KR20220018424A - Cutting devices and manufacturing methods of cutting products - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 절단 장치 및 절단품의 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a cutting device and a method for manufacturing a cut product.
일본 특허 공개 제2019-45418호 공보(특허문헌 1)는 반도체 웨이퍼 등의 피가공물을 분할하는 레이저 가공 장치를 개시한다. 이 레이저 가공 장치에 있어서는, 특정한 파장대의 광이 피가공물의 상면에 조사되고, 반사광과 기준광의 간섭광에 기초하여 피가공물의 높이 위치가 검출된다(특허문헌 1 참조). Japanese Patent Laid-Open No. 2019-45418 (Patent Document 1) discloses a laser processing apparatus for dividing a workpiece such as a semiconductor wafer. In this laser processing apparatus, the light of a specific wavelength band is irradiated to the upper surface of a to-be-processed object, and the height position of a to-be-processed object is detected based on the interference light of a reflected light and a reference|standard light (refer patent document 1).
상기 특허문헌 1에 개시되어 있는 레이저 가공 장치에 있어서는, 레이저 광원 등의 고가인 부품을 사용함으로써, 피가공물의 높이 위치가 검출된다. 즉, 상기 특허문헌 1의 기술을 사용한 경우, 피가공물의 높이 위치를 검출하기 위해, 높은 비용이 든다. In the laser processing apparatus disclosed by the said
본 발명은, 이와 같은 문제를 해결하기 위해 이루어진 것으로서, 그 목적은, 보다 저비용으로 워크의 높이 위치를 검출 가능한 절단 장치 등을 제공하는 것이다. The present invention has been made in order to solve such a problem, and an object thereof is to provide a cutting device or the like capable of detecting the height position of the work at a lower cost.
본 발명의 어느 국면에 따르는 절단 장치는, 워크를 절단하도록 구성되어 있다. 이 절단 장치는 광원과, 촬상부와, 검출부를 구비한다. 광원은 워크에 광의 패턴을 투영하도록 구성되어 있다. 촬상부는 광의 패턴을 촬상하고, 제1 화상 데이터를 생성하도록 구성되어 있다. 검출부는 제1 화상 데이터에 기초하여 워크의 높이 위치를 검출하도록 구성되어 있다. 광원이 광의 패턴을 투영하는 방향과, 촬상부가 광의 패턴을 촬상하는 방향에 의해 형성되는 각도는 0°보다도 크다. The cutting device which concerns on any aspect of this invention is comprised so that a workpiece|work may be cut|disconnected. This cutting device is equipped with a light source, an imaging part, and a detection part. The light source is configured to project a pattern of light onto the work. The imaging unit is configured to image a pattern of light and generate first image data. The detection unit is configured to detect the height position of the work based on the first image data. The angle formed by the direction in which the light source projects the pattern of light and the direction in which the imaging unit images the pattern of light is greater than 0°.
또한, 본 발명의 다른 국면에 따르는 절단품의 제조 방법은, 상기 절단 장치를 사용한 절단품의 제조 방법이다. 이 절단품의 제조 방법은, 워크에 광의 패턴을 투영하는 스텝과, 광의 패턴을 촬상하고, 화상 데이터를 생성하는 스텝과, 화상 데이터에 기초하여 워크의 높이 위치를 검출하는 스텝과, 워크의 높이 위치에 기초하여 워크를 절단하고, 절단품을 제조하는 스텝을 포함한다. Moreover, the manufacturing method of the cut product which concerns on another situation of this invention is the manufacturing method of the cut product using the said cutting device. The manufacturing method of this cut product includes a step of projecting a pattern of light onto a work, a step of imaging a pattern of light and generating image data, a step of detecting a height position of the work based on the image data, and a height position of the work. and cutting the workpiece based on the , and manufacturing a cut product.
본 발명에 따르면, 보다 저비용으로 워크의 높이 위치를 검출 가능한 절단 장치 등을 제공할 수 있다. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the cutting device etc. which can detect the height position of a workpiece|work can be provided at lower cost.
도 1은 절단 장치의 일부의 평면을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 2는 절단 장치의 일부의 정면을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 3은 CCS 블록을 사용한 제어 좌표 원점의 검출 수순을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 촬상 유닛의 구성을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 5는 광원의 구성을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 6은 워크에 투영되는 광의 패턴의 일례를 나타내는 도면이다.
도 7은 워크 보유 지지 유닛 상에 보유 지지된 워크의 정면을 포함하는 도면이다.
도 8은 워크의 상면의 높이 위치에 의해 광원에 의해 투영되는 광의 패턴이 어떻게 변화되는지를 도시하는 도면이다.
도 9는 워크에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 워크에 홈이 형성되어 있는 경우에 워크에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 블레이드에 의해 홈이 형성된 워크의 부분 단면을 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 12는 마모된 블레이드에 의해 홈이 형성되어 있는 경우에 워크에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 워크에 형성된 버의 일례를 나타내는 도면이다.
도 14는 단자에 버가 형성되어 있는 경우에 워크에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다.
도 15는 러버에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다.
도 16은 절단품의 제조 수순을 나타내는 흐름도이다.
도 17은 도 16의 스텝 S110에 있어서의 구체적인 처리 내용을 나타내는 흐름도이다.
도 18은 워크에 형성된 홈의 깊이의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 19는 블레이드의 마모 상태의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 20은 워크에 형성된 버의 유무의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 21은 워크에 형성된 버의 높이의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 22는 러버의 열화 상태의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 23은 다른 실시 형태에 있어서의, 절단 장치의 일부의 평면을 모식적으로 도시하는 도면이다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a figure which shows typically the plane of a part of a cutting device.
It is a figure which shows typically the front of a part of a cutting device.
3 is a diagram for explaining a procedure for detecting a control coordinate origin using a CCS block.
4 is a diagram schematically showing the configuration of an imaging unit.
5 is a diagram schematically showing the configuration of a light source.
It is a figure which shows an example of the pattern of the light projected on a workpiece|work.
It is a figure including the front surface of the work hold|maintained on the work holding unit.
Fig. 8 is a view showing how the pattern of light projected by the light source is changed depending on the height position of the upper surface of the work.
It is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected on a workpiece|work.
It is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected to a work, when a groove|channel is formed in a work.
11 is a view schematically showing a partial cross section of a work in which a groove is formed by a blade.
12 is a view for explaining an example of a pattern of light projected on a work when a groove is formed by a worn blade.
13 is a view showing an example of a burr formed on a work.
Fig. 14 is a view for explaining an example of a pattern of light projected on a work when a burr is formed in the terminal;
It is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected on rubber.
It is a flowchart which shows the manufacturing procedure of a cut product.
Fig. 17 is a flowchart showing specific processing contents in step S110 of Fig. 16 .
18 is a flowchart showing an operation of detecting the depth of a groove formed in a work.
19 is a flowchart showing an operation of detecting a wear state of a blade.
20 is a flowchart showing an operation of detecting the presence or absence of a burr formed on a work.
Fig. 21 is a flowchart showing an operation of detecting the height of a burr formed on a work;
It is a flowchart which shows the detection operation|movement of the deterioration state of rubber.
It is a figure which shows typically the plane of a part of a cutting device in another embodiment.
이하, 본 발명의 실시 형태에 대해서, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다. 또한, 도면 중 동일하거나 또는 상당 부분에는 동일 부호를 붙여서 그 설명은 반복되지 않는다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described in detail, referring drawings. In addition, the same reference numerals are attached to the same or equivalent parts in the drawings, and the description thereof is not repeated.
[1. 절단 장치의 구성] [One. Configuration of cutting device]
도 1은, 본 실시 형태에 따르는 절단 장치(10)의 일부의 평면을 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 2는, 절단 장치(10)의 일부의 정면을 모식적으로 도시하는 도면이다. 또한, 도 1 및 도 2에 있어서, 화살표 XYZ의 각각이 나타내는 방향은 공통이다. 1 : is a figure which shows typically the plane of a part of the
절단 장치(10)는 워크(W1)를 절단함으로써, 워크(W1)를 복수의 절단품에 개편화하도록 구성되어 있다(풀컷). 또한, 절단 장치(10)는 워크(W1)의 일부를 제거함으로써 워크(W1)에 홈을 형성하도록 구성되어 있다(하프컷). 즉, 절단 장치(10)의 명칭(절단 장치)에 포함되는 「절단」이라고 하는 용어의 개념은, 절단 대상을 복수로 분리하는 것 및 절단 대상의 일부를 제거하는 것을 포함한다. 워크(W1)는, 예를 들어 패키지 기판이다. 패키지 기판에 있어서는, 반도체 칩이 장착된 기판 또는 리드 프레임이 수지 밀봉되어 있다. 즉, 워크(W1)는 수지 성형 완료 기판이다. 이하의 설명에서는, 워크(W1)의 밀봉측의 면을 「패키지면」, 기판 또는 리드 프레임측의 면을 「기판면」이라고도 기재한다. The
패키지 기판의 일례로서는, BGA(Ball Grid Array) 패키지 기판, LGA(Land Grid Array) 패키지 기판, CSP(Chip Size Package) 패키지 기판, LED(Light Emitting Diode) 패키지 기판, QFN(Quad Flat No-leaded) 패키지 기판을 들 수 있다. As an example of the package substrate, a BGA (Ball Grid Array) package substrate, LGA (Land Grid Array) package substrate, CSP (Chip Size Package) package substrate, LED (Light Emitting Diode) package substrate, QFN (Quad Flat No-leaded) A package substrate is mentioned.
도 1 및 도 2에 도시되는 바와 같이, 절단 장치(10)는 절단 유닛(100)과, 워크 보유 지지 유닛(200)과, CCS(Contact Cutter Set) 블록(300)과, 촬상 유닛(400)과, 제어부(500)를 포함하고 있다. As shown in FIGS. 1 and 2 , the
절단 유닛(100)은 워크(W1)를 절단하도록 구성되어 있고, 스핀들부(110)와, 슬라이더(103, 104)와, 지지체(105)를 포함하고 있다. 또한, 절단 장치(10)는 스핀들부(110)와 슬라이더(103, 104)의 조를 2조 포함하는 트윈 스핀들 구성이지만, 스핀들부(110)와 슬라이더(103, 104)의 조를 1조만 포함하는 싱글 스핀들 구성이어도 된다. The
지지체(105)는 금속제의 막대 형상 부재이며, 도시하지 않은 가이드를 따라서 화살표 Y 방향으로 이동하도록 구성되어 있다. 지지체(105)에는 길이 방향(화살표 X 방향)으로 연장되는 가이드(G1)가 형성되어 있다. The
슬라이더(104)는 금속제로 직사각 형상의 판 형상 부재이며, 가이드(G1)를 따라서 화살표 X 방향으로 이동 가능한 상태에서 지지체(105)에 설치되어 있다. 슬라이더(104)에는 길이 방향(화살표 Z 방향)으로 연장되는 가이드(G2)가 형성되어 있다. 슬라이더(103)는 금속제로 직사각 형상의 판 형상 부재이며, 가이드(G2)를 따라 높이 방향(화살표 Z 방향)으로 이동 가능한 상태에서 슬라이더(104)에 설치되어 있다. The
스핀들부(110)는 스핀들부 본체(102)와, 스핀들부 본체(102)에 설치된 블레이드(101)를 포함하고 있다. 블레이드(101)는 고속 회전함으로써, 워크(W1)를 절단하고, 워크(W1)를 복수의 절단품(반도체 패키지)에 개편화한다. 스핀들부 본체(102)는 슬라이더(103)에 설치되어 있다. 스핀들부(110)는 슬라이더(103, 104) 및 지지체(105)의 이동에 따라서, 절단 장치(10) 내의 원하는 위치로 이동하도록 구성되어 있다. The
워크 보유 지지 유닛(200)은 워크(W1)를 보유 지지하도록 구성되어 있고, 절단 테이블(201)과, 절단 테이블(201) 상에 배치된 러버(202)를 포함하고 있다. 본 실시 형태에 있어서는, 2개의 워크 보유 지지 유닛(200)을 갖는 트윈 커트 테이블 구성의 절단 장치(10)가 예시되어 있다. 또한, 워크 보유 지지 유닛(200)의 수는 2개로 한정되지는 않고, 1개이어도 3개 이상이어도 된다. The
러버(202)는 고무제의 판 형상 부재이며, 흡착 부재의 일례이며, 러버(202)에는 복수의 구멍이 형성되어 있다. 러버(202) 상에는, 워크(W1)가 배치된다. 절단 테이블(201)은 러버(202) 상에 배치된 워크(W1)를 하방의 패키지면측으로부터 흡착함으로써 워크(W1)를 보유 지지한다. 절단 테이블(201)은 θ 방향으로 회전 가능하다. 워크(W1)는 워크 보유 지지 유닛(200)에 의해 보유 지지된 상태에서, 기판면측으로부터 스핀들부(110)에 의해 절단된다. 또한, 워크 보유 지지 유닛(200)은 반드시 러버(202)를 포함할 필요는 없고, 러버(202) 대신에, 상방에 배치된 워크(W1)를 하방의 패키지면측으로부터 흡착하는 다른 부재를 포함해도 된다. The
CCS 블록(300)은 스핀들부(110)의 높이 위치의 제어에 있어서의 제어 좌표 원점의 검출을 위해 사용된다. 제어 좌표 원점은 스핀들부(110)의 높이 방향에 있어서의 제어 상의 기준 위치이며, 예를 들어 전기 원점을 포함한다. The
도 3은, CCS 블록(300)을 사용한 제어 좌표 원점의 검출 수순을 설명하기 위한 도면이다. 절단 장치(10)에 있어서는, CCS 블록(300)의 높이 H1이 미리 기억되어 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 절단 장치(10)에 있어서는, 블레이드(101)를 CCS 블록(300)에 접촉시킴으로써, 스핀들부(110)의 높이 방향의 제어 좌표 원점이 검출된다. FIG. 3 is a diagram for explaining a procedure for detecting the control coordinate origin using the
촬상 유닛(400)은 워크(W1)가 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하는 상태에서, 워크(W1)의 상면에 광의 패턴을 투영하고, 해당 광의 패턴이 투영된 워크(W1)의 상면을 촬상하도록 구성되어 있다. 촬상 유닛(400)은 상하 방향(화살표 Z 방향)으로 이동 가능하게 되어 있다. 촬상 유닛(400)에 의해 생성된 화상 데이터에 기초하여 후술하는 각종 검출이 행해진다. The
도 4는, 촬상 유닛(400)의 구성을 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 촬상 유닛(400)은 광원(410)과, 촬상부(420)를 포함하고 있다. 광원(410)은 워크(W1)의 상면에 광의 패턴을 투영하도록 구성되어 있다. 촬상부(420)는 워크(W1)의 상면을 촬상하고, 화상 데이터를 생성하도록 구성되어 있다. 즉, 광원(410)은 워크(W1)에 광선을 입사시키고, 촬상부(420)는 워크(W1)에서 반사한 광선을 촬상한다. 4 is a diagram schematically showing the configuration of the
광원(410)이 워크(W1)의 상면에 광의 패턴을 투영하는 방향과, 촬상부(420)가 워크(W1)의 상면을 촬상하는 방향에 의해 형성되는 각도는 A1이다. 각도 A1은, 0°보다도 크고, 바람직하게는 30°내지 60°이며, 더욱 바람직하게는 40°내지 50°이다. 광원(410)은 워크(W1)의 상면에서 비스듬히 상방으로부터 워크(W1)의 상면을 향하여 광의 패턴을 투영한다. 촬상부(420)는 워크(W1)의 바로 위로부터 워크(W1)의 상면을 촬상한다. The angle formed by the direction in which the
도 5는, 광원(410)의 구성을 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 광원(410)은 LED 조명(411)과, 광학계(412)를 포함하고 있다. LED 조명(411)은 광학계(412)를 향하여 발광하도록 구성되어 있다. 5 : is a figure which shows typically the structure of the
광학계(412)는 투영 렌즈(413)와, 조리개(414)와, 슬릿 부재(415)를 포함하고 있다. 광학계(412)에 있어서는, LED 조명(411)측으로부터 순서대로, 슬릿 부재(415), 조리개(414) 및 투영 렌즈(413)가 배치되어 있다. 투영 렌즈(413)는 단위 공액비 디자인의 양쪽 볼록 렌즈로 구성되어 있다. 조리개(414)는 투영 렌즈(413)의 초점 위치에 배치되어 있다. 조리개(414)를 투영 렌즈(413)의 초점 위치에 배치함으로써, 텔레센트릭 조명이 실현되어 있다. 슬릿 부재(415)에는, 선 형상의 슬릿이 형성되어 있다. 슬릿의 크기는, 예를 들어 길이가 2㎜, 폭이 0.05㎜이다. The
도 6은, 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴의 일례를 나타내는 도면이다. 도 6에 도시된 바와 같이, LED 조명(411)이 광학계(412)를 향하여 발광하면, 슬릿 부재(415)에 형성된 슬릿과 동일 형상(선 형상)의 광 패턴(L1)이 워크(W1) 상에 투영된다. 6 : is a figure which shows an example of the pattern of the light projected on the workpiece|work W1. As shown in FIG. 6 , when the
다시 도 1 및 도 2를 참조하여, 제어부(500)는 CPU(Central Processing Unit), RAM(Random Access Memory) 및 ROM(Read Only Memory) 등을 포함하고, 정보 처리에 따라서 각 구성 요소의 제어를 행하도록 구성되어 있다. 제어부(500)는, 예를 들어 절단 유닛(100), 워크 보유 지지 유닛(200) 및 촬상 유닛(400)을 제어하도록 구성되어 있다. 1 and 2 again, the
절단 장치(10)에 있어서는, 워크(W1)의 풀컷 및 하프컷이 행해진다. 하프컷을 통하여 워크(W1) 상에 원하는 깊이의 홈을 형성하기 위해서는, 워크(W1)의 높이 위치를 고정밀도로 검출할 필요가 있다. 절단 장치(10)에 있어서는, 워크(W1)의 높이 위치가 고정밀도로 검출된다. 또한, 절단 장치(10)에 있어서는, 워크(W1)에 형성된 홈의 깊이, 블레이드(101)의 마모 상태, 워크(W1)에 형성된 버 및 러버(202)의 열화 상태가 검출된다. 다음에, 절단 장치(10)에 있어서, 워크(W1)의 높이 위치가 검출되는 이유에 대해서 설명한다. In the
[2. 높이 위치의 검출이 필요한 이유] [2. The reason why the height position detection is necessary]
도 7은, 워크 보유 지지 유닛(200) 상에 보유 지지된 워크(W1)의 정면을 포함하는 도면이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 워크(W1)의 절단 시에, 러버(202)는 절단 테이블(201)의 상면에 배치되어 있고, 워크(W1)는 러버(202)의 상면에 배치되어 있다. 7 : is a figure including the front surface of the work W1 hold|maintained on the
절단 장치(10)에 있어서, 워크(W1)의 높이 H2 및 러버(202)의 높이 H3 등의 각 부재의 높이가 설계 단계의 치수값에 기초하여 미리 기억되어 있으면, 워크(W1)의 높이 위치를 반드시 검출할 필요는 없다고도 생각된다. 그러나, 각 부재의 높이 정보는, 반드시 정확한 것은 아니다. 예를 들어, 러버(202)는 절단 테이블(201)로부터의 흡착에 의해 휘어져 있을 가능성이 있다. 또한, 러버(202)는 경시 변화에 의해 마모되어 있을 가능성이 있다. 또한, 워크(W1)는 전공정에서의 열 등에 기인하여 휘어져 있을 가능성이 있다. 또한, 워크(W1)는 스핀들부(110) 등의 구성 부품의 가공에 의한 오차 등에 기인하여 휘어져 있을 가능성이 있다. In the
이와 같이, 다양한 요인에 기인하여 각 부재의 실제 높이와 미리 기억되어 있는 높이가 일치하지 않는 경우가 있다. 따라서, 워크(W1)의 실제 높이 위치를 파악하기 위해서는, 워크(W1)의 높이 위치를 실제로 검출할 필요가 있다. In this way, due to various factors, the actual height of each member and the previously stored height may not match. Therefore, in order to grasp the actual height position of the work W1, it is necessary to actually detect the height position of the work W1.
[3 각종 검출 원리] [3 Various detection principles]
<3-1. 높이 위치의 검출 원리> <3-1. Principle of detection of height position>
도 8은, 워크(W1)의 상면의 높이 위치에 의해 광원(410)에 의해 투영되는 광의 패턴이 어떻게 변화되는지를 도시하는 도면이다. 도 8에 도시된 바와 같이, 절단 장치(10)에 있어서, 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 기준 위치 Z1인 경우에, 광원(410)에 의해 발해지는 광의 패턴은 위치 A1에 투영된다. 또한, 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 위치 Z1+α인 경우에 광의 패턴은 위치 A2에 투영되고, 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 위치 Z1-α인 경우에 광의 패턴은 위치 A3에 투영된다. 8 is a diagram showing how the pattern of light projected by the
절단 장치(10)에 있어서는, 촬상 유닛(400)의 높이 방향의 기준 위치 Z2(도시하지 않음)가 미리 정해져 있다. 워크(W1)의 높이 위치의 검출 개시 시점에 있어서, 촬상 유닛(400)의 높이 위치는 기준 위치 Z2이다. 촬상 유닛(400)의 높이 위치가 기준 위치 Z2이며, 또한 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 기준 위치 Z1인 경우에, 광의 패턴의 핀트가 워크(W1)의 상면에서 만난다. 즉, 절단 장치(10)에 있어서는, 그와 같은 기준 위치 Z1, Z2가 미리 준비되어 있다. 절단 장치(10)에 있어서는, 기준 위치 Z1, Z2가 미리 기억되어 있다. In the
도 9는, 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다. 도 9에 도시된 바와 같이, 촬상 유닛(400)이 기준 위치 Z2에 존재하고, 또한 워크(W1)의 상면이 기준 위치 Z1에 존재하는 경우에, 워크(W1)에는 광 패턴(L2)이 투영된다. 또한, 촬상 유닛(400)이 기준 위치 Z2에 존재하고, 또한 워크(W1)의 상면이 위치 Z1-α에 존재하는 경우에, 워크(W1)에는 광 패턴(L3)이 투영된다. 또한, 촬상 유닛(400)이 기준 위치 Z2에 존재하고, 또한 워크(W1)의 상면이 위치 Z1+α에 존재하는 경우에, 워크(W1)에는 광 패턴(L4)이 투영된다. 9 : is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected on the workpiece|work W1. As shown in Fig. 9, when the
즉, 워크(W1)의 상면의 높이 위치에 따라서, 광의 패턴의 투영 위치가 변화된다. 이것은, 광원(410)이 워크(W1)의 상면에 광의 패턴을 투영하는 방향과, 촬상부(420)가 워크(W1)의 상면을 촬상하는 방향에 의해 형성되는 각도가 0°보다도 크기 때문이다. That is, the projection position of the pattern of light changes according to the height position of the upper surface of the workpiece|work W1. This is because the angle formed by the direction in which the
촬상 유닛(400)이 기준 위치 Z2에 존재하고, 또한 워크(W1)의 상면이 기준 위치 Z1에 존재하는 경우에, 촬상부(420)에 의해 촬상되는 화상에 있어서의 화살표 Y 방향의 중심에 광 패턴(L2)이 위치한다. 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 기준 위치 Z1로부터 어긋남으로써, 광의 패턴이 투영되는 위치가 화살표 Y 방향에 있어서 어긋난다. 또한, 광 패턴(L2)의 핀트는 합치되어 있는 한편, 광 패턴(L3, L4)의 핀트는 합치되어 있지 않다. When the
상술한 바와 같이, 워크(W1)의 상면의 높이 위치의 검출 개시 시에 있어서, 촬상 유닛(400)의 높이 위치는 기준 위치 Z2이다. 이 경우에, 제어부(500)는 촬상부(420)에 의해 촬상된 화상의 화살표 Y 방향의 중심에 광의 패턴이 투영되어 있을 때는, 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 기준 위치 Z1이라고 특정한다. 한편, 제어부(500)는 촬상부(420)에 의해 촬상된 화상의 화살표 Y 방향의 중심으로부터 어긋난 위치에 광의 패턴이 투영되어 있을 때는, 광의 패턴이 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)의 높이 위치를 조정한다. 절단 장치(10)에 있어서는, 촬상 유닛(400)의 이동량과 워크(W1)의 상면의 높이 위치의 관계가 미리 기억되어 있다. 제어부(500)는 촬상 유닛(400)의 높이 방향(화살표 Z 방향)에 있어서의 이동량에 기초하여, 워크(W1)의 상면의 높이 위치를 산출한다. 이상의 방법에 의해, 워크(W1)의 상면의 높이 위치가 검출된다. As described above, at the start of detection of the height position of the upper surface of the work W1 , the height position of the
<3-2. 홈의 깊이의 검출 원리> <3-2. Principle of detecting the depth of the groove>
도 10은, 워크(W1)에 홈(GR1)이 형성되어 있는 경우에 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다. 도 10에 도시된 바와 같이, 워크(W1)의 상면에는, 화살표 Y 방향으로 연장되는 홈(GR1)이 형성되어 있다. 10 : is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected to the workpiece|work W1, when the groove|channel GR1 is formed in the workpiece|work W1. As shown in FIG. 10 , a groove GR1 extending in the arrow Y direction is formed on the upper surface of the work W1 .
광원(410)은 워크(W1)의 상면의 홈(GR1)에 걸친 영역에 광 패턴(L5)을 투영하도록 구성되어 있다. 광 패턴(L5)은 홈(GR1)이 연장되는 방향과는 대략 수직인 방향으로 연장되어 있다. 또한, 광 패턴(L5)이 연장되는 방향은, 반드시 홈(GR1)이 연장되는 방향과 대략 수직일 필요는 없다. 광 패턴(L5)이 홈(GR1)에 걸쳐 있으면 된다. 광 패턴(L5)은, 부분(P1, P2, P3)을 포함하고 있다. 부분(P1, P3)은 홈(GR1) 이외의 워크(W1)의 상면에 투영되고, 부분(P2)은 홈(GR1)에 투영된다. 홈(GR1) 이외의 워크(W1)의 상면의 높이 위치와, 홈(GR1)의 높이 위치가 다르므로, 부분(P1, P3)과 부분(P2)은 화살표 Y 방향에 있어서 다른 위치에 투영된다. The
제어부(500)는, 예를 들어 촬상부(420)에 의해 촬상된 화상의 화살표 Y 방향의 중심으로 부분(P1, P3)이 이동하도록 촬상 유닛(400)의 높이 위치를 조정한다. 그 후, 제어부(500)는 부분(P2)이 화살표 Y 방향의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)의 높이 위치를 조정한다. 제어부(500)는 부분(P2)을 화살표 Y 방향의 중심으로 이동시켰을 때의 촬상 유닛(400)의 높이 방향에 있어서의 이동량에 기초하여 홈(GR1)의 깊이를 산출한다. 이상의 방법에 의해, 홈(GR1)의 깊이가 검출된다. 또한, 이 예에서는, 부분(P1, P3)을 먼저 화상의 화살표 Y 방향의 중심으로 이동시켰지만, 부분(P2)을 먼저 화살표 Y 방향의 중심으로 이동시켜도 된다. The
<3-3. 블레이드의 마모 상태의 검출 원리> <3-3. Principle of detection of blade wear>
도 11은, 블레이드(101)에 의해 홈(GR2)이 형성된 워크(W1)의 부분 단면을 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 11에 도시된 바와 같이, 가령 블레이드(101)가 마모되어 있지 않으면, 워크(W1)에는 홈(GR21)이 형성될 것이다. 즉, 블레이드(101)의 측면이 마모에 의해 얇아져 있지 않으면, 워크(W1)에는 홈(GR21)이 형성될 것이다. 홈(GR21)의 측벽은, 워크(W1)의 상면으로부터 대략 수직으로 하방으로 연장되어 있다. 한편, 블레이드(101)가 마모되어, 블레이드(101)의 측면이 얇아져 있는 경우에는, 예를 들어 워크(W1)에 홈(GR2)이 형성된다. 홈(GR2)의 측벽은, 워크(W1)의 상면으로부터 완만하게 경사져서 하방으로 연장되어 있다. 11 is a diagram schematically showing a partial cross section of the work W1 in which the groove GR2 is formed by the
도 12는, 마모된 블레이드(101)에 의해 홈(GR2)이 형성되어 있는 경우에 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다. 도 12에 도시된 바와 같이, 워크(W1)의 상면에는, 화살표 Y 방향으로 연장되는 홈(GR2)이 형성되어 있다. 12 : is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected to the workpiece|work W1 when the groove|channel GR2 is formed by the
광원(410)은 워크(W1)의 상면의 홈(GR2)에 걸친 영역에 광 패턴(L6)을 투영하도록 구성되어 있다. 광 패턴(L6)은, 홈(GR2)이 연장되는 방향과는 대략 수직인 방향으로 연장되어 있다. 또한, 광 패턴(L6)이 연장되는 방향은, 반드시 홈(GR2)이 연장되는 방향과 대략 수직일 필요는 없다. 광 패턴(L6)이 홈(GR2)에 걸쳐 있으면 된다. 광 패턴(L6)은 부분(P4, P5, P6, P7, P8)을 포함하고 있다. 부분(P4, P8)은 홈(GR2) 이외의 워크(W1)의 상면에 투영되고, 부분(P5, P6, P7)은 홈(GR2)에 투영된다. The
홈(GR2) 이외의 워크(W1)의 상면의 높이 위치와, 홈(GR2)의 높이 위치가 다르므로, 부분(P4, P8)과 부분(P5, P6, P7)은 화살표 Y 방향에 있어서 다른 위치에 투영된다. 특히, 홈(GR2)의 측벽이 완만하므로, 부분(P5)은 부분(P4)으로부터 경사 방향으로 연장되어 점차 부분(P6)을 향하고, 부분(P7)은 부분(P8)으로부터 경사 방향으로 연장되어 점차 부분(P6)을 향하고 있다. Since the height position of the upper surface of the workpiece W1 other than the groove GR2 and the height position of the groove GR2 are different, the parts P4, P8 and the parts P5, P6, P7 are different in the arrow Y direction. projected on the location. In particular, since the sidewall of the groove GR2 is gentle, the portion P5 extends obliquely from the portion P4 and gradually toward the portion P6, and the portion P7 extends obliquely from the portion P8 Gradually toward part P6.
제어부(500)는, 예를 들어 촬상부(420)에 의해 촬상된 화상에 기초하여, 부분(P5, P7)의 기울기를 검출한다. 제어부(500)는 부분(P5, P7)의 기울기가 소정보다 완만한 경우에 블레이드(101)가 마모되어 있다고 판정하고, 그렇지 않은 경우에 블레이드(101)가 마모되어 있지 않다고 판정한다. The
제어부(500)는, 예를 들어 부분(P4)과 부분(P5)의 접속 부분에 있어서의 X 좌표(화살표 X 방향에 있어서의 좌표)와, 부분(P5)과 부분(P6)의 접속 부분에 있어서의 X 좌표와의 차가 소정값 이상인 경우에 부분(P5)의 기울기가 완만하다고 판정한다. 또한, 제어부(500)는 부분(P5, P7)의 양쪽 기울기가 완만한 경우에 블레이드(101)가 마모되어 있다고 판정해도 되고, 부분(P5, P7)의 적어도 한쪽의 기울기가 완만한 경우에 블레이드(101)가 마모되어 있다고 판정해도 된다. 이상의 방법에 의해, 블레이드(101)의 마모 상태가 검출된다. The
<3-4. 버에 관한 검출 원리> <3-4. Detection principle for burrs>
예를 들어, 워크(W1)가 금속제 리드 프레임을 사용한 QFN 패키지 기판인 바와 같은 경우에, 워크(W1)의 절단에 의해 워크(W1)의 금속 단자 부분에 버가 발생하는 경우가 있다. For example, when the work W1 is a QFN package substrate using a metal lead frame, burrs may be generated in the metal terminal portion of the work W1 due to cutting of the work W1.
도 13은, 워크(W1)에 형성된 버의 일례를 나타내는 도면이다. 도 13에 도시된 바와 같이, 워크(W1)에 있어서는, 단자(510)에 버(511)가 형성되어 있다. 단자(510)는 금속제이다. 13 : is a figure which shows an example of the burr formed in the workpiece|work W1. As shown in FIG. 13 , in the work W1 , a
도 14는, 단자(510)에 버(511)가 형성되어 있는 경우에 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다. 도 14에 도시된 바와 같이, 워크(W1)의 상면에는, 화살표 Y 방향으로 연장되는 홈(GR3)이 형성되어 있다. 워크(W1)에 있어서는, 홈(GR3)을 따라서, 복수의 단자(510)가 나열되어 있다. FIG. 14 is a diagram for explaining an example of a pattern of light projected on the work W1 when the
광원(410)은 워크(W1)의 상면의 홈(GR3) 및 단자(510)에 걸친 영역에 광 패턴(L7)을 투영하도록 구성되어 있다. 광 패턴(L7)은, 홈(GR3)이 연장되는 방향과 대략 수직인 방향으로 연장되어 있다. 또한, 광 패턴(L7)이 연장되는 방향은, 반드시 홈(GR3)이 연장되는 방향과 대략 수직일 필요는 없다. 광 패턴(L7)이 홈(GR3)에 걸쳐 있으면 된다. 광 패턴(L7)은 부분(P9, P10, P11)을 포함하고 있다. 부분(P9, P11)은 홈(GR3) 이외의 워크(W1)의 상면에 투영되고, 부분(P10)은 홈(GR3)에 투영된다. The
단자(510)에 버(511)가 형성되어 있고, 버(511)가 형성되어 있지 않은 부분보다도 버(511) 부분이 융기되어 있으므로, 부분(P9, P11)의 투영 위치는, 버(511) 부근에서 화살표 Y 방향에 있어서 어긋나 있다. Since the
제어부(500)는, 예를 들어 촬상부(420)에 의해 촬상된 화상에 기초하여, 워크(W1)의 상면에 형성된 단자(510) 부분에 있어서 융기된 부분이 있는지 여부를 판정한다. 제어부(500)는, 예를 들어 부분(P9, P11)의 투영 위치가 단자(510) 부근에서 화살표 Y 방향에 있어서 소정량 이상 어긋나 있는 것인지 여부에 기초하여, 단자(510) 부분에 있어서 융기된 부분이 있는지 여부를 판정한다. 제어부(500)는 융기된 부분이 있다고 판정된 경우에, 워크(W1)에 버(511)가 형성되어 있다고 판정한다. 이상의 방법에 의해, 워크(W1)에 형성된 버(511)가 검출된다. For example, the
또한, 절단 장치(10)에 있어서는, 워크(W1)에 있어서의 버(511)의 유무의 검출뿐만 아니라, 버(511)의 높이의 검출도 행해진다. 다음에, 버(511)의 높이의 검출 원리에 대해서 설명한다. 제어부(500)는, 예를 들어 부분(P9) 중 홈(GR3)으로부터 소정량 떨어진 위치(부분(P9) 중 화살표 Y 방향으로 어긋나 있지 않은 위치)가 촬상부(420)에 의해 촬상된 화상의 화살표 Y 방향의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)의 높이 위치를 조정한다. 그 후, 제어부(500)는 부분(P9) 중 화살표 Y 방향으로 가장 어긋나 있는 위치(버(511)가 가장 융기되어 있는 위치)가 화살표 Y 방향의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)의 높이 위치를 조정한다. 제어부(500)는 부분(P9) 중 화살표 Y 방향으로 가장 어긋나 있는 위치를 화살표 Y 방향의 중심으로 이동시켰을 때의 촬상 유닛(400)의 높이 방향에 있어서의 이동량에 기초하여 버(511)의 높이를 산출한다. 이상의 방법에 의해, 버(511)의 높이가 검출된다. 또한, 이 예에서는, 부분(P9) 중 홈(GR3)으로부터 소정량 떨어진 위치를 먼저 화상의 화살표 Y 방향의 중심으로 이동시켰지만, 부분(P9) 중 화살표 Y 방향으로 가장 어긋나 있는 위치를 먼저 화살표 Y 방향의 중심으로 이동시켜도 된다. Moreover, in the
<3-5. 러버의 열화 상태의 검출 원리> <3-5. Principle of detection of rubber deterioration>
상술한 바와 같이, 절단 장치(10)에 있어서는, 워크(W1)의 풀컷도 행해진다. 워크(W1)의 풀컷을 통하여, 워크(W1)가 적재되어 있는 러버(202)가 열화된다. As mentioned above, in the
도 15는, 러버(202)에 투영되는 광의 패턴예를 설명하기 위한 도면이다. 도 15에 도시된 바와 같이, 러버(202)에는 워크(W1)의 풀컷을 통하여, 예를 들어 홈(GR4, GR5)이 형성된다. 홈(GR4, GR5)의 각각은, 화살표 Y 방향으로 연장되어 있다. 러버(202)에는 워크(W1)를 흡인하기 위한 복수의 구멍(B1)이 형성되어 있다. 15 : is a figure for demonstrating the example of the pattern of the light projected to the
광원(410)은 러버(202)의 상면의 홈(GR4, GR5)에 걸친 영역에 광 패턴(L8)을 투영하도록 구성되어 있다. 광 패턴(L8)은, 홈(GR4, GR5)이 연장되는 방향과 대략 수직인 방향으로 연장되어 있다. 또한, 광 패턴(L8)이 연장되는 방향은, 반드시 홈(GR4, GR5)이 연장되는 방향과 대략 수직일 필요는 없다. 광 패턴(L8)이 홈(GR4, GR5)에 걸쳐 있으면 된다. 광 패턴(L8)은, 부분(P12, P13, P14, P15, P16, P17)을 포함하고 있다. 부분(P12, P14, P15, P17)은, 홈(GR4, GR5) 이외의 러버(202)의 상면에 투영된다. 부분(P13)은 홈(GR4)에 투영되고, 부분(P16)은 홈(GR5)에 투영된다. The
홈(GR4, GR5) 등 이외의 러버(202)의 상면의 면적이 좁아지면, 워크(W1)와 러버(202)의 접촉 면적이 작아지므로, 워크(W1)의 흡착이 불안정해진다. 즉, 부분(P12, P14, P15, P17) 등이 짧아지면, 워크(W1)의 흡착이 불안정해진다. When the area of the upper surface of the
제어부(500)는, 예를 들어, 부분(P12, P14, P15, P17) 등의 길이가 소정보다도 짧은 경우에, 러버(202)가 열화되어 있다고 판정한다. 또한, 제어부(500)는 부분(P12, P14, P15, P17) 등의 모두가 소정보다도 짧은 경우에 러버(202)가 열화되어 있다고 판정해도 되고, 부분(P12, P14, P15, P17) 등의 적어도 일부가 소정보다도 짧은 경우에 러버(202)가 열화되어 있다고 판정해도 된다. 또한, 제어부(500)는 부분(P13, P16) 등이 소정보다도 긴 경우에 러버(202)가 열화되어 있다고 판정해도 된다. 이 경우에 있어서도, 제어부(500)는 부분(P13, P16) 등의 모두가 소정보다도 긴 경우에 러버(202)가 열화되어 있다고 판정해도 되고, 부분(P13, P16) 등의 적어도 일부가 소정보다도 긴 경우에 러버(202)가 열화되어 있다고 판정해도 된다. 이상의 방법에 의해, 러버(202)의 열화 상태가 검출된다. For example, when the length of the parts P12, P14, P15, P17, etc. is shorter than predetermined, the
[4. 동작] [4. movement]
<4-1. 절단품의 제조 수순> <4-1. Manufacturing procedure for cut products>
도 16은, 절단품의 제조 수순을 나타내는 흐름도이다. 이 흐름도에 나타나는 처리는, 절단 대상의 워크(W1)가 준비된 후에, 제어부(500)에 의해 실행된다. It is a flowchart which shows the manufacturing procedure of a cut product. The process shown in this flowchart is performed by the
도 16을 참조하여, 제어부(500)는 스핀들부(110)의 높이 방향에 있어서의 제어 좌표 원점을 검출하기 위해, 블레이드(101)를 CCS 블록(300)에 접촉시키도록 스핀들부(110)를 제어한다(스텝 S100). 제어부(500)는 워크 보유 지지 유닛(200) 상에 보유 지지된 워크(W1)의 상면 복수 개소에 있어서의 높이 위치를 검출하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S110). 또한, 이 시점에서, 워크(W1)는 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하고 있다. Referring to FIG. 16 , the
도 17은, 도 16의 스텝 S110에 있어서의 구체적인 처리 내용을 나타내는 흐름도이다. 도 17을 참조하여, 제어부(500)는 워크(W1)의 상면에 광의 패턴을 투영하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S200). 제어부(500)는 촬상 유닛(400)에 의해 촬상된 화상의 화살표 Y 방향(도 9 등 참조)의 중심(이하, 단순히 「화상의 중심」이라고도 칭함)으로 광의 패턴이 위치하고 있는지 여부를 판정한다(스텝 S210). FIG. 17 is a flowchart showing specific processing contents in step S110 of FIG. 16 . Referring to FIG. 17 , the
화상의 중심에 광의 패턴이 위치하고 있다고 판정되면(스텝 S210에 있어서 "예"), 제어부(500)는 워크(W1)의 높이 위치가 기준 위치 Z1이라고 특정한다(스텝 S220). If it is determined that the pattern of light is located in the center of the image (YES in step S210), the
한편, 화상의 중심에 광의 패턴이 위치하고 있지 않다고 판정되면(스텝 S210에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 광의 패턴 위치가 화상의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)을 상하 방향으로 이동시킨다(스텝 S230). 제어부(500)는 촬상 유닛(400)의 이동량에 기초하여 워크(W1)의 높이 위치를 산출한다(스텝 S240). On the other hand, if it is determined that the light pattern is not located in the center of the image (No in step S210), the
제어부(500)는 예정하고 있는 모든 개소의 높이 위치가 검출 완료인지 여부를 판정한다(스텝 S250). 예정하고 있는 모든 개소의 높이 위치가 검출 완료라고 판정되면(스텝 S250에 있어서 "예"), 이 흐름도에 나타나는 처리는 종료한다. 한편, 예정하고 있는 모든 개소의 높이 위치가 검출 완료가 아니라고 판정되면(스텝 S250에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 워크 보유 지지 유닛(200)의 위치를 조정한 후에, 스텝 S200 내지 S250의 처리를 반복한다. The
다시 도 16을 참조하여, 스텝 S110의 처리가 종료되면, 제어부(500)는 워크(W1)의 높이 위치의 측정 결과에 기초하여 스핀들부(110)의 높이 위치를 조정한다(스텝 S120). 제어부(500)는 스핀들부(110)의 높이 위치를 조정하면서, 워크(W1)의 절단을 행하도록 스핀들부(110)를 제어한다(스텝 S130). 이와 같은 처리를 통하여, 워크(W1)의 절단이 행해진다. Referring again to FIG. 16 , when the process of step S110 is finished, the
<4-2. 홈의 깊이의 검출 동작> <4-2. Detecting the depth of the groove>
도 18은, 워크(W1)에 형성된 홈의 깊이의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다. 이 흐름도에 나타나는 처리는, 상면에 홈이 형성된 워크(W1)가 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하고 있는 상태에서, 제어부(500)에 의해 실행된다. 18 is a flowchart showing an operation of detecting the depth of the groove formed in the work W1. The processing shown in this flowchart is executed by the
도 18을 참조하여, 제어부(500)는 워크(W1)의 상면 홈을 포함하는 영역에 광의 패턴을 투영하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S300). 제어부(500)는 홈 이외의 워크(W1)의 상면에 투영된 광의 패턴이 촬상 유닛(400)에 의해 촬상된 화상의 중심에 위치하고 있는 것인지 여부를 판정한다(스텝 S310). Referring to FIG. 18 , the
홈 이외의 워크(W1)의 상면에 투영된 광의 패턴이 화상의 중심에 위치하고 있지 않다고 판정되면(스텝 S310에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 광의 패턴 위치가 화상의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)을 상하 방향으로 이동시킨다(스텝 S320). 한편, 홈 이외의 워크(W1)의 상면에 투영된 광의 패턴이 화상의 중심에 위치하고 있다고 판정되면(스텝 S310에 있어서 "예"), 처리는 스텝 S330으로 이행한다. If it is determined that the pattern of light projected on the upper surface of the workpiece W1 other than the groove is not located in the center of the image (No in step S310), the
그 후, 제어부(500)는 홈에 투영된 광의 패턴 위치가 화상의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)을 상하 방향으로 이동시킨다(스텝 S330). 제어부(500)는 스텝 S330에 있어서의 촬상 유닛(400)의 이동량에 기초하여 워크(W1)에 형성되어 있는 홈의 깊이를 산출한다(스텝 S340). Then, the
<4-3. 블레이드의 마모 상태의 검출 동작> <4-3. Detecting the wear state of the blade>
도 19는, 블레이드(101)의 마모 상태의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다. 이 흐름도에 나타나는 처리는, 상면에 홈이 형성된 워크(W1)가 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하고 있는 상태에서, 제어부(500)에 의해 실행된다. 19 is a flowchart showing a detection operation of the wear state of the
도 19를 참조하여, 제어부(500)는 워크(W1)의 상면 홈을 포함하는 영역에 광의 패턴을 투영하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S400). 제어부(500)는 촬상 유닛(400)에 의해 촬상된 화상에 기초하여, 예를 들어 도 12에 도시되는 부분(P4)(우측 선)과, 부분(P6)(좌측 선)을 접속하는 부분(P5)(접속 부분)을 검출한다(스텝 S410). Referring to FIG. 19 , the
제어부(500)는 부분(P5)(접속 부분)의 기울기가 소정보다 완만한 것인지 여부를 판정한다(스텝 S420). 부분(P5)의 기울기가 소정보다 완만하다고 판정되면(스텝 S420에 있어서 "예"), 제어부(500)는 블레이드(101)의 측면이 마모되어 있다고 판정한다(스텝 S430). 한편, 부분(P5)의 기울기가 소정보다 완만하지 않다고 판정되면(스텝 S420에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 블레이드(101)의 측면이 마모되어 있지 않다고 판정한다(스텝 S440). The
<4-4. 버에 관한 검출 동작> <4-4. Burr detection operation>
도 20은, 워크(W1)에 형성된 버(511)의 유무의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다. 이 흐름도에 나타나는 처리는, 절단된 워크(W1)가 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하고 있는 상태에서, 제어부(500)에 의해 실행된다. 20 is a flowchart showing the operation of detecting the presence or absence of the
도 20을 참조하여, 제어부(500)는 워크(W1)의 상면 단자(510)를 포함하는 영역에 광의 패턴을 투영하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S500). Referring to FIG. 20 , the
제어부(500)는 촬상 유닛(400)에 의해 촬상된 화상에 기초하여, 단자(510)에 있어서 융기된 영역이 있는지 여부를 판정한다(스텝 S510). 융기된 영역이 있다고 판정되면(스텝 S510에 있어서 "예"), 제어부(500)는 워크(W1)에 버(511)가 형성되어 있다고 판정한다(스텝 S520). 한편, 융기된 영역이 없다고 판정되면(스텝 S510에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 워크(W1)에 버(511)가 형성되어 있지 않다고 판정한다(스텝 S530). The
도 21은, 워크(W1)에 형성된 버(511)의 높이의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다. 이 흐름도에 나타나는 처리는, 절단된 워크(W1)가 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하고 있는 상태에서, 제어부(500)에 의해 실행된다. 21 is a flowchart showing the detection operation of the height of the
도 21을 참조하여, 제어부(500)는 워크(W1)의 상면 단자(510)를 포함하는 영역에 광의 패턴을 투영하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S600). 제어부(500)는 광의 패턴 중 홈(GR3)(도 14)으로부터 소정량 떨어진 부분(도 14에 있어서, 부분(P9) 중 화살표 Y 방향으로 어긋나 있지 않은 부분)이 촬상 유닛(400)에 의해 촬상된 화상의 중심에 위치하고 있는 것인지 여부를 판정한다(스텝 S610). Referring to FIG. 21 , the
광의 패턴 중 홈(GR3)으로부터 소정량 떨어진 부분이 화상의 중심에 위치하고 있지 않다고 판정되면(스텝 S610에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 광의 패턴 중 홈(GR3)으로부터 소정량 떨어진 부분이 화상의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)을 상하 방향으로 이동시킨다(스텝 S620). 한편, 광의 패턴 중 홈(GR3)으로부터 소정량 떨어진 부분이 화상의 중심에 위치하고 있다고 판정되면(스텝 S610에 있어서 "예"), 처리는 스텝 S630으로 이행한다. If it is determined that the portion of the light pattern that is separated from the groove GR3 by a predetermined amount is not located in the center of the image (No in step S610), the
그 후, 제어부(500)는 광의 패턴 중 버(511)의 가장 융기되어 있는 개소에 투영된 부분(도 14에 있어서, 부분(P9) 중 화살표 Y 방향으로 가장 어긋난 부분)이 화상의 중심으로 이동하도록 촬상 유닛(400)을 상하 방향으로 이동시킨다(스텝 S630). 제어부(500)는 스텝 S630에 있어서의 촬상 유닛(400)의 이동량에 기초하여 버(511)의 높이를 산출한다(스텝 S640). Thereafter, the
<4-5. 러버의 열화 상태의 검출 동작> <4-5. Detection operation of rubber deterioration state>
도 22는, 러버(202)의 열화 상태의 검출 동작을 나타내는 흐름도이다. 이 흐름도에 나타나는 처리는, 상면에 워크(W1)가 적재되어 있지 않은 러버(202)가 촬상 유닛(400)의 하방에 위치하고 있는 상태에서, 제어부(500)에 의해 실행된다. 22 : is a flowchart which shows the detection operation|movement of the deterioration state of the
도 22를 참조하여, 제어부(500)는 러버(202)의 상면에 광의 패턴을 투영하도록 촬상 유닛(400)을 제어한다(스텝 S700). 제어부(500)는 촬상 유닛(400)에 의해 촬상된 화상에 기초하여, 홈 이외의 러버(202)의 상면에 투영된 라인 형상의 광 패턴을 검출한다(스텝 S710). Referring to FIG. 22 , the
제어부(500)는 홈 이외의 러버(202)의 상면에 투영된 라인 형상의 광 패턴이 소정보다도 짧은지 여부를 판정한다(스텝 S720). 광의 패턴이 소정보다도 짧다고 판정되면(스텝 S720에 있어서 "예"), 제어부(500)는 러버(202)가 열화되어 있다고 판정한다(스텝 S730). 한편, 광의 패턴이 소정보다도 짧지 않다고 판정되면(스텝 S720에 있어서 "아니오"), 제어부(500)는 러버(202)가 열화되어 있지 않다고 판정한다(스텝 S740). The
[5. 특징] [5. Characteristic]
이상과 같이, 본 실시 형태에 따르는 절단 장치(10)에 있어서는, 광원(410)이 워크(W1)에 광의 패턴을 투영하는 방향과, 촬상부(420)가 광의 패턴을 촬상하는 방향에 의해 형성되는 각도가 0°보다도 크다. 따라서, 워크(W1)의 상면의 높이 위치에 따라서, 워크(W1)의 상면에 있어서의 광의 패턴의 투영 위치가 변화된다. 그 때문에, 절단 장치(10)에 의하면, 고가인 부품을 사용하지 않고, 광의 패턴의 투영 위치에 기초하여, 워크(W1)의 상면의 높이 위치를 검출할 수 있다. As mentioned above, in the
또한, 절단 장치(10)가 상기와 같은 특징을 가지므로, 절단 장치(10)에 의하면, 고가인 부품을 사용하지 않고, 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴의 형상에 기초하여, 블레이드(101)의 마모 상태를 검출할 수 있다. Moreover, since the cutting
또한, 절단 장치(10)가 상기와 같은 특징을 가지므로, 절단 장치(10)에 의하면, 고가인 부품을 사용하지 않고, 워크(W1)에 투영되는 광의 패턴의 형상에 기초하여, 워크(W1)에 형성된 버(511)에 관한 검출을 행할 수 있다. Moreover, since the cutting
또한, 절단 장치(10)가 상기와 같은 특징을 가지므로, 절단 장치(10)에 의하면, 고가인 부품을 사용하지 않고, 러버(202)에 투영되는 광의 패턴의 형상에 기초하여, 러버(202)의 열화 상태를 검출할 수 있다. Moreover, since the cutting
[6. 다른 실시 형태] [6. other embodiment]
상기 실시 형태의 사상은, 이상에서 설명된 실시 형태에 한정되지는 않는다. 이하, 상기 실시 형태의 사상을 적용할 수 있는 다른 실시 형태의 일례에 대해서 설명한다. The idea of the said embodiment is not limited to the embodiment demonstrated above. Hereinafter, an example of another embodiment to which the idea of the said embodiment can be applied is demonstrated.
상기 실시 형태에 있어서, 광원(410)에 의해 투영되는 광의 패턴은 선 형상이었다. 그러나, 광의 패턴 형상은 이에 한정되지는 않는다. 광의 패턴 형상은, 예를 들어 원상이어도 되고, 다각 형상이어도 된다. In the above embodiment, the pattern of light projected by the
또한, 상기 실시 형태에 있어서, 절단 장치(10)는 워크(W1)의 높이 위치의 검출 기능, 워크(W1)에 형성된 홈의 깊이의 검출 기능, 블레이드(101)의 열화 상태의 검출 기능, 워크(W1)에 형성된 버(511)의 검출 기능 및 러버(202)의 열화 상태의 검출 기능을 갖고 있었다. 그러나, 절단 장치(10)는 반드시 모든 기능을 갖고 있을 필요는 없다. 절단 장치(10)는, 예를 들어 상기 기능 중, 일부의 기능만을 갖고 있어도 된다. Moreover, in the said embodiment, the cutting
또한, 상기 실시 형태에 있어서는, 스핀들부(110)가 화살표 XY 방향으로 이동하는 것으로 하였다. 그러나, 스핀들부(110)는 반드시 화살표 XY 방향으로 이동하지 않아도 된다. 예를 들어, 스핀들부(110)가 화살표 XY 방향으로 이동하지 않는 대신에, 워크 보유 지지 유닛(200)이 화살표 XY 방향으로 이동함으로써, 워크(W1)를 스핀들부(110)의 하방 절단 위치에 반송하도록 해도 된다. In addition, in the said embodiment, it was assumed that the
또한, 상기 실시 형태에 있어서는, CCS 블록(300)을 사용함으로써, 스핀들부(110)의 높이 방향에 있어서의 제어 좌표 원점이 검출되었다. 그러나, 스핀들부(110)의 높이 방향에 있어서의 제어 좌표 원점은, 반드시 CCS 블록(300)을 사용함으로써 검출되지 않아도 된다. 스핀들부(110)의 높이 방향에 있어서의 제어 좌표 원점은, 예를 들어 블레이드(101)의 접촉을 검출하는 터치 센서 등을 사용함으로써 검출되어도 된다. 또한, 제어 좌표 원점의 검출 시에 CCS 블록(300) 등에 접촉하는 부분은, 반드시 블레이드(101)일 필요는 없다. 예를 들어, 스핀들부(110)의 블레이드(101) 이외의 부분이 CCS 블록(300) 등에 접촉해도 된다. Moreover, in the said embodiment, the control coordinate origin in the height direction of the
또한, 상기 실시 형태에 따르는 절단 장치(10)에 있어서는, 상기 각종 기능을 실현하기 위해, 별도 촬상 유닛(400)이 마련되었다. 그러나, 상기 각종 기능을 실현하기 위해, 반드시 별도 촬상 유닛(400)이 마련될 필요는 없다. Moreover, in the
도 23은, 절단 장치(10A)의 일부의 평면을 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 23에 도시된 바와 같이, 절단 장치(10A)는 상기 실시 형태에 있어서의 촬상 유닛(400)을 포함하고 있지 않다. 23 : is a figure which shows typically the plane of a part of 10 A of cutting devices. As shown in FIG. 23, 10 A of cutting devices do not include the
절단 장치(10A)는 제1 위치 확인 카메라(700)와, 제2 위치 확인 카메라(800)를 포함하고 있다. 제1 위치 확인 카메라(700) 및 제2 위치 확인 카메라(800)는 도 1에 있어서는 도시하지 않았다. 워크(W1)의 상면에는 소정의 마크가 프린트되어 있다. 이 마크는, 예를 들어 워크(W1)의 절단 위치를 나타낸다. 제1 위치 확인 카메라(700)는 워크(W1)를 촬상하고, 화상 데이터를 생성한다. 제어부(500)는 화상 데이터가 나타내는 마크의 위치에 기초하여, 워크 보유 지지 유닛(200)에 있어서의 워크(W1)의 위치 및 워크(W1)의 절단 위치를 확인한다. 제1 위치 확인 카메라(700)에 의한 촬상은, 워크(W1)의 절단 전에 행해진다. The
또한, 제2 위치 확인 카메라(800)는 절단 후의 워크(W1)를 촬상하고, 화상 데이터를 생성한다. 제어부(500)는 생성된 화상 데이터에 기초하여, 워크 보유 지지 유닛(200)에 있어서의 워크(W1)의 위치, 그리고, 워크(W1)에 있어서의 절단 위치 및 절단폭 등을 확인한다. 제2 위치 확인 카메라(800)에 의해 생성된 화상 데이터에 기초하여, 워크(W1)에 있어서의 절단 위치 및 절단폭 등에 문제가 없을지가 판정된다. Moreover, the
예를 들어, 제1 위치 확인 카메라(700) 또는 제2 위치 확인 카메라(800)가, 상기 실시 형태에 있어서의 촬상 유닛(400)의 구성을 포함하고 있어도 된다. 이와 같이, 기존의 카메라에 촬상 유닛(400)의 구성이 포함됨으로써, 비용 저감 및 공간 절약을 실현할 수 있다. For example, the
또한, 예를 들어 제1 위치 확인 카메라(700)가 촬상 유닛(400)의 구성을 포함하는 경우에는, 워크(W1)의 절단 위치의 확인 시에, 아울러 워크(W1)의 높이 위치가 검출되므로, 워크(W1)의 절단 위치에 있어서의 워크(W1)의 높이 위치가 보다 정확하게 검출된다. In addition, for example, when the
또한, 예를 들어 제2 위치 확인 카메라(800)가 촬상 유닛(400)의 구성을 포함하는 경우에는, 워크(W1)의 버에 관한 검출 또는 블레이드(101)의 측면의 마모 상태에 관한 검출 등의 워크(W1)의 절단 후에 행해지는 검출을 최저한의 워크(W1)의 이동으로 실현할 수 있다. In addition, for example, when the
이상, 본 발명의 실시 형태에 대해서 예시적으로 설명하였다. 즉, 예시적인 설명을 위해, 상세한 설명 및 첨부의 도면이 개시되었다. 따라서, 상세한 설명 및 첨부의 도면에 기재된 구성 요소 중에는, 과제 해결을 위해 필수적이지 않은 구성 요소가 포함되는 경우가 있다. 따라서, 그것들의 필수적이지 않은 구성 요소가 상세한 설명 및 첨부의 도면에 기재되어 있다고 하여, 그것들의 필수적이지 않은 구성 요소가 필수라고 바로 인정되어서는 안된다. In the above, embodiments of the present invention have been exemplarily described. That is, for illustrative purposes, the detailed description and accompanying drawings have been disclosed. Therefore, components that are not essential for solving the problem may be included among the components described in the detailed description and the accompanying drawings. Accordingly, even if those non-essential components are described in the detailed description and the accompanying drawings, it should not be immediately admitted that those non-essential components are essential.
또한, 상기 실시 형태는, 모든 점에 있어서 본 발명의 예시에 지나지 않는다. 상기 실시 형태는, 본 발명의 범위 내에 있어서, 다양한 개량이나 변경이 가능하다. 즉, 본 발명의 실시에 있어서는, 실시 형태에 따라서 구체적 구성을 적절히 채용할 수 있다. In addition, the said embodiment is only an illustration of this invention in all points. Various improvement and change are possible in the said embodiment within the scope of the present invention. That is, in the practice of the present invention, a specific configuration can be appropriately adopted depending on the embodiment.
10 : 절단 장치
100 : 절단 유닛
101 : 블레이드
102 : 스핀들부 본체
103, 104 : 슬라이더
105 : 지지체
110 : 스핀들부
200 : 워크 보유 지지 유닛
201 : 절단 테이블
202 : 러버(흡착 부재의 일례)
300 : CCS 블록
400 : 촬상 유닛
410 : 광원
411 : LED 조명
412 : 광학계
413 : 투영 렌즈
414 : 조리개
415 : 슬릿 부재
420 : 촬상부
500 : 제어부(검출부의 일례)
510 : 단자
511 : 버
700 : 제1 위치 확인 카메라
800 : 제2 위치 확인 카메라
G1, G2 : 가이드
B1 : 구멍
L1-L8 : 광 패턴
P1-P17 : 부분
GR1-GR5 : 홈
W1 : 워크 10: cutting device
100: cutting unit
101 : Blade
102: spindle unit body
103, 104: slider
105: support
110: spindle part
200: work holding unit
201 : cutting table
202: rubber (an example of an adsorption member)
300: CCS block
400: imaging unit
410: light source
411: LED light
412: optical system
413: projection lens
414: aperture
415: slit member
420: imaging unit
500: control unit (an example of a detection unit)
510: terminal
511 : Burr
700: first positioning camera
800: second positioning camera
G1, G2: guide
B1: hole
L1-L8: light pattern
P1-P17: Part
GR1-GR5 : Home
W1: work
Claims (9)
상기 워크에 광의 패턴을 투영하도록 구성된 광원과,
상기 광의 패턴을 촬상하고, 제1 화상 데이터를 생성하도록 구성된 촬상부와,
상기 제1 화상 데이터에 기초하여 상기 워크의 높이 위치를 검출하도록 구성된 검출부를 구비하고,
상기 광원이 상기 광의 패턴을 투영하는 방향과, 상기 촬상부가 상기 광의 패턴을 촬상하는 방향에 의해 형성되는 각도는 0°보다도 큰, 절단 장치. A cutting device configured to cut a workpiece,
a light source configured to project a pattern of light onto the work;
an imaging unit configured to image the pattern of light and generate first image data;
a detection unit configured to detect a height position of the work based on the first image data;
The cutting device whose angle formed by the direction in which the said light source projects the said pattern of light, and the direction in which the said imaging part images the said pattern of light is larger than 0 degree.
상기 검출부는, 상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 광의 패턴 위치에 기초하여, 상기 워크의 높이 위치를 검출하도록 구성되어 있는, 절단 장치. According to claim 1,
The said detection part is a cutting device comprised so that the height position of the said workpiece|work may be detected based on the pattern position of the said light imaged by the said imaging part.
상기 워크는, 수지 성형 완료 기판인, 절단 장치. 3. The method of claim 1 or 2,
The said workpiece is a resin-molded board|substrate, The cutting device.
상기 광원은, 상기 워크의 경사 방향으로부터 상기 워크를 향하여 상기 광의 패턴을 투영하도록 구성되어 있는, 절단 장치. 4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The said light source is comprised so that the pattern of the said light may be projected toward the said workpiece|work from the inclination direction of the said workpiece|work, The cutting device.
블레이드를 더 구비하고,
상기 워크에는 홈이 형성되어 있고,
상기 광원은, 상기 워크에 있어서의 상기 홈을 포함하는 영역에 상기 광의 패턴을 투영하도록 구성되어 있고,
상기 검출부는, 상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 광의 패턴의 형상에 기초하여 상기 블레이드의 마모 상태를 검출하도록 구성되어 있는, 절단 장치. 5. The method according to any one of claims 1 to 4,
A blade is further provided,
A groove is formed in the work,
the light source is configured to project the pattern of light onto a region including the groove in the work;
The said detection part is comprised so that the wear state of the said blade|wing may be detected based on the shape of the said pattern of the said image imaged by the said imaging part, The cutting device.
상기 광원은, 상기 워크에 형성된 금속 단자를 포함하는 영역에 상기 광의 패턴을 투영하도록 구성되어 있고,
상기 검출부는, 상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 광의 패턴의 형상에 기초하여 상기 워크의 버에 관한 검출을 행하도록 구성되어 있는, 절단 장치. 6. The method according to any one of claims 1 to 5,
The light source is configured to project the pattern of light onto a region including a metal terminal formed on the work;
The said detection part is a cutting device comprised so that the detection regarding the burr of the said workpiece|work may be performed based on the shape of the said pattern of the said light imaged by the said imaging part.
상기 워크가 적재되는 흡착 부재를 더 구비하고,
상기 광원은, 상기 흡착 부재에 상기 광의 패턴을 투영하도록 구성되어 있고,
상기 촬상부는, 상기 흡착 부재를 촬상하도록 구성되어 있고,
상기 검출부는, 상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 흡착 부재에 있어서의 상기 광의 패턴의 형상에 기초하여 상기 흡착 부재의 열화 상태를 검출하도록 구성되어 있는, 절단 장치. 7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Further comprising an adsorption member on which the work is loaded,
The light source is configured to project the pattern of light onto the adsorption member,
The imaging unit is configured to image the suction member,
The said detection part is comprised so that the deterioration state of the said adsorption|suction member may be detected based on the shape of the said pattern of the said light in the said adsorption|suction member imaged by the said imaging part.
상기 촬상부는, 상기 워크 상에 형성된 마크를 촬상하고, 제2 화상 데이터를 생성하도록 구성되어 있고,
상기 검출부는, 상기 제2 화상 데이터에 기초하여 상기 워크의 절단 위치를 검출하도록 구성되어 있는, 절단 장치. 8. The method according to any one of claims 1 to 7,
The imaging unit is configured to image a mark formed on the work and generate second image data,
The said detection part is a cutting device comprised so that the cutting position of the said workpiece|work may be detected based on the said 2nd image data.
상기 워크에 광의 패턴을 투영하는 스텝과,
상기 광의 패턴을 촬상하고, 화상 데이터를 생성하는 스텝과,
상기 화상 데이터에 기초하여 상기 워크의 높이 위치를 검출하는 스텝과,
상기 워크의 높이 위치에 기초하여 상기 워크를 절단하고, 상기 절단품을 제조하는 스텝을 포함하는, 절단품의 제조 방법. It is a manufacturing method of the cut product using the cutting device in any one of Claims 1-7,
a step of projecting a pattern of light onto the work;
imaging the pattern of light and generating image data;
detecting a height position of the work based on the image data;
The manufacturing method of the cut product comprising the step of cutting the said workpiece|work based on the height position of the said workpiece|work, and manufacturing the said cut product.
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