KR102426522B1 - optical instrumentation - Google Patents

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KR102426522B1
KR102426522B1 KR1020197031389A KR20197031389A KR102426522B1 KR 102426522 B1 KR102426522 B1 KR 102426522B1 KR 1020197031389 A KR1020197031389 A KR 1020197031389A KR 20197031389 A KR20197031389 A KR 20197031389A KR 102426522 B1 KR102426522 B1 KR 102426522B1
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사토시 마스다
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코니카 미놀타 가부시키가이샤
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Abstract

광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시킨다. 광 계측 장치에 있어서는, 광 센서가, 디스플레이로부터의 광을 수광하고, 광에 따른 광 전류를 출력하고, 적분기가, 시간적으로 연속하여 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력한다. 계측값에 대한 요구 정밀도, 광의 개산 휘도 그리고 광의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기가 취득된다. 요구 정밀도 및 개산 휘도로부터 노광 시간이 결정된다. 적분기가 포화되지 않고 노광 시간이 주기 및 적분 시간의 공배수가 되도록 적분 시간이 결정된다. 노광 기간이 적어도 하나의 적분 기간으로 이루어지고, 노광 기간의 길이가 결정된 노광 시간이 되고, 적어도 하나의 적분 기간의 각각의 길이가 결정된 적분 시간이 되고, 적분기가 적어도 하나의 적분 기간에 광 전류를 적분하여 적어도 하나의 적분 신호를 각각 출력하도록 적분기가 제어된다. 적어도 하나의 적분 신호로부터 계측값이 연산된다.The range of luminance that can be measured by the optical measuring device is expanded without complicating the optical measuring device. In an optical measuring device, an optical sensor receives light from a display, outputs a photocurrent corresponding to the light, and an integrator temporally continuously integrates the photocurrent to output an integration signal. The required precision for the measured value, the estimated luminance of the light, and the period of time change of the luminance and chromaticity of the light are obtained. The exposure time is determined from the required precision and the estimated luminance. The integration time is determined such that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and integration time. the exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period becomes the determined exposure time, each length of the at least one integration period becomes the determined integration time, and the integrator generates a photocurrent in the at least one integration period The integrator is controlled to integrate and output at least one integration signal, respectively. A measurement value is calculated from the at least one integral signal.

Figure R1020197031389
Figure R1020197031389

Description

광 계측 장치optical instrumentation

본 발명은, 광 계측 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an optical measuring device.

디스플레이의 휘도 및 색도를 계측하는 광 계측 장치에 있어서는, 광 센서가 디스플레이로부터의 광을 수광하여 수광된 광에 따른 광 전류를 출력하고, 적분기가 출력된 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력하고, 연산부가 출력된 적분 신호로부터 계측값을 계측한다. 그러나, 적분기가 광 신호를 적분하는 적분 기간의 길이를 나타내는 적분 시간에는, 제약이 있다.In the optical measuring device for measuring the luminance and chromaticity of a display, the optical sensor receives light from the display and outputs a photocurrent according to the received light, the integrator integrates the output photocurrent to output an integration signal, The measured value is measured from the integral signal output from the calculation unit. However, there is a restriction on the integration time indicating the length of the integration period during which the integrator integrates the optical signal.

디스플레이의 휘도 및 색도는, 과도 응답을 포함하고, 주기적으로 시간 변화한다. 이 때문에, 디스플레이의 휘도 및 색도의 계측은, 디스플레이의 휘도 및 색도의 주기적인 시간 변화에 동기하여 실시되어야만 한다. 따라서, 적분 시간은, 디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기의 정수 (整數) 배로 제한된다.The luminance and chromaticity of the display, including transient response, change periodically with time. For this reason, the measurement of the luminance and chromaticity of the display must be performed in synchronization with the periodic time changes of the luminance and chromaticity of the display. Accordingly, the integration time is limited to an integer multiple of the period of the temporal change of the luminance and chromaticity of the display.

디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기는, 프레임 레이트의 역수 또는 수직 동기 (Vsync) 기간의 길이에 일치한다. 이 때문에, 적분 시간은, 프레임 레이트의 역수 또는 Vsync 기간의 길이의 정수 배로 제한된다. 단, 고스팅 방지를 위해 반전 구동이 실시되는 액정 디스플레이 (LCD) 에 있어서는, 원리 상 플리커가 발생한다. 이 때문에, 광 계측 장치가 LCD 의 휘도 및 색도를 계측하는 경우에는, 플리커의 영향을 받지 않고 정확한 휘도 및 색도를 계측하기 위해, 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기가 프레임 레이트의 역수의 2 배 또는 Vsync 기간의 길이의 2 배인 것으로 간주되며, 적분 시간이 당해 주기의 정수 배로 제한된다.The period of time change of the luminance and chromaticity of the display corresponds to the reciprocal of the frame rate or the length of the vertical sync (Vsync) period. For this reason, the integration time is limited to the reciprocal of the frame rate or an integer multiple of the length of the Vsync period. However, in a liquid crystal display (LCD) in which inversion driving is performed to prevent ghosting, flicker occurs in principle. For this reason, when the optical measuring device measures the luminance and chromaticity of LCD, in order to measure the luminance and chromaticity accurately without being affected by flicker, the period of time change of the luminance and chromaticity is twice the reciprocal of the frame rate or It is considered to be twice the length of the Vsync period, and the integration time is limited to an integer multiple of that period.

광 계측 장치에 있어서는, 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키기 위해, 적분기에 있어서 복수의 게인을 선택할 수 있도록 되고, 노광이 적정 노광이 아닌 경우에는 선택되는 게인이 변경된다. 예를 들어, 노광이 적정 노광보다 오버 또는 언더인 경우에는 각각 게인 다운 또는 게인 업이 실시된다. 특허문헌 1 에 기재된 기술은, 그 일례로서, 높은 S/N 비를 실현하면서 저휘도에서 고휘도까지의 넓은 휘도의 범위를 계측할 수 있도록 하고 있다.In the optical measurement device, in order to expand the range of luminance that can be measured, a plurality of gains can be selected in the integrator, and when exposure is not appropriate exposure, the selected gain is changed. For example, when exposure is over or under than appropriate exposure, gain down or gain up is implemented, respectively. The technique described in Patent Document 1, as an example, makes it possible to measure a wide range of luminance from low luminance to high luminance while realizing a high S/N ratio.

또, 다른 광 계측 장치에 있어서는, 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키기 위해, 광 센서에 입사되는 광의 광로에 감광 (減光) 필터 (ND 필터) 를 삽입할 수 있도록 되고, 노광이 적정 노광보다 오버인 경우에는 감광 필터가 광로에 삽입되어 광 센서에 입사되는 광의 광량이 감소된다.Further, in other optical measurement devices, in order to expand the range of the luminance that can be measured, a light-sensitive filter (ND filter) can be inserted into the optical path of the light incident on the optical sensor, so that the exposure is appropriate. In the case of being over, the photosensitive filter is inserted into the optical path and the amount of light incident on the optical sensor is reduced.

일본 공개특허공보 2005-321313호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2005-321313

그러나, 종래의 광 계측 장치에는, 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키기 위해, 적분 회로에 있어서 다수의 게인을 선택할 수 있도록 해야만 하고, ND 필터를 삽입하기 위한 감광 기구 (ND 기구) 를 형성해야만 하는 등의 문제가 있었다. 이 때문에, 계측이 실시되는 환경의 변동, 계측 대상의 개체 편차 등에 대한 보정을 실시하기 위해, 많은 보정값 및 연산이 필요해지고, 그것을 위한 기억 용량이 필요해졌다. 예를 들어, 다수의 게인에 각각 대응하는 다수의 오프셋·게인 보정, 환경 보정값 등이 필요해졌다.However, in the conventional optical measuring device, in order to expand the range of luminance that can be measured, it is necessary to select a plurality of gains in the integrating circuit, and to form a photosensitive mechanism (ND mechanism) for inserting the ND filter. There were problems such as For this reason, in order to correct the fluctuation|variation of the environment in which measurement is performed, individual deviation of a measurement object, etc., many correction values and calculations are needed, and the storage capacity for it is needed. For example, a large number of offset/gain corrections, environmental correction values, and the like respectively corresponding to a large number of gains are required.

특히, 광 계측 장치가 디스플레이의 휘도 및 색도를 계측하는 경우에는, 적분 시간이 앞서 서술한 바와 같이 제한되기 때문에, Vsync 기간의 길이에 따라 적정 노광이 변화하고 휘도에 대한 포화값이 변화한다. 이 때문에, 필요한 게인의 수가 증가하여, 광 계측 장치에 걸리는 부하가 커진다.In particular, when the optical measuring device measures the luminance and chromaticity of the display, since the integration time is limited as described above, the appropriate exposure changes according to the length of the Vsync period and the saturation value for the luminance changes. For this reason, the number of necessary gains increases, and the load applied to an optical measuring apparatus becomes large.

소수의 게인에 의해 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키는 것도, 선택할 수 있는 소수의 게인에 있어서 인접하는 2 개의 게인의 차를 나타내는 게인 피치를 크게 함으로써 가능하다. 그러나, 게인 피치를 크게 한 경우에는, 선택된 게인에 있어서 노광이 적정 노광보다 언더가 되는 계측 조건이 발생한다는 문제가 발생한다.It is also possible to expand the range of the luminance that can be measured with a small number of gains by increasing the gain pitch representing the difference between two adjacent gains in the selectable few gains. However, when the gain pitch is made large, the problem that the measurement conditions under which exposure becomes under than appropriate exposure in the selected gain generate|occur|produces arises.

이하에서 설명하는 발명은, 이 문제를 해결하는 것을 목적으로 한다. 이하에서 설명하는 과제의 해결 수단은, 광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시키는 것이다.The invention described below aims to solve this problem. A solution to the problem described below is to expand the range of luminance that the optical measurement device can measure without complicating the optical measurement device.

광 계측 장치에 있어서는, 광 센서가, 디스플레이로부터의 광을 수광하고, 광에 따른 광 전류를 출력하고, 적분기가, 시간적으로 연속하여 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력한다.In an optical measuring device, an optical sensor receives light from a display, outputs a photocurrent corresponding to the light, and an integrator temporally continuously integrates the photocurrent to output an integration signal.

계측값에 대한 요구 정밀도, 광의 개산 휘도 그리고 광의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기가 취득된다.The required precision for the measured value, the estimated luminance of the light, and the period of time change of the luminance and chromaticity of the light are obtained.

요구 정밀도 및 개산 휘도로부터 노광 시간이 결정된다. 적분기가 포화되지 않고 노광 시간이 주기 및 적분 시간의 공배수가 되도록 적분 시간이 결정된다.The exposure time is determined from the required precision and the estimated luminance. The integration time is determined such that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and integration time.

노광 기간이 적어도 하나의 적분 기간으로 이루어지고, 노광 기간의 길이가 결정된 노광 시간이 되고, 적어도 하나의 적분 기간의 각각의 길이가 결정된 적분 시간이 되고, 적분기가 적어도 하나의 적분 기간에 광 전류를 적분하여 적어도 하나의 적분 신호를 각각 출력하도록 적분기가 제어된다.the exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period becomes the determined exposure time, each length of the at least one integration period becomes the determined integration time, and the integrator generates a photocurrent in the at least one integration period The integrator is controlled to integrate and output at least one integration signal, respectively.

적어도 하나의 적분 신호로부터 계측값이 연산된다.A measurement value is calculated from the at least one integral signal.

이하에서 설명하는 발명에 의하면, 광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시킬 수 있다.According to the invention described below, the range of luminance that can be measured by the optical measuring device can be expanded without complicating the optical measuring device.

이 발명의 목적, 특징, 국면, 및 이점은, 이하의 상세한 설명과 첨부 도면에 의해 보다 명백해진다.The object, characteristic, aspect, and advantage of this invention become clearer with the following detailed description and accompanying drawings.

도 1 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치를 도시하는 블록도이다.
도 2 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 계측의 흐름을 도시하는 플로 차트이다.
도 3 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 요구 S/N 비 및 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정하기 위한 룩업 테이블 (LUT) 을 도시하는 도면이다.
도 4 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 요구 S/N 비, 수직 동기 (Vsync) 주파수 및 개산 휘도로부터 적분 시간을 결정하기 위한 룩업 테이블 (LUT) 을 도시하는 도면이다.
도 5 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 의한 계측의 대상이 되는 디스플레이 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.
도 6 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 의한 계측의 대상이 되는 디스플레이 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.
도 7 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows the optical measurement apparatus of 1st Embodiment.
Fig. 2 is a flowchart showing a flow of measurement in the optical measurement device according to the first embodiment.
Fig. 3 is a diagram showing a look-up table (LUT) for determining an exposure time from a required S/N ratio and an estimated luminance in the optical measurement apparatus of the first embodiment.
Fig. 4 is a diagram showing a look-up table (LUT) for determining an integration time from a requested S/N ratio, a vertical synchronization (Vsync) frequency, and an estimated luminance in the optical measuring apparatus of the first embodiment.
Fig. 5 is a timing chart showing an example of temporal changes in the states of a display to be measured by the optical measuring device of the first embodiment and an integrator provided in the optical measuring device.
Fig. 6 is a timing chart showing an example of temporal change in states of a display to be measured by the optical measuring device of the first embodiment and an integrator provided in the optical measuring device.
Fig. 7 is a timing chart showing an example of temporal change in the state of the optical measuring device according to the first embodiment and an integrator provided in the optical measuring device.

1 광 계측 장치1 Optical instrumentation

도 1 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치를 도시하는 블록도이다. 도 2 는 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 계측의 흐름을 도시하는 플로 차트이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows the optical measurement apparatus of 1st Embodiment. Fig. 2 is a flowchart showing a flow of measurement in the optical measuring device according to the first embodiment.

도 1 에 도시되는 광 계측 장치 (1000) 는, 디스플레이의 휘도 및 색도를 계측하고, 광 센서 (1020), 적분기 (1021), 제어부 (1022) 및 주변부 (1023) 를 구비한다. 광 계측 장치 (1000) 가 이들 구성물 이외의 구성물을 구비해도 된다.The optical measurement device 1000 shown in FIG. 1 measures the luminance and chromaticity of a display, and includes an optical sensor 1020 , an integrator 1021 , a control unit 1022 , and a peripheral part 1023 . The optical measurement device 1000 may include structures other than these structures.

광 계측 장치 (1000) 에 있어서는, 광 센서 (1020) 가 디스플레이로부터의 광을 수광하고, 수광된 광에 따른 광 전류를 출력한다. 또, 적분기 (1021) 가 출력된 광 전류를 적분하고, 적분에 의해 축적된 전하의 양에 따른 적분 신호를 출력한다. 또한, 제어부 (1022) 가 출력된 적분 신호로부터 계측값을 연산한다.In the optical measurement device 1000 , the optical sensor 1020 receives light from the display and outputs a photocurrent corresponding to the received light. Further, the integrator 1021 integrates the output photocurrent, and outputs an integration signal according to the amount of electric charge accumulated by the integration. Moreover, the control part 1022 calculates a measured value from the output integral signal.

적분기 (1021) 는, 적분 회로 (1040), 적분 회로 (1041), 스위치 (1042) 및 스위치 (1043) 를 구비한다.The integrator 1021 includes an integrator circuit 1040 , an integrator circuit 1041 , a switch 1042 , and a switch 1043 .

적분 회로 (1040 및 1041) 는, 광 전류를 적분한다. 스위치 (1042 및 1043) 는, 제어부 (1022) 에 의한 제어에 따라 광 전류를 적분하는 적분 회로를 적분 회로 (1040) 와 적분 회로 (1041) 사이에서 전환시킨다. 이 때문에, 적분기 (1021) 는, 광 전류를 시간적으로 연속하여 끊기지 않고 적분할 수 있다.The integrating circuits 1040 and 1041 integrate the photocurrent. The switches 1042 and 1043 switch the integrating circuit that integrates the photocurrent between the integrating circuit 1040 and the integrating circuit 1041 according to the control by the control unit 1022 . For this reason, the integrator 1021 can integrate the photocurrent continuously without interruption in time.

적분기 (1021) 가, 선택 가능한 복수의 게인을 가져도 된다. 이로써, 계측할 수 있는 휘도의 범위가 더욱 확대된다.The integrator 1021 may have a plurality of selectable gains. Thereby, the range of the luminance that can be measured is further expanded.

제어부 (1022) 는, 인스톨된 프로그램에 따라 동작하는 컴퓨터이며, 요구 정밀도 취득부 (1060), 개산 휘도 취득부 (1061), 주기 취득부 (1062), 노광 시간 결정부 (1063), 적분 시간 결정부 (1064), 적분기 제어부 (1065) 및 연산부 (1066) 를 구비한다. 컴퓨터가 담당하는 처리의 전부 또는 일부를, 프로그램을 실행하지 않는 하드웨어가 담당해도 된다.The control unit 1022 is a computer operating in accordance with the installed program, and includes a required precision acquisition unit 1060, an approximate luminance acquisition unit 1061, a period acquisition unit 1062, an exposure time determination unit 1063, and an integration time determination unit. A unit 1064 , an integrator control unit 1065 , and an arithmetic unit 1066 are provided. Hardware that does not execute a program may bear all or part of the processing that the computer is responsible for.

주변부 (1023) 는, 표시부 (1080) 및 조작부 (1081) 를 구비한다.The peripheral portion 1023 includes a display portion 1080 and an operation portion 1081 .

계측에 있어서는, 조작자로부터의 계측 명령의 수신에 응답하여, 도 2 에 도시되는 스텝 S101 에서 스텝 S105 까지가 실행된다.In the measurement, in response to the reception of the measurement command from the operator, steps S101 to S105 shown in FIG. 2 are executed.

스텝 S101 에 있어서는, 측정 조건이 취득된다. 측정 조건은, 조작부 (1081) 에 구비되는 하드웨어 스위치에 대한 조작으로부터 취득되어도 되고, 표시부 (1080) 에 표시되는 그래피컬 유저 인터페이스 (GUI) 에 대하여 조작부 (1081) 를 사용하여 실시되는 조작으로부터 취득되어도 된다.In step S101, measurement conditions are acquired. The measurement conditions may be obtained from an operation with respect to a hardware switch provided in the operation unit 1081 , or may be obtained from an operation performed using the operation unit 1081 with respect to a graphical user interface (GUI) displayed on the display unit 1080 . .

측정 조건의 취득에 있어서는, 요구 정밀도 취득부 (1060) 가, 계측값에 대한 요구 S/N 비를 취득한다. 요구 정밀도 취득부 (1060) 는, 3 개의 요구 S/N 비에 각각 대응하는 고정밀도 모드, 표준 모드 및 고속 모드라는 3 개의 모드에 포함되는 1 개의 모드의 지정을 접수함으로써, 지정된 모드에 대응하는 요구 S/N 비를 취득한다. 요구 S/N 비의 취득 방법이 변경되어도 된다. 예를 들어, 요구 정밀도 취득부 (1060) 가, 복수의 요구 S/N 비에 각각 대응하는 복수의 정밀도 범위에 포함되는 1 개의 정밀도 범위의 지정을 접수함으로써, 지정된 정밀도 범위에 대응하는 요구 S/N 비를 취득해도 된다. 정밀도 범위는, 예를 들어,「… % 이하」,「… % 에서 … % 까지」등에 의해 표현된다. 요구 S/N 비 이외의 요구 정밀도가 취득되어도 된다.In acquisition of measurement conditions, the required precision acquisition part 1060 acquires the requested|required S/N ratio with respect to a measured value. The required precision acquisition unit 1060 receives the designation of one mode included in three modes, a high-precision mode, a standard mode, and a high-speed mode, respectively corresponding to the three requested S/N ratios, thereby Obtain the requested S/N ratio. The method of obtaining the requested S/N ratio may be changed. For example, the requested precision acquisition unit 1060 receives the designation of one precision range included in the plurality of precision ranges respectively corresponding to the plurality of requested S/N ratios, and thus the requested S/N corresponding to the specified precision range. The N ratio may be obtained. The precision range is, for example, "... % below","… % at … %", etc. The required precision other than the requested S/N ratio may be acquired.

또, 측정 조건의 취득에 있어서는, 주기 취득부 (1062) 가, 디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기에 일치하는 수직 동기 (Vsync) 기간의 길이인 Vsync 시간을 취득한다. Vsync 시간은, 표시부 (1080) 에 표시되는 GUI 에 대하여 조작부 (1081) 를 사용하여 실시되는 조작으로부터 취득된다. Vsync 주파수가 취득되고, 취득된 Vsync 주파수로부터 Vsync 시간이 취득되어도 된다. Vsync 시간의 취득 방법이 변경되어도 된다. 예를 들어, 주기 취득부 (1062) 에 Vsync 신호가 입력되고, 주기 취득부 (1062) 가 입력된 Vsync 신호로부터 Vsync 시간을 취득해도 된다. 반전 구동이 실시되는 액정 디스플레이의 휘도 및 색도가 계측되는 경우에는, Vsync 시간 대신에, 액정 디스플레이의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기에 일치하는, Vsync 시간의 2 배의 시간이 취득된다.Further, in acquiring the measurement conditions, the period acquiring unit 1062 acquires the Vsync time, which is the length of the vertical synchronization (Vsync) period that coincides with the period of time changes in luminance and chromaticity of the display. The Vsync time is acquired from the operation performed using the operation unit 1081 with respect to the GUI displayed on the display unit 1080 . The Vsync frequency may be acquired, and the Vsync time may be acquired from the acquired Vsync frequency. The method of acquiring the Vsync time may be changed. For example, a Vsync signal may be input to the period acquiring unit 1062 and the period acquiring unit 1062 may acquire the Vsync time from the inputted Vsync signal. When the luminance and chromaticity of the liquid crystal display to which the inversion driving is performed are measured, instead of the Vsync time, a time twice the Vsync time, which coincides with the period of time change of the luminance and chromaticity of the liquid crystal display, is obtained.

이어지는 스텝 S102 에 있어서는, 디스플레이로부터의 광의 개산 휘도가 취득된다. 스텝 S102 가 스텝 S101 과 동시에 실행되어도 된다.In the subsequent step S102, the estimated luminance of the light from the display is acquired. Step S102 may be executed simultaneously with step S101.

개산 휘도의 취득에 있어서는, 적분기 제어부 (1065) 가, 적분기 (1021) 를 제어한다. 제어는, 적분기 (1021) 가 후술하는 복수의 적분 기간에 선행하는 초기 적분 기간에 광 전류를 적분하여 초기 적분 신호를 출력하도록 실시된다. 또, 개산 휘도 취득부 (1061) 가, 초기 적분 신호로부터 디스플레이로부터의 광의 개산 휘도를 취득한다. 초기 적분 기간은 짧아도 상관없다. 개산 휘도의 취득 방법이 변경되어도 된다. 그 일례는 후술한다.In acquisition of the estimated luminance, the integrator control unit 1065 controls the integrator 1021 . Control is performed such that the integrator 1021 integrates the photocurrent in an initial integration period preceding a plurality of integration periods to be described later and outputs an initial integration signal. In addition, the estimated luminance acquisition unit 1061 acquires the estimated luminance of the light from the display from the initial integral signal. The initial integration period may be short. The method of acquiring the approximate luminance may be changed. An example thereof will be described later.

이어지는 스텝 S103 에 있어서는, 계측 조건이 결정된다.In subsequent step S103, measurement conditions are determined.

계측 조건의 결정에 있어서는, 노광 시간 결정부 (1063) 가, 취득된 요구 S/N 비 및 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정한다. 노광 시간은, 요구 S/N 비에 따라 변경 가능하다. 노광 시간은, 요구 S/N 비 및 개산 휘도를 변수로 갖는 함수에 의해 결정되어도 되고, 룩업 테이블 (LUT) 에 의해 결정되어도 된다. 당해 함수는, 예를 들어 식 (1) 로 나타내는 함수이다. 식 (1) 에 포함되는 f (요구 S/N 비, 개산 휘도) 는 정수이다. 당해 LUT 는, 예를 들어 도 3 에 도시되는 요구 S/N 비 및 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정하기 위한 룩업 테이블이다.In determining the measurement conditions, the exposure time determining unit 1063 determines the exposure time from the acquired required S/N ratio and the estimated luminance. The exposure time can be changed according to the required S/N ratio. The exposure time may be determined by a function having the required S/N ratio and the estimated luminance as variables, or may be determined by a lookup table (LUT). The said function is a function represented by Formula (1), for example. f (requested S/N ratio, estimated luminance) contained in Formula (1) is an integer. The LUT is, for example, a lookup table for determining the exposure time from the required S/N ratio and the estimated luminance shown in FIG. 3 .

노광 시간 = Vsync 시간 × f (요구 S/N 비, 개산 휘도) … (1)Exposure time = Vsync time x f (requested S/N ratio, estimated luminance)... (One)

또, 계측 조건의 취득에 있어서는, 적분 시간 결정부 (1064) 가, 취득된 개산 휘도로부터 적분기 (1021) 가 포화되지 않고 S/N 비를 확보할 수 있는 적정한 적분 시간의 상한인 최대 비포화 적분 시간을 결정한다. 추가로, 적분 시간 결정부 (1064) 가, 결정된 최대 비포화 적분 시간보다 적분 시간이 짧고, 결정된 노광 시간이 취득된 Vsync 시간 및 적분 시간의 공배수가 되도록 적분 시간 및 반복 횟수를 결정한다. 이로써, 적분기 (1021) 가 포화되지 않고 노광 시간이 Vsync 시간 및 적분 시간의 공배수가 되는 적분 시간이 결정된다.Moreover, in the acquisition of the measurement conditions, the integration time determining unit 1064 determines from the obtained estimated luminance that the integrator 1021 is not saturated and the S/N ratio is not saturated and the maximum unsaturated integral is the upper limit of the appropriate integration time. decide the time Further, the integration time determining unit 1064 determines the integration time and the number of repetitions so that the integration time is shorter than the determined maximum unsaturated integration time, and the determined exposure time is a common multiple of the acquired Vsync time and the integration time. Thereby, the integration time is determined at which the integrator 1021 is not saturated and the exposure time is a common multiple of the Vsync time and the integration time.

적분 시간은, 바람직하게는, 식 (2) 및 (3) 을 만족하는, 앞서 서술한 조건을 만족하는 최장의 것이다. 또, 공배수는, 바람직하게는 최소 공배수이다. 이것들에 의해, 적분기 (1021) 가 포화되지 않는 범위 내에서 적분기 (1021) 에 축적되는 전하가 증가하고, S/N 비가 개선된다.The integration time is preferably the longest which satisfies the above-mentioned conditions, which satisfy the formulas (2) and (3). In addition, the common multiple is preferably the least common multiple. Thereby, the electric charge accumulated in the integrator 1021 within a range in which the integrator 1021 is not saturated increases, and the S/N ratio is improved.

반복 횟수 = Int (노광 시간/최대 비포화 적분 시간) + 1 … (2)Number of repetitions = Int (exposure time/maximum non-saturation integral time) + 1 ... (2)

적분 시간 = 노광 시간/반복 횟수 … (3)Integration time = exposure time/number of repetitions ... (3)

노광 시간의 결정, 최대 비포화 적분 시간의 결정 및 적분 시간의 결정은, 별도 공정에 있어서 실시되지만, 동일 공정에 있어서 실시되어도 된다. 예를 들어, 도 4 에 도시되는, 앞서 서술한 조건을 만족하도록 요구 S/N 비, Vsync 주파수 및 개산 휘도로부터 적분 시간을 결정하는 LUT 에 의해 적분 시간이 직접적으로 결정되어도 된다.The determination of the exposure time, the determination of the maximum unsaturated integral time, and the determination of the integration time are performed in separate steps, but may be performed in the same step. For example, the integration time may be directly determined by the LUT which determines the integration time from the required S/N ratio, the Vsync frequency and the estimated luminance so as to satisfy the condition described above, shown in Fig. 4 .

이어지는 스텝 S104 에 있어서는, 계측이 실시된다.In subsequent step S104, measurement is performed.

계측에 있어서는, 적분기 제어부 (1065) 가, 적분기 (1021) 를 제어한다. 제어는, 노광 기간이 복수의 적분 기간으로 이루어지고, 복수의 적분 기간의 수가 결정된 반복 횟수가 되고, 노광 기간의 길이가 결정된 노광 시간이 되고, 복수의 적분 기간의 각각의 길이가 결정된 적분 시간이 되고, 적분기 (1021) 가 복수의 적분 기간에 광 전류를 적분하여 복수의 적분 신호를 각각 출력하도록 실시된다. 이로써, 결정된 계측 조건에 의한 계측이 실시된다.In measurement, the integrator control unit 1065 controls the integrator 1021 . The control is that the exposure period consists of a plurality of integration periods, the number of the plurality of integration periods becomes the determined number of repetitions, the length of the exposure period becomes the determined exposure time, and the integration time at which each length of the plurality of integration periods is determined. and the integrator 1021 integrates the photocurrent in a plurality of integration periods to output a plurality of integration signals, respectively. Thereby, measurement by the determined measurement conditions is performed.

이어지는 스텝 S105 에 있어서는, 계측값의 연산 및 출력이 실시된다.In subsequent step S105, calculation and output of the measured value are performed.

계측값의 연산 및 출력에 있어서는, 연산부 (1066) 가, 출력된 복수의 적분 신호의 크기를 각각 나타내는 복수의 적분 신호값을 취득하고, 취득된 복수의 적분 신호값의 평균값을 단위 시간당의 값으로 환산하고, 환산에 의해 얻어진 값에 필요한 연산 처리를 실시하여 휘도 및 색도의 계측값을 연산한다. 이로써, 복수의 적분 신호로부터 휘도 및 색도의 계측값이 연산된다. 휘도 및 색도의 계측값의 연산 방법이 변경되어도 된다. 추가로, 연산부 (1066) 는, 연산된 휘도 및 색도의 연산값을 출력한다.In the calculation and output of the measured values, the calculating unit 1066 acquires a plurality of integral signal values each indicating the magnitudes of the outputted plurality of integral signals, and converts the average value of the obtained plurality of integral signal values to a value per unit time. It converts and performs necessary arithmetic processing on the value obtained by conversion, and calculates the measured values of luminance and chromaticity. Thereby, measured values of luminance and chromaticity are calculated from the plurality of integral signals. The calculation method of the measured values of luminance and chromaticity may be changed. In addition, the calculation unit 1066 outputs the calculated values of luminance and chromaticity.

제 1 실시형태의 광 계측 장치에 있어서의 이와 같은 계측에 의하면, 선택 가능한 게인의 수를 줄일 수 있어, 광 계측 장치에 걸리는 부하를 줄일 수 있고, 광 계측 장치를 간결하게 할 수 있다. 이 때문에, 광 계측 장치를 복잡하게 하지 않고 광 계측 장치가 계측할 수 있는 휘도의 범위를 확대시킬 수 있다.According to such measurement in the optical measurement device of the first embodiment, the number of selectable gains can be reduced, the load applied to the optical measurement device can be reduced, and the optical measurement device can be simplified. For this reason, the range of luminance that can be measured by the optical measuring device can be expanded without complicating the optical measuring device.

2 계측 조건에 있어서의 노광 시간, 적분 시간 및 Vsync 시간의 관계2 Relationship between exposure time, integration time, and Vsync time under measurement conditions

도 5 및 도 6 의 각각은 제 1 실시형태의 광 계측 장치에 의한 계측의 대상이 되는 디스플레이 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.5 and 6 are timing charts showing examples of temporal changes in the states of a display to be measured by the optical measuring device of the first embodiment and an integrator provided in the optical measuring device.

도 5 는 디스플레이의 Vsync 주파수가 높은 경우의 예를 나타낸다. 도 6 은 디스플레이의 Vsync 주파수가 낮은 경우의 예를 나타낸다.5 shows an example when the Vsync frequency of the display is high. 6 illustrates an example in which the Vsync frequency of the display is low.

도 5 에 도시되는 예에 있어서는, 요구 S/N 비를 확보하기 위해 필요한 노광 시간을 갖는 노광 기간 1100 이, 8 개의 Vsync 기간 1120 으로 등분할된다. Vsync 시간은, 예를 들어 1 밀리초 내지 2 초 정도이다. 또, 노광 기간 1100 이, 5 개의 적분 기간 1140 으로 등분할된다. 이 때문에, 노광 시간은, 적분 시간 및 Vsync 시간의 공배수가 되고 있다. 적분 시간은, 최대 비포화 적분 시간보다 짧다.In the example shown in Fig. 5, the exposure period 1100 having the exposure time necessary to secure the required S/N ratio is equally divided into eight Vsync periods 1120. The Vsync time is, for example, about 1 millisecond to 2 seconds. In addition, the exposure period 1100 is equally divided into five integration periods 1140 . For this reason, the exposure time is a common multiple of the integral time and the Vsync time. The integration time is shorter than the maximum unsaturated integration time.

도 6 에 도시되는 예에 있어서는, 요구 S/N 비를 확보하기 위해 필요한 노광 시간을 갖는 노광 기간 1160 이, 4 개의 Vsync 기간 1180 으로 등분할된다. Vsync 시간은, 예를 들어 1 밀리초 내지 2 초 정도이다. 또, 노광 기간 1160 이, 5 개의 적분 기간 1200 으로 등분할된다. 이 때문에, 노광 시간은, 적분 시간 및 Vsync 시간의 공배수가 되고 있다. 적분 시간은, 최대 비포화 적분 시간보다 짧다.In the example shown in Fig. 6, the exposure period 1160 having the exposure time required to secure the required S/N ratio is equally divided into four Vsync periods 1180. The Vsync time is, for example, about 1 millisecond to 2 seconds. In addition, the exposure period 1160 is equally divided into five integration periods 1200 . For this reason, the exposure time is a common multiple of the integral time and the Vsync time. The integration time is shorter than the maximum unsaturated integration time.

3 개산 휘도를 취득하는 방법의 별례3 An example of how to obtain the estimated luminance

도 7 은 제 1 실시형태의 광 계측 장치 및 당해 광 계측 장치에 구비되는 적분기의 상태의 시간 변화의 예를 도시하는 타이밍 차트이다.Fig. 7 is a timing chart showing an example of temporal change in the state of the optical measuring device according to the first embodiment and an integrator provided in the optical measuring device.

도 7(a) 에 도시되는 바와 같이, 광 계측 장치 (1000) 의 상태는, 조작자로부터 계측 명령을 수신한 타이밍 T1 에 대기 상태 1220 에서 계측 상태 1240 으로 변화하고, 타이밍 T1 로부터 노광 시간이 경과한 타이밍 T2 에 계측 상태 1240 에서 대기 상태 1260 으로 변화한다.As shown in Fig. 7(a) , the state of the optical measurement device 1000 changes from the standby state 1220 to the measurement state 1240 at the timing T1 when the measurement command is received from the operator, and the exposure time has elapsed from the timing T1 At timing T2, the measurement state 1240 changes to the standby state 1260.

또, 도 7(b) 에 도시되는 바와 같이, 적분기 (1021) 의 상태는, 타이밍 T1 에 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1280 에서 적분 동작을 실시하고 있는 상태 1300 으로 변화하고, 타이밍 T2 에 적분 동작을 실시하고 있는 상태 1300 에서 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1320 으로 변화한다. 따라서, 적분기 (1021) 는, 광 계측 장치 (1000) 가 대기 상태 1220 및 1260 인 경우에는, 각각 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1280 및 1320 이 되고 있으며, 광 계측 장치 (1000) 가 계측 상태 1240 인 경우에는, 적분 동작을 실시하고 있는 상태 1300 이 되고 있다.Further, as shown in Fig. 7(b), the state of the integrator 1021 changes from the state 1280 in which the integrator circuit reset operation is performed at the timing T1 to the state 1300 in which the integrating operation is performed, and at the timing T2 It changes from the state 1300 in which the integration operation is being performed to the state 1320 in which the integration circuit reset operation is being performed. Accordingly, when the optical measurement device 1000 is in the standby state 1220 and 1260, the integrator 1021 is in the states 1280 and 1320 in which the integrator circuit reset operation is being performed, respectively, and the optical measurement device 1000 is in the measurement state. In the case of 1240, the state 1300 in which the integral operation is being performed is obtained.

적분기 (1021) 는, 적분 회로 리셋 동작을 실시하고 있는 상태 1280 및 1320 에 있어서도, 항상 광 신호를 적분할 수 있어 적분 신호를 출력할 수 있다. 이 때문에, 적분기 제어부 (1065) 가, 반복하여 도래하는 대기시 적분 기간 1340 에 광 전류를 적분하여 대기시 적분 신호를 출력하도록 적분기 (1021) 를 제어하고, 개산 휘도 취득부 (1061) 가, 노광 기간의 직전에 도래한 대기시 적분 기간을 초기 적분 기간으로 간주하여 개산 휘도를 취득해도 된다. 이로써, 계측이 개시되는 타이밍 T1 의 전에 개산 휘도가 취득되므로, 계측에 필요로 하는 시간이 단축된다. 반복하여 도래하는 대기시 적분 기간 1340 의 길이는, 설정 가능한 최단 시간으로 해도 된다.The integrator 1021 can always integrate the optical signal even in the states 1280 and 1320 in which the integration circuit reset operation is being performed, and can output the integrated signal. For this reason, the integrator control unit 1065 controls the integrator 1021 to integrate the photocurrent in the repeatedly arriving standby integration period 1340 to output the standby integration signal, and the estimated luminance acquisition unit 1061 performs exposure The estimated luminance may be obtained by considering the standby integration period that arrived immediately before the period as the initial integration period. Thereby, since the estimated luminance is acquired before the timing T1 at which measurement is started, the time required for measurement is shortened. The length of the integral waiting time period 1340 that repeatedly arrives may be the shortest settable time.

이 발명은 상세하게 설명되었지만, 상기한 설명은, 모든 국면에 있어서, 예시로서, 이 발명이 그것에 한정되는 것은 아니다. 예시되어 있지 않은 무수한 변형예가, 이 발명의 범위에서 벗어나지 않고 상정될 수 있을 것으로 해석된다.Although this invention has been described in detail, the foregoing description, in all respects, is illustrative and not restrictive of the invention. It is to be understood that numerous modifications not illustrated can be made without departing from the scope of this invention.

1000 : 광 계측 장치
1020 : 광 센서
1021 : 적분기
1022 : 제어부
1060 : 요구 정밀도 취득부
1061 : 개산 휘도 취득부
1062 : 주기 취득부
1063 : 노광 시간 결정부
1064 : 적분 시간 결정부
1065 : 적분기 제어부
1066 : 연산부
1000: optical measuring device
1020: light sensor
1021 : Integrator
1022: control unit
1060: required precision acquisition unit
1061: approximate luminance acquisition unit
1062: cycle acquisition unit
1063: exposure time determining unit
1064: integral time determining unit
1065: integrator control unit
1066: arithmetic unit

Claims (6)

디스플레이로부터의 광을 수광하고, 상기 광에 따른 광 전류를 출력하는 광 센서와,
시간적으로 연속하여 상기 광 전류를 적분하여 적분 신호를 출력하는 적분기와,
계측값에 대한 요구 정밀도를 취득하는 요구 정밀도 취득부와,
상기 광의 개산 휘도를 취득하는 개산 휘도 취득부와,
상기 광의 휘도 및 색도의 시간 변화의 주기를 취득하는 주기 취득부와,
상기 요구 정밀도 및 상기 개산 휘도로부터 노광 시간을 결정하는 노광 시간 결정부와,
상기 적분기의 적분 시간을, 상기 적분기가 포화되지 않고 상기 노광 시간이 상기 주기 및 상기 적분 시간의 공배수가 되도록 결정하는 적분 시간 결정부와,
노광 기간이 적어도 하나의 적분 기간으로 이루어지고, 상기 노광 기간의 길이가 상기 노광 시간이 되고, 상기 적어도 하나의 적분 기간의 각각의 길이가 상기 적분 시간이 되고, 상기 적분기가 상기 적어도 하나의 적분 기간에 상기 광 전류를 적분하여 적어도 하나의 적분 신호를 각각 출력하도록 상기 적분기를 제어하는 적분기 제어부와,
상기 적어도 하나의 적분 신호로부터 상기 계측값을 연산하는 연산부를 구비하는 광 계측 장치.
an optical sensor for receiving light from the display and outputting a photocurrent according to the light;
an integrator for outputting an integral signal by integrating the photocurrent continuously in time;
a required precision acquisition unit for acquiring the required precision for the measured value;
an approximate luminance acquisition unit for acquiring the approximate luminance of the light;
a period acquisition unit for acquiring a period of time change of the luminance and chromaticity of the light;
an exposure time determining unit for determining an exposure time from the required precision and the estimated luminance;
an integration time determining unit that determines an integration time of the integrator so that the integrator is not saturated and the exposure time is a common multiple of the period and the integration time;
an exposure period consists of at least one integration period, the length of the exposure period is the exposure time, each length of the at least one integration period is the integration time, and the integrator is the at least one integration period. an integrator control unit for controlling the integrator to output at least one integral signal by integrating the photocurrent into
and an arithmetic unit for calculating the measured value from the at least one integral signal.
제 1 항에 있어서,
상기 적분기 제어부는, 상기 적분기가 상기 적어도 하나의 적분 기간에 선행하는 초기 적분 기간에 상기 광 전류를 적분하여 초기 적분 신호를 출력하도록 상기 적분기를 제어하고,
상기 개산 휘도 취득부는, 상기 초기 적분 신호로부터 상기 개산 휘도를 취득하는 광 계측 장치.
The method of claim 1,
The integrator control unit controls the integrator so that the integrator outputs an initial integration signal by integrating the photocurrent in an initial integration period preceding the at least one integration period;
and the estimated luminance acquiring unit acquires the estimated luminance from the initial integral signal.
제 2 항에 있어서,
상기 적분기 제어부는, 반복하여 도래하는 대기시 적분 기간에 상기 광 전류를 적분하여 대기시 적분 신호를 출력하도록 상기 적분기를 제어하고,
상기 초기 적분 기간은, 상기 노광 기간의 직전에 도래한 대기시 적분 기간인 광 계측 장치.
3. The method of claim 2,
The integrator control unit controls the integrator to integrate the photocurrent in a standby integration period that repeatedly arrives to output an integration signal in standby,
The initial integration period is a standby integration period that arrives immediately before the exposure period.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 공배수는, 최소 공배수인 광 계측 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The common multiple is a least common multiple.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 노광 시간은, 상기 요구 정밀도에 따라 변경 가능한 광 계측 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The exposure time can be changed according to the required precision.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 적분기는, 선택 가능한 복수의 게인을 갖는 광 계측 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The integrator is an optical measuring device having a plurality of selectable gains.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005303818A (en) * 2004-04-14 2005-10-27 Konica Minolta Photo Imaging Inc Imaging apparatus
JP2010048579A (en) * 2008-08-19 2010-03-04 Omron Corp Optical measurement device and method
JP2012026915A (en) * 2010-07-26 2012-02-09 Hioki Ee Corp Photometric device
JP2014052278A (en) * 2012-09-07 2014-03-20 Hioki Ee Corp Photometric device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000262514A (en) * 1999-03-12 2000-09-26 Toshiba Corp Data collection system for x-ray computed tomograph
JP4589030B2 (en) 2004-05-10 2010-12-01 浜松ホトニクス株式会社 Photodetector
KR101411627B1 (en) 2006-10-24 2014-06-25 소니 주식회사 Imaging device and reproduction control device
JP5669616B2 (en) * 2011-02-18 2015-02-12 オリンパス株式会社 Imaging apparatus, image generation method, and image generation program
JP2016070775A (en) 2014-09-30 2016-05-09 セイコーエプソン株式会社 Spectrometer and spectrometry method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005303818A (en) * 2004-04-14 2005-10-27 Konica Minolta Photo Imaging Inc Imaging apparatus
JP2010048579A (en) * 2008-08-19 2010-03-04 Omron Corp Optical measurement device and method
JP2012026915A (en) * 2010-07-26 2012-02-09 Hioki Ee Corp Photometric device
JP2014052278A (en) * 2012-09-07 2014-03-20 Hioki Ee Corp Photometric device

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