KR20180014460A - 복수의 편광필터들을 이용한 테이프 검출 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 복수의 편광필터들을 이용한 테이프 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 그 장치는 소정 파장의 광을 방출하여 지폐의 적어도 일부분에 광이 조사되도록 하는 발광부; 발광부로부터 조사되어 지폐에서 반사되는 편광을 검출하기 위한 수광부; 발광부와 수광부 사이의 광 경로에 위치하는 제1 편광 필터; 발광부와 수광부 사이의 광 경로에 위치하는 제2 편광 필터; 및 수광부에서 검출된 편광의 세기에 기초하여 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단하는 테이프 검출부;를 포함한다.

Description

복수의 편광필터들을 이용한 테이프 검출 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING TAPE ON BANKNOTE USING A PLURALITY OF POLARIZING FILTERS}

본 발명은 지폐 등과 같은 종이류에 부착된 테이프(tape)를 검출하는 장치 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로 지폐 계수기 또는 정사기 등과 같은 지폐 처리 장치는 투입되는 복수의 지폐들을 기계적/전자적 장치를 이용하여 자동으로 계수하고 위폐를 검출하며, 지폐의 훼손 여부를 검출하여 정상 지폐와 이상 지폐를 구분하기 위해 사용되는 것으로서, 지폐뿐만 아니라 수표 등과 같은 유가증권을 처리하는데에도 사용된다.

위와 같은 지폐 처리 장치는 사용자를 위한 표시부와 조작부를 갖는 본체의 상부 측에 복수의 지폐들이 적재되는 투입부가 형성되고, 하부 측에는 계수된 지폐들이 방출되는 배출부가 형성되며, 투입부와 배출부 사이에는 기어와 벨트의 전동으로 구동되는 다수의 롤러들 구비되어 롤러의 회전에 의한 마찰력에 의해서 투입부에 적재된 지폐들이 한 장 씩 계수기의 내부로 이송되어 최종적으로는 배출부 측으로 이송되도록 구성되어 있다.

한편, 지폐 처리 장치는 지폐에 부착된 테이프를 검출하여 해당 지폐를 훼손된 지폐로 분류하는 기능을 가지는데, 종래의 지폐 처리 장치는 지폐에 물리적으로 접촉하는 두께 롤러(Thickness Roller)를 사용하거나 또는 비접촉식의 초음파 센서(Ultrasonic Sensor)를 사용하여 테이프를 검출하였다.

접촉식의 두께 롤러를 사용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 경우, 소음이 크게 발생하며, 롤러에 부착되는 이물질 등에 의해 검출 오류가 발생할 수 있다.

또한, 비접촉식의 초음파 센서를 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 경우에는, 접촉식의 두께 롤러를 이용하는 경우에 비해 테이프 검출율이 떨어질 수 있으며, 초음파 센서 자체의 특성에 의해 온도와 습도에 매우 민감한 문제가 있었다.

상기와 같은 문제점을 해소하기 위한 본 발명의 목적은, 검출율을 향상시키는 동시에 주변 환경에 강한 테이프 검출 장치 및 방법을 제공함에 있다.

또한, 본 발명의 또 다른 목적은, 상기와 같은 테이프 검출 장치 및 방법이 적용된 지폐 계수기, 위폐 검출기, 현금 자동 입출금 장치(ATM, Automated Teller Machine) 등과 같은 지폐 처리 장치를 제공함에 있다.

본 발명에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

본 발명의 일실시예에 따른 테이프 검출 장치는 지폐에 부착된 테이프를 검출하며, 소정 파장의 광을 방출하여, 지폐의 적어도 일부분에 광이 조사되도록 하는 발광부; 상기 발광부로부터 조사되어 상기 지폐에서 반사되는 편광을 검출하기 위한 수광부; 상기 발광부와 상기 수광부 사이의 광 경로에 위치하는 제1 편광 필터; 상기 발광부와 상기 수광부 사이의 광 경로에 위치하는 제2 편광 필터; 및 상기 수광부에서 검출된 편광의 세기에 기초하여, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단하는 테이프 검출부;를 포함하고, 상기 제1, 2 편광 필터들은 서로 다른 편광 성분을 통과시킨다.

본 발명의 일실시예에 따른 지폐 처리 장치는 상기 테이프 검출 장치를 포함하여 구성되며, 투입되는 복수의 지폐들을 상기 지폐 테이프 검출 장치 방향으로 순차적으로 투입시키는 이송부;를 포함할 수 있다.

또한, 본 발명의 일실시예에 따른 테이프 검출 방법은, 소정 파장의 광을 방출하는 LED를 이용하여, 지폐의 적어도 일부분에 광이 조사되도록 하는 단계; 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 제1 편광 필터 및 제2 편광 필터를 이용하여, 상기 LED로부터 방출된 광에 의해 상기 지폐에서 반사되어 나오는 편광을 검출하는 단계; 및 상기 제1 편광 필터를 통과하여 상기 수광부에 의해 검출되는 제1 편광의 세기 및 상기 제2 편광 필터를 통과하여 상기 수광부에 의해 검출되는 제2 편광의 세기 중 적어도 하나에 기초하여, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단하는 단계;를 포함한다.

상기 테이프 검출 방법 중 적어도 일부 단계는 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체로 구현될 수 있다.

본 발명의 일실시예에 의하면, 발광부와 수광부 사이의 광 경로에 특정 편광 성분을 통과시키는 편광 필터를 배치하여 지폐에서 반사되는 편광의 세기에 기초해 테이프를 검출하도록 함으로써, 지폐에 부착된 테이프에 대한 검출 효율을 향상시킬 수 있다.

본 발명의 또 다른 실시예에 의하면, 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 2 이상의 편광 필터들을 발광부 또는 수광부의 전면에 배치시켜 각각을 통과한 편광의 세기에 기초하여 테이프 부착 여부를 판단함으로써, 주변 환경에 관계없이 지폐 등에 부착된 테이프를 보다 정확하게 검출할 수 있다.

본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 전술한 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되지 않아야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 지폐 처리 장치의 구성에 대한 제1 실시예를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 지폐 처리 장치의 구성에 대한 제2 실시예를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 지폐 테이프 검출 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 지폐 테이프 검출 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 5 및 도 6은 발광부, 수광부 및 편광 필터를 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 7 및 도 8은 발광부, 수광부 및 편광 필터가 배치되는 구조에 대한 실시예들을 나타내는 도면들이다.
도 9 및 도 10은 발광부, 수광부 및 편광 필터로 각각 구성된 복수의 센서 모듈들을 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 11 및 도 12는 지폐의 하측면에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 13은 수광부에 의해 검출되는 편광의 세기에 따라 테이프 부착 여부를 판단하는 방법에 대한 일실시예를 설명하기 위한 그래프이다.
도 14 및 도 15는 복수의 편광 필터들을 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 16 및 도 17은 복수의 편광 필터들이 배치되는 구조에 대한 실시예를 나타내는 도면들이다.
도 18 및 도 19는 복수의 편광 필터들이 배치되는 구조에 대한 또 다른 실시예를 나타내는 도면들이다.
도 20은 수광부에 의해 검출되는 편광의 세기에 따라 테이프 부착 여부를 판단하는 방법에 대한 또 다른 일실시예를 설명하기 위한 그래프이다.
도 21은 본 발명에 따른 지폐 처리 장치의 구성에 대한 제3 실시예를 나타내는 도면이다.

이하의 내용은 단지 본 발명의 원리를 예시한다. 그러므로 당업자는 비록 본 명세서에 명확히 설명되거나 도시되지 않았지만 본 발명의 원리를 구현하고 본 발명의 개념과 범위에 포함된 다양한 장치를 발명할 수 있는 것이다. 또한, 본 명세서에 열거된 모든 조건부 용어 및 실시예들은 원칙적으로, 본 발명의 개념이 이해되도록 하기 위한 목적으로만 명백히 의도되고, 이와 같이 특별히 열거된 실시예들 및 상태들에 제한적이지 않는 것으로 이해되어야 한다.

또한, 본 발명의 원리, 관점 및 실시예들 뿐만 아니라 특정 실시예를 열거하는 모든 상세한 설명은 이러한 사항의 구조적 및 기능적 균등물을 포함하도록 의도되는 것으로 이해되어야 한다. 또한 이러한 균등물들은 현재 공지된 균등물뿐만 아니라 장래에 개발될 균등물 즉 구조와 무관하게 동일한 기능을 수행하도록 발명된 모든 소자를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

따라서, 모든 흐름도, 상태 변환도, 의사 코드 등은 컴퓨터가 판독 가능한 매체에 실질적으로 나타낼 수 있고 컴퓨터 또는 프로세서가 명백히 도시되었는지 여부를 불문하고 컴퓨터 또는 프로세서에 의해 수행되는 다양한 프로세스를 나타내는 것으로 이해되어야 한다.

프로세서 또는 이와 유사한 개념으로 표시된 기능 블럭을 포함하는 도면에 도시된 다양한 소자의 기능은 전용 하드웨어뿐만 아니라 적절한 소프트웨어와 관련하여 소프트웨어를 실행할 능력을 가진 하드웨어의 사용으로 제공될 수 있다. 프로세서에 의해 제공될 때, 상기 기능은 단일 전용 프로세서, 단일 공유 프로세서 또는 복수의 개별적 프로세서에 의해 제공될 수 있고, 이들 중 일부는 공유될 수 있다.

상술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해질 것이며, 그에 따라 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명에 따른 지폐 처리 장치의 구성에 대한 일실시예를 도시한 것으로, 투입되는 하나 이상의 지폐들에 대해 계수, 위폐 검출 및 훼손 지폐 검출 등을 수행할 수 있는 장치의 내부를 나타낸 것이다.

도 1을 참조하면, 지폐 처리 장치(10)는 투입부(140)에 적재되는 복수의 지폐들이 순차적으로 한 장씩 투입되어 이송되도록 하는 롤러들(110)과, 상기 지폐들의 이송 상태를 검출하기 위한 이송 센서들(120)을 포함할 수 있다.

예를 들어, 상기 롤러들(110)은 지폐를 이송시키기 위한 메인-피드(main-feed) 롤러, 적재된 지폐들을 낱장으로 분리하여 상기 메인-피드 롤러까지 전달하기 위한 키커(kicker) 롤러 및 푸시(push) 롤러, 두 장 이상의 지폐들이 함께 이송되는 경우 윗장을 반대방향으로 밀어내어 낱장으로 분리시키기 위한 리버스(reverse) 롤러 등을 포함할 수 있다

한편, 상기 이송 센서들(120)은 낱장으로 분리되어 이송되는 지폐의 투입 여부를 검출하기 위한 투입 센서와 이송 경로(T) 중간에 지폐들의 잼(jam)을 검출하기 위한 잼 센서 등을 포함할 수 있다.

지폐 처리 장치(10)는 상기 투입된 지폐들을 순차적으로 인식하여 지폐의 권종, 위폐 여부 및 훼손 여부 중 적어도 하나에 해당하는 인식 결과를 출력하기 위한 인식부(미도시)를 포함한다.

상기 인식부는 상기 이송되는 지폐의 이송 경로(T)에 인접하게 위치하여 지폐의 권종을 인식하고, 위조 여부를 검출하며, 훼손 여부를 검출하여 정상 지폐와 비정상 지폐를 식별하기 위한 인식 센서들(130)을 포함하여 구성될 수 있다.

인식 센서들(130)은 CIS 이미지 센서를 구비하여, 상기 이송되는 각 지폐에 대한 이미지를 획득하고, 상기 획득된 이미지 내의 지폐 특성 정보를 추출하여 권종을 인식할 수 있다.

또한, 인식 센서들(130)은 지폐에 형성된 다양한 위폐 요소들을 검출하기 위한 적외선(IR) 센서, 자외선(UV) 센서, 마그네틱(MG) 센서, CIS 센서 등을 포함할 수 있다.

추가하여, 지폐 처리 장치(10)는, 위폐 검출을 위하여, 지폐의 특정 영역에 형성된 안티 스토크스(Anti-Stoke's) 발광 물질을 검출하기 위한 안티 스토크스 센서를 포함한다.

상기 안티 스토크스 발광 물질은 적외선(IR)으로 여기되는 경우 가시광선 범위에서 발광할 수 있는 발광 물질로서, 라만 스펙트럼의 회전선을 라만선이라 하고, 입사광보다 긴 파장쪽에 나타나는 선을 스토크스선, 짧은 파장쪽에 나타나는 선을 안티 스토크스선이라 한다.

상기 라만 스펙트럼은 라만 효과에 의한 산란광의 스펙트럼으로서, 입사 광자와 분자 사이에 분자의 바닥 상태의 진동 준위간 에너지차의 주고 받음이 일어나는 경우의 스펙트럼을 진동 라만 스펙트럼이라 한다.

이 경우, 회전 준위간의 전이도 관계되기 때문에 라만 회전 진동 밴드라고도 하며, 진동 양자수가 1만큼 변화하는 것이 강하게 나타난다. 한편 바닥 상태의 최저 진동 준위 내의 회전 준위간 에너지차의 주고 받음이 일어나는 경우의 스펙트럼을 회전 라만 스펙트럼이라 한다.

한편, 상기한 바와 같은 구성에 의해 위폐가 아닌 것으로 판단된 정상 지폐들은 스택커(stacker, 150)에 적재되며, 위폐로 판단되거나 권종을 확인할 수 없는 등의 비정상 지폐는 리젝트 포켓(reject pocket, 160)으로 배출될 수 있다.

그리고 상기 지폐 처리 장치(10)에 구비된 인식부는 이송되는 지폐에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 확인할 수 있으며, 그를 위해 상기 인식부는 테이프를 검출하기 위한 센서 모듈을 포함할 수 있다.

본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 테이프 검출을 위한 센서 모듈은, 지폐의 적어도 일부분에 광을 조사하는 발광부, 지폐에서 반사되는 광을 검출하기 위한 수광부 및 발광부와 수광부 사이의 광 경로에 배치되어 특정 편광 성분을 통과시키는 편광 필터를 포함할 수 있다.

상기 테이프 검출 센서 모듈은 편광 필터를 이용하여 수광부에서 검출되는 편광의 세기에 기초해 지폐에 부착된 테이프를 검출할 수 있다.

상기 테이프 검출 센서 모듈을 이용한 확인 결과, 지폐에 테이프가 부착되어 있는 등 훼손 지폐로 판단되는 경우, 해당 지폐는 리젝트 포켓(160)으로 배출될 수 있다.

또한, 상기 지폐의 훼손 여부는, CIS 이미지 센서를 이용하여 찢어지거나 구멍난 지폐를 검출하거나, 자외선(UV) 센서를 이용하여 물에 빠진 지페를 검출하거나, 적외선(IR) 센서를 이용해 낙서가 되어 있는 지폐를 검출함에 의해 식별될 수 있다.

도 1을 참조하여 설명한 지폐 처리 장치(10)의 구성은 본 발명의 일실시예에 따른 것으로, 본 발명은 이에 한정되지 아니하며, 필요에 따라 다양한 구성이 가능할 수 있다.

예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이, 지폐 처리 장치(10)의 투입부(141)와 배출부(161, 162, 163)가 장치의 내부에 포켓 형태로 구성될 수 있다.

이 경우, 투입부(141)에 적재된 지폐들은 인식부에 의해 권종, 위폐 여부 또는 훼손 여부 등이 인식되고, 상기 인식 결과에 따라 복수의 적재 포켓들(161, 162, 163)로 분류되어 배출될 수 있다.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테이프 검출 장치의 구성을 블록도로 도시한 것으로, 도시된 테이프 검출 장치(300)는 발광부(310), 편광필터(320), 수광부(330) 및 테이프 검출부(340)를 포함하여 구성될 수 있다.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 지폐 테이프 검출 방법을 흐름도로 도시한 것으로, 이하 도 3 및 도 4를 참조하여 본 발명에 따른 테이프 검출 장치 및 방법에 대한 일실시예에 대해 설명하기로 한다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 발광부(310)는 소정 파장의 광을 방출하는 LED(Light Emitting Diode)를 이용하여 지폐의 적어도 일부분에 광을 조사한다(S400 단계).

한편, 수광부(330)는 포토 다이오드 어레이(PhotoDiode array)로 구성되어, 발광부(310)에 구비된 LED 어레이로부터 방출되어 지폐에 입사된 후 그로부터 반사되는 광을 검출할 수 있다.

좀 더 구체적으로, 수광부(330)는 발광부(310)로부터 지폐의 일부분에 조사되어 지폐로부터 반사되는 편광을 검출하기 위한 것으로, 그를 위해 발광부(310)와 수광부(320) 사이의 광 경로에 위치하는 편광필터(320)가 배치된다.

상기 편광필터(320)는 입사되는 광 중 특정 편광 성분만을 통과시키는 필터로서, 발광부(310)로부터 방출되거나 또는 수광부(320)로 입사되는 광 중 특정 편광 성분만을 통과시켜 수광부(330)에 의해 편광이 검출되도록 할 수 있다.

상기와 같이 배치된 편광필터(320)를 이용하여, 지폐에서 반사되어 나오는 편광이 수광부(330)에 의해 검출된다(S410 단계).

그 후, 테이프 검출부(340)는 수광부(320)에서 검출된 편광의 세기에 기초하여, 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단한다(S420 단계).

예를 들어, 상기 테이프 검출부(340)는 테이프가 부착되는 않은 지폐의 일부분에서 반사되는 편광의 세기와 테이프가 부착된 지폐의 일부분에서 반사되는 편광의 세기를 비교한 결과에 따라 테이프 부착 여부를 판단할 수 있다.

이하, 도 5 내지 도 13을 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 테이프 검출 장치의 구체적인 구성 및 그를 이용한 테이프 검출 방법에 대해 보다 상세히 설명하기로 한다.

도 5 및 도 6은 발광부, 수광부 및 편광 필터를 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도시한 것이다.

도 5를 참조하면, 지폐(A)의 상측에 발광부(310), 편광필터(320) 및 수광부(330)가 배치되어, 발광부(310)의 LED로부터 방출되는 광이 소정의 입사각(θ)을 가지고 지폐(A)의 상면 중 일부분에 조사되고, 상기 조사된 광은 해당 부분에서 반사된 후 편광필터(320)를 거쳐 수광부(330)로 입사될 수 있다.

도 5에 도시된 바와 같은 구성 및 배치에 의해, 발광부(310)로부터 조사되어 지폐(A)에서 반사된 광은 수광부(330)의 전면에 배치된 편광필터(320)에 의해 특정 편광 성분만이 통과되어 입사되어, 수광부(330)는 지폐(A)에서 반사되는 편광을 검출할 수 있다.

여기서, 지폐(A)와 테이프(Tape)의 광학적 특성이 상이함에 따라, 지폐(A) 중 테이프가 부착되지 않은 부분과 테이프가 부착된 부분에서 각각 반사되어 수광부(330)에 의해 검출되는 편광의 세기가 서로 상이할 수 있다.

따라서 본 발명의 일실시예에 따른 테이프 검출 장치(300)는 수광부(330)에 의해 검출되는 편광의 세기에 기초하여 지폐(A)에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단할 수 있다.

상기한 바와 같이 편광의 세기에 따라 지폐에 부착된 테이프를 검출하기 위해, 발광부(310)에 의해 방출되어 지폐(A)에 조사되는 광의 입사각(θ)은 지폐(A) 면에 수직한 방향을 기준으로 45도 내지 65도가 되도록 설정하여 편광 효과를 높일 수 있다.

또한, 편광필터(320)는 입사면에 수직한 방향을 가져 반사광 강도가 가장 강한 편광 성분인 S 편광(S polarized light)을 통과시키기 위한 S 편광 필터로 구성될 수 있다.

이 경우, 테이프 검출 장치(300)는 수광부(330)에서 검출된 편광의 세기가 밀 설정된 기준치 이상인 경우, 지폐(A)의 해당 부분에 테이프가 부착된 것으로 판단할 수 있다.

도 6을 참조하면, 발광부(310)의 전면에 편광필터(320)가 배치되어, 발광부(310)에 구비된 하나 또는 2 이상의 LED들로부터 방출되는 광 중 특정 편광 성분(예를 들어, S 편광)만이 지폐(A)의 일부 영역에 조사되도록 할 수도 있다.

이 경우, 편광필터(320)에 의해 통과된 특정 편광 성분(예를 들어, S 편광)의 광이 지폐(A) 또는 지폐(A)에 부착된 테이프에서 반사된 후 수광부(330)로 입사되어, 수광부(330)는 지폐(A)로부터 방사되는 편광을 검출할 수 있다.

도 7 및 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 지폐 처리 장치(10)에서, 발광부(310), 편광 필터(320) 및 수광부(330)를 포함하는 센서 모듈이 배치되는 구조에 대한 실시예들을 도시한 것이다.

도 7을 참조하면, 지폐(A)는 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 바와 같은 지폐 처리 장치(10)의 이송부에 의해 특정 방향으로 이송되며, 상기 이송되는 지폐(A)의 상측에 LED 어레이로 구성된 발광부(310)와 포토다이오드 어레이로 구성된 수광부(330)가 배치될 수 있다.

또한, 포토다이오드 어레이로 구성된 수광부(330)의 전면에 편광필터(320)가 배치되어, 지폐(A)에서 반사되는 편광이 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출될 수 있다.

상기한 바와 같이 편광필터(320)가 S 편광 성분을 통과시킴으로써, 지폐(A) 중 테이프가 부착되지 않은 부분에서 반사되어 수광부(330)에 의해 검출되는 편광의 세기가 지폐(A) 중 테이프가 부착되는 부분에서 반사되어 수광부(330)에 의해 검출되는 편광의 세기보다 작을 수 있다.

그에 따라, 지폐 처리 장치(10)에 구비되는 테이프 검출부(340)는, 수광부(330)에 의해 검출되는 편광의 세기가 미리 설정된 기준치(예를 들어, 테이프가 부착되지 않은 지폐(A)에서 반사되는 S 편광의 세기보다 크게 설정됨) 이상인 경우, 지폐(A)의 해당 부분에 테이프가 부착되어 있는 것으로 판단할 수 있다.

도 8을 참조하면, 지폐 처리 장치(10)의 이송부에 의해 특정 방향으로 이송되는 지폐(A)의 상측에, LED 어레이로 구성된 발광부(310)와 포토다이오드 어레이로 구성된 수광부(330)가 배치되고, LED 어레이로 구성된 발광부(310)의 전면에 S 편광 성분을 통과시키는 편광필터(320)가 배치될 수도 있다.

또한, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 발광부(310)의 LED 어레이와 수광부(330)의 포토다이오드 어레이는 지폐(A)의 이동 방향과 교차하는 방향으로 배열될 수 있으며, 지폐(A)가 긴 횡축과 교차하는 방향으로 이동하는 경우 상기 발광부(310)의 LED 어레이와 수광부(330)의 포토다이오드 어레이는 상기 지폐(A)의 긴 횡축 방향으로 배열될 수 있다.

본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 발광부(310), 편광필터(320) 및 수광부(330)로 구성된 센서 모듈이 복수 개로 지폐 처리 장치(10) 또는 테이프 검출 장치(300)에 구비될 수 있다.

이 경우, 복수의 센서 모듈들은 지폐(A)의 긴 횡축 방향으로 늘어서 배열될 수 있다.

도 9 및 도 10은 복수의 센서 모듈들을 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도시한 것이다.

도 9를 참조하면, 복수의 센서 모듈들(S1, S2, S3)은 각각 발광부(310, 311, 312), 편광필터(320, 321, 322) 및 수광부(330, 331, 332)를 포함하여 구성될 수 있다.

예를 들어, 복수의 센서 모듈들(S1, S2, S3)은 지폐(A)의 이송 방향과 수직인 방향으로 나란히 배열되어, 각각의 위치에 대응되는 지폐(A)의 일부분에 광을 조사하고 그로부터 반사되는 편광의 세기를 검출함으로써, 이송되는 지폐(A)의 부분들에 테이프가 부착되어 있는지 판단되도록 할 수 있다.

도 9에 도시된 경우에 있어서 편광필터(320, 321, 322)가 수광부(330, 331, 332)의 전면에 각각 배치되어 있으나, 도 10에 도시된 바와 같이 편광필터(320, 321, 322)가 발광부(310, 311, 312)의 전면에 각각 배치되어 있을 수도 있다.

도 11 및 도 12는 지폐의 하측 면에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위해 도시한 것이다.

도 11을 참조하면, 지폐(A)의 하측 면에 테이프(Tape)가 부착되어, 지폐(A)를 특정 방향으로 이송시키기 위한 지폐 처리 장치(10)의 이송부(T)와 지폐(A) 사이에 테이프가 위치할 수 있다.

이와 같이 지폐(A)의 상측 면뿐 아니라, 하측 면에 부착된 테이프도 검출하기 위하여, 도 11에 도시된 바와 같이 발광부(310), 편광필터(320) 및 수광부(330)를 포함하여 구성된 센서 모듈이 지폐(A)의 양면 측에 각각 하나 이상씩 배치될 수 있다.

한편, 발광부(310)가 근적외선을 방출하는 LED 어레이로 구성되는 경우, 상기 발광부(310)로부터 지폐(A)로 조사되는 근적외선은 다른 파장 대의 광에 비해 지폐(A)를 많이 투과할 수 있으며, 그에 따라 도 12에 도시된 바와 같이 지폐(A)의 상측에 배치된 센서 모듈만을 이용하여 지폐(A)의 하측 면에 부착된 테이프를 검출할 수도 있다.

도 13은 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 편광의 세기에 따라 테이프 부착 여부를 판단하는 방법에 대한 일실시예를 설명하기 위한 그래프들이다.

도 13의 (a)에 도시된 그래프는 지폐(A) 중 테이프가 부착된 부분에서 반사되어 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 편광의 세기를 나타내는 것이며, 도 13의 (b)에 도시된 그래프는 지폐(A) 중 테이프가 부착되지 않은 부분에서 반사되어 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 편광의 세기를 나타내는 것이다.

상기한 바와 같이, 수광부(330) 또는 발광부(310)의 전면에 S 편광 성분을 통과시키는 편광필터(320)가 배치되는 경우, 지폐(A)에 부착된 테이프에서 반사되는 S 편광의 세기가 테이프가 부착되는 않은 부분에서 반사되는 S 편광의 세기보다 크게 될 수 있다.

따라서 미리 설정된 기준치(Ref.)와 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 편광의 세기를 비교하여, 특정 시간 구간 동안 특정 포토다이오드에 의해 검출된 편광의 세기가 기준치(Ref.) 보다 큰 경우, 그에 대응되는 위치에 테이프가 부착되어 있는 것으로 판단될 수 있다.

예를 들어, 상기 기준치(Ref.) 보다 큰 세기의 편광이 검출되는 시간 구간은 지폐(A)의 이송 방향을 기준으로 한 테이프의 위치를 나타낼 수 있으며, 상기 기준치(Ref.) 보다 큰 세기의 편광이 검출되는 포토다이오드의 위치는 지폐(A)의 이송 방향과 수직한 방향을 기준으로 한 테이프의 위치를 나타낼 수 있다.

본 발명의 또 다른 실시예에 의하면, 편광필터(320)는 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 2 이상의 편광 필터들을 포함하여 구성될 수 있다.

예를 들어, 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 2 이상의 편광 필터들을 발광부(310) 또는 수광부(330)의 전면에 배치시켜 각각을 통과한 편광의 세기에 기초하여 테이프 부착 여부를 판단함으로써, 주변 환경에 관계없이 지폐 등에 부착된 테이프를 보다 정확하게 검출할 수 있다.

도 14 및 도 15는 복수의 편광 필터들을 이용하여 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 방법에 대한 실시예들을 설명하기 위한 도시한 것이다.

도 14를 참조하면, 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 제1 편광필터(321)와 제2 편광필터(322)가 수광부(330)의 전면에 배치될 수 있다.

본 발명의 일실시예에 따르면, 제1 편광필터(321)는 S 편광(S polarized light)를 통과시키기 위한 S 편광 필터이며, 제2 편광필터(322)는 P 편광(P polarized light)를 통과시키기 위한 P 편광 필터일 수 있다.

수광부(330)의 포토다이오드 어레이는 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)를 통과한 S 편광과, P 편광 필터인 제2 편광필터(321)를 통과한 P 편광을 동시에 검출할 수 있다.

상기한 바와 같이 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)는 입사면에 수직한 방향을 가져 반사광 강도가 가장 강한 편광 성분을 통과시키며, P 편광 필터인 제2 편광필터(322)는 입사면에 평행한 방향을 가져 반사광 강도가 가장 약한 편광 성분을 통과시킬 수 있다.

이 경우, 테이프 검출부(340)는, 수광부(330)에 의해 동시에 검출되는 서로 다른 편광 성분의 세기를 이용하여, 발광부(310)로부터 광이 조사되는 지폐(A)의 일부분에 테이프가 부착되었는지 여부를 판단할 수 있다.

도 15를 참조하면, 상기한 바와 같은 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 제1 편광필터(321)와 제2 편광필터(322)가 발광부(310)의 전면에 배치될 수도 있다.

예를 들어, 발광부(310)의 LED 어레이로부터 방출되는 광은 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)를 통과하여 S 편광으로 지폐(A)에 조사되며, 그와 함께 P 편광 필터인 제2 편광필터(321)를 통과하여 P 편광으로 지폐(A)에 조사될 수 있다.

도 16 및 도 17은 복수의 편광 필터들이 배치되는 구조에 대한 실시예를 나타내기 위해 도시한 것이다.

도 16을 참조하면, 수광부(330)의 포토다이오드 어레이는 지폐(A)의 이송 방향(제1 방향)과 교차하는 방향(제2 방향)을 기준으로 2개 이상의 영역들(330a, 330b)로 분할될 수 있으며, 상기 수광부(330)의 분할된 영역들(330b, 330a) 각각에 대응되어 중첩되는 위치에 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)와 P 편광 필터인 제2 편광필터(322)가 배치될 수 있다.

한편, 도 17에 도시된 바와 같이, 발광부(310)의 LED 어레이가 지폐(A)의 이송 방향(제1 방향)과 교차하는 방향(제2 방향)을 기준으로 2개 이상의 영역들(310a, 310b)로 분할될 수 있으며, 상기 발광부(310)의 분할된 영역들(310b, 310a) 각각에 대응되어 중첩되는 위치에 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)와 P 편광 필터인 제2 편광필터(322)가 배치될 수 있다.

도 18 및 도 19는 복수의 편광 필터들이 배치되는 구조에 대한 또 다른 실시예를 나타내기 위해 도시한 것이다.

도 18을 참조하면, 수광부(330)의 포토다이오드 어레이는 지폐(A)의 이송 방향(제1 방향)을 기준으로 2개 이상의 영역들로 분할될 수 있으며, 상기 수광부(330)의 분할된 영역들 각각에 대응되어 중첩되는 위치에 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)와 P 편광 필터인 제2 편광필터(322)가 교번적으로 배치될 수 있다.

한편, 도 19에 도시된 바와 같이, 발광부(310)의 LED 어레이가 지폐(A)의 이송 방향(제1 방향)을 기준으로 2개 이상의 영역들로 분할될 수 있으며, 상기 발광부(310)의 분할된 영역들 각각에 대응되어 중첩되는 위치에 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)와 P 편광 필터인 제2 편광필터(322)가 교번적으로 배치될 수도 있다.

도 14 내지 도 19를 참조하여 설명한 바와 같이 수광부(330) 또는 발광부(310)의 전면에 S 편광 필터인 제1 편광필터(321)와 P 편광 필터인 제2 편광필터(322)가 배치되는 경우, 테이프 검출부(340)는 제1 편광 필터(321)를 통과하여 수광부(330)에 의해 검출되는 제1 편광(예를 들어, S 편광)의 세기 및 제2 편광 필터(322)를 통과하여 수광부(330)에 의해 검출되는 제2 편광(예를 들어, P 편광)의 세기 중 적어도 하나에 기초하여 테이프를 검출할 수 있다.

예를 들어, 테이프 검출부(340)는 상기 제1 편광의 세기가 제1 기준치 이상인지 여부에 대한 제1 조건의 만족 여부를 판단하고, 상기 제2 편광의 세기가 제2 기준치 이하인지 여부에 대한 제2 조건의 만족 여부를 판단하여, 상기 판단 결과 상기 제1, 2 조건들이 모두 만족되는 경우 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는 것으로 판단할 수 있다.

한편, 테이프 검출부(340)는, 상기 제1 조건이 만족되지 않는 경우 광이 조사된 지폐(A)의 일부분에 테이프가 부착되어 있지 않은 것으로 판단하며, 상기 제1, 2 조건들 중 제1 조건만이 만족되는 경우에는 해당 부분에 테이프 이외의 금속성 반사 물질이 존재하는 것으로 판단할 수 있다.

도 20은 수광부(330)에 의해 검출되는 편광의 세기에 따라 테이프 부착 여부를 판단하는 방법에 대한 또 다른 일실시예를 설명하기 위해 도시한 것이다.

도 20의 (a)에 도시된 그래프는 지폐(A) 중 테이프가 부착된 부분에서 반사되어 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 편광의 세기를 나타내는 것으로, 제1 편광필터(321)를 통과하여 수광부(330)에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)와 제2 편광필터(322)를 통과하여 수광부(330)에 의해 검출되는 P 편광의 세기(P_value)를 함께 나타낸 것이다.

도 20의 (a)에 도시된 바와 같이, 테이프에서 반사되어 수광부(330)에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)는 미리 설정된 기준치(Ref.) 보다 크며, P 편광의 세기(P_value)는 기준치(Ref.) 보다 작을 수 있다.

한편, 도 20의 (b)에 도시된 그래프는 지폐(A) 중 테이프가 부착되지 않은 부분에서 반사되어 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)와 P 편광의 세기(P_value)를 나타낸 것이다.

도 20의 (b)에 도시된 바와 같이, 테이프가 부착되지 않은 지폐(A)에서 반사되어 수광부(330)에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)와 P 편광의 세기(P_value)는 모두 기준치(Ref.) 보다 작을 수 있다.

또한, 도 20의 (c)에 도시된 그래프는 지폐(A) 중 비-편광 반사를 일으키는 금속성 물질이 존재하는 부분에서 반사되어 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)와 P 편광의 세기(P_value)를 나타낸 것이다.

도 20의 (c)에 도시된 바와 같이, 금속성 물질이 존재하는 지폐(A) 부분에서 반사되어 수광부(330)에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)와 P 편광의 세기(P_value)는 모두 기준치(Ref.) 보다 클 수 있다.

상기한 바와 같이 테이프, 지폐(A) 및 금속성 물질의 광학적 성질의 차이에 따라, 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)와 P 편광의 세기(P_value)를 각각 기준치(Ref.)와 비교함으로써, 지폐(A)에 부착된 테이프와 금속성 물질을 검출할 수 있다.

예를 들어, 테이프 검출부(340)는 먼저 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 S 편광의 세기(S_value)가 기준치(Ref.) 이상인지 여부를 확인하여, 그렇지 않은 경우 지폐(A)의 해당 부분에 테이프 또는 금속성 물질이 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다.

상기 검출된 S 편광의 세기(S_value)가 기준치(Ref.) 이상인 경우, 테이프 검출부(340)는 수광부(330)의 포토다이오드 어레이에 의해 검출되는 P 편광의 세기(P_value)가 기준치(Ref.) 이하인지 여부를 확인할 수 있다.

상기 확인 결과 P 편광의 세기(P_value)가 기준치(Ref.) 이하인 경우, 지폐(A)의 해당 부분에 테이프가 부착되어 있는 것으로 판단될 수 있다.

한편, 상기 확인 결과 P 편광의 세기(P_value)가 기준치(Ref.) 보다 큰 경우에는, 지폐(A)의 해당 부분에 금속성 물질이 존재하는 것으로 판단될 수 있다.

상기에서는 지폐 계수기 또는 위폐 검출기 등과 같은 지폐 처리 장치에서 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 경우를 예로 들어 본 발명의 일실시예에 따른 테이프 검출 방법 및 장치에 대해 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 아니하며, 그 이외에 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 기능을 가지는 다양한 지폐 처리 장치들에 적용될 수 있다.

도 21은 본 발명에 따른 현금 자동 입출금 장치의 구성에 대한 일실시예를 도시한 것으로, 투입되는 지폐 또는 수표들을 수납하고, 지폐 또는 수표들을 출금할 수 있는 장치의 구조를 나타낸 것이다.

현금 자동 입출금 장치(20)에는 고객이 입출금을 위하여 지폐를 투입하거나 수취하기 위한 입출금부, 상기 입출금부를 통해 입출금되는 지폐가 이송되는 이송 경로, 상기 이송 경로 상에 설치되어 지폐의 이상 유무를 감별하는 감별부를 거친 후 입금된 지폐가 일시적으로 적재되는 일시 수납부 및 고객으로부터 입금된 지폐가 적재되고 적재된 지폐가 출금됨으로써 환류기능을 수행하는 하나 이상의 수납부들 등이 구비된다.

도 21을 참조하면, 현금 자동 입출금 장치(20)는 수표의 투입 및 방출을 위한 수표 입출금부(211)와 지폐의 투입 및 방출을 위한 지폐 입출금부(221)가 각각 구비되어 있어, 수표를 이송하는 수표 이송 경로와 지폐를 이송하는 지폐 이송 경로가 각각 별도로 구비되며, 이에 따라 수납 카세트를 구비하는 입출금장치가 수표전용 입출금 장치(210) 및 지폐전용 입출금장치(220)로 나누어 질 수 있다.

본 발명에 따른 현금 자동 입출금 장치(10)는 입출금되는 지폐들에 대해 위조 여부를 판단할 수 있는 장치일 수 있다.

좀 더 구체적으로, 지폐 입출금부(221)는 전면판과 푸쉬플레이트 사이의 공간에서 지폐의 입금과 출금이 이루어지며, 지폐의 분리와 스택을 모두 수행하는 분리스택부에 의해 지폐의 낱장 분리 및 출금을 위한 스택이 이루어지게 될 수 있다.

한편, 상기 분리스택부는 지폐를 한 장씩 분리하기 위한 분리압을 제공하는 픽업롤러, 상기 픽업롤러의 하단에 위치하여 픽업롤러에 의해 분리된 지폐를 이송 경로 상으로 이송하고 또는 상기 이송 경로로부터 이송된 지폐를 상기 전면판과 푸쉬플레이트 사이의 공간에 스택하기 위한 피드롤러, 상기 피드롤러와 접촉되어 그 사이로 지폐를 이송하기 위한 가이드롤러 및 상기 가이드롤러와 동축이고 그 외주의 일부분에 날개가 형성된 스택롤러 등을 포함할 수 있다.

상기와 같은 구성의 지폐 입출금부(221)는 고객이 지폐를 입금하거나 출금하는 경우 상기 전면판이 푸쉬플레이트가 위치된 하부프레임 측으로 이동하게 되고, 입금된 지폐의 낱장 분리 또는 출금을 위한 스택이 이루어지는 경우에는 상기 전면판이 분리스택부 측으로 이동하게 되면서 전면판의 하측으로 픽업롤러, 피드롤러, 가이드롤러 및 스택롤러가 노출될 수 있다.

한편, 현금 자동 입출금 장치(20)에는 지폐에 인쇄된 자외선 잉크, 적외선 잉크 및 마그네틱 잉크 등의 특수잉크의 독특한 성질을 감별하는 UV(Ultraviolet) 센서, IR(Infrared) 센서 및 MR(Magneto-resistive) 센서 등 다수개의 감별 센서로 구성된 지폐 감별부가 구비되어, 현금 자동 입출금 장치(20)로 투입되거나 또는 그로부터 방출되는 지폐들의 권종 및 위폐 여부를 감별할 수 있다.

예를 들어, 상기 현금 자동 입출금 장치(20)에 구비된 지폐 감별부는 다수의 센서들을 이용해 지폐의 권종 및 위폐 여부를 식별함에 있어서, 통상 R, G, B 및 3개 파장의 적외선(IR-A, IR-B 및 IR-C : IR-A, B, C는 각각 특정 파장의 적외선을 의미함)을 포함하는 6개의 서로 다른 파장의 광원으로부터 방출된 빔을 센싱하여 지폐를 식별할 수 있다.

본 발명의 일실시예에 따른 현금 자동 입출금 장치(20)는, 도 3 내지 도 13을 참조하여 설명한 바와 같은 테이프 검출 장치를 구비하여, 투입된 지폐들 각각에 대하여 테이프가 부착되어 있는지 여부를 확인할 수 있다.

상기한 바와 같은 구성에 의해 테이프가 부착되지 않은 것으로 판단된 정상 지폐들은 지폐 수납부(미도시)로 이송되어 적재되며, 테이프가 부착된 것으로 판단된 훼손 지폐는 다시 지폐 입출금부(221)으로 이송되어 방출될 수 있다.

한편, 상기에서는 지폐에 부착된 테이프를 검출하는 경우를 예로 들어 본 발명의 일실시예에 따른 테이프 검출 방법 및 장치에 대해 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 아니하며, 광학적 특성이 서로 상이한 기타 종이류 등에 부착된 테이프 또는 기타 물질을 검출하는데 이용될 수도 있다.

상술한 본 발명에 따른 테이프 검출 방법 중 적어도 일부 단계는 컴퓨터에서 실행되기 위한 프로그램으로 제작되어 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체에 저장될 수 있으며, 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다.

컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고, 상기 방법을 구현하기 위한 기능적인(function) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형 실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.

Claims (18)

1. 지폐에 부착된 테이프(tape)를 검출하기 위한 장치에 있어서,
   소정 파장의 광을 방출하여, 지폐의 적어도 일부분에 광이 조사되도록 하는 발광부;
   상기 발광부로부터 조사되어 상기 지폐에서 반사되는 편광을 검출하기 위한 수광부;
   상기 발광부와 상기 수광부 사이의 광 경로에 위치하는 제1 편광 필터;
   상기 발광부와 상기 수광부 사이의 광 경로에 위치하는 제2 편광 필터; 및
   상기 수광부에서 검출된 편광의 세기에 기초하여, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단하는 테이프 검출부;를 포함하고,
   상기 제1, 2 편광 필터들은 서로 다른 편광 성분을 통과시키는 지폐 테이프 검출 장치.
2. 제1항에 있어서,
   상기 제1 편광 필터는 S 편광(S polarized light)를 통과시키기 위한 S 편광 필터이며, 상기 제2 편광 필터는 P 편광(P polarized light)를 통과시키기 위한 P 편광 필터인 테이프 검출 장치.
3. 제1항에 있어서,
   상기 수광부는 제1 방향으로 배열된 포토다이오드 어레이를 포함하여 구성되며, 상기 제1 방향을 기준으로 2 이상의 영역들로 분할되고,
   상기 제1, 2 편광 필터들은 상기 수광부의 분할된 영역들과 각각 중첩되도록 상기 수광부의 전면에 배치되는 테이프 검출 장치.
4. 제1항에 있어서,
   상기 수광부는 제1 방향으로 배열된 포토다이오드 어레이를 포함하여 구성되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 기준으로 2 이상의 영역들로 분할되고,
   상기 제1, 2 편광 필터들은 상기 수광부의 분할된 영역들과 각각 중첩되도록 상기 수광부의 전면에 배치되는 테이프 검출 장치.
5. 제1항에 있어서,
   상기 발광부는 제1 방향으로 배열된 LED(Light Emitting Diode) 어레이를 포함하여 구성되며, 상기 제1 방향을 기준으로 2 이상의 영역들로 분할되고,
   상기 제1, 2 편광 필터들은 상기 발광부의 분할된 영역들과 각각 중첩되도록 상기 발광부의 전면에 배치되는 테이프 검출 장치.
6. 제1항에 있어서,
   상기 발광부는 제1 방향으로 배열된 LED(Light Emitting Diode) 어레이를 포함하여 구성되며, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 기준으로 2 이상의 영역들로 분할되고,
   상기 제1, 2 편광 필터들은 상기 발광부의 분할된 영역들과 각각 중첩되도록 상기 발광부의 전면에 배치되는 테이프 검출 장치.
7. 제1항에 있어서, 상기 테이프 검출부는
   상기 제1 편광 필터를 통과하여 상기 수광부에 의해 검출되는 제1 편광의 세기 및 상기 제2 편광 필터를 통과하여 상기 수광부에 의해 검출되는 제2 편광의 세기 중 적어도 하나를 이용하여, 상기 테이프 부착 여부를 판단하는 테이프 검출 장치.
8. 제7항에 있어서, 상기 테이프 검출부는
   상기 제1 편광의 세기가 제1 기준치 이상인지 여부에 대한 제1 조건의 만족 여부를 판단하고, 상기 제2 편광의 세기가 제2 기준치 이하인지 여부에 대한 제2 조건의 만족 여부를 판단하여, 상기 판단 결과 상기 제1, 2 조건들이 모두 만족되는 경우 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는 것으로 판단하는 테이프 검출 장치.
9. 제8항에 있어서, 상기 테이프 검출부는
   상기 제1 조건이 만족되지 않는 경우, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있지 않은 것으로 판단하는 테이프 검출 장치.
10. 제8항에 있어서, 상기 테이프 검출부는
    상기 제1, 2 조건들 중 상기 제1 조건만이 만족되는 경우, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프 이외의 금속성 물질이 존재하는 것으로 판단하는 테이프 검출 장치.
11. 제8항에 있어서,
    상기 제1 편광 필터는 S 편광을 통과시키기 위한 S 편광 필터이며, 상기 제2 편광 필터는 P 편광을 통과시키기 위한 P 편광 필터인 테이프 검출 장치.
12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 테이프 검출 장치를 포함하는 지폐 처리 장치.
13. 제12항에 있어서,
    투입되는 복수의 지폐들을 상기 지폐 테이프 검출 장치 방향으로 순차적으로 투입시키는 이송부;를 포함하는 지폐 처리 장치.
14. 지폐에 부착된 테이프를 검출하기 위한 방법에 있어서,
    소정 파장의 광을 방출하는 LED를 이용하여, 지폐의 적어도 일부분에 광이 조사되도록 하는 단계;
    서로 다른 편광 성분을 통과시키는 제1 편광 필터 및 제2 편광 필터를 이용하여, 상기 LED로부터 방출된 광에 의해 상기 지폐에서 반사되어 나오는 편광을 검출하는 단계; 및
    상기 제1 편광 필터를 통과하여 상기 수광부에 의해 검출되는 제1 편광의 세기 및 상기 제2 편광 필터를 통과하여 상기 수광부에 의해 검출되는 제2 편광의 세기 중 적어도 하나에 기초하여, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는지 여부를 판단하는 단계;를 포함하는 테이프 검출 방법.
15. 제14항에 있어서,
    상기 제1 편광 필터는 S 편광을 통과시키기 위한 S 편광 필터이며, 상기 제2 편광 필터는 P 편광을 통과시키기 위한 P 편광 필터인 테이프 검출 방법.
16. 제14항에 있어서, 상기 판단 단계는
    상기 제1 편광의 세기가 제1 기준치 이상인지 여부에 대한 제1 조건의 만족 여부를 판단하는 단계;
    상기 제2 편광의 세기가 제2 기준치 이하인지 여부에 대한 제2 조건의 만족 여부를 판단하는 단계; 및
    상기 판단 결과 상기 제1, 2 조건들이 모두 만족되는 경우, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있는 것으로 판단하는 단계;를 포함하는 테이프 검출 방법.
17. 제16항에 있어서, 상기 판단 단계는
    상기 제1 조건이 만족되지 않는 경우, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프가 부착되어 있지 않은 것으로 판단하는 테이프 검출 방법.
18. 제16항에 있어서, 상기 판단 단계는
    상기 제1, 2 조건들 중 상기 제1 조건만이 만족되는 경우, 상기 광이 조사된 지폐의 일부분에 테이프 이외의 금속성 물질이 존재하는 것으로 판단하는 테이프 검출 방법.

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