JPWO2018198674A1 - Optical measurement device - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 64
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 94
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 15
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
光計測装置を複雑にすることなく光計測装置が計測できる輝度の範囲を広げる。光計測装置においては、光センサーが、ディスプレイからの光を受光し、光に応じた光電流を出力し、積分器が、時間的に連続して光電流を積分し積分信号を出力する。計測値に対する要求精度、光の概算輝度並びに光の輝度及び色度の時間変化の周期が取得される。要求精度及び概算輝度から露光時間が決定される。積分器が飽和せず露光時間が周期及び積分時間の公倍数となるように積分時間が決定される。露光期間が少なくともひとつの積分期間からなり、露光期間の長さが決定された露光時間となり、少なくともひとつの積分期間の各々の長さが決定された積分時間となり、積分器が少なくともひとつの積分期間に光電流を積分し少なくともひとつの積分信号をそれぞれ出力するように積分器が制御される。少なくともひとつの積分信号から計測値が演算される。The range of luminance that can be measured by an optical measurement device is increased without complicating the optical measurement device. In an optical measurement device, an optical sensor receives light from a display and outputs a photocurrent corresponding to the light, and an integrator integrates the photocurrent continuously over time to output an integrated signal. The required accuracy for the measurement value, the approximate brightness of the light, and the period of the time change of the brightness and the chromaticity of the light are acquired. The exposure time is determined from the required accuracy and the estimated luminance. The integration time is determined so that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and the integration time. The exposure period is composed of at least one integration period, the length of the exposure period is the determined exposure time, the length of each of the at least one integration period is the determined integration time, and the integrator is at least one integration period. The integrator is controlled so as to integrate the photocurrent and output at least one integrated signal. A measurement value is calculated from at least one integrated signal.
Description
本発明は、光計測装置に関する。 The present invention relates to an optical measurement device.
ディスプレイの輝度及び色度を計測する光計測装置においては、光センサーがディスプレイからの光を受光し受光した光に応じた光電流を出力し、積分器が出力された光電流を積分し積分信号を出力し、演算部が出力された積分信号から計測値を計測する。しかし、積分器が光信号を積分する積分期間の長さを示す積分時間には、制約がある。 In an optical measurement device that measures the luminance and chromaticity of a display, an optical sensor receives light from the display and outputs a photocurrent corresponding to the received light, and an integrator integrates the output photocurrent and integrates an integrated signal. And the arithmetic unit measures the measured value from the output integrated signal. However, there is a restriction on the integration time indicating the length of the integration period during which the integrator integrates the optical signal.
ディスプレイの輝度及び色度は、過渡応答を含み、周期的に時間変化する。このため、ディスプレイの輝度及び色度の計測は、ディスプレイの輝度及び色度の周期的な時間変化に同期して行われなければならない。したがって、積分時間は、ディスプレイの輝度及び色度の時間変化の周期の整数倍に制限される。 The brightness and chromaticity of the display, including the transient response, change periodically over time. For this reason, the measurement of the luminance and chromaticity of the display must be performed in synchronization with the periodic time change of the luminance and chromaticity of the display. Therefore, the integration time is limited to an integral multiple of the period of the time change of the luminance and chromaticity of the display.
ディスプレイの輝度及び色度の時間変化の周期は、フレームレートの逆数又は垂直同期(Vsync)期間の長さに一致する。このため、積分時間は、フレームレートの逆数又はVsync期間の長さの整数倍に制限される。ただし、焼き付き防止のために反転駆動が行われる液晶ディスプレイ(LCD)においては、原理上フリッカーが発生する。このため、光計測装置がLCDの輝度及び色度を計測する場合は、フリッカーの影響を受けずに正確な輝度及び色度を計測するために、輝度及び色度の時間変化の周期がフレームレートの逆数の2倍又はVsync期間の長さの2倍であるとみなされ、積分時間が当該周期の整数倍に制限される。 The period of the temporal change of the luminance and chromaticity of the display corresponds to the reciprocal of the frame rate or the length of the vertical synchronization (Vsync) period. For this reason, the integration time is limited to the reciprocal of the frame rate or an integral multiple of the length of the Vsync period. However, in a liquid crystal display (LCD) in which inversion driving is performed to prevent burn-in, flicker occurs in principle. For this reason, when the optical measurement device measures the luminance and chromaticity of the LCD, in order to accurately measure the luminance and chromaticity without being affected by flicker, the period of the time change of the luminance and chromaticity is set to the frame rate. , Or twice the length of the Vsync period, and the integration time is limited to an integral multiple of the period.
光計測装置においては、計測できる輝度の範囲を広げるために、積分器において複数のゲインを選択できるようにされ、露光が適正露光でない場合には選択されるゲインが変更される。例えば、露光が適正露光よりオーバー又はアンダーである場合にはそれぞれゲインダウン又はゲインアップが行われる。特許文献1に記載された技術は、その一例であり、高いS/N比を実現しながら低輝度から高輝度までの広い輝度の範囲を計測できるようにしている。
In the optical measurement device, a plurality of gains can be selected in the integrator in order to widen the range of luminance that can be measured. If the exposure is not proper exposure, the selected gain is changed. For example, when the exposure is over or under the proper exposure, the gain is decreased or the gain is increased, respectively. The technique described in
また、別の光計測装置においては、計測できる輝度の範囲を広げるために、光センサーに入射する光の光路に減光フィルター(NDフィルター)を挿入できるようにされ、露光が適正露光よりオーバーである場合には減光フィルターが光路に挿入され光センサーに入射する光の光量が減少させられる。 Further, in another optical measurement device, in order to widen the range of luminance that can be measured, a neutral density filter (ND filter) can be inserted in the optical path of light incident on the optical sensor, so that the exposure exceeds the proper exposure. In some cases, a neutral density filter is inserted into the optical path to reduce the amount of light incident on the optical sensor.
しかし、従来の光計測装置には、計測できる輝度の範囲を広げるために、積分回路において多数のゲインを選択できるようにしなければならない、NDフィルターを挿入するための減光機構(ND機構)を設けなければならない等の問題があった。このため、計測が行われる環境の変動、計測対象の個体ばらつき等に対する補正を行うために、多くの補正値及び演算が必要になり、そのための記憶容量が必要になっていた。例えば、多数のゲインにそれぞれ対応する多数のオフセット・ゲイン補正、環境補正値等が必要になっていた。 However, the conventional optical measurement device has a dimming mechanism (ND mechanism) for inserting an ND filter, which has to allow a large number of gains to be selected in an integrating circuit in order to widen the range of luminance that can be measured. There was a problem that it had to be provided. For this reason, many correction values and calculations are required in order to correct for fluctuations in the environment in which the measurement is performed, individual variations in the measurement target, and the like, and a storage capacity for that is required. For example, a large number of offset / gain corrections and environmental correction values corresponding to a large number of gains have been required.
特に、光計測装置がディスプレイの輝度及び色度を計測する場合は、積分時間が先述のように制限されるため、Vsync期間の長さに応じて適正露光が変化し輝度に対する飽和値が変化する。このため、必要なゲインの数が増加し、光計測装置にかかる負荷が大きくなる。 In particular, when the light measuring device measures the luminance and chromaticity of the display, the integration time is limited as described above, so that the appropriate exposure changes according to the length of the Vsync period, and the saturation value for the luminance changes. . For this reason, the number of required gains increases, and the load on the optical measurement device increases.
少数のゲインにより計測できる輝度の範囲を広げることも、選択できる少数のゲインにおいて隣接するふたつのゲインの差を示すゲインピッチを大きくすることにより可能である。しかし、ゲインピッチを大きくした場合は、選択されたゲインにおいて露光が適正露光よりアンダーとなる計測条件が発生するという問題が発生する。 The range of luminance that can be measured with a small number of gains can be widened by increasing the gain pitch indicating the difference between two adjacent gains in the selectable small number of gains. However, when the gain pitch is increased, there arises a problem that a measurement condition in which the exposure is lower than the proper exposure occurs at the selected gain.
以下で説明する発明は、この問題を解決することを目的とする。以下で説明する発明が解決しようとする課題は、光計測装置を複雑にすることなく光計測装置が計測できる輝度の範囲を広げることである。 The invention described below aims to solve this problem. The problem to be solved by the invention described below is to increase the range of luminance that can be measured by the optical measurement device without complicating the optical measurement device.
光計測装置においては、光センサーが、ディスプレイからの光を受光し、光に応じた光電流を出力し、積分器が、時間的に連続して光電流を積分し積分信号を出力する。 In an optical measurement device, an optical sensor receives light from a display and outputs a photocurrent according to the light, and an integrator integrates the photocurrent continuously over time to output an integrated signal.
計測値に対する要求精度、光の概算輝度並びに光の輝度及び色度の時間変化の周期が取得される。 The required accuracy for the measurement value, the approximate brightness of the light, and the period of the time change of the brightness and the chromaticity of the light are acquired.
要求精度及び概算輝度から露光時間が決定される。積分器が飽和せず露光時間が周期及び積分時間の公倍数となるように積分時間が決定される。 The exposure time is determined from the required accuracy and the estimated luminance. The integration time is determined so that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and the integration time.
露光期間が少なくともひとつの積分期間からなり、露光期間の長さが決定された露光時間となり、少なくともひとつの積分期間の各々の長さが決定された積分時間となり、積分器が少なくともひとつの積分期間に光電流を積分し少なくともひとつの積分信号をそれぞれ出力するように積分器が制御される。 The exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period becomes the determined exposure time, the length of each of the at least one integration period becomes the determined integration time, and the integrator performs at least one integration period. The integrator is controlled so as to integrate the photocurrent and output at least one integrated signal.
少なくともひとつの積分信号から計測値が演算される。 A measurement value is calculated from at least one integrated signal.
以下で説明する発明によれば、光計測装置を複雑にすることなく光計測装置が計測できる輝度の範囲を広げることができる。 According to the invention described below, the range of luminance that can be measured by the optical measurement device can be expanded without complicating the optical measurement device.
この発明の目的、特徴、局面、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。 The objects, features, aspects and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.
1 光計測装置
図1は、第1実施形態の光計測装置を図示するブロック図である。図2は、第1実施形態の光計測装置における計測の流れを図示するフローチャートである。1. Optical Measurement Device FIG. 1 is a block diagram illustrating an optical measurement device according to the first embodiment. FIG. 2 is a flowchart illustrating a measurement flow in the optical measurement device according to the first embodiment.
図1に図示される光計測装置1000は、ディスプレイの輝度及び色度を計測し、光センサー1020、積分器1021、制御部1022及び周辺部1023を備える。光計測装置1000がこれらの構成物以外の構成物を備えてもよい。
The
光計測装置1000においては、光センサー1020が、ディスプレイからの光を受光し、受光した光に応じた光電流を出力する。また、積分器1021が、出力された光電流を積分し、積分により蓄積された電荷の量に応じた積分信号を出力する。さらに、制御部1022が、出力された積分信号から計測値を演算する。
In the
積分器1021は、積分回路1040、積分回路1041、スイッチ1042及びスイッチ1043を備える。
The
積分回路1040及び1041は、光電流を積分する。スイッチ1042及び1043は、制御部1022による制御にしたがって光電流を積分する積分回路を積分回路1040と積分回路1041との間で切り替える。このため、積分器1021は、光電流を時間的に連続して途切れることなく積分できる。
The
積分器1021が、選択可能な複数のゲインを有してもよい。これにより、計測できる輝度の範囲がさらに広がる。
The
制御部1022は、インストールされたプログラムにしたがって動作するコンピューターであり、要求精度取得部1060、概算輝度取得部1061、周期取得部1062、露光時間決定部1063、積分時間決定部1064、積分器制御部1065及び演算部1066を備える。コンピューターが担う処理の全部又は一部を、プログラムを実行しないハードウェアが担ってもよい。
The
周辺部1023は、表示部1080及び操作部1081を備える。
The
計測においては、操作者からの計測命令の受信に応答して、図2に示されるステップS101からステップS105までが実行される。 In the measurement, steps S101 to S105 shown in FIG. 2 are executed in response to receiving a measurement command from the operator.
ステップS101においては、測定条件が取得される。測定条件は、操作部1081に備えられるハードウェアスイッチに対する操作から取得されてもよいし、表示部1080に表示されるグラフィカルユーザーインターフェース(GUI)に対して操作部1081を用いて行われる操作から取得されてもよい。
In step S101, measurement conditions are acquired. The measurement condition may be obtained from an operation on a hardware switch provided in the
測定条件の取得においては、要求精度取得部1060が、計測値に対する要求S/N比を取得する。要求精度取得部1060は、3個の要求S/N比にそれぞれ対応する高精度モード、標準モード及び高速モードという3個のモードに含まれる1個のモードの指定を受け付けることにより、指定されたモードに対応する要求S/N比を取得する。要求S/N比の取得方法が変更されてもよい。例えば、要求精度取得部1060が、複数の要求S/N比にそれぞれ対応する複数の精度範囲に含まれる1個の精度範囲の指定を受け付けることにより、指定された精度範囲に対応する要求S/N比を取得してもよい。精度範囲は、例えば、「・・・%以下」、「・・・%から・・・%まで」等により表現される。要求S/N比以外の要求精度が取得されてもよい。
In acquiring the measurement condition, the required
また、測定条件の取得においては、周期取得部1062が、ディスプレイの輝度及び色度の時間変化の周期に一致する垂直同期(Vsync)期間の長さであるVsync時間を取得する。Vsync時間は、表示部1080に表示されるGUIに対して操作部1081を用いて行われる操作から取得される。Vsync周波数が取得され、取得されたVsync周波数からVsync時間が取得されてもよい。Vsync時間の取得方法が変更されてもよい。例えば、周期取得部1062にVsync信号が入力され、周期取得部1062が入力されたVsync信号からVsync時間を取得してもよい。反転駆動が行われる液晶ディスプレイの輝度及び色度が計測される場合は、Vsync時間に代えて、液晶ディスプレイの輝度及び色度の時間変化の周期に一致する、Vsync時間の2倍の時間が取得される。
In acquiring the measurement condition, the
続くステップS102においては、ディスプレイからの光の概算輝度が取得される。ステップS102がステップS101と同時に実行されてもよい。 In the following step S102, the approximate luminance of light from the display is obtained. Step S102 may be performed simultaneously with step S101.
概算輝度の取得においては、積分器制御部1065が、積分器1021を制御する。制御は、積分器1021が後述する複数の積分期間に先行する初期積分期間に光電流を積分し初期積分信号を出力するように行われる。また、概算輝度取得部1061が、初期積分信号からディスプレイからの光の概算輝度を取得する。初期積分期間は、短くてもかまわない。概算輝度の取得の方法が変更されてもよい。その一例は後述する。
In obtaining the approximate luminance, the
続くステップS103においては、計測条件が決定される。 In the following step S103, measurement conditions are determined.
計測条件の決定においては、露光時間決定部1063が、取得された要求S/N比及び概算輝度から露光時間を決定する。露光時間は、要求S/Nに応じて変更可能である。露光時間は、要求S/N比及び概算輝度を変数に持つ関数により決定されてもよいし、ルックアップテーブル(LUT)により決定されてもよい。当該関数は、例えば式(1)で表される関数である。式(1)に含まれるf(要求S/N比,概算輝度)は、整数である。当該LUTは、例えば図3に図示される要求S/N比及び概算輝度から露光時間を決定するためのルックアップテーブルである。
In determining the measurement conditions, the exposure
露光時間=Vsync時間×f(要求S/N比,概算輝度)・・・(1) Exposure time = Vsync time × f (required S / N ratio, estimated brightness) (1)
また、計測条件の取得においては、積分時間決定部1064が、取得された概算輝度から積分器1021が飽和せずS/N比を確保できる適正な積分時間の上限である最大非飽和積分時間を決定する。加えて、積分時間決定部1064が、決定された最大非飽和積分時間より積分時間が短く、決定された露光時間が取得されたVsync時間及び積分時間の公倍数となるように積分時間及び繰り返し回数を決定する。これにより、積分器1021が飽和せず露光時間がVsync時間及び積分時間の公倍数となる積分時間が決定される。
In addition, when acquiring the measurement conditions, the integration
積分時間は、望ましくは、式(2)及び(3)を満たすような、先述の条件を満たす最長のものである。また、公倍数は、望ましくは最小公倍数である。これらにより、積分器1021が飽和しない範囲内で積分器1021に蓄積される電荷が増加し、S/N比が改善される。
The integration time is desirably the longest that satisfies the above-mentioned condition, which satisfies the equations (2) and (3). The common multiple is desirably the least common multiple. As a result, the charge accumulated in the
繰り返し回数=Int(露光時間/最大非飽和積分時間)+1・・・(2)
積分時間=露光時間/繰り返し回数・・・(3)Number of repetitions = Int (exposure time / maximum non-saturation integration time) +1 (2)
Integration time = exposure time / number of repetitions (3)
露光時間の決定、最大非飽和積分時間の決定及び積分時間の決定は、別工程において行われるが、同一工程において行われてもよい。例えば、図4に図示される、先述の条件を満たすように要求S/N比、Vsync周波数及び概算輝度から積分時間を決定するLUTにより積分時間が直接的に決定されてもよい。 The determination of the exposure time, the determination of the maximum non-saturation integration time, and the determination of the integration time are performed in separate steps, but may be performed in the same step. For example, the integration time may be directly determined by the LUT illustrated in FIG. 4 that determines the integration time from the required S / N ratio, Vsync frequency, and the estimated luminance so as to satisfy the above-described condition.
続くステップS104においては、計測が行われる。 In the following step S104, measurement is performed.
計測においては、積分器制御部1065が、積分器1021を制御する。制御は、露光期間が複数の積分期間からなり、複数の積分期間の数が決定された繰り返し回数になり、露光期間の長さが決定された露光時間となり、複数の積分期間の各々の長さが決定された積分時間になり、積分器1021が複数の積分期間に光電流を積分し複数の積分信号をそれぞれ出力するように行われる。これにより、決定された計測条件による計測が行われる。
In the measurement, the
続くステップS105においては、計測値の演算及び出力が行われる。 In the following step S105, calculation and output of the measured value are performed.
計測値の演算及び出力においては、演算部1066が、出力された複数の積分信号の大きさをそれぞれ示す複数の積分信号値を取得し、取得した複数の積分信号値の平均値を単位時間当たりの値に換算し、換算により得られた値に必要な演算処理を行い輝度及び色度の計測値を演算する。これにより、複数の積分信号から輝度及び色度の計測値が演算される。輝度及び色度の計測値の演算の方法が変更されてもよい。加えて、演算部1066は、演算した輝度及び色度の演算値を出力する。
In the calculation and output of the measurement value, the
第1実施形態の光計測装置におけるこのような計測によれば、選択可能なゲインの数を減らすことができ、光計測装置にかかる負荷を減らすことができ、光計測装置を簡潔にできる。このため、光計測装置を複雑にすることなく光計測装置が計測できる輝度の範囲を広げることができる。 According to such measurement in the optical measurement device of the first embodiment, the number of selectable gains can be reduced, the load on the optical measurement device can be reduced, and the optical measurement device can be simplified. For this reason, the range of luminance that can be measured by the optical measurement device can be expanded without complicating the optical measurement device.
2 計測条件における露光時間、積分時間及びVsync時間の関係
図5及び図6の各々は、第1実施形態の光計測装置による計測の対象となるディスプレイ及び当該光計測装置に備えられる積分器の状態の時間変化の例を図示するタイミングチャートである。2 Relationship Between Exposure Time, Integration Time, and Vsync Time Under Measurement Conditions FIGS. 5 and 6 show states of a display to be measured by the optical measurement device of the first embodiment and an integrator provided in the optical measurement device. 6 is a timing chart illustrating an example of a time change of the first embodiment.
図5は、ディスプレイのVsync周波数が高い場合の例を示す。図6は、ディスプレイのVsync周波数が低い場合の例を示す。 FIG. 5 shows an example in which the Vsync frequency of the display is high. FIG. 6 shows an example in which the Vsync frequency of the display is low.
図5に図示される例においては、要求S/N比を確保するために必要な露光時間を有する露光期間1100が、8個のVsync期間1120に等分割される。Vsync時間は、例えば1ミリ秒から2秒程度である。また、露光期間1100が、5個の積分期間1140に等分割される。このため、露光時間は、積分時間及びVsync時間の公倍数となっている。積分時間は、最大非飽和積分時間より短い。
In the example shown in FIG. 5, an
図6に図示される例においては、要求S/N比を確保するために必要な露光時間を有する露光期間1160が、4個のVsync期間1180に等分割される。Vsync時間は、例えば1ミリ秒から2秒程度である。また、露光期間1160が、5個の積分期間1200に等分割される。このため、露光時間は、積分時間及びVsync時間の公倍数となっている。積分時間は、最大非飽和積分時間より短い。
In the example shown in FIG. 6, an
3 概算輝度を取得する方法の別例
図7は、第1実施形態の光計測装置及び当該光計測装置に備えられる積分器の状態の時間変化の例を図示するタイミングチャートである。3. Another Example of Method for Obtaining Approximate Luminance FIG. 7 is a timing chart illustrating an example of a temporal change in the state of the optical measurement device of the first embodiment and an integrator provided in the optical measurement device.
図7(a)に図示されるように、光計測装置1000の状態は、操作者から計測命令を受信したタイミングT1に待機状態1220から計測状態1240に変化し、タイミングT1から露光時間が経過したタイミングT2に計測状態1240から待機状態1260に変化する。
As shown in FIG. 7A, the state of the
また、図7(b)に図示されるように、積分器1021の状態は、タイミングT1に積分回路リセット動作を行っている状態1280から積分動作を行っている状態1300に変化し、タイミングT2に積分動作を行っている状態1300から積分回路リセット動作を行っている状態1320に変化する。したがって、積分器1021は、光計測装置1000が待機状態1220及び1260である場合は、それぞれ積分回路リセット動作を行っている状態1280及び1320となっており、光計測装置1000が計測状態1240である場合は、積分動作を行っている状態1300となっている。
Further, as shown in FIG. 7B, the state of the
積分器1021は、積分回路リセット動作を行っている状態1280及び1320においても、常時光信号を積分でき積分信号を出力できる。このため、積分器制御部1065が、繰り返し到来する待機時積分期間1340に光電流を積分し待機時積分信号を出力するように積分器1021を制御し、概算輝度取得部1061が、露光期間の直前に到来した待機時積分期間を初期積分期間とみなして概算輝度を取得してもよい。これにより、計測が開始されるタイミングT1の前に概算輝度が取得されるので、計測に要する時間が短縮される。繰り返し到来する待機時積分期間1340の長さは、設定可能な最短時間としてもよい。
The
この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。 Although the present invention has been described in detail, the above description is illustrative in all aspects, and the present invention is not limited thereto. It is understood that innumerable modifications that are not illustrated can be assumed without departing from the scope of the present invention.
1000 光計測装置
1020 光センサー
1021 積分器
1022 制御部
1060 要求精度取得部
1061 概算輝度取得部
1062 周期取得部
1063 露光時間決定部
1064 積分時間決定部
1065 積分器制御部
1066 演算部1000
Claims (6)
時間的に連続して前記光電流を積分し積分信号を出力する積分器と、
計測値に対する要求精度を取得する要求精度取得部と、
前記光の概算輝度を取得する概算輝度取得部と、
前記光の輝度及び色度の時間変化の周期を取得する周期取得部と、
前記要求精度及び前記概算輝度から露光時間を決定する露光時間決定部と、
前記積分器の積分時間を、前記積分器が飽和せず前記露光時間が前記周期及び前記積分時間の公倍数となるように決定する積分時間決定部と、
露光期間が少なくともひとつの積分期間からなり、前記露光期間の長さが前記露光時間となり、前記少なくともひとつの積分期間の各々の長さが前記積分時間となり、前記積分器が前記少なくともひとつの積分期間に前記光電流を積分し少なくともひとつの積分信号をそれぞれ出力するように前記積分器を制御する積分器制御部と、
前記少なくともひとつの積分信号から前記計測値を演算する演算部と、
を備える光計測装置。An optical sensor that receives light from the display and outputs a photocurrent according to the light,
An integrator that integrates the photocurrent continuously in time and outputs an integration signal;
A required accuracy acquisition unit for acquiring required accuracy for the measured value;
An approximate luminance obtaining unit for obtaining an approximate luminance of the light,
A period acquisition unit that acquires a period of time change of the luminance and chromaticity of the light,
An exposure time determination unit that determines an exposure time from the required accuracy and the approximate luminance,
An integration time determination unit that determines the integration time of the integrator such that the exposure time is a common multiple of the cycle and the integration time without the integrator being saturated;
An exposure period includes at least one integration period, a length of the exposure period is the exposure time, a length of each of the at least one integration period is the integration time, and the integrator is the at least one integration period. An integrator control unit that controls the integrator to integrate the photocurrent and output at least one integrated signal, respectively.
A calculation unit that calculates the measurement value from the at least one integrated signal,
An optical measurement device comprising:
前記概算輝度取得部は、前記初期積分信号から前記概算輝度を取得する
請求項1の光計測装置。The integrator control unit controls the integrator so that the integrator outputs the initial integration signal by integrating the photocurrent during an initial integration period preceding the at least one integration period,
The optical measurement device according to claim 1, wherein the approximate luminance obtaining unit obtains the approximate luminance from the initial integration signal.
前記初期積分期間は、前記露光期間の直前に到来した待機時積分期間である
請求項2の光計測装置。The integrator control unit controls the integrator to output the standby integration signal by integrating the photocurrent during the standby integration period that repeatedly arrives,
The optical measurement device according to claim 2, wherein the initial integration period is a standby integration period that arrives immediately before the exposure period.
請求項1から3までのいずれかの光計測装置。The optical measurement device according to claim 1, wherein the common multiple is a least common multiple.
請求項1から4までのいずれかの光計測装置。The optical measurement device according to claim 1, wherein the exposure time can be changed according to the required accuracy.
請求項1から5までのいずれかの光計測装置。6. The optical measurement device according to claim 1, wherein the integrator has a plurality of selectable gains.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017088253 | 2017-04-27 | ||
JP2017088253 | 2017-04-27 | ||
PCT/JP2018/013729 WO2018198674A1 (en) | 2017-04-27 | 2018-03-30 | Light measurement device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018198674A1 true JPWO2018198674A1 (en) | 2020-03-05 |
JP7188382B2 JP7188382B2 (en) | 2022-12-13 |
Family
ID=63920434
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019515183A Active JP7188382B2 (en) | 2017-04-27 | 2018-03-30 | Optical measurement device |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7188382B2 (en) |
KR (1) | KR102426522B1 (en) |
TW (1) | TWI770161B (en) |
WO (1) | WO2018198674A1 (en) |
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---|---|---|---|---|
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-
2018
- 2018-03-30 KR KR1020197031389A patent/KR102426522B1/en active IP Right Grant
- 2018-03-30 JP JP2019515183A patent/JP7188382B2/en active Active
- 2018-03-30 WO PCT/JP2018/013729 patent/WO2018198674A1/en active Application Filing
- 2018-04-18 TW TW107113120A patent/TWI770161B/en active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102426522B1 (en) | 2022-07-27 |
TW201842308A (en) | 2018-12-01 |
KR20190133030A (en) | 2019-11-29 |
TWI770161B (en) | 2022-07-11 |
JP7188382B2 (en) | 2022-12-13 |
WO2018198674A1 (en) | 2018-11-01 |
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