KR20180036843A

KR20180036843A - 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치

Info

Publication number: KR20180036843A
Application number: KR1020160126549A
Authority: KR
Inventors: 이명식; 최석환
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2016-09-30
Filing date: 2016-09-30
Publication date: 2018-04-10
Also published as: KR102564466B1

Abstract

신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치를 개시한다. 본 발명의 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널은 복수의 화소 셀이 매트릭스 형태로 배열되어 영상을 표시하는 영상 표시부, 및 영상 비 표시부에 구성되며 복수의 데이터 라인 오픈 검사 기간에 복수의 데이터 라인이 전기적으로 모두 연결되도록 하고 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호를 인가함으로써 복수의 데이터 라인을 통한 검출 신호 값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 신호라인 검사회로를 포함하는바, 영상 표시패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 검사가 진행되도록 하여 그 검사 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치{IMAGE DISPLAY PANEL HAVING SIGNAL LINE INSPECTING CIRCUIT, AND IMAGE DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME}

본 발명은 영상 표시패널의 신호 라인 쇼트 및 오픈 불량을 용이하게 검사할 수 있도록 한 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치에 관한 것이다.

최근, 퍼스널 컴퓨터, 휴대용 단말기, 및 모바일 통신기기 등에 적용되는 영상 표시장치로 경량 박형의 평판 표시장치(Flat Panel Display)가 주로 이용되고 있다. 이러한, 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 유기 발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel), 전계방출 표시장치(Field Emission Display) 등이 대두되고 있다.

이러한 평판 표시장치를 이루는 각각의 영상 표시패널 즉, 액정 패널이나 유기 발광 표시패널 등은 별도의 구동 회로부나 전원 공급부 등과 조립되는 모듈 조립공정에 들어가기에 앞서 검사과정을 통해 불량 여부를 판별하게 된다. 종래에는 오토 프로브 장치(Auto-Probe Apparatus) 등의 검사 장치를 이용하여 전기적인 불량과 화질 불량 등을 판별하였다. 영상 표시패널 검사시에는 검수자가 세팅한 구동 회로부와 백 라이트 유닛 등을 임시로 연결하고, 영상 표시패널의 각 화소들이 소정 시간 구동되도록 함으로써 그 불량 유무를 판별하였다.

하지만, 종래의 영상 표시패널 검사시에는 오토 프로브 장치 등이 구비된 검사장비나 검사 라인에서만 별도로 검사가 진행되었기 때문에 영상 표시패널 검사를 위한 비용과 시간적인 소모가 클 수밖에 없었다.

또한, 종래의 검사장비들을 이용한 검사 방식은 단색 점등 검사나 흑백 패턴 검사가 일반적이었기 때문에, 단색 또는 흑백 계조의 데이터 전압만을 각각의 화소에 인가하여 검사를 수행하였다. 그러나 이 경우에는 영상 표시패널 내 서로 인접한 신호 라인들이 쇼트 되더라도 해당 셀들에는 동일한 데이터 전압이 인가되기 때문에 인접한 신호 라인들의 쇼트 불량을 화면으로 검출할 수 없었던 문제가 있었다. 아울러, 신호 라인들 각각에 데이터 전압을 인가해서 검사를 수행하는 동안에는 신호 라인들의 오픈 여부는 확인할 수 없었기 때문에 검사 효율이 저하될 수밖에 없었다.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 영상 표시패널의 영상 비표시 영역에 신호 라인들의 쇼트 및 오픈 검사를 수행할 수 있는 회로가 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 영상 표시패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 신호 라인 불량 검사를 진행할 수 있도록 한 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

특히, 신호 라인들의 오픈 검사시에는 전체 신호라인들을 쇼트 시키고 전체 신호라인들의 신호 추출 값으로 오픈 여부를 검수할 수 있도록 하고, 쇼트 검사시에는 신호라인 검사회로가 적어도 하나의 신호 라인 단위로 수직 패턴(Vertical Pattern)을 표시할 수 있도록 구현함으로써 인접 데이터 라인들의 쇼트 여부를 표시화면으로 검출할 수 있도록 한 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

전술한 바와 같이, 영상 표시패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 검사가 진행될 수 있도록 하기 위해서는 영상 표시패널의 영상 비표시 영역에 신호 라인들의 쇼트 및 오픈 검사를 수행할 수 있는 신호라인 검사회로가 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 그 목적을 달성할 수 있다. 이를 위해 본 발명에 따른 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널은 복수의 화소 셀이 매트릭스 형태로 배열되어 영상을 표시하는 영상 표시부, 및 영상 비 표시부에 구성되며 복수의 데이터 라인 오픈 검사 기간에 복수의 데이터 라인이 전기적으로 모두 연결되도록 하고 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호를 인가함으로써 복수의 데이터 라인을 통한 검출 신호 값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 신호라인 검사회로를 포함한다.

또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 영상 표시장치는 영상을 표시하는 영상 표시부, 및 영상 비 표시부에 구성되며 복수의 데이터 라인 오픈 검사 기간에 복수의 데이터 라인이 전기적으로 모두 연결되도록 하고 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호를 인가함으로써 복수의 데이터 라인을 통한 검출 신호 값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 신호라인 검사회로가 구성된 영상 표시패널 및 영상 표시부의 게이트 및 데이터 라인을 구동하는 적어도 하나의 구동 집적회로를 포함한다.

전술한 바와 같은 다양한 기술 특징을 갖는 본 발명의 실시 예에 따른 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치는 영상 표시패널의 영상 비표시 영역에 신호 라인들의 쇼트 및 오픈 검사를 수행할 수 있는 회로가 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 영상 표시패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 검사가 진행되도록 하여 그 검사 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

또한, 신호 라인들의 오픈 검사시에는 전체 신호라인들을 전기적으로 연결 시키고 전체 신호라인들의 신호 추출 값으로 오픈 여부를 검수할 수 있도록 하여 신호 라인들의 쇼트 및 오픈 불량 여부를 빠르고 효율적으로 수행할 수 있도록 하고, 쇼트 검사시에는 신호라인 검사회로가 적어도 하나의 신호 라인 단위로 수직 패턴을 표시할 수 있도록 구현함으로써 인접 데이터 라인들의 쇼트 여부를 표시화면으로 검출할 수 있도록 할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 다른 신호라인 검사회로가 구비된 액정패널을 포함하는 액정 표시장치를 나타낸 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 신호라인 검사회로를 개략적으로 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 2의 신호라인 검사회로 중 오픈 검사회로 구성을 구체적으로 나타낸 회로도이다.
도 4는 오픈 검사 기간과 쇼트 검사 기간의 제어 신호 입출력 파형을 나타낸 파형도이다.
도 5는 도 2의 신호라인 검사회로 중 쇼트 검사회로 구성을 구체적으로 나타낸 회로도이다.

전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 본 발명을 설명함에서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

본 발명에서의 신호라인 검사회로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 유기 발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel), 전계방출 표시장치(Field Emission Display) 등 다양한 평판 표시장치(Flat Panel Display)의 표시패널에 적용될 수 있다.

이하에서는 설명의 편의상 신호라인 검사회로가 액정 표시장치의 액정패널에 적용된 예를 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 다른 신호라인 검사회로가 구비된 액정패널을 포함하는 액정 표시장치를 나타낸 구성도이다.

도 1의 액정패널(100)은 복수의 화소 셀이 매트릭스 형태로 배열되어 영상을 표시하는 영상 표시부(102) 및 영상 표시부(102)의 주변부인 영상 비 표시부(104)로 구분되며, 영상 비 표시부(104)에는 복수의 신호라인 중 데이터 라인(DL1 내지 DLm)의 쇼트 및 오픈 검사를 수행하기 위한 신호라인 검사회로(170)가 구성된다.

구체적으로, 액정패널(100)의 영상 표시부(104)에는 복수의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 의해 정의되는 각 화소 셀 영역에 형성된 박막 트랜지스터(TFT; Thin Film Transistor), TFT와 접속된 액정 커패시터(Clc)를 구비한다. 액정 커패시터(Clc)는 TFT와 접속된 화소 전극, 화소 전극과 액정을 사이에 두고 구성된 공통전극으로 구성된다. TFT는 각각의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)으로부터의 스캔 펄스에 응답하여 각각의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)으로부터의 영상 신호를 화소 전극에 공급한다. 액정 커패시터(Clc)는 화소 전극에 공급된 영상 신호와 공통전극에 공급된 공통전압의 차 전압을 충전하고, 그 차 전압에 따라 액정 분자들의 배열을 가변시켜 광 투과율을 조절함으로써 계조를 구현한다. 그리고 액정 커패시터(Clc)에는 스토리지 커패시터(Cst)가 병렬로 접속되어 액정 커패시터(Clc)에 충전된 전압이 다음 데이터 신호가 공급될 때까지 유지되게 한다. 여기서, n 및 m 은 0을 제외한 각각의 자연수이다.

액정패널(100)과 구동 모듈 및 백 라이트 유닛을 결합하여 액정 표시장치로 제품화하는 경우, 액정패널(100)의 영상 비표시부(104)에는 복수의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 구동 타이밍을 제어함과 아울러, 복수의 게이트 및 데이터 라인(GL1 내지 GLn, DL1 내지 DLm)을 구동하여 화소 셀을 통해 영상이 표시되도록 하는 적어도 하나의 구동 집적회로(120)가 구비된다.

도 1에서는 영상 표시부(102)의 각 화소 셀을 구동하기 위해 단일 칩으로 구동 집적회로(120)가 실장된 예를 제시하였으나, 액정패널(100)의 비표시 영역(104)이나 그리고 액정 패널(100)의 주변부에는 연성회로기판 등을 통해 게이트 구동회로와 데이터 구동회로 및 타이밍 제어회로가 각각 구성되어 액정 표시모듈을 이룰 수도 있다.

도 2는 도 1에 도시된 신호라인 검사회로를 개략적으로 나타낸 회로도이다.

도 2를 참조하면, 신호라인 검사회로(170)는 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 오픈 검사 기간에 오픈 검사 제어신호(OS)에 응답하여 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 오픈 불량을 검출할 수 있도록 하는 오픈 검사회로(160), 및 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 쇼트 검사 기간에 쇼트 검사 제어신호에 응답하여 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 쇼트 불량을 검출할 수 있도록 하는 쇼트 검사회로(150)를 포함하여 구성된다.

오픈 검사회로(160)는 영상 비 표시부(104)에 구비되는데, 이러한 오픈 검사회로(160)는 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 오픈 검사 기간에 모든 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)이 전기적으로 직렬 연결되도록 한다. 그리고 전기적으로 모두 연결된 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 일 측으로 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호가 인가되도록 함으로써, 모두 연결된 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 일 측과 타 측에서 검출되는 신호 값, 예를 들면 저항값이나 검수신호의 전압 값 등에 의해 오픈 여부가 확인되도록 한다.

다시 말해, 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 오픈 검사 기간에 오픈 검사회로(160)는 외부신호 입력단(140)으로부터 입력되는 오픈 검사 제어신호(OS)에 응답하여 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)을 모두 전기적으로 직렬 연결시킨다. 그리고 외부신호 입력단(140)으로부터 입력되는 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호가 검수신호 입력라인(ML1)을 통해 모두 연결된 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 일 측으로 인가되도록 한다. 이에, 모두 연결된 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 타 측이나 일 측의 전압 값이나 저항값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 한다.

오픈 불량이 발생하지 않은 상태에서는 모두 연결된 데이터 라인(DL1 내지 DLm)의 저항값이 미리 설정된 소정의 기준치 이하로 낮게 검출되겠지만, 적어도 하나의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)이라도 오픈된 경우에는 저항값이 미리 설정된 기준치 이상으로 높게 검출되어 오픈 불량 여부를 바로 확인할 수 있게 된다. 검수신호의 전압 레벨을 검출하는 경우에는 검출된 전압 값이 입력된 전압 값보다 기준치 이상 낮으면 오픈 불량으로 확인할 수 있다.

다음으로, 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 쇼트 검사 기간에 쇼트 검사회로(150)는 적어도 하나의 데이터 입력 라인(Dal) 단위로 선택해서 전압 레벨이 서로 같거나 다른 복수의 검사 신호를 입력받는다. 그리고 적어도 하나의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 단위로 서로 다른 전압 레벨의 검사 신호가 데이터 신호(또는, 영상 신호)로 각각 공급되도록 선택 출력한다.

다시 말해, 쇼트 검사회로(150)는 외부신호 입력단(140)으로부터 입력되는 전압 레벨이 서로 다른 복수의 검사 신호를 선택 신호에 따라 데이터 라인(DL1 내지 DLm)별로 선택하여 각각의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)으로 공급한다. 이때, 적어도 하나의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 단위로 서로 다른 전압 레벨의 검사 신호가 데이터 신호로 각각 공급되도록 한다.

신호라인 검사회로(170)는 데이터 라인(DL1 내지 DLm)들에 데이터 신호를 입력하기 용이한 위치에 구성됨이 바람직하다. 도 1에는 신호라인 검사회로(170)가 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 일 측 끝단인 상부측 신호 입력단과 각 데이터 라인(DL1 내지 DLm)의 타 측 끝단인 하부측 신호 입력단에 분리 구성된 예를 도시하였다.

도 3은 도 2의 신호라인 검사회로 중 오픈 검사회로 구성을 구체적으로 나타낸 회로도이다.

먼저, 도 2 및 도 3을 참조하면, 오픈 검사회로(160)는 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 중 첫번째의 제1 데이터 라인(DL1)과 인접하게 구성된 검수신호 입력라인(ML1), 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 중 마지막의 제m 데이터 라인(DLm)과 인접하게 구성된 검수신호 출력라인(ML2), 외부신호 입력단(140)으로부터 입력되는 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 검수신호 입력라인(ML1)과 제1 데이터 라인(DL1)을 전기적으로 연결시키는 제1 더미 스위칭소자(DT1), 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 검수신호 출력라인(ML2)과 마지막의 제m 데이터 라인(DLm)을 전기적으로 연결시키는 제2 더미 스위칭소자(DT2), 및 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)을 전기적으로 직렬 연결시키는 복수의 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn)를 포함한다.

복수의 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn) 중 홀수번째의 제1 내지 제n-1 번째 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn-1)는 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 일 측의 영상 비 표시부(104)에 구성되면서도 홀수번째의 데이터 라인(DL1 내지 DLm-1)과 짝수번째의 데이터 라인(DL2 내지 DLm) 사이에 각각 배치되어, 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 인접하게 접속된 홀수번째의 데이터 라인(DL1 내지 DLm-1)과 짝수번째의 데이터 라인(DL2 내지 DLm)을 전기적으로 연결시킨다.

복수의 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn) 중 짝수번째의 제2 내지 제n 번째 검수 스위칭소자(T2 내지 Tn)는 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 타 측의 영상 비 표시부(104)에 구성되면서도 짝수번째의 데이터 라인(DL2 내지 DLm)과 홀수번째의 데이터 라인(DL1 내지 DLm-1) 사이에 각각 배치되어, 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 인접하게 접속된 짝수번째의 데이터 라인(DL2 내지 DLm)과 홀수번째의 데이터 라인(DL1 내지 DLm-1)을 전기적으로 연결시킨다.

제1 더미 스위칭소자(DT1)는 제1 데이터 라인(DL1) 타 측의 영상 비 표시부(104)에 구성되면서도 검수신호 입력라인(ML1)과 제1 데이터 라인(DL1)의 사이에 배치되어 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 인접하게 접속된 검수신호 입력라인(ML1)과 제1 데이터 라인(DL1)을 전기적으로 연결시킨다.

제2 더미 스위칭소자(DT2)는 제m 데이터 라인(DLm) 일 측의 영상 비 표시부(104)에 구성되면서도 제m 데이터 라인(DLm)과 검수신호 출력라인(ML2)의 사이에 배치되어 오픈 검사 제어신호(OS)에 따라 인접하게 접속된 제m 데이터 라인(DLm)과 검수신호 출력라인(ML2)을 전기적으로 연결시킨다.

본 발명에서 오픈 검사회로(160)를 이루는 복수의 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn)와 제1 및 제2 더미 스위칭소자(DT1, DT2)는 NMOS 또는 PMOS 스위칭 트랜지스터로 구성될 수 있다. 본 발명에서는 NMOS 스위칭 트랜지스터로 구성된 예를 설명하기로 한다.

도 4는 오픈 검사 기간과 쇼트 검사 기간의 제어 신호 입출력 파형을 나타낸 파형도이다.

도 4와 같이, 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 오픈 검사 기간에는 오픈 검사 제어신호(OS)가 복수의 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn)와 제1 및 제2 더미 스위칭소자(DT1,DT2)를 모두 턴-온 시킬 수 있는 레벨로 입력된다.

이에, 검수신호 입력라인(ML1)과 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 및 검수신호 출력라인(ML2)은 모두 전기적으로 직렬 연결된다. 이때, 검수신호 입력라인(ML1)을 통해 미리 설정된 전압 레벨의 검수 신호가 입력되면, 검수신호 입력라인(ML1)과 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 및 검수신호 출력라인(ML2)의 전압 레벨은 모두 동일해진다. 하지만, 어느 하나의 데이터 라인에라도 오픈 불량이 있는 경우에는 검수신호 입력단(DP1)과 출력단(DP2) 간에 전압 차이가 발생하므로, 검수신호 입력단(DP1)과 출력단(DP2)의 전압 차이 값이나 저항값에 의해 오픈 여부를 확인할 수 있게 된다.

이후, 쇼트 검사 기간에는 오픈 검사 제어신호(OS)가 복수의 검수 스위칭소자(T1 내지 Tn)와 제1 및 제2 더미 스위칭소자(DT1,DT1)를 모두 턴-오프 시키도록 입력된다.

도 5는 도 3은 도 2의 신호라인 검사회로 중 쇼트 검사회로 구성을 구체적으로 나타낸 회로도이다.

도 5를 참조하면, 쇼트 검사회로(150)는 외부신호 입력단(140)으로부터의 쇼트 검사 제어신호(SS)에 따라 극성과 전압 레벨 중 적어도 하나가 서로 다른 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 서로 인접한 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4) 별로 각각 다르게 선택해서 입력받는 검사 신호 선택부(152), 및 외부신호 입력단(140)으로부터 입력되는 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 서로 인접한 적어도 하나의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)별로 서로 다른 전압 레벨의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)가 데이터 신호로 각각 공급되도록 각 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4)의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 선택해서 출력하는 선택 출력부(154)를 포함한다.

복수의 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4)은 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)을 구동하는 데이터 구동부나 데이터 구동부와 타이밍 제어부가 집적된 구동 집적회로 등으로부터 데이터 신호가 입력되는 라인이다. 이에, 검사 신호 선택부(152)는 복수의 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4)에 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 공급하되, 서로 인접한 서로 인접한 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4) 별로 각각 다른 전압 레벨의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 공급할 수 있도록 구성된다.

구체적으로, 검사 신호 선택부(152)는 쇼트 검사 제어신호(SS)에 따라 극성과 전압 레벨 중 적어도 하나가 서로 다른 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4) 중 제1 검사 신호(TS_1)를 4n-3번째인 제1 데이터 입력 라인(Dal1)으로 선택 공급하는 복수의 제1 스위칭 소자(Tr1), 쇼트 검사 제어신호(SS)에 따라 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4) 중 제2 검사 신호(TS_2)를 4n-2번째인 제2 데이터 입력 라인(Dal2)으로 선택 공급하는 복수의 제2 스위칭 소자(Tr2), 쇼트 검사 제어신호(SS)에 따라 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4) 중 제3 검사 신호(TS_3)를 4n-1번째인 제3 데이터 입력 라인(Dal3)으로 선택 공급하는 복수의 제3 스위칭 소자(Tr3), 및 쇼트 검사 제어신호(SS)에 따라 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4) 중 제4 검사 신호(TS_4)를 4n번째인 제4 데이터 입력 라인(Dal4)으로 선택 공급하는 복수의 제4 스위칭 소자(Tr4)를 포함하여 구성된다.

도 4에 도시된 바와 같이, 쇼트 검사 제어신호(SS)는 쇼트 검사 기간에 검사 신호 선택부(152)에 구비된 복수의 제1 내지 제4 스위칭 소자(Tr1 내지 Tr4)를 동시에 인에이블시키거나 턴-온 시키도록 공급되는 신호이다.

제1 검사 신호(TS_1)는 제2 내지 제3 검사 신호(TS_2 내지 TS_4)와는 다른 전압 레벨의 전기적인 신호로써, 미리 설정된 액정패널(100)의 공통전압보다 높은 정극성 전압 레벨의 신호일 수 있다. 그리고 제2 검사 신호(TS_2)는 제1. 제3, 제4 검사 신호(TS_1,TS_1,TS_4)와는 다른 전압 레벨의 전기적인 신호로써, 미리 설정된 공통 전압보다 낮은 부극성 전압 레벨의 신호일 수 있다.

다음으로, 제3 검사 신호(TS_3)는 제1, 제2, 제4 검사 신호(TS_1,TS_2,TS_4)와는 다른 전압 레벨의 전기적인 신호로써, 미리 설정된 공통 전압보다 높은 정극성 전압 레벨의 신호일 수 있다. 그리고 제4 검사 신호(TS_4)는 제1 내지 제3 검사 신호(TS_1 내지 TS_3)와는 다른 전압 레벨의 전기적인 신호로써, 미리 설정된 공통 전압보다 낮은 부극성 전압 레벨의 신호일 수 있다.

이에, 복수의 제1 스위칭 소자(Tr1)는 액정 셀 검사시 쇼트 검사 제어신호(SS)에 의해 턴-온되어 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4) 중 제1 검사 신호(TS_1)를 4n-3번째인 제1 데이터 입력 라인(Dal1)들로 각각 공급한다. 그리고 복수의 제2 스위칭 소자(Tr2)는 액정 셀 검사시 쇼트 검사 제어신호(SS)에 의해 턴-온되어 제2 검사 신호(TS_2)를 4n-2번째인 제2 데이터 입력 라인(Dal2)들로 각각 공급한다.

이와 더불어, 복수의 제3 스위칭 소자(Tr3)는 액정 셀 검사시 쇼트 검사 제어신호(SS)에 의해 턴-온되어 제1 검사 신호(TS_3)를 4n-1번째인 제3 데이터 입력 라인(Dal3)들로 각각 공급한다. 그리고 복수의 제4 스위칭 소자(Tr4)는 액정 셀 검사시 쇼트 검사 제어신호(SS)에 의해 턴-온되어 제4 검사 신호(TS_4)를 4n번째인 제4 데이터 입력 라인(Dal4)들로 각각 공급한다.

선택 출력부(154)는 외부로부터 입력되는 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 각각의 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4)별 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 선택 출력하는바, 적어도 하나의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 단위로 서로 다른 전압 레벨의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)가 데이터 신호로 각각 공급되도록 출력한다.

구체적으로, 선택 출력부(154)는 제1 및 제2 데이터 입력 라인(Dal1,Dal2)으로부터의 제1 및 제2 검사신호(TS_1,TS_2)를 입력받고, 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 서로 인접한 12n-11번째의 데이터 라인(DL1), 12n-10번째의 데이터 라인(DL2), 12n-9번째의 데이터 라인(DL3) 각각에 서로 다른 전압 레벨의 제1 또는 제2 검사 신호(TS_1,TS_2)를 교번시켜 출력하는 제1 선택부(DM1), 및 제1 및 제2 데이터 입력 라인(Dal1, Dal2)으로부터의 제1 및 제2 검사 신호(TS_1,TS_4)를 입력받고, 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 서로 인접한 12n-8번째의 데이터 라인(DL4), 12n-7번째의 데이터 라인(DL5), 12n-6번째의 데이터 라인(DL6) 각각에 서로 다른 전압 레벨의 제1 또는 제2 검사 신호(TS_1,TS_2)를 교번시켜 출력하는 제2 선택부(DM2)를 포함하여 구성된다.

또한, 선택 출력부(154)는 제3 및 제4 데이터 입력 라인(Dal3,Dal4)으로부터의 제3 및 제4 검사 신호(TS_3,TS_4)를 입력받고, 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 서로 인접한 12n-5번째의 데이터 라인(DL7), 12n-4번째의 데이터 라인(DL8), 12n-3번째의 데이터 라인(DL9) 각각에 서로 다른 전압 레벨의 제3 또는 제4 검사 신호(TS_3,TS_4)를 교번시켜 출력하는 제3 선택부(DM3), 및 제3 및 제4 데이터 입력 라인(Dal3,Dal4)으로부터의 제3 및 제4 검사 신호(TS_3,TS_4)를 입력받고, 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 서로 인접한 12n-2번째의 데이터 라인(DL10), 12n-1번째의 데이터 라인(DL11), 12n번째의 데이터 라인(DL12) 각각에 서로 다른 전압 레벨의 제3 또는 제4 검사 신호(TS_3,TS_4)를 교번시켜 출력하는 제4 선택부(DM4)를 더 포함하여 구성된다.

제1 선택부(DM1)는 하이 또는 로우 레벨의 NM3 및 PM3 선택신호(NM3,PM3)에 응답해서는 제1 데이터 입력 라인(Dal1)으로부터의 제1 검사 신호(TS_1)를 12n-11번째의 데이터 라인(DL1)으로 공급한다. 그리고 NM2 및 PM2 선택신호(NM2,PM2)에 응답해서는 제2 데이터 입력 라인(Dal2)으로부터의 제2 검사 신호(TS_2)를 12n-10번째의 데이터 라인(DL2)으로 공급한다. 또한, NM1 및 PM1 선택신호(NM1,PM1)에 응답해서는 제1 데이터 입력 라인(Dal1)으로부터의 제1 검사 신호(TS_1)를 12n-9번째의 데이터 라인(DL3)으로 공급한다.

제2 선택부(DM2)는 하이 또는 로우 레벨의 NM3 및 PM3 선택신호(NM3,PM3)에 응답해서는 제2 데이터 입력 라인(Dal2)으로부터의 제2 검사 신호(TS_2)를 12n-8번째의 데이터 라인(DL4)으로 공급한다. 그리고 NM2 및 PM2 선택신호(NM2,PM2)에 응답해서는 제1 데이터 입력 라인(Dal1)으로부터의 제1 검사 신호(TS_1)를 12n-7번째의 데이터 라인(DL5)으로 공급한다. 또한, NM1 및 PM1 선택신호(NM1,PM1)에 응답해서는 제2 데이터 입력 라인(Dal2)으로부터의 제2 검사 신호(TS_2)를 12n-6번째의 데이터 라인(DL6)으로 공급한다.

제3 선택부(DM3)는 하이 또는 로우 레벨의 NM3 및 PM3 선택신호(NM3,PM3)에 응답해서는 제3 데이터 입력 라인(Dal3)으로부터의 제3 검사 신호(TS_3)를 12n-5번째의 데이터 라인(DL7)으로 공급한다. 그리고 NM2 및 PM2 선택신호(NM2,PM2)에 응답해서는 제4 데이터 입력 라인(Dal4)으로부터의 제4 검사 신호(TS_4)를 12n-4번째의 데이터 라인(DL8)으로 공급한다. 또한, NM1 및 PM1 선택신호(NM1,PM1)에 응답해서는 제3 데이터 입력 라인(Dal3)으로부터의 제3 검사 신호(TS_3)를 12n-3번째의 데이터 라인(DL9)으로 공급한다.

제4 선택부(DM4)는 하이 또는 로우 레벨의 NM3 및 PM3 선택신호(NM3,PM3)에 응답해서는 제4 데이터 입력 라인(Dal4)으로부터의 제4 검사 신호(TS_4)를 12n-2번째의 데이터 라인(DL10)으로 공급한다. 그리고 NM2 및 PM2 선택신호(NM2,PM2)에 응답해서는 제3 데이터 입력 라인(Dal3)으로부터의 제3 검사 신호(TS_3)를 12n-1번째의 데이터 라인(DL11)으로 공급한다. 또한, NM1 및 PM1 선택신호(NM1,PM1)에 응답해서는 제4 데이터 입력 라인(Dal4)으로부터의 제4 검사 신호(TS_4)를 12n번째의 데이터 라인(DL12)으로 공급한다.

이에 따라, 쇼트 검사회로(150)는 각각의 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4) 단위로 복수의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 먼저 선택한 후, 복수의 선택 신호(NM1 내지 NM3, PM1 내지 PM3)에 응답하여 각 데이터 입력 라인(Dal1 내지 Dal4)에 입력된 각각의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)를 선택 출력함으로써, 적어도 하나의 데이터 라인(DL1 내지 DLm) 단위로 서로 다른 전압 레벨의 검사 신호(TS_1 내지 TS_4)가 데이터 신호로 각각 공급되도록 할 수 있다.

이렇게, 전술한 바에 따르면 본 발명의 실시 예에 따른 신호라인 검사회로(170)가 구비된 영상 표시패널 및 이를 포함한 영상 표시장치는 영상 표시패널의 영상 비표시 영역(104)에 신호 라인 중 데이터 라인(DL1 내지 DLm)들의 쇼트 및 오픈 검사를 수행할 수 있는 회로가 단순한 구조로 설계 및 구성되도록 함으로써, 영상 표시패널의 제조 이후 간단하고 용이하게 검사가 진행되도록 하여 그 검사 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

또한, 신호 라인들의 쇼트 검사시에는 신호라인 검사회로가 적어도 하나의 신호 라인 단위로 수직 패턴을 표시할 수 있도록 구현함으로써 인접 데이터 라인들의 쇼트 여부를 표시화면으로 검출할 수 있고, 오픈 검사시에는 전체 신호라인들을 쇼트시키고 전체 신호라인들의 신호 추출 값으로 오픈 여부를 검수할 수 있도록 하여 신호 라인들의 쇼트 및 오픈 불량 여부를 빠르고 효율적으로 수행할 수 있다.

상기에서는 도면 및 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시 예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시 예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.

100: 액정 패널
102: 영상 표시부
104: 영상 비 표시부
120: 구동 집적회로
140: 외부 신호 입력단
150: 쇼트 검사회로
152: 검사 신호 선택부
154: 선택 출력부
160: 오픈 검사회로
170: 신호라인 검사회로

Claims

복수의 화소 셀이 매트릭스 형태로 배열되어 영상을 표시하는 영상 표시부; 및
영상 비 표시부에 구성되며, 복수의 데이터 라인 오픈 검사 기간에 상기 복수의 데이터 라인이 전기적으로 모두 연결되도록 하고 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호를 인가함으로써 상기 복수의 데이터 라인을 통한 검출 신호 값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 신호라인 검사회로;
를 포함하는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
제 1 항에 있어서,
상기 신호라인 검사회로는
데이터 라인 오픈 검사 기간에 외부로부터의 오픈 검사 제어신호에 응답하여 상기 복수의 데이터 라인 오픈 불량을 검출할 수 있도록 하는 오픈 검사회로; 및
데이터 라인 쇼트 검사 기간에 외부로부터의 쇼트 검사 제어신호에 응답하여 상기 복수의 데이터 라인 쇼트 불량을 검출할 수 있도록 하는 쇼트 검사회로;
포함하는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
제 2 항에 있어서,
상기 오픈 검사회로는
상기 복수의 데이터 라인 중 첫번째의 제1 데이터 라인과 인접하게 구성된 검수신호 입력라인;
상기 복수의 데이터 라인 중 마지막의 제m 데이터 라인과 인접하게 구성된 검수신호 출력라인;
상기 오픈 검사 제어신호에 따라 상기 검수신호 입력라인과 상기 제1 데이터 라인을 전기적으로 연결시키는 제1 더미 스위칭소자;
상기 오픈 검사 제어신호에 따라 상기 검수신호 출력라인과 상기 제m 데이터 라인을 전기적으로 연결시키는 제2 더미 스위칭소자; 및
상기 오픈 검사 제어신호에 따라 상기 복수의 데이터 라인을 전기적으로 직렬 연결시키는 복수의 검수 스위칭소자;
를 포함하는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
제 3 항에 있어서,
상기 복수의 검수 스위칭소자 중 홀수번째의 제1 내지 제n-1 번째 검수 스위칭소자는
상기 복수의 데이터 라인 일 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 홀수번째의 데이터 라인과 짝수번째의 데이터 라인 사이에 각각 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 홀수번째의 데이터 라인과 짝수번째의 데이터 라인을 전기적으로 각각 연결시키고,
상기 복수의 검수 스위칭소자 중 짝수번째의 제2 내지 제n 번째 검수 스위칭소자는
상기 복수의 데이터 라인 타 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 짝수번째의 데이터 라인과 홀수번째의 데이터 라인 사이에 각각 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 짝수번째의 데이터 라인과 홀수번째의 데이터 라인을 전기적으로 각각 연결시키는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
제 3 항에 있어서,
상기 제1 더미 스위칭소자는
상기 제1 데이터 라인 타 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 상기 검수신호 입력라인과 상기 제1 데이터 라인의 사이에 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 상기 검수신호 입력라인과 상기 제1 데이터 라인을 전기적으로 연결시키고,
제2 더미 스위칭소자는
상기 제m 데이터 라인 일 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 제m 데이터 라인과 상기 검수신호 출력라인의 사이에 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 상기 제m 데이터 라인과 상기 검수신호 출력라인을 전기적으로 연결시키는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
제 3 항에 있어서,
상기 오픈 검사 기간에 상기 오픈 검사 제어신호는
상기 복수의 검수 스위칭소자와 상기 제1 및 제2 더미 스위칭소자를 모두 턴-온 시킬 수 있는 레벨로 입력되고,
상기 검수신호 입력라인과 상기 복수의 데이터 라인 및 상기 검수신호 출력라인은 모두 전기적으로 직렬 연결되어, 상기 검수신호 입력라인을 통해 상기 검수 신호가 입력되면 검수신호 입력단과 검수신호 출력단 간에 전압 차이 값 또는 저항값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
제 2 항에 있어서,
상기 쇼트 검사회로는
전압 레벨이 서로 다른 복수의 검사 신호 중 하나씩의 검사 신호를 적어도 하나의 데이터 입력 라인 단위로 선택해서 받고,
상기 영상 표시부에 배열된 복수의 데이터 라인 중 서로 인접한 적어도 하나씩의 데이터 라인에 서로 다른 전압 레벨의 상기 검사 신호를 데이터 신호로 각각 선택해서 공급하는 신호라인 검사회로가 구비된 영상 표시패널.
영상을 표시하는 영상 표시부, 및 영상 비 표시부에 구성되며 복수의 데이터 라인 오픈 검사 기간에 상기 복수의 데이터 라인이 전기적으로 모두 연결되도록 하고 미리 설정된 전압 레벨의 검수신호를 인가함으로써 상기 복수의 데이터 라인을 통한 검출 신호 값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 신호라인 검사회로가 구성된 영상 표시패널; 및
상기 영상 표시부의 게이트 및 데이터 라인을 구동하는 적어도 하나의 구동 집적회로;
를 포함하는 영상 표시장치.
제 8 항에 있어서,
상기 신호라인 검사회로는
데이터 라인 오픈 검사 기간에 외부로부터의 오픈 검사 제어신호에 응답하여 상기 복수의 데이터 라인 오픈 불량을 검출할 수 있도록 하는 오픈 검사회로; 및
데이터 라인 쇼트 검사 기간에 외부로부터의 쇼트 검사 제어신호에 응답하여 상기 복수의 데이터 라인 쇼트 불량을 검출할 수 있도록 하는 쇼트 검사회로;
포함하는 영상 표시장치.
제 9 항에 있어서,
상기 오픈 검사회로는
상기 복수의 데이터 라인 중 첫번째의 제1 데이터 라인과 인접하게 구성된 검수신호 입력라인;
상기 복수의 데이터 라인 중 마지막의 제m 데이터 라인과 인접하게 구성된 검수신호 출력라인;
상기 오픈 검사 제어신호에 따라 상기 검수신호 입력라인과 상기 제1 데이터 라인을 전기적으로 연결시키는 제1 더미 스위칭소자;
상기 오픈 검사 제어신호에 따라 상기 검수신호 출력라인과 상기 제m 데이터 라인을 전기적으로 연결시키는 제2 더미 스위칭소자; 및
상기 오픈 검사 제어신호에 따라 상기 복수의 데이터 라인을 전기적으로 직렬 연결시키는 복수의 검수 스위칭소자;
를 포함하는 영상 표시장치.
제 10 항에 있어서,
상기 복수의 검수 스위칭소자 중 홀수번째의 제1 내지 제n-1 번째 검수 스위칭소자는
상기 복수의 데이터 라인 일 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 홀수번째의 데이터 라인과 짝수번째의 데이터 라인 사이에 각각 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 홀수번째의 데이터 라인과 짝수번째의 데이터 라인을 전기적으로 각각 연결시키고,
상기 복수의 검수 스위칭소자 중 짝수번째의 제2 내지 제n 번째 검수 스위칭소자는
상기 복수의 데이터 라인 타 측의 영상 비 표시부(104)에 구성되면서도 짝수번째의 데이터 라인과 홀수번째의 데이터 라인 사이에 각각 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 짝수번째의 데이터 라인과 홀수번째의 데이터 라인을 전기적으로 각각 연결시키는 영상 표시장치.
제 10 항에 있어서,
상기 제1 더미 스위칭소자는
상기 제1 데이터 라인 타 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 상기 검수신호 입력라인과 상기 제1 데이터 라인의 사이에 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 상기 검수신호 입력라인과 상기 제1 데이터 라인을 전기적으로 연결시키고,
제2 더미 스위칭소자는
상기 제m 데이터 라인 일 측의 영상 비 표시부에 구성되면서도 제m 데이터 라인과 상기 검수신호 출력라인의 사이에 배치되어 상기 오픈 검사 제어신호에 따라 인접하게 접속된 상기 제m 데이터 라인과 상기 검수신호 출력라인을 전기적으로 연결시키는 영상 표시장치.
제 10 항에 있어서,
상기 오픈 검사 기간에 상기 오픈 검사 제어신호는
상기 복수의 검수 스위칭소자와 상기 제1 및 제2 더미 스위칭소자를 모두 턴-온 시킬 수 있는 레벨로 입력되고,
상기 검수신호 입력라인과 상기 복수의 데이터 라인 및 상기 검수신호 출력라인은 모두 전기적으로 직렬 연결되어, 상기 검수신호 입력라인을 통해 상기 검수 신호가 입력되면 검수신호 입력단과 검수신호 출력단 간에 전압 차이 값 또는 저항값에 의해 오픈 여부가 확인되도록 하는 영상 표시장치.
제 9 항에 있어서,
상기 쇼트 검사회로는
전압 레벨이 서로 다른 복수의 검사 신호 중 하나씩의 검사 신호를 적어도 하나의 데이터 입력 라인 단위로 선택해서 받고,
상기 영상 표시부에 배열된 복수의 데이터 라인 중 서로 인접한 적어도 하나씩의 데이터 라인에 서로 다른 전압 레벨의 상기 검사 신호를 데이터 신호로 각각 선택해서 공급하는 영상 표시장치.