KR20170133758A - Light emitting device - Google Patents

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Abstract

An embodiment of the present invention comprises: a luminescent structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an activate layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; a passivation layer disposed on the first conductive semiconductor layer; a first electrode disposed on the passivation layer, contacting to the first conductive semiconductor layer through the passivation layer at one end thereof, and expanded to the bottom of the luminescent structure by being expanded in a side portion direction of the luminescent structure at the other end thereof; a second electrode disposed at the bottom of the second conductive semiconductor layer; an electrode pad disposed at the bottom of the second electrode; and an insulating layer disposed at a side surface of the luminescent structure, wherein the other end of the first electrode is separated from the insulating layer that is disposed at the side surface of the luminescent structure, thereby capable of reducing a thickness of a chip, and easily realizing an electrode pad on a small size luminescent structure.

Description

발광 소자{LIGHT EMITTING DEVICE}[0001] LIGHT EMITTING DEVICE [0002]

실시 예는 발광 소자에 관한 것이다.An embodiment relates to a light emitting element.

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 화합물 반도체의 특성을 이용하여 전기를 적외선 또는 빛으로 변환시켜서 신호를 주고 받거나, 광원으로 사용되는 반도체 소자의 일종이다.BACKGROUND ART Light emitting diodes (LEDs) are a kind of semiconductor devices that convert the electric power to infrared rays or light using the characteristics of compound semiconductors, exchange signals, or use as a light source.

Ⅲ-Ⅴ족 질화물 반도체(Group Ⅲ-Ⅴ nitride semiconductor)는 물리적, 화학적 특성으로 인해 발광 다이오드(LED) 또는 레이저 다이오드(LD) 등의 발광 소자의 핵심 소재로 각광을 받고 있다.Group III-V nitride semiconductors have been spotlighted as core materials for light emitting devices such as light emitting diodes (LEDs) or laser diodes (LD) due to their physical and chemical properties.

이러한 발광 다이오드는 백열등과 형광등 등의 기존 조명 기구에 사용되는 수은(Hg)과 같은 환경 유해물질이 포함되어 있지 않아 우수한 친환경성을 가지며, 긴 수명, 저전력 소비특성 등과 같은 장점이 있기 때문에 기존의 광원들을 대체하고 있다.Since such a light emitting diode does not contain environmentally harmful substances such as mercury (Hg) used in conventional lighting devices such as incandescent lamps and fluorescent lamps, it has excellent environmental friendliness, and has advantages such as long life and low power consumption characteristics. .

실시 예는 칩 두께를 줄일 수 있고, 작은 사이즈의 발광 구조물에 전극 패드의 구현이 용이한 발광 소자를 제공한다.Embodiments provide a light emitting device that can reduce the thickness of a chip and can easily implement an electrode pad in a light emitting structure having a small size.

실시 예에 따른 발광 소자는 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함하는 발광 구조물; 상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 패시베이션층; 상기 패시베이션층 상에 배치되고, 일단은 상기 패시베이션층을 관통하여 상기 제1 도전형 반도체층에 접촉되고, 타 단은 상기 발광 구조물의 측부 방향으로 확장되어 상기 발광 구조물의 하단 아래까지 확장되는 제1 전극; 상기 제2 도전형 반도체층 아래에 배치되는 제2 전극; 상기 제2 전극 아래에 배치되는 전극 패드; 및 상기 발광 구조물의 측면에 배치되는 절연층을 포함하며, 상기 제1 전극의 타단은 상기 발광 구조물의 측면에 배치되는 절연층으로부터 이격한다.A light emitting device according to an embodiment includes a light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; A passivation layer disposed on the first conductive semiconductor layer; A first conductive semiconductor layer disposed on the passivation layer and having one end contacting the first conductive semiconductor layer through the passivation layer and the other end extending toward a side of the light emitting structure, electrode; A second electrode disposed below the second conductive semiconductor layer; An electrode pad disposed under the second electrode; And an insulating layer disposed on a side surface of the light emitting structure, wherein the other end of the first electrode is spaced apart from an insulating layer disposed on a side surface of the light emitting structure.

상기 제1 전극은 상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 상부 전극; 상기 상부 전극과 연결되고, 상기 패시베이션층을 관통하여 상기 제1 도전형 반도체층에 접촉되는 적어도 하나의 접촉 전극; 및 상기 상부 전극의 일단과 연결되고, 상기 발광 구조물의 측부 방향으로 확장되어 상기 발광 구조물의 하단 아래까지 확장되는 확장 전극을 포함한다.The first electrode being disposed on the first conductive semiconductor layer; At least one contact electrode connected to the upper electrode and penetrating the passivation layer to contact the first conductive semiconductor layer; And an extension electrode connected to one end of the upper electrode and extending in a side direction of the light emitting structure to extend under the lower end of the light emitting structure.

상기 확장 전극은 상기 패시베이션층 상에 배치되고, 상기 상부 전극으로부터 수평 방향으로 확장되는 제1 확장부; 및 상기 제1 확장부와 연결되고, 상기 제1 도전형 반도체층에서 상기 제2 도전형 반도체층으로 향하는 방향으로 상기 제2 도전형 반도체층의 하면 아래까지 확장되는 제2 확장부를 포함할 수 있다.The extension electrode being disposed on the passivation layer and extending horizontally from the upper electrode; And a second extension portion connected to the first extension portion and extending below the lower surface of the second conductivity type semiconductor layer in a direction from the first conductivity type semiconductor layer toward the second conductivity type semiconductor layer .

상기 제2 확장부는 수직 방향으로 상기 발광 구조물과 오버랩되지 않으며, 상기 수직 방향은 상기 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직인 방향일 수 있다.The second extension portion may not overlap the light emitting structure in the vertical direction, and the vertical direction may be a direction perpendicular to the upper surface of the first conductive semiconductor layer.

상기 제2 확장부의 하단의 하면은 상기 제2 전극 패드의 하면과 동일 평면 상에 위치할 수 있다.The lower surface of the lower surface of the second extension portion may be located on the same plane as the lower surface of the second electrode pad.

상기 제2 확장부는 수직선을 기준으로 경사지도록 확장되며, 상기 수직선은 상기 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직인 가상의 직선일 수 있다.The second extension may extend to be inclined with respect to a vertical line, and the vertical line may be an imaginary straight line perpendicular to an upper surface of the first conductive type semiconductor layer.

상기 수직선과 상기 제2 확장부 간의 내각은 0°~ 15°일 수 있다.The internal angle between the vertical line and the second extension may be 0 [deg.] To 15 [deg.].

상기 제2 확장부와 상기 절연층 간의 이격 거리는 상기 제1 도전형 반도체층에서 상기 제2 도전형 반도체층 방향으로 갈수록 증가할 수 있다.The distance between the second extension portion and the insulating layer may increase from the first conductivity type semiconductor layer toward the second conductivity type semiconductor layer.

상기 제2 확장부는 상기 활성층 및 상기 제2 도전형 반도체층의 측면 상에 위치하는 절연층의 일부와 이격할 수 있다.The second extension portion may be spaced apart from a portion of the insulating layer located on the side surfaces of the active layer and the second conductivity type semiconductor layer.

상기 제1 전극은 상기 발광 구조물의 상면의 측변들 중 어느 한 측변에 인접하여 위치할 수 있다.The first electrode may be positioned adjacent to one side of the upper side of the light emitting structure.

상기 제1 전극은 상기 발광 구조물의 상면의 측변들 중 제1 측변에 인접하여 위치하는 제1-1 전극; 및 상기 발광 구조물의 상면의 측변들 중 상기 제1 측변과 마주보는 제2 측변에 인접하여 위치하는 제1-2 전극을 포함할 수 있다.The first electrode being adjacent to the first side of the upper side of the light emitting structure; And a second electrode located adjacent to a second side of the upper surface of the light emitting structure opposite to the first side.

상기 제2 확장부는 수직 방향으로 상기 접촉 전극과 오버랩되지 않으며, 상기 수직 방향은 상기 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직인 방향일 수 있다.The second extension portion may not overlap the contact electrode in the vertical direction, and the vertical direction may be a direction perpendicular to the upper surface of the first conductive type semiconductor layer.

상기 절연층은 상기 제2 도전형 반도체층의 하면에 배치되고, 상기 제2 전극을 노출하는 제1 절연층; 및 상기 발광 구조물의 측면에 배치되는 제2 절연층을 포함하며, 상기 제2 확장부의 하단은 상기 제1 절연층 및 제2 절연층으로부터 이격될 수 있다.Wherein the insulating layer is disposed on a lower surface of the second conductive type semiconductor layer, the first insulating layer exposing the second electrode; And a second insulating layer disposed on a side surface of the light emitting structure, and a lower end of the second extending portion may be spaced apart from the first insulating layer and the second insulating layer.

실시 예는 칩 두께를 줄일 수 있고, 작은 사이즈의 발광 구조물에 전극 패드의 구현이 용이할 수 있다.Embodiments can reduce the chip thickness and facilitate implementation of the electrode pads in the light emitting structure having a small size.

도 1은 실시 예에 따른 발광 소자의 상측 평면도를 나타낸다.
도 2는 도 1에 도시된 발광 소자의 하측 평면도를 나타낸다.
도 3은 도 1 및 도 2에 도시된 발광 소자의 AB 방향의 단면도를 나타낸다.
도 4는 도 1 및 도 2에 도시된 발광 소자의 CD 방향의 단면도를 나타낸다.
도 5a는 도 3에 도시된 제1 전극의 일 실시 예를 나타낸다.
도 5b는 도 3에 도시된 제1 전극의 다른 실시 예를 나타낸다.
도 6은 다른 실시 예에 따른 발광 소자의 단면도를 나타낸다.
도 7a는 다른 실시 예에 따른 발광 소자의 상측 평면도를 나타낸다.
도 7b는 도 7a에 도시된 발광 소자의 하측 평면도를 나타낸다.
도 8a는 또 다른 실시 예에 따른 발광 소자의 상측 평면도를 나타낸다.
도 8b는 도 8a에 도시된 발광 소자의 하측 평면도를 나타낸다.
도 9는 도 8a 및 도 8b에 도시된 발광 소자의 Ⅰ-Ⅱ 절단 단면도를 나타낸다.
도 10a는 또 다른 실시 예에 따른 발광 소자의 상측 평면도를 나타내고, 도 10b는 도 10a에 도시된 발광 소자의 하측 평면도를 나타낸다.
도 11a 내지 도 11i는 도 6에 도시된 발광 소자를 제조하는 방법을 나타내는 공정도이다.
도 12는 실시 예에 따른 조명 장치의 단면도를 나타낸다.
도 13은 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 평면도를 나타낸다.
도 14는 도 13에 도시된 디스플레이 장치의 AA' 방향의 일 실시 예에 따른 단면도를 나타낸다.
1 is a top plan view of a light emitting device according to an embodiment.
2 is a bottom plan view of the light emitting device shown in Fig.
3 is a sectional view of the light emitting device shown in Figs. 1 and 2 in the AB direction.
4 is a sectional view of the light emitting device shown in Figs. 1 and 2 in the CD direction.
5A shows an embodiment of the first electrode shown in FIG.
5B shows another embodiment of the first electrode shown in FIG.
6 is a sectional view of a light emitting device according to another embodiment.
7A is a top plan view of a light emitting device according to another embodiment.
7B is a bottom plan view of the light emitting device shown in FIG. 7A.
8A is a top plan view of a light emitting device according to another embodiment.
8B is a bottom plan view of the light emitting device shown in FIG. 8A.
9 is a cross-sectional view taken along the line I-II of the light emitting device shown in Figs. 8A and 8B.
FIG. 10A is a top plan view of a light emitting device according to another embodiment, and FIG. 10B is a bottom plan view of a light emitting device shown in FIG. 10A.
11A to 11I are process drawings showing a method of manufacturing the light emitting device shown in Fig.
12 shows a cross-sectional view of a lighting device according to an embodiment.
13 shows a top view of a display device according to the embodiment.
Fig. 14 shows a cross-sectional view of the display device shown in Fig. 13 according to one embodiment in the direction AA '.

이하, 실시 예들은 첨부된 도면 및 실시 예들에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다. 실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on)"에 또는 "하/아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on)"와 "하/아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한, 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다. 또한 동일한 참조번호는 도면의 설명을 통하여 동일한 요소를 나타낸다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The above and other features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG. In the description of the embodiments, it is to be understood that each layer (film), region, pattern or structure may be referred to as being "on" or "under" a substrate, each layer It is to be understood that the terms " on "and " under" include both " directly "or" indirectly " do. In addition, the criteria for the top / bottom or bottom / bottom of each layer will be described with reference to the drawings. The same reference numerals denote the same elements throughout the description of the drawings.

도 1은 실시 예에 따른 발광 소자(1000)의 상측 평면도를 나타내고, 도 2는 도 1에 도시된 발광 소자(1000)의 하측 평면도를 나타내고, 도 3은 도 1 및 도 2에 도시된 발광 소자(1000)의 AB 방향의 단면도를 나타내고, 도 4는 도 1 및 도 2에 도시된 발광 소자(1000)의 CD 방향의 단면도를 나타낸다.1 is a top plan view of a light emitting device 1000 according to an embodiment, FIG. 2 is a bottom plan view of the light emitting device 1000 shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a cross- Sectional view of the light-emitting device 1000 in the AB direction, and Fig. 4 is a cross-sectional view in the CD direction of the light-emitting device 1000 shown in Figs.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 발광 소자(1000)는 발광 구조물(1110), 패시베이션층(passivation layer, 1120), 제1 전극(1130), 제2 전극(1140), 제2 전극 패드(1145), 및 절연층(insulation layer, 1150)을 포함한다.1 to 4, the light emitting device 1000 includes a light emitting structure 1110, a passivation layer 1120, a first electrode 1130, a second electrode 1140, a second electrode pad 1145 ), And an insulation layer (1150).

발광 구조물(1110)은 제1 도전형 반도체층(1112), 제2 도전형 반도체층(1116), 및 제1 도전형 반도체층(1112)과 제2 도전형 반도체층(1116) 사이에 배치되는 활성층(1114)을 포함한다. 예컨대, 발광 구조물(1110)은 위에서 아래로 제1 도전형 반도체층(1112), 활성층(1114), 및 제2 도전형 반도체층(1116)이 순차적으로 배치되는 구조일 수 있다.The light emitting structure 1110 is disposed between the first conductivity type semiconductor layer 1112 and the second conductivity type semiconductor layer 1116 and between the first conductivity type semiconductor layer 1112 and the second conductivity type semiconductor layer 1116 And an active layer 1114. For example, the light emitting structure 1110 may have a structure in which a first conductivity type semiconductor layer 1112, an active layer 1114, and a second conductivity type semiconductor layer 1116 are sequentially arranged from top to bottom.

예컨대, 발광 구조물(1110)의 직경은 제1 도전형 반도체층(1112)에서 제2 도전형 반도체층(1116) 방향으로 갈수록 감소할 수 있으며, 발광 구조물(1110)의 측면은 역경사면을 가질 수 있다.For example, the diameter of the light emitting structure 1110 may decrease from the first conductivity type semiconductor layer 1112 toward the second conductivity type semiconductor layer 1116, and the side surface of the light emitting structure 1110 may have a reverse have.

투광성 기판 또는 지지 기판을 구비하는 일반적인 발광 소자와 달리, 실시 예에 따른 발광 소자(1000)는 투광성 기판 또는 지지 기판을 구비하지 않는다. 이로 인하여 발광 소자의 칩 사이즈(예컨대, 직경), 또는 부피가 줄어들기 때문에, 실시 예에 따른 발광 소자가 사용되는 애플리케이션, 예컨대, 디스플레이 장치 등의 두께, 또는 사이즈를 줄일 수 있다.Unlike a general light emitting device having a light transmitting substrate or a supporting substrate, the light emitting device 1000 according to the embodiment does not have a light transmitting substrate or a supporting substrate. Because the chip size (for example, diameter) or volume of the light emitting device is reduced, the thickness or size of an application in which the light emitting device according to the embodiment is used, for example, a display device or the like can be reduced.

제1 도전형 반도체층(1112)은 3족-5족, 2족-6족 등의 반도체 화합물일 수 있고, 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다.The first conductivity type semiconductor layer 1112 may be a semiconductor compound such as a Group III-V, a Group II-VI, or the like, and may be doped with a first conductivity type dopant.

예컨대, 제1 도전형 반도체층(1112)은 InxAlyGa1 -x- yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지는 반도체일 수 있으며, n형 도펀트(예: Si, Ge, Se, Te 등)가 도핑될 수 있다.For example, the first conductivity type semiconductor layer 1112 may be a semiconductor semiconductor having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + And an n-type dopant (e.g., Si, Ge, Se, Te, etc.) may be doped.

광 추출을 높이기 위하여 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면에는 광 추출 구조, 예컨대, 요철(1112a)이 형성될 수 있다.In order to increase light extraction, a light extracting structure, for example, a concavity and convexity 1112a may be formed on the top surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112. [

활성층(1114)은 제1 도전형 반도체층(1112)과 제2 도전형 반도체층(1116)으로부터 제공되는 전자(electron)와 정공(hole)의 재결합(recombination) 과정에서 발생하는 에너지에 의해 광을 생성할 수 있다.The active layer 1114 is formed by the energy generated in the recombination process of electrons and holes provided from the first conductivity type semiconductor layer 1112 and the second conductivity type semiconductor layer 1116 Can be generated.

활성층(1114)은 3족-5족, 2족-6족의 화합물 반도체일 수 있으며, 단일 우물 구조, 다중 우물 구조, 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 양자 점(Quantum Dot), 또는 양자 디스크(Quantum Disk) 구조를 가질 수 있다.The active layer 1114 may be a Group III-V or VI-VI compound semiconductor and may be a single well structure, a multi-well structure, a quantum-wire structure, a quantum dot, (Quantum Disk) structure.

활성층(1114)은 InxAlyGa1 -x- yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가질 수 있다. 활성층(1114)이 양자우물구조인 경우, 활성층(1114)은 InxAlyGa1 -x- yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 우물층(미도시) 및 InaAlbGa1 -a- bN(0≤a≤1, 0≤b≤1, 0≤a+b≤1)의 조성식을 갖는 장벽층(미도시)을 포함할 수 있다.The active layer 1114 may have a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? In the case where the active layer 1114 is a quantum well structure, the active layer 1114 is formed of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + And a barrier layer (not shown) having a composition formula of In a Al b Ga 1 -a- b N (0? A? 1, 0? B ? 1, 0? A + ).

활성층(1114)의 우물층의 에너지 밴드 갭은 장벽층의 에너지 밴드 갭보다 낮을 수 있다. 우물층 및 장벽층은 적어도 1회 이상 교대로 적층될 수 있다.The energy band gap of the well layer of the active layer 1114 may be lower than the energy band gap of the barrier layer. The well layer and the barrier layer may be alternately laminated at least once.

제2 도전형 반도체층(1116)은 3족-5족, 2족-6족 등의 반도체 화합물일 수 있고, 제2 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다.The second conductivity type semiconductor layer 1116 may be a semiconductor compound such as a Group III-V, a Group II-VI, or the like, and the second conductivity type dopant may be doped.

예컨대, 제2 도전형 반도체층(1116)은 InxAlyGa1 -x- yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지는 반도체일 수 있으며, p형 도펀트(예: Mg, Zn, Ca,Sr, Ba)가 도핑될 수 있다.For example, the second conductivity type semiconductor layer 1116 may be a semiconductor semiconductor having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + , And a p-type dopant (e.g., Mg, Zn, Ca, Sr, Ba) can be doped.

발광 구조물(1110)은 적색광, 녹색광, 또는 청색광 중 어느 하나를 발생할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다양한 파장대의 가시 광선을 발생하거나 또는 자외선을 발생할 수도 있다.The light emitting structure 1110 may generate any one of red light, green light, and blue light, but the present invention is not limited thereto, and it may generate visible light of various wavelengths or generate ultraviolet light.

예컨대, 적색광을 발생하는 발광 구조물(1110)의 제1 도전형 반도체층은 InxAlyGa1-x-yP (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) 또는 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질, 예컨대, AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN,AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있으며, n형 도펀트를 포함할 수 있다.For example, the first conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure 1110 that generates red light may be formed of In x Al y Ga 1-xy P (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + in x Al y Ga 1 -x- y N semiconductor materials having a composition formula of (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1 ), e.g., AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP , GaN , InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, and GaP, and may include an n-type dopant.

또한 예컨대, 적색광을 발생하는 발광 구조물(1110)의 활성층은 GaInP/AlGaInP, GaP/AlGaP, InGaP/AlGaP, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, GaAs/AlGaAs, InGaAs/AlGaAs 중 어느 하나 이상의 페어 구조로 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. In addition, for example, the active layer of the light emitting structure 1110 for generating red light may be formed of GaInP / AlGaInP, GaP / AlGaP, InGaP / AlGaP, InGaN / InGaN, InGaN / InGaN, GaN / AlGaN, InAlGaN / GaN, GaAs / AlGaAs, But the present invention is not limited thereto.

또한 예컨대, 적색광을 발생하는 발광 구조물의 활성층의 양자 우물층의 조성은 (AlpGa1 -p)qIn1 - qP층(단, 0≤p≤1, 0≤q≤1)일 수 있으며, 양자 장벽층의 조성은 (Alp1Ga1 - p1)q1In1 - q1P층(단, 0≤p1≤1, 0≤q1≤1)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the composition of the quantum well layer of the active layer of the light emitting structure that generates red light may be (Al p Ga 1 -p ) q In 1 - q P layer (where 0 ? P? 1, 0 ? Q? and the composition of the quantum barrier layer is (Al p1 Ga 1 - p1) q1 in 1 - q1 be a P layer (where, 0≤p1≤1, 0≤q1≤1), but the embodiment is not limited thereto.

또한 예컨대, 적색광을 발생하는 발광 구조물의 제2 도전형 반도체층은 InxAlyGa1-x-yP (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) 또는 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질로 형성될 수 있으며, p형 도펀트를 포함할 수 있다.For example, the second conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure that generates red light may be In x Al y Ga 1-xy P (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + May be formed of a semiconductor material having a composition formula of Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y ? 1, 0? X + y? 1) and may include a p-type dopant .

도 3 및 도 4에는 도시되지 않았지만, 제1 도전형 반도체층(1112)으로부터 활성층(1114)으로 주입되는 전자가 제2 도전형 반도체층(1116)으로 넘어가는 것을 방지하여 발광 효율을 높이기 위하여, 발광 구조물(1110)은 활성층(1114)과 제2 도전형 반도체층(1116) 사이에 배치되는 전자 차단층을 더 구비할 수 있다. 이때 전자 차단층의 에너지 밴드 갭은 활성층(1114)의 장벽층의 에너지 밴드 갭보다 크다.Although not shown in FIGS. 3 and 4, in order to prevent electrons injected from the first conductivity type semiconductor layer 1112 into the active layer 1114 from being transferred to the second conductivity type semiconductor layer 1116, The light emitting structure 1110 may further include an electron blocking layer disposed between the active layer 1114 and the second conductivity type semiconductor layer 1116. At this time, the energy band gap of the electron blocking layer is larger than the energy band gap of the barrier layer of the active layer 1114.

제1 전극(1130)은 발광 구조물(1110) 상에 배치되며, 일단은 제1 도전형 반도체층(1112)에 접촉하고, 타단은 발광 구조물(1110)의 측부 방향으로 확장되어 발광 구조물(1110)의 하단 아래까지 확장된다.The first electrode 1130 is disposed on the light emitting structure 1110 and has one end contacting the first conductive semiconductor layer 1112 and the other end extending toward the side of the light emitting structure 1110, As shown in FIG.

패시베이션층(1120)은 제1 도전형 반도체층(1112) 상에 배치된다. 패시베이션층(1120)은 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면과 제1 전극(1130) 하면 사이에 배치될 수 있다. 또한 예컨대, 패시베이션층(1120)은 제2 절연층(1154) 상에도 배치될 수 있다.The passivation layer 1120 is disposed on the first conductivity type semiconductor layer 1112. The passivation layer 1120 may be disposed between the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 1112 and the lower surface of the first electrode 1130. Also, for example, the passivation layer 1120 may also be disposed on the second insulating layer 1154.

예컨대, 제1 전극(1130)은 상부 전극(1134), 접촉 전극(1136), 및 확장 전극(1132)을 포함한다.For example, the first electrode 1130 includes an upper electrode 1134, a contact electrode 1136, and an extension electrode 1132.

상부 전극(1134)은 제1 도전형 반도체층(1112) 및 제2 절연층(1154) 상에 배치되는 패시베이션층(1120) 상에 배치된다.The upper electrode 1134 is disposed on the passivation layer 1120 disposed on the first conductive type semiconductor layer 1112 and the second insulating layer 1154.

도 1에서 상부 전극(1134)은 제1 도전형 반도체층(1121)의 가장 자리, 예컨대, 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 모서리에 인접하여 배치될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 변의 중앙에 배치될 수도 있다.1, the upper electrode 1134 may be disposed adjacent to an edge of the first conductivity type semiconductor layer 1121, for example, an edge of the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112, but is not limited thereto And the center of the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112 may be disposed.

도 1에 도시된 상부 전극(1134)의 평면 형상은 사각형이나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 실시 예에서 상부 전극(1134)의 평면 형상은 원형, 타원형 또는 다각형일 수 있다.The planar shape of the upper electrode 1134 shown in FIG. 1 is rectangular, but not limited thereto. In other embodiments, the planar shape of the upper electrode 1134 may be circular, oval, or polygonal.

접촉 전극(1136)은 상부 전극(1134)의 하면으로부터 확장되며, 패시베이션층(1120)을 관통하여 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면에 접촉한다.The contact electrode 1136 extends from the lower surface of the upper electrode 1134 and contacts the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 1112 through the passivation layer 1120.

예컨대, 접촉 전극(1136)은 상부 전극(1134)의 하면에서 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면 방향으로 연장될 수 있고, 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면과 오믹 접촉할 수 있다.For example, the contact electrode 1136 may extend from the lower surface of the upper electrode 1134 toward the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 1112, and may be in ohmic contact with the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 1112 have.

접촉 전극(1136)은 상부 전극(1134)과 확장 전극(1132)이 만나는 부분과 이격하여 위치할 수 있다. 이로 인하여 확장 전극(1132)을 통하여 유입되는 전류를 발광 구조물(1110)에 분산시켜 제공하여 발광 소자(1000)의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The contact electrode 1136 may be spaced apart from the portion where the upper electrode 1134 and the extended electrode 1132 meet. The current flowing through the extension electrode 1132 may be dispersed in the light emitting structure 1110 to improve the light efficiency of the light emitting device 1000.

확장 전극(1132)의 일단은 상부 전극(1134)의 일단과 연결되며, 타단은 상부 전극(1134)으로부터 발광 구조물(1110)의 제2 도전형 반도체층(1116)의 하면 아래까지 확장된다.One end of the extension electrode 1132 is connected to one end of the upper electrode 1134 and the other end extends from the upper electrode 1134 to below the lower surface of the second conductivity type semiconductor layer 1116 of the light emitting structure 1110.

확장 전극(1132)은 제1 확장부(1132a), 및 제1 확장부(1132a)와 연결되는 제2 확장부(1132b)를 포함할 수 있다.The extension electrode 1132 may include a first extension portion 1132a and a second extension portion 1132b connected to the first extension portion 1132a.

제1 확장부(1132a)는 상부 전극(1134)과 연결되고, 패시베이션층(1120)의 가장 자리와 접촉할 수 있다.The first extension portion 1132a may be connected to the upper electrode 1134 and may be in contact with the edge of the passivation layer 1120.

제2 확장부(1132b)는 일단이 제1 확장부(1132a)와 연결되고, 제1 도전형 반도체층(1112)에서 제2 도전형 반도체층(1116)으로 향하는 방향으로 확장되며, 발광 구조물(1110)과 수직 방향으로 오버랩되지 않는다.The second extension part 1132b is connected to the first extension part 1132a at one end and extends in the direction from the first conductivity type semiconductor layer 1112 to the second conductivity type semiconductor layer 1116, 1110 in the vertical direction.

또한 제2 확장부(1132b)는 수직 방향으로 접촉 전극(1136)과 오버랩되지 않는다. 여기서 수직 방향으로 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면과 수직한 방향일 수 있다.Also, the second extension part 1132b does not overlap with the contact electrode 1136 in the vertical direction. And may be perpendicular to the upper surface of the first conductive semiconductor layer 1112 in the vertical direction.

제2 확장부(1132b)의 하단은 발광 구조물(1110)의 하단, 예컨대, 제2 도전형 반도체층(1116)의 하면 아래까지 확장될 수 있다. 예컨대, 제2 확장부(1132b)의 하단의 하면은 제2 전극 패드(1145)의 하면과 동일 평면 상에 위치하도록 발광 구조물의 하단까지 확장될 수 있다. 이는 패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판 등과 다이 본딩 또는 플립 칩 본딩을 하기 위해서이다.The lower end of the second extension portion 1132b may extend to a lower end of the light emitting structure 1110, for example, below the lower surface of the second conductivity type semiconductor layer 1116. [ For example, the lower surface of the second extension portion 1132b may extend to the lower end of the light emitting structure so as to be located on the same plane as the lower surface of the second electrode pad 1145. This is for die bonding or flip chip bonding with a package body, submount, or substrate.

도 3에서 패시베이션층(1120)은 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 일 부분을 노출할 수 있다.In FIG. 3, the passivation layer 1120 may expose a portion of the top surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112.

패시베이션층(1120)은 투광성의 절연 물질, 예컨대, SiO2, SiOx, Si3N4, TiO2, SiNx, SiOxNy, 또는 Al2O3로 이루어질 수 있다.The passivation layer 1120 may be formed of the transparent insulating material, for example, SiO 2, SiOx, Si 3 N 4, TiO 2, SiNx, SiO x N y, or Al 2 O 3.

도 5a는 도 3에 도시된 제1 전극(1130)의 일 실시 예를 나타낸다.FIG. 5A shows an embodiment of the first electrode 1130 shown in FIG.

도 5a를 참조하면, 제1 전극(1130)은 상부 전극(1134), 접촉 전극(1136), 및 확장 전극(1132)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5A, the first electrode 1130 may include an upper electrode 1134, a contact electrode 1136, and an extension electrode 1132.

예컨대, 접촉 전극(136)은 하나의 직선의 라인(line) 형상일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 상부 전극(1134)의 평면 형상에 따라서 원형, 타원형, 또는 다각형일 수도 있다.For example, the contact electrode 136 may be in the form of a straight line, but is not limited thereto, and may be circular, elliptical, or polygonal depending on the planar shape of the upper electrode 1134.

도 5b는 도 3에 도시된 제1 전극(1130)의 다른 실시 예(1130a)를 나타낸다.FIG. 5B shows another embodiment 1130a of the first electrode 1130 shown in FIG.

도 5b를 참조하면, 제1 전극(1130a)은 상부 전극(1134), 서로 이격하여 배치되는 복수의 접촉 전극들(1136-1 내지 1136-4), 및 확장 전극(1132)을 포함할 수 있다.5B, the first electrode 1130a may include an upper electrode 1134, a plurality of contact electrodes 1136-1 to 1136-4 disposed apart from each other, and an extension electrode 1132 .

복수의 접촉 전극들(1136-1 내지 1136-4) 각각은 상부 전극(1134)의 하면에 접촉 또는 연결되며, 패시베이션층(1120)을 관통하여 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면에 접촉될 수 있다.Each of the plurality of contact electrodes 1136-1 to 1136-4 is in contact with or connected to the lower surface of the upper electrode 1134 and contacts the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112 through the passivation layer 1120 .

복수의 접촉 전극들(1136-1 내지 1136-4)의 형상은 사각형일 수 있으나, 이에 한정하지 않으며, 원형 또는 다각형 형상일 수도 있다.The shape of the plurality of contact electrodes 1136-1 to 1136-4 may be rectangular, but is not limited thereto, and may be circular or polygonal.

제2 전극(1140)은 발광 구조물(1110) 아래에 배치되며, 제2 도전형 반도체층(1116)과 접촉한다. 예컨대, 제2 전극(1140)은 발광 구조물(1110)의 하면, 예컨대, 제2 도전형 반도체층(1116)의 하면 상에 배치될 수 있다.The second electrode 1140 is disposed under the light emitting structure 1110 and contacts the second conductive type semiconductor layer 1116. For example, the second electrode 1140 may be disposed on the lower surface of the light emitting structure 1110, for example, on the lower surface of the second conductivity type semiconductor layer 1116.

제2 전극(1140)은 제2 도전형 반도체층(1116)과 제2 전극 패드(1145) 사이에 배치되며, 제2 전극(1140)과 제2 도전형 반도체층(1116)은 오믹 접촉될 수 있다.The second electrode 1140 is disposed between the second conductive type semiconductor layer 1116 and the second electrode pad 1145 and the second electrode 1140 and the second conductive type semiconductor layer 1116 may be in ohmic contact with each other. have.

제1 전극(1130)은 제1 도전형 반도체층(1112)과 오믹 접촉을 위한 오믹 접촉층, 및 반사층을 포함할 수 있다. 예컨대, 제1 전극(1130)은 Pb, Sn, Au, Ge, Cu, Bi, Cd, Zn, Ag, Ni, Ti, 또는 이들 중 적어도 하나를 포함하는 합금으로 이루어질 수 있으며, 단층 또는 복수의 층들로 이루어질 수 있다.The first electrode 1130 may include an ohmic contact layer for ohmic contact with the first conductivity type semiconductor layer 1112, and a reflective layer. For example, the first electrode 1130 may be made of an alloy including at least one of Pb, Sn, Au, Ge, Cu, Bi, Cd, Zn, Ag, Ni, Ti, ≪ / RTI >

제2 전극(1140)은 제2 도전형 반도체층(1116)과 오믹 접촉을 위한 오믹 접촉층, 및 반사층을 포함할 수 있다. The second electrode 1140 may include an ohmic contact layer for ohmic contact with the second conductivity type semiconductor layer 1116, and a reflective layer.

예컨대, 제2 전극(1140)의 오믹 접촉층은 ITO와 같은 투명 전도성 산화물, 또는 Ni, Cr일 수 있다. 예컨대, 제2 전극(1140)의 반사층은 Ag, Al, 또는 Rh를 포함하거나, 또는 Ag, Al, 또는 Rh를 포함하는 합금이거나 또는 Cu, Re, Bi, Al, Zn, W, Sn, In, 또는 Ni 중 선택된 적어도 하나와 은(Ag)과의 합금일 수 있다.For example, the ohmic contact layer of the second electrode 1140 may be a transparent conductive oxide such as ITO, or Ni, Cr. For example, the reflective layer of the second electrode 1140 may be Ag, Al, or Rh, or may be an alloy containing Ag, Al, or Rh, or may be an alloy containing Cu, Re, Bi, Al, Zn, Or Ni and an alloy of silver (Ag).

또한 제2 전극(1140)은 확산 방지층, 또는 본딩층 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다. 예컨대, 제2 전극(1140)은 Ni, Cr, Ti, Pd, Pt, W, Co, 또는 Cu 중 적어도 하나를 포함하는 확산 방지층을 더 포함할 수 있다. 또한 예컨대, 제2 전극(1140)은 금(Au), 은(Ag), 또는 Au 함금으로 이루어지는 본딩층을 더 포함할 수 있다.The second electrode 1140 may further include at least one of a diffusion prevention layer and a bonding layer. For example, the second electrode 1140 may further include a diffusion barrier layer including at least one of Ni, Cr, Ti, Pd, Pt, W, Co, or Cu. For example, the second electrode 1140 may further include a bonding layer formed of gold (Au), silver (Ag), or Au alloy.

제1 전극 패드(1135) 및 제2 전극 패드(1145) 각각은 패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판 등과 본딩되는 부분으로 전기적 통전을 유지할 수 있는 전도성 금속일 수 있다. 예컨대, 제1 전극 패드(1135) 및 제2 전극 패드(1145) 각각은 Au, Ni, Cu, 또는 Al 중 적어도 하나를 포함하거나, 또는 이들 중 적어도 하나를 포함하는 합금으로 이루어질 수 있다.Each of the first electrode pad 1135 and the second electrode pad 1145 may be a conductive metal capable of maintaining electrical conduction to a portion bonded to a package body, a submount, or a substrate. For example, each of the first electrode pad 1135 and the second electrode pad 1145 may include at least one of Au, Ni, Cu, or Al, or an alloy including at least one of them.

또한 예컨대, 패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판 등과의 본딩시, 작은 사이즈(예컨대, 100 마이크로 미만의 직경)를 갖는 발광 소자의 자기 정렬(self-assembly)을 위하여 제2 전극 패드(1145)는 Co, Ni, 또는 Fe 중 적어도 하나를 포함하거나, 또는 이들 중 적어도 하나를 포함하는 합금으로 이루어질 수 있다.Also, for bonding, for example, to a package body, submount, or substrate, for self-assembly of a light emitting device having a small size (e.g., less than 100 microns in diameter) The electrode pad 1145 may include at least one of Co, Ni, or Fe, or an alloy including at least one of them.

절연층(1150)은 발광 구조물(1110)의 측면 또는 하면 중 적어도 하나에 배치된다.The insulating layer 1150 is disposed on at least one of a side surface and a bottom surface of the light emitting structure 1110.

절연층(1150)은 제2 도전형 반도체층(1116) 아래에 배치될 수 있다.The insulating layer 1150 may be disposed under the second conductive type semiconductor layer 1116.

예컨대, 절연층(1150)은 제2 도전형 반도체층(1116)의 하면에 배치되는 제1 절연층(1152)을 포함할 수 있다. For example, the insulating layer 1150 may include a first insulating layer 1152 disposed on the lower surface of the second conductive type semiconductor layer 1116.

예컨대, 제1 절연층(1152)은 제2 전극(1140)이 배치되는 영역을 제외한 제2 도전형 반도체층(1116)의 하면의 나머지 영역에 배치될 수 있다. 또한 예컨대, 제1 절연층(1152)은 제2 도전형 반도체층(1116)의 하면에 배치되는 제2 전극(1140)의 하면의 가장 자리 영역에도 배치될 수 있으며, 제2 전극(1140)의 하면의 일부 영역을 노출할 수 있다.For example, the first insulating layer 1152 may be disposed in a remaining region of the lower surface of the second conductive type semiconductor layer 1116 except for a region where the second electrode 1140 is disposed. The first insulating layer 1152 may be disposed in the edge region of the lower surface of the second electrode 1140 disposed on the lower surface of the second conductivity type semiconductor layer 1116, It is possible to expose a part of the lower surface.

제2 전극 패드(1145)는 제1 절연층(1152) 및 제2 전극(1145) 아래에 배치될 수 있다.The second electrode pad 1145 may be disposed under the first insulating layer 1152 and the second electrode 1145.

패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판 등과의 다이 본딩(die bonding)을 하기 위하여, 제2 전극 패드(1145)의 하면과 제2 확장부(1132b)의 하면은 동일 평면(305) 상에 위치할 수 있다.The lower surface of the second electrode pad 1145 and the lower surface of the second extension portion 1132b are formed in the same plane (for example, the lower surface of the second electrode pad 1145 and the lower surface of the second extension portion 1132b) for die bonding with a package body, a submount, 305). ≪ / RTI >

제2 전극 패드(1145)는 제1 절연층(1152)에 의하여 노출되는 제2 전극(1140)의 하면의 일부 영역 아래에 배치될 수 있으며, 제2 전극(1140)의 노출되는 부분과 연결 또는 접촉될 수 있다.The second electrode pad 1145 may be disposed under a portion of the lower surface of the second electrode 1140 exposed by the first insulating layer 1152 and may be connected to the exposed portion of the second electrode 1140 Can be contacted.

예컨대, 제1 절연층(1152)은 제2 전극 패드(1145)의 측면의 상측 일부만을 감쌀 수 있다. 그리고 제2 전극 패드(1145)는 제1 절연층(1152)에 의하여 노출되는 제2 전극(1140)의 하면 아래에 배치될 수 있다. 제2 전극 패드(1145)의 가장 자리는 제1 절연층(1152)의 하면과 접하도록 제1 절연층(1152)의 하면 아래까지 수평 방향으로 확장되는 구조를 가질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the first insulating layer 1152 may cover only a part of the upper side of the side surface of the second electrode pad 1145. The second electrode pad 1145 may be disposed under the lower surface of the second electrode 1140 exposed by the first insulating layer 1152. The edge of the second electrode pad 1145 may extend horizontally to the bottom of the first insulating layer 1152 so as to be in contact with the bottom surface of the first insulating layer 1152. However, .

예컨대, 제2 전극 패드(1145)는 제2 도전형 반도체층(1116)에서 제1 도전형 반도체층(1112)으로 향하는 방향으로 볼록하게 절곡된 구조일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the second electrode pad 1145 may be convexly curved in the direction from the second conductivity type semiconductor layer 1116 to the first conductivity type semiconductor layer 1112, but the present invention is not limited thereto.

다른 실시 예에서는 제1 절연층이 제2 전극 패드(1145)의 측면을 전부 감싸고, 제1 절연층의 하면, 제2 전극 패드(1145)의 하면, 및 제2 확장부(1132b)의 하면은 동일 평면 상에 위치할 수도 있다.The lower surface of the second electrode pad 1145 and the lower surface of the second extension portion 1132b may be formed to have the same shape as that of the first insulation layer, They may be located on the same plane.

절연층(1150)은 발광 구조물(1110)의 측면에 배치되는 제2 절연층(1154)을 더 포함할 수 있다. 예컨대, 제2 절연층(1154)은 제1 도전형 반도체층(1112)의 측면, 활성층(1114)의 측면, 및 제2 도전형 반도체층(1116)의 측면에 배치될 수 있다.The insulating layer 1150 may further include a second insulating layer 1154 disposed on a side surface of the light emitting structure 1110. For example, the second insulating layer 1154 may be disposed on a side surface of the first conductive semiconductor layer 1112, a side surface of the active layer 1114, and a side surface of the second conductive type semiconductor layer 1116.

예컨대, 제2 절연층(1154)의 일단은 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 가장 자리까지 확장되어 패시베이션층(1120)과 연결 또는 접촉될 수 있으며, 제2 절연층(1154)의 타단은 제1 절연층(1152)과 연결 또는 접촉될 수 있다.For example, one end of the second insulating layer 1154 may extend to the edge of the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 1112 and may be connected to or contacted with the passivation layer 1120, And the other end may be connected to or in contact with the first insulating layer 1152.

절연층(1150)은 절연 물질, 예컨대, SiO2, SiOx, Si3N4, TiO2, SiNx, SiOxNy, 또는 Al2O3 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.An insulating layer 1150 is an insulating material, e.g., SiO 2, SiOx, Si 3 N 4, TiO 2, SiNx, SiO x N y, or Al 2 O 3 Or the like.

절연층(1150)은 굴절률이 서로 다른 적어도 두 개의 층을 적어도 1회 이상 교대로 적층한 복층 구조를 가지는 분산 브래그 반사층(Distributed Bragg Reflective layer)일 수 있다.The insulating layer 1150 may be a Distributed Bragg Reflective layer having a multilayer structure in which at least two layers having different refractive indexes are alternately laminated at least once.

절연층(1150)은 제1 굴절률을 갖는 제1층, 및 제1 굴절률보다 작은 제2 굴절률을 갖는 제2층이 교대로 1회 이상 적층된 구조일 수 있다.The insulating layer 1150 may be a structure in which a first layer having a first refractive index and a second layer having a second refractive index smaller than the first refractive index are alternately stacked one or more times.

예컨대, 절연층(1150)은 TiO2층/SiO2층이 1회 이상 적층된 구조일 수 있고, 제1층 및 제2층 각각의 두께는 λ/4일 수 있고, λ은 발광 구조물(1110)에서 발생하는 광의 파장을 의미할 수 있다.For example, the insulating layer 1150 may be a structure in which the TiO 2 layer / SiO 2 layer is laminated one or more times, the thickness of each of the first and second layers may be lambda / 4, The wavelength of light emitted from the light source can be expressed by the following equation.

도 3에 도시된 바와 같이, 제1 전극(1130)의 제2 확장부(1132b)는 활성층(1114) 및 제2 도전형 반도체층(1116)의 측면 상에 위치하는 제2 절연층(1154)의 일부와 이격하여 위치할 수 있다.3, the second extension 1132b of the first electrode 1130 includes a second insulating layer 1154 located on the sides of the active layer 1114 and the second conductivity type semiconductor layer 1116, As shown in FIG.

또한 제2 확장부(1132b)의 최하단은 제1 및 제2 절연층들(1152,1154)으로부터 이격하여 위치할 수 있다. 이는 패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판 등과의 본딩시, 제2 확장부(1132b)와 제2 전극 패드(1145) 간의 전기적인 단락을 방지하기 위함이다. In addition, the lowermost end of the second extension part 1132b may be spaced apart from the first and second insulating layers 1152 and 1154. This is to prevent an electrical short between the second extension part 1132b and the second electrode pad 1145 when bonding with a package body, a submount, or a substrate.

예컨대, 제2 확장부(1132b)는 수직선(1301)을 기준으로 경사지도록 확장될 수 있으며, 수직선(1301)은 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직이고, 제1 확장부(1132a)와 제2 확장부(1132b)가 만나는 부분을 지나는 가상의 직선일 수 있다.For example, the second extension part 1132b may be extended to be inclined with respect to the vertical line 1301, the vertical line 1301 may be perpendicular to the upper surface of the first conductive type semiconductor layer, the first extension part 1132a, 2 extension part 1132b.

예컨대, 수직선(1301)과 제2 확장부(1132b)의 내측면 간의 내각(θ)은 0°이상이고, 30°보다 작을 수 있다. θ가 0°보다 작을 경우에는 제2 확장부(1132b)의 하단과 제2 전극 패드(1145) 간의 이격 거리가 짧아, 양자 간의 전기적인 단락이 발생할 수 있다. 또한 θ가 30°이상일 경우에는 제2 확장부(1132b)의 형성이 용이하지 않고, 단선될 수 있다.For example, the internal angle [theta] between the vertical line 1301 and the inner surface of the second extending portion 1132b may be 0 or more and less than 30 [deg.]. the distance between the lower end of the second extending portion 1132b and the second electrode pad 1145 is short, and electrical short-circuiting may occur between the two. Further, when? Is 30 or more, the formation of the second extension part 1132b is not easy and can be broken.

θ가 0°인 경우는 제2 확장부(1132b)의 내측면이 수직선(301)과 평행한 경우이고, θ가 양수인 경우는 제2 확장부(1132b)의 내측면이 수직선(301)의 우측에 위치하는 경우이고, θ가 음수인 경우는 수직선(301)을 기준으로 제2 확장부(1132b)의 내측면이 수직선의 좌측(301)에 위치하는 경우일 수 있다.the inner surface of the second extension 1132b is parallel to the vertical line 301 when θ is 0 ° and the inner surface of the second extension 1132b is the right side of the vertical line 301 when θ is a positive number, In the case where? Is negative, the inner side of the second extension 1132b may be located on the left side 301 of the vertical line with respect to the vertical line 301.

또는 예컨대, 제2 확장부(1132b)의 하단과 제2 전극 패드(1145) 간의 단락 방지 및 제2 확장부(1132b)의 단선 방지를 안정적으로 확보하기 위하여, 수직선(1301)과 제2 확장부(1132b) 사이의 내각(θ)은 0°~ 15°일 수도 있다. 또는 예컨대, θ는 5°초과이고 15°이하일 수도 있다.For example, in order to stably secure short-circuit between the lower end of the second extension part 1132b and the second electrode pad 1145 and to prevent breakage of the second extension part 1132b, the vertical line 1301, And the inner angle &thetas; between the inner wall 1132a and the outer wall 1132b may be 0 DEG to 15 DEG. Or, for example, &thetas; may be more than 5 DEG and less than 15 DEG.

예컨대, 제2 확장부(1132b)와 제2 절연층(1154) 간의 이격 거리(D1)는 제1 도전형 반도체층(1112)에서 제2 도전형 반도체층(1116) 방향으로 갈수록 증가할 수 있다.For example, the distance D1 between the second extension 1132b and the second insulation layer 1154 may increase from the first conductivity type semiconductor layer 1112 toward the second conductivity type semiconductor layer 1116 .

제2 확장부(1132b)의 최하단과 제2 전극 패드(1145) 사이의 이격 거리(D2)는 2nm ~ 5nm일 수 있다.The distance D2 between the lowermost end of the second extension part 1132b and the second electrode pad 1145 may be 2 nm to 5 nm.

D2가 2nm 미만일 경우에는 패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판 등과의 본딩시, 제2 확장부(1132b)와 제2 전극 패드(1145) 간의 전기적인 단락 위험이 있을 수 있다.When D2 is less than 2 nm, there is a risk of electrical short circuit between the second extension portion 1132b and the second electrode pad 1145 during bonding with a package body, a submount, or a substrate or the like .

D2가 5nm 초과할 경우에는 제1 전극(1130)의 상부 전극(1134)과 확장 전극(1132)의 연결이 끊어지거나 또는 확장 전극(1132)이 단선될 수 있다.When D2 exceeds 5 nm, the connection between the upper electrode 1134 and the extended electrode 1132 of the first electrode 1130 may be broken or the extended electrode 1132 may be broken.

도 6은 다른 실시 예에 따른 발광 소자(1000-1)의 단면도를 나타낸다. 도 3과 동일한 도면 부호는 동일한 구성을 나타내며, 동일한 구성에 대해서는 설명을 간략하게 하거나 생략한다.6 is a cross-sectional view of a light emitting device 1000-1 according to another embodiment. The same reference numerals as those in FIG. 3 denote the same components, and a description of the same components will be simplified or omitted.

도 3의 패시베이션층(1120a)은 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 일부를 노출한다. 반면에, 도 6의 발광 소자(1000-1)의 패시베이션층(1120a)은 접촉 전극(1136)과 접촉을 위하여 노출되는 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 일부분을 제외하고는, 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면을 노출하지 않을 수 있다.The passivation layer 1120a of FIG. 3 exposes a portion of the top surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112. FIG. On the other hand, the passivation layer 1120a of the light emitting device 1000-1 of FIG. 6 is formed of the same material as the first conductive semiconductor layer 1112 except for a part of the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 1112 exposed for contact with the contact electrode 1136 The upper surface of the one conductivity type semiconductor layer 1112 may not be exposed.

예컨대, 패시베이션층(1120a)은 접촉 전극(1136)과 접촉하는 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면의 일 부분을 제외하고는 제1 도전형 반도체층(1112)의 상면을 전부 덮을 수 있고, 제2 절연층(1154)과 연결 또는 접촉될 수 있다.For example, the passivation layer 1120a may entirely cover the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112 except for a part of the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112 in contact with the contact electrode 1136 The second insulating layer 1154, or the like.

도 7a는 다른 실시 예에 따른 발광 소자(1000-2)의 상측 평면도를 나타내고, 도 7b는 도 7a에 도시된 발광 소자(1000-2)의 하측 평면도를 나타낸다. 도 7a 및 도 7b는 도 6의 패시베이션층(1120a)을 포함하는 실시 예일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 도 3에 도시된 발광 소자(1000)에도 동일하게 적용될 수 있다.FIG. 7A is a top plan view of the light emitting device 1000-2 according to another embodiment, and FIG. 7B is a bottom plan view of the light emitting device 1000-2 shown in FIG. 7A. 7A and 7B may be an embodiment including the passivation layer 1120a of FIG. 6. However, the present invention is not limited thereto, and the same can be applied to the light emitting device 1000 shown in FIG.

도 7a 및 도 7b를 참조하면, 제1 전극(1130a)은 발광 구조물(1110)의 상면의 측변들(1110-1 내지 1110-4) 중 어느 한 측변(예컨대, 1110-3)에 인접하여 위치할 수 있다.7A and 7B, the first electrode 1130a is disposed adjacent to one side (for example, 1110-3) of the side surfaces 1110-1 to 1110-4 on the upper surface of the light emitting structure 1110 can do.

도 8a는 또 다른 실시 예에 따른 발광 소자(1000-3)의 상측 평면도를 나타내고, 도 8b는 도 8a에 도시된 발광 소자(1000-3)의 하측 평면도를 나타내며, 도 9는 도 8a 및 도 8b에 도시된 발광 소자(1000-3)의 Ⅰ-Ⅱ 방향의 단면도를 나타낸다.8A is a top plan view of the light emitting device 1000-3 according to another embodiment, FIG. 8B is a bottom plan view of the light emitting device 1000-3 shown in FIG. 8A, FIG. 9 is a cross- Sectional view of the light emitting device 1000-3 shown in Fig.

도 8a, 도 8b, 및 도 9는 도 6의 패시베이션층(1120a)을 포함하는 실시 예일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 도 3에 도시된 발광 소자(100)에도 동일하게 적용될 수 있다.8A, 8B, and 9 may be embodiments including the passivation layer 1120a of FIG. 6, but the present invention is not limited thereto, and may be equally applied to the light emitting device 100 shown in FIG.

도 8a, 도 8b, 및 도 9를 참조하면, 발광 소자(1000-3)는 2개의 제1 전극들(1130b1, 1130b2)를 가질 수 있다.8A, 8B, and 9, the light emitting device 1000-3 may have two first electrodes 1130b1 and 1130b2.

예컨대, 제1-1 전극(1130b1)은 발광 구조물(1110)의 상면의 측변들(1110-1 내지 1110-4) 중 제1 측변(예컨대, 1110-1)에 인접하여 위치할 수 있고, 제1-2 전극(1130b2)은 발광 구조물(1110)의 상면의 측변들(1110-1 내지 1110-4) 중 제1 측변(예컨대, 1110-1)과 마주보는 제2 측변(예컨대, 1110-2)에 인접하여 위치할 수 있다.For example, the 1-1 electrode 1130b1 may be positioned adjacent to the first side (e.g., 1110-1) of the side surfaces 1110-1 to 1110-4 on the upper surface of the light emitting structure 1110, The 1-2 electrode 1130b2 is connected to a second side (e.g., 1110-2) facing the first side (e.g., 1110-1) of the side surfaces 1110-1 to 1110-4 on the upper surface of the light emitting structure 1110 ). ≪ / RTI >

제1-1 및 제1-2 전극들(1130b1,1130b2) 각각의 구조는 상술한 도 3 또는 도 9의 제1 전극(1130)에 대한 설명이 동일하게 적용될 수 있다.The structure of each of the 1-1 and 1-2 electrodes 1130b1 and 1130b2 may be the same as that of the first electrode 1130 of FIG. 3 or FIG. 9 described above.

도 7a 및 도 7b의 실시 예와 비교할 때, 발광 소자(1000-3)는 2개의 제1 전극들을 구비함으로써, 전류 분산 효율을 향상시킬 수 있다.Compared with the embodiment of FIGS. 7A and 7B, the light emitting device 1000-3 includes two first electrodes, thereby improving the current dispersion efficiency.

도 8a, 도 8b, 및 도 9에서는 2개의 제1 전극들을 예시하나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 실시 예에서 제1 전극들의 수는 3개 이상일 수 있다. 또한 다른 실시 예에서는 제1 전극들은 발광 구조물(1110)의 상면의 측변들(1110-1 내지 1110-4) 중 서로 마주보지 않은 측면들에 배치될 수도 있다.8A, 8B, and 9 illustrate two first electrodes, but are not limited thereto. In other embodiments, the number of first electrodes may be three or more. In other embodiments, the first electrodes may also be disposed on opposite sides of the side surfaces 1110-1 through 1110-4 on the top surface of the light emitting structure 1110. [

도 10a는 다른 실시 예에 따른 발광 소자(1000-4)의 상측 평면도를 나타내고, 도 10b는 도 10a에 도시된 발광 소자(1000-4)의 하측 평면도를 나타낸다. 도 10a 및 도 10b는 도 6의 패시베이션층(1120a)을 포함하는 실시 예일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 도 3에 도시된 발광 소자(1000)에도 동일하게 적용될 수 있다.10A is a top plan view of the light emitting device 1000-4 according to another embodiment, and FIG. 10B is a bottom plan view of the light emitting device 1000-4 shown in FIG. 10A. 10A and 10B may be an embodiment including the passivation layer 1120a of FIG. 6. However, the present invention is not limited thereto, and the same can be applied to the light emitting device 1000 shown in FIG.

도 10a 및 도 10b를 참조하면, 발광 소자(1000-4)는 발광 구조물(1110)의 상면의 가장 자리 영역 상에 위치하는 제1 전극(1130c)을 가질 수 있다.Referring to FIGS. 10A and 10B, the light emitting device 1000-4 may have a first electrode 1130c positioned on the edge region of the upper surface of the light emitting structure 1110. FIG.

예컨대, 제1 전극(1130c)은 발광 구조물(1110)의 상면의 측변들(1110-1 내지 1110-4)에 인접하는 가장 자리에 위치할 수 있다. 발광 소자들(1000-1 내지 1000-3)과 비교할 때, 도 10a 및 도 10b에 도시된 실시 예는 제1 전극(1130c)이 발광 구조물의 상면의 측변들에 인접하는 가장 자리에 위치하기 때문에, 전류 분산에 따른 광효율을 더욱 향상시킬 수 있다.For example, the first electrode 1130c may be located at the edge adjacent to the side surfaces 1110-1 to 1110-4 on the upper surface of the light emitting structure 1110. [ Compared with the light emitting devices 1000-1 to 1000-3, the embodiment shown in Figs. 10A and 10B is different from the light emitting devices 1000-1 to 1000-3 in that the first electrode 1130c is located at the edge adjacent to the side surfaces of the upper surface of the light emitting structure , The light efficiency according to the current dispersion can be further improved.

다른 실시 예에서 제1 전극과 본딩되는 패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판의 도전층의 배치 및 구조에 따라서 제1 전극은 다양한 위치에 배치될 수 있다.In other embodiments, the first electrode may be disposed at various locations depending on the arrangement and configuration of the package body, submount, or conductive layer of the substrate being bonded to the first electrode.

도 3, 도 6, 도 9, 도 7a 및 도 7b, 도 10a 및 도 10b에 도시된 발광 소자(1000, 1000-1 내지 1000-4)는 칩 사이즈(예컨대, 칩의 최대 직경)가 100 마이크로 미터 미만일 수 있다. 이와 같이 직경이 100 마이크로 미만인 발광 소자는 와이어 본딩을 위한 본딩 패드의 형성이 용이하지 않다.The light emitting devices 1000 and 1000-1 to 1000-4 shown in FIGS. 3, 6, 9, 7A and 7B and FIGS. 10A and 10B have a chip size (for example, a maximum chip diameter) Lt; / RTI > In the light emitting device having a diameter of less than 100 microns, it is not easy to form a bonding pad for wire bonding.

패키지 바디(package body), 서브 마운트(submount), 또는 기판의 도전층과 다이 본딩 또는 플립 칩 본딩되는 제1 전극(1130)의 제2 확장부(1132b)의 일단을 발광 구조물과 이격하여 위치시킴으로써, 실시 예는 작은 사이즈의 면적을 갖는 발광 구조물(1110)의 동일 측에 플립 칩 본딩 또는 다이 본딩을 위한 전극 패드를 용이하게 구현할 수 있다.One end of the second extension portion 1132b of the first electrode 1130 that is die-bonded or flip-chip bonded to the package body, submount, or conductive layer of the substrate is placed apart from the light emitting structure , The embodiment can easily implement electrode pads for flip chip bonding or die bonding on the same side of the light emitting structure 1110 having a small size area.

도 11a 내지 도 11i는 도 6에 도시된 발광 소자(1000-1)를 제조하는 방법을 나타내는 공정도이다.11A to 11I are process drawings showing a method of manufacturing the light emitting device 1000-1 shown in Fig.

도 11a를 참조하면, 성장 기판(1410) 상에 발광 구조물(1110)을 형성한다.Referring to FIG. 11A, a light emitting structure 1110 is formed on a growth substrate 1410.

예컨대, 성장 기판(1410) 상에 제1 도전형 반도체층(1112), 활성층(1114), 및 제2 도전형 반도체층(1116)를 순차적으로 형성할 수 있다. 발광 구조물(1110)의 측면은 개별 칩을 구분하기 위하여 발광 구조물에 대한 아이솔레이션(isolation) 식각 공정에 의하여 성장 기판(1410)에 대하여 기울어진 경사면이 될 수 있다.For example, the first conductivity type semiconductor layer 1112, the active layer 1114, and the second conductivity type semiconductor layer 1116 can be sequentially formed on the growth substrate 1410. The side surface of the light emitting structure 1110 may be an inclined surface inclined with respect to the growth substrate 1410 by an isolation etching process for the light emitting structure to separate individual chips.

도 11a에는 도시되지 않았지만, 발광 구조물(1110)과 성장 기판(1410) 간의 격자 상수의 차이에 의한 스트레스를 완화하기 위하여 성장 기판(1410)과 발광 구조물(1110) 사이에 버퍼층(buffer layer) 또는 언도프드 반도체층(undoped-semiconductor layer), 예컨대, 언도프드 GaN층을 더 형성할 수도 있다.Although not shown in FIG. 11A, in order to alleviate stress caused by a difference in lattice constant between the light emitting structure 1110 and the growth substrate 1410, a buffer layer or an undoped layer is formed between the growth substrate 1410 and the light emitting structure 1110, An undoped-semiconductor layer, for example, an undoped GaN layer, may be further formed.

여기서 언도프드 GaN은 Unintentionally doped(의도하지 않은 언도프드) GaN(이하, "UID GaN"이라 칭한다), 특히 n-형의 UID GaN으로 성장될 있다. 예컨대, GaN의 성장 공정에서 n-형 도펀트를 공급하지 않는 영역에서도 N(나트륨)이 결핍된 N-vacancy가 발생할 수 있고, N-vacancy가 많아지면 잉여 전자의 농도가 커져서, UID GaN의 제조 공정에서 의도하지 않았더라고 UID GaN은 n-형 도펀트로 도핑된 것과 유사한 전기적인 특성을 나타낼 수도 있다.Here, undoped GaN can be grown as unintentionally doped (unintended undoped) GaN (hereinafter referred to as "UID GaN"), particularly n-type UID GaN. For example, N-vacancy deficient in N (sodium) may be generated in a region where n-type dopant is not supplied in the growth process of GaN. When N-vacancy increases, the concentration of surplus electrons increases, UID GaN may exhibit electrical properties similar to those doped with an n-type dopant.

성장 기판(1410)은 질화물 반도체 단결정을 성장시키기에 적합한 기판으로서, 예컨대, 사파이어 기판, 실리콘(Si) 기판, 산화아연(ZnO) 기판, 질화물 반도체 기판 중 어느 하나, 또는 GaN, InGaN, AlGaN, AlInGaN 중에서 적어도 어느 하나가 적층된 템플레이트(Template) 기판일 수 있다.The growth substrate 1410 is a substrate suitable for growing a nitride semiconductor single crystal and may be any one of a sapphire substrate, a silicon (Si) substrate, a zinc oxide (ZnO) substrate and a nitride semiconductor substrate, or a substrate made of GaN, InGaN, AlGaN, AlInGaN A substrate, or the like.

다음으로 도 11b를 참조하면, 발광 구조물(1110)의 제2 도전형 반도체층(1116) 상에 제2 전극(1140)을 형성한다. 예컨대, 제2 도전형 반도체층(1116) 상에 제2 전극(1140) 형성을 위한 전도성 물질을 형성한 후에 포토리쏘그라피 공정 및 식각 공정을 통하여 전도성 물질을 패턴화함으로써, 제2 전극(1140)을 형성할 수 있다.Next, referring to FIG. 11B, a second electrode 1140 is formed on the second conductive semiconductor layer 1116 of the light emitting structure 1110. For example, after the conductive material for forming the second electrode 1140 is formed on the second conductive type semiconductor layer 1116, the second electrode 1140 is patterned by patterning the conductive material through the photolithography process and the etching process. Can be formed.

다음으로 도 11c를 참조하면, 발광 구조물(1110)의 측면 및 제2 도전형 반도체층(1116) 상에 절연 물질을 증착하여 절연층(1150)을 형성한다. 예컨대, 제2 도전형 반도체층(1116) 상에 제1 절연층(1152)을 형성함과 동시에 발광 구조물(1110)의 측면에 제2 절연층(1154)을 형성할 수 있으며, 제1 절연층(1152)은 제2 전극(1140)의 상면의 일 영역을 노출할 수 있다.Next, referring to FIG. 11C, an insulating layer 1150 is formed by depositing an insulating material on the side surfaces of the light emitting structure 1110 and the second conductive type semiconductor layer 1116. For example, the first insulating layer 1152 may be formed on the second conductive type semiconductor layer 1116 and the second insulating layer 1154 may be formed on the side surface of the light emitting structure 1110, The first electrode 1152 may expose a region of the upper surface of the second electrode 1140.

다음으로 도 11d를 참조하면, 제1 절연층(1152) 및 노출되는 제2 전극(1140)의 상면의 일 영역 상에 제2 전극 패드(1145)를 형성한다.Next, referring to FIG. 11D, a second electrode pad 1145 is formed on one surface of the first insulating layer 1152 and the upper surface of the exposed second electrode 1140.

예컨대, 제1 절연층(1152) 및 제2 전극(1140)이 형성된 제2 도전형 반도체층(1116) 상에 전도성 물질을 증착한 후에 증착된 전도성 물질을 패터닝함으로써, 절연층(1152) 상에 제2 전극(1140)과 접촉되는 제2 전극 패드(1145)를 형성할 수 있다.For example, a conductive material is deposited on the second conductive type semiconductor layer 1116 having the first insulating layer 1152 and the second electrode 1140, and then the deposited conductive material is patterned to form a conductive layer on the insulating layer 1152 And a second electrode pad 1145 that is in contact with the second electrode 1140 can be formed.

다음으로 도 11e를 참조하면, 임시 기판(Temporary Substrate, 1420), 및 임시 기판(1420) 상에 형성되는 희생층(1430)을 포함하는 지지 기판(1401)을 준비한다.Next, referring to FIG. 11E, a support substrate 1401 including a temporary substrate 1420 and a sacrificial layer 1430 formed on the temporary substrate 1420 is prepared.

실리콘 등과 같은 접착 부재(미도시)에 의하여 제2 전극 패드(1145)를 희생층(1430)에 본딩시킨다. 그리고 제2 전극 패드(1145)가 희생층(1430)에 본딩된 상태에서, 레이저 리프트 오프(Laser Lift Off, LLO) 공정에 의하여 성장 기판(1410)을 제거한다. 도 11e 이후에서는 도 11d에 도시된 발광 구조물(1110)을 180° 회전하여 도시한다.The second electrode pad 1145 is bonded to the sacrificial layer 1430 by an adhesive member (not shown) such as silicon. In a state where the second electrode pad 1145 is bonded to the sacrificial layer 1430, the growth substrate 1410 is removed by a laser lift off (LLO) process. 11E, the light emitting structure 1110 shown in FIG. 11D is rotated by 180 degrees.

다음으로 도 11f를 참조하면, 발광 구조물(1110)과 성장 기판(1410) 사이에 형성되었던 버퍼층 또는 언도프드 반도체층을 식각 등을 통하여 제거한다. 그리고 성장 기판(1410)의 제거에 의하여 노출되는 제1 도전형 반도체층(1112)의 표면에 식각 등을 통하여 광 추출 구조(1112a)를 형성한다.Next, referring to FIG. 11F, a buffer layer or an undoped semiconductor layer formed between the light emitting structure 1110 and the growth substrate 1410 is removed by etching or the like. The light extracting structure 1112a is formed on the surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112 exposed by removal of the growth substrate 1410 through etching or the like.

다음으로 도 11g를 참조하면, 성장 기판(1410)의 제거에 의하여 노출되는 제1 도전형 반도체층(1112)의 표면에 투광성 절연 물질을 증착하여 패시베이션층(1120a)을 형성한다. Next, referring to FIG. 11G, a passivation layer 1120a is formed by depositing a light-transmitting insulating material on the surface of the first conductive type semiconductor layer 1112 exposed by removal of the growth substrate 1410. Next, as shown in FIG.

그리고 패시베이션층(1120a)의 일부를 식각하여, 제1 도전형 반도체층(1112)의 표면의 일부를 노출하는 관통홀(1302)을 형성한다.A part of the passivation layer 1120a is etched to form a through hole 1302 exposing a part of the surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112. [

도 11g의 공정에서 제1 도전형 반도체층(1112)의 표면을 노출하도록 패시베이션층(1120a)을 패턴닝함에 의하여, 도 3에 도시된 실시 예가 구현될 수 있다.The embodiment shown in FIG. 3 can be realized by patterning the passivation layer 1120a to expose the surface of the first conductivity type semiconductor layer 1112 in the process of FIG. 11G.

다음으로 도 11h를 참조하면, 관통홀(1301)을 채우도록 도전성 물질을 패시베이션층(1120a)에 증착한다. 이때 패시베이션층(1120a) 상에 형성되는 도전성 물질을 발광 구조물(1110)의 일 측의 희생층(1430)의 상면까지 확장되도록 증착시킨다.Next, referring to FIG. 11H, a conductive material is deposited on the passivation layer 1120a so as to fill the through hole 1301. Next, as shown in FIG. At this time, a conductive material formed on the passivation layer 1120a is deposited to extend to the upper surface of the sacrificial layer 1430 on one side of the light emitting structure 1110. [

그리고 패시베이션층(1120a) 상에 형성되는 도전성 물질을 패터닝함으로써, 제1 전극(1130)을 형성한다. 이때 관통홀(1301)에 채워진 도전성 물질은 제1 도전형 반도체층(1112)의 표면과 접촉할 수 있다.The first electrode 1130 is formed by patterning a conductive material formed on the passivation layer 1120a. At this time, the conductive material filled in the through hole 1301 may contact the surface of the first conductive type semiconductor layer 1112.

다음으로 도 11i를 참조하면, 화학적 식각을 이용하여 희생층(1430)을 제거함으로써, 임시 기판(1420)을 제거하여, 실시 예에 따른 발광 소자(1000-1)를 얻을 수 있다.Next, referring to FIG. 11I, the sacrificial layer 1430 is removed by chemical etching to remove the temporary substrate 1420 to obtain the light emitting device 1000-1 according to the embodiment.

도 12는 실시 예에 따른 조명 장치(1200)의 단면도를 나타낸다.12 shows a cross-sectional view of a lighting device 1200 according to an embodiment.

도 12를 참조하면, 조명 장치(1200)는 기판(1510), 몸체(1520), 적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5), 및 투광성 부재(1540)를 포함한다.12, the illumination device 1200 includes a substrate 1510, a body 1520, at least one light emitting device (e.g., 1530-1 to 1530-5), and a light transmitting member 1540.

기판(1510)은 제1 및 제2 배선층들(1512, 1514) 및 절연층(1515)을 포함하는 인쇄회로기판일 수 있다. 예컨대, 기판(1510)은 연성회로기판일 수 있다.The substrate 1510 may be a printed circuit board including first and second wiring layers 1512 and 1514 and an insulating layer 1515. [ For example, the substrate 1510 may be a flexible circuit substrate.

제1 및 제2 배선층들(1512, 1514)은 기판(1510) 상에 서로 이격하여 배치될 수 있으며, 절연층(1515)은 제1 및 제2 배선층들(1512, 1514) 사이의 기판(1510)의 상면 상에 배치되어 제1 및 제2 배선층들(1512, 1514) 간을 전기적으로 절연시킬 수 있다. 또는 다른 실시 예에서는 절연층(1515)은 생략될 수도 있다.The first and second wiring layers 1512 and 1514 may be spaced apart from each other on the substrate 1510 and the insulating layer 1515 may be formed on the substrate 1510 between the first and second wiring layers 1512 and 1514 So that the first and second wiring layers 1512 and 1514 can be electrically insulated from each other. Or in other embodiments the insulating layer 1515 may be omitted.

적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)는 기판(1510) 상에 배치되며, 제1 및 제2 배선층들(1512, 1514)과 전기적으로 연결된다. 적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)는 상술한 실시 예에 따른 발광 소자들(1000, 1000-1 내지 1000-4) 중 어느 하나일 수 있다.At least one light emitting device (e.g., 1530-1 to 1530-5) is disposed on the substrate 1510, and is electrically connected to the first and second wiring layers 1512 and 1514. At least one light emitting device (e.g., 1530-1 to 1530-5) may be any one of the light emitting devices 1000, 1000-1 to 1000-4 according to the above-described embodiment.

몸체(1520)는 기판(1510) 상에 배치되며, 적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)로부터 조사되는 빛을 반사시킨다.The body 1520 is disposed on the substrate 1510 and reflects light emitted from at least one light emitting device (e.g., 1530-1 to 1530-5).

예컨대, 몸체(1520)는 캐비티를 가지며, 적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)는 캐비티 내에 배치될 수 있다. For example, the body 1520 has a cavity, and at least one light emitting device (e.g., 1530-1 to 1530-5) may be disposed in the cavity.

예컨대, 몸체(1520)는 발광 소자들의 개수에 대응하는 수의 캐비티들을 포함할 수 있으며, 캐비티들 각각에는 발광 소자들 중 대응하는 어느 하나가 배치될 수 있다.For example, the body 1520 may include a number of cavities corresponding to the number of light emitting elements, and each corresponding one of the light emitting elements may be disposed in each of the cavities.

또한 몸체(1520)는 적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)의 주위를 감싸는 격벽(1520a)을 가질 수 있다. 격벽(1520a)의 측면은 기판(1510)의 상부면에 대하여 기울어진 경사면일 수 있으며, 적어도 하나의 발광 소자(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)로부터 조사되는 빛을 반사시킬 수 있다.Also, the body 1520 may have a partition 1520a surrounding the periphery of at least one light emitting device (e.g., 1530-1 to 1530-5). The side surfaces of the barrier ribs 1520a may be inclined surfaces inclined with respect to the upper surface of the substrate 1510 and may reflect light emitted from at least one of the light emitting devices 1530-1 to 1530-5.

도 12에서 발광 소자의 수는 5개이나, 이에 한정되는 것은 아니다. 조명 장치(1200)가 복수 개의 발광 소자들을 구비할 경우, 조명 장치는 발광 모듈로 구현될 수 있다.12, the number of light emitting elements is five, but the present invention is not limited thereto. When the illumination device 1200 includes a plurality of light emitting devices, the illumination device may be implemented as a light emitting module.

또한 예컨대, 다른 실시 예에서 발광 소자의 수는 1개일 수 있으며, 몸체(1520)는 발광 소자가 배치되는 1개의 캐비티를 가질 수 있으며, 실시 예에 따른 조명 장치(1200)는 발광 소자 패키지 형태로 구현될 수 있다.Also, for example, in another embodiment, the number of light emitting elements may be one, and the body 1520 may have one cavity in which the light emitting elements are disposed, and the lighting apparatus 1200 according to the embodiment may be a light emitting element package Can be implemented.

또한 예컨대, 조명 장치(1200)가 복수 개의 발광 소자들을 구비하고, 복수 개의 발광 소자들이 청색광, 적색광, 또는 녹색광을 발생하는 경우에는, 발광 모듈 또는 이미지를 표현하는 디스플레이 장치의 광원으로 구현될 수도 있다.For example, when the illumination device 1200 includes a plurality of light emitting devices, and the plurality of light emitting devices generate blue light, red light, or green light, the light may be implemented as a light source of a display device that displays a light emitting module or an image .

실시 예에 따른 발광 소자들은 두께를 줄일 수 있기 때문에, 이를 포함하는 발광 모듈 또는 디스플레이 장치는 크기 예컨대, 두께를 줄일 수 있다.Since the light emitting devices according to the embodiments can reduce the thickness, the light emitting module or the display device including the same can reduce the size, for example, the thickness.

일반적인 수평형 발광 소자는 성장 기판(예컨대, 사파이어 기판)을 포함하지만, 실시 예의 발광 소자들(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)은 성장 기판을 포함하지 않아 두께를 줄일 수 있다.A typical horizontal light emitting device includes a growth substrate (e.g., sapphire substrate), but the light emitting devices (e.g., 1530-1 to 1530-5) of the embodiment do not include a growth substrate and can be reduced in thickness.

일반적인 수직형 발광 소자는 제1 전극 패드와 제2 전극 패드가 발광 구조물의 서로 반대 측에 배치되는 반면에, 실시 예의 발광 소자들(예컨대, 1530-1 내지 1530-5)은 제2 전극 패드(1145) 및 제1 전극(1130)의 제2 확장부(1132b)가 발광 구조물(1110)의 동일 측에 위치하기 때문에 두께를 줄일 수 있다.In the general vertical type light emitting device, the first electrode pad and the second electrode pad are disposed on opposite sides of the light emitting structure, whereas the light emitting devices (e.g., 1530-1 to 1530-5) 1145 of the first electrode 1130 and the second extension 1132b of the first electrode 1130 are located on the same side of the light emitting structure 1110.

투광성 부재(1540)는 발광 소자(1530-2 내지 1530-5)를 감싸도록 몸체(1520)의 캐비티 내에 배치된다. 투광성 부재(1540)는 외부의 충격에 의한 발광 소자의 파손을 방지할 수 있고, 습기로 인한 발광 소자(1530-2 내지 1530-5)의 변색을 방지할 수 있다. 다른 실시 예에서는 투광성 부재(1540)가 생략될 수도 있다.The light transmitting member 1540 is disposed in the cavity of the body 1520 so as to surround the light emitting elements 1530-2 to 1530-5. The light transmissive member 1540 can prevent breakage of the light emitting element due to an external impact and can prevent discoloration of the light emitting elements 1530-2 to 1530-5 due to moisture. In other embodiments, the light-transmissive member 1540 may be omitted.

도 13은 실시 예에 따른 디스플레이 장치(3000)의 평면도를 나타내고, 도 14는 도 13에 도시된 디스플레이 장치의 AA' 방향의 일 실시 예에 따른 단면도를 나타낸다.FIG. 13 shows a plan view of a display device 3000 according to the embodiment, and FIG. 14 shows a cross-sectional view according to one embodiment of the display device AA 'of FIG.

도 13의 디스플레이 장치(3000)에는 휴대폰, 스마트 폰(smart phone), 노트북 컴퓨터, 디지털 방송용 단말기, PDA(Personal Digital Assistants), PMP(Portable Miltimedia Player), 네비게이션, 슬레이트 피시(Slate PC), 테블릿(Tablet) PC, 디지털 TV, 및 데스크탑 컴퓨터 등이 포함될 수 있으며, 평판 디스플레이 또는 플렉서블 디스플레이(flexible display)로 구현될 수도 있다. 또한 디스플레이 장치(3000)는 디스플레이 패널로 구현될 수 있다.The display device 3000 of FIG. 13 may be a mobile phone, a smart phone, a notebook computer, a digital broadcasting terminal, a PDA (Personal Digital Assistants), a PMP (Portable Miltimedia Player), a navigation device, a slate PC, A tablet PC, a digital TV, and a desktop computer, and may be implemented as a flat panel display or a flexible display. Also, the display device 3000 may be implemented as a display panel.

디스플레이 장치(3000)에 의해 표현되는 시각 정보는 매트릭스 형태로 배치되는 단위 화소(sub-pixel)의 발광이 제어됨으로써 구현될 수 있다. 이때 단위 화소는 R(Red), G(Green), B(Blue)의 조합에 의하여 형성되는 하나의 색을 구현하기 위한 최소 단위일 수 있다. 상술한 실시 예에 따른 발광 소자는 디스플레이 장치(3000)의 단위 화소의 역할을 할 수 있다.The time information represented by the display device 3000 can be realized by controlling the emission of a unit pixel (sub-pixel) arranged in a matrix form. In this case, the unit pixel may be a minimum unit for implementing one color formed by a combination of R (Red), G (Green), and B (Blue). The light emitting device according to the above-described embodiment may serve as a unit pixel of the display device 3000.

도 13 및 도 14를 참조하면, 디스플레이 장치(3000)는 기판(3100), 제1 배선 전극(3112), 제2 배선 전극(3114), 격벽(3520a)을 갖는 몸체(3520), 및 복수의 발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5)을 포함하는 매트릭스 형태의 단위 화소 어레이(P11 내지 Pnm, n,m>1인 자연수), 및 투광성 부재(3540)를 포함할 수 있다.13 and 14, a display device 3000 includes a substrate 3100, a first wiring electrode 3112, a second wiring electrode 3114, a body 3520 having a partition wall 3520a, (A natural number of P11 to Pnm, n, m> 1) in the form of a matrix including light emitting elements (for example, 3530-1 to 3530-5), and a light transmitting member 3540.

기판(3100)은 플렉서블 기판일 수 있다. 예컨대, 기판(3100)은 유리나 폴리이미드(Polyimide)를 포함할 수 있으며, 절연성을 위하여 절연 재질, 예컨대, PEN(Polyethylene Naphthalate), 또는 PET(Polyethylene Terephthalate) 등을 포함할 수 있다. 기판(3100)은 투광성일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 실시 예에서는 불투광성일 수도 있다.The substrate 3100 may be a flexible substrate. For example, the substrate 3100 may include glass or polyimide, and may include an insulating material such as PEN (polyethylene naphthalate) or PET (polyethylene terephthalate) for insulation. The substrate 3100 may be transmissive, but is not limited thereto, and may be opaque in other embodiments.

복수의 발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5)은 기판(3100) 상에 m×n 매트릭스 형태로 배치될 수 있다. 도 14에는 5개의 발광 소자만을 도시하나, 디스플레이 장치(3000)의 발광 소자들의 수는 m×n 매트릭스에 포함된 개수일 수 있다.A plurality of light emitting elements (e.g., 3530-1 to 3530-5) may be disposed on the substrate 3100 in the form of an mxn matrix. 14 shows only five light emitting devices, but the number of light emitting devices of the display device 3000 may be a number included in the mxn matrix.

격벽(3520a)은 복수의 발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5) 사이에 배치되며, 디스플레이 장치(3000)의 목적에 따라 콘트라스트(contrast)를 높이기 위하여 블랙(Black) 절연체를 포함하거나 또는 반사성을 높이기 위하여 화이트(white) 절연체를 포함할 수 있다. The barrier ribs 3520a are disposed between the plurality of light emitting devices 3530-1 to 3530-5 and include a black insulator to enhance the contrast according to the purpose of the display device 3000 Or a white insulator to enhance reflectivity.

도 12의 격벽(1520a), 몸체(1520), 투광성 부재(1540)에 대한 설명이 격벽(3520a), 몸체(3520), 투광성 부재(3540)에 적용될 수 있다.The description of the partition 1520a, the body 1520 and the light transmitting member 1540 in Fig. 12 can be applied to the partition 3520a, the body 3520, and the light transmitting member 3540. [

발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5) 각각은 도 3, 도 6, 도 7a, 도 8a, 및 도 10a에 도시된 실시 예들 중 어느 하나일 수 있다.Each of the light emitting devices (e.g., 3530-1 to 3530-5) may be any of the embodiments shown in Figs. 3, 6, 7A, 8A, and 10A.

제1 배선 전극(3112)은 기판(3100)의 하면에 배치되고, 기판(3100)을 관통하여 발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5) 각각의 제1 전극(1130)의 일단, 예컨대, 확장 전극(1132)의 일단과 연결 또는 본딩된다.The first wiring electrode 3112 is disposed on the lower surface of the substrate 3100 and passes through the substrate 3100 and is connected to one end of the first electrode 1130 of each of the light emitting devices 3530-1 to 3530-5, For example, one end of the extension electrode 1132.

제2 배선 전극(3114)은 기판(3100)의 하면에 제1 배선 전극(3114)과 이격하여 배치되고, 기판(3100)을 관통하여 발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5) 각각의 제2 전극 패드(1145)에 연결 또는 본딩된다.The second wiring electrode 3114 is disposed on the lower surface of the substrate 3100 so as to be spaced apart from the first wiring electrode 3114 and passes through the substrate 3100 to form light emitting elements 3530-1 to 3530-5 The second electrode pad 1145 of the second electrode pad 1145 is connected or bonded.

제1 및 제2 배선 전극들(3112,3114) 각각은 기판(3100)의 하면으로부터 노출될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한 도 14에서는 제1 및 제2 배선 전극들(3112,3114)이 기판(3100)을 관통하지만, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 실시 예에서는 제1 및 제2 배선 전극들(3112,3114)은 기판(3100)을 관통하지 않고, 기판(3100) 상에 위치할 수도 있다.Each of the first and second wiring electrodes 3112 and 3114 may be exposed from the lower surface of the substrate 3100, but is not limited thereto. Although the first and second wiring electrodes 3112 and 3114 pass through the substrate 3100 in FIG. 14, the first and second wiring electrodes 3112 and 3114 are not limited thereto. In other embodiments, But may be located on the substrate 3100 without passing through the substrate 3100. [

도 13 및 도 14에는 도시되지 않았지만, 제1 및 제2 배선 전극들(3112,3114)의 전기적인 단락을 방지하기 위하여 실시 예는 제1 및 제 배선 전극들(3112,3114) 사이의 기판(3100) 하면 상에 절연층을 더 구비할 수 있다.Although not shown in FIGS. 13 and 14, in order to prevent electrical shorting of the first and second wiring electrodes 3112 and 3114, an embodiment may be formed between the first and the wiring electrodes 3112 and 3114 3100), it is possible to further include an insulating layer.

발광 소자들(예컨대, 3530-1 내지 3530-5) 각각은 청색광을 발생하는 발광 소자, 적색광을 발생하는 발광 소자, 및 녹색광을 발생하는 발광 소자를 포함하며, 행 방향 및 열 방향 각각으로 적색광을 발생하는 발광 소자, 녹색광을 발생하는 발광 소자, 및 청색광을 발생하는 발광 소자가 순차적으로 반복하여 배치될 수 있다. 이때 적색광, 녹색광, 청색광을 발생하는 발광 소자들, 예컨대, 단위 화소들이 하나의 이미지 화소(image pixel)을 이룰 수 있다.Each of the light emitting elements 3530-1 to 3530-5 includes a light emitting element that generates blue light, a light emitting element that generates red light, and a light emitting element that generates green light, and emits red light in the row direction and column direction, respectively A light emitting element for generating green light, and a light emitting element for generating blue light may be sequentially and repeatedly arranged. In this case, the light emitting elements, e.g., unit pixels, that emit red light, green light, and blue light may form one image pixel.

단위 화소 어레이에서 적색광을 발생하는 발광 소자의 발광 영역(이하 "적색 발광 영역"이라 함)의 면적, 녹색광을 발생하는 발광 소자의 발광 영역(이하 "녹색 발광 영역"이라 함)의 면적, 및 청색광을 발생하는 발광 소자의 발광 영역(이하 "청색 발광 영역"이라 함)의 면적은 서로 다를 수 있다. 예컨대, 발광 효율이 상대적으로 낮은 녹색 발광 영역의 면적과 적색 발광 영역의 면적이 청색 발광 영역의 면적보다 클 수 있다.(Hereinafter referred to as "green luminescent region") of the light emitting element that emits green light, and a blue light region (hereinafter referred to as " green luminescent region " (Hereinafter referred to as "blue light emitting region") of the light emitting element that emits light can be different from each other. For example, the area of the green light emitting region and the area of the red light emitting region, which have relatively low light emitting efficiency, may be larger than the area of the blue light emitting region.

예컨대, 녹색 발광 영역의 면적은 청색 발광 영역의 면적의 1배 ~ 4배일 수 있고, 적색 발광 영역의 면적은 청색 발광 영역의 면적의 1배 ~ 3 배일 수 있다.For example, the area of the green luminescent region may be 1 to 4 times the area of the blue luminescent region, and the area of the red luminescent region may be 1 to 3 times the area of the blue luminescent region.

또한 예컨대, 다른 실시 예에서는 적색 발광 영역 및 녹색 발광 영역의 면적은 서로 동일할 수도 있다.For example, in another embodiment, the areas of the red light emitting region and the green light emitting region may be equal to each other.

예컨대, 청색 발광 영역의 면적, 적색 발광 영역의 면적, 녹색 발광 영역의 면적의 비율은 1:2:3 또는 1:3:3일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the ratio of the area of the blue light emitting region, the area of the red light emitting region, and the area of the green light emitting region may be 1: 2: 3 or 1: 3: 3, but is not limited thereto.

이상에서 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시 예에 포함되며, 반드시 하나의 실시 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The features, structures, effects and the like described in the embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments can be combined and modified by other persons having ordinary skill in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.

1110: 발광 구조물 1120: 패시베이션층
1130: 제1 전극 1135: 제1 전극 패드
1140: 제2 전극 1145: 제2 전극 패드
1150: 절연층.
1110: light emitting structure 1120: passivation layer
1130: first electrode 1135: first electrode pad
1140: second electrode 1145: second electrode pad
1150: Insulation layer.

Claims (14)

제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함하는 발광 구조물;
상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 패시베이션층;
상기 패시베이션층 상에 배치되고, 일단은 상기 패시베이션층을 관통하여 상기 제1 도전형 반도체층에 접촉되고, 타 단은 상기 발광 구조물의 측부 방향으로 확장되어 상기 발광 구조물의 하단 아래까지 확장되는 제1 전극;
상기 제2 도전형 반도체층 아래에 배치되는 제2 전극;
상기 제2 전극 아래에 배치되는 전극 패드; 및
상기 발광 구조물의 측면에 배치되는 절연층을 포함하며,
상기 제1 전극의 타단은 상기 발광 구조물의 측면에 배치되는 절연층으로부터 이격하는 발광 소자.
A light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer;
A passivation layer disposed on the first conductive semiconductor layer;
A first conductive semiconductor layer disposed on the passivation layer and having one end contacting the first conductive semiconductor layer through the passivation layer and the other end extending toward a side of the light emitting structure, electrode;
A second electrode disposed below the second conductive semiconductor layer;
An electrode pad disposed under the second electrode; And
And an insulating layer disposed on a side surface of the light emitting structure,
And the other end of the first electrode is spaced apart from an insulating layer disposed on a side surface of the light emitting structure.
제1항에 있어서, 상기 제1 전극은,
상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 상부 전극;
상기 상부 전극과 연결되고, 상기 패시베이션층을 관통하여 상기 제1 도전형 반도체층에 접촉되는 적어도 하나의 접촉 전극; 및
상기 상부 전극의 일단과 연결되고, 상기 발광 구조물의 측부 방향으로 확장되어 상기 발광 구조물의 하단 아래까지 확장되는 확장 전극을 포함하는 발광 소자.
The plasma display panel of claim 1,
An upper electrode disposed on the first conductive semiconductor layer;
At least one contact electrode connected to the upper electrode and penetrating the passivation layer to contact the first conductive semiconductor layer; And
And an extension electrode connected to one end of the upper electrode and extending in a side direction of the light emitting structure to extend under the lower end of the light emitting structure.
제2항에 있어서, 상기 확장 전극은,
상기 패시베이션층 상에 배치되고, 상기 상부 전극으로부터 수평 방향으로 확장되는 제1 확장부; 및
상기 제1 확장부와 연결되고, 상기 제1 도전형 반도체층에서 상기 제2 도전형 반도체층으로 향하는 방향으로 상기 제2 도전형 반도체층의 하면 아래까지 확장되는 제2 확장부를 포함하는 발광 소자.
The electrode assembly according to claim 2,
A first extension disposed on the passivation layer and extending horizontally from the upper electrode; And
And a second extension portion connected to the first extension portion and extending below the lower surface of the second conductivity type semiconductor layer in a direction from the first conductivity type semiconductor layer toward the second conductivity type semiconductor layer.
제3항에 있어서,
상기 제2 확장부는 수직 방향으로 상기 발광 구조물과 오버랩되지 않으며, 상기 수직 방향은 상기 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직인 방향인 발광 소자.
The method of claim 3,
The second extension portion does not overlap the light emitting structure in the vertical direction, and the vertical direction is perpendicular to the top surface of the first conductive type semiconductor layer.
제4항에 있어서,
상기 제2 확장부의 하단의 하면은 상기 제2 전극 패드의 하면과 동일 평면 상에 위치하는 발광 소자.
5. The method of claim 4,
And a bottom surface of the lower end of the second extension portion is located on the same plane as the lower surface of the second electrode pad.
제4항에 있어서,
상기 제2 확장부는 수직선을 기준으로 경사지도록 확장되며, 상기 수직선은 상기 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직인 가상의 직선인 발광 소자.
5. The method of claim 4,
Wherein the second extension portion extends to be inclined with respect to a vertical line, and the vertical line is a virtual straight line perpendicular to an upper surface of the first conductive type semiconductor layer.
제6항에 있어서,
상기 수직선과 상기 제2 확장부 간의 내각은 0°~ 15°인 발광 소자.
The method according to claim 6,
And an internal angle between the vertical line and the second extending portion is 0 [deg.] To 15 [deg.].
제4항에 있어서,
상기 제2 확장부와 상기 절연층 간의 이격 거리는 상기 제1 도전형 반도체층에서 상기 제2 도전형 반도체층 방향으로 갈수록 증가하는 발광 소자.
5. The method of claim 4,
Wherein a distance between the second extension portion and the insulating layer increases from the first conductivity type semiconductor layer toward the second conductivity type semiconductor layer.
제3항에 있어서,
상기 제2 확장부는 상기 활성층 및 상기 제2 도전형 반도체층의 측면 상에 위치하는 절연층의 일부와 이격하는 발광 소자.
The method of claim 3,
Wherein the second extending portion is spaced apart from a part of the insulating layer located on the side surfaces of the active layer and the second conductive type semiconductor layer.
제1항에 있어서,
상기 제1 전극은 상기 발광 구조물의 상면의 측변들 중 어느 한 측변에 인접하여 위치하는 발광 소자.
The method according to claim 1,
Wherein the first electrode is located adjacent to one side of the side surfaces of the upper surface of the light emitting structure.
제1항에 있어서, 상기 제1 전극은,
상기 발광 구조물의 상면의 측변들 중 제1 측변에 인접하여 위치하는 제1-1 전극; 및
상기 발광 구조물의 상면의 측변들 중 상기 제1 측변과 마주보는 제2 측변에 인접하여 위치하는 제1-2 전극을 포함하는 발광 소자.
The plasma display panel of claim 1,
A first 1-1 electrode positioned adjacent to a first side of side surfaces of the upper surface of the light emitting structure; And
And a second electrode located adjacent to a second side of the upper surface of the light emitting structure opposite to the first side.
제3항에 있어서,
상기 제2 확장부는 수직 방향으로 상기 접촉 전극과 오버랩되지 않으며, 상기 수직 방향은 상기 제1 도전형 반도체층의 상면과 수직인 방향인 발광 소자.
The method of claim 3,
The second extension portion does not overlap the contact electrode in the vertical direction, and the vertical direction is perpendicular to the top surface of the first conductive type semiconductor layer.
제3항에 있어서, 상기 절연층은,
상기 제2 도전형 반도체층의 하면에 배치되고, 상기 제2 전극을 노출하는 제1 절연층; 및
상기 발광 구조물의 측면에 배치되는 제2 절연층을 포함하며,
상기 제2 확장부의 하단은 상기 제1 절연층 및 제2 절연층으로부터 이격되는 발광 소자.
The semiconductor device according to claim 3,
A first insulating layer disposed on a lower surface of the second conductive semiconductor layer and exposing the second electrode; And
And a second insulating layer disposed on a side surface of the light emitting structure,
And a lower end of the second extension portion is spaced apart from the first insulation layer and the second insulation layer.
제1 배선 전극 및 제2 배선 전극을 포함하는 기판; 및
상기 기판 상에 매트릭스 형태로 배치되는 복수의 발광 소자들을 포함하며,
상기 복수의 발광 소자들은 적색광을 발생하는 제1 발광 소자, 녹색광을 발생하는 제2 발광 소자, 및 청색광을 발생하는 제2 발광 소자를 포함하며,
상기 복수의 발광 소자들 각각은 청구항 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항에 기재된 발광 소자이고,
상기 복수의 발광 소자들 각각의 제1 전극은 상기 제1 배선 전극에 본딩되고, 상기 복수의 발광 소자들 각각의 제2 전극 패드는 상기 제2 배선 전극에 본딩되는 디스플레이 장치.
A substrate including a first wiring electrode and a second wiring electrode; And
A plurality of light emitting elements arranged in a matrix form on the substrate,
The plurality of light emitting devices include a first light emitting device for generating red light, a second light emitting device for generating green light, and a second light emitting device for generating blue light,
Wherein each of the plurality of light emitting elements is the light emitting element according to any one of claims 1 to 13,
Wherein a first electrode of each of the plurality of light emitting elements is bonded to the first wiring electrode and a second electrode pad of each of the plurality of light emitting elements is bonded to the second wiring electrode.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102545087B1 (en) * 2022-09-19 2023-06-20 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR102545077B1 (en) * 2022-09-19 2023-06-21 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR102549235B1 (en) * 2022-09-19 2023-07-03 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR20240080174A (en) * 2022-11-29 2024-06-05 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die and chip die for semiconductor light emitting devices and manufacturing method thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013157496A (en) * 2012-01-31 2013-08-15 Sony Corp Light-emitting element, method of manufacturing the same, and light-emitting device
KR20130118551A (en) * 2012-04-20 2013-10-30 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, method for fabricating the same, and light emitting device package
KR20160041417A (en) * 2014-10-07 2016-04-18 엘지전자 주식회사 Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013157496A (en) * 2012-01-31 2013-08-15 Sony Corp Light-emitting element, method of manufacturing the same, and light-emitting device
KR20130118551A (en) * 2012-04-20 2013-10-30 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, method for fabricating the same, and light emitting device package
KR20160041417A (en) * 2014-10-07 2016-04-18 엘지전자 주식회사 Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102545087B1 (en) * 2022-09-19 2023-06-20 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR102545077B1 (en) * 2022-09-19 2023-06-21 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR102549235B1 (en) * 2022-09-19 2023-07-03 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR102566048B1 (en) * 2022-09-19 2023-08-14 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
KR102613299B1 (en) * 2022-09-19 2023-12-14 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die for semiconductor light emitting devices, semiconductor light emitting devices including the same and manufacturing method thereof
WO2024063478A1 (en) * 2022-09-19 2024-03-28 웨이브로드 주식회사 Epitaxial die for semiconductor light-emitting device, semiconductor light-emitting device including same, and manufacturing methods thereof
WO2024063477A1 (en) * 2022-09-19 2024-03-28 웨이브로드 주식회사 Epitaxial die for semiconductor light-emitting device, semiconductor light-emitting device including same, and manufacturing methods thereof
KR20240044299A (en) * 2022-09-19 2024-04-04 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die with easy electrical defects detection and method of manufacturing semiconductor light emitting device using it
KR20240080174A (en) * 2022-11-29 2024-06-05 웨이브로드 주식회사 Epitaxy die and chip die for semiconductor light emitting devices and manufacturing method thereof

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