KR20190095765A - 디스플레이 장치 - Google Patents

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KR20190095765A
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Abstract

본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치는, 영상을 출력하는 디스플레이 패널, 상기 디스플레이 패널의 구동을 제어하는 복수의 SD-IC, 상기 복수의 SD-IC를 포함하는 적어도 하나의 소스 PCB, 상기 영상을 처리하고, 처리된 영상을 상기 적어도 하나의 소스 PCB로 전송하는 SoC와 제1 메모리를 포함하는 메인 보드, 및 상기 적어도 하나의 소스 PCB 각각과 상기 메인 보드를 연결하는 적어도 하나의 인터페이스를 포함하고, 상기 적어도 하나의 소스 PCB 중 어느 하나의 소스 PCB는, 상기 디스플레이 패널의 얼룩 보상을 위한 얼룩 보상 데이터를 저장하는 제2 메모리를 포함한다.

Description

디스플레이 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 영상 출력 시 화면에 나타날 수 있는 얼룩을 보상할 수 있는 디스플레이 장치에 관한 것이다.
TV 등과 같은 디스플레이 장치는, 각각 별도로 제조된 디스플레이 패널, 메인보드, 및 기타 부품이나 케이스 등을 조립함으로써 완성되어 소비자에게 판매될 수 있다.
일반적으로, TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Diode)와 같은 디스플레이 패널의 제조 공정 시, TFT 패턴을 입히는 포토 공정에서는 이물질, 노광 시 발생하는 마스크 불량, 공정조건 등에 따른 불균일에 의해 얼룩이 생성될 수 있다.
이러한 얼룩은 사람이 육안으로 검사(목시 검사)하거나, 카메라를 이용한 검사를 통해 확인될 수 있다. 검사 결과, 얼룩의 정도가 소정 기준을 초과하지 않는 디스플레이 패널에 대해서는 얼룩 보상 데이터를 내장하여 출하할 수 있다.
도 1과 도 2는 종래의 디스플레이 장치의 얼룩 보상 방법을 설명하기 위한 예시도들이다.
도 1과 도 2를 참조하면, 일반적인 디스플레이 장치(1)는 메인 보드(2), S-PCB(source-printed circuit board)(3), 타이밍 컨트롤러 보드(4) 등을 포함하는 복수의 보드들과, 디스플레이 패널(5)을 포함한다. 메인 보드(2)와 타이밍 컨트롤러 보드(4) 사이, 타이밍 컨트롤러 보드(4)와 S-PCB(3) 사이에는 각각 인터페이스(6, 7)가 구비되어, 각 구성이 서로 연결될 수 있다.
예컨대, 상기 인터페이스(6, 7)는 SPI(serial peripheral interface)를 포함할 수 있다.
종래의 경우, 디스플레이 패널(5)의 얼룩을 보상하기 위한 얼룩 보상 데이터는 타이밍 컨트롤러 보드(4)에 포함된 메모리(41; 예컨대, 플래시 메모리)에 저장되었다. 즉, 디스플레이 패널의 제조사는 상기 얼룩 보상 데이터를 메모리(41)에 저장한 채로 출하하고, 디스플레이 장치(1)의 제조사는 디스플레이 패널에 메인보드(2) 등의 추가 부품이나 케이스 등을 조립하여 최종적으로 디스플레이 장치(1)를 제조할 수 있다.
종래의 얼룩 보상 동작에 따르면, 메인 보드(2)에서 각종 영상 처리 동작 등을 통해 제공되는 영상(I1)은, 얼룩 보상 동작이 수행되지 않은 채 출력되는 경우 영상(I1')과 같이 화면 상에 얼룩이 나타나게 될 수 있다. 타이밍 컨트롤러 보드(4)의 타이밍 컨트롤러는, 메모리(41)에 저장된 메인 보드(2)로부터 제공된 영상(I1)에 대해 얼룩 보상 데이터를 적용함으로써, 얼룩 보상 동작이 수행된 영상(I1'')을 S-PCB(3)로 전송할 수 있다. 소스 구동 IC(SD-IC)(31)는 수신된 영상(I1'')을 디스플레이 패널(5)을 통해 출력할 수 있다. 영상(I1'')은 얼룩 보상 동작이 수행되었으므로, 화면 상에 얼룩이 나타나지 않거나 최소화될 수 있다.
다만, 종래의 얼룩 보상 동작은 메인 보드(2)의 프로세서에 비해 상대적으로 저성능의 프로세서를 갖는 타이밍 컨트롤러 보드(3)에서 수행되므로, 얼룩 보상 동작의 처리 속도나 처리 성능에 한계가 존재하며, 얼룩 보상 데이터의 에러 검출 시 체크섬(checksum)과 같이, CRC(cyclic redundancy check)에 비해 상대적으로 단순하고 신뢰성이 낮은 에러 검출 방식을 사용해야 하는 문제가 있었다.
또한, 일부 디스플레이 장치에는 별도의 타이밍 컨트롤러 보드(4)가 구비되지 않거나, 메인 보드(2)에 타이밍 컨트롤러가 내장되어 있을 수도 있다. 이러한 디스플레이 장치에 대해서는 종래와 같이 디스플레이 패널 제조사가 타이밍 컨트롤러 보드(3)에 얼룩 보상 데이터를 저장할 수 없으므로, 디스플레이 장치가 상기 얼룩 보상 동작을 수행하지 못하는 문제가 발생할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 별도의 타이밍 컨트롤러 보드가 구비되지 않는 경우에도 얼룩 보상 동작을 수행할 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는, 얼룩 보상 동작의 처리 속도나 처리 성능을 향상시키고, 얼룩 보상 동작의 정확도를 향상시킬 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치는, 영상을 출력하는 디스플레이 패널, 상기 디스플레이 패널의 구동을 제어하는 복수의 SD-IC, 상기 복수의 SD-IC를 포함하는 적어도 하나의 소스 PCB, 상기 영상을 처리하고, 처리된 영상을 상기 적어도 하나의 소스 PCB로 전송하는 SoC와 제1 메모리를 포함하는 메인 보드, 및 상기 적어도 하나의 소스 PCB 각각과 상기 메인 보드를 연결하는 적어도 하나의 인터페이스를 포함하고, 상기 적어도 하나의 소스 PCB 중 어느 하나의 소스 PCB는, 상기 디스플레이 패널의 얼룩 보상을 위한 얼룩 보상 데이터를 저장하는 제2 메모리를 포함한다.
상기 SoC는, 상기 영상을 처리하는 프로세서, 및 상기 얼룩 보상 데이터를 이용하여 상기 영상에 대한 얼룩 보상 동작을 수행하고, 얼룩 보상 동작이 수행된 영상을 상기 인터페이스를 통해 상기 소스 PCB로 전송하는 타이밍 컨트롤러를 포함할 수 있다.
상기 제2 메모리는 상기 얼룩 보상 데이터에 대한 오류 확인 데이터를 저장할 수 있다.
상기 프로세서는, 상기 디스플레이 장치의 전원 온 시 상기 제1 메모리에 상기 얼룩 보상 데이터가 저장되어 있지 않은 경우, 상기 제2 메모리로부터 상기 얼룩 보상 데이터와 상기 오류 확인 데이터를 획득하고, 상기 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하고, 계산된 오류 확인 데이터와 획득된 오류 확인 데이터를 비교함으로써, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 획득된 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 획득된 얼룩 보상 데이터를 상기 타이밍 컨트롤러로 제공할 수 있다.
실시 예에 따라, 상기 프로세서는 상기 디스플레이 장치의 전원 온 시 상기 제1 메모리에 상기 얼룩 보상 데이터가 포함된 경우, 상기 제2 메모리로부터 상기 오류 확인 데이터를 획득하고, 상기 제1 메모리로부터 상기 얼룩 보상 데이터를 획득하고, 상기 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하고, 계산된 오류 확인 데이터와 획득된 오류 확인 데이터를 비교함으로써, 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 제1 메모리에 저장된 얼룩 보상 데이터를 상기 타이밍 컨트롤러로 제공할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 다른 경우, 상기 제2 메모리로부터 얼룩 보상 데이터를 획득하고, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하여 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장할 수 있다.
실시 예에 따라, 상기 제1 메모리는 상기 얼룩 보상 데이터, 및 상기 얼룩 보상 데이터에 대한 오류 확인 데이터를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 디스플레이 장치의 전원 온 시, 상기 제1 메모리와 상기 제2 메모리 각각으로부터 오류 확인 데이터를 획득하고, 획득된 오류 확인 데이터를 비교하여 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인할 수 있다.
상기 프로세서는, 상기 제1 메모리와 상기 제2 메모리 각각으로부터 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 타이밍 컨트롤러로 제공할 수 있다.
상기 프로세서는, 상기 제1 메모리와 상기 제2 메모리 각각으로부터 획득된 오류 확인 데이터가 서로 다른 경우, 상기 제2 메모리로부터 얼룩 보상 데이터를 획득하고, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하여 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 동작 방법은, 상기 디스플레이 장치의 메인 보드에 포함된 프로세서가, 복수의 SD-IC를 포함하는 적어도 하나의 소스 PCB 중 어느 하나의 소스 PCB에 포함된 제2 메모리로부터, 디스플레이 패널의 얼룩 보상을 위한 얼룩 보상 데이터와 오류 확인 데이터를 획득하는 단계, 상기 프로세서가, 상기 획득된 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하는 단계, 상기 프로세서가, 상기 획득된 오류 확인 데이터와 상기 계산된 오류 확인 데이터를 비교하는 단계, 및 상기 프로세서가, 비교 결과에 기초하여 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 메인 보드에 포함된 제1 메모리에 저장하는 단계를 포함한다.
본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 디스플레이 장치는 소스 PCB에 저장된 얼룩 보상 데이터를 이용하여 얼룩 보상 동작을 수행할 수 있으므로, 디스플레이 장치에 별도의 타이밍 컨트롤러 보드가 구비되지 않거나 타이밍 컨트롤러가 메인 보드의 SoC 내에 포함되더라도 얼룩 보상 동작을 원활히 수행할 수 있다.
또한, 디스플레이 장치는 소스 PCB의 얼룩 보상 데이터를 메인 보드에 포함된 메모리에 저장하고, 추후 얼룩 보상 동작 시 메인 보드의 메모리에 저장된 얼룩 보상 데이터를 이용할 수 있다. 이에 따라, 얼룩 보상 데이터를 소스 PCB로부터 인터페이스를 통해 지속적으로 획득하는 것에 비해 처리 속도가 향상될 수 있다.
또한, 디스플레이 장치는 얼룩 보상 동작을 수행하기 전, 메인 보드의 메모리에 저장된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인할 수 있으므로, 얼룩 보상 동작 시 정확도 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
뿐만 아니라, 디스플레이 장치는 소스 PCB의 메모리로부터 데이터 사이즈가 작은 오류 확인 데이터만을 획득하여 상기 메인 보드의 메모리에 저장된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하므로, 유효 여부 확인 시 속도 지연을 최소화할 수 있다.
도 1은 종래의 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2은 종래의 디스플레이 장치의 얼룩 보상 동작을 설명하기 위한 예시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4와 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치가 최초로 전원이 온 되는 경우, 얼룩 보상 데이터가 메인 보드로 획득되는 과정을 설명하기 위한 도면들이다.
도 6 내지 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 얼룩 보상 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
이하, 본 발명과 관련된 실시 예에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 디스플레이 장치(10)는 메인 보드(11), 복수의 S-PCB들(12a, 12b), 메인 보드(11)와 복수의 S-PCB들(12a, 12b) 각각 사이에 구비되는 인터페이스(13a, 13b), 및 디스플레이 패널(14)을 포함할 수 있다.
메인 보드(11)는, 디스플레이 장치(10)의 전반적인 동작을 제어하는 프로세서(111; 도 5 참조), 소스 구동 IC(SD-IC)로 전송되는 데이터의 양을 조절하고 화질의 개선 등을 수행하는 타이밍 컨트롤러(112; 도 5 참조), 및 프로세서의 동작에 필요한 데이터나 알고리즘 등을 저장하는 메모리(113; 도 5 참조) 등을 포함하는 모듈로서 구현될 수 있다.
예컨대, 상기 프로세서와 타이밍 컨트롤러는 하나의 시스템 온 칩(System on Chip (SoC))으로 구현될 수 있으나, 반드시 그러한 것은 아니다. 또한, 상기 프로세서는 일반적인 중앙처리장치(CPU)뿐만 아니라, 영상 처리를 위한 각종 프로세서들(GPU 등)을 포괄하는 의미로 이해될 수 있다.
복수의 S-PCB들(12a, 12b) 각각은 복수의 소스 구동 IC(SD-IC)(121)를 포함할 수 있다. S-PCB 및 SD-IC의 수는, 디스플레이 패널(14)의 사이즈 등에 의해 변경될 수 있다. 예컨대, 디스플레이 패널(14)의 사이즈가 증가할 수록, S-PCB의 수 또는 SD-IC의 수는 증가할 수 있다.
복수의 SD-IC(121) 각각은 메인 보드(11)로부터 전송되는 영상정보에 기초하여 디스플레이 패널(14) 내의 대응하는 소자들의 구동을 제어할 수 있다. 소자들의 구동을 제어함에 따라, 상기 영상정보가 디스플레이 패널(14)을 통해 출력될 수 있다.
인터페이스(13a, 13b)는 메인 보드(11)와 복수의 S-PCB들(12a, 12b)을 서로 연결시킬 수 있다. 예컨대, 인터페이스(13a, 13b)는 직렬 주변 장치 인터페이스(serial peripheral interface (SPI))로 구현될 수 있으나, 반드시 그러한 것은 아니다. 메인 보드(11)와 S-PCB들(12a, 12b) 각각에는, 인터페이스(13a, 13b)가 연결되기 위한 인터페이스 단자(115a, 115b, 123a, 123b)가 구비될 수 있다.
특히, 본 발명의 실시 예에 따르면, 복수의 S-PCB들(12a, 12b) 중 어느 하나의 S-PCB(예컨대, 12a)에는, 얼룩 보상 데이터가 저장된 메모리(122)가 포함될 수 있다. 상기 얼룩 보상 데이터는, 디스플레이 패널(14)의 제조사에서, 디스플레이 패널(14)의 제조 후 검사(육안 또는 카메라 등)를 통해 생성되어 저장될 수 있다. 예컨대, 디스플레이 장치(10)가 TV인 경우, 디스플레이 패널(14)의 제조사는 디스플레이 패널(14)과 S-PCB들(12a, 12b)을 제조하여 납품하고, TV의 제조사는 디스플레이 패널(14)과 S-PCB들(12a, 12b)에 메인 보드(11)와 인터페이스(13a, 13b), 및 기타 구성들을 조립하여 최종적으로 TV를 생산할 수 있다.
즉, 본 발명의 실시 예에 따르면 상기 얼룩 보상 데이터는 복수의 S-PCB들(12a, 12b) 중 어느 하나의 메모리(122)에 저장될 수 있다. 이에 따라, 별도의 타이밍 컨트롤러 보드가 구비되지 않는 디스플레이 장치에서도 얼룩 보상 동작이 수행될 수 있다.
한편, 메인 보드(11)의 타이밍 컨트롤러는, 상기 얼룩 보상 데이터를 이용하여 얼룩 보상 동작을 수행할 수 있다. 상기 얼룩 보상 데이터는, 디스플레이 패널(14) 전 영역에 대한 얼룩을 보상하는 데이터로서 데이터 사이즈가 클 수 있다. 이 때, 타이밍 컨트롤러가 상기 메모리(122)로부터 얼룩 보상 데이터를 매 번 수신하여 얼룩 보상 동작을 수행하는 경우, 인터페이스(13a)를 통한 얼룩 보상 데이터 수신 시, 데이터 사이즈로 인해 시간 지연이 발생하고, 그 결과 처리 속도가 저하될 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치(10)는, 최초 전원 온 시 S-PCB(12a)의 메모리(122)에 저장된 얼룩 보상 데이터를 메인 보드(11)의 메모리로 다운로드하고, 타이밍 컨트롤러는 메모리에 다운로드된 얼룩 보상 데이터를 이용하여 얼룩 보상 동작을 수행할 수 있다. 이와 관련된 실시 예들에 대해 이하 도 4 내지 도 8을 참조하여 설명하기로 한다.
도 4와 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치가 최초로 전원이 온 되는 경우, 얼룩 보상 데이터가 메인 보드로 획득되는 과정을 설명하기 위한 도면들이다.
도 4와 도 5를 참조하면, 디스플레이 장치(10)는 S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터, 얼룩 보상 데이터(CIC)와 오류 확인 데이터(예컨대, CRC(cyclic redundancy check))를 획득할 수 있다(S100).
얼룩 보상 데이터(CIC)는, 디스플레이 패널(14)의 화소들 또는 복수의 영역들 중 적어도 하나에 대한 보정값을 포함할 수 있다. 상기 보정값은 색상 또는 명도(밝기)에 대한 보정값을 의미할 수 있다.
즉, 메인 보드(11)로부터 제공되는 영상 내의 각 화소에 대한 RGB 값 또는 YUV 값은, 상기 얼룩 보상 데이터(CIC) 내의 대응하는 화소에 대한 보정값에 기초하여 변경될 수 있고, 이에 따라 얼룩 보상 동작이 수행될 수 있다.
또한, 메모리(112)에는 상기 얼룩 보상 데이터(CIC)에 대한 오류 확인 데이터(CRC)가 저장될 수 있다. 예컨대, 상기 오류 확인 데이터(CRC)는 순환 중복 검사 방식에 따라 계산된 데이터일 수 있다. 상기 CRC는, 얼룩 보상 데이터(CIC)의 데이터 스트림을 기 설정된 제수(divisor)로 나누었을 때의 나머지 값에 해당할 수 있다. 상기 데이터 스트림은 복수의 화소들의 데이터를 연결한 값일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
디스플레이 장치(10)의 프로세서(111)는, 디스플레이 장치(10)의 최초 전원 온 시, 또는 메인 보드(11)의 메모리(113)에 얼룩 보상 데이터(CIC)가 저장되어 있지 않는 경우, 인터페이스(13a)를 통해 S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터 얼룩 보상 데이터(CIC)와 오류 확인 데이터(CRC)를 수신할 수 있다. 실시 예에 따라, 디스플레이 장치(10)가 최초로 전원이 온 됨은, 메인 보드(11)의 고장 등에 의해 메인 보드(11)가 교체된 후 최초로 전원이 온 되는 경우 또한 포함할 수 있다.
디스플레이 장치(10)는 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)로부터 오류 확인 데이터(CRC)를 계산할 수 있다(S110).
프로세서(111)는, 메모리(122)로부터 수신한 얼룩 보상 데이터(CIC)로부터 오류 확인 데이터(CRC)를 계산할 수 있다. 프로세서(111)는 상술한 바와 같이 순환 중복 검사 방식에 기초하여 오류 확인 데이터(CRC)를 계산할 수 있다. 이를 위해, 메인 보드(11)의 메모리(113)에는 오류 확인 데이터(CRC)의 계산을 위한 알고리즘이 저장되어 있을 수 있다.
디스플레이 장치(10)는 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와, 메모리(122)로부터 획득된 오류 확인 데이터(CRC)를 비교할 수 있다(S120). 프로세서(111)는 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와 메모리(122)로부터 획득된 오류 확인 데이터(CRC)를 비교함으로써, 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)가 메모리(122)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)와 동일한 지 여부, 즉, 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)가 정확한지 여부를 확인할 수 있다.
비교 결과 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와 획득된 오류 확인 데이터(CRC)가 동일한 경우(S120의 YES), 디스플레이 장치(10)는 메모리(122)로부터 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)와 오류 확인 데이터(CRC)를 메인 보드(11)의 메모리(113)에 저장할 수 있다(S130). 프로세서(111)는 비교 결과 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와 획득된 오류 확인 데이터(CRC)가 동일한 경우, 얼룩 보상 데이터(CIC)와 오류 확인 데이터(CRC)를 메모리(113)에 저장할 수 있다. 상기 메모리(113)는 eMMC(embedded multimediacard)로 구현될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
실시 예에 따라, 프로세서(111)는 오류 확인 데이터(CRC)는 저장하지 않고, 얼룩 보상 데이터(CIC)만을 메모리(113)에 저장할 수도 있다.
디스플레이 장치(10)는 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)를 타이밍 컨트롤러(112)로 전송할 수 있다(S140).
타이밍 컨트롤러(112)는 상기 얼룩 보상 데이터(CIC)에 기초하여, 프로세서(111)로부터 전달되는 영상에 대한 얼룩 보상 동작을 수행할 수 있다. 얼룩 보상 동작이 수행된 영상은 S-PCB(12a, 12b)에 포함된 복수의 SD-IC(121)로 전송되고, SD-IC(121)는 수신된 영상에 기초하여 디스플레이 패널(14)을 구동하여 영상을 출력할 수 있다.
반면, 비교 결과 계산된 CRC와 획득된 CRC가 다른 경우(S120의 NO), 디스플레이 장치(10)는 획득된 얼룩 보상 데이터가 유효하지 않음을 확인할 수 있다(S150). 얼룩 보상 데이터가 유효하지 않음은, 전송 오류나 노이즈 등에 의해, 프로세서(111)로 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)의 일부 값이 원래 값으로부터 변경된 것을 의미할 수 있다. 유효하지 않은 얼룩 보상 데이터(CIC)를 이용하여 얼룩 보상 동작이 수행되는 경우, 디스플레이 패널(14)을 통해 표시되는 영상에 얼룩이 여전히 존재할 수 있다. 이에 따라, 프로세서(111)는 획득된 얼룩 보상 데이터가 유효하지 않은 경우 얼룩 보상 데이터를 저장하지 않고, S100 단계 내지 S120 단계를 다시 수행하여 얼룩 보상 데이터(CIC)를 다시 획득할 수 있다.
즉, 도 4 내지 도 5에 도시된 실시 예에 따르면, 디스플레이 장치(10)의 최초 전원 온 시, S-PCB(12a)의 메모리(122)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)는 메인 보드(11)의 메모리(113)로 다운로드되어 저장될 수 있다. 메인 보드(11)의 타이밍 컨트롤러(112)는 추후 얼룩 보상 동작 시 메인 보드(11)의 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)를 로드할 수 있으므로, S-PCB(12a)로부터 얼룩 보상 데이터(CIC)를 획득하는 것에 비해 처리 속도를 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따르면, 얼룩 보상 동작의 유효 여부를 확인하는 과정은, 종래의 타이밍 컨트롤러 보드에 포함된 프로세서보다 고성능을 갖는 메인 보드(11)의 프로세서(111)에 의해 수행될 수 있다. 이에 따라, 얼룩 보상 데이터에 대한 유효 여부를 확인하기 위한 오류 확인 데이터를 생성하는 방식에 있어서, 종래의 checksum에 비해 신뢰도가 높은 CRC 방식을 이용할 수 있으므로, 얼룩 보상 데이터의 신뢰성이 향상될 수 있다.
이하, 도 6 내지 도 8을 참조하여, 디스플레이 장치(10)가 메인 보드(11)의 메모리(113)로 다운로드된 얼룩 보상 데이터(CIC)를 이용하여 얼룩 보상 동작을 수행하는 과정에 대해 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 6 내지 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 얼룩 보상 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
도 6 내지 도 8을 참조하면, 디스플레이 장치(10)는 S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터 오류 확인 데이터(CRC)를 획득하고(S200), 메인 보드(11)의 메모리(113)로부터 얼룩 보상 데이터(CIC)를 획득할 수 있다(S210).
프로세서(111)는 디스플레이 장치(10)의 전원이 온 되는 경우, S-PCB(12a)의 메모리(122)에 저장된 오류 확인 데이터(CRC)를 인터페이스(13a)를 통해 획득하고, 메인 보드(11)의 메모리(113)로부터 얼룩 보상 데이터(CIC)를 획득할 수 있다. S200 단계와 S210 단계의 순서는 실시 예에 따라 변경될 수 있다.
디스플레이 장치(10)는, 메모리(113)로부터 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)로부터 오류 확인 데이터(CRC)를 계산할 수 있다(S220).
프로세서(111)가 오류 확인 데이터(CRC)를 계산하는 동작은 도 4의 S110 단계와 유사한 바, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
디스플레이 장치(10)는, S200 단계에 따라 획득된 오류 확인 데이터(CRC)와, S220 단계에 따라 계산된 오류 확인 데이터(CRC)를 비교할 수 있다(S230).
예컨대, 디스플레이 패널(14)의 특성 변경 등으로 인해 얼룩 보상 데이터(CIC)가 업데이트되는 경우, 업데이트되는 얼룩 보상 데이터(CIC)는 S-PCB(12a)의 메모리(122)에 저장될 수 있다. 또는, 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)가 손상 또는 오류 등에 따라 변경될 수도 있다. 이러한 경우, 메인 보드(11)의 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)는 더 이상 유효하지 않을 수 있다.
또한, 얼룩 보상 데이터(CIC)가 업데이트됨에 따라, 메모리(122)에 저장되는 오류 확인 데이터(CRC) 또한 변경될 수 있다.
따라서, 프로세서(111)는 S200 단계에 따라 획득된 오류 확인 데이터(CRC)와, S220 단계에 따라 계산된 오류 확인 데이터(CRC)를 비교함으로써, 얼룩 보상 데이터(CIC)의 업데이트 여부를 확인할 수 있다.
비교 결과, 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와 획득된 오류 확인 데이터(CRC)가 동일한 경우(S230의 YES), 디스플레이 장치(10)는 메모리(113)로부터 획득된 얼룩 보상 데이터(CIC)를 타이밍 컨트롤러(112)로 제공할 수 있다(S240).
프로세서(111)는, 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와 획득된 오류 확인 데이터(CRC)가 동일한 경우, 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)가 유효함을 확인할 수 있다.
이에 따라, 타이밍 컨트롤러(112)는 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)를 이용하여 얼룩 보상 동작을 수행할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(112)는 프로세서(111)로부터 제공되는 영상(I1)에 대해, 얼룩 보상 데이터(CIC)를 이용하여 얼룩 보상 동작을 수행하고, 얼룩 보상 동작이 수행된 영상(I1'')을 인터페이스(13a, 13b)를 통해 SD-IC(121)로 전송할 수 있다. SD-IC(121)는 수신된 영상(I1'')에 기초하여 디스플레이 패널(14)을 구동함으로써, 영상(I1'')을 출력할 수 있다.
반면, 계산된 오류 확인 데이터(CRC)와 획득된 오류 확인 데이터(CRC)가 다른 경우(S230의 NO), 디스플레이 장치(10)는 도 4에 도시된 단계들(S100~S150)을 수행하여, S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터 얼룩 보상 데이터(CIC)를 다시 획득할 수 있다.
프로세서(111)는 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)가 더 이상 유효하지 않은 것으로 확인하고, S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터 얼룩 보상 데이터(CIC)를 획득할 수 있다.
도 6 내지 도 7에서는 프로세서(111)가 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)로부터 오류 확인 데이터(CRC)를 직접 계산하여, 메모리(122)로부터 획득된 오류 확인 데이터(CRC)와 비교하는 것으로 기재하였다. 그러나, 실시 예에 따라, 프로세서(111)는 오류 확인 데이터(CRC)를 계산하는 대신, 메모리(113)에 저장된 오류 확인 데이터(CRC)를 S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터 획득된 오류 확인 데이터(CRC)와 비교할 수도 있다. 이에 따라, 프로세서(111)는 S-PCB(12a)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)의 업데이트 여부를 확인하여, 업데이트된 얼룩 보상 데이터(CIC)를 메모리(113)로 다시 다운로드할 수도 있다.
즉, 도 6 내지 도 8에 도시된 실시 예에 따르면, 디스플레이 장치(10)는 얼룩 보상 동작을 수행하기 전, 메모리(113)에 저장된 얼룩 보상 데이터(CIC)의 유효 여부를 확인함으로써, 얼룩 보상의 신뢰성을 보다 향상시킬 수 있다. 또한, 디스플레이 장치(10)는 S-PCB(12a)의 메모리(122)로부터, 데이터 사이즈가 작은 오류 확인 데이터(CRC)만을 수신하여 상기 유효 여부의 확인 시 속도 지연을 최소화할 수 있다.
도 9는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 9를 참조하면, 디스플레이 장치(900)는 메인 보드(910)와 S-PCB들(920a, 920b) 각각이 직접 연결되는 형태로 구현될 수도 있다. 이 경우, 메인 보드(910)의 단자(913a, 913b)는 S-PCB(920a, 920b)의 단자(923a, 923b)에 각각 삽입되어 결합되는 형태로 구현될 수도 있다(또는 반대로 삽입될 수도 있다).
이 경우, 메인 보드(910)와 S-PCB(920a, 920b) 사이에 별도의 인터페이스가 존재하지 않을 수 있다. 따라서, 메인 보드(910)와 S-PCB(920a, 920b) 간의 데이터 송수신 지연이 최소화될 수 있으므로, 디스플레이 장치(900)의 퍼포먼스를 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 전술한 방법은, 프로그램이 기록된 매체에 프로세서가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 프로세서가 읽을 수 있는 매체의 예로는, ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있다.
상기와 같이 설명된 디스플레이 장치는 상기 설명된 실시예들의 구성과 방법이 한정되게 적용될 수 있는 것이 아니라, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.

Claims (16)

  1. 영상을 출력하는 디스플레이 패널;
    상기 디스플레이 패널의 구동을 제어하는 복수의 소스 구동-IC(source driving-IC(SD-IC));
    상기 복수의 SD-IC를 포함하는 적어도 하나의 소스 PCB;
    상기 영상을 처리하고, 처리된 영상을 상기 적어도 하나의 소스 PCB로 전송하는 시스템 온 칩(System on Chip (SoC))과, 제1 메모리를 포함하는 메인 보드; 및
    상기 적어도 하나의 소스 PCB 각각과 상기 메인 보드를 연결하는 적어도 하나의 인터페이스를 포함하고,
    상기 적어도 하나의 소스 PCB 중 어느 하나의 소스 PCB는,
    상기 디스플레이 패널의 얼룩 보상을 위한 얼룩 보상 데이터를 저장하는 제2 메모리를 포함하는 디스플레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 SoC는,
    상기 영상을 처리하는 프로세서; 및
    상기 얼룩 보상 데이터를 이용하여 상기 영상에 대한 얼룩 보상 동작을 수행하고, 얼룩 보상 동작이 수행된 영상을 상기 인터페이스를 통해 상기 소스 PCB로 전송하는 타이밍 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제2 메모리는 상기 얼룩 보상 데이터에 대한 오류 확인 데이터를 저장하고,
    상기 프로세서는,
    상기 디스플레이 장치의 전원 온 시 상기 제1 메모리에 상기 얼룩 보상 데이터가 저장되어 있지 않은 경우, 상기 제2 메모리로부터 상기 얼룩 보상 데이터와 상기 오류 확인 데이터를 획득하고,
    상기 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하고,
    계산된 오류 확인 데이터와 획득된 오류 확인 데이터를 비교함으로써, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하는 디스플레이 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 획득된 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장하는 디스플레이 장치.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 획득된 얼룩 보상 데이터를 상기 타이밍 컨트롤러로 제공하는 디스플레이 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 제2 메모리는 상기 얼룩 보상 데이터에 대한 오류 확인 데이터를 저장하고,
    상기 프로세서는,
    상기 디스플레이 장치의 전원 온 시 상기 제1 메모리에 상기 얼룩 보상 데이터가 포함된 경우,
    상기 제2 메모리로부터 상기 오류 확인 데이터를 획득하고,
    상기 제1 메모리로부터 상기 얼룩 보상 데이터를 획득하고,
    상기 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하고,
    계산된 오류 확인 데이터와 획득된 오류 확인 데이터를 비교함으로써, 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하는 디스플레이 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 제1 메모리에 저장된 얼룩 보상 데이터를 상기 타이밍 컨트롤러로 제공하는 디스플레이 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 계산된 오류 확인 데이터와 상기 획득된 오류 확인 데이터가 다른 경우, 상기 제2 메모리로부터 얼룩 보상 데이터를 획득하고, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하여 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장하는 디스플레이 장치.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 제1 메모리는 상기 얼룩 보상 데이터, 및 상기 얼룩 보상 데이터에 대한 오류 확인 데이터를 포함하고,
    상기 프로세서는,
    상기 디스플레이 장치의 전원 온 시,
    상기 제1 메모리와 상기 제2 메모리 각각으로부터 오류 확인 데이터를 획득하고, 획득된 오류 확인 데이터를 비교하여 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하는 디스플레이 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 제1 메모리와 상기 제2 메모리 각각으로부터 획득된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 타이밍 컨트롤러로 제공하는 디스플레이 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 제1 메모리와 상기 제2 메모리 각각으로부터 획득된 오류 확인 데이터가 서로 다른 경우,
    상기 제2 메모리로부터 얼룩 보상 데이터를 획득하고, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하여 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장하는 디스플레이 장치.
  12. 디스플레이 장치의 동작 방법에 있어서,
    상기 디스플레이 장치의 메인 보드에 포함된 프로세서가, 복수의 SD-IC를 포함하는 적어도 하나의 소스 PCB 중 어느 하나의 소스 PCB에 포함된 제2 메모리로부터, 디스플레이 패널의 얼룩 보상을 위한 얼룩 보상 데이터와 오류 확인 데이터를 획득하는 단계;
    상기 프로세서가, 상기 획득된 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하는 단계;
    상기 프로세서가, 상기 획득된 오류 확인 데이터와 상기 계산된 오류 확인 데이터를 비교하는 단계; 및
    상기 프로세서가, 비교 결과에 기초하여 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 메인 보드에 포함된 제1 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 동작 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 저장하는 단계는,
    상기 비교 결과 상기 획득된 오류 확인 데이터와 상기 계산된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장하는 단계인 디스플레이 장치의 동작 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 디스플레이 장치의 전원이 온 되는 단계;
    상기 프로세서가, 상기 제1 메모리에 상기 얼룩 보상 데이터가 포함된 경우, 상기 제2 메모리로부터 상기 오류 확인 데이터를 획득하는 단계;
    상기 프로세서가, 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터로부터 오류 확인 데이터를 계산하는 단계; 및
    상기 프로세서가, 상기 획득된 오류 확인 데이터와 상기 계산된 오류 확인 데이터를 비교하여, 상기 제1 메모리에 저장된 상기 얼룩 보상 데이터의 유효 여부를 확인하는 단계를 더 포함하는 디스플레이 장치의 동작 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 확인하는 단계는,
    상기 획득된 오류 확인 데이터와 상기 계산된 오류 확인 데이터가 동일한 경우, 상기 프로세서가 상기 얼룩 보상 데이터를 상기 메인 보드에 포함된 타이밍 컨트롤러로 제공하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 동작 방법.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 확인하는 단계는,
    상기 획득된 오류 확인 데이터와 상기 계산된 오류 확인 데이터가 서로 다른 경우,
    상기 프로세서가, 상기 제2 메모리로부터 얼룩 보상 데이터를 획득하는 단계; 및
    상기 프로세서가, 획득된 얼룩 보상 데이터의 유효 시 상기 획득된 얼룩 보상 데이터를 상기 제1 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 동작 방법.
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