CN215066866U - 多通道测试探针系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多通道测试探针系统，包括第一固定座、若干个安装在第一固定座上的插头连接器，第二固定座，若干个安装在第二固定座上的插座连接器，用于固定第一固定座与第二固定座的固定连接件，和柔性转接器。当插头连接器与插座连接器配合时，插头连接器的活动探针与插座连接器的对接探针抵接；柔性转接器包括柔性带，两个或多个转接头和一个测试头，转接头用于电性连接配合连接有插头连接器的插座连接器，测试头用于电性连接待测样品。与现有技术相比，可以同时对具有多个不同BTB结构的待测样品测试，测试过程简单高效，且对于不同的待测样品，只需更换与之匹配的柔性转接器即可，极大地提高了测试效率，满足生产需求。

Description

多通道测试探针系统

技术领域

本实用新型涉及电连接器技术领域，特别是涉及一种多通道测试探针系统。

背景技术

随着通讯信息技术的迅速发展，移动通讯设备越来越小型化，主机内部硬件与信号通道的集成化越来越高，很多生产厂家采用BTB(板对板，Board to Board)方案来实现多通道信号传输。硬件小且具有多信号传输通道，采用单通道的测试方案已远远无法满足生产需求。

现有技术中多通道的测试连接器多为一体式结构，即测试连接器具有固定探针数与固定探针间距，当测试具有多个不同BTB结构的主板时，需要多个一体式测试连接器才能满足测试一次完成的需求。但由于一体式测试连接器的安装空间过大，且需要保障具有足够的测试空间，在有限的空间内难以固定安装多个一体式测试连接器，需要多次拆装测试连接器或者移动测试工位才能完成具有多个不同BTB结构的主板的测试，测试过程繁琐，效率低下，无法满足生产需求。

实用新型内容

本申请实施例提供一种多通道测试探针系统，测试过程简单高效，可以应用于多种具有多个不同BTB结构的主板的测试，适用范围广。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：

一种多通道测试探针系统，包括第一固定座、若干个插头连接器，第二固定座，若干个插座连接器，固定连接件，和柔性转接器，其中：

所述插头连接器安装在所述第一固定座上，包括插头壳体、设置在所述插头壳体内部的固定探针与活动探针，以及分别与所述固定探针和所述活动探针抵接的第一弹性件；

所述插座连接器安装在所述第二固定座上，包括从外至内依次设置的插座壳体、内筒结构和对接探针，当所述插头连接器与所述插座连接器配合时，所述活动探针与所述对接探针抵接；

所述固定连接件用于固定连接所述第一固定座和所述第二固定座；

所述柔性转接器包括两个或多个转接头和一个测试头，以及连接所述转接头与所述测试头的柔性带，所述转接头用于电性连接配合连接有所述插头连接器的所述插座连接器，所述测试头用于电性连接待测样品。

优选地，所述插座连接器的数量大于或等于所述插头连接器的数量。

优选地，所述柔性转接器的数量为两个或多个，所述柔性转接器中转接头的数量相同，或所述柔性转接器中转接头的数量不完全相同，或所述柔性转接器中转接头的数量完全不同。

优选地，所述转接头的总数量小于或等于所述插头连接器的数量。

优选地，所述插头壳体包括插头固定壳体和插头活动壳体，所述插头连接器还包括分别与所述插头固定壳体和所述插头活动壳体抵接的第二弹性件。

优选地，所述插头壳体与所述第一固定座通过螺纹连接的方式固定在一起；和\或，

所述插座壳体与所述第二固定座通过螺纹连接的方式固定在一起。

优选地，所述固定连接件包括导柱和固定圈，所述固定圈设置在所述第二固定座上，所述导柱穿过所述第二固定座和所述固定圈并凸于所述第二固定座的上表面，当所述插头连接器与所述插座连接器配合连接时，所述导柱插入所述第一固定座中。

优选地，所述活动探针的下端为半球状结构。

优选地，所述对接探针与所述活动探针抵接的端部为平面结构。

优选地，所述插头壳体的下端设有凸起结构，当所述插头连接器与所述插座连接器配合连接时，所述凸起结构的下侧面与所述内筒结构的上侧面接触。

本实用新型的有益效果在于：将若干个插头连接器固定在第一固定座上，将若干个插座连接器固定在第二固定座上，再将第一固定座与第二固定座固定在一起，然后将柔性转接器的转接头与连接有插头连接器的插座连接器连接，柔性转接器的测试头与待测样品连接。由于每对插头连接器与插座连接器的配合通道是相互独立的，可以依据需求拆卸或安装通道对应的插头连接器与插座连接器，测试时可任意地与柔性转接器组合使用，由于柔性转接器的空间体积很小，可以同时对具有多个不同BTB结构的待测样品测试，测试过程简单高效，且对于不同的待测样品，只需更换与之匹配的柔性转接器即可，极大地提高了测试效率，满足生产需求。

附图说明

图1为本实用新型实施例中多通道测试探针系统的结构示意图；

图2为本实用新型实施例中多通道测试探针系统的结构爆炸示意图；

图3为本实用新型实施例中多通道测试探针系统的第一剖面示意图；

图4为本实用新型实施例中多通道测试探针系统的第二剖面示意图；

图5为本实用新型实施例中插头连接器的剖视图；

图6为本实用新型实施例中插座连接器的剖视图；

图7为本实用新型实施例中含6个转接头的柔性转接器的结构示意图；

图8为本实用新型实施例中含8个转接头的柔性转接器的结构示意图。

附图标记：100、插头连接器；110、插头壳体；111、插头固定壳体；112、插头活动壳体；1121、凸起结构；120、固定探针；130、活动探针；131、活动探针端部；140、第一弹性件；150、第二弹性件；200、第一固定座；210、第一通孔结构；220、第一导柱孔；300、插座连接器；310、插座壳体；320、内筒结构；330、对接探针；331、对接探针上端；332、对接探针下端；400、第二固定座；410、第二通孔结构；420、第二导柱孔；500、固定连接件；510、导柱；520、固定圈；600、柔性转接器；610、转接头；620、测试头；630、柔性带；700、待测样品；710、BTB结构。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。

本申请实施例通过提供一种多通道测试探针系统，解决现有技术中的需要多次拆装测试连接器或者移动测试工位才能完成具有多个不同BTB结构的主板的测试，测试过程繁琐，效率低下的技术问题。需要说明的是，在本申请中，插头连接器与插座连接器配合连接时，插头连接器相对于插座连接器所在的方向为上、上侧、上部、上端或顶、顶部，与之相反的方向为下、下侧、下部、下端或底、底部。

如图1至图8所示，为本申请实施例：

一种多通道测试探针系统，包括第一固定座200、若干个安装在第一固定座200上的插头连接器100、第二固定座400、若干个安装在第二固定座400上的插座连接器300，以及用于固定连接第一固定座200与第二固定座400的固定连接件500，还包括柔性转接器600。其中，第一固定座200与第二固定座400可以是方形、圆形、异形或其他形状，此处不再做具体限定。插头连接器100与插座连接器300的排布可以是一排、两排、或多排，还可以是其他的排布方式，此处不再做具体限定。

如图5所示，插头连接器100包括插头壳体110、设置在插头壳体110内部的固定探针120与活动探针130，以及分别与固定探针120和活动探针130抵接的第一弹性件140。如图6所示，插座连接器300包括从外至内依次设置的插座壳体310、内筒结构320和对接探针330，当插头连接器100与插座连接器300配合连接时，活动探针130与对接探针330抵接。

如图2所示，柔性转接器600包括两个或多个转接头610、一个测试头620，以及连接转接头610与测试头620的柔性带630，转接头610用于电性连接配合连接有插头连接器100的插座连接器300，测试头620用于电性连接待测样品700。示例性的，如图2所示，柔性转接器600中转接头610的数量为4个；如图7所示，柔性转接器600中转接头610的数量为8个；如图8所示，柔性转接器600中转接头610的数量为6个。

将插头连接器100固定在第一固定座200上，将插座连接器300固定在第二固定座400上，再将第一固定座200与第二固定座400通过固定连接件500固定在一起，此时安装在同一通道(插头连接器100与插座连接器200同轴)的插头连接器100与插座连接器300配合连接在一起，此时将柔性转接器600的转接头610与连接有插头连接器100的插座连接器300连接，柔性转接器的测试头620与待测样品700连接。由于每对插头连接器100与插座连接器300的配合通道是相互独立的，可以依据需求拆卸或安装通道对应的插头连接器100与插座连接器300，测试时可任意地与柔性转接器600组合使用，由于柔性转接器600的空间体积很小，可以同时对具有多个不同BTB结构710的待测样品700测试，测试过程简单高效，且对于不同的待测样品700，只需更换与之匹配的柔性转接器600即可，极大地提高了测试效率，满足生产需求。

优选地，插座连接器300的数量大于或等于插头连接器100的数量。由于第一固定座200处于第二固定座400的上方，当第一固定座200与第二固定座400固定连接后，插头连接器100的拆装无影响，但插座连接器300的安装位置位于第二固定座400的下方，柔性转接器600也位于第二固定座400的下方，空间有限，不便于插座连接器300的拆装。当插座连接器300的数量等于插头连接器100的数量时，多通道测试探针系统中可测试的测试通道等于总测试通道数量，可以用于测试待测通道小于或等于总测试通道数量的待测样品700。当插座连接器300的数量大于插头连接器100的数量时，由于多通道测试探针系统中可测试的测试通道小于总测试通道数量，因此还可以依据实际需求继续安装插头连接器100(安装后插头连接器100的总数量仍小于或等于插座连接器300的数量)，以满足测试具有更多待测通道的待测样品700。

优选地，柔性转接器600的数量为两个或多个，即柔性转接器600的数量与待测样品700中BTB结构710的数量相同，每一个柔性转接器600中转接头610的数量与该柔性转接器600所连接的BTB结构710中待测通道数量相同。由于待测样品700中BTB结构710两两之间可以是相同的，也可以是不同的，因此各个柔性转接器600中转接头610的数量相同，或各个柔性转接器600中转接头610的数量不完全相同，或各个柔性转接器600中转接头610的数量完全不同。

优选地，转接头610的总数量小于或等于插头连接器100的数量，待测样品700中的所有待测通道才能同时经柔性转接器600与配合连接有插头连接器100的插座连接器300电性连接，一次即可完成待测样品700所有待测通道的检测，保障测试效率。

优选地，插头壳体110包括插头固定壳体111和插头活动壳体112，插头连接器100还包括分别与插头固定壳体111和插头活动壳体112抵接的第二弹性件150。

优选地，插头壳体110与第一固定座200通过螺纹连接的方式固定在一起；和\或，插座壳体310与第二固定座400通过螺纹连接的方式固定在一起。具体地，第一固定座200上设有第一通孔结构210，第一通孔结构210的下部设有内螺纹，插头壳体110的下部设有外螺纹，插头壳体110与第一固定座200通过螺纹连接的方式固定在一起。插座壳体310的上部设有外螺纹，第二固定座400上设有第二通孔结构410，第二通孔结构410的上部设有外螺纹，插座壳体310与第二固定座400通过螺纹连接的方式固定在一起。通过螺纹连接的方式固定，便于壳体与固定座之间的拆卸与安装，进而有利于提高测试效率。需要说明的是，为了保障位于同一测试通道的插头连接器100与插座连接器300的同心度，需要将第一通孔结构210与第二通孔结构410具有一定的深度。

优选地，如图2和图4所示，固定连接件500包括导柱510和固定圈520，固定圈520设置在第二固定座400上的第二导柱孔420内，导柱510穿过第二导柱孔420和固定圈520并凸于第二固定座400的上表面，当插头连接器100与插座连接器200配合连接时，导柱510插入第一固定座200中的第一导柱孔210。导柱510除了具有固定的作用外，还具有导引作用，以确保在同一测试通道的插头连接器100与插座连接器300具有较高的同心度。

优选地，活动探针130的下端为半球状结构，即活动探针端部131为半球型的结构，或类似于半球型的结构，能够改善活动探针130与对接探针330的接触稳定性，且半球状结构强度大，有利于提高活动探针130的使用寿命。

优选地，对接探针330与活动探针130抵接的端部为平面结构，即对接探针上端331为平面的，能够有效减少对活动探针130的磨损，提高活动探针130的使用寿命，进而提高插头连接器100的使用寿命，降低生产测试成本。

优选地，对接探针330与转接头610对接的端部为筒状结构，即对接探针下端332为筒状结构，转接头610中的连接端子插入对接探针下端332中，实现电性接触的同时，形成稳定的机械连接，提高柔性转接器600与插座连接器300之间电性连接的稳定性。

优选地，如图5所示，插头壳体110的下端设有凸起结构1121，当插头连接器100与插座连接器300配合连接时，凸起结构1121的下侧面与内筒结构320的上侧面接触，有利于提高活动探针130与对接探针330接触的精准度与稳定性，提高测试结果的准确度。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种多通道测试探针系统，其特征在于，包括第一固定座、若干个插头连接器，第二固定座，若干个插座连接器，固定连接件，和柔性转接器，其中：

所述插头连接器安装在所述第一固定座上，包括插头壳体、设置在所述插头壳体内部的固定探针与活动探针，以及分别与所述固定探针和所述活动探针抵接的第一弹性件；

所述插座连接器安装在所述第二固定座上，包括从外至内依次设置的插座壳体、内筒结构和对接探针，当所述插头连接器与所述插座连接器配合时，所述活动探针与所述对接探针抵接；

所述固定连接件用于固定连接所述第一固定座和所述第二固定座；

所述柔性转接器包括两个或多个转接头和一个测试头，以及连接所述转接头与所述测试头的柔性带，所述转接头用于电性连接配合连接有所述插头连接器的所述插座连接器，所述测试头用于电性连接待测样品。

2.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述插座连接器的数量大于或等于所述插头连接器的数量。

3.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述柔性转接器的数量为两个或多个，所述柔性转接器中转接头的数量相同，或所述柔性转接器中转接头的数量不完全相同，或所述柔性转接器中转接头的数量完全不同。

4.根据权利要求3所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述转接头的总数量小于或等于所述插头连接器的数量。

5.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述插头壳体包括插头固定壳体和插头活动壳体，所述插头连接器还包括分别与所述插头固定壳体和所述插头活动壳体抵接的第二弹性件。

6.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述插头壳体与所述第一固定座通过螺纹连接的方式固定在一起；和\或，

所述插座壳体与所述第二固定座通过螺纹连接的方式固定在一起。

7.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述固定连接件包括导柱和固定圈，所述固定圈设置在所述第二固定座上，所述导柱穿过所述第二固定座和所述固定圈并凸于所述第二固定座的上表面，当所述插头连接器与所述插座连接器配合连接时，所述导柱插入所述第一固定座中。

8.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述活动探针的下端为半球状结构。

9.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述对接探针与所述活动探针抵接的端部为平面结构。

10.根据权利要求1所述的多通道测试探针系统，其特征在于：所述插头壳体的下端设有凸起结构，当所述插头连接器与所述插座连接器配合连接时，所述凸起结构的下侧面与所述内筒结构的上侧面接触。

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