KR20190104287A - Resin composition - Google Patents

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Abstract

The purpose of the present invention is to provide a resin composition capable of achieving low dielectric tangentization of a cured product of the resin composition and inhibiting smears in a via hole after perforating and roughening the cured product. The resin composition contains an epoxy resin, an active ester compound and a smear inhibiting component.

Description

수지 조성물 {RESIN COMPOSITION}Resin Composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은, 수지 조성물에 관한 것이다. 나아가 시트형상 적층 재료, 다층 프린트 배선판, 반도체 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a resin composition. Furthermore, it is related with a sheet-like laminated material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device.

최근, 전자 기기의 소형화, 고성능화가 진행되고, 다층 프린트 배선판에 있어서는, 빌드 업층이 복층화되어, 배선이 미세화 및 고밀도화가 요구되며, 또한 전송 손실 저감을 위해 유전 탄젠트가 낮은 절연 재료가 요구되고 있다. In recent years, miniaturization and high performance of electronic devices have progressed. In a multilayer printed wiring board, build-up layers are multilayered, wiring is required to be finer and denser, and an insulating material having a low dielectric tangent is required to reduce transmission loss.

특허문헌 1에는, 에폭시 수지, 경화제, 카본 블랙을 포함하는 밀봉용 에폭시 수지 조성물이 개시되고, 카본 블랙의 응집 방지에 관해서 기재되어 있다. 그러나, 스미어나 저유전 탄젠트라는 개념은 일체 개시나 지향되는 것은 아니었다. In patent document 1, the epoxy resin composition for sealing containing an epoxy resin, a hardening | curing agent, and carbon black is disclosed, and it describes about the prevention of aggregation of carbon black. However, the concepts of smear and low dielectric tangent were not disclosed or directed at all.

특허문헌 1 : 일본특허공개 제2008-121010호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-121010

다층 프린트 배선판의 절연층을 천공 가공할 때에는, 비아홀 내에 스미어(수지 잔사)가 발생하고, 조화 처리 공정에서 스미어를 제거하는 것이 필요하다. 그러나, 본 발명자들의 지견에 따르면, 활성 에스테르 화합물을 포함한 저유전 탄젠트의 수지 조성물을 이용하여 다층 프린트 배선판을 제작하고 있었던 바, 절연층의 천공 가공 후에 비아홀 내를 조화 처리하더라도, 비아홀 내의 스미어(수지 잔사)를 제거하기 어렵다는 문제가 새롭게 발생하였다. When drilling the insulating layer of a multilayer printed wiring board, smear (resin residue) arises in a via hole, and it is necessary to remove smear in a roughening process process. However, according to the findings of the present inventors, a multilayer printed wiring board was produced using a resin composition of a low dielectric tangent containing an active ester compound. Even though the inside of the via hole was roughened after drilling the insulating layer, the smear (resin) in the via hole was used. A new problem arises that it is difficult to remove the residue).

따라서, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 수지 조성물의 경화물의 저유전 탄젠트화를 달성할 수 있고, 그리고 경화물을 천공 가공하여 조화 처리한 후의 비아홀 내의 스미어를 억제할 수 있는 수지 조성물을 제공하는 것이다. Accordingly, the problem to be solved by the present invention is to provide a resin composition capable of achieving low dielectric tangentization of the cured product of the resin composition and suppressing smear in the via hole after the cured product is bored and roughened. will be.

본 발명자는, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 연구한 결과, 에폭시 수지, 활성 에스테르 화합물 및 스미어 억제 성분을 함유하는 특정한 수지 조성물에 있어서, 본 발명을 완성하기에 이르렀다. MEANS TO SOLVE THE PROBLEM This inventor came to complete this invention in the specific resin composition containing an epoxy resin, an active ester compound, and a smear suppression component as a result of earnestly researching in order to solve the said subject.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함하는 것이다. That is, this invention includes the following content.

[1] (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물 및 (C) 스미어 억제 성분을 함유하는 수지 조성물이고, 상기 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우에, (C) 스미어 억제 성분이 0.001∼10 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. [1] A resin composition containing (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) a smear suppression component, wherein (C) smear suppression when the nonvolatile component of the resin composition is 100 mass% The component is 0.001-10 mass%, The resin composition characterized by the above-mentioned.

[2] 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량이 1∼30 질량%인 것을 특징으로 하는 상기 [1]에 기재의 수지 조성물. [2] When the nonvolatile component in the resin composition is 100 mass%, the content of the active ester compound (B) is 1 to 30 mass%, the resin composition according to the above [1].

[3] (C) 스미어 억제 성분이, 유기계 스미어 억제 성분인 것을 특징으로 하는 상기 [1] 또는 [2]에 기재의 수지 조성물. [3] The resin composition according to the above [1] or [2], in which the (C) smear suppression component is an organic smear suppression component.

[4] 유기계 스미어 억제 성분이, 안료, 염료, 고무 입자, 산화 방지제 및 적외선 흡수제로 이루어지는 군에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 상기 [3]에 기재의 수지 조성물. [4] The resin composition according to the above [3], wherein the organic smear suppression component is at least one selected from the group consisting of pigments, dyes, rubber particles, antioxidants, and infrared absorbers.

[5] 유기계 스미어 억제 성분이, 안료 및/또는 고무 입자인 것을 특징으로 하는 상기 [3]에 기재의 수지 조성물. [5] The resin composition according to the above [3], wherein the organic smear suppression component is a pigment and / or rubber particles.

[6] 유기계 스미어 억제 성분이, 안료인 것을 특징으로 하는 상기 [3]에 기재의 수지 조성물. [6] The resin composition according to the above [3], wherein the organic smear suppression component is a pigment.

[7] 유기계 스미어 억제 성분이, 청색 안료, 황색 안료, 적색 안료 및 녹색 안료로 이루어지는 군에서 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 상기 [3]에 기재의 수지 조성물. [7] The resin composition according to the above [3], wherein the organic smear suppression component is at least one selected from the group consisting of blue pigments, yellow pigments, red pigments, and green pigments.

[8] 유기계 스미어 억제 성분이, 청색 안료, 황색 안료 및 적색 안료를 혼합하여 이루어지는 혼합 안료인 것을 특징으로 하는 상기 [3]에 기재의 수지 조성물. [8] The resin composition according to the above [3], wherein the organic smear suppression component is a mixed pigment obtained by mixing a blue pigment, a yellow pigment, and a red pigment.

[9] 또한 (D) 무기 충전재를 함유하는 것을 특징으로 하는 상기 [1]∼ [8] 중 어느 하나에 기재의 수지 조성물. [9] The resin composition according to any one of the above [1] to [8], further comprising (D) an inorganic filler.

[10] (D) 무기 충전재의 평균 입경이, 0.01∼5 ㎛인 것을 특징으로 하는 상기 [9]에 기재의 수지 조성물. [10] The resin composition according to the above [9], wherein the average particle diameter of the inorganic filler (D) is 0.01 to 5 µm.

[11] 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, (D) 무기 충전재의 함유량이 40∼85 질량%인 것을 특징으로 하는 상기 [9] 또는 [10]에 기재의 수지 조성물. [11] The resin composition according to the above [9] or [10], wherein the content of the inorganic filler is 40 to 85% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.

[12] 무기 충전재의 단위중량당 카본량이, 0.02∼3%인 것을 특징으로 하는 상기 [9] ∼ [11] 중 어느 하나에 기재의 수지 조성물. [12] The resin composition according to any one of [9] to [11], wherein the carbon amount per unit weight of the inorganic filler is 0.02 to 3%.

[13] 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 상기 절연층 표면을 조화 처리한 후의 상기 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기 Rq가 500 ㎚ 이하이며, 상기 절연층 표면에 도금하여 얻어지는 도체층과 상기 절연층과의 필 강도가 0.3 kgf/㎝ 이상이고, 수지 조성물의 경화물의 유전 탄젠트가 0.05이하인 것을 특징으로 하는 상기 [1] ∼ [12] 중 어느 하나에 기재의 수지 조성물. [13] a conductor layer obtained by curing the resin composition to form an insulating layer and roughening the surface of the insulating layer, wherein the root mean square roughness Rq of the surface of the insulating layer is 500 nm or less and is plated on the surface of the insulating layer; The peeling strength with the said insulating layer is 0.3 kgf / cm or more, and the dielectric tangent of the hardened | cured material of a resin composition is 0.05 or less, The resin composition in any one of said [1]-[12] characterized by the above-mentioned.

[14] 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 상기 [1] ∼ [13] 중 어느 하나에 기재의 수지 조성물. [14] The resin composition according to any one of the above [1] to [13], which is a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board.

[15] 상기 [1] ∼ [14] 중 어느 하나에 기재의 수지 조성물을 함유하는 것을 특징으로 하는 시트형상 적층 재료. [15] A sheet-like laminated material, comprising the resin composition according to any one of the above [1] to [14].

[16] 상기 [1] ∼ [14] 중 어느 하나에 기재의 수지 조성물의 경화물에 의해 절연층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 다층 프린트 배선판. [16] A multilayer printed wiring board, wherein an insulating layer is formed of a cured product of the resin composition according to any one of the above [1] to [14].

[17] 상기 [16] 에 기재의 다층 프린트 배선판을 이용하는 것을 특징으로 하는, 반도체 장치. [17] A semiconductor device comprising the multilayer printed wiring board according to [16] above.

[18] 상기 [15] 에 기재의 시트형상 적층 재료를 회로 기판에 적층하고, 수지 조성물을 열경화하여 절연층을 형성하며, 회로 기판상에 형성된 절연층에 지지체 상으로부터 천공 가공하여 비아홀을 형성하는 것을 특징으로 하는 다층 프린트 배선판의 제조방법. [18] The sheet-like lamination material according to the above [15] is laminated on a circuit board, the resin composition is thermoset to form an insulating layer, and a via hole is formed on the insulating layer formed on the circuit board by drilling through a support. The manufacturing method of the multilayer printed wiring board characterized by the above-mentioned.

에폭시 수지, 활성 에스테르 화합물 및 스미어 억제 성분을 함유하는 특정한 수지 조성물에 의해, 해당 수지 조성물의 경화물의 저유전 탄젠트를 달성할 수 있고, 그리고 경화물을 천공 가공하여 조화 처리한 후의 비아홀 내의 스미어를 억제할 수 있다는 수지 조성물을 제공할 수 있도록 되었다. By the specific resin composition containing an epoxy resin, an active ester compound, and a smear suppression component, the low dielectric tangent of the hardened | cured material of the said resin composition can be achieved, and the smear in a via hole after a roughening process by carrying out hardening processing of hardened | cured material is suppressed. It became possible to provide the resin composition which can be done.

본 발명은, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물 및 (C) 스미어 억제 성분을 함유하는 수지 조성물이며, 상기 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우에, (C) 스미어 억제 성분이 0.001∼10 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물이다. This invention is a resin composition containing (A) epoxy resin, (B) active ester compound, and (C) smear suppression component, (C) smear when the non-volatile component of the said resin composition is 100 mass% An inhibitory component is 0.001-10 mass%, It is a resin composition characterized by the above-mentioned.

<(A) 에폭시 수지> <(A) Epoxy Resin>

본 발명에 사용하는 (A) 에폭시 수지로서는, 특별히 한정되지 않지만, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 선형상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환함유 에폭시 수지, 시클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 할로겐화 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. Although it does not specifically limit as (A) epoxy resin used for this invention, It is preferable to contain the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule. Specifically, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene Epoxy resin, naphthylene ether epoxy resin, glycidylamine epoxy resin, glycidyl ester epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, biphenyl epoxy resin, anthracene epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin And epoxy resins having a butadiene structure, alicyclic epoxy resins, heterocyclic epoxy resins, spiro ring-containing epoxy resins, cyclohexanedimethanol type epoxy resins, trimethylol type epoxy resins, halogenated epoxy resins, and the like. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

이들 중에서도, 내열성 향상, 절연 신뢰성 향상, 금속박과의 밀착성 향상의 관점에서, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하다. 구체적으로는, 예컨대, 비스페놀 A형 에폭시 수지(미쓰비시가가꾸(주) 제조 「에피코트 828EL」, 「YL980」), 비스페놀 F형 에폭시 수지(미쓰비시가가꾸(주) 제조 「jER806H」, 「YL983U」), 나프탈렌형 2관능 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」, 「EXA4032SS」), 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「HP4700」, 「HP4710」), 나프톨형 에폭시 수지(도토가세이(주) 제조 「ESN-475V」), 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지(다이셀가가꾸고교(주) 제조 「PB-3600」), 비페닐형 에폭시 수지(니혼카야쿠(주) 제조 「NC3000H」, 「NC3000L」, 「NC3100」, 미쓰비시가가꾸(주) 제조 「YX4000」, 「YX4000H」, 「YX4000HK」, 「YL6121」), 안트라센형 에폭시 수지(미쓰비시가가꾸(주) 제조 「YX8800」), 나프틸렌에테르형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「EXA-7310」, 「EXA-7311」, 「EXA-7311L」, 「EXA7311-G3」), 글리시딜에스테르형 에폭시 수지(나가세켐텍스(주) 제조 「EX711」, 「EX721」, (주)프린테크. 제조 「R540」) 등을 들 수 있다. Among these, bisphenol A type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycy from a viewpoint of heat resistance improvement, insulation reliability improvement, and adhesiveness improvement with metal foil. The epoxy resin which has a diester type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, and a butadiene structure is preferable. Specifically, for example, bisphenol A type epoxy resin ("Epitcoat 828EL", "YL980" by Mitsubishi Chemical Corporation), bisphenol F type epoxy resin ("jER806H" and "YL983U" by Mitsubishi Chemical Corporation) ), Naphthalene type bifunctional epoxy resin (DIC Corporation make "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS", "EXA4032SS"), naphthalene type tetrafunctional epoxy resin (DIC make "HP4700", "HP4710" ), Naphthol type epoxy resin (DOTGAsei Co., Ltd. product "ESN-475V"), epoxy resin (but Daisen Chemical Co., Ltd. product "PB-3600") having a butadiene structure, biphenyl type epoxy resin (Nihon Kayaku Co., Ltd. "NC3000H", "NC3000L", "NC3100", Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YX4000", "YX4000H", "YX4000HK", "YL6121"), anthracene type epoxy resin (Mitsubishi Chemical) (Manufactured by "YX8800"), naphthylene ether type epoxy resin (DIC Corporation make "EXA-7310", "EXA-7311", "EXA-7311L) And "EXA7311-G3"), glycidyl ester type epoxy resin ("EX711" by Nagase ChemteX Corp., "EX721", "R540" by Printech Co., Ltd.), etc. are mentioned.

그 중에서도, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 것이 바람직하고, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 액상의 방향족계 에폭시 수지(이하, 「액상 에폭시 수지」라고 함)와, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 고체상의 방향족계 에폭시 수지(이하, 「고체상 에폭시 수지」라고 함)를 함유하는 양태가 보다 바람직하다. 또한, 본 발명에서 말하는 방향족계 에폭시 수지란, 그 분자 내에 방향환 구조를 갖는 에폭시 수지를 의미한다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 수지 조성물을 접착 필름 형태로 사용하는 경우에 적절한 가요성을 갖는 점이나 수지 조성물의 경화물이 적절한 파단 강도를 갖는 점에서, 그 배합 비율(액상 에폭시 수지: 고체상 에폭시 수지)는 질량비로 1:0.1∼1:4의 범위가 바람직하고, 1:0.1∼1:2의 범위가 보다 바람직하며, 1:0.3∼1:1.8의 범위가 더욱 바람직하고, 1:0.6∼1:1.5의 범위가 보다 더 바람직하다. Especially, it is preferable to use together a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin, It has two or more epoxy groups in 1 molecule, A liquid aromatic epoxy resin (henceforth "liquid epoxy resin") at a temperature of 20 degreeC, The aspect which has three or more epoxy groups in 1 molecule, and contains a solid aromatic epoxy resin (henceforth "solid epoxy resin") at the temperature of 20 degreeC is more preferable. In addition, the aromatic epoxy resin in this invention means the epoxy resin which has an aromatic ring structure in the molecule | numerator. As an epoxy resin, when using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together, when mix | blending a resin composition in the form of an adhesive film, since it has the suitable flexibility, and the hardened | cured material of a resin composition has the suitable breaking strength, it mix | blends it The ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably in the range of 1: 0.1 to 1: 4 by mass ratio, more preferably in the range of 1: 0.1 to 1: 2, and in the range of 1: 0.3 to 1: 1.8. More preferably, the range of 1: 0.6-1: 1.5 is still more preferable.

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 수지 조성물의 경화물의 기계 강도나 절연 신뢰성을 향상시킨다고 하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, (A) 에폭시 수지의 함유량은 3∼40 질량%인 것이 바람직하고, 5∼35 질량%인 것이 보다 바람직하며, 10∼30 질량%인 것이 더욱 바람직하다. In the resin composition of this invention, when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass% from a viewpoint of improving the mechanical strength and insulation reliability of the hardened | cured material of a resin composition, content of (A) epoxy resin is 3-40 It is preferable that it is mass%, It is more preferable that it is 5-35 mass%, It is further more preferable that it is 10-30 mass%.

<(B) 활성 에스테르 화합물> <(B) Active Ester Compounds>

본 발명에 있어서의 (B) 활성 에스테르 화합물은, 1분자 중에 활성 에스테르기를 1개 이상 갖는 화합물이며, 수지 조성물의 유전 탄젠트를 낮게 하여, 제곱 평균 평방근 거칠기 Rq도 작게 할 수 있다. (B) 활성 에스테르 화합물은 에폭시 수지 등과 반응할 수 있고, 1분자 중에 활성 에스테르기를 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하다. 일반적으로는, 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-히드록시아민에스테르류, 복소환히드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 이용된다. The (B) active ester compound in this invention is a compound which has one or more active ester groups in 1 molecule, can lower the dielectric tangent of a resin composition, and can also make square average square root roughness Rq small. The active ester compound (B) can react with an epoxy resin or the like, and a compound having two or more active ester groups in one molecule is preferable. Generally, the compound which has 2 or more of ester groups with high reaction activity in 1 molecule, such as phenol ester, thiophenol ester, N-hydroxyamine ester, and ester of a heterocyclic hydroxy compound, is used preferably. .

내열성 향상의 관점에서, 카르복실산 화합물 및/또는 티오카르복실산 화합물과, 히드록시 화합물 및/또는 티올 화합물을 축합 반응시켜 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 그리고, 카르복실산 화합물과, 페놀 화합물, 나프톨 화합물, 티올 화합물로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상을 반응시켜 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 더욱 바람직하다. 그리고, 카르복실산 화합물과 페놀성 수산기를 갖는 방향족 화합물을 반응시켜 얻어지는, 1분자 중에 2개 이상의 활성 에스테르기를 갖는 방향족 화합물이 보다 더 바람직하다. 그리고, 적어도 2개 이상의 카르복시기를 1분자 중에 갖는 카르복실산 화합물과, 페놀성 수산기를 갖는 방향족 화합물을 반응시켜 얻어지는 방향족 화합물이고, 그리고 상기 방향족 화합물의 1분자 중에 2개 이상의 활성 에스테르기를 갖는 방향족 화합물이 특히 바람직하다. 또, 직쇄형상 또는 다분기형상이라도 좋다. 또, 적어도 2개 이상의 카르복시기를 1분자 중에 갖는 카르복실산 화합물이 지방족쇄를 포함하는 화합물이면 수지 조성물과의 상용성을 높게 할 수 있고, 방향족환을 갖는 화합물이면 내열성을 높게 할 수 있다. From the viewpoint of heat resistance improvement, an active ester compound obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and / or a thiol compound is more preferable. And the active ester compound obtained by making 1 type (s) or 2 or more types chosen from a carboxylic acid compound, a phenol compound, a naphthol compound, and a thiol compound react is more preferable. And the aromatic compound which has two or more active ester groups in 1 molecule obtained by making a carboxylic acid compound and the aromatic compound which has a phenolic hydroxyl group react is more preferable. And an aromatic compound obtained by reacting a carboxylic acid compound having at least two or more carboxyl groups in one molecule with an aromatic compound having a phenolic hydroxyl group, and an aromatic compound having two or more active ester groups in one molecule of the aromatic compound. This is particularly preferred. In addition, a linear or multi-branch shape may be used. Moreover, if the carboxylic acid compound which has at least 2 or more carboxyl groups in 1 molecule is a compound containing an aliphatic chain, compatibility with a resin composition can be made high, and if it is a compound which has an aromatic ring, heat resistance can be made high.

카르복실산 화합물로서는, 구체적으로는, 벤조산, 아세트산, 숙신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 그 중에서도 내열성의 관점에서 숙신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산이 바람직하고, 이소프탈산, 테레프탈산이 보다 바람직하다. 티오카르복실산 화합물로서는, 구체적으로는, 티오아세트산, 티오벤조산 등을 들 수 있다. Specific examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid. Among them, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid and terephthalic acid are preferable, and isophthalic acid and terephthalic acid are more preferable. Specific examples of the thiocarboxylic acid compound include thioacetic acid and thiobenzoic acid.

페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 구체적으로는, 히드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화비스페놀 A, 메틸화비스페놀 F, 메틸화비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디히드록시벤조페논, 트리히드록시벤조페논, 테트라히드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디시클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. 그 중에서도 내열성 향상, 용해성 향상의 관점에서, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 메틸화비스페놀 A, 메틸화비스페놀 F, 메틸화비스페놀 S, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디히드록시벤조페논, 트리히드록시벤조페논, 테트라히드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디시클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락이 바람직하고, 카테콜, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디히드록시벤조페논, 트리히드록시벤조페논, 테트라히드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디시클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락이 보다 바람직하며, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디히드록시벤조페논, 트리히드록시벤조페논, 테트라히드록시벤조페논, 디시클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락이 더욱 바람직하고, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디시클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락이 보다 더 바람직하며, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디시클로펜타디에닐디페놀이 특히 바람직하고, 디시클로펜타디에닐디페놀이 특히 바람직하다. 티올 화합물로서는, 구체적으로는, 벤젠디티올, 트리아진디티올 등을 들 수 있다. 활성 에스테르 화합물은 1종 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Specific examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, and m-cresol. , p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, tri Hydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucine, benzenetriol, dicyclopentadienyldiphenol, phenol novolac and the like. Among them, from the viewpoint of improving heat resistance and solubility, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxy Naphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucin, benzenetriol, dicyclopenta Dienyldiphenol and phenol novolak are preferable, and catechol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone and trihydroxy Benzophenone, tetrahydroxy benzophenone, fluoroglucin, benzene triol, dicyclopentadienyl diphenol, and phenol novolak are more preferable, and 1, 5- dihydroxy naphthalene, 1, 6- dihydroxy naphthalene , 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihi More preferred are hydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, dicyclopentadienyldiphenol, phenol novolac, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxy Naphthalene, dicyclopentadienyldiphenol, phenol novolak are more preferable, and 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dicyclopentadienyl Diphenol is particularly preferred, and dicyclopentadienyldiphenol is particularly preferred. Specific examples of the thiol compound include benzenedithiol, triazinedithiol and the like. An active ester compound may use together 1 type (s) or 2 or more types.

디시클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 보다 구체적으로는 하기 식(1)의 화합물을 들 수 있다. As an active ester compound containing a dicyclopentadienyl diphenol structure, the compound of following formula (1) is mentioned more specifically.

Figure pat00001
Figure pat00001

(식 중, R은 페닐기, 나프틸기이며, k는 0 또는 1을 나타내고, n은 반복 단위의 평균수로 0.05∼2.5이다)(Wherein R is a phenyl group or a naphthyl group, k represents 0 or 1, and n is 0.05 to 2.5 in the average number of repeating units)

유전 탄젠트를 저하시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서, R은 나프틸기가 바람직하고, k는 0이 바람직하며, 또한, n은 0.25∼1.5가 바람직하다. From the viewpoint of lowering the dielectric tangent and improving heat resistance, R is preferably a naphthyl group, k is preferably 0, and n is preferably 0.25 to 1.5.

(B) 활성 에스테르 화합물로서는, 일본특허공개 제2004-277460호 공보에 개시되어 있는 활성 에스테르 화합물을 이용해도 좋고, 또 시판의 활성 에스테르 화합물을 이용할 수도 있다. 시판되고 있는 활성 에스테르 화합물로서는, 구체적으로는, 디시클로펜타디에닐 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 그 중에서도 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제, 디시클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 디시클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서, EXB9451, EXB9460, EXB9460S, HPC-8000-65T(DIC(주) 제조), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서 EXB9416-70BK(DIC(주) 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서 DC808(미쓰비시가가꾸(주) 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르계 경화제로서 YLH1026(미쓰비시가가꾸(주) 제조) 등을 들 수 있다. (B) As an active ester compound, the active ester compound disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 2004-277460 may be used, and a commercially available active ester compound can also be used. Specific examples of commercially available active ester compounds include an active ester curing agent containing a dicyclopentadienyl structure, an active ester curing agent containing a naphthalene structure, an active ester curing agent containing an acetylate of phenol novolac, The active ester type hardening | curing agent containing the benzoylidene of a phenol novolak is preferable, and the active ester type hardening | curing agent containing a diphthalpentadienyl diphenol structure is especially preferable especially the naphthalene structure. As an active ester curing agent containing a dicyclopentadienyl diphenol structure, EXB9451, EXB9460, EXB9460S, HPC-8000-65T (manufactured by DIC Corporation), an active ester curing agent containing a naphthalene structure EXB9416-70BK (DIC Co., Ltd.), an active ester curing agent containing an acetylate of phenol novolac, DC808 (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), and an YLH1026 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester curing agent containing a benzoylate of phenol novolac Co., Ltd.) etc. are mentioned.

(B) 활성 에스테르 화합물의 함유량은, 내열성의 향상, 나아가서는 스미어 발생을 억제시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 30 질량% 이하가 바람직하고, 20 질량% 이하가 보다 바람직하며, 10 질량% 이하가 더욱 바람직하다. 한편, 필 강도를 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 1 질량% 이상이 바람직하고, 3 질량% 이상이 보다 바람직하며, 5 질량% 이상이 더욱 바람직하다. The content of the active ester compound (B) is preferably 30% by mass or less, and preferably 20% by mass or less when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of improving heat resistance and further suppressing smear generation. Is more preferable, and 10 mass% or less is still more preferable. On the other hand, from the viewpoint of improving the peel strength, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, 1% by mass or more is preferable, 3% by mass or more is more preferable, and 5% by mass or more is more preferable.

또, (A) 에폭시 수지의 에폭시기수를 1로 한 경우, 수지 조성물의 기계 특성을 향상시킨다는 점에서, (B) 활성 에스테르 화합물의 반응기수는, 0.2∼2가 바람직하고, 0.3∼1.5가 보다 바람직하며, 0.4∼1이 더욱 바람직하다. 여기서, 「에폭시 수지의 에폭시기수」란, 수지 조성물 중에 존재하는 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지에 관해서 합계한 값이다. 또한, 「반응기」란 에폭시기와 반응할 수 있는 관능기인 것을 의미하고, 「활성 에스테르 화합물의 반응기수」란, 수지 조성물 중에 존재하는 활성 에스테르 화합물의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. Moreover, when the epoxy group number of (A) epoxy resin is set to 1, since the mechanical characteristic of a resin composition is improved, 0.2-2 are preferable and, as for the reactor water of (B) active ester compound, 0.3-1.5 are more preferable. It is preferable and 0.4-1 are more preferable. Here, "the epoxy group number of an epoxy resin" is the value which totaled the value which divided | segmented the solid content mass of each epoxy resin which exists in a resin composition by epoxy equivalent, about all the epoxy resins. In addition, "reactor" means the functional group which can react with an epoxy group, and "reactor number of an active ester compound" means the value which totaled the value which divided | segmented the value which divided | segmented the solid content mass of the active ester compound which exists in a resin composition by reactor equivalent. to be.

<(C) 스미어 억제 성분> <(C) smear suppression component>

본 발명에 있어서 사용되는 스미어 억제 성분은, 수지 조성물의 경화물을 천공 가공하여 조화 처리한 후의 비아홀의 스미어를 억제할 수 있는 성분이다. 여기서, 스미어 억제란, 천공 가공시에 발생하는 스미어량을 줄이는 것과, 조화 처리시에 스미어를 보다 제거하기 쉽게 하는 것의 양쪽의 의미도 포함한다. 스미어 억제 성분으로서는, 유기계 스미어 억제 성분, 무기계 스미어 억제 성분을 들 수 있고, 절연 신뢰성 향상의 점에서 유기계 스미어 억제 성분이 바람직하다. 구체적으로는, 유기계 스미어 억제 성분으로서는, 안료, 염료, 고무 입자, 산화 방지제, 적외선 흡수제 등을 들 수 있고, 무기계 스미어 억제 성분으로서는, 금속 화합물가루, 금속가루 등을 들 수 있다. (C) 스미어 억제 성분으로서는, 안료, 염료, 고무 입자, 산화 방지제 및 적외선 흡수제로 이루어지는 군에서 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 바람직하다. 이들 중, 스미어 억제능이 우수하고, 필 강도도 우수하다는 점에서, 안료 및/또는 고무 입자가 보다 바람직하고, 안료가 더욱 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The smear suppression component used in this invention is a component which can suppress the smear of the via hole after carrying out a roughening process by hardening the hardened | cured material of a resin composition. Here, smear suppression also includes both the meaning of reducing the amount of smear generated at the time of drilling and making it easier to remove the smear at the time of roughening. As a smear suppression component, an organic smear suppression component and an inorganic smear suppression component are mentioned, An organic smear suppression component is preferable at the point of insulation insulation improvement. Specifically, examples of the organic smear suppression component include pigments, dyes, rubber particles, antioxidants, infrared absorbers, and the like. Examples of the inorganic smear suppression component include metal compound powder and metal powder. (C) As a smear suppression component, it is preferable to use 1 or more types chosen from the group which consists of a pigment, dye, a rubber particle, antioxidant, and an infrared absorber. Among these, a pigment and / or rubber particle are more preferable and a pigment is more preferable at the point which is excellent in smear suppression ability and also excellent in peel strength. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

안료로서는, 청색 안료, 황색 안료, 적색 안료, 흑색 안료, 녹색 안료 등을 들 수 있다. 청색 안료로서는, 프탈로시아닌계, 안트라퀴논계, 디옥사진계 등의 안료를 들 수 있다. 황색 안료로서는, 모노아조계, 디스아조계, 축합아조계, 벤즈이미다졸론계, 이소인돌리논계, 안트라퀴논계 등의 안료를 들 수 있다. 적색 안료로서는, 모노아조계, 디스아조계, 아조레이크계, 벤즈이미다졸론계, 페릴렌계, 디케토피롤로피롤계, 축합아조계, 안트라퀴논계, 퀴나크리돈계 등의 안료를 들 수 있다. 흑색 안료로서는, 카본 블랙, 흑연 등을 들 수 있다. 녹색 안료로서는, 프탈로시아닌계 등의 안료를 들 수 있다. 안료는, 1종 또는 2종 이상을 병용해도 좋고, 청색 안료, 황색 안료, 적색 안료, 흑색 안료 및 녹색 안료로 이루어지는 군에서 선택되는 1종 이상을 적절하게 배합할 수 있다. 그 중에서도, 절연 신뢰성을 보다 더 향상시킬 수 있는 점에서, 청색 안료, 황색 안료, 적색 안료 및 녹색 안료로 이루어지는 군에서 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 바람직하고, 청색 안료, 황색 안료 및 적색 안료를 혼합하여 이루어지는 혼합 안료를 이용하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 청색 안료, 황색 안료 및 적색 안료를 혼합하여 이루어지는 혼합 안료를 조제할 때에는, 천공 가공시의 레이저를 효율적으로 흡수하고, 스미어 발생을 보다 억제할 수 있다는 관점에서, 청색 안료, 황색 안료 및 적색 안료의 질량비는, 2∼6:5∼9:6∼10이 바람직하고, 3∼5:6∼8:7∼9가 보다 바람직하다. As a pigment, a blue pigment, a yellow pigment, a red pigment, a black pigment, a green pigment, etc. are mentioned. As a blue pigment, pigments, such as a phthalocyanine series, anthraquinone series, a dioxazine system, are mentioned. Examples of the yellow pigment include pigments such as monoazo, disazo, condensed azo, benzimidazolone, isoindolinone and anthraquinone. As a red pigment, pigments, such as a monoazo system, a disazo system, an azo lake system, a benzimidazolone system, a perylene system, a diketopyrrolopyrrole system, a condensation azo system, an anthraquinone system, a quinacridone system, are mentioned. Carbon black, graphite, etc. are mentioned as a black pigment. As a green pigment, pigments, such as a phthalocyanine system, are mentioned. A pigment may use together 1 type (s) or 2 or more types, and can mix suitably 1 or more types chosen from the group which consists of a blue pigment, a yellow pigment, a red pigment, a black pigment, and a green pigment. Especially, since it can improve insulation reliability further, it is preferable to use 1 or more types chosen from the group which consists of a blue pigment, a yellow pigment, a red pigment, and a green pigment, and a blue pigment, a yellow pigment, and a red pigment are used. It is more preferable to use the mixed pigment which mixes. Moreover, when preparing the mixed pigment which mixes a blue pigment, a yellow pigment, and a red pigment, a blue pigment, a yellow pigment, and a red from a viewpoint which can absorb the laser at the time of a drilling process efficiently, and can suppress smear generation more. 2-6: 5-9: 6-10 are preferable and, as for the mass ratio of a pigment, 3-5: 6-8: 7-9 are more preferable.

염료로서는, 아조(모노아조, 디스아조 등) 염료, 아조-메틴 염료, 안트라퀴논계 염료, 퀴놀린 염료, 케톤이민 염료, 플루오론 염료, 니트로 염료, 크산텐 염료, 아세나프텐 염료, 퀴노프탈론 염료, 아미노케톤 염료, 메틴 염료, 페릴렌 염료, 쿠마린 염료, 페리논 염료, 트리페닐 염료, 트리알릴메탄 염료, 프탈로시아닌 염료, 잉크로페놀 염료, 아진 염료, 또는 이들의 혼합물 등을 들 수 있다. Examples of the dyes include azo (monoazo, disazo, etc.) dyes, azo-methine dyes, anthraquinone dyes, quinoline dyes, ketoneimine dyes, fluoron dyes, nitro dyes, xanthene dyes, acenaphthene dyes, quinophthalone dyes, Amino ketone dyes, methine dyes, perylene dyes, coumarin dyes, perinone dyes, triphenyl dyes, triallyl methane dyes, phthalocyanine dyes, inklophenol dyes, azine dyes, or mixtures thereof.

고무 입자로서는, 코어쉘형 고무 입자, 가교 아크릴로니트릴 부타디엔 고무 입자, 가교 스티렌 부타디엔 고무 입자, 아크릴 고무 입자 등을 들 수 있다. 코어쉘형 고무 입자는, 코어층과 쉘층을 갖는 고무 입자이며, 예컨대, 외층의 쉘층이 유리형상 폴리머로 구성되고, 내층의 코어층이 고무형상 폴리머로 구성되는 2층 구조, 또는 외층의 쉘층이 유리형상 폴리머로 구성되고, 중간층이 고무형상 폴리머로 구성되며, 코어층이 유리형상 폴리머로 구성되는 3층 구조의 것 등을 들 수 있다. Examples of the rubber particles include core-shell rubber particles, crosslinked acrylonitrile butadiene rubber particles, crosslinked styrene butadiene rubber particles and acrylic rubber particles. The core-shell rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, the shell layer of the outer layer is made of glass polymer, and the inner layer core layer is made of rubber polymer, or the shell layer of the outer layer is glass. The three-layer structure etc. which consist of a shape polymer, an intermediate | middle layer consist of a rubber polymer, and a core layer consist of a glass polymer are mentioned.

산화 방지제로서는, 힌더드페놀계 산화 방지제, 인계 산화 방지제, 유황계 산화 방지제 등을 들 수 있다. 시판품으로서는, 펜타에리스리톨테트라퀴스 [3-(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시페닐)프로피오네이트(치바재팬(주) 제조 「IRGANOX 1010」), 2,2-티오-디에틸렌비스 [3-(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시페닐)프로피오네이트](치바재팬(주) 제조 「IRGANOX 1035」), 1,3,5-트리스 [ [3,5-비스(1,1-디메틸에틸)-4-히드록시페닐]메틸]-1,3,5-트리아진-2,4,6(1H,3H,5H)-트리온(치바재팬(주) 제조 「IRGANOX 3114」)등을 들 수 있다. As antioxidant, a hindered phenolic antioxidant, phosphorus antioxidant, sulfur-type antioxidant, etc. are mentioned. As a commercial item, pentaerythritol tetraquis [3- (3,5-di-tert- butyl- 4-hydroxyphenyl) propionate (Ciba Japan Co., Ltd. product "IRGANOX 1010"), 2, 2-thio-di Ethylenebis [3- (3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate] ("IRGANOX 1035" manufactured by Chiba Japan Co., Ltd.), 1,3,5-tris [[3, 5-bis (1,1-dimethylethyl) -4-hydroxyphenyl] methyl] -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione (Chiba Japan Co., Ltd.) ) "IRGANOX 3114") etc. are mentioned.

적외선 흡수제로서는, 프탈로시아닌계 화합물, 안트라퀴논 화합물, 니켈 착체 등을 들 수 있다. 시판품으로서는, IR-14(니혼쇼쿠바이(주) 제조), TX-HA-1(니혼쇼쿠바이(주) 제조) 등을 들 수 있다. As an infrared absorber, a phthalocyanine type compound, an anthraquinone compound, a nickel complex, etc. are mentioned. As a commercial item, IR-14 (made by Nihon Shokubai Co., Ltd.), TX-HA-1 (made by Nihon Shokubai Co., Ltd.), etc. are mentioned.

금속 화합물가루로서는, 산화티탄 등의 티타니아류, 산화마그네슘 등의 마그네시아류, 산화철 등의 철산화물, 산화 니켈 등의 니켈 산화물, 이산화망간, 산화 아연 등의 아연 산화물, 이산화규소, 산화알루미늄, 희토류 산화물, 산화코발트 등의 코발트 산화물, 산화주석 등의 주석 산화물, 산화텅스텐 등의 텅스텐 산화물, 탄화규소, 탄화텅스텐, 질화붕소, 질화규소, 질화티탄, 질화알루미늄, 황산바륨, 희토류산황화물, 또는 이들의 혼합물의 분말 등을 들 수 있다. Examples of the metal compound powder include titania such as titanium oxide, magnesia such as magnesium oxide, iron oxide such as iron oxide, nickel oxide such as nickel oxide, zinc oxide such as manganese dioxide and zinc oxide, silicon dioxide, aluminum oxide and rare earth oxide, Cobalt oxides such as cobalt oxide, tin oxides such as tin oxide, tungsten oxides such as tungsten oxide, silicon carbide, tungsten carbide, boron nitride, silicon nitride, titanium nitride, aluminum nitride, barium sulfate, rare earth sulfides, or mixtures thereof Powder and the like.

금속가루로서는, 은, 알루미늄, 비스무트, 코발트, 구리, 철, 마그네슘, 망간, 몰리브덴, 니켈, 팔라듐, 안티몬, 규소, 주석, 티탄, 바나듐, 텅스텐, 아연, 또는 이들의 합금 혹은 혼합물의 분말 등을 들 수 있다. Examples of the metal powder include silver, aluminum, bismuth, cobalt, copper, iron, magnesium, manganese, molybdenum, nickel, palladium, antimony, silicon, tin, titanium, vanadium, tungsten, zinc, or powders of alloys or mixtures thereof. Can be mentioned.

(C) 스미어 억제 성분의 함유량은, 경화 물성의 저하를 방지한다고 하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 10 질량% 이하가 바람직하고, 5 질량% 이하가 보다 바람직하며, 4 질량% 이하가 더욱 바람직하고, 3 질량% 이하가 보다 더 바람직하고, 2 질량% 이하가 특히 바람직하다. 또, 스미어 억제능을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 0.001 질량% 이상이 바람직하고, 0.01 질량% 이상이 보다 바람직하며, 0.02 질량% 이상이 더욱 바람직하고, 0.05 질량% 이상이 보다 더 바람직하며, 0.08 질량% 이상이 특히 바람직하고, 0.1 질량% 이상이 특히 바람직하다. (C) 10 mass% or less is preferable with respect to 100 mass% of non volatile components in a resin composition, and, as for content of a smear suppression component, from a viewpoint of preventing the fall of hardening physical property, 5 mass% or less is more preferable, 4 mass% or less is more preferable, 3 mass% or less is more preferable, and 2 mass% or less is especially preferable. Moreover, from a viewpoint of improving smear suppression ability, 0.001 mass% or more is preferable with respect to 100 mass% of non volatile components in a resin composition, 0.01 mass% or more is more preferable, 0.02 mass% or more is more preferable, 0.05 mass % Or more is even more preferable, 0.08 mass% or more is especially preferable, and 0.1 mass% or more is especially preferable.

<(D) 무기 충전재> <(D) inorganic filler>

본 발명의 수지 조성물은, 선열 팽창률을 저하시키는 목적 및 조화 처리시의 스미어 제거성을 향상시키는 목적으로, 또한 (D) 무기 충전재를 함유할 수 있다. (D) 무기 충전재로서는, 예컨대, 실리카, 알루미나, 황산바륨, 탈크, 클레이, 운모가루, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 붕산알루미늄, 티탄산바륨, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무트, 산화티탄, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 실리카가 바람직하다. 실리카로서는, 무정형 실리카, 분쇄 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등이 바람직하고, 용융 실리카가 보다 바람직하다. 또, 실리카로서는 구형상의 실리카가 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. 시판되고 있는 구형상 용융 실리카로서, (주)애드마텍스 제조 「SO-C2」, 「SO-C1」를 들 수 있다. The resin composition of this invention can also contain (D) inorganic filler for the purpose of reducing linear thermal expansion rate, and the objective of improving smear removal property at the time of a roughening process. Examples of the inorganic filler (D) include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, Calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, and the like. Especially, silica is preferable. As silica, amorphous silica, crushed silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, etc. are preferable, and fused silica is more preferable. Moreover, as silica, spherical silica is preferable. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types. Examples of commercially available spherical fused silica include "SO-C2" and "SO-C1" manufactured by ADMATEX.

(D) 무기 충전재의 평균 입경은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 무기 충전재의 평균 입경의 상한값은, 절연층 상으로 미세 배선 형성을 행한다는 관점, 무기 충전재의 총 표면적을 증대시킴으로써 천공 가공시의 스미어 발생을 억제시킨다는 관점에서, 5 ㎛ 이하가 바람직하고, 3 ㎛ 이하가 보다 바람직하며, 1 ㎛ 이하가 더욱 바람직하고, 0.7 ㎛ 이하가 보다 더 바람직하고, 0.5 ㎛ 이하가 특히 바람직하며, 0.4 ㎛ 이하가 특히 바람직하고, 0.3 ㎛ 이하가 특히 바람직하다. 한편, 무기 충전재의 평균 입경의 하한값은, 수지 조성물을 바니스로 한 경우에, 바니스의 점도가 상승하여, 취급성이 저하되는 것을 방지한다는 관점에서, 0.01 ㎛ 이상이 바람직하고, 0.03 ㎛ 이상이 보다 바람직하며, 0.05 ㎛ 이상이 더욱 바람직하고, 0.07 ㎛ 이상이 특히 바람직하며, 0.1 ㎛ 이상이 특히 바람직하다. 상기 무기 충전재의 평균 입경은 미(Mie)산란 이론에 기초한 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 메디안 직경을 평균 입경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 수중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로서는, (주)호리바세이사쿠쇼 제조 LA-500, 750, 950 등을 사용할 수 있다. (D) Although the average particle diameter of an inorganic filler is not specifically limited, The upper limit of the average particle diameter of an inorganic filler is a smear at the time of a drilling process by increasing the total surface area of an inorganic filler from a viewpoint of forming fine wiring on an insulating layer. 5 micrometers or less are preferable, 3 micrometers or less are more preferable, 1 micrometer or less is still more preferable, 0.7 micrometers or less are still more preferable, 0.5 micrometers or less are especially preferable from a viewpoint of suppressing generation | occurrence | production, and 0.4 micrometers or less Is especially preferable, and 0.3 micrometer or less is especially preferable. On the other hand, the lower limit of the average particle diameter of the inorganic filler is preferably 0.01 µm or more, more preferably 0.03 µm or more, from the viewpoint of preventing the viscosity of the varnish from rising and handling loss when the resin composition is used as a varnish. It is preferable, 0.05 micrometer or more is more preferable, 0.07 micrometer or more is especially preferable, and 0.1 micrometer or more is especially preferable. The average particle diameter of the said inorganic filler can be measured by the laser diffraction and the scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can measure by making a particle size distribution of an inorganic filler by volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and making the median diameter into an average particle diameter. The measurement sample can use preferably what disperse | distributed the inorganic filler in water according to the ultrasonic wave. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, LA-500, 750, 950, etc. made by Horiba Seisakusho can be used.

(D) 무기 충전재의 함유량은, 특별히 제한되지 않지만, 수지 조성물을 필름형태로 했을 때의 가요성이 저하되는 것을 방지한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 85 질량% 이하가 바람직하고, 80 질량% 이하가 보다 바람직하며, 75 질량% 이하가 더욱 바람직하다. 또한, 절연층의 열팽창율을 낮게 한다는 관점, 무기 충전재의 총 표면적을 증대시킴으로써 천공 가공시의 스미어 발생을 억제시켜, 조화 처리시에는 스미어를 제거하기 쉽게 한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 40 질량% 이상이 바람직하고, 50 질량% 이상이 보다 바람직하며, 60 질량% 이상이 더욱 바람직하고, 70 질량% 이상이 보다 더 바람직하다. Although content of the (D) inorganic filler is not specifically limited, From the viewpoint of preventing the flexibility at the time of making a resin composition into the film form, when it sets the non volatile component in a resin composition to 100 mass%, it is 85 mass % Or less is preferable, 80 mass% or less is more preferable, and 75 mass% or less is further more preferable. In addition, in view of lowering the coefficient of thermal expansion of the insulating layer and increasing the total surface area of the inorganic filler, it is possible to suppress smear generation at the time of drilling, and to easily remove the smear during roughening treatment. When it is 100 mass%, 40 mass% or more is preferable, 50 mass% or more is more preferable, 60 mass% or more is more preferable, and 70 mass% or more is still more preferable.

(D) 무기 충전재는, 내습성, 분산성을 향상시키는 관점에서, 아미노실란계 커플링제, 우레이드실란계커플링제, 에폭시실란계커플링제, 머캅토실란계커플링제, 실란계커플링제, 비닐실란계커플링제, 스티릴실란계커플링제, 아크릴레이트실란계커플링제, 이소시아네이트실란계커플링제, 술피드실란계커플링제, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계커플링제 등의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다. 그 중에서도, 무기 충전재를 오르가노실라잔 화합물로 표면 처리 후, 다시 실란커플링제로 표면 처리함으로써, 무기 충전재의 내습성이나 분산성이 더욱 향상된다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. (D) The inorganic filler is an aminosilane coupling agent, a ureide silane coupling agent, an epoxy silane coupling agent, a mercapto silane coupling agent, a silane coupling agent, a vinyl silane from a viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. It is surface-treated with a surface treatment agent such as a system coupling agent, a styryl silane coupling agent, an acrylate silane coupling agent, an isocyanate silane coupling agent, a sulfide silane coupling agent, an organosilazane compound, a titanate coupling agent, etc. It is desirable to have. Especially, after surface-treating an inorganic filler with an organosilazane compound and then surface-treating with a silane coupling agent, moisture resistance and dispersibility of an inorganic filler further improve. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

구체적으로는, 3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-아미노프로필디에톡시메틸실란, N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-메틸아미노프로필트리메톡시실란, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필디메톡시메틸실란 등의 아미노실란계커플링제, 3-우레이드프로필트리에톡시실란 등의 우레이드실란계커플링제, 3-글리시딜옥시프로필트리메톡시실란, 3-글리시딜옥시프로필트리에톡시실란, 3-글리시딜옥시프로필메틸디에톡시실란, 3-글리시딜옥시프로필(디메톡시)메틸실란, 글리시딜부틸트리메톡시실란, 2-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란등의 에폭시실란계커플링제, 3-머캅토프로필트리메톡시실란, 3-머캅토프로필트리에톡시실란, 3-머캅토프로필메틸디메톡시실란, 11-머캅토운데실트리메톡시실란 등의 머캅토실란계커플링제, 메틸트리메톡시실란, 옥타데실트리메톡시실란, 페닐트리메톡시실란, 메타크록시프로필트리메톡시실란, 이미다졸실란, 트리아진실란, tert-부틸트리메톡시실란 등의 실란계커플링제, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 비닐메틸디에톡시실란 등의 비닐실란계커플링제, p-스티릴트리메톡시실란 등의 스티릴실란계커플링제, 3-아크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필디메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리에톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필디에톡시실란 등의 아크릴레이트실란계커플링제, 3-이소시아네이트프로필트리메톡시실란 등의 이소시아네이트실란계커플링제, 비스(트리에톡시실릴프로필)디술피드, 비스(트리에톡시실릴프로필)테트라술피드 등의 술피드실란계커플링제, 헥사메틸디실라잔, 1,3-디비닐-1,1,3,3-테트라메틸디실라잔, 헥사페닐디실라잔, 트리실라잔, 시클로트리실라잔, 2,2,4,4,6,6-헥사메틸시클로트리실라잔, 옥타메틸시클로테트라실라잔, 헥사부틸디실라잔, 헥사옥틸디실라잔, 1,3-디에틸테트라메틸디실라잔, 1,3-디-n-옥틸테트라메틸디실라잔, 1,3-디페닐테트라메틸디실라잔, 1,3-디메틸테트라페닐디실라잔, 1,3-디에틸테트라메틸디실라잔, 1,1,3,3-테트라페닐-1,3-디메틸디실라잔, 1,3-디프로필테트라메틸디실라잔, 헥사메틸시클로트리실라잔, 디메틸아미노트리메틸실라잔, 테트라메틸디실라잔 등의 오르가노실라잔 화합물, 테트라-n-부틸티타네이트다이머, 티타늄-i-프로폭시옥틸렌글리콜레이트, 테트라-n-부틸티타네이트, 티탄옥틸렌글리콜레이트, 디이소프로폭시티탄비스(트리에탄올아미네이트), 디히드록시티탄비스락테이트, 디히드록시비스(암모늄락테이트)티타늄, 비스(디옥틸파이로포스페이트)에틸렌티타네이트, 비스(디옥틸파이로포스페이트)옥시아세테이트티타네이트, 트리-n-부톡시티탄모노스테아레이트, 테트라-n-부틸티타네이트, 테트라(2-에틸헥실)티타네이트, 테트라이소프로필비스(디옥틸포스파이트)티타네이트, 테트라옥틸비스(디트리데실포스파이트)티타네이트, 테트라(2,2-디알릴옥시메틸-1-부틸)비스(디트리데실)포스파이트티타네이트, 이소프로필트리옥타노일티타네이트, 이소프로필쿠밀페닐티타네이트, 이소프로필트리이소스테아로일티타네이트, 이소프로필이소스테아로일디아크릴티타네이트, 이소프로필디메타크릴이소스테아로일티타네이트, 이소프로필트리(디옥틸포스페이트)티타네이트, 이소프로필트리도데실벤젠술포닐티타네이트, 이소프로필트리스(디옥틸파이로포스페이트)티타네이트, 이소프로필트리(N-아미드에틸·아미노에틸)티타네이트 등의 티타네이트계커플링제 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 아미노실란계커플링제는 내습성, 분산성, 경화물의 특성 등이 우수하여 바람직하고, 오르가노실라잔 화합물은 수지 바니스의 분산성 향상이 우수하여 바람직하다. 표면 처리제의 시판품으로서는, 신에츠가가꾸고교(주) 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠가가꾸고교(주) 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠가가꾸고교(주) 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠가가꾸고교(주) 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다. Specifically, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-aminopropyldiethoxymethylsilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-methylaminopropyltri Aminosilane-based coupling agents such as methoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropyldimethoxymethylsilane, and 3-right Ureasilane-based coupling agents such as raidpropyltriethoxysilane, 3-glycidyloxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidyloxypropyltriethoxysilane, and 3-glycidyloxypropylmethyldiethoxysilane Epoxysilane-based coupling agents such as 3-glycidyloxypropyl (dimethoxy) methylsilane, glycidylbutyltrimethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, and 3- Mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, 11 -Mercaptosilane-based coupling agents such as mercaptodecyltrimethoxysilane, methyltrimethoxysilane, octadecyltrimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, methoxypropyltrimethoxysilane, imidazolesilane, and tria Silane coupling agent such as true truth, tert-butyltrimethoxysilane, vinyl silane coupling agent such as vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinylmethyldiethoxysilane, p-styryltrimethoxysilane, etc. Styryl silane coupling agent, 3-acryloxypropyl trimethoxysilane, 3-methacryloxypropyl trimethoxysilane, 3-methacryloxypropyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, Acrylate silane coupling agents, such as 3-methacryloxypropyl diethoxysilane, Isocyanate silane coupling agents, such as 3-isocyanate propyl trimethoxysilane, bis (triethoxy silylpropyl) disulfide, bis (triethoxy room Sulfidesilane-based coupling agents such as arylpropyl) tetrasulfide, hexamethyldisilazane, 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisilazane, hexaphenyldisilazane, trisila Glass, cyclotrisilazane, 2,2,4,4,6,6-hexamethylcyclotrisilazane, octamethylcyclotetrasilazane, hexabutyldisilazane, hexaoctyldisilazane, 1,3-di Ethyltetramethyldisilazane, 1,3-di-n-octyltetramethyldisilazane, 1,3-diphenyltetramethyldisilazane, 1,3-dimethyltetraphenyldisilazane, 1,3-di Ethyltetramethyldisilazane, 1,1,3,3-tetraphenyl-1,3-dimethyldisilazane, 1,3-dipropyltetramethyldisilazane, hexamethylcyclotrisilazane, dimethylaminotrimethylsila Organosilazane compounds such as a glass and tetramethyldisilazane, tetra-n-butyl titanate dimer, titanium-i-propoxyoctylene glycolate, tetra-n-butyl titanate, titanium octylene glycolate, di Isopro Cititan bis (triethanol aluminate), dihydroxy titanium bis lactate, dihydroxy bis (ammonium lactate) titanium, bis (dioctyl pyrophosphate) ethylene titanate, bis (dioctyl pyrophosphate) oxyacetate Titanate, tri-n-butoxy titanium monostearate, tetra-n-butyl titanate, tetra (2-ethylhexyl) titanate, tetraisopropylbis (dioctylphosphite) titanate, tetraoctylbis (di Tridecylphosphite) titanate, tetra (2,2-diallyloxymethyl-1-butyl) bis (ditridecyl) phosphite titanate, isopropyltrioctanoyl titanate, isopropyl cumylphenyl titanate, iso Propyl Triisostearoyl Titanate, Isopropyl Isostearoyl Diacrylic Titanate, Isopropyl Dimethacrylic Iso Stearoyl Titanate, Isopropyltri (dioctylphosphate) tee Titanate coupling agents such as nate, isopropyltridodecylbenzenesulfonyl titanate, isopropyl tris (dioctylpyrophosphate) titanate, and isopropyl tri (N-amide ethyl aminoethyl) titanate Can be. Among these, the aminosilane-based coupling agent is preferred because of its excellent moisture resistance, dispersibility, properties of the cured product, and the organosilazane compound is preferred because it is excellent in dispersibility improvement of the resin varnish. As a commercial item of a surface treating agent, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. product "KBM403" (3-glycidoxy propyl trimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. product "KBM803" (3-mercaptopropyl trimethoxy) Silane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyl triethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyl trimethoxysilane) Etc. can be mentioned.

또한, 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재는, 용제(예컨대, 메틸에틸케톤)에 의해 세정 처리한 후의 무기 충전재의 단위중량당 카본량을 측정할 수 있다. 여기서, 「무기 충전재의 단위중량당 카본량」이란, 무기 충전재 1 g에 결합하고 있는 카본량(g)을 백분률로 나타낸 것이다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리재로 표면 처리된 무기 충전재에 가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하여, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 이용하여 무기 충전재의 단위중량당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바세이사쿠쇼 제조 「EMIA-320V」등을 사용할 수 있다. In addition, the inorganic filler surface-treated with the surface treating agent can measure the carbon amount per unit weight of the inorganic filler after wash | cleaning process with a solvent (for example, methyl ethyl ketone). Here, the "carbon amount per unit weight of an inorganic filler" shows the carbon amount (g) couple | bonded with 1 g of inorganic fillers by a percentage. Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treatment material, and ultrasonic cleaning is performed at 25 ° C. for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the carbon amount per unit weight of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, Horiba Seisakusho "EMIA-320V" etc. can be used.

무기 충전재의 단위중량당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상이나 경화물의 조화 처리 후의 제곱 평균 평방근 거칠기를 안정시킨다는 점에서, 0.02% 이상이 바람직하고, 0.05% 이상이 보다 바람직하며, 0.1% 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니스의 용융 점도나 접착 필름 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지한다는 점에서, 3% 이하가 바람직하고, 2% 이하가 보다 바람직하며, 1% 이하가 더욱 바람직하다. The amount of carbon per unit weight of the inorganic filler is preferably 0.02% or more, more preferably 0.05% or more, and more preferably 0.1% or more in terms of improving the dispersibility of the inorganic filler and stabilizing the root mean square roughness after the roughening treatment of the cured product. This is more preferable. On the other hand, 3% or less is preferable, 2% or less is more preferable, and 1% or less is more preferable at the point which prevents the raise of the melt viscosity of a resin varnish and the melt viscosity in the form of an adhesive film.

<(E) 경화 촉진제> <(E) Curing Accelerator>

본 발명의 수지 조성물은, 경화 시간 및 경화 온도를 조정하는 등의 목적으로 또한 (E) 경화 촉진제를 함유할 수 있다. (E) 경화 촉진제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 이미다졸계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 유기포스핀 화합물, 유기포스포늄염 화합물 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. The resin composition of this invention can also contain (E) hardening accelerator for the purpose of adjusting hardening time and hardening temperature. Although it does not specifically limit as (E) hardening accelerator, An imidazole series hardening accelerator, an amine hardening accelerator, an organic phosphine compound, an organic phosphonium salt compound, etc. are mentioned. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5히드록시메틸이미다졸, 2,3-디히드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지와의 애덕트체를 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. As imidazole series hardening accelerator, 2-methylimidazole, 2-undecyl imidazole, 2-heptadecyl imidazole, 1,2-dimethyl imidazole, 2-ethyl-4-methyl imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1 -Benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methyl Imidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl ( 1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2, 4-Diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid adduct, 2-phenyl Dazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo Imidazole compounds and imidazole compounds such as [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazole, 2-phenylimidazolin And an adduct of an epoxy resin. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

아민계 경화 촉진제로서는, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6,-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비시클로(5,4,0)-운데센(이하, DBU라 약기함) 등의 아민 화합물 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, and 1,8-diazabile. And amine compounds such as cyclo (5,4,0) -undecene (hereinafter abbreviated as DBU). You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

유기포스핀 화합물, 유기포스포늄염 화합물로서는, TPP, TPP-K, TPP-S, TPTP-S, TBP-DA, TPP-SCN, TPTP-SCN(호쿄가가꾸고교(주) 상품명) 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. Examples of the organic phosphine compound and the organic phosphonium salt compound include TPP, TPP-K, TPP-S, TPTP-S, TBP-DA, TPP-SCN, and TPTP-SCN (trademark of Hokyo Chemical Industries, Ltd.). Can be. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

(E) 경화 촉진제의 함유량은, 수지 바니스의 보존 안정성이나 경화의 효율화의 점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 0.01∼3 질량%가 바람직하고, 0.1∼2 질량%가 보다 바람직하다. (E) As for content of a hardening accelerator, 0.01-3 mass% is preferable with respect to 100 mass% of non volatile components in a resin composition from the point of the storage stability of a resin varnish, and efficiency of hardening, and 0.1-2 mass% is more desirable.

<(F) 열가소성 수지> <(F) Thermoplastic Resin>

발명의 수지 조성물에는, 또한 (F) 열가소성 수지를 함유시킴으로써, 상기 수지 조성물로부터 얻어지는 수지 바니스의 점도를 적합한 범위로 조정할 수 있고, 경화물의 가요성을 높일 수 있다. 열가소성 수지로서는, 특별히 한정되지 않지만, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리아미드 수지, 폴리에테르술폰 수지, 폴리술폰 수지, 폴리부타디엔 수지, ABS 수지 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 경화물의 가요성을 높여, 밀착성에 기여한다는 관점에서 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지가 바람직하고, 페녹시 수지가 보다 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. 열가소성 수지는 유리 전이 온도가 80℃ 이상인 것이 바람직하다. By containing (F) thermoplastic resin in the resin composition of this invention, the viscosity of the resin varnish obtained from the said resin composition can be adjusted to a suitable range, and the flexibility of hardened | cured material can be improved. Although it does not specifically limit as a thermoplastic resin, A phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyamide resin, polyether sulfone resin, polysulfone resin, polybutadiene resin, ABS resin etc. are mentioned. have. Especially, a phenoxy resin and a polyvinyl acetal resin are preferable from a viewpoint of improving the flexibility of hardened | cured material and contributing to adhesiveness, and a phenoxy resin is more preferable. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types. It is preferable that a thermoplastic resin has a glass transition temperature of 80 degreeC or more.

열가소성 수지의 중량 평균 분자량은 5000∼800000의 범위인 것이 바람직하고, 10000∼200000의 범위인 것이 보다 바람직하며, 15000∼150000의 범위인 것이 더욱 바람직하고, 20000∼100000의 범위인 것이 보다 더 바람직하다. 범위 내에 있음으로써 필름 성형능이나 기계 강도 향상의 효과가 충분히 발휘되고, 에폭시 수지와의 상용성을 향상시킬 수도 있다. 또 본 발명에 있어서의 중량 평균 분자량은, 겔퍼미에이션크로마토그라피(GPC)법(폴리스티렌 환산)으로 측정된다. GPC법에 의한 중량 평균 분자량은, 구체적으로는, 측정 장치로서 (주)시마즈세이사쿠쇼 제조 LC-9A/RID-6A를, 컬럼으로서 쇼와덴꼬(주)사 제조 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 이용하여, 컬럼 온도 40℃로 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 이용하여 산출할 수 있다. It is preferable that the weight average molecular weight of a thermoplastic resin is the range of 5000-80000000, It is more preferable that it is the range of 10000-200000, It is still more preferable that it is the range of 15000-150000, It is still more preferable that it is the range of 20000-100000. . By being in a range, the effect of film forming capability and mechanical strength improvement are fully exhibited, and compatibility with an epoxy resin can also be improved. In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by the gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). As for the weight average molecular weight by GPC method, Shodex K-800P / K- made by Showa Denko Co., Ltd. as LC as the measuring apparatus by LC-9A / RID-6A made by Shimadzu Corporation 804L / K-804L can be measured at the column temperature of 40 degreeC using chloroform etc. as a mobile phase, and can be computed using the analytical curve of standard polystyrene.

페녹시 수지로서는, 비스페놀 A골격, 비스페놀 F골격, 비스페놀 S골격, 비스페놀아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디시클로펜타디엔 골격, 노르보넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 트리메틸시클로헥산 골격으로부터 선택되는 1종 이상의 골격을 갖는 것을 들 수 있다. 페녹시 수지는 2종 이상을 혼합하여 이용해도 좋다. 페녹시 수지의 말단은 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다. 시판품으로서는, 예컨대, 미쓰비시가가꾸(주) 제조 1256, 4250(비스페놀 A 골격 함유 페녹시 수지), 미쓰비시가가꾸(주) 제조 YX8100(비스페놀 S 골격 함유 페녹시 수지), 미쓰비시가가꾸(주) 제조 YX6954(비스페놀아세토페논 골격 함유 페녹시 수지)를 들 수 있다. 시판품으로서는 또한, 신닛테츠가가꾸(주) 제조 FX280, FX293, 미쓰비시가가꾸(주) 제조 YL7553, YL6954, YL6794, YL7213, YL7290, YL7482 등을 들 수 있다. Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, The thing which has 1 or more types of frame | skeleton chosen from an adamantane skeleton, a terpene skeleton, and a trimethylcyclohexane skeleton is mentioned. You may use phenoxy resin in mixture of 2 or more types. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group and an epoxy group. As a commercial item, Mitsubishi Chemical Corporation 1256, 4250 (bisphenol A skeleton containing phenoxy resin), Mitsubishi Chemical Corporation YX8100 (bisphenol S skeleton containing phenoxy resin), Mitsubishi Chemical Corporation make YX6954 (bisphenol acetophenone frame | skeleton containing phenoxy resin) is mentioned. As a commercial item, Shinnitetsu Chemical Co., Ltd. product FX280, FX293, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. product YL7553, YL6954, YL6794, YL7213, YL7290, YL7482 etc. are mentioned.

폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 덴키가가꾸고교(주) 제조, 덴카부티랄4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, 세키스이가가꾸고교(주) 제조 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈, KS 시리즈, BL 시리즈, BM 시리즈 등을 들 수 있다. 폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신닛폰리카(주) 제조의 폴리이미드 「리카코트 SN20」및 「리카코트 PN20」을 들 수 있다. 또, 2관능성 히드록실기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 4염기산 무수물을 반응시켜 얻어지는 선형상 폴리이미드(일본특허공개 제2006-37083호 공보에 기재된 것), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본특허공개 제2002-12667호 공보, 일본특허공개 제2000-319386호 공보 등에 기재된 것) 등의 변성 폴리이미드를 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 도요보세키(주) 제조의 폴리아미드이미드 「바이로맥스 HR11NN」및 「바이로맥스 HR16NN」을 들 수 있다. 또, 히타치가세이고교(주) 제조의 폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드 「KS9100」, 「KS9300」등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다. 폴리에테르술폰 수지의 구체예로서는, 스미토모가가꾸(주) 제조의 폴리에테르술폰 「PES5003P」등을 들 수 있다. 폴리술폰 수지의 구체예로서는, 솔벤어드밴스트폴리머즈(주) 제조의 폴리술폰 「P1700」, 「P3500」등을 들 수 있다. As a specific example of polyvinyl acetal resin, Denki Chemical Co., Ltd. product, Denka Butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, Sekisui Chemical Co., Ltd. product Esrek BH series, BX series, KS series, BL series, BM series, etc. are mentioned. As a specific example of polyimide resin, the polyimide "Rica coat SN20" and "Rica coat PN20" by Shin-Nippon Rica Co., Ltd. are mentioned. Moreover, linear polyimide obtained by making bifunctional hydroxyl-group-end polybutadiene, a diisocyanate compound, and tetrabasic anhydride react (thing of Unexamined-Japanese-Patent No. 2006-37083), polysiloxane skeleton containing polyimide (Japan Modified polyimides such as those described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-12667, Japanese Patent Laid-Open No. 2000-319386, and the like. As a specific example of polyamide-imide resin, the polyamide-imide "Biromax HR11NN" and "Biromax HR16NN" by Toyo Boseki Co., Ltd. are mentioned. Moreover, modified polyamideimide, such as polysiloxane frame | skeleton containing polyamideimide "KS9100" and "KS9300" by Hitachi Chemical Co., Ltd., is mentioned. As a specific example of polyether sulfone resin, Sumitomo Chemical Co., Ltd. polyether sulfone "PES5003P" etc. are mentioned. As a specific example of polysulfone resin, polysulfone "P1700", "P3500", etc. made by Solvent Advanced Polymers Co., Ltd. are mentioned.

열가소성 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 시트형상 적층 재료의 용융 점도의 조정이나 수지 바니스 점도의 조정의 점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 0.5∼30 질량%가 바람직하고, 1∼20 질량%가 보다 바람직하다. Although content of a thermoplastic resin is not specifically limited, 0.5-30 mass% is preferable with respect to 100 mass% of non volatile components in a resin composition from the point of adjustment of melt viscosity of a sheet-like laminated material, or adjustment of resin varnish viscosity. 1-20 mass% is more preferable.

<(G) 경화제><(G) Curing Agent>

본 발명의 수지 조성물에는, 또한 (G) 경화제를 함유시킬 수 있다. 이에 따라, 수지 조성물의 경화물의 절연 신뢰성, 필 강도, 기계 특성을 높일 수 있다. (G) 경화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대, 페놀계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 산무수물계 경화제 등을 예로 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상을 사용할 수 있다. 이들 중에서도, 스미어 제거성의 향상, 유전 특성의 향상이라는 관점에서, 페놀계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제가 바람직하다. The resin composition of this invention can be made to contain (G) hardening | curing agent further. Thereby, insulation reliability, peeling strength, and mechanical characteristics of the hardened | cured material of a resin composition can be improved. Although it does not specifically limit as (G) hardening | curing agent, For example, a phenol type hardening | curing agent, a cyanate ester type hardening | curing agent, a benzoxazine type hardening | curing agent, an acid anhydride type hardening | curing agent, etc. are mentioned. These can use 1 type (s) or 2 or more types. Among these, a phenol type hardening | curing agent and a cyanate ester type hardening | curing agent are preferable from a viewpoint of the improvement of smear removal property and the improvement of dielectric properties.

페놀계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 페놀노볼락 수지, 트리아진골격 함유 페놀노볼락 수지, 나프톨노볼락 수지, 나프톨아랄킬형 수지, 트리아진 골격 함유 나프톨 수지, 비페닐아랄킬형 페놀 수지 등을 들 수 있다. 예컨대, 비페닐아랄킬형 페놀 수지로서, 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」(메이와가세이(주) 제조), 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」(니혼카야쿠(주) 제조), 나프톨아랄킬형 수지로서, 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN375」, 「SN395」(도토가세이(주) 제조), 페놀노볼락 수지로서 「TD2090」(DIC(주) 제조), 트리아진 골격 함유 페놀노볼락 수지로서 「LA3018」, 「LA7052」, 「LA7054」, 「LA1356」(DIC(주) 제조) 등을 들 수 있다. 페놀계 경화제는 1종 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Although there is no restriction | limiting in particular as a phenolic hardening | curing agent, A phenol novolak resin, a triazine skeleton containing phenol novolak resin, a naphthol novolak resin, a naphthol aralkyl type resin, a triazine skeleton containing naphthol resin, a biphenyl aralkyl type phenol resin etc. are mentioned. Can be. For example, as a biphenyl aralkyl type phenol resin, "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" (made by Meiwa Kasei Co., Ltd.), "NHN", "CBN", "GPH" ( Nihon Kayaku Co., Ltd.), a naphthol aralkyl type resin, "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN375", "SN395" (Dotogasei) As a phenol novolak resin, "TD2090" (manufactured by DIC Corporation), a triazine skeleton-containing phenol novolak resin as "LA3018", "LA7052", "LA7054", "LA1356" (DIC (Ltd.) ) Production). A phenolic hardening | curing agent may use together 1 type (s) or 2 or more types.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 노볼락형(페놀노볼락형, 알킬페놀노볼락형 등)시아네이트에스테르계 경화제, 디시클로펜타디엔형시아네이트에스테르계 경화제, 비스페놀형(비스페놀 A형, 비스페놀 F형, 비스페놀 S형등)시아네이트에스테르계 경화제, 및 이들이 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 중량 평균 분자량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 500∼4500이 바람직하고, 600∼3000이 보다 바람직하다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 예컨대, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능시아네이트 수지, 페놀노볼락, 크레졸노볼락, 디시클로펜타디엔 구조함유 페놀 수지 등으로부터 유도되는 다관능시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. 시판되고 있는 시아네이트에스테르 수지로서는, 페놀노볼락형 다관능시아네이트에스테르 수지(론더재팬(주) 제조, PT30, 시아네이트 당량 124), 비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 삼량체가 된 프리폴리머(론더재팬(주) 제조, BA230, 시아네이트 당량 232), 디시클로펜타디엔 구조 함유 시아네이트에스테르 수지(론더재팬(주) 제조, DT-4000, DT-7000) 등을 들 수 있다. Although there is no restriction | limiting in particular as a cyanate ester type hardening | curing agent, A novolak-type (phenol novolak-type, alkylphenol novolak-type, etc.) cyanate ester type hardening | curing agent, a dicyclopentadiene type cyanate ester type hardening | curing agent, bisphenol type (bisphenol A Type, bisphenol F type, bisphenol S type, etc.) cyanate ester type hardening | curing agent, the prepolymer etc. which these were triazine-ized, etc. are mentioned. Although the weight average molecular weight of a cyanate ester type hardening | curing agent is not specifically limited, 500-4500 are preferable and 600-3000 are more preferable. As a specific example of a cyanate ester type hardening | curing agent, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylenecyanate), 4,4'-methylenebis (2,6-, for example) Dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4- Cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-sia Polyfunctional cyanate resins derived from bifunctional cyanate resins such as natephenyl) thioether and bis (4-cyanatephenyl) ether, phenol novolac, cresol novolac, dicyclopentadiene structure-containing phenol resins, and the like. And prepolymers obtained by partially triazine cyanate resin, etc. These may be used alone or in combination of two or more thereof. As a cyanate ester resin marketed, one part or all part of a phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resin (London Japan Co., Ltd. product, PT30, cyanate equivalent 124), bisphenol A dicyanate is triazine-ized, and a trimer Prepolymer (London Japan Co., Ltd. product, BA230, cyanate equivalent weight 232), dicyclopentadiene structure containing cyanate ester resin (London Japan Co., Ltd. product, DT-4000, DT-7000), etc. are mentioned.

벤조옥사진계 경화제로서는, 특별히 제한은 없지만, 구체적으로, F-a, P-d(시코쿠가세이(주) 제조), HFB2006M(쇼와코분시(주) 제조) 등을 들 수 있다. Although there is no restriction | limiting in particular as a benzoxazine type hardening | curing agent, Specifically, F-a, P-d (made by Shikoku Chemical Co., Ltd.), HFB2006M (made by Showa Co., Ltd.), etc. are mentioned.

수지 조성물 중의 (G) 경화제의 함유량은 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물의 경화물이 취약해지는 것을 방지한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100 질량%에 대하여, 0.5∼10 질량%가 바람직하고, 1∼6 질량%가 보다 바람직하다. Although content of the (G) hardening | curing agent in a resin composition is not specifically limited, 0.5-10 mass% is preferable with respect to 100 mass% of non volatile components in a resin composition from a viewpoint of preventing the hardened | cured material of a resin composition from becoming weak. , 1-6 mass% is more preferable.

<그 밖의 성분> <Other ingredients>

본 발명의 수지 조성물은, 또한, 필요에 따라서 본 발명의 효과를 손상하지 않는 범위에서 말레이미드 화합물, 비스알릴나디이미드 화합물, 비닐벤질 수지, 비닐벤질에테르 수지 등의 열경화 성분, 실리콘 파우더, 나일론 파우더, 불소 파우더 등의 유기 충전제, 올벤, 벤톤 등의 증점제, 실리콘계, 불소계, 고분자계의 소포제 또는 레벨링제, 이미다졸계, 티아졸계, 트리아졸계, 실란커플링제 등의 밀착성 부여제, 인계 화합물, 수산화금속물 등의 난연제 등을 예로 들 수 있다. As for the resin composition of this invention, thermosetting components, such as a maleimide compound, bisallyl naimide compound, a vinyl benzyl resin, and a vinyl benzyl ether resin, silicone powder, nylon as needed, in the range which does not impair the effect of this invention. Adhesives such as organic fillers such as powders and fluorine powders, thickeners such as olben and benton, silicone-based, fluorine-based, anti-foaming agents or leveling agents, imidazole-based, thiazole-based, triazole-based and silane coupling agents, phosphorus-based compounds, Flame retardants, such as a metal hydroxide, etc. are mentioned, for example.

본 발명의 수지 조성물은, 상기 성분을 적절하게 혼합하고, 또, 필요에 따라서 3개 롤, 볼 밀, 비드 밀, 샌드 밀 등의 혼련 수단, 혹은 수퍼 믹서, 플라네터리 믹서 등의 교반 수단에 의해 혼련 또는 혼합함으로써, 수지 바니스로서 제조할 수 있다. 그리고, 본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 저유전 탄젠트화를 달성할 수 있고, 그리고 경화물을 천공 가공하여 조화 처리한 후의 비아홀 내의 스미어를 억제할 수 있다. The resin composition of this invention mixes the said component suitably, Moreover, if necessary, it mixes with kneading means, such as three rolls, a ball mill, a bead mill, a sand mill, or stirring means, such as a super mixer and a planetary mixer. It can be manufactured as a resin varnish by kneading or mixing by the mixture. And the hardened | cured material of the resin composition of this invention can achieve low dielectric tangentization, and can suppress the smear in the via hole after carrying out roughening process by hardening a hardened | cured material.

본 발명의 수지 조성물의 경화물의 유전 탄젠트는, 후술의 <유전 탄젠트의 측정>에 기재된 방법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 공동 공진기 섭동법에 의해 주파수 5.8 GHz, 측정 온도 23℃에서 측정할 수 있다. 고주파에서의 발열 방지, 신호 지연 및 신호 노이즈의 저감이라는 관점에서, 유전 탄젠트는 0.05이하가 바람직하고, 0.04이하가 보다 바람직하며, 0.03이하가 더욱 바람직하고, 0.02이하가 보다 더 바람직하고, 0.01이하가 특히 바람직하다. 한편, 유전 탄젠트의 하한값은 특별히 제한은 없지만, 0.001이상이 바람직하다. The dielectric tangent of the cured product of the resin composition of the present invention can be measured by the method described in <Measurement of Dielectric Tangent> described later. Specifically, it can measure by the cavity resonator perturbation method at frequency 5.8GHz and measurement temperature 23 degreeC. The dielectric tangent is preferably 0.05 or less, more preferably 0.04 or less, still more preferably 0.03 or less, even more preferably 0.02 or less, and 0.01 or less from the viewpoint of preventing heat generation at high frequencies, and reducing signal delay and signal noise. Is particularly preferred. On the other hand, the lower limit of the dielectric tangent is not particularly limited, but is preferably 0.001 or more.

본 발명의 수지 조성물의 경화물의 제곱 평균 평방근 거칠기 Rq는, 후술하는 <제곱 평균 평방근 거칠기(Rq)의 측정>에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. 조화 처리 후의 절연층 표면은, 전기 신호의 손실을 경감시킨다는 점에서, 미세한 요철로 되어 있는 것이 요구된다. 절연층 표면의 요철의 치밀함을 나타내는 것으로서, 제곱 평균 평방근 거칠기 Rq가 있다. 이 지표에 의해, 절연층 표면의 요철의 단순한 평균값이 아니라, 절연층 표면이 치밀한 요철 형상으로 되어 있는 것을 알 수 있다. 구체적으로는, 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 상기 절연층 표면을 조화 처리한 후의 상기 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기 Rq는, 500 ㎚ 이하가 바람직하고, 400 ㎚ 이하가 보다 바람직하며, 300 ㎚ 이하가 더욱 바람직하고, 200 ㎚ 이하가 보다 더 바람직하며, 100 ㎚ 이하가 특히 바람직하다. 또한, 하한값은 도금 도체층과의 양호한 밀착성을 얻는다는 점에서, 5 ㎚ 이상이 바람직하고, 10 ㎚ 이상이 보다 바람직하며, 20 ㎚ 이상이 더욱 바람직하다. The square average square root roughness Rq of the hardened | cured material of the resin composition of this invention can be grasped | ascertained by the measuring method as described in <measurement of square average square root roughness (Rq) mentioned later. The surface of the insulating layer after the roughening treatment is required to have fine concavo-convex in terms of reducing the loss of the electrical signal. As showing the density of irregularities on the surface of the insulating layer, there is a root mean square roughness Rq. This index shows that the surface of the insulating layer has a dense uneven shape rather than a simple average value of the unevenness of the insulating layer surface. Specifically, 500 nm or less is preferable and, as for the square root mean square roughness Rq of the said insulating layer surface after hardening a resin composition and forming an insulating layer and roughening the said insulating layer surface, 400 nm or less is more preferable, 300 nm or less is more preferable, 200 nm or less is more preferable, and 100 nm or less is especially preferable. In addition, the lower limit is preferably 5 nm or more, more preferably 10 nm or more, and even more preferably 20 nm or more, from the viewpoint of obtaining good adhesion to the plating conductor layer.

본 발명의 수지 조성물의 경화물의 필 강도는, 후술하는 <도금 도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정>에 기재된 측정 방법에 의해 파악할 수 있다. 구체적으로는, 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 조화 처리한 후의 상기 절연층 표면에 도금하여 얻어지는 도체층과 상기 절연층과의 필 강도가, 0.3 kgf/㎝ 이상이 바람직하고, 0.5 kgf/㎝ 이상이 보다 바람직하며, 0.6 kgf/㎝ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 상한값은 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 1.2 kgf/㎝ 이하가 된다. The peeling strength of the hardened | cured material of the resin composition of this invention can be grasped | ascertained by the measuring method as described in <measurement of peeling strength (filling strength) of the plating conductor layer> mentioned later. Specifically, the peel strength of the conductor layer and the insulating layer obtained by curing the resin composition to form an insulating layer and plating the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 0.3 kgf / cm or more, and 0.5 kgf. / Cm or more is more preferable, and 0.6 kgf / cm or more is more preferable. On the other hand, there is no restriction | limiting in particular in an upper limit, Usually, it is 1.2 kgf / cm or less.

본 발명의 수지 조성물의 용도는, 특별히 한정되지 않지만, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트형상 적층 재료, 회로 기판(적층판 용도, 다층 프린트 배선판 용도 등), 솔더레지스트, 언더충전재, 다이본딩재, 반도체 밀봉재, 구멍 메움 수지, 부품 매립 수지 등, 수지 조성물이 필요해지는 용도의 광범위에 사용할 수 있다. 그 중에서도, 본 발명의 수지 조성물에 있어서는, 경화물을 천공 가공하여 조화 처리한 후의 비아홀 내의 스미어를 억제할 수 있기 때문에, 비아홀 내의 도금 밀착력이 향상됨으로써, 비아홀 내의 보이드 발생을 방지하여, 다단에 형성된 다층 프린트 배선판의 절연층간의 도통 신뢰성을 확보할 수 있다. 즉, 다층 프린트 배선판의 제조에 있어서, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있고, 도금에 의해 도체층을 형성하기 위한 수지 조성물(도금에 의해 도체층을 형성하는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 보다 적합하게 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 바니스 상태로 회로 기판에 도포하여 절연층을 형성할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트형상 적층 재료의 형태로 이용하는 것이 바람직하다. 수지 조성물의 연화점은, 시트형상 적층 재료의 라미네이트성의 관점에서 40∼150℃가 바람직하다. Although the use of the resin composition of this invention is not specifically limited, Sheet-like laminated materials, such as an adhesive film and a prepreg, a circuit board (for laminated board use, a multilayer printed wiring board use, etc.), a soldering resist, an underfill material, a die bonding material, a semiconductor It can use for the wide range of uses which resin composition, such as a sealing material, hole filling resin, and a part embedding resin, are required. Especially, in the resin composition of this invention, since the smear in a via hole after drilling and hardening hardened | cured material can be suppressed, plating adhesion force in a via hole improves, and the void generation in a via hole is prevented, and it is formed in multiple stages. The conduction reliability between the insulating layers of a multilayer printed wiring board can be ensured. That is, in manufacture of a multilayer printed wiring board, it can be used suitably as a resin composition (resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board) for forming an insulating layer, and the resin composition for forming a conductor layer by plating (by plating It can be used more suitably as the resin composition for insulating layers of the multilayer printed wiring board which forms a conductor layer. Although the resin composition of this invention can be apply | coated to a circuit board in a varnish state, and can form an insulation layer, it is industrially generally used in the form of sheet-like laminated materials, such as an adhesive film and a prepreg. As for the softening point of a resin composition, 40-150 degreeC is preferable from a lamination property of a sheet-like laminated material.

<시트형상 적층 재료><Sheet-like laminated material>

(접착 필름)(Adhesive film)

일 실시형태에 있어서, 본 발명의 시트형상 적층 재료는 접착 필름이다. 상기 접착 필름은, 지지체상에 수지 조성물층이 형성된 것이다. 상기 접착 필름은, 당업자에 공지의 방법, 예컨대, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니스를 조제하고, 이 수지 바니스를, 다이코터 등을 이용하여, 지지체에 도포하며, 또한 가열, 혹은 열풍 분무 등에 의해 유기 용제를 건조시켜 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다. In one embodiment, the sheet-like laminated material of the present invention is an adhesive film. The said adhesive film is a thing in which the resin composition layer was formed on the support body. The said adhesive film prepares the resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent, the method known to a person skilled in the art, for example, apply | coats this resin varnish to a support body using a die coater, etc., and heats or hot-air spray etc. It can manufacture by drying an organic solvent and forming a resin composition layer.

유기 용제로서는, 예컨대, 아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 카르비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류, 셀로솔브, 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 톨루엔, 크실렌 등의 방향족탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드, N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 예로 들 수 있다. 유기 용제는 2종 이상을 조합하여 이용해도 좋다. As the organic solvent, for example, ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, carbotolv acetate, acetate esters such as carbitol acetate, Examples thereof include carbitols such as bitol, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. You may use the organic solvent in combination of 2 or more type.

건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층에 있어서의 유기 용제의 함유량이 10 질량% 이하, 바람직하게는 5 질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 바니스 중의 유기 용제량, 유기 용제의 비점에 따라서도 상이하지만, 예컨대 30∼60 질량%의 유기 용제를 포함하는 바니스를 50∼150℃에서 3∼10분간 정도 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다. Although drying conditions are not specifically limited, It drys so that content of the organic solvent in a resin composition layer may be 10 mass% or less, Preferably it is 5 mass% or less. The amount of the organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent are different, but for example, the resin composition layer can be formed by drying the varnish containing 30 to 60 mass% of the organic solvent at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes. have.

접착 필름에 있어서 형성되는 수지 조성물층의 두께는, 도체층의 두께 이상으로 하는 것이 바람직하다. 회로 기판이 갖는 도체층의 두께는 통상 5∼70 ㎛의 범위이기 때문에, 수지 조성물층은 10∼100 ㎛의 두께를 갖는 것이 바람직하다. 박막화의 관점에서, 15∼80 ㎛가 보다 바람직하다. It is preferable to make the thickness of the resin composition layer formed in an adhesive film more than the thickness of a conductor layer. Since the thickness of the conductor layer which a circuit board has is normally 5-70 micrometers, it is preferable that a resin composition layer has a thickness of 10-100 micrometers. From a viewpoint of thinning, 15-80 micrometers is more preferable.

지지체로서는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리염화비닐 등의 폴리올레핀의 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르의 필름, 폴리카보네이트 필름, 폴리이미드 필름 등의 각종 플라스틱 필름을 들 수 있다. 또 이형지나 구리박, 알루미늄박 등의 금속박 등을 사용해도 좋다. 그 중에서도, 범용성의 점에서, 플라스틱 필름이 바람직하고, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름이 보다 바람직하다. 지지체 및 후술하는 보호 필름에는, 마드(MAD) 처리, 코로나 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또, 실리콘 수지계 이형제, 알키드 수지계 이형제, 불소수지계 이형제 등의 이형제로 이형 처리가 실시되어 있어도 좋다. Examples of the support include a film of polyolefin such as polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET"), a film of polyester such as polyethylene naphthalate, polycarbonate film, polyimide film Various plastic films, such as these, are mentioned. Moreover, you may use metal foil, such as a release paper, copper foil, and aluminum foil. Especially, a plastic film is preferable and a polyethylene terephthalate film is more preferable at the point of general use. Surface treatments, such as a mad treatment and a corona treatment, may be given to the support body and the protective film mentioned later. Moreover, the mold release process may be performed with mold release agents, such as a silicone resin mold release agent, an alkyd resin mold release agent, and a fluororesin mold release agent.

지지체의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 지지체상으로부터 천공 가공을 행하는 경우에, 레이저 조사의 에너지가 큰 경우에도 수지 잔사가 남기 어려워져 스미어의 발생을 억제할 수 있다는 점에서, 10 ㎛ 이상이 바람직하고, 20 ㎛ 이상이 보다 바람직하며, 30 ㎛ 이상이 더욱 바람직하다. 또한, 코스트 퍼포먼스 향상이나 지지체상으로부터 천공을 행하는 경우에 효율적인 천공을 행할 수 있다는 관점에서, 150 ㎛ 이하가 바람직하고, 100 ㎛ 이하가 보다 바람직하며, 50 ㎛ 이하가 더욱 바람직하다. Although the thickness of a support body is not specifically limited, When performing a punching process from a support body, 10 micrometers or more are preferable at the point that resin residue hardly remains and generation | occurrence | production of smear can be suppressed even when the energy of laser irradiation is large. 20 micrometers or more are more preferable, and 30 micrometers or more are more preferable. Moreover, 150 micrometers or less are preferable, 100 micrometers or less are more preferable, and 50 micrometers or less are more preferable from a viewpoint of cost performance improvement and efficient punching, when punching from a support body.

수지 조성물층의 지지체가 밀착하고 있는 면의 반대측의 면에는, 지지체에 준한 보호 필름을 더욱 적층할 수 있다. 이 경우, 접착 필름은, 지지체와, 상기 지지체의 위에 형성된 수지 조성물층과, 상기 수지 조성물층의 위에 형성된 보호 필름을 포함한다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예컨대, 1∼40 ㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 상처를 방지할 수 있다. 접착 필름은, 롤형상으로 권취하여 저장할 수도 있다. The protective film based on a support body can be further laminated | stacked on the surface on the opposite side to the surface which the support body of a resin composition layer adjoins. In this case, an adhesive film contains a support body, the resin composition layer formed on the said support body, and the protective film formed on the said resin composition layer. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating | stacking a protective film, adhesion | attachment of a dust etc. to a surface of a resin composition layer, and a wound can be prevented. An adhesive film can also be wound up and stored in roll shape.

(프리프레그)(Prepreg)

일 실시형태에 있어서, 본 발명의 시트형상 적층 재료는 프리프레그이다. 상기 프리프레그는, 본 발명의 수지 조성물을 시트형상 보강 기재에 핫멜트법 또는 솔벤트법에 의해 함침시키고, 가열하여 반경화시킴으로써 제조할 수 있다. 즉, 본 발명의 수지 조성물이 시트형상 보강 기재에 함침한 상태가 되는 프리프레그로 할 수 있다. 시트형상 보강 기재로서는, 예컨대, 유리 크로스나 아라미드 섬유 등의 프리프레그용 섬유로서 상용되고 있는 섬유로 이루어지는 것을 이용할 수 있다. 그리고 지지체상에 프리프레그가 형성된 것이 적합하다. In one embodiment, the sheet-like laminated material of the present invention is a prepreg. The said prepreg can be manufactured by impregnating the resin composition of this invention by the hot-melt method or the solvent method to a sheet-like reinforcement base material, and heating and semi-hardening. That is, it can be set as the prepreg which becomes the state which the resin composition of this invention is impregnated to the sheet-like reinforcement base material. As a sheet-like reinforcement base material, what consists of fibers commonly used as prepreg fiber, such as glass cross and aramid fiber, can be used. And it is suitable that the prepreg was formed on the support body.

핫멜트법은, 수지 조성물을 유기 용제에 용해하지 않고, 지지체상에 일단 코팅하며, 그것을 시트형상 보강 기재에 라미네이트하는, 혹은 다이코터에 의해 시트형상 보강 기재에 직접 도공하는 등 하여, 프리프레그를 제조하는 방법이다. 또 솔벤트법은, 접착 필름과 동일하게 하여 수지를 유기 용제에 용해하여 수지 바니스를 조제하고, 이 바니스에 시트형상 보강 기재를 침지하며, 수지 바니스를 시트형상 보강 기재에 함침시키고, 그 후 건조시키는 방법이다. 또, 접착 필름을 시트형상 보강 기재의 양면으로부터 가열, 가압 조건하, 연속적으로 열라미네이트함으로써 조제할 수도 있다. 지지체나 보호 필름 등도 접착 필름과 동일하게 이용할 수 있다. In the hot-melt method, a prepreg is produced by coating a resin composition on a support without first dissolving it in an organic solvent, laminating it on a sheet-like reinforcing substrate, or coating it directly on a sheet-like reinforcing substrate by a die coater. That's how. In the solvent method, the resin is dissolved in an organic solvent in the same manner as the adhesive film to prepare a resin varnish, the sheet-like reinforcement base material is immersed in the varnish, the resin varnish is impregnated into the sheet-like reinforcement base material, and then dried. It is a way. Moreover, an adhesive film can also be prepared by thermally laminating from both surfaces of a sheet-like reinforcement base material continuously under heating and pressurization conditions. A support body, a protective film, etc. can also be used similarly to an adhesive film.

<시트형상 적층 재료를 이용한 다층 프린트 배선판><Multilayer printed wiring board using sheet-like laminated material>

다음으로, 상기한 바와 같이 하여 제조한 시트형상 적층 재료를 이용하여 다층 프린트 배선판을 제조하는 방법의 일례를 설명한다. Next, an example of the method of manufacturing a multilayer printed wiring board using the sheet-like laminated material manufactured as mentioned above is demonstrated.

우선, 시트형상 적층 재료를, 진공라미네이터를 이용하여 회로 기판의 한 면또는 양면에 라미네이트(적층)한다. 회로 기판에 이용되는 기판으로서는, 예컨대, 유리에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 여기서 회로 기판이란, 상기와 같은 기판의 한 면 또는 양면에 패턴 가공된 도체층(회로)이 형성된 것을 말한다. 또 도체층과 절연층을 교대로 적층하여 이루어지는 다층 프린트 배선판에 있어서, 상기 다층 프린트 배선판의 최외층의 한 면 또는 양면이 패턴 가공된 도체층(회로)으로 되어 있는 것도, 여기서 말하는 회로 기판에 포함된다. 또한 도체층 표면에는, 흑화 처리, 구리 에칭 등에 의해 미리 조화 처리가 실시되어 있어도 좋다. First, a sheet-like laminated material is laminated (laminated) on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. As a board | substrate used for a circuit board, a glass epoxy board, a metal board | substrate, a polyester board | substrate, a polyimide board | substrate, a BT resin board | substrate, a thermosetting polyphenylene ether board | substrate, etc. are mentioned, for example. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) pattern-processed was formed in one side or both surfaces of the above board | substrates. Moreover, in the multilayer printed wiring board which alternately laminates a conductor layer and an insulating layer, it is also included in the circuit board mentioned here that one side or both sides of the outermost layer of the said multilayer printed wiring board is a patterned conductor layer (circuit). do. Moreover, the roughening process may be previously given to the conductor layer surface by blackening process, copper etching, etc.

시트형상 적층 재료가 보호 필름을 갖고 있는 경우에는, 상기 보호 필름을 제거한 후, 필요에 따라서 시트형상 적층 재료 및 회로 기판을 프리히트하고, 시트형상 적층 재료를 가압 및 가열하면서 회로 기판에 라미네이트한다. 적합한 일 실시형태에서는, 진공 라미네이트법에 의해 감압하에서, 본 발명의 시트형상 적층 재료를, 회로 기판에 라미네이트한다. 라미네이트의 조건은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예컨대, 압착 온도(라미네이트 온도)를 바람직하게는 70∼140℃, 압착 압력(라미네이트 압력)을 바람직하게는 1∼11 kgf/㎠(9.8×104∼107.9×104 N/㎡)로 하고, 압착 시간(라미네이트 시간)을 바람직하게는 5∼180초간으로 하며, 공기압 20 ㎜Hg(26.7 hPa) 이하의 감압하에서 라미네이트하는 것이 바람직하다. 또, 라미네이트의 방법은, 배치식이라도 롤에서의 연속식이라도 좋다. 진공 라미네이트는, 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예컨대, 니치고·모튼(주) 제조 버큠 어플리케이터, (주)메이키세이사쿠쇼 제조 진공 가압식 라미네이터, (주)히타치인더스트리즈 제조 롤 식 드라이코터, 히타치에이아이씨(주) 제조 진공 라미네이터 등을 예로 들 수 있다.When the sheet-like laminated material has a protective film, after removing the protective film, the sheet-like laminated material and the circuit board are preheated as necessary, and the sheet-like laminated material is laminated on the circuit board while pressing and heating. In one suitable embodiment, the sheet-like laminated material of the present invention is laminated on a circuit board under reduced pressure by a vacuum lamination method. The conditions of the laminate are not particularly limited, but for example, the crimping temperature (lamination temperature) is preferably 70 to 140 ° C and the crimping pressure (lamination pressure) is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to). 107.9 x 10 &lt; 4 &gt; N / m &lt; 2 &gt;), the pressing time (lamination time) is preferably 5 to 180 seconds, and lamination under reduced pressure of 20 mm Hg (26.7 hPa) or less is preferable. Moreover, the lamination method may be a batch type or a continuous type in a roll. Vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. As a commercial vacuum laminator, Nichigo Morton Co., Ltd. pressure applicator, the Meiki Seisakusho Co., Ltd. vacuum press type laminator, Hitachi Industries Co., Ltd. roll type dry coater, Hitachi AIC Co., Ltd. A manufacturing vacuum laminator etc. are mentioned, for example.

시트형상 적층 재료를 회로 기판에 라미네이트한 후, 실온 부근으로 냉각하고 나서, 지지체를 박리하는 경우는, 박리하고 수지 조성물을 열경화하여 절연층을 형성한다. 이에 따라, 회로 기판상에 절연층을 형성할 수 있다. 열경화의 조건은, 수지 조성물 중의 수지 성분의 종류, 함유량 등에 따라서 적절하게 선택하면 좋지만, 바람직하게는 150℃∼220℃에서 20∼180분간, 보다 바람직하게는 160℃∼210℃에서 30∼120분간의 범위에서 선택된다. 절연층을 형성한 후, 경화 전에 지지체를 박리하지 않은 경우는, 필요에 따라 여기서 박리할 수도 있다. After laminating a sheet-like laminated material to a circuit board, and cooling to around room temperature, when peeling a support body, it peels and thermosets a resin composition and forms an insulating layer. Thereby, an insulating layer can be formed on a circuit board. Although the conditions of thermosetting may be selected suitably according to the kind, content, etc. of the resin component in a resin composition, Preferably it is 20 to 180 minutes at 150 degreeC-220 degreeC, More preferably, it is 30 to 120 degreeC at 160 degreeC-210 degreeC It is selected in the range of minutes. After forming an insulating layer, when a support body is not peeled off before hardening, you may peel here as needed.

또한, 시트형상 적층 재료를, 진공 프레스기를 이용하여 회로 기판의 한 면 또는 양면에 적층할 수도 있다. 감압하, 가열 및 가압을 행하는 적층 공정은, 일반의 진공 핫 프레스기를 이용하여 행하는 것이 가능하다. 예컨대, 가열된 SUS판 등의 금속판을 지지체층측으로부터 프레스함으로써 행할 수 있다. 프레스 조건은, 감압도를 통상 1×10-2 MPa 이하, 바람직하게는 1×10-3 MPa 이하의 감압하로 한다. 가열 및 가압은, 1단계에서 행할 수도 있지만, 수지의 얼룩짐을 제어하는 관점에서 2단계 이상으로 조건을 나누어 행하는 것이 바람직하다. 예컨대, 1단계째의 프레스를, 온도가 70∼150℃, 압력이 1∼15 kgf/㎠인 범위에서 행하고, 2단계째의 프레스를, 온도가 150∼200℃, 압력이 1∼40 kgf/㎠인 범위에서 행하는 것이 바람직하다. 각 단계의 시간은 30∼120분으로 행하는 것이 바람직하다. 이와 같이 수지 조성물층을 열경화함으로써 회로 기판상에 절연층을 형성할 수 있다. 시판되고 있는 진공 핫 프레스기로서는, 예컨대, MNPC-V-750-5-200((주)메이키세이사쿠쇼 제조), VH1-1603(기타가와세이키(주) 제조) 등을 들 수 있다. In addition, the sheet-like lamination material may be laminated on one side or both sides of the circuit board using a vacuum press. The lamination | stacking process which heats and pressurizes under reduced pressure can be performed using a general vacuum hot press machine. For example, it can carry out by pressing metal plates, such as a heated SUS board, from a support body layer side. The press conditions are such that the reduced pressure is usually 1 × 10 −2 MPa or less, preferably 1 × 10 −3 MPa or less. Although heating and pressurization may be performed in one step, it is preferable to divide conditions into two or more steps from a viewpoint of controlling the unevenness of resin. For example, the press of the 1st stage is performed in the range of the temperature of 70-150 degreeC, and the pressure of 1-15 kgf / cm <2>, and the press of the 2nd step of temperature of 150-200 degreeC and the pressure of 1-40 kgf / It is preferable to carry out in the range which is cm <2>. It is preferable to perform the time of each step in 30 to 120 minutes. Thus, an insulating layer can be formed on a circuit board by thermosetting a resin composition layer. Commercially available vacuum hot press machines include MNPC-V-750-5-200 (manufactured by Meiki Seisakusho), VH1-1603 (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), and the like.

계속해서, 회로 기판상에 형성된 절연층에 천공 가공을 행하여 비아홀, 관통 구멍을 형성한다. 천공 가공은, 예컨대, 드릴, 레이저, 플라즈마 등의 공지의 방법에 의해, 또한 필요에 따라 이들의 방법을 조합시켜 행할 수 있다. 그 중에서도, 탄산 가스 레이저, YAG 레이저 등의 레이저에 의한 천공 가공이 가장 일반적인 방법이다. 또한, 본 발명의 시트형상 적층 재료를 회로 기판에 적층하고, 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성하며, 회로 기판상에 형성된 절연층에 지지체상으로부터 천공 가공하여 비아홀을 형성함으로써 다층 프린트 배선판을 제조하는 것이 바람직하고, 천공 가공후에 지지체를 박리하는 것이 바람직하다. 이와 같이, 지지체상으로부터 천공 가공하여 비아홀을 형성함으로써, 스미어의 발생을 억제할 수 있다. 또, 다층 프린트 배선판의 박형화에 대응하기 위해서, 비아홀의 탑 지름(직경)은 15∼70 ㎛가 바람직하고, 20∼65 ㎛가 보다 바람직하며, 25∼60 ㎛가 더욱 바람직하다. Subsequently, a perforation process is performed to the insulating layer formed on a circuit board, and a via hole and a through hole are formed. Drilling can be performed by well-known methods, such as a drill, a laser, and a plasma, for example, combining these methods as needed. Among them, drilling is performed by lasers such as carbon dioxide lasers and YAG lasers. In addition, the sheet-like laminated material of the present invention is laminated on a circuit board, the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer, and a via hole is formed by forming a via hole in the insulating layer formed on the circuit board from the support to form a multilayer printed wiring board It is preferable to prepare the product, and it is preferable to peel off the support after drilling. Thus, generation | occurrence | production of a smear can be suppressed by drilling through a support body and forming a via hole. Moreover, in order to respond to the thinning of a multilayer printed wiring board, 15-70 micrometers is preferable, as for the top diameter (diameter) of a via hole, 20-65 micrometers is more preferable, 25-60 micrometers is still more preferable.

계속해서, 절연층 표면의 조화 처리를 행한다. 건식의 조화 처리로서는 플라즈마 처리 등을 들 수 있고, 습식의 조화 처리로서는 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리 및 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서로 행하는 방법을 들 수 있다. 건식, 습식의 어느 쪽의 조화 처리를 채용해도 좋지만, 습식의 조화 처리쪽이, 절연층 표면에 요철의 앵커를 형성하면서, 비아홀 내의 스미어를 제거할 수 있는 점에서 바람직하다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 절연층을 50∼80℃에서 5∼20분간(바람직하게는 55∼70℃에서 8∼15분간), 팽윤액에 침지시킴으로써 행해진다. 팽윤액으로서는 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이다. 상기 알칼리 용액으로서는, 예컨대, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액 등을 들 수 있다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예컨대, 아토테크재팬(주) 제조의 스웰링·딥·시큐리건스 P(Swelling Dip Securiganth P), 스웰링·딥·시큐리건스 SBU(Swelling Dip Securiganth SBU) 등을 예로 들 수 있다. 산화제에 의한 조화 처리는, 절연층을 60∼80℃에서 10∼30분간(바람직하게는 70∼80℃에서 15∼25분간), 산화제 용액에 침지시킴으로써 행해진다. 산화제로서는, 예컨대, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산갈륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알칼리성과망간산 용액, 중크롬산염, 오존, 과산화수소/황산, 질산 등을 예로 들 수 있다. 또, 알칼리성과망간산 용액에 있어서의 과망간산염의 농도는 5∼10 중량%로 하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예컨대, 아토테크재팬(주) 제조의 컨센트레이트·컴팩트 CP, 도징 솔루션 시큐리건스 P 등의 알칼리성과망간산 용액을 들 수 있다. 중화액에 의한 중화 처리는, 절연층을 30∼50℃에서 3∼10분간(바람직하게는 35∼45℃에서 3∼8분간), 중화액에 침지시킴으로써 행해진다. 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 아토테크재팬(주) 제조의 리덕션솔류션·시큐리건스 P를 들 수 있다. Then, the roughening process of the surface of an insulating layer is performed. As a dry roughening process, a plasma process etc. are mentioned, As a wet roughening process, the swelling process with a swelling liquid, the roughening process with an oxidizing agent, and the neutralization process with a neutralizing liquid are mentioned in this order. Although the roughening process of either dry or wet may be employ | adopted, a wet roughening process is preferable at the point which can remove the smear in a via hole, forming an uneven anchor on the surface of an insulating layer. The swelling treatment by the swelling liquid is performed by immersing the insulating layer in the swelling liquid for 5 to 20 minutes (preferably 8 to 15 minutes at 55 to 70 ° C) at 50 to 80 ° C. Examples of the swelling liquid include an alkaline solution, a surfactant solution, and the like, and preferably an alkaline solution. As said alkaline solution, a sodium hydroxide solution, a potassium hydroxide solution, etc. are mentioned, for example. Examples of commercially available swelling liquids include, for example, Swelling Dip Securiganth P (Swelling Dip Securiganth P) manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and Swelling Dip Securiganth SBU (SBU). Can be. The roughening treatment by the oxidizing agent is performed by immersing the insulating layer in the oxidizing agent solution for 10 to 30 minutes (preferably 15 to 25 minutes at 70 to 80 ° C) at 60 to 80 ° C. Examples of the oxidizing agent include alkaline and manganese solutions in which gallium permanganate and sodium permanganate are dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, and nitric acid. In addition, the concentration of permanganate in the alkaline and manganese acid solution is preferably 5 to 10% by weight. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline and manganese acid solutions such as Concentrate Compact CP manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. and Dosing Solution Security P. The neutralization treatment by the neutralizing liquid is performed by immersing the insulating layer in the neutralizing liquid for 3 to 10 minutes (preferably 3 to 8 minutes at 35 to 45 ° C) at 30 to 50 ° C. As a neutralization liquid, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial item, reduction solution security P of the Atotech Japan Co., Ltd. product is mentioned.

계속해서, 건식 도금 또는 습식 도금에 의해 절연층상에 도체층을 형성한다. 건식 도금으로서는, 증착, 스퍼터링, 이온플레이팅 등의 공지의 방법을 사용할 수 있다. 습식 도금으로서는, 무전해 도금과 전해 도금을 조합하여 도체층을 형성하는 방법, 도체층과는 역패턴인 도금 레지스트를 형성하여, 무전해 도금만으로 도체층을 형성하는 방법, 등을 들 수 있다. 그 후의 패턴 형성의 방법으로서, 예컨대, 당업자에게 공지의 서브트랙티브법, 세미애더티브법 등을 이용할 수 있다. 그리고, 전술의 일련의 공정을 복수회 반복함으로써 빌드 업층을 다단으로 적층한 다층 프린트 배선판을 제조할 수 있다. 본 발명에 있어서는, 스미어의 발생이 억제되기 때문에, 층간의 도통 신뢰성을 확보할 수 있다. 그 때문에, 본 발명의 시트형상 적층 재료는 다층 프린트 배선판의 빌드 업층을 형성하기 위해서 적합하게 사용할 수 있다. Subsequently, a conductor layer is formed on an insulating layer by dry plating or wet plating. As dry plating, well-known methods, such as vapor deposition, sputtering, and ion plating, can be used. Examples of the wet plating include a method of forming a conductor layer by combining electroless plating and electrolytic plating, a method of forming a plating resist having an inverse pattern with the conductor layer, and forming a conductor layer only by electroless plating. As a method of pattern formation after that, the subtractive method, the semiadditive method, etc. which are well-known to a person skilled in the art can be used, for example. And a multilayer printed wiring board which laminated | stacked the buildup layer in multiple stages can be manufactured by repeating the above-mentioned series of process in multiple times. In this invention, since generation | occurrence | production of smear is suppressed, the conduction | electrical_connection reliability between layers can be ensured. Therefore, the sheet-like laminated material of this invention can be used suitably in order to form the buildup layer of a multilayer printed wiring board.

<반도체 장치> <Semiconductor Device>

본 발명의 다층 프린트 배선판을 이용함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 본 발명의 다층 프린트 배선판의 도통 개소에, 반도체칩을 실장함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「다층 프린트 배선판에 있어서의 전기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이라도 매립된 개소라도 어디라도 상관없다. 또, 반도체칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다. A semiconductor device can be manufactured by using the multilayer printed wiring board of this invention. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor chip in the conduction part of the multilayer printed wiring board of this invention. A "conduction point" is a "point which transmits an electric signal in a multilayer printed wiring board", and the place may be a surface or a buried point anywhere. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

본 발명의 반도체 장치를 제조할 때의 반도체칩의 실장 방법은, 반도체칩이 유효하게 기능하기만 하면, 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범프레스 빌드 업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법, 등을 들 수 있다. The method for mounting a semiconductor chip in manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding method, a flip chip mounting method, and a bump press build up layer The mounting method by (BBUL), the mounting method by an anisotropic conductive film (ACF), the mounting method by a nonelectroconductive film (NCF), etc. are mentioned.

실시예Example

이하, 실시예 및 비교예를 이용하여 본 발명을 보다 상세하게 설명하지만, 이들은 본 발명을 어떠한 의미에서도 제한하는 것은 아니다. 또한, 이하의 기재에 있어서, 「부」는 「질량부」를 의미한다. Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate this invention in detail, these do not limit this invention in any meaning. In addition, in the following description, "part" means a "mass part."

<측정 방법·평가 방법> <Measurement method and evaluation method>

우선은 각종 측정 방법·평가 방법에 관해서 설명한다. First, various measurement methods and evaluation methods are described.

<스미어 평가> <Smear evaluation>

각 실시예 및 각 비교예에서 얻어진 접착 필름 조성물 시트에 관해서, 이하에 따라서 스미어(수지 잔사)의 평가를 행하였다. About the adhesive film composition sheet obtained by each Example and each comparative example, the smear (resin residue) was evaluated as follows.

(1) 회로 기판의 제작(1) Manufacture of circuit board

유리천 기재 에폭시 수지 양면 구리 장적층판(구리박의 두께 18 ㎛, 기판 두께 0.8 ㎜, 마쓰시타덴코(주) 제조 R5715ES)의 양면에 에칭에 의해 회로 패턴을 형성하고, 또한 마이크로에칭제(맥크(주) 제조 CZ8100)로 조화 처리를 행하여, 회로 기판을 제작하였다. A circuit pattern is formed on both surfaces of the glass cloth base material epoxy resin double-sided copper clad laminated board (18 micrometers of copper foil, 0.8 mm of substrate thickness, R5715ES by Matsushita Denko Co., Ltd.) by an etching, and a microetching agent (Mac (Note) ) CZ8100) was subjected to a roughening process to produce a circuit board.

(2) 접착 필름의 라미네이트(2) Lamination of Adhesive Film

각 실시예 및 각 비교예에서 제작한 접착 필름 조성물 시트를, 배치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500(상품명, 메이키(주) 제조)를 이용하여, 상기 (1)에서 제작한 회로 기판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13 hPa 이하로 하고, 그 후, 100℃, 30초간, 압력 0.74 MPa로 압착시킴으로써 행하였다. The adhesive film composition sheet produced by each Example and each comparative example was used on both surfaces of the circuit board produced by said (1) using batch type vacuum pressurization laminator MVLP-500 (brand name, the product made by Meiki Corporation). Laminated. Lamination was performed by depressurizing for 30 second, making atmospheric pressure 13 hPa or less, and then crimping | bonding at 100 degreeC and 30 second and the pressure of 0.74 MPa.

(3) 수지 조성물층의 경화(3) curing of the resin composition layer

실시예 1-8 및 비교예 1에 있어서는, 라미네이트된 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 170℃, 30분간의 경화 조건으로 수지 조성물층을 경화하여 절연층을 형성하였다. 실시예 9에 있어서는, PET 필름을 박리하지 않고, 170℃, 30분간의 경화 조건으로 수지 조성물층을 경화하여, 절연층을 형성하였다. In Example 1-8 and Comparative Example 1, the PET film was peeled from the laminated adhesive film, and the resin composition layer was cured under curing conditions at 170 ° C. for 30 minutes to form an insulating layer. In Example 9, the resin composition layer was cured under curing conditions at 170 ° C. for 30 minutes without peeling off the PET film to form an insulating layer.

(4) 비아홀 형성(4) Via hole formation

마쓰시다요세츠시스템(주) 제조 CO2 레이저 가공기(YB-HCS03T04)를 사용하여, 주파수 1000 Hz에서 펄스폭 13 μ초, 샷 수 3의 조건으로 절연층을 천공하고, 절연층 표면에서의 비아홀의 탑 지름(직경)이 60 ㎛인 비아홀을 형성하였다. 실시예 9에 있어서는, 그 후 PET 필름을 박리하였다. Matsushita yaw Massachusetts System Co. produced CO 2 laser beam machine (YB-HCS03T04) by using, in the via-hole in the pulse width 13 μ sec at the frequency 1000 Hz, isolated drilling an insulating layer under the conditions of a shot number 3, and the floor surface Via holes having a column diameter (diameter) of 60 µm were formed. In Example 9, the PET film was peeled after that.

(5) 조화 처리(5) coordination treatment

회로 기판을, 팽윤액인 아토테크재팬(주)의 스웰링 딥·시큐리건스 P에 60℃에서 10분간 침지하였다. 다음으로, 조화액(산화제)인 아토테크재팬(주)의 컨센트레이트·컴팩트 P(KMnO4 : 60 g/L, NaOH : 40 g/L의 수용액)에 80℃에서 20분간 침지하였다. 마지막으로, 중화액인 아토테크재팬(주)의 리덕션솔루션·시큐리건스 P에 40℃에서 5분간 침지하였다. The circuit board was immersed for 10 minutes at 60 degreeC in the swelling dip security gun P of Atotech Japan Co., Ltd. which is a swelling liquid. Next, the blend solution (an oxidizing agent) of Ato Tech Japan Co., Concentrate of compact P was immersed for 20 minutes at 80 ℃ to (KMnO 4: aqueous solution of 40 g / L: 60 g / L, NaOH). Finally, it was immersed for 5 minutes in 40 degreeC reduction solution security P of Atotech Japan Co., Ltd. which is neutralization liquid.

(6) 비아홀 바닥부의 잔사 평가 (6) Evaluation of residue in the bottom of the via hole

비아홀 바닥부의 주위를 주사전자현미경(SEM)으로 관찰하고, 얻어진 화상으로부터 비아홀 바닥부의 벽면으로부터의 최대 스미어 길이를 측정하였다. ◎○는 최대 스미어 길이가 2 ㎛ 미만, ◎은 최대 스미어 길이가 2 ㎛ 이상 3.5 ㎛ 미만, ○은 최대 스미어 길이가 3.5 ㎛ 이상 5 ㎛ 미만, ×는 최대 스미어 길이가 5 ㎛ 이상을 나타낸다. The circumference of the via hole bottom part was observed with the scanning electron microscope (SEM), and the maximum smear length from the wall surface of the via hole bottom part was measured from the obtained image. ? Indicates a maximum smear length of less than 2 μm,? Indicates a maximum smear length of 2 μm or more and less than 3.5 μm, ○ represents a maximum smear length of 3.5 μm or more and less than 5 μm, and x represents a maximum smear length of 5 μm or more.

<도금 도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정, 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq)의 측정 및 절연 신뢰성의 평가><Measurement of Peel Strength (Peel Strength), Plating Average Square Root Roughness (Rq) of Plating Conductor Layer, and Evaluation of Insulation Reliability>

(1) 적층판의 기초 처리(1) Basic treatment of laminated board

내층 회로의 형성된 유리천 기재 에폭시 수지 양면 구리 장적층판(구리박의 두께 18 ㎛, 잔구리율 60%, 기판 두께 0.3 ㎜, 마쓰시타덴코(주) 제조 R5715ES)의 양면을 맥크(주) 제조 CZ8100에 침지하여 구리 표면의 조화 처리를 행하였다. Both sides of the glass cloth base material epoxy resin double-sided copper clad laminated board (18 micrometers of copper foil, 60% of copper foils, board | substrate thickness 0.3mm, Matsushita Denko Co., Ltd. product R5715ES) of the inner layer circuit which were formed were made to Mack Corporation CZ8100. It immersed and performed the roughening process of the copper surface.

(2) 접착 필름의 라미네이트(2) Lamination of Adhesive Film

각 실시예 및 각 비교예에서 작성한 접착 필름을, 배치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500((주) 메이키세이사쿠쇼 제조, 상품명)을 이용하여, 적층판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13 hPa 이하로 하고, 그 후, 30초간, 100℃, 압력 0.74 MPa로 압착시킴으로써 행하였다. The adhesive film produced by each Example and each comparative example was laminated on both surfaces of the laminated board using the batch type vacuum pressurizer laminator MVLP-500 (made by Meiki Seisakusho, brand name). Lamination was performed by depressurizing for 30 second and making atmospheric pressure 13 hPa or less, and then crimping | bonding at 100 degreeC and pressure 0.74 MPa for 30 second.

(3) 수지 조성물의 경화(3) curing of the resin composition

라미네이트된 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 170℃, 30분간의 경화 조건으로 수지 조성물을 경화하였다. The PET film was peeled from the laminated adhesive film, and the resin composition was cured under curing conditions at 170 ° C. for 30 minutes.

(4) 조화 처리(4) coordination treatment

적층판을, 팽윤액인, 아토테크재팬(주)의 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 함유 스웰링 딥·시큐리건스 P에 60℃에서 10분간 침지하고, 다음으로 조화액으로서, 아토테크재팬(주)의 컨센트레이트·컴팩트 P(KMnO4 : 60 g/L, NaOH : 40 g/L의 수용액)에 80℃에서 20분간 침지, 마지막으로 중화액으로서, 아토테크재팬(주)의 리덕션 솔루션·시큐리건스 P에 40℃에서 5분간 침지하였다. 이 조화 처리 후의 적층판을 샘플 A로 하였다. The laminated board was immersed in Atotech Japan Co., Ltd. diethylene glycol monobutyl ether containing swelling dip security gun P which is a swelling liquid at 60 degreeC for 10 minutes, and next as a roughening liquid of Atotech Japan Co., Ltd. It is immersed in concentrate compact P (KMnO 4 : 60 g / L, NaOH: 40 g / L aqueous solution) for 20 minutes at 80 degreeC, and finally, as neutralization liquid, to Atotech Japan Co., Ltd. reduction solution security guns P It was immersed at 40 degreeC for 5 minutes. The laminated board after this roughening process was made into sample A.

(5) 세미애디티브 공법에 의한 도금 형성 (5) Plating formation by semiadditive process

절연층 표면에 회로를 형성하기 위해서, 적층판을, PdCl2을 포함하는 무전해 도금용 용액에 침지하고, 다음으로 무전해구리 도금액에 침지하였다. 150℃에서 30분간 가열하여 어닐링 처리를 행한 후에, 에칭 레지스터를 형성하고, 에칭에 의한 패턴 형성의 후에, 황산구리 전해도금을 행하여, 30 ㎛의 두께로 도체층을 형성하였다. 다음으로, 어닐링 처리를 180℃에서 60분간 행하였다. 이 적층판을 샘플 B로 하였다. The insulating layer to form a circuit, immersing the laminate in an electroless plating solution comprising a PdCl 2, which was immersed in an electroless copper plating solution of the following: After performing annealing treatment by heating at 150 degreeC for 30 minutes, an etching resistor was formed, and after pattern formation by etching, copper sulfate electroplating was performed and the conductor layer was formed in the thickness of 30 micrometers. Next, annealing treatment was performed at 180 degreeC for 60 minutes. This laminated sheet was referred to as Sample B.

(6) 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 측정(6) Measurement of root mean square roughness (Rq value)

샘플 A에 관해서, 비접촉형 표면 거칠기계(비코인스트루먼트사 제조 WYKO NT3300)를 이용하여, VSI 컨택트 모드, 50배 렌즈에 의해 측정 범위를 121 ㎛×92 ㎛로 하여 얻어지는 수치에 의해 Rq값을 구하였다. 그리고, 각각 10점의 평균값을 구함으로써 측정값으로 하였다. Regarding Sample A, using a non-contact surface roughness machine (WYKO NT3300, manufactured by Noncoinstrument Co., Ltd.), an Rq value was obtained from a value obtained by setting the measurement range to 121 μm × 92 μm using a VSI contact mode and a 50x lens. . And the average value of 10 points | pieces was calculated | required, respectively.

(7) 도금 도체층의 박리 강함(필 강도)의 측정(7) Measurement of Peel Strength (Peel Strength) of Plating Conductor Layer

샘플 B의 도체층에, 폭 10 ㎜, 길이 100 ㎜의 부분의 노치를 넣고, 이 일단을 박리하여 집게(가부시키가시야 티·에스·이, 오토컴형 시험기 AC-50C-SL)로 붙잡고, 실온 중에서, 50 ㎜/분의 속도로 수직 방향으로 35 ㎜를 박리했을 때의 하중(kgf/㎝)을 측정하였다. Into the conductor layer of Sample B, a notch of a part having a width of 10 mm and a length of 100 mm was placed, and this end was peeled off and held by a forceps (clamped with T-S E, autocommercial tester AC-50C-SL), In room temperature, the load (kgf / cm) at the time of peeling 35 mm in the vertical direction at the speed of 50 mm / min was measured.

(8) 절연 신뢰성의 평가(8) evaluation of insulation reliability

원형으로 잘라낸 레지스트 테이프(닛토덴코(주) 제조, 에렙마스킹테이프 N380)을 샘플 B의 도체층 상에 붙이고, 염화제2철 수용액으로 30분간 침지시켰다. 레지스트 테이프가 붙어있지 않은 부분의 도체층을 제거하고, 절연층상에 원형의 도체층이 형성된 평가 기판을 제작하였다. 그 후, 절연층의 일부분을 깎음으로써 기초의 구리박을 노출시켰다. 그리고, 노출시킨 구리박과 원형의 도체층을 배선(와이어)으로 접속시켰다. 평가 기판의 배선에 직류 전원((주)다카사고세이사쿠쇼 제조, TP018-3D)을 접속하고, 130℃, 85% RH의 조건으로, 200시간, 3.3V의 전압을 부여하였다. 200시간 후에 저항값을 측정하고, 저항값이 1.0×108Ω 이상인 것을 「○」로 하고, 1.0×107Ω 이상 1.0×108Ω 미만인 것을 「△」로 하며, 1.0×107Ω 미만인 것을 「×」로 하였다.The resist tape cut out in a circular shape (Nepto Denko Co., Ltd. make, Erep masking tape N380) was stuck on the conductor layer of Sample B, and it was immersed for 30 minutes in the ferric chloride aqueous solution. The conductor layer of the part to which the resist tape did not adhere was removed, and the evaluation board | substrate with which the circular conductor layer was formed on the insulating layer was produced. Then, the base copper foil was exposed by shaving a part of insulating layer. And the exposed copper foil and the circular conductor layer were connected by wiring (wire). A DC power supply (TP018-3D, manufactured by Takasago Seisakusho Co., Ltd.) was connected to the wiring of the evaluation board, and a voltage of 3.3 V was applied for 200 hours under conditions of 130 ° C and 85% RH. After 200 hours the resistance value is measured, and that the resistance value is equal to or greater than 1.0 × 10 8 Ω as "○" in, and 1.0 × 10 7 Ω or more 1.0 × 10 8 Ω "△" is less than, 1.0 × 10 7 Ω under Was made into "x".

<유전 탄젠트의 측정> Measurement of Dielectric Tangent

각 실시예 및 각 비교예에서 얻어진 접착 필름을 190℃에서 90분간 열경화시켜, PET 필름을 박리하여 시트형상의 경화물을 얻었다. 그 경화물을, 폭 2 ㎜, 길이 80 ㎜의 시험편으로 절단하고, 간토덴시오요가이하츠(주) 제조 공동 공진기 섭동법 유전률 측정 장치 CP521 및 애질런트 테크놀로지(주) 제조 네트워크 애널라이저 E8362B를 사용하여, 공동 공진기 섭동법으로 측정 주파수 5.8 GHz에서 유전 탄젠트(tanδ)의 측정을 행하였다. 2개의 시험편에 관해서 측정을 행하고, 평균값을 산출하였다. The adhesive film obtained by each Example and each comparative example was thermosetted at 190 degreeC for 90 minutes, the PET film was peeled off, and the sheet-like hardened | cured material was obtained. The hardened | cured material is cut into the test piece of width 2mm and 80mm in length, and it uses the cavity resonator perturbation dielectric constant measuring apparatus CP521 and the Agilent Technology Co., Ltd. network analyzer E8362B manufactured by Kanto Toshio-Yogahaitsu Co., Ltd. The dielectric tangent (tan δ) was measured by the resonator perturbation method at a measurement frequency of 5.8 GHz. Two test pieces were measured and the average value was computed.

(실시예 1)(Example 1)

액상 비스페놀 A형 에폭시 수지(에폭시 당량 180, 미쓰비시가가꾸(주) 제조 「828US」) 10부와, 비페닐형 에폭시 수지(에폭시 당량 291, 니혼카야쿠(주) 제조 「NC3000H」) 20부를 메틸에틸케톤(이하 「MEK」라고 약칭함) 15부, 시클로헥사논 15부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 거기에, 활성 에스테르 화합물(DIC(주) 제조 「HPC8000-65T」, 활성 에스테르 당량 223, 고형분 65%의 톨루엔 용액) 28부, 트리아진 함유 크레졸노볼락 수지(DIC(주) 제조 「LA3018-50P」, 페놀 당량 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 7부, 경화 촉진제(고에가가꾸고교(주) 제조, 「4-디메틸아미노피리딘」) 0.1부, 구형 실리카(평균 입경 0.5 ㎛, 아미노실란 처리 부「SO-C2」,(주)애드마텍스 제조, 단위중량당 카본량 0.18%) 140부, 페녹시 수지(YL7553BH30, 고형분 30 질량%의 MEK와 시클로헥사논의 1:1 용액, 중량 평균 분자량 40000) 7부, 청색 안료(다이니치세이카(주) 제조, 시아닌블루 4920) 0.04부, 황색 안료(BASF(주) 제조, 파리오트롤옐로 K1841) 0.07부, 적색 안료(클라리언트재팬(주) 제조, PV Fast Pink E01) 0.08부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로, 이러한 수지 바니스를 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(두께 38 ㎛, 이하 「PET 필름」이라고 약칭함) 상에, 건조 후의 수지 두께가 40 ㎛가 되도록 다이코터로 도포하고, 80∼120℃(평균 100℃)에서 6분간 건조시켜, 시트형상의 접착 필름을 얻었다. 10 parts of liquid bisphenol A type epoxy resins (Epoxy equivalent 180, Mitsubishi Chemical Corporation make "828US") and 20 parts of biphenyl type epoxy resins (Epoxy equivalent 291, Nihon Kayaku Co., Ltd. make "NC3000H") It melt | dissolved by stirring, stirring 15 parts of ethyl ketones (it abbreviates as "MEK" hereafter), and 15 parts of cyclohexanone. There, 28 parts of active ester compounds (DIC Corporation make "HPC8000-65T", active ester equivalent weight 223, toluene solution of 65% of solid content), triazine containing cresol novolak resin (DIC Corporation make "LA3018-50P") Phenol, equivalent to 151, 7 parts of 2-methoxypropanol solution of 50% solid content), 0.1 parts of a curing accelerator (manufactured by Koega Chemical Industries, Ltd., "4-dimethylaminopyridine"), spherical silica (average particle size 0.5) Μm, aminosilane-treated part "SO-C2", manufactured by Admatex Co., Ltd., 140 parts of carbon amount per unit weight, 140 parts of phenoxy resin (YL7553BH30, solid content of 30% by mass of MEK and cyclohexanone 1: 1) 7 parts of a solution, a weight average molecular weight 40000), 0.04 parts of blue pigments (made by Daiichi Seika Co., Ltd., cyanine blue 4920), 0.07 parts of yellow pigments (BASF Co., Ltd., Paris Otrol Yellow K1841), red pigment (client Japan Co., Ltd., PV Fast Pink E01) 0.08 parts are mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to produce a resin varnish It was. Next, this resin varnish is applied onto a polyethylene terephthalate film (thickness 38 mu m, hereinafter abbreviated as "PET film") with a die coater so that the resin thickness after drying is 40 mu m, and 80 to 120 ° C (average 100 Drying at 6 ° C. for 6 minutes to obtain a sheet-like adhesive film.

(실시예 2)(Example 2)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를, 청색 안료 0.4부, 황색 안료 0.66부, 적색 안료 0.84부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that 0.04 parts of blue pigment, 0.07 parts of yellow pigment, 0.08 parts of red pigment, and 0.44 parts of blue pigment, 0.66 parts of yellow pigment, and 0.84 parts of red pigment of Example 1 were changed. It was. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 3)(Example 3)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를, 청색 안료 0.9부, 황색 안료 1.4부, 적색 안료 1.6부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that 0.04 part of blue pigment, 0.07 part of yellow pigment, 0.08 part of red pigment of Example 1 were changed to 0.9 part of blue pigment, 1.4 part of yellow pigment, and 1.6 part of red pigment. It was. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 4)(Example 4)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를, 카본 블랙 3부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that 0.04 part of blue pigment, 0.07 part of yellow pigment and 0.08 part of red pigment of Example 1 were changed to 3 parts of carbon black. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 5)(Example 5)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를, 고무 입자(간츠가세이(주) 제조 「AC3816N」) 3.5부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. The resin varnish was carried out in exactly the same manner as in Example 1 except that 0.04 parts of blue pigment, 0.07 parts of yellow pigment and 0.08 parts of red pigment of Example 1 were changed to 3.5 parts of rubber particles (Kantsu Chemical Co., Ltd. product "AC3816N"). Was produced. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 6)(Example 6)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를, 산화 방지제(BASF(주) 제조 「IRGANOX 1010」) 3.5부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. The resin varnish was made exactly the same as in Example 1 except that 0.04 parts of blue pigment, 0.07 parts of yellow pigment and 0.08 parts of red pigment of Example 1 were changed to 3.5 parts of antioxidant (BASF Co., Ltd. product "IRGANOX 1010"). Produced. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 7)(Example 7)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를, 적외선 흡수제((주)니혼쇼쿠바이 제조 「IR-14」) 3.5부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. Except for changing the blue pigment 0.04 part, the yellow pigment 0.07 part, and the red pigment 0.08 part of Example 1 to 3.5 parts of infrared absorbers ("IR-14" by Nihon Shokubai Co., Ltd.) A resin varnish was produced. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 8)(Example 8)

실시예 2의 구형 실리카(평균 입경 0.5 ㎛, 아미노실란 처리 부여 「SO-C2」, (주)애드마텍스제조, 단위중량당 카본량 0.18%) 140부를, 구형 실리카(평균 입경 0.25 ㎛, 아미노실란 처리 부여 「SO-C1」, (주)애드마텍스 제조, 단위중량당 카본량 0.8%) 100부로 변경한 것 이외에는, 실시예 2와 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. 140 parts of spherical silica (average particle diameter: 0.5 micrometer, aminosilane treatment provision "SO-C2", the admatex make, 0.18% of carbon amount per unit weight) 140 parts of spherical silica (average particle diameter: 0.25 micrometer, amino Except having changed into 100 parts of silane treatment provision "SO-C1", the product made by ADMATEX, and carbon amount per unit weight) 100 parts, it carried out similarly to Example 2, and produced the resin varnish. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

(실시예 9)(Example 9)

실시예 2와 동일한 접착 필름을 이용하였다. The same adhesive film as in Example 2 was used.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

실시예 1의 청색 안료 0.04부, 황색 안료 0.07부, 적색 안료 0.08부를 첨가하지 않는 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 바니스를 제작하였다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다. Except not adding 0.04 part of blue pigments of Example 1, 0.07 part of yellow pigments, and 0.08 part of red pigments, the resin varnish was produced like Example 1 completely. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

결과를 표 1에 나타낸다. The results are shown in Table 1.

Figure pat00002
Figure pat00002

표 1로부터 분명한 바와 같이 실시예에 있어서는, 저유전 탄젠트이며, 그리고 비아홀 내의 스미어 억제가 우수한 것을 알 수 있다. 또한, 실시예 1∼3, 5∼9에서는 절연 신뢰성도 특히 우수한 결과가 되고, 실시예 3, 8, 9에서는 스미어가 한층더 억제된 결과가 되었다. 한편, 비교예 1은 유전 탄젠트는 낮지만, 스미어가 남아 버리는 결과가 되었다. As is clear from Table 1, it can be seen that in the examples, it is a low dielectric tangent and has excellent smear suppression in the via holes. Moreover, in Examples 1-3, 5-9, the insulation reliability was also especially excellent, and in Examples 3, 8, 9, smear was further suppressed. On the other hand, in Comparative Example 1, although the dielectric tangent was low, smear remained.

산업상의 이용가능성Industrial availability

수지 조성물의 경화물의 저유전 탄젠트화를 달성할 수 있고, 그리고 경화물을 천공 가공하여 조화 처리한 후의 비아홀 내의 스미어를 억제할 수 있는 수지 조성물, 시트형상 적층 재료, 다층 프린트 배선판, 반도체 장치를 제공할 수 있게 되었다. 또한 이들을 탑재한 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털카메라, 텔레비전, 등의 전기제품이나, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박, 항공기, 등의 탈것도 제공할 수 있게 되었다.Provides a resin composition, a sheet-like laminated material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device capable of achieving low dielectric tangent of the cured product of the resin composition and suppressing smear in the via hole after the cured product is bored and roughened. I can do it. In addition, electric appliances such as computers, mobile phones, digital cameras, televisions, and the like, and vehicles such as motorcycles, automobiles, trams, ships, and aircrafts can be provided.

Claims (13)

(A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, (C) 스미어 억제 성분 및 (D) 무기 충전재를 함유하는 수지 조성물로서,
상기 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우에, (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량이 5 질량% 이상이고,
상기 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우에, (C) 스미어 억제 성분이 0.001~10 질량%이고,
상기 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우에, (D) 무기 충전재가 70 질량% 이상이고,
(C) 스미어 억제 성분이 고무 입자인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.
As a resin composition containing (A) epoxy resin, (B) active ester compound, (C) smear suppression component, and (D) inorganic filler,
In the case where the nonvolatile component of the resin composition is 100 mass%, the content of the (B) active ester compound is 5 mass% or more,
(C) smear suppression component is 0.001-10 mass% when the non volatile component of the said resin composition is 100 mass%,
When the non-volatile component of the resin composition is 100% by mass, the inorganic filler (D) is 70% by mass or more,
(C) Smear suppression component is a rubber particle, The resin composition characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량이 5~30 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물. The content of the (B) active ester compound is 5-30 mass%, when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%, The resin composition of Claim 1 characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량이 5~10 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The content of the (B) active ester compound is 5-10 mass%, when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%, The resin composition of Claim 1 characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, (D) 무기 충전재의 함유량이 70~85 질량%인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The content of the (D) inorganic filler is 70-85 mass%, when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%, The resin composition of Claim 1 characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서, 무기 충전재의 단위중량당 카본량이, 0.02~3 %인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein the carbon amount per unit weight of the inorganic filler is 0.02 to 3%. 제1항에 있어서, 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하고, 상기 절연층 표면을 조화 처리한 후의 상기 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기 Rq가 500 ㎚ 이하이며, 상기 절연층 표면에 도금하여 얻어지는 도체층과 상기 절연층과의 필 강도가 0.3 kgf/㎝ 이상이고, 수지 조성물의 경화물의 유전 탄젠트가 0.05이하인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The square root mean square roughness Rq of the said insulating layer surface after hardening a resin composition and forming an insulating layer, and roughening the said insulating layer surface is 500 nm or less, and is obtained by plating on the said insulating layer surface. The peel strength of a conductor layer and the said insulating layer is 0.3 kgf / cm or more, and the dielectric tangent of the hardened | cured material of a resin composition is 0.05 or less, The resin composition characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서, 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 것을 특징으로 하는 수지 조성물.The resin composition of Claim 1 which is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 함유하는 것을 특징으로 하는 시트형상 적층 재료.The resin composition as described in any one of Claims 1-7 is contained, The sheet-like laminated material characterized by the above-mentioned. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 절연층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 다층 프린트 배선판.An insulating layer is formed of the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 1-7, The multilayer printed wiring board characterized by the above-mentioned. 제9항에 기재된 다층 프린트 배선판을 이용하는 것을 특징으로 하는, 반도체 장치.The multilayer printed wiring board of Claim 9 is used, The semiconductor device characterized by the above-mentioned. 제8항에 기재된 시트형상 적층 재료를 회로 기판에 적층하고, 수지 조성물을 열경화하여 절연층을 형성하며, 회로 기판상에 형성된 절연층에 천공 가공하여 비아홀을 형성하는 것을 특징으로 하는 다층 프린트 배선판의 제조방법.The multilayer printed wiring board of claim 8, wherein the sheet-like laminate material is laminated on a circuit board, the resin composition is thermally cured to form an insulating layer, and a via hole is formed by punching through the insulating layer formed on the circuit board. Manufacturing method. 제11항에 있어서, 비아홀의 탑 지름(직경)이 60 ㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 다층 프린트 배선판의 제조방법.The method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 11, wherein the top diameter (diameter) of the via holes is 60 µm or less. 제11항에 있어서, 비아홀 바닥부의 벽면으로부터의 최대 스미어 길이가 5 ㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 다층 프린트 배선판의 제조방법. The method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 11, wherein the maximum smear length from the wall surface of the via hole bottom portion is less than 5 m.
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