KR20160145997A - Method for discriminating defect of composite film - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a method for discriminating a defect of a composite film. More specifically, the method for discriminating a defect of a composite film comprises the following steps of: (S1) selecting a defect candidate group region from an image of photographing a predetermined region of a composite film in which a polarizer is bonded to one surface of a transparent base film; (S2) obtaining a rectangular defect candidate group image having a defect located in the center thereof from the defect candidate group region and measuring average brightness of each of four vertex portions of the defect candidate group image; and (S3) excluding at least one vertex from a defect inspection target when average brightness of the at least one vertex among the four vertexes is within a reference brightness range. An unnecessary inspection region is excluded during a production process to remarkably improve efficiency of defect distinguishment and accuracy of defect distinguishment.

Description

복합 필름의 결함 판별 방법{METHOD FOR DISCRIMINATING DEFECT OF COMPOSITE FILM}METHOD FOR DISCRIMINATION DEFECT OF COMPOSITE FILM [0002]

본 발명은 복합 필름의 결함 판별 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 생산 공정 중에서, 검사 불필요 영역을 제외함으로써 검사 효율을 향상시킨 복합 필름의 결함 판별 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a defect determination method for a composite film, and more particularly, to a defect determination method for a composite film in which inspection efficiency is improved by excluding an unnecessary region in a production process.

액정 디스플레이나, 유기 발광 디스플레이, 전계 방출 디스플레이(FED), 플라스마 표시 패널(PDP) 등 다양한 화상 표시 장치가 최근에 폭넓게 개발되고 사용되고 있다.Various image display devices such as a liquid crystal display, an organic light emitting display, a field emission display (FED), and a plasma display panel (PDP) have recently been widely developed and used.

한편, 화상 표시 장치는 시장으로 출고되기 전 제조 과정 중에서 다양한 불량이 발생하게 되므로 여러 검사 과정을 거치게 되는데, 그 중에서 화상 표시 장치에서 가장 많이 사용되는 부품 중 하나가 편광 필름, 위상차 필름 등 여러 복합 필름이며, 따라서 복합 필름의 결함은 화상 표시 장치의 불량 원인의 주요 원인 중 하나이다. 복합 필름의 결함을 검출하는 것은 먼저 결함인지 여부를 판별하여 정확한 판정을 하며, 그 후 결함으로 판별되면 결함에 따른 수리(repair) 또는 폐기, 나아가 결함 원인의 제거 등은 제조 공정의 생산 수율 측면에서 중요한 부분이 아닐 수 없다.On the other hand, since the image display device has various defects in the manufacturing process before it is shipped to the market, it is subjected to various inspection processes. Of these, one of the most used components in the image display device is a polarizing film, And thus defects of the composite film are one of the main causes of the defect of the image display device. In order to detect a defect in a composite film, it is first determined whether the defect is a defect, and then an accurate determination is made. After that, if it is determined to be a defect, repair or disposal according to the defect or removal of the cause of defect, This is an important part.

복합 필름의 제조는 산업적인 대량 생산을 위해서는 통상적으로 라인 공정을 사용한다. 따라서, 결함의 검출은 라인의 특정 위치에서 복합 필름을 연속적으로 촬영하여 촬영된 부분에서 결함을 판별하는 것으로 이루어진다.The production of composite films typically uses line processes for industrial mass production. Therefore, the detection of defects consists of continuously photographing the composite film at a specific position of the line and determining the defect in the photographed portion.

결함 판별에 있어서는, 종래에는 다양한 결함을 빠짐 없이 검출하고, 이와 동시에 제조 공정에서 결함을 검출함으로써 제조 공정의 효율을 향상시키는 것이 중요하다. 이와 관련하여, 한국공개특허 제2010-24753호는 이물을 포함하는 폐곡선과 이물의 면적을 비교하여 라인 형태의 이물을 판별하는 방법을 개시하고 있다.In the defect discrimination, it is important to detect various defects in the past without fail and at the same time to detect defects in the manufacturing process, thereby improving the efficiency of the manufacturing process. In this regard, Korean Patent Publication No. 2010-24753 discloses a method of distinguishing a line-shaped foreign object by comparing the area of the foreign object with the closed curve including the foreign object.

한국공개특허 제2010-24753호Korean Patent Publication No. 2010-24753

본 발명은 공정 효율성을 현저히 향상시킨 복합 필름의 결함 판별 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide a defect discrimination method for a composite film in which process efficiency is remarkably improved.

본 발명은 복합 필름의 결함을 정확하게 판별하는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide a method for accurately discriminating defects of a composite film.

1. (S1) 투명 기재 필름의 일면에 편광자가 접합된 복합 필름의 소정 영역을 촬영한 이미지로부터 결함 후보군 영역을 선별하는 단계;1. (S1) selecting a defect candidate region from an image of a predetermined region of a composite film obtained by bonding a polarizer to one side of a transparent base film;

(S2) 상기 결함 후보군 영역으로부터 결함이 중앙에 위치하는 사각형의 결함 후보군 이미지를 얻고, 상기 결함 후보군 이미지의 4개의 꼭지점 부분의 각각의 평균 밝기를 측정하는 단계; 및(S2) obtaining a rectangular defect candidate group image in which a defect is located at the center from the defect candidate region, and measuring an average brightness of each of four vertex portions of the defect candidate group image; And

(S3) 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 범위 이내인 경우 결함 검사 대상에서 제외하는 단계;를 포함하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.(S3) excluding at least one of the average brightnesses of the four vertexes from the defect inspection object when the brightness is within the reference brightness range.

2. 위 1에 있어서, 상기 꼭지점은 결함 후보군 이미지의 최외곽 테두리 부분을 제외한 나머지 부분에서 결정되는, 복합 필름의 결함 판별 방법.2. The method of claim 1, wherein the vertex is determined at a remaining portion except the outermost edge portion of the defect candidate group image.

3. 위 1에 있어서, 상기 기준 밝기 범위는 투명 기재 필름의 정상 밝기 범위인, 복합 필름의 결함 판별 방법.3. The method of claim 1, wherein the reference brightness range is a normal brightness range of the transparent base film.

4. 위 1에 있어서, 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 값보다 큰 경우 결함 검사 대상에서 제외하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.4. The method of claim 1, wherein, when at least one of the average brightness of the four vertexes is greater than a reference brightness value, the defect is excluded from the defect inspection object.

5. 위 1에 있어서, 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 값보다 작은 경우 결함 검사 대상에서 제외하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.5. The method of claim 1, wherein, when at least one of the average brightnesses of the four vertexes is smaller than the reference brightness value, the defect is excluded from the defect inspection object.

6. 위 1에 있어서, 상기 (S2) 단계 이전 또는 (S3) 단계 이후에 결함 검출 확정 단계를 더 포함하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.6. The method of claim 1, further comprising a defect detection determination step before (S2) or after (S3).

7. 위 1에 있어서, 상기 편광자는 상기 투명 기재 필름보다 크기가 작은, 복합 필름의 결함 판별 방법.7. The method of claim 1, wherein the polarizer is smaller in size than the transparent base film.

8. 위 7에 있어서, 상기 편광자는 다각형 형상인, 복합 필름의 결함 판별 방법.8. The method of claim 7, wherein the polarizer is polygonal.

9. 위 1에 있어서, 투명 기재 필름에 편광자가 접합되는 인-라인 공정 상에서 수행되는, 복합 필름의 결함 판별 방법.9. The method for discriminating defects of a composite film according to 1 above, which is carried out on an in-line process in which a polarizer is bonded to a transparent base film.

10. 위 1에 있어서, 상기 투명 기재 필름은 이형 필름, 보호 필름 및 위상차 필름으로 이루어진 군에서 선택되는, 복합 필름의 결함 판별 방법.10. The method of claim 1, wherein the transparent base film is selected from the group consisting of a release film, a protective film, and a retardation film.

본 발명의 복합 필름의 결함 판별 방법은 생산 공정 중에서 검사 불필요 영역을 제외함으로써, 검사 효율을 향상시킨 복합 필름의 결함 판별 방법에 관한 것이다.The defect determination method of the composite film of the present invention relates to a defect determination method of a composite film in which inspection efficiency is improved by excluding an inspection unnecessary region in a production process.

또한, 본 발명의 복합 필름의 결함 판별 방법은 보다 정확한 결함 판별로 복합 필름의 제조 수율을 현저하게 상승시킬 수 있으며, 이에 따라 제조 원가를 대폭 감소시켜 자원의 낭비도 방지할 수 있다.In addition, the defect determination method of the composite film of the present invention can remarkably increase the production yield of the composite film due to more accurate defect discrimination, thereby greatly reducing the manufacturing cost and also preventing waste of resources.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 복합 필름의 결함 판별 방법의 개략적인 순서도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 복합 필름의 결함 판별 방법에 있어서, 결함 후보군 이미지의 꼭지점 부분을 개략적으로 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 복합 필름의 결함 판별 방법 중에서 얻어진 결함 후보군 이미지를 개략적으로 나타낸 것이다.
도 4은 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 판별 방법을 수행한 경우와 그렇지 않은 비교예의 결함 판별 대상의 정확도를 도시한 도면이다.FIG. 1 is a schematic flowchart of a method for determining a defect of a composite film according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a defect portion candidate image in a defect determination method for a composite film according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG.
FIG. 3 is a schematic view of a defect candidate group image obtained in a method for determining a defect of a composite film according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing the accuracy of a defect discrimination object in the case of performing the defect discrimination method according to an embodiment of the present invention and the comparative example in which the method is not performed.

본 발명은 복합 필름의 결함 판별 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 (S1) 투명 기재 필름의 일면에 편광자가 접합된 복합 필름의 소정 영역을 촬영한 이미지로부터 결함 후보군 영역을 선별하는 단계; (S2) 상기 결함 후보군 영역으로부터 결함이 중앙에 위치하는 사각형의 결함 후보군 이미지를 얻고, 상기 결함 후보군 이미지의 4개의 꼭지점 부분의 각각의 평균 밝기를 측정하는 단계; 및 (S3) 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 범위 이내인 경우 결함 검사 대상에서 제외하는 단계;를 포함함으로써, 생산 공정 중에서 검사 불필요 영역을 제외하여 결함 판별 공정의 효율성을 향상시키고 결함 판별의 정확성을 현저히 향상시킨 복합 필름의 결함 판별 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a defect determination method for a composite film, and more particularly, to a defect determination method for a composite film, comprising: (S1) selecting a defect candidate region from an image of a predetermined region of a composite film having a polarizer bonded to one side of the transparent base film; (S2) obtaining a rectangular defect candidate group image in which a defect is located at the center from the defect candidate region, and measuring an average brightness of each of four vertex portions of the defect candidate group image; And (S3) excluding at least one of the average brightness of the four vertexes from the defect inspection target when the at least one of the four vertices is within the reference brightness range. Thus, efficiency of the defect determination process is improved by excluding the inspection- And more particularly, to a defect discrimination method for a composite film in which the accuracy of defect discrimination is remarkably improved.

통상적으로 광학 필름의 제조는 연속적인 공정, 예를 들면 롤 투 롤(Roll-to-Roll) 공정을 통해 이송되면서 수행된다. 따라서, 광학 필름의 결함을 판별하기 위해서는 일정 방향으로 이송되는 광학 필름의 상부에서 광학 필름을 촬영하여 이미지를 획득하고, 그 이미지를 기설정된 결함 기준 값(밝기, 크기 등)과 비교하는 공정으로 수행되게 된다. Generally, the production of the optical film is carried out while being conveyed through a continuous process, for example, a roll-to-roll process. Accordingly, in order to discriminate defects of the optical film, the optical film is photographed on the optical film transferred in a predetermined direction to obtain an image, and the image is compared with a predetermined defect reference value (brightness, size, etc.) .

그러나, 제품으로 요구되는 광학 필름이 서로 다른 2종 이상의 광학 기능성 필름의 적층체(예를 들어 투명 기재 필름과 편광자의 복합 필름)인 경우에 어느 하나의 광학 기능성 필름은 다양한 형상으로 적용되는 경우가 있는데, 이 때 결함 판별 시에 검사 불필요 영역의 이미지가 획득될 수 있다. 검사 불필요 영역은 제품에 사용되지 않는 부분 등 일 수 있으며, 결함 판별 공정이 수행되는 경우 공정의 효율성이 현저히 저하되게 된다. 이에, 본 발명은 결함 검사 불필요 영역을 제외하는 공정을 수행함으로써, 결함 판별 단계의 효율성을 현저히 향상시키고, 결함 판별의 정확성을 더욱 향상시킬 수 있다.However, when the optical film required for the product is a laminate of two or more different optical functional films (for example, a composite film of a transparent base film and a polarizer), any one of the optical functional films may be applied in various shapes At this time, the image of the inspection-unneeded area can be obtained at the time of defect determination. The inspection unnecessary area may be a part which is not used in the product, and the efficiency of the process is significantly lowered when the defect determination process is performed. Thus, the present invention can significantly improve the efficiency of the defect discrimination step and further improve the accuracy of defect discrimination by performing the process of excluding the defect inspecting area.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명에 대해서 보다 상세하게 설명하도록 한다. 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 복합 필름의 결함 판별 방법의 순서도를 개략적으로 도시한 도면이다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a view schematically showing a flowchart of a method for determining a defect of a composite film according to an embodiment of the present invention.

본 발명에서 결함 판별 대상인 복합 필름은 투명 기재 필름의 일면에 편광자가 접합된 복합 필름으로 한다.In the present invention, the composite film to be a defect discrimination is a composite film in which a polarizer is bonded to one surface of a transparent base film.

먼저, 투명 기재 필름의 일면에 편광자가 접합된 복합 필름의 소정 영역을 촬영한 이미지로부터 결함 후보군 영역을 선별한다((S1) 단계).First, a defect candidate region is selected from an image of a predetermined region of a composite film having a polarizer bonded to one surface of a transparent base film (Step (S1)).

본 발명에서, 결함 후보군 영역이란 복합 필름의 평균적인 균일성에서 벗어나는 부분으로 후술하는 결함 검출 확정 단계를 통해 불량으로 판별되는 불량 결함을 포함하는 영역과 양품으로 판별되는 양품 결함을 포함하는 영역을 모두 의미한다.In the present invention, the defect candidate region is a region deviating from the average uniformity of the composite film, and includes a region including a defective defect determined to be defective through a defect detection determination step described later and a region including a defective defect determined as a good product it means.

본 발명에서, 상기 결함 후보군 영역의 선별 방법은 특별히 한정되지 않으나, 예를 들면, 투명 기재 필름의 일면에 편광자가 접합된 복합 필름의 소정의 영역을 촬영하여 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에서 기 설정된 복합 필름의 평균적인 균일성을 벗어나는 부분(결함 후보군 부분)을 포함하는 영역의 이미지를 검사 대상인 복합 필름의 구체적인 종류 및 용도에 따라 미리 정해진 기준에 의해서 이미지 처리 소프트웨어 등을 사용하여 수행될 수 있다In the present invention, the method of selecting the defect candidate region is not particularly limited. For example, a method of picking up an image by photographing a predetermined region of a composite film in which a polarizer is bonded to one surface of a transparent base film, The image of the region including the portion (defective candidate portion) that deviates from the average uniformity of the set composite film can be performed using image processing software or the like by a predetermined criterion according to the specific kind and use of the composite film to be inspected

본 발명은, 상기 (S1) 단계에서 선별된 결함 후보군 영역으로부터 결함이 중앙에 위치하는 사각형의 결함 후보군 이미지를 얻고, 상기 결함 후보군 이미지의 4개의 꼭지점 부분의 각각의 평균 밝기를 측정한다((S2) 단계).The present invention obtains a rectangular defect candidate group image in which the defect is located at the center from the defect candidate region selected in the step S1 and measures the average brightness of each of the four vertex portions of the defect candidate group image ) step).

본 발명에 따른 복합 필름은 투명 기재 필름과 편광자가 함께 적층된 부분만이 제품으로 생산되게 되므로 제조 공정 중에서 투명 기재 필름의 상부에 편광자가 다양한 모양으로 형성되어 투명 기재 필름만이 존재하는 부분은 추후 제거된다. 따라서, 투명 기재 필름만이 존재하는 영역에 결함이 존재하는 경우, 상기 부분은 결함 판별 불필요 영역이 된다.Since the composite film according to the present invention is produced only as a product in which the transparent base film and the polarizer are laminated together, the polarizer is formed in various shapes on the transparent base film in the manufacturing process, Removed. Therefore, when a defect exists in a region where only the transparent base film exists, the portion becomes a defect-requiring region.

따라서, (S1) 단계에서 선별된 결함 후보군 영역 중 편광자가 접합되지 않고 투명 기재 필름만이 형성된 부분을 미리 제외하는 경우((S2) 및 (S3) 단계), 결함 판별 공정 효율을 향상시키고, 결함 판별의 정확성을 향상시킬 수 있게 된다.Therefore, when the defect candidate region selected in the step (S1) is excluded in advance (the step S2 and the step S3) in which the polarizer is not bonded and only the transparent base film is formed, the efficiency of the defect determination process is improved, The accuracy of the discrimination can be improved.

또한, 본 발명에 따른 복합 필름의 테두리 부분은 공정상 마진으로 추후 제거된 후 제품으로 생산되므로, 편광자의 말단에 인접하여 형성된 결함의 경우 제품에 포함되지 않게 되는 바, 상기 부분 역시 결함 판별 불필요 영역이 된다.In addition, since the rim of the composite film according to the present invention is manufactured as a product after the process margin is removed afterwards, defects formed adjacent to the end of the polarizer are not included in the product, .

따라서, (S1) 단계에서 선별된 결함 후보군 영역 중 투명 기재 필름만이 형성된 부분의 경계인 경우를 미리 제외하는 경우((S2) 및 (S3) 단계), 결함 판별 공정 효율을 향상시키고, 결함 판별의 정확성을 향상시킬 수 있게 된다.Therefore, when the defect candidate region selected in the step (S1) is the border of the portion where only the transparent base film alone is formed (S2 and S3), the efficiency of the defect determination process is improved, The accuracy can be improved.

전술한 바와 같이, 상기 결함은 양품 결함과 불량 결함을 모두 포함하는 것이다. 결함이 중앙에 위치하도록 얻어진 사각형의 결함 후보군 이미지 중에는 결함이 편광자의 내부에 형성된 경우, 결함이 투명 기재 필름만이 형성된 곳에 형성된 경우, 투명 기재 필름만이 형성된 곳과 편광자와 함께 적층된 부분의 경계면에 형성된 경우를 모두 포함한다.As described above, the defects include both defective and defective defects. When a defect is formed in the inside of the polarizer, defects are formed in a place where only the transparent base film is formed, and a boundary between the region where only the transparent base film is formed and the portion where the defect is laminated together with the polarizer As shown in FIG.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 꼭지점은 결함 후보군 이미지의 최외각 테두리 부분을 제외한 나머지 부분에서 결정될 수 있다. According to another embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, the vertices may be determined in remaining portions except the outermost edge portion of the defect candidate group image.

촬영 후 이미지를 얻는 단계에서, 카메라 렌즈 모양, 노이즈 발생 등에 의해 이미지의 최외각 테두리 부분에 왜곡이 발생할 수 있는데, 결함 후보군 이미지의 최외각 테두리 부분(픽셀)을 제외한 나머지 부분에서 꼭지점을 결정하는 경우, 상기와 같은 오류를 막아 결함 판정의 정확성을 더욱 향상시킬 수 있다.Distortion may occur in the outermost edge portion of the image due to the shape of the camera lens, noise, or the like in the step of obtaining the image after shooting. In the case where the vertex is determined in the remaining portion excluding the outermost edge portion (pixel) of the defect candidate image , The above-mentioned error can be prevented, and the accuracy of the defect determination can be further improved.

다음으로, 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 범위 이내인 경우 결함 검사 대상에서 제외한다((S3) 단계).Next, if at least one of the average brightnesses of the four vertexes is within the reference brightness range, it is excluded from the defect inspection target (S3).

본 발명에서 기준 밝기 범위란 결함 판별 공정이 불필요한 영역으로 기설정된 밝기 범위를 의미하며, 예를 들면, 본 발명에서 편광자가 형성되지 않은 투명 기재 필름의 정상 밝기 범위를 의미할 수 있다.In the present invention, the reference brightness range refers to a predetermined brightness range in which a defect determination process is unnecessary. For example, the reference brightness range may mean a normal brightness range of a transparent base film on which a polarizer is not formed.

상기 결함 후보군 이미지는 사각형으로 형성되게 되므로, 결함이 투명 기재 필름만이 적층된 곳에 형성되거나, 투명 기재 필름만이 형성된 부분과 편광자가 적층된 부분의 경계 근처에 형성되는 경우, 상기 사각형의 4개의 꼭지점 중 적어도 하나는 투명 기재 필름의 촬영 이미지 영역이 되게 된다(도 3 참조). 따라서, 4개의 꼭지점 중 적어도 하나가 기준 밝기 범위 이내인 경우 결함 검사 대상으로 제외함으로써, 결함 판별의 효율성을 향상시킬 수 있게 된다.The defect candidate group image is formed in a quadrangle shape. Therefore, when the defect is formed only at the position where the transparent base film is laminated or near the boundary between the portion where only the transparent base film is formed and the portion where the polarizer is laminated, At least one of the vertexes becomes a photographed image area of the transparent base film (see Fig. 3). Therefore, when at least one of the four vertexes is within the reference brightness range, it is excluded as a defect inspection object, thereby improving the efficiency of defect discrimination.

본 발명에서 상기 기준 밝기 범위는 사용되는 투명 기재 필름의 종류에 따라 다양하게 설정될 수 있는 바, 본 발명의 다른 일 실시예예 따르면, 투명 기재 필름의 정상 밝기 범위가 편광자의 정상 밝기 범위보다 큰 경우에, 상기 (S3)단계는 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 값보다 큰 경우 결함 검사 대상에서 제외하는 공정으로 수행될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, when the normal brightness range of the transparent base film is larger than the normal brightness range of the polarizer, , The step (S3) may be performed in a step of excluding from the defect inspection object when at least one of the average brightness of the four vertexes is larger than the reference brightness value.

또한, 본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 투명 기재 필름의 정상 밝기 범위가 편광자의 정상 밝기 범위보다 작은 경우에, 상기 (S3)단계는 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 값보다 작은 경우 결함 검사 대상에서 제외하는 공정으로 수행될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, when the normal brightness range of the transparent base film is smaller than the normal brightness range of the polarizer, the step (S3) is preferably performed such that at least one of the average brightness of the four vertices is greater than the reference brightness And if it is small, it is excluded from the defect inspection object.

본 발명에서 사용 가능한 투명 기재 필름의 종류는 특별히 한정되지 않으나, 예를 들면, 이형 필름, 보호 필름, 위상차 필름 등을 들 수 있다.The kind of the transparent base film which can be used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include a release film, a protective film, a retardation film and the like.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 공정상 효율상 향상을 위해 투명 기재 필름에 편광자가 접합되는 인-라인 공정 상에서 결함 판별 공정이 수행될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a defect determination process can be performed in an in-line process in which a polarizer is bonded to a transparent base film in order to improve process efficiency.

또한, 본 발명에 따른 편광자는 투명 기재 필름 보다 크기가 작은 것일 수 있으며, 그 형상은 특별히 한정되지 않으나, 삼각형, 사각형, 오각형, 육각형 등의 다각형 형상일 수 있다. 이는, 본 발명의 복합 필름의 결함 판별 방법은 공정상 효율상 향상을 위해 투명 기재 필름에 편광자가 접합되는 인-라인 공정 상에서 수행되는 경우에 패턴 형상으로 편광자가 형성되기 때문이다.In addition, the polarizer according to the present invention may be smaller in size than the transparent base film, and its shape is not particularly limited, but may be a polygonal shape such as a triangle, a rectangle, a pentagon, or a hexagon. This is because the defect discrimination method of the composite film of the present invention forms a polarizer in a pattern shape when it is performed in an in-line process in which a polarizer is bonded to a transparent substrate film in order to improve efficiency in the process.

본 발명의 일 실시예에 따르면, (S2) 단계 이전 또는 (S3) 단계 이후에 결함 검출 확정 단계를 더 포함하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the method may further include a defect detection step before the step (S2) or after the step (S3).

결함 검출 확정 단계는 결함 후보군 영역에 포함되어 있는 결함에 대해 실제로 불량에 해당하는 결함인지 또는 양품에 해당하는 결함인지 판단하는 단계이다. 이러한 판단 방법은 검사 대상인 복합 필름의 구체적인 종류 및 용도에 따라 미리 정해진 기준에 의해서 이미지 처리 소프트웨어 등을 사용하여 수행될 수 있다.The defect detection determination step is a step of determining whether a defect included in the defect candidate region is actually a defect corresponding to a defect or a defect corresponding to a good product. Such a determination method may be performed using image processing software or the like according to a predetermined standard according to the specific type and use of the composite film to be inspected.

(S2) 단계 이전에 결함 검출 확정 단계를 수행하는 경우, 확정된 결함 중 검사 불필요 영역을 제외함으로써, 결함 판별의 정확성을 높일 수 있게 되며, (S3) 단계 이후에 결함 검출 확정 단계를 수행하는 경우, 검사 불필요 영역을 제외한 부분에서만 검출 확정 단계를 수행하게 되므로, 결함 판별의 정확성과 동시에 결함 판별 공정의 효율성을 더욱 향상시킬 수 있게 된다.In the case of performing the defect detection determination step before the step S2, it is possible to increase the accuracy of the defect determination by excluding the inspection unnecessary area from the determined defects, and when performing the defect detection determination step after the step S3 , The defect determination step is performed only at the portion excluding the inspection unnecessary region, so that the accuracy of the defect determination and the efficiency of the defect determination process can be further improved.

결함 검출 확정 단계의 수행 방법은 특별히 한정되지 않으며 당 분야에서 알려진 방법이라면 제한 없이 적용될 수 있다. The method of performing the defect detection determination step is not particularly limited and can be applied without limitation as long as the method is known in the art.

이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시하나, 이들 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐 첨부된 특허청구범위를 제한하는 것이 아니며, 본 발명의 범주 및 기술사상 범위 내에서 실시예에 대한 다양한 변경 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것도 당연한 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description of the present invention are exemplary and explanatory and are intended to be illustrative of the invention and are not intended to limit the scope of the claims. It will be apparent to those skilled in the art that such variations and modifications are within the scope of the appended claims.

실시예Example 1 One

COP 투명 기재 필름의 상부에 롤-투-롤 공정으로 상기 투명 기재 필름의 크기보다 작은 편광자를 접합한 뒤, 결함 후보군 영역을 선별하였다. 이 후, 상기 결함 후보군 영역으로부터 결함이 중앙에 위치하도록 100Ⅹ100 픽셀 크기의 결함 후보군 이미지를 얻고, 상기 이미지의 최외각 테두리 1픽셀을 제외한 뒤, 상기 이미지의 각 꼭지점의 2Ⅹ2 픽셀 부분의 평균 밝기를 측정하였다. 상기 측정된 꼭지점의 밝기 중 적어도 하나의 부분이 105Grey이상인 경우, 결함 검사 대상에서 제외한 뒤 나머지 결함 후보군 이미지에 대하여 결함 검출 확정 단계를 수행하였다.A polarizer smaller than the size of the transparent base film was bonded to the top of the COP transparent base film by a roll-to-roll process, and defect candidate region was selected. Thereafter, a defective candidate group image having a size of 100 × 100 pixels is obtained so that the defect is located at the center from the defect candidate region, and the average brightness of the 2 × 2 pixel portion of each vertex of the image is measured Respectively. When at least one portion of the brightness of the measured vertexes is 105 Grey or more, the defect detection determination step is performed on the remaining defect candidate image after excluding from the defect inspection object.

비교예Comparative Example 1 One

실시예에 따른 결함 검사 대상 제외 공정을 수행하지 않고, 결함 후보군 이미지 전체에 대하여 결함 검출 확정 단계를 수행하였다.The defect detection determination step is performed for the entire defect candidate group image without performing the defect inspection target excluding process according to the embodiment.

평가방법 및 결과Evaluation method and result

상기 실시예 1과 비교예 1에 따라 결함을 측정한 뒤, 실제 결함 검사 필요 영역과, 결함 검사 불필요 영역과의 그 경계 영역에 대한 결함 발생을 도 3에 도시하였으며, 그 결과, 본 발명에 따른 결함 판정 방법을 수행한 실시예 1의 경우, 결함 검사 필요 영역에 대해서만 결함을 판별하는 공정을 수행한 것을 확인 수 있었으며, 비교예 1의 경우 결함 검사 불필요 영역과, 그 경계 영역에 대하여 모두 결함을 판별하는 공정을 수행하였는 바, 검사 효율이 현저히 저하된 것을 확인할 수 있었다.FIG. 3 shows the defect occurrence in the actual defect inspection area and the border area between the defect inspection area and the defect inspection area after measuring the defect according to the embodiment 1 and the comparative example 1. As a result, In the case of Example 1 in which the defect determination method was performed, it was confirmed that the process of discriminating the defect only for the defect inspection required area was performed. In the case of Comparative Example 1, both the defect inspection unnecessary area and the boundary area were found to be defective As a result, it was confirmed that the inspection efficiency was significantly lowered.

Claims (10)

(S1) 투명 기재 필름의 일면에 편광자가 접합된 복합 필름의 소정 영역을 촬영한 이미지로부터 결함 후보군 영역을 선별하는 단계;
(S2) 상기 결함 후보군 영역으로부터 결함이 중앙에 위치하는 사각형의 결함 후보군 이미지를 얻고, 상기 결함 후보군 이미지의 4개의 꼭지점 부분의 각각의 평균 밝기를 측정하는 단계; 및
(S3) 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 범위 이내인 경우 결함 검사 대상에서 제외하는 단계;를 포함하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
(S1) selecting a defect candidate region from an image of a predetermined region of a composite film obtained by bonding a polarizer to one side of a transparent base film;
(S2) obtaining a rectangular defect candidate group image in which a defect is located at the center from the defect candidate region, and measuring an average brightness of each of four vertex portions of the defect candidate group image; And
(S3) excluding at least one of the average brightnesses of the four vertexes from the defect inspection object when the brightness is within the reference brightness range.
청구항 1에 있어서, 상기 꼭지점은 결함 후보군 이미지의 최외곽 테두리 부분을 제외한 나머지 부분에서 결정되는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method according to claim 1, wherein the vertex is determined at a remaining portion except the outermost edge portion of the defect candidate group image.
청구항 1에 있어서, 상기 기준 밝기 범위는 투명 기재 필름의 정상 밝기 범위인, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method of claim 1, wherein the reference brightness range is a normal brightness range of the transparent base film.
청구항 1에 있어서, 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 값보다 큰 경우 결함 검사 대상에서 제외하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method according to claim 1, wherein, when at least one of the average brightness of the four vertexes is greater than a reference brightness value, the defect is excluded from the defect inspection object.
청구항 1에 있어서, 상기 4개의 꼭지점의 평균 밝기 중 적어도 하나가 기준 밝기 값보다 작은 경우 결함 검사 대상에서 제외하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method of claim 1, wherein, when at least one of the average brightness of the four vertexes is smaller than a reference brightness value, the defect is determined as a defect inspection object.
청구항 1에 있어서, 상기 (S2) 단계 이전 또는 (S3) 단계 이후에 결함 검출 확정 단계를 더 포함하는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method according to claim 1, further comprising a defect detection step before (S2) or after (S3).
청구항 1에 있어서, 상기 편광자는 상기 투명 기재 필름보다 크기가 작은, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method according to claim 1, wherein the polarizer is smaller in size than the transparent base film.
청구항 7에 있어서, 상기 편광자는 다각형 형상인, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method of claim 7, wherein the polarizer is polygonal.
청구항 1에 있어서, 투명 기재 필름에 편광자가 접합되는 인-라인 공정 상에서 수행되는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method according to claim 1, wherein the method is performed on an in-line process in which a polarizer is bonded to a transparent base film.
청구항 1에 있어서, 상기 투명 기재 필름은 이형 필름, 보호 필름 및 위상차 필름으로 이루어진 군에서 선택되는, 복합 필름의 결함 판별 방법.
The method according to claim 1, wherein the transparent base film is selected from the group consisting of a release film, a protective film and a retardation film.
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