KR101358112B1 - Vision inspection apparatus for inspecting plural sections of object - Google Patents

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KR101358112B1
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이진석
나승우
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주식회사 서울금속
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Abstract

The present invention provides a vision inspection apparatus for inspecting the multiple sections of an object, comprising an optical unit including a first optical module having a first cone mirror formed to contract toward the object so as to reflect light reflected on the first part of the object again, and a second optical module formed to change the propagating direction of the light reflected on the second part of the object; an image acquisition unit for acquiring a first image for the first part of the object and a second image for the second part by receiving, via the optical unit, the light reflected on the first part and the second part respectively; an image generation unit for receiving the first image and the second image from the image acquisition unit respectively and generating a single image of the second image arranged in the middle of the first image; and a judgment unit for receiving the single image from the image generation unit and judging the defect of the object by comparing the single image with reference images for the first part and the second part.

Description

대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치{VISION INSPECTION APPARATUS FOR INSPECTING PLURAL SECTIONS OF OBJECT}VISION INSPECTION APPARATUS FOR INSPECTING PLURAL SECTIONS OF OBJECT}

본 발명은 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of an object.

전자 산업의 발전 및 수요 증대에 힘입어 체결요소 부품도 전자제품의 고품질화 트렌드를 뒷받침하기 위해 소형화·정밀화되고 있다. 이러한 전자제품의 고품질화는 체결요소 부품의 품질 신뢰도 향상도 수반하게 된다. 그에 따라, 체결요소 부품의 검사는 품질관리의 중요한 부분으로 정착되고 있다.Due to the development and demand of the electronics industry, fastener components are also being miniaturized and precisiond to support the trend of high quality electronic products. The high quality of such electronic products also entails an improvement in the quality reliability of the fastening component parts. Accordingly, inspection of fastening component parts has become an important part of quality control.

이러한 체결요소 부품의 품질관리를 위해, 최근에는 비전 검사 장치가 주로 사용되고 있다. 비전 검사 장치는 체결요소 부품과 같은 대상물을 촬영하고, 촬영한 이미지를 처리하여 대상물의 표면을 검사하도록 구성된다.For quality control of such fastening component parts, vision inspection apparatuses are mainly used in recent years. The vision inspection apparatus is configured to photograph an object, such as a fastening element part, and process the photographed image to inspect the surface of the object.

이러한 비전 검사 장치는 대상물의 일 부분만을 촬영하고 그에 대한 결함 유무만을 판단하도록 구성되므로, 이를 이용하여 대상물의 복수의 부분을 촬영하고 그에 대한 결함 유무를 판단하기에는 어려움이 있다. Since such a vision inspection apparatus is configured to photograph only a part of an object and determine only a defect thereof, it is difficult to photograph a plurality of parts of the object and determine a defect thereof.

본 발명의 목적은, 하나의 이미지 획득 유닛만으로 대상물의 복수의 부분을 촬영할 수 있도록 하면서도, 이들 부분에 대한 결함 유무를 신속하게 판단할 수 있도록 하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치를 제공하는 것이다.
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of an object, which enables to photograph a plurality of portions of an object with only one image acquisition unit, and to quickly determine the presence or absence of defects on these portions. To provide.

상기 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 실시예와 관련된 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치는, 대상물의 제1 부분에서 반사된 광을 재반사할 수 있게 상기 대상물 쪽으로 오므라들도록 형성되는 제1 콘미러를 갖는 제1 광학 모듈과, 상기 대상물의 제2 부분에서 반사된 광의 진행 방향을 변경할 수 있게 형성되는 제2 광학모듈을 구비하는 광학 유닛; 상기 광학 유닛을 통해 상기 제1 부분 및 상기 제2 부분에서 반사된 광을 각각 수광하여 상기 대상물의 제1 부분에 대한 제1 이미지 및 제2 부분에 대한 제2 이미지를 각각 획득하는 이미지 획득 유닛; 상기 이미지 획득 유닛으로부터 상기 제1 이미지 및 상기 제2 이미지를 각각 입력받아, 상기 제2 이미지가 상기 제1 이미지의 중심에 배치되는 단일의 이미지를 생성하는 이미지 생성 유닛; 및 상기 이미지 생성 유닛으로부터 상기 단일의 이미지를 입력받아, 상기 제1 부분 및 상기 제2 부분에 관한 레퍼런스 이미지와 상기 단일의 이미지를 상호 비교하여 상기 대상물의 결함 유무를 판단하는 판단 유닛을 포함할 수 있다.A vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of an object related to an embodiment of the present invention for realizing the above object is formed to retract toward the object so as to reflect back light reflected from the first portion of the object. An optical unit having a first optical module having a first mirror and a second optical module configured to change a traveling direction of light reflected from the second portion of the object; An image acquisition unit for receiving the light reflected from the first portion and the second portion through the optical unit, respectively, to obtain a first image for the first portion of the object and a second image for the second portion, respectively; An image generation unit which receives the first image and the second image from the image acquisition unit, respectively and generates a single image in which the second image is disposed at the center of the first image; And a determination unit configured to receive the single image from the image generating unit, and compare the reference image of the first and second portions with the single image to determine whether the object is defective. have.

여기서, 상기 이미지 획득 유닛은, 상기 제1 부분에서 반사된 제1 반사광이 입사되는 제1 센서 영역과, 상기 제2 부분에서 반사된 제2 반사광이 입사되는 제2 센서 영역을 구비하는 이미지 센서를 포함할 수 있다.The image acquiring unit may include an image sensor including a first sensor area into which the first reflected light reflected from the first part is incident, and a second sensor area into which the second reflected light reflected from the second part is incident. It may include.

여기서, 상기 제2 센서 영역은, 상기 제1 센서 영역의 중심에 배치될 수 있다.Here, the second sensor area may be disposed at the center of the first sensor area.

삭제delete

여기서, 상기 제1 광학 모듈은, 상기 이미지 획득 유닛의 광축 방향을 따라 배치될 수 있다.Here, the first optical module may be disposed along the optical axis direction of the image acquisition unit.

삭제delete

여기서, 상기 대상물을 이송하는 투광성의 이송판을 구비하는 이송 유닛이 더 구비될 수 있고, 상기 제2 광학 모듈은, 상기 이송판의 하측에 배치되어 상기 대상물로부터 상기 제2 반사광을 수광하는 제1 반사경; 및 상기 제1 반사경으로부터 반사되는 상기 제2 반사광을 상기 제2 센서 영역으로 입사시키는 제2 반사경을 포함할 수 있다.Here, the transfer unit having a transmissive transfer plate for transferring the object may be further provided, wherein the second optical module is disposed below the transfer plate to receive the second reflected light from the object Reflector; And a second reflector for incident the second reflected light reflected from the first reflector to the second sensor area.

여기서, 상기 제1 반사경은, 상기 이송판과 평행하게 배치되는 평판 미러를 포함하고, 상기 제2 반사경은, 상기 이미지 획득 유닛의 광축 방향을 따라 배치되고, 상기 이미지 획득 유닛 쪽으로 오므라들도록 형성되는 제2 콘미러를 포함할 수 있다.Here, the first reflector includes a flat mirror disposed in parallel with the transfer plate, and the second reflector is arranged along the optical axis direction of the image acquisition unit and is formed to retract toward the image acquisition unit. It may include two cone mirrors.

여기서, 상기 이미지 생성 유닛은, 상기 제1 이미지 및 상기 제2 이미지 중 적어도 하나의 사이즈를 조절하여, 상기 제1 이미지와 상기 제2 이미지가 상호 비중첩되어 배치되도록 할 수 있다.Here, the image generating unit may adjust the size of at least one of the first image and the second image so that the first image and the second image are non-overlapping with each other.

여기서, 상기 이미지 생성 유닛은, 상기 제2 이미지가 상기 제2 부분의 종횡비와 동일한 종횡비를 갖도록 제2 이미지를 변환 처리할 수 있다.
Here, the image generating unit may convert the second image so that the second image has the same aspect ratio as that of the second portion.

상기와 같이 구성되는 본 발명에 관련된 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 의하면, 대상물의 복수의 부분에 대한 결함 유무가 단일의 이미지에 의해 비교 판단되므로 검사 속도를 향상 시킬 수 있다.According to the vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of the object according to the present invention configured as described above, the presence or absence of defects for the plurality of portions of the object are compared and judged by a single image can improve the inspection speed.

또한, 본 발명에 관련된 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 의하면, 하나의 이미지 획득 유닛만으로 대상물의 복수의 부분을 촬영할 수 있다. 따라서, 추가적인 이미지 획득 유닛이 요구되지 않아 경제적일 뿐만 아니라, 이미지 획득 유닛을 유지하기 위한 비용도 줄일 수 있다.
Further, according to the vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of the object according to the present invention, it is possible to photograph a plurality of portions of the object with only one image acquisition unit. Thus, an additional image acquisition unit is not required, which is economical as well as reduces the cost for maintaining the image acquisition unit.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 평면도이다.
도 2는 대상물(N)의 제1 부분(Na)을 촬영하는 모습을 도시한, 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면도이다.
도 3은 대상물(N)의 제2 부분(Nb)을 촬영하는 모습을 도시한, 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면도이다.
도 4는 제1 광학 모듈(161) 및 제2 광학 모듈(163)을 이용하여 대상물(N)을 촬영하는 모습을 도시한, 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면도이다.
도 5는 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is)를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is')를 도시한 도면이다.1 is a plan view of a vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of an object according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a side view of the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object of FIG. 1, showing a state in which the first portion N a of the object N is photographed.
FIG. 3 is a side view of the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object of FIG. 1, showing a state in which the second portion N b of the object N is photographed.
FIG. 4 is a vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object of FIG. 1, which illustrates photographing an object N by using the first optical module 161 and the second optical module 163. Side view.
5 is a diagram showing a single image (I s) of which is obtained by the vision inspection unit 100 for inspecting a plurality of portions of the object of Fig.
6 is a view showing a single image (I s') of which is obtained by the vision inspection device for inspecting a plurality of portions of an object according to another embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다.Hereinafter, a vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of an object according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the present specification, the same or similar reference numerals are given to different embodiments in the same or similar configurations.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 평면도이다.1 is a plan view of a vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of an object according to an embodiment of the present invention.

본 도면을 참조하면, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)는, 공급 유닛(110), 정렬 유닛(120), 이송 유닛(130), 대상물 감지 유닛(140), 이미지 획득 유닛(150), 광학 유닛(160), 형상 측정 유닛(170), 및 배출 유닛(180)을 포함할 수 있다.Referring to this drawing, the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of parts of an object includes a supply unit 110, an alignment unit 120, a transfer unit 130, an object detection unit 140, and an image acquisition unit. 150, an optical unit 160, a shape measurement unit 170, and an emission unit 180.

공급 유닛(110)은 호퍼(hopper) 형태로 형성되며, 대상물(N)을 시간당 일정 양만큼 정렬 유닛(120)에 공급한다. 여기서, 대상물(N)은 너트, 볼트와 같은 나사류가 될 수 있다. The supply unit 110 is formed in the form of a hopper, and supplies the object N to the alignment unit 120 by a predetermined amount per hour. Here, the object (N) may be a screw, such as nuts, bolts.

정렬 유닛(120)은 서로 모여져 있는 대상물(N)을 겹치지 않게 낱개 단위로 분리하고 일정한 자세로 정렬시킨다. 구성적인 측면에 있어서, 정렬 유닛(120)은 볼(bowl) 피더(121), 직선 피더(122), 및 스페이서(123)를 포함할 수 있다.The alignment unit 120 separates the objects N gathered from each other into individual units so as not to overlap each other and aligns them in a predetermined posture. In an aspect, the alignment unit 120 may include a bowl feeder 121, a straight feeder 122, and a spacer 123.

볼 피더(121)는 대상물(N)이 모여져 있는 상태에서 진동에 의하여 상호 분리되면서 특정 방향을 따라 안내되도록 구성된다. 볼 피더(121)는 대상물(N)을 이송하는 중에 가이드의 형상에 의하여 대상물(N)이 특정 자세를 갖도록 유도하거나 특정된 자세를 갖지 않는 대상물(N)을 탈락시킨다. 종류에 있어서 볼 피더(121)는 계단형, 원추형, 원통형, 접시형, 단종형 등 알려져 있는 다양한 타입으로 형성될 수 있다.The ball feeder 121 is configured to be guided along a specific direction while being separated from each other by vibration in a state where the objects N are gathered. The ball feeder 121 induces the object N to have a specific posture by the shape of the guide while the object N is being conveyed, or drops off the object N having no specified posture. The ball feeder 121 in the kind may be formed in various types known, such as stepped, conical, cylindrical, dish type, discontinued.

볼 피더(121)에 의해 일정 자세로 공급된 대상물(N)은 직선 피더(122)에 의해 일렬로 이송 유닛(130)의 이송판(131)에 정렬될 수 있도록 준비된다. 직선 피더(122)는 대상물(N)을 자중에 의해 자연적으로 이송되도록 하여 먼저 진행된 대상물(N)에 밀착시킨다. 공급 속도를 증대시키고 상호 간의 간격을 일정하게 유지하기 위해, 직선 피더(122)에는 공압 노즐과 같은 푸셔(pusher)가 구비될 수 있다. 직선 피더(122)의 끝단에는 한꺼번에 대상물(N)이 복수 개가 공급되는 것(잼)을 방지하기 위한 기계적 또는 전자적 장치가 구비될 수 있다. 그러한 잼 방지 장치로는 스프링에 의해 젖혀질 수 있는 암(arm) 또는 게이트(gate)나 롤러(roller) 등을 채택할 수 있다.The object N supplied in a predetermined posture by the ball feeder 121 is prepared to be aligned with the transfer plate 131 of the transfer unit 130 in a line by the straight feeder 122. The straight feeder 122 allows the object N to be naturally transported by its own weight, thereby bringing the object N into close contact with the object N previously advanced. In order to increase the feed rate and to maintain a constant distance between each other, the straight feeder 122 may be provided with a pusher such as a pneumatic nozzle. The end of the straight feeder 122 may be provided with a mechanical or electronic device for preventing the supply (jam) of a plurality of objects (N) at one time. Such an anti-jam device may employ an arm or a gate or a roller that can be turned by a spring.

스페이서(123)는 직선 피더(122)에 의해 이송판(131)에 놓여진 대상물(N)이 이송판(131) 상에서 일정한 위치에 놓여 지도록 안내한다. 이송판(131)에 놓여진 대상물(N)은 관성 또는 흔들림에 의해 설정된 위치에서 벗어나 있을 수 있다. 이를 맞추기 위해, 스페이서(123)는 대상물(N)과 접촉하여 대상물(N)을 이송판(131)의 반경방향으로 이동할 수 있게 구성된다.The spacer 123 guides the object N placed on the transfer plate 131 by the straight feeder 122 to be placed at a predetermined position on the transfer plate 131. The object N placed on the transfer plate 131 may be out of a position set by inertia or shaking. To fit this, the spacer 123 is configured to be able to move in the radial direction of the transfer plate 131 in contact with the object (N).

도 1에는 이송판(131)의 상면에 대상물(N)이 '놓여 지는' 방식으로서 정렬 유닛(120)도 그에 적용될 수 있는 일 예를 보인 것이나, 정렬을 위한 메커니즘은 대상물(N)에 따라 다양한 형태가 될 수 있다. 그러한 예로서, 정렬 유닛(120)은 대상물(N)이 끼워지는 홈이 일정한 간격으로 외주 측면에 형성된 원형판을 포함할 수 있다. 1 illustrates an example in which the alignment unit 120 may also be applied thereto as the object N is 'laid' on the upper surface of the transfer plate 131, but the mechanism for alignment may vary depending on the object N. It can be in form. As such an example, the alignment unit 120 may include a circular plate in which grooves into which the object N is fitted are formed at outer peripheral sides at regular intervals.

이송 유닛(130)은 일정한 회전 속도를 갖는 원형의 이송판(131)을 구비할 수 있다. 대상물(N)은 이송판(131)에 놓여지게 되며, 이송 유닛(130)은 대상물(N)을 이송하는 동안 단계적으로 측정(검사)을 받도록 하고 측정이 마쳐진 후 배출되도록 한다. 이송 유닛(130)은 이송판(131)의 구동을 위하여 회동부 및 속도 제어를 위한 감속기 등을 포함할 수 있다. 이송판(131)은 투명 글라스 형태로 형성될 수 있다. 이에 의하면, 대상물(N)은 이송판(131)의 상면에 배치될 수 있고, 투명 글라스를 통해 이송판(131)의 저면에서도 측정이 가능해질 수 있다. 이외에도 이송판(131)은 그 외주의 측면에 대상물(N)이 끼워질 수 있도록 일정 간격으로 이격된 홈을 가질 수도 있다. The transfer unit 130 may include a circular transfer plate 131 having a constant rotational speed. The object N is placed on the transfer plate 131, and the transfer unit 130 is subjected to the step (measurement) step by step while transferring the object N, and discharged after the measurement is completed. The transfer unit 130 may include a rotating unit and a speed reducer for controlling the transfer plate 131. The transfer plate 131 may be formed in a transparent glass shape. According to this, the object N may be disposed on the top surface of the transfer plate 131, and the measurement may be possible even on the bottom surface of the transfer plate 131 through the transparent glass. In addition, the transfer plate 131 may have grooves spaced at regular intervals so that the object (N) can be fitted on the side of the outer circumference.

대상물 감지 유닛(140)은 이송판(131)에 옮겨진 대상물(N)을 감지한다. 대상물 감지 유닛(140)은 대상물(N)이 대상물 감지 유닛(140)을 지나쳐서 검사 영역으로 향하는지 감지하여 위치 및 대상물(N) 간의 간격에 관한 정보를 데이터 처리부에 전송한다. 대상물(N)의 감지를 위하여 광센서, 근접센서 등이 사용될 수 있다. 이외에도 대상물 감지 유닛(140)은 엔코더 형태로 구현될 수 있다.The object detecting unit 140 detects the object N transferred to the transfer plate 131. The object detecting unit 140 detects whether the object N passes through the object detecting unit 140 and heads to the inspection area, and transmits information about the position and the distance between the object N to the data processing unit. For sensing the object N, a light sensor, a proximity sensor, or the like may be used. In addition, the object detecting unit 140 may be implemented in the form of an encoder.

이미지 획득 유닛(150) 및 광학 유닛(160)은 대상물(N)이 검사 영역 내에 왔을 때 대상물(N)의 표면에 대한 정보를 얻을 수 있게 구성된다. 얻어진 정보는 본 도면에 도시되지 않은 프로세싱 유닛에 의해 나사산의 결손 또는 크랙과 같은 결함의 유무를 평가하는데 활용된다. 여기서, 프로세싱 유닛은 이미지 생성 유닛, 및 판단 유닛을 포함할 수 있다. 이미지 획득 유닛(150), 광학 유닛(160), 및 프로세싱 유닛의 상세한 구성 및 작동 방식에 대하여는 도 2 내지 도 6을 참조하여 후술한다.The image acquisition unit 150 and the optical unit 160 are configured to obtain information about the surface of the object N when the object N comes within the inspection area. The information obtained is utilized by the processing unit not shown in this figure to evaluate the presence of defects such as thread defects or cracks. Here, the processing unit may include an image generating unit and a determination unit. Detailed configurations and operating methods of the image acquisition unit 150, the optical unit 160, and the processing unit will be described below with reference to FIGS. 2 to 6.

다시 도 1을 참조하면, 형상 측정 유닛(170)은 대상물(N)의 헤드 규격, 몸체의 직경, 몸체의 길이 등 다양한 크기적 요소를 측정할 수 있게 구성된다. 형상 측정 유닛(170)은 대상물(N)의 일측에 배치되는 백라이트와, 백라이트의 반대쪽에 배치되는 촬영기를 갖춤으로써 대상물(N)의 실루엣을 검사할 수 있게 구성될 수 있다.Referring back to FIG. 1, the shape measuring unit 170 may be configured to measure various size elements such as a head size of an object N, a diameter of a body, and a length of a body. The shape measuring unit 170 may be configured to inspect the silhouette of the object N by having a backlight disposed on one side of the object N and an imager disposed on the opposite side of the backlight.

배출 유닛(180)은 검사가 완료되었거나 재검사가 필요한(측정되지 않은) 대상물(N)을 분류하여 배출시킨다. 배출 유닛(180)은 적어도 하나의 양품 배출부(181, 182), 불량품 배출부(183), 및 재검사품 배출부(184)를 포함할 수 있다. 정확한 배출을 위하여 배출 유닛(180)은 공압으로 대상물(N)을 이동시키는 공압 노즐을 포함할 수 있다.The discharge unit 180 classifies and discharges the object N which has been inspected or needs to be re-inspected (not measured). The discharge unit 180 may include at least one good product discharge unit 181 and 182, a defective product discharge unit 183, and a retest product discharge unit 184. The discharge unit 180 may include a pneumatic nozzle for moving the object (N) at pneumatic pressure for accurate discharge.

이외에도 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)는 각 전자 부품들을 제어하거나 감지 또는 측정된 결과를 받는 데이터 처리부와, 검사 상태를 시각적으로 표시하기 위한 디스플레이를 포함할 수 있다. 데이터 처리부는 양품과 불량품, 및 재검사품을 구별하기 위한 알고리즘이 포함된 소프트웨어를 내장하고, 또한 사용자의 조작 또는 알림을 용이하게 하기 위한 시각적 사용자 인터페이스(graphic user interface: GUI)를 갖출 수 있다. 이와 달리, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)는 상술한 이미지 획득 유닛(150), 이미지 생성 유닛, 및 판단 유닛 만으로 간단하게 구성될 수도 있다.In addition, the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of objects may include a data processor which controls each electronic component or receives a sensed or measured result, and a display for visually displaying an inspection state. The data processing unit includes software including an algorithm for distinguishing good products, defective products, and re-tested products, and can also have a visual user interface (GUI) for facilitating user's operation or notification. In contrast, the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object may be simply configured by the above-described image acquisition unit 150, the image generation unit, and the determination unit.

이하에서는, 상술한 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 이미지 획득 유닛(150) 및 광학 유닛(160)에 대해 도 2를 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the image acquisition unit 150 and the optical unit 160 of the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the above-described object will be described in detail with reference to FIG. 2.

도 2는 대상물(N)의 제1 부분(Na)을 촬영하는 모습을 도시한, 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면도이다. 설명의 편의상, 본 도면에는 이송 유닛(130), 이미지 획득 유닛(150), 및 광학 유닛(160) 만이 도시된다.FIG. 2 is a side view of the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object of FIG. 1, showing a state in which the first portion N a of the object N is photographed. For convenience of description, only the transfer unit 130, the image acquisition unit 150, and the optical unit 160 are shown in this figure.

이송 유닛(130)은 대상물(N)을 이송하는 요소이다. 이송 유닛(130)은 상술한 이송판(131)을 포함할 수 있다. The transfer unit 130 is an element for transferring the object (N). The transfer unit 130 may include the transfer plate 131 described above.

이미지 획득 유닛(150)은 대상물(N)을 촬영하는 요소이다. 이미지 획득 유닛(150)은 카메라 등으로 구성될 수 있다. 이미지 획득 유닛(150)은 대상물(N)의 상측에 배치될 수 있다. 이미지 획득 유닛(150)은 이미지 센서(151)를 포함할 수 있다. The image acquisition unit 150 is an element for photographing the object N. The image acquisition unit 150 may be configured as a camera. The image acquisition unit 150 may be disposed above the object N. The image acquisition unit 150 may include an image sensor 151.

이미지 센서(151)는 대상물(N)의 제1 부분(Na)에서 반사된 제1 반사광(La)이 입사되는 제1 센서 영역(151a)과, 대상물(N)의 제2 부분(Nb)에서 반사된 제2 반사광(Lb)이 입사되는 제2 센서 영역(151b)을 포함할 수 있다. 여기서, 제1 센서 영역(151a)은 이미지 센서(151)의 주변부에 그 둘레를 따라 환형으로 형성될 수 있고, 제2 센서 영역(151b)은 제1 센서 영역(151a)의 중심부에 형성될 수 있다.The image sensor 151 includes a first sensor region 151a to which the first reflected light L a reflected from the first portion N a of the object N is incident, and the second portion N of the object N. b) a first region may include a second sensor (151b) which is reflected a second reflected light (L b) is incident from. Here, the first sensor region 151a may be formed in an annular shape along the periphery of the image sensor 151, and the second sensor region 151b may be formed in the center of the first sensor region 151a. have.

광학 유닛(160)은 대상물(N)에서 반사된 광의 진행 방향을 변경하여, 이 반사된 광을 이미지 센서(151)로 입사시키는 요소이다. 광학 유닛(160)은 제1 광학 모듈(161)을 포함할 수 있다. The optical unit 160 changes an advancing direction of the light reflected from the object N and injects the reflected light into the image sensor 151. The optical unit 160 may include a first optical module 161.

제1 광학 모듈(161)은 대상물(N)의 제1 반사광(La)을 제1 센서 영역(151a)으로 입사시키는 요소이다. 제1 광학 모듈(161)은 대상물(N)의 상측에 배치될 수 있다. 제1 광학 모듈(161)은 제1 콘미러(162)를 포함할 수 있다.The first optical module 161 is an element for joining the first reflected light (L a) of the object (N) in the first sensor area (151a). The first optical module 161 may be disposed above the object N. The first optical module 161 may include a first cone mirror 162.

제1 콘미러(162)는 그 내면에 미러가 형성되어 제1 반사광(La)을 반사시킬 수 있다. 제1 콘미러(162)는 이미지 획득 유닛(150) 쪽으로 벌어지는 형태로 형성될 수 있다. 제1 콘미러(162)는 이미지 획득 유닛(150)의 광축(X) 방향을 따라 광축(X)과 나란하게 배치될 수 있다. 이하에서는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 작동 방식을 설명한다.A first cone mirror 162 is a mirror is formed on the inner surface can reflect the first reflected light (L a). The first cone mirror 162 may be formed to spread toward the image acquisition unit 150. The first mirror 162 may be disposed parallel to the optical axis X along the optical axis X direction of the image acquisition unit 150. Hereinafter, a method of operating the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object will be described.

본 실시예에서, 대상물(N)은 상술한 것과 같이 볼트와 같은 나사류일 수 있다. 따라서, 대상물(N)은 나사산이 형성되는 바디부와, 십자홈 등이 형성되는 헤드부를 가질 수 있다. 여기서, 제1 부분(Na)은 대상물(N)의 바디부 및 헤드부의 측면일 수 있고, 제2 부분(Nb)은 대상물(N)의 헤드부의 헤드면일 수 있다. 이러한 대상물(N)은 제2 부분(Nb)이 이송판(131)의 상면에 놓여진 채로 이송되도록 구성될 수 있다.In this embodiment, the object N may be a thread such as a bolt as described above. Accordingly, the object N may have a body portion in which threads are formed and a head portion in which cross grooves are formed. Here, the first portion N a may be side surfaces of the body portion and the head portion of the object N, and the second portion N b may be the head surface of the head portion of the object N. The object N may be configured to be transported while the second portion N b is placed on the upper surface of the transfer plate 131.

대상물(N)은 이송판(131)을 통해 검사 영역으로 이송되고, 이 검사 영역에서 대상물(N)은 이미지 획득 유닛(150)의 광축(X)과 정렬되도록 배치될 수 있다. 이때, 제1 부분(Na)에서 반사된 제1 반사광(La)은 제1 콘미러(162)의 내면 쪽으로 입사되고, 이 입사된 제1 반사광(La)은 다시 제1 콘미러(162)에 의해 제1 센서 영역(151a) 쪽으로 입사될 수 있다. 구체적으로, 제1 부분(Na)의 바디부의 끝단부에서 반사된 제1 반사광(La)은 제1 센서 영역(151a)의 외측 가장자리 쪽으로 입사되고, 제1 부분(Na)의 헤드부에서 반사된 제1 반사광(La)은 제1 센서 영역(151a)의 내측 가장자리 쪽으로 입사될 수 있다. The object N is transferred to the inspection area through the transfer plate 131, in which the object N may be arranged to be aligned with the optical axis X of the image acquisition unit 150. In this case, the first part of the first reflected light reflected by the (N a) (L a) is incident into the inner surface of the first cone mirror 162, is incident on the first reflection light (L a) is again the first cone mirror ( 162 may be incident toward the first sensor region 151a. Specifically, the first reflected light L a reflected at the end of the body portion of the first portion N a is incident toward the outer edge of the first sensor region 151a, and the head portion of the first portion N a is provided. The first reflected light L a reflected at may be incident toward the inner edge of the first sensor region 151a.

여기서, 제1 콘미러(162)는 제1 반사광(La)이 제1 센서 영역(151a) 측으로 입사될 수 있도록 그 위치 및 벌어짐각이 조절될 수 있다. 제1 광학 모듈(161)은 이러한 콘미러의 형태 이외에, 전반사를 이용한 콘렌즈 또는 프리즘 형태로 형성될 수도 있다. 상술한 구성을 통해 얻어지는 대상물(N)의 이미지에 대해서는 도 5 및 도 6을 참조하여 후술한다.Here, the first cone mirror 162 may be each be adjusted to that position and flaring the first reflected light (L a) to be incident toward the first sensor area (151a). The first optical module 161 may be formed in the form of a cone lens or prism using total reflection, in addition to the form of such a mirror. An image of the object N obtained through the above-described configuration will be described later with reference to FIGS. 5 and 6.

도 3은 대상물(N)의 제2 부분(Nb)을 촬영하는 모습을 도시한, 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면도이다. 본 도면을 참조하면, 광학 유닛(160)은 제2 광학 모듈(163)을 포함할 수 있다.FIG. 3 is a side view of the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object of FIG. 1, showing a state in which the second portion N b of the object N is photographed. Referring to this figure, the optical unit 160 may include a second optical module 163.

제2 광학 모듈(163)은 대상물(N)의 제2 부분(Nb)에서 반사된 제2 반사광(Lb)을 제2 센서 영역(151b)으로 반사시킬 수 있다. 제2 광학 모듈(163)은 제1 반사경(164), 및 제2 반사경(166)을 포함할 수 있다. The second optical module 163 may reflect the second reflected light L b reflected from the second portion N b of the object N to the second sensor region 151b. The second optical module 163 may include a first reflector 164 and a second reflector 166.

제1 반사경(164)은 평판 미러(165)를 포함할 수 있다. 이 평판 미러(165)는 투광성을 가지는 이송판(131)의 하측에 배치될 수 있다. 또한, 평판 미러(165)는 이송판(131)과 평행하게 배치될 수 있다. The first reflector 164 may include a flat mirror 165. The flat plate mirror 165 may be disposed below the transmissive plate 131. In addition, the flat plate mirror 165 may be disposed in parallel with the transfer plate 131.

제2 반사경(166)은 이미지 획득 유닛(150) 쪽으로 오므라들도록 형성되는 제2 콘미러(167)를 포함할 수 있다. 이 제2 콘미러(167)는 대상물(N)의 상측에 배치될 수 있다. 이하에서는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 작동 방식을 설명한다.The second reflector 166 may include a second mirror 167 formed to retract toward the image acquisition unit 150. The second mirror 167 may be disposed above the object N. Hereinafter, a method of operating the vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object will be described.

본 실시예에서, 이송판(131)은 투광성을 가질 수 있으며, 대상물(N)은 제2 부분(Nb)이 이송판(131)의 상면에 놓여진 채로 이송될 수 있다. 대상물(N)이 이송되어 검사 영역에 위치하면, 제2 부분(Nb)에서 반사된 제2 반사광(Lb)은 투광성의 이송판(131)을 투과한 뒤 평판 미러(165)로 입사될 수 있다. 평판 미러(165)는 이 제2 반사광(Lb)을 제2 콘미러(167)로 반사시키며, 제2 콘미러(167)는 이 제2 반사광(Lb)을 다시 제2 센서 영역(151b)으로 반사시킬 수 있다.In the present embodiment, the transfer plate 131 may have a light transmitting property, and the object N may be transferred while the second portion N b is placed on the upper surface of the transfer plate 131. When the object N is transported and positioned in the inspection area, the second reflected light L b reflected from the second portion N b passes through the transmissive transfer plate 131 and then enters the flat mirror 165. Can be. The flat plate mirror 165 reflects the second reflected light L b to the second mirror 167, and the second mirror 167 reflects the second reflected light L b to the second sensor region 151b. ) Can be reflected.

여기서, 제2 콘미러(167)는 평판 미러(165)로부터 반사된 제2 반사광(Lb)이 제1 센서 영역(151a)의 중심에 배치된 제2 센서 영역(151b)으로 입사될 수 있도록, 그 위치 및 벌어짐각이 조절될 수 있다. 제2 반사경(166)은 이러한 콘미러의 형태 이외에, 전반사를 이용한 콘렌즈 또는 프리즘 형태로 형성될 수도 있다. 이러한 구성을 통해 얻어지는 대상물(N)의 이미지에 대해서는 도 5 및 도 6을 참조하여 후술한다.Here, the second mirror 167 may allow the second reflected light L b reflected from the flat mirror 165 to be incident on the second sensor area 151 b disposed at the center of the first sensor area 151 a. The position and flank angle can be adjusted. The second reflector 166 may be formed in the form of a cone lens or prism using total reflection, in addition to the form of such a mirror. An image of the object N obtained through such a configuration will be described later with reference to FIGS. 5 and 6.

도 4는 제1 광학 모듈(161) 및 제2 광학 모듈(163)을 이용하여 대상물(N)을 촬영하는 모습을 도시한, 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)의 측면도이다. FIG. 4 is a vision inspection apparatus 100 for inspecting a plurality of portions of the object of FIG. 1, which illustrates photographing an object N by using the first optical module 161 and the second optical module 163. Side view.

본 도면을 참조하면, 광학 유닛(160)은 상술한 제1 광학 모듈(161)과 제2 광학 모듈(163)을 모두 구비할 수 있다. 여기서, 이미지 획득 유닛(150)은 그 광축(X)이 대상물(N)과 정렬되도록 배치될 수 있다. 또한, 제1 광학 모듈(161) 및 제2 광학 모듈(163)은 광축(X) 방향을 따라 상호 나란하게 배치될 수 있다.Referring to this figure, the optical unit 160 may include both the first optical module 161 and the second optical module 163 described above. Here, the image acquisition unit 150 may be arranged such that its optical axis X is aligned with the object N. In addition, the first optical module 161 and the second optical module 163 may be arranged parallel to each other along the optical axis (X) direction.

이러한 구성에 의하면, 제1 반사광(La) 및 제2 반사광(Lb)이 각각 제1 센서 영역(151a) 및 제2 센서 영역(151b)으로 동시에 입사될 수 있다. 이에 따라, 이미지 획득 유닛(150)은 제1 이미지(Ia)와 제2 이미지(Ib)를 한번에 획득할 수 있다.According to this configuration, the first reflected light L a and the second reflected light L b may be simultaneously incident to the first sensor region 151a and the second sensor region 151b, respectively. Accordingly, the image acquisition unit 150 may acquire the first image I a and the second image I b at once.

또한, 제2 센서 영역(151b)은 제1 센서 영역(151a)과 상호 비중첩되도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 이미지 획득 유닛(150)은 제1 이미지(Ia)와 제2 이미지(Ib)가 상호 비중첩되는 단일의 이미지(Is)를 획득할 수 있다. 이하에서는, 이러한 구성에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is)에 대해 도 5를 참조하여 설명한다.In addition, the second sensor region 151b may be disposed to be non-overlapping with the first sensor region 151a. Accordingly, the image acquisition unit 150 may acquire a single image I s in which the first image I a and the second image I b are non-overlapping with each other. In the following, a single image (I s ) obtained by this configuration is described with reference to FIG. 5.

도 5는 도 1의 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치(100)에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is)를 도시한 도면이다. 구체적으로, 도 5(a)는 이미지 센서(151)에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is)를 도시한 도면이다.5 is a diagram showing a single image (I s) of which is obtained by the vision inspection unit 100 for inspecting a plurality of portions of the object of Fig. Specifically, Figure 5 (a) is a diagram showing a single image (I s) of which is obtained by an image sensor (151).

본 실시예에서, 상술한 프로세싱 유닛은 이미지 생성 유닛을 포함할 수 있다. 이미지 생성 유닛은 이미지 센서(151)로부터 제1 이미지(Ia) 및 제2 이미지(Ib)를 입력받아 단일의 이미지(Is)를 생성할 수 있다.In this embodiment, the above-described processing unit may include an image generating unit. The image generating unit may receive the first image I a and the second image I b from the image sensor 151 and generate a single image I s .

여기서, 제2 센서 영역(151b)은 제1 센서 영역(151a)의 중심에 배치되므로, 이미지 생성 유닛은 각 센서 영역의 위치에 대응하여, 본 도면에 도시된 것과 같이 제2 이미지(Ib)가 제1 이미지(Ia)의 중심에 배치되는 단일의 이미지(Is)를 생성할 수 있다. 또한, 제1 센서 영역(151a)과 제2 센서 영역(151b)은 상호 비중첩되어 배치될 수 있다. 이에 대응하여, 이미지 생성 유닛은 제1 이미지(Ia)와 제2 이미지(Ib)가 상호 간섭되지 않고 구분되어 배치되는 단일의 이미지(Is)를 생성할 수 있다.Here, since the second sensor region 151b is disposed at the center of the first sensor region 151a, the image generating unit corresponds to the position of each sensor region and, as shown in this figure, the second image I b . May generate a single image I s disposed at the center of the first image I a . In addition, the first sensor region 151a and the second sensor region 151b may be non-overlapping with each other. Correspondingly, the image generation unit may generate the first image (I a) and the second image (I b), a single image (I s) of which is disposed separated without mutual interference.

이러한 단일의 이미지(Is)는 프로세싱 유닛에 의해 대상물(N)의 결함(F) 유무를 판단하는데 사용될 수 있다. 구체적으로, 이 프로세싱 유닛은 판단 유닛을 포함할 수 있으며, 이 판단 유닛은 단일의 이미지(Is)를 레퍼런스 이미지와 비교함으로써 대상물(N)의 결함(F) 유무를 판단할 수 있다. This single image I s may be used by the processing unit to determine the presence or absence of a defect F of the object N. Specifically, the processing unit may include a determination unit, a determination unit may determine that a fault (F) presence or absence of the object (N) by comparing the image of the single (I s) and the reference image.

이러한 구성에 의하면, 대상물(N)의 제1 부분(Na) 및 제2 부분(Nb)에 대한 결함(F) 유무가 단일의 이미지(Is)에 의해 단 한번의 비교 과정을 거쳐 신속하게 판단되므로 검사 시간을 단축시킬 수 있다. 구체적으로, 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 단일의 이미지(Is)는 제1 이미지(Ia)의 크기와 동일한 크기를 가지므로, 레퍼런스 이미지와의 비교 판단시 제1 이미지(Ia)와 동일한 스캐닝 영역에서 제1 이미지(Ia) 및 제2 이미지(Ib)를 동시에 스캐닝하여 비교할 수 있어 검사 시간을 단축시킬 수 있다. According to this configuration, the presence or absence of a defect F on the first portion N a and the second portion N b of the object N is quickly compared to a single image I s through a single comparison process. As a result, the inspection time can be shortened. More specifically, have the same size as the size of the first image (I a) a single image (I s) of which is generated by the image generation unit, the comparison determination of the reference image identical to the first image (I a) The first image I a and the second image I b may be simultaneously scanned and compared in the scanning area, thereby reducing inspection time.

또한, 단일의 이미지(Is)에서 제1 이미지(Ia)와 제2 이미지(Ib)는 비중첩되어 배치되므로, 상호 간섭되는 영역이 없어 검사의 정확도를 향상시킬 수 있다.In addition, since the first image I a and the second image I b are arranged non-overlapping in the single image I s , there is no area interfering with each other, thereby improving the accuracy of the inspection.

도 5(b)는 이미지 생성 유닛에 의해 사이즈가 조절된 단일의 이미지(Is)를 도시한 도면이다. 본 실시예에서, 대상물(N)에서 반사된 광(L)은 광학 유닛(160)의 형태 또는 위치에 따라 이미지 센서(151)의 특정 부분에만 집광될 수 있다. 이에 따라, 제1 이미지(Ia) 또는 제2 이미지(Ib)는 그 사이즈가 작게 출력될 수도 있다. 이 경우, 이미지 생성 유닛은 제1 이미지(Ia) 또는 제2 이미지(Ib)가 적절한 사이즈를 갖도록 변환 처리할 수 있다.FIG. 5B shows a single image I s sized by the image generating unit. In the present embodiment, the light L reflected from the object N may be focused only on a specific portion of the image sensor 151 according to the shape or position of the optical unit 160. Accordingly, the size of the first image I a or the second image I b may be small. In this case, the image generating unit may convert the first image I a or the second image I b to have an appropriate size.

예를 들어, 도 5(a)에서 제2 이미지(Ib)는 그 결함(F) 유무를 구별하기 어려운 사이즈를 가질 수 있다. 이 경우, 이미지 생성 유닛은 제2 이미지(Ib)의 사이즈를 도 5(b)에 도시된 것과 같이 확대함으로써, 그 결함(F) 유무를 쉽게 구별할 수 있도록 변환 처리할 수 있다. 이와 같이 사이즈가 변환된 단일의 이미지(Is)는 변환 처리된 별도의 레퍼런스 이미지와 비교됨으로써 대상물(N)의 결함(F) 유무를 판단하는데 사용될 수 있다.For example, in FIG. 5A, the second image I b may have a size that is difficult to distinguish whether or not the defect F is present. In this case, the image generating unit can enlarge the size of the second image I b as shown in FIG. As described above, the single image I s having the size converted may be used to determine the presence or absence of a defect F of the object N by comparing with a separate reference image that has been converted.

도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is')를 도시한 도면이다. 6 is a view showing a single image (I s') of which is obtained by the vision inspection device for inspecting a plurality of portions of an object according to another embodiment of the present invention.

구체적으로, 도 6(a)는 이미지 센서(151)에 의해 획득되는 단일의 이미지(Is')를 도시한 도면이다. 본 실시예에서, 이미지 획득 유닛(150)에 의해 획득되는 제1 이미지(Ia) 또는 제2 이미지(Ib')는 광학 유닛(160)의 형태 또는 방향에 따라 왜곡될 수 있다. 예를 들어, 도 3에서 제2 콘미러(167)의 횡단면이 포물선의 형태로 이루어지거나, 또는 제1 반사경(164)이 곡면 미러로 이루어지는 경우, 제2 이미지(Ib')는 도 6(a)에 도시된 것과 같이 타원형으로 왜곡되어 출력될 수 있다. 이 경우, 판단 유닛은 이 왜곡된 단일의 이미지(Is')를 왜곡된 별도의 레퍼런스 이미지와 비교함으로써 대상물(N)의 결함(F) 유무를 신속하게 판단할 수 있다.Specifically, Figure 6 (a) is a diagram showing a single image (I s') of which is obtained by an image sensor (151). In the present embodiment, the first image I a or the second image I b ′ obtained by the image acquisition unit 150 may be distorted according to the shape or direction of the optical unit 160. For example, in FIG. 3, when the cross section of the second mirror 167 is in the form of a parabola, or when the first reflector 164 is a curved mirror, the second image I b ′ is shown in FIG. As shown in a), an elliptical distortion may be output. In this case, the judgment unit can quickly determine the distortion an image of the distortion single (I s') a defect of the object (N) by comparison with a separate reference image (F) or not.

도 6(b)는 이미지 생성 유닛에 의해 종횡비가 조절된 단일의 이미지(Is')를 도시한 도면이다. 상술한 것과 같이 제2 이미지(Ib')가 왜곡되는 경우, 이미지 생성 유닛은 이 왜곡된 제2 이미지(Ib')를 도 6(b)에 도시된 것과 같이 제2 부분(Na)의 종횡비와 동일한 종횡비를 갖도록 변환 처리할 수 있다. 이러한 제2 이미지(Ib')는 제2 부분(Na)의 종횡비와 동일한 종횡비를 가지므로, 그 결함(F) 유무가 쉽게 구별될 수 있다. 이러한 단일의 이미지(Is')는 변환 처리된 별도의 레퍼런스 이미지와 비교됨으로써 대상물(N)의 결함(F) 유무를 판단하는데 사용될 수 있다.Figure 6 (b) is a diagram showing an image (I s') in a single aspect ratio is controlled by the image generation unit. A second image as described above (I b ') the second part, as shown in the case where the distortion, the distortion second image (I b image generation unit, Figure 6 a) (b) (N a) The conversion process can be performed to have an aspect ratio equal to the aspect ratio of. Since the second image I b ′ has the same aspect ratio as that of the second portion N a , the presence or absence of the defect F can be easily distinguished. Such a single image (I s ') can be used to determine the presence or absence of a defect (F) of the object (N) by comparing with the separate reference image processed.

상기와 같은 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치는 위에서 설명된 실시예들의 구성과 작동 방식에 한정되는 것이 아니다. 상기 실시예들은 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 구성될 수도 있다. 예를 들어, 제1 센서 영역(151a)과 제2 센서 영역(151b)은 상호 부분적으로 중첩될 수도 있다. 이 경우, 제1 이미지(Ia)와 제2 이미지(Ib)는 상호 시차를 두고 각각 촬영될 수 있고, 이미지 생성 유닛은 이미지 획득 유닛(150)으로부터 제1 이미지(Ia)와 제2 이미지(Ib)를 각각 입력받아 단일의 이미지(Is)를 생성할 수도 있다.
The vision inspection apparatus for inspecting a plurality of parts of the object is not limited to the configuration and operation of the embodiments described above. The above embodiments may be configured such that various modifications may be made by selectively combining all or part of the embodiments. For example, the first sensor region 151a and the second sensor region 151b may partially overlap each other. In this case, the first image I a and the second image I b may be photographed with mutual parallax, respectively, and the image generating unit is the first image I a and the second from the image acquisition unit 150. Each of the images I b may be input to generate a single image I s .

100: 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치
130: 이송 유닛 150: 이미지 획득 유닛
160: 광학 유닛 161: 제1 광학 모듈
163: 제2 광학 모듈100: vision inspection device for inspecting a plurality of parts of the object
130: transfer unit 150: image acquisition unit
160: optical unit 161: first optical module
163: second optical module

Claims (10)

대상물의 제1 부분에서 반사된 광을 재반사할 수 있게 상기 대상물 쪽으로 오므라들도록 형성되는 제1 콘미러를 갖는 제1 광학 모듈과, 상기 대상물의 제2 부분에서 반사된 광의 진행 방향을 변경할 수 있게 형성되는 제2 광학모듈을 구비하는 광학 유닛;
상기 광학 유닛을 통해 상기 제1 부분 및 상기 제2 부분에서 반사된 광을 각각 수광하여 상기 대상물의 제1 부분에 대한 제1 이미지 및 제2 부분에 대한 제2 이미지를 각각 획득하는 이미지 획득 유닛;
상기 이미지 획득 유닛으로부터 상기 제1 이미지 및 상기 제2 이미지를 각각 입력받아, 상기 제2 이미지가 상기 제1 이미지의 중심에 배치되는 단일의 이미지를 생성하는 이미지 생성 유닛; 및
상기 이미지 생성 유닛으로부터 상기 단일의 이미지를 입력받아, 상기 제1 부분 및 상기 제2 부분에 관한 레퍼런스 이미지와 상기 단일의 이미지를 상호 비교하여 상기 대상물의 결함 유무를 판단하는 판단 유닛을 포함하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
A first optical module having a first mirror configured to retract toward the object to reflect back light reflected from the first portion of the object, and to change a direction of travel of the light reflected from the second portion of the object An optical unit having a second optical module formed;
An image acquisition unit for receiving the light reflected from the first portion and the second portion through the optical unit, respectively, to obtain a first image for the first portion of the object and a second image for the second portion, respectively;
An image generation unit which receives the first image and the second image from the image acquisition unit, respectively, and generates a single image in which the second image is disposed at the center of the first image; And
And a determination unit that receives the single image from the image generating unit, and compares the reference image of the first portion and the second portion with the single image to determine whether there is a defect of the object. Vision inspection apparatus for inspecting a plurality of parts of the.
제1항에 있어서,
상기 이미지 획득 유닛은,
상기 제1 부분에서 반사된 제1 반사광이 입사되는 제1 센서 영역과, 상기 제2 부분에서 반사된 제2 반사광이 입사되는 제2 센서 영역을 구비하는 이미지 센서를 포함하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.

The method of claim 1,
The image acquisition unit,
And an image sensor having a first sensor region into which the first reflected light reflected from the first portion is incident and a second sensor region into which the second reflected light reflected from the second portion is incident. Vision inspection device for inspection.

제2항에 있어서,
상기 제2 센서 영역은,
상기 제1 센서 영역의 중심에 배치되는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
3. The method of claim 2,
The second sensor region,
Vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of the object, disposed in the center of the first sensor area.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제1 광학 모듈은,
상기 이미지 획득 유닛의 광축 방향을 따라 배치되는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
The method of claim 1,
The first optical module,
Vision inspection apparatus for inspecting a plurality of portions of the object, disposed along the optical axis direction of the image acquisition unit.
삭제delete 제2항에 있어서,
상기 대상물을 이송하는 투광성의 이송판을 구비하는 이송 유닛을 더 포함하며,
상기 제2 광학 모듈은,
상기 이송판의 하측에 배치되어 상기 대상물로부터 상기 제2 반사광을 수광하는 제1 반사경; 및
상기 제1 반사경으로부터 반사되는 상기 제2 반사광을 상기 제2 센서 영역으로 입사시키는 제2 반사경을 포함하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
3. The method of claim 2,
Further comprising a transfer unit having a translucent transfer plate for transferring the object,
The second optical module,
A first reflector disposed under the transfer plate to receive the second reflected light from the object; And
And a second reflector for injecting said second reflected light reflected from said first reflector into said second sensor region.
제7항에 있어서,
상기 제1 반사경은,
상기 이송판과 평행하게 배치되는 평판 미러를 포함하고,
상기 제2 반사경은,
상기 이미지 획득 유닛의 광축 방향을 따라 배치되고, 상기 이미지 획득 유닛 쪽으로 오므라들도록 형성되는 제2 콘미러를 포함하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
8. The method of claim 7,
The first reflector,
A flat plate mirror disposed in parallel with the transfer plate;
The second reflector,
And a second conical mirror disposed along the optical axis direction of said image acquisition unit and formed to retract toward said image acquisition unit.
제1항에 있어서,
상기 이미지 생성 유닛은,
상기 제1 이미지 및 상기 제2 이미지 중 적어도 하나의 사이즈를 조절하여, 상기 제1 이미지와 상기 제2 이미지가 상호 비중첩되어 배치되도록 하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.
The method of claim 1,
Wherein the image generating unit comprises:
And adjusting the size of at least one of the first image and the second image so that the first image and the second image are non-overlapping with each other.
제1항에 있어서,
상기 이미지 생성 유닛은,
상기 제2 이미지가 상기 제2 부분의 종횡비와 동일한 종횡비를 갖도록 제2 이미지를 변환 처리하는, 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치.The method of claim 1,
Wherein the image generating unit comprises:
And converting the second image such that the second image has an aspect ratio equal to that of the second portion.
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