KR20190133030A - Optical measuring device - Google Patents
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Abstract
광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시킨다. 광 계측 장치에 있어서는, 광 센서가, 디스플레이로부터의 광을 수광하고, 광에 따른 광 전류를 출력하고, 적분기가, 시간적으로 연속하여 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력한다. 계측값에 대한 요구 정밀도, 광의 개산 휘도 그리고 광의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기가 취득된다. 요구 정밀도 및 개산 휘도로부터 노광 시간이 결정된다. 적분기가 포화되지 않고 노광 시간이 주기 및 적분 시간의 공배수가 되도록 적분 시간이 결정된다. 노광 기간이 적어도 하나의 적분 기간으로 이루어지고, 노광 기간의 길이가 결정된 노광 시간이 되고, 적어도 하나의 적분 기간의 각각의 길이가 결정된 적분 시간이 되고, 적분기가 적어도 하나의 적분 기간에 광 전류를 적분하여 적어도 하나의 적분 신호를 각각 출력하도록 적분기가 제어된다. 적어도 하나의 적분 신호로부터 계측값이 연산된다.The range of luminance which an optical measuring device can measure can be expanded, without complicating an optical measuring device. In the optical measuring device, an optical sensor receives light from a display, outputs a photocurrent according to the light, and an integrator integrates the photocurrent continuously in time to output an integrated signal. The required precision for the measured value, the estimated luminance of the light, and the period of time change of the luminance and chroma of the light are obtained. The exposure time is determined from the required precision and the estimated luminance. The integration time is determined so that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and the integration time. The exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period becomes a determined exposure time, each length of the at least one integration period becomes a determined integration time, and the integrator generates a photocurrent in at least one integration period. The integrator is controlled to integrate and output at least one integral signal, respectively. The measured value is calculated from at least one integrated signal.
Description
본 발명은, 광 계측 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an optical measuring device.
디스플레이의 휘도 및 색도를 계측하는 광 계측 장치에 있어서는, 광 센서가 디스플레이로부터의 광을 수광하여 수광된 광에 따른 광 전류를 출력하고, 적분기가 출력된 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력하고, 연산부가 출력된 적분 신호로부터 계측값을 계측한다. 그러나, 적분기가 광 신호를 적분하는 적분 기간의 길이를 나타내는 적분 시간에는, 제약이 있다.In the optical measuring device for measuring the brightness and chromaticity of the display, an optical sensor receives light from the display and outputs a light current according to the received light, integrates the light current outputted by the integrator, and outputs an integrated signal, The calculation unit measures the measured value from the output integrated signal. However, there is a limitation in the integration time indicating the length of the integration period in which the integrator integrates the optical signal.
디스플레이의 휘도 및 색도는, 과도 응답을 포함하고, 주기적으로 시간 변화한다. 이 때문에, 디스플레이의 휘도 및 색도의 계측은, 디스플레이의 휘도 및 색도의 주기적인 시간 변화에 동기하여 실시되어야만 한다. 따라서, 적분 시간은, 디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기의 정수 (整數) 배로 제한된다.The brightness and chromaticity of the display, including the transient response, change with time periodically. For this reason, the measurement of the brightness and chromaticity of the display must be carried out in synchronization with the periodic time change of the brightness and chromaticity of the display. Therefore, the integration time is limited to an integer multiple of the period of the time change of the luminance and chromaticity of the display.
디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기는, 프레임 레이트의 역수 또는 수직 동기 (Vsync) 기간의 길이에 일치한다. 이 때문에, 적분 시간은, 프레임 레이트의 역수 또는 Vsync 기간의 길이의 정수 배로 제한된다. 단, 고스팅 방지를 위해 반전 구동이 실시되는 액정 디스플레이 (LCD) 에 있어서는, 원리 상 플리커가 발생한다. 이 때문에, 광 계측 장치가 LCD 의 휘도 및 색도를 계측하는 경우에는, 플리커의 영향을 받지 않고 정확한 휘도 및 색도를 계측하기 위해, 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기가 프레임 레이트의 역수의 2 배 또는 Vsync 기간의 길이의 2 배인 것으로 간주되며, 적분 시간이 당해 주기의 정수 배로 제한된다.The period of time variation of the brightness and chromaticity of the display corresponds to the inverse of the frame rate or the length of the vertical sync (Vsync) period. For this reason, the integration time is limited to the inverse of the frame rate or an integer multiple of the length of the Vsync period. However, in liquid crystal display (LCD) in which inversion driving is performed to prevent ghosting, flicker occurs in principle. Therefore, when the optical measuring device measures the luminance and chromaticity of the LCD, in order to measure the accurate luminance and chromaticity without being influenced by the flicker, the period of time change of luminance and chromaticity is twice the inverse of the frame rate or It is considered to be twice the length of the Vsync period, and the integration time is limited to an integer multiple of the period.
광 계측 장치에 있어서는, 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키기 위해, 적분기에 있어서 복수의 게인을 선택할 수 있도록 되고, 노광이 적정 노광이 아닌 경우에는 선택되는 게인이 변경된다. 예를 들어, 노광이 적정 노광보다 오버 또는 언더인 경우에는 각각 게인 다운 또는 게인 업이 실시된다. 특허문헌 1 에 기재된 기술은, 그 일례로서, 높은 S/N 비를 실현하면서 저휘도에서 고휘도까지의 넓은 휘도의 범위를 계측할 수 있도록 하고 있다.In the optical measuring device, in order to expand the range of the luminance that can be measured, a plurality of gains can be selected in the integrator, and when the exposure is not an appropriate exposure, the selected gain is changed. For example, when exposure is more or less than appropriate exposure, gain down or gain up is performed, respectively. As an example, the technique of
또, 다른 광 계측 장치에 있어서는, 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키기 위해, 광 센서에 입사되는 광의 광로에 감광 (減光) 필터 (ND 필터) 를 삽입할 수 있도록 되고, 노광이 적정 노광보다 오버인 경우에는 감광 필터가 광로에 삽입되어 광 센서에 입사되는 광의 광량이 감소된다.In another optical measuring device, a photosensitive filter (ND filter) can be inserted into an optical path of light incident on an optical sensor in order to expand the range of luminance that can be measured. If it is more over, the photosensitive filter is inserted into the optical path to reduce the amount of light incident on the optical sensor.
그러나, 종래의 광 계측 장치에는, 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키기 위해, 적분 회로에 있어서 다수의 게인을 선택할 수 있도록 해야만 하고, ND 필터를 삽입하기 위한 감광 기구 (ND 기구) 를 형성해야만 하는 등의 문제가 있었다. 이 때문에, 계측이 실시되는 환경의 변동, 계측 대상의 개체 편차 등에 대한 보정을 실시하기 위해, 많은 보정값 및 연산이 필요해지고, 그것을 위한 기억 용량이 필요해졌다. 예를 들어, 다수의 게인에 각각 대응하는 다수의 오프셋·게인 보정, 환경 보정값 등이 필요해졌다.However, in the conventional optical measuring device, in order to expand the range of the luminance that can be measured, a large number of gains must be selected in the integrating circuit, and a photosensitive mechanism (ND mechanism) for inserting the ND filter must be formed. There was a problem. For this reason, in order to correct | amend the fluctuation | variation of the environment to which measurement is performed, individual deviation of a measurement object, etc., many correction values and calculations were needed, and the storage capacity for it was needed. For example, a large number of offset / gain corrections, environmental correction values, and the like corresponding to a plurality of gains have been required.
특히, 광 계측 장치가 디스플레이의 휘도 및 색도를 계측하는 경우에는, 적분 시간이 앞서 서술한 바와 같이 제한되기 때문에, Vsync 기간의 길이에 따라 적정 노광이 변화하고 휘도에 대한 포화값이 변화한다. 이 때문에, 필요한 게인의 수가 증가하여, 광 계측 장치에 걸리는 부하가 커진다.In particular, when the optical measuring device measures the brightness and chromaticity of the display, since the integration time is limited as described above, the appropriate exposure varies with the length of the Vsync period and the saturation value for the luminance changes. For this reason, the number of gains required increases, and the load on an optical measuring device becomes large.
소수의 게인에 의해 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키는 것도, 선택할 수 있는 소수의 게인에 있어서 인접하는 2 개의 게인의 차를 나타내는 게인 피치를 크게 함으로써 가능하다. 그러나, 게인 피치를 크게 한 경우에는, 선택된 게인에 있어서 노광이 적정 노광보다 언더가 되는 계측 조건이 발생한다는 문제가 발생한다.It is also possible to enlarge the range of luminance which can be measured by a few gains by increasing the gain pitch indicating the difference between two adjacent gains in the selectable few gains. However, when the gain pitch is made large, the problem arises that the measurement conditions under which the exposure becomes less than the appropriate exposure occur at the selected gain.
이하에서 설명하는 발명은, 이 문제를 해결하는 것을 목적으로 한다. 이하에서 설명하는 과제의 해결 수단은, 광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키는 것이다.The invention described below aims to solve this problem. The solution to the problem described below is to enlarge the range of luminance that the optical measuring device can measure without complicating the optical measuring device.
광 계측 장치에 있어서는, 광 센서가, 디스플레이로부터의 광을 수광하고, 광에 따른 광 전류를 출력하고, 적분기가, 시간적으로 연속하여 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력한다.In the optical measuring device, an optical sensor receives light from a display, outputs a photocurrent according to the light, and an integrator integrates the photocurrent continuously in time to output an integrated signal.
계측값에 대한 요구 정밀도, 광의 개산 휘도 그리고 광의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기가 취득된다.The required precision for the measured value, the estimated luminance of the light, and the period of time change of the luminance and chroma of the light are obtained.
요구 정밀도 및 개산 휘도로부터 노광 시간이 결정된다. 적분기가 포화되지 않고 노광 시간이 주기 및 적분 시간의 공배수가 되도록 적분 시간이 결정된다.The exposure time is determined from the required precision and the estimated luminance. The integration time is determined so that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and the integration time.
노광 기간이 적어도 하나의 적분 기간으로 이루어지고, 노광 기간의 길이가 결정된 노광 시간이 되고, 적어도 하나의 적분 기간의 각각의 길이가 결정된 적분 시간이 되고, 적분기가 적어도 하나의 적분 기간에 광 전류를 적분하여 적어도 하나의 적분 신호를 각각 출력하도록 적분기가 제어된다.The exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period becomes a determined exposure time, each length of the at least one integration period becomes a determined integration time, and the integrator generates a photocurrent in at least one integration period. The integrator is controlled to integrate and output at least one integral signal, respectively.
적어도 하나의 적분 신호로부터 계측값이 연산된다.The measured value is calculated from at least one integrated signal.
이하에서 설명하는 발명에 의하면, 광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시킬 수 있다.According to the invention described below, the range of luminance that the optical measuring device can measure can be enlarged without complicating the optical measuring device.
이 발명의 목적, 특징, 국면, 및 이점은, 이하의 상세한 설명과 첨부 도면에 의해 보다 명백해진다.The objects, features, aspects, and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.
도 1 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치를 도시하는 블록도이다.
도 2 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 계측의 흐름을 도시하는 플로 차트이다.
도 3 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 요구 S/N 비 및 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정하기 위한 룩업 테이블 (LUT) 을 도시하는 도면이다.
도 4 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 요구 S/N 비, 수직 동기 (Vsync) 주파수 및 개산 휘도로부터 적분 시간을 결정하기 위한 룩업 테이블 (LUT) 을 도시하는 도면이다.
도 5 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 의한 계측의 대상이 되는 디스플레이 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.
도 6 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 의한 계측의 대상이 되는 디스플레이 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.
도 7 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.1 is a block diagram showing an optical measuring device according to a first embodiment.
It is a flowchart which shows the flow of a measurement in the optical measuring device of 1st Embodiment.
FIG. 3 is a diagram showing a lookup table (LUT) for determining the exposure time from the required S / N ratio and the estimated luminance in the optical measuring device of the first embodiment.
4 is a diagram showing a lookup table (LUT) for determining the integration time from the required S / N ratio, the vertical synchronization (Vsync) frequency, and the estimated luminance in the optical measuring device of the first embodiment.
FIG. 5 is a timing chart showing an example of a time change in the state of the integrator included in the display and the integrator provided in the optical measuring device of the first embodiment.
FIG. 6 is a timing chart showing an example of a time-dependent change in the state of an integrator included in the display and the integrator provided in the optical measuring device of the first embodiment.
FIG. 7 is a timing chart showing an example of time variation of the state of the integrator included in the optical measuring device and the optical measuring device according to the first embodiment. FIG.
1 광 계측 장치1 optical measuring device
도 1 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치를 도시하는 블록도이다. 도 2 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 계측의 흐름을 도시하는 플로 차트이다.1 is a block diagram showing an optical measuring device according to a first embodiment. It is a flowchart which shows the flow of a measurement in the optical measuring device of 1st Embodiment.
도 1 에 도시되는 광 계측 장치 (1000) 는, 디스플레이의 휘도 및 색도를 계측하고, 광 센서 (1020), 적분기 (1021), 제어부 (1022) 및 주변부 (1023) 를 구비한다. 광 계측 장치 (1000) 가 이들 구성물 이외의 구성물을 구비해도 된다.The
광 계측 장치 (1000) 에 있어서는, 광 센서 (1020) 가 디스플레이로부터의 광을 수광하고, 수광된 광에 따른 광 전류를 출력한다. 또, 적분기 (1021) 가 출력된 광 전류를 적분하고, 적분에 의해 축적된 전하의 양에 따른 적분 신호를 출력한다. 또한, 제어부 (1022) 가 출력된 적분 신호로부터 계측값을 연산한다.In the
적분기 (1021) 는, 적분 회로 (1040), 적분 회로 (1041), 스위치 (1042) 및 스위치 (1043) 를 구비한다.The
적분 회로 (1040 및 1041) 는, 광 전류를 적분한다. 스위치 (1042 및 1043) 는, 제어부 (1022) 에 의한 제어에 따라 광 전류를 적분하는 적분 회로를 적분 회로 (1040) 와 적분 회로 (1041) 사이에서 전환시킨다. 이 때문에, 적분기 (1021) 는, 광 전류를 시간적으로 연속하여 끊기지 않고 적분할 수 있다.The
적분기 (1021) 가, 선택 가능한 복수의 게인을 가져도 된다. 이로써, 계측할 수 있는 휘도의 범위가 더욱 확대된다.The
제어부 (1022) 는, 인스톨된 프로그램에 따라 동작하는 컴퓨터이며, 요구 정밀도 취득부 (1060), 개산 휘도 취득부 (1061), 주기 취득부 (1062), 노광 시간 결정부 (1063), 적분 시간 결정부 (1064), 적분기 제어부 (1065) 및 연산부 (1066) 를 구비한다. 컴퓨터가 담당하는 처리의 전부 또는 일부를, 프로그램을 실행하지 않는 하드웨어가 담당해도 된다.The
주변부 (1023) 는, 표시부 (1080) 및 조작부 (1081) 를 구비한다.The
계측에 있어서는, 조작자로부터의 계측 명령의 수신에 응답하여, 도 2 에 도시되는 스텝 S101 에서 스텝 S105 까지가 실행된다.In the measurement, in response to the reception of the measurement command from the operator, steps S101 to S105 shown in FIG. 2 are executed.
스텝 S101 에 있어서는, 측정 조건이 취득된다. 측정 조건은, 조작부 (1081) 에 구비되는 하드웨어 스위치에 대한 조작으로부터 취득되어도 되고, 표시부 (1080) 에 표시되는 그래피컬 유저 인터페이스 (GUI) 에 대하여 조작부 (1081) 를 사용하여 실시되는 조작으로부터 취득되어도 된다.In step S101, measurement conditions are acquired. The measurement conditions may be obtained from an operation on a hardware switch included in the
측정 조건의 취득에 있어서는, 요구 정밀도 취득부 (1060) 가, 계측값에 대한 요구 S/N 비를 취득한다. 요구 정밀도 취득부 (1060) 는, 3 개의 요구 S/N 비에 각각 대응하는 고정밀도 모드, 표준 모드 및 고속 모드라는 3 개의 모드에 포함되는 1 개의 모드의 지정을 접수함으로써, 지정된 모드에 대응하는 요구 S/N 비를 취득한다. 요구 S/N 비의 취득 방법이 변경되어도 된다. 예를 들어, 요구 정밀도 취득부 (1060) 가, 복수의 요구 S/N 비에 각각 대응하는 복수의 정밀도 범위에 포함되는 1 개의 정밀도 범위의 지정을 접수함으로써, 지정된 정밀도 범위에 대응하는 요구 S/N 비를 취득해도 된다. 정밀도 범위는, 예를 들어,「… % 이하」,「… % 에서 … % 까지」등에 의해 표현된다. 요구 S/N 비 이외의 요구 정밀도가 취득되어도 된다.In the acquisition of the measurement conditions, the required
또, 측정 조건의 취득에 있어서는, 주기 취득부 (1062) 가, 디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기에 일치하는 수직 동기 (Vsync) 기간의 길이인 Vsync 시간을 취득한다. Vsync 시간은, 표시부 (1080) 에 표시되는 GUI 에 대하여 조작부 (1081) 를 사용하여 실시되는 조작으로부터 취득된다. Vsync 주파수가 취득되고, 취득된 Vsync 주파수로부터 Vsync 시간이 취득되어도 된다. Vsync 시간의 취득 방법이 변경되어도 된다. 예를 들어, 주기 취득부 (1062) 에 Vsync 신호가 입력되고, 주기 취득부 (1062) 가 입력된 Vsync 신호로부터 Vsync 시간을 취득해도 된다. 반전 구동이 실시되는 액정 디스플레이의 휘도 및 색도가 계측되는 경우에는, Vsync 시간 대신에, 액정 디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기에 일치하는, Vsync 시간의 2 배의 시간이 취득된다.In the acquisition of the measurement conditions, the
이어지는 스텝 S102 에 있어서는, 디스플레이로부터의 광의 개산 휘도가 취득된다. 스텝 S102 가 스텝 S101 과 동시에 실행되어도 된다.In subsequent step S102, the approximated luminance of the light from the display is acquired. Step S102 may be executed simultaneously with step S101.
개산 휘도의 취득에 있어서는, 적분기 제어부 (1065) 가, 적분기 (1021) 를 제어한다. 제어는, 적분기 (1021) 가 후술하는 복수의 적분 기간에 선행하는 초기 적분 기간에 광 전류를 적분하여 초기 적분 신호를 출력하도록 실시된다. 또, 개산 휘도 취득부 (1061) 가, 초기 적분 신호로부터 디스플레이로부터의 광의 개산 휘도를 취득한다. 초기 적분 기간은 짧아도 상관없다. 개산 휘도의 취득 방법이 변경되어도 된다. 그 일례는 후술한다.In obtaining the estimated luminance, the integrator control unit 1065 controls the
이어지는 스텝 S103 에 있어서는, 계측 조건이 결정된다.In subsequent step S103, measurement conditions are determined.
계측 조건의 결정에 있어서는, 노광 시간 결정부 (1063) 가, 취득된 요구 S/N 비 및 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정한다. 노광 시간은, 요구 S/N 비에 따라 변경 가능하다. 노광 시간은, 요구 S/N 비 및 개산 휘도를 변수로 갖는 함수에 의해 결정되어도 되고, 룩업 테이블 (LUT) 에 의해 결정되어도 된다. 당해 함수는, 예를 들어 식 (1) 로 나타내는 함수이다. 식 (1) 에 포함되는 f (요구 S/N 비, 개산 휘도) 는 정수이다. 당해 LUT 는, 예를 들어 도 3 에 도시되는 요구 S/N 비 및 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정하기 위한 룩업 테이블이다.In the determination of the measurement conditions, the exposure
노광 시간 = Vsync 시간 × f (요구 S/N 비, 개산 휘도) … (1)Exposure time = Vsync time x f (required S / N ratio, estimated luminance). (One)
또, 계측 조건의 취득에 있어서는, 적분 시간 결정부 (1064) 가, 취득된 개산 휘도로부터 적분기 (1021) 가 포화되지 않고 S/N 비를 확보할 수 있는 적정한 적분 시간의 상한인 최대 비포화 적분 시간을 결정한다. 추가로, 적분 시간 결정부 (1064) 가, 결정된 최대 비포화 적분 시간보다 적분 시간이 짧고, 결정된 노광 시간이 취득된 Vsync 시간 및 적분 시간의 공배수가 되도록 적분 시간 및 반복 횟수를 결정한다. 이로써, 적분기 (1021) 가 포화되지 않고 노광 시간이 Vsync 시간 및 적분 시간의 공배수가 되는 적분 시간이 결정된다.In addition, in the acquisition of measurement conditions, the integration
적분 시간은, 바람직하게는, 식 (2) 및 (3) 을 만족하는, 앞서 서술한 조건을 만족하는 최장의 것이다. 또, 공배수는, 바람직하게는 최소 공배수이다. 이것들에 의해, 적분기 (1021) 가 포화되지 않는 범위 내에서 적분기 (1021) 에 축적되는 전하가 증가하고, S/N 비가 개선된다.The integration time is preferably the longest one that satisfies the conditions described above, which satisfy the formulas (2) and (3). Moreover, the common multiple is preferably the minimum common multiple. These increase the charge accumulated in the
반복 횟수 = Int (노광 시간/최대 비포화 적분 시간) + 1 … (2)Number of repetitions = Int (exposure time / maximum unsaturation integration time) + 1. (2)
적분 시간 = 노광 시간/반복 횟수 … (3)Integral time = exposure time / repetition number. (3)
노광 시간의 결정, 최대 비포화 적분 시간의 결정 및 적분 시간의 결정은, 별도 공정에 있어서 실시되지만, 동일 공정에 있어서 실시되어도 된다. 예를 들어, 도 4 에 도시되는, 앞서 서술한 조건을 만족하도록 요구 S/N 비, Vsync 주파수 및 개산 휘도로부터 적분 시간을 결정하는 LUT 에 의해 적분 시간이 직접적으로 결정되어도 된다.The determination of the exposure time, the determination of the maximum unsaturation integration time and the determination of the integration time are performed in a separate step, but may be performed in the same step. For example, the integration time may be directly determined by the LUT that determines the integration time from the required S / N ratio, the Vsync frequency, and the estimated luminance, so as to satisfy the above-described conditions.
이어지는 스텝 S104 에 있어서는, 계측이 실시된다.In subsequent step S104, measurement is performed.
계측에 있어서는, 적분기 제어부 (1065) 가, 적분기 (1021) 를 제어한다. 제어는, 노광 기간이 복수의 적분 기간으로 이루어지고, 복수의 적분 기간의 수가 결정된 반복 횟수가 되고, 노광 기간의 길이가 결정된 노광 시간이 되고, 복수의 적분 기간의 각각의 길이가 결정된 적분 시간이 되고, 적분기 (1021) 가 복수의 적분 기간에 광 전류를 적분하여 복수의 적분 신호를 각각 출력하도록 실시된다. 이로써, 결정된 계측 조건에 의한 계측이 실시된다.In the measurement, the integrator control unit 1065 controls the
이어지는 스텝 S105 에 있어서는, 계측값의 연산 및 출력이 실시된다.In subsequent step S105, calculation and output of a measured value are performed.
계측값의 연산 및 출력에 있어서는, 연산부 (1066) 가, 출력된 복수의 적분 신호의 크기를 각각 나타내는 복수의 적분 신호값을 취득하고, 취득된 복수의 적분 신호값의 평균값을 단위 시간당의 값으로 환산하고, 환산에 의해 얻어진 값에 필요한 연산 처리를 실시하여 휘도 및 색도의 계측값을 연산한다. 이로써, 복수의 적분 신호로부터 휘도 및 색도의 계측값이 연산된다. 휘도 및 색도의 계측값의 연산 방법이 변경되어도 된다. 추가로, 연산부 (1066) 는, 연산된 휘도 및 색도의 연산값을 출력한다.In the calculation and output of the measured values, the
제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 이와 같은 계측에 의하면, 선택 가능한 게인의 수를 줄일 수 있어, 광 계측 장치에 걸리는 부하를 줄일 수 있고, 광 계측 장치를 간결하게 할 수 있다. 이 때문에, 광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시킬 수 있다.According to such measurement in the optical measuring device of the first embodiment, the number of selectable gains can be reduced, the load on the optical measuring device can be reduced, and the optical measuring device can be simplified. For this reason, the range of the brightness which an optical measuring device can measure can be expanded, without complicating an optical measuring device.
2 계측 조건에 있어서의 노광 시간, 적분 시간 및 Vsync 시간의 관계2 Relationship between exposure time, integration time and Vsync time under measurement conditions
도 5 및 도 6 의 각각은 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 의한 계측의 대상이 되는 디스플레이 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.Each of FIG. 5 and FIG. 6 is a timing chart which shows the example of the time-change of the display used as the object of measurement by the optical measuring device of 1st Embodiment, and the state of the integrator with which the said optical measuring device is equipped.
도 5 는 디스플레이의 Vsync 주파수가 높은 경우의 예를 나타낸다. 도 6 은 디스플레이의 Vsync 주파수가 낮은 경우의 예를 나타낸다.5 shows an example in the case where the Vsync frequency of the display is high. 6 shows an example in the case where the Vsync frequency of the display is low.
도 5 에 도시되는 예에 있어서는, 요구 S/N 비를 확보하기 위해 필요한 노광 시간을 갖는 노광 기간 1100 이, 8 개의 Vsync 기간 1120 으로 등분할된다. Vsync 시간은, 예를 들어 1 밀리초 내지 2 초 정도이다. 또, 노광 기간 1100 이, 5 개의 적분 기간 1140 으로 등분할된다. 이 때문에, 노광 시간은, 적분 시간 및 Vsync 시간의 공배수가 되고 있다. 적분 시간은, 최대 비포화 적분 시간보다 짧다.In the example shown in FIG. 5, the
도 6 에 도시되는 예에 있어서는, 요구 S/N 비를 확보하기 위해 필요한 노광 시간을 갖는 노광 기간 1160 이, 4 개의 Vsync 기간 1180 으로 등분할된다. Vsync 시간은, 예를 들어 1 밀리초 내지 2 초 정도이다. 또, 노광 기간 1160 이, 5 개의 적분 기간 1200 으로 등분할된다. 이 때문에, 노광 시간은, 적분 시간 및 Vsync 시간의 공배수가 되고 있다. 적분 시간은, 최대 비포화 적분 시간보다 짧다.In the example shown in FIG. 6, the
3 개산 휘도를 취득하는 방법의 별례Another example of how to obtain approximate luminance
도 7 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.FIG. 7 is a timing chart showing an example of time variation of the state of the integrator included in the optical measuring device and the optical measuring device according to the first embodiment. FIG.
도 7(a) 에 도시되는 바와 같이, 광 계측 장치 (1000) 의 상태는, 조작자로부터 계측 명령을 수신한 타이밍 T1 에 대기 상태 1220 에서 계측 상태 1240 으로 변화하고, 타이밍 T1 로부터 노광 시간이 경과한 타이밍 T2 에 계측 상태 1240 에서 대기 상태 1260 으로 변화한다.As shown in FIG. 7A, the state of the
또, 도 7(b) 에 도시되는 바와 같이, 적분기 (1021) 의 상태는, 타이밍 T1 에 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1280 에서 적분 동작을 실시하고 있는 상태 1300 으로 변화하고, 타이밍 T2 에 적분 동작을 실시하고 있는 상태 1300 에서 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1320 으로 변화한다. 따라서, 적분기 (1021) 는, 광 계측 장치 (1000) 가 대기 상태 1220 및 1260 인 경우에는, 각각 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1280 및 1320 이 되고 있으며, 광 계측 장치 (1000) 가 계측 상태 1240 인 경우에는, 적분 동작을 실시하고 있는 상태 1300 이 되고 있다.As shown in FIG. 7B, the state of the
적분기 (1021) 는, 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1280 및 1320 에 있어서도, 항상 광 신호를 적분할 수 있어 적분 신호를 출력할 수 있다. 이 때문에, 적분기 제어부 (1065) 가, 반복하여 도래하는 대기시 적분 기간 1340 에 광 전류를 적분하여 대기시 적분 신호를 출력하도록 적분기 (1021) 를 제어하고, 개산 휘도 취득부 (1061) 가, 노광 기간의 직전에 도래한 대기시 적분 기간을 초기 적분 기간으로 간주하여 개산 휘도를 취득해도 된다. 이로써, 계측이 개시되는 타이밍 T1 의 전에 개산 휘도가 취득되므로, 계측에 필요로 하는 시간이 단축된다. 반복하여 도래하는 대기시 적분 기간 1340 의 길이는, 설정 가능한 최단 시간으로 해도 된다.The
이 발명은 상세하게 설명되었지만, 상기한 설명은, 모든 국면에 있어서, 예시로서, 이 발명이 그것에 한정되는 것은 아니다. 예시되어 있지 않은 무수한 변형예가, 이 발명의 범위에서 벗어나지 않고 상정될 수 있을 것으로 해석된다.Although this invention was demonstrated in detail, the above description is an illustration in all the aspects, Comprising: This invention is not limited to it. It is contemplated that a myriad of variations that are not illustrated may be assumed without departing from the scope of this invention.
1000 : 광 계측 장치
1020 : 광 센서
1021 : 적분기
1022 : 제어부
1060 : 요구 정밀도 취득부
1061 : 개산 휘도 취득부
1062 : 주기 취득부
1063 : 노광 시간 결정부
1064 : 적분 시간 결정부
1065 : 적분기 제어부
1066 : 연산부1000: optical measuring device
1020: Light sensor
1021: Integrator
1022 control unit
1060: required precision acquisition unit
1061: approximated luminance acquisition unit
1062: cycle acquisition unit
1063: exposure time determining unit
1064: integral time determination unit
1065: integrator control unit
1066: calculation unit
Claims (6)
시간적으로 연속하여 상기 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력하는 적분기와,
계측값에 대한 요구 정밀도를 취득하는 요구 정밀도 취득부와,
상기 광의 개산 휘도를 취득하는 개산 휘도 취득부와,
상기 광의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기를 취득하는 주기 취득부와,
상기 요구 정밀도 및 상기 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정하는 노광 시간 결정부와,
상기 적분기의 적분 시간을, 상기 적분기가 포화되지 않고 상기 노광 시간이 상기 주기 및 상기 적분 시간의 공배수가 되도록 결정하는 적분 시간 결정부와,
노광 기간이 적어도 하나의 적분 기간으로 이루어지고, 상기 노광 기간의 길이가 상기 노광 시간이 되고, 상기 적어도 하나의 적분 기간의 각각의 길이가 상기 적분 시간이 되고, 상기 적분기가 상기 적어도 하나의 적분 기간에 상기 광 전류를 적분하여 적어도 하나의 적분 신호를 각각 출력하도록 상기 적분기를 제어하는 적분기 제어부와,
상기 적어도 하나의 적분 신호로부터 상기 계측값을 연산하는 연산부를 구비하는 광 계측 장치.An optical sensor which receives light from the display and outputs a light current according to the light;
An integrator for integrating the photocurrent continuously and outputting an integrated signal in time;
A request precision acquiring unit for acquiring the required precision for the measured value;
An approximation luminance acquisition unit for acquiring an approximation luminance of the light;
A period acquiring unit for acquiring a period of time variation of the brightness and chromaticity of the light;
An exposure time determiner that determines an exposure time from the required precision and the estimated luminance;
An integration time determination unit for determining an integration time of the integrator so that the integrator is not saturated and the exposure time is a multiple of the period and the integration time;
An exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period becomes the exposure time, the length of each of the at least one integration period becomes the integration time, and the integrator includes the at least one integration period An integrator controller for integrating the photocurrent to output at least one integrated signal to the integrator,
And an calculating unit for calculating the measured value from the at least one integrated signal.
상기 적분기 제어부는, 상기 적분기가 상기 적어도 하나의 적분 기간에 선행하는 초기 적분 기간에 상기 광 전류를 적분하여 초기 적분 신호를 출력하도록 상기 적분기를 제어하고,
상기 개산 휘도 취득부는, 상기 초기 적분 신호로부터 상기 개산 휘도를 취득하는 광 계측 장치.The method of claim 1,
The integrator control unit controls the integrator to output an initial integration signal by integrating the photocurrent in an initial integration period preceding the at least one integration period,
The estimated luminance acquisition unit obtains the estimated luminance from the initial integrated signal.
상기 적분기 제어부는, 반복하여 도래하는 대기시 적분 기간에 상기 광 전류를 적분하여 대기시 적분 신호를 출력하도록 상기 적분기를 제어하고,
상기 초기 적분 기간은, 상기 노광 기간의 직전에 도래한 대기시 적분 기간인 광 계측 장치.The method of claim 2,
The integrator control unit controls the integrator to output the standby integration signal by integrating the photocurrent in a standby integration period that arrives repeatedly,
The initial integration period is an optical measurement device that is a standby time integration period that arrives immediately before the exposure period.
상기 공배수는, 최소 공배수인 광 계측 장치.The method according to any one of claims 1 to 3,
The common multiple is an optical multiple measurement device.
상기 노광 시간은, 상기 요구 정밀도에 따라 변경 가능한 광 계측 장치.The method according to any one of claims 1 to 4,
The exposure time can be changed according to the required precision.
상기 적분기는, 선택 가능한 복수의 게인을 갖는 광 계측 장치.The method according to any one of claims 1 to 5,
The integrator has a plurality of selectable gains.
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