KR20160088529A - Display panel inspecting device and inspecting method - Google Patents

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KR20160088529A
KR20160088529A KR1020150007625A KR20150007625A KR20160088529A KR 20160088529 A KR20160088529 A KR 20160088529A KR 1020150007625 A KR1020150007625 A KR 1020150007625A KR 20150007625 A KR20150007625 A KR 20150007625A KR 20160088529 A KR20160088529 A KR 20160088529A
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Abstract

The present invention relates to an apparatus to inspect a display panel having a curved surface. According to an embodiment of the present invention, an apparatus to inspect a display panel comprises: a support unit to support a display panel; a curved type reflector arranged to face a front part of the display panel; at least one second reflector arranged to correspond to the curved surface; and a first photography unit arranged between the curved type reflector and the display panel to photograph an image imaged on the curved type reflector.

Description

디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법{DISPLAY PANEL INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD}DISPLAY PANEL INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD [0002]

본 발명은 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 곡면형 반사경을 포함하는 디스플레이 패널 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display panel inspection apparatus and an inspection method thereof, and more particularly, to a display panel inspection apparatus including a curved reflector.

디스플레이 패널에 이물이 부착되어 있거나 표면 불량이 있는 경우에는 디스플레이 패널에 구현되는 화상의 품질이 떨어지게 된다.In the case where foreign matter is adhered to the display panel or the surface is defective, the quality of the image implemented on the display panel is deteriorated.

표면 불량이란 표면 조도(roughness)가 유한한 상태를 의미하며, 대표적인 표면 불량으로 크랙(crack), 스크래치(scratch), 덴트(dent), 범프(bump), 험프(hump) 등이 있다.Surface defect refers to a finite state of surface roughness. Typical surface defects include cracks, scratches, dents, bumps, humps, and the like.

따라서 디스플레이 패널을 제조하는 과정에서 이를 검출해내는 과정이 필요하다. 하지만 휘어진 형태의 플렉서블 디스플레이 패널(flexible display panel) 또는 커브드 디스플레이 패널(curved display panel) 등의 비평면 디스플레이 패널을 검사함에 있어서 아래와 같은 문제점이 있다.Therefore, it is necessary to detect a process of manufacturing the display panel. However, there are the following problems in inspecting a non-flat display panel such as a flexible display panel or a curved display panel in a bent form.

도 1은 종래의 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.1 is a view showing a testing apparatus of a conventional non-planar display panel.

도 1을 참조하면 종래의 비평면 디스플레이 패널(10)의 검사 장치는 지지부(20) 및 복수의 촬상 소자(31, 32, 33)를 포함한다.Referring to FIG. 1, an inspection apparatus of a conventional non-planar display panel 10 includes a support portion 20 and a plurality of image pickup elements 31, 32, and 33.

촬상 소자(31, 32, 33)는 비평면 디스플레이 패널(10)의 각 부분을 촬상하기 위해서 복수 개가 필요하다. 하지만 이러한 구조는 디스플레이 패널 검사 장치의 부피를 커지게 하므로 공간확보 측면에서 바람직하지 못하다.The imaging elements 31, 32, and 33 are required to capture a plurality of portions of the non-planar display panel 10. However, such a structure increases the volume of the display panel inspection apparatus, which is not preferable from the viewpoint of space.

도시되지 않았지만, 촬상 소자(31, 32, 33)의 숫자를 줄이고자, 기계적인 로터리 장치를 사용하여 디스플레이 패널(10)의 위치 또는 방향을 변경시키거나 촬상 소자(31, 32, 33)의 위치 또는 방향을 변경시킬 수도 있다.Although not shown, it is possible to change the position or direction of the display panel 10 using a mechanical rotary device or to change the position of the imaging elements 31, 32, 33 Or change the direction.

하지만 이러한 방법은 순차적으로 로터리 장치를 제어함으로써 검사 시간의 증가를 초래하므로 바람직하지 못하다.However, this method is undesirable because it increases the inspection time by sequentially controlling the rotary device.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 표면 불량의 검사 시간을 유지하면서 촬상 소자의 개수를 최소화하는 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide a display panel inspection apparatus and an inspection method that minimize the number of imaging elements while maintaining inspection time of surface defects.

본 발명의 한 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 장치로서, 상기 디스플레이 패널을 지지하는 지지부; 상기 디스플레이 패널의 정면부를 향하도록 배치된 곡면형 반사경; 상기 곡면부에 대응하도록 배치된 적어도 하나의 제2 반사경; 및 상기 곡면형 반사경과 상기 디스플레이 패널의 사이에 배치되고, 상기 곡면형 반사경에 맺히는 상을 촬상하는 제1 촬상 소자를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a display panel inspection apparatus for inspecting a display panel including curved portions, comprising: a support for supporting the display panel; A curved reflector disposed to face the front portion of the display panel; At least one second reflector disposed to correspond to the curved portion; And a first image pickup element disposed between the curved reflector and the display panel, for picking up an image formed on the curved reflector.

상기 제2 반사경은 상기 곡면부의 형상을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 배치될 수 있다.The second reflector may be arranged to reflect the shape of the curved portion to the curved reflector.

상기 디스플레이 패널을 조사하는 적어도 하나의 외부 광원을 더 포함할 수 있다.And at least one external light source for irradiating the display panel.

상기 제2 반사경은 상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부로부터 출사되는 광을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성될 수 있다.The second reflector may be configured to reflect light emitted from the curved surface portion of the display panel to the curved reflector.

상기 디스플레이 패널과 전기적으로 연결되어 화상 패턴을 제공하는 패턴 제너레이터를 더 포함할 수 있다.And a pattern generator electrically connected to the display panel to provide an image pattern.

상기 제1 촬상 소자는 상기 곡면형 반사경을 향하도록 배치될 수 있다.The first image pickup element may be arranged to face the curved reflector.

상기 제1 촬상 소자와 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하고, 상기 디스플레이 패널의 상기 정면부를 향하도록 배치되는 제2 촬상 소자를 더 포함할 수 있다.And a second image sensing element disposed between the first image sensing element and the display panel and disposed to face the front portion of the display panel.

상기 제2 촬상 소자는 상기 제1 촬상 소자의 사각 영역을 촬상할 수 있다.And the second imaging element can pick up a rectangular area of the first imaging element.

상기 제1 촬상 소자의 상기 디스플레이 패널에 대한 사각 영역을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성되는 제3 반사경을 더 포함할 수 있다.And a third reflector configured to reflect a rectangular area of the first image pickup device with respect to the display panel to the curved reflector.

상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부 및 상기 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 위치 조절부를 더 포함할 수 있다.A position for adjusting the position of at least one of the curved reflector, the second reflector, the first image capturing element, and the display panel so that the curved surface portion and the front surface portion of the display panel can be captured by the first image capturing element And may further include an adjusting section.

상기 제1 촬상 소자에서 촬상된 화상을 처리하여 검사 결과를 출력하는 불량 검출부를 더 포함하고, 상기 불량 검출부는 상기 곡면부에 대응되는 상기 화상의 제1 영역과 상기 정면부에 대응되는 상기 화상의 제2 영역을 구분하여 검사할 수 있다.Further comprising a defect detecting section for processing the image picked up by the first image pickup element and outputting a result of the inspection, wherein the defect detecting section detects the defect of the image corresponding to the first area of the image corresponding to the curved surface part and the front part The second region can be divided and inspected.

상기 불량 검출부는 상기 제2 반사경의 각도 및 위치에 따라 상기 화상의 제1 영역과 상기 제2 영역을 구분할 수 있다.The defect detecting unit may distinguish the first area and the second area of the image according to the angle and position of the second reflector.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 방법은 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 방법으로서, 제2 반사경을 통해 맺힌 상기 곡면부의 상을 포함하는 상기 디스플레이 패널의 상이 곡면형 반사경에 맺히는 단계; 제1 촬상 소자로 상기 곡면형 반사경에 맺힌 상기 디스플레이 패널의 상을 촬상하는 단계; 및 상기 디스플레이 패널의 상에서 상기 곡면부에 대응되는 제1 영역과 상기 디스플레이 패널의 정면부에 대응되는 제2 영역을 구분하여 검사하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a display panel inspection method for inspecting a display panel including a curved surface portion, the method comprising the steps of: forming an image of the display panel including the image of the curved portion formed through the second reflector, ; Capturing an image of the display panel formed on the curved reflector with a first imaging device; And inspecting a first region corresponding to the curved surface portion of the display panel and a second region corresponding to a front portion of the display panel.

상기 디스플레이 패널의 곡면부 및 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 단계를 더 포함할 수 있다.Adjusting the position of at least one of the curved reflector, the second reflector, the first image capturing element, and the display panel so that the curved surface portion and the front surface portion of the display panel can be picked up by the first image capturing element, .

본 발명의 실시예에 따르면 표면 불량의 검사 시간을 유지하면서 촬상 소자의 개수를 최소화하는 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법을 제공할 수 있다.According to the embodiments of the present invention, it is possible to provide a display panel inspection apparatus and an inspection method that minimize the number of imaging elements while maintaining inspection time of surface defects.

도 1은 종래의 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치의 블록도이다.
도 6은 촬상 소자로 촬상된 화상의 영역을 구분하여 도시한 도면이다.1 is a view showing a testing apparatus of a conventional non-planar display panel.
2 is a view illustrating an inspection apparatus of a non-planar display panel according to an embodiment of the present invention.
3 is a view illustrating an inspection apparatus of a non-planar display panel according to another embodiment of the present invention.
4 is a view illustrating an inspection apparatus of a non-planar display panel according to another embodiment of the present invention.
5 is a block diagram of an inspection apparatus for a non-planar display panel according to an embodiment of the present invention.
Fig. 6 is a diagram showing regions of an image picked up by an image pickup device separately. Fig.

이하 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 다만, 하기의 설명 및 첨부된 도면에서 본 발명의 요지를 흐릴 수 있는 공지 기능 또는 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다. 또한, 도면 전체에 걸쳐 동일한 구성 요소들은 가능한 한 동일한 도면 부호로 나타내고 있음에 유의하여야 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description and the accompanying drawings, detailed description of well-known functions or constructions that may obscure the subject matter of the present invention will be omitted. It should be noted that the same constituent elements are denoted by the same reference numerals as possible throughout the drawings.

이하에서 설명되는 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위한 용어의 개념으로 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시 예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다. 또한 제 1, 제 2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하기 위해 사용하는 것으로, 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용될 뿐, 상기 구성요소들을 한정하기 위해 사용되지 않는다.The terms and words used in the present specification and claims should not be construed to be limited to ordinary or dictionary meanings and the inventor is not limited to the concept of terminology for describing his or her invention in the best way. It should be interpreted as meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention. Therefore, the embodiments described in the present specification and the configurations shown in the drawings are merely the most preferred embodiments of the present invention, and not all of the technical ideas of the present invention are described. Therefore, It is to be understood that equivalents and modifications are possible. Also, the terms first, second, etc. are used for describing various components and are used only for the purpose of distinguishing one component from another component, and are not used to define the components.

본 발명에서 반사경이라 함은, 빛을 반사시켜 거울 역할을 하는 소자를 일컫는다.In the present invention, the reflector refers to a device that reflects light to serve as a mirror.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.2 is a view illustrating an inspection apparatus of a non-planar display panel according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는 지지부(200), 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420) 및 제1 촬상 소자(510)를 포함한다.Referring to FIG. 2, a display panel inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention includes a support 200, a curved reflector 300, a second reflector 410, and a first image sensing device 510.

비평면 디스플레이 패널(100)은 양쪽 단부에 곡면부(110, 120)를 포함하고, 중간에 편평한 정면부(130)를 포함할 수 있다.The non-planar display panel 100 includes curved portions 110 and 120 at both ends and may include a flattened front portion 130 in the middle.

다만, 도시되지 않았지만, 비평면 디스플레이 패널(100)은 한쪽 단부에만 곡면부를 포함하고, 나머지 부분은 편평한 정면부(130)로 구성될 수 있다.However, although not shown, the non-planar display panel 100 may include a curved surface portion at only one end portion and a flat front surface portion 130 at the remaining portion.

또한, 비평면 디스플레이 패널(100)은 편평한 부분 없이, 전면이 곡면 형태로 구성될 수도 있다.In addition, the non-planar display panel 100 may be formed in a curved surface shape without a flat portion.

지지부(200)는 디스플레이 패널(100)을 지지한다. 지지부(200)는 지그(jig)라고 불리기도 한다. 지지부(200)는 별도의 구동 장치를 포함하여 디스플레이 패널(100)을 조립 라인으로 운반하도록 구성될 수 있다.The support part 200 supports the display panel 100. The support portion 200 is also called a jig. The support part 200 may be configured to carry the display panel 100 to an assembly line including a separate driving device.

곡면형 반사경(300)은 디스플레이 패널(100)의 정면부(130)를 향하도록 배치되어 있다. 따라서 곡면형 반사경(300)은 자체적으로 디스플레이 패널(100)의 정면부(130)의 형태를 반사시킬 수 있다.The curved reflector 300 is disposed to face the front portion 130 of the display panel 100. Therefore, the curved reflector 300 can reflect the shape of the front portion 130 of the display panel 100 itself.

곡면형 반사경(300)은 구형 또는 비구형일 수 있다. 곡면형 반사경(300)의 형태는 디스플레이 패널(100)의 크기 및 각 소자 간의 거리에 따라 달라질 수 있다.The curved reflector 300 may be spherical or non-spherical. The shape of the curved reflector 300 may vary depending on the size of the display panel 100 and the distance between the elements.

제2 반사경(410, 420)은 곡면부(110, 120)에 대응하도록 배치된다. 도시되지 않은 예에서, 비평면 디스플레이 패널(100)이 한쪽 단부에만 곡면부(110)를 포함하고, 나머지 부분은 편평한 정면부(130)로 구성되는 경우에는, 디스플레이 패널 검사 장치는 제2 반사경(410)만 포함할 수 있다.The second reflectors 410 and 420 are disposed to correspond to the curved portions 110 and 120. In the example not shown, when the non-planar display panel 100 includes the curved portion 110 at only one end and the remaining portion is formed by the flat front portion 130, the display panel inspection apparatus includes a second reflector 410).

도 2에서는 디스플레이 패널(100)의 양쪽 단부에 두 개의 곡면부(110, 120)를 포함하므로, 제2 반사경(410)이 곡면부(110)에 대응하도록 배치되고, 제2 반사경(420)이 곡면부(120)에 대응하도록 배치된다.2, since the display panel 100 includes two curved portions 110 and 120 at both ends thereof, the second reflector 410 is arranged to correspond to the curved portion 110, and the second reflector 420 And is disposed so as to correspond to the curved surface portion 120.

제2 반사경(410, 420)은 각각 곡면부(110, 120)의 형상을 곡면형 반사경(300)으로 반사시키도록 배치될 수 있다.The second reflectors 410 and 420 may be arranged to reflect the shapes of the curved portions 110 and 120 to the curved reflector 300, respectively.

따라서 제2 반사경(410, 420)을 통해 맺힌 곡면부(110, 120)의 상이 곡면형 반사경(300)에 맺힐 수 있다.Accordingly, an image of the curved portions 110 and 120 formed through the second reflectors 410 and 420 can be formed on the curved reflector 300.

결과적으로 곡면형 반사경(300)에는 곡면부(110, 120) 및 정면부(130)의 상이 동시에 맺히게 되어, 비평면인 디스플레이 패널(100)의 전체 상이 맺히게 된다.As a result, the curved surface portions 110 and 120 and the front surface portion 130 are concurrently formed on the curved reflector 300, so that the entire image of the display panel 100, which is a non-planar surface, is formed.

제1 촬상 소자(510)는 곡면형 반사경(300)과 디스플레이 패널(100)의 사이에 배치되고, 곡면형 반사경(300)에 맺히는 상(image)을 촬상한다. 제1 촬상 소자(510)는 곡면형 반사경(300)을 향하도록 배치될 수 있다.The first image pickup device 510 is disposed between the curved reflector 300 and the display panel 100 and picks up an image formed on the curved reflector 300. The first image pickup device 510 may be arranged to face the curved reflector 300.

제1 촬상 소자(510)는 디스플레이 패널 검사용 카메라일 수 있다.The first imaging device 510 may be a camera for a display panel inspection.

전술한 바와 같이, 곡면형 반사경(300)에는 비평면인 디스플레이 패널(100)의 전체 상이 맺히게 되므로, 결과적으로 제1 촬상 소자(510)는 디스플레이 패널(100) 전체를 촬상하게 된다.As described above, the entire image of the non-planar display panel 100 is formed on the curved reflector 300, so that the first image pickup device 510 picks up the entire display panel 100.

따라서 제1 촬상 소자(510) 하나로 디스플레이 패널(100) 전체를 촬상할 수 있으므로, 디스플레이 패널 검사 장치의 부피를 작게 하여 공간확보 측면에서 유리하며, 로터리 장치 등이 필요없게 되므로 검사 시간의 최소화가 가능하다.Therefore, since the whole of the display panel 100 can be picked up by one of the first image pickup devices 510, it is advantageous in terms of securing space by reducing the volume of the display panel inspecting apparatus, and the inspection time can be minimized Do.

디스플레이 패널(100)은 점등 모드 또는 비점등 모드로 검사될 수 있다.The display panel 100 may be checked in a light mode or a non-light mode.

비점등 모드에서 디스플레이 패널(100)을 조사하는 적어도 하나의 외부 광원을 더 포함할 수 있다. 외부 광원은 촬상 소자와 같은 축을 형성하는 동축 조명(coaxial lighting) 또는 비동축 조명의 배치일 수 있다. 외부 광원의 개수 및 위치는 본 발명을 한정하지 않으며, 검사 모드에 따라 달라질 수 있지만, 검사하고자 하는 디스플레이 패널(100)에 광이 충분히 조사된다면 외부 광원으로서 요건이 충분하다.And may further include at least one external light source for illuminating the display panel 100 in the non-lighting mode. The external light source may be an arrangement of coaxial lighting or non-coaxial illumination that forms the same axis as the imaging element. The number and position of the external light sources are not limited to the present invention and may vary depending on the inspection mode. However, if the display panel 100 to be inspected is sufficiently irradiated with light, a sufficient requirement as an external light source is sufficient.

점등 모드에서 디스플레이 패널(100)에 패턴 제너레이터(pattern generator)를 전기적으로 연결하여 화상 패턴을 제공할 수 있다.A pattern generator can be electrically connected to the display panel 100 in the lighting mode to provide an image pattern.

패턴 제너레이터는 디스플레이 패널(100)의 검사를 위해 패턴별 영상 신호를 출력할 수 있다, 패턴 제너레이터는 디스플레이 패널(100)에 접촉되는 프로브를 포함할 수 있다.The pattern generator may output a pattern-specific image signal for inspection of the display panel 100. The pattern generator may include a probe that contacts the display panel 100. [

점등 모드에서, 제2 반사경(410, 420)은 디스플레이 패널(100)의 곡면부(110, 120)로부터 출사되는 광을 곡면형 반사경(300)으로 반사시키도록 위치 및 방향이 결정될 수 있다.The second reflectors 410 and 420 may be positioned and oriented so as to reflect the light emitted from the curved portions 110 and 120 of the display panel 100 to the curved reflector 300. [

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.3 is a view illustrating an inspection apparatus of a non-planar display panel according to another embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는 지지부(200), 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 제1 촬상 소자(510) 및 제2 촬상 소자(520)를 포함한다.3, a display panel inspection apparatus according to another exemplary embodiment of the present invention includes a support 200, a curved reflector 300, a second reflector 410 and 420, a first image pickup device 510, Device 520 as shown in FIG.

제2 촬상 소자(520)는 디스플레이 패널 검사용 카메라일 수 있다.The second image sensing device 520 may be a camera for inspection of the display panel.

제2 촬상 소자(520)는 제1 촬상 소자(510)와 디스플레이 패널(100) 사이에 위치하고, 디스플레이 패널(100)의 정면부(130)를 향하도록 배치될 수 있다.The second image sensing device 520 may be disposed between the first image sensing device 510 and the display panel 100 and may be disposed to face the front portion 130 of the display panel 100.

제1 촬상 소자(510)가 곡면형 반사경(300)을 향하도록 배치되어 있으므로, 제1 촬상 소자(510)의 크기 및 위치에 따라 일부 사각 영역(blind spot)이 있을 수 있다.Since the first imaging device 510 is arranged to face the curved mirror 300, there may be some blind spots depending on the size and position of the first imaging device 510.

다만, 제1 촬상 소자(510)에게 사각 영역이 반드시 존재하는 것은 아니며, 곡면형 반사경(300)이 제1 촬상 소자(510)에 비해 충분히 크게 구성되어 있는 경우, 사각 영역을 없앨 수 있다.However, the rectangular area does not necessarily exist in the first imaging device 510, and when the curved mirror 300 is configured to be sufficiently larger than the first imaging device 510, the rectangular area can be eliminated.

또한 제2 반사경(410, 420)이 곡면부(110, 120)에 비해 충분히 크게 형성되는 경우, 정면부(130)의 일부를 반사하게 됨으로써 사각 영역이 없어질 수 있다.When the second reflectors 410 and 420 are formed to be sufficiently larger than the curved portions 110 and 120, a part of the front portion 130 may be reflected to eliminate the rectangular region.

곡면형 반사경(300) 또는 제2 반사경(410, 420)이 크게 구성되어 상(image)의 일부가 중복되는 경우, 이미지 프로세싱으로 중복되는 부분을 제거하거나, 오히려 더 정확히 구현해낼 수 있다.If the curved reflector 300 or the second reflectors 410 and 420 are largely constituted so that a part of the image is overlapped, it is possible to eliminate or even more accurately implement overlapping portions in the image processing.

또한, 표면 불량 검출 측면에서 유리하다.It is also advantageous in terms of surface defect detection.

예를 들어, 외부 광원인 콜리메이티드 조명(collimated lighting)의 방향과 수평 방향으로 표면 불량이 있는 경우, 반사된 빛의 경로가 촬상 소자의 범위를 벗어날 수 있어 표면 불량을 검출하지 못할 수 있다.For example, if there is a surface defect in the direction of the collimated lighting, which is an external light source, and in the horizontal direction, the path of the reflected light may deviate from the range of the imaging device, and the surface defect may not be detected.

하지만, 다양한 방향의 반사경과 동축으로 외부 광원이 배치되는 경우 이러한 표면 불량을 검출해낼 수 있는 장점이 있다.However, when an external light source is disposed coaxially with a reflector in various directions, there is an advantage that such a surface defect can be detected.

디스플레이 패널 검사 장치의 구조상 제1 촬상 소자(510)가 촬상할 수 없는 사각 영역이 있는 경우, 제2 촬상 소자(520)는 제1 촬상 소자(510)의 사각 영역을 촬상함으로써, 제1 촬상 소자(510)를 기능적으로 보완할 수 있다.When there is a rectangular area in which the first imaging device 510 can not capture the structure of the display panel inspection apparatus, the second imaging device 520 picks up a rectangular area of the first imaging device 510, (510).

도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.4 is a view illustrating an inspection apparatus of a non-planar display panel according to another embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치는 지지부(200), 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 제1 촬상 소자(510) 및 제3 반사경(430)을 포함한다.4, an inspection apparatus for a non-planar display panel according to another exemplary embodiment of the present invention includes a support 200, a curved reflector 300, a second reflector 410 and 420, a first image pickup element 510, And a third reflector 430.

제3 반사경(430)을 제외한 구성은 도 2의 실시예와 같으므로 설명을 생략한다.The configuration except for the third reflector 430 is the same as that in the embodiment of FIG. 2, and thus description thereof is omitted.

제3 반사경(430)은 제1 촬상 소자(510)의 디스플레이 패널(100)에 대한 사각 영역(150)을 곡면형 반사경(300)으로 반사시키도록 구성될 수 있다.The third reflector 430 may be configured to reflect the rectangular area 150 of the first image sensing device 510 with respect to the display panel 100 to the curved reflector 300.

따라서 곡면형 반사경(300)에 제1 촬상 소자(510)의 형상이 투영되어 촬상되는 것이 아니라, 제1 촬상 소자(510)의 형상이 투영될 부분에 사각 영역(150)의 형상을 중첩시킴으로서 디스플레이 패널(100)을 완전히 촬상할 수 있다.The shape of the first imaging device 510 is not projected on the curved reflector 300 but is superimposed on the portion of the first imaging device 510 where the shape of the first imaging device 510 is to be projected, The panel 100 can be completely photographed.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치의 블록도이다. 도 6은 촬상 소자로 촬상된 화상의 영역을 구분하여 도시한 도면이다.5 is a block diagram of an inspection apparatus for a non-planar display panel according to an embodiment of the present invention. Fig. 6 is a diagram showing regions of an image picked up by an image pickup device separately. Fig.

도 5를 참조하면 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 검사 장치는 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 촬상 소자(510, 520), 위치 조절부(600) 및 불량 검출부(700)를 포함한다.5, an inspection apparatus for a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention includes a curved reflector 300, second reflectors 410 and 420, imaging devices 510 and 520, a position controller 600, And a defect detector 700.

위치 조절부(600)는 우선 촬상 소자(510, 520)를 통해 디스플레이 패널(100)을 촬상하여 곡면부(110, 120) 및 정면부(130)가 완전히 표시되는 지 확인할 수 있다.The position adjuster 600 may first sense the display panel 100 through the image pickup devices 510 and 520 to confirm whether the curved portions 110 and 120 and the front portion 130 are completely displayed.

위의 단계는 패널 검사 시작 시에 최초 1회 수행될 수 있다.The above steps can be performed one time at the beginning of panel inspection.

위치 조절부(600)는 디스플레이 패널(100)의 곡면부(110, 120) 및 전면부(130)가 제1 촬상 소자(510)로 촬상될 수 있도록, 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 촬상 소자(510, 520) 및 디스플레이 패널(100) 중 적어도 하나의 위치를 조절할 수 있다.The position adjusting unit 600 includes a curved reflector 300 and a second reflector so that the curved surfaces 110 and 120 and the front surface 130 of the display panel 100 can be picked up by the first imaging device 510. [ The position of at least one of the image pickup devices 410 and 420, the image pickup devices 510 and 520, and the display panel 100 can be adjusted.

위치 조절부(600)는 복수의 액츄에이터(actuator)를 포함할 수 있다. 액츄에이터란 전계, 자계, 열, 압력 등의 가동 에너지를 사용하여 기계적인 변위를 일으키는 소자를 총칭한다.The position adjuster 600 may include a plurality of actuators. An actuator is a generic term that refers to a device that causes mechanical displacement by using movable energy such as electric field, magnetic field, heat, or pressure.

기어와 마이크로 모터를 이용한 기계적인 액츄에이터가 사용될 수 있고, 형상기억폴리머를 활용하여 전기적, 자성적 신호를 이용하여 형상을 변화시키는 액츄에이터 또한 사용될 수 있다.Mechanical actuators using gears and micromotors may be used, and actuators that utilize shape memory polymers to change shapes using electrical and magnetic signals may also be used.

곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 촬상 소자(510, 520) 및 디스플레이 패널(100) 중 적어도 하나에 액츄에이터가 연결되어 위치 및 방향을 변경할 수 있다.The actuator may be connected to at least one of the curved reflector 300, the second reflectors 410 and 420, the image pickup devices 510 and 520, and the display panel 100 to change the position and the direction.

따라서, 곡면부(110, 120) 및 정면부(130)가 완전히 표시되지 않는 경우 소자 간의 간격 및 방향을 수정하여, 완전히 표시되도록 한다.Therefore, when the curved portions 110 and 120 and the front portion 130 are not completely displayed, the interval and direction between the elements are corrected so as to be completely displayed.

또한 도 4의 실시예에 따라 제3 반사경(430)이 디스플레이 패널의 검사 장치에 추가되는 경우, 위치 조절부(600)는 제3 반사경(430)의 위치를 조절할 수 있다.When the third reflector 430 is added to the inspection apparatus of the display panel according to the embodiment of FIG. 4, the position adjuster 600 can adjust the position of the third reflector 430.

불량 검출부(700)는 촬상 소자(510, 520)에서 촬상된 화상(800)을 처리하여 검사 결과를 출력한다. 즉, 디스플레이 패널(100)에 크랙, 스크래치, 덴트, 범프, 험프 등이 있는 지를 출력할 수 있다.The defect detection section 700 processes the image 800 picked up by the image pickup devices 510 and 520 and outputs the inspection result. That is, it is possible to output whether the display panel 100 has cracks, scratches, dents, bumps, humps, or the like.

불량 검출부(700)는 곡면부(110, 120)에 대응되는 화상(800)의 제1 영역(810, 820)과 정면부(130)에 대응되는 화상(800)의 제2 영역(830)을 구분하여 검사할 수 있다.The defect detection unit 700 detects the first region 810 and 820 of the image 800 corresponding to the curved portions 110 and 120 and the second region 830 of the image 800 corresponding to the front portion 130 Can be classified and examined.

도 6을 참조하면 곡면부(110)에 대응되는 제1 영역(810), 정면부(130)에 대응되는 제2 영역(830) 및 곡면부(120)에 대응되는 제1 영역(820)으로 구성된 화상(800)을 확인할 수 있다.6, a first region 810 corresponding to the curved portion 110, a second region 830 corresponding to the front portion 130, and a first region 820 corresponding to the curved portion 120 So that the composed image 800 can be confirmed.

불량 검출부(700)는 제2 반사경(410, 420)의 각도 및 위치에 따라 화상(800)의 제1 영역(810, 820)과 제2 영역(830)을 구분하고, 이미지 프로세싱 할 수 있다.The defect detection unit 700 can distinguish the first areas 810 and 820 of the image 800 from the second area 830 according to the angles and positions of the second mirrors 410 and 420 and perform image processing.

즉, 제2 반사경(410, 520)의 각도 및 위치에 따라 제1 영역(810, 820)과 제2 영역(830)이 화상(800)을 구성하는 비율이 달라질 수 있으므로, 이를 반영할 수 있다.That is, the ratio of the first region 810, 820 and the second region 830 constituting the image 800 may vary depending on the angle and position of the second reflectors 410, 520, .

지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description of the present invention are illustrative and explanatory only and are intended to be illustrative of the invention and are not to be construed as limiting the scope of the invention as defined by the appended claims. It is not. Therefore, those skilled in the art will appreciate that various modifications and equivalent embodiments are possible without departing from the scope of the present invention. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

100: 디스플레이 패널
110, 120: 곡면부
130: 정면부
150: 사각 영역
200: 지지부
300: 곡면형 반사경
410, 420: 제2 반사경
430: 제3 반사경
510: 제1 촬상 소자
520: 제2 촬상 소자
600: 위치 조절부
700: 불량 검출부100: Display panel
110, 120:
130:
150: Rectangular area
200:
300: Curved reflector
410, 420: second reflector
430: Third reflector
510: a first image pickup element
520: second image pickup element
600:
700: defect detector

Claims (14)

곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 장치로서,
상기 디스플레이 패널을 지지하는 지지부;
상기 디스플레이 패널의 정면부를 향하도록 배치된 곡면형 반사경;
상기 곡면부에 대응하도록 배치된 적어도 하나의 제2 반사경; 및
상기 곡면형 반사경과 상기 디스플레이 패널의 사이에 배치되고, 상기 곡면형 반사경에 맺히는 상을 촬상하는 제1 촬상 소자를 포함하는
디스플레이 패널 검사 장치.A display panel inspection apparatus for inspecting a display panel including a curved portion,
A support for supporting the display panel;
A curved reflector disposed to face the front portion of the display panel;
At least one second reflector disposed to correspond to the curved portion; And
And a first image pickup element disposed between the curved reflector and the display panel for picking up an image formed on the curved reflector
Display panel inspection device. 제1 항에 있어서,
상기 제2 반사경은 상기 곡면부의 형상을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 배치되는
디스플레이 패널 검사 장치.The method according to claim 1,
And the second reflector is arranged to reflect the shape of the curved portion to the curved reflector
Display panel inspection device. 제2 항에 있어서,
상기 디스플레이 패널을 조사하는 적어도 하나의 외부 광원을 더 포함하는
디스플레이 패널 검사 장치.3. The method of claim 2,
Further comprising at least one external light source for illuminating the display panel
Display panel inspection device. 제2 항에 있어서,
상기 제2 반사경은 상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부로부터 출사되는 광을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성되는
디스플레이 패널 검사 장치.3. The method of claim 2,
And the second reflector is configured to reflect light emitted from the curved surface portion of the display panel to the curved reflector
Display panel inspection device. 제4 항에 있어서,
상기 디스플레이 패널과 전기적으로 연결되어 화상 패턴을 제공하는 패턴 제너레이터를 더 포함하는
디스플레이 패널 검사 장치.5. The method of claim 4,
And a pattern generator electrically connected to the display panel to provide an image pattern
Display panel inspection device. 제1 항에 있어서,
상기 제1 촬상 소자는 상기 곡면형 반사경을 향하도록 배치되는
디스플레이 패널 검사 장치.The method according to claim 1,
The first image pickup element is arranged to face the curved reflector
Display panel inspection device. 제6 항에 있어서,
상기 제1 촬상 소자와 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하고, 상기 디스플레이 패널의 상기 정면부를 향하도록 배치되는 제2 촬상 소자를 더 포함하는
디스플레이 패널 검사 장치.The method according to claim 6,
Further comprising a second image pickup element positioned between the first image pickup element and the display panel and disposed so as to face the front portion of the display panel
Display panel inspection device. 제7 항에 있어서,
상기 제2 촬상 소자는 상기 제1 촬상 소자의 사각 영역을 촬상하는
디스플레이 패널 검사 장치.8. The method of claim 7,
The second imaging element captures a rectangular area of the first imaging element
Display panel inspection device. 제1 항에 있어서,
상기 제1 촬상 소자의 상기 디스플레이 패널에 대한 사각 영역을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성되는 제3 반사경을 더 포함하는
디스플레이 패널 검사 장치.The method according to claim 1,
And a third reflector configured to reflect a rectangular area of the first image pickup element with respect to the display panel to the curved reflector
Display panel inspection device. 제1 항에 있어서,
상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부 및 상기 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 위치 조절부를 더 포함하는
디스플레이 패널 검사 장치.The method according to claim 1,
A position for adjusting the position of at least one of the curved reflector, the second reflector, the first image capturing element, and the display panel so that the curved surface portion and the front surface portion of the display panel can be captured by the first image capturing element Further comprising a controller
Display panel inspection device. 제1 항에 있어서,
상기 제1 촬상 소자에서 촬상된 화상을 처리하여 검사 결과를 출력하는 불량 검출부를 더 포함하고,
상기 불량 검출부는 상기 곡면부에 대응되는 상기 화상의 제1 영역과 상기 정면부에 대응되는 상기 화상의 제2 영역을 구분하여 검사하는
디스플레이 패널 검사 장치.The method according to claim 1,
Further comprising a defect detector for processing an image picked up by said first image pickup element and outputting a result of inspection,
Wherein the defect detecting section distinguishes and inspects a first area of the image corresponding to the curved surface section and a second area of the image corresponding to the front section
Display panel inspection device. 제11 항에 있어서,
상기 불량 검출부는 상기 제2 반사경의 각도 및 위치에 따라 상기 화상의 제1 영역과 상기 제2 영역을 구분하는
디스플레이 패널 검사 장치.12. The method of claim 11,
Wherein the defect detection unit distinguishes the first area and the second area of the image according to the angle and position of the second reflector
Display panel inspection device. 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 방법으로서,
제2 반사경을 통해 맺힌 상기 곡면부의 상을 포함하는 상기 디스플레이 패널의 상이 곡면형 반사경에 맺히는 단계;
제1 촬상 소자로 상기 곡면형 반사경에 맺힌 상기 디스플레이 패널의 상을 촬상하는 단계; 및
상기 디스플레이 패널의 상에서 상기 곡면부에 대응되는 제1 영역과 상기 디스플레이 패널의 정면부에 대응되는 제2 영역을 구분하여 검사하는 단계를 포함하는
디스플레이 패널 검사 방법.A display panel inspection method for inspecting a display panel including a curved portion,
Forming an image of the display panel including the image of the curved surface formed through the second reflector on the curved reflector;
Capturing an image of the display panel formed on the curved reflector with a first imaging device; And
And separating and inspecting a first region corresponding to the curved surface portion of the display panel and a second region corresponding to a front portion of the display panel,
Display panel inspection method. 제13 항에 있어서,
상기 디스플레이 패널의 곡면부 및 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 단계를 더 포함하는
디스플레이 패널 검사 방법.14. The method of claim 13,
Adjusting the position of at least one of the curved reflector, the second reflector, the first image capturing element, and the display panel so that the curved surface portion and the front surface portion of the display panel can be picked up by the first image capturing element, Included
Display panel inspection method.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107328789A (en) * 2017-06-23 2017-11-07 宁波韵升智能技术有限公司 A kind of arc surface and surface defect detecting system
KR20190041418A (en) * 2017-10-12 2019-04-22 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Display panel inspection apparatus and Display panel inspection method
CN110296998A (en) * 2019-06-06 2019-10-01 武汉精立电子技术有限公司 A kind of defect detecting system and method for 3D panel
CN111025701A (en) * 2019-12-30 2020-04-17 凌云光技术集团有限责任公司 Curved surface liquid crystal screen detection method
CN111650201A (en) * 2020-07-15 2020-09-11 Oppo（重庆）智能科技有限公司 Detection device and detection method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100389967B1 (en) * 2000-08-21 2003-07-02 김성남 Automatized defect inspection system
KR20110004188A (en) * 2009-07-07 2011-01-13 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for inspecting back light assembly and apparatus for inspecting display device
KR101358112B1 (en) * 2013-04-29 2014-02-05 주식회사 서울금속 Vision inspection apparatus for inspecting plural sections of object

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100389967B1 (en) * 2000-08-21 2003-07-02 김성남 Automatized defect inspection system
KR20110004188A (en) * 2009-07-07 2011-01-13 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for inspecting back light assembly and apparatus for inspecting display device
KR101358112B1 (en) * 2013-04-29 2014-02-05 주식회사 서울금속 Vision inspection apparatus for inspecting plural sections of object

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107328789A (en) * 2017-06-23 2017-11-07 宁波韵升智能技术有限公司 A kind of arc surface and surface defect detecting system
CN107328789B (en) * 2017-06-23 2023-09-26 宁波韵升智能技术有限公司 Arc surface and curved surface defect detection system
KR20190041418A (en) * 2017-10-12 2019-04-22 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Display panel inspection apparatus and Display panel inspection method
CN110296998A (en) * 2019-06-06 2019-10-01 武汉精立电子技术有限公司 A kind of defect detecting system and method for 3D panel
CN111025701A (en) * 2019-12-30 2020-04-17 凌云光技术集团有限责任公司 Curved surface liquid crystal screen detection method
CN111650201A (en) * 2020-07-15 2020-09-11 Oppo（重庆）智能科技有限公司 Detection device and detection method
CN111650201B (en) * 2020-07-15 2023-06-06 Oppo（重庆）智能科技有限公司 Detection device and detection method

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