KR20110004188A - Apparatus for inspecting back light assembly and apparatus for inspecting display device - Google Patents

Apparatus for inspecting back light assembly and apparatus for inspecting display device Download PDF

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Abstract

PURPOSE: An apparatus for inspecting a backlight assembly and an apparatus for inspecting a display device are provided to simultaneously inspect plural failures detected in different kinds of view-angle directions by using only one camera. CONSTITUTION: A backlight assembly(121) is arranged in a stage(101), and at least one inspection light(102) is prepared in the upper portion higher than the backlight assembly arranged in the stage. The one inspection light projects inspect light to the inside of the backlight assembly. A camera(104) photographs the inspection light of which travel path is changed by plural mirrors.

Description

백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치{APPARATUS FOR INSPECTING BACK LIGHT ASSEMBLY AND APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY DEVICE}Backlight assembly inspection device and display device inspection device {APPARATUS FOR INSPECTING BACK LIGHT ASSEMBLY AND APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY DEVICE}

본 발명은 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사장치에 관한 것으로서, 백라이트 어셈블리를 비롯한 피검사체에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경 또는 곡면을 갖는 반사경이 구비됨으로써, 서로 다른 시야각 방향에서 검출되는 다수의 불량을 하하의 카메라를 이용하여 동시에 검출하는 것이 가능한 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting a backlight assembly and an apparatus for inspecting a display device, and includes a reflector having a plurality of reflectors or curved surfaces disposed to have different angles with respect to an inspected object including a backlight assembly, thereby detecting in different viewing angle directions. The present invention relates to a backlight assembly inspection device and a display device inspection device capable of detecting a plurality of defects simultaneously using a camera.

일반적으로 액정표시장치는 경량, 박형, 저소비 전력구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있다. 이에 따라 액정표시장치는 휴대용 컴퓨터, 휴대폰, 사무 자동화 기기 등에 있어서 화면을 디스플레이하기 위한 수단으로서 널리 이용되고 있다.BACKGROUND ART In general, liquid crystal display devices have tended to be gradually widened due to their light weight, thinness, and low power consumption. Accordingly, the liquid crystal display device is widely used as a means for displaying a screen in portable computers, mobile phones, office automation equipment and the like.

통상적으로 액정표시장치는 매트릭스형태로 배열된 다수의 제어용 스위칭 소자에 인가되는 영상신호에 따라 광의 투과량이 조절되어 화면에 원하는 화상을 표시하게 된다.In general, a liquid crystal display device displays a desired image on a screen by adjusting the amount of light transmitted according to image signals applied to a plurality of control switching elements arranged in a matrix.

이러한 액정표시장치는 상부기판인 컬러필터 기판과 하부기판인 박막 트랜지 스터 어레이 기판이 서로 대향하고 상기 두 기판 사이에 액정층이 형성된 액정패널과, 상기 액정패널에 주사신호 및 화상정보를 공급하여 액정패널을 동작시키는 구동부를 포함하여 구성된다.The liquid crystal display includes a liquid crystal panel in which a color filter substrate as an upper substrate and a thin film transistor array substrate as a lower substrate are opposed to each other and a liquid crystal layer is formed between the two substrates, and a scan signal and image information are supplied to the liquid crystal panel. It comprises a drive unit for operating the liquid crystal panel.

상기 액정표시장치는 스스로 빛을 내지 못하는 비발광 소자이므로 액정패널 상에 화상을 구현하기 위해서는 액정패널의 뒤에서 액정패널에 광을 공급하는 광원을 필요로 한다. 따라서, 액정표시장치에는 액정패널에 광을 공급하는 광원을 비롯하여 상기 광원으로부터 방출되는 광을 백색의 균일한 평면광으로 변환하기 위한 도광판, 광학시트 등을 포함하는 백라이트 어셈블리(back light assembly)가 구비된다.Since the liquid crystal display is a non-light emitting device that does not emit light by itself, in order to implement an image on the liquid crystal panel, a light source for supplying light to the liquid crystal panel behind the liquid crystal panel is required. Therefore, the liquid crystal display includes a back light assembly including a light source for supplying light to the liquid crystal panel, a light guide plate, an optical sheet, and the like for converting light emitted from the light source into uniform white light. do.

이와 같은 백라이트 어셈블리를 구성하는 다수의 구성 요소 중에서 도광판과 광학시트 자체에 결함이 있거나 표면에 이물이 부착된 경우에는 액정패널에 백색의 균일한 평면광이 공급되지 않아 액정패널에 구현되는 화상의 품질을 떨어뜨리게 되는 문제점이 있어, 액정표시장치를 제조하는 과정에서 백라이트 어셈블리에 대한 불량 검출을 목적으로 한 검사를 시행하고 있다.Among the components constituting the backlight assembly, when the light guide plate and the optical sheet itself are defective or foreign matter adheres to the surface, white uniform plane light is not supplied to the liquid crystal panel, so that the image quality is realized in the liquid crystal panel. There is a problem of dropping, so that the inspection for the purpose of detecting defects in the backlight assembly in the process of manufacturing the liquid crystal display device.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 종래의 백라이트 어셈블리 검사 장치에 대하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a conventional backlight assembly inspection apparatus will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1과 도 2에는 일반적인 백라이트 어셈블리의 구성 예를 도시하였는데, 도 1에는 플랫형 백라이트 어셈블리(21)를 도시하였고, 도 2에는 엣지형 백라이트 어셈블리(22)를 도시하였다.1 and 2 illustrate a configuration example of a general backlight assembly. In FIG. 1, a flat backlight assembly 21 is illustrated and an edge backlight assembly 22 is illustrated in FIG. 2.

도 1을 참조하면, 플랫형 백라이트 어셈블리(21)는 다수의 램프(21a)가 액정 패널(미도시)의 하부에 배치되며, 엣지형 백라이트 어셈블리(22)는 적어도 하나의 램프(22a)가 액정패널(미도시) 하부의 일측에 배치된다.Referring to FIG. 1, in the flat backlight assembly 21, a plurality of lamps 21a are disposed under a liquid crystal panel (not shown), and the edge type backlight assembly 22 may include at least one lamp 22a in liquid crystal. It is disposed on one side of the lower panel (not shown).

이와 같은 다양한 종류의 백라이트 어셈블리(21, 22)는 램프(21a, 22a)으로부터 방출되는 광을 백색의 균일한 평면광으로 변환한 후에 액정패널에 공급하기 위하여 도광판 및 광학시트가 구비된다.Such various types of backlight assemblies 21 and 22 are provided with a light guide plate and an optical sheet to convert the light emitted from the lamps 21a and 22a into white uniform plane light and then supply them to the liquid crystal panel.

도 3에는 일반적인 백라이트 어셈블리 검사 장치를 도시하였는데, 이와 같은 도 3을 참조하면, 일반적인 백라이트 어셈블리 검사장치는 백라이트 어셈블리(22)가 안착되는 스테이지(1)와, 상기 스테이지(1) 상에 배치되어 백라이트 어셈블리(22)의 내부에 검사용 광을 공급하는 검사용 조명(2)과, 상기 검사용 조명(2) 상에 배치되어 백라이트 어셈블리(22)의 내부에 입사된 후 반사되어 외부로 출사된 검사용 광을 촬영하는 카메라(4)로 구성된다.3 illustrates a general backlight assembly inspection apparatus. Referring to FIG. 3, a general backlight assembly inspection apparatus includes a stage 1 on which the backlight assembly 22 is seated, and a backlight disposed on the stage 1. An inspection light 2 for supplying inspection light into the assembly 22 and an inspection light disposed on the inspection light 2 and incident on the interior of the backlight assembly 22 and then reflected and emitted to the outside It consists of the camera 4 which photographs the molten light.

이와 같은 구성을 가지는 일반적인 백라이트 어셈블리 검사 장치는 카메라(4)가 백라이트 어셈블리(22)의 수직 상부에서 촬영을 하므로 소정 시야각을 가지고 측면에서 관찰되는 불량은 검출이 되지 않는 문제가 있어왔다. 즉, 백라이트 어셈블리에(22)는 도광판 및 다수의 광학시트가 구비되는데, 상기 도광판 및 다수의 광학시트 각각의 불량은 그 불량이 관찰되는 시야각 방향이 서로 다르므로 상기와 같이 카메라(4)가 백라이트 어셈블리(22)의 수직 상부에서 촬영을 하는 경우에는 백라이트 어셈블리(22)의 모든 불량을 검출하는데 한계가 있다.In the general backlight assembly inspection apparatus having such a configuration, since the camera 4 photographs the vertical upper portion of the backlight assembly 22, a defect observed from the side with a predetermined viewing angle has not been detected. That is, the backlight assembly 22 includes a light guide plate and a plurality of optical sheets, and the defects of the light guide plate and the plurality of optical sheets are different from each other in the viewing angle direction in which the defects are observed. When photographing from the vertical top of the assembly 22, there is a limit in detecting all defects of the backlight assembly 22.

따라서, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서는 관찰하는 각도가 서로 다른 다수의 카메라(도 4의 34참조)가 구비된 백라이트 어셈블리 검사 장치가 고안되 었다.Accordingly, in order to solve the above problems, a backlight assembly inspection apparatus having a plurality of cameras (see 34 of FIG. 4) having different viewing angles has been devised.

도 4를 참조하면, 종래의 개량된 백라이트 어셈블리 검사장치는 백라이트 어셈블리(22)가 안착되는 스테이지(31)와, 상기 스테이지(31) 상에 배치되어 백라이트 어셈블리(22)의 내부에 검사용 광을 공급하는 검사용 조명(32)과, 상기 검사용 조명(32) 상에 배치되어 백라이트 어셈블리(22)의 내부에 입사된 후 반사되어 백라이트 어셈블리(22)의 외부로 출사된 검사용 광을 촬영하되 관찰하는 각도가 서로 다르게 배치된 다수의 카메라(34)로 구성된다.Referring to FIG. 4, the conventional improved backlight assembly inspection apparatus includes a stage 31 on which the backlight assembly 22 is mounted, and disposed on the stage 31 to provide inspection light to the interior of the backlight assembly 22. The inspection light 32 to supply and the inspection light disposed on the inspection light 32 is incident to the interior of the backlight assembly 22 and reflected to shoot the inspection light emitted to the outside of the backlight assembly 22, The viewing angle is composed of a plurality of cameras 34 arranged differently.

이와 같은 구성을 가지는 종래의 개량된 백라이트 어셈블리 검사장치는, 백라이트 어셈블리(22)에 구비된 도광판 및 다수의 광학시트에 의한 다수의 불량을 검출할 수 있다는 장점이 있지만, 불량 관찰이 필요한 시야각 방향마다 카메라(34)를 구비해야 된다는 단점이 있다.The conventional improved backlight assembly inspection apparatus having such a configuration has an advantage of detecting a plurality of defects caused by the light guide plate and the plurality of optical sheets provided in the backlight assembly 22, but for each viewing angle direction in which defect observation is required. There is a disadvantage that the camera 34 must be provided.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 백라이트 어셈블리를 구성하는 도광판과 다수의 광학시트에 있어서 서로 다른 시야각 방향에서 검출되는 다수의 불량을 한 대의 카메라를 이용하여 동시에 검출하는 것이 가능한 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자를 제공하는 것이다.Accordingly, the present invention is to solve the above problems, an object of the present invention in the light guide plate constituting the backlight assembly and a plurality of optical sheets in a plurality of defects detected in different viewing angle directions at the same time using a single camera It is to provide a backlight assembly inspection apparatus and a display element which can be detected.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치는, 백라이트 어셈블리가 배치되는 스테이지; 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 백라이트 어셈블리의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명; 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 상기 백라이트 어셈블리에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경; 및 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라; 를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a backlight assembly inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention includes a stage on which a backlight assembly is disposed; At least one inspection light provided above the backlight assembly disposed on the stage and configured to inject inspection light into the backlight assembly; The backlight assembly disposed on the stage is disposed above the backlight assembly, and changes a traveling path of the inspection light emitted from the inspection light and reflected after being incident into the backlight assembly and exiting the backlight assembly. A plurality of reflectors arranged to have different angles with respect to; And a camera provided above the backlight assembly disposed on the stage and configured to photograph inspection light whose travel path is changed by the plurality of reflectors. Characterized in that configured to include.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 표시소자 검사 장치는, 피검사체가 배치되는 스테이지; 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 피검사체의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명; 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 상기 피검사체에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경; 및 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라; 를 포함하여 구성된다. 그리고, 상기 피검사체는 표시소자의 구성요소인 유리기판, 표시패널, 백라이트 어셈블리 중에 선택된 어느 하나이다.According to a preferred embodiment of the present invention, a display device inspection apparatus includes: a stage on which an inspected object is disposed; At least one inspection light provided above the inspection object disposed on the stage and configured to inject the inspection light into the inspection object; Is provided above the object to be disposed on the stage, the light emitted from the inspection light is incident to the inside of the object to be inspected and then changed the path of the inspection light emitted to the outside of the test object, the test object A plurality of reflectors arranged to have different angles with respect to; And a camera provided above the object to be disposed on the stage and photographing inspection light whose travel path is changed by the plurality of reflectors. It is configured to include. The test object is any one selected from among a glass substrate, a display panel, and a backlight assembly which are components of the display device.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치는, 백라이트 어셈블리에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치되는 다수의 반사경 또는 반사면이 곡면을 갖는 반사경이 구비됨으로써, 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루며 진행하는 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키므로, 백라이트 어셈블리의 구성요소인 도광판과 다수의 광학시트에 있어서 서로 다른 시야각 방향에서 검출되는 다수의 불량을 한 대의 카메라를 이용하여 동시에 검출할 수 있는 장점이 있다.Backlight assembly inspection apparatus according to a preferred embodiment of the present invention having the configuration as described above is provided with a plurality of reflectors or reflecting mirror having a curved surface is arranged to have a different angle with respect to the backlight assembly, the inspection illumination The light guide plate and the plurality of optical sheets, which are components of the backlight assembly, change the path of the inspection light that is emitted from the light incident to the inside of the backlight assembly and then reflected and emitted to the outside of the backlight assembly and proceeds at various angles. In the present invention, a plurality of defects detected in different viewing angle directions may be simultaneously detected using a single camera.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 표시소자 검사장치는, 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루며 진행하는 검사용 광의 진행 경 로가 다수의 반사경에 의해 카메라 쪽으로 변경되므로, 피검사체에 있어서 서로 다른 시야각 방향에서 검출되는 다수의 불량을 한 대의 카메라를 이용하여 동시에 검출할 수 있는 장점이 있다.The display device inspection apparatus according to the preferred embodiment of the present invention having the above-described configuration is emitted from the inspection light and incident to the inside of the inspected object and then reflected and emitted to the outside of the inspected object to form a plurality of angles. Since the traveling path of the inspection light is changed toward the camera by a plurality of reflectors, there is an advantage that a plurality of defects detected in different viewing angle directions in the inspected object can be simultaneously detected using a single camera.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치 및 표시소자 검사장치에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a backlight assembly inspection apparatus and a display device inspection apparatus according to exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5에는 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치를 도시한 도면이며, 도 6에는 도 5의 백라이트 어셈블리 검사장치를 이용하여 검사가 이루어지는 백라이트 어셈블리의 일 예를 도시하였고, 도 7은 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치를 도시한 도면이다.FIG. 5 illustrates a backlight assembly inspection apparatus according to a first exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 6 illustrates an example of a backlight assembly in which an inspection is performed using the backlight assembly inspection apparatus of FIG. 5. Is a view illustrating a backlight assembly inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

도 5에 도시한 바와 같이 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치는, 백라이트 어셈블리(121)가 배치되는 스테이지(101); 상기 스테이지(101) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 구비되며, 백라이트 어셈블리(121)의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명(102); 상기 스테이지(101) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 상기 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경(103); 및 상기 스테이지(101) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경(103)에 의해 진행경 로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라(104); 를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 5, the backlight assembly inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention includes: a stage 101 on which the backlight assembly 121 is disposed; At least one inspection illumination 102 provided above the backlight assembly 121 disposed on the stage 101 and configured to inject inspection light into the backlight assembly 121; It is provided above the backlight assembly 121 disposed on the stage 101, and is emitted from the inspection light 102 to be incident into the backlight assembly 121 before being reflected to the outside of the backlight assembly 121. A plurality of reflecting mirrors 103 for changing a traveling path of the inspection light emitted from the plurality of inspection lights, and having different angles with respect to the backlight assembly 121; And a camera 104 provided above the backlight assembly 121 disposed on the stage 101 and photographing inspection light whose traveling path is changed by the plurality of reflectors 103. It is configured to include.

이와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치의 각 구성요소에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Each component of the backlight assembly inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention having such a configuration will be described in detail as follows.

도 5를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치는 피검사체인 백라이트 어셈블리(121)가 배치되는 스테이지가 구비된다.Referring to FIG. 5, the apparatus for inspecting a backlight assembly according to the first embodiment of the present invention includes a stage in which the backlight assembly 121, which is a test object, is disposed.

상기 스테이지(101) 상에는 백라이트 어셈블리(121)를 안착시킨 후에 좌/우로 이동시키는 이동수단(105)이 마련되며, 상기 이동수단(105)의 구성은 백라이트 어셈블리(121)를 좌/우로 이동시킬 수 있는 범위 내에서 다양의 예가 가능하지만, 본 발명에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치를 설명함에 있어서 상기 이동수단(105)이 스테이지(101) 상에서 이동함으로써 이동수단(101) 상에 배치된 백라이트 어셈블리(121)도 함께 이동할 수 있도록 구성된 것을 그 예로 하였다.On the stage 101 is provided with a moving means 105 for moving the left and right after mounting the backlight assembly 121, the configuration of the moving means 105 can move the backlight assembly 121 to the left and right. Various examples are possible within the range of the present invention, but in describing the backlight assembly inspection apparatus according to the present invention, the moving means 105 is disposed on the moving means 101 by moving on the stage 101. The example is also configured to move together.

상기 스테이지(101)의 상면은 백라이트 어셈블리(121)를 안착한 이동수단(105)이 좌/우로 충분히 이동 가능한 충분한 면적이 확보된다.The upper surface of the stage 101 has a sufficient area to allow the moving means 105 on which the backlight assembly 121 is seated to be sufficiently moved left / right.

상기 스테이지(101) 상에 배치된 피검사체인 백라이트 어셈블리(121)는 도 6에 도시한 바와 같이, 액정패널(미도시) 하부의 일측에 배치된 적어도 하나의 램프(211)와, 상기 램프(211)의 일측에 배치되어 램프(211)로부터 방출되는 광을 액정패널 방향으로 안내하는 도광판(212)과, 상기 도광판(212)의 상부에 배치되어 도광판(212)으로부터의 광을 확산하고 집광하여 액정패널에 공급하는 광학시트(213)와, 상기 도광판(212)의 하부에 배치되어 도광판(212)의 하부로 누설된 광을 도광 판(212)의 내부로 반사시키는 반사시트(215)를 포함하여 구성되며, 이와 같은 백라이트 어셈블리(121)는 케이스(215)의 내부에 수납되어 고정되고 보호된다. 상기 광학시트(213)는 다수의 시트를 포함하여 구성되는데, 상기 도광판(212) 상에 배치되어 도광판(212)으로부터의 광을 확산시키는 확산시트(213a)와, 상기 확산시트(213a) 상에 배치되어 확산시트(213a)로부터의 광을 집광하는 프리즘시트(213b)와, 상기 프리즘 시트(213b) 상에 배치되어 프리즘 시트(213b)를 보호하는 보호시트(213c)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 6, the backlight assembly 121, which is a test object disposed on the stage 101, includes at least one lamp 211 disposed at one side of a lower portion of a liquid crystal panel (not shown), and the lamp ( 211 is disposed on one side of the light guide plate 212 to guide the light emitted from the lamp 211 toward the liquid crystal panel direction, and disposed on the light guide plate 212 to diffuse and collect the light from the light guide plate 212 An optical sheet 213 for supplying the liquid crystal panel, and a reflective sheet 215 disposed under the light guide plate 212 to reflect the light leaked to the bottom of the light guide plate 212 into the light guide plate 212. The backlight assembly 121 is accommodated in the case 215 to be fixed and protected. The optical sheet 213 includes a plurality of sheets, the diffusion sheet 213a disposed on the light guide plate 212 and diffusing light from the light guide plate 212, and on the diffusion sheet 213a. A prism sheet 213b disposed to collect light from the diffusion sheet 213a and a protective sheet 213c disposed on the prism sheet 213b to protect the prism sheet 213b. .

본 발명에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치를 설명함에 있어서 상기 백라이트 어셈블리(121)는 도 6에 도시한 바와 같은 구성을 갖는 것을 그 예로 하였지만, 이는 설명의 편의를 위한 것으로서, 본 발명에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치는 도 5에 도시된 구성 이외에도 다양한 구성의 백라이트 어셈블리(121)에 대한 검사를 수행하는 것이 가능하다.In describing the backlight assembly inspection apparatus according to the present invention, the backlight assembly 121 has the configuration as shown in FIG. 6, but for convenience of description, the backlight assembly inspection apparatus according to the present invention is illustrated. In addition to the configuration illustrated in FIG. 5, it is possible to perform inspection of the backlight assembly 121 having various configurations.

상기 스테이지(101)의 상부에는 백라이트 어셈블리(121)의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명(102)이 구비되는데, 이러한 검사용 조명(102)은 스테이지(101) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 배치된다.At least one inspection light 102 for injecting inspection light into the backlight assembly 121 is provided on the stage 101, and the inspection light 102 is disposed on the stage 101. It is disposed above the backlight assembly 121.

도면에는 상세히 도시하지 않았지만, 상기 검사용 조명(102)은 스테이지(101) 상에 설치된 프레임에 카메라(104) 및 반사경(103)과 함께 고정될 수 있을 것이다.Although not shown in detail in the drawing, the inspection light 102 may be fixed together with the camera 104 and the reflector 103 to a frame installed on the stage 101.

상기 검사용 조명(102)은 선광원인 것이 바람직하며, 어레이를 이루는 다수 의 발광 다이오드(light emitting diode; LED) 등 다양한 예가 가능하다.Preferably, the inspection light 102 is a linear light source, and various examples such as a plurality of light emitting diodes (LEDs) forming an array are possible.

상기 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로는 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 다수의 각도를 이룬다.The propagation path of the inspection light emitted from the inspection light 102 and incident into the backlight assembly 121 and then reflected and emitted to the outside of the backlight assembly 121 may have a plurality of angles with respect to the backlight assembly 121. Achieve.

상기 스테이지(101)의 상부에는 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경(103)이 구비되는데, 이러한 다수의 반사경(103)은 스테이지(101) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 배치된다.The upper part of the stage 101 is provided with a plurality of reflectors 103 arranged to have different angles with respect to the backlight assembly 121, the plurality of reflectors 103 is a backlight disposed on the stage 101 It is disposed above the assembly 121.

상기 다수의 반사경(103)은, 백라이트 어셈블리(121)의 구성 요소인 도광판(212)과 광학시트(213)에 있어서 불량이 주로 검출되는 시야각 방향으로 진행하는 검사용 광을 카메라(104) 쪽으로 반사시킬 수 있는 각도로 배치된다. 따라서, 상기 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광은 다수의 반사경(103)에 의해 진행경로가 카메라(104) 쪽으로 변경되게 된다.The plurality of reflectors 103 reflect the inspection light toward the camera 104 in the light guide plate 212 and the optical sheet 213, which are components of the backlight assembly 121, in the viewing angle direction in which defects are mainly detected. It is placed at an angle that can be made. Therefore, the inspection light emitted from the inspection light 102 and incident to the inside of the backlight assembly 121 and reflected and emitted to the outside of the backlight assembly 121 may have a progress path by the plurality of reflectors 103. It will be changed toward the camera 104.

상기 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광은, 상기에 언급한 바와 같이 그 진행 경로가 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 다수의 각도를 이루고 진행하는데, 상기 다수의 반사경(103)은 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루는 상기 검사용 광의 진행 경로를 카메라(104) 쪽으로 변경시킨다.The inspection light emitted from the inspection light 102, incident to the interior of the backlight assembly 121, and then reflected and emitted to the exterior of the backlight assembly 121 has a traveling path of the backlight assembly as mentioned above. The plurality of reflectors 103 are emitted to the outside of the backlight assembly 121 to change the traveling path of the inspection light that forms a plurality of angles toward the camera 104. .

즉, 도 5에 도시된 다수의 반사경(103)에 있어서 좌측 상부에 도시된 것부터 반시계 방향으로 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 반사경(103a, 103b, 103c, 103d)이라고 명칭을 부여하면, 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 반사경(103a, 103b, 103c, 103d)은 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 서로 다른 각도를 이루도록 배치되어 있음을 알 수 있으며, 상기 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루며 진행하는 검사용 광은 진행하는 과정에서 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 반사경(103a, 103b, 103c, 103d) 중에서 어느 하나에 도달하게 되면 반사되어 그 진행 경로가 카메라(104) 쪽으로 변경되게 된다. 따라서, 상기 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광은 다수의 각도를 이루며 진행하지만, 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 각각 다른 각도를 가지도록 배치된 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 반사경(103a, 103b, 103c, 103d)에 의해 그 진행 경로가 동시에 카메라(104)를 향하도록 변경되게 된다.That is, in the plurality of reflecting mirrors 103 shown in FIG. 5, the first, second, third, and fourth reflecting mirrors 103a, 103b, 103c, and 103d in the counterclockwise direction are named from those shown at the upper left. The first, second, third and fourth reflectors 103a, 103b, 103c, and 103d may be arranged to have different angles with respect to the backlight assembly 121, and the inspection illumination ( The inspection light emitted from the light source 102, incident to the inside of the backlight assembly 121, reflected, emitted to the outside of the backlight assembly 121, and proceeding at a plurality of angles is first, second, and first in the process of progressing. When one of the third and fourth reflecting mirrors 103a, 103b, 103c, and 103d is reached, it is reflected and its traveling path is changed toward the camera 104. Therefore, the inspection light emitted from the inspection light 102 and incident into the backlight assembly 121 and then reflected and emitted to the outside of the backlight assembly 121 proceeds at a plurality of angles, but the backlight assembly ( First, second, third, and fourth reflectors 103a, 103b, 103c, and 103d arranged to have different angles with respect to 121 may change the traveling path toward the camera 104 at the same time. .

상기 스테이지(101) 상에는 다수의 반사경(103)에 의해 진행 경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 하나의 카메라(104)가 구비되는데, 이러한 카메라(104)는 스테이지(101) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121), 검사용 조명(102) 및 다수의 반사경(103)보다 상부에 배치된다.On the stage 101 is provided with a camera 104 for photographing the inspection light whose travel path is changed by a plurality of reflectors 103, such a camera 104 is a backlight assembly disposed on the stage 101 It is disposed above the 121, the inspection light 102 and the plurality of reflectors 103.

도면에는 도시하지 않았지만, 본 발명에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치는 상기 카메라(104)의 촬영으로 획득한 데이터를 분석하여 불량 검출 지점을 알아 내는 촬영 데이터 분석부(미도시)가 추가로 구비된다.Although not shown in the drawings, the backlight assembly inspection apparatus according to the present invention further includes a photographing data analysis unit (not shown) for analyzing the data obtained by photographing the camera 104 to find a defect detection point.

상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치는 백라이트 어셈블리(121)에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경(103)이 구비됨으로써, 검사용 조명(102)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루며 진행하는 검사용 광의 진행 경로를 카메라(104) 쪽으로 변경시키므로, 백라이트 어셈블리(121)를 구성하는 도광판(212)과 다수의 광학시트(213)에 있어서 서로 다른 시야각 방향에서 검출되는 다수의 불량을 한 대의 카메라(104)를 이용하여 동시에 검출할 수 있다. The backlight assembly inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention having the configuration as described above is provided with a plurality of reflecting mirrors 103 arranged to have different angles with respect to the backlight assembly 121, so that the inspection illumination ( Since the light emitted from the light source 102 is incident to the inside of the backlight assembly 121 and then reflected and emitted to the outside of the backlight assembly 121 to change the traveling path of the inspection light that proceeds at a plurality of angles toward the camera 104, the backlight is turned on. In the light guide plate 212 constituting the assembly 121 and the plurality of optical sheets 213, a plurality of defects detected in different viewing angle directions may be simultaneously detected using a single camera 104.

이하, 도 6 및 도 7을 참조하여 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치에 대하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a backlight assembly inspection apparatus according to a second exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 and 7.

도 7에 도시한 바와 같이 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치는, 백라이트 어셈블리(121)가 배치되는 스테이지(201); 상기 스테이지(201) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 구비되며, 백라이트 어셈블리(121)의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명(202); 상기 스테이지(201) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명(202)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 곡면을 이루는 적어도 하나의 반사경(203); 및 상기 스테 이지(201) 상에 배치되는 백라이트 어셈블리(121)보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경(203)에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라(204); 를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 7, the backlight assembly inspection apparatus according to the second exemplary embodiment of the present invention includes: a stage 201 on which the backlight assembly 121 is disposed; At least one inspection illumination 202 provided above the backlight assembly 121 disposed on the stage 201 and configured to inject inspection light into the backlight assembly 121; It is disposed above the backlight assembly 121 disposed on the stage 201, and is emitted from the inspection light 202 to be incident into the backlight assembly 121 and then reflected to reflect the exterior of the backlight assembly 121. At least one reflector 203 for changing the traveling path of the inspection light emitted to the curved surface; And a camera 204 which is provided above the backlight assembly 121 disposed on the stage 201 and photographs the inspection light whose traveling path is changed by the plurality of reflectors 203. It is configured to include.

이하에서 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치의 각 구성요소에 대하여 상세히 설명함에 있어서, 상술한 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치와 동일한 부분은 생략하도록 한다. 즉, 상기 반사경(203)에 대해서만 상세한 설명을 하도록 한다.In the following description of each component of the backlight assembly inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention in detail, the same parts as the backlight assembly inspection apparatus according to the first embodiment will be omitted. That is, only the reflector 203 will be described in detail.

도 7을 참조하면, 상기 반사경(203)은 곡면을 이루도록 형성되어 스테이지(201) 상의 백라이트 어셈블리(121) 상부에 적어도 하나가 배치된다.Referring to FIG. 7, the reflector 203 is formed to have a curved surface, and at least one reflector 203 is disposed on the backlight assembly 121 on the stage 201.

상기 반사경(203)은 백라이트 어셈블리(121)의 구성요소인 도광판(212)과 광학시트(231)에 있어서 불량이 주로 검출되는 시야각 방향으로 진행하는 검사용 광을 카메라(204) 방향으로 반사시킬 수 있는 정도의 곡면을 이루도록 형성된다.The reflector 203 may reflect the inspection light traveling in the direction of the viewing angle where the defect is mainly detected in the light guide plate 212 and the optical sheet 231, which are components of the backlight assembly 121, toward the camera 204. It is formed to form a curved surface.

상기 반사경(204)은 검사용 조명(202)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 카메라(204) 쪽으로 변경시킨다.The reflector 204 is emitted from the inspection light 202 to enter the interior of the backlight assembly 121, and then changes the traveling path of the inspection light reflected and exited outside the backlight assembly 121 toward the camera 204. Let's do it.

즉, 상기 반사경(203)의 반사면은 곡면을 이루도록 형성되므로, 상기 검사용 조명(202)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루며 진행하는 검사용 광은 반사경에 도달하게 되면 반사되어 진행 경로가 카메라(104) 쪽으로 변경되게 된다. 따라서, 상기 검사용 조명(202)으로부터 방출되어 백라이트 어셈블 리(121)의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리(121)의 외부로 출사된 검사용 광은 다수의 각도를 이루며 진행하지만, 반사면이 곡면을 이루도록 형성된 반사경(203)에 의해 진행 경로가 카메라(204)를 향하도록 변경되게 된다.That is, since the reflecting surface of the reflector 203 is formed to form a curved surface, the light emitted from the inspection light 202 is incident to the inside of the backlight assembly 121, and then reflected and exited to the outside of the backlight assembly 121 The inspection light traveling at a plurality of angles is reflected when the reflector reaches the reflecting mirror so that the traveling path is changed toward the camera 104. Accordingly, the inspection light emitted from the inspection light 202 and incident into the backlight assembly 121 and then reflected and emitted to the outside of the backlight assembly 121 proceeds at a plurality of angles, but is a reflective surface. The traveling path is changed to face the camera 204 by the reflector 203 formed to form this curved surface.

상술한 바와 같은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치는 피검사체가 백라이트 어셈블리(121)인 것을 그 예로 하였지만, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며 표시소자의 구성요소인 유리기판, 표시패널 등에도 다양하게 활용하는 것이 가능하다.In the backlight assembly inspection apparatus according to the preferred embodiment of the present invention as described above, the object to be inspected is the backlight assembly 121, but the present invention is not limited thereto, and the glass substrate and the display panel, which are components of the display device, are not limited thereto. It can be used in various ways.

즉, 본 발명이 적용된 표시소자 검사장치는, 피검사체가 배치되는 스테이지; 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 피검사체의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명; 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 상기 피검사체에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경; 및 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라; 를 포함하여 구성되며, 상기 피검사체는 표시소자의 구성요소인 유리기판, 표시패널, 백라이트 어셈블리 중에 선택된 어느 하나이다. 여기서, 상기 반사경은 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시킨다.That is, the display device inspection apparatus to which the present invention is applied includes: a stage on which an inspected object is disposed; At least one inspection light provided above the inspection object disposed on the stage and configured to inject the inspection light into the inspection object; Is provided above the object to be disposed on the stage, the light emitted from the inspection light is incident to the inside of the object to be inspected and then changed the path of the inspection light emitted to the outside of the test object, the test object A plurality of reflectors arranged to have different angles with respect to; And a camera provided above the object to be disposed on the stage and photographing inspection light whose travel path is changed by the plurality of reflectors. The test object is any one selected from among a glass substrate, a display panel, and a backlight assembly which are components of the display device. Here, the reflector is emitted from the inspection light to enter the inside of the inspected object and then reflected to change the traveling path of the inspection light emitted to the outside of the inspected object toward the camera.

상술한 바와 같은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사장치 및 표시소자 검사장치는, 피검사체(예 : 표시소자의 백라이트 어셈블리, 유리기판, 표시패널)에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치되는 다수의 반사경 또는 곡면을 이루는 반사경이 구비됨으로써, 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루며 진행하는 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키므로, 피검사체에 있어서 서로 다른 시야각 방향에서 검출되는 다수의 불량을 한 대의 카메라를 이용하여 동시에 검출할 수 있다.As described above, the backlight assembly inspection apparatus and the display device inspection apparatus according to the preferred embodiment of the present invention may be disposed to have different angles with respect to the inspected object (eg, the backlight assembly of the display device, the glass substrate, and the display panel). By providing a plurality of reflectors or reflectors forming a curved surface, the path of the inspection light that is emitted from the inspection light, incident to the inside of the inspected object, reflected, emitted to the outside of the inspected object, and proceeds at a plurality of angles toward the camera. Since it changes, many defects detected in different viewing angle directions in a to-be-tested object can be detected simultaneously using a single camera.

도 1과 도 2는 일반적인 백라이트 어셈블리의 예를 도시한 단면도.1 and 2 are cross-sectional views showing examples of a general backlight assembly.

도 3과 도 4는 종래의 일반적인 백라이트 어셈블리 검사 장치를 도시한 측면도.3 and 4 are side views illustrating a conventional general backlight assembly inspection apparatus.

도 5는 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치를 도시한 측면도.Figure 5 is a side view showing a backlight assembly inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

도 6은 도 5의 백라이트 어셈블리의 일 예를 도시한 단면도.6 is a cross-sectional view illustrating an example of the backlight assembly of FIG. 5.

도 7은 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 백라이트 어셈블리 검사 장치를 도시한 측면도.Figure 7 is a side view showing a backlight assembly inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

**도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **

101, 201 : 스테이지 102, 202 : 검사용 조명101, 201: stage 102, 202: inspection lighting

103, 203 : 반사경 104, 204 : 카메라103, 203: reflector 104, 204: camera

105 : 이동수단 121 : 백라이트 어셈블리105: moving means 121: backlight assembly

211 : 램프 212 : 도광판211 lamp 212 light guide plate

213 : 광학시트 214 : 반사시트213: Optical sheet 214: Reflective sheet

215 : 케이스215: case

Claims (12)

백라이트 어셈블리가 배치되는 스테이지;A stage in which the backlight assembly is disposed; 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 백라이트 어셈블리의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명;At least one inspection light provided above the backlight assembly disposed on the stage and configured to inject inspection light into the backlight assembly; 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 상기 백라이트 어셈블리에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경; 및The backlight assembly disposed on the stage is disposed above the backlight assembly, and changes a traveling path of the inspection light emitted from the inspection light and reflected after being incident into the backlight assembly and exiting the backlight assembly. A plurality of reflectors arranged to have different angles with respect to; And 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라;A camera which is provided above the backlight assembly disposed on the stage and which photographs inspection light whose traveling path is changed by the plurality of reflectors; 를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.Backlight assembly inspection apparatus, characterized in that configured to include. 제 1 항에 있어서, 상기 다수의 반사경은 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키는 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.The backlight assembly of claim 1, wherein the plurality of reflectors are emitted from the inspection light to be incident into the backlight assembly and then reflected to change the path of the inspection light emitted to the outside of the backlight assembly toward the camera. Inspection device. 제 1 항에 있어서, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진 행 경로는 백라이트 어셈블리에 대하여 다수의 각도를 이루며,The method of claim 1, wherein the progress path of the inspection light emitted from the inspection illumination and incident after entering the interior of the backlight assembly and reflected out of the backlight assembly forms a plurality of angles with respect to the backlight assembly, 상기 다수의 반사경은 백라이트 어셈블리의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루는 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키는 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.The plurality of reflectors are emitted to the outside of the backlight assembly, the backlight assembly inspection apparatus, characterized in that for changing the traveling path of the inspection light to form a plurality of angles toward the camera. 제 1 항에 있어서, 상기 스테이지 상에는 백라이트 어셈블리를 좌/우로 이동시키는 이동수단이 추가로 구비된 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.The apparatus of claim 1, further comprising moving means for moving the backlight assembly left and right on the stage. 백라이트 어셈블리가 배치되는 스테이지;A stage in which the backlight assembly is disposed; 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 백라이트 어셈블리의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명;At least one inspection light provided above the backlight assembly disposed on the stage and configured to inject inspection light into the backlight assembly; 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 곡면을 이루는 적어도 하나의 반사경; 및It is provided above the backlight assembly disposed on the stage, and changes the traveling path of the inspection light emitted from the inspection light and reflected after being incident into the backlight assembly and exited to the outside of the backlight assembly, to form a curved surface At least one reflector; And 상기 스테이지 상에 배치되는 백라이트 어셈블리보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라;A camera which is provided above the backlight assembly disposed on the stage and which photographs inspection light whose traveling path is changed by the plurality of reflectors; 를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.Backlight assembly inspection apparatus, characterized in that configured to include. 제 5 항에 있어서, 상기 반사경은 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키는 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.6. The backlight assembly inspection apparatus of claim 5, wherein the reflector changes the path of the inspection light emitted from the inspection light to the inside of the backlight assembly and then reflected and emitted out of the backlight assembly toward the camera. . 제 5 항에 있어서, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 백라이트 어셈블리의 내부로 입사된 후에 반사되어 백라이트 어셈블리의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로는 백라이트 어셈블리에 대하여 다수의 각도를 이루며,The method of claim 5, wherein the traveling path of the inspection light emitted from the inspection illumination and incident after entering the interior of the backlight assembly and reflected out of the backlight assembly forms a plurality of angles with respect to the backlight assembly, 상기 반사경은 백라이트 어셈블리의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루는 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키는 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.The reflector is emitted to the outside of the backlight assembly, the backlight assembly inspection apparatus, characterized in that for changing the traveling path of the inspection light to form a plurality of angles toward the camera. 제 5 항에 있어서, 상기 스테이지 상에는 백라이트 어셈블리를 좌/우로 이동시키는 이동수단이 추가로 구비된 것을 특징으로 하는 백라이트 어셈블리 검사 장치.6. The backlight assembly inspection apparatus according to claim 5, further comprising moving means for moving the backlight assembly left and right on the stage. 피검사체가 배치되는 스테이지;A stage on which the inspected object is disposed; 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 피검사체의 내부에 검사용 광을 입사시키는 적어도 하나의 검사용 조명;At least one inspection light provided above the inspection object disposed on the stage and configured to inject the inspection light into the inspection object; 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사된 검사용 광의 진행경로를 변경시키되, 상기 피검사체에 대하여 서로 다른 각도를 가지도록 배치된 다수의 반사경; 및Is provided above the object to be disposed on the stage, the light emitted from the inspection light is incident to the inside of the object to be inspected and then changed the path of the inspection light emitted to the outside of the test object, the test object A plurality of reflectors arranged to have different angles with respect to; And 상기 스테이지 상에 배치되는 피검사체보다 상부에 구비되며, 상기 다수의 반사경에 의해 진행경로가 변경된 검사용 광을 촬영하는 카메라;A camera which is provided above the inspected object disposed on the stage and photographs inspection light whose travel path is changed by the plurality of reflectors; 를 포함하여 구성되며,It is configured to include, 상기 피검사체는 표시소자의 구성요소인 유리기판, 표시패널, 백라이트 어셈블리 중에 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 표시소자 검사 장치.And the test object is any one selected from among a glass substrate, a display panel, and a backlight assembly which are components of the display device. 제 9 항에 있어서, 상기 반사경은 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키는 것을 특징으로 하는 표시소자 검사 장치.The display device inspection apparatus according to claim 9, wherein the reflector is changed from the illumination for inspection to the camera by changing the traveling path of the inspection light that is reflected and emitted to the outside of the inspection object. . 제 9 항에 있어서, 상기 검사용 조명으로부터 방출되어 피검사체의 내부로 입사된 후에 반사되어 피검사체의 외부로 출사된 검사용 광의 진행 경로는 피검사체에 대하여 다수의 각도를 이루며,10. The method of claim 9, wherein the path of the inspection light emitted from the inspection light to be incident to the inside of the inspected object and then reflected outside the inspected object has a plurality of angles with respect to the inspected object, 상기 반사경은 피검사체의 외부로 출사되어 다수의 각도를 이루는 검사용 광의 진행 경로를 카메라 쪽으로 변경시키는 것을 특징으로 하는 표시소자 검사 장치.The reflector is a display device inspection device, characterized in that for changing the traveling path of the inspection light emitted to the outside of the test object to form a plurality of angles toward the camera. 제 9 항에 있어서, 상기 스테이지 상에는 피검사체를 좌/우로 이동시키는 이동수단이 추가로 구비된 것을 특징으로 하는 표시소자 검사 장치.The display device inspection apparatus according to claim 9, further comprising moving means for moving the object to the left and right on the stage.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160088529A (en) * 2015-01-15 2016-07-26 삼성디스플레이 주식회사 Display panel inspecting device and inspecting method
US9835565B2 (en) 2014-12-29 2017-12-05 Samsung Display Co., Ltd. Inspection device of display device and inspection method of display device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100591312B1 (en) * 2003-11-24 2006-06-19 엘지전자 주식회사 Apparatus for inspecting display panel
JP4673733B2 (en) * 2005-12-02 2011-04-20 新日本製鐵株式会社 Surface inspection apparatus and surface inspection method
JP2007155448A (en) * 2005-12-02 2007-06-21 Olympus Corp Edge inspection device
KR100870930B1 (en) * 2007-05-08 2008-11-28 주식회사 고영테크놀러지 Multi-directional projection type moire interferometer and inspection method using it

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9835565B2 (en) 2014-12-29 2017-12-05 Samsung Display Co., Ltd. Inspection device of display device and inspection method of display device
KR20160088529A (en) * 2015-01-15 2016-07-26 삼성디스플레이 주식회사 Display panel inspecting device and inspecting method

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