KR20170013962A - Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same - Google Patents

Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same Download PDF

Info

Publication number
KR20170013962A
KR20170013962A KR1020170010591A KR20170010591A KR20170013962A KR 20170013962 A KR20170013962 A KR 20170013962A KR 1020170010591 A KR1020170010591 A KR 1020170010591A KR 20170010591 A KR20170010591 A KR 20170010591A KR 20170013962 A KR20170013962 A KR 20170013962A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
chamber
film
space
deposition
cover
Prior art date
Application number
KR1020170010591A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101977614B1 (en
Inventor
박성완
Original Assignee
주식회사 유니플라즈마
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 유니플라즈마 filed Critical 주식회사 유니플라즈마
Priority to KR1020170010591A priority Critical patent/KR101977614B1/en
Publication of KR20170013962A publication Critical patent/KR20170013962A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101977614B1 publication Critical patent/KR101977614B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/562Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Disclosed are a sputtering apparatus wherein a vacuum state of a process chamber is kept and a method of operating the same when changing a film to a new film or discharging a film which is deposited to the outside. The sputtering apparatus comprises: a process chamber to perform a deposition process of an object to be deposited; a loading chamber to load the object to be deposited; and a valve. Moreover, a space is formed in a portion of a chamber connection portion between the process chamber and the loading chamber, and the object to be deposited is transferred to the space. When loading the object to be deposited in the loading chamber, the valve shields the space to keep a vacuum state of the process chamber.

Description

진공 상태의 유지가 가능한 스퍼터링 장치 및 이의 동작 방법{SPUTTERING APPARATUS WHERE VACUUM STATE OF A PROCESS CHAMBER IS KEPT AND METHOD OF OPERATING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a sputtering apparatus capable of maintaining a vacuum state and a method of operating the sputtering apparatus.

본 발명은 스퍼터링 장치 및 이의 동작 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a sputtering apparatus and a method of operating the same.

스퍼터링 장치는 필름 등에 소정 막을 증착하는 장치로서, 증착 공정이 공정 챔버에서 수행된다. 다만, 증착 공정이 완료된 후 증착을 위한 새로운 필름을 로딩하거나 막이 형성된 필름을 외부로 반출시킬 때, 상기 공정 챔버의 진공이 파괴된다. 따라서, 새로운 필름에 막을 증착하기 위하여 상기 공정 챔버를 다시 진공 상태로 만드는 데 상당한 시간이 소요되어 증착 효율이 저하되는 문제점이 있다. A sputtering apparatus is an apparatus for depositing a predetermined film on a film or the like, and a deposition process is performed in the process chamber. However, when the new film for deposition is loaded after the deposition process is completed, or when the film with the film is taken out to the outside, the vacuum of the process chamber is destroyed. Therefore, it takes a considerable time to bring the process chamber back to a vacuum state in order to deposit a film on a new film, which lowers the deposition efficiency.

한국등록특허공보 제659085호 (등록일 : 2006년 12월 21일)Korean Registered Patent No. 659085 (registered on December 21, 2006)

본 발명은 새로운 필름으로 교체하거나 증착 완료된 필름을 외부로 반출시킬 때 공정 챔버의 진공 상태를 유지시키는 스퍼터링 장치 및 이의 동작 방법을 제공하는 것이다.The present invention provides a sputtering apparatus for maintaining a vacuum state of a process chamber when replacing with a new film or taking out a deposited film to the outside, and a method of operating the sputtering apparatus.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치는 증착 대상물의 증착 공정을 수행하기 위한 공정 챔버; 상기 증착 대상물을 로딩하기 위한 로딩 챔버; 및 밸브를 포함한다. 여기서, 상기 공정 챔버와 상기 로딩 챔버 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간이 형성되고, 상기 공간으로 상기 증착 대상물이 이송되며, 상기 증착 대상물을 상기 로딩 챔버로 로딩시 상기 밸브가 상기 공간을 차폐하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시킨다. According to an aspect of the present invention, there is provided a sputtering apparatus including: a processing chamber for performing a deposition process of a deposition target; A loading chamber for loading the deposition object; And a valve. Here, a space is formed in a part of a chamber connection part between the process chamber and the loading chamber, and the deposition object is transferred to the space. When the deposition object is loaded into the loading chamber, the valve shields the space, Thereby maintaining the vacuum of the process chamber.

본 발명의 다른 실시예에 따른 스퍼터링 장치는 증착 대상물의 증착 공정을 수행하기 위한 공정 챔버; 상기 증착 대상물을 로딩하기 위한 로딩 챔버; 및 덮개를 포함한다. 여기서, 상기 공정 챔버와 상기 로딩 챔버 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간이 형성되고, 상기 공간으로 상기 증착 대상물이 이송되며, 상기 증착 대상물을 상기 로딩 챔버로 로딩시 상기 덮개가 상부 또는 하부로 이동하여 상기 공간을 차폐하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시킨다. According to another aspect of the present invention, there is provided a sputtering apparatus including: a processing chamber for performing a deposition process of a deposition target; A loading chamber for loading the deposition object; And a cover. Here, a space is formed in a part of the chamber connecting portion between the process chamber and the loading chamber, and the evaporation object is transferred to the space. When the evaporation object is loaded into the loading chamber, the cover moves upward or downward And the space is shielded to maintain the vacuum state of the process chamber.

본 발명의 또 다른 실시예에 따른 스퍼터링 장치는 증착 대상물의 증착 공정을 수행하기 위한 공정 챔버; 상기 공정 챔버에 의해 막이 증착된 증착 대상물을 반출하기 위한 출력 챔버; 및 밸브를 포함한다. 여기서, 상기 공정 챔버와 상기 출력 챔버 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간이 형성되고, 상기 공간으로 상기 막이 증착된 증착 대상물이 이송되며, 상기 막이 형성된 증착 대상물을 상기 출력 챔버의 외부로 반출시 상기 밸브가 상기 공간을 차폐하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시킨다. According to another aspect of the present invention, there is provided a sputtering apparatus including: a processing chamber for performing a deposition process of a deposition target; An output chamber for carrying out a deposition object on which a film is deposited by the process chamber; And a valve. Here, a space is formed in a part of the chamber connecting portion between the process chamber and the output chamber, and an evaporation object on which the film is deposited is transferred to the space. When the evaporation object on which the film is formed is taken out to the outside of the output chamber, Shields the space to maintain the vacuum in the process chamber.

본 발명의 또 다른 실시예에 따른 스퍼터링 장치는 증착 대상물의 증착 공정을 수행하기 위한 공정 챔버; 상기 공정 챔버에 의해 막이 증착된 증착 대상물을 반출하기 위한 출력 챔버; 및 덮개를 포함한다. 여기서, 상기 공정 챔버와 상기 출력 챔버 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간이 형성되고, 상기 공간으로 상기 막이 형성된 증착 대상물이 이송되며, 상기 막이 형성된 증착 대상물을 상기 출력 챔버의 외부로 반출시 상기 덮개가 상부 또는 하부로 이동하여 상기 공간을 차폐하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시킨다. According to another aspect of the present invention, there is provided a sputtering apparatus including: a processing chamber for performing a deposition process of a deposition target; An output chamber for carrying out a deposition object on which a film is deposited by the process chamber; And a cover. Here, a space is formed in a part of a chamber connecting portion between the process chamber and the output chamber, and an evaporation object having the film formed thereon is transferred. When the evaporation object formed with the film is taken out to the outside of the output chamber, And moves up or down to shield the space to maintain the vacuum of the process chamber.

본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 동작 방법은 공정 챔버 내에서 필름 위에 막을 증착하는 단계; 상기 막의 증착이 완료된 후 상기 공정 챔버와 로딩 챔버 사이의 제 1 챔버 연결부의 제 1 공간 및 상기 공정 챔버와 출력 챔버 사이의 제 2 챔버 연결부의 제 2 공간 중 적어도 하나를 차폐시켜 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시키는 단계; 및 상기 공간을 차폐시킨 후 상기 막이 형성된 필름을 상기 출력 챔버의 외부로 반출하거나 새로운 필름을 상기 로딩 챔버 내로 로딩하는 단계를 포함한다. A method of operating a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention includes depositing a film on a film in a process chamber; After the deposition of the film is completed, shielding at least one of a first space of the first chamber connection between the process chamber and the loading chamber and a second space of the second chamber connection between the process chamber and the output chamber, Maintaining a state; And shielding the space and then transporting the film with the film formed outside the output chamber or loading a new film into the loading chamber.

본 발명에 따른 스퍼터링 장치 및 이의 증착 방법은 증착 공정 완료 후 밸브로 챔버 연결부의 공간을 차폐시킨 후 막이 형성된 필름을 외부로 반출하거나 새로운 필름을 로딩시키므로, 공정 챔버의 진공 상태가 계속적으로 유지될 수 있다. 따라서, 증착 효율이 향상될 수 있다. In the sputtering apparatus and the deposition method thereof, after the deposition process is completed, the space of the chamber connecting portion is shielded by the valve, and then the film formed with the film is taken out to the outside or a new film is loaded so that the vacuum state of the process chamber can be maintained have. Therefore, the deposition efficiency can be improved.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 개념을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 대상물의 로딩 또는 반출시의 스터퍼링 장치의 구조를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치에서의 동작을 도시한 순서도이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 실제 구성을 개략적으로 도시한 도면들이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 결합 구조를 도시한 도면이다.
1 is a schematic view showing a concept of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a structure of a stuffer apparatus for loading or unloading a deposition object according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of the sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 and 5 are views schematically showing an actual configuration of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention.
6 is a view showing a coupling structure according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 자세히 설명하도록 한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 스퍼터링 장치에 관한 것으로서, 증착 완료 후 증착 대상물, 예를 들어 필름을 새로운 필름으로 교체하거나 막이 형성된 필름을 출력 챔버의 외부로 반출시킬 때 공정 챔버의 진공 상태를 유지할 수 있는 스퍼터링 장치 및 이의 동작 방법을 제안한다. The present invention relates to a sputtering apparatus, and more particularly, to a sputtering apparatus capable of maintaining a vacuum state of a process chamber when an object to be vaporized, for example, a film is replaced with a new film or a film formed thereon is taken out of the output chamber after completion of vapor deposition, We propose an operation method.

종래 스퍼터링 장치에서는, 증착 공정이 완료된 후 새로운 필름을 로딩하거나 막이 형성된 필름을 외부로 반출시킬 때 공정 챔버의 진공 상태가 파괴된다. 이 경우, 증착 공정을 위하여 공정 챔버를 다시 진공 상태로 만들기 위하여 상당한 시간이 소요되었으며, 그 결과 증착 효율이 저하될 수밖에 없었다. In the conventional sputtering apparatus, the vacuum state of the process chamber is broken when a new film is loaded after the deposition process is completed, or when the film on which the film is formed is taken out. In this case, it took a considerable time to re-vacuum the process chamber for the deposition process, which resulted in a reduction in the deposition efficiency.

따라서, 본 발명은 증착 공정 완료 후 새로운 필름을 로딩하거나 막이 형성된 필름을 외부로 반출시킬 때에도 공정 챔버의 진공 상태를 유지할 수 있는 스퍼터링 장치 및 이의 동작 방법을 제안한다. Accordingly, the present invention proposes a sputtering apparatus and a method of operating the sputtering apparatus that can maintain a vacuum state of a process chamber even when a new film is loaded after the completion of the deposition process or when a film having the film is taken out to the outside.

이하, 본 발명의 스퍼터링 장치 및 이의 동작 방법의 다양한 실시예들을 첨부된 도면들을 참조하여 상술하겠다. Hereinafter, various embodiments of a sputtering apparatus and an operation method thereof according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 개념을 개략적으로 도시한 도면이다. 1 is a schematic view showing a concept of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 실시예의 스퍼터링 장치는 공정 챔버(100), 로딩 챔버(102) 및 출력 챔버(104)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1, the sputtering apparatus of this embodiment may include a process chamber 100, a loading chamber 102, and an output chamber 104.

공정 챔버(100)는 증착 대상물(110), 예를 들어 필름 상에 특정 막을 증착하기 위한 챔버로서, 도시하지 않았지만 증착을 위한 타겟 등이 내부에 포함되어 있다. 이하, 설명의 편의를 위하여 증착 대상물(110)을 필름으로 가정하겠다. The process chamber 100 includes a deposition target 110, for example, a chamber for depositing a specific film on a film, and a target for deposition, etc., not shown, is contained therein. Hereinafter, for convenience of explanation, it is assumed that the deposition target 110 is a film.

로딩 챔버(102)는 필름(110)이 로딩(loading)되고 필름(110)을 공정 챔버(100)로 제공하는 챔버로서, 내부에 예를 들어 권취 롤러(106) 및 이송 롤러(112)가 배치될 수 있다. The loading chamber 102 is a chamber in which the film 110 is loaded and provides the film 110 to the process chamber 100. The loading rollers 106 and the conveying rollers 112 are disposed inside .

권취 롤러(106)에는 증착 공정이 수행될 필름(110)이 권취되어 있다. The winding roller 106 is wound with a film 110 to be subjected to a deposition process.

이송 롤러(112)는 권취 롤러(110)로부터 제공된 필름을 공정 챔버(100)로 이송시키는 역할을 수행한다. 물론, 이송 롤러(112) 없이 권취 롤러(106)로부터 공정 챔버(100)로 필름이 직접 이송될 수도 있다. The transfer roller 112 serves to transfer the film provided from the winding roller 110 to the process chamber 100. Of course, the film may be transported directly from the take-up roller 106 to the process chamber 100 without the transport roller 112.

일 실시예에 따르면, 로딩 챔버(102)와 공정 챔버(100) 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간(130)이 형성될 수 있으며, 이송 롤러(112)로부터 이동된 필름(110)이 공정 챔버(130)로 인입될 수 있다. 즉, 증착 공정 시에는 이송 롤러(112)로부터 이동된 필름(110)이 공정 챔버(100)로 진입하며, 이 경우 필름(110)이 공정 챔버(100)로 진입이 자유롭도록 덮개(120)를 포함하는 밸브가 공간(130)을 개방한 상태를 유지한다. According to one embodiment, a space 130 may be formed in a portion of the chamber connection between the loading chamber 102 and the process chamber 100 and the film 110 transferred from the transfer roller 112 may be transferred to a process chamber 130, respectively. That is, in the deposition process, the film 110 moved from the transport roller 112 enters the process chamber 100, and in this case, the cover 120 is opened to allow the film 110 to enter the process chamber 100 And the valve including the valve 130 keeps the space 130 open.

반면에, 증착 공정이 완료된 후 필름(110)을 다른 필름으로 교환하고자 할 경우, 상기 밸브의 덮개(120)가 공간(130)을 차폐하며, 그 결과 필름(110) 교체시에도 공정 챔버(100)는 진공 상태를 유지할 수 있으며 사용자는 로딩 챔버(102)를 개방하고 필름(110)을 새로운 필름으로 교체할 수 있다. 이 경우, 로딩 챔버(102)는 진공 상태가 파괴된다. 즉, 사용자는 덮개(120)를 이용하여 공정 챔버(100)의 진공 상태를 유지하면서 로딩 챔버(102) 내의 필름(110)을 다른 필름으로 교체할 수 있다. On the other hand, if the film 110 is to be replaced with another film after the deposition process is completed, the cover 120 of the valve shields the space 130, Can maintain a vacuum and the user can open the loading chamber 102 and replace the film 110 with a new film. In this case, the loading chamber 102 is broken in a vacuum state. That is, the user may use the lid 120 to replace the film 110 in the loading chamber 102 with another film while maintaining the vacuum of the process chamber 100.

한편, 공정 챔버(100)에서 증착 공정이 완료된 후 필름(110)을 출력 챔버(104)의 외부로 반출시킬 때에도 위와 유사한 동작이 수행될 수 있다. 즉, 증착 공정 동안에는 덮개(122)가 공정 챔버(100)와 출력 챔버(104) 사이의 챔버 연결부의 공간(132)을 개방한 상태를 유지하는 반면에, 증착 공정이 완료된 후 출력 챔버(104) 내의 필름(110)을 출력 챔버(104)의 외부로 반출할 때에는 덮개(122)가 공간(132)을 차폐시켜 공정 챔버(100)를 진공 상태로 유지시킬 수 있다. 물론, 출력 챔버(104)의 진공 상태는 파괴된다. When the film 110 is taken out of the output chamber 104 after the deposition process is completed in the process chamber 100, an operation similar to the above can be performed. That is, during the deposition process, the lid 122 remains open in the chamber connection 132 between the process chamber 100 and the output chamber 104, while the output chamber 104 is closed after the deposition process is completed, The cover 122 may shield the space 132 to keep the process chamber 100 in a vacuum state when the film 110 in the chamber 110 is taken out of the output chamber 104. [ Of course, the vacuum state of the output chamber 104 is destroyed.

정리하면, 본 실시예의 스퍼터링 장치는 증착 공정이 완료된 후 로딩 챔버(102)로 새로운 필름을 로딩하거나 출력 챔버(104) 내의 필름(110)을 외부로 반출시킬 때, 해당 밸브의 덮개(120 또는 122)가 해당 챔버 연결부의 공간(130 또는 132)을 차폐하여 공정 챔버(100)의 진공 상태를 유지시킨다. 결과적으로, 증착 공정 시간이 감소할 수 있으며, 따라서 증착 효율이 향상될 수 있다. In summary, the sputtering apparatus of this embodiment can be used to load a new film into the loading chamber 102 after the deposition process is completed, or to remove the film 110 of the output chamber 104 from the cover 120 or 122 ) Shields the space 130 or 132 of the chamber connection to maintain the vacuum of the process chamber 100. As a result, the deposition process time can be reduced, and thus the deposition efficiency can be improved.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 대상물의 로딩 또는 반출시의 스터퍼링 장치의 구조를 도시한 도면이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치에서의 동작을 도시한 순서도이다. FIG. 2 is a view showing a structure of a stuffer apparatus for loading or unloading an object to be deposited according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a flow chart showing the operation of the sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention. to be.

도 2 및 도 3을 참조하면, 증착 공정이 수행될 필름(110)이 로딩 챔버(102)로 로딩된다(S300). 일 실시예에 따르면, 필름(110)이 권취 롤러(106)에 권취된 상태로 하여 권취 롤러(106)가 로딩 챔버(102) 내로 로딩될 수 있다. Referring to FIGS. 2 and 3, the film 110 to be subjected to the deposition process is loaded into the loading chamber 102 (S300). According to one embodiment, the winding roller 106 can be loaded into the loading chamber 102 while the film 110 is wound on the winding roller 106.

이어서, 권취 롤러(106)에 권취된 필름(110)이 공정 챔버(100) 내로 인입되도록, 공정 챔버(100)와 로딩 챔버(102) 사이의 챔버 연결부의 공간(130)을 개방시킨다. 즉, 덮개(120)로 공간(120)을 차폐시키지 않는다. The space 130 of the chamber connection between the process chamber 100 and the loading chamber 102 is then opened so that the film 110 wound on the winding roller 106 is drawn into the process chamber 100. That is, the cover 120 does not shield the space 120.

계속하여, 로딩 챔버(102), 공정 챔버(100) 및 출력 챔버(104) 내부를 진공 상태로 형성한다(S302). Subsequently, the inside of the loading chamber 102, the process chamber 100, and the output chamber 104 are formed in a vacuum state (S302).

이어서, 공정 챔버(100)에서 증착 공정이 수행되어 필름(110) 위에 특정 막이 증착된다(S304).Then, a deposition process is performed in the process chamber 100 to deposit a specific film on the film 110 (S304).

계속하여, 증착 공정 완료 후 상기 막이 형성된 필름(110)을 출력 챔버(104)의 외부로 반출시키고 새로운 필름을 로딩 챔버(102)로 로딩시키고자 할 때, 우선적으로 도 2에 도시된 바와 같이 덮개(120)가 하강하여 로딩 챔버(102)와 공정 챔버(100) 사이의 챔버 연결부의 공간(130)을 차폐시키고 덮개(122)가 하강하여 공정 챔버(100)와 출력 챔버(104) 사이의 챔버 연결부의 공간(132)을 차폐시킨다(S306). 이 때, 로딩 챔버(102), 공정 챔버(100) 및 출력 챔버(104)는 진공 상태를 유지한다. Subsequently, when the film 110 having the film formed is taken out of the output chamber 104 and the new film is loaded into the loading chamber 102 after the completion of the deposition process, The chamber 120 is lowered to shield the space 130 of the chamber connection between the loading chamber 102 and the process chamber 100 and the lid 122 to lower the chamber 130 between the process chamber 100 and the output chamber 104, And shields the space 132 of the connection portion (S306). At this time, the loading chamber 102, the process chamber 100, and the output chamber 104 are kept in a vacuum state.

일 실시예에 따르면, 덮개(120 또는 122)로 공간(130 또는 132)을 차폐시 필름(110)의 장력을 약하게 조절하여 덮개(120)의 차폐로 인한 필름(110)의 손상을 최소화할 수 있다. According to an embodiment, when the space 130 or 132 is shielded by the cover 120 or 122, the tension of the film 110 may be weakly controlled to minimize the damage of the film 110 due to the shielding of the cover 120 have.

이어서, 공정 챔버(100)의 진공 상태를 유지한 상태에서, 사용자는 로딩 챔버(102)를 개방하고 새로운 필름을 로딩할 수 있다(S308). 이 때, 로딩 챔버(102)는 개방되므로 로딩 챔버(102)의 진공 상태는 파괴된다. 구체적으로는, 권취 롤러(106)에 감긴 필름을 절단하고 권취 롤러(106)를 회수하며, 새로운 필름이 감긴 권취 롤러를 로딩 챔버(102)로 로딩하고 기존에 남은 필름과 새로운 필름을 연결할 수 있다. Then, while maintaining the vacuum of the process chamber 100, the user may open the loading chamber 102 and load a new film (S308). At this time, since the loading chamber 102 is opened, the vacuum state of the loading chamber 102 is destroyed. Concretely, the film wound on the take-up roller 106 is cut, the take-up roller 106 is recovered, the new film is wound on the take-up rollers into the loading chamber 102, and the existing film and the new film are connected .

또한, 공정 챔버(100)의 진공 상태를 유지한 상태에서, 사용자는 출력 챔버(104)를 개방하고 권취 롤러(108)를 외부로 반출시킬 수 있다. 이 때, 출력 챔버(104)는 개방되므로 출력 챔버(104)의 진공 상태는 파괴된다.Further, in a state in which the vacuum of the process chamber 100 is maintained, the user can open the output chamber 104 and take out the take-up roller 108 to the outside. At this time, since the output chamber 104 is opened, the vacuum state of the output chamber 104 is destroyed.

정리하면, 본 발명의 스퍼터링 장치는 밸브의 덮개(120 및 122)를 이용하여 필름 교체시 또는 반출시에도 공정 챔버(100)를 진공 상태로 유지시킬 수 있다. In summary, the sputtering apparatus of the present invention can maintain the process chamber 100 in a vacuum state when the film is replaced or unloaded using the valve covers 120 and 122.

도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 실제 구성을 개략적으로 도시한 도면들이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 결합 구조를 도시한 도면이다. 다만, 공정 챔버와 출력 챔버에서의 동작도 공정 챔버와 로딩 챔버에서의 동작과 유사하므로, 설명의 편의를 위하여 출력 챔버는 제외하고 공정 챔버와 로딩 챔버만을 도시하고 관련 동작을 설명한다. FIGS. 4 and 5 are views schematically showing an actual configuration of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a view illustrating a coupling structure according to an embodiment of the present invention. However, since operations in the process chamber and the output chamber are similar to those in the process chamber and the loading chamber, only the process chamber and the loading chamber are illustrated and the related operation will be described for the convenience of explanation.

도 4를 참조하면, 로딩 챔버(102)와 공정 챔버(100) 사이의 챔버 연결부(400)에는 하부 블록(402) 및 상부 블록(408)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 하부 블록(402)은 로딩 챔버(102) 내측 방향으로 하여 챔버 연결부(400)에 결합될 수 있다. Referring to FIG. 4, a lower block 402 and an upper block 408 may be formed in the chamber connection 400 between the loading chamber 102 and the process chamber 100. For example, the lower block 402 may be coupled to the chamber connection 400 in an inward direction of the loading chamber 102.

일 실시예에 따르면, 하부 블록(402)의 일면은 사선 방향으로 형성되고 상기 사선 방향의 면 중 일부분이 밸브의 덮개(120)와 접촉될 수 있다. 즉, 덮개(120)가 하강하면 덮개(120)의 바닥면이 하부 블록(402)의 면 중 일부분과 접촉된다. According to one embodiment, one side of the lower block 402 is formed in an oblique direction, and a portion of the oblique direction faces the cover 120 of the valve. That is, when the lid 120 descends, the bottom surface of the lid 120 comes into contact with a part of the surface of the lower block 402.

밸브는 덮개(120) 및 하부 블록(402) 위의 탄성체(602)를 포함할 수 있다. The valve may include a cover 120 and an elastic body 602 on the lower block 402.

덮개(120)는 사선 방향으로 형성되며, 샤프트(404)에 결합된다. 결과적으로, 샤프트(404)가 상하 움직임에 따라 덮개(120)가 상하로 움직인다. The cover 120 is formed in an oblique direction and is coupled to the shaft 404. As a result, as the shaft 404 moves up and down, the lid 120 moves up and down.

구체적으로는, 증착 공정 동안에는 샤프트(404)는 도 4에 도시된 바와 같이 상부 방향에 위치하며, 그 결과 덮개(120)도 상부 방향에 위치하게 되어 덮개(120)가 하부 블록(402)으로부터 이탈된다. 결과적으로, 덮개(120)가 챔버 연결부(400)의 공간(130)을 차폐시키지 못한다. Specifically, during the deposition process, the shaft 404 is positioned in the upper direction as shown in FIG. 4, with the result that the lid 120 is also positioned in the upper direction so that the lid 120 is separated from the lower block 402 do. As a result, the lid 120 does not shield the space 130 of the chamber connection portion 400.

반면에, 새로운 필름을 로딩하거나 증착 공정이 완료된 필름을 외부로 반출할 경우, 도 5에 도시된 바와 같이 덮개(120)가 하부 블록(402)에 접촉하도록 샤프트(404)가 하강한다. 결과적으로, 덮개(120)가 챔버 연결부(400)의 공간(130)을 차폐시켜서 공정 챔버(100)의 진공 상태를 유지시킨다. 이 때, 필름(110)은 덮개(120)와 하부 블록(402) 사이로 하여 공간(130)을 통하여 공정 챔버(100)로 투입된다. On the other hand, when the new film is loaded or the film after the deposition process is taken out, the shaft 404 is lowered so that the cover 120 contacts the lower block 402 as shown in Fig. As a result, the lid 120 shields the space 130 of the chamber connection 400 and maintains the vacuum of the process chamber 100. At this time, the film 110 is introduced into the process chamber 100 through the space 130 between the lid 120 and the lower block 402.

이 경우, 필름(110)의 손상을 방지하기 위하여, 덮개(120)의 바닥면을 탄성체로 하여 볼록(600)하게 형성하고, 하부 블록(402) 중 덮개(120)와 접촉하는 부분 위에 탄성체(602)를 형성할 수 있다. 결과적으로, 필름(110)이 삽입된 상태로 덮개(120)가 하부 블록(402)에 접촉되더라도 필름(110)의 손상이 최소화될 수 있고 공정 챔버(100)의 진공 상태가 안정적으로 유지될 수 있다. In this case, in order to prevent damage to the film 110, the bottom surface of the lid 120 is formed to be convex (600) with the elastic body, and an elastic body 602 may be formed. As a result, even if the lid 120 is brought into contact with the lower block 402 while the film 110 is inserted, the damage of the film 110 can be minimized and the vacuum state of the process chamber 100 can be stably maintained have.

또한, 필름(110)의 손상을 최소화하기 위하여, 덮개(120)의 모서리에 플라스틱 재질의 보호 가이드가 부착될 수 있다. Further, in order to minimize the damage of the film 110, a protective guide made of a plastic material may be attached to the edge of the cover 120.

일 실시예에 따르면, 덮개(120)는 지지부(414)를 통하여 샤프트(404)에 안정적으로 결합될 수 있으며, 덮개(120)가 상하 외의 움직임이 제한되도록 덮개(120)의 적어도 일 측면에 가이드 핀(416)이 형성될 수 있다. 여기서, 가이드 핀(416)의 부시는 하부 블록(402)에 부착되어 있고 가이드 핀(416)은 이 부쉬에서 이탈함이 없이 상하로 동작할 수 있다. According to one embodiment, the lid 120 may be stably coupled to the shaft 404 through the support 414 and may be coupled to at least one side of the lid 120 such that movement of the lid 120 is limited A pin 416 may be formed. Here, the bush of the guide pin 416 is attached to the lower block 402, and the guide pin 416 can move up and down without detaching from the bush.

일 실시예에 따르면, 샤프트(404)는 공압 실린더(406)에 결합된 상태로 하여 공압 실린더(406)의 제어 하에 상하로 움직일 수 있다. 이 때, 공압 실린더(406)는 챔버 연결부(400)에 결합된 상부 블록(408)에 결합되어 고정될 수 있다. According to one embodiment, the shaft 404 can be moved up and down under the control of the pneumatic cylinder 406 while being coupled to the pneumatic cylinder 406. At this time, the pneumatic cylinder 406 may be fixedly coupled to the upper block 408 coupled to the chamber connection part 400.

샤프트(404) 하강시 샤프트(404)의 종단은 도 5에 도시된 바와 같이 하부 블록(402)에 형성된 홀을 관통할 수 있다. When the shaft 404 descends, the end of the shaft 404 may pass through a hole formed in the lower block 402 as shown in Fig.

일 실시예에 따르면, 로딩 챔버(102)의 상단부(410)에 홀이 형성되고 샤프트(404)가 홀을 관통하여 배열될 수 있다. 이 때, 로딩 챔버(102)의 기밀을 유지하기 위하여 실링 부재(412)가 형성될 수 있다. According to one embodiment, a hole may be formed in the upper end 410 of the loading chamber 102 and a shaft 404 may be arranged through the hole. At this time, a sealing member 412 may be formed to maintain the airtightness of the loading chamber 102.

정리하면, 본 발명의 스퍼터링 장치는 사선 방향으로 형성된 덮개(120)와 하부 블록의 상면에 형성된 탄성체(602)를 포함하는 밸브의 개폐를 이용하여 공정 챔버(100)의 진공 상태를 유지시킬 수 있다. 바람직하게는, 상기 밸브 중 덮개(120)를 상하로 움직이게 제어하여 챔버 연결부(400)의 공간(130)을 개폐시킬 수 있다. In summary, the sputtering apparatus of the present invention can maintain the vacuum state of the process chamber 100 by opening and closing a valve including a lid 120 formed in an oblique direction and an elastic body 602 formed on an upper surface of the lower block . Preferably, the lid 120 of the valve is controlled to move up and down to open and close the space 130 of the chamber connection part 400.

위에서 설명하지는 않았지만, 공정 챔버(100)와 출력 챔버(104)의 구성 및 동작은 공정 챔버(100)와 로딩 챔버(102)의 구성 및 동작과 유사하다.Although not described above, the construction and operation of the process chamber 100 and the output chamber 104 are similar to the construction and operation of the process chamber 100 and the loading chamber 102.

상기한 본 발명의 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, additions and substitutions are possible, without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Should be regarded as belonging to the following claims.

100 : 공정 챔버 102 : 로딩 챔버
104 : 출력 챔버 106, 108 : 권취 롤러
110 : 필름 112, 114 : 이송 롤러
120, 122 : 덮개 130, 132 : 공간
400 : 챔버 연결부 402 : 하부 블록
404 : 샤프트 406 : 공압 실린더
408 : 상부 블록 414 : 지지부
416 : 가이드부
100: process chamber 102: loading chamber
104: output chamber 106, 108: take-up roller
110: Film 112, 114: Feed roller
120, 122: cover 130, 132: space
400: chamber connection part 402:
404: shaft 406: pneumatic cylinder
408: upper block 414: support
416: guide portion

Claims (3)

증착 대상물의 증착 공정을 수행하기 위한 공정 챔버;
상기 증착 대상물을 로딩하기 위한 로딩 챔버; 및
밸브를 포함하되,
상기 공정 챔버와 상기 로딩 챔버 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간이 형성되고, 상기 공간으로 상기 증착 대상물이 이송되며, 상기 증착 대상물을 상기 로딩 챔버로 로딩시 상기 밸브가 상기 공간을 차폐하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시키며,
상기 밸브는,
샤프트에 사선 방향으로 결합되는 덮개; 및
상기 챔버 연결부에 결합된 하부 블록의 사선 방향의 일면 위에 형성된 탄성체를 포함하고,
상기 증착 대상물은 필름이며,
상기 공간의 차폐 시 상기 샤프트의 하강에 의해 상기 사선 방향의 덮개가 상기 사선 방향의 상기 하부 블록의 일면에 형성된 탄성체와 접촉되며,
상기 필름이 상기 덮개와 상기 탄성체 사이에 위치하고, 상기 덮개가 상기 공간을 차폐하는 경우, 상기 필름의 장력은 상기 증착 공정시의 상기 필름의 장력보다 약하게 조절되는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
A process chamber for performing a deposition process of an object to be deposited;
A loading chamber for loading the deposition object; And
Comprising a valve,
Wherein a space is formed in a part of a chamber connecting portion between the process chamber and the loading chamber, the deposition object is transferred to the space, and when the deposition object is loaded into the loading chamber, the valve shields the space, Lt; RTI ID = 0.0 > vacuum,
Wherein the valve comprises:
A cover coupled to the shaft in an oblique direction; And
And an elastic body formed on one surface of the lower block coupled to the chamber connection part in an oblique direction,
The deposition object is a film,
The cover in the oblique direction is brought into contact with the elastic body formed on one surface of the lower block in the oblique direction by the descent of the shaft when the space is shielded,
Wherein when the film is positioned between the cover and the elastic body and the cover covers the space, the tension of the film is adjusted to be weaker than the tension of the film during the deposition process.
증착 대상물의 증착 공정을 수행하기 위한 공정 챔버;
상기 공정 챔버에 의해 막이 증착된 증착 대상물을 반출하기 위한 출력 챔버; 및
밸브를 포함하되,
상기 공정 챔버와 상기 출력 챔버 사이의 챔버 연결부의 일부에 공간이 형성되고, 상기 공간으로 상기 막이 증착된 증착 대상물이 이송되며, 상기 막이 형성된 증착 대상물을 상기 출력 챔버의 외부로 반출시 상기 밸브가 상기 공간을 차폐하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시키며,
상기 밸브는,
샤프트에 사선 방향으로 결합되는 덮개; 및
상기 챔버 연결부에 결합된 하부 블록의 사선 방향의 일면 위에 형성된 탄성체를 포함하고,
상기 증착 대상물은 필름이며,
상기 공간의 차폐 시 상기 샤프트의 하강에 의해 상기 사선 방향의 덮개가 상기 사선 방향의 상기 하부 블록의 일면에 형성된 탄성체와 접촉되며,
상기 필름이 상기 덮개와 상기 탄성체 사이에 위치하고, 상기 덮개가 상기 공간을 차폐하는 경우, 상기 필름의 장력은 상기 증착 공정시의 상기 필름의 장력보다 약하게 조절되는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
A process chamber for performing a deposition process of an object to be deposited;
An output chamber for carrying out a deposition object on which a film is deposited by the process chamber; And
Comprising a valve,
Wherein a space is formed in a part of a chamber connecting portion between the process chamber and the output chamber, and an evaporation object on which the film is deposited is transferred to the space, and when the evaporation object on which the film is formed is taken out to the outside of the output chamber, Shielding the space to maintain the vacuum of the process chamber,
Wherein the valve comprises:
A cover coupled to the shaft in an oblique direction; And
And an elastic body formed on one surface of the lower block coupled to the chamber connection part in an oblique direction,
The deposition object is a film,
The cover in the oblique direction is brought into contact with the elastic body formed on one surface of the lower block in the oblique direction by the descent of the shaft when the space is shielded,
Wherein when the film is positioned between the cover and the elastic body and the cover covers the space, the tension of the film is adjusted to be weaker than the tension of the film during the deposition process.
공정 챔버 내에서 필름 위에 막을 증착하는 단계;
상기 막의 증착이 완료된 후 상기 공정 챔버와 로딩 챔버 사이의 제 1 챔버 연결부의 제 1 공간 및 상기 공정 챔버와 출력 챔버 사이의 제 2 챔버 연결부의 제 2 공간 중 적어도 하나를 차폐시켜 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시키는 단계; 및
상기 공간을 차폐시킨 후 상기 막이 형성된 필름을 상기 출력 챔버의 외부로 반출하거나 새로운 필름을 상기 로딩 챔버 내로 로딩하는 단계를 포함하되,
제 1 덮개가 하강하여 상기 제 1 공간을 차단하고 제 2 덮개가 하강하여 상기 제 2 공간을 차단하여 상기 공정 챔버의 진공 상태를 유지시키며,
상기 제1 덮개는 제1 샤프트에 사선 방향으로 결합되며, 상기 제1 챔버 연결부에 결합된 제1 하부 블록의 사선 방향의 일면 위에 제1 탄성체가 형성되고,
상기 제2 덮개는 제2 샤프트에 사선 방향으로 결합되며, 상기 제2 챔버 연결부에 결합된 제2 하부 블록의 사선 방향의 일면 위에 제2 탄성체가 형성되고,
상기 증착 대상물은 필름이며,
상기 제1 공간 또는 상기 제2 공간의 차폐 시 상기 제1 샤프트 또는 제2 샤프트의 하강에 의해 상기 사선 방향의 제1 덮개 또는 제2 덮개가 상기 사선 방향의 상기 제1 하부 블록 또는 제2 하부 블록의 일면에 형성된 제1 탄성체 또는 제2 탄성체와 접촉되며,
상기 필름이 상기 제1 덮개와 상기 제1 탄성체 사이에 위치하고, 상기 제1 덮개가 상기 제1 공간을 차폐하는 경우, 상기 필름의 장력은 상기 증착 공정시의 상기 필름의 장력보다 약하게 조절되는 것을 특징으로 하는 스터퍼링 장치의 동작 방법.



Depositing a film on the film in a process chamber;
After the deposition of the film is completed, shielding at least one of a first space of the first chamber connection between the process chamber and the loading chamber and a second space of the second chamber connection between the process chamber and the output chamber, Maintaining a state; And
Shielding the space and then transporting the formed film to the outside of the output chamber or loading a new film into the loading chamber,
The first lid is lowered to block the first space and the second lid descends to block the second space to maintain the vacuum state of the process chamber,
Wherein the first cover is coupled to the first shaft in an oblique direction, a first elastic body is formed on one surface of the first lower block coupled to the first chamber connection portion in an oblique direction,
The second lid is coupled to the second shaft in a diagonal direction. A second elastic body is formed on one surface of the second lower block coupled to the second chamber connection portion,
The deposition object is a film,
When the first space or the second space is shielded, the first cover or the second cover in the oblique direction is moved in the oblique direction by the descent of the first shaft or the second shaft, The first elastic body or the second elastic body formed on one side of the first elastic body,
Characterized in that when the film is positioned between the first cover and the first elastic body and the first cover shields the first space, the tension of the film is adjusted to be weaker than the tension of the film during the deposition process Of the stuffer device.



KR1020170010591A 2017-01-23 2017-01-23 Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same KR101977614B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170010591A KR101977614B1 (en) 2017-01-23 2017-01-23 Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170010591A KR101977614B1 (en) 2017-01-23 2017-01-23 Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150040582A Division KR20160114301A (en) 2015-03-24 2015-03-24 Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170013962A true KR20170013962A (en) 2017-02-07
KR101977614B1 KR101977614B1 (en) 2019-05-13

Family

ID=58108068

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170010591A KR101977614B1 (en) 2017-01-23 2017-01-23 Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101977614B1 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060097185A (en) * 2005-03-04 2006-09-14 세메스 주식회사 Deposition apparatus and method for sending back masks in the apparatus
KR100659085B1 (en) 2005-01-06 2006-12-21 삼성에스디아이 주식회사 Target apparatus for sputtering, and sputtering apparatus therewith, sputtering method, manufacturing method of organic light emitting device, and manufacturing method of organic TFT thereby
KR20110004492A (en) * 2009-07-08 2011-01-14 주식회사 디알테크넷 Apparatus for forming thin film capable of the consecutive processing and the deposition method by using themselves
KR20120061147A (en) * 2010-10-27 2012-06-13 한국전자통신연구원 apparatus for depositing thin film
KR20130044446A (en) * 2011-10-24 2013-05-03 조신철 Device and method for vacuum deposition

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100659085B1 (en) 2005-01-06 2006-12-21 삼성에스디아이 주식회사 Target apparatus for sputtering, and sputtering apparatus therewith, sputtering method, manufacturing method of organic light emitting device, and manufacturing method of organic TFT thereby
KR20060097185A (en) * 2005-03-04 2006-09-14 세메스 주식회사 Deposition apparatus and method for sending back masks in the apparatus
KR20110004492A (en) * 2009-07-08 2011-01-14 주식회사 디알테크넷 Apparatus for forming thin film capable of the consecutive processing and the deposition method by using themselves
KR20120061147A (en) * 2010-10-27 2012-06-13 한국전자통신연구원 apparatus for depositing thin film
KR20130044446A (en) * 2011-10-24 2013-05-03 조신철 Device and method for vacuum deposition

Also Published As

Publication number Publication date
KR101977614B1 (en) 2019-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6055740A (en) Vacuum processing apparatus and operating method therefor
KR100466920B1 (en) Processing method and processing unit for substrate
TWI549209B (en) Charging device, automatic loading port
US11145527B2 (en) Method for charging gas into cassette pod
US20190233224A1 (en) Vacuum processing apparatus
KR101977614B1 (en) Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same
KR20090064587A (en) Substrate cabinet
KR900003469B1 (en) Vacuum processing apparatus
KR20160114301A (en) Sputtering apparatus where vacuum state of a process chamber is kept and method of operating the same
US20090142170A1 (en) Loadport
JP2007512198A (en) Equipment for filling and / or discharging containers filled with and / or to be filled and operating devices for transporting the containers
JP2639093B2 (en) Ion processing equipment
KR101674107B1 (en) Cover opening and closing device for substrate container
JP3119098U (en) TFT array inspection equipment
KR100761771B1 (en) The processing chamber
JPS61168934A (en) Wafer handling method
USRE39775E1 (en) Vacuum processing operating method with wafers, substrates and/or semiconductors
JP2015090940A (en) Wafer transfer apparatus
JP3160444U (en) Substrate processing equipment
US7089680B1 (en) Vacuum processing apparatus and operating method therefor
JPH04159918A (en) Method and device for carrying-out and-in from/to vacuum vessel
JPH10125760A (en) Automatic substrate feeding/recovering apparatus and semiconductor manufacturing apparatus
KR20190064696A (en) Scattering angle limiting part in-process change system
JP2002280346A (en) Substrate processor
KR20070012952A (en) Apparatus for processing a substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant