KR20210119299A - 두뇌 임피던스 패턴을 이용하는 치매 진단 방법 및 시스템 - Google Patents

두뇌 임피던스 패턴을 이용하는 치매 진단 방법 및 시스템 Download PDF

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KR20210119299A
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Abstract

두뇌 임피던스 패턴을 이용하는 치매 진단 방법 및 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따르면, 치매 진단 시스템은 컴퓨터가 판독 가능한 명령을 실행하도록 구현되는 적어도 하나의 프로세서를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는, 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 제어하는 전극쌍 제어부; 및 상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 치매 진단부를 포함할 수 있다.

Description

두뇌 임피던스 패턴을 이용하는 치매 진단 방법 및 시스템{DIAGNOSIS METHOD AND SYSTEM FOR DEMENTIA USING BRAIN IMPEDANCE PATTERNS}
아래의 실시예들은 두뇌 임피던스 패턴을 이용하는 치매 진단 시스템 및 그 방법에 관한 기술이다.
종래의 치매 진단 기술은, 국제 10-20 표준(International 10-20 standard)의 전극배치법에 따른 복수의 전극들을 통해 두피 전위를 검출하고, 검출된 전위를 기초로 획득되는 평균 쌍극자도의 시간 변화에 관한 통계량을 이용하여 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하고 있다. 이와 같이 치매도 파라미터로서 평균 쌍극자도의 시간 변화에 관한 통계량을 사용하는 종래의 치매 진단 기술은 한국공개특허 제2002-0048857호에 개시되어 있다.
그러나 종래의 치매 진단 기술은, 치매도 파라미터로 사용되는 평균 쌍극자도의 시간 변화에 관한 통계량을 계산하는 복잡도가 매우 큰 단점을 갖고 있다.
이에, 간단하게 계산 가능한 치매도 파라미터를 사용하는 치매 진단 기술이 제안될 필요가 있다.
일 실시예들은 간단하게 계산 가능한 치매도 파라미터를 사용하는 치매 진단 방법 및 시스템을 제안한다.
보다 상세하게, 일 실시예들은 국제 10-20 표준의 전극배치법에 따른 복수의 전극들을 통해 검출되는 두피 전위의 임피던스를 치매도 파라미터로 사용하는 치매 진단 방법 및 시스템을 제안한다.
일 실시예에 따르면, 컴퓨터 시스템으로 구현되는 치매 진단 시스템은, 컴퓨터가 판독 가능한 명령을 실행하도록 구현되는 적어도 하나의 프로세서를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는, 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 상기 복수의 전극쌍들을 제어하는 전극쌍 제어부; 및 상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 치매 진단부를 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 치매 진단부는, 상기 복수의 전극쌍들 중 상기 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 하나 이상 감지되는 경우, 상기 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단하는 것을 특징으로 할 수 있다.
다른 일측에 따르면, 상기 치매 진단부는, 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 상기 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 전극쌍 제어부는, 한 번에 하나의 전극쌍에 상기 전류가 주입되도록 상기 복수의 전극쌍들을 순차적으로 스위칭하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 전극쌍 제어부는, 상기 복수의 전극쌍들 중 상기 전류가 주입되는 전극쌍을 제외한 나머지 전극쌍들이 비활성화되도록 상기 나머지 전극쌍들을 제어하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 치매 진단 시스템은, 상기 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 상기 임의의 두 개 이상의 전극들을 선택하여 상기 복수의 전극쌍들을 형성하는 전극쌍 선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 전극쌍 선택부는, 상기 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 기억력과 관련된 전극들 중 어느 하나의 전극 및 상기 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 전극 하나를 선택하여 복수의 추가 전극쌍들을 형성하고, 상기 전극쌍 제어부는, 상기 복수의 추가 전극쌍들을 통해 상기 전류가 주입되도록 상기 복수의 추가 전극쌍들을 제어하며, 상기 치매 진단부는, 상기 복수의 추가 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 적어도 하나 이상의 주파수에서 상기 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자의 인지력 및 기억력 저하를 진단하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 치매 진단부는, 상기 복수의 추가 전극쌍들 중 상기 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 상기 적어도 하나 이상의 주파수에서 하나 이상 감지되는 경우, 상기 진단 대상자에게 인지력 저하 및 기억력 저하가 발생된 것으로 진단하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 전극쌍 제어부는, 한 번에 하나의 추가 전극쌍에 상기 전류가 주입되도록 상기 복수의 추가 전극쌍들을 순차적으로 스위칭하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 전극쌍 제어부는, 상기 복수의 추가 전극쌍들 중 상기 전류가 주입되는 추가 전극쌍을 제외한 나머지 추가 전극쌍들이 비활성화되도록 상기 나머지 추가 전극쌍들을 제어하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 치매 진단 시스템은, 신호의 주파수를 변환하는 주파수 변환기; 상기 신호에 기초하여 정전류(Constant current)를 발생시키는 정전류 발생기; 상기 복수의 전극쌍들을 포함하도록 구성된 채 상기 적어도 하나의 프로세서에 포함되는 전극쌍 제어부에 의해, 상기 정전류 발생기에서 출력되는 상기 전류를 상기 진단 대상자의 두피에 주입하는 전극부; 및 상기 적어도 하나의 프로세서에 포함되는 치매 진단부에서 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 획득하도록 상기 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 순차적으로 측정하여 상기 치매 진단부로 전달하는 전압 검출기를 더 포함할 수 있다.
또 다른 일측에 따르면, 상기 전극부는, 국제 10-20 표준(International 10-20 standard)의 전극배치법에 따른 복수의 전극들로 구성되는 것을 특징으로 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 컴퓨터 시스템에 의해 수행되는 치매 진단 방법은, 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 제어하는 단계; 및 상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 단계를 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 진단하는 단계는, 상기 복수의 전극쌍들 중 상기 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 하나 이상 감지되는 경우, 상기 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 컴퓨터 시스템과 결합되어 치매 진단 방법을 실행시키기 위해 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록된 컴퓨터 프로그램에 있어서, 상기 치매 진단 방법은, 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 제어하는 단계; 및 상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예들은 간단하게 계산 가능한 치매도 파라미터를 사용하는 치매 진단 방법 및 시스템을 제안할 수 있다.
보다 상세하게, 일 실시예들은 국제 10-20 표준의 전극배치법에 따른 복수의 전극들을 통해 검출되는 두피 전위의 임피던스를 치매도 파라미터로 사용하는 치매 진단 방법 및 시스템을 제안할 수 있다.
따라서, 일 실시예들은 치매도 파라미터의 계산 시간 및 복잡도를 최소화하는 치매 진단 방법 및 시스템을 제안할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 치매 진단 시스템을 나타낸 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 치매 진단 시스템에 포함되는 전극부를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 일 실시예에 있어서 치매 진단 시스템에 포함되는 프로세서가 포함할 수 있는 구성요소의 예를 도시한 블록도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 치매 진단 방법을 도시한 플로우 차트이다.
도 5a 내지 5b는 일 실시예에 따른 치매 진단 방법이 수행되는 것을 설명하기 위한 임피던스 패턴을 나타낸 도면이다.
이하, 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 그러나 본 발명이 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 또한, 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 부재를 나타낸다.
또한, 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 바람직한 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 일 실시예에 따른 치매 진단 시스템을 나타낸 도면이고, 도 2는 일 실시예에 따른 치매 진단 시스템에 포함되는 전극부를 설명하기 위한 도면이다. 도 1의 치매 진단 시스템(100)은 파형 발생기(110), 주파수 변환기(120), 정전류 발생기(130), 전극부(140), 전압 검출기(150), 필터 및 증폭기(160), AD 변환기(170)와 프로세서(180)를 포함하는 예를 나타내고 있다. 이러한 도 1은 발명의 설명을 위한 일례로 치매 진단 시스템(100)의 구성요소가 도 1과 같이 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 치매 진단 시스템(100)은 경우에 따라서 파형 발생기(110) 또는 주파수 변환기(120)를 생략하도록 구성될 수 있다.
파형 발생기(110)는 적어도 하나의 파형을 갖는 신호를 발생시킬 수 있다. 일례로, 파형 발생기(110)는 삼각함수(sine, cosine), biphasic wave square wave 또는 직류와 교류가 혼합된 wave, pink noise 중에서 하나의 파형을 갖는 신호를 발생시킬 수 있다.
주파수 변환기(120)는 파형 발생기(110)에서 출력되는 신호의 주파수를 변환할 수 있다. 예컨대, 주파수 변환기(120)는 0Hz 내지 200MHz 범위 내에서 신호의 주파수를 가변 시킬 수 있다.
정전류 발생기(130)는 주파수 변환기(120)에서 주파수가 변환된 신호에 기초하여 정전류(Constant current)를 발생시킬 수 있다. 정전류 발생기(130)에서 발생시키는 전류는 2mA 이하의 값을 가지며, 0Hz 내지 200MHz 범위 내에서 저주파 밴드의 주파수 또는 고주파 밴드의 주파수를 가질 수 있다.
이에 따라, 후술되는 전압 검출기(150)에서 측정하는 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압은, 정전류 발생기(130)에서 발생시킨 전류가 저주파 밴드의 주파수를 갖는 경우 저주파 밴드에서의 전압을 의미하고, 정전류 발생기(130)에서 발생시킨 전류가 고주파 밴드의 주파수를 갖는 경우 고주파 밴드에서의 전압을 의미한다.
전극부(140)는 후술되는 프로세서(180)에 포함되는 전극쌍 제어부에 의해 제어되며, 정전류 발생기(130)에서 출력되는 전류를 진단 대상자의 두피에 주입할 수 있다. 보다 상세하게, 전극부(140)는 도 2와 같은 국제 10-20 표준(International 10-20 standard)의 전극배치법에 따른 복수의 전극들로 구성됨으로써, 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들(예컨대, FP1, FP2)을 포함하도록, 국제 10-20 표준의 전극배치법에 따라 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 두 개 이상의 전극들로 형성되는 복수의 전극쌍들(예컨대, FP1-F3, FP2-F4, FP1-P3, FP2-P4, FP1-F7, FP2-F8, FP1-C3, FP2-C4, FP1-T3, FP2-T4, FP1-T5, FP2-T6 등)을 포함하게 될 수 있다. 이하, 복수의 전극쌍들이 임의의 두 개 이상의 전극들로 형성되는 것으로 설명되나, 이에 제한되거나 한정되지 않고 임의의 두 개 이상의 전극들(예컨대, 세 개의 전극들 또는 네 개의 전극들 등)로 형성될 수 있다. 또한, 이하 복수의 전극쌍들은 임의로 고정된 하나의 전극쌍을 포함하며 경우에 따라 선택되어 형성되는 하나 이상의 전극쌍을 포함할 수 있으나, 이에 제한되거나 한정되지 않고, 경우에 따라 복수의 전극쌍 모두가 선택되어 형성될 수도 있다.
이에, 전극부(140)는 전극쌍 제어부에 의해 제어되며, 복수의 전극쌍들에 전류를 흐르게 할 수 있다. 일례로, 전극부(140)에서 복수의 전극쌍들은 전극쌍 제어부에 의해 한 번에 하나의 전극쌍에 전류가 주입되도록 순차적으로 스위칭될 수 있다(예컨대, FP1-F3 전극쌍에만 전류가 주입되는 동시에 나머지 전극쌍들은 비활성화되고, 이어서 FP2-F4 전극쌍에만 전류가 주입되는 동시에 나머지 전극쌍들은 비활성화됨). 여기서, 복수의 전극쌍들이 순차적으로 스위칭되는 것은, 하나의 전극쌍이 활성화되고 나머지 전극쌍들은 비활성화되는 것과 같은 순차적 활성화 동작이 수행되는 것을 의미하며, 일례로, 하나의 전극쌍이 진단 대상자의 두피에 접촉되고 나머지 전극쌍들은 분리되는 것과 같은 기계적 동작 또는 전기적 스위칭 동작이 복수의 전극쌍들 모두에 대해 순서대로 수행되는 것을 의미할 수 있다. 그러나 이에 제한되거나 한정되지 않고, 전극쌍 제어부는 복수의 전극쌍들에 동시에 전류가 흐르게 하거나, 복수의 전극쌍들 중 임의로 고정된 하나의 전극쌍에 전류가 흐르게 할 수도 있다.
전압 검출기(150)는 후술되는 프로세서(180)에 포함되는 치매 진단부에 의해 제어되며, 전극부(140)로부터 두피 전위를 측정하여 필터 및 증폭기(160), AD 변환기(170)를 거쳐 치매 진단부로 전달할 수 있다. 그러나 이에 제한되거나 한정되지 않고 전압 검출기(150)에서 측정된 두피 전위는 AD 변환기(170)만을 거쳐 치매 진단부로 전달될 수도 있다. 이에, 전압 검출기(150)에서 두피 전위를 측정하여 치매 진단부로 전달한다는 것은 전압 검출기(150)에서 두피 전위를 측정하여 AD 변환기(170)를 거쳐(또는 필터 및 증폭기(160)를 더 거쳐) 치매 진단부로 전달하는 것을 의미한다.
보다 상세하게, 전압 검출기(150)는 치매 진단부에서 복수의 전극쌍들(진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하도록, 국제 10-20 표준의 전극배치법에 따라 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 두 개 이상의 전극들로 형성됨) 각각의 임피던스 크기를 획득하도록 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 순차적으로 측정하여 치매 진단부로 전달할 수 있다.
이 때, 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 순차적으로 측정하는 것은, 전술된 전극부(140)가 복수의 전극쌍들을 순차적으로 스위칭하며 전류를 주입하는 것과 동시에 이루어질 수 있다. 일례로, 전극부(140)가 하나의 전극쌍을 진단 대상자의 두피에 접촉시켜 전류를 주입한 뒤, 곧바로 전압 검출기(150)가 해당 전극쌍을 그대로 이용하거나 적어도 한 개 이상의 별도의 전극을 이용하여 두피 전압을 측정할 수 있다. 이러한 동작 전류 주입 동작 및 전압 측정 동작은 복수의 전극쌍들 모두에 대해 순서대로 수행될 수 있다. 그러나 이에 제한되거나 한정되지 않고, 치매 진단부는 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 동시에 측정하거나, 복수의 전극쌍들 중 임의로 고정된 하나의 전극쌍에 대한 전압을 측정할 수도 있다.
필터 및 증폭기(160)는 전압 검출기(150)에서 출력되는 두피 전위에 대한 신호의 노이즈를 필터링하고, 신호를 증폭시킬 수 있다. 필터 및 증폭기(160)는 구현 예시에 따라 생략될 수 있다.
AD 변환기(170)는 전압 검출기에서 측정된 두피 전위를 디지털 신호로 변환하여 프로세서(180)(보다 정확하게는 프로세서(180)에 포함되는 치매 진단부)로 전달할 수 있다.
프로세서(180)는 치매 진단 시스템(100)에 물리적, 기능적으로 포함될 뿐만 아니라, 물리적으로는 독립적으로 구현되며 기능적으로만 포함될 수 있다. 예컨대, 프로세서(180)의 구성요소들 중 일부 구성요소는 치매 진단 요청을 발생시키는 외부의 단말(미도시)에 포함되도록 구현될 수 있다.
이러한 프로세서(180)는 기본적인 산술, 로직 및 입출력 연산을 수행하여 컴퓨터 프로그램의 명령을 처리하도록 구성될 수 있다. 명령은 메모리(미도시) 또는 통신 모듈(미도시)에 의해 프로세서(180)로 제공될 수 있다. 예를 들어 프로세서(180)는 메모리와 같은 기록 장치에 저장된 프로그램 코드에 따라 수신되는 명령을 실행하도록 구성될 수 있다.
여기서, 메모리(미도시)는 프로세서(180)와 연결되는, 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체로서, RAM(random access memory), ROM(read only memory) 및 디스크 드라이브와 같은 비소멸성 대용량 기록장치(permanent mass storage device)를 포함할 수 있다. 또한, 메모리에는 프로세서(180)의 동작을 위한 또는 동작에 따른 운영체제나 적어도 하나의 프로그램 코드가 저장될 수 있다. 이러한 소프트웨어 구성요소들은 메모리와는 별도의 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체로부터 로딩될 수 있다. 이러한 별도의 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체는 플로피 드라이브, 디스크, 테이프, DVD/CD-ROM 드라이브, 메모리 카드 등의 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체를 포함할 수 있다.
통신 모듈(미도시)는 프로세서(180)와 연결되어, 프로세서(180)가 외부의 서버(미도시), 외부의 컴퓨터(미도시) 또는 외부의 단말(미도시)와 통신하기 위한 기능을 제공할 수 있다. 일례로, 외부 서버 또는 외부 컴퓨터에서 진단 대상자에 대한 치매 진단 요청이 네트워크(미도시)를 통해 통신 모듈을 거쳐 프로세서(180)로 전달될 수 있다. 역으로, 프로세서(180)의 동작에 따라 생성된 데이터(예컨대, 치매 진단 결과)가 통신 모듈과 네트워크를 거쳐 외부의 단말로 전송될 수 있다.
네트워크(미도시)는 통신망(일례로, 이동통신망, 유선 인터넷, 무선 인터넷, 방송망)을 활용하는 통신 방식뿐만 아니라 기기들간의 근거리 무선 통신 방식을 지원하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 네트워크는, PAN(personal area network), LAN(local area network), CAN(campus area network), MAN(metropolitan area network), WAN(wide area network), BBN(broadband network), 인터넷 등의 네트워크 중 하나 이상의 임의의 네트워크를 포함할 수 있다. 또한, 네트워크 버스 네트워크, 스타 네트워크, 링 네트워크, 메쉬 네트워크, 스타-버스 네트워크, 트리 또는 계층적(hierarchical) 네트워크 등을 포함하는 네트워크 토폴로지 중 임의의 하나 이상을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
특히, 프로세서(180)는 후술되는 치매 진단 방법을 수행하는 주체로서, 치매 진단 시스템(100)에 포함되는 입출력 장치(미도시) 또는 통신 모듈을 통해 발생되는 서비스 요청(치매 진단 요청)에 응답하여 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 치매 진단 방법을 수행할 수 있다.
이를 위해, 프로세서(180)는 AD 변환기(170), 전극부(140) 등과 유선 또는 전술된 네트워크를 통해 무선으로 연결된 채, 치매 진단 방법을 수행하기 위한 구성요소들을 포함할 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 아래의 도 3을 참조하여 기재하기로 한다.
이 때, 입출력 장치(미도시)는 프로세서(180)에 데이터를 입력하거나, 프로세서(180)에서 처리되는 데이터를 출력하는 수단으로서, 입력 장치는 키보드, 마우스 등의 장치를 그리고 출력 장치는 디스플레이와 같은 장치를 포함할 수 있다. 다른 예로 입출력 장치는 터치스크린과 같이 입력과 출력을 위한 기능이 하나로 통합된 장치일 수 있다.
이하에서는 치매 진단 방법 및 시스템의 구체적인 실시예를 설명하기로 한다.
도 3은 일 실시예에 있어서 치매 진단 시스템에 포함되는 프로세서가 포함할 수 있는 구성요소의 예를 도시한 블록도이고, 도 4는 일 실시예에 따른 치매 진단 방법을 도시한 플로우 차트이며, 도 5a 내지 5b는 일 실시예에 따른 치매 진단 방법이 수행되는 것을 설명하기 위한 임피던스 패턴을 나타낸 도면이다.
일 실시예에 따른 프로세서(180)에는 도 3과 같이 치매 진단 시스템의 핵심적인 구성요소들인 전극쌍 선택부(310), 전극쌍 제어부(320) 및 치매 진단부(330)가 구성되어, 도 4에 따른 치매 진단 방법을 수행할 수 있다. 실시예에 따라 프로세서(180)의 구성요소들은 선택적으로 프로세서(180)에 포함되거나 제외될 수도 있다. 일례로, 전극쌍 제어부(320)가 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들이 형성하는 복수의 전극쌍들을 고정 사용하도록 구현됨으로써, 프로세서(180)에는 전극쌍 선택부(310)가 생략될 수 있다.
또한, 실시예에 따라 프로세서(180)의 구성요소들은 프로세서(180)의 기능의 표현을 위해 분리 또는 병합될 수도 있다. 예컨대, 프로세서(180)의 구성요소들 중 적어도 일부는 치매 진단 요청을 발생시키는 외부의 단말에 구현될 수 있다.
이러한 프로세서(180)의 구성요소들은 치매 진단 방법이 포함하는 단계들(S410 내지 430)과 관련된 적어도 하나의 프로그램의 코드에 따른 명령(instruction)을 실행하도록 구현될 수 있다.
여기서, 프로세서(180)의 구성요소들은 적어도 하나의 프로그램 코드가 제공하는 명령에 따라 프로세서(180)에 의해 수행되는 프로세서(180)의 서로 다른 기능들(different functions)의 표현들일 수 있다. 예를 들어, 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하도록, 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 두 개 이상의 전극들을 선택하여 복수의 전극쌍들을 형성하는 프로세서(180)의 기능적 표현으로서 전극쌍 선택부(310)가 이용될 수 있다.
단계(S410)에서 전극쌍 선택부(310)는 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하도록, 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 두 개 이상의 전극들을 선택하여 복수의 전극쌍들을 형성할 수 있다. 여기서, 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하도록, 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 두 개 이상의 전극들을 선택하여 복수의 전극쌍들을 형성한다는 것은, 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하는, 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 두 개 이상의 전극들을 선택하여, 치매 진단을 위해 전류를 주입시킬 복수의 전극쌍들을 설정해두는 것을 의미한다.
예를 들어, 전극쌍 선택부(310)는 도 2와 같은 국제 10-20 표준의 전극배치법에 따른 복수의 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들(이 때, 임의의 두 개 이상의 전극들은 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들(FP1, FP2)을 포함함)을 선택하여 복수의 전극쌍들(FP1-F3, FP2-F4, FP1-P3, FP2-P4, FP1-F7, FP2-F8, FP1-C3, FP2-C4, FP1-T3, FP2-T4, FP1-T5, FP2-T6 등)을 형성할 수 있다.
이어서, 단계(S420)에서 전극쌍 제어부(320)는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 제어할 수 있다. 보다 상세하게, 전극쌍 제어부(320)는 복수의 전극쌍들 모두에 대해, 한 번에 하나의 전극쌍에 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 순차적으로 스위칭할 수 있다. 일례로, 전극쌍 제어부(320)는 복수의 전극쌍들 중 하나의 전극쌍을 진단 대상자의 두피에 접촉시켜 전류가 주입되도록 하고, 나머지 전극쌍들은 비활성화되도록 복수의 전극쌍들을 제어함으로써, 후술되는 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 측정하는 동작에서의 노이즈를 최소화할 수 있다. 이와 같이 복수의 전극쌍들의 스위칭 동작(순차적 활성화 동작)은 복수의 전극쌍들의 기계적 동작 또는 전기적 스위칭 동작에 기반할 수 있다.
이 때, 단계(S420)에서 치매 진단부(330)는, 전압 검출기를 통해 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압(두피 전압)을 측정할 수 있다. 보다 상세하게, 치매 진단부(330)는 전극쌍 제어부(320)가 복수의 전극쌍들 모두에 대해 한 번에 하나의 전극쌍에 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 순차적으로 스위칭함과 동시에, 전류가 주입된 전극쌍에 대한 전압을 측정함으로써, 복수의 전극쌍들에 대해 각각의 전압을 순차적으로 측정할 수 있다. 예를 들어, 전극쌍 제어부(320)가 하나의 전극쌍을 진단 대상자의 두피에 접촉시켜 전류를 주입하면, 곧바로 치매 진단부(330)가 전압 검출기를 통해 해당 전극쌍을 그대로 이용하거나 적어도 한 개 이상의 별도의 전극을 이용하여 두피 전압을 측정할 수 있다. 이러한 동작 전류 주입 동작 및 전압 측정 동작이 단계(S420)에서 복수의 전극쌍들 모두에 대해 순서대로 수행될 수 있다.
따라서, 단계(S420)가 수행되고 나면, 치매 진단부(330)는 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 획득하게 되고, 후술되는 단계(S430)에서 사용되는 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스를 산출할 수 있게 된다. 즉, 단계(S420)에 대해서 도면으로 도시되지는 않았으나, 단계(S420)는 전류 주입, 전압 측정 및 임피던스 산출의 동작을 모두 포함할 수 있다.
이 때, 일 실시예에 따른 치매 진단 방법은 전술된 바와 같이 프로세서(180)에 전극쌍 선택부(310)가 생략되는 경우 단계(S410)를 실행하지 않고 단계(S420)부터 실행할 수 있다. 이러한 경우, 단계(S420)에서 전극쌍 제어부(320)는, 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들(임의의 두 개 이상의 전극들은 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함)이 형성하는 복수의 전극쌍들을 고정 사용하며, 설명된 복수의 전극쌍들의 제어 동작을 실행할 수 있다.
그 후, 단계(S430)에서 치매 진단부(330)는, 전류가 주입된 결과 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단할 수 있다. 보다 상세하게, 치매 진단부(330)는 복수의 전극쌍들 중 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 하나 이상 감지되는 경우, 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단할 수 있다. 이하, 최대 임피던스 크기 값은 측정된 전압 값에 비례하여 사전에 설정되는 임계 값으로서, 최대 값이 아닌 치매를 판별하기 위한 특정 값을 의미할 수 있다.
예를 들어, 임피던스 값은 측정된 전압 값에 비례하므로, 12bit resolution의 AD 변환기를 사용하여 최대 측정 전압 AD 변환 값(임피던스 값)이 4095로 결정되고 전류가 주입된 결과 복수의 전극쌍들 중 어느 하나의 전극쌍의 측정 전압 AD 변환 값(임피던스 값) 크기가 2050으로 감지되었다면, 최대 측정 전압 AD 변환 값인 4095 대비 기 설정된 비율인 50% 이상의 2050의 전압 AD 변환 값(임피던스 값) 크기를 갖는 전극 쌍이 존재하는 바, 치매 진단부(330)는 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단할 수 있다.
이 때, 치매 진단부(330)는 정전류 발생기(130)에서 전류가 발생되어 복수의 전극쌍들을 통해 두피로 주입되도록 하고, 전압 검출기(150)에서 복수의 전극쌍들 각각의 전압을 측정하도록 함으로써, 단계(430)에서 이를 기초로 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교할 수 있다.
예를 들어, 도 5a에 도시된 바와 같이 진단 대상자 1의 경우 복수의 전극쌍들 각각의 주파수 밴드에서의 임피던스 크기는 최대 임피던스 값인 4095의 50% 미만인 2000미만의 값을 갖고 있음을 알 수 있다. 이러한 경우 치매 진단부(330)는 진단 대상자 1에게 치매가 발병하지 않은 것으로 진단할 수 있다. 반면에. 도 5b에 도시된 바와 같이 진단 대상자 2의 경우 복수의 전극쌍들 각각의 주파수 밴드에서의 임피던스 크기는 최대 임피던스 값인 4095의 50% 이상인 2500 이상의 값들을 갖고 있음을 알 수 있다. 이러한 경우 치매 진단부(330)는 진단 대상자 2에게 치매가 발병한 것으로 진단할 수 있다.
또한, 일 실시예에 따른 치매 진단 시스템(100)은 치매 진단뿐만 아니라, 진단 대상자의 인지력 및 기억력 저하를 추가적으로 진단할 수도 있다. 이러한 인지력 및 기억력 저하 진단은 전술된 치매 진단과 동시에 수행되거나, 전술된 치매 진단이 완료되어 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단된 이후에 수행될 수 있다.
예를 들어, 전극쌍 선택부(310)는 단계(S410)에서 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 기억력과 관련된 전극들(예컨대, F3, F4, P3, P4) 중 어느 하나의 전극 및 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 전극 하나를 선택하여 복수의 추가 전극쌍들(일례로, F3-P3, F4-P4, P3-T3, P4-T4, F3-F7, F4-F8, P3-T5, P4-T6 등)을 형성하고, 전극쌍 제어부(320)가 단계(S420)에서 복수의 추가 전극쌍들을 통해 전류가 주입되도록 복수의 추가 전극쌍들을 제어하며, 치매 진단부(330)는 단계(S430)에서 복수의 추가 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 적어도 하나 이상의 주파수에서 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 진단 대상자의 인지력 및 기억력 저하를 진단함으로써, 인지력 및 기억력 저하 진단이 전술된 치매 진단과 동시에 수행될 수 있다.
다른 예를 들면, 전술된 치매 지단이 단계들(S410 내지 S430)을 통해 수행되어 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단되고 나면, 전극쌍 선택부(310)가 추가적인 제1 단계(미도시)에서 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 기억력과 관련된 전극들(예컨대, F3, F4, P3, P4) 중 어느 하나의 전극 및 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 전극 하나를 선택하여 복수의 추가 전극쌍들(일례로, F3-T3, F4-P4, P3-T3, P4-T4, F3-F7, F4-F8, P3-T5, P4-T6 등)을 형성하고, 전극쌍 제어부(320)가 추가적인 제2 단계(미도시)에서 복수의 추가 전극쌍들을 통해 전류가 주입되도록 복수의 추가 전극쌍들을 제어함으로써, 치매 진단부(330)는 추가적인 제3 단계(미도시)에서 복수의 추가 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 적어도 하나 이상의 주파수에서 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 진단 대상자의 인지력 및 기억력 저하를 진단할 수 있다.
설명된 두 개의 예시 모두에서, 치매 진단부(330)는 복수의 추가 전극쌍들 중 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 적어도 하나 이상의 주파수에서 하나 이상 감지되는 경우, 진단 대상자에게 인지력 저하 및 기억력 저하가 발생된 것으로 진단할 수 있다(예컨대, 적어도 하나 이상의 주파수에서 최대 임피던스 값의 기 설정된 비율인 50% 이상의 전극쌍이 감지된다면, 치매 진단부(330)는 진단 대상자에게 인지력 저하 및 기억력 저하가 발생된 것으로 진단함).
또한, 전술된 두 개의 예시 모두에서, 전극쌍 제어부(320)는 치매 진단 과정과 마찬가지로, 한 번에 하나의 추가 전극쌍에 전류가 주입되도록 기계적 방식 또는 전기적 스위칭 방식을 이용하여 복수의 추가 전극쌍들을 순차적으로 스위칭할 수 있다(예컨대, 전극쌍 제어부(320)가 복수의 추가 전극쌍들 중 전류가 주입되는 추가 전극쌍을 활성화시키고 나머지 추가 전극쌍들이 비활성화되도록 나머지 추가 전극쌍들을 제어함).
이상 실시예들은, 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하도록 임의의 두 개 이상의 전극들로 형성되는 복수의 전극쌍들을 통해 전류가 주입되고 전압이 측정되는 2단자 전극 방식에 대해 설명하였으나, 4단자 전극 방식으로도 적용될 수 있다.
이러한 경우, 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함하도록 임의의 두 개 이상의 전극들로 형성되는 전류 주입 전극쌍들을 통해 전류가 주입되고, 상기 전류가 주입되는 전류 주입 전극쌍들을 제외한 임의의 두 개 이상의 전극들로 형성되는 전압 측정 전극쌍들을 통해 전압이 측정되며, 전술된 치매 진단 프로세스가 4단자 전극 방식을 기반으로 수행될 수 있다. 4단자 전극 방식에서도 마찬가지로 전압 측정 전극쌍들 각각의 임피던스 크기가 최대 임피던스 크기 값과 비교되어 치매 발병 여부가 진단될 수 있다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPGA(field programmable gate array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 어플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 컴퓨터 저장 매체 또는 장치에 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 이때, 매체는 컴퓨터로 실행 가능한 프로그램을 계속 저장하거나, 실행 또는 다운로드를 위해 임시 저장하는 것일 수도 있다. 또한, 매체는 단일 또는 수 개의 하드웨어가 결합된 형태의 다양한 기록수단 또는 저장수단일 수 있는데, 어떤 컴퓨터 시스템에 직접 접속되는 매체에 한정되지 않고, 네트워크 상에 분산 존재하는 것일 수도 있다. 매체의 예시로는, 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM 및 DVD와 같은 광기록 매체, 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical medium), 및 ROM, RAM, 플래시 메모리 등을 포함하여 프로그램 명령어가 저장되도록 구성된 것이 있을 수 있다. 또한, 다른 매체의 예시로, 어플리케이션을 유통하는 앱 스토어나 기타 다양한 소프트웨어를 공급 내지 유통하는 사이트, 서버 등에서 관리하는 기록매체 내지 저장매체도 들 수 있다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.

Claims (15)

  1. 컴퓨터 시스템으로 구현되는 치매 진단 시스템에 있어서,
    컴퓨터가 판독 가능한 명령을 실행하도록 구현되는 적어도 하나의 프로세서
    를 포함하고,
    상기 적어도 하나의 프로세서는,
    진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 상기 복수의 전극쌍들을 제어하는 전극쌍 제어부; 및
    상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 치매 진단부
    를 포함하는 치매 진단 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 치매 진단부는,
    상기 복수의 전극쌍들 중 상기 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 하나 이상 감지되는 경우, 상기 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 치매 진단부는,
    상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 상기 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 전극쌍 제어부는,
    한 번에 하나의 전극쌍에 상기 전류가 주입되도록 상기 복수의 전극쌍들을 순차적으로 스위칭하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 전극쌍 제어부는,
    상기 복수의 전극쌍들 중 상기 전류가 주입되는 전극쌍을 제외한 나머지 전극쌍들이 비활성화되도록 상기 나머지 전극쌍들을 제어하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 상기 임의의 두 개 이상의 전극들을 선택하여 상기 복수의 전극쌍들을 형성하는 전극쌍 선택부
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 전극쌍 선택부는,
    상기 진단 대상자에게 부착된 전극들에서 기억력과 관련된 전극들 중 어느 하나의 전극 및 상기 진단 대상자에게 부착된 전극들 중 임의의 전극 하나를 선택하여 복수의 추가 전극쌍들을 형성하고,
    상기 전극쌍 제어부는,
    상기 복수의 추가 전극쌍들을 통해 상기 전류가 주입되도록 상기 복수의 추가 전극쌍들을 제어하며,
    상기 치매 진단부는,
    상기 복수의 추가 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 적어도 하나 이상의 주파수에서 상기 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자의 인지력 및 기억력 저하를 진단하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 치매 진단부는,
    상기 복수의 추가 전극쌍들 중 상기 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 상기 적어도 하나 이상의 주파수에서 하나 이상 감지되는 경우, 상기 진단 대상자에게 인지력 저하 및 기억력 저하가 발생된 것으로 진단하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 전극쌍 제어부는,
    한 번에 하나의 추가 전극쌍에 상기 전류가 주입되도록 상기 복수의 추가 전극쌍들을 순차적으로 스위칭하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 전극쌍 제어부는,
    상기 복수의 추가 전극쌍들 중 상기 전류가 주입되는 추가 전극쌍을 제외한 나머지 추가 전극쌍들이 비활성화되도록 상기 나머지 추가 전극쌍들을 제어하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 치매 진단 시스템은,
    신호의 주파수를 변환하는 주파수 변환기;
    상기 신호에 기초하여 정전류(Constant current)를 발생시키는 정전류 발생기;
    상기 복수의 전극쌍들을 포함하도록 구성된 채 상기 적어도 하나의 프로세서에 포함되는 전극쌍 제어부에 의해, 상기 정전류 발생기에서 출력되는 상기 전류를 상기 진단 대상자의 두피에 주입하는 전극부; 및
    상기 적어도 하나의 프로세서에 포함되는 치매 진단부에서 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 획득하도록 상기 복수의 전극쌍들 각각에 대한 전압을 순차적으로 측정하여 상기 치매 진단부로 전달하는 전압 검출기
    를 더 포함하는 치매 진단 시스템.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 전극부는,
    국제 10-20 표준(International 10-20 standard)의 전극배치법에 따른 복수의 전극들로 구성되는 것을 특징으로 하는 치매 진단 시스템.
  13. 컴퓨터 시스템에 의해 수행되는 치매 진단 방법에 있어서,
    진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 제어하는 단계; 및
    상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 단계
    를 포함하는 치매 진단 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 진단하는 단계는,
    상기 복수의 전극쌍들 중 상기 최대 임피던스 크기 값 대비 기 설정된 비율 이상의 임피던스 크기를 갖는 전극쌍이 하나 이상 감지되는 경우, 상기 진단 대상자에게 치매가 발병한 것으로 진단하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 치매 진단 방법.
  15. 컴퓨터 시스템과 결합되어 치매 진단 방법을 실행시키기 위해 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록된 컴퓨터 프로그램에 있어서,
    상기 치매 진단 방법은,
    진단 대상자에게 부착된 전극들에서 임의의 두 개 이상의 전극들-상기 임의의 두 개 이상의 전극들은 상기 진단 대상자의 전두엽과 관련되어 부착된 전극들을 포함함-이 형성하는 복수의 전극쌍들 각각을 통해 전류가 주입되도록 복수의 전극쌍들을 제어하는 단계; 및
    상기 전류가 주입된 결과 상기 복수의 전극쌍들 각각의 임피던스 크기를 최대 임피던스 크기 값과 비교하여 상기 진단 대상자에 대한 치매 발병 여부를 진단하는 단계
    를 포함하는 기록 매체에 기록된 컴퓨터 프로그램.
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