KR20180120760A - 정전 용량식 센서 - Google Patents

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알프스 덴키 가부시키가이샤
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Abstract

ESD에 의한 연결부의 단선이 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있는 정전 용량식 센서로서, 소정 방향으로 나열되어 배치된 복수의 투명 전극(5)을 가지는 전극 연결체(12)와, 전극 연결체(12)의 일방의 단부에 전기적으로 접속된 제 1 배선부(61)와, 전극 연결체(12)의 타방의 단부에 전기적으로 접속된 제 2 배선부(62)와, 소정 방향에 있어서 검출 영역(11)의 중앙부에 배치된 복수의 투명 전극(5)을 전기적으로 접속하는 중앙 연결부와, 소정 방향에 있어서 중앙부 외에 배치된 복수의 투명 전극(5)을 전기적으로 접속하는 주변 연결부를 구비하고, 제 1 배선부(61)와 제 2 배선부(62)는, 비검출 영역(25)에 있어서 서로 전기적으로 접속되며, 중앙 연결부의 전기 저항값은, 주변 연결부의 전기 저항값보다 높은 정전 용량식 센서(1)가 제공된다.

Description

정전 용량식 센서
본 발명은, 정전 용량식 센서에 관한 것이며, 특히 기재에 형성된 전극의 양측으로부터 배선부가 인출되어, 양측의 배선부끼리가 비검출 영역에서 전기적으로 접속된 정전 용량식 센서에 관한 것이다.
특허 문헌 1에는, 기재에 형성된 복수의 투명 전극의 양측으로부터 배선부가 인출되고, 양측의 배선부끼리가 입력 영역의 주위에 위치하는 주변 영역에서 전기적으로 접속된 정전 용량식 입력 장치가 개시되어 있다. 특허 문헌 1에 기재된 복수의 투명 전극은, 연결부를 개재하여 전기적으로 접속되어 있다. 특허 문헌 1에 기재된 정전 용량식 입력 장치에 의하면, 예를 들면 카 네비게이션 장치에 탑재되는 차량 탑재용의 센서 등과 같이, 비교적 넓은 영역에 배치되는 정전 용량식 센서여도, 전기 저항을 저감할 수 있어, 전하의 차지 시간을 빠르게 할 수 있다. 이 때문에, 좌표 입력이나 제스처 조작에 대하여 양호한 응답성을 얻을 수 있다.
일본 공개특허 특개2013-210938호 공보
그러나, 예를 들면 제조 공정 등에 있어서, ESD(Electro Static Discharge: 정전기 방전)가 발생하면, ESD에 의해 발생된 전기가 연결부에 흐르는 경우가 있다. 그러면, 국소적인 열팽창 및 열수축 중 적어도 어느 것이 연결부에 발생하여, 단선에 이르는 파괴가 연결부에 발생하는 경우가 있다.
입력 영역의 중앙부 이외(예를 들면 단부(端部))에 배치된 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 연결부가 단선되면, 연결부의 단선이 정전 용량식 입력 장치의 검출 동작에 영향을 주는 경우가 있다. 즉, 입력 영역의 중앙부 이외(예를 들면 단부)에 배치된 연결부가 단선되면, 단선된 연결부의 양측에 배치된 투명 전극 및 연결부의 전기 저항값이 서로 상이하다. 구체적으로는, 전기적으로 접속된 투명 전극 및 연결부의 수가 상대적으로 적은 측(접속의 길이가 상대적으로 짧은 측)의 전기 저항값은, 상대적으로 작다. 한편, 전기적으로 접속된 투명 전극 및 연결부의 수가 상대적으로 많은 측(접속의 길이가 상대적으로 긴 측)의 전기 저항값은, 상대적으로 크다.
그러면, 전하의 차지 시간이, 단선된 연결부의 양측에 있어서 서로 상이하다. 구체적으로는, 전기적으로 접속된 투명 전극 및 연결부의 수가 상대적으로 적은 측(접속의 길이가 상대적으로 짧은 측)에 있어서의 전하의 차지 시간은, 상대적으로 빠르다. 한편, 전기적으로 접속된 투명 전극 및 연결부의 수가 상대적으로 많은 측(접속의 길이가 상대적으로 긴 측)에 있어서의 전하의 차지 시간은, 상대적으로 느리다.
이 때문에, 입력 영역의 중앙부 이외에 배치된 연결부가 단선되면, 정전 용량식 입력 장치의 응답성 즉 시정수가, 단선된 연결부의 양측에 있어서 서로 상이하다. 이와 같이, 입력 영역의 중앙부 이외에 배치된 연결부가 단선되면, 단선된 연결부의 양측에 있어서 시정수의 불균형이 발생한다. 이에 따라, ESD에 의한 연결부의 단선이 정전 용량식 입력 장치의 검출 동작에 영향을 주는 경우가 있다.
본 발명은, 상기 종래의 과제를 해결하기 위한 것이며, ESD에 의한 연결부의 단선이 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있는 정전 용량식 센서를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 정전 용량식 센서는, 일 양태에 있어서, 투광성을 가지는 기재와, 상기 기재의 검출 영역에 있어서 소정 방향으로 나열되어 배치된 투광성을 가지는 복수의 투명 전극을 가지는 전극 연결체와, 상기 검출 영역의 외측의 비검출 영역으로 연장되어 마련되며 상기 전극 연결체의 일방의 단부에 전기적으로 접속된 제 1 배선부와, 상기 검출 영역의 외측의 비검출 영역으로 연장되어 마련되며 상기 전극 연결체의 타방의 단부에 전기적으로 접속된 제 2 배선부와, 상기 소정 방향에 있어서 상기 검출 영역의 중앙부에 배치된 상기 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 중앙 연결부와, 상기 소정 방향에 있어서 상기 중앙부 이외에 배치된 상기 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 주변 연결부를 구비하고, 상기 제 1 배선부와 상기 제 2 배선부는, 상기 비검출 영역에 있어서 서로 전기적으로 접속되며, 상기 중앙 연결부의 전기 저항값은, 상기 주변 연결부의 전기 저항값보다 높은 것을 특징으로 한다.
상기의 정전 용량식 센서에서는, 복수의 투명 전극을 가지는 전극 연결체의 일방의 단부에 전기적으로 접속된 제 1 배선부가, 전극 연결체의 타방의 단부에 전기적으로 접속된 제 2 배선부에 대하여 비검출 영역에 있어서 전기적으로 접속되어 있다. 또한, 복수의 투명 전극이 나열된 소정 방향에 있어서 검출 영역의 중앙부에 배치된 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 중앙 연결부의 전기 저항값은, 소정 방향에 있어서 중앙부 이외에 배치된 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 주변 연결부의 전기 저항값보다 높다.
이에 따라, ESD에 의해 중앙 연결부에 발생하는 전압 강하량은, ESD에 의해 주변 연결부에 발생하는 전압 강하량보다 크다. 이 때문에, ESD에 의해 중앙 연결부에 발생하는 열량은, ESD에 의해 주변 연결부에 발생하는 열량보다 크다. 이 때문에, ESD가 발생하면, 주변 연결부에 비해, 중앙 연결부가 우선적으로 단선되기 쉽다. 즉, ESD에 기인하여 발생하는 단선을 중앙 연결부에 집중시킬 수 있다.
중앙 연결부는, 제 1 배선부 및 제 2 배선부의 쌍방으로부터 떨어진 위치에 위치한다. 또한, 중앙 연결부는, 주변 연결부에 비해 전하가 흐르기 어렵다. 이 때문에, 중앙 연결부가 단선되어 있지 않은 상태라도, 중앙 연결부의 일방단에 접속되어 있는 투명 전극으로의 전하의 차지는 제 1 배선부측으로부터 행해지는 것이 지배적이며, 중앙 연결부의 타방단에 접속되어 있는 투명 전극으로의 전하의 차지는 제 2 배선부측으로부터 행해지는 것이 지배적이다. 이 때문에, ESD가 발생하여 중앙 연결부가 단선되어도, 중앙 연결부의 양단에 접속되어 있는 2개의 투명 전극으로의 전하의 차지의 프로세스에는 큰 변화는 발생하지 않는다. 이것을 바꿔 말하면, 중앙 연결부의 양단에 접속되어 있는 2개의 투명 전극에 있어서의 시정수는, 중앙 연결부가 단선되어 있지 않아도 단선되어 있어도 큰 차이가 없다. 따라서, ESD에 기인하는 단선이 중앙 연결부에 집중되는 구조로 함으로써, ESD가 정전 용량식 센서의 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있다.
또한, 중앙 연결부의 전기 저항값이 주변 연결부의 전기 저항값보다 높기 때문에, ESD에 기인하는 단선이 중앙 연결부에 집중되는 것 같은 구조에 있어서, 어떠한 원인에 의해 주변 연결부가 단선된 경우에는, 단선된 주변 연결부에 접속되어 있던 투명 전극의 시정수가, 다른 투명 전극의 시정수보다 특히 높아진다. 즉, 단선된 주변 연결부에 접속되어 있던 투명 전극의 시정수가 특이점이 된다. 이 때문에, 예를 들면 제조 공정에 있어서 ESD에 의한 주변 연결부의 단선이 발생한 경우라도, 주변 연결부의 단선을 제조 공정에 있어서 용이하게 검출할 수 있다.
상기의 정전 용량식 센서에 있어서, 상기 중앙 연결부의 폭은, 상기 주변 연결부의 폭보다 얇아도 된다. 이 경우에는, 중앙 연결부 및 주변 연결부를 형성하는 공정에 있어서, 비교적 용이하게, 중앙 연결부의 전기 저항값을 주변 연결부의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 연결부의 단선이 정전 용량식 센서의 검출 동작에 주는 영향을 비교적 용이하게 억제할 수 있다.
상기의 정전 용량식 센서에 있어서, 상기 중앙 연결부의 두께는, 상기 주변 연결부의 두께보다 얇아도 된다. 이 경우에 있어서도, 중앙 연결부 및 주변 연결부를 형성하는 공정에 있어서, 비교적 용이하게, 중앙 연결부의 전기 저항값을 주변 연결부의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 연결부의 단선이 정전 용량식 센서의 검출 동작에 주는 영향을 비교적 용이하게 억제할 수 있다.
상기의 정전 용량식 센서에 있어서, 상기 중앙 연결부는, 상기 주변 연결부를 형성하는 재료의 전기 저항률보다 높은 전기 저항률을 가지는 재료를 포함해도 된다. 이 경우에는, 중앙 연결부 및 주변 연결부의 형상이 아닌, 중앙 연결부 및 주변 연결부를 형성하는 재료에 의해, 중앙 연결부의 전기 저항값을 주변 연결부의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 연결부의 단선이 정전 용량식 센서의 검출 동작에 주는 영향을 보다 확실하게 억제할 수 있다.
본 발명에 의하면, ESD에 의한 연결부의 단선이 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있는 정전 용량식 센서가 제공된다.
도 1은 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서를 나타내는 평면도이다.
도 2는 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서를 모식적으로 나타낸 단면도이다.
도 3은 본 실시 형태의 기재에 마련된 전극의 구성을 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3에 나타낸 절단면 C1-C1에 있어서의 단면도이다.
도 5는 도 3에 나타낸 절단면 C2-C2에 있어서의 단면도이다.
도 6은 본 실시 형태의 중앙 연결부가 단선된 경우를 예시하는 평면도이다.
도 7은 본 실시 형태의 주변 연결부가 단선된 경우를 예시하는 평면도이다.
도 8은 제 2 투명 전극의 시정수를 나타내는 그래프이다.
도 9는 비교예의 주변 연결부가 단선된 경우를 예시하는 평면도이다.
도 10은 다른 실시 형태의 제 2 연결부를 설명하는 단면도이다.
이하, 본 발명의 실시 형태에 대해 도면을 참조하면서 설명한다. 또한, 각 도면 중, 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여하여 상세한 설명은 적절히 생략한다.
도 1은, 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서를 나타내는 평면도이다.
도 2은, 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서를 모식적으로 나타낸 단면도이다.
도 3은, 본 실시 형태의 기재에 마련된 전극의 구성을 나타내는 평면도이다.
도 4는, 도 3에 나타낸 절단면 C1-C1에 있어서의 단면도이다.
도 5는, 도 3에 나타낸 절단면 C2-C2에 있어서의 단면도이다.
또한, 투명 전극은 투명하므로 본래는 시인할 수 없지만, 도 1 및 도 3에서는 이해를 용이하게 하기 위해 투명 전극의 외형을 나타내고 있다.
본원 명세서에 있어서 「투명」 및 「투광성」이란, 가시광선 투과율이 50% 이상(바람직하게는 80% 이상)의 상태를 가리킨다. 또한, 헤이즈값이 6% 이하인 것이 바람직하다. 본원 명세서에 있어서 「차광」 및 「차광성」이란, 가시광선 투과율이 50% 미만(바람직하게는 20% 미만)의 상태를 가리킨다.
도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같이, 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서(1)는, 기재(2)와, 광학 투명 점착층(30)과, 패널(3)을 구비한다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 기재(2), 광학 투명 점착층(30) 및 패널(3)은, 이 순서로 적층되어 있다. 즉, 광학 투명 점착층(30)은, 기재(2)와 패널(3)과의 사이에 마련되어 있다. 정전 용량식 센서(1)의 제조 공정에 있어서, 기재(2) 및 패널(3)의 각각의 외측의 주면(主面)은, 예를 들면 보호 시트(43) 등에 의해 덮여 있다.
기재(2)는, 투광성을 가지고, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 등의 필름 형상의 투명 기재나 유리 기재 등으로 형성된다. 기재(2)의 일방의 주면에는, 투명 전극 등이 마련되어 있다. 이 상세에 대해서는, 후술한다. 패널(3)은, 투광성을 가진다. 패널(3)의 재료는, 특별히 한정되지 않는다. 패널(3)의 재료로서는, 유리 기재나 플라스틱 기재가 바람직하게 적용된다. 패널(3)은, 기재(2)와 패널(3)과의 사이에 마련된 광학 투명 점착층(OCA; Optical Clear Adhesive)(30)을 개재하여 기재(2)와 접합되어 있다. 광학 투명 점착층(OCA)(30)은, 아크릴계 점착제나 양면 점착 테이프 등으로 이루어진다.
도 1에 나타낸 바와 같이, 정전 용량식 센서(1)는, 패널(3)측의 면의 법선을 따른 방향(Z1-Z2 방향)에서 볼 때, 검출 영역(11)과 비검출 영역(25)으로 이루어진다. 검출 영역(11)은, 손가락(F) 등의 조작체에 의해 조작을 행할 수 있는 영역이며, 비검출 영역(25)은, 검출 영역(11)의 외주측에 위치하는 액자 형상의 영역이다. 비검출 영역(25)은, 패널(3)의 주면에 마련된 가식층(14)(도 2 참조)에 의해 차광되며, 정전 용량식 센서(1)에 있어서의 패널(3)측의 면으로부터 기재(2)측의 면으로의 광(외광이 예시된다.) 및 기재(2)측의 면으로부터 패널(3)측의 면으로의 광(정전 용량식 센서(1)와 조합하여 사용되는 표시 장치의 백라이트로부터의 광이 예시된다.)은, 비검출 영역(25)을 투과하기 어렵게 되어 있다.
도 1, 도 3, 도 4(도 3에 나타낸 절단면 C1-C1에 있어서의 단면도) 및 도 5(도 3에 나타낸 절단면 C2-C2에 있어서의 단면도)에 나타낸 바와 같이, 기재(2)의 일방의 주면에는, 제 1 전극 연결체(8)와, 제 2 전극 연결체(12)가 마련되어 있다. 제 1 전극 연결체(8)는, 검출 영역(11)에 배치되고, 복수의 제 1 투명 전극(4)을 가진다. 도 3을 참조하면서 도 5에 나타내는 바와 같이, 복수의 제 1 투명 전극(4)은, 기재(2)에 있어서의 Z1-Z2 방향을 따른 방향을 법선으로 하는 주면 중 Z1측에 위치하는 주면(이하, 「표면」이라고 약기하는 경우가 있다.)(2a)에 마련되어 있다. 각 제 1 투명 전극(4)은, 가늘고 긴 제 1 연결부(7)를 개재하여 Y1-Y2 방향(제 1 방향)으로 연결되어 있다. 그리고, Y1-Y2 방향으로 연결된 복수의 제 1 투명 전극(4)을 가지는 제 1 전극 연결체(8)가, X1-X2 방향으로 간격을 두고 배열되어 있다. 제 1 연결부(7)는, 제 1 투명 전극(4)에 일체로서 형성되어 있다.
제 1 투명 전극(4) 및 제 1 연결부(7)는, ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투명 도전성 재료로 스퍼터나 증착 등에 의해 형성된다. 투명 도전성 재료로서는, ITO 외에, 은 나노 와이어로 대표되는 금속 나노 와이어, 메시 형상으로 형성된 얇은 금속, 혹은 도전성 폴리머 등을 들 수 있다. 이것은, 후술하는 투명 도전성 재료에 있어서도 동일하다.
제 2 전극 연결체(12)는, 검출 영역(11)에 배치되며, 복수의 제 2 투명 전극(5)을 가진다. 도 3을 참조하면서 도 4에 나타내는 바와 같이, 복수의 제 2 투명 전극(5)은, 기재(2)의 표면(2a)에 마련되어 있다. 이와 같이, 제 2 투명 전극(5)은, 제 1 투명 전극(4)과 동일한 면(기재(2)의 표면(2a))에 마련되어 있다. 도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 각 제 2 투명 전극(5)은, 가늘고 긴 제 2 연결부(10)를 개재하여 X1-X2 방향(제 2 방향)으로 연결되어 있다. 그리고, X1-X2 방향으로 연결된 복수의 제 2 투명 전극(5)을 가지는 제 2 전극 연결체(12)가, Y1-Y2 방향으로 간격을 두고 배열되어 있다. 제 2 연결부(10)는, 제 2 투명 전극(5)과는 별체로 형성되어 있다. 또한, X1-X2 방향은, Y1-Y2 방향과 교차하고 있다. 예를 들면, X1-X2 방향은, Y1-Y2 방향과 수직으로 교차하고 있다.
제 2 투명 전극(5)은, ITO 등의 투명 도전성 재료로 스퍼터나 증착 등에 의해 형성된다. 제 2 연결부(10)는, ITO 등의 투명 도전성 재료로 형성된다. 혹은, 제 2 연결부(10)는, ITO 등의 투명 도전성 재료를 포함하는 제 1 층과, 제 1 층보다 저저항이며 투명한 금속으로 이루어지는 제 2 층을 가지고 있어도 된다. 제 2 연결부(10)가 제 1 층과 제 2 층과의 적층 구조를 가지는 경우에는, 제 2층은, Au, Au 합금, CuNi 및 Ni로 이루어지는 군으로부터 선택된 어느 것에 의해 형성되는 것이 바람직하다. 이 중에서도, Au를 선택하는 것이 보다 바람직하다. 제 2 층이 Au에 의해 형성된 경우에는, 제 2 연결부(10)는, 양호한 내환경성(내습성, 내열성)을 얻을 수 있다.
도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 각 제 1 투명 전극(4)간을 연결하는 제 1 연결부(7)의 표면에는, 절연층(20)이 마련되어 있다. 도 4에 나타내는 바와 같이, 절연층(20)은, 제 1 연결부(7)와 제 2 투명 전극(5)과의 사이의 공간을 메우고, 제 2 투명 전극(5)의 표면에도 다소 얹혀 있다. 절연층(20)으로서는, 예를 들면 노볼락 수지(레지스트)가 이용된다.
도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 제 2 연결부(10)는, 절연층(20)의 표면(20a)으로부터 절연층(20)의 X1-X2 방향의 양측에 위치하는 각 제 2 투명 전극(5)의 표면에 걸쳐 마련되어 있다. 제 2 연결부(10)는, 각 제 2 투명 전극(5)간을 전기적으로 접속하고 있다.
도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 각 제 1 투명 전극(4)간을 접속하는 제 1 연결부(7)의 표면에는 절연층(20)이 마련되어 있으며, 절연층(20)의 표면에 각 제 2 투명 전극(5)간을 접속하는 제 2 연결부(10)가 마련되어 있다. 이와 같이, 제 1 연결부(7)와 제 2 연결부(10)와의 사이에는 절연층(20)이 개재되고, 제 1 투명 전극(4)과 제 2 투명 전극(5)은 전기적으로 절연된 상태로 되어 있다. 본 실시 형태에서는, 제 1 투명 전극(4)과 제 2 투명 전극(5)이 동일한 면(기재(2)의 표면(2a))에 마련되어 있기 때문에, 정전 용량식 센서(1)의 박형화를 실현할 수 있다.
도 3, 도 4 및 도 5에 나타낸 각 연결부의 배치예에서는, 제 1 연결부(7)가 제 1 투명 전극(4)에 일체로서 형성되고, 제 2 연결부(10)가 제 1 연결부(7)를 덮는 절연층(20)의 표면(20a)에 제 2 투명 전극(5)과는 별체로서 형성되어 있다. 즉, 제 2 연결부(10)는, 브리지 배선으로서 마련되어 있다. 단, 각 연결부의 배치 형태는, 이것에만 한정되지 않는다. 예를 들면, 제 1 연결부(7)가 절연층(20)의 표면(20a)에 제 1 투명 전극(4)과는 별체로서 형성되고, 제 2 연결부(10)가 제 2 투명 전극(5)에 일체로서 형성되어 있어도 된다. 즉, 제 1 연결부(7)가 브리지 배선으로서 마련되어 있어도 된다. 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서(1)의 설명에서는, 제 2 연결부(10)가 브리지 배선으로서 마련된 경우를 예로 든다.
도 3 및 도 4에 나타낸 바와 같이, 제 1 연결부(10)는, 중앙 연결부(10a)와, 주변 연결부(10b)를 가진다. 중앙 연결부(10a)는, 제 2 전극 연결체(12)가 연장된 X1-X2 방향에 있어서 검출 영역(11)의 중앙부에 배치된 복수의 제 2 투명 전극(5)을 전기적으로 접속하고 있다. 주변 연결부(10b)는, 제 2 전극 연결체(12)가 연장된 X1-X2 방향에 있어서 검출 영역(11)의 중앙부 이외(예를 들면 단부)에 배치된 복수의 제 2 투명 전극(5)을 전기적으로 접속하고 있다.
또한, 제 1 연결부(7), 제 2 연결부(10) 및 절연층(20)은, 모두 검출 영역(11) 내에 위치하는 것이며, 제 1 투명 전극(4) 및 제 2 투명 전극(5)과 마찬가지로 투광성을 가진다.
도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이, 비검출 영역(25)에는, 제 1 배선부(61), 제 2 배선부(62) 및 제 3 배선부(63)가 형성되어 있다. 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)는, 제 2 전극 연결체(12)의 양측의 단부로부터 인출되어 있다. 구체적으로는, 제 1 배선부(61)는, 제 2 전극 연결체(12)의 일방의 단부(X1측의 단부)로부터 일방의 비검출 영역(X1측의 비검출 영역)(25)으로 인출되어 연장되고 있다. 제 1 배선부(61)는, 제 2 전극 연결체(12)의 일방의 단부에 전기적으로 접속되어 있다. 제 2 배선부(62)는, 제 2 전극 연결체(12)의 타방의 단부(X2측의 단부)로부터 타방의 비검출 영역(X2측의 비검출 영역)(25)으로 인출되어 연장되고 있다. 제 2 배선부(62)는, 제 2 전극 연결체(12)의 타방의 단부에 전기적으로 접속되어 있다.
제 3 배선부(63)는, 제 1 전극 연결체(8)의 일방의 단부로부터 인출되어 있다. 구체적으로는, 제 3 배선부(63)는, 제 1 전극 연결체(8)의 일방의 단부(Y2측의 단부)로부터 일방의 비검출 영역(Y2측의 비검출 영역)(25)으로 인출되어 연장되고 있다. 제 3 배선부(63)는, 제 1 전극 연결체(8)의 일방의 단부에 전기적으로 접속되어 있다.
도 1에 나타낸 바와 같이, 제 2 전극 연결체(12)는, 접속 배선(16)을 개재하여 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)에 전기적으로 접속되어 있다. 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)는, 비검출 영역(25)에 마련된 접점부(17)에 있어서 서로 전기적으로 접속되어 있음과 함께, 플렉시블 프린트 기판(29)과 전기적으로 접속되는 외부 접속부(27)에 접속되어 있다. 즉, 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)는, 서로 전기적으로 접속되어 있음과 함께, 제 2 전극 연결체(12)와, 외부 접속부(27)를 전기적으로 접속하고 있다.
제 1 전극 연결체(8)는, 접속 배선(15)을 개재하여 제 3 배선부(63)에 전기적으로 접속되어 있다. 제 3 배선부(63)는, 플렉시블 프린트 기판(29)과 전기적으로 접속되는 외부 접속부(27)에 접속되어 있다. 즉, 제 3 배선부(63)는, 제 1 전극 연결체(8)와, 외부 접속부(27)를 전기적으로 접속하고 있다. 외부 접속부(27)는, 예를 들면 도전 페이스트를 개재하여, 플렉시블 프린트 기판(29)과 전기적으로 접속되어 있다.
제 1 배선부(61)와 제 3 배선부(63)의 사이에는, 절연층(19)이 마련되어 있다. 예를 들면, 절연층(19)은, 제 3 배선부(63)의 표면에 형성되어 있다. 이와 같이, 절연층(19)이 제 1 배선부(61)와 제 3 배선부(63)와의 사이에 개재되기 때문에, 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)와, 제 3 배선부(63)는 서로 전기적으로 절연된 상태로 되어 있다.
각 배선부(61, 62, 63)는, Cu, Cu 합금, CuNi 합금, Ni, Ag, Au 등의 금속을 가지는 재료에 의해 형성된다. 각 접속 배선(15, 16)은, ITO 등의 투명 도전성 재료로 형성되고, 검출 영역(11)으로부터 비검출 영역(25)으로 연장 돌출되어 있다. 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)는, 접속 배선(16)의 위에 비검출 영역(25) 내에서 적층되며, 접속 배선(16)과 전기적으로 접속되어 있다. 제 3 배선부(63)는, 접속 배선(15)의 위에 비검출 영역(25) 내에서 적층되며, 접속 배선(15)과 전기적으로 접속되어 있다.
각 배선부(61, 62, 63)는, 기재(2)의 표면(2a)에 있어서의 비검출 영역(25)에 위치하는 부분에 마련되어 있다. 외부 접속부(27)도, 각 배선부(61, 62, 63)와 마찬가지로, 기재(2)의 표면(2a)에 있어서의 비검출 영역(25)에 위치하는 부분에 마련되어 있다.
도 1에서는, 이해를 용이하게 하기 위해 각 배선부(61, 62, 63)나 외부 접속부(27)가 시인되도록 표시하고 있지만, 실제로는, 도 2, 도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 기재(2)의 표면(2a)에 대향하도록 패널(3)이 마련되어 있다. 패널(3)에 있어서의 Z1-Z2 방향을 따른 방향을 법선으로 하는 주면 중 Z1측에 위치하는 주면(기재(2)의 표면(2a)에 대향하는 주면(3b)과는 반대측의 주면)(3a)은, 정전 용량식 센서(1)를 조작하는 측의 면이 되기 때문에, 본 명세서에 있어서 「조작면」이라고도 한다.
패널(3)은, 적층 구조를 가지고 있어도 된다. 적층 구조의 구체예로서, 유기계 재료로 이루어지는 필름 상에 무기계 재료로 이루어지는 하드 코트층이 형성되어 있는 적층 구조체를 들 수 있다. 패널(3)의 형상은 평판 형상이어도 되고, 다른 형상이어도 된다. 예를 들면, 패널(3)의 조작면(3a)은 곡면이어도 되고, 패널(3)의 조작면(3a)의 면 형상과, 패널(3)에 있어서의 Z1-Z2 방향을 따른 방향을 법선으로 하는 주면 중 Z2측에 위치하는 주면(환언하면, 조작면(3a)과는 반대측의 주면으로서, 이하, 「이면」이라고 약기하는 경우가 있다.)(3b)의 면 형상이 상이해도 된다.
패널(3)의 이면(3b)에 있어서의 비검출 영역(25)에 위치하는 부분에는, 도 2에 나타내는 바와 같이, 차광성을 가지는 가식층(14)이 마련되어 있다. 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서(1)에서는, 패널(3)의 이면(3b)에 있어서의 비검출 영역(25)에 위치하는 부분 전체에 가식층(14)이 마련되어 있다. 이 때문에, 정전 용량식 센서(1)를 패널(3)의 조작면(3a)측에서 보면, 각 배선부(61, 62, 63) 및 외부 접속부(27)는 가식층(14)에 의해 은폐되어, 시인되지 않는다. 가식층(14)을 구성하는 재료는, 차광성을 가지는 한 임의이다. 가식층(14)은 절연성을 가지고 있어도 된다.
도 1에 나타내는 정전 용량식 센서(1)에서는, 도 4에 나타내는 바와 같이 패널(3)의 조작면(3a) 상에 조작체의 일례로서 손가락(F)을 접촉시키면, 손가락(F)과 손가락(F)에 가까운 제 1 투명 전극(4)과의 사이, 및 손가락(F)과 손가락(F)에 가까운 제 2 투명 전극(5)과의 사이에서 정전 용량이 발생한다. 정전 용량식 센서(1)는, 이 때의 정전 용량 변화에 의거하여, 손가락(F)의 접촉 위치를 산출하는 것이 가능하다. 정전 용량식 센서(1)는, 손가락(F)과 제 1 전극 연결체(8)와의 사이의 정전 용량 변화에 의거하여 손가락(F)의 위치의 X 좌표를 검지하고, 손가락(F)과 제 2 전극 연결체(12)와의 사이의 정전 용량 변화에 의거하여 손가락(F)의 위치의 Y좌표를 검지한다(자기 용량 검출형).
혹은, 정전 용량식 센서(1)는, 상호 용량 검출형이어도 된다. 즉, 정전 용량식 센서(1)는, 제 1 전극 연결체(8) 및 제 2 전극 연결체(12) 중 어느 일방의 전극의 1열에 구동 전압을 인가하여, 제 1 전극 연결체(8) 및 제 2 전극 연결체(12)의 어느 타방의 전극과 손가락(F)과의 사이의 정전 용량의 변화를 검지해도 된다. 이에 따라, 정전 용량식 센서(1)는, 타방의 전극에 의해 손가락(F)의 위치의 Y 좌표를 검지하고, 일방의 전극에 의해 손가락(F)의 위치의 X 좌표를 검지한다.
전술한 바와 같이, 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서(1)에서는, 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)는, 제 2 전극 연결체(12)의 양측의 단부로부터 인출되어 플렉시블 프린트 기판(29)에 접속되어 있다. 이에 따라, 제 2 전극 연결체(12)의 전기 저항값을 저감할 수 있어, 전하의 차지 시간을 빠르게 할 수 있다. 이 때문에, 좌표 입력이나 제스처 조작에 대하여 양호한 응답성을 얻을 수 있다. 즉, 정전 용량식 센서(1)의 시정수를 보다 작은 값으로 억제할 수 있다.
또한, 도 1 및 도 3에 나타낸 제 1 투명 전극(4) 및 제 2 투명 전극(5)의 배치는, 일례이며, 이것에만 한정되지 않는다. 정전 용량식 센서(1)는, 손가락(F) 등의 조작체와 투명 전극과의 사이의 정전 용량의 변화를 검지하고, 조작체의 조작면(3a)으로의 접촉 위치를 산출할 수 있으면 된다. 예를 들면, 제 1 투명 전극(4)과 제 2 투명 전극(5)은 기재(2)의 상이한 주면에 마련되어 있어도 된다.
도 6은, 본 실시 형태의 중앙 연결부가 단선된 경우를 예시하는 평면도이다.
도 7은, 본 실시 형태의 주변 연결부가 단선된 경우를 예시하는 평면도이다.
도 8은, 제 2 투명 전극의 시정수를 나타내는 그래프이다.
도 9는, 비교예의 주변 연결부가 단선된 경우를 예시하는 평면도이다.
또한, 도 6 및 도 7에서는, 설명의 편의상, 1개의 제 2 전극 연결체(12)를 나타내고 있다. 또한, 도 8에 나타낸 그래프의 가로축에 기재한 부호 5a~5f는, 도 7에 나타낸 제 2 투명 전극(5a~5f)에 대응하고 있다.
예를 들면, 제조 공정 등에 있어서, 보호 시트(43)(도 2 참조)를 박리할 때에 ESD(Electro Static Discharge: 정전기 방전)가 발생하는 경우가 있다. 이 때, 도 9에 나타내는 비교예의 제 2 전극 연결체(112)에 ESD가 발생하면, ESD에 의해 발생된 전기가 제 2 연결부(110)에 흐르는 경우가 있다. 그러면, 국소적인 열팽창 및 열수축 중 적어도 어느 것이 제 2 연결부(110)에 발생하여, 단선에 이르는 파괴가 제 2 연결부(110)에 발생하는 경우가 있다. 여기서, 도 9에 나타낸 제 2 연결부(110)는 중앙 연결부(110a)와 주변 연결부(110b)를 가지고, 중앙 연결부(110a) 및 주변 연결부(110b)는, 동일한 폭, 동일한 두께, 및 동일한 재료(전기 저항률)를 서로 가진다. 즉, 도 9에 나타내는 비교예의 제 2 전극 연결체(112)에서는 제 2 연결부(110)는 모두(중앙 연결부(110a) 및 주변 연결부(110b)의 구별 없이) 전기적으로 동일하다. 그리고, 제 1 배선부(161) 및 제 2 배선부(162)는, 제 2 전극 연결체(112)의 양측의 단부로부터 인출되어, 접점부(17)에 있어서 서로 전기적으로 접속되어 있다. 이 때문에, 제 2 전극 연결체(112)에 ESD가 발생하여, ESD에 의해 발생된 전기가 제 2 연결부(110)에 흐르면, 제 2 연결부(110)를 구성하는 중앙 연결부(110a) 및 주변 연결부(110b) 중 어디에 있어서도 단선이 발생할 가능성이 동등하게 있다. 도 9에 나타내는 비교예의 제 2 전극 연결체(112)에서는, 중앙 연결부(110a)가 하나인 것에 비해 주변 연결부(110b)는 4개 있기 때문에, 확률적으로는, 주변 연결부(110b)에 있어서 단선이 발생할 가능성이 중앙 연결부(110a)에 있어서 단선이 발생할 가능성보다 높아진다.
입력 영역의 중앙 연결부(110a) 이외의 제 2 연결부(110)(주변 연결부(110b))가 단선되면, 제 2 연결부(110)의 단선이 정전 용량식 센서의 검출 동작에 영향을 주는 경우가 있다. 이 점에 대해, 이하, 도 9에 나타내는 바와 같이, X1-X2 방향으로 나열되는 5개의 제 2 연결부(110) 중, X2측으로부터 2번째 제 2 연결부(110)(제 2 투명 전극(115d)과 제 2 투명 전극(115e)과의 사이에 위치하는 주변 연결부(110b))가 단선된 경우를 구체예로서 설명한다.
X2측으로부터 2번째의 주변 연결부(110b)가 단선되기 전의 상태에서는, 이 주변 연결부(110b)는 제 1 배선부(161)보다 제 2 배선부(162)의 가까이에 위치하기 때문에, 이 주변 연결부(110b)의 양단에 접속되어 있는 2개의 제 2 투명 전극(115d) 및 제 2 투명 전극(115e)으로의 전하의 차지는, 제 2 배선부(162)측으로부터 행해지는 것이 지배적이다. 즉, X2측으로부터 2번째의 주변 연결부(110b)의 X2측에 접속되어 있는 제 2 투명 전극(115e)으로의 전하의 차지를 거쳐, 이 주변 연결부(110b)의 X1측에 접속되어 있는 제 2 투명 전극(115d)으로의 전하의 차지가 행해진다. 그 결과, X2측으로부터 2번째의 주변 연결부(110b)의 양단에 접속되어 있는 제 2 투명 전극(115d) 및 제 2 투명 전극(115e)에서는, 전하의 차지 시간의 차이가 발생한다. 통상, 이 전하의 차지 시간의 차이는 정전 용량식 센서의 제어 장치(도시 생략.)에 의해 개별적으로 보정되기 때문에, 정전 용량식 센서의 원활한 조작감이 실현되고 있다.
그런데, X2측으로부터 2번째의 주변 연결부(110b)가 단선되면, 단선된 주변 연결부(110b)의 X1측에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(115d)에는 제 1 배선부(161)측으로 전하가 차지된다. 이 때문에, 이 제 2 투명 전극(115d)으로의 전하의 차지는, 이 제 2 투명 전극(115d)보다 X1측에 위치하는 3개의 제 2 투명 전극(115a~115c)으로의 전하의 차지를 거쳐 행해지게 된다. 한편, 단선된 주변 연결부(110b)의 X2측에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(115e)에는, 제 2 배선부(162)측으로부터 전하가 차지된다. 이 때문에, 이 제 2 투명 전극(115e)으로의 전하의 차지는, 이 제 2 투명 전극(115e)보다 X2측에 위치하는 1개의 제 2 투명 전극(115f)으로의 전하의 차지를 거쳐 행해지게 된다. 이 때문에, 단선된 주변 연결부(110b)의 양측에 접속되어 있었던 2개의 제 2 투명 전극(115d) 및 제 2 투명 전극(115e)에 있어서의 전하의 차지 시간의 차이는, 주변 연결부(110b)가 단선되기 전의 상태에 있어서의 전하의 차지 시간의 차이와 크게 상이해져버린다.
이와 같이 이웃하여 배치된 2개의 제 2 투명 전극(115)(도 9에 나타내는 구체예에서는, 제 2 투명 전극(115d) 및 제 2 투명 전극(115e))에 있어서의 전하의 차지 시간의 차이가, 2개의 제 2 투명 전극(115)의 사이에 위치하고 있던 주변 연결부(110b)의 단선에 의해 변화되면, 정전 용량식 센서의 응답성 즉 시정수의 상이로서 현재화(顯在化)되는 경우가 있다. 구체적으로는, 손가락(F) 등의 조작체에 의해 정전 용량식 센서를 조작했을 때에, 주변 연결부(110b)의 단선에 의해 시정수의 상이가 현재화된 부분에서는 국소적으로 응답성이 변화되어, 정전 용량식 센서의 원활한 조작감이 사라져버리는 경우가 있다.
이에 비하여, 본 실시 형태와 관련된 정전 용량식 센서(1)에서는, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값은, 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높다. 구체적으로는, 도 3에 나타낸 바와 같이, 중앙 연결부(10a)의 폭(W1)은, 주변 연결부(10b)의 폭(W2)보다 얇다. 이 때문에, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값은, 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높아진다.
이에 따라, ESD에 의해 중앙 연결부(10a)에 발생하는 전압 강하량은, ESD에 의해 주변 연결부(10b)에 발생하는 전압 강하량보다 크다. 이 때문에, ESD에 의해 중앙 연결부(10a)에 발생하는 열량은, ESD에 의해 주변 연결부(10b)에 발생하는 열량보다 크다. 이 때문에, 도 6에 나타낸 바와 같이, ESD가 발생하면, 주변 연결부(10b)에 비해, 중앙 연결부(10a)가 우선적으로 단선되기 쉽다. 즉, 도 9에 나타낸 제 2 전극 연결체(112)와는 상이하며, 도 6에 나타내는 제 2 전극 연결체(12)에서는, ESD에 기인하여 단선이 발생하는 제 2 연결부(10)를 중앙 연결부(10a)에 집중시킬 수 있다.
중앙 연결부(10a)는, 제 1 배선부(61) 및 제 2 배선부(62)의 쌍방으로부터 전방에 위치한다. 또한, 중앙 연결부(10a)는, 다른 제 2 연결부(10), 즉, 주변 연결부(10b)에 비해 전하가 흐르기 어렵다. 이 때문에, 중앙 연결부(10a)가 단선되어 있지 않은 상태라도, 중앙 연결부(10a)의 X1단에 접속되어 있는 제 2 투명 전극(5c)으로의 전하의 차지는 제 1 배선부(61)측으로부터 행해지는 것이 지배적이며, 중앙 연결부(10a)의 X2단에 접속되어 있는 제 2 투명 전극(5d)으로의 전하의 차지는 제 2 배선부(62)측으로부터 행해지는 것이 지배적이다.
여기에서, 도 6에 나타내는 제 2 전극 연결체(12)에 있어서 ESD가 발생한 경우에는, 상기한 바와 같이, 중앙 연결부(10a)가 우선적으로 단선된다. 중앙 연결부(10a)가 단선된 상태에 있어서, 중앙 연결부(10a)의 X1단에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(5c)으로의 전하의 차지는 제 1 배선부(61)측에서 행해지고, 중앙 연결부(10a)의 X2단에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(5d)으로의 전하의 차지는 제 2 배선부(62)측에서 행해진다.
이 때문에, ESD가 발생하여 중앙 연결부(10a)가 단선되어도, 중앙 연결부(10a)의 양단에 접속되어 있는 2개의 제 2 투명 전극(5a) 및 제 2 투명 전극(5f)으로의 전하의 차지의 프로세스(제 1 배선부(61)측에서 행해지거나 제 2 배선부(62)측에서 행하여지거나)에는 큰 변화는 발생하지 않는다. 이것을 바꿔 말하면, 중앙 연결부(10a)의 양단에 접속되어 있는 2개의 제 2 투명 전극(5a) 및 제 2 투명 전극(115f)에 있어서의 시정수는, 중앙 연결부(10a)가 단선되어 있지 않아도 단선되어 있어도 큰 차이가 없다. 따라서, 도 6에 나타낸 바와 같이, ESD에 기인하는 단선이 중앙 연결부(10a)에 집중되는 구조로 함으로써, ESD가 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있다.
또한, 도 7에 나타낸 바와 같이, ESD에 기인하는 단선이 중앙 연결부(10a)에 집중되는 것 같은 구조에 있어서, 어떠한 원인에 의해 주변 연결부(10b)가 단선된 경우에는, 단선된 주변 연결부(10b)에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(5)의 시정수 가, 다른 제 2 투명 전극(5)의 시정수보다 특히 높아진다. 도 7에 나타낸 예에서는, X1측의 단부에 마련된 제 2 투명 전극(5a)으로부터 X2측을 향해 4번째에 마련된 제 2 투명 전극(5d)과, X2측의 단부에 마련된 제 2 투명 전극(5f)으로부터 X1측을 향해 2번째에 마련된 제 2 투명 전극(5e)과의 사이의 주변 연결부(10b)가 파단되어 있다. 이 경우에는, 도 8에 나타낸 바와 같이, 단선된 주변 연결부(10b)에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(5) 중, 제 2 투명 전극(5a)으로부터 X2측을 향해 4번째에 마련된 제 2 투명 전극(5d)의 시정수가, 다른 제 2 투명 전극(5a, 5b, 5c, 5e, 5f)의 각각의 시정수보다 높아진다. 즉, 단선된 주변 연결부(10b)에 접속되어 있던 제 2 투명 전극(5d)의 시정수가 특이점이 된다. 이 때문에, 예를 들면 제조 공정에 있어서 ESD에 의한 주변 연결부(10b)의 단선이 발생한 경우라도, 주변 연결부(10b)의 단선을 제조 공정에 있어서 용이하게 검출할 수 있다.
또한, 중앙 연결부(10a)의 폭(W1)이 주변 연결부(10b)의 폭(W2)보다 얇기 때문에, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)를 형성하는 공정에 있어서, 비교적 용이하게, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값을 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 제 2 연결부(10)의 단선이 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 비교적 용이하게 억제할 수 있다.
도 10은, 다른 실시 형태의 제 2 연결부를 설명하는 단면도이다.
도 10은, 도 3에 나타낸 절단면 C1-C1에 있어서의 단면도에 상당한다.
도 10에 나타낸 예에서는, 중앙 연결부(10a)의 두께(t1)는, 주변 연결부(10b)의 두께(t2)보다 얇다. 이 때문에, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값은, 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높아진다. 이에 따라, 도 6~도 9에 관하여 전술한 바와 같이, ESD에 기인하여 발생하는 단선을 중앙 연결부(10a)에 집중시킬 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 제 2 연결부(10)의 단선이 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있다.
중앙 연결부(10a)의 두께(t1)가 주변 연결부(10b)의 두께(t2)보다 얇기 때문에, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)를 형성하는 공정에 있어서, 비교적 용이하게, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값을 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 제 2 연결부(10)의 단선이 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 비교적 용이하게 억제할 수 있다.
도 6~도 8 및 도 10에 관한 설명에서는, 중앙 연결부(10a)의 형상을 주변 연결부(10b)의 형상과는 달리 함으로써, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값을, 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높게 하고 있다. 한편, 중앙 연결부(10a)를 형성하는 재료를, 주변 연결부(10b)를 형성하는 재료와는 달리 함으로써, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값을, 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높게 해도 된다.
즉, 중앙 연결부(10a)는, 주변 연결부(10b)를 형성하는 재료의 전기 저항률보다 높은 전기 저항률을 가지는 재료를 포함해도 된다. 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)의 재료로서는, 도 1~도 5에 관하여 상기 서술한 제 2 연결부(10)의 재료와 동일한 재료를 들 수 있다. 이 경우에는, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)의 형상이 아닌, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)를 형성하는 재료에 의해, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값을 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 제 2 연결부(10)의 단선이 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 보다 확실하게 억제할 수 있다.
혹은, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)의 형상을 서로 달리 함과 함께, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)를 형성하는 재료를 서로 달리해도 된다. 이에 의하면, 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)의 형상, 및 중앙 연결부(10a) 및 주변 연결부(10b)를 형성하는 재료의 양방에 의해, 중앙 연결부(10a)의 전기 저항값을 주변 연결부(10b)의 전기 저항값보다 높게 할 수 있다. 이 때문에, ESD에 의한 제 2 연결부(10)의 단선이 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 더 확실하게 억제할 수 있다.
또한, 본 실시 형태의 설명에서는, 단선에 이르는 파괴가 제 2 연결부에 발생하는 경우를 예로 들었다. 도 6~도 10에 관한 설명은, 제 1 연결부에 있어서도 마찬가지로 적용 가능하다. 즉, 도 1에 나타낸 2점 쇄선의 제 4 배선부(64)와 같이, 비검출 영역(25)에는, 제 4 배선부(64)가 더 형성되어 있어도 된다. 이 경우에는, 제 3 배선부(63) 및 제 4 배선부(64)는, 제 1 전극 연결체(8)의 양측의 단부로부터 인출된다.
구체적으로는, 제 3 배선부(63)는, 제 1 전극 연결체(8)의 일방의 단부(Y2측의 단부)로부터 일방의 비검출 영역(Y2측의 비검출 영역)(25)으로 인출되어 연장된다. 제 3 배선부(63)는, 제 1 전극 연결체(8)의 일방의 단부에 전기적으로 접속된다. 제 4 배선부(64)는, 제 1 전극 연결체(8)의 타방의 단부(Y1측의 단부)로부터 타방의 비검출 영역(Y1측의 비검출 영역)(25)으로 인출되어 연장된다. 제 4 배선부(64)는, 제 1 전극 연결체(8)의 타방의 단부에 전기적으로 접속된다. 제 3 배선부(63) 및 제 4 배선부(64)는, 비검출 영역(25)에 있어서 서로 전기적으로 접속된다.
그리고, 제 1 전극 연결체(8)가 연장되는 Y1-Y2 방향에 있어서 검출 영역(11)의 중앙부에 배치된 복수의 제 1 투명 전극(4)을 전기적으로 접속하는 중앙 연결부의 전기 저항값은, Y1-Y2 방향에 있어서 검출 영역(11)의 중앙부 이외(예를 들면 단부)에 배치된 복수의 제 1 투명 전극(4)을 전기적으로 접속하는 주변 연결부의 전기 저항값보다 높다. 이에 따라, ESD에 의한 제 1 연결부(7)의 단선이 정전 용량식 센서(1)의 검출 동작에 주는 영향을 억제할 수 있다.
이상, 본 실시 형태 및 그 적용예를 설명했지만, 본 발명은 이러한 예에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 상기 서술한 각 실시 형태 또는 그 적용예에 대해, 당업자가 적절히, 구성 요소의 추가, 삭제, 설계 변경을 행한 것이나, 각 실시 형태의 특징을 적절히 조합시킨 것도, 본 발명의 요지를 구비하고 있는 한, 본 발명의 범위에 함유된다.
1 정전 용량식 센서
2 기재
2a 주면(표면)
3 패널
3a 조작면
3b 주면(이면)
4 제 1 투명 전극
5, 5a, 5b, 5c, 5d, 5e, 5f 제 2 투명 전극
7 제 1 연결부
8 제 1 전극 연결체
10 제 2 연결부
10a 중앙 연결부
10b 주변 연결부
11 검출 영역
12 제 2 전극 연결체
14 가식층
15 접속 배선
16 접속 배선
17 접점부
19 절연층
20 절연층
20a 표면
25 비검출 영역
27 외부 접속부
29 플렉시블 프린트 기판
30 광학 투명 점착층
43 보호 시트
61 제 1 배선부
62 제 2 배선부
63 제 3 배선부
64 제 4 배선부
110 제 2 연결부
110a 중앙 연결부
110b 주변 연결부
112 제 2 전극 연결체
115, 115a, 115b, 115c, 115d, 115e, 115f 제 2 투명 전극
161 제 1 배선부
162 제 2 배선부
C1 절단면
C2 절단면
F 손가락
t1 두께
t2 두께
W1 폭
W2 폭

Claims (4)

  1. 투광성을 가지는 기재와,
    상기 기재의 검출 영역에 있어서 소정 방향으로 나열되어 배치된 투광성을 가지는 복수의 투명 전극을 가지는 전극 연결체와,
    상기 검출 영역의 외측의 비검출 영역으로 연장되어 마련되며 상기 전극 연결체의 일방의 단부에 전기적으로 접속된 제 1 배선부와,
    상기 검출 영역의 외측의 비검출 영역으로 연장되어 마련되며 상기 전극 연결체의 타방의 단부에 전기적으로 접속된 제 2 배선부와,
    상기 소정 방향에 있어서 상기 검출 영역의 중앙부에 배치된 상기 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 중앙 연결부와,
    상기 소정 방향에 있어서 상기 중앙부 이외에 배치된 상기 복수의 투명 전극을 전기적으로 접속하는 주변 연결부를 구비하고,
    상기 제 1 배선부와 상기 제 2 배선부는, 상기 비검출 영역에 있어서 서로 전기적으로 접속되며,
    상기 중앙 연결부의 전기 저항값은, 상기 주변 연결부의 전기 저항값보다 높은 것을 특징으로 하는 정전 용량식 센서.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 중앙 연결부의 폭은, 상기 주변 연결부의 폭보다 얇은 것을 특징으로 하는 정전 용량식 센서.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 중앙 연결부의 두께는, 상기 주변 연결부의 두께보다 얇은 것을 특징으로 하는 정전 용량식 센서.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 중앙 연결부는, 상기 주변 연결부를 형성하는 재료의 전기 저항률보다 높은 전기 저항률을 가지는 재료를 포함하는 것을 특징으로 하는 정전 용량식 센서.
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