KR20200097698A - Copper foil with insulating resin layer formed - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 고밀도의 미세 배선이 형성된 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판에 바람직하게 사용할 수 있는 절연성 수지층이 형성된 동박의 제공을 목적으로 한다. 본 발명의 절연성 수지층이 형성된 동박은, 동박과, 상기 동박에 적층된 절연성 수지층을 포함하고, 상기 절연성 수지층과 접하는 상기 동박 면의 산술 평균 조도 (Ra) 가 0.05 ∼ 2 ㎛ 이고, 상기 절연성 수지층이, (A) 열경화성 수지, (B) 구상 필러 및 (C) 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유를 함유하는 수지 조성물로 이루어진다.It is an object of the present invention to provide a copper foil with an insulating resin layer that can be preferably used for a thin printed wiring board on which high-density fine wiring is formed and a substrate for mounting a semiconductor element. The copper foil on which the insulating resin layer of the present invention is formed includes a copper foil and an insulating resin layer laminated on the copper foil, and the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the copper foil in contact with the insulating resin layer is 0.05 to 2 μm, and the The insulating resin layer is made of a resin composition containing (A) a thermosetting resin, (B) a spherical filler, and (C) short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm.

Figure P1020207015534
Figure P1020207015534

Description

절연성 수지층이 형성된 동박Copper foil with insulating resin layer formed

본 발명은, 절연성 수지층이 형성된 동박에 관한 것이다. 상세하게는, 본 발명은, 프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 빌드업 재료로서 유용한 절연성 수지층이 형성된 동박에 관한 것이다.The present invention relates to a copper foil with an insulating resin layer formed thereon. Specifically, the present invention relates to a copper foil provided with an insulating resin layer useful as a build-up material for a printed wiring board or a substrate for mounting semiconductor elements.

전자 기기, 통신 기기 및 퍼스널 컴퓨터 등에 널리 사용되는 반도체 패키지의 고기능화 및 소형화는, 최근 점점 가속되고 있다. 그것에 수반하여, 반도체 패키지에 있어서의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판의 박형화가 요구되고 있다.[0002] The increase in functionality and miniaturization of semiconductor packages widely used in electronic devices, communication devices, personal computers, and the like has been accelerating in recent years. Along with this, there is a demand for thinner printed wiring boards and substrates for mounting semiconductor elements in semiconductor packages.

박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판의 제조 방법으로서, 예를 들어, 특허문헌 1 은, 스테인리스강 등 강성이 높고, 두꺼운 지지 기판 (캐리어 기판) 상에, 이후의 공정에 있어서 박리 가능한 구리의 층을 형성한 적층체 상에, 패턴 도금에 의해 회로 패턴을 형성하고, 에폭시 수지 피복 파이버 글라스와 같은 절연층을 적층하여 가열 및 가압 처리하고, 마지막으로 지지 기판을 박리, 제거하여 박형의 프린트 배선판을 제조하는 방법을 개시하고 있다. 이와 같이, 강성이 높고, 두꺼운 지지 기판 상에 회로 패턴과 절연 재료를 적층시키고, 마지막으로 지지 기판을 박리, 제거함으로써, 기존의 제조 장치로도 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 제조할 수 있다.As a manufacturing method of a thin printed wiring board and a substrate for mounting a semiconductor element, for example, Patent Document 1 is made of copper that can be peeled off in a subsequent step on a thick support substrate (carrier substrate) with high rigidity such as stainless steel. On the layered laminate, a circuit pattern is formed by pattern plating, an insulating layer such as an epoxy resin coated fiber glass is laminated to heat and pressurize, and finally the support substrate is peeled off and removed to form a thin printed wiring board. Disclosed is a method of manufacturing. In this way, by laminating a circuit pattern and an insulating material on a high rigidity, thick support substrate, and finally peeling and removing the support substrate, it is possible to manufacture a thin printed wiring board and a semiconductor element mounting substrate even with an existing manufacturing apparatus. I can.

또, 다층 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판은, 전자 부품의 실장 밀도를 향상시키기 위해, 도체 배선의 미세화가 진행되고 있다. 도체 배선은, 통상적으로, 절연성 수지층에 대하여, 무전해 도금 및 전해 도금을 사용하여 도체층을 형성한다. 특허문헌 2 에는, 프린트 배선판의 절연성 수지층의 형성에 사용할 수 있는 수지 조성물에 대한 기재가 있다.In addition, in the multilayer printed wiring board and the semiconductor element mounting board, miniaturization of conductor wiring is progressing in order to improve the mounting density of electronic components. In the conductor wiring, a conductor layer is usually formed by using electroless plating and electrolytic plating on the insulating resin layer. In Patent Document 2, there is a description of a resin composition that can be used for formation of an insulating resin layer of a printed wiring board.

일본 공표특허공보 소59-500341호Japanese Patent Publication No. 59-500341 일본 공개특허공보 2015-67626호Japanese Unexamined Patent Publication No. 2015-67626

그러나, 박형화를 목적으로, 지지 기판을 사용하지 않고 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 제조하고자 하는 경우, 기존의 제조 장치를 사용하면, 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판이 부러지는 것, 혹은 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판이 컨베이어에 감기는 것 등의 문제를 발생시킨다. 그 때문에, 기존의 제조 장치를 사용하여, 박형화를 목적으로 한 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 제조하는 것은 곤란하다.However, in the case of manufacturing a printed wiring board and a substrate for mounting semiconductor elements without using a support substrate for the purpose of thinning, if an existing manufacturing apparatus is used, the printed wiring board and the substrate for mounting semiconductor elements may be broken or printed. Problems such as the wiring board and the substrate for mounting semiconductor elements being wound on a conveyor occur. Therefore, it is difficult to manufacture a printed wiring board and a substrate for mounting semiconductor elements for the purpose of reducing the thickness using an existing manufacturing apparatus.

또, 특허문헌 2 에 있어서 구체적으로 개시되어 있는 것은, 수지 조성물로 구성되는 층이, 지지체로서 폴리에틸렌테레프탈레이트 (이하,「PET」라고 칭하는 경우도 있다) 의 필름 상에 형성되어 이루어지는 접착 필름이다. 특허문헌 2 에서는, 이 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 그 후, 수지 조성물을 경화시켜 절연성 수지층 (절연층) 을 형성하고, 이 절연성 수지층을 프린트 배선판에 사용한다.In addition, what is specifically disclosed in Patent Document 2 is an adhesive film formed by forming a layer composed of a resin composition on a film of polyethylene terephthalate (hereinafter, sometimes referred to as "PET") as a support. In Patent Document 2, the PET film is peeled from this adhesive film, and thereafter, the resin composition is cured to form an insulating resin layer (insulating layer), and this insulating resin layer is used for a printed wiring board.

그러나, 경화 후의 절연성 수지층의 표면 조도가 낮기 때문에, 무전해 도금 및/또는 전해 도금을 사용하여 형성되는 도체층과의 밀착성이 낮다. 그 때문에, 통상적으로 밀착성을 얻기 위해, 무전해 도금 또는 전해 도금 전에 절연성 수지층에 대하여 디스미어 처리 등의 조화 처리를 실시한다. 조화 처리를 실시한 절연성 수지층의 표면에는, 수지 조성물 중의 유리 섬유 등의 무기물이 노출되어 있어 (돌출되어 있어), 표면이 거칠어져 있다. 또, 무기물이 절연성 수지층으로부터 탈락함으로써, 절연성 수지층에 큰 함몰공이 형성된다는 문제도 갖는다. 또한, 구멍의 표면으로부터 유리 섬유 등의 무기물이 노출되어 있는 점에서, 레이저 가공기를 사용하여 다층 프린트 배선판 (이하,「BVH」라고 칭하는 경우도 있다) 을 형성할 때, 도금의 이상 석출이나 BVH 의 접속 신뢰성의 악화를 일으킨다는 문제도 갖는다. 이와 같은 절연성 수지층의 표면에 고밀도의 미세 배선을 형성하는 것은 어렵고, 특허문헌 2 에 있어서의 접착 필름으로부터는, 고밀도의 미세 배선이 형성된 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 제조하는 것은 곤란하다.However, since the surface roughness of the insulating resin layer after curing is low, the adhesion with the conductor layer formed using electroless plating and/or electrolytic plating is low. Therefore, in order to obtain adhesiveness, roughening treatment such as desmear treatment is usually performed on the insulating resin layer before electroless plating or electrolytic plating. On the surface of the insulating resin layer subjected to the roughening treatment, inorganic substances such as glass fibers in the resin composition are exposed (protruded), and the surface is rough. In addition, there is also a problem that large depressions are formed in the insulating resin layer by the inorganic material falling out of the insulating resin layer. In addition, since inorganic substances such as glass fibers are exposed from the surface of the hole, when forming a multilayer printed wiring board (hereinafter, sometimes referred to as ``BVH'') using a laser processing machine, abnormal precipitation of plating or BVH There is also a problem that connection reliability deteriorates. It is difficult to form high-density fine wiring on the surface of such an insulating resin layer, and it is difficult to manufacture a printed wiring board with high-density fine wiring and a substrate for mounting a semiconductor element from the adhesive film in Patent Document 2.

본 발명은, 이와 같은 과제를 감안하여 이루어진 것으로서, 고밀도의 미세 배선이 형성되고, 양호한 도통공이 형성된 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판의 제조에 바람직하게 사용할 수 있는 절연성 수지층이 형성된 동박의 제공을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of such a problem, and is made of copper foil with an insulating resin layer that can be preferably used in the manufacture of a thin printed wiring board with high-density fine wiring and good through holes and a substrate for mounting semiconductor elements. It is for the purpose of providing.

본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토를 거듭한 결과, 강성이 높고, 절연성 수지층과의 밀착성이 우수한 동박에, 동박과의 밀착성이 높고, 인성이 높은 절연성 수지층이 적층된 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용함으로써, 고밀도의 미세 배선이 형성되고, 양호한 도통공이 형성된 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 얻을 수 있는 것을 알아내어, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.The present inventors, as a result of repeated intensive studies in order to solve the above problems, resulted in a laminated insulating resin layer having high rigidity and excellent adhesion to the insulating resin layer on a copper foil having high adhesion to the copper foil and high toughness. By using the copper foil on which the formation layer was formed, it was found that high-density fine wiring was formed and a thin printed wiring board and a semiconductor element mounting substrate with good through holes formed could be obtained, and the present invention was completed.

즉, 본 발명은 이하와 같다.That is, the present invention is as follows.

〔1〕동박과, 상기 동박에 적층된 절연성 수지층을 포함하고, 상기 절연성 수지층과 접하는 상기 동박 면의 산술 평균 조도 (Ra) 가 0.05 ∼ 2 ㎛ 이고, 상기 절연성 수지층이, (A) 열경화성 수지, (B) 구상 필러 및 (C) 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유를 함유하는 수지 조성물로 이루어지는, 절연성 수지층이 형성된 동박.(1) A copper foil and an insulating resin layer laminated on the copper foil, the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the copper foil in contact with the insulating resin layer is 0.05 to 2 µm, and the insulating resin layer is (A) A copper foil with an insulating resin layer formed of a resin composition containing a thermosetting resin, (B) a spherical filler, and (C) short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm.

〔2〕상기 절연성 수지층의 두께가 3 ∼ 50 ㎛ 인,〔1〕에 기재된 동박.[2] The copper foil according to [1], wherein the insulating resin layer has a thickness of 3 to 50 µm.

〔3〕상기 동박의 두께가 1 ∼ 18 ㎛ 인,〔1〕또는〔2〕에 기재된 동박.[3] The copper foil according to [1] or [2], wherein the thickness of the copper foil is 1 to 18 µm.

〔4〕상기 유리 단섬유의 섬유 직경이 1 ∼ 15 ㎛ 인,〔1〕∼〔3〕중 어느 하나에 기재된 동박.[4] The copper foil according to any one of [1] to [3], wherein the fiber diameter of the short glass fibers is 1 to 15 µm.

〔5〕상기 유리 단섬유의 함유량이, 상기 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 450 질량부인,〔1〕∼〔4〕중 어느 하나에 기재된 동박.[5] The copper foil according to any one of [1] to [4], wherein the content of the short glass fibers is 5 to 450 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition.

〔6〕상기 유리 단섬유가 밀드화 섬유인,〔1〕∼〔5〕중 어느 하나에 기재된 동박.[6] The copper foil according to any one of [1] to [5], wherein the short glass fibers are milled fibers.

〔7〕상기 구상 필러의 함유량이, 상기 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 50 ∼ 500 질량부인,〔1〕∼〔6〕중 어느 하나에 기재된 동박.[7] The copper foil according to any one of [1] to [6], wherein the content of the spherical filler is 50 to 500 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition.

〔8〕상기 열경화성 수지가, 에폭시 수지, 시안산에스테르 화합물, 말레이미드 화합물, 페놀 수지, 열경화 변성 폴리페닐렌에테르 수지, 벤조옥사진 화합물, 유기기 변성 실리콘 화합물 및 중합 가능한 불포화기를 갖는 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 함유하는,〔1〕∼〔7〕중 어느 하나에 기재된 동박.(8) The thermosetting resin is an epoxy resin, a cyanate ester compound, a maleimide compound, a phenol resin, a thermosetting modified polyphenylene ether resin, a benzoxazine compound, an organic group-modified silicone compound, and a compound having a polymerizable unsaturated group. The copper foil according to any one of [1] to [7], containing at least one selected from the group consisting of.

〔9〕프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 빌드업 재료용인,〔1〕∼〔8〕중 어느 하나에 기재된 동박.[9] The copper foil according to any one of [1] to [8], for use as a build-up material for a printed wiring board or a substrate for mounting semiconductor elements.

본 발명에 의하면, 동박과 절연성 수지층의 밀착 강도가 높고, 또한 인성이 높은 절연성 수지층이 동박에 적층된 절연성 수지층이 형성된 동박을 바람직하게 얻을 수 있다. 본 발명의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용함으로써, 고밀도의 미세 배선이 형성되고, 양호한 도통공이 형성된 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 얻을 수 있다.According to the present invention, a copper foil having an insulating resin layer in which an insulating resin layer having high adhesion strength between a copper foil and an insulating resin layer is high, and an insulating resin layer having high toughness is laminated on the copper foil can be preferably obtained. By using the copper foil with the insulating resin layer of the present invention, it is possible to obtain a thin printed wiring board and a semiconductor element mounting substrate in which high-density fine wiring is formed and good conductive holes are formed.

또, 프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 제조시에, 동박을 에칭한 후에 도금 처리를 실시해도, 동박 면이 절연성 수지층에 전사되어 있는 점에서 절연성 수지층과 도금 사이의 밀착성이 향상된다.Moreover, even if plating treatment is performed after etching the copper foil at the time of manufacturing a printed wiring board or a substrate for mounting a semiconductor element, since the surface of the copper foil is transferred to the insulating resin layer, the adhesion between the insulating resin layer and the plating is improved.

도 1 은, 레이저 가공을 사용하여 프린트 배선판에 구멍뚫기를 실시하였을 때의 도통공의 표면 상태를 나타내는 모식도이다.
도 2 는, 레이저 가공 후의 개구부 표면의 SEM 이미지이다 (실시예 1).
도 3 은, 레이저 가공 후의 개구부 표면의 SEM 이미지이다 (비교예 3).
1 is a schematic diagram showing a surface state of a through hole when a hole is drilled in a printed wiring board using laser processing.
2 is an SEM image of the surface of the opening after laser processing (Example 1).
3 is an SEM image of the surface of the opening after laser processing (Comparative Example 3).

이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태 (이하, 간단히「본 실시형태」라고 칭한다) 에 대해 상세하게 설명하는데, 본 발명은 하기 본 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 본 발명은, 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변형이 가능하다. 본 명세서에 있어서, 적층체는, 각 층이 서로 접착된 것이지만, 그 각 층은, 필요에 따라, 서로 박리 가능한 것이어도 된다.Hereinafter, an embodiment for carrying out the present invention (hereinafter, simply referred to as "the present embodiment") will be described in detail, but the present invention is not limited to the following present embodiment. The present invention can be variously modified without departing from the gist of the present invention. In the present specification, in the laminate, each layer is adhered to each other, but the respective layers may be peelable from each other as necessary.

본 실시형태에 있어서,「수지 고형분」또는「수지 조성물 중의 수지 고형분」이란, 특별히 언급이 없는 한, 수지 조성물에 있어서의 용제 및 충전재를 제외한 성분을 말하며,「수지 고형분 100 질량부」란, 수지 조성물에 있어서의 용제 및 충전재를 제외한 성분의 합계가 100 질량부인 것을 말한다.In this embodiment, the term "resin solid content" or "resin solid content in the resin composition" refers to a component excluding a solvent and a filler in the resin composition, unless otherwise specified, and "resin solid content 100 parts by mass" refers to resin It means that the total of the components excluding the solvent and the filler in the composition is 100 parts by mass.

[절연성 수지층이 형성된 동박][Copper foil with insulating resin layer formed]

본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박은, 동박에 수지 조성물로 이루어지는 절연성 수지층이 적층된 것이다. 본 실시형태의 동박은, 절연성 수지층과 접하는 동박 면의 산술 평균 조도 (Ra) 가 0.05 ∼ 2 ㎛ 이다. 본 실시형태의 수지 조성물은, (A) 열경화성 수지, (B) 구상 필러 및 (C) 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유를 함유한다.The copper foil on which the insulating resin layer of the present embodiment was formed is obtained by laminating an insulating resin layer made of a resin composition on the copper foil. In the copper foil of this embodiment, the arithmetic mean roughness Ra of the copper foil surface in contact with the insulating resin layer is 0.05 to 2 µm. The resin composition of the present embodiment contains (A) a thermosetting resin, (B) a spherical filler, and (C) short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm.

본 실시형태에서는, 강성이 높고, 절연성 수지층과의 밀착성이 우수한 동박에, 동박과의 밀착성이 높고, 인성이 높은 절연성 수지층이 적층되기 때문에, 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용하여 프린트 배선판을 제조해도, 그 제조 공정에 있어서, 얇은 절연성 수지층이 파괴되지 않고, 또, 동박과 절연성 수지층이 박리되지 않는다. 또한, 양호한 형상의 도통공을 형성할 수 있다.In this embodiment, since an insulating resin layer having high adhesion to copper foil and high toughness is laminated on a copper foil having high rigidity and excellent adhesion to the insulating resin layer, the copper foil provided with the insulating resin layer of this embodiment is used. Even if the printed wiring board is manufactured by doing so, in the manufacturing process, the thin insulating resin layer is not destroyed, and the copper foil and the insulating resin layer are not peeled off. Further, it is possible to form a conductive hole of a good shape.

본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박은, 전자 기기, 통신 기기 및 퍼스널 컴퓨터 등의 제조에 사용할 수 있고, 프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 빌드업 재료로서 유용하다. 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판의 빌드업 재료로서 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용하면, 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판의 최표면에 동박을 적층시킬 수 있기 때문에, 최표면의 동박에 대하여, 직접 회로 패턴을 형성할 수 있다. 또, 프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 제조시에, 동박을 에칭한 후에 도금 처리를 실시해도, 동박 면이 절연성 수지층에 전사되어 있는 점에서 절연성 수지층과 도금 사이의 밀착성이 향상된다. 그 때문에, 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용함으로써, 고밀도의 미세 배선이 형성된 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 얻을 수 있다.The copper foil provided with the insulating resin layer of the present embodiment can be used for manufacturing electronic devices, communication devices, personal computers, and the like, and is useful as a build-up material for a printed wiring board or a substrate for mounting semiconductor elements. When the copper foil with the insulating resin layer of the present embodiment is used as the build-up material for the printed wiring board and the semiconductor element mounting substrate, the copper foil can be laminated on the outermost surface of the printed wiring board and the semiconductor element mounting substrate. With respect to copper foil, an integrated circuit pattern can be formed. Moreover, even if plating treatment is performed after etching the copper foil at the time of manufacturing a printed wiring board or a substrate for mounting a semiconductor element, since the surface of the copper foil is transferred to the insulating resin layer, the adhesion between the insulating resin layer and the plating is improved. Therefore, by using the copper foil on which the insulating resin layer of the present embodiment is formed, a thin printed wiring board and a semiconductor element mounting substrate with high-density fine wiring can be obtained.

〔동박〕〔Copper foil〕

본 실시형태의 동박으로는, 통상적인 프린트 배선판에 사용되는 동박 또는 구리 필름이고, 절연성 수지층과 접하는 동박 면의 산술 평균 조도 (Ra) 가 0.05 ∼ 2 ㎛ 이면, 특별히 한정되지 않는다. 동박의 구체예로는, 전해 동박, 압연 동박 및 구리 합금 필름을 들 수 있다. 동박 또는 구리 필름에는, 예를 들어, 매트 처리, 코로나 처리, 니켈 처리 및 코발트 처리 등의 공지된 표면 처리가 실시되어 있어도 된다.The copper foil of the present embodiment is not particularly limited as long as it is a copper foil or a copper film used for an ordinary printed wiring board, and the arithmetic mean roughness (Ra) of the copper foil surface in contact with the insulating resin layer is 0.05 to 2 µm. As a specific example of a copper foil, an electrolytic copper foil, a rolled copper foil, and a copper alloy film are mentioned. The copper foil or copper film may be subjected to known surface treatments such as mat treatment, corona treatment, nickel treatment, and cobalt treatment, for example.

동박 면의 산술 평균 조도 (Ra) 는, 동박과 절연성 수지층의 밀착 강도를 향상시켜, 장기간 사용에 있어서의 층의 박리를 방지할 수 있는 점에서, 통상적으로 0.05 ∼ 2 ㎛ 의 범위이고, 0.08 ∼ 1.7 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하고, 동박과 절연성 수지층의 보다 우수한 밀착성을 얻을 수 있는 점에서, 0.2 ∼ 1.6 ㎛ 의 범위인 것이 보다 바람직하다. 본 실시형태에 있어서, 산술 평균 조도가 상기 범위에 있는 동박을 포함하는 절연성 수지층이 형성된 동박은, 고밀도의 미세 배선이 형성된 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판의 제조에 바람직하게 사용할 수 있다. 또, 산술 평균 조도가 0.05 ㎛ 미만이면, 동박과 수지 사이의 밀착 강도가 얻어지지 않을 우려가 있고, 2 ㎛ 를 초과하면, 배선 형성시에 하부 잔류물이 발생하기 쉬워 미세한 배선을 형성할 수 없을 우려가 있다. 또한, 산술 평균 조도는, 시판되는 형상 측정 현미경 (레이저 현미경, 예를 들어, 키엔스 주식회사 제조의 VK-X210 (상품명)) 을 사용하여 측정할 수 있다. 구체적인 측정 방법은, 실시예에 기재된 바와 같다.The arithmetic average roughness (Ra) of the copper foil surface is usually in the range of 0.05 to 2 µm, and 0.08 from the viewpoint of improving the adhesion strength between the copper foil and the insulating resin layer and preventing peeling of the layer in long-term use. It is preferable that it is in the range of -1.7 micrometers, and it is more preferable that it is the range of 0.2-1.6 micrometers from the point which can obtain more excellent adhesiveness between a copper foil and an insulating resin layer. In the present embodiment, the copper foil with an insulating resin layer comprising copper foil having an arithmetic average roughness in the above range can be preferably used for manufacturing a printed wiring board with high-density fine wiring and a substrate for mounting semiconductor elements. In addition, if the arithmetic mean roughness is less than 0.05 µm, there is a fear that adhesion strength between the copper foil and the resin may not be obtained, and if it exceeds 2 µm, lower residues are likely to occur during wiring formation, and fine wiring cannot be formed. There is concern. In addition, the arithmetic mean roughness can be measured using a commercially available shape measuring microscope (laser microscope, for example, VK-X210 (brand name) manufactured by Keyence Corporation). The specific measurement method is as described in Examples.

동박의 두께는, 본 실시형태의 효과를 발휘하는 한, 특별히 한정되지 않지만, 1 ∼ 18 ㎛ 의 범위가 바람직하고, 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 바람직하게 얻을 수 있는 점에서, 2 ∼ 15 ㎛ 의 범위인 것이 보다 바람직하다. 동박의 두께가 1 ㎛ 미만이면, 동박의 표면의 조화 처리가 곤란해지고, 18 ㎛ 를 초과하면, 비용의 면 또는 구멍 가공성이 불리해진다.The thickness of the copper foil is not particularly limited as long as the effect of the present embodiment is exhibited, but the range of 1 to 18 µm is preferable, and a thin printed wiring board and a semiconductor element mounting substrate can be preferably obtained. It is more preferable that it is a range of -15 micrometers. When the thickness of the copper foil is less than 1 µm, roughening treatment on the surface of the copper foil becomes difficult, and when it exceeds 18 µm, the cost or hole workability becomes disadvantageous.

동박으로는, 예를 들어, JX 금속 (주) 제조의 GHY5 (상품명, 12 ㎛ 두께 동박), 미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-VLP (상품명, 12 ㎛ 두께 동박), 3EC-III (상품명, 12 ㎛ 두께 동박) 및 3EC-M2S-VLP (상품명, 12 ㎛ 두께 동박), 후루카와 전기 흥업 (주) 제조의 동박 GTS-MP (상품명, 12 ㎛ 두께 동박) 및 JX 금속 (주) 제조의 JXUT-I (상품명, 1.5 ㎛ 두께 동박) 의 시판품을 사용할 수 있다.As a copper foil, for example, JX Metal Co., Ltd. GHY5 (brand name, 12 µm-thick copper foil), Mitsui Metal Mining Co., Ltd. 3EC-VLP (brand name, 12 µm-thick copper foil), 3EC-III (brand name , 12 μm thick copper foil) and 3EC-M2S-VLP (brand name, 12 μm thick copper foil), copper foil GTS-MP (brand name, 12 μm thick copper foil) manufactured by Furukawa Electric Heung-up Co., Ltd. and JXUT manufactured by JX Metals Inc. A commercial item of -I (brand name, 1.5 µm-thick copper foil) can be used.

〔수지 조성물〕[Resin composition]

(A) 열경화성 수지(A) thermosetting resin

본 실시형태의 수지 조성물에는, 내열성, 절연성, 도금 밀착성의 점에서, 열경화성 수지를 함유한다. 열경화성 수지로는, 프린트 배선판의 절연층에 사용되는 수지이면 특별히 한정되지 않는다.The resin composition of this embodiment contains a thermosetting resin in terms of heat resistance, insulation, and plating adhesion. The thermosetting resin is not particularly limited as long as it is a resin used for an insulating layer of a printed wiring board.

열경화성 수지의 구체예로는, 에폭시 수지, 시안산에스테르 화합물, 말레이미드 화합물, 페놀 수지, 열경화 변성 폴리페닐렌에테르 수지, 벤조옥사진 화합물, 유기기 변성 실리콘 화합물 및 중합 가능한 불포화기를 갖는 화합물을 들 수 있다.Specific examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, a cyanate ester compound, a maleimide compound, a phenol resin, a thermosetting modified polyphenylene ether resin, a benzoxazine compound, an organic group-modified silicone compound, and a compound having a polymerizable unsaturated group. Can be lifted.

이들 열경화성 수지는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.These thermosetting resins can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

이들 열경화성 수지 중에서도, 우수한 필 강도를 갖는 절연성 수지층이 얻어지는 점에서, 수지 조성물에는, 에폭시 수지 및 시안산에스테르 화합물을 함유하는 것이 바람직하고, 에폭시 수지 및 시안산에스테르 화합물과 함께, 비스말레이미드 화합물을 추가로 함유하는 것이 보다 바람직하다.Among these thermosetting resins, from the viewpoint of obtaining an insulating resin layer having excellent peel strength, the resin composition preferably contains an epoxy resin and a cyanate ester compound, and together with an epoxy resin and a cyanate ester compound, a bismaleimide compound It is more preferable to further contain.

에폭시 수지로는, 1 분자 중에 2 개 이상의 에폭시기를 갖는 것이면 특별히 한정되지 않고, 종래 공지된 임의의 에폭시 수지를 사용할 수 있다.The epoxy resin is not particularly limited as long as it has two or more epoxy groups in one molecule, and any conventionally known epoxy resin can be used.

에폭시 수지의 에폭시 당량은, 접착성 및 가요성을 보다 양호하게 하는 점에서, 250 ∼ 850 g/eq 가 바람직하고, 보다 바람직하게는 250 ∼ 450 g/eq 이다. 에폭시 당량은, 통상적인 방법에 의해 측정할 수 있다.The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 250 to 850 g/eq, and more preferably 250 to 450 g/eq, from the viewpoint of making adhesiveness and flexibility more favorable. The epoxy equivalent can be measured by a conventional method.

에폭시 수지의 구체예로는, 예를 들어, 폴리옥시나프틸렌형 에폭시 수지, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지, 나프탈렌 4 관능형 에폭시 수지, 자일렌형 에폭시 수지, 나프톨아르알킬형 에폭시 수지, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비스페놀 F 형 에폭시 수지, 비스페놀 A 노볼락형 에폭시 수지, 3 관능 페놀형 에폭시 수지, 4 관능 페놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 아르알킬 노볼락형 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 폴리올형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 부타디엔 등의 2 중 결합을 에폭시화한 화합물, 수산기 함유 실리콘 수지류와 에피클로로하이드린의 반응에 의해 얻어지는 화합물을 들 수 있다. 이것들 중에서도, 특히 도금 구리 부착성과 난연성의 점에서, 폴리옥시나프틸렌형 에폭시 수지, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지, 나프탈렌 4 관능형 에폭시 수지, 자일렌형 에폭시 수지, 나프톨아르알킬형 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 이들 에폭시 수지는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.Specific examples of the epoxy resin include, for example, polyoxynaphthylene type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, naphthalene tetrafunctional type epoxy resin, xylene type epoxy resin, naphthol aralkyl type epoxy resin, bisphenol A type Epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol A novolak type epoxy resin, trifunctional phenol type epoxy resin, tetrafunctional phenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, aralkyl novolak type epoxy resin, Reaction of alicyclic epoxy resin, polyol type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, compound obtained by epoxidation of double bonds such as butadiene, hydroxyl group-containing silicone resins and epichlorohydrin The compound obtained by is mentioned. Among these, polyoxynaphthylene-type epoxy resin, biphenylaralkyl-type epoxy resin, naphthalene tetrafunctional epoxy resin, xylene-type epoxy resin, and naphthol aralkyl-type epoxy resin are preferred from the viewpoints of plating copper adhesion and flame retardancy. Do. These epoxy resins can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

본 실시형태에 있어서, 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 내열성 및 경화성의 점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 10 ∼ 80 질량부의 범위가 바람직하고, 30 ∼ 70 질량부의 범위가 특히 바람직하다.In the present embodiment, the content of the epoxy resin is not particularly limited, but from the viewpoint of heat resistance and curability, the range of 10 to 80 parts by mass is preferable, and 30 to 70 parts by mass per 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition. The range is particularly preferred.

시안산에스테르 화합물은, 내약품성, 접착성 등이 우수한 특성을 갖고, 그 우수한 내약품성에 의해, 균일한 조화면을 형성하는 것이 가능하기 때문에, 본 실시형태의 수지 조성물의 성분으로서 바람직하게 사용할 수 있다.Since the cyanate ester compound has excellent properties such as chemical resistance and adhesiveness, and can form a uniform roughened surface due to its excellent chemical resistance, it can be preferably used as a component of the resin composition of the present embodiment. have.

시안산에스테르 화합물의 구체예로는, 예를 들어, 식 (1) 로 나타내는 α-나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물, 식 (2) 로 나타내는 노볼락형 시안산에스테르 화합물, 식 (3) 으로 나타내는 비페닐아르알킬형 시안산에스테르 화합물, 1,3-디시아나토벤젠, 1,4-디시아나토벤젠, 1,3,5-트리시아나토벤젠, 비스(3,5-디메틸 4-시아나토페닐)메탄, 1,3-디시아나토나프탈렌, 1,4-디시아나토나프탈렌, 1,6-디시아나토나프탈렌, 1,8-디시아나토나프탈렌, 2,6-디시아나토나프탈렌, 2,7-디시아나토나프탈렌, 1,3,6-트리시아나토나프탈렌, 4,4'-디시아나토비페닐, 비스(4-시아나토페닐)메탄, 비스(4-시아나토페닐)프로판, 비스(4-시아나토페닐)에테르, 비스(4-시아나토페닐)티오에테르, 비스(4-시아나토페닐)술폰, 2,2'-비스(4-시아나토페닐)프로판, 비스(3,5-디메틸-4-시아나토페닐)메탄을 들 수 있다. 이들 시안산에스테르 화합물은, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.As a specific example of a cyanate ester compound, for example, an α-naphthol aralkyl type cyanate ester compound represented by formula (1), a novolac type cyanate ester compound represented by formula (2), and formula (3) The biphenylaralkyl type cyanate ester compound shown, 1,3-dicyanatobenzene, 1,4-dicyanatobenzene, 1,3,5-tricyanatobenzene, bis(3,5-dimethyl 4-cyanato) Phenyl)methane, 1,3-dicyanatonaphthalene, 1,4-dicyanatonaphthalene, 1,6-dicyanatonaphthalene, 1,8-dicianatonaphthalene, 2,6-dicyanatonaphthalene, 2 ,7-dicyanatonaphthalene, 1,3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4'-dicyanatobiphenyl, bis(4-cyanatophenyl)methane, bis(4-cyanatophenyl)propane, bis( 4-cyanatophenyl)ether, bis(4-cyanatophenyl)thioether, bis(4-cyanatophenyl)sulfone, 2,2'-bis(4-cyanatophenyl)propane, bis(3,5- Dimethyl-4-cyanatophenyl)methane. These cyanate ester compounds can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

이것들 중에서도, 식 (1) 로 나타내는 α-나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물, 식 (2) 로 나타내는 노볼락형 시안산에스테르 화합물, 및 식 (3) 으로 나타내는 비페닐아르알킬형 시안산에스테르 화합물이, 난연성이 우수하고, 경화성이 높고, 또한 경화물의 열팽창 계수가 낮은 점에서 바람직하다.Among these, α-naphthol aralkyl type cyanate ester compound represented by formula (1), novolak type cyanate ester compound represented by formula (2), and biphenylaralkyl type cyanate ester compound represented by formula (3) It is preferable from the viewpoint of excellent flame retardancy, high curability, and low thermal expansion coefficient of the cured product.

[화학식 1][Formula 1]

Figure pct00001
Figure pct00001

(식 (1) 중, R1 은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, n1 은 1 이상의 정수 (整數) 를 나타낸다. n1 은 1 ∼ 50 의 정수인 것이 바람직하다.)(In formula (1), R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, and n 1 represents an integer of 1 or more. It is preferable that n 1 is an integer of 1 to 50.)

[화학식 2][Formula 2]

Figure pct00002
Figure pct00002

(식 (2) 중, R2 는 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, n2 는 1 이상의 정수를 나타낸다. n2 는 1 ∼ 50 의 정수인 것이 바람직하다.)(In formula (2), R 2 represents a hydrogen atom or a methyl group, and n 2 represents an integer of 1 or more. It is preferable that n 2 is an integer of 1 to 50.)

[화학식 3][Chemical Formula 3]

Figure pct00003
Figure pct00003

(식 (3) 중, R3 은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, n3 은 1 이상의 정수를 나타낸다. n3 은 1 ∼ 50 의 정수인 것이 바람직하다.)(In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or a methyl group, and n 3 represents an integer of 1 or more. It is preferable that n 3 is an integer of 1 to 50.)

본 실시형태에 있어서, 시안산에스테르 화합물의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 내열성이나 동박과의 밀착성의 점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 15 ∼ 85 질량부의 범위가 바람직하고, 25 ∼ 65 질량부의 범위가 더욱 바람직하다.In the present embodiment, the content of the cyanate ester compound is not particularly limited, but from the viewpoint of heat resistance and adhesion with copper foil, the range of 15 to 85 parts by mass is preferable with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition, The range of 25 to 65 parts by mass is more preferable.

말레이미드 화합물은, 절연성 수지층의 흡습 내열성을 향상시키는 것이 가능하기 때문에, 본 실시형태의 수지 조성물의 성분으로서 바람직하게 사용할 수 있다.Since the maleimide compound can improve the moisture absorption and heat resistance of the insulating resin layer, it can be preferably used as a component of the resin composition of the present embodiment.

말레이미드 화합물로는, 1 분자 중에 2 개 이상의 말레이미드기를 갖는 것이면 특별히 한정되지 않고, 종래 공지된 임의의 말레이미드 화합물을 사용할 수 있다.The maleimide compound is not particularly limited as long as it has two or more maleimide groups in one molecule, and any conventionally known maleimide compound can be used.

말레이미드 화합물의 구체예로는, 예를 들어, 비스(4-말레이미드페닐)메탄, 2,2-비스{4-(4-말레이미드페녹시)-페닐}프로판, 비스(3,5-디메틸-4-말레이미드페닐)메탄, 비스(3-에틸-5-메틸-4-말레이미드페닐)메탄, 비스(3,5-디에틸-4-말레이미드페닐)메탄 등의 비스말레이미드 화합물 ; 폴리페닐메탄말레이미드를 들 수 있다. 또한, 이들 말레이미드 화합물의 프레폴리머, 혹은 말레이미드 화합물과 아민 화합물의 프레폴리머 등의 형태로 배합할 수도 있다. 이들 말레이미드 화합물은, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.As a specific example of a maleimide compound, for example, bis(4-maleimidephenyl)methane, 2,2-bis{4-(4-maleimidephenoxy)-phenyl}propane, bis(3,5- Bismaleimide compounds such as dimethyl-4-maleimidephenyl)methane, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidephenyl)methane, and bis(3,5-diethyl-4-maleimidephenyl)methane ; Polyphenylmethane maleimide is mentioned. Further, it may be blended in the form of a prepolymer of these maleimide compounds or a prepolymer of a maleimide compound and an amine compound. These maleimide compounds can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

이것들 중에서도, 내열성의 점에서, 비스말레이미드 화합물이 바람직하고, 비스(3-에틸-5-메틸-4-말레이미드페닐)메탄이 보다 바람직하다.Among these, from the viewpoint of heat resistance, a bismaleimide compound is preferred, and bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidephenyl)methane is more preferred.

본 실시형태에 있어서, 말레이미드 화합물의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 내열성과 동박과의 밀착성의 점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 75 질량부의 범위가 바람직하고, 5 ∼ 45 질량부의 범위가 더욱 바람직하다.In the present embodiment, the content of the maleimide compound is not particularly limited, but from the viewpoint of heat resistance and adhesion to copper foil, the range of 5 to 75 parts by mass is preferable with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition. The range of -45 parts by mass is more preferable.

페놀 수지로는, 1 분자 중에 페놀성 수산기를 2 개 이상 갖는 수지이면 특별히 한정되지 않고, 종래 공지된 임의의 페놀 수지를 사용할 수 있다.The phenol resin is not particularly limited as long as it is a resin having two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule, and any conventionally known phenol resin can be used.

페놀 수지의 구체예로는, 예를 들어, 페놀 노볼락 수지, 알킬페놀 노볼락 수지, 비스페놀 A 노볼락 수지, 디시클로펜타디엔형 페놀 수지, 자일록 (Xylok) 형 페놀 수지, 테르펜 변성 페놀 수지, 폴리비닐페놀류, 아르알킬형 페놀 수지 등의 1 분자 내에서 방향족성의 고리에 결합되는 수소 원자가 수산기로 2 개 이상 치환된 화합물을 들 수 있다. 이들 페놀 수지는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.Specific examples of the phenol resin include, for example, phenol novolak resin, alkylphenol novolak resin, bisphenol A novolac resin, dicyclopentadiene type phenol resin, xylok type phenol resin, terpene-modified phenol resin. , Polyvinylphenols, aralkyl-type phenol resins, and the like, in which a hydrogen atom bonded to an aromatic ring in one molecule is substituted with two or more hydroxyl groups. These phenolic resins can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

열경화 변성 폴리페닐렌에테르 수지는, 열가소성 폴리페닐렌에테르 수지와 에폭시 수지를 배합하여 톨루엔 등의 용매에 용해시키고, 촉매로서 2-에틸-4-메틸이미다졸을 첨가하여 가교시킨 수지이다.The thermosetting modified polyphenylene ether resin is a resin obtained by mixing a thermoplastic polyphenylene ether resin and an epoxy resin, dissolving it in a solvent such as toluene, and adding 2-ethyl-4-methylimidazole as a catalyst to crosslink.

벤조옥사진 화합물로는, 기본 골격으로서 옥사진 고리를 갖고 있으면, 특별히 한정되지 않는다. 또, 본 실시형태에 있어서, 벤조옥사진 화합물에는, 나프토옥사진 화합물 등의 다고리 옥사진 골격을 갖는 화합물도 포함된다.The benzoxazine compound is not particularly limited as long as it has an oxazine ring as a basic skeleton. Moreover, in this embodiment, the compound which has a polycyclic oxazine skeleton, such as a naphthooxazine compound, is also contained in a benzoxazine compound.

유기기 변성 실리콘 화합물로는, 특별히 한정되지 않고, 구체예로는, 디(메틸아미노)폴리디메틸실록산, 디(에틸아미노)폴리디메틸실록산, 디(프로필아미노)폴리디메틸실록산, 디(에폭시프로필)폴리디메틸실록산, 디(에폭시부틸)폴리디메틸실록산을 들 수 있다. 이들 유기기 변성 실리콘 화합물은, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.The organic group-modified silicone compound is not particularly limited, and specific examples include di(methylamino)polydimethylsiloxane, di(ethylamino)polydimethylsiloxane, di(propylamino)polydimethylsiloxane, and di(epoxypropyl) Polydimethylsiloxane and di(epoxybutyl)polydimethylsiloxane. These organic group-modified silicone compounds can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

중합 가능한 불포화기를 갖는 화합물로는, 특별히 한정되지 않고, 에틸렌, 프로필렌, 스티렌, 디비닐벤젠, 디비닐비페닐 등의 비닐 화합물 ; 메틸(메트)아크릴레이트, 2-하이드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-하이드록시프로필(메트)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트 등의 1 가 또는 다가 알코올의 (메트)아크릴레이트류 ; 비스페놀 A 형 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스페놀 F 형 에폭시(메트)아크릴레이트 등의 에폭시(메트)아크릴레이트류 ; 벤조시클로부텐 수지 등을 들 수 있다. 이들 중합 가능한 불포화기를 갖는 화합물은, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.The compound having a polymerizable unsaturated group is not particularly limited, and vinyl compounds such as ethylene, propylene, styrene, divinylbenzene, and divinylbiphenyl; Methyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropanedi (meth) acrylate, trimethyl (Meth)acrylates of monohydric or polyhydric alcohols such as allpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, and dipentaerythritol hexa(meth)acrylate; Epoxy (meth)acrylates, such as bisphenol A type epoxy (meth)acrylate and bisphenol F type epoxy (meth)acrylate; Benzocyclobutene resin, etc. are mentioned. These compounds having a polymerizable unsaturated group can be used by appropriately mixing one or two or more.

(B) 구상 필러(B) spherical filler

본 실시형태의 수지 조성물에는, 저열팽창률, 성형성, 충전성 및 강성의 점에서, 구상 필러를 함유한다. 구상 필러로는, 프린트 배선판의 절연층에 사용되는 구상의 필러이면 특별히 한정되지 않는다.The resin composition of this embodiment contains a spherical filler in terms of low thermal expansion coefficient, moldability, filling property, and rigidity. The spherical filler is not particularly limited as long as it is a spherical filler used for the insulating layer of a printed wiring board.

구상 필러는, 특별히 한정되지 않지만, 평균 입자경 (D50) 이 0.01 ∼ 5 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하다. 또한, D50 이란, 메디안 직경을 의미하며, 측정된 분체의 입도 분포를 2 개로 나누었을 때의 큰 쪽과 작은 쪽이 등량이 되는 직경이다. 구상 필러의 D50 값은, 일반적으로는 습식 레이저 회절·산란법에 의해 측정된다.The spherical filler is not particularly limited, but the average particle diameter (D50) is preferably in the range of 0.01 to 5 µm. In addition, D50 means a median diameter, and when the particle size distribution of the measured powder is divided into two, the larger one and the smaller one are equivalent diameters. The D50 value of the spherical filler is generally measured by a wet laser diffraction/scattering method.

구상 필러로는, 예를 들어, 수산화마그네슘, 산화마그네슘, 천연 실리카, 용융 실리카, 아모르퍼스 실리카, 중공 실리카 등의 실리카류 ; 이황화몰리브덴, 산화몰리브덴, 몰리브덴산아연 등의 몰리브덴 화합물 ; 알루미나 ; 질화알루미늄 ; 유리 ; 산화티탄 ; 산화지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 구상 필러는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.Examples of the spherical filler include silicas such as magnesium hydroxide, magnesium oxide, natural silica, fused silica, amorphous silica, and hollow silica; Molybdenum compounds such as molybdenum disulfide, molybdenum oxide, and zinc molybdate; Alumina; Aluminum nitride; Glass ; Titanium oxide; Zirconium oxide and the like. These spherical fillers can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

구상 필러로는, 저열팽창성의 점에서, 구상 용융 실리카가 바람직하다. 시판되고 있는 구상 용융 실리카로는, (주) 아드마텍스 제조의 SC2050-MB, SC2500-SQ, SC4500-SQ, SO-C2, SO-C1, 덴키 화학 공업 (주) 제조의 SFP-130MC 등을 들 수 있다.As the spherical filler, spherical fused silica is preferable from the viewpoint of low thermal expansion. As commercially available spherical fused silica, SC2050-MB, SC2500-SQ, SC4500-SQ, SO-C2, SO-C1 manufactured by Admatex Co., Ltd., SFP-130MC manufactured by Denki Chemical Industries, etc. Can be lifted.

구상 실리카의 평균 입경은, 특별히 한정되지 않지만, 0.01 ㎛ ∼ 5 ㎛ 의 범위가 바람직하고, 0.05 ㎛ ∼ 3 ㎛ 의 범위가 보다 바람직하고, 0.1 ㎛ ∼ 2 ㎛ 의 범위가 더욱 바람직하고, 0.3 ㎛ ∼ 1.5 ㎛ 가 보다 더 바람직하다. 구상 실리카의 평균 입경은, 미 (Mie) 산란 이론에 기초한 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 구상 실리카의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 메디안 직경을 평균 입경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 구상 실리카를 초음파에 의해 수중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로는, 주식회사 호리바 제작소 제조의 LA-500 등을 사용할 수 있다.The average particle diameter of the spherical silica is not particularly limited, but the range of 0.01 µm to 5 µm is preferable, the range of 0.05 µm to 3 µm is more preferable, the range of 0.1 µm to 2 µm is more preferable, and 0.3 µm to 1.5 µm is even more preferable. The average particle diameter of the spherical silica can be measured by a laser diffraction/scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can be measured by creating a particle size distribution of spherical silica on a volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and setting the median diameter to an average particle diameter. The measurement sample can be preferably used in which spherical silica is dispersed in water by ultrasonic waves. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, LA-500 manufactured by Horiba Co., Ltd. can be used.

본 실시형태에 있어서, 구상 필러의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 성형성의 점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 50 ∼ 500 질량부의 범위가 바람직하고, 100 ∼ 400 질량부의 범위가 특히 바람직하다.In this embodiment, the content of the spherical filler is not particularly limited, but from the viewpoint of moldability, the range of 50 to 500 parts by mass is preferable, and the range of 100 to 400 parts by mass per 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition is It is particularly preferred.

또, 본 실시형태의 구상 필러는, 실란 커플링제 등으로 표면 처리되어 있어도 된다. 실란 커플링제로는, 후술하는 실란 커플링제를 사용할 수 있다.Moreover, the spherical filler of this embodiment may be surface-treated with a silane coupling agent or the like. As the silane coupling agent, a silane coupling agent described later can be used.

(C) 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유(C) short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm

본 실시형태의 수지 조성물에는, 동박에 대한 우수한 밀착성, 수지 조성물에 대한 인성의 부여, 및 낮은 열팽창률을 갖는 수지 조성물을 얻기 위해, 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유를 함유한다. 본 실시형태의 유리 단섬유는, SiO2, Al2O3, CaO, MgO, B2O3, Na2O 및 K2O 를 주성분으로 하고, 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 이면, 특별히 한정되지 않는다.The resin composition of the present embodiment contains short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm in order to obtain a resin composition having excellent adhesion to copper foil, imparting toughness to the resin composition, and a low coefficient of thermal expansion. The short glass fibers of the present embodiment are particularly limited if they mainly contain SiO 2 , Al 2 O 3 , CaO, MgO, B 2 O 3 , Na 2 O and K 2 O, and the average fiber length is 10 to 300 μm. It doesn't work.

유리 단섬유의 평균 섬유 길이는, 열팽창률을 낮춘다는 점에서, 바람직하게는 20 ㎛ 이상, 보다 바람직하게는 30 ㎛ 이상이다. 또, 유리 단섬유의 분산성을 향상시키는 점에서, 바람직하게는 250 ㎛ 이하, 보다 바람직하게는 200 ㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 150 ㎛ 이하이다.The average fiber length of the short glass fibers is preferably 20 µm or more, and more preferably 30 µm or more, from the viewpoint of lowering the coefficient of thermal expansion. Moreover, from the viewpoint of improving the dispersibility of the short glass fibers, it is preferably 250 µm or less, more preferably 200 µm or less, and even more preferably 150 µm or less.

유리 단섬유의 섬유 직경은, 특별히 한정되지 않지만, 열팽창률을 보다 낮출 수 있는 점에서, 바람직하게는 1 ㎛ 이상이고, 보다 바람직하게는 3 ㎛ 이상, 보다 더 바람직하게는 4 ㎛ 이상이다. 평활성의 점에서, 바람직하게는 15 ㎛ 이하, 보다 바람직하게는 13 ㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 11 ㎛ 이하이다.The fiber diameter of the short glass fibers is not particularly limited, but it is preferably 1 µm or more, more preferably 3 µm or more, and even more preferably 4 µm or more, since the coefficient of thermal expansion can be lowered. From the viewpoint of smoothness, it is preferably 15 µm or less, more preferably 13 µm or less, and even more preferably 11 µm or less.

유리 단섬유의 평균 섬유 길이 및 섬유 직경은, 광학 현미경 또는 전자 현미경 등을 사용하여 측정할 수 있다.The average fiber length and fiber diameter of short glass fibers can be measured using an optical microscope or an electron microscope.

유리 단섬유의 구체예로는, 밀드화 섬유 (본 실시형태에서는, 밀드 파이버라고도 칭한다), 글라스 울 및 마이크로로드를 들 수 있지만, 절연성 수지층에 배합한 경우, 동박과 우수한 밀착성을 얻을 수 있고, 저렴한 점에서, 밀드화 섬유가 바람직하다. 이들 유리 단섬유는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.Specific examples of the short glass fibers include milled fibers (also referred to as milled fibers in this embodiment), glass wool, and microrods, but when blended into an insulating resin layer, excellent adhesion to copper foil can be obtained. In terms of being inexpensive, milled fibers are preferred. These short glass fibers can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

본 실시형태에 있어서, 유리 단섬유의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 열팽창률이나 인성의 부여, 및 성형성의 점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 450 질량부의 범위가 바람직하고, 10 ∼ 400 질량부의 범위가 특히 바람직하다.In the present embodiment, the content of the short glass fibers is not particularly limited, but from the viewpoint of the thermal expansion coefficient, the provision of toughness, and the moldability, the range of 5 to 450 parts by mass is preferable with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition. And the range of 10 to 400 parts by mass is particularly preferred.

본 실시형태에 있어서, (B) 구상 필러와 (C) 유리 단섬유의 배합비는, 특별히 한정되지 않지만, 성형성의 점에서, (B) 구상 필러 : (C) 유리 단섬유의 질량비가 1 : 20 ∼ 100 : 1 이 바람직하고, 1 : 10 ∼ 150 : 1 이 보다 바람직하고, 1 : 2 ∼ 10 : 1 이 더욱 바람직하다.In this embodiment, the mixing ratio of (B) spherical filler and (C) short glass fiber is not particularly limited, but from the viewpoint of moldability, the mass ratio of (B) spherical filler: (C) short glass fiber is 1:20 -100:1 is preferable, 1:10-150:1 are more preferable, and 1:2-10:1 are still more preferable.

(그 밖의 성분)(Other ingredients)

본 실시형태의 수지 조성물에는, (A) 열경화성 수지, (B) 구상 필러 및 (C) 유리 단섬유 외에, 그 밖의 1 또는 2 종 이상의 성분을 함유해도 된다.In addition to (A) thermosetting resin, (B) spherical filler, and (C) short glass fiber, the resin composition of this embodiment may contain other 1 or 2 or more types of components.

그 밖의 성분으로서, 본 실시형태의 수지 조성물에는, 예를 들어, 본 실시형태에 관련된 절연성 수지층의 흡습 내열성 향상의 목적으로, 실란 커플링제를 함유해도 된다. 실란 커플링제로는, 일반적으로 무기물의 표면 처리에 사용되는 실란 커플링제이면, 특별히 한정되지 않는다. 구체예로는, 아미노실란계 실란 커플링제 (예를 들어, γ-아미노프로필트리에톡시실란, N-β-(아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란), 에폭시실란계 실란 커플링제 (예를 들어, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란), 비닐실란계 실란 커플링제 (예를 들어, γ-메타아크릴옥시프로필트리메톡시실란), 카티온성 실란계 실란 커플링제 (예를 들어, N-β-(N-비닐벤질아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란염산염), 페닐실란계 실란 커플링제 등을 들 수 있다. 이들 실란 커플링제는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.As other components, the resin composition of the present embodiment may contain, for example, a silane coupling agent for the purpose of improving the moisture absorption and heat resistance of the insulating resin layer according to the present embodiment. The silane coupling agent is not particularly limited as long as it is a silane coupling agent generally used for surface treatment of inorganic substances. As a specific example, an aminosilane-based silane coupling agent (eg, γ-aminopropyltriethoxysilane, N-β-(aminoethyl)-γ-aminopropyltrimethoxysilane), an epoxysilane-based silane coupling agent (E.g., γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane), vinylsilane-based silane coupling agent (e.g., γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane), cationic silane-based silane coupling agent (e.g. For example, N-β-(N-vinylbenzylaminoethyl)-γ-aminopropyltrimethoxysilane hydrochloride), a phenylsilane-based silane coupling agent, and the like can be mentioned. These silane coupling agents can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

본 실시형태에 있어서, 실란 커플링제의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 흡습 내열성 향상의 점에서, 구상 필러 100 질량부에 대하여, 0.05 ∼ 5 질량부의 범위가 바람직하고, 0.1 ∼ 3 질량부의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 2 종 이상의 실란 커플링제를 병용하는 경우에는, 이것들의 합계량이 상기 범위를 만족하는 것이 바람직하다.In this embodiment, the content of the silane coupling agent is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the moisture absorption and heat resistance, the range of 0.05 to 5 parts by mass is preferable, and the range of 0.1 to 3 parts by mass per 100 parts by mass of the spherical filler is More preferable. Moreover, when using two or more types of silane coupling agents together, it is preferable that these total amount satisfy the said range.

본 실시형태의 수지 조성물에는, 절연성 수지층의 제조성 향상 등을 목적으로 하여, 습윤 분산제를 함유해도 된다. 습윤 분산제로는, 일반적으로 도료 등에 사용되는 습윤 분산제이면, 특별히 한정되지 않는다. 구체예로는, 빅케미·재팬 (주) 제조의 Disperbyk (등록 상표)-110, 동-111, 동-180, 동-161, BYK (등록 상표)-W996, 동-W9010, 동-W903 등을 들 수 있다. 이들 습윤 분산제는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.The resin composition of the present embodiment may contain a wetting and dispersing agent for the purpose of improving the manufacturability of the insulating resin layer. The wet dispersant is not particularly limited as long as it is a wet dispersant generally used for paints or the like. As a specific example, Disperbyk (registered trademark)-110, Dong-111, Dong-180, Dong-161, BYK (registered trademark)-W996, Dong-W9010, Dong-W903, etc. manufactured by Big Chemical Japan Co., Ltd. Can be mentioned. These wetting and dispersing agents can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

본 실시형태에 있어서, 습윤 분산제의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 절연성 수지층의 제조성 향상의 점에서, 구상 필러 100 질량부에 대하여, 0.1 ∼ 5 질량부의 범위가 바람직하고, 0.5 ∼ 3 질량부의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 2 종 이상의 습윤 분산제를 병용하는 경우에는, 이것들의 합계량이 상기 범위를 만족하는 것이 바람직하다.In the present embodiment, the content of the wetting dispersant is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the manufacturability of the insulating resin layer, the range of 0.1 to 5 parts by mass is preferable, and 0.5 to 3 parts by mass per 100 parts by mass of the spherical filler. A negative range is more preferable. In addition, when two or more types of wetting and dispersing agents are used in combination, it is preferable that the total amount thereof satisfies the above range.

본 실시형태의 수지 조성물에는, 경화 속도의 조정 등의 목적에서, 경화 촉진제를 함유해도 된다. 경화 촉진제로는, 에폭시 수지 또는 시안산에스테르 화합물 등에 사용되는 경화 촉진제 등의 일반적으로 사용되는 것이면, 특별히 한정되지 않는다. 구체예로는, 구리, 아연, 코발트, 니켈, 망간 등의 금속을 함유하는 유기 금속염류 (예를 들어, 옥틸산아연, 나프텐산코발트, 옥틸산니켈, 옥틸산망간), 이미다졸류 및 그 유도체 (예를 들어, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 2,4,5-트리페닐이미다졸), 제 3 급 아민 (예를 들어, 트리에틸아민, 트리부틸아민) 을 들 수 있다. 이들 경화 촉진제는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.The resin composition of the present embodiment may contain a curing accelerator for the purpose of adjusting the curing rate or the like. The curing accelerator is not particularly limited as long as it is generally used, such as a curing accelerator used for an epoxy resin or a cyanate ester compound. As specific examples, organic metal salts containing metals such as copper, zinc, cobalt, nickel, manganese, etc. (e.g., zinc octylate, cobalt naphthenate, nickel octylate, manganese octylate), imidazoles, and the like Derivatives (e.g. 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 2,4,5-triphenylimidazole), tertiary amines (e.g., Triethylamine, tributylamine) can be mentioned. These hardening accelerators can be used by mixing 1 type or 2 or more types suitably.

본 실시형태에 있어서, 경화 촉진제의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 높은 유리 전이 온도를 얻는 점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 0.001 ∼ 5 질량부의 범위가 바람직하고, 0.01 ∼ 3 질량부의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 2 종 이상의 경화 촉진제를 병용하는 경우에는, 이것들의 합계량이 상기 범위를 만족하는 것이 바람직하다.In this embodiment, the content of the curing accelerator is not particularly limited, but from the viewpoint of obtaining a high glass transition temperature, the range of 0.001 to 5 parts by mass is preferable, and 0.01 to 3 parts by mass per 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition. The range of parts by mass is more preferable. Moreover, when using two or more types of hardening accelerators together, it is preferable that these total amount satisfy the said range.

본 실시형태의 수지 조성물에는, 그 밖의 다양한 고분자 화합물 및/또는 난연성 화합물 등을 함유해도 된다. 고분자 화합물 및 난연성 화합물로는, 일반적으로 사용되는 것이면, 특별히 한정되지 않는다.The resin composition of the present embodiment may contain various other high molecular compounds and/or flame retardant compounds. The polymer compound and the flame-retardant compound are not particularly limited as long as they are generally used.

고분자 화합물로는, (A) 열경화성 수지 이외로서, 각종 열경화성 수지 및 열가소성 수지 그리고 그 올리고머, 엘라스토머류 등을 들 수 있다. 구체적으로는, 폴리이미드, 폴리아미드이미드, 폴리스티렌, 폴리올레핀, 스티렌-부타디엔 고무 (SBR), 이소프렌 고무 (IR), 부타디엔 고무 (BR), 아크릴로니트릴부타디엔 고무 (NBR), 폴리우레탄, 폴리프로필렌, (메트)아크릴 올리고머, (메트)아크릴 폴리머 및 실리콘 수지 등을 들 수 있다. 상용성의 점에서, 아크릴로니트릴부타디엔 고무가 바람직하다.Examples of the polymer compound include various thermosetting resins and thermoplastic resins, oligomers and elastomers thereof, in addition to the thermosetting resin (A). Specifically, polyimide, polyamideimide, polystyrene, polyolefin, styrene-butadiene rubber (SBR), isoprene rubber (IR), butadiene rubber (BR), acrylonitrile butadiene rubber (NBR), polyurethane, polypropylene, (Meth)acrylic oligomers, (meth)acrylic polymers, and silicone resins. From the viewpoint of compatibility, acrylonitrile butadiene rubber is preferred.

난연성 화합물의 구체예로는, (B) 구상 필러 및 (C) 유리 단섬유 이외로서, 인 함유 화합물 (예를 들어, 인산에스테르, 인산멜라민, 인 함유 에폭시 수지), 질소 함유 화합물 (예를 들어, 멜라민, 벤조구아나민), 옥사진 고리 함유 화합물, 실리콘계 화합물 등을 들 수 있다. 이들 고분자 화합물 및/또는 난연성 화합물은, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.As a specific example of the flame retardant compound, as other than (B) spherical filler and (C) short glass fiber, a phosphorus-containing compound (for example, a phosphate ester, a melamine phosphate, a phosphorus-containing epoxy resin), a nitrogen-containing compound (for example, , Melamine, benzoguanamine), oxazine ring-containing compounds, and silicone compounds. These polymeric compounds and/or flame-retardant compounds may be used alone or in combination of two or more as appropriate.

본 실시형태의 수지 조성물에는, 다양한 목적에 따라, 각종 첨가제를 함유해도 된다. 첨가제의 구체예로는, 자외선 흡수제, 산화 방지제, 광중합 개시제, 형광 증백제, 광 증감제, 염료, 안료, 증점제, 활제, 소포제, 분산제, 레벨링제 및 광택제를 들 수 있다. 이들 첨가제는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.The resin composition of this embodiment may contain various additives according to various purposes. Specific examples of the additives include ultraviolet absorbers, antioxidants, photopolymerization initiators, optical brighteners, photosensitizers, dyes, pigments, thickeners, lubricants, defoaming agents, dispersants, leveling agents and brightening agents. These additives can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

(수지 조성물 및 그 제조 방법)(Resin composition and its manufacturing method)

본 실시형태의 수지 조성물은, (A) 열경화성 수지, (B) 구상 필러, (C) 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유 및 필요에 따라 그 밖의 성분을 혼합함으로써 조제된다. 또, 수지 조성물은, 필요에 따라, 이들 성분을 유기 용제에 용해시킨 용액의 형태로 해도 된다. 이와 같은 수지 조성물의 용액은, 후술하는 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 제조할 때의 바니시로서 바람직하게 사용할 수 있다. 유기 용제로는, 각 성분을 각각 바람직하게 용해 또는 분산시킬 수 있고, 또한 본 실시형태의 수지 조성물의 효과를 발휘하는 한, 특별히 한정되지 않는다. 유기 용제의 구체예로는, 알코올류 (예를 들어, 메탄올, 에탄올 및 프로판올), 케톤류 (예를 들어, 아세톤, 메틸에틸케톤 및 메틸이소부틸케톤), 아미드류 (예를 들어, 디메틸아세트아미드 및 디메틸포름아미드), 방향족 탄화수소류 (예를 들어, 톨루엔 및 자일렌) 를 들 수 있다. 이들 유기 용제는, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용할 수 있다.The resin composition of the present embodiment is prepared by mixing (A) a thermosetting resin, (B) a spherical filler, (C) short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm, and other components as necessary. Moreover, the resin composition may be in the form of a solution in which these components are dissolved in an organic solvent, if necessary. The solution of such a resin composition can be preferably used as a varnish when manufacturing the copper foil with the insulating resin layer of the present embodiment described later. The organic solvent is not particularly limited as long as each component can be preferably dissolved or dispersed, and further exhibits the effect of the resin composition of the present embodiment. Specific examples of the organic solvent include alcohols (e.g., methanol, ethanol and propanol), ketones (e.g., acetone, methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone), amides (e.g., dimethylacetamide And dimethylformamide) and aromatic hydrocarbons (eg, toluene and xylene). These organic solvents can be used alone or in combination of two or more as appropriate.

(수지 조성물로 이루어지는 절연성 수지층)(Insulating resin layer made of resin composition)

본 실시형태의 절연성 수지층은, 본 실시형태의 수지 조성물로부터 얻어진다. 절연성 수지층의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 평활성 및 유리 단섬유의 배향의 점에서, 3 ∼ 50 ㎛ 의 범위가 바람직하고, 양호한 성형성이 추가로 얻어지는 점에서, 6 ∼ 45 ㎛ 인 것이 보다 바람직하고, 양호한 동박과 절연성 수지층의 밀착성이 추가로 얻어지는 점에서, 8 ∼ 40 ㎛ 인 것이 더욱 바람직하다.The insulating resin layer of this embodiment is obtained from the resin composition of this embodiment. The thickness of the insulating resin layer is not particularly limited, but in terms of smoothness and orientation of the short glass fibers, the range of 3 to 50 µm is preferable, and from the viewpoint of further obtaining good moldability, it is more than 6 to 45 µm. It is preferable, and it is more preferable that it is 8-40 micrometers from the point which the adhesiveness of favorable copper foil and an insulating resin layer is obtained further.

(절연성 수지층이 형성된 동박의 제조 방법)(Method of manufacturing copper foil with insulating resin layer formed)

본 실시형태에 있어서, 동박 상에, 수지 조성물로 이루어지는 절연성 수지층을 적층하여 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 제조하는 방법은, 특별히 한정되지 않는다. 제조 방법으로는, 예를 들어, 수지 조성물을 유기 용제에 용해 또는 분산시킨 용액 (바니시) 을 동박의 표면에 도포하고, 가열 및/또는 감압하에서 건조시키고, 용매를 제거하여 수지 조성물을 고화시켜, 절연성 수지층을 형성하는 방법을 들 수 있다. In this embodiment, the method of manufacturing the copper foil in which the insulating resin layer of this embodiment was formed by laminating an insulating resin layer made of a resin composition on copper foil is not specifically limited. As a manufacturing method, for example, a solution (varnish) in which a resin composition is dissolved or dispersed in an organic solvent is applied to the surface of copper foil, dried under heating and/or reduced pressure, and the solvent is removed to solidify the resin composition, The method of forming an insulating resin layer is mentioned.

건조 조건은, 특별히 한정되지 않지만, 절연성 수지층에 대한 유기 용제의 함유 비율이, 절연성 수지층 100 질량부에 대하여, 통상적으로 10 질량부 이하, 바람직하게는 5 질량부 이하가 되도록 건조시킨다. 건조를 달성하는 조건은, 바니시 중의 유기 용매량에 따라서도 상이한데, 예를 들어, 바니시 100 질량부에 대하여, 30 ∼ 60 질량부의 유기 용제를 함유하는 바니시의 경우, 50 ∼ 160 ℃ 의 가열 조건하에서 3 ∼ 10 분 정도 건조시키면 된다.The drying conditions are not particularly limited, but drying is performed so that the content ratio of the organic solvent to the insulating resin layer is usually 10 parts by mass or less, preferably 5 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the insulating resin layer. The conditions for achieving drying are also different depending on the amount of organic solvent in the varnish. For example, in the case of a varnish containing 30 to 60 parts by mass of an organic solvent with respect to 100 parts by mass of the varnish, heating conditions of 50 to 160°C You just need to dry it for 3 to 10 minutes.

[프린트 배선판][Printed wiring board]

본 실시형태의 프린트 배선판은, 코어 기재로 불리는 절연성 수지층이 완전 경화된 금속박 피복 적층판에 대하여, 빌드업 재료로서 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용함으로써 얻을 수 있다. 본 실시형태에서는, 강성이 높고, 절연성 수지층과의 밀착성이 우수한 동박에, 동박과의 밀착성이 높고, 인성이 높은 절연성 수지층이 적층되는 얇은 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용하기 때문에, 두꺼운 지지 기판 (캐리어 기판) 을 사용하지 않고 박형의 프린트 배선판을 제조할 수 있다. 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용하여 얻어지는 프린트 배선판은, 박형이고, 고밀도의 미세 배선이 형성되어 있으며, 외관 불량이 적다.The printed wiring board of this embodiment can be obtained by using the copper foil with the insulating resin layer of this embodiment as a build-up material with respect to the metal foil-clad laminated board in which the insulating resin layer called the core base material is completely cured. In this embodiment, a copper foil having a thin insulating resin layer in which an insulating resin layer having high adhesion and high toughness is laminated on a copper foil having high rigidity and excellent adhesion to the insulating resin layer is used, so that thick support A thin printed wiring board can be manufactured without using a substrate (carrier substrate). The printed wiring board obtained by using the copper foil with the insulating resin layer of the present embodiment is thin, has high-density fine wiring, and has few appearance defects.

금속박 피복 적층판의 표면에는, 통상적으로 사용되는 금속박 피복 적층판의 금속박 및/또는 금속박을 박리한 후에 도금하거나 하여 얻어지는 도체층에 의해 도체 회로가 형성된다. 또, 금속박 피복 적층판의 기재는, 특별히 한정되지 않지만, 주로 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판 및 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판이다.On the surface of the metal foil-clad laminated plate, a conductor circuit is formed by a conductor layer obtained by plating after peeling off the metal foil and/or metal foil of a commonly used metal foil-clad laminate. In addition, the base material of the metal foil-clad laminate is not particularly limited, but is mainly a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene ether substrate.

본 실시형태에 있어서, 빌드업이란, 금속박 피복 적층판의 표면의 금속박 및/또는 도체층에 대하여, 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박에 있어서의 절연성 수지층을 적층시키는 것이다.In the present embodiment, the build-up is to laminate the insulating resin layer in the copper foil on which the insulating resin layer of the present embodiment is formed with respect to the metal foil and/or the conductor layer on the surface of the metal foil-clad laminate.

통상적으로 빌드업 재료로서 접착 필름 등을 사용하여, 금속박 피복 적층판에 절연성 수지층 (수지 조성물층) 을 적층시킨 경우, 얻어지는 프린트 배선판의 편면 또는 양면에는 절연성 수지층을 갖는다. 이 절연성 수지층에 대하여 도체층을 형성하게 되는데, 경화 후의 절연성 수지층의 표면 조도가 낮기 때문에, 통상적으로 디스미어 처리를 포함하는 조화 처리에 의해 요철을 형성시키고, 그 후, 무전해 도금 및/또는 전해 도금을 사용하여 도체층을 형성한다. 그러나, 조화 처리를 실시한 절연성 수지층의 표면에는, 수지 조성물 중의 유리 섬유 등의 무기물이 노출되어 있어 (돌출되어 있어), 표면이 거칠어져 있다. 또, 무기물이 절연성 수지층으로부터 탈락함으로써, 절연성 수지층에 큰 함몰공이 형성된다는 문제도 갖는다. 그 때문에, 이와 같은 절연성 수지층의 표면에 고밀도의 미세 배선을 형성하는 것은 어렵다. 또, 비아홀 및/또는 스루홀 등의 도통공을 형성할 때에 유리 섬유 등의 무기물이 잔존하기 쉬워, 신뢰성에 악영향을 주는 문제도 갖는다.Usually, when an insulating resin layer (resin composition layer) is laminated on a metal foil-clad laminate using an adhesive film or the like as a build-up material, an insulating resin layer is provided on one side or both sides of the resulting printed wiring board. A conductor layer is formed with respect to this insulating resin layer, but since the surface roughness of the insulating resin layer after curing is low, irregularities are formed by roughening treatment including a desmear treatment, and then, electroless plating and/or Alternatively, a conductor layer is formed using electrolytic plating. However, on the surface of the insulating resin layer subjected to the roughening treatment, inorganic substances such as glass fibers in the resin composition are exposed (protruded), and the surface is rough. In addition, there is also a problem that large depressions are formed in the insulating resin layer by the inorganic material falling out of the insulating resin layer. Therefore, it is difficult to form high-density fine wiring on the surface of such an insulating resin layer. Further, when forming through holes such as via holes and/or through holes, inorganic substances such as glass fibers are liable to remain, and there is also a problem of adversely affecting reliability.

그러나, 빌드업 재료로서 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 금속박 피복 적층판에 적층시키면, 얻어지는 프린트 배선판의 편면 또는 양면에 동박을 갖게 된다. 도금 처리를 실시하지 않아도, 동박에 대하여, 직접 회로 패턴을 형성할 수 있기 때문에, 고밀도의 미세 배선을 형성할 수 있다. 또, 프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 제조시에, 동박을 에칭한 후에 도금 처리를 실시해도, 동박 면이 절연성 수지층에 전사되어 있는 점에서 절연성 수지층과 도금 사이의 밀착성이 향상된다.However, when the copper foil on which the insulating resin layer of the present embodiment is formed is laminated on a metal foil-clad laminate as a build-up material, copper foil is provided on one or both surfaces of the resulting printed wiring board. Since the circuit pattern can be directly formed on the copper foil without performing the plating treatment, a high-density fine wiring can be formed. Moreover, even if plating treatment is performed after etching the copper foil at the time of manufacturing a printed wiring board or a substrate for mounting a semiconductor element, since the surface of the copper foil is transferred to the insulating resin layer, the adhesion between the insulating resin layer and the plating is improved.

프린트 배선판의 제조에서는, 필요에 따라, 각 도체층을 전기적으로 접속시키기 위해, 비아홀 및/또는 스루홀 등의 구멍 가공이 실시된다. 이 구멍 가공이 실시된 경우, 그 후, 디스미어 처리를 포함하는 조화 처리를 실시하는데, 본 실시형태에서는, 프린트 배선판의 표면이 절연성 수지층과의 밀착성이 우수한 동박으로 보호되어 있기 때문에, 조화 처리를 실시해도, 프린트 배선판의 표면이 거칠어지지 않는다.In the manufacture of a printed wiring board, if necessary, hole processing, such as a via hole and/or a through hole, is performed in order to electrically connect each conductor layer. When this hole processing is performed, after that, a roughening treatment including a desmear treatment is performed. In this embodiment, since the surface of the printed wiring board is protected with copper foil having excellent adhesion to the insulating resin layer, the roughening treatment Even if is carried out, the surface of the printed wiring board does not become rough.

구멍 가공은, 통상적으로 메커니컬 드릴, 탄산 가스 레이저, UV 레이저 및 YAG 레이저 등을 사용하여 실시한다. 본 실시형태에서는, 프린트 배선판의 표면이 동박으로 보호되어 있기 때문에, 이들 드릴 또는 레이저의 에너지를 강하게 할 수 있다. 그 때문에, 본 실시형태에 의하면, 도 1 의 모식도에 나타내는 바와 같이, 구멍 가공에 있어서, 구멍의 표면으로부터 노출된 유리 섬유 등의 무기물을 바람직하게 제거할 수 있다.Hole processing is usually performed using a mechanical drill, a carbon dioxide laser, a UV laser, a YAG laser, or the like. In this embodiment, since the surface of the printed wiring board is protected with copper foil, the energy of these drills or lasers can be increased. Therefore, according to the present embodiment, as shown in the schematic diagram of FIG. 1, in the hole processing, inorganic substances such as glass fibers exposed from the surface of the hole can be preferably removed.

또한, 통상적으로 조화 처리는, 팽윤 공정, 표면 조화 및 스미어 용해 공정, 및 중화 공정으로 이루어진다.In addition, the roughening treatment is usually composed of a swelling step, a surface roughening and smear dissolution step, and a neutralization step.

팽윤 공정은, 팽윤제를 사용하여 절연성 수지층의 표면을 팽윤시킴으로써 실시한다. 팽윤제로는, 절연성 수지층의 표면의 젖음성이 향상되고, 다음의 표면 조화 및 스미어 용해 공정에 있어서 산화 분해가 촉진될 정도로까지 절연성 수지층의 표면을 팽윤시킬 수 있는 것이면, 특별히 한정되지 않는다. 예로는, 알칼리 용액, 계면 활성제 용액 등을 들 수 있다.The swelling process is performed by swelling the surface of the insulating resin layer using a swelling agent. The swelling agent is not particularly limited as long as it can swell the surface of the insulating resin layer to such an extent that the wettability of the surface of the insulating resin layer is improved and oxidative decomposition is promoted in the following surface roughening and smear dissolution step. As an example, an alkali solution, a surfactant solution, etc. are mentioned.

표면 조화 및 스미어 용해 공정은, 산화제를 사용하여 실시한다. 산화제로는, 예를 들어, 알칼리성의 과망간산염 용액 등을 들 수 있으며, 바람직한 구체예로는, 과망간산칼륨 수용액, 과망간산나트륨 수용액 등을 들 수 있다. 이러한 산화제 처리는 웨트 디스미어로 불리는데, 당해 웨트 디스미어에 추가하여, 플라즈마 처리나 UV 처리에 의한 드라이 디스미어, 버프 등에 의한 기계 연마, 샌드 블라스트 등의 다른 공지된 조화 처리를 적절히 조합하여 실시해도 된다.The surface roughening and smear dissolution process are performed using an oxidizing agent. Examples of the oxidizing agent include an alkaline permanganate solution and the like, and preferable specific examples include an aqueous potassium permanganate solution, an aqueous sodium permanganate solution, and the like. Such oxidizing agent treatment is called wet desmear.In addition to the wet desmear, it may be performed by appropriately combining other known roughening treatments such as plasma treatment or UV treatment dry desmear, mechanical polishing by buffing, and sand blasting. do.

중화 공정은, 전 (前) 공정에서 사용한 산화제를 환원제로 중화시키는 것이다. 환원제로는, 아민계 환원제를 들 수 있으며, 바람직한 구체예로는, 하이드록실아민황산염 수용액, 에틸렌디아민사아세트산 수용액, 니트릴로삼아세트산 수용액 등의 산성 수용액을 들 수 있다.The neutralization step is to neutralize the oxidizing agent used in the previous step with a reducing agent. Examples of the reducing agent include an amine reducing agent, and preferable specific examples include an acidic aqueous solution such as an aqueous hydroxylamine sulfate solution, an aqueous ethylenediamine tetraacetic acid solution, and an aqueous nitrilotriacetic acid solution.

본 실시형태에 있어서, 비아홀 및/또는 스루홀을 형성한 후, 또는 비아홀 및/또는 스루홀 내를 디스미어 처리한 후, 각 도체층을 전기적으로 접속시키기 위해 금속 도금 처리하는 것이 바람직하다. 본 실시형태에서는, 금속 도금 처리를 실시해도, 동박 면이 절연성 수지층에 전사되어 있는 점에서 절연성 수지층과 금속 도금 사이의 밀착성이 향상된다.In this embodiment, after forming the via hole and/or through hole, or after desmearing the inside of the via hole and/or through hole, it is preferable to perform metal plating treatment to electrically connect each conductor layer. In the present embodiment, even if the metal plating treatment is performed, the adhesion between the insulating resin layer and the metal plating is improved because the copper foil surface is transferred to the insulating resin layer.

금속 도금 처리의 방법으로는, 특별히 한정되지 않고, 통상적인 다층 프린트 배선판의 제조에 있어서의 금속 도금 처리의 방법을 적절히 사용할 수 있다. 금속 도금 처리의 방법 및 도금에 사용되는 약액의 종류는, 특별히 한정되지 않고, 통상적인 다층 프린트 배선판의 제조에 있어서의 금속 도금 처리의 방법 및 약액을 적절히 사용할 수 있다. 금속 도금 처리에 사용되는 약액은, 시판품이어도 된다.The method of metal plating treatment is not particularly limited, and a method of metal plating treatment in the production of a conventional multilayer printed wiring board can be appropriately used. The method of the metal plating treatment and the kind of the chemical liquid used for plating are not particularly limited, and a metal plating treatment method and a chemical liquid in the production of a conventional multilayer printed wiring board can be appropriately used. The chemical liquid used in the metal plating treatment may be a commercial product.

금속 도금 처리 방법으로는, 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 탈지액에 의한 처리, 소프트 에칭액에 의한 처리, 산 세정, 프리딥액에 의한 처리, 캐털리스트액에 의한 처리, 액셀러레이터액에 의한 처리, 화학 구리액에 의한 처리, 산 세정 및 황산구리액에 침지시켜 전류를 흘리는 처리를 들 수 있다.The metal plating treatment method is not particularly limited, and for example, treatment with a degreasing liquid, treatment with a soft etching liquid, acid washing, treatment with a pre-dip liquid, treatment with a catalytic liquid, a treatment with an accelerator liquid, Treatment with a chemical copper liquid, acid washing, and treatment in which an electric current is passed by immersing in a copper sulfate liquid are mentioned.

또, 반경화 상태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용하여 빌드업시킨 경우에는, 통상적으로 반경화 상태의 절연성 수지층에 대하여 열처리 등을 실시하여 완전 경화시킴으로써 프린트 배선판을 얻을 수 있다. 본 실시형태에서는, 얻어진 프린트 배선판에 대하여, 다른 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 추가로 적층시켜도 된다.In addition, in the case of build-up using a copper foil with an insulating resin layer in a semi-cured state, a printed wiring board can be obtained by generally performing heat treatment or the like on the insulating resin layer in a semi-cured state to completely cure. In this embodiment, on the obtained printed wiring board, the copper foil with the insulating resin layer of the other embodiment may be further laminated.

빌드업법에 있어서의 적층 방법으로는, 특별히 한정되지 않지만, 진공 가압식 라미네이터를 바람직하게 사용할 수 있다. 이 경우, 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박에 대하여 고무 등의 탄성체를 개재하여 적층할 수도 있다. 라미네이트 조건으로는, 통상적인 프린트 배선판의 적층에 있어서 사용되는 조건이면 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 70 ∼ 140 ℃ 의 온도, 1 ∼ 11 ㎏f/㎠ 의 범위의 접촉 압력 그리고 20 hPa 이하의 분위기 감압하에서 실시된다. 라미네이트 공정 후, 금속판에 의한 열 프레스에 의해, 라미네이트된 접착 필름의 평활화를 실시해도 된다. 라미네이트 공정 및 평활화 공정은, 시판되고 있는 진공 가압식 라미네이터에 의해 연속적으로 실시할 수 있다. 라미네이트 공정 후, 또는 평활화 공정 후, 열경화 공정을 갖고 있어도 된다. 열경화 공정을 사용함으로써, 절연성 수지층을 완전히 경화시킬 수 있다. 열경화 조건은, 수지 조성물에 함유되는 성분의 종류 등에 따라 상이한데, 통상적으로 경화 온도가 170 ∼ 190 ℃ 및 경화 시간이 15 ∼ 60 분이다.The lamination method in the build-up method is not particularly limited, but a vacuum pressurized laminator can be preferably used. In this case, the copper foil on which the insulating resin layer of the present embodiment is formed may be laminated through an elastic body such as rubber. The lamination condition is not particularly limited as long as it is a condition used for lamination of a conventional printed wiring board. For example, a temperature of 70 to 140°C, a contact pressure in the range of 1 to 11 kgf/cm 2, and a contact pressure of 20 hPa or less It is carried out under reduced pressure of the atmosphere. After the lamination process, the laminated adhesive film may be smoothed by hot pressing with a metal plate. The lamination process and the smoothing process can be continuously performed by a commercially available vacuum pressurized laminator. After the lamination process or after the smoothing process, you may have a thermosetting process. By using the thermosetting process, the insulating resin layer can be completely cured. The thermosetting conditions differ depending on the kind of components contained in the resin composition, and the like, but usually the curing temperature is 170 to 190°C and the curing time is 15 to 60 minutes.

본 실시형태의 프린트 배선판의 편면 또는 양면의 동박에 대하여, 회로 패턴을 형성하는 방법으로는, 세미 애디티브법, 풀 애디티브법, 서브트랙티브법 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 미세 배선 패턴을 형성하는 점에서는, 세미 애디티브법이 바람직하다.As a method of forming a circuit pattern with respect to the copper foil on one side or both sides of the printed wiring board of the present embodiment, a semi-additive method, a full additive method, a subtractive method, and the like may be mentioned. Among them, the semi-additive method is preferable in terms of forming a fine wiring pattern.

세미 애디티브법으로 회로 패턴을 형성하는 방법의 예로는, 도금 레지스트를 사용하여 선택적으로 전해 도금을 실시하고 (패턴 도금), 그 후 도금 레지스트를 박리하고, 전체를 적당량 에칭하여 배선 패턴을 형성하는 수법을 들 수 있다. 세미 애디티브법에 의한 회로 패턴 형성에서는, 무전해 도금과 전해 도금을 조합하여 실시하는데, 그 때, 무전해 도금 후와 전해 도금 후에 각각 건조를 실시하는 것이 바람직하다. 무전해 후의 건조는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 80 ∼ 180 ℃ 에서 10 ∼ 120 분간 실시하는 것이 바람직하고, 전해 도금 후의 건조는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 130 ∼ 220 ℃ 에서 10 ∼ 120 분간 실시하는 것이 바람직하다. 도금으로는, 구리 도금이 바람직하다.As an example of a method of forming a circuit pattern by a semi-additive method, electrolytic plating is selectively performed using a plating resist (pattern plating), then the plating resist is peeled off, and an appropriate amount of the entire is etched to form a wiring pattern. There is a technique. In the circuit pattern formation by the semi-additive method, electroless plating and electrolytic plating are combined and performed. In that case, drying is preferably performed after electroless plating and after electrolytic plating, respectively. Drying after electroless is not particularly limited, for example, it is preferably carried out at 80 to 180°C for 10 to 120 minutes, and drying after electrolytic plating is not particularly limited, but, for example, at 130 to 220°C It is preferable to carry out for 10 to 120 minutes. As plating, copper plating is preferable.

서브트랙티브법으로 회로 패턴을 형성하는 방법의 예로는, 에칭 레지스트를 사용하여 선택적으로 도체층을 제거함으로써, 배선 패턴을 형성하는 수법을 들 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어, 다음과 같이 하여 실시할 수 있다. 동박의 전체면에 온도 110 ± 10 ℃, 압력 0.50 ± 0.02 ㎫ 에서 드라이 필름 레지스트 (히타치 화성 제조의 RD-1225 (상품명)) 를 적층 첩착 (라미네이트) 한다. 이어서, 회로 패턴을 따라 노광하고, 마스킹을 실시한다. 그 후, 1 % 탄산나트륨 수용액으로 드라이 필름 레지스트를 현상 처리하고, 최종적으로 아민계의 레지스트 박리액으로 드라이 필름 레지스트를 박리한다. 이로써, 동박에 회로 패터닝을 형성할 수 있다.As an example of a method of forming a circuit pattern by a subtractive method, a method of forming a wiring pattern by selectively removing a conductor layer using an etching resist is exemplified. Specifically, it can be implemented as follows, for example. A dry film resist (RD-1225 (trade name) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) is laminated (laminated) on the entire surface of the copper foil at a temperature of 110 ± 10°C and a pressure of 0.50 ± 0.02 MPa. Then, it exposes along the circuit pattern and performs masking. Thereafter, the dry film resist is developed with a 1% sodium carbonate aqueous solution, and finally the dry film resist is peeled off with an amine-based resist stripper. Thereby, circuit patterning can be formed on the copper foil.

본 실시형태에서는, 프린트 배선판에, 추가로 절연성 수지층 및/또는 도체층을 적층시켜, 다층 프린트 배선판을 얻을 수도 있다. 다층 프린트 배선판의 내층에는, 회로 기판을 갖고 있어도 된다. 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박의 절연성 수지층은, 다층 프린트 배선판의 절연성 수지층 및 도체층의 하나를 구성하게 된다.In this embodiment, an insulating resin layer and/or a conductor layer may be further laminated on the printed wiring board to obtain a multilayer printed wiring board. You may have a circuit board in the inner layer of a multilayer printed wiring board. The insulating resin layer of the copper foil on which the insulating resin layer of the present embodiment is formed constitutes one of the insulating resin layer and the conductor layer of the multilayer printed wiring board.

적층의 방법은, 특별히 한정되지 않고, 통상적인 프린트 배선판의 적층 성형에 일반적으로 사용되는 방법을 사용할 수 있다. 적층 방법으로는, 예를 들어, 다단 프레스, 다단 진공 프레스, 라미네이터, 진공 라미네이터, 오토클레이브 성형기 등을 들 수 있다. 적층시의 온도는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 100 ∼ 300 ℃, 압력은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 0.1 ∼ 100 ㎏f/㎠ (약 9.8 ㎪ ∼ 약 9.8 ㎫), 가열 시간은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 30 초 ∼ 5 시간의 범위에서 적절히 선택하여 실시한다. 또, 필요에 따라, 예를 들어, 150 ∼ 300 ℃ 의 온도 범위에서 후경화를 실시하여, 경화도를 조정해도 된다.The method of lamination is not particularly limited, and a method generally used for lamination molding of a conventional printed wiring board can be used. As a lamination method, a multistage press, a multistage vacuum press, a laminator, a vacuum laminator, an autoclave molding machine, etc. are mentioned, for example. The temperature at the time of lamination is not particularly limited, for example, 100 to 300° C., and the pressure is not particularly limited, but, for example, 0.1 to 100 kgf/cm 2 (about 9.8 kPa to about 9.8 MPa), heating Although time is not specifically limited, For example, it selects suitably in the range of 30 seconds-5 hours, and implements. Further, if necessary, for example, post-curing may be performed in a temperature range of 150 to 300°C to adjust the degree of curing.

[반도체 소자 탑재용 기판][Substrate for mounting semiconductor devices]

반도체 소자 탑재용 기판은, 예를 들어, 금속박 피복 적층판에 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 적층시키고, 얻어진 적층체의 표면 또는 편면에 있어서의 동박을 마스킹 및 패터닝함으로써 제조된다. 마스킹 및 패터닝은, 프린트 배선판의 제조에 있어서 실시되는 공지된 마스킹 및 패터닝을 사용할 수 있으며, 특별히 한정되지 않지만, 전술한 서브트랙티브법에 의해 회로 패턴을 형성하는 것이 바람직하다. 회로 패턴은, 적층체의 편면에만 형성되어도 되고, 양면에 형성되어도 된다.The semiconductor element mounting substrate is manufactured by laminating a copper foil with an insulating resin layer of the present embodiment on a metal foil-clad laminate, for example, and masking and patterning the copper foil on the surface or one side of the obtained laminate. For masking and patterning, known masking and patterning performed in the manufacture of printed wiring boards can be used, and although not particularly limited, it is preferable to form a circuit pattern by the above-described subtractive method. The circuit pattern may be formed only on one side of the laminate or may be formed on both sides.

본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 사용하여 얻어지는 반도체 소자 탑재용 기판은, 박형이고, 고밀도의 미세 배선이 형성되어 있으며, 외관 불량이 적다.The substrate for mounting a semiconductor element obtained by using the copper foil with an insulating resin layer of the present embodiment is thin, has high-density fine wiring, and has few appearance defects.

실시예Example

본 실시형태의 실시예에 대해 설명하는데, 본 실시형태는 이들 실시예에 의해 전혀 한정되는 것은 아니다.Examples of the present embodiment will be described, but the present embodiment is not limited by these examples at all.

[1. 동박의 평가][One. Evaluation of copper foil]

(1) 산술 평균 조도(1) arithmetic mean roughness

형상 측정 현미경 (레이저 현미경, 키엔스 주식회사 제조의 VK-X210 (상품명)) 으로 동박 면을 대물 렌즈 배율 150 배 (15 형 모니터 상 배율 : 3000 배) 로 촬영하였다. 계속해서, 촬영한 화상 중에서 랜덤하게 선택한 길이 90 ㎛ 의 직선 상의 높이 분포를 화상 처리에 의해 구하여, 산술 평균 조도 (Ra) 를 산출하였다.The copper foil surface was photographed with a shape measuring microscope (laser microscope, VK-X210 (trade name) manufactured by Keyence Corporation) at an objective lens magnification of 150 times (magnification on a 15 type monitor: 3000 times). Subsequently, the height distribution on a straight line having a length of 90 µm selected at random from among the captured images was obtained by image processing, and the arithmetic mean roughness Ra was calculated.

[2. 금속박 피복 적층판의 평가][2. Evaluation of metal foil clad laminate]

(1) 성형성(1) Formability

후술하는 금속박 피복 적층판을 에칭하여 동박을 제거하였다. 얻어진 수지 기판 (절연성 수지층) 의 표면을 육안으로 확인하고, 성형시에 기인하는 균열이나 공극, 현저한 얼룩이나 수지의 편향 등이 보이는 경우에는「C」, 그 이외는「A」로 하였다.The copper foil was removed by etching the metal foil-clad laminate to be described later. The surface of the obtained resin substrate (insulating resin layer) was visually checked, and when cracks or voids, remarkable unevenness or deflection of the resin were observed due to molding, it was set as "C", and otherwise, "A".

(2) 반송성 시험(2) Transferability test

후술하는 금속박 피복 적층판을 에칭하여 동박을 제거하였다. 얻어진 수지 기판 (절연성 수지층) 을 100 ㎜ × 50 ㎜ 의 사각형상으로 한 후, 박리 라인 (에미넌트식 현상 에칭 박리 라인의 박리 부분, 압력 0.1 ㎫, 도쿄 화공기 (주) 제조) 에 투입하고, 수세 반송함으로써 수지 기판의 파손 유무를 확인하였다.The copper foil was removed by etching the metal foil-clad laminate to be described later. After making the obtained resin substrate (insulating resin layer) into a square shape of 100 mm x 50 mm, it was put into a peeling line (a peeling part of an eminent-type developing etching peeling line, a pressure of 0.1 MPa, manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) , The presence or absence of damage to the resin substrate was confirmed by washing with water.

수지 기판이 파손되고, 결락된 부분이 투입 전의 질량의 1 % 이상인 경우에는「C」로서, 1 % 보다 적은 경우에는「A」로서 평가하였다.When the resin substrate was damaged and the missing portion was 1% or more of the mass before the injection, it was evaluated as "C", and when less than 1%, it was evaluated as "A".

또, 비교예 3 및 4 에서는, 얻어진 접착 필름의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 박리하고, 양면에 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 을 동박의 매트면이 접하도록 배치하고, 압력 30 ㎏f/㎠, 온도 220 ℃ 에서 120 분간의 성형을 실시함으로써 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해, 상기 성형성 및 반송성 시험을 실시하였다.In addition, in Comparative Examples 3 and 4, the polyethylene terephthalate film of the obtained adhesive film was peeled off, and a 12 µm-thick copper foil (3EC-III (brand name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.) was placed on both sides. It arrange|positioned so that it may contact, and the metal foil-clad laminated board was obtained by performing molding for 120 minutes at a pressure of 30 kgf/cm<2> and a temperature of 220 degreeC. About the obtained metal foil clad laminated board, the said moldability and conveyance test were performed.

(3) 레이저 가공 시험(3) Laser processing test

후술하는 금속박 피복 적층판에 하프 에칭 처리 (미츠비시 가스 화학 (주) 제조의 클린 에치 (등록 상표) CPE-770 (상품명)) 로 구리의 두께를 12 ㎛ 에서 5 ㎛ 로 한 후, 레이저 전처리 (아토텍 재팬 (주) 제조의 BONDFilm (등록 상표) LDD101 (상품명)) 를 실시하였다. 레이저 전처리한 적층판에, 프린트 기판용 탄산 가스 레이저 가공기 (미츠비시 전기 (주) 제조의 ML605GTW3(H)-5200U (상품명), 마스크 1.1 ㎜) 를 사용하여, 개구 직경이 φ60 ㎛ 인 구멍뚫기 가공을 실시하였다. 그 후, 개구부의 단면을 연마한 후, 개구부의 표면을 배율 500 배로 SEM (주사형 전자 현미경, 주식회사 키엔스사 제조의 VE-7800S (상품명)) 을 사용하여 관찰하였다. 얻어진 SEM 이미지로부터, 유리 섬유가 개구부의 단면으로부터 돌출되어 있는 유리 섬유를 찾고, 그 유리 섬유가 돌출되어 있는 부분의 밑동과 선단의 거리를 5 회 측정하여, 그 평균값을 산출하였다. 평균값이 5 ㎛ 이하인 경우에는「A」로서, 5 ㎛ 보다 큰 경우에는「C」로서 평가하였다.The thickness of the copper was changed from 12 µm to 5 µm by half etching treatment (Clean Etch (registered trademark) CPE-770 (trade name) manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.) to the metal foil-clad laminate to be described later, and then laser pretreatment (Atotech Japan Corporation BONDFilm (registered trademark) LDD101 (brand name)) was carried out. The pre-treated laminate was subjected to a hole drilling process with an opening diameter of φ60 µm using a carbon dioxide gas laser processing machine (ML605GTW3(H)-5200U (trade name) manufactured by Mitsubishi Electric Corporation, 1.1 mm mask) for a printed circuit board. I did. Thereafter, after the cross section of the opening was polished, the surface of the opening was observed using a SEM (scanning electron microscope, VE-7800S manufactured by Keyence Corporation (trade name)) at 500 times magnification. From the obtained SEM image, a glass fiber in which the glass fiber protrudes from the cross section of the opening was found, the distance between the base and the tip of the portion where the glass fiber protrudes was measured five times, and the average value was calculated. When the average value was 5 μm or less, it was evaluated as “A”, and when it was larger than 5 μm, it was evaluated as “C”.

또, 비교예 3 및 4 에서는, 얻어진 라미네이트 기판 (디스미어 미처리) 에, 프린트 기판용 탄산 가스 레이저 가공기 (미츠비시 전기 (주) 제조의 ML605GTW3(H)-5200U (상품명), 마스크 1.1 ㎜) 를 사용하여, 개구 직경이 φ80 ㎛ 인 블라인드 비아홀 (구멍뚫기) 가공을 실시하였다. 그 후에는, 상기 레이저 가공 시험과 동일하게 하여, 유리 섬유가 돌출되어 있는 부분의 밑동과 선단의 거리의 평균값을 산출하여, 평가하였다.In addition, in Comparative Examples 3 and 4, a carbon dioxide gas laser processing machine for printed circuit boards (ML605GTW3(H)-5200U (brand name) manufactured by Mitsubishi Electric Co., Ltd., 1.1 mm of mask) was used for the obtained laminate substrate (non-smear treatment). Then, a blind via hole (perforation) having an opening diameter of φ80 µm was performed. After that, in the same manner as in the laser processing test, the average value of the distance between the base and the tip of the portion where the glass fiber protrudes was calculated and evaluated.

(4) 디스미어 처리 후의 외관(4) Appearance after desmear treatment

비교예 3 및 4 에 기재된 라미네이트 기판에 대해, 디스미어 처리를 실시하였다. 디스미어 처리는, 디스미어용 팽윤액 (오쿠노 제약 공업 (주) 제조의 PTH-B103 (상품명)) 에 65 ℃ 에서 5 분간 침지시켜 팽윤시킨 후, 디스미어 처리액 (PTH1200 (상품명) 및 PTH1200NA (상품명), 오쿠노 제약 공업 (주) 제조) 에 80 ℃ 에서 8 분간 침지시키고, 마지막으로 디스미어용 중화액 (오쿠노 제약 공업 (주) 제조의 PTH-B303 (상품명)) 에 45 ℃ 에서 5 분간 침지시켜 실시하였다. 그 후, 디스미어 처리 후의 라미네이트 기판의 표면 상태를 확인하고, 균일한 표면 형상인 경우에는「A」로서, 불균일한 표면 형상, 유리 섬유의 탈락이 보이거나 또는 유리 섬유가 표면에 노출되어 있는 경우에는「C」로서 평가하였다.The laminate substrates described in Comparative Examples 3 and 4 were subjected to a desmear treatment. Desmear treatment was swelled by immersing in a swelling liquid for desmear (PTH-B103 (trade name) manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) at 65°C for 5 minutes, and then swelling, and then desmear treatment liquid (PTH1200 (brand name) and PTH1200NA ( (Trade name), Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.), immersed at 80°C for 8 minutes, and finally, immersed in a neutralizing solution for desmear (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd. PTH-B303 (brand name)) at 45° C. for 5 minutes It was carried out. Thereafter, the surface condition of the laminate substrate after the desmear treatment is checked, and in the case of a uniform surface shape, it is indicated as ``A'', when an uneven surface shape, dropping of glass fibers are seen, or glass fibers are exposed on the surface. E was evaluated as "C".

(5) 필 강도 측정(5) Peel strength measurement

후술하는 금속박 피복 적층판의 시험편 (30 ㎜ × 150 ㎜ × 0.8 ㎜ 두께) 을 사용하여, JIS C6481 에 기재된 시험 방법 (5.7 박리 강도) 에 준하여, 바 코터에 의해 동박에 도포한 절연성 수지층과 그 동박의 필 강도 (박리 강도) 를 3 회 측정하여, 평균값 (kN/m) 을 구하였다.The insulating resin layer applied to the copper foil with a bar coater and the copper foil according to the test method (5.7 peel strength) described in JIS C6481 using the test piece (30 mm × 150 mm × 0.8 mm thickness) of the metal foil-clad laminate described later The peeling strength (peel strength) of was measured three times, and the average value (kN/m) was calculated|required.

또, 동일하게, 비교예 3 및 4 에 기재된 도금 처리가 실시된 라미네이트 기판을 사용하여, 구리 도금층과 절연성 수지층의 필 강도 (박리 강도) 를 3 회 측정하여, 평균값 (kN/m) 을 구하였다.In the same way, using the laminate substrate subjected to the plating treatment described in Comparative Examples 3 and 4, the peel strength (peel strength) of the copper plating layer and the insulating resin layer was measured three times, and the average value (kN/m) was calculated. I did.

얻어진 평균값에 의해, 하기의 기준에 기초하여, 필 강도를 평가하였다.Peel strength was evaluated based on the following criteria by the obtained average value.

A : 0.6 kN/m 이상A: 0.6 kN/m or more

B : 0.4 kN/m 이상 0.6 kN/m 미만B: 0.4 kN/m or more and less than 0.6 kN/m

C : 0.4 kN/m 미만C: less than 0.4 kN/m

[3. 수지 조성물 및 절연성 수지층이 형성된 동박의 제조][3. Production of copper foil with resin composition and insulating resin layer formed]

(α-나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물의 합성)(Synthesis of α-naphthol aralkyl type cyanate ester compound)

온도계, 교반기, 적하 깔때기 및 환류 냉각기를 장착한 반응기를 미리 브라인에 의해 0 ∼ 5 ℃ 로 냉각시켜 두고, 거기에 염화시안 7.47 g (0.122 ㏖), 35 % 염산 9.75 g (0.0935 ㏖), 물 76 ㎖ 및 염화메틸렌 44 ㎖ 를 주입하였다. 이어서, 이 반응기 내의 온도를 -5 ∼ +5 ℃, pH 를 1 이하로 유지하고, 교반하면서, 하기 식 (4) 로 나타내는 α-나프톨아르알킬 (신닛테츠 화학 (주) 제조의 SN485 (상품명), OH 기 당량 : 214 g/eq. 연화점 : 86 ℃) 을 20 g (0.0935 ㏖) 및 트리에틸아민을 14.16 g (0.14 ㏖) 을 염화메틸렌 92 ㎖ 에 용해시킨 용액을, 적하 깔때기에 의해 1 시간에 걸쳐서 적하하였다. 적하 종료 후, 추가로 트리에틸아민 4.72 g (0.047 ㏖) 을 15 분간에 걸쳐서 적하하였다.A reactor equipped with a thermometer, stirrer, dropping funnel and reflux condenser was previously cooled to 0 to 5°C with brine, and thereto, 7.47 g (0.122 mol) of cyanochloric acid, 9.75 g (0.0935 mol) of 35% hydrochloric acid, water 76 Ml and 44 ml of methylene chloride were injected. Subsequently, the temperature in this reactor is maintained at -5 to +5°C and the pH is 1 or less, and while stirring, α-naphthol aralkyl represented by the following formula (4) (SN485 (trade name) manufactured by Shinnittetsu Chemical Co., Ltd.), OH group equivalent: 214 g/eq.Softening point: 86°C) 20 g (0.0935 mol) and 14.16 g (0.14 mol) of triethylamine dissolved in 92 ml of methylene chloride were added to a dropping funnel for 1 hour. It was dripped over. After completion of the dropwise addition, 4.72 g (0.047 mol) of triethylamine was added dropwise over 15 minutes.

[화학식 4][Formula 4]

Figure pct00004
Figure pct00004

(식 (4) 중, n4 는 평균값으로 3 ∼ 4 의 범위였다.)(In formula (4), n 4 was an average value and was in the range of 3-4.)

적하 종료 후, 동일한 온도에서 15 분간 교반 후, 반응액을 분액하여, 유기 층을 분리 채취하였다. 얻어진 유기층을 물 100 ㎖ 로 2 회 세정한 후, 이배퍼레이터에 의해 감압하에서 염화메틸렌을 증류 제거하고, 최종적으로 80 ℃ 에서 1 시간 농축 건고시킴으로써, 하기 식 (5) 로 나타내는 α-나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물 23.5 g 을 얻었다.After completion of the dropwise addition, after stirring at the same temperature for 15 minutes, the reaction solution was separated and the organic layer was separated and collected. After washing the obtained organic layer twice with 100 ml of water, methylene chloride was distilled off under reduced pressure with an evaporator, and finally concentrated to dryness at 80° C. for 1 hour to obtain α-naphthol aralkyl represented by the following formula (5). 23.5 g of type cyanate ester compounds were obtained.

[화학식 5][Formula 5]

Figure pct00005
Figure pct00005

(식 (5) 중, n5 는 평균값으로서 3 ∼ 4 의 범위였다.)(In formula (5), n 5 was the range of 3-4 as an average value.)

〔실시예 1〕[Example 1]

상기 식 (5) 로 나타내는 α-나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물 50 질량부, 비스(3-에틸-5-메틸-4-말레이미드페닐)메탄 (KI 화성 (주) 제조의 BMI-70 (상품명)) 10 질량부 및 폴리옥시나프틸렌형 에폭시 수지 (DIC (주) 제조의 EXA-7311 (상품명), 에폭시 당량 : 277 g/eq.) 40 질량부를 배합하고, 메틸에틸케톤에 용해시켰다. 이어서, 이 용액에 습윤 분산제 (빅케미·재팬 (주) 제조의 Disperbyk (등록 상표)-161) 를 3 질량부, 구상 용융 실리카 (평균 입경 : 0.4 ∼ 0.6 ㎛, (주) 아드마텍스 제조의 SC2050-MB (상품명)) 를 250 질량부, 옥틸산아연을 0.02 질량부, 아크릴로니트릴부타디엔 고무 (JSR (주) 제조의 N220S (상품명)) 를 5 질량부, 밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 21 질량부를 혼합함으로써 바니시를 조제하였다. 얻어진 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 350 ㎜ × 250 ㎜ × 12 ㎛ 두께의 동박 (산술 평균 조도 (Ra) : 1.0 ∼ 1.5 ㎛, 미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 의 매트면측에 도포하고, 130 ℃ 에서 5 분간 가열 건조시킴으로써, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다.50 parts by mass of the α-naphthol aralkyl type cyanate ester compound represented by the above formula (5), bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidephenyl)methane (KI Chemical Co., Ltd. BMI-70 ( Trade name)) 10 parts by mass and 40 parts by mass of a polyoxynaphthylene-type epoxy resin (EXA-7311 (trade name) manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent: 277 g/eq.) were mixed and dissolved in methyl ethyl ketone. Next, 3 parts by mass of a wetting dispersant (Disperbyk (registered trademark)-161 manufactured by Vicchemy Japan Co., Ltd.) was added to this solution, and spherical fused silica (average particle diameter: 0.4 to 0.6 µm, manufactured by Admatex Co., Ltd. SC2050-MB (brand name)) 250 parts by mass, zinc octylate 0.02 parts by mass, acrylonitrile butadiene rubber (N220S (brand name) manufactured by JSR Corporation) 5 parts by mass, milled fiber (Central Glass Fiber Co., Ltd.) ) Produced EFDE50-31 (trade name), average fiber length: 50 µm, fiber diameter: 6 µm) 21 parts by mass were mixed to prepare a varnish. The obtained varnish was diluted with methyl ethyl ketone, and a copper foil having a thickness of 350 mm × 250 mm × 12 μm by a bar coater (arithmetic mean roughness (Ra): 1.0 to 1.5 μm, 3EC-III manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd. It applied on the mat surface side of (trade name)), and heated and dried at 130°C for 5 minutes to obtain a copper foil with an insulating resin layer having an insulating resin layer having a thickness of 40 µm.

얻어진 절연성 수지층이 형성된 동박의 절연성 수지층 면측에 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 을 매트면이 접하도록 배치하고, 압력 30 ㎏f/㎠, 온도 220 ℃ 에서 120 분간의 성형을 실시함으로써 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 결과를 표 1 에 나타냈다. 또, 개구부 표면의 SEM 이미지를 도 2 에 나타냈다.A 12 µm-thick copper foil (3EC-III (brand name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.) was placed so that the mat surface was in contact with the surface side of the insulating resin layer of the obtained insulating resin layer-formed copper foil, and a pressure of 30 kgf/cm 2, A metal foil-clad laminate was obtained by performing molding at a temperature of 220°C for 120 minutes. It evaluated about the obtained metal foil-clad laminated board, and the result was shown in Table 1. Moreover, the SEM image of the surface of the opening part was shown in FIG.

〔실시예 2〕[Example 2]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 21 질량부에서 63 질량부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.The same as in Example 1, except that the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 μm, fiber diameter: 6 μm) was changed from 21 parts by mass to 63 parts by mass. Thus, a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 µm in the insulating resin layer was obtained. Then, it carried out similarly to Example 1, and obtained the metal foil-clad laminated board. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔실시예 3〕[Example 3]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 21 질량부에서 100 질량부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.The same as in Example 1, except that the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 μm, fiber diameter: 6 μm) was changed from 21 parts by mass to 100 parts by mass. Thus, a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 µm in the insulating resin layer was obtained. Then, it carried out similarly to Example 1, and obtained the metal foil-clad laminated board. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔실시예 4〕[Example 4]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 21 질량부에서 300 질량부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.The same as in Example 1 except that the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 μm, fiber diameter: 6 μm) was changed from 21 parts by mass to 300 parts by mass. Thus, a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 µm in the insulating resin layer was obtained. Then, it carried out similarly to Example 1, and obtained the metal foil-clad laminated board. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔실시예 5〕[Example 5]

절연성 수지층의 두께를 40 ㎛ 에서 15 ㎛ 로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 15 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다. In the same manner as in Example 1 except that the thickness of the insulating resin layer was changed from 40 µm to 15 µm, a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 15 µm was obtained. Then, it carried out similarly to Example 1, and obtained the metal foil-clad laminated board. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

또한, 절연성 수지층의 두께가 얇아, 금속박 피복 적층판의 에칭을 할 수 없었기 때문에, 반송성 시험은 실시하지 않았다.Moreover, since the thickness of the insulating resin layer was thin and the metal foil-clad laminate could not be etched, the conveyance test was not performed.

〔실시예 6〕[Example 6]

실시예 1 에서 얻어진 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 350 ㎜ × 250 ㎜ × 12 ㎛ 두께의 동박 (산술 평균 조도 (Ra) : 0.5 ㎛, 미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-M2S-VLP (상품명)) 의 매트면측에 도포하고, 130 ℃ 에서 5 분간 가열 건조시킴으로써, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 을 사용하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.The varnish obtained in Example 1 was diluted with methyl ethyl ketone, and a copper foil having a thickness of 350 mm × 250 mm × 12 μm with a bar coater (arithmetic mean roughness (Ra): 0.5 μm, 3EC- manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.) M2S-VLP (brand name)) was applied to the mat surface side and heated and dried at 130° C. for 5 minutes to obtain a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 μm. Thereafter, in the same manner as in Example 1, a metal foil-clad laminate was obtained using a 12 µm-thick copper foil (3EC-III (brand name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.). The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔실시예 7〕[Example 7]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 대신에, 밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFH30-01 (상품명), 평균 섬유 길이 : 30 ㎛, 섬유 직경 : 11 ㎛) 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.In place of the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., the average fiber length: 50 μm, fiber diameter: 6 µm), EFH30-01 manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd. ), average fiber length: 30 µm, fiber diameter: 11 µm), in the same manner as in Example 1, to obtain a copper foil with an insulating resin layer having an insulating resin layer having a thickness of 40 µm. Then, it carried out similarly to Example 1, and obtained the metal foil-clad laminated board. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔실시예 8〕[Example 8]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 대신에, 밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFH150-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 150 ㎛, 섬유 직경 : 11 ㎛) 를 사용한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.In place of the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., the average fiber length: 50 µm, fiber diameter: 6 µm), EFH150-31 manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd. ), average fiber length: 150 µm, fiber diameter: 11 µm), in the same manner as in Example 1, to obtain a copper foil with an insulating resin layer having an insulating resin layer having a thickness of 40 µm. Then, it carried out similarly to Example 1, and obtained the metal foil-clad laminated board. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔비교예 1〕[Comparative Example 1]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 배합하지 않았던 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다. 또한, 레이저 가공성의 평가에 있어서, 비교예 1 에서는, 밀드 파이버를 배합하고 있지 않으므로, 개구부의 단면으로부터 돌출되어 있는 유리 섬유는 확인되지 않았다.In the same manner as in Example 1, except that the milled fiber (EFDE50-31 (brand name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 µm, fiber diameter: 6 µm) was not mixed, the insulating resin layer was A copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 µm was obtained. The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1. In addition, in the evaluation of laser workability, in Comparative Example 1, the milled fiber was not blended, so that the glass fiber protruding from the end face of the opening was not confirmed.

〔비교예 2〕[Comparative Example 2]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 21 질량부에서 500 질량부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 바니시를 조제하였다. 얻어진 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 (두께 : 38 ㎛) 에 도포하려고 시도하였지만, 도포할 수 없어, 접착 필름을 얻을 수 없었다.The same as in Example 1, except that the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 μm, fiber diameter: 6 μm) was changed from 21 parts by mass to 500 parts by mass. Thus, a varnish was prepared. The obtained varnish was diluted with methyl ethyl ketone, and an attempt was made to apply it to a polyethylene terephthalate film (thickness: 38 µm) with a bar coater, but it could not be applied and an adhesive film could not be obtained.

〔비교예 3〕[Comparative Example 3]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 21 질량부에서 63 질량부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 바니시를 조제하였다. 이 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 (두께 : 38 ㎛) 에 도포하고, 130 ℃ 에서 5 분간 가열 건조시킴으로써, 수지 조성물로 이루어지는 층의 두께가 40 ㎛ 인 접착 필름을 얻었다. 얻어진 접착 필름에 대해 반송성 시험을 실시하여, 그 결과를 표 1 에 나타냈다.The same as in Example 1, except that the milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 μm, fiber diameter: 6 μm) was changed from 21 parts by mass to 63 parts by mass. Thus, a varnish was prepared. This varnish is diluted with methyl ethyl ketone, applied to a polyethylene terephthalate film (thickness: 38 μm) with a bar coater, and heated and dried at 130° C. for 5 minutes, whereby the layer of the resin composition has a thickness of 40 μm. Got it. A conveyance test was performed about the obtained adhesive film, and the result was shown in Table 1.

이어서, 동박 피복 적층판 (미츠비시 가스 화학 (주) 제조의 CCL (등록 상표)-HL832NSF (상품명), 절연성 수지층의 두께 : 0.1 ㎜, 동박의 두께 : 12 ㎛) 의 양면을 멕 (주) 제조의 CZ-8100 (상품명) 으로 조화 처리하여 동박 피복 적층판의 조화 처리품을 얻었다. 이 동박 피복 적층판의 조화 처리품의 양측에 상기에서 얻어진 접착 필름을 수지 조성물로 이루어지는 층과 동박이 접촉하도록 배치하고, 배치식 진공 가압 라미네이터 (니치고 모톤 (주) 제조의 CVP-600 (상품명)) 를 사용하여 라미네이트하여, 적층체를 얻었다. 라미네이트는, 진공하, 온도 120 ℃, 압력 8 ㎏f/㎠ 에서 프레스함으로써 실시하였다. 얻어진 적층체의 양면으로부터 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 박리하였다. 그 후, 온도 80 ℃ 에서 30 분간, 이어서 온도 180 ℃ 에서 30 분간의 경화 조건에서, 수지 조성물로 이루어지는 층을 경화시키고, 절연성 수지층을 형성하여, 동박 피복 적층판의 양면에 절연성 수지층을 갖는 라미네이트 기판을 얻었다. 얻어진 라미네이트 기판에 대해 레이저 가공 시험을 실시하고, 그 결과를 표 1 에 나타냈다. 또, 개구부 표면의 SEM 이미지를 도 3 에 나타냈다.Next, both sides of the copper clad laminate (CCL (registered trademark) manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.-HL832NSF (brand name), the thickness of the insulating resin layer: 0.1 mm, the thickness of the copper foil: 12 μm) A roughening treatment was performed with CZ-8100 (brand name) to obtain a roughened product of a copper clad laminate. The adhesive film obtained above was placed on both sides of the roughened product of the copper clad laminate so that the layer made of the resin composition and the copper foil were in contact, and a batch-type vacuum pressurized laminator (CVP-600 (brand name) manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd.) It laminated using, and obtained the laminated body. Lamination was carried out by pressing in a vacuum at a temperature of 120° C. and a pressure of 8 kgf/cm 2. The polyethylene terephthalate film was peeled off from both surfaces of the obtained laminate. Thereafter, a layer made of a resin composition was cured under curing conditions at a temperature of 80° C. for 30 minutes and then at a temperature of 180° C. for 30 minutes, forming an insulating resin layer, and a laminate having insulating resin layers on both sides of the copper clad laminate The substrate was obtained. The obtained laminate substrate was subjected to a laser processing test, and the results are shown in Table 1. Further, an SEM image of the surface of the opening is shown in FIG. 3.

레이저 가공에 의해 구멍뚫기 가공이 실시된 라미네이트 기판에 대해, 디스미어 처리를 실시하고, 처리 후의 외관을 확인하였다. 그 결과를 표 1 에 나타냈다. 양면에 동박이 없기 때문에, 유리 섬유의 돌출이 많아, 표면이 거칠어져 있는 것이 확인되었다.A desmear treatment was performed on the laminate substrate on which the hole drilling was performed by laser processing, and the appearance after the treatment was confirmed. The results are shown in Table 1. Since there was no copper foil on both sides, it was confirmed that the protrusion of the glass fiber was large and the surface was rough.

얻어진 디스미어 처리 후의 라미네이트 기판에 대해, 구리 도금을 실시하여, 두께 18 ㎛ 의 구리 도금층을 형성하였다. 도금 처리가 실시된 라미네이트 기판을 사용하여, 필 강도를 측정하였다. 그 결과를 표 1 에 나타냈다.The obtained laminate substrate after the desmear treatment was subjected to copper plating to form a copper plating layer having a thickness of 18 µm. The peel strength was measured using the laminate substrate subjected to the plating treatment. The results are shown in Table 1.

〔비교예 4〕[Comparative Example 4]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 배합하지 않았던 것 이외에는, 비교예 3 과 동일하게 하여, 수지 조성물로 이루어지는 층의 두께가 40 ㎛ 인 접착 필름, 동박 피복 적층판의 양면에 절연성 수지층을 갖는 라미네이트 기판, 레이저 가공에 의해 구멍뚫기 가공이 실시된 라미네이트 기판, 및 디스미어 처리 후의 라미네이트 기판을 얻었다. 이것들에 대해, 비교예 3 과 동일하게 하여 평가를 실시하고, 결과를 표 1 에 나타냈다. 또한, 레이저 가공성 및 디스미어 처리 후의 외관 평가에 있어서, 비교예 4 에서는, 밀드 파이버를 배합하고 있지 않으므로, 개구부의 단면으로부터 돌출되어 있는 유리 섬유는 확인되지 않고, 표면 형상도 균일하였다.Except that milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 µm, fiber diameter: 6 µm) was not blended, it was carried out in the same manner as in Comparative Example 3 to form a resin composition. An adhesive film having a layer thickness of 40 µm, a laminate substrate having an insulating resin layer on both sides of a copper clad laminate, a laminate substrate subjected to a hole drilling process by laser processing, and a laminate substrate after desmear treatment were obtained. For these, evaluation was performed in the same manner as in Comparative Example 3, and the results are shown in Table 1. In addition, in the evaluation of the laser workability and the appearance after the desmear treatment, in Comparative Example 4, the milled fiber was not blended, so that the glass fiber protruding from the end face of the opening was not recognized, and the surface shape was also uniform.

〔비교예 5〕[Comparative Example 5]

프리프레그 (미츠비시 가스 화학 (주) 제조의 GHPL-830NSF (상품명), 절연성 수지층의 두께 : 40 ㎛) 의 양측에 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 을 배치하고, 압력 30 ㎏f/㎠, 온도 220 ℃ 에서 120 분간의 성형을 실시함으로써 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해, 반송성 시험 및 레이저 가공 시험의 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.12 µm thick copper foil on both sides of the prepreg (GHPL-830NSF (trade name) manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., thickness of the insulating resin layer: 40 µm) (3EC-III (trade name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.) ), and molding at a pressure of 30 kgf/cm 2 and a temperature of 220°C for 120 minutes to obtain a metal foil-clad laminate. About the obtained metal foil-clad laminated board, the conveyance test and the laser processing test were evaluated, and the results are shown in Table 1.

〔비교예 6〕[Comparative Example 6]

밀드 파이버 (센트럴 유리 파이버 (주) 제조의 EFDE50-31 (상품명), 평균 섬유 길이 : 50 ㎛, 섬유 직경 : 6 ㎛) 를 21 질량부에서 63 질량부로 변경하고, 구상 용융 실리카 (아드마텍스 (주) 제조의 SC2050MB (상품명)) 를 배합하지 않았던 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 바니시를 조제하였다. 실시예 1 과 동일하게 하여, 얻어진 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 350 ㎜ × 250 ㎜ × 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 의 매트면측에 도포하였다. 그 후, 130 ℃ 에서 5 분간 가열 건조시킴으로써, 절연성 수지층이 형성된 동박을 제조하려고 하였지만, 절연성 수지층을 성형할 수 없어, 절연성 수지층이 형성된 동박을 제조할 수 없었다.Milled fiber (EFDE50-31 (trade name) manufactured by Central Glass Fiber Co., Ltd., average fiber length: 50 µm, fiber diameter: 6 µm) was changed from 21 parts by mass to 63 parts by mass, and spherical fused silica (Admatex ( Note) A varnish was prepared in the same manner as in Example 1, except that the manufactured SC2050MB (brand name)) was not mixed. In the same manner as in Example 1, the obtained varnish was diluted with methyl ethyl ketone, and a copper foil having a thickness of 350 mm × 250 mm × 12 μm (3EC-III (brand name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.) It was applied to the mat side. Thereafter, by heating and drying at 130°C for 5 minutes, an attempt was made to produce a copper foil with an insulating resin layer, but the insulating resin layer could not be molded, and a copper foil with an insulating resin layer could not be produced.

〔비교예 7〕[Comparative Example 7]

실시예 1 에서 얻어진 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 350 ㎜ × 250 ㎜ × 12 ㎛ 두께의 동박 (산술 평균 조도 (Ra) : 0.04 ㎛, JX 금속 (주) 제조의 GHT5-HA (상품명)) 의 매트면측에 도포하고, 130 ℃ 에서 5 분간 가열 건조시킴으로써, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 을 사용하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.The varnish obtained in Example 1 was diluted with methyl ethyl ketone, and a copper foil having a thickness of 350 mm × 250 mm × 12 µm with a bar coater (arithmetic mean roughness (Ra): 0.04 µm, GHT5-HA manufactured by JX Metal Co., Ltd.) (Brand name)), and heat-dried at 130°C for 5 minutes to obtain a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 µm. Thereafter, in the same manner as in Example 1, a metal foil-clad laminate was obtained using a 12 µm-thick copper foil (3EC-III (brand name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.). The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

〔비교예 8〕[Comparative Example 8]

실시예 1 에서 얻어진 바니시를 메틸에틸케톤으로 희석시키고, 바 코터에 의해 350 ㎜ × 250 ㎜ × 70 ㎛ 두께의 동박 (산술 평균 조도 (Ra) : 4 ㎛, Furukawa Circuit Foil Taiwan (FCFT) 제조의 GY-MP (상품명)) 의 매트면측에 도포하고, 130 ℃ 에서 5 분간 가열 건조시킴으로써, 절연성 수지층의 두께가 40 ㎛ 인 절연성 수지층이 형성된 동박을 얻었다. 그 후, 실시예 1 과 동일하게 하여, 12 ㎛ 두께의 동박 (미츠이 금속 광업 (주) 제조의 3EC-III (상품명)) 을 사용하여, 금속박 피복 적층판을 얻었다. 얻어진 금속박 피복 적층판에 대해 평가를 실시하고, 그것들의 결과를 표 1 에 나타냈다.The varnish obtained in Example 1 was diluted with methyl ethyl ketone, and a copper foil having a thickness of 350 mm × 250 mm × 70 μm by a bar coater (arithmetic mean roughness (Ra): 4 μm, GY manufactured by Furukawa Circuit Foil Taiwan (FCFT)) -MP (brand name)) was applied to the mat surface side and heated and dried at 130°C for 5 minutes to obtain a copper foil with an insulating resin layer having a thickness of 40 µm. Thereafter, in the same manner as in Example 1, a metal foil-clad laminate was obtained using a 12 µm-thick copper foil (3EC-III (brand name) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd.). The obtained metal foil-clad laminate was evaluated and the results are shown in Table 1.

Figure pct00006
Figure pct00006

본 출원은, 2017년 12월 14일에 출원된 일본 특허출원 (특원 2017-239467호) 에 기초한 것으로서, 그 내용은 여기에 참조로서 받아들여진다.This application is based on the Japanese patent application (Japanese Patent Application No. 2017-239467) for which it applied on December 14, 2017, The content is taken in here as a reference.

산업상 이용가능성Industrial availability

본 발명에 의하면, 고밀도의 미세 배선이 형성되고, 양호한 도통공이 형성된 박형의 프린트 배선판 및 반도체 소자 탑재용 기판을 바람직하게 얻을 수 있다.Advantageous Effects of Invention According to the present invention, it is possible to preferably obtain a thin printed wiring board and a semiconductor element mounting substrate in which high-density fine wiring is formed and good through holes are formed.

10 : 절연성 수지층을 동박 피복 적층판에 적층시킨 프린트 배선판 (구멍뚫기 전)
11 : 절연성 수지층을 동박 피복 적층판에 적층시킨 프린트 배선판 (구멍뚫기 후)
20 : 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 금속박 피복 적층판에 적층시킨 프린트 배선판 (구멍뚫기 전)
21 : 본 실시형태의 절연성 수지층이 형성된 동박을 금속박 피복 적층판에 적층시킨 프린트 배선판 (구멍뚫기 후)
30 : 절연성 수지층
31 : 동박
32 : 유리 섬유 등의 무기물
40 : 유리 섬유가 돌출되어 있는 부분
10: Printed wiring board in which an insulating resin layer is laminated on a copper clad laminate (before drilling)
11: Printed wiring board in which an insulating resin layer is laminated on a copper clad laminate (after drilling)
20: Printed wiring board in which the copper foil with the insulating resin layer of this embodiment is laminated on a metal foil-clad laminate (before drilling)
21: Printed wiring board in which the copper foil on which the insulating resin layer of this embodiment was formed is laminated on a metal foil-clad laminate (after drilling)
30: insulating resin layer
31: copper foil
32: inorganic substances such as glass fiber
40: the part where the glass fiber protrudes

Claims (9)

동박과,
상기 동박에 적층된 절연성 수지층을 포함하고,
상기 절연성 수지층과 접하는 상기 동박 면의 산술 평균 조도 (Ra) 가 0.05 ∼ 2 ㎛ 이고,
상기 절연성 수지층이, (A) 열경화성 수지, (B) 구상 필러 및 (C) 평균 섬유 길이가 10 ∼ 300 ㎛ 인 유리 단섬유를 함유하는 수지 조성물로 이루어지는, 절연성 수지층이 형성된 동박.
With copper foil,
Including an insulating resin layer laminated on the copper foil,
The arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the copper foil in contact with the insulating resin layer is 0.05 to 2 µm,
The copper foil with an insulating resin layer, wherein the insulating resin layer is made of a resin composition containing (A) a thermosetting resin, (B) a spherical filler, and (C) short glass fibers having an average fiber length of 10 to 300 µm.
제 1 항에 있어서,
상기 절연성 수지층의 두께가 3 ∼ 50 ㎛ 인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method of claim 1,
The copper foil on which the insulating resin layer is formed, wherein the insulating resin layer has a thickness of 3 to 50 µm.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 동박의 두께가 1 ∼ 18 ㎛ 인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to claim 1 or 2,
The copper foil with an insulating resin layer, wherein the copper foil has a thickness of 1 to 18 µm.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 유리 단섬유의 섬유 직경이 1 ∼ 15 ㎛ 인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The copper foil with an insulating resin layer having a fiber diameter of 1 to 15 µm of the short glass fibers.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 유리 단섬유의 함유량이, 상기 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 450 질량부인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to any one of claims 1 to 4,
The copper foil with an insulating resin layer, wherein the content of the short glass fibers is 5 to 450 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 유리 단섬유가 밀드화 섬유인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to any one of claims 1 to 5,
The short glass fiber is a milled fiber, a copper foil with an insulating resin layer formed.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 구상 필러의 함유량이, 상기 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 50 ∼ 500 질량부인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to any one of claims 1 to 6,
The copper foil with an insulating resin layer in which the content of the spherical filler is 50 to 500 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition.
제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 열경화성 수지가, 에폭시 수지, 시안산에스테르 화합물, 말레이미드 화합물, 페놀 수지, 열경화 변성 폴리페닐렌에테르 수지, 벤조옥사진 화합물, 유기기 변성 실리콘 화합물 및 중합 가능한 불포화기를 갖는 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 함유하는, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to any one of claims 1 to 7,
The thermosetting resin is from the group consisting of an epoxy resin, a cyanate ester compound, a maleimide compound, a phenol resin, a thermosetting modified polyphenylene ether resin, a benzoxazine compound, an organic group modified silicone compound, and a compound having a polymerizable unsaturated group. Copper foil with an insulating resin layer containing at least one selected type.
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
프린트 배선판 또는 반도체 소자 탑재용 기판의 빌드업 재료용인, 절연성 수지층이 형성된 동박.
The method according to any one of claims 1 to 8,
Copper foil with an insulating resin layer for use as a build-up material for printed wiring boards or semiconductor device mounting substrates.
KR1020207015534A 2017-12-14 2018-11-30 Copper foil with an insulating resin layer KR102645236B1 (en)

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