KR20170083353A - Light emitting device - Google Patents

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Abstract

실시 예는 제1반도체층, 활성층, 및 제2반도체층을 포함하는 발광구조물; 상기 제2반도체층상에 배치되는 반사전극층; 상기 발광구조물 및 반사전극층을 커버하는 제1절연층; 상기 제1절연층을 관통하여 상기 제1반도체층과 연결되는 제1전극패드; 상기 제1절연층을 관통하여 상기 제2반도체층과 연결되는 제2전극패드; 및 상기 제1절연층의 측면을 커버하는 제1영역을 포함하는 제2절연층을 포함하는 발광소자를 개시한다.An embodiment includes a light emitting structure including a first semiconductor layer, an active layer, and a second semiconductor layer; A reflective electrode layer disposed on the second semiconductor layer; A first insulating layer covering the light emitting structure and the reflective electrode layer; A first electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the first semiconductor layer; A second electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the second semiconductor layer; And a second insulating layer including a first region covering a side surface of the first insulating layer.

Description

발광소자{LIGHT EMITTING DEVICE}[0001] LIGHT EMITTING DEVICE [0002]

실시 예는 발광소자에 관한 것이다.An embodiment relates to a light emitting element.

발광 다이오드(Light Emitting Diode, LED)는 전기에너지를 빛 에너지로 변환하는 화합물 반도체 소자로서, 화합물반도체의 조성비를 조절함으로써 다양한 색상구현이 가능하다.Light emitting diodes (LEDs) are compound semiconductor devices that convert electrical energy into light energy. By controlling the composition ratio of compound semiconductors, various colors can be realized.

질화물반도체 발광소자는 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저소비 전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경친화성의 장점을 갖고 있다. 따라서, LCD(Liquid Crystal Display) 표시 장치의 백라이트, 조명 장치, 자동차 헤드 라이트로 응용이 확대되고 있다.The nitride semiconductor light emitting device has advantages of low power consumption, semi-permanent lifetime, fast response speed, safety, and environmental friendliness compared to conventional light sources such as fluorescent lamps and incandescent lamps. Accordingly, application to backlights of LCD (Liquid Crystal Display) displays, lighting devices, and automotive headlights has been expanded.

일반적으로 발광소자는 광 추출 효율을 향상시키기 위해 발광구조물의 하부에 반사전극을 배치할 수 있다. 그러나 열적 스트레스 등에 의해 반사전극이 발광구조물에서 박리되어 전기적 신뢰성이 떨어지는 문제가 있다.In general, the light emitting device may have a reflective electrode disposed under the light emitting structure to improve light extraction efficiency. However, there is a problem that the reflective electrode is peeled off from the light emitting structure due to thermal stress or the like, thereby deteriorating the electrical reliability.

실시 예는 전기적 특성이 우수한 발광소자를 제공한다.The embodiment provides a light emitting device having excellent electrical characteristics.

본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자는, 제1반도체층, 활성층, 및 제2반도체층을 포함하는 발광구조물; 상기 제2반도체층상에 배치되는 반사전극층; 상기 발광구조물 및 반사전극층을 커버하는 제1절연층; 상기 제1절연층을 관통하여 상기 제1반도체층과 연결되는 제1전극패드; 상기 제1절연층을 관통하여 상기 제2반도체층과 연결되는 제2전극패드; 및 상기 제1절연층의 측면을 커버하는 제1영역을 포함하는 제2절연층을 포함한다.A light emitting device according to an embodiment of the present invention includes: a light emitting structure including a first semiconductor layer, an active layer, and a second semiconductor layer; A reflective electrode layer disposed on the second semiconductor layer; A first insulating layer covering the light emitting structure and the reflective electrode layer; A first electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the first semiconductor layer; A second electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the second semiconductor layer; And a second insulating layer including a first region covering a side surface of the first insulating layer.

상기 제2절연층은 상기 발광구조물에서 방출된 광을 반사할 수 있다.The second insulating layer may reflect light emitted from the light emitting structure.

상기 제1절연층은 상기 발광구조물에서 방출된 광을 반사할 수 있다.The first insulating layer may reflect light emitted from the light emitting structure.

상기 발광구조물을 지지하는 기판을 포함하고, 상기 제2절연층은 상기 기판의 측면을 커버하는 제2영역을 포함할 수 있다.A substrate supporting the light emitting structure, and the second insulating layer may include a second region covering a side surface of the substrate.

상기 제2절연층은 상기 제1전극패드 및 제2전극패드의 측면을 커버하는 제3영역을 포함할 수 있다.The second insulating layer may include a third region covering the side surfaces of the first electrode pad and the second electrode pad.

상기 제3영역은 상기 제1전극패드 및 제2전극패드의 바닥면으로 연장되는 연장부를 포함할 수 있다.The third region may include an extension extending to a bottom surface of the first electrode pad and the second electrode pad.

상기 연장부가 상기 제1전극패드 및 제2전극패드의 바닥면을 커버하는 면적은 상기 바닥면의 전체 면적의 5% 내지 30%일 수 있다.The area of the extending portion covering the bottom surface of the first electrode pad and the second electrode pad may be 5% to 30% of the total area of the bottom surface.

상기 제2절연층은 상기 발광구조물을 지지하는 기판의 측면을 커버하는 제2영역, 및 상기 제1전극패드와 제2전극패드의 측면을 커버하는 제3영역을 포함하고, 상기 제1영역, 제2영역, 및 제3영역의 두께는 동일할 수 있다.Wherein the second insulating layer includes a second region covering a side surface of the substrate supporting the light emitting structure and a third region covering a side surface of the first electrode pad and the second electrode pad, The second region, and the third region may be the same.

상기 제2절연층은 교번 적층된 고굴절층 및 저굴절층를 포함할 수 있다.The second insulating layer may include an alternately laminated high refractive index layer and a low refractive index layer.

상기 제2절연층은 450nm 파장대의 광에 대한 반사율이 96% 이상일 수 있다.The second insulation layer may have a reflectance of 96% or more for light having a wavelength of 450 nm.

본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 발광소자; 및 상기 발광소자에서 방출된 광을 백색광으로 변환하는 파장변환층을 포함하고, 상기 발광소자는, 제1반도체층, 활성층, 및 제2반도체층을 포함하는 발광구조물; 상기 제2반도체층상에 배치되는 반사전극층; 상기 발광구조물 및 반사전극층을 커버하는 제1절연층; 상기 제1절연층을 관통하여 상기 제1반도체층과 연결되는 제1전극패드; 상기 제1절연층을 관통하여 상기 제2반도체층과 연결되는 제2전극패드; 및 상기 제1절연층의 측면을 커버하는 제1영역을 포함하는 제2절연층을 포함한다.A light emitting device package according to an embodiment of the present invention includes: a light emitting element; And a wavelength conversion layer converting light emitted from the light emitting device into white light, wherein the light emitting device includes a first semiconductor layer, an active layer, and a second semiconductor layer; A reflective electrode layer disposed on the second semiconductor layer; A first insulating layer covering the light emitting structure and the reflective electrode layer; A first electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the first semiconductor layer; A second electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the second semiconductor layer; And a second insulating layer including a first region covering a side surface of the first insulating layer.

실시 예에 따르면, 반사전극의 박리가 개선되어 전기적 특성이 우수해진다.According to the embodiment, the peeling of the reflective electrode is improved and the electrical characteristics are improved.

본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.The various and advantageous advantages and effects of the present invention are not limited to the above description, and can be more easily understood in the course of describing a specific embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자를 보여주는 도면이고,
도 2는 발광소자에 인가하는 전압의 증가에 따른 전류 변화를 측정한 그래프이고,
도 3은 도 1의 A부분 확대도이고,
도 4는 제2절연층의 반사율을 측정한 그래프이고,
도 5는 제2절연층이 전극패드를 커버하는 면적을 설명하기 위한 도면이고,
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 보여주는 도면이고,
도 7a 내지 도 7f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
1 is a view illustrating a light emitting device according to an embodiment of the present invention,
2 is a graph showing a change in current due to an increase in the voltage applied to the light emitting device,
3 is an enlarged view of a portion A in Fig. 1,
4 is a graph showing the reflectance of the second insulating layer,
5 is a view for explaining an area where the second insulating layer covers the electrode pad,
6 is a view illustrating a light emitting device package according to an embodiment of the present invention,
7A to 7F are flowcharts illustrating a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예를 도면에 예시하고 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명 실시 예를 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 실시 예의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and will herein be described in detail. It should be understood, however, that the embodiments of the present invention are not intended to be limited to the specific embodiments but include all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the embodiments.

제 1, 제 2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 실시 예의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 2 구성 요소는 제 1 구성 요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 1 구성 요소도 제 2 구성 요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.Terms including ordinals, such as first, second, etc., may be used to describe various elements, but the elements are not limited to these terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the embodiments, the second component may be referred to as a first component, and similarly, the first component may also be referred to as a second component. And / or < / RTI > includes any combination of a plurality of related listed items or any of a plurality of related listed items.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명 실시 예를 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to limit the embodiments of the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

실시 예의 설명에 있어서, 어느 한 element가 다른 element의 "상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두 개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element 사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 "상(위) 또는 하(아래)(on or under)"으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiments, in the case where one element is described as being formed "on or under" another element, the upper (upper) or lower (lower) or under are all such that two elements are in direct contact with each other or one or more other elements are indirectly formed between the two elements. Also, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction with respect to one element.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 실시 예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings, wherein like or corresponding elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description thereof will be omitted.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자를 보여주는 도면이고, 도 2는 발광소자에 인가하는 전압의 증가에 따른 전류 변화를 측정한 그래프이고, 도 3은 도 1의 A부분 확대도이고, 도 4는 제2절연층의 반사율을 측정한 그래프이고, 도 5는 제2절연층이 전극패드를 커버하는 면적을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a graph showing a light emitting device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a graph illustrating a current change according to an increase in a voltage applied to a light emitting device. FIG. , FIG. 4 is a graph showing the reflectance of the second insulating layer, and FIG. 5 is a view for explaining the area of the second insulating layer covering the electrode pad.

도 1을 참고하면, 실시 예에 따른 발광소자는, 제1반도체층(121), 활성층(122), 및 제2반도체층(123)을 포함하는 발광구조물(120)과, 제2반도체층(123)상에 배치되는 반사전극층(132), 반사전극층(132)을 커버하는 제1절연층(142), 제1절연층(142)을 관통하여 제1반도체층(121)과 연결되는 제1전극패드(150), 제1절연층(142)을 관통하여 제2반도체층(123)과 연결되는 제2전극패드(160), 및 발광소자(100)의 측면을 전체적으로 커버하는 제2절연층(170)을 포함한다.1, a light emitting device according to an embodiment includes a light emitting structure 120 including a first semiconductor layer 121, an active layer 122, and a second semiconductor layer 123, A first insulating layer 142 covering the reflective electrode layer 132 disposed on the first semiconductor layer 121 and a reflective electrode layer 132 disposed on the first semiconductor layer 121 through the first insulating layer 142, A second electrode pad 160 which is connected to the second semiconductor layer 123 through the electrode pad 150 and the first insulating layer 142 and a second electrode pad 160 which covers the entire side surface of the light emitting device 100. [ (170).

기판(110)은 전도성 기판 또는 절연성 기판을 포함한다. 기판(110)은 반도체 물질 성장에 적합한 물질이나 캐리어 웨이퍼일 수 있다. 기판(110)은 사파이어(Al2O3), GaN, SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP 및 Ge 중 선택된 물질로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 필요에 따라 기판(110)은 제거될 수 있다. The substrate 110 includes a conductive substrate or an insulating substrate. The substrate 110 may be a material suitable for semiconductor material growth or a carrier wafer. The substrate 110 may be formed of a material selected from the group consisting of sapphire (Al 2 O 3 ), GaN, SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP and Ge. The substrate 110 can be removed as needed.

기판(110)은 일면(111)에 형성된 복수 개의 광 추출 구조(112)를 포함할 수 있다. 복수 개의 광 추출 구조(112)는 높이가 상이할 수 있다. The substrate 110 may include a plurality of light extraction structures 112 formed on one side 111 thereof. The plurality of light extracting structures 112 may have different heights.

발광구조물(120)은 기판(110)의 일면(111)에 배치되며, 제1반도체층(121), 활성층(122), 및 제2반도체층(123)을 포함한다. 발광구조물(120)은 기판(110)을 절단하는 과정에서 복수 개로 분리될 수 있다.The light emitting structure 120 is disposed on one surface 111 of the substrate 110 and includes a first semiconductor layer 121, an active layer 122, and a second semiconductor layer 123. The light emitting structure 120 may be divided into a plurality of portions in the process of cutting the substrate 110.

제1반도체층(121)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체일 수 있으며, 제1반도체층(121)에 제1도펀트가 도핑될 수 있다. 제1반도체층(121)은 Inx1Aly1Ga1 -x1-y1N(0≤x1≤1, 0≤y1≤1, 0≤x1+y1≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlGaN, InGaN, InAlGaN 등에서 선택될 수 있다. 그리고, 제1도펀트는 Si, Ge, Sn, Se, Te와 같은 n형 도펀트일 수 있다. 제1도펀트가 n형 도펀트인 경우, 제1도펀트가 도핑된 제1반도체층(121)은 n형 반도체층일 수 있다.The first semiconductor layer 121 may be a compound semiconductor such as a III-V group or a II-VI group, and the first semiconductor layer 121 may be doped with a first dopant. The first semiconductor layer 121 is a semiconductor material having a composition formula of In x 1 Al y 1 Ga 1 -x 1 -y 1 N (0? X 1? 1 , 0? Y 1? 1 , 0? X 1 + y 1? 1 ) GaN, AlGaN, InGaN, InAlGaN, and the like. The first dopant may be an n-type dopant such as Si, Ge, Sn, Se, or Te. When the first dopant is an n-type dopant, the first semiconductor layer 121 doped with the first dopant may be an n-type semiconductor layer.

활성층(122)은 제1반도체층(121)을 통해서 주입되는 전자(또는 정공)과 제2반도체층(123)을 통해서 주입되는 정공(또는 전자)이 만나는 층이다. 활성층(122)은 전자와 정공이 재결합함에 따라 낮은 에너지 준위로 천이하며, 그에 상응하는 파장을 가지는 빛을 생성할 수 있다. 본 실시 예에서 발광 파장에는 제한이 없다.The active layer 122 is a layer where electrons (or holes) injected through the first semiconductor layer 121 and holes (or electrons) injected through the second semiconductor layer 123 meet. The active layer 122 transitions to a low energy level as electrons and holes are recombined, and light having a wavelength corresponding thereto can be generated. There is no limitation on the emission wavelength in this embodiment.

활성층(122)은 단일 우물 구조, 다중 우물 구조, 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물(Multi Quantum Well; MQW) 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나의 구조를 가질 수 있으며, 활성층(122)의 구조는 이에 한정하지 않는다. The active layer 122 may have any one of a single well structure, a multiple well structure, a single quantum well structure, a multi quantum well (MQW) structure, a quantum dot structure, Is not limited thereto.

제2반도체층(123)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2반도체층(123)에 제2도펀트가 도핑될 수 있다. 제2반도체층(123)은 Inx5Aly2Ga1-x5-y2N (0≤x5≤1, 0≤y2≤1, 0≤x5+y2≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질 또는 AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 중 선택된 물질로 형성될 수 있다. 제2도펀트가 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등과 같은 p형 도펀트인 경우, 제2도펀트가 도핑된 제2반도체층(123)은 p형 반도체층일 수 있다.The second semiconductor layer 123 may be formed of a compound semiconductor such as a group III-V or II-VI group, and the second semiconductor layer 123 may be doped with a second dopant. The second semiconductor layer 123 may be a semiconductor material having a composition formula of In x 5 Al y 2 Ga 1 -x5-y 2 N (0? X 5? 1, 0? Y 2? 1, 0? X 5 + y 2? 1) , GaP, GaAs, GaAsP, and AlGaInP. When the second dopant is a p-type dopant such as Mg, Zn, Ca, Sr, or Ba, the second semiconductor layer 123 doped with the second dopant may be a p-type semiconductor layer.

도시되지는 않았으나 활성층(122)과 제2반도체층(123) 사이에는 전자 차단층(EBL)이 배치될 수 있다. 전자 차단층은 제1반도체층(121)에서 공급된 전자가 제2반도체층(123)으로 빠져나가는 흐름을 차단하여, 활성층(122) 내에서 전자와 정공이 재결합할 확률을 높일 수 있다. Although not shown, an electron blocking layer (EBL) may be disposed between the active layer 122 and the second semiconductor layer 123. The electron blocking layer can block the flow of electrons supplied from the first semiconductor layer 121 to the second semiconductor layer 123 and increase the probability of recombination of electrons and holes in the active layer 122.

발광구조물(120)은 제2반도체층(123)과 활성층(122)을 관통하여 제1반도체층(121)이 노출되는 제1홈(H1)이 형성될 수 있다. 제1홈(H1)에 의해 제1반도체층(121)도 일부 식각될 수 있다. 제1홈(H1)은 복수 개일 수 있다. 제1홈(H1)에는 제1오믹전극(151)이 배치되어 제1반도체층(121)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2반도체층(123)의 하부에는 제2오믹전극(131)이 배치될 수 있다.The light emitting structure 120 may have a first groove H1 through which the first semiconductor layer 121 is exposed through the second semiconductor layer 123 and the active layer 122. [ The first semiconductor layer 121 can also be partially etched by the first trench H1. The first grooves H1 may be plural. A first ohmic electrode 151 may be disposed in the first groove H1 and electrically connected to the first semiconductor layer 121. [ A second ohmic electrode 131 may be disposed under the second semiconductor layer 123.

제1오믹전극(151)과 제2오믹전극(131)은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), SnO, InO, INZnO, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Ti, Al, Ni, Cr 및 이들의 선택적인 화합물 또는 합금 중에서 선택되며, 적어도 한 층으로 형성될 수 있다. 오믹전극의 두께는 특별히 제한하지 않는다.The first ohmic electrode 151 and the second ohmic electrode 131 may be formed of indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IAZO) zinc oxide, IGTO, aluminum zinc oxide, ATO, gallium zinc oxide, SnO, InO, INZnO, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Ti, Al , Ni, Cr, and their optional compounds or alloys, and may be formed of at least one layer. The thickness of the ohmic electrode is not particularly limited.

보호층(141)은 제1오믹전극(151)을 활성층(122) 및 제2반도체층(123)으로부터 절연할 수 있다. 보호층(141)은 제1오믹전극(151)과 제2오믹전극(131)이 형성되는 영역을 제외하고는 발광구조물(120)에 전체적으로 형성될 수 있다.The protective layer 141 may isolate the first ohmic electrode 151 from the active layer 122 and the second semiconductor layer 123. The protective layer 141 may be formed entirely in the light emitting structure 120 except for a region where the first ohmic electrode 151 and the second ohmic electrode 131 are formed.

보호층(141)은 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr 중 적어도 하나를 갖는 산화물, 질화물, 불화물, 및 황화물 중 적어도 하나로 형성된 절연물질 또는 절연성 수지를 포함할 수 있다. 보호층(141)은 예컨대, SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 보호층(141)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The protective layer 141 may include an insulating material or an insulating resin formed of at least one of oxide, nitride, fluoride, and sulfide having at least one of Al, Cr, Si, Ti, Zn, and Zr. The protective layer 141 may be selectively formed, for example, of SiO2, Si3N4, Al2O3, and TiO2. The protective layer 141 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

반사전극층(132)은 제2오믹전극(131)상에 배치될 수 있다. 반사전극층(132)은 금속성 또는 비금속성 재질로 형성될 수 있다. 금속성 반사전극층(132)은 In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, 및 WTi 중에서 선택된 금속 중 어느 하나를 포함할 수 있다.The reflective electrode layer 132 may be disposed on the second ohmic electrode 131. The reflective electrode layer 132 may be formed of a metallic or non-metallic material. The metallic reflective electrode layer 132 may be formed of a metal such as In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, , Ni, Cu, and WTi.

제1절연층(142)은 반사전극층(132)이 배치된 발광구조물(120)을 전체적으로 커버한다. 제1절연층(142)은 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr 중 적어도 하나를 갖는 산화물, 질화물, 불화물, 및 황화물 중 적어도 하나로 형성된 절연물질 또는 절연성 수지를 포함할 수 있다. 제1절연층(142)은 예컨대, SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 제1절연층(142)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first insulating layer 142 entirely covers the light emitting structure 120 in which the reflective electrode layer 132 is disposed. The first insulating layer 142 may include an insulating material or an insulating resin formed of at least one of oxides, nitrides, fluorides, and sulfides having at least one of Al, Cr, Si, Ti, Zn, and Zr. The first insulating layer 142 may be selectively formed of, for example, SiO2, Si3N4, Al2O3, or TiO2. The first insulating layer 142 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

제1절연층(142)은 반사층일 수 있다. 구체적으로 제1절연층(142)은 제1굴절률을 갖는 제1층과 제2굴절률을 갖는 제2층이 교대로 2페어 이상 적층된 구조를 포함하며, 제1층과 제2층은 굴절률이 1.5~2.4 사이인 전도성 또는 절연성 물질로 형성될 수 있다. 이러한 구조는 DBR(distributed bragg reflection) 구조일 수 있다. 또한, 낮은 굴절률을 갖는 유전체층과 금속층이 적층된 구조(Omnidirectional Reflector)일 수도 있다.The first insulating layer 142 may be a reflective layer. Specifically, the first insulating layer 142 includes a structure in which a first layer having a first refractive index and a second layer having a second refractive index are alternately stacked two or more layers, and the first layer and the second layer have a refractive index And may be formed of a conductive or insulating material between 1.5 and 2.4. Such a structure may be a DBR (distributed bragg reflection) structure. Further, it may be a structure in which a dielectric layer having a low refractive index and a metal layer are laminated (Omnidirectional Reflector).

이러한 구성에 의하여 활성층(122)에서 제2반도체층(123) 방향으로 방출된 광은 대부분 기판(110)측으로 반사될 수 있다. 따라서, 반사 효율이 증가하고, 광 추출 효율이 개선될 수 있다.With this structure, most of the light emitted from the active layer 122 toward the second semiconductor layer 123 can be reflected toward the substrate 110 side. Therefore, the reflection efficiency can be increased and the light extraction efficiency can be improved.

제1전극패드(150)는 제1절연층(142)을 관통하여 제1오믹전극(151)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1오믹전극(151)은 기판(110)에 가까워질수록 면적이 커지는데 반해, 제1전극패드(150)는 기판(110)에 가까워질수록 면적이 작아진다.The first electrode pad 150 may be electrically connected to the first ohmic electrode 151 through the first insulating layer 142. The area of the first ohmic electrode 151 increases as the proximity of the first ohmic electrode 151 to the substrate 110 decreases while the area of the first electrode pad 150 decreases as the proximity of the first electrode pad 150 to the substrate 110 increases.

제2전극패드(160)는 제1절연층(142)을 관통하여 제2오믹전극(131) 및 반사전극층(132)과 전기적으로 연결될 수 있다. The second electrode pad 160 may be electrically connected to the second ohmic electrode 131 and the reflective electrode layer 132 through the first insulating layer 142.

제1전극패드(150)와 제2전극패드(160)는 In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, 및 WTi 중에서 선택된 금속 중 어느 하나를 포함할 수 있다.The first electrode pad 150 and the second electrode pad 160 may be formed of a material selected from the group consisting of In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, and WTi.

제2절연층(170)은 제1전극패드(150) 및 제2전극패드(160)가 연결된 발광소자의 측면을 전체적으로 커버할 수 있다. 제2절연층(170)은 예컨대, SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 적어도 하나가 선택적으로 형성될 수 있다.The second insulating layer 170 may cover the entire side surface of the light emitting device to which the first electrode pad 150 and the second electrode pad 160 are connected. At least one of SiO 2, Si 3 N 4, Al 2 O 3, and TiO 2 may be selectively formed in the second insulating layer 170.

발광소자에 전원이 인가되면 칩의 외곽 부분에서 전류 쏠림 현상(Current crowding)이 발생하여 높은 열이 발생한다. 따라서, 반사전극층(132)은 칩의 외곽에서부터 박리될 수 있다. 또한, 제1절연층(142)에 크랙이 발생하면 반사전극층(132)은 쉽게 박리될 수 있다. When power is applied to the light emitting device, current crowding occurs at the outer portion of the chip, and high heat is generated. Therefore, the reflective electrode layer 132 can be peeled from the outer periphery of the chip. In addition, when the first insulating layer 142 is cracked, the reflective electrode layer 132 can be easily peeled off.

실시 예에 따르면, 제2절연층(170)이 발광소자의 측면을 전체적으로 커버함으로써 제1절연층(142)과 함께 발광구조물(120) 및 반사전극층(132)을 2중으로 보호할 수 있다. 따라서, 반사전극층(132)이 박리되는 현상을 방지할 수 있다.The second insulating layer 170 covers the entire side surface of the light emitting device so that the light emitting structure 120 and the reflective electrode layer 132 can be doubly protected together with the first insulating layer 142. [ Therefore, it is possible to prevent the reflection electrode layer 132 from peeling off.

제2절연층(170)은 제1절연층(142)의 측면을 커버하는 제1영역(171), 기판(110)의 측면을 커버하는 제2영역(172), 및 제1, 제2전극패드(150, 160)의 측면을 커버하는 제3영역(173)을 포함한다.The second insulating layer 170 includes a first region 171 covering a side surface of the first insulating layer 142, a second region 172 covering a side surface of the substrate 110, And a third region 173 covering the sides of the pads 150 and 160.

제1영역(171)은 전술한 바와 같이 반사전극층(132)을 2중으로 커버하여 고전류가 주입되어도 반사전극층이 박리되는 현상을 방지할 수 있다. 또한 제2절연층(170)은 발광구조물(120)에서 방출되는 광을 상측으로 반사할 수 있다.As described above, the first region 171 covers the reflective electrode layer 132 in a duplex manner, thereby preventing the reflective electrode layer from being peeled off even when a high current is injected. The second insulating layer 170 may reflect the light emitted from the light emitting structure 120 upward.

제2절연층(170)의 제2영역(172)은 기판(110)의 측면을 커버한다. 따라서, 기판(110)과 발광구조물(120) 사이에 크랙이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 제2절연층(170)이 반사층인 경우 발광구조물(120)에서 출사된 광을 집광할 수 있다.The second region 172 of the second insulating layer 170 covers the side surface of the substrate 110. Therefore, cracks can be prevented from occurring between the substrate 110 and the light emitting structure 120. When the second insulating layer 170 is a reflective layer, light emitted from the light emitting structure 120 can be condensed.

제3영역(173)은 제1전극패드(150) 및 제2전극패드(160)의 측면을 커버할 수 있다. 따라서, 제1, 제2전극패드(160)와 제1절연층(142)의 계면이 분리되는 현상을 방지할 수 있다.The third region 173 may cover the sides of the first electrode pad 150 and the second electrode pad 160. Accordingly, it is possible to prevent the interface between the first and second electrode pads 160 and the first insulating layer 142 from being separated from each other.

제3영역(173)은 제1전극패드(150) 및 제2전극패드(160)의 바닥면으로 연장되는 연장부(173a)를 포함할 수 있다. 제1, 제2전극패드(150, 160)가 회로기판에 실장되면 연장부(173a)가 제1, 제2전극패드(150, 160)와 회로기판 사이에 고정되므로 제2절연층(170)과 제1, 제2전극패드(150, 160) 사이의 들뜸 현상을 개선할 수 있다.The third region 173 may include an extended portion 173a extending to the bottom surface of the first electrode pad 150 and the second electrode pad 160. [ When the first and second electrode pads 150 and 160 are mounted on the circuit board, the extended portion 173a is fixed between the first and second electrode pads 150 and 160 and the circuit board, And the first and second electrode pads 150 and 160 can be improved.

도 2를 참고하면, 제2절연층(170)이 없는 구조(S1)의 경우 전압이 상승하면 점차 전류값이 상승하는 것을 알 수 있다. 이는 고전류에 의해 반사전극층이 박리된 것에 원인이 있다. 그러나, 실시 예(S2)의 경우 전압이 약 2.0V를 초과하여도 상대적으로 일정한 전류값을 가짐을 알 수 있다. 따라서, 제2절연층(170)에 의해 반사전극층의 박리가 개선되었음을 알 수 있다.Referring to FIG. 2, in the case of the structure S1 in which the second insulating layer 170 is not provided, the current value gradually increases as the voltage rises. This is caused by the fact that the reflective electrode layer is peeled off by a high current. However, it can be seen that, in the case of the embodiment (S2), even if the voltage exceeds about 2.0 V, the current has a relatively constant current value. Therefore, it can be seen that the peeling of the reflective electrode layer is improved by the second insulating layer 170.

도 3을 참고하면, 제2절연층(170)은 고굴절률층(170a)과 저굴절률층(170b)이 교대로 적층된 구조를 포함하는 DBR(distributed bragg reflection) 구조일 수 있다.Referring to FIG. 3, the second insulating layer 170 may be a distributed Bragg reflection (DBR) structure including a structure in which a high refractive index layer 170a and a low refractive index layer 170b are alternately stacked.

일 예로, 고굴절률층(170a)은 TiO2이고, 저굴절률층(170b)은 SiO2일 수 있다. 제2절연층(170)은 고굴절률층(170a)과 저굴절률층(170b)이 약 3 내지 40페어(pair)로 구성될 수 있다. 각각의 층의 두께는 약 50nm 내지 100nm일 수 있다. 따라서, 제2절연층(170)의 총 두께는 약 10um 내지 30um일 수 있다. 도 4를 참고하면, 제2절연층(170)은 450nm의 파장대의 광을 96%이상 반사할 수 있다. 제1절연층(142)과 제2절연층(170)은 동일한 구조의 DBR층일 수 있다.In one example, the high-refractive index layer 170a may be TiO2 and the low-refractive index layer 170b may be SiO2. The second insulating layer 170 may be formed of about 3 to 40 pairs of the high-refractive index layer 170a and the low-refractive index layer 170b. The thickness of each layer may be between about 50 nm and 100 nm. Thus, the total thickness of the second insulating layer 170 may be between about 10 um and 30 um. Referring to FIG. 4, the second insulating layer 170 can reflect 96% or more of light having a wavelength of 450 nm. The first insulating layer 142 and the second insulating layer 170 may be DBR layers having the same structure.

도 5를 참고하면, 연장부(173a)가 제1전극패드(150) 및 제2전극패드(160)의 바닥면을 커버하는 면적은 바닥면의 전체 면적의 5% 내지 30%일 수 있다. 커버 면적이 5%이하인 경우에는 제2절연층(170)의 안정적인 부착이 어려워지며, 30%를 초과하면 경우 제1전극패드(150) 및 제2전극패드(160)의 노출면적이 작아져 저항이 높아질 수 있다. 따라서, 동작전압이 높아질 수 있다.5, the area of the extension 173a covering the bottom surfaces of the first electrode pad 150 and the second electrode pad 160 may be 5% to 30% of the total area of the bottom surface. When the cover area is less than 5%, the second insulation layer 170 is difficult to stably adhere, and when it exceeds 30%, the exposed area of the first electrode pad 150 and the second electrode pad 160 becomes small, Can be increased. Therefore, the operating voltage can be increased.

도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 보여주는 도면이다.6 is a view illustrating a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참고하면, 기판(110)에는 파장변환층(180)이 배치될 수 있다. 파장변환층(180)에 의해 활성층(122)에서 발광된 청색 파장대의 광은 백색광으로 변환될 수 있다. 이러한 구조의 패키지는 칩 스케일 패키지(CSP)일 수 있다.Referring to FIG. 6, the wavelength conversion layer 180 may be disposed on the substrate 110. Light in the blue wavelength band emitted from the active layer 122 by the wavelength conversion layer 180 can be converted into white light. The package of this structure may be a chip scale package (CSP).

파장변환층(180)은 고분자 수지에 형광체 또는 양자점 등이 분산될 수 있다. 형광체의 종류는 특별히 제한하지 않는다. 백색광을 구현하기 위해 YAG계, TAG계, Silicate계, Sulfide계 또는 Nitride계 중 적어도 어느 하나의 형광물질이 포함될 수 있다.The wavelength conversion layer 180 may include a phosphor or a quantum dot dispersed in the polymer resin. The kind of the phosphor is not particularly limited. In order to realize white light, a fluorescent material of at least one of YAG, TAG, silicate, Sulfide or Nitride may be included.

기판 실장시, 연장부(173a)가 제1, 제2전극패드(150, 160)와 회로기판(10) 사이에 고정되므로 제2절연층(170)과 제1, 제2전극패드(150, 160) 사이의 들뜸 현상을 개선할 수 있다. 또한, 제2절연층(170)은 제1, 제2전극패드(150, 160)와 회로기판(10)의 접촉시 제1절연층(142) 및 반사전극층(132)을 보호할 수 있다.The extended portion 173a is fixed between the first and second electrode pads 150 and 160 and the circuit board 10 so that the second insulating layer 170 and the first and second electrode pads 150, 160 can be improved. The second insulating layer 170 may protect the first insulating layer 142 and the reflective electrode layer 132 when the first and second electrode pads 150 and 160 are in contact with the circuit board 10.

도 7a 내지 도 7f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명하기 위한 흐름도이다.7A to 7F are flowcharts illustrating a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention.

도 7a를 참고하면, 기판(110) 상에 제1반도체층(121), 활성층(122), 제2반도체층(123)을 순차로 형성한다. 이후, 제2반도체층(123), 활성층(122)을 식각하여 제1반도체층(121)을 노출하는 제1홈(H1)을 적어도 하나 형성할 수 있다.Referring to FIG. 7A, a first semiconductor layer 121, an active layer 122, and a second semiconductor layer 123 are sequentially formed on a substrate 110. Thereafter, at least one first groove H1 may be formed to expose the first semiconductor layer 121 by etching the second semiconductor layer 123 and the active layer 122.

도 7b를 참고하면, 제1홈(H1)이 형성된 발광구조물(120)에 보호층(141)을 형성한 후, 일부 제거하여 제1오믹전극(151)과 제2오믹전극(131)을 형성할 수 있다. 7B, after the protective layer 141 is formed on the light emitting structure 120 having the first groove H1 formed thereon, the first ohmic electrode 151 and the second ohmic electrode 131 are formed can do.

제2오믹전극(131) 위에는 반사전극층(142)을 형성한다. 반사전극층(142)은 스퍼터를 이용하여 Ag/Ni/Ti순으로 형성할 수 있다. 이때, 제2오믹전극(131)과 반사전극층(142)의 접합력을 높이기 위해 플라즈마 크리닝(Plasma Clean) 공정을 수행할 수 있다.A reflective electrode layer 142 is formed on the second ohmic electrode 131. The reflective electrode layer 142 can be formed in the order of Ag / Ni / Ti using sputtering. At this time, a plasma cleaning process may be performed to increase the bonding strength between the second ohmic electrode 131 and the reflective electrode layer 142.

이후, 그 위에 전체적으로 제1절연층(142)을 형성한다. 각 층들을 형성하는 방법에는 제한이 없다. 마스크 패턴을 이용할 수도 있고 포토 레지스트를 이용할 수도 있다. Thereafter, a first insulating layer 142 is formed on the entire surface. There is no limitation on the method of forming each layer. A mask pattern may be used or a photoresist may be used.

도 7c를 참고하면, 제1절연층(142)의 일부를 식각하고 그 위에 제1전극패드(150)와 제2전극패드(160)를 각각 형성한다.Referring to FIG. 7C, a part of the first insulating layer 142 is etched and a first electrode pad 150 and a second electrode pad 160 are formed thereon, respectively.

도 7d를 참고하면, 제1전극패드(150)와 제2전극패드(160)가 배치된 발광소자의 측면에 전체적으로 제2절연층(170)을 형성한다. 제2절연층(170)을 형성하는 방법에는 제한이 없다. 이후, 제1, 제2전극패드(150, 160)의 바닥면에 형성된 제2절연층은 일부 제거할 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 전류 쏠림 현상에 의해 반사전극층이 박리되는 문제를 해결하는 동시에 발광구조물에서 방출되는 광의 추출 효율을 개선할 수 있다.Referring to FIG. 7D, the second insulating layer 170 is formed on the side of the light emitting device in which the first electrode pad 150 and the second electrode pad 160 are disposed. The method of forming the second insulating layer 170 is not limited. Thereafter, the second insulating layer formed on the bottom surfaces of the first and second electrode pads 150 and 160 may be partially removed. According to this structure, the problem that the reflective electrode layer is peeled off due to the current leaking phenomenon can be solved and the extraction efficiency of light emitted from the light emitting structure can be improved.

실시 예의 발광 소자는 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등의 광학 부재를 더 포함하여 이루어져 백라이트 유닛으로 기능할 수 있다. 또한, 실시 예의 발광 소자는 표시 장치, 조명 장치, 지시 장치에 더 적용될 수 있다.The light emitting device of the embodiment further includes optical members such as a light guide plate, a prism sheet, and a diffusion sheet, and can function as a backlight unit. Further, the light emitting element of the embodiment can be further applied to a display device, a lighting device, and a pointing device.

이 때, 표시 장치는 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판, 광학 시트, 디스플레이 패널, 화상 신호 출력 회로 및 컬러 필터를 포함할 수 있다. 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판 및 광학 시트는 백라이트 유닛(Backlight Unit)을 이룰 수 있다.At this time, the display device may include a bottom cover, a reflector, a light emitting module, a light guide plate, an optical sheet, a display panel, an image signal output circuit, and a color filter. The bottom cover, the reflector, the light emitting module, the light guide plate, and the optical sheet may form a backlight unit.

반사판은 바텀 커버 상에 배치되고, 발광 모듈은 광을 방출한다. 도광판은 반사판의 전방에 배치되어 발광 모듈에서 발산되는 빛을 전방으로 안내하고, 광학 시트는 프리즘 시트 등을 포함하여 이루어져 도광판의 전방에 배치된다. 디스플레이 패널은 광학 시트 전방에 배치되고, 화상 신호 출력 회로는 디스플레이 패널에 화상 신호를 공급하며, 컬러 필터는 디스플레이 패널의 전방에 배치된다. The reflector is disposed on the bottom cover, and the light emitting module emits light. The light guide plate is disposed in front of the reflection plate to guide light emitted from the light emitting module forward, and the optical sheet includes a prism sheet or the like and is disposed in front of the light guide plate. The display panel is disposed in front of the optical sheet, and the image signal output circuit supplies an image signal to the display panel, and the color filter is disposed in front of the display panel.

그리고, 조명 장치는 기판과 실시 예의 발광 소자를 포함하는 광원 모듈, 광원 모듈의 열을 발산시키는 방열부 및 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 광원 모듈로 제공하는 전원 제공부를 포함할 수 있다. 더욱이 조명 장치는, 램프, 해드 램프, 또는 가로등 등을 포함할 수 있다.The lighting device may include a light source module including a substrate and a light emitting device of the embodiment, a heat dissipation unit that dissipates heat of the light source module, and a power supply unit that processes or converts an electric signal provided from the outside and provides the light source module . Further, the lighting device may include a lamp, a head lamp, or a street lamp or the like.

이상에서 설명한 본 발명 실시 예는 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 실시 예의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명 실시 예가 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various changes, substitutions, and alterations can be made hereto without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. Will be apparent to those of ordinary skill in the art.

110: 기판
120: 발광구조물
121: 제1반도체층
122: 활성층
123: 제2반도체층
131: 제2오믹전극
132: 반사전극층
141: 보호층
142: 제1절연층
150: 제1전극패드
151: 제1오믹전극
160: 제2전극패드
170: 제2절연층
110: substrate
120: light emitting structure
121: first semiconductor layer
122: active layer
123: second semiconductor layer
131: second ohmic electrode
132: reflective electrode layer
141: Protective layer
142: first insulating layer
150: first electrode pad
151: first ohmic electrode
160: second electrode pad
170: second insulating layer

Claims (11)

제1반도체층, 활성층, 및 제2반도체층을 포함하는 발광구조물;
상기 제2반도체층상에 배치되는 반사전극층;
상기 발광구조물 및 반사전극층을 커버하는 제1절연층;
상기 제1절연층을 관통하여 상기 제1반도체층과 연결되는 제1전극패드;
상기 제1절연층을 관통하여 상기 제2반도체층과 연결되는 제2전극패드; 및
상기 제1절연층의 측면을 커버하는 제1영역을 포함하는 제2절연층을 포함하는 발광소자.
A light emitting structure including a first semiconductor layer, an active layer, and a second semiconductor layer;
A reflective electrode layer disposed on the second semiconductor layer;
A first insulating layer covering the light emitting structure and the reflective electrode layer;
A first electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the first semiconductor layer;
A second electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the second semiconductor layer; And
And a second insulating layer including a first region covering a side surface of the first insulating layer.
제1항에 있어서,
상기 제2절연층은 상기 발광구조물에서 방출된 광을 반사하는 발광소자.
The method according to claim 1,
And the second insulating layer reflects light emitted from the light emitting structure.
제2항에 있어서,
상기 제1절연층은 상기 발광구조물에서 방출된 광을 반사하는 발광소자.
3. The method of claim 2,
Wherein the first insulating layer reflects light emitted from the light emitting structure.
제1항에 있어서,
상기 발광구조물을 지지하는 기판을 포함하고,
상기 제2절연층은 상기 기판의 측면을 커버하는 제2영역을 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
And a substrate for supporting the light emitting structure,
And the second insulating layer includes a second region covering a side surface of the substrate.
제1항에 있어서,
상기 제2절연층은 상기 제1전극패드 및 제2전극패드의 측면을 커버하는 제3영역을 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
And the second insulating layer includes a third region covering a side surface of the first electrode pad and the second electrode pad.
제5항에 있어서,
상기 제3영역은 상기 제1전극패드 및 제2전극패드의 바닥면으로 연장되는 연장부를 포함하는 발광소자.
6. The method of claim 5,
And the third region includes an extension extending to a bottom surface of the first electrode pad and the second electrode pad.
제6항에 있어서,
상기 연장부가 상기 제1전극패드 및 제2전극패드의 바닥면을 커버하는 면적은 상기 바닥면의 전체 면적의 5% 내지 30%인 발광소자.
The method according to claim 6,
Wherein the extending portion covers an area of a bottom surface of the first electrode pad and a surface of the second electrode pad is 5% to 30% of a total area of the bottom surface.
제1항에 있어서,
상기 제2절연층은 상기 발광구조물을 지지하는 기판의 측면을 커버하는 제2영역, 및 상기 제1전극패드와 제2전극패드의 측면을 커버하는 제3영역을 포함하고,
상기 제1영역, 제2영역, 및 제3영역의 두께는 동일한 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the second insulating layer includes a second region covering a side surface of the substrate supporting the light emitting structure and a third region covering a side surface of the first electrode pad and the second electrode pad,
Wherein the first region, the second region, and the third region have the same thickness.
제8항에 있어서,
상기 제2절연층은 교번 적층된 고굴절층 및 저굴절층를 포함하는 발광소자.
9. The method of claim 8,
Wherein the second insulating layer includes a high refractive index layer and a low refractive index layer stacked alternately.
제8항에 있어서,
상기 제2절연층은 450nm 파장대의 광에 대한 반사율이 96% 이상인 발광소자.
9. The method of claim 8,
Wherein the second insulating layer has a reflectance of 96% or more with respect to light having a wavelength of 450 nm.
발광소자; 및
상기 발광소자에서 방출된 광을 백색광으로 변환하는 파장변환층을 포함하고,
상기 발광소자는,
제1반도체층, 활성층, 및 제2반도체층을 포함하는 발광구조물;
상기 제2반도체층상에 배치되는 반사전극층;
상기 발광구조물 및 반사전극층을 커버하는 제1절연층;
상기 제1절연층을 관통하여 상기 제1반도체층과 연결되는 제1전극패드;
상기 제1절연층을 관통하여 상기 제2반도체층과 연결되는 제2전극패드; 및
상기 제1절연층의 측면을 커버하는 제1영역을 포함하는 제2절연층을 포함하는 발광소자 패키지.
A light emitting element; And
And a wavelength conversion layer for converting light emitted from the light emitting device into white light,
The light-
A light emitting structure including a first semiconductor layer, an active layer, and a second semiconductor layer;
A reflective electrode layer disposed on the second semiconductor layer;
A first insulating layer covering the light emitting structure and the reflective electrode layer;
A first electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the first semiconductor layer;
A second electrode pad penetrating the first insulating layer and connected to the second semiconductor layer; And
And a second insulating layer including a first region covering a side surface of the first insulating layer.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190031105A (en) * 2017-09-15 2019-03-25 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and light emitting device package including the same
CN110192276A (en) * 2017-11-27 2019-08-30 首尔伟傲世有限公司 LED unit for display and the display equipment with the LED unit
CN110870065A (en) * 2017-11-27 2020-03-06 首尔伟傲世有限公司 LED unit for display and display apparatus having the same
CN110959192A (en) * 2017-11-27 2020-04-03 首尔伟傲世有限公司 LED unit for display and display apparatus having the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10247747A (en) * 1997-03-05 1998-09-14 Toshiba Corp Semiconductor light emitting device and manufacture thereof
KR20130080301A (en) * 2012-01-04 2013-07-12 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and light emitting apparatus having the same
KR101363496B1 (en) * 2012-07-18 2014-02-17 주식회사 세미콘라이트 Method of manufacturing semiconductor light emimitting device
KR20150142327A (en) * 2014-06-11 2015-12-22 엘지이노텍 주식회사 Light Emitting Device and light emitting device package

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10247747A (en) * 1997-03-05 1998-09-14 Toshiba Corp Semiconductor light emitting device and manufacture thereof
KR20130080301A (en) * 2012-01-04 2013-07-12 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and light emitting apparatus having the same
KR101363496B1 (en) * 2012-07-18 2014-02-17 주식회사 세미콘라이트 Method of manufacturing semiconductor light emimitting device
KR20150142327A (en) * 2014-06-11 2015-12-22 엘지이노텍 주식회사 Light Emitting Device and light emitting device package

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190031105A (en) * 2017-09-15 2019-03-25 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and light emitting device package including the same
CN110192276A (en) * 2017-11-27 2019-08-30 首尔伟傲世有限公司 LED unit for display and the display equipment with the LED unit
CN110870065A (en) * 2017-11-27 2020-03-06 首尔伟傲世有限公司 LED unit for display and display apparatus having the same
CN110959192A (en) * 2017-11-27 2020-04-03 首尔伟傲世有限公司 LED unit for display and display apparatus having the same

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