와,
상기 마스크대의 상방에 미리 정해진 간격을 두고 평행하게 배치되는 지지 플레이트와,
상기 마스크대와 상기 지지 플레이트를 연결하는 연결 부재를 가지며,
상기 마스크대와 상기 지지 플레이트의 사이에 상기 기판 보유지지부가 배치되고,
상기 감합 부재는 상기 마스크 보유지지부의 상기 지지 플레이트에 장착되고, 상기 감합 부재에 삽통되는 상기 가이드 샤프트의 일단이 기판 보유지지부에 고정되어 있는, 성막 장치.
8. The method of claim 7,
The mask holding unit,
a mask stand on which the mask is placed;
a support plate disposed in parallel with a predetermined distance above the mask stand;
and a connecting member connecting the mask stand and the support plate,
The substrate holding unit is disposed between the mask stand and the supporting plate,
and the fitting member is mounted to the support plate of the mask holding part, and one end of the guide shaft inserted into the fitting member is fixed to the substrate holding part.
제1항에 있어서,
상기 마스크 보유지지부는,
상기 마스크가 재치되는 마스크대와,
상기 마스크대의 상방에 미리 정해진 간격을 두고 평행하게 배치되는 지지 플레이트와,
상기 마스크대와 상기 지지 플레이트를 연결하는 연결 부재를 가지며,
상기 마스크대와 상기 지지 플레이트의 사이에 상기 기판 보유지지부가 배치되고,
상기 센터 샤프트가 상기 마스크 보유지지부의 상기 지지 플레이트를 관통하여, 상기 기판 보유지지부에 연결되고,
상기 센터 샤프트가, 상기 위치 변경 수단으로서, 상기 기판 보유지지부를 축방향으로 이동시키는, 성막 장치.
According to claim 1,
The mask holding unit,
a mask stand on which the mask is placed;
a support plate disposed in parallel with a predetermined distance above the mask stand;
and a connecting member connecting the mask stand and the support plate,
The substrate holding unit is disposed between the mask stand and the supporting plate,
the center shaft passes through the support plate of the mask holder and is connected to the substrate holder;
The film forming apparatus, wherein the center shaft moves the substrate holding part in an axial direction as the position changing means.
제1항에 있어서,
상기 기판 보유지지부와 상기 마스크 보유지지부를, 각각, 상기 회전 중심선과 직교하며 서로 직교하는 2개의 방향으로 이동시키는 얼라인먼트 수단을 구비하는, 성막 장치.
According to claim 1,
and alignment means for moving the substrate holding part and the mask holding part in two directions perpendicular to the rotation center line and orthogonal to each other, respectively.
제14항에 있어서,
상기 위치 변경 수단이, 상기 마스크와 상기 기판이 이격되도록 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대 위치를 변경한 상태로, 상기 얼라인먼트 수단이 상기 기판과 상기 마스크의 얼라인먼트를 행하는, 성막 장치.
15. The method of claim 14,
The alignment means aligns the substrate and the mask in a state in which the position change means changes the relative positions of the mask holder and the substrate holder so that the mask and the substrate are spaced apart.
기판과 상기 기판의 성막면에 겹쳐진 마스크를 일체적으로 회전시키면서, 상기 마스크를 통해 상기 기판에 성막 재료를 성막하는 성막 장치에 있어서,
상기 마스크를 보유지지하는 마스크 보유지지부와,
상기 기판을 보유지지하는 기판 보유지지부와,
상기 기판 보유지지부에 연결되며, 상기 기판과 상기 마스크의 회전 중심선을 따라 상기 기판 보유지지부를 이동시키는 센터 샤프트와,
상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부 중 어느 일방에 연결되는 회전 토크 전달 수단과,
회전 방향에 있어서는 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치의 변화를 규제하고, 상기 회전 중심선과 평행한 방향에 있어서는 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치의 변화를 허용하는 가이드 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 성막 장치.
A film forming apparatus for forming a film forming material on the substrate through the mask while integrally rotating a substrate and a mask overlapping the film forming surface of the substrate,
a mask holder for holding the mask;
a substrate holding unit for holding the substrate;
a center shaft connected to the substrate holder and configured to move the substrate holder along a rotation center line of the substrate and the mask;
rotational torque transmitting means connected to either one of the mask holding part and the substrate holding part;
Guide means for regulating a change in the relative position of the mask holder and the substrate holder in a rotational direction, and allowing a change in the relative position of the mask holder and the substrate holder in a direction parallel to the rotation center line A film forming apparatus comprising a.
제16항에 있어서,
상기 회전 토크 전달 수단은, 상기 마스크 보유지지부에 연결되는 구동축을 포함하는, 성막 장치.
17. The method of claim 16,
The rotational torque transmitting means includes a drive shaft connected to the mask holder.
제17항에 있어서,
상기 회전 토크 전달 수단의 상기 구동축은 중공이며,
상기 구동축의 중공부에 상기 센터 샤프트가 삽통되는, 성막 장치.
18. The method of claim 17,
The drive shaft of the rotation torque transmitting means is hollow,
and the center shaft is inserted into the hollow part of the drive shaft.
제18항에 있어서,
상기 마스크 보유지지부로부터, 상기 가이드 수단을 통해, 상기 기판 보유지지부에 회전 토크를 전달하는, 성막 장치.
19. The method of claim 18,
and transmitting a rotational torque from the mask holder to the substrate holder via the guide means.
제16항에 있어서,
상기 센터 샤프트가, 상기 회전 토크 전달 수단으로서, 상기 기판 보유지지부에 회전 토크를 전달하는, 성막 장치.
17. The method of claim 16,
The film forming apparatus, wherein the center shaft transmits the rotation torque to the substrate holding unit as the rotation torque transmitting means.
제20항에 있어서,
상기 기판 보유지지부로부터, 상기 가이드 수단을 통해, 상기 마스크 보유지지부에 회전 토크를 전달하는, 성막 장치.
21. The method of claim 20,
and transmitting a rotational torque from the substrate holder to the mask holder via the guide means.
제16항에 있어서,
상기 가이드 수단은,
상기 회전 중심선과 평행하게 배치되는 가이드 샤프트와,
상기 가이드 샤프트에 대해 상대 이동 가능하게 감합하는 감합 부재를 가지는, 성막 장치.
17. The method of claim 16,
The guide means,
a guide shaft disposed parallel to the rotation center line;
and a fitting member that fits relative to the guide shaft so as to be movable relative to the guide shaft.
제22항에 있어서,
상기 가이드 샤프트를 복수 구비하는, 성막 장치.
23. The method of claim 22,
A film forming apparatus comprising a plurality of the guide shafts.
제22항에 있어서,
상기 가이드 샤프트와 상기 감합 부재 중 적어도 어느 일방과, 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부 중 적어도 어느 일방과의 접속 위치에, 상기 기판 보유지지부의 기판 보유지지면과 상기 마스크 보유지지부의 마스크 보유지지면과의 평행도를 조절하는 조절 수단을 구비하는, 성막 장치.
23. The method of claim 22,
At a connection position between at least one of the guide shaft and the fitting member, and at least one of the mask holder and the substrate holder, the substrate holding surface of the substrate holding part and the mask holding part of the mask holding part are connected. A film forming apparatus comprising adjusting means for adjusting parallelism with a surface.
제16항에 있어서,
상기 센터 샤프트가, 상기 기판 보유지지부의 위치를 변경함으로써, 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대적인 위치를 변경하는, 성막 장치.
17. The method of claim 16,
The said center shaft changes the relative position of the said mask holding part and the said board|substrate holding part by changing the position of the said board|substrate holding part.
제16항에 있어서,
상기 마스크 보유지지부는,
상기 마스크가 재치되는 마스크대와,
상기 마스크대의 상방에 미리 정해진 간격을 두고 평행하게 배치되는 지지 플레이트와,
상기 마스크대와 상기 지지 플레이트를 연결하는 연결 부재를 가지며,
상기 마스크대와 상기 지지 플레이트의 사이에 상기 기판 보유지지부가 배치되고,
상기 센터 샤프트가 상기 마스크 보유지지부의 상기 지지 플레이트를 관통하여, 상기 기판 보유지지부에 연결되는, 성막 장치.
17. The method of claim 16,
The mask holding unit,
a mask stand on which the mask is placed;
a support plate disposed in parallel with a predetermined distance above the mask stand;
and a connecting member connecting the mask stand and the support plate,
The substrate holding unit is disposed between the mask stand and the supporting plate,
and the center shaft passes through the support plate of the mask holder and is connected to the substrate holder.
제16항에 있어서,
상기 기판 보유지지부와 상기 마스크 보유지지부를, 각각, 상기 회전 중심선과 직교하며 서로 직교하는 2개의 방향으로 이동시키는 얼라인먼트 수단을 구비하는, 성막 장치.
17. The method of claim 16,
and alignment means for moving the substrate holding part and the mask holding part in two directions perpendicular to the rotation center line and orthogonal to each other, respectively.
제27항에 있어서,
상기 가이드 수단이, 상기 마스크와 상기 기판이 이격되도록 상기 마스크 보유지지부와 상기 기판 보유지지부의 상대 위치를 변경한 상태로, 상기 얼라인먼트 수단이 상기 기판과 상기 마스크의 얼라인먼트를 행하는, 성막 장치.
28. The method of claim 27,
The film forming apparatus, wherein the alignment means aligns the substrate and the mask in a state in which the guide means changes the relative positions of the mask holder and the substrate holder so that the mask and the substrate are spaced apart.
전자 디바이스의 제조 방법으로서,
제1항 내지 제28항 중 어느 한 항에 기재된 성막 장치를 사용하여 전자 디바이스를 제조하는 것을 특징으로 하는 전자 디바이스의 제조 방법.
A method of manufacturing an electronic device, comprising:
29. A manufacturing method of an electronic device characterized by manufacturing an electronic device using the film-forming apparatus in any one of Claims 1-28.
KR1020210102930A 2020-08-11 2021-08-05 Film forming apparatus and manufacturing method of electronic device KR20220020211A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2020-135817 2020-08-11
JP2020135817A JP2022032234A (en) 2020-08-11 2020-08-11 Rotary deposition device and method for producing electronic device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20220020211A true KR20220020211A (en) 2022-02-18

Family

ID=80283206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210102930A KR20220020211A (en) 2020-08-11 2021-08-05 Film forming apparatus and manufacturing method of electronic device

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2022032234A (en)
KR (1) KR20220020211A (en)
CN (1) CN114075645B (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005248249A (en) 2004-03-04 2005-09-15 Ulvac Japan Ltd Film deposition apparatus and film deposition method
JP2010185107A (en) 2009-02-12 2010-08-26 Seiko Epson Corp Mask vapor deposition system, vapor deposition mask and mask vapor deposition method

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3789857B2 (en) * 2002-06-25 2006-06-28 トッキ株式会社 Vapor deposition equipment
JP4510609B2 (en) * 2004-12-21 2010-07-28 株式会社アルバック Substrate and mask alignment method, organic thin film deposition method, and alignment apparatus
JP4624236B2 (en) * 2005-10-25 2011-02-02 日立造船株式会社 Alignment equipment for vacuum deposition
KR101952521B1 (en) * 2017-10-31 2019-02-26 캐논 톡키 가부시키가이샤 Film forming apparatus, film forming method and manufacturing method of electronic device
JP6662841B2 (en) * 2017-12-21 2020-03-11 株式会社アルバック Vapor deposition equipment

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005248249A (en) 2004-03-04 2005-09-15 Ulvac Japan Ltd Film deposition apparatus and film deposition method
JP2010185107A (en) 2009-02-12 2010-08-26 Seiko Epson Corp Mask vapor deposition system, vapor deposition mask and mask vapor deposition method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2022032234A (en) 2022-02-25
CN114075645B (en) 2024-03-29
CN114075645A (en) 2022-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7202858B2 (en) Substrate transport system, electronic device manufacturing apparatus, and electronic device manufacturing method
JP7429723B2 (en) Film forming apparatus, film forming method, and electronic device manufacturing method
KR102128888B1 (en) Film forming apparatus, film forming method and manufacturing method of electronic device
KR102405438B1 (en) Mask position adjusting apparatus, film forming apparatus, mask position adjusting method, film forming method, and manufacturing method of electronic device
JP7271740B2 (en) Film forming apparatus, electronic device manufacturing apparatus, film forming method, and electronic device manufacturing method
KR102017626B1 (en) Film formation apparatus, film formation method and manufacturing method of electronic device
KR102355418B1 (en) Substrate conveying system, method and apparatus for manufacturing electronic devices
JP2021066952A (en) Film deposition apparatus, manufacturing apparatus for electronic device, film deposition method, and manufacturing method for electronic device
KR20220020211A (en) Film forming apparatus and manufacturing method of electronic device
JP7440356B2 (en) Alignment equipment, film forming equipment, alignment method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7048696B2 (en) Film forming equipment
JP2022007536A (en) Alignment device, film deposition apparatus, alignment method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7472095B2 (en) Operation setting device, operation setting method, and manufacturing method of electronic device
KR102657735B1 (en) Substrate conveyance device, substrate processing system, substrate conveying method, electronic device production method, program and storage medium
JP7051969B2 (en) Film forming equipment
JP7446169B2 (en) Substrate transfer device, substrate processing system, substrate transfer method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7450493B2 (en) Mask alignment method, film forming method, mask alignment device, and film forming device
WO2024034236A1 (en) Alignment device, film forming device, control method, electronic device manufacturing method, program, and storage medium
WO2023238479A1 (en) Alignment device, film forming apparatus and alignment method
JP7078694B2 (en) Film forming equipment, film forming method, and manufacturing method of electronic devices
JP2024054768A (en) Film forming equipment
KR20230034155A (en) Alignment apparatus
JP2023094309A (en) Operation setting device, operation setting method, and manufacturing method for electronic device
KR20240047913A (en) Film forming apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right