KR20180125309A - Flexible circuit board for all in one chip on film and chip pakage comprising the same, and electronic device comprising the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a flexible circuit board for an all-in-one chip on film, a chip package including the same, and an electronic device including the same, capable of improving the convenience of a process and the reliability of an electrical connection. The flexible circuit board for all-in-one chip on film of the present invention comprises: a substrate; a conductive pattern unit disposed on the substrate; and a protection layer partially disposed on the conductive pattern unit. The chip package of the present invention comprises: a substrate; a conductive pattern unit disposed on the substrate; and a protection layer partially disposed on the conductive pattern unit. The electronic device of the present invention comprises: an all-in-one flexible circuit board; a display panel connected to one end of the all-in-one flexible circuit board; and a main board connected to the other end opposite to one end of the all-in-one flexible circuit board.

Description

올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스{FLEXIBLE CIRCUIT BOARD FOR ALL IN ONE CHIP ON FILM AND CHIP PAKAGE COMPRISING THE SAME, AND ELECTRONIC DEVICE COMPRISING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film, a chip package including the same, and an electronic device including the chip package.

실시예는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스에 관한 것이다.Embodiments relate to a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film, a chip package including the same, and an electronic device including the same.

자세하게, 상기 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판은 서로 다른 종류의 칩을 하나의 기판 상에 실장할 수 있는 연성 회로기판 및 이의 칩 패키지, 이를 포함하는 전자 디바이스일 수 있다. In detail, the flexible circuit board for the all-in-one chip on film is a flexible circuit board on which different types of chips can be mounted on one substrate, a chip package thereof, and an electronic device have.

최근 다양한 전자 제품이 얇고, 소형화, 경량화되고 있다. 이에 따라, 전자 디바이스의 좁은 영역에 고밀도로 반도체 칩을 실장하기 위한 다양한 연구가 진행되고 있다.Recently, a variety of electronic products are becoming thinner, smaller, and lighter. Accordingly, various studies for mounting a semiconductor chip at a high density in a narrow region of an electronic device have been carried out.

그 중에서도, COF(Chip On Film) 방식은 플렉서블 기판을 사용하기 때문에, 평판 디스플레이 및 플렉서블 디스플레이에 모두 적용될 수 있다. 즉, COF 방식은 다양한 웨어러블 전자기기에 적용될 수 있다는 점에서 각광받고 있다. 또한, COF 방식은 미세한 피치를 구현할 수 있기 때문에, 화소수의 증가에 따른 고해상도(QHD)의 디스플레이를 구현하는데 사용될 수 있다.Among them, since a COF (Chip On Film) method uses a flexible substrate, it can be applied to both a flat panel display and a flexible display. That is, the COF method is attracting attention because it can be applied to various wearable electronic devices. Further, since the COF method can realize a fine pitch, it can be used to realize a display of high resolution (QHD) as the number of pixels increases.

COF(Chip On Film)는 반도체 칩을 얇은 필름 형태의 연성 회로기판에 장착하는 방식이다. 예를 들어, 반도체 칩은 직접회로(Integrated Circuit, IC) 칩 또는 대규모 직접회로(Large Scale Integrated circuit, LSI) 칩일 수 있다.COF (Chip On Film) is a method of mounting a semiconductor chip on a flexible circuit board in the form of a thin film. For example, the semiconductor chip may be an integrated circuit (IC) chip or a large scale integrated circuit (LSI) chip.

그러나, COF 연성 회로기판은 디스플레이 패널과 메인보드 사이에 직접 연결될 수 없다. However, the COF flexible circuit board can not be directly connected between the display panel and the main board.

즉, 디스플레이 패널과 메인보드 사이에는 적어도 2개의 인쇄회로기판이 요구된다.That is, at least two printed circuit boards are required between the display panel and the main board.

디스플레이부를 가지는 전자 디바이스는 복수의 인쇄회로기판이 요구됨에 따라, 두께가 증가되는 문제점이 있다. 또한, 복수의 인쇄회로기판의 크기는 전자 디바이스의 소형화에 제약이 될 수 있다. 또한, 복수의 인쇄회로기판의 접합 불량은 전자 디바이스의 신뢰성을 저하시킬 수 있다. An electronic device having a display portion has a problem in that the thickness thereof increases as a plurality of printed circuit boards are required. In addition, the size of a plurality of printed circuit boards may be a limitation to miniaturization of electronic devices. In addition, poor bonding of a plurality of printed circuit boards may lower the reliability of the electronic device.

따라서, 이와 같은 문제를 해소할 수 있는 새로운 연성 회로기판이 요구된다.Therefore, a new flexible circuit board capable of solving such a problem is required.

실시예는 복수의 칩을 하나의 기판에 실장할 수 있는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스를 제공하고자 한다.An embodiment provides a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film capable of mounting a plurality of chips on a single board, a chip package including the same, and an electronic device including the same.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 기판; 상기 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부; 및 상기 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층을 포함하고, 상기 전도성 패턴부는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부 및 제 2 전도성 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 1 리드 패턴부, 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 2 리드 패턴부, 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 리드 패턴부는 상기 제 2 리드 패턴부와 형상이 서로 다른 것을 포함할 수 있다.A flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment includes a substrate; A conductive pattern portion disposed on the substrate; And a protective layer partially disposed on the conductive pattern portion, wherein the conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion disposed apart from each other, and the first conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion, And a first elongate pattern portion located at one end and the other end of the pattern portion and a first elongate pattern portion connecting the one end and the other end of the first electroconductive pattern portion, And a second extending pattern portion connecting the one end and the other end of the second conductive pattern portion, wherein the first lead pattern portion has a shape different from that of the second lead pattern portion Other things can be included.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 기판; 상기 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부; 및 상기 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층을 포함하고, 상기 전도성 패턴부는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부 및 제 2 전도성 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부 및 상기 제 2 전도성 패턴부는 각각 상기 기판 상에 차례로 배치되는 배선 패턴층, 제 1 도금층 및 제 2 도금층을 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 1 이너 리드 패턴부, 상기 제 1 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 1 아우터 리드 패턴부, 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 2 이너 리드 패턴부, 상기 제 2 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 2 아우터 리드 패턴부, 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 이너 리드 패턴부 상에는 제 1 접속부 및 제 1 칩이 배치되고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부 상에는 제 2 접속부 및 제 2 칩이 배치되는 것을 포함할 수 있다.A chip package including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment includes: a substrate; A conductive pattern portion disposed on the substrate; And a protective layer partially disposed on the conductive pattern portion, wherein the conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion disposed apart from each other, and the first conductive pattern portion and the second conductive pattern portion The conductive pattern unit may include a wiring pattern layer, a first plating layer, and a second plating layer, which are sequentially disposed on the substrate, wherein the first conductive pattern unit includes a first inner lead pattern unit positioned at one end of the first conductive pattern unit, The first conductive pattern portion may include a first outer lead pattern portion located at the other end of the first conductive pattern portion and a first extension pattern portion connecting the one end of the first conductive pattern portion and the other end, A second outer lead pattern portion located at the other end of the second conductive pattern portion, and a second outer lead pattern portion located at one end of the second conductive pattern portion, And a second extension pattern portion connecting the one end of the second conductive pattern portion and the other end, wherein a first connection portion and a first chip are disposed on the first inner lead pattern portion, and a second extension pattern portion is provided on the second inner lead pattern portion, The connection and the second chip being disposed.

실시예에 따른 전자 디바이스는 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩이 배치되는 올인원 연성 회로기판; 상기 올인원 연성 회로기판의 일단과 연결되는 디스플레이 패널; 및 상기 올인원 연성 회로기판의 상기 일단과 반대되는 타단과 연결되는 메인보드를 포함할 수 있다.An electronic device according to an embodiment includes an all-in-one flexible circuit board on which first and second chips of different kinds are arranged; A display panel connected to one end of the all-in-one flexible circuit board; And a main board connected to the other end opposite to the one end of the all-in-one flexible circuit board.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 기판 및 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부를 포함할 수 있다. The flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to the embodiment may include a substrate and a conductive pattern portion disposed on the substrate.

상기 전도성 패턴부는 상기 기판 상에 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부 및 제 2 전도성 패턴부를 포함할 수 있다. The conductive pattern portion may include a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion disposed on the substrate and spaced apart from each other.

상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 1 리드 패턴부, 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 2 리드 패턴부, 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부를 포함할 수 있다. Wherein the first conductive pattern portion includes a first lead pattern portion located at one end and the other end of the first conductive pattern portion and a first extension pattern portion connecting the one end and the other end of the first conductive pattern portion, The conductive pattern portion may include a second lead pattern portion located at one end and the other end of the second conductive pattern portion and a second extension pattern portion connecting the one end and the other end of the second conductive pattern portion.

상기 제 1 리드 패턴부는 상기 제 2 리드 패턴부와 형상이 서로 다를 수 있다. 이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩의 밀착력을 향상시킬 수 있다. The first lead pattern portion may have a shape different from that of the second lead pattern portion. Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can improve adhesion between the first chip and the second chip of different kinds.

상기 전도성 패턴부는 배선 패턴층, 제 1 도금층 및 제 2 도금층을 포함할 수 있다. The conductive pattern portion may include a wiring pattern layer, a first plating layer, and a second plating layer.

상기 전도성 패턴부의 일 영역에는 보호층이 배치되어, 보호부를 형성할 수 있으며, 상기 일 영역과 다른 영역에는 보호부가 배치되지 않는 오픈 영역일 수 있다. 상기 보호부는 상기 제 1 연장 패턴부 및 상기 제 2 연장 패턴부 상에 배치될 수 있다. 상기 보호부는 상기 제 1 리드 패튼부 및 상기 제 2 리드 패턴부 상에 배치되지 않을 수 있다. 즉, 상기 제 1 리드 패튼부의 일면은 외부로 노출될 수 있고, 상기 보호층이 오픈된 제 1 오픈 영역일 수 있다. 상기 제 2 리드 패턴부의 일면은 외부로 노출될 수 있고, 상기 보호층이 오픈된 제 2 오픈 영역일 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역에서 상기 제 1 리드 패턴부의 상기 제 2 도금층의 주석(Sn)의 함량은 상기 제 2 오픈 영역에서 상기 제 2 리드 패턴부의 상기 제 2 도금층의 주석(Sn)의 함량과 서로 다를 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 리드 패턴부는 상기 제 1 리드 패턴부 상의 제 1 접속부와의 조립(assembly)이 우수할 수 있고, 상기 제 1 접속부 상의 제 1 칩과의 전기적인 연결이 우수할 수 있다. 또한, 상기 제 2 리드 패턴부는 상기 제 2 리드 패턴부 상의 제 2 접속부와의 조립(assembly)이 우수할 수 있고, 상기 제 2 접속부 상의 제 2 칩과의 전기적인 연결이 우수할 수 있다.즉, 실시예는 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩을 하나의 연성회로기판에 실장할 수 있어, 향상된 신뢰성을 가지는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 칩 패키지를 제공할 수 있다. A protective layer may be disposed on one region of the conductive pattern portion to form a protective portion and may be an open region in which the protection portion is not disposed in the other region. The protector may be disposed on the first extension pattern portion and the second extension pattern portion. The protective portion may not be disposed on the first lead pattern portion and the second lead pattern portion. That is, one surface of the first lead pattern part may be exposed to the outside, and the protection layer may be a first open area where the protection layer is opened. One side of the second lead pattern portion may be exposed to the outside, and the protection layer may be a second open region where the protection layer is open. Wherein a content of tin (Sn) in the second plating layer of the first lead pattern portion in the first open region is different from a content of tin (Sn) in the second plating layer of the second lead pattern portion in the second open region . Accordingly, the first lead pattern portion can be well assembled with the first connection portion on the first lead pattern portion, and the electrical connection with the first chip on the first connection portion can be excellent. In addition, the second lead pattern portion may be excellent in assembly with the second connection portion on the second lead pattern portion, and may have excellent electrical connection with the second chip on the second connection portion. The embodiment can provide a flexible circuit board chip package for an all-in-one chip-on-film having improved reliability because the first chip and the second chip of different kinds can be mounted on one flexible circuit board.

또한, 실시예에 따른 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 디스플레이 패널과 메인보드를 직접 연결할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 패널로부터 발생하는 신호를 메인보드까지 전달하기 위한 연성 회로기판의 크기 및 두께가 감소될 수 있다. In addition, the flexible printed circuit board for one all-in-one chip-on-film according to the embodiment can directly connect the display panel and the main board. Accordingly, the size and thickness of the flexible circuit board for transmitting signals generated from the display panel to the main board can be reduced.

이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스는 다른 부품의 공간 및/또는 배터리 공간을 확장시킬 수 있다.Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film, the chip package including the same, and the electronic device including the same can expand the space and / or the battery space of other components.

또한, 복수의 인쇄회로기판의 연결이 요구되지 않으므로, 공정의 편의성 및 전기적인 연결의 신뢰성이 향상될 수 있다. Further, since the connection of a plurality of printed circuit boards is not required, the convenience of the process and the reliability of the electrical connection can be improved.

이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스는 고해상도의 디스플레이부 가지는 전자디바이스에 적합할 수 있다.Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film, the chip package including the same, and the electronic device including the same can be suitable for electronic devices having a high-resolution display portion.

도 1a는 기존의 인쇄회로기판을 포함하는 디스플레이부를 구비한 전자디바이스의 단면도이다.
도 1b는 도 1a에 따른 인쇄회로기판이 절곡된 형태에서의 단면도이다.
도 1c는 도 1a에 따른 인쇄회로기판이 절곡된 형태에서의 평면도이다.
도 2a는 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 디스플레이부를 구비한 전자디바이스의 단면도이다.
도 2b는 도 2a에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판이 절곡된 형태에서의 단면도이다.
도 2c는 도 2a에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판이 절곡된 형태에서의 평면도이다.
도 3a는 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 단면도이다.
도 3b는 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 4 내지 도 6은 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 제조공정을 도시한 단면도들이다
도 7은 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 8a는 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 다른 단면도이다.
도 8b는 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 9는 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 또 다른 단면도이다.
도 10은 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 일 영역을 확대한 단면도이다.
도 11은 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 평면도이다.
도 12는 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 저면도이다.
도 13은 도 8b에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 개략적인 평면도이다.
도 14a는 도 13에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 단면도이다.
도 14b는 도 14a의 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.
도 15a, 도 15b, 도 16a, 도 16b, 도 17a 및 도 17b는 도 8a에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 도 8b에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지로 제조하는 공정을 나타내는 도면들이다.
도 18 내지 도 22는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 다양한 전자 디바이스의 도면들이다.
1A is a cross-sectional view of an electronic device having a display portion including a conventional printed circuit board.
FIG. 1B is a cross-sectional view of the printed circuit board according to FIG. 1A in a bent form. FIG.
1C is a plan view of the printed circuit board according to FIG. 1A in a bent form.
2A is a cross-sectional view of an electronic device having a display portion including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment.
FIG. 2B is a cross-sectional view of the flexible circuit board for all-in-one chip-on-film according to FIG.
FIG. 2C is a plan view of the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to FIG.
3A is a cross-sectional view of a flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film according to an embodiment.
3B is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film according to an embodiment.
4 to 6 are sectional views showing a manufacturing process of a chip package including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment
7 is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
8A is another cross-sectional view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
8B is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in FIG. 8A.
9 is another cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
10 is an enlarged cross-sectional view of one region of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.
11 is a plan view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in Fig. 8A.
Fig. 12 is a bottom view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in Fig. 8A.
Fig. 13 is a schematic plan view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to Fig. 8B.
14A is a cross-sectional view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in FIG.
14B is a cross-sectional view of the chip package including the flexible circuit board for the both-side all-in-one chip-on film of FIG. 14A.
15A, 15B, 16A, 16B, 17A, and 17B illustrate a case where the flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film shown in FIG. 8A is replaced with a chip package including a flexible circuit board for a two- As shown in FIG.
18 to 22 are views of various electronic devices including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film.

실시예들의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 “상/위(on)”에 또는 “하/아래(under)”에 형성된다는 기재는, 직접(directly) 또는 다른 층을 개재하여 형성되는 것을 모두 포함한다. 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of the embodiments, it is to be understood that each layer (film), area, pattern or structure may be referred to as being "on" or "under / under" Quot; includes all that is formed directly or through another layer. The criteria for top / bottom or bottom / bottom of each layer are described with reference to the drawings.

또한, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 구비할 수 있다는 것을 의미한다. Also, when a part is referred to as being "connected" to another part, it includes not only a case of being "directly connected" but also a case of being "indirectly connected" with another member in between. Also, when an element is referred to as " comprising ", it means that it can include other elements, not excluding other elements unless specifically stated otherwise.

도면에서 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들의 두께나 크기는 설명의 명확성 및 편의를 위하여 변형될 수 있으므로, 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.The thickness or the size of each layer (film), region, pattern or structure in the drawings may be modified for clarity and convenience of explanation, and thus does not entirely reflect the actual size.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a 내지 도 1c를 참조하여, 비교예에 따른 인쇄회로기판을 설명한다. A printed circuit board according to a comparative example will be described with reference to Figs. 1A to 1C.

디스플레이부를 가지는 전자 디바이스는 디스플레이 패널의 신호를 메인보드까지 전달하기 위해서 적어도 2개의 인쇄회로기판이 요구된다. An electronic device having a display portion requires at least two printed circuit boards in order to transmit signals of the display panel to the main board.

비교예에 따른 디스플레이부를 포함하는 전자디바이스에 포함되는 인쇄회로 기판은 적어도 2개일 수 있다.The electronic device including the display unit according to the comparative example may have at least two printed circuit boards.

비교예에 따른 디스플레이부를 포함하는 전자디바이스는 제 1 인쇄회로기판(10) 및 제 2 인쇄회로기판(20)을 포함할 수 있다.The electronic device including the display unit according to the comparative example may include the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20. [

상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 칩 온 필름(COF, Chip on Film)용 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 제 1 칩(C1)이 실장되는 COF용 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 더 자세하게, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 구동 IC 칩(Drive IC chip)을 배치하기 위한 COF용 연성 인쇄회로기판일 수 있다. The first printed circuit board 10 may be a flexible printed circuit board. In detail, the first printed circuit board 10 may be a flexible printed circuit board for a chip on film (COF). The first printed circuit board 10 may be a COF flexible printed circuit board on which the first chip C1 is mounted. More specifically, the first printed circuit board 10 may be a flexible printed circuit board for a COF for disposing a drive IC chip.

상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 상기 제 1 칩(C1)과 서로 다른 종류의 제 2 칩(C2)을 배치하기 위한 연성 인쇄회로기판(FPCB, Flexible Printed Circuit Board)일 수 있다. 여기에서, 상기 제 2 칩(C2)은 구동 IC 칩(Drive IC chip) 이외의 것으로서, 구동 IC 칩(Drive IC chip)을 제외한 다른 칩, 반도체 소자, 소켓 등 연성 인쇄회로기판 상에 전기적 연결을 위해 배치되는 다양한 칩을 의미할 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 복수 개의 제 2 칩(C2)을 배치하기 위한 연성 인쇄회로기판(FPCB, Flexible Printed Circuit Board)일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 서로 다른 종류의 복수 개의 제 2 칩(C2a, C2b)을 배치하기 위한 연성 인쇄회로기판일 수 있다. The second printed circuit board 20 may be a flexible printed circuit board. In detail, the second printed circuit board 20 may be a flexible printed circuit board (FPCB) for disposing a second chip C2 of a different kind from the first chip C1. Here, the second chip C2 may be electrically connected to a flexible printed circuit board such as a chip, a semiconductor device, or a socket other than a drive IC chip, other than a drive IC chip. May refer to various chips that are deployed. The second printed circuit board 20 may be a flexible printed circuit board (FPCB) for arranging the plurality of second chips C2. For example, the second printed circuit board 20 may be a flexible printed circuit board for disposing a plurality of second chips C2a and C2b of different kinds.

상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 서로 다른 두께를 가질 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 두께는 상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 두께보다 작을 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 약 20㎛ 내지 100㎛의 두께일 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 약 100㎛ 내지 200㎛의 두께일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판의 총 두께(t1)는 200㎛ 내지 250㎛일 수 있다. The first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 may have different thicknesses. The thickness of the second printed circuit board (20) may be smaller than the thickness of the first printed circuit board (10). For example, the first printed circuit board 10 may have a thickness of about 20 [mu] m to 100 [mu] m. The second printed circuit board 20 may have a thickness of about 100 [mu] m to 200 [mu] m. For example, the total thickness t1 of the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board may be 200 [mu] m to 250 [mu] m.

비교예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 디스플레이 패널과 메인보드 사이에 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께가 증가할 수 있다. 자세하게, 비교예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 상, 하로 적층되는 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께가 증가할 수 있다.Since the first and second printed circuit boards are required between the display panel and the main board, the electronic device having the display unit according to the comparative example can increase the overall thickness of the electronic device. In detail, since the electronic device having the display portion according to the comparative example requires the first and second printed circuit boards stacked on and under, the overall thickness of the electronic device can be increased.

상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 서로 다른 공정으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 롤투롤(roll to roll) 공정에 의해서 제조될 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 시트(sheet) 방식으로 제조될 수 있다. The first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 may be formed in different processes. For example, the first printed circuit board 10 may be manufactured by a roll-to-roll process. The second printed circuit board 20 may be manufactured by a sheet method.

비교예에 따른 제 1, 제 2 인쇄회로기판은 각각 서로 다른 공정으로 형성되므로, 공정 효율이 저하될 수 있다. Since the first and second printed circuit boards according to the comparative example are formed by different processes, the process efficiency may be lowered.

또한, 비교예에 따른 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 서로 다른 종류의 칩을 하나의 기판 상에 배치하는 공정의 난이성이 있으므로, 별도의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 요구된다. In addition, since the chip package including the flexible circuit board according to the comparative example has a difficulty in arranging different types of chips on one substrate, separate first and second printed circuit boards are required.

또한, 비교예에 따른 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 서로 다른 종류의 칩을 하나의 기판 상에서 접속시키기 어려운 문제점이 있다. In addition, the chip package including the flexible circuit board according to the comparative example has a problem that it is difficult to connect different kinds of chips on one substrate.

즉, 기존의 디스플레이 패널과 메인보드 사이에는 제 1 및 제 2 인쇄회로기판이 배치될 수 있다. That is, the first and second printed circuit boards may be disposed between the conventional display panel and the main board.

디스플레이 패널(30)로부터 발생하는 R,G,B 신호를 제어, 처리 또는 전달하기 위하여 제 1 인쇄회로기판(10)은 디스플레이 패널(30)과 연결되고, 제 1 인쇄회로기판(10)은 다시 제 2 인쇄회로기판(20)과 연결되고, 제 2 인쇄회로기판(20)은 메인보드(40)에 연결될 수 있다. The first printed circuit board 10 is connected to the display panel 30 to control, process, or transfer the R, G, and B signals generated from the display panel 30, And the second printed circuit board 20 may be connected to the main board 40. The second printed circuit board 20 may be connected to the second printed circuit board 20,

상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 일단은 디스플레이 패널(30)과 연결될 수 있다. 디스플레이 패널(30)은 접착층(50)에 의해서 상기 제 1 인쇄회로기판(10)과 연결될 수 있다. One end of the first printed circuit board 10 may be connected to the display panel 30. The display panel 30 may be connected to the first printed circuit board 10 by an adhesive layer 50.

상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 상기 일단과 반대되는 타단은 제 2 인쇄회로기판(20)과 연결될 수 있다. 상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 상기 접착층(50)에 의해서 상기 제 2 인쇄회로기판(20)과 연결될 수 있다. The other end opposite to the one end of the first printed circuit board 10 may be connected to the second printed circuit board 20. The first printed circuit board 10 may be connected to the second printed circuit board 20 by the adhesive layer 50.

상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일단은 상기 제 1 인쇄회로기판(10)과 연결되고, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 상기 일단과 반대되는 타단은 메인보드(40)와 연결될 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 상기 접착층(50)에 의해서 메인보드(40)와 연결될 수 있다.One end of the second printed circuit board 20 is connected to the first printed circuit board 10 and the other end opposite to the one end of the second printed circuit board 20 is connected to the main board 40 have. The second printed circuit board (20) may be connected to the main board (40) by the adhesive layer (50).

비교예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 상기 디스플레이 패널(30)과 상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 사이, 상기 제 1 인쇄회로기판(10)과 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 사이, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)과 상기 메인보드(40)의 사이에 각각 별도의 접착층(50)이 요구될 수 있다. 즉, 비교예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 다수 개의 접착층이 요구되므로, 접착층의 연결불량으로 인하여 전자 디바이스의 신뢰성이 저하될 수 있는 문제점을 가진다. 또한, 상, 하로 연결되는 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 사이에 배치되는 접착층은 전자 디바이스의 두께를 증가시킬 수 있다. The electronic device having the display unit according to the comparative example is disposed between the display panel 30 and the first printed circuit board 10 and between the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 A separate adhesive layer 50 may be required between the second printed circuit board 20 and the main board 40, respectively. That is, since the electronic device having the display unit according to the comparative example requires a plurality of adhesive layers, the reliability of the electronic device may deteriorate due to poor connection of the adhesive layer. In addition, the adhesive layer disposed between the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 connected in an up-and-down direction can increase the thickness of the electronic device.

도 1 b 및 도 1c를 참조하여, 비교예에 따른 전자 디바이스 내에 하우징되는 제 1 인쇄회로기판(10), 제 2 인쇄회로기판(20), 디스플레이 패널(30), 및 메인보드(40)를 설명한다. 1B and 1C, a first printed circuit board 10, a second printed circuit board 20, a display panel 30, and a main board 40 housed in an electronic device according to a comparative example Explain.

도 1b는 도 1a에 따른 인쇄회로기판이 절곡된 형태에서의 단면도이며, 도 1c는 도 1b의 하면에서의 평면도이다. FIG. 1B is a cross-sectional view of the printed circuit board according to FIG. 1A in a bent form, and FIG. 1C is a plan view of the lower surface of FIG. 1B.

상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)는 대향되어 배치될 수 있다. 서로 마주보며 배치되는 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)의 사이에는 절곡(bending) 영역을 포함하는 제 1 인쇄회로기판(10)이 배치될 수 있다. The display panel 30 and the main board 40 may be disposed to face each other. A first printed circuit board 10 including a bending area may be disposed between the display panel 30 and the main board 40 which are disposed facing each other.

상기 제 1 인쇄회로기판(10)은 일 영역이 절곡되고, 절곡되지 않는 영역에 상기 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. The first printed circuit board 10 is bent in one area, and the first chip C1 may be disposed in a region where the first printed circuit board 10 is not bent.

또한, 상기 제 2 인쇄회로기판(20)은 상기 디스플레이 패널(30)과 마주보며 배치될 수 있다. 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 절곡되지 않는 영역에 상기 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. The second printed circuit board 20 may be disposed facing the display panel 30. And the second chip C2 may be disposed in an unbending region of the second printed circuit board 20. [

도 1c를 참조하면, 비교예는 복수의 기판이 요구되므로, 일 방향에서의 길이(A1)는 각각의 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 길이의 합일 수 있다. 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일 방향에서의 길이(A1)는 상기 제 1 인쇄회로기판(10)의 단변의 길이 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 단변의 길이의 합일 수 있다. 일례로, 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일 방향에서의 길이(A1)는 30㎜ 내지 40㎜일 수 있다. 다만, 실장하기 위한 칩의 종류, 전자 디바이스의 종류에 따라 상기 제 1 인쇄회로기판(10) 및 상기 제 2 인쇄회로기판(20)의 일 방향에서의 길이(A1)는 다양한 크기일 수 있다.Referring to FIG. 1C, since a plurality of substrates are required in the comparative example, the length A1 in one direction is the sum of the lengths of the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 . The length A1 in one direction of the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 is equal to the length of the short side of the first printed circuit board 10 and the length of the second printed circuit board 10 20). ≪ / RTI > For example, the length A1 of the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 in one direction may be 30 mm to 40 mm. However, the length A1 in one direction of the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 20 may be various sizes depending on the type of chip to be mounted and the type of the electronic device.

비교예에 따른 전자 디바이스는 복수의 인쇄회로기판이 요구됨에 따라, 다른 부품을 실장하기 위한 공간 또는 배터리(60)를 배치하기 위한 공간이 축소될 수 있다.As the electronic device according to the comparative example requires a plurality of printed circuit boards, the space for mounting other components or the space for arranging the battery 60 can be reduced.

최근 스마트 폰과 같은 전자 디바이스는 사용자의 편의성 내지 보안을 강화하기 위하여 다양한 기능을 가지는 부품이 추가되고 있다. 예를 들어, 스마트 폰, 스마트 워치 등의 전자 디바이스에는 여러 개의 카메라 모듈(듀얼 카메라 모듈, dual camera module)이 탑재되거나, 홍체 인식, 가상 현실(VR, Virtual Reality)과 같은 다양한 기능을 가지는 부품이 추가되고 있다. 이에 따라, 추가되는 부품을 실장하기 위한 공간의 확보가 중요하다.2. Description of the Related Art [0002] In recent years, electronic devices such as smart phones have been added with various functions to enhance user convenience and security. For example, a plurality of camera modules (dual camera module, dual camera module) may be mounted on an electronic device such as a smart phone or a smart watch, or a component having various functions such as an iris recognition function and a virtual reality (VR) Has been added. Accordingly, it is important to secure a space for mounting additional components.

또한, 웨어러블 디바이스를 비롯한 다양한 전자 디바이스는 사용자의 편의성 향상을 위해서, 배터리 공간의 확대가 요구된다. In addition, various electronic devices including a wearable device are required to have an expanded battery space for the convenience of the user.

따라서, 기존의 전자 디바이스에 사용된 복수의 인쇄회로기판을 하나의 인쇄회로기판으로 대체함에 따라, 새로운 부품을 실장하기 위한 공간 확보 또는 배터리 크기의 확대를 위한 공간 확보의 중요성이 대두된다. Therefore, replacing a plurality of printed circuit boards used in existing electronic devices with a single printed circuit board, the importance of securing a space for mounting new components or securing a space for enlarging the battery size becomes important.

비교예에 따른 전자 디바이스는 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩이 각각 별도의 제 1 인쇄회로기판(10) 및 제 2 인쇄회로기판(30)에 배치될 수 있다. 이에 따라, 제 1 인쇄회로기판(10) 및 제 2 인쇄회로기판(30)의 사이의 접착층(50)의 두께 및 상기 제 2 인쇄회로기판(30)의 두께는 전자 디바이스의 두께를 증가시키는 문제점이 있었다. In the electronic device according to the comparative example, the first chip and the second chip of different kinds may be disposed on the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 30, respectively. The thickness of the adhesive layer 50 between the first printed circuit board 10 and the second printed circuit board 30 and the thickness of the second printed circuit board 30 increase the thickness of the electronic device .

또한, 상기 제 2 인쇄회로기판(30)의 크기만큼 배터리 공간 내지 다른 부품을 실장하기 위한 공간이 축소되는 문제점이 있었다. In addition, there is a problem that the space for mounting the battery space or other parts is reduced by the size of the second printed circuit board 30.

또한, 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 접합불량은 전자 디바이스의 신뢰성을 저하시키는 문제점이 있었다. In addition, defective junctions of the first and second printed circuit boards have a problem of lowering the reliability of the electronic device.

실시예는 이러한 문제점을 해소하기 위해서, 복수의 칩을 하나의 기판에 실장할 수 있는 새로운 구조의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지, 및 이를 포함하는 전자 디바이스를 제공할 수 있다. 실시예와 비교예의 동일한 도면 부호는 동일한 구성요소를 나타내며, 앞서 설명한 비교예와 중복되는 설명은 제외한다.In order to solve this problem, the embodiment can provide a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film having a novel structure capable of mounting a plurality of chips on a single board, a chip package including the same, and an electronic device including the same have. The same reference numerals in the embodiment and the comparative example denote the same components, and the description overlapping with the comparative example described above is excluded.

도 2a 내지 도 2c를 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 전자 디바이스를 설명한다. An electronic device including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film according to an embodiment will be described with reference to Figs. 2A to 2C.

실시예에 따른 전자 디바이스는 디스플레이 패널의 신호를 메인보드까지 전달하기 위해서 하나의 인쇄회로기판을 사용할 수 있다. 실시예에 따른 디스플레이부를 포함하는 전자디바이스에 포함되는 인쇄회로 기판은 하나의 연성 인쇄회로기판일 수 있다. 이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 서로 대향되는 디스플레이부와 메인보드 사이에서 절곡(bending)되어 디스플레이부 및 메인보드를 연결할 수 있다. The electronic device according to the embodiment may use one printed circuit board to transmit signals of the display panel to the main board. The printed circuit board included in the electronic device including the display unit according to the embodiment may be one flexible printed circuit board. Accordingly, the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip on film according to the embodiment is bended between the display unit and the main board facing each other to connect the display unit and the main board have.

자세하게, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 서로 다른 종류의 복수 개의 칩을 배치하기 위한 하나의 기판일 수 있다. In detail, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be a single substrate for arranging a plurality of chips of different kinds.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 서로 다른 종류의 제 1 칩(c1) 및 제 2 칩(c2)을 배치하기 위한 기판일 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be a substrate for disposing the first chip c1 and the second chip c2 of different kinds.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 20㎛ 내지 100㎛일 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 30㎛ 내지 80㎛일 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 50㎛ 내지 75㎛일 수 있다. The thickness t2 of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be 20 탆 to 100 탆. For example, the thickness t2 of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be 30 탆 to 80 탆. For example, the thickness t2 of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be 50 탆 to 75 탆.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 1/5 내지 1/2 수준의 두께를 가질 수 있다. 즉, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 20% 내지 50%의 수준의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 25% 내지 40%의 수준의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 두께(t2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 두께(t1)의 25% 내지 35%의 수준의 두께를 가질 수 있다.The thickness t2 of the all-in-one chip on film flexible printed circuit board 100 according to the embodiment is equal to the thickness t1 of the plurality of first and second printed circuit boards according to the comparative example, / 5 to 1/2 level. That is, the thickness t2 of the all-in-one chip on film flexible printed circuit board 100 according to the embodiment is smaller than the thickness t1 of the first and second printed circuit boards according to the comparative example, To about 20% to about 50% of the thickness. For example, the thickness t2 of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment is determined by the thickness t2 of the plurality of first and second printed circuit boards 0.0 > tl) < / RTI > For example, the thickness t2 of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment is determined by the thickness t2 of the plurality of first and second printed circuit boards lt; RTI ID = 0.0 > tl. < / RTI >

실시예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 디스플레이 패널과 메인보드 사이에 오직 하나의 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께를 감소시킬 수 있다. 자세하게, 실시예에 따른 디스플레이부를 구비한 전자 디바이스는 단층의 인쇄회로기판이 요구되기 때문에, 전자 디바이스의 전체적인 두께가 감소할 수 있다.Since the electronic device having the display unit according to the embodiment requires the flexible circuit board 100 for only one all-in-one chip on film between the display panel and the main board, the overall thickness of the electronic device Can be reduced. In detail, since the electronic device having the display portion according to the embodiment requires a single-layer printed circuit board, the overall thickness of the electronic device can be reduced.

또한, 실시예는 비교예에 포함된 제 1 인쇄회로기판 및 제 2 인쇄회로기판 사이의 접착층(50)을 생략할 수 있어, 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지 및 이를 포함하는 전자 디바이스의 전체적인 두께를 감소시킬 수 있다. In addition, the embodiment can omit the adhesive layer 50 between the first printed circuit board and the second printed circuit board included in the comparative example, and can be applied to a chip package including a flexible circuit board for all-in- The overall thickness of the electronic device can be reduced.

또한, 실시예는 제 1 인쇄회로기판과 제 2 인쇄회로기판 사이의 접착층(50)을 생략할 수 있어, 접착 불량에 의한 문제점을 해소할 수 있으므로, 전자 디바이스의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. In addition, the embodiment can omit the adhesive layer 50 between the first printed circuit board and the second printed circuit board, thereby solving the problem caused by poor adhesion, thereby improving the reliability of the electronic device.

또한, 복수 개의 인쇄회로기판의 접착 공정을 생략할 수 있어, 공정 효율이 증가되고, 공정 비용이 저감될 수 있다. Further, since the step of adhering a plurality of printed circuit boards can be omitted, the process efficiency can be increased and the process cost can be reduced.

또한, 별도의 공정으로 관리되었던 기판을 하나의 공정으로 대체함에 따라, 공정 효율 및 제품 수율을 향상시킬 수 있다. In addition, by replacing the substrate that has been managed as a separate process with one process, the process efficiency and product yield can be improved.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 절곡 영역 및 비절곡 영역을 포함할 수 있다. 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 절곡 영역을 포함함에 따라, 서로 마주보며 배치되는 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)을 서로 연결할 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may include a bent region and a non-bent region. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment includes the display panel 30 and the main board 40, which are disposed to face each other, They can be connected to each other.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 비절곡(non-bending) 영역은 디스플레이 패널(30)과 서로 마주보며 배치될 수 있다. 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 비절곡 영역 상에는 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 상기 제 1 칩(c1) 및 상기 제 2 칩(c2)의 안정적인 실장이 가능할 수 있다. The non-bending region of the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip on film according to the embodiment can be disposed facing the display panel 30 with respect to each other. The first chip C1 and the second chip C2 may be disposed on the non-bent region of the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip on film. Accordingly, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment can be stably mounted on the first chip c1 and the second chip c2.

도 2c는 도 2b의 하면에서의 평면도이다. 2C is a plan view of the bottom of FIG. 2B.

도 2c를 참조하면, 실시예는 하나의 기판이 요구되므로, 일 방향에서의 길이(A2)는 하나의 기판의 길이일 수 있다. 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(A2)는 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 단변의 길이일 수 있다. 일례로, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(A2)는 10㎜ 내지 50㎜일 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(A2)는 10㎜ 내지 30㎜ 일 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(A2)는 15㎜ 내지 25㎜일 수 있다. 다만, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니며, 배치하기 위한 칩의 종류 및/또는 개수, 전자 디바이스의 종류에 따라 다양한 크기로 설계될 수 있음은 물론이다.Referring to FIG. 2C, since one substrate is required in the embodiment, the length A2 in one direction may be the length of one substrate. The length A2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be used for all in one chip on film May be the length of the short side of the flexible circuit board 100. For example, the length A2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film may be 10 mm to 50 mm. For example, the length A2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be 10 mm to 30 mm. For example, the length A2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment may be 15 mm to 25 mm. However, the embodiment is not limited thereto, and it is of course possible to design various sizes according to the type and / or number of chips to be arranged and the type of electronic device.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 일 방향에서의 길이(L1)의 50% 내지 70% 수준의 길이를 가질 수 있다. 예를 들어, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 일 방향에서의 길이(L1)의 55% 내지 70% 수준의 길이를 가질 수 있다. 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)의 일 방향에서의 길이(L2)는 비교예에 따른 복수의 제 1 및 제 2 인쇄회로기판의 일 방향에서의 길이(L1)의 60% 내지 70% 수준의 길이를 가질 수 있다. The length L2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment is equal to the length L2 in one direction of the plurality of first and second printed circuit boards according to the comparative example And may have a length of about 50% to about 70% of the length L1 at the center. For example, the length L2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment is smaller than the length L2 of the first and second printed circuits And may have a length on the order of 55% to 70% of the length L1 in one direction of the substrate. The length L2 in one direction of the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment is equal to the length L2 in one direction of the plurality of first and second printed circuit boards according to the comparative example Of the length L1 in the first direction.

이에 따라, 실시예는 전자 디바이스 내의 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지의 크기가 감소될 수 있어, 배터리(60)를 배치하기 위한 공간이 확대될 수 있다. 또한, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지는 평면적이 감소될 수 있어, 다른 부품을 탑재시키기 위한 공간 확보가 가능할 수 있다. Accordingly, the embodiment can reduce the size of the chip package including the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip on film in the electronic device, so that the space for arranging the battery 60 Can be enlarged. In addition, the chip package including the flexible circuit board 100 for all-in-one chip on film according to the embodiment can be reduced in planarity, and space for mounting other components can be secured .

도 3a, 도 3b, 도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9 및 도 10을 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100) 및 이의 칩 패키지를 설명한다. Referring to FIGS. 3A, 3B, 7, 8A, 8B, 9 and 10, a flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film, Describe the package.

도 3a, 도 3b를 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 일면 상에 전도성 패턴부(CP)를 가지는 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판일 수 있다. 3A and 3B, a flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to an embodiment of the present invention includes a conductive pattern part CP having a conductive pattern part CP on one surface thereof, It may be a flexible circuit board.

상기 기판 상에는 서로 이격하여 배치되는 복수 개의 전도성 패턴부들(CP)이 배치될 수 있다. 상기 전도성 패턴부(CP)는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 포함할 수 있다. 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 서로 다른 제 1 칩과 제 2 칩의 신호를 각각 전달하기 위해서 서로 이격될 수 있다. A plurality of conductive pattern units (CP) may be disposed on the substrate so as to be spaced apart from each other. The conductive pattern unit CP may include a first conductive pattern unit CP1 and a second conductive pattern unit CP2 that are spaced apart from each other. The first conductive pattern portion CP1 and the second conductive pattern portion CP2 may be spaced apart from each other to transmit signals of different first chip and second chip, respectively.

상기 제 1 전도성 패턴부(CP1)는 기판 상에서 제 1 간격(pitch)으로 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부(CP1)들을 포함할 수 있다. 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 기판 상에서 상기 제 1 간격과 다른 제 2 간격(pitch)으로 서로 이격하여 배치되는 제 2 전도성 패턴부(CP2)들을 포함할 수 있다. 실시예는 서로 다른 제 1 칩과 제 2 칩을 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판에 실장하기 위하여, 제 1 간격으로 서로 이격된 제 1 전도성 패턴부(CP1)들 및 제 2 간격으로 서로 이격된 제 2 전도성 패턴부(CP2)들을 기판의 일면 상에 배치할 수 있다. The first conductive pattern units CP1 may include first conductive pattern units CP1 disposed on the substrate at a first pitch. The second conductive pattern portion CP2 may include second conductive pattern portions CP2 disposed on the substrate at a second interval different from the first interval. In the embodiment, in order to mount the first chip and the second chip, which are different from each other, on the flexible circuit board for one all-in-one chip-on film, first conductive pattern portions CP1 spaced apart from each other at a first interval, The spaced second conductive pattern portions CP2 can be disposed on one surface of the substrate.

상기 제 1 전도성 패턴부(CP1)는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 1 리드 패턴부(L1), 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부(E1)을 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1)는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 1 이너 리드 패턴부(I1), 상기 제 1 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 1 아우터 리드 패턴부(O1), 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부(E1)를 포함할 수 있다. The first conductive pattern part CP1 may include a first lead pattern part L1 positioned at one end and the other end of the first conductive pattern part and a first extension pattern part L1 connecting the one end and the other end of the first conductive pattern part CP1. And a portion E1. In detail, the first conductive pattern part CP1 includes a first inner lead pattern part I1 located at one end of the first conductive pattern part, a first outer lead pattern part O1 located at the other end of the first conductive pattern part And a first elongated pattern portion E1 connecting the one end of the first conductive pattern portion and the other end of the first conductive pattern portion.

상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 2 리드 패턴부(L2), 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부(E2)를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 2 이너 리드 패턴부(I2), 상기 제 2 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 2 아우터 리드 패턴부(O2), 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부(E2)를 포함할 수 있다. The second conductive pattern part CP2 may include a second lead pattern part L2 positioned at one end and the other end of the second conductive pattern part and a second extended pattern part L2 connecting the one end and the other end of the second conductive pattern part. And a portion E2. In detail, the second conductive pattern part CP2 includes a second inner lead pattern part I2 located at one end of the second conductive pattern part, a second outer lead pattern part O2 located at the other end of the second conductive pattern part And a second elongated pattern portion E2 connecting the one end of the second conductive pattern portion and the other end.

상기 전도성 패턴부(CP)는 배선 패턴층(120) 및 도금층(130)을 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 각각 상기 기판 상에 차례로 배치되는 배선 패턴층(120), 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)을 포함할 수 있다. 즉, 상기 전도성 패턴부(CP)는 위스커를 방지하고, 신뢰성을 높이기 위한 다층 구조 패턴일 수 있다. The conductive pattern portion CP may include a wiring pattern layer 120 and a plating layer 130. The first conductive pattern part CP1 and the second conductive pattern part CP2 each include a wiring pattern layer 120, a first plating layer 131 and a second plating layer 132 which are sequentially disposed on the substrate, . ≪ / RTI > That is, the conductive pattern part CP may be a multi-layer structure pattern for preventing whiskers and improving reliability.

상기 전도성 패턴부 상에는 보호층(140)이 부분적으로 배치될 수 있다. 상기 전도성 패턴부는 보호층에 의해 덮어지는 보호부(PP)와 보호층에 의해 덮여지지 않는 오픈 영역(OA1, OA2, OA3)을 포함할 수 있다. A protective layer 140 may be partially disposed on the conductive pattern portion. The conductive pattern portion may include a protective portion PP covered by the protective layer and open regions OA1, OA2, and OA3 that are not covered by the protective layer.

상기 보호부(PP)가 위치한 영역에서, 상기 전도성 패턴부(CP)의 일면은 상기 보호층(140)과 직접 접촉하고, 상기 전도성 패턴부(CP)의 상기 일면과 반대되는 타면은 상기 기판(110)과 직접 접촉할 수 있다. 상기 보호부(PP)가 위치한 영역에서, 상기 전도성 패턴부(CP)의 일면은 외부로 노출되지 않을 수 있어, 상기 전도성 패턴부(CP)의 부식을 방지할 수 있다. One surface of the conductive pattern portion CP directly contacts the protective layer 140 in the region where the protective portion PP is located and the other surface of the conductive pattern portion CP opposite to the one surface of the conductive pattern portion CP is in contact with the substrate 110). In a region where the protective portion PP is located, one surface of the conductive pattern portion CP may not be exposed to the outside, thereby preventing corrosion of the conductive pattern portion CP.

상기 오픈 영역(OA1, OA2, OA3)에서, 상기 전도성 패턴부(CP)의 일면은 외부로 노출되고, 상기 전도성 패턴부(CP)의 상기 일면과 반대되는 타면은 상기 기판(110)과 직접 접촉할 수 있다. 상기 오픈 영역(OA1, OA2, OA3)에서, 상기 전도성 패턴부(CP)의 일면은 외부로 노출됨에 따라, 제 1 칩, 제 2 칩, 디스플레이 패널, 메인보드와 같은 별도의 부품과 전기적인 연결이 가능할 수 있다. One surface of the conductive pattern portion CP is exposed to the outside in the open regions OA1, OA2 and OA3 and the other surface of the conductive pattern portion CP opposite to the one surface is directly contacted with the substrate 110. [ can do. In the open areas OA1, OA2 and OA3, one surface of the conductive pattern part CP is exposed to the outside and electrically connected to a separate part such as a first chip, a second chip, a display panel, May be possible.

상기 보호층(140)은 상기 제 1 연장 패턴부(E1) 및 상기 제 2 연장 패턴부(E2) 상에 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 보호층(140)은 상기 제 1 연장 패턴부(E1) 및 상기 제 2 연장 패턴부(E2) 상에 전체적으로 배치될 수 있다. 즉, 상기 보호층(140)은 상기 제 1 연장 패턴부(E1) 및 상기 제 2 연장 패턴부(E2) 상에만 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 리드 패턴부(L1) 및 상기 제 2 리드 패턴부(L2)의 일면은 외부로 노출될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 제 2 도금층(132)은 외부로 노출될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 제 2 도금층(132)은 외부로 노출될 수 있다. The protective layer 140 may be disposed on the first elongated pattern portion E1 and the second elongated pattern portion E2. In detail, the protective layer 140 may be disposed entirely on the first elongated pattern portion E1 and the second elongated pattern portion E2. That is, the protective layer 140 may be disposed only on the first elongated pattern portion E1 and the second elongated pattern portion E2. Accordingly, one surface of the first lead pattern portion L1 and the second lead pattern portion L2 may be exposed to the outside. For example, the second plating layer 132 of the first inner lead pattern portion I1 may be exposed to the outside. For example, the second plating layer 132 of the second inner lead pattern portion 12 may be exposed to the outside.

상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 상에는 제 1 접속부(70)가 배치되고, 상기 제 1 접속부(70) 상에는 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. 즉, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 제 2 도금층(132)이 상기 제 1 접속부(70)와 직접 접촉할 수 있다. 이때, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 제 2 도금층(132a)은 순수 주석층일 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 제 2 도금층(132a)은 상기 제 1 접속부(70)와의 조립 특성이 향상될 수 있다. 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2) 상에는 제 2 접속부(80)가 배치되고, 상기 제 2 접속부(80) 상에는 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 즉, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 제 2 도금층(132)이 상기 제 2 접속부(80)와 직접 접촉할 수 있다. 이때, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 제 2 도금층(132b)은 주석 합금층일 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 제 2 도금층(132b)은 구리 및 주석 합금층일 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 제 2 도금층(132b)은 상기 제 2 접속부(80)와의 조립 특성이 향상될 수 있다.A first connection portion 70 may be disposed on the first inner lead pattern portion I1 and a first chip C1 may be disposed on the first connection portion 70. [ That is, the second plating layer 132 of the first inner lead pattern portion I1 may directly contact the first connection portion 70. [ At this time, the second plating layer 132a of the first inner lead pattern portion I1 may be a pure tin layer. Accordingly, the second plating layer 132a of the first inner lead pattern portion I1 can be improved in assembling characteristics with the first connection portion 70. [ A second connection portion 80 may be disposed on the second inner lead pattern portion I2 and a second chip C2 may be disposed on the second connection portion 80. [ That is, the second plating layer 132 of the second inner lead pattern portion 12 can be in direct contact with the second connection portion 80. At this time, the second plating layer 132b of the second inner lead pattern portion 12 may be a tin alloy layer. In detail, the second plating layer 132b of the second inner lead pattern portion 12 may be a copper and tin alloy layer. Accordingly, the second plating layer 132b of the first inner lead pattern portion I1 can be improved in assembling characteristics with the second connection portion 80. [

상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 접속부(70)는 상, 하로 중첩될 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2) 및 상기 제 2 접속부(80)는 상, 하로 중첩될 수 있다. In the first open area OA1, the first inner lead pattern part I1 and the first connection part 70 may be overlapped with each other. In the second open area OA2, the second inner lead pattern part I2 and the second connection part 80 may be overlapped with each other.

상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 접속부(70)의 중첩 영역의 면적은 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2) 및 상기 제 2 접속부(80)의 중첩 영역의 면적과 다를 수 있다. 예를 들어, 하나의 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)와 하나의 상기 제 1 접속부(70) 사이의 중첩 영역의 면적은 하나의 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)와 하나의 상기 제 2 접속부(80)의 중첩 영역의 면적보다 작을 수 있다. 이에 따라, 실시예는 서로 다른 제 1 칩, 제 2 칩의 실장시 높은 접합강도를 가지는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 제공할 수 있다. The area of the overlapping region of the first inner lead pattern portion I1 and the first connecting portion 70 may be different from the area of the overlapping region of the second inner lead pattern portion I2 and the second connecting portion 80 have. For example, the area of the overlap region between one of the first inner lead pattern portions I1 and one of the first connection portions 70 may be equal to the area of the overlap portion between one second inner lead pattern portion I2 and one 2 connecting portion 80 of the first embodiment. Thus, the embodiment can provide a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film having a high bonding strength when mounting first and second chips different from each other.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 기판(110), 상기 기판(110) 상에 배치되는 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 포함할 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment includes a substrate 110, a wiring pattern layer 120 disposed on the substrate 110, a plating layer 130, And may include a protective layer 140.

상기 기판(110)은 상기 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 지지하는 지지기판일 수 있다.The substrate 110 may be a supporting substrate for supporting the wiring pattern layer 120, the plating layer 130, and the protective layer 140.

상기 기판(110)은 절곡 영역 및 절곡 영역 이외의 영역을 포함할 수 있다. 즉, 상기 기판(110)은 절곡이 이루어지는 절곡 영역 및 절곡 영역 이외의 비절곡 영역을 포함할 수 있다.The substrate 110 may include regions other than the bending region and the bending region. That is, the substrate 110 may include a bending region where bending is performed and a non-bending region other than the bending region.

상기 기판(110)은 연성 기판일 수 있다. 이에 따라, 상기 기판(110)은 부분적인 절곡이 가능할 수 있다. 즉, 상기 기판(110)은 연성 플라스틱을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)은 폴리이미드(polyimide, PI) 기판일 수 있다. 다만, 실시예는 이에 재한되지 않고, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate, PET), 폴리에틸렌 나프탈레이트(polyethylene naphthalate, PEN)과 같은 고분자 물질로 구성된 기판일 수 있다. 이에 따라, 상기 기판(110)을 포함하는 연성 회로기판은 곡선의 디스플레이 장치가 구비된 다양한 전자디바이스에 사용될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)을 포함하는 연성 회로기판은 플렉서블 특성이 우수함에 따라, 웨어러블 전자디바이스의 반도체 칩을 실장하는데 적합할 수 있다. 자세하게, 실시예는 곡면 디스플레이를 포함하는 전자 디바이스에 적합할 수 있다. The substrate 110 may be a flexible substrate. Accordingly, the substrate 110 may be partially bendable. That is, the substrate 110 may include a soft plastic. For example, the substrate 110 may be a polyimide (PI) substrate. However, the present invention is not limited thereto, and the substrate may be a substrate made of a polymer material such as polyethylene terephthalate (PET) or polyethylene naphthalate (PEN). Accordingly, the flexible circuit board including the substrate 110 can be used in various electronic devices having a curved display device. For example, the flexible circuit board including the substrate 110 may be suitable for mounting a semiconductor chip of a wearable electronic device because of its excellent flexibility characteristics. In particular, embodiments may be suitable for electronic devices including a curved display.

상기 기판(110)은 절연 기판일 수 있다. 즉, 상기 기판(110)은 다양한 배선 패턴들을 지지하는 절연 기판일 수 있다. The substrate 110 may be an insulating substrate. That is, the substrate 110 may be an insulating substrate supporting various wiring patterns.

상기 기판(110)은 20㎛ 내지 100㎛의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)은 25㎛ 내지 50㎛의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(100)은 30㎛ 내지 40㎛의 두께를 가질 수 있다. 상기 기판(100)의 두께가 100㎛ 초과인 경우에는 전체적인 연성 회로기판의 두께가 증가할 수 있다. 상기 기판(100)의 두께가 20㎛ 미만인 경우에는 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)을 동시에 배치하기 어려울 수 있다. 상기 기판(110)의 두께가 20um 미만인 경우에는, 다수의 칩을 실장 하는 공정에서 상기 기판(110)이 열/압력 등에 취약할 수 있어, 다수의 칩을 동시에 배치하기 어려울 수 있다.The substrate 110 may have a thickness of 20 탆 to 100 탆. For example, the substrate 110 may have a thickness of 25 [mu] m to 50 [mu] m. For example, the substrate 100 may have a thickness of 30 [mu] m to 40 [mu] m. When the thickness of the substrate 100 is more than 100 mu m, the thickness of the entire flexible circuit board may increase. When the thickness of the substrate 100 is less than 20 mu m, it may be difficult to arrange the first chip C1 and the second chip C2 at the same time. When the thickness of the substrate 110 is less than 20 袖 m, the substrate 110 may be vulnerable to heat / pressure during a process of mounting a plurality of chips, and it may be difficult to arrange a plurality of chips at the same time.

상기 기판(110) 상에는 배선이 배치될 수 있다. 상기 배선은 패턴화된 복수 개의 배선일 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110) 상에서 상기 복수 개의 배선들은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 즉, 상기 기판(110)의 일면 상에는 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다.Wiring may be disposed on the substrate 110. The wiring may be a plurality of patterned wirings. For example, the plurality of wirings on the substrate 110 may be disposed apart from each other. That is, the wiring pattern layer 120 may be disposed on one surface of the substrate 110.

상기 기판(110)의 면적은 상기 배선 패턴층(120)의 면적보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 기판(110)의 평면적은 상기 배선 패턴층(120)의 평면적보다 클 수 있다. 즉, 상기 기판(110) 상에는 상기 배선 패턴층(120)이 부분적으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)의 하면은 상기 기판(110)과 접촉하고, 상기 복수 개의 배선들 사이에는 상기 기판(110)이 노출될 수 있다. 상기 배선 패턴층(120)은 전도성 물질을 포함할 수 있다. The area of the substrate 110 may be larger than the area of the wiring pattern layer 120. In detail, the planar area of the substrate 110 may be larger than the planar area of the wiring pattern layer 120. That is, the wiring pattern layer 120 may be partially disposed on the substrate 110. For example, the lower surface of the wiring pattern layer 120 may be in contact with the substrate 110, and the substrate 110 may be exposed between the plurality of wirings. The wiring pattern layer 120 may include a conductive material.

예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)은 전기 전도성이 우수한 금속 물질을 포함할 수 있다. 더 자세하게, 상기 배선 패턴층(120)은 구리(Cu)를 포함할 수 있다. 다만, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니고, 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 은(Ag), 몰리브덴(Mo). 금(Au), 티타튬(Ti) 및 이들의 합금 중 적어도 하나의 금속을 포함할 수 있음은 물론이다. For example, the wiring pattern layer 120 may include a metal material having excellent electrical conductivity. More specifically, the wiring pattern layer 120 may include copper (Cu). However, the embodiment is not limited thereto, and copper, aluminum, chromium, nickel, silver and molybdenum may be used. And may include at least one of gold (Au), titanium (Ti), and alloys thereof.

상기 배선 패턴층(120)은 1㎛ 내지 15㎛의 두께로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)은 1㎛ 내지 10㎛의 두께로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 배선 패턴층(120)은 2㎛ 내지 10㎛의 두께로 배치될 수 있다.The wiring pattern layer 120 may be arranged to have a thickness of 1 탆 to 15 탆. For example, the wiring pattern layer 120 may be arranged to have a thickness of 1 탆 to 10 탆. For example, the wiring pattern layer 120 may be arranged to have a thickness of 2 탆 to 10 탆.

상기 배선 패턴층(120)의 두께가 1㎛ 미만인 경우에는 상기 배선 패턴층의 저항이 증가할 수 있다. 상기 배선 패턴층(120)의 두께가 10㎛ 초과인 경우에는 미세패턴을 구현하기 어려울 수 있다.When the thickness of the wiring pattern layer 120 is less than 1 占 퐉, the resistance of the wiring pattern layer may increase. If the thickness of the wiring pattern layer 120 is more than 10 mu m, it may be difficult to realize a fine pattern.

상기 배선 패턴층(120) 상에는 도금층(130)이 배치될 수 있다. 상기 도금층(130)은 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)을 포함할 수 있다. A plating layer 130 may be disposed on the wiring pattern layer 120. The plating layer 130 may include a first plating layer 131 and a second plating layer 132.

상기 배선 패턴층(120) 상에는 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상기 제 1 도금층(131) 상에는 상기 제 2 도금층(132)이 배치될 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 위스커(whisker) 형성의 방지를 위해, 상기 배선 패턴층(120) 상에 2 층으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 배선 패턴층(120)의 패턴들 사이의 단락을 방지할 수 있다. 또한, 상기 배선 패턴층(120) 상에는 두 층의 도금층이 배치됨에 따라, 칩과의 본딩 특성이 향상될 수 있다. 상기 배선 패턴층이 구리(Cu)를 포함하는 경우에는, 상기 배선 패턴층이 제 1 칩(C1)과 직접 본딩될 수 없고, 별도로 접착을 위한 처리가 요구될 수 있다. 반면, 상기 배선 패턴층 상에 배치되는 상기 도금층이 주석(Sn)을 포함하는 경우에는, 상기 도금층의 표면이 순수 주석층일 수 있어, 제 1 칩(C1)과 본딩이 용이할 수 있다. 이때, 제 1 칩(C1)과 연결되는 와이어는 순수 주석층과 열과 압력만으로 쉽게 연결될 수 있어, 칩 와이어 본딩의 정확성 및 제조 공정의 편의성을 향상시킬 수 있다.A first plating layer 131 may be disposed on the wiring pattern layer 120 and the second plating layer 132 may be disposed on the first plating layer 131. The first plating layer 131 and the second plating layer 132 may be formed in two layers on the wiring pattern layer 120 to prevent formation of whiskers. Thus, a short circuit between the patterns of the wiring pattern layer 120 can be prevented. Further, since the two plating layers are disposed on the wiring pattern layer 120, the bonding characteristics with the chip can be improved. In the case where the wiring pattern layer contains copper (Cu), the wiring pattern layer can not be directly bonded to the first chip (C1), and separate bonding processing may be required. On the other hand, when the plating layer disposed on the wiring pattern layer includes tin (Sn), the surface of the plating layer may be a pure tin layer, so that bonding with the first chip (C1) can be facilitated. At this time, the wire connected to the first chip (C1) can be easily connected to the pure tin layer only by heat and pressure, so that the accuracy of the chip wire bonding and the convenience of the manufacturing process can be improved.

상기 제 1 도금층(131)이 배치되는 영역은 상기 제 2 도금층(132)이 배치되는 영역과 대응될 수 있다. 즉, 상기 제 1 도금층(131)이 배치되는 면적은 상기 제 2 도금층(132)이 배치되는 면적과 대응될 수 있다. The region where the first plating layer 131 is disposed may correspond to the region where the second plating layer 132 is disposed. That is, the area where the first plating layer 131 is disposed may correspond to the area where the second plating layer 132 is disposed.

상기 도금층(130)은 주석(Sn)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)을 포함할 수 있다. The plating layer 130 may include tin (Sn). For example, the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may include tin (Sn).

일례로, 상기 배선 패턴층(120)을 구리(Cu)로 배치하고, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)을 주석(Sn)으로 배치할 수 있다. 상기 도금층(130)이 주석을 포함하는 경우에는, 주석(Sn)의 내식성이 우수하기 때문에, 상기 배선 패턴층(120)의 산화를 방지할 수 있다. For example, the wiring pattern layer 120 may be formed of copper (Cu), and the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may be formed of tin (Sn). When the plating layer 130 contains tin, oxidation of the wiring pattern layer 120 can be prevented because tin (Sn) has excellent corrosion resistance.

한편, 상기 도금층(130)의 물질은 상기 배선 전극층(120)의 물질보다 전기 전도도가 낮을 수 있다. 상기 도금층(130)은 상기 배선 전극층(120)과 전기적인 접속이 가능할 수 있다. Meanwhile, the material of the plating layer 130 may be lower in electrical conductivity than the material of the wiring electrode layer 120. The plating layer 130 may be electrically connected to the wiring electrode layer 120.

상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 동일한 주석(Sn)으로 형성되나, 별도의 공정으로 형성될 수 있다. The first plating layer 131 and the second plating layer 132 are formed of the same tin (Sn), but they may be formed by a separate process.

실시예에 따른 연성 회로기판의 제조 공정에 열경화와 같은 열처리 공정이 포함되는 경우에는, 상기 배선 패턴층(120)의 구리(Cu) 또는 상기 도금층(130)의 주석(Sn)의 확산 작용이 일어날 수 있다. 자세하게, 상기 보호층(140)의 경화를 통해, 상기 배선 패턴층(120)의 구리(Cu) 또는 상기 도금층(130)의 주석(Sn)의 확산 작용이 일어날 수 있다.When the manufacturing process of the flexible circuit board according to the embodiment includes a heat treatment process such as thermal curing, the diffusion action of copper (Cu) of the wiring pattern layer 120 or tin (Sn) of the plating layer 130 Can happen. In detail, diffusion of copper (Cu) of the wiring pattern layer 120 or tin (Sn) of the plating layer 130 may occur through the curing of the protective layer 140.

이에 따라, 상기 제 1 도금층(131)에서 상기 제 2 도금층(132)의 표면으로 갈수록 구리(Cu)의 확산 농도가 낮아짐에 따라, 구리(Cu)의 함량이 연속적으로 작아질 수 있다. 한편, 상기 제 1 도금층(131)에서 상기 제 2 도금층(132)의 표면으로 갈수록 주석(Sn)의 함량은 연속적으로 커질 수 있다. 이에 따라, 상기 도금층(130)의 최상부는 순수한 주석층을 포함할 수 있다. Accordingly, as the diffusion concentration of copper (Cu) decreases from the first plating layer 131 to the surface of the second plating layer 132, the content of copper (Cu) can be continuously reduced. On the other hand, the content of tin (Sn) can be continuously increased from the first plating layer (131) to the surface of the second plating layer (132). Accordingly, the uppermost portion of the plating layer 130 may include a pure tin layer.

즉, 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)은 적층 계면에서의 화학작용에 의해, 상기 도금층(130)의 적어도 일부는 주석 및 구리의 합금일 수 있다. 상기 배선 패턴층(120) 상에 상기 도금층(130)을 형성한 후의 주석 및 구리의 합금의 두께보다, 상기 도금층(130) 상에 상기 보호층(140)을 경화시킨 후에 주석 및 구리의 합금의 두께는 증가할 수 있다. That is, at least a part of the plating layer 130 may be an alloy of tin and copper due to a chemical action at the lamination interface of the wiring pattern layer 120 and the plating layer 130. After the protective layer 140 is cured on the plating layer 130 to a thickness of the tin and copper alloy after the plating layer 130 is formed on the wiring pattern layer 120, The thickness can be increased.

상기 도금층(130)의 적어도 일부에 포함된 주석 및 구리의 합금은 CuxSny의 화학식을 가지고, 0<x+y<12일 수 있다. 예를 들어, 상기 화학식에서, x와 y의 합은 4≤x+y≤11일 수 있다. 예를 들어, 상기 도금층(130)에 포함된 주석 및 구리의 합금은 Cu3Sn 및 Cu6Sn5 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 도금층(131)은 주석 및 구리의 합금층일 수 있다.The alloy of tin and copper contained in at least a part of the plating layer 130 has a chemical formula of Cu x Sn y , and 0 < x + y < For example, in the above formula, the sum of x and y may be 4? X + y? 11. For example, the tin and copper alloy contained in the plating layer 130 may be Cu 3 Sn and Cu 6 Sn 5 Or the like. In detail, the first plating layer 131 may be an alloy layer of tin and copper.

또한, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)은 주석 및 구리의 함량이 서로 다를 수 있다. 상기 구리 배선 패턴층과 직접 접촉하는 상기 제 1 도금층(131)은 상기 제 2 도금층(132)보다 구리의 함량이 클 수 있다.In addition, the content of tin and copper in the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may be different from each other. The first plating layer 131 directly contacting the copper wiring pattern layer may have a copper content greater than that of the second plating layer 132.

상기 제 2 도금층(132)은 상기 제 1 도금층(131)보다 주석의 함량이 클 수 있다. 상기 제 2 도금층(132)은 순수 주석층을 포함할 수 있다. 여기에서, 순수 주석이란 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 이상인 것, 70 원자% 이상인 것, 90 원자% 이상인 것을 의미할 수 있다. 이때, 주석 이외의 원소는 구리일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 70 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 90 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 95 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 98 원자% 이상일 수 있다.The second plating layer 132 may have a tin content greater than that of the first plating layer 131. The second plating layer 132 may include a pure tin layer. Here, pure tin may mean that the content of tin (Sn) is 50 atomic% or more, 70 atomic% or more, and 90 atomic% or more. At this time, the element other than tin may be copper. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132 may be 50 atomic% or more. For example, the second plating layer 132 may have a tin (Sn) content of 70 atomic% or more. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132 may be 90 atomic% or more. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132 may be 95 atomic% or more. For example, the second plating layer 132 may have a tin (Sn) content of 98 atomic% or more.

실시예에 따른 도금층은 Cu/Sn의 확산현상으로 인해, 전기화학적 마이그레이션(Electrochemical Migration Resistance)을 방지하여, 금속 성장으로 인한 합선 불량을 차단할 수 있다. The plating layer according to the embodiment can prevent electrochemical migration resistance due to the diffusion phenomenon of Cu / Sn, and can prevent short-circuit defects due to metal growth.

다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 상기 도금층(130)은 Ni/Au 합금, 금(Au), 무전해 니켈 금 도금(electroless nickel immersion gold, ENIG), Ni/Pd 합금, 유기화합물 도금(Organic Solderability Preservative, OSP) 중 어느 하나를 포함할 수 있음은 물론이다. However, the present invention is not limited thereto. The plating layer 130 may be formed of Ni / Au alloy, Au, electroless nickel immersion gold (ENIG), Ni / Pd alloy, Solderability Preservative, OSP).

상기 제 1 도금층(131)은 상기 제 2 도금층(132)은 서로 대응되거나, 서로 다른 두께를 가질 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)의 전체 두께는 0.3㎛ 내지 1㎛일 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)의 전체 두께는 0.3㎛ 내지 0.7㎛일 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132)의 전체 두께는 0.3㎛ 내지 0.5㎛일 수 있다. 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132) 중 어느 하나의 도금층은 0.05㎛ 내지 0.15㎛ 이하의 두께일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 도금층(131) 및 상기 제 2 도금층(132) 중 어느 하나의 도금층은 0.07㎛ 내지 0.13㎛ 이하의 두께일 수 있다. The first plating layer 131 may have a thickness corresponding to the second plating layer 132 or may have different thicknesses. The total thickness of the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may be 0.3 탆 to 1 탆. The total thickness of the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may be 0.3 탆 to 0.7 탆. The total thickness of the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may be 0.3 탆 to 0.5 탆. The plating layer of any one of the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may have a thickness of 0.05 탆 to 0.15 탆 or less. For example, the plating layer of any one of the first plating layer 131 and the second plating layer 132 may have a thickness of 0.07 μm to 0.13 μm or less.

상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 상에 부분적으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 상의 상기 도금층(130) 상에 배치될 수 있다. 상기 보호층(140)은 상기 도금층(130)을 덮을 수 있어, 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)의 산화에 의한 손상 또는 탈막을 방지할 수 있다. The protective layer 140 may be partially disposed on the wiring pattern layer 120. For example, the protective layer 140 may be disposed on the plating layer 130 on the wiring pattern layer 120. The protective layer 140 may cover the plating layer 130 to prevent damage or de-filming due to oxidation of the wiring pattern layer 120 and the plating layer 130.

상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)이 디스플레이 패널(30), 메인보드(40), 제 1 칩(C1) 또는 제 2 칩(C2)과 전기적으로 연결되기 위한 영역을 제외한 영역에 부분적으로 배치될 수 있다. The protective layer 140 is formed on the wiring pattern layer 120 and / or the plating layer 130 so as to be electrically connected to the display panel 30, the main board 40, the first chip C1 or the second chip C2. May be partially disposed in an area other than the area to be connected to the &lt; RTI ID = 0.0 &gt;

이에 따라, 상기 보호층(140)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)와 부분적으로 중첩될 수 있다.Accordingly, the protective layer 140 may be partially overlapped with the wiring pattern layer 120 and / or the plating layer 130.

상기 보호층(140)의 면적은 기판(110)의 면적보다 작을 수 있다. 상기 보호층(140)은 기판의 끝단을 제외한 영역에 배치되며, 복수 개의 오픈 영역을 포함할 수 있다. The area of the protective layer 140 may be smaller than the area of the substrate 110. The protective layer 140 may be disposed in a region other than an end of the substrate, and may include a plurality of open regions.

상기 보호층(140)은 홀과 같은 형상의 제 1 오픈 영역(OA1)을 포함할 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)이 제 1 칩(C1)과 전기적으로 연결되기 상기 보호층(140)의 비배치 영역일 수 있다. The passivation layer 140 may include a first open region OA1 having the same shape as a hole. The first open area OA1 may be a non-disposition region of the protection layer 140 in which the wiring pattern layer 120 and / or the plating layer 130 are electrically connected to the first chip C1.

상기 보호층(140)은 홀과 같은 형상의 제 2 오픈 영역(OA2)을 포함할 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 상기 배선 패턴층(120) 및/또는 상기 도금층(130)이 제 2 칩(C2)과 전기적으로 연결되기 위한 상기 보호층(140)의 비배치 영역일 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서, 상기 도금층(130)은 외부로 노출될 수 있다. The passivation layer 140 may include a second open region OA2 having the same shape as a hole. The second open region OA2 may be a non-disposition region of the protection layer 140 for electrically connecting the wiring pattern layer 120 and / or the plating layer 130 to the second chip C2 . Accordingly, in the second open area OA2, the plating layer 130 may be exposed to the outside.

상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서, 상기 도금층(130)의 구리의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 도금층(130)에서의 구리의 함량은 60 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 도금층(130)에서의 구리의 함량은 60 원자% 내지 80 원자% 일 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 측정된 상기 제 1 도금층(131)의 구리의 함량은 60 원자% 내지 80 원자% 일 수 있다.In the second open area OA2, the content of copper in the plating layer 130 may be 50 atomic% or more. For example, the content of copper in the plating layer 130 may be 60 atomic% or more. For example, the content of copper in the plating layer 130 may be 60 atom% to 80 atom%. In detail, the content of copper in the first plating layer 131 measured in the second open area OA2 may be 60 atom% to 80 atom%.

상기 보호층(140)은 상기 메인보드(40) 또는 상기 디스플레이 패널(30)과 전기적으로 연결되기 위한 전도성 패턴부 상에 배치되지 않을 수 있다. 실시예는 상기 메인보드(40) 또는 상기 디스플레이 패널(30)과 전기적으로 연결되기 위한 전도성 패턴부 상의 상기 보호층(140)의 비배치 영역인 제 3 오픈 영역(OA3)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 3 오픈 영역(OA3)에서, 상기 도금층(130)은 외부로 노출될 수 있다. The protective layer 140 may not be disposed on the conductive pattern portion to be electrically connected to the main board 40 or the display panel 30. [ The embodiment may include a third open area OA3 that is a non-layout area of the protection layer 140 on the main board 40 or the conductive pattern part to be electrically connected to the display panel 30. [ Accordingly, in the third open area OA3, the plating layer 130 may be exposed to the outside.

상기 제 3 오픈 영역(OA3)에서, 상기 도금층(130)의 구리의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. 또는, 상기 제 3 오픈 영역(OA3)에서, 상기 도금층(130)의 구리의 함량은 50 원자% 미만일 수 있다. In the third open area OA3, the content of copper in the plating layer 130 may be 50 atomic% or more. Alternatively, in the third open area OA3, the content of copper in the plating layer 130 may be less than 50 atomic%.

상기 제 3 오픈 영역(OA3)은 상기 제 1 오픈 영역(OA1)보다 기판의 외곽에 위치할 수 있다. 또한, 상기 제 3 오픈 영역(OA3)은 상기 제 2 오픈 영역(OA2)보다 기판의 외곽에 위치할 수 있다. The third open area OA3 may be located outside the first open area OA1. Also, the third open area OA3 may be located on the outer side of the substrate than the second open area OA2.

상기 제 1 오픈 영역(OA1) 및 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 상기 제 3 오픈 영역(OA3)보다 기판의 중앙 영역에 위치할 수 있다. The first open area OA1 and the second open area OA2 may be located in a central area of the substrate than the third open area OA3.

상기 보호층(140)은 절곡 영역에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 보호층(140)은 절곡시 발생할 수 있는 응력을 분산시킬 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The protective layer 140 may be disposed in the bending region. Accordingly, the protective layer 140 can disperse stress that may occur during bending. Therefore, the reliability of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board according to the embodiment can be improved.

상기 보호층(140)은 절연성 물질을 포함할 수 있다. 상기 보호층(140)은 전도성 패턴부의 표면을 보호하기 위해 도포된 후 가열하여 경화될 수 있는 다양한 물질을 포함할 수 있다. 상기 보호층(140)은 레지스트(resist)층일 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(140)은 유기고분자 물질을 포함하는 솔더 레지스트층일 수 있다. 일례로, 상기 보호층(140)은 에폭시 아크릴레이트 계열의 수지를 포함할 수 있다. 자세하게, 상기 보호층(140)은 수지, 경화제, 광개시제, 안료, 용매, 필러, 첨가제, 아크릴 계열의 모노머 등을 포함할 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 상기 보호층(140)은 포토솔더 레지스트층, 커버레이(cover-lay) 및 고분자 물질 중 어느 하나일 수 있음은 물론이다.The passivation layer 140 may include an insulating material. The protective layer 140 may include various materials that can be applied to protect the surface of the conductive pattern portion and then cured by heating. The protective layer 140 may be a resist layer. For example, the protective layer 140 may be a solder resist layer containing an organic polymer material. For example, the protective layer 140 may include an epoxy acrylate resin. In detail, the protective layer 140 may include a resin, a curing agent, a photoinitiator, a pigment, a solvent, a filler, an additive, an acrylic based monomer, or the like. However, the present invention is not limited thereto, and the protective layer 140 may be a photo-solder resist layer, a cover-lay, or a polymer material.

상기 보호층(140)의 두께는 1㎛ 내지 20㎛일 수 있다. 상기 보호층(140)의 두께는 1㎛ 내지 15㎛일 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(140)의 두께는 5㎛ 내지 20㎛일 수 있다. 상기 보호층(140)의 두께가 20㎛ 초과인 경우에는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 두께가 증가할 수 있다. 상기 보호층(140)의 두께가 1㎛ 미만인 경우에는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판에 포함된 전도성 패턴부의 신뢰성이 저하될 수 있다. The thickness of the protective layer 140 may be in the range of 1 탆 to 20 탆. The thickness of the protective layer 140 may be between 1 탆 and 15 탆. For example, the thickness of the protective layer 140 may be 5 to 20 占 퐉. If the thickness of the protective layer 140 is more than 20 占 퐉, the thickness of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board may increase. If the thickness of the protective layer 140 is less than 1 탆, the reliability of the conductive pattern portion included in the all-in-one chip-on-film flexible circuit board may be reduced.

도 3b를 참조하여, 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지를 설명한다. Referring to FIG. 3B, a chip package including a flexible circuit board 100 for a cross-sectional all-in-one chip-on film according to an embodiment will be described.

실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 기판(110), 기판의 일면 상에 배치되는 전도성 패턴부(CP) 및 상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역에 부분적으로 보호층(140)이 배치되어 형성되는 보호부(PP)를 포함할 수 있다.The flexible circuit board 100 for a cross-sectional all-in-one chip-on-film according to the embodiment includes a substrate 110, a conductive pattern portion CP disposed on one surface of the substrate, And a protective portion PP formed by disposing a layer 140 thereon.

상기 전도성 패턴부(CP)는 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)을 포함할 수 있다. The conductive pattern part CP may include the wiring pattern layer 120 and the plating layer 130. [

상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역과 다른 영역 상에는 상기 보호부(PP)가 배치되지 않을 수 있다. 이에 따라, 상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역과 다른 영역 상에는 상기 전도성 패턴부(CP) 및 이격된 상기 전도성 패턴부(CP)사이의 기판(110)이 노출될 수 있다. 상기 전도성 패턴부(CP) 상의 일 영역과 다른 영역 상에는 제 1 접속부(70) 및 제 2 접속부(80)가 각각 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 보호부(PP)가 배치되지 않는 상기 전도성 패턴부(CP)의 상면에는 제 1 접속부(70) 및 제 2 접속부(80)가 각각 배치될 수 있다.The protective portion PP may not be disposed on a region other than one region on the conductive pattern portion CP. Accordingly, the substrate 110 between the conductive pattern CP and the conductive pattern CP spaced apart from the conductive pattern CP may be exposed on a region other than the one region on the conductive pattern CP. The first connection part 70 and the second connection part 80 may be respectively disposed on a region other than the one region on the conductive pattern CP. In detail, the first connection part 70 and the second connection part 80 may be respectively disposed on the upper surface of the conductive pattern part CP in which the protection part PP is not disposed.

상기 제 1 접속부(70) 및 상기 제 2 접속부(80)는 서로 다른 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 접속부(70)는 육면체 형상일 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 접속부(70)의 단면은 사각형 형상을 포함할 수 있다. 더 자세하게, 상기 제 1 접속부(70)의 단면은 직사각형 또는 정사각형 형상을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)는 구형 형상을 포함할 수 있다. 상기 제 2 접속부(80)의 단면은 원형 형상을 포함할 수 있다. 또는, 상기 제 2 접속부(80)는 부분적으로, 또는 전체적으로 라운드진 형상을 포함할 수 있다. 일례로, 상기 제 2 접속부(80)의 단면 형상은 일 측면에서 평면이고, 상기 일 측면과 반대되는 타 측면에서 곡면인 것을 포함할 수 있다. The first connection part 70 and the second connection part 80 may have different shapes. For example, the first connection part 70 may have a hexahedral shape. In detail, the cross-section of the first connection portion 70 may include a rectangular shape. More specifically, the cross section of the first connection portion 70 may include a rectangular or square shape. For example, the second connection portion 80 may include a spherical shape. The cross section of the second connection portion 80 may include a circular shape. Alternatively, the second connection portion 80 may include a partially or entirely rounded shape. For example, the cross-sectional shape of the second connection portion 80 may be a flat surface on one side and a curved surface on the other side opposite to the one side surface.

상기 제 1 접속부(70) 및 상기 제 2 접속부(80)는 서로 다른 크기를 가질 수 있다. 상기 제 1 접속부(70)는 상기 제 2 접속부(80)보다 작을 수 있다. The first connection part 70 and the second connection part 80 may have different sizes. The first connection part 70 may be smaller than the second connection part 80. [

상기 제 1 접속부(70) 및 상기 제 2 접속부(80)의 폭은 서로 다를 수 잇다. 예를 들어, 하나의 제 1 접속부(70)의 양 측면 사이의 폭(D1)은 하나의 제 2 접속부(80)의 양 측면 사이의 폭(D2)보다 작을 수 있다.The widths of the first connection portion 70 and the second connection portion 80 may be different from each other. For example, the width D1 between both sides of one first connection portion 70 may be smaller than the width D2 between both sides of one second connection portion 80. [

상기 제 1 접속부(70) 상에는 상기 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. 상기 제 1 접속부(70)는 전도성 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 접속부(70)는 상기 제 1 접속부(70)의 상면에 배치되는 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 1 접속부(70)의 하면에 배치되는 상기 전도성 패턴부(CP)를 전기적으로 연결할 수 있다. The first chip C1 may be disposed on the first connection part 70. [ The first connection portion 70 may include a conductive material. The first connection part 70 includes the first chip C1 disposed on the upper surface of the first connection part 70 and the conductive pattern part CP disposed on the lower surface of the first connection part 70, Can be electrically connected.

상기 제 2 접속부(80) 상에는 상기 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 접속부(80)는 전도성 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 2 접속부(80)의 상면에 배치되는 상기 제 2 칩(C2) 및 상기 제 2 접속부(80)의 하면에 배치되는 상기 전도성 패턴부(CP)를 전기적으로 연결할 수 있다.And the second chip C2 may be disposed on the second connection unit 80. [ The second connection portion 80 may include a conductive material. The second connection part 80 is electrically connected to the conductive pattern part CP disposed on the lower surface of the second chip C2 and the second connection part 80 disposed on the upper surface of the second connection part 80, Can be electrically connected.

실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 동일한 일면 상에는 서로 다른 종류의 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 자세하게, 실시예에 따른 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 동일한 일면 상에는 하나의 상기 제 1 칩(C1) 및 복수 개의 제 2 칩(C2)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 칩 패키징 공정의 효율을 향상시킬 수 있다. The first chip C1 and the second chip C2 of different types may be disposed on the same surface of the flexible circuit board 100 for a cross-sectional all-in-one chip-on-film according to the embodiment. In detail, one of the first chip C1 and the plurality of second chips C2 may be disposed on the same surface of the flexible circuit board 100 for a cross-sectional all-in-one chip-on-film according to the embodiment. Thus, the efficiency of the chip packaging process can be improved.

상기 제 1 칩(C1)은 구동 IC 칩(Drive IC chip)을 포함할 수 있다. The first chip C1 may include a drive IC chip.

상기 제 2 칩(C2)은 구동 IC 칩(Drive IC chip)이외의 칩을 의미할 수 있다. 상기 제 2 칩(C2)은 구동 IC 칩(Drive IC chip) 이외의 소켓 또는 소자를 포함하는 다양한 칩을 의미할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나인 것을 포함할 수 있다. The second chip C2 may refer to a chip other than a drive IC chip. The second chip C2 may refer to various chips including a socket or a device other than a drive IC chip. For example, the second chip C2 may include at least one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor.

올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 배치되는 복수 개의 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나가 여러 개 배치되는 것을 의미할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 여러 개의 MLCC 칩이 배치될 수 있다. The plurality of second chips (C2) disposed on the all-in-one chip-on-film flexible circuit board (100) may include at least one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, Can be placed. For example, a plurality of MLCC chips may be disposed on a flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on film.

또한, 상기 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 둘을 포함할 수 있다. 즉, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 서로 다른 종류의 복수 개의 제 2 칩(C2a, C2b)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 어느 하나의 제 2 칩(C2a) 및 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 상기 어느 하나와 다른 하나의 제 2 칩(C2b)을 포함할 수 있다.The second chip C2 may include at least two of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor. That is, a plurality of second chips C2a and C2b of different kinds may be disposed on the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film. For example, a second chip (C2a) of any one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor and a diode chip, A power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor.

자세하게, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 어느 하나의 제 2 칩(C2a)이 복수 개로 배치될 수 있고, 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 상기 어느 하나와 다른 하나의 제 2 칩(C2b)이 복수 개로 배치되는 것을 포함할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 복수 개의 MLCC 칩(C2a) 및 복수 개의 전원 IC 칩(C2b)을 포함할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 복수 개의 MLCC 칩(C2a) 및 복수 개의 다이오드 칩(C2b)을 포함할 수 있다. 일례로, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에는 복수 개의 MLCC 칩(C2a) 및 복수 개의 BGA 칩(C2b)을 포함할 수 있다.In detail, a plurality of second chips (C2a) of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, and a chip capacitor can be arranged on the all-in-one chip- And a plurality of second chips (C2b) different from any one of the diode chip, the power IC chip, the touch sensor IC chip, the MLCC chip, the BGA chip, and the chip capacitor may be disposed. For example, the MLCC chip C2a and the plurality of power IC chips C2b may be provided on the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100. [ For example, a plurality of MLCC chips C2a and a plurality of diode chips C2b may be formed on a flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film. For example, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film may include a plurality of MLCC chips C2a and a plurality of BGA chips C2b.

실시예에서 상기 제 2 칩의 종류가 2개로 제한되는 것은 아니며, 구동 IC 칩을 제외한 다양한 칩이 모두 제 2 칩에 포함될 수 있음은 물론이다. It is needless to say that the second chip is not limited to two types in the embodiment, and various chips other than the driving IC chip may be included in the second chip.

상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일단은 디스플레이 패널(30)과 연결될 수 있다. 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일단은 디스플레이 패널(30)과 접착층(50)에 의해서 연결될 수 있다. 자세하게, 상기 접착층(50)의 상면에는 상기 디스플레이 패널(30)이 배치되고, 상기 접착층(50)의 하면에는 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 상기 접착층(50)을 사이에 두고 상, 하로 합착될 수 있다. One end of the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip-on-film may be connected to the display panel 30. One end of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 may be connected to the display panel 30 by an adhesive layer 50. The display panel 30 is disposed on the upper surface of the adhesive layer 50 and the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip on film may be disposed on the lower surface of the adhesive layer 50. Accordingly, the display panel 30 and the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip-on-film can be adhered upward and downward with the adhesive layer 50 interposed therebetween.

상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상기 일단과 반대되는 타단은 메인보드(40)와 연결될 수 있다. 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상기 일단과 반대되는 타단은 메인보드(40)와 접착층(50)에 의해서 연결될 수 있다. 자세하게, 상기 접착층(50)의 상면에는 메인보드(40)가 배치되고, 상기 접착층(50)의 하면에는 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)이 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 메인보드(40) 및 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 상기 접착층(50)을 사이에 두고 상, 하로 합착될 수 있다.The other end opposite to the one end of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 may be connected to the main board 40. The other end opposite to the one end of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 may be connected to the main board 40 by an adhesive layer 50. The main board 40 is disposed on the upper surface of the adhesive layer 50 and the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip on film may be disposed on the lower surface of the adhesive layer 50. Accordingly, the main board 40 and the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip-on-film can be adhered up and down with the adhesive layer 50 interposed therebetween.

상기 접착층(50)은 전도성 물질을 포함할 수 있다. 상기 접착층(50)은 전도성 입자가 접착 물질 내에 분산된 것일 수 있다. 예를 들어, 상기 접착층(50)은 이방성 전도성 필름(ACF)일 수 있다. The adhesive layer 50 may include a conductive material. The adhesive layer 50 may be one in which the conductive particles are dispersed in the adhesive material. For example, the adhesive layer 50 may be an anisotropic conductive film (ACF).

이에 따라, 상기 접착층(50)은 디스플레이 패널(30), 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 및 상기 메인보드(40) 사이의 전기적인 신호를 전달함과 별도의 구성요소를 안정적으로 연결할 수 있다.Accordingly, the adhesive layer 50 transmits electric signals between the display panel 30, the flexible circuit board 100 for the all-in-one chip-on-film and the main board 40, You can connect.

도 4 내지 도 6를 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지의 제조공정을 설명한다. 4 to 6, a manufacturing process of a chip package including a flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment will be described.

도 4를 참조하면, 기판(100)의 일면 상에 패턴 패턴층(120), 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)을 포함하는 전도성 패턴부(CP), 및 보호층(140)을 배치하여, 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 준비할 수 있다.4, a conductive pattern portion CP including a pattern pattern layer 120, a first plating layer 131 and a second plating layer 132, and a protective layer 140 are formed on one surface of a substrate 100, So that a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film can be prepared.

이때, 상기 보호층(140)은 제 1 오픈 영역(OA1) 및 제 2 오픈 영역(OA2)을 포함할 수 있다. At this time, the passivation layer 140 may include a first open area OA1 and a second open area OA2.

상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서는 상기 제 2 도금층(132)이 노출될 수 있다. 또한, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서는 상기 제 2 도금층(132)이 노출될 수 있다. And the second plating layer 132 may be exposed in the first open area OA1. In addition, the second plating layer 132 may be exposed in the second open area OA2.

도 5 및 도 6을 참조하여, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 1 칩(C1)을 배치하는 제 1 단계, 및 제 2 칩(C2)을 배치하는 제 2 단계를 설명한다. 5 and 6, a first step of disposing the first chip C1 and a second step of disposing the second chip C2 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment will be described do.

먼저, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 1 칩(C1)을 배치하는 단계를 설명한다. First, the step of disposing the first chip (C1) on the flexible circuit board for all-in-one chip-on film according to the embodiment will be described.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판의 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에는 제 1 접속부(70)가 배치될 수 있다. The first connection portion 70 may be disposed in the first open area OA1 of the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment.

상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132 a)은 순수 주석층을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 70 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 90 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 95 원자% 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 98 원자% 이상일 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132)의 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 미만인 경우에는 상기 접속부(70)에 의한 상기 제 2 도금층(132) 및 상기 제 1 칩(C1)의 연결이 어려울 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 2 도금층(132)의 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 미만인 경우에는 상기 접속부(70)에 의한 상기 제 2 도금층(132) 및 상기 제 1 칩(C1)의 본딩에 의한 연결이 어려울 수 있다. The content of tin (Sn) in the second plating layer 132a in the first open region OA1 may be 50 atomic% or more. In the first open area OA1, the second plating layer 132a may include a pure tin layer. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132a in the first open area OA1 may be 70 atomic% or more. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132a in the first open area OA1 may be 90 atomic% or more. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132a in the first open area OA1 may be 95 atomic% or more. For example, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132a in the first open area OA1 may be 98 atomic% or more. When the content of tin (Sn) in the second plating layer 132 in the first open region OA1 is less than 50 atomic%, the second plating layer 132 and the first chip C1 may be difficult to connect. When the content of tin (Sn) in the second plating layer 132 in the first open area OA1 is less than 50 at.%, The second plating layer 132 and the first The connection by the bonding of the chip C1 may be difficult.

상기 제 1 접속부(70)는 금(Au)을 포함할 수 있다. 상기 제 1 접속부(70)는 골드 범프일 수 있다. The first connection part 70 may include gold (Au). The first connection part 70 may be a gold bump.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 하나의 제 1 칩(C1)을 배치하기 위해서는 복수 개의 상기 제 1 접속부(70)가 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 도금층(132a) 사이에 배치될 수 있다. In order to dispose one first chip C1 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, a plurality of the first connection portions 70 may be formed on the first chip C1 and the second plating layer 132a, As shown in FIG.

상기 제 1 오픈 영역(OA1)의 상기 제 2 도금층(132)은 주석(Sn)의 함량이 50 원자% 이상임에 따라, 금(Au)을 포함하는 상기 제 1 접속부(70)와 밀착특성이 우수할 수 있다. 실시에에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 상기 제 1 접속부(70)를 통해 상기 제 1 칩(C1)과 전도성 패턴의 전기적인 연결이 우수할 수 있어, 신뢰성이 향상될 수 있다. The second plating layer 132 of the first open area OA1 has a tin (Sn) content of 50 atomic% or more, and thus has excellent adhesion properties to the first connection part 70 including gold (Au) can do. The chip package including the all-in-one chip-on-film flexible circuit board according to the embodiment can have excellent electrical connection between the conductive pattern and the first chip (C1) through the first connection portion (70) .

다음으로, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 2 칩(C2)을 배치하는 단계를 설명한다. Next, the step of disposing the second chip (C2) on the flexible circuit board for all-in-one chip-on film according to the embodiment will be described.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에는 제 2 접속부(80)가 배치된다. The second connection portion 80 is disposed in the second open area OA2 of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board according to the embodiment.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 제 2 칩(C2)을 배치하기 위해서는, 마스크(M)를 통해서 제 2 접속부(80)가 배치되는 영역과 대응되는 부분에만 선택적으로 열(H)을 공급할 수 있다. 자세하게, 실시예는 선택적인 리플로우(selective reflow) 공정을 통해서 제 2 칩(C2)을 연결하기 위한 제 2 접속부(80)가 배치되는 영역에 선택적으로 열의 공급을 할 수 있다. In order to arrange the second chip C2 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, only the portion corresponding to the region where the second connection portion 80 is arranged via the mask M, ). In detail, the embodiment can selectively supply heat to a region where the second connection portion 80 for connecting the second chip C2 is disposed through an optional reflow process.

자세하게, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 상기 제 1 칩(C1)을 실장한 이후에 제 2 칩(C2)을 배치하는 경우에도, 선택적인 리플로우(selective reflow) 공정을 통한 부분적인 열공급이 가능할 수 있다. In detail, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can be manufactured by a selective reflow process even when the second chip C2 is disposed after the first chip C1 is mounted Partial heat supply may be possible.

즉, 실시예에 따른 제조 공정은 마스크를 통해 상기 제 1 오픈 영역(OA)이 열이 노출되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 오픈 영역(OA)에 배치되는 상기 제 2 도금층이 열 공급에 의하여 순수 주석층으로부터 주석 및 구리의 합금층으로 변성되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 서로 다른 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)을 실장하는 경우에도, 상기 제 1 오픈 영역에서 상기 제 2 도금층(132a)의 주석(Sn)의 함량은 50 원자% 이상일 수 있어, 구동 IC 칩의 조립(assembly)이 우수할 수 있다. That is, the fabrication process according to the embodiment can prevent heat from being exposed to the first open region OA through the mask. Accordingly, the second plating layer disposed in the first open region OA can be prevented from being denatured from the pure tin layer to the alloy layer of tin and copper by heat supply. Thus, even when the first chip C1 and the second chip C2, which are different from each other, are mounted on the flexible circuit board 100 for one all-in-one chip-on film, the second plating layer 132a may be 50 atomic% or more, and the assembly of the driving IC chip may be excellent.

한편, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)과 대응되는 영역에 마스크의 홀이 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 열에 의해 노출되는 도금층은 주석 및 구리의 합금층으로 변성될 수 있다. On the other hand, a hole of a mask may be disposed in an area corresponding to the second open area OA2. Accordingly, the plating layer exposed by heat in the second open area OA2 may be denatured as an alloy layer of tin and copper.

자세하게, 마스크의 홀을 통해 열에 의해 노출되는 상기 제 2 도금층(132)의 일 부분은 주석/구리의 확산현상이 추가적으로 진행될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 2 도금층(132b)의 주석(Sn)의 함량은 50 원자% 미만일 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 2 도금층(132b)은 구리(Cu) 및 주석(Sn)의 합금층일 수 있다. In detail, a part of the second plating layer 132 exposed by the heat through the hole of the mask may further undergo diffusion of tin / copper. Accordingly, the content of tin (Sn) in the second plating layer 132b in the second open region OA2 may be less than 50 atomic%. In the second open area OA2, the second plating layer 132b may be an alloy layer of copper (Cu) and tin (Sn).

상기 제 2 접속부(80)는 금(Au) 이외의 금속을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 2 접속부(80)의 하부에 위치한 상기 제 2 도금층(132b)이 순수 주석층이 아닌 경우에도, 상기 제 2 칩(C2)과의 조립 성능이 우수할 수 있다. 또한, 상기 제 2 접속부(80)는 금(Au) 이외의 금속을 포함할 수 있어, 제조 비용을 저감시킬 수 있다. The second connection portion 80 may include a metal other than Au. Accordingly, even if the second plating layer 132b located below the second connecting portion 80 is not a pure tin layer, the second connecting portion 80 can be easily assembled with the second chip C2 It can be excellent. In addition, the second connection portion 80 may include a metal other than gold (Au), thereby reducing the manufacturing cost.

예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)는 구리(Cu), 주석(Sn), 알루미늄(Al), 아연(Zn), 인듐(In), 납(Pb), 안티몬(Sb), 비스무트(bi), 은(Ag), 니켈(Ni) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. For example, the second connection part 80 may be formed of at least one selected from the group consisting of Cu, Sn, Al, Zn, In, Pb, Sb, ), Silver (Ag), and nickel (Ni).

상기 제 2 접속부(80)는 솔더 범프일 수 있다. 상기 제 2 접속부(80)는 솔더볼일 수 있다. 상기 리플로우 공정의 온도에서 솔더볼은 용융될 수 있다. The second connection portion 80 may be a solder bump. The second connection unit 80 may be a solder ball. The solder ball can be melted at the temperature of the reflow process.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판에 하나의 제 2 칩(C2)을 배치하기 위해서는 복수 개의 상기 제 2 접속부(80)가 상기 제 2 칩(C2) 및 상기 제 2 도금층(132b) 사이에 배치될 수 있다. In order to dispose one second chip C2 on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, a plurality of the second connecting portions 80 may be formed on the second chip C2 and the second plating layer 132b, As shown in FIG.

상기 리플로우 공정의 온도에서, 제 2 칩(C2)은 제 2 접속부(80)를 통해 상기 제 2 오픈 영역(OA2) 상의 제 2 도금층(132b)과 우수한 본딩이 가능할 수 있다. At the temperature of the reflow process, the second chip C2 can be bonded with the second plating layer 132b on the second open area OA2 through the second connection part 80 with good bonding.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 상기 제 1 오픈 영역에서 제 1 접속부(70)를 통해 상기 제 1 칩(C1)의 연결이 우수한 동시에, 제 2 오픈 영역에서 제 2 접속부(80)를 통해 상기 제 2 칩(C2)의 연결이 우수할 수 있다. The flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment is excellent in the connection of the first chip C1 through the first connection portion 70 in the first open region and the second connection portion 80 The connection of the second chip C2 can be excellent.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 제 1 오픈 영역(OA1) 및 제 2 오픈 영역(OA2)에 서로 다른 Sn 함량을 가지는 도금층을 포함할 수 있어, 상기 제 1 칩(C1)의 조립 성능이 우수한 동시에, 상기 제 2 칩(C2)의 조립 성능이 우수할 수 있다.The flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment may include a plating layer having a different Sn content in the first open area OA1 and the second open area OA2, The assembly performance is excellent, and the assembling performance of the second chip (C2) can be excellent.

비교예와 같이, 제 1 인쇄회로기판에 제 1 칩을 실장하고, 제 2 인쇄회로기판에 제 2 칩을 실장한 이후에, 제 1 칩을 구비한 제 1 인쇄회로기판과 제 2 칩을 구비한 제 2 인쇄회로기판을 접착층으로 본딩하는 경우에는 제 1 칩의 열적 변성에 의한 문제가 발생하지 않을 수 있다.As in the comparative example, after the first chip is mounted on the first printed circuit board and the second chip is mounted on the second printed circuit board, the first printed circuit board having the first chip and the second chip are provided In the case of bonding a second printed circuit board to an adhesive layer, there may be no problem caused by thermal degeneration of the first chip.

그러나, 실시예와 같이 하나의 기판 상에 서로 다른 제 1 칩 및 제 2 칩을 실장하는 경우에는 제 1 칩을 연결하기 위한 보호층의 제 1 오픈 영역에서 제 2 도금층이 열에 의하여 변성됨에 따라, 제 1 접속부에 의한 제 1 칩의 조립이 어려운 문제점이 있었다. However, when the first and second chips, which are different from each other, are mounted on one substrate as in the embodiment, the second plating layer is deformed by heat in the first open region of the protective layer for connecting the first chip, There is a problem that it is difficult to assemble the first chip by the first connecting portion.

발명자는 이와 같은 문제를 해결하기 위해서, 선택적인 리플로우 공정을 통해 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 상에 제 1 칩 및 제 2 칩을 차례로 배치하였다. 이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지는 제 1 오픈 영역에서의 상기 제 2 도금층의 주석의 함량과, 제 1 오픈 영역에서의 상기 제 2 도금층의 주석의 함량이 다를 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지는 서로 다른 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)의 우수한 전기적 연결이 가능할 수 있다. In order to solve such a problem, the inventors arranged the first chip and the second chip sequentially on the flexible circuit board for all-in-one chip-on film through an optional reflow process. Accordingly, the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film and the chip package including the same according to the embodiment can reduce the content of tin in the second plated layer in the first open region and the content of tin in the second plated layer in the first open region, May be different. Therefore, the chip package including the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can provide excellent electrical connection between the first chip C1 and the second chip C2 which are different from each other.

상기 제 1 오픈 영역에서의 순수 주석층을 포함하는 상기 제 2 도금층은 금(Au)을 포함하는 제 1 접속부를 통해 구동 IC 칩인 제 1 칩의 안정적인 실장이 가능할 수 있다. 또한, 상기 제 2 오픈 영역에서의 구리 및 주석 합금층을 포함하는 상기 제 2 도금층은 금(Au) 이외의 금속을 포함하는 제 2 접속부를 통해 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 적어도 하나인 제 2 칩의 안정적인 실장이 가능할 수 있다.The second plating layer including the pure tin layer in the first open region can be stably mounted on the first chip, which is a driving IC chip, through a first connection portion including gold (Au). Also, the second plating layer including the copper and tin alloy layer in the second open region may be a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC A stable mounting of a second chip, which is at least one of a chip, a BGA chip, and a chip capacitor, may be possible.

이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패키지는 하나의 올인원 연성 회로기판 상에 서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩의 실장이 우수한 수율로 가능할 수 있다. Accordingly, the flexible circuit board for all-in-one chip-on-film and the chip package including the all-in-one chip-on-film according to the embodiments can be mounted on one all-in-one flexible circuit board with excellent yields of first and second chips .

또한, 기존의 복수 개의 인쇄회로기판을 하나의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판으로 대체할 수 있어, 디스플레이 패널과 메인보드를 연결하기 위한 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 소형화 및 박형화가 가능할 수 있다. In addition, since a plurality of existing printed circuit boards can be replaced by a flexible circuit board for one all-in-one chip-on-film, miniaturization and thinning of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board for connecting the display panel and the main board have.

따라서, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 전자 디바이스는 카메라 모듈, 홍체 인식 모듈 등과 같이 다양한 기능부의 탑재가 용이할 수 있다. 또한, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판를 포함하는 전자 디바이스는 배터리 공간을 확장할 수 있다. Therefore, the electronic device including the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film of the embodiment can easily mount various functional parts such as a camera module, an iris recognition module and the like. Further, the electronic device including the flexible circuit board for an all-in-one chip-on film of the embodiment can expand the battery space.

또한, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 롤투롤 공정을 통하여 제조할 수 있고, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 상의 칩의 실장은 선택적인 리플로우 공정을 통해 가능할 수 있어, 제조 공정의 편의성 및 제조 수율이 향상될 수 있다.In addition, the flexible circuit board for all-in-one chip-on-film can be manufactured through a roll-to-roll process, and chip mounting on the all-in-one chip-on-film flexible circuit board can be achieved through a selective reflow process, The manufacturing yield can be improved.

앞서 살펴본 바와 같이, 단면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지는 제 1 칩, 제 2 칩, 디스플레이 패널 및 메인보드가 모두 동일한 일면에 연결될 수 있다. As described above, the first chip, the second chip, the display panel, and the main board may all be connected to the same side of the chip package including the flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film.

이와 같은 단면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판는 고해상도(QHD)를 가지는 회로를 구현하기 어려울 수 있다. It is difficult to realize a circuit having high resolution (QHD).

최근, 스마트폰, 텔레비전, 모니터, 전자종이, 웨어러블 디바이스 등의 디스플레이부를 가지는 다양한 전자 디바이스는 고해상도 디스플레이를 구현이 요구된다. 2. Description of the Related Art Recently, various electronic devices having a display portion such as a smart phone, a television, a monitor, an electronic paper, and a wearable device are required to realize a high resolution display.

이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 양면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함할 수 있다.Accordingly, the flexible circuit board for all-in-one chip-on film according to the embodiment can include the flexible circuit board for both-side all-in-one chip-on film.

양면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판은 고해상도 디스플레이를 구현하기 위해서, 전도성 패턴층이 기판의 양면에 위치할 수 있다. In order to realize a high resolution display, the conductive pattern layer can be located on both sides of the substrate.

도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9 및 도 10을 참조하여, 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 설명한다. 앞서 설명한 단면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판과 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 도면을 부여한다. 각각의 구성요소의 두께, 각각의 구성요소의 물질 등 앞서 설명한 것과 중복되는 설명은 제외한다. Referring to Figs. 7, 8A, 8B, 9, and 10, a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment will be described. The same components as those of the above-described flexible circuit board for a cross-sectional all-in-one chip-on film are given the same drawings. The thickness of each component, the material of each component, etc., are not included.

도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9는 제 1 칩의 실장을 중심으로 도시한 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 다양한 단면도이다. 즉, 도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9는 제 1 칩을 실장하기 위한 제 1 전도성 패턴부의 다양한 단면 구조를 설명하기 위한 도면들이다.Figs. 7, 8A, 8B, and 9 are various cross-sectional views of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment centered on mounting of a first chip. That is, FIGS. 7, 8A, 8B, and 9 are views for explaining various cross-sectional structures of the first conductive pattern portion for mounting the first chip.

도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9 및 도 10을 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 양면 상에 전극 패턴부를 가지는 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판일 수 있다. Referring to FIGS. 7, 8A, 8B, 9, and 10, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film It may be a flexible circuit board for an all-in-one chip-on film.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름(All in one chip on film)용 연성 회로기판(100)은 기판(110), 상기 기판(110) 상에 배치되는 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 포함할 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip on film according to the embodiment includes a substrate 110, a wiring pattern layer 120 disposed on the substrate 110, a plating layer 130, And may include a protective layer 140.

실시예에 따른 기판(110)의 일면 상에 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 배치한 후, 상기 일면과 반대되는 타면 상에 배선 패턴층(120), 도금층(130) 및 보호층(140)을 배치할 수 있다. The wiring pattern layer 120, the plating layer 130, and the protective layer 140 are disposed on one surface of the substrate 110 according to the embodiment, and then the wiring pattern layer 120, the plating layer 130, A protective layer 130 and a protective layer 140 may be disposed.

즉, 실시예에 따른 기판(110)의 일면 상에 상부 배선 패턴층, 상부 도금층 및 상부 보호층이 배치될 수 있고, 상기 일면과 반대되는 타면 상에 하부 배선 패턴층, 하부 도금층 및 하부 보호층이 배치될 수 있다. That is, the upper wiring pattern layer, the upper plating layer, and the upper protective layer may be disposed on one surface of the substrate 110 according to the embodiment, and the lower wiring pattern layer, the lower plating layer, Can be arranged.

상부 배선 패턴층은 하부 배선 패턴층과 서로 대응되는 금속 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 다른 전도성 물질을 포함할 수 있음은 물론이다. The upper wiring pattern layer may include a metal material corresponding to the lower wiring pattern layer. Thus, the process efficiency can be improved. However, it should be understood that the embodiments are not limited thereto and may include other conductive materials.

상부 배선 패턴층의 두께는 하부 배선 패턴층의 두께와 서로 대응될 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다.The thickness of the upper wiring pattern layer may correspond to the thickness of the lower wiring pattern layer. Thus, the process efficiency can be improved.

상부 도금층은 하부 도금층과 서로 대응되는 금속 물질을 포함할 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 다른 전도성 물질을 포함할 수 있음은 물론이다.The upper plating layer may include a metal material corresponding to the lower plating layer. Thus, the process efficiency can be improved. However, it should be understood that the embodiments are not limited thereto and may include other conductive materials.

상부 도금층의 두께는 하부 도금층의 두께와 서로 대응될 수 있다. 이에 따라, 공정 효율이 향상될 수 있다.The thickness of the upper plating layer may correspond to the thickness of the lower plating layer. Thus, the process efficiency can be improved.

상기 기판(110)은 관통홀을 포함할 수 있다. 상기 기판(110)은 복수 개의 관통홀을 포함할 수 있다. 상기 기판(110)의 복수 개의 관통홀은 기계적인 공정 또는 화학적인 공정에 의해서 각각 또는 동시에 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(110)의 복수 개의 관통홀은 드릴 공정 또는 식각 공정에 의해서 형성될 수 있다. 일례로, 상기 기판의 관통홀은 레이저를 통한 펀칭 및 디스미어 공정을 통해 형성될 수 있다. 상기 디스미어 공정은 상기 관통홀의 내측면에 부착된 폴리이미드 스미어를 제거하는 공정일 수 있다. 상기 디스미어 공정에 의해, 상기 폴리이미드 기판의 내측면은 직선과 유사한 경사면을 가질 수 있다.The substrate 110 may include through holes. The substrate 110 may include a plurality of through holes. The plurality of through holes of the substrate 110 may be formed individually or simultaneously by a mechanical process or a chemical process. For example, the plurality of through holes of the substrate 110 may be formed by a drilling process or an etching process. For example, the through-holes of the substrate may be formed through laser punching and desmearing processes. The desmearing step may be a step of removing the polyimide smear attached to the inner surface of the through hole. By the desmearing process, the inner surface of the polyimide substrate may have a slope similar to a straight line.

상기 기판(110) 상에는 배선 패턴층(120), 도금층(130), 및 보호층(140)이 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 기판(110)의 양면 상에는 배선 패턴층(120), 도금층(130), 및 보호층(140)이 각각 차례대로 배치될 수 있다. The wiring pattern layer 120, the plating layer 130, and the protective layer 140 may be disposed on the substrate 110. In detail, the wiring pattern layer 120, the plating layer 130, and the protective layer 140 may be sequentially arranged on the both surfaces of the substrate 110.

상기 배선 패턴층(120)은 증착(evaporation), 도금(plating), 스퍼터링(sputtering) 중 적어도 하나의 방법으로 형성될 수 있다. The wiring pattern layer 120 may be formed by at least one of evaporation, plating, and sputtering.

일례로, 회로를 형성하기 위한 배선층은 스퍼터링 후 전해도금에 의하여 형성될 수 있다. 일례로, 회로를 형성하기 위한 배선층은 무전해 도금에 의해 형성된 구리 도금층일 수 있다. 또는, 상기 배선층은 무전해 도금에 및 전해 도금에 의해 형성된 구리 도금층일 수 있다. For example, a wiring layer for forming a circuit can be formed by electrolytic plating after sputtering. For example, the wiring layer for forming the circuit may be a copper plated layer formed by electroless plating. Alternatively, the wiring layer may be a copper-plated layer formed by electroless plating and electrolytic plating.

다음으로, 상기 배선층 상에 드라이필름을 라미네이션한 다음, 노광, 현상 및 에칭 공정을 통해, 연성회로기판의 양면, 즉 상면과 하면에 패턴화된 배선층을 형성할 수 있다. 이에 따라, 상기 배선 패턴층(120)을 형성할 수 있다. Next, a patterned wiring layer can be formed on both sides of the flexible circuit board, that is, on the upper and lower surfaces of the flexible circuit board through lamination of a dry film on the wiring layer, and exposure, development and etching. Thus, the wiring pattern layer 120 can be formed.

상기 기판(110)을 관통하는 비아홀(V1, V2, V3)의 내부에는 전도성 물질이 채워질 수 있다. 비아홀의 내부에 채워지는 전도성 물질은 상기 배선 패턴층(120)과 서로 대응되거나 서로 다른 전도성 물질일 수 있다. 예를 들어, 비아홀의 내부에 채워지는 전도성 물질은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 은(Ag), 몰리브덴(Mo). 금(Au), 티타튬(Ti) 및 이들의 합금 중 적어도 하나의 금속을 포함할 수 있다. 상기 기판(110)의 상면의 전도성 패턴부(CP)의 전기적인 신호는 상기 비아홀에 채워진 전도성 물질을 통해서 상기 기판(110)의 하면의 전도성 패턴부(CP)에 전달될 수 있다.Conductive materials may be filled in the via holes V1, V2, and V3 passing through the substrate 110. [ The conductive material filled in the via hole may be a conductive material corresponding to or different from the wiring pattern layer 120. For example, the conductive material filled in the via hole is copper (Cu), aluminum (Al), chromium (Cr), nickel (Ni), silver (Ag), molybdenum (Mo). Gold (Au), titanium (Ti), and alloys thereof. The electrical signal of the conductive pattern CP on the upper surface of the substrate 110 may be transmitted to the conductive pattern CP of the lower surface of the substrate 110 through the conductive material filled in the via hole.

그 다음으로, 상기 배선 패턴층(120) 상에는 도금층(130)이 형성될 수 있다. Next, a plating layer 130 may be formed on the wiring pattern layer 120.

그 이후에는, 전도성 패턴부(CP) 상에 보호부(PP)을 스크린 인쇄할 수 있다. Thereafter, the protective portion PP can be screen printed on the conductive pattern portion CP.

전도성 패턴부(CP)는 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 도금층(130)를 포함할 수 있다. 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 대응되거나 서롤 다를 수 있다. 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적과 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. The conductive pattern portion CP may include the wiring pattern layer 120 and the plating layer 130. The area of the wiring pattern layer 120 may correspond to or different from that of the plating layer 130. The area of the first plating layer 131 may correspond to the area of the second plating layer 132 or may be different from each other.

도 7을 참조하면, 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 대응될 수 있다. 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적과 서로 대응될 수 있다. Referring to FIG. 7, the area of the wiring pattern layer 120 may correspond to the plating layer 130. The area of the first plating layer 131 may correspond to the area of the second plating layer 132.

도 8을 참조하면, 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 다를 수 있다. 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 제 1 도금층(131)의 면적과 대응될 수 있다. 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적과 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 도금층(131)의 면적은 상기 제 2 도금층(132)의 면적보다 클 수 있다. Referring to FIG. 8, the area of the wiring pattern layer 120 may be different from that of the plating layer 130. The area of the wiring pattern layer 120 may correspond to the area of the first plating layer 131. The area of the first plating layer 131 may be different from the area of the second plating layer 132. For example, the area of the first plating layer 131 may be larger than the area of the second plating layer 132.

도 9를 참조하면, 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 다를 수 있다. Referring to FIG. 9, the area of the wiring pattern layer 120 may be different from that of the plating layer 130.

도 10을 참조하면, 상기 기판(110)의 일면에서 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 다르고, 상기 기판(110)의 타면에서 상기 배선 패턴층(120)의 면적은 상기 도금층(130)과 서로 대응될 수 있다. 10, the area of the wiring pattern layer 120 on one side of the substrate 110 is different from that of the plating layer 130 and the area of the wiring pattern layer 120 on the other side of the substrate 110 May correspond to the plating layer (130).

상기 보호층(140)은 상기 기판(110) 상에 직접 접촉하며 배치되거나, 상기 배선 패턴층(120) 상에 직접 접촉하며 배치되거나, 상기 제 1 도금층(131) 상에 직접 접촉하며 배치되거나, 상기 제 2 도금층(132) 상에 직접 접촉하며 배치될 수 있다. The protective layer 140 may be disposed in direct contact with the substrate 110 or in direct contact with the wiring pattern layer 120 or in direct contact with the first plating layer 131, And may be disposed in direct contact with the second plating layer 132.

도 7을 참조하면, 상기 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상기 제 1 도금층(131) 상에 상기 제 2 도금층(132)이 형성되고, 상기 제 2 도금층(132) 상에 부분적으로 상기 보호층(140)이 배치될 수 있다. 7, the first plating layer 131 is disposed on the wiring pattern layer 120, the second plating layer 132 is formed on the first plating layer 131, The protective layer 140 may be partially disposed on the protective layer 132.

도 8a, 도 8b를 참조하면, 상기 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상기 제 1 도금층(131) 상에 부분적으로 상기 보호층(140)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 도금층(132)은 상기 도금층(131) 상의 상기 보호층(140)이 배치된 영역 이외의 영역에 배치될 수 있다. 8A and 8B, the first plating layer 131 is disposed on the wiring pattern layer 120 and the protective layer 140 is partially disposed on the first plating layer 131 have. The second plating layer 132 may be disposed in a region other than the region where the protective layer 140 is disposed on the plating layer 131.

상기 보호층(140)의 하면이 접촉하는 상기 제 1 도금층(131)은 구리 및 주석의 합금층일 수 있다. 상기 보호층(140)의 측면과 접촉하는 상기 제 2 도금층(132)은 순수 주석층을 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 보호층(140)과 상기 제 1 도금층(131) 사이에 공동부가 형성됨에 따른 보호층의 탈막을 방지할 수 있고, 위스커의 형성을 방지할 수 있어, 보호층의 밀착력을 높일 수 있다. 따라서, 실시예는 2층의 도금층을 포함할 수 있어, 신뢰성이 높은 전자 디바이스를 제공할 수 있다. The first plating layer 131 contacting the lower surface of the protective layer 140 may be an alloy layer of copper and tin. The second plating layer 132 contacting the side surface of the protective layer 140 may include a pure tin layer. Accordingly, it is possible to prevent the formation of a whisker from the protective layer due to the formation of the cavity between the protective layer 140 and the first plating layer 131, to increase the adhesion of the protective layer have. Therefore, the embodiment can include a two-layer plated layer, thereby providing an electronic device with high reliability.

또한, 상기 배선 패턴층(120) 상에 단일층의 주석 도금층(131)만을 배치하고, 하나의 주석 도금층(131) 상에 보호층(140)을 배치하는 경우에는 보호층(140)의 열 경화시에 상기 주석 도금층(131)이 가열됨에 따라, 상기 주석 도금층(131) 내에 구리가 확산될 수 있다. 이에 따라, 상기 주석 도금층(131)은 주석 및 구리의 합금층이 될 수 있으므로, 골드 범프를 가지는 제 1 칩의 실장이 견고하게 이루어질 수 없는 문제점이 있다. 따라서, 실시예에 따른 도금층(130)은 기판으로부터 멀어질수록 주석의 농도가 연속적으로 증가할 수 있는 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)이 요구된다. When a single tin plating layer 131 is disposed on the wiring pattern layer 120 and the protective layer 140 is disposed on one tin plating layer 131, The copper may be diffused into the tin plating layer 131 as the tin plating layer 131 is heated. Accordingly, since the tin plating layer 131 can be an alloy layer of tin and copper, the first chip having gold bumps can not be mounted firmly. Therefore, the plating layer 130 according to the embodiment requires a first plating layer 131 and a second plating layer 132 which can increase the concentration of tin continuously as the distance from the substrate increases.

도 9를 참조하면, 상기 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상에 상기 제 1 도금층(131) 상에 부분적으로 상기 보호층(140)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 도금층(132)은 상기 도금층(131) 상의 상기 보호층(140)이 배치된 영역 이외의 영역에 배치될 수 있다.9, the first plating layer 131 may be disposed on the wiring pattern layer 120, and the protective layer 140 may be partially disposed on the first plating layer 131 . The second plating layer 132 may be disposed in a region other than the region where the protective layer 140 is disposed on the plating layer 131.

이때, 상기 배선 패턴층(120)은 제 1 배선 패턴층(121) 및 제 2 배선 패턴층(122)을 포함할 수 있다. 즉, 상기 기판 상에는 복수 개의 배선 패턴층이 배치될 수 있다. At this time, the wiring pattern layer 120 may include a first wiring pattern layer 121 and a second wiring pattern layer 122. That is, a plurality of wiring pattern layers may be disposed on the substrate.

또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 상기 기판(110)과 상기 제 1 배선 패턴층(121) 사이에는 상기 기판(110)과 상기 제 1 배선 패턴층(121)의 밀착력을 향상하기 위한 금속 시드층을 더 포함할 수 있다. 이때, 금속 시드층은 스퍼터링에 의해 형성할 수 있다. 금속 시드층은 구리를 포함할 수 있다. A metal seed layer for improving the adhesion between the substrate 110 and the first wiring pattern layer 121 is formed between the substrate 110 and the first wiring pattern layer 121, . At this time, the metal seed layer can be formed by sputtering. The metal seed layer may comprise copper.

상기 제 1 배선 배턴층(121) 및 상기 제 2 배선 패턴층(122)은 서로 대응되거나 서로 다른 공정으로 형성될 수 있다.The first wiring pattern layer 121 and the second wiring pattern layer 122 may correspond to each other or may be formed in different processes.

상기 제 1 배선 배턴층(121)은 0.1㎛ 내지 0.5㎛ 두께로 구리를 스퍼터링하여 형성될 수 있다. 상기 제 1 배선 배턴층(121)은 기판의 상부, 하부 및 관통홀의 내측면에 배치될 수 있다. 이때, 상기 제 1 배선 배턴층(121)의 두께가 얇기 때문에, 관통홀의 내측면은 서로 이격될 수 있다. The first wiring pattern layer 121 may be formed by sputtering copper to a thickness of 0.1 탆 to 0.5 탆. The first wiring pattern layer 121 may be disposed on the top, bottom, and inner surfaces of the through holes. At this time, since the thickness of the first wiring pattern layer 121 is thin, the inner surfaces of the through holes can be spaced apart from each other.

다음으로, 상기 제 2 배선 패턴층(122)은 상기 제 1 배선 패턴층(121) 상에 배치될 수 있다. 또한, 상기 제 2 배선 패턴층(122)은 도금에 의하여 관통홀의 내부에 전체적으로 채워질 수 있다. Next, the second wiring pattern layer 122 may be disposed on the first wiring pattern layer 121. In addition, the second wiring pattern layer 122 may be entirely filled in the through hole by plating.

상기 제 1 배선 패턴층(121)은 스퍼터링에 의하여 형성되기 때문에, 상기 기재(110) 또는 상기 금속 시드층과의 밀착력이 우수한 장점을 가지지만, 제조 비용이 높기 때문에, 상기 제 1 배선 패턴층(121) 상에 다시, 도금에 의한 상기 제 2 배선 패턴층(122)을 형성함으로써, 제조 비용을 저감시킬 수 있다. 또한, 별도로 기판의 관통홀에 전도성 물질을 채우지 않고, 상기 제 1 배선 패턴층(121) 상에 상기 제 2 배선 패턴층(122)을 배치함과 동시에 비아홀 내에 구리가 충진될 수 있으므로, 공정 효율이 향상될 수 있다. 또한, 비아홀 내에 보이드가 형성되는 것을 방지할 수 있어, 신뢰성이 높은 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 전자 디바이스를 제공할 수 있다. Since the first wiring pattern layer 121 is formed by sputtering, the first wiring pattern layer 121 has an excellent adhesion to the substrate 110 or the metal seed layer. However, since the manufacturing cost is high, The second wiring pattern layer 122 by plating is formed on the second wiring pattern layer 121, thereby reducing the manufacturing cost. Since the second wiring pattern layer 122 can be disposed on the first wiring pattern layer 121 and copper can be filled in the via hole without filling the through hole of the substrate separately with the conductive material, Can be improved. In addition, it is possible to prevent formation of voids in the via hole, thereby providing a highly reliable all-in-one flexible circuit board for chip-on-film and an electronic device including the same.

도 10을 참조하면, 상기 기판의 일면에는 복수 개의 보호층(140)이 배치될 수 있다. 상기 보호층은 제 1 보호층(141) 및 제 2 보호층(142)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 10, a plurality of protective layers 140 may be disposed on one surface of the substrate. The protective layer may include a first protective layer 141 and a second protective layer 142.

예를 들어, 상기 기판의 일면 상에 제 1 보호층(141)이 부분적으로 배치되고, 상기 보호층(141)이 배치되는 영역 이외의 영역 상에 상기 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다. For example, the first passivation layer 141 may be partially disposed on one side of the substrate, and the wiring pattern layer 120 may be disposed on a region other than the region where the passivation layer 141 is disposed .

상기 보호층(141) 상에는 상기 제 2 보호층(142)이 배치될 수 있다. 상기 제 2 보호층(142)은 상기 제 1 보호층(141) 및 상기 배선 패턴층(120)을 덮으며, 상기 제 1 보호층(141)보다 큰 영역에 배치될 수 있다. The second passivation layer 142 may be disposed on the passivation layer 141. The second passivation layer 142 covers the first passivation layer 141 and the wiring pattern layer 120 and may be disposed in a region larger than the first passivation layer 141.

상기 보호층(142)은 상기 제 1 보호층(141)의 상면을 감싸면서 상기 보호층(141)과 대응되는 영역 상에 배치될 수 있다. 상기 제 2 보호층(142)의 폭은 상기 보호층(141)보다 클 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 보호층(142)의 하면은 상기 배선 패턴층(120) 및 상기 제 1 보호층(141)과 접촉할 수 있다. 이에 따라, 상기 제 2 보호층(142)은 상기 제 1 보호층(141)과 상기 배선 패턴층(120)의 계면에서 응력이 집중되는 것을 완화할 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 벤딩시 발생할 수 있는 탈막 또는 크랙의 발생을 낮출 수 있다.The protective layer 142 may be disposed on a region corresponding to the protective layer 141 while covering an upper surface of the first protective layer 141. The width of the second protective layer 142 may be greater than the protective layer 141. Accordingly, the lower surface of the second passivation layer 142 may contact the wiring pattern layer 120 and the first passivation layer 141. Accordingly, the second protective layer 142 can relieve stress concentration at the interface between the first passivation layer 141 and the wiring pattern layer 120. Therefore, it is possible to reduce the occurrence of a film or crack that may occur when the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment is bent.

상기 제 2 보호층(142)이 배치되는 영역 이외의 영역에는 상기 도금층(130)이 배치될 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 보호층(142)이 배치되는 영역 이외의 영역에서, 상기 배선 패턴층(120) 상에 상기 제 1 도금층(131)이 배치되고, 상에 상기 제 1 도금층(131) 상에 상기 제 2 도금층(132)이 차례대로 배치될 수 있다.The plating layer 130 may be disposed in a region other than a region where the second protective layer 142 is disposed. The first plating layer 131 is disposed on the wiring pattern layer 120 in a region other than the region where the second protective layer 142 is disposed and the first plating layer 131 is formed on the first plating layer 131 The second plating layer 132 may be disposed in order.

상기 기판의 상기 일면과 반대되는 타면 상에는 배선 패턴층(120)이 배치될 수 있다. 배선 패턴층(120) 상에는 상기 도금층(130)이 배치될 수 있다. 상기 도금층(130) 상에는 부분적으로 보호층(140)이 배치될 수 있다. The wiring pattern layer 120 may be disposed on the other surface opposite to the one surface of the substrate. The plating layer 130 may be disposed on the wiring pattern layer 120. A protective layer 140 may be partially disposed on the plating layer 130.

상기 기판의 일면에 배치되는 보호층과 상기 기판의 타면에 배치되는 보호층의 폭은 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. The widths of the protective layer disposed on one side of the substrate and the protective layer disposed on the other side of the substrate may correspond to each other or may be different from each other.

도면에서는 기판의 일면에만 복수 개의 보호층이 배치되는 것을 도시하였으나, 실시예는 이에 제한되지 않고, 상기 기판의 양면에 각각 복수 개의 보호층을 포함할 수 있음은 물론이다. 또한, 기판의 일면에만 복수 개 또는 하나의 보호층이 배치될 수 있음은 물론이다. Although a plurality of protection layers are disposed on only one side of the substrate, the embodiments are not limited thereto and may include a plurality of protection layers on both sides of the substrate. It goes without saying that a plurality of or only one protective layer may be disposed on only one side of the substrate.

또한, 상기 기판의 일면 또는 양면의 구조는 도 7, 도 8a, 도 9, 도 10 중 적어도 하나에 따른 전도성 패턴부, 보호부의 구조를 조합하여 다양하게 배치할 수 있음은 물론이다. It should be understood that the structure of one side or both sides of the substrate may be variously arranged in combination with the structure of the conductive pattern portion and the protection portion according to at least one of Figs. 7, 8A, 9, and 10.

도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9, 도 11 및 도 12를 참조하여, 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 실장되는 제 1 칩(C1), 디스플레이 패널(30) 및 메인보드(40)와의 연결관계를 설명한다. Referring to FIGS. 7, 8A, 8B, 9, 11, and 12, a first chip C1 mounted on a flexible circuit board 100 for a both- (30) and the main board (40) will be described.

실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 관통홀을 포함하는 기판(100); 상기 관통홀을 포함하는 기판의 양면 상에 각각 배치되는 배선 패턴층(120); 상기 배선 패턴층(120) 상에 배치되는 제 1 도금층(131); 상기 제 1 도금층(131) 상에 배치되는 제 2 도금층(132); 및 상기 배선 패턴층 상에 부분적으로 배치되는 보호층(140)을 포함할 수 있다.The flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment includes a substrate 100 including through-holes; A wiring pattern layer 120 disposed on both surfaces of the substrate including the through holes; A first plating layer 131 disposed on the wiring pattern layer 120; A second plating layer 132 disposed on the first plating layer 131; And a protective layer 140 partially disposed on the wiring pattern layer.

상기 보호층(140)이 형성되는 상기 보호층(140)의 배치 영역은 상기 보호부(PP)일 수 있다. 상기 보호층이 형성되지 않는 상기 보호부(PP) 이외의 영역에서 상기 전도성 패턴부(CP)는 외부로 노출될 수 있다. 즉, 보호층의 오픈 영역 내지 전도성 패턴부 상에 보호부가 배치되지 않는 영역에서 상기 전도성 패턴부(CP)는 상기 제 1 칩(C1), 상기 디스플레이 패널(30) 및 상기 메인보드(40)와 전기적으로 연결될 수 있다. The protection layer 140 may be formed of a protection layer (PP). The conductive pattern CP may be exposed to the outside in a region other than the protective portion PP where the protective layer is not formed. That is, in a region where the protective portion is not disposed on the open region or the conductive pattern portion of the protective layer, the conductive pattern portion CP is electrically connected to the first chip C1, the display panel 30, And can be electrically connected.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 리드 패턴부 및 테스트 패턴부는 보호부와 중첩되지 않을 수 있다. 즉, 상기 리드 패턴부 및 상기 테스트 패턴부는 보호층에 의해 덮여있지 않은 오픈 영역에 위치한 전도성 패턴부를 의미할 수 있고, 기능에 따라서 리드 패턴부 및 테스트 패턴부로 구별될 수 있다. The lead pattern portion and the test pattern portion of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board according to the embodiment may not overlap with the protection portion. That is, the lead pattern portion and the test pattern portion may refer to a conductive pattern portion located in an open region that is not covered by the protective layer, and may be distinguished as a lead pattern portion and a test pattern portion according to functions.

상기 리드 패턴부는 상기 제 1 칩, 상기 제 2 칩, 상기 디스플레이 패널 또는 상기 메인보드와 연결되기 위한 전도성 패턴부를 의미할 수 있다.The lead pattern part may mean a conductive pattern part for connecting with the first chip, the second chip, the display panel, or the main board.

상기 테스트 패턴부는 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 및 이를 포함하는 칩 패지의 제품의 불량여부를 확인하기 위한 전도성 패턴부를 의미할 수 있다.The test pattern unit may refer to a conductive circuit board for all-in-one chip-on-film and a conductive pattern unit for checking whether a product of the chip package including the same is defective or not.

상기 리드 패턴부는 위치에 따라서 이너 리드 패턴부 및 아우터 리드 패턴부로 구별될 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)과 상대적으로 가까이 놓여있고, 보호층에 의해 중첩되지 않는 전도성 패턴부의 일 영역은 이너 리드 패턴부로 표현될 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)과 상대적으로 멀리 놓여있고, 보호층에 의해 중첩되지 않는 전도성 패턴부의 일 영역은 아우터 리드 패턴부로 표현될 수 있다.The lead pattern portion can be distinguished as an inner lead pattern portion and an outer lead pattern portion depending on the position. One region of the conductive pattern portion lying relatively close to the first chip (C1) and not overlapped by the protective layer can be expressed as the inner lead pattern portion. One region of the conductive pattern portion that is relatively far from the first chip C1 and is not overlapped by the protective layer may be represented by an outer lead pattern portion.

도 7, 도 8a, 도 8b, 도 9, 도 11 및 도 12를 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a), 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b), 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c) 및 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d)를 포함할 수 있다.7, 8A, 8B, 9, 11 and 12, the flexible printed circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment includes a first sub first inner lead pattern portion I1a, The second sub first inner lead pattern portion I1b, the third sub first inner lead pattern portion I1c, and the fourth sub first inner lead pattern portion I1d.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a), 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b), 제 3 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1c) 및 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d)를 포함할 수 있다. The flexible printed circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment includes a first sub first outer lead pattern portion O1a, a second sub first outer lead pattern portion O1b, a third sub first outer lead pattern O1b, And a fourth sub first outer lead pattern portion O1d.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제 1 테스트 패턴부 (T1) 및 제 2 테스트 패턴부 (T2)를 포함할 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment may include a first test pattern portion T1 and a second test pattern portion T2.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a), 상기 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b), 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c), 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a), 및 상기 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b)가 배치될 수 있다.On one surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board 100 according to the embodiment, the first sub first first inner lead pattern portion I1a, the second sub first first inner lead pattern portion I1b, The first inner lead pattern portion I1c, the first sub first outer lead pattern portion O1a, and the second sub first outer lead pattern portion O1b may be disposed.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상기 일면과 반대되는 타면 상에는 상기 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d), 상기 제 3 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1c), 상기 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d), 상기 제 1 테스트 패턴부(T1) 및 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)를 포함할 수 있다. The fourth sub first inner lead pattern portion I1d and the third sub first outer lead pattern portion O1c are formed on the other surface of the flexible circuit board 100 for all-in-one chip-on- The fourth sub first outer lead pattern portion 01d, the first test pattern portion T1, and the second test pattern portion T2.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 제 1 접속부(70)를 통해, 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a), 상기 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b) 또는 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)와 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 according to the embodiment is connected to the first sub first inner lead pattern portion I1a ), The second sub first inner lead pattern portion (I1b), or the third sub first inner lead pattern portion (I1c).

상기 제 1 접속부(70)는 위치 및/또는 기능에 따라, 제 1 서브 제 2 접속부(71), 제 2 서브 제 1 접속부(72) 및 제 3 서브 제 1 접속부(73)를 포함할 수 있다. The first connection part 70 may include a first sub second connection part 71, a second sub first connection part 72 and a third sub first connection part 73 depending on the position and / .

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 1 서브 제 1 접속부(71)를 통해 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip (C1) disposed on one surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board (100) according to the embodiment is connected to the first sub first underlayers And may be electrically connected to the portion I1a.

상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)는 상기 기판(110)의 상면을 따라 제 2 비아홀(V2)과 인접한 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)까지 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 2 비아홀(V2) 및 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)는 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a) 및 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)는 일 방향으로 연장되는 전도성 패턴부의 일단 및 타단일 수 있다. The first sub first inner lead pattern portion I1a may transmit an electrical signal to the first sub first outer lead pattern portion O1a adjacent to the second via hole V2 along the upper surface of the substrate 110 have. The second via hole V2 and the first sub first outer lead pattern portion O1a may be electrically connected to each other. That is, the first sub first inner lead pattern portion I1a and the first sub first outer lead pattern portion O1a may have one end and one end of the conductive pattern portion extending in one direction.

예를 들어, 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a) 상에는 상기 메인보드(40)가 접착층(50)을 통해 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 칩으로부터 전달되는 신호는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a) 및 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)를 거쳐 상기 메인보드(40)에 까지 전달될 수 있다. For example, the main board 40 may be connected to the first sub first outer lead pattern part O1a through an adhesive layer 50. [ Accordingly, a signal transmitted from the first chip is transmitted to the main board 40 through the first sub first first inner lead pattern portion I1a and the first sub first outer lead pattern portion O1a, .

또한, 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)는 상기 기판(110)의 상면을 따라 제 2 비아홀(V2)까지 전기적으로 연결되고, 상기 제 2 비아홀(V2)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 기판(110)의 하면을 따라 상기 제 2 비아홀(V2)에 인접한 제 3 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1c)까지 전기적인 신호를 전달 할 수 있다. 상기 제 2 비아홀(V2)은 상기 제 3 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1c)와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 도면에는 도시하지 않았으나, 상기 제 3 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1c) 상에 상기 메인보드(40)가 접착층(50)을 통해 전기적으로 연결될 수 있음은 물론이다. The first sub first inner lead pattern portion I1a is electrically connected to the second via hole V2 along the upper surface of the substrate 110 and the conductive material filled in the second via hole V2 To the third sub first outer lead pattern part O1c adjacent to the second via hole V2 along the lower surface of the substrate 110. [ The second via hole V2 may be electrically connected to the third sub first outer lead pattern portion O1c. Accordingly, although not shown in the drawings, it is needless to say that the main board 40 may be electrically connected to the third sub first outer lead pattern part O1c through the adhesive layer 50. [

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 2 서브 제 1 접속부(72)를 통해 상기 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip (C1) disposed on one surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board (100) according to the embodiment is connected to the second sub first underlayers Lt; RTI ID = 0.0 &gt; I1b. &Lt; / RTI &gt;

상기 기판(110)의 상면에 배치되는 상기 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b)는 상기 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b)의 하부에 위치한 제 1 비아홀(V1)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 기판(110)의 하면을 따라 상기 제 1 비아홀(V1)과 인접한 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d) 및 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 1 비아홀(V1), 상기 제 1 테스트 패턴부(T1) 및 상기 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d)는 기판의 하면에서 전기적으로 연결될 수 있다. The second sub first first inner lead pattern portion I1b disposed on the upper surface of the substrate 110 is filled in the first via hole V1 located below the second sub first inner lead pattern portion I1b The first sub-first inner lead pattern portion I1d and the first test pattern portion T1 adjacent to the first via hole V1 along the lower surface of the substrate 110 through the conductive material . The first via hole V1, the first test pattern portion T1, and the fourth sub first inner lead pattern portion I1d may be electrically connected to each other on the lower surface of the substrate.

상기 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d) 및 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d)에는 디스플레이 패널(30)이 부착될 수 있다. The display panel 30 may be attached to the fourth sub first inner lead pattern portion I1d and the fourth sub first outer lead pattern portion 01d.

상기 제 1 테스트 패턴부(T1)는 상기 제 1 비아홀(V1)을 통해 전달될 수 있는 전기적인 신호의 불량을 확인할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)를 통해, 상기 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d)에 전달되는 신호의 정확성을 확인할 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 테스트 패턴부(T1)에서 전압 또는 전류를 측정함에 따라, 상기 제 1 칩과 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하는 전도성 패턴부의 단락이나 쇼트의 발생여부 내지 발생 위치를 확인할 수 있어, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The first test pattern portion T1 can confirm the failure of an electrical signal that can be transmitted through the first via hole V1. For example, the accuracy of a signal transmitted to the fourth sub first inner lead pattern portion (I1d) can be confirmed through the first test pattern portion (T1). In detail, by measuring the voltage or current in the first test pattern portion (T1), it is possible to determine whether a short circuit or a short circuit occurs or a position where the conductive pattern portion located between the first chip and the display panel occurs, It is possible to improve the reliability.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면 상에 배치되는 상기 제 1 칩(C1)은 상기 제 3 서브 제 1 접속부(73)를 통해 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)와 전기적으로 연결될 수 있다.The first chip C1 disposed on one surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board 100 according to the embodiment is connected to the third sub first underlayers 73 via the third sub first connection portions 73, And may be electrically connected to the portion I1c.

상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)는 상기 기판(110)의 상면을 따라 제 3 비아홀(V3)과 인접한 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b)까지 전기적인 신호를 전달할 수 있다. 상기 제 3 비아홀(V3) 및 상기 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b)는 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c) 및 상기 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b)는 일 방향으로 연장되는 전도성 패턴부의 일단 및 타단일 수 있다. The third sub first inner lead pattern portion I1c can transmit an electrical signal to the second sub first outer lead pattern portion O1b adjacent to the third via hole V3 along the upper surface of the substrate 110 have. The third via hole V3 and the second sub first outer lead pattern portion O1b may be electrically connected. That is, the third sub first inner lead pattern portion I1c and the second sub first outer lead pattern portion O1b may have one end and one end of the conductive pattern portion extending in one direction.

또한, 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)는 상기 기판(110)의 상면을 따라 제 3 비아홀(V3)까지 전기적으로 연결되고, 상기 제 3 비아홀(V3)에 충진된 전도성 물질을 통해 상기 기판(110)의 하면을 따라 상기 제 3 비아홀(V3)에 인접한 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d) 및 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)에 전기적인 신호를 전달 할 수 있다. The third sub first inner lead pattern portion I1c is electrically connected to the third via hole V3 along the upper surface of the substrate 110 and the conductive material filled in the third via hole V3 The first sub-first outer lead pattern portion O1d and the second test pattern portion T2 adjacent to the third via hole V3 along the lower surface of the substrate 110 .

상기 제 2 비아홀(V2), 상기 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d) 및 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)는 기판의 하면에서 전기적으로 연결될 수 있다. The second via hole V2, the fourth sub first outer lead pattern portion O1d, and the second test pattern portion T2 may be electrically connected to each other on the lower surface of the substrate.

앞서 설명한 바와 같이, 상기 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d) 및 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d) 상에는 상기 디스플레이 패널(30)이 접착층(50)을 통해 부착될 수 있다. The display panel 30 may be attached to the fourth sub first inner lead pattern portion I1d and the fourth sub first outer lead pattern portion 01d through the adhesive layer 50. [

상기 제 2 테스트 패턴부(T2)는 상기 제 3 비아홀(V3)을 통해 전달될 수 있는 전기적인 신호의 불량을 확인할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)를 통해, 상기 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d)에 전달되는 신호의 정확성을 확인할 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 테스트 패턴부(T2)에서 전압 또는 전류를 측정함에 따라, 상기 제 1 칩과 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하는 전도성 패턴부의 단락이나 쇼트의 발생여부 내지 발생 위치를 확인할 수 있어, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The second test pattern portion T2 can confirm the failure of an electrical signal that can be transmitted through the third via hole V3. For example, the accuracy of a signal transmitted to the fourth sub first outer lead pattern portion (O1d) can be confirmed through the second test pattern portion (T2). In detail, by measuring the voltage or current in the second test pattern portion T2, it is possible to determine whether a short circuit or a short circuit occurs or a position where the conductive pattern portion located between the first chip and the display panel occurs, It is possible to improve the reliability.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 상기 제 1 칩(C1)이 배치되는 일면과 반대되는 타면에 상기 디스플레이 패널(30)을 배치할 수 있어, 설계의 자유도를 향상시킬 수 있다. 또한, 복수 개의 칩이 실장되는 일면과 반대되는 타면에 디스플레이 패널을 배치함에 따라, 효과적인 방열이 가능할 수 있다. 이에 따라, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 신뢰성이 향상될 수 있다. In the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment, the display panel 30 can be disposed on the other surface opposite to the one surface on which the first chip C1 is disposed, thereby improving the degree of freedom in designing. Further, by disposing the display panel on the other surface opposite to the surface on which the plurality of chips are mounted, effective heat dissipation can be achieved. Thus, the reliability of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board according to the embodiment can be improved.

도 11은 도 8a의 평면도, 도 12는 도 8a의 저면도이다. Fig. 11 is a plan view of Fig. 8A, and Fig. 12 is a bottom view of Fig. 8A.

도 11 및 도 12는 제 1 칩을 배치하기 위한 제 1 전도성 패턴부를 중심으로 한 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 상면 및 하면에서의 평면도이다.11 and 12 are plan views of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board according to an embodiment centering on a first conductive pattern portion for arranging a first chip.

도 11 및 도 12를 참조하면, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 제작 또는 가공의 편의성을 위하여 길이방향의 양 쪽 외부에 스프로킷 홀을 구비할 수 있다. 따라서, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 롤투롤(Roll to Roll) 방식으로 스프로킷 홀에 의하여 감기거나 풀어질 수 있다.Referring to FIGS. 11 and 12, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film of the embodiment may have sprocket holes on both sides in the longitudinal direction for convenience of fabrication or processing. Therefore, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film can be rolled or unwound by a sprocket hole in a roll-to-roll manner.

올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 점선으로 도시한 절단부를 기준으로 내부영역(IR) 및 외부영역(OR)으로 정의할 수 있다.The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film can be defined as an inner region IR and an outer region OR with reference to a cut portion indicated by a dotted line.

올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 내부영역(IR)에는 1 칩, 제 2 칩, 디스플레이 패널 및 메인보드를 각각 연결하기 위한 전도성 패턴부가 배치될 수 있다. A conductive pattern portion for connecting one chip, a second chip, a display panel, and a main board may be disposed in the inner region IR of the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100.

올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 스프로킷 홀이 형성된 부분을 절단하고, 기판 상에 칩을 배치함에 따라, 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지 및 이를 포함하는 전자 디바이스로 가공할 수 있다. The chip package including the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 and the chip package including the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 are cut off, It can be processed into an electronic device.

도 11을 참조하면, 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상면에서는 상기 보호층(140)의 제 1 오픈 영역(OA1)을 통해 전도성 패턴부(CP)의 일 영역인 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a), 상기 제 2 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1b) 및 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)가 외부로 노출될 수 있다. 11, on the upper surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board 100, the first open area OA1 of the protective layer 140, the first open area OA1 of the conductive pattern CP, The sub first inner lead pattern portion I1a, the second sub first first inner lead pattern portion I1b, and the third sub first inner lead pattern portion I1c may be exposed to the outside.

또한, 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 상면에서는 상기 보호층(140)의 제 3 오픈 영역(OA3)을 통해 전도성 패턴부(CP)의 일 영역인 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)가 외부로 노출될 수 있다. The upper surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board 100 is electrically connected to the first sub first outer conductor (not shown) through the third open area OA3 of the protective layer 140, The lead pattern portion 01a can be exposed to the outside.

도 12를 참조하면, 상기 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 하면에서는 상기 보호층(140)의 제 3 오픈 영역(OA3)을 통해 전도성 패턴부(CP)의 일 영역인 상기 제 4 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1d), 제 4 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1d)가 외부로 노출될 수 있다.Referring to FIG. 12, on the lower surface of the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board 100, the fourth open region OA3 of the protective layer 140 is formed, The sub first inner lead pattern portion I1d and the fourth sub first outer lead pattern portion 01d may be exposed to the outside.

도 8b, 도 13 내지 도 17을 참조하여, 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)을 포함하는 칩 패키지를 상세하게 설명한다. A chip package including a first chip C1 and a second chip C2 on a flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment is described in detail with reference to Figs. 8B and 13 to 17 .

도 13은 제 1 칩 및 제 2 칩이 실장된 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 칩 패키지의 개략적인 평면도이다.13 is a schematic plan view of a chip package including a flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment in which a first chip and a second chip are mounted.

도 13을 참조하면, 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 동일한 일면 상에 제 1 칩(C1) 및 제 2 칩(C2)이 배치되는 것을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 13, the flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment may include a first chip C1 and a second chip C2 disposed on the same surface.

실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 가로 방향(x축 방향)의 길이가 세로 방향(y축 방향)의 길이보다 클 수 있다. 즉, 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 가로 방향의 2개의 장변과, 세로 방향의 2개의 단변을 포함할 수 있다. The length of the flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment may be larger in the lateral direction (x-axis direction) than in the longitudinal direction (y-axis direction). That is, the flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment can include two long sides in the lateral direction and two short sides in the longitudinal direction.

상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 각각 가로 방향(x축 방향)의 길이가 세로 방향(y축 방향)의 길이보다 클 수 있다. 즉, 상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 가로 방향의 2개의 장변과, 세로 방향의 2개의 단변을 포함할 수 있다. The lengths of the first chip C1 and the second chip C2 in the lateral direction (x-axis direction) may be greater than those in the longitudinal direction (y-axis direction), respectively. That is, the first chip C1 and the second chip C2 may include two long sides in the horizontal direction and two short sides in the vertical direction.

실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 장변은 상기 제 1 칩(C1)의 장변 및 상기 제 2 칩(C2)의 장변과 각각 평행하게 배치될 수 있어, 복수 개의 칩들을 하나의 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 효율적으로 배치할 수 있다. The long side of the flexible circuit board 100 for the both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment can be arranged parallel to the long side of the first chip C1 and the long side of the second chip C2, Can be efficiently arranged on the flexible circuit board 100 for a single-sided all-chip chip-on-film.

상기 제 1 칩(C1)의 가로 방향의 길이(장변)은 상기 제 2 칩(C2)의 가로 방향의 길이(장변)보다 클 수 있다. 상기 제 1 칩(C1)의 세로 방향의 길이(단변)은 상기 제 2 칩(C2)의 세로 방향의 길이(단변)보다 작을 수 있다.The longitudinal length (long side) of the first chip C1 may be greater than the length (long side) of the second chip C2 in the horizontal direction. The length (short side) of the first chip C1 in the vertical direction may be smaller than the length (short side) of the second chip C2 in the vertical direction.

상기 제 1 칩(C1)은 구동 IC칩이고, 상기 제 2 칩(C2)은 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 어느 하나의 제 2 칩(C2a) 및 다이오드 칩, 전원 IC 칩, 터치센서 IC 칩, MLCC 칩, BGA 칩, 칩 콘덴서 중 상기 어느 하나와 다른 하나의 제 2 칩(C2b)을 포함할 수 있다. The first chip C1 is a driving IC chip and the second chip C2 is a second chip C2a of any one of a diode chip, a power IC chip, a touch sensor IC chip, an MLCC chip, a BGA chip, And a second chip C2b different from any one of the diode chip, the power IC chip, the touch sensor IC chip, the MLCC chip, the BGA chip, and the chip capacitor.

도 14a는 제 1 칩을 배치하기 위한 제 1 전도성 패턴부, 제 2 칩을 배치하기 위한 제 2 전도성 패턴부를 나타내는 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판의 단면도이다.14A is a cross-sectional view of a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment showing a first conductive pattern part for disposing a first chip and a second conductive pattern part for disposing a second chip.

실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 기판(110); 상기 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부(CP); 및 상기 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층(140)을 포함하고, 상기 전도성 패턴부는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부 및 상기 제 2 전도성 패턴부는 각각 상기 기판 상에 차례로 배치되는 배선 패턴층(120), 제 1 도금층(131) 및 제 2 도금층(132)을 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 1 이너 리드 패턴부(I1), 상기 제 1 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 1 아우터 리드 패턴부(O1), 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부(E1)를 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 2 이너 리드 패턴(I2)부, 상기 제 2 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 2 아우터 리드 패턴부(O2), 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부(E2)를 포함할 수 있다.A flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment includes a substrate 110; A conductive pattern portion (CP) disposed on the substrate; And a protective layer (140) partially disposed on the conductive pattern portion, wherein the conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion CP1 and a second conductive pattern portion CP2 disposed apart from each other, The first conductive pattern portion and the second conductive pattern portion each include a wiring pattern layer 120, a first plating layer 131, and a second plating layer 132 that are sequentially disposed on the substrate, Wherein the first conductive pattern part has a first inner lead pattern part I1 located at one end of the first conductive pattern part, a first outer lead pattern part O1 located at the other end of the first conductive pattern part, And the first conductive pattern part has a second inner lead pattern part (I2) located at one end of the second conductive pattern part, and a second inner lead pattern part On the other end It is possible to include a second outer lead portion pattern (O2), and the second extended pattern portion (E2) connecting the second conductive pattern of said one end and said other end.

상기 기판의 일면 및 타면 상에는 서로 이격하여 배치되는 복수 개의 전도성 패턴부들(CP)이 각각 배치될 수 있다. 상기 기판의 일면 상에는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 기판의 타면 상에는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 제 2 전도성 패턴부(CP2)를 포함할 수 있다. 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 서로 다른 제 1 칩과 제 2 칩의 신호를 각각 전달하기 위해서 서로 이격될 수 있다. A plurality of conductive pattern units (CP) may be disposed on one surface and the other surface of the substrate. The first conductive pattern part CP1 and the second conductive pattern part CP2 may be disposed on one surface of the substrate so as to be spaced apart from each other. The first conductive pattern CP1 and the second conductive pattern CP2 may be spaced apart from each other on the other surface of the substrate. The first conductive pattern portion CP1 and the second conductive pattern portion CP2 may be spaced apart from each other to transmit signals of different first chip and second chip, respectively.

상기 기판의 일면 상에 배치되는 상부 제 1 전도성 패턴부(CP1)는 상기 기판의 타면 상에 배치되는 하부 제 1 전도성 패턴부(CP1)와 비아(via)를 통해 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판의 일면 상에 배치되는 상부 제 1 전도성 패턴부(CP1)는 상기 기판의 타면 상에 배치되는 하부 제 1 전도성 패턴부(CP1)와 제 1 비아홀(V1)에 채워진 전도성 물질을 통해 전기적으로 연결될 수 있다. The upper first conductive pattern part CP1 disposed on one side of the substrate may be electrically connected to the lower first conductive pattern part CP1 disposed on the other side of the substrate via a via. For example, the upper first conductive pattern part CP1 disposed on one surface of the substrate may include a lower first conductive pattern part CP1 disposed on the other surface of the substrate, a conductive material CP1 filled in the first via hole V1, As shown in FIG.

또한, 상기 기판의 일면 상에 배치되는 상부 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 상기 기판의 타면 상에 배치되는 하부 제 2 전도성 패턴부(CP2)와 비아(via)를 통해 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판의 일면 상에 배치되는 상부 제 2 전도성 패턴부(CP2)는 상기 기판의 타면 상에 배치되는 하부 제 2 전도성 패턴부(CP2)와 제 4 비아홀(V4)에 채워진 전도성 물질을 통해 전기적으로 연결될 수 있다. The upper second conductive pattern CP2 disposed on one side of the substrate may be electrically connected to the lower second conductive pattern CP2 disposed on the other side of the substrate via a via. For example, the upper second conductive pattern portion CP2 disposed on one side of the substrate may include a lower second conductive pattern portion CP2 disposed on the other surface of the substrate, a conductive material F2 filled in the fourth via hole V4, As shown in FIG.

이에 따라, 실시예는 많은 수의 전도성 패턴부를 하나의 기판 상에 포함할 수 있다. Accordingly, the embodiment can include a large number of conductive pattern portions on one substrate.

도 14b는 제 1 칩 및 제 2 칩이 실장된 실장된 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지의 단면도이다.14B is a cross-sectional view of a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to the mounted embodiment in which the first chip and the second chip are mounted.

상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 동일한 일면 상에 서로 다른 크기로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 칩(C2)은 상기 제 1 칩(C1)보다 클 수 있다. The first chip (C1) and the second chip (C2) may be arranged in different sizes on the same surface. For example, the second chip C2 may be larger than the first chip C1.

상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)의 하부에는 비아 홀이 배치될 수 있다. 즉, 상기 제 1 오픈 영역(OA1) 및 상기 제 2 오픈 영역(OA2)과 대응되는 영역의 기판(110)은 비아홀을 포함할 수 있다. A via hole may be disposed under the first chip (C1) and the second chip (C2). That is, the substrate 110 corresponding to the first open area OA1 and the second open area OA2 may include a via hole.

상기 제 2 칩(C2)의 전기적인 신호는 제 4 비아홀(V4)에 배치되는 전도성 물질을 통해 기판의 상면에서 하면으로 전달될 수 있다. The electrical signal of the second chip C2 can be transmitted from the upper surface to the lower surface of the substrate through the conductive material disposed in the fourth via hole V4.

도 15a, 도 15b, 도 16a, 도 16b, 도 17a 및 도 17b는 도 13에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판을 포함하는 칩 패키지를 제조하기 위한 공정을 나타내는 도면들이다.FIGS. 15A, 15B, 16A, 16B, 17A and 17B are views showing a process for manufacturing a chip package including a flexible circuit board for a both-side all-in-one chip-on film according to FIG.

도 15a, 도 15b는 실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 평면도이다. 15A and 15B are plan views of a flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on film according to an embodiment.

도 15a 및 도 15b를 참조하면, 상기 제 1 리드 패턴부(L1)는 상기 제 2 리드 패턴부(L2)와 형상이 서로 다른 것을 포함할 수 있다. 이에 따라, 실시예는 비교예의 칩 패키지보다 제 2 칩의 밀착 특성을 향상시킬 수 있다. 15A and 15B, the first lead pattern portion L1 may include a shape different from the shape of the second lead pattern portion L2. Thus, the embodiment can improve the adhesion characteristics of the second chip over the chip package of the comparative example.

실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은 상기 제 1 리드 패턴부와 형상이 다른 상기 제 2 리드 패턴부를 포함할 수 있어, 인장강도를 향상시킬 수 있다. The flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film of the embodiment can include the second lead pattern portion having a shape different from that of the first lead pattern portion, thereby improving the tensile strength.

실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판 상에 제 1 칩, 제 2 칩이 실장된 칩 패키지를 기판의 단변(y축 방향)으로 인장하여 인장강도를 측정하고, 비교예의 제 2 칩이 실장된 제 2 인쇄회로기판(20)을 단변(y축 방향)으로 인장하여 인장강도를 측정하였다. The tensile strength was measured by pulling the chip package on which the first chip and the second chip were mounted on the flexible circuit board for an all-in-one chip-on-film of the embodiment in the short side (y-axis direction) of the board, The second printed circuit board 20 was stretched in the short side (y-axis direction) to measure the tensile strength.

실시예는 비교예보다 평균 인장강도가 향상되는 것을 확인하였다. It was confirmed that the average tensile strength of Examples was improved compared with Comparative Example.

제 2 칩에 포함된 칩의 종류에 따라, 실시예의 인장강도는 비교예의 인장강도보다 0.1kgf 내지 1kgf 증가하는 것을 확인하였다. 실시예의 인장강도는 비교예의 인장강도보다 0.1kgf 내지 0.5kgf 증가하는 것을 확인하였다. 실시예의 인장강도는 비교예의 인장강도보다 0.14kgf 내지 0.45kgf 증가하는 것을 확인하였다.It was confirmed that the tensile strength of the example increased from 0.1 kgf to 1 kgf more than the tensile strength of the comparative example, depending on the type of chips contained in the second chip. It was confirmed that the tensile strength of the example increased from 0.1 kgf to 0.5 kgf more than the tensile strength of the comparative example. It was confirmed that the tensile strength of the example increased from 0.14 kgf to 0.45 kgf more than the tensile strength of the comparative example.

또한, 서로 다른 형상의 상기 제 1 리드 패턴부 및 상기 제 2 리드 패턴부는 하나의 기판 상에 서로 다른 종류의 제 1 칩, 제 2 칩이 실장되어 일정한 접합상도를 확보하기 위한 최적의 패턴 설계일 수 있다. The first lead pattern portion and the second lead pattern portion having different shapes may be patterned in such a manner that a first chip and a second chip of different kinds are mounted on one substrate to form an optimal pattern design .

예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 평면에서의 형상은 사각 형상의 스트라이프 패턴일 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 평면에서의 형상은 균일한 폭을 가지며 일 방향으로 연장되는 사각 형상의 스트라이프 패턴일 수 있다. 일례로, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 일단 및 타단의 폭은 서로 동일할 수 있다. For example, the shape of the first inner lead pattern portion I1 in the plane may be a rectangular stripe pattern. In detail, the shape of the first inner lead pattern portion I1 in the plane may be a rectangular stripe pattern having a uniform width and extending in one direction. For example, the widths of one end and the other end of the first inner lead pattern portion I1 may be equal to each other.

예를 들어, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 평면에서의 형상은 다각형, 원형, 타원형, 망치형상, T자 형상, 랜덤 형상 등의 다양한 형상의 돌출 패턴일 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 평면에서의 형상은 변동되는 폭을 가지며 상기 일 방향과 다른 방향으로 연장되는 다각형, 원형, 타원형, 망치형상, T자 형상, 랜덤 형상 등의 돌출 패턴일 수 있다. 일례로, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 일단과 타단의 폭은 서로 다를 수 있다. 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 보호층와 가까운 일단에서의 폭보다 보호층과 멀리 떨어진 단부인 타단의 폭이 클 수 있다. 다만, 실시예는 이에 제한되지 않고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 보호층와 가까운 일단에서의 폭보다 보호층과 멀리 떨어진 단부인 타단의 폭이 작을 수 있음은 물론이다. For example, the shape of the second inner lead pattern portion I2 in the plane may be a protruding pattern of various shapes such as a polygonal shape, a circular shape, an elliptical shape, a hammer shape, a T shape, and a random shape. In detail, the shape of the second inner lead pattern portion 12 in the plane is a polygonal shape, a circular shape, an elliptical shape, a hammer shape, a T shape, a random shape or the like having a varying width and extending in a direction different from the one direction Pattern. For example, the width of one end and the other end of the second inner lead pattern portion 12 may be different from each other. The width of the other end, which is an end remote from the protective layer, may be larger than the width of the second inner lead pattern portion I2 close to the protective layer. Needless to say, the width of the other end of the second inner lead pattern portion I2, which is an end remote from the protective layer, may be smaller than the width of the second inner lead pattern portion I2 close to the protective layer.

상기 제 1 리드 패턴부(L1)에 포함된 제 1 이너 리드 패턴부(I1: Ila, I1b, I1c, I1d) 및 제 1 아우터 리드 패턴부(O1: O1a, O1b, O1c, O1d) 중 적어도 하나는 상기 제 2 리드 패턴부(L1)에 포함된 제 2 이너 리드 패턴부(I2: I2a, I2b) 및 제 2 아우터 리드 패턴부(O2: O2a, O2b) 중 적어도 하나와 다른 형상을 포함할 수 있다. At least one of the first inner lead pattern portions I1, I1, I1b, I1c, I1d and the first outer lead pattern portions O1a, O1b, O1c, O1d included in the first lead pattern portion L1, May include a shape different from at least one of the second inner lead pattern portions (I2: I2a, I2b) and the second outer lead pattern portions (O2: O2a, O2b) included in the second lead pattern portion have.

예를 들어, 평면도에서 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a), 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a), 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c) 및 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b) 중 어느 하나의 패턴부의 형상은 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a) 및 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b) 중 어느 하나의 패턴부의 형상과 서로 다를 수 있다.For example, in the plan view, the first sub first outer lead pattern portion O1a, the first sub first first inner lead pattern portion I1a, the third sub first first inner lead pattern portion I1c, The shape of any one of the one outer lead pattern portion O1b is different from the shape of any one of the first sub second second inner lead pattern portion I2a and the second sub second inner lead pattern portion I2b can be different.

일례로, 제 2 칩이 MLCC칩인 경우에 제 2 리드 패턴부는 도 15b의 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)와 같은 T자 형상일 수 있다. For example, when the second chip is an MLCC chip, the second lead pattern portion may have a T shape like the first sub second second inner lead pattern portion I2a of FIG. 15B.

일례로, 제 2 칩이 BGA 칩인 경우에 제 2 리드 패턴부는 도 15a의 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)와 같은 원형 형상일 수 있다. 또는, 제 2 칩이 BGA 칩인 경우에 제 2 리드 패턴부는 도 15b의 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)와 같은 반원 형상 또는 끝단이 라운드진 형상일 수 있다. For example, when the second chip is a BGA chip, the second lead pattern portion may have the same circular shape as the second sub second second inner lead pattern portion I2b of FIG. 15A. Alternatively, when the second chip is a BGA chip, the second lead pattern portion may have a semicircular shape such as the second sub second second inner lead pattern portion I2b of FIG. 15B, or a rounded end shape.

상기 제 1 이너 리드 패턴부와 상기 제 1 접속부의 형상은 동일할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부 및 상기 제 1 접속부의 평면 형상(top view)은 사각형 형상일 수 있다. 여기에서, 상기 제 1 이너 리드 패턴부와 상기 제 1 접속부의 형상이 동일하다는 것은 평면 형상이 동일한 다각형인 것을 의미하는 것이며, 크기가 다른 것을 포함할 수 있다. The shape of the first inner lead pattern portion and the first connecting portion may be the same. For example, the top view of the first inner lead pattern portion and the first connection portion may have a rectangular shape. Here, the same shape of the first inner lead pattern portion and the first connecting portion means that the planar shape is the same polygon, and may include a different size.

상기 제 2 이너 리드 패턴부와 상기 제 2 접속부의 형상은 서로 동일하거나 서로 다를 수 있다.The shapes of the second inner lead pattern portion and the second connection portion may be the same or different from each other.

도 15a 및 도 16a를 참조하면, 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 평면 형상은 다각형 형상이고, 상기 제 2 접속부의 평면 형상은 원형 형상일 수 있다. 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 평면 형상은 원형 형상이고, 상기 제 2 접속부는 원형 형상일 수 있다.15A and 16A, the plane shape of the first sub second second inner lead pattern portion I2a may be a polygonal shape, and the planar shape of the second connection portion may be a circular shape. The planar shape of the second sub second second inner lead pattern portion 12b may have a circular shape, and the second connecting portion may have a circular shape.

도 15b 및 도 16b를 참조하면, 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 평면 형상은 다각형 형상이고, 상기 제 2 접속부는 둥근 모서리를 가지는 사각형 형상일 수 있다. 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 평면 형상은 반원 형상이고, 상기 제 2 접속부는 원형 형상일 수 있다.15B and 16B, the planar shape of the first sub second second inner lead pattern portion I2a may be a polygonal shape, and the second connection portion may have a rectangular shape having rounded corners. The planar shape of the second sub second second inner lead pattern portion 12b may be semicircular, and the second connecting portion may have a circular shape.

상기 제 1 접속부(70)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 접속부(70)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되는 정사각형 형상이거나, 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 다른 직사각형 형상일 수 있다.The planar shape of the first connection part 70 may correspond to or differ from each other in the transverse length and the longitudinal length (aspect ratio). For example, the planar shape of the first connection part 70 may be a square shape having a width and a length (aspect ratio) corresponding to each other, or a rectangular shape having a width and a length (aspect ratio) different from each other.

상기 제 2 접속부(80)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되거나 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)의 평면 형상은 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 대응되는 원형 형상이거나, 가로 길이와 세로길이(종횡비)가 서로 다른 타원형 형상일 수 있다.The planar shape of the second connection portion 80 may correspond to or differ from each other in the transverse length and the longitudinal length (aspect ratio). For example, the planar shape of the second connection part 80 may be a circular shape corresponding to a transverse length and a longitudinal length (aspect ratio), or an elliptical shape having a transverse length and a longitudinal length (aspect ratio) different from each other.

실시예에 따른 양면 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)의 일면에 위치한 상기 보호층(140)은 복수 개의 홀을 포함할 수 있다. 즉, 상기 보호층(140)은 복수 개의 오픈 영역을 포함할 수 있다.The protective layer 140 located on one side of the flexible circuit board 100 for a both-side all-in-one chip-on-film according to the embodiment may include a plurality of holes. That is, the protective layer 140 may include a plurality of open regions.

상기 보호층의 제 1 오픈 영역(OA1)은 제 1 접속부(70)와 연결되기 위하여 노출되는 영역일 수 있다. 상기 보호층의 제 1 오픈 영역(OA1)에서 노출되는 전도성 패턴부(CP)는 제 1 접속부를 향한 표면이 순수 도금을 포함할 수 있다. 즉, 상기 보호층의 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 전도성 패턴부(CP)에 포함되는 상기 제 2 도금층의 주석의 함량은 50 원자% 이상일 수 있다. The first open area OA1 of the protection layer may be exposed to be connected to the first connection part 70. [ The conductive pattern CP exposed in the first open area OA1 of the protective layer may include pure plating on the surface facing the first connection part. That is, the content of tin in the second plating layer included in the conductive pattern portion CP in the first open region OA1 of the protective layer may be 50 atomic% or more.

상기 보호층의 제 2 오픈 영역(OA2)은 제 2 접속부(80)와 연결하기 위하여 노출되는 영역일 수 있다. 상기 보호층의 제 2 오픈 영역(OA2)에서 노출되는 전도성 패턴부(CP)는 제 2 접속부를 향한 표면이 구리 및 주석의 합금층을 포함할 수 있다. 즉, 상기 보호층의 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 전도성 패턴부(CP)에 포함되는 상기 제 2 도금층의 주석의 함량은 50 원자% 미만일 수 있다.The second open area OA2 of the protective layer may be exposed to connect with the second connection part 80. [ The conductive pattern portion CP exposed in the second open region OA2 of the protective layer may include an alloy layer of copper and tin on the surface facing the second connection portion. That is, the content of tin in the second plating layer included in the conductive pattern portion CP in the second open region OA2 of the protective layer may be less than 50 atomic%.

상기 제 1 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 1 연장 패턴부의 선폭과 대응될 수 있다. 상기 제 1 오픈 영역(OA1)은 제 1 칩을 연결하기 위한 영역일 수 있다. 상기 제 3 오픈 영역(OA3)에 위치한 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)로부터 연장되어 상기 제 1 오픈 영역(OA1)의 내부를 향하는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)는 서로 대응되거나 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)의 폭(W1)은 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 폭(W2)과 서로 대응될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)의 폭(W1)은 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 폭(W2)보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a)의 폭(W1)은 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 폭(W2)의 차이는 20% 이내일 수 있다. The line width of the first lead pattern portion may correspond to the line width of the first extension pattern portion. The first open area OA1 may be an area for connecting the first chip. The first sub first inner lead pattern portion I1a extending from the first sub first outer lead pattern portion O1a located in the third open region OA3 and directed toward the inside of the first open region OA1, May have a width corresponding to each other or different from each other. For example, the width W1 of the first sub first outer lead pattern portion O1a may correspond to the width W2 of the first sub first inner lead pattern portion I1a. For example, the width W1 of the first sub first outer lead pattern portion O1a may be greater than the width W2 of the first sub first inner lead pattern portion I1a. In detail, the width W1 of the first sub first outer lead pattern portion O1a may be within 20% of the width W2 of the first sub first inner lead pattern portion I1a.

상기 제 1 오픈 영역(OA1)의 내부를 향해 연장되는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a) 및 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)는 서로 대응되는 폭을 가질 수 있다.The first sub first first inner lead pattern portion I1a and the third sub first inner lead pattern portion I1c extending toward the inside of the first open area OA1 may have widths corresponding to each other .

상기 제 1 오픈 영역(OA1)으로부터 기판의 외곽을 향해 연장되는 상기 제 1 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1a) 및 상기 제 2 서브 제 1 아우터 리드 패턴부(O1b)는 서로 대응되는 폭을 가질 수 있다.The first sub first outer lead pattern portion O1a and the second sub first outer lead pattern portion O1b extending from the first open area OA1 toward the outer side of the substrate have widths corresponding to each other .

실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 서로 다른 종류의 제 2 칩(C2a, C2b)을 각각 연결하기 위한 복수 개의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)을 포함할 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film of the embodiment may include a plurality of the second open areas OA2 for connecting second chips C2a and C2b of different kinds.

상기 제 2 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 연장 패턴부의 선폭보다 큰 것을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 연장 패턴부의 선폭보다 클 수 있다. And the line width of the second lead pattern portion may be larger than the line width of the second extension pattern portion. For example, the line width of the second inner lead pattern portion may be larger than the line width of the second extension pattern portion.

하나의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 하나의 제 2 칩(C2a)을 연결하기 위한 영역일 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2) 내에 위치한 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)로부터 기판의 외곽을 향해 연장되는 제 1 서브 제 2 아우터 리드 패턴부(O2a)는 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 폭(W3)은 상기 제 1 서브 제 2 아우터 리드 패턴부(O2a)의 폭(W4)보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 폭(W3)은 상기 제 1 서브 제 2 아우터 리드 패턴부(O2a)의 폭(W4)보다 1.5배 이상 클 수 있다. One of the second open areas OA2 may be an area for connecting one second chip C2a. The first sub second outer lead pattern portions O2a extending from the first sub second second inner lead pattern portion I2a located in the second open region OA2 toward the outer periphery of the substrate may have different widths . For example, the width W3 of the first sub second second inner lead pattern portion I2a may be greater than the width W4 of the first sub second outer lead pattern portion 02a. In detail, the width W3 of the first sub second second inner lead pattern portion I2a may be 1.5 times larger than the width W4 of the first sub second outer lead pattern portion 02a.

다른 하나의 상기 제 2 오픈 영역(OA2)은 다른 하나의 제 2 칩(C2b)을 연결하기 위한 영역일 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역(OA2) 내에 위치한 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)로부터 기판의 외곽을 향해 연장되는 제 2 서브 제 2 아우터 리드 패턴부(O2b)는 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 폭(W5)은 상기 제 2 서브 제 2 아우터 리드 패턴부(O2b)의 폭(W6)보다 클 수 있다. 자세하게, 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 폭(W5)은 상기 제 2 서브 제 2 아우터 리드 패턴부(O2b)의 폭(W6)보다 1.5배 이상 클 수 있다. And the second open area OA2 may be an area for connecting the other second chip C2b. The second sub second outer lead pattern portions O2b extending from the second sub second second inner lead pattern portion I2b located in the second open region OA2 toward the outer periphery of the substrate may have different widths . For example, the width W5 of the second sub second second inner lead pattern portion I2b may be greater than the width W6 of the second sub second outer lead pattern portion O2b. In detail, the width W5 of the second sub second second inner lead pattern portion 12b may be 1.5 times larger than the width W6 of the second sub second outer lead pattern portion 02b.

상기 제 1 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 리드 패턴부의 선폭보다 작은 것을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 선폭보다 작은 것을 포함할 수 있다. The line width of the first lead pattern portion may be smaller than the line width of the second lead pattern portion. For example, the line width of the first inner lead pattern portion may be smaller than the line width of the second inner lead pattern portion.

상기 제 2 오픈 영역을 통해 노출되는 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 폭(W3) 및 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 폭(W5) 중 어느 하나의 폭은 상기 제 1 오픈 영역을 통해 노출되는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 폭(W2)보다 클 수 있다. A width W3 of the first sub second second inner lead pattern portion I2a exposed through the second open region and a width W5 of the second sub second inner lead pattern portion I2b May be larger than a width (W2) of the first sub first inner lead pattern portion (I1a) exposed through the first open region.

예를 들어, 상기 제 1 아우터 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 아우터 리드 패턴부의 선폭보다 작은 것을 포함할 수 있다.For example, the line width of the first outer lead pattern portion may be smaller than the line width of the second outer lead pattern portion.

상기 제 1 연장 패턴부의 선폭은 상기 제 2 연장 패턴부의 선폭보다 작은 것을 포함할 수 있다. And the line width of the first elongated pattern portion may be smaller than the line width of the second elongated pattern portion.

인접한 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1)들 사이의 간격인 1 간격(pitch)은 인접한 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)들 사이의 간격인 제 2 간격(pitch)보다 작을 수 있다. 이때, 상기 제 1 간격, 제 2 간격은 인접한 두 전도성 패턴부 사이의 평균 이격 간격을 의미할 수 있다. One interval which is an interval between adjacent first conductive pattern portions CP1 may be smaller than a second interval which is an interval between adjacent second conductive pattern portions CP2. Here, the first interval and the second interval may mean an average spacing distance between adjacent two conductive pattern portions.

상기 제 1 간격은 100㎛ 미만일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 간격은 30㎛ 미만일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 간격은 1㎛ 내지 25㎛일 수 있다.The first spacing may be less than 100 mu m. For example, the first spacing may be less than 30 占 퐉. For example, the first spacing may be between 1 [mu] m and 25 [mu] m.

상기 제 2 간격은 100㎛ 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 간격은 100㎛ 내지 500㎛일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 간격은 100㎛ 내지 300㎛일 수 있다.The second spacing may be 100 탆 or more. For example, the second spacing may be between 100 μm and 500 μm. For example, the second spacing may be between 100 μm and 300 μm.

이에 따라, 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2) 사이의 신호의 간섭을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제 1 전도성 패턴부(CP1) 및 상기 제 2 전도성 패턴부(CP2)가 각각 제 1 칩, 제 2 칩에 전달하는 신호의 정확성을 향상시킬 수 있다. Accordingly, it is possible to prevent interference of signals between the first conductive pattern part CP1 and the second conductive pattern part CP2. In addition, the accuracy of signals transmitted to the first chip and the second chip by the first conductive pattern part CP1 and the second conductive pattern part CP2, respectively, can be improved.

상기 제 1 오픈 영역(OA1)에서 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 평면적은 제 1 접속부(70)과 서로 대응되거나, 서로 다를 수 있다. The planar area of the first inner lead pattern part I1 in the first open area OA1 may correspond to or be different from that of the first connection part 70. [

상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭과 상기 제 1 접속부(70)의 폭은 서로 동일하거나 20% 이내의 차이를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭과 상기 제 1 접속부(70)의 폭은 서로 동일하거나 10% 이내의 차이를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1)의 폭과 상기 제 1 접속부(70)의 폭은 서로 동일하거나 5% 이내의 차이를 가질 수 있다.The width of the first inner lead pattern portion I1 and the width of the first connection portion 70 may be the same or less than 20%. For example, the width of the first inner lead pattern portion I1 and the width of the first connection portion 70 may be the same or less than 10%. For example, the width of the first inner lead pattern portion I1 and the width of the first connection portion 70 may be the same or less than 5%.

이에 따라, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 접속부(70)는 안정적인 실장이 가능할 수 있다. 또한, 상기 제 1 이너 리드 패턴부(I1) 및 상기 제 1 접속부(70) 사이의 밀착특성이 향상될 수 있다. Accordingly, the first inner lead pattern portion I1 and the first connection portion 70 can be stably mounted. Also, the adhesion characteristics between the first inner lead pattern portion I1 and the first connection portion 70 can be improved.

상기 제 2 오픈 영역(OA2)에서 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 평면적은 제 2 접속부(80)과 서로 대응되거나, 서로 다를 수 있다. The planar area of the second inner lead pattern part I2 in the second open area OA2 may correspond to or be different from that of the second connection part 80. [

상기 제 2 접속부(80)의 폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2)의 폭보다 크고, 상기 제 2 접속부의 폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 폭의 1.5배 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부의 폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 폭의 3배 이상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부의 폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 폭의 5배 이상일 수 있다. 일례로, MLCC 칩 또는 다이오드 칩을 연결하기 위한 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 폭은 제 2 접속부의 폭보다 작을 수 있다. The width of the second connection portion 80 may be greater than the width of the second inner lead pattern portion I2 and the width of the second connection portion may be 1.5 times or more of the width of the second inner lead pattern portion. For example, the width of the second connection portion may be three times or more the width of the second inner lead pattern portion. For example, the width of the second connection portion may be at least five times the width of the second inner lead pattern portion. For example, the width of the second inner lead pattern portion for connecting the MLCC chip or the diode chip may be smaller than the width of the second connection portion.

이에 따라, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2) 및 상기 제 2 접속부(80)는 안정적인 실장이 가능할 수 있다. 또한, 상기 제 2 이너 리드 패턴부(I2) 및 상기 제 2 접속부(80) 사이의 밀착특성이 향상될 수 있다. Accordingly, the second inner lead pattern portion I2 and the second connection portion 80 can be stably mounted. In addition, the adhesion characteristics between the second inner lead pattern portion 12 and the second connection portion 80 can be improved.

도 16a, 16b를 참조하여, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 제 1 접속부(70) 및 제 2 접속부(80)를 배치하는 단계를 설명한다. 16A and 16B, the steps of disposing the first connecting portion 70 and the second connecting portion 80 on the all-in-one chip-on-film flexible printed circuit board 100 of the embodiment will be described.

상기 제 1 오픈 영역(OA1)을 통해 노출되는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a) 및 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c) 상에는 각각 제 1 접속부(70)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 접속부(70)는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a) 및 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)의 상면을 전체적으로 또는 부분적으로 덮을 수 있다.The first connection part 70 is disposed on the first sub first first inner lead pattern part I1a and the third sub first first inner lead pattern part I1c exposed through the first open area OA1 . For example, the first connecting portion 70 may cover the upper surfaces of the first sub first first inner lead pattern portion I1a and the third sub first inner lead pattern portion I1c in whole or in part.

서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a) 및 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)의 총 개수는 상기 제 1 접속부(70)의 수와 대응될 수 있다.The plurality of first sub first first inner lead pattern portions I1a spaced apart from each other and the plurality of third sub first first inner lead pattern portions I1c spaced apart from each other are formed in the first connecting portion 70). &Lt; / RTI &gt;

예를 들어, 도 17a 및 도 17b를 참조하면, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 수는 9개이고, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)의 수는 9개이고, 상기 제 1 접속부(70)의 수는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 수 9 및 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 3 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1c)의 수는 9의 총 합인 18개 일 수 있다. For example, referring to FIGS. 17A and 17B, the number of the first sub first first inner lead pattern portions I1a spaced apart from each other is nine, and the plurality of third sub- The number of the first inner lead pattern portions I1c is nine and the number of the first connecting portions 70 is the number of the first sub first inner lead pattern portions I1a and a plurality of The number of the third sub first inner lead pattern portions I1c may be 18, which is the total sum of nine.

상기 제 2 오픈 영역(OA2)을 통해 노출되는 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a) 및 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b) 상에는 각각 제 2 접속부(80)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a) 및 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 상면을 전체적으로 또는 부분적으로 덮을 수 있다.Second connection portions 80 are respectively disposed on the first sub second second inner lead pattern portion I2a and the second sub second second inner lead pattern portion I2b exposed through the second open area OA2 . For example, the second connection portion 80 may completely or partially cover the upper surfaces of the first sub second second inner lead pattern portion I2a and the second sub second second inner lead pattern portion I2b.

서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 수는 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수와 대응될 수 있다.The number of the plurality of first sub second second inner lead pattern portions 12a spaced apart from each other is equal to the number of the second connecting portions 80 disposed on the first sub second second inner lead pattern portion 12a .

예를 들어, 도 16을 참조하면, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a)의 수는 2개이고, 상기 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수는 2개 일 수 있다. 16, the number of the plurality of first sub second second inner lead pattern portions I2a spaced apart from each other is two, and the number of the first sub second second inner lead pattern portions I2a The number of the second connecting portions 80 disposed in the second connecting portion 80 may be two.

서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 수는 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수와 대응될 수 있다.The number of the plurality of second sub second second inner lead pattern portions I2b spaced apart from each other is equal to the number of the second connecting portions 80 disposed on the second sub second second inner lead pattern portion 12b .

예를 들어, 도 17a 및 도 17b를 참조하면, 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 수는 3개이고, 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b) 상에 배치되는 상기 제 2 접속부(80)의 수는 3개 일 수 있다. For example, referring to FIGS. 17A and 17B, the number of the plurality of second sub second second inner lead pattern portions I2b spaced apart from each other is three, and the number of the second sub second second inner lead pattern portions The number of the second connecting portions 80 disposed on the second connecting portions I2b may be three.

상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 1 접속부(70)보다 클 수 있다. 상기 제 2 오픈 영역을 통해 노출되는 제 1 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2a) 또는 상기 제 2 서브 제 2 이너 리드 패턴부(I2b)의 폭이 상기 제 1 오픈 영역을 통해 노출되는 상기 제 1 서브 제 1 이너 리드 패턴부(I1a)의 폭보다 크기 때문에, 상기 제 2 접속부(80)는 상기 제 1 접속부(70)보다 클 수 있다.The second connection unit 80 may be larger than the first connection unit 70. Wherein a width of the first sub second second inner lead pattern portion (I2a) or the second sub second second inner lead pattern portion (I2b) exposed through the second open region is greater than a width of the first sub second second inner lead pattern portion The second connection portion 80 can be larger than the first connection portion 70 because the width of the first inner lead pattern portion I1a is larger than the width of the sub first inner lead pattern portion I1a.

도 17 a 및 도 17b를 참조하여, 실시예의 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100) 상에 제 1 칩(C1), 제 2 칩(C2a, C2b)을 배치하는 단계를 설명한다. 17A and 17B, the steps of disposing the first chip C1 and the second chips C2a and C2b on the all-in-one chip-on-film flexible circuit board 100 of the embodiment will be described.

상기 제 1 접속부(70) 상에는 제 1 칩(C1)이 배치될 수 있다. The first chip C1 may be disposed on the first connection portion 70. [

상기 제 2 접속부(80) 상에는 제 1 칩(C2)이 배치될 수 있다. The first chip C2 may be disposed on the second connection unit 80. [

상기 제 1 칩(C1) 및 상기 제 2 칩(C2)은 신호의 간섭, 또는 단선 등의 불량, 열에 의한 불량 등의 문제를 방지하기 위해서 일정한 거리로 이격하여 배치될 수 있다. The first chip C1 and the second chip C2 may be spaced apart from each other by a predetermined distance to prevent problems such as signal interference, disconnection, and the like.

실시예에 따른 전자 디바이스는 기판; 상기 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부; 및 상기 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층을 포함하고, 상기 전도성 패턴부는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부 및 제 2 전도성 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부 및 상기 제 2 전도성 패턴부는 각각 상기 기판 상에 차례로 배치되는 배선 패턴층, 제 1 도금층 및 제 2 도금층을 포함하고, 상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 1 이너 리드 패턴부, 상기 제 1 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 1 아우터 리드 패턴부, 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 2 이너 리드 패턴부, 상기 제 2 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 2 아우터 리드 패턴부, 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부를 포함하고, 상기 제 1 이너 리드 패턴부 상에는 제 1 접속부 및 제 1 칩이 배치되고, 상기 제 2 이너 리드 패턴부 상에는 제 2 접속부 및 제 2 칩이 배치되는 것을 포함하는 올인원 연성 회로기판; 상기 올인원 연성 회로기판의 일단과 연결되는 디스플레이 패널; 및 상기 올인원 연성 회로기판의 상기 일단과 반대되는 타단과 연결되는 메인보드;를 포함할 수 있다. An electronic device according to an embodiment includes: a substrate; A conductive pattern portion disposed on the substrate; And a protective layer partially disposed on the conductive pattern portion, wherein the conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion disposed apart from each other, and the first conductive pattern portion and the second conductive pattern portion The conductive pattern unit may include a wiring pattern layer, a first plating layer, and a second plating layer, which are sequentially disposed on the substrate, wherein the first conductive pattern unit includes a first inner lead pattern unit positioned at one end of the first conductive pattern unit, The first conductive pattern portion may include a first outer lead pattern portion located at the other end of the first conductive pattern portion and a first extension pattern portion connecting the one end of the first conductive pattern portion and the other end, A second outer lead pattern portion located at the other end of the second conductive pattern portion, and a second outer lead pattern portion located at one end of the second conductive pattern portion, And a second extension pattern portion connecting the one end of the second conductive pattern portion and the other end, wherein a first connection portion and a first chip are disposed on the first inner lead pattern portion, and a second extension pattern portion is provided on the second inner lead pattern portion, An all-in-one flexible circuit board including a connection portion and a second chip disposed therein; A display panel connected to one end of the all-in-one flexible circuit board; And a main board connected to the other end opposite to the one end of the all-in-one flexible circuit board.

실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 양면에 미세한 피치의 전도성 패턴부를 구현할 수 있어, 고해상도의 디스플레이부를 가지는 전자 디바이스에 적합할 수 있다. The flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can realize a conductive pattern portion with a minute pitch on both sides, and can be suitable for an electronic device having a display portion of high resolution.

또한, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 플렉서블 하며, 크기가 작고, 두께가 얇기 때문에, 다양한 전자 디바이스에 사용될 수 있다.Further, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment is flexible, small in size, and thin in thickness, and thus can be used in various electronic devices.

예를 들어, 도 18을 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 베젤을 축소할 수 있으므로, 에지 디스플레이에 사용될 수 있다.For example, referring to FIG. 18, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on film according to the embodiment can be used for an edge display since the bezel can be reduced.

예를 들어, 도 19를 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 휘어지는 플렉서블(flexible) 전자 디바이스에 포함될 수 있다. 따라서, 이를 포함하는 터치 디바이스 장치는 플렉서블 터치 디바이스 장치일 수 있다. 따라서, 사용자가 손으로 휘거나 구부릴 수 있다. 이러한 플렉서블 터치 윈도우는 웨어러블 터치 등에 적용될 수 있다.For example, referring to FIG. 19, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on film according to the embodiment can be included in a flexible electronic device that is bent. Accordingly, the touch device device including the same may be a flexible touch device device. Therefore, the user can bend or bend by hand. Such a flexible touch window can be applied to a wearable touch or the like.

예를 들어, 도 20을 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 폴더블 디스플레이 장치가 적용되는 다양한 전자 디바이스에 적용될 수 있다. 도 20a 내지 도 20c를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 폴더블 커버 윈도우가 접힐 수 있다. 폴더블 디스플레이 장치는 다양한 휴대용 전자제품에 포함될 수 있다. 자세하게, 폴더블 디스플레이 장치는 이동식 단말기(휴대폰), 노트북(휴대용 컴퓨터) 등에 포함될 수 있다. 이에 따라, 휴대용 전자제품의 디스플레이 영역은 크게 하면서도, 보관이나 이동시에는 장치의 크기를 줄일 수 있어, 휴대성을 높일 수 있다. 따라서, 휴대용 전자제품 사용자의 편의를 향상시킬 수 있다. 그러나, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니고, 폴더블 디스플레이 장치는 다양한 전자 제품에 사용될 수 있음은 물론이다.For example, referring to FIG. 20, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on film according to the embodiment can be applied to various electronic devices to which a foldable display device is applied. 20A to 20C, the folder-type display device can fold the folder-cover window. Foldable display devices can be included in a variety of portable electronic products. In detail, the folder-type display device can be included in a mobile terminal (mobile phone), a notebook (portable computer), and the like. Accordingly, while the display area of the portable electronic product is large, it is possible to reduce the size of the device when storing or moving the portable electronic device, thereby increasing the portability. Therefore, the convenience of the user of the portable electronic device can be improved. However, the embodiment is not limited thereto, and it goes without saying that the folder-type display device can be used for various electronic products.

도 20a를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 화면 영역에서 하나의 접힘 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴더블 디스플레이 장치는 접힌 형태에서 C형 형상을 가질 수 있다. 즉, 폴더블 디스플레이 장치는 일단 및 상기 일단과 반대되는 타단이 서로 포개어질 수 있다. 이때, 상기 일단과 상기 타단은 서로 가까이 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 일단과 상기 타단은 서로 마주보며 배치될 수 있다.Referring to FIG. 20A, the foldable display device may include one folded area in the screen area. For example, the foldable display device may have a C-shape in a folded configuration. That is, the folder-type display device may have one end and the other end opposite to the end. At this time, the one end and the other end may be disposed close to each other. For example, the one end and the other end may be disposed facing each other.

도 20b를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 화면 영역에서 두 개의 접힘 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴더블 디스플레이 장치는 접힌 형태에서 G형 형상을 가질 수 있다. 즉, 폴더블 디스플레이 장치는 일단 및 상기 일단과 반대되는 타단이 서로 대응되는 방향으로 접힘에 따라, 서로 포개어질 수 있다. 이때, 상기 일단과 상기 타단은 서로 이격하여 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 일단과 상기 타단은 서로 평행하게 배치될 수 있다.Referring to FIG. 20B, the foldable display device may include two folded regions in the screen region. For example, the foldable display device may have a G shape in a folded form. That is, the foldable display device can be superposed on each other as the one end and the other end opposite to the one end are folded in the directions corresponding to each other. At this time, the one end and the other end may be spaced apart from each other. For example, the one end and the other end may be arranged parallel to each other.

도 20c를 참조하면, 폴더블 디스플레이 장치는 화면 영역에서 두 개의 접힘 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴더블 디스플레이 장치는 접힌 형태에서 S형 형상을 가질 수 있다. 즉, 폴더블 디스플레이 장치는 일단 및 상기 일단과 반대되는 타단이 서로 다른 방향으로 접힐 수 있다. 이때, 상기 일단과 상기 타단은 서로 이격하여 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 일단과 상기 타단은 서로 평행하게 배치될 수 있다.Referring to FIG. 20C, the foldable display device may include two folding regions in the screen region. For example, the foldable display device may have an S-shaped configuration in a folded configuration. That is, the folder-type display device can be folded at one end and the other end opposite to the one end in different directions. At this time, the one end and the other end may be spaced apart from each other. For example, the one end and the other end may be arranged parallel to each other.

또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 롤러블 디스플레이에 적용될 수 있음은 물론이다.Also, although not shown in the drawings, it goes without saying that the flexible circuit board 100 for all-in-one chip-on-film according to the embodiment can be applied to rollerable displays.

도 21을 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 곡면 디스플레이를 포함하는 다양한 웨어러블 터치 디바이스에 포함될 수 있다. 따라서, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)을 포함하는 전자 디바이스는 슬림화, 소형화 또는 경량화될 수 있다.Referring to FIG. 21, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on film according to the embodiment may be included in various wearable touch devices including a curved display. Therefore, the electronic device including the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can be made slimmer, smaller, or lighter.

도 22를 참조하면, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 TV, 모니터, 노트북과 같은 디스플레이 부분을 가지는 다양한 전자 디바이스에 사용될 수 있다. Referring to FIG. 22, the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on-film according to the embodiment can be used in various electronic devices having a display portion such as a TV, a monitor, and a notebook.

그러나, 실시예가 이에 한정되는 것은 아니고, 실시예에 따른 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판(100)은 평판 또는 곡선 형상의 디스플레이 부분을 가지는 다양한 전자 디바이스에 사용될 수 있음은 물론이다.However, the embodiment is not limited thereto, and it goes without saying that the flexible circuit board 100 for an all-in-one chip-on film according to the embodiment can be used for various electronic devices having a flat or curved display portion.

상술한 실시예에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. The features, structures, effects and the like described in the foregoing embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified in other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.

또한, 이상에서 실시예들을 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예들에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부한 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be construed as limiting the scope of the present invention. It can be seen that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments may be modified and implemented. It is to be understood that the present invention may be embodied in many other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof.

10: 제 1 인쇄회로기판
20: 제 2 인쇄회로기판
C1: 제 1 칩
C2: 제 2 칩
30: 디스플레이 패널
40: 메인보드
50: 접착층
60: 배터리
70: 제 1 접속부
80: 제 2 접속부
100: 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판
110: 기판
120: 배선 패턴층
130: 도금층
140: 보호층
CP, CP1, CP2: 전도성 패턴부
PP: 보호부
OA1, OA2, OA3: 오픈 영역
V1, V2, V3: 비아홀
O1, O2: 아우터 리드 패턴부
O1a, O1b, O1c, O1d: 서브 제 1 아우터 리드 패턴부
O2a, O2b: 서브 제 2 아우터 리드 패턴부
I1, I2: 이너 리드 패턴부
I1a, I1b, I1c, I1d: 서브 제 1 이너 리드 패턴부
I2a, I2b: 서브 제 2 이너 리드 패턴부
E1, E2: 연장 패턴부
T1, T2: 테스트 패턴부
10: first printed circuit board
20: second printed circuit board
C1: First chip
C2: Second chip
30: Display panel
40: Motherboard
50: Adhesive layer
60: Battery
70: first connection
80: second connection
100: Flexible circuit board for all-in-one chip-on film
110: substrate
120: wiring pattern layer
130: Plating layer
140: Protective layer
CP, CP1, CP2: Conductive pattern portion
PP: Protection
OA1, OA2, OA3: Open area
V1, V2, V3: Via holes
O1, O2: Outer lead pattern portion
O1a, O1b, O1c, and O1d: the sub first outer lead pattern portion
O2a, O2b: Sub second outer lead pattern portion
I1, I2: Inner lead pattern portion
I1a, I1b, I1c, I1d: the sub first inner lead pattern portion
I2a and I2b: the sub second inner lead pattern portion
E1, E2: extension pattern portion
T1, T2: Test pattern portion

Claims (11)

기판;
상기 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부; 및
상기 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층을 포함하고,
상기 전도성 패턴부는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부 및 제 2 전도성 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 1 리드 패턴부, 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부를 포함하고,
상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단 및 타단에 위치하는 제 2 리드 패턴부, 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 리드 패턴부는 상기 제 2 리드 패턴부와 형상이 서로 다른 것을 포함하는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.
Board;
A conductive pattern portion disposed on the substrate; And
And a protective layer partially disposed on the conductive pattern portion,
Wherein the conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion disposed apart from each other,
Wherein the first conductive pattern portion includes a first lead pattern portion located at one end and the other end of the first conductive pattern portion and a first extension pattern portion connecting the one end and the other end of the first conductive pattern portion,
The second conductive pattern portion includes a second lead pattern portion located at one end and the other end of the second conductive pattern portion and a second extension pattern portion connecting the one end and the other end of the second conductive pattern portion,
Wherein the first lead pattern portion has a shape different from that of the second lead pattern portion.
제 1항에 있어서,
상기 보호층은 상기 제 1 연장 패턴부 및 상기 제 2 연장 패턴부 상에 배치되고,
상기 제 1 리드 패턴부 및 상기 제 2 리드 패턴부의 일면은 외부로 노출되는 것을 포함하는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.
The method according to claim 1,
Wherein the protective layer is disposed on the first elongated pattern portion and the second elongated pattern portion,
Wherein one surface of the first lead pattern portion and the second lead pattern portion are exposed to the outside.
제 1항에 있어서,
상기 제 1 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 리드 패턴부의 선폭보다 작은 것을 포함하는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.
The method according to claim 1,
Wherein the line width of the first lead pattern portion is smaller than the line width of the second lead pattern portion.
제 1항에 있어서,
상기 제 1 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 1 연장 패턴부의 선폭과 대응되는 것을 포함하는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.
The method according to claim 1,
Wherein the line width of the first lead pattern portion corresponds to the line width of the first extension pattern portion.
제 1항에 있어서,
상기 제 2 리드 패턴부의 선폭은 상기 제 2 연장 패턴부의 선폭보다 큰 것을 포함하는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.
The method according to claim 1,
Wherein the line width of the second lead pattern portion is larger than the line width of the second extension pattern portion.
제 1항에 있어서,
상기 제 1 전도성 패턴부는 기판 상에 제 1 간격으로 이격된 복수 개의 제 1 전도성 패턴부들을 포함하고,
상기 제 2 전도성 패턴부는 기판 상에 제 2 간격로 이격된 복수 개의 제 2 전도성 패턴부들을 포함하고,
상기 제 1 간격은 상기 제 2 간격보다 작은 것을 포함하는 올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판.
The method according to claim 1,
Wherein the first conductive pattern portion includes a plurality of first conductive pattern portions spaced apart by a first distance on a substrate,
Wherein the second conductive pattern portion includes a plurality of second conductive pattern portions spaced apart at a second interval on the substrate,
Wherein the first spacing is smaller than the second spacing.
올인원 칩 온 필름용 연성 회로기판은,
기판;
상기 기판 상에 배치되는 전도성 패턴부; 및
상기 전도성 패턴부 상에 부분적으로 배치되는 보호층을 포함하고,
상기 전도성 패턴부는 서로 이격하여 배치되는 제 1 전도성 패턴부 및 제 2 전도성 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 전도성 패턴부 및 상기 제 2 전도성 패턴부는 각각 상기 기판 상에 차례로 배치되는 배선 패턴층, 제 1 도금층 및 제 2 도금층을 포함하고,
상기 제 1 전도성 패턴부는 상기 제 1 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 1 이너 리드 패턴부, 상기 제 1 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 1 아우터 리드 패턴부, 및 상기 제 1 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 1 연장 패턴부를 포함하고,
상기 제 2 전도성 패턴부는 상기 제 2 전도성 패턴부의 일단에 위치하는 제 2 이너 리드 패턴부, 상기 제 2 전도성 패턴부의 타단에 위치하는 제 2 아우터 리드 패턴부, 및 상기 제 2 전도성 패턴부의 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 제 2 연장 패턴부를 포함하고,
상기 제 1 이너 리드 패턴부 상에는 제 1 접속부 및 제 1 칩이 배치되고,
상기 제 2 이너 리드 패턴부 상에는 제 2 접속부 및 제 2 칩이 배치되는 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.
In the all-in-one chip-on-film flexible circuit board,
Board;
A conductive pattern portion disposed on the substrate; And
And a protective layer partially disposed on the conductive pattern portion,
Wherein the conductive pattern portion includes a first conductive pattern portion and a second conductive pattern portion disposed apart from each other,
Wherein the first conductive pattern portion and the second conductive pattern portion each include a wiring pattern layer, a first plating layer, and a second plating layer, which are sequentially disposed on the substrate,
The first conductive pattern portion may include a first inner lead pattern portion located at one end of the first conductive pattern portion, a first outer lead pattern portion located at the other end of the first conductive pattern portion, And a first extension pattern portion connecting the other end,
The second conductive pattern portion may include a second inner lead pattern portion located at one end of the second conductive pattern portion, a second outer lead pattern portion located at the other end of the second conductive pattern portion, And a second extension pattern portion connecting the other end,
A first connection portion and a first chip are disposed on the first inner lead pattern portion,
And a second connection portion and a second chip are disposed on the second inner lead pattern portion.
제 7항에 있어서,
상기 제 1 이너 리드 패턴부의 상기 제 2 도금층은 순수 주석층이고,
상기 제 2 이너 리드 패턴부의 상기 제 2 도금층은 주석 합금층인 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.
8. The method of claim 7,
The second plating layer of the first inner lead pattern portion is a pure tin layer,
And the second plating layer of the second inner lead pattern portion is a tin alloy layer.
제 7항에 있어서,
상기 제 1 이너 리드 패턴부의 폭과 상기 제 1 접속부의 폭은 서로 동일하거나 20% 이내의 차이를 가지는 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.
8. The method of claim 7,
Wherein the width of the first inner lead pattern portion and the width of the first connection portion are the same or less than 20%.
제 7항에 있어서,
상기 제 2 접속부의 폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 폭보다 크고,
상기 제 2 접속부의 폭은 상기 제 2 이너 리드 패턴부의 폭의 1.5배 이상인 올인원 칩 온 필름용 연성회로기판을 포함하는 칩 패키지.
8. The method of claim 7,
The width of the second connection portion is larger than the width of the second inner lead pattern portion,
Wherein the width of the second connection portion is at least 1.5 times the width of the second inner lead pattern portion.
서로 다른 종류의 제 1 칩 및 제 2 칩이 배치되는 올인원 연성 회로기판;
상기 올인원 연성 회로기판의 일단과 연결되는 디스플레이 패널; 및
상기 올인원 연성 회로기판의 상기 일단과 반대되는 타단과 연결되는 메인보드를 포함하는 전자 디바이스.
An all-in-one flexible circuit board on which first and second chips of different kinds are arranged;
A display panel connected to one end of the all-in-one flexible circuit board; And
And a main board connected to the other end opposite to the one end of the all-in-one flexible circuit board.
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