KR20190036636A - Flexible circuit board for all in one chip on film and chip pakage comprising the same, and electronic device comprising the same - Google Patents
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Abstract
Description
실시예는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스에 관한 것이다.Embodiments relate to a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film, a chip package including the same, and an electronic device including the same.
자세하게, 상기 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판은 서로 다른 종류의 칩을 하나의 기판상에 실장할 수 있는 연성 회로기판 및 이의 칩 패키지, 이를 포함하는 전자 디바이스일 수 있다. In detail, the flexible circuit board for the all-in-one chip on film is a flexible circuit board on which different types of chips can be mounted on one substrate, a chip package thereof, and an electronic device have.
최근 다양한 전자 제품이 얇고, 소형화, 경량화되고 있다. 이에 따라, 전자 디바이스의 좁은 영역에 고밀도로 반도체 칩을 실장하기 위한 다양한 연구가 진행되고 있다.Recently, a variety of electronic products are becoming thinner, smaller, and lighter. Accordingly, various studies for mounting a semiconductor chip at a high density in a narrow region of an electronic device have been carried out.
그 중에서도, COF(Chip On Film) 방식은 플렉서블 기판을 사용하기 때문에, 평판 디스플레이 및 플렉서블 디스플레이에 모두 적용될 수 있다. 즉, COF 방식은 다양한 웨어러블 전자기기에 적용될 수 있다는 점에서 각광받고 있다. 또한, COF 방식은 미세한 피치를 구현할 수 있기 때문에, 화소수의 증가에 따른 고해상도(QHD)의 디스플레이를 구현하는데 사용될 수 있다.Among them, since a COF (Chip On Film) method uses a flexible substrate, it can be applied to both a flat panel display and a flexible display. That is, the COF method is attracting attention because it can be applied to various wearable electronic devices. Further, since the COF method can realize a fine pitch, it can be used to realize a display of high resolution (QHD) as the number of pixels increases.
COF(Chip On Film)는 반도체 칩을 얇은 필름 형태의 연성 회로기판에 장착하는 방식이다. 예를 들어, 반도체 칩은 직접회로(Integrated Circuit, IC) 칩 또는 대규모 직접회로(Large Scale Integrated circuit, LSI) 칩일 수 있다.COF (Chip On Film) is a method of mounting a semiconductor chip on a flexible circuit board in the form of a thin film. For example, the semiconductor chip may be an integrated circuit (IC) chip or a large scale integrated circuit (LSI) chip.
그러나, COF 연성 회로기판은 디스플레이 패널과 메인보드 사이에 직접 연결될 수 없다. However, the COF flexible circuit board can not be directly connected between the display panel and the main board.
즉, 디스플레이 패널과 메인보드 사이에는 적어도 2개의 인쇄회로기판이 요구된다.That is, at least two printed circuit boards are required between the display panel and the main board.
디스플레이부를 가지는 전자 디바이스는 복수의 인쇄회로기판이 요구됨에 따라, 두께가 증가되는 문제점이 있다. 또한, 복수의 인쇄회로기판의 크기는 전자 디바이스의 소형화에 제약이 될 수 있다. 또한, 복수의 인쇄회로기판의 접합 불량은 전자 디바이스의 신뢰성을 저하시킬 수 있다. An electronic device having a display portion has a problem in that the thickness thereof increases as a plurality of printed circuit boards are required. In addition, the size of a plurality of printed circuit boards may be a limitation to miniaturization of electronic devices. In addition, poor bonding of a plurality of printed circuit boards may lower the reliability of the electronic device.
따라서, 이와 같은 문제를 해소할 수 있는 새로운 연성 회로기판이 요구된다.Therefore, a new flexible circuit board capable of solving such a problem is required.
실시예는 복수의 칩을 하나의 기판에 실장할 수 있는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스를 제공하고자 한다.An embodiment provides a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film capable of mounting a plurality of chips on a single board, a chip package including the same, and an electronic device including the same.
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 제1 기판; 상기 제 1 기판 위에 배치된 제 2 기판; 상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 배선 패턴층과, 상기 제 1 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 1 전도성 패턴부; 상기 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 배선 패턴층과, 상기 제 2 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 2 전도성 패턴부; 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 배선 패턴층을 포함하는 제 3 전도성 패턴부; 및 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층;을 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는, 상기 보호층의 제 1 오픈 영역 상에 배치된 제 1 내지 4 이너 리드 패턴부와, 상기 보호층에 의해 덮인 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 및 4 이너 리드 패턴부는, 상기 연장 패턴부와 연결되고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부는, 상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 1 비아를 통해 상기 제 1 전도성 패턴부와 직접 연결되며, 상기 제 3 이너 리드 패턴부는, 상기 제 2 기판을 관통하는 제 2 비아를 통해 상기 제 3 전도성 패턴부와 직접 연결된다.A flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment includes: a first substrate; A second substrate disposed on the first substrate; A first wiring pattern layer disposed on a lower surface of the first substrate; a first conductive pattern portion disposed on the first wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A second wiring pattern layer disposed on an upper surface of the second substrate; a second conductive pattern portion disposed on the second wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A third conductive pattern portion including a third wiring pattern layer disposed between the first substrate and the second substrate; And a protective layer partially disposed on the first and second conductive pattern portions, wherein the second conductive pattern portion includes first to fourth inner lead pattern portions disposed on a first open region of the protective layer, And an extension pattern portion covered by the protective layer, wherein the first and fourth inner lead pattern portions are connected to the extended pattern portion, and the second inner lead pattern portion penetrates through the first substrate and the second substrate And the third inner lead pattern portion is directly connected to the third conductive pattern portion through a second via passing through the second substrate.
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은, 제1 기판; 상기 제 1 기판 위에 배치된 제 2 기판; 상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 배선 패턴층과, 상기 제 1 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 1 전도성 패턴부; 상기 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 배선 패턴층과, 상기 제 2 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 2 전도성 패턴부; 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 배선 패턴층을 포함하는 제 3 전도성 패턴부; 및 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층;을 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는, 상기 보호층의 제 1 오픈 영역 상에 배치된 제 1 내지 4 이너 리드 패턴부를 포함하는 제 1 접속부와 상기 보호층에 의해 덮인 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 오픈 영역 상의 상기 제 1 접속부에는 제 1 칩이 배치되며, 상기 제 1 및 4 이너 리드 패턴부는, 상기 연장 패턴부와 연결되고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부는, 상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 1 비아를 통해 상기 제 1 전도성 패턴부와 직접 연결되며, 상기 제 3 이너 리드 패턴부는, 상기 제 2 기판을 관통하는 제 2 비아를 통해 상기 제 3 전도성 패턴부와 직접 연결된다.In a chip package including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment, a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film includes a first substrate; A second substrate disposed on the first substrate; A first wiring pattern layer disposed on a lower surface of the first substrate; a first conductive pattern portion disposed on the first wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A second wiring pattern layer disposed on an upper surface of the second substrate; a second conductive pattern portion disposed on the second wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A third conductive pattern portion including a third wiring pattern layer disposed between the first substrate and the second substrate; And a protective layer partially disposed on the first and second conductive pattern portions, wherein the second conductive pattern portion includes first to fourth inner lead pattern portions disposed on a first open region of the protective layer Wherein the first chip and the second chip are disposed on the first connection portion on the first open region, and the first and fourth inner lead pattern portions are connected to the extension pattern portion and the second pattern portion, And the second inner lead pattern portion is directly connected to the first conductive pattern portion through a first via passing through the first substrate and the second substrate, And is directly connected to the third conductive pattern portion through a second via penetrating the substrate.
또한, 실시 예에 따른 전자 디바이스는 제1 기판; 상기 제 1 기판 위에 배치된 제 2 기판; 상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 배선 패턴층과, 상기 제 1 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 1 전도성 패턴부; 상기 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 배선 패턴층과, 상기 제 2 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 2 전도성 패턴부; 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 배선 패턴층을 포함하는 제 3 전도성 패턴부; 및 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층;을 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는, 상기 보호층의 제 1 오픈 영역 상에 배치된 제 1 내지 4 이너 리드 패턴부를 포함하는 제 1 접속부와, 상기 보호층에 의해 덮인 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 및 4 이너 리드 패턴부는, 상기 연장 패턴부와 연결되고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부는, 상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 1 비아를 통해 상기 제 1 전도성 패턴부와 직접 연결되며, 상기 제 3 이너 리드 패턴부는, 상기 제 2 기판을 관통하는 제 2 비아를 통해 상기 제 3 전도성 패턴부와 직접 연결되는 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판; 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 일단과 연결되는 디스플레이 패널; 및 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 상기 일단과 반대되는 타단과 연결되는 메인보드;를 포함한다.Further, an electronic device according to an embodiment includes: a first substrate; A second substrate disposed on the first substrate; A first wiring pattern layer disposed on a lower surface of the first substrate; a first conductive pattern portion disposed on the first wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A second wiring pattern layer disposed on an upper surface of the second substrate; a second conductive pattern portion disposed on the second wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A third conductive pattern portion including a third wiring pattern layer disposed between the first substrate and the second substrate; And a protective layer partially disposed on the first and second conductive pattern portions, wherein the second conductive pattern portion includes first to fourth inner lead pattern portions disposed on a first open region of the protective layer Wherein the first and fourth inner lead pattern portions are connected to the extended pattern portion and the second inner lead pattern portion includes a first inner lead pattern portion and a second outer lead pattern portion, Wherein the second conductive pattern portion is directly connected to the first conductive pattern portion through a first via penetrating through the second substrate and the third inner lead pattern portion is directly connected to the third conductive pattern portion via a second via penetrating through the second substrate, A flexible circuit board for all-in-one chip-on film to be connected; A display panel connected to one end of the flexible circuit board for the all-in-one chip-on film; And a main board connected to the other end opposite to the one end of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board.
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 제 1 기판, 제 2 기판, 상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 전도성 패턴부, 상기 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 전도성 패턴부, 그리고 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 전도성 패턴부를 포함할 수 있다. 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 각가은 배선 패턴층, 제 1 도금층 및 제 2 도금층을 포함할 수 있다. 그리고, 상기 제 3 전도성 패턴부는 상기 배선 패턴층만을 포함할 수 있다. A flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to an embodiment includes a first substrate, a second substrate, a first conductive pattern portion disposed on a lower surface of the first substrate, a second conductive pattern portion disposed on an upper surface of the second substrate, And a third conductive pattern portion disposed between the first substrate and the second substrate. The first and second conductive pattern portion angles may include a wiring pattern layer, a first plating layer, and a second plating layer. The third conductive pattern portion may include only the wiring pattern layer.
그리고, 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 각각의 일 영역에는 보호층이 배치되어, 보호부를 형성할 수 있으며, 상기 일 영역과 다른 영역에는 보호부가 배치되지 않을 수 있다. 상기 보호부가 배치되지 않는 복수의 영역은 제 1 오픈 영역 및 제 2 오픈 영역일 수 있다. A protective layer may be disposed on one of the first and second conductive pattern portions to form a protective portion, and a protective portion may not be disposed in a region other than the one region. The plurality of regions in which the protection portion is not disposed may be the first open region and the second open region.
상기 제 1 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층의 주석(Sn)의 함량은 상기 제 2 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층의 주석(Sn)의 함량과 서로 다를 수 있다. The content of tin (Sn) in the second plating layer in the first open region may be different from the content of tin (Sn) in the second plating layer in the second open region.
상기 제 1 오픈 영역 상에는 제 1 접속부가 배치되고, 상기 제 1 접속부 상에는 제 1 칩이 배치될 수 있다. 상기 제 1 접속부는 상기 제 2 전도성 패턴부와 상기 제 1 칩을 전기적으로 연결할 수 있다.A first connection portion may be disposed on the first open region, and a first chip may be disposed on the first connection portion. The first connection portion may electrically connect the second conductive pattern portion and the first chip.
상기 제 2 오픈 영역 상에는 제 2 접속부가 배치되고, 상기 제 2 접속부 상에는 제 2 칩이 배치될 수 있다. 상기 제 2 접속부는 상기 제 2 전도성 패턴부와 상기 제 2 칩을 전기적으로 연결할 수 있다.A second connection portion may be disposed on the second open region, and a second chip may be disposed on the second connection portion. The second connection portion may electrically connect the second conductive pattern portion and the second chip.
이에 따라, 실시 예는 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩을 하나의 연성회로기판에 실장할 수 있어, 향상된 신뢰성을 가지는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 칩 패키지를 제공할 수 있다. Accordingly, the embodiment can provide a flexible circuit board chip package for an all-in-one chip-on-film having improved reliability, because the first chip and the second chip of different kinds can be mounted on one flexible circuit board.
또한, 실시예에 따른 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 디스플레이 패널과 메인보드를 직접 연결할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 패널로부터 발생하는 신호를 메인보드까지 전달하기 위한 연성 회로기판의 크기 및 두께가 감소될 수 있다. In addition, the flexible printed circuit board for one all-in-one chip-on-film according to the embodiment can directly connect the display panel and the main board. Accordingly, the size and thickness of the flexible circuit board for transmitting signals generated from the display panel to the main board can be reduced.
이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스는 다른 부품의 공간 및/또는 배터리 공간을 확장시킬 수 있다.Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film, the chip package including the same, and the electronic device including the same can expand the space and / or the battery space of other components.
또한, 복수의 인쇄회로기판의 연결이 요구되지 않으므로, 공정의 편의성 및 전기적인 연결의 신뢰성이 향상될 수 있다. Further, since the connection of a plurality of printed circuit boards is not required, the convenience of the process and the reliability of the electrical connection can be improved.
이에 따라, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스는 고해상도의 디스플레이부 가지는 전자디바이스에 적합할 수 있다.Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film, the chip package including the same, and the electronic device including the same can be suitable for electronic devices having a high-resolution display portion.
도 1a는 기존의 인쇄회로기판을 포함하는 디스플레이부를 구비한 전자디바이스의 단면도이다.
도 1b는 도 1a에 따른 인쇄회로기판이 절곡된 형태에서의 단면도이다.
도 1c는 도 1a에 따른 인쇄회로기판이 절곡된 형태에서의 평면도이다.
도 2a는 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 디스플레이부를 구비한 전자디바이스의 단면도이다.
도 2b는 도 2a에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판이 절곡된 형태에서의 단면도이다.
도 2c는 도 2a에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판이 절곡된 형태에서의 평면도이다.
도 3a는 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 단면도이다.
도 3b는 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 4 내지 도 6은 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 제조공정을 도시한 단면도들이다
도 7은 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 8a는 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 다른 단면도이다.
도 8b는 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 9는 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 또다른 단면도이다.
도 10은 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 일 영역을 확대한 단면도이다.
도 11은 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 평면도이다.
도 12는 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 저면도이다.
도 13은 도 8b에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 개략적인 평면도이다.
도 14 내지 도 16은 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 도 8b에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지로 제조하는 공정을 나타내는 도면들이다.
도 17은 도 16에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 18은 내지 도 22는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 다양한 전자 디바이스의 도면들이다.1A is a cross-sectional view of an electronic device having a display portion including a conventional printed circuit board.
FIG. 1B is a cross-sectional view of the printed circuit board according to FIG. 1A in a bent form. FIG.
1C is a plan view of the printed circuit board according to FIG. 1A in a bent form.
2A is a cross-sectional view of an electronic device having a display portion including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment.
FIG. 2B is a cross-sectional view of the flexible circuit board for all-in-one chip-on-film according to FIG.
FIG. 2C is a plan view of the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to FIG.
3A is a cross-sectional view of a flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film according to an embodiment.
3B is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film according to an embodiment.
4 to 6 are sectional views showing a manufacturing process of a chip package including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment
7 is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
8A is another cross-sectional view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
8B is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in FIG. 8A.
9 is another cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
10 is an enlarged cross-sectional view of one region of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
11 is a plan view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in Fig. 8A.
Fig. 12 is a bottom view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in Fig. 8A.
Fig. 13 is a schematic plan view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to Fig. 8B.
Figs. 14 to 16 are views showing a process of manufacturing a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on-film according to Fig. 8A into a chip package including a flexible circuit board for a both-
17 is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in Fig.
18 to 22 are views of various electronic devices including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film.
실시예들의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 “상/위(on)”에 또는 “하/아래(under)”에 형성된다는 기재는, 직접(directly) 또는 다른 층을 개재하여 형성되는 것을 모두 포함한다. 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of the embodiments, it is to be understood that each layer (film), area, pattern or structure may be referred to as being "on" or "under / under" Quot; includes all that is formed directly or through another layer. The criteria for top / bottom or bottom / bottom of each layer are described with reference to the drawings.
또한, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 구비할 수 있다는 것을 의미한다. Also, when a part is referred to as being "connected" to another part, it includes not only a case of being "directly connected" but also a case of being "indirectly connected" with another member in between. Also, when an element is referred to as "comprising ", it means that it can include other elements, not excluding other elements unless specifically stated otherwise.
도면에서 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들의 두께나 크기는 설명의 명확성 및 편의를 위하여 변형될 수 있으므로, 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.The thickness or the size of each layer (film), region, pattern or structure in the drawings may be modified for clarity and convenience of explanation, and thus does not entirely reflect the actual size.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1a 내지 도 1c를 참조하여, 비교예에 따른 인쇄회로기판을 설명한다. A printed circuit board according to a comparative example will be described with reference to Figs. 1A to 1C.
디스플레이부를 가지는 전자 디바이스는 디스플레이 패널의 신호를 메인보드까지 전달하기 위해서 적어도 2개의 인쇄회로기판이 요구된다. An electronic device having a display portion requires at least two printed circuit boards in order to transmit signals of the display panel to the main board.
비교 예에 따른 디스플레이부를 포함하는 전자 디바이스에 포함되는 인쇄회로 기판은 적어도 2개일 수 있다.The electronic device including the display unit according to the comparative example may have at least two printed circuit boards.
비교 예에 따른 디스플레이부를 포함하는 전자 디바이스는 제 1 인쇄회로기판(10) 및 제 2 인쇄회로기판(20)을 포함할 수 있다.The electronic device including the display unit according to the comparative example may include the first printed
상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 칩 온 필름(COF, Chip on Film)용 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 제 1 칩(C1)이 실장되는 COF용 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 더 자세하게, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 구동 IC 칩(Drive IC chip)을 배치하기 위한 COF용 연성 인쇄회로기판일 수 있다. The first printed
상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 상기 제 1 칩(C1)과 서로 다른 종류의 제 2 칩(C2)을 배치하기 위한 연성 인쇄회로기판(FPCB, Flexible Printed Circuit Board)일 수 있다. 여기에서, 상기 제 2 칩(C2)은 구동 IC 칩(Drive IC chip) 이외의 것으로서, 구동 IC 칩(Drive IC chip)을 제외한 다른 칩, 반도체 소자, 소켓 등 연성 인쇄회로기판 상에 전기적 연결을 위해 배치되는 다양한 칩을 의미할 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 복수 개의 제 2 칩(C2)을 배치하기 위한 연성 인쇄회로기판(FPCB, Flexible Printed Circuit Board)일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 서로 다른 종류의 복수 개의 제 2 칩(C2a, C2b)을 배치하기 위한 연성 인쇄회로기판일 수 있다. The second printed
상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 서로 다른 두께를 가질 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 두께는 상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 두께보다 작을 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 약 20㎛ 내지 100㎛의 두께일 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 약 100㎛ 내지 200㎛의 두께일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판의 총 두께(t1)는 200㎛ 내지 250㎛일 수 있다. The first printed
비교예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 디스플레이 패널과 메인보드 사이에 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께가 증가할 수 있다. 자세하게, 비교예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 상, 하로 적층되는 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께가 증가할 수 있다.Since the first and second printed circuit boards are required between the display panel and the main board, the electronic device having the display unit according to the comparative example can increase the overall thickness of the electronic device. In detail, since the electronic device having the display portion according to the comparative example requires the first and second printed circuit boards stacked on and under, the overall thickness of the electronic device can be increased.
상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 서로 다른 공정으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 롤투롤(roll to roll) 공정에 의해서 제조될 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 시트(sheet) 방식으로 제조될 수 있다. The first printed
상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20) 상에는 각각 서로 다른 종류의 칩이 배치되며, 각각의 칩과 연결되기 위한 전도성 패턴부의 간격(pitch)이 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 인쇄회로기판(20) 상에 배치되는 전도성 패턴부의 간격(pitch)은 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 상에 배치되는 전도성 패턴부의 간격(pitch)보다 클 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 인쇄회로기판(20) 상에 배치되는 전도성 패턴부의 간격(pitch)은 100㎛ 이상이고, 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 상에 배치되는 전도성 패턴부의 간격(pitch)은 100㎛ 미만일 수 있다. Different types of chips may be disposed on the first printed
자세하게, 미세한 간격(fine pitch)으로 배치되는 전도성 패턴부를 가지는 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 롤투롤 공정을 통해 제조하는 것이 공정 효율적이며 공정 비용을 저감시킬 수 있다. 한편, 100㎛ 이상의 간격으로 배치되는 전도성 패턴부를 가지는 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 롤투롤 공정으로 다루는 것이 어렵기 때문에, 시트 공정을 사용하는 것이 일반적이었다. In detail, the first printed
비교 예에 따른 제 1, 제 2 인쇄회로기판은 각각 서로 다른 공정으로 형성되므로, 공정 효율이 저하될 수 있다. Since the first and second printed circuit boards according to the comparative example are formed by different processes, the process efficiency may be lowered.
또한, 비교 예에 따른 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 서로 다른 종류의 칩을 하나의 기판상에 배치하는 공정의 난이성이 있으므로, 별도의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 요구된다. In addition, since the chip package including the flexible circuit board according to the comparative example has a difficulty in arranging different types of chips on one substrate, separate first and second printed circuit boards are required.
또한, 비교 예에 따른 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 서로 다른 종류의 칩을 하나의 기판상에서 접속시키기 어려운 문제점이 있다. In addition, the chip package including the flexible circuit board according to the comparative example has a problem that it is difficult to connect different kinds of chips on one substrate.
즉, 기존의 디스플레이 패널과 메인보드 사이에는 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 배치될 수 있다. That is, the first and second printed circuit boards may be disposed between the conventional display panel and the main board.
디스플레이 패널(30)로부터 발생하는 R,G,B 신호를 제어, 처리 또는 전달하기 위하여 제 1 인쇄회로기판(10)은 디스플레이 패널(30)과 연결된다. 그리고, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 다시 제 2 인쇄회로기판(20)과 연결되며, 이에 따라 최종적으로 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 메인보드(40)에 연결될 수 있다. The first printed
상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 일단은 디스플레이 패널(30)과 연결될 수 있다. 디스플레이 패널(30)은 접착층(50)에 의해서 상기 제 1 인쇄회로기판(10)과 연결될 수 있다. One end of the first printed
상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 상기 일단과 반대되는 타단은 제 2 인쇄회로기판(20)과 연결될 수 있다. 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 상기 접착층(50)에 의해서 상기 제 2 인쇄회로기판(20)과 연결될 수 있다. The other end opposite to the one end of the first printed
상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일단은 상기 제 1 인쇄회로기판(10)과 연결되고, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 상기 일단과 반대되는 타단은 메인보드(40)와 연결될 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 상기 접착층(50)에 의해서 메인보드(40)와 연결될 수 있다.One end of the second printed
비교 예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 상기 디스플레이 패널(30)과 상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 사이, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)과 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 사이, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)과 상기 메인보드(40)의 사이에 각각 별도의 접착층(50)이 요구될 수 있다. 즉, 비교 예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 다수 개의 접착층이 요구되므로, 접착층의 연결불량으로 인하여 전자 디바이스의 신뢰성이 저하될 수 있는 문제점을 가진다. 또한, 상, 하로 연결되는 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 사이에 배치되는 접착층은 전자 디바이스의 두께를 증가시킬 수 있다. The electronic device having the display unit according to the comparative example is disposed between the
도 1 b 및 도 1c를 참조하여, 비교 예에 따른 전자 디바이스 내에 하우징되는 제 1 인쇄회로기판(10), 제 2 인쇄회로기판(20), 디스플레이 패널(30), 및 메인보드(40)를 설명한다. 1B and 1C, a first printed
도 1b는 도 1a에 따른 인쇄회로기판이 절곡된 형태에서의 단면도이며, 도 1c는 도 1b의 하면에서의 평면도이다. FIG. 1B is a cross-sectional view of the printed circuit board according to FIG. 1A in a bent form, and FIG. 1C is a plan view of the lower surface of FIG. 1B.
상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)는 대향되어 배치될 수 있다. 서로 마주보며 배치되는 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)의 사이에는 절곡(bending) 영역을 포함하는 제 1 인쇄회로기판(10)이 배치될 수 있다. The
상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 일 영역이 절곡되고, 절곡되지 않는 영역에 상기 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. The first printed
또한, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 상기 디스플레이 패널(30)과 마주보며 배치될 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 절곡되지 않는 영역에 상기 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. The second printed
도 1c를 참조하면, 비교 예는 복수의 기판이 요구되므로, 일 방향에서의 길이(L1)는 각각의 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 길이의 합일 수 있다. 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일 방향에서의 길이(L1)는 상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 단변의 길이 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 단변의 길이의 합일 수 있다. 일례로, 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일 방향에서의 길이(L1)는 30㎜ 내지 40㎜일 수 있다. 다만, 실장하기 위한 칩의 종류, 전자 디바이스의 종류에 따라 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일 방향에서의 길이(L1)는 다양한 크기일 수 있다. Referring to FIG. 1C, since a plurality of substrates are required in the comparative example, the length L1 in one direction is the sum of the lengths of the first printed
비교 예에 따른 전자 디바이스는 복수의 인쇄회로기판이 요구됨에 따라, 다른 부품을 실장하기 위한 공간 또는 배터리(60)를 배치하기 위한 공간이 축소될 수 있다.As the electronic device according to the comparative example requires a plurality of printed circuit boards, the space for mounting other components or the space for arranging the
최근 스마트폰과 같은 전자 디바이스는 사용자의 편의성 내지 보안을 강화하기 위하여 다양한 기능을 가지는 부품이 추가되고 있다. 예를 들어, 스마트폰, 스마트 워치 등의 전자 디바이스에는 여러 개의 카메라 모듈(듀얼 카메라 모듈, dual camera module)이 탑재되거나, 홍체 인식, 가상현실(VR, Virtual Reality)과 같은 다양한 기능을 가지는 부품이 추가되고 있다. 이에 따라, 추가되는 부품을 실장하기 위한 공간의 확보가 중요하다.2. Description of the Related Art [0002] In recent years, electronic devices such as smart phones have been added with various functions to enhance user convenience and security. For example, a plurality of camera modules (dual camera module, dual camera module) may be mounted on an electronic device such as a smart phone or a smart watch, or a component having various functions such as an iris recognition function and a virtual reality (VR) Has been added. Accordingly, it is important to secure a space for mounting additional components.
또한, 웨어러블 디바이스를 비롯한 다양한 전자 디바이스는 사용자의 편의성 향상을 위해서, 배터리 공간의 확대가 요구된다. In addition, various electronic devices including a wearable device are required to have an expanded battery space for the convenience of the user.
따라서, 기존의 전자 디바이스에 사용된 복수의 인쇄회로기판을 하나의 인쇄회로기판으로 대체함에 따라, 새로운 부품을 실장하기 위한 공간 확보 또는 배터리 크기의 확대를 위한 공간 확보의 중요성이 대두된다. Therefore, replacing a plurality of printed circuit boards used in existing electronic devices with a single printed circuit board, the importance of securing a space for mounting new components or securing a space for enlarging the battery size becomes important.
비교 예에 따른 전자 디바이스는 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩이 각각 별도의 제 1 인쇄회로기판(10) 및 제 2 인쇄회로기판(30)에 배치될 수 있다. 이에 따라, 제 1 인쇄회로기판(10) 및 제 2 인쇄회로기판(30)의 사이의 접착층(50)의 두께 및 상기 제 2 인쇄회로기판(30)의 두께는 전자 디바이스의 두께를 증가시키는 문제점이 있었다. In the electronic device according to the comparative example, the first chip and the second chip of different kinds may be disposed on the first printed
또한, 상기 제 2 인쇄회로기판(30)의 크기만큼 배터리 공간 내지 다른 부품을 실장하기 위한 공간이 축소되는 문제점이 있었다. In addition, there is a problem that the space for mounting the battery space or other parts is reduced by the size of the second printed
또한, 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 접합불량은 전자 디바이스의 신뢰성을 저하시키는 문제점이 있었다. In addition, defective junctions of the first and second printed circuit boards have a problem of lowering the reliability of the electronic device.
실시예는 이러한 문제점을 해소하기 위해서, 복수의 칩을 하나의 기판에 실장할 수 있는 새로운 구조의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스를 제공할 수 있다. 실시 예와 비교 예의 동일한 도면 부호는 동일한 구성요소를 나타내며, 앞서 설명한 비교 예와 중복되는 설명은 제외한다.In order to solve this problem, the embodiment can provide a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film having a novel structure capable of mounting a plurality of chips on a single board, a chip package including the same, and an electronic device including the same have. The same reference numerals in the embodiment and the comparative example denote the same components, and the description overlapping with the comparative example described above is excluded.
도 2a 내지 도 2c를 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 전자 디바이스를 설명한다. An electronic device including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment will be described with reference to Figs. 2A to 2C.
실시 예에 따른 전자 디바이스는 디스플레이 패널의 신호를 메인보드까지 전달하기 위해서 하나의 인쇄회로기판을 사용할 수 있다. 실시 예에 따른 디스플레이부를 포함하는 전자 디바이스에 포함되는 인쇄회로 기판은 하나의 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 이에 따라, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 서로 대향되는 디스플레이부와 메인보드 사이에서 절곡(bending)되어 디스플레이부 및 메인보드를 연결할 수 있다. The electronic device according to the embodiment may use one printed circuit board to transmit signals of the display panel to the main board. The printed circuit board included in the electronic device including the display unit according to the embodiment may be one flexible printed circuit board. Accordingly, the
자세하게, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 서로 다른 종류의 복수 개의 칩을 배치하기 위한 하나의 기판일 수 있다. In detail, the
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 서로 다른 종류의 제 1 칩(c1) 및 제 2 칩(c2)을 배치하기 위한 기판일 수 있다. The
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 20㎛ 내지 100㎛일 수 있다. 예를 들어, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 30㎛ 내지 80㎛일 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 50㎛ 내지 75㎛일 수 있다. 다만, 실장하기 위한 칩의 종류, 전자 디바이스의 종류에 따라 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께는 다양한 크기로 설계될 수 있 수 있다. The thickness t2 of the
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 1/5 내지 1/2 수준의 두께를 가질 수 있다. 즉, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 20% 내지 50%의 수준의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 25% 내지 40%의 수준의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 25% 내지 35%의 수준의 두께를 가질 수 있다.The thickness t2 of the all-in-one chip on film flexible printed
실시 예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 디스플레이 패널과 메인보드 사이에 오직 하나의 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께를 감소시킬 수 있다. 자세하게, 실시예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 단층의 인쇄회로기판이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께가 감소할 수 있다.Since the electronic device having the display unit according to the embodiment requires the
또한, 실시 예는 비교예에 포함된 제 1 인쇄회로기판 및 제 2 인쇄회로기판 사이의 접착층(50)을 생략할 수 있어, 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지 및 이를 포함하는 전자 디바이스의 전체적인 두께를 감소시킬 수 있다. In addition, the embodiment can omit the
또한, 실시 예는 제 1 인쇄회로기판과 제 2 인쇄회로기판 사이의 접착층(50)을 생략할 수 있어, 접착 불량에 의한 문제점을 해소할 수 있으므로, 전자 디바이스의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. In addition, the embodiment can omit the
또한, 복수 개의 인쇄회로기판의 접착 공정을 생략할 수 있어, 공정 효율이 증가되고, 공정 비용이 절감될 수 있다. Further, since the step of adhering a plurality of printed circuit boards can be omitted, the process efficiency can be increased and the process cost can be reduced.
또한, 별도의 공정으로 관리되었던 기판을 하나의 공정으로 대체함에 따라, 공정 효율 및 제품 수율을 향상시킬 수 있다. In addition, by replacing the substrate that has been managed as a separate process with one process, the process efficiency and product yield can be improved.
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 절곡 영역 및 비절곡 영역을 포함할 수 있다. 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 절곡 영역을 포함함에 따라, 서로 마주보며 배치되는 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)을 서로 연결할 수 있다. The
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 비절곡(non-bending) 영역은 디스플레이 패널(30)과 서로 마주보며 배치될 수 있다. 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 비절곡 영역 상에는 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 상기 제 1 칩(c1) 및 상기 제 2 칩(c2)의 안정적인 실장이 가능할 수 있다. The non-bending region of the
도 2c는 도 2b의 하면에서의 평면도이다. 2C is a plan view of the bottom of FIG. 2B.
도 2c를 참조하면, 실시 예는 하나의 기판이 요구되므로, 일 방향에서의 길이(L2)는 하나의 기판의 길이일 수 있다. 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 단변의 길이일 수 있다. 일례로, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 10㎜ 내지 50㎜일 수 있다. 예를 들어, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 10㎜ 내지 30㎜ 일 수 있다. 예를 들어, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 15㎜ 내지 25㎜일 수 있다. 다만, 실시 예가 이에 제한되는 것은 아니며, 배치하기 위한 칩의 종류 및/또는 개수, 전자 디바이스의 종류에 따라 다양한 크기로 설계될 수 있음은 물론이다.Referring to FIG. 2C, since one substrate is required in the embodiment, the length L2 in one direction may be the length of one substrate. The length L2 in one direction of the
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 일 방향에서의 길이(L1)의 50% 내지 70% 수준의 길이를 가질 수 있다. 예를 들어, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 일 방향에서의 길이(L1)의 55% 내지 70% 수준의 길이를 가질 수 있다. 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 비교 예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 일 방향에서의 길이(L1)의 60% 내지 70% 수준의 길이를 가질 수 있다. The length L2 in one direction of the
이에 따라, 실시 예는 전자 디바이스 내의 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지의 크기가 감소될 수 있어, 배터리(60)를 배치하기 위한 공간이 확대될 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지는 평면적이 감소할 수 있어, 다른 부품을 탑재시키기 위한 공간 확보가 가능할 수 있다. Accordingly, the embodiment can reduce the size of the chip package including the
도 3a, 도 3b, 도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9 및 도 10을 참조하여, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100) 및 이의 칩 패키지를 설명한다. Referring to FIGS. 3A, 3B, 7, 8A, 8B, 9 and 10, a
도 3a, 도 3b를 참조하면, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 일면 상에 전극 패턴부를 가지는 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판일 수 있다. 3A and 3B, a
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 기판(110), 상기 기판(110) 상에 배치되는 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 포함할 수 있다. The
상기 기판(110)은 상기 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 지지하는 지지기판일 수 있다.The
상기 기판(110)은 절곡 영역 및 절곡 영역 이외의 영역을 포함할 수 있다. 즉, 상기 기판(110)은 절곡이 이루어지는 절곡 영역 및 절곡 영역 이외의 비절곡 영역을 포함할 수 있다.The
상기 기판(110)은 연성 기판일 수 있다. 이에 따라, 상기 기판(110)은 부분적인 절곡이 가능할 수 있다. 즉, 상기 기판(110)은 연성 플라스틱을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)은 폴리이미드(polyimide, PI) 기판일 수 있다. 다만, 실시예는 이에 재한되지 않고, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate, PET), 폴리에틸렌 나프탈레이트(polyethylene naphthalate, PEN)과 같은 고분자 물질로 구성된 기판일 수 있다. 이에 따라, 상기 기판(110)을 포함하는 연성 회로기판은 곡선의 디스플레이 장치가 구비된 다양한 전자디바이스에 사용될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)을 포함하는 연성 회로기판은 플렉서블 특성이 우수함에 따라, 웨어러블 전자디바이스의 반도체 칩을 실장하는데 적합할 수 있다. 자세하게, 실시예는 곡면 디스플레이를 포함하는 전자 디바이스에 적합할 수 있다. The
상기 기판(110)은 절연 기판일 수 있다. 즉, 상기 기판(110)은 다양한 배선 패턴들을 지지하는 절연 기판일 수 있다. The
상기 기판(110)은 20㎛ 내지 100㎛의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)은 25㎛ 내지 50㎛의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(100)은 30㎛ 내지 40㎛의 두께를 가질 수 있다. 상기 기판(100)의 두께가 100㎛ 초과인 경우에는 전체적인 연성 회로기판의 두께가 증가할 수 있다. 상기 기판(100)의 두께가 20㎛ 미만인 경우에는 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)을 동시에 배치하기 어려울 수 있다. 상기 기판(110)의 두께가 20um 미만인 경우에는, 다수의 칩을 실장 하는 공정에서 상기 기판(110)이 열/압력 등에 취약할 수 있어, 다수의 칩을 동시에 배치하기 어려울 수 있다.상기 기판(110) 상에는 배선이 배치될 수 있다. 상기 배선은 패턴화된 복수 개의 배선일 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110) 상에서 상기 복수 개의 배선들은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 즉, 상기 기판(110)의 일면 상에는 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다.The
상기 기판(110)의 면적은 상기 배선 패턴층(120)의 면적보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 기판(110)의 평면적은 상기 배선 패턴층(120)의 평면적보다 클 수 있다. 즉, 상기 기판(110) 상에는 상기 배선 패턴층(120)이 부분적으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)의 하면은 상기 기판(110)과 접촉하고, 상기 복수 개의 배선들 사이에는 상기 기판(110)이 노출될 수 있다. 상기 배선 패턴층(120)은 전도성 물질을 포함할 수 있다. The area of the
예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)은 전기 전도성이 우수한 금속 물질을 포함할 수 있다. 더 자세하게, 상기 배선 패턴층(120)은 구리(Cu)를 포함할 수 있다. 다만, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니고, 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 은(Ag), 몰리브덴(Mo). 금(Au), 티타튬(Ti) 및 이들의 합금 중 적어도 하나의 금속을 포함할 수 있음은 물론이다. For example, the
상기 배선 패턴층(120)은 1㎛ 내지 15㎛의 두께로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)은 1㎛ 내지 10㎛의 두께로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)은 2㎛ 내지 10㎛의 두께로 배치될 수 있다.The
상기 배선 패턴층(120)의 두께가 1㎛ 미만인 경우에는 상기 배선 패턴층의 저항이 증가할 수 있다. 상기 배선 패턴층(120)의 두께가 10㎛ 초과인 경우에는 미세패턴을 구현하기 어려울 수 있다.When the thickness of the
상기 배선 패턴층(120) 상에는 도금층(130)이 배치될 수 있다. 상기 도금층(130)은 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)을 포함할 수 있다. A
상기 배선 패턴층(120) 상에는 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상기 제 1 도금층(131) 상에는 상기 제 2 도금층(132)이 배치될 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 위스커(whisker - kr00000374075b1) 형성의 방지를 위해, 상기 배선 패턴층(120) 상에 2 층으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 배선 패턴층(120)의 패턴들 사이의 단락을 방지할 수 있다. 또한, 상기 배선 패턴층(120) 상에는 두 층의 도금층이 배치됨에 따라, 칩과의 본딩 특성이 향상될 수 있다. 상기 배선 패턴층이 구리(Cu)를 포함하는 경우에는, 상기 배선 패턴층이 제 1 칩(C1)과 직접 본딩될 수 없고, 별도로 접착을 위한 처리가 요구될 수 있다. 반면, 상기 배선 패턴층 상에 배치되는 상기 도금층이 주석(Sn)을 포함하는 경우에는, 상기 도금층의 표면이 순수 주석층일 수 있어, 제 1 칩(C1)과 본딩이 용이할 수 있다. 이때, 제 1 칩(C1)과 연결되는 와이어는 순수 주석층과 열과 압력만으로 쉽게 연결될 수 있어, 칩 와이어 본딩의 정확성 및 제조 공정의 편의성을 향상시킬 수 있다.A
상기 제 1 도금층(131)이 배치되는 영역은 상기 제 2 도금층(132)이 배치되는 영역과 대응될 수 있다. 즉, 상기 제 1 도금층(131)이 배치되는 면적은 상기 제 2 도금층(132)이 배치되는 면적과 대응될 수 있다. The region where the
상기 도금층(130)은 주석(Sn)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)을 포함할 수 있다. The
일례로, 상기 배선 패턴층(120)을 구리(Cu)로 배치하고, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)을 주석(Sn)으로 배치할 수 있다. 상기 도금층(130)이 주석을 포함하는 경우에는, 주석(Sn)의 내식성이 우수하기 때문에, 상기 배선 패턴층(120)의 산화를 방지할 수 있다. For example, the
한편, 상기 도금층(130)의 물질은 상기 배선 전극층(120)의 물질보다 전기 전도도가 낮을 수 있다. 상기 도금층(130)은 상기 배선 전극층(120)과 전기적인 접속이 가능할 수 있다. Meanwhile, the material of the
상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 동일한 주석(Sn)으로 형성되나, 별도의 공정으로 형성될 수 있다. The
실시 예에 따른 연성 회로기판의 제조 공정에 열 경화와 같은 열처리 공정이 포함되는 경우에는, 상기 배선 패턴층(120)의 구리(Cu) 또는 상기 도금층(130)의 주석(Sn)의 확산 작용이 일어날 수 있다. 자세하게, 상기 보호층(140)의 경화를 통해, 상기 배선 패턴층(120)의 구리(Cu) 또는 상기 도금층(130)의 주석(Sn)의 확산 작용이 일어날 수 있다.When the manufacturing process of the flexible circuit board according to the embodiment includes a heat treatment process such as thermal curing, the diffusion action of copper (Cu) of the
이에 따라, 상기 제 1 도금층(131)에서 상기 제 2 도금층(132)의 표면으로 갈수록 구리(Cu)의 확산 농도가 낮아짐에 따라, 구리(Cu)의 함량이 연속적으로 작아질 수 있다. 한편, 상기 제 1 도금층(131)에서 상기 제 2 도금층(132)의 표면으로 갈수록 주석(Sn)의 함량은 연속적으로 커질 수 있다. 이에 따라, 상기 도금층(130)의 최상부는 순수한 주석을 포함할 수 있다. Accordingly, as the diffusion concentration of copper (Cu) decreases from the
즉, 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)은 적층 계면에서의 화학작용에 의해, 상기 도금층(130)의 적어도 일부는 주석 및 구리의 합금일 수 있다. 상기 배선 패턴층(120) 상에 상기 도금층(130)을 형성한 후의 주석 및 구리의 합금의 두께보다, 상기 도금층(130) 상에 상기 보호층(140)을 경화시킨 후에 주석 및 구리의 합금의 두께는 증가할 수 있다. That is, at least a part of the
상기 도금층(130)의 적어도 일부에 포함된 주석 및 구리의 합금은 CuxSny의 화학식을 가지고, 0<x+y<12일 수 있다. 예를 들어, 상기 화학식에서, x와 y의 합은 4≤x+y≤11일 수 있다. 예를 들어, 상기 도금층(130)에 포함된 주석 및 구리의 합금은 Cu3Sn 및 Cu6Sn5 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 도금층(131)은 주석 및 구리의 합금층일 수 있다.The alloy of tin and copper contained in at least a part of the
또한, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 주석 및 구리의 함량이 서로 다를 수 있다. 상기 구리 배선 패턴층과 직접 접촉하는 상기 제 1 도금층(131)은 상기 제 2 도금층(132)보다 구리의 함량이 클 수 있다.In addition, the content of tin and copper in the
상기 제 2 도금층(132)은 상기 제 1 도금층(131)보다 주석의 함량이 클 수 있다. 상기 제 2 도금층(132)은 순수 주석을 포함할 수 있다. 여기에서, 순수 주석이란 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 이상인 것, 70 원자% 이상인 것, 90 원자% 이상인 것을 의미할 수 있다. 이때, 주석 이외의 원소는 구리일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 70 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 90 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 95 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 98 원자% 이상일 수 있다.The
실시 예에 따른 도금층은 Cu/Sn의 확산현상으로 인해, 전기화학적 마이그레이션(Electrochemical Migration Resistance)을 방지하여, 금속 성장으로 인한 합선 불량을 차단할 수 있다. The plating layer according to the embodiment can prevent electrochemical migration resistance due to the diffusion phenomenon of Cu / Sn, and can prevent short-circuit defects due to metal growth.
다만, 실시 예는 이에 제한되지 않고, 상기 도금층(130)은 Ni/Au 합금, 금(Au), 무전해 니켈 금 도금(electroless nickel immersion gold, ENIG), Ni/Pd 합금, 유기화합물 도금(Organic Solderability Preservative, OSP) 중 어느 하나를 포함할 수 있음은 물론이다. However, the present invention is not limited thereto. The
상기 제 1 도금층(131)은 상기 제 2 도금층(132)은 서로 대응되거나, 서로 다른 두께를 가질 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)의 전체 두께는 0.3㎛ 내지 1㎛일 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)의 전체 두께는 0.3㎛ 내지 0.7㎛일 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)의 전체 두께는 0.3㎛ 내지 0.5㎛일 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132) 중 어느 하나의 도금층은 0.05㎛ 내지 0.15㎛ 이하의 두께일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132) 중 어느 하나의 도금층은 0.07㎛ 내지 0.13㎛ 이하의 두께일 수 있다. The
상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 상에 부분적으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 상의 상기 도금층(130) 상에 배치될 수 있다. 상기 보호층(140)은 상기 도금층(130)을 덮을 수 있어, 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)의 산화에 의한 손상 또는 탈막을 방지할 수 있다. The
상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)이 디스플레이 패널(30), 메인보드(40), 제 1 칩(C1) 또는 제 2 칩(C2)과 전기적으로 연결되기 위한 영역을 제외한 영역에 부분적으로 배치될 수 있다. The
이에 따라, 상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)와 부분적으로 중첩될 수 있다.Accordingly, the
상기 보호층(140)의 면적은 기판(110)의 면적보다 작을 수 있다. 상기 보호층(140)은 기판의 끝단을 제외한 영역에 배치되며, 복수 개의 오픈 영역을 포함할 수 있다. The area of the
상기 보호층(140)은 홀과 같은 형상의 제 1 오픈 영역(OA1)을 포함할 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)이 제 1 칩(C1)과 전기적으로 연결되기 상기 보호층(140)의 비배치 영역일 수 있다. The
상기 보호층(140)은 홀과 같은 형상의 제 2 오픈 영역(OA2)을 포함할 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)이 제 2 칩(C2)과 전기적으로 연결되기 위한 상기 보호층(140)의 비배치 영역일 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서, 상기 도금층(130)은 외부로 노출될 수 있다. The
상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서, 상기 도금층(130)의 구리의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 도금층(130)에서의 구리의 함량은 60 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 도금층(130)에서의 구리의 함량은 60 원자% 내지 80 원자% 일 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 측정된 상기 제 1 도금층(131)의 구리의 함량은 60 원자% 내지 80 원자% 일 수 있다.In the second open area OA2, the content of copper in the
상기 보호층(140)은 상기 메인보드(40) 또는 상기 디스플레이 패널(30)과 전기적으로 연결되기 위한 전도성 패턴부상에 배치되지 않을 수 있다. 실시 예는 상기 메인보드(40) 또는 상기 디스플레이 패널(30)과 전기적으로 연결되기 위한 전도성 패턴부 상의 상기 보호층(140)의 비배치 영역인 제 3 오픈 영역(OA3)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 3 오픈 영역(OA3)에서, 상기 도금층(130)은 외부로 노출될 수 있다. The
상기 제 3 오픈 영역(OA3)에서, 상기 도금층(130)의 구리의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. 또는, 상기 제 3 오픈 영역(OA3)에서, 상기 도금층(130)의 구리의 함량은 50 원자% 미만일 수 있다. 상기 제 3 오픈 영역(OA3)은 상기 제 1 오픈 영역(OA1)보다 기판의 외곽에 위치할 수 있다. 또한, 상기 제 3 오픈 영역(OA3)은 상기 제 2 오픈 영역(OA2)보다 기판의 외곽에 위치할 수 있다. In the third open area OA3, the content of copper in the
상기 제 1 오픈 영역(OA1) 및 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 상기 제 3 오픈 영역(OA3)보다 기판의 중앙 영역에 위치할 수 있다. The first open area OA1 and the second open area OA2 may be located in a central area of the substrate than the third open area OA3.
상기 보호층(140)은 절곡 영역에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 보호층(140)은 절곡시 발생할 수 있는 응력을 분산시킬 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The
상기 보호층(140)은 절연성 물질을 포함할 수 있다. 상기 보호층(140)은 전도성 패턴부의 표면을 보호하기 위해 도포된 후 가열하여 경화될 수 있는 다양한 물질을 포함할 수 있다. 상기 보호층(140)은 레지스트(resist)층일 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(140)은 유기 고분자 물질을 포함하는 솔더 레지스트층일 수 있다. 일례로, 상기 보호층(140)은 에폭시 아크릴레이트 계열의 수지를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 보호층(140)은 수지, 경화제, 광개시제, 안료, 용매, 필러, 첨가제, 아크릴 계열의 모노머 등을 포함할 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 상기 보호층(140)은 포토솔더 레지스트층, 커버레이(cover-lay) 및 고분자 물질 중 어느 하나일 수 있음은 물론이다.The
상기 보호층(140)의 두께는 1㎛ 내지 20㎛일 수 있다. 상기 보호층(140)의 두께는 1㎛ 내지 15㎛일 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(140)의 두께는 5㎛ 내지 20㎛일 수 있다. 상기 보호층(140)의 두께가 20㎛ 초과인 경우에는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 두께가 증가할 수 있다. 상기 보호층(140)의 두께가 1㎛ 미만인 경우에는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판에 포함된 전도성 패턴부의 신뢰성이 저하될 수 있다. The thickness of the
도 3b를 참조하여, 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지를 설명한다. Referring to FIG. 3B, a chip package including a
실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 기판(110), 기판의 일면 상에 배치되는 전도성 패턴부(CP) 및 상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역에 부분적으로 보호층(140)이 배치되어 형성되는 보호부(PP)를 포함할 수 있다.The
상기 전도성 패턴부(CP)는 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)을 포함할 수 있다. The conductive pattern part CP may include the
상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역과 다른 영역 상에는 상기 보호부(PP)가 배치되지 않을 수 있다. 이에 따라, 상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역과 다른 영역 상에는 상기 전도성 패턴부(CP) 및 이격된 상기 전도성 패턴부(CP)사이의 기판(110)이 노출될 수 있다. 상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역과 다른 영역 상에는 제 1 접속부(70) 및 제 2 접속부(80)가 각각 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 보호부(PP)가 배치되지 않는 상기 전도성 패턴부(CP)의 상면에는 제 1 접속부(70) 및 제 2 접속부(80)가 각각 배치될 수 있다.The protective portion PP may not be disposed on a region other than one region on the conductive pattern portion CP. Accordingly, the
상기 제 1 접속부(70) 및 상기 제 2 접속부(80)는 서로 다른 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 접속부(70)는 육면체 형상일 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 접속부(70)의 단면은 사각형 형상을 포함할 수 있다. 더 자세하게, 상기 제 1 접속부(70)의 단면은 직사각형 또는 정사각형 형상을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)는 구형 형상을 포함할 수 있다. 상기 제 2 접속부(80)의 단면은 원형 형상을 포함할 수 있다. 또는, 상기 제 2 접속부(80)는 부분적으로, 또는 전체적으로 라운드진 형상을 포함할 수 있다. 일례로, 상기 제 2 접속부(80)의 단면 형상은 일 측면에서 평면이고, 상기 일 측면과 반대되는 타 측면에서 곡면인 것을 포함할 수 있다. The
상기 제 1 접속부(70) 및 상기 제 2 접속부(80)는 서로 다른 크기를 가질 수 있다. 상기 제 1 접속부(70)는 상기 제 2 접속부(80)보다 작을 수 있다. The
상기 제 1 접속부(70) 및 상기 제 2 접속부(80)의 폭은 서로 다를 수 잇다. 예를 들어, 하나의 제 1 접속부(70)의 양 측면 사이의 폭(D1)은 하나의 제 2 접속부(80)의 양 측면 사이의 폭(D2)보다 작을 수 있다.The widths of the
상기 제 1 접속부(70) 상에는 상기 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. 상기 제 1 접속부(70)는 전도성 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 접속부(70)는 상기 제 1 접속부(70)의 상면에 배치되는 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 1 접속부(70)의 하면에 배치되는 상기 전도성 패턴부(CP)를 전기적으로 연결할 수 있다. The first chip C1 may be disposed on the
상기 제 2 접속부(80) 상에는 상기 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 접속부(80)는 전도성 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 2 접속부(80)의 상면에 배치되는 상기 제 2 칩(C2) 및 상기 제 2 접속부(80)의 하면에 배치되는 상기 전도성 패턴부(CP)를 전기적으로 연결할 수 있다.And the second chip C2 may be disposed on the
실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 동일한 일면 상에는 서로 다른 종류의 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 자세하게, 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 동일한 일면 상에는 하나의 상기 제 1 칩(C1) 및 복수 개의 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 칩 패키징 공정의 효율을 향상시킬 수 있다. The first chip C1 and the second chip C2 of different types may be disposed on the same surface of the
상기 제 1 칩(C1)은 구동 IC 칩(Drive IC chip)을 포함할 수 있다. The first chip C1 may include a drive IC chip.
상기 제 2 칩(C2)은 구동 IC 칩(Drive IC chip) 이외의 칩을 의미할 수 있다. 상기 제 2 칩(C2)은 구동 IC 칩(Drive IC chip) 이외의 소켓 또는 소자를 포함하는 다양한 칩을 의미할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치 센서 IC 칩, MLCC(Multi layer ceramic condencer) 칩, BGA(Ball Grid Array) 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나인 것을 포함할 수 있다. The second chip C2 may refer to a chip other than a drive IC chip. The second chip C2 may refer to various chips including a socket or a device other than a drive IC chip. For example, the second chip C2 may be at least one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, a multi layer ceramic condenser (MLCC) chip, a ball grid array (BGA) chip, .
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 배치되는 복수 개의 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치 센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나가 여러 개 배치되는 것을 의미할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 여러 개의 MLCC 칩이 배치될 수 있다. The plurality of second chips (C2) disposed on the all-in-one chip-on-film flexible circuit board (100) may include at least one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, Can be placed. For example, a plurality of MLCC chips may be disposed on a
또한, 상기 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 둘을 포함할 수 있다. 즉, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 서로 다른 종류의 복수 개의 제 2 칩(C2a, C2b)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 어느 하나의 제 2 칩(C2a) 및 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 상기 어느 하나와 다른 하나의 제 2 칩(C2b)을 포함할 수 있다.The second chip C2 may include at least two of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor. That is, a plurality of second chips C2a and C2b of different kinds may be disposed on the
자세하게, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 어느 하나의 제 2 칩(C2a)이 복수 개로 배치될 수 있고, 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 상기 어느 하나와 다른 하나의 제 2 칩(C2b)이 복수 개로 배치되는 것을 포함할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 복수 개의 MLCC 칩(C2a) 및 복수 개의 전원 IC 칩(C2b)을 포함할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 복수 개의 MLCC 칩(C2a) 및 복수 개의 다이오드 칩(C2b)을 포함할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 복수 개의 MLCC 칩(C2a) 및 복수 개의 BGA 칩(C2b)을 포함할 수 있다.In detail, a plurality of second chips (C2a) of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor can be arranged on the all-in-one chip- And a plurality of second chips (C2b) different from any one of the diode chip, the power IC chip, the touch sensor IC chip, the MLCC chip, the BGA chip, and the chip capacitor may be disposed. For example, the MLCC chip C2a and the plurality of power IC chips C2b may be provided on the all-in-one chip-on-film
실시예에서 상기 제 2 칩의 종류가 2개로 제한되는 것은 아니며, 구동 IC 칩을 제외한 다양한 칩이 모두 제 2 칩에 포함될 수 있음은 물론이다. It is needless to say that the second chip is not limited to two types in the embodiment, and various chips other than the driving IC chip may be included in the second chip.
상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일단은 디스플레이 패널(30)과 연결될 수 있다. 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일단은 디스플레이 패널(30)과 접착층(50)에 의해서 연결될 수 있다. 자세하게, 상기 접착층(50)의 상면에는 상기 디스플레이 패널(30)이 배치되고, 상기 접착층(50)의 하면에는 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 상기 접착층(50)을 사이에 두고 상, 하로 합착될 수 있다. One end of the
상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상기 일단과 반대되는 타단은 메인보드(40)와 연결될 수 있다. 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상기 일단과 반대되는 타단은 메인보드(40)와 접착층(50)에 의해서 연결될 수 있다. 자세하게, 상기 접착층(50)의 상면에는 메인보드(40)가 배치되고, 상기 접착층(50)의 하면에는 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 메인보드(40) 및 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 상기 접착층(50)을 사이에 두고 상, 하로 합착될 수 있다.The other end opposite to the one end of the all-in-one chip-on-film
상기 접착층(50)은 전도성 물질을 포함할 수 있다. 상기 접착층(50)은 전도성 입자가 접착 물질 내에 분산된 것일 수 있다. 예를 들어, 상기 접착층(50)은 이방성 전도성 필름(ACF)일 수 있다. The
이에 따라, 상기 접착층(50)은 디스플레이 패널(30), 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 및 상기 메인보드(40) 사이의 전기적인 신호를 전달함과 별도의 구성요소를 안정적으로 연결할 수 있다.Accordingly, the
도 4 내지 도 6를 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지의 제조공정을 설명한다. 4 to 6, a manufacturing process of a chip package including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment will be described.
도 4를 참조하면, 기판(100)의 일면 상에 패턴 패턴층(120), 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)을 포함하는 전도성 패턴부(CP), 및 보호층(140)을 배치하여, 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 준비할 수 있다.4, a conductive pattern portion CP including a
이때, 상기 보호층(140)은 제 1 오픈 영역(OA1) 및 제 2 오픈 영역(OA2)을 포함할 수 있다. At this time, the
상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서는 상기 제 2 도금층(132)이 노출될 수 있다. 또한, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서는 상기 제 2 도금층(132)이 노출될 수 있다. And the
도 5 및 도 6을 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 1 칩(C1)을 배치하는 제 1 단계, 및 제 2 칩(C2)을 배치하는 제 2 단계를 설명한다. 5 and 6, a first step of disposing the first chip C1 and a second step of disposing the second chip C2 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment will be described do.
먼저, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 1 칩(C1)을 배치하는 단계를 설명한다. First, the step of disposing the first chip (C1) on the flexible circuit board for all-in-one chip-on film according to the embodiment will be described.
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판의 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에는 제 1 접속부(70)가 배치될 수 있다. The
상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132 a)은 순수 주석을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 70 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 90 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 95 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 98 원자% 이상일 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132)의 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 미만인 경우에는 상기 접속부(70)에 의한 상기 제 2 도금층(132) 및 상기 제 1 칩(C1)의 연결이 어려울 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132)의 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 미만인 경우에는 상기 접속부(70)에 의한 상기 제 2 도금층(132) 및 상기 제 1 칩(C1)의 본딩에 의한 연결이 어려울 수 있다. The content of tin (Sn) in the
상기 제 1 접속부(70)는 금(Au)을 포함할 수 있다. 상기 제 1 접속부(70)는 골드 범프일 수 있다. The
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 하나의 제 1 칩(C1)을 배치하기 위해서는 복수 개의 상기 제 1 접속부(70)가 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 도금층(132a) 사이에 배치될 수 있다. In order to dispose one first chip C1 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, a plurality of the
상기 제 1 오픈 영역(OA1)의 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 이상임에 따라, 금(Au)을 포함하는 상기 제 1 접속부(70)와 밀착특성이 우수할 수 있다. 실시에에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 상기 제 1 접속부(70)를 통해 상기 제 1 칩(C1)과 전도성 패턴의 전기적인 연결이 우수할 수 있어, 신뢰성이 향상될 수 있다. The
다음으로, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 2 칩(C2)을 배치하는 단계를 설명한다. Next, the step of disposing the second chip (C2) on the flexible circuit board for all-in-one chip-on film according to the embodiment will be described.
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에는 제 2 접속부(80)가 배치된다. The
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 2 칩(C2)을 배치하기 위해서는, 마스크(M)를 통해서 제 2 접속부(80)가 배치되는 영역과 대응되는 부분에만 선택적으로 열(H)을 공급할 수 있다. 자세하게, 실시예는 선택적인 리플로우(selective reflow) 공정을 통해서 제 2 칩(C2)을 연결하기 위한 제 2 접속부(80)가 배치되는 영역에 선택적으로 열의 공급을 할 수 있다. In order to arrange the second chip C2 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, only the portion corresponding to the region where the
자세하게, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 상기 제 1 칩(C1)을 실장한 이후에 제 2 칩(C2)을 배치하는 경우에도, 선택적인 리플로우(selective reflow) 공정을 통한 부분적인 열공급이 가능할 수 있다. In detail, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can be manufactured by a selective reflow process even when the second chip C2 is disposed after the first chip C1 is mounted Partial heat supply may be possible.
즉, 실시예에 따른 제조 공정은 마스크를 통해 상기 제 1 오픈 영역(OA)이 열이 노출되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 오픈 영역(OA)에 배치되는 상기 제 2 도금층이 열 공급에 의하여 순수 주석으로부터 주석 및 구리의 합금층으로 변성되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 서로 다른 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)을 실장하는 경우에도, 상기 제 1 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 50 원자% 이상일 수 있어, 구동 IC 칩의 조립(assembly)이 우수할 수 있다. That is, the fabrication process according to the embodiment can prevent heat from being exposed to the first open region OA through the mask. Thus, the second plating layer disposed in the first open area OA can be prevented from being transformed from pure tin into an alloy layer of tin and copper by heat supply. Thus, even when the first chip C1 and the second chip C2, which are different from each other, are mounted on the
한편, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)과 대응되는 영역에 마스크의 홀이 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 열에 의해 노출되는 도금층은 주석 및 구리의 합금층으로 변성될 수 있다. On the other hand, a hole of a mask may be disposed in an area corresponding to the second open area OA2. Accordingly, the plating layer exposed by heat in the second open area OA2 may be denatured as an alloy layer of tin and copper.
자세하게, 마스크의 홀을 통해 열에 의해 노출되는 상기 제 2 도금층(132)의 일 부분은 주석/구리의 확산현상이 추가적으로 진행될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 2 도금층(132b)의 주석(Sn)의 함량은 50 원자% 미만일 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 2 도금층(132b)은 구리(Cu) 및 주석(Sn)의 합금층일 수 있다. In detail, a part of the
상기 제 2 접속부(80)는 금(Au) 이외의 금속을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 2 접속부(80)의 하부에 위치한 상기 제 2 도금층(132b)가 순수 주석이 아닌 경우에도, 상기 제 2 칩(C2)과의 조립 성능이 우수할 수 있다. 또한, 상기 제 2 접속부(80)는 금(Au) 이외의 금속을 포함할 수 있어, 제조 비용을 저감시킬 수 있다. The
예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)는 구리(Cu), 주석(Sn), 알루미늄(Al), 아연(Zn), 인듐(In), 납(Pb), 안티몬(Sb), 비스무트(bi), 은(Ag), 니켈(Ni) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. For example, the
상기 제 2 접속부(80)는 솔더 범프일 수 있다. 상기 제 2 접속부(80)는 솔더볼일 수 있다. 상기 리플로우 공정의 온도에서 솔더볼은 용융될 수 있다. The
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 하나의 제 2 칩(C2)을 배치하기 위해서는 복수 개의 상기 제 2 접속부(80)가 상기 제 2 칩(C2) 및 상기 제 2 도금층(132b) 사이에 배치될 수 있다. In order to dispose one second chip C2 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, a plurality of the second connecting
상기 리플로우 공정의 온도에서, 제 2 칩(C2)은 제 2 접속부(80)를 통해 상기 제 2 오픈 영역(OA2) 상의 제 2 도금층(132b)과 우수한 본딩이 가능할 수 있다. At the temperature of the reflow process, the second chip C2 can be bonded with the
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 상기 제 1 오픈 영역에서 제 1 접속부(70)를 통해 상기 제 1 칩(C1)의 연결이 우수한 동시에, 제 2 오픈 영역에서 제 2 접속부(80)를 통해 상기 제 2 칩(C2)의 연결이 우수할 수 있다. The flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment is excellent in the connection of the first chip C1 through the
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 제 1 오픈 영역(OA1) 및 제 2 오픈 영역(OA2)에 서로 다른 Sn 함량을 가지는 도금층을 포함할 수 있어, 상기 제 1 칩(C1)의 조립 성능이 우수한 동시에, 상기 제 2 칩(C2)의 조립 성능이 우수할 수 있다.The flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment may include a plating layer having a different Sn content in the first open area OA1 and the second open area OA2, The assembly performance is excellent, and the assembling performance of the second chip (C2) can be excellent.
비교 예와 같이, 제 1 인쇄회로기판에 제 1 칩을 실장하고, 제 2 인쇄회로기판에 제 2 칩을 실장한 이후에, 제 1 칩을 구비한 제 1 인쇄회로기판과 제 2 칩을 구비한 제 2 인쇄회로기판을 접착층으로 본딩하는 경우에는 제 1 칩의 열적 변성에 의한 문제가 발생하지 않을 수 있다.As in the comparative example, after the first chip is mounted on the first printed circuit board and the second chip is mounted on the second printed circuit board, the first printed circuit board having the first chip and the second chip are provided In the case of bonding a second printed circuit board to an adhesive layer, there may be no problem caused by thermal degeneration of the first chip.
그러나, 실시 예와 같이 하나의 기판 상에 서로 다른 제 1 칩 및 제 2 칩을 실장하는 경우에는 제 1 칩을 연결하기 위한 보호층의 제 1 오픈 영역에서 제 2 도금층이 열에 의하여 변성됨에 따라, 제 1 접속부에 의한 제 1 칩의 조립이 어려운 문제점이 있었다. However, when the first and second chips, which are different from each other, are mounted on one substrate as in the embodiment, the second plating layer is deformed by heat in the first open region of the protective layer for connecting the first chip, There is a problem that it is difficult to assemble the first chip by the first connecting portion.
발명자는 이와 같은 문제를 해결하기 위해서, 선택적인 리플로우 공정을 통해 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판상에 제 1 칩 및 제 2 칩을 차례로 배치하였다. 이에 따라, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지는 제 1 오픈 영역에서의 상기 제 2 도금층의 주석의 함량과, 제 1 오픈 영역에서의 상기 제 2 도금층의 주석의 함량이 다를 수 있다. 따라서, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지는 서로 다른 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)의 우수한 전기적 연결이 가능할 수 있다. In order to solve such a problem, the inventors arranged the first chip and the second chip sequentially on the flexible circuit board for all-in-one chip-on film through an optional reflow process. Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film and the chip package including the same according to the embodiment can reduce the content of tin in the second plated layer in the first open region and the content of tin in the second plated layer in the first open region, May be different. Therefore, the chip package including the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can provide excellent electrical connection between the first chip C1 and the second chip C2 which are different from each other.
상기 제 1 오픈 영역에서의 순수 주석을 포함하는 상기 제 2 도금층은 금(Au)을 포함하는 제 1 접속부를 통해 구동 IC 칩인 제 1 칩의 안정적인 실장이 가능할 수 있다. 또한, 상기 제 2 오픈 영역에서의 구리 및 주석 합금층을 포함하는 상기 제 2 도금층은 금(Au) 이외의 금속을 포함하는 제 2 접속부를 통해 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나인 제 2 칩의 안정적인 실장이 가능할 수 있다.The second plating layer including pure tin in the first open region can be stably mounted on the first chip, which is a driving IC chip, through a first connection portion including gold (Au). Also, the second plating layer including the copper and tin alloy layer in the second open region may be a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC A stable mounting of a second chip, which is at least one of a chip, a BGA chip, and a chip capacitor, may be possible.
이에 따라, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지는 하나의 올인원 연성 회로기판상에 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩의 실장이 우수한 수율로 가능할 수 있다. Accordingly, the flexible circuit board for all-in-one chip-on-film and the chip package including the all-in-one chip-on-film according to the embodiments can be mounted on one all-in-one flexible circuit board with excellent yields of first and second chips .
또한, 기존의 복수 개의 인쇄회로기판을 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판으로 대체할 수 있어, 디스플레이 패널과 메인보드를 연결하기 위한 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 소형화 및 박형화가 가능할 수 있다. In addition, since a plurality of existing printed circuit boards can be replaced by a flexible circuit board for one all-in-one chip-on-film, miniaturization and thinning of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board for connecting the display panel and the main board have.
따라서, 실시 예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 전자 디바이스는 카메라 모듈, 홍채 인식 모듈 등과 같이 다양한 기능부의 탑재가 용이할 수 있다. 또한, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판를 포함하는 전자 디바이스는 배터리 공간을 확장할 수 있다. Therefore, the electronic device including the all-in-one chip-on-film flexible circuit board of the embodiment can easily mount various functional parts such as a camera module and an iris recognition module. Further, the electronic device including the flexible circuit board for an all-in-one chip-on film of the embodiment can expand the battery space.
또한, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 롤투롤 공정을 통하여 제조할 수 있고, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 상의 칩의 실장은 선택적인 리플로우 공정을 통해 가능할 수 있어, 제조 공정의 편의성 및 제조 수율이 향상될 수 있다.In addition, the flexible circuit board for all-in-one chip-on-film can be manufactured through a roll-to-roll process, and chip mounting on the all-in-one chip-on-film flexible circuit board can be achieved through a selective reflow process, The manufacturing yield can be improved.
앞서 살펴본 바와 같이, 단면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 제 1 칩, 제 2 칩, 디스플레이 패널 및 메인보드가 모두 동일한 일면에 연결될 수 있다. As described above, the first chip, the second chip, the display panel, and the main board may all be connected to the same side of the chip package including the flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film.
이와 같은 단면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 고해상도(QHD)를 가지는 회로를 구현하기 어려울 수 있다. Such a flexible all-in-one chip-on-film flexible circuit board may be difficult to implement a circuit having high resolution (QHD).
최근, 스마트폰, 텔레비전, 모니터, 전자종이, 웨어러블 디바이스 등의 디스플레이부를 가지는 다양한 전자 디바이스는 고해상도 디스플레이를 구현이 요구된다. 2. Description of the Related Art Recently, various electronic devices having a display portion such as a smart phone, a television, a monitor, an electronic paper, and a wearable device are required to realize a high resolution display.
이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 3층 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함할 수 있다.Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to the embodiment can include a flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on film.
3층 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 고해상도 디스플레이를 구현하기 위해서, 전도성 패턴층이 기판상에서 적어도 3층에 배치될 수 있다. A flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on film can be disposed on at least three layers on a substrate in order to realize a high-resolution display.
다시 말해서, 연성회로기판은 적어도 2개의 기판을 포함하며, 상기 전도성 패턴층은 상기 적어도 2개의 기판 중 상부에 위치한 기판의 상면에 배치되는 전도성 패턴층과, 하부에 위치한 기판의 하면에 배치되는 전도성 패턴층과, 상기 2개의 기판 사이에 배치되는 전도성 패턴층을 포함할 수 있다.In other words, the flexible circuit board includes at least two substrates, and the conductive pattern layer includes a conductive pattern layer disposed on an upper surface of the substrate positioned on top of the at least two substrates, a conductive pattern layer disposed on a lower surface of the substrate disposed below, A pattern layer, and a conductive pattern layer disposed between the two substrates.
도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9 및 도 10을 참조하여, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 설명한다. 앞서 설명한 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판과 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 도면을 부여한다. 각각의 구성요소의 두께, 각각의 구성요소의 물질 등 앞서 설명한 것과 중복되는 설명은 제외한다. A flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on film according to an embodiment will be described with reference to Figs. 7, 8A, 8B, 9, and 10. Fig. The same components as those of the above-described flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film are given the same drawings. The thickness of each component, the material of each component, etc., are not included.
도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9는 제 1 칩의 실장을 중심으로 도시한 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 다양한 단면도이다. 즉, 도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9는 제 1 칩을 실장하기 위한 제 2 전도성 패턴부의 다양한 단면 구조를 설명하기 위한 도면들이다.Figs. 7, 8A, 8B, and 9 are various cross-sectional views of a three-layer all-in-one chip-on-film flexible circuit board according to the embodiment centering on the mounting of the first chip. That is, Figs. 7, 8A, 8B, and 9 are views for explaining various cross-sectional structures of the second conductive pattern portion for mounting the first chip.
도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9 및 도 10을 참조하면, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 3층의 전극 패턴부를 가지는 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판일 수 있다. Referring to FIGS. 7, 8A, 8B, 9 and 10, the
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 제 1 기판(111) 및 제 2 기판(112)을 포함하는 기판(110), 상기 제 1 기판(111)의 하면, 상기 제 2 기판(112)의 상면 및 상기 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112) 사이에 각각 배치되는 배선 패턴층(120)을 포함할 수 있다.A
또한, 상기 제 1 기판(111)의 하면에 배치된 배선 패턴층(120)과, 상기 제 2 기판(112)의 상면에 배치된 배선 패턴층(120) 상에는 각각 도금층(130) 및 보호층(140)이 배치될 수 있다. A
실시 예에 연성 회로기판(100)은 제 1 기판(111) 상에 배선 패턴층(120)을 형성하고, 상기 배선 패턴층(120)을 덮도록 상기 제 1 기판(111) 위에 제 2 기판(112)을 배치하고, 그에 따라 상기 제 2 기판(112)의 상면에 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 배치한 후, 상기 제 1 기판(111)의 하면에 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 배치할 수 있다. The
이하에서는, 상기 제 1 기판(111)의 하면과, 상기 제 2 기판(112)의 상면은 기판(110)의 상면과 하면 또는 기판(110)의 일면과 타면이라고 할 수 있을 것이다.Hereinafter, the lower surface of the
즉, 실시 예에 따른 기판(110)의 일면 상에 상부 배선 패턴층, 상부 도금층 및 상부 보호층이 배치될 수 있고, 상기 일면과 반대되는 타면 상에 하부 배선 패턴층, 하부 도금층 및 하부 보호층이 배치될 수 있다. 그리고, 상기 기판(110)의 내부, 다시 말해서 상기 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112) 사이에는 중앙 배선 패턴층이 배치될 수 있다. That is, the upper wiring pattern layer, the upper plating layer, and the upper protective layer may be disposed on one surface of the
상부 배선 패턴층은 중앙 배선 패턴층 및 하부 배선 패턴층과 서로 대응되는 금속 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 다른 전도성 물질을 포함할 수 있음은 물론이다. The upper wiring pattern layer may include a metal material corresponding to the central wiring pattern layer and the lower wiring pattern layer. Thus, the process efficiency can be improved. However, it should be understood that the embodiments are not limited thereto and may include other conductive materials.
상부 배선 패턴층의 두께, 상기 중앙 배선층의 두께 및 상기 하부 배선 패턴층의 두께는 서로 대응될 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다. 한편, 상기 상부 배선 패턴층과 상기 하부 배선 패턴층은 기판의 외면에 배치되기 때문에 외부로 노출되고, 상기 중앙 배선 패턴층은 상기 제 1 기판(111) 및 제 2 기판(112)에 의해 보호된다. The thickness of the upper wiring pattern layer, the thickness of the center wiring layer, and the thickness of the lower wiring pattern layer may correspond to each other. Thus, the process efficiency can be improved. Meanwhile, since the upper wiring pattern layer and the lower wiring pattern layer are disposed on the outer surface of the substrate, they are exposed to the outside, and the central wiring pattern layer is protected by the
따라서, 상기 상부 배선 패턴층과 상기 하부 배선 패턴층 상에는 각각 도금층과 보호층이 배치될 수 있으며, 상기 중앙 배선 패턴층 상에는 상기 도금층과 보호층이 배치되지 않을 수 있다. 이때, 상기 상부 배선 패턴층 상에는 상부 도금층이 배치될 수 있고, 상기 하부 배선 패턴층 상에는 상기 하부 도금층이 배치될 수 있다.Therefore, the plating layer and the protection layer may be disposed on the upper wiring pattern layer and the lower wiring pattern layer, respectively, and the plating layer and the protection layer may not be disposed on the central wiring pattern layer. At this time, an upper plating layer may be disposed on the upper wiring pattern layer, and the lower plating layer may be disposed on the lower wiring pattern layer.
한편, 상부 도금층은 하부 도금층과 서로 대응되는 금속 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다. 다만, 실시 예는 이에 제한되지 않고, 다른 전도성 물질을 포함할 수 있음은 물론이다.On the other hand, the upper plating layer may include a metal material corresponding to the lower plating layer. Thus, the process efficiency can be improved. However, it should be understood that the embodiments are not limited thereto and may include other conductive materials.
상부 도금층의 두께는 하부 도금층의 두께와 서로 대응될 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다.The thickness of the upper plating layer may correspond to the thickness of the lower plating layer. Thus, the process efficiency can be improved.
상기 기판(110)은 복수의 관통 홀(Through Hole)을 포함할 수 있다. 상기 기판(110)은 복수 개의 관통 홀을 포함할 수 있다. 상기 기판(110)의 복수 개의 관통 홀은 기계적인 공정 또는 화학적인 공정에 의해서 각각 또는 동시에 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)의 복수 개의 관통 홀은 드릴 공정 또는 식각 공정에 의해서 형성될 수 있다. 일례로, 상기 기판의 관통 홀은 레이저를 통한 펀칭 및 디스미어 공정을 통해 형성될 수 있다. 상기 디스미어 공정은 상기 관통 홀의 내측면에 부착된 폴리이미드 스미어를 제거하는 공정일 수 있다. 상기 디스미어 공정에 의해, 상기 폴리이미드 기판의 내측면은 직선과 유사한 경사면을 가질 수 있다.The
이때, 상기 복수의 관통 홀은 상기 기판(110)을 구성하는 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112)을 모두 관통할 수 있고, 상기 제 1 기판(111)만을 관통할 수 있으며, 상기 제 2 기판(112)만을 관통할 수도 있다. 여기에서, 상기 관통 홀은 비아 홀이라고도 할 수 있다.At this time, the plurality of through holes may pass through both the
상기 기판(110) 상에는 배선 패턴층(120), 도금층(130), 및 보호층(140)이 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 기판(110)의 양면 상에는 배선 패턴층(120), 도금층(130), 및 보호층(140)이 각각 차례대로 배치될 수 있다. 그리고, 상기 기판(110)을 구성하는 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112)의 사이에도 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다.The
상기 배선 패턴층(120)은 증착(evaporation), 도금(plating), 스퍼터링(sputtering) 중 적어도 하나의 방법으로 형성될 수 있다. The
일례로, 회로를 형성하기 위한 배선층은 스퍼터링 후 전해도금에 의하여 형성될 수 있다. 일례로, 회로를 형성하기 위한 배선층은 무전해 도금에 의해 형성된 구리 도금층일 수 있다. 또는, 상기 배선층은 무전해 도금에 및 전해 도금에 의해 형성된 구리 도금층일 수 있다. For example, a wiring layer for forming a circuit can be formed by electrolytic plating after sputtering. For example, the wiring layer for forming the circuit may be a copper plated layer formed by electroless plating. Alternatively, the wiring layer may be a copper-plated layer formed by electroless plating and electrolytic plating.
다음으로, 상기 배선층 상에 드라이필름을 라미네이션한 다음, 노광, 현상 및 에칭 공정을 통해, 연성회로기판의 양면, 즉 상면과 하면에 패턴화된 배선층을 형성할 수 있다. 이에 따라, 상기 배선 패턴층(120)을 형성할 수 있다. Next, a patterned wiring layer can be formed on both sides of the flexible circuit board, that is, on the upper and lower surfaces of the flexible circuit board through lamination of a dry film on the wiring layer, and exposure, development and etching. Thus, the
상기 기판(110)을 관통하는 비아 홀(V1, V2, V3, V4, V5)의 내부에는 전도성 물질이 채워질 수 있다. 비아 홀의 내부에 채워지는 전도성 물질은 상기 배선 패턴층(120)과 서로 대응되거나 서로 다른 전도성 물질일 수 있다. 예를 들어, 비아 홀의 내부에 채워지는 전도성 물질은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 은(Ag), 몰리브덴(Mo). 금(Au), 티타튬(Ti) 및 이들의 합금 중 적어도 하나의 금속을 포함할 수 있다. 상기 제 2 기판(112)의 상면의 제 2 전도성 패턴부(CP2)의 전기적인 신호는 상기 비아 홀에 채워진 전도성 물질을 통해서 상기 제 1 기판(111)과 제 2 기판 사이의 제 3 전도성 패턴부(CP3) 및 상기 제 1 기판(111)의 하면의 제 1 전도성 패턴부(CP1)에 전달될 수 있다.Vias (V1, V2, V3, V4, V5) passing through the
그 다음으로, 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부(CP1, CP2)를 구성하는 배선 패턴층(120) 상에는 도금층(130)이 형성될 수 있다. Next, a
그 이후에는, 제 1 및 2 전도성 패턴부(CP1, CP2) 상에 보호부(PP)를 스크린 인쇄할 수 있다. Thereafter, the protective portion PP can be screen-printed on the first and second conductive pattern portions CP1 and CP2.
이에 따라, 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1)과 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 상기 배선 패턴층(120) 이외에 상기 도금층(130)를 포함할 수 있다. 다만, 상기 제 3 전도성 패턴부(CP3)는 상기 배선 패턴층(120)만을 포함할 수 있다.The first conductive pattern part CP1 and the second conductive pattern part CP2 may include the
이하에서는, 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1)과 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 구성하는 배선 패턴층(120)과 상기 도금층(130) 사이의 관계에 대해 설명하기로 한다. 이때, 제 1 전도성 패턴부(CP1)의 배선 패턴층을 하부 배선 패턴층이라 할 수 있고, 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 구성하는 배선 패턴층을 상부 배선 패턴층이라 할 수 있다. 상부 및 하부 Hereinafter, the relationship between the
상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 대응되거나 서롤 다를 수 있다. 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적과 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. The areas of the upper and lower wiring pattern layers 120 may correspond to or different from each other with respect to the
도 7을 참조하면, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 대응될 수 있다. 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적과 서로 대응될 수 있다. Referring to FIG. 7, the areas of the upper and lower wiring pattern layers 120 may correspond to the
도 8을 참조하면, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 다를 수 있다. 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 제 1 도금층(131)의 면적과 대응될 수 있다. 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적과 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적보다 클 수 있다. Referring to FIG. 8, the areas of the upper and lower wiring pattern layers 120 may be different from the thickness of the
도 9를 참조하면, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 다를 수 있다. Referring to FIG. 9, the areas of the upper and lower wiring pattern layers 120 may be different from those of the
도 10을 참조하면, 상기 제 2 기판(112)의 상면에서 상기 상부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 다르고, 상기 제 1 기판(111)의 하면에서 상기 하부 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 대응될 수 있다. 10, the area of the upper
상기 보호층(140)은 상기 기판(110) 상에 직접 접촉하며 배치되거나, 상기 배선 패턴층(120) 상에 직접 접촉하며 배치되거나, 상기 제 1 도금층(131) 상에 직접 접촉하며 배치되거나, 상기 제 2 도금층(132) 상에 직접 접촉하며 배치될 수 있다. The
도 7을 참조하면, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상기 제 1 도금층(131) 상에 상기 제 2 도금층(132)이 형성되고, 상기 제 2 도금층(132) 상에 부분적으로 상기 보호층(140)이 배치될 수 있다. 7, the
도 8a, 도 8b를 참조하면, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상기 제 1 도금층(131) 상에 부분적으로 상기 보호층(140)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 도금층(132)은 상기 도금층(131) 상의 상기 보호층(140)이 배치된 영역 이외의 영역에 배치될 수 있다. 8A and 8B, the
상기 보호층(140)의 하면이 접촉하는 상기 제 1 도금층(131)은 구리 및 주석의 합금층일 수 있다. 상기 보호층(140)의 측면과 접촉하는 상기 제 2 도금층(132)은 순수 주석을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 보호층(140)과 상기 제 1 도금층(131) 사이에 공동부가 형성됨에 따른 보호층의 탈막을 방지할 수 있고, 위스커의 형성을 방지할 수 있어, 보호층의 밀착력을 높일 수 있다. 따라서, 실시 예는 2층의 도금층을 포함할 수 있어, 신뢰성이 높은 전자 디바이스를 제공할 수 있다. The
또한, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120) 상에 단일층의 주석 도금층(131)만을 배치하고, 하나의 주석 도금층(131) 상에 보호층(140)을 배치하는 경우에는 보호층(140)의 열 경화 시에 상기 주석 도금층(131)이 가열됨에 따라, 상기 주석 도금층(131) 내에 구리가 확산될 수 있다. 이에 따라, 상기 주석 도금층(131)은 주석 및 구리의 합금층이 될 수 있으므로, 골드 범프를 가지는 제 1 칩의 실장이 견고하게 이루어질 수 없는 문제점이 있다. 따라서, 실시 예에 따른 도금층(130)은 기판으로부터 멀어질수록 주석의 농도가 연속적으로 증가할 수 있는 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)이 요구된다. In the case where only a single
도 9를 참조하면, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상에 상기 제 1 도금층(131) 상에 부분적으로 상기 보호층(140)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 도금층(132)은 상기 도금층(131) 상의 상기 보호층(140)이 배치된 영역 이외의 영역에 배치될 수 있다.Referring to FIG. 9, the
이때, 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120)은 제 1 배선 패턴층(121) 및 제 2 배선 패턴층(122)을 포함할 수 있다. 즉, 상기 기판상에는 복수 개의 배선 패턴층이 배치될 수 있다. At this time, the upper and lower wiring pattern layers 120 may include a first
또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 상기 기판(110)과 상기 상부, 하부 및 중앙 배선 패턴층 사이에는 상기 기판(110)과 상기 상부, 하부 및 중앙 배선 패턴층(120)의 밀착력을 향상하기 위한 금속 시드층을 더 포함할 수 있다. 이때, 금속 시드층은 스퍼터링에 의해 형성할 수 있다. 금속 시드층은 구리를 포함할 수 있다. Although not shown in the drawing, a metal layer (not shown) for improving adhesion between the
다시 말해서, 상기 상부, 하부 및 중앙 배선 패턴층 각각은, 상기 제 1 배선 배턴층(121) 및 상기 제 2 배선 패턴층(122)을 포함할 수 있다.In other words, each of the upper, lower and central wiring pattern layers may include the first
상기 제 1 배선 배턴층(121) 및 상기 제 2 배선 패턴층(122)은 서로 대응되거나 서로 다른 공정으로 형성될 수 있다.The first
상기 제 1 배선 배턴층(121)은 0.1㎛ 내지 0.5㎛ 두께로 구리를 스퍼터링하여 형성될 수 있다. 상기 제 1 배선 배턴층(121)은 기판의 상부, 하부 및 관통 홀의 내측면에 배치될 수 있다. 이때, 상기 제 1 배선 배턴층(121)의 두께가 얇기 때문에, 관통홀의 내측면은 서로 이격될 수 있다. The first
다음으로, 상기 제 2 배선 패턴층(122)은 상기 제 1 배선 패턴층(121) 상에 배치될 수 있다. 또한, 상기 제 2 배선 패턴층(122)은 도금에 의하여 관통홀의 내부에 전체적으로 채워질 수 있다. Next, the second
상기 제 1 배선 패턴층(121)은 스퍼터링에 의하여 형성되기 때문에, 상기 기재(110) 또는 상기 금속 시드층과의 밀착력이 우수한 장점을 가지지만, 제조 비용이 높기 때문에, 상기 제 1 배선 패턴층(121) 상에 다시, 도금에 의한 상기 제 2 배선 패턴층(122)을 형성함으로써, 제조 비용을 저감시킬 수 있다. 또한, 별도로 기판의 관통 홀에 전도성 물질을 채우지 않고, 상기 제 1 배선 패턴층(121) 상에 상기 제 2 배선 패턴층(122)을 배치함과 동시에 비아홀 내에 구리가 충진될 수 있으므로, 공정 효율이 향상될 수 있다. 또한, 비아홀 내에 보이드가 형성되는 것을 방지할 수 있어, 신뢰성이 높은 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 전자 디바이스를 제공할 수 있다. Since the first
도 10을 참조하면, 상기 제 2 기판(112)의 상면에는 복수 개의 보호층(140)이 배치될 수 있다. 상기 보호층은 제 1 보호층(141) 및 제 2 보호층(142)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 10, a plurality of
예를 들어, 상기 제 2 기판(112)의 상면에 제 1 보호층(141)이 부분적으로 배치되고, 상기 보호층(141)이 배치되는 영역 이외의 영역 상에 상기 상부 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다. For example, a first
상기 보호층(141) 상에는 상기 제 2 보호층(142)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 보호층(142)은 상기 제 1 보호층(141) 및 상기 상부 배선 패턴층(120)을 덮으며, 상기 제 1 보호층(141)보다 큰 영역에 배치될 수 있다. The
상기 보호층(142)은 상기 제 1 보호층(141)의 상면을 감싸면서 상기 보호층(141)과 대응되는 영역 상에 배치될 수 있다. 상기 제 2 보호층(142)의 폭은 상기 보호층(141)보다 클 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 보호층(142)의 하면은 상기 상부 배선 패턴층(120) 및 상기 제 1 보호층(141)과 접촉할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 보호층(142)은 상기 제 1 보호층(141)과 상기 배선 패턴층(120)의 계면에서 응력이 집중되는 것을 완화할 수 있다. 따라서, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 벤딩시 발생할 수 있는 탈막 또는 크랙의 발생을 낮출 수 있다.The
상기 제 2 보호층(142)이 배치되는 영역 이외의 영역에는 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 구성하는 도금층(130)이 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 보호층(142)이 배치되는 영역 이외의 영역에서, 상기 상부 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상에 상기 제 1 도금층(131) 상에 상기 제 2 도금층(132)이 차례대로 배치될 수 있다.A
상기 제 1 기판(111)의 하면 상에는 하부 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다. 하부 배선 패턴층(120) 상에는 상기 도금층(130)이 배치될 수 있다. 상기 도금층(130) 상에는 부분적으로 보호층(140)이 배치될 수 있다. The lower
상기 제 1 기판(111)의 하면에 배치되는 보호층과 상기 제 2 기판(112)의 상면에 배치되는 보호층의 폭은 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. The widths of the protective layer disposed on the lower surface of the
도면에서는 제 2 기판(112)의 상면에만 복수 개의 보호층이 배치되는 것을 도시하였으나, 실시 예는 이에 제한되지 않고, 상기 제 1 기판(111)의 하면에도 복수 개의 보호층이 배치될 수도 있을 것이다. 또한, 상기 제 1 기판(111)의 하면 또는 상기 제 2 기판(112)의 상면에만 복수 개 또는 하나의 보호층이 배치될 수 있음은 물론이다. Although a plurality of protective layers are disposed on only the upper surface of the
또한, 상기 보호층의 배치 구조는 도 7, 도 8a, 도 9, 도 10에 도시된 구조 중 적어도 하나에 따른 전도성 패턴부, 보호부의 구조를 조합하여 다양하게 배치할 수 있음은 물론이다. In addition, it is a matter of course that the arrangement structure of the protective layer can be variously arranged by combining the structures of the conductive pattern part and the protective part according to at least one of the structures shown in FIGS. 7, 8A, 9,
도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9, 도 11 및 도 12를 참조하여, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 실장되는 제 1 칩(C1), 디스플레이 패널(30) 및 메인보드(40)와의 연결관계를 설명한다. A first chip C1 mounted on a
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 관통 홀을 포함하는 제 1 기판(111) 및 제 2 기판(112)을 포함하는 기판(100); 상기 제 1 기판(111)의 하면에 배치되는 하부 배선 패턴층(120); 상기 제 2 기판(112)의 상면 에 배치되는 상부 배선 패턴층(120); 상기 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112) 사이에 배치되는 중앙 배선 패턴층(120); 상기 상부 및 하부 배선 패턴층(120) 상에 각각 배치되는 제 1 도금층(131); 상기 제 1 도금층(131) 상에 배치되는 제 2 도금층(132); 및 상기 상부 및 하부 배선 패턴층 상에 부분적으로 배치되는 보호층(140)을 포함할 수 있다.A
이때, 상기 제 1 기판(111) 및 상기 제 2 기판(112) 상에서 상기 보호층(140)이 배치되는 영역은 상기 보호부(PP)일 수 있다. 그리고, 상기 보호부(PP) 이외의 영역에서 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 외부로 노출될 수 있다. 즉, 보호층의 오픈 영역 내지 제 1 및 2 전도성 패턴부 상에 보호부가 배치되지 않는 영역에서 상기 제 1 및 2 전도성 패턴부(CP1, CP2)는 상기 제 1 칩(C1), 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)와 전기적으로 직접 또는 간접 연결될 수 있다. At this time, the
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 리드 패턴부 및 테스트 패턴부는 보호부와 중첩되지 않을 수 있다. 즉, 상기 리드 패턴부 및 상기 테스트 패턴부는 보호층에 의해 덮여있지 않은 오픈 영역에 위치한 제 1 및 2 전도성 패턴부(CP1, CP2)를 의미할 수 있고, 기능에 따라서 리드 패턴부 및 테스트 패턴부로 구별될 수 있다. The lead pattern portion and the test pattern portion of the flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on-film according to the embodiment may not overlap with the protective portion. That is, the lead pattern portion and the test pattern portion may refer to first and second conductive pattern portions CP1 and CP2 located in an open region that is not covered by the protective layer. According to the function, the lead pattern portion and the test pattern portion Can be distinguished.
상기 리드 패턴부는 상기 제 1 칩, 상기 제 2 칩, 상기 디스플레이 패널 또는 상기 메인보드와 연결되기 위한 전도성 패턴부를 의미할 수 있다.The lead pattern part may mean a conductive pattern part for connecting with the first chip, the second chip, the display panel, or the main board.
상기 테스트 패턴부는 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패지의 제품의 불량 여부를 확인하기 위한 전도성 패턴부를 의미할 수 있다.The test pattern unit may refer to a conductive circuit board for all-in-one chip-on-film and a conductive pattern unit for checking whether a product of the chip package including the same is defective or not.
상기 리드 패턴부는 위치에 따라서 이너 리드 패턴부 및 아우터 리드 패턴부로 구별될 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)과 상대적으로 가까이 놓여있고, 보호층에 의해 중첩되지 않는 제 2 전도성 패턴부(CP2)의 일 영역은 이너 리드 패턴부로 표현될 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)과 상대적으로 멀리 놓여있고, 보호층에 의해 중첩되지 않는 제 1 및 2 전도성 패턴부(CP1, CP2)의 일 영역은 아우터 리드 패턴부로 표현될 수 있다.The lead pattern portion can be distinguished as an inner lead pattern portion and an outer lead pattern portion depending on the position. One region of the second conductive pattern portion CP2 that is relatively close to the first chip C1 and is not overlapped by the protective layer may be represented by the inner lead pattern portion. One region of the first and second conductive pattern portions CP1 and CP2 that are relatively far from the first chip C1 and are not overlapped by the protective layer may be represented by an outer lead pattern portion.
도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9, 도 11, 도 12a 및 도 12b를 참조하면, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제 1 이너 리드 패턴부(I1), 제 2 이너 리드 패턴부(I2), 제 3 이너 리드 패턴부(I3), 제 4 이너 리드 패턴부(I4) 및 제 5 이너 리드 패턴부(I5)를 포함할 수 있다.7, 8A, 8B, 9, 11, 12A and 12B, the
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제 1 아우터 리드 패턴부(O1), 제 2 아우터 리드 패턴부(O2), 제 3 아우터 리드 패턴부(O3) 및 제 4 아우터 리드 패턴부(O4)를 포함할 수 있다. The
실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제 1 테스트 패턴부 (T1) 및 제 2 테스트 패턴부 (T2)를 포함할 수 있다. The
실시예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면(명확하게는, 제 2 기판(112)의 상면) 상에는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1), 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2), 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3), 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4), 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1), 및 상기 제 2 아우터 리드 패턴부(O2)가 배치될 수 있다.On one surface (more specifically, the upper surface of the second substrate 112) of the
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상기 일면과 반대되는 타면(명확하게는, 상기 제 1 기판(111)의 하면) 상에는 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5), 상기 제 3 아우터 리드 패턴부(O3), 상기 제 4 아우터 리드 패턴부(O4), 상기 제 1 테스트 패턴부(T1) 및 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)를 포함할 수 있다. On the other surface (specifically, the lower surface of the first substrate 111) opposite to the one surface of the
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 제 1 접속부(70)를 통해, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1), 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2), 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3) 또는 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)와 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the
상기 제 1 접속부(70)는 위치 및/또는 기능에 따라, 제 1 서브 제 2 접속부(71), 제 2 서브 제 1 접속부(72), 제 3 서브 제 1 접속부(73) 및 제 4 서브 제 1 접속부(74)를 포함할 수 있다. The first
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 1 서브 제 1 접속부(71)를 통해 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the
상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)는 상기 기판(110)의 상면을 따라 제 2 비아홀(V2)과 인접한 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)까지 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 2 비아홀(V2) 및 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)는 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)는 일 방향으로 연장되는 전도성 패턴부의 일단 및 타단일 수 있다. The first inner lead pattern portion I1 may transmit an electrical signal to the first outer lead pattern portion O1 adjacent to the second via hole V2 along the upper surface of the
예를 들어, 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1) 상에는 상기 메인보드(40)가 접착층(50)을 통해 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 칩으로부터 전달되는 신호는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)를 거쳐 상기 메인보드(40)에 까지 전달될 수 있다. For example, the
또한, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)는 상기 제 2 기판(112)의 상면을 따라 제 2 비아홀(V2)까지 전기적으로 연결되고, 상기 제 2 비아홀(V2)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 제 1 기판(111)의 하면을 따라 상기 제 2 비아홀(V2)에 인접한 제 3 아우터 리드 패턴부(O3)까지 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 2 비아홀(V2)은 상기 제 3 아우터 리드 패턴부(O3)와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 도면에는 도시하지 않았으나, 상기 제 3 아우터 리드 패턴부(O3) 상에 상기 메인보드(40)가 접착층(50)을 통해 전기적으로 연결될 수 있음은 물론이다. The first inner lead pattern portion I1 is electrically connected to the second via hole V2 along the upper surface of the
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 2 서브 제 1 접속부(72)를 통해 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the
상기 기판(110)의 상면에 배치되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 하부에 위치한 제 1 비아홀(V1)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 기판(110)의 하면을 따라 상기 제 1 비아홀(V1)과 인접한 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 1 비아홀(V1), 상기 제 1 테스트 패턴부(T1) 및 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5)는 기판의 하면에서 전기적으로 연결될 수 있다. The second inner lead pattern portion I2 disposed on the upper surface of the
상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 제 4 아우터 리드 패턴부(O4)에는 디스플레이 패널(30)이 부착될 수 있다. The
상기 제 1 테스트 패턴부(T1)는 상기 제 1 비아홀(V1)을 통해 전달될 수 있는 전기적인 신호의 불량을 확인할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)를 통해, 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5)에 전달되는 신호의 정확성을 확인할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에서 전압 또는 전류를 측정함에 따라, 상기 제 1 칩과 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하는 전도성 패턴부의 단락이나 쇼트의 발생 여부 내지 발생 위치를 확인할 수 있어, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The first test pattern portion T1 can confirm the failure of an electrical signal that can be transmitted through the first via hole V1. For example, the accuracy of a signal transmitted to the fifth inner lead pattern unit I5 through the first test pattern unit T1 can be confirmed. In detail, by measuring the voltage or current in the first test pattern portion (T1), it is possible to determine whether a short circuit or a short circuit occurs or a position where the conductive pattern portion located between the first chip and the display panel occurs, It is possible to improve the reliability.
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 3 서브 제 1 접속부(73)를 통해 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the
상기 기판(110)의 상면에 배치되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 하부에 위치한 제 4 비아홀(V4)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 중앙 배선 패턴층(120)과 연결된다. 그리고, 상기 중앙 배선 패턴층(120)은 상기 제 5 비아 홀(V5)을 통해 상기 제 5 비아홀(V5)과 인접한 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 5 비아 홀(V5), 상기 제 1 테스트 패턴부(T1) 및 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5)는 기판의 하면에서 전기적으로 연결될 수 있다. The third inner lead pattern portion I3 disposed on the upper surface of the
이때, 상기 제 3 서브 제 1 접속부(73)를 통해 전달되는 신호의 배선은 전체적으로 상기 제 1 기판(111)과 제 2 기판(112) 사이에 배치된 중앙 배선 패턴층(120)이고, 최종적으로 상기 제 5 비아 홀(V5)을 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에 전달된다. The wiring of the signal transmitted through the third sub
또한, 상기 제 2 서브 제 1 접속부(72) 및 제 3 서브 제 1 접속부(73)의 신호가 동일한 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에 전달된다고 하였지만, 이는 일 실시 예에 불과하다. 즉, 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)는 상기 제 2 서브 제 1 접속부(72)와 연결되는 제 1 파트와, 상기 제 3 서브 제 1 접속부(73)와 연결되는 제 2 파트로 구분될 수 있을 것이다.It is also assumed that the signals of the second sub
그리고, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)는 상기 제 5 비아홀(V5)을 통해 전달될 수 있는 전기적인 신호의 불량을 확인할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)를 통해, 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5)에 전달되는 신호의 정확성을 확인할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에서 전압 또는 전류를 측정함에 따라, 상기 제 1 칩과 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하는 전도성 패턴부의 단락이나 쇼트의 발생 여부 내지 발생 위치를 확인할 수 있어, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. In addition, the first test pattern portion T1 can confirm the failure of an electrical signal that can be transmitted through the fifth via hole V5. For example, the accuracy of a signal transmitted to the fifth inner lead pattern unit I5 through the first test pattern unit T1 can be confirmed. In detail, by measuring the voltage or current in the first test pattern portion (T1), it is possible to determine whether a short circuit or a short circuit occurs or a position where the conductive pattern portion located between the first chip and the display panel occurs, It is possible to improve the reliability.
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 4 서브 제 1 접속부(74)를 통해 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the
상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)는 상기 기판(110)의 상면을 따라 제 3 비아홀(V3)과 인접한 제 2 아우터 리드 패턴부(O2)까지 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 3 비아홀(V3) 및 상기 제 2 아우터 리드 패턴부(O2)는 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4) 및 상기 제 2 아우터 리드 패턴부(O2)는 일 방향으로 연장되는 전도성 패턴부의 일단 및 타단일 수 있다. The fourth inner lead pattern portion I4 may transmit an electrical signal to the second outer lead pattern portion O2 adjacent to the third via hole V3 along the upper surface of the
또한, 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I3)는 상기 제 2 기판(112)의 상면을 따라 제 3 비아홀(V3)까지 전기적으로 연결되고, 상기 제 4 비아홀(V4)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 제 1 기판(111)의 하면을 따라 상기 제 3 비아홀(V3)에 인접한 제 4 아우터 리드 패턴부(O4) 및 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)에 전기적인 신호를 전달할 수 있다. The fourth inner lead pattern portion I3 is electrically connected to the third via hole V3 along the upper surface of the
상기 제 3 비아홀(V3), 상기 제 4 아우터 리드 패턴부(O4) 및 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)는 기판의 하면에서 전기적으로 연결될 수 있다. The third via hole (V3), the fourth outer lead pattern portion (O4), and the second test pattern portion (T2) may be electrically connected at a lower surface of the substrate.
앞서 설명한 바와 같이, 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5) 및 제 4 아우터 리드 패턴부(O4) 상에는 상기 디스플레이 패널(30)이 접착층(50)을 통해 부착될 수 있다. The
상기 제 2 테스트 패턴부(T2)는 상기 제 3 비아홀(V3)을 통해 전달될 수 있는 전기적인 신호의 불량을 확인할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)를 통해, 상기 제 4 아우터 리드 패턴부(O4)에 전달되는 신호의 정확성을 확인할 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)에서 전압 또는 전류를 측정함에 따라, 상기 제 1 칩과 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하는 전도성 패턴부의 단락이나 쇼트의 발생 여부 내지 발생 위치를 확인할 수 있어, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The second test pattern portion T2 can confirm the failure of an electrical signal that can be transmitted through the third via hole V3. For example, the accuracy of a signal transmitted to the fourth outer lead pattern portion (O4) can be confirmed through the second test pattern portion (T2). In detail, by measuring the voltage or current in the second test pattern portion T2, it is possible to determine whether a short circuit or a short circuit occurs or a position where the conductive pattern portion located between the first chip and the display panel occurs, It is possible to improve the reliability.
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 상기 제 1 칩(C1)이 배치되는 일면과 반대되는 타면에 상기 디스플레이 패널(30)을 배치할 수 있어, 설계의 자유도를 향상시킬 수 있다. 또한, 복수 개의 칩이 실장되는 일면과 반대되는 타면에 디스플레이 패널을 배치함에 따라, 효과적인 방열이 가능할 수 있다. 이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 신뢰성이 향상될 수 있다. In the flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on-film according to the embodiment, the
또한, 본 발명에서는 상기 제 1 칩(C1)의 복수의 연결부 중 일부는 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 통해 신호가 전달되고, 다른 일부는 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 전도성 패턴부(CP3)를 통해 신호가 전달되며, 나머지 다른 일부는 상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 전도성 패턴부(CP1)를 통해 신호가 전달되도록 하여, 고해상도(QHD)를 가지는 회로를 효율적으로 구현할 수 있다.Also, in the present invention, a part of the plurality of connection parts of the first chip (C1) is transmitted through the second conductive pattern part (CP2) disposed on the upper surface of the second substrate, A signal is transmitted through the third conductive pattern part CP3 disposed between the second substrate and the other part is transmitted through the first conductive pattern part CP1 disposed on the lower surface of the first substrate , And a circuit having a high resolution (QHD) can be implemented efficiently.
도 11은 도 8a의 평면도, 도 12a 및 도 12b는 도 8a의 저면도이다. Fig. 11 is a plan view of Fig. 8A, and Figs. 12A and 12B are bottom views of Fig. 8A.
도 11, 도 12a 및 도 12b를 참조하면, 실시 예의 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제작 또는 가공의 편의성을 위하여 길이방향의 양쪽 외부에 스프로킷 홀을 구비할 수 있다. 따라서, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 롤-투-롤(Roll to Roll) 방식으로 스프로킷 홀에 의하여 감기거나 풀어질 수 있다.11, 12A, and 12B, the
3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 점선으로 도시한 절단부를 기준으로 내부영역(IR) 및 외부영역(OR)으로 정의할 수 있다.The
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 내부영역(IR)에는 1 칩, 제 2 칩, 디스플레이 패널 및 메인보드를 각각 연결하기 위한 제 1 및 2 전도성 패턴부(CP1, CP2)가 배치될 수 있다.First and second conductive pattern portions CP1 and CP2 for connecting one chip, a second chip, a display panel, and a main board are disposed in the inner region IR of the all-in-one chip-on-film
3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 스프로킷 홀이 형성된 부분을 절단하고, 기판 상에 칩을 배치함에 따라, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지 및 이를 포함하는 전자 디바이스로 가공할 수 있다. A chip package including the all-in-one chip-on-film flexible printed
도 11을 참조하면, 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상면에서는 상기 보호층(140)의 제 1 오픈 영역(OA1)을 통해 제 2 전도성 패턴부(CP2)의 일 영역인 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1), 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2), 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3) 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)가 외부로 노출될 수 있다. 11, on the upper surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed
또한, 상기 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상면에서는 상기 보호층(140)의 제 3 오픈 영역(OA3)을 통해 제 2 전도성 패턴부(CP2)의 일 영역인 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)가 외부로 노출될 수 있다. In the upper surface of the
상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)는 제 1 접속부를 통해 칩과 연결되기 위한 전도성 패턴부일 수 있다. The first inner lead pattern portion I1 and the fourth inner lead pattern portion I4 may be a conductive pattern portion connected to the chip through the first connection portion.
상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 단부는 일렬로 배치될 수 있다. 예를 들어, 기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)들은 서로 이격하고, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부들은 일렬로 배치될 수 있다. 예를 들어, 기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)들은 서로 이격하고, 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 단부들은 일렬로 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)는 제 1 접속부, 제 1 칩과의 본딩이 우수할 수 있다. The end portions of the first inner lead pattern portion I1 and the end portions of the fourth inner
기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 2 비아홀(V2)들은 서로 이격하고, 일렬로 배치될 수 있다. 기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 3 비아홀(V3)들은 서로 이격하고, 일렬로 배치될 수 있다. The plurality of second via holes V2 may be spaced apart from each other in a horizontal direction (x-axis direction) of the substrate, and may be arranged in a line. The plurality of third via holes V3 may be spaced apart from each other in a horizontal direction (x-axis direction) of the substrate, and may be arranged in a line.
상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 단부와 서로 이격될 수 있다. 그리고, 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 단부는 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 단부와 서로 이격될 수 있다. 그리고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 단부는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)와 서로 이격될 수 있다. The ends of the first inner lead pattern portion I1 may be spaced apart from the ends of the second inner lead pattern portion I2. The ends of the third inner lead pattern portions I3 may be spaced apart from the end portions of the fourth inner lead pattern portions I4. The ends of the second inner lead pattern portions I2 may be spaced apart from the third inner lead pattern portions I3.
상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2) 및 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)는 제 1 칩과 본딩되지 않는 전도성 패턴일 수 있다. 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 일렬로 배치되지 않을 수 있다. 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 일렬로 배치되지 않을 수 있다. The second inner lead pattern portion I2 and the third inner lead pattern portion I3 may be a conductive pattern that is not bonded to the first chip. At least one end of one end and the other end of the second inner
예를 들어, 기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들은 서로 이격할 수 있다. 또한, 기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들은 서로 이격할 수 있다. For example, the plurality of second inner lead pattern portions I2 may be spaced apart from each other in the lateral direction (x-axis direction) of the substrate. In addition, the plurality of third inner lead pattern portions I3 may be spaced from each other in the lateral direction (x-axis direction) of the substrate.
또한, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부와의 이격거리가 감소할 수 있다. 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부와의 이격거리가 증가할 수 있다. At least one end of the one end and the other end of the second inner lead pattern part I2 is spaced apart from the end of the first inner lead pattern part I1 in the lateral direction (x-axis direction) of the substrate . At least one end of the one end and the other end of the second inner lead pattern portion I2 is spaced apart from the end of the first inner lead pattern portion I1 in the lateral direction (x-axis direction) of the substrate .
또한, 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 단부와의 이격거리가 증가할 수 있다. 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 단부와의 이격거리가 감소할 수 있다. At least one end of one end of the third inner lead pattern portion I3 is spaced apart from the end of the fourth inner
기판의 가로 방향(x축 방향)에서 복수 개의 상기 제 1 비아홀(V1)들은 서로 이격하고, 서로 다른 열로 배치될 수 있다.The plurality of first via holes V1 may be spaced apart from each other and arranged in different rows in the lateral direction (x-axis direction) of the substrate.
상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단 및 타단 사이의 길이는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 점차 감소되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들의 제 1 세트부를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단 및 타단 사이의 길이는 제 1 길이로부터 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 점차 감소되어 제 2 길이가 되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들의 제 1 세트부를 포함할 수 있다. 이때, 제 1 길이는 제 2 길이보다 클 수 있다. 상기 기판(110) 상에는 복수 개의 제 1 세트들이 배치될 수 있다. 따라서, 상기 기판(110) 상에는 제 1 길이로부터 제 2 길이까지 점차적으로 길이가 감소되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들을 포함할 수 있다. 상기 제 2 길이를 가지는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)와 인접한 제 2 이너 리드 패턴부(I2)는 다시 제 1 길이를 가질 수 있다. 이에 따라, 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 제 1 길이로부터 제 2 길이까지 점차적으로 길이가 감소되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들의 제 1 세트부; 및 제 1 길이로부터 제 2 길이까지 점차적으로 길이가 증가되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들의 제 1 세트부가 반복적으로 배치될 수 있다. 또한, 이와 다르게 이에 따라, 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 제 1 길이로부터 제 2 길이까지 점차적으로 길이가 감소되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들의 제 1 세트부; 및 제 2 길이로부터 제 1 길이까지 점차적으로 길이가 증가되는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들의 제 2 세트부가 반복적으로 배치될 수 있다. The length between the one end and the other end of the second inner lead pattern portion I2 may include a first set portion of the second inner
상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 일단 및 타단 사이의 길이는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 점차 증가되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들의 제 1 세트부를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)의 일단 및 타단 사이의 길이는 제 3 길이로부터 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 점차 증가되어 제 4 길이가 되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들의 제 1 세트부를 포함할 수 있다. 이때, 제 3 길이는 제 4 길이보다 작을 수 있다. 상기 기판(110) 상에는 복수 개의 제 1 세트들이 배치될 수 있다. 따라서, 상기 기판(110) 상에는 제 3 길이로부터 제 4 길이까지 점차적으로 길이가 감소되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들을 포함할 수 있다. 상기 제 4 길이를 가지는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I2)와 인접한 제 3 이너 리드 패턴부(I3)는 다시 제 3 길이를 가질 수 있다. 이에 따라, 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 제 3 길이로부터 제 4 길이까지 점차적으로 길이가 증가되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들의 제 1 세트부; 및 제 3 길이로부터 제 4 길이까지 점차적으로 길이가 감소되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들의 제 1 세트부가 반복적으로 배치될 수 있다. 또한, 이와 다르게 이에 따라, 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 제 3 길이로부터 제 4 길이까지 점차적으로 길이가 증가되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들의 제 1 세트부; 및 제 4 길이로부터 제 3 길이까지 점차적으로 길이가 감소되는 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)들의 제 2 세트부가 반복적으로 배치될 수 있다. The length between one end and the other end of the third inner lead pattern portion I3 may include a first set portion of the third inner
상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단 및 타단 중 적어도 하나의 단부는 기판의 가로 방향(x축 방향)으로 갈수록 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부와의 이격거리가 감소할 수 있다. At least one end of the one end and the other end of the second inner lead pattern portion I2 is spaced apart from the end of the first inner lead pattern portion I1 in the lateral direction (x-axis direction) of the substrate .
복수 개의 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)들은 제 1 간격으로 이격할 수 있다. 그리고, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)들과 마주보는 위치에 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)들이 위치할 수 있다. 또한, 이와 다르게 서로 이격하는 인접한 두 개의 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)들 사이의 영역에는 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단이 위치할 수 있다. 상기 기판의 가로 방향에서, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 단부와 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단은 서로 마주보며 배치될 수 있으며, 이와 다르게 상호 교대로 배치될 수 있다.The plurality of first inner lead pattern portions I1 may be spaced apart from each other by a first distance. The second inner lead pattern portions I2 may be located at positions facing the first inner lead pattern portions I1. In addition, one end of the second inner lead pattern portion I2 may be positioned in an area between two adjacent first inner lead pattern portions I1 which are spaced apart from each other. In the lateral direction of the substrate, the end of the first inner lead pattern portion I1 and the end of the second inner lead pattern portion I2 may be disposed opposite to each other, .
도 12a를 참조하면, 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 하면에서는 상기 보호층(140)의 제 3 오픈 영역(OA3)을 통해 제 1 전도성 패턴부(CP1)의 일 영역인 상기 제 5 이너 리드 패턴부(I5), 제 4 아우터 리드 패턴부(O4)가 외부로 노출될 수 있다. 그리고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)는 상기 제 1 비아 홀(V1) 내에 충진되는 금속 물질을 통해 상기 제 4 아우터 리드 패턴부(O4)와 연결될 수 있다.12A, the bottom surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed
또한, 도 12b를 참조하면, 상기 제 3 이너 리드 패턴부(I3)는 상기 제 4 비아 홀(V4) 내에 충진되는 금속 물질을 통해 상기 제 1 기판(111)의 상면에 배치되는 제 3 전도성 패턴부(CP3)와 연결된다. 그리고, 상기 제 3 전도성 패턴부(CP3)는 상기 제 5 비아 홀(V5) 내에 충진되는 금속 물질을 통해 상기 제 4 아우터 리드 패턴부(O4)와 연결될 수 있다.12B, the third inner lead pattern portion I3 is electrically connected to a third conductive pattern (not shown) disposed on the upper surface of the
도 8b, 도 13 내지 도 17을 참조하여, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)을 포함하는 칩 패키지를 상세하게 설명한다. A chip package including a first chip C1 and a second chip C2 is stacked on a
도 13은 실시 예예 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지의 개략적인 평면도이다. 13 is a schematic plan view of a chip package including a
도 13a, b를 참조하면, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 동일한 일면 상에 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)이 배치되는 것을 포함할 수 있다. 13A and 13B, the
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 가로 방향(x축 방향)의 길이가 세로 방향(y축 방향)의 길이보다 클 수 있다. 즉, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 가로 방향의 2개의 장변과, 세로 방향의 2개의 단변을 포함할 수 있다. The
상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 각각 가로 방향(x축 방향)의 길이가 세로 방향(y축 방향)의 길이보다 클 수 있다. 즉, 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 가로 방향의 2개의 장변과, 세로 방향의 2개의 단변을 포함할 수 있다. The lengths of the first chip C1 and the second chip C2 in the lateral direction (x-axis direction) may be greater than those in the longitudinal direction (y-axis direction), respectively. That is, the first chip C1 and the second chip C2 may include two long sides in the horizontal direction and two short sides in the vertical direction.
실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 장변은 상기 제 1 칩(C1)의 장변 및 상기 제 2 칩(C2)의 장변과 각각 평행하게 배치될 수 있어, 복수 개의 칩들을 하나의 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 효율적으로 배치할 수 있다. The long side of the
상기 제 1 칩(C1)의 가로 방향의 길이(장변)은 상기 제 2 칩(C2)의 가로 방향의 길이(장변)보다 클 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)의 세로 방향의 길이(단변)은 상기 제 2 칩(C2)의 세로 방향의 길이(단변)보다 작을 수 있다. 도 13a를 참조하면, 상기 제 1 칩(C1)의 하부에 상기 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)의 장변과 상기 제 2 칩(C2)의 장변은 상, 하로 중첩될 수 있다. The longitudinal length (long side) of the first chip C1 may be greater than the length (long side) of the second chip C2 in the horizontal direction. The length (short side) of the first chip C1 in the vertical direction may be smaller than the length (short side) of the second chip C2 in the vertical direction. Referring to FIG. 13A, the second chip C2 may be disposed below the first chip C1. The long side of the first chip C1 and the long side of the second chip C2 may overlap each other.
도 13b를 참조하면, 상기 제 1 칩(C1)의 측부에 상기 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)의 장변과 상기 제 2 칩(C2)의 장변은 상, 하로 중첩되지 않을 수 있다. Referring to FIG. 13B, the second chip C2 may be disposed on the side of the first chip C1. The long side of the first chip C1 and the long side of the second chip C2 may not overlap with each other.
상기 제 1 칩(C1)은 구동 IC칩이고, 상기 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 어느 하나의 제 2 칩(C2a) 및 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 상기 어느 하나와 다른 하나의 제 2 칩(C2b)을 포함할 수 있다. The first chip C1 is a driving IC chip and the second chip C2 is a second chip C2a of any one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, And a second chip C2b different from any one of the diode chip, the power IC chip, the touch sensor IC chip, the MLCC chip, the BGA chip, and the chip capacitor.
도 14 내지 도 17을 참조하여, 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 제조단계를 설명한다.14 to 17, a manufacturing step of a chip package including a flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on film according to an embodiment will be described.
도 14는 실시 예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 평면도이다. 14 is a plan view of a
도 14a 및 도 14b를 참조하면, 실시예에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면에 위치한 상기 보호층(140)은 복수 개의 홀을 포함할 수 있다. 즉, 상기 보호층(140)은 복수 개의 오픈 영역을 포함할 수 있다.14A and 14B, the
상기 보호층의 제 1 오픈 영역(OA1)은 제 1 접속부(70)와 연결되기 위하여 노출되는 영역일 수 있다. 상기 보호층의 제 1 오픈 영역(OA1)에서 노출되는 전도성 패턴부(CP)는 제 1 접속부를 향한 표면이 순수 도금을 포함할 수 있다. 즉, 상기 보호층의 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 전도성 패턴부(CP)에 포함되는 상기 제 2 도금층의 주석의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. The first open area OA1 of the protection layer may be exposed to be connected to the
상기 보호층의 제 2 오픈 영역(OA2)은 제 2 접속부(80)와 연결하기 위하여 노출되는 영역일 수 있다. 상기 보호층의 제 2 오픈 영역(OA2)에서 노출되는 전도성 패턴부(CP)는 제 2 접속부를 향한 표면이 구리 및 주석의 합금층을 포함할 수 있다. 즉, 상기 보호층의 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 전도성 패턴부(CP)에 포함되는 상기 제 2 도금층의 주석의 함량은 50 원자% 미만일 수 있다.The second open area OA2 of the protective layer may be exposed to connect with the
상기 제 1 오픈 영역(OA1)은 제 1 칩을 연결하기 위한 영역일 수 있다. 상기 제 3 오픈 영역(OA3)에 위치한 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)로부터 연장되어 상기 제 1 오픈 영역(OA1)의 내부를 향하는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)는 서로 대응되거나 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)의 폭(W1)은 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭(W2)과 서로 대응될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)의 폭(W1)은 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭(W2)보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)의 폭(W1)은 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭(W2)의 차이는 20% 이내일 수 있다. The first open area OA1 may be an area for connecting the first chip. The first inner lead pattern portions I1 extending from the first outer lead pattern portion O1 located in the third open area OA3 and directed toward the inside of the first open area OA1 may be connected to each other Width. For example, the width W1 of the first outer lead pattern portion O1 may correspond to the width W2 of the first inner lead pattern portion I1. For example, the width W1 of the first outer lead pattern portion O1 may be greater than the width W2 of the first inner lead pattern portion I1. In detail, the width W1 of the first outer lead pattern part O1 may be less than 20% of the width W2 of the first inner lead pattern part I1.
상기 제 1 오픈 영역(OA1)의 내부를 향해 연장되는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)는 서로 대응되는 폭을 가질 수 있다.The first inner lead pattern portion I1 and the fourth inner lead pattern portion I4 extending toward the inside of the first open area OA1 may have a width corresponding to each other.
상기 제 1 오픈 영역(OA1)으로부터 기판의 외곽을 향해 연장되는 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1) 및 상기 제 2 아우터 리드 패턴부(O2)는 서로 대응되는 폭을 가질 수 있다. 이에 따라, 미세한 선폭을 가지며, 많은 개수의 제 1 접속부가 요구되는 제 1 칩과, 큰 선폭을 가지며, 작은 개수의 제 2 접속부가 요구되는 제 2 칩을 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판(100)상에 모두 실장할 수 있다. 이때, 미세한 선폭은 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1) 및 상기 제 2 아우터 리드 패턴부(O2) 중 어느 하나의 선폭이 제 5 아우터 리드 패턴부(O5) 및 제 6 아우터 리드 패턴부(O6) 중 어느 하나의 선폭보다 작은 것을 의미할 수 있다. 한편, 큰 선폭은 아우터 리드 패턴부(O5) 및 제 6 아우터 리드 패턴부(O6) 중 어느 하나의 선폭이 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1) 및 상기 제 2 아우터 리드 패턴부(O2) 중 어느 하나의 선폭이 제 5 아우터 리드 패턴부(O5) 및 제 6 아우터 리드 패턴부(O6) 중 어느 하나의 선폭보다 상대적으로 큰 것을 의미할 수 있다. The first outer lead pattern portion O1 and the second outer lead pattern portion O2 extending from the first open area OA1 toward the outer periphery of the substrate may have widths corresponding to each other. Thereby, the first chip having a fine line width, requiring a large number of first connection parts, and the second chip having a large line width and requiring a small number of second connection parts, (Not shown). At this time, the fine line width is set so that the line width of any one of the first outer lead pattern portion O1 and the second outer lead pattern portion O2 is equal to the line width of the fifth outer lead pattern portion O5 and the sixth outer lead pattern portion O6 The line width is smaller than any one of the line widths. On the other hand, when the line width of any of the outer lead pattern portion O5 and the sixth outer lead pattern portion O6 is larger than the line width of the first outer lead pattern portion O1 and the second outer lead pattern portion O2 It may mean that any one of the line widths is relatively larger than the line width of any one of the fifth outer lead pattern portion O5 and the sixth outer lead pattern portion O6.
실시 예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 서로 다른 종류의 제 2 칩(C2a, C2b)을 각각 연결하기 위한 복수 개의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)을 포함할 수 있다. The
하나의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 하나의 제 2 칩(C2a)을 연결하기 위한 영역일 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2) 내에 위치한 제 6 이너 리드 패턴부(I6)로부터 기판의 외곽을 향해 연장되는 제 5 아우터 리드 패턴부(O5)는 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 폭(W3)은 상기 제 5 아우터 리드 패턴부(O5)의 폭(W4)보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 폭(W3)은 상기 제 5 아우터 리드 패턴부(O5)의 폭(W4)보다 1.5배 이상 클 수 있다.One of the second open areas OA2 may be an area for connecting one second chip C2a. The fifth outer lead pattern portion O5 extending from the sixth inner lead pattern portion I6 located in the second open region OA2 toward the outer periphery of the substrate may have a different width. For example, the width W3 of the sixth inner lead pattern portion I6 may be greater than the width W4 of the fifth outer lead pattern portion O5. In detail, the width W3 of the sixth inner lead pattern portion I6 may be 1.5 times larger than the width W4 of the fifth outer lead pattern portion O5.
다른 하나의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 다른 하나의 제 2 칩(C2b)을 연결하기 위한 영역일 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2) 내에 위치한 제 7 이너 리드 패턴부(I7)로부터 기판의 외곽을 향해 연장되는 제 6 아우터 리드 패턴부(O6)는 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 폭(W5)은 상기 제 6 아우터 리드 패턴부(O6)의 폭(W6)보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 폭(W5)은 상기 제 6 아우터 리드 패턴부(O6)의 폭(W6)보다 1.5배 이상 클 수 있다.And the second open area OA2 may be an area for connecting the other second chip C2b. The sixth outer lead pattern portion O6 extending from the seventh inner lead pattern portion I7 located in the second open region OA2 toward the outer periphery of the substrate may have a different width. For example, the width W5 of the seventh inner lead pattern portion I7 may be greater than the width W6 of the sixth outer lead pattern portion O6. In detail, the width W5 of the seventh inner lead pattern portion I7 may be 1.5 times larger than the width W6 of the sixth outer lead pattern portion O6.
상기 제 2 오픈 영역을 통해 노출되는 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 폭(W3) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 폭(W5) 중 어느 하나의 폭은 상기 제 1 오픈 영역을 통해 노출되는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭(W2)보다 클 수 있다. 이에 따라, 다양한 크기/형상의 제 1, 제 2 접속부에 대응하는 리드 패턴부를 형성할 수 있어, 디자인 자유도를 향상 시킬 수 있다. 즉, 실시예는 서로 다른 종류의 제 1 칩, 제 2 칩에 적합한 다양한 크기의 이너 리드 패턴부, 다양한 형상의 이너 리드 패턴부를 포함할 수 있어, 최적의 칩 패키지가 가능할 수 있다. A width W3 of the sixth inner lead pattern portion I6 exposed through the second open region and a width W5 of the seventh inner lead pattern portion I7 may be equal to a width And the width W2 of the first inner lead pattern portion I1 exposed through the first inner lead pattern portion I1. As a result, the lead pattern portion corresponding to the first and second connecting portions of various sizes / shapes can be formed, and the degree of design freedom can be improved. That is, the embodiment can include inner lead pattern portions of various sizes suitable for the first chip and the second chip of different kinds, and inner lead pattern portions of various shapes, so that an optimum chip package can be realized.
제 1 칩의 하부에 위치한 인 리드 패턴부의 형상은 제 2 칩의 하부에 위치한 인 리드 패턴부의 형상과 서로 다를 수 있다. 이에 따라, 실시예는 서로 다른 종류의 제 1 칩, 제 2 칩과 각각 우수한 밀착특성을 가질 수 있는 서로 다른 형상의 인 리드 패턴부를 포함할 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 제 1 칩 및 제 2 칩의 본딩 특성이 우수할 수 있다. The shape of the lead pattern portion located below the first chip may be different from the shape of the lead pattern portion located below the second chip. Accordingly, the embodiment can include the lead pattern portions of different shapes, which can have excellent adhesion characteristics with the first and second chips of different kinds, respectively. Therefore, in the flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to the embodiment, the bonding characteristics of the first chip and the second chip can be excellent.
즉, 서로 다른 형상의 인 리드 패턴부는 하나의 기판 상에 서로 다른 종류의 제 1 칩, 제 2 칩이 실장되어 일정한 접합상도를 확보하기 위한 최적의 패턴 설계일 수 있다.That is, the lead pattern portions having different shapes may be an optimal pattern design in which first and second chips of different kinds are mounted on one substrate to secure a certain bonding topology.
상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 평면에서의 형상은 사각 형상의 스트라이프 패턴일 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 평면에서의 형상은 균일한 폭을 가지며 일 방향으로 연장되는 사각 형상의 스트라이프 패턴일 수 있다. 일례로, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 일단 및 타단의 폭은 서로 동일할 수 있다. The shape of the first inner lead pattern portion I1 in the plane may be a rectangular stripe pattern. In detail, the shape of the first inner lead pattern portion I1 in the plane may be a rectangular stripe pattern having a uniform width and extending in one direction. For example, the widths of one end and the other end of the first inner lead pattern portion I1 may be equal to each other.
예를 들어, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 또는 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 평면에서의 형상은 다각형, 원형, 타원형, 망치형상, T자 형상, 랜덤 형상 등의 다양한 형상의 돌출 패턴일 수 있다. 자세하게, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 또는 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 평면에서의 형상은 변동되는 폭을 가지며 상기 일 방향과 다른 방향으로 연장되는 다각형, 원형, 타원형, 망치형상, T자 형상, 랜덤 형상 등의 돌출 패턴일 수 있다. 일례로, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7) 중 적어도 하나의 이너 리드 패턴부는 일단과 타단의 폭이 서로 다를 수 있다. 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 보호층와 가까운 일단에서의 폭보다 보호층과 멀리 떨어진 단부인 타단의 폭이 클 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 보호층와 가까운 일단에서의 폭보다 보호층과 멀리 떨어진 단부인 타단의 폭이 작을 수 있음은 물론이다. For example, the shape of the sixth inner lead pattern portion I6 or the seventh inner lead pattern portion I7 may be various shapes such as a polygonal shape, a circular shape, an elliptical shape, a hammer shape, a T shape, As shown in Fig. In detail, the shape of the sixth inner lead pattern portion I6 or the seventh inner lead pattern portion I7 in the plane is a polygonal shape having a varying width and extending in a direction different from the one direction, Shape, a T shape, a random shape, or the like. For example, at least one inner lead pattern portion of the sixth inner lead pattern portion I5 and the seventh inner lead pattern portion I7 may have different widths at one end and the other end. The width of the other end of the sixth inner lead pattern portion I6 and the seventh inner lead pattern portion I7, which is an end far from the protective layer, may be larger than the width at one end near the protective layer. It should be noted that the width of the other end of the sixth inner lead pattern portion I6 and the seventh inner lead pattern portion I7, which is an end far from the protective layer, Of course, can be small.
일례로, 제 2 칩이 MLCC칩인 경우에 이너 리드 패턴부는 도 14b의 제 6 이너 리드 패턴부(I6)와 같은 T자 형상일 수 있다. For example, in the case where the second chip is an MLCC chip, the inner lead pattern portion may have a T-shape like the sixth inner lead pattern portion I6 of FIG. 14B.
일례로, 제 2 칩이 BGA 칩인 경우에 이너 리드 패턴부는 도 14a의 제 7 이너 리드 패턴부(I7)과 같은 원형 형상일 수 있다. 또는, 제 2 칩이 BGA 칩인 경우에 이너 리드 패턴부는 도 14b의 제 7 이너 리드 패턴부(I7)와 같은 반원 형상 또는 끝단이 라운드진 형상일 수 있다. For example, when the second chip is a BGA chip, the inner lead pattern portion may have the same circular shape as the seventh inner lead pattern portion I7 of FIG. 14A. Alternatively, when the second chip is a BGA chip, the inner lead pattern portion may have a semicircular shape like the seventh inner lead pattern portion I7 of FIG. 14B or a rounded end shape.
상기 제 1 이너 리드 패턴부와 상기 제 1 접속부의 형상은 동일할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부 및 상기 제 1 접속부의 평면 형상(top view)은 사각형 형상일 수 있다. 여기에서, 상기 제 1 이너 리드 패턴부와 상기 제 1 접속부의 형상이 동일하다는 것은 평면 형상이 동일한 다각형인 것을 의미하는 것이며, 크기가 다른 것을 포함할 수 있다. The shape of the first inner lead pattern portion and the first connecting portion may be the same. For example, the top view of the first inner lead pattern portion and the first connection portion may have a rectangular shape. Here, the same shape of the first inner lead pattern portion and the first connecting portion means that the planar shape is the same polygon, and may include a different size.
상기 제 6 이너 리드 패턴부와 상기 제 2 접속부의 형상은 서로 동일하거나 서로 다를 수 있다. 상기 제 7 이너 리드 패턴부와 상기 제 2 접속부의 형상은 서로 동일하거나 서로 다를 수 있다.The shape of the sixth inner lead pattern portion and the second connection portion may be the same or different from each other. The seventh inner lead pattern portion and the second connecting portion may have the same shape or different shapes.
도 14a 및 도 15a를 참조하면, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 평면 형상은 다각형 형상이고, 상기 제 2 접속부의 평면 형상은 원형 형상일 수 있다. 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 평면 형상은 원형 형상이고, 상기 제 2 접속부는 원형 형상일 수 있다.14A and 15A, the planar shape of the sixth inner lead pattern portion I6 may be a polygonal shape, and the planar shape of the second connection portion may be a circular shape. The planar shape of the seventh inner lead pattern portion I7 may have a circular shape, and the second connection portion may have a circular shape.
도 14b 및 도 15b를 참조하면, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 평면 형상은 다각형 형상이고, 상기 제 2 접속부는 둥근 모서리를 가지는 사각형 형상 또는 타원형 형상일 수 있다. 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 평면 형상은 긴 반원 형상이고, 상기 제 2 접속부는 원형 형상일 수 있다.14B and 15B, the planar shape of the sixth inner lead pattern portion I6 may be a polygonal shape, and the second connection portion may have a rectangular shape or an elliptical shape having rounded corners. The planar shape of the seventh inner lead pattern portion I7 may be a long semicircular shape, and the second connecting portion may have a circular shape.
상기 제 1 접속부(70)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 접속부(70)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되는 정사각형 형상이거나, 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 다른 직사각형 형상일 수 있다.The planar shape of the
상기 제 2 접속부(80)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되는 원형 형상이거나, 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 다른 타원형 형상일 수 있다.The planar shape of the
인접한 상기 제 1 아우터 리드 패턴부(O1)들 사이의 간격인 1 간격(pitch)은 인접한 상기 제 5 아우터 리드 패턴부(O5) 및 상기 제 6 아우터 리드 패턴부(O6) 중 적어도 하나의 아우터 리드 패턴부들 사이의 간격인 제 2 간격(pitch)보다 작을 수 있다. 이때, 상기 제 1 간격, 제 2 간격은 인접한 두 전도성 패턴부 사이의 평균 이격 간격을 의미할 수 있다. One pitch, which is an interval between the adjacent first outer lead pattern portions O1, is equal to a pitch between at least one of the fifth outer lead pattern portion O5 and the sixth outer lead pattern portion O6, May be smaller than a second pitch (pitch) between the pattern portions. Here, the first interval and the second interval may mean an average spacing distance between adjacent two conductive pattern portions.
상기 제 1 간격(P1)은 100㎛ 미만일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 간격은 30㎛ 미만일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 간격은 1㎛ 내지 25㎛일 수 있다.The first spacing (P1) may be less than 100 mu m. For example, the first spacing may be less than 30 占 퐉. For example, the first spacing may be between 1 [mu] m and 25 [mu] m.
상기 제 2 간격(P2)은 100㎛ 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 간격은 100㎛ 내지 500㎛일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 간격은 100㎛ 내지 300㎛일 수 있다.The second interval P2 may be equal to or greater than 100 mu m. For example, the second spacing may be between 100 μm and 500 μm. For example, the second spacing may be between 100 μm and 300 μm.
이에 따라, 제 1 칩, 제 2 칩에 각각 연결되는 전도성 패턴부들 사이의 신호의 간섭을 방지할 수 있고, 신호의 정확성을 향상시킬 수 있다. Thus, it is possible to prevent interference of signals between the conductive pattern portions connected to the first chip and the second chip, respectively, and to improve the accuracy of the signals.
상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 평면적은 제 1 접속부(70)과 서로 대응되거나, 서로 다를 수 있다. The planar area of the first inner lead pattern part I1 in the first open area OA1 may correspond to or be different from that of the
상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭과 상기 제 1 접속부(70)의 폭은 서로 동일하거나 20% 이내의 차이를 가질 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 접속부(70)는 안정적인 실장이 가능할 수 있다. 또한, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 접속부(70) 사이의 밀착특성이 향상될 수 있다. The width of the first inner lead pattern portion I1 and the width of the
상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I6) 중 어느 하나의 이너 리드 패턴부의 평면적은 제 2 접속부(80)와 대응되거나, 서로 다를 수 있다. The planar portion of the inner lead pattern portion of any one of the sixth inner lead pattern portion I5 and the seventh inner lead pattern portion I6 in the second open area OA2 corresponds to the second
일례로, 상기 제 2 접속부(80)의 폭은 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I5) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I6) 중 어느 하나의 이너 리드 패턴부의 폭보다 1.5배 이상 클 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 접속부(80)의 폭은 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7) 중 어느 하나와 상기 제 2 접속부(80)는 밀착특성이 향상될 수 있다. For example, the width of the
도 15a, b를 참조하여, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 제 1 접속부(70) 및 제 2 접속부(80)를 배치하는 단계를 설명한다. 15A and 15B, the steps of arranging the first connecting
상기 제 1 오픈 영역(OA1)을 통해 노출되는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4) 상에는 각각 제 1 접속부(70)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 접속부(70)는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 상면을 전체적으로 또는 부분적으로 덮을 수 있다.The
서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 총 개수는 상기 제 1 접속부(70)의 수와 대응될 수 있다.The total number of the plurality of first inner lead pattern portions I1 spaced apart from each other and the plurality of fourth inner lead pattern portions I4 spaced apart from each other corresponds to the number of the first connecting
예를 들어, 도 16 a 및 도 16b를 참조하면, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 수는 9개이고, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 수는 9개이고, 상기 제 1 접속부(70)의 수는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 수 9 및 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 4 이너 리드 패턴부(I4)의 수는 9의 총 합인 18개 일 수 있다. For example, referring to FIGS. 16A and 16B, the number of the plurality of first inner lead pattern portions I1 spaced apart from each other is nine, and the plurality of fourth inner lead pattern portions The number of the first inner lead pattern portions I1 is nine and the number of the
상기 제 2 오픈 영역(OA2)을 통해 노출되는 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7) 상에는 각각 제 2 접속부(80)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 및 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 상면을 전체적으로 또는 부분적으로 덮을 수 있다.The
서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 수는 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I5) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수와 대응될 수 있다.The number of the plurality of sixth inner lead pattern portions I6 spaced apart from each other may correspond to the number of the
예를 들어, 도 16 a 및 도 16b를 참조하면, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6)의 수는 2개이고, 상기 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수는 2개 일 수 있다. For example, referring to FIGS. 16A and 16B, the number of the plurality of sixth inner lead pattern portions I6 spaced apart from each other is two, and the number of the sixth inner lead pattern portions I6 arranged on the sixth inner lead pattern portion I6 The number of the
서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 수는 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수와 대응될 수 있다.The number of the seventh inner lead pattern portions I7 spaced apart from each other may correspond to the number of the
예를 들어, 도 16a 및 16b를 참조하면, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 수는 3개이고, 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수는 3개 일 수 있다. For example, referring to FIGS. 16A and 16B, the number of the seventh inner lead pattern portions I7 spaced apart from each other is three, and the number of the seventh inner lead pattern portions I7 arranged on the seventh inner lead pattern portion I7 The number of the second connecting
상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 1 접속부(70)보다 클 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역을 통해 노출되는 제 6 이너 리드 패턴부(I6) 또는 상기 제 7 이너 리드 패턴부(I7)의 폭이 상기 제 1 오픈 영역을 통해 노출되는 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭보다 크기 때문에, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 1 접속부(70)보다 클 수 있다.The
도 16a 및 16b를 참조하여, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 제 1 칩(C1), 제 2 칩(C2a, C2b)을 배치하는 단계를 설명한다. 16A and 16B, steps for disposing the first chip C1 and the second chips C2a and C2b on the all-in-one chip-on-film
상기 제 1 접속부(70) 상에는 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. The first chip C1 may be disposed on the
상기 제 2 접속부(80) 상에는 제 1 칩(C2)이 배치될 수 있다. The first chip C2 may be disposed on the
상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 신호의 간섭, 또는 단선 등의 불량, 열에 의한 불량 등의 문제를 방지하기 위해서 일정한 거리로 이격하여 배치될 수 있다. The first chip C1 and the second chip C2 may be spaced apart from each other by a predetermined distance to prevent problems such as signal interference, disconnection, and the like.
도 17은 도 16a 및 16b에 따른 3층 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.17 is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a three-layer all-in-one chip-on film according to Figs. 16A and 16B.
상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 동일한 일면 상에 서로 다른 크기로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 칩(C2)은 상기 제 1 칩(C1)보다 클 수 있다. The first chip (C1) and the second chip (C2) may be arranged in different sizes on the same surface. For example, the second chip C2 may be larger than the first chip C1.
상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)의 하부에는 비아 홀이 배치될 수 있다. 즉, 상기 제 1 오픈 영역(OA1) 및 상기 제 2 오픈 영역(OA2)과 대응되는 영역의 기판(110)은 비아홀을 포함할 수 있다. A via hole may be disposed under the first chip (C1) and the second chip (C2). That is, the
상기 제 2 칩(C2)의 전기적인 신호는 제 6 비아홀(V6)에 배치되는 전도성 물질을 통해 기판의 상면에서 하면으로 전달될 수 있다. 이에 따라, 실시 예는 많은 수의 전도성 패턴부를 하나의 기판 상에 포함할 수 있다.The electrical signal of the second chip C2 can be transmitted from the upper surface to the lower surface of the substrate through the conductive material disposed in the sixth via hole V6. Accordingly, the embodiment can include a large number of conductive pattern portions on one substrate.
실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 3층에 미세한 피치의 전도성 패턴부를 구현할 수 있어, 고해상도의 디스플레이부를 가지는 전자 디바이스에 적합할 수 있다. The
또한, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 플렉서블 하며, 크기가 작고, 두께가 얇기 때문에, 다양한 전자 디바이스에 사용될 수 있다.Further, the
예를 들어, 도 18을 참조하면, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 베젤을 축소할 수 있으므로, 에지 디스플레이에 사용될 수 있다.For example, referring to FIG. 18, the
예를 들어, 도 19를 참조하면, 실시 예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 휘어지는 플렉서블(flexible) 전자 디바이스에 포함될 수 있다. 따라서, 이를 포함하는 터치 디바이스 장치는 플렉서블 터치 디바이스 장치일 수 있다. 따라서, 사용자가 손으로 휘거나 구부릴 수 있다. 이러한 플렉서블 터치 윈도우는 웨어러블 터치 등에 적용될 수 있다.For example, referring to FIG. 19, the
예를 들어, 도 20을 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 폴더블 디스플레이 장치가 적용되는 다양한 전자 디바이스에 적용될 수 있다. 도 20a 내지 도 20c를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 폴더블 커버 윈도우가 접힐 수 있다. 폴더블 디스플레이 장치는 다양한 휴대용 전자제품에 포함될 수 있다. 자세하게, 폴더블 디스플레이 장치는 이동식 단말기(휴대폰), 노트북(휴대용 컴퓨터) 등에 포함될 수 있다. 이에 따라, 휴대용 전자제품의 디스플레이 영역은 크게 하면서도, 보관이나 이동시에는 장치의 크기를 줄일 수 있어, 휴대성을 높일 수 있다. 따라서, 휴대용 전자제품 사용자의 편의를 향상시킬 수 있다. 그러나, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니고, 폴더블 디스플레이 장치는 다양한 전자 제품에 사용될 수 있음은 물론이다.For example, referring to FIG. 20, the
도 20a를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 화면 영역에서 하나의 접힘 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴더블 디스플레이 장치는 접힌 형태에서 C형 형상을 가질 수 있다. 즉, 폴더블 디스플레이 장치는 일단 및 상기 일단과 반대되는 타단이 서로 포개어질 수 있다. 이때, 상기 일단과 상기 타단은 서로 가까이 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 일단과 상기 타단은 서로 마주보며 배치될 수 있다.Referring to FIG. 20A, the foldable display device may include one folded area in the screen area. For example, the foldable display device may have a C-shape in a folded configuration. That is, the folder-type display device may have one end and the other end opposite to the end. At this time, the one end and the other end may be disposed close to each other. For example, the one end and the other end may be disposed facing each other.
도 20b를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 화면 영역에서 두 개의 접힘 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴더블 디스플레이 장치는 접힌 형태에서 G형 형상을 가질 수 있다. 즉, 폴더블 디스플레이 장치는 일단 및 상기 일단과 반대되는 타단이 서로 대응되는 방향으로 접힘에 따라, 서로 포개어질 수 있다. 이때, 상기 일단과 상기 타단은 서로 이격하여 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 일단과 상기 타단은 서로 평행하게 배치될 수 있다.Referring to FIG. 20B, the foldable display device may include two folded regions in the screen region. For example, the foldable display device may have a G shape in a folded form. That is, the foldable display device can be superposed on each other as the one end and the other end opposite to the one end are folded in the directions corresponding to each other. At this time, the one end and the other end may be spaced apart from each other. For example, the one end and the other end may be arranged parallel to each other.
도 20c를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 화면 영역에서 두 개의 접힘 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴더블 디스플레이 장치는 접힌 형태에서 S형 형상을 가질 수 있다. 즉, 폴더블 디스플레이 장치는 일단 및 상기 일단과 반대되는 타단이 서로 다른 방향으로 접힐 수 있다. 이때, 상기 일단과 상기 타단은 서로 이격하여 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 일단과 상기 타단은 서로 평행하게 배치될 수 있다.Referring to FIG. 20C, the foldable display device may include two folding regions in the screen region. For example, the foldable display device may have an S-shaped configuration in a folded configuration. That is, the folder-type display device can be folded at one end and the other end opposite to the one end in different directions. At this time, the one end and the other end may be spaced apart from each other. For example, the one end and the other end may be arranged parallel to each other.
또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 롤러블 디스플레이에 적용될 수 있음은 물론이다.Also, although not shown in the drawings, it goes without saying that the
도 21을 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 곡면 디스플레이를 포함하는 다양한 웨어러블 터치 디바이스에 포함될 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 전자 디바이스는 슬림화, 소형화 또는 경량화될 수 있다.Referring to FIG. 21, the
도 22를 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 TV, 모니터, 노트북과 같은 디스플레이 부분을 가지는 다양한 전자 디바이스에 사용될 수 있다. Referring to FIG. 22, the
그러나, 실시예가 이에 한정되는 것은 아니고, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 평판 또는 곡선 형상의 디스플레이 부분을 가지는 다양한 전자 디바이스에 사용될 수 있음은 물론이다.However, the embodiment is not limited thereto, and it goes without saying that the
상술한 실시예에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. The features, structures, effects and the like described in the foregoing embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified in other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.
또한, 이상에서 실시예들을 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예들에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부한 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be construed as limiting the scope of the present invention. It can be seen that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments may be modified and implemented. It is to be understood that the present invention may be embodied in many other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof.
Claims (10)
상기 제 1 기판 위에 배치된 제 2 기판;
상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 배선 패턴층과, 상기 제 1 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 1 전도성 패턴부;
상기 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 배선 패턴층과, 상기 제 2 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 2 전도성 패턴부;
상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 배선 패턴층을 포함하는 제 3 전도성 패턴부; 및
상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층;을 포함하고,
상기 제 2 전도성 패턴부는,
상기 보호층의 제 1 오픈 영역 상에 배치된 제 1 내지 4 이너 리드 패턴부와,
상기 보호층에 의해 덮인 연장 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 및 4 이너 리드 패턴부는,
상기 연장 패턴부와 연결되고,
상기 제 2 이너 리드 패턴부는,
상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 1 비아를 통해 상기 제 1 전도성 패턴부와 직접 연결되며,
상기 제 3 이너 리드 패턴부는,
상기 제 2 기판을 관통하는 제 2 비아를 통해 상기 제 3 전도성 패턴부와 직접 연결되는
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.A first substrate;
A second substrate disposed on the first substrate;
A first wiring pattern layer disposed on a lower surface of the first substrate; a first conductive pattern portion disposed on the first wiring pattern layer and including a plating layer including tin;
A second wiring pattern layer disposed on an upper surface of the second substrate; a second conductive pattern portion disposed on the second wiring pattern layer and including a plating layer including tin;
A third conductive pattern portion including a third wiring pattern layer disposed between the first substrate and the second substrate; And
And a protective layer partially disposed on the first and second conductive pattern portions,
The second conductive pattern portion may include:
First to fourth inner lead pattern portions disposed on a first open region of the protective layer,
And an extended pattern portion covered by the protective layer,
Wherein the first and fourth inner lead pattern portions comprise:
And an extension portion connected to the extension pattern portion,
Wherein the second inner lead pattern portion comprises:
Wherein the first conductive pattern portion is directly connected to the first conductive pattern portion via a first via passing through the first substrate and the second substrate,
The third inner lead pattern portion may include:
And is directly connected to the third conductive pattern portion through a second via penetrating the second substrate
Flexible circuit board for all - in - one chip on film.
상기 제 2 전도성 패턴부는,,
상기 보호층의 제 2 오픈 영역을 통해 노출되어 있는 제 1 및 2 아우터 리드 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 이너 리드 패턴부는,
상기 연장 패턴부를 통해 상기 제 1 아우터 리드 패턴부와 연결되고,
상기 제 2 이너 리드 패턴부는,
상기 연장 패턴부를 토해 상기 제 2 아우터 리드 패턴부와 연결되는
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.The method according to claim 1,
The second conductive pattern portion
And first and second outer lead pattern portions exposed through a second open region of the protective layer,
Wherein the first inner lead pattern portion comprises:
A second outer lead pattern portion connected to the first outer lead pattern portion through the extended pattern portion,
Wherein the second inner lead pattern portion comprises:
And the second outer lead pattern portion is connected to the second outer lead pattern portion
Flexible circuit board for all - in - one chip on film.
상기 제 1 전도성 패턴부는,
상기 보호층의 제 3 오픈 영역을 통해 노출되어 있는 제 3 및 4 아우터 리드 패턴부와,
상기 보호층의 제 4 오픈 영역을 통해 노출되어 있는 제 1 및 2 테스트 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 이너 리드 패턴부는,
상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 3 비아를 통해 상기 제 3 아우터 리드 패턴부와 연결되고,
상기 제 2 이너 리드 패턴부는,
상기 제 1 비아를 통해 상기 제 4 아우터 리드 및 상기 제 1 테스트 패드와 연결되고,
상기 제 3 이너 리드 패턴부는,
상기 제 2 비아 및 상기 제 1 기판을 관통하는 제 4 비아를 통해 상기 제 4 아우터 리드 및 상기 제 1 테스트 패드와 연결되고,
상기 제 4 이너 리드 패턴부는,
상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 5 비아를 통해 상기 제 4 아우터 리드 패턴부 및 상기 제 2 테스트 패드와 연결되는
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.3. The method of claim 2,
The first conductive pattern portion may include:
Third and fourth outer lead pattern portions exposed through a third open region of the protective layer,
And first and second test pattern portions exposed through a fourth open region of the passivation layer,
Wherein the first inner lead pattern portion comprises:
The first and second substrates are connected to the third outer lead pattern portion through a third via passing through the first substrate and the second substrate,
Wherein the second inner lead pattern portion comprises:
The first and second test leads being connected to the fourth outer lead and the first test pad through the first via,
The third inner lead pattern portion may include:
The first via and the second via are connected to the fourth outer lead and the first test pad through a fourth via passing through the second via and the first substrate,
Wherein the fourth inner lead pattern portion comprises:
The first and second test patterns being connected to the fourth outer lead pattern portion and the second test pad through fifth vias passing through the first substrate and the second substrate,
Flexible circuit board for all - in - one chip on film.
상기 제 2 전도성 패턴부는,
상기 보호층의 제 5 오픈 영역 상에 배치된 제 5 및 6 이너 리드 패턴부를 더 포함하고,
상기 제 1 오픈 영역에서 상기 제 2 전도성 패턴부의 도금층의 주석(Sn)의 함량은 상기 제 5 오픈 영역에서 상기 제 2 전도성 패턴부의 도금층의 주석(Sn)의 함량보다 많은
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.The method of claim 3,
The second conductive pattern portion may include:
Further comprising fifth and sixth inner lead pattern portions disposed on a fifth open region of the protective layer,
Wherein a content of tin (Sn) in a plating layer of the second conductive pattern portion in the first open region is larger than a content of tin (Sn) in a plating layer of the second conductive pattern portion in the fifth open region
Flexible circuit board for all - in - one chip on film.
상기 도금층은 상기 배선 패턴층 상에 배치되는 제 1 도금층 및 상기 제 1 도금층 상에 배치되는 제 2 도금층을 포함하고,
상기 제 1 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층의 주석의 함량은 상기 제 5 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층의 주석의 함량보다 많은
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.5. The method of claim 4,
Wherein the plating layer includes a first plating layer disposed on the wiring pattern layer and a second plating layer disposed on the first plating layer,
Wherein a content of tin in the second plating layer in the first open region is larger than a content of tin in the second plating layer in the fifth open region
Flexible circuit board for all - in - one chip on film.
상기 제 5 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층은 구리(Cu) 및 주석(Sn)의 합금층인
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.6. The method of claim 5,
In the fifth open region, the second plating layer is an alloy layer of copper (Cu) and tin (Sn)
Flexible circuit board for all - in - one chip on film.
제1 기판;
상기 제 1 기판 위에 배치된 제 2 기판;
상기 제 1 기판의 하면에 배치되는 제 1 배선 패턴층과, 상기 제 1 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 1 전도성 패턴부;
상기 제 2 기판의 상면에 배치되는 제 2 배선 패턴층과, 상기 제 2 배선 패턴층 상에 배치되며 주석을 포함하는 도금층을 포함하는 제 2 전도성 패턴부;
상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이에 배치되는 제 3 배선 패턴층을 포함하는 제 3 전도성 패턴부; 및
상기 제 1 및 2 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층;을 포함하고,
상기 제 2 전도성 패턴부는,
상기 보호층의 제 1 오픈 영역 상에 배치된 제 1 내지 4 이너 리드 패턴부를 포함하는 제 1 접속부와
상기 보호층에 의해 덮인 연장 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 오픈 영역 상의 상기 제 1 접속부에는 제 1 칩이 배치되며,
상기 제 1 및 4 이너 리드 패턴부는,
상기 연장 패턴부와 연결되고,
상기 제 2 이너 리드 패턴부는,
상기 제 1 기판 및 상기 제 2 기판을 관통하는 제 1 비아를 통해 상기 제 1 전도성 패턴부와 직접 연결되며,
상기 제 3 이너 리드 패턴부는,
상기 제 2 기판을 관통하는 제 2 비아를 통해 상기 제 3 전도성 패턴부와 직접 연결되는
올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.In the all-in-one chip-on-film flexible circuit board,
A first substrate;
A second substrate disposed on the first substrate;
A first wiring pattern layer disposed on a lower surface of the first substrate; a first conductive pattern portion disposed on the first wiring pattern layer and including a plating layer including tin;
A second wiring pattern layer disposed on an upper surface of the second substrate; a second conductive pattern portion disposed on the second wiring pattern layer and including a plating layer including tin;
A third conductive pattern portion including a third wiring pattern layer disposed between the first substrate and the second substrate; And
And a protective layer partially disposed on the first and second conductive pattern portions,
The second conductive pattern portion may include:
A first connection portion including first to fourth inner lead pattern portions disposed on a first open region of the protection layer;
And an extended pattern portion covered by the protective layer,
A first chip is disposed on the first connection portion on the first open region,
Wherein the first and fourth inner lead pattern portions comprise:
And an extension portion connected to the extension pattern portion,
Wherein the second inner lead pattern portion comprises:
Wherein the first conductive pattern portion is directly connected to the first conductive pattern portion via a first via passing through the first substrate and the second substrate,
The third inner lead pattern portion may include:
And is directly connected to the third conductive pattern portion through a second via penetrating the second substrate
A chip package comprising a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film.
상기 제 2 전도성 패턴부는,
상기 보호층의 제2 오픈 영역 상에 배치된 제 5 및 6 이너 리드 패턴부를 포함하는 제 2 접속부를 더 포함하고,
상기 제 2 오픈 영역 상의 상기 제 2 접속부에는 상기 제 1 칩과는 다른 제 2 칩이 배치되는
올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.8. The method of claim 7,
The second conductive pattern portion may include:
And a second connection portion including fifth and sixth inner lead pattern portions disposed on a second open region of the protection layer,
And a second chip different from the first chip is disposed in the second connection portion on the second open region
A chip package comprising a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film.
상기 제 1 칩은 구동 IC 칩(Drive IC chip)이고,
상기 제 2 칩은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나인
올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.9. The method of claim 8,
The first chip is a drive IC chip,
The second chip may be at least one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor
A chip package comprising a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film.
상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 일단과 연결되는 디스플레이 패널; 및
상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 상기 일단과 반대되는 타단과 연결되는 메인보드;를 포함하는
전자 디바이스.
A first substrate; A second substrate disposed on the first substrate; A first wiring pattern layer disposed on a lower surface of the first substrate; a first conductive pattern portion disposed on the first wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A second wiring pattern layer disposed on an upper surface of the second substrate; a second conductive pattern portion disposed on the second wiring pattern layer and including a plating layer including tin; A third conductive pattern portion including a third wiring pattern layer disposed between the first substrate and the second substrate; And a protective layer partially disposed on the first and second conductive pattern portions, wherein the second conductive pattern portion includes first to fourth inner lead pattern portions disposed on a first open region of the protective layer Wherein the first and fourth inner lead pattern portions are connected to the extended pattern portion and the second inner lead pattern portion includes a first inner lead pattern portion and a second outer lead pattern portion, Wherein the second conductive pattern portion is directly connected to the first conductive pattern portion through a first via penetrating through the second substrate and the third inner lead pattern portion is directly connected to the third conductive pattern portion via a second via penetrating through the second substrate, A flexible circuit board for all-in-one chip-on film to be connected;
A display panel connected to one end of the flexible circuit board for the all-in-one chip-on film; And
And a main board connected to the other end opposite to the one end of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board
Electronic device.
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