KR20170106709A - Power-saving constant temperature and humidity and constant temperature water controlling apparatus for semiconductor manufacturing process - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process.
반도체 제조 공정 설비에는 그 설비의 온도와 습도가 요구되는 온도와 습도로 항상 유지될 수 있도록 하는 장치와, 웨이퍼 냉각용의 쿨 플레이트(cool plate)를 요구되는 온도로 항상 냉각될 수 있도록 하는 장치가 요구된다.Semiconductor manufacturing process equipment is equipped with a device that allows the temperature and humidity of the equipment to be maintained at the required temperature and humidity at all times and a device that allows the cool plate for cooling the wafer to always be cooled to the required temperature Is required.
아래 제시된 특허문헌은 종래 본원의 출원인이 이미 등록받은 것으로서, 상기와 같은 반도체 제조 공정 설비에 적용될 수 있는 에너지 효율성이 우수한 온, 습도 제어장치가 개시된다.The following patent documents have been already registered by the applicant of the present application and disclose an apparatus for controlling temperature and humidity which is excellent in energy efficiency and can be applied to such a semiconductor manufacturing process facility.
그러나, 위 특허문헌과 같은 종래 기술에서는, 전기를 사용하는 히터로 온도 조절을 하여야 하기 때문에 에너지 소모가 컸고, 쿨 플레이트 냉각용 설비는 아예 구비조차 되지 못하여 쿨 플레이트 냉각을 위해 별도로 냉각 사이클 등을 구비하여야 하는 단점이 있었다.However, in the related art as in the above-mentioned patent documents, since the temperature must be controlled by a heater using electricity, energy consumption is large, and a cooling plate cooling facility is not provided at all. .
본 발명은 반도체 제조 공정 설비의 온도와 습도가 요구되는 온도와 습도로 항상 유지될 수 있도록 하면서, 동시에 웨이퍼 냉각용의 쿨 플레이트를 요구되는 온도로 항상 냉각될 수 있도록 하는 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치를 제공하는 것을 일 목적으로 한다.The present invention relates to a semiconductor device manufacturing method capable of always maintaining the temperature and humidity of a semiconductor manufacturing process facility at a desired temperature and humidity while at the same time enabling a cool plate for cooling a wafer to always be cooled to a required temperature, And a constant temperature water control device.
본 발명의 일 측면에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치는 압축기, 응축기, 팽창밸브 및 증발기를 포함하는 냉동 사이클 부재; 상기 증발기에서 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 예열시키는 예열 부재; 상기 예열 부재를 경유하며 예열된 공기가 요구되는 온도가 되도록 본 가열하는 본 가열 부재; 상기 본 가열 부재를 경유한 공기의 습도가 요구되는 습도가 되도록 가습하는 가습 부재; 외부 열원에서 공급된 열교환수와 상기 반도체 제조 공정 설비의 쿨 플레이트(cool plate)를 경유한 쿨 플레이트 순환 유체가 열교환되어, 상기 쿨 플레이트 순환 유체가 항온수가 되도록 하는 항온수 열교환 부재; 상기 항온수 열교환 부재에서 형성된 항온수가 저장되었다가 상기 쿨 플레이트 쪽으로 공급될 수 있도록 하는 저수조 부재; 및 상기 항온수 열교환 부재에서 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수와 열교환된 상기 쿨 플레이트 순환 유체가 요구되는 온도의 항온수가 될 수 있도록, 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 유량을 조절하는 비례 제어 밸브 부재;를 포함한다.An ultra-low temperature constant-humidity, constant-temperature water control device for a semiconductor manufacturing process according to an aspect of the present invention includes: a refrigeration cycle member including a compressor, a condenser, an expansion valve, and an evaporator; A preheating member for preheating air supplied from the evaporator to a semiconductor manufacturing process facility; A main heating member for heating the air to pass through the preheating member so that the preheated air is at a required temperature; A humidifying member for humidifying the humidity of the air passed through the heating member to a required humidity; A constant-temperature water heat exchange member for heat-exchanging heat exchange water supplied from an external heat source and a cool plate circulation fluid passing through a cool plate of the semiconductor fabrication facility to cause the cool plate circulation fluid to constantly heat; A water storage tank for storing the constant temperature water formed in the constant temperature water heat exchange member and supplying the constant temperature water to the cool plate; And a proportional control valve for regulating the flow rate of the heat exchange water supplied from the external heat source so that the cool plate circulating fluid heat-exchanged with the heat exchange water supplied from the external heat source in the constant temperature water heat exchange member becomes a constant temperature of the required temperature, Member.
본 발명의 일 측면에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치에 의하면, 예열 부재와 본 가열 부재가 적용되어 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 2단에 걸쳐 가열하되, 상기 예열 부재와 상기 본 가열 부재가 각각 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 열기 및 상기 응축이의 응축열을 이용하여 그러한 각 단계의 가열을 수행하게 됨으로써, 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 가열시키기 위하여 별도의 전기 에너지가 소요되지 않고, 상기 쿨 플레이트에서 승온된 쿨 플레이트 순환 유체를 냉각시켜 항온수를 형성하기 위하여, 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체에 비해 상대적 저온인 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수를 이용하고, 상기 비례 제어 밸브 부재에 의해 정밀하게 온도 제어를 함으로써, 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체가 별도 냉동사이클 등이 요구되지 않고도 항온수로 변화될 수 있게 됨으로써, 반도체 제조 공정 설비의 온도와 습도가 요구되는 온도와 습도로 항상 유지될 수 있도록 하면서, 동시에 웨이퍼 냉각용의 쿨 플레이트를 요구되는 온도로 항상 냉각될 수 있도록 하면서 초절전 운전이 가능한 효과가 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for controlling ultra-low temperature constant humidity and constant temperature water for a semiconductor manufacturing process, wherein the preheating member and the heating member are applied to heat the air supplied to the semiconductor manufacturing process facility in two stages, Member and the main heating member each perform heating in each of the steps using the heat of the heat exchange water supplied from the external heat source and the condensation heat of the condensation so as to heat the air supplied to the semiconductor manufacturing facility The cooling plate circulating fluid is cooled by the cooling plate to form the constant temperature water without requiring additional electrical energy and the heat exchange And the temperature control valve member The cool plate circulating fluid in the elevated state can be changed into the constant temperature water without requiring a separate refrigeration cycle or the like so that the temperature and humidity of the semiconductor manufacturing process facility can be maintained at the required temperature and humidity at all times At the same time, the cooling plate for cooling the wafer can be always cooled to a required temperature, and an ultra-low power operation can be performed.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치를 보이는 도면.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치의 일부 구성 요소를 보이는 도면.FIG. 1 is a schematic view of an ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to an embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 2 is a view showing some components of an ultra low temperature and high humidity and constant temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to another embodiment of the present invention; FIG.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치에 대하여 설명한다.Hereinafter, an ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치를 보이는 도면이다.FIG. 1 is a diagram showing an ultra-low temperature constant humidity and constant temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치(100)는 냉동 사이클 부재(120)와, 예열 부재(140)와, 본 가열 부재(145)와, 가습 부재(155)와, 항온수 열교환 부재(132)와, 저수조 부재(133)와, 비례 제어 밸브 부재(131)를 포함한다.1, the ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature
또한, 상기 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치(100)는 열교환수 공급 배관(110)과, 열교환수 퇴수 배관(111)과, 예열 부재측 공급 분지관(112)과, 예열 부재측 퇴수 합지관(113)과, 본 가열 부재측 공급 분지관(116)과, 본 가열 부재측 퇴수 합지관(117)과, 항온수측 공급 분지관(114)과, 항온수측 퇴수 합지관(115)을 포함할 수 있다.The ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature
상기 냉동 사이클 부재(120)는 압축기(122), 응축기(121), 팽창밸브(123) 및 증발기(124)를 포함하고, 자체 순환 냉매가 순환되면서 냉기를 형성하고, 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 제습한다.The refrigerating
상기 증발기(124) 쪽에서 제습된 공기가 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급된다.The dehumidified air from the
상기 예열 부재(140)는 상기 증발기(124)에서 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 예열시키는 것이다.The
본 실시예에서는 상기 예열 부재(140)가 외부 열원에서 공급되는 통상 15 내지 25℃ 정도의 열교환수의 열기를 이용하여 상기 증발기(124)에서 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 예열한다.In the present embodiment, the
이러한 예열을 위하여, 상기 열교환수 공급 배관(110), 상기 열교환수 퇴수 배관(111), 상기 예열 부재측 공급 분지관(112) 및 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)이 적용된다.For the preheating, the heat exchange
상기 열교환수 공급 배관(110)은 상기 외부 열원에서 상기 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치(100) 내로 상기 열교환수를 공급하는 것이다.The heat exchange
상기 열교환수 퇴수 배관(111)은 상기 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치(100)를 경유한 열교환수를 상기 외부 열원으로 퇴수시키는 것이다.The heat exchange
상기 예열 부재측 공급 분지관(112)은 상기 열교환수 공급 배관(110)에서 분지되어, 상기 예열 부재(140)에 연결됨으로써, 상기 열교환수 공급 배관(110)을 통해 공급된 열교환수 중 적어도 일부가 상기 예열 부재(140) 쪽으로 공급되도록 하는 것이다.The preheater member side
상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)은 상기 예열 부재측 공급 분지관(112)을 통해 공급된 열교환수가 상기 예열 부재(140)를 경유하며 방열된 다음 상기 응축기(121)를 경유하며 응축열을 흡열한 후 상기 열교환수 퇴수 배관(111)을 통해 상기 외부 열원으로 퇴수되도록, 상기 열교환수 퇴수 배관(111)과 합지되는 것이다.The heat exchange water supplied through the preheater member side
상기 예열 부재(140)는 상기 예열 부재측 공급 분지관(112)과 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)이 각 말단에 연결된 열교환기 형태로 이루어질 수 있다.The preheating
상기와 같이, 상기 외부 열원에서 공급된 상기 열교환수가 상기 예열 부재측 공급 분지관(112)을 통해 상기 예열 부재(140)를 경유하게 되고, 그러한 경유 중에 상기 예열 부재(140)에서 상기 증발기(124)에서 토출된 공기와 상기 열교환수가 열교환되면서 상기 증발기(124)에서 토출된 공기가 상기 열교환수의 열기에 의해 예열될 수 있게 된다.As described above, the heat exchange water supplied from the external heat source passes through the preheating
상기 예열 부재(140)에서 예열을 위해 방열한 열교환수는 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)을 통해 상기 응축기(121)를 경유하면서 상기 응축기(121)에서 방열되는 응축열을 흡수하게 된다.The heat exchange water that has been preheated by the preheating
상기 본 가열 부재(145)는 상기 예열 부재(140)를 경유하며 예열된 공기가 요구되는 온도에 도달되도록 본 가열하는 것이다.The
본 실시예에서는 상기 본 가열 부재(145)가 상기 응축기(121)를 경유하며 응축열을 흡수한 열교환수의 열기를 이용하여 상기 예열 부재(140)를 경유하며 예열된 공기를 본 가열한다.In the present embodiment, the
이러한 본 가열을 위하여, 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)과, 상기 본 가열 부재측 퇴수 합지관(117)이 적용된다.For this main heating, the main heating member side
상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)은 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)에서 분지되어, 상기 응축기(121)를 경유하며 응축열을 흡열한 다음 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)을 통해 유동되는 열교환수 중 적어도 일부가 상기 본 가열 부재(145) 쪽으로 공급되도록 하는 것이다.The main heating-side
상기 본 가열 부재측 퇴수 합지관(117)은 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)을 통해 공급되어 상기 본 가열 부재(145)에서 방열된 열교환수가 상기 열교환수 퇴수 배관(111) 쪽을 향하도록, 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)과 합지되는 것이다.The main heating member side
상기 본 가열 부재(145)는 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)과 상기 본 가열 부재측 퇴수 합지관(117)이 각 말단에 연결된 열교환기 형태로 이루어질 수 있다.The
상기와 같이, 상기 응축기(121)를 경유하며 응축열을 흡수한 열교환수가 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)을 통해 상기 본 가열 부재(145)를 경유하게 되고, 그러한 경유 중에 상기 본 가열 부재(145)에서 상기 예열 부재(140)를 경유하며 예열된 공기와 상기 열교환수가 열교환되면서 상기 예열 부재(140)를 경유하며 예열된 공기가 요구되는 온도에 도달되도록 본 가열될 수 있게 된다.As described above, the heat exchange water that has absorbed the condensation heat via the
이처럼, 본 실시예에서는, 상기 예열 부재(140)와 상기 본 가열 부재(145)가 적용되어 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 2단에 걸쳐 가열하되, 상기 예열 부재(140)와 상기 본 가열 부재(145)가 각각 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 열기 및 상기 응축이의 응축열을 이용하여 그러한 각 단계의 가열을 수행하게 됨으로써, 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 가열시키기 위하여 별도의 전기 에너지가 소요되지 않아서, 초절전 운전이 가능하다.As described above, in this embodiment, the air supplied to the semiconductor manufacturing process facility is heated by applying the preheating
상기 본 가열 부재측 퇴수 합지관(117)을 통해 유동되는 열교환수는 상기 열교환수 퇴수 배관(111)을 통해 상기 외부 열원으로 퇴수된다.The heat exchange water flowing through the main heating member side drainage pipe (117) is discharged to the external heat source through the heat exchange water discharge pipe (111).
상기 가습 부재(155)는 상기 본 가열 부재(145)를 경유한 공기의 습도가 요구되는 습도가 되도록 가습하는 것이다.The humidifying
상기 항온수 열교환 부재(132)는 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수와 상기 반도체 제조 공정 설비의 쿨 플레이트(cool plate)(10)를 경유한 쿨 플레이트 순환 유체가 열교환되어, 상기 쿨 플레이트 순환 유체가 항온수가 되도록 하는 것이다.The constant-temperature water
상기 저수조 부재(133)는 상기 항온수 열교환 부재(132)에서 형성된 항온수가 저장되었다가 상기 쿨 플레이트(10) 쪽으로 공급될 수 있도록 하는 것이다.The
상기 비례 제어 밸브 부재(131)는 상기 항온수 열교환 부재(132)에서 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수와 열교환된 상기 쿨 플레이트 순환 유체가 요구되는 온도의 항온수가 될 수 있도록, 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 유량을 조절하는 것이다.The proportional
도면 번호 134는 상기 저수조 부재(133)에 저수된 항온수를 상기 쿨 플레이트(10)로 공급해주는 펌프이다.
본 실시예에서는 상기 항온수 열교환 부재(132)가 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 열기를 이용하여 상기 쿨 플레이트 순환 유체를 냉각시켜, 상기 쿨 플레이트 순환 유체를 요구되는 온도로 냉각된 항온수로 변화시킨다.In the present embodiment, the constant-temperature water
이러한 항온수 형성을 위하여, 상기 항온수측 공급 분지관(114)과, 상기 항온수측 퇴수 합지관(115)이 적용된다.In order to form the constant temperature water, the constant temperature water side
상기 비례 제어 밸브 부재(131)는 상기 항온수측 공급 분지관(114)과, 상기 항온수측 퇴수 합지관(115) 중 어느 하나에 설치된다.The proportional
상기 항온수측 공급 분지관(114)은 상기 열교환수 공급 배관(110)에서 상기 예열 부재측 공급 분지관(112)과 별도로 분지되어, 상기 열교환수 공급 배관(110)을 통해 공급된 열교환수 중 적어도 일부가 상기 항온수 열교환 부재(132) 쪽으로 공급되도록 하는 것이다.The constant temperature water
상기 항온수측 퇴수 합지관(115)은 상기 항온수측 공급 분지관(114)을 통해 공급된 다음 상기 쿨 플레이트(10)가 요구되는 온도로 냉각되도록 상기 쿨 플레이트(10)에서 흡열한 상태의 상기 쿨 플레이트 순환 유체와 상기 항온수 열교환 부재(132)에서 열교환된 열교환수가 상기 열교환수 퇴수 배관(111) 쪽을 향하도록, 상기 열교환수 퇴수 배관(111)과 합지되는 것이다.The constant temperature water
상기 항온수측 퇴수 합지관(115)을 통해 유동된 열교환수는 상기 열교환수 퇴수 배관(111)을 통해 상기 외부 열원으로 퇴수된다.The heat exchange water flowing through the constant temperature water
상기 쿨 플레이트(10)에서 열기를 머금고 승온된 쿨 플레이트 순환 유체의 온도에 따라 상기 비례 제어 밸브 부재(131)가 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체에 비해 상대적으로 저온인 상기 항온수측 공급 분지관(114)을 통해 공급된 열교환수의 유량을 자동적으로 조절함으로써, 상기 항온수 열교환 부재(132)를 경유한 쿨 플레이트 순환 유체가 요구되는 온도로 냉각된 항온수로 변화될 수 있게 된다.Wherein the proportional control valve member (131) is connected to the cool-plate circulating fluid in the cool-plate circulation fluid, the cool-plate circulating fluid in the cool- The cool plate circulating fluid passed through the constant temperature water
물론, 이러한 자동 조절을 위하여, 상기 쿨 플레이트(10)에서 유출되는 상기 쿨 플레이트 순환 유체의 온도를 감지하는 온도 감지 센서(미도시)가 설치되고, 그 온도 감지 센서에서 상기 비례 제어 밸브 부재(131)로 전달되는 온도값에 따라 상기 비례 제어 밸브 부재(131)가 작동될 수 있다.For this automatic control, a temperature sensor (not shown) for sensing the temperature of the cool plate circulating fluid flowing out of the
이처럼, 본 실시예에서는, 상기 쿨 플레이트(10)에서 승온된 쿨 플레이트 순환 유체를 냉각시켜 항온수를 형성하기 위하여, 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체에 비해 상대적 저온인 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수를 이용하고, 상기 비례 제어 밸브 부재(131)에 의해 정밀하게 온도 제어를 함으로써, 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체가 별도 냉동사이클 등이 요구되지 않고도 항온수로 변화될 수 있게 된다.As described above, in the present embodiment, in order to cool the circulating fluid of the cool plate heated by the
도면 번호 105는 상기 예열 부재(140)와 상기 본 가열 부재(145)를 경유한 공기의 온도를 감지하는 온도 감지 센서이다.
도면 번호 160은 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)과 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)의 분지 지점에 설치된 제어 밸브로, 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)을 통해 유동되는 열교환수가 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)으로 유동되는 양을 제어하는 것이다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치(100)의 작동에 대하여 설명한다.Hereinafter, the operation of the ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature
먼저, 상기 열교환수 공급 배관(110)을 통해 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수 중 일부는 상기 예열 부재측 공급 분지관(112)으로 유동되고, 나머지는 상기 항온수측 공급 분지관(114)으로 유동된다.First, a part of the heat exchange water supplied from the external heat source flows through the heat exchange
상기 예열 부재측 공급 분지관(112)으로 유동된 열교환수는 상기 예열 부재(140)를 경유하면서, 상기 냉동 사이클 부재(120)에서 제습되어 상기 증발기(124)에서 토출된 공기와 열교환되면서 해당 공기를 예열시킨 다음, 상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)을 통해 유동된다.The heat exchange water that has flowed to the preheater member side
상기 예열 부재측 퇴수 합지관(113)을 통해 유동되던 열교환수는 상기 응축기(121)를 경유하면서 응축열을 흡수한다.The heat exchange water that has flowed through the dehumidifying
상기 응축기(121)를 경유하면서 응축열을 흡수한 열교환수 중의 적어도 일부는 상기 본 가열 부재측 공급 분지관(116)을 통해 상기 본 가열 부재(145)를 경유하게 되고, 그러한 경유 중에, 상기 예열 부재(140)에서 예열된 공기를 본 가열시킨 다음, 상기 본 가열 부재측 퇴수 합지관(117)을 통해 유동된 후, 상기 열교환수 퇴수 배관(111)을 통해 상기 외부 열원으로 퇴수된다.At least a part of the heat exchange water that has absorbed the condensation heat while passing through the
한편, 상기 항온수측 공급 분지관(114)으로 유동된 열교환수는 상기 항온수 열교환 부재(132)를 경유하게 되고, 그러한 경유 중에, 상기 쿨 플레이트(10)에서 승온된 쿨 플레이트 순환 유체와 열교환되면서 상기 쿨 플레이트 순환 유체를 냉각시켜 상기 쿨 플레이트 순환 유체를 항온수로 변화시킨다.On the other hand, the heat exchange water that has flowed into the constant temperature water
상기 항온수 열교환 부재(132)를 경유한 열교환수는 상기 항온수측 퇴수 합지관(115)을 통해 유동된 다음 상기 열교환수 퇴수 배관(111)을 통해 상기 외부 열원으로 퇴수된다.The heat exchange water passed through the constant temperature water
상기와 같이, 본 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치(100)에서는, 예열 부재(140)와 본 가열 부재(145)가 적용되어 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 2단에 걸쳐 가열하되, 상기 예열 부재(140)와 상기 본 가열 부재(145)가 각각 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 열기 및 상기 응축이의 응축열을 이용하여 그러한 각 단계의 가열을 수행하게 됨으로써, 상기 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 가열시키기 위하여 별도의 전기 에너지가 소요되지 않고, 상기 쿨 플레이트(10)에서 승온된 쿨 플레이트 순환 유체를 냉각시켜 항온수를 형성하기 위하여, 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체에 비해 상대적 저온인 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수를 이용하고, 상기 비례 제어 밸브 부재(131)에 의해 정밀하게 온도 제어를 함으로써, 상기 승온된 상태의 쿨 플레이트 순환 유체가 별도 냉동사이클 등이 요구되지 않고도 항온수로 변화될 수 있게 됨으로써, 반도체 제조 공정 설비의 온도와 습도가 요구되는 온도와 습도로 항상 유지될 수 있도록 하면서, 동시에 웨이퍼 냉각용의 쿨 플레이트(10)를 요구되는 온도로 항상 냉각될 수 있도록 하면서 초절전 운전이 가능하다.As described above, in the ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치에 대하여 설명한다. 이러한 설명을 수행함에 있어서 상기된 본 발명의 일 실시예에서 이미 기재된 내용과 중복되는 설명은 그에 갈음하고, 여기서는 생략하기로 한다.Hereinafter, an ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to another embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In carrying out the above description, the description overlapping with the content already described in the embodiment of the present invention described above will be omitted and it will be omitted here.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치의 일부 구성 요소를 보이는 도면이다.FIG. 2 is a view showing some components of an ultra low temperature and high humidity and constant temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to another embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치는 기화식 가습 수단(270)을 더 포함한다.Referring to FIG. 2, the ultra low temperature constant humidity and constant temperature water control apparatus for a semiconductor manufacturing process according to the present embodiment further includes a vaporization type humidification means 270.
상기 기화식 가습 수단(270)은 가습 부재(255)에 가습용 습기를 제공하여 주는 것으로, 물 등의 가습용액이 저장된 가습용액 저장조(271)와, 상기 가습용액 저장조(271)에서 상기 가습용액이 끌어올려지는 상승 배관(272)과, 상기 상승 배관(272)의 말단에 배치되고 상기 가습 부재(255)의 내부를 향해 미세 노즐홀이 형성된 미세 노즐체(273)와, 상기 미세 노즐체(273)에 도입될 고압의 에어를 형성하는 에어 펌프 등의 에어 형성 수단(276)과, 상기 에어 형성 수단(276)에서 형성된 에어를 상기 미세 노즐체(273)로 공급해주는 에어 공급 배관(274)을 포함한다.The evaporative humidifying means 270 provides humidification water to the
도면 번호 275는 상기 에어 공급 배관(274)을 개폐시킬 수 있는 솔레노이드 밸브 등의 에어 공급 배관 개폐 밸브이다.
상기 에어 형성 수단(276)이 작동되어 고압의 에어가 상기 에어 공급 배관(274)을 통해 상기 미세 노즐체(273)로 공급되면, 상기 미세 노즐체(273)의 상기 미세 노즐홀을 통해 상기 에어가 분사되면서 상기 상승 배관(272)에 부압(negative pressure)이 형성되고, 그러한 부압에 의해 상기 가습용액 저장조(271) 내의 가습용액이 상기 상승 배관(272)을 따라 상승된 후 상기 미세 노즐홀을 통해 미세 입자 형태로 분사되어, 분무 형태로 가습된다.When the air forming means 276 is operated and high pressure air is supplied to the
상기와 같이 에어를 이용해 분무 형태로 가습이 이루어짐에 따라, 에너지 소비가 큰 전기 히터 등의 적용없이도 요구되는 값 미만으로 습도가 낮아진 경우 가습이 이루어질 수 있게 되므로, 효율적인 가습이 가능하다.As described above, since the humidification is performed in the form of spray using the air, when the humidity is lowered below the required value without applying the electric heater or the like having a large energy consumption, humidification can be performed, and efficient humidification is possible.
상기에서 본 발명은 특정한 실시예에 관하여 도시되고 설명되었지만, 당업계에서 통상의 지식을 가진 자라면 이하의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 알 수 있을 것이다. 그렇지만 이러한 수정 및 변형 구조들은 모두 본 발명의 권리범위 내에 포함되는 것임을 분명하게 밝혀두고자 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and detail may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the following claims And can be changed. However, it is intended that the present invention covers the modifications and variations of this invention provided they come within the scope of the appended claims and their equivalents.
본 발명의 일 측면에 따른 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치에 의하면, 반도체 제조 공정 설비의 온도와 습도가 요구되는 온도와 습도로 항상 유지될 수 있도록 하면서, 동시에 웨이퍼 냉각용의 쿨 플레이트를 요구되는 온도로 항상 냉각될 수 있도록 할 수 있으므로, 그 산업상 이용가능성이 높다고 하겠다.According to one aspect of the present invention, the ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control device for a semiconductor manufacturing process can maintain the temperature and humidity of a semiconductor manufacturing process facility at a required temperature and humidity at all times, The plate can be always cooled to a required temperature, so that the plate is likely to be used industrially.
120 : 냉동 사이클 부재
131 : 비례 제어 밸브 부재
132 : 항온수 열교환 부재
133 : 저수조 부재
140 : 예열 부재
145 : 본 가열 부재
155 : 가습 부재120: Refrigeration cycle member
131: Proportional control valve member
132: Constant temperature water heat exchange member
133: Water tank member
140:
145:
155: Humidifying member
Claims (3)
상기 증발기에서 반도체 제조 공정 설비 쪽으로 공급되는 공기를 예열시키는 예열 부재;
상기 예열 부재를 경유하며 예열된 공기가 요구되는 온도가 되도록 본 가열하는 본 가열 부재;
상기 본 가열 부재를 경유한 공기의 습도가 요구되는 습도가 되도록 가습하는 가습 부재;
외부 열원에서 공급된 열교환수와 상기 반도체 제조 공정 설비의 쿨 플레이트(cool plate)를 경유한 쿨 플레이트 순환 유체가 열교환되어, 상기 쿨 플레이트 순환 유체가 항온수가 되도록 하는 항온수 열교환 부재;
상기 항온수 열교환 부재에서 형성된 항온수가 저장되었다가 상기 쿨 플레이트 쪽으로 공급될 수 있도록 하는 저수조 부재; 및
상기 항온수 열교환 부재에서 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수와 열교환된 상기 쿨 플레이트 순환 유체가 요구되는 온도의 항온수가 될 수 있도록, 상기 외부 열원에서 공급된 열교환수의 유량을 조절하는 비례 제어 밸브 부재;를 포함하는 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치.A refrigeration cycle member including a compressor, a condenser, an expansion valve, and an evaporator;
A preheating member for preheating air supplied from the evaporator to a semiconductor manufacturing process facility;
A main heating member for heating the air to pass through the preheating member so that the preheated air is at a required temperature;
A humidifying member for humidifying the humidity of the air passed through the heating member to a required humidity;
A constant-temperature water heat exchange member for heat-exchanging heat exchange water supplied from an external heat source and a cool plate circulation fluid passing through a cool plate of the semiconductor fabrication facility to cause the cool plate circulation fluid to constantly heat;
A water storage tank for storing the constant temperature water formed in the constant temperature water heat exchange member and supplying the constant temperature water to the cool plate; And
A proportional control valve member for controlling the flow rate of the heat exchange water supplied from the external heat source so that the cool plate circulating fluid heat exchanged with the heat exchange water supplied from the external heat source in the constant temperature water heat exchange member can be a constant temperature having a required temperature, An ultra-low temperature constant humidity and constant temperature water control device for a semiconductor manufacturing process.
상기 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치는
상기 외부 열원에서 상기 열교환수를 공급하는 열교환수 공급 배관;
상기 외부 열원으로 상기 열교환수를 퇴수시키는 열교환수 퇴수 배관;
상기 열교환수 공급 배관에서 분지되어, 상기 열교환수 공급 배관을 통해 공급된 열교환수 중 적어도 일부가 상기 예열 부재 쪽으로 공급되도록 하는 예열 부재측 공급 분지관;
상기 예열 부재측 공급 분지관을 통해 공급된 열교환수가 상기 예열 부재를 경유하며 방열된 다음 상기 응축기를 경유하며 응축열을 흡열한 후 상기 열교환수 퇴수 배관을 통해 상기 외부 열원으로 퇴수되도록, 상기 열교환수 퇴수 배관과 합지되는 예열 부재측 퇴수 합지관;
상기 응축기를 경유하며 응축열을 흡열한 다음 상기 예열 부재측 퇴수 합지관을 통해 유동되는 열교환수 중 적어도 일부가 상기 본 가열 부재 쪽으로 공급되도록 하는 본 가열 부재측 공급 분지관;
상기 본 가열 부재측 공급 분지관을 통해 공급되어 상기 본 가열 부재에서 방열된 열교환수가 상기 열교환수 퇴수 배관 쪽을 향하도록, 상기 예열 부재측 퇴수 합지관과 합지되는 본 가열 부재측 퇴수 합지관;
상기 열교환수 공급 배관에서 상기 예열 부재측 공급 분지관과 별도로 분지되어, 상기 열교환수 공급 배관을 통해 공급된 열교환수 중 적어도 일부가 상기 항온수 열교환 부재 쪽으로 공급되도록 하는 항온수측 공급 분지관; 및
상기 항온수측 공급 분지관을 통해 공급된 다음 상기 쿨 플레이트가 요구되는 온도로 냉각되도록 상기 쿨 플레이트에서 흡열한 상태의 상기 쿨 플레이트 순환 유체와 상기 항온수 열교환 부재에서 열교환된 열교환수가 상기 열교환수 퇴수 배관 쪽을 향하도록, 상기 열교환수 퇴수 배관과 합지되는 항온수측 퇴수 합지관;을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치.The method according to claim 1,
The ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control device for the semiconductor manufacturing process
A heat exchange water supply pipe for supplying the heat exchange water from the external heat source;
A heat exchange water discharge pipe for discharging the heat exchange water to the external heat source;
A preheater member side branch pipe branched from the heat exchange water supply pipe to supply at least a portion of the heat exchange water supplied through the heat exchange water supply pipe to the preheater member;
And the heat exchange water supplied through the preheating member side supply branch pipe is radiated via the preheater and is then passed through the condenser to heat the condensation heat and then to be discharged to the external heat source through the heat exchange water discharge pipe. A dehydrated joint pipe on the preheating member side joined to the pipe;
A main supply side branch pipe for introducing at least a portion of the heat exchange water flowing through the preheating member side drainage pipe after the condensation heat is absorbed through the condenser to the main heating member;
A main heating member side drainage pipe connected to the heat-releasing-member side drainage pipe so that the heat exchange water supplied through the main heating-member-side supply branch pipe and radiated from the main heating member faces the heat exchange water discharge pipe;
A constant-temperature water supply branch tube branched from the heat-exchanging water supply pipe separately from the preheating member-side supply branch pipe to supply at least a part of the heat-exchange water supplied through the heat-exchange water supply pipe to the constant-temperature water heat exchange member; And
Wherein the cool plate circulating fluid in an endothermic state in the cool plate and the heat exchange water heat-exchanged in the constant temperature water heat exchange member are supplied through the constant temperature water supply branch pipe and then cooled to a required temperature, And a thermostatic water side discharge joint pipe joined to the heat exchange water discharge pipe so as to face the heat exchange water discharge pipe.
상기 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치는 기화식 가습 수단;을 더 포함하고,
상기 기화식 가습 수단은
가습용액이 저장된 가습용액 저장조와,
상기 가습용액 저장조에서 상기 가습용액이 끌어올려지는 상승 배관과,
상기 상승 배관의 말단에 배치되고 미세 노즐홀이 형성된 미세 노즐체와,
상기 미세 노즐체에 도입될 에어를 형성하는 에어 형성 수단과,
상기 에어 형성 수단에서 형성된 에어를 상기 미세 노즐체로 공급해주는 에어 공급 배관을 포함하고,
상기 에어 형성 수단이 작동되어 에어가 상기 에어 공급 배관을 통해 상기 미세 노즐체로 공급되면, 상기 미세 노즐체의 상기 미세 노즐홀을 통해 상기 에어가 분사되면서 상기 상승 배관에 부압(negative pressure)이 형성되고, 그러한 부압에 의해 상기 가습용액 저장조 내의 가습용액이 상기 상승 배관을 따라 상승된 후 상기 미세 노즐홀을 통해 미세 입자 형태로 분사되어, 분무 형태로 가습되는 것을 특징으로 하는 반도체 제조 공정용 초절전 항온습 및 항온수 제어 장치.The method according to claim 1,
The ultra-low temperature constant-humidity and constant-temperature water control device for the semiconductor manufacturing process further includes:
The evaporative humidifying means
A humidifying solution storage tank storing the humidifying solution,
A rising pipe for raising the humidifying solution in the humidifying solution storage tank,
A fine nozzle body disposed at an end of the uprising pipe and having a fine nozzle hole,
Air forming means for forming air to be introduced into the fine nozzle body,
And an air supply pipe for supplying air formed by the air forming means to the fine nozzle body,
When the air forming means is operated and air is supplied to the fine nozzle body through the air supply pipe, the air is injected through the fine nozzle holes of the fine nozzle body to form a negative pressure in the uprising pipe , Humidifying solution in the humidifying solution storage tank is raised along the upflow pipe by the negative pressure, and is sprayed in the form of fine particles through the fine nozzle hole to be humidified in a spray form. And a constant temperature water control device.
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CN115076781A (en) * | 2022-06-27 | 2022-09-20 | 珠海格力电器股份有限公司 | Humidifying device for indoor unit of air conditioner and control method of air conditioner |
Family Cites Families (4)
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KR200178799Y1 (en) | 1999-11-13 | 2000-04-15 | 주식회사코삼 | Multi-channel temperature control system using dual stage heat exchanger |
JP2006156781A (en) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Daikin Ind Ltd | Cooling device |
JP5641709B2 (en) * | 2009-04-23 | 2014-12-17 | キヤノン株式会社 | Device manufacturing apparatus and device manufacturing method |
JP2011017515A (en) | 2009-07-10 | 2011-01-27 | Daikin Industries Ltd | Air conditioning system |
-
2016
- 2016-03-14 KR KR1020160030138A patent/KR101846457B1/en active IP Right Grant
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113793819A (en) * | 2021-09-16 | 2021-12-14 | 长江存储科技有限责任公司 | Chemical tank and temperature control method thereof |
CN115076781A (en) * | 2022-06-27 | 2022-09-20 | 珠海格力电器股份有限公司 | Humidifying device for indoor unit of air conditioner and control method of air conditioner |
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