KR20200115146A - 충방전 시험 장치, 기억 매체 및 충방전 시험 방법 - Google Patents

충방전 시험 장치, 기억 매체 및 충방전 시험 방법 Download PDF

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Abstract

충방전 시험 장치에, 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부와, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 개시하게 하고, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하게 하는 변경부를 구비한다.

Description

충방전 시험 장치, 기억 매체 및 충방전 시험 방법{CHARGE/DISCHARGE TEST DEVICE, STORAGE MEDIUM AND METHOD OF CHARGE/DISCHARGE TEST}
본 발명은, 전지의 충방전 시험을 실시하는 충방전 시험 장치, 기억 매체 및 충방전 시험 방법에 관한 것이다.
종래부터, 충방전 중인 2차 전지의 형상 변화로부터, 2차 전지의 내부 단락 등에 기인하는 내압의 상승을 검지해서, 2차 전지가 이상(異常) 상태가 된 것을 검지하는 기술이 알려져 있다.
이러한 기술로서, 예를 들면 일본국 특허공개 2002-289265호 공보에는, 2차 전지의 내측 공간 내의 압력 또는 2차 전지의 용기의 변형을 검출하고, 기준치를 넘는 압력 또는 변형을 검출한 경우에, 2차 전지에 이상이 발생했다고 판정하는 것이 개시되어 있다. 또, 일본국 특허공개 2002-289265호 공보에는, 2차 전지에 이상이 발생했다고 판정한 경우에, 경보를 발생하거나, 2차 전지의 회로를 차단하거나 또는 소화기에 의한 소화를 개시하는 등의 안전 동작을 행하는 것이 개시되어 있다.
그러나, 종래 기술은, 충방전 중에 이상이 발생했을 때, 경보를 발생하는 등 하여, 충방전을 정지할 뿐이며, 복수의 충방전 스케줄 하에서 2차 전지가 어떠한 거동을 나타내는지를 시험하는 것은 아니다.
본 발명은, 상기 사정을 감안하여 이루어진 발명이며, 복수의 충방전 스케줄 하에서 전지의 충방전 시험을 할 수 있는 충방전 시험 장치, 기억 매체 및 충방전 시험 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일 국면에 따른 충방전 시험 장치는, 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 전지의 상태를 검출하는 검출부와, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전을 개시하게 하고, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전을 행하게 하는 변경부를 구비한다.
또, 본 발명의 다른 일 국면에 따른 기억 매체는, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 컴퓨터로 제어시키기 위한 프로그램을 기억한 비일과성 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체로서, 상기 프로그램은, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 제1 충방전을 행하고, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전을 행하도록, 상기 충방전 시험 장치를 동작시키는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다.
또, 본 발명의 다른 일 국면에 따른 충방전 시험 방법은, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 제어하는 컴퓨터가 실행하는 충방전 시험 방법으로서, 상기 컴퓨터는, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 제1 충방전을 행하고, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전을 행한다.
또, 본 발명의 다른 일 국면에 따른 충방전 시험 장치는, 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 전지의 상태를 검출하는 검출부와, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전을 개시하게 하고, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전을 정지하게 함과 더불어, 전지의 충방전이 정지되어 있을 때, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전을 행하게 하는 변경부를 구비한다.
또, 본 발명의 다른 일 국면에 따른 기억 매체는, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 컴퓨터로 제어시키기 위한 프로그램을 기억한 비일과성 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체로서, 상기 프로그램은, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 제1 충방전을 행하고, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지하고, 상기 제1 충방전의 정지 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전을 행하도록, 상기 충방전 시험 장치를 동작시키는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다.
또, 본 발명의 다른 일 국면에 따른 충방전 시험 방법은, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 제어하는 컴퓨터가 실행하는 충방전 시험 방법으로서, 상기 컴퓨터는, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 제1 충방전을 행하고, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지하고, 상기 제1 충방전의 정지 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전을 행한다.
상술한 충방전 시험 장치, 기억 매체 및 충방전 시험 방법에 의하면, 복수의 충방전 스케줄 하에서 전지의 충방전 시험을 할 수 있다.
도 1은, 충방전 시험 장치의 개략 구성의 일례를 나타내는 블럭도이다.
도 2는, 시험 실행 지시 테이블의 일례를 나타내는 도면이다.
도 3은, 충방전 시험 장치의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다.
도 4는, 충방전 시험 중에 기억부에 기억되는 정보의 일례를 나타내는 도면이다.
도 5(a)는, 도 5(b)에 나타내는 2차 전지의 충방전 시험 중에 검출되는 2차 전지의 형상 변화를 나타내는 값의 일례를 나타내는 그래프이며,
도 5(b)는, 2차 전지의 충방전 시험 중에 있어서의 전지의 충방전량의 일례를 나타내는 그래프이다.
도 6은, 제2 실시형태에 있어서의 시험 실행 지시 테이블의 일례를 나타내는 도면이다.
도 7은, 제2 실시형태에 있어서의 충방전 시험 장치의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다.
도 8은, 변형 실시형태에 있어서의 충방전 시험 장치의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다.
(제1 실시형태)
이하, 본 발명에 따른 충방전 시험 장치의 일 실시형태로서, 2차 전지의 충방전 특성의 시험을 행하는 충방전 시험 장치에 대해서 설명한다.
(충방전 시험 장치(1)의 구성)
도 1은, 충방전 시험 장치(1)의 개략 구성의 일례를 나타내는 블럭도이다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 충방전 시험 장치(1)는, 시료조(70)와, 장치 본체(100)를 구비하고 있다.
시료조(70)는, 시험 대상인 2차 전지(L)를 수용한다. 구체적으로는, 시료조(70)에는, 지지체(71) 및 검출부(60)가 설치되어 있다. 지지체(71)는, 시험 대상인 2차 전지(L)(전지)를 소정의 압력으로 구속함으로써 2차 전지(L)를 고정한다. 또, 시료조(70)는, 도시하지 않은 개폐 도어와, 시료조(70) 내의 공기 온도를 조정하는 도시하지 않은 공조기를 구비하고 있다. 당해 개폐 도어 및 공조기는, 후술하는 제어부(10)에 의한 제어 하에서 동작한다.
검출부(60)는, 2차 전지(L)의 상태를 검출한다. 2차 전지(L)의 상태에는, 2차 전지(L)의 형상 변화, 2차 전지(L)의 내부 압력 및 2차 전지(L)의 표면 온도가 포함된다. 구체적으로는, 검출부(60)는, 형상 센서(61), 로드셀(62) 및 온도 센서(63)를 구비하고 있다. 또한, 검출부(60)는, 형상 센서(61), 로드셀(62) 및 온도 센서(63) 전부를 구비하지 않아도 되고, 적어도 어느 하나를 구비하고 있으면 된다.
형상 센서(61)는, 2차 전지(L)의 형상 변화를 검출한다. 형상 센서(61)는, 도 1의 양방향 화살표 방향으로, 본체에 대해 신축 가능한 검침(611)을 구비하고 있다. 검침(611)은, 자신의 선단을 향한 방향으로 탄성 가압되고 있다. 형상 센서(61)는, 시험 대상인 2차 전지(L)가 지지체(71)에 의해 구속된 후, 2차 전지(L)의 표면에 검침(611)의 선단을 접촉시켜 설치된다.
예를 들면, 형상 센서(61)에 의한 2차 전지(L)의 형상 변화의 검출이 개시된 후, 2차 전지(L)가 충전됨으로써 부풀어 오른 경우, 2차 전지(L)의 표면에 의해 검침(611)이 밀어 올려진다. 이로 인해, 검침(611)은, 2차 전지(L)가 부풀어 오른 만큼 도 1의 양방향 화살표 방향에 있어서의 상방으로 이동한다(줄어든다). 이 후, 2차 전지(L)의 방전이 개시되어, 2차 전지(L)가 줄어든 경우, 검침(611)이 자신의 선단을 향한 방향으로 탄성 가압된다. 이로 인해, 검침(611)은, 2차 전지(L)가 줄어든 만큼 도 1의 양방향 화살표 방향에 있어서의 하방으로 이동한다(신장된다).
이와 같이, 형상 센서(61)는, 2차 전지(L)의 형상이 변화함으로써, 검침(611)이 2차 전지(L)의 형상 변화의 검출을 개시한 시점에서의 위치로부터 이동한 이동량을, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T로서 검출한다. 구체적으로는, 형상 센서(61)는, 검침(611)이 2차 전지(L)의 형상 변화의 검출을 개시한 시점에서의 위치로부터 상기 상방으로 이동한 이동량을 플러스(양)로 나타내는 검출 신호를 후술하는 제어부(10)에 출력한다. 한편, 형상 센서(61)는, 검침(611)이 2차 전지(L)의 형상 변화의 검출을 개시한 시점에서의 위치로부터 상기 하방으로 이동한 이동량을 마이너스(음)로 나타내는 검출 신호를 후술하는 제어부(10)에 출력한다.
또한, 형상 센서(61)는, 이에 한정되지 않고, 상기와는 플러스와 마이너스가 반대의 이동량을 나타내는 검출 신호를 출력하는 것이어도 된다. 또, 형상 센서(61)는, 2차 전지(L)의 표면까지의 이간 거리를 계측하는 측거 센서로 구성해도 된다. 이 경우, 당해 측거 센서는, 상기 이간 거리를 나타내는 검출 신호를, 2차 전지(L)의 형상을 나타내는 검출 신호로서 제어부(10)에 출력시키면 된다. 이 경우, 제어부(10)에서는, 당해 측거 센서에 의한 검출의 개시 시에 입력된 검출 신호가 나타내는 이간 거리로부터, 당해 측거 센서로부터 입력된 검출 신호가 나타내는 이간 거리를 감산한 결과를, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T로서 이용하면 된다.
로드셀(62)은, 2차 전지(L)의 내부 압력을 검출한다. 로드셀(62)은, 압력의 검지면이 2차 전지(L)의 표면과 대향하도록 하여 지지체(71)에 장착되어 있다. 로드셀(62)은, 2차 전지(L)가 지지체(71)에 의해 구속되어, 상기 검지면이 2차 전지(L)의 표면에 접촉함으로써, 상기 검지면에 걸리는 압력을 측정한다. 로드셀(62)은, 상기 검지면에 걸리는 압력의 측정치를, 2차 전지(L)의 내부 압력을 나타내는 값 P로서 검출한다.
예를 들면, 시험 개시 후, 2차 전지(L)의 충전 시에 내부 압력이 높아져, 2차 전지(L)가 시험 개시 전보다 부풀어 올랐다고 가정한다. 이 경우, 지지체(71)가 2차 전지(L)를 구속하는 힘이 높아져, 로드셀(62)의 검지면에 걸리는 압력이 증대한다. 그 결과, 로드셀(62)은, 시험 개시 전보다 높은 압력의 측정치를 나타내는 검출 신호를, 후술하는 제어부(10)에 출력한다. 2차 전지(L)의 충전이 종료된 후, 2차 전지(L)의 방전이 개시되었다고 가정한다. 이로 인해, 2차 전지(L)의 내부 압력이 충전 종료 시 보다 낮아져, 2차 전지(L)가 충전 종료 시 보다 줄어들었다고 가정한다. 이 경우, 지지체(71)가 2차 전지(L)를 구속하는 힘이 충전 종료 시 보다 약해져, 로드셀(62)의 검지면에 걸리는 압력이 충전 종료 시 보다 감소한다. 그 결과, 로드셀(62)은, 충전 종료 시 보다 낮은 압력의 측정치를 나타내는 검출 신호를, 후술하는 제어부(10)에 출력한다.
온도 센서(63)는, 2차 전지(L)의 표면 온도를 검출한다. 온도 센서(63)는, 2차 전지(L)의 표면에 장착되어, 2차 전지(L)의 표면 온도를 측정한다. 온도 센서(63)는, 2차 전지(L)의 표면 온도의 측정치를, 2차 전지(L)의 표면 온도를 나타내는 값 Z로서 검출한다. 구체적으로는, 온도 센서(63)는, 2차 전지(L)의 표면 온도의 측정치를 나타내는 검출 신호를, 후술하는 제어부(10)에 출력한다.
장치 본체(100)는, LAN(Local Area Network)이나 인터넷 등의 네트워크(99)를 통해, PC(90) 등의 외부 장치와 통신 가능하게 접속되어 있다. 또, 장치 본체(100)는, 시료조(70) 내의 2차 전지(L)와 전선(PL)을 통해 착탈 가능하게 접속되어 있다. 구체적으로는, 장치 본체(100)는, 조작 표시부(20), 인터페이스부(30), 기억부(40), 전원부(50)(시험 실시부) 및 제어부(10)를 구비하고 있다.
조작 표시부(20)는, 액정 디스플레이 등의 표시부(21)와, 시험자로 하여금 충방전 시험 장치(1)의 조작을 행하게 하기 위한 조작부(22)를 구비하고 있다. 조작부(22)는, 표시부(21)에 표시된 소프트 키의 터치 조작을 행하게 하기 위한 도시하지 않은 터치패널 장치 등을 구비하고 있다.
인터페이스부(30)는, 제어부(10)가, LAN(Local Area Network)이나 인터넷 등의 네트워크(99)를 통해 PC(90) 등의 외부 장치와 통신하기 위한 도시하지 않은 통신 인터페이스 회로를 구비하고 있다. 또, 인터페이스부(30)는, USB(Universal Serial Bus) 메모리 등의 외부 기억장치가 착탈 가능한 도시하지 않은 커넥터 및 제어부(10)가 당해 커넥터에 장착된 외부 기억장치와 통신하기 위한 도시하지 않은 외부 인터페이스 회로를 구비하고 있다.
기억부(40)는, HDD(Hard Disk Drive)나 SSD(Solid State Drive) 등의 기억장치에 의해 구성되어 있다. 기억부(40)에는, 제어부(10)가 2차 전지(L)의 충방전 시험의 제어에 이용하는 정보 등이 미리 기억되어 있다. 또, 기억부(40)는, 제어부(10)에 의한 제어 하에서, 예를 들면 2차 전지(L)의 충방전 시험 중에 검출된 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값 등을 기억한다.
전원부(50)는, 제어부(10)에 의한 제어 하에서 2차 전지(L)의 충방전을 행한다. 구체적으로는, 전원부(50)는, 제어부(10)로부터 지정된 조건에 따라, 시험 전류를 2차 전지(L)에 입력하고, 또는, 시험 전류를 2차 전지(L)로부터 출력시킨다. 전원부(50)는, 시험 전류를 2차 전지(L)에 입력함으로써, 2차 전지(L)의 충전을 행한다. 한편, 전원부(50)는, 시험 전류를 2차 전지(L)로부터 출력시킴으로써, 2차 전지(L)의 방전을 행한다.
제어부(10)는, 소정의 연산 처리를 실행하는 도시하지 않은 CPU(Central Processing Unit), 소정의 제어 프로그램이 기억된 EEPROM 등의 도시하지 않은 불휘발성 메모리, 데이터를 일시적으로 기억하기 위한 도시하지 않은 RAM(Random Access Memory), 현재 일시를 측정하는 도시하지 않은 타이머 회로, 및 이들의 주변 회로 등을 구비하고 있다.
제어부(10)는, 불휘발성 메모리 등에 기억된 제어 프로그램을 CPU로 하여금 실행하게 함으로써, 충방전 시험 장치(1)의 각 부의 동작을 제어한다. 구체적으로는, 제어부(10)의 기능으로서는, 접수부(11) 및 시험 제어부(12)(변경부)가 포함된다.
접수부(11)는, 시험자가 조작 표시부(20)를 이용하여 입력한, 시험의 실행 지시에 관한 정보(이후, 실행 지시 정보)를 조작 표시부(20)로부터 수취할 때마다, 당해 수취한 실행 지시 정보를 접수한다. 또, 접수부(11)는, 시험자가 PC(90)를 이용하여 입력한 실행 지시 정보를 인터페이스부(30)가 네트워크(99)를 통해 수신할 때마다, 인터페이스부(30)로부터 당해 수신된 실행 지시 정보를 수취하고, 당해 수취한 실행 지시 정보를 접수한다.
구체적으로는, 접수부(11)는, 조작 표시부(20) 및 인터페이스부(30)로부터 수취한 실행 지시 정보를 제어부(10)가 구비하는 RAM에 기억함으로써, 당해 수취한 실행 지시 정보를 접수한다. 또한, 접수부(11)는, 복수의 실행 지시 정보를 동시에 수취한 경우, 당해 수취한 복수의 실행 지시 정보를 모두 상기 RAM에 기억함으로써, 당해 복수의 실행 지시 정보를 동시에 접수한다.
실행 지시 정보에는, 2차 전지(L)의 시험 스케줄(이후, 시험 스케줄)에 관한 시험 스케줄 정보가 포함된다. 또, 실행 지시 정보에는, 2차 전지(L)의 시험 스케줄을 변경할 때 2차 전지(L)의 상태가 만족해야 할 조건(변경 조건)을 나타내는 조건 정보가 포함된다.
시험 스케줄 정보에는, 2차 전지(L)의 충방전에 관한 시험 조건을 나타내는 시험 조건 정보가 포함된다. 예를 들면, 시험 조건에는, 충방전 시의 시간당 시험 전류의 전류치를 나타내는 레이트, 2차 전지(L)의 충방전을 반복하는 주기(이후, 충방전 주기), 2차 전지(L)의 충방전 시험을 행하는 기간(이후, 시험 기간), 2차 전지(L)의 충전에서부터 시험을 개시할지, 2차 전지(L)의 방전에서부터 시험을 개시할지를 나타내는 정보(이후, 충방전 순서) 등이 포함된다. 또한, 이들 시험 조건은, 각각 생략가능하고, 당해 생략한 시험 조건에 대해서는, 미리 정해진 시험 조건을 적용해도 된다.
시험 스케줄 정보에는, 시험의 상태를 변경하는 지시(이후, 상태 변경 지시)를 나타내는 상태 변경 지시 정보가 포함되어 있어도 된다. 예를 들면, 상태 변경 지시에는, 시험을 정지하기 위한 지시인 정지 지시, 시험을 정지 전과 동일한 시험 조건 하에서 재개하기 위한 지시인 재개 지시, 시험을 강제적으로 종료하기 위한 지시인 강제 종료 지시, 또는, 시험을 강제적으로 종료하고 또한 안전 동작을 행하기 위한 지시인 안전 동작 지시 등이 포함된다.
시험 스케줄 정보에는, 복수의 시험 조건의 조합, 복수의 상태 변경 지시의 조합, 또는, 하나 이상의 시험 조건과 하나 이상의 상태 변경 지시의 조합(이후, 이들 3개의 조합을 총칭하여 시험 패턴이라고 기재한다)을 나타내는 시험 패턴 정보가, 하나 이상 포함되어 있어도 된다.
도 2는, 시험 실행 지시 테이블(TB1)의 일례를 나타내는 도면이다. 제어부(10)가 구비하는 RAM에는, 실행 지시 정보를 기억하기 위한 기억 영역으로서, 도 2에 나타내는 것과 같은 시험 실행 지시 테이블(TB1)이 형성되어 있다. 도 2는, 접수부(11)가 3개의 실행 지시 정보를 접수함으로써, 당해 3개의 실행 지시 정보가 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억된 예를 나타내고 있다.
접수부(11)는, 예를 들면 도 2의 첫 번째 레코드에 나타내는 바와 같이, 조건 정보를 포함하지 않고, 시험 스케줄 정보 「E1」만을 포함하는 실행 지시 정보를 수취한 경우, 당해 실행 지시 정보에 포함되는 시험 스케줄 정보 「E1」만을 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억한다. 또한, 시험 스케줄 정보 「E1」은, 레이트 「R1」, 충방전 주기 「Tcd1」, 시험 기간 「AT」 및 충방전 순서 「정순(충전 -> 방전)」를 나타내는 시험 조건 정보를 포함한 시험 스케줄 정보인 것으로 한다.
접수부(11)가, 예를 들면 도 2의 세 번째 레코드에 나타내는 바와 같이, 조건 정보 「C2」와 시험 스케줄 정보 「E3」의 조합을 포함하는 실행 지시 정보를 수취했다고 가정한다. 이 경우, 접수부(11)는, 당해 실행 지시 정보에 포함되는 조건 정보 「C2」와 당해 조건 정보 「C2」와 조합되어 있는 시험 스케줄 정보 「E3」를 대응지어, 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억한다.
또한, 조건 정보 「C2」는, 형상 센서(61)가 출력한 검출 신호가 나타내는 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 역치 「TH2」보다 큰 것(T＞TH2)을 나타내고 있는 것으로 한다. 시험 스케줄 정보 「E3」는, 시험을 강제적으로 종료하고 또한 안전 동작을 행하는 안전 동작 지시를 나타내는 상태 변경 지시 정보 「강제 종료, 안전 동작」을 포함한 시험 스케줄 정보인 것으로 한다.
도 1로 참조를 되돌린다. 시험 제어부(12)는, 접수부(11)가 접수한 실행 지시 정보에 따라, 2차 전지(L)의 충방전 시험을 행하도록 전원부(50)를 제어한다. 또, 시험 제어부(12)는, 2차 전지(L)의 충방전 시험 중에 검출부(60)로부터 입력된 검출 신호가 나타내는 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값(정보)을, 시험 조건 정보에 포함되는 실행 중인 시험에 관한 시험 조건과 대응지어 기억부(40)에 기억한다. 시험 제어부(12)의 상세에 대해서는 후술한다.
(충방전 시험 장치(1)의 동작)
이하, 충방전 시험 장치(1)의 동작에 대해서 설명한다. 당해 설명 중에서, 시험 제어부(12)의 상세에 대해서 설명한다. 도 3은, 충방전 시험 장치(1)의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다.
도 3에 나타내는 바와 같이, 접수부(11)가 하나 이상의 실행 지시 정보를 접수했다고 가정한다(단계 S1). 이 경우, 시험 제어부(12)는, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보에 포함되어 있는 시험 스케줄 정보가 나타내는 시험 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 충방전 시험(이후, 제1 시험)을 실시한다(단계 S21).
여기에서는, 단계 S1에서, 접수부(11)가 3개의 실행 지시 정보를 동시에 수취하고, 도 2에 나타내는 바와 같이, 당해 3개의 실행 지시 정보를 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억한 것으로 하여 설명한다. 이 경우, 단계 S21에서는, 시험 제어부(12)는, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 2)에 있어서 조건 정보에 대응지어져 있지 않은 시험 스케줄 정보 「E1」이 나타내는 시험 스케줄 하에서, 제1 시험을 실시한다.
구체적으로는, 시험 제어부(12)는, 시험 스케줄 정보 「E1」에 포함되는 시험 조건 정보가 나타내는 시험 조건(레이트 「R1」, 충방전 주기 「Tcd1」, 시험 기간 「AT」, 충방전 순서 「정순(충전 -> 방전)」)에 따라, 2차 전지(L)의 충방전을 전원부(50)로 하여금 행하게 한다. 상세하게는, 시험 제어부(12)는, 충방전 순서 「정순(충전 -> 방전)」에 따라, 전원부(50)로 하여금, 충방전 주기 「Tcd1」의 반주기 기간 「Tcd1/2」, 레이트 「R1」의 시험 전류를 2차 전지(L)에 충전하게 한다. 그 후, 시험 제어부(12)는, 충방전 주기 「Tcd1」의 반주기 기간 「Tcd1/2」, 레이트 「R1」의 시험 전류를 2차 전지(L)에 방전하게 한다. 시험 제어부(12)는, 이 충전과 방전 처리를, 시험 기간 「AT」가 경과할 때까지, 반복하여 행하게 한다.
단계 S21에서 제1 시험의 실시를 개시한 후, 검출부(60)는 2차 전지(L)의 상태를 정기적으로 검출하는 처리를 개시한다. 또, 시험 제어부(12)는, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태를, 기억부(40)에 기억하는, 및 표시부(21) 또는 PC(90)에 표시하는 처리를 개시한다(단계 S31).
도 4는, 충방전 시험 중에 기억부(40)에 기억되는 정보의 일례를 나타내는 도면이다. 구체적으로는, 단계 S31에서, 시험 제어부(12)는, 도 4에 나타내는 바와 같이, 단계 S21에서 개시한 제1 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보 「E1」과, 제1 시험 중에 검출부(60)가 2차 전지(L)의 상태 변화를 검출한 일시를 나타내는 일시 정보(예를 들면 「t10」)와, 2차 전지(L)의 충방전량을 나타내는 값 CV(예를 들면 「CV10」)와, 검출부(60)가 검출한 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T(예를 들면 「T10」)와, 2차 전지(L)의 내부 압력을 나타내는 값 P(예를 들면 「P10」)와, 2차 전지(L)의 표면 온도를 나타내는 값 Z(예를 들면 「Z10」)를 대응지어 기억부(40)에 기억하는 처리를 개시한다.
도 5(b)는, 2차 전지(L)의 충방전 시험 중에 있어서의 전지의 충방전량 CV의 일례를 나타내는 그래프이다. 단계 S31에서, 시험 제어부(12)는, 예를 들면 도 5(b)에 나타내는 바와 같이, 2차 전지(L)에 충전되어 있는 전류 또는 2차 전지(L)로부터 방전되어 있는 전류의 전류치(이후, 2차 전지(L)의 충방전량 CV)를 시계열로 나타내는 그래프(이후, 충방전량 그래프)를 표시부(21)에 표시한다. 또, 시험 제어부(12)는, 당해 충방전량 그래프를 표시하는 표시 지시를, 당해 충방전량 그래프의 화상과 함께, 인터페이스부(30)를 이용하여, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보의 송신원인 PC(90)(도 1)에 송신(회신)한다. 또한, PC(90)는, 충방전 시험 장치(1)로부터 상기 표시 지시를 나타내는 신호와 상기 충방전량 그래프의 화상을 수취하면, 당해 수취한 충방전량 그래프의 화상을, PC(90)가 구비하는 액정 디스플레이 등의 표시장치로 하여금 표시하게 한다.
예를 들면, 도 5(b)에 나타내는 충방전량 그래프는, 충방전 주기 「Tcd1」(도 2)의 반주기 기간(일시 「t10」에서 일시 「t11」까지의 기간) 「Tcd1/2」, 레이트 「R1」로 2차 전지(L)를 충전한 후, 충방전 주기 「Tcd1」(도 2)의 반주기 기간(일시 「t11」에서 일시 「t12」까지의 기간) 「Tcd1/2」, 레이트 「R1」로 2차 전지(L)에 방전하게 한 예를 나타내고 있다.
도 5(a)는, 도 5(b)에 나타내는 2차 전지(L)의 충방전 시험 중에 검출되는 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 일례를 나타내는 그래프이다. 단계 S31에서, 시험 제어부(12)는, 예를 들면 도 5(a)에 나타내는 바와 같이, 형상 센서(61)가 검출한 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T를 시계열로 나타내는 그래프(이후, 형상 그래프)를 표시부(21)에 표시한다. 또, 시험 제어부(12)는, 당해 형상 그래프를 표시하는 표시 지시를, 당해 형상 그래프의 화상과 함께, 인터페이스부(30)를 이용하여, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보의 송신원인 PC(90)(도 1)에 송신(회신)한다. 또한, PC(90)는, 충방전 시험 장치(1)로부터 상기 표시 지시를 나타내는 신호와 상기 형상 그래프의 화상을 수취하면, 당해 수취한 형상 그래프의 화상을, PC(90)가 구비하는 액정 디스플레이 등의 표시장치로 하여금 표시하게 한다.
예를 들면, 도 5(a)에 나타내는 바와 같이, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T는, 2차 전지(L)의 충전 기간 중, 점차 증대하고, 2차 전지(L)의 방전이 개시되면 점차 감소한다. 또, 충전과 방전의 사이클을 반복할수록, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 피크치가 점차 증대한다.
단계 S31에서 2차 전지(L)의 상태를 검출, 기억 및 표시하는 처리를 개시한 후, 시험 제어부(12)는, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값이, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보에 포함되는 첫 번째 조건 정보가 나타내는 변경 조건(이후, 제1 변경 조건)을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S41).
구체적으로는, 단계 S41에서, 시험 제어부(12)는, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 2)에 첫 번째로 기억된 조건 정보 「C1」이 나타내는 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」을 참조한다. 또한, 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」은, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 제1 역치 TH1 보다 크고, 또한, 제1 역치 TH1 보다 큰 제2 역치 TH2 이하인 것을 나타내고 있다. 그리고, 시험 제어부(12)는, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 상기 참조한 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」을 만족하는지의 여부를 판정한다.
시험 제어부(12)가, 단계 S41에서, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제1 변경 조건을 만족하지 않는다고 판정했다고 가정한다(단계 S41에서 NO). 이 경우, 시험 제어부(12)는, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값 T가, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보에 포함되는 두 번째 조건 정보가 나타내는 조건(이후, 제2 변경 조건)을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S42).
구체적으로는, 단계 S42에서, 시험 제어부(12)는, 단계 S41과 마찬가지로, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 2)에 두 번째로 기억된 조건 정보 「C2」가 나타내는 제2 변경 조건 「T＞TH2」를 참조한다. 또한, 제2 변경 조건 「T＞TH2」는, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 제2 역치 TH2 보다 큰 것을 나타내고 있다. 그리고, 시험 제어부(12)는, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 상기 참조한 제2 변경 조건 「T＞TH2」를 만족하는지의 여부를 판정한다.
시험 제어부(12)는, 단계 S42에서, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 변경 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우(단계 S42에서 NO), 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S61).
구체적으로는, 단계 S61에서, 시험 제어부(12)는, 단계 S21에서 제1 시험을 개시하고 나서의 경과 시간이, 제1 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보 「E1」에서 정해진 시험 기간 「AT」(도 2) 이상인지의 여부를 판정한다. 시험 제어부(12)는, 상기 경과 시간이 시험 기간 「AT」(도 2) 미만인 경우, 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정한다(단계 S61에서 NO). 한편, 시험 제어부(12)는, 상기 경과 시간이 상기 시험 기간 「AT」이상인 경우, 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한다(단계 S61에서 YES).
또, 단계 S61에서, 시험 제어부(12)는, 시험자에 의해 조작 표시부(20)를 이용하여 시험의 종료 지시가 입력된 경우, 및, 인터페이스부(30)가 PC(90)로부터 네트워크(99)를 통해 시험의 종료 지시를 나타내는 정보를 수신한 경우에도, 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한다(단계 S61에서 YES).
시험 제어부(12)는, 단계 S61에서, 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S61에서 YES), 제1 시험을 종료한다. 구체적으로는, 시험 제어부(12)는, 제1 시험을 종료하는 경우, 전원부(50)의 제어를 종료하고, 단계 S31에서 개시한, 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 종료한다.
한편, 시험 제어부(12)는, 단계 S61에서 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우(단계 S61에서 NO), 단계 S41 이후의 처리를 반복한다. 이로 인해, 시험 제어부(12)는, 단계 S21에서 개시한 제1 시험을 계속한다.
단계 S41에서, 시험 제어부(12)가, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제1 변경 조건을 만족한다고 판정했다고 가정한다(단계 S41에서 YES). 이 경우, 2차 전지(L)의 상태는, 제1 변경 조건을 만족한 상태이다. 이 때문에, 시험 제어부(12)는, 시험 스케줄을, 제2 시험 스케줄로 변경하는 취지의 메세지를 표시부(21) 및 PC(90)에 표시한다(단계 S52).
구체적으로는, 단계 S52에서, 시험 제어부(12)는, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 2)에 있어서 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」을 나타내는 조건 정보 「C1」에 대응지어져 있는 시험 스케줄 정보 「E2」를 참조한다. 그리고, 시험 제어부(12)는, 2차 전지(L)의 상태가 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」을 만족한 상태이므로, 시험 스케줄을, 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 제2 시험 스케줄로 변경하는 취지의 메세지를, 단계 S31과 마찬가지로 표시부(21) 및 PC(90)에 표시한다.
상기 메세지는, 예를 들면 “2차 전지가 제1 역치 TH1보다 크게 부풀어 올랐습니다. 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄 「레이트 R2, 충방전 주기 Tcd2, 시험 기간 AT, 역순(방전 -> 충전)」로 변경합니다.” 라고 하면 된다. 단, 당해 메세지는, 이에 한정하지 않고, 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」과, 시험 스케줄 정보 「E2」에 포함되어 있는 정보를 포함하는 것이면 된다.
단계 S52 다음에, 시험 제어부(12)는, 제1 변경 조건에 대응지어진 제2 시험 스케줄 하에서 2차 전지(L)의 충방전 시험(이후, 제2 시험)을 실시한다(단계 S22).
구체적으로는, 단계 S22에서는, 시험 제어부(12)는, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 2)에 있어서, 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」을 나타내는 조건 정보 「C1」에 대응지어져 있는 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 제2 시험 스케줄 하에서 제2 시험을 실시한다.
즉, 시험 제어부(12)는, 시험 스케줄 정보 「E2」에 포함되는 시험 조건 정보가 나타내는 시험 조건(레이트 「R2」, 충방전 주기 「Tcd2」, 시험 기간 「AT」, 충방전 순서 「역순(방전 -> 충전)」)에 따라, 2차 전지(L)의 충방전을 전원부(50)로 하여금 행하게 한다. 상세하게는, 시험 제어부(12)는, 충방전 순서 「역순(방전 -> 충전)」에 따라, 전원부(50)로 하여금, 충방전 주기 「Tcd2」의 반주기 기간 「Tcd2/2」, 레이트 「R2」의 시험 전류를 2차 전지(L)에 방전하게 한다. 그 후, 시험 제어부(12)는, 충방전 주기 「Tcd2」의 반주기 기간 「Tcd2/2」, 레이트 「R2」의 시험 전류를 2차 전지(L)에 충전한다. 시험 제어부(12)는, 이 방전과 충전 처리를, 시험 기간 「AT」가 경과할 때까지 반복하여 행하게 한다.
또한, 본 구체예에서는, 레이트 「R2」(예를 들면 5mAh)는, 시험 스케줄 정보 「E1」에 포함되는 시험 조건 정보가 나타내는 레이트 「R1」(예를 들면 10mAh)보다 작은 레이트(R2＜R1)인 것으로 한다. 또, 충방전 주기 「Tcd2」는, 시험 스케줄 정보 「E1」에 포함되는 시험 조건 정보가 나타내는 충방전 주기 「Tcd1」보다 장시간(Tcd2＞Tcd1)인 것으로 한다. 또, 충방전 순서 「역순(방전 -> 충전)」는, 시험 스케줄 정보 「E1」에 포함되는 시험 조건 정보가 나타내는 충방전 순서 「정순(충전 -> 방전)」와는 반대의 순번인 것으로 한다. 즉, 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 시험 스케줄은, 시험 스케줄 정보 「E1」가 나타내는 시험 스케줄보다, 2차 전지(L)에 걸리는 부하가 작아지는 시험 스케줄인 것으로 한다.
이 때문에, 제1 시험 중에 2차 전지(L)의 상태가 제1 변경 조건을 만족했을 때, 제1 시험보다 2차 전지(L)에 걸리는 부하가 작은 제2 시험 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 방전에서부터 시작되는 제2 시험을 실시할 수 있다. 이로 인해, 2차 전지(L)가 제1 역치 TH1을 넘을 정도로 부풀어 올라 있음에도 불구하고, 제1 시험을 계속했기 때문에, 2차 전지(L)가, 폭발이나 파열이 생기는 위험한 상태가 될 가능성을 저감할 수 있다. 또, 시험을 정지하는 일 없이, 상이한 시험 스케줄 하에서 2차 전지(L)의 충방전 시험을 행할 수 있다. 이 때문에, 상이한 시험 스케줄 하에서의 충방전 시험에 있어서의 2차 전지(L)의 각각에서의 상태 변화를 파악할 수 있다.
단계 S22의 실행 후에도, 시험 제어부(12)는, 단계 S31에서 개시한 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 계속한다. 예를 들면, 도 4에는, 단계 S22의 실행 후, 시험 제어부(12)에 의해, 단계 S22에서 개시한 제2 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보 「E2」와, 당해 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 충방전 중에 검출부(60)가 2차 전지(L)의 상태를 검출한 일시를 나타내는 일시 정보 「t21」와, 2차 전지(L)의 충방전량을 나타내는 값 CV 「CV21」와, 검출부(60)가 검출한 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T 「T21」와, 2차 전지(L)에 걸리는 압력을 나타내는 값 P 「P21」과, 2차 전지(L)의 표면 온도를 나타내는 값 Z 「Z21」가 대응지어져 기억부(40)에 기억된 예를 나타내고 있다. 이 때문에, 기억부(40)에 의해 기억되어 있는 정보를 참조함으로써, 복수의 시험 스케줄 하 각각에서, 2차 전지(L)의 충방전이 행해지고 있을 때의 2차 전지(L)의 상태를 파악할 수 있다.
예를 들면, 기억부(40)에 의해 기억되어 있는 정보는, 예를 들면 도 5(a)에 나타내는 형상 그래프로서 표시부(21) 및 PC(90)에서 참조할 수 있다. 도 5(a)에 나타내는 예에서는, 일시 「t10」에서 제1 시험을 개시한 후, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T는, 제1 시험에 있어서의 2차 전지(L)의 충전 기간 중에 점차 증대하고, 2차 전지(L)의 방전이 개시되면 점차 감소하는 것을 파악할 수 있다. 또, 충전과 방전의 사이클을 반복할수록, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 피크치가 점차 증대하는 것을 파악할 수 있다.
그리고, 제1 시험에 있어서의 2차 전지(L)의 한 충전 기간이 종료되는 일시 「t14」에서, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 제1 역치 TH1를 넘어, 제1 변경 조건을 만족하는 것을 파악할 수 있다. 이로 인해, 시험 스케줄이, 시험 스케줄 정보 「E2」(도 2)가 나타내는 제2 시험 스케줄로 변경되어, 제2 시험이 개시된 것을 파악할 수 있다. 제2 시험에서는, 최초의 방전 기간이 종료되는 일시 「t21」이 되면, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T는, 방전 기간이 종료되었음에도 불구하고, 제1 시험의 실행이 개시된 일시 「t10」보다 커지는 것을 파악할 수 있다.
도 3으로 참조를 되돌린다. 단계 S22 다음에, 시험 제어부(12)는, 단계 S61과 마찬가지로, 제2 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S62). 시험 제어부(12)는, 단계 S62에서, 제2 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정하는 동안(단계 S62에서 NO), 제2 시험을 계속한다. 그리고, 시험 제어부(12)는, 단계 S62에서, 제2 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S62에서 YES), 제2 시험을 종료한다. 이에 맞추어, 시험 제어부(12)는, 단계 S31에서 개시한 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 종료한다.
또, 시험 제어부(12)가, 단계 S42에서, 2차 전지(L)의 상태가 제2 변경 조건을 만족하고 있다고 판정했다고 가정한다(단계 S42에서 YES). 이 경우, 2차 전지(L)의 상태는, 제2 변경 조건을 만족한 상태이다. 이 때문에, 시험 제어부(12)는, 단계 S52와 마찬가지로, 시험 스케줄을 제３ 시험 스케줄로 변경하는 취지의 메세지를 표시부(21) 및 PC(90)에 표시한다(단계 S53).
단계 S53 다음에, 시험 제어부(12)는, 제2 변경 조건에 대응지어진 제３ 시험 스케줄 하에서 2차 전지(L)의 충방전 시험(이후, 제3 시험)을 실시한다(단계 S23).
구체적으로는, 단계 S23에서는, 시험 제어부(12)는, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 2)에 있어서, 제2 변경 조건 「T＞TH2」를 나타내는 조건 정보 「C2」에 대응지어져 있는 시험 스케줄 정보 「E3」가 나타내는 제３ 시험 스케줄 하에서 제3 시험을 실시한다.
여기서, 시험 스케줄 정보 「E3」에는, 시험을 강제적으로 종료하고 또한 안전 동작을 행하는 안전 동작 지시를 나타내는 상태 변경 지시 정보 「강제 종료, 안전 동작」이 포함되어 있다. 이 때문에, 시험 제어부(12)는, 제3 시험으로서, 당해 상태 변경 지시 정보가 나타내는 안전 동작 지시에 따라, 제1 시험을 강제 종료하고, 소정의 안전 동작을 실행한다.
상세하게는, 시험 제어부(12)는, 전원부(50)에 의한 시험 전류의 입출력을 정지시킴으로써, 제1 시험을 강제 종료한다. 그리고, 시험 제어부(12)는, 소정의 안전 동작으로서, 예를 들면, 시료조(70) 내의 공기를 소정 시간 냉각하도록, 시료조(70)에 설치된 도시하지 않은 공조기를 제어한다. 또는, 시험 제어부(12)는, 소정의 안전 동작으로서, 예를 들면, 시료조(70)에 설치된 도시하지 않은 개폐 도어를 소정 시간 개폐할 수 없는 상태로 한다. 또한, 안전 동작은, 이에 한정하지 않고, 시료조(70)에 수용된 2차 전지(L)를 안전하게 꺼낼 수 있도록 하는 동작이면 된다.
단계 S23의 실행 후에도, 시험 제어부(12)는, 단계 S31에서 개시한 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 계속한다. 예를 들면, 도 4에는, 단계 S23의 실행 후, 시험 제어부(12)에 의해, 단계 S23에서 개시한 제3 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보 「E3」와, 제3 시험 중에 검출부(60)가 2차 전지(L)의 상태를 검출한 일시를 나타내는 일시 정보 「t31」와, 검출부(60)가 검출한 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T 「T31」과, 2차 전지(L)에 걸리는 압력을 나타내는 값 P 「P31」과, 2차 전지(L)의 표면 온도를 나타내는 값 Z 「Z31」이 대응지어져 기억부(40)에 기억된 예를 나타내고 있다.
단계 S23 다음에, 시험 제어부(12)는, 제3 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S63). 구체적으로는, 시험 제어부(12)가, 상술한 구체예와 같이, 단계 S23에서, 시험 스케줄 정보에 포함되는 상태 변경 지시 정보에 따라 제3 시험을 실시했다고 가정한다. 이 경우, 당해 시험 스케줄 정보에 제3 시험의 시험 기간을 나타내는 정보가 포함되어 있지 않다. 이 때문에, 시험 제어부(12)는, 시험자에 의해 조작부(22)를 이용하여 시험의 종료 지시가 입력된 경우, 또는, 인터페이스부(30)가 PC(90)로부터 네트워크(99)를 통해 시험의 종료 지시를 나타내는 정보를 수신한 경우에, 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한다(단계 S63에서 YES).
또한, 시험 스케줄 정보에는, 시험 기간 대신에, 시험(안전 동작)을 종료하기 위한 종료 조건을 나타내는 종료 조건 정보가 포함되어 있어도 된다. 예를 들면, 당해 종료 조건에는, 안전 동작의 실행 시간이 소정 시간에 도달하는 것이나, 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값(예를 들면, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T, 내부 압력을 나타내는 값 P 및 표면 온도를 나타내는 값 Z 중 적어도 하나 이상)이 소정치가 되는 것이 포함된다. 이에 맞추어, 시험 제어부(12)가, 단계 S63에서, 시험 스케줄 정보에 종료 조건 정보가 포함되어 있는 경우에는, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값(예를 들면, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T, 내부 압력을 나타내는 값 P 및 표면 온도를 나타내는 값 Z 중 적어도 하나 이상)이 당해 종료 조건 정보가 나타내는 종료 조건을 만족할 때, 제3 시험(안전 동작)의 종료 조건을 만족한다고 판정하도록 해도 된다.
시험 제어부(12)는, 단계 S63에서, 제3 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정하는 동안(단계 S63에서 NO), 제3 시험(안전 동작)을 계속한다. 시험 제어부(12)는, 단계 S63에서, 제3 시험(안전 동작)의 종료 조건을 만족하고 있다고 판정한 경우(단계 S63에서 YES), 제3 시험(안전 동작)을 종료한다. 이에 맞추어, 시험 제어부(12)는, 단계 S31에서 개시한, 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 종료한다.
또한, 상술한 구체예와는 달리, 단계 S23에서, 상술한 단계 S22의 구체예와 마찬가지로, 시험 스케줄 정보에 포함되는 시험 조건 정보가 나타내는 시험 조건에 따라, 2차 전지(L)의 충방전을 전원부(50)로 하여금 행하게 하는 제3 시험이 실행되었다고 가정한다. 이 경우, 단계 S63에서는, 상술한 단계 S61 및 단계 S62의 구체예와 마찬가지로, 시험 제어부(12)는, 제3 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정하면 된다.
또, 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억된 시험 스케줄 정보에 시험 패턴 정보가 하나 이상 포함되어 있는 경우가 있다. 이 경우, 단계 S21, S22, S23에서, 시험 제어부(12)는, 시험 스케줄 정보에 포함되는 각 시험 패턴 정보를 차례대로 참조하고, 당해 참조한 시험 패턴 정보가 나타내는 각 시험 조건 및 각 상태 변경 지시에 따라 시험을 차례대로 실시하면 된다. 구체적으로는, 시험 제어부(12)는, 상술한 단계 S22의 구체예와 마찬가지로, 당해 참조한 시험 패턴 정보가 나타내는 각 시험 조건에 따라 시험을 실시하면 된다. 또, 시험 제어부(12)는, 상술한 단계 S23의 구체예와 마찬가지로, 당해 참조한 시험 패턴 정보가 나타내는 각 상태 변경 지시에 따라 시험을 실시하면 된다.
이 경우, 단계 S61, S62, S63에서는, 시험 제어부(12)는, 마지막 시험 패턴 정보에 포함되는 마지막 정보를 이용하여, 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정하면 된다. 구체적으로는, 마지막 시험 패턴 정보에 포함되는 마지막 정보가 시험 조건 정보인 것으로 한다. 이 경우, 시험 제어부(12)는, 상술한 단계 S61, S62의 구체예와 마찬가지로, 당해 시험 조건 정보가 나타내는 시험 조건에 따라 시험이 실행되고 나서의 경과 시간이, 당해 시험 조건에 포함되는 시험 기간 이상인지의 여부, 또는, 당해 시험의 종료 지시가 입력 또는 수신되었는지의 여부에 의해, 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정하면 된다. 한편, 시험 패턴 정보에 포함되는 마지막 정보가 상태 변경 지시 정보인 것으로 한다. 이 경우, 시험 제어부(12)는, 상술한 단계 S63의 구체예와 마찬가지로, 당해 상태 변경 지시 정보가 나타내는 상태 변경 지시에 따라 시험(안전 동작)이 실행된 후, 시험(안전 동작)의 종료 조건을 만족했는지의 여부, 또는 당해 시험의 종료 지시가 입력 또는 수신되었는지의 여부에 의해, 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정하면 된다.
상기 실시형태의 구성에 의하면, 접수부(11)에 의해 접수된 복수의 실행 지시 정보 중, 조건 정보가 대응지어져 있지 않은 제1 시험 스케줄 정보 「E1」이 나타내는 제1 시험 스케줄 하에서 제1 시험이 개시된다. 그리고, 제1 시험 중에, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 조건 정보 「C1」이 나타내는 제1 변경 조건 「TH2≥T＞TH1」을 만족한 경우에, 2차 전지(L)를 충방전할 때의 시험 스케줄이, 당해 조건 정보 「C1」에 대응지어진 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 제2 시험 스케줄로 변경된다.
따라서, 시험자는, 2차 전지(L)를 충방전할 때의 시험 스케줄을 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경하는 시점의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T를 임의로 정하면 된다. 그리고, 시험자는, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 당해 정한 값인 것을 포함하도록, 제1 변경 조건에 포함되는 제1 역치 TH1 및 제2 역치 TH2를 정하면 된다. 그리고, 시험자는, 당해 제1 변경 조건을 나타내는 조건 정보와, 제2 시험 스케줄을 나타내는 시험 스케줄 정보 「E2」의 조합을 포함하는 실행 지시 정보를 입력하면 된다. 이로 인해, 시험자는, 2차 전지(L)를 충방전할 때의 시험 스케줄을 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경할 타이밍을, 2차 전지(L)의 종류 등에 따라 적절히 정할 수 있다.
예를 들면, 2차 전지(L)를 충방전할 때의 시험 스케줄을 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경하는 시점의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T는, 2차 전지(L)에 이상징후가 보일 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T로 하면 된다. 그리고, 2차 전지(L)에 이상징후가 보일 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 하한치를 제1 역치 TH1로 하고, 2차 전지(L)에 이상이 발생할 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 하한치를 제2 역치 TH2로 정하면 된다.
이 경우, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제1 역치 TH1를 넘지 않을 때는, 제1 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 충방전을 계속할 수 있다. 그리고, 검출된 형상 변화를 나타내는 값 T가 제1 역치 TH1을 넘고 또한 제2 역치 TH2를 넘지 않는 값이 되어, 2차 전지(L)에 이상징후가 보이지만, 이상은 발생하지 않은 상황이 되었다고 가정한다. 이 경우, 2차 전지(L)는 아직 충전 시와 방전 시로 가역적으로 변화하는 상태라고 생각되므로, 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 제2 시험 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 충방전을 행할 수 있다.
또, 상술한 구체예와 같이, 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 제2 시험 스케줄을, 시험 스케줄 정보 「E1」가 나타내는 제1 시험 스케줄보다, 2차 전지(L)에 걸리는 부하가 작아지는 시험 스케줄로 정했다고 가정한다. 이 경우, 2차 전지(L)에 이상징후가 보이게 되면, 2차 전지(L)에 걸리는 부하가 경감된 제2 시험 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 충방전을 행할 수 있다. 이 경우, 제1 시험 스케줄 하에서의 시험에서는 이상징후가 보이고, 제2 시험 스케줄 하에서는 이상징후가 보이지 않는다는 것을 알게 된다.
(제2 실시형태)
다음으로, 본 발명에 따른 충방전 시험 장치의 제2 실시형태에 대해서 설명한다.
제2 실시형태에서는, 시험 제어부(12)는, 제1 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 제1 충방전을 행하고, 당해 제1 충방전 중에, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지한다. 그리고, 시험 제어부(12)는, 상기 제1 충방전의 정지 중에, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태가 소정의 재개 조건(변경 조건)을 만족하면, 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경한다.
이하, 제2 실시형태에 있어서의 충방전 시험 장치(1)의 동작에 대해서 도 6 및 도 7을 이용하여 설명한다. 도 6은, 제2 실시형태에 있어서의 시험 실행 지시 테이블(TB1)의 일례를 나타내는 도면이다. 도 7은, 제2 실시형태에 있어서의 충방전 시험 장치(1)의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다. 또한, 도 7에 기재된 단계 중, 도 3과 동일한 부호의 단계는, 도 3에서 설명한 단계와 동일한 처리이기 때문에, 설명을 생략한다.
또, 이후의 설명에서는, 도 7에 나타내는 단계 S1에서, 접수부(11)가 3개의 실행 지시 정보를 동시에 접수하고, 도 6에 나타내는 바와 같이, 이들 3개의 실행 지시 정보를 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억하는 것으로 한다. 구체적으로는, 접수부(11)는, 도 7에 나타내는 단계 S1에서, 조건 정보를 포함하지 않고, 도 2에 나타낸 것과 동일한 시험 스케줄 정보 「E1」만을 포함하는 실행 지시 정보를 접수한 것으로 한다. 이 경우, 접수부(11)는, 예를 들면 도 6의 첫 번째 레코드에 나타내는 바와 같이, 당해 실행 지시 정보에 포함되는 시험 스케줄 정보 「E1」만을 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억한다.
또, 접수부(11)는, 단계 S1에서, 2차 전지(L)의 시험 스케줄을 변경하기 전에 시험을 정지시킬 때, 2차 전지(L)의 상태가 만족해야 할 정지 조건을 나타내는 정지 조건 정보 「ST」와, 상기 정지 지시를 나타내는 상태 변경 지시 정보 「정지」를 포함하는 시험 스케줄 정보 「EST」의 조합을 포함하는 실행 지시 정보를 수취한 것으로 한다. 이 경우, 접수부(11)는, 예를 들면 도 6의 두 번째 레코드에 나타내는 바와 같이, 당해 실행 지시 정보에 포함되는 정지 조건 정보 「ST」와, 당해 정지 조건 정보 「ST」와 조합되어 있는 시험 스케줄 정보 「EST」를 대응지어, 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억한다. 또한, 정지 조건 정보 「ST」는, 도 6의 두 번째 레코드에 나타내는 바와 같이, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 상술한 제2 역치 TH2 보다 큰 것 「T＞TH2」를 나타내고 있는 것으로 한다.
또, 접수부(11)는, 단계 S1에서, 시험의 정지 후, 시험을 재개할 때, 2차 전지(L)의 상태가 만족해야 할 재개 조건을 나타내는 재개 조건 정보와, 2차 전지(L)의 상태가 당해 재개 조건을 만족했을 때 재개하는 시험의 시험 스케줄(이후, 재개 시험 스케줄)에 관한 시험 스케줄 정보의 조합을 포함하는 실행 지시 정보를 수취한 것으로 한다. 여기서, 재개 조건 정보는, 「TH2≥T」인 것을 나타내는 정보이다. 또, 재개 조건 정보와 조합되어 있는 시험 스케줄 정보는, 도 2에 나타낸 시험 스케줄 정보 「E2」와 동일한 정보인 것으로 한다. 이 경우, 접수부(11)는, 예를 들면 도 6의 세 번째 레코드에 나타내는 바와 같이, 실행 지시 정보에 포함되는 재개 조건 정보 「C3」와 당해 재개 조건 정보 「C3」와 조합되어 있는 시험 스케줄 정보 「E2」를 대응지어, 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 기억한다.
이 경우, 시험 제어부(12)는, 단계 S31 다음에, 단계 S41(도 3)과 마찬가지로, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태가, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보에 포함되는 정지 조건 정보 「ST」가 나타내는 정지 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S4a).
시험 제어부(12)는, 단계 S4a에서 정지 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S4a에서 YES), 2차 전지(L)의 상태가 정지 조건을 만족한 상태이므로, 단계 S52(도 3)와 마찬가지로, 2차 전지(L)의 충방전 시험을 정지하는 취지의 메세지를 표시부(21) 및 PC(90)에 표시한다(단계 S5a). 또한, 당해 메세지는, 예를 들면 “2차 전지가 제2 역치 TH2 보다 크게 부풀어 올랐습니다. 이 때문에, 실행 중인 시험을 정지합니다.” 라고 하면 된다. 단, 당해 메세지는, 이에 한정하지 않고, 2차 전지(L)의 상태가 정지 조건 「T＞TH2」를 만족하고, 실행 중인 시험을 정지하는 취지의 메세지가 포함되어 있으면 된다.
단계 S5a 다음에, 시험 제어부(12)는, 정지 조건 정보 「ST」에 대응지어진 시험 스케줄 정보 「EST」에 포함되어 있는 상태 변경 지시 정보가 나타내는 정지 지시에 따라, 단계 S21에서 개시한 제1 시험을 정지한다(단계 S2a). 구체적으로는, 단계 S2a에서, 시험 제어부(12)는, 전원부(50)에 의한 시험 전류의 입출력을 정지시킨다.
단계 S2a 다음에, 시험 제어부(12)는, 단계 S41(도 3)과 마찬가지로, 검출부(60)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 상태가, 단계 S1에서 접수된 실행 지시 정보에 포함되는 재개 조건 정보가 나타내는 재개 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S4b).
시험 제어부(12)는, 단계 S4b에서 재개 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우(단계 S4b에서 NO), 단계 S63(도 3)과 마찬가지로, 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S6a). 또, 시험 제어부(12)는, 단계 S4a에서 정지 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우에도(단계 S4a에서 NO), 단계 S63(도 3)과 마찬가지로, 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S6a).
시험 제어부(12)는, 단계 S6a에서, 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S6a에서 YES), 제1 시험을 종료한다. 구체적으로는, 시험 제어부(12)는, 전원부(50)의 제어를 종료하고, 단계 S31에서 개시한, 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 종료한다.
한편, 시험 제어부(12)는, 단계 S6a에서 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우(단계 S6a에서 NO), 단계 S4a 이후의 처리를 반복한다. 이로 인해, 시험 제어부(12)는, 단계 S21에서 개시된 제1 시험의 실행 또는 정지를 계속한다.
단계 S4b에서, 시험 제어부(12)는, 재개 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S4b에서 YES), 2차 전지(L)의 상태가 재개 조건을 만족한 상태이므로, 단계 S52(도 3)와 마찬가지로, 시험 스케줄을, 재개 조건에 대응지어진 제2 시험 스케줄로 변경하는 취지의 메세지를 표시부(21) 및 PC(90)에 표시한다(단계 S5b). 또한, 여기서의 제2 시험 스케줄은, 시험 실행 지시 테이블(TB1)(도 6)에 있어서 재개 조건 정보 「C3」에 대응지어져 있는 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 시험 스케줄이다. 단계 S5b 다음에, 시험 제어부(12)는, 단계 S22(도 3)와 마찬가지로, 제2 시험 스케줄 하에서 2차 전지(L)의 충방전 시험(이후, 제2 시험)을 실시한다(단계 S2b).
단계 S2b 다음에, 시험 제어부(12)는, 단계 S62(도 3)과 마찬가지로, 제2 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S6b). 그리고, 시험 제어부(12)는, 단계 S6b에서, 제2 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정하는 동안(단계 S6b에서 NO), 제2 시험을 계속하고, 제2 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S6b에서 YES), 제2 시험을 종료한다. 이에 맞추어, 시험 제어부(12)는, 단계 S31에서 개시한 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 종료한다.
제2 실시형태의 구성에서는, 제1 시험 중에, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 정지 조건 「T＞TH2」를 만족하면, 제1 시험이 정지된다. 그리고, 제1 시험이 정지되어 있을 때, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 재개 조건 「TH2≥T」를 만족한 경우, 당해 재개 조건을 나타내는 재개 조건 정보 「C3」에 대응지어진 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 시험 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 충방전이 행해진다.
이 때문에, 시험자는, 제1 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 충방전을 정지하는 시점의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T를 임의로 정하면 된다. 그리고, 시험자는, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 당해 정한 값인 것을 포함하도록, 정지 조건에 포함되는 제2 역치 TH2를 정하면 된다. 이로 인해, 시험자는, 제1 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 충방전을 정지하는 타이밍을 2차 전지(L)의 종류 등에 따라 적절히 정할 수 있다.
또, 시험자는, 2차 전지(L)의 충방전을 정지한 후, 2차 전지(L)의 충방전을 재개하는 시점의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T를 임의로 정하면 된다. 그리고, 시험자는, 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 당해 정한 값인 것을 포함하도록, 재개 조건의 역치를 정하면 된다. 이로 인해, 시험자는, 2차 전지(L)의 충방전을 재개하는 타이밍을 2차 전지(L)의 종류 등에 따라 적절히 정할 수 있다.
예를 들면, 제1 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 충방전을 정지하는 시점의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T를, 2차 전지(L)에 이상이 발생할 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T로 하면 된다. 또, 2차 전지(L)의 충방전을 재개하는 시점의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T를, 2차 전지(L)에 이상징후가 보일 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T 또는 이상징후가 보이지 않을 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T로 하면 된다. 그리고, 2차 전지(L)에 이상이 발생할 때의 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 하한치를 제2 역치 TH2로 정하면 된다.
또, 상술한 구체예와 같이, 시험 스케줄 정보 「E2」가 나타내는 제2 시험 스케줄을, 시험 스케줄 정보 「E1」이 나타내는 제1 시험 스케줄보다, 2차 전지(L)에 걸리는 부하가 작아지는 시험 스케줄로 정하면 된다.
이 경우, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 역치 TH2를 넘어, 2차 전지(L)에 이상이 발생했을 때, 제1 시험 스케줄 하에서의 2차 전지(L)의 충방전을 정지할 수 있다. 그 후, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 역치 TH2 이하가 되어, 2차 전지(L)의 상태가 이상징후가 보이는 정도 또는 이상징후가 보이지 않을 정도로까지 복원했다고 가정한다. 이 경우, 2차 전지(L)이 충전시와 방전시로 가역적으로 변화하는 상태가 되었다고 생각되므로, 제1 시험 스케줄 대신에, 제1 시험 스케줄보다 2차 전지(L)에 걸리는 부하가 경감된 제2 시험 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 충방전을 행할 수 있다. 그 결과, 상이한 시험 스케줄 하에서의 충방전 시험에 의한 2차 전지(L)의 각각에서의 상태 변화를 파악할 수 있다.
또한, 재개 조건은, 상술한 예에 한정하지 않고, 예를 들면, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 역치 TH2 이하이며(예를 들면 「TH2≥T」), 또한, 시험의 정지로부터 유저가 지정한 시간 이상 대기하는 것을 나타내는 것이어도 된다. 또, 재개 조건은, 예를 들면, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 역치 TH2 보다 미리 정해진 값(예를 들면, D1)만큼 작은 값(예를 들면, TH2-D1) 이하인 것(예를 들면 TH2-D1≥T)을 나타내는 것이어도 된다.
(변형 실시형태)
또한, 상기 실시형태는, 본 발명에 따른 실시형태의 예시에 불과하며, 본 발명을 상기 실시형태로 한정하는 취지는 아니다. 예를 들면, 이하에 나타내는 변형 실시형태여도 된다.
(1) 상기 제1 실시형태에서는, 단계 S41(도 3)에서, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제1 변경 조건을 만족하고, 단계 S22(도 3)에서 제2 시험을 실시한 후에는, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 변경 조건을 만족하는지의 여부를 판정하지 않는다.
그러나, 이에 한정하지 않고, 단계 S22(도 3)에서 제2 시험을 실시한 후, 제2 시험 중에, 시험 제어부(12)가, 또한, 단계 S42(도 3)와 마찬가지로, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제2 변경 조건을 만족하는지의 여부를 판정하도록 해도 된다. 그리고, 시험 제어부(12)가, 당해 판정에 있어서, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가, 제2 변경 조건을 만족한다고 판정한 경우에 단계 S53(도 3)를 실행하고, 제2 변경 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우에 단계 S62(도 3)를 실행하도록 해도 된다.
(2) 상기 제1 실시형태에 있어서의 제1 변경 조건과 제2 변경 조건 및 상기 제2 실시형태에 있어서의 재개 조건은, 상술한 조건 「TH2≥T＞TH1」, 「T＞TH2」 및 「TH2≥T」에 한정되지 않는다. 예를 들면, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 제1 역치 TH1를 넘는 것(예를 들면 「T＞TH1」)만을 나타내는 것이어도 된다.
또한, 제1 역치 TH1로서, 2차 전지(L)에 이상징후가 보일 때의 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 하한치를 설정하는 예에 대해 상술했으나, 제1 역치 TH1을 이와는 다른 값으로 설정해도 된다. 예를 들면, 2차 전지(L)의 시험 개시 후, 형상 센서(61)에 의해 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T가 검출될 때마다 당해 값 T의 최소치를 수시로 갱신하도록 하고, 당해 갱신 후의 최소치를 제1 역치 TH1로 하도록 해도 된다.
(3) 상기 각 실시형태에서는, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 소위 순간치가, 제1 변경 조건, 제2 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건 등의 소정 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다. 이 경우, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 소위 순간치가, 제1 변경 조건, 제2 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건 등의 소정 조건을 만족하는 경우에, 신속하게 시험 스케줄을 변경할 수 있다.
그러나, 이 대신에, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T(순간치)가, 제1 변경 조건, 제2 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건 등의 소정 조건을 연속해서 소정 회수 이상 만족하는지의 여부를 판정하도록 해도 된다. 또는, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T(순간치)가, 제1 변경 조건, 제2 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건 등의 소정 조건을 소정 시간 연속해서 만족하는지의 여부를 판정하도록 해도 된다.
이 경우, 형상 센서(61)가 2차 전지(L)의 형상 변화를 잘못 검지한 경우에 시험 스케줄이 변경되는 것(노이즈)을 막을 수 있다. 또는, 형상 센서(61)가 잘못해서 2차 전지(L)의 형상 변화를 검지한 경우에 시험 스케줄이 변경되는 것의 방지를 목적으로 하여, 형상 센서(61)에 의해 검출된 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T의 이동 평균치가, 제1 변경 조건, 제2 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건 등의 조건을 만족하는지의 여부를 판정하도록 해도 된다.
(4) 상기 각 실시형태에서는, 단계 S1(도 3, 도 7)에서, 접수부(11)가, 제1 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보를 포함하는 실행 지시 정보와, 조건 정보(정지 조건 정보, 재개 조건 정보)와 시험 스케줄 정보의 조합을 포함하는 2개의 실행 지시 정보를 동시에 접수하고, 2차 전지(L)의 상태가 조건 정보(정지 조건 정보, 재개 조건 정보)가 나타내는 조건을 만족한 경우에 자동적으로 시험 스케줄을 변경한다.
그러나, 이에 한정하지 않고, 접수부(11)가, 우선, 제1 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보와 조건 정보를 접수하여 제1 시험을 개시하도록 해도 된다. 그 후, 제1 시험 중에, 2차 전지(L)의 상태가 조건 정보가 나타내는 조건을 만족했을 때, 변경할 시험 스케줄(이후, 변경 스케줄)에 관한 시험 스케줄 정보(이후, 변경 스케줄 정보)를 접수하도록 해도 된다. 이 경우, 시험자가, 제1 시험 중인 2차 전지(L)의 상태에 따라, 변경 스케줄을 적절히 정할 수 있다.
도 8은, 변형 실시형태에 있어서의 충방전 시험 장치(1)의 동작의 일례를 나타내는 플로차트이다. 또한, 도 8에 기재된 단계 중, 도 3과 동일한 부호의 단계는, 도 3에서 설명한 단계와 동일한 처리이기 때문에, 설명을 생략한다. 구체적으로는, 도 8에 나타내는 바와 같이, 단계 S1x에서는, 접수부(11)가, 조작 표시부(20) 또는 PC(90)로부터 시험자가 입력한 제1 시험의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보와 시험 스케줄을 변경하기 위한 조건을 나타내는 조건 정보를 제어부(10)가 구비하는 RAM에 기억함으로써, 당해 시험 스케줄 정보 및 조건 정보를 접수한다(단계 S1x).
그리고, 단계 S21x에서는, 시험 제어부(12)는, 상기 RAM에 기억된 시험 스케줄 정보를 참조하여, 단계 S21(도 3)과 마찬가지로, 당해 참조한 시험 스케줄 정보가 나타내는 시험 스케줄에 따라 제1 시험을 실시한다(단계 S21x). 제1 시험에 있어서는, 단계 S31이 이루어진다(단계 S31).
단계 S31 다음에, 시험 제어부(12)는, 단계 S41(도 3)과 마찬가지로, 2차 전지(L)의 상태가 상기 RAM에 기억되어 있는 조건 정보가 나타내는 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S4x).
시험 제어부(12)는, 단계 S4x에서, 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S4x에서 YES), 변경 스케줄 정보의 입력을 촉구하는 화면을, 조작 표시부(20) 및 PC(90)에 표시한다(단계 S8). 이로 인해, 시험자는, 표시부(21) 또는 PC(90)에 표시된 제1 시험 중인 2차 전지(L)의 상태의 변화에 따라, 적절한 변경 스케줄에 관한 변경 스케줄 정보를 입력할 수 있다.
단계 S8 다음에, 접수부(11)는, 시험자가 조작 표시부(20) 또는 PC(90)로부터 입력한 변경 스케줄 정보를 상기 RAM에 기억함으로써, 당해 변경 스케줄 정보를 접수한다(단계 S9).
단계 S9에서 변경 스케줄 정보가 접수되면, 시험 제어부(12)는, 단계 S52(도 3)와 마찬가지로, 시험 스케줄을, 상기 변경 스케줄로 변경하는 취지의 메세지를 표시부(21) 및 PC(90)에 표시한다(단계 S5x). 그 후, 시험 제어부(12)는, 단계 S22(도 3)와 마찬가지로, 상기 RAM에 기억되어 있는 변경 스케줄 정보가 나타내는 변경 스케줄 하에서, 2차 전지(L)의 충방전 시험(이후, 변경 시험)을 실시한다(단계 S2x).
한편, 단계 S4x에서, 2차 전지(L)의 상태가 상기 RAM에 기억되어 있는 조건 정보가 나타내는 조건을 만족하지 않는다고 판정된 경우(단계 S4x에서 NO), 및 단계 S2x가 실행된 경우(단계 S2x)에는, 시험 제어부(12)는, 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다(단계 S6x).
구체적으로는, 단계 S6x에서, 시험 제어부(12)는, 현재의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보에 있어서 시험 기간이 정해져 있는 경우에는, 제1 실시형태에서 설명한 단계 S61(도 3)의 구체예와 마찬가지로, 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다. 한편, 시험 제어부(12)는, 현재의 시험 스케줄에 관한 시험 스케줄 정보에 있어서 시험 기간이 정해지지 않은 경우에는, 제1 실시형태에서 설명한 단계 S63(도 3)의 구체예와 마찬가지로, 시험의 종료 조건을 만족하는지의 여부를 판정한다.
시험 제어부(12)는, 단계 S6x에 있어서, 시험의 종료 조건을 만족한다고 판정한 경우(단계 S6x에서 YES), 시험을 종료한다. 구체적으로는, 시험 제어부(12)는, 전원부(50)의 제어를 종료하고, 단계 S31에서 개시한, 2차 전지(L)의 상태를 기억 및 표시하는 처리를 종료한다. 한편, 시험 제어부(12)는, 단계 S6x에서 시험의 종료 조건을 만족하지 않는다고 판정한 경우(단계 S6x에서 NO), 단계 S4x 이후의 처리를 반복한다. 이로 인해, 시험 제어부(12)는, 단계 S21x 또는 단계 S2x에서 개시한 시험을 계속한다.
이상과 같이, 본 변형 실시형태의 구성에 의하면, 시험자가, 시험 중인 2차 전지(L)의 상태에 따라, 변경 스케줄을 적절히 정할 수 있다.
또한, 본 변형 실시형태에서는, 단계 S1x에서, 조건 정보를 접수하고 있었으나, 단계 S31 다음에, 접수부(11)가 조건 정보를 접수하도록 해도 된다. 이에 맞추어, 단계 S31 다음에, 접수부(11)가 조건 정보를 접수하지 않는 동안에는, 단계 S6x를 행하고, 접수부(11)가 조건 정보를 접수하면, 단계 S4x를 행하도록 해도 된다. 이 경우, 시험자가, 시험 중인 2차 전지(L)의 상태에 따라, 시험 스케줄을 변경할 때 2차 전지(L)의 상태가 만족해야 할 조건을 적절히 정할 수 있다.
(5) 상기 각 실시형태 및 상기 각 변형 실시형태에서는, 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건이, 형상 센서(61)에 의해 검출되는 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T만을 이용하여 정해지고 있다. 그러나, 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건은, 검출부(60)가 검출 가능한 2차 전지(L)의 상태를 나타내는 값을 하나 이상 이용하여 정해지면 된다. 구체적으로는, 형상 센서(61)에 의해 검출되는 2차 전지(L)의 형상 변화를 나타내는 값 T, 로드셀(62)에 의해 검출되는 2차 전지(L)의 내부 압력을 나타내는 값 P 및 온도 센서(63)에 의해 검출되는 2차 전지(L)의 표면 온도를 나타내는 값 Z 중, 하나 이상의 값을 이용하여, 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건이 정해져도 된다.
(6) 단계 S31(도 3, 도 7, 도 8)에서, 시험 제어부(12)가 2차 전지(L)의 상태를 기억하는 처리를 개시하지 않도록 간소화해도 된다. 마찬가지로, 단계 S31(도 3, 도 7, 도 8)에서, 시험 제어부(12)가 2차 전지(L)의 상태를 표시하는 처리를 개시하지 않도록 간소화해도 된다.
(7) 제1 변경 조건, 제2 변경 조건, 정지 조건 및 재개 조건 중 하나 이상이 미리 정해지고, 당해 하나 이상의 조건을 나타내는 조건 정보가, 시험 실행 지시 테이블(TB1)에 미리 기억되어 있어도 된다. 이로 인해, 시험자가 상기 하나 이상의 조건을 나타내는 조건 정보를 입력하는데 요하는 수고를 생략하도록 해도 된다.
또한, 상기 실시형태를 개설(槪說)하면 이하와 같다.
상술된 실시형태의 일 국면에 따른 충방전 시험 장치는, 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부와, 변경부를 구비한다. 상기 변경부는, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 개시하게 한다. 그리고, 상기 변경부는, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하게 한다.
본 구성에서는, 접수부에서 접수한 정보에 나타난 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전 중에, 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전이 행해진다. 이 때문에, 상이한 시험 스케줄 하에서의 충방전 시험에 있어서의 전지의 각각의 시험 스케줄 하에서의 상태 변화를 파악할 수 있다.
상술된 실시형태의 일 국면에 따른 기억 매체는, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 컴퓨터로 제어시키기 위한 프로그램을 기억한 비일과성 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체이다. 상기 프로그램은, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행하는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다. 그리고, 상기 프로그램은, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하도록, 상기 충방전 시험 장치를 동작시키는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다.
또, 상술된 실시형태의 일 국면에 따른 충방전 시험 방법은, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 제어하는 컴퓨터가 실행하는 충방전 시험 방법이다. 상기 컴퓨터는, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행한다. 그리고, 상기 컴퓨터는, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행한다.
이들 구성에서는, 접수한 정보에 나타난 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전 중에, 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전이 행해진다. 이 때문에, 상이한 시험 스케줄 하에서의 충방전 시험에 있어서의 전지의 각각에서의 상태 변화를 파악할 수 있다.
또, 상술된 실시형태의 일 국면에 따른 충방전 시험 장치는, 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부와, 변경부를 구비한다. 상기 변경부는, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 개시하게 한다. 그리고, 상기 변경부는, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 정지하게 한다. 이로 인해, 상기 전지의 충방전이 정지되어 있을 때, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 변경부는, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하게 한다.
본 구성에서는, 접수부에서 접수한 정보에 나타난 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전 중에, 전지의 상태가 정지 조건을 만족하면, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전이 정지된다. 그리고, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전이 정지되어 있을 때, 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족한 경우, 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전이 행해진다. 이 때문에, 상이한 시험 스케줄 하에서의 충방전 시험에 있어서의 전지의 각각에서의 상태 변화를 파악할 수 있다.
또, 상술된 실시형태의 일 국면에 따른 기억 매체는, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 컴퓨터로 제어시키기 위한 프로그램을 기억한 비일과성 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체이다. 상기 프로그램은, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행하는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다. 그리고, 상기 프로그램은, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지하는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다. 그리고, 상기 프로그램은, 상기 제1 충방전의 정지 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하도록, 상기 충방전 시험 장치를 동작시키는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 한다.
또, 상술된 실시형태의 일 국면에 따른 충방전 시험 방법은, 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 제어하는 컴퓨터가 실행하는 제어 방법이다. 상기 컴퓨터는, 제1 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행한다. 그리고, 상기 컴퓨터는, 상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지한다. 그리고, 상기 컴퓨터는, 상기 제1 충방전의 정지 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 변경하고, 상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행한다.
이들 구성에서는, 접수한 정보에 나타난 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전 중에, 전지의 상태가 정지 조건을 만족하면, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전이 정지된다. 그리고, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전이 정지되어 있을 때, 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족한 경우, 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 제2 시험 스케줄 하에서 전지의 충방전이 행해진다. 이 때문에, 상이한 시험 스케줄 하에서의 충방전 시험에 있어서의 전지의 각각에서의 상태 변화를 파악할 수 있다.
또, 상기 접수부는, 상기 정지 조건에 관한 정보를 추가로 접수해도 된다.
본 구성에 의하면, 전지의 충방전 중에, 전지의 상태가, 접수부에 의해 접수된 정보에 의해 나타난 정지 조건을 만족한 경우에, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전이 정지된다. 이 때문에, 시험자는, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전을 정지하는 시점의 전지의 상태를 임의로 정할 수 있다. 이로 인해, 시험자는, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전을 정지하는 타이밍을 전지의 종류 등에 따라 적절히 정할 수 있다.
또, 상기 접수부는, 상기 변경 조건에 관한 정보를 추가로 접수해도 된다.
본 구성에 의하면, 전지의 충방전 중에, 전지의 상태가, 접수부에 의해 접수된 정보에 의해 나타난 변경 조건을 만족한 경우에, 전지를 충방전할 때의 시험 스케줄이 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경된다. 이 때문에, 시험자는, 전지를 충방전할 때의 시험 스케줄을 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경하는 시점의 전지의 상태를 임의로 정할 수 있다. 이로 인해, 시험자는, 전지를 충방전할 때의 시험 스케줄을 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경하는 타이밍을, 전지의 종류 등에 따라 적절히 정할 수 있다.
또, 상기 충방전 시험 장치는, 상기 제1 시험 스케줄에 관한 정보와, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태를 나타내는 정보를 대응지어 기억하고, 상기 제2 시험 스케줄에 관한 정보와, 상기 제2 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태를 나타내는 정보를 대응지어 기억하는 기억부를 구비해도 된다.
본 구성에 의하면, 기억부에 의해 기억되어 있는 정보를 참조함으로써, 제1 시험 스케줄 및 제2 시험 스케줄 하 각각에서 전지의 충방전이 행해지고 있을 때의 전지의 상태를 파악할 수 있다.
또, 상기 검출부에 의해 검출되는 상기 전지의 상태에는, 상기 전지의 형상 변화, 상기 전지의 내부 압력 및 상기 전지의 표면 온도 중 하나 이상이 포함되는 것이 바람직하다.
본 구성에 의하면, 검출부에 의해 검출된 전지의 형상 변화, 전지의 내부 압력 및 전지의 표면 온도 중 하나 이상이 변경 조건을 만족하면, 전지를 충방전할 때의 시험 스케줄이 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경된다. 이 때문에, 전지의 형상 변화, 전지의 내부 압력 및 전지의 표면 온도 중 하나 이상의 변화에 의거한 타이밍에, 전지를 충방전할 때의 시험 스케줄을 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경할 수 있다.
또, 상기 변경 조건은, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태를 나타내는 값이, 제1 역치를 넘고, 또한, 제2 역치를 넘지 않는 범위에 있는 것인 것이 바람직하다.
본 구성에 의하면, 검출부에 의해 검출된 전지의 상태를 나타내는 값(이후, 상태값)이, 제1 역치를 넘고 또한 제2 역치를 넘지 않는 값이 된 경우에, 전지를 충방전할 때의 시험 스케줄이 제1 시험 스케줄에서 제2 시험 스케줄로 변경된다.
예를 들면, 전지에 이상징후가 보일 때의 상기 상태값을 제1 역치로 하고, 전지에 이상이 발생할 때의 상기 상태값을 제2 역치로 하고, 제1 시험 스케줄보다 전지에 부하를 걸지 않는 시험 스케줄을 제2 시험 스케줄로 정할 수 있다. 이 경우, 상기 상태값이 제1 역치를 넘지 않는 경우에는, 제1 시험 스케줄 하에서의 전지의 충방전이 계속된다. 그리고, 상기 상태값이 제1 역치를 넘고 또한 제2 역치를 넘지 않는 값이 되면, 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 제2 시험 스케줄 하에서, 전지의 충방전이 행해진다. 그리고, 전지에 이상징후가 보이지만, 전지에 아직 이상이 발생하지 않을 때, 예를 들면 전지에 걸리는 부하가 경감된 제2 시험 스케줄 하에서, 전지의 충방전을 행할 수 있다. 이 경우, 제1 시험 스케줄 하에서의 시험에서는 이상징후가 보이고, 제2 시험 스케줄 하에서는 이상징후가 보이지 않는다는 것을 알게 된다.

Claims (11)

  1. 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와,
    전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와,
    상기 전지의 상태를 검출하는 검출부와,
    상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 개시하게 하고, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하게 하는 변경부를 구비하는, 충방전 시험 장치.
  2. 복수의 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하는 접수부와,
    전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와,
    상기 전지의 상태를 검출하는 검출부와,
    상기 시험 실시부로 하여금, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 개시하게 하고, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전을 정지하게 함과 더불어,
    상기 전지의 충방전이 정지되어 있을 때, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 시험 실시부로 하여금, 상기 제1 시험 스케줄 하에 대신하여, 상기 복수의 시험 스케줄 중 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하게 하는 변경부를 구비하는, 충방전 시험 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 접수부는, 상기 정지 조건에 관한 정보를 추가로 접수하는, 충방전 시험 장치.
  4. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 접수부는, 상기 변경 조건에 관한 정보를 추가로 접수하는, 충방전 시험 장치.
  5. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 시험 스케줄에 관한 정보와, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태를 나타내는 정보를 대응지어 기억하고,
    상기 제2 시험 스케줄에 관한 정보와, 상기 제2 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 충방전 중에 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태를 나타내는 정보를 대응지어 기억하는 기억부를 더 구비하는, 충방전 시험 장치.
  6. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출부에 의해 검출되는 상기 전지의 상태에는, 상기 전지의 형상 변화, 상기 전지의 내부 압력 및 상기 전지의 표면 온도 중 하나 이상이 포함되는, 충방전 시험 장치.
  7. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 변경 조건은, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태를 나타내는 값이, 제1 역치를 넘고, 또한 제2 역치를 넘지 않는 범위에 있는 것인, 충방전 시험 장치.
  8. 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 컴퓨터로 제어시키기 위한 프로그램을 기억한 비일과성 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체로서,
    상기 프로그램은,
    제1 시험 스케줄에 관한 정보 및 제2 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행하고,
    상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 상기 제2 시험 스케줄로 변경하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하도록,
    상기 충방전 시험 장치를 동작시키는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 하는, 기억 매체.
  9. 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 컴퓨터로 제어시키기 위한 프로그램을 기억한 비일과성 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체로서,
    상기 프로그램은,
    제1 시험 스케줄에 관한 정보 및 제2 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행하고,
    상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지하고,
    상기 제1 충방전의 정지 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 상기 제2 시험 스케줄로 변경하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하도록,
    상기 충방전 시험 장치를 동작시키는 처리를 상기 컴퓨터로 하여금 실행하게 하는, 기억 매체.
  10. 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 제어하는 컴퓨터가 실행하는 충방전 시험 방법으로서,
    상기 컴퓨터는,
    제1 시험 스케줄에 관한 정보 및 제2 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행하고,
    상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 상기 제2 시험 스케줄로 변경하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하는, 충방전 시험 방법.
  11. 전지의 충방전을 행하는 시험 실시부와, 상기 전지의 상태를 검출하는 검출부를 구비한 충방전 시험 장치를 제어하는 컴퓨터가 실행하는 충방전 시험 방법으로서,
    상기 컴퓨터는,
    제1 시험 스케줄에 관한 정보 및 제2 시험 스케줄에 관한 정보를 접수하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제1 시험 스케줄 하에서의 상기 전지의 제1 충방전을 행하고,
    상기 제1 충방전 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 정지 조건을 만족하면, 상기 제1 충방전을 정지하고,
    상기 제1 충방전의 정지 중에, 상기 검출부에 의해 검출된 상기 전지의 상태가 소정의 변경 조건을 만족하면, 상기 제1 시험 스케줄을 상기 제2 시험 스케줄로 변경하고,
    상기 시험 실시부에 의해, 상기 제2 시험 스케줄 하에서 상기 전지의 충방전을 행하는, 충방전 시험 방법.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112488340B (zh) * 2020-12-18 2021-07-27 无锡挚达物联科技有限公司 基于深度学习的智能储能控制方法、装置及存储介质
CN112834936A (zh) * 2021-02-03 2021-05-25 智光研究院(广州)有限公司 一种电池充放电测试方法、装置、系统和电池管理系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000088934A (ja) * 1998-09-17 2000-03-31 Fujitsu Denso Ltd 二次電池の試験方法及び試験装置
KR20080017157A (ko) * 2006-08-21 2008-02-26 한국전기연구원 배터리 충전 장치
JP2010223606A (ja) * 2009-03-19 2010-10-07 Fujitsu Telecom Networks Ltd 二次電池の充放電試験装置と二次電池の充放電試験方法
KR20120104724A (ko) * 2011-03-14 2012-09-24 삼성에스디아이 주식회사 배터리 팩의 테스트 장치 및 그 구동 방법
JP2016217730A (ja) * 2015-05-14 2016-12-22 富士通テレコムネットワークス株式会社 充放電試験システム、充放電試験装置およびデータ通信方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0426078A (ja) * 1990-05-21 1992-01-29 Japan Storage Battery Co Ltd 自動車用蓄電池の寿命試験方法
JP3666785B2 (ja) * 1998-03-25 2005-06-29 日本電信電話株式会社 複数電池の自動試験方法および装置
JP3683753B2 (ja) * 1999-10-01 2005-08-17 日本電信電話株式会社 二次電池自動試験方法
JP2009301983A (ja) * 2008-06-17 2009-12-24 Kazumasa Sakakibara 電池パック
JP5815195B2 (ja) * 2008-09-11 2015-11-17 ミツミ電機株式会社 電池状態検知装置及びそれを内蔵する電池パック
JP5570782B2 (ja) * 2009-10-16 2014-08-13 三洋電機株式会社 電源装置及びこれを備える車両並びに電源装置の充放電制御方法
WO2014016900A1 (ja) * 2012-07-24 2014-01-30 株式会社日本マイクロニクス 充放電装置
CN105009399B (zh) * 2012-12-26 2017-11-10 施耐德电气It公司 用于监测不间断电源中的电池的系统和方法
JP2014163921A (ja) * 2013-02-28 2014-09-08 Fujitsu Telecom Networks Ltd 充放電試験システム、及び制御装置
CN103995232B (zh) * 2014-04-21 2017-01-04 中通客车控股股份有限公司 一种磷酸铁锂动力电池组峰值充放电性能的检测方法
JP6567582B2 (ja) * 2017-03-08 2019-08-28 株式会社東芝 充放電制御装置、使用条件作成装置、プログラム、及び蓄電システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000088934A (ja) * 1998-09-17 2000-03-31 Fujitsu Denso Ltd 二次電池の試験方法及び試験装置
KR20080017157A (ko) * 2006-08-21 2008-02-26 한국전기연구원 배터리 충전 장치
JP2010223606A (ja) * 2009-03-19 2010-10-07 Fujitsu Telecom Networks Ltd 二次電池の充放電試験装置と二次電池の充放電試験方法
KR20120104724A (ko) * 2011-03-14 2012-09-24 삼성에스디아이 주식회사 배터리 팩의 테스트 장치 및 그 구동 방법
JP2016217730A (ja) * 2015-05-14 2016-12-22 富士通テレコムネットワークス株式会社 充放電試験システム、充放電試験装置およびデータ通信方法

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