KR20170002214U - 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터 - Google Patents

커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터 Download PDF

Info

Publication number
KR20170002214U
KR20170002214U KR2020150008215U KR20150008215U KR20170002214U KR 20170002214 U KR20170002214 U KR 20170002214U KR 2020150008215 U KR2020150008215 U KR 2020150008215U KR 20150008215 U KR20150008215 U KR 20150008215U KR 20170002214 U KR20170002214 U KR 20170002214U
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connector
socket
pin
probe tip
coupling body
Prior art date
Application number
KR2020150008215U
Other languages
English (en)
Other versions
KR200484885Y1 (ko
Inventor
홍태기
Original Assignee
한국항공우주산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국항공우주산업 주식회사 filed Critical 한국항공우주산업 주식회사
Priority to KR2020150008215U priority Critical patent/KR200484885Y1/ko
Publication of KR20170002214U publication Critical patent/KR20170002214U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR200484885Y1 publication Critical patent/KR200484885Y1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

본 고안은 커넥터의 핀 또는 소켓의 신호를 계측하기 위해 프로브 팁에 장착되는 어댑터에 관한 것으로, 일정 길이의 기둥 형상이되 일단부에 커넥터의 핀 또는 소켓 홀과의 결합을 위한 단차부가 형성되는 결합 몸체, 및 결합 몸체의 타단부에 연결되며 프로브 팁이 삽입되는 삽입 홈이 형성되는 프로브 장착부를 포함하여 이루어져, 커넥터의 종류와 사이즈와 무관하게 프로브와 커넥터를 연결할 수 있도록 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터에 관한 것이다.

Description

커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터{Probe tip adapter for measuring connector pin or socket}
본 고안은 커넥터의 핀 또는 소켓의 신호를 계측하기 위해 프로브 팁에 장착되는 어댑터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 커넥터의 종류와 사이즈와 무관하게 프로브와 커넥터를 연결할 수 있도록 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터에 관한 것이다.
커넥터(connector)는 전기기기나 전선을 전기적으로 접합하기 위하여 사용하는 전자부품으로 모양과 연결 방법에 따라 여러 종류가 있다. 커넥터는 핀(pin) 타입과 소켓(socket) 타입으로 구분될 수 있으며, 핀 타입의 커넥터는 이에 대응되는 형태의 소켓 타입과 연결된다.
한편, 이러한 커넥터의 핀 또는 소켓의 신호를 측정하기 위해 멀티미터나 오실로스코프와 같은 측정 장비의 프로브(probe)를 이용하는데 있어서, 프로브는 끝단부에 팁이 돌출된 형태이므로 커넥터의 핀과는 연결되지 못하며 대부분의 소켓 타입 또한 프로브 팁과 소켓 사이즈가 달라 연결되지 못한다.
따라서, 종래에는 측정 장비의 프로브를 이용해 커넥터의 신호를 계측하기 위해서는 별도로 해당 핀이나 소켓의 사이즈에 맞는 치구를 구비하거나 해당 커넥터에 연결 가능한 측정용 커넥터를 이용해야만 했다.
구체적으로 예를 들면 핀 타입의 커넥터(C) 측정을 위해서는 핀의 사이즈에 맞는 소켓 타입의 치구(A)를 장착한 후 반대편에 프로브 팁을 삽입하여 측정을 수행해야 했으며(도 1(a)), 소켓 타입의 커넥터 측정을 위해서는 소켓 홀의 사이즈에 맞는 핀 타입의 치구를 소켓에 삽입하고 반대편에 프로브 팁을 삽입하여 측정을 수행해야 했다(도 1(b)).
이와 같이, 커넥터의 신호 측정을 위해서는 커넥터에 맞는 측정용 연결 장치를 준비해야만 하는 번거로움이 있으며, 해당 커넥터에 맞는 치구가 없는 경우에는 측정 작업이 매우 번거로울 뿐만 아니라 측정 시간도 오래 걸리게 되는 단점이 있다.
따라서, 커넥터의 종류나 사이즈에 관계없이 범용적으로 모든 커넥터의 신호를 계측할 수 있도록 커넥터와 프로브 팁을 연결하는 연결 장치가 요구되고 있다.
국내등록특허 제 10-0864719호 ("테스트용 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓")
본 고안은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 고안의 목적은 프로브 팁에 장착되어 커넥터의 핀 또는 소켓의 크기와 무관하게 커넥터의 신호 측정이 가능하도록 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터를 제공하는 것이다.
본 고안은 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S)의 신호를 측정하기 위해 프로브 팁에 결합되는 어댑터에 있어서, 일정 길이의 기둥 형상이되, 일단부에 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S) 홀과의 결합을 위한 단차부가 형성되는 결합 몸체(100); 및 상기 결합 몸체(100)의 타단부에 연결되며, 상기 프로브 팁이 삽입되는 삽입 홈(210)이 형성되는 프로브 또한, 상기 단차부는 커넥터의 핀(P)이 삽입되도록 내측으로 함몰된 함몰형 단차부(100a)이며, 상기 결합 몸체(100)의 일단부에 축 방향을 따라 형성되되, 가장자리에서 중앙으로 갈수록 직경이 작아지는 계단 형상을 이룰 수 있다.
또는 상기 단차부는 커넥터의 소켓(S) 홀에 삽입되도록 외측으로 돌출된 돌출형 단차부(100b)이며, 상기 결합 몸체(100)의 일단부에 축 방향을 따라 형성되되, 중앙에서 가장자리로 갈수록 직경이 커지는 계단 형상을 이룰 수 있다.
또, 상기 결합 몸체(100)는 복수개의 와이어(110)로 구성되는 와이어 다발이며, 길이방향을 기준으로 자른 단면상에서 각 와이어(110)의 일단부가 서로 일정 간격 어긋나도록 배치함으로써 상기 단차부가 형성될 수 있다.
마지막으로, 상기 결합 몸체(100)는 단락 및 간섭 방지를 위해 외주면이 절연성이 있는 재질로 감싸질 수 있다.
종래에는 측정 장비의 프로브를 이용하여 커넥터의 신호를 계측하는데 있어서 커넥터의 핀이나 소켓의 사이즈가 달라, 사이즈가 바뀔 때마다 이에 맞는 연결장치를 적용해야만 하는 불편함이 있었다. 그러나 본 고안은 커넥터의 핀 또는 소켓 홀의 사이즈에 대응되는 위치까지 삽입되도록 결합 몸체의 일단부에 단차부가 형성됨으로써, 커넥터의 사이즈에 관계없이 프로브 팁을 전기적으로 연결할 수 있는 장점이 있다.
또한, 본 고안의 외면이 절연 재질로 감싸져 이루어짐으로써, 계측 작업 시 단락에 의한 장비 손상을 최소화할 수 있으며, 안정적으로 측정 가능한 장점이 있다.
도 1은 종래의 커넥터와 프로브 팁 연결 치구.
도 2는 본 고안의 첫 번째 실시예에 따른 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터의 단면도.
도 3은 본 고안의 첫 번째 실시예에 따른 커넥터 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터의 단면도.
도 4는 본 고안의 두 번째 실시예에 따른 프로브 팁 어댑터의 단면도.
본 고안은 커넥터의 신호를 측정하기 위해 프로브 팁에 결합되는 어댑터(1000)로서, 크게 결합 몸체(100) 및 프로브 장착부(200)를 포함하여 이루어질 수 있다.
결합 몸체(100)는 일정 길이의 기둥 형상이되, 일단부에 측정하고자 하는 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S) 홀과 결합된다. 이때, 커넥터의 핀(P)이나 소켓(S) 홀이 원형인 점을 고려하여, 결합 몸체(100)는 원기둥 형상으로 형성되는 것이 바람직하며, 또한 신호 계측을 위해 도전성을 갖는 금속 재질인 것이 바람직하다.
상기 일단부에는 단차부(100a, 100b)가 형성됨으로써 핀(P)이나 소켓(S) 홀 사이즈에 무관하게 결합이 가능하며, 이에 대한 상세한 설명은 후술한다.
또한, 프로브 장착부(200)는 결합 몸체(100)의 타단부에 연결되며, 상기 프로브 팁이 삽입되는 삽입 홈(210)이 형성된다. 참고로, 다양한 사이즈의 커넥터 핀(P)이나 소켓(S)과 달리 프로브 팁의 형상은 표준화되어 있으므로, 삽입 홈(210)에는 통상적으로 사용되는 프로브 팁이 삽입될 수 있다.
이하, 본 고안의 기술적 사상을 첨부된 도면을 사용하여 더욱 구체적으로 설명한다.
첨부된 도면은 본 고안의 기술적 사상을 더욱 구체적으로 설명하기 위하여 도시한 일예에 불과하므로 본 고안의 기술적 사상이 첨부된 도면의 형태에 한정되는 것은 아니다.
도 2는 본 고안의 첫 번째 실시예에 따른 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터(1000)의 단면도이다.
도시된 바와 같이, 본 고안의 첫 번째 실시예에 따른 커넥터 핀(P)을 측정하기 위한 프로브 팁 어댑터(1000)는 단차부가 커넥터의 핀(P)이 삽입되도록 결합 몸체(100)의 내측으로 함몰된 함몰형 단차부(100a)이다. 구체적으로, 함몰형 단차부(100a)는 결합 몸체(100)의 일단부에 축 방향을 따라 형성되되, 가장자리에서 중앙으로 갈수록 직경이 작아지는 계단 형상을 이룬다.
따라서, 도 2(a)에 도시된 바와 같이 직경이 L1인 커넥터의 핀(P)의 신호를 계측하기 위해 결합 몸체(100)의 일단부를 핀(P) 측으로 밀어 넣으면, 단차부(100a)가 형성된 결합 몸체(100) 내로 직경(L1)에 대응되는 위치까지 핀(P)이 일정 부분 삽입됨으로써, 핀(P)의 신호를 프로브(Probe)를 통해 계측할 수 있다.
또한, 도 2(b)에 도시된 것처럼, 핀(P)의 직경(L2)이 L1에 비해 큰 경우(L2>L1)에도 대응되는 위치까지 핀(P)이 삽입됨에 따라, 핀의 직경이 달라져도 하나의 핀 측적용 프로브 팁 어댑터를 이용해 신호 계측이 가능하게 된다.
도 3은 본 고안의 첫 번째 실시예에 따른 커넥터 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터(1000)의 단면도를 도시한 것으로, 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터(1000)는 단차부가 커넥터의 소켓(S) 홀에 삽입되도록 외측으로 돌출된 돌출형 단차부(100b)이다.
돌출형 단차부(100b)도 결합 몸체(100)의 일단부에 축 방향을 따라 형성되되, 함몰형 단차부(100a)와 달리 중앙에서 가장자리로 갈수록 직경이 커지는 계단 형상을 이룬다. 따라서, 소켓(S) 홀의 직경에 대응되는 위치까지 결합 몸체(100)의 일단부가 소켓(S) 홀에 삽입되게 된다.
이와 같이, 상술한 구성을 갖는 본 고안의 프로브 팁 어댑터(1000)는 결합 몸체(100)의 일단부에 함몰형 단차부(100a) 또는 돌출형 단차부(100b)가 형성됨으로써 측정하고자 하는 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S)의 사이즈와 무관하게 삽입 결합될 수 있으며, 이에 따라 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S)과 프로브 장착부(200)에 장착되는 프로브 팁이 전기적으로 연결되어 신호 측정이 가능하게 된다.
또한, 본 고안에 있어서, 결합 몸체(100)의 외주면이 절연성이 있는 재질인 커버(300)로 감싸지는 것이 바람직하다.
핀 타입의 커넥터의 경우 복수개의 핀(P)이 돌출된 형태이므로, 하나의 핀(P)에 결합된 본 고안의 프로브 팁 어댑터(1000)와 주변 핀(P)과의 단락 및 간섭을 방지하기 위한 것이다. 따라서, 계측 작업 시 단락에 의한 장비 손상을 최소화할 수 있으며, 안정적으로 측정 가능한 장점이 있다.
또한, 프로브 장착부(200)는 전체가 통전 가능한 재질로 제작되되, 외면이 절연 재질로 감싸져 이루어질 수 있으며, 또는 절연성 있는 재질로 이루어지고 결합 몸체(100)와 프로브 팁의 끝단부가 맞닿도록 할 수 있는 등 결합 몸체(100)와 프로브 팁이 전기적으로 연결될 수 있는 구조이면 다양한 형태로 형성 가능하다.
도 4는 본 고안의 두 번째 실시예에 따른 프로브 팁 어댑터의 단면도이다. 도시된 바와 같이, 본 고안의 두 번째 실시예의 경우, 결합 몸체(100)가 복수개의 금속 와이어(110)로 구성되는 와이어 다발일 수 있다.
이때, 길이방향을 기준으로 자른 단면상에서 각 와이어(110)의 일단부가 서로 일정 간격 어긋나도록 배치함으로써 상기 단차부(100a, 100b)를 형성하게 된다. 즉, 중앙의 와이어(110)를 중심으로 그 둘레를 둘러싸도록 와이어(110)들을 배치하되, 중앙에서 가장자리로 갈수록 점차 일단부의 위치가 일정 간격씩 어긋나도록 배치하는 것이다. 이에 따라 자연스럽게 단차부(100a, 100b)가 형성될 수 있다. 동일한 직경의 와이어(110)를 이용한다면, 단차부(100a, 100b)의 직경 또한 매우 균일한 간격으로 형성되는 장점이 있다.
이외에도, 절삭 공구 등을 이용하여 원기둥 형상의 결합 몸체(100)의 일단부를 파내거나 깍아냄으로써 함몰형 단차부(100a) 또는 돌출형 단차부(100b)를 형성할 수 있을 것이다.
정리하자면, 종래에는 측정 장비의 프로브를 이용하여 커넥터의 신호를 계측하는데 있어서 커넥터의 핀(P)이나 소켓(S)의 사이즈가 달라, 사이즈가 바뀔 때마다 이에 맞는 연결장치를 적용해야만 하는 불편함이 있었다. 그러나 본 고안은 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S) 홀의 사이즈에 대응되는 위치까지 삽입되도록 결합 몸체(100)의 일단부에 단차부(100a, 100b)가 형성됨으로써, 커넥터의 사이즈에 관계없이 프로브 팁을 전기적으로 연결할 수 있는 장점이 있다.
본 고안은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 적용범위가 다양함은 물론이고, 청구범위에서 청구하는 본 고안의 요지를 벗어남이 없이 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이다.
C : 커넥터
P : 커넥터의 핀
S : 커넥터의 소켓
1000 : 프로브 팁 어댑터
100 : 결합 몸체
100a : 함몰형 단차부
100b : 돌출형 단차부
110 : 와이어
200 : 프로브 장착부
210 : 삽입 홈
300 : 커버

Claims (5)

  1. 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S)의 신호를 측정하기 위해 프로브 팁에 결합되는 어댑터에 있어서,
    일정 길이의 기둥 형상이되, 일단부에 커넥터의 핀(P) 또는 소켓(S) 홀과의 결합을 위한 단차부가 형성되는 결합 몸체(100); 및
    상기 결합 몸체(100)의 타단부에 연결되며, 상기 프로브 팁이 삽입되는 삽입 홈(210)이 형성되는 프로브 장착부(200);
    를 포함하여 이루어지는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 단차부는,
    커넥터의 핀(P)이 삽입되도록 내측으로 함몰된 함몰형 단차부(100a)이며,
    상기 결합 몸체(100)의 일단부에 축 방향을 따라 형성되되, 가장자리에서 중앙으로 갈수록 직경이 작아지는 계단 형상을 이루는 것을 특징으로 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 단차부는,
    커넥터의 소켓(S) 홀에 삽입되도록 외측으로 돌출된 돌출형 단차부(100b)이며,
    상기 결합 몸체(100)의 일단부에 축 방향을 따라 형성되되, 중앙에서 가장자리로 갈수록 직경이 커지는 계단 형상을 이루는 것을 특징으로 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터.
  4. 제 2항 또는 제 3항에 있어서,
    상기 결합 몸체(100)는,
    복수개의 와이어(110)로 구성되는 와이어 다발이며,
    길이방향을 기준으로 자른 단면상에서 각 와이어(110)의 일단부가 서로 일정 간격 어긋나도록 배치함으로써 상기 단차부가 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 결합 몸체(100)는,
    단락 및 간섭 방지를 위해 외주면이 절연성이 있는 재질로 감싸지는 것을 특징으로 하는 커넥터 핀 또는 소켓 측정용 프로브 팁 어댑터.
KR2020150008215U 2015-12-15 2015-12-15 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터 KR200484885Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020150008215U KR200484885Y1 (ko) 2015-12-15 2015-12-15 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020150008215U KR200484885Y1 (ko) 2015-12-15 2015-12-15 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170002214U true KR20170002214U (ko) 2017-06-23
KR200484885Y1 KR200484885Y1 (ko) 2017-11-20

Family

ID=59240189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020150008215U KR200484885Y1 (ko) 2015-12-15 2015-12-15 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200484885Y1 (ko)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1140232A (ja) * 1997-07-22 1999-02-12 Nec Corp 信号ライン計測治具
KR20050121450A (ko) * 2004-06-22 2005-12-27 삼성전자주식회사 반도체 패키지 측정용 프로브
JP2008232778A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Nec Tokin Corp コンタクトプローブ
KR100864719B1 (ko) 2007-07-23 2008-10-23 주식회사 오킨스전자 테스트용 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR20150098793A (ko) * 2014-02-21 2015-08-31 김세연 스트레이트 플러그 커넥터 및 액세서리 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1140232A (ja) * 1997-07-22 1999-02-12 Nec Corp 信号ライン計測治具
KR20050121450A (ko) * 2004-06-22 2005-12-27 삼성전자주식회사 반도체 패키지 측정용 프로브
JP2008232778A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Nec Tokin Corp コンタクトプローブ
KR100864719B1 (ko) 2007-07-23 2008-10-23 주식회사 오킨스전자 테스트용 프로브 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR20150098793A (ko) * 2014-02-21 2015-08-31 김세연 스트레이트 플러그 커넥터 및 액세서리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR200484885Y1 (ko) 2017-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6380549B2 (ja) プローブ
US7654847B2 (en) Probe having a field-replaceable tip
JP6711469B2 (ja) プローブ
TWI706138B (zh) 探針
JP2009537828A (ja) マルチ・チャネル信号取込みプローブ
JP6284690B2 (ja) 同軸rf試験コネクタ及び同軸rf試験アセンブリ
CN113167817B (zh) 探针
JP4660616B2 (ja) 基板検査装置
TW202028753A (zh) 探針嵌合構造及探針
US7724106B2 (en) Coaxial connecting part
US10897102B2 (en) Connector structure
RU125779U1 (ru) Радиочастотный коаксиальный соединитель
KR200484885Y1 (ko) 커넥터 핀 측정용 프로브 팁 어댑터
EP2973871A1 (en) Rf connector with push-on connection
KR20100095142A (ko) 검사용 소켓
US20060267608A1 (en) Adaptive test meter probe system and method of operation
JP3225841U (ja) プローブをキャリブレーションするためのキャリブレーションアダプタ
CN211374847U (zh) 测试工具的延长测试探头及测试工具
US7238058B1 (en) Grounding plug
CN210744231U (zh) 一种适配mhf插座的双浮动测试工装
US9429592B2 (en) Connector
US10436816B2 (en) Test coaxial connector
CN114207952B (zh) 检查用探针装置和连接器检查方法
US9246244B2 (en) RF connector with push-on connection
JPS60158357A (ja) 回路基板等の検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right