KR20210096139A - 테이블 - Google Patents

Abstract

본 발명은 대치수의 유리판이어도 유리판의 위치 결정을 용이하게 또한 저비용으로 실현하는 것을 과제로 한다. 본 발명은 유리판(G)에 소정의 처리를 행하기 위해서 유리판(G)이 재치되는 재치부(2x)를 갖는 테이블(2)이며, 재치부(2x)가 X 방향을 따라 장척인 제 1 볼록조부(2a)와, Y 방향을 따라 장척인 제 2 볼록조부(2b)를 구비하고 있다.

Description

테이블

본 발명은 유리판에 소정의 처리를 행할 때에 유리판을 재치하기 위한 테이블에 관한 것이다.

유리판의 제조 공정에는 유리판을 소정 사이즈로 절단하는 절단 공정이나 유리판의 절단된 끝면에 대해서 모따기 등의 마무리 가공을 실시하는 끝면 가공 공정이 포함된다.

또한, 유리판의 제조 공정에는 절단 공정이나 끝면 가공 공정 후에 유리판의 치수나 모서리부의 직각도 등을 포함하는 유리판의 형상 데이터를 측정하는 형상 측정 공정이 실시되는 경우도 있다.

이와 같은 여러 가지 가공이나 측정 등의 처리를 정확하게 유리판에 행하기 위해서는 각 처리 시에 유리판을 위치 결정할 필요가 있다.

그래서, 예를 들면 특허문헌 1에는 유리판의 형상 측정 시에 유리판을 불소 수지 플레이트 상에 재치한 후에 유리판을 불소 수지 플레이트 상에서 슬라이딩시킴으로써 유리판을 위치 결정하는 것이 개시되어 있다.

일본 특허공개 2003-75121호 공보

특허문헌 1에서는 비교적 소치수의 포토 마스크용의 사각형의 유리판을 대상으로 하고 있지만 만약에 대치수화가 진행되어 있는 플랫 패널 디스플레이용의 유리 기판 등에 적용할 경우에는 대치수의 불소 수지 플레이트를 사용할 필요가 있기 때문에 비용 상승은 피할 수 없다.

본 발명은 대치수의 유리판이어도 유리판의 위치 결정을 용이하게 또한 저비용으로 실현하는 것을 과제로 한다.

상기 과제를 해결하기 위해서 창안된 본 발명은 유리판에 소정의 처리를 행하기 위해서 유리판이 재치되는 재치부를 갖는 테이블이며, 재치부가 유리판과의 접촉부가 제 1 방향을 따라 장척인 제 1 볼록조부와, 유리판과의 접촉부가 제 1 방향과 상이한 제 2 방향을 따라 장척인 제 2 볼록조부를 구비하고 있다.

이와 같은 구성에 의하면 유리판이 재치부의 제 1 볼록조부 및 제 2 볼록조부에 의해 지지된다. 제 1 볼록조부의 접촉부는 제 1 방향을 따라 가늘고 길기 때문에 유리판을 제 1 방향을 따라 이동시킬 때에 제 1 볼록조부는 유리판에 대해서 큰 저항이 되지 않는다. 그 때문에 제 1 볼록조부에 의해 유리판을 지지한 상태인 채 유리판을 제 1 방향으로 스무드하게 이동시킬 수 있다. 마찬가지로 제 2 볼록조부의 접촉부는 제 2 방향을 따라 가늘고 길기 때문에 유리판을 제 2 방향을 따라 이동시킬 때에 제 2 볼록조부는 유리판에 대해서 큰 저항이 되지 않는다. 그 때문에 제 2 볼록조부에 의해 유리판을 지지한 상태인 채 유리판을 제 2 방향으로 스무드하게 이동시킬 수 있다. 따라서, 제 1 볼록조부 및 제 2 볼록조부에 의해 유리판을 지지한 상태인 채 유리판을 상이한 2 방향으로 스무드하게 이동시킬 수 있기 때문에 유리판을 용이하게 위치 결정할 수 있다. 또한, 제 1 볼록조부 및 제 2 볼록조부는 유리판의 전체 면을 면에 의해 지지할 경우에 비해서 지지 면적을 충분히 작게 할 수 있기 때문에 대치수의 유리판을 지지할 경우이어도 지지 면적의 확대에 따르는 비용 상승을 억제할 수 있다.

상기 구성에 있어서, 유리판이 직사각형상을 이루고, 제 1 볼록조부의 접촉부가 유리판의 대향하는 1쌍의 변을 따라 연장되고, 제 2 볼록조부의 접촉부가 유리판의 대향하는 다른 1쌍의 변을 따라 연장되는 것이 바람직하다.

이와 같이 하면 제 1 방향이 유리판의 대향하는 1쌍의 변과 실질적으로 평행해지며, 제 2 방향이 유리판의 대향하는 다른 1쌍의 변과 실질적으로 평행해진다. 그 때문에 유리판을 각 변을 따른 방향으로 스무드하게 이동시킬 수 있기 때문에 유리판의 위치 결정이 더 용이해진다.

상기 구성에 있어서, 재치부가 유리판을 지지하는 구형상 롤러를 더 구비하고 있는 것이 바람직하다.

이와 같이 하면 재치부 상에서의 유리판의 이동이 보다 스무드해진다.

상기 구성에 있어서, 제 1 볼록형상부의 접촉부 및 제 2 볼록조부의 접촉부가 수지로 형성되어 있는 것이 바람직하다.

이와 같이 하면 유리판의 미끄러짐이 좋아지기 때문에 유리판이 파손되기 어려워진다.

(발명의 효과)

본 발명에 의하면 대치수의 유리판이어도 유리판의 위치 결정을 용이하게 또한 저비용으로 실현할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치를 나타내는 평면도이다.
도 2는 제 1 볼록조부의 폭 방향의 단면도이다.
도 3a는 제 1 볼록조부의 변형예를 나타내는 폭 방향의 단면도이다.
도 3b는 제 1 볼록조부의 변형예를 나타내는 폭 방향의 단면도이다.
도 3c는 제 1 볼록조부의 변형예를 나타내는 폭 방향의 단면도이다.
도 3d는 제 1 볼록조부의 변형예를 나타내는 폭 방향의 단면도이다.
도 4는 도 1의 A-A 단면도이며, 직선자와 모방 기구의 롤러의 접촉 상태의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 5는 도 1의 B-B 단면도이며, 재치 지그를 사용해서 유리판을 테이블에 재치하는 준비 공정을 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치의 평면도이며, 유리판의 끝면의 진직도를 측정하는 진직도 측정 공정을 나타내는 도면이다.
도 7은 도 6의 진직도 측정 공정에 있어서 유리판을 개재하여 추를 지지 부재에 의해 지지한 상태를 나타내는 사시도이다.
도 8은 도 6의 진직도 측정 공정에 있어서의 거리계의 접촉자와 유리판의 끝면의 접촉 상태의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 9는 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치의 평면도이며, 유리판의 치수를 측정하는 치수 측정 공정을 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치의 평면도이며, 유리판의 직각도를 측정하는 직각도 측정 공정을 나타내는 도면이다.
도 11은 도 10의 직각도 측정 공정에 있어서 거리계의 측정값으로부터 직각도를 얻는 방법을 설명하기 위한 개략도이다.
도 12는 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치의 평면도이며, 교정 지그를 사용해서 치수 측정계를 교정하는 제 1 교정 공정을 나타내는 도면이다.
도 13은 도 12의 D-D 단면도이며, 교정 공정에 있어서의 교정 지그의 배치 양태를 나타내는 도면이다.
도 14는 도 12의 C-C 단면도이며, 교정 지그의 지지부와 유리판의 높이 방향의 위치 관계를 나타내는 도면이다.
도 15는 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치의 평면도이며, 교정 지그를 사용해서 거리계를 교정하는 제 2 교정 공정의 초반의 상태를 나타내는 개략도이다.
도 16은 본 발명의 실시형태에 의한 유리판 측정 장치의 평면도이며, 교정 지그를 사용해서 거리계를 교정하는 제 2 교정 공정의 종반의 상태를 나타내는 개략도이다.

이하, 본 발명의 실시형태에 대해서 첨부 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 도면 중의 XYZ는 직교 좌표계이다. X 방향 및 Y 방향은 수평 방향이며, Z 방향은 연직 방향이다.

도 1에 나타내는 바와 같이 본 실시형태에 의한 유리판 측정 장치(1)는 직사각형상의 유리판(G)의 형상 데이터를 측정하기 위한 장치이다. 본 실시형태에서는 유리판 측정 장치(1)는 형상 데이터로서 유리판(G)의 적어도 하나의 끝면(Ga~Gd)의 진직도와, 유리판(G)의 종횡 치수(X 방향 치수 및 Y 방향 치수)와, 유리판(G)의 적어도 하나의 모서리부(G1~G4)에서 교차하는 끝면(Ga~Gd)의 직각도를 측정하도록 되어 있다. 즉, 유리판 측정 장치(1)는 진직도 측정 장치와, 치수 측정 장치와, 직각도 측정 장치를 구비하고 있다.

(테이블)

유리판 측정 장치(1)는 유리판(G)이 재치되는 재치부(2x)를 갖는 테이블(2)을 기본적인 구성으로 해서 구비하고 있다. 유리판(G)은 끝면(Ga, Gb)이 X 방향과 실질적으로 평행해지며, 끝면(Gc, Gd)이 Y 방향으로 실질적으로 평행해지도록 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치된다.

여기에서 유리판(G)의 두께는, 예를 들면 0.2~10㎜이며, 유리판(G)의 사이즈는, 예를 들면 700㎜×700㎜~3000㎜×3000㎜이다. 유리판(G)은 다운 드로우법(예를 들면, 오버플로우 다운 드로우법), 플로트법 등의 공지의 방법에 의해 제조된다. 유리판(G)은, 예를 들면 액정 디스플레이 등의 플랫 패널 디스플레이의 기판이나 터치 패널 등의 커버 유리에 이용된다.

재치부(2x)는 단일 또는 복수의 평면으로 형성되어 있어도 좋지만 본 실시형태에서는 유리판(G)과 접촉하는 장척인 접촉부를 갖는 제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)를 구비하고 있다.

제 1 볼록조부(2a)의 접촉부는 유리판(G)의 대향하는 1쌍의 끝면(Ga, Gb), 즉 X 방향을 따라 연장되어 있으며, 제 2 볼록조부(2b)의 접촉부는 유리판(G)의 대향하는 1쌍의 끝면(Gc, Gd), 즉 Y 방향을 따라 연장되어 있다.

이와 같이 하면 제 1 볼록조부(2a)의 접촉부는 X 방향을 따라 가늘고 길어지기 때문에 유리판(G)을 X 방향을 따라 이동시킬 때에 제 1 볼록조부(2a)는 유리판(G)에 대해서 큰 저항이 되지 않는다. 그 때문에 제 1 볼록조부(2a)에 의해 유리판(G)을 하방으로부터 지지한 상태인 채 유리판(G)을 X 방향으로 스무드하게 이동(슬라이딩)시킬 수 있다. 마찬가지로 제 2 볼록조부(2b)의 접촉부는 Y 방향을 따라 가늘고 길어지기 때문에 유리판(G)을 Y 방향을 따라 이동시킬 때에 제 2 볼록조부(2b)는 유리판(G)에 대해서 큰 저항이 되지 않는다. 그 때문에 제 2 볼록조부(2b)에 의해 유리판(G)을 하방으로부터 지지한 상태인 채 유리판(G)을 Y 방향으로 스무드하게 이동(슬라이딩)시킬 수 있다. 따라서, 제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)에 의해 유리판(G)을 지지한 상태인 채 유리판(G)을 X 방향 및 Y 방향의 상이한 2 방향으로 스무드하게 이동시켜서 용이하게 위치 결정할 수 있다. 또한, 제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)는 유리판(G)의 전체 면을 면에 의해 지지할 경우에 비해서 지지 면적을 작게 할 수 있기 때문에 대치수의 유리판(G)을 지지할 경우이어도 재치부(2x)의 지지 면적의 확대에 따르는 비용 상승을 억제할 수 있다.

제 1 볼록조부(2a)는 Y 방향의 복수 개소에서 X 방향으로 간격을 두고 복수 형성되어 있으며, 제 2 볼록조부(2b)는 X 방향의 복수 개소에서 Y 방향으로 간격을 두고 복수 형성되어 있다. 즉, 제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)는 유리판(G)을 안정된 자세로 지지할 수 있도록 서로 간격을 두고 테이블(2) 상에 점재되어 있다.

제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)는 나사 등의 체결구(도시하지 않음)에 의해 테이블(2)에 착탈 가능하게 고정되어 있다. 따라서, 복수의 볼록조부(2a, 2b) 중 임의의 부재를 개별로 교환할 수 있다.

또한, 제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)의 배열 양태는 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들면 바둑판 눈 형상이나 지그재그형상 등의 규칙적인 배열이어도 좋고, 불규칙적인 배열이어도 좋다. 또한, 제 1 볼록조부(2a)의 접촉부의 길이 방향 및 제 2 볼록조부(2b)의 접촉부의 길이 방향은 X 방향이나 Y 방향에 한정되는 것은 아니고, 서로 상이한 방향이면 좋다. 또한, 볼록조부(2a, 2b)와 상이한 방향(예를 들면, X 방향과 이루는 각이 45°인 방향)을 따라 장척인 접촉부를 갖는 다른 볼록조부를 더 형성해도 좋다.

도 2에 나타내는 바와 같이 제 1 볼록조부(2a)의 폭 방향(Y 방향)의 단면형상은 제 1 볼록조부(2a)의 테이블(2) 상에서의 자세 안정성을 고려하여 사다리꼴형상이다. 즉, 제 1 볼록조부(2a)는 저부(2aa)측이 상부(2ab)측에 비해서 폭 넓게 되어 있으며, 저부(2aa)를 테이블(2)에 접지시킨 상태로 테이블(2)에 고정되어 있다. 여기에서 제 1 볼록조부(2a)의 상부(2ab)(유리판(G)과의 접촉부)는 평면이어도 좋고, 곡면이어도 좋다. 또는 볼록조부(2a)의 상부(2ab)는 폭 방향의 폭을 좁게 해서 선형상으로 해도 좋고, 이 경우 제 1 볼록조부(2a)의 폭 방향(Y 방향)의 단면형상은, 예를 들면 삼각형상으로 할 수 있다. 또한, 제 1 볼록조부(2a)의 폭 방향의 단면형상은 특별히 한정되는 것은 아니고, 다양한 변경이 가능하다. 제 1 볼록조부(2a)는, 예를 들면 도 3a~도 3d에 나타내는 바와 같은 단면형상을 채용할 수 있다. 도 3a에서는 제 1 볼록조부(2a)는 선단부(유리판(G)측)가 사다리꼴형상이며, 기단부(테이블(2)측)가 직사각형상이다. 도 3b에서는 제 1 볼록조부(2a)는 볼록 곡면을 구성하는 반원형상이다. 도 3c에서는 제 1 볼록조부(2a)는 병렬로 배열된 2개의 볼록조를 갖는 U자형상이다. 도 3d에서는 제 1 볼록조부(2a)는 브러시형상이며, 즉 제 1 볼록조부(2a)가 브러시로 구성되어도 좋다. 제 2 볼록조부(2b)의 폭 방향(X 방향)의 단면형상은 특별히 한정되는 것은 아니지만 제 1 볼록조부(2a)의 폭 방향(Y 방향)의 단면형상과 마찬가지의 형상을 채용할 수 있다.

제 1 볼록조부(2a)의 접촉부 및 제 2 볼록조부(2b)의 접촉부는, 예를 들면 나일론 등의 수지인 것이 바람직하다. 이와 같이 하면 유리판(G)이 볼록조부(2a, 2b) 상에서 미끄러지기 쉬워진다. 또한, 본 실시형태에서는 제 1 볼록조부(2a) 및 제 2 볼록조부(2b)의 전체가 수지로 형성되어 있다.

제 1 볼록조부(2a)의 접촉부의 길이 방향의 치수(X 방향 치수) 및 제 2 볼록조부(2b)의 접촉부의 길이 방향의 치수(Y 방향 치수)는, 예를 들면 0.2~20㎜인 것이 바람직하다. 또한, 제 1 볼록조부(2a)의 접촉부의 폭 방향의 치수(Y 방향 치수) 및 제 2 볼록조부(2b)의 접촉부의 폭 방향의 치수(X 방향 치수)는, 예를 들면 5~400㎜인 것이 바람직하다.

도 1에 나타내는 바와 같이 본 실시형태에서는 재치부(2x)는 복수의 기둥형상의 돌기부(2c)를 더 구비하고 있다. 돌기부(2c)는 선단부에 의해 유리판(G)을 하방으로부터 지지한다. 돌기부(2c)의 선단부는 유리판(G)의 위치 결정을 용이하게 하기 위해서 플로트 기구를 구비하고 있어도 좋지만 본 실시형태에서는 구형상 롤러로 구성되어 있다. 돌기부(2c)는 서로 간격을 두고 테이블(2) 상에 점재되어 있다. 또한, 돌기부(2c)의 배열 양태는 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들면 바둑판 눈 형상이나 지그재그형상 등의 규칙적인 배열이어도 좋고, 불규칙적인 배열이어도 좋다. 또한, 돌기부(2c)의 선단부는 비전동체이어도 좋고, 예를 들면 볼록 곡면이나 평면 등의 임의의 형상을 취할 수 있다. 돌기부(2c)는 생략해도 좋다.

(진직도 측정 장치)

도 1에 나타내는 바와 같이 유리판 측정 장치(1)는 유리판(G)의 끝면(Ga~Gd)의 진직도(직진도)를 측정하기 위한 구성으로서 거리계(3)와, 유지 기구(4)와, 직선자(5)와, 모방 기구(6)를 테이블(2) 상에 구비하고 있다. 여기에서 진직도는 직선형상의 기하학적으로 올바른 직선으로부터의 왜곡의 크기를 의미한다.

거리계(3)는 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치된 유리판(G)의 끝면(Ga)까지의 거리, 즉 유리판(G)의 끝면(Ga)의 기준 위치로부터의 변위를 측정하도록 되어 있다. 여기에서 본 실시형태에서는 기준 위치는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 X 방향 양단부의 위치로 설정되어 있다. 즉, 유리판(G)의 끝면(Ga)의 X 방향 양단부에 있어서 거리계(3)의 측정값이 0을 나타내도록 거리계(3)가 교정됨과 아울러, 유리판(G)의 재치 위치가 조정되어 있다.

거리계(3)는 측정 대상의 끝면(Ga)과 접촉하는 접촉자(3a)와, 접촉자(3a)를 Y 방향으로 진퇴 이동 가능하게 유지하는 스핀들(3b)을 구비하는 접촉식의 거리계(예를 들면, 다이얼 게이지)이다. 본 실시형태에서는 접촉자(3a)는 원통형상의 롤러이며, 유리판(G)의 끝면(Ga)과 접촉하면서 전동하도록 되어 있다(후술하는 도 8을 참조). 또한, 접촉자(3a)는 측정 대상의 끝면(Ga)측에 바이어싱되어 있으며, 측정 대상의 끝면(Ga)을 모방하는 것이 가능하다. 또한, 접촉자(3a)는, 예를 들면 원통형상 이외의 형상을 이루는 전동체(예를 들면, 구형상 롤러)나 유리판(G)의 끝면(Ga) 상을 슬라이딩하는 비전동체(예를 들면, 바늘형상 부재나 원통형상 부재 등)이어도 좋다.

유지 기구(4)는 거리계(3)를 Y 방향(유리판(G)의 끝면(Ga)으로부터 이간하는 방향) 및 X 방향(유리판(G)의 끝면(Ga)을 따르는 방향)으로 이동 가능하게 유지하고 있다.

유지 기구(4)는 테이블(2) 상에 설치된 레일(4a)을 따라 X 방향으로 이동 가능한 제 1 스테이지(4b)와, 제 1 스테이지(4b) 상에 설치된 레일(4c)을 따라 Y 방향으로 이동 가능한 제 2 스테이지(4d)를 구비하고 있다. 제 1 스테이지(4b)는 수동 또는 자동으로 X 방향으로 이동 가능하다. 제 2 스테이지(4d) 상에는 거리계(3)가 부착되어 있다. 또한, 제 2 스테이지(4d)의 이동 방향은 Y 방향과 평행하지만 Y 방향에 대해서 각도를 가져도 좋다.

유지 기구(4)는 테이블(2) 상에 설치되고, 거리계(3)의 X 방향에 있어서의 위치를 나타내는 스케일(4e)을 더 구비하고 있다. 본 실시형태에서는 스케일(4e) 상에는 거리계(3)에 의한 측정 위치를 나타내는 소정의 마크가 등간격으로 부착되어 있다. 또한, 스케일(4e)의 배치 위치는, 예를 들면 직선자(5) 상 등의 임의의 위치를 취할 수 있다. 스케일(4e)은 생략해도 좋다.

직선자(5)는 테이블(2) 상에 X 방향을 따라 설치되어 있다. 직선자(5)의 진직도는 미리 측정되어 기록되어 있다.

모방 기구(6)는 유지 기구(4)에 부착된 거리계(3)를 직선자(5)를 따르게 하기 위한 기구이다. 모방 기구(6)는 압압 부재(6a)와, 스프링(6b)을 구비하고 있다.

압압 부재(6a)는 기단부가 제 2 스테이지(4d)에 부착되고, 선단부가 직선자(5)와 접촉하도록 되어 있다.

스프링(6b)은 제 2 스테이지(4d)를 직선자(5)측으로 끌어당기도록 제 1 스테이지(4b)와 제 2 스테이지(4d) 사이에 걸쳐 설치되어 있다. 이와 같은 스프링(6b)의 끌어당기는 힘에 의해 압압 부재(6a)가 직선자(5)에 압압되기 때문에 거리계(3)의 X 방향 위치가 안정된다. 또한, 스프링(6b)은 제 2 스테이지(4d)를 압박하여 직선자(5)측에 가까이 대도록 설치해도 좋다. 또한, 스프링(6b)은, 예를 들면 고무 등의 다른 탄성체이어도 좋고, 생략해도 좋다.

도 4에 나타내는 바와 같이 압압 부재(6a)는 선단부에 원통형상의 롤러(6c)를 구비하고 있다. 직선자(5)는 롤러(6c)를 받아들이는 오목형상의 안내 홈(5a)을 구비하고 있다. 즉, 롤러(6c)는 안내 홈(5a)에 받아들여진 상태로 직선자(5) 상을 전동하도록 되어 있다. 본 실시형태에서는 직선자(5)의 진직도로서 안내 홈(5a)의 진직도가 미리 측정되어 기록되어 있다. 또한, 압압 부재(6a)의 선단부는, 예를 들면 원통형상 이외의 형상을 이루는 전동체(예를 들면, 구형상 롤러)나 직선자(5) 상을 슬라이딩하는 비전동체(예를 들면, 구형상 부재나 원통형상 부재 등)이어도 좋다.

(치수 측정 장치)

도 1에 나타내는 바와 같이 유리판 측정 장치(1)는 유리판(G)의 X 방향 치수 및 Y 방향 치수를 측정하기 위한 구성으로서 제 1 핀(7)과, 제 2 핀(8)과, 제 1 치수 측정계(9)와, 제 2 치수 측정계(10)를 테이블(2) 상에 구비하고 있다.

제 1 핀(7)은 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치된 유리판(G)의 Y 방향과 실질적으로 평행한 끝면(Gc)에 접촉하도록 되어 있다. 제 2 핀(8)은 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치된 유리판(G)의 X 방향과 실질적으로 평행한 끝면(Ga)에 접촉하도록 되어 있다. 즉, 제 2 핀(8)은 제 1 핀(7)이 접촉하는 끝면(Gc)과 대략 직각으로 교차하는 끝면(Ga)과 접촉한다.

제 1 치수 측정계(9)는 Y 방향과 실질적으로 평행한 끝면(Gc, Gd) 사이의 치수, 즉 유리판(G)의 X 방향 치수(제 1 치수)를 측정하도록 되어 있다. 제 2 치수 측정계(10)는 X 방향과 실질적으로 평행한 끝면(Ga, Gb) 사이의 치수, 즉 유리판(G)의 Y 방향 치수(제 2 치수)를 측정하도록 되어 있다.

제 1 치수 측정계(9)는 끝면(Gd)과 접촉하는 접촉자(9a)와, 접촉자(9a)를 X 방향으로 진퇴 이동 가능하게 유지하는 스핀들(9b)을 구비하는 접촉식의 거리계(예를 들면, 다이얼 게이지)이다. 마찬가지로 제 2 치수 측정계(10)는 끝면(Gb)과 접촉하는 접촉자(10a)와, 접촉자(10a)를 Y 방향으로 진퇴 이동 가능하게 유지하는 스핀들(10b)을 구비하는 접촉식의 거리계(예를 들면, 다이얼 게이지)이다. 본 실시형태에서는 접촉자(9a, 10a)는 원통형상의 비전동체이다. 또한, 접촉자(9a, 10a)는, 예를 들면 원통형상 이외의 형상을 이루는 비전동체(예를 들면, 구형상 부재나 바늘형상 부재)나 전동체(예를 들면, 원통형상 롤러나 구형상 롤러)이어도 좋다.

제 1 치수 측정계(9)는 그 X 방향 위치를 조정 가능한 제 1 위치 조정 기구(F) 상에 설치되어 있다. 이것에 의해 치수가 상이한 유리판(G)을 측정 가능하도록 제 1 치수 측정계(9)의 위치를 용이하게 변경할 수 있다. 또한, 유리판(G)의 치수 이외의 다른 형상 데이터를 측정할 때 등에 제 1 치수 측정계(9)를 방해가 되지 않는 위치까지 퇴피시킬 수 있다. 제 1 위치 조정 기구(F)는 제 1 치수 측정계(9)의 X 방향 위치를 조정 가능하면 특별히 한정되는 것은 아니지만 본 실시형태에서는 테이블(2) 상에 설치된 제 1 레일(Fa)과, 제 1 레일(Fa)을 따라 X 방향으로 이동 가능한 제 1 슬라이더(Fb)를 구비하고 있다. 제 1 슬라이더(Fb)는 수동 또는 자동으로 X 방향으로 이동 가능하다. 제 1 슬라이더(Fb) 상에는 제 1 치수 측정계(9)가 부착되어 있다.

제 2 치수 측정계(10)는 그 Y 방향 위치를 조정 가능한 제 2 위치 조정 기구(S) 상에 설치되어 있다. 이것에 의해 치수가 상이한 유리판(G)을 측정 가능하도록 제 2 치수 측정계(10)의 위치를 용이하게 변경할 수 있다. 또한, 유리판(G)의 치수 이외의 다른 형상 데이터를 측정할 때 등에 제 2 치수 측정계(10)를 방해가 되지 않는 위치까지 퇴피시킬 수 있다. 제 2 위치 조정 기구(S)는 제 2 치수 측정계(10)의 Y 방향 위치를 조정 가능하면 특별히 한정되는 것은 아니지만 본 실시형태에서는 테이블(2) 상에 설치된 제 2 레일(Sa)과, 제 2 레일(Sa)을 따라 Y 방향으로 이동 가능한 제 2 슬라이더(Sb)를 구비하고 있다. 제 2 슬라이더(Sb)는 수동 또는 자동으로 Y 방향으로 이동 가능하다. 제 2 슬라이더(Sb) 상에는 제 2 치수 측정계(10)가 부착되어 있다.

제 1 핀(7) 및 제 1 치수 측정계(9)는 2세트 설치됨과 아울러, 제 2 핀(8) 및 제 2 치수 측정계(10)는 2세트 설치되어 있다. 즉, 유리판(G)의 X 방향 치수 및 Y 방향 치수 각각이 2개소에서 측정되도록 되어 있다. 또한, X 방향 치수 및 Y 방향 치수는 2개소의 평균값으로 해도 좋다.

세트를 이루는 제 1 핀(7) 및 제 1 치수 측정계(9)의 접촉자(9a)는 X 방향으로 마주보고 있다. 즉, 세트를 이루는 제 1 핀(7) 및 제 1 치수 측정계(9)의 접촉자(9a)는 Y 방향 위치가 실질적으로 동일하다. 마찬가지로 세트를 이루는 제 2 핀(8) 및 제 2 치수 측정계(10)의 접촉자(10a)는 Y 방향으로 마주보고 있다. 즉, 세트를 이루는 제 2 핀(8) 및 제 2 치수 측정계(10)의 접촉자(10a)는 X 방향 위치가 실질적으로 동일하다.

제 1 핀(7) 및 제 2 핀(8)은 테이블(2)에 착탈 가능하게 유지되어 있다. 본 실시형태에서는 핀(7, 8)을 유지하기 위한 결합 구멍(도시하지 않음)이 테이블(2) 상에 형성되어 있다. 결합 구멍은 유리판(G)의 사이즈가 변경되었을 경우에 핀(7, 8)의 부착 위치를 조정할 수 있도록 테이블(2)의 복수 개소에 형성되어 있는 것이 바람직하다.

또한, 세트를 이루는 제 1 핀(7) 및 제 1 치수 측정계(9), 및 세트를 이루는 제 2 핀(8) 및 제 2 치수 측정계(10) 중 어느 한쪽을 생략하고, 제 1 치수 및 제 2 치수 중 어느 한쪽만을 측정하는 구성으로 해도 좋다. 유리판(G)의 종 치수 및 횡 치수를 효율 좋게 측정하는 관점에서는 세트를 이루는 제 1 핀(7) 및 제 1 치수 측정계(9), 및 세트를 이루는 제 2 핀(8) 및 제 2 치수 측정계(10)의 양쪽을 구비하는 것이 바람직하다.

(직각도 측정 장치)

도 1에 나타내는 바와 같이 유리판 측정 장치(1)는 유리판(G)의 끝면(Ga~Gd)의 직각도를 측정하기 위한 구성으로서 제 1 핀(11)과, 제 2 핀(12)과, 거리계(13)를 테이블(2) 상에 구비하고 있다. 또한, 도면 중 부호 14는 거리계(13)를 교정하기 위한 교정용 거리계이다.

제 1 핀(11)은 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치된 유리판(G)의 Y 방향과 실질적으로 평행한 끝면(Gc)(제 1 끝면)에 접촉하도록 되어 있다. 제 2 핀(12)은 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치된 유리판(G)의 X 방향과 실질적으로 평행한 끝면(Gb)(제 2 끝면)에 접촉하도록 되어 있다. 즉, 제 1 핀(11) 및 제 2 핀(12)은 직각도를 측정하는 대상인 모서리부(G1)에서 교차하는 끝면(Gc, Gb)에 각각 접촉하도록 되어 있다.

제 1 핀(11)은 Y 방향으로 간격을 두고 설치된 1쌍의 핀으로 구성되어 있으며, 제 2 핀(12)은 X 방향으로 1개만 설치된 단일의 핀으로 구성되어 있다. 끝면(Gc)은 1쌍의 제 1 핀(11)과 접촉함으로써 1쌍의 제 1 핀(11) 사이를 잇는 직선과 평행하게 유지된다. 즉, 끝면(Gc)이 미리 설정된 소정의 경사로 유지된다. 제 2 핀(12)은 이와 같은 끝면(Gc)의 경사를 유지하면서 끝면(Gb)과 접촉한다. 이것에 의해 1쌍의 제 1 핀(11) 및 제 2 핀(12)의 총 3점에 의해 유리판(G)이 위치 결정된다.

제 1 핀(11) 및 제 2 핀(12)은 테이블(2)에 착탈 가능하게 유지되어 있다. 본 실시형태에서는 핀(11, 12)을 유지하기 위한 결합 구멍(도시하지 않음)이 테이블(2) 상에 형성되어 있다. 결합 구멍은 유리판(G)의 사이즈가 변경되었을 경우에 핀(11, 12)의 부착 위치를 조정할 수 있도록 테이블(2)의 복수 개소에 형성되어 있는 것이 바람직하다.

거리계(13)는 제 1 핀(11) 및 제 2 핀(12)에 의해 위치 결정된 유리판(G)에 대해서 끝면(Gc)과 끝면(Gb)이 직각일 경우에 끝면(Gb)이 위치하는 기준 위치(도 11의 일점 쇄선으로 나타내는 위치를 참조)에 대한 실제 끝면(Gb)의 위치의 변위(기준 위치로부터의 Y 방향의 어긋남)를 측정하도록 되어 있다.

거리계(13)는 끝면(Gb)과 접촉하는 접촉자(13a)와, 접촉자(13a)를 Y 방향으로 진퇴 이동 가능하게 유지하는 스핀들(13b)을 구비하는 접촉식의 거리계(예를 들면, 다이얼 게이지)이다. 본 실시형태에서는 접촉자(13a)는 원통형상의 비전동체이다. 또한, 접촉자(13a)는, 예를 들면 원통형상 이외의 형상을 이루는 비전동체(예를 들면, 구형상 부재나 바늘형상 부재)나 전동체(예를 들면, 원통형상 롤러나 구형상 롤러)이어도 좋다.

거리계(13)는 제 2 핀(12)이 끝면(Gb)과 접촉하는 위치와 상이한 위치에서 끝면(Gb)과 접촉하도록 되어 있다. 본 실시형태에서는 거리계(13)는 제 2 핀(12)이 끝면(Gb)과 접촉하는 위치와, 끝면(Gb)이 끝면(Gc)과 교차하는 위치 사이에서 끝면(Gb)과 접촉하도록 되어 있다.

교정용 거리계(14)도 거리계(13)와 마찬가지로 끝면(Gb)과 접촉하는 접촉자(14a)와, 접촉자(14a)를 Y 방향으로 진퇴 이동 가능하게 유지하는 스핀들(14b)을 구비하는 접촉식의 거리계(예를 들면, 다이얼 게이지)이다.

교정용 거리계(14)는 제 2 핀(12) 및 거리계(13)가 끝면(Gb)과 접촉하는 위치와 상이한 위치에서 끝면(Gb)과 접촉하도록 되어 있다. 본 실시형태에서는 교정용 거리계(14)는 제 2 핀(12)이 끝면(Gb)과 접촉하는 위치와, 거리계(13)가 끝면(Gb)과 접촉하는 위치 사이에서 끝면(Gb)과 접촉하도록 되어 있다.

거리계(13, 14)는 유지 기구(예를 들면, 슬라이드 기구)에 의해 Y 방향으로 이동 가능하게 유지되어 있다. 이것에 의해 유리판(G)의 직각도 이외의 다른 형상 데이터를 측정할 때에 거리계(13, 14)를 방해가 되지 않는 위치까지 퇴피시킬 수 있다. 또한, 유리판(G)의 사이즈가 변경되었을 경우에 거리계(13, 14)의 위치를 용이하게 조정할 수 있다.

(재치 지그)

도 1에 나타내는 바와 같이 유리판 측정 장치(1)는 유리판(G)을 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치하기 위한 구성으로서 유리판(G)을 하방으로부터 지지하는 재치 지그(15)를 구비하고 있다. 재치 지그(15)는 테이블(2)의 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)를 삽입 통과 가능한 개구부(15a)를 구비한 사다리형상의 부재이다. 재치 지그(15)는 유리판(G)을 재치 지그(15)로부터 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)로 바꿔 얹은 후 테이블(2) 상에 재치된다. 또한, 볼록조부(2a, 2b) 및/또는 돌기부(2c)는 재치 지그(15)와 간섭하지 않으면 개구부(15a)의 내측에 추가하여 개구부(15a)의 외측에 형성되어 있어도 좋다. 재치 지그(15)는, 예를 들면 격자형상의 부재 등이어도 좋고, 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)를 삽입 통과 가능한 개구부를 구비한 임의의 형상을 취할 수 있다.

이어서, 이상과 같이 구성된 유리판 측정 장치(1)를 사용한 유리판 측정 방법을 설명한다.

본 실시형태에 의한 유리판 측정 방법은 유리판(G)을 테이블(2)의 재치부(2x)에 재치하는 준비 공정과, 유리판(G)의 끝면의 진직도를 측정하는 진직도 측정 공정과, 유리판(G)의 종횡 치수를 측정하는 치수 측정 공정과, 유리판(G)의 끝면의 직각도를 측정하는 직각도 측정 공정을 이 순서로 구비하고 있다. 또한, 예를 들면 치수 측정 공정, 진직도 측정 공정, 직각도 측정 공정의 순서로 행하는 등 준비 공정 이후의 이들 공정의 순번은 교체해도 좋다

(준비 공정)

도 5에 나타내는 바와 같이 준비 공정에서는, 우선 유리판(G)을 재치 지그(15)에 재치한 상태로 테이블(2)의 상방 위치까지 운반한다(도면 중 쇄선으로 나타내는 상태). 이어서, 이 상태로부터 재치 지그(15)를 강하시키고, 재치 지그(15)의 개구부(15a)에 테이블(2)의 재치부(2x)의 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(구형상 롤러)(2c)를 삽입 통과시킨다. 이 과정에서 재치 지그(15)에 재치된 유리판(G)이 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)에 의해 밀어 올려지고, 유리판(G)이 재치 지그(15)로부터 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)로 바꿔 얹어진다. 또한, 재치 지그(15)는 테이블(2) 상에 재치한 상태이며, 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)보다도 낮다. 그 때문에 유리판(G)을 재치 지그(15)로부터 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)로 바꿔 얹은 후 재치 지그(15)를 테이블(2) 상에 재치하여 수용할 수 있다.

(진직도 측정 공정)

도 6에 나타내는 바와 같이 진직도 측정 공정에서는, 우선 재치부(2x)에 의해 지지된 유리판(G)의 위치 결정이 이루어진다. 본 실시형태에서는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 X 방향 일단부와 X 방향 타단부가 소정의 기준 위치에 오도록 유리판(G)을 위치 결정한다. 구체적으로는 끝면(Ga)의 X 방향 양단부를 측정하기 위한 제 1 위치(P1) 및 제 2 위치(P2)에서 거리계(3)에 의해 측정되는 기준 위치로부터의 변위가 0이 되도록 유리판(G)을 위치 결정한다. 이와 같은 유리판(G)의 위치 결정 작업에 있어서 거리계(3)를 제 1 위치(P1)와 제 2 위치(P2) 사이에서 이동시킬 때에는 거리계(3)의 접촉자(3a)의 손모를 방지하기 위해서 접촉자(3a)를 유리판(G)의 끝면(Ga)으로부터 퇴피시킨 상태로 하는 것이 바람직하다. 이어서, 유리판(G)을 위치 결정한 상태로 유리판(G)이 이동하지 않도록 유리판(G) 상에 추(16)를 재치한다. 그 후 스케일(4e)로 위치를 확인하면서 유지 기구(4)에 의해 거리계(3)를 X 방향으로 소정 거리씩 이동시켜 유리판(G)의 끝면(Ga)의 진직도를 측정한다. 또한, 추(16)는 진직도 측정 공정이 종료된 단계에서 유리판(G) 상으로부터 제거한다.

도 7에 나타내는 바와 같이 본 실시형태에서는 유리판(G) 상에 재치되는 추(16)는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 근방에서 끝면(Ga)(즉, 직선자(5))을 따라 배치된다. 테이블(2)에는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 근방에서 끝면(Ga)(즉, 직선자(5))을 따라 연장되고, 유리판(G)을 개재하여 추(16)를 지지하는 지지 부재(17)가 배치되어 있다. 이것에 의해 진직도를 측정하는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 근방이 추(16)의 하중에 의해 하방으로 휘는 것을 방지하고 있다.

또한, 진직도 측정 공정에서는 핀(7, 8, 11, 12)은 테이블(2)로부터 분리함과 아울러, 치수 측정계(9, 10) 및 거리계(13, 14)는 방해가 되지 않는 위치로 퇴피시키는 것이 바람직하다. 치수 측정계(9, 10) 및 거리계(13, 14)의 퇴피 방법으로서는, 예를 들면 치수 측정계(9, 10) 및 거리계(13, 14) 각각의 전체를 퇴피 위치까지 후퇴시키는 방법이나 접촉자(9a, 10a, 13a, 14a)만을 퇴피 위치까지 후퇴시키는 방법(도 6의 상태) 등을 들 수 있다.

도 8에 나타내는 바와 같이 거리계(3)의 접촉자(3a)는 원통형상의 롤러이며, 유리판(G)의 끝면(Ga)과 접촉하면서 전동한다. 이와 같이 하면 접촉자(3a)의 회전에 따라 접촉자(3a) 중 유리판(G)의 끝면(Ga)과 접촉하는 부분이 순서대로 변화되기 때문에 접촉자(3a)의 마모를 억제할 수 있다. 또한, 접촉자(3a)가 원통형상이기 때문에 유리판(G)의 끝면(Ga)이 경사져 있을 경우에도 끝면(Ga)의 최돌출부의 변위가 항상 측정된다. 따라서, 거리계(3)에 의한 진직도의 측정 오차가 작아진다. 또한, 접촉자(3a)의 회전축은 유리판(G)의 두께 방향(Z 방향)과 실질적으로 평행하다.

도 6에 나타내는 바와 같이 거리계(3)의 Y 방향의 위치는 직선자(5)를 기준으로서 결정되기 때문에 거리계(3)에 의해 측정되는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 변위(진직도)는 직선자(5)의 진직도의 영향을 받는다. 그 때문에 측정된 유리판(G)의 끝면(Ga)의 진직도(S1)와 기지의 직선자(5)의 진직도(S2)의 차(S1-S2)가 최종적인 유리판(G)의 끝면(Ga)의 진직도로서 기록된다.

또한, 유리판(G)의 끝면(Ga)의 진직도의 측정 후에 위치(P1, P2)에서 거리계(3)에 의해 유리판(G)의 끝면(Ga)을 다시 측정하고, 유리판(G)의 위치 어긋남의 유무를 확인하는 것이 바람직하다. 즉, 양쪽의 위치(P1, P2)에서 거리계(3)에 의해 측정되는 기준 위치로부터의 변위가 0이면 측정 전후로 유리판(G)에 위치 어긋남이 없는 것을 확인할 수 있다.

상기에서는 유리판(G)의 끝면(Ga)의 진직도를 측정하는 경우를 예시했지만 유리판(G)의 4개의 끝면(Ga~Gd) 각각의 진직도를 측정하는 것이 바람직하다. 이 경우 유리판(G)의 끝면(Ga)의 진직도를 측정한 후에 재치 지그(15)나 그 외의 수단에 의해 테이블(2)에 대한 유리판(G)의 방향을 변경하고, 나머지 끝면(Gb~Gd)의 진직도를 마찬가지의 순서로 측정한다. 유리판(G)의 4개의 끝면(Ga~Gd) 각각의 진직도를 측정하면, 예를 들면 유리판(G)의 제조 공정에 포함되는 끝면 가공 공정에 있어서 유리판(G)의 각 끝면(Ga~Gd)의 진직도에 의거하여 가공 공구의 위치를 정확하게 조정할 수 있다. 그 때문에 유리판(G)의 각 끝면(Ga~Gd)을 일정 연삭량으로 가공하기 쉬워진다. 또한, 이와 같은 진직도에 의거하여 가공 공구의 위치를 조정하는 방법은 정압 연삭을 실시할 경우에도 적용할 수 있다.

(치수 측정 공정)

도 9에 나타내는 바와 같이 치수 측정 공정에서는, 우선 제 1 핀(7) 및 제 2 핀(8)을 유리판(G)의 끝면(Ga, Gc)에 접촉시키고, 재치부(2x)에 의해 지지된 유리판(G)을 위치 결정한다. 이 상태로 치수 측정계(9, 10)의 접촉자(9a, 10a)를 유리판(G)의 끝면(Gb, Gd)에 접촉시키고, 유리판(G)의 X 방향 치수 및 Y 방향 치수를 측정한다. 치수 측정계(9, 10)의 접촉자(9a, 10a)는 원통형상이기 때문에 거리계(3)의 접촉자(3a)와 마찬가지로 유리판(G)의 끝면(Gb, Gd)의 최돌출부의 위치가 측정된다.

유리판(G)의 X 방향 치수 및 Y 방향 치수는 동시에 측정해도 좋고, 각각 측정해도 좋다. 각각 측정할 경우에는, 예를 들면 제 1 핀(7)을 유리판(G)의 끝면(Gc)에 접촉시켜서 제 1 치수 측정계(9)에 의해 유리판(G)의 X 방향의 치수를 측정한 후에 제 1 핀(7) 및 제 1 치수 측정계(9)와 유리판(G)의 접촉을 해제함과 아울러, 제 2 핀(8)을 유리판(G)의 끝면(Ga)에 접촉시켜서 제 2 치수 측정계(10)에 의해 유리판(G)의 Y 방향의 치수를 측정한다.

또한, 본 실시형태에서는 X 방향 치수 및 Y 방향 치수 각각을 2개소에서 측정하고 있지만 핀과 이것에 마주보는 치수 측정계의 세트 수는 적당히 변경 가능하다. 즉, X 방향 치수 및 Y 방향 치수 각각은 1개소에서만 측정해도 좋고, 3개소 이상에서 측정해도 좋다.

치수 측정 공정에서는 거리계(3, 13, 14)를 방해가 되지 않는 위치로 퇴피시키는 것이 바람직하다. 거리계(3, 13, 14)의 퇴피 방법으로서는, 예를 들면 거리계(3, 13, 14) 각각의 전체를 퇴피 위치까지 후퇴시키는 방법이나 접촉자(3a, 13a, 14a)만을 퇴피 위치까지 후퇴시키는 방법(도 9의 상태) 등을 들 수 있다.

(직각도 측정 공정)

도 10에 나타내는 바와 같이 직각도 측정 공정에서는, 우선 제 1 핀(11) 및 제 2 핀(12)을 유리판(G)의 끝면(Gb, Gc)에 접촉시키고, 재치부(2x)에 의해 지지된 유리판(G)을 위치 결정한다. 이 상태로 거리계(13)의 접촉자(13a)를 유리판(G)의 끝면(Gb)에 접촉시키고, 끝면(Gb)의 기준 위치로부터의 변위(Y 방향의 변위)를 측정한다. 거리계(13)의 접촉자(13a)는 원통형상이기 때문에 거리계(3)의 접촉자(3a)와 마찬가지로 유리판(G)의 끝면(Ga)의 최돌출부의 위치가 측정된다.

거리계(13)에 의해 측정된 변위는 끝면(Gc)의 수직면에 대한 끝면(Gb)의 경사로 환산되고, 이 경사는 직각도를 나타낸다. 도 11에 나타내는 바와 같이 끝면(Gc)의 수직면에 대한 끝면(Gb)의 경사(직각도)는, 예를 들면 끝면(Gc)과 끝면(Gb)이 교차하는 위치로부터 끝면(Gb)과 끝면(Gb)이 교차하는 위치까지의 Y 방향의 변위(M(=d1×d3/d2)) 또는 끝면(Gc)의 수직면과 끝면(Gb)이 이루는 각(θ(=tan^-1(d1/d2)))로 나타내어진다. 여기에서 d1은 거리계(13)에 의해 측정된 Y 방향의 변위, d2는 기지인 거리계(13)와 제 2 핀(12) 사이의 X 방향 거리, d3은 기지인 유리판(G)의 X 방향 치수(설계값)이다. 끝면(Gc)의 수직면에 대한 끝면(Gb)의 경사는, 예를 들면 거리계(13)에 의해 측정된 변위로부터 연산 장치로 자동 연산하도록 해도 좋고, 거리계(13)에 의해 측정된 변위를 경사로 환산하는 환산표를 미리 작성해 두고, 그 환산표로부터 판독하도록 해도 좋다.

이와 같이 직각도를 측정하여 제조되는 유리판(G)의 직각도를 관리함으로써, 예를 들면 가공·세정·검사 등의 각종 공정(납입처의 공정을 포함한다)에서 유리판(G)의 얼라인먼트(위치 결정)의 어긋남이 발생하는 것을 방지할 수 있다.

상기에서는 유리판(G)의 모서리부(G1)에서 교차하는 끝면의 직각도를 측정하는 경우를 예시했지만 유리판(G)의 4개의 모서리부(G1~G4) 각각에서 교차하는 끝면의 직각도를 모두 측정하도록 해도 좋다. 이 경우 유리판(G)의 모서리부(G1)에서 교차하는 끝면의 직각도를 측정한 후에 재치 지그(15)나 그 외의 수단에 의해 테이블(2)에 대한 유리판(G)의 방향을 변경하고, 나머지 모서리부(G2~G4)에서 교차하는 끝면의 직각도를 마찬가지의 순서로 측정한다.

또한, 직각도 측정 공정에서는 핀(7, 8)은 테이블(2)로부터 분리함과 아울러, 거리계(3, 14) 및 치수 측정계(9, 10)는 방해가 되지 않는 위치로 퇴피시키는 것이 바람직하다. 거리계(3, 14) 및 치수 측정계(9, 10)의 퇴피 방법으로서는, 예를 들면 거리계(3, 14) 및 치수 측정계(9, 10) 각각의 전체를 퇴피 위치까지 후퇴시키는 방법이나 접촉자(3a, 9a, 10a, 14a)만을 퇴피 위치까지 후퇴시키는 방법(도 10의 상태) 등을 들 수 있다.

(교정 공정)

본 실시형태에 의한 유리판 측정 방법은 준비 공정 전에 치수 측정 공정에서 사용하는 치수 측정계(9, 10)를 교정하는 제 1 교정 공정과, 직각도 측정에서 사용하는 거리계(13)를 교정하는 제 2 교정 공정을 더 구비하고 있다. 이들 교정 공정은 유리판(G)의 측정할 때마다 매회 실시해도 좋고, 유리판(G)의 측정을 소정 횟수 또는 소정 시간 행한 후에 실시해도 좋다. 또한, 측정 대상의 유리판(G)의 사이즈가 바뀔 경우에 실시해도 좋다. 물론 제 1 교정 공정만을 실시해도 좋고, 제 2 교정 공정만을 실시해도 좋다.

도 12 및 도 13에 나타내는 바와 같이 제 1 교정 공정에서는 막대형상의 제 1 교정 지그(18)를 사용해서 제 1 치수 측정계(9)를 교정하고, 막대형상의 제 2 교정 지그(19)를 사용해서 제 2 치수 측정계(10)를 교정한다. 도 12는 제 1 교정 지그(18)를 사용해서 제 1 치수 측정계(9)를 교정하는 상태를 실선으로 나타내고, 제 2 교정 지그(19)를 사용해서 제 2 치수 측정계(10)를 교정하는 상태를 쇄선으로 나타내고 있다. 또한, 제 1 치수 측정계(9)의 교정과 제 2 치수 측정계(10)의 교정은 각각 실시된다.

제 1 교정 지그(18) 및 제 2 교정 지그(19)의 길이는 기지이다. 본 실시형태에서는 제 1 교정 지그(18)의 길이는 유리판(G)의 X 방향 치수의 기준 치수(설계 치수)로 설정되어 있으며, 제 2 교정 지그(19)의 길이는 유리판(G)의 Y 방향 치수의 기준 치수(설계 치수)로 설정되어 있다. 또한, 교정 지그(18, 19) 자체의 교정도 정기적(예를 들면, 연 1회 정도)으로 실시하는 것이 바람직하다.

제 1 치수 측정계(9)의 교정 시에는 제 1 교정 지그(18)의 일단을 제 1 핀(7)에 접촉시킴과 아울러, 제 1 교정 지그(18)의 타단을 제 1 치수 측정계(9)의 접촉자(9a)에 접촉시킨다. 제 2 치수 측정계(10)의 교정 시에는 제 2 교정 지그(19)의 일단을 제 2 핀(8)에 접촉시킴과 아울러, 제 2 교정 지그(19)의 타단을 제 2 치수 측정계(10)의 접촉자(10a)에 접촉시킨다.

제 1 치수 측정계(9)의 기준 위치(예를 들면, 0점)는 접촉자(9a)가 제 1 교정 지그(18)와 접촉하는 위치에 교정되고, 제 2 치수 측정계(10)의 기준 위치(예를 들면, 0점)는 접촉자(10a)가 제 2 교정 지그(19)와 접촉하는 위치에 교정된다.

본 실시형태에서는 제 1 치수 측정계(9)는 유리판(G)의 끝면(Gd)의 기준 위치로부터의 변위를 측정하고, 제 2 치수 측정계(10)는 유리판(G)의 끝면(Gb)의 기준 위치로부터의 변위를 측정한다. 즉, 각 방향의 기준 치수와 측정된 변위(기준 치수보다도 짧을 경우가 음의 변위, 기준 치수보다도 길 경우가 양의 변위)의 합이 유리판(G)의 X 방향 치수 및 Y 방향 치수로서 기록된다. 따라서, 상기와 같이 치수 측정계(9, 10)의 기준 위치를 교정하면 X 방향 치수 및 Y 방향 치수의 측정 정밀도가 향상된다.

제 1 교정 지그(18)는 소경부(18a)와, 소경부(18a)보다도 지름이 커지는 대경부(18b)를 구비하고 있다. 마찬가지로 제 2 교정 지그(19)는 소경부(19a)와, 소경부(19a)보다도 지름이 커지는 대경부(19b)를 구비하고 있다. 소경부(18a, 19a) 및 대경부(18b, 19b)의 재질은 특별히 한정되는 것은 아니지만 본 실시형태에서는 소경부(18a, 19a)는 금속으로 형성되어 있으며, 대경부(18b, 19b)는 고무로 형성되어 있다.

테이블(2) 상에는 제 1 교정 지그(18)의 대경부(18b)를 지지하는 제 1 지지부(20) 및 제 2 교정 지그(19)의 대경부(19b)를 지지하는 제 2 지지부(21)가 형성되어 있다. 지지부(20, 21)의 상면은 원통형상의 대경부(18b, 19b)를 지지하기 위해서 반원통형상의 오목홈이 형성되어 있다. 교정 지그(18, 19)의 대경부(18b, 19b)를 지지부(20, 21)에 의해 지지함으로써 교정 지그(18, 19)의 높이가 자동적으로 조정된다. 그 때문에 치수 측정계(9, 10)의 교정 작업이 용이해진다.

제 1 지지부(20) 및 제 2 지지부(21)는 테이블(2)의 재치부(2x), 즉 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)보다도 낮다. 이것에 의해 도 14에 나타내는 바와 같이 교정 작업을 실시하지 않을 때에 이들 지지부(20, 21)가 재치부(2x)에 재치된 유리판(G)과 접촉하는 경우가 없다.

도 15 및 도 16에 나타내는 바와 같이 제 2 교정 공정에서는 제 1 핀(11) 및 제 2 핀(12)과 접촉 가능하며, 또한 서로 직각을 이루는 제 1 보증면(22a) 및 제 2 보증면(22b)을 갖는 교정용 지그(예를 들면, 스퀘어)(22)와, 제 1 보증면(22a)을 제 1 핀(11)에 접촉시킨 상태로 제 2 보증면(22b)의 위치의 기준 위치로부터의 변위를 측정하는 교정용 거리계(14)를 사용해서 거리계(13)를 교정한다. 또한, 교정용 지그(22) 자체의 교정도 정기적(예를 들면, 연 1회 정도)으로 실시하는 것이 바람직하다.

거리계(13)의 교정 시에 교정용 지그(22)를 정확하게 설치하는 것은 매우 어려워 그 작업에 숙련을 요한다. 그래서 1쌍의 제 1 핀(11)에 교정용 지그(22)의 제 1 보증면(22a)을 접촉시킨 상태로 교정용 지그(22)의 제 2 보증면(22b)에 관한 거리계(13) 및 교정용 거리계(14)의 수치가 일치하고 있는 것을 확인하면서 교정용 지그(22)를 제 2 핀(12)측(Y 방향)으로 이동시킨다. 이와 같이 하면 교정용 지그(22)를 올바른 자세로 유지한 상태로 교정용 지그(22)의 제 2 보증면(22b)을 제 2 핀(12)에 접촉시킬 수 있다. 그 결과 교정용 지그(22)의 설치를 간단하며, 또한 정확하게 행할 수 있다. 그리고 이와 같이 설치된 교정용 지그(22)의 제 2 보증면(22b)의 위치를 거리계(13)에 의해 측정해서 기준 위치(0점)를 보정하면 거리계(13)를 올바르게 교정할 수 있다.

또한, 제 2 교정 공정이 종료된 후에는 교정용 거리계(14)는 유리판(G)의 끝면(Gb)과 접촉하지 않는 위치까지 퇴피시키는 것이 바람직하다. 이와 같이 하면 거리계(13)에 의해 유리판(G)의 끝면(Gb)을 측정할 때에 교정용 거리계(14)가 거리계(13)의 측정의 방해가 되지 않는다. 이때 교정용 거리계(14)는 상술한 방법으로 퇴피시키는 것 이외에 테이블(2)로부터 분리하여 퇴피시켜도 좋다.

여기에서 본 실시형태에 의한 유리판 측정 방법은, 예를 들면 유리판 제조 공정 중에서 실시된다. 유리판 제조 공정은 유리판을 성형하는 성형 공정과, 성형된 유리판을 소정 사이즈로 절단하는 절단 공정과, 유리판의 절단된 끝면에 대해서 모따기 등의 마무리 가공을 실시하는 끝면 가공 공정을 포함한다. 유리판 측정 방법은, 예를 들면 절단 공정 및/또는 끝면 가공 공정 후에 실시된다. 이 경우 유리판 측정 방법의 측정 시료로서 제조 도중의 유리판 중으로부터 1장 또는 복수장의 유리판을 빼낸다. 또한, 빼내어진 유리판(측정 시료)은 형상 데이터를 측정한 후에 폐기되고, 예를 들면 컬렛으로서 재이용된다.

이상과 같이 본 실시형태에 의한 유리판 측정 장치(1)에 의하면 고도의 화상 처리 등을 사용하는 일 없이 유리판(G)의 끝면의 진직도, 종횡 치수, 끝면의 직각도를 포함하는 형상 데이터를 간단하며, 또한 확실하게 측정할 수 있다. 또한, 유리판(G)의 이들 형상 데이터는 재치부(2x) 상에서 모두 측정할 수 있기 때문에 스페이스 절약화를 도모할 수 있다. 또한, 유리판(G)은 볼록조부(2a, 2b) 및 돌기부(2c)에 의해 지지되어 있기 때문에 유리판(G)이 대치수일 경우이어도 그 위치 결정을 용이하게 또한 저비용으로 실현할 수 있다.

또한, 본 발명은 상기 실시형태에 조금도 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위 내에 있어서 더 다양한 형태로 실시할 수 있다.

상기 실시형태에서는 유리판(G)의 끝면의 진직도를 끝면의 복수 개소에서 단속적으로 측정하는 경우를 설명했지만 끝면에서 연속적으로 측정해도 좋다. 마찬가지로 유리판(G)의 치수를 1개의 끝면의 2개소에서 측정하는 경우를 설명했지만 유리판(G)의 치수는 끝면의 1개소에서 측정해도 좋고, 3개소 이상 또는 끝면을 따라 연속적으로 측정해도 좋다.

상기 실시형태에서는 유리판(G)의 형상 데이터로서 진직도, 치수, 및 직각도를 측정하는 경우를 설명했지만 형상 데이터는 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 형상 데이터는 진직도, 치수, 및 직각도 중 어느 하나의 데이터만을 포함하고 있어도 좋고, 유리판(G)의 두께나 휨 등의 다른 데이터를 포함하고 있어도 좋다.

상기 실시형태에 있어서 거리계(3, 13, 14)나 치수 측정계(9, 10)는 광학식(예를 들면, 레이저 거리계) 등의 비접촉식의 거리계이어도 좋다.

상기 실시형태에서는 테이블(2)의 재치부(2x)에 유리판(G)을 재치한 상태로 유리판(G)의 형상 데이터를 측정하는 경우를 설명했지만 재치부(2x)를 갖는 테이블(2)은 유리판(G)의 절단이나 끝면 가공 등의 다른 제조 관련 처리 시에 유리판(G)을 재치하기 위해서 사용해도 좋다.

1: 유리판 측정 장치 2: 테이블
2x: 재치부 2a: 제 1 볼록조부
2b: 제 2 볼록조부 2c: 돌기부(구형상 롤러)
3: 거리계(진직도 측정용) 4: 유지 기구
5: 직선자 6: 모방 기구
7: 제 1 핀(치수 측정용) 8: 제 2 핀(치수 측정용)
9: 제 1 치수 측정계 10: 제 2 치수 측정계
11: 제 1 핀(직각도 측정용) 12: 제 2 핀(직각도 측정용)
13: 거리계(직각도 측정용) 14: 교정용 거리계
15: 재치 지그 16: 추
17: 지지 부재 18: 제 1 교정 지그(치수 측정용)
19: 제 2 교정 지그(치수 측정용) 20: 제 1 지지부
21: 제 2 지지부 22: 교정용 지그(직각도 측정용)
G: 유리판 Ga~Gd: 끝면
G1~G4: 모서리부 F: 제 1 위치 조정 기구
S: 제 2 위치 조정 기구

Claims (4)

1. 유리판에 소정의 처리를 행하기 위해서 상기 유리판이 재치되는 재치부를 갖는 테이블로서,
   상기 재치부는 상기 유리판과의 접촉부가 제 1 방향을 따라 장척인 제 1 볼록조부와, 상기 유리판과의 접촉부가 상기 제 1 방향과 상이한 제 2 방향을 따라 장척인 제 2 볼록조부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 테이블.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 유리판이 직사각형상을 이루고,
   상기 제 1 볼록조부의 상기 접촉부가 상기 유리판의 대향하는 1쌍의 변을 따라 연장되고, 상기 제 2 볼록조부의 상기 접촉부가 상기 유리판의 대향하는 다른 1쌍의 변을 따라 연장되는 것을 특징으로 하는 테이블.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
   상기 재치부가 상기 유리판을 지지하는 구형상 롤러를 더 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 테이블.
4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 제 1 볼록형상부의 상기 접촉부 및 상기 제 2 볼록조부의 상기 접촉부가 수지로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 테이블.

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