KR20210056846A - 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 - Google Patents
니오븀 질화물 박막의 형성 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20210056846A KR20210056846A KR1020190143799A KR20190143799A KR20210056846A KR 20210056846 A KR20210056846 A KR 20210056846A KR 1020190143799 A KR1020190143799 A KR 1020190143799A KR 20190143799 A KR20190143799 A KR 20190143799A KR 20210056846 A KR20210056846 A KR 20210056846A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- niobium
- thin film
- nitride thin
- forming
- niobium nitride
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 45
- CFJRGWXELQQLSA-UHFFFAOYSA-N azanylidyneniobium Chemical compound [Nb]#N CFJRGWXELQQLSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 30
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 28
- 238000000151 deposition Methods 0.000 title description 13
- 239000010955 niobium Substances 0.000 claims abstract description 33
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 31
- -1 niobium halogen ion compound Chemical class 0.000 claims abstract description 22
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims abstract description 11
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims description 10
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 claims description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 9
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 8
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 5
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 22
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 10
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 3
- IQQRAVYLUAZUGX-UHFFFAOYSA-N 1-butyl-3-methylimidazolium Chemical group CCCCN1C=C[N+](C)=C1 IQQRAVYLUAZUGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 2
- 125000004400 (C1-C12) alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 1H-indene Natural products C1=CC=C2CC=CC2=C1 YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 125000000041 C6-C10 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003368 amide group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000058 cyclopentadienyl group Chemical group C1(=CC=CC1)* 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N endo-cyclopentadiene Natural products C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 125000001475 halogen functional group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000004693 imidazolium salts Chemical class 0.000 description 1
- 125000001841 imino group Chemical group [H]N=* 0.000 description 1
- 125000003454 indenyl group Chemical group C1(C=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 150000008040 ionic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 150000002822 niobium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- FNKQXYHWGSIFBK-RPDRRWSUSA-N sapropterin Chemical compound N1=C(N)NC(=O)C2=C1NC[C@H]([C@@H](O)[C@@H](O)C)N2 FNKQXYHWGSIFBK-RPDRRWSUSA-N 0.000 description 1
- 125000004469 siloxy group Chemical group [SiH3]O* 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02263—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase
- H01L21/02271—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition
- H01L21/0228—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition deposition by cyclic CVD, e.g. ALD, ALE, pulsed CVD
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07D—HETEROCYCLIC COMPOUNDS
- C07D233/00—Heterocyclic compounds containing 1,3-diazole or hydrogenated 1,3-diazole rings, not condensed with other rings
- C07D233/54—Heterocyclic compounds containing 1,3-diazole or hydrogenated 1,3-diazole rings, not condensed with other rings having two double bonds between ring members or between ring members and non-ring members
- C07D233/56—Heterocyclic compounds containing 1,3-diazole or hydrogenated 1,3-diazole rings, not condensed with other rings having two double bonds between ring members or between ring members and non-ring members with only hydrogen atoms or radicals containing only hydrogen and carbon atoms, attached to ring carbon atoms
- C07D233/58—Heterocyclic compounds containing 1,3-diazole or hydrogenated 1,3-diazole rings, not condensed with other rings having two double bonds between ring members or between ring members and non-ring members with only hydrogen atoms or radicals containing only hydrogen and carbon atoms, attached to ring carbon atoms with only hydrogen atoms or radicals containing only hydrogen and carbon atoms, attached to ring nitrogen atoms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02172—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing at least one metal element, e.g. metal oxides, metal nitrides, metal oxynitrides or metal carbides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02538—Group 13/15 materials
- H01L21/0254—Nitrides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
- H01L21/285—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation
- H01L21/28506—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers
- H01L21/28512—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L21/28568—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table the conductive layers comprising transition metals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01041—Niobium [Nb]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
본 발명의 일 실시예에 의하면, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법은, 기판에 니오븀 할로젠 이온 화합물을 공급하여 상기 기판의 표면에 선택적으로 흡착시키는 흡착 단계; 그리고 상기 기판에 질소 소스를 공급하여 상기 니오븀 할로젠 이온 화합물과 반응시키고 니오븀 질화물을 형성하는 질화 단계를 포함한다.
Description
본 발명은 니오븀 질화물 박막의 형성 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 니오븀 할로젠 이온 화합물을 이용한 니오븀 질화물 박막의 형성 방법에 관한 것이다.
니오븀 나이트라이드(NbNx, 식 중 x 는 약 1 임) 와 같은 금속 나이트라이드 필름이 각종 기술 분야에서 광범위하게 이용되어 왔다. 전통적으로 이들 나이트라이드는 하드 코팅 및 장식 코팅으로서 적용되었으나, 지난 수십년간 이들은 마이크로전자 소자에서 점차적으로 확산 장벽(diffusion barrier) 및 접착/글루층(glue layer)으로서 이용되어 왔다 [AppliedSurface Science 120 (1997) 199-212].
예를 들어, NbCl5는 NbN의 원자층 액피택시얼 성장의 니오븀 근원으로서 조사된 바 있으나, 이 방법은 환원제로서 Zn 을 요구했다 [Applied Surface Science 82/83 (1994) 468-474]. NbNx 필름은 또한 NbCl5 및 NH3를 이용하여 원자층 침적에 의해 침적되었다 [Thin Solid Films 491(2005) 235-241]. 500℃에서 침적된 필름이 거의 염소가 부재인 것처럼 염소 함량은 강한 온도 의존성을 보였지만, 침적 온도가 250℃만큼 낮은 경우 염소 함량은 8%였다(상기 문헌). NbCl5 의 고 용융점은 또한 상기 전구체를 증착 공정에서 사용하기 힘들다.
Gust et al. 은 피라졸라토 리간드 보유 니오븀 및 탄탈 이미도 착물의 합성, 구조 및 특징, 및 이들의 CVD 에 의한 탄탈 나이트라이드 필름의 성장을 위한 잠재적 용도를 개시하고 있다. Elorriaga et al. 은 아민의 촉매적 구아닐화에서 중간체로서의 비대칭 니오븀 구아니디네이트를 개시하고 있다(Dalton Transactions, 2013, Vol. 42, Issue 23 pp. 8223-8230).
Tomson et al. 은 양이온성 Nb 및 Ta 모노메틸 착물 [(BDI)MeM(NtBu)][X] (BDI=2,6-iPr2C6H3-N-C(Me)CH-C(Me)-N(2,6-iPr2C6H3); X=MeB(C6F5)3 또는 B(C6F5)4) 의 합성 및 반응성을 개시하고 있다 (Dalton Transactions 2011 Vol. 40, Issue 30, pp. 7718-7729).
DE102006037955 (Starck) 는 식 R4R5R6M(R1NNR2R3)2 (여기서 M 은 Ta 또는 Nb 이고; R1-R3= C1-12 알킬, C5-12 시클로알킬, C6-10 아릴, 알케닐, C1-4 트리오르가노실릴이고; R4-R6= 할로, (시클로)알콕시, 아릴옥시, 실록시, BH4, 알릴, 인데닐, 벤질, 시클로펜타디에닐, CH2SiMe3, 실릴아미도, 아미도 또는 이미노임) 을 갖는 탄탈- 및 니오븀-화합물을 개시하고 있다.
Maestre et al. 은 NbCp(NH(CH2)2-NH2)Cl3 및 NbCpCl2(N-(CH2)2-N) 이 형성되도록 하는 시클로펜타디에닐-실릴-아미도 티탄 화합물과 5 족 금속 모노시클로펜타디에닐 착물의 반응을 개시하고 있다.
고온에서 두께 및 조성 제어와 함께 기상 필름 침착에 적합한, 신규의 액체 또는 저 용융점 (표준 압력에서 <50℃), 고열 안정성의 V 족-함유 전구체 분자 개발이 여전히 요구되고 있다. 또한 미세한 금속 배선 등을 형성하기 위해서 스퍼터링(sputtering)과 같은 물리적 증착법이 이용되었으나, 이와 같은 물리적 증착법의 경우에는 단차 피복성(step coverage)이 불량하다.
최근 반도체 소자의 초집적화, 초 박막화 추세에 따라 균일한 증착 특성과 단차 피복성을 갖는 박막 증착 기술로 화학 기상 증착법(Chemical vapor deposition, CVD)이 개발되었다. 그러나, 화학 기상 증착법의 경우 박막 형성에 필요한 모든 물질이 동시에 공정챔버 내에 공급되어 원하는 조성비의 물성을 갖는 막을 형성하기가 어렵고 고온에서 공정이 진행되기 때문에 소자의 전기적 특성을 열화시키거나 축전 용량의 저하를 초래할 수 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 공정가스를 연속적으로 공급하지 않고 독립적으로 공급하는 원자층 증착법 (atomic layer deposition, ALD)이 개발되었다.
본 발명의 목적은 니오븀 질화물 박막을 효과적으로 형성할 수 있는 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적들은 다음의 상세한 설명으로부터 보다 명확해질 것이다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법은, 기판에 니오븀 할로젠 이온 화합물을 공급하여 상기 기판의 표면에 선택적으로 흡착시키는 흡착 단계; 그리고 상기 기판에 질소 소스를 공급하여 상기 니오븀 할로젠 이온 화합물과 반응시키고 니오븀 질화물을 형성하는 질화 단계를 포함한다.
상기 니오븀 질화물은 NbaNb(1 ≤ a ≤ 5, 1 ≤ b ≤ 5)일 수 있다.
상기 니오븀 할로젠 이온 화합물은 하기 <화학식 1>로 표시될 수 있다.
<화학식 1>
상기 <화학식 1>에서, X는 F, Cl를 포함하는 17족 중 하나이며, R1,R2,R3,R4,R5는 각각 서로 독립적으로 수소 또는 탄소수 1 내지 6의 선형 또는 분지형 알킬기이며, n은 1 내지 6의 정수 중에서 선택된 어느 하나이다.
상기 니오븀 할로젠 이온 화합물은 하기 <화학식 2>로 표시될 수 있다.
<화학식 2>
상기 니오븀 할로젠 이온 화합물은 하기 <화학식 3>으로 표시될 수 있다.
<화학식 3>
상기 니오븀 할로젠 이온 화합물은 캐리어 가스와 함께 공급되며, 상기 캐리어 가스는 질소(N2), 아르곤(Ar), 헬륨(He)을 포함하는 비활성 기체 중 하나 이상일 수 있다.
상기 질소 소스는 NH3, N2, 히드라진(Hydrazine, H4N2) 중 하나 이상일 수 있다.
상기 질화 단계는, 상기 기판에 NR3(R은 C1~C5의 선형, 가지형, 방향족 알킬기 중 하나 이상)를 공급하여, 생성되는 HX(X는 F, Cl를 포함하는 17족 중 하나)를 포집하여 제거할 수 있다.
상기 흡착 단계, 상기 질화 단계는 250 내지 600℃에서 각각 진행될 수 있다.
상기 흡착 단계 및 상기 질화 단계는 하나의 사이클을 형성하며, 상기 사이클을 반복할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 니오븀 전구체들은 니오븀 질화물(niobium nitride)을 증착하는데 적합함을 확인할 수 있으며, 니오븀 전구체들이 지속적인 가온에도 특성이 열화되지 않는 높은 열적 안정성과 함께 높은 증기압(vapor pressure)을 가짐으로써 유기 금속 화학 증착(Metal Organic Chemical Vapor Deposition, MOCVD) 및 원자층 증착법(Atomic Layer Deposition, ALD)를 이용한 니오븀 질화물 박막을 증착하는 반도체 제조공정에 유용하게 적용될 수 있음을 알 수 있다.
또한 니오븀 전구체들을 이용한 니오븀 질화물 박막의 형성 방법은 탄소 및 할로젠 불순물이 없는 금속 질화물 박막 형성에 유리하게 적용될 수 있음을 알 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 니오븀 질화물 박막의 형성 방법을 개략적으로 나타내는 흐름도이다.
도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 니오븀 질화물 박막의 형성 과정을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 니오븀 질화물 박막의 형성 과정을 개략적으로 나타내는 도면이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예들을 첨부된 도 1 내지 도 3을 참고하여 더욱 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예들은 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 설명하는 실시예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시예들은 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 상세하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서 도면에 나타난 각 요소의 형상은 보다 분명한 설명을 강조하기 위하여 과장될 수 있다.
먼저, 기존 사용되는 전구체 NbCl5는 높은 열안정성을 가진 대표적인 전구체이지만, 고체이기 때문에 증착장비 내 배관 막힘과 기체로 승화시켜 증착챔버로의 일정한 양의 이송 시 어려움이 있다. 또한, 다른 유기 금속 전구체는 탄소 함유량이 많아서 불순물이 막질에 영향을 주는 문제점을 갖고 있다.
이하에서 설명하는 니오븀 질화물 박막의 형성 방법은 원자층 증착(ALD) (또는 유기 금속 화학 증착법)을 통해 기판의 표면상에 박막을 형성하는 방법이며, 하기의 일반식들은 액체 전구체를 사용해도 기존의 고체 전구체 사용했을 때와 비교하여 탄소 및 할로젠의 불순물이 없는 박막을 형성하는 반응식을 나타낸다.
"원자층 증착(ALD)"은 증착 사이클, 바람직하게는 복수의 연속적인 증착 사이클이 공정 챔버에서 수행되는 기상 증착 공정을 지칭할 수 있다. 일반적으로, 각 사이클 동안 전구체는 증착 표면(예컨대, 기판 표면 또는 이전 ALD 사이클로부터 수득된 재료와 같은 앞서 증착된 하층 표면)에 화학 흡착되어 추가적인 전구체와 쉽게 반응하지 않는 단층 또는 하위단층을 형성한다(즉, 자기 제한적 반응). 그 후, 필요하면, 반응물(예컨대, 다른 전구체 또는 반응 가스)은 화학 흡착된 전구체를 증착 표면 상에서 원하는 재료로 변환하는 데 사용하기 위한 공정 챔버로 이후 유입될 수 있다. 일반적으로, 이 반응물은 전구체와 더 반응할 수 있다. 또한, 각 사이클 동안 공정 챔버로부터 잉여 전구체를 제거하고(제거하거나) 화학 흡착된 전구체의 변환 후 공정 챔버로부터 잉여 반응물 및/또는 반응 부산물을 제거하기(제거하거나) 위해 정화(purging) 단계들이 사용될 수도 있다.
또한, "기판"은, 사용될 수 있는, 또는 그 위에 소자, 회로, 또는 막이 형성될 수 있는, 임의의 하부 재료 또는 재료들을 지칭할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 금속 질화물 박막의 형성 방법을 개략적으로 나타내는 흐름도이며, 도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 금속 질화물 박막의 형성 과정을 개략적으로 나타내는 도면이다.
< 일반식 1 >
X는 F, Cl를 포함하는 17족 중 하나이며,
1 ≤ n ≤ 6(바람직하게는, 5 ≤ n ≤ 6),
1 ≤ a ≤ 5,
1 ≤ b ≤ 5,
R1,R2,R3,R4,R5는 각각 서로 독립적으로 수소 또는 탄소수 1 내지 6의 선형 또는 분지형 알킬기,
R은 C1~C5의 선형, 가지형, 방향족 알킬기 중 하나 이상이다.
< 화학식 1 >
X는 F, Cl를 포함하는 17족 중 하나이며,
1 ≤ n ≤ 6(바람직하게는, 5 ≤ n ≤ 6),
R1,R2,R3,R4,R5는 각각 서로 독립적으로 수소 또는 탄소수 1 내지 6의 선형 또는 분지형 알킬기이다.
상기 < 화학식 1>은 니오븀 질화물 박막을 형성하기 위한 니오븀 할로젠 이온 전구체이다. 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 기판은 챔버 내에 공급되며('기판공급 단계'), 니오븀 할로젠 이온 전구체가 챔버 내의 기판에 공급되어 기판의 표면에 선택적으로 화학적 흡착된다('흡착 단계'). 니오븀 할로젠 이온 전구체는 액상공급장치(Liquid Delivery System)를 통해 챔버 내에 공급될 수 있으며, 이때 적절한 온도에서 기화되어 균일한 기체 형태로 전달될 수 있다.
이밖에, 버블링 방식, 기체상(vapor phase) 엠에프씨(MFC:mass flow controller), 직접 액체 주입(DLI:Direct Liquid Injection)이나 전구체 화합물을 유기 용매에 녹여 이송하는 액체 이송방법을 포함하여 다양한 공급방식이 적용될 수 있다. 니오븀 전구체를 공급하기 위한 캐리어 가스로 질소(N2) 또는 아르곤(Ar), 헬륨(He) 또는 수소(H2) 중에서 하나 또는 그 이상의 혼합물이 사용될 수 있다.
이후, 기판에 질소 소스를 공급하여 반응 부산물 및 미반응된 물질을 제거함과 동시에, 니오븀 할로젠 이온 화합물과 반응시켜 니오븀 질화물을 형성한다('질화 단계'). 질소 소스는 NH3, N2, 히드라진(Hydrazine, H4N2) 중 하나 이상이 사용될 수 있으며, 불순물인 HX(X는 F, Cl를 포함하는 17족 중 하나)는 NR3를 이용하여 (R3N)-HX 염으로 제거될 수 있다(R은 C1~C5의 선형, 가지형, 방향족 알킬기 중 하나 이상).
한편, 상기 흡착 단계 및 상기 질화 단계는 250 내지 600℃에서 각각 진행될 수 있다. 또한, 상기 흡착 단계 및 상기 질화 단계는 하나의 사이클을 형성하며, 상기 사이클은 수회 반복될 수 있다.
실시예 1 : (C4C1Im)+(NbCl6)-의 합성(NbCl5 30%), (C4C1Im = 1-butyl-3-methylimidazolium)
100 g의 C4C1Im(0.57mol, 70%)와 NbCl5 65.98g(0.24mol, 30%)이 들어있는 불꽃 건조된 1L 슐렝크 플라스크를 질소 상태에서 70℃로 가열한 후 반응이 종결될 때까지 교반 시켰다. 이 후 혼합물의 온도를 서서히 실온으로 낮추어 붉은색 액체 조성물을 얻었다.
참고로, 아래 표 1에 기재한 바와 같이, Imidazolium salt의 경우, 니오븀 할로젠 화합물과 이온 결합하여 니오븀 할로젠 이온 화합물을 만들 수 있으며, 이는 기존의 니오븀 할로젠 화합물의 특성은 유지하면서 액체 상태의 전구체로 이용할 수 있다.
1-butyl-3-methylimidazolium/NbCl5 이온화합물에서, NbCl5의 mol 비율 | 녹는점 |
0% | 66℃ |
10% | 18℃ |
20% | 20℃ |
30% | -12℃ |
40% | 35℃ |
50% | 57℃ |
60% | 55℃ |
70% | 45℃ |
실시예 2 : (C4C1Im)+(NbCl6)-의 흡착을 통한 니오븀 질화물 박막의 증착
(C4C1Im)+(NbCl6)-을 용기에 저장하였다. 용기를 90℃에서 가열하고, N2를 유속 50 sccm 하에 캐리어 기체로 사용하였다. 용기의 압력은 50 Torr에서 제어되었다. NH3를 질소 공급원으로서 사용하였다. TEA(Triethylamine)는 불순물인 HX를 포집하는데 사용하였다. 기판을 350℃에서 가열하였다. 제1 단계 동안, (C4C1Im)+(NbCl6)-를 2초 동안 반응 챔버에 도입하였다. 그 후, 5초의 N2 퍼징을 제2단계로서 수행하였다. 그 후 제3 단계로서 NH3와 TEA를 2초 동안 반응 챔버에 도입한 다음, 2초 동안 N2 퍼징을 제4 단계로서 수행하였다. 모두 4개의 단계를 100회 반복하여 NbN 필름을 수득하였다
이상에서 본 발명을 실시예를 통하여 상세하게 설명하였으나, 이와 다른 형태의 실시예들도 가능하다. 그러므로, 이하에 기재된 청구항들의 기술적 사상과 범위는 실시예들에 한정되지 않는다.
Claims (10)
- 기판에 니오븀 할로젠 이온 화합물을 공급하여 상기 기판의 표면에 선택적으로 흡착시키는 흡착 단계;
상기 기판에 질소 소스를 공급하여 상기 니오븀 할로젠 이온 화합물과 반응시키고 니오븀 질화물을 형성하는 질화 단계를 포함하는, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법. - 제1항에 있어서,
상기 니오븀 질화물은 NbaNb(1 ≤ a ≤ 5, 1 ≤ b ≤ 5)인, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 니오븀 할로젠 이온 화합물은 캐리어 가스와 함께 공급되며,
상기 캐리어 가스는 질소(N2), 아르곤(Ar), 헬륨(He)을 포함하는 비활성 기체 중 하나 이상인, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 질소 소스는 NH3, N2, 히드라진(Hydrazine, H4N2) 중 하나 이상인, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 질화 단계는,
상기 기판에 NR3(R은 C1~C5의 선형, 가지형, 방향족 알킬기 중 하나 이상)를 공급하여, 생성되는 HX(X는 F, Cl를 포함하는 17족 중 하나)를 포집하여 제거하는, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 흡착 단계, 상기 질화 단계는 250 내지 600℃에서 각각 진행되는, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 흡착 단계 및 상기 질화 단계는 하나의 사이클을 형성하며,
상기 사이클을 반복하는, 니오븀 질화물 박막의 형성 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190143799A KR102343186B1 (ko) | 2019-11-11 | 2019-11-11 | 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190143799A KR102343186B1 (ko) | 2019-11-11 | 2019-11-11 | 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210056846A true KR20210056846A (ko) | 2021-05-20 |
KR102343186B1 KR102343186B1 (ko) | 2021-12-24 |
Family
ID=76143092
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190143799A KR102343186B1 (ko) | 2019-11-11 | 2019-11-11 | 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102343186B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060021096A1 (en) | 2002-06-26 | 2006-01-26 | Pioneer Hi-Bred International, Inc. | Genes encoding proteins with pesticidal activity |
KR20160124025A (ko) * | 2015-04-16 | 2016-10-26 | 레르 리키드 쏘시에떼 아노님 뿌르 레뜌드 에렉스뿔라따시옹 데 프로세데 조르즈 클로드 | V 족-함유 필름 형성 조성물 및 니오븀-함유 필름의 증착 |
KR20170063092A (ko) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 삼성전자주식회사 | 니오븀 화합물을 이용한 박막 형성 방법 및 집적회로 소자의 제조 방법 |
KR20180048404A (ko) * | 2016-11-01 | 2018-05-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 원자층 증착에 의해 기판 상에 전이 금속 니오븀 질화물막을 형성하기 위한 방법 및 관련 반도체 소자 구조물 |
-
2019
- 2019-11-11 KR KR1020190143799A patent/KR102343186B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060021096A1 (en) | 2002-06-26 | 2006-01-26 | Pioneer Hi-Bred International, Inc. | Genes encoding proteins with pesticidal activity |
KR20160124025A (ko) * | 2015-04-16 | 2016-10-26 | 레르 리키드 쏘시에떼 아노님 뿌르 레뜌드 에렉스뿔라따시옹 데 프로세데 조르즈 클로드 | V 족-함유 필름 형성 조성물 및 니오븀-함유 필름의 증착 |
KR20170063092A (ko) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 삼성전자주식회사 | 니오븀 화합물을 이용한 박막 형성 방법 및 집적회로 소자의 제조 방법 |
KR20180048404A (ko) * | 2016-11-01 | 2018-05-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 원자층 증착에 의해 기판 상에 전이 금속 니오븀 질화물막을 형성하기 위한 방법 및 관련 반도체 소자 구조물 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
May 2017. Conference: IPAC 2017* * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102343186B1 (ko) | 2021-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10914001B2 (en) | Volatile dihydropyrazinly and dihydropyrazine metal complexes | |
KR101560755B1 (ko) | 모노시클로펜타디에닐 티타늄계 전구체를 이용한 원자층 증착에 의한 티타늄 함유 박막의 제조 방법 | |
US7141500B2 (en) | Methods for forming aluminum containing films utilizing amino aluminum precursors | |
EP2609102B1 (en) | Molybdenum (iv) amide precursors and use thereof in atomic layer deposition | |
KR101124722B1 (ko) | 4족 금속?함유 필름을 증착시키기 위한 전구체 | |
TWI444497B (zh) | 用於沉積含金屬膜的金屬-烯醇化物前驅物 | |
KR20150139628A (ko) | 하프늄과 지르코늄계 전구체를 이용한 원자층 증착에 의한 박막의 제조 방법 | |
JP2010280991A (ja) | 薄膜形成方法 | |
US10577385B2 (en) | Group 5 metal compound, method for preparing the same, precursor composition for depositing layer containing the same, and method for depositing layer using the same | |
US9090641B2 (en) | Precursors and methods for the selective deposition of cobalt and manganese on metal surfaces | |
KR101589777B1 (ko) | 기재 상에 탄탈-함유 층의 형성 방법 | |
TW202146425A (zh) | 含第四主族金屬元素的化合物、其製備方法、包括其的膜形成用前體組合物以及利用其的膜形成方法 | |
CN113943321A (zh) | 用于薄膜沉积的第5族金属化合物和使用该化合物形成含第5族金属的薄膜的方法 | |
US20120231164A1 (en) | Precursors and Methods for the Atomic Layer Deposition of Manganese | |
TW202129066A (zh) | 形成含第v族元素膜之組成物及氣相沈積含第v族元素膜 | |
KR102343186B1 (ko) | 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 | |
KR20210056847A (ko) | 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 | |
KR20210056848A (ko) | 니오븀 질화물 박막의 형성 방법 | |
US20220333243A1 (en) | Method for forming metal nitride thin film | |
JP7271850B2 (ja) | 有機金属前駆体化合物 | |
KR102471126B1 (ko) | 4 족 금속 원소-함유 화합물, 이의 제조 방법, 이를 포함하는 막 형성용 전구체 조성물, 및 이를 이용하는 막의 형성 방법 | |
JP2023035820A (ja) | 薄膜蒸着のためのニオブ前駆体化合物及びそれを用いたニオブ含有薄膜の形成方法 | |
KR20030092600A (ko) | 산화물박막의 원자층증착법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |