KR20210111385A - 표시 장치 - Google Patents

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integrated circuit
power management
management integrated
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남양욱
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Abstract

표시 장치는 화소들을 포함하는 표시 패널, 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로 및 표시 패널과 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성하고, 표시 패널 구동 회로에 포함된 타이밍 컨트롤러로부터 구동 설정 데이터들을 수신하며, 구동 설정 데이터들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제1 내부 레지스터들에 저장하고, 구동 헥스 값들에 기초하여 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건들을 결정하는 전력 관리 집적 회로를 포함한다. 이 때, 전력 관리 집적 회로는 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값을 생성하고, 타이밍 컨트롤러로부터 수신되는 인증 데이터에 상응하는 인증 헥스 값과 결과 헥스 값을 비교하며, 인증 헥스 값과 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 소정의 통신(예를 들어, 인터 집적 회로(inter integrated circuit; I2C) 통신)을 수행하여 구동 조건들을 변경할 수 있는 표시 장치(예를 들어, 유기 발광 표시 장치 등)에 관한 것이다.
일반적으로, 표시 장치는 화소들을 포함하는 표시 패널, 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로(예를 들어, 표시 패널 구동 회로는 스캔 드라이버, 데이터 드라이버, 타이밍 컨트롤러 등을 포함) 및 표시 패널과 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성하는 전력 관리 집적 회로를 포함한다. 이 때, 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로는 소정의 통신을 수행하여 구동 조건들을 변경(예를 들어, 표시 패널 및 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들의 전압 레벨들을 변경 등)하는데, 상기 통신으로 하드웨어들 사이에 간단한 연결을 지원(즉, 데이터 신호를 전달하는 SDA 라인과 클럭 신호를 전달하는 SCL 라인만을 포함)하는 I2C 통신이 널리 사용되고 있다. 한편, 전력 관리 집적 회로의 성능은 구동 조건 변경 등과 같은 기능을 얼마나 효율적으로 수행하느냐에 따라 결정되고, 그에 따라, 전력 관리 집적 회로를 제조하는 제조사는 전력 관리 집적 회로가 구동 조건 변경 등과 같은 기능을 어떻게 수행하느냐와 관련된 기술이 다른 제조사들에게 유출되지 않도록 노력하고 있다. 하지만, 스펙이 파악된 표시 패널과 표시 패널 구동 회로를 전력 관리 집적 회로에 연결시킨 후 I2C 통신을 이용하여 다양한 조건으로 전력 관리 집적 회로를 동작시키는 경우, 전력 관리 집적 회로가 구동 조건 변경 등과 같은 기능을 어떻게 수행하는지가 쉽게 파악되기 때문에, 전력 관리 집적 회로를 제조하는 제조사가 해당 전력 관리 집적 회로에 적용한 고유 기술(즉, 고유 지적 자산)이 다른 제조사들에게 쉽게 유출된다는 문제점이 있다.
본 발명의 일 목적은 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 소정의 통신(예를 들어, I2C)을 수행하여 구동 조건들을 변경(예를 들어, 표시 패널 및 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들의 전압 레벨들을 변경 등)함에 있어 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이의 인증 성공 여부에 따라 전력 관리 집적 회로를 정상 모드(예를 들어, 고성능 모드) 또는 보호 모드(예를 들어, 제한 성능 모드 또는 셧-다운 모드)로 선택적으로 동작시킬 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다. 다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적으로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로, 및 상기 표시 패널 및 상기 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 복수의 구동 전압들을 생성하고, 상기 표시 패널 구동 회로에 포함된 타이밍 컨트롤러로부터 구동 설정 데이터들을 수신하며, 상기 구동 설정 데이터들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제1 내부 레지스터들에 저장하고, 상기 구동 헥스 값들에 기초하여 상기 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건들을 결정하는 전력 관리 집적 회로를 포함할 수 있다. 이 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상기 상위 데시멀 값들과 상기 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 상기 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값을 생성하고, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 수신되는 인증 데이터에 상응하는 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값을 비교하며, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 일치하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 정상 모드로 동작하고, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 불일치하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 보호 모드로 동작할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 일치하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 정상 모드로 동작하고, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 기 설정된 시간 내에 상기 인증 헥스 값이 수신되지 않으면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 보호 모드로 동작할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터들과 상기 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터들이 상이하면, 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 타이밍 컨트롤러와 상기 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 타이밍 컨트롤러와 상기 전력 관리 집적 회로는 인터 집적 회로 통신을 수행하고, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 제2 구동 설정 데이터들 중에서 상기 제1 구동 설정 데이터들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터를 상기 전력 관리 집적 회로에 제공한 후 상기 인증 데이터를 상기 전력 관리 집적 회로에 제공할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 타이밍 컨트롤러는 매 이미지 프레임마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 상기 구동 설정 데이터들을 결정하고, 상기 구동 설정 데이터들에 상응하는 상기 구동 헥스 값들을 제2 내부 레지스터들에 저장하며, 상기 전력 관리 집적 회로에 상기 구동 설정 데이터들을 전송할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 타이밍 컨트롤러는 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터들과 상기 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터들을 비교하고, 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 제2 구동 설정 데이터들 중에서 상기 제1 구동 설정 데이터들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터를 상기 제2 내부 레지스터들에 갱신한 후 상기 전력 관리 집적 회로에 전송할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 타이밍 컨트롤러로부터 수신된 상기 갱신 구동 설정 데이터를 상기 제1 내부 레지스터들에 갱신할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 구동 헥스 값들을 상기 상위 데시멀 값들과 상기 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상기 상위 데시멀 값들과 상기 하위 데시멀 값들을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값을 도출하며, 상기 인증 데시멀 값을 기초로 상기 인증 헥스 값을 생성하고, 상기 전력 관리 집적 회로에 상기 인증 헥스 값을 전송할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 인증 수식에는 상기 상위 데시멀 값들 각각과 상기 하위 데시멀 값들 각각이 적어도 1회 이상 변수로서 사용될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 인증 수식은 상기 전력 관리 집적 회로만이 접근 가능할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 인증 수식에는 상기 상위 데시멀 값들 각각과 상기 하위 데시멀 값들 각각이 적어도 1회 이상 변수로서 사용될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 인증 수식은 상기 타이밍 컨트롤러만이 접근 가능할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 인증 수식과 상기 제2 인증 수식이 동일하면 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값은 일치하고, 상기 제1 인증 수식과 상기 제2 인증 수식이 상이하면 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값은 불일치할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 제1 인증 레지스터를 더 포함하고, 상기 결과 헥스 값이 상기 제1 인증 레지스터에 저장되며, 상기 제1 인증 레지스터의 크기는 상기 제1 내부 레지스터들 각각의 크기의 절반일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 타이밍 컨트롤러는 제2 인증 레지스터를 더 포함하고, 상기 인증 헥스 값이 상기 제2 인증 레지스터에 저장되며, 상기 제2 인증 레지스터의 크기는 상기 제2 내부 레지스터들 각각의 크기의 절반일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 인증 레지스터는 상기 제1 내부 레지스터들 중 하나 이상의 일부가 할당되어 구비되고, 상기 제2 인증 레지스터는 상기 제2 내부 레지스터들 중 하나 이상의 일부가 할당되어 구비될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전력 관리 집적 회로가 상기 정상 모드로 동작할 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 최대 성능으로 동작할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전력 관리 집적 회로가 상기 보호 모드로 동작할 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 최대 성능보다 낮은 제한 성능으로 동작할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전력 관리 집적 회로가 상기 보호 모드로 동작할 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 셧-다운될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들을 포함하는 표시 패널, 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로 및 표시 패널과 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성하고, 표시 패널 구동 회로에 포함된 타이밍 컨트롤러로부터 구동 설정 데이터들을 수신하며, 구동 설정 데이터들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제1 내부 레지스터들에 저장하고, 구동 헥스 값들에 기초하여 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건들을 결정하는 전력 관리 집적 회로를 포함하되, 전력 관리 집적 회로로 하여금 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값을 생성하고, 타이밍 컨트롤러로부터 수신되는 인증 데이터에 상응하는 인증 헥스 값과 결과 헥스 값을 비교하며, 인증 헥스 값과 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드(예를 들어, 고성능 모드) 또는 보호 모드(예를 들어, 제한 성능 모드 또는 셧-다운 모드)로 선택적으로 동작하도록 함으로써, 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 소정의 통신을 수행하여 구동 조건들을 변경(예를 들어, 표시 패널 및 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들의 전압 레벨들을 변경 등)함에 있어 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이의 인증 성공 여부에 따라 전력 관리 집적 회로를 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작시킬 수 있다. 그 결과, 스펙이 파악된 표시 패널과 표시 패널 구동 회로가 전력 관리 집적 회로에 연결되더라도 표시 패널 구동 회로에 포함된 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증이 성공되지 않으면 전력 관리 집적 회로가 정상 모드로 동작하지 않기 때문에, 전력 관리 집적 회로를 제조하는 제조사가 해당 전력 관리 집적 회로에 적용한 고유 기술이 다른 제조사들에게 유출되는 것이 방지될 수 있다. 다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 전력 관리 집적 회로 내 제1 내부 레지스터들 및 제1 인증 레지스터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 타이밍 컨트롤러 내 제2 내부 레지스터들 및 제2 인증 레지스터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 구동 조건들을 변경하는 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 구동 조건들을 변경하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행되는 과정을 나타내는 도면이다.
도 7a 및 도 7b는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행될 때 전력 관리 집적 회로가 동작하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행될 때 타이밍 컨트롤러가 동작하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 10은 도 9의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면 상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 사용하고 동일한 구성 요소에 대해서 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이고, 도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 전력 관리 집적 회로 내 제1 내부 레지스터들 및 제1 인증 레지스터의 일 예를 나타내는 도면이며, 도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 타이밍 컨트롤러 내 제2 내부 레지스터들 및 제2 인증 레지스터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 표시 패널 구동 회로(120) 및 전력 관리 집적 회로(130)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치 또는 액정 표시 장치일 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 표시 장치(100)가 그에 한정되지는 않는다.
표시 패널(110)은 화소(111)들을 포함할 수 있다. 화소(111)들은 표시 패널(110) 내에서 다양한 형태(예를 들어, 매트릭스(matrix) 형태 등)로 배치될 수 있다. 한편, 화소(111)들 각각은 적색 표시 화소, 녹색 표시 화소 및 청색 표시 화소 중에서 적어도 하나 이상을 포함할 수 있다. 표시 패널 구동 회로(120)는 표시 패널(110)을 구동할 수 있다. 이를 위해, 표시 패널 구동 회로(110)는 스캔 드라이버, 데이터 드라이버, 타이밍 컨트롤러(125) 등을 포함할 수 있다. 스캔 드라이버는 스캔 라인들을 통해 표시 패널(110)에 전기적으로 연결될 수 있다. 이에, 스캔 드라이버는 표시 패널(110)에 포함된 화소(111)들에 스캔 라인들을 통해 스캔 신호(SS)를 제공할 수 있다. 데이터 드라이버는 데이터 라인들을 통해 표시 패널(110)에 전기적으로 연결될 수 있다. 이에, 데이터 드라이버는 표시 패널(110)에 포함된 화소(111)들에 데이터 라인들을 통해 데이터 신호(DS)를 제공할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(125)는 스캔 드라이버, 데이터 드라이버 등을 제어할 수 있다. 또한, 타이밍 컨트롤러(125)는 외부에서 입력되는 이미지 데이터에 대한 소정의 프로세싱(예를 들어, 열화 보상 프로세싱 등)을 수행할 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러(125)는 전력 관리 집적 회로(130)와 소정의 통신(예를 들어, I2C 통신)을 수행하여 구동 조건들을 변경할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 컨트롤러(125)는 전력 관리 집적 회로(130)와 소정의 통신을 수행하여 전력 관리 집적 회로(130)로 하여금 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들(예를 들어, 고전원 전압(ELVDD), 저전원 전압(ELVSS), 아날로그 고전압(AVDD) 등)의 전압 레벨들을 변경하도록 할 수 있다. 다른 예를 들어, 타이밍 컨트롤러(125)는 전력 관리 집적 회로(130)와 소정의 통신을 수행하여 전력 관리 집적 회로(130)로 하여금 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)에 대한 소정의 기능을 수행하도록 할 수 있다.
전력 관리 집적 회로(130)는 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성(즉, POW로 표시)하고, 표시 패널 구동 회로(120)에 포함된 타이밍 컨트롤러(125)로부터 구동 설정 데이터(DSD)들을 수신하며, 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장하고, 구동 헥스 값들에 기초하여 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건들을 결정(즉, CTL로 표시)할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 구동 헥스 값은 8비트(bit)로 표현되고, 그에 따라, 구동 헥스 값을 저장하는 제1 내부 레지스터(FDR)들 각각은 8비트의 저장 공간을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 어드레스(REG-ADR(1))에 상응하는 제1 내부 레지스터(FDR)에는 제1 구동 헥스 값이 저장되고, 제2 어드레스(REG-ADR(2))에 상응하는 제1 내부 레지스터(FDR)에는 제2 구동 헥스 값이 저장되며, 제n(단, n은 2이상의 정수) 어드레스(REG-ADR(n))에 상응하는 제1 내부 레지스터(FDR)에는 제n 구동 헥스 값이 저장될 수 있다. 이 때, 제1 내지 제n 구동 헥스 값들 각각의 전부(예를 들어, 상위 4비트 및 하위 4비트) 또는 일부(예를 들어, 상위 4비트 또는 하위 4비트)가 하나의 구동 조건을 결정할 수도 있고, 제1 내지 제n 구동 헥스 값들 중 2이상이 함께 하나의 구동 조건을 결정할 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 구동 헥스 값들이 고전원 전압(ELVDD)의 전압 레벨을 결정하고, 제3 구동 헥스 값이 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨을 결정하며, 제4 내지 제6 구동 헥스 값들과 제n 구동 헥스 값의 일부가 아날로그 고전압(AVDD)의 전압 레벨을 결정할 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 구동 헥스 값들에 따른 구동 조건 결정이 이에 한정되지는 않는다. 한편, 전력 관리 집적 회로(130)는 구동 헥스 값들에 기초하여 도출되는 결과 헥스 값을 저장하는 제1 인증 레지스터(FAR)를 포함할 수 있다. 이 때, 제1 인증 레지스터(FAR)의 크기는 제1 내부 레지스터(FDR)들 각각의 크기보다 작을 수 있다. 예를 들어, 제1 인증 레지스터(FAR)의 크기(예를 들어, 4비트의 크기)는 제1 내부 레지스터(FDR)들 각각의 크기(예를 들어, 8비트의 크기)의 절반일 수 있다. 일 실시예에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 인증 레지스터(FAR)는 제1 내부 레지스터(FDR)들과는 별개로 구비될 수 있다. 다른 실시예에서, 제1 인증 레지스터(FAR)는 제1 내부 레지스터(FDR)들 중 하나의 일부가 할당되어 구비될 수 있다. 또 다른 실시예에서, 제1 인증 레지스터(FAR)는 제1 내부 레지스터(FDR)들 중 2개 이상의 일부들이 할당되어 구비될 수 있다.
한편, 전력 관리 집적 회로(130)는 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리할 수 있다. 이 때, 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장된 구동 헥스 값들 각각이 상위 데시멀 값과 하위 데시멀 값으로 분리될 때, 상위 4비트에 해당하는 상위 데시멀 값은 0부터 15까지의 값으로 표현되고, 하위 4비트에 해당하는 하위 데시멀 값도 0부터 15까지의 값으로 표현될 수 있다. 예를 들어, 제k(단, k는 1이상 n이하의 정수) 어드레스(REG-ADR(k))에 상응하는 제1 내부 레지스터(FDR)에 저장된 제k 구동 헥스 값이 A3이라고 가정(즉, 제k 어드레스(REG-ADR(k))에 상응하는 제1 내부 레지스터(FDR)에 '10100011'으로 저장되어 있음)하면, 제k 구동 헥스 값은 상위 4비트에 해당하는 헥스 값인 A(즉, '1010')와 하위 4비트에 해당하는 헥스 값인 3(즉, '0011')으로 분리되고, 상위 4비트에 해당하는 헥스 값인 A(즉, '1010')는 상위 데시멀 값인 10으로 표현되며, 하위 4비트에 해당하는 헥스 값인 3(즉, '0011')은 하위 데시멀 값인 3으로 표현될 수 있다. 다음, 전력 관리 집적 회로(130)는 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장된 구동 헥스 값들이 분리된 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하고, 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값을 생성할 수 있다. 구체적으로, 제1 인증 수식에는 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장된 구동 헥스 값들이 분리된 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들 각각이 적어도 1회 이상 변수로서 사용되고, 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장된 구동 헥스 값들이 분리된 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들이 제1 인증 수식에 대입됨에 따라 결과 데시멀 값이 생성되며, 결과 데시멀 값이 헥스 값으로 변환된 일부(예를 들어, 상위 4비트에 해당하는 헥스 값 또는 하위 4비트에 해당하는 헥스 값)가 결과 헥스 값으로 결정될 수 있다. 이 때, 제1 인증 수식에는 전력 관리 집적 회로(130)만이 접근 가능하기 때문에, 전력 관리 집적 회로(130)만이 결과 데시멀 값을 파악할 수 있고, 그에 따라, 결과 데시멀 값을 기초로 생성된 결과 헥스 값은 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 인증 동작을 수행하기 위한 암호 값으로 이용될 수 있다.
이후, 전력 관리 집적 회로(130)는 결과 헥스 값을 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신되는 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값과 비교하고, 인증 헥스 값과 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작할 수 있다. 예를 들어, 전력 관리 집적 회로(130)가 정상 모드로 동작할 때, 전력 관리 집적 회로(130)는 최대 성능으로 동작할 수 있다. 반면에, 전력 관리 집적 회로(130)가 보호 모드로 동작할 때, 전력 관리 집적 회로(130)는 최대 성능보다 낮은 제한 성능으로 동작하거나 또는 셧-다운될 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신되는 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 일치하면, 전력 관리 집적 회로(130)는 정상 모드로 동작하고, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신되는 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 불일치하면, 전력 관리 집적 회로(130)는 보호 모드로 동작할 수 있다. 다른 실시예에서, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신되는 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 일치하면, 전력 관리 집적 회로(130)는 정상 모드로 동작하고, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 기 설정된 시간 내에 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값이 수신되지 않으면, 전력 관리 집적 회로(130)는 보호 모드로 동작할 수 있다. 즉, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신되는 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 불일치하거나 또는 타이밍 컨트롤러(125)로부터 기 설정된 시간 내에 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값이 수신되지 않으면, 전력 관리 집적 회로(130)는 최대 성능을 제공하는 것이 허용되지 않은 표시 패널(110)과 표시 패널 구동 회로(120)에 연결되었다고 판단하여 최대 성능보다 낮은 제한 성능으로 동작하거나 또는 셧-다운됨으로써 전력 관리 집적 회로(130)에 적용된 고유 기술(즉, 고유 지적 자산)이 유출되지 않도록 할 수 있다.
한편, 전력 관리 집적 회로(130)는 결과 헥스 값을 비교할 인증 헥스 값을 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신할 수 있다. 이를 위해, 타이밍 컨트롤러(125)는 매 이미지 프레임마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 설정 데이터(DSD)들을 결정하고, 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제2 내부 레지스터(SDR)들에 저장하며, 전력 관리 집적 회로(130)에 구동 설정 데이터(DSD)들을 전송할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 구동 헥스 값은 8비트로 표현되고, 그에 따라, 구동 헥스 값을 저장하는 제2 내부 레지스터(SDR)들 각각은 8비트의 저장 공간을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 어드레스(REG-ADR(1))에 상응하는 제2 내부 레지스터(SDR)에는 제1 구동 헥스 값이 저장되고, 제2 어드레스(REG-ADR(2))에 상응하는 제2 내부 레지스터(SDR)에는 제2 구동 헥스 값이 저장되며, 제n 어드레스(REG-ADR(n))에 상응하는 제2 내부 레지스터(SDR)에는 제n 구동 헥스 값이 저장될 수 있다. 이 때, 제1 내지 제n 구동 헥스 값들 각각의 전부(예를 들어, 상위 4비트 및 하위 4비트) 또는 일부(예를 들어, 상위 4비트 또는 하위 4비트)가 하나의 구동 조건을 결정할 수도 있고, 제1 내지 제n 구동 헥스 값들 중 2이상이 함께 하나의 구동 조건을 결정할 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러(125)는 제2 내부 레지스터(SDR)들에 저장된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 제2 내부 레지스터(SDR)들에 저장된 구동 헥스 값들이 분리된 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값을 도출하며, 인증 데시멀 값을 기초로 인증 헥스 값을 생성하고, 전력 관리 집적 회로(130)에 인증 헥스 값에 상응하는 인증 데이터(AD)를 전송할 수 있다. 구체적으로, 제2 인증 수식에는 제2 내부 레지스터(SDR)들에 저장된 구동 헥스 값들이 분리된 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들 각각이 적어도 1회 이상 변수로서 사용되고, 제2 내부 레지스터(SDR)들에 저장된 구동 헥스 값들이 분리된 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들이 제2 인증 수식에 대입됨에 따라 인증 데시멀 값이 생성되며, 인증 데시멀 값이 헥스 값으로 변환된 일부가 인증 헥스 값으로 결정될 수 있다. 이 때, 제2 인증 수식에는 타이밍 컨트롤러(125)만이 접근 가능하기 때문에, 타이밍 컨트롤러(125)만이 인증 데시멀 값을 파악할 수 있고, 그에 따라, 인증 데시멀 값을 기초로 생성된 인증 헥스 값은 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 인증 동작을 수행하기 위한 암호 값으로 이용될 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러(125)는 구동 헥스 값들에 기초하여 도출되는 인증 헥스 값을 저장하는 제2 인증 레지스터(SAR)를 포함할 수 있다. 이 때, 제2 인증 레지스터(SAR)의 크기는 제2 내부 레지스터(SDR)들 각각의 크기보다 작을 수 있다. 예를 들어, 제2 인증 레지스터(SAR)의 크기(예를 들어, 4비트의 크기)는 제2 내부 레지스터(SDR)들 각각의 크기(예를 들어, 8비트의 크기)의 절반일 수 있다. 일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 제2 인증 레지스터(SAR)는 제2 내부 레지스터(SDR)들과는 별개로 구비될 수 있다. 다른 실시예에서, 제2 인증 레지스터(SAR)는 제2 내부 레지스터(SDR)들 중 하나의 일부가 할당되어 구비될 수 있다. 또 다른 실시예에서, 제2 인증 레지스터(SAR)는 제2 내부 레지스터(SDR)들 중 2개 이상의 일부들이 할당되어 구비될 수 있다.
상술한 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증 동작은 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 일치하는지 여부를 판단하는 방식으로 이루어질 수 있다. 이 때, 전력 관리 집적 회로(130)에 포함된 제1 내부 레지스터(FDR)들과 타이밍 컨트롤러(125)에 포함된 제2 내부 레지스터(SDR)들은 동일한 구동 헥스 값들(즉, 동일한 구동 설정 데이터들)을 저장하기 때문에, 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값을 도출하기 위한 제1 인증 수식과 타이밍 컨트롤러(125)가 인증 헥스 값을 도출하기 위한 제2 인증 수식이 동일하면, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값은 일치할 수밖에 없고, 그에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증은 성공할 수 있다. 반면에, 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값을 도출하기 위한 제1 인증 수식과 타이밍 컨트롤러(125)가 인증 헥스 값을 도출하기 위한 제2 인증 수식이 동일하지 않으면(또는, 타이밍 컨트롤러(125)가 인증 헥스 값을 도출하기 위한 제2 인증 수식을 포함하지 않으면), 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 불일치할 수밖에 없고, 그에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증은 성공할 수 없다. 즉, 타이밍 컨트롤러(125)가 전력 관리 집적 회로(130)의 제조사에 의해 제조되지 않은 경우, 타이밍 컨트롤러(125)는 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값을 도출하기 위한 제1 인증 수식을 파악할 수 없고, 그에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값이 불일치하므로, 전력 관리 집적 회로(130)는 최대 성능을 제공하는 것이 허용되지 않은 표시 패널(110)과 표시 패널 구동 회로(120)에 연결되었다고 판단하여 최대 성능보다 낮은 제한 성능으로 동작하거나 또는 셧-다운될 수 있다. 그 결과, 전력 관리 집적 회로(130)는 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값을 도출하기 위한 제1 인증 수식을 파악하지 못하는 타이밍 컨트롤러(125)에 최대 성능을 제공하지 않을 수 있고, 그에 따라, 전력 관리 집적 회로(130)에 적용된 고유 기술(즉, 고유 지적 자산)이 다른 제조사에 유출되는 것을 방지할 수 있다.
한편, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증 동작은 매 이미지 프레임마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 결정되는 구동 설정 데이터(DSD)들이 갱신될 때마다 수행될 수 있다. 즉, 제1 이미지 프레임(즉, 이전 이미지 프레임)에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임(즉, 현재 이미지 프레임)에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들이 상이하면 제2 이미지 프레임 동안 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증 동작이 수행될 수 있다. 이에, 타이밍 컨트롤러(125)는 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들이 상이하면, 제2 이미지 프레임 동안 제2 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(DSD)를 전력 관리 집적 회로(130)에 제공한 후 상기 인증 동작을 수행하기 위한 인증 데이터(AD)를 전력 관리 집적 회로(130)에 제공할 수 있다. 구체적으로, 타이밍 컨트롤러(125)는 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들을 비교하고, 제2 이미지 프레임 동안 제2 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(DSD)를 제2 내부 레지스터(SDR)들에 갱신한 후 상기 갱신 구동 설정 데이터(DSD)를 전력 관리 집적 회로(130)에 전송하며, 상기 갱신 구동 설정 데이터(DSD)가 반영된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리한 후 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값을 도출하고, 인증 데시멀 값을 제2 인증 레지스터(SAR)에 저장할 수 있다. 또한, 전력 관리 집적 회로(130)는 제2 이미지 프레임 동안 타이밍 컨트롤러(125)로부터 상기 갱신 구동 설정 데이터(DSD)를 수신하고, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신된 상기 갱신 구동 설정 데이터(DSD)를 제1 내부 레지스터(FDR)들에 갱신하며, 상기 갱신 구동 설정 데이터(DSD)가 반영된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리한 후 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하고, 결과 데시멀 값을 제1 인증 레지스터(FAR)에 저장할 수 있다. 이후, 타이밍 컨트롤러(125)가 제2 인증 레지스터(SAR)에 저장된 인증 데시멀 값에 상응하는 인증 데이터(AD)를 전력 관리 집적 회로(130)에 전송하면, 전력 관리 집적 회로(130)는 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신된 상기 인증 데시멀 값과 제1 인증 레지스터(FAR)에 저장된 결과 데시멀 값을 비교하고, 인증 헥스 값과 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작할 수 있다.
이와 같이, 표시 장치(100)는 화소(111)들을 포함하는 표시 패널(110), 표시 패널(110)을 구동하는 표시 패널 구동 회로(120) 및 표시 패널(110)과 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성(즉, POW로 표시)하고, 표시 패널 구동 회로(120)에 포함된 타이밍 컨트롤러(125)로부터 구동 설정 데이터(DSD)들을 수신하며, 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제1 내부 레지스터(FDR)들에 저장하고, 구동 헥스 값들에 기초하여 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건들을 결정(즉, CTL로 표시)하는 전력 관리 집적 회로(130)를 포함하되, 전력 관리 집적 회로(130)로 하여금 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값을 생성하고, 타이밍 컨트롤러(125)로부터 수신되는 인증 데이터(AD)에 상응하는 인증 헥스 값과 결과 헥스 값을 비교하며, 인증 헥스 값과 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드(예를 들어, 고성능 모드) 또는 보호 모드(예를 들어, 제한 성능 모드 또는 셧-다운 모드)로 선택적으로 동작하도록 함으로써, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130)가 소정의 통신(예를 들어, I2C 통신)을 수행하여 구동 조건들을 변경(예를 들어, 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들의 전압 레벨들을 변경 등)함에 있어 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증 성공 여부에 따라 전력 관리 집적 회로(130)를 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작시킬 수 있다. 그 결과, 스펙이 파악된 표시 패널(110)과 표시 패널 구동 회로(120)(예를 들어, 전력 관리 집적 회로(130)의 제조사가 아닌 다른 제조사들의 표시 패널(110)과 표시 패널 구동 회로(120))가 전력 관리 집적 회로(130)에 연결되더라도 표시 패널 구동 회로(120)에 포함된 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 인증이 성공되지 않으면 전력 관리 집적 회로(130)가 정상 모드로 동작하지 않기 때문에, 전력 관리 집적 회로(130)를 제조하는 제조사가 해당 전력 관리 집적 회로(130)에 적용한 고유 기술이 다른 제조사들에게 유출되는 것이 방지될 수 있다.
도 4는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 구동 조건을 변경하는 일 예를 나타내는 순서도이고, 도 5는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 구동 조건을 변경하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130)는 매 이미지 프레임(1F, 2F, 3F)마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 조건을 변경할 수 있다. 한편, 도 5에서는 하나의 이미지 프레임(1F, 2F, 3F)이 주기 신호(또는, 티어링 효과(tearing effect) 신호로 명명)(TE)에 의해 정의(예를 들어, 주기 신호(TE)의 하나의 주기가 하나의 이미지 프레임(1F, 2F, 3F)에 상응)되고, 주기 신호(TE)가 로우 레벨에서 하이 레벨로 전환되는 시점에 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 I2C 통신이 수행되는 것으로 도시되어 있다. 구체적으로, 타이밍 컨트롤러(125)는 제1 이미지 프레임(즉, 이전 이미지 프레임)에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임(즉, 현재 이미지 프레임)에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들을 비교(S110)하고, 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들이 상이한지 여부를 확인(S120)할 수 있다. 이 때, 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들이 상이하면, 전력 관리 집적 회로(130)는 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)의 구동 조건을 변경(S130)할 수 있다. 반면에, 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터(DSD)들과 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터(DSD)들이 동일하면, 전력 관리 집적 회로(130)는 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)의 구동 조건을 유지(S140)할 수 있다. 다만, 설명의 편의를 위해, 도 5에서는 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)의 구동 조건을 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들(ELVDD, ELVSS, AVDD)의 전압 레벨들로 설명하고 있으나, 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)의 구동 조건은 그에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)의 구동 조건은 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들(ELVDD, ELVSS, AVDD)의 전압 레벨들 뿐만 아니라 전력 관리 집적 회로(130)가 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)에 대해 수행 가능한 다양한 기능들까지 포함할 수 있다.
예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이, 표시 장치(100)가 턴온됨에 따라 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 I2C 통신이 수행(즉, TA로 표시)되고, 상기 I2C 통신에 따라 파워-온 구간(POWER-ON) 동안 아날로그 고전압(AVDD), 고전원 전압(ELVDD) 및 저전원 전압(ELVSS)이 초기 전압 레벨들로 각각 설정될 수 있다. 이후, 주기 신호(TE)에 응답하여 첫 번째 이미지 프레임(1F)이 시작되고, 주기 신호(TE)가 로우 레벨에서 하이 레벨로 전환되는 시점에 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 I2C 통신이 수행(즉, TB로 표시)되며, 첫 번째 이미지 프레임(1F)에서 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 설정 데이터(DSD)들이 결정될 수 있다. 이에, 구동 설정 데이터(DSD)에 상응하는 구동 헥스 값들에 기초하여 아날로그 고전압(AVDD), 고전원 전압(ELVDD) 및 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨들이 결정(이 때, 도 5에서는 아날로그 고전압(AVDD), 고전원 전압(ELVDD) 및 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨들이 초기 전압 레벨들과 동일하게 결정)될 수 있다. 다음, 주기 신호(TE)에 응답하여 두 번째 이미지 프레임(2F)이 시작되고, 주기 신호(TE)가 로우 레벨에서 하이 레벨로 전환되는 시점에 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 I2C 통신이 수행(즉, TC로 표시)되며, 두 번째 이미지 프레임(2F)에서 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 설정 데이터(DSD)들이 결정될 수 있다. 이에, 구동 설정 데이터(DSD)에 상응하는 구동 헥스 값들에 기초하여 아날로그 고전압(AVDD), 고전원 전압(ELVDD) 및 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨들이 결정(이 때, 도 5에서는 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨만 변하도록 결정)될 수 있다. 이 때, 두 번째 이미지 프레임(2F)에서 구동 설정 데이터(DSD)들이 갱신되었으므로, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증 동작이 수행될 수 있다. 이후, 주기 신호(TE)에 응답하여 세 번째 이미지 프레임(3F)이 시작되고, 주기 신호(TE)가 로우 레벨에서 하이 레벨로 전환되는 시점에 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 I2C 통신이 수행(즉, TD로 표시)되며, 세 번째 이미지 프레임(3F)에서 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 설정 데이터(DSD)들이 결정될 수 있다. 이에, 구동 설정 데이터(DSD)에 상응하는 구동 헥스 값들에 기초하여 아날로그 고전압(AVDD), 고전원 전압(ELVDD) 및 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨들이 결정(이 때, 도 5에서는 아날로그 고전압(AVDD), 고전원 전압(ELVDD) 및 저전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨들이 유지되도록 결정)될 수 있다. 이러한 방식으로, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130)는 매 이미지 프레임(1F, 2F, 3F)마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 설정 데이터(DSD)들을 갱신하고, 구동 설정 데이터(DSD)들이 갱신됨에 따라 구동 조건이 변경되면 인증 동작을 수행할 수 있다.
도 6은 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행되는 과정을 나타내는 도면이고, 도 7a 및 도 7b는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행될 때 전력 관리 집적 회로가 동작하는 일 예를 나타내는 도면이며, 도 8a 및 도 8b는 도 1의 표시 장치에서 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행될 때 타이밍 컨트롤러가 동작하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6 내지 도 8b를 참조하면, 표시 장치(100)에서 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이에 소정의 통신(예를 들어, I2C 통신)을 이용하여 인증 동작이 수행될 수 있다.
구체적으로, 타이밍 컨트롤러(125)는 이미지 프레임이 시작되면 외부(예를 들어, 이미지 프로세서 등)로부터 이미지 데이터(IMG)를 수신(S210)한 후 이미지 데이터(IMG)에 기초하여 구동 설정 데이터(DSD)들 및 인증 데이터(AD)를 결정(S220)할 수 있다. 이 때, 타이밍 컨트롤러(125)는 구동 설정 데이터(DSD)들을 저장하기 위한 제2 내부 레지스터 및 인증 데이터(AD)를 저장하기 위한 제2 인증 레지스터를 포함하고, 이미지 데이터(IMG)에 기초하여 결정된 구동 설정 데이터(DSD)들 및 인증 데이터(AD)를 제2 내부 레지스터 및 제2 인증 레지스터에 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 제2 인증 레지스터는 제2 내부 레지스터들 중 하나의 일부(즉, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터의 상위 4비트(UDV))가 할당되어 구비될 수 있다. 다른 실시예에서, 제2 인증 레지스터는 제2 내부 레지스터들 중 2개 이상의 일부들이 할당되어 구비될 수 있다. 또 다른 실시예에서, 제2 인증 레지스터는 제2 내부 레지스터들과는 별개로 구비될 수 있다. 예를 들어, 도 8a에 도시된 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)는 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들(즉, E1, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 제1 내지 제9 어드레스들(00h, ..., 08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터들에 저장할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제2 인증 레지스터에 저장되는 인증 헥스 값(AHV)이 1이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제2 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 1E가 저장될 수 있다. 다른 예를 들어, 도 8b에 도시된 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)는 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들(즉, E5, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 제1 내지 제9 어드레스들(00h, ..., 08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터들에 저장할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제2 인증 레지스터에 저장되는 인증 헥스 값(AHV)이 A이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제2 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 AE가 저장될 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러(125)는 이미지 데이터(IMG)에 기초하여 결정된 구동 설정 데이터(DSD)들을 제2 내부 레지스터에 저장함에 있어서 모든 구동 설정 데이터(DSD)들을 다시 저장하는 것이 아니라 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)만을 저장할 수 있다. 즉, 타이밍 컨트롤러(125)는 이전 이미지 프레임에서 결정된 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 현재 이미지 프레임에서 결정된 현재 구동 설정 데이터(DSD)들을 비교하고, 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)만을 제2 내부 레지스터들에 갱신할 수 있다. 예를 들어, 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)가 제1 어드레스(00h)에 상응하는 제2 내부 레지스터에 갱신(즉, E1->E5로 표시)될 수 있다.
또한, 타이밍 컨트롤러(125)는 제2 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값을 도출하며, 인증 데시멀 값을 기초로 인증 헥스 값(AHV)을 생성할 수 있다. 예를 들어, 도 8a에 도시된 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)는 제2 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들(즉, E1, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 1, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)로 분리하고, 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 1, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값(즉, 1)을 도출하며, 인증 데시멀 값(즉, 1)을 기초로(예를 들어, 인증 데시멀 값(즉, 1)을 헥스 값으로 변환하여) 인증 헥스 값(AHV)(즉, 1)을 생성할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제2 인증 레지스터에 저장되는 인증 헥스 값(AHV)이 1이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제2 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 1E가 저장될 수 있다. 상술한 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)는 이전 이미지 프레임에서 결정된 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 현재 이미지 프레임에서 결정된 현재 구동 설정 데이터(DSD)들을 비교하고, 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)만을 제2 내부 레지스터들에 갱신할 수 있다. 따라서, 도 8b에 도시된 바와 같이, 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)가 제1 어드레스(00h)에 상응하는 제2 내부 레지스터에 갱신(즉, E1->E5로 표시)됨에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)는 제2 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들(즉, E5, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 5, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)로 분리하고, 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 5, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값(즉, 10)을 도출하며, 인증 데시멀 값(즉, 10)을 기초로(예를 들어, 인증 데시멀 값(즉, 10)을 헥스 값으로 변환하여) 인증 헥스 값(AHV)(즉, A)을 생성할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제2 인증 레지스터에 저장되는 인증 헥스 값(AHV)이 A이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제2 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제2 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 AE가 저장될 수 있다.
이후, 타이밍 컨트롤러(125)는 이미지 데이터(IMG)에 기초하여 결정된 구동 설정 데이터(DSD)들을 전력 관리 집적 회로(130)에 전송(S230)할 수 있다. 이 때, 전력 관리 집적 회로(130)는 구동 설정 데이터(DSD)들을 저장하기 위한 제1 내부 레지스터 및 결과 헥스 값(RHV)을 저장하기 위한 제1 인증 레지스터를 포함하고, 구동 설정 데이터(DSD)들 및 결과 헥스 값(RHV)을 제1 내부 레지스터 및 제1 인증 레지스터에 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 도 7a 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 제1 인증 레지스터는 제1 내부 레지스터들 중 하나의 일부(즉, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터의 상위 4비트(UDV))가 할당되어 구비될 수 있다. 다른 실시예에서, 제1 인증 레지스터는 제1 내부 레지스터들 중 2개 이상의 일부들이 할당되어 구비될 수 있다. 또 다른 실시예에서, 제1 인증 레지스터는 제1 내부 레지스터들과는 별개로 구비될 수 있다. 예를 들어, 도 7a에 도시된 바와 같이, 전력 관리 집적 회로(130)는 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들(즉, E1, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 제1 내지 제9 어드레스들(00h, ..., 08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터들에 저장할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제1 인증 레지스터에 저장되는 인증 헥스 값(AHV)이 1이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제1 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 1E가 저장될 수 있다. 다른 예를 들어, 도 7b에 도시된 바와 같이, 전력 관리 집적 회로(130)는 구동 설정 데이터(DSD)들에 상응하는 구동 헥스 값들(즉, E5, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 제1 내지 제9 어드레스들(00h, ..., 08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터들에 저장할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제1 인증 레지스터에 저장되는 인증 헥스 값(AHV)이 A이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제1 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 AE가 저장될 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러(125)가 전력 관리 집적 회로(130)에 이미지 데이터(IMG)에 기초하여 결정된 모든 구동 설정 데이터(DSD)들을 전송하는 것이 아니라 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)만을 전송하기 때문에, 전력 관리 집적 회로(130)는 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)만을 제1 내부 레지스터들에 갱신할 수 있다. 예를 들어, 도 7a 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)가 제1 어드레스(00h)에 상응하는 제1 내부 레지스터에 갱신(즉, E1->E5로 표시)될 수 있다.
또한, 전력 관리 집적 회로(130)는 제1 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값(RHV)을 생성(S240)할 수 있다. 예를 들어, 도 7a에 도시된 바와 같이, 전력 관리 집적 회로(130)는 제1 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들(즉, E1, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 1, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)로 분리하고, 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 1, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값(즉, 1)을 도출하며, 결과 데시멀 값(즉, 1)을 기초로(예를 들어, 결과 데시멀 값(즉, 1)을 헥스 값으로 변환하여) 결과 헥스 값(RHV)(즉, 1)을 생성할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제1 인증 레지스터에 저장되는 결과 헥스 값이 1이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제1 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 1E가 저장될 수 있다. 상술한 바와 같이, 전력 관리 집적 회로(130)는 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)만을 제1 내부 레지스터들에 갱신할 수 있다. 따라서, 도 7b에 도시된 바와 같이, 현재 구동 설정 데이터(DSD)들 중에서 이전 구동 설정 데이터(DSD)들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터(UDSD)가 제1 어드레스(00h)에 상응하는 제1 내부 레지스터에 갱신(즉, E1->E5로 표시)됨에 따라, 전력 관리 집적 회로(130)는 제1 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들(즉, E5, EF, EF, 66, 6E, 36, 88, 87, E)을 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 5, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)로 분리하고, 상위 데시멀 값들(즉, 14, 14, 14, 6, 6, 3, 8, 8)과 하위 데시멀 값들(즉, 5, 15, 15, 6, 14, 6, 8, 7, 14)을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값(즉, 10)을 도출하며, 결과 데시멀 값(즉, 10)을 기초로(예를 들어, 결과 데시멀 값(즉, 10)을 헥스 값으로 변환하여) 결과 헥스 값(RHV)(즉, A)을 생성할 수 있다. 이 때, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 내부 레지스터의 일부에 해당하는 제1 인증 레지스터에 저장되는 결과 헥스 값(RHV)이 A이므로, 제9 어드레스(08h)에 상응하는 제1 인증 레지스터(즉, 상위 4비트(UDV))와 제1 내부 레지스터(즉, 하위 4비트(LDV))에는 AE가 저장될 수 있다.
다음, 타이밍 컨트롤러(125)는 구동 설정 데이터(DSD)들이 전력 관리 집적 회로(130)에 전송되면, 인증 헥스 값(AHV)에 상응하는 인증 데이터(AD)를 전력 관리 집적 회로(130)에 전송(S250)할 수 있다. 이에, 전력 관리 집적 회로(130)는 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)을 비교(S260)하고, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 일치하는지 여부에 따라 전력 관리 집적 회로(130)의 동작 모드를 결정(S270)할 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 일치하면, 전력 관리 집적 회로는 정상 모드(즉, 최대 성능 모드)로 동작하고, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 일치하지 않거나 또는 타이밍 컨트롤러(125)로부터 기 설정된 시간 내에 인증 헥스 값(AHV)이 수신되지 않으면, 전력 관리 집적 회로(130)는 보호 모드(즉, 제한 성능 모드 또는 셧-다운 모드)로 동작할 수 있다. 예를 들어, 도 7a 및 도 8a에 도시된 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)이 1이고, 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 1이므로, 양 값들(AHV, RHV)이 일치하기 때문에 전력 관리 집적 회로(130)는 정상 모드로 동작할 수 있다. 다른 예를 들어, 도 7b 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)이 A이고, 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 A인 경우에는, 양 값들(AHV, RHV)이 일치하기 때문에 전력 관리 집적 회로(130)는 정상 모드로 동작(즉, OK로 표시)할 수 있다. 반면에, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)이 F이고, 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 A인 경우, 양 값들(AHV, RHV)이 불일치하기 때문에 전력 관리 집적 회로(130)는 보호 모드로 동작(즉, ERROR로 표시)할 수 있다.
이후, 전력 관리 집적 회로(130)는 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)의 일치 여부에 따라 결정된 동작 모드에 기초하여 구동 조건들을 변경(S280)(예를 들어, 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 구동하기 위한 구동 전압들의 전압 레벨들을 변경 등)할 수 있다. 이와 같이, 전력 관리 집적 회로(130)에 포함된 제1 내부 레지스터들과 타이밍 컨트롤러에 포함된 제2 내부 레지스터들은 동일한 구동 헥스 값들(즉, 동일한 구동 설정 데이터들(DSD))을 저장하기 때문에, 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값(RHV)을 도출하기 위한 제1 인증 수식과 타이밍 컨트롤러(125)가 인증 헥스 값(AHV)을 도출하기 위한 제2 인증 수식이 동일하면, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)은 일치할 수밖에 없고, 그에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증은 성공하여 전력 관리 집적 회로(130)가 정상 모드로 동작할 수 있다. 반면에, 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값(RHV)을 도출하기 위한 제1 인증 수식과 타이밍 컨트롤러(125)가 인증 헥스 값(AHV)을 도출하기 위한 제2 인증 수식이 동일하지 않으면(또는, 타이밍 컨트롤러(125)가 인증 헥스 값(AHV)을 도출하기 위한 제2 인증 수식을 포함하지 않으면), 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 불일치할 수밖에 없고, 그에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)와 전력 관리 집적 회로(130) 사이의 인증은 성공하지 못하여 전력 관리 집적 회로(130)가 보호 모드로 동작할 수 있다. 즉, 타이밍 컨트롤러(125)가 전력 관리 집적 회로(130)의 제조사에 의해 제조되지 않은 경우, 타이밍 컨트롤러(125)는 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값(RHV)을 도출하기 위한 제1 인증 수식을 파악할 수 없고, 그에 따라, 타이밍 컨트롤러(125)에서 생성된 인증 헥스 값(AHV)과 전력 관리 집적 회로(130)에서 생성된 결과 헥스 값(RHV)이 불일치하므로, 전력 관리 집적 회로(130)는 최대 성능을 제공하는 것이 허용되지 않은 표시 패널(110)과 표시 패널 구동 회로(120)에 연결되었다고 판단하여 최대 성능보다 낮은 제한 성능으로 동작하거나 또는 셧-다운될 수 있다. 그 결과, 전력 관리 집적 회로(130)는 전력 관리 집적 회로(130)가 결과 헥스 값을 도출하기 위한 제1 인증 수식을 파악하지 못하는 타이밍 컨트롤러(125)에 최대 성능을 제공하지 않을 수 있고, 그에 따라, 전력 관리 집적 회로(130)에 적용된 고유 기술(즉, 고유 지적 자산)이 다른 제조사에 유출되는 것을 방지할 수 있다.
도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이고, 도 10은 도 9의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 전자 기기(1000)는 프로세서(1010), 메모리 장치(1020), 스토리지 장치(1030), 입출력 장치(1040), 파워 서플라이(1050) 및 표시 장치(1060)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 도 1의 표시 장치(100)일 수 있다. 또한, 전자 기기(1000)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 도 10에 도시된 바와 같이, 전자 기기(1000)는 스마트폰으로 구현될 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 전자 기기(1000)가 그에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 전자 기기(1000)는 휴대폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치(smart watch), 태블릿(tablet) PC, 차량용 네비게이션, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이(head mounted display; HMD) 장치 등으로 구현될 수도 있다.
프로세서(1010)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 유닛(central processing unit; CPU), 어플리케이션 프로세서(application processor; AP) 등일 수 있다. 프로세서(1010)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통해 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 주변 구성 요소 상호 연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다. 메모리 장치(1020)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(1020)는 이피롬(Erasable Programmable Read-Only Memory; EPROM) 장치, 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory; EEPROM) 장치, 플래시 메모리 장치(flash memory device), 피램(Phase Change Random Access Memory; PRAM) 장치, 알램(Resistance Random Access Memory; RRAM) 장치, 엔에프지엠(Nano Floating Gate Memory; NFGM) 장치, 폴리머램(Polymer Random Access Memory; PoRAM) 장치, 엠램(Magnetic Random Access Memory; MRAM), 에프램(Ferroelectric Random Access Memory; FRAM) 장치 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 디램(Dynamic Random Access Memory; DRAM) 장치, 에스램(Static Random Access Memory; SRAM) 장치, 모바일 DRAM 장치 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 스토리지 장치(1030)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(1040)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(1060)가 입출력 장치(1040)에 포함될 수도 있다. 파워 서플라이(1050)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다.
표시 장치(1060)는 전자 기기(1000)의 시각적 정보에 해당하는 이미지를 표시할 수 있다. 표시 장치(1060)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 표시 장치(1000)는 화소들을 포함하는 표시 패널, 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로, 및 표시 패널과 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성하고, 표시 패널 구동 회로에 포함된 타이밍 컨트롤러로부터 구동 설정 데이터들을 수신하며, 구동 설정 데이터들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제1 내부 레지스터들에 저장하고, 구동 헥스 값들에 기초하여 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건을 결정하는 전력 관리 집적 회로를 포함할 수 있다. 이 때, 전력 관리 집적 회로는 제1 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값(이 때, 결과 헥스 값은 전력 관리 집적 회로에 포함된 제1 인증 레지스터에 저장됨)을 생성하고, 타이밍 컨트롤러로부터 수신되는 인증 데이터에 상응하는 인증 헥스 값과 결과 헥스 값을 비교하며, 인증 헥스 값과 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작(즉, 타이밍 컨트롤러에서 생성된 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로에서 생성된 결과 헥스 값이 일치하면, 전력 관리 집적 회로는 정상 모드로 동작하고, 타이밍 컨트롤러에서 생성된 인증 헥스 값과 전력 관리 집적 회로에서 생성된 결과 헥스 값이 불일치하거나 또는 전력 관리 집적 회로가 타이밍 컨트롤러로부터 기 설정된 시간 내에 인증 헥스 값을 수신하지 못하면, 전력 관리 집적 회로는 보호 모드로 동작)할 수 있다. 또한, 타이밍 컨트롤러는 매 이미지 프레임마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 구동 설정 데이터들을 결정하고, 구동 설정 데이터들에 상응하는 구동 헥스 값들을 제2 내부 레지스터들에 저장하며, 전력 관리 집적 회로에 구동 설정 데이터들을 전송할 수 있다. 이 때, 타이밍 컨트롤러는 제2 내부 레지스터들에 저장된 구동 헥스 값들을 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상위 데시멀 값들과 하위 데시멀 값들을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값을 도출하며, 인증 데시멀 값을 기초로 인증 헥스 값(이 때, 인증 헥스 값은 타이밍 컨트롤러에 포함된 제2 인증 레지스터에 저장됨)을 생성하고, 전력 관리 집적 회로에 인증 헥스 값에 상응하는 인증 데이터를 전송할 수 있다. 이와 같이, 표시 장치(1060)는 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로가 소정의 통신을 수행하여 구동 조건들을 변경함에 있어 타이밍 컨트롤러와 전력 관리 집적 회로 사이의 인증 성공 여부에 따라 전력 관리 집적 회로를 정상 모드(예를 들어, 최대 성능 모드) 또는 보호 모드(예를 들어, 제한 성능 모드 또는 셧-다운 모드)로 선택적으로 동작시킴으로써, 전력 관리 집적 회로를 제조하는 제조사가 해당 전력 관리 집적 회로에 적용한 고유 기술이 다른 제조사들에게 유출되는 것을 방지할 수 있다. 다만, 이에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 휴대폰, 스마트폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션 시스템, 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이 장치, MP3 플레이어 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
111: 화소 120: 표시 패널 구동 회로
125: 타이밍 컨트롤러 130: 전력 관리 집적 회로
FDR: 제1 내부 레지스터 FAR: 제1 인증 레지스터
SDR: 제2 내부 레지스터 SAR: 제2 인증 레지스터
1000: 전자 기기 1010: 프로세서
1020: 메모리 장치 1030: 스토리지 장치
1040: 입출력 장치 1050: 파워 서플라이
1060: 표시 장치

Claims (20)

  1. 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동 회로; 및
    상기 표시 패널 및 상기 표시 패널 구동 회로를 구동하기 위한 복수의 구동 전압들을 생성하고, 상기 표시 패널 구동 회로에 포함된 타이밍 컨트롤러로부터 구동 설정 데이터들을 수신하며, 상기 구동 설정 데이터들에 상응하는 구동 헥스(HEX) 값들을 제1 내부 레지스터들에 저장하고, 상기 구동 헥스 값들에 기초하여 상기 구동 전압들의 전압 레벨들을 포함하는 구동 조건들을 결정하는 전력 관리 집적 회로를 포함하고,
    상기 전력 관리 집적 회로는 상기 구동 헥스 값들을 상위 데시멀(decimal) 값들과 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상기 상위 데시멀 값들과 상기 하위 데시멀 값들을 제1 인증 수식에 적용하여 결과 데시멀 값을 도출하며, 상기 결과 데시멀 값을 기초로 결과 헥스 값을 생성하고, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 수신되는 인증 데이터에 상응하는 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값을 비교하며, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 일치하는지 여부에 따라 정상 모드 또는 보호 모드로 선택적으로 동작하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 일치하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 정상 모드로 동작하고, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 불일치하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 보호 모드로 동작하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값이 일치하면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 정상 모드로 동작하고, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 기 설정된 시간 내에 상기 인증 헥스 값이 수신되지 않으면, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 보호 모드로 동작하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터들과 상기 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터들이 상이하면, 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 타이밍 컨트롤러와 상기 전력 관리 집적 회로 사이에 인증 동작이 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 타이밍 컨트롤러와 상기 전력 관리 집적 회로는 인터 집적 회로(inter integrated circuit; I2C) 통신을 수행하고, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 제2 구동 설정 데이터들 중에서 상기 제1 구동 설정 데이터들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터를 상기 전력 관리 집적 회로에 제공한 후 상기 인증 데이터를 상기 전력 관리 집적 회로에 제공하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 타이밍 컨트롤러는 매 이미지 프레임마다 입력되는 이미지 데이터에 기초하여 상기 구동 설정 데이터들을 결정하고, 상기 구동 설정 데이터들에 상응하는 상기 구동 헥스 값들을 제2 내부 레지스터들에 저장하며, 상기 전력 관리 집적 회로에 상기 구동 설정 데이터들을 전송하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 타이밍 컨트롤러는 제1 이미지 프레임에서 결정된 제1 구동 설정 데이터들과 상기 제1 이미지 프레임을 뒤따르는 제2 이미지 프레임에서 결정된 제2 구동 설정 데이터들을 비교하고, 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 제2 구동 설정 데이터들 중에서 상기 제1 구동 설정 데이터들과 상이한 적어도 하나 이상의 갱신 구동 설정 데이터를 상기 제2 내부 레지스터들에 갱신(update)한 후 상기 전력 관리 집적 회로에 전송하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 제2 이미지 프레임 동안 상기 타이밍 컨트롤러로부터 수신된 상기 갱신 구동 설정 데이터를 상기 제1 내부 레지스터들에 갱신하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제 6 항에 있어서, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 구동 헥스 값들을 상기 상위 데시멀 값들과 상기 하위 데시멀 값들로 분리하고, 상기 상위 데시멀 값들과 상기 하위 데시멀 값들을 제2 인증 수식에 적용하여 인증 데시멀 값을 도출하며, 상기 인증 데시멀 값을 기초로 상기 인증 헥스 값을 생성하고, 상기 전력 관리 집적 회로에 상기 인증 헥스 값을 전송하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 제1 인증 수식에는 상기 상위 데시멀 값들 각각과 상기 하위 데시멀 값들 각각이 적어도 1회 이상 변수로서 사용되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 제1 인증 수식은 상기 전력 관리 집적 회로만이 접근 가능한 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제 9 항에 있어서, 상기 제2 인증 수식에는 상기 상위 데시멀 값들 각각과 상기 하위 데시멀 값들 각각이 적어도 1회 이상 변수로서 사용되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제 12 항에 있어서, 상기 제2 인증 수식은 상기 타이밍 컨트롤러만이 접근 가능한 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제 12 항에 있어서, 상기 제1 인증 수식과 상기 제2 인증 수식이 동일하면 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값은 일치하고, 상기 제1 인증 수식과 상기 제2 인증 수식이 상이하면 상기 인증 헥스 값과 상기 결과 헥스 값은 불일치하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제 1 항에 있어서, 상기 전력 관리 집적 회로는 제1 인증 레지스터를 더 포함하고, 상기 결과 헥스 값이 상기 제1 인증 레지스터에 저장되며, 상기 제1 인증 레지스터의 크기는 상기 제1 내부 레지스터들 각각의 크기의 절반인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 제 15 항에 있어서, 상기 타이밍 컨트롤러는 제2 인증 레지스터를 더 포함하고, 상기 인증 헥스 값이 상기 제2 인증 레지스터에 저장되며, 상기 제2 인증 레지스터의 크기는 상기 제2 내부 레지스터들 각각의 크기의 절반인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 제1 인증 레지스터는 상기 제1 내부 레지스터들 중 하나 이상의 일부가 할당되어 구비되고, 상기 제2 인증 레지스터는 상기 제2 내부 레지스터들 중 하나 이상의 일부가 할당되어 구비되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 제 1 항에 있어서, 상기 전력 관리 집적 회로가 상기 정상 모드로 동작할 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 최대 성능으로 동작하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 전력 관리 집적 회로가 상기 보호 모드로 동작할 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 상기 최대 성능보다 낮은 제한 성능으로 동작하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  20. 제 18 항에 있어서, 상기 전력 관리 집적 회로가 상기 보호 모드로 동작할 때, 상기 전력 관리 집적 회로는 셧-다운(shut down)되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
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