KR20190100379A - Status analysis device, display method, and program - Google Patents
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Abstract
상태 분석 장치(10)는, 대상 장치(30)에 흐르는 전류 신호를 취득하는 전류 취득부(11)와, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 파라미터 산출부(12)와, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 미리 정해진 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 표시 정보 생성부(17)를 구비한다.The state analysis device 10 has a current acquiring unit 11 for acquiring a current signal flowing through the target device 30, and at the timing associated with a certain period, based on the current signal, according to the state of the target device. A parameter calculation unit 12 that calculates values of a plurality of parameters that vary and correlate with each other, and a predetermined threshold value as a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters. Generating display information on which a dividing line indicating a, a first figure indicating a value of the plurality of parameters associated with one timing, and a second figure indicating a change amount of values of the plurality of parameters calculated at different timings are generated; And a display information generating unit 17.
Description
본 발명은, 상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램에 관한 것이다.The present invention relates to a state analysis device, a display method, and a program.
본원은, 2017년 02월 06일에 일본에 출원된 특원 2017-019899호에 대해 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.This application claims priority about Japanese Patent Application No. 2017-019899 for which it applied to Japan on February 06, 2017, and uses the content here.
발전 플랜트 등의 설비에 있어서, 장치의 동작의 상태를 감시하기 위해서, 장치의 소정의 개소에 전류 클램프를 끼우고, 전류 신호를 측정하는 것이 이루어지고 있다. 이 경우, 감시 장치는, 측정된 전류 신호를 고속 푸리에 변환하는 것으로 전류의 주파수 영역 그래프를 생성하고, 화면에 표시한다(예를 들면, 특허 문헌 1을 참조). 그리고 검사자는, 표시된 주파수 영역 그래프를 관찰하고, 장치의 이상 검출 및 식별을 행한다. 구체적으로는, 검사자는, 주파수 영역 그래프의 관찰 결과로부터 장치의 소정의 동작을 나타내는 파라미터를 특정하고, 그 파라미터에 관련되는 동작의 상태를 특정한다.In facilities, such as a power plant, in order to monitor the state of the operation | movement of an apparatus, it inserts a current clamp in predetermined location of an apparatus, and measures a current signal. In this case, the monitoring device generates a frequency domain graph of the current by fast Fourier transforming the measured current signal and displays it on the screen (see
[선행 기술 문헌]Prior Art Literature
[특허문헌][Patent Documents]
[특허문헌 1] 일본 특허 제 5828948호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent No. 5828948
그렇지만, 주파수 영역 그래프의 독해에는 숙련이 필요하고, 숙련자가 아닌 사람에게는 주파수 영역 그래프로부터 장치의 상태를 식별하는 것은 곤란하다. 또, 주파수 영역 그래프는 장치의 순간적인 상태를 나타내지만, 과거의 상태로부터 어떻게 변화하고 있지는 주파수 영역 그래프에 나타나지 않는다. 그 때문에, 주파수 영역 그래프의 관찰만으로는, 장치의 상태 변화를 예측하는 것이 곤란하다. 게다가 주파수 영역 그래프로부터 특정한 파라미터에 의하면, 당해 파라미터에 관련되는 동작의 상태를 특정할 수가 있지만, 개별의 파라미터에 관련지어져 있지 않은 상태를 특정하는 것은 곤란하다.However, reading of the frequency domain graph requires skill, and it is difficult for an inexperienced person to identify the state of the device from the frequency domain graph. The frequency domain graph represents the instantaneous state of the device but does not appear in the frequency domain graph how it is changing from the past state. Therefore, it is difficult to predict the state change of the apparatus only by observing the frequency domain graph. Furthermore, according to the parameter specified from the frequency domain graph, it is possible to specify the state of the operation related to the parameter, but it is difficult to specify the state not related to the individual parameter.
본 발명의 목적은, 대상 장치의 상태 및 상태의 변화를 용이하게 식별할 수 있는 상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램을 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide a state analysis device, a display method, and a program that can easily identify a state and a change of state of a target device.
본 발명의 제 1 태양에 의하면, 상태 분석 장치는, 대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 전류 취득부와, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 파라미터 산출부와, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 미리 정해진 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 표시 정보 생성부를 구비한다.According to the first aspect of the present invention, a state analysis device includes a current acquisition unit for acquiring a current signal flowing through a target device, and the state of the target device based on the current signal at a timing associated with a predetermined period. A parameter calculator that calculates values of a plurality of parameters that vary and correlate with each other, and a dividing line indicating a predetermined threshold that is a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters; And display information for generating display information in which a first figure indicating a value of the plurality of parameters related to one timing and a second figure indicating a change amount of the value of the plurality of parameters calculated at different timings are arranged. It has a generation unit.
본 발명의 제 2 태양에 의하면, 제 1 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우에, 소정의 메세지를 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는 것이어도 좋다.According to the second aspect of the present invention, in the state analysis device according to the first aspect, the display information generation unit is a predetermined method when at least one of the plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold. The display information containing the message may be generated.
본 발명의 제 3 태양에 의하면, 제 1 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우와 상기 임계치를 넘지 않는 경우에서, 상기 제 1 도형의 표시 형태를 다르게 하는 것이어도 좋다.According to the third aspect of the present invention, in the state analysis device according to the first aspect, the display information generating unit includes a case in which at least one of the plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold and the threshold value; In the case of not exceeding, the display form of the first figure may be different.
본 발명의 제 4 태양에 의하면, 제 1 내지 제 3 중 어느 하나의 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 대상 장치의 상태는, 상기 대상 장치가 정상인 정상 상태, 상기 대상 장치가 이상인 이상 상태, 및 상기 대상 장치의 상태가 이상 상태로 천이할 수 있는 상태인 주의 상태를 포함하고, 상기 표시 정보 생성부는, 상기 구분선으로서 상기 정상 상태와 상기 주의 상태를 구분하는 제 1 구분선과, 상기 주의 상태와 상기 이상 상태를 구분하는 제 2 구분선을 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는 것이어도 좋다.According to the fourth aspect of the present invention, in the state analysis device according to any one of the first to third aspects, the state of the target device includes a normal state in which the target device is normal, an abnormal state in which the target device is abnormal, And a caution state in which the state of the target device is capable of transitioning to an abnormal state, wherein the display information generation unit comprises: a first division line which distinguishes the normal state from the caution state as the division line; The display information including the second dividing line for dividing the abnormal state may be generated.
본 발명의 제 5 태양에 의하면, 제 1 내지 제 4 중 어느 하나의 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 대상 장치는, 로터 주위로 회전하는 모터, 및 상기 로터와 함께 회전하는 보조 기기를 갖는 장치이고, 상기 복수의 파라미터는, 상기 대상 장치의 전반적인 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터 및 상기 보조 기기의 미스얼라인먼트의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 모터에 흐르는 전류의 실효치를 나타내는 파라미터, 상기 전류에 관련되는 전원의 품질을 나타내는 파라미터, 및 상기 보조 기기의 상태를 나타내는 파라미터로 이루어지는 군으로부터 선택된 복수의 파라미터인 것이어도 좋다.According to the fifth aspect of the present invention, in the state analysis device according to any one of the first to fourth aspects, the target device includes a motor that rotates around the rotor, and an auxiliary device that rotates with the rotor. And a plurality of parameters are parameters representing an overall state of the target device, a parameter representing a state of the rotor, a parameter representing a state of misalignment of the rotor and the auxiliary device, and an effective value of current flowing through the motor. It may be a some parameter selected from the group which consists of a parameter which shows, the parameter which shows the quality of the power supply related to the said electric current, and the parameter which shows the state of the said auxiliary apparatus.
본 발명의 제 6 태양에 의하면, 표시 방법은, 대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 표시하는 것을 포함한다.According to the sixth aspect of the present invention, the display method varies in accordance with the state of the target device based on the current signal at a timing associated with acquiring a current signal flowing through the target device and correlates with each other. Calculating a value of a plurality of parameters having a relationship, calculating an amount of change of the values of the plurality of parameters calculated at different timings, and in a coordinate space around each of the plurality of parameters, And displaying display information in which a dividing line indicating a threshold used as a criterion for the state, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing, and a second figure indicating the change amount are arranged.
본 발명의 제 7 태양에 의하면, 프로그램은, 컴퓨터에게, 대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 것을 실행시킨다.According to the seventh aspect of the present invention, the program varies with the computer depending on the state of the target device based on the current signal at the timing associated with acquiring a current signal flowing through the target device, and at a timing associated with a constant period. Calculating the values of a plurality of parameters having correlation with each other, calculating an amount of change of the values of the plurality of parameters calculated at different timings, and in a coordinate space with each of the plurality of parameters as an axis. Generating display information on which a dividing line indicating a threshold value, which is a criterion for determining the state of the apparatus, a first figure indicating a value of the plurality of parameters related to one timing, and a second figure indicating the change amount are arranged; Let's do it.
상기 태양 중 적어도 1개의 태양에 의하면, 상태 분석 장치는, 전류 신호로부터 파라미터를 산출하고, 당해 파라미터를 임계치를 나타내는 구분선과 함께 표시시키는 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 표시된 정보에 근거하여, 숙련을 필요로 하지 않고서도 대상 장치의 상태를 특정할 수가 있다. 또, 상태 분석 장치는, 파라미터의 변화량을 나타내는 도형을 표시시키는 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 표시된 정보에 근거하여 대상 장치의 상태의 천이를 인식할 수가 있다. 또, 상태 분석 장치는, 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 파라미터를 나타내는 도형을 배치한다. 이것에 의해, 파라미터 또는 파라미터의 변화량의 편향을 시인하는 것으로, 개별의 파라미터에 관련지어져 있지 않은 상태를 특정할 수가 있다.According to at least 1 aspect of the said aspect, a state analysis apparatus calculates a parameter from a current signal and produces | generates display information which displays this parameter with the division line which shows a threshold value. Thereby, based on the displayed information, the state of the target apparatus can be specified without requiring skill. In addition, the state analysis device generates display information for displaying a figure indicating the amount of change in the parameter. This makes it possible to recognize the transition of the state of the target device based on the displayed information. Moreover, the state analysis apparatus arrange | positions the figure which shows a parameter in the coordinate space which made the axis | shaft of each of the some parameter which has a mutual correlation. This makes it possible to identify a state not associated with an individual parameter by visually recognizing the deflection of the parameter or the amount of change in the parameter.
도 1은 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 시스템의 구성을 나타내는 개략도이다.
도 2는 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.
도 3은 제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 제 1 실시 형태에 관련되는 임계치 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 산출 처리를 나타내는 플로차트(flow chart)이다.
도 6은 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 표시 처리를 나타내는 플로차트이다.
도 7은 KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.
도 8은 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 적어도 1개의 실시 형태에 관련되는 컴퓨터의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a state analysis system according to the first embodiment.
2 is a schematic block diagram showing a configuration of a state analysis device according to the first embodiment.
3 is a diagram illustrating an example of information stored in a parameter storage unit according to the first embodiment.
4 is a diagram illustrating an example of information stored in a threshold storage unit according to the first embodiment.
FIG. 5 is a flowchart showing a current parameter calculation process by the state analysis device according to the first embodiment. FIG.
FIG. 6 is a flowchart showing current parameter display processing by the state analysis device according to the first embodiment. FIG.
7 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between a KI parameter and an Lpole parameter.
8 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an IHD parameter and a THD parameter.
9 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an Lpole parameter and an Lshaft parameter.
10 is a schematic block diagram showing a configuration of a computer according to at least one embodiment.
이하, 도면을 참조하면서 제 1 실시 형태에 대해 자세하게 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, 1st Embodiment is described in detail, referring drawings.
도 1은, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 시스템의 구성을 나타내는 개략도이다.1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a state analysis system according to the first embodiment.
제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 시스템(1)은, 상태 분석 장치(10), 표시 장치(20), 대상 장치(30), 삼상 교류 전원(40), 전력선(50), 클램프 전류계(60)를 구비한다.The
제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 검사 대상이 되는 대상 장치(30)의 상태를 나타내는 정보를 표시 장치(20)에 표시시킨다. 제 1 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)는, 삼상 교류 전원으로 구동하는 모터, 모터가 구비하는 로터와 함께 회전하는 펌프 또는 팬 등의 보조 기기를 구비하는 회전 기계 시스템이다. 대상 장치(30)는, 전력선(50)을 통해서 삼상 교류 전원(40)에 접속된다. 전력선(50)은 클램프 전류계(60)에 끼워 넣어진다. 상태 분석 시스템(1)은, 클램프 전류계(60)를 3개 구비하고 각 클램프 전류계(60)는 각각 다른 전력선을 끼워 넣는다. 한편, 다른 실시 형태에 있어서는, 상태 분석 시스템(1)은 클램프 전류계(60)를 1개 또는 2개 구비하고, 3개의 전력선(50) 중 일부의 전류를 계측하지 않는 것이도 좋다. 클램프 전류계(60)는, 전력선(50)을 흐르는 전류의 크기를 계측하고, 디지탈 신호(전류 신호)로서 상태 분석 장치(10)에 출력한다. 상태 분석 장치(10)는, 클램프 전류계(60)로부터 수신한 전류 신호에 근거하여, 대상 장치(30)의 상태를 나타내는 정보를 표시 장치(20)에 표시시킨다.The
도 2는, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.2 is a schematic block diagram showing a configuration of a state analysis device according to the first embodiment.
상태 분석 장치(10)는, 전류 취득부(11), 파라미터 산출부(12), 파라미터 기억부(13), 임계치 기억부(14), 그래프 생성부(15), 천이 검지부(16), 표시 제어부(17)를 구비한다.The
전류 취득부(11)는, 클램프 전류계(60)로부터 전력선(50)을 통해서 대상 장치(30)에 흐르는 전류 신호를 취득한다.The
파라미터 산출부(12)는, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 전류 취득부(11)가 취득한 전류 신호에 근거하여, 대상 장치(30)의 상태에 따라 변동하는 복수의 파라미터의 값을 산출한다. 이하, 파라미터 산출부(12)에 의해 산출되는 파라미터를, 전류 파라미터라고 부른다. 구체적인 전류 파라미터의 예에 대해서는, 후술한다. 파라미터 산출부(12)가 산출하는 복수의 전류 파라미터 중 적어도 2개는, 서로 상관 관계를 갖는 파라미터이다.The
파라미터 기억부(13)는, 파라미터 산출부(12)가 산출한 전류 파라미터의 값을 산출 시각에 관련지어 기억한다.The
임계치 기억부(14)는, 각 전류 파라미터에 대해, 대상 장치(30)의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 기억한다. 제 1 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)의 상태의 종별은, 대상 장치(30)가 정상인 정상 상태, 대상 장치(30)가 이상인 이상 상태, 및 대상 장치(30)의 상태가 이상 상태로 천이할 수 있는 상태인 주의 상태이다. 즉, 임계치 기억부(14)는, 각 전류 파라미터에 대해, 정상 상태와 주의 상태를 구분하는 제 1 임계치와, 주의 상태와 이상 상태를 구분하는 제 2 임계치를 기억한다.The
그래프 생성부(15)는, 파라미터 산출부(12)가 산출한 전류 파라미터의 값 및 전회의 전류 파라미터의 값으로부터 금회의 전류 파라미터의 값으로의 변화량을 나타내는 그래프 화상을 생성한다. 그래프 화상은, 서로 상관 관계를 갖는 2개의 전류 파라미터를 종축과 횡축으로 취한 그래프이다. 그래프 화상에는, 각 전류 파라미터에 관련되는 임계치를 나타내는 구분선과, 2개의 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯(제 1 도형)과 변화량을 나타내는 화살표(제 2 도형)가 배치된다.The
천이 검지부(16)는, 각 전류 파라미터의 값이, 임계치 기억부(14)가 기억하는 임계치를 넘어 변화한 것을 검지한다.The
표시 제어부(17)는, 그래프 생성부가 생성한 그래프 화면과, 천이 검지부(16)에 의한 검지 결과에 근거하여, 표시 장치(20)에 출력하는 표시 정보를 생성한다. 표시 제어부(17)는, 표시 정보 생성부의 일례이다.The
여기서, 제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 산출부(12)가 산출하는 전류 파라미터에 대해 설명한다.Here, the current parameter calculated by the
제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 산출부(12)는, KI 파라미터, Lpole 파라미터, Lshaft 파라미터, Irms 파라미터, THD 파라미터, IHD 파라미터, Lx 파라미터, Iub 파라미터를 산출한다.The
KI 파라미터는, 대상 장치(30)의 전반적인 상태를 나타내는 파라미터이다. KI 파라미터는, 전류 신호로부터 구해진 점검시 진폭 확률 밀도 함수 ft(x)와 모터의 정격 전류를 나타내는 기준 정현파 신호 파형의 참조 진폭 확률 밀도 변수 fr(x)에 대한 쿨벡라이블러 정보량이다. 구체적으로는, KI 파라미터는, 이하의 식(1)에 의해 구해진다.The KI parameter is a parameter representing the overall state of the
Lpole 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태를 나타내는 파라미터이다. Lpole 파라미터는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하여 얻어지는 주파수 스펙트럼 중, 전류 스펙트럼 피크를 중심으로 해서 소정 주파수분만큼 떨어진 주파수 위치에 있어서의 전류 스펙트럼의 측대파의 피크의 크기이다. Lpole 파라미터에 관련되는 측대파는, 모터의 폴 통과 주파수에 기인하여 변동하는 측대파이다.The Lpole parameter is a parameter representing the state of the rotor of the
Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터 및 보조 기기의 미스얼라인먼트의 상태를 나타내는 파라미터이다. Lshaft 파라미터는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하여 얻어지는 주파수 스펙트럼 중, 전류 스펙트럼 피크를 중심으로 해서 소정 주파수분만큼 떨어진 주파수 위치에 있어서의 전류 스펙트럼의 측대파의 피크의 크기에 의해 구해진다. Lshaft 파라미터에 관련되는 측대파는, 모터의 실 회전 주파수에 기인하여 변동하는 측대파이다.The Lshaft parameter is a parameter indicating a state of misalignment between the rotor of the
Irms 파라미터는, 대상 장치(30)의 회전 기계 부하 및 상태 변동을 감시하기 위한 파라미터이다. Irms 파라미터는, 각 샘플링 타이밍에 있어서의 전류치의 제곱합을 샘플링 타이밍수로 제산하고, 그 평방근을 구하는 것으로 얻을 수 있는, 전류 실효치이다.The Irms parameter is a parameter for monitoring the rotational mechanical load and state variation of the
IHD 파라미터는, 전류 신호의 최대 고조파 성분과 전원 주파수 성분의 비율이다. IHD 파라미터는, 전류 신호로부터 고조파 성분을 추출하고, 고조파 성분의 미리 설정한 차수 내에 있는 최대치를, 전원 주파수 실효치로 제산하는 것으로 얻을 수 있다.The IHD parameter is the ratio of the maximum harmonic component and the power supply frequency component of the current signal. The IHD parameter can be obtained by extracting harmonic components from the current signal and dividing the maximum value within a predetermined order of the harmonic components by the power source frequency effective value.
THD 파라미터는, 전류 신호의 모든 고조파 성분과 전원 주파수 성분의 비율이다. THD 파라미터는, 전류 신호로부터 고조파 성분을 추출하고, 미리 설정한 차수내에 있어서의 각 고조파 성분의 제곱합의 평방근을, 전류 신호의 전원 주파수 실효치로 제산하는 것으로 얻을 수 있다. IHD 파라미터 및 THD 파라미터는, 모두 삼상 교류 전원(40)의 품질을 나타내는 파라미터이다.The THD parameter is the ratio of all harmonic components and power supply frequency components of the current signal. The THD parameter can be obtained by extracting harmonic components from the current signal and dividing the square root of the sum of squares of each harmonic component in a predetermined order by the power source frequency effective value of the current signal. Both the IHD parameter and the THD parameter are parameters representing the quality of the three-phase
Lx 파라미터는, 대상 장치(30)의 보조 기기의 상태를 나타내는 파라미터이다. Lx 파라미터는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하여 얻어지는 주파수 스펙트럼 중, 전류 스펙트럼 피크를 중심으로 해서 소정 주파수분만큼 떨어진 주파수 위치에 있어서의 전류 스펙트럼의 측대파의 피크의 크기이다. Lx 파라미터에 관련되는 측대파는, 펌프 또는 블로어의 블레이드 통과 주파수에 기인하여 변동하는 측대파, 치차 장치의 이맞춤 주파수에 기인하여 변동하는 측대파, 풀리 벨트의 회전 주파수에 기인하여 변동하는 측대파, 또는 회전자 바의 미끄럼 주파수에 기인하여 변동하는 측대파에 기인하여 변동하는 측대파이다.The Lx parameter is a parameter representing the state of the auxiliary device of the
펌프 또는 블로어의 블레이드 통과 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lbp 파라미터라고 한다. 치차 장치의 이맞춤 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lgz 파라미터라고 한다. 풀리 벨트의 회전 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lbr 파라미터라고 한다. 또한 회전자 바의 미끄럼 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 어느 1개에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lrs 파라미터라고 한다. 펌프, 블로어, 치차 장치, 풀리 벨트, 회전자 바는, 대상 장치(30)의 보조 기기의 일례이다.The Lx parameter indicated by the magnitude of the peak of the sideband wave fluctuating due to the blade pass frequency of the pump or blower is called an Lbp parameter. The Lx parameter indicated by the magnitude of the peak of the sideband wave fluctuating due to the engagement frequency of the gear device is referred to as an Lgz parameter. The Lx parameter indicated by the magnitude of the peak of the sideband wave fluctuating due to the rotational frequency of the pulley belt is called an Lbr parameter. In addition, the Lx parameter represented by the magnitude | size of the peak of the sideband which fluctuates attributable to any one of the sidebands which fluctuates because of the sliding frequency of a rotor bar is called Lrs parameter. A pump, a blower, a gear, a pulley belt, and a rotor bar are examples of auxiliary equipment of the
Iub 파라미터는, 전원 품질 또는 모터의 고정자 및 인버터의 열화 상황을 나타내는 파라미터이다. Iub 파라미터는, 3상의 전류 신호의 전류 실효치 중의 최대치와 최소치의 차이를, 그 최대치와 최소치의 합으로 제산하는 것으로 구할 수가 있다. 즉, Iub 파라미터는, 전류 신호의 삼상 전류 밸런스를 나타내는 파라미터이다.The Iub parameter is a parameter indicating the power quality or the deterioration status of the stator of the motor and the inverter. The Iub parameter can be obtained by dividing the difference between the maximum value and the minimum value among the current effective values of the three-phase current signal by the sum of the maximum value and the minimum value. In other words, the Iub parameter is a parameter representing the three-phase current balance of the current signal.
KI 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 증가하고, Lpole 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, KI 파라미터와 Lpole 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.The KI parameter increases when the rotor deteriorates, and the Lpole parameter decreases when the rotor deteriorates. That is, the KI parameter and the Lpole parameter have a correlation with the state of the rotor of the
KI 파라미터는, 모터의 축계의 언발란스의 상태가 악화하면 증가하고, Lshaft 파라미터 및 각종 Lx 파라미터는, 모터의 축계의 언발란스의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, KI 파라미터와 Lshaft 파라미터와 각종 Lx 파라미터는, 대상 장치(30)의 모터의 축계의 언발란스의 상태에 대해 상관 관계를 가진다. 또, KI 파라미터는, 모터의 축계의 미스얼라인먼트의 상태가 악화하면 증가하고, Lshaft 파라미터는, 모터의 축계의 미스얼라인먼트의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, KI 파라미터와 Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 모터의 축계의 미스얼라인먼트의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.The KI parameter increases when the unbalanced state of the motor shaft system deteriorates, and the Lshaft parameter and various Lx parameters decrease when the unbalanced state of the motor shaft system deteriorates. That is, the KI parameter, the Lshaft parameter, and the various Lx parameters have a correlation with the unbalanced state of the shaft system of the motor of the
KI 파라미터와 Irms 파라미터는, 모두 부하 변동의 상태가 악화하면 증가한다. 즉, KI 파라미터와 Irms 파라미터는, 대상 장치(30)의 부하 변동의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.Both the KI parameter and the Irms parameter increase when the load fluctuation condition worsens. In other words, the KI parameter and the Irms parameter have a correlation with respect to the load fluctuation state of the
KI 파라미터와 THD 파라미터와 IHD 파라미터와 Iub 파라미터는, 모두 모터의 고정자의 상태, 또는 전원 품질이 악화하면 증가한다. 즉, KI 파라미터와 THD 파라미터와 IHD 파라미터와 Iub 파라미터는, 대상 장치(30)의 고정자의 상태 또는 전원 품질에 대해 상관 관계를 가진다.The KI parameters, the THD parameters, the IHD parameters, and the Iub parameters all increase when the stator of the motor or power quality deteriorates. That is, the KI parameter, the THD parameter, the IHD parameter, and the Iub parameter have a correlation with the state or power quality of the stator of the
Lpole 파라미터 및 Lshaft 파라미터는, 모두 모터의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.The Lpole and Lshaft parameters both decrease when the motor deteriorates. That is, the Lpole parameter and the Lshaft parameter have a correlation with the state of the rotor of the
도 3은, 제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다. 파라미터 기억부(13)는, 도 3에 나타내는 바와 같이, 일정한 주기(예를 들면, 반나절 또는 1일마다)에 관련되는 타이밍인 측정 시각마다, 당해 측정 시각, KI 파라미터, Lpole 파라미터, Lshaft 파라미터, Irms 파라미터, THD 파라미터, IHD 파라미터, Lx 파라미터, 및 Iub 파라미터를 관련지어 기억한다.3 is a diagram illustrating an example of information stored in the parameter storage unit according to the first embodiment. As shown in Fig. 3, the
도 4는, 제 1 실시 형태에 관련되는 임계치 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating an example of information stored in the threshold storage unit according to the first embodiment.
임계치 기억부(14)는, 도 4에 나타내는 바와 같이, KI 파라미터, Lpole 파라미터, Lshaft 파라미터, Irms 파라미터, THD 파라미터, IHD 파라미터, Lx 파라미터, 및 Iub 파라미터의 각각에 대해서, 정상 상태가 되는 값의 범위, 주의 상태가 되는 값의 범위, 및 이상 상태가 되는 값의 범위를 기억한다. 여기서, 정상 상태가 되는 값의 범위와 주의 상태가 되는 값의 범위를 구분하는 임계치는, 제 1 임계치이고, 주의 상태가 되는 값의 범위와 이상 상태가 되는 값의 범위를 구분하는 임계치는, 제 2 임계치다. 즉, 정상 상태가 되는 값의 범위, 주의 상태가 되는 값의 범위, 및 이상 상태가 되는 값의 범위를 기억하는 것은, 제 1 임계치 및 제 2 임계치를 기억하는 것과 등가이다.As shown in FIG. 4, the
제 1 실시 형태에 있어서는, 각 전류 파라미터에 대한 정상 상태가 되는 값의 범위, 주의 상태가 되는 값의 범위, 및 이상 상태가 되는 값의 범위는, 이하와 같다. 한편, 이하에 나타내는 범위는 어디까지나 일례이며, 다른 실시 형태에 대해서는 이것에 한정되지 않는다.In 1st Embodiment, the range of the value which becomes a steady state, the range of the value which becomes a attention state, and the range of the value which becomes an abnormal state with respect to each current parameter are as follows. In addition, the range shown below is an example to the last, and is not limited to this about other embodiment.
정상 상태가 되는 KI 파라미터의 값의 범위는, 1.0 미만이다. 주의 상태가 되는 KI 파라미터의 값의 범위는, 1.0 이상 동시에 1.5 미만이다. 이상 상태가 되는 KI 파라미터의 값의 범위는, 1.5 이상이다. 즉, KI 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 1.0이며, KI 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 1.5이다.The range of the value of the KI parameter to be in a steady state is less than 1.0. The range of values of the KI parameter to be in the attention state is 1.0 or more and less than 1.5. The range of the value of the KI parameter in an abnormal state is 1.5 or more. That is, the first threshold associated with the KI parameter is 1.0 and the second threshold associated with the KI parameter is 1.5.
정상 상태가 되는 Lpole 파라미터의 값의 범위는, 50dB 초과이다. 주의 상태가 되는 Lpole 파라미터의 값의 범위는, 40dB 초과 동시에 50dB 이하이다. 이상 상태가 되는 Lpole 파라미터의 값의 범위는, 40dB 이하이다. 즉, Lpole 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 50dB이며, Lpole 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 40dB이다.The range of the value of the Lpole parameter to be in a steady state is more than 50 dB. The range of values of the Lpole parameter to be in the attention state is more than 40 dB and 50 dB or less. The range of the value of the Lpole parameter in an abnormal state is 40 dB or less. That is, the first threshold associated with the Lpole parameter is 50 dB and the second threshold associated with the Lpole parameter is 40 dB.
정상 상태가 되는 Lshaft 파라미터의 값의 범위는, 50dB 초과이다. 주의 상태가 되는 Lshaft 파라미터의 값의 범위는, 40dB 초과 동시에 50dB 이하이다. 이상 상태가 되는 Lshaft 파라미터의 값의 범위는, 40dB 이하이다. 즉, Lshaft 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 50dB이며, Lshaft 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 40dB이다.The range of the Lshaft parameter value to be in a steady state is more than 50 dB. The range of the Lshaft parameter value to be in the attention state is more than 40 dB and less than 50 dB. The range of the Lshaft parameter value in an abnormal state is 40 dB or less. That is, the first threshold associated with the Lshaft parameter is 50 dB and the second threshold associated with the Lshaft parameter is 40 dB.
정상 상태가 되는 Irms 파라미터의 값의 범위는, 변동 ±10% 미만이다. 주의 상태가 되는 Irms 파라미터의 값의 범위는, 변동 ±10% 이상 동시에 변동 ±20% 미만이다. 이상 상태가 되는 Irms 파라미터의 값의 범위는, 변동 ±20% 이상이다. 즉, Irms 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 변동 ±10%이며, Irms 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 변동 ±20%이다.The range of the value of the Irms parameter to be in a steady state is less than ± 10% of variation. The range of the value of the Irms parameter to be in the attention state is not less than ± 10% of variation at the same time. The range of the value of the Irms parameter in an abnormal state is more than ± 20% of variation. That is, the first threshold associated with the Irms parameter is ± 10% of variation, and the second threshold associated with the Irms parameter is ± 20% of variation.
정상 상태가 되는 THD 파라미터의 값의 범위는, 5% 미만이다. 주의 상태가 되는 THD 파라미터의 값의 범위는, 5% 이상 동시에 10% 미만이다. 이상 상태가 되는 THD 파라미터의 값의 범위는, 10% 이상이다. 즉, THD 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 5%이며, THD 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 10%이다.The range of the value of the THD parameter to be in a steady state is less than 5%. The range of values of the THD parameter to be in the attention state is 5% or more and less than 10% at the same time. The range of the value of the THD parameter in an abnormal state is 10% or more. That is, the first threshold associated with the THD parameter is 5% and the second threshold associated with the THD parameter is 10%.
정상 상태가 되는 IHD 파라미터의 값의 범위는, 3% 미만이다. 주의 상태가 되는 IHD 파라미터의 값의 범위는, 3% 이상 동시에 5% 미만이다. 이상 상태가 되는 IHD 파라미터의 값의 범위는, 5% 이상이다. 즉, IHD 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 3%이며, IHD 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 5%이다.The range of the value of the IHD parameter to be in a steady state is less than 3%. The range of the value of the IHD parameter to the attention state is 3% or more and less than 5% at the same time. The range of the value of the IHD parameter in an abnormal state is 5% or more. That is, the first threshold associated with the IHD parameter is 3% and the second threshold associated with the IHD parameter is 5%.
정상 상태가 되는 Lx 파라미터의 값의 범위는, 50dB 초과이다. 주의 상태가 되는 Lx 파라미터의 값의 범위는, 40dB 초과 동시에 50dB 이하이다. 이상 상태가 되는 Lx 파라미터의 값의 범위는, 40dB 이하이다. 즉, Lx 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 50dB이며, Lx 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 40dB이다.The range of the value of the Lx parameter to be in a steady state is more than 50 dB. The range of the value of the Lx parameter to be in the attention state is more than 40 dB and 50 dB or less. The range of the value of the Lx parameter in an abnormal state is 40 dB or less. That is, the first threshold associated with the Lx parameter is 50 dB and the second threshold associated with the Lx parameter is 40 dB.
정상 상태가 되는 Iub 파라미터의 값의 범위는, 3% 미만이다. 주의 상태가 되는 Iub 파라미터의 값의 범위는, 3% 이상 동시에 5% 미만이다. 이상 상태가 되는 Iub 파라미터의 값의 범위는, 5% 이상이다. 즉, Iub 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 3%이며, Iub 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 5%이다.The range of the value of the Iub parameter to be in a steady state is less than 3%. The range of values of the Iub parameter to be in the attention state is 3% or more and less than 5% at the same time. The range of the value of the Iub parameter which turns into an abnormal state is 5% or more. That is, the first threshold associated with the Iub parameter is 3% and the second threshold associated with the Iub parameter is 5%.
여기서, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)의 동작에 대해 설명한다.Here, the operation of the
도 5는, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 산출 처리를 나타내는 플로차트이다.5 is a flowchart showing a current parameter calculation process by the state analysis device according to the first embodiment.
상태 분석 장치(10)는, 일정한 주기에 관련되는 타이밍마다, 전류 파라미터 산출 처리를 실행한다. 상태 분석 장치(10)의 전류 취득부(11)는, 클램프 전류계(60)로부터 전류 신호를 취득한다(스텝 S1). 또한, 전류 취득부(11)는, 샘플링 타이밍마다 전류 신호를 취득하고 있기 때문에, 전류 취득부(11)가 취득하는 전류 신호는, 일정 기간에 있어서의 전류의 크기의 변화를 나타낸다. 다음에, 파라미터 산출부(12)는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하고, 주파수 영역 파형을 생성한다(스텝 S2). 주파수 영역 변환의 수법으로서는, FFT를 들 수 있다.The
파라미터 산출부(12)는, 스텝 S1에서 취득한 전류 신호와 스텝 S2에서 생성한 주파수 영역 파형에 근거하여 전류 파라미터를 산출한다(스텝 S3). 파라미터 산출부(12)는, 산출한 전류 파라미터를, 현재 시각에 관련지어 파라미터 기억부(13)에 기록한다(스텝 S4).The
상태 분석 장치(10)는, 전술한 전류 파라미터 산출 처리를 일정한 주기에 관련되는 타이밍마다 실행하는 것으로, 파라미터 기억부(13)에 전류 파라미터의 시계열을 기록할 수가 있다.The
도 6은, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 표시 처리를 나타내는 플로차트이다.FIG. 6 is a flowchart showing current parameter display processing by the state analysis device according to the first embodiment. FIG.
상태 분석 장치(10)는, 이용자의 조작에 의해 전류 파라미터의 표시 지시가 이루어지면, 표시 대상의 전류 파라미터의 세트의 입력을 접수한다(스텝 S11). 전류 파라미터의 세트의 입력은, 상태 분석 장치(10)에 미리 설정된 서로 상관 관계를 갖는 파라미터 쌍(예를 들면, Lshaft 파라미터와 Lpole 파라미터의 쌍, THD 파라미터와 IHD 파라미터의 쌍, KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍 등)의 리스트 중에서 이용자에 의한 선택을 접수하는 것으로 이루어진다. 다른 실시 형태에 있어서는, 전류 파라미터의 세트의 입력은, 이용자에 의한 임의의 2개의 파라미터의 입력에 의해 이루어져도 좋다.The
다음에, 상태 분석 장치(10)의 그래프 생성부(15)는, 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터를 축 G1로 하는 좌표 공간을 묘화한다(스텝 S12). 즉, 그래프 생성부(15)는, 쌍을 이루는 전류 파라미터를 나타내는 직교하는 축 G1을 묘화한다. 본 실시 형태에 있어서 「묘화한다」란, 가상 공간(가상 평면) 상에 도형을 배치하는 것을 말한다. 다음에, 그래프 생성부(15)는, 임계치 기억부(14)로부터 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터에 관련지어진 제 1 임계치 및 제 2 임계치를 독출하고, 제 1 임계치를 나타내는 구분선 G2(제 1 구분선) 및 제 2 임계치를 나타내는 구분선 G2(제 2 구분선)를 묘화한다(스텝 S13). 하나의 전류 파라미터에 관련되는 임계치를 나타내는 구분선 G2는, 당해 하나의 전류 파라미터를 나타내는 축 G1에 평행한 선이다. 다음에, 그래프 생성부(15)는, 파라미터 기억부(13)로부터 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터의 값으로 마지막에 기록된 것(변화 후의 값)을 나타내는 플롯 G3를 좌표 공간상에 묘화한다(스텝 S14).Next, the
다음에, 그래프 생성부(15)는, 파라미터 기억부(13)로부터 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터의 값으로 최후로부터 2번째에 기록된 것(변화 전의 값)을 나타내는 좌표로부터, 변화 후의 값을 나타내는 좌표로 연장하는 화살표 G4를 좌표 공간상에 묘화한다(스텝 S15). 이때, 변화 전의 값에 관련지어진 측정 시각과 변화 후의 값에 관련지어진 측정 시각과의 차이는, 일정한 주기에 관련되는 시간과 동일하다. 또 화살표 G4는, 변화 전의 값과 변화 후의 값의 차이가 큰 만큼 길어진다. 즉, 화살표 G4는, 전류 파라미터의 변화량이 큰 만큼 길다.Next, the
다음에, 천이 검지부(16)는, 임계치 기억부(14)가 기억하는 제 1 임계치 및 제 2 임계치에 근거하여, 선택된 쌍에 관련되는 전류 파라미터 중 적어도 1개의 값이, 제 1 임계치 또는 제 2 임계치를 넘어 변화하였는지의 여부를 판정한다(스텝 S16). 전류 파라미터의 값이 제 1 임계치 또는 제 2 임계치를 넘어 변화한 경우(스텝 S16:YES), 그래프 생성부(15)는, 소정의 메세지(예를 들면, 「대상 장치(30)의 상태가 주의 상태로 변화했습니다」 등)를 묘화한다(스텝 S17). 또한, 당해 메세지는, 전류 파라미터의 값이 임계치를 넘은 타이밍부터 소정 시간을 경과할 때까지 표시가 계속된다. 한편, 다른 실시 형태에 있어서는, 전류 파라미터의 값이 제 1 임계치 또는 제 2 임계치를 넘어 상태가 악화하는 방향으로 변화한 경우에만, 소정의 메세지를 묘화해도 좋다. 또, 다른 실시 형태에 있어서는, 소정의 메세지의 묘화를 대신하여, 플롯 G3의 표시 형태를 다르게 해도 좋다. 플롯 G3의 표시 형태의 예로서는, 플롯 G3의 색, 플롯 G3의 크기, 플롯 G3의 점멸의 유무 등을 들 수 있다.Next, the
한편, 전류 파라미터의 값이 제 1 임계치 및 제 2 임계치를 넘지 않는 경우(스텝 S16:NO), 그래프 생성부(15)는, 소정의 메세지의 묘화를 실시하지 않는다.On the other hand, when the value of the current parameter does not exceed the first threshold value and the second threshold value (step S16: NO), the
그리고 표시 제어부(17)는, 그래프 생성부(15)가 묘화한 도형에 근거하여 표시 정보를 생성하고, 당해 표시 정보를 표시 장치(20)에 출력한다(스텝 S18). 이것에 의해, 표시 장치(20)는, 전류 파라미터의 임계치를 나타내는 구분선 G2와, 한 쌍의 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯 G3와, 다른 타이밍에 있어서 산출된 전류 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 화살표 G4가 배치된 그래프를 표시한다.And the
도 7은, KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.7 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between a KI parameter and an Lpole parameter.
스텝 S11에서 이용자가 KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 표시 장치(20)에는, 도 7에 나타내는 바와 같은 그래프가 표시된다. 도 7에 나타내는 그래프에 의하면, KI 파라미터와 Lpole 파라미터에 근거하여 대상 장치(30)의 상태를 판단할 수가 있다. KI 파라미터와 Lpole 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터 상태에 대해 상관 관계를 갖는다. 그 때문에, 이용자는, 도 7에 나타내는 그래프에 의해 대상 장치(30)의 로터의 상태를 용이하게 확인할 수가 있다. 구체적으로는, KI 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 증가하고, Lpole 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, 로터의 상태가 악화하면, 통상, 플롯 G3의 위치가 우하 방향으로 이동한다. 한편, 플롯 G3의 이동 방향이 우하 방향이 아닌 경우, 통상의 로터의 열화와는 다른 이벤트(事象)가 생기고 있다고 판단할 수가 있다. 이용자가 KI 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 이용자가 KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍을 선택한 경우에도, 표시 장치(20)에 도 7과 유사한 그래프가 표시된다.When the user selects a pair of the KI parameter and the Lpole parameter in step S11, the graph as shown in FIG. 7 is displayed on the
도 8은, IHD 파라미터와 THD 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.8 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an IHD parameter and a THD parameter.
스텝 S11에서 이용자가 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 표시 장치(20)에는, 도 8에 나타내는 바와 같은 그래프가 표시된다. 도 8에 나타내는 그래프에 의하면, IHD 파라미터와 THD 파라미터에 근거하여 대상 장치(30)의 상태를 판단할 수가 있다. IHD 파라미터와 THD 파라미터는, 대상 장치(30)의 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질에 대해 상관 관계를 갖는다. 그 때문에, 이용자는, 도 8에 나타내는 그래프에 의해 대상 장치(30)의 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질을 용이하게 확인할 수가 있다. 구체적으로는, IHD 파라미터 및 THD 파라미터는, 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질이 악화하면 증가한다. 즉, 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질이 악화하면, 통상, 플롯 G3의 위치가 우상 방향으로 이동한다. 한편, 플롯 G3의 이동 방향이 우상 방향이 아닌 경우, 통상의 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질의 열화와는 다른 이벤트가 생기고 있다고 판단할 수가 있다.When the user selects a pair of the IHD parameter and the THD parameter in step S11, the graph as shown in FIG. 8 is displayed on the
도 9는, Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.9 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an Lpole parameter and an Lshaft parameter.
스텝 S11에서 이용자가 Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 표시 장치(20)에는, 도 9에 나타내는 바와 같은 그래프가 표시된다. 도 9에 나타내는 그래프에 의하면, Lpole 파라미터와 Lshaft에 근거하여 대상 장치(30)의 상태를 판단할 수가 있다. Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태에 대해 상관 관계를 가진다. 그 때문에, 이용자는, 도 9에 나타내는 그래프에 의해 대상 장치(30)의 로터의 상태를 용이하게 확인할 수가 있다. 구체적으로는, Lpole 파라미터 및 Lshaft 파라미터는, 모터의 상태가 악화하면 감소한다. 여기서, Lpole 파라미터 및 Lshaft 파라미터는, 각각 모터가 다른 부위의 열화에 응하여 변화하는 파라미터이다. 따라서, 이용자는, 플롯 G3의 이동 방향의 기울기를 관찰하는 것으로, 모터에 있어서 이상이 발생하고 있는 개소를 추측할 수가 있다.When the user selects the pair of the Lpole parameter and the Lshaft parameter in step S11, the
한편, 각 전류 파라미터가 나타내는 대상 장치(30)의 상태를 확인하고 싶은 경우, 이용자는, KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, KI 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, 및 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프를 확인하면 좋다. 또는, 이용자는, Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, 및 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프를 확인하면 좋다.On the other hand, when the user wants to confirm the state of the
이와 같이, 제 1 실시 형태에 의하면, 상태 분석 장치(10)는, 서로 상관 관계를 갖는 복수의 전류 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 임계치를 나타내는 구분선 G2와, 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯 G3와, 전류 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 화살표 G4를 배치한 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 이용자는, 주파수 영역 그래프의 독해에 숙련되어 있지 않아도, 대상 장치(30)의 상태가 어떻게 변화하고 있는지를 인식할 수가 있다. 또, 전술한 바와 같이, 제 1 실시 형태에 의하면, 이용자는, 개별의 전류 파라미터에 관련지어진 상태 이외의 상태에 대해서도 인식하는 것이 가능하다. 한편, 다른 실시 형태로서는, 전류 파라미터의 값을 플롯 G3 이외의 도형으로 나타내도 좋다. 예를 들면, 제 1 실시 형태의 화살표 G4는, 전류 파라미터의 변화량을 나타내는 도형이지만, 그 앨로우 헤드는 하나의 타이밍에 관련되는 전류 파라미터의 값을 나타내기 때문에, 당해 화살표 G4도 전류 파라미터의 값을 나타내는 도형이라고 할 수 있다. 또, 다른 실시 형태로서는, 전류 파라미터의 변화량을 화살표 G4 이외의 도형으로 나타내도 좋다. 예를 들면, 전류 파라미터의 변화량의 크기를 차트 표시해도 좋고, 플롯 G3의 색에 의해 나타내도 좋다.Thus, according to 1st Embodiment, the
또, 제 1 실시 형태에 의하면, 상태 분석 장치(10)는, 다른 타이밍에 관련되는 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 임계치를 넘는 경우에, 소정의 메세지를 포함하는 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 이용자는, 대상 장치(30)의 상태가 변화한 것을 조급히 인식할 수가 있다. 한편, 다른 실시 형태에 있어서는, 상태 분석 장치(10)는, 다른 타이밍에 관련되는 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 임계치를 넘는 경우와 임계치를 넘지 않는 경우에서, 플롯 G3의 표시 형태를 다르게 해도 좋다. 이것에 의해도, 제 1 실시 형태와 마찬가지로, 이용자는, 대상 장치(30)의 상태가 변화한 것을 조급히 인식할 수가 있다.Moreover, according to 1st Embodiment, the
이상, 도면을 참조하여 일실시 형태에 대해 자세하게 설명해 왔지만, 구체적인 구성은 전술의 것에 한정되는 것은 아니고, 여러가지 설계 변경 등을 하는 것이 가능하다.As mentioned above, although one Embodiment was described in detail with reference to drawings, a specific structure is not limited to the above-mentioned thing, Various design changes, etc. are possible.
예를 들면, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 전류 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프를 표시 장치(20)에 표시시키지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 3개 이상의 전류 파라미터의 세트에 관련되는 고차원 그래프를 표시 장치(20)에 표시시켜도 좋다.For example, although the
또, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 서로 상관 관계를 갖는 복수의 전류 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 임계치를 나타내는 구분선 G2와, 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯 G3를 배치한 표시 정보를 생성하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 하나의 시각에 관련되는 하나의 전류 파라미터의 값과, 그 변화량을 나타내는 표시 정보를 생성해도 좋다. 이러한 실시 형태이어도, 이용자는, 대상 장치(30)의 상태가 어떻게 변화하고 있는지를 인식할 수 있다.Moreover, the
또, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 자신에게 직접 접속된 표시 장치(20)에 표시 정보를 출력하는 것으로 표시 제어를 행하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 표시 제어를 행하지 않고, 표시 정보를 기억 매체에 기록하거나, 네트워크를 통해서 접속된 다른 표시 장치(20)에 표시 정보를 송신해도 좋다.In addition, although the
또, 전술한 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)는, 모터와 보조 기기가 같은 축으로 회전하는 회전 기계 시스템이지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)는, 모터와 보조 기기가 치차 장치 등의 기계계를 개재해서 접속되는 것이어도 좋다.Moreover, although the
또, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 대상 장치(30)의 상태를 정상 상태, 이상 상태, 주의 상태의 3개의 구분으로 분류하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 정상 상태와 이상 상태의 2개의 구분으로 분류해도 좋고, 4개 이상의 구분으로 분류해도 좋다.Moreover, although the
도 10은, 적어도 1개의 실시 형태에 관련되는 컴퓨터의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.10 is a schematic block diagram showing a configuration of a computer according to at least one embodiment.
컴퓨터(90)는, CPU(91), 주 기억 장치(92), 보조 기억 장치(93), 인터페이스 (94)를 구비한다.The
전술한 상태 분석 장치(10)는, 컴퓨터(90)에 실장된다. 그리고 전술한 각 처리부의 동작은, 프로그램의 형식으로 보조 기억 장치(93)에 기억되어 있다. CPU(91)는, 프로그램을 보조 기억 장치(93)로부터 읽어내어 주 기억 장치(92)에 전개하고, 당해 프로그램에 따라 상기 처리를 실행한다. 또, CPU(91)는, 프로그램에 따라, 전술한 각 기억부에 대응하는 기억 영역을 주 기억 장치(92)에 확보한다.The
보조 기억 장치(93)의 예로서는, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Drive), 자기 디스크, 광 자기 디스크, CD-ROM(Compact Disc Read Only Memory), DVD-ROM(Digital Versatile Disc Read Only Memory), 반도체 메모리 등을 들 수 있다. 보조 기억 장치(93)는, 컴퓨터(90)의 버스에 직접 접속된 내부 미디어이어도 좋고, 인터페이스(94) 또는 통신 회선을 통해서 컴퓨터(90)에 접속되는 외부 미디이어도 좋다. 또, 이 프로그램이 통신 회선에 의해 컴퓨터(90)에 전달되는 경우, 전달을 받은 컴퓨터(90)가 당해 프로그램을 주 기억 장치(92)에 전개하고, 상기 처리를 실행해도 좋다. 적어도 1개의 실시 형태에 있어서, 보조 기억 장치(93)는, 일시적이 아닌 유형의 기억 매체이다.Examples of the
또, 당해 프로그램은, 전술한 기능의 일부를 실현하기 위한 것이어도 좋다. 또한, 당해 프로그램은, 전술한 기능을 보조 기억 장치(93)에 이미 기억되고 있는 다른 프로그램과의 조합으로 실현되는 것, 이른바 차분 파일(차분 프로그램)이어도 좋다.The program may be for realizing some of the functions described above. The program may be implemented by combining the above-described function with another program already stored in the
(산업상의 이용 가능성)(Industrial availability)
본원에 관련되는 상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램에 의하면, 대상 장치의 상태 및 상태의 변화를 용이하게 식별할 수가 있다.According to the state analysis device, the display method, and the program which concern on this application, the state of a target apparatus and a change of state can be identified easily.
1: 상태 분석 시스템
10: 상태 분석 장치
11: 전류 취득부
12: 파라미터 산출부
13: 파라미터 기억부
14: 임계치 기억부
15: 그래프 생성부
16: 천이 검지부
17: 표시 제어부
20: 표시 장치
30: 대상 장치
40: 삼상 교류 전원
50: 전력선
60: 클램프 전류계
G1: 축
G2: 구분선
G3: 플롯
G4: 화살표1: condition analysis system
10: health analysis device
11: current acquisition unit
12: parameter calculation unit
13: Parameter memory
14: threshold memory
15: graph generator
16: Transition Detector
17: display control unit
20: display device
30: Target device
40: three phase AC power
50: power line
60: clamp ammeter
G1: shaft
G2: Divider
G3: Plot
G4: arrow
Claims (7)
일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 파라미터 산출부와,
상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 미리 정해진 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 표시 정보 생성부
를 구비하는 상태 분석 장치.
A current acquisition unit for acquiring a current signal flowing through the target device;
A parameter calculator that calculates values of a plurality of parameters that vary according to the state of the target device and correlate with each other, based on the current signal, at a timing associated with a predetermined period;
A division line indicating a predetermined threshold value, which is a criterion for determining the state of the target device, in a coordinate space around each of the plurality of parameters, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing; And a display information generation unit for generating display information in which a second figure indicating an amount of change in the value of the plurality of parameters calculated at different timings is arranged.
Condition analysis device provided with.
상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우에, 소정의 메세지를 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는 상태 분석 장치.
The method of claim 1,
And the display information generating unit generates the display information including a predetermined message when at least one of the plurality of parameters related to another timing exceeds the threshold.
상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우와 상기 임계치를 넘지 않는 경우에서, 상기 제 1 도형의 표시 형태를 다르게 하는 상태 분석 장치.
The method according to claim 1 or 2,
And the display information generation unit changes the display form of the first figure when the value of at least one of the plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold and does not exceed the threshold.
상기 대상 장치의 상태는, 상기 대상 장치가 정상인 정상 상태, 상기 대상 장치가 이상인 이상 상태, 및 상기 대상 장치의 상태가 이상 상태로 천이할 수 있는 상태인 주의 상태를 포함하고,
상기 표시 정보 생성부는, 상기 구분선으로서, 상기 정상 상태와 상기 주의 상태를 구분하는 제 1 구분선과, 상기 주의 상태와 상기 이상 상태를 구분하는 제 2 구분선을 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는
상태 분석 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The state of the target device includes a normal state in which the target device is normal, an abnormal state in which the target device is abnormal, and a caution state in which the state of the target device can transition to an abnormal state,
The display information generation unit may generate the display information including the first division line for dividing the normal state and the attention state and the second division line for dividing the attention state and the abnormal state as the dividing line.
Health analysis device.
상기 대상 장치는, 로터 주위로 회전하는 모터, 및 상기 로터와 함께 회전하는 보조 기기를 갖는 장치이고,
상기 복수의 파라미터는, 상기 대상 장치의 전반적인 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터 및 상기 보조 기기의 미스얼라인먼트의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 모터에 흐르는 전류의 실효치를 나타내는 파라미터, 상기 전류에 관련되는 전원의 품질을 나타내는 파라미터, 및 상기 보조 기기의 상태를 나타내는 파라미터로 이루어지는 군으로부터 선택된 복수의 파라미터인
상태 분석 장치.
The method according to any one of claims 1 to 4,
The target device is a device having a motor that rotates around the rotor, and an auxiliary device that rotates with the rotor,
The plurality of parameters may include a parameter representing an overall state of the target device, a parameter representing a state of the rotor, a parameter representing a state of misalignment of the rotor and the auxiliary device, a parameter representing an effective value of current flowing through the motor, And a plurality of parameters selected from the group consisting of a parameter representing a quality of a power source related to the current, and a parameter representing a state of the auxiliary device.
Health analysis device.
일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과,
다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과,
상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 표시하는 것
을 포함하는 표시 방법.
Acquiring a current signal flowing through the target device;
Calculating a value of a plurality of parameters that vary according to the state of the target device and correlate with each other, based on the current signal, at a timing associated with a constant period;
Calculating a change amount of the values of the plurality of parameters calculated at different timings,
A division line indicating a threshold value as a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing, and the Displaying display information in which a second figure representing a change amount is arranged
Display method comprising a.
대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과,
일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과,
다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과,
상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 것
을 실행시키기 위한 프로그램.To the computer,
Acquiring a current signal flowing through the target device;
Calculating a value of a plurality of parameters that vary according to the state of the target device and correlate with each other, based on the current signal, at a timing associated with a constant period;
Calculating a change amount of the values of the plurality of parameters calculated at different timings,
A division line indicating a threshold value as a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing, and the Generating display information in which a second figure representing a change amount is arranged
Program to run.
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