KR20190100379A - Status analysis device, display method, and program - Google Patents

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신타로 구마노
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미츠비시 히타치 파워 시스템즈 가부시키가이샤
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Abstract

상태 분석 장치(10)는, 대상 장치(30)에 흐르는 전류 신호를 취득하는 전류 취득부(11)와, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 파라미터 산출부(12)와, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 미리 정해진 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 표시 정보 생성부(17)를 구비한다.The state analysis device 10 has a current acquiring unit 11 for acquiring a current signal flowing through the target device 30, and at the timing associated with a certain period, based on the current signal, according to the state of the target device. A parameter calculation unit 12 that calculates values of a plurality of parameters that vary and correlate with each other, and a predetermined threshold value as a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters. Generating display information on which a dividing line indicating a, a first figure indicating a value of the plurality of parameters associated with one timing, and a second figure indicating a change amount of values of the plurality of parameters calculated at different timings are generated; And a display information generating unit 17.

Description

상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램Status analysis device, display method, and program

본 발명은, 상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램에 관한 것이다.The present invention relates to a state analysis device, a display method, and a program.

본원은, 2017년 02월 06일에 일본에 출원된 특원 2017-019899호에 대해 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.This application claims priority about Japanese Patent Application No. 2017-019899 for which it applied to Japan on February 06, 2017, and uses the content here.

발전 플랜트 등의 설비에 있어서, 장치의 동작의 상태를 감시하기 위해서, 장치의 소정의 개소에 전류 클램프를 끼우고, 전류 신호를 측정하는 것이 이루어지고 있다. 이 경우, 감시 장치는, 측정된 전류 신호를 고속 푸리에 변환하는 것으로 전류의 주파수 영역 그래프를 생성하고, 화면에 표시한다(예를 들면, 특허 문헌 1을 참조). 그리고 검사자는, 표시된 주파수 영역 그래프를 관찰하고, 장치의 이상 검출 및 식별을 행한다. 구체적으로는, 검사자는, 주파수 영역 그래프의 관찰 결과로부터 장치의 소정의 동작을 나타내는 파라미터를 특정하고, 그 파라미터에 관련되는 동작의 상태를 특정한다.In facilities, such as a power plant, in order to monitor the state of the operation | movement of an apparatus, it inserts a current clamp in predetermined location of an apparatus, and measures a current signal. In this case, the monitoring device generates a frequency domain graph of the current by fast Fourier transforming the measured current signal and displays it on the screen (see Patent Document 1, for example). The inspector then observes the displayed frequency domain graph and performs abnormality detection and identification of the device. Specifically, the inspector specifies a parameter indicating a predetermined operation of the device from the observation result of the frequency domain graph, and specifies the state of the operation related to the parameter.

[선행 기술 문헌]Prior Art Literature

[특허문헌][Patent Documents]

[특허문헌 1] 일본 특허 제 5828948호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent No. 5828948

그렇지만, 주파수 영역 그래프의 독해에는 숙련이 필요하고, 숙련자가 아닌 사람에게는 주파수 영역 그래프로부터 장치의 상태를 식별하는 것은 곤란하다. 또, 주파수 영역 그래프는 장치의 순간적인 상태를 나타내지만, 과거의 상태로부터 어떻게 변화하고 있지는 주파수 영역 그래프에 나타나지 않는다. 그 때문에, 주파수 영역 그래프의 관찰만으로는, 장치의 상태 변화를 예측하는 것이 곤란하다. 게다가 주파수 영역 그래프로부터 특정한 파라미터에 의하면, 당해 파라미터에 관련되는 동작의 상태를 특정할 수가 있지만, 개별의 파라미터에 관련지어져 있지 않은 상태를 특정하는 것은 곤란하다.However, reading of the frequency domain graph requires skill, and it is difficult for an inexperienced person to identify the state of the device from the frequency domain graph. The frequency domain graph represents the instantaneous state of the device but does not appear in the frequency domain graph how it is changing from the past state. Therefore, it is difficult to predict the state change of the apparatus only by observing the frequency domain graph. Furthermore, according to the parameter specified from the frequency domain graph, it is possible to specify the state of the operation related to the parameter, but it is difficult to specify the state not related to the individual parameter.

본 발명의 목적은, 대상 장치의 상태 및 상태의 변화를 용이하게 식별할 수 있는 상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램을 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide a state analysis device, a display method, and a program that can easily identify a state and a change of state of a target device.

본 발명의 제 1 태양에 의하면, 상태 분석 장치는, 대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 전류 취득부와, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 파라미터 산출부와, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 미리 정해진 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 표시 정보 생성부를 구비한다.According to the first aspect of the present invention, a state analysis device includes a current acquisition unit for acquiring a current signal flowing through a target device, and the state of the target device based on the current signal at a timing associated with a predetermined period. A parameter calculator that calculates values of a plurality of parameters that vary and correlate with each other, and a dividing line indicating a predetermined threshold that is a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters; And display information for generating display information in which a first figure indicating a value of the plurality of parameters related to one timing and a second figure indicating a change amount of the value of the plurality of parameters calculated at different timings are arranged. It has a generation unit.

본 발명의 제 2 태양에 의하면, 제 1 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우에, 소정의 메세지를 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는 것이어도 좋다.According to the second aspect of the present invention, in the state analysis device according to the first aspect, the display information generation unit is a predetermined method when at least one of the plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold. The display information containing the message may be generated.

본 발명의 제 3 태양에 의하면, 제 1 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우와 상기 임계치를 넘지 않는 경우에서, 상기 제 1 도형의 표시 형태를 다르게 하는 것이어도 좋다.According to the third aspect of the present invention, in the state analysis device according to the first aspect, the display information generating unit includes a case in which at least one of the plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold and the threshold value; In the case of not exceeding, the display form of the first figure may be different.

본 발명의 제 4 태양에 의하면, 제 1 내지 제 3 중 어느 하나의 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 대상 장치의 상태는, 상기 대상 장치가 정상인 정상 상태, 상기 대상 장치가 이상인 이상 상태, 및 상기 대상 장치의 상태가 이상 상태로 천이할 수 있는 상태인 주의 상태를 포함하고, 상기 표시 정보 생성부는, 상기 구분선으로서 상기 정상 상태와 상기 주의 상태를 구분하는 제 1 구분선과, 상기 주의 상태와 상기 이상 상태를 구분하는 제 2 구분선을 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는 것이어도 좋다.According to the fourth aspect of the present invention, in the state analysis device according to any one of the first to third aspects, the state of the target device includes a normal state in which the target device is normal, an abnormal state in which the target device is abnormal, And a caution state in which the state of the target device is capable of transitioning to an abnormal state, wherein the display information generation unit comprises: a first division line which distinguishes the normal state from the caution state as the division line; The display information including the second dividing line for dividing the abnormal state may be generated.

본 발명의 제 5 태양에 의하면, 제 1 내지 제 4 중 어느 하나의 태양에 관련되는 상태 분석 장치는, 상기 대상 장치는, 로터 주위로 회전하는 모터, 및 상기 로터와 함께 회전하는 보조 기기를 갖는 장치이고, 상기 복수의 파라미터는, 상기 대상 장치의 전반적인 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터 및 상기 보조 기기의 미스얼라인먼트의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 모터에 흐르는 전류의 실효치를 나타내는 파라미터, 상기 전류에 관련되는 전원의 품질을 나타내는 파라미터, 및 상기 보조 기기의 상태를 나타내는 파라미터로 이루어지는 군으로부터 선택된 복수의 파라미터인 것이어도 좋다.According to the fifth aspect of the present invention, in the state analysis device according to any one of the first to fourth aspects, the target device includes a motor that rotates around the rotor, and an auxiliary device that rotates with the rotor. And a plurality of parameters are parameters representing an overall state of the target device, a parameter representing a state of the rotor, a parameter representing a state of misalignment of the rotor and the auxiliary device, and an effective value of current flowing through the motor. It may be a some parameter selected from the group which consists of a parameter which shows, the parameter which shows the quality of the power supply related to the said electric current, and the parameter which shows the state of the said auxiliary apparatus.

본 발명의 제 6 태양에 의하면, 표시 방법은, 대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 표시하는 것을 포함한다.According to the sixth aspect of the present invention, the display method varies in accordance with the state of the target device based on the current signal at a timing associated with acquiring a current signal flowing through the target device and correlates with each other. Calculating a value of a plurality of parameters having a relationship, calculating an amount of change of the values of the plurality of parameters calculated at different timings, and in a coordinate space around each of the plurality of parameters, And displaying display information in which a dividing line indicating a threshold used as a criterion for the state, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing, and a second figure indicating the change amount are arranged.

본 발명의 제 7 태양에 의하면, 프로그램은, 컴퓨터에게, 대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과, 상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 것을 실행시킨다.According to the seventh aspect of the present invention, the program varies with the computer depending on the state of the target device based on the current signal at the timing associated with acquiring a current signal flowing through the target device, and at a timing associated with a constant period. Calculating the values of a plurality of parameters having correlation with each other, calculating an amount of change of the values of the plurality of parameters calculated at different timings, and in a coordinate space with each of the plurality of parameters as an axis. Generating display information on which a dividing line indicating a threshold value, which is a criterion for determining the state of the apparatus, a first figure indicating a value of the plurality of parameters related to one timing, and a second figure indicating the change amount are arranged; Let's do it.

상기 태양 중 적어도 1개의 태양에 의하면, 상태 분석 장치는, 전류 신호로부터 파라미터를 산출하고, 당해 파라미터를 임계치를 나타내는 구분선과 함께 표시시키는 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 표시된 정보에 근거하여, 숙련을 필요로 하지 않고서도 대상 장치의 상태를 특정할 수가 있다. 또, 상태 분석 장치는, 파라미터의 변화량을 나타내는 도형을 표시시키는 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 표시된 정보에 근거하여 대상 장치의 상태의 천이를 인식할 수가 있다. 또, 상태 분석 장치는, 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 파라미터를 나타내는 도형을 배치한다. 이것에 의해, 파라미터 또는 파라미터의 변화량의 편향을 시인하는 것으로, 개별의 파라미터에 관련지어져 있지 않은 상태를 특정할 수가 있다.According to at least 1 aspect of the said aspect, a state analysis apparatus calculates a parameter from a current signal and produces | generates display information which displays this parameter with the division line which shows a threshold value. Thereby, based on the displayed information, the state of the target apparatus can be specified without requiring skill. In addition, the state analysis device generates display information for displaying a figure indicating the amount of change in the parameter. This makes it possible to recognize the transition of the state of the target device based on the displayed information. Moreover, the state analysis apparatus arrange | positions the figure which shows a parameter in the coordinate space which made the axis | shaft of each of the some parameter which has a mutual correlation. This makes it possible to identify a state not associated with an individual parameter by visually recognizing the deflection of the parameter or the amount of change in the parameter.

도 1은 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 시스템의 구성을 나타내는 개략도이다.
도 2는 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.
도 3은 제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 제 1 실시 형태에 관련되는 임계치 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 산출 처리를 나타내는 플로차트(flow chart)이다.
도 6은 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 표시 처리를 나타내는 플로차트이다.
도 7은 KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.
도 8은 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 적어도 1개의 실시 형태에 관련되는 컴퓨터의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.
1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a state analysis system according to the first embodiment.
2 is a schematic block diagram showing a configuration of a state analysis device according to the first embodiment.
3 is a diagram illustrating an example of information stored in a parameter storage unit according to the first embodiment.
4 is a diagram illustrating an example of information stored in a threshold storage unit according to the first embodiment.
FIG. 5 is a flowchart showing a current parameter calculation process by the state analysis device according to the first embodiment. FIG.
FIG. 6 is a flowchart showing current parameter display processing by the state analysis device according to the first embodiment. FIG.
7 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between a KI parameter and an Lpole parameter.
8 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an IHD parameter and a THD parameter.
9 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an Lpole parameter and an Lshaft parameter.
10 is a schematic block diagram showing a configuration of a computer according to at least one embodiment.

이하, 도면을 참조하면서 제 1 실시 형태에 대해 자세하게 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, 1st Embodiment is described in detail, referring drawings.

도 1은, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 시스템의 구성을 나타내는 개략도이다.1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a state analysis system according to the first embodiment.

제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 시스템(1)은, 상태 분석 장치(10), 표시 장치(20), 대상 장치(30), 삼상 교류 전원(40), 전력선(50), 클램프 전류계(60)를 구비한다.The state analysis system 1 which concerns on 1st Embodiment is the state analysis apparatus 10, the display apparatus 20, the target apparatus 30, the three-phase AC power supply 40, the power line 50, and the clamp ammeter 60 ).

제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 검사 대상이 되는 대상 장치(30)의 상태를 나타내는 정보를 표시 장치(20)에 표시시킨다. 제 1 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)는, 삼상 교류 전원으로 구동하는 모터, 모터가 구비하는 로터와 함께 회전하는 펌프 또는 팬 등의 보조 기기를 구비하는 회전 기계 시스템이다. 대상 장치(30)는, 전력선(50)을 통해서 삼상 교류 전원(40)에 접속된다. 전력선(50)은 클램프 전류계(60)에 끼워 넣어진다. 상태 분석 시스템(1)은, 클램프 전류계(60)를 3개 구비하고 각 클램프 전류계(60)는 각각 다른 전력선을 끼워 넣는다. 한편, 다른 실시 형태에 있어서는, 상태 분석 시스템(1)은 클램프 전류계(60)를 1개 또는 2개 구비하고, 3개의 전력선(50) 중  일부의 전류를 계측하지 않는 것이도 좋다. 클램프 전류계(60)는, 전력선(50)을 흐르는 전류의 크기를 계측하고, 디지탈 신호(전류 신호)로서 상태 분석 장치(10)에 출력한다. 상태 분석 장치(10)는, 클램프 전류계(60)로부터 수신한 전류 신호에 근거하여, 대상 장치(30)의 상태를 나타내는 정보를 표시 장치(20)에 표시시킨다.The state analysis device 10 according to the first embodiment causes the display device 20 to display information indicating the state of the target device 30 to be inspected. The target device 30 according to the first embodiment is a rotary mechanical system including auxiliary motors such as a motor driven by a three-phase alternating current power source and a rotor provided with the motor, such as a pump or a fan that rotates. The target device 30 is connected to the three-phase AC power supply 40 via the power line 50. The power line 50 is fitted to the clamp ammeter 60. The state analysis system 1 is provided with three clamp ammeters 60, and each clamp ammeter 60 fits into a different power line, respectively. On the other hand, in another embodiment, the state analysis system 1 may be equipped with one or two clamp ammeters 60, and may not measure a part of electric current among three power lines 50. As shown in FIG. The clamp ammeter 60 measures the magnitude of the current flowing through the power line 50 and outputs it to the state analyzer 10 as a digital signal (current signal). The state analysis device 10 causes the display device 20 to display information indicating the state of the target device 30 based on the current signal received from the clamp ammeter 60.

도 2는, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.2 is a schematic block diagram showing a configuration of a state analysis device according to the first embodiment.

상태 분석 장치(10)는, 전류 취득부(11), 파라미터 산출부(12), 파라미터 기억부(13), 임계치 기억부(14), 그래프 생성부(15), 천이 검지부(16), 표시 제어부(17)를 구비한다.The state analysis device 10 includes a current acquisition unit 11, a parameter calculation unit 12, a parameter storage unit 13, a threshold storage unit 14, a graph generator 15, a transition detection unit 16, and a display. The control unit 17 is provided.

전류 취득부(11)는, 클램프 전류계(60)로부터 전력선(50)을 통해서 대상 장치(30)에 흐르는 전류 신호를 취득한다.The current acquisition unit 11 acquires a current signal flowing from the clamp ammeter 60 through the power line 50 to the target device 30.

파라미터 산출부(12)는, 일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 전류 취득부(11)가 취득한 전류 신호에 근거하여, 대상 장치(30)의 상태에 따라 변동하는 복수의 파라미터의 값을 산출한다. 이하, 파라미터 산출부(12)에 의해 산출되는 파라미터를, 전류 파라미터라고 부른다. 구체적인 전류 파라미터의 예에 대해서는, 후술한다. 파라미터 산출부(12)가 산출하는 복수의 전류 파라미터 중 적어도 2개는, 서로 상관 관계를 갖는 파라미터이다.The parameter calculating part 12 calculates the value of the some parameter which changes according to the state of the target apparatus 30 based on the current signal which the current acquisition part 11 acquired in the timing which concerns on a fixed period. Hereinafter, the parameter calculated by the parameter calculation part 12 is called a current parameter. Examples of specific current parameters will be described later. At least two of the plurality of current parameters calculated by the parameter calculator 12 are parameters having a correlation with each other.

파라미터 기억부(13)는, 파라미터 산출부(12)가 산출한 전류 파라미터의 값을 산출 시각에 관련지어 기억한다.The parameter storage unit 13 stores the value of the current parameter calculated by the parameter calculation unit 12 in association with the calculation time.

임계치 기억부(14)는, 각 전류 파라미터에 대해, 대상 장치(30)의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 기억한다. 제 1 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)의 상태의 종별은, 대상 장치(30)가 정상인 정상 상태, 대상 장치(30)가 이상인 이상 상태, 및 대상 장치(30)의 상태가 이상 상태로 천이할 수 있는 상태인 주의 상태이다. 즉, 임계치 기억부(14)는, 각 전류 파라미터에 대해, 정상 상태와 주의 상태를 구분하는 제 1 임계치와, 주의 상태와 이상 상태를 구분하는 제 2 임계치를 기억한다.The threshold storage unit 14 stores, for each current parameter, a threshold that serves as a criterion for determining the state of the target device 30. The classification of the state of the target apparatus 30 which concerns on 1st Embodiment is made into the normal state in which the target apparatus 30 is normal, the abnormal state in which the target apparatus 30 is abnormal, and the state of the target apparatus 30 in an abnormal state. A state of caution that can transition. In other words, the threshold storage unit 14 stores, for each current parameter, a first threshold value that distinguishes the steady state from the attention state, and a second threshold value that distinguishes the attention state from the abnormal state.

그래프 생성부(15)는, 파라미터 산출부(12)가 산출한 전류 파라미터의 값 및 전회의 전류 파라미터의 값으로부터 금회의 전류 파라미터의 값으로의 변화량을 나타내는 그래프 화상을 생성한다. 그래프 화상은, 서로 상관 관계를 갖는 2개의 전류 파라미터를 종축과 횡축으로 취한 그래프이다. 그래프 화상에는, 각 전류 파라미터에 관련되는 임계치를 나타내는 구분선과, 2개의 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯(제 1 도형)과 변화량을 나타내는 화살표(제 2 도형)가 배치된다.The graph generating unit 15 generates a graph image indicating the amount of change from the value of the current parameter calculated by the parameter calculating unit 12 and the value of the previous current parameter to the value of the current current parameter. The graph image is a graph in which two current parameters correlated with each other are taken as the vertical axis and the horizontal axis. In the graph image, a dividing line indicating a threshold value associated with each current parameter, a plot (first figure) indicating a value of two current parameters and an arrow (second figure) indicating a change amount are arranged.

천이 검지부(16)는, 각 전류 파라미터의 값이, 임계치 기억부(14)가 기억하는 임계치를 넘어 변화한 것을 검지한다.The transition detection unit 16 detects that the value of each current parameter has changed beyond the threshold stored by the threshold storage unit 14.

표시 제어부(17)는, 그래프 생성부가 생성한 그래프 화면과, 천이 검지부(16)에 의한 검지 결과에 근거하여, 표시 장치(20)에 출력하는 표시 정보를 생성한다. 표시 제어부(17)는, 표시 정보 생성부의 일례이다.The display control unit 17 generates display information output to the display device 20 based on the graph screen generated by the graph generating unit and the detection result by the transition detecting unit 16. The display control unit 17 is an example of the display information generation unit.

여기서, 제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 산출부(12)가 산출하는 전류 파라미터에 대해 설명한다.Here, the current parameter calculated by the parameter calculating unit 12 according to the first embodiment will be described.

제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 산출부(12)는, KI 파라미터, Lpole 파라미터, Lshaft 파라미터, Irms 파라미터, THD 파라미터, IHD 파라미터, Lx 파라미터, Iub 파라미터를 산출한다.The parameter calculator 12 according to the first embodiment calculates a KI parameter, an Lpole parameter, an Lshaft parameter, an Irms parameter, a THD parameter, an IHD parameter, an Lx parameter, and an Iub parameter.

KI 파라미터는, 대상 장치(30)의 전반적인 상태를 나타내는 파라미터이다. KI 파라미터는, 전류 신호로부터 구해진 점검시 진폭 확률 밀도 함수 ft(x)와 모터의 정격 전류를 나타내는 기준 정현파 신호 파형의 참조 진폭 확률 밀도 변수 fr(x)에 대한 쿨벡라이블러 정보량이다. 구체적으로는, KI 파라미터는, 이하의 식(1)에 의해 구해진다.The KI parameter is a parameter representing the overall state of the target device 30. The KI parameter is the amount of Culbleible information on the reference amplitude probability density variable fr (x) of the reference sinusoidal signal waveform representing the rated amplitude probability density function ft (x) and the rated current of the motor obtained from the current signal. Specifically, the KI parameter is obtained by the following equation (1).

Figure pct00001
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Lpole 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태를 나타내는 파라미터이다. Lpole 파라미터는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하여 얻어지는 주파수 스펙트럼 중, 전류 스펙트럼 피크를 중심으로 해서 소정 주파수분만큼 떨어진 주파수 위치에 있어서의 전류 스펙트럼의 측대파의 피크의 크기이다. Lpole 파라미터에 관련되는 측대파는, 모터의 폴 통과 주파수에 기인하여 변동하는 측대파이다.The Lpole parameter is a parameter representing the state of the rotor of the target device 30. The Lpole parameter is the magnitude of the peak of the sideband of the current spectrum at a frequency position separated by a predetermined frequency from the current spectrum peak in the frequency spectrum obtained by converting the current signal into the frequency domain. The sideband associated with the Lpole parameter is a sideband that varies due to the pole pass frequency of the motor.

Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터 및 보조 기기의 미스얼라인먼트의 상태를 나타내는 파라미터이다. Lshaft 파라미터는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하여 얻어지는 주파수 스펙트럼 중, 전류 스펙트럼 피크를 중심으로 해서 소정 주파수분만큼 떨어진 주파수 위치에 있어서의 전류 스펙트럼의 측대파의 피크의 크기에 의해 구해진다. Lshaft 파라미터에 관련되는 측대파는, 모터의 실 회전 주파수에 기인하여 변동하는 측대파이다.The Lshaft parameter is a parameter indicating a state of misalignment between the rotor of the target device 30 and the auxiliary device. Lshaft parameter is calculated | required by the magnitude | size of the peak of the side band of the current spectrum in the frequency position obtained by converting a current signal into a frequency domain by the predetermined frequency centered on a current spectrum peak. The sidebands related to the Lshaft parameter are sidebands that vary due to the actual rotation frequency of the motor.

Irms 파라미터는, 대상 장치(30)의 회전 기계 부하 및 상태 변동을 감시하기 위한 파라미터이다. Irms 파라미터는, 각 샘플링 타이밍에 있어서의 전류치의 제곱합을 샘플링 타이밍수로 제산하고, 그 평방근을 구하는 것으로 얻을 수 있는, 전류 실효치이다.The Irms parameter is a parameter for monitoring the rotational mechanical load and state variation of the target device 30. The Irms parameter is a current effective value obtained by dividing the sum of squares of the current values at each sampling timing by the sampling timing number and finding the square root.

IHD 파라미터는, 전류 신호의 최대 고조파 성분과 전원 주파수 성분의 비율이다. IHD 파라미터는, 전류 신호로부터 고조파 성분을 추출하고, 고조파 성분의 미리 설정한 차수 내에 있는 최대치를, 전원 주파수 실효치로 제산하는 것으로 얻을 수 있다.The IHD parameter is the ratio of the maximum harmonic component and the power supply frequency component of the current signal. The IHD parameter can be obtained by extracting harmonic components from the current signal and dividing the maximum value within a predetermined order of the harmonic components by the power source frequency effective value.

THD 파라미터는, 전류 신호의 모든 고조파 성분과 전원 주파수 성분의 비율이다. THD 파라미터는, 전류 신호로부터 고조파 성분을 추출하고, 미리 설정한 차수내에 있어서의 각 고조파 성분의 제곱합의 평방근을, 전류 신호의 전원 주파수 실효치로 제산하는 것으로 얻을 수 있다. IHD 파라미터 및 THD 파라미터는, 모두 삼상 교류 전원(40)의 품질을 나타내는 파라미터이다.The THD parameter is the ratio of all harmonic components and power supply frequency components of the current signal. The THD parameter can be obtained by extracting harmonic components from the current signal and dividing the square root of the sum of squares of each harmonic component in a predetermined order by the power source frequency effective value of the current signal. Both the IHD parameter and the THD parameter are parameters representing the quality of the three-phase AC power supply 40.

Lx 파라미터는, 대상 장치(30)의 보조 기기의 상태를 나타내는 파라미터이다. Lx 파라미터는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하여 얻어지는 주파수 스펙트럼 중, 전류 스펙트럼 피크를 중심으로 해서 소정 주파수분만큼 떨어진 주파수 위치에 있어서의 전류 스펙트럼의 측대파의 피크의 크기이다. Lx 파라미터에 관련되는 측대파는, 펌프 또는 블로어의 블레이드 통과 주파수에 기인하여 변동하는 측대파, 치차 장치의 이맞춤 주파수에 기인하여 변동하는 측대파, 풀리 벨트의 회전 주파수에 기인하여 변동하는 측대파, 또는 회전자 바의 미끄럼 주파수에 기인하여 변동하는 측대파에 기인하여 변동하는 측대파이다.The Lx parameter is a parameter representing the state of the auxiliary device of the target device 30. Lx parameter is the magnitude | size of the peak of the side band of the current spectrum in the frequency position separated by predetermined frequency centering on the current spectrum peak among the frequency spectrum obtained by converting a current signal into a frequency domain. The sidebands related to the Lx parameter are the sidebands fluctuating due to the blade passing frequency of the pump or blower, the sidebands fluctuating due to the fitting frequency of the gear arrangement, and the sidebands fluctuating due to the rotational frequency of the pulley belt. , Or is a side wave that fluctuates because of a side wave that fluctuates due to the sliding frequency of the rotor bar.

펌프 또는 블로어의 블레이드 통과 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lbp 파라미터라고 한다. 치차 장치의 이맞춤 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lgz 파라미터라고 한다. 풀리 벨트의 회전 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lbr 파라미터라고 한다. 또한 회전자 바의 미끄럼 주파수에 기인하여 변동하는 측대파의 어느 1개에 기인하여 변동하는 측대파의 피크의 크기가 나타내는 Lx 파라미터를, Lrs 파라미터라고 한다. 펌프, 블로어, 치차 장치, 풀리 벨트, 회전자 바는, 대상 장치(30)의 보조 기기의 일례이다.The Lx parameter indicated by the magnitude of the peak of the sideband wave fluctuating due to the blade pass frequency of the pump or blower is called an Lbp parameter. The Lx parameter indicated by the magnitude of the peak of the sideband wave fluctuating due to the engagement frequency of the gear device is referred to as an Lgz parameter. The Lx parameter indicated by the magnitude of the peak of the sideband wave fluctuating due to the rotational frequency of the pulley belt is called an Lbr parameter. In addition, the Lx parameter represented by the magnitude | size of the peak of the sideband which fluctuates attributable to any one of the sidebands which fluctuates because of the sliding frequency of a rotor bar is called Lrs parameter. A pump, a blower, a gear, a pulley belt, and a rotor bar are examples of auxiliary equipment of the target device 30.

Iub 파라미터는, 전원 품질 또는 모터의 고정자 및 인버터의 열화 상황을 나타내는 파라미터이다. Iub 파라미터는, 3상의 전류 신호의 전류 실효치 중의 최대치와 최소치의 차이를, 그 최대치와 최소치의 합으로 제산하는 것으로 구할 수가 있다. 즉, Iub 파라미터는, 전류 신호의 삼상 전류 밸런스를 나타내는 파라미터이다.The Iub parameter is a parameter indicating the power quality or the deterioration status of the stator of the motor and the inverter. The Iub parameter can be obtained by dividing the difference between the maximum value and the minimum value among the current effective values of the three-phase current signal by the sum of the maximum value and the minimum value. In other words, the Iub parameter is a parameter representing the three-phase current balance of the current signal.

KI 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 증가하고, Lpole 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, KI 파라미터와 Lpole 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.The KI parameter increases when the rotor deteriorates, and the Lpole parameter decreases when the rotor deteriorates. That is, the KI parameter and the Lpole parameter have a correlation with the state of the rotor of the target device 30.

KI 파라미터는, 모터의 축계의 언발란스의 상태가 악화하면 증가하고, Lshaft 파라미터 및 각종 Lx 파라미터는, 모터의 축계의 언발란스의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, KI 파라미터와 Lshaft 파라미터와 각종 Lx 파라미터는, 대상 장치(30)의 모터의 축계의 언발란스의 상태에 대해 상관 관계를 가진다. 또, KI 파라미터는, 모터의 축계의 미스얼라인먼트의 상태가 악화하면 증가하고, Lshaft 파라미터는, 모터의 축계의 미스얼라인먼트의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, KI 파라미터와 Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 모터의 축계의 미스얼라인먼트의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.The KI parameter increases when the unbalanced state of the motor shaft system deteriorates, and the Lshaft parameter and various Lx parameters decrease when the unbalanced state of the motor shaft system deteriorates. That is, the KI parameter, the Lshaft parameter, and the various Lx parameters have a correlation with the unbalanced state of the shaft system of the motor of the target device 30. Moreover, KI parameter increases when the misalignment state of the motor shaft system deteriorates, and Lshaft parameter decreases when the state of misalignment of the motor shaft system deteriorates. That is, the KI parameter and the Lshaft parameter have a correlation with the misalignment state of the shaft system of the motor of the target device 30.

KI 파라미터와 Irms 파라미터는, 모두 부하 변동의 상태가 악화하면 증가한다. 즉, KI 파라미터와 Irms 파라미터는, 대상 장치(30)의 부하 변동의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.Both the KI parameter and the Irms parameter increase when the load fluctuation condition worsens. In other words, the KI parameter and the Irms parameter have a correlation with respect to the load fluctuation state of the target device 30.

KI 파라미터와 THD 파라미터와 IHD 파라미터와 Iub 파라미터는, 모두 모터의 고정자의 상태, 또는 전원 품질이 악화하면 증가한다. 즉, KI 파라미터와 THD 파라미터와 IHD 파라미터와 Iub 파라미터는, 대상 장치(30)의 고정자의 상태 또는 전원 품질에 대해 상관 관계를 가진다.The KI parameters, the THD parameters, the IHD parameters, and the Iub parameters all increase when the stator of the motor or power quality deteriorates. That is, the KI parameter, the THD parameter, the IHD parameter, and the Iub parameter have a correlation with the state or power quality of the stator of the target device 30.

Lpole 파라미터 및 Lshaft 파라미터는, 모두 모터의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태에 대해 상관 관계를 가진다.The Lpole and Lshaft parameters both decrease when the motor deteriorates. That is, the Lpole parameter and the Lshaft parameter have a correlation with the state of the rotor of the target device 30.

도 3은, 제 1 실시 형태에 관련되는 파라미터 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다. 파라미터 기억부(13)는, 도 3에 나타내는 바와 같이, 일정한 주기(예를 들면, 반나절 또는 1일마다)에 관련되는 타이밍인 측정 시각마다, 당해 측정 시각, KI 파라미터, Lpole 파라미터, Lshaft 파라미터, Irms 파라미터, THD 파라미터, IHD 파라미터, Lx 파라미터, 및 Iub 파라미터를 관련지어 기억한다.3 is a diagram illustrating an example of information stored in the parameter storage unit according to the first embodiment. As shown in Fig. 3, the parameter storage unit 13 includes the measurement time, the KI parameter, the Lpole parameter, the Lshaft parameter, for each measurement time that is a timing associated with a fixed period (for example, half a day or every day). The Irms parameter, the THD parameter, the IHD parameter, the Lx parameter, and the Iub parameter are stored in association with each other.

도 4는, 제 1 실시 형태에 관련되는 임계치 기억부가 기억하는 정보의 예를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating an example of information stored in the threshold storage unit according to the first embodiment.

임계치 기억부(14)는, 도 4에 나타내는 바와 같이, KI 파라미터, Lpole 파라미터, Lshaft 파라미터, Irms 파라미터, THD 파라미터, IHD 파라미터, Lx 파라미터, 및 Iub 파라미터의 각각에 대해서, 정상 상태가 되는 값의 범위, 주의 상태가 되는 값의 범위, 및 이상 상태가 되는 값의 범위를 기억한다. 여기서, 정상 상태가 되는 값의 범위와 주의 상태가 되는 값의 범위를 구분하는 임계치는, 제 1 임계치이고, 주의 상태가 되는 값의 범위와 이상 상태가 되는 값의 범위를 구분하는 임계치는, 제 2 임계치다. 즉, 정상 상태가 되는 값의 범위, 주의 상태가 되는 값의 범위, 및 이상 상태가 되는 값의 범위를 기억하는 것은, 제 1 임계치 및 제 2 임계치를 기억하는 것과 등가이다.As shown in FIG. 4, the threshold storage unit 14 is configured to determine the values of the steady state values for each of the KI parameter, Lpole parameter, Lshaft parameter, Irms parameter, THD parameter, IHD parameter, Lx parameter, and Iub parameter. The range, the range of values for the attention state, and the range of values for the abnormal state are stored. Here, the threshold which distinguishes the range of the value which becomes a steady state and the range of the value which becomes a attention state is a 1st threshold value, and the threshold which distinguishes the range of the value which becomes a attention state and the range of the value which becomes an abnormal state is a 1st threshold value. 2 threshold. That is, storing the range of values to be in the steady state, the range of values to be in the attention state, and the range of values to be in the abnormal state are equivalent to storing the first threshold and the second threshold.

제 1 실시 형태에 있어서는, 각 전류 파라미터에 대한 정상 상태가 되는 값의 범위, 주의 상태가 되는 값의 범위, 및 이상 상태가 되는 값의 범위는, 이하와 같다. 한편, 이하에 나타내는 범위는 어디까지나 일례이며, 다른 실시 형태에 대해서는 이것에 한정되지 않는다.In 1st Embodiment, the range of the value which becomes a steady state, the range of the value which becomes a attention state, and the range of the value which becomes an abnormal state with respect to each current parameter are as follows. In addition, the range shown below is an example to the last, and is not limited to this about other embodiment.

정상 상태가 되는 KI 파라미터의 값의 범위는, 1.0 미만이다. 주의 상태가 되는 KI 파라미터의 값의 범위는, 1.0 이상 동시에 1.5 미만이다. 이상 상태가 되는 KI 파라미터의 값의 범위는, 1.5 이상이다. 즉, KI 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 1.0이며, KI 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 1.5이다.The range of the value of the KI parameter to be in a steady state is less than 1.0. The range of values of the KI parameter to be in the attention state is 1.0 or more and less than 1.5. The range of the value of the KI parameter in an abnormal state is 1.5 or more. That is, the first threshold associated with the KI parameter is 1.0 and the second threshold associated with the KI parameter is 1.5.

정상 상태가 되는 Lpole 파라미터의 값의 범위는, 50dB 초과이다. 주의 상태가 되는 Lpole 파라미터의 값의 범위는, 40dB 초과 동시에 50dB 이하이다. 이상 상태가 되는 Lpole 파라미터의 값의 범위는, 40dB 이하이다. 즉, Lpole 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 50dB이며, Lpole 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 40dB이다.The range of the value of the Lpole parameter to be in a steady state is more than 50 dB. The range of values of the Lpole parameter to be in the attention state is more than 40 dB and 50 dB or less. The range of the value of the Lpole parameter in an abnormal state is 40 dB or less. That is, the first threshold associated with the Lpole parameter is 50 dB and the second threshold associated with the Lpole parameter is 40 dB.

정상 상태가 되는 Lshaft 파라미터의 값의 범위는, 50dB 초과이다. 주의 상태가 되는 Lshaft 파라미터의 값의 범위는, 40dB 초과 동시에 50dB 이하이다. 이상 상태가 되는 Lshaft 파라미터의 값의 범위는, 40dB 이하이다. 즉, Lshaft 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 50dB이며, Lshaft 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 40dB이다.The range of the Lshaft parameter value to be in a steady state is more than 50 dB. The range of the Lshaft parameter value to be in the attention state is more than 40 dB and less than 50 dB. The range of the Lshaft parameter value in an abnormal state is 40 dB or less. That is, the first threshold associated with the Lshaft parameter is 50 dB and the second threshold associated with the Lshaft parameter is 40 dB.

정상 상태가 되는 Irms 파라미터의 값의 범위는, 변동 ±10% 미만이다. 주의 상태가 되는 Irms 파라미터의 값의 범위는, 변동 ±10% 이상 동시에 변동 ±20% 미만이다. 이상 상태가 되는 Irms 파라미터의 값의 범위는, 변동 ±20% 이상이다. 즉, Irms 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 변동 ±10%이며, Irms 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 변동 ±20%이다.The range of the value of the Irms parameter to be in a steady state is less than ± 10% of variation. The range of the value of the Irms parameter to be in the attention state is not less than ± 10% of variation at the same time. The range of the value of the Irms parameter in an abnormal state is more than ± 20% of variation. That is, the first threshold associated with the Irms parameter is ± 10% of variation, and the second threshold associated with the Irms parameter is ± 20% of variation.

정상 상태가 되는 THD 파라미터의 값의 범위는, 5% 미만이다. 주의 상태가 되는 THD 파라미터의 값의 범위는, 5% 이상 동시에 10% 미만이다. 이상 상태가 되는 THD 파라미터의 값의 범위는, 10% 이상이다. 즉, THD 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 5%이며, THD 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 10%이다.The range of the value of the THD parameter to be in a steady state is less than 5%. The range of values of the THD parameter to be in the attention state is 5% or more and less than 10% at the same time. The range of the value of the THD parameter in an abnormal state is 10% or more. That is, the first threshold associated with the THD parameter is 5% and the second threshold associated with the THD parameter is 10%.

정상 상태가 되는 IHD 파라미터의 값의 범위는, 3% 미만이다. 주의 상태가 되는 IHD 파라미터의 값의 범위는, 3% 이상 동시에 5% 미만이다. 이상 상태가 되는 IHD 파라미터의 값의 범위는, 5% 이상이다. 즉, IHD 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 3%이며, IHD 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 5%이다.The range of the value of the IHD parameter to be in a steady state is less than 3%. The range of the value of the IHD parameter to the attention state is 3% or more and less than 5% at the same time. The range of the value of the IHD parameter in an abnormal state is 5% or more. That is, the first threshold associated with the IHD parameter is 3% and the second threshold associated with the IHD parameter is 5%.

정상 상태가 되는 Lx 파라미터의 값의 범위는, 50dB 초과이다. 주의 상태가 되는 Lx 파라미터의 값의 범위는, 40dB 초과 동시에 50dB 이하이다. 이상 상태가 되는 Lx 파라미터의 값의 범위는, 40dB 이하이다. 즉, Lx 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 50dB이며, Lx 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 40dB이다.The range of the value of the Lx parameter to be in a steady state is more than 50 dB. The range of the value of the Lx parameter to be in the attention state is more than 40 dB and 50 dB or less. The range of the value of the Lx parameter in an abnormal state is 40 dB or less. That is, the first threshold associated with the Lx parameter is 50 dB and the second threshold associated with the Lx parameter is 40 dB.

정상 상태가 되는 Iub 파라미터의 값의 범위는, 3% 미만이다. 주의 상태가 되는 Iub 파라미터의 값의 범위는, 3% 이상 동시에 5% 미만이다. 이상 상태가 되는 Iub 파라미터의 값의 범위는, 5% 이상이다. 즉, Iub 파라미터에 관련되는 제 1 임계치는 3%이며, Iub 파라미터에 관련되는 제 2 임계치는 5%이다.The range of the value of the Iub parameter to be in a steady state is less than 3%. The range of values of the Iub parameter to be in the attention state is 3% or more and less than 5% at the same time. The range of the value of the Iub parameter which turns into an abnormal state is 5% or more. That is, the first threshold associated with the Iub parameter is 3% and the second threshold associated with the Iub parameter is 5%.

여기서, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)의 동작에 대해 설명한다.Here, the operation of the state analysis device 10 according to the first embodiment will be described.

도 5는, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 산출 처리를 나타내는 플로차트이다.5 is a flowchart showing a current parameter calculation process by the state analysis device according to the first embodiment.

상태 분석 장치(10)는, 일정한 주기에 관련되는 타이밍마다, 전류 파라미터 산출 처리를 실행한다. 상태 분석 장치(10)의 전류 취득부(11)는, 클램프 전류계(60)로부터 전류 신호를 취득한다(스텝 S1). 또한, 전류 취득부(11)는, 샘플링 타이밍마다 전류 신호를 취득하고 있기 때문에, 전류 취득부(11)가 취득하는 전류 신호는, 일정 기간에 있어서의 전류의 크기의 변화를 나타낸다. 다음에, 파라미터 산출부(12)는, 전류 신호를 주파수 영역으로 변환하고, 주파수 영역 파형을 생성한다(스텝 S2). 주파수 영역 변환의 수법으로서는, FFT를 들 수 있다.The state analysis apparatus 10 performs a current parameter calculation process for every timing which concerns on a fixed period. The current acquisition unit 11 of the state analyzer 10 acquires a current signal from the clamp ammeter 60 (step S1). In addition, since the current acquisition unit 11 acquires a current signal for each sampling timing, the current signal acquired by the current acquisition unit 11 represents a change in the magnitude of the current in a predetermined period. Next, the parameter calculator 12 converts the current signal into the frequency domain and generates a frequency domain waveform (step S2). An FFT is mentioned as a method of frequency domain conversion.

파라미터 산출부(12)는, 스텝 S1에서 취득한 전류 신호와 스텝 S2에서 생성한 주파수 영역 파형에 근거하여 전류 파라미터를 산출한다(스텝 S3). 파라미터 산출부(12)는, 산출한 전류 파라미터를, 현재 시각에 관련지어 파라미터 기억부(13)에 기록한다(스텝 S4).The parameter calculator 12 calculates a current parameter based on the current signal acquired in step S1 and the frequency domain waveform generated in step S2 (step S3). The parameter calculating unit 12 records the calculated current parameter in the parameter storage unit 13 in association with the current time (step S4).

상태 분석 장치(10)는, 전술한 전류 파라미터 산출 처리를 일정한 주기에 관련되는 타이밍마다 실행하는 것으로, 파라미터 기억부(13)에 전류 파라미터의 시계열을 기록할 수가 있다.The state analysis device 10 executes the above-described current parameter calculation process for each timing associated with a constant cycle, and thus can record the time series of the current parameters in the parameter storage unit 13.

도 6은, 제 1 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치에 의한 전류 파라미터 표시 처리를 나타내는 플로차트이다.FIG. 6 is a flowchart showing current parameter display processing by the state analysis device according to the first embodiment. FIG.

상태 분석 장치(10)는, 이용자의 조작에 의해 전류 파라미터의 표시 지시가 이루어지면, 표시 대상의 전류 파라미터의 세트의 입력을 접수한다(스텝 S11). 전류 파라미터의 세트의 입력은, 상태 분석 장치(10)에 미리 설정된 서로 상관 관계를 갖는 파라미터 쌍(예를 들면, Lshaft 파라미터와 Lpole 파라미터의 쌍, THD 파라미터와 IHD 파라미터의 쌍, KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍 등)의 리스트 중에서 이용자에 의한 선택을 접수하는 것으로 이루어진다. 다른 실시 형태에 있어서는, 전류 파라미터의 세트의 입력은, 이용자에 의한 임의의 2개의 파라미터의 입력에 의해 이루어져도 좋다.The state analysis device 10 receives an input of a set of current parameters to be displayed when a display instruction of a current parameter is made by a user's operation (step S11). The input of the set of current parameters may be a parameter pair (e.g., a pair of Lshaft parameters and an Lpole parameter, a pair of THD parameters and an IHD parameter, a KI parameter and an Lx parameter) having a correlation with each other set in advance in the state analyzer 10. And a selection by the user from a list of pairs). In another embodiment, input of a set of current parameters may be made by input of arbitrary two parameters by a user.

다음에, 상태 분석 장치(10)의 그래프 생성부(15)는, 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터를 축 G1로 하는 좌표 공간을 묘화한다(스텝 S12). 즉, 그래프 생성부(15)는, 쌍을 이루는 전류 파라미터를 나타내는 직교하는 축 G1을 묘화한다. 본 실시 형태에 있어서 「묘화한다」란, 가상 공간(가상 평면) 상에 도형을 배치하는 것을 말한다. 다음에, 그래프 생성부(15)는, 임계치 기억부(14)로부터 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터에 관련지어진 제 1 임계치 및 제 2 임계치를 독출하고, 제 1 임계치를 나타내는 구분선 G2(제 1 구분선) 및 제 2 임계치를 나타내는 구분선 G2(제 2 구분선)를 묘화한다(스텝 S13). 하나의 전류 파라미터에 관련되는 임계치를 나타내는 구분선 G2는, 당해 하나의 전류 파라미터를 나타내는 축 G1에 평행한 선이다. 다음에, 그래프 생성부(15)는, 파라미터 기억부(13)로부터 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터의 값으로 마지막에 기록된 것(변화 후의 값)을 나타내는 플롯 G3를 좌표 공간상에 묘화한다(스텝 S14).Next, the graph generating unit 15 of the state analysis device 10 draws a coordinate space in which each current parameter associated with the selected pair is the axis G1 (step S12). In other words, the graph generating unit 15 draws orthogonal axes G1 representing paired current parameters. In this embodiment, "drawing" means arrange | positioning a figure in a virtual space (virtual plane). Next, the graph generating unit 15 reads out the first threshold value and the second threshold value associated with each current parameter associated with the pair selected from the threshold storage unit 14, and divides the line G2 (first) indicating the first threshold value. The division line G2 (2nd division line) which shows a division line) and a 2nd threshold value is drawn (step S13). The dividing line G2 indicating the threshold value associated with one current parameter is a line parallel to the axis G1 indicating the one current parameter. Next, the graph generating unit 15 draws a plot G3 on the coordinate space indicating the last recorded value (the value after the change) as the value of each current parameter associated with the pair selected from the parameter storage unit 13. (Step S14).

다음에, 그래프 생성부(15)는, 파라미터 기억부(13)로부터 선택된 쌍에 관련되는 각 전류 파라미터의 값으로 최후로부터 2번째에 기록된 것(변화 전의 값)을 나타내는 좌표로부터, 변화 후의 값을 나타내는 좌표로 연장하는 화살표 G4를 좌표 공간상에 묘화한다(스텝 S15). 이때, 변화 전의 값에 관련지어진 측정 시각과 변화 후의 값에 관련지어진 측정 시각과의 차이는, 일정한 주기에 관련되는 시간과 동일하다. 또 화살표 G4는, 변화 전의 값과 변화 후의 값의 차이가 큰 만큼 길어진다. 즉, 화살표 G4는, 전류 파라미터의 변화량이 큰 만큼 길다.Next, the graph generating unit 15 changes the value after the change from the coordinates indicating the second value (the value before the change) that is recorded from the last to the value of each current parameter associated with the pair selected from the parameter storage unit 13. An arrow G4 extending to the coordinates indicating is drawn on the coordinate space (step S15). At this time, the difference between the measurement time associated with the value before the change and the measurement time associated with the value after the change is equal to the time associated with the constant period. In addition, arrow G4 becomes long, so that the difference of the value before a change and the value after a change is large. In other words, the arrow G4 is as long as the amount of change in the current parameter is large.

다음에, 천이 검지부(16)는, 임계치 기억부(14)가 기억하는 제 1 임계치 및 제 2 임계치에 근거하여, 선택된 쌍에 관련되는 전류 파라미터 중 적어도 1개의 값이, 제 1 임계치 또는 제 2 임계치를 넘어 변화하였는지의 여부를 판정한다(스텝 S16). 전류 파라미터의 값이 제 1 임계치 또는 제 2 임계치를 넘어 변화한 경우(스텝 S16:YES), 그래프 생성부(15)는, 소정의 메세지(예를 들면, 「대상 장치(30)의 상태가 주의 상태로 변화했습니다」 등)를 묘화한다(스텝 S17). 또한, 당해 메세지는, 전류 파라미터의 값이 임계치를 넘은 타이밍부터 소정 시간을 경과할 때까지 표시가 계속된다. 한편, 다른 실시 형태에 있어서는, 전류 파라미터의 값이 제 1 임계치 또는 제 2 임계치를 넘어 상태가 악화하는 방향으로 변화한 경우에만, 소정의 메세지를 묘화해도 좋다. 또, 다른 실시 형태에 있어서는, 소정의 메세지의 묘화를 대신하여, 플롯 G3의 표시 형태를 다르게 해도 좋다. 플롯 G3의 표시 형태의 예로서는, 플롯 G3의 색, 플롯 G3의 크기, 플롯 G3의 점멸의 유무 등을 들 수 있다.Next, the transition detection unit 16 determines that at least one of the current parameters associated with the selected pair is the first threshold or the second based on the first threshold value and the second threshold value stored in the threshold storage unit 14. It is determined whether or not it has changed beyond the threshold (step S16). When the value of the current parameter changes beyond the first threshold value or the second threshold value (step S16: YES), the graph generating unit 15 displays a predetermined message (for example, "The state of the target device 30 is attentive." And the like ”(step S17). In addition, the message continues to be displayed until a predetermined time elapses from the timing when the value of the current parameter exceeds the threshold. On the other hand, in another embodiment, a predetermined message may be drawn only when the value of the current parameter changes in a direction deteriorating beyond the first threshold value or the second threshold value. In another embodiment, the display form of the plot G3 may be changed in place of the writing of a predetermined message. As an example of the display form of the plot G3, the color of the plot G3, the magnitude | size of the plot G3, the presence or absence of flickering of the plot G3, etc. are mentioned.

한편, 전류 파라미터의 값이 제 1 임계치 및 제 2 임계치를 넘지 않는 경우(스텝 S16:NO), 그래프 생성부(15)는, 소정의 메세지의 묘화를 실시하지 않는다.On the other hand, when the value of the current parameter does not exceed the first threshold value and the second threshold value (step S16: NO), the graph generator 15 does not draw a predetermined message.

그리고 표시 제어부(17)는, 그래프 생성부(15)가 묘화한 도형에 근거하여 표시 정보를 생성하고, 당해 표시 정보를 표시 장치(20)에 출력한다(스텝 S18). 이것에 의해, 표시 장치(20)는, 전류 파라미터의 임계치를 나타내는 구분선 G2와, 한 쌍의 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯 G3와, 다른 타이밍에 있어서 산출된 전류 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 화살표 G4가 배치된 그래프를 표시한다.And the display control part 17 produces | generates display information based on the figure drawn by the graph generation part 15, and outputs this display information to the display apparatus 20 (step S18). As a result, the display device 20 includes a dividing line G2 indicating the threshold of the current parameter, a plot G3 indicating the value of the pair of current parameters, and an arrow G4 indicating the amount of change of the value of the current parameter calculated at different timings. Display the graph on which is placed.

도 7은, KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.7 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between a KI parameter and an Lpole parameter.

스텝 S11에서 이용자가 KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 표시 장치(20)에는, 도 7에 나타내는 바와 같은 그래프가 표시된다. 도 7에 나타내는 그래프에 의하면, KI 파라미터와 Lpole 파라미터에 근거하여 대상 장치(30)의 상태를 판단할 수가 있다. KI 파라미터와 Lpole 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터 상태에 대해 상관 관계를 갖는다. 그 때문에, 이용자는, 도 7에 나타내는 그래프에 의해 대상 장치(30)의 로터의 상태를 용이하게 확인할 수가 있다. 구체적으로는, KI 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 증가하고, Lpole 파라미터는, 로터의 상태가 악화하면 감소한다. 즉, 로터의 상태가 악화하면, 통상, 플롯 G3의 위치가 우하 방향으로 이동한다. 한편, 플롯 G3의 이동 방향이 우하 방향이 아닌 경우, 통상의 로터의 열화와는 다른 이벤트(事象)가 생기고 있다고 판단할 수가 있다. 이용자가 KI 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 이용자가 KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍을 선택한 경우에도, 표시 장치(20)에 도 7과 유사한 그래프가 표시된다.When the user selects a pair of the KI parameter and the Lpole parameter in step S11, the graph as shown in FIG. 7 is displayed on the display device 20. According to the graph shown in FIG. 7, the state of the target device 30 can be determined based on the KI parameter and the Lpole parameter. The KI parameter and the Lpole parameter are correlated with the rotor state of the target device 30. Therefore, the user can easily confirm the state of the rotor of the target apparatus 30 by the graph shown in FIG. Specifically, the KI parameter increases when the rotor deteriorates, and the Lpole parameter decreases when the rotor deteriorates. That is, when the state of the rotor deteriorates, the position of the plot G3 usually moves in the lower right direction. On the other hand, when the moving direction of the plot G3 is not the lower right direction, it can be judged that an event different from the normal rotor deterioration has occurred. When the user selects a pair of KI parameter and Lshaft parameter, even when the user selects a pair of KI parameter and Lx parameter, a graph similar to FIG. 7 is displayed on the display device 20.

도 8은, IHD 파라미터와 THD 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.8 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an IHD parameter and a THD parameter.

스텝 S11에서 이용자가 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 표시 장치(20)에는, 도 8에 나타내는 바와 같은 그래프가 표시된다. 도 8에 나타내는 그래프에 의하면, IHD 파라미터와 THD 파라미터에 근거하여 대상 장치(30)의 상태를 판단할 수가 있다. IHD 파라미터와 THD 파라미터는, 대상 장치(30)의 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질에 대해 상관 관계를 갖는다. 그 때문에, 이용자는, 도 8에 나타내는 그래프에 의해 대상 장치(30)의 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질을 용이하게 확인할 수가 있다. 구체적으로는, IHD 파라미터 및 THD 파라미터는, 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질이 악화하면 증가한다. 즉, 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질이 악화하면, 통상, 플롯 G3의 위치가 우상 방향으로 이동한다. 한편, 플롯 G3의 이동 방향이 우상 방향이 아닌 경우, 통상의 모터의 고정자의 상태 또는 전원 품질의 열화와는 다른 이벤트가 생기고 있다고 판단할 수가 있다.When the user selects a pair of the IHD parameter and the THD parameter in step S11, the graph as shown in FIG. 8 is displayed on the display device 20. According to the graph shown in FIG. 8, the state of the target device 30 can be determined based on the IHD parameter and the THD parameter. The IHD parameter and the THD parameter correlate to the state or power quality of the stator of the motor of the target device 30. Therefore, the user can easily confirm the state or power supply quality of the stator of the motor of the target device 30 by the graph shown in FIG. Specifically, the IHD parameter and the THD parameter increase when the state of the stator of the motor or the power supply quality deteriorate. In other words, when the state of the stator of the motor or the power supply quality deteriorate, the position of the plot G3 usually moves in the upper right direction. On the other hand, when the moving direction of the plot G3 is not the upper right direction, it can be judged that an event different from the state of the stator of the normal motor or the deterioration of the power supply quality occurs.

도 9는, Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 관계를 나타내는 그래프의 예를 나타내는 도면이다.9 is a diagram illustrating an example of a graph illustrating a relationship between an Lpole parameter and an Lshaft parameter.

스텝 S11에서 이용자가 Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍을 선택한 경우, 표시 장치(20)에는, 도 9에 나타내는 바와 같은 그래프가 표시된다. 도 9에 나타내는 그래프에 의하면, Lpole 파라미터와 Lshaft에 근거하여 대상 장치(30)의 상태를 판단할 수가 있다. Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터는, 대상 장치(30)의 로터의 상태에 대해 상관 관계를 가진다. 그 때문에, 이용자는, 도 9에 나타내는 그래프에 의해 대상 장치(30)의 로터의 상태를 용이하게 확인할 수가 있다. 구체적으로는, Lpole 파라미터 및 Lshaft 파라미터는, 모터의 상태가 악화하면 감소한다. 여기서, Lpole 파라미터 및 Lshaft 파라미터는, 각각 모터가 다른 부위의 열화에 응하여 변화하는 파라미터이다. 따라서, 이용자는, 플롯 G3의 이동 방향의 기울기를 관찰하는 것으로, 모터에 있어서 이상이 발생하고 있는 개소를 추측할 수가 있다.When the user selects the pair of the Lpole parameter and the Lshaft parameter in step S11, the display device 20 displays a graph as shown in FIG. According to the graph shown in FIG. 9, the state of the target device 30 can be determined based on the Lpole parameter and the Lshaft. The Lpole parameter and the Lshaft parameter are correlated with the state of the rotor of the target device 30. Therefore, the user can easily confirm the state of the rotor of the target apparatus 30 by the graph shown in FIG. Specifically, the Lpole parameter and the Lshaft parameter decrease when the motor state deteriorates. Here, the Lpole parameter and the Lshaft parameter are parameters in which the motor changes in response to deterioration of different parts. Therefore, the user can guess the location where the abnormality has occurred in the motor by observing the inclination of the movement direction of the plot G3.

한편, 각 전류 파라미터가 나타내는 대상 장치(30)의 상태를 확인하고 싶은 경우, 이용자는, KI 파라미터와 Lpole 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, KI 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, 및 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프를 확인하면 좋다. 또는, 이용자는, Lpole 파라미터와 Lshaft 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, KI 파라미터와 Lx 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프, 및 IHD 파라미터와 THD 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프를 확인하면 좋다.On the other hand, when the user wants to confirm the state of the target device 30 indicated by each current parameter, the user can select a graph related to the pair of KI parameters and Lpole parameters, a graph related to the pair of KI parameters and Lshaft parameters, and a KI parameter. It is sufficient to check the graph associated with the pair of Lx parameters and the graph associated with the pair of IHD parameters and THD parameters. Alternatively, the user may check a graph relating to the pair of Lpole parameters and Lshaft parameters, a graph related to the pair of KI parameters and Lx parameters, and a graph related to the pair of IHD parameters and THD parameters.

이와 같이, 제 1 실시 형태에 의하면, 상태 분석 장치(10)는, 서로 상관 관계를 갖는 복수의 전류 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 임계치를 나타내는 구분선 G2와, 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯 G3와, 전류 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 화살표 G4를 배치한 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 이용자는, 주파수 영역 그래프의 독해에 숙련되어 있지 않아도, 대상 장치(30)의 상태가 어떻게 변화하고 있는지를 인식할 수가 있다. 또, 전술한 바와 같이, 제 1 실시 형태에 의하면, 이용자는, 개별의 전류 파라미터에 관련지어진 상태 이외의 상태에 대해서도 인식하는 것이 가능하다. 한편, 다른 실시 형태로서는, 전류 파라미터의 값을 플롯 G3 이외의 도형으로 나타내도 좋다. 예를 들면, 제 1 실시 형태의 화살표 G4는, 전류 파라미터의 변화량을 나타내는 도형이지만, 그 앨로우 헤드는 하나의 타이밍에 관련되는 전류 파라미터의 값을 나타내기 때문에, 당해 화살표 G4도 전류 파라미터의 값을 나타내는 도형이라고 할 수 있다. 또, 다른 실시 형태로서는, 전류 파라미터의 변화량을 화살표 G4 이외의 도형으로 나타내도 좋다. 예를 들면, 전류 파라미터의 변화량의 크기를 차트 표시해도 좋고, 플롯 G3의 색에 의해 나타내도 좋다.Thus, according to 1st Embodiment, the state analyzer 10 shows the division line G2 which shows a threshold value, and the value of a current parameter in the coordinate space which made the axis | shaft of each of the some current parameter correlated with each other. Plot G3 and the display information which arrange | positioned the arrow G4 which show the amount of change of the value of a current parameter are produced | generated. Thereby, the user can recognize how the state of the target device 30 is changing even if he is not experienced in reading the frequency domain graph. In addition, as described above, according to the first embodiment, the user can also recognize a state other than the state associated with the individual current parameter. In addition, as another embodiment, the value of a current parameter may be shown by figures other than plot G3. For example, although arrow G4 of 1st Embodiment is a figure which shows the amount of change of a current parameter, since the arrowhead shows the value of the current parameter which concerns on one timing, the arrow G4 also shows the value of a current parameter. It can be referred to as a figure representing. In addition, as another embodiment, the amount of change in the current parameter may be represented by a figure other than arrow G4. For example, the magnitude of the change amount of the current parameter may be displayed in a chart or may be indicated by the color of the plot G3.

또, 제 1 실시 형태에 의하면, 상태 분석 장치(10)는, 다른 타이밍에 관련되는 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 임계치를 넘는 경우에, 소정의 메세지를 포함하는 표시 정보를 생성한다. 이것에 의해, 이용자는, 대상 장치(30)의 상태가 변화한 것을 조급히 인식할 수가 있다. 한편, 다른 실시 형태에 있어서는, 상태 분석 장치(10)는, 다른 타이밍에 관련되는 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 임계치를 넘는 경우와 임계치를 넘지 않는 경우에서, 플롯 G3의 표시 형태를 다르게 해도 좋다. 이것에 의해도, 제 1 실시 형태와 마찬가지로, 이용자는, 대상 장치(30)의 상태가 변화한 것을 조급히 인식할 수가 있다.Moreover, according to 1st Embodiment, the state analysis apparatus 10 produces | generates the display information containing a predetermined message, when the value of at least 1 of the some parameter related to another timing exceeds a threshold. As a result, the user can quickly recognize that the state of the target device 30 has changed. On the other hand, in another embodiment, the state analysis device 10 may change the display form of the plot G3 even when at least one of a plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold and does not exceed the threshold. good. By this, similarly to the first embodiment, the user can quickly recognize that the state of the target device 30 has changed.

이상, 도면을 참조하여 일실시 형태에 대해 자세하게 설명해 왔지만, 구체적인 구성은 전술의 것에 한정되는 것은 아니고, 여러가지 설계 변경 등을 하는 것이 가능하다.As mentioned above, although one Embodiment was described in detail with reference to drawings, a specific structure is not limited to the above-mentioned thing, Various design changes, etc. are possible.

예를 들면, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 전류 파라미터의 쌍에 관련되는 그래프를 표시 장치(20)에 표시시키지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 3개 이상의 전류 파라미터의 세트에 관련되는 고차원 그래프를 표시 장치(20)에 표시시켜도 좋다.For example, although the state analysis apparatus 10 which concerns on embodiment mentioned above displays the graph which concerns on a pair of current parameter on the display apparatus 20, it is not limited to this. For example, the state analysis device 10 according to another embodiment may cause the display device 20 to display a high-dimensional graph relating to a set of three or more current parameters.

또, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 서로 상관 관계를 갖는 복수의 전류 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 임계치를 나타내는 구분선 G2와, 전류 파라미터의 값을 나타내는 플롯 G3를 배치한 표시 정보를 생성하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 하나의 시각에 관련되는 하나의 전류 파라미터의 값과, 그 변화량을 나타내는 표시 정보를 생성해도 좋다. 이러한 실시 형태이어도, 이용자는, 대상 장치(30)의 상태가 어떻게 변화하고 있는지를 인식할 수 있다.Moreover, the state analysis apparatus 10 which concerns on the above-mentioned embodiment is the plot which shows the division line G2 which shows a threshold value, and the value of a current parameter in the coordinate space which made the axis | shaft of each of the some current parameter which has a mutual correlation as an axis. Although the display information which arrange | positioned G3 is produced | generated, it is not limited to this. For example, the state analysis device 10 according to another embodiment may generate a value of one current parameter related to one time and display information indicating the amount of change. Even in such an embodiment, the user can recognize how the state of the target device 30 is changing.

또, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 자신에게 직접 접속된 표시 장치(20)에 표시 정보를 출력하는 것으로 표시 제어를 행하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 표시 제어를 행하지 않고, 표시 정보를 기억 매체에 기록하거나, 네트워크를 통해서 접속된 다른 표시 장치(20)에 표시 정보를 송신해도 좋다.In addition, although the state analysis apparatus 10 which concerns on embodiment mentioned above performs display control by outputting display information to the display apparatus 20 directly connected to it, it is not limited to this. For example, the state analysis device 10 according to another embodiment may record display information in a storage medium or transmit display information to another display device 20 connected via a network without performing display control. good.

또, 전술한 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)는, 모터와 보조 기기가 같은 축으로 회전하는 회전 기계 시스템이지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 대상 장치(30)는, 모터와 보조 기기가 치차 장치 등의 기계계를 개재해서 접속되는 것이어도 좋다.Moreover, although the target apparatus 30 which concerns on embodiment mentioned above is a rotating mechanical system in which a motor and an auxiliary device rotate about the same axis, it is not limited to this. For example, the target device 30 according to another embodiment may be connected to a motor and an auxiliary device via a mechanical system such as a gear device.

또, 전술한 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 대상 장치(30)의 상태를 정상 상태, 이상 상태, 주의 상태의 3개의 구분으로 분류하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다른 실시 형태에 관련되는 상태 분석 장치(10)는, 정상 상태와 이상 상태의 2개의 구분으로 분류해도 좋고, 4개 이상의 구분으로 분류해도 좋다.Moreover, although the state analysis apparatus 10 which concerns on embodiment mentioned above classifies the state of the target apparatus 30 into three divisions, a normal state, an abnormal state, and a attention state, it is not limited to this. For example, the state analysis device 10 according to another embodiment may be classified into two divisions of a steady state and an abnormal state, or may be classified into four or more divisions.

도 10은, 적어도 1개의 실시 형태에 관련되는 컴퓨터의 구성을 나타내는 개략 블럭도이다.10 is a schematic block diagram showing a configuration of a computer according to at least one embodiment.

컴퓨터(90)는, CPU(91), 주 기억 장치(92), 보조 기억 장치(93), 인터페이스 (94)를 구비한다.The computer 90 includes a CPU 91, a main memory device 92, an auxiliary memory device 93, and an interface 94.

전술한 상태 분석 장치(10)는, 컴퓨터(90)에 실장된다. 그리고 전술한 각 처리부의 동작은, 프로그램의 형식으로 보조 기억 장치(93)에 기억되어 있다. CPU(91)는, 프로그램을 보조 기억 장치(93)로부터 읽어내어 주 기억 장치(92)에 전개하고, 당해 프로그램에 따라 상기 처리를 실행한다. 또, CPU(91)는, 프로그램에 따라, 전술한 각 기억부에 대응하는 기억 영역을 주 기억 장치(92)에 확보한다.The state analysis apparatus 10 mentioned above is mounted in the computer 90. The operation of each processing unit described above is stored in the auxiliary storage device 93 in the form of a program. The CPU 91 reads out the program from the auxiliary storage device 93 and expands it to the main memory device 92, and executes the above process according to the program. In addition, the CPU 91 secures the main storage device 92 to a storage area corresponding to each of the storage units described above in accordance with the program.

보조 기억 장치(93)의 예로서는, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Drive), 자기 디스크, 광 자기 디스크, CD-ROM(Compact Disc Read Only Memory), DVD-ROM(Digital Versatile Disc Read Only Memory), 반도체 메모리 등을 들 수 있다. 보조 기억 장치(93)는, 컴퓨터(90)의 버스에 직접 접속된 내부 미디어이어도 좋고, 인터페이스(94) 또는 통신 회선을 통해서 컴퓨터(90)에 접속되는 외부 미디이어도 좋다. 또, 이 프로그램이 통신 회선에 의해 컴퓨터(90)에 전달되는 경우, 전달을 받은 컴퓨터(90)가 당해 프로그램을 주 기억 장치(92)에 전개하고, 상기 처리를 실행해도 좋다. 적어도 1개의 실시 형태에 있어서, 보조 기억 장치(93)는, 일시적이 아닌 유형의 기억 매체이다.Examples of the auxiliary storage device 93 include a hard disk drive (HDD), a solid state drive (SSD), a magnetic disk, a magneto-optical disk, a compact disc read only memory (CD-ROM), and a digital versatile disc read only (DVD-ROM). Memory), semiconductor memory, and the like. The auxiliary storage device 93 may be internal media directly connected to the bus of the computer 90, or may be external MIDI connected to the computer 90 via the interface 94 or a communication line. In addition, when this program is delivered to the computer 90 by a communication line, the computer 90 that has received the delivery may deploy the program to the main storage device 92 to execute the above process. In at least one embodiment, the auxiliary storage device 93 is a non-transitory tangible storage medium.

또, 당해 프로그램은, 전술한 기능의 일부를 실현하기 위한 것이어도 좋다. 또한, 당해 프로그램은, 전술한 기능을 보조 기억 장치(93)에 이미 기억되고 있는 다른 프로그램과의 조합으로 실현되는 것, 이른바 차분 파일(차분 프로그램)이어도 좋다.The program may be for realizing some of the functions described above. The program may be implemented by combining the above-described function with another program already stored in the auxiliary storage device 93, or a so-called difference file (differential program).

(산업상의 이용 가능성)(Industrial availability)

본원에 관련되는 상태 분석 장치, 표시 방법, 및 프로그램에 의하면, 대상 장치의 상태 및 상태의 변화를 용이하게 식별할 수가 있다.According to the state analysis device, the display method, and the program which concern on this application, the state of a target apparatus and a change of state can be identified easily.

1: 상태 분석 시스템
10: 상태 분석 장치
11: 전류 취득부
12: 파라미터 산출부
13: 파라미터 기억부
14: 임계치 기억부
15: 그래프 생성부
16: 천이 검지부
17: 표시 제어부
20: 표시 장치
30: 대상 장치
40: 삼상 교류 전원
50: 전력선
60: 클램프 전류계
G1: 축
G2: 구분선
G3: 플롯
G4: 화살표
1: condition analysis system
10: health analysis device
11: current acquisition unit
12: parameter calculation unit
13: Parameter memory
14: threshold memory
15: graph generator
16: Transition Detector
17: display control unit
20: display device
30: Target device
40: three phase AC power
50: power line
60: clamp ammeter
G1: shaft
G2: Divider
G3: Plot
G4: arrow

Claims (7)

대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 전류 취득부와,
일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 파라미터 산출부와,
상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 미리 정해진 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 표시 정보 생성부
를 구비하는 상태 분석 장치.
A current acquisition unit for acquiring a current signal flowing through the target device;
A parameter calculator that calculates values of a plurality of parameters that vary according to the state of the target device and correlate with each other, based on the current signal, at a timing associated with a predetermined period;
A division line indicating a predetermined threshold value, which is a criterion for determining the state of the target device, in a coordinate space around each of the plurality of parameters, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing; And a display information generation unit for generating display information in which a second figure indicating an amount of change in the value of the plurality of parameters calculated at different timings is arranged.
Condition analysis device provided with.
제 1 항에 있어서,  
상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우에, 소정의 메세지를 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는 상태 분석 장치.
The method of claim 1,
And the display information generating unit generates the display information including a predetermined message when at least one of the plurality of parameters related to another timing exceeds the threshold.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,  
상기 표시 정보 생성부는, 다른 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터 중 적어도 1개의 값이 상기 임계치를 넘는 경우와 상기 임계치를 넘지 않는 경우에서, 상기 제 1 도형의 표시 형태를 다르게 하는 상태 분석 장치.
The method according to claim 1 or 2,
And the display information generation unit changes the display form of the first figure when the value of at least one of the plurality of parameters related to different timings exceeds the threshold and does not exceed the threshold.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,  
상기 대상 장치의 상태는, 상기 대상 장치가 정상인 정상 상태, 상기 대상 장치가 이상인 이상 상태, 및 상기 대상 장치의 상태가 이상 상태로 천이할 수 있는 상태인 주의 상태를 포함하고,
상기 표시 정보 생성부는, 상기 구분선으로서, 상기 정상 상태와 상기 주의 상태를 구분하는 제 1 구분선과, 상기 주의 상태와 상기 이상 상태를 구분하는 제 2 구분선을 포함하는 상기 표시 정보를 생성하는
상태 분석 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The state of the target device includes a normal state in which the target device is normal, an abnormal state in which the target device is abnormal, and a caution state in which the state of the target device can transition to an abnormal state,
The display information generation unit may generate the display information including the first division line for dividing the normal state and the attention state and the second division line for dividing the attention state and the abnormal state as the dividing line.
Health analysis device.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,  
상기 대상 장치는, 로터 주위로 회전하는 모터, 및 상기 로터와 함께 회전하는 보조 기기를 갖는 장치이고,
상기 복수의 파라미터는, 상기 대상 장치의 전반적인 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 로터 및 상기 보조 기기의 미스얼라인먼트의 상태를 나타내는 파라미터, 상기 모터에 흐르는 전류의 실효치를 나타내는 파라미터, 상기 전류에 관련되는 전원의 품질을 나타내는 파라미터, 및 상기 보조 기기의 상태를 나타내는 파라미터로 이루어지는 군으로부터 선택된 복수의 파라미터인
상태 분석 장치.
The method according to any one of claims 1 to 4,
The target device is a device having a motor that rotates around the rotor, and an auxiliary device that rotates with the rotor,
The plurality of parameters may include a parameter representing an overall state of the target device, a parameter representing a state of the rotor, a parameter representing a state of misalignment of the rotor and the auxiliary device, a parameter representing an effective value of current flowing through the motor, And a plurality of parameters selected from the group consisting of a parameter representing a quality of a power source related to the current, and a parameter representing a state of the auxiliary device.
Health analysis device.
대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과,
일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과,
다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과,
상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 표시하는 것
을 포함하는 표시 방법.
Acquiring a current signal flowing through the target device;
Calculating a value of a plurality of parameters that vary according to the state of the target device and correlate with each other, based on the current signal, at a timing associated with a constant period;
Calculating a change amount of the values of the plurality of parameters calculated at different timings,
A division line indicating a threshold value as a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing, and the Displaying display information in which a second figure representing a change amount is arranged
Display method comprising a.
컴퓨터에게,
대상 장치에 흐르는 전류 신호를 취득하는 것과,
일정한 주기에 관련되는 타이밍에서, 상기 전류 신호에 근거하여, 상기 대상 장치의 상태에 따라 변동하고 서로 상관 관계를 갖는 복수의 파라미터의 값을 산출하는 것과,
다른 타이밍에 있어서 산출된 상기 복수의 파라미터의 값의 변화량을 산출하는 것과,
상기 복수의 파라미터의 각각을 축으로 한 좌표 공간에, 상기 대상 장치의 상태의 판단 기준이 되는 임계치를 나타내는 구분선과, 하나의 타이밍에 관련되는 상기 복수의 파라미터의 값을 나타내는 제 1 도형과, 상기 변화량을 나타내는 제 2 도형을 배치한 표시 정보를 생성하는 것
을 실행시키기 위한 프로그램.
To the computer,
Acquiring a current signal flowing through the target device;
Calculating a value of a plurality of parameters that vary according to the state of the target device and correlate with each other, based on the current signal, at a timing associated with a constant period;
Calculating a change amount of the values of the plurality of parameters calculated at different timings,
A division line indicating a threshold value as a criterion for determining the state of the target device in a coordinate space around each of the plurality of parameters, a first figure indicating values of the plurality of parameters related to one timing, and the Generating display information in which a second figure representing a change amount is arranged
Program to run.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6764516B1 (en) * 2019-11-08 2020-09-30 Dmg森精機株式会社 Machine tools and display devices
JP2021196267A (en) * 2020-06-15 2021-12-27 三菱パワー株式会社 Sign determination device, sign determination method, and program
KR102451079B1 (en) * 2020-12-24 2022-10-06 주식회사 크로커스 Visual Abstraction Analysis Method of Power System

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07129232A (en) * 1993-11-08 1995-05-19 Toshiba Corp Plant monitor device
JP2005274440A (en) * 2004-03-25 2005-10-06 Toyota Motor Corp Inspection device and technique of rotary electric machine
KR20140072964A (en) * 2012-12-05 2014-06-16 (주)나다에스앤브이 State Management System For Machine Equipment
JP5985099B1 (en) * 2016-03-31 2016-09-06 株式会社高田工業所 Rotating machine system abnormality detection method, rotating machine system abnormality monitoring method using the abnormality detection method, and rotating machine system abnormality monitoring apparatus using the abnormality monitoring method

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3392526B2 (en) * 1994-07-29 2003-03-31 株式会社東芝 Equipment maintenance management support equipment
CN102870057B (en) * 2010-04-08 2015-01-28 株式会社日立制作所 Plant diagnosis device, diagnosis method, and diagnosis program
JP5813317B2 (en) * 2010-12-28 2015-11-17 株式会社東芝 Process status monitoring device
JP5579139B2 (en) * 2011-09-02 2014-08-27 三菱電機株式会社 Control data collection and evaluation apparatus and control data collection and evaluation method
JP5447466B2 (en) * 2011-09-13 2014-03-19 株式会社デンソー Rotating machine control device
CN103995245B (en) * 2014-06-10 2017-02-01 哈尔滨工业大学 Fault judgment method of stator and rotor current signal detection system of doubly-fed wind generator
JP2016095751A (en) * 2014-11-17 2016-05-26 富士通株式会社 Abnormality unit identification program, abnormality unit identification method and abnormality unit identification system
JP6371236B2 (en) * 2015-02-23 2018-08-08 株式会社日立製作所 Predictive diagnostic system, predictive diagnostic method, and predictive diagnostic apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07129232A (en) * 1993-11-08 1995-05-19 Toshiba Corp Plant monitor device
JP2005274440A (en) * 2004-03-25 2005-10-06 Toyota Motor Corp Inspection device and technique of rotary electric machine
KR20140072964A (en) * 2012-12-05 2014-06-16 (주)나다에스앤브이 State Management System For Machine Equipment
JP5985099B1 (en) * 2016-03-31 2016-09-06 株式会社高田工業所 Rotating machine system abnormality detection method, rotating machine system abnormality monitoring method using the abnormality detection method, and rotating machine system abnormality monitoring apparatus using the abnormality monitoring method

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