KR20200078438A - Optical member inspection method, optical product manufacturing method, and optical member inspection apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 광학 부재의 검사 방법, 광학 제품의 제조 방법 및 광학 부재의 검사 장치에 관한 것이며, 보다 상세하게는 피검사물에 광을 조사하는 광원부와 상기 광원부에 의해 광이 조사된 부분을 반대측으로부터 촬상하는 촬상부를 갖는 검사 장치, 상기 검사 장치로 광학 부재를 검사하는 방법, 및 상기 검사된 광학 부재를 사용한 광학 제품의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for inspecting an optical member, a method for manufacturing an optical product, and a device for inspecting an optical member. More specifically, a light source unit irradiating light to an object to be inspected and a portion irradiated by the light source unit are imaged from opposite sides. It relates to an inspection device having an imaging unit, a method for inspecting an optical member with the inspection device, and a method for manufacturing an optical product using the inspected optical member.
종래, 화상 표시 장치 등의 광학 제품에 적용되는 광학 필름으로서 편광 필름(편광판)이 사용되고 있다.Conventionally, a polarizing film (polarizing plate) is used as an optical film applied to optical products, such as an image display device.
이 편광 필름은, 광학 필름 메이커에 있어서, 예를 들어 그 적어도 한쪽 면 위에 점착층을 개재하여 보호 필름이 적층된 필름 적층체의 상태로 제품화되어 있다.This polarizing film is commercialized in the state of a film laminate in which a protective film is laminated, for example, through an adhesive layer on at least one surface thereof in an optical film maker.
그리고, 편광 필름은, 광학 제품 메이커에 있어서, 상기 보호 필름이 박리되어 화상 표시 장치 등에 조립되어 있다.Then, in the optical product maker, the protective film is peeled off and assembled into an image display device or the like.
그런데, 편광 필름은 통상 연속적으로 제작되어 긴 띠 형상으로 되어 있다.By the way, the polarizing film is normally produced continuously and has a long strip shape.
그리고, 편광 필름은 점착층을 개재하여 적어도 한쪽 면에 상기 보호 필름이 적층된 필름 적층체로 되고, 또한 이 필름 적층체가 롤 형상으로 권취된 원재료 롤이라고 불리는 형태로 일단 보관된다.Then, the polarizing film is a film laminate in which the protective film is laminated on at least one side via an adhesive layer, and the film laminate is once stored in a form called a raw material roll wound in a roll shape.
그 후, 편광 필름은 펀칭 등에 의해 상기 원재료 롤로부터 소정 형상을 갖는 시트편으로 가공되고, 상기 시트편이 광학 제품에 조립되기 위한 제품이 된다.Thereafter, the polarizing film is processed into a sheet piece having a predetermined shape from the raw material roll by punching or the like, and the sheet piece becomes a product for assembling into an optical product.
또한, 상기 원재료 롤은 반드시 전체면에 걸쳐 양품으로 되어 있다고는 할 수 없으며, 통상, 상기 펀칭 전에 검사 장치를 거치면서 결함 부분의 검출이 행해진다.In addition, it is not always said that the raw material roll is a good product over the entire surface, and normally, defects are detected while passing through the inspection device before the punching.
이 원재료 롤과 같은 시트 형상의 광학 부재를 검사하는 검사 장치로서는 광원부와 촬상부를 갖는 것이 알려져 있으며, 상하로 대향 배치된 촬상부와 광원부 사이에서 피검사물인 광학 부재를 수평 방향으로 통과시키면서 상기 광학 부재에 하면측으로부터 상기 광원부에 의해 광 조사하고, 상기 광 조사 부분을 광학 부재의 상측으로부터 상기 촬상부에서 촬상하여 결함을 검출하는 타입의 것이 알려져 있다(하기 특허문헌 1 참조).As an inspection device for inspecting a sheet-like optical member such as this raw material roll, it is known to have a light source unit and an imaging unit, and the optical member as an object to be inspected is passed in a horizontal direction between the imaging unit and the light source unit disposed facing up and down. On the other hand, it is known to be of a type that detects defects by irradiating light from the lower surface side with the light source unit and imaging the light irradiation portion with the imaging unit from the upper side of the optical member (see Patent Document 1 below).
또한, 광학 부재를 수평으로 하여 검사를 행하는 것이 아니라, 광학 부재의 이동 방향이 수직 방향이 되는 검사 방법도 알려져 있다(하기 특허문헌 2 참조).In addition, an inspection method is known in which the optical member is not horizontally inspected, but the moving direction of the optical member becomes a vertical direction (see
즉, 종래의 광학 제품의 제조 방법에 있어서는, 시트 형상의 광학 부재의 결함을 검출하는 공정, 및 상기 공정 후의 광학 부재로부터 상기 광학 부재보다 소형의 시트편을 잘라내는 공정이 실시되고, 상기 시트편을 사용하여 광학 제품이 제조되고 있다.That is, in the manufacturing method of a conventional optical product, a process of detecting a defect of a sheet-shaped optical member and a step of cutting a sheet piece smaller than the optical member from the optical member after the step are performed, and the sheet piece Optical products are manufactured using.
그리고, 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 공정은, 통상, 상기 광학 부재에 대한 상기 광원부로부터의 광 조사 부분을 고정함과 함께, 상기 광 조사 부분을 상기 촬상부에 의한 촬상 부분으로 하고, 상기 촬상부와 상기 광원부 사이를 광학 부재를 통과시킴으로써 상기 광학 부재의 길이 방향을 따라 순서대로 결함을 검출하는 방법으로 행해지고 있다.And the process of detecting the defect of the said optical member usually fixes the light irradiation part from the said light source part with respect to the said optical member, sets the said light irradiation part as the imaging part by the said imaging part, and captures the said image. A method of detecting defects in order along the longitudinal direction of the optical member is performed by passing an optical member between the unit and the light source unit.
상기와 같은 검사 장치를 사용한 검사 방법에 있어서는, 당연히 촬상부에 의한 촬상 후에 광학 부재에 부착된 부착물은 당해 검사 장치에 의해 검지할 수 없다.In the inspection method using the inspection device as described above, naturally, the attachment to the optical member after imaging by the imaging unit cannot be detected by the inspection device.
따라서, 부착물이 최종적인 광학 제품에 혼입되어 광학 제품의 수율이 저하하는 것을 방지하는 측면에서, 상기 촬상 부분을 통과한 후에 부착물을 발생시키지 않을 것이 요구된다.Therefore, in terms of preventing the deposit from entering the final optical product and lowering the yield of the optical product, it is required not to generate the deposit after passing through the imaging portion.
특히, 광학 부재가 최표면에 점착층을 갖고, 또한 상기 점착층의 배면측에 상기 편광 필름이 적층된 적층체이며, 상기 광원부와 상기 촬상부 사이에서 상기 점착층을 상면측으로 하여 통과시키는 형태에 있어서는, 점착층의 표면 점착력에 의해 부착물이 탈락하기 어려워, 촬상 후에 부착된 부착물이 자연스럽게 광학 부재로부터 탈락하는 것을 기대하기가 곤란하다.In particular, the optical member has a pressure-sensitive adhesive layer on the outermost surface, and is a laminate in which the polarizing film is laminated on the back side of the pressure-sensitive adhesive layer, and passes through the pressure-sensitive adhesive layer between the light source unit and the imaging unit toward the top surface. In the case, it is difficult for the adherend to drop off due to the surface adhesion of the adhesive layer, and it is difficult to expect that the adhered matter after imaging is naturally removed from the optical member.
따라서, 이러한 형태에 있어서는, 상기 촬상 후에 부착물을 발생시키지 않는 것이 특히 강하게 요구된다.Therefore, in this form, it is particularly strongly required that no deposit is generated after the imaging.
이러한 요망에 대하여, 상기 특허문헌 2(일본 특허 공개 제2009-069142)에 개시되어 있는 바와 같이, 점착층과 편광 필름의 적층체의 이동 방향을 수직 방향으로 하여 검사를 행하여, 촬상 후의 부착물의 발생을 방지하는 것을 고려할 수 있다.With respect to such a request, as disclosed in Patent Document 2 (Japanese Patent Publication No. 2009-069142), inspection is performed with the moving direction of the laminate of the adhesive layer and the polarizing film in the vertical direction to generate deposits after imaging. It can be considered to prevent.
그러나, 그러한 검사 방법은, 적층체의 이동 방향이 수직이 되기 때문에 장치 높이가 높아져, 작업성을 저하시킬 우려가 있기 때문에 채용하기가 어렵다.However, such an inspection method is difficult to adopt because the height of the device increases and the workability may deteriorate because the direction of movement of the laminate becomes vertical.
또한, 촬상 후에 부착물을 발생시키지 않는 것이 요구되는 것은, 점착층을 갖는 것에서 사용되는 편광 필름에 한정되는 것이 아니라, 그 밖의 광학 필름에 대해서도 마찬가지이다.In addition, it is not limited to the polarizing film used in having an adhesive layer, and it is also the same for other optical films that it is required not to generate adhesion after imaging.
그러나, 종래의 광학 부재의 검사 방법에 있어서는, 상기와 같은 요망이 충분히 충족되지 않아, 광학 제품의 제조에 있어서 종래 이상으로 수율을 향상시키기가 곤란하게 되어 있다.However, in the inspection method of the conventional optical member, the above-described request is not sufficiently satisfied, and it is difficult to improve the yield over the conventional one in the manufacture of optical products.
본 발명은 이러한 문제를 해결하는 것을 과제로 하고 있으며, 검사 장치 자체, 혹은 상기 검사 장치를 포함하는 광학 부재의 제조 라인의 설비 높이가 높아지는 것을 억제하면서도, 상기 촬상 후에 광학 부재에 부착물이 발생하는 것을 억제시킬 수 있는 광학 부재의 검사 방법을 제공하고, 나아가 광학 제품의 제조에서의 수율을 향상시키는 것을 과제로 하고 있다.The present invention aims to solve such a problem, and suppresses an increase in the height of the equipment of the inspection device itself or the manufacturing line of the optical member including the inspection device, while preventing the occurrence of deposits on the optical member after the imaging. An object of the present invention is to provide a method for inspecting an optical member that can be suppressed, and further to improve the yield in manufacturing an optical product.
본 발명자는 상기 과제를 해결하기 위하여 예의 검토한바, 촬상부나 광원부로부터 미소한 이물이 발생되는 일이 있어, 이것이 촬상부에 의한 촬상 부분을 통과한 후의 광학 부재에의 부착물의 원인이 되는 경우가 있다는 것, 및 광학 부재의 상측에 위치하는 촬상부 또는 광원부를 상기 촬상 부분의 바로 위보다 상류측에 위치시키는 것이 상기 부착물의 억제에 유효하다는 것을 알아내어, 본 발명을 완성시키기에 이른 것이다.In order to solve the above problem, the present inventors have studied earnestly, and there may be cases where a small foreign matter is generated from the imaging unit or the light source unit, which may cause adhesion to the optical member after passing through the imaging portion by the imaging unit. It has been found out that it is effective to suppress the attachment by placing the imaging unit or the light source unit positioned on the upper side of the optical member on the upstream side of the imaging section, and is effective in suppressing the attachment.
즉, 상기 과제를 해결하기 위한 광학 부재의 검사 방법에 관한 본 발명은, 시트 형상의 광학 부재를 피검사물로 하여 광원부와 촬상부를 갖는 검사 장치에 공급하고, 상기 광학 부재를 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키면서 상기 광학 부재의 일면측에 상기 광원부로부터 광을 조사하고, 또한 상기 광이 조사된 부분을 상기 광학 부재의 타면측으로부터 상기 촬상부에서 촬상하여 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 광학 부재의 검사 방법이며, 상기 광학 부재를 수평 상태 또는 수평 방향에 대하여 경사지게 한 상태로 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키고, 또한 상기 광원부 및 상기 촬상부 중 상기 광학 부재의 상측에 위치하는 것을 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치시켜 상기 결함의 검출을 실시하는 것을 특징으로 하고 있다.In other words, the present invention relates to a method for inspecting an optical member for solving the above problems, using a sheet-shaped optical member as an object to be inspected and supplying it to an inspection device having a light source unit and an imaging unit, and supplying the optical member to the light source unit and the imaging unit. An optical member that irradiates light from the light source unit to one surface side of the optical member while passing through, and also detects a defect of the optical member by imaging the portion irradiated with the light from the other surface side of the optical member in the imaging unit It is an inspection method, the image passing through the light source and the imaging unit in a state in which the optical member is inclined with respect to the horizontal state or the horizontal direction, and further positioned on the upper side of the optical member among the light source unit and the imaging unit It is characterized in that the defect is detected by being positioned upstream of the moving direction of the optical member rather than directly above the imaging portion of the optical member by the negative.
또한, 상기 과제를 해결하기 위한 광학 제품의 제조 방법에 관한 본 발명은, 시트 형상의 광학 부재를 피검사물로 하여 광원부와 촬상부를 갖는 검사 장치에 공급하고, 상기 광학 부재를 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키면서 상기 광학 부재의 일면측에 상기 광원부로부터 광을 조사하고, 또한 상기 광이 조사된 부분을 상기 광학 부재의 타면측으로부터 상기 촬상부에서 촬상하여 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 공정, 및 상기 공정 후의 광학 부재로부터 상기 광학 부재보다 소형인 시트편을 잘라내는 공정을 실시하고, 상기 시트편을 사용하여 광학 제품을 제조하는 광학 제품의 제조 방법이며, 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 상기 공정에서는, 상기 광학 부재를 수평 상태 또는 수평 방향에 대하여 경사지게 한 상태로 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키고, 또한 상기 광원부 및 상기 촬상부 중 상기 광학 부재의 상측에 위치하는 것을 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치시켜 상기 결함의 검출을 실시하여, 시트편을 잘라내는 상기 공정에서는, 광학 부재의 결함이 발견되지 않은 부분으로부터 상기 시트편을 잘라내는 것을 특징으로 하고 있다.In addition, the present invention relates to a method for manufacturing an optical product for solving the above problems, and a sheet-shaped optical member is used as an object to be inspected and supplied to an inspection device having a light source unit and an imaging unit, and the optical member is provided with the light source unit and the imaging unit. A step of irradiating light from the light source unit to one surface side of the optical member while passing through, and detecting a defect of the optical member by imaging a portion irradiated with the light from the other surface side of the optical member by the imaging unit; And a step of cutting a sheet piece smaller than the optical member from the optical member after the step, and manufacturing method of the optical product using the sheet piece, wherein the defect of the optical member is detected. In the process, the optical member is passed between the light source unit and the imaging unit in a state in which the optical member is inclined with respect to a horizontal state or a horizontal direction, and the optical unit is positioned above the optical member among the light source unit and the imaging unit. In the step of cutting the sheet piece by detecting the defect by positioning it upstream of the moving direction of the optical member rather than directly above the imaging portion of the optical member, the sheet from the portion where no defect of the optical member was found It is characterized by cutting off the side.
또한, 상기 과제를 해결하기 위한 검사 장치에 관한 본 발명은, 시트 형상의 광학 부재를 검사하기 위하여 사용되고, 광원부와 촬상부를 갖고, 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과하는 상기 광학 부재의 일면측에 상기 광원부로부터 광이 조사되고, 상기 광이 조사된 부분이 상기 광학 부재의 타면측으로부터 상기 촬상부에서 촬상되어 결함이 검출되는 광학 부재의 검사 장치이며, 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과하는 광학 부재가 수평 상태 또는 수평 방향에 대하여 경사진 상태가 되도록 상기 광학 부재의 이동 경로가 형성되어 있고, 또한 상기 광원부 및 상기 촬상부 중 상기 광학 부재의 상측에 위치하는 것이 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치하고 있는 것을 특징으로 하고 있다.In addition, the present invention relating to an inspection device for solving the above problems is used for inspecting a sheet-shaped optical member, has a light source unit and an imaging unit, and is provided on one side of the optical member passing between the light source unit and the imaging unit. An optical member inspection apparatus in which light is irradiated from the light source unit, and a portion to which the light is irradiated is imaged by the imaging unit from the other surface side of the optical member to detect defects, and passes through between the light source unit and the imaging unit The moving path of the optical member is formed so that the member is in a horizontal state or a state inclined with respect to the horizontal direction, and the optical member provided by the imaging unit is positioned above the optical member among the light source unit and the imaging unit. It is characterized in that it is located on the upstream side of the moving direction of the optical member rather than directly above the imaging portion.
본 발명에 따르면, 검사 장치의 촬상부 및 광원부 중, 광학 부재의 상측에 위치하는 것이 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치된다.According to the present invention, of the imaging unit and the light source unit of the inspection device, the one positioned above the optical member is positioned upstream of the moving direction of the optical member rather than directly above the imaging portion of the optical member by the imaging unit.
따라서, 본 발명에 따르면 촬상부에서 검지되지 않은 부착물이 최종적인 광학 제품에 혼입되는 것을 억제할 수 있다.Therefore, according to the present invention, it is possible to suppress the adhering of the undetected attachment in the imaging unit into the final optical product.
그리고, 본 발명은 그에 의해 광학 제품의 수율이 저하되는 것을 억제할 수 있다.Then, the present invention can suppress the yield of the optical product from being lowered thereby.
또한, 본 발명에 따르면, 촬상부와 광원부 사이에 있어서 광학 부재를 수직 방향으로 이동시키지 않기 위하여 검사 장치 자체나 광학 부재의 제조 설비의 높이가 높아져 버리는 것을 억제할 수 있다.Further, according to the present invention, it is possible to suppress the height of the inspection device itself or the manufacturing facilities of the optical member from being increased in order not to move the optical member in the vertical direction between the imaging unit and the light source unit.
또한, 본 발명에 있어서는, 상기와 같은 효과를 보다 현저하게 발휘시키는 측면에서, 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과하는 상기 광학 부재를 이동 방향을 향하여 끝이 올라가는 경사 상태로 하여 상기 결함의 검출을 실시하는 것이 바람직하다.In addition, in the present invention, from the viewpoint of exerting the above effects more remarkably, the optical member passing between the light source unit and the imaging unit is placed in an inclined state with an end rising toward the moving direction to detect the defect. It is preferable to carry out.
또한, 본 발명에 있어서는, 상기 광원부나 상기 촬상부를 광학 부재에 접근시킨 배치로 하기 쉬워 공간 절약화에 유효해지는 측면에서, 상기 광원부와 상기 촬상부를 연결하는 선분이, 상기 광학 부재의 이동 방향에 대하여 직교하는 방향이 되도록 상기 광원부와 상기 촬상부를 배치하여 상기 결함의 검출을 실시하는 것이 바람직하다.In addition, in the present invention, the light source portion and the line segment connecting the light source portion and the image pickup portion are easy to make an arrangement where the light source portion and the image pickup portion are approached to the optical member, and are effective in saving space. It is preferable to detect the defect by arranging the light source unit and the imaging unit so as to be in an orthogonal direction.
또한, 본 발명에 있어서는, 상기 광학 부재가 최표면에 점착층을 갖고, 또한 상기 점착층의 배면측에 편광 필름이 적층된 적층체이며, 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 상기 점착층을 상면측으로 하여 상기 광학 부재를 통과시키는 경우에, 촬상부에서 검지되지 않은 부착물이 최종적인 광학 제품에 혼입되는 것을 억제하는 효과를 보다 현저하게 발휘시킬 수 있다.In addition, in the present invention, the optical member has a pressure-sensitive adhesive layer on the outermost surface, and is a laminate in which a polarizing film is laminated on the back side of the pressure-sensitive adhesive layer, and the pressure-sensitive adhesive layer is placed on the upper side between the light source unit and the imaging unit. Thus, in the case of passing the optical member, the effect of suppressing the adhering of the undetected attachment from the imaging unit to the final optical product can be exhibited more remarkably.
도 1은 본 발명의 검사 방법이 적용되는 광학 부재의 구성을 도시한 개략 사시도.
도 2는 본 발명의 검사 방법이 실시되는 설비의 개략을 도시한 개략 설비도.
도 3은 도 2의 주요부를 확대하여 도시한 주요부 확대도.1 is a schematic perspective view showing the configuration of an optical member to which the inspection method of the present invention is applied.
Fig. 2 is a schematic facility diagram showing the outline of a facility in which the inspection method of the present invention is carried out.
FIG. 3 is an enlarged view of a main part showing an enlarged main part of FIG. 2.
이하에, 본 발명의 바람직한 실시 형태에 대하여 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described.
우선, 본 발명의 검사 방법이 적용되는 광학 부재의 구성을 도시한 도 1을 참조하면서 당해 광학 부재에 대하여 설명한다.First, the optical member will be described with reference to FIG. 1 showing the configuration of the optical member to which the inspection method of the present invention is applied.
본 발명의 실시 형태에 관한 상기 광학 부재는, 적어도 광학 필름을 구비한 시트 형상의 광학 부재이며, 상기 광학 필름을 포함하는 복수의 필름을 포함하는 필름 적층체이다.The said optical member which concerns on embodiment of this invention is a sheet-shaped optical member provided with an optical film at least, and is a film laminated body containing a some film containing the said optical film.
상기 필름 적층체는, 도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 긴 띠 형상의 광학 필름(fx)과, 상기 광학 필름(fx)의 양면을 보호하기 위한 2매의 보호 필름(fy, fz)을 갖는다.The film laminate has an elongated band-shaped optical film fx and two protective films fy and fz for protecting both surfaces of the optical film fx, as shown in FIG. 1. .
상기 필름 적층체(f0)에서의 2매의 상기 보호 필름(fy, fz)은, 광학 필름(fx)과 동일 형상을 갖고, 각각 점착층(a1, a2)을 개재하여 광학 필름(fx)에 접착되어 있다.The two protective films fy and fz in the film laminate f0 have the same shape as the optical film fx, and are respectively attached to the optical film fx via adhesive layers a1 and a2. It is glued.
따라서, 본 실시 형태에서의 필름 적층체(f0)는, 평면 형상이 광학 필름(fx)과 동일 형상이고, 두께가 광학 필름(fx)보다 두껍고, 도 1의 위에서부터 보호 필름(fy), 점착층(a1), 광학 필름(fx), 점착층(a2) 및 보호 필름(fz)의 순서가 되는 층 구성을 갖고 있다.Therefore, the film layered product f0 in this embodiment has a planar shape that is the same as that of the optical film fx, a thickness greater than that of the optical film fx, and a protective film fy and adhesion from above in FIG. 1. It has a layer structure in order of the layer (a1), the optical film (fx), the adhesive layer (a2), and the protective film (fz).
또한, 본 실시 형태에 있어서는, 2매의 상기 보호 필름(fy, fz)은 양쪽 모두 검사 장치에서의 검사 전에 광학 필름(fx)으로부터 박리된다.In addition, in this embodiment, the two said protective films fy and fz are both peeled from the optical film fx before inspection by an inspection apparatus.
보다 상세하게 설명하면, 상기 보호 필름(fy, fz) 중, 상측의 보호 필름(fy)은 광학 필름(fx)과의 사이의 점착층(a1)(이하, 「제1 점착층(a1)」이라고도 함)의 표면으로부터 검사 전에 박리된다.In more detail, among the protective films fy and fz, the upper protective film fy is an adhesive layer a1 between the optical film fx (hereinafter referred to as "first adhesive layer (a1)"). ).
한편, 하측의 보호 필름(fz)은, 광학 필름(fx)과의 사이의 점착층(a2)(이하, 「제2 점착층(a2)」이라고도 함)을 수반하여 점착층을 갖는 보호 필름(fb)이 되어 검사 전에 광학 필름(f0)의 표면으로부터 박리된다.On the other hand, the protective film fz on the lower side is a protective film having an adhesive layer with an adhesive layer (a2) (hereinafter also referred to as "second adhesive layer (a2)") between the optical film fx ( fb) and peeled off from the surface of the optical film f0 before inspection.
또한, 이하에 있어서, 단순히 「보호 필름」이라고 칭하는 경우에는, 특별히 언급이 없는 한 점착층을 갖는 보호 필름(fb)이 되어 광학 필름(fx)으로부터 박리되는 하측의 보호 필름(fz)을 의미하는 것으로 하고, 제1 점착층(a1)의 표면으로부터 박리되는 상측의 보호 필름(fy)은, 「제1 보호 필름(fy)」 또는 「세퍼레이터(fy)」라고 칭하여 하측의 보호 필름(fz)과 구별하기로 한다.In addition, in the following, simply referred to as a "protective film" means a protective film (fz) on the lower side which is a protective film (fb) having an adhesive layer and peeled from the optical film (fx) unless otherwise specified. The upper protective film fy peeled from the surface of the first adhesive layer a1 is referred to as "first protective film fy" or "separator fy", and the lower protective film fz. Let's distinguish.
또한, 이하에 있어서는, 보다 구별이 명확해지도록 하측의 보호 필름(fz)을 「제2 보호 필름(fz)」이라고 칭하는 경우가 있다.In addition, in the following, the protective film fz on the lower side may be referred to as a "second protective film fz" in order to make the distinction more clear.
상기와 같이 본 실시 형태에 있어서는, 검사 장치에서의 검사는 점착층을 갖는 보호 필름(fb)과 세퍼레이터(fy)가 광학 필름(fx)으로부터 제거되어 실시된다.As described above, in the present embodiment, the inspection in the inspection device is performed by removing the protective film fb and separator fy having the adhesive layer from the optical film fx.
따라서, 본 실시 형태에 있어서 검사 장치로 검사되는 피검사물은, 상기 제1 점착층을 최표면에 구비하고, 상기 제1 점착층(a1)의 배면측에 상기 광학 필름(fx)이 적층된 적층체(fa)가 된다.Therefore, in the present embodiment, the inspected object inspected by the inspection device is provided with the first adhesive layer on its outermost surface, and the optical film fx is laminated on the back side of the first adhesive layer (a1). It becomes the body (fa).
본 실시 형태의 검사 방법을 실시하는 적층체(fa)를 구성하는 상기 광학 필름(fx)은, 예를 들어 중합체 필름간에 편광자가 끼워져 이루어지는 편광 필름으로 할 수 있다.The said optical film fx which comprises the laminated body fa which performs the inspection method of this embodiment can be made into a polarizing film which a polarizer is sandwiched between polymer films, for example.
계속해서, 이 광학 필름(fx)과 점착층이 적층되어 이루어지는 적층체(fa)의 결함 부분을 검사하기 위한 설비에 대하여 도 2, 3을 참조하면서 설명한다.Subsequently, a facility for inspecting the defective portion of the laminate fa formed by laminating the optical film fx and the adhesive layer will be described with reference to FIGS. 2 and 3.
도 2는 상기 적층체(fa)의 이동 방향에 대하여 측방으로부터 설비를 본 모습을 도시하는 것이다.FIG. 2 is a view showing the equipment viewed from the side with respect to the moving direction of the laminate fa.
이 도 2에도 도시되어 있는 바와 같이, 상기 설비에는 필름 적층체(f0)가 롤 형상으로 권취되어 이루어지는 원재료 롤이 장착되고, 상기 원재료 롤의 외측으로부터 상기 필름 적층체(f0)가 풀어내어지는 송출기(1)가 구비되어 있다.As also shown in FIG. 2, the facility is equipped with a raw material roll formed by winding the film stacked body f0 into a roll shape, and a dispenser in which the film stacked body f0 is released from the outside of the raw material roll. (1) is provided.
또한, 당해 설비에는, 상기 제2 보호 필름(fz)과 상기 제2 점착층(a2)의 적층체인 점착층을 갖는 보호 필름(fb)을 상기 송출기(1)로부터 풀어내어진 필름 적층체(f0)로부터 박리하여 권취하는 보호 필름 권취기(2)가 구비되어 있다.In addition, in the facility, the film laminate (f0), in which the protective film (fb) having the adhesive layer, which is a laminate of the second protective film (fz) and the second adhesive layer (a2), is released from the transmitter (1) ) Is provided with a protective
또한, 당해 설비에는, 상기 필름 적층체(f0)로부터 세퍼레이터(fy)를 더 박리하여 권취하기 위한 세퍼레이터 권취기(3), 및 점착층을 갖는 보호 필름(fb)과 세퍼레이터(fy)가 필름 적층체(f0)로부터 박리 제거되어 얻어진 적층체(fa)를 피검사물로 하여 검사를 행하는 검사 장치(10)가 구비되어 있다.Further, in this facility, a separator winding machine 3 for further peeling and winding the separator fy from the film laminate f0, and a protective film fb having a pressure-sensitive adhesive layer and a separator fy are laminated. An
또한, 도시하지 않았지만, 상기 설비는, 상기 검사 장치(10)에 의해 찾아낸 결함 부분을 마킹하여 명시하기 위한 마킹 장치를 상기 검사 장치(10)의 하류측에 구비하고 있다.In addition, although not shown, the facility is provided with a marking device on the downstream side of the
상기 검사 장치(10)는, 적층체(fa)의 결함 부분을 찾아내기 위한 촬상부(11)와, 상기 촬상부(11)에 의한 촬상 부분에 배면측으로부터 광을 조사하기 위한 광원부(12)를 갖고 있다.The
상기 검사 장치(10)는, 본 실시 형태에 있어서는 흠집 부분, 박육 부분, 핀 홀 부분, 이물 부착 부분, 이들 이외를 원인으로 하여 허용 범위를 초과하여 편광 특성이 주위와 상이한 부분 등을 결함 부분으로서 검지할 수 있도록 구성되어 있다.In the present embodiment, the
상기 검사 장치(10)의 상기 촬상부(11)는, 예를 들어 라인 센서 카메라나 에어리어 센서 카메라 등에 의해 구성시킬 수 있다.The
상기 라인 센서 카메라나 에어리어 센서 카메라는 단독으로 사용될 필요는 없고, 복수대를 적층체(fa)의 폭 방향(대략 수평 방향)으로 배열 배치하여 촬상부(11)를 형성시키도록 하여도 된다.The line sensor camera or the area sensor camera need not be used alone, and a plurality of arrays may be arranged in the width direction (approximately horizontal direction) of the laminate fa to form the
또한, 요컨대 상기 촬상부(11)는 다른 기능을 갖는 복수대의 기기에 따라 구성되어도 된다.In addition, in short, the
상기 광원부(12)는 형광등, 할로겐 램프, 메탈 할라이드 램프, LED 등을 사용하여 형성시킬 수 있다.The
상기 광원부(12)도, 상기 촬상부(11)와 마찬가지로 형광등, 할로겐 램프, 메탈 할라이드 램프, LED 등이 적층체(fa)의 폭 방향으로 복수 배열되어 형성되어도 되며, 그 경우에 동일한 광원을 배열하여 배치할 필요가 없는 점에 대해서도 촬상부(11)와 동일하다.The
본 실시 형태의 검사 장치(10)는, 상기 촬상부(11)와 상기 광원부(12)가 수직 방향으로 고저차를 두고 설치되며, 보다 상세하게는 상기 촬상부(11)가 상기 광원부(12)보다 상위에 배치되어 있다.In the
그리고, 본 실시 형태의 검사 장치(10)는, 상기 촬상부(11)와 상기 광원부(12)가 수평 방향으로 위치 어긋나 설치되어 있다.In addition, in the
즉, 상기 촬상부(11)는, 상기 광원부(12)의 바로 위에 배치되어 있는 것이 아니라, 상기 광원부(12)의 비스듬하게 상측에 배치되어 있다.That is, the
그리고, 본 실시 형태의 검사 장치(10)에는, 피검사물인 상기 적층체(fa)가 상기 촬상부(11)와 상기 광원부(12) 사이를 통과하도록 상기 적층체(fa)의 이동 경로가 형성되어 있고, 상기 이동 경로는 촬상부(11)와 광원부(12) 사이를 상기 통과하는 적층체(fa)를 이동 방향을 향하여 끝이 올라가는 경사 상태로 할 수 있도록 구성되어 있다.Further, in the
그리고, 상기 촬상부(11)와 상기 광원부(12)는, 이들을 연결하는 선분이 촬상부(11)와 상기 광원부(12) 사이를 통과하는 상기 적층체(fa)와 직교하도록 배치되어 있다.In addition, the
즉, 상기 촬상부(11)에 의한 상기 적층체(fa)의 촬상 부분은, 상기 촬상부(11)로부터 적층체 표면에 대하여 수선이 되도록 그린 가상선(도 2의 X1)과 당해 적층체(fa)와의 교점을 통과하여, 적층체(fa)의 폭 방향에 평행한 직선 형상의 영역(도 3의 A)이 된다.That is, the imaging portion of the laminate fa by the
또한, 여기에서는 촬상 부분을 가는 직선 형상의 것으로서 예시하고 있지만, 본 실시 형태에서의 촬상 부분은 이러한 형상에 한정되는 것은 아니다.In addition, although the imaging part is illustrated as a thin linear shape here, the imaging part in this embodiment is not limited to such a shape.
즉, 촬상되는 영역은, 당연히 상기 촬상부(11)를 구성하는 기기에 따라 넓이나 형상 등이 상이하며, 예를 들어 상기 라인 센서 카메라로 상기 촬상부(11)를 구성한 경우에는 도 3에 도시한 바와 같은 세선 형상의 영역이 되고, 상기 에어리어 센서 카메라로 촬상부(11)를 구성한 경우에는 라인 센서 카메라를 사용한 경우보다 폭 넓게 형성되게 되지만, 본 실시 형태에 있어서는 당해 영역의 형상이 특별히 한정되는 것은 아니다.That is, the area to be imaged is naturally different in width or shape depending on the devices constituting the
상기 광원부(12)는, 그 광 조사가 적어도 이 촬상 부분(A)의 이측에 대하여 충분한 조도로 실시되도록 검사 장치(10)에 배치되어 있다.The
이 검사 장치(10)를 사용한 적층체(fa)의 검사 방법에 있어서는, 상기 적층체(fa)는 피검사물로 하여 상기 검사 장치(10)에 공급되고, 상기 광원부(12)와 상기 촬상부(11) 사이를 통과할 때, 그 하면측에 상기 광원부(12)로부터 광이 조사되고, 또한 상기 광이 조사된 부분이 반대측으로부터 상기 촬상부(11)에서 촬상되어 결함이 검출된다.In the inspection method of the laminate fa using the
나아가, 광원부(12)와 촬상부(11) 사이를 상기 통과하는 적층체(fa)를 이동 방향을 향하여 끝이 올라가는 경사 상태로 함으로써, 상기 적층체(fa)는, 그 상측에 위치하는 상기 촬상부(11)를 촬상 부분(A)의 바로 위보다 상기 이동 방향(D)의 상류측에 위치시켜 상기 결함이 검출된다.Further, by setting the stacked product fa passing between the
여기에서는, 상기 촬상부(11)는, 그 전체가 상기 촬상 부분(A)의 바로 위(도 3의 가상선(X2))보다 상기 적층체(fa)의 이동 방향 상류측(BW)에 위치되어 있고, 하류측(FW)에는 일부분도 존재하고 있지 않다.Here, the
이에 의해, 가령 촬상부(11)를 구성하고 있는 라인 센서 카메라의 외부에 부착되어 있던 진애 등이 적층체(fa) 상에 낙하하거나, 상기 라인 센서 카메라의 내부로부터 미소 이물이 발생하여 이것이 적층체(fa) 상에 낙하하는 일이 있어도, 이것들은 촬상 부분(A)보다 상류측에 낙하할 가능성이 높아진다.Thereby, for example, dust or the like attached to the outside of the line sensor camera constituting the
그리고, 상기 미소 이물은 촬상부(11)에서 촬상되어 결함으로서 인식될 수 있다.In addition, the minute foreign material may be imaged by the
따라서, 본 실시 형태의 검사 방법은, 종래의 적층체를 수평으로 이동시키면서 상기 적층체를 바로 위에서 촬상하는 검사 방법에 비하여, 검지되지 않는 결함이 최종 제품의 광학 제품에 혼입될 우려를 저감할 수 있다.Therefore, the inspection method of the present embodiment can reduce the possibility of defects that are not detected being incorporated into the optical product of the final product, compared to the inspection method of imaging the laminate directly above while moving the conventional laminate horizontally. have.
또한, 이러한 효과의 발휘는, 촬상부(11)와 광원부(12)가 바뀌는 경우에 있어서도 동일하게 발휘될 수 있다.In addition, the exertion of such an effect can be exhibited similarly even when the
즉, 상기 효과는 광원부와 촬상부 사이에서 상기 통과하는 적층체를 이동 방향을 향하여 끝이 올라가는 경사 상태로 하고, 상기 적층체의 상측에 위치하는 광원부를 상기 촬상부에 의한 적층체의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 이동 방향의 상류측에 위치시켜 상기 결함을 검출시킨 경우에도 마찬가지로 발휘될 수 있다.That is, the effect is that the stacked body passing between the light source unit and the imaging unit is in an inclined state where the end rises toward the moving direction, and the light source unit located above the stacked body of the stacked image pickup unit by the imaging unit It can be exhibited similarly when the defect is detected by being positioned upstream of the moving direction rather than directly above.
또한, 상기 효과를 얻는 측면에서, 적층체의 상측에 위치하는 촬상부 또는 광원부를 상기 촬상부에 의한 적층체의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 적층체의 이동 방향 상류측에 위치시킴과 함께 상기 적층체를 끝이 올라가는 경사로 하는 것이 특히 유효하게 된다.In addition, in the aspect of obtaining the above effect, the image pickup unit or light source portion located on the upper side of the stacked body is positioned on the upstream side of the stacking direction of the stacked body, rather than directly above the imaged portion of the stacked body by the imaged portion, and the stacking is performed. It is especially effective to tilt the sieve to the end.
이에 대하여 설명하면, 촬상부와 광원부 사이를 통과하는 적층체의 이동 경로를, 이동 방향을 향하여 끝이 내려가는 경사 상태나 수평 상태로 하여도 적층체의 상측에 위치하는 촬상부 또는 광원부를 상기 촬상부에 의한 적층체의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 적층체의 이동 방향 상류측에 위치시킴으로써 검지되지 않는 결함이 최종 제품의 광학 제품에 혼입될 우려를 저감시킬 수 있다.In this regard, the imaging unit or the light source unit located above the stacked body even when the moving path of the stacked body passing between the imaging unit and the light source unit is in an inclined state or horizontal state in which the end is lowered toward the moving direction is the imaging unit. By placing it on the upstream side in the direction of movement of the stacked body, rather than directly above the imaging portion of the stacked body, there is a possibility to reduce the possibility of defects not detected being mixed into the optical product of the final product.
한편, 상기 적층체를 끝이 올라가는 경사로 하는 경우에는, 촬상부와 광원 부를 적층체에 대하여 직교하는 방향에 있어서 대향하도록 배치함으로써, 상기 적층체의 상측에 위치하는 촬상부 또는 광원부는, 촬상 부분의 바로 위보다 상기 적층체의 이동 방향의 상류측에 배치되게 된다.On the other hand, in the case where the stacked body is inclined toward the end, the imaging unit or the light source unit positioned on the upper side of the stacked body is disposed by arranging the imaging unit and the light source unit to face each other in a direction perpendicular to the stacked body. It is arranged on the upstream side of the direction of movement of the laminate than just above.
따라서, 상기 적층체를 끝이 올라가는 경사로 하는 경우에는, 촬상부나 광원부를 적층체에 대하여 접근한 배치로 하면서 촬상 부분의 바로 위보다 상기 적층체의 이동 방향의 상류측에 촬상부나 광원부를 배치시키기 쉽다.Therefore, when the stacked body is inclined toward the end, it is easy to arrange the imaging section or the light source section on the upstream side of the moving direction of the stacked body rather than directly above the imaging section while the imaging section or the light source section is placed close to the stacked section. .
즉, 적층체를 끝이 올라가는 경사로 함으로써, 검사를 위한 공간을 절약화시킬 수 있다.That is, it is possible to save the space for inspection by making the laminate inclined at the end.
또한, 적층체의 이동 방향을 수직 방향으로 한 경우에도, 촬상부에 의한 촬상 부분의 바로 위에 당해 촬상부나 상기 광원부를 위치시키지 않고, 촬상부와 광원부를 적층체에 대하여 접근한 배치로 할 수 있다.In addition, even when the moving direction of the stacked body is set to the vertical direction, the image pickup section and the light source section can be arranged to be approached to the stacked body without placing the image pickup section or the light source section directly above the image pickup section by the imaging section. .
그러나, 보호 필름이나 세퍼레이터가 제거된 후의 상기 적층체에 대하여 롤러 등을 접촉시켜 이동 방향의 전환을 행하는 것은 바람직한 것이 아니며, 특히 점착층의 표면에 대해서는 어떠한 부재이든 접촉시키는 것이 극히 곤란하다.However, it is not preferable to contact a roller or the like with the laminate after the protective film or separator has been removed to switch the moving direction, and it is particularly difficult to make any member contact the surface of the adhesive layer.
따라서, 적층체의 이동 방향을 수직 방향으로 한 경우, 검사 장치 전후에 배치되는 장치류를 수직 방향으로 배치할 필요성이 높아지는 결과로서 설비의 높이가 높아져 버릴 우려가 있다.Therefore, when the moving direction of the laminate is set to the vertical direction, the height of the equipment may increase as a result of increasing the necessity of arranging devices arranged before and after the inspection device in the vertical direction.
설비 높이가 높아지면, 검사 장치에 피검사물을 세트하거나, 이 검사 장치의 설정을 행하거나 할 때의 작업성을 저하시켜 버릴 우려를 갖는다.When the height of the equipment is high, there is a fear that workability is reduced when an object to be inspected is set in the inspection device or when the inspection device is set.
이에 반하여, 적층체를 수평 상태 또는 수평 방향에 대하여 경사지게 한 상태로 하여 촬상부와 광원부 사이를 통과시키도록 하면 설비의 높이가 높아져 버릴 우려를 억제할 수 있다.On the other hand, if the laminate is made to be in a horizontal state or inclined with respect to the horizontal direction to pass between the imaging unit and the light source unit, the height of the equipment can be suppressed.
즉, 적층체의 각도(앙각)가 0°(수평 상태), -90° 초과 0° 미만(끝이 내려가는 경사), 또는 0° 초과 90° 미만(끝이 올라가는 경사)이 되도록 촬상부와 광원부 사이에서의 적층체의 이동 경로를 설정함으로써, 설비는 그 높이가 필요 이상으로 높아지는 것을 방지할 수 있다.That is, the imaging unit and the light source unit so that the angle (angular angle) of the laminate is 0° (horizontal state), more than -90° and less than 0° (inclination at which the end goes down), or more than 0° and less than 90° (inclination at which the end goes up) By setting the path of movement of the laminate between them, the equipment can prevent the height from becoming higher than necessary.
이렇게 상기 촬상부와 상기 광원부 사이를 통과할 때의 적층체의 각도(앙각)는, 설비의 높이를 억제하는 측면에서 -90° 초과 90° 미만이 된다.Thus, the angle (angular angle) of the laminate when passing between the imaging unit and the light source unit is greater than -90° and less than 90° in terms of suppressing the height of the equipment.
상기 촬상부와 상기 광원부 사이를 통과할 때의 적층체의 각도(앙각)는, 장치 높이를 억제하는 효과를 보다 현저하게 발휘시키는 측면에서, 0° 초과 70° 이하로 하는 것이 바람직하고, 0° 초과 60° 이하로 하는 것이 특히 바람직하다.The angle (angular angle) of the laminate when passing between the imaging unit and the light source unit is preferably 0° or more and 70° or less, from the viewpoint of exhibiting the effect of suppressing the device height more remarkably. It is particularly preferable to exceed 60° or less.
또한, 이러한 검사 방법이 실시된 후에는, 다시 상기 점착층을 갖는 보호 필름과 세퍼레이터를 검사 후의 적층체(fa)에 접합하여, 원래와 동일한 필름 적층체를 형성시킨 후에 상기 마킹 장치에 의해 결함 부분을 명시시켜 외형 가공을 행하여 광학 제품에의 조립에 사용하면 된다.In addition, after such an inspection method is performed, the protective film having the adhesive layer and the separator are again bonded to the laminated body fa after inspection to form a film laminate identical to the original, and then the defective portion by the marking device. It can be used for assembly to optical products by performing external processing by specifying.
즉, 본 실시 형태에 있어서는, 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 공정을 실시한 후에, 상기 광학 부재에 대하여 외형 가공을 행하는 공정을 실시하여 광학 제품을 제작할 수 있다.That is, in the present embodiment, after the step of detecting a defect of the optical member, an optical product can be produced by performing a step of performing an external shape processing on the optical member.
보다 구체적으로는, 광학 제품의 제조 방법에 있어서는, 본 실시 형태의 광학 부재의 검사 방법이 실시된 후의 필름 적층체로부터, 상기 필름 적층체보다 소형의 시트편을 잘라내는 공정을 실시하여 편광판으로 하고, 나아가 검사에 의해 찾아낸 결함 부분 이외로부터 상기 시트편을 잘라낸 편광판을 그 밖의 부재와 함께 조립하여 광학 제품을 제조할 수 있다.More specifically, in the method for manufacturing an optical product, a step of cutting a sheet piece smaller than the film laminate from the film laminate after the method of inspecting the optical member of the present embodiment is performed to obtain a polarizing plate. Furthermore, the polarizing plate from which the sheet piece is cut out from the defective portion found by inspection can be assembled together with other members to produce an optical product.
상기 편광판의 절단은 톰슨 칼날형이나 펀칭 프레스 등에 의한 펀칭 방법을 비롯하여 종래 공지된 방법을 적용할 수 있다.Cutting of the polarizing plate may include a conventionally known method, including a punching method using a Thomson blade type or a punching press.
또한, 광학 제품의 제조 방법에 있어서는, 잘라낸 상기 편광판은, 또한 위상차층을 형성시키거나, 방현 처리를 실시하거나, 반사 필름과 조합하는 등으로 하여 화상 표시 장치의 구성 부재로 할 수 있다.Moreover, in the manufacturing method of an optical product, the cut-out polarizing plate can also be used as a constituent member of an image display device by forming a retardation layer, performing an anti-glare treatment, or combining it with a reflective film.
또한, 상기 편광판이 조립되는 광학 제품으로서는, 예를 들어 액정 표시 장치, 유기 EL(일렉트로루미네센스) 표시 장치, 플라즈마 디스플레이 패널 등의 화상 표시 장치나 터치 패널 등의 입력 장치를 들 수 있다.In addition, examples of the optical product in which the polarizing plate is assembled include an image display device such as a liquid crystal display device, an organic EL (electroluminescence) display device, a plasma display panel, and an input device such as a touch panel.
상기 광학 제품의 제조 방법에 있어서는, 상기와 같이 시트 형상의 광학 부재를 피검사물로 하여 광원부와 촬상부를 갖는 검사 장치에 공급하고, 상기 광학 부재를 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키면서 상기 광학 부재의 일면측에 상기 광원부로부터 광을 조사하고, 또한 상기 광이 조사된 부분을 상기 광학 부재의 타면측으로부터 상기 촬상부에서 촬상하여 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 공정, 및 상기 공정 후의 광학 부재로부터 상기 광학 부재보다 소형의 시트편을 잘라내는 공정이 실시된다.In the method for manufacturing the optical product, the sheet-shaped optical member is used as an object to be inspected and supplied to an inspection device having a light source unit and an imaging unit, and the optical member is passed while passing the optical member between the light source unit and the imaging unit. A step of irradiating light from the light source unit to one surface side of the lens, and imaging the portion to which the light is irradiated from the other surface side of the optical member by the imaging unit to detect defects in the optical member, and from the optical member after the process The process of cutting out a sheet piece smaller than the said optical member is performed.
나아가, 상기 제조 방법에 있어서 상기 광학 부재의 결함을 검출하는 상기 공정에서는, 상기 광학 부재를 수평 상태 또는 수평 방향에 대하여 경사지게 한 상태로 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키고, 또한 상기 광원부 및 상기 촬상부 중, 상기 광학 부재의 상측에 위치하는 것을 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치시켜 상기 결함의 검출이 실시된다.Furthermore, in the process of detecting a defect of the optical member in the manufacturing method, the optical member is passed between the light source unit and the imaging unit in a state in which the optical member is inclined with respect to a horizontal state or a horizontal direction, and furthermore, the light source unit and the Among the imaging units, the position of the optical member positioned above the imaging member of the optical member by the imaging unit is positioned upstream of the moving direction of the optical member to detect the defect.
또한, 상기 제조 방법에 있어서, 상기 시트편을 잘라내는 상기 공정에서는 광학 부재의 결함을 찾지 못한 부분으로부터 상기 시트편이 잘라내어진다.Moreover, in the said manufacturing method, in the said process which cut|disconnects the said sheet piece, the said sheet piece is cut out from the part which did not find the defect of an optical member.
이와 같이 하여 제작되는 광학 제품은, 편광판의 원재료가 되는 필름 적층체의 결함 부분이 적어지기 때문에, 당해 필름 적층체의 제품으로의 이용률이 높아져 비용면에 있어서도 유리하게 된다.The optical product produced in this way has fewer defects in the film laminate as a raw material for the polarizing plate, and thus the utilization rate of the film laminate as a product increases, which is advantageous in terms of cost.
또한, 본 실시 형태에 있어서 제조되는 광학 제품은, 검사로 인식되지 않은 결함을 갖는 편광판이 조립될 우려가 억제되기 때문에, 종래에 비하여 수율 향상을 기대할 수 있음과 함께 상기 편광판과 함께 조립한 위상차 필름이나 반사 필름이 낭비되어 버리거나, 조립을 위한 수고가 낭비되어 버리는 것을 방지할 수 있다.In addition, the optical product manufactured in the present embodiment suppresses the possibility of assembling a polarizing plate having defects not recognized by inspection, and thus it is possible to expect an improvement in yield compared to the prior art, and a retardation film assembled with the polarizing plate. Alternatively, it is possible to prevent the reflective film from being wasted or the effort for assembly is wasted.
따라서, 광학 제품의 제조 효율을 종래보다 향상시킬 수 있다.Therefore, the manufacturing efficiency of the optical product can be improved than in the prior art.
또한, 본 실시 형태에 있어서는, 편광 필름에 점착층을 적층한 적층체에 대하여 검사를 행하는 경우를 예로 들고 있다.In addition, in this embodiment, the case where the laminated body which laminated|stacked the adhesive layer on the polarizing film is inspected is taken as an example.
그리고, 촬상 부분을 통과한 후에 부착된 부착물이 자연스럽게 탈락하는 것을 기대하기가 곤란하여, 본 발명의 효과를 보다 현저하게 발휘시킬 수 있는 점에서, 광학 부재가 상기와 같은 적층체이고, 또한 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 상기 점착층을 상면측으로 하여 통과시키는 형태를 예시하고 있지만, 상기 점착층을 하면측으로 하여 검사를 실시하는 경우도 본 발명의 광학 부재의 검사 방법으로서 의도하는 범위의 것이다.In addition, since it is difficult to expect that the adhered matter adhered naturally after passing through the imaging portion, and the effect of the present invention can be more remarkably exhibited, the optical member is the above-described laminate, and the light source section Although the form in which the adhesive layer is passed between the and the imaging unit to the upper surface side is exemplified, it is within the range intended as an inspection method for the optical member of the present invention when the adhesive layer is inspected to the lower surface side.
또한, 본 발명의 검사 방법은, 그 대상을 편광 필름과 점착층의 2층 구조의 것에 한정하는 것도 아니며, 편광 필름 단층의 경우나, 또한 다른 광학 필름이 적층된 것 등에 대하여 실시되는 검사 방법도 본 발명이 의도하는 범위의 것이다.In addition, the inspection method of the present invention is not limited to the object having a two-layer structure of a polarizing film and an adhesive layer, and an inspection method performed on a single layer of a polarizing film, or another optical film laminated, etc. The scope of the present invention is intended.
즉, 본 실시 형태에 있어서는, 세퍼레이터(fy)와 보호 필름(fz)의 양쪽을 박리하여 편광 필름의 검사를 행하는 경우를 예시하고 있지만, 예를 들어 보호 필름(fz)을 박리하지 않고 검사를 행하는 경우도 본 발명이 의도하는 범위의 것이다.That is, in this embodiment, the case where the polarizing film is inspected by peeling both the separator fy and the protective film fz is illustrated, for example, the inspection is performed without peeling the protective film fz. The case is also within the scope intended by the present invention.
나아가, 본 발명의 검사 방법은, 광학 부재가 구비하는 광학 필름을 편광 필름에 한정하는 것은 아니다.Furthermore, the inspection method of the present invention does not limit the optical film provided by the optical member to the polarizing film.
예를 들어, 위상차 필름, 휘도 향상 필름 등에 대하여 본 실시 형태에 있어서 나타낸 바와 같은 검사가 실시되는 경우도 본 발명이 의도하는 범위의 것이다.For example, when the inspection as shown in the present embodiment is carried out on a retardation film, a brightness enhancing film, or the like, it is within the range intended by the present invention.
또한, 편광 필름, 위상차 필름, 휘도 향상 필름 등 중의 복수의 것을 적층한 적층 필름에 대하여 본 실시 형태에 있어서 나타낸 바와 같은 검사가 실시되는 경우도 본 발명이 의도하는 범위의 것이다.Moreover, when the inspection as shown in this embodiment is performed about the laminated|multilayer film which laminated|stacked several among the polarizing film, retardation film, brightness improvement film, etc., it is in the range which this invention intends.
또한, 상기 예시에 있어서는, 촬상부와 광학부의 배치를 광학 부재의 통과 방향과 직교하도록 배치하고 있지만, 촬상부와 광학부를 연결하는 선분이 광학 부재의 통과 방향에 대하여 직각 이외가 되도록 실시하여도 된다.In the above example, although the arrangement of the imaging section and the optical section is arranged to be orthogonal to the passage direction of the optical member, the line segments connecting the imaging section and the optical section may be implemented so as to be other than at right angles to the passing direction of the optical member. .
즉, 본 발명은, 그 효과가 현저하게 손상되지 않는 범위에 있어서는, 상기 예시에 대하여 적절하게 변경을 가하는 것이 가능한 것이다.That is, the present invention is capable of appropriately changing the above-described examples in a range in which the effect is not significantly impaired.
10: 검사 장치
11: 촬상부
12: 광학부
fa: 적층체(피검사물)
fx: 광학 필름
fy: 보호 필름(세퍼레이터)
fz: 보호 필름10: inspection device
11: imaging unit
12: optics
fa: laminate (object to be inspected)
fx: optical film
fy: Protective film (separator)
fz: protective film
Claims (4)
상기 광학 부재를 수평 방향에 대하여 경사지게 한 상태로 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과시키고,
상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과하는 상기 광학 부재를 이동 방향을 향하여 끝이 올라가는 경사 상태로 하고,
상기 광원부 및 상기 촬상부 중 상기 광학 부재의 상측에 위치하는 것을 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치시키고, 또한 상기 광원부와 상기 촬상부를 연결하는 선분이, 상기 광학 부재의 이동 방향에 대하여 직교하는 방향이 되도록 상기 광원부와 상기 촬상부를 배치하여,
상기 촬상 부분의 바로 위에는 상기 광원부 및 상기 촬상부 중 어느 것도 존재하지 않는 상태로, 상기 결함의 검출을 실시하고,
상기 결함의 검출에는 상기 광학 부재에의 부착물의 검출이 포함되는 것을 특징으로 하는 광학 부재의 검사 방법.A sheet-shaped optical member is used as an object to be inspected and supplied to an inspection device having a light source unit and an imaging unit, and light is emitted from the light source unit to one surface side of the optical member while passing the optical member between the light source unit and the imaging unit, Further, it is a method of inspecting an optical member that detects a defect of the optical member by imaging the portion irradiated with the light from the other side of the optical member with the imaging unit,
Passing the optical member between the light source unit and the imaging unit in a state inclined with respect to the horizontal direction,
The optical member passing between the light source unit and the imaging unit is placed in an inclined state with an end rising toward a moving direction,
The light source part and the imaging part positioned above the optical member are positioned on the upstream side of the moving direction of the optical member rather than directly above the imaging part of the optical member by the imaging part, and further connecting the light source part and the imaging part The light source unit and the imaging unit are arranged so that the line segment to be made is a direction orthogonal to the moving direction of the optical member,
The defect is detected in a state in which neither the light source unit nor the imaging unit exists directly above the imaging unit,
The detection of the defect includes detection of an attachment to the optical member.
제1항 또는 제2항에 기재된 광학 부재의 검사 방법이 실시된 광학 부재를 사용하여, 상기 검사 방법으로 결함을 찾지 못한 부분으로부터 상기 시트편을 잘라내는 광학 제품의 제조 방법.It is a manufacturing method of the optical product which cuts out the sheet piece smaller than the said optical member from a sheet-shaped optical member, and manufactures an optical product using the said sheet piece,
A method for manufacturing an optical product in which the sheet piece is cut out from a portion in which no defect is found by the inspection method using the optical member subjected to the inspection method for the optical member according to claim 1 or 2.
상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 통과하는 광학 부재가 수평 방향에 대하여 경사진 상태가 되고, 상기 광원부와 상기 촬상부 사이를 상기 통과하는 상기 광학 부재가 이동 방향을 향하여 끝이 올라가는 경사 상태가 되도록 상기 광학 부재의 이동 경로가 형성되어 있고, 상기 광원부 및 상기 촬상부 중 상기 광학 부재의 상측에 위치하는 것이 상기 촬상부에 의한 광학 부재의 촬상 부분의 바로 위보다 상기 광학 부재의 이동 방향 상류측에 위치하고, 또한 상기 광원부와 상기 촬상부를 연결하는 선분이, 상기 이동 경로에 대하여 직교하는 방향이 되도록 상기 광원부와 상기 촬상부가 배치되어 있고, 상기 촬상 부분의 바로 위에는 상기 광원부 및 상기 촬상부 중 어느 것도 존재하지 않고,
상기 결함의 검출에는 상기 광학 부재에의 부착물의 검출이 포함되는 것을 특징으로 하는 광학 부재의 검사 장치.
Used to inspect the sheet-shaped optical member, has a light source unit and an imaging unit, and light is irradiated from the light source unit on one side of the optical member passing between the light source unit and the imaging unit, and the portion irradiated with the light is It is an optical member inspection apparatus which is imaged by the said imaging part from the other surface side of an optical member, and a defect is detected,
The optical member passing between the light source unit and the imaging unit is in an inclined state with respect to the horizontal direction, and the optical member passing between the light source unit and the imaging unit is in an inclined state with an end rising toward a moving direction. The moving path of the optical member is formed, and the light source unit and the imaging unit located above the optical member are located upstream of the moving direction of the optical member rather than directly above the imaging portion of the optical member by the imaging unit. In addition, the light source unit and the imaging unit are arranged such that a line segment connecting the light source unit and the imaging unit is in a direction orthogonal to the movement path, and neither the light source unit nor the imaging unit exists directly above the imaging unit. Without,
The detection of the defect includes detection of an attachment to the optical member.
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