KR102128888B1 - Film forming apparatus, film forming method and manufacturing method of electronic device - Google Patents

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Abstract

본 발명의 성막 장치는, 마스크를 통해 기판에 증착재료를 성막하기 위한 성막 장치로서, 증착공정이 이루어지는 공간을 정의하는 진공 챔버, 상기 진공 챔버 내에 설치되며, 기판을 보유지지하여 반송하기 위한 기판 보유지지 유닛, 상기 진공 챔버 내에 설치되며, 상기 기판 보유지지 유닛에 보유지지된 기판을 사이에 두고 마스크에 자력을 인가시키기 위한 자력인가수단, 상기 기판 보유지지 유닛을 제1 방향 및 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동시키거나 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 회전시키기 위한 얼라인먼트 스테이지, 및 상기 얼라인먼트 스테이지로부터 분리되어 독립적으로 설치되며, 상기 자력인가수단을 상기 제3 방향으로 구동하기 위한 자력인가수단 제3 방향 구동기구를 포함한다. The film forming apparatus of the present invention is a film forming apparatus for depositing a deposition material on a substrate through a mask, a vacuum chamber defining a space in which a deposition process is performed, installed in the vacuum chamber, and holding the substrate for holding and transporting the substrate A support unit, installed in the vacuum chamber, the magnetic force applying means for applying a magnetic force to the mask with the substrate held between the substrate holding unit interposed therebetween, and the substrate holding unit intersecting the first direction and the first direction The alignment stage for moving in the second direction or rotating in the rotational direction about the first direction and the third direction intersecting the second direction, and separately installed from the alignment stage, the magnetic force And a third direction driving mechanism for applying magnetic force for driving the applying means in the third direction.

Description

성막 장치, 성막 방법, 및 전자 디바이스 제조방법 {FILM FORMING APPARATUS, FILM FORMING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE}Film forming apparatus, film forming method, and electronic device manufacturing method {FILM FORMING APPARATUS, FILM FORMING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE}

본 발명은 성막 장치 및 성막 방법에 관한 것으로, 냉각판/마그넷판의 구동기구를 얼라인먼트 스테이지로부터 분리하여 독립시킨 구조를 가지는 성막 장치 및 이를 이용한 성막 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a film forming apparatus and a film forming method, and relates to a film forming apparatus having an independent structure by separating a driving mechanism of a cooling plate/magnet plate from an alignment stage and a film forming method using the same.

최근 평판 표시 장치로서 유기 EL 표시 장치가 각광을 받고 있다. 유기 EL 표시장치는 자발광 디스플레이로서, 응답 속도, 시야각, 박형화 등의 특성이 액정 패널 디스플레이보다 우수하여, 모니터, 텔레비전, 스마트폰으로 대표되는 각종 휴대 단말 등에서 기존의 액정 패널 디스플레이를 빠르게 대체하고 있다. 또한, 자동차용 디스플레이 등으로도 그 응용분야를 넓혀가고 있다. Recently, an organic EL display device has been spotlighted as a flat panel display device. The organic EL display device is a self-luminous display, and has characteristics such as response speed, viewing angle, and thinning, which are superior to those of the liquid crystal panel display, and thus rapidly replaces the existing liquid crystal panel display in various portable terminals such as monitors, televisions, and smartphones. . In addition, it is expanding its application field to automobile displays.

유기 EL 표시장치의 소자는 2개의 마주보는 전극(캐소드 전극, 애노드 전극) 사이에 발광을 일으키는 유기물 층이 형성된 기본 구조를 가진다. 유기 EL 표시 장치 소자의 유기물층 및 전극 금속층은 진공 챔버 내에서 화소 패턴이 형성된 마스크를 통해 기판에 증착물질을 증착시킴으로써 제조되는데, 마스크상의 화소 패턴을 높은 정밀도로 기판상으로 전사하기 위해서는, 기판에의 증착이 이루어지기 전에 마스크와 기판의 상대적 위치를 높은 정밀도로 조정해야 한다. The element of the organic EL display device has a basic structure in which an organic material layer that emits light is formed between two opposing electrodes (cathode electrode and anode electrode). The organic material layer and the electrode metal layer of the organic EL display device are manufactured by depositing a deposition material on a substrate through a mask on which a pixel pattern is formed in a vacuum chamber. To transfer a pixel pattern on a mask onto a substrate with high precision, Before deposition, the relative position of the mask and substrate must be adjusted with high precision.

이를 위해, 기판을 보유지지하는 기판 보유지지 유닛이 탑재된 얼라인먼트 스테이지를 구동하여, 기판 보유지지 유닛상에 보유지지된 기판을 마스크 대(台) 상의 마스크에 대해 위치 조정하는 얼라인먼트 공정을 수행한다. 그런데, 종래의 얼라인먼트 스테이지 상에는, 기판 보유지지 유닛의 승강기구 이외에 냉각판/마그넷판의 승강기구도 함께 탑재되기 때문에, 기판 보유지지 유닛상의 기판의 위치를 마스크 대 상의 마스크의 위치에 대해 조정하기 위해 얼라인먼트 스테이지를 X방향 또는 Y방향으로 이동하거나 θ방향으로 회전시키면, 기판뿐만 아니라 냉각판/마그넷판도 함께 이동 및/또는 회전하게 된다.To this end, an alignment process is performed by driving an alignment stage on which a substrate holding unit for holding a substrate is mounted, and positioning the substrate held on the substrate holding unit with respect to a mask on a mask stand. By the way, on the conventional alignment stage, since the lifting mechanism of the cooling plate/magnet plate is mounted together with the lifting mechanism of the substrate holding unit, the alignment to adjust the position of the substrate on the substrate holding unit with respect to the position of the mask on the mask. When the stage is moved in the X or Y direction or rotated in the θ direction, not only the substrate but also the cooling plate/magnet plate is moved and/or rotated together.

반송로봇에 의해 기판이 성막 장치 내로 반입되는 과정에서, 기판이 반송로봇의 핸드상에서 움직여, 반송로봇의 핸드상에서의 기판의 위치가 정해진 위치에서 벗어나는 경우가 있다. 이 경우, 반송로봇의 핸드로부터 기판을 수취한 기판 보유지지 유닛상에서의 기판의 위치도 반송로봇에 의한 기판의 반송오차로 인해 정해진 위치에서 벗어나게 된다. In a process in which the substrate is carried into the film forming apparatus by the transfer robot, the substrate may move on the hand of the transfer robot, and the position of the substrate on the hand of the transfer robot may deviate from a predetermined position. In this case, the position of the substrate on the substrate holding unit that receives the substrate from the hand of the transportation robot also deviates from the predetermined position due to the transportation error of the substrate by the transportation robot.

이러한 반송로봇에 의한 기판의 반송오차에 기인한 기판의 마스크에 대한 위치어긋남은 기판 보유지지 유닛이 연결된 얼라인먼트 스테이지를 XYθ 방향으로 구동시킴으로써 보정한다. 예컨대, 반송로봇의 문제로 기판이 정해진 위치보다 Z축을 중심으로 5°만큼 회전한 상태로 기판 보유지지 유닛상에 놓이게 되면(즉, 기판 보유지지 유닛상의 기판과 마스크 대 상의 마스크가 Z축을 중심으로 5°만큼 어긋나게 되면), 기판 보유지지 유닛이 연결된 얼라인먼트 스테이지를 5°만큼 반대방향으로 회전시킴으로써, 마스크 대 상의 마스크에 대한 기판의 위치 어긋남을 보정한다. The displacement of the substrate from the mask due to the transportation error of the substrate by the transportation robot is corrected by driving the alignment stage to which the substrate holding unit is connected in the XYθ direction. For example, if the substrate is placed on the substrate holding unit with the substrate rotated by 5° about the Z axis from the predetermined position due to the problem of the transport robot (ie, the substrate on the substrate holding unit and the mask on the mask holder are centered on the Z axis) If shifted by 5°), the positional displacement of the substrate with respect to the mask on the mask is corrected by rotating the alignment stage to which the substrate holding unit is connected in the opposite direction by 5°.

그런데, 얼라인먼트 스테이지상에는 냉각판/마그넷판 승강기구가 기판 보유지지 유닛 승강기구와 함께 설치되기 때문에, 기판의 위치보정을 위해 얼라인먼트 스테이지를 반대방향으로 5°만큼 회전시키면, 냉각판/마그넷판도 마찬가지로 5°만큼 반대방향으로 회전을 하게 된다. 따라서, 얼라인먼트 스테이지의 구동에 의해, 기판의 반송오차로 인한 기판과 마스크간의 위치 어긋남은 해소가능하지만, 냉각판/마그넷판과 기판의 위치어긋남이나 냉각판/마그넷판과 마스크 간의 위치 어긋남이 남게 된다. However, since the cooling plate/magnet plate lifting mechanism is installed together with the substrate holding unit lifting mechanism on the alignment stage, if the alignment stage is rotated by 5° in the opposite direction to correct the position of the substrate, the cooling plate/magnet plate is also 5° It will rotate in the opposite direction. Therefore, the positional displacement between the substrate and the mask due to the conveyance error of the substrate can be eliminated by driving the alignment stage, but the displacement of the cooling plate/magnet plate and the substrate or the displacement between the cooling plate/magnet plate and the mask remains. .

더구나, 이러한 반송로봇에 의한 기판의 반송오차의 정도는 반송로봇의 반송 동작시마다 다르기 때문에, 냉각판/마그넷판과 기판간의 위치 어긋남, 냉각판/마그넷판과 마스크간의 위치 어긋남의 정도에 편차가 생긴다. 이는 성막시에 접촉하는 냉각판과 기판 사이의 최종적인 위치 결정 정밀도를 악화시키며(이는 기판에 대한 냉각판의 냉각작용에 편차를 가져온다), 마그넷판에 의해 밀착되는 기판과 마스크의 밀착상태에 편차를 초래한다.Moreover, since the degree of the conveying error of the substrate by the conveying robot is different for each conveying operation of the conveying robot, there is a deviation in the positional displacement between the cooling plate/magnet plate and the substrate, and the degree of displacement between the cooling plate/magnet plate and the mask . This deteriorates the final positioning precision between the cooling plate and the substrate that are in contact with the film formation (which causes variations in the cooling action of the cooling plate with respect to the substrate), and the variation in the adhesion between the substrate and the mask that are in close contact with the magnet plate. Results in

이러한 기판의 반송오차에 의한 냉각판/마그넷판과 기판/마스크 간의 위치어긋남 및 그 위치 어긋남량의 편차는 성막 불량, 성막위치 어긋남 등, 제품 불량이나 수율 저하 등의 문제를 일으킨다.The positional deviation between the cooling plate/magnet plate and the substrate/mask due to the conveyance error of the substrate and the deviation in the amount of the positional deviation cause problems such as defective film formation and poor film formation, resulting in product defects or reduced yield.

본 발명은, 반송로봇에 의한 기판의 반송오차가 발생하는 경우에도 냉각판/마그넷판과 기판/마스크간의 위치어긋남이 발생하지 않도록 하기 위한 성막 장치, 성막 방법, 전자디바이스 제조방법을 제공하는 것을 주된 목적으로 한다.The present invention mainly provides a film forming apparatus, a film forming method, and an electronic device manufacturing method for preventing the displacement of the cooling plate/magnet plate and the substrate/mask from occurring even when a substrate transportation error occurs by the transportation robot. The purpose.

본 발명의 제1 양태에 따른 성막 장치는, 마스크를 통해 기판에 증착재료를 성막하기 위한 성막 장치로서, 증착공정이 이루어지는 공간을 정의하는 진공 챔버, 상기 진공 챔버 내에 설치되며, 기판을 보유지지하여 반송하기 위한 기판 보유지지 유닛, 상기 진공 챔버 내에 설치되며, 상기 기판 보유지지 유닛에 보유지지된 기판을 사이에 두고 마스크에 자력을 인가시키기 위한 자력인가수단, 상기 기판 보유지지 유닛을 제1 방향 및 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동시키거나 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 회전시키기 위한 얼라인먼트 스테이지, 및 상기 얼라인먼트 스테이지로부터 분리되어 독립적으로 설치되며, 상기 자력인가수단을 상기 제3 방향으로 구동하기 위한 자력인가수단 제3 방향 구동기구를 포함하는 것을 특징으로 한다. The film forming apparatus according to the first aspect of the present invention is a film forming apparatus for depositing a deposition material on a substrate through a mask, and is installed in the vacuum chamber, the vacuum chamber defining a space where the deposition process is performed, and holding the substrate. A substrate holding unit for conveying, a magnetic force applying means installed in the vacuum chamber and applying a magnetic force to the mask with the substrate held by the substrate holding unit interposed therebetween, and the substrate holding unit in a first direction and An alignment stage for moving in a second direction intersecting the first direction or rotating in the rotational direction about the third direction intersecting the first direction and the second direction, and independently from the alignment stage It is installed, characterized in that it comprises a magnetic force applying means for driving the magnetic force applying means in the third direction.

본 발명의 제2 양태에 따른 성막 장치는, 마스크를 통해 기판에 증착재료를 성막하기 위한 성막 장치로서, 증착 공정이 이루어지는 공간을 정의하는 진공 챔버와, 상기 진공 챔버 내에 설치되며, 기판을 보유지지하여 반송하기 위한 기판 보유지지 유닛과, 마스크와의 사이에 상기 기판 보유지지 유닛에 보유지지된 기판을 끼우도록 상기 진공 챔버 내에 배치되고, 상기 기판과 상기 마스크를 밀착시키기 위한 밀착 수단과, 상기 기판 보유지지 유닛을 제1 방향 및 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동시키거나 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 회전시키기 위한 얼라인먼트 스테이지와, 상기 얼라인먼트 스테이지로부터 분리되어 독립적으로 설치되며, 상기 밀착 수단을 상기 제3 방향으로 구동시키기 위한 밀착 수단 제3 방향 구동기구를 포함하는 것을 특징으로 한다. The film forming apparatus according to the second aspect of the present invention is a film forming apparatus for depositing a deposition material on a substrate through a mask, and a vacuum chamber defining a space in which a deposition process is performed, and installed in the vacuum chamber, and holds the substrate It is arranged in the vacuum chamber so as to sandwich the substrate held in the substrate holding unit between the substrate holding unit and the mask for conveying, and the contact means for bringing the substrate and the mask into close contact with the substrate. An alignment stage for moving the holding unit in a first direction and a second direction intersecting the first direction, or rotating the first direction and a third direction intersecting the second direction in a rotational direction about the axis; Separately installed from the alignment stage, it is characterized in that it comprises a third means driving mechanism for contact means for driving the contact means in the third direction.

본 발명의 제3 양태에 따른 성막 방법은, 마스크를 통해 기판에 증착재료를 증착하기 위한 성막 방법으로서, 본 발명의 제1 양태에 따른 성막 장치의 진공 챔버 내로 반입된 마스크를 마스크 보유지지 유닛에 재치하는 단계, 상기 마스크 보유지지 유닛에 재치된 상태의 마스크를 자력인가수단에 대해, 제1 방향, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향 및 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 위치 조정하는 마스크 얼라인먼트 단계, 위치 조정된 마스크를 상기 진공 챔버에 고정된 마스크 대(台) 상에 재치하는 단계, 상기 성막 장치의 상기 진공 챔버 내로 기판을 반입하여 기판 보유지지 유닛에 재치하는 단계, 상기 기판 보유지지 유닛에 재치된 기판을 상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대해 상기 제1 방향, 상기 제2 방향 및 상기 회전방향으로 위치 조정하는 기판 얼라인먼트 단계, 상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대하여 위치 조정된 기판을 마스크 상에 재치하는 단계, 자력인가수단 및 냉각판을 상기 제3 방향으로 이동시켜 기판에 접촉시키는 단계, 및 마스크를 통해 기판 상에 증착재료를 성막하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. The film forming method according to the third aspect of the present invention is a film forming method for depositing a deposition material on a substrate through a mask, wherein the mask carried into the vacuum chamber of the film forming apparatus according to the first aspect of the present invention is provided to the mask holding unit. Step of placing, for the magnetic force applying means to place the mask placed on the mask holding unit, the first direction, the second direction intersecting the first direction and the first direction and the second direction intersecting the second direction A mask alignment step of adjusting the position in a rotational direction about three directions, placing the position-adjusted mask on a mask stand fixed to the vacuum chamber, and bringing a substrate into the vacuum chamber of the film forming apparatus Step of mounting on the substrate holding unit, substrate alignment to position the substrate placed on the substrate holding unit in the first direction, the second direction and the rotating direction with respect to the mask placed on the mask stand Step, placing a substrate positioned on the mask with respect to the mask placed on the mask stage, moving the magnetic force applying means and the cooling plate in the third direction to contact the substrate, and through the mask And depositing a deposition material on the substrate.

본 발명의 제4 양태에 따른 성막 방법은, 마스크를 통해 기판에 증착재료를 증착하기 위한 성막 방법으로서, 본 발명의 제2 양태에 따른 성막 장치의 진공 챔버 내로 반입된 마스크를 마스크 보유지지 유닛에 재치하는 단계와, 상기 마스크 보유지지 유닛에 재치된 상태의 마스크를 밀착 수단에 대하여 제1 방향, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향 및 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 위치 조정하는 마스크 얼라인먼트 단계와, 위치 조정된 마스크를 상기 진공 챔버에 고정된 마스크 대 상에 재치하는 단계와, 상기 성막 장치의 상기 진공 챔버 내로 기판을 반입하여 기판 보유지지 유닛에 재치하는 단계와, 상기 기판 보유지지 유닛에 재치된 기판을 상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대하여 상기 제1 방향, 상기 제2 방향 및 상기 회전방향으로 위치 조정하는 기판 얼라인먼트 단계와, 상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대하여 위치 조정된 기판을 마스크 상에 재치하는 단계와, 밀착 수단을 상기 제3 방향으로 이동시켜 기판에 밀착시키는 단계와, 마스크를 통해 기판 상에 증착재료를 성막하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. The film forming method according to the fourth aspect of the present invention is a film forming method for depositing a deposition material on a substrate through a mask, and the mask carried into the vacuum chamber of the film forming apparatus according to the second aspect of the present invention is provided to the mask holding unit. A step of placing, and a third direction intersecting the first direction, the second direction intersecting the first direction, and the first direction and the second direction with respect to the contact means for the mask placed in the mask holding unit A mask alignment step of adjusting the position in a rotational direction about an axis; a step of placing a position-adjusted mask on a mask table fixed to the vacuum chamber; and carrying a substrate into the vacuum chamber of the film forming apparatus to hold the substrate. A step of mounting on a support unit, and a substrate alignment step of positioning the substrate mounted on the substrate holding unit in the first direction, the second direction, and the rotational direction with respect to a mask placed on the mask stand. And, placing the substrate positioned on the mask with respect to the mask placed on the mask stage on the mask, moving the adhesion means in the third direction to adhere to the substrate, and through the mask on the substrate. And depositing a deposition material.

본 발명의 제5 양태에 따른 전자 디바이스 제조방법은, 본 발명의 제3 양태 에 따른 성막 방법을 사용하여 전자 디바이스를 제조하는 것을 특징으로 한다. A method for manufacturing an electronic device according to a fifth aspect of the present invention is characterized in that the electronic device is manufactured using the film forming method according to the third aspect of the present invention.

본 발명의 제6 양태에 따른 전자 디바이스 제조방법은, 본 발명의 제4 양태에 따른 성막 방법을 사용하여 전자 디바이스를 제조하는 것을 특징으로 한다. A method for manufacturing an electronic device according to a sixth aspect of the present invention is characterized in that the electronic device is manufactured using the film forming method according to the fourth aspect of the present invention.

본 발명에 의하면, 냉각판/마그넷판 승강기구를 얼라인먼트 스테이지로부터 분리하여 독립시킴으로써, 반송로봇에 의한 기판의 반송오차의 보정을 위해 얼라인먼트 스테이지를 XYθ 방향으로 이동시켜도, 냉각판 및 마그넷판은 XYθ 방향으로 이동하지 않게 된다. 이에 따라, 얼라인먼트 스테이지의 XYθ 이동으로 인해 냉각판/마그넷과 마스크간의 상대적인 위치 어긋남이 생기는 것을 방지할 수 있으며, 성막 불량에 의한 제품 불량을 저감할 수 있다.According to the present invention, by separating and independent of the cooling plate/magnet plate lifting mechanism from the alignment stage, even if the alignment stage is moved in the XYθ direction to correct the transportation error of the substrate by the transfer robot, the cooling plate and the magnet plate are in the XYθ direction. Will not move. Accordingly, it is possible to prevent the relative positional displacement between the cooling plate/magnet and the mask due to XYθ movement of the alignment stage, and it is possible to reduce product defects due to defective film formation.

도 1은 유기 EL 표시 장치의 제조 라인의 일부의 모식도이다.
도 2는 성막 장치의 모식도이다.
도 3은 본 발명의 얼라인먼트 스테이지의 구성을 나타내는 모식도이다.
도 4는 마스크 얼라인먼트를 설명하기 위한 모식도이다
도 5는 유기 EL 표시장치의 전체도 및 유기 EL 표시장치의 소자의 단면도이다.
1 is a schematic view of a part of a manufacturing line of an organic EL display device.
2 is a schematic view of a film forming apparatus.
3 is a schematic view showing the configuration of an alignment stage of the present invention.
4 is a schematic view for explaining the mask alignment.
5 is an overall view of an organic EL display device and a cross-sectional view of elements of the organic EL display device.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시형태 및 실시예를 설명한다. 다만, 이하의 실시형태 및 실시예는 본 발명의 바람직한 구성을 예시적으로 나타내는 것일 뿐이며, 본 발명의 범위는 이들 구성에 한정되지 않는다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 장치의 하드웨어 구성 및 소프트웨어 구성, 처리 흐름, 제조조건, 크기, 재질, 형상 등은, 특히 특정적인 기재가 없는 한, 본 발명의 범위를 이것으로 한정하려는 취지인 것은 아니다. Hereinafter, preferred embodiments and examples of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the following embodiments and examples are merely illustrative of preferred structures of the present invention, and the scope of the present invention is not limited to these structures. In addition, in the following description, the hardware configuration and software configuration of the apparatus, processing flow, manufacturing conditions, sizes, materials, shapes, and the like are intended to limit the scope of the present invention to this, unless otherwise specified. no.

본 발명은, 평행 평판의 기판의 표면에 진공 증착에 의해 소망하는 패턴의 박막(재료층)을 형성하는 장치에 바람직하게 적용할 수 있다. 기판의 재료로는 유리, 고분자재료의 필름, 금속 등의 임의의 재료를 선택할 수 있고, 또한 증착재료로서도 유기 재료, 금속성 재료(금속, 금속 산화물 등) 등의 임의의 재료를 선택할 수 있다. 본 발명의 기술은, 구체적으로는, 유기 전자 디바이스(예를 들면, 유기 EL 표시장치, 박막 태양 전지), 광학 부재 등의 제조 장치에 적용 가능하다. 그 중에서도, 유기 EL 표시장치의 제조 장치에서 증착재료를 증발시켜 유기 EL 표시 소자를 형성함에 있어서, 본 발명은 바람직한 적용예의 하나이다.The present invention can be preferably applied to an apparatus for forming a thin film (material layer) of a desired pattern by vacuum deposition on the surface of a parallel flat substrate. As a material for the substrate, any material such as glass, a polymer material film, or metal can be selected, and any material such as an organic material or a metallic material (metal, metal oxide, etc.) can be selected as the deposition material. The technique of this invention is specifically applicable to manufacturing apparatuses, such as an organic electronic device (for example, an organic EL display device, a thin film solar cell), and an optical member. Among them, in forming an organic EL display element by evaporating a vapor deposition material in an apparatus for manufacturing an organic EL display device, the present invention is one of the preferred applications.

<전자 디바이스 제조 라인><Electronic device manufacturing line>

도 1는 전자 디바이스의 제조 라인의 구성의 일부를 모식적으로 도시한 평면도이다. 도 1는 제조 라인은 예를 들면 스마트폰 용의 유기 EL 표시장치의 표시 패널의 제조에 이용된다. 스마트폰 용의 표시 패널의 경우, 예를 들면 약 1800 ㎜ × 약 1500 ㎜의 사이즈의 기판에 유기 EL의 성막을 행한 후, 해당 기판을 다이싱하여 복수의 작은 사이즈의 패널이 제작된다.1 is a plan view schematically showing a part of a configuration of a manufacturing line of an electronic device. 1 is a manufacturing line, for example, used for manufacturing a display panel of an organic EL display device for a smartphone. In the case of a display panel for a smartphone, for example, after forming an organic EL film on a substrate having a size of about 1800 mm x about 1500 mm, the substrate is diced to produce a plurality of small-sized panels.

전자 디바이스의 제조 라인은 일반적으로 도 1에 도시한 바와 같이, 복수의 성막실(11, 12)과 반송실(13)을 구비한다. 반송실(13) 내에는 기판(10)을 보유지지하고 반송하는 반송 로봇(14)이 설치되어 있다. 반송 로봇(14)은 예를 들면 다관절 암에, 기판(10)을 보유지지하는 로봇 핸드가 장착된 구조를 갖는 로봇으로서, 각 성막실로의 기판(10)의 반입/반출을 수행한다.The manufacturing line of the electronic device generally includes a plurality of film formation chambers 11 and 12 and a transfer chamber 13, as shown in FIG. A transfer robot 14 is provided in the transfer chamber 13 to hold and transfer the substrate 10. The transfer robot 14 is, for example, a robot having a structure in which a robot hand for holding the substrate 10 is mounted on a multi-joint arm, and carries in/out of the substrate 10 into each film formation chamber.

각 성막실(11, 12)에는 각각 성막 장치(증착 장치라고도 부름)가 설치되어 있다. 반송 로봇(14)과의 기판(10)의 전달, 기판(10)과 마스크의 상대 위치의 조정(얼라인먼트), 마스크 상으로의 기판(10)의 고정, 성막(증착) 등의 일련의 성막 프로세스는, 성막 장치에 의해 자동적으로 행해진다. In each of the film formation chambers 11 and 12, a film forming device (also referred to as a deposition device) is provided. A series of film forming processes such as transfer of the substrate 10 with the transfer robot 14, adjustment (alignment) of the relative positions of the substrate 10 and the mask, fixing of the substrate 10 onto the mask, and film formation (deposition) Is performed automatically by the film forming apparatus.

이하, 성막실의 성막 장치의 구성에 대하여 설명한다.Hereinafter, the configuration of the film forming apparatus in the film forming room will be described.

<성막 장치><film forming device>

도 2는 성막 장치의 구성을 모식적으로 나타내는 단면도이다. 이하의 설명에 있어서는, 연직 방향을 Z 방향으로 하는 XYZ 직교 좌표계를 사용한다. 성막 시에 기판이 수평면(XY 평면)과 평행하게 되도록 고정된다고 가정할 때, 기판의 짧은 길이 방향(단변에 평행한 방향)을 X 방향(제1 방향), 긴 길이 방향(장변에 평행한 방향)을 Y 방향(제2 방향)으로 한다. 또 Z 축 주위의 회전각을 θ(회전방향)로 표시한다.2 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a film forming apparatus. In the following description, the XYZ Cartesian coordinate system with the vertical direction as the Z direction is used. Assuming that the substrate is fixed to be parallel to the horizontal plane (XY plane) at the time of film formation, the short length direction (direction parallel to the short side) of the substrate is the X direction (first direction), long length direction (direction parallel to the long side) ) In the Y direction (second direction). In addition, the rotation angle around the Z axis is indicated by θ (rotation direction).

성막 장치(2)는 성막공정이 이루어지는 공간을 정의하는 진공 챔버(20)를 구비한다. 진공 챔버(20)의 내부는 진공 분위기이거나 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기로 유지된다. The film forming apparatus 2 includes a vacuum chamber 20 that defines a space in which a film forming process is performed. The inside of the vacuum chamber 20 is maintained in a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere such as nitrogen gas.

성막 장치(2)의 진공 챔버(20) 내부의 상부에는, 기판을 보유지지하며 반송하는 기판 보유지지 유닛(21), 마스크를 보유지지하며 반송하는 마스크 보유지지 유닛(22), 기판을 냉각시키기 위한 냉각판(23), 금속재질의 마스크에 자력을 인가하기 위한 마그넷판(24), 위치 조정된 마스크를 올려 놓는 마스크 대(25) 등이 설치되며, 성막 장치의 진공 챔버(20) 내부의 하부에는 증착재료가 수납되는 증착원(26) 등이 설치된다.In the upper portion inside the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus 2, the substrate holding unit 21 for holding and conveying the substrate, the mask holding unit 22 for holding and conveying the mask, and cooling the substrate For cooling plate 23, a magnet plate 24 for applying magnetic force to the mask made of metal, a mask stand 25 for placing a position-adjusted mask, and the like are installed, inside the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus. A deposition source 26 or the like in which the deposition material is stored is installed at the bottom.

기판 보유지지 유닛(21)은 반송실(13)의 반송 로봇(14)으로부터 수취한 기판(10)을 보유지지 및 반송하는 수단으로, 기판 홀더라고도 부른다.The substrate holding unit 21 is a means for holding and conveying the substrate 10 received from the conveying robot 14 in the conveying chamber 13 and is also called a substrate holder.

마스크 보유지지 유닛(22)은 성막 장치(2)의 진공 챔버(20) 내로 반입된 마스크를 마스크 대(25)상에 재치할 때까지 마스크를 보유지지 및 반송하는 수단이다. The mask holding unit 22 is a means for holding and conveying the mask until the mask carried into the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus 2 is placed on the mask stage 25.

기판 보유지지 유닛(21)의 아래에는 진공 챔버(20)에 고정된 틀 형상의 마스크 대(25)가 설치되며, 마스크 대(25)에는 기판(10) 상에 형성될 박막 패턴에 대응하는 개구 패턴을 갖는 마스크(251)가 놓여진다. 스마트폰용 유기 EL 소자를 제조하는데 사용되는 마스크는 미세한 개구패턴이 형성된 금속성 마스크로서, FMM(Fine Metal Mask)라고도 부른다.Under the substrate holding unit 21, a mask-shaped mask stand 25 fixed to the vacuum chamber 20 is installed, and the mask stand 25 has an opening corresponding to a thin film pattern to be formed on the substrate 10. A mask 251 having a pattern is placed. The mask used to manufacture the organic EL device for smartphones is a metallic mask formed with a fine opening pattern, and is also called a FMM (Fine Metal Mask).

냉각판(23)은 기판 보유지지 유닛(21)의 지지부 상방에 설치되며, 성막 시에 기판(10)의 마스크(251)와는 반대 측의 면)에 밀착되어 성막시의 기판(10)의 온도 상승을 억제함으로써 유기 재료의 변질이나 열화를 억제하는 역할을 하는 판형 부재이다.The cooling plate 23 is installed above the support portion of the substrate holding unit 21 and is in close contact with the mask 251 of the substrate 10 at the time of film formation to adhere to the surface of the substrate 10 at the time of film formation. It is a plate-shaped member that serves to suppress deterioration or deterioration of the organic material by suppressing the rise.

냉각판(23) 위에는 금속성 마스크(251)에 자력을 인가하여 마스크의 처짐을 방지하고 마스크(251)와 기판(10)을 밀착시키기 위한 마그넷판(자력인가수단 또는 밀착수단; 24)이 설치된다. 마그넷판(24)은 영구자석 또는 전자석으로 이루어질 수 있으며, 복수의 모듈로 구획될 수 있다. 또한, 마그넷판(24)은 냉각판(23)과 일체로 형성될 수도 있다. On the cooling plate 23, a magnetic plate (magnetic application means or contact means; 24) is installed to prevent deflection of the mask by applying magnetic force to the metallic mask 251 and to close the mask 251 and the substrate 10. . The magnet plate 24 may be made of a permanent magnet or an electromagnet, and may be divided into a plurality of modules. Further, the magnet plate 24 may be formed integrally with the cooling plate 23.

증착원(26)은 기판에 성막될 증착재료가 수납되는 도가니(미도시), 도가니를 가열하기 위한 히터(미도시), 증착원으로부터의 증발 레이트가 일정해질 때까지 증착재료가 기판으로 비산하는 것을 막는 셔터(미도시) 등을 포함한다. 증착원(26)은 점(point) 증착원, 선형(linear) 증착원, 리볼버 증착원 등 용도에 따라 다양한 구성을 가질 수 있다. The deposition source 26 is a crucible (not shown) in which the deposition material to be deposited on the substrate is stored, a heater (not shown) for heating the crucible, and the deposition material scattering to the substrate until the evaporation rate from the deposition source is constant. And a shutter (not shown) that prevents them. The evaporation source 26 may have various configurations according to uses, such as a point evaporation source, a linear evaporation source, and a revolver evaporation source.

도 2에 도시되지 않았으나, 성막 장치(2)는 기판에 증착된 막두께를 측정하기 위한 막두께 모니터(미도시) 및 막두께 산출 유닛(미도시)를 포함한다. Although not shown in FIG. 2, the film forming apparatus 2 includes a film thickness monitor (not shown) and a film thickness calculation unit (not shown) for measuring the film thickness deposited on the substrate.

성막 장치(2)의 진공 챔버(20)의 외부 상면에는, 기판 보유지지 유닛(21), 마스크 보유지지 유닛(22), 냉각판(23)/마그넷판(24) 등을 연직방향(Z방향, 제3 방향)으로 승강시키기 위한 승강기구, 및 기판의 마스크에 대한 얼라인먼트 또는 마스크의 냉각판/마그넷판에 대한 얼라인먼트를 위해 수평면에 평행하게(X방향, Y방향, θ 방향으로) 기판보유지지 유닛(21) 및/또는 마스크 보유지지 유닛(22)을 이동시키기 위한 구동기구(얼라인먼트 스테이지) 등이 설치된다. On the outer upper surface of the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus 2, the substrate holding unit 21, the mask holding unit 22, the cooling plate 23/magnet plate 24, and the like are perpendicular (Z direction). , A lifting mechanism for elevating in the third direction, and holding the substrate parallel to the horizontal plane (in the X, Y, and θ directions) for alignment to the mask of the substrate or to the cooling plate/magnet plate of the mask A driving mechanism (alignment stage) or the like for moving the unit 21 and/or the mask holding unit 22 is provided.

본 발명에 있어서는, 도 3을 참조하여 후술하는 바와 같이, 냉각판(23) 및 마그넷판(24)을 Z방향으로 승강시키기 위한 승강기구를 기판 보유지지 유닛(21)을 XYθ 방향으로 이동시키기 위한 얼라인먼트 스테이지로부터 분리/독립 시킴으로써, 얼라인먼트 스테이지의 XYθ 이동에 의해 이에 연결된 기판 보유지지 유닛(21)이 XYθ 이동을 하는 경우에도 냉각판/마그넷판 승강기구는 XYθ 이동을 하지 않고 XYθ 방향으로 고정되도록 한다. In the present invention, as described later with reference to FIG. 3, the lifting mechanism for moving the cooling plate 23 and the magnet plate 24 in the Z direction is for moving the substrate holding unit 21 in the XYθ direction. By separating/independent from the alignment stage, even if the substrate holding unit 21 connected thereto by XYθ movement of the alignment stage moves XYθ, the cooling plate/magnet plate lifting mechanism is fixed in the XYθ direction without XYθ movement.

또한, 본 발명의 성막 장치(2)는 마스크와 기판의 얼라인먼트를 위해 진공 챔버(20)의 천장에 설치된 창을 통해 기판 및 마스크에 형성된 얼라인먼트 마크를 촬영하는 얼라인먼트용 카메라(미도시)도 설치된다.In addition, the film forming apparatus 2 of the present invention is also provided with an alignment camera (not shown) for photographing alignment marks formed on the substrate and the mask through a window installed on the ceiling of the vacuum chamber 20 for the alignment of the mask and the substrate. .

이하 본 발명의 성막 장치에서 이루어지는 성막 프로세스의 각 단계를 설명한다. Hereinafter, each step of the film forming process performed in the film forming apparatus of the present invention will be described.

우선, 성막 장치의 진공 챔버(20) 내로 새로운 마스크가 반입되어, 마스크 보유지지 유닛(22)상에 재치되면, 마스크 보유지지 유닛(22)에 놓여진 마스크의 위치를 냉각판(23)의 위치에 대해 조정하는 마스크 얼라인먼트 공정이 이루어진다. 냉각판(23)에 대하여 위치 조정된 마스크는 마스크 보유지지 유닛(22)에 의해 하강하여 마스크 대(25)상에 놓여진다.First, when a new mask is brought into the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus and placed on the mask holding unit 22, the position of the mask placed on the mask holding unit 22 is set to the position of the cooling plate 23. The mask alignment process is adjusted. The mask positioned with respect to the cooling plate 23 is lowered by the mask holding unit 22 and placed on the mask stage 25.

반송실(13)의 반송 로봇(14)에 의해 기판이 진공 챔버(20) 내로 반입되어 기판보유지지 유닛(21)에 놓여진다. 이어서, 기판(10)과 마스크(251)의 상대적 위치의 측정 및 조정을 행하는 기판 얼라인먼트 공정이 이루어진다. 기판 얼라인먼트 공정이 완료되면, 기판 보유지지 유닛(21)이 승강기구에 의해 하강하여 기판(10)을 마스크(251)상에 놓으며, 그 후에 냉각판(23)과 마그넷판(24)이 승강기구에 의해 하강함으로써 기판(10)과 마스크(251)를 밀착시킨다. The substrate is carried into the vacuum chamber 20 by the transfer robot 14 in the transfer chamber 13 and placed on the substrate holding unit 21. Subsequently, a substrate alignment process is performed in which the relative positions of the substrate 10 and the mask 251 are measured and adjusted. When the substrate alignment process is completed, the substrate holding unit 21 descends by the lifting mechanism to place the substrate 10 on the mask 251, after which the cooling plate 23 and the magnet plate 24 are raised and lowered. By descending by, the substrate 10 and the mask 251 are brought into close contact.

이 상태에서, 증착원(26)의 셔터가 열려 증착원(26)의 도가니로부터 증발된 증착재료가 마스크의 미세 패턴 개구를 통해 기판에 증착된다.In this state, the shutter of the evaporation source 26 is opened and the evaporation material evaporated from the crucible of the evaporation source 26 is deposited on the substrate through the fine pattern opening of the mask.

기판에 증착된 증착재료의 막두께가 소정의 두께에 도달하면, 증착원(26)의 셔터를 닫고, 그 후, 반송로봇(14)이 기판을 진공 챔버(20)로부터 반송실(13)로 반출한다. 소정의 매수의 기판에 대하여 기판 반입으로부터 기판 반출까지의 공정을 반복하여 행한 후, 증착재료가 퇴적되어 더 이상 쓸 수 없게 된 마스크를 성막 장치로부터 반출하고, 새로운 마스크를 성막 장치로 반입한다. When the film thickness of the deposited material deposited on the substrate reaches a predetermined thickness, the shutter of the evaporation source 26 is closed, and thereafter, the transfer robot 14 transfers the substrate from the vacuum chamber 20 to the transfer chamber 13 Take it out. After repeating the process from the substrate carrying in to the substrate carrying out for a predetermined number of substrates, the mask on which the deposition material is deposited and is no longer usable is taken out from the film forming apparatus, and a new mask is brought into the film forming apparatus.

<얼라인먼트 스테이지><Alignment stage>

이하, 도 3을 참조하여 본 발명의 얼라인먼트 스테이지(30)의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of the alignment stage 30 of the present invention will be described with reference to FIG. 3.

진공 챔버(20)의 외부 상면(제1 외부면)에는, 기판(10)의 마스크에 대한 위치 조정 및 마스크의 냉각판/마그넷판에 대한 위치 조정을 위해 기판 보유지지 유닛(21) 및 마스크 보유지지 유닛(22)을 XYθ 방향으로 이동시키기 위한 얼라인먼트 스테이지(30), 기판 보유지지 유닛(21)을 Z축 방향으로 승강시키기 위한 기판 Z축 승강기구(31, 기판 제3 방향 구동기구), 및 냉각판(23) 및/또는 마그넷판(24)을 Z축 방향으로 승강시키기 위한 냉각판 Z축 승강기구(32, 냉각판 제3 방향 구동기구), 마스크(251)를 Z축 방향으로 승강시키기 위한 마스크 Z축 승강기구(33, 마스크 제3 방향 구동기구)가 설치된다. On the outer upper surface (first outer surface) of the vacuum chamber 20, the substrate holding unit 21 and the mask are held for adjusting the position of the substrate 10 with respect to the mask and positioning of the mask with respect to the cooling plate/magnet plate. Alignment stage 30 for moving the support unit 22 in the XYθ direction, substrate Z-axis elevating mechanism for elevating the substrate holding unit 21 in the Z-axis direction (31, substrate third direction driving mechanism), and Cooling plate Z-axis elevating mechanism (32, cooling plate third direction driving mechanism) and mask 251 for elevating the cooling plate 23 and/or the magnet plate 24 in the Z-axis direction For the mask Z-axis lifting mechanism (33, the mask third direction driving mechanism) is provided.

얼라인먼트 스테이지(30)는 진공 챔버의 외부 상면에 고정된 얼라인먼트 스테이지 구동용 모터(301, 제1 모터)로부터 리니어 가이드(제1 구동력 전달기구)를 통해 XYθ 방향으로의 구동력을 받는다. 즉, 진공 챔버 외측 상면에 가이드 레일(미도시)이 고정되어 설치되고, 가이드 레일상에 리니어 블록이 이동가능하게 설치된다. 리니어 블록상에 얼라인먼트 스테이지 베이스판(302, 제1 베이스 플레이트)이 탑재된다. 진공 챔버의 외측 상면에 고정된 얼라인먼트 스테이지 구동용 모터(301)로부터의 구동력에 의해 리니어 블록을 XYθ방향으로 이동시킴으로써, 리니어 블록위에 탑재된 얼라인먼트 스테이지 베이스판(302) 따라서, 얼라인먼트 스테이지(30) 전체를 XYθ방향으로 이동시킬 수 있다. The alignment stage 30 receives the driving force in the XYθ direction through the linear guide (first driving force transmission mechanism) from the alignment stage driving motors 301 and the first motor fixed to the outer upper surface of the vacuum chamber. That is, a guide rail (not shown) is fixedly installed on an upper surface outside the vacuum chamber, and a linear block is movably installed on the guide rail. The alignment stage base plate 302 (first base plate) is mounted on the linear block. Alignment stage base plate 302 mounted on the linear block by moving the linear block in the XYθ direction by the driving force from the motor 301 for driving the alignment stage fixed to the outer upper surface of the vacuum chamber, thus, the entire alignment stage 30 Can be moved in the XYθ direction.

기판 보유지지 유닛(21)을 승강시키기 위한 승강기구 및 마스크 보유지지 유닛(22)을 승강시키기 위한 승강기구는 후술하는 바와 같이 얼라인먼트 스테이지(30)에 탑재되기 때문에, 기판 보유지지 유닛(21) 및 마스크 보유지지 유닛(22)은 얼라인먼트 스테이지가 XYθ 방향으로 이동함에 따라, 이들 각각에 보유지지된 기판 및 마스크와 함께 XYθ 방향으로 이동한다. The lifting mechanism for lifting the substrate holding unit 21 and the lifting mechanism for lifting the mask holding unit 22 are mounted on the alignment stage 30 as will be described later, so the substrate holding unit 21 and the mask The holding unit 22 moves in the XYθ direction together with the substrate and mask held on each of them, as the alignment stage moves in the XYθ direction.

기판 Z축 승강기구(31)는 기판 보유지지 유닛(21)을 Z축 방향으로 승강시키는 기구로서, 얼라인먼트 스테이지 베이스판(302)상에 설치된다. 진공 챔버(20) 내의 기판 보유지지 유닛(21)은 진공 챔버(20)의 외부상면을 통해 기판 Z축 승강기구(31)에 연결된다. 기판 Z축 승강기구(31)는 기판 승강 구동용 모터(311, 제3 모터)와 기판 승강 구동용 모터(311)의 구동력을 기판 보유지지 유닛(21)에 전달하기 위한 기판 승강 구동력 전달기구(제3 구동력 전달기구)로서 리니어 가이드(312)를 포함한다. 본 실시 형태에서는 기판 승강 구동력 전달기구로서 리니어 가이드(312)를 사용하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 볼나사 등을 사용할 수도 있다.The substrate Z-axis elevating mechanism 31 is a mechanism for elevating the substrate holding unit 21 in the Z-axis direction, and is provided on the alignment stage base plate 302. The substrate holding unit 21 in the vacuum chamber 20 is connected to the substrate Z-axis lifting mechanism 31 through the outer upper surface of the vacuum chamber 20. The substrate Z-axis elevating mechanism 31 is a substrate elevating driving force transmitting mechanism for transmitting the driving force of the substrate elevating driving motor 311 and the third motor and the substrate elevating driving motor 311 to the substrate holding unit 21 ( And a linear guide 312 as a third driving force transmission mechanism. In the present embodiment, the linear guide 312 is used as a substrate lift driving force transmission mechanism, but the present invention is not limited to this, and a ball screw or the like may be used.

냉각판 Z축 승강기구(32)는 냉각판(23) 및/또는 마그넷판(24)을 Z 방향으로 구동시키기 위한 냉각판 승강 구동용 모터(321, 제2 모터) 및 냉각판 승강 구동력 전달기구(제2 구동력 전달기구)로서 볼나사(322)를 포함하며, 진공 챔버의 외부상면에 고정된 냉각판 Z축 승강기구 베이스판(323, 제2 베이스 플레이트) 상에 설치된다. 본 실시 형태에서는 냉각판 승강 구동력 전달기구로서 볼나사(322)를 사용하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 리니어 가이드 등을 사용할 수도 있다.The cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 includes a cooling plate elevating driving motor 321 (second motor) and a cooling plate elevating driving force transmission mechanism for driving the cooling plate 23 and/or the magnet plate 24 in the Z direction. (Second driving force transmission mechanism) includes a ball screw 322, and is installed on the cooling plate Z-axis elevating mechanism base plate 323 (second base plate) fixed to the outer upper surface of the vacuum chamber. In the present embodiment, the ball screw 322 is used as a cooling plate elevating driving force transmission mechanism, but the present invention is not limited thereto, and a linear guide or the like may be used.

이렇듯, 본 발명에서는 냉각판 Z축 승강기구(32)가 종래와 같이 얼라인먼트 스테이지 베이스판(302)에 설치되는 것이 아니라 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 분리/독립되어 진공 챔버(20)의 외부상면에 고정된 냉각판 Z축 승강기구 베이스판(323)에 설치되기 때문에, 얼라인먼트 스테이지(30)가 XYθ 방향으로 이동하더라도, 냉각판 Z축 승강기구(32)는 XYθ 방향으로는 이동하지 않으며 XYθ 방향으로는 고정된다. 본 명세서에 있어서, 냉각판 Z축 승강기구(32)가 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 분리되어 독립적으로 설치된다는 것은, 넓은 의미로는, 냉각판 Z축 승강기구(32)가 얼라인먼트 스테이지(30)상에 설치되지 않아 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 XYθ 방향으로의 이동을 위한 구동력을 받지 않는다는 의미이며, 좁은 의미로는, 냉각판 Z축 승강기구(32)가 얼라인먼트 스테이지(30)상에 설치되지 않고 XYθ 방향으로 진공 챔버(20)의 외부상면에 고정되도록 설치된다(즉, XYθ 방향으로는 이동 내지 회전하지 않고 고정된다)는 의미이다.As such, in the present invention, the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 is not installed on the alignment stage base plate 302 as in the prior art, but is separated/independent from the alignment stage 30 and fixed to the outer upper surface of the vacuum chamber 20. Since the cooling plate Z-axis lifting mechanism base plate 323 is installed, even if the alignment stage 30 moves in the XYθ direction, the cooling plate Z-axis lifting mechanism 32 does not move in the XYθ direction and does not move in the XYθ direction. Is fixed. In the present specification, the fact that the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 is separately installed from the alignment stage 30 is broadly meaning that the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 is on the alignment stage 30. Is not installed, it means that the driving force for movement in the XYθ direction from the alignment stage 30 is not received, and in a narrow sense, the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 is not installed on the alignment stage 30 and XYθ. It means that it is installed to be fixed to the outer upper surface of the vacuum chamber 20 in the direction (that is, fixed without moving or rotating in the XYθ direction).

마스크 Z축 승강기구(33)는 마스크 보유지지 유닛(22)을 Z축 방향으로 승강시키기 위한 기구로서, 얼라인먼트 스테이지(30)에 탑재된다. 진공 챔버(20) 내의 마스크 보유지지 유닛(22)은 진공 챔버(20)의 외부상면을 통해 마스크 Z축 승강기구(33)에 연결된다. 마스크 Z축 승강기구(33)는 마스크 승강 구동용 모터(331, 제4 모터)와 볼나사(332, 제4 구동력 전달기구)를 포함하며, 마스크 교환시에 사용이 끝난 마스크를 반송로봇으로 배출하고, 새로운 마스크를 전달받아 마스크 얼라인먼트 공정을 거쳐 마스크를 마스크 대(25)상으로 재치할 때까지 마스크 보유지지 유닛(22)을 승강시키는 기능을 수행한다. The mask Z-axis elevating mechanism 33 is a mechanism for elevating the mask holding unit 22 in the Z-axis direction, and is mounted on the alignment stage 30. The mask holding unit 22 in the vacuum chamber 20 is connected to the mask Z-axis lifting mechanism 33 through the outer upper surface of the vacuum chamber 20. The mask Z-axis elevating mechanism 33 includes a mask elevating driving motor 331, a fourth motor, and a ball screw 332, a fourth driving force transmission mechanism, and discharges the used mask to the transport robot when replacing the mask. Then, the mask holding unit 22 is lifted until a new mask is received and the mask is placed on the mask stage 25 through a mask alignment process.

<마스크 얼라인먼트><mask alignment>

도 4을 참조하여 마스크의 냉각판(23)/마그넷판(24)에 대한 얼라인먼트 공정을 설명한다.The alignment process for the cooling plate 23 / the magnet plate 24 of the mask will be described with reference to FIG. 4.

마스크 교환시기가 되면, 마스크 Z축 승강기구(33)는 마스크 보유지지 유닛(22)을 Z축 방향으로 구동시켜, 사용이 완료된 마스크를 마스크 대(25)상의 증착위치로부터 반송로봇이 마스크를 수취할 수 있는 배출위치로 상승시킨다. 반송로봇은, 사용이 완료된 마스크를 마스크 보유지지 유닛(22)으로부터 수취하여 진공 챔버 밖으로 배출하고, 새로운 마스크를 진공 챔버 내로 반입하여, 배출위치에 머물러 있는 마스크 보유지지 유닛(22)에 새로운 마스크를 전달한다. When it is time to replace the mask, the mask Z-axis lifting mechanism 33 drives the mask holding unit 22 in the Z-axis direction, and the transport robot receives the mask from the deposition position on the mask stage 25 by using the completed mask. It is raised to the discharge position where it can. The transfer robot receives the used mask from the mask holding unit 22 and discharges it out of the vacuum chamber, brings a new mask into the vacuum chamber, and puts a new mask into the mask holding unit 22 staying in the discharge position. To deliver.

이어서, 도 4(a) 및 도 4(b)에 도시한 바와 같이, 진공 챔버(20)의 외부 상면에 설치된 러프(rough) 얼라인먼트용 카메라(40)를 사용하여, 냉각판(23)의 하면 또는 마그넷판(24)의 상면에 설치된 얼라인먼트 마크 플레이트(41)의 얼라인먼트 마크(411)와 마스크 보유지지 유닛(22)에 놓여져 있는 마스크(251)의 얼라인먼트 마크(2511)를 촬영하여, 이들간의 상대적인 위치를 측정한다. 본 발명의 얼라인먼트 마크 플레이트(41)는 도 4(c)에 도시한 바와 같이 "ㅜ"자의 평면형상을 가지며, 얼라인먼트 마크 플레이트(41)에 형성된 얼라인먼트 마크는 원형 개구이나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. Subsequently, as shown in FIGS. 4(a) and 4(b), the lower surface of the cooling plate 23 using the rough alignment camera 40 installed on the outer upper surface of the vacuum chamber 20 Alternatively, the alignment mark 411 of the alignment mark plate 41 provided on the upper surface of the magnet plate 24 and the alignment mark 2511 of the mask 251 placed on the mask holding unit 22 are photographed, and relative between them Measure the location. The alignment mark plate 41 of the present invention has a planar shape of "TT" as shown in Fig. 4(c), and the alignment mark formed on the alignment mark plate 41 is a circular opening, but the present invention is not limited to this. Does not.

얼라인먼트 마크의 촬영 결과, 냉각판(23)/마그넷판(24)과 마스크 보유지지 유닛(22)에 놓여진 마스크(251)의 상대적 위치가 XYθ 방향으로 어긋나 있는 것으로 판명된 경우, 얼라인먼트 스테이지(30)에 의해 마스크 보유지지 유닛(22)을 XYθ 방향으로 이동시켜, 마스크를 냉각판(23)/마그넷판(24)에 대해 위치 조정한다. 이때, 냉각판(23)/마그넷판(24)이 설치된 냉각판 Z축 승강기구(32)는 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 분리 독립되어 설치되기 때문에, 마스크 보유지지 유닛(22)에 보유지지된 마스크에 대해 냉각판(23)/마그넷판(24)을 상대 이동시켜 이들의 위치를 조정할 수 있다. As a result of photographing the alignment mark, when it is determined that the relative positions of the cooling plate 23/magnet plate 24 and the mask 251 placed on the mask holding unit 22 are shifted in the XYθ direction, the alignment stage 30 By moving the mask holding unit 22 in the XYθ direction, the mask is positioned relative to the cooling plate 23/magnet plate 24. At this time, since the cooling plate 23/magnet plate 24, the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 is installed separately from the alignment stage 30, the mask held by the mask holding unit 22 With respect to, the cooling plate 23/magnet plate 24 can be moved relative to adjust their positions.

마그넷판(24)의 상면에 얼라인먼트 마크 플레이트(41)를 설치하는 경우, 마그넷판(24)에의 설치가 간단하고 설치위치를 정확하게 할 수 있다. 이에 비해, 냉각판(23)의 하면에 얼라인먼트 마크 플레이트(41)를 설치하기 위해서는 냉각판(23)의 하면측에 얼라인먼트 마크 플레이트(41)를 매설하여야 하기 때문에 설치가 복잡해지지만 러프 얼라인먼트용 카메라(40)의 초점이 맞춰져 있는 마스크(251)의 얼라인먼트 마크(2511)에 더 가깝게 설치될 수 있기 때문에, 러프 얼라인먼트용 카메라(40)에 의한 얼라인먼트 마크의 인식정밀도를 높일 수 있다. When the alignment mark plate 41 is provided on the upper surface of the magnet plate 24, the installation on the magnet plate 24 is simple and the installation position can be accurately made. On the other hand, in order to install the alignment mark plate 41 on the lower surface of the cooling plate 23, since the alignment mark plate 41 must be embedded on the lower surface side of the cooling plate 23, the installation becomes complicated, but the camera for rough alignment ( Since it can be installed closer to the alignment mark 2511 of the mask 251 in which the focus of 40) is focused, the recognition precision of the alignment mark by the camera 40 for rough alignment can be increased.

마스크 얼라인먼트가 완료되면, 마스크 Z축 승강기구(33)에 의해 마스크 보유지지 유닛(22)을 하강시켜 마스크(251)를 배출위치에서 마스크 대(25)상의 증착위치로 하강시킨 후, 마스크 대(25)상에 마스크(251)를 재치한다. When the mask alignment is completed, the mask holding unit 22 is lowered by the mask Z-axis lifting mechanism 33 to lower the mask 251 from the discharge position to the deposition position on the mask stage 25, and then the mask stage ( 25) The mask 251 is placed on the image.

이러한 마스크 얼라인먼트 공정을 통해, 마스크(251)와 냉각판(23)/마그넷판(24)의 위치를 상대적으로 조정할 수 있다. 즉, 종래에서는 냉각판 Z축 승강기구(32)가 마스크 보유지지 유닛(22)을 승강시키기 위한 마스크 Z축 승강기구(33)와 함께 얼라인먼트 스테이지(30) 위에 탑재되어 있었기 때문에, 마스크 보유지지 유닛(22)에 놓인 상태의 마스크(251)를 냉각판(23)/마그넷판(24)에 대해 상대적으로 위치 조정을 할 수 없었으나, 본 발명에 있어서는, 냉각판 Z 축 승강기구(32)가 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 분리/독립되어 설치되기 때문에, 마스크 보유지지 유닛(22)에 놓인 상태의 마스크(251)를 냉각판(23)/마그넷판(24)과 서로 상대적으로 위치 이동하여 조정할 수 있게 된다. Through the mask alignment process, the positions of the mask 251 and the cooling plate 23 / magnet plate 24 can be relatively adjusted. That is, since the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 was conventionally mounted on the alignment stage 30 together with the mask Z-axis elevating mechanism 33 for elevating the mask holding unit 22, the mask holding unit Although the mask 251 in the state placed on (22) could not be positioned relative to the cooling plate 23/magnet plate 24, in the present invention, the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 is provided. Since it is installed separately/independent from the alignment stage 30, the mask 251 placed in the mask holding unit 22 can be adjusted by moving relative to the cooling plate 23/magnet plate 24. There will be.

<기판 얼라인먼트><Substrate alignment>

성막 장치(2)의 진공 챔버(20) 내로 기판(10)이 반송실(13)의 반송로봇(14)에 의해 반입되어 반입위치에 대기하던 기판 보유지지 유닛(21)에 재치되면, 기판 Z축 승강기구(31)에 의해 기판보유지지 유닛(21)이 Z 축 방향으로 하강하여 마스크 상방의 정해진 높이의 계측 위치로 이동한다. 이어서, 러프 얼라인먼트용 카메라 및 파인 얼라인먼트용 카메라에 의해 기판의 얼라인먼트 마크와 마스크 대(25)에 놓여진 상태의 마스크(251)의 얼라인먼트 마크가 촬영되어 기판과 마스크의 상대적인 위치 어긋남이 측정된다. When the substrate 10 is loaded into the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus 2 by the transfer robot 14 of the transfer chamber 13 and placed on the substrate holding unit 21 waiting for the transfer position, the substrate Z The substrate holding support unit 21 descends in the Z-axis direction by the axial elevating mechanism 31 and moves to the measurement position at a predetermined height above the mask. Subsequently, the alignment mark of the substrate and the alignment mark of the mask 251 placed on the mask stand 25 are photographed by the rough alignment camera and the fine alignment camera, and the relative positional displacement of the substrate and the mask is measured.

성막 장치(2)의 진공 챔버(20) 내로 기판을 반입하는 과정에서, 반송로봇(14)에 의한 반송오차에 의해, 기판 보유지지 유닛(21)에 기판이 잘못 놓이게 되면, 기판과 마스크 대(25)에 놓인 마스크(251)간의 상대적인 위치 어긋남이 발생한다. 이 경우, 기판 보유지지 유닛(21)이 연결되어 있는 얼라인먼트 스테이지(30)를 XYθ 방향으로 이동시켜, 기판(10)과 마스크(251)의 상대적인 위치를 조정한다. 이렇게 기판을 마스크 대(25)상의 마스크(251)에 대해 위치 조정하기 위해 얼라인먼트 스테이지(30)를 XYθ 방향으로 이동시켜도, 본 발명에서는, 냉각판 Z 축 승강기구(32)가 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 분리되어 독립적으로 진공 챔버(20)의 외부상면에 고정되어 있기 때문에, 냉각판 Z축 승강기구(32)는 XYθ 방향으로 이동하지 않으며, 마스크 얼라인먼트 완료시의 냉각판(23)/마그넷판(24)과 마스크(251)간의 위치 조정 상태를 유지할 수 있게 된다. In the process of bringing the substrate into the vacuum chamber 20 of the film forming apparatus 2, when the substrate is incorrectly placed on the substrate holding unit 21 due to the conveying error by the conveying robot 14, the substrate and the mask stand ( The relative positional deviation between the masks 251 placed on 25) occurs. In this case, the alignment stage 30 to which the substrate holding unit 21 is connected is moved in the XYθ direction to adjust the relative positions of the substrate 10 and the mask 251. Even if the alignment stage 30 is moved in the XYθ direction to position the substrate with respect to the mask 251 on the mask stage 25, in the present invention, the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 aligns the alignment stage 30. Since it is separated from and independently fixed to the outer upper surface of the vacuum chamber 20, the cooling plate Z-axis lifting mechanism 32 does not move in the XYθ direction, and the cooling plate 23/magnet plate 24 upon completion of the mask alignment ) And the mask 251 can be maintained.

또한, 반송로봇(14)에 의한 기판의 반송오차에 의해, 기판(10)이 냉각판(23)에 대하여 상대적으로 어긋난 위치로 기판보유지지 유닛(21)상에 재치되는 경우에, 기판(10)을 마스크 대(25)상의 마스크(251)에 대하여 위치 조정함으로써, 마스크 얼라인먼트 공정을 통해, 마스크 대(25)상의 마스크(251)와 위치 조정되어 있는 냉각판(23)과도 기판(10)을 위치 조정 할 수 있게 된다.Further, when the substrate 10 is placed on the substrate holding support unit 21 in a position relatively displaced from the cooling plate 23 due to the transportation error of the substrate by the transportation robot 14, the substrate 10 ) By adjusting the position with respect to the mask 251 on the mask stage 25, thereby allowing the cooling plate 23 and the substrate 10 to be positioned with the mask 251 on the mask stage 25 through the mask alignment process. The position can be adjusted.

기판의 마스크에 대한 얼라인먼트가 완료되면, 기판 보유지지 유닛(21)은 기판 Z축 승강기구(31)에 의해 마스크상으로 하강하여 마스크위에 기판을 내려놓는다. When the alignment of the substrate to the mask is completed, the substrate holding unit 21 descends onto the mask by the substrate Z-axis lifting mechanism 31 to place the substrate on the mask.

이어서, 냉각판 Z축 승강기구(32)의 구동에 의해 냉각판(23) 및 마그넷판(24)이 하강하여 기판(10)의 상면상에 놓여진다. 이때 마그넷판(24)의 자기력에 의해 금속성의 마스크(251)가 인력을 받게 되며, 이에 의해, 기판과 마스크가 밀착상태가 된다.Subsequently, the cooling plate 23 and the magnet plate 24 are lowered by driving the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 and placed on the upper surface of the substrate 10. At this time, the metallic mask 251 is attracted by the magnetic force of the magnet plate 24, whereby the substrate and the mask are brought into close contact.

본 발명에 의하면, 반송로봇(14)에 의한 기판의 반송오차에도 불구하고 냉각판(23)과 기판의 위치가 서로 조정되기 때문에 냉각판(23)에 의한 기판의 냉각작용을 극대화시킬 수 있다. 또한, 반송로봇(14)에 의한 기판의 반송오차가 생기는 경우에도 반송오차의 편차를 최소화할 수 있기 때문에, 냉각판과 기판의 상대적 위치 보정을 위한 오프셋을 안정화 시킬 수 있다. 또한, 마그넷판(24)과 마스크(251)의 상대적인 위치 역시 조정되기 때문에, 마그넷판(24)으로부터의 자력에 의해 기판과 마스크가 밀착할 때, 그 밀착상태의 편차를 줄일 수 있다. 그 결과, 성막불량을 효과적으로 저감할 수 있다.According to the present invention, the position of the cooling plate 23 and the substrate is adjusted to each other despite the transportation error of the substrate by the transportation robot 14, so that the cooling action of the substrate by the cooling plate 23 can be maximized. In addition, even when a substrate transport error occurs by the transport robot 14, the variation in the transport error can be minimized, so that the offset for correcting the relative position of the cooling plate and the substrate can be stabilized. In addition, since the relative positions of the magnet plate 24 and the mask 251 are also adjusted, when the substrate and the mask are in close contact with the magnetic force from the magnet plate 24, it is possible to reduce variations in the contact state. As a result, film formation defects can be effectively reduced.

<전자디바이스의 제조방법><Method of manufacturing an electronic device>

다음으로, 본 실시형태의 성막 장치를 이용한 전자 디바이스의 제조방법의 일례를 설명한다. 이하, 전자 디바이스의 예로서 유기 EL 표시장치의 구성 및 제조방법을 예시한다.Next, an example of a method of manufacturing an electronic device using the film forming apparatus of this embodiment will be described. Hereinafter, the configuration and manufacturing method of the organic EL display device will be exemplified as an example of an electronic device.

우선, 제조하는 유기 EL 표시장치에 대해 설명한다. 도 5(a)는 유기 EL 표시장치(60)의 전체도, 도 5(b)는 1 화소의 단면 구조를 나타내고 있다. First, an organic EL display device to be manufactured will be described. Fig. 5(a) shows the overall view of the organic EL display device 60, and Fig. 5(b) shows the cross-sectional structure of one pixel.

도 5(a)에 도시한 바와 같이, 유기 EL 표시장치(60)의 표시 영역(61)에는 발광소자를 복수 구비한 화소(62)가 매트릭스 형태로 복수 개 배치되어 있다. 상세 내용은 후술하지만, 발광소자의 각각은 한 쌍의 전극에 끼워진 유기층을 구비한 구조를 가지고 있다. 또한, 여기서 말하는 화소란 표시 영역(61)에 있어서 소망의 색 표시를 가능하게 하는 최소 단위를 지칭한다. 본 실시예에 관한 유기 EL 표시장치의 경우, 서로 다른 발광을 나타내는 제1 발광소자(62R), 제2 발광소자(62G), 제3 발광소자(62B)의 조합에 의해 화소(62)가 구성되어 있다. 화소(62)는 적색 발광소자, 녹색 발광소자, 청색 발광소자의 조합으로 구성되는 경우가 많지만, 황색 발광소자, 시안 발광소자, 백색 발광소자의 조합이어도 되며, 적어도 1 색 이상이면 특히 제한되는 것은 아니다.As shown in Fig. 5A, a plurality of pixels 62 having a plurality of light emitting elements are arranged in a matrix form in the display area 61 of the organic EL display device 60. Although the details will be described later, each of the light emitting elements has a structure including an organic layer sandwiched between a pair of electrodes. In addition, the pixel referred to here refers to a minimum unit that enables a desired color display in the display area 61. In the case of the organic EL display device according to the present embodiment, the pixel 62 is constituted by a combination of the first light emitting element 62R, the second light emitting element 62G, and the third light emitting element 62B showing different light emission. It is done. The pixel 62 is often composed of a combination of a red light-emitting element, a green light-emitting element, and a blue light-emitting element, but may be a combination of a yellow light-emitting element, a cyan light-emitting element, or a white light-emitting element. no.

도 5(b)는 도 5(a)의 A-B선에 있어서의 부분 단면 모식도이다. 화소(62)는 기판(63) 상에 제1 전극(양극)(64), 정공 수송층(65), 발광층(66R, 66G, 66B), 전자 수송층(67), 제2 전극(음극)(68)을 구비한 유기 EL 소자를 가지고 있다. 이들 중 정공 수송층(65), 발광층(66R, 66G, 66B), 전자 수송층(67)이 유기층에 해당한다. 또한, 본 실시형태에서는, 발광층(66R)은 적색을 발하는 유기 EL 층, 발광층(66G)는 녹색을 발하는 유기 EL 층, 발광층(66B)는 청색을 발하는 유기 EL 층이다. 발광층(66R, 66G, 66B)은 각각 적색, 녹색, 청색을 발하는 발광소자(유기 EL 소자라고 부르는 경우도 있음)에 대응하는 패턴으로 형성되어 있다. 또한, 제1 전극(64)은 발광소자별로 분리되어 형성되어 있다. 정공 수송층(65)과 전자 수송층(67)과 제2 전극(68)은, 복수의 발광소자(62R, 62G, 62B)와 공통으로 형성되어 있어도 좋고, 발광소자별로 형성되어 있어도 좋다. 또한, 제1 전극(64)과 제2 전극(68)이 이물에 의해 단락되는 것을 방지하기 위하여, 제1 전극(64) 사이에 절연층(69)이 설치되어 있다. 또한, 유기 EL 층은 수분이나 산소에 의해 열화되기 때문에, 수분이나 산소로부터 유기 EL 소자를 보호하기 위한 보호층(70)이 설치되어 있다.5(b) is a partial cross-sectional schematic view taken along line A-B in FIG. 5(a). The pixel 62 includes a first electrode (anode) 64 on the substrate 63, a hole transport layer 65, light emitting layers 66R, 66G, and 66B, an electron transport layer 67, and a second electrode (cathode) 68 ). Of these, the hole transport layer 65, the light emitting layers 66R, 66G, and 66B, and the electron transport layer 67 correspond to the organic layer. In the present embodiment, the light emitting layer 66R is an organic EL layer emitting red, the light emitting layer 66G is an organic EL layer emitting green, and the light emitting layer 66B is an organic EL layer emitting blue. The light emitting layers 66R, 66G, and 66B are formed in a pattern corresponding to light emitting elements (sometimes referred to as organic EL elements) emitting red, green, and blue, respectively. In addition, the first electrode 64 is formed separately for each light emitting element. The hole transport layer 65, the electron transport layer 67, and the second electrode 68 may be formed in common with the plurality of light emitting elements 62R, 62G, and 62B, or may be formed for each light emitting element. Further, in order to prevent the first electrode 64 and the second electrode 68 from being shorted by a foreign material, an insulating layer 69 is provided between the first electrode 64. In addition, since the organic EL layer is deteriorated by moisture or oxygen, a protective layer 70 for protecting the organic EL element from moisture and oxygen is provided.

도 5(b)에서는 정공수송층(65)이나 전자 수송층(67)이 하나의 층으로 도시되었으나, 유기 EL 표시 소자의 구조에 따라서, 정공블록층이나 전자블록층을 포함하는 복수의 층으로 형성될 수도 있다. 또한, 제1 전극(64)과 정공수송층(65) 사이에는 제1 전극(64)으로부터 정공수송층(65)으로의 정공의 주입이 원활하게 이루어지도록 할 수 있는 에너지밴드 구조를 가지는 정공주입층을 형성할 수도 있다. 마찬가지로, 제2 전극(68)과 전자수송층(67) 사이에도 전자주입층이 형성될 수 있다.In FIG. 5(b), the hole transport layer 65 or the electron transport layer 67 is shown as one layer. However, depending on the structure of the organic EL display device, it may be formed of a plurality of layers including a hole block layer or an electron block layer. It might be. In addition, between the first electrode 64 and the hole transport layer 65, a hole injection layer having an energy band structure capable of smoothly injecting holes from the first electrode 64 into the hole transport layer 65 is provided. It can also form. Similarly, an electron injection layer may be formed between the second electrode 68 and the electron transport layer 67.

다음으로, 유기 EL 표시장치의 제조방법의 예에 대하여 구체적으로 설명한다.Next, an example of a method of manufacturing an organic EL display device will be described in detail.

우선, 유기 EL 표시장치를 구동하기 위한 회로(미도시) 및 제1 전극(64)이 형성된 기판(63)을 준비한다.First, a circuit 63 (not shown) for driving the organic EL display device and a substrate 63 on which the first electrode 64 is formed are prepared.

제1 전극(64)이 형성된 기판(63) 위에 아크릴 수지를 스핀 코트로 형성하고, 아크릴 수지를 리소그래피 법에 의해 제1 전극(64)이 형성된 부분에 개구가 형성되도록 패터닝하여 절연층(69)을 형성한다. 이 개구부가 발광소자가 실제로 발광하는 발광 영역에 상당한다.The insulating layer 69 is formed by forming an acrylic resin on a substrate 63 on which the first electrode 64 is formed by spin coating, and patterning the acrylic resin to form an opening in a portion where the first electrode 64 is formed by lithography. To form. This opening corresponds to a light emitting region in which the light emitting element actually emits light.

절연층(69)이 패터닝된 기판(63)을 제1 유기재료 성막 장치에 반입하여 기판 보유지지 유닛으로 기판을 보유지지하고, 정공 수송층(65)을 표시 영역의 제1 전극(64) 위에 공통층으로서 성막한다. 정공 수송층(65)은 진공 증착에 의해 성막된다. 실제로는 정공 수송층(65)은 표시 영역(61)보다 큰 사이즈로 형성되기 때문에, 고정밀의 마스크는 필요치 않다.The substrate 63 on which the insulating layer 69 is patterned is carried into the first organic material deposition apparatus to hold the substrate with the substrate holding unit, and the hole transport layer 65 is common to the first electrode 64 in the display area. It is formed as a layer. The hole transport layer 65 is formed by vacuum deposition. In practice, since the hole transport layer 65 is formed to have a larger size than the display area 61, a high-precision mask is not required.

다음으로, 정공 수송층(65)까지 형성된 기판(63)을 제2 유기재료 성막 장치에 반입하고, 기판 보유지지 유닛에서 보유지지한다. 기판과 마스크의 얼라인먼트를 행하고, 기판을 마스크 상에 재치하여, 기판(63)의 적색을 발하는 소자를 배치하는 부분에 적색을 발하는 발광층(66R)을 성막한다. Next, the substrate 63 formed up to the hole transport layer 65 is carried into the second organic material film forming apparatus and held by the substrate holding unit. Alignment of the substrate and the mask is performed, the substrate is placed on the mask, and a light emitting layer 66R emitting red color is formed on a portion of the substrate 63 where an element emitting red color is disposed.

본 발명에 의하면, 성막 장치의 냉각판/마그넷판을 승강시키는 냉각판 Z축 승강기구(32)를 얼라인먼트 스테이지(30)로부터 분리/독립함으로써, 반송로봇(14)에 의한 반송오차를 해소하기 위해 얼라인먼트 스테이지(30)를 구동하여 위치보정을 하는 경우에도 냉각판/마그넷판, 기판, 마스크 간의 상대적 위치를 효과적으로 조정할 수 있으며, 이에 의해 성막불량을 효과적으로 저감시킬 수 있다. According to the present invention, by separating/independent the cooling plate Z-axis elevating mechanism 32 for elevating the cooling plate/magnet plate of the film forming apparatus from the alignment stage 30, in order to solve the conveyance error caused by the conveying robot 14 Even when positioning is performed by driving the alignment stage 30, the relative positions between the cooling plate/magnet plate, the substrate, and the mask can be effectively adjusted, thereby effectively reducing film formation defects.

발광층(66R)의 성막과 마찬가지로, 제3 유기재료 성막 장치에 의해 녹색을 발하는 발광층(66G)을 성막하고, 나아가 제4 유기재료 성막 장치에 의해 청색을 발하는 발광층(66B)을 성막한다. 발광층(66R, 66G, 66B)의 성막이 완료된 후, 제5 유기재료 성막 장치에 의해 표시 영역(61)의 전체에 전자 수송층(67)을 성막한다. 전자 수송층(67)은 3 색의 발광층(66R, 66G, 66B)에 공통의 층으로서 형성된다.Similar to the film formation of the light emitting layer 66R, a green light emitting layer 66G is formed by a third organic material film forming apparatus, and further, a blue light emitting layer 66B is formed by a fourth organic material film forming apparatus. After the film formation of the light emitting layers 66R, 66G, and 66B is completed, the electron transport layer 67 is formed over the entire display area 61 by the fifth organic material film forming apparatus. The electron transport layer 67 is formed as a common layer for the three color light emitting layers 66R, 66G, and 66B.

전자 수송층(67)까지 형성된 기판을 금속성 증착재료 성막 장치로 이동시켜 제2 전극(68)을 성막한다. The substrate formed up to the electron transport layer 67 is moved to the metal deposition material deposition apparatus to form the second electrode 68.

그 후 플라스마 CVD 장치로 이동시켜 보호층(70)을 성막하여, 유기 EL 표시장치(60)를 완성한다.Then, the protective layer 70 is formed by moving to a plasma CVD apparatus to complete the organic EL display device 60.

절연층(69)이 패터닝 된 기판(63)을 성막 장치로 반입하고 나서부터 보호층(70)의 성막이 완료될 때까지는, 수분이나 산소를 포함하는 분위기에 노출되면 유기 EL 재료로 이루어진 발광층이 수분이나 산소에 의해 열화될 우려가 있다. 따라서, 본 예에 있어서, 성막 장치 간의 기판의 반입, 반출은 진공 분위기 또는 불활성 가스 분위기 하에서 행하여진다.The light emitting layer made of an organic EL material is exposed to an atmosphere containing moisture or oxygen from when the substrate 63 on which the insulating layer 69 is patterned is brought into the film forming apparatus until the film formation of the protective layer 70 is completed. There is a risk of deterioration by moisture or oxygen. Therefore, in this example, the substrate is brought in and out between the film forming apparatuses in a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere.

상기 실시예는 본 발명의 일 예를 나타낸 것으로, 본 발명은 상기 실시예의 구성에 한정되지 않으며, 그 기술사상의 범위 내에서 적절히 변형하여도 된다. The above embodiment shows an example of the present invention, and the present invention is not limited to the configuration of the above embodiment, and may be appropriately modified within the scope of the technical idea.

10: 기판
14: 반송로봇
20: 진공 챔버
21: 기판 보유지지 유닛
22: 마스크 보유지지 유닛
23: 냉각판
24: 마그넷판
25: 마스크 대
30: 얼라인먼트 스테이지
31: 기판 Z축 승강기구
32: 냉각판 Z축 승강기구
33: 마스크 Z축 승강기구
41: 얼라인먼트 마크 플레이트
10: substrate
14: bounce robot
20: vacuum chamber
21: substrate holding unit
22: mask holding unit
23: cooling plate
24: Magnet version
25: mask stand
30: alignment stage
31: substrate Z-axis lifting mechanism
32: Cooling plate Z-axis lifting mechanism
33: Mask Z-axis lifting mechanism
41: alignment mark plate

Claims (19)

마스크를 통해 기판에 증착재료를 성막하기 위한 성막 장치로서,
증착공정이 이루어지는 공간을 정의하는 진공 챔버,
상기 진공 챔버 내에 설치되며, 마스크를 보유지지하여 반송하기 위한 마스크 보유지지 유닛,
상기 진공 챔버 내에 설치되며, 기판의 성막면의 반대측으로부터 마스크에 자력을 인가시키기 위한 자력인가수단,
상기 마스크 보유지지 유닛을 제1 방향 및 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동시키거나 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 회전시키기 위한 얼라인먼트 스테이지, 및
상기 얼라인먼트 스테이지로부터 분리되어 독립적으로 설치되며, 상기 자력인가수단을 상기 제3 방향으로 구동하기 위한 자력인가수단 제3 방향 구동기구
를 포함하는 성막 장치.
A film forming apparatus for forming a deposition material on a substrate through a mask,
Vacuum chamber that defines the space in which the deposition process takes place,
It is installed in the vacuum chamber, the mask holding unit for holding and conveying the mask,
It is installed in the vacuum chamber, a magnetic force applying means for applying a magnetic force to the mask from the opposite side of the film forming surface of the substrate,
Alignment stage for moving the mask holding unit in a first direction and a second direction intersecting the first direction or in a rotational direction about the third direction intersecting the first direction and the second direction. , And
Separately installed from the alignment stage and installed independently, the magnetic force applying means for driving the magnetic force applying means in the third direction is a third direction driving mechanism
A film forming apparatus comprising a.
제1항에 있어서, 상기 자력인가수단 제3 방향 구동기구는, 상기 진공 챔버에 대하여 상기 제1 방향, 상기 제2 방향, 및 상기 회전방향으로 고정되도록 설치되는 성막 장치. The film forming apparatus of claim 1, wherein the third direction driving mechanism of the magnetic force applying means is installed to be fixed in the first direction, the second direction, and the rotational direction with respect to the vacuum chamber. 제1항에 있어서, 상기 얼라인먼트 스테이지는, 상기 진공 챔버의 제1 외부면 상에 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향으로 이동가능하고 상기 회전방향으로 회전가능하도록 설치되는 제1 베이스 플레이트를 포함하는 성막 장치. The alignment stage of claim 1, wherein the alignment stage comprises a first base plate movable on the first outer surface of the vacuum chamber and movable in the first direction and the second direction and rotatable in the rotational direction. Deposition apparatus. 제3항에 있어서, 상기 자력인가수단 제3 방향 구동기구는, 상기 진공 챔버의 제1 외부면 상에 상기 제1 방향, 상기 제2 방향 및 상기 회전방향으로 고정되도록 설치되는 제2 베이스 플레이트를 포함하는 성막 장치. According to claim 3, The magnetic force applying means third direction driving mechanism, the second base plate is installed to be fixed in the first direction, the second direction and the rotational direction on the first outer surface of the vacuum chamber. A film forming apparatus comprising. 제4항에 있어서, 상기 제1 베이스 플레이트 상에 설치되며, 상기 마스크 보유지지 유닛을 상기 제3 방향으로 구동시키기 위한 마스크 제3 방향 구동기구를 더 포함하는 성막 장치.The film forming apparatus according to claim 4, further comprising: a mask third direction driving mechanism installed on the first base plate and driving the mask holding unit in the third direction. 제3항에 있어서, 기판을 보유지지하여 반송하기 위한 기판 보유지지 유닛, 및 상기 제1 베이스 플레이트 상에 설치되며 상기 기판 보유지지 유닛을 상기 제3 방향으로 구동시키기 위한 기판 제3 방향 구동기구를 더 포함하는 성막 장치.According to claim 3, A substrate holding unit for holding and conveying the substrate, and a substrate installed in the first base plate and a substrate for driving the substrate holding unit in the third direction. The film forming apparatus further comprising. 제6항에 있어서, 상기 자력인가수단 제3 방향 구동기구는 기판을 냉각하기 위한 냉각판을 상기 자력인가수단과 함께 상기 제3 방향으로 구동하는 성막 장치.The film forming apparatus according to claim 6, wherein the magnetic force applying means in the third direction driving mechanism drives the cooling plate for cooling the substrate together with the magnetic force applying means in the third direction. 제3항에 있어서, 상기 진공 챔버의 상기 제1 외부면 상에 고정된 제1 모터, 및 상기 제1 모터로부터의 구동력을 상기 제1 베이스 플레이트로 전달하는 제1 구동력 전달기구를 더 포함하는 성막 장치. The film formation of claim 3, further comprising a first motor fixed on the first outer surface of the vacuum chamber, and a first driving force transmission mechanism that transmits driving force from the first motor to the first base plate. Device. 제4항에 있어서, 상기 자력인가수단 제3 방향 구동기구는, 자력인가수단을 상기 제3 방향으로 구동하기 위한 구동력을 발생시키는 제2 모터, 및 상기 제2 모터로부터의 구동력을 자력인가수단으로 전달하기 위한 제2 구동력 전달기구를 더 포함하는 성막 장치. The magnetic force applying means of the third direction driving mechanism is a second motor for generating a driving force for driving the magnetic force applying means in the third direction, and the driving force from the second motor as the magnetic force applying means A film forming apparatus further comprising a second driving force transmission mechanism for transmitting. 제6항에 있어서, 상기 기판 제3 방향 구동기구는 상기 기판 보유지지 유닛을 상기 제3 방향으로 구동하기 위한 구동력을 발생시키는 제3 모터, 및 상기 제3 모터로부터의 구동력을 상기 기판 보유지지 유닛으로 전달하기 위한 제3 구동력 전달기구를 더 포함하는 성막 장치.The substrate holding unit of claim 6, wherein the substrate third direction driving mechanism generates a driving force for driving the substrate holding unit in the third direction, and a driving force from the third motor. The film forming apparatus further comprising a third driving force transmission mechanism for transmitting. 제5항에 있어서, 상기 마스크 제3 방향 구동기구는 상기 마스크 보유지지 유닛을 상기 제3 방향으로 구동하기 위한 구동력을 발생시키는 제4 모터 및 상기 제4 모터로부터의 구동력을 상기 마스크 보유지지 유닛으로 전달하는 제4 구동력 전달기구를 포함하는 성막 장치.The method of claim 5, wherein the mask third direction driving mechanism is a fourth motor for generating a driving force for driving the mask holding unit in the third direction and the driving force from the fourth motor to the mask holding unit. A film forming apparatus comprising a fourth driving force transmission mechanism for transmitting. 마스크를 통해 기판에 증착재료를 성막하기 위한 성막 장치로서,
증착 공정이 이루어지는 공간을 정의하는 진공 챔버와,
상기 진공 챔버 내에 설치되며, 마스크를 보유지지하여 반송하기 위한 마스크 보유지지 유닛과,
상기 진공 챔버 내에 배치되고, 기판의 성막면의 반대측으로부터 상기 기판과 상기 마스크를 밀착시키기 위한 밀착 수단과,
상기 마스크 보유지지 유닛을 제1 방향 및 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동시키거나 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 회전시키기 위한 얼라인먼트 스테이지와,
상기 얼라인먼트 스테이지로부터 분리되어 독립적으로 설치되며, 상기 밀착 수단을 상기 제3 방향으로 구동시키기 위한 밀착 수단 제3 방향 구동기구
를 포함하는 성막 장치.
A film forming apparatus for forming a deposition material on a substrate through a mask,
A vacuum chamber defining a space in which the deposition process takes place,
It is installed in the vacuum chamber, and the mask holding unit for holding and conveying the mask,
It is disposed in the vacuum chamber, and the contact means for adhering the substrate and the mask from the opposite side of the film forming surface of the substrate,
Alignment stage for moving the mask holding unit in a first direction and a second direction intersecting the first direction or in a rotational direction about the third direction intersecting the first direction and the second direction. Wow,
Separately installed from the alignment stage and installed independently, a contact means for driving the contact means in the third direction. A third direction driving mechanism.
A film forming apparatus comprising a.
제12항에 있어서,
상기 밀착 수단 제3 방향 구동기구는, 상기 진공 챔버에 대해 상기 제1 방향, 상기 제2 방향, 및 상기 회전방향으로 고정되도록 설치되는, 성막 장치.
The method of claim 12,
The adhesion means third driving mechanism is provided so as to be fixed in the first direction, the second direction, and the rotational direction with respect to the vacuum chamber.
마스크를 통해 기판에 증착재료를 증착하기 위한 성막 방법으로서,
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항의 성막 장치의 진공 챔버 내로 반입된 마스크를 마스크 보유지지 유닛에 재치하는 단계,
상기 마스크 보유지지 유닛에 재치된 상태의 마스크를 자력인가수단에 대해, 제1 방향, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향 및 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 위치 조정하는 마스크 얼라인먼트 단계,
위치 조정된 마스크를 상기 진공 챔버에 고정된 마스크 대(台) 상에 재치하는 단계,
상기 성막 장치의 상기 진공 챔버 내로 기판을 반입하여 기판 보유지지 유닛에 재치하는 단계,
상기 기판 보유지지 유닛에 재치된 기판을 상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대해 상기 제1 방향, 상기 제2 방향 및 상기 회전방향으로 위치 조정하는 기판 얼라인먼트 단계,
상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대하여 위치 조정된 기판을 마스크 상에 재치하는 단계,
자력인가수단 및 냉각판을 상기 제3 방향으로 이동시켜 기판에 접촉시키는 단계, 및
마스크를 통해 기판 상에 증착재료를 성막하는 단계,
를 포함하는 성막 방법.
As a deposition method for depositing a deposition material on a substrate through a mask,
A step of placing the mask carried into the vacuum chamber of the film forming apparatus according to any one of claims 1 to 11 into a mask holding unit,
A first direction, a second direction intersecting the first direction, and a third direction intersecting the first direction and the second direction with respect to the magnetic force applying means for the mask placed in the mask holding unit are axial. Mask alignment step of adjusting the position in one rotation direction,
Placing a position-adjusted mask on a mask stand fixed to the vacuum chamber,
Bringing the substrate into the vacuum chamber of the film forming apparatus and placing it on the substrate holding unit,
A substrate alignment step of positioning the substrate placed on the substrate holding unit in the first direction, the second direction, and the rotational direction with respect to the mask placed on the mask stand;
Placing a substrate positioned on the mask with respect to the mask placed on the mask stage,
Moving the magnetic force applying means and the cooling plate in the third direction to contact the substrate, and
Depositing a deposition material on the substrate through a mask,
The deposition method comprising a.
제14항에 있어서,
상기 마스크 얼라인먼트 단계에서는 성막 장치의 얼라인먼트 스테이지를 자력인가수단이 탑재된 자력인가수단 제3 방향 구동기구에 대해 상기 제1 방향, 상기 제2 방향 및 상기 회전방향으로 상대적으로 이동 또는 회전시킴으로써, 상기 얼라인먼트 스테이지에 연결되어 있는 상기 마스크 보유지지 유닛에 재치된 마스크를 자력인가수단에 대하여 위치 조정하는 성막 방법.
The method of claim 14,
In the mask alignment step, the alignment stage of the film forming apparatus is moved or rotated relative to the first direction, the second direction, and the rotation direction with respect to the third direction driving mechanism with the magnetic force applying means on which the magnetic force applying means is mounted. A film forming method for adjusting the position of the mask placed on the mask holding unit connected to the stage with respect to the magnetic force applying means.
제15항에 있어서, 상기 마스크 얼라인먼트 단계는 상기 자력인가수단의 하부 또는 상기 냉각판의 상부에 설치된 얼라인먼트 마크 플레이트 상의 얼라인먼트 마크와 마스크의 얼라인먼트 마크를 촬영하여 자력인가수단과 상기 마스크 보유지지 유닛에 재치된 마스크간의 상대적인 위치 어긋남 또는 마그넷판과 마스크 보유지지 유닛에 재치된 마스크간의 상대적인 위치 어긋남을 측정하는 단계를 포함하는 성막 방법. 16. The method of claim 15, wherein the mask alignment step is mounted on the magnetic force applying means and the mask holding unit by photographing the alignment mark of the mask and the alignment mark on the alignment mark plate installed on the lower portion of the magnetic force applying means or on the cooling plate. And measuring the relative positional displacement between the masks or the relative positional displacement between the magnet plate and the mask placed on the mask holding unit. 마스크를 통해 기판에 증착재료를 증착하기 위한 성막 방법으로서,
제12항 또는 제13항에 따른 성막 장치의 진공 챔버 내로 반입된 마스크를 마스크 보유지지 유닛에 재치하는 단계와,
상기 마스크 보유지지 유닛에 재치된 상태의 마스크를 밀착 수단에 대하여 제1 방향, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향 및 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향을 축으로 한 회전방향으로 위치 조정하는 마스크 얼라인먼트 단계와,
위치 조정된 마스크를 상기 진공 챔버에 고정된 마스크 대 상에 재치하는 단계와,
상기 성막 장치의 상기 진공 챔버 내로 기판을 반입하여 기판 보유지지 유닛에 재치하는 단계와,
상기 기판 보유지지 유닛에 재치된 기판을 상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대하여 상기 제1 방향, 상기 제2 방향 및 상기 회전방향으로 위치 조정하는 기판 얼라인먼트 단계와,
상기 마스크 대 상에 재치된 상태의 마스크에 대하여 위치 조정된 기판을 마스크 상에 재치하는 단계와,
밀착 수단을 상기 제3 방향으로 이동시켜 기판에 밀착시키는 단계와,
마스크를 통해 기판 상에 증착재료를 성막하는 단계
를 포함하는 성막 방법.
As a deposition method for depositing a deposition material on a substrate through a mask,
Placing the mask carried into the vacuum chamber of the film forming apparatus according to claim 12 or 13 into a mask holding unit;
The mask in the state placed on the mask holding unit is a first direction, a second direction intersecting the first direction, and a third direction intersecting the first direction and the second direction with respect to the contact means. A mask alignment step of adjusting the position in the rotation direction,
Placing a position-adjusted mask on a mask stand fixed to the vacuum chamber,
Bringing the substrate into the vacuum chamber of the film forming apparatus and placing it on the substrate holding unit;
A substrate alignment step of positioning the substrate placed on the substrate holding unit in the first direction, the second direction and the rotational direction with respect to the mask placed on the mask stand;
Placing a substrate positioned on the mask with respect to the mask placed on the mask stage;
Moving the adhesion means in the third direction to adhere to the substrate;
Depositing a deposition material on a substrate through a mask
The deposition method comprising a.
제14항에 따른 성막 방법을 사용하여 전자 디바이스를 제조하는 방법. A method of manufacturing an electronic device using the film-forming method according to claim 14. 제17항에 따른 성막 방법을 사용하여 전자 디바이스를 제조하는 방법. A method of manufacturing an electronic device using the film-forming method according to claim 17.
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