KR20190007866A

KR20190007866A - 자동 테스트 장비에서 홀센서 다중 병렬 테스트 방법

Info

Publication number: KR20190007866A
Application number: KR1020170089457A
Authority: KR
Inventors: 장진모; 차철웅
Original assignee: 전자부품연구원
Priority date: 2017-07-14
Filing date: 2017-07-14
Publication date: 2019-01-23

Abstract

자동 테스트 장비에서 홀센서 다중 병렬 테스트 방법이 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 센서 자동 테스트 시스템은, 테스트할 다수의 센서들이 설치되는 보드, 다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 다수의 보정부들 및 보정부들에서 출력되는 보정된 센서 값들을 측정하는 미터를 포함한다. 이에 의해, 자동 테스트 장비로 동시에 병렬로 측정/테스트하는 홀센서들의 센서 값들을 테스트 보드 상에서의 설치 위치에 따라 보정하여, 설치 위치에 상관 없이 홀센서들의 테스트 결과를 정확하게 산출할 수 있다.

Description

자동 테스트 장비에서 홀센서 다중 병렬 테스트 방법{Multi-Parallel Hall Sensor Test Method in Automated Test Equipment}

본 발명은 홀센서 테스트 기술에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 자동 테스트 장비를 이용하여 동시에 병렬로 다수의 홀센서들의 전자기적 특성을 측정하고 테스트 하는 방법에 관한 것이다.

도 1은 다수의 홀센서들을 다중 병렬로 테스트하는 종래의 자동 테스트 시스템을 도시한 도면이다.

도시된 자동 테스트 시스템에서, 다수의 홀센서들(10-1 ~ 10-10)은 테스트 보드(30)에 설치되며, 자기장 발생장치(40)는 홀센서들(10-1 ~ 10-10)에 자기장을 인가한다.

그리고, 미터(20)는 다수의 홀센서들(10-1 ~ 10-10)에서 출력되는 센서 값들을 측정하고, 자동 테스트 장비인 ATE(Automatic Test Equipment)(10)는 측정 결과를 이용하여 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 테스트 한다.

이에 의해, 다수의 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 병렬로 동시에 테스트하는 것이 가능하다.

하지만, 자기장 발생장치(40)에 대한 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 설치 위치가 각기 다르며, 위치 차이에 따라 홀센서들(10-1 ~ 10-10)이 감지하는 자기력은 차이가 있다.

이에 의해, 설치 위치에 따라 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 테스트 결과가 달라질 수 있다는 문제가 있다.

이를 해결하기 위한 방안으로, 홀센서들(10-1 ~ 10-10) 모두에 동일한 자기력을 인가하도록 자기장 발생장치(40)를 설계하는 것을 상정할 수 있으나, 구현이 매우 어려워 실질적으로 불가능한 방안이다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은, 자동 테스트 장비를 이용하여 동시에 병렬로 측정/테스트하는 홀센서들의 센서 값들을 테스트 보드 상에서의 설치 위치에 따라 보정하는 센서 자동 테스트 시스템 및 방법을 제공함에 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른, 센서 자동 테스트 시스템은, 테스트할 다수의 센서들이 설치되는 보드; 다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 다수의 보정부들; 및 보정부들에서 출력되는 보정된 센서 값들을 측정하는 미터;를 포함한다.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 자동 테스트 시스템은, 센서들에 인가할 물리량을 발생시키는 발생장치;를 더 포함하고, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들은, 발생장치로부터의 다수의 센서들의 거리들과 방향들의 차이들에 의해 발생하는 오류들일 수 있다.

그리고, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 자동 테스트 시스템은, 다수의 센서들 각각에 대한 보정 값들을 저장하고 있는 메모리;를 더 포함하고, 보정부들은, 메모리에 저장된 보정 값들을 이용하여, 센서 값들을 보정할 수 있다.

또한, 보정 값들은, 기준 센서가 기준 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값과 해당 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값의 차일 수 있다.

그리고, 센서들의 개수는, 테스트에 따라 가변될 수 있다.

또한, 발생장치의 위치가 변경되면, 메모리에 저장된 보정 값들도 변경될 수 있다.

그리고, 센서들은 홀센서들일 수 있다.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른, 센서 자동 테스트 방법은, 보드에 설치된 테스트할 다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 단계; 및 보정된 센서 값들을 측정하는 단계;를 포함한다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따르면, 자동 테스트 장비로 동시에 병렬로 측정/테스트하는 홀센서들의 센서 값들을 테스트 보드 상에서의 설치 위치에 따라 보정하여, 설치 위치에 상관 없이 홀센서들의 테스트 결과를 정확하게 산출할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시예들에 따르면, 테스트 보드 상에서 홀센서들의 배치를 자유롭게 할 수 있고, 자기장 발생장치의 개수/위치도 다변화할 수 있어, 홀센서 병렬 테스트의 확장/유연성을 강화할 수 있다.

도 1은 다수의 홀센서들을 다중 병렬로 테스트하는 종래의 자동 테스트 시스템을 도시한 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 다중 병렬 홀센서 자동 테스트 시스템을 도시한 도면,
도 3은 ATE에 의한 보정 값 생성/저장 과정의 설명에 제공되는 흐름도, 그리고,
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 다중 병렬 홀센서 자동 테스트 방법의 설명에 제공되는 흐름도이다.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 다중 병렬 홀센서 자동 테스트 시스템을 도시한 도면이다. 본 발명의 실시예에 따른 다중 병렬 홀센서 자동 테스트 시스템은, 다수의 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 동시에 병렬로 테스트할 수 있다.

이때, 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 설치 위치에 따른 자기력 감지 차이를 보정하여 줌으로써, 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 설치 위치에 상관없는 정확한 테스트 결과를 보장한다.

이와 같은 기능을 수행하는 본 발명의 실시예에 따른 다중 병렬 홀센서 자동 테스트 시스템은, 도 2에 도시된 바와 같이, ATE(Automatic Test Equipment)(110), 미터(Meter)(120), 테스트 보드(Test Board)(130), 다수의 보정부들(140-1 ~ 140-10), 메모리(150) 및 자기장 발생장치(160)을 포함한다.

테스트 보드(130)에는 테스트 대상이 되는 10개의 홀센서들(10-1 ~ 10-10)이 일렬로 설치되어 있다. 홀센서들(10-1 ~ 10-10)은 주변 자기장에 의한 자기력을 감지하여 세기 값을 출력하는 센서이다.

테스트 보드(130)에 설치되는 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 개수는 예시적인 것에 불과하다. 즉, 테스트에 따라 10개 미만 또는 초과하는 홀센서가 테스트 보드(130)에 설치되는 경우도 본 발명의 실시예가 적용될 수 있다.

나아가, 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 배열 형태도 도 2에 도시된 바와 다르게 구현할 수 있다. 즉, 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 일렬이 아닌 다열로 배치하는 것이 가능하다.

자기장 발생장치(160)은 홀센서들(10-1 ~ 10-10)에 인가할 자기장을 발생시킨다.

도 2에서 자기장 발생장치(160)의 위치는 예시적인 것에 불과하다. 도시된 위치와 다른 위치에 설치하는 것이 가능하다. 또한, 도 2에서 자기장 발생장치(160)는 1개인 것을 상정하고 도시하였으나, 다수 개로 구현하는 것도 가능함은 물론이다.

다수의 보정부들(140-1 ~ 140-10)은 홀센서들(10-1 ~ 10-10)에서 출력되는 센서 값들에 대해, 홀센서들(10-1 ~ 10-10)이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정한다.

홀센서들(10-1 ~ 10-10)이 설치된 위치들에 따른 오류들은, 자기장 발생장치(160)로부터의 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 거리들과 방향들의 차이들에 의해 발생하는 오류들이다.

메모리(150)에는 홀센서들(10-1 ~ 10-10) 각각에 대한 보정 값들을 저장하고 있다. 여기서, 보정 값들은 홀센서가 기준 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값과 해당 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값의 차이다.

이를 테면, 홀센서가 기준 위치(이를 테면, 홀센서 #5(10-5)가 설치된 위치)에 설치된 경우에 출력하는 센서 값이 A이고, 홀센서 #1(10-1)이 설치된 위치에 설치된 경우에 출력하는 센서 값이 B인 경우, 홀센서 #1(10-1)이 설치된 위치에서의 보정 값은 "A-B"가 된다.

보정부들(140-1 ~ 140-10)은 메모리(150)에 저장된 보정 값들을 이용하여 홀센서들(10-1 ~ 10-10)에서 출력되는 센서 값들을 보정한다. 보정부들(140-1 ~ 140-10)은 홀센서들(10-1 ~ 10-10) 각각에 대응되어 있으므로,

1) 보정부 #1(140-1)은 메모리(150)에 저장된 홀센서 #1(10-1)의 위치에 따른 보정 값들을 이용하여, 홀센서 #1(10-1)의 센서 값을 보정하고,

2) 보정부 #2(140-2)는 메모리(150)에 저장된 홀센서 #2(10-2)의 위치에 따른 보정 값들을 이용하여, 홀센서 #2(10-2)의 센서 값을 보정하며,

...

10) 보정부 #10(140-10)은 메모리(150)에 저장된 홀센서 #10(10-10)의 위치에 따른 보정 값들을 이용하여, 홀센서 #10(10-10)의 센서 값을 보정한다.

ATE(110)에 마련된 미터(120)는, 보정부들(140-1 ~ 140-10)에서 출력되는 보정된 센서 값들을 측정한다. 그러면, ATE(110)는 미터(120)에 의해 측정된 보정된 센서 값들을 기초로 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 테스트한다.

한편, ATE(110)는 보정 값들을 생성하여 메모리(150)에 저장하고, 메모리(150)에 저장된 보정 값들을 업데이트한다.

테스트 보드(130)에서 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 개수/위치가 변경된 경우 보정 값들의 업데이트가 필요하다. 또한, 자기장 발생장치(160)의 개수/위치가 변경된 경우에도 보정 값들의 업데이트가 필요하다.

ATE(110)에 의해 메모리(150)에 저장된 보정 값들이 업데이트 되므로, 테스트 보드(130) 상에서 홀센서들(10-1 ~ 10-10)의 개수/위치 및 자기장 발생장치(160)의 개수/위치는 자유롭게 변경/확장/축소 가능하다.

도 3은 ATE(110)에 의한 보정 값 생성/저장 과정의 설명에 제공되는 흐름도이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 먼저, 기준 위치(이를 테면, 홀센서 #5(10-5)가 설치된 위치)에 홀센서를 설치하고(S210), 자기장 발생장치(160)를 구동시켜(S220), 미터(120)를 통해 홀센서에서 출력되는 센서 값을 측정한다(S230).

이 과정에서, 기준 위치에 대한 보정부(위 예에서는 보정부 #5(140-4))는 홀센서에서 출력되는 센서 값에 대한 보정을 수행하지 않는다.

다음, S210단계에서 기준 위치에 설치하였었던 홀센서를 다른 위치들(위 예에서는, 홀센서 #5(10-5)가 설치된 위치 이외의 다른 위치들)에 설치하면서(S240), 자기장 발생장치(160)를 구동시켜(S250), 미터(120)를 통해 홀센서에서 출력되는 센서 값을 측정한다(S270).

이 과정에서도, 보정부는 홀센서에서 출력되는 센서 값에 대한 보정을 수행하지 않는다. 그리고, S240단계 내지 S260단계는, 기준 위치를 제외한 다른 모든 위치들에 대해 수행된다(S270).

완료되면, ATE(110)는 S230단계에서 측정된 센서 값을 기준 값으로 하여, S260단계에서 측정된 센서 값들 각각에 대한 보정 값들을 생성한다(S280). S280단계에서 생성되는 보정 값은, "기준 값 - 센서 값"이다. 따라서, 위 예의 경우, 홀센서 #5(10-5)에 대한 보정 값은 "0"이 된다.

이후, ATE(110)는 S280단계에서 생성된 보정 값들을 메모리(150)에 저장한다(S290).

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 다중 병렬 홀센서 자동 테스트 방법의 설명에 제공되는 흐름도이다.

도 4에 도시된 바와 같이, 먼저, 테스트 보드(130)에 테스트 대상이 되는 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 설치한다(S310).

다음, 자기장 발생장치(160)를 구동시켜, S310단계에서 설치된 홀센서들(10-1 ~ 10-10)에 자기장을 인가한다(S320).

이에, 홀센서들(10-1 ~ 10-10)은 자기장을 검출하여 상응하는 센서 값들을 출력하며(S330), 보정부들(140-1 ~ 140-10)은 메모리(150)에 저장된 보정 값들을 이용하여, S330단계에서 출력되는 센서 값들을 보정한다(S340).

미터(120)는 S340단계에서 보정된 센서 값들을 측정하고(S350), ATE(110)는 S350단계에서 측정된 보정된 센서 값들을 기초로 홀센서들(10-1 ~ 10-10)을 테스트한다(S360).

지금까지, 홀센서 다중 병렬 테스트 시스템 및 방법에 대해 바람직한 실시예를 들어 상세히 설명하였다.

위 실시예에서는, ATE를 이용하여 병렬로 동시에 여러 개의 홀센서들을 정확하게 테스트하기 위해 테스트 보드에 메모리를 장착하여 홀센서 각각의 위치 차이로 발생하는 센서 값의 오류를 보정하여 정확하고 신속하게 홀센서의 대량 테스트를 하도록 하였다.

이에 의해, 홀센서 테스트 보드 상의 위치에 관계 없이 신속하고 정확하게 홀센서 병렬 테스트가 가능하고, 테스트 보드상의 자기장 발생장치의 개수를 확장함으로 홀센서 병렬 테스트 개수 확장이 용이하다.

나아가, 위 실시예에서는 홀센서의 테스트를 상정하였는데, 예시적인 것에 불과하다. 홀센서를 다른 종류의 센서로 대체하는 경우에도 본 발명의 기술적 사상이 적용될 수 있다.

한편, 본 실시예에 따른 장치와 방법의 기능을 수행하게 하는 컴퓨터 프로그램을 수록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에도 본 발명의 기술적 사상이 적용될 수 있음은 물론이다. 또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 기술적 사상은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 기록된 컴퓨터로 읽을 수 있는 코드 형태로 구현될 수도 있다. 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터에 의해 읽을 수 있고 데이터를 저장할 수 있는 어떤 데이터 저장 장치이더라도 가능하다. 예를 들어, 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광디스크, 하드 디스크 드라이브, 등이 될 수 있음은 물론이다. 또한, 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 저장된 컴퓨터로 읽을 수 있는 코드 또는 프로그램은 컴퓨터간에 연결된 네트워크를 통해 전송될 수도 있다.

또한, 이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.

10-1 ~ 10-10 : 홀센서
110 : ATE(Automatic Test Equipment)
120 : 미터(Meter)
130 : 테스트 보드(Test Board)
140-1 ~ 140-10 : 보정부
150 : 메모리
160 : 자기장 발생장치

Claims

테스트할 다수의 센서들이 설치되는 보드;
다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 다수의 보정부들; 및
보정부들에서 출력되는 보정된 센서 값들을 측정하는 미터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
청구항 1에 있어서,
센서들에 인가할 물리량을 발생시키는 발생장치;를 더 포함하고,
다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들은,
발생장치로부터의 다수의 센서들의 거리들과 방향들의 차이들에 의해 발생하는 오류들인 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
청구항 2에 있어서,
다수의 센서들 각각에 대한 보정 값들을 저장하고 있는 메모리;를 더 포함하고,
보정부들은,
메모리에 저장된 보정 값들을 이용하여, 센서 값들을 보정하는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
청구항 3에 있어서,
보정 값들은,
기준 센서가 기준 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값과 해당 위치에 설치된 경우에 출력하는 출력 값의 차인 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
청구항 3에 있어서,
센서들의 개수는,
테스트에 따라 가변되는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
청구항 3에 있어서,
발생장치의 위치가 변경되면, 메모리에 저장된 보정 값들도 변경되는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
청구항 1에 있어서,
센서들은 홀센서들인 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 시스템.
보드에 설치된 테스트할 다수의 센서들에서 출력되는 센서 값들에 대해, 다수의 센서들이 설치된 위치들에 따른 오류들을 각각 보정하는 단계; 및
보정된 센서 값들을 측정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 자동 테스트 방법.