KR20200101374A - 고주파 테스트 커넥터 장치, 고주파 테스트 시스템 및 그 용도 - Google Patents

고주파 테스트 커넥터 장치, 고주파 테스트 시스템 및 그 용도 Download PDF

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Abstract

본 발명은 일단에 축방향으로 슬리브형 접지 컨택트 섹션(10;10'), 타단에 외부 고주파 신호 컨택트(18)용 수단, 및 중앙 절연식 내부 컨택트(20)를 포함하는 어댑터 하우징을 가지는 고주파 테스트 커넥터 장치(12;12')에 관한 것으로서, 상기 접지 컨택트 섹션은 상기 접촉 파트너(16)의 슬리브 섹션(14)에 대해 접지 컨택트가 결합하여 연결하기 위한 전기 전도성 스프링 수단(26;26',28;42,44;44',46)을 포함하고, 컨택트를 형성하고 탄성적으로 이동 또는 연결형 길이방향 축을 따라 단부측 면(30)을 가지는 접촉 파트너는 상기 접지 컨택트 섹션(10)의 슬리브 베이스에 형성된 상기 스프링 수단(26)에 결합할 수 있거나 또는 연결 파트너(16')의 슬리브 섹션(14')에 결합하기 위해, 상기 스프링 수단(26')은 상기 접지 컨택트 섹션(10')의 단면 단부 섹션으로부터 돌출되도록 설계되어, 컨택트를 형성하고 탄성적으로 이동 또는 연결형 길이방향 축을 따라 접지 전도성 내부 섹션(40), 보다 특히 상기 연결 파트너의 내부 숄더에 결합할 수 있다.

Description

고주파 테스트 커넥터 장치, 고주파 테스트 시스템 및 그 용도
본 발명의 메인 청구항의 전제부에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치(high-frequency test connector device)에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 이러한 고주파 테스트 커넥터 장치를 사용하는 고주파 테스트 시스템(high-frequency test system)에 관한 것이고, 본 발명은 이러한 고주파 테스트 커넥터 장치 및/또는 이러한 고주파 테스트 시스템의 용도에 관한 것이다.
메인 청구항의 전제부에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치는 출원인의 DE 20 2010 007 227 U1에 공지된다. 그곳에서 일반적인 고주파 테스트 커넥터 장치로 개시된 고주파 테스트 펜(high-frequency test pen)은, 1 GHz 이상의 일반적인 테스트 및 작동 주파수에서 테스트 할 전자장치(electronics)에 연결되는 동축 연결 파트너(coaxial connection partner)(컨택트 파트너)와의 임시 기능-테스트 컨택트(temporary function-testing contact)를 위해 의도되고 구성되었으며, 이러한 종류의 일반적인 고주파 테스트 커넥터 장치(고주파 테스트 펜)는 컨택트 파트너(contact partner) 상에 배치되도록 내부 도체(inner conductor) 및 그것에 동축인 슬리브 형 외부 도체에 의해 구현되는데, 외부 도체(outer conductor)의 (환형) 외부 에지(outer edge)의 면이 컨택트 파트너(contact partner)의 대응되는 환형 외부 컨택트 위로 결합하고 내부 도체(일반적으로 축 방향으로 즉, 이동 및 연결 축을 따라, 배향됨)는 스프링 장착 방식(spring-loaded manner)으로 컨택트 파트너의 중심 컨택트(center contact)에 접촉할 수 있는 방식으로 이루어진다. 이러한 임시 테스트 연결 컨택트(temporary test connection contact)가 수립되고 나면, 대량 생산을 위해 일반적으로 설계된 모바일 무선 모듈(mobile radio modules) 또는 유사한 기술이 지시된(indicated) 고주파 범위에서 테스트된다.
산업 테스트 및 제조 실무(industrial testing and manufacturing practice)에서, 동축 고주파 연결 파트너(컨택트 파트너)가, 내부 및 외부 도체 사이에서 필요한 (플라스틱) 절연체(isolator)가 치수(dimension)에 대해 완전히 정확하지 않은 기계 제조형(machine-made) 및 일반적인 대량 생산형(mass-produced)의 내부 및 외부 컨택트 구조를 가지게 되는 불리한 영향은, 전제부에 개시된 일반적인 종래 기술에서 이미 관찰될 수 있을 것이다. 이는 이러한 절연 물질(isolating material)이 축 방향으로 외부 컨택트의 단면 가장자리(end-side edge)를 넘어 연장되고 그 결과 일반적인 테스트 펜의 전면 결합 외부 도체(frontally engaging outer conductor)가 파트너의 금속성 외부 컨택트와 접촉할 수 없었던 불리한 영향을 가졌다. 테스트 중의 측정 및 신호 전송 이슈는 불리한 결과였다.
종래 기술로 참조되는 DE 20 2010 007 227 U1은, (접지 및 슬리브형) 접지 컨택트 부분(ground contact portion)과 동축 연결 파트너(coaxial connection partner)의 외부 슬리브 부분(outer sleeve portion)이 도입되거나 삽입될 수 있는 내부 컨택트 사이의 수용 공간을 형성하는 본 발명의 메인 청구항의 전제부에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치를 통해 이러한 단점을 극복하는 데, 삽입 상태에서, 일반적인 테스트 연결 장치의 내부 컨택트가 연결 (컨택트) 파트너의 내부 도체 부분에 결합하게 되고, 이에 따라 컨택트를 수립하고 측정 작업을 가능하게 한다.
DE 20 2010 007 227 U1 으로부터 공지된 기술은, 테스트 커넥터 장치의 (방사형 외부) 접지 컨택트 부분(ground contact portion)과 접지 컨택트를 수립하기 위한 연결 파트너의 슬리브 부분(sleeve portion) 사이, 즉 펼쳐지고(spreading) 접촉을 수립하는 것에 의해 연결 파트너의 외부 자켓 표면(outer jacket surface)과 접촉을 수립할 수 있는 환형 스프링(annular spring)을 가지는 접지 컨택트 부분의 (일반적으로 중공의 원통형인) 내벽을 통해, 자켓 측 공차 보상(jacket-side tolerance compensation)을 이미 제공하는 데, 이에 따라 각각의 동축 외부 도체의 신뢰성 있는 접지 컨택트의 수립을 보장한다.
그러나, 실제 작동에서, DE 20 2010 007 227 U1으로부터 공지된 이 기술은 또한 개선이 필요한 것으로 입증되었다. 예컨대, 자켓 측 환형 스프링에 의해 컨택트 해결책에 필요한 생산 기술(production technology), 구성(construction) 및 구성요소(components)의 양은 엄청나다 - 접지 컨택트 부분의 내부 표면 상에 형성된 환형 슬롯(annular slot)(환형 그루브)에 삽입하기에 적합한 이러한 작은 크기의 부품은, 복잡하고 전문화된 생산 단계들을 필요로 할 뿐만 아니라, 이러한 충분하게 조립(fitting) 되는 환형 스프링은 비용이 많이 들고 상대적으로 심각한 마모가 추가적으로 발생하기 쉬운데, 이는 생산이 복잡한 것(그리고 잠재적으로 비용이 많이 들 수 있는 것)에 더하여 효과적인 테스트 수명 (또는 연결 파트너와의 각 연결 프로세스 형태의 테스트 주기의 최대 수)이 제한되는 것을 의미한다.
또한, 전제부로부터 공지된 기술에 대한 실제 경험은 고주파 연결(high-frequency connection)의 고주파 전송 특성(high-frequency transmission properties)과 관련하여 보여주었으므로 고주파 전이 저항(high-frequency transition resistances) 또는 (주파수 의존(frequency-dependent)) 댐핑 거동에서 불균일이 발생하는 접지 컨택트에 의해 가능해졌으며, 특히 1GHz 이상의 테스트 및 작동 주파수에서, 추가적인 단점으로, 이러한 종류의 고주파 전송 이슈는 동일한 주파수 범위로 체계적으로 제한되지 않았다. 이것은 품질 관리 및 일반적인 테스트 커넥터 장치 (또는 이를 기반으로 구성되는 테스트 시스템)의 생산에서의 높은 복잡성을 추가적으로 초래하며, 이는 총 생산 비용(total production costs)에 추가적인 불리한 영향을 미친다.
따라서, 본 발명의 목적은 비용 효율적이고, 자동화가 가능하며 긴 서비스 수명(테스트 사이클의 개선된 수를 포함)을 약속하는 생산 및 사용 특성에 관한 메인 청구항의 전제부에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치를 개선하는 것과, 특히, 1 GHz 이상의 작동 및 테스트 주파수와 관련하여 고주파 전송 특성 측면에서 개선되고, 이와 관련하여 불균일하거나 특정 (주파수) 범위 내에서 변동하는 임의의 전송 및 댐핑 특성을 나타내지 않는 이러한 종류의 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적은 메인 청구항의 특징을 가지는 고주파 테스트 커넥터 장치에 의해 달성된다; 본 발명의 유리한 실시예는 종속항들에 기술되어 있다. 본 발명의 범주 내에서 추가적인 보호가 고주파 테스트 시스템과 관련하여 본 발명에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치의 사용에 요구되고, 본 발명의 범주 내에서 보호는 1 GHz 이상, 특히 2 GHz 및 6 GHz 사이의 작동 및/또는 테스트 주파수 범위에서 고주파 테스트 커넥터 장치 및 고주파 테스트 시스템의 용도를 위해 요구된다.
본 발명에 따른 유리한 방식에서, 본 발명은, 동축 측정 파트너(coaxial measuring partners), 즉 본 발명에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치의 접지 컨택트 부분 및 연결 파트너의 외부 도체 (슬리브 부분) 사이의 단부측 및 전면측 공차 보상(end-side or front-side tolerance compensation)에 즉각 영향을 미친다. 이것이 DE 20 2010 007 227 U1에 따른 환형 스프링 또는 유사한 자켓 측 스프링 어셈블리(similar jacket-side spring assembly)가 추가적으로 사용될 수 없다는 것을 의미하지는 않으며, 본 발명은 고주파 전송에서 또는 특히 직접적으로 관련된, 1 GHz 이상의 광역 주파수 범위에 걸쳐 균일한 댐핑 특성과 관련하여 필요하지 않다는 것을 유리하게 보여준다.
대신에, 본 발명은, 특히 유리한 방식으로 보장되는 지시된 방식으로 전송-최적화 방식으로 효과적이고 동축 테스트 커넥터 장치 및 동축 연결 파트너 사이의 컨택트-수립(contact-establishing) 및 기능-테스트 상호 작용의 가능한 변형예 모두를 위해, 즉 연결 파트너의 슬리브 부분의 방사상 외부에 대한 접지 컨택트 부분의 결합을 위해 (따라서 DE 20 2010 007 227 U1에 따른 일반적인 종래기술의 디자인과 유사함) 그리고, 그 반대의 방사상으로도 마찬가지이며, 연결 파트너의 방사상으로 외부 접지-슬리브 부분(radially outer ground-sleeve portion)으로 접지 컨택트 부분의 결합을 위해, 축방향 전면 공차 보상을 허용한다.
본 발명의 제1 변형예에 따르면, 이것은, 연결 파트너의 슬리브 부분에 대한 결합을 위해, 후자(연결 파트너)의 단부 측면이, 접지 컨택트 부분의 슬리브 바닥면에서, 그리고 컨택트-수립 방식(contact-establishing manner) 및 이동 및 연결 축을 따라 스프링 장착 방식으로 구현되는 스프링 수단에 결합할 수 있는 방식으로, 할당된 접지 컨택트를 (연결 파트너, 보다 정확하게는 슬리브 부분과) 수립하기 위한 전기 전도성 스프링 수단(electrically conducting spring means)을 갖는 본 발명에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치의 접지 컨택트 부분을 통해 본 발명에 따라 유리하게 발생한다. 다시 말해서, 이러한 해결책의 변형을 위해, 본 발명에 따른 전기 전도성 스프링 수단은 접지 컨택트 부분의 축방향 단부 부분(axial end portion)에, 즉 접지 컨택트 부분에 의해 둘러싸인 수용 공간의 슬리브 바닥 또는 바닥에 배치된다.
본 발명의 대안적인 구성에서, 접지 컨택트 부분은, 연결 파트너의 슬리브 부분으로의 결합을 위해, 접지 연결 부분의 전방측 단부 부분으로부터 돌출된 스프링 수단이 컨택트-수립 방식으로 그리고 이동 및 연결 축을 따라 스프링 장착 방식으로, 연결 파트너의 접지 내부 부분에 결합할 수 있는 방식으로, 할당된 접지 컨택트를 수립하기 위한 본 발명에 따른 전기 전도성 스프링 수단을 가지며; 특히 바람직한 구성에서, 연결 파트너의 접지 내부 부분은 연결 파트너의 내부(더 바람직하게는 바닥면)의 내부 숄더(inner shoulder)로서 구현될 수 있다.
두 경우에서, 본 발명에 따른 전기 전도성 스프링 수단은 이렇게 생성된 접지 커플링의 전송 및 댐핑 특성을 크게 개선하고, 특히 (전면) 치수 공차 또는 다른 불균일성, 특히 연결 파트너의 불균일성에 의해 또한 영향을 받지 않는 접지 컨택트를 보장한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 전기 전도성 스프링 수단은 (바람직하게는 균일한) 원주방향 분포(circumferential distribution)에서 (전형적으로 개별 스프링 핀들의 각 하나에 대해 수용 맞춤(receiving fit)을 형성하는 적절한 보어에 삽입되거나 또는 보어에 삽입되는 스프링 장착 플런저(spring-loaded plungers)로 구현됨으로써) 접지 컨택트 부분의 배치 또는 설치의 각 영역에 부착되는 복수의 개별 스프링 핀들(individual spring pins)로 구현될 수 있다. 본 발명의 제1 변형예의 경우에, 개별 스프링 핀들은 연결 파트너를 위한 수용 공간의 바닥 또는 슬리브 바닥에 원주방향 분포로 배치될 것이며, 수용 공간은 접지 컨택트 부분에 의해 형성되고; 접지 컨택트 부분이 연결 파트너의 슬리브 부분에 결합하는 경우, 그들은 단면 또는 전면(end-side or front-side face) 상에 배치될 것이다.
본 발명의 다른 바람직한 실시예에 따르면, 바람직하게는 접지 컨택트 부분의 전체 둘레에 걸쳐 연결 파트너와의 (공차 보상) 접지 컨택트 수립을 보장하기 위해, 본 발명에 따라 복수개가 제공될 (그리고 그 자체는, 차례로, 다른 공지된 방식으로 고정 슬리브에 대해 스프링 장착식 및 축방향 이동식 플런저를 형성하는) 다수의 제공된 개별 스프링 핀들의 수는 적어도 4개이며, 더욱 바람직하게는 적어도 6개인 것이 추가적으로 유리하고 바람직한 것으로 입증되었다. 추가적인 실시예에 따르면, (스프링 장착식 및 이동식 플런저의 일측 면에 제공되는) 이러한 스프링 핀들의 컨택트 헤드에 평면 또는 대안적으로 프로파일링(profiled) (예컨대, 볼록하게 둥근(convexly rounded)), 테이퍼링(tapering) 및/또는 뾰족한 윤곽(pointed contour)이 제공되는 경우에 컨택트 품질에 유리하다.
추가적으로 유리하게는, 이러한 해결책에 대해 표준화된 개별 스프링 핀들 또는 이미 대량 생산된 부품들이 이 해결책에 사용될 수 있으므로, 높은 연결 품질 및 전송 품질을 저렴한 비용으로 결합할 수 있도록 허용한다.
본 발명에 따른 전기 전도성 스프링 수단이 (바람직하게는 환형) 컨택트 레그 모듈(contact leg module)로서 구성되는 대안적인 실시예에 의해 제공되는 옵션(option)에 동일하게 적용된다. 상기 컨택트 레그 모듈은 복수의 원주방향으로 배치된 핀형 컨택트 레그를 가지는데, 각각의 자유 단부는 본 발명에 따른 스프링 장착 및 컨택트 수립 방식으로 연결 파트너의 각 접지 컨택트 부분에 결합될 수 있으며, 컨택트 레그는 바람직하게는 서로 중첩되거나(overlapping) 비스듬히(at an angle) 서로 중첩되도록 배향되거나, 대안적으로 방사상 내측으로 배향된다.
더욱 바람직하게는, 제공되는 상기 핀형 컨택트 레그의 수는 적어도 4개, 바람직하게는 적어도 6개이고, 핀형 컨택트 레그는 바람직하게는 원주방향을 가로질러 균일한 간격으로 분포되고; 이러한 컨택트 레그 모듈은 왕관형이고 에칭 및 벤딩 또는 다이-커팅(die-cutting) 및 벤딩 또는 대안적으로 밀링에 의해 제조되는 것이 유리한 것으로 입증되었다.
또한, 복수의 핀형 컨택트 레그는 (단부측) 접지 컨택트가 전체 원주방향을 따라 기본적이면서 연속적으로 설정될 수 있게 허용하므로, 이러한 방식으로 보장될 수 있는 고주파 전송 특성의 측면에서 최적화된 전송에서의 주파수 특성(frequency characteristics) 및 댐핑 효과(damping effect)가 달성될 수 있음을 의미한다.
전술한 바와 같은 전기 전도성 스프링 수단으로서 또는 대안적으로는 전기 전도성 스프링 수단 없이, 컨택트 레그 모듈의 실시예와 가능하게 관련하여, 본 발명의 다른 실시예는 본 발명에 따른 스프링 수단이 전기 전도성 금속 및/또는 중합체 쿠션(polymeric cushion) (및 바람직하게는 엘라스토머(elastomeric)) 및/또는 스폰지 모듈(sponge module)로서 구성되도록 의도된다. 이러한 방식으로, 댐핑 특성에 대해 유리한 원하는 공차 보상 접지 컨택트는 이러한 쿠션(cushion) 및/또는 스폰지 모듈의 전기 전도성과 함께 고유 탄성(inherent elasticity)을 통해 특히 명쾌한 방식(elegant way)으로 설정된다.
따라서, 본 발명은 고주파 테스트 시스템을 구현하기에 특히 적합하며, 더욱 바람직하게는 1 GHz 이상, 더욱 바람직하게는 2 GHz 및 6 GHz 사이의 주파수를 작동 및 테스트하기 위해, 더욱 그리고 추가적으로 바람직하게는 휴대 전화 기술(mobile phone technology)의 장치를 테스트하기 위해, 본 발명에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치는 이러한 시스템과 관련하여 원하는 테스트 목적에 적합하게 구성된 고주파 테스트 유닛에 연결되고, 상기 고주파 테스트 유닛과 결합하는 고주파 테스트 커넥터 장치와 전기적인 접촉을 수립하기 위한 수단에 연결된다. 시스템으로서의 이러한 어셈블리는 연결 파트너로서 동축 고주파 커넥터 모듈과 상호 작용하며, 예컨대, 공유 회로 보드(shared circuit board)로서 또는 다른 방식으로 연결된 고주파는 회로 부품 또는 완전한 전자 회로로서 절연 부품(isolated parts)의 형태로 테스트될 고주파 전자 부품을 가진다.
본 발명의 맥락에서 사용되는 용어인 "고주파"는 특히 바람직하게는 1 GHz 이상 및 더욱 바람직하게는 2 GHz 내지 6 GHz의 범위의 테스트 및/또는 작동 주파수를 지칭하지만, 본 발명은 이러한 범위에 제한되지 않는다. 실제로, 본 발명은 하나는 테스트 커넥터 장치이고, 다른 하나는 연결 파트너의 생산 및 치수 공차가 있는 연결 파트너로서의 테스트 대상인 동축 파트너 사이의 임의의 유형의 고주파 접지 커플링에 적합하며, 특히 고주파 연결 품질에 불리한 영향을 미칠 수 있다.
본 발명의 다른 장점, 특징 및 세부사항은 바람직한 실시예의 다음 설명 및 도면으로부터 명백하며, 여기서
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 고주파 테스트 커넥터 장치의 부분 종방향 단면도이며, 접지 컨택트 부분이 연결 파트너의 슬리브 부분에 결합하는 본 발명의 제1 원리를 도시한다;
도 2는 도 2의 실시예에서 컨택트 설정 헤드 부분(contact-establishing head portion)의 확대 길이방향 단면도이다;
도 3은 접지 컨택트 부분이 연결 파트너의 슬리브 부분에 결합한다는 점에서 도 1의 예시와 다른 본 발명에 따른 대안적인 해결책 원리를 도시한 실시예를 도시한다;
도 4는 도 3의 실시예에서 연결 영역의 확대 길이방향 단면도이다;
도 5는 서브-도면 (b)의 정면도에서 선 A-A를 따라 절단된 길이방향 단면도를 나타내는 도 2에 대응하는 서브-도면 (a) 및 (b), 상세도면 (a)의 스프링 핀들에 의해 전기 전도성 스프링 수단을 구현하기 위한 본 발명에 따른 실시예의 도면을 도시한다;
도 6은 반으로 절단된 도 5의 실시예의 연결 영역의 사시도이다;
도 7은 전기 전도성 스프링 수단을 구현하고 서브-도면 (a) 내지 (c)에서 링 지지부로부터 방사상 내측으로 연장되는 컨택트 레그를 포함하는 환형 컨택트 레그 모듈을 나타내는 도면을 도시하고; 그리고
도 8은 서브-도면 (a) 내지 (c)에서 핀형 컨택트 레그가 링 지지부를 따라 섹션들(in sections)로 서로 중첩되는 왕관형 금속 모듈로서의 전기 전도성 스프링 수단의 구성의 도면을 도시한다.
도 1의 실시예는 본 발명의 제1 원리를 도시한 것으로, 본 발명의 제1 원리에 의하면, 고주파 테스트 커넥터 장치(12)의 중공의 원통형 접지 컨택트 부분(10)이 제공되고, 동축 소켓(16, coaxial socket)으로 구현된 컨택트 파트너의 (동일하게 접지된) 슬리브 부분(14)의 외부 또는 자켓 위에 결합되도록 구성된다. 보다 정확하게는, 테스트 또는 측정 프로세스에 제한된 임시 테스트 컨택트의 동축 생산을 위해, 도 1 (및 도 2의 확대도)의 제1 실시예에 도시된 중공의 원통형 접지 컨택트 부분은 길이가 긴 동축 테스트 커넥터(12)의 핀이며, 컨택트 부분의 반대편에 위치하는 상기 동축 테스트 커넥터의 단부(18)는, 다른 공지된 방식의, 동축 케이블과 같은 (적합한 테스트 수단에 이어지는) 고주파 컨텍트 수단(high-frequency contact means)에 연결될 수 있다. 접지 컨택트 부분(10)에 의해 형성된 컨택트 영역과 대향 연결부(18) 사이의 도 1의 길이가 긴 펜 조립체의 내부 구조는 통상적인 그리고 동축인 방식으로 구성될 수 있으며 (그리고 추가로 적합한 스프링을 가진다); 단지 예시로서, DE 20 2010 007 227 U1에 따른 펜 구조가 참조되는 데, 이것은, (도 3의 실시예에도 유사하게 적용될 수 있는) 중간 영역의 구성에 동일하게 맞춰질 수 있다.
또한, 도 1 및 도 2의 단면도는 접지 컨택트 부분(10)에 의해 중심으로 둘러싸여져 있는 (그리고 그로부터 절연되고 축 방향으로 자체 스프링 장착된(spring-loaded)) 내부 컨택트(20)가 (차례로, 도시된 절연체(24)에 의해 파트너의 접지 컨택트(14)로부터 절연된) 연결 파트너(16)의 적절하게 구성된 동축 내부 컨택트 부분(22) 상에 결합 될 수 있는 방법을 도시한다.
도 1 및 도 2에서 도식적으로 도시되고 음영 처리된 모듈(26)은 본 발명의 제1 원리의 전기 전도성 스프링 수단, 즉, 도 1 (도 2)의 경우에 접지 컨택트 부분(10)의 슬리브 바닥에 배치된 스프링 수단을 개략적으로 도시한다.
상기 전기 전도성 스프링 수단(26)은, 예컨대 서브 도면(a) 및 (b)를 포함하는 도 5의 상세도 및 도 6의 사시도에 도시된 바와 같이, 복수의 (이 경우에서는 4개) 개별 스프링 핀들(28)로서 구현될 수 있으며, 개별 스프링 핀들(28)은 접지 컨택트 부분(28)의 슬리브 바닥에서 원주에 걸쳐 균일하게 분포되고, 연결 파트너의 (바로 이 경우에서는 환형인) 전면(30)에 결합하도록 구성된다.
보다 정확하게는, 상기 스프링 핀들에는, 최고의 공차 보상을 가능하게 하고 높은 컨택트 품질 및 낮은 마모성을 보장하면서, 접지 컨택트를 수립하기 위한 연결 파트너(16)의 링 표면(30) 상에, 바로 이 경우에서는 챙 없는 모자 형(calotte-like) 윤곽을 갖는, 각각의 스프링 핀의 접지 헤드(34)를 미는 압축 코일 스프링(32)이 제공된다.
다른 실시예에서, 도 3 및 도 4의 예시는 도 1 및 도 2의 원리에 대한 대안적인 본 발명에 따른 해결책 원리를 도시하고; 도 3 및 도 4의 실시예에서, 접지 컨택트 부분(10')은 (테스트 상태 또는 컨택트 상태에서 접지 컨택트 부분(10')을 둘러싸는, 컨택트 파트너의 접지 컨택트 부분(14')에 대해) 방사상으로 내측에 위치하며, 이에 반해 도 3 및 도 4에 따른 대안적인 고주파 테스트 커넥터 장치(12')의 내부 컨택트(20)는 상기 테스트 또는 연결 상태에서 파트너의 할당 및 관련 동축 내부 컨택트(22)와 만난다. 이 실시예에서, 전기 전도성 스프링 수단은 접지 컨택트 부분(10')의 전단에서 접지 컨택트를 수립하도록 구성된다. 그레이 모듈(26')(도 4)에 의해 개략적으로 보여지고 상징된 바와 같이, 도 5 및 도 6의 도시된 예시와 유사하게 원주에 걸쳐 (바람직하게는 균일하게) 분포된 복수의 개별 스프링 핀들로서 다시 구현되는 전기 전도성 스프링 수단은 (원통형) 접지 컨택트 부분의 전단에 제공되는데, 이는 본 발명에 따른 공차-보상, 스프링 인가 및 접지에 대해 신뢰 가능한 방식으로 (연결 파트너(16')의 슬리브 부분(14')의 바닥에서 환형 숄더(shoulder)로 구현되는) 접지 내부 부분(40)에 이들이 결합하는 것을 허용한다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 변형예들(도 1 및 도 2의 변형예 및 도 3 및 도 4의 변형예) 모두에 역시 적합한, 스프링 핀들에 대안적인 전기 전도성 스프링 수단을 구현하기 위한 옵션을 도시한다.
예컨대, 도 7의 실시예는 8개로 이루어진 복수의 핀형 컨택트 레그 각각의 자유 단부가 링 지지부(44)로부터 비스듬하게 방사상 내측으로 돌출되는 환형 컨택트 레그 모듈로서 본 발명에 따른 이들 전기 전도성 스프링 수단의 구성을 개시한다("방사상"은 또한 도 7의 예시와 같이, 본 발명의 의미 내에서 벡터의 방사상 성분(vectorial radial component)으로 해석되어야 한다). 이 실시예에서, 조립체는 적합한 다이-컷팅부 및 벤딩 부분(bent part)으로 하나의 부품(one piece)으로 구현되고 접지 컨택트를 제공하기 위해 스프링 특성을 가진다.
본 발명에 따른 이러한 종류의 전기 전도성 스프링 수단의 (개념적으로 도시된 모듈(26)과 모듈(26') 모두를 구현하는데 다시 적합한) 왕관형 구현의 대안적인 실시예는 다수의 도면에 의해 도 8의 실시예에 도시되어 있다. 이 경우에서, 밀링 부분(milled part)으로 구현된 다수(8개로 이루어진 복수)의 (원주방향으로 분포된) 컨택트 레그는 링 지지부(44')로부터 연장되고 도 8에 도시된 바와 같이 링 지지부를 따라 섹션들로(in sections) (축방향으로) 중첩(overlap)되며, 컨택트 레그(46)가 환형 지지 부분(44')과 대략 평면을 이루지만 그로부터 축방향 거리(axial distance)에 배치되므로, 각각의 자유 레그 단부(free leg ends)는 본 발명에 따른 접지 컨택트의 공차 보상 수립(tolerance-compensating establishment)을 위해 환형으로 이루어진 일련의 컨택트 포인트(contact points)를 제공한다.
도시된 실시예는 단지 예시적인 본질을 가진다; 예컨대, 도 7 또는 8의 모듈이 폼형(foam-like) 및/또는 쿠션형 탄성 몸체(elastic bodies)로, 다시 본 발명에 따른 컨택트 파트너들 사이의 접지 컨택트의 공차 보상 수립(establishment)의 해결책으로 보충되는(또는 심지어 대체되는) 것이, 특히 본 발명에 의해 또한 가능하게 되고 예상된다.

Claims (10)

  1. 내부 도체 부분(22)에 대하여 외부에 슬리브 부분(14:14‘)을 가지는, 동축 고주파 커넥터 모듈, 특히 동축 고주파 커넥터 소켓 형태의 연결 파트너(16;16')와 분리 가능하고 고주파 컨택트-수립 및 기능-테스트 상호 작용을 위한 고주파 테스트 커넥터 장치(12;12')로서, 상기 장치(12;12')는 이동 및 연결의 길이방향 축을 따라 수동으로 또는 기계에 의해 상기 연결 파트너와 결합되기 위한 적어도 부분적으로 슬리브형인 어댑터 하우징을 포함하고
    상기 어댑퍼 하우징은, 센터링 및 슬라이딩 방식으로 상기 연결 파트너의 상기 슬리브 부분 위에 결합하기 위해 또는 상기 연결 파트너와 함께 접지 컨택트를 수립하도록 센터링 방식으로 상기 슬리브 부분 내에 결합하기 위해 하나의 축방향 단부 상에 슬리브형 접지 컨택트 부분(10;10')을 가지며,
    타단에 외부 고주파 신호 컨택트(18), 특히 고주파 연결 부분 또는 고주파 연결 케이블을 수립하기 위한 수단, 및
    상기 접지 컨택트 부분에서 중심적으로, 이동 및 연결 축에 동축으로 그리고 바람직하게는 스프링 장착 방식으로 안내되며, 상기 접지 컨택트 부분(10;10')으로부터 절연된, 내부 컨택트(20)를 포함하되,
    상기 접지 컨택트 부분은,
    상기 연결 파트너(16)의 상기 슬리브 부분(14) 위로의 결합을 위해, 상기 연결 파트너의 단부측 면(30)이 이동 및 연결 축을 따라 컨택트 설정 방식으로 그리고 스프링 장착 방식으로 상기 접지 컨택트 부분(10)의 슬리브 바닥에 형성되는 상기 스프링 수단(26) 상에 결합할 수 있는; 또는,
    상기 연결 파트너(16')의 슬리브 부분(14') 내로의 결합을 위해, 상기 접지 컨택트 부분(10')의 전면 단부로부터 돌출된 상기 스프링 수단(26')이, 이동 및 연결 축을 따라 컨택트 설정 방식으로 그리고 스프링 장착 방식으로 상기 연결 파트너의 내부 부분(40), 특히 내부 숄더 상에 결합할 수 있는; 방식으로 할당된 접지 컨택트를 설정하기 위한 전기 전도성 스프링 수단(26;26',28;42,44;44',46)을 구비하는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 스프링 수단은 상기 원주방향을 가로질러 바람직하게는 균일하게 분포된 복수의 개별 스프링 핀(28)들로 구현되고,
    각각의 스프링 핀(28)은 이동 및 연결의 길이방향 축에 평행한 핀 스프링 축을 따라 스프링 장착에 의해 상기 연결 파트너와의 접지 컨택트를 설정할 수 있는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 스프링 핀들의 수는 적어도 4개인 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 스프링 핀들 중 적어도 하나는 상기 연결 파트너의 방향으로 프로파일링 및/또는 적어도 부분적으로 테이퍼링 및/또는 뾰족한 컨택트 헤드(34)를 가지는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 스프링 수단은 바람직하게는 환형 컨택트 레그 모듈(도 7,8)로 구현되며,
    복수의 원주방향으로 배치된, 바람직하게는 핀형 컨택트 레그(42;46)의 상기 자유 단부는 스프링 장착 및 접지 컨택트 설정 방식으로 상기 연결 파트너(16;16')의 단부측 면(30) 및/또는 접지 내부 부분(40) 상에 결합할 수 있는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 컨택트 레그 모듈의 링 지지부(44;44')와 바람직하게는 일체인 적어도 3개, 바람직하게는 적어도 6개의 컨택트 레그는, 상기 링 지지부를 따라 섹션들로(in sections) 배치되고 서로(46) 중첩하도록 배향되거나 또는 상기 링 지지부로부터 방사상 내측(42)으로 연장하도록 배향되는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 스프링 수단은 바람직하게는 에칭 및 절곡부 또는 다이-컷팅부 및 벤딩부 또는 밀링부로 구현되는 왕관형 금속 모듈로 구현되는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 스프링 수단은 전기 전도성 금속 및/또는 중합체 및/또는 엘라스토머 쿠션 및/또는 스폰지 모듈로 구현되거나 이러한 종류의 쿠션 및/또는 스폰지 부분을 가지는 것을 특징으로 하는 고주파 테스트 커넥터 장치.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 따른 상기 고주파 테스트 커넥터 장치를 가지는 고주파 테스트 시스템으로서, 전자 고주파 테스트 유닛은 외부 컨택트를 설정하기 위한 상기 수단에 연결되거나 연결될 수 있으며, 연결 파트너로서, 적어도 하나의 동축 고주파 커넥터 모듈은 테스트될 고주파 전자 구성요소를 제공하거나 연결되는 고주파 테스트 시스템.
  10. 1 GHz 이상, 특히 2 GHz 및 6 GHz 사이의 작동 및/또는 테스트 주파수 범위 내에서 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 따른 상기 고주파 테스트 커넥터 장치의 용도 및/또는 제9항에 따른 상기 고주파 테스트 시스템의 용도.
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