KR20170119469A - Mesh type contact pin for testing electric terminal - Google Patents

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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판 등에 실장된 전기 단자를 테스트하는 전기 단자 테스트용 컨택 핀에 관한 것으로서, 본 발명에 따르면, 단일 재질의 모재를 프레스 가공한 후 둘둘 말아 상부접촉단, 하부접촉단 및 메쉬형 스프링이 일체로 제작된 컨택 핀을 제공함으로써 상기 상부접촉단, 상기 하부접촉단 및 상기 메쉬형 스프링을 각각 다양한 태로 제작할 수 있고, 구조가 단순하여 제작공정을 단순화시켜 제조비용을 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 직진도, 뒤틀림 및 전기적 특성을 향상시킬 수 있다. The present invention relates to an electric terminal test contact pin for testing an electric terminal mounted on a printed circuit board or the like. According to the present invention, a base material of a single material is press-processed and then rolled to form an upper contact terminal, a lower contact terminal, The upper contact end, the lower contact end, and the mesh spring can be manufactured in various states by providing the contact pins integrally formed with the spring, and the manufacturing cost can be reduced by simplifying the manufacturing process by simplifying the structure But also straightness, distortion and electrical characteristics can be improved.

Description

전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀{MESH TYPE CONTACT PIN FOR TESTING ELECTRIC TERMINAL}[0001] MESH TYPE CONTACT PIN FOR TESTING ELECTRIC TERMINAL FOR ELECTRICAL TERMINAL TEST [0002]

본 발명은 인쇄회로기판 등에 실장된 전기 단자를 테스트하는 전기 단자 테스트용 컨택 핀에 관한 것으로서, 상세하게는 단일 부품으로 구성되어 조립공정을 생략하여 제조비용을 절감할 수 있는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric terminal test contact pin for testing an electric terminal mounted on a printed circuit board or the like. More particularly, the present invention relates to an electric terminal test contact pin which is composed of a single part, Contact pins.

일반적으로 스프링 핀(spring pin)으로 불리는 포고 핀(pogo pin)은 반도체 분야와 IT 분야의 테스트에 사용된다. 이러한 포고 핀은 반도체 웨이퍼/패키지, LCD 모듈, 카메라모듈 및 이미지센서 등과 같은 검사 대상의 테스트 시에 사용되는 프로브이다. A pogo pin, commonly referred to as a spring pin, is used in semiconductor and IT testing. These pogo pins are probes used for testing objects to be inspected such as semiconductor wafers / packages, LCD modules, camera modules, and image sensors.

도 1은 일반적인 포고 핀을 설명하기 위해 도시한 도면이다. 1 is a view for explaining a general pogo pin.

도 1을 참조하면, 일반적으로 포고 핀(10)은 상부탐침(11)과, 하부탐침(12)과, 상·하부탐침(11, 12) 사이에 탄성력을 제공하는 스프링(13)과, 상부탐침(11)의 하단과 하부탐침(12)의 상단, 그리고 스프링(13)을 내부에 수용하는 몸체(14)를 포함한다. 1, the pogo pin 10 generally includes a spring 13 for providing an elastic force between the upper probe 11, the lower probe 12, the upper and lower probes 11 and 12, A lower end of the probe 11, an upper end of the lower probe 12, and a body 14 for receiving the spring 13 therein.

도 2는 일반적인 포고 핀을 이용한 반도체 패키지 검사용 소켓의 단면도이다. 2 is a cross-sectional view of a socket for inspecting a semiconductor package using a general pogo pin.

도 2를 참조하면, 일반적으로 반도체 패키지 검사용 소켓(1)은 다수의 포고 핀(10)과, 다수의 포고 핀(10)이 소정 간격으로 수용되는 절연성 본체(20)를 포함한다. Referring to FIG. 2, generally, a socket 1 for inspecting a semiconductor package includes a plurality of pogo pins 10 and an insulating main body 20 in which a plurality of pogo pins 10 are received at predetermined intervals.

포고 핀(10)은 상부탐침(11)이 절연성 본체(20)의 상측으로 돌출되고, 하부탐침(12)이 절연성 본체(20)의 하측으로 돌출된다. 이때, 포고 핀(10) 간의 간격은 상부탐침(11)에 접촉되는 반도체 패키지(2)의 외부단자(2a)의 간격, 그리고 하부탐침(12)에 접촉되는 테스트 보드(3)의 컨택트 패드(3a)와 동일한 간격이 되도록 수용된다. The upper probe 11 protrudes to the upper side of the insulating main body 20 and the lower probe 12 protrudes to the lower side of the insulating main body 20 in the pogo pin 10. The spacing between the pogo pins 10 is determined by the distance between the external terminals 2a of the semiconductor package 2 contacting the upper probe 11 and the distance between the external terminals 2a of the contact pads 3a.

반도체 패키지 검사를 위하여 반도체 패키지(2)를 가압하면, 반도체 패키지(2)의 외부단자들(2a)이 포고 핀(10)의 상부탐침(11)에 접촉되고, 하부탐침(12)은 테스트 보드(3)의 컨택트 패드(3a)에 접촉되는데, 포고 핀(10)의 내부에 스프링(13)에 의해 상부탐침(11)과 하부탐침(12)이 탄성 지지되도록 함으로써 반도체 패키지(2)와 테스트 보드(3)를 전기적으로 연결하여 반도체 패키지를 검사할 수 있다. When the semiconductor package 2 is pressed to inspect the semiconductor package, the external terminals 2a of the semiconductor package 2 are brought into contact with the upper probe 11 of the pogo pin 10, The upper probe 11 and the lower probe 12 are resiliently supported by the spring 13 inside the pogo pin 10 so that the semiconductor package 2 and the test The board 3 can be electrically connected to inspect the semiconductor package.

그러나, 일반적인 포고 핀은 상부탐침, 하부탐침, 스프링 및 몸체를 MCT 가공 또는 CNC 가공을 이용하여 각각 별도로 제작한 후, 이들을 조립하여 제작하는데, MCT 가공 또는 CNC 가공을 이용한 원통 가공은 그 특성상 다양한 형태를 갖는 상부탐침, 하부탐침, 스프링 및 몸체를 제작하는데 어려움이 있고, 특히 각 부품별로 가공된 후 이들 부품을 다시 조립해야 하기 때문에 작업이 번거로운 문제가 있었다. However, in general pogo pins, the upper probe, the lower probe, the spring and the body are separately fabricated using MCT machining or CNC machining, and then assembled and manufactured. The cylindrical machining using MCT machining or CNC machining, There is a problem in that it is difficult to manufacture the upper probe, the lower probe, the spring, and the body having the components.

이러한 문제를 해결하기 위해 대한민국 등록특허 10-1577396호(등록일: 2015.12.08.)에 제작 공정이 단순화된 전기 단자 테스트용 컨택 핀이 제안된 바 있었다. 대한민국 등록특허 10-1577396호는 본 출원인에 의해 제안된 것으로서, 포고 핀을 구성하는 상부탐침, 하부탐침, 스프링 및 몸체를 각각 가공을 통해 별도로 제작한 후 조립공정을 통해 조립하여 제작하는 것이 아니라, 하나의 판재를 가공하여 일체로하여 제작함에 따라 조립공정이 생략되어 제작공정을 일정 부분 단순화시킬 수 있었다. In order to solve such a problem, a contact pin for an electric terminal test in which a manufacturing process is simplified in Korean Patent No. 10-1577396 (registered on August 20, 2015) has been proposed. Korean Patent No. 10-1577396 proposed by the applicant of the present invention does not manufacture the upper probe, the lower probe, the spring and the body constituting the pogo pin separately through machining and assembling them through the assembling process, As a single plate is processed and integrated, the assembly process is omitted, and the manufacturing process can be simplified to some extent.

그러나 대한민국 등록특허 10-1577396호에 제안된 종래기술에 따른 컨택 핀은 제1 기둥체인 내부몸체와, 제2 기둥체인 상부접촉단과, 제3 기둥체인 하부접촉단과, 상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단 사이에 일체형으로 연결된 스프링 부재와, 상기 제2 기둥체의 내부면과 상기 내부몸체의 일단을 일체형으로 연결시킨 하나의 연결부재를 포함하여 이루어진 것으로 구조가 복잡하여 제작공정이 복잡한 문제가 있었다. However, the contact pin according to the prior art proposed in Korean Patent No. 10-1577396 includes an inner body as a first column, an upper contact stage as a second column, a lower contact stage as a third column, And a connecting member which integrally connects the inner surface of the second column body and the one end of the inner body. This complicates the manufacturing process.

KR 10-1577396 B1, 2015. 12. 08.KR 10-1577396 B1, Dec 08, 2015.

따라서, 본 발명은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로서, 단일 부품으로 구성되어 구조가 단순하고, 복잡한 조립공정의 생략으로 제작공정을 단순화시켜 제조비용을 절감할 수 있는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀에 관한 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made in order to solve the problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide an electric terminal test mesh which is simple in structure and simple in manufacturing, Type contact pins.

상기한 목적을 달성하기 위한 일 측면에 따른 본 발명은 상부접촉단; 하부접촉단; 및 상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단 사이에 일체로 형성되어 상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단을 상호 연결하되, 복수 개의 홀이 형성되어 메쉬 형태로 이루어진 스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀을 제공한다.According to an aspect of the present invention, Lower contact end; And a spring formed integrally with the upper contact end and the lower contact end to interconnect the upper contact end and the lower contact end, wherein the spring has a plurality of holes and is formed in a mesh shape Providing a mesh-like contact pin.

바람직하게, 상기 상부접촉단, 상기 하부접촉단 및 상기 스프링은 단일 재질의 편평한 판재를 프레스 가공한 후 프레스 가공된 판재를 둘둘 말거나 접어 제작한 것을 특징으로 할 수 있다. Preferably, the upper contact end, the lower contact end, and the spring are formed by pressing a flat plate material of a single material and then folding or folding the press-processed plate material.

바람직하게, 상기 스프링 및 상기 하부접촉단과 동일 재질로 상기 스프링과 상기 하부접촉단 사이에 일체로 연결된 홀더부재를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. The holder may further include a holder member integrally connected to the spring and the lower contact end of the same material as the spring and the lower contact end.

바람직하게, 상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단은 대칭구조로 형성된 것을 특징으로 할 수 있다. Preferably, the upper contact end and the lower contact end are formed in a symmetrical structure.

바람직하게, 상기 하부접촉단은 바(bar) 형상으로 형성된 것을 특징으로 할 수 있다. Preferably, the lower contact end is formed in a bar shape.

바람직하게, 상기 스프링은 상부스프링과 하부스프링을 포함하고, 상기 상부스프링과 상기 하부스프링 사이에는 상기 상부스프링과 상기 하부스프링과 동일 재질로 일체로 연결된 홀더부재를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. Preferably, the spring includes an upper spring and a lower spring, and a holder member integrally connected to the upper spring and the lower spring by the same material as the upper spring and the lower spring may be further included .

바람직하게, 상기 상부접촉단, 상기 하부접촉단 및 상기 스프링은 모두 베릴륨쿠퍼(BeCu) 등과 같은 단일 재질이거나, 하나의 판재로 이루어진 이형 재질로 일체로 형성된 것을 특징으로 할 수 있다. Preferably, the upper contact end, the lower contact end, and the spring are all made of a single material such as beryllium cooper (BeCu), or may be integrally formed of a release material made of a single plate material.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 단일 재질의 모재를 프레스 가공한 후 둘둘 말거나 접어 상부접촉단, 하부접촉단 및 메쉬형 스프링이 일체로 제작된 컨택 핀을 제공함으로써 상기 상부접촉단, 상기 하부접촉단 및 상기 메쉬형 스프링을 각각 다양한 태로 제작할 수 있고, 구조가 단순하여 제작공정을 단순화시켜 제조비용을 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 직진도, 뒤틀림 및 전기적 특성을 향상시킬 수 있다. As described above, according to the present invention, since the base material of a single material is pressed and then folded or folded to provide the contact pin in which the upper contact end, the lower contact end and the mesh spring are integrally formed, The lower contact stage, and the mesh spring can be manufactured in various shapes, and the structure is simple, so that the fabrication process can be simplified to reduce the manufacturing cost and improve the straightness, warping and electrical characteristics.

도 1은 일반적인 포고 핀의 단면도.
도 2는 일반적인 포고 핀을 이용한 반도체 패키지 검사용 소켓의 단면도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀을 도시한 도면.
도 4는 도 3에 도시된 컨택 핀을 위에서 바라본 평면도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀의 다른 형상을 설명하기 위해 도시한 도면.
도 6 내지 도 8은 도 3에 도시된 컨택 핀의 제작 과정을 설명하기 위해 도시한 도면들.
도 9는 도 3에 도시된 컨택 핀의 변형예를 설명하기 위해 도시한 정면도.
도 10은 도 3에 도시된 컨택 핀의 다른 변형예를 설명하기 위해 도시한 정면도.1 is a cross-sectional view of a typical pogo pin.
2 is a cross-sectional view of a socket for inspecting a semiconductor package using a general pogo pin.
3 is a view showing a mesh-type contact pin for testing an electric terminal according to an embodiment of the present invention.
4 is a top plan view of the contact pin shown in FIG. 3;
5 is a view for explaining another shape of a mesh-type contact pin for testing an electric terminal according to an embodiment of the present invention;
FIGS. 6 to 8 are views for explaining a manufacturing process of the contact pin shown in FIG. 3. FIG.
Fig. 9 is a front view for explaining a modification of the contact pin shown in Fig. 3; Fig.
FIG. 10 is a front view illustrating another modification of the contact pin shown in FIG. 3; FIG.

이하, 본 발명의 장점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라, 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있다. 그리고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 또한 본 발명을 설명하는데 있어서 관련된 공지기술 등이 본 발명의 요지를 흐리게 할 수 있다고 판단되는 경우 그에 관한 자세한 설명은 생략하기로 하며, 도면상에서 동일한 도면부호는 동일한 요소를 지칭한다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and how to achieve them, will be apparent from the following detailed description of embodiments thereof taken in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described below, but may be embodied in various forms. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail. Like reference numerals refer to like elements throughout.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀을 설명하기 위해 도시한 도면이고, 도 4는 도 3에 도시된 컨택 핀의 상부접촉단을 위에서 바라본 평면도이다. 여기서, 도 3의 (a)는 컨택 핀의 정면도이고, (b)는 컨택 핀의 측면도이다. FIG. 3 is a view for explaining a mesh-type contact pin for testing an electric terminal according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a top plan view of an upper contact end of the contact pin shown in FIG. 3 (a) is a front view of the contact pin, and FIG. 3 (b) is a side view of the contact pin.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀(30)은 상부접촉단(31)과, 하부접촉단(32)과, 상부접촉단(31)과 하부접촉단(32)을 상호 연결하고 복수 개의 홀(33a)이 형성된 메쉬(mesh) 형상의 스프링(33)을 포함한다. 이때, 상부접촉단(31), 하부접촉단(32) 및 스프링(33)은 편평한 모재(판재)를 원하는 형상으로 타발한 후 둘둘 말아 관 형상으로 일체로 제작한다. 3 and 4, a mesh-type contact pin 30 for testing an electric terminal according to an embodiment of the present invention includes an upper contact end 31, a lower contact end 32, an upper contact end 31, And a mesh-shaped spring 33 interconnecting the lower contact end 32 and the plurality of holes 33a. At this time, the upper contact end 31, the lower contact end 32, and the spring 33 are formed by flattening the base material (plate material) into a desired shape and then rolling it into a tubular shape.

이와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 컨택 핀(30)은 단일 재질의 모재를 프레스 가공하여 상부접촉단(31), 하부접촉단(32) 및 스프링(33)에 대응하는 형상을 갖도록 타발한 후 이를 둘둘 말거나 접어 일체로 제작함으로써 상부접촉단(31), 하부접촉단(32) 및 스프링(33)을 각각 다양한 형태로 제작할 수 있고, 내부몸체가 필요하지 않아 구조가 단순하여 제작공정을 단순화시켜 제조비용을 절감할 수 있다. 또한 스프링이 형성될 부위에 프레스를 이용하여 복수 개의 홀(33a)을 형성하고, 이를 통해 메쉬형 스프링(33)을 제작함으로써 직진도, 뒤틀림 및 전기적 특성을 향상시킬 수 있다. The contact pin 30 according to the embodiment of the present invention is formed by pressing the base material of a single material and pressing the base material so as to have a shape corresponding to the upper contact end 31, the lower contact end 32, The upper contact stage 31, the lower contact stage 32, and the spring 33 can be manufactured in various shapes, and the structure is simple since the internal body is not required, thereby simplifying the manufacturing process So that the manufacturing cost can be reduced. In addition, a plurality of holes 33a are formed in the portions where the springs are to be formed, and the mesh-like springs 33 are formed through the holes to improve straightness, distortion, and electrical characteristics.

본 발명에서, 홀(33a)의 형상은 원형, 타원형 또는 꼭지점이 3개 이상인 다각형으로 형성할 수 있고, 그 크기는 서로 동일하거나 혹은 서로 다를 수 있다. 이때, 홀(33a)의 형상, 개수 및 크기는 스프링(33)의 특성을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. In the present invention, the shape of the hole 33a may be circular, elliptical, or polygonal with three or more vertices, and may have the same or different sizes. At this time, the shape, the number and the size of the holes 33a can be appropriately selected in consideration of the characteristics of the spring 33.

본 발명의 실시예에 따른 컨택 핀(30)은 원판을 타발하여 원하는 형상을 형성한 후, 둘둘 말거나 접어 관 형상으로 제작할 때 평면 상에서 다양한 형태로 제작될 수 있다. 이와 같이, 단일 재질의 모재를 프레스 가공하여 제작함에 따라 상부접촉단(31)과 하부접촉단(32)은 스프링(33)에 의해 서로 일체로 연결된다. 이에 따라 하부접촉단(32)이 테스트 대상인 전기 단자에 접촉되어 상부접촉단(31)을 통해 테스트 진단 장치로 전기 단자의 신호를 전송한다. 경우에 따라서는 반대로 사용될 수 있다. The contact pins 30 according to the exemplary embodiment of the present invention may be formed in various shapes on a plane when the original plate is formed to have a desired shape and then formed into a hollow shape or a folded tubular shape. As described above, the upper contact end 31 and the lower contact end 32 are integrally connected to each other by the spring 33 by pressing and manufacturing a single material base material. Whereby the lower contact end 32 contacts the electrical terminal to be tested and transmits a signal of the electrical terminal to the test diagnostic device via the upper contact end 31. [ In some cases, it can be used in reverse.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀의 다른 형상을 설명하기 위해 도시한 도면으로서, 컨택 핀의 상부접촉단을 위에서 바라본 평면도이다.FIG. 5 is a top view of an upper contact end of a contact pin, illustrating another shape of a mesh-type contact pin for testing an electric terminal according to an embodiment of the present invention. FIG.

도 4 및 도 5와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 컨택 핀(30)은 판재를 타발하여 원하는 형상을 형성한 후, 둘둘 말거나 접는 과정에서, 도 4와 같이 도넛형으로 형성하거나, 도 5와 같이, 원판의 일측부와 타측부가 일부 중첩된 원형(30a), 사각형(30b), 혹은 원형(30c) 등으로 형성할 수도 있다. 이외에도 다양한 형상을 갖도록 제작될 수 있다. 물론 상부접촉단(31) 및 하부접촉단(32) 또한 다양한 형태로 형성될 수 있다. 이러한 형상들은 컨택 핀(30)의 특성을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 4 and 5, the contact pin 30 according to the embodiment of the present invention may be formed into a donut shape as shown in FIG. 4 in the process of being folded or folded after a desired shape is formed by tapping the plate material, A rectangular shape 30b, a circular shape 30c, or the like in which one side portion and the other side portion of the original plate are partially overlapped with each other. And may be manufactured to have various shapes. Of course, the upper contact end 31 and the lower contact end 32 may also be formed in various forms. These shapes can be appropriately selected in consideration of the characteristics of the contact pins 30. [

도 6 내지 도 8은 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀의 제작 과정을 설명하기 위해 도시한 도면들로서, 도 6은 판재를 도시한 도면이고, 도 7은 타발 공정이 완료된 상태를 도시한 도면이고, 도 8은 완성된 컨택 핀을 도시한 도면이다. 6 to 8 are diagrams for explaining a process of manufacturing a mesh-type contact pin for testing an electric terminal according to an embodiment of the present invention, FIG. 6 is a view showing a plate material, and FIG. 7 is a cross- FIG. 8 is a view showing a completed contact pin. FIG.

도 6과 같이, 편평한 원소재인 판재(A)를 준비한다. 이때 판재(A)는 전도성 판재로서 전도성을 가지는 다양한 재질이 사용될 수 있는데, 바람직하게는 전도성을 가지면서 탄성력을 가지는 베릴륨쿠퍼(BeCu) 등과 같은 단일 재질로 형성하거나, 하나의 판재로 이루어진 이형 재질로 일체로 형성할 수 있다. As shown in Fig. 6, a flat plate material A is prepared. At this time, the plate material A may be formed of a conductive material such as beryllium copper (BeCu) having conductivity and elasticity, or may be formed of a single plate material. It can be integrally formed.

이후, 도 7과 같이, 프레스 가공을 이용하여 상부접촉단(31), 하부접촉단(32) 및 스프링(33)에 각각 대응하는 형상을 갖도록 판재(A)를 타발한다. 이때, 프레스 가공은 판재(A)를 절단하여 가공하는 방식으로, 상부접촉단(31)과 하부접촉단(32)은 절단 가공하고, 일정한 탄성력이 부가되도록 상부접촉단(31)과 하부접촉단(32) 사이에는 복수 개의 홀(33a)을 천공하여 스프링(33)을 형성한다. Thereafter, as shown in Fig. 7, the plate material A is pressed using the press working so as to have a shape corresponding to the upper contact end 31, the lower contact end 32, and the spring 33, respectively. The upper contact end 31 and the lower contact end 32 are cut so that a predetermined elastic force is applied to the upper contact end 31 and the lower contact end 32 so that a constant elastic force is applied. A plurality of holes 33a are formed between the first and second plates 32 to form a spring 33. [

이후, 도 8과 같이, 프레스 가공을 통해 상부접촉단(31), 하부접촉단(32) 및 스프링(33)에 각각 대응하는 형상을 갖도록 가공된 판재(A)를 둘둘 말거나 접어 컨택 핀(30)을 완성한다. 이때, 판재(A)를 둘둘 말거나 접는 과정에서 회수 및 형상을 적절히 조정하여 도 4 및 도 5와 같이 다양한 형상을 갖는 관형 구조의 컨택 핀(30)을 제작할 수 있다. Thereafter, as shown in Fig. 8, the plate material A processed to have a shape corresponding to the upper contact end 31, the lower contact end 32 and the spring 33 is pressed or folded through the contact pins 30 ). At this time, it is possible to manufacture the contact pins 30 having a tubular structure having various shapes as shown in FIGS. 4 and 5 by appropriately adjusting the recovery and shape in the process of folding or folding the plate material A.

도 6 내지 도 8과 같이, 본 발명의 실시예에 따른 컨택 핀(30)은 모재인 판재(A)를 프레스 가공하여 상부접촉단(31), 하부접촉단(32) 및 스프링(33)을 제작한 후 이를 둘둘 말거나 접어 제작함으로써 종래대비 제작공정이 단순하여 제조비용을 절감할 수 있다.6 to 8, the contact pin 30 according to the embodiment of the present invention presses the plate material A as a base material and presses the upper contact end 31, the lower contact end 32, The manufacturing process can be simplified compared with the conventional method, and the manufacturing cost can be reduced.

한편, 본 발명의 컨택 핀은 도 9 및 도 10과 같이 다양한 형상으로 변형될 수 있다. Meanwhile, the contact pin of the present invention can be modified into various shapes as shown in FIGS.

도 9는 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀의 형상을 변형한 변형예를 설명하기 위해 도시한 정면도이고, 도 10은 본 발명의 실시예에 따른 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀의 다른 변형예를 설명하기 위해 도시한 정면도이다. FIG. 9 is a front view illustrating a modification of the shape of the mesh-type contact pin for testing an electric terminal according to the embodiment of the present invention, FIG. 10 is a front view of the mesh- And is a front view showing another modification of the contact pin.

도 9를 참조하면, 변형예에 따른 컨택 핀(40)은 상부접촉단(41)과, 하부접촉단(42) 사이에 상부스프링(43)과, 홀더부재(44) 및 하부스프링(45)이 일체로 연결된 구조를 갖는다. 9, the contact pin 40 according to the modification includes an upper spring 43, a holder member 44, and a lower spring 45 between the upper contact end 41 and the lower contact end 42, Are integrally connected to each other.

상부스프링(43), 홀더부재(44) 및 하부스프링(45)은 프레스 가공을 통해 형성되며, 홀더부재(44)에는 외부로 돌출된 캐리어부재(도시되지 않음)가 더 결합될 수 있다. 이때 홀더부재(44)는 프레스 가공에 의해 제작되기 때문에 다양한 형태를 가질 수 있다. 예를 들면, 단면이 사각형태를 가지거나, 혹은 원통형 형태로 가질 수 있다. 그리고 상기 캐리어부재는 외부에서 쉽게 파지할 수 있도록 해주는 부재이다. The upper spring 43, the holder member 44 and the lower spring 45 are formed through press working, and the holder member 44 may further be coupled with an outwardly projecting carrier member (not shown). At this time, since the holder member 44 is manufactured by press working, it can have various shapes. For example, the cross section may have a rectangular shape or may have a cylindrical shape. And the carrier member is a member that allows easy gripping from the outside.

도 10을 참조하면, 다른 변형예에 따른 컨택 핀(50)은 상부접촉단(51)과, 하부접촉단(52)과, 스프링(53)과, 홀더부재(54)를 포함한다. 상부접촉단(51)과, 스프링(53)과, 홀더부재(54)는 도 9에 도시된 컨택 핀(40)의 상부접촉단(41)과, 상부스프링(43) 및 홀더부재(44)와 동일한 형상으로 이루어지는데 반해, 하부접촉단(52)은 인쇄회로기판에 직접 구속할 수 있도록 일자형 바(bar) 형상으로 이루어질 수 있다. 10, a contact pin 50 according to another modification includes an upper contact end 51, a lower contact end 52, a spring 53, and a holder member 54. The upper contact end 51, the spring 53 and the holder member 54 are connected to the upper contact end 41 of the contact pin 40 shown in Fig. 9 and the upper contact end 41 of the upper spring 43 and the holder member 44, The lower contact end 52 may have a straight bar shape so as to be directly restrained to the printed circuit board.

이상에서와 같이 본 발명의 기술적 사상은 바람직한 실시예에서 구체적으로 기술되었으나, 상기한 바람직한 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아니다. 이처럼 이 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 본 발명의 실시예의 결합을 통해 다양한 실시예들이 가능함을 이해할 수 있을 것이다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.

1 : 반도체 패키지 검사용 소켓 2 : 반도체 패키지
2a : 외부단자 3 : 테스트 보드
3a : 컨택트 패드 10 : 포고 핀
11 : 상부탐침 12 : 하부탐침
13 : 스프링 14 : 몸체
20 : 절연성 본체 A : 판재
30, 40, 50 : 컨택 핀 31, 41, 51 : 상부접촉단
32, 42, 52 : 하부접촉단 33, 53 : 스프링
33a : 홀 43 : 상부스프링
44, 54 : 홀더부재 45 : 하부스프링1: Socket for inspection of semiconductor package 2: Semiconductor package
2a: external terminal 3: test board
3a: Contact pad 10: Pogo pin
11: upper probe 12: lower probe
13: spring 14: body
20: Insulation Body A: Plate
30, 40, 50: contact pins 31, 41, 51: upper contact end
32, 42, 52: lower contact end 33, 53: spring
33a: hole 43: upper spring
44, 54: holder member 45: lower spring

Claims (7)

상부접촉단;
하부접촉단; 및
상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단 사이에 일체로 형성되어 상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단을 상호 연결하되, 복수 개의 홀이 형성되어 메쉬 형태로 이루어진 스프링;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.
Upper contact end;
Lower contact end; And
A spring formed integrally between the upper contact stage and the lower contact stage and interconnecting the upper contact stage and the lower contact stage, wherein the spring has a plurality of holes formed therein;
Wherein the first and second contact terminals are electrically connected to each other.
제 1 항에 있어서,
상기 상부접촉단, 상기 하부접촉단 및 상기 스프링은 단일 재질의 편평한 판재를 프레스 가공한 후, 프레스 가공된 판재를 둘둘 말거나 접어 제작한 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.
The method according to claim 1,
Wherein the upper contact end, the lower contact end, and the spring are formed by pressing a flat plate material of a single material and then folding or folding the press-processed plate material.
제 1 항에 있어서,
상기 스프링 및 상기 하부접촉단과 동일 재질로 상기 스프링과 상기 하부접촉단 사이에 일체로 연결된 홀더부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.
The method according to claim 1,
Further comprising a holder member integrally connected to the spring and the lower contact end of the same material as the spring and the lower contact end.
제 1 항에 있어서,
상기 상부접촉단과 상기 하부접촉단은 대칭구조로 형성된 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.
The method according to claim 1,
Wherein the upper contact end and the lower contact end are formed in a symmetrical structure.
제 1 항에 있어서,
상기 하부접촉단은 바(bar) 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.
The method according to claim 1,
Wherein the lower contact end is formed in a bar shape.
제 1 항에 있어서,
상기 스프링은 상부스프링과 하부스프링을 포함하고, 상기 상부스프링과 상기 하부스프링 사이에는 상기 상부스프링과 상기 하부스프링과 동일 재질로 일체로 연결된 홀더부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.
The method according to claim 1,
Wherein the spring further comprises an upper spring and a lower spring, and a holder member integrally connected to the upper spring and the lower spring by the same material as the upper spring and the lower spring. Type contact pins.
제 1 항에 있어서,
상기 상부접촉단, 상기 하부접촉단 및 상기 스프링은 모두 베릴륨쿠퍼(BeCu) 등과 같은 단일 재질이거나, 하나의 판재로 이루어진 이형 재질로 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀.The method according to claim 1,
Wherein the upper contact end, the lower contact end, and the spring are all formed of a single material such as a beryllium cooperate (BeCu) or the like, or a release material made of a single plate material.
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