KR20200131541A - 전극 조립체 및 이의 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전극의 탭 접힘 및 정렬을 정확하게 확인할 수 있는 전극 조립체 및 이의 검사 방법에 관한 것이다. 일 실시예에 따른 전극 조립체는 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막/제3 전극 구조의 단위셀이 적어도 하나 이상 적층된 구조이며, 상기 제1 전극 및 상기 제3 전극은 각각 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 상기 제2 전극은 상기 일측과 대향하는 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 전극 탭과 상기 제3 전극 탭은 각각 일측 모서리에 형성된 관통홀과, 타측 모서리에 탭의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선에 대해 소정의 각도를 이루는 경사부를 구비하고, 상기 제1 전극 탭의 상기 관통홀과 상기 제3 전극 탭의 상기 경사부가 겹쳐지도록 배치될 수 있다.

Description

전극 조립체 및 이의 검사 방법{ELECTRODE ASSEMBLY AND INSPECTING METHOD FOR THE SAME}
본 발명은 전극의 탭 접힘 및 정렬을 육안으로 용이하고 정확하게 확인할 수 있는 전극 조립체 및 이의 검사 방법에 관한 것이다.
충방전이 가능한 이차전지는, 화석 연료를 사용하는 기존의 가솔린 차량, 디젤 차량 등의 대기오염 등을 해결하기 위한 방안으로 제시되고 있는 전기자동차(EV), 하이브리드 전기자동차(HEV), 플러그-인 하이브리드 전기자동차(Plug-In HEV) 등을 포함하여 고출력 대용량이 요구되는 디바이스의 동력원으로서 주목 받고 있다.
대표적으로 전지의 형상 면에서는 얇은 두께로 휴대폰 등과 같은 제품들에 적용될 수 있는 각형 이차전지와 파우치형 이차전지에 대한 수요가 높고, 재료 면에서는 높은 에너지 밀도, 방전 전압, 출력 안정성 등의 장점을 가진 리튬이온 전지, 리튬이온 폴리머 전지 등과 같은 리튬 이차전지에 대한 수요가 높다.
이러한 이차전지는 양극/분리막/음극 구조의 전극 조립체가 어떠한 구조로 이루어져 있는지에 따라 분류되기도 하며, 대표적으로는, 긴 시트형의 양극들과 음극들을 분리막이 개재된 상태에서 권취한 구조의 젤리-롤(권취형) 전극 조립체, 소정 크기의 단위로 절취한 다수의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 순차적으로 적층한 스택형(적층형) 전극 조립체, 소정 단위의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 적층한 바이셀(Bi-cell) 또는 풀셀(Full cell)들을 권취한 구조의 스택/폴딩형 전극 조립체 등을 들 수 있다.
이차전지는 전지케이스에 양극, 음극 및 이들 사이에 개재되는 분리막으로 이루어진 전극 조립체와 전해액이 함께 수납된 구조로, 전기화학적 반응에 기반한 디바이스이므로 환경 요인에 민감할 수 밖에 없으며, 작은 부품들이 한정된 작은 공간에서 정교하게 탑재 및 연결되는 일련의 과정을 거쳐 제조되므로 일부 장치의 오차 발생, 일부 작업자의 업무 미숙 등에 의해서도 제품 품질이 저하될 수 있다. 또한, 대량 생산 체계에 의한 이차전지의 제조과정에서는 공정 상의 작은 하자에 의해 심각한 불량 발생이 초래될 수 있다.
이에 따라 매 제조공정 단계 및/또는 완성품 제조 후, 이차전지의 검사가 면밀히 이루어져야 한다. 이러한 검사는 이차전지의 생산과정에서 가장 중요한 것 중의 하나로서 소망하는 성능과 안정성 등을 제공하는지 여부를 확인하는 품질 관리 측면에서 중요하다. 여기서, 품질 관리는 이차전지가 제대로 충방전 성능을 가지고 있는지를 잘 판단하여 양품을 생산하는 한편, 불량품을 선별해 내는 것이다. 이러한 품질 관리가 잘 이루어짐으로써 고품질의 이차전지를 생산할 수 있다.
도 1은 종래의 바이셀(Bi-cell)의 일반적인 구조를 개략적으로 나타내는 분해 사시도이며, 도 2는 도 1의 바이셀이 적층된 구조를 개략적으로 나타내는 사시도이다.
도 1을 참조하면, 바이셀은 양극 집전체의 양면에 양극 활물질이 도포되어 있는 양극(11, 31)과 음극 집전체의 양면에 음극 활물질이 도포되어 있는 음극(21)이 분리막(40, 50)을 개재시킨 상태에서 순차적으로 적층되어 있는 구조를 이루고 있다. 또한, 양극 집전체 및 음극 집전체 각각의 일측 단부에는, 전지의 전극단자를 구성하는 양극리드 및 음극리드에 각각 전기적으로 연결되기 위한 활물질이 도포되어 있지 않은 다수의 양극 탭(12, 32) 및 음극 탭(22)이 돌출되어 형성되어 있다.
이러한 다수의 양극 탭(12, 32) 및 음극 탭(22)은 호일(foil) 재질로 공정 중에서 도 2에 도시된 바와 같이 탭 접힘(12)이 발생할 수 있고, 탭 접힘이 발생할 경우 이차전지의 용량 감소 또는 내부 쇼트(short)를 유발하게 된다.
또한, 전극 단위체(10)들이 적층된 구조에서 내부의 탭 접힘은 외관에서 자동 검사가 불가능하며, 탭 접힘에 의한 내부 쇼트는 안정성 이슈(issue)를 유발할 수 있는 치명적인 품질 항목으로 전수 수동 검사에 의존하고 있는 실정이다.
특히, 양극(음극)/분리막/음극(양극)/분리막/양극(음극) 구조의 바이셀(Bi-cell)을 순차적으로 적층한 전극 조립체와 양극(음극)/분리막/음극(양극)/분리막 구조의 풀셀(Full-cell)을 순차적으로 적층한 전극 조립체와 같이, 양극과 음극이 다중 적층되어 있는 구조로 형성된 전극 단위체에서는 내부 전극 위치의 불량을 검사할 수 없을 뿐만 아니라, 전극 탭 접힘 등 불량을 선별하는 데에는 어려움이 있다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, 적층되어 있는 전극 조립체를 분해하지 않고도 전극의 탭 접힘 및 정렬을 육안으로 용이하고 정확하게 확인할 수 있는 전극 조립체 및 이의 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 제1 실시양태에 따른 전극 조립체는, 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막/제3 전극 구조의 단위셀이 적어도 하나 이상 적층된 구조이며, 상기 제1 전극 및 상기 제3 전극은 각각 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 상기 제2 전극은 상기 일측과 대향하는 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 제1 전극 탭과 제3 전극 탭은 각각 일측 모서리에 형성된 관통홀과, 타측 모서리에 탭의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선에 대해 소정의 각도를 이루는 경사부를 구비하고, 상기 제1 전극 탭의 관통홀과 상기 제3 전극 탭의 경사부가 겹쳐지도록 배치되는 전극 조립체이다.
이때, 상기 제2 전극의 탭은 일측 모서리 및 상기 일측과 대향하는 타측 모서리에 각각 관통홀을 구비할 수 있다.
또한, 상기 제1 전극과 상기 제3 전극은 극성이 서로 동일하며, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극은 극성이 서로 반대이다.
또한, 본 발명의 제2 실시양태에 따른 전극 조립체는 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막 구조의 단위셀이 적어도 하나 이상 적층된 구조이며, 상기 제1 전극은 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 상기 제2 전극은 각각 상기 일측과 대향하는 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 제1 전극 탭 및 제2 전극 탭은 각각 일측 모서리에 형성된 관통홀과, 타측 모서리에 탭의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선에 대해 소정의 각도를 이루는 경사부를 구비하는 것을 특징으로 하는 전극 조립체이다.
또한, 상기 전극 조립체는, 상기 단위셀이 두 개 이상 적층되어 있고, 하나의 단위셀 내의 제1 전극 탭의 관통홀과 바로 인접한 단위셀 내의 제1 전극 탭의 경사부가 겹쳐지도록 배치되고, 하나의 단위셀 내의 제2 전극 탭의 관통홀과 바로 인접한 단위셀 내의 제2 전극 탭의 경사부가 겹쳐지도록 배치되는 것일 수 있다.
상기 경사부들은 각각 상기 소정의 각도를 이루는 직선으로 이루어지며, 상기 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
상기 관통홀들은 각각 원형, 직사각형 및 정사각형으로 이루어진 군에서 선택된 형상을 가지며, 상기 관통홀들의 형상은 동일한 것일 수 있다.
또한, 본 발명의 제1 실시양태에 따른 전극 조립체의 검사 방법은, 상기 전극 조립체를 준비하는 단계; 상기 전극 조립체의 제1 전극 탭의 관통홀과 제3 전극 탭의 경사부가 겹쳐짐에 따라 형성되는 제1 전극 탭의 관통홀 내면의 형상과 제1 전극 탭의 경사부와 제3 전극 탭의 관통홀이 겹쳐짐에 따라 형성되는 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 형상을 비전 검사하는 단계; 및 상기 비전 검사의 결과로부터 상기 제1 전극 탭 또는 상기 제3 전극 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계를 포함한다.
상기 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계에서, 상기 제1 전극 탭의 관통홀 내면의 형상과 상기 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 형상이 탭의 길이방향기준 대칭 여부를 확인함으로써 탭 접힘 유무를 확인할 수 있다.
또한, 상기 전극 조립체의 적층된 단위셀이 둘 이상일 경우, 상기 비전 검사하는 단계 이후, 상기 제1 전극 탭 및 상기 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 면적을 측정하는 단계; 및 상기 측정된 면적으로부터 상기 제1 전극 탭 또는 제3 전극 탭의 위치 불량 여부를 확인하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 위치 불량 여부를 확인하는 단계에서, 상기 제1 전극 탭 및 상기 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 면적이 일치하도록 전극들을 정렬할 수 있다.
한편, 제2 실시양태에 따른 전극 조립체로서, 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막 구조의 단위셀이 두 개 이상 적층된 전극 조립체의 검사 방법은, 동일한 극성을 가지는 복수의 전극 탭들의 관통홀 내면의 형상을 비전 검사하는 단계; 및 상기 비전 검사의 결과로부터 상기 전극 탭들의 접힘 유무를 확인하는 단계를 포함한다.
상기 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계에서, 2개의 관통홀 내면의 형상을 비교하여 탭의 길이방향기준 대칭 여부를 확인함으로써 탭 접힘 유무를 확인할 수 있다.
또한, 상기 상기 비전 검사하는 단계 이후에, 관통홀 내면의 면적을 측정하는 단계; 및 상기 측정된 면적으로부터 적층 불량 여부를 확인하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 전극 조립체의 적층되어 있는 전극 및 분리막들을 분해하지 않고도 전극의 탭 접힘뿐만 아니라 정렬까지도 육안으로 용이하고 정확하게 확인 가능한 이점이 있다. 이에, 이차전지의 제조 공정 중에 전극 조립체의 탭 접힘 및 정렬을 자동으로 검사 및 확인할 수 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 전극 조립체 및 이의 검사 방법은 양극 및 음극의 전극이 다중 적층되어 있는 구조임에도 불구하고 내부 전극 위치를 검사할 수 있을 뿐만 아니라, 내부 전극 탭 접힘 등 불량의 자동 검사가 가능하여 불량품 판별력을 향상시킬 수 있다.
도 1은 종래의 바이셀(Bi-cell)의 일반적인 구조를 개략적으로 나타내는 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 바이셀이 적층된 구조를 개략적으로 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체를 개략적으로 나타내는 분해 사시도이다.
도 4는 도 3의 제1 전극, 제2 전극, 제3 전극을 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 3의 전극 조립체가 적층된 구조를 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 5의 일부분을 확대한 평면도이다.
도 7은 전극 탭들의 관통홀들과 경사부들이 겹쳐진 다양한 형상을 개략적으로 나타내는 평면도이다.
도 8 및 도 9는 두 개의 단위셀이 적층된 전극 조립체를 나타내는 사시도이다.
도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전극 조립체를 개략적으로 나타내는 분해 사시도이다.
도 11은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 두 개의 단위셀이 적층된 전극 조립체를 나타내는 사시도이다.
도 12는 도 11의 전극 조립체가 적층된 구조를 나타내는 평면도이다.
도 13은 도 12의 A 부분을 확대한 평면도이다.
도 14는 도 12의 B 부분을 확대한 평면도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "하에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 또한, 본 출원에서 "상에" 배치된다고 하는 것은 상부뿐 아니라 하부에 배치되는 경우도 포함하는 것일 수 있다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체에 대하여 구체적으로 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체를 개략적으로 나타내는 분해 사시도이고, 도 4는 도 3의 제1 전극 내지 제3 전극을 나타내는 평면도이다.
도 3 및 도 4에 도시된 것과 같이, 전극 및 분리막이 적층되는 면은 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)이 정의하는 면과 평행하다. 전극 및 분리막이 적층되는 면의 법선 방향은 제3 방향(DR3)이 지시한다. 제3 방향(DR3)은 전극 조립체(1000)의 두께 방향을 지시한다. 각 전극 및 분리막들의 전면과 배면은 제3 방향(DR3)에 의해 구분된다. 그러나, 방향들(DR1, DR3, DR3)이 지시하는 방향은 상대적인 개념으로서 다른 방향으로 변환될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 전극 조립체(1000)는 제1 전극(100), 분리막(400), 제2 전극(200), 분리막(500), 제3 전극(300)이 순차적으로 적층되어 있는 바이셀(Bi-cell) 구조의 단위셀이 적어도 하나 이상 적층된 구조일 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 바이셀은 A형 바이셀 및 C형 바이셀을 모두 포함하는 개념으로, A형 바이셀이란, 양극/분리막/음극/분리막/양극 구조의 바이셀을, C형 바이셀이란, 음극/분리막/양극/분리막/음극 구조의 바이셀을 의미하는 것이다. 또한 상기 양극 및 음극은 각각 집전체의 양면에 양극활물질이 도포된 양면 양극, 집전체의 양면에 음극활물질이 도포된 양면 음극을 포함하는 개념으로 이해하여야 할 것이다.
도 3,4를 참조하면, 제1 전극(100)은 제1 전극 집전체(110)의 양면에 활물질(121, 122)이 도포되어 제1 활물질층(120)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제1 전극 탭(130)을 포함하고 있다.
제1 전극 탭(130)은 제2 방향(DR2)의 일측 모서리에 형성된 관통홀(131)과, 제2 방향(DR2)의 타측 모서리에 경사부(132)가 구비될 수 있다. 여기서, 도 4에 도시된 바와 같이, 경사부(132)는 제1 전극 탭(130)의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선들(133, 134)에 대해 소정의 각도(a, b)를 이루는 구조일 수 있다. 또한, 이러한 경사부(132)는 소정의 각도(a, b)를 이루는 직선으로 이루어지며, 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
제2 전극(200)은 제2 전극 집전체(210)의 양면에 활물질(221, 222)이 도포되어 제2 활물질층(220)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제2 전극 탭(230)을 포함하고 있다. 이때, 제2 전극 탭(230)은 제2 방향(DR2)의 양측 모서리에 형성된 한 쌍의 관통홀들(231, 232)이 구비될 수 있다.
제3 전극(300)은 제3 전극 집전체(310)의 양면에 활물질(321, 322)이 도포되어 제3 활물질층(320)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제3 전극 탭(330)을 포함하고 있다.
제3 전극 탭(330)은, 상기 제1 전극 탭과 마찬가지로 제2 방향(DR2)의 일측 모서리에 형성된 관통홀(331)과, 제2 방향(DR2)의 타측 모서리에 경사부(332)가 구비될 수 있다. 여기서, 도 4에 도시된 바와 같이, 경사부(332)는 제3 전극 탭(330)의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선들(333, 334)에 대해 소정의 각도(c, d)를 이루는 구조일 수 있다. 또한, 이러한 경사부(332)는 소정의 각도(c, d)를 이루는 직선으로 이루어지며, 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
한편, 제1 전극(100)과 제3 전극(300)은 극성이 서로 동일하며, 제1 전극(100)과 제2 전극(200)은 극성이 서로 반대이다.
또한, 제1 전극 탭(130) 내지 제3 전극 탭(330)에 형성된 관통홀들(131, 231, 232, 331)은 각각 원형, 직사각형 및 정사각형으로 이루어진 군에서 선택된 형상을 가질 수 있으며, 관통홀들(131, 231, 232, 331)의 형상은 동일할 수 있다.
또한, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 전극 탭(130)과 제3 전극 탭(330)은 제1 방향(DR1)을 기준으로 동일한 방향으로 돌출되어 있는 구조로 형성되어 있으며, 제2 전극 탭(230)은 제1 전극 탭(130) 및 제3 전극 탭(330)과 제1 방향(DR1)을 기준으로 서로 반대 방향으로 돌출되어 있는 구조일 수 있다.
도 5는 도 3의 전극 조립체(1000)가 적층된 구조를 나타내는 평면도이며, 도 6은 도 5의 일부분을 확대한 평면도이다.
도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131)은 제3 전극 탭(330)의 경사부(332)와 겹쳐지도록 배치될 수 있으며, 제1 전극 탭(130)의 경사부(132)는 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331)과 겹쳐지도록 배치될 수 있다.
이와 같이 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131)은 제3 전극 탭(330)의 경사부(332)와 겹쳐짐에 따라, 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131) 내면의 형상이 반원 형태로 형성되게 된다. 또한, 제1 전극 탭(130)의 경사부(132)는 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331)과 겹쳐짐에 따라, 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331) 내면의 형상이 반원 형태로 형성되게 된다.
이때, 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131) 내면의 형상과 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331) 내면의 형상은 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭을 이루게 되며, 이 경우 제1 전극 탭(130) 또는 제3 전극 탭(330)의 접힘 발생이 없는 것을 확인할 수 있다.
이로써, 관통홀들(131, 331)과 경사부들(132, 332)이 겹쳐진 형상을 통해 전극 탭들(130, 330)의 접힘 유무를 확인할 수 있다.
반면, 도 7a 및 도 7b를 참조하면 제1 전극 탭(130)의 관통홀과 제3 전극 탭(330)의 관통홀의 내면 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 비대칭임을 확인할 수 있으며, 이를 통해 제1 전극 탭(130)의 접힘 발생을 확인할 수 있다.
또한, 도 7c 및 도 7d를 참조하면 제1 전극 탭(130)의 관통홀과 제3 전극 탭(330)의 관통홀의 내면 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 비대칭임을 확인할 수 있으며, 이를 통해 제3 전극 탭(330)의 접힘 발생을 확인할 수 있다.
아울러, 도 7e를 참조하면 제1 전극 탭(130)의 제2 방향(DR2)과 평행하는 외주변과 제3 전극 탭(330)의 제2 방향(DR2)과 평행하는 외주변이 제1 방향(DR1)으로 서로 어긋나 있음을 확인할 수 있으며, 이를 통해 제1 방향(DR1)에서 정렬 문제가 있음을 확인할 수 있다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(1000)의 검사 방법에 대하여 구체적으로 설명한다.
전극 조립체(1000)의 검사 방법은 상기한 전극 조립체(1000)를 준비하는 단계(S100); 전극 조립체(1000)의 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131)과 제3 전극 탭(330)의 경사부(332)가 겹쳐짐에 따라 형성되는 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131) 내면의 형상과 제1 전극 탭(131)의 경사부(132)와 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331)이 겹쳐짐에 따라 형성되는 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331) 내면의 형상을 육안으로 비전 검사하는 단계(S200); 및 비전 검사의 결과로부터 제1 전극 탭(130) 또는 제3 전극 탭(330)의 접힘 유무를 확인하는 단계(S300)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 육안으로 비전 검사하는 단계(S200)는 전극 조립체(1000)의 제1 전극(100)의 제3 방향(DR3) 기준 전면에서 육안으로 제1 전극 탭(130) 및 제3 전극 탭(330)의 각 관통홀들(131, 331)의 내면 형상을 검사할 수 있다.
또한, 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계(S300)에서, 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131) 내면의 형상과 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331) 내면의 형상이 탭의 길이방향인 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭 여부를 확인함으로써 탭 접힘 유무를 확인할 수 있다.
이때, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131) 내면의 형상과 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331) 내면의 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭일 경우에는 탭의 접힘 발생이 없는 정상임을 확인할 수 있다.
반면, 도 7에 도시된 바와 같이, 제1 전극 탭(130)의 관통홀(131) 내면의 형상과 제3 전극 탭(330)의 관통홀(331) 내면의 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 비대칭일 경우에는 제1 전극 탭(130) 또는 제3 전극 탭(330)의 접힘이 발생한 것을 확인할 수 있다.
도 8은 두 개의 단위셀이 적층된 전극 조립체를 일측면에서 본 사시도이고, 도 9는 도 8의 전극 조립체를 상기 일측면의 반대 방향에서 본 사시도이다. 이들 도면을 참조하면 상부에는 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막/제3 전극 구조의 단위셀이, 그 하부에는 제4 전극/분리막/제5 전극/분리막/제6 전극 구조의 단위셀이 순서대로 적층된 구조이다. 이때 제1 전극, 제3 전극 및 제 5 전극의 극성은 서로 동일하고, 제2 전극, 제 4 전극 및 제6 전극의 극성이 서로 동일하다.
도 8을 참조하면 극성이 서로 동일한 제1 전극 탭(130), 제3 전극 탭(330) 및 제5 전극 탭(230')이 같은 방향으로 인출되어 있다. 제1 전극 탭(130) 및 제3 전극 탭(330)은, 각각 경사부와 관통홀(131, 331)을 구비하고 있으며, 제1 전극 탭의 관통홀과 제3 전극 탭의 경사부가 서로 겹쳐지도록 배치되어 있고, 제1 전극 탭의 경사부와 제3 전극 탭의 관통홀이 서로 겹쳐지도록 배치되어 있다. 그리고 제5 전극 탭(230')은 일측 모서리 및 상기 일측과 대향하는 타측 모서리에 각각 관통홀(231', 232')을 구비하고 있다.
도 9를 참조하면 극성이 서로 동일한 제2 전극 탭(230), 제4 전극 탭(130') 및 제6 전극 탭(330')이 같은 방향으로 인출되어 있으며, 인출 방향은 이들 전극 탭과 극성이 반대인 제1 전극 탭, 제3 전극 탭, 제5 전극 탭의 인출 방향과 반대 방향이다. 제2 전극 탭(230)은 일측 모서리 및 상기 일측과 대향하는 타측 모서리에 각각 관통홀(231, 232)을 구비하고 있고, 제4 전극 탭(130') 및 제6 전극 탭(330')은, 각각 경사부와 관통홀(131', 331')을 구비하고 있으며, 제4 전극 탭(130')의 관통홀(131')과 제6 전극 탭(330')의 경사부가 서로 겹쳐지도록 배치되어 있고, 제4 전극 탭(130')의 경사부와 제6 전극 탭의 관통홀(331')이 서로 겹쳐지도록 배치되어 있다.
한편, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이 전극 조립체의 적층된 단위셀이 둘 이상인 스택형(적층형) 전극 조립체일 경우, 비전 검사하는 단계(S200) 이후, 제1 전극 탭들(130, 130') 및 제3 전극 탭들(330, 330')의 관통홀(131, 131', 331, 331')들 내면의 면적을 측정하는 단계(S210); 및 측정된 면적으로부터 제1 전극 탭들(130, 130') 및 제3 전극 탭들(330, 330')의 위치 불량 여부를 확인하는 단계(S220)를 더 포함할 수 있다.
면적을 측정하는 단계(S210)에서, 제1 전극 탭들(130, 130') 및 제3 전극 탭들(330, 330')의 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면의 면적을 투수광 센서를 이용하여 측정할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
구체적으로, 투수광 센서로부터 전극 조립체(1000)의 제1 전극(100)의 제3 방향(DR3) 기준 전면에 광이 출사될 때, 전극 조립체(1000)를 통과하는 광이 제1 전극 탭들(130, 130') 및 제3 전극 탭들(330, 330')은 투과하지 않게 되고, 제1 전극 탭들(130, 130') 및 제3 전극 탭들(330, 330')의 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면은 투과하게 됨으로써, 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면의 면적을 측정할 수 있다.
여기서, 위치 불량 여부를 확인하는 단계(S220)에서, 투수광 센서를 통해 측정된 제1 전극 탭들(130, 130') 및 제3 전극 탭들(330, 330')의 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면 면적이 서로 일치하는지 여부를 확인함으로써 전극들의 위치 불량 여부를 확인할 수 있다. 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면 면적이 서로 일치할 경우에는 전극들의 정렬이 양호함을 확인할 수 있다. 반면, 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면 면적이 서로 일치하지 않을 경우에는 전극들의 정렬이 어긋나 있는 것이므로, 관통홀들(131, 131', 331, 331') 내면의 면적이 서로 일치하도록 전극들을 정렬할 수도 있다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 전극 조립체는 적층되어 있는 전극 및 분리막들을 분해하지 않고도 전극의 탭 접힘뿐만 아니라 단위셀의 적층이 불량하여 위치가 어긋나게 정렬된 것도 육안으로 용이하고 정확하게 확인 가능한 이점이 있다. 이에, 이차전지의 제조 공정 중에 전극 조립체의 탭 접힘 및 정렬을 자동으로 검사 및 확인할 수 있다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전극 조립체에 대하여 구체적으로 설명한다.
도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전극 조립체를 개략적으로 나타내는 분해 사시도이고, 도 12는 도 11의 전극 조립체가 적층된 구조를 나타내는 평면도이며, 도 13 및 도 14는 각각 도 12의 A 부분 및 B 부분을 확대한 평면도이다.
도 10 및 도 11에 도시된 것과 같이, 전극 및 분리막이 적층되는 면은 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)이 정의하는 면과 평행하다. 전극 및 분리막이 적층되는 면의 법선 방향은 제3 방향(DR3)이 지시한다. 제3 방향(DR3)은 전극 조립체(2000)의 두께 방향을 지시한다. 각 전극 및 분리막들의 전면과 배면은 제3 방향(DR3)에 의해 구분된다. 그러나, 방향들(DR1, DR3, DR3)이 지시하는 방향은 상대적인 개념으로서 다른 방향으로 변환될 수 있다.
도 10을 참조하면, 본 발명의 전극 조립체는(2000) 제1 전극(600), 분리막(410), 제2 전극(700), 분리막(420)이 순차적으로 적층된 풀셀일 수 있고, 또한 도 11을 참조하면, 본 발명의 전극 조립체는(3000) 상기 풀셀이 두 개 이상 적층되어, 제1 전극(600), 분리막(410), 제2 전극(700), 분리막(420), 제1 전극(800), 분리막(430), 제2 전극(900), 분리막(440)이 순차적으로 적층되어 있는 구조일 수 있다.
도 10의 풀셀 구조의 전극 조립체(2000)에 있어서, 제1 전극(600)은 제1 전극 집전체(610)의 양면에 활물질(621, 622)이 도포되어 제1 활물질층(620)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제1 전극 탭(630)을 포함하고 있다.
상기 제1 전극 탭(630)은 제2 방향(DR2)의 일측 모서리에 형성된 관통홀(631)과, 제2 방향(DR2)의 타측 모서리에 경사부(632)가 구비될 수 있다. 여기서, 경사부(632)는 제1 전극 탭(630)의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선들(미도시)에 대해 소정의 각도를 이루는 구조일 수 있다. 또한, 이러한 경사부(632)는 소정의 각도를 이루는 직선으로 이루어지며, 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
제2 전극(700)은 제2 전극 집전체(710)의 양면에 활물질(721, 722)이 도포되어 제2 활물질층(720)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제2 전극 탭(730)을 포함하고 있다. 즉, 제1 전극 탭(630)과 제2 전극 탭(730)은, 제1 방향(DR1)을 기준으로 서로 반대 방향으로 돌출되어 있는 구조이다.
이때, 제2 전극 탭(730)은 제2 방향(DR2)의 일측 모서리에 형성된 관통홀(731)과, 제2 방향(DR2)의 타측 모서리에 경사부(732)가 구비될 수 있다. 여기서, 경사부(732)는 제2 전극 탭(730)의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선들(미도시)에 대해 소정의 각도를 이루는 구조일 수 있다. 또한, 이러한 경사부(732)는 소정의 각도를 이루는 직선으로 이루어지며, 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
한편, 도 11의 전극 조립체(3000)는 상기 풀셀 구조의 전극 조립체(2000)를 두 개 적층한 것으로, 상부에 위치한 풀셀에서 제1 전극(600) 및 제2 전극(700)에 대한 설명은 전술한 바와 같다.
하부에 위치한 단위셀인 풀셀의 제1 전극(800)은 제1 전극 집전체(810)의 양면에 활물질(821, 822)이 도포되어 제1 활물질층(820)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제1 전극 탭(830)을 포함하고 있다.
상기 제1 전극 탭(830)은 제2 방향(DR2)의 일측 모서리에 형성된 관통홀(831)과, 제2 방향(DR2)의 타측 모서리에 경사부(832)가 구비될 수 있다. 경사부(832)는 제1 전극 탭(830)의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선들(미도시)에 대해 소정의 각도를 이루는 구조일 수 있다. 또한, 이러한 경사부(832)는 소정의 각도를 이루는 직선으로 이루어지며, 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
하부에 위치한 단위셀인 풀셀의 제2 전극(900)은 제2 전극 집전체(910)의 양면에 활물질(921, 922)이 도포되어 제2 활물질층(920)이 형성되어 있으며, 제1 방향(DR1)의 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 제2 전극 탭(930)을 포함하고 있다.
이때, 상기 제2 전극 탭(930)은 제2 방향(DR2)의 일측 모서리에 형성된 관통홀(931)과, 제2 방향(DR2)의 타측 모서리에 경사부(932)가 구비될 수 있다. 여기서, 경사부(932)는 제2 전극 탭(930)의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선들(미도시)에 대해 소정의 각도를 이루는 구조일 수 있다. 또한, 이러한 경사부(932)는 소정의 각도를 이루는 직선으로 이루어지며, 소정의 각도는 10 내지 80도일 수 있다.
한편, 제1 전극(600)과 인접한 단위셀(풀셀) 내의 제1 전극(800)은 극성이 서로 동일하고, 제2 전극(700)과 인접한 단위셀(풀셀) 내의 제2 전극(900)은 극성이 서로 동일하며, 제1 전극(600,800)과 제2 전극(700,900)은 극성이 서로 반대이다.
또한, 제1 전극 탭(630) 내지 제2 전극 탭(930)에 형성된 관통홀들(631, 731, 831, 931)은 각각 원형, 직사각형 및 정사각형으로 이루어진 군에서 선택된 형상을 가질 수 있으며, 관통홀들(631, 731, 831, 931)의 형상은 동일할 수 있다.
도 12를 참조하면, 제1 전극 탭(630)과 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)은 제1 방향(DR1)을 기준으로 동일한 방향으로 돌출되어 있는 구조로 형성되어 있으며, 제2 전극 탭(730)과 인접한 단위셀의 제2 전극 탭(930)은 각각 제1 전극 탭(630)과 제1 방향(DR1)을 기준으로 서로 반대 방향으로 돌출되어 있는 구조이다.
도 12 내지 도 14를 참조하면, 본 발명의 전극 조립체(3000)에 있어서, 상기 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631)은 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 경사부(832)와 겹쳐지도록 배치되어 있고, 제1 전극 탭(630)의 경사부(632)는 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 관통홀(831)과 겹쳐지도록 배치되어 있다.
또한, 상기 제1 전극 탭과 반대 방향으로 돌출되어 있는 제2 전극 탭(730)의 관통홀(731)은 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(930)의 경사부(932)와 겹쳐지도록 배치될 수 있으며, 제2 전극 탭(730)의 경사부(732)는 인접한 단위셀의 제2 전극 탭(930)의 관통홀(931)과 겹쳐지도록 배치될 수 있다.
이와 같이 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631)은, 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 경사부(832)와 겹쳐짐에 따라, 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631) 내면의 형상이 반원 형태로 형성되게 된다. 또한, 제1 전극 탭(630)의 경사부(632)는, 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 관통홀(831)과 겹쳐짐에 따라, 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 관통홀(831) 내면의 형상이 반원 형태로 형성되게 된다.
이때, 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 관통홀(831) 내면의 형상은 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭을 이루게 되며, 이 경우 제4 전극 탭(630) 또는 제6 전극 탭(630)의 접힘 발생이 없는 것을 확인할 수 있다.
제2 전극 탭(730) 및 인접한 단위셀의 제2 전극 탭(930)은 상기 제1 전극 탭들(630, 830)과 방향만 반대일 뿐, 관통홀들과 경사부들이 겹쳐진 형상은 전술한 바와 동일하다.
이로써, 관통홀들(631, 731, 831, 931)과 경사부들(632, 732, 832, 932)이 겹쳐진 형상을 통해 전극 탭들(630, 730, 830, 930)의 접힘 유무를 확인할 수 있다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(3000)의 검사 방법에 대하여 구체적으로 설명한다.
전극 조립체(3000)의 검사 방법은 전극 조립체(3000)를 준비하는 단계(S400); 전극 조립체(3000)의 제1 전극 탭(600)의 관통홀(631)과 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(800)의 경사부(832)가 겹쳐짐에 따라 형성되는 제1 전극 탭(600)의 관통홀(631) 내면의 형상과 제1 전극 탭(600)의 경사부(632)와 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(800)의 관통홀(831)이 겹쳐짐에 따라 형성되는 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(800)의 관통홀(831) 내면의 형상을 비전 검사하는 단계(S500); 및 비전 검사의 결과로부터 제1 전극 탭 내지 제2 전극 탭들(630, 730, 830, 930)의 접힘 유무를 확인하는 단계(S700)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 육안으로 비전 검사하는 단계(S600)는 전극 조립체(3000)의 제1 전극(600)의 제3 방향(DR3) 기준 전면에서 육안으로 제1 전극 탭 내지 제2 전극 탭들(630, 730, 830, 930)의 각 관통홀들(631, 731, 831, 931)의 내면 형상을 검사할 수 있다.
또한, 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계(S700)에서, 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(800)의 관통홀(831) 내면의 형상이 탭의 길이방향인 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭 여부와, 제2 전극 탭(700)의 관통홀(731) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제2 전극 탭(900)의 관통홀(931) 내면의 형상이 탭의 길이방향인 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭 여부를 확인함으로써 탭 접힘 유무를 확인할 수 있다.
이때, 도 13에 도시된 바와 같이, 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 관통홀(831) 내면의 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭일 경우에는 탭의 접힘 발생이 없는 정상임을 확인할 수 있다. 또한, 도 14에 도시된 바와 같이, 제2 전극 탭(730)의 관통홀(731) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제2 전극 탭(930)의 관통홀(931) 내면의 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 대칭일 경우에는 탭의 접힘 발생이 없는 정상임을 확인할 수 있다.
반면, 제1 전극 탭(630)의 관통홀(631) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 관통홀(831) 내면의 형상이 제1 방향(DR1) 기준으로 비대칭일 경우에는 제1 전극 탭(630) 또는 인접한 단위셀의 제1 전극 탭(830)의 접힘이 발생한 것을 확인할 수 있다. 이는 제2 전극 탭(730)의 관통홀(731) 내면의 형상과 인접한 단위셀의 제2 전극 탭(930)의 관통홀(931) 내면의 형상에도 동일하게 적용된다.
한편, 상기 비전 검사하는 단계(S500) 이후, 제1 전극 탭들(630, 830) 및 제2 전극 탭들(730, 930)의 관통홀(631,731,831,931)들 내면의 면적을 측정하는 단계(S510); 및 측정된 면적으로부터 제1 전극 탭들(630, 830) 및 제3 전극 탭들(730, 930)의 위치 불량 여부를 확인하는 단계(S520)를 더 포함할 수 있다.
상기 면적을 측정하는 단계(S510)에서, 제1 전극 탭들(630, 830) 및 제2 전극 탭들(730, 930)의 관통홀들(631,731,831,931) 내면의 면적을 투수광 센서를 이용하여 측정할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기, 위치 불량 여부를 확인하는 단계(S520)에서, 투수광 센서를 통해 측정된 제1 전극 탭들(630, 830) 및 제2 전극 탭들(730, 930)의 관통홀들(631,731,831,931) 내면 면적이 서로 일치하는지 여부를 확인함으로써 전극들의 적층 불량 또는 위치 불량 여부를 확인할 수 있다.
구체적으로 관통홀(631,831)의 내면 면적이 서로 일치하고, 관통홀(731,931)의 내면 면적이 서로 일치할 경우에는 전극들의 정렬이 양호함을 확인할 수 있다. 반면, 관통홀들의 내면 면적이 서로 일치하지 않을 경우에는 전극들의 정렬이 어긋나 있는 것이므로, 관통홀들 내면의 면적이 서로 일치하도록 전극들을 정렬할 수도 있다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 전극 조립체는 적층되어 있는 전극 및 분리막들을 분해하지 않고도 전극의 탭 접힘뿐만 아니라 정렬까지도 육안으로 용이하고 정확하게 확인 가능한 이점이 있다. 이에, 이차전지의 제조 공정 중에 전극 조립체의 탭 접힘 및 정렬을 자동으로 검사 및 확인할 수 있다.
이와 같이, 본 발명에 따른 전극 조립체 및 이의 검사 방법은 양극 및 음극의 전극이 다중 적층되어 있는 구조임에도 불구하고 내부 전극 위치를 검사할 수 있을 뿐만 아니라, 내부 전극 탭 접힘 등 불량의 자동 검사가 가능하여 불량품 판별력을 향상시킬 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
100: 제1 전극
110: 제1 전극 집전체
120: 제1 활물질층
130: 제1 전극 탭
200: 제2 전극
210: 제2 전극 집전체
220: 제2 활물질층
230: 제2 전극 탭
300: 제3 전극
310: 제3 전극 집전체
320: 제3 활물질층
330: 제3 전극 탭
400, 500, 410, 420, 430, 440: 분리막

Claims (14)

  1. 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막/제3 전극 구조의 단위셀이 적어도 하나 이상 적층된 구조이며,
    상기 제1 전극 및 상기 제3 전극은 각각 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 상기 제2 전극은 상기 일측과 대향하는 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며,
    제1 전극 탭과 제3 전극 탭은 각각 일측 모서리에 형성된 관통홀과, 타측 모서리에 탭의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선에 대해 소정의 각도를 이루는 경사부를 구비하고,
    상기 제1 전극 탭의 관통홀과 상기 제3 전극 탭의 경사부가 겹쳐지도록 배치되는 전극 조립체.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제2 전극의 탭은 일측 모서리 및 상기 일측과 대향하는 타측 모서리에 각각 관통홀이 구비되는 전극 조립체.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 전극과 상기 제3 전극은 극성이 서로 동일하며, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극은 극성이 서로 반대인 전극 조립체.
  4. 제1 전극/분리막/제2 전극/분리막 구조의 단위셀이 적어도 하나 이상 적층된 구조이며,
    상기 제1 전극은 일측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며, 상기 제2 전극은 각각 상기 일측과 대향하는 타측 외주변 쪽으로 돌출되어 있는 탭을 포함하며,
    제1 전극 탭 및 제2 전극 탭은 각각 일측 모서리에 형성된 관통홀과, 타측 모서리에 탭의 외주변들 중에서 서로 인접한 양측 외주변들을 각각 연장한 가상의 연장선에 대해 소정의 각도를 이루는 경사부를 구비하는 것을 특징으로 하는 전극 조립체.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 단위셀이 두 개 이상 적층되어 있고,
    하나의 단위셀 내의 제1 전극 탭의 관통홀과 바로 인접한 단위셀 내의 제1 전극 탭의 경사부가 겹쳐지도록 배치되고,
    하나의 단위셀 내의 제2 전극 탭의 관통홀과 바로 인접한 단위셀 내의 제2 전극 탭의 경사부가 겹쳐지도록 배치되는 전극 조립체.
  6. 제1항 또는 제4항에 있어서,
    상기 경사부들은 각각 상기 소정의 각도를 이루는 직선으로 이루어지며, 상기 소정의 각도는 10 내지 80도인 전극 조립체.
  7. 제1항 또는 제4항에 있어서,
    상기 관통홀들은 각각 원형, 직사각형 및 정사각형으로 이루어진 군에서 선택된 형상을 가지며, 상기 관통홀들의 형상은 동일한 전극 조립체.
  8. 제1항의 전극 조립체를 준비하는 단계;
    상기 전극 조립체의 제1 전극 탭의 관통홀과 제3 전극 탭의 경사부가 겹쳐짐에 따라 형성되는 제1 전극 탭의 관통홀 내면의 형상과 제1 전극 탭의 경사부와 제3 전극 탭의 관통홀이 겹쳐짐에 따라 형성되는 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 형상을 비전 검사하는 단계; 및
    상기 비전 검사의 결과로부터 상기 제1 전극 탭 또는 상기 제3 전극 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계를 포함하는 전극 조립체의 검사 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계에서, 상기 제1 전극 탭의 관통홀 내면의 형상과 상기 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 형상이 탭의 길이방향 기준 대칭 여부를 확인함으로써 탭 접힘 유무를 확인하는 전극 조립체의 검사 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 전극 조립체의 적층된 단위셀이 둘 이상일 경우, 상기 비전 검사하는 단계 이후, 상기 제1 전극 탭 및 상기 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 면적을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 면적으로부터 상기 제1 전극 탭 또는 제3 전극 탭의 위치 불량 여부를 확인하는 단계를 더 포함하는 전극 조립체의 검사 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 위치 불량 여부를 확인하는 단계에서, 상기 제1 전극 탭 및 상기 제3 전극 탭의 관통홀 내면의 면적이 일치하도록 전극들을 정렬하는 전극 조립체의 검사 방법.
  12. 제5항의 전극 조립체를 준비하는 단계;
    동일한 극성을 가지는 복수의 전극 탭들의 관통홀 내면의 형상을 비전 검사하는 단계; 및
    상기 비전 검사의 결과로부터 상기 전극 탭들의 접힘 유무를 확인하는 단계를 포함하는 전극 조립체의 검사 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 탭의 접힘 유무를 확인하는 단계에서, 2개의 관통홀 내면의 형상을 비교하여 탭의 길이방향기준 대칭 여부를 확인함으로써 탭 접힘 유무를 확인하는 전극 조립체의 검사 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 비전 검사하는 단계 이후에, 관통홀 내면의 면적을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 면적으로부터 적층 불량 여부를 확인하는 단계를 더 포함하는 전극 조립체의 검사 방법.
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