KR20200130062A - Dimension measurement device and dimension measurement jig structure therewith - Google Patents
Dimension measurement device and dimension measurement jig structure therewith Download PDFInfo
- Publication number
- KR20200130062A KR20200130062A KR1020190119903A KR20190119903A KR20200130062A KR 20200130062 A KR20200130062 A KR 20200130062A KR 1020190119903 A KR1020190119903 A KR 1020190119903A KR 20190119903 A KR20190119903 A KR 20190119903A KR 20200130062 A KR20200130062 A KR 20200130062A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- jig
- optical guide
- optical
- switching member
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 256
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 410
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 20
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0403—Mechanical elements; Supports for optical elements; Scanning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
본 개시의 다양한 실시예들은 측정 대상물의 치수를 측정하는 지그 및 그를 포함하는 장치에 관한 것이다.Various embodiments of the present disclosure relate to a jig for measuring a dimension of a measurement object and an apparatus including the same.
일반적으로 측정 대상물(예: Glass)의 형상, 치수 및 위치를 측정하는데 있어서, 금형(또는 지그)을 이용하여 측정 대상물을 지지하고, 광학 모듈 또는 현미경 등을 사용하여 측정 대상물의 데이터를 확보한다. In general, in measuring the shape, dimension, and position of an object to be measured (eg, glass), a mold (or jig) is used to support the object to be measured, and data of the object to be measured is secured using an optical module or a microscope.
예를 들어, 3D 형상물로서 얇은 플레이트 형상을 가지는 휴대용 단말기의 글래스(GLASS)와 같은 측정 대상물은, 상기 측정 대상물을 위에서 바라볼 때 가로 변과 세로 변의 치수를 측정하고, 측정 대상물을 회전시키거나 또는 금형(또는 지그)를 회전시키는 방법으로 측정 대상물의 측면의 두께와 같은 치수를 측정할 수 있다.For example, a measurement object, such as glass of a portable terminal having a thin plate shape as a 3D object, measures the dimensions of the horizontal and vertical sides when looking at the measurement object from above, and rotates the measurement object, or By rotating the mold (or jig), the same dimension as the thickness of the side of the object can be measured.
글래스(GLASS)를 휴대용 단말기 하우징에 장착함에 있어서, 3D 형상물인 글래스의 상/하의 폭, 좌/우의 폭 및/또는 두께는 정해진 치수에 따라 정교하게 제작될 것이 요구되고 있다. 글래스의 치수상 미미한 오차가 발생하면 글래스와 장착부 사이에 단차(또는 갭)이 발생될 수 있어, 하우징에 접착 불량이 발생하거나, 상기 단차(또는 갭)을 통해 이물이 유입되거나 제품 내구도가 저하되는 문제점이 발생하게 된다. In mounting the glass (GLASS) to the portable terminal housing, the upper/lower width, left/right width, and/or thickness of the 3D-shaped glass is required to be elaborately manufactured according to a predetermined dimension. If there is a slight error in the dimensions of the glass, a step (or gap) may occur between the glass and the mounting part, resulting in poor adhesion to the housing, or foreign matter entering through the step (or gap) or deterioration of product durability. Problems arise.
따라서, 글래스와 같은 3D 형상물은 제조된 물품의 치수가 기 지정된 치수와 일치하는 지 여부를 검사하는 과정이 요구된다.Therefore, for a 3D object such as glass, a process of checking whether the dimensions of the manufactured article matches the predetermined dimensions is required.
치수 일치 여부를 검사하기 위하여, 측정 대상물의 이동이나 고정, 분리와 같은 동작은 일반적으로 작업자에 의해 수작업으로 이루어지고 있다. 따라서, 측정된 치수(예: 길이 및 두께)에 오차가 상당수 발생하는 문제가 있고, 치수 측정 작업시 많은 시간이 소요되어 작업의 능률이 저하되는 문제점가 있다. 어떤 실시예에 따르면, 작업자가 검사 장비(또는 검사 장치)를 이용해 측정 대상물의 상/하 폭 및/또는 좌/우 폭을 검사한 다음, 측정 대상물을 다시 회전시켜 측정 대상물의 두께를 측정하는 두 가지의 구분된 동작을 수행하면서, 작업 시간이 많이 소요되고 검사 정밀도가 저하될 수도 있다.In order to check whether the dimensions match or not, operations such as moving, fixing, or separating the object to be measured are generally performed manually by an operator. Therefore, there is a problem in that a large number of errors occur in the measured dimensions (eg, length and thickness), and there is a problem in that the efficiency of the work is deteriorated because a large amount of time is required when measuring the dimensions. According to some embodiments, the operator inspects the upper/lower width and/or the left/right width of the measurement object using an inspection equipment (or inspection device), and then rotates the measurement object again to measure the thickness of the measurement object. While performing branched operations, it takes a lot of work time and may reduce inspection precision.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 측정 대상물을 간단히 고정 또는 분리하여 작업 능률을 향상시킬 수 있는 치수 측정용 지그 및 치수 측정 장치를 제공할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, it is possible to provide a dimension measurement jig and a dimension measurement apparatus capable of improving work efficiency by simply fixing or separating a measurement object.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 3D 형상의 측정대상물에 대한 치수를 측정하는데 있어서, 측정대상물의 평면 및 측면 이미지를 동시에 2D 이미지로 구현함으로써 2D 이미지 촬영 장비만으로도 측정대상물의 3D 치수를 동시에 측정 가능하게 하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, in measuring the dimensions of a measurement object having a 3D shape, by simultaneously implementing a 2D image of a plane and a side image of the measurement object, the 3D dimensions of the measurement object are simultaneously measured with only a 2D image photographing device It is possible to provide a jig for dimension measurement that makes it possible.
본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그에 있어서, 적어도 하나의 광가이드를 포함하는 지그 몸체; 및 상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 조명부;를 포함하고, 상기 광가이드는, 상기 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구; 상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재; 및 일 방향에서 입사된 상기 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재;를 포함하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다.According to various embodiments disclosed in this document, there is provided a jig for measuring dimensions, comprising: a jig body including at least one optical guide; And a lighting unit disposed adjacent to the first surface of the jig body, wherein the light guide includes: an opening formed on the first surface of the jig body; A first light path switching member for switching a moving path of light provided from the lighting unit through the opening; And a second light path switching member for passing light provided from the illumination unit incident in one direction and changing a movement path of the light incident in the other direction.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그에 있어서, 관통공 및 상기 관통공의 적어도 일부분의 둘레에 배치된 광가이드를 포함하는 지그 몸체; 및 상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 조명부;를 포함하고, 상기 광가이드는, 상기 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구; 상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재; 및 일 방향에서 입사된 상기 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재;를 포함하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, there is provided a jig for measuring dimensions, comprising: a jig body including a through hole and an optical guide disposed around at least a portion of the through hole; And a lighting unit disposed adjacent to the first surface of the jig body, wherein the light guide includes: an opening formed on the first surface of the jig body; A first light path switching member for switching a moving path of light provided from the lighting unit through the opening; And a second light path switching member for passing light provided from the illumination unit incident in one direction and changing a movement path of the light incident in the other direction.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그에 있어서, 제 1 광가이드를 포함하는 제 1 지그 몸체, 상기 제 1 지그 몸체로부터 이격되어 배치되고 제 2 광가이드를 포함하는 제 2 지그 몸체; 및 상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 배치되는 제 1 조명부;를 포함하고, 상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 측정 대상물이 거치될 때 측정 대상물을 중심으로 일 측과 타측에서 대향하도록 배치되며, 각각, 상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구; 상기 개구를 통해 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재; 및 일 방향에서 입사된 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재;를 포함하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, in a jig for measuring dimensions, a first jig body including a first optical guide, a second jig body disposed spaced apart from the first jig body and including a second optical guide ; And a first lighting unit disposed on a first surface of the first jig body and the second jig body, wherein the first light guide and the second light guide work around the measurement object when the measurement object is mounted. An opening formed on a first surface of the first jig body and the second jig body, which are disposed to face each other on the side and the other side; A first light path switching member for switching a moving path of light provided from the first lighting unit through the opening; And a second optical path switching member for passing light provided from the first lighting unit incident in one direction and for switching a moving path of the light incident in another direction.
본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정용 지그 및 이를 포함하는 치수 측정 장치를 이용하면, 측정 대상물의 다양한 사이즈에 상관없이 위치를 간단히 고정시켜, 편리하고 신속하게 측정할 수 있다.When a dimension measurement jig and a dimension measurement apparatus including the same according to various embodiments of the present disclosure are used, the position of the object to be measured can be simply fixed, regardless of various sizes, so that measurement can be performed conveniently and quickly.
본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정용 지그 및 이를 포함하는 치수 측정 장치는, 3D 형상을 가진 측정 대상물의 평면 이미지 및 측면 이미지를 동시에 측정함에 따라, 측정 대상물을 신속하고 정확하게 측정할 수 있는 장점이 있다.A dimension measurement jig according to various embodiments of the present disclosure and a dimension measurement apparatus including the same, are capable of rapidly and accurately measuring a measurement object by simultaneously measuring a planar image and a side image of a measurement object having a 3D shape. There is an advantage.
본 개시의 효과는 몇 가지만 설명되었지만, 상술한 바 이외에도 다양한 효과들을 가질 수 있다. Although only a few of the effects of the present disclosure have been described, various effects other than those described above may be provided.
도 1은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정 장치에 대한 사시도이다.
도 2는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그에 대한 분리 사시도이다.
도 3은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그에 대한 단면도이다.
도 4는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 일부 구성을 나타내는 사시도이다.
도 5는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 일부 구성을 나타내는 평면도이다.
도 6은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 조명부(예: 제 1 조명부)를 나타내는 평면도이다.
도 7은, 도 3과 다른 실시예에 따른, 치수 측정용 지그에 대한 단면도이다.
도 8a는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 측정 대상물을 측정하는 모습을 나타내는 평면도이다.
도 8b는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그 내부에서 제 1 방향으로 이동하는 광을 나타내는 도면이다.
도 8c는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그 내부에서 제 2 방향으로 이동하는 광을 나타내는 도면이다.
도 9는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그에 대한 단면도이다.
도 10은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정 장치를 이용하여 측정 대상물을 촬영하여 획득한 2D 이미지를 나타내는 도면이다.
도 11은, 도 10과 다른 실시예에 따른, 치수 측정 장치를 이용하여 측정 대상물을 촬영하여 획득한 2D 이미지를 나타내는 도면이다.
도 12는, 다양한 실시예들에 따른, 거치부(1140)를 나타내는 도면이다.
도 13은, 본 개시의 다른 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)를 나타내는 사시도이다.
도 14는, 본 개시의 다른 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)를 나타내는 단면도이다.
도 15는, 본 개시의 다른 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)를 일부분이 절단된 모습을 나타내는 사시도이다.
도 16은, 도 15에 도시된 절단된 단면을 확대한 사시도이다.
도 17은, 다양한 실시예들에 따른, 슬라이딩 이동 가능한 측면지지부재를 나타내는 도면이다.
도 18은 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 위치 조절부를 나타내는 도면이다.
도 19a는 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 제 1 광경로전환부재의 및 제 2 광경로전환부재의 위치 및 각도를 나타내는 도면이다.
도 19b는 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 제 1 광경로전환부재의 위치 및 제 2 광경로전환부재의 각도가 조절되는 모습을 나타내기 위한 단면도이다.1 is a perspective view of a dimension measuring device according to various embodiments of the present disclosure.
2 is an exploded perspective view of a jig for measuring dimensions according to various embodiments of the present disclosure.
3 is a cross-sectional view of a jig for measuring dimensions according to various embodiments of the present disclosure.
4 is a perspective view illustrating a partial configuration of a jig for measuring dimensions according to various embodiments of the present disclosure.
5 is a plan view illustrating a partial configuration of a jig for measuring dimensions according to various embodiments of the present disclosure.
6 is a plan view illustrating an illumination unit (eg, a first illumination unit) according to various embodiments of the present disclosure.
7 is a cross-sectional view of a jig for measuring dimensions according to another embodiment from FIG. 3.
8A is a plan view illustrating a state of measuring an object to be measured according to various embodiments of the present disclosure.
8B is a diagram illustrating light moving in a first direction inside a dimension measuring jig according to various embodiments of the present disclosure.
8C is a diagram illustrating light moving in a second direction inside a dimension measuring jig according to various embodiments of the present disclosure.
9 is a cross-sectional view of a jig for measuring dimensions according to various embodiments of the present disclosure.
10 is a diagram illustrating a 2D image obtained by photographing a measurement object using a dimension measuring apparatus according to various embodiments of the present disclosure.
FIG. 11 is a diagram illustrating a 2D image obtained by photographing a measurement object using a dimension measuring apparatus according to an embodiment different from that of FIG. 10.
12 is a diagram illustrating a
13 is a perspective view illustrating a
14 is a cross-sectional view illustrating a
15 is a perspective view illustrating a partially cut-away view of a
16 is an enlarged perspective view of the cut section shown in FIG. 15.
17 is a diagram illustrating a slidable side support member according to various embodiments.
18 is a diagram illustrating a position adjusting part of a jig for measuring dimensions according to various embodiments of the present disclosure.
19A is a view showing positions and angles of a first optical path switching member and a second optical path switching member of a jig for dimension measurement according to various embodiments of the present disclosure.
19B is a cross-sectional view illustrating a state in which a position of a first optical path switching member and an angle of a second optical path switching member of a dimension measuring jig are adjusted according to various embodiments of the present disclosure.
본 개시는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 일부 실시 예들을 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 그러나, 이는 본 개시를 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 개시의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.In the present disclosure, various changes may be made and various embodiments may be provided, and some embodiments will be described in detail with reference to the drawings. However, this is not intended to limit the present disclosure to a specific embodiment, it should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present disclosure.
'제1', '제2' 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 개시의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. '및/또는' 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.Terms including ordinal numbers such as'first' and'second' may be used to describe various elements, but the elements are not limited by the terms. These terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another component. For example, without departing from the scope of the present disclosure, a first component may be referred to as a second component, and similarly, a second component may be referred to as a first component. The term'and/or' includes a combination of a plurality of related listed items or any of a plurality of related listed items.
또한, '전면', '후면', '상면', '하면' 등과 같은 도면에 보이는 것을 기준으로 기술된 상대적인 용어들은 '제1', '제2' 등과 같은 서수들로 대체될 수 있다. '제1', '제2' 등의 서수들에 있어서 그 순서는 언급된 순서나 임의로 정해진 것으로서, 필요에 따라 임의로 변경될 수 있다. In addition, relative terms described based on what is shown in the drawings such as'front','rear','top','bottom' may be replaced with ordinal numbers such as'first' and'second'. For ordinal numbers such as'first' and'second', the order is the stated order or arbitrarily determined, and may be arbitrarily changed as necessary.
본 개시에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 개시를 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 개시에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present disclosure are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present disclosure. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In the present disclosure, terms such as "comprise" or "have" are intended to designate the presence of features, numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but one or more other features. It is to be understood that the presence or addition of elements or numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof, does not preclude in advance.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 개시에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this disclosure belongs. Terms as defined in a commonly used dictionary should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and should not be interpreted as an ideal or excessively formal meaning unless explicitly defined in the present disclosure. Does not.
도 1은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정 장치(10)에 대한 사시도이다.1 is a perspective view of a
본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정 장치(10)는 3D 형상의 측정대상물에 대한 치수 측정 장치가 해당될 수 있다.
The
치수 측정 장치(10)를 활용하기 위한 3D 형상의 측정대상물(200)로서, 예를 들면, 전자 장치(예: 휴대 단말기)의 전면을 커버하기 위한 글래스(GLASS)가 포함될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 휴대 단말기)는 전면의 가장자리(edge)에, 예를 들면, 곡면 디스플레이의 곡면 부분(curved portion)이 배치될 수 있다. 이에 따라 상기 글래스(GLASS)의 가장자리에는 상기 곡면 디스플레이의 곡면 부분에 대응되는 형상을 가질 수 있다. 치수 측정 장치(10)를 이용하여 글래스(GLASS)의 상/하 폭, 좌/우 폭뿐만 아니라 상기 곡면 디스플레이의 곡면 부분에 대응되는 형상(글래스의 곡면부)의 두께를 측정할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 측정대상물(200)로서, 상기 글래스(GLASS)는 3D 형상을 가지고, 실질적으로 투명하게 형성되어 광이 투과되는 구성일 수 있다.
As the
다양한 실시예들에 따른, 측정 대상물(200)의 종류는 어떤 특정한 종류에 국한되지 않으며, 그 형상 또한 도면에 도시되지 않은 다양한 형태로 형성될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 측정 대상물(200)은 두께가 얇은 형태의 3D 형상물, 예를 들면, 전자 장치의 하우징, 보호 커버, 플레이트, 또는 브라켓이 해당될 수 있다.
According to various embodiments, the type of the
다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정 장치(10)는 플랫폼(11)과 광학 타워부(20) 및 모니터부(30)를 포함할 수 있다.
According to various embodiments, the
플랫폼(11)은 치수 측정용 지그(100)를 배치하기 위한 구성일 수 있다. 플랫폼(11)에는 치수 측정용 지그(100)가 배치된 위치에 대응하여, 상면에 광학 타워부(20) 및 모니터부(30)가 배열될 수 있다. 치수 측정용 지그(100)는 플랫폼(110) 상의 지정된 위치에 배치될 수 있다.
The
광학 타워부(20)는 광학 모듈(optical modulue)(21)을 포함할 수 있다. 광학 모듈(21)로서, 예를 들면 광학식 측정 센서, 또는 카메라가 해당될 수 있다. 여기서 광학 모듈(21)은 플랫폼(11)에 배치된 치수 측정용 지그(100)로부터 소정 거리만큼 이격되고 상기 치수 측정용 지그를 향하도록 배치되어, 상기 측정대상물(200)의 이미지를 획득 할 수 있다.
The
일 실시예에 따르면, 광학 모듈(21)은 외부 광원으로부터 제공된 광을 수신하는 구성일 수 있다. 예를 들면, 플랫폼(11)의 내부에 광원부(15)가 배치된 상태에서, 상기 광원부(15)로부터 제공된 광을 광학 모듈(21)을 이용해 수광할 수 있도록, 광학 모듈(21)은 광원부(15)와 광축 정렬된 위치에 배치될 수 있다.
According to an embodiment, the
일 실시예에 따르면, 상기 광축 방향 상에는 적어도 하나의 치수 측정용 지그(100)가 위치할 수 있다. 치수 측정용 지그(100)에 측정 대상물이 배치되면, 상기 광원부(15)에서 방출된 광이 상기 광원 모듈(21)에 수광되는 과정에서, 측정 대상물(200)의 이미지(예: 그림자 이미지)를 획득할 수 있다. 예를 들면, 글래스(GLASS)를 치수 측정용 지그(100)의 안착부에 상기 플랫폼(11)의 상면과 평행하도록 위치시킨 다음, 글래스(GLASS) 하부에 배치된 광원부(15)를 통해 광을 방출하면 광학 모듈(21)에는 글래스(GLASS)의 그림자 이미지가 결상될 수 있다. 이와 같은 방법으로 획득한 그림자 이미지를 이용하여 글래스(GLASS)의 상/하 폭 및/또는 좌/우 폭에 대한 치수(예: 길이)를 확인할 수 있다.
According to an embodiment, at least one
본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정 장치(10)에서 모니터부(30)는 플랫폼(11)의 상면에, 광학 타워부(20)에 인접하여 배치될 수 있다. 도 1에는 사용자 편의상 광학 타워부(20)처럼 소정의 높이에 화면이 표시되는 구성이 도시되어 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 모니터부(30)는 어떠한 형태로든 사용자에게 측정 대상물(200)의 치수에 관련된 데이터를 제공할 수 있는 것이면 족하다. 모니터부(30)를 이용하여, 광학 모듈(21)을 통해 획득한 측정 대상물(200)을 촬영한 이미지나 영상 정보는 사용자에게 제공될 수 있다.
In the
다양한 실시예들에 따르면, 모니터부(30)에 측정 대상물(200)의 이미지를 2D 형태로 제공할 수 있다. 본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 모니터부(30)를 통해 제공되는 측정 대상물(200)의 이미지는 측정 대상물(200)의 상/하 폭 및/또는 좌/우 폭의 치수를 측정하기 위한 평면 이미지일 수 있고, 나아가 측정 대상물(200)의 두께를 측정하기 위한 측면 이미지일 수 있다. 종래 기술에서는, 예를 들면, 상기 측정 대상물(200)을 위에서 바라 보아 가로 변과 세로 변의 치수를 측정한 뒤, 측정 대상물을 회전시키거나 또는 금형(또는 지그)를 회전시키는 방법으로 측정 대상물(200)의 측면의 두께와 같은 치수를 측정하는 방법을 사용할 수 있다. 이와 달리, 본 개시의 다양한 실시예들에서는, 모니터부(30)를 통해 측정 대상물(200)의 평면 이미지 및 측면 이미지를 함께(또는 동시에) 확인하며 작업할 수 있게 됨으로써 작업 효율을 상당히 향상시킬 수 있다. 측정 대상물(200)의 이미지를 획득하는데 있어서, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정용 지그(100)를 사용하면, 이와 같은 효과를 향유할 수 있다. 측정 대상물(200)의 이미지에 관한 설명은 도 9 및 도 10을 통해 상세히 후술한다.
According to various embodiments, an image of the
다양한 실시예들에 따르면, 플랫폼(11)은 치수 측정용 지그(100)를 안착시키기 위한 베이스 지그(12)를 추가로 포함할 수 있다. 사용자는 본 개시의 치수 측정용 지그(100)를 베이스 지그(12)에 안착시켜 위치를 고정시킨 후, 입력 장치(미도시)(예: CPU 또는 치수 측정 통합 제어 장치)를 통해 치수 측정 동작을 수행할 수 있다.
According to various embodiments, the
다양한 실시예들에 따르면, 플랫폼(11)은 치수 측정용 지그(100)를 평면 방향으로 이동시키는 컨베이어 부재(13)를 더 포함할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정 장치(10)는 복수의 치수 측정용 지그(100)를 이용한 검사 동작을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 복수의 치수 측정용 지그(100)는 플랫폼(11) 상에 연달아 배치될 수 있으며, 컨베이어 부재(13)를 이용함으로써, 복수의 측정 대상물들에 대한 검사 동작을 보다 신속하게 수행할 수 있다.
According to various embodiments, the
도 2는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)에 대한 분리 사시도이다.
2 is an exploded perspective view of a
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 측정 대상물(200)을 거치시키기 위한 거치부를 제공하고, 상기 치수 측정 장치(10)에 배치될 수 있는 치수 측정용 지그(100)를 개시할 수 있다.
According to various embodiments of the present disclosure, a mounting part for mounting the
치수 측정용 지그(100)는 측정 대상물(200)을 거치하기 위한 지그 몸체(110) 및 상기 지그 몸체(110)의 일면에 인접 배치된 조명부(130)를 포함할 수 있다.
The
지그 몸체(110)는 대략적으로 두께가 얇은 판-형상(plate-shape)의 구성으로서, 측정 대상물(200)을 거치시키기 위한 공간 및/또는 거치부(또는 안착부)를 제공할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 거치부의 역할을 하는 구성으로서, 지그 몸체(110)는 적어도 하나의 돌출부(114)를 구비할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 돌출부(114)는 지그 몸체(110)로부터 일체로 형성된 구성일 수 있다. 또한, 돌출부(114)는 지그 몸체(110)의 상면(또는 하면)과 평행하게 형성된 구성일 수 있다.
The
지그 몸체(110)의 중앙부에는 관통공(101)가 형성될 수 있다. 관통공(101)는 도 1에 도시된 광원부(15)로부터 방출된 광을 통과시키기 위해 지그 몸체(110)를 관통된 형태로서 마련되는 구성일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 관통공(101)는 대략적으로 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))의 크기보다 더 크게 형성될 수 있다.
A through
관통공(101)의 형상은 다양하게 형성될 수 있다. 도 2에는 관통공(101)이, 대략 직사각형의 형상을 가지는 것으로 도시되나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다
The shape of the through
상기 돌출부(114)는 지그 몸체(110)의 내측면으로부터 상기 관통공(101)을 향해 돌출된 형상을 가질 수 있다.
The
본 개시의 치수 측정용 지그(100)는 돌출부(114)를 복수 개 포함할 수 있다. 복수 개의 돌출부들(114)이 지그 몸체(110)의 내측면으로부터 관통공(101)를 향해 돌출됨으로써, 관통공(101) 상에 어떤 물체(예: 측정 대상물)가 놓여질 때, 임의로 낙하되는 것을 방지할 수 있다. 도 2에 도시된 실시예에 따르면, 복수 개의 돌출부들(114)은 관통공(101)를 기준으로 두 개의 돌출부(114)가 지그 몸체(110) 내측의 일면에서 돌출되고, 다른 두 개의 돌출부(114)는 지그 몸체(110)의 내측의 타면에서 돌출될 수 있다. 관통공(101)의 크기는 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))의 크기보다 더 크게 형성될 수 있는데, 상기 돌출부(114)가 관통공(101)를 향해 돌출 형성되므로, 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))을 그 보다 더 큰 면적으로 뚫려 있는 상기 관통공(101) 위에 거치할 수 있게 된다.
The
다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(100)는 베이스 지그(12)에 안착된 상태로 사용될 수 있다. 일 실시예에 따르면 지그 몸체(110)의 일단과 타단이 상기 베이스 지그(12)에 끼워맞춤되는 방식을 통해 치수 측정용 지그(100)를 베이스 지그(12)에 안착시킬 수도 있다. 도 1 에서 전술한 바와 같이 베이스 지그(12)는 플랫폼(11) 상에 배치되는 구성일 수 있으며, 지그 몸체(110)의 관통공(101)에 대응되는 위치에 베이스 개구(12')가 마련될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 방출된 광은 베이스 개구(12')를 통과해, 관통공(101)를 지나 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))을 투과한 뒤, 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))로 수광될 수 있다.
According to various embodiments, the
지그 몸체(110)의 일면(예: 제 1 면(또는 하부면))에는 조명부(130)가 구비될 수 있다. 조명부(130)는 본 개시의 치수 측정용 지그(100)와 SET를 이루는 구성이며, 일 방향(예: 후술하는 도 3의 Z축과 평행한 방향)을 향해 광을 방출하도록 형성되되, 광원부(예: 도 1의 광원부(15))와는 별개로 구비되는 구성일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 조명부(130)는 지그 몸체(110)에서 개구(101)를 제외한 부분에 대응되는 형상을 가질 수 있으며, 또 한 실시예에 따르면 지그 몸체(110)의 일면에 부착되어 사용될 수 있다.
A
지그 몸체(110)에는 광 가이드(예: 후술하는 도 3의 광 가이드(120))가 포함될 수 있는데, 도 2에는 광 가이드를 구성하는 일부 구성요소들(예: 124a, 124b, 125a, 125b, 127a, 127b, 127c, 127d)이 도시되어 있다. 광 가이드를 구성하는 구성요소들에 대하여, 도 3에 도시된 실시예와 함께 상세히 후술하도록 한다.
The
도 3은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)에 대한 단면도이다.
3 is a cross-sectional view of a
본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)는 광 가이드(120)(light guide)를 포함할 수 있다. 광 가이드(120)는 지그 몸체(100)의 일면(예: 제 1 면(111)) 측에서 제공된 광을 지그 몸체(100)의 타면(예: 제 2 면(112)) 측으로 안내하는 역할을 할 수 있다.
According to various embodiments of the present disclosure, the
도 2와 도 3을 함께 참조하면, 광 가이드(120)는 지그 몸체(110)에 일체적으로(integrally) 포함된 구성일 수 있으며, 관통공(101)의 주변을 둘러싸는 형태로 배치될 수 있다. 광 가이드(120)는 지그 몸체(110)의 일 측에서 입사된 광을 지그 몸체(110)의 타 측으로 가이드하기 위한 구성으로서, 지그 몸체(110)에 관통 형성된 상기 관통공(101)와 다른 개구(예: 개구(121))를 포함할 수 있다.
Referring to FIGS. 2 and 3 together, the
다양한 실시예들에 따르면, 지그 몸체(110)는 제 1 면(111)과 상기 제 1 면(111)의 반대 방향을 향하는 제 2 면(112)을 포함할 수 있다. 여기서 제 1 면(111)은 플랫폼(예: 도 1의 플랫폼(11)) 또는 베이스 지그(예: 도 1의 베이스 지그(12))에 안착되는 방향을 향할 수 있으며, 제 2 면(112)은 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 방출된 광의 진행 방향과 평행한 방향을 향하는 면(또는 제 1 면과 반대 방향을 향하는 면)일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 개구(121)가 형성될 수 있다. 이하, 개구(121)는 지그 몸체(110)의 중앙부분에 형성된 관통공(101)와 다른 위치에 형성될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 개구(121)는 지그 몸체(110)의 중앙부분에 형성된 관통공(101)와 달리 지그 몸체(110)의 주변부에 형성될 수 있다.
According to various embodiments, the
지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에는 조명부(130)가 인접 배치될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 지그 몸체(110)의 제 1 면(111) 또는 조명부(130)의 일면에는 접착 부재가 마련되어 지그 몸체(110)와 조명부(130)를 접합할 수도 있다. 조명부(130)는 개구(121)가 형성된 위치에 대응하여 마련될 수 있으며, 개구(121)를 향해 광을 방출할 수 있다.
The
광 가이드(120)는 조명부(130)로부터 제공되며, 개구(121)를 통해 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(124)를 포함할 수 있으며, 일 방향에서 입사되며 조명부(130)로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(125)를 포함할 수 있다. 제 2 광경로전환부재(125)를 향해 일 방향에서 입사된 광은 제 1 광경로전환부재(124)를 통과한 광일 수 있다.
The
제 1 광경로전환부재(124) 및 제 2 광경로전환부재(125)는 개구(121)를 통해 입사된 광의 이동 경로상에 순차적으로 배치된 구성일 수 있다. 여기서 '광의 이동 경로'라 함은 상기 조명부(130)로부터 최초로 제공된 광이 개구(121)를 최초로 통과하고, 제 1 광경로전환부재(124) 및 제 2 광경로전환부재(125)에 도달하는 경로를 포함할 수 있다.
The first optical
제 1 광경로전환부재(124)는 개구(121)에 입사된 광이 소정 각도로 꺾여 이동할 수 있도록 광의 진행 방향을 전환하는 구성일 수 있다. 예를 들면, 제 1 광경로전환부재(124)는 한 쌍의 직교면과 경사면을 가지는 삼각 기둥 형태의 프리즘일 수 있다. 제 1 광경로전환부재(124)는 개구(121)에 인접하게 형성되는데, 예를 들면, 상기 한 쌍의 직교면 중 일면이 상기 개구(121)에 접하도록 배치될 수 있다. 그리고 상기 한 쌍의 직교면 중 다른 일면은 지그 몸체(110)의 중심 방향을 향하도록 배치될 수 있다. 이때 상기 경사면은 지그 몸체(110)의 외부를 향하도록 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 경사면은 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 대하여 45도로 경사진 방향을 향하도록 형성될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 측정 대상물(200)이 치수 측정용 지그(100)에 놓여졌을 때, 제 1 광경로전환부재(124)는 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 형성된 개구(121)를 통해 입사된 광을 상기 경사면 상에서 전환시켜 측정 대상물(200)의 측면으로 향하게 할 수 있다.
The first optical
제 2 광경로전환부재(125)는 제 1 광경로전환부재(124)에 인접하게 형성되며, 제 1 광경로전환부재(124)를 통과한 광을 투과시키거나 방향을 전환시키기 위한 구성일 수 있다. 제 1 광경로전환부재(124)에 의해 1차적으로 방향이 전환된 광은 제 2 광경로전환부재(125)를 통과하여 측정대상물을 향할 수 있다. 제 2 광경로전환부재(125)는 제 1 광경로전환부재(124)에 의해 방향이 전환되어 일 방향(예: 도 3의 X축 방향과 반대 방향)에서 입사된 광을 투과시킬 수 있고, 타 방향(예: 도 3의 X축과 평행한 방향)에서 입사된 광은 반사(예: 굴절 반사)시켜 광의 이동경로를 전환시킬 수 있다. 예를 들면 제 2 광경로전환부재(125)는 광의 일부는 반사하고, 일부는 투과하도록 형성된 반투명 거울(half-transparent mirror)일 수 있다. 제 2 광경로전환부재(125)는 얇은 평판형 거울(mirror)로 구성될 수 있다. 이때 제 2 광경로전환부재(125)의 일면(125-1) 측으로 입사된 광은 투과하고, 다른 면(125-2) 측으로 입사된 광은 반사시키도록 형성될 수 있다. 제 2 광경로전환부재(125)는 제 1 광경로전환부재(124)에 인접하게 형성되는데, 제 2 광경로전환부재(125)의 일면이 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)과 경사진 상태로 배치될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 2 광경로전환부재(125)의 다른 면(125-2)이 상기 제 1 광경로전환부재(124)의 경사면과 대략 수직한 방향을 향하도록 형성될 수 있다. 이에 따르면, 제 2 광경로전환부재(125)의 다른 면(125-2) 또한 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 대하여 45도로 경사진 방향을 향하도록 형성될 수 있다. 제 2 광경로전환부재(125)에 투과되는 광 및 반사되는 광에 대해서는 후술하는 도 8b및 도 8c의 설명에서 상세히 설명한다.
The second optical
치수 측정용 지그(100)는, 제 2 광경로전환부재(125)를 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 대하여 경사지도록 배치하기 위한 지지부재(125-3)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 지지부재(125-3)는 한 쌍의 직교면과 경사면을 가지는 삼각 기둥 형태를 가질 수 있으며, 지지부재(125-3)의 한 쌍의 직교면 중 일면이 제 1 광경로전환부재(125)의 한 쌍의 직교면 중 일면과 마주보도록 배치될 수 있다. 또 한 실시예에 따르면 지지부재(125-3)의 한 쌍의 직교면 중 일면은 상기 제 1 광경로전환부재(125)의 한 쌍의 직교면 중 일면과 대면하여 접촉될 수도 있다. 치수 측정용 지그(100)는, 상기 지지부재(125-3)를 관통공(예: 도 2의 관통공(101)) 주변의 소정 위치에 복수 개 구비할 수 있다.
The
치수 측정용 지그(100)는, 제 1 광경로전환부재(124)를 향해 입사된 광(L1)이 지그 몸체(110)의 외부로 누설되지 않도록 하기 위한 커버(127)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 커버(127)는 지그 몸체(110)의 제 2 면(112) 상에 배치되어, 개구(121)를 통해 입사된 광(L1)이 제 1 광경로전환부재(124) 또는 지그 몸체(110)를 그대로 투과하여 외부로 누설되는 것을 방지할 수 있다. 또 한 실시예에 따르면, 커버(127)는 제 1 광경로전환부재(124)와 인접하게 배치될 수 있으며, 적어도 하나의 경사면을 가져 제 1 광경로전환부재(124)의 상기 경사면과 대면하도록 형성될 수도 있다.
The
광 가이드(120)는 제 1 광경로전환부재(124)에 의해 굴절된 광이 상기 제 2 광경로전환부재(125)를 통과하여 측정 대상물(200)의 측면에 도달하도록 설계될 수 있다. 광 가이드(120)는 조명부(130)에서 입사된 입사 광(L1)이 지그 몸체(110)의 개구(121), 제 1 광경로전환부재(124) 및 제 2 광경로전환부재(125)를 차례대로 통과하도록 안내하고, 출사 광(L2)이 지그 몸체(110)의 제 2 면(112)이 향하는 방향과 평행한 방향을 향하도록 안내할 수 있다. 지그 몸체(110)의 외부로 방출된 출사 광(L2)은, 광학 타워부(예: 도 1의 광학 타워부(20))의 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))에 도달하게 됨으로써, 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))는 측정 대상물(200)의 이미지를 획득할 수 있게 된다.
The
도 2 및 도 3을 함께 참조하면, 치수 측정용 지그(100)는 측정 대상물(200)의 위치 고정을 위한 측면 지지 부재(115, 116)를 더 포함할 수 있다. 이하, 도 4 내지 도 6을 통해 상세히 후술한다.
Referring to FIGS. 2 and 3 together, the
도 4는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)의 일부 구성을 나타내는 사시도이다. 도 5는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)의 일부 구성을 나타내는 평면도이다. 도 6은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)를 이용하여 측정 대상물(200)을 측정하는 모습을 나타내는 평면도이다.
4 is a perspective view illustrating a partial configuration of a
치수 측정용 지그(100)는, 도 2, 도 4 및 도 5에 도시된 실시예에 도시된 바와 같이, 복수의 광가이드(120a, 120b, 120c, 120d)를 포함할 수 있다.
The
일 실시예에 따르면, 치수 측정용 지그(100)는 그에 포함된 광가이드(120)로서, 관통공(101)의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드(120a); 및 상기 관통공(101)의 둘레의 타측을 따라 형성된 제 2 광가이드(120b)를 포함할 수 있다. 제 2 광가이드(120b)는 상기 제 1 광가이드(120a)에 인접하게 형성될 수 있다. 예를 들면 제 1 광가이드(120a)가 대략 직사각형의 형상을 가진 관통공(101)의 일측 변(예: 세로 변)을 따라 형성되면, 제 2 광가이드(120b)는 관통공(101)의 상기 일측 변과 인접한 타측 변(예: 가로 변)을 따라 형성될 수 있다.
According to an embodiment, the
다른 실시예에 따르면, 치수 측정용 지그(100)는 그에 포함된 광가이드(120)로서, 관통공(101)의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드(120a); 및 상기 관통공(101)를 기준으로 제 1 광가이드(120a)의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드(120c)를 포함할 수 있다. 제 3 광가이드(120c)는 상기 제 1 광가이드(120a)의 반대 측면에 배치되어 제 1 광가이드(120a)와 마주보도록 형성될 수 있다. 예를 들면 제 1 광가이드(120a)가 대략 직사각형의 형상을 가진 관통공(101)의 일측 변(예: 세로 변)을 따라 형성되면, 제 3 광가이드(120c)는 관통공(101)의 상기 일측 변과 반대 측인 타측 변(예: 세로 변)을 따라 형성될 수 있다.
According to another embodiment, the
또 다른 실시예에 따르면, 치수 측정용 지그(100)는 그에 포함된 광가이드(120)로서, 관통공(101)의 둘레의 서로 다른 세 개의 영역에 배치된 광가이드를 포함하거나, 관통공(101)의 둘레의 서로 다른 네 개의 영역에 배치된 광가이드를 포함할 수도 있다. 예를 들면, 도 2, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 광가이드(120)는 관통공(101)가 대략 직사각형 형상을 가질 때, 관통공(101)의 서로 다른 네 개의 변에 각각 배치된 제 1 광가이드(120a), 제 2 광가이드(120b), 제 3 광가이드(120c), 제 4 광가이드(120d)를 포함할 수 있다. 여기서 제 1 광가이드(120a)는 제 3 광가이드(120c)와 마주보는 위치에 배치되고, 제 2 광가이드(120b)는 제 4 광가이드(120d)와 마주보는 위치에 배치될 수 있다.
According to another embodiment, the
도 4는 및 도 5는, 광 가이드(예: 도 3의 광 가이드(120))를 구성하는 제 1 광경로전환부재(예: 도 3의 제 1 광경로전환부재(124))와 제 2 광경로전환부재(예: 도 3의 제 2 광경로전환부재(125)) 및 커버(예: 도 3의 커버(127))을 생략하고 도시한 치수 측정용 지그(100)를 나타내는 도면이다. 광가이드(120a, 120b, 120c, 120d)는 광가이드(120a, 120b, 120c, 120d)에 포함된 개구(121a, 121b, 121c, 121d)를 통해 그 위치가 개략적으로 도시될 수 있다.
4 and 5 illustrate a first optical path switching member (eg, a first optical
예를 들어, 상기 개구(121a, 121b, 121c, 121d)의 하부면에 조명부(예: 도 2의 조명부(130))가 배치되어 광을 제공할 때, 도 4 및 도 5에 도시된 바에 따르면, 개구(121a, 121b, 121c, 121d)를 통해 광이 지그 몸체(110)를 그대로 통과하게 될 수 있다. 이와 달리, 본 개시의 다양한 실시예들에 따르면 개구(121a, 121b, 121c, 121d)를 통해 광이 지그 몸체(110)를 그대로 통과하지 않고 측정대상물(200)를 향하여 방향이 전환되도록 설계된다. 본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정용 지그(100)는, 조명부(예: 도 2의 조명부(130))를 통해 제공된 광이, 도면에 도시되지 않은 광 가이드(120)의 다른 구성들(예: 도 3의 제 1 광경로전환부재(124), 제 2 광경로전환부재(125), 커버(127))을 통해 측정 대상물(200)의 측면을 향해 안내될 수 있다.
For example, when an illumination unit (for example, the
전술한 바와 같이 치수 측정용 지그(100)는, 측정 대상물(200) 거치 시 위치 고정을 위한 측면 지지 부재(115, 116)를 더 포함할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 관통공(101)의 주위로 복수의 측면 지지 부재들(115, 116)이 배치될 수 있다.
도 6을 참조하면, 복수의 측면 지지 부재들(115, 116)은 관통공(101)의 둘레에서 적어도 두 개의 측면에 배치될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 관통공(101) 둘레의 일 측(예: 가로변)에 복수의 제 1 측면 지지 부재들(115)이 배치되고, 관통공(101) 둘레의 상기 일 측에 인접한 타 측(예: 세로 변)에 복수의 제 2 측면 지지 부재들(116)이 배치될 수 있다. 예를 들면, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 관통공(101) 둘레의 가로 변에 두 개의 제 1 측면 지지 부재들(115)이 배치되고, 관통공(101) 둘레의 세로 변에 두 개의 제 2 측면 지지 부재들(116)이 배치될 수 있다. 또, 한 예를 들면, 복수의 제 1 측면 지지 부재들(115)은 지그 몸체(110)에서 관통공(101) 측으로 돌출된 돌출부(114) 상에 배치될 수 있다. 여기서 복수의 제 1 측면 지지 부재들(115)은 지그 몸체(110)에서 관통공(101) 측으로 돌출된 돌출부(114)로부터 수직 방향으로 돌출되어 단턱진 형상을 가질 수 있다.
As described above, the
도 6에 도시된 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(100)를 통해 측정대상물(200)의 치수를 측정하기 위한 개념도가 도시된다. 먼저 치수 측정용 지그(100)에 측정대상물(200)을 거치시킨 후, 거치된 측정대상물(200)을 일 측으로 밀착시킬 수 있다. 예를 들면, 돌출부(114) 상에 측정대상물(200)을 거치시킨 뒤, 측정대상물(200)을 대각선 방향으로 밀어 측정대상물(200)의 측면이 제 1 측면 지지 부재들(115)과 제 2 측면 지지 부재들(116)에 의해 지지되도록 할 수 있다. 측정대상물(200)이 제 1 측면 지지 부재들(115)과 제 2 측면 지지 부재들(116)에 밀착되어 위치가 고정된 상태에서, 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))를 통해 측정대상물(220)의 이미지를 획득함으로써, 수작업으로 이루어지는 치수 검사 공정의 오차율을 줄일 수 있다.
According to the embodiments shown in FIG. 6, a conceptual diagram for measuring the dimensions of the
도 7은, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 조명부(130)를 나타내는 평면도이다.
7 is a plan view illustrating an
다양한 실시예들에 따르면, 조명부(130)는 중앙 부분에 지그 몸체(예: 도 6의 지그 몸체(110))의 관통공(예: 도 6의 개구(101))에 상응하는 개구를 구비할 수 있다. 일 실시예에 따른 조명부(130)는 도 7에 도시된 바와 같이 폐루프 곡선을 가질 수 있다. 또 한 실시예에 따르면, 조명부(130)는 조명부(130)와 전기적으로 연결된 전원부(미도시) 및/또는 제어부(미도시)에 의해 방출되는 광의 On/Off 및 밝기가 조정될 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 조명부(130)로서 LED(light emitting diode), OLED, LCD를 포함한 다양한 광원이 해당될 수 있다.
According to various embodiments, the
다양한 실시예들에 따르면, 조명부(130)는 광원 방출면(131)과 상기 광원 방출면(131)을 둘러싸는 테두리부(132, 133)을 포함할 수 있다. 도 5와 도 7을 함께 참조하면, 조명부(130)의 광원 방출면(131)은 지그 몸체(110)에 형성된 영역 R에 대응되는 크기를 가질 수 있다. 영역 R은 지그 몸체(110)에서 개구(121)가 형성된 부분을 모두 포함하는 영역으로서, 이에 따라 조명부(130)는 지그 몸체(110)의 복수의 위치에 형성된 복수의 개구(121) 모두에 광원을 제공할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 조명부(130)를 통해 지그 몸체(110)의 복수의 위치에 형성된 복수의 개구(121) 모두에 균일한 광을 제공할 수 있게 되며, 이로써 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(20))을 통해 측정대상물(예: 도 6의 측정대상물(200))에 대한 균일한 2D 이미지를 획득할 수 있다.
According to various embodiments, the
일 실시예에 따르면, 조명부(130)에서 제공되는 광은 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 제공되는 광과 동일한 종류의 광일 수 있으나, 이와 다른 실시예에 따르면 조명부(130)에서 제공되는 광은 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 제공되는 광과 다른 종류의 광에 해당될 수도 있다. 예를 들어, 광원부(예: 도 1의 광원부(15))는 플랫폼(예: 도 1의 플랫폼(11))의 내부에 배치되므로 치수 측정용 지그(100)와 상대적으로 멀리 떨어져 있기 때문에 초점의 종심이 길게(또는 깊게) 형성되어야 하므로 광을 방출할 때 높은 출력이 요구될 수 있다. 이와 달리 조명부(130)는 치수 측정용 지그(100)에 인접하게 배치됨에 따라, 초점의 종심이 상기 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 방출된 광의 초점의 종심에 비해 상대적으로 짧은 위치에 형성될 수 있다. 즉, 조명부(130)에서 방출된 광은 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 방출된 광에 비해 초점의 종심이 상당히 짧게 형성될 수 있으므로, 조명부(130)에서는 상대적으로 낮은 출력을 갖는 광을 방출해도 무방할 수 있다. 조명부(130)에서 방출되는 광은, 상기 광원부(예: 도 1의 광원부(15))에서 방출된 광보다 상대적으로 출력은 낮되 선명한 이미지를 획득할 수 있는 광이 선택될 수 있다. 예컨대, 광원부(예: 도 1의 광원부(15))가 텔레센트릭(telecentric) 광이고, 조명부(예: 도 1의 조명부(130))는 OLED 광일 수 있다.
According to one embodiment, the light provided from the
도 8a는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(100)의 단면을 나타낸 도면이다. 도 8a는, 도 3에 도시된 단면과 달리, 치수 측정용 지그(100)의 길이 방향의 전체 단면을 도시할 수 있다.
8A is a view showing a cross-section of a
다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(100)는 지그 몸체(110) 내부에 복수의 광가이드들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 도 8a에 도시된 바와 같이, 서로 다른 두 개의 광가이드들(120a, 120c)을 포함할 수 있다. 상기 광가이드들(120a, 120c)은 서로 반대 방향에서 마주보도록 형성될 수 있다.
According to various embodiments, the
다양한 실시예들에 따르면, 서로 다른 두 개의 광가이드들(제 1 광가이드(120a), 제 3 광가이드(120c))에 포함된 서로 다른 두 개의 개구들(예: 도 5의 개구(121a, 121c))을 향해 조명부(130)가 각각 광을 제공할 수 있다. 제 1 광 가이드(120a)는 조명부(130)에서 입사된 입사 광(L1a)이, 지그 몸체(110)의 개구, 제 1 광경로전환부재 및 제 2 광경로전환부재를 차례대로 통과하도록 안내하고, 출사 광(L2a)이 지그 몸체(110)의 제 2 면이 향하는 방향과 평행한 방향을 향해 출사되어 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))에 도달하도록 안내할 수 있다. 제 3 광 가이드(120c) 는 조명부(130)에서 입사된 입사 광(L1c)이, 지그 몸체(110)의 개구, 제 1 광경로전환부재 및 제 2 광경로전환부재를 차례대로 통과하도록 안내하고, 출사 광(L2c)이 지그 몸체(110)의 제 2 면이 향하는 방향과 평행한 방향을 향해 출사되어 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))에 도달하도록 안내할 수 있다. 상기 조명부(130)에서 입사된 입사광들(L1a, l1c)은 모두 지그 몸체(110)의 중심을 향해(제 1 방향) 이동하며, 출사광(L2a, L2c)은 모두 지그 몸체(110)의 중심으로부터 멀어지는 방향을 향해(제 2 방향) 이동한 뒤, 제 2 광경로전환부재를 통해 방향이 전환되어 외부로 방출될 수 있다.
According to various embodiments, two different openings included in two different optical guides (the first
도 8b는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그 내부에서 제 1 방향(또는 구심 방향)으로 이동하는 광을 나타내는 도면이다. 도 8c는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그 내부에서 제 2 방향(또는 원심 방향)으로 이동하는 광을 나타내는 도면이다. 8B is a diagram illustrating light moving in a first direction (or a centripetal direction) inside a dimension measuring jig according to various embodiments of the present disclosure. 8C is a diagram illustrating light moving in a second direction (or a centrifugal direction) inside a dimension measurement jig according to various embodiments of the present disclosure.
도 8a 및 도 8b를 참조하면, 광가이드(120)에 입사된 입사광(L1)은 제 1 광경로전환부재(예: 도 3의 제 1 광경로전환부재(124))를 통과하면서 방향이 1차적으로 전환(예: 굴절)되고, 제 2 광경로전환부재(예: 도 3의 제 2 광경로전환부재(125))를 투과한 뒤 측정대상물을 향하는 방향인 제 1 방향(또는 구심 방향)으로 나아갈 수 있다. 제 1 광경로전환부재에서 1차적으로 방향이 전환되고 제 2 광경로전환부재를 투과한 뒤, 입사광(L1)은 도 8b에 도시된 바와 같이 측정 대상물에 도달하여 반사되는 광(L1-1), 측정 대상물을 투과하는 광(L1-2), 측정대상물을 거치지 않고 주변부를 통과하는 광(L1-3)으로 구분될 수 있다. 이에 따르면, 예컨대 제 3 광가이드(120c)에 입사된 입사광(L1c) 중 일부는 측정 대상물에 반사되어 다시 제 3 광가이드(120c) 측으로 돌아오게 되고, 다른 일부는 측정 대상물을 거쳐 제 1 광가이드(120a) 측을 향하며, 또 다른 일부는 측정 대상물을 거치지 않고 제 1 광가이드(120a) 측을 향할 수 있다.
8A and 8B, the incident light L1 incident on the
도 8a 및 도 8c를 참조하면, 광가이드(120)로부터 방출되는 출사광(L2)은 치수 측정용 지그 내부에서 제 2 방향(원심 방향)으로 향하며, 제 2 광경로전환부재를 통해 방향이 전환된 뒤 치수 측정용 지그 외부로 방출되는 광일 수 있다. 제 3 광가이드(120c) 측에서 방출되는 출사광(L2)은 도 8c에 도시된 바와 같이 제 3 광가이드(120c) 측에서 입사된 후 측정 대상물에서 반사되어 돌아온 광(L2-1)과, 제 1 광가이드(120a) 측에서 입사된 후 측정 대상물을 거쳐 제 3 광가이드(120c)측으로 향한 광(L2-2) 및 제 1 광가이드(120a) 측에서 입사된 후 측정 대상물을 거치지 않고 측정 대상물의 주변부를 통과하여 제 3 광가이드(120c)측으로 향한 광(L2-3)을 포함할 수 있다.
8A and 8C, the outgoing light L2 emitted from the
치수 측정용 지그(100)는 지그 몸체(110) 내부에 복수의 광가이드들, 예를 들면, 관통공(101)를 기준으로 서로 반대 편에 배치된 광가이드(예: 제 1 광가이드(120a), 제 3 광가이드(120c))를 이용하여 측정 대상물(200)에 대한 선명한 이미지를 획득할 수 있다.
The
일 실시예에 따르면, 제 2 광경로전환부재에 도달하는 출사광(L2)의 상대적인 강도와 관련하여, 출사광(L2)에 포함된 광 중 측정대상물을 거치지 않고 그 주변부를 통과한 광은, 측정대상물에서 반사되어 돌아온 광 및 측정대상물을 투과한 광에 비해 광량이 많을 수 있다. 측정대상물에서 반사되어 돌아온 광 및 측정대상물을 투과한 광은 측정대상물을 거치지 않은 광보다 적게 형성되므로 측정대상물의 이미지에 암영이 형성될 수 있고, 상기 이미지에 형성된 암영을 통해 측정대상물의 외관 치수를 검사할 수 있게 된다. According to an embodiment, in relation to the relative intensity of the outgoing light L2 reaching the second optical path switching member, among the light included in the outgoing light L2, the light that passes through the periphery without passing through the object to be measured, The amount of light may be higher than the light reflected from the object to be measured and returned and light transmitted through the object to be measured. Since the light reflected from the object to be measured and the light that has passed through the object to be measured is formed less than the light that has not passed through the object to be measured, a dark shadow can be formed on the image of the object to be measured, and the outer dimension of the object to be measured is measured through the dark shadow formed on the image You will be able to inspect it.
도 9는, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))를 이용하여 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))을 촬영하여 획득한 2D 이미지를 나타내는 도면이다. 도 10은, 도 9와 다른 실시예에 따른, 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))를 이용하여 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))을 촬영하여 획득한 2D 이미지를 나타내는 도면이다.
FIG. 9 is a photograph of a measurement object (eg, the
도 9를 참조하면, 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))를 이용하여 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))의 2D 이미지를 획득할 수 있다.
Referring to FIG. 9, a 2D image of a measurement object (eg,
도 9에 도시된 실시예에 따른 2D 이미지는 도 5에 도시된 실시예를 기준으로 제 2 광가이드(120b)와 제 4 광가이드(120d)가 형성된 치수 측정용 지그(100)를 이용하여 획득한 이미지 일 수 있다. 나아가 도 9에 도시된 실시예에 따른 2D 이미지는, 조명부(예: 도 2의 조명부(130))가 상기 제 2 광가이드(120b) 측에만 선택적으로 광을 제공함으로써, 측정 대상물의 복수 개의 측면 중 일 측면에 대해서만 획득된 것일 수 있다.
The 2D image according to the embodiment shown in FIG. 9 is obtained using a
다양한 실시예들에 따르면, 상기 치수 측정 장치에 포함된 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))을 이용하여, 상기 측정 대상물의 평면상 이미지(B)와 측면상 이미지(A)를 함께 획득할 수 있다.
According to various embodiments, using an optical module (eg, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))을 통해 획득된 2D 이미지는 모니터부(예: 도 1의 모니터부(30))에 표시될 수 있다. 모니터부(30)에 표시된 2D 이미지에는 측정 대상물의 평면상 이미지(B)와 측면상 이미지(A)가 함께 표시될 수 있다. 작업자는 평면상 이미지(B)로부터 측정 대상물의 평면상 치수(예: 가로 길이(x), 세로 길이(y))를 검사할 수 있고, 측면상 이미지(A)로부터 측정 대상물의 측면상 치수(예: 두께(d))를 검사할 수 있다. 이로써, 검사 작업자는 상기 측정대상물의 평면상 치수와 측면상 치수를 일시에 확인하여 신속하게 검사를 완료할 수 있다.According to various embodiments, the 2D image acquired through the optical module (eg, the
도 10에는, 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))을 통해 획득되는 서로 다른 품질의 2D 이미지가 구분되어 도시된다. 도 10의 우측의 이미지 D는 텔레센트릭 조명을 이용하여 획득된 이미지이고, 도 10의 좌측의 이미지 C는 OLED 조명을 이용하여 획득된 이미지일 수 있다. In FIG. 10, 2D images of different qualities obtained through an optical module (for example, the
도 10에 참조된 바와 같이 측정 대상물에 대하여 텔레센트릭 조명을 이용하여 획득된 이미지 보다, OLED 조명을 이용하여 획득된 이미지가 높은 해상도 및 선명도를 가짐을 확인할 수 있다.As shown in FIG. 10, it can be seen that the image obtained using the OLED lighting has higher resolution and sharpness than the image obtained using the telecentric lighting for the measurement object.
본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))는 텔레센트릭 조명 이외에도 OLED 조명을 이용하여 보다 선명한 이미지를 획득할 수 있게 되므로, 측정대상물의 치수를 보다 정확하게 측정할 수 있다. The dimension measuring device according to various embodiments of the present disclosure (for example, the
도 11은, 본 개시의 다른 실시예에 따른, 치수 측정용 지그(100')를 나타내는 도면이다. 11 is a diagram illustrating a
도 11에 도시된 실시예에 따른, 치수 측정용 지그(100')는 측정 대상물(200)을 거치하기 위한 지그 몸체(110) 및 상기 지그 몸체(110)의 일면에 인접 배치된 조명부(130)를 포함할 수 있다. According to the embodiment shown in FIG. 11, the
도 11에 도시된 실시예에 따른, 치수 측정용 지그(100')의 지그 몸체(110)는 관통공(101), 관통공(101)를 향해 돌출된 적어도 하나의 돌출부(114) 및 관통공(101)의 적어도 일부분을 둘러싸도록 배치된 광가이드(120)를 포함할 수 있다. 조명부(130)는 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 인접하여 배치될 수 있다.The
도 11에 도시된 실시예에 따른, 광가이드(120')는, 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)에 형성되고, 상기 조명부로부터 제공된 광이 입사되는 개구(121)를 포함하고, 제 1 면(111)과 반대 방향을 향하는 제 2 면(112)에 형성되며, 측정대상물(200)로부터 반사된 광 중 적어도 하나의 광(L2)이 출사되는 제 3 개구(122);를 더 포함할 수 있다. 또한, 개구(121) 및 상기 제 3 개구(122) 사이의 광의 이동경로 상에 배치되고, 개구(121)를 통해 입사된 광(L1)을 측정 대상물(200)의 측면을 향해 굴절시키는 제 1 광경로전환부재(124); 및 개구(121)를 통해 입사된 광(L1)의 이동방향을 기준으로 상기 제 1 광경로전환부재(124)의 후방에 배치되며, 상기 측정대상물로부터 반사된 광 중 적어도 하나의 광을 상기 제 3 개구(122)를 향해 굴절시키는 제 2 광경로전환부재(125);를 포함할 수 있다.According to the embodiment shown in FIG. 11, the
또, 한 실시예에 따르면 광가이드(120')는 지그 몸체(110)의 제 1 면(111)과 제 2 면(112) 사이의 상기 지그 몸체(110)의 내측면(113)에 형성된 제 4 개구(123)를 더 포함할 수 있으며, 제 2 광경로전환부재(125)에서 제 4 개구(123) 사이에 형성된 광경로연장부(126)를 더 포함할 수 있다. In addition, according to an embodiment, the
다양한 실시예들에 따르면, 제 4 개구(123)를 통하여 측정대상물(200)의 측면을 향해 입사된 광이 출사되거나 측정대상물을 투과 또는 측정대상물(200)에 반사된 광이 입사될 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면 광경로연장부(126)는 제 2 광경로전환부재(125)를 통과한 광이 제 4 개구까지 도달함에 있어서, 또는 측정대상물(200)을 투과하거나 측정대상물(200)에 반사된 광이 제 2 광경로전환부재(125)에 도달함에 있어서, 광이 이동하는 경로를 제공함으로써 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))이 보다 선명한 이미지를 획득하도록 할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 광경로연장부(126)의 길이를 조절함으로써, 광학 모듈(예: 도 1의 광학 모듈(21))에 맺히는 이미지의 선명도를 조절할 수도 있다. 광경로 연장부(126)를 더 포함함으로써, 측정대상물(200)에 도달하는 광이 집광되는 효과를 가질 수 있다.According to various embodiments, light incident toward the side of the
이하, 도 3에서 이미 언급한 실시예와 동일한 실시예에 대한 설명은 생략하도록 한다.Hereinafter, a description of the same embodiment as the embodiment already mentioned in FIG. 3 will be omitted.
상술한 바와 같이, 본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정용 지그 및 이를 포함하는 치수 측정 장치를 이용하면, 측정 대상물의 다양한 사이즈에 상관없이 위치를 간단히 고정시켜, 편리하고 신속하게 측정할 수 있다. 본 개시의 다양한 실시예들에 따른 치수 측정용 지그 및 이를 포함하는 치수 측정 장치는, 3D 형상을 가진 측정 대상물의 평면 이미지 및 측면 이미지를 동시에 측정함에 따라, 측정 대상물을 신속하고 정확하게 측정할 수 있는 장점이 있다.As described above, when a dimension measurement jig according to various embodiments of the present disclosure and a dimension measurement device including the same are used, the position of the object to be measured can be simply fixed, regardless of various sizes, so that measurement can be performed conveniently and quickly. have. A dimension measurement jig according to various embodiments of the present disclosure and a dimension measurement apparatus including the same, are capable of rapidly and accurately measuring a measurement object by simultaneously measuring a planar image and a side image of a measurement object having a 3D shape. There is an advantage.
도 12는, 다양한 실시예들에 따른, 거치부(1140)를 나타내는 도면이다. 12 is a diagram illustrating a mounting
다양한 실시예들에 따른, 치수 측정 장치(100)는 측정대상물을 거치하기 위한 거치부(1140)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 거치부(1140)는 전술한 적어도 하나의 돌출부(예: 도 2의 돌출부(114))에 대하여 추가적으로 또는 대체적으로 구비되는 구성일 수 있다.The
도 12에 도시된 바와 같이, 일 실시예에 따른 거치부(1140)는 개구(예: 도 2의 개구(101)) 내에 배치되는 구성이며, 일단이 지그 몸체(예: 도 2의 지그 몸체(110))의 내측면에 밀착되고, 타단이 지그 몸체의 다른 내측면에 밀착된 상태로 고정 지지될 수 있다. As shown in Figure 12, the mounting
일 실시예에 따른 거치부(1140)는 적어도 하나의 부품을 포함하여 구성될 수 있다. 예를 들면, 거치부(1140)는 상호 어느 일단이 형상적으로 결합되도록 형성된 제1 거치대(1141)와 제2 거치대(1142)를 포함할 수 있다. 여기서 제1 거치대(1141)와 제2 거치대(1142)는 일단이 각각 지지몸체의 내측면에 결합된 상태에서 타단이 상호 암/수 결합으로 맞물릴 수 있다. The mounting
또한, 거치부(1140)는 조임블럭(1143)과 조임수단(1144)을 추가로 구비할 수 있다. 일 실시예에 따르면 조임블럭(1143)은 제1 거치대(1141)와 제2 거치대(1142)가 형성하는 공간상에 끼워져 배치될 수 있다. 조임수단(1144)은 제1 거치대(1141)와 제2 거치대(1142) 및 조임블럭(1143)의 적어도 일부분과 맞닿는 형태로서, 조임수단(1144)이 조여지는 동작에서 조임블럭(1143)이 제1 거치대(1141) 또는 제2 거치대(1142)를 밀어냄으로써 거치부(1140)가 상기 개구(101) 내에서 소정의 텐션을 유지하도록 할 수 있다. In addition, the mounting
일 실시예에 따르면 상기 거치부(1140)의 일 측 상부에는 측면 지지부재(1150)를 더 포함할 수 있으며, 이는 전술한 실시예의 측면 지지 부재(예: 도 3의 측면 지지 부재(115))에 대하여 추가적으로 또는 대체적으로 구비될 수 있다. According to an embodiment, a
도 13은, 본 개시의 다른 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)를 나타내는 사시도이다. 도 14는, 본 개시의 다른 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)를 나타내는 단면도이다. 13 is a perspective view illustrating a
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그로서, 전술한 실시예와 다른 치수 측정용 지그(300)를 제공할 수 있다. 이하에서 설명하는 실시예에서는, 다른 부분을 제외하고 전술한 실시예와 중복되는 내용을 포함할 수 있으며, 중복되는 한도에서 적어도 일부 내용이 생략되어 설명될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, as a jig for measuring dimensions, a
도 13에 도시된 실시예에 따르면, 치수 측정용 지그(300)의 지그 몸체는 두 개의 서로 분리된 지그 몸체(310a, 310b)를 포함할 수 있다. 예를 들어 치수 측정용 지그(300)는 제 1 지그 몸체(310a)와 제 2 지그 몸체(310b)를 포함할 수 있다. According to the embodiment shown in FIG. 13, the jig body of the
일 실시예에 따르면, 제 1 지그 몸체(310a)는 제 1 광가이드(320a)를 포함하며, 예를 들어 측정 대상물(200)이 위에서 볼 때 장방형(rectangle)의 형상을 가지고 있는 경우, 측정 대상물(200)의 일 측면을 직접 또는 간접적으로 지지하는 역할을 할 수 있다. 제 2 지그 몸체(310b)는 제 2 광가이드(320b)를 포함하며, 예를 들어 측정 대상물(200)이 위에서 볼 때 장방형(rectangle)의 형상을 가지고 있는 경우, 측정 대상물의 타 측면을 직접 또는 간접적으로 지지하는 역할을 할 수 있다. 제 2 지그 몸체(310b)는 치수 측정용 지그에 측정 대상물이 놓일 때 측정 대상물을 기준으로 제 1 지그 몸체(310a)의 반대측에서 측정 대상물을 지지할 수 있다. 여기서 장방형이라 함은, 네 개의 선분으로 이루어진 다각형일 수 있으며, 단 여기서 네 개의 선분이 형성하는 꼭짓점은 반드시 직각 형태로 각진 것만을 포함하지 않으며, 굴곡진 형태를 포함할 수 있다. 한편, 본 개시의 측정 대상물(200)은 반드시 장방형에 국한되지 않고 원, 타원, 삼각형, 장방형 이상의 다각형으로 이루어진 형상을 가질 수도 있다. According to an embodiment, the
지그 몸체(310a, 310b)의 일면(예: 제 1 면(또는 하부면))에는 조명부(330)(예: 도3의 조명부(130))가 구비될 수 있다. 조명부(예: 도 3의 조명부(130))는 본 개시의 치수 측정용 지그(100)와 SET를 이루는 구성이며, 일 방향(예: 후술하는 도 3의 Z축과 평행한 방향)을 향해 광을 방출하도록 형성되되, 광원부(예: 도 1의 광원부(15))와는 별개로 구비되는 구성일 수 있다. 일 실시예에 따르면 조명(330)(예: 도 3의 조명부(130))는 지그 몸체(310a, 310b)의 일면에 부착되어 사용될 수 있다. 예를 들면, 조명부(130)는 도 2에 도시된 바와 같이 가운데에 관통공이 형성된 장방형 형태를 가질 수도 있으나, 이와 달리, 서로 분리된 제1 지그 몸체(310a), 제2 지그 몸체(310b)에 대응하는 서로 분리된 두 개의 조명부로 구성될 수도 있다.An illumination unit 330 (eg,
도 13 및 도 14에 도시된 실시예에서, 제 1 광가이드(320a) 및 제 2 광가이드(320b)는 측정 대상물이 지그 몸체(310a, 310b)에 거치될 때 측정 대상물(200)을 중심으로 일 측과 타 측에서 서로 마주보는 형태로 배치될 수 있다. 그리고, 제 1 광가이드(320a) 및 제 2 광가이드(320b)는 각각 그 일면(예: 제 1 면(또는 하부면))에 형성된 개구(321)(예: 도 3의 개구(121))를 포함할 수 있다. 도 13에 도시된 실시예에서 개구(321)는 도 3에 도시된 실시예에 따른 관통공(101)와 다른 구성임을 유의해야 한다. 13 and 14, the first
제 1 광가이드(320a) 및 제 2 광가이드(320b)는 조명부(330)로부터 제공되며, 개구(321)를 통해 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(324)를 포함할 수 있다. 또한 제 1 광가이드(320a)는 일 방향에서 입사되며 조명부(330)로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(325)를 포함할 수 있다. 제 2 광경로전환부재(325)를 향해 일 방향에서 입사된 광은 제 1 광경로전환부재(324)를 통과한 광일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 제 1 광경로전환부재(324) 및 제 2 광경로전환부재(325)는 개구(321)를 통해 입사된 광의 이동 경로상에 순차적으로 배치된 구성일 수 있다. The
제 1 광경로전환부재(324)는 개구(321)에 입사된 광이 소정 각도로 꺾여 이동할 수 있도록 광의 진행 방향을 전환하는 구성일 수 있다. 예를 들면, 제 1 광경로전환부재(324)는 한 쌍의 직교면과 경사면을 가지는 삼각 기둥 형태의 프리즘(prism)일 수 있다. 제 1 광경로전환부재(324)는 개구(321)에 인접하게 형성되는데, 예를 들면, 상기 한 쌍의 직교면 중 일면이 상기 개구(321)에 접하도록 배치될 수 있다. 그리고 상기 한 쌍의 직교면 중 다른 일면은 지그 몸체(310a, 또는 310b)의 중심 방향을 향하도록 배치될 수 있다. 이때 상기 경사면은 지그 몸체(310a, 또는 310b)의 외부를 향하도록 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 경사면은 제 1 지그 몸체(310a)의 제 1 면(311)에 대하여 45도로 경사진 방향을 향하도록 형성될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 측정 대상물(200)이 치수 측정용 지그(300)에 놓여졌을 때, 제 1 광경로전환부재(324)는 지그 몸체(310a 및/또는 310b)의 제 1 면(311)에 형성된 개구(321)를 통해 입사된 광을 상기 경사면 상에서 전환시켜 측정 대상물(200)의 측면으로 향하게 할 수 있다. The first optical
제 2 광경로전환부재(325)는 제 1 광경로전환부재(324)에 인접하게 형성되며, 제 1 광경로전환부재(324)를 통과한 광을 투과시키거나 방향을 전환시키기 위한 구성일 수 있다. 제 1 광경로전환부재(324)에 의해 1차적으로 방향이 전환된 광은 제 2 광경로전환부재(325)를 통과하여 측정대상물(200)을 향할 수 있다. 제 2 광경로전환부재(325)는 제 1 광경로전환부재(324)에 의해 방향이 전환되어 일 방향에서 입사된 광을 투과시킬 수 있고, 타 방향에서 입사된 광은 반사(예: 굴절 반사)시켜 광의 이동경로를 전환시킬 수 있다. 예를 들면 제 2 광경로전환부재(325)는 광의 일부는 반사하고, 일부는 투과하도록 형성된 반투명 거울(half-transparent mirror)일 수 있다. 제 2 광경로전환부재(325)는 얇은 평판형 거울(mirror)로 구성될 수 있다. 이때 제 2 광경로전환부재(325)의 일면 측으로 입사된 광은 투과하고, 다른 면 측으로 입사된 광은 반사시키도록 형성될 수 있다. 제 2 광경로전환부재(325)는 제 1 광경로전환부재(324)에 인접하게 형성되는데, 제 2 광경로전환부재(325)의 일면이 지그 몸체(310)의 제 1 면(311)과 경사진 상태로 배치될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 상기 2 광경로전환부재(325)의 다른 면이 상기 제 1 광경로전환부재(324)의 경사면과 대략 수직한 방향을 향하도록 형성될 수 있다. 이에 따르면, 제 2 광경로전환부재(325)의 다른 면 또한 지그 몸체(310a 및/또는 310b)의 제 1 면(311)에 대하여 45도로 경사진 방향을 향하도록 형성될 수 있다. 제 2 광경로전환부재(325)에 투과되는 광 및 반사되는 광에 대해서는 후술하는 도 14에서 상세히 도시된다. The second optical
도 14에 도시된 실시예에 따르면, 제 1 광가이드(320a) 및 제 2 광가이드(320b)는 광경로전환부재로서, 제 1 광경로전환부재(324) 및 제 2 광경로전환부재(325) 외에도 제 3 광경로전환부재(326)를 더 포함할 수 있다. 제 3 광경로전환부재(326)는 제 1 광경로전환부재(324) 및 제 2 광경로전환부재(325)가 측정대상물(200)의 거치시 측정대상물(200)의 외부에 배치하게 되는 것과 달리, 측정대상물(200)의 내부에 배치될 수 있다. According to the embodiment shown in FIG. 14, the first
제 3 광경로전환부재(326)는 조명부(330')로부터 제공된 광이 소정 각도로 꺾여 이동할 수 있도록 광의 진행 방향을 전환하는 구성일 수 있다. 예를 들면, 제 3 광경로전환부재(326)는 한 쌍의 직교면과 경사면을 가지는 삼각 기둥 형태의 프리즘(prism)일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 제 1 광경로전환부재(314) 및 제 3 광경로전환부재(326)는 각각 동일한 형태 및/또는 사양의 프리즘(prism)으로 구성될 수 있다. The third light
제 3 광경로전환부재(326) 하부에는 조명부(330')(이하, 조명부(330)는 '제 1 조명부(330)'라하고, 조명부(330')는 '제 2 조명부(330')'라 명명할 수 있음)가 배치될 수 있으며, 조명부(330')에서 제공된 광은 제 3 광경로전환부재(326)에 의해 방향이 전환되어 측정대상물(200)의 내측으로부터 제 2 광경로전환부재(325)를 향할 수 있다. 여기서 조명부(330')는 개구(321)로 광을 제공하는 조명부(330)와 동일한 광원일 수 있고, 또는 서로 별개로 구비된 광원일 수도 있다. 예를 들어, 조명부(330)와 조명부(330')는 일체의 광원으로 구성될 수 있다. 또 다른 예를 들어, 조명부(330)와 조명부(330')는 서로 분리되고 독립적으로 구동될 수 있는 광원일 수 있다.Under the third light
일 실시예에 따르면, 제 1 지그 몸체(310a) 및 제 2 지그 몸체(310b)는 각각, 측정 대상물의 거치대 역할을 하는 적어도 하나의 돌출부(314)와 측정대상물의 수평 방향 이동을 제한하는 측면 지지 부재(315)를 더 포함할 수 있는데, 상기 제 3 광경로전환부재(326)는 상기 적어도 하나의 돌출부(314)와 연결될 수 있다. 적어도 하나의 돌출부(314)는 제 1 지그 몸체(310a) 및 제 2 지그 몸체(310b)로부터 각각 소정 길이 돌출된 형태를 가질 수 있으며, 일단이 제 3 광경로전환부재(326)와 고정적으로 연결되는 형태를 가질 수 있다. According to an embodiment, the
도 15는, 본 개시의 다른 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)의 일부분이 절단된 모습을 나타내는 사시도이다. 도 16은, 도 15에 도시된 절단된 단면을 확대한 사시도이다.15 is a perspective view illustrating a portion of a
도 15에 도시된 바와 같이 측정 대상물(200)을 상기 제 1 지그 몸체(310a)와 제 2 지그 몸체(320b)에 위치시키지 않은 상태에서 보면, 제 1 지그 몸체(310a) 및 제 2 지그 몸체(320b)는 서로 소정거리 이격된 상태로 도 1에서 전술한 치수 측정 장치에 설치될 수 있다. 도 15의 도면에 도시되지는 않았으나, 조명부(330 및/또는 330')는 치수 측정용 지그(300)의 일부 구성으로서 제 1 지그 몸체(310a) 및 제 2 지그 몸체(310b)의 배면에 배치될 수 있다. As shown in FIG. 15, when the
도 16은, 도 15에 도시된 치수 측정용 지그(300)의 일부 절단면을 확대한 도면으로서 이를 참조하면, 치수 측정용 지그(300)는 제 3 광경로전환부재(325)로 입사된 빛이 기 지정된 방향이 아닌 다른 방향으로 향하는 것을 방지하기 위한 커버(327)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 커버(327)는 제 3 광경로전환부재(326)와 인접하게 배치될 수 있으며, 적어도 하나의 경사면을 가져 제 3 광경로전환부재(326)의 상기 경사면과 대면하도록 형성될 수도 있다. FIG. 16 is an enlarged view of a partial cut surface of the
일 실시예에 따르면, 제 2 광경로전환부재(325)는 일 방향에서 입사된 상기 제 1 조명부(330)로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시킬 수 있다. 또한, 제 2 광경로전환부재(325)는 상기 제 2 광경로전환부재(325)를 향해 상기 타 방향에서 입사된 광으로서, 측정 대상물에 의해 굴절된 광과 상기 측정 대상물에 반사된 광과 측정 대상물의 주변부를 그대로 통과하는 광 중 적어도 하나의 광을 포함할 수 있다. 나아가 도 13 내지 도 16에 도시된 실시예에 따르면, 상기 제 2 광경로전환부재(325)를 향해 상기 타 방향에서 입사된 광은 제 2 조명부(330')로부터 제공된 광이 제 3 광경로전환부재(325)에 의해 방향 전환되어 입사된 광을 더 포함할 수 있다. According to an embodiment, the second light
치수 측정용 지그(300)가 제 3 광경로전환부재(325)를 더 포함하고, 이를 사용하여 측정 대상물(200)의 이미지를 획득함으로써, 측정 대상물(200)이 예를 들면 Black 인쇄층이 인쇄된 3D Glass라면 3D Glass 내측에 빛이 투과되지 않는 영역의 치수를 정밀하게 측정할 수 있는 장점이 있다. The
도 17은, 다양한 실시예들에 따른, 슬라이딩 이동 가능한 측면지지부재(315)를 나타내는 도면이다.17 is a diagram illustrating a slidable
다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(300)는 측정 대상물의 거치시 측정 대상물의 이동을 제한하는 적어도 하나의 측면 지지 부재(315)를 포함하며, 측면 지지 부재(315)는, 상기 제 2 광경로전환부재(325)의 길이방향을 따라 슬라이딩 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 측면 지지 부재(315)는 도 16 및 도 17에 도시된 바와 같이 지그 몸체(310a 및/또는 310b)와 결합 가능한 블록(block) 형태로 구성될 수 있다. 이때 지그 몸체(310a 및/또는 310b)에는 상기 측면 지지 부재(315)가 슬라이딩 이동 가능하도록 홈부(315')가 형성될 수 있다. 측면 지지 부재(315)가 제 2 광경로전환부재(325)의 길이방향을 따라 슬라이딩 이동 가능하도록 구성됨으로써, 측정 대상물의 크기 및 사양에 맞춰 측면 지지 부재의 위치를 조정할 수 있게 됨으로써 보다 정밀한 치수 측정 동작을 수행할 수 있다. According to various embodiments, the
도 18은 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그(300)의 위치 조절부(329)를 나타내는 도면이다. 18 is a diagram illustrating a
도 18에 도시된 실시예에 따르면, 치수 측정용 지그(300)는 적어도 하나의 위치조절부(329)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 위치조절부(329)는 나사산이 형성된 조임 볼트가 해당될 수 있다. 위치조절부(329)는 치수 측정용 지그(300)의 지그 몸체(310a 및/또는 310b)와 광가이드(320a 및/또는 320b) 간의 고정을 위한 고정 수단(329')과 구별되는 구성으로서 단순히 고정 수단의 역할만을 하는 것이 아니라 후술하는 제 1 광경로전환부재(324)의 위치를 조절하는 수단으로 활용할 수 있다. According to the embodiment shown in FIG. 18, the
위치조절부(329)는 지그 몸체(310a 및/또는 310b)의 상면에 배치될 수 있다. 위치조절부(329)는 적어도 두 개 이상 구비될 수 있으며, 예를 들어 지그 몸체(310a, 및/또는 310b)의 상면에 제 1 위치조절부(329a)가 구비될 수 있으며, 제 1 위치조절부(329a)로부터 소정거리 이격된 후방(측정대상물로부터 반대 방향)에 제 2 위치조절부(329b)가 구비될 수 있다. The
도 19a는 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 제 1 광경로전환부재의 및 제 2 광경로전환부재의 위치 및 각도를 나타내는 도면이다. 도 19b는 본 개시의 다양한 실시예들에 따른, 치수 측정용 지그의 제 1 광경로전환부재의 위치 및 제 2 광경로전환부재의 각도가 조절되는 모습을 나타내기 위한 단면도이다.19A is a view showing positions and angles of a first optical path switching member and a second optical path switching member of a jig for dimension measurement according to various embodiments of the present disclosure. 19B is a cross-sectional view illustrating a state in which a position of a first optical path switching member and an angle of a second optical path switching member of a dimension measuring jig are adjusted according to various embodiments of the present disclosure.
다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(300)는 위치조절블록(328)을 더 포함할 수 있다. 위치조절블록(328)은 위치조절부(329)의 하단에 배치될 수 있으며, 위치조절부(329)의 조임시 위치조절블록(328)이 하방으로 이동함에 따라 제 1 광경로전환부재(324)를 가압함으로써 제 1 광경로전환부재(324)가 측정대상물(200)이 위치한 방향으로 이동하도록 할 수 있다. According to various embodiments, the
일 실시예에 따르면 제 2 광경로전환부재(325)는 일부분(예: 상단부)이 제 1 광경로전환부재(324)의 모서리 상단부에 걸쳐 올려진 상태로 구비될 수 있고 다른 부분(예: 하단부)은 지그 몸체(310a 및/또는 310b)에 회전 가능하게 구비될 수 있다. 여기서, 제 1 광경로전환부재(324)의 위치가 가변되면, 제 1 광경로전환부재(324)의 상단에 걸쳐 올려진 제 2 광경로전환부재(325)의 타단부(예: 하단부)의 위치는 고정된 상태에서 제 2 광경로전환부재(325)의 일부분(예: 상단부)의 위치가 가변되어 제 2 광경로전환부재(325)의 각도(a)가 조절될 수 있다. According to an embodiment, the second optical
예를 들면, 사용자가 적어도 하나의 위치조절부(329)를 조이면, 위치조절블록(328)이 하방으로 이동하면서 제 1 광경로전환부재(324)를 가압하게 되고, 위치조절블록(328)으로부터 가압된 제 1 광경로전환부재(324)는 측정대상물(328) 방향으로 이동하게 되면서, 제 2 광경로전환부재(325)의 지지대(310a 및/또는 310b)와의 각도는 커질 수 있다. 제 2 광경로전환부재(325)의 각도가 커지면, 제 2 광경로전환부재(325)를 향해 측정대상물(200) 방향에서 입사된 광의 이동 방향이 전환되어, 광학 모듈(325)에 맺히는 초점의 거리 및/또는 광량을 조절할 수 있다. For example, when the user tightens at least one
다양한 실시예들에 따르면, 제 1 광가이드(320a)는 측정 대상물(200)을 기준으로 제 2 광가이드(320b)의 반대편에 위치하기 때문에, 제 1 광가이드(320a)의 광의 이동 경로 및 제 2 광가이드(320b)의 광의 이동 경로 또한 측정 대상물(200)을 기준으로 반대편에 위치할 수 있다. According to various embodiments, since the first
일 실시예에 따르면, 상기 제 1 광가이드(320a) 및 제 2 광가이드(320b)는 측정 대상물(200)을 기준으로 상호 대칭적으로 구성될 수 있다. 예를 들면, 제 1 광가이드(320a)에 포함된 제 1 광경로전환부재(324) 및 제 2 광경로전환부재(325)는 제 2 광가이드(320b)에 포함된 제 1 광경로전환부재(324) 및 제 2 광경로전환부재(325)와 측정 대상물(200)의 중심으로부터 측정 대상물(200)의 길이 방향을 따라 선 대칭(Symmetry)을 이룰 수 있다. According to an embodiment, the first
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(예: 도 2의 치수 측정용 지그(100))에 있어서, 적어도 하나의 광가이드(예: 도 2의 광가이드(120))를 포함하는 지그 몸체(예: 도 2의 지그 몸체(110)); 및 상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 조명부(예: 도 2의 조명부(130));를 포함하고, 상기 광가이드는, 상기 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구(예: 도 3의 개구(121)); 상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(예: 도 3의 제 1 광경로전환부재(124)); 및 일 방향에서 입사된 상기 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(예: 도 3의 제 2 광경로전환부재(125));를 포함하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, in a dimension measurement jig (eg, a
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 2 광경로전환부재를 향해 상기 타 방향에서 입사된 광은 측정 대상물에 의해 굴절된 광과 상기 측정 대상물에 반사된 광과 측정 대상물의 주변부를 그대로 통과하는 광 중 적어도 하나의 광을 포함할 수 있다.According to various embodiments, the light incident from the other direction toward the second optical path switching member is one of light refracted by the object to be measured, light reflected by the object to be measured, and light passing through the periphery of the object to be measured. It may contain at least one light.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광경로전환부재에 의해 굴절된 광은 상기 제 2 광경로전환부재를 통과하여 상기 측정 대상물의 측면에 도달하도록 설계될 수 있다. According to various embodiments, the light refracted by the first optical path switching member may be designed to pass through the second optical path switching member and reach the side of the object to be measured.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광경로전환부재는 프리즘을 포함하고, 상기 제 2 광경로전환부재는 반투명 거울을 포함할 수 있다. According to various embodiments, the first optical path switching member includes a prism, The second optical path switching member may include a translucent mirror.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 지그 몸체는 내측에 관통공을 포함하는 장방형(rectangle) 형상의 광가이드일 수 있다.According to various embodiments, the jig body may be an optical guide having a rectangular shape including a through hole therein.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는, 상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드(예: 도 4의 제 1 광가이드(120a)) 및 상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드(예: 도 4의 제 2 광가이드(120b))를 포함할 수 있다. According to various embodiments, the optical guide is formed along one side of the circumference of the through hole (for example, the first
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는, 상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드; 및 상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드(예: 도 4의 제 3 광가이드(120c))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the optical guide may include: a first optical guide formed along one side of the circumference of the through hole; And a third optical guide (eg, the third
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는 상기 관통공의 둘레 주위로 상기 지그 몸체의 서로 다른 네 개의 부분에 형성될 수 있다.According to various embodiments, the optical guide may be formed on four different portions of the jig body around the periphery of the through hole.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는, 제 1 광가이드(예: 도 4의 제 1 광가이드(120a)); 상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드(예: 도 4의 제 2 광가이드(120b)); 상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드(예: 도 4의 제 3 광가이드(120c)); 상기 관통공을 기준으로 상기 제 2 광가이드의 반대 측에 형성된 제 4 광가이드(예: 도 4의 제 4 광가이드(120d))를 포함할 수 있다. According to various embodiments, the optical guide may include a first optical guide (eg, the first
다양한 실시예들에 따르면, 상기 지그 몸체는 제 1 광가이드를 포함하는 제 1 지그 몸체(예: 도 13의 제 1 지그 몸체(310a)); 상기 제 1 지그 몸체로부터 이격되어 배치되고 제 2 광가이드를 포함하는 제 2 지그 몸체(예: 도 13의 제 2 지그 몸체(310b))를 포함할 수 있다. According to various embodiments, the jig body may include a first jig body including a first optical guide (eg, a
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 각각 제 2 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 3 광경로전환부재(예:도 14의 제 3 광경로전환부재(326))를 더 포함할 수 있다. According to various embodiments, the first light guide and the second light guide each have a third light path switching member for switching a movement path of light provided from the second lighting unit (for example, the third light path switching member ( 326)) may be further included.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 지그 몸체로부터 돌출된 적어도 하나의 돌출부(예: 도 4의 적어도 하나의 돌출부(114), 예: 도 12의 적어도 하나의 돌출부(1141), 예: 도 14의 적어도 하나의 돌출부(314))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, at least one protrusion protruding from the jig body (eg, at least one
다양한 실시예들에 따르면, 적어도 하나의 위치조절부(예: 도 16의 위치 조절부(329))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, it may include at least one position adjusting unit (eg, the
다양한 실시예들에 따르면, 측정 대상물의 거치시 측정 대상물의 이동을 제한하는 적어도 하나의 측면지지 부재(예: 도 4의 적어도 하나의 측면지지 부재(115), 예: 도 12의 적어도 하나의 측면지지 부재(1150), 예: 도 14의 적어도 하나의 측면지지 부재(315))를 포함할 수 있다. According to various embodiments, at least one side support member that restricts movement of the measurement object when the measurement object is mounted (eg, at least one
다양한 실시예들에 따르면, 상기 측면 지지 부재는, 상기 제 2 광경로전환부재의 길이방향을 따라 슬라이딩 이동 가능하도록 구성될 수 있다. According to various embodiments, the side support member may be configured to be slidable along a longitudinal direction of the second optical path switching member.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(예: 도 2의 치수 측정용 지그(100))에 있어서, 관통공(예: 도 2의 관통공(101)) 및 상기 관통공의 적어도 일부분의 둘레에 배치된 광가이드(예: 도 2의 광가이드(120))를 포함하는 지그 몸체(예: 도 2의 지그 몸체(110)); 및 상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 조명부(예: 도 2의 조명부(130));를 포함하고, 상기 광가이드는, 상기 지그 몸체의 제 1 면(예: 도 3의 제 1 면(111))에 형성된 개구(예: 도 3의 개구(121)); 상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(예: 도 3의 제 1 광경로전환부재(124)); 및 일 방향에서 입사된 상기 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(예: 도 3의 제 2 광경로전환부재(125));를 포함하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, in a dimension measurement jig (eg, a
다양한 실시예들에 따르면, 상기 지그 몸체로부터 상기 관통공을 향해 돌출된 적어도 하나의 돌출부(예: 도 2의 돌출부(114))를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments, it may further include at least one protrusion (for example, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 돌출부는 복수의 돌출부들을 포함할 수 있다.According to various embodiments, the protrusion may include a plurality of protrusions.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광경로전환부재에 의해 굴절된 광은 상기 제 2 광경로전환부재를 통과하여 상기 측정 대상물의 측면에 도달하도록 설계될 수 있다.According to various embodiments, the light refracted by the first optical path switching member may be designed to pass through the second optical path switching member and reach the side of the object to be measured.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 치수 측정용 지그는 상기 광가이드로서, 상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드(예: 도 5의 제 1 광가이드(120a)); 및 상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드(예: 도 5의 제 2 광가이드(120b))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the dimension measurement jig is the optical guide, comprising: a first optical guide (eg, the first
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는 상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드(예: 도 5의 제 1 광가이드(120a)); 및 상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드(예: 도 5의 제 3 광가이드(120c))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the optical guide may include a first optical guide (eg, a first
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는 상기 관통공의 둘레 주위로 상기 지그 몸체의 서로 다른 네 개의 부분에 형성될 수 있다.According to various embodiments, the optical guide may be formed on four different portions of the jig body around the periphery of the through hole.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는, 제 1 광가이드(예: 도 5의 제 1 광가이드(120a)); 상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드(예: 도 5의 제 2 광가이드(120b)); 상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드(예: 도 5의 제 3 광가이드(120c)); 상기 관통공을 기준으로 상기 제 2 광가이드의 반대 측에 형성된 제 4 광가이드(예: 도 5의 제 4 광가이드(120d))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the optical guide may include a first optical guide (eg, the first
다양한 실시예들에 따르면, 상기 조명부는 상기 관통공의 둘레를 따라 배치될 수 있다. According to various embodiments, the lighting unit may be disposed along the circumference of the through hole.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 조명부는 상기 관통공의 둘레를 따라 폐루프를 형성할 수 있다.According to various embodiments, the lighting unit may form a closed loop along the circumference of the through hole.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광경로전환부재는 프리즘을 포함하고,상기 제 2 광경로전환부재는 반투명 거울을 포함할 수 있다.According to various embodiments, the first optical path switching member may include a prism, and the second optical path switching member may include a translucent mirror.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 개구를 통해 입사된 광이 상기 지그 몸체의 외부로 누설되지 않도록 하기 위한 커버(예: 도 3의 커버(127)를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments, a cover (eg, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 관통공의 적어도 일부분의 둘레를 따라 배치된 적어도 하나의 측면 지지 부재(예:도 2의 측면 지지 부재(115, 116))를 포함할 수 있다.According to various embodiments, at least one side support member (eg,
다양한 실시예들에 따르면, 상기 측면 지지 부재는, 상기 관통공 둘레의 일측에 배치된 제 1 측면 지지 부재와, 상기 관통공 둘레의 타측에 배치된 제 2 측면 지지 부재를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the side support member may include a first side support member disposed on one side around the through hole, and a second side support member disposed on the other side around the through hole.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 측면 지지 부재는, 상기 지그 몸체로부터 일체로 형성될 수 있다.According to various embodiments, the side support member may be integrally formed from the jig body.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(예: 도 13의 치수 측정용 지그(100))에 있어서, 제 1 광가이드(예: 도 13의 제 1 광가이드(320a))를 포함하는 제 1 지그 몸체(예: 도 13의 제 1 지그 몸체(310a)), 상기 제 1 지그 몸체로부터 이격되어 배치되고 제 2 광가이드(예: 도 13의 제 2 광가이드(320b))를 포함하는 제 2 지그 몸체(예: 도13의 제 2 지그 몸체(320b)); 및 상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 배치되는 제 1 조명부(예: 도 3의 조명부(130));를 포함하고, 상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 측정 대상물이 거치될 때 측정 대상물을 중심으로 일 측과 타측에서 대향하도록 배치되며, 각각, 상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구(예: 도 14의 개구(321)); 상기 개구를 통해 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(예: 도 14의 제 1 광경로전환부재(324)); 및 일 방향에서 입사된 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(예: 도 14의 제 2 광경로전환부재(325));를 포함할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, in a dimension measurement jig (eg, a
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 각각 제 2 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 3 광경로전환부재(예:도 14의 제 3 광경로전환부재(326))를 더 포함할 수 있다. According to various embodiments, the first light guide and the second light guide each have a third light path switching member for switching a movement path of light provided from the second lighting unit (for example, the third light path switching member ( 326)) may be further included.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 3D 형상의 측정 대상물(예: 도 1의 측정 대상물(200))에 대한 치수 측정 장치(예: 도 1의 치수 측정 장치(10))에 있어서, 치수 측정용 지그(예: 도 1의 치수 측정용 지그(100)); 상기 치수 측정용 지그를 배치하기 위한 플랫폼(예: 도 1의 플랫폼(11)); 상기 플랫폼으로부터 소정 거리만큼 이격되고 상기 치수 측정용 지그를 향하도록 배치되어, 상기 측정대상물의 이미지 획득을 위한 광학 모듈을 포함하는 광학 타워부(예: 도 1의 광학 타워부(20)); 및 상기 치수 측정용 지그에 배치된 상기 측정 대상물을 촬영한 이미지를 표시하는 모니터부(예: 도 1의 모니터부(30));를 포함하고, 상기 치수 측정용 지그는, 관통공(예: 도 2의 관통공(101)); 및 상기 관통공의 적어도 일부분의 둘레에 배치된 광가이드(예: 도 3의 광가이드(120))를 포함하는 지그 몸체(예: 도 2의 지그 몸체(110)); 및 상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 제 1 조명부(예: 도 2의 조명부(130));를 포함하고, 상기 플랫폼은 상기 치수 측정용 지그의 상기 관통공의 하부에 배치된 제 2 조명부(예: 도 1의 광원부(15))를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, in a dimension measuring apparatus (for example, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광학 모듈은 상기 측정 대상물의 평면 이미지 및 측면 이미지를 함께 획득하고, 상기 모니터부는 상기 측정 대상물의 평면 이미지 및 측면 이미지를 포함한 2D 이미지를 출력할 수 있다.According to various embodiments, the optical module may acquire a planar image and a side image of the measurement object together, and the monitor unit may output a 2D image including a planar image and a side image of the measurement object.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 플랫폼은 상기 치수 측정용 지그를 평면 방향으로 이동시키는 컨베이어 부재(예: 도 1의 컨베이어 부재(13))를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments, the platform may further include a conveyor member (eg, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 광가이드는, 상기 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구(예: 도 3의 개구(121)); 상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(예: 도 3의 제 1 광경로전환부재(124)); 및 상기 조명부로부터 제공된 광의 적어도 일부를 통과시키고, 측정 대상물에 반사된 광의 일부의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(예: 제 2 광경로전환부재(125));를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the optical guide may include an opening formed on a first surface of the jig body (eg, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 지그 몸체로부터 상기 관통공을 향해 돌출된 적어도 하나의 돌출부(예: 도 1의 114)를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments, it may further include at least one protrusion (eg, 114 in FIG. 1) protruding from the jig body toward the through hole.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(예: 도 11의 치수 측정용 지그(100'))에 있어서, 관통공(예: 도 11의 관통공(101)); 상기 관통공을 향해 돌출된 적어도 하나의 돌출부(예: 도 11의 돌출부(114)) 및 상기 관통공의 적어도 일부분을 둘러싸도록 배치된 광가이드(예: 도 11의 광 가이드(120)')를 포함하는 지그 몸체(예: 도 11의 지그 몸체(110)); 및 상기 지그 몸체의 제 1 면(예: 도 11의 제 1 면(111))에 인접하여 배치된 조명부(예: 도 11의 조명부(130));를 포함하고, 상기 광가이드는, 상기 지그 몸체의 제 1 면(예: 도 6의 제 1 면(111))에 형성되고, 상기 조명부로부터 제공된 광이 입사되는 개구(예: 도 11의 개구(121)); 상기 제 1 면과 반대 방향을 향하는 제 2 면(예: 도 11의 제 2 면(112))에 형성되며, 상기 돌출부에 안착된 상기 측정 대상물의 측면을 향해 입사된 광 및 상기 측정대상물로부터 반사된 광 중 적어도 하나의 광(예: 도 11의 광(L2))이 출사되는 제 3 개구(예: 도 11의 제 3 개구(122)); 상기 개구 및 상기 제 3 개구 사이의 광의 이동경로 상에 배치되고, 상기 개구를 통해 입사된 광을 상기 측정 대상물의 측면을 향해 굴절시키는 제 1 광경로전환부재(예: 도 11의 제 1 광경로전환부재(124)); 및 상기 개구를 통해 입사된 광의 이동방향을 기준으로 상기 제 1 광경로전환부재의 후방에 배치되며, 상기 돌출부에 안착된 상기 측정 대상물의 측면을 향해 입사된 광 및 상기 측정대상물로부터 반사된 광 중 적어도 하나의 광을 상기 제 3 개구를 향해 굴절시키는 제 2 광경로전환부재(예: 도 11의 제 2 광경로전환부재(125));를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, in a dimension measurement jig (eg, a
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 면과 상기 제 2 면 사이의 상기 지그 몸체의 내측면(예: 도 11의 내측면(113))에 형성된 제 4 개구(예: 도 11의 제 4 개구(123));를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments, a fourth opening (eg, a fourth opening in FIG. 11) formed on an inner surface of the jig body (eg, the
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광가이드에 포함된 제 4 개구는, According to various embodiments, the fourth opening included in the first optical guide,
상기 제 1 광가이드(예: 도 5의 제 1 광가이드(120a))에 포함된 제 2 광경로전환부재를 통과하여 상기 측정 대상물의 측면에서 반사된 광과 상기 제 3 광가이드(예: 도 5의 제 3 광가이드(120c))로부터 제공되어 상기 측정 대상물을 통과한 광이 입사되도록 설계될 수 있다.Light reflected from the side of the object to be measured passing through the second optical path switching member included in the first optical guide (for example, the first
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광가이드에 포함된 제 4 개구는, 상기 제 1 광가이드에 포함된 제 2 광경로전환부재를 통과하여 상기 측정 대상물의 측면에서 반사된 광과 상기 제 3 광가이드로부터 제공되어 상기 측정 대상물을 통과한 광이 입사되도록 설계될 수 있다.According to various embodiments, the fourth opening included in the first optical guide passes through the second optical path switching member included in the first optical guide and reflects light from the side of the measurement object and the third It may be designed such that light provided from an optical guide and passing through the measurement object is incident.
본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 치수 측정용 지그(예: 도 13의 치수 측정용 지그(300))에 있어서, 제 1 광가이드(예: 도 13의 제 1 광가이드(320a))를 포함하는 제 1 지그 몸체(예: 도 13의 제 1 지그 몸체(310a)), 상기 제 1 지그 몸체로부터 이격되어 배치되고 제 2 광가이드(예: 도 13의 제 2 광가이드(320b))를 포함하는 제 2 지그 몸체(예: 도 13의 제 2 지그 몸체(310b)); 및 상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 배치되는 제 1 조명부(예: 도 14의 제 1 조명부(330));를 포함하고, 상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 측정 대상물이 거치될 때 측정 대상물을 중심으로 일 측과 타측에서 대향하도록 배치되며, 각각, 상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 관통공(예: 도 14의 관통공(321)); 상기 관통공을 통해 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재(예: 도 14의 제 1 광경로전환부재(324)); 및 일 방향에서 입사된 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재(예: 도 14의 제 2 광경로전환부재(325));를 포함하는 치수 측정용 지그를 제공할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, in a dimension measurement jig (eg, a dimension measurement jig 300 of FIG. 13), a first optical guide (eg, the first optical guide 320a of FIG. 13) is A first jig body including a first jig body (eg, the first jig body 310a of FIG. 13), and a second light guide (eg, the second light guide 320b of FIG. 13) disposed apart from the first jig body A second jig body including (eg, the second jig body 310b of FIG. 13 ); And a first lighting unit disposed on the first surface of the first jig body and the second jig body (for example, the first lighting unit 330 of FIG. 14 ); including, the first light guide and the second light guide Are arranged to face each other on one side and the other side with respect to the measurement object when the measurement object is mounted, respectively, through holes formed on the first surface of the first jig body and the second jig body (e.g. Ball 321); A first optical path switching member (eg, a first optical path switching member 324 in FIG. 14) for switching a movement path of light provided from the first lighting unit through the through hole; And a second optical path switching member (eg, the second optical path switching member 325 of FIG. 14) for passing the light provided from the first lighting unit incident in one direction and switching the movement path of the incident light in the other direction. ); It is possible to provide a jig for measuring dimensions including.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 2 광경로전환부재를 향해 상기 타 방향에서 입사된 광은 측정 대상물에 의해 굴절된 광과 상기 측정 대상물에 반사된 광과 측정 대상물의 주변부를 그대로 통과하는 광 중 적어도 하나의 광을 포함할 수 있다. According to various embodiments, the light incident from the other direction toward the second optical path switching member is one of light refracted by the object to be measured, light reflected by the object to be measured, and light passing through the periphery of the object to be measured. It may contain at least one light.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 각각 제 2 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 3 광경로전환부재(예: 도 14의 제 3 광경로전환부재(326))를 더 포함할 수 있다. According to various embodiments, the first light guide and the second light guide each have a third light path switching member for switching a moving path of light provided from the second lighting unit (for example, the third light path switching member of FIG. 14 ( 326)) may be further included.
다양한 실시예들에 따르면, 상기 제 1 광경로전환부재의 위치를 조정하여 상기 제 2 광경로전환부재의 각도를 조절하는 적어도 하나의 위치조절부(예: 도 14의 위치조절부(329))를 포함할 수 있다. According to various embodiments, at least one position adjusting unit (eg,
다양한 실시예들에 따르면, 측정 대상물의 거치시 측정 대상물의 이동을 제한하는 적어도 하나의 측면 지지 부재를 포함하며, 상기 측면 지지 부재(예: 도 14의 위치조절부(329))는, 상기 제 2 광경로전환부재의 길이방향을 따라 슬라이딩 이동 가능하도록 구성될 수 있다. According to various embodiments, it includes at least one side support member that restricts movement of the measurement object when the measurement object is mounted, and the side support member (for example, the
이상, 본 개시의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명하다 할 것이다. As described above, in the detailed description of the present disclosure, specific embodiments have been described, but it will be apparent to those of ordinary skill in the art that various modifications can be made without departing from the scope of the present disclosure.
10 : 치수 측정 장치
11 : 플랫폼
100 : 치수 측정용 지그
101 : 관통공
110 : 지그 몸체
120 : 광 가이드
121 : 개구
130 : 조명부(제 1 조명부)
200 : 측정 대상물10: dimension measuring device
11: platform
100: jig for dimension measurement
101: through hole
110: jig body
120: light guide
121: opening
130: lighting unit (first lighting unit)
200: object to be measured
Claims (20)
적어도 하나의 광가이드를 포함하는 지그 몸체; 및
상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 조명부;를 포함하고,
상기 광가이드는,
상기 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구;
상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재; 및
일 방향에서 입사된 상기 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재;를 포함하는 치수 측정용 지그.
In the dimension measurement jig,
A jig body including at least one optical guide; And
Including; a lighting unit disposed adjacent to the first surface of the jig body,
The optical guide,
An opening formed on the first surface of the jig body;
A first light path switching member for switching a moving path of light provided from the lighting unit through the opening; And
Dimensional measurement jig comprising a; a second light path switching member for passing the light provided from the illumination unit incident in one direction and for switching the movement path of the light incident in the other direction.
상기 제 2 광경로전환부재를 향해 상기 타 방향에서 입사된 광은 측정 대상물에 의해 굴절된 광과 상기 측정 대상물에 반사된 광과 측정 대상물의 주변부를 2그대로 통과하는 광 중 적어도 하나의 광을 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
The light incident from the other direction toward the second optical path switching member includes at least one of light refracted by the object to be measured, light reflected by the object to be measured, and light passing through the periphery of the object to be measured. Jig for measuring dimensions
상기 제 1 광경로전환부재에 의해 굴절된 광은 상기 제 2 광경로전환부재를 통과하여 상기 측정 대상물의 측면에 도달하도록 설계된 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
A jig for dimension measurement designed so that the light refracted by the first optical path switching member passes through the second optical path switching member and reaches a side surface of the measurement object.
상기 제 1 광경로전환부재는 프리즘을 포함하고,
상기 제 2 광경로전환부재는 반투명 거울을 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
The first optical path switching member comprises a prism,
The second optical path switching member is a jig for measuring dimensions including a translucent mirror.
상기 지그 몸체는 내측에 관통공을 포함하는 장방형(rectangle) 형상의 광가이드인 치수 측정 지그.
The method of claim 1,
The jig body is a dimension measuring jig that is an optical guide having a rectangular shape including a through hole inside.
상기 광가이드는,
상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드; 및 상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드를 포함하는 치수측정용 지그.
The method of claim 5,
The optical guide,
A first optical guide formed along one side of the circumference of the through hole; And a second optical guide formed adjacent to the first optical guide along the other side of the periphery of the through hole.
상기 광가이드는,
상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드; 및 상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 5,
The optical guide,
A first optical guide formed along one side of the circumference of the through hole; And a third optical guide formed on the opposite side of the first optical guide based on the through hole.
상기 광가이드는 상기 관통공의 둘레 주위로 상기 지그 몸체의 서로 다른 네 개의 부분에 형성된 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
The optical guide is a dimension measuring jig formed in four different portions of the jig body around the periphery of the through hole.
상기 광가이드는,
제 1 광가이드;
상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드;
상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드; 및
상기 관통공을 기준으로 상기 제 2 광가이드의 반대 측에 형성된 제 4 광가이드를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 8,
The optical guide,
A first optical guide;
A second optical guide formed adjacent to the first optical guide along the other side of the circumference of the through hole;
A third optical guide formed on the opposite side of the first optical guide based on the through hole; And
A jig for dimension measurement comprising a fourth optical guide formed on a side opposite to the second optical guide based on the through hole.
상기 지그 몸체는,
제 1 광가이드를 포함하는 제 1 지그 몸체; 상기 제 1 지그 몸체로부터 이격되어 배치되고 제 2 광가이드를 포함하는 제 2 지그 몸체를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
The jig body,
A first jig body including a first optical guide; A jig for dimension measurement comprising a second jig body disposed to be spaced apart from the first jig body and including a second optical guide.
상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 각각 제 2 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 3 광경로전환부재를 더 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 10,
The first light guide and the second light guide each further comprises a third light path switching member for switching a moving path of light provided from the second lighting unit.
상기 지그 몸체로부터 돌출된 적어도 하나의 돌출부를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
A jig for dimension measurement comprising at least one protrusion protruding from the jig body.
상기 제 1 광경로전환부재의 위치를 조정하여 상기 제 2 광경로전환부재의 각도를 조절하는 적어도 하나의 위치조절부를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
A jig for dimension measurement comprising at least one position adjusting unit for adjusting the angle of the second optical path changing member by adjusting the position of the first optical path changing member.
측정 대상물의 거치시 측정 대상물의 이동을 제한하는 적어도 하나의 측면지지 부재를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 1,
Dimensional measurement jig including at least one side support member that limits the movement of the measurement object when the measurement object is mounted.
상기 측면 지지 부재는, 상기 제 2 광경로전환부재의 길이방향을 따라 슬라이딩 이동 가능하도록 구성된 치수 측정용 지그.
The method of claim 14,
The side support member is a jig for dimension measurement configured to be slidable along the longitudinal direction of the second optical path switching member.
관통공 및 상기 관통공의 적어도 일부분의 둘레에 배치된 광가이드를 포함하는 지그 몸체; 및
상기 지그 몸체의 제 1 면에 인접하여 배치된 조명부;를 포함하고,
상기 광가이드는,
상기 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구;
상기 개구를 통해 상기 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재; 및
일 방향에서 입사된 상기 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재;를 포함하는 치수 측정용 지그.
In the dimension measurement jig,
A jig body including a through hole and an optical guide disposed around at least a portion of the through hole; And
Including; a lighting unit disposed adjacent to the first surface of the jig body,
The optical guide,
An opening formed on the first surface of the jig body;
A first light path switching member for switching a moving path of light provided from the lighting unit through the opening; And
Dimensional measurement jig comprising a; a second light path switching member for passing the light provided from the illumination unit incident in one direction and for switching the movement path of the light incident in the other direction.
상기 치수 측정용 지그는 상기 광가이드로서,
상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드; 및 상기 관통공의 둘레의 타측을 따라 상기 제 1 광가이드에 인접하게 형성된 제 2 광가이드를 포함하는 치수측정용 지그.
The method of claim 16,
The dimension measurement jig is the optical guide,
A first optical guide formed along one side of the circumference of the through hole; And a second optical guide formed adjacent to the first optical guide along the other side of the periphery of the through hole.
상기 광가이드는 상기 관통공의 둘레의 일측을 따라 형성된 제 1 광가이드; 및 상기 관통공을 기준으로 상기 제 1 광가이드의 반대 측에 형성된 제 3 광가이드를 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 16,
The optical guide may include a first optical guide formed along one side of the circumference of the through hole; And a third optical guide formed on the opposite side of the first optical guide based on the through hole.
제 1 광가이드를 포함하는 제 1 지그 몸체, 상기 제 1 지그 몸체로부터 이격되어 배치되고 제 2 광가이드를 포함하는 제 2 지그 몸체; 및
상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 배치되는 제 1 조명부;를 포함하고,
상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 측정 대상물이 거치될 때 측정 대상물을 중심으로 일 측과 타측에서 대향하도록 배치되며, 각각,
상기 제 1 지그 몸체 및 상기 제 2 지그 몸체의 제 1 면에 형성된 개구;
상기 개구를 통해 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 1 광경로전환부재; 및
일 방향에서 입사된 상기 제 1 조명부로부터 제공된 광을 통과시키고, 타 방향에서 입사된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 2 광경로전환부재;를 포함하는 치수 측정용 지그.
In the dimension measurement jig,
A first jig body including a first optical guide, a second jig body disposed to be spaced apart from the first jig body and including a second optical guide; And
Including; a first lighting unit disposed on the first surface of the first jig body and the second jig body,
The first optical guide and the second optical guide are disposed to face each other at one side and the other side around the measurement object when the measurement object is mounted, respectively,
An opening formed in the first surface of the first jig body and the second jig body;
A first light path switching member for switching a moving path of light provided from the first lighting unit through the opening; And
A jig for dimension measurement comprising a second optical path switching member for passing light provided from the first lighting unit incident in one direction and switching a movement path of light incident in another direction.
상기 제 1 광가이드 및 제 2 광가이드는 각각 제 2 조명부로부터 제공된 광의 이동경로를 전환시키기 위한 제 3 광경로전환부재를 더 포함하는 치수 측정용 지그.
The method of claim 19,
The first light guide and the second light guide each further comprises a third light path switching member for switching a moving path of light provided from the second lighting unit.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/KR2020/006125 WO2020231113A1 (en) | 2019-05-10 | 2020-05-08 | Dimension measurement jig and dimension measurement device including same |
CN202080034919.6A CN113811741B (en) | 2019-05-10 | 2020-05-08 | Dimension measuring jig and dimension measuring apparatus including the same |
US17/523,416 US20220065619A1 (en) | 2019-05-10 | 2021-11-10 | Dimension measurement jig and dimension measurement device including same |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190054720 | 2019-05-10 | ||
KR20190054720 | 2019-05-10 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20200130062A true KR20200130062A (en) | 2020-11-18 |
Family
ID=73697788
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190119903A KR20200130062A (en) | 2019-05-10 | 2019-09-27 | Dimension measurement device and dimension measurement jig structure therewith |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20200130062A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022177197A1 (en) * | 2021-02-18 | 2022-08-25 | 삼성전자(주) | Apparatus for measuring thickness of glass substrate and control method therefor |
WO2022231161A1 (en) * | 2021-04-27 | 2022-11-03 | 삼성전자주식회사 | Jig for measuring dimension and dimension measurement device comprising same |
-
2019
- 2019-09-27 KR KR1020190119903A patent/KR20200130062A/en unknown
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022177197A1 (en) * | 2021-02-18 | 2022-08-25 | 삼성전자(주) | Apparatus for measuring thickness of glass substrate and control method therefor |
WO2022231161A1 (en) * | 2021-04-27 | 2022-11-03 | 삼성전자주식회사 | Jig for measuring dimension and dimension measurement device comprising same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7113273B2 (en) | Machine and method for inspecting ferrule of optical connector | |
JP3472750B2 (en) | Surface inspection equipment | |
TWI702386B (en) | Telecentric bright field and annular dark field seamlessly fused illumination | |
US8009281B2 (en) | Lens module distortion measuring system and method | |
KR20200130062A (en) | Dimension measurement device and dimension measurement jig structure therewith | |
CN113848041B (en) | Optical performance test system and test method | |
US20220065619A1 (en) | Dimension measurement jig and dimension measurement device including same | |
KR20140023214A (en) | A device and a method for detecting a transmittivity spectrum of a light guiding plate | |
US20130258322A1 (en) | Lens testing device | |
US7456941B2 (en) | Measuring device for measuring the refraction properties of optical lenses | |
TWM578381U (en) | Measuring device for array type lighting unit | |
CN220039391U (en) | Assembly parallelism detection device and system thereof | |
KR101408361B1 (en) | A component recognition apparatus for chip mounter | |
TW201409001A (en) | Optoelectronic component testing equipment | |
KR102336094B1 (en) | Apparatus for determining an orientation of a die | |
CN219996902U (en) | Optical system for detecting appearance defects | |
KR100661911B1 (en) | Inspection apparatus | |
US20240214664A1 (en) | Camera illumination device with a common lens array for different illumination structures | |
US11435562B2 (en) | Projection device and projection system including the same | |
CN113075847B (en) | Digital light processing optical machine | |
KR20220147217A (en) | Dimension measurement device and dimension measurement jig structure therewith | |
KR20110004188A (en) | Apparatus for inspecting back light assembly and apparatus for inspecting display device | |
JP4712284B2 (en) | Surface inspection device | |
KR20220011970A (en) | Apparatus and method for measuring micro lens used | |
KR20130092805A (en) | Light test apparatus |