KR20180070480A - 전기 스위칭 유닛의 마모 진단 방법 및 디바이스, 및 그러한 디바이스를 포함하는 전기 유닛 - Google Patents
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Abstract
전기 스위칭 유닛의 마모 진단 방법 및 디바이스, 및 그러한 디바이스를 포함하는 전기 유닛.
전기 유닛 모니터링 페이즈 (15) 를 포함하는 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하는 방법.
모니터링 페이즈는
- 이전에 로드되고 전기 유닛의 유형을 나타내는 학습 데이터, 및
- 초기화 페이즈에서 모니터링되고 저장될 상기 유닛에 대응하는 초기화 데이터 (CRP) 를 사용한다.
모니터링 페이즈 (15) 는
- 상기 전기 유닛을 개방할 시 측정 곡선 (CM) 의 측정 (50) 및 획득,
- 측정 곡선의, 초기화 데이터의, 그리고 학습 데이터 (CRU) 의 값들의 함수로서 상기 측정 곡선의 로컬 디스크립터들의 값을 결정 (51),
- 로컬 디스크립터 값들의 포지셔닝의 결정 (52),
- 상기 포지셔닝 값들의 함수로서의 전체 상태 클래스의 결정 (53-55) 을 포함한다.
디바이스 및 전기 유닛이 그 방법을 구현한다.
전기 유닛 모니터링 페이즈 (15) 를 포함하는 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하는 방법.
모니터링 페이즈는
- 이전에 로드되고 전기 유닛의 유형을 나타내는 학습 데이터, 및
- 초기화 페이즈에서 모니터링되고 저장될 상기 유닛에 대응하는 초기화 데이터 (CRP) 를 사용한다.
모니터링 페이즈 (15) 는
- 상기 전기 유닛을 개방할 시 측정 곡선 (CM) 의 측정 (50) 및 획득,
- 측정 곡선의, 초기화 데이터의, 그리고 학습 데이터 (CRU) 의 값들의 함수로서 상기 측정 곡선의 로컬 디스크립터들의 값을 결정 (51),
- 로컬 디스크립터 값들의 포지셔닝의 결정 (52),
- 상기 포지셔닝 값들의 함수로서의 전체 상태 클래스의 결정 (53-55) 을 포함한다.
디바이스 및 전기 유닛이 그 방법을 구현한다.
Description
본 발명은 전기 유닛의 모니터링 페이즈를 포함하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법에 관한 것이다.
본 발명은 또한 그 방법을 구현하는 진단 디바이스 및 유닛에 관한 것이다.
전기 유닛의 상태를 진단하기 위한 방법 및 디바이스는 일반적으로 하나 이상의 전기 특성들과 값들의 패턴을 비교함으로써 하나 이상의 전기 특성들을 체크한다. 이들 특성은 일반적으로 전기 신호의 주목할만한 포인트 (noteworthy point) 의 전압, 전류 또는 시간 마커를 포함한다. 이 유형의 진단 방법은 특허 출원 EP2584575에 개시되어 있다.
다른 방법들은 2개의 이벤트 사이의 시간 또는 이벤트의 지속시간을 평가함으로써 접점 (contact) 들과 같은 전기 유닛들의 접점들의 마모를 결정한다. 예를 들어, 접점들의 개방 (opening) 의 또는 닫힘 (closure) 의 오더링과 상기 개방 또는 닫힘의 실제 순간 사이의 시간. 특허 출원 WO03054895 는 제어 명령 후 1차 전류 출현의 순간의 함수로서 전기 유닛의 접점들의 마모를 검출하는 구체적인 방법을 설명한다.
알려진 진단 방법 및 디바이스는 만족스러운 결과를 제공하나 기존 유닛들 또는 이미 설치된 유닛들 상에서 전개하기 용이하지 않다. 일반적으로, 전기 유닛들에 개입이 필요하다. 게다가, 접촉기와 같은 어떤 전기 유닛들의 모니터링에 대해 보다 많은 상세 및 보다 높은 수준의 확실성을 가질 필요가 있다.
본 발명의 목적은 개선된 확실성을 가지며 전기 유닛들 상에서 구현하기 용이한 결과를 제공하는 전기 유닛을 진단하는 방법 및 디바이스이다.
본 발명에 따르면, 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법으로서, 상기 전기 유닛의 모니터링 페이즈를 포함하는, 상기 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법에 있어서,
- 상기 모니터링 페이즈는
- 이전에 로드되고 상기 전기 유닛을 나타내는 제품의 유형에 대응하는 학습 데이터, 및
- 초기화 페이즈에서 모니터링되고 저장될 상기 유닛에 대응하는 초기화 데이터를 사용하고,
- 상기 모니터링 페이즈는
- 상기 전기 유닛의 개방시 측정 곡선의 측정 및 획득,
- 상기 측정 곡선의 값들의, 저장된 초기화 데이터의, 그리고 로드된 제 1 학습 데이터의 값들의 함수로서 상기 측정 곡선의 로컬 디스크립터들의 값들의 결정,
- 제 2 학습 데이터에 대한 측정 곡선의 로컬 디스크립터들의 값들의 포지셔닝 (positioning) 의 결정, 및
- 상기 제 2 학습 데이터에 대한 측정 곡선의 그리고 로컬 디스크립터들의 값들의 포지셔닝들의 상기 값들의 함수로서 전체 상태 클래스 (status class) 의 결정을 포함한다.
바람직하게는, 진단 방법에서, 전체 상태 클래스의 결정은
- 상기 로컬 디스크립터들에 가장 가까운 포지셔닝들의 함수로서 중간 상태 클래스들의 적어도 3회 결정,
- 상기 중간 클래스들의 함수로서 상기 전체 클래스의 선택을 포함한다.
유리하게는, 제 1 디스크립터는 상기 측정 곡선의 2개의 주목할만한 포인트들 사이의 값의 차이를 나타낸다.
바람직하게는, 진단 방법에 있어서:
- 초기화 데이터는 측정의 안정화 후 제품의 수명의 시작에서 저장되는 모니터링될 제품에 고유한 (specific) 적어도 하나의 기준 곡선을 포함하고, 그리고
- 제 2 디스크립터는 측정 곡선과 상기 고유 기준 곡선 사이의 편차를 나타내며, 측정 곡선이 고유 기준 곡선으로부터 멀어질수록 유닛은 더 많이 마모된 것으로 고려될 것이다.
바람직하게는, 진단 방법에 있어서:
- 로드된 학습 데이터는 마모된 유닛의 개방 동안 전기 신호에 대응하는 마모된 유닛의 적어도 하나의 기준 곡선을 포함하고,
- 제 3 디스크립터는 측정 곡선과 상기 마모 기준 곡선 사이의 편차를 나타내며, 측정 곡선이 마모 기준 곡선에 가까울수록 유닛은 더 많이 마모된 것으로 고려될 것이다.
유리하게는, 제 4 디스크립터는 곡선 표면에 또는 측정 곡선의 2개의 주목할만한 포인트 사이의 적분에 또는 제 1 변동 방향 및 제 2 반대 변동 방향의 값들의 2개의 임계치들에 대응한다.
유리하게는, 제 5 디스크립터는 측정 곡선 상의 신호 변동의 부호 변화와 같은 주목할만한 포인트의 값 변동에 대응한다.
유리하게는, 로드된 학습 데이터는 상기 전기 유닛의 수명 동안 상기 전기 신호의 미리 정의된 특성을 나타내는 디스크립터들의 추세 곡선을 나타낸다.
바람직하게는, 상기 디스크립터들의 추세 곡선은 상기 학습 데이터에 필요한 메모리 공간을 줄이기 위해 직선 세그먼트 정의 포맷으로 로드된다.
바람직한 실시형태에서, 미리 로드된 상기 디스크립터들의 추세 곡선의 값들은 모니터링될 유닛들의 상태 또는 마모 클래스와 연관된다.
특정 실시 형태에 따르면, 그 방법은
- 미리 결정된 수의 동작 (manoeuvre) 동안,
- 마모된 유닛의 개방 동안 전기 신호에 대응하는 상기 마모된 유닛의 적어도 하나의 기준 곡선, 및
- 상기 전기 유닛의 수명 동안 상기 전기 신호의 미리 정의된 특성을 나타내는 디스크립터들의 적어도 2개의 추세 곡선들
을 나타내는 학습 데이터를 기록하기 위한 예비 학습 페이즈,
- 상기 학습 데이터의 저장,
- 상기 학습 데이터의 로딩, 및
- 상기 전기 유닛 모니터링 페이즈에서 학습 데이터의 사용을 포함한다.
바람직하게는, 그 방법은
- 미리 결정된 수의 측정 후에, 및/또는
- 2개의 연속적인 측정 사이에 측정 곡선이 거의 변하지 않을 때,
결정되는 모니터링될 제품의 상기 고유 기준 곡선을 포함하는 상기 초기화 데이터를 결정하기 위한 초기화 페이즈,
- 상기 고유 기준 곡선의 저장, 및
- 상기 전기 유닛 모니터링 페이즈에서 초기화 데이터의 사용을 포함한다.
본 발명에 따르면, 상기 전기 스위칭 유닛의 접점들을 작동시키는 전자기 코일에 접속된 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하기 위한 디바이스에 있어서, 진단 디바이스는 위에서 정의된 진단 방법을 구현하기 위한 처리 회로를 포함한다.
특정 실시 형태에서, 처리 회로는 상기 유닛으로부터 원격의 외부 처리 모듈에 링크된 상기 유닛에 근접한 로컬 진단 처리 모듈을 포함한다.
본 발명에 따르면, 전자기 제어 코일에 의해 작동되는 전력 전기 접점들을 포함하는 전기 유닛은 상기 접점들을 작동시키는 상기 전자기 코일에 접속된 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하고 위에서 정의된 진단 방법을 구현하기 위한 디바이스를 포함한다.
다른 장점들 및 특징들이 비제한적인 예로서 주어지고 첨부된 도면들에 나타낸 본 발명의 구체적인 실시형태들에 대한 다음 설명들로부터 보다 분명히 드러날 것이고, 첨부된 도면들에서:
- 도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 모니터링 디바이스를 포함하는 전기 유닛의 전체 도면을 나타낸다.
- 도 2는 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 학습 페이즈 (learning phase) 를 나타낸다;
- 도 3은 본 발명의 일 실시형태에 따른 디바이스의 그리고 방법의 로딩 페이즈를 나타낸다;
- 도 4는 본 발명의 일 실시형태에 따른 디바이스의 그리고 방법의 초기화 페이즈 및 처리 페이즈를 나타낸다;
- 도 5는 모니터링될 전기 유닛의 개방 동안 신호의 측정 곡선을 나타낸다;
- 도 6은 본 발명의 일 실시형태에 따른 디바이스 그리고 방법을 위한 디스크립터의 모델링을 나타낸다;
- 도 7 내지 도 11은 학습 페이즈에서 생성되고 본 발명의 일 실시 형태에 따른 디바이스 및 방법에 사용되는 디스크립터의 추세 곡선을 나타낸다;
- 도 12는 디스크립터와 디스크립터의 추세 곡선을 사용한 판정 테이블을 보여준다;
- 도 13은 양호한 또는 새로운 조건의 유닛에 대한 신호 측정 곡선 및 마모된 유닛에 대한 신호 측정 곡선을 나타낸다;
- 도 14는 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 초기화 페이즈의 단계들을 나타낸다;
- 도 15는 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 모니터링 페이즈를 나타낸다;
- 도 16은 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 모니터링 페이즈의 단계들을 나타낸다.
- 도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 모니터링 디바이스를 포함하는 전기 유닛의 전체 도면을 나타낸다.
- 도 2는 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 학습 페이즈 (learning phase) 를 나타낸다;
- 도 3은 본 발명의 일 실시형태에 따른 디바이스의 그리고 방법의 로딩 페이즈를 나타낸다;
- 도 4는 본 발명의 일 실시형태에 따른 디바이스의 그리고 방법의 초기화 페이즈 및 처리 페이즈를 나타낸다;
- 도 5는 모니터링될 전기 유닛의 개방 동안 신호의 측정 곡선을 나타낸다;
- 도 6은 본 발명의 일 실시형태에 따른 디바이스 그리고 방법을 위한 디스크립터의 모델링을 나타낸다;
- 도 7 내지 도 11은 학습 페이즈에서 생성되고 본 발명의 일 실시 형태에 따른 디바이스 및 방법에 사용되는 디스크립터의 추세 곡선을 나타낸다;
- 도 12는 디스크립터와 디스크립터의 추세 곡선을 사용한 판정 테이블을 보여준다;
- 도 13은 양호한 또는 새로운 조건의 유닛에 대한 신호 측정 곡선 및 마모된 유닛에 대한 신호 측정 곡선을 나타낸다;
- 도 14는 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 초기화 페이즈의 단계들을 나타낸다;
- 도 15는 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 모니터링 페이즈를 나타낸다;
- 도 16은 본 발명의 일 실시형태에 따른 방법의 모니터링 페이즈의 단계들을 나타낸다.
도 1에서, 접촉기 유형의 전기 유닛 (1) 은 부하 (3) 에 전력을 공급하거나 부하 (3) 에 대한 전력 공급을 정지시키기 위한 하나 이상의 전력 전기 접점 (2) 들을 포함한다. 전기 접점은 전자기 코일 (4) 에 의해 제어된다. 명령 또는 제어 회로 (5) 는 전자기 코일 (4) 을 제어하여 접점 (2) 을 닫거나 또는 개방한다. 회로 (5) 는 또한 접점들을 닫는 순간에 인러시 페이즈 (inrush phase) 동안 그리고 감소된 에너지 및 제어 전류로 닫힌 접점들의 유지 페이즈 동안 코일에 흐르는 전류를 제어한다.
유닛 (1) 의 마모를 진단하기 위한 디바이스 (10) 는 전기 유닛과 연관되거나 또는 이의 일부를 형성한다. 이 디바이스 (10) 는 접점을 제어하는 코일 (4) 의 전압 또는 전류와 같은 전기량을 나타내는 신호를 수신한다. 유리하게는, 디바이스 (10) 는 접점의 개방시에 코일에 의해 발생된 전압 신호를 수신하기 위해 코일에 병렬로 접속된다. 코일에 흐르는 전류 신호도 사용될 수 있다. 그러나, 우선적인 실시 형태에서, 전압 신호는 보다 안정적이며 보다 사용하기 쉬운 것이 유리하다. 따라서, 디바이스 (10) 는 코일 (4) 에 접속된 아날로그-디지털 변환기 (6), 변환기에 접속되어 신호를 수신하고 전기 유닛의 진단을 처리하는 진단 모듈 (7), 및 전기 유닛의 상태, 특히 그의 접촉 마모 수준을 시그널링하기 위한 디바이스 (8) 를 포함한다. 진단 모듈 (7) 은 또한 다른, 외부, 또는 원격 처리 모듈 (9) 과 접속되어 데이터를 처리할 수 있다. 이 경우, 진단 디바이스는 2개 이상의 부분들에 있다. 또한 외부 부분들은 여러 디바이스들에 공통되거나 또는 집중화될 수 있다. 처리 모듈 (9) 은 유닛 상태의 원격 시그널링을 보장할 수 있다. 분명히, 모듈과 디바이스간의 통신은 유선 또는 무선으로 수행된다.
따라서, 접촉기와 같은 전기 유닛의 마모의 모니터링 및 진단은 바람직하게는 상기 접촉기의 개방시 코일의 전압 분석에 의해 행해진다. 이 전압은 접촉기의 이동 부분의 이동 속도를 나타낸다. 이 경우, 접점들의 마모는 전기 유닛의 이동 부분의 이동 속도를 감소시킨다.
전기 유닛의 마모 상태를 진단하는 것은 상기 유닛의 수명 사이클 동안 상당한 수의 제품에 대해 수행되는 예비 학습 페이즈를 포함한다. 이 학습 페이즈는 학습 데이터를 획득하는 것을 가능하게 하고, 이 학습 데이터는 우선 저장, 모델링 및 저장되고 다음으로 모니터링될 각 유닛에 대해 그의 특정 마모의 모니터링을 위해 로드된다. 도 2는 학습 페이즈 (11) 및 학습 데이터의 저장 (12) 을 나타낸다.
학습 페이즈 동안, 마모 사이클에서 유닛들의 개방시 측정 곡선들이 획득된다. 측정 곡선들은 평균 크기의 전기 유닛에 대해 수십 밀리 초 (예 : 30ms ~ 50ms) 동안 지속되는 전기 신호를 나타낸다. 이들 지속시간은 유닛의 크기와 유형에 따라 매우 상이할 수 있다. 신호는 일반적으로 수백개의 샘플들, 예를 들어 80~500 개의 샘플들로 샘플링되지만, 상이한 수가 또한 사용될 수 있으며, 그것은 진단 디바이스에 사용되는 프로세서의 계산 용량에 의존할 것이다.
학습 페이즈 동안, 전기 유닛들은 유닛의 수명을 따르는 것을 가능하게 하는 많은 동작들을 받는다. 접촉기의 경우, 동작 수는 예를 들어 800,000 에 이를 수 있지만, 다른 값들도 사용될 수 있다. 데이터 량이 상당할 수 있기 때문에, 전기 유닛의 특성들의 추세는 전기 유닛의 수명 동안 상기 디스크립터의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 그리고 전기 특성과 연관된 디스크립터 (D1, D2, D3, D4, D5) 에 의해 정의된다. 후속하여, 진단될 유닛들의 디바이스에 로드될 학습 데이터의 크기를 더 줄이기 위해, 디스크립터의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 는 유형 a + bx 의 직선 세그먼트들을 나타내는 데이터 형태로 저장된다. 추세 곡선은 유닛의 수명을 정의하는 여러 연속 직선 세그먼트들을 가질 수 있다. 디스크립터 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 의 추세 곡선들의 세트는, 제품의 수명 동안, 여러 차원의 공간을 형성한다. 디스크립터의 값의 또는 곡선의 일부, 부분은 전기 유닛의 마모 클래스와 연관된다. 유닛들의 동작의 수를 고려하면, 측정 곡선은 반드시 개방시 마다 획득되는 것이 아니다. 측정 곡선의 획득은 규칙적으로 동작 수의 범위에 의해, 또는 보다 적절하게는 유닛들의 추세의 함수로서, 이격될 수 있다. 예를 들어, 동작 횟수는 수명의 끝에서 더 빈번할 수도 있으며 수명의 시작에서 아주 많이 이격될 수도 있다.
학습 페이즈는 또한 마모 기준 곡선 (CRU) 을 제공한다. 이 마모 기준 곡선은 학습에 사용된 유닛들의 수명의 끝에서 측정 곡선으로부터 취해진다. 마모 기준 곡선 (CRU) 는 여러 측정 곡선 및/또는 여러 마모된 유닛들에 대해 평균내어진 곡선일 수 있다.
따라서, 학습 페이즈의 끝에서, 디스크립터의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 및 마모 기준 곡선 (CRU) 과 같은 학습 데이터가 우선 저장되고, 모델링되고 저장되며 다음으로 각각의 유닛 상에서 그 자신의 마모의 모니터링을 위해 로딩된다. 이러한 학습 데이터는 하나의 그리고 동일한 유형의 유닛과 연관된 모든 모니터링 디바이스들에 공통된다. 도 3은 진단될 유닛들에 미리 저장된 학습 데이터의 로딩 페이즈 (13) 를 나타낸다.
바람직한 제 1 실시 형태에서, 본 발명에 따른 진단 방법은
- 미리 결정된 수의 동작 동안,
- 마모된 유닛 (1) 의 개방 동안 전기 신호에 대응하는 상기 마모된 유닛의 적어도 하나의 기준 곡선 (CRU), 및
- 상기 전기 유닛의 수명 동안 상기 전기 신호의 미리 정의된 특성을 나타내는 디스크립터들 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 의 적어도 2개의 추세 곡선들
을 나타내는 학습 데이터를 기록하기 위한 예비 학습 페이즈 (11),
- 그 학습 데이터의 저장,
- 그 학습 데이터의 로딩, 및
- 전기 유닛 모니터링 페이즈에서 학습 데이터의 사용을 포함한다.
바람직한 실시 형태에서, 본 발명에 따른 진단 방법은 또한 모니터링될 제품의 결정된 고유 기준 곡선 (CRP) 을 포함하는 초기화 데이터를 결정하는 초기화 페이즈 (14) 및 상기 전기 유닛 모니터링 페이즈 (15) 에서 상기 초기화 데이터의 사용을 포함한다.
모니터링 페이즈에서, 측정될 각각의 유닛에 고유한 로컬 디스크립터 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 는 측정 곡선 (CM) 의 획득 동안에 결정된다. 이 디스크립터들은 디스크립터들의 전역 추세 곡선들 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 를 생성하는데 사용된 것들과 동일한 유형이다. 5개의 디스크립터 (D1, D2, D3, D4, D5) 를 포함하는 바람직한 실시 형태에서, 이들 디스크립터는 각각 이전에 생성, 저장 및 로드된 5 개의 전역 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 을 제공할 것이고 각각 전기 유닛의 개방시 측정 곡선들로부터 도출되는 각각의 유닛에 고유한 5개의 로컬 디스크립터 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 를 제공할 것이다.
도 5는 전기 유닛의 개방시 제어 코일의 전기 전압 신호를 나타내는 측정 곡선 (CM) 을 도시한다. 이러한 곡선은 전기 유닛의 모니터링 페이즈 동안 측정 곡선 (CM) 및 디스크립터들의 추세 곡선을 작성하기 위한 학습 페이즈 동안의 측정 곡선 양자 모두일 수 있다.
제 1 디스크립터 (D1) 는 측정 곡선 (CM) 의 2개의 주목할만한 포인트들 (21 및 22) 사이의 값의 편차 또는 차이 (20) 를 나타낸다. 이들 포인트 (21, 22) 들은 유리하게는 신호의 변동의 방향의 변화 포인트 또는 상기 측정 신호의 드리프트의 부호의 변화 포인트이다. 제 1 포인트 (21) 에서, 신호는 상대적인 값에서 증가한 다음 감소했고, 제 2 포인트 (22) 에서, 신호가 상대적인 값에서 감소한 다음 증가했다. 제 1 포인트 (21) 와 제 2 포인트 (22) 사이의 값의 편차는 제품의 수명 동안 감소하는 경향이 있다. 도 7은 이 디스크립터 (D1) 의 추세를 나타내는 곡선 (CD1) 을 나타낸다.
제 2 디스크립터 (D2) 는 측정될 신호의 측정 곡선 (CM) 과 모니터링될 제품의 초기 또는 고유 기준 곡선 (CRP) 간의 편차, 변동, 차이, 또는 상관관계를 나타낸다. 예를 들어, 노름 값 (normed value) 에서, 측정된 곡선 (CM) 이 고유 또는 초기 기준 곡선 (CRP) 에 근접하면 이 디스크립터는 "1" 에 가까운 값을 가질 수 있고, 측정된 곡선 (CM) 이 고유 또는 초기 기준 곡선 (CRP) 과 매우 상이하거나 또는 멀리 떨어져 있으면 제로 "0" 에 가까운 값을 가질 수 있다. 제품 수명 동안, 디스크립터 (D2) 의 값은 1에 가까운 값으로부터 0에 가까운 값으로 변화된다. 도 8은 이 디스크립터 (D2) 의 추세를 나타내는 곡선 (CD2) 을 나타낸다. 결과적으로, 측정 곡선 (CM) 이 고유 기준 곡선 (CRP) 으로부터 멀어질수록, 유닛은 더 마모된 것으로 고려될 것이다.
제 3 디스크립터 (D3) 는 측정될 신호의 측정 곡선 (CM) 과 모니터링될 제품의 마모 기준 곡선 (CRU) 간의 편차, 변동, 차이, 또는 상관관계를 나타낸다. 마모 기준 곡선이 미리 로드되었다. 예를 들어, 노름 값에서, 이 디스크립터는 측정된 곡선 (CM) 이 마모 기준 곡선 (CRU) 과 매우 상이하거나 멀리 떨어져 있으면 제로 "0" 에 가까운 값을 가질 수 있고, 측정된 값 (CM) 이 마모 기준 곡선에 가까워지면 "1" 에 가까운 값을 가질 수 있다. 제품 수명 동안, 디스크립터 (D3) 의 값은 "0" 에 가까운 값으로부터 "1" 에 가까운 값으로 변화한다. 도 9는 이 디스크립터 (D3) 의 추세를 나타내는 곡선 (CD3) 을 나타낸다. 결과적으로, 측정 곡선 (CM) 이 마모 기준 곡선 (CRU) 에 더 가까워질수록, 유닛은 더 마모된 것으로 고려될 것이다.
제 4 디스크립터 (D4) 는 주목할 2개의 포인트 (24 및 25) 사이의 측정 곡선 (CM) 의 신호의 적분 (23) 을 나타낸다. 유리하게는, 주목할만한 포인트들은, 각각, 신호의 변동의 제 1 방향 변화 후의 제 1 임계치 (26) 및 신호의 변동의 제 2 방향 변화 후의 제 2 임계치 (27) 일 수 있다. 제품의 수명 동안, 디스크립터 (D4) 의 값은 절대 값이 감소한다. 설명된 실시 형태에서, 값은 음수이고 0에 접근하며 상향 곡선을 나타낸다. 도 10는 이 디스크립터 (D3) 의 추세를 나타내는 곡선 (CD4) 을 나타낸다.
제 5 디스크립터 (D5) 는 측정 곡선 (CM) 의 주목할만한 포인트 (22) 의 값을 나타낸다. 이 포인트는 유리하게는 신호의 변동의 방향의 변화 포인트 또는 상기 측정 신호의 드리프트의 부호의 변화 포인트이다. 바람직하게는, 주목할만한 포인트는 신호가 상대 값이 감소하고 다음으로 증가하는 부호의 제 2 변화 포인트 (22) 일 수 있다. 도 11는 이 디스크립터 (D5) 의 추세를 나타내는 곡선 (CD5) 을 나타낸다. 이 곡선은 도 6에 도시된 학습 곡선으로부터 도출된다. 이 도 6에서, 학습 페이즈 동안, 디스크립터 (D5) 의 아주 많은 측정이 수행되었고 곡선 (ND5) 에 의해 보여졌다. 다음으로, 이들 많은 값은 모니터링할 유닛에 로드될 디스크립터 (CD5) 의 추세 곡선을 제공하는 직선 세그먼트로서 모델링되었다. 도 11의 이 곡선은 예를 들어 5개의 세그먼트 (28) 를 포함한다. 세그먼트의 수는 무제한이지만, 유리하게는 1 과 20 사이에 있다. 그러나, 다른 실시 형태들이, 예를 들어, 레벨들 또는 다항식들에 의해 가능하다.
디스크립터의 전역 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 의 시작에서, 디스크립터는 새로운 유닛 또는 번인 (burn in) 되는 유닛의 특정 클래스 CL1과 연관되는 반면, 곡선의 끝에서, 디스크립터는 마모된 유닛들의 클래스 CL3 와 연관된다. 클래스 CL1 및 CL3 사이에서, 디스크립터들은 정상 동작 중인 유닛들의 클래스 CL2와 연관된다.
적어도 2개 이상의 디스크립터 (D1, D2, D3, D4, D5) 를 사용하면 모니터링할 전기 유닛의 마모 상태를 보다 정확하게 또는 확실하게 검출할 수 있다. 위에 설명된 디스크립터들은 전기량에 따라 의존한다. 그러나, 유닛의 온도 또는 수평 위치 또는 수직 위치와 같은 환경적 양들과 전기량을 결합하여 다른 디스크립터들이 또한 사용될 수 있다. 이러한 양은 환경의 함수로서 디스크립터들을 선택하는데 사용될 수 있다. 디스크립터들의 곡선은 또한, 전기 유닛의 특정 사용 유형의 함수로서 선택될 수 있다. 제품 또는 전기 유닛의 유형 및 상기 유닛의 사용을 정의하는 것을 가능하게 하는 파라미터화 데이터는 또한 로딩 페이즈 동안 대응하는 학습 데이터로 로딩된다.
도 12는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 디스크립터들 (D1, D2, D3, D4, D5) 의 값들 및 디스크립터들의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 에 대한 그들의 비교 또는 포지셔닝의 예들을 보여준다. 박스 (30) 는 5개의 디스크립터들 Pt1 = {D1; D2; D3; D4; D5} 로서의 측정 곡선 (CM) 의 포맷팅을 보여준다. 박스 (31) 는 측정 포인트 또는 측정 곡선 Pt1 {51; 0.996; 0.881; -70; -87} 에 대응하는 이들 디스크립터의 노름 값을 제공한다. 박스 (32) 는 가장 가까운 상황들을, 가장 작은 전역 편차 (33) 로부터 그들의 순위를 매김으로써, 보여준다. 이 경우에, 3개의 마모 클래스 1, 2개의 클래스 2 및 1개의 클래스 3을 갖는 6개의 가장 가까운 상황 (34) 들이 있다. 가장 가까운 5개의 상황에 대한 판정이 내려지면, 그 결과는 과반의 마모 클래스, 즉 클래스 1이 될 것이다.
학습 데이터가 접촉기와 같은 전기 유닛의 마모 진단을 적용할 준비가 된 디바이스에 로드될 때, 초기화 페이즈는 모니터링될 유닛에 고유한 초기 데이터를 저장하는 것을 가능하게 한다. 이러한 초기 특성들 중에서, 유리하게는 고유 기준 곡선 (CRP) 의 획득이 있다. 이 기준 곡선은 미리 결정된 수의 제 1 개방에 대응하는 유닛의 번인 후에 및/또는 측정 곡선 (CM) 의 변동이 안정될 때 저장되는 것이 바람직하다.
도 13은 곡선들의 2개 예를 보여준다. 또한 고유 기준 곡선 (CRP) 일 수 있는 제 1 신규 유닛 측정 곡선 (CM) 및 또한 미리 로딩된 마모 유닛 기준 곡선 (CRU) 일 수 있는 마모 유닛 측정 곡선 (CM). 유닛의 수명 동안 다른 측정 곡선 (CM) 은 이 2개의 기준 곡선 (CRP) 와 (CRU) 사이에 위치될 것이다.
도 14는 모니터링 디바이스가 설치되거나 또는 모니터링 디바이스가 연관되는 모니터링될 제품의 상기 고유 기준 곡선 (CRP) 을 포함하는 상기 초기화 데이터를 결정하기 위한 초기화 페이즈 (14) 를 나타내는 흐름도를 도시한다. 단계 (40) 는 초기화 페이즈의 시작을 나타낸다. 고유 기준 곡선 (CRP) 의 결정 프로세스 (41) 는 연속 측정 곡선이 획득되는 처리 단계 (42) 및 곡선의 안정성을 모니터링하는 단계 (43) 를 포함한다. 곡선 (CM) 은 미리 결정된 수 (N안정) 의 측정들후에, 및/또는 측정 곡선 (CM) 이 2개의 연속적인 측정들 (CMn 및 CMn-1) 사이에서 거의 변화하지 않을 때 안정한 것으로 인식된다.
단계 (44) 에서, 측정 곡선 (CM) 은 고유 기준 곡선 (CRP) 으로서 저장된다. 각각의 개방 후의 곡선들 사이의 편차가 낮아질 때 최소 횟수의 동작 후에, 이 곡선은 번인 후 제품의 수명의 시작에서의 전압 또는 전류의 전기적 특성을 나타낸다. 이것은 제품의 수명 만료 시까지 유효하다. 또 다른 실시 형태에서, 저장될 곡선의 안정성을 더욱 향상시키기 위해, 고유 기준 곡선 (CRP) 은 또한 몇몇 안정 곡선 (CM) 의 평균일 수 있다.
이 고유 기준 곡선 (CRP) 은 특히 상기 전기 유닛의 모니터링 페이즈 (15) 에서 적어도 하나의 디스크립터 (D2) 를 결정하는데 사용된다.
도 15 는 상기 전기 유닛을 나타내는 제품의 유형에 대응하는 학습 데이터가 미리 로드되는 로딩 페이즈 (13) 및 모니터링될 상기 유닛에 대응하는 초기화 데이터가 저장되는 초기화 페이즈 (14) 후에, 모니터링 페이즈 (15) 가 전기 유닛의 개방시 모니터링을 개시하는 것을 보여준다.
이 특정 실시 형태에서, 단계 (45) 는 전기 유닛의 개방을 검출한다. 개방이 검출될 때, 단계 (46) 는 유닛의 모니터링을 수행한다. 이러한 검출은 디바이스 외부의 신호에 의해 또는 측정 신호 또는 그의 변동의 분석에 의해 수행될 수 있다. 모니터링 페이즈는 바람직하게 전기 유닛의 개방시 마다 개시된다. 그러나, 이는 또한, 보다 큰 간격으로, 예를 들어, 미리 결정된 수의 개방 이후에 개시될 수 있다. 모니터링은 또한 유닛의 수명에 따라 의존할 수 있으며, 예를 들어, 번인 후 수명의 시작에서 모니터링 빈도가 줄어들고 보다 큰 정확성을 위해 수명의 끝에서 빈도가 늘 수 있다.
도 16은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 모니터링 단계 (46) 의 상세를 갖는 모니터링 페이즈 (15) 의 흐름도를 도시한다.
상기 모니터링 페이즈는
- 단계 (50) 에서, 모니터링될 유닛의 개방시 측정 곡선 (CM) 의 측정 및 획득,
- 단계 (51) 에서, 측정 곡선 (CM) 의 로컬 디스크립터들 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들을, 상기 측정 곡선 (CM), 저장된 초기화 데이터 (CRP), 및 마모 기준 곡선 (CRU) 과 같은 제 1 학습 데이터의 함수로서, 결정,
- 단계 (52) 에서, 디스크립터의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD4) 과 같이 로드된 제 2 학습 데이터에 대한 측정 곡선 (CM) 의 디스크립터 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들의 포지셔닝을 결정,
- 단계들 (53-55) 에서, 로드된 제 2 학습 데이터에 대한 측정 곡선 CM 의 디스크립터들 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들의 포지셔닝들의 상기 값들의 함수로서 전체 상태 클래스의 결정을 포함한다.
바람직하게는, 전체 상태 클래스의 결정은
- 단계 (53) 에서, 측정 곡선 (CM) 의 로컬 디스크립터들 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들과 디스크립터들의 대응하는 추세 곡선들 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 사이에서 가장 가까운 포인트들 또는 편차들을 결정,
- 단계 (54) 에서, 디스크립터들의 상기 추세 곡선에 대한 상기 디스크립터들의 가장 가까운 포지셔닝들의 함수로서의 중간 상태 클래스들 (CLI) 의 적어도 3회 결정,
- 단계 (55) 에서, 상기 중간 클래스들의 결과들의 함수로서 상기 전체 클래스의 선택, 및
- 단계 (56) 에서, 유닛의 전체 마모 클래스의 시그널링 또는 통신을 포함한다.
단계 (53) 에서, 가장 가까운 편차의 결정은 바람직하게는 예를 들어 모든 디스크립터의 값들에 의해 정의된 포인트로 전역적으로 행해질 수 있다. 그러나, 그것은 또한, 각 디스크립터에 대해 개별적으로 또는 함께 그룹화된 디스크립터들의 일부 및 개별적으로 또 다른 부분과 혼합 또는 반전역 방식으로 행해질 수 있다.
단계 (56) 에서, 전기 유닛의 상태를 시그널링하는 디바이스 (8) 는 표시기 램프 또는 구분되는 채널로 전체 마모 클래스를 디스플레이할 수 있다. 그러나, 클래스 값들은 함께 그룹화할 수 있으며, 특히 번인되는 유닛의 클래스 및 정상 작업 클래스가 단일 신호 상에서 함께 또는 그룹화되어 시그널링될 수 있다.
위의 설명은 5개의 디스크립터들를 언급하지만, 전기 유닛의 수명 또는 그의 수명기간 동안의 전기 유닛의 거동을 특성화하기 위해 다른 디스크립터들이 사용될 수 있다. 디스크립터들의 수는 또한 상이할 수 있으며, 하나의 디스크립터로부터 방법 및 디바이스는 본 발명의 실시형태들을 이용하는 것을 가능하게 한다. 그러나, 많은 수의 디스크립터들은 마모 클래스들의 식별의 보다 정확한 결과를 갖는 것을 가능하게 한다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하기 위한 디바이스는 전기 스위칭 유닛의 접점을 작동시키는 전자기 코일에 접속된다. 이는 전술한 진단 방법을 구현하기 위한 처리 회로를 포함한다.
본 발명에 따른 전자기 제어 코일에 의해 작동되는 전력 전기 접점을 포함하는 전기 유닛은 전술한 진단 방법을 구현하도록 상기 접점을 작동시키는 상기 전자기 코일에 접속된 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하기 위한 디바이스를 포함한다.
그 디바이스 및 방법은 모니터링될 유닛 상에 영구적으로 또는 일시적으로 구현될 수 있다. 그것들은 또한 이미 설치된 전기 유닛들 상에서 구현될 수 있다. 또한, 본 방법의 일부 단계들은 국부적으로 유닛에 가깝게 수행될 수 있고, 다른 단계들은 원격 또는 집중화된 방식으로 수행될 수 있다. 예를 들어, 곡선 (CM) 의 획득은 국부적일 수 있고 나머지 처리는 보다 정교한 계산을 위해 원격으로 수행될 수 있다. 이 경우, 처리 동작들은 도 1에 나타낸 바와 같이 로컬 모듈 (7) 과 원격 모듈 (9) 사이에서 공유된다.
여러 유형의 부하 또는 사용 범주가 학습 및 모니터링 페이즈들에서 식별된다. 그 유형의 부하의 처리는 바람직하게는 상이한 상황을 고려하기 위하여 학습 페이즈 동안 전역적으로 행해진다. 예를 들어, 상이한 유형의 부하에 대해 수명 동안 여러 유닛들이 사용될 것이다. 디스크립터들의 추세 곡선은 상이한 부하 또는 사용 조건을 갖는 유닛들과의 곡선을 나타낼 것이다.
전기 접촉기와 같은 전기 유닛의 사용 범주는 특히 다음에 의존한다:
- 부하 유형 : 비유도, 유도, 링 모터, 케이스 모터 (case motor);
- 제어 유형 : 전원 공급, 차단, 시동, 제동, 단속적 가동 (running in fits and starts);
- 적용 유형 : 분배, 가열, 압축기, 환기, 리프트, 펌프, 다양한 기계; 및/또는
- 여러 기준의 조합.
또한 부하 유형 또는 특정 용도를 식별하고 그에 따라 방법을 특성화하는 것이 가능하다. 예를 들어, 용량성 부하 또는 기타 부하의 경우.
사용 범주마다 마모 클래스는 디스크립터들에 의해 정의된다. 그것들은 제품의 상태를 특성화하고 제품의 수명의 표시를 갖는 것을 가능하게 한다.
주된 클래스들의 비제한적 목록은 다음과 같을 수 있다:
- 클래스 1 : 신 제품 또는 번인되는 제품
- 클래스 2 : 사용중인 제품
- 클래스 3 : 마모된 제품
- 클래스 4 : 수명 종료의 제품
전술한 우선적인 실시 형태들에서, 접점들의 마모의 평가는 접촉기의 코일의 전압의 측정으로부터 유리하게 행해진다. 그러나, 다른 신호, 특히 코일에 흐르는 전류를 나타내는 신호가 사용될 수 있다.
Claims (15)
- 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법으로서,
상기 전기 스위칭 유닛의 모니터링 페이즈 (15) 를 포함하고,
- 상기 모니터링 페이즈는
- 이전에 로드되고 상기 전기 스위칭 유닛을 나타내는 제품의 유형에 대응하는 학습 데이터 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5, CRU), 및
- 초기화 페이즈 (14) 에서 모니터링되고 저장될 상기 전기 스위칭 유닛에 대응하는 초기화 데이터 (CRP) 를 사용하고,
- 상기 모니터링 페이즈 (15) 는
- 상기 전기 스위칭 유닛의 개방시 측정 곡선 (CM) 의 측정 (50) 및 획득,
- 상기 측정 곡선 (CM) 의, 저장된 초기화 데이터 (CRP) 의, 그리고 로드된 제 1 학습 데이터 (CRU) 의 값들의 함수로서 상기 측정 곡선 (CM) 의 로컬 디스크립터들 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들의 결정 (30, 31, 51),
- 제 2 학습 데이터 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 에 대한 상기 측정 곡선 (CM) 의 로컬 디스크립터 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들의 포지셔닝의 결정 (52),
- 상기 제 2 학습 데이터 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 에 대한 상기 측정 곡선 (CM )의 그리고 로컬 디스크립터들 (DL1, DL2, DL3, DL4, DL5) 의 값들의 포지셔닝들의 상기 값들의 함수로서 전체 상태 클래스의 결정 (32, 53-55) 을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항에 있어서,
상기 전체 상태 클래스의 결정은
- 상기 로컬 디스크립터들에 가장 가까운 포지셔닝들의 함수로서 중간 상태 클래스 (CLI) 들의 적어도 3회 결정 (52, 54), 및
- 상기 중간 클래스들 (32) 의 함수로서 상기 전체 클래스의 선택 (55) 을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
제 1 디스크립터 (D1, DL1) 는 상기 측정 곡선 (CM) 의 2개의 주목할만한 포인트들 (21, 22) 사이의 값의 차이 (20) 를 나타내는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
- 초기화 데이터는 측정의 안정화 후 상기 제품의 수명의 시작에서 저장되는 모니터링될 상기 제품에 고유한 적어도 하나의 기준 곡선 (CRP) 을 포함하고,
- 제 2 디스크립터 (D2, DL2) 는 측정 곡선 (CM) 과 상기 고유 기준 곡선 (CRP) 사이의 편차를 나타내며, 상기 측정 곡선 (CM) 이 상기 고유 기준 곡선 (CRP) 으로부터 멀어질수록 상기 전기 스위칭 유닛은 더 많이 마모된 것으로 고려될 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
- 로드된 학습 데이터는 마모된 유닛의 개방 동안 전기 신호에 대응하는 마모된 유닛의 적어도 하나의 기준 곡선 (CRU) 을 포함하고,
- 제 3 디스크립터 (D3, DL3) 는 측정 곡선 (CM) 과 상기 마모 기준 곡선 (CRU) 사이의 편차를 나타내며, 상기 측정 곡선 (CM) 이 상기 마모 기준 곡선 (CRU) 에 가까울수록 상기 전기 스위칭 유닛은 더 많이 마모된 것으로 고려될 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
제 4 디스크립터 (D4, DL4) 는 곡선 표면에 또는 상기 측정 곡선 (CM) 의 2개의 주목할만한 포인트 (24, 25) 사이의 적분에 또는 제 1 변동 방향의 값과 제 2 반대 변동 방향의 값의 2개의 임계치들 (26, 27) 에 대응하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
제 5 디스크립터 (D4, DL4) 는 상기 측정 곡선 (CM) 상의 신호의 변동의 부호 변화와 같은 주목할만한 포인트 (22) 의 값 변동에 대응하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
로드된 학습 데이터는 상기 전기 스위칭 유닛의 수명 동안 상기 전기 신호의 미리 정의된 특성을 나타내는 디스크립터들의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 을 나타내는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 디스크립터들의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 은 상기 학습 데이터에 필요한 메모리 공간을 줄이기 위해 직선 세그먼트 정의 포맷으로 로드되는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
미리 로드된 상기 디스크립터들의 추세 곡선 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5) 의 값들은 모니터링될 유닛들의 상태 또는 마모 클래스와 연관되는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
- 미리 결정된 수의 동작 동안,
- 마모된 유닛의 개방 동안 전기 신호에 대응하는 상기 마모된 유닛의 적어도 하나의 기준 곡선 (CRU), 및
- 상기 전기 스위칭 유닛의 수명 동안 상기 전기 신호의 미리 정의된 특성을 나타내는 디스크립터들의 적어도 2개의 추세 곡선들 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5)
을 나타내는 학습 데이터를 기록하기 위한 예비 학습 페이즈 (11),
- 상기 학습 데이터 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5, CRU) 의 저장 (12),
- 상기 학습 데이터 (CD1, CD2, CD3, CD4, CD5, CRU) 의 로딩 (13), 및
- 상기 전기 스위칭 유닛 모니터링 페이즈 (15) 에서 상기 학습 데이터의 사용 (52, 53) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 방법은
- 미리 결정된 수 (N안정) 의 측정 (43) 후에, 및/또는
- 2개의 연속적인 측정 (CMn, CMn-1) 사이에 상기 측정 곡선 (CM) 이 거의 변하지 않을 때,
결정되는 모니터링될 상기 제품의 상기 고유 기준 곡선 (CRP) 을 포함하는 상기 초기화 데이터를 결정하기 위한 초기화 페이즈 (14),
- 상기 고유 기준 곡선의 저장 (44), 및
- 상기 전기 스위칭 유닛 모니터링 페이즈 (15) 에서 상기 초기화 데이터의 사용 (51) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛의 마모의 상태를 진단하는 방법. - 전기 스위칭 유닛의 접점들 (2) 을 작동시키는 전자기 코일 (4) 에 접속된 전기 스위칭 유닛 (1) 의 마모 상태를 진단하기 위한 디바이스 (10) 로서,
상기 진단 디바이스는 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 기재된 진단하는 방법을 구현하기 위한 처리 회로 (10) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛 (1) 의 마모 상태를 진단하기 위한 디바이스 (10). - 제 13 항에 있어서,
상기 처리 회로 (10) 는 상기 전기 스위칭 유닛으로부터 원격의 외부 처리 모듈 (9) 에 링크된 상기 전기 스위칭 유닛에 근접한 로컬 진단 처리 모듈 (7) 을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 스위칭 유닛 (1) 의 마모 상태를 진단하기 위한 디바이스 (10). - 전자기 제어 코일 (4) 에 의해 작동되는 전력 전기 접점 (2) 을 포함하는 전기 유닛 (1) 으로서,
상기 접점 (2) 을 작동시키는 상기 전자기 코일 (4) 에 접속된 상기 전기 스위칭 유닛의 마모 상태를 진단하고 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 기재된 진단하는 방법을 구현하기 위한 디바이스 (10) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 유닛 (1).
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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