KR20180070468A - Chip component carrying device - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 칩 부품 반송 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a chip component carrying apparatus.
동심원 형상으로 복수열로 형성된 캐비티 내에 칩 부품을 유지한 반송 로터를 회전 시킴과 아울러, 칩 부품의 전기 특성 등을 검사하고, 검사 후의 칩 부품을 양품 및 불량품으로 분류하여 회수하는 칩 부품 반송 장치가 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조). 양품이나 불량품 등의 복수 종류의 칩 부품을 각각 회수하는 회수 상자는 다수의 칩 부품을 수용 가능한 크기로 설정된다. 이 때문에, 회수 상자는 반송 로터에 대하여 호스에 의해 접속된다. 칩 부품 반송 장치는 검사 후의 칩 부품을 반송 로터로부터 호스를 통해서 회수 상자로 회수한다.A chip component transfer device for rotating a conveying rotor holding a chip component in a cavity formed in a plurality of concentric circles in a concentric shape and inspecting the electrical characteristics and the like of the chip components and sorting and classifying the chip components after inspection into good and defective components (See, for example, Patent Document 1). The collection box for collecting a plurality of kinds of chip parts such as good and defective parts is set to a size large enough to accommodate a plurality of chip parts. Therefore, the recovery box is connected to the conveying rotor by a hose. The chip component conveying device recovers the chip components after inspection from the conveying rotor to the recovery box through a hose.
그런데, 미소한 칩 부품을 반송하는 칩 부품 반송 장치에서는 칩 부품이 호스 내에 잔류할 우려가 있다. 이러한 칩 부품의 잔류는 다른 로트 사이에 있어서의 칩 부품의 혼입을 초래할 우려가 있다. 이러한 다른 로트 사이에 있어서의 칩 부품의 혼입을 방지하기 위해서, 로트 사이에서 호스를 청소하는 대책이 다루어진다. 그러나, 작업자의 목시에 의해 호스 내의 칩 부품의 유무를 확인하기 위해서, 칩 부품이 목시 곤란할 만큼 작은 경우, 호스 내의 칩 부품의 유무의 확인은 어렵다. 게다가, 호스의 청소 작업에서는 호스 내의 칩 부품의 유무를 확인하면서 청소하기 때문에 호스의 청소 작업에 시간이 걸린다.However, there is a risk that the chip component is left in the hose in the chip component transferring device for transferring the minute chip component. Such a residue of the chip component may cause incorporation of the chip component between the other lots. Measures for cleaning the hoses between the lots are dealt with in order to prevent mixing of the chip parts between these other lots. However, in order to check the presence or absence of the chip component in the hose by the operator's eyes, it is difficult to confirm whether or not the chip component is present in the hose when the chip component is small enough to be visibly difficult to see. Furthermore, in the cleaning operation of the hose, it takes time to clean the hose because it is cleaned while confirming the presence of the chip parts in the hose.
본 발명의 목적은 다른 로트 사이에 있어서의 칩 부품의 혼입을 용이하게 억제하는 것을 가능하게 하는 칩 부품 반송 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a chip component transport apparatus which makes it possible to easily suppress the incorporation of chip components between different lots.
상기 과제를 해결하는 칩 부품 반송 장치는 칩 부품을 반송하는 반송체와, 상기 반송체에 의해 반송되는 상기 칩 부품이 양품인지 불량품인지를 검사하는 검사부와, 상기 검사부의 검사 결과에 근거한 상기 반송체로부터 양품의 상기 칩 부품을 배출하는 배출 장치와, 상기 검사부의 검사 결과에 근거하여 상기 배출 장치에 의해 상기 반송체로부터 배출된 상기 양품의 칩 부품을 회수하는 양품 회수 상자와, 상기 양품 회수 상자를 착탈 가능하게 유지하는 상자 유지체를 구비하고, 상기 반송체는 상기 칩 부품의 반송 방향을 따라 설치되고 상기 칩 부품을 유지 가능한 복수의 유지부를 갖고, 상기 복수의 유지부의 각각은 상기 반송 방향과 교차하는 방향을 따라 병설되고 상기 칩 부품을 수용하는 복수의 수용 구멍을 갖고, 상기 양품 회수 상자는 상기 복수의 유지부 중 적어도 1개의 유지부의 상기 복수의 수용 구멍과 대향하고 상기 배출 장치에 의해 상기 수용 구멍으로부터 배출된 상기 양품의 칩 부품을 직접적으로 회수하는 회수구를 갖는다.The chip component transporting apparatus for solving the problems described above is characterized by comprising: a transporting body for transporting chip components; an inspection section for inspecting whether the chip component transported by the transporting body is a good product or a defective product; A good product collecting box for collecting chip components of the good product discharged from the carrier by the discharging device on the basis of the inspection result of the inspection unit; Wherein the carrying body has a plurality of holding portions provided along the carrying direction of the chip parts and capable of holding the chip parts, wherein each of the plurality of holding portions intersects the carrying direction And a plurality of receiving holes which are juxtaposed along the direction in which the chip parts are received and accommodate the chip components, Number holding unit holding at least one face the plurality of reception hole portions of a sphere and has a number of direct retrieval of the chip component of the non-defective product discharged from the containing hole by the discharging device.
이 구성에 의하면, 수용 구멍으로부터 배출된 양품의 칩 부품이 직접적으로 양품 회수 상자 내에 회수된다. 이에 따라, 양품 회수 상자에 접속되어 양품 회수 상자와 수용 구멍의 배출 경로를 구성하는 호스를 필요로 하지 않기 때문에, 칩 부품의 체류가 없고, 다른 로트 사이에 있어서의 칩 부품의 혼입을 용이하게 억제할 수 있다.According to this configuration, the chip parts of the good product discharged from the receiving hole are directly recovered in the good product collecting box. This eliminates the need for a hose that is connected to the good product collecting box and constitutes the discharge path of the good product collecting box and the receiving hole. Therefore, there is no stagnation of the chip component and the mixing of the chip component between the other lots is easily suppressed can do.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 반송 방향으로부터 보았을 때, 상기 회수구의 크기는 상기 수용 구멍과 대향한 상태에 있어서 상기 수용 구멍의 가장자리로부터 45° 이상 또한 90° 미만의 경사 각도로 연장된 선분의 범위 내인 것이 바람직하다.In the chip component transportation device, when viewed from the carrying direction, the size of the collection port is larger than the size of the line segment extending from the edge of the receiving hole at an inclination angle of 45 degrees or more and less than 90 degrees .
이 구성에 의하면, 유지부로부터 배출되는 양품의 칩 부품이 양품 회수 상자의 회수구 내로 배출되기 쉬워진다. 따라서, 유지부로부터 배출되는 양품의 칩 부품이 양품 회수 상자의 외부로 배출되는 것을 억제할 수 있다.According to this configuration, the chip parts of the good product discharged from the holding portion are easily discharged into the recovery port of the good product recovery box. Therefore, it is possible to prevent the chip parts of the good products discharged from the holding portion from being discharged to the outside of the good product return box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 회수구는 상기 복수의 수용 구멍에 걸쳐서 형성되어 있는 것이 바람직하다.In the above-mentioned chip component transportation device, it is preferable that the collection port is formed to extend over the plurality of receiving holes.
이 구성에 의하면, 수용 구멍으로부터 배출되는 양품의 칩 부품이 양품 회수 상자의 회수구 내로 배출되기 쉬워진다. 따라서, 수용 구멍으로부터 배출되는 양품의 칩 부품이 양품 회수 상자의 외부로 배출되는 것을 억제할 수 있다.According to this configuration, the chip parts of the good product discharged from the receiving hole can be easily discharged into the recovery port of the good product recovery box. Therefore, it is possible to suppress the discharge of the chip parts of the good product discharged from the receiving hole to the outside of the good product return box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 배출 장치는 상기 복수의 수용 구멍의 각각을 향하여 압축 공기를 분출시킴으로써 상기 수용 구멍으로부터 상기 칩 부품을 배출하고, 상기 양품 회수 상자는, 상기 칩 부품은 배출하지 않고 상기 양품 회수 상자 내의 공기를 배출하는 배기구를 갖는 것이 바람직하다.In the above-mentioned chip component transfer apparatus, the discharging device discharges the chip component from the receiving hole by jetting compressed air toward each of the plurality of receiving holes, and the good product collecting box does not discharge the chip component And an exhaust port for exhausting the air in the good product recovery box.
배출 장치에 의해 양품의 칩 부품을 양품 회수 상자로 배출할 때, 양품 회수 상자 내에 양품의 칩 부품과 함께 압축 공기가 유입하기 때문에 양품 회수 상자 내의 압력이 높아지기 쉽다. 양품 회수 상자 내의 압력이 과도하게 높아지면, 그 압력에 의해 양품 회수 상자 내에 양품의 칩 부품이 들어가기 어려워질 우려가 있다.When discharging the chip parts of the good product to the good product recovery box by the discharge device, the compressed air flows together with the chip component of the good product in the good product recovery box, so that the pressure in the good product recovery box tends to be high. If the pressure in the good product recovery box becomes excessively high, there is a fear that the chip components of good products are difficult to get into the good product recovery box by the pressure.
그 점에서, 본 칩 부품 반송 장치에서는 양품 회수 상자가 배기구를 갖기 때문에 양품 회수 상자 내의 공기가 배기구를 통해서 외부로 유출됨으로써 양품 회수 상자 내의 압력이 과도하게 높아지는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 양품 회수 상자 내에 양품의 칩 부품이 들어가기 쉬워진다.In this respect, in the present chip component conveying apparatus, since the good product recovery box has an exhaust port, air in the good product recovery box flows out to the outside through the exhaust port, so that the pressure in the good product recovery box can be prevented from becoming excessively high. Therefore, it becomes easy for the chip parts of good products to enter the good product collecting box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 배기구는 상기 양품 회수 상자에 있어서 상기 회수구와 대향하지 않는 개소에 형성되어 있는 것이 바람직하다.In the above-mentioned chip component conveying device, it is preferable that the exhaust port is formed at a position not opposed to the recovery port in the good product recovery box.
이 구성에 의하면, 배기구에 칩 부품이 모이는 것을 억제하기 때문에, 배기구에 모인 칩 부품에 의해 배기구와 양품 회수 상자의 외부와의 공기의 유통을 방해하는 것이 억제된다. 이 때문에, 양품 회수 상자의 압력이 과도하게 높아지는 것을 억제하기 쉬워진다.According to this configuration, since the chip components are prevented from collecting in the exhaust port, the chip components gathered in the exhaust port are prevented from obstructing the flow of air between the exhaust port and the outside of the good product recovery box. Therefore, it becomes easy to suppress the excessive increase in the pressure of the good product recovery box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 배기구는 상기 양품 회수 상자에 있어서 연직 방향의 상단부에 설치되어 있는 것이 바람직하다.In the above-mentioned chip component conveying device, it is preferable that the exhaust port is provided at the upper end in the vertical direction in the good product collecting box.
이 구성에 의하면, 양품 회수 상자에 있어서 칩 부품이 모이기 어려운 위치에 배기구가 형성되어 있기 때문에, 칩 부품에 의해 배기구와 양품 회수 상자의 외부와의 공기의 유통을 방해하는 것을 억제하기 쉬워진다.According to this configuration, since the exhaust port is formed at a position where the chip parts are difficult to collect in the good product collecting box, it is easy to suppress disturbance of the airflow between the exhaust port and the outside of the good product collecting box by the chip component.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서는 1개의 상기 유지부에 대응하여 설치되고, 상기 검사부의 검사 결과에 근거하여 상기 배출 장치에 의해 상기 수용 구멍으로부터 배출되는 불량품의 상기 칩 부품을 회수하는 불량품 회수 상자를 구비하고, 상기 불량품 회수 상자는 상기 수용 구멍과 대향하여 상기 배출 장치에 의해 상기 수용 구멍으로부터 배출된 상기 불량품의 칩 부품을 직접적으로 회수하는 회수구를 갖고, 상기 양품 회수 상자 및 상기 불량품 회수 상자는 상기 반송 방향으로 연장되어 있는 것이 바람직하다.And a defective product collection box provided in correspondence with one of the holding parts and collecting the chip component of the defective product discharged from the receiving hole by the discharge device on the basis of the inspection result of the inspection part Wherein said defective product recovery box has a recovery port for directly recovering said defective product chip component discharged from said receiving hole by said discharge device so as to face said receiving hole, and said good product recovery box and said defective product recovery box And extend in the transport direction.
이 구성에 의하면, 양품 회수 상자 및 불량품 회수 상자의 사이즈를 과도하게 작게 하지 않고, 칩 부품을 회수 가능하게 양품 회수 상자 및 불량품 회수 상자를 배치할 수 있다. 따라서, 양품 회수 상자 및 불량품 회수 상자가 수용 가능한 칩 부품의 수량을 늘릴 수 있으므로, 로트에 있어서의 칩 부품의 수량을 늘릴 수 있다.According to this configuration, it is possible to dispose the good product recovery box and the defective product recovery box so that the chip parts can be recovered without making the size of the good product recovery box and the defective product recovery box excessively small. Therefore, the number of chip parts that can be accommodated in the good product recovery box and the defective product recovery box can be increased, so that the number of chip components in the lot can be increased.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 양품 회수 상자는 상기 불량품 회수 상자보다 상기 반송 방향의 하류측에 위치하고 있는 것이 바람직하다.In the above-mentioned chip component conveying device, it is preferable that the good product recovery box is located on the downstream side of the defective product recovery box in the conveying direction.
이 구성에 의하면, 유지부가 양품 회수 상자에 대응하는 위치로 반송될 때까지 불량품의 칩 부품이 유지부로부터 배출되기 때문에, 양품 회수 상자에 불량품의 칩 부품이 회수될 우려를 저감시킬 수 있다.According to this configuration, since the chip component of the defective product is discharged from the holding portion until the holding portion is transported to the position corresponding to the good product collecting box, it is possible to reduce the possibility that the defective chip component is collected in the good product collecting box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 양품 회수 상자 및 상기 상자 유지체에는 상기 상자 유지체에 대하여 상기 양품 회수 상자가 미리 정해진 위치에만 부착 가능한 부착 규제부가 설치되어 있는 것이 바람직하다.In the above-mentioned chip component conveying device, it is preferable that the good product collecting box and the box holding member are provided with attachment regulating portions capable of attaching only the predetermined number of the good product collecting boxes to the box holding member.
양품 회수 상자가 다른 로트에 있어서 불량품의 칩 부품을 회수하는 회수 상자로서 사용될 수 있으면, 그 로트에 있어서 양품 회수 상자 내의 불량품의 칩 부품이 남은 경우, 다음 로트에서 양품 회수 상자를 양품의 칩 부품의 회수에 사용할 때에 양품 회수 상자 내에 양품의 칩 부품과 불량품의 칩 부품이 혼재해버린다.If the good product recovery box can be used as a recovery box for recovering chip components of defective products in another lot, if the defective component chip components remain in the good product recovery box in the lot, Chip parts of good products and chip parts of defective products are mixed in the good product recovery box when used for recovery.
그 점에서, 본 칩 부품 반송 장치에 의하면, 양품 회수 상자를 양품의 칩 부품 전용 회수 상자로 할 수 있다. 이 때문에, 양품 회수 상자가 불량품의 칩 부품을 회수하는 위치에 배치되는 경우가 없기 때문에, 양품 회수 상자 내에 양품 및 불량품의 칩 부품의 혼입을 억제할 수 있다.In this regard, according to the present chip component transporting apparatus, the good product returning box can be a dedicated chip component returning box of good products. Therefore, there is no case where the good product recovery box is disposed at a position where the chip component of the defective product is retrieved. Therefore, mixing of good products and defective product chip components can be suppressed in the good product recovery box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 제어하는 제어 장치를 구비하고, 상기 제어 장치는 상기 상자 유지체에 대하여 상기 양품 회수 상자가 미리 정해진 위치 이외의 위치에 배치된 경우에 상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 개시하지 않는 것이 바람직하다.The chip part carrying device may further comprise a control device for controlling the operation of the chip component carrying device, wherein when the good product collecting box is disposed at a position other than a predetermined position with respect to the box holding member It is preferable that the operation of the chip component transport apparatus is not started.
이 구성에 의하면, 양품 회수 상자가 불량품의 칩 부품을 회수하는 위치에 배치된 경우에는 제어 장치가 칩 부품 반송 장치를 동작하지 않기 때문에 양품 회수 상자에 불량품의 칩 부품이 회수되는 것이 억제된다. 따라서, 양품 회수 상자에의 양품 및 불량품의 칩 부품의 혼입을 억제할 수 있다.According to this configuration, when the good product recovery box is disposed at a position where the chip component of the defective product is collected, the control device does not operate the chip component transfer device, and therefore, recovery of the defective chip component in the good product recovery box is suppressed. Therefore, it is possible to suppress mixing of good parts and defective parts into the good product collecting box.
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 상자 유지체에 대하여 상기 양품 회수 상자가 미리 정해진 위치 이외의 위치에 배치된 경우에 통지하는 통지부를 더 구비하는 것이 바람직하다.It is preferable that the chip component conveying apparatus further include a notifying section that notifies the box retaining body when the good product returning box is disposed at a position other than a predetermined position.
양품 회수 상자가 불량품의 칩 부품을 회수하는 위치에 배치된 경우에는 양품 회수 상자의 위치가 잘못된 것을 통지부에 의해 작업자에 통지하기 때문에, 양품 회수 상자에 불량품의 칩 부품이 회수되는 가능성을 저감시킬 수 있다.In the case where the good product recovery box is disposed at a position where the chip component of the defective product is recovered, the operator notifies the worker of the incorrect position of the good product recovery box, thereby reducing the possibility that the defective chip component is recovered in the good product recovery box .
상기 칩 부품 반송 장치에 있어서, 상기 반송 방향에 있어서 상기 양품 회수 상자는 불량품의 상기 칩 부품을 회수하는 위치보다 하류측에 위치하고, 상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 제어하는 제어 장치와, 상기 반송 방향에 있어서 상기 양품 회수 상자보다 상류측 또한 상기 불량품의 칩 부품을 회수하는 위치보다 하류측에는 상기 수용 구멍에 상기 칩 부품이 수용되어 있는지의 여부를 검출하는 검출부를 더 구비하고, 상기 제어 장치는 상기 검사부의 검사 결과에 근거한 상기 불량품의 칩 부품이 상기 수용 구멍에 수용된 상태에서 상기 검출부가 상기 수용 구멍에 있어서의 상기 불량품의 칩 부품의 수용을 검출한 경우, 상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 정지하는 것이 바람직하다.Wherein the good product recovery box in the carrying direction is located downstream of a position at which the chip component of the defective product is to be recovered and that controls the operation of the chip component carrying apparatus, Further comprising a detecting section for detecting whether the chip component is accommodated in the receiving hole on a downstream side of a position upstream of the good product collecting box and for retrieving the chip component of the defective product, , When the detecting unit detects the acceptance of the defective chip component in the receiving hole in a state in which the defective chip component based on the inspection result of the defective product is received in the receiving hole desirable.
이 구성에 의하면, 유지부에 유지된 불량품의 칩 부품이 양품 회수 상자의 회수구와 대향하는 것이 억제되기 때문에, 불량품의 칩 부품이 양품 회수 상자에 회수될 우려를 저감시킬 수 있다.According to this configuration, it is possible to suppress the possibility that the defective chip component held in the holding portion faces the recovery receptacle of the good product recovery box, thereby reducing the possibility that the defective chip component is recovered to the good product recovery box.
(발명의 효과)(Effects of the Invention)
본 발명의 칩 부품 반송 장치에 의하면, 다른 로트 사이에 있어서의 칩 부품의 혼입을 용이하게 억제할 수 있다.According to the chip component transport apparatus of the present invention, mixing of chip components between different lots can be easily suppressed.
도 1은 칩 부품 반송 장치의 제 1 실시형태의 개략 정면도이다.
도 2는 칩 부품 반송 장치의 제 1 실시형태의 개략적인 단면도이다.
도 3은 칩 부품의 사시도이다.
도 4의 (a)는 공급 유닛으로부터 유지부에 칩 부품이 공급될 때의 칩 부품 반송 장치의 모식 정면도, (b)는 검사부에 의해 칩 부품이 검사될 때의 칩 부품 반송 장치의 모식 정면도, (c)는 칩 부품이 회수 유닛으로 배출될 때의 칩 부품 반송 장치의 모식 정면도이다.
도 5는 회수 유닛의 정면측의 사시도이다.
도 6은 회수 유닛에 있어서의 양품 회수 상자의 분해 사시도이다.
도 7은 회수 유닛의 배면측의 사시도이다.
도 8은 회수 유닛이 인출 위치일 때의 사시도이다.
도 9는 회수 유닛에 있어서의 양품 회수 상자 및 상자 유지체의 분해 사시도이다.
도 10은 회수 유닛 및 반송 로터의 개략적인 단면도이다.
도 11은 칩 부품 반송 장치의 제 2 실시형태에 있어서의 회수 유닛의 일부분의 분해 사시도이다.
도 12는 회수 유닛에 있어서의 유지판과 양품 회수 상자 및 불량품 회수 상자와의 위치 관계를 나타내는 정면도이다.
도 13은 칩 부품 반송 장치의 제 3 실시형태에 있어서, (a)은 반송 로터 및 회수 유닛의 개략 정면도, (b)는 반송 로터 및 회수 유닛의 개략적인 단면도이다.
도 14는 칩 부품 반송 장치의 변형예에 있어서의 회수 유닛의 개략적인 단면도이다.
도 15는 칩 부품 반송 장치의 변형예에 있어서의 회수 유닛의 개략적인 단면도이다.
도 16은 칩 부품 반송 장치의 변형예에 있어서의 반송부의 개략적인 사시도이다.
도 17은 칩 부품 반송 장치의 변형예에 있어서의 반송부의 개략적인 사시도이다.
도 18은 칩 부품 반송 장치의 변형예에 있어서의 반송부의 개략적인 평면도이다.1 is a schematic front view of a first embodiment of a chip component transportation device.
2 is a schematic cross-sectional view of a first embodiment of a chip component transportation device.
3 is a perspective view of a chip component.
Fig. 4 (a) is a schematic front view of a chip component carrying apparatus when a chip component is supplied from a supply unit to a holding section, Fig. 4 (b) is a schematic front view of the chip component carrying apparatus when the chip component is inspected by the inspection section (C) is a schematic front view of the chip component transportation apparatus when the chip component is discharged to the collection unit.
5 is a perspective view of the front side of the recovery unit.
6 is an exploded perspective view of the good product recovery box in the recovery unit.
7 is a perspective view of the back side of the recovery unit.
8 is a perspective view when the recovery unit is at the withdrawal position.
Fig. 9 is an exploded perspective view of the good product recovery box and the box holding member in the recovery unit. Fig.
10 is a schematic sectional view of the recovery unit and the conveying rotor.
11 is an exploded perspective view of a part of the recovery unit in the second embodiment of the chip component transportation device.
12 is a front view showing the positional relationship between the holding plate, the good product recovery box and the defective product recovery box in the recovery unit.
Fig. 13 is a schematic front view of the conveying rotor and the collecting unit, and Fig. 13 (b) is a schematic cross-sectional view of the conveying rotor and the collecting unit in the third embodiment of the chip component conveying apparatus.
14 is a schematic cross-sectional view of a recovery unit in a modified example of the chip component transportation device.
15 is a schematic cross-sectional view of a recovery unit in a modified example of the chip component transportation device.
16 is a schematic perspective view of a carry section in a modified example of the chip component transfer apparatus.
17 is a schematic perspective view of a carry section in a modified example of the chip component transfer apparatus.
18 is a schematic plan view of the carry section in a modified example of the chip component transfer apparatus.
이하, 칩 부품 반송 장치의 각 실시형태에 대해서 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 첨부된 도면은 이해를 용이하게 하기 위해서 구성요소를 확대하여 나타내고 있는 경우가 있다. 또한, 구성요소의 치수 비율은 실제의 것과, 또는 별도의 도면 중의 것과 다른 경우가 있다.Hereinafter, each embodiment of the chip component transportation device will be described with reference to the drawings. In addition, the accompanying drawings may be enlarged to show the components in order to facilitate understanding. In addition, the dimensional ratio of the components may be different from that of the actual or other drawings.
(제 1 실시형태)(First Embodiment)
도 1~도 10을 참조하여, 칩 부품 반송 장치의 제 1 실시형태에 대해서 설명한다.A first embodiment of a chip component transportation device will be described with reference to Figs. 1 to 10. Fig.
도 1에 나타내는 바와 같이, 칩 부품 반송 장치(1)는 반송부(10), 공급 유닛(20), 검사부(30), 회수 유닛(40) 및 제어 장치(50)를 구비한다. 반송부(10)는 칩 부품(100)을 반송한다. 공급 유닛(20)은 반송부(10)에 칩 부품(100)을 공급한다. 공급 유닛(20)으로서는 호퍼, 피더, 및 적당한 전자 부품 공급 장치를 사용할 수 있다. 검사부(30)는 반송부(10)에 의한 칩 부품(100)의 반송 경로 상에 있어서 칩 부품(100)이 양품인지 불량품인지를 검사한다. 검사부(30)는 칩 부품(100)의 전기 특성을 검사하기 위한 단자를 갖는다. 전기 특성의 검사 항목은 전기 용량, 전기 저항 등을 포함하고, 칩 부품의 종류에 의해 설정된다. 또한, 검사부(30)는 칩 부품(100)의 외관을 검사하기 위한 촬상부를 가져도 좋다. 외관의 검사 항목은 깨짐나 결함의 유무, 상처의 유무, 치수 등을 포함한다.1, the chip
회수 유닛(40)은 양품 회수 상자(41A) 및 5개의 불량품 회수 상자(41B~41F)를 구비한다. 불량품 회수 상자의 개수는 칩 부품(100)의 불량품의 분류 항목수에 따라 설정된다. 본 실시형태에서는 상술한 바와 같이 검사 항목이 5개이기 때문에 칩 부품(100)의 불량품의 분류 항목수는 5이다. 불량품 회수 상자(41B)는 전기 용량에 대해서 불량과 판정된 칩 부품(100)을 회수하기 위한 상자이다. 불량품 회수 상자(41C)는 전기 저항에 대해서 불량과 판정된 칩 부품(100)을 회수하기 위한 상자이다. 불량품 회수 상자(41D)는 깨짐이나 결함이 검출된 칩 부품(100)을 회수하기 위한 상자이다. 불량품 회수 상자(41E)는 상처가 검출된 칩 부품(100)을 회수하기 위한 상자이다. 불량품 회수 상자(41F)는 규제 치수의 범위로부터 제외된 치수의 칩 부품(100)에서 회수하기 위한 상자이다. 또한, 회수 유닛(40)은 복수의 양품 회수 상자(41A)를 구비하고 있어도 좋다.The
제어 장치(50)는 반송부(10)를 제어한다. 제어 장치(50)는 검사부(30)의 검사 결과에 근거하여, 회수 유닛(40)의 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)에 대응하는 칩 부품(100)을 회수한다.The
반송부(10)는 반송기대(11)를 갖는다. 반송기대(11)는, 예를 들면 바닥면에 설치되고 연직 방향으로 연장되어 있다. 또한, 반송기대(11)는 연직 방향에 대하여 경사한 방향으로 연장되어 있어도 좋고, 연직 방향에 직교하는 수평 방향으로 연장되어 있어도 좋다.The carry section (10) has a transfer base (11). The transporting
반송기대(11)의 전방면에는 원판 형상의 반송 지지체(12)가 부착되어 있다. 반송 지지체(12)의 전방면에는 반송체의 일례인 원판 형상의 반송 로터(13)가 배치되어 있다. 반송 로터(13)는 칩 부품(100)을 반송한다. 반송 로터(13)에는 회전축체(14)이 부착되어 있다. 반송 로터(13)는 반송 지지체(12)에 대하여 회전축체(14)와 일체로 회전한다. 반송 로터(13)에는 칩 부품(100)을 유지 가능한 복수의 유지부(15)가 반송 로터(13)에 의한 칩 부품(100)의 반송 방향에 있어서 간격을 두고 설치되어 있다. 유지부(15)는 반송 로터(13)의 원주 방향(반송 방향)에 있어서 동일한 각도 간격으로 배치되어 있다. 또한, 도 1에서는 편의상, 유지부(15)의 개수를 적게 하여 나타내고 있다. 유지부(15)는 반송 방향과 교차하는 방향으로 병설되고, 칩 부품(100)을 수용하는 복수의 수용 구멍(15a)를 갖는다. 본 실시형태의 복수의 수용 구멍(15a)은 회전축체(14)의 중심축선(C)을 중심으로 방사상으로 배치되어 있다. 1개의 유지부(15)에 있어서의 수용 구멍(15a)의 수는 2개 이상 또는 30개 이하의 범위 내인 것이 바람직하다. 본 실시예의 1개의 유지부(15)에 있어서의 수용 구멍(15a)의 수는 4개이다.On the front face of the transporting
반송부(10)는 구동 장치(16), 유지 장치(17) 및 배출 장치(18)를 더 구비한다. 구동 장치(16), 유지 장치(17) 및 배출 장치(18)는 제어 장치(50)에 의해 제어된다. 구동 장치(16)는 회전축체(14)를, 예를 들면 시계 회전 방향으로 회전시킨다. 제어 장치(50)는 구동 장치(16)에 의해 반송 로터(13)를 연속적 또는 간헐적으로 회전시킨다. 구동 장치(16)는 전동 모터와, 전동 모터의 출력축에 연결된 감속기를 구비한다. 유지 장치(17)는 반송 로터(13)의 유지부(15)에 칩 부품(100)을 유지시킨다. 유지 장치(17)는 공기를 흡인하는 흡인 펌프와, 흡인 펌프 및 반송 지지체(12)를 접속하는 배관을 구비한다. 배출 장치(18)는 유지부(15)로부터 칩 부품(100)을 배출시킨다. 배출 장치(18)는 공기를 배출하는 팬과, 팬 및 반송 지지체(12)를 접속하는 배관을 구비한다. 또한, 배출 장치(18)는 팬 및 배관 대신에, 유지부(15)로부터 칩 부품(100)을 압출하기 위한 이젝터 핀과, 이젝터 핀을 작동시키는 전동 액츄에이터를 구비해도 좋다.The
도 2에 나타내는 바와 같이, 반송 로터(13)의 유지부(15)는 각 수용 구멍(15a)에 연통하는 제 1 흡인 홈(15b)을 갖는다. 제 1 흡인 홈(15b)은 중심축선(C)을 중심으로 한 동심원 형상으로 형성되어 있다. 제 1 흡인 홈(15b)은 1개의 유지부(15)에 있어서의 수용 구멍(15a)의 수에 따라 형성되는 것이 바람직하다. 제 1 흡인 홈(15b)은 반송 로터(13)의 지름 방향에 있어서 동일한 위치에 형성된 수용 구멍(15a)를 원주 방향으로 연통하고 있다.As shown in Fig. 2, the holding
반송 지지체(12)는 제 1 흡인 홈(15b)과 대향함과 아울러, 제 1 흡인 홈(15b)과 연통하는 제 2 흡인 홈(12a)를 갖는다. 제 2 흡인 홈(12a)은 중심축선(C)을 중심으로 한 동심원 형상으로 형성되어 있다. 제 2 흡인 홈(12a)은 제 1 흡인 홈(15b)의 수에 따라 형성되는 것이 바람직하다. 1개의 제 2 흡인 홈(12a)당, 예를 들면 2개의 흡인 구멍(12b)이 원주 방향으로 간격을 두고 형성되어 있다. 2개의 흡인 구멍(12b)은 유지 장치(17)(도 1 참조)의 배관에 접속되어 있다. 또한, 2개의 흡인 구멍(12b)의 원주 방향의 위치는 제 2 흡인 홈(12a)마다 달라도 좋다.The
수용 구멍(15a)에 수용되는 칩 부품(100)은 적층 세라믹 콘덴서, 서미스터, 코일 부품 등의 전자 부품이다. 본 실시형태의 칩 부품(100)은 도 3에 나타내는 바와 같이, 예를 들면 대략 직육면체 또는 대략 정육면체의 기부(101)의 양단에 외부 전극(102)이 형성된 적층 세라믹 콘덴서이다. 칩 부품(100)의 길이(L)는 0.1mm보다 크고, 또는 5mm보다 작다(0.1mm<L<5mm). 칩 부품(100)의 폭(W)은 0.05mm보다 크고, 또는 4mm보다 작다(0.05mm<W<4mm). 칩 부품(100)의 두께(t)는 0.01mm보다 크고, 또는 4mm보다 작다(0.01mm<t<4mm). 도 2에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에서는 수용 구멍(15a)에는 칩 부품(100)의 Wt면(103)(도 3 참조)이 수용된다. 수용 구멍(15a)의 개구는 평면에서 볼 때에 있어서 사각형 형상이고, 그 일변의 길이는 칩 부품(100)의 폭(W)보다 0.01mm 이상 또는 0.5mm 이하의 범위만큼 크고, 다른 일변의 길이는 칩 부품(100)의 두께(t)보다 0.01mm 이상 또는 0.5mm 이하의 범위만큼 크다. 수용 구멍(15a)의 깊이는 칩 부품(100)의 길이(L)보다 얕아도 깊어도 좋고, 길이(L)의 0.6배 이상 또는 1.2배 이하의 범위이다. 복수의 수용 구멍(15a)에 있어서 인접한 수용 구멍(15a) 사이의 거리는 수용 구멍(15a)의 깊이의 0.9배 이상인 것이 바람직하다. 또한, 수용 구멍(15a)에는 칩 부품(100)의 LW면(104) 또는 Lt면(105)이 수용되어도 좋다.The
이러한 반송부(10)의 구성에 의하면, 칩 부품(100)이 각 수용 구멍(15a)에 수용된 상태에 있어서, 유지 장치(17)(도 1 참조)의 흡인 펌프가 구동함으로써 배관, 제 2 흡인 홈(12a) 및 제 1 흡인 홈(15b)을 통해서 각 수용 구멍(15a) 내가 부압 상태가 된다. 이에 따라, 칩 부품(100)에 각 수용 구멍(15a)을 통해서 제 1 흡인 홈(15b)을 향하는 흡인력이 작용하기 때문에, 칩 부품(100)이 각 수용 구멍(15a)에 유지된다.According to such a configuration of the
또한, 반송 지지체(12)는 수용 구멍(15a)과 연통함과 아울러, 칩 부품(100)이 수용 구멍(15a)에 수용된 경우에 칩 부품(100)과 대향하는 분출 구멍(12c)을 갖는다. 분출 구멍(12c)은 수용 구멍(15a)의 수에 따라 형성되는 것이 바람직하다. 각 분출 구멍(12c)은 배출 장치(18)(도 1 참조)의 배관에 접속되어 있다. 이에 따라, 칩 부품(100)이 각 수용 구멍(15a)에 수용된 상태에 있어서, 배출 장치(18)의 팬이 구동함으로써 배관 및 분출 구멍(12c)을 통해서 압축 공기가 칩 부품(100)을 향하여 분사된다. 그 결과, 칩 부품(100)이 수용 구멍(15a)으로부터 배출된다. 배출 장치(18)는 각 분출 구멍(12c)에 대하여 압축 공기의 공급을 개별적으로 제어할 수 있다. 이 때문에, 배출 장치(18)는 각 수용 구멍(15a)의 각각을 향하여 압축 공기를 분출함으로써 각 수용 구멍(15a)으로부터 칩 부품(100)을 배출한다.The
도 4를 참조하여, 칩 부품 반송 장치(1)의 동작의 개요에 대해서 설명한다. 또한, 도 4에서는 설명의 편의상, 복수의 유지부(15) 중 1개의 유지부(15)만을 3개의 수용 구멍(15a)으로서 확대하여 도시하고, 다른 유지부(15)의 도시를 생략하고 있다.The outline of the operation of the chip
도 4(a)에 나타내는 바와 같이, 반송 로터(13)가 시계 회전 방향으로 회전하여 유지부(15)의 수용 구멍(15a)이 공급 유닛(20)에 대향하는 위치로 이동했을 때, 반송 로터(13)가 일시정지하여 공급 유닛(20)으로부터 칩 부품(100)이 수용 구멍(15a)에 공급된다. 수용 구멍(15a)에 칩 부품(100)이 공급된 후, 반송 로터(13)가 시계 회전 방향으로 다시 회전한다.When the carrying
도 4(b)에 나타내는 바와 같이, 수용 구멍(15a)에 수용된 칩 부품(100)이 검사부(30)에 대향하는 위치로 이동했을 때, 반송 로터(13)가 일시정지하여 검사부(30)에 의해 칩 부품(100)의 전기 특성 등이 검사된다. 이 검사부(30)에 있어서, 제어 장치(50)는 칩 부품(100)을 양품 및 불량품으로 분류함과 아울러, 불량품을 불량 항목마다로 분류한다. 칩 부품(100)의 검사가 종료한 후, 반송 로터(13)가 시계 회전 방향으로 다시 회전한다.4 (b), when the
도 4(c)에 나타내는 바와 같이, 수용 구멍(15a)에 수용된 칩 부품(100)이 회수 유닛(40)에 대향하는 위치로 이동했을 때, 제어 장치(50)는 검사부(30)의 검사 결과에 근거하여 배출 장치(18)에 의해 칩 부품(100)을 대응한 양품 회수 상자(41A) 또는 불량품 회수 상자(41B~41F)에 회수한다. 보다 상세하게는, 제어 장치(50)는 칩 부품(100)이 불량품 회수 상자(41B)에 대응하는 위치에 반송 로터(13)가 회전했을 때, 전기 용량에 대해서 불량으로 판정한 칩 부품(100)(불량품)이 있는 경우, 그 불량의 칩 부품(100)을 배출 장치(18)에 의해 불량품 회수 상자(41B)로 배출한다. 한편, 불량품이 없는 경우, 배출 장치(18)는 동작하지 않아 칩 부품(100)은 배출되지 않는다. 제어 장치(50)는 불량품 회수 상자(41C~41F)에 대해서도 마찬가지로 대응하는 불량품이 있는 경우에 배출 장치(18)에 의해 칩 부품(100)을 불량품 회수 상자(41C~41F)로 배출한다. 제어 장치(50)는 칩 부품(100)이 양품 회수 상자(41A)에 대응하는 위치에 반송 로터(13)가 회전했을 때, 모든 검사 항목에 대해서 양호로 판정된 칩 부품(100)(양품)이 있는 경우, 그 양품을 배출 장치(18)에 의해 반송 로터(13)(유지부(15))로부터 양품 회수 상자(41A)로 배출한다. 한편, 양품이 없는 경우, 배출 장치(18)는 동작하지 않아 반송 로터(13)(유지부(15))로부터 칩 부품(100)은 배출되지 않는다. 또한, 반송 로터(13)는 공급 유닛(20)으로부터 수용 구멍(15a)에 칩 부품(100)이 공급될 때, 및 검사부(30)에 의해 칩 부품(100)이 검사될 때에도 시계 회전 방향의 회전을 유지해도 좋다.4 (c), when the
다음에, 도 5~도 10을 참조하여, 회수 유닛(40)의 상세한 구성에 대해서 설명한다. 또한, 도 5 및 도 8에 있어서, 설명의 편의상, 반송 로터(13)를 간략화하여 나타내고 있다.Next, a detailed configuration of the
도 5에 나타내는 바와 같이, 회수 유닛(40)은 반송 로터(13)의 전방면(13a)과 근접하고, 또는 대향하고 있다. 회수 유닛(40)은 양품 회수 상자(41A) 및 5개의 불량품 회수 상자(41B~41F)를 착탈 가능하게 유지하는 상자 유지체(70)와, 상자 유지체(70)를 선회시키는 선회 기구(42)와, 상자 유지체(70)의 선회를 규제하는 선회 규제 기구(43)를 구비한다. 회수 유닛(40)은 지지대(44)에 적재되어 있다.As shown in Fig. 5, the collecting
양품 회수 상자(41A)와 불량품 회수 상자(41B~41F)는 동일 구조이다. 각 회수 상자(41A~41F)는 1개의 유지부(15)(도 1 참조)에 대응하여 설치되어 있다. 즉, 각 회수 상자(41A~41F)의 각각은 유지부(15)의 복수의 수용 구멍(15a)과 대향하도록 설치되어 있다. 본 실시형태에서는 도시하지 않지만, 각 회수 상자(41A~41F)는 유지부(15)의 배치 피치와 같은 피치 간격으로 설치되어 있다. 각 회수 상자(41A~41F)는 반송부(10)의 반송 방향, 즉 반송 로터(13)의 회전 방향을 따라 배열되어 있다. 양품 회수 상자(41A)는 불량품 회수 상자(41B~41F)보다 반송 방향의 하류측에 배치되어 있다. 또한, 각 회수 상자(41A~41F)는 유지부(15)의 배치 피치의 정수배의 피치 간격으로 설치되어도 좋다. 또한, 회수 유닛(40)이 복수의 양품 회수 상자(41A)를 구비하는 경우, 복수의 양품 회수 상자(41A)는 복수의 유지부(15)의 각각의 복수의 수용 구멍(15a)과 대향하도록 설치된다.The good
도 6에 나타내는 바와 같이, 양품 회수 상자(41A)는 칩 부품(100)(도 3 참조)을 수용 가능한 상자 본체(60)과, 상자 본체(60)의 일단부를 덮는 뚜껑체(64)를 구비한다. 상자 본체(60)는 그 측면에서 볼 때에 있어서 대략 직사각형 형상을 갖는다. 상자 본체(60)는 수용부(61), 회수부(62) 및 파지부(63)를 구비한다. 수용부(61)는 반송 로터(13)로부터 배출하는 칩 부품(100)을 수용 가능한 공간을 갖는다. 수용부(61)에 있어서 뚜껑체(64)측의 단부는 개구되어 있다. 회수부(62)는 칩 부품(100)을 수용부(61)에 수용하기 위해서 수용부(61)와 외부가 연통하도록 개구하는 제 1 개구부(62a)를 갖는다. 제 1 개구부(62a)는 수용부(61)에 있어서의 뚜껑체(64)측의 개구와 연속하도록 개구되어 있다. 회수부(62)는 상자 본체(60)의 길이 방향의 일방의 단부, 또는 상자 본체(60)의 측면에서 볼 때에 있어서 길이 방향과 직교하는 방향에 있어서의 뚜껑체(64)측에 설치되어 있다. 회수부(62)는 수용부(61)로부터 돌출함과 아울러, 제 1 개구부(62a)가 형성된 돌출벽(62b)을 갖는다. 파지부(63)는 상자 본체(60)의 길이 방향에 있어서 수용부(61)의 회수부(62)와는 반대측의 단부에 설치되어 있다. 상자 본체(60)에 있어서 회수부(62)가 설치되는 측벽의 표면에는 도전성 알루마이트 처리가 실시되어 있다. 이에 따라, 상자 본체(60)에 있어서 회수부(62)가 설치되는 측벽의 대전이 억제되기 때문에, 정전기에 기인하여 상자 유지체(70)에 대하여 상자 본체(60)가 부착되는 것이 억제된다.6, the good
뚜껑체(64)는 제 1 개구부(62a)에 있어서의 뚜껑체(64)측의 개구, 및 수용부(61)의 개구를 덮도록 상자 본체(60)의 길이 방향으로 연장되어 있다. 뚜껑체(64)의 끝벽(64a)은 제 1 개구부(62a)를 덮는다. 끝벽(64a)은 제 1 개구부(62a)로부터 멀어지도록 만곡 형상으로 형성된 제 2 개구부(64b)를 갖는다. 제 1 개구부(62a) 및 제 2 개구부(64b)에 의해, 칩 부품(100)을 수용부(61) 내로 회수하기 위한 회수구(65)가 구성되어 있다.The
양품 회수 상자(41A)는 수용부(61) 내의 칩 부품(100)은 배출하지 않고 수용부(61) 내의 공기를 배출하는 배기구(66)를 갖는다. 배기구(66)는 양품 회수 상자(41A)에 있어서 회수구(65)와 대향하지 않는 개소에 형성되어 있다. 구체적으로는, 배기구(66)는 양품 회수 상자(41A)에 있어서 연직 방향의 상단부에 형성되어 있다. 보다 상세하게는, 배기구(66)는 뚜껑체(64)에 있어서 수용부(61)의 개구와 대응하는 부분에 형성되어 있다. 배기구(66)는 수용부(61) 내와 외부의 공기의 유통을 허가하는 한편, 칩 부품(100)의 유통을 허가하지 않는 복수의 미소한 구멍에 의해 구성되어 있다. 또한, 배기구(66)는 뚜껑체(64)에 복수 형성되어도 좋다. 또한, 배기구(66)의 평면에서 볼 때의 형상은 임의로 변경 가능하다. 또한, 배기구(66)의 복수의 구멍이 메쉬 형상으로 형성되어도 좋다.The good
도 5에 나타내는 바와 같이, 상자 유지체(70)는 유지판(71) 및 지지판(72)을 구비한다. 유지판(71)은 각 회수 상자(41A~41F)를 유지한다. 유지판(71)은 반송 로터(13)의 전방면(13a)과 대향하고 전방면(13a)과 평행하고 있다. 즉, 유지판(71)은 연직 방향으로 연장되어 있다. 지지판(72)은 유지판(71)에 볼트에 의해 고정되어 있다. 지지판(72)은 유지판(71)을 지지하고 있다. 지지판(72)은 유지판(71)의 하단부에서 연직 방향과 직교하는 수평 방향으로 연장되는 수평부(72a)를 갖는다. 수평부(72a)에는 레버(72b)가 볼트에 의해 고정되어 있다.5, the
유지판(71)에는 각 회수 상자(41A~41F)를 지지하는 6개의 상자 지지부(73)가 부착되어 있다. 상자 지지부(73)는 유지판(71)에 있어서 각 회수 상자(41A~41F)에 대응한 위치에 각각 부착되어 있다. 각 회수 상자(41A~41F)는 플런저(74)(도 6 참조)와 상자 지지부(73) 사이에서 끼워 넣음으로써 유지판(71)에 유지되어 있다. 도 6에 나타내는 바와 같이, 플런저(74)는 유지판(71)에 부착된 부착부(75)에 부착되어 있다. 상자 지지부(73)에는 각 회수 상자(41A~41F)의 반송 방향의 양측을 가이드하는 가이드 벽(73a)이 설치되어 있다.The holding
도 7에 나타내는 바와 같이, 유지판(71)에는 6개의 삽입 구멍(71a)이 형성되어 있다. 6개의 삽입 구멍(71a)은 반송 로터(13)의 중심 축선(C)(도 1 참조)을 중심으로 등피치가 되도록 형성되어 있다. 6개의 삽입 구멍(71a)의 피치는 반송 로터(13)의 유지부(15)의 배치 피치와 동일하다. 삽입 구멍(71a)은 중심 축선(C)을 중심으로 방사상으로 연장되어 있다.As shown in Fig. 7, the holding
도 5에 나타내는 바와 같이, 선회 기구(42)는 지주(76) 및 선회부(77)를 구비한다. 지주(76)는 지지대(44)의 우단에 세워서 설치되어 있다. 선회부(77)는 유지판(71)의 우단에 부착되어, 지주(76)에 대하여 선회 축선(R)을 중심으로 선회 가능하게 부착되어 있다. 이에 따라, 상자 유지체(70)가 선회 축선(R)을 중심으로 선회 가능해진다. 선회 기구(42)는 작업자가 레버(72b)를 조작함으로써, 상자 유지체(70)의 위치를 도 5에 나타내는 회수 위치와, 도 8에 나타내는 추출 위치로 변경한다. 작업자는 추출 위치에 있어서 플런저(74)(도 6 참조)를 풀어서 각 회수 상자(41A~41F)를 상자 유지체(70)로부터 인출된다. 이 때, 작업자는 파지부(63)를 가져 각 회수 상자(41A~41F)를 상자 유지체(70)로부터 인출되기 때문에, 각 회수 상자(41A~41F)를 인출되기 쉽다.5, the
도 5에 나타내는 바와 같이, 선회 규제 기구(43)는 규제판(78) 및 협지부(79)를 구비한다. 규제판(78)은 지지대(44)의 좌단에 세워서 설치되어 있다. 협지부(79)는 규제판(78)에 부착되어 규제판(78)과의 사이에서 유지판(71)의 좌단을 끼워 넣는다. 선회 규제 기구(43)는 상자 유지체(70)가 회수 위치일 때, 규제판(78) 및 협지부(79)에 의해 유지판(71)의 좌단을 끼워 넣음으로써, 상자 유지체(70)가 회수 위치로부터 이동하는 것을 규제한다.As shown in Fig. 5, the
도 9에 나타내는 바와 같이, 양품 회수 상자(41A)는 상자 지지부(73)에 삽입된다. 이 때, 양품 회수 상자(41A)는 상자 지지부(73)의 한 쌍의 가이드 벽(73a)에 의해 가이드되기 때문에, 반송 로터(13)(도 8 참조)의 반송 방향에 있어서 유지판(71)에 대하여 위치 결정된다. 이에 따라, 양품 회수 상자(41A)가 유지판(71)에 접촉할 때, 양품 회수 상자(41A)의 돌출벽(62b)이 유지판(71)의 삽입 구멍(71a)에 정확하게 삽입된다(도 7 참조). 돌출벽(62b)이 삽입 구멍(71a)에 삽입된 상태에서, 부착부(75)에 부착된 플런저(74)(도 6 참조)를 체결할 수 있음으로써 플런저(74)가 뚜껑체(64)를 압박한다. 이에 따라, 양품 회수 상자(41A)는 상자 지지부(73)와 플런저(74)에 의해 끼워 넣어진다. 또한, 불량품 회수 상자(41B~41F)에 대해서도 양품 회수 상자(41A)와 마찬가지로, 상자 지지부(73)과 플런저(74)에 의해 상자 유지체(70)에 부착된다.As shown in Fig. 9, the good
도 10에 나타내는 바와 같이, 상자 유지체(70)가 회수 위치일 때, 유지판(71)과 반송 로터(13)는 약간 간격을 두고 대향하고 있다. 이 때문에, 양품 회수 상자(41A)가 상자 유지체(70)에 부착된 상태에서는 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65)는 반송 로터(13)와 약간 간격을 두고 대향하고 있다. 다시 말하면, 수평 방향에 있어서, 반송 로터(13)의 복수의 유지부(15)와 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65) 사이에는 다른 부재가 개재되어 있지 않다. 반송 로터(13)의 전방면(13a)과 회수구(65) 사이의 거리는 0.5mm 이상 또는 30mm 이하인 것이 바람직하다.10, when the
회수구(65)의 크기는 수용 구멍(15a)의 크기보다 큰 것이 바람직하다. 보다 상세하게는, 회수구(65)의 크기는 수용 구멍(15a)과 대향한 상태에 있어서 그 수용 구멍(15a)의 가장자리로부터 45° 이상 또한 90° 미만의 경사 각도로 회수구(65)의 가장자리를 향하여 연장된 선분의 범위 내인 것이 바람직하다. 이에 따라, 회수구(65)는 복수(2개 이상)의 수용 구멍(15a)에 걸쳐서 형성되어도 좋다. 본 실시형태에서는 도 10에 나타내는 바와 같이, 회수구(65)는 4개의 수용 구멍(15a)에 걸쳐서 형성되어 있다. 그리고, 회수구(65)의 가장자리는 1개의 유지부(15)의 4개의 수용 구멍(15a) 중 반송 로터(13)의 지름 방향에 있어서 양단부의 수용 구멍(15a)의 지름 방향 단부로부터 회수구(65)를 향하여 연장되는 선분이 중심 축선(C)에 대하여 45° 이상 또한 90° 미만의 범위에 위치하는 것이 바람직하다.The size of the
그리고, 반송 로터(13)가 일시정지할 때, 수용 구멍(15a)과 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65)가 대향하여 배출 장치(18)에 의해 반송 로터(13)로부터 칩 부품(100)이 배출되는 경우, 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65)를 통해서 수용부(61) 내에 수용된다. 즉, 회수구(65)는 배출 장치(18)에 의해 수용 구멍(15a)으로부터 배출된 칩 부품(100)을 직접적으로 회수한다. 이 때, 배출 장치(18)로부터 분출하는 압축 공기도 수용부(61) 내로 흘러들어오는 한편, 수용부(61) 내의 공기가 배기구(66)를 통해서 수용부(61)의 외부로 유출한다. 또한, 불량품 회수 상자(41B~41F)에 대해서도 양품 회수 상자(41A)와 마찬가지로, 반송 로터(13)가 일시정지할 때에 수용 구멍(15a)과 불량품 회수 상자(41B~41F)의 회수구(65)의 각각이 대향하고 반송 로터(13)로부터 각 회수구(65)를 통해서 직접적으로 칩 부품(100)을 회수한다.When the conveying
이상 기술한 바와 같이, 본 실시형태에 의하면 이하의 효과를 나타낸다.As described above, according to the present embodiment, the following effects are exhibited.
(1-1) 유지부(15)로부터 배출되는 칩 부품(100)이 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F) 내로 직접적으로 회수된다. 즉, 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)의 각 회수구(65)와 유지부(15)가 대향할 때에, 각 회수구(65)와 유지부(15)가 근접하고, 또는 칩 부품(100)의 배출 경로에 있어서 각 회수구(65)와 유지부(15) 사이에 다른 부재가 존재하지 않는다. 이에 따라, 각 회수 상자(41A~41F)와 유지부(15)를 연결하는 호스를 필요로 하지 않기 때문에, 호스의 청소 작업에 기인하는 작업 시간의 증가를 억제할 수 있다. 게다가, 호스 내에 남은 칩 부품(100)에 기인하여, 다른 로트 사이에 있어서 칩 부품(100)과 다른 종류의 칩 부품이 혼입하는 것을 억제할 수 있다.(1-1) The
(1-2) 호스를 통해서 회수 상자에 칩 부품을 회수하는 경우, 반송 로터의 수용 구멍의 치수의 불균일이나 위치의 불균일, 및 반송 로터의 열 팽창에 따른 수용 구멍의 위치 어긋남에 기인하여, 호스와 수용 구멍이 정확하게 대향하지 않고 수용 구멍으로부터 배출된 칩 부품이 호스 내를 통과하지 못해, 회수 미스를 발생할 가능성이 있다.(1-2) In the case of recovering the chip component in the recovery box through the hose, due to the unevenness of the dimension of the receiving hole of the conveying rotor, the unevenness of the position, and the positional deviation of the receiving hole due to thermal expansion of the conveying rotor, And the receiving hole do not face exactly, and the chip component discharged from the receiving hole can not pass through the hose, and there is a possibility that a return miss occurs.
그 점에서, 본 실시형태에서는 회수구(65)의 크기는 반송 로터(13)의 반송 방향으로부터 보았을 때, 수용 구멍(15a)과 대향한 상태에 있어서 그 수용 구멍(15a)의 가장자리로부터 45° 이상 또한 90° 미만의 중심 축선(C)에 대한 경사 각도로 연장된 선분의 범위 내이기 때문에, 유지부(15)로부터 배출된 칩 부품(100)이 회수구(65) 내로 배출되기 쉬워져 수용부(61) 내에 수용되기 쉬워진다. 따라서, 유지부(15)로부터 배출되는 칩 부품(100)이 각 회수 상자(41A~41F)의 외부로 배출되는 것을 억제할 수 있다.In this regard, in this embodiment, the size of the
게다가, 회수구(65)의 가장자리가 복수의 수용 구멍(15a) 중 반송 로터(13)의 지름 방향에 있어서 양단부의 수용 구멍(15a)의 지름 방향 단부로부터 회수구(65)를 향하여 연장되는 선분이 중심 축선(C)에 대하여 45° 이상 또한 90° 미만의 범위에 위치하기 때문에, 복수의 수용 구멍(15a)으로부터 배출된 칩 부품(100)이 회수구(65) 내로 배출되기 쉬워진다. 따라서, 수용 구멍(15a)으로부터 배출되는 칩 부품(100)이 각 회수 상자(41A~41F)의 외부로 배출되는 것을 더욱 더 억제할 수 있다.The edge of the
(1-3) 각 회수 상자(41A~41F)의 회수구(65)가 복수의 수용 구멍(15a)에 걸쳐서 형성되어 있기 때문에, 수용 구멍(15a)으로부터 배출되는 칩 부품(100)이 각 회수 상자(41A~41F)의 회수구(65)를 통해서 각 회수 상자(41A~41F) 내로 회수되기 쉬워진다. 따라서, 수용 구멍(15a)으로부터 배출되는 칩 부품(100)이 각 회수 상자(41A~41F)의 외부로 배출되는 것을 억제할 수 있다.(1-3) Since the
(1-4) 각 회수 상자(41A~41F)에는 칩 부품(100)은 배출되지 않고 각 회수 상자(41A~41F) 내의 공기를 배출하는 배기구(66)가 형성되어 있기 때문에, 각 회수 상자(41A~41F)의 수용부(61)의 내부의 압력이 과도하게 높아지는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 각 회수 상자(41A~41F)에 칩 부품(100)이 들어가기 쉬워진다.(1-4) Since the
(1-5) 배기구(66)가 회수구(65)와 대향하지 않는 개소에 형성되어 있기 때문에, 배기구(66)에 칩 부품(100)이 모이는 것을 억제할 수 있다. 이 때문에, 배기구(66)에 칩 부품(100)이 모이는 것에 기인하여 배기구(66)로부터 수용부(61)의 외부로의 공기의 유통을 방해하는 것을 억제할 수 있다. 따라서, 각 회수 상자(41A~41F)의 수용부(61)의 내부의 압력이 과도하게 높아지는 것을 억제할 수 있고, 각 회수 상자(41A~41F)에 칩 부품(100)이 들어가기 쉬워진다.(1-5) Since the
(1-6) 각 회수 상자(41A~41F)에 회수된 칩 부품(100)은 중력에 의해 수용부(61)의 바닥에 퇴적한다. 그래서, 상자 유지체(70)에 각 회수 상자(41A~41F)가 부착된 상태에 있어서, 배기구(66)가 각 회수 상자(41A~41F)의 연직 방향의 상단부가 되도록 형성되어 있기 때문에, 배기구(66)가 칩 부품(100)에 의해 메워지는 것을 더욱 더 억제할 수 있다. 따라서, 칩 부품(100)에 의해 배기구(66)로부터 수용부(61)의 외부로의 공기의 유통을 방해하는 것을 더욱 더 억제할 수 있다.(1-6) The
(1-7) 각 회수 상자(41A~41F)가 반송 로터(13)의 반송 방향으로 배열되어 있기 때문에, 각 회수 상자(41A~41F)의 사이즈를 과도하게 작게 하지 않고 칩 부품(100)을 회수 가능하게 각 회수 상자(41A~41F)를 배치할 수 있다. 따라서, 로트에 있어서의 칩 부품(100)의 수량을 늘릴 수 있다.(1-7) Since the
(1-8) 반송 로터(13)의 반송 방향에 있어서 양품 회수 상자(41A)가 불량품 회수 상자(41B~41F)보다 하류측에 위치하기 때문에, 유지부(15)가 양품 회수 상자(41A)에 대향할 때까지 불량품의 칩 부품(100)이 불량품 회수 상자(41B~41F)로 회수된다. 따라서, 양품 회수 상자(41A)에 불량품의 칩 부품(100)이 혼입하는 것을 억제할 수 있다.(1-8) Since the good
(1-9) 회수 유닛(40)은 상자 유지체(70)의 위치를 도 5에 나타내는 회수 위치와 도 8에 나타내는 추출 위치로 변경하는 선회 기구(42)를 구비하기 때문에, 작업자가 각 회수 상자(41A~41F)를 상자 유지체(70)로부터 떼어내기 쉬운 위치에 상자 유지체(70)을 위치시킨 다음에 각 회수 상자(41A~41F)의 상자 유지체(70)로부터 떼어내는 작업을 행할 수 있다.(1-9) Since the
(1-10) 회수 유닛(40)은 상자 유지체(70)의 회수 위치로부터의 이동을 규제하는 선회 규제 기구(43)를 구비하기 때문에, 반송 로터(13)에 대한 각 회수 상자(41A~41F)의 위치를 정확하게 위치 결정할 수 있다.(1-10) The
(제 2 실시형태)(Second Embodiment)
도 11 및 도 12를 참조하여, 칩 부품 반송 장치(1)의 제 2 실시형태에 대해서 설명한다. 본 실시형태의 칩 부품 반송 장치(1)는 제 1 실시형태의 칩 부품 반송 장치(1)와 비교하여, 상자 유지체(70)와 각 회수 상자(41A~41F)의 설치 구조가 다르다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 상기 제 1 실시형태와 동일한 구성 부재 에 대해서는 동일한 부호를 첨부하여 그 설명을 적당히 생략한다. 또한, 동일한 구성 부재끼리의 관계에 대해서도 그 설명을 적당히 생략한다.A second embodiment of the chip
도 11에 나타내는 바와 같이, 회수 유닛(40)은 양품 회수 상자(41A)가 상자 유지체(70)의 유지판(71)에 대하여 미리 결정된 위치에만 부착 가능하게 하는 부착 규제부(45)를 구비한다. 부착 규제부(45)는 복수의 돌기(45a) 및 복수의 감합 구멍(45b)을 갖는다. 복수의 돌기(45a)는 양품 회수 상자(41A)의 상자 본체(60)에 있어서 유지판(71)과 접촉하는 부분에 형성되어 있다. 복수의 감합 구멍(45b)은 유지판(71)에 있어서 상자 본체(60)와 접촉하는 부분에 형성되어 있다. 도 12에 나타내는 바와 같이, 회수 유닛(40)은 불량품 회수 상자(41B~41F)에 대해서도 양품 회수 상자(41A)와 마찬가지로, 복수의 돌기(45a) 및 복수의 감합 구멍(45b)을 갖는다. 본 실시형태에서는 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)의 각각의 상자 본체(60)에 2개의 돌기(45a)가 형성되어 있다. 양품 회수 상자(41A)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리(P1), 불량품 회수 상자(41B)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리(P2), 불량품 회수 상자(41C)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리(P3), 불량품 회수 상자(41D)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리(P4), 불량품 회수 상자(41E)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리(P5) 및 불량품 회수 상자(41F)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리는 서로 다르다. 양품 회수 상자(41A)에 대응하는 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H1), 불량품 회수 상자(41B)에 대응하는 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H2), 불량품 회수 상자(41C)에 대응하는 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H3), 불량품 회수 상자(41D)에 대응하는 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H4), 불량품 회수 상자(41E)에 대응하는 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H5) 및 불량품 회수 상자(41F)에 대응하는 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H6)는 서로 다르다. 거리(H1)는 거리(P1)와 동일하고, 거리(H2)는 거리(P2)와 동일하고, 거리(H3)는 거리(P3)와 동일하고, 거리(H4)는 거리(P4)와 동일하고, 거리(H5)는 거리(P5)와 동일하고, 거리(H6)는 거리(P6)과 동일하다.11, the
이러한 구성에 의하면, 예를 들면 불량품 회수 상자(41B)가 부착된 위치에 양품 회수 상자(41A)가 부착된 경우, 양품 회수 상자(41A)의 2개의 돌기(45a) 사이의 거리(P1)가 2개의 감합 구멍(45b) 사이의 거리(H2)와는 다르기 때문에, 2개의 돌기(45a)가 2개의 감합 구멍(45b)에 삽입되지 않는다. 이 때문에, 양품 회수 상자(41A)가 상자 유지체(70)에 있어서의 미리 설정된 위치 이외의 위치에 부착될 수 없다. 이에 따라, 작업자는 양품 회수 상자(41A)의 부착 위치가 다른 것을 인식할 수 있다. 불량품 회수 상자(41B~41F)도 마찬가지로, 상자 유지체(70)에 있어서의 미리 설정된 위치 이외의 위치에 불량품 회수 상자(41B~41F)가 부착될 수 없다.According to such a configuration, for example, when the good
또한, 돌기(45a)의 수 및 감합 구멍(45b)의 수 각각은 임의로 변경 가능하다. 예를 들면, 돌기(45a) 및 감합 구멍(45b)의 각각이 1개이어도 좋다. 또한, 돌기(45a)가 유지판(71)에 형성되고, 감합 구멍(45b)이 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)에 형성되어도 좋다. 또한, 돌기(45a)의 위치 및 감합 구멍(45b)의 위치 각각은 임의로 변경 가능하다. 결국, 각 회수 상자(41A~41F)가 상자 유지체(70)(유지판(71))에 대하여 미리 설정된 위치에서만 부착 가능하도록 돌기(45a) 및 감합 구멍(45b)의 관계를 가지고 있으면 좋다.In addition, the number of the
이상 기술한 바와 같이, 본 실시형태에 의하면, 상기 제 1 실시형태와 동일한 효과에 추가하여, 이하의 효과가 있다.As described above, according to the present embodiment, in addition to the same effects as those of the first embodiment, the following effects can be obtained.
(2-1) 부착 규제부(45)에 의해 상자 유지체(70)에 대하여 각 회수 상자(41A~41F)가 미리 정해진 위치에만 부착되기 때문에, 로트가 다르더라도 양품 회수 상자(41A)가 양품의 칩 부품(100)을 회수하는 전용의 회수 상자이고, 불량품 회수 상자(41B~41F)가 불량 항목마다 칩 부품(100)을 회수하는 전용의 회수 상자가 된다. 따라서, 이전의 로트에 있어서 각 회수 상자(41A~41F)에 칩 부품(100)이 남아있었다고 해도, 다른 검사 결과의 칩 부품(100)이 각 회수 상자(41A~41F)에 혼입되는 것을 억제할 수 있다.(2-1) Because the
(제 3 실시형태)(Third Embodiment)
도 13을 참조하여, 칩 부품 반송 장치(1)의 제 3 실시형태에 대해서 설명한다. 본 실시형태의 칩 부품 반송 장치(1)는 제 1 실시형태의 칩 부품 반송 장치(1)와 비교하여, 양품 회수 상자(41A)에 불량품의 칩 부품(100)이 회수되는 것을 억제한 기구가 추가된 점에서 다르다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 상기 제 1 실시형태와 동일한 구성 부재에 대해서는 동일한 부호를 첨부하여 그 설명을 적당히 생략한다. 또한, 동일한 구성 부재끼리의 관계에 대해서도 그 설명을 적당히 생략한다. 또한, 설명의 편의상, 도 13(a)에서는 1개의 유지부(15)만을 나타내고, 도 13(b)에서는 도 13(a)에 있어서 유지부(15)에 유지된 칩 부품(100)을 생략하여 나타내고 있다.Referring to Fig. 13, a third embodiment of the chip
도 13(a)에 나타내는 바와 같이, 반송 로터(13)의 반송 방향에 있어서, 양품 회수 상자(41A)와 불량품 회수 상자(41F) 사이에는 간격이 형성되어 있다. 유지판(71)에 있어서 양품 회수 상자(41A)와 불량품 회수 상자(41F) 사이에 대응하는 부분에는 중심 축선(C)을 중심으로 하여 방사상으로 연장되는 관통 구멍(71b)이 형성되어 있다.As shown in Fig. 13 (a), a gap is formed between the good
칩 부품 반송 장치(1)는 반송 로터(13)의 반송 방향에 있어서의 양품 회수 상자(41A)와 불량품 회수 상자(41F) 사이에 있어서 불량품의 칩 부품(100)을 검출하는 검출부(80)를 구비한다. 검출부(80)는, 예를 들면 투과형 섬유 센서 또는 레이저 센서이다. 도 13(b)에 나타내는 바와 같이, 검출부(80)는 복수의 발광부(81) 및 복수의 수광부(82)를 구비한다. 복수의 발광부(81)는 반송 로터(13)에 대하여 회수 유닛(40)과는 반대측(도에 있어서 좌측)에 배치되어 있다. 복수의 수광부(82)는 반송 로터(13)에 대하여 회수 유닛(40)측(도에 있어서 우측)에 배치되어 있다. 본 실시형태의 발광부(81) 및 수광부(82) 각각은 4개이다. 발광부(81) 및 수광부(82)는 반송 로터(13)의 지름 방향에 있어서 수용 구멍(15a)와 동일한 위치에 배치되어 있다. 발광부(81)는 기판(83)에 설치되어 있다. 기판(83)은, 예를 들면 반송기대(11)에 부착되어 있다. 수광부(82)는 기판(84)에 설치되어 있다. 수광부(82) 및 기판(84)은 케이스(85)에 수용되어 있다. 케이스(85)는 유지판(71)에 부착되어 있다.The chip
또한, 검출부(80)는 섬유 센서나 레이저 센서 등의 광전 센서 대신에, 유도형 근접 센서를 사용해도 좋다. 발광부(81) 및 수광부(82)는 반송 로터(13)의 유지부(15)의 개수에 따라 변경 가능하다. 또한, 발광부(81)가 반송 로터(13)에 대하여 회수 유닛(40)측에 배치되고, 수광부(82)가 반송 로터(13)에 대하여 회수 유닛(40)과는 반대측에 배치되어도 좋다.The
발광부(81) 및 수광부(82)는 기판(83, 84)을 통해서 제어 장치(50)와 전기적으로 접속되어 있다. 제어 장치(50)는 반송 로터(13)의 반송 방향에 있어서 반송 로터(13)의 수용 구멍(15a)이 발광부(81)와 동일한 위치에 위치한 경우, 발광부(81)를 발광시킨다. 수광부(82)는 발광부(81)의 광을 수신했을 때, 제어 장치(50)에 수신 신호를 송신한다. 제어 장치(50)는 수신 신호에 근거하여 수용 구멍(15a)에 칩 부품(100)이 수용되어 있는지의 여부를 판정한다. 보다 상세하게는, 제어 장치(50)는 수신 신호를 수신하지 않는 수광부(82)와 대응하는 수용 구멍(15a)에는 칩 부품(100)이 수용되어 있다고 판정한다. 제어 장치(50)는 수용 구멍(15a)에 칩 부품(100)이 수용되어 있다고 판정했을 때, 구동 장치(16)의 전동 모터를 정지시킴으로써 수용 구멍(15a)에 수용된 불량품의 칩 부품(100)이 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65)에 대향하지 않도록 한다.The
각 검사 항목에 있어서 불량으로 판정된 칩 부품(100)은 그 칩 부품(100)이 유지된 수용 구멍(15a)이 검사 항목(불량의 분류 항목)에 대응하는 불량품 회수 상자(41B~41F)에 대향할 때에, 배출 장치(18)에 의해 불량품 회수 상자(41B~41F)로 회수된다. 그러나, 어떠한 상태(예를 들면, 압축 공기를 분사하는 노즐의 비작동)에 의해 칩 부품(100)이 수용 구멍(15a)에 잔류하는 경우가 있다. 이와 같이 불량품의 칩 부품(100)이 잔류한 수용 구멍(15a)이 양품 회수 상자(41A)의 회수구와 대향하면, 잔류한 칩 부품(100)이 양품 회수 상자(41A)에 낙하할 우려가 있다. 이 때문에, 칩 부품 반송 장치(1)를 정지시킴으로써 불량품의 칩 부품(100)은 양품 회수 상자(41A)로 낙하하지 않는다.The
또한, 제어 장치(50)는 수용 구멍(15a)에 칩 부품(100)이 수용되어 있다고 판정했을 때, 배출 장치(18)에 의한 압축 공기의 분사를 정지시킴으로써 칩 부품(100)이 수용 구멍(15a)으로부터 배출되지 않도록 해도 좋다.When the
이상 기술한 바와 같이, 본 실시형태에 의하면, 상기 제 1 실시형태와 동일한 효과에 추가하여 이하의 효과를 나타낸다.As described above, according to the present embodiment, in addition to the same effects as those of the first embodiment, the following effects are exhibited.
(3-1) 반송 로터(13)의 반송 방향에 있어서 불량품 회수 상자(41D)와 양품 회수 상자(41A) 사이에 배치된 검출부(80)에 의해 유지부(15)에 불량품의 칩 부품(100)이 잔류하고 있다고 검출되었을 때, 칩 부품 반송 장치(1)를 정지시킴으로써 양품 회수 상자(41A)에 불량품의 칩 부품(100)이 회수되는 것을 방지할 수 있다.(3-1) In the carrying direction of the conveying
(변형예)(Modified example)
상기 각 실시형태에 관한 설명은 본 발명의 칩 부품 반송 장치가 취할 수 있는 형태의 예시이고, 그 형태를 제한하는 것을 의도하고 있지 않다. 본 발명의 칩 부품 반송 장치는, 예를 들면 이하에 나타내어지는 상기 각 실시형태의 변형예, 및 서로 모순되지 않는 적어도 2개의 변형예를 조합시킨 형태를 취할 수 있다.The description related to each of the above embodiments is an example of a form that the chip component carrying apparatus of the present invention can take, and is not intended to limit the form thereof. The chip component transporting apparatus of the present invention can take the form of, for example, a modification of the above-described embodiments and a combination of at least two variations which do not contradict each other.
·상기 제 2 실시형태의 칩 부품 반송 장치(1)에, 상기 제 3 실시형태의 칩 부품 반송 장치(1)의 검출부(80)를 추가할 수도 있다.The
·상기 제 2 실시형태에 있어서, 부착 규제부(45)는 각 회수 상자(41A~41F) 및 유지판(71)의 적어도 일방에는 돌기(45a)를 구성하는 나사 또는 핀을 부착하는 구멍이 형성되어도 좋다.In the second embodiment, the
·상기 제 2 실시형태에 있어서, 양품 회수 상자(41A) 및 유지판(71)에 있어서의 양품 회수 상자(41A)가 부착된 개소에만 부착 규제부(45)가 설치되어도 좋다. 이 경우, 적어도 양품 회수 상자(41A)는 상자 유지체(70)에 대하여 미리 설정된 위치에 부착될 수 있다.In the second embodiment, the
·상기 제 2 실시형태에 있어서, 회수 유닛(40)은 부착 규제부(45) 대신에, 제어 장치(50)가 반송 로터(13)에 대하여 양품 회수 상자(41A)가 미리 정해진 위치 이외의 위치에 부착된 경우에 칩 부품 반송 장치(1)의 동작을 개시하지 않도록 제어해도 좋다. 또한, 제어 장치(50)는 반송 로터(13)에 대하여 불량품 회수 상자(41B~41F)의 적어도 1개가 미리 정해진 위치 이외의 위치에 부착된 경우에 칩 부품 반송 장치(1)의 동작을 개시하지 않도록 제어해도 좋다.In the second embodiment, instead of the
이와 같이 제어 장치(50)가 제어하는 구성의 일례로서, 도 14에 나타내는 바와 같이, 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)가 미리 설정된 위치에 부착되었는지의 여부를 검출하는 위치 검출부(46)를 구비한다. 위치 검출부(46)는 각 회수 상자(41A~41F)에 대응하여 6개 설치되어 있다. 위치 검출부(46)는, 예를 들면 상자 본체(60)에 부착된 IC 태그(46a)와, 상자 유지체(70)에 부착된 판독부(46b)를 갖는다. 각 회수 상자(41A~41F)의 돌출벽(62b)이 유지판(71)의 삽입 구멍(71a)에 삽입되었을 때, 판독부(46b)가 IC 태그(46a)의 식별 정보를 판독 가능한 위치 관계가 된다. IC 태그(46a)는 각 회수 상자(41A~41F)를 식별하기 위한 정보를 포함한다. 판독부(46b)는 제어 장치(50)에 전기적으로 접속되고, 판독된 정보를 제어 장치(50)에 출력한다. 제어 장치(50)는 판독부(46b)에 의해 판독된 정보에 근거하여 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)가 미리 설정된 위치에 있는지의 여부를 판정한다. 제어 장치(50)는 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)의 적어도 1개가 미리 설정된 위치와는 다른 경우, 구동 장치(16)의 구동을 금지한다. 그리고 제어 장치(50)는, 예를 들면 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)가 모두 미리 설정된 위치에 있을 때까지 구동 장치(16)의 구동을 금지한다. 또한, 위치 검출부(46)는 IC 태그(46a) 대신에, 바코드를 가져도 좋다. 결국, 위치 검출부(46)는 각 회수 상자(41A~41F)의 식별 정보를 판독하는 것이 가능한 구성이어도 좋다.As shown in Fig. 14, as an example of the configuration that the
도 14에 나타내는 구성에 의하면, 양품 회수 상자(41A)가 불량품 회수 상자(41B~41F) 중 어느 하나의 위치에 배치된 경우에는 칩 부품 반송 장치(1)의 동작이 정지하기 때문에, 양품 회수 상자(41A)에 불량품의 칩 부품(100)(도 3 참조)이 회수되는 것이 억제된다. 따라서, 양품 및 불량품의 칩 부품(100)이 혼입하는 것을 억제할 수 있다. 또한, 불량품 회수 상자(41B~41F) 중 어느 하나가 미리 결정된 위치와는 다른 위치에 배치된 경우에는 칩 부품 반송 장치(1)의 동작이 정지하기 때문에, 불량품 회수 상자(41B~41F)에 다른 불량 항목의 칩 부품(100)이 혼입되는 것을 억제할 수 있다.According to the configuration shown in Fig. 14, when the good
·도 14의 변형예의 회수 유닛(40)을 구비하는 칩 부품 반송 장치(1)는 도 15에 나타내는 바와 같이, 통지부(90)를 더 구비해도 좋다. 통지부(90)는, 예를 들면 버저 등의 음향기기 또는 표시부를 갖는다. 통지부(90)는 제어 장치(50)와 전기적으로 접속되어 있다. 제어 장치(50)는 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F) 중 적어도 1개가 미리 설정된 위치와는 다른 경우, 통지부(90)에 의해 작업자에 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B~41F)의 적어도 1개가 미리 설정된 위치와는 다른 것을 음성 또는 표시부에 에러 메시지를 표시함으로써 통지한다. 또한, 제어 장치(50)는 통지부(90)에 의한 작업자로의 통지에 합쳐서 구동 장치(16)(도 14 참조)의 구동을 금지해도 좋다.14, the chip
도 15에 나타내는 구성에 의하면, 양품 회수 상자(41A)가 불량품 회수 상자(41B~41F) 중 어느 하나의 위치에 배치된 경우에는 통지부(90)에 의해 작업자에 양품 회수 상자(41A)의 위치가 틀리다는 것을 통지하기 때문에, 양품 회수 상자(41A)에 불량품의 칩 부품(100)(도 3 참조)이 회수될 가능성을 저감시킬 수 있다. 또한, 불량품 회수 상자(41B~41F) 중 어느 하나가 미리 결정된 위치와는 다른 위치에 배치된 경우에는 통지부(90)에 의해 작업자에 그 불량품 회수 상자의 위치가 틀리다는 것을 통지하기 때문에, 불량품 회수 상자(41B~41F)에 다른 불량 항목의 칩 부품(100)이 회수될 가능성을 저감시킬 수 있다.According to the configuration shown in Fig. 15, when the good
·도 14 및 도 15에 나타내는 변형예의 칩 부품 반송 장치(1)에 있어서, 양품 회수 상자(41A) 및 유지판(71)에 있어서의 양품 회수 상자(41A)에 대응하는 위치에만 위치 검출부(46)을 형성해도 좋다. 이 경우, 제어 장치(50)는 상자 유지체(70)에 대하여 양품 회수 상자(41A)가 미리 결정되는 위치 이외의 위치에 배치된 경우에 칩 부품 반송 장치(1)의 동작을 개시하지 않는다. 또는, 제어 장치(50)는 상자 유지체(70)에 대하여 양품 회수 상자(41A)가 미리 결정되는 위치 이외의 위치에 배치된 경우에 통지부(90)에 의해 작업자에 통지한다.In the chip
·상기 각 실시형태에 있어서, 반송부(10)의 구성을 이하의 (A)~(C)의 구성으로 변경해도 좋다. 또한, 도 16~도 18에서는 설명의 편의상, 2개의 불량품 회수 상자(41B, 41C)를 나타내고 있지만, 불량품 회수 상자의 종류나 개수는 임의로 변경 가능하다.In each of the above embodiments, the configuration of the
(A) 도 16에 나타내는 바와 같이, 반송부(10A)는 제 1 롤러(91), 제 2 롤러(92) 및 반송체의 일례인 무단 형상의 반송 벨트(93)를 구비한다. 제 1 롤러(91)는 구동 장치(16)에 연결되는 구동 롤러이고, 제 2 롤러(92)는 제 1 롤러(91)에 종동하여 회전하는 종동 롤러이다. 반송 벨트(93)는 유지부(15)를 갖는다. 구동 장치(16)에 의해 제 1 롤러(91)가 회전함으로써 반송 벨트(93)가, 예를 들면 흰색 화살표의 방향으로 회전한다. 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B, 41C)는 반송 벨트(93)의 반송 경로상의 소정의 위치에 있어서 유지부(15)와 대향 가능해지도록 배치되어 있다.(A) As shown in Fig. 16, the
(B) 도 17에 나타내는 바와 같이, 반송부(10B)는 반송체의 일례인 롤러(94)를 구비한다. 롤러(94)는 구동 장치(16)에 연결되어 있다. 롤러(94)는 유지부(15)를 갖는다. 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B, 41C)는 롤러(94)의 유지부(15)와 롤러(94)의 지름 방향에 대향 가능해지도록 배치되어 있다.(B) As shown in Fig. 17, the
(C) 도 18에 나타내는 바와 같이, 반송부(10C)는 반송체의 일례인 반송대(95)를 구비한다. 반송대(95)는 구동 장치(96)에 연결되어 있다. 구동 장치(96)는 전동 모터와, 전동 모터의 출력축에 연결되고, 출력축의 회전을 축 방향을 따른 왕복 운동으로 변환하는 변환 기구를 갖는다. 반송대(95)는 변환 기구에 부착되어 있다. 이에 따라, 반송대(95)는 도 18 중의 흰색 화살표의 방향으로 이동 가능해진다. 반송대(95)는 유지부(15)를 갖는다. 양품 회수 상자(41A) 및 불량품 회수 상자(41B, 41C)는 반송대(95)의 반송 경로상에 있어서 유지부(15)와 대향 가능해지도록 배치되어 있다.(C) As shown in Fig. 18, the
·상기 각 실시형태에 있어서, 각 회수 상자(41A~41F)의 회수구(65)의 크기 및 수는 임의로 변경 가능하다. 예를 들면 회수구(65)는, 회수구(65)는 1개의 유지부(15)의 수용 구멍(15a)(모두, 도 1 참조)의 수에 따라 형성되어도 좋다. 이 경우, 회수구(65)의 크기는 반송 로터(13)의 반송 방향으로부터 보았을 때, 수용 구멍(15a)과 대향한 상태에 있어서 그 수용 구멍(15a)의 가장자리로부터 45° 이상 또한 90° 미만의 경사 각도로 연장된 선분의 범위 내인 것이 바람직하다. 또한, 회수구(65)는 1개의 유지부(15)에 있어서의 2개~5개의 수용 구멍(15a)에 걸쳐서 형성되어도 좋다. 결국, 회수구(65)는 1개의 유지부(15)에 있어서의 복수의 수용 구멍(15a)에 걸쳐서 형성되어도 좋다.In each of the above embodiments, the size and number of the
·상기 각 실시형태에서는 반송 로터(13)가 그 두께가 똑같은 원판 형상이지만, 반송 로터(13)의 형상은 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 반송 로터(13)에 있어서 최외 위치의 수용 구멍(15a)보다 지름 방향 외측 부분의 두께가 다른 부분보다 두꺼워지도록 형성되어도 좋다.In each of the above-described embodiments, the conveying
·상기 각 실시형태에 있어서, 불량품 회수 상자(41B~41F)의 적어도 1개를 각 수용 구멍(15a)에 대응하는 호스를 통해서 칩 부품(100)을 회수해도 좋다. 이 구성에 의하면, 적어도 양품 회수 상자(41A)에 대해서, 호스의 청소 작업을 생략 함과 아울러, 다른 로트 사이에 있어서 칩 부품이 혼입하는 것을 억제할 수 있다.In each of the above embodiments, at least one of the defective
·상기 각 실시형태에 있어서, 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65)는 복수의 유지부(15)의 복수의 수용 구멍(15a)과 대향해도 좋다. 예를 들면, 양품 회수 상자(41A)의 회수구(65)는 반송 방향에 있어서 인접한 2개의 유지부(15)의 각각의 4개의 수용 구멍(15a)의 모두 대향하는 크기이어도 좋다.In each of the above embodiments, the
1…칩 부품 반송 장치,
13…반송 로터(반송체),
15…유지부,
15a…수용 구멍,
18…배출 장치,
30…검사부,
41A…양품 회수 상자,
41B~41F…불량품 회수 상자,
45…부착 규제부,
50…제어 장치,
65…회수구,
66…배기구,
70…상자 유지체,
80…검출부,
90…통지부,
100…칩 부품One… Chip component transfer device, 13 ... The conveying rotor (conveying body)
15 ... The holding
18 ... Discharge device, 30 ... Inspection department,
41A ... Good product recovery box, 41B ~ 41F ... Defective collection box,
45 ... Attachment restraint, 50 ... controller,
65 ... Reclaimed area, 66 ... Exhaust port,
70 ... Box holder, 80 ... Detection unit,
90 ... Notification section, 100 ... Chip parts
Claims (12)
상기 반송체에 의해 반송되는 상기 칩 부품이 양품인지 불량품인지를 검사하는 검사부와,
상기 검사부의 검사 결과에 근거하여 상기 반송체로부터 양품의 상기 칩 부품을 배출하는 배출 장치와,
상기 검사부의 검사 결과에 근거하여 상기 배출 장치에 의해 상기 반송체로부터 배출된 상기 양품의 칩 부품을 회수하는 양품 회수 상자와,
상기 양품 회수 상자를 착탈 가능하게 유지하는 상자 유지체를 구비하고,
상기 반송체는 상기 칩 부품의 반송 방향을 따라 설치되고 상기 칩 부품을 유지 가능한 복수의 유지부를 갖고,
상기 복수의 유지부의 각각은 상기 반송 방향과 교차하는 방향을 따라 병설되고 상기 칩 부품을 수용하는 복수의 수용 구멍을 갖고,
상기 양품 회수 상자는 상기 복수의 유지부 중 적어도 1개의 유지부의 상기 복수의 수용 구멍과 대향하고 상기 배출 장치에 의해 상기 수용 구멍으로부터 배출된 상기 양품의 칩 부품을 직접적으로 회수하는 회수구를 갖는 칩 부품 반송 장치.A carrying member for carrying the chip component,
An inspection unit for inspecting whether the chip component conveyed by the carrying body is a good product or a defective product;
A discharging device for discharging the chip component of the good product from the carrying body based on the inspection result of the inspection unit;
A good product collecting box for collecting the chip components of the good product discharged from the carrier by the discharging device based on the inspection result of the inspection unit,
And a box holding body for detachably holding the good yield collecting box,
Wherein said carrying member has a plurality of holding portions provided along the carrying direction of said chip parts and capable of holding said chip parts,
Wherein each of the plurality of holding portions is provided along a direction intersecting with the carrying direction and has a plurality of receiving holes for receiving the chip component,
Wherein the good product recovery box is provided with a chip having a recovery port which directly faces the plurality of receiving holes of at least one holding portion of the plurality of holding portions and which directly discharges the chip component of the good product discharged from the receiving hole by the discharging device Component transport device.
상기 반송 방향으로부터 보았을 때, 상기 회수구의 크기는 상기 수용 구멍과 대향한 상태에 있어서 상기 수용 구멍의 가장자리로부터 45° 이상 또한 90° 미만의 경사 각도로 연장된 선분의 범위 내인 칩 부품 반송 장치.The method according to claim 1,
Wherein the size of the collection port is within a range of a line segment extending from an edge of the receiving hole at an inclination angle of 45 degrees or more and less than 90 degrees in a state in which the collection port faces the receiving hole.
상기 회수구는 상기 복수의 수용 구멍에 걸쳐서 형성되어 있는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
And the recovery port is formed over the plurality of receiving holes.
상기 배출 장치는 상기 복수의 수용 구멍의 각각을 향하여 압축 공기를 분출시킴으로써 상기 수용 구멍으로부터 상기 칩 부품을 배출하고,
상기 양품 회수 상자는, 상기 칩 부품은 배출하지 않고 상기 양품 회수 상자 내의 공기를 배출하는 배기구를 갖는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the discharging device discharges the chip component from the receiving hole by ejecting compressed air toward each of the plurality of receiving holes,
Wherein the good product recovery box has an exhaust port for discharging the air in the good product recovery box without discharging the chip component.
상기 배기구는 상기 양품 회수 상자에 있어서 상기 회수구와 대향하지 않는 개소에 형성되어 있는 칩 부품 반송 장치.5. The method of claim 4,
And the exhaust port is formed at a position not opposed to the recovery port in the good product recovery box.
상기 배기구는 상기 양품 회수 상자에 있어서 연직 방향의 상단부에 형성되어 있는 칩 부품 반송 장치.6. The method of claim 5,
And said exhaust port is formed in an upper end portion in a vertical direction in said good product collecting box.
1개의 상기 유지부에 대응하여 설치되고 상기 검사부의 검사 결과에 근거하여 상기 배출 장치에 의해 상기 수용 구멍으로부터 배출되는 불량품의 상기 칩 부품을 회수하는 불량품 회수 상자를 구비하고,
상기 불량품 회수 상자는 상기 수용 구멍과 대향하고 상기 배출 장치에 의해 상기 수용 구멍으로부터 배출된 상기 불량품의 칩 부품을 직접적으로 회수하는 회수구를 갖고,
상기 양품 회수 상자 및 상기 불량품 회수 상자는 상기 반송 방향으로 배열되어 있는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
And a defective product collection box provided corresponding to one of the holding portions and adapted to collect the defective chip component discharged from the receiving hole by the discharge device based on the inspection result of the inspection portion,
The defective product recovery box has a recovery port that directly faces the defective product chip component which is opposed to the receiving hole and discharged from the receiving hole by the discharge device,
And the defective product recovery box and the defective product recovery box are arranged in the transport direction.
상기 양품 회수 상자는 상기 불량품 회수 상자보다 상기 반송 방향의 하류측에 위치하고 있는 칩 부품 반송 장치.8. The method of claim 7,
And the good product recovery box is located on the downstream side of the defective product recovery box in the transport direction.
상기 양품 회수 상자 및 상기 상자 유지체에는 상기 상자 유지체에 대하여 상기 양품 회수 상자가 미리 정해진 위치에만 부착 가능한 부착 규제부가 설치되어 있는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the good product recovery box and the box retention member are provided with attachment regulating portions capable of attaching only the predetermined number of the good product recovery boxes to the box retention member.
상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 제어하는 제어 장치를 구비하고,
상기 제어 장치는 상기 상자 유지체에 대하여 상기 양품 회수 상자가 미리 정해진 위치 이외의 위치에 배치된 경우에 상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 개시하지 않는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
And a control device for controlling the operation of said chip component transportation device,
Wherein the control device does not start the operation of the chip component transportation device when the good product recovery box is disposed at a position other than a predetermined position with respect to the box retention housing.
상기 상자 유지체에 대하여 상기 양품 회수 상자가 미리 정해진 위치 이외의 위치에 배치된 경우에 통지하는 통지부를 더 구비하는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
Further comprising a notifying unit for notifying the box holding body when the good product returning box is disposed at a position other than a predetermined position.
상기 반송 방향에 있어서, 상기 양품 회수 상자는 불량품의 상기 칩 부품을 회수하는 위치보다 하류측에 위치하고,
상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 제어하는 제어 장치와, 상기 반송 방향에 있어서 상기 양품 회수 상자보다 상류측 또한 상기 불량품의 칩 부품을 회수하는 위치보다 하류측에는 상기 수용 구멍에 상기 칩 부품이 수용되어 있는지의 여부를 검출하는 검출부를 더 구비하고,
상기 제어 장치는 상기 검사부의 검사 결과에 근거한 상기 불량품의 칩 부품이 상기 수용 구멍에 수용된 상태에서 상기 검출부가 상기 수용 구멍에 있어서의 상기 불량품의 칩 부품의 수용을 검출한 경우, 상기 칩 부품 반송 장치의 동작을 정지하는 칩 부품 반송 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
In the carrying direction, the good product recovery box is located on the downstream side of the position where the chip component of the defective product is recovered,
A control device for controlling the operation of the chip component conveying device, and a control device for controlling the operation of the chip component conveying device in such a manner that the chip component is housed in the receiving hole on the upstream side of the good product collecting box and on the downstream side of the position for retrieving the defective chip component Further comprising:
When the detection unit detects the acceptance of the defective chip component in the receiving hole in a state where the defective chip component based on the inspection result of the inspection unit is received in the receiving hole, And stops the operation of the chip component.
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Citations (1)
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JPS6028867A (en) * | 1983-07-28 | 1985-02-14 | 株式会社東芝 | Sheet sorting apparatus |
JP2727024B2 (en) * | 1990-04-08 | 1998-03-11 | アンリツ株式会社 | Weight sorter |
JPH05322634A (en) * | 1992-05-22 | 1993-12-07 | Anritsu Corp | Weight sorter |
JP2000157935A (en) * | 1998-11-26 | 2000-06-13 | Yamato Kk | Method of inspecting parts and device therefor |
JP3515435B2 (en) * | 1999-07-30 | 2004-04-05 | リンテック株式会社 | Work inspection device and inspection method |
JP3506074B2 (en) * | 1999-11-16 | 2004-03-15 | 株式会社村田製作所 | Characteristic classification device |
JP3687503B2 (en) * | 2000-07-11 | 2005-08-24 | 株式会社村田製作所 | Electronic component transport device and inspection device using the transport device |
JP3690257B2 (en) * | 2000-08-28 | 2005-08-31 | 株式会社村田製作所 | Chip parts transfer device |
JP2002296191A (en) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Shionogi Qualicaps Co Ltd | Appearance inspecting device of tablet |
JP2003341832A (en) * | 2002-05-22 | 2003-12-03 | Far East Engineering Co Ltd | Chip separating and carrying device |
KR200292289Y1 (en) * | 2002-07-25 | 2002-10-18 | 주식회사옌트 | Chip sorting ejector for surfae mounted chip inspection system |
JP4175501B2 (en) * | 2003-01-27 | 2008-11-05 | 富士機械製造株式会社 | Tape feeder reel mounting structure and method for preventing erroneous reel mounting |
JP4225537B2 (en) * | 2003-04-23 | 2009-02-18 | 富士機械製造株式会社 | Electronic component mounting machine feeder management system |
JP4039324B2 (en) * | 2003-06-26 | 2008-01-30 | 株式会社村田製作所 | Electronic parts transfer device |
JP2007152681A (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Canon Inc | Ink tank incorrect installation preventing process |
JP2010010121A (en) * | 2008-05-26 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | Slip ring with wear powder removal function |
CN201997498U (en) * | 2011-02-14 | 2011-10-05 | 无锡先导自动化设备有限公司 | Power capacitance testing device |
DE102011078269A1 (en) * | 2011-06-29 | 2013-01-03 | Robert Bosch Gmbh | Device for separating waste products |
KR102028785B1 (en) * | 2012-07-12 | 2019-10-04 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | Chip electronic component inspection and sorting device |
JP6247929B2 (en) * | 2013-12-25 | 2017-12-13 | シャープ株式会社 | Electron emission device, charging device including the electron emission device, image forming device including the charging device, and control method of the electron emission device |
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Patent Citations (1)
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