KR20210043655A - Connection body manufacturing method, anisotropic bonding film, connection body - Google Patents

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Abstract

파인 피치의 전극을 구비하는 전자 부품을 접합시킬 수 있는 접속체의 제조 방법, 이방성 접합 필름, 접속체를 제공한다. 상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 멜트 플로 레이트가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 적어도 1 종의 고형 수지와, 땜납 입자와, 플럭스 화합물을 함유하는 이방성 접합 재료를, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극 사이에 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하인 두께로 개재시켜, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극을 무하중으로 가열 접합시킨다.It provides a manufacturing method of a connection body, an anisotropic bonding film, and a connection body capable of bonding an electronic component provided with a fine pitch electrode. At least one solid resin selected from a thermoplastic resin, a solid radical polymerizable resin, and a solid epoxy resin, which is solid at room temperature and has a melt flow rate of 10 g/10 min or more measured under conditions of 190° C. and a load of 2.16 kg, and , The anisotropic bonding material containing the solder particles and the flux compound is interposed between the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component at a thickness of 50% or more and 300% or less of the average particle diameter of the solder particles, and the first electron The electrode of the component and the electrode of the second electronic component are heat-bonded without load.

Description

접속체의 제조 방법, 이방성 접합 필름, 접속체Connection body manufacturing method, anisotropic bonding film, connection body

본 발명은 LED (Light Emitting Diode) 등의 반도체 칩 (소자) 을 실장하는 접속체의 제조 방법, 이방성 접합 필름, 접속체에 관한 것이다. 본 출원은 일본에 있어서 2018년 10월 31일에 출원된 일본 특허출원 2018-206058호, 및 2019년 10월 25일에 출원된 일본 특허출원 2019-194479호를 기초로 하여 우선권을 주장하는 것이고, 이 출원은 참조됨으로써 본 출원에 원용된다.The present invention relates to a method of manufacturing a connection body for mounting semiconductor chips (elements) such as LED (Light Emitting Diode), an anisotropic bonding film, and a connection body. This application claims priority in Japan based on Japanese Patent Application No. 2018-206058 filed on October 31, 2018, and Japanese Patent Application No. 2019-194479 filed on October 25, 2019, This application is incorporated herein by reference.

LED 등의 반도체 칩 (소자) 을 실장하는 방법의 하나로서, 플립 칩 실장을 들 수 있다. 플립 칩 실장은 와이어 본딩에 비해 실장 면적을 작게 할 수 있어, 소형, 박형의 반도체 칩을 실장할 수 있다.As one of the methods of mounting semiconductor chips (elements) such as LEDs, flip chip mounting is exemplified. Flip-chip mounting can reduce the mounting area compared to wire bonding, and can mount small and thin semiconductor chips.

그러나, 플립 칩 실장은, 가열 압착하기 위해, 예를 들어, 다수의 반도체 칩과 대형 기판을 접합하는 경우, 매우 높은 압력이 필요하거나 평행도 조정이 필요하거나 하여 양산성이 곤란하다.However, in the case of bonding a large number of semiconductor chips and a large substrate, for example, in order to heat-press the flip chip mounting, a very high pressure is required or parallelism adjustment is required, making mass production difficult.

일본 공개특허공보 2009-102545호Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-102545

특허문헌 1 에는, 땜납 입자, 열경화성 수지 바인더 및 플럭스 성분을 함유하는 땜납 페이스트를 사용하고, 리플로에 의해 복수의 부품을 배선판 등에 일괄적으로 실장하는 것이 기재되어 있다.Patent Document 1 describes that a solder paste containing solder particles, a thermosetting resin binder, and a flux component is used, and a plurality of components are collectively mounted on a wiring board or the like by reflow.

그러나, 특허문헌 1 의 땜납 페이스트는, 땜납 입자를 용융 일체화시키기 위해서, 땜납 입자가 다량으로 포함되어 있어, 파인 피치의 전극을 구비하는 전자 부품의 접합은 곤란하다.However, the solder paste of Patent Literature 1 contains a large amount of solder particles in order to melt and integrate the solder particles, and it is difficult to join electronic components having fine-pitch electrodes.

도 8 은, 종래의 땜납 페이스트를 사용하여 제작한 LED 실장체에 있어서, LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다. 도 8 에 나타내는 바와 같이, 일반적인 땜납 페이스트에서는, 땜납 입자가 용융 일체화하는 셀프 얼라인먼트가 일어나는 경우, 인접하는 단자간에 땜납 입자가 응집하여 브릿지 A 가 형성되어, 쇼트가 발생하는 경우가 있었다.Fig. 8 is a microscopic photograph of an LED mounting body fabricated using a conventional solder paste, when the state of solder bonding on the substrate side after peeling the LED chip is observed. As shown in FIG. 8, in a general solder paste, when self-alignment in which solder particles are melted and integrated, solder particles agglomerate between adjacent terminals to form a bridge A, thereby causing a short circuit.

본 기술은, 이와 같은 종래의 실정을 감안하여 제안된 것으로, 파인 피치의 전극을 구비하는 전자 부품을 접합시킬 수 있는 접속체의 제조 방법, 이방성 접합 필름, 접속체를 제공한다.The present technology has been proposed in view of such a conventional situation, and provides a method of manufacturing a connection body, an anisotropic bonding film, and a connection body capable of bonding electronic components provided with fine pitch electrodes.

본건 발명자는, 예의 검토를 실시한 결과, 상온에서 고형이며, 소정의 멜트 플로 레이트를 갖는 고형 수지를 함유하는 이방성 접합 재료를 사용하고, 전극간의 이방성 접합 재료의 두께를 땜납 입자의 평균 입경에 대해 소정의 값으로 함으로써, 상기 서술한 목적을 달성할 수 있는 것을 알아내어, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다.As a result of careful examination, the inventor of the present invention used an anisotropic bonding material containing a solid resin that is solid at room temperature and has a predetermined melt flow rate, and the thickness of the anisotropic bonding material between electrodes is determined with respect to the average particle diameter of the solder particles. By setting it as the value of, it found out that the object mentioned above can be achieved, and came to complete this invention.

즉, 본 발명에 관련된 접속체의 제조 방법은, 상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 멜트 플로 레이트가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 적어도 1 종의 고형 수지와, 땜납 입자와, 플럭스 화합물을 함유하는 이방성 접합 재료를, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극 사이에 상기 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하의 두께로 개재시키고, 상기 제 1 전자 부품의 전극과 상기 제 2 전자 부품의 전극을 무하중으로 가열 접합시킨다.That is, the manufacturing method of the connecting body according to the present invention is a thermoplastic resin having a melt flow rate of 10 g/10 min or more, which is solid at room temperature and a temperature of 190° C. and a load of 2.16 kg, and a solid radical polymerizable resin, and An anisotropic bonding material containing at least one solid resin selected from solid epoxy resins, solder particles, and flux compounds is used between the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component. The electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component are heat-bonded with no load, with a thickness of 50% or more and 300% or less.

또, 본 발명에 관련된 이방성 접합 필름은, 상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 멜트 플로 레이트가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 적어도 1 종의 고형 수지와, 땜납 입자와, 플럭스 화합물을 함유하고, 두께가 상기 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하이다.In addition, the anisotropic bonding film according to the present invention is a thermoplastic resin, a solid radical polymerizable resin, and a solid epoxy having a melt flow rate of 10 g/10 min or more, which is solid at room temperature and a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg. It contains at least one type of solid resin selected from resins, solder particles, and a flux compound, and has a thickness of 50% or more and 300% or less of the average particle diameter of the solder particles.

또, 본 발명에 관련된 접속체는, 상기 서술한 이방성 접합 필름을 사용하여, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극이 접합되어 이루어진다.In addition, the connection body according to the present invention is formed by bonding the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component using the anisotropic bonding film described above.

본 발명에 의하면, 가열에 의해 고형 수지가 용융하고, 땜납 입자가 전극간에 협지되어 용융하기 때문에, 파인 피치의 전극을 구비하는 전자 부품을 접합시킬 수 있다.According to the present invention, since the solid resin melts by heating and the solder particles are sandwiched between electrodes and melted, an electronic component having a fine pitch electrode can be joined.

도 1 은, 접합 공정의 일부를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 2 는, LED 실장체의 구성예를 나타내는 단면도이다.
도 3 은, 본 기술을 적용시킨 이방성 접합 필름의 일부를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 4 는, 실시예 1-1 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다.
도 5 는, 비교예 1-1 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다.
도 6 은, 비교예 1-2 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다.
도 7 은, 비교예 1-3 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다.
도 8 은, 종래의 땜납 페이스트를 사용하여 제작한 LED 실장체에 대해, LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다.
1 is a cross-sectional view schematically showing a part of a bonding process.
2 is a cross-sectional view showing a configuration example of an LED mounting body.
3 is a cross-sectional view schematically showing a part of an anisotropic bonding film to which the present technology is applied.
Fig. 4 is a photomicrograph when the LED chip of Example 1-1 is peeled off and the state of solder bonding on the substrate side is observed.
5 is a photomicrograph when a solder bonding state on the substrate side was observed after the LED chip of Comparative Example 1-1 was peeled off.
6 is a photomicrograph when the state of solder bonding on the substrate side after peeling the LED chip of Comparative Example 1-2 was observed.
7 is a photomicrograph when a solder bonding state on the substrate side was observed after peeling the LED chip of Comparative Example 1-3.
Fig. 8 is a photomicrograph of an LED mounting body produced using a conventional solder paste, when the state of solder bonding on the substrate side after peeling the LED chip is observed.

이하, 본 발명의 실시형태에 대해, 도면을 참조하면서 하기 순서로 상세하게 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail in the following order with reference to the drawings.

1. 접속체의 제조 방법1. Manufacturing method of connection body

2. 이방성 접합 필름 (이방성 접합 재료)2. Anisotropic bonding film (Anisotropic bonding material)

3. 실시예3. Examples

<1. 접속체의 제조 방법><1. Connection body manufacturing method>

본 실시형태에 있어서의 접속체의 제조 방법은, 상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 멜트 플로 레이트가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 적어도 1 종의 고형 수지와, 땜납 입자와, 플럭스 화합물을 함유하는 이방성 접합 재료를, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극 사이에 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하의 두께로 개재시키고, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극을 무하중으로 가열 접합시키는 것이다.The manufacturing method of the connection body in this embodiment is a thermoplastic resin, a solid radical polymerizable resin, and a melt flow rate of 10 g/10 min or more, which is solid at room temperature, and has a melt flow rate of 10 g/10 min or more measured under conditions of a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg, and 50 of the average particle diameter of the solder particles between the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component by using at least one solid resin selected from solid epoxy resins, a solder particle, and an anisotropic bonding material containing a flux compound. The electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component are heat-bonded without load by interposing with a thickness of not less than% and not more than 300%.

본 명세서에 있어서, 멜트 플로 레이트란, JIS K7210 : 1999 에서 열가소성 플라스틱의 멜트 플로 레이트를 구하는 방법에 규정된, 190 ℃, 2.16 ㎏ 하중의 조건에서 측정된 값이며, 멜트 매스 플로 레이트 (MFR) 라고도 부른다. 또, 상온이란, JISZ 8703 에서 규정하는 20 ℃ ± 15 ℃ (5 ℃ ∼ 35 ℃) 의 범위이다. 또, 접속체란, 두 개의 재료 또는 부재가 전기적으로 접속된 것이다. 또, 접합이란, 두 개의 재료 또는 부재를 이어 맞춘 것이다. 또, 무하중이란, 기계적 가압이 없는 상태를 말한다.In the present specification, the melt flow rate is a value measured under conditions of 190°C and a load of 2.16 kg, specified in the method for determining the melt flow rate of a thermoplastic plastic in JIS K7210:1999, and is also referred to as a melt mass flow rate (MFR). I call it. In addition, normal temperature is a range of 20°C ± 15°C (5°C to 35°C) specified in JIS Z 8703. In addition, a connection body is a thing in which two materials or members are electrically connected. In addition, bonding is a connection of two materials or members. In addition, no load means a state in which there is no mechanical pressure.

또, 평균 입경은, 금속 현미경, 광학 현미경, SEM (Scanning Electron Microscope) 등의 전자 현미경 등을 사용한 관찰 화상에 있어서, N = 50 이상, 바람직하게는 N = 100 이상, 더욱 바람직하게는 N = 200 이상으로 측정한 입자의 장축 직경의 평균치이며, 입자가 구형인 경우에는, 입자 직경의 평균치이다. 또, 관찰 화상을 공지된 화상 해석 소프트 (WinROOF, 미타니 상사 (주)) 를 사용하여 계측된 측정치, 화상형 입도 분포 측정 장치 (예로서 FPIA-3000 (말번사)) 를 사용하여 측정한 측정치 (N = 1000 이상) 여도 된다. 관찰 화상이나 화상형 입도 분포 측정 장치로부터 구한 평균 입경은, 입자의 최대 길이의 평균치로 할 수 있다. 또한, 이방성 접합 재료를 제작할 때에는, 간편한 레이저 회절·산란법에 의해 구한 입도 분포에 있어서의 빈도의 누적이 50 % 가 되는 입경 (D 50), 산술 평균 직경 (체적 기준인 것이 바람직하다) 등의 메이커값을 사용할 수 있다.In addition, the average particle diameter is N = 50 or more, preferably N = 100 or more, and more preferably N = 200 in an observation image using an electron microscope such as a metallurgical microscope, an optical microscope, or a SEM (Scanning Electron Microscope). It is the average value of the major axis diameters of the particles measured as described above, and when the particles are spherical, it is the average value of the particle diameters. In addition, the observation image was measured using a known image analysis software (WinROOF, Mitani Corporation), and a measurement value measured using an image-type particle size distribution measuring device (for example, FPIA-3000 (Malburn)) ( N = 1000 or more). The average particle diameter calculated|required from an observation image or an image-type particle size distribution measuring apparatus can be made into the average value of the maximum length of a particle. In addition, when producing an anisotropic bonding material, such as the particle diameter (D 50) at which the cumulative frequency in the particle size distribution determined by the simple laser diffraction/scattering method becomes 50%, the arithmetic mean diameter (preferably on a volume basis), etc. Maker value can be used.

제 1 전자 부품으로는, LED (Light Emitting Diode), 드라이버 IC (Integrated Circuit) 등의 칩 (소자) 이 바람직하고, 제 2 전자 부품으로는, 배선이 형성된 것이면 특별히 한정은 없고, 제 1 전자 부품을 탑재할 수 있는 전극이 형성된 기판 (소위, 프린트 배선판 : PWB) 으로서 광의로 정의할 수 있는 것이면 된다. 예를 들어, 리지드 기판, 유리 기판, 플렉시블 기판 (FPC : Flexible Printed Circuits), 세라믹 기판, 플라스틱 기판 등과 같은 기판을 들 수 있다. 제 1 전자 부품 및 제 2 전자 부품에 각각에 형성된 전극 (전극 배열, 전극군) 은, 대향하여 이방성 접속되도록 형성되어 있고, 복수의 제 1 전자 부품이 하나의 제 2 전자 부품에 탑재되도록 전극 (전극 배열, 전극군) 이 형성되어 있어도 된다. 제 1 전자 부품으로는, LED (Light Emitting Diode) 이외에, 드라이버 IC (Integrated Circuit) 등의 칩 (예를 들어, 반도체 소자), 플렉시블 기판 (FPC : Flexible Printed Circuits, 수지 성형된 부품 등, 배선 (도통재) 이 형성된 것이어도 된다. 제 2 전자 부품으로는, 제 1 전자 부품의 단자와 적어도 일부 대응하는 단자가 형성된 것이면 특별히 한정은 없고, 제 1 전자 부품을 탑재할 수 있는 전극이 형성된 기판 (소위, 프린트 배선판 : PWB) 으로서 광의로 정의할 수 있는 것이면 된다. 또, 같은 부품을 적층하여 접속해도 된다. 이 적층의 수는, 접속에 지장을 초래하지 않으면 특별히 한정은 없다. 이종 부품의 다수 적층이어도 마찬가지이다. 제 1 전자 부품 및 제 2 전자 부품에 각각에 형성된 전극 (전극 배열, 전극군) 은, 대향하여 이방성 접속되도록 형성되어 있고, 복수의 제 1 전자 부품이 하나의 제 2 전자 부품에 탑재되도록 전극 (전극 배열, 전극군) 이 형성되어 있어도 된다. 또한, 상기 전자 부품은, 리플로 공정에 있어서의 내열성을 구비하고 있는 것이 바람직하다.The first electronic component is preferably a chip (element) such as an LED (Light Emitting Diode) and a driver IC (Integrated Circuit), and the second electronic component is not particularly limited as long as a wiring is formed, and the first electronic component A substrate (so-called printed wiring board: PWB) on which an electrode on which can be mounted is formed, as long as it can be defined in a broad sense. For example, a substrate such as a rigid substrate, a glass substrate, a flexible substrate (FPC: Flexible Printed Circuits), a ceramic substrate, and a plastic substrate may be mentioned. The electrodes (electrode array, electrode group) formed on each of the first electronic component and the second electronic component are formed to be anisotropically connected to each other, and electrodes ( Electrode array, electrode group) may be formed. As the first electronic component, in addition to LED (Light Emitting Diode), chips such as driver IC (Integrated Circuit) (for example, semiconductor devices), flexible substrates (FPC: Flexible Printed Circuits, resin molded parts, etc., wiring ( The second electronic component is not particularly limited as long as a terminal corresponding to at least a part of the terminal of the first electronic component is formed, and the substrate on which the electrode on which the first electronic component can be mounted is formed ( A so-called printed wiring board: PWB) may be defined in a broad sense, and the same components may be laminated and connected, and the number of these laminates is not particularly limited as long as it does not interfere with the connection. The same applies even if it is laminated. The electrodes (electrode array, electrode group) formed on each of the first electronic component and the second electronic component are formed so as to be anisotropically connected to each other, and the plurality of first electronic components is a single second electronic component. Electrodes (electrode array, electrode group) may be formed so as to be mounted on the electronic component, and it is preferable that the electronic component has heat resistance in the reflow process.

이방성 접합 재료는, 상온에서 고형이며, MFR 가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 1 종으로 이루어지는 고형 수지와 땜납 입자와 플럭스 화합물을 함유한다. 플럭스 화합물은 카르복실산인 것이 바람직하다. 이로써, 양호한 땜납 접속을 얻을 수 있음과 함께, 에폭시 수지를 배합했을 경우, 에폭시 수지의 경화제로서 기능시킬 수 있다. 또, 플럭스 화합물은 카르복실기가 알킬비닐에테르로 블록화된 블록화 카르복실산인 것이 바람직하다. 이로써, 플럭스 효과, 및 경화제 기능이 발휘되는 온도를 컨트롤할 수 있다.The anisotropic bonding material is solid at room temperature and contains a solid resin composed of one type selected from a thermoplastic resin having an MFR of 10 g/10 min or more, a solid radical polymerizable resin, and a solid epoxy resin, and a solder particle and a flux compound. It is preferable that the flux compound is a carboxylic acid. Thereby, a good solder connection can be obtained, and when an epoxy resin is blended, it can function as a curing agent for the epoxy resin. Moreover, it is preferable that the flux compound is a blocked carboxylic acid in which a carboxyl group is blocked with an alkyl vinyl ether. Thereby, the temperature at which the flux effect and the curing agent function are exhibited can be controlled.

또, 이방성 접합 재료의 수지 플로의 양은, 1.3 ∼ 2.5 이어도 되고, 1.3 미만으로 하는 것이 바람직한 경우가 있다. 수지 플로의 양이 이들 값이 됨으로써, 후술하는 바와 같이 무하중으로 가열 접합시킬 수 있다. 수지 플로의 양은 일본 공개특허공보 2016-178225호에 기재된 측정 방법에 준거하여 측정할 수 있다. 먼저, 이방성 접합 필름을 2.0 ㎜ 폭으로 커트하고, 커트한 이방성 접합 필름을 논알칼리 유리 (두께 0.7 ㎛) 사이에 끼우고, 리플로 공정으로 통과시킨다. 이것은 접속에 사용하는 조건과 동일하게 하면 된다. 그리고, 리플로 전후의 수지 확산량을 측정하고, 가압 후의 이방성 접합 필름의 폭의 최대치 B 를 가압전의 폭 A (= 2.0 ㎜) 로 나눈 값을 수지 플로의 양으로 할 수 있다. 또, 논알칼리 유리 사이에 끼우지 않고, 이방성 접합 재료를 재치하여 리플로 공정으로 통과시켜, 상기 수치가 되는 것이 보다 바람직하다. 이방성 접합 재료의 수지 플로의 양이 작은 경우, 리플로 공정에 있어서 무하중으로는 수지 용융이 진행하지 않고, 땜납 입자와 전극간의 협지에 지장을 줄 우려가 생긴다. 본 기술에서는, 바인더 수지의 가열 경화시에 하중을 가하지 않기 때문에, 하중을 가하는 (일반적인 이방성 접속과 같이 툴로 압압하는) 것을 전제로 한 바인더 수지의 설계보다 용융성을 높게 하는 것이 바람직하다.Moreover, the amount of the resin flow of an anisotropic bonding material may be 1.3-2.5, and it may be preferable to set it as less than 1.3. When the amount of the resin flow becomes these values, heat bonding can be performed without load as described later. The amount of resin flow can be measured in accordance with the measurement method described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2016-178225. First, the anisotropic bonding film is cut to a width of 2.0 mm, and the cut anisotropic bonding film is sandwiched between non-alkali glass (thickness 0.7 µm) and passed through a reflow process. This should be the same as the conditions used for connection. And the amount of resin diffusion before and after reflow is measured, and the value obtained by dividing the maximum value B of the width of the anisotropic bonding film after pressurization by the width A (= 2.0 mm) before pressurization can be taken as the amount of resin flow. Moreover, it is more preferable that the anisotropic bonding material is mounted and passed through a reflow process without sandwiching between the non-alkali glasses to obtain the above numerical value. When the amount of resin flow of the anisotropic bonding material is small, resin melting does not proceed without load in the reflow process, and there arises a fear that the pinch between the solder particles and the electrode is hindered. In the present technology, since no load is applied during heat curing of the binder resin, it is preferable to make the meltability higher than the design of the binder resin on the premise of applying a load (pressing with a tool like a general anisotropic connection).

이방성 접합 재료는, 의 이방성 접합 필름, 또는 페이스트상의 이방성 접합 페이스트 중 어느 것이어도 된다. 또, 이방성 접합 페이스트를 접속시에 으로 해도, 부품을 탑재함으로써 필름에 가까운 형태로 해도 된다.The anisotropic bonding material may be any of an anisotropic bonding film or a paste-like anisotropic bonding paste. In addition, the anisotropic bonding paste may be used at the time of connection, or may be formed close to a film by mounting a component.

이방성 접합 페이스트의 경우, 기판 위에 소정량을 균일하게 도포할 수 있으면 되고, 예를 들어, 디스펜스, 스탬핑, 스크린 인쇄 등의 도포 방법을 사용할 수 있고 필요에 따라 건조시켜도 된다. 이방성 접합 필름의 경우, 필름 두께에 따라 이방성 접합 재료의 양을 균일화할 수 있을 뿐만이 아니라, 기판 위에 일괄 라미네이트할 수 있고, 택트를 단축할 수 있기 때문에 특히 바람직하다. 또, 미리 으로 함으로써 취급하기 쉬워져 작업 효율의 향상도 기대할 수 있다.In the case of the anisotropic bonding paste, it is sufficient to uniformly apply a predetermined amount on the substrate. For example, application methods such as dispensing, stamping, and screen printing may be used, and may be dried as necessary. In the case of an anisotropic bonding film, it is particularly preferable because not only the amount of the anisotropic bonding material can be uniformized depending on the film thickness, but also can be laminated together on a substrate and the tact can be shortened. Moreover, by setting it as in advance, it becomes easy to handle, and an improvement in work efficiency can also be expected.

제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극 사이의 이방성 접합 재료의 두께의 하한은, 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상, 바람직하게는 80 % 이상, 보다 바람직하게는 90 % 이상이다. 이방성 접합 재료의 두께가 지나치게 얇으면, 땜납 입자의 전극간에 대한 협지가 용이해지지만, 필름상으로 할 때의 난이도가 높아질 우려가 있다. 또, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극 사이의 이방성 접합 재료의 두께의 상한은, 땜납 입자의 평균 입경의 300 % 이하, 바람직하게는 200 % 이하, 보다 바람직하게는 150 % 이하이다. 이방성 접합 재료의 두께가 지나치게 두꺼우면 접합에 지장을 초래할 우려가 있다.The lower limit of the thickness of the anisotropic bonding material between the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component is 50% or more, preferably 80% or more, and more preferably 90% or more of the average particle diameter of the solder particles. If the thickness of the anisotropic bonding material is too thin, it becomes easy to pinch the solder particles between the electrodes, but there is a concern that the difficulty in forming a film form increases. In addition, the upper limit of the thickness of the anisotropic bonding material between the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component is 300% or less, preferably 200% or less, more preferably 150% or less of the average particle diameter of the solder particles. to be. If the thickness of the anisotropic bonding material is too thick, there is a concern that it may interfere with bonding.

이하, 접속체의 제조 방법의 구체예로서 LED 실장체의 제조 방법에 대해 설명한다. LED 실장체의 제조 방법은, 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하의 두께를 갖는 이방성 접합 재료를 기판 위에 형성하는 공정과, LED 소자를 이방성 접합 재료 위에 탑재하는 탑재 공정과, LED 소자의 전극과 기판의 전극을 무하중으로 가열 접합시키는 접합 공정을 갖는다.Hereinafter, a method of manufacturing an LED mounting body will be described as a specific example of the manufacturing method of the connected body. The manufacturing method of the LED mounting body includes a step of forming an anisotropic bonding material having a thickness of 50% or more and 300% or less of the average particle diameter of the solder particles on a substrate, a mounting step of mounting an LED element on an anisotropic bonding material, and an LED element. It has a bonding step of heating and bonding the electrodes of the substrate and the electrodes of the substrate under no load.

이방성 접합 재료를 형성하는 공정은, 이방성 접합 페이스트를 접속 전에 기판 위에 필름상으로 하는 공정이어도 되고, 종래의 이방성 도전 필름에서 사용되고 있는 바와 같이, 이방성 접합 필름을 기판 위에 저온 저압으로 첩착하는 임시 부착 공정이어도 되고, 이방성 접합 필름을 기판 위에 라미네이트하는 라미네이트 공정이어도 된다.The process of forming the anisotropic bonding material may be a process of forming an anisotropic bonding paste on a substrate prior to connection, or, as used in a conventional anisotropic conductive film, temporary attachment of affixing an anisotropic bonding film on a substrate at low temperature and low pressure. It may be a process, and a lamination process of laminating an anisotropic bonding film on a board|substrate may be sufficient.

이방성 접합 재료를 형성하는 공정이 임시 부착 공정인 경우, 공지된 사용 조건으로 기판 위에 이방성 접합 필름을 형성할 수 있다. 이 경우, 종전의 장치에서 툴의 변경과 같은 최저한의 변경만으로 되기 때문에, 경제적인 장점이 얻어진다.When the process of forming the anisotropic bonding material is a temporary attachment process, an anisotropic bonding film can be formed on the substrate under known conditions of use. In this case, an economic advantage is obtained because only the minimum change, such as a change of a tool in the conventional device, is performed.

이방성 접합 재료를 형성하는 공정이 라미네이트 공정인 경우, 예를 들어, 가압식 라미네이터를 사용하여 이방성 접합 필름을 기판 위에 라미네이트한다. 라미네이트 온도는, 바람직하게는 40 ℃ 이상 160 ℃ 이하, 보다 바람직하게는 50 ℃ 이상 140 ℃ 이하, 더욱 바람직하게는 60 ℃ 이상 120 ℃ 이하이다. 또, 라미네이트 압력은, 바람직하게는 0.1 ㎫ 이상 10 ㎫ 이하, 보다 바람직하게는 0.5 ㎫ 이상 5 ㎫ 이하, 더욱 바람직하게는 1 ㎫ 이상 3 ㎫ 이하이다. 또, 라미네이트 시간은, 바람직하게는 0.1 sec 이상 10 sec 이하, 바람직하게는 0.5 sec 이상 8 sec 이하, 더욱 바람직하게는 1 sec 이상 5 sec 이하이다. 또, 진공 가압식 라미네이트여도 된다. 종래의 이방성 도전 필름이 가열 가압 툴을 사용한 임시 부착이면, 필름의 폭이 툴 폭의 제약을 받지만, 라미네이트 공정인 경우, 가열 가압 툴을 사용하지 않기 때문에, 비교적 넓은 폭을 일괄적으로 탑재할 수 있게 되는 것을 기대할 수 있다. 또, 하나의 기판에 대해 하나의 이방성 접합 필름을 라미네이트해도 된다. 이로써, 가열 압착 툴의 상하동과 이방성 접합 필름의 반송을 복수회하는 경우가 없기 때문에, 이방성 접합 재료를 형성하는 공정의 시간을 단축할 수 있다.When the process of forming the anisotropic bonding material is a lamination process, an anisotropic bonding film is laminated on a substrate using, for example, a pressurized laminator. The lamination temperature is preferably 40°C or more and 160°C or less, more preferably 50°C or more and 140°C or less, and still more preferably 60°C or more and 120°C or less. Moreover, the lamination pressure becomes like this. Preferably it is 0.1 MPa or more and 10 MPa or less, More preferably, it is 0.5 MPa or more and 5 MPa or less, More preferably, it is 1 MPa or more and 3 MPa or less. Further, the lamination time is preferably 0.1 sec or more and 10 sec or less, preferably 0.5 sec or more and 8 sec or less, and more preferably 1 sec or more and 5 sec or less. Moreover, vacuum pressurization type lamination may be sufficient. If the conventional anisotropic conductive film is temporarily attached using a heating and pressing tool, the width of the film is limited by the tool width, but in the case of a lamination process, since the heating and pressing tool is not used, a relatively wide width can be mounted at once. You can expect to be there. Moreover, you may laminate one anisotropic bonding film with respect to one substrate. Thereby, since there is no case where the vertical motion of the heat-pressing tool and the conveyance of the anisotropic bonding film are carried out a plurality of times, the time of the step of forming the anisotropic bonding material can be shortened.

탑재 공정에서는, 예를 들어 복수의 LED 소자를 이방성 접합 필름 위에 배치하여 탑재한다. 본 기술에서는, 땜납 입자에 의한 셀프 얼라인먼트를 기대할 수 없기 때문에, 탑재 공정에서는, LED 소자를 정확하게 얼라인먼트하는 것이 바람직하다. 각 LED 소자는 예를 들어, 편면에 제 1 도전형 전극과 제 2 도전형 전극을 갖고, 제 1 도전형 전극 및 제 2 도전형 전극에 대응하는 기판 (30) 의 전극 위에 배치된다.In the mounting step, for example, a plurality of LED elements are arranged and mounted on an anisotropic bonding film. In the present technology, since self-alignment by solder particles cannot be expected, it is preferable to accurately align the LED elements in the mounting step. Each LED element has, for example, a first conductivity type electrode and a second conductivity type electrode on one side, and is disposed on an electrode of the substrate 30 corresponding to the first conductivity type electrode and the second conductivity type electrode.

또한, 전술한 이방성 도전 접합 재료를 형성하는 공정에 있어서, LED 소자의 전극과 기판의 전극 사이의 이방성 접합 재료의 두께를, 땜납 입자의 평균 입경에 근사시키는 것으로 했지만, 이에 한정되지 않고, 탑재 공정에 있어서, 가압 (예를 들어, 임시 압착) 에 의해 이방성 접합 재료의 두께를 땜납 입자의 평균 입경에 근사시켜도 된다. 이 가압 공정은, 예를 들어, 제 2 전자 부품에 재치되어 있는 제 1 전자 부품측으로부터 가압함으로써, LED 소자의 전극과 기판의 전극 사이의 이방성 접합 재료의 두께를 땜납 입자의 평균 입경에 근사시킨다. 여기서, 이방성 접합 재료의 두께가 지나치게 크면, 가압에 지장을 초래할 우려가 있기 때문에, 상기 서술한 상한의 두께로 하는 것이 바람직하다고도 할 수 있다. 평균 입경에 근사란, 이 가압 공정을 거치면 이론상, 땜납 입자의 최대 직경이 이방성 접속 재료의 두께가 되기 때문에, 이방성 접속 재료의 두께는 땜납 입자의 최대 직경과 동등하다고 생각해도 되고, 두께 편차를 고려한다면, 땜납 입자의 최대 직경의 130 % 이하, 바람직하게는 120 % 이하로 해도 된다. 또, 가압 공정의 압력의 하한은, 바람직하게는 0.2 ㎫ 이상, 보다 바람직하게는 0.4 ㎫ 이상이며, 또, 가압 공정의 압력의 상한은, 2.0 ㎫ 이하여도 되고, 바람직하게는 1.0 ㎫ 이하, 보다 바람직하게는 0.8 ㎫ 이하이다. 상한 및 하한은 장치의 사양에 따라 변동하는 경우가 있기 때문에, 수지를 땜납 입자경까지 밀어넣는 목적을 달성할 수 있으면, 상기 수치 범위로 한정되는 것은 아니다. 이 가압 (임시 압착) 공정은 땜납 입자를 용융시키지 않고, 전극과 땜납 입자의 거리를 근접시키기 위해서 실시하는 것이다.In addition, in the step of forming the anisotropic conductive bonding material described above, the thickness of the anisotropic bonding material between the electrode of the LED element and the electrode of the substrate is approximated to the average particle diameter of the solder particles, but the mounting process is not limited thereto. WHEREIN: You may make the thickness of the anisotropic bonding material approximate to the average particle diameter of a solder particle by pressurization (for example, temporary compression bonding). In this pressing step, for example, by pressing from the side of the first electronic component mounted on the second electronic component, the thickness of the anisotropic bonding material between the electrode of the LED element and the electrode of the substrate is approximated to the average particle diameter of the solder particles. . Here, when the thickness of the anisotropic bonding material is too large, it may be said that it is preferable to set the thickness of the upper limit described above, since there is a possibility that it may interfere with pressing. The approximation to the average particle diameter means that the maximum diameter of the solder particles becomes the thickness of the anisotropic connection material in theory after this pressing process, so the thickness of the anisotropic connection material may be considered to be equal to the maximum diameter of the solder particles, and the thickness deviation is considered. If so, it may be 130% or less, preferably 120% or less of the maximum diameter of the solder particles. In addition, the lower limit of the pressure in the pressurization step is preferably 0.2 MPa or more, more preferably 0.4 MPa or more, and the upper limit of the pressure in the pressurization step may be 2.0 MPa or less, preferably 1.0 MPa or less, more Preferably it is 0.8 MPa or less. Since the upper and lower limits may fluctuate depending on the specifications of the device, as long as the purpose of pushing the resin to the solder particle diameter can be achieved, it is not limited to the above numerical range. This pressurization (temporary pressure bonding) step is performed in order to bring the electrode and the solder particles closer together without melting the solder particles.

도 1 은 접합 공정의 일부를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 접합 공정에서는, LED 소자 (10) 의 전극 (11, 12) 과 기판 (20) 의 전극 (21, 21) 을 무하중으로 가열 접합시킨다. 기계적인 가압을 하지 않고 무하중으로 가열 접합시키는 방법으로는, 대기압 리플로, 진공 리플로, 대기압 오븐, 오토클레이브 (가압 오븐) 등을 들 수 있고, 이들 중에서도, 접합부에 내포하는 기포를 배제할 수 있는 진공 리플로, 오토클레이브 등을 사용하는 것이 바람직하다. 무하중임으로써, 일반적인 가열 가압 툴을 사용한 이방성 도전 접속에 비해, 불필요한 수지 유동이 발생하지 않기 때문에, 기포가 말려들어가는 것도 억제되는 효과를 기대할 수 있다.1 is a cross-sectional view schematically showing a part of a bonding process. In the bonding step, the electrodes 11 and 12 of the LED element 10 and the electrodes 21 and 21 of the substrate 20 are heat-bonded without load. As a method of heating and bonding without mechanical pressurization without load, atmospheric pressure reflow, vacuum reflow, atmospheric pressure oven, autoclave (pressurized oven), and the like, among them, air bubbles contained in the joint can be eliminated. It is preferable to use a vacuum reflow, autoclave or the like. With no load, since unnecessary resin flow does not occur as compared to an anisotropic conductive connection using a general heating and pressurizing tool, the effect of suppressing curling of air bubbles can be expected.

가열에 의해 고형 수지가 용융하고, LED 소자 (10) 의 자중에 의해 땜납 입자 (31) 가 전극간에 협지되고, 땜납 용융 온도 이상인 본 가열에 의해 땜납 입자 (31) 가 용융하고, 땜납이 전극에 퍼지면서 젖고, 냉각에 의해 LED 소자 (10) 의 전극과 기판 (20) 의 전극이 접합된다. 접합 공정에서는, 일례로서 바람직하게는 200 ℃ 이상 300 ℃ 이하의 온도, 보다 바람직하게는 220 ℃ 이상 290 ℃ 이하의 온도, 더욱 바람직하게는 240 ℃ 이상 280 ℃ 이하의 온도로 본 가열한다. 이로써, LED 소자 (10) 의 전극과 기판 (20) 의 전극이 접합되기 때문에, 우수한 도통성, 방열성, 및 접착성을 얻을 수 있다. 접합 공정에서는, 무하중이기 때문에, 땜납 입자의 이동량이 작아져, 땜납 입자의 포착 효율은 높을 것으로 예상된다. 또, 땜납 입자의 함유량은, 셀프 얼라인먼트를 기대할 수 없는 정도이며, 접합 공정에 있어서, 이방성 접합 필름에 함유되어 있는 다수의 땜납 입자는 일체로 되지 않기 때문에, 하나의 전극 내에 복수의 땜납 접합 지점이 존재한다. 여기서, 땜납 접합이란, 대향한 전자 부품의 각각의 전극을, 땜납을 용융시켜 연결하는 것을 말한다.The solid resin is melted by heating, the solder particles 31 are sandwiched between the electrodes by the self weight of the LED element 10, and the solder particles 31 are melted by the main heating above the solder melting temperature, and the solder is transferred to the electrode. It wets while spreading, and the electrode of the LED element 10 and the electrode of the board|substrate 20 are bonded by cooling. In the bonding step, as an example, main heating is preferably performed at a temperature of 200° C. or more and 300° C. or less, more preferably 220° C. or more and 290° C. or less, and still more preferably 240° C. or more and 280° C. or less. Thereby, since the electrode of the LED element 10 and the electrode of the board|substrate 20 are bonded, excellent conductivity, heat dissipation, and adhesiveness can be obtained. In the bonding step, since it is no load, the amount of movement of the solder particles is small, and the efficiency of capturing the solder particles is expected to be high. In addition, the content of the solder particles is such that self-alignment cannot be expected, and in the bonding process, since a plurality of solder particles contained in the anisotropic bonding film are not integrated, a plurality of solder bonding points within one electrode exist. Here, solder bonding refers to connecting each electrode of the opposed electronic component by melting solder.

도 2 는, LED 실장체의 구성예를 나타내는 단면도이다. 이 LED 실장체는, LED 소자 (10) 와 기판 (20) 을, 고형 수지에 땜납 입자 (31) 가 분산된 이방성 접합 필름을 사용하여 접속된 것이다. 즉, LED 실장체는, LED 소자 (10) 와 기판 (20) 과 땜납 입자 (31) 을 갖고, LED 소자 (10) 의 전극 (11, 12) 과 기판 (20) 의 전극 (21, 22) 을 접속하여 이루어지는 이방성 접합막 (32) 을 구비하고, LED 소자 (10) 의 전극 (11, 12) 과 기판 (20) 의 전극 (21, 22) 이, 땜납 접합부 (33) 에 의해 접합되어 이루어지고, 고형 수지가 LED 소자 (10) 와 기판 (20) 사이에 충전되어 이루어지는 것이다.2 is a cross-sectional view showing a configuration example of an LED mounting body. In this LED mounting body, the LED element 10 and the board|substrate 20 are connected using the anisotropic bonding film in which the solder particle|grains 31 are dispersed in solid resin. That is, the LED mounting body has the LED element 10, the substrate 20, and the solder particles 31, and the electrodes 11 and 12 of the LED element 10 and the electrodes 21 and 22 of the substrate 20 The anisotropic bonding film 32 formed by connecting the LED element 10 is provided, and the electrodes 11 and 12 of the LED element 10 and the electrodes 21 and 22 of the substrate 20 are joined by a solder joint 33 to be formed. And a solid resin is filled between the LED element 10 and the substrate 20.

LED 소자 (10) 는 제 1 도전형 전극 (11) 및 제 2 도전형 전극 (12) 을 구비하고, 제 1 도전형 전극 (11) 과 제 2 도전형 전극 (12) 사이에 전압을 인가하면, 소자 내의 활성층에 캐리어가 집중되어 재결합함으로써 발광이 생긴다. 제 1 도전형 전극 (11) 과 제 2 도전형 전극 (12) 의 스페이스간의 거리는, 소자 사이즈에 따라, 예를 들어 100 ㎛ 이상 200 ㎛ 이하인 것, 100 ㎛ 이상 50 ㎛ 이하인 것, 20 ㎛ 이상 50 ㎛ 이하인 것이 있다. LED 소자 (10) 로는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 400 ㎚ ∼ 500 ㎚ 의 피크 파장을 갖는 청색 LED 등을 바람직하게 사용할 수 있다.The LED element 10 includes a first conductivity type electrode 11 and a second conductivity type electrode 12, and when a voltage is applied between the first conductivity type electrode 11 and the second conductivity type electrode 12 , When carriers are concentrated in the active layer in the device and recombined, light emission occurs. The distance between the spaces between the first conductive electrode 11 and the second conductive electrode 12 is, depending on the device size, for example, 100 µm or more and 200 µm or less, 100 µm or more and 50 µm or less, 20 µm or more and 50 Some are less than or equal to µm. Although it does not specifically limit as the LED element 10, For example, a blue LED etc. which have a peak wavelength of 400 nm-500 nm can be used suitably.

기판 (20) 은, 기재 위에 LED 소자 (10) 의 제 1 도전형 전극 (11) 및 제 2 도전형 전극 (12) 에 대응하는 위치에 각각 제 1 전극 (21) 및 제 2 전극 (22) 을 갖는다. 기판 (20) 으로는, 프린트 배선판, 유리 기판, 플렉시블 기판, 세라믹 기판, 플라스틱 기판 등을 들 수 있다. 프린트 배선판의 전극 높이는, 예를 들어 10 ㎛ 이상 40 ㎛ 이하이며, 유리 기판의 전극 높이는, 예를 들어 3 ㎛ 이하이며, 플렉시블 기판의 전극 높이는, 예를 들어 5 ㎛ 이상 20 ㎛ 이하이다.The substrate 20 has a first electrode 21 and a second electrode 22 at positions corresponding to the first conductivity type electrode 11 and the second conductivity type electrode 12 of the LED element 10 on the substrate, respectively. Has. Examples of the substrate 20 include a printed wiring board, a glass substrate, a flexible substrate, a ceramic substrate, and a plastic substrate. The electrode height of the printed wiring board is, for example, 10 µm or more and 40 µm or less, the electrode height of the glass substrate is, for example, 3 µm or less, and the electrode height of the flexible substrate is, for example, 5 µm or more and 20 µm or less.

이방성 접합막 (32) 은, 접합 공정 후에 이방성 접합 재료가 막상으로 된 것이고, LED 소자 (10) 의 전극 (11, 12) 과 기판 (20) 의 전극 (21, 22) 을 땜납 접합부 (33) 에서 금속 접합함과 함께, LED 소자 (10) 와 기판 (20) 사이에 이방성 접합 재료를 충전하여 이루어진다.The anisotropic bonding film 32 is formed of an anisotropic bonding material in a film form after the bonding step, and the electrodes 11 and 12 of the LED element 10 and the electrodes 21 and 22 of the substrate 20 are bonded to each other by a solder joint 33 In addition to the metal bonding box, the anisotropic bonding material is filled between the LED element 10 and the substrate 20.

도 2 에 나타내는 바와 같이, LED 실장체는 LED 소자 (10) 의 단자 (전극 (11, 12)) 와 기판 (20) 의 단자 (전극 (21, 22)) 가 땜납 접합부 (33) 에 의해 금속 결합하고 있고, LED 소자 (20) 와 기판 (30) 사이에 고형 수지가 충전되어 이루어진다. 이로써, LED 소자 (10) 와 기판 (20) 사이로의 수분 등의 침입을 방지할 수 있다.As shown in FIG. 2, in the LED mounting body, the terminals (electrodes 11 and 12) of the LED element 10 and the terminals (electrodes 21 and 22) of the substrate 20 are formed of metal by a solder joint 33. It is bonded, and solid resin is filled between the LED element 20 and the board|substrate 30, and it is made. Thereby, intrusion of moisture or the like between the LED element 10 and the substrate 20 can be prevented.

<2. 이방성 접합 필름 (이방성 접합 재료)><2. Anisotropic Bonding Film (Anisotropic Bonding Material)>

도 3 은, 본 기술을 적용시킨 이방성 접합 필름의 일부를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 도 3 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름 (30) 은, 고형 수지와 땜납 입자 (31) 와 플럭스 화합물을 함유한다. 또, 이방성 도전 필름 (30) 에는, 필요에 따라 제 1 면에 제 1 필름이 첩부되고, 제 2 면에 제 2 필름이 첩부되어도 된다. 또한, 이방성 접합 필름은 이방성 접합 재료를 필름상으로 형성한 것이다.3 is a cross-sectional view schematically showing a part of an anisotropic bonding film to which the present technology is applied. As shown in FIG. 3, the anisotropic bonding film 30 contains a solid resin, a solder particle 31, and a flux compound. Moreover, on the anisotropic conductive film 30, the 1st film may be affixed to the 1st surface as needed, and the 2nd film may be affixed to the 2nd surface. In addition, the anisotropic bonding film formed an anisotropic bonding material into a film shape.

필름 두께의 하한은, 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상, 바람직하게는 80 % 이상, 보다 바람직하게는 90 % 이상이다. 필름 두께가 지나치게 얇으면, 땜납 입자의 전극간에 대한 협지가 용이해지지만, 필름상으로 할 때의 난이도가 높아질 우려가 있다. 또, 필름 두께의 상한은, 땜납 입자의 평균 입경의 300 % 이하, 바람직하게는 200 % 이하, 보다 바람직하게는 150 % 이하이다. 필름 두께가 지나치게 두꺼우면 접합에 지장을 초래할 우려가 있다. 필름 두께는, 1 ㎛ 이하, 바람직하게는 0.1 ㎛ 이하를 측정할 수 있는 공지된 마이크로 미터나 디지털 두께 측정기 (예를 들어, 주식회사 미츠토요 : MDE-25M, 최소 표시량 0.0001 ㎜) 를 사용하여 측정할 수 있다. 필름 두께는, 10 개 지점 이상을 측정하고, 평균하여 구하면 된다. 단, 입자경보다 필름 두께가 얇은 경우에는, 접촉식 두께 측정기는 적합하지 않기 때문에, 레이저 변위계 (예를 들어, 주식회사 키엔스, 분광 간섭 변위 타입 SI-T 시리즈 등) 를 사용하는 것이 바람직하다. 여기서, 필름 두께란, 수지층만의 두께이며, 입자경은 포함하지 않는다.The lower limit of the film thickness is 50% or more, preferably 80% or more, and more preferably 90% or more of the average particle diameter of the solder particles. If the film thickness is too thin, it becomes easy to pinch the solder particles between the electrodes, but there is a concern that the degree of difficulty when forming a film is increased. Moreover, the upper limit of the film thickness is 300% or less, preferably 200% or less, and more preferably 150% or less of the average particle diameter of the solder particles. If the film thickness is too thick, there is a concern that it may interfere with bonding. The film thickness can be measured using a known micrometer or digital thickness measuring device capable of measuring 1 μm or less, preferably 0.1 μm or less (for example, Mitsutoyo Co., Ltd.: MDE-25M, minimum display amount 0.0001 mm). I can. The film thickness just needs to measure 10 or more points, and average and obtain|require it. However, when the film thickness is thinner than the particle diameter, since a contact-type thickness meter is not suitable, it is preferable to use a laser displacement meter (eg, Keyence Corporation, a spectral interference displacement type SI-T series, etc.). Here, the film thickness is the thickness of only the resin layer and does not include the particle diameter.

[고형 수지][Solid resin]

고형 수지는, 상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 MFR 이 10 g/10 min 이상이다. MFR 의 상한은, 바람직하게는 5000 g/10 min 이하, 보다 바람직하게는 4000 g/10 min 이하, 더욱 바람직하게는 3000 g/10 min 이하이다. MFR 이 지나치게 크면, 제 1 전자 부품과 제 2 전자 부품 사이에 대한 고형 수지의 충전이 곤란해진다.The solid resin is solid at room temperature, and the MFR measured under the conditions of a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg is 10 g/10 min or more. The upper limit of the MFR is preferably 5000 g/10 min or less, more preferably 4000 g/10 min or less, and still more preferably 3000 g/10 min or less. If the MFR is too large, it becomes difficult to fill the solid resin between the first electronic component and the second electronic component.

열가소성 수지는, 상온에서 고형이며, 상기 MFR 을 만족하면 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 에틸렌아세트비닐 공중합 수지, 에틸렌아크릴산 공중합 수지, 폴리아미드 수지, 폴리에스테르 수지 등이어도 된다. 고형 수지가 열가소성 수지인 경우, 핫멜트에 의해 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극이 금속 접합하기 때문에, 충분한 접합 강도를 얻을 수 있다. 또, 열가소성 수지는, 반응을 수반하지 않기 때문에, 포트 라이프를 신경쓸 필요가 없어 (제품 라이프가 경화성 수지 및 경화제 (반응 개시제) 를 사용하는 것에 비해 길어진다), 취급이 용이해진다. 또, 열가소성 수지는 상온에서 고체이기 때문에, 사용시에 수지는 용융하지 않지만, 용융해 버리는 경우에는 필러를 함유시켜 용융을 방지하도록 해도 된다.The thermoplastic resin is solid at room temperature, and is not particularly limited as long as it satisfies the MFR, and may be, for example, an ethyleneacetvinyl copolymer resin, an ethyleneacrylic acid copolymer resin, a polyamide resin, a polyester resin, or the like. When the solid resin is a thermoplastic resin, since the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component are metal-bonded by hot melt, sufficient bonding strength can be obtained. Moreover, since the thermoplastic resin does not accompany reaction, there is no need to care about the pot life (the product life becomes longer compared to using a curable resin and a curing agent (reaction initiator)), and handling becomes easy. Further, since the thermoplastic resin is solid at room temperature, the resin does not melt at the time of use, but in the case of melting, a filler may be included to prevent melting.

고형 라디칼 중합성 수지는 상온에서 고형이며, 상기 MFR 을 만족하고, 분자 내에 1 개 이상의 불포화 이중 결합을 갖는 라디칼 중합성 수지이면 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 불포화 폴리에스테르 (비닐에스테르라고도 부른다), 에폭시 변성이나 우레탄 변성의 (메트)아크릴레이트 등이어도 된다. 이로써, 필름 형상을 유지할 수 있다.The solid radical polymerizable resin is not particularly limited as long as it is solid at room temperature, satisfies the MFR, and has one or more unsaturated double bonds in the molecule, and for example, unsaturated polyester (also called vinyl ester) ), epoxy-modified or urethane-modified (meth)acrylate, etc. may be used. Thereby, the film shape can be maintained.

고형 에폭시 수지는, 상온에서 고형이며, 상기 MFR 을 만족하고, 분자 내에 1 개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지이면, 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지 등이어도 된다. 이로써, 필름 형상을 유지할 수 있다.The solid epoxy resin is not particularly limited as long as it is an epoxy resin that is solid at room temperature, satisfies the MFR, and has at least one epoxy group in the molecule, and, for example, a bisphenol A type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, etc. May be. Thereby, the film shape can be maintained.

또, 이방성 접합 필름은, 상온에서 액상인 액상 라디칼 중합성 수지와 중합 개시제를 추가로 함유해도 된다. 액상 라디칼 중합성 수지는, 상온에서 액상이면 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 아크릴레이트, 메타크릴레이트, 불포화 폴리에스테르 등이어도 되고, 우레탄 변성되어 있어도 상관없다. 액상 라디칼 중합성 수지를 사용함으로써, 이방성 접합 필름에 택성을 부여할 수 있고, 피착체에 대한 라미네이트성이 향상될 뿐만 아니라, 실장시의 바인더 전체의 유동성을 향상시킬 수 있다.Moreover, the anisotropic bonding film may further contain a liquid radical polymerizable resin and a polymerization initiator which are liquid at normal temperature. The liquid radical polymerizable resin is not particularly limited as long as it is liquid at room temperature, and may be, for example, acrylate, methacrylate, unsaturated polyester, or the like, or may be urethane-modified. By using a liquid radical polymerizable resin, tackiness can be imparted to the anisotropic bonding film, the lamination property to the adherend can be improved, and the fluidity of the entire binder at the time of mounting can be improved.

액상 라디칼 중합성 수지의 배합량은, 고형 수지 100 질량부에 대해, 바람직하게는 100 질량부 이하, 보다 바람직하게는 80 질량부 이하, 더욱 바람직하게는 70 질량부 이하이다. 액상 라디칼 중합성 수지의 배합량이 많아지면 필름 형상을 유지하기가 곤란해진다.The blending amount of the liquid radical polymerizable resin is preferably 100 parts by mass or less, more preferably 80 parts by mass or less, and still more preferably 70 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the solid resin. When the blending amount of the liquid radical polymerizable resin increases, it becomes difficult to maintain the film shape.

중합 개시제는, 디아실퍼옥사이드 등의 유기 과산화물인 것이 바람직하다. 또, 중합 개시제의 반응 개시 온도는 땜납 입자의 융점보다 높은 것이 바람직하다. 이로써, 고형 수지의 유동 후에 경화가 개시되기 때문에, 양호한 땜납 접합을 얻을 수 있다.The polymerization initiator is preferably an organic peroxide such as diacyl peroxide. Moreover, it is preferable that the reaction initiation temperature of the polymerization initiator is higher than the melting point of the solder particles. Thereby, since curing is started after the flow of the solid resin, good solder bonding can be obtained.

또, 이방성 접합 필름은, 상온에서 액상 에폭시 수지와 경화제를 추가로 함유해도 된다. 액상 에폭시 수지는, 상온에서 액상이면 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비스페놀 F 형 에폭시 수지 등이어도 되고, 우레탄 변성의 에폭시 수지여도 상관없다.In addition, the anisotropic bonding film may further contain a liquid epoxy resin and a curing agent at room temperature. The liquid epoxy resin is not particularly limited as long as it is liquid at room temperature, and may be, for example, a bisphenol A epoxy resin, a bisphenol F epoxy resin, or a urethane-modified epoxy resin.

액상 에폭시 수지의 배합량은, 고형 수지 100 질량부에 대해, 바람직하게는 160 질량부 이하, 보다 바람직하게는 100 질량부 이하, 더욱 바람직하게는 70 질량부 이하이다. 액상 에폭시 수지의 배합량이 많아지면 필름 형상을 유지하기가 곤란해진다.The blending amount of the liquid epoxy resin is preferably 160 parts by mass or less, more preferably 100 parts by mass or less, and still more preferably 70 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the solid resin. When the blending amount of the liquid epoxy resin increases, it becomes difficult to maintain the film shape.

경화제는 열로 경화가 개시하는 열 경화제이면 특별히 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 아민, 이미다졸 등의 아니온계 경화제, 술포늄염 등의 카티온계 경화제를 들 수 있다. 또, 경화제는, 필름화시킬 때에 사용되는 용제에 대해 내성이 얻어지도록 마이크로 캡슐화되어 있어도 된다.The curing agent is not particularly limited as long as it is a thermal curing agent that starts curing by heat, and examples thereof include anionic curing agents such as amines and imidazoles, and cationic curing agents such as sulfonium salts. Moreover, the curing agent may be micro-encapsulated so that resistance to the solvent used when forming a film is obtained.

또, 경화제는 카르복실산, 또는 카르복실기가 알킬비닐에테르로 블록화된 블록화 카르복실산이어도 된다. 즉, 경화제는 플럭스 화합물이어도 된다.Further, the curing agent may be a carboxylic acid or a blocked carboxylic acid in which a carboxyl group is blocked with an alkyl vinyl ether. That is, the curing agent may be a flux compound.

[땜납 입자][Solder particles]

땜납 입자는, 이방성 접합 필름 안에 랜덤하게 혼련되어 분산되어 있어도 되고, 평면에서 보아 배치되어 있어도 된다. 이방성 접합 필름을 평면에서 봤을 때에 있어서의 땜납 입자 전체의 배치는, 규칙적 배치여도, 랜덤 배치여도 된다. 규칙적 배치의 양태로는, 정방 격자, 육방 격자, 사방 격자, 장방 격자 등의 격자 배열을 들 수 있고 특별한 제약은 없다. 또, 랜덤 배치의 양태로는, 필름을 평면에서 보아 각 땜납 입자가 서로 접촉하지 않게 존재하고, 필름 두께 방향으로도 땜납 입자가 서로 겹치지 않게 존재하고 있는 것이 바람직하다. 또, 이방성 접합 필름 안의 땜납 입자의 전체 개수의 95 % 이상이, 다른 땜납 입자와 비접촉이며, 독립적으로 있는 것이 바람직하다. 이것은 공지된 금속 현미경이나 광학 현미경을 사용하여, 필름을 평면에서 봤을 때에 있어서의 1 ㎟ 이상의 면적을 임의로 5 개 지점 이상 발취하고, 땜납 입자를 200 개 이상, 바람직하게는 1000 개 이상 관찰하여 확인할 수 있다. 또, 땜납 입자가 이방성 접합 필름 안에 평면에서 보아 배치되어 있는 경우에 있어서, 땜납 입자가 필름 두께 방향의 같은 위치에 일정하게 정렬되어 있어도 된다.The solder particles may be randomly kneaded and dispersed in the anisotropic bonding film, or may be arranged in plan view. When the anisotropic bonding film is viewed in a plan view, the entire arrangement of the solder particles may be a regular arrangement or a random arrangement. As a mode of regular arrangement, a lattice arrangement such as a square lattice, a hexagonal lattice, a rhombic lattice, and a rectangular lattice is mentioned, and there is no particular limitation. In addition, as an aspect of random arrangement, it is preferable that the respective solder particles exist so that they do not contact each other when the film is viewed in plan view, and that the solder particles do not overlap with each other even in the film thickness direction. Moreover, it is preferable that 95% or more of the total number of the solder particles in the anisotropic bonding film is non-contact with other solder particles and is independent. This can be confirmed by using a known metallurgical microscope or an optical microscope, arbitrarily extracting an area of 1 mm 2 or more when viewed in a plan view at 5 points or more, and observing 200 or more, preferably 1000 or more solder particles. have. Moreover, when the solder particles are arranged in plan view in the anisotropic bonding film, the solder particles may be uniformly aligned at the same position in the film thickness direction.

또, 땜납 입자는, 복수개가 응집한 응집체로서 배치되어 있어도 된다. 이 경우, 이방성 접합 필름을 평면에서 봤을 때에 있어서의 응집체의 배치는, 전술한 땜납 입자의 배치와 마찬가지로, 규칙적 배치여도 랜덤 배치여도 된다. 또, 필름을 평면에서 보아 각 응집체가 서로 접촉하지 않게 존재하고, 필름 두께 방향으로도 응집체가 서로 겹치지 않게 존재하고 있는 것이 바람직하다. 응집체의 개개의 땜납 입자의 평균 입경은 전술한 평균 입경과 동일하게 계측할 수 있다.In addition, the solder particles may be disposed as an agglomerate in which a plurality of solder particles are agglomerated. In this case, the arrangement of the aggregates in plan view of the anisotropic bonding film may be a regular arrangement or a random arrangement, similar to the arrangement of the above-described solder particles. In addition, it is preferable that the agglomerates exist so that they do not contact each other when the film is viewed in plan view, and that the agglomerates do not overlap with each other even in the film thickness direction. The average particle diameter of the individual solder particles of the aggregate can be measured in the same manner as the average particle diameter described above.

땜납 입자의 평균 입경은, 바람직하게는 피착체인 반도체 소자 전극의 스페이스간의 거리의 1/3 이하이며, 보다 바람직하게는 1/4 이하이며, 더욱 바람직하게는 1/5 이하이다. 땜납 입자의 평균 입경이 반도체 소자 전극의 스페이스간의 거리의 1/3 보다 커지면 쇼트가 발생할 가능성이 높아진다. 구체적인 땜납 입자의 입자경으로는, 바람직하게는 1 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하이다. 평균 입경이 1 ㎛ 보다 작으면 전극부와 양호한 땜납 접합 상태를 얻지 못하고, 신뢰성이 악화되는 경향이 있다. 또, 필름의 도포 두께를 일정하게 하기 위해서는, 땜납 입자의 평균 입경의 하한은, 바람직하게는 3 ㎛ 이상, 보다 바람직하게는 5 ㎛ 이상이다. 또, 땜납 입자의 평균 입경이 30 ㎛ 이상이 되면 파인 피치 접속이 곤란해진다. 땜납 입자의 평균 입경의 상한은 30 ㎛ 이하이며, 바람직하게는 25 ㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 20 ㎛ 이하이다. 접속 대상에 따라서는, 땜납 입자의 평균 입경의 상한은 15 ㎛ 이하로 하는 것이 바람직하다. 또, 복수의 땜납 입자가 응집한 응집체인 경우, 응집체의 크기를 전술한 땜납 입자의 평균 입경과 동등하게 해도 된다. 응집체로 하는 경우에는, 땜납 입자의 평균 입경을 상기 서술한 값보다 작게 해도 된다. 개개의 땜납 입자의 크기는 전자 현미경으로 관찰하여 구할 수 있다.The average particle diameter of the solder particles is preferably 1/3 or less of the distance between spaces of the semiconductor element electrode as an adherend, more preferably 1/4 or less, and still more preferably 1/5 or less. If the average particle diameter of the solder particles is larger than 1/3 of the distance between the spaces of the semiconductor element electrodes, the possibility of occurrence of a short circuit increases. The specific particle diameter of the solder particles is preferably 1 µm or more and 30 µm or less. If the average particle diameter is less than 1 µm, a good solder joint state with the electrode portion cannot be obtained, and reliability tends to deteriorate. In addition, in order to make the coating thickness of the film constant, the lower limit of the average particle diameter of the solder particles is preferably 3 µm or more, more preferably 5 µm or more. Further, when the average particle diameter of the solder particles is 30 µm or more, fine pitch connection becomes difficult. The upper limit of the average particle diameter of the solder particles is 30 µm or less, preferably 25 µm or less, and more preferably 20 µm or less. Depending on the connection object, the upper limit of the average particle diameter of the solder particles is preferably 15 µm or less. In addition, when a plurality of solder particles are agglomerated aggregates, the size of the aggregate may be made equal to the average particle diameter of the above-described solder particles. In the case of forming an aggregate, the average particle diameter of the solder particles may be smaller than the above-described value. The size of individual solder particles can be determined by observing with an electron microscope.

땜납 입자는, 예를 들어 JIS Z 3282-1999 에 규정되어 있는, Sn-Pb 계, Pb-Sn-Sb 계, Sn-Sb 계, Sn-Pb-Bi 계, Bi-Sn 계, Sn-Cu 계, Sn-Pb-Cu 계, Sn-In 계, Sn-Ag 계, Sn-Pb-Ag 계, Pb-Ag 계 등에서, 전극 재료나 접속 조건 등에 따라 적절히 선택할 수 있다. 땜납 입자의 융점은, 바람직하게는 110 ℃ 이상 180 ℃ 이하, 보다 바람직하게는 120 ℃ 이상 160 ℃ 이하, 더욱 바람직하게는 130 ℃ 이상 150 ℃ 이하이다. 또, 땜납 입자는 표면을 활성화시킬 목적으로 플럭스 화합물이 직접 표면에 결합되어 있어도 상관없다. 표면을 활성화시킴으로써 전극부와의 금속 결합을 촉진할 수 있다.Solder particles are, for example, Sn-Pb based, Pb-Sn-Sb based, Sn-Sb based, Sn-Pb-Bi based, Bi-Sn based, Sn-Cu based specified in JIS Z 3282-1999. , Sn-Pb-Cu-based, Sn-In-based, Sn-Ag-based, Sn-Pb-Ag-based, Pb-Ag-based, and the like, can be appropriately selected according to electrode materials and connection conditions. The melting point of the solder particles is preferably 110°C or more and 180°C or less, more preferably 120°C or more and 160°C or less, and still more preferably 130°C or more and 150°C or less. In addition, for the purpose of activating the surface of the solder particles, a flux compound may be directly bonded to the surface. By activating the surface, metal bonding with the electrode portion can be promoted.

땜납 입자의 배합량의 질량비 범위의 하한은, 바람직하게는 20 wt% 이상, 보다 바람직하게는 30 wt% 이상, 더욱 바람직하게는 40 wt% 이상이며, 땜납 입자의 배합량의 질량비 범위의 하한은, 바람직하게는 80 wt% 이하, 보다 바람직하게는 70 wt% 이하, 더욱 바람직하게는 60 wt% 이하이다. 또, 땜납 입자의 배합량의 체적비 범위의 하한은, 바람직하게는 5 vol% 이상, 보다 바람직하게는 10 vol% 이상, 더욱 바람직하게는 15 vol% 이상이며, 땜납 입자의 배합량의 체적비 범위의 상한은, 바람직하게는 30 vol% 이하, 보다 바람직하게는 25 vol% 이하, 더욱 바람직하게는 20 vol% 이하이다. 땜납 입자의 배합량은, 전술한 질량비 범위 또는 체적비 범위를 만족함으로써, 우수한 도통성, 방열성, 및 접착성을 얻을 수 있다. 땜납 입자가 바인더 중에 존재하는 경우에는 체적비를 사용해도 되고, 이방성 도전 접합 재료를 제조하는 경우 (땜납 입자가 바인더에 존재하기 전) 에는 질량비를 사용해도 된다. 질량비는 배합물의 비중이나 배합비 등에서 체적비로 변환할 수 있다. 땜납 입자의 배합량이 지나치게 적으면 우수한 도통성, 방열성, 및 접착성이 얻어지지 않게 되고, 배합량이 지나치게 많으면 이방성이 손상되어 우수한 도통 신뢰성이 얻어지지 않게 된다.The lower limit of the mass ratio range of the blending amount of the solder particles is preferably 20 wt% or more, more preferably 30 wt% or more, further preferably 40 wt% or more, and the lower limit of the mass ratio range of the blending amount of the solder particles is preferably It is preferably 80 wt% or less, more preferably 70 wt% or less, and still more preferably 60 wt% or less. In addition, the lower limit of the volume ratio range of the amount of the solder particles blended is preferably 5 vol% or more, more preferably 10 vol% or more, further preferably 15 vol% or more, and the upper limit of the volume ratio range of the blending amount of the solder particles is , Preferably it is 30 vol% or less, More preferably, it is 25 vol% or less, More preferably, it is 20 vol% or less. The blending amount of the solder particles satisfies the above-described mass ratio range or volume ratio range, whereby excellent conductivity, heat dissipation, and adhesion can be obtained. When the solder particles are present in the binder, the volume ratio may be used, and when the anisotropic conductive bonding material is produced (before the solder particles are present in the binder), the mass ratio may be used. The mass ratio can be converted into a volume ratio from the specific gravity or mixing ratio of the compound. If the amount of the solder particles is too small, excellent conductivity, heat dissipation, and adhesion cannot be obtained, and if the amount is too large, the anisotropy is impaired, and excellent conduction reliability cannot be obtained.

[플럭스 화합물][Flux compound]

플럭스 화합물은 전극 표면의 이물질이나 산화막을 제거하거나 전극 표면의 산화를 방지하거나 용융 땜납의 표면장력을 저하시키거나 한다. 플럭스 화합물로는, 예를 들어, 레불린산, 말레산, 옥살산, 말론산, 숙신산, 글루타르산, 아디프산, 세바스산 등의 카르복실산을 사용하는 것이 바람직하다. 이로써, 양호한 땜납 접속을 얻을 수 있음과 함께, 에폭시 수지를 배합했을 경우, 에폭시 수지의 경화제로서 기능시킬 수 있다.The flux compound removes foreign substances or oxide films on the electrode surface, prevents oxidation of the electrode surface, or reduces the surface tension of the molten solder. As a flux compound, it is preferable to use carboxylic acid, such as levulinic acid, maleic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, sebacic acid, for example. Thereby, a good solder connection can be obtained, and when an epoxy resin is blended, it can function as a curing agent for the epoxy resin.

또, 플럭스 화합물로서 카르복실기가 알킬비닐에테르로 블록화된 블록화 카르복실산을 사용하는 것이 바람직하다. 이로써, 플럭스 효과, 및 경화제 기능이 발휘되는 온도를 컨트롤할 수 있다. 또, 수지에 대한 용해성이 향상되기 때문에 필름화할 때의 혼합·도포 불균일을 개선할 수 있다. 또, 블록화가 해제되는 해리 온도는 땜납 입자의 융점 이상인 것이 바람직하다. 이로써, 양호한 땜납 접속을 얻을 수 있음과 함께, 에폭시 수지를 배합했을 경우, 에폭시 수지의 유동 후에 경화가 개시되기 때문에, 양호한 땜납 접합을 얻을 수 있다.Further, it is preferable to use a blocked carboxylic acid in which the carboxyl group is blocked with alkyl vinyl ether as the flux compound. Thereby, the temperature at which the flux effect and the curing agent function are exhibited can be controlled. Moreover, since the solubility in resin is improved, it is possible to improve non-uniformity of mixing and application at the time of film formation. In addition, it is preferable that the dissociation temperature at which blocking is released is equal to or higher than the melting point of the solder particles. Thereby, a good solder connection can be obtained, and when an epoxy resin is blended, since curing starts after the flow of the epoxy resin, good solder joint can be obtained.

[다른 첨가제][Other additives]

이방성 접합 필름에는, 상기 서술한 고형 수지, 땜납 입자, 및 플럭스 화합물에 부가하여, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 여러 가지의 첨가제를 배합할 수 있다. 예를 들어, 이방성 접합 필름은, 무기 필러, 유기 필러, 금속 필러, 커플링제, 레벨링제, 안정제, 틱소제 등을 함유해도 상관없다. 무기 필러, 유기 필러, 및 금속 필러의 입자경은, 접속 안정성의 관점에서, 땜납 입자의 평균 입경보다 작고, 예를 들어, 10 ∼ 1000 ㎚ 의 나노 필러, 1 ∼ 10 ㎛ 의 마이크로 필러 등이 사용된다.In the anisotropic bonding film, in addition to the above-described solid resin, solder particles, and flux compound, various additives can be blended within a range that does not impair the effects of the present invention. For example, the anisotropic bonding film may contain an inorganic filler, an organic filler, a metal filler, a coupling agent, a leveling agent, a stabilizer, a thixotropic agent, and the like. The particle diameter of the inorganic filler, the organic filler, and the metal filler is smaller than the average particle diameter of the solder particles from the viewpoint of connection stability, and, for example, a nano filler of 10 to 1000 nm, a micro filler of 1 to 10 μm, and the like are used. .

무기 필러로는, 실리카, 산화알루미늄, 수산화알루미늄, 산화티탄, 수산화알루미늄, 수산화칼슘, 탄산칼슘, 탤크, 산화아연, 제올라이트 등을 들 수 있고, 흡습 신뢰성의 향상을 목적으로 실리카를 첨가하거나, 광 반사의 향상을 목적으로 산화티탄을 첨가하거나, 산에 의한 부식 방지를 목적으로 수산화알루미늄, 수산화칼슘 등을 첨가해도 상관없다.Examples of the inorganic filler include silica, aluminum oxide, aluminum hydroxide, titanium oxide, aluminum hydroxide, calcium hydroxide, calcium carbonate, talc, zinc oxide, zeolite, and the like. Silica is added for the purpose of improving moisture absorption reliability, or light reflection Titanium oxide may be added for the purpose of improving the value, or aluminum hydroxide, calcium hydroxide, or the like may be added for the purpose of preventing corrosion by acid.

유기 필러로는, 아크릴계 수지, 카본, 코어 쉘 입자 등을 들 수 있고, 유기 필러의 첨가에 의해, 블로킹 방지, 광 산란 등의 효과를 얻을 수 있다.Examples of the organic filler include acrylic resin, carbon, and core shell particles, and effects such as blocking prevention and light scattering can be obtained by the addition of the organic filler.

금속 필러로는, Ni, Cu, Ag, Au 를 들 수 있고, 이들 합금이어도 상관없다. 예를 들어, Cu 필러는, 산과 착물을 형성하기 때문에 전극 등의 부식을 방지할 수 있다. 또한, 금속 필러는 도통에 기여해도 기여하지 않아도 되고, 금속 필러의 배합량은 땜납 입자를 포함하여 쇼트하지 않는 정도로 조정하면 된다.Examples of the metal filler include Ni, Cu, Ag, and Au, and these alloys may be used. For example, since the Cu filler forms a complex with an acid, corrosion of an electrode or the like can be prevented. In addition, even if a metal filler contributes to conduction, it does not need to contribute, and the compounding amount of the metal filler may be adjusted to such an extent that a short circuit does not occur including the solder particles.

또, 상기 서술한 이방성 접합 필름은, 예를 들어, 고형 수지, 땜납 입자, 및 플럭스 화합물을 용제 중에서 혼합하고, 이 혼합물을 바 코터에 의해 박리 처리 필름 위에 소정 두께가 되도록 도포한 후, 건조시켜 용매를 휘발시킴으로써 얻을 수 있다. 또, 땜납 입자의 분산성을 높이기 위해서, 용매를 포함한 상태로 고쉐어를 가하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 공지된 배치식 유성 교반 장치를 사용할 수 있다. 진공 환경하에서 실시할 수 있는 것이어도 된다. 또, 이방성 접합 필름의 잔용제량은 바람직하게는 2 % 이하, 보다 바람직하게는 1 % 이하이다.In addition, in the anisotropic bonding film described above, for example, a solid resin, a solder particle, and a flux compound are mixed in a solvent, and the mixture is applied to a predetermined thickness on a peeling treatment film with a bar coater, and then dried. It can be obtained by volatilizing a solvent. In addition, in order to increase the dispersibility of the solder particles, it is preferable to apply a high shear in a state containing a solvent. For example, a known batch type planetary stirring device can be used. What can be implemented in a vacuum environment may be sufficient. Moreover, the amount of residual solvent of an anisotropic bonding film becomes like this. Preferably it is 2% or less, More preferably, it is 1% or less.

실시예Example

<3.1 제 1 실시예><3.1 First Example>

제 1 실시예에서는, 열가소성 수지를 함유하는 이방성 접합 필름을 사용하여 LED 실장체를 제작하고, LED 실장체의 순전압, 다이 쉐어 강도, 및 접합 상태에 대해 평가하였다.In Example 1, an LED mounting body was produced using an anisotropic bonding film containing a thermoplastic resin, and the forward voltage, die share strength, and bonding state of the LED mounting body were evaluated.

[고형 수지의 멜트 플로 레이트의 측정][Measurement of melt flow rate of solid resin]

JIS K7210 : 1999 의 소성 플라스틱의 멜트 플로 레이트를 구하는 방법에 따라, 멜트 플로 레이트 측정 장치 (품명 : 멜트 인덱서 G-02, 도요정기 제작소사 제조) 를 사용하여 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 열가소성 수지 A-E 의 멜트 플로 레이트를 측정하였다.According to the method of determining the melt flow rate of plastic plastic according to JIS K7210: 1999, using a melt flow rate measuring device (product name: Melt Indexer G-02, manufactured by Toyo Jeonggi Co., Ltd.) under conditions of a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg. The melt flow rate of the thermoplastic resin AE was measured.

A : 폴리에스테르 수지, 프리마로이 A1500 (미츠비시 케미컬 (주)), MFR = 11 g/10 minA: Polyester resin, Primaroi A1500 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), MFR = 11 g/10 min

B : 에틸렌아세트비닐 공중합 수지, 에바플렉스 EV205WR (미츠이듀퐁 케미컬 (주)), MFR = 800 g/10 minB: Ethylene acetvinyl copolymer resin, Evaflex EV205WR (Mitsui DuPont Chemical Co., Ltd.), MFR = 800 g/10 min

C : 에틸렌아크릴산 공중합 수지, 뉴크렐 N1050H (듀퐁 (주)), MFR = 500 g/10 minC: Ethylene acrylic acid copolymer resin, Nucreel N1050H (Dupont Co., Ltd.), MFR = 500 g/10 min

D : 폴리아미드 수지, Griltex D1666A (EMS GRIVORY (주)), MFR = 130 g/10 minD: Polyamide resin, Griltex D1666A (EMS GRIVORY Co., Ltd.), MFR = 130 g/10 min

E : 페녹시 수지, 페노토트 YP70 (신닛테츠스미킨 화학 (주)), MFR = 1 g/10 minE: Phenoxy resin, phenotote YP70 (Shinnittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd.), MFR = 1 g/10 min

[LED 실장체의 제작][Manufacture of LED mounting body]

LED 칩 (덱세리알즈 평가용 LED 칩, 사이즈 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn 패드, 패드 사이즈 300 ㎛ ×800 ㎛ 의 P 전극과 N 전극이 각각 형성되어 있고, 패드간 거리 (P 전극과 N 전극간 거리) 150 ㎛) 와, 기판 (덱세리알즈 평가용 세라믹 기판, 18 ㎛ 두께 Cu 패턴, Ni-Au 도금, 패턴간 (스페이스) 50 ㎛) 을 준비하였다. 이방성 접합 필름을 80 ℃ - 2 ㎫ - 3 sec 의 조건에서 기판 위에 라미네이트하고, LED 칩을 얼라인먼트 탑재한 후, 리플로 (피크 온도 260 ℃) 에 의해 LED 칩을 실장하였다.LED chip (LED chip for Dexerials evaluation, size 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn pad, P electrode and N electrode with pad size 300 µm × 800 µm are formed, respectively, and pad An inter-distance (distance between P electrode and N electrode) 150 µm) and a substrate (a ceramic substrate for Dexerials evaluation, an 18 µm-thick Cu pattern, Ni-Au plating, and an inter-pattern (space) 50 µm) were prepared. The anisotropic bonding film was laminated on the substrate under conditions of 80°C-2 MPa-3 sec, and the LED chip was aligned and mounted, and then the LED chip was mounted by reflow (peak temperature: 260°C).

[순전압의 측정][Measurement of forward voltage]

정격 전류인 If = 350 ㎃ 를 기판의 패턴을 개재하여 LED 칩에 흐르게 하고, LED 칩의 순전압값 Vf 를 측정하였다. 전압 오버로 판독되지 않는 경우를「OPEN」이라고 하였다.The rated current If = 350 mA was made to flow through the LED chip through the pattern of the substrate, and the forward voltage value Vf of the LED chip was measured. The case where the reading was not made due to the voltage over was called "OPEN".

[다이 쉐어 강도의 측정][Measurement of die share strength]

본딩 테스터 (품번 : PTR-1100, 레스카사 제조) 를 사용하여 측정 속도 20 ㎛/sec 로 LED 칩의 다이 쉐어 강도를 측정하였다.Using a bonding tester (product number: PTR-1100, manufactured by Lescar), the die share strength of the LED chip was measured at a measurement rate of 20 µm/sec.

[접합 상태의 관찰][Observation of the junction state]

다이 쉐어 강도를 측정한 후, 즉 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 광학 현미경으로 관찰하였다.After measuring the die share strength, that is, the state of the solder bonding on the substrate side after peeling the LED chip was observed with an optical microscope.

[필름 두께의 측정][Measurement of film thickness]

필름 두께는 디지털 마이크로 미터를 사용하여 10 개 지점 이상 측정하고, 그 평균을 필름 두께로 하였다.The film thickness was measured at 10 points or more using a digital micrometer, and the average was taken as the film thickness.

<실시예 1-1><Example 1-1>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A, 플럭스 화합물 (글루타르산 (1,3-프로판디카르복실산), 와코 순약 (주)), 땜납 입자 (42 Sn - 58 Bi, Type 6, 융점 139 ℃, 평균 입자경 10 ㎛, 미츠이금속 (주)), 산화티탄 (평균 입자경 0.21 ㎛, CR-60, 이시하라산업 (주)) 을 소정의 질량부로 배합하고, 이방성 접합 필름을 제작하였다.As shown in Table 1, thermoplastic resin A, flux compound (glutaric acid (1,3-propanedicarboxylic acid), Wako Pure Chemical Co., Ltd.), solder particles (42 Sn-58 Bi, Type 6, melting point 139 C, an average particle diameter of 10 µm, Mitsui Metal Co., Ltd.), and titanium oxide (average particle diameter of 0.21 µm, CR-60, Ishihara Industrial Co., Ltd.) were blended in a predetermined mass part to prepare an anisotropic bonding film.

열가소성 수지 A, 플럭스 화합물, 및 산화티탄을 혼합 용해한 톨루엔 용액 중에 땜납 입자를 분산시킨 후, 갭 코터로 톨루엔 건조 후의 두께가 20 ㎛ 가 되도록 박리 PET (PET-02-BU, 시코쿠 토세로 (주)) 위에 도포하여 제작하였다. 톨루엔 건조는 80 ℃ - 10 min 의 조건에서 실시하였다. 건조 후의 필름 두께의 측정치는 20 ㎛ 였다.After dispersing the solder particles in a toluene solution in which a thermoplastic resin A, a flux compound, and titanium oxide are mixed and dissolved, peeling PET (PET-02-BU, Shikoku Tosero Co., Ltd.) so that the thickness after drying toluene with a gap coater becomes 20 µm ) Was produced by coating on the top. Toluene drying was carried out under the conditions of 80°C-10 min. The measured value of the film thickness after drying was 20 µm.

표 1 에, 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체의 순전압, 및 다이 쉐어 강도의 측정 결과를 나타낸다. 순전압이 3.1 V, 다이 쉐어 강도가 40 N/chip 이었다.In Table 1, the measurement results of the forward voltage and die share strength of the LED mounting body produced using the anisotropic bonding film are shown. The forward voltage was 3.1 V and the die share strength was 40 N/chip.

도 4 는, 실시예 1-1 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다. 땜납이 LED 칩측 및 기판측에 퍼져 젖어 있어 양호한 땜납 접합 상태였다. 또, 하나의 전극 내에 복수의 땜납 접합 지점이 존재하는 것을 확인할 수 있었다.Fig. 4 is a photomicrograph when the LED chip of Example 1-1 is peeled off and the state of solder bonding on the substrate side is observed. The solder spread and was wet on the LED chip side and the substrate side, and it was a good solder bonding state. In addition, it was confirmed that a plurality of solder bonding points exist in one electrode.

<실시예 1-2><Example 1-2>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 B 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 다이 쉐어 강도가 45 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the thermoplastic resin B was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V and a die share strength of 45 N/chip.

<실시예 1-3><Example 1-3>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 C 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 다이 쉐어 강도가 43 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the thermoplastic resin C was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V and a die share strength of 43 N/chip.

<실시예 1-4><Example 1-4>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 D 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 다이 쉐어 강도가 46 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the thermoplastic resin D was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V and a die share strength of 46 N/chip.

<실시예 1-5><Example 1-5>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 30 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 다이 쉐어 강도가 47 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 30 µm. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V and a die share strength of 47 N/chip.

<비교예 1-1><Comparative Example 1-1>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 E 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 오픈이 되고, 다이 쉐어 강도가 19 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the thermoplastic resin E was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body manufactured using the anisotropic bonding film had an open forward voltage and a die share strength of 19 N/chip.

도 5 는, 비교예 1-1 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다. 열가소성 수지 E 의 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 이기 때문에, 수지가 거의 유동하지 않고, 땜납 입자가 LED 칩의 패드나 기판의 패턴에 접촉하지 않고 용융하지 않았다.5 is a photomicrograph when a solder bonding state on the substrate side was observed after the LED chip of Comparative Example 1-1 was peeled off. Since the melt flow rate of the thermoplastic resin E was 1 g/10 min, the resin hardly flowed, and the solder particles did not contact the pad of the LED chip or the pattern of the substrate and did not melt.

<비교예 1-2><Comparative Example 1-2>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물을 배합하지 않았던 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 오픈이 되고, 다이 쉐어 강도가 18 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the flux compound was not blended. The LED mounting body manufactured using the anisotropic bonding film had an open forward voltage and a die share strength of 18 N/chip.

도 6 은, 비교예 1-2 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다. 플럭스 화합물이 배합되어 있지 않기 때문에, 땜납 입자가 용융하지 않았다.6 is a photomicrograph when the state of solder bonding on the substrate side after peeling the LED chip of Comparative Example 1-2 was observed. Since the flux compound was not blended, the solder particles did not melt.

<비교예 1-3><Comparative Example 1-3>

표 1 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 40 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 1-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 오픈이 되고, 다이 쉐어 강도가 25 N/chip 이었다.As shown in Table 1, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 1-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 40 µm. The LED mounting body manufactured using the anisotropic bonding film had an open forward voltage and a die share strength of 25 N/chip.

도 7 은, 비교예 1-3 의 LED 칩을 박리한 후의 기판측의 땜납 접합 상태를 관찰했을 때의 현미경 사진이다. 이방성 접합 필름의 두께가 40 ㎛ 로 두껍기 때문에, 땜납 입자의 전극간에 대한 협지가 불충분하고, 땜납 접합이 불충분해져, 땜납 입자가 퍼져 젖는 것이 LED 칩측만인 지점과 기판측만인 지점이 보였다.7 is a photomicrograph when a solder bonding state on the substrate side was observed after peeling the LED chip of Comparative Example 1-3. Since the thickness of the anisotropic bonding film was 40 µm, the pinching between the electrodes of the solder particles was insufficient, the solder bonding was insufficient, and the spot where the solder particles spread and wet only the LED chip side and the spot only on the substrate side were seen.

Figure pct00001
Figure pct00001

비교예 1-1 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 인 열가소성 수지 E 를 사용하였기 때문에, 수지의 유동성이 나쁘고, 땜납 입자가 용융하지 않아, 피착체의 전극과 접합하지 않았다. 이 때문에, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 수지가 충분히 유동하지 않고, 땜납 접합도 형성되어 있지 않기 때문에 LED 칩의 밀착성이 약하고, 다이 쉐어 강도가 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 1-1, since thermoplastic resin E having a melt flow rate of 1 g/10 min was used, the fluidity of the resin was poor, the solder particles did not melt, and the electrode of the adherend was not bonded. For this reason, the forward voltage could not be measured. Further, since the resin did not flow sufficiently and no solder bonding was formed, the adhesiveness of the LED chip was weak, and the result was that the die share strength was low.

비교예 1-2 에서는, 플럭스 화합물을 배합하지 않았기 때문에, 땜납 입자가 용융하지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다.In Comparative Example 1-2, since the flux compound was not blended, the solder particles did not melt and the forward voltage could not be measured.

비교예 1-3 에서는, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 4 배 두께인 40 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 땜납 접합이 형성되지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 다이 쉐어 강도도 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 1-3, since an anisotropic bonding film having a thickness of 40 µm, which was four times the thickness of the average particle diameter of the solder particles, was used, no solder bonding was formed, and the forward voltage could not be measured. In addition, the die share strength was also low.

한편, 실시예 1-1 ∼ 실시예 1-5 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 이상인 열가소성 수지 A-D 를 이용하여 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 2 ∼ 3 배 두께인 20 ∼ 30 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 수지가 용융·유동하여, 땜납 입자에 의해 피착체의 전극간에 땜납 접합하고, 정격 전압 3.1 V 에 가까운 값을 얻을 수 있었다. 또, 다이 쉐어 강도도 양호한 결과가 되었다.On the other hand, in Examples 1-1 to 1-5, a thermoplastic resin AD having a melt flow rate of 1 g/10 min or more was used, and the thickness of 20 to 30 times the average particle diameter of the solder particles was 10 µm. Since an anisotropic bonding film having a thickness of µm was used, the resin melted and flowed, and soldered between the electrodes of the adherend by means of the solder particles, and a value close to the rated voltage of 3.1 V could be obtained. Moreover, the die share strength was also good.

<3.2 제 2 실시예><3.2 Second Example>

제 2 실시예에서는, 라디칼 중합성 수지를 함유하는 이방성 접합 필름을 사용하여 LED 실장체를 제작하고, LED 실장체의 순전압, 절연성 및 다이 쉐어 강도에 대해 평가하였다. LED 실장체의 제작, LED 실장체의 순전압, 및 다이 쉐어 강도의 측정은 제 1 실시예와 동일하기 때문에, 여기서는 설명을 생략한다.In Example 2, an LED mounting body was produced using an anisotropic bonding film containing a radical polymerizable resin, and the forward voltage, insulation, and die share strength of the LED mounting body were evaluated. Fabrication of the LED mounting body, the measurement of the forward voltage of the LED mounting body, and the die share intensity are the same as those of the first embodiment, and thus description thereof is omitted here.

[고형 수지의 멜트 플로 레이트의 측정][Measurement of melt flow rate of solid resin]

JIS K7210 : 1999 의 소성 플라스틱의 멜트 플로 레이트를 구하는 방법에 따라, 멜트 플로 레이트 측정 장치 (품명 : 멜트 인덱서 G-02, 도요정기 제작소사 제조) 를 사용하여 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 열가소성 수지 A ~ C, E 및 고형 라디칼 중합성 수지의 멜트 플로 레이트를 측정하였다.According to the method of determining the melt flow rate of plastic plastic according to JIS K7210: 1999, using a melt flow rate measuring device (product name: Melt Indexer G-02, manufactured by Toyo Jeonggi Co., Ltd.) under conditions of a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg. The melt flow rate of the thermoplastic resins A to C, E and the solid radical polymerizable resin was measured.

A : 폴리에스테르 수지, 프리마로이 A1500 (미츠비시 케미컬 (주)), MFR = 11 g/10 minA: Polyester resin, Primaroi A1500 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), MFR = 11 g/10 min

B : 에틸렌아세트비닐 공중합 수지, 에바플렉스 EV205WR (미츠이 듀퐁 케미컬 (주)), MFR = 800 g/10 minB: Ethylene acetvinyl copolymer resin, Evaflex EV205WR (Mitsui DuPont Chemical Co., Ltd.), MFR = 800 g/10 min

C : 에틸렌아크릴산 공중합 수지, 뉴크렐 N1050H (듀퐁 (주)), MFR = 500 g/10 minC: Ethylene acrylic acid copolymer resin, Nucreel N1050H (Dupont Co., Ltd.), MFR = 500 g/10 min

E : 페녹시 수지, 페노토트 YP70 (신닛테츠스미킨 화학 (주)), MFR = 1 g/10 minE: Phenoxy resin, phenotote YP70 (Shinnittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd.), MFR = 1 g/10 min

고형 라디칼 중합성 수지 : 비닐에스테르 수지, 리폭시 VR-90, 쇼와덴코 (주), MFR = 100 g/10 minSolid radical polymerizable resin: vinyl ester resin, lipoxy VR-90, Showa Denko, MFR = 100 g/10 min

[절연성의 평가][Evaluation of insulation properties]

기판의 패턴을 개재하여 LED 칩에 역전류 0.1 μA 를 흐르게 하고, 전류가 흐르지 않는 경우의 평가를「OK」로 하고, 전류가 흘렀을 경우의 평가를「NG」로 하였다.A reverse current of 0.1 µA was made to flow through the LED chip through the pattern of the substrate, and the evaluation when no current flows was set as "OK", and the evaluation when the current flowed was set as "NG".

<실시예 2-1><Example 2-1>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A, 액상 라디칼 중합성 수지 (수소 첨가 비스페놀 A 디글리시딜에테르, 에포라이트 4000, 쿄에이샤 화학 (주)), 개시제 (디아실퍼옥사이드, 퍼헥사 25B, 니치유 (주)), 플럭스 화합물 A (글루타르산 (1,3-프로판디카르복실산), 와코 순약 (주)), 땜납 입자 (42 Sn - 58 Bi, Type 6, 융점 139 ℃, 평균 입자경 10 ㎛, 미츠이금속 (주)), 산화티탄 (평균 입자경 0.21 ㎛, CR-60, 이시하라산업 (주)) 을 소정의 질량부로 배합하여 이방성 접합 필름을 제작하였다.As shown in Table 2, thermoplastic resin A, liquid radical polymerizable resin (hydrogenated bisphenol A diglycidyl ether, Epolite 4000, Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), initiator (diacyl peroxide, perhexa 25B, Nichiyu Co., Ltd.), flux compound A (glutaric acid (1,3-propanedicarboxylic acid), Wako Pure Chemical Co., Ltd.), solder particles (42 Sn-58 Bi, Type 6, melting point 139 ℃, average A particle diameter of 10 µm, Mitsui Metal Co., Ltd.), and titanium oxide (average particle diameter of 0.21 µm, CR-60, Ishihara Industrial Co., Ltd.) were blended in a predetermined mass part to prepare an anisotropic bonding film.

열가소성 수지 A, 및 액상 라디칼 중합성 수지를 톨루엔으로 혼합 용해시키고, 그 속에 플럭스 화합물 A, 및 산화티탄을 투입하고, 3 개 롤 (갭 10 ㎛ 로 3 회 패스) 로 분산시킨 후, 개시제와 땜납 입자를 분산시킴으로써 수지 용액을 얻었다. 이 수지 용액을 갭 코터로, 톨루엔 건조 후의 두께가 20 ㎛ 가 되도록 박리 PET (PET-02-BU, 시코쿠 토세로 (주)) 위에 도포하여 제작하였다. 톨루엔 건조는 80 ℃ - 10 min 의 조건에서 실시하였다.A thermoplastic resin A and a liquid radical polymerizable resin are mixed and dissolved with toluene, a flux compound A and titanium oxide are added therein, and dispersed in three rolls (three passes with a gap of 10 μm), and then an initiator and solder A resin solution was obtained by dispersing the particles. This resin solution was applied with a gap coater onto peeling PET (PET-02-BU, Shikoku Tosero Co., Ltd.) so that the thickness after drying of toluene became 20 µm, and produced. Toluene drying was carried out under the conditions of 80°C-10 min.

표 2 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 42 N/chip 이었다.As shown in Table 2, the LED mounting body produced using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 42 N/chip.

<실시예 2-2><Example 2-2>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 B 를 사용한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 46 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the thermoplastic resin B was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 46 N/chip.

<실시예 2-3><Example 2-3>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 C 를 사용한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 41 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the thermoplastic resin C was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body manufactured using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 41 N/chip.

<실시예 2-4><Example 2-4>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 고형 라디칼 중합성 수지를 사용한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 47 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that a solid radical polymerizable resin was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 47 N/chip.

<실시예 2-5><Example 2-5>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물 A 대신에 플럭스 화합물 B (블록화 카르복실산, 산타시드 G, 니치유 (주)) 를 사용한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 46 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the flux compound B (blocked carboxylic acid, Santaside G, Nichiyu Co., Ltd.) was used instead of the flux compound A. . The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 46 N/chip.

<실시예 2-6><Example 2-6>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 30 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 49 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 30 µm. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 49 N/chip.

<비교예 2-1><Comparative Example 2-1>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 E 를 반응성 희석제 (테트라하이드로푸르푸릴아크릴레이트, 비스코트 #150, 오사카 유기화학공업 (주)) 로 용해 시킨 후 라디칼 중합성 수지, 개시제, 플럭스 화합물 A, 산화티탄, 및 땜납 입자를 혼합 분산시킴으로써 이방성 접합 페이스트를 제작하였다.As shown in Table 2, after dissolving thermoplastic resin E with a reactive diluent (tetrahydrofurfuryl acrylate, biscoat #150, Osaka Organic Chemical Co., Ltd.), radical polymerizable resin, initiator, flux compound A, oxidation Anisotropic bonding paste was produced by mixing and dispersing titanium and solder particles.

LED 칩 (덱세리알즈 평가용 LED 칩, 사이즈 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn 패드, 패드 사이즈 300 ㎛ ×800 ㎛, 패드간 거리 200 ㎛) 과, 기판 (덱세리알즈 평가용 세라믹 기판, 18 ㎛ 두께 Cu 패턴, Ni-Au 도금, 패턴간 (스페이스) 50 ㎛) 을 준비하였다. 이방성 접합 페이스트를 두께 30 ㎛ 의 마스크를 사용하여 기판 위에 도포하고, LED 칩을 얼라인먼트 탑재한 후, 리플로 (피크 온도 260 ℃) 에 의해 LED 칩을 실장하였다.LED chip (LED chip for Dexerials evaluation, size 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn pad, pad size 300 µm × 800 µm, pad distance 200 µm) and substrate (Dexerials A ceramic substrate for Alz evaluation, an 18 µm-thick Cu pattern, Ni-Au plating, and inter-pattern (space) 50 µm) were prepared. The anisotropic bonding paste was applied onto the substrate using a mask having a thickness of 30 µm, and the LED chips were aligned and mounted, and then the LED chips were mounted by reflow (peak temperature: 260°C).

표 2 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 페이스트를 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 NG, 다이 쉐어 강도가 45 N/chip 이었다.As shown in Table 2, the LED mounting body produced using the anisotropic bonding paste had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of NG, and a die share strength of 45 N/chip.

<비교예 2-2><Comparative Example 2-2>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 E 를 사용한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 19 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the thermoplastic resin E was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated by using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 19 N/chip.

<비교예 2-3><Comparative Example 2-3>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물을 배합하지 않았던 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 19 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the flux compound was not blended. The LED mounting body fabricated by using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 19 N/chip.

<비교예 2-4><Comparative Example 2-4>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 40 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 2-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 26 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 2-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 40 µm. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 26 N/chip.

Figure pct00002
Figure pct00002

비교예 2-1 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 인 열가소성 수지 E 를 사용하고, 페이스트상의 이방성 접합 재료를 도포했기 때문에, 기판의 인접하는 단자간에서 땜납 접합에 의한 쇼트가 발생하였다.In Comparative Example 2-1, since thermoplastic resin E having a melt flow rate of 1 g/10 min was used and a paste-like anisotropic bonding material was applied, a short circuit due to solder bonding occurred between adjacent terminals of the substrate.

비교예 2-2 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 인 열가소성 수지 E 를 사용하였기 때문에, 수지의 유동성이 나쁘고, 땜납 입자가 용융하지 않아, 피착체의 전극과 접합하지 않았다. 이 때문에, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 수지가 충분히 유동하지 않고, 땜납 접합도 형성되어 있지 않기 때문에 LED 칩의 밀착성이 약하고, 다이 쉐어 강도가 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 2-2, since the thermoplastic resin E having a melt flow rate of 1 g/10 min was used, the fluidity of the resin was poor, the solder particles did not melt, and the electrode was not bonded to the adherend. For this reason, the forward voltage could not be measured. Further, since the resin did not flow sufficiently and no solder bonding was formed, the adhesiveness of the LED chip was weak, and the result was that the die share strength was low.

비교예 2-3 에서는, 플럭스 화합물을 배합하지 않았기 때문에, 땜납 입자가 용융하지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다.In Comparative Example 2-3, since the flux compound was not blended, the solder particles did not melt and the forward voltage could not be measured.

비교예 2-4 에서는, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 4 배 두께인 40 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 땜납 접합이 형성되지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 다이 쉐어 강도도 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 2-4, since an anisotropic bonding film having a thickness of 40 µm, which was four times the thickness of the average particle diameter of the solder particles, was used, no solder bonding was formed, and the forward voltage could not be measured. In addition, the die share strength was also low.

한편, 실시예 2-1 ∼ 실시예 2-5 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 이상인 열가소성 수지 A-D 를 사용하고, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 2 ∼ 3 배 두께인 20 ∼ 30 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 수지가 용융·유동하고, 땜납 입자에 의해 피착체의 전극간에서 땜납 접합하고, 정격 전압 3.1 V 에 가까운 값을 얻을 수 있었다. 또, 다이 쉐어 강도도 양호한 결과가 되었다.On the other hand, in Examples 2-1 to 2-5, a thermoplastic resin AD having a melt flow rate of 1 g/10 min or more was used, and the thickness of 20 to 3 times the average particle diameter of the solder particles was 2 to 3 times. Since an anisotropic bonding film having a thickness of 30 µm was used, the resin melted and flowed, and soldered between the electrodes of the adherend by means of the solder particles, and a value close to the rated voltage of 3.1 V could be obtained. Moreover, the die share strength was also good.

<3.3 제 3 실시예><3.3 Third Example>

제 3 실시예에서는, 에폭시 수지를 함유하는 이방성 접합 필름을 사용하여 LED 실장체를 제작하고, LED 실장체의 순전압, 절연성 및 다이 쉐어 강도에 대해 평가하였다. LED 실장체의 제작, LED 실장체의 순전압, 및 다이 쉐어 강도의 측정은 제 1 실시예와 동일하기 때문에, LED 실장체의 절연성의 평가는 제 2 실시예와 동일하기 때문에, 여기서는 설명을 생략한다.In Example 3, an LED mounting body was produced using an anisotropic bonding film containing an epoxy resin, and the forward voltage, insulation, and die share strength of the LED mounting body were evaluated. Since the fabrication of the LED mounting body, the measurement of the forward voltage of the LED mounting body, and the die share strength are the same as in the first embodiment, the evaluation of the insulation properties of the LED mounting body is the same as that of the second embodiment, so the description is omitted here. do.

[고형 수지의 멜트 플로 레이트의 측정][Measurement of melt flow rate of solid resin]

JIS K7210 : 1999 의 소성 플라스틱의 멜트 플로 레이트를 구하는 방법에 따라, 멜트 플로 레이트 측정 장치 (품명 : 멜트 인덱서 G-02, 도요정기 제작소사 제조) 를 사용하여 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 열가소성 수지 A ~ C, E 및 고형 에폭시 수지의 멜트 플로 레이트를 측정하였다.According to the method of determining the melt flow rate of plastic plastic according to JIS K7210: 1999, using a melt flow rate measuring device (product name: Melt Indexer G-02, manufactured by Toyo Jeonggi Co., Ltd.) under conditions of a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg. The melt flow rate of the thermoplastic resins A to C, E and the solid epoxy resin was measured.

A : 폴리에스테르 수지, 프리마로이 A1500 (미츠비시 케미컬 (주)), MFR = 11 g/10 minA: Polyester resin, Primaroi A1500 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), MFR = 11 g/10 min

B : 에틸렌아세트비닐 공중합 수지, 에바플렉스 EV205WR (미츠이 듀퐁 케미컬 (주)), MFR = 800 g/10 minB: Ethylene acetvinyl copolymer resin, Evaflex EV205WR (Mitsui DuPont Chemical Co., Ltd.), MFR = 800 g/10 min

C : 에틸렌아크릴산 공중합 수지, 뉴크렐 N1050H (듀퐁 (주)), MFR = 500 g/10 minC: Ethylene acrylic acid copolymer resin, Nucreel N1050H (Dupont Co., Ltd.), MFR = 500 g/10 min

E : 페녹시 수지, 페노토트 YP70 (신닛테츠스미킨 화학 (주)), MFR = 1 g/10 minE: Phenoxy resin, phenotote YP70 (Shinnittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd.), MFR = 1 g/10 min

고형 에폭시 수지 : 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 1001, 미츠비시 화학 (주), MFR = 2600 g/10 minSolid epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin, 1001, Mitsubishi Chemical Co., Ltd., MFR = 2600 g/10 min

<실시예 3-1><Example 3-1>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A, 액상 에폭시 수지 (비스페놀 A 형 에폭시 수지, YL980, 미츠비시 화학 (주)), 경화제 A (아니온 경화제, 마이크로 캡슐형 이미다졸 경화제, HX3941HP, 아사히화성 (주)), 플럭스 화합물 A (글루타르산 (1,3-프로판디카르복실산), 와코 순약 (주)), 땜납 입자 (42 Sn - 58 Bi, Type 6, 융점 139 ℃, 평균 입자경 10 ㎛, 미츠이금속 (주)), 산화티탄 (평균 입자경 0.21 ㎛, CR-60, 이시하라산업 (주)) 을 소정의 질량부로 배합하여 이방성 접합 필름을 제작하였다.As shown in Table 3, thermoplastic resin A, liquid epoxy resin (bisphenol A type epoxy resin, YL980, Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), curing agent A (anion curing agent, microcapsule imidazole curing agent, HX3941HP, Asahi Chemical Co., Ltd. )), flux compound A (glutaric acid (1,3-propanedicarboxylic acid), Wako Pure Chemical Co., Ltd.), solder particles (42 Sn-58 Bi, Type 6, melting point 139° C., average particle diameter 10 μm, Mitsui Metal Co., Ltd.) and titanium oxide (average particle diameter 0.21 µm, CR-60, Ishihara Industrial Co., Ltd.) were blended in a predetermined mass part to prepare an anisotropic bonding film.

열가소성 수지 A, 및 액상 에폭시 수지를 톨루엔으로 혼합 용해시키고, 그 속에 플럭스 화합물 A, 및 산화티탄을 투입하고, 3 개 롤 (갭 10 ㎛ 로 3 회 패스) 로 분산시킨 후, 경화제 A 와 땜납 입자를 분산시킴으로써 수지 용액을 얻었다. 이 수지 용액을 갭 코터로, 톨루엔 건조 후의 두께가 20 ㎛ 가 되도록 박리 PET (PET-02-BU, 시코쿠 토세로 (주)) 위에 도포하여 제작하였다. 톨루엔 건조는 80 ℃ - 10 min 의 조건에서 실시하였다.A thermoplastic resin A and a liquid epoxy resin were mixed and dissolved with toluene, a flux compound A and titanium oxide were added thereto, and dispersed in three rolls (three passes with a gap of 10 μm), and then the curing agent A and the solder particles. The resin solution was obtained by dispersing. This resin solution was applied with a gap coater on a peeling PET (PET-02-BU, Shikoku Tosero Co., Ltd.) so that the thickness after drying of toluene became 20 µm, and produced. Toluene drying was carried out under the conditions of 80°C-10 min.

표 3 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 43 N/chip 이었다.As shown in Table 3, the LED mounting body produced using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 43 N/chip.

<실시예 3-2><Example 3-2>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 B 를 사용한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 46 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the thermoplastic resin B was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 46 N/chip.

<실시예 3-3><Example 3-3>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 C 를 사용한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 41 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the thermoplastic resin C was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body manufactured using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 41 N/chip.

<실시예 3-4><Example 3-4>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 고형 에폭시 수지를 사용한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 47 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that a solid epoxy resin was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 47 N/chip.

<실시예 3-5><Example 3-5>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 경화제 A 대신에 경화제 B (카티온 경화제, 술포늄염, 산에이드 SI-80L, 산신 화학사 제조) 를 사용하여 액상 에폭시 수지의 배합비를 조정한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 46 N/chip 이었다.As shown in Table 3, in place of the curing agent A, the curing agent B (cationic curing agent, sulfonium salt, San-Aide SI-80L, manufactured by Sanshin Chemical Co., Ltd.) was used, except that the mixing ratio of the liquid epoxy resin was adjusted, except that Example 3-1 In the same manner as, an anisotropic bonding film was produced. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 46 N/chip.

<실시예 3-6><Example 3-6>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물 A 대신에 플럭스 화합물 B (블록화 카르복실산, 산타시드 G, 니치유 (주)) 를 사용한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 44 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the flux compound B (blocked carboxylic acid, Santaside G, Nichiyu Co., Ltd.) was used instead of the flux compound A. . The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 44 N/chip.

<실시예 3-7><Example 3-7>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 30 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 49 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 30 µm. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 49 N/chip.

<비교예 3-1><Comparative Example 3-1>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 액상 에폭시 수지, 경화제 A, 플럭스 화합물 A, 산화티탄, 및 땜납 입자를 혼합 분산시킴으로써 이방성 접합 페이스트를 제작하였다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding paste was produced by mixing and dispersing liquid epoxy resin, curing agent A, flux compound A, titanium oxide, and solder particles.

LED 칩 (덱세리알즈 평가용 LED 칩, 사이즈 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn 패드, 패드 사이즈 300 ㎛ ×800 ㎛, 패드간 거리 200 ㎛) 과 기판 (덱세리알즈 평가용 세라믹 기판, 18 ㎛ 두께 Cu 패턴, Ni-Au 도금, 패턴간 (스페이스) 50 ㎛) 을 준비하였다. 이방성 접합 페이스트를 두께 30 ㎛ 의 마스크를 사용하여 기판 위에 도포하고, LED 칩을 얼라인먼트 탑재한 후, 리플로 (피크 온도 260 ℃) 에 의해 LED 칩을 실장하였다.LED chip (LED chip for Dexerials evaluation, size 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn pad, pad size 300 µm × 800 µm, pad distance 200 µm) and substrate (Dexerials A ceramic substrate for evaluation, an 18 μm-thick Cu pattern, Ni-Au plating, and inter-pattern (space) 50 μm) were prepared. The anisotropic bonding paste was applied onto the substrate using a mask having a thickness of 30 µm, and the LED chips were aligned and mounted, and then the LED chips were mounted by reflow (peak temperature: 260°C).

표 3 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 페이스트를 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 NG, 다이 쉐어 강도가 45 N/chip 이었다.As shown in Table 3, the LED mounting body produced using the anisotropic bonding paste had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of NG, and a die share strength of 45 N/chip.

<비교예 3-2><Comparative Example 3-2>

표 2 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 E 를 사용한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 19 N/chip 이었다.As shown in Table 2, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the thermoplastic resin E was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated by using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 19 N/chip.

<비교예 3-3><Comparative Example 3-3>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물을 배합하지 않았던 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 19 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the flux compound was not blended. The LED mounting body fabricated by using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 19 N/chip.

<비교예 3-4><Comparative Example 3-4>

표 3 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 40 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 3-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 26 N/chip 이었다.As shown in Table 3, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 3-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 40 µm. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 26 N/chip.

Figure pct00003
Figure pct00003

비교예 3-1 에서는, 액상 에폭시 수지를 사용하여 페이스트상의 이방성 접합 재료를 도포했기 때문에, 기판의 인접하는 단자간에서 땜납 접합에 의한 쇼트가 발생하였다.In Comparative Example 3-1, since a paste-like anisotropic bonding material was applied using a liquid epoxy resin, a short circuit due to solder bonding occurred between adjacent terminals of the substrate.

비교예 3-2 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 인 열가소성 수지 E 를 사용하였기 때문에, 수지의 유동성이 나쁘고, 땜납 입자가 용융하지 않아, 피착체의 전극과 접합하지 않았다. 이 때문에, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 수지가 충분히 유동하지 않고, 땜납 접합도 형성되어 있지 않기 때문에 LED 칩의 밀착성이 약하고, 다이 쉐어 강도가 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 3-2, since thermoplastic resin E having a melt flow rate of 1 g/10 min was used, the fluidity of the resin was poor, the solder particles did not melt, and the electrode was not bonded to the adherend. For this reason, the forward voltage could not be measured. Further, since the resin did not flow sufficiently and no solder bonding was formed, the adhesiveness of the LED chip was weak, and the result was that the die share strength was low.

비교예 3-3 에서는, 플럭스 화합물을 배합하지 않았기 때문에, 땜납 입자가 용융하지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다.In Comparative Example 3-3, since the flux compound was not blended, the solder particles did not melt and the forward voltage could not be measured.

비교예 3-4 에서는, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 4 배 두께인 40 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 땜납 접합이 형성되지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 다이 쉐어 강도도 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 3-4, since an anisotropic bonding film having a thickness of 40 µm, which was four times the thickness of the average particle diameter of the solder particles, was used, no solder bonding was formed, and the forward voltage could not be measured. In addition, the die share strength was also low.

한편, 실시예 3-1 ∼ 실시예 3-7 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 이상인 열가소성 수지 A-D 를 사용하고, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 2 ∼ 3 배 두께인 20 ∼ 30 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 수지가 용융·유동하고, 땜납 입자에 의해 피착체의 전극간에서 땜납 접합하고, 정격 전압 3.1 V 에 가까운 값을 얻을 수 있었다. 또, 다이 쉐어 강도도 양호한 결과가 되었다. 또, 실시예 3-6 의 비닐에테르로 카르복실기를 블록한 블록화 플럭스 화합물을 사용해도 양호한 결과를 얻을 수 있었다.On the other hand, in Examples 3-1 to 3-7, a thermoplastic resin AD having a melt flow rate of 1 g/10 min or more was used, and the thickness of 20 to 3 times the average particle diameter of the solder particles was 10 μm. Since an anisotropic bonding film having a thickness of 30 µm was used, the resin melted and flowed, and soldered between the electrodes of the adherend by means of the solder particles, and a value close to the rated voltage of 3.1 V could be obtained. Moreover, the die share strength was also good. Further, good results were obtained even when the blocked flux compound in which a carboxyl group was blocked with vinyl ether of Example 3-6 was used.

<3.4 제 4 실시예><3.4 Fourth Example>

제 4 실시예에서는, 플럭스 화합물로서 카르복실산을 함유하는 이방성 접합 필름을 사용하여 LED 실장체를 제작하고, LED 실장체의 순전압, 절연성 및 다이 쉐어 강도에 대해 평가하였다. LED 실장체의 제작, LED 실장체의 순전압, 및 다이 쉐어 강도의 측정은 제 1 실시예와 동일하기 때문에, LED 실장체의 절연성의 평가는 제 2 실시예와 동일하기 때문에, 여기서는 설명을 생략한다.In Example 4, an LED mounting body was produced using an anisotropic bonding film containing carboxylic acid as a flux compound, and the forward voltage, insulation, and die share strength of the LED mounting body were evaluated. Since the fabrication of the LED mounting body, the measurement of the forward voltage of the LED mounting body, and the die share strength are the same as in the first embodiment, the evaluation of the insulation properties of the LED mounting body is the same as that of the second embodiment, so the description is omitted here. do.

[고형 수지의 멜트 플로 레이트의 측정][Measurement of melt flow rate of solid resin]

JIS K7210 : 1999 의 소성 플라스틱의 멜트 플로 레이트를 구하는 방법에 따라, 멜트 플로 레이트 측정 장치 (품명 : 멜트 인덱서 G-02, 도요정기 제작소사 제조) 를 사용하여 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 열가소성 수지 A, E 및 고형 에폭시 수지의 멜트 플로 레이트를 측정하였다.According to the method of determining the melt flow rate of plastic plastic according to JIS K7210: 1999, using a melt flow rate measuring device (product name: Melt Indexer G-02, manufactured by Toyo Jeonggi Co., Ltd.) under conditions of a temperature of 190°C and a load of 2.16 kg. The melt flow rates of thermoplastic resins A, E and solid epoxy resins were measured.

A : 폴리에스테르 수지, 프리마로이 A1500 (미츠비시 케미컬 (주)), MFR = 11 g/10 minA: Polyester resin, Primaroi A1500 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), MFR = 11 g/10 min

E : 페녹시 수지, 페노토트 YP70 (신닛테츠스미킨 화학 (주)), MFR = 1 g/10 minE: Phenoxy resin, phenotote YP70 (Shinnittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd.), MFR = 1 g/10 min

고형 에폭시 수지 : 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 1001, 미츠비시 화학 (주), MFR = 2600 g/10 minSolid epoxy resin: Bisphenol A type epoxy resin, 1001, Mitsubishi Chemical Co., Ltd., MFR = 2600 g/10 min

<실시예 4-1><Example 4-1>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A, 액상 에폭시 수지 (비스페놀 A 형 에폭시 수지, YL980, 미츠비시 화학 (주)), 플럭스 화합물 A (글루타르산(1,3-프로판디카르복실산), 와코 순약 (주)), 땜납 입자 (42 Sn - 58 Bi, Type 6, 융점 139 ℃, 평균 입자경 10 ㎛, 미츠이금속 (주)), 산화티탄 (평균 입자경 0.21 ㎛, CR-60, 이시하라산업 (주)) 을 소정의 질량부로 배합하여 이방성 접합 필름을 제작하였다.As shown in Table 4, thermoplastic resin A, liquid epoxy resin (bisphenol A type epoxy resin, YL980, Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), flux compound A (glutaric acid (1,3-propanedicarboxylic acid), Waco Pure Chemical Co., Ltd.), solder particles (42 Sn-58 Bi, Type 6, melting point 139 ℃, average particle diameter 10 ㎛, Mitsui Metal Co., Ltd.), titanium oxide (average particle diameter 0.21 ㎛, CR-60, Ishihara Industrial Co., Ltd.) )) was blended in a predetermined mass part to prepare an anisotropic bonding film.

열가소성 수지 A, 및 액상 에폭시 수지를 톨루엔으로 혼합 용해시키고, 그 속에 플럭스 화합물 A, 및 산화티탄을 투입하고, 3 개 롤 (갭 10 ㎛ 로 3 회 패스) 로 분산시킨 후, 땜납 입자를 분산시킴으로써 수지 용액을 얻었다. 이 수지 용액을 갭 코터로, 톨루엔 건조 후의 두께가 20 ㎛ 가 되도록 박리 PET (PET-02-BU, 시코쿠 토세로 (주)) 위에 도포하여 제작하였다. 톨루엔 건조는 80 ℃ - 10 min 의 조건에서 실시하였다.By mixing and dissolving the thermoplastic resin A and the liquid epoxy resin with toluene, adding the flux compound A and titanium oxide therein, and dispersing it in three rolls (three passes with a gap of 10 μm), and then dispersing the solder particles. A resin solution was obtained. This resin solution was applied with a gap coater on a peeling PET (PET-02-BU, Shikoku Tosero Co., Ltd.) so that the thickness after drying of toluene became 20 µm, and produced. Toluene drying was carried out under the conditions of 80°C-10 min.

표 4 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 44 N/chip 이었다.As shown in Table 4, the LED mounting body produced using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 44 N/chip.

<실시예 4-2><Example 4-2>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 고형 에폭시 수지를 사용한 것 이외에는, 실시예 4-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 45 N/chip 이었다.As shown in Table 4, the anisotropic bonding film was produced like Example 4-1 except having used the solid epoxy resin instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 45 N/chip.

<실시예 4-3><Example 4-3>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물 A 대신에 플럭스 화합물 B (블록화 카르복실산, 산타시드 G, 니치유 (주)) 를 사용한 것 이외에는, 실시예 4-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 44 N/chip 이었다.As shown in Table 4, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 4-1, except that the flux compound B (blocked carboxylic acid, Santaside G, Nichiyu Co., Ltd.) was used instead of the flux compound A. . The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 44 N/chip.

<실시예 4-4><Example 4-4>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 30 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 4-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.1 V, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 48 N/chip 이었다.As shown in Table 4, the anisotropic bonding film was produced like Example 4-1 except having set the thickness of the anisotropic bonding film to 30 micrometers. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had a forward voltage of 3.1 V, an insulation property of OK, and a die share strength of 48 N/chip.

<비교예 4-1><Comparative Example 4-1>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 액상 에폭시 수지, 경화제 A, 플럭스 화합물 B, 산화티탄, 및 땜납 입자를 혼합 분산시킴으로써 이방성 접합 페이스트를 제작하였다.As shown in Table 4, an anisotropic bonding paste was produced by mixing and dispersing liquid epoxy resin, curing agent A, flux compound B, titanium oxide, and solder particles.

LED 칩 (덱세리알즈 평가용 LED 칩, 사이즈 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn 패드, 패드 사이즈 300 ㎛ ×800 ㎛, 패드간 거리 200 ㎛) 과, 기판 (덱세리알즈 평가용 세라믹 기판, 18 ㎛ 두께 Cu 패턴, Ni-Au 도금, 패턴간 (스페이스) 50 ㎛) 을 준비하였다. 이방성 접합 페이스트를 두께 30 ㎛ 의 마스크를 사용하여 기판 위에 도포하고, LED 칩을 얼라인먼트 탑재한 후, 리플로 (피크 온도 260 ℃) 에 의해 LED 칩을 실장하였다.LED chip (LED chip for Dexerials evaluation, size 45 mil, If = 350 ㎃, Vf = 3.1 V, Au-Sn pad, pad size 300 µm × 800 µm, pad distance 200 µm) and substrate (Dexerials A ceramic substrate for Alz evaluation, an 18 µm-thick Cu pattern, Ni-Au plating, and inter-pattern (space) 50 µm) were prepared. The anisotropic bonding paste was applied onto the substrate using a mask having a thickness of 30 µm, and the LED chips were aligned and mounted, and then the LED chips were mounted by reflow (peak temperature: 260°C).

표 4 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 페이스트를 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 3.0 V, 절연성이 NG, 다이 쉐어 강도가 45 N/chip 이었다.As shown in Table 4, the LED mounting body produced using the anisotropic bonding paste had a forward voltage of 3.0 V, an insulation property of NG, and a die share strength of 45 N/chip.

<비교예 4-2><Comparative Example 4-2>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 열가소성 수지 A 대신에 열가소성 수지 E 를 사용한 것 이외에는, 실시예 4-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 19 N/chip 이었다.As shown in Table 4, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 4-1, except that the thermoplastic resin E was used instead of the thermoplastic resin A. The LED mounting body fabricated by using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 19 N/chip.

<비교예 4-3><Comparative Example 4-3>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 플럭스 화합물을 배합하지 않았던 것 이외에는, 실시예 4-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 18 N/chip 이었다.As shown in Table 4, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 4-1, except that the flux compound was not blended. The LED mounting body fabricated using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 18 N/chip.

<비교예 4-4><Comparative Example 4-4>

표 4 에 나타내는 바와 같이, 이방성 접합 필름의 두께를 40 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 4-1 과 동일하게 이방성 접합 필름을 제작하였다. 이방성 접합 필름을 사용하여 제작한 LED 실장체는 순전압이 OPEN, 절연성이 OK, 다이 쉐어 강도가 25 N/chip 이었다.As shown in Table 4, an anisotropic bonding film was produced in the same manner as in Example 4-1, except that the thickness of the anisotropic bonding film was set to 40 µm. The LED mounting body fabricated by using the anisotropic bonding film had an OPEN net voltage, an OK insulation property, and a die share strength of 25 N/chip.

Figure pct00004
Figure pct00004

비교예 4-1 에서는, 고형 수지를 배합하지 않고, 페이스트상의 이방성 접합 재료를 도포했기 때문에, 기판의 인접하는 단자간에서 땜납 접합에 의한 쇼트가 발생하였다.In Comparative Example 4-1, since a paste-like anisotropic bonding material was applied without mixing a solid resin, a short circuit due to solder bonding occurred between adjacent terminals of the substrate.

비교예 4-2 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 인 열가소성 수지 E 를 사용하였기 때문에, 수지의 유동성이 나쁘고, 땜납 입자가 용융하지 않아, 피착체의 전극과 접합하지 않았다. 이 때문에, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 수지가 충분히 유동하지 않고, 땜납 접합도 형성되어 있지 않기 때문에 LED 칩의 밀착성이 약하고, 다이 쉐어 강도가 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 4-2, since thermoplastic resin E having a melt flow rate of 1 g/10 min was used, the fluidity of the resin was poor, the solder particles did not melt, and the electrode was not bonded to the adherend. For this reason, the forward voltage could not be measured. Further, since the resin did not flow sufficiently and no solder bonding was formed, the adhesiveness of the LED chip was weak, and the result was that the die share strength was low.

비교예 4-3 에서는, 플럭스 화합물을 배합하지 않았기 때문에, 땜납 입자가 용융하지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다.In Comparative Example 4-3, since the flux compound was not blended, the solder particles did not melt and the forward voltage could not be measured.

비교예 4-4 에서는, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 4 배 두께인 40 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 땜납 접합이 형성되지 않고, 순전압을 측정할 수 없었다. 또, 다이 쉐어 강도도 낮은 결과가 되었다.In Comparative Example 4-4, since an anisotropic bonding film having a thickness of 40 µm, which was four times the thickness of the average particle diameter of the solder particles, was used, no solder bonding was formed, and the forward voltage could not be measured. In addition, the die share strength was also low.

한편, 실시예 4-1 ∼ 실시예 4-4 에서는, 멜트 플로 레이트가 1 g/10 min 이상인 열가소성 수지 A 또는 고형 에폭시 수지를 사용하고, 땜납 입자의 평균 입자경 10 ㎛ 에 대해, 2 ∼ 3 배 두께인 20 ∼ 30 ㎛ 두께의 이방성 접합 필름을 사용하였기 때문에, 수지가 용융·유동하고, 땜납 입자에 의해 피착체의 전극간에서 땜납 접합하고, 정격 전압 3.1 V 에 가까운 값을 얻을 수 있었다. 또, 다이 쉐어 강도도 양호한 결과가 되었다. 또, 실시예 4-3 에서는, 경화제로서 플럭스 화합물을 사용해도, 양호한 결과를 얻을 수 있었다.On the other hand, in Examples 4-1 to 4-4, thermoplastic resin A or solid epoxy resin having a melt flow rate of 1 g/10 min or more was used, and 2 to 3 times the average particle diameter of the solder particles was 10 μm. Since an anisotropic bonding film having a thickness of 20 to 30 µm was used, the resin melted and flowed, and the solder particles were soldered between the electrodes of the adherend, and a value close to the rated voltage of 3.1 V was obtained. Moreover, the die share strength was also good. Moreover, in Example 4-3, even if a flux compound was used as a curing agent, favorable results were obtained.

또한, 상기 서술한 실시예에서는 필름상의 이방성 접합 재료를 사용하였는데, 페이스트상의 이방성 접합 재료를 소정 두께로 조정하면 동일한 결과가 얻어질 것으로 생각된다.In addition, in the above-described examples, a film-like anisotropic bonding material was used, but it is considered that the same result will be obtained when the paste-like anisotropic bonding material is adjusted to a predetermined thickness.

10 : LED 소자
11 : 제 1 도전형 전극
12 : 제 2 도전형 전극
20 : 기판
21 : 제 1 전극
22 : 제 2 전극
30 : 이방성 접합 필름
31 : 땜납 입자
32 : 이방성 도전막
33 : 땜납 접합부
10: LED element
11: first conductivity type electrode
12: second conductivity type electrode
20: substrate
21: first electrode
22: second electrode
30: anisotropic bonding film
31: solder particles
32: anisotropic conductive film
33: solder joint

Claims (13)

상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 멜트 플로 레이트가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 적어도 1 종의 고형 수지와, 땜납 입자와, 플럭스 화합물을 함유하는 이방성 접합 재료를, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극 사이에 상기 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하의 두께로 개재시키고,
상기 제 1 전자 부품의 전극과 상기 제 2 전자 부품의 전극을 무하중으로 가열 접합시키는, 접속체의 제조 방법.
At least one solid resin selected from thermoplastic resins, solid radical polymerizable resins, and solid epoxy resins having a melt flow rate of 10 g/10 min or more, which is solid at room temperature and has a melt flow rate of 10 g/10 min or more measured at a temperature of 190° C. and a load of 2.16 kg, and , A solder particle and an anisotropic bonding material containing a flux compound is interposed between the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component at a thickness of 50% or more and 300% or less of the average particle diameter of the solder particles,
A method for manufacturing a connection body, wherein the electrode of the first electronic component and the electrode of the second electronic component are heat-bonded with no load.
제 1 항에 있어서,
상기 이방성 접합 재료가, 상기 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하의 두께를 갖는 이방성 접합 필름인, 접속체의 제조 방법.
The method of claim 1,
The method for manufacturing a connected body, wherein the anisotropic bonding material is an anisotropic bonding film having a thickness of 50% or more and 300% or less of the average particle diameter of the solder particles.
제 2 항에 있어서,
상기 제 2 전자 부품이 기판이며,
상기 기판 위에 상기 이방성 접합 필름을 라미네이트하고, 상기 이방성 접합 필름 위에 복수의 상기 제 1 전자 부품을 탑재하여 가열 접합시키는, 접속체의 제조 방법.
The method of claim 2,
The second electronic component is a substrate,
A method for manufacturing a connected body, wherein the anisotropic bonding film is laminated on the substrate, and a plurality of the first electronic components are mounted on the anisotropic bonding film to be heat-bonded.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 플럭스 화합물이 카르복실산인, 접속체의 제조 방법.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The method for producing a connected body, wherein the flux compound is a carboxylic acid.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 플럭스 화합물이, 카르복실기가 알킬비닐에테르로 블록화된 블록화 카르복실산인, 접속체의 제조 방법.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The method for producing a connected body, wherein the flux compound is a blocked carboxylic acid in which a carboxyl group is blocked with an alkyl vinyl ether.
상온에서 고형이며, 온도 190 ℃, 하중 2.16 ㎏ 의 조건에서 측정된 멜트 플로 레이트가 10 g/10 min 이상인 열가소성 수지, 고형 라디칼 중합성 수지, 및 고형 에폭시 수지에서 선택되는 적어도 1 종의 고형 수지와, 땜납 입자와, 플럭스 화합물을 함유하고,
두께가 상기 땜납 입자의 평균 입경의 50 % 이상 300 % 이하인, 이방성 접합 재료.
At least one solid resin selected from thermoplastic resins, solid radical polymerizable resins, and solid epoxy resins having a melt flow rate of 10 g/10 min or more, which is solid at room temperature and has a melt flow rate of 10 g/10 min or more measured at a temperature of 190° C. and a load of 2.16 kg, and , A solder particle and a flux compound,
An anisotropic bonding material having a thickness of 50% or more and 300% or less of the average particle diameter of the solder particles.
제 6 항에 있어서,
상기 플럭스 화합물이 카르복실산인, 이방성 접합 재료.
The method of claim 6,
The anisotropic bonding material, wherein the flux compound is a carboxylic acid.
제 6 항에 있어서,
상기 플럭스 화합물이, 카르복실기가 알킬비닐에테르로 블록화된 블록화 카르복실산인, 이방성 접합 재료.
The method of claim 6,
The anisotropic bonding material, wherein the flux compound is a blocked carboxylic acid in which a carboxyl group is blocked with an alkyl vinyl ether.
제 6 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상온에서 액상인 액상 라디칼 중합성 수지와, 중합 개시제를 추가로 함유하는, 이방성 접합 재료.
The method according to any one of claims 6 to 8,
An anisotropic bonding material further containing a liquid radical polymerizable resin in a liquid state at room temperature and a polymerization initiator.
제 6 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상온에서 액상 에폭시 수지와, 경화제를 추가로 함유하는, 이방성 접합 재료.
The method according to any one of claims 6 to 8,
An anisotropic bonding material further containing a liquid epoxy resin and a curing agent at room temperature.
제 10 항에 있어서,
상기 경화제가, 카르복실산, 또는 카르복실기가 알킬비닐에테르로 블록화된 블록화 카르복실산인, 이방성 접합 재료.
The method of claim 10,
The anisotropic bonding material, wherein the curing agent is a carboxylic acid or a blocked carboxylic acid in which a carboxyl group is blocked with an alkyl vinyl ether.
제 6 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 기재된 이방성 접합 재료가 필름상인, 이방성 접합 필름.The anisotropic bonding film in which the anisotropic bonding material according to any one of claims 6 to 11 is in the form of a film. 제 6 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 기재된 이방성 접합 재료, 또는 제 12 항에 기재된 이방성 접합 필름을 사용하여, 제 1 전자 부품의 전극과 제 2 전자 부품의 전극이 접합되어 이루어지는 접속체.A connection body formed by bonding an electrode of a first electronic component and an electrode of a second electronic component using the anisotropic bonding material according to any one of claims 6 to 11 or the anisotropic bonding film according to claim 12.
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