CN210744231U - 一种适配mhf插座的双浮动测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种适配MHF插座的双浮动测试工装，在测试工装导电外壳内部设置有导电插孔、测试插针以及外导体测试件，测试插针安装在所述导电插孔的内部；在导电插孔中还设置有用于使测试插针贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部；在测试工装导电外壳中还设置有用于使外导体测试件贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部；测试插针通过第一弹性连接部与导电插孔电连接；外导体测试件通过第二弹性连接部与测试工装导电外壳电连接；本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装通过设置了第一弹性连接部与第二弹性连接部分别为测试插针以及外导体测试件提供了轴向上的伸缩距离以及回弹力，使测试工装与被测插座的可靠连接，降低了使用场景的限制。

Description

一种适配MHF插座的双浮动测试工装

技术领域

本实用新型涉及测试工装，具体涉及一种适配MHF插座的双浮动测试工装。

背景技术

随着移动通信领域的快速发展，对通信产品的测试要求越来越高。现有技术中对MHF插座(同轴连接器插座)的测试一般包括内导体的导电测试以及外导体的导电测试，通常都是采用测试转接器进行测试，将测试转接器与MHF插座连接，通过查看测试转接器的导电外壳体是否通电来判断外导体是否导电，通过导电插孔中是否通电判断内导体是否导电。

常规的测试转接器在测试过程中，转接器需适配固定长度的测试插针，而且测试对象单一，每次测试完成后需拆卸，不能适用与不同连接器不同板间距的测试，且不适用板间高密度小空间测试，因此现有技术中的测试工装转接器长度固定，不能浮动，在测试过程中，转接器插针与被测连机器插针点接触，接触不稳定，极大的影响了测试效率。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种适配MHF插座的双浮动测试工装，用以解决现有技术中的测试工装转接器长度固定，接触不稳定，影响测试效率等问题。

为了实现上述任务，本实用新型采用以下技术方案：

一种适配MHF插座的双浮动测试工装，包括测试工装导电外壳，在所述的测试工装导电外壳内部设置有导电插孔、测试插针以及外导体测试件，所述的测试插针安装在所述导电插孔的内部；

在所述的导电插孔中还设置有用于使所述的测试插针贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部；

在所述的测试工装导电外壳中还设置有用于使外导体测试件贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部；

所述的测试插针通过第一弹性连接部与所述的导电插孔电连接；

所述的外导体测试件通过第二弹性连接部与所述的测试工装导电外壳电连接。

进一步地，所述的第一弹性连接部包括用于提供回弹力的弹力件-以及导电体-；

在所述的导电插孔的内部沿着导电插孔的长度方向开设有用于容纳所述弹力件-以及导电体-的容纳空间-；

所述的弹力件-的一端与所述容纳空间-的一端固定连接，另一端与所述的导电体-连接；

所述的导电体-还与所述的测试插针连接。

进一步地，所述测试插针与导电体-连接的一端设置有插针连接件-，所述的插针连接件-伸入所述的容纳空间-内部与所述的导电体-连接；

所述的第一弹性连接部还包括用于防止所述插针连接件-伸出所述容纳空间-的第一限位件-。

进一步地，所述的导电体-为导电球，所述的插针连接件-与所述导电体-连接的一侧为斜面。

进一步地，所述的第二弹性连接部包括用于为所述的外导体测试件提供回弹力的弹性导电件-；

所述的弹性导电件-的一端与所述的测试工装导电外壳固定连接，另一端与所述的外导体测试件连接。

进一步地，所述的弹性导电件-通过导电接触件-与所述的外导体测试件连接。

进一步地，所述的外导体测试件与导电接触件-连接的一端设置有测试件连接件-，所述的测试件连接件-伸入所述的测试工装导电外壳与所述的导电接触件-连接；

在所述的测试工装导电外壳上还设置有用于限制所述测试件连接件-脱出所述测试工装导电外壳的第二限位件-。

进一步地，所述的测试插针依次穿过弹性导电件-、导电接触件-以及外导体测试件与被测插座的内导体接触。

进一步地，所述的测试插针与被测插座内导体接触的一端设置有内凹球面。

进一步地，所述的外导体测试件与被测插座内导体接触的一端设置有导向开口。

本实用新型与现有技术相比具有以下技术特点：

1、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装通过设置了第一弹性连接部与第二弹性连接部分别为测试插针以及外导体测试件提供了轴向上的伸缩距离以及回弹力，使得测试工装与被测插座的可靠连接，降低了使用场景的限制，提高了工作效率；

2、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装中第一弹性连接部通过设置了圆球状的导电体以及斜面接触端测试插针，保证导电体与导电插孔内壁的稳固接触，从而保证测试工装与被测插座的可靠连接，提高测试的准确性；

3、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装中第一弹性连接部通过设置了第一限位件防止测试插针从测试工装中脱出，保证了测试工装的导电稳定性，从而保证测试工装与被测插座的可靠连接，提高测试的准确性；

4、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装中第二弹性连接部通过设置了弹性导电件以及导电接触件与测试工装导电外壳和外导体测试件导通，保证了测试工装在弹性导电件压缩以及回弹的过程中，外导体测试件与被测插座能够保持可靠连接，提高测试的准确性；

5、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装中第二弹性连接部通过设置了第二限位件，防止外导体测试件从测试工装导电外壳的内部脱出，从而保证测试工装与被测插座的可靠连接，提高测试的准确性；

6、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装中通过设计了具有内凹球面的测试插针，增大了测试插针与内导体的接触面积，实现与被测插座的可靠连接；

7、本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装中通过在外导体测试件上设计了导向开口，方便将插座内导体与测试插针接触。

附图说明

图1为本实用新型的一个实施例中提供的测试工装剖面图；

图2为本实用新型的一个实施例中提供的测试插针结构图；

图3为本实用新型的一个实施例中提供的测试工装与被测插座配合连接图。

图中标号代表：1-测试工装导电外壳，2-测试插针，3-外导体测试件，4-第一弹性连接部，5-第二弹性连接部，6-法兰安装件，7-导电插孔，(1-1)-第二限位件，(2-1)-插针连接件，(2-2)-第二连接头，(2-3)-中间连接段，(2-4)-第一连接头，(3-1)-测试件连接件，(4-1)-弹力件，(4-2)-导电体，(4-3)-第一限位件，(5-1)-弹性导电件，(5-2)-导电接触件，(5-3)-导电安装件，(7-1)-容纳空间，A-被测插座内导体，B-被测插座外导体。

具体实施方式

以下结合附图以及具体实施例说明本实用新型的技术方案，在本实用新型的说明书附图中网格填充标识为绝缘材料，斜线填充表示为导电材料，无填充的部分为实体。

在本实施例中公开了一种适配MHF插座的双浮动测试工装，包括测试工装导电外壳1，在测试工装导电外壳1内部设置有导电插孔7、测试插针2以及外导体测试件3，测试插针2安装在所述导电插孔7的内部；在导电插孔7中还设置有用于使测试插针2贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部4；在测试工装导电外壳1中还设置有用于使外导体测试件3贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部5；测试插针2通过第一弹性连接部4与导电插孔7电连接；外导体测试件3通过第二弹性连接部5与测试工装导电外壳1电连接。

在本实施例中提供了一个可以实现轴向压缩的MHF插座测试工装，其中双浮动是指用于测试插座内导体的测试插针2在与被测插座接触的方向上具有弹力压缩量以及用于测试插座外导体的外导体测试件3与被测插座接触的方向上具有弹力压缩量，因此本实施例中提供的测试工装可以适应于多种尺寸的插座。

也就是说，当测试插针2和外导体测试件3均为圆柱状时，在测试插针2和外导体测试件3的轴向上具有弹力压缩量。

本实施例中提供的适配MHF插座的双浮动测试工装在使用时，将插座与测试工装连接，即将测试工装插入插座中，使得测试插针2与被测插座的内导体接触，进一步地挤压被测插座向测试工装方向移动，此时测试插针2受到第一弹性连接部4向着被测插座方向的回弹力，使得测试插针2与被测插座的内导体在压力的作用下实现紧密接触；同样地，外导体测试件3受到第二弹性连接部5向着被测插座方向的回弹力，使得外导体测试件3与被测插座的外导体在压力的作用下实现紧密接触。

在本实施例中，第一弹性连接部4与第二弹性连接部5的回弹力可以通过弹簧、弹性材料等能够提供弹力的器件提供。

在本实施例中，测试工装导电外壳1可以是长方体、圆柱体、棱柱体等，作为一种优选的实施方式，为了与被测插座配合，测试工装导电外壳1为圆柱体。

在本实施例中，测试插针2和外导体测试件3与现有技术相同，均为圆柱状。

因此本实施例中提供的适配MHF插座的双浮动测试工装，实现了测试工装与被测插座的可靠连接，降低了使用场景的限制，提高了工作效率。

可选地，第一弹性连接部4包括用于提供回弹力的弹力件4-1以及导电体4-2；

在导电插孔7的内部沿着导电插孔7的长度方向开设有用于容纳所述弹力件4-1以及导电体4-2的容纳空间7-1；

弹力件4-1的一端与所述容纳空间7-1的一端固定连接，另一端与导电体4-2连接；

导电体4-2还与测试插针2连接。

在本实施例中，如图1所示，第一弹性连接部4通过弹力件4-1提供回弹力，该弹力件4-1的一端固定在导电插孔7的容纳空间7-1远离测试插针2的一端，另一端为自由端可以实现伸缩，在自由端上通过导电体4-2连接有测试插针2，从而使得被测插针2与被测插座的内导体紧密接触；另外第一弹性连接部4的导电功能通过导电体4-2实现，导电体4-2还与导电插孔7的四壁连接，也就是说，导电体4-2与被测插针2接触时，作为一个中间导电器件，将被测插针2中的电传导至导电插孔7中。

在本实施例中，弹力件4-1为弹簧。

在本实施例中，导电插孔7通过倒刺的结构固定在测试工装导电外壳1的内部。

优选地，为了防止导电体4-2与导电层接触不良导致的测试结果出现失误，导电体4-2设置为圆球状，圆球的直径与圆柱状导电层的直径相同，保证导电体4-2与导电插孔7内壁的可靠接触。

可选地，所述测试插针2与导电体4-2连接的一端设置有插针连接件2-1，插针连接件2-1伸入容纳空间7-1内部与导电体4-2连接；

第一弹性连接部4还包括用于防止所述插针连接件2-1伸出所述容纳空间7-1的第一限位件4-3。

为了防止测试插针2在弹力件4-1的回弹力作用下从测试工装导电外壳1脱出，在测试插针2上设置了插针连接件2-1，插针连接件2-1被第一限位件4-3限制在容纳空间7-1内部，如图1所示，也就是说，测试插针2在轴向上最长的测试长度为插针连接件2-1与第一限位件4-3接触时的长度。

在本实施例中，第一限位件4-3设置有圆环，圆环中间的小圆的直径小于插针连接件2-1的直径，从而限制了插针连接件2-1的位置。

优选地，为了进一步地提高测试插针2与导电体4-2接触的稳定性，防止在弹力件4-1压缩的过程中，导电体4-2与插针连接件2-1不能时刻连接，将插针连接件2-1与导电体4-2连接的一侧为斜面，使得导电体4-2与测试插针2保持可靠连接，从而提高了对被测插座测试的准确性。

在本实施例中，如图1所示，在圆柱状的导电插孔7上沿着圆柱的四壁开设有环状的凹槽，该凹槽的作用是用于实现导电的补偿。

在本实施例中，如图2所示，测试插针2顺着电流传导方向依次设置有第一连接头2-4、中间连接段2-3、第二连接头2-2以及插针连接件2-1，其中第一连接头2-4直接与被测插座内导体接触，第一连接头2-4的直径与第二连接头2-2相同，中间连接段2-3的直径比第一连接头2-4的直径略小，插针连接件2-1的直径相比于第二连接头2-2更大。

可选地，第二弹性连接部5包括用于为外导体测试件3提供回弹力的弹性导电件5-1；

弹性导电件5-1的一端与测试工装导电外壳1的内部固定连接，另一端与外导体测试件3连接。

在本实施例中，第二弹性连接部5的回弹力也是通过弹性导电件5-1提供的，与第一弹性连接部4中的弹性件4-1不同的是，第二弹性连接部5中的弹性导电件5-1可以导电，弹性导电件5-1一端与测试工装导电外壳1固定连接，首先实现了导电功能，其次固定了弹性导电件5-1的一端后，另一端为自由端，可以实现压缩与回弹，将外导体测试件3与自由端连接，为外导体测试件3提供回弹力。

在本实施例中，如图1所示，弹性导电件5-1通过导电安装件5-3安装在测试工装导电外壳1的内部，其中导电安装件5-3为没有顶面和底面的圆柱体，该圆柱体的导电安装件5-3卡设在测试工装导电外壳1的内部，弹性导电件5-1为弹簧，弹簧套设在导电安装件5-3的四壁上，弹簧的一端与导电安装件5-3的四壁固定连接，另一端为自由端，也就是说，弹簧可以沿着导电安装件5-3的长度方向压缩或回弹，其中测试插针2穿过导电安装件5-3的轴向伸出测试工装导电外壳1的外侧。

可选地，弹性导电件5-1通过导电接触件5-2与外导体测试件3连接。

如图1所示，为了防止弹性导电件5-1在压缩与回弹的过程中，外导体测试件3与弹性导电件5-1出现接触不良的情况，导致测试出现错误，设置了导电接触件5-2，保持弹性导电件5-1与外导体测试件3的可靠连接，从而保证了测试的准确性。

在本实施例中，如图1所示，导电接触件5-2设计成劈材结构使导电接触件5-2具有弹性，可以与导电安装件5-3的弹性侧壁接触，在导电接触件5-2沿轴向移动的过程中，导电接触件5-2始终与弹性导电件5-1保持接触，实现可靠连接。

可选地，所述的测试插针2依次穿过弹性导电件5-1、导电接触件5-2以及外导体测试件3与被测插座的内导体接触。

在本实施例中，为了节省测试工装的占用空间，使得测试功能能够方便、实用，将测试插针2设置在外导体测试件3的内侧。

如图1所示，在导电接触件5-3沿着其轴向开设有通孔，该通孔是为了将测试插针2从中穿过，从而使测试插针2与被测插座的内导体接触。

可选地，外导体测试件3与导电接触件5-2连接的一端设置有测试件连接件3-1，测试件连接件3-1伸入测试工装导电外壳1与导电接触件5-2连接；

在测试工装导电外壳1上还设置有用于限制所述测试件连接件3-1脱出所述测试工装导电外壳1的第二限位件1-1。

在本实施例中，如图1所示，与现有技术中不同的是，外导体测试件3不是固定在测试工装导电外壳1上，而是可以在测试工装导电外壳1的内部沿着轴向移动的，为了防止外导体测试件3从测试工装导电外壳1的内部脱出，设置了第二限位件1-1以及测试件连接件3-1。

如图1所示，在外导体测试件3内部还设置有用于固定测试插针2的第一连接头2-4的绝缘支撑件，该绝缘支撑件靠近外导体测试件3开口的方向设置有卡位件，用于进一步地的支撑第一连接头2-4。

可选地，测试插针2与被测插座内导体接触的一端设置有内凹球面。

为了进一步地保证被测插座内导体与测试插针2能够紧密接触，测试插针2的一端设置有凹球面，增大了与内导体的接触面积，实现与被测插座的可靠连接。

可选地，外导体测试件3与被测插座内导体接触的一端设置有导向开口。

为了方便工作人员使用，外导体测试件3与被测插座内导体接触的一端设置有导向开口，该导向开口具体形状为喇叭状，即斜面结构，形成了由外至内的收口状，起到了导向作用，方便将插座内导体与测试插针2接触。

在本实施例中，如图1所示，在测试工装导电外壳1远离与被测插座接触的一端设置有法兰安装件6，在使用过程中，法兰安装件固定在测试板上，确定板端测试位置，直接连接测试即可。

在本实施例中，如图1所示，在测试工装导电外壳1内部还设置有用于进一步地实现电导通的绝缘器件以及用于通电补偿的空腔。

本实用新型提供的适配MHF插座的双浮动测试工装的工作过程如下：

首先将法兰安装件固定在测试板上，确定板端测试位置，将被测插座插入测试工装的外导体测试件3内部，如图3所示，挤压被测插座达到测试高度，此时弹性导电件5-1以及弹性件4-1均产生了压缩形变，从而提供的反向的回弹力，使得测试插针2与被测插座内导体A紧密接触，外导体测试件3与被测插座外导体B紧密接触；

外导体的电通过外导体测试件3—导电接触件5-2—弹性导电件5-1到达测试工装导电外壳1；

内导体的电通过测试插针2—容纳空间7-1内壁到达导电插孔7，完成了被测插座的导电测试。

Claims (10)

1.一种适配MHF插座的双浮动测试工装，包括测试工装导电外壳(1)，在所述的测试工装导电外壳(1)内部设置有导电插孔(7)、测试插针(2)以及外导体测试件(3)，所述的测试插针(2)安装在所述导电插孔(7)的内部；其特征在于，

在所述的导电插孔(7)中还设置有用于使所述的测试插针(2)贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部(4)；

在所述的测试工装导电外壳(1)中还设置有用于使外导体测试件(3)贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部(5)；

所述的测试插针(2)通过第一弹性连接部(4)与所述的导电插孔(7)电连接；

所述的外导体测试件(3)通过第二弹性连接部(5)与所述的测试工装导电外壳(1)电连接。

2.如权利要求1所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的第一弹性连接部(4)包括用于提供回弹力的弹力件(4-1)以及导电体(4-2)；

在所述的导电插孔(7)的内部沿着导电插孔(7)的长度方向开设有用于容纳所述弹力件(4-1)以及导电体(4-2)的容纳空间(7-1)；

所述的弹力件(4-1)的一端与所述容纳空间(7-1)的一端固定连接，另一端与所述的导电体(4-2)连接；

所述的导电体(4-2)还与所述的测试插针(2)连接。

3.如权利要求2所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述测试插针(2)与导电体(4-2)连接的一端设置有插针连接件(2-1)，所述的插针连接件(2-1)伸入所述的容纳空间(7-1)内部与所述的导电体(4-2)连接；

所述的第一弹性连接部(4)还包括用于防止所述插针连接件(2-1)伸出所述容纳空间(7-1)的第一限位件(4-3)。

4.如权利要求3所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的导电体(4-2)为导电球，所述的插针连接件(2-1)与所述导电体(4-2)连接的一侧为斜面。

5.如权利要求1所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的第二弹性连接部(5)包括用于为所述的外导体测试件(3)提供回弹力的弹性导电件(5-1)；

所述的弹性导电件(5-1)的一端与所述的测试工装导电外壳(1)固定连接，另一端与所述的外导体测试件(3)连接。

6.如权利要求5所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的弹性导电件(5-1)通过导电接触件(5-2)与所述的外导体测试件(3)连接。

7.如权利要求6所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的外导体测试件(3)与导电接触件(5-2)连接的一端设置有测试件连接件(3-1)，所述的测试件连接件(3-1)伸入所述的测试工装导电外壳(1)与所述的导电接触件(5-2)连接；

在所述的测试工装导电外壳(1)上还设置有用于限制所述测试件连接件(3-1)脱出所述测试工装导电外壳(1)的第二限位件(1-1)。

8.如权利要求6或7所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的测试插针(2)依次穿过弹性导电件(5-1)、导电接触件(5-2)以及外导体测试件(3)与被测插座的内导体接触。

9.如权利要求1所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的测试插针(2)与被测插座内导体接触的一端设置有内凹球面。

10.如权利要求1所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的外导体测试件(3)与被测插座内导体接触的一端设置有导向开口。

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