KR20160130605A - Light Emitting Device - Google Patents

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KR20160130605A
KR20160130605A KR1020150062568A KR20150062568A KR20160130605A KR 20160130605 A KR20160130605 A KR 20160130605A KR 1020150062568 A KR1020150062568 A KR 1020150062568A KR 20150062568 A KR20150062568 A KR 20150062568A KR 20160130605 A KR20160130605 A KR 20160130605A
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최광용
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엘지이노텍 주식회사
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Abstract

The present invention relates to a light emitting device. The light emitting device includes: a luminous structure; a first electrode and a second electrode which are arranged on the luminous structure; a first metal layer and a second metal layer which are connected to a first electrode and a second electrode, respectively; a first support layer which is connected to the first metal layer and supports the luminous structure by being overlapped and arranged in a vertical direction on the lower part of the first metal layer; a second support layer connected to the second metal layer and supporting the luminous structure to be arranged in a vertical direction on the lower part of the second metal layer; and an insulator which covers the first support layer and the second support layer.

Description

발광소자{Light Emitting Device}[0001] Light Emitting Device [0002]

실시예는 발광소자에 관한 것으로, 보다 상세하게는 열적 신뢰성을 향상시킬 수 있는 발광소자에 관한 것이다.Embodiments relate to a light emitting device, and more particularly to a light emitting device capable of improving thermal reliability.

일반적으로, 반도체 발광소자로는 LED(Light Emitting Diode; 발광 다이오드)를 들 수 있는데, 이는 화합물 반도체의 특성을 이용해 전기 신호를 적외선, 가시광선 또는 자외선의 형태로 변환시켜 신호를 보내고 받는 데 사용되는 소자이다.In general, a semiconductor light emitting device includes a light emitting diode (LED), which is used to convert an electric signal into an infrared ray, a visible ray, or an ultraviolet ray using the characteristics of a compound semiconductor to transmit and receive a signal Device.

보통 LED의 사용 범위는 가정용 가전제품, 리모콘, 전광판, 표시기, 각종 자동화 기기 등에 사용되고, 종류는 크게 IRED(Infrared Emitting Diode)와 VLED(Visible Light Emitting Diode)로 나뉘어 진다. 상기의 LED의 구조는 일반적으로 다음과 같다.Usually, the LED is used in household appliances, remote controls, display boards, displays, and automation equipment. The types of LEDs are classified into IRED (Infrared Emitting Diode) and VLED (Visible Light Emitting Diode). The structure of the above LED is generally as follows.

일반적으로 청색 LED는 사파이어 기판 상에 N형 GaN 층이 형성되고, 상기 N형 GaN 층 표면의 일측 상에 N-메탈이 있고, 상기 N-메탈이 형성된 영역 이외에 활성층이 형성되어 있다.In general, an N-type GaN layer is formed on a sapphire substrate, an N-metal is formed on one side of the surface of the N-type GaN layer, and an active layer is formed in addition to the N-metal formed region.

그리고, 상기 활성층 상에 P형 GaN 층이 형성되고, 상기 P형 GaN 층 상에 P-메탈이 형성되어 있다. 상기 활성층은 P-메탈을 통하여 전송되어 오는 정공과 N 메탈을 통하여 전송해오는 전자가 결합하여 광을 발생시키는 층이다.Then, a P-type GaN layer is formed on the active layer, and a P-metal is formed on the P-type GaN layer. The active layer is a layer that generates light by combining holes that are transmitted through P-metal and electrons that are transmitted through N-metal.

상기와 같은 LED는 출력되는 광의 세기에 따라, 가정용 가전 제품, 전광판 등에 사용되는데, 특히, LED는 정보 통신 기기의 소형화, 슬림(slim)화 추세에 있고, 주변 기기인 저항, 콘덴서, 노이즈 필터 등도 더욱 소형화되고 있다.Such LEDs are used in household electric appliances, electric signboards, and the like depending on the intensity of outputted light. Particularly, LEDs are in the trend of miniaturization and slimming of information communication devices, and peripheral devices such as resistors, capacitors, And is further downsized.

따라서, 발광소자를 PCB(Printed Circuit Board: 이하 PCB라고 함) 기판에 직접 장착할 수 있는 표면실장소자(Surface Mount Device: 이하, SMD라 함)형으로 만들어지고 있다. 이에 따라 표시소자로 사용되고 있는 LED 램프도 SMD 형으로 개발되고 있다.Therefore, the light emitting device is made into a surface mount device (hereinafter referred to as SMD) type that can be directly mounted on a PCB (Printed Circuit Board) substrate. Accordingly, an LED lamp used as a display element is also being developed as an SMD type.

이러한 SMD는 기존의 단순한 점등 램프를 대체할 수 있으며, 이것은 다양한 칼라를 내는 점등표시기용, 문자표시기 및 영상표시기 등으로 사용된다.These SMDs can replace conventional simple lighting lamps, which can be used for lighting indicators, color displays, and video displays for various colors.

상기와 같이 LED의 사용 영역이 넓어지면서, 생활에 사용되는 전등, 구조 신호용 전등 등 요구되는 휘도도 갈수록 높아져서, 최근에는 고출력 LED가 널리 쓰이고 있다.As the use area of the LED is widened as described above, the required brightness such as the lamp used for living and the lamp for the rescue signal is getting higher, and recently, a high output LED is widely used.

도 1a는 종래의 발광소자를 나타내는 단면도이고, 도 1b는 종래의 발광소자를 나타내는 저면도이다.1A is a cross-sectional view showing a conventional light emitting device, and FIG. 1B is a bottom view showing a conventional light emitting device.

도 1a와 도 1b에 도시한 바와 같이, 종래의 발광소자는 제1 전극(11)과 제2 전극(12)을 포함하는 발광 구조물(10), 제1 전극(11) 및 제2 전극(12)과 각각 연결되는 제1 시드금속(seed metal)(21)과 제2 시드금속(seed metal)(22), 발광소자의 발광 구조물(10)을 지지해 주도록 제1 시드금속(21)과 제2 시드금속(22)의 하부에 각각 배치되는 제1 금속필러(metal pillar)(31)와 제2 금속필러(metal pillar)(32), 제1 시드금속(21)과 제2 시드금속(22) 및 제1 금속필러(31)와 제2 금속필러(32)의 둘레에 채워지는 절연체(40), 발광 구조물(10)의 일면에 배치되는 형광체(50)를 포함하여 이루어진다.1A and 1B, a conventional light emitting device includes a light emitting structure 10 including a first electrode 11 and a second electrode 12, a first electrode 11, and a second electrode 12 A first seed metal 21 and a second seed metal 22 connected to the first seed metal 21 and the second seed metal 22 so as to support the light emitting structure 10 of the light emitting device, A first metal filler 31 and a second metal filler 32 disposed at the bottom of the second seed metal 22 and a first seed metal 21 and a second seed metal 22 An insulator 40 filled around the first metal filler 31 and the second metal filler 32 and a phosphor 50 disposed on one surface of the light emitting structure 10.

그러나, 상기 발광소자의 빈 공간에 채워지는 절연층의 재료는 경도가 약하고, 열전도율이 낮아 발광소자의 제조 공정 중에 파손되기 쉬우며, 높은 출력의 광을 얻기 위해서 전류의 크기를 높일 경우에는 패키지 내의 방열 성능이 좋지 않아 높은 열이 발생하는 문제가 있고, 이와 같이 패키지 내부에 높은 열이 방열되지 않은 채 그대로 존재할 경우 저항이 매우 높아져 광효율이 저하되는 문제점이 있다.However, since the material of the insulating layer filled in the empty space of the light emitting device is low in hardness and low in thermal conductivity, it is likely to be broken during the manufacturing process of the light emitting device. In the case of increasing the size of the current to obtain high output light, There is a problem that high heat dissipation occurs due to poor heat dissipation performance, and when the high heat is not radiated inside the package as such, the resistance is very high and the light efficiency is deteriorated.

실시예는 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서 안출된 것으로, 절연층의 단면적을 최소화하고, 발광 구조물을 지지해 주는 지지층의 단면적을 늘린 구조를 갖는 발광소자를 제공하고자 한다.SUMMARY OF THE INVENTION An embodiment of the present invention provides a light emitting device having a structure in which a sectional area of an insulating layer is minimized and a sectional area of a supporting layer supporting the light emitting structure is increased.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 실시예는 발광 구조물; 상기 발광 구조물에 배치되는 제1 전극과 제2 전극; 상기 제1 전극과 상기 제2 전극에 각각 연결되는 제1 금속층과 제2 금속층; 상기 제1 금속층과 연결되며, 상기 제1 금속층의 하부에서 수직 방향으로 중첩 배치되어 상기 발광 구조물을 지지하는 제1 지지층; 상기 제2 금속층과 연결되며, 상기 제2 금속층의 하부에서 수직 방향으로 중첩 배치되어 상기 발광 구조물을 지지하는 제2 지지층; 상기 제1 지지층과 상기 제2 지지층을 감싸도록 배치되는 절연체를 포함하는 발광소자를 제공한다.In order to achieve the above object, an embodiment provides a light emitting device comprising: a light emitting structure; A first electrode and a second electrode arranged in the light emitting structure; A first metal layer and a second metal layer respectively connected to the first electrode and the second electrode; A first supporting layer connected to the first metal layer, the first supporting layer being stacked vertically in a lower portion of the first metal layer to support the light emitting structure; A second supporting layer connected to the second metal layer, the second supporting layer overlapping the first metal layer in the vertical direction to support the light emitting structure; And an insulator disposed to surround the first support layer and the second support layer.

실시예에서, 상기 제1 지지층은 서로 다른 단면적을 갖는 제1 상부 지지층과 제1 하부 지지층을 포함하고, 상기 제2 지지층은 서로 다른 단면적을 갖는 제2 상부 지지층과 제2 하부 지지층을 포함할 수 있다.In an embodiment, the first support layer includes a first upper support layer and a first lower support layer having different cross-sectional areas, and the second support layer may include a second upper support layer and a second lower support layer having different cross- have.

그리고, 상기 제1 상부 지지층의 단면적은 상기 제1 하부 지지층의 단면적보다 크고, 상기 제2 상부 지지층의 단면적은 상기 제2 하부 지지층의 단면적보다 클 수 있다.The cross-sectional area of the first upper support layer may be larger than the cross-sectional area of the first lower support layer, and the cross-sectional area of the second upper support layer may be larger than the cross-sectional area of the second lower support layer.

또한, 상기 제1 하부 지지층의 높이는 상기 제1 상부 지지층의 높이의 0.1 내지 0.3배이고, 상기 제2 하부 지지층의 높이는 상기 제2 상부 지지층의 높이의 0.1 내지 0.3배일 수 있다.The height of the first lower support layer may be 0.1 to 0.3 times the height of the first upper support layer, and the height of the second lower support layer may be 0.1 to 0.3 times the height of the second upper support layer.

아울러, 상기 제1 및 제2 상부 지지층 각각은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr) 또는 금(Au) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In addition, each of the first and second upper support layers may include at least one of copper (Cu), aluminum (Al), chrome (Cr), and gold (Au).

한편, 상기 제1 상부 지지층은 '┖┙'의 평면 형상을 갖고, 상기 제2 상부 지지층은 '┳'의 평면 형상을 가질 수 있다.Meanwhile, the first upper support layer may have a planar shape of '┖┙', and the second upper support layer may have a planar shape of '.'.

그리고, 상기 제2 상부 지지층에 대한 상기 제1 상부 지지층의 단면적의 비율은 1:3 내지 2:5일 수 있다.The ratio of the cross-sectional area of the first upper support layer to the second upper support layer may be 1: 3 to 2: 5.

또한, 상기 절연체는 실리콘(Si), 수지(Resin) 또는 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC:Epoxy Molding Compound) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The insulator may include at least one of silicon (Si), resin (Resin), and epoxy molding compound (EMC).

그리고, 상기 제1 및 제2 금속층과 대향하는 상기 발광 구조물의 일면에서 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 노출시키면서 배치된 반사층을 더 포함할 수 있다.The light emitting structure may further include a reflective layer disposed on one surface of the light emitting structure facing the first and second metal layers while exposing the first electrode and the second electrode.

아울러, 상기 제1 금속층의 일면과 상기 반사층 사이 및 상기 제2 금속층의 일면과 상기 반사층 사이에 배치된 절연층을 더 포함할 수 있다.The semiconductor device may further include an insulating layer disposed between one side of the first metal layer and the reflective layer, and between the one side of the second metal layer and the reflective layer.

상술한 바와 같은 실시예에 의하면, 발광소자의 공정 안정성과 방열 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.According to the embodiment described above, the process stability of the light emitting device and the heat dissipation efficiency can be improved.

도 1a는 종래의 발광소자를 나타내는 단면도이다.
도 1b는 종래의 발광소자를 나타내는 저면도이다.
도 2는 실시예에 따른 발광소자를 나타내는 저면도이다.
도 3은 도 2의 A-B 단면도이다.
도 4는 도 2의 C-D 단면도이다.
도 5는 다른 실시예에 따른 발광소자를 나타내는 저면도이다.
1A is a cross-sectional view showing a conventional light emitting device.
1B is a bottom view showing a conventional light emitting device.
2 is a bottom view showing a light emitting device according to an embodiment.
3 is a sectional view taken along the line AB in Fig.
4 is a cross-sectional view of the CD of Fig.
5 is a bottom view showing a light emitting device according to another embodiment.

이하 상기의 목적을 구체적으로 실현할 수 있는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 실시예의 설명에 있어서, 각 element의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두 개의 element가 서로 직접(directly) 접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element 사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 “상(위) 또는 하(아래)(on or under)”으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the present invention, in the case of being described as being formed "on or under" of each element, the upper (upper) or lower (lower) or under are all such that two elements are in direct contact with each other or one or more other elements are indirectly formed between the two elements. Also, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction with respect to one element.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한, 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.The thickness and size of each layer in the drawings are exaggerated, omitted, or schematically shown for convenience and clarity of explanation. Also, the size of each component does not entirely reflect the actual size.

도 2는 실시예에 따른 발광소자를 나타내는 저면도이고, 도 3은 도 2의 A-B 단면도이며, 도 4는 도 2의 C-D 단면도이다.2 is a bottom view showing a light emitting device according to an embodiment, FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line A-B of FIG. 2, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along a line C-D of FIG.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 실시예에 따른 발광소자는 발광 구조물(100), 제1 금속층(210), 제2 금속층(220), 제1 지지층(300), 제2 지지층(400), 절연체(600)를 포함할 수 있다.2 to 4, the light emitting device according to the present embodiment includes a light emitting structure 100, a first metal layer 210, a second metal layer 220, a first support layer 300, a second support layer 400, , And an insulator (600).

발광 구조물(100)에는 발광소자가 실장되는 발광소자 패키지의 리드 프레임에 연결되어 전원을 공급받는 제1 전극(110)과 제2 전극(120)이 배치될 수 있다.The light emitting structure 100 may include a first electrode 110 and a second electrode 120 connected to a lead frame of a light emitting device package in which the light emitting device is mounted.

실시예에서, 투광성 기판(미도시)은 사파이어 기판 등이 사용될 수 있고, 투광성을 가지는 전도성 기판 또는 절연성 기판을 포함하는데 이에 대해 한정하지는 않는다.In the embodiment, a transparent substrate (not shown) may be a sapphire substrate or the like, and includes a light-transmitting conductive substrate or an insulating substrate, but the invention is not limited thereto.

또한, 투광성 기판(미도시)의 일면에는 복수의 반도체 화합물이 적층된 발광 구조물(100)이 배치된다. 그리고, 발광 구조물(100)은 투광성 기판(미도시)의 하부에 구비되는 제1 도전형 반도체층(100a), 제1 도전형 반도체층(100a)의 하부에 구비되는 활성층(100b), 활성층(100b)의 하부에 구비되는 제2 도전형 반도체층(100c)을 포함한다.A light emitting structure 100 in which a plurality of semiconductor compounds are stacked is disposed on one surface of a light transmitting substrate (not shown). The light emitting structure 100 includes a first conductive semiconductor layer 100a provided under the light transmitting substrate (not shown), an active layer 100b provided below the first conductive semiconductor layer 100a, And a second conductive semiconductor layer 100c provided under the first conductive semiconductor layer 100b.

그리고, 발광 구조물(100)이 배치된 후에는 투광성 기판은 발광 구조물(100)로부터 분리되고, 발광 구조물의 일면에 요철을 형성하여 광효율을 높일 수 있다.After the light emitting structure 100 is disposed, the light transmitting substrate is separated from the light emitting structure 100, and concave and convex are formed on one surface of the light emitting structure 100 to increase the light efficiency.

여기서, 제1 도전형 반도체층(100a)과 활성층(100b) 및 제2 도전형 반도체층(100c)을 포함하는 발광 구조물(100)은 예를 들어, 유기금속 화학 증착법(MOCVD; Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy) 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light emitting structure 100 including the first conductivity type semiconductor layer 100a, the active layer 100b and the second conductivity type semiconductor layer 100c may be formed using a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) (CVD), a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD), a molecular beam epitaxy (MBE), a hydride vapor phase epitaxy (HVPE) ), And the like, but the present invention is not limited thereto.

아울러, 제1 도전형 반도체층(100a)은 반도체 화합물로 형성될 수 있다. 보다 상세히 설명하면, 3족-5족, 2족-6족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 제1 도전형 반도체층(100a)이 n형 반도체층인 경우, 제1도전형 도펀트는 n형 도펀트로서, Si, Ge, Sn, Se, Te를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.In addition, the first conductivity type semiconductor layer 100a may be formed of a semiconductor compound. More specifically, the compound semiconductor may be implemented by a compound semiconductors such as Group 3-Group 5, Group 2-Group 6, and the like, and the first conductivity type dopant may be doped. When the first conductive type semiconductor layer 100a is an n-type semiconductor layer, the first conductive type dopant may include Si, Ge, Sn, Se, and Te as an n-type dopant, but is not limited thereto.

그리고, 제1 도전형 반도체층(100a)은 AlxInyGa(1-x-y)N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질을 포함할 수 있다. 제1 도전형 반도체층(100a)은 GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP, AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다.The first conductivity type semiconductor layer 100a may include a semiconductor material having a composition formula of AlxInyGa (1-xy) N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? have. The first conductive semiconductor layer 100a may be formed of one or more of GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP, AlGaP, InGaP, AlInGaP and InP.

한편, 활성층(100b)은 제1 도전형 반도체층(100a)을 통해서 주입되는 전자와 이후 형성되는 제2 도전형 반도체층(100c)을 통해서 주입되는 정공이 서로 만나서 활성층(100b)을 이루는 물질 고유의 에너지 밴드에 의해서 결정되는 에너지를 갖는 빛을 방출하는 층이다.In the active layer 100b, electrons injected through the first conductive type semiconductor layer 100a and holes injected through the second conductive type semiconductor layer 100c formed thereafter mutually meet with each other to form the active layer 100b, Which emits light having energy determined by the energy band of the light.

또한, 활성층(100b)은 이중 접합 구조(Double Hetero Junction Structure), 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물 구조(MQW: Multi Quantum Well), 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 또는 양자 점(Quantum Dot) 구조 중 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다. 예를 들어, 활성층(100b)은 트리메틸 갈륨 가스(TMGa), 암모니아 가스(NH3), 질소 가스(N2), 및 트리메틸 인듐 가스(TMIn)가 주입되어 다중 양자우물구조가 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The active layer 100b may have a double heterojunction structure, a single quantum well structure, a multi quantum well (MQW) structure, a quantum-wire structure, or a quantum dot structure. Or the like. For example, the active layer 100b may be formed by implanting trimethylgallium gas (TMGa), ammonia gas (NH3), nitrogen gas (N2), and trimethyl indium gas (TMIn) to form a multiple quantum well structure. It is not.

활성층(100b)의 우물층/장벽층은 예를 들어, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, InAlGaN/InAlGaN, GaAs(InGaAs)/AlGaAs, GaP(InGaP)/AlGaP 중 어느 하나 이상의 페어 구조로 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 여기서, 우물층은 상기 장벽층의 밴드 갭보다 낮은 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.For example, the well layer / barrier layer of the active layer 100b may be formed of any one of InGaN / GaN, InGaN / InGaN, GaN / AlGaN, InAlGaN / GaN, InAlGaN / InAlGaN, GaAs (InGaAs) / AlGaAs, GaP But it is not limited thereto. Here, the well layer may be formed of a material having a band gap lower than the band gap of the barrier layer.

그리고, 활성층(100b)의 위 또는/및 아래에는 도전형 클래드층(미도시)이 형성될 수 있다. 도전형 클래드층은 활성층(100b)의 장벽층이나 밴드갭보다 더 넓은 밴드갭을 가지는 반도체로 형성될 수 있다. 예를 들어, 도전형 클래드층은 GaN, AlGaN, InAlGaN 또는 초격자 구조 등을 포함할 수 있다. 또한, 도전형 클래드층은 n형 또는 p형으로 도핑될 수 있다.A conductive clad layer (not shown) may be formed on and / or below the active layer 100b. The conductive cladding layer may be formed of a semiconductor having a band gap wider than the barrier layer or band gap of the active layer 100b. For example, the conductive clad layer may include GaN, AlGaN, InAlGaN, superlattice structure, or the like. Further, the conductive clad layer may be doped with n-type or p-type.

아울러, 제2 도전형 반도체층(100c)은 반도체 화합물로 형성될 수 있다. 보다 상세히 설명하면, 3족-5족, 2족-6족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 예컨대, InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질을 포함할 수 있다. 그리고, 제2 도전형 반도체층(100c)이 p형 반도체층인 경우, 제2도전형 도펀트는 p형 도펀트로서, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등을 포함할 수 있다.In addition, the second conductive semiconductor layer 100c may be formed of a semiconductor compound. More specifically, the semiconductor layer may be formed of a compound semiconductors such as Group 3-Group 5, Group 2-Group 6, and the like, and the second conductivity type dopant may be doped. For example, it may include a semiconductor material having a composition formula of InxAlyGa1-x-yN (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? When the second conductivity type semiconductor layer 100c is a p-type semiconductor layer, the second conductivity type dopant may include Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba as a p-type dopant.

한편, 발광소자(100)에 구비되는 제1 전극(110)은 제1 도전형 반도체층(100a)의 일부가 메사 식각되어 일부가 노출된 면에 배치되고, 제2 전극(120)은 제2 도전형 반도체층(100c)의 하단면 일측에 배치된다. 여기서, 도전성을 높이기 위해 제2 도전형 반도체층(100c)의 하단면과 제2 전극(120) 사이에는 ITO(Indium Tin Oxide)(130)가 더 포함될 수 있다.The first electrode 110 of the light emitting device 100 is formed on the exposed surface of a part of the first conductivity type semiconductor layer 100a by mesa etching and the second electrode 120 is disposed on the exposed surface of the second electrode 120. [ And is disposed on one side of the lower end surface of the conductive type semiconductor layer 100c. Here, ITO (Indium Tin Oxide) 130 may be further included between the lower surface of the second conductive type semiconductor layer 100c and the second electrode 120 to improve conductivity.

또한, 제1 전극(110)과 제2 전극(120)은 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 구리(Cu), 금(Au) 중 적어도 하나를 포함하여 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다.The first electrode 110 and the second electrode 120 may include at least one of aluminum (Al), titanium (Ti), chromium (Cr), nickel (Ni), copper (Cu) Layer structure or a multi-layer structure.

그리고, 제1 금속층(210)과 제2 금속층(220)은 예컨대, Ni, Pd, Ag, Au, Al, Sn, Sb, Cu, Co, Tr, Ru, Rh, Cd 또는 Pt 등의 금속들 중 어느 하나를 이용하여 형성할 수 있으며, 예컨대, 금속 박막 또는 금속 파우더 등의 형태로 증착하는 것이 가능하다. 하지만, 이에 국한하지는 않는다.The first metal layer 210 and the second metal layer 220 may be formed of a metal such as Ni, Pd, Ag, Au, Al, Sn, Sb, Cu, Co, Tr, Ru, Rh, For example, a metal thin film, a metal powder, or the like. However, it is not limited thereto.

아울러, 제1 지지층(300)은 제1 전극(110)과 연결되고, 제1 전극(110)의 하부에서 수직 방향으로 중첩 배치되어 발광 구조물(100)을 지지할 수 있다.The first support layer 300 may be connected to the first electrode 110 and may vertically overlap the first electrode 110 to support the light emitting structure 100.

여기서, 제1 지지층(300)은 서로 다른 단면적을 갖는 제1 상부 지지층(320)과 제1 하부 지지층(310)을 포함할 수 있다. 다시 말해서, 제1 상부 지지층(320)의 단면적은 제1 하부 지지층(310)의 단면적보다 클 수 있다.Here, the first support layer 300 may include a first upper support layer 320 and a first lower support layer 310 having different cross-sectional areas. In other words, the cross-sectional area of the first upper support layer 320 may be larger than the cross-sectional area of the first lower support layer 310.

종래에는 제1 지지층과 제2 지지층이 단면적이 동일한 기둥 형태로 배치되어 발광소자가 제조되는 공정 과정 중에 발광소자에 가해지는 충격으로 제1 지지층과 제2 지지층 사이에 절연체가 배치되는 영역에서 발광소자가 파손되어 발광소자의 불량률이 높았다.The first supporting layer and the second supporting layer are disposed in the form of columns having the same sectional area so that the light emitting device is manufactured in the region where the insulator is disposed between the first supporting layer and the second supporting layer due to the impact applied to the light emitting device during the process of manufacturing the light emitting device, And the defect rate of the light emitting device was high.

하지만, 실시예에 따르면 제1 상부 지지층(320)의 단면적을 제1 하부 지지층(310)의 단면적보다 크게 배치하여 제1 상부 지지층이 발광 구조물을 지지하는 지지력을 향상시키고, 발광소자가 외부의 충격으로부터 일어나는 파손을 방지할 수 있게 해 준다.However, according to the embodiment, the cross-sectional area of the first upper support layer 320 may be larger than the cross-sectional area of the first lower support layer 310 to improve the supporting force of the first upper support layer to support the light emitting structure, To prevent breakage from occurring.

한편, 제1 하부 지지층(310)의 높이(L2)는 제1 상부 지지층(320)의 높이(L1)의 0.1 내지 0.3배일 수 있다. 여기서, 제1 하부 지지층(310)의 높이(L2)가 제1 상부 지지층(320)의 높이(L1)보다 너무 낮으면 후술할 제2 하부 지지층과 제1 하부 지지층(310) 사이에 절연체가 배치될 공간이 부족하게 되고, 제1 하부 지지층(310)의 높이(L2)가 제1 상부 지지층(320)의 높이(L1)보다 너무 높으면 제1 상부 지지층(320)의 지지력이 저하될 수 있다.The height L2 of the first lower support layer 310 may be 0.1 to 0.3 times the height L1 of the first upper support layer 320. [ If the height L2 of the first lower supporting layer 310 is lower than the height L1 of the first upper supporting layer 320, an insulator is disposed between the second lower supporting layer and the first lower supporting layer 310 If the height L2 of the first lower support layer 310 is too high than the height L1 of the first upper support layer 320, the supporting force of the first upper support layer 320 may be lowered.

여기서, 제1 하부 지지층(310)의 높이(L2)와 제1 상부 지지층(320)의 높이(L1)의 비율은 발광소자의 크기나 제1 상부 지지층과 제1 하부 지지층의 두께에 따라 달라질 수 있다.The ratio of the height L2 of the first lower support layer 310 to the height L1 of the first upper support layer 320 may vary depending on the size of the light emitting device or the thickness of the first upper support layer and the first lower support layer have.

또한, 제2 지지층(400)은 제2 전극(120)과 연결되고, 제2 전극(120)의 하부에서 수직 방향으로 중첩 배치되어 발광 구조물(100)을 지지할 수 있다.The second support layer 400 may be connected to the second electrode 120 and may vertically overlap the second electrode 120 to support the light emitting structure 100.

여기서, 제2 지지층(400)은 서로 다른 단면적을 갖는 제2 상부 지지층(420)과 제2 하부 지지층(410)을 포함할 수 있다. 다시 말해서, 제2 상부 지지층(420)의 단면적은 제2 하부 지지층(410)의 단면적보다 클 수 있다.Here, the second support layer 400 may include a second upper support layer 420 and a second lower support layer 410 having different cross-sectional areas. In other words, the cross-sectional area of the second upper support layer 420 may be larger than the cross-sectional area of the second lower support layer 410.

한편, 제2 하부 지지층(410)의 높이는 제2 상부 지지층(420)의 높이의 0.1 내지 0.3배일 수 있는데, 제2 하부 지지층(410)의 높이와 제2 상부 지지층(420)의 높이의 비율에 대한 설명은 전술한 제1 하부 지지층(310)의 높이(L2)와 제1 상부 지지층(320)의 높이(L1)의 비율과 동일하므로 생략하기로 한다.The height of the second lower supporting layer 410 may be 0.1 to 0.3 times the height of the second upper supporting layer 420. The height of the second lower supporting layer 410 and the height of the second upper supporting layer 420 Description will be omitted because the ratio of the height L2 of the first lower support layer 310 to the height L1 of the first upper support layer 320 is omitted.

아울러, 제2 하부 지지층(410)의 높이와 제2 상부 지지층(420)의 높이의 비율은 발광소자의 크기나 제1 상부 지지층과 제1 하부 지지층의 두께에 따라 달라질 수 있다.The ratio of the height of the second lower support layer 410 to the height of the second upper support layer 420 may vary depending on the size of the light emitting device and the thickness of the first upper support layer and the first lower support layer.

한편, 제1 및 제2 상부 지지층(320, 420) 각각은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr) 또는 금(Au) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.Each of the first and second upper support layers 320 and 420 may include at least one of copper (Cu), aluminum (Al), chrome (Cr), and gold (Au).

그리고, 도 2에 도시한 바와 같이 제1 상부 지지층(320)은 '┖┙'의 평면 형상을 갖고, 제2 상부 지지층(420)은 '┳'의 평면 형상을 가질 수 있으며, 제2 상부 지지층(420)에 대한 제1 상부 지지층(320)의 단면적의 비율은 1:3 내지 2:5일 수 있다.2, the first upper support layer 320 may have a planar shape of '┖┙', the second upper support layer 420 may have a planar shape of '┳' The ratio of the cross-sectional area of the first upper support layer 320 to the first upper support layer 420 may be 1: 3 to 2: 5.

이러한 구조는 발광소자에 가해지는 충격이 각 지지층에 분산되어 흡수될 수 있으므로 발광소자가 제조되는 공정 과정 중에 발광소자에 가해지는 충격으로부터 발광소자가 파손되는 것을 방지할 수 있다.Such a structure can prevent the impact applied to the light emitting element from being dispersed and absorbed by each support layer, thereby preventing the light emitting element from being damaged due to the impact applied to the light emitting element during the process of manufacturing the light emitting element.

도 5 는 다른 실시예에 따른 발광소자를 나타내는 저면도이다.5 is a bottom view showing a light emitting device according to another embodiment.

도 5에 도시한 바와 같이, 제1 상부 지지층(320)와 제2 상부 지지층(420)이 배치될 수 있고, 발광소자에 가해지는 충격을 완화해 줄 수 있는 구조라면 상술한 제1 상부 지지층과 제2 상부 지지층의 형태나 단면적의 비율에 한정하지는 않는다.As shown in FIG. 5, if the first upper support layer 320 and the second upper support layer 420 can be disposed and the impact applied to the light emitting device can be alleviated, the first upper support layer and the second upper support layer The shape of the second upper support layer or the ratio of the cross-sectional area is not limited.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 절연체(600)가 제1 지지층(300)과 제2 지지층(400)을 감싸도록 배치될 수 있다. 그리고, 절연체(600)는 실리콘(Si), 수지(Resin) 또는 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC:Epoxy Molding Compound) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 2 to 4, an insulator 600 may be disposed to surround the first support layer 300 and the second support layer 400. The insulator 600 may include at least one of silicon (Si), resin (Resin), and epoxy molding compound (EMC).

그리고, 실시예에 따른 발광소자는 제1 및 제2 금속층(210, 220)과 대향하는 발광 구조물(100)의 일면에서 제1 전극(110) 및 제2 전극(120)을 노출시키면서 배치된 반사층(700)을 더 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a first electrode 110 and a second electrode 120 disposed on one surface of the light emitting structure 100 facing the first and second metal layers 210 and 220 while exposing the first electrode 110 and the second electrode 120, (700).

또한, 제1 금속층(210)의 일면과 반사층(700) 사이 및 제2 금속층(220)의 일면과 반사층(700) 사이에 절연층(500)이 배치될 수 있다.The insulating layer 500 may be disposed between one side of the first metal layer 210 and the reflective layer 700 and between the one side of the second metal layer 220 and the reflective layer 700.

상술한 바와 같이 실시예에 따르면, 발광소자의 공정 안정성을 높일 수 있다. 그리고, 열전도율이 낮은 절연체의 단면적을 최소화하고 열전도율이 높은 금속재질의 지지층의 단면적을 넓혀 방열 효율을 극대화시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the embodiment, the process stability of the light emitting device can be improved. In addition, the cross-sectional area of the insulator having a low thermal conductivity is minimized, and the cross-sectional area of the metal supporting layer having a high thermal conductivity is increased, thereby maximizing the heat radiation efficiency.

상술한 발광소자는 하나 또는 복수 개가 하나의 발광소자 패키지 내에 배치될 수 있다.One or a plurality of the above-described light emitting elements may be disposed in one light emitting element package.

발광소자 패키지 내에 발광소자가 배치될 때, 발광소자의 제1 전극과 제2 전극은 각각 제1 리드 프레임과 제2 리드 프레임에 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 발광소자의 둘레에는 실리콘 등을 포함하는 몰딩부가 배치되어 발광소자를 보호할 수 있다.When the light emitting device is disposed in the light emitting device package, the first electrode and the second electrode of the light emitting device may be electrically connected to the first lead frame and the second lead frame, respectively. Further, a molding portion including silicon or the like may be disposed around the light emitting element to protect the light emitting element.

그리고, 상술한 발광소자 내지 발광소자 패키지는 조명 시스템의 광원으로 사용될 수 있는데, 일례로 영상표시장치의 백라이트 유닛과 조명 장치에 사용될 수 있다.The light emitting device to the light emitting device package may be used as a light source of an illumination system, for example, a backlight unit of an image display device and a lighting device.

영상표시장치의 백라이트 유닛으로 사용될 때 에지 타입의 백라이트 유닛으로 사용되거나 직하 타입의 백라이트 유닛으로 사용될 수 있고, 조명 장치에 사용될 때 등기구나 벌브(bulb) 타입의 광원에 사용될 수도 있다.It can be used as a backlight unit of an edge type when used as a backlight unit of a video display device or as a backlight unit of a direct-type type and can be used as a light source of a regulator or a bulb type when used in a lighting device.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.

100 : 발광 구조물 100a : 제1 도전형 반도체층
100b : 활성층 100c : 제2 도전형 반도체층
110 : 제1 전극 120 : 제2 전극
130 : ITO 210 : 제1 금속층
220 : 제2 금속층 300 : 제1 지지층
310 : 제1 하부 지지층 320 : 제1 상부 지지층
400 : 제2 지지층 410 : 제2 하부 지지층
420 : 제2 상부 지지층 500 : 절연층
600 : 절연체 700 : 반사층
100: light emitting structure 100a: first conductivity type semiconductor layer
100b: active layer 100c: second conductivity type semiconductor layer
110: first electrode 120: second electrode
130: ITO 210: first metal layer
220: second metal layer 300: first support layer
310: first lower support layer 320: first upper support layer
400: second support layer 410: second lower support layer
420: second upper supporting layer 500: insulating layer
600: insulator 700: reflective layer

Claims (10)

발광 구조물;
상기 발광 구조물에 배치되는 제1 전극과 제2 전극;
상기 제1 전극과 상기 제2 전극에 각각 연결되는 제1 금속층과 제2 금속층;
상기 제1 금속층과 연결되며, 상기 제1 금속층의 하부에서 수직 방향으로 중첩 배치되어 상기 발광 구조물을 지지하는 제1 지지층;
상기 제2 금속층과 연결되며, 상기 제2 금속층의 하부에서 수직 방향으로 중첩 배치되어 상기 발광 구조물을 지지하는 제2 지지층; 및
상기 제1 지지층과 상기 제2 지지층을 감싸도록 배치되는 절연체를 포함하는 발광소자.
A light emitting structure;
A first electrode and a second electrode arranged in the light emitting structure;
A first metal layer and a second metal layer respectively connected to the first electrode and the second electrode;
A first supporting layer connected to the first metal layer, the first supporting layer being stacked vertically in a lower portion of the first metal layer to support the light emitting structure;
A second supporting layer connected to the second metal layer, the second supporting layer overlapping the first metal layer in the vertical direction to support the light emitting structure; And
And an insulator disposed to surround the first support layer and the second support layer.
제1 항에 있어서,
상기 제1 지지층은 서로 다른 단면적을 갖는 제1 상부 지지층과 제1 하부 지지층을 포함하고,
상기 제2 지지층은 서로 다른 단면적을 갖는 제2 상부 지지층과 제2 하부 지지층을 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the first support layer includes a first upper support layer and a first lower support layer having different cross-sectional areas,
Wherein the second support layer comprises a second upper support layer and a second lower support layer having different cross-sectional areas.
제2 항에 있어서,
상기 제1 상부 지지층의 단면적은 상기 제1 하부 지지층의 단면적보다 크고,
상기 제2 상부 지지층의 단면적은 상기 제2 하부 지지층의 단면적보다 큰 발광소자.
3. The method of claim 2,
Sectional area of the first upper supporting layer is larger than a sectional area of the first lower supporting layer,
Sectional area of the second upper supporting layer is larger than a sectional area of the second lower supporting layer.
제3 항에 있어서,
상기 제1 하부 지지층의 높이는 상기 제1 상부 지지층의 높이의 0.1 내지 0.3배이고,
상기 제2 하부 지지층의 높이는 상기 제2 상부 지지층의 높이의 0.1 내지 0.3배인 발광소자.
The method of claim 3,
The height of the first lower support layer is 0.1 to 0.3 times the height of the first upper support layer,
And the height of the second lower supporting layer is 0.1 to 0.3 times the height of the second upper supporting layer.
제1 항에 있어서,
상기 제1 및 제2 상부 지지층 각각은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 크롬(Cr) 또는 금(Au) 중 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein each of the first and second upper supporting layers comprises at least one of copper (Cu), aluminum (Al), chromium (Cr), and gold (Au).
제1 항에 있어서,
상기 제1 상부 지지층은 '┖┙'의 평면 형상을 갖고, 상기 제2 상부 지지층은 '┳'의 평면 형상을 갖는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the first upper support layer has a planar shape of '┖┙', and the second upper support layer has a planar shape of '┳'.
제1 항에 있어서,
상기 제2 상부 지지층에 대한 상기 제1 상부 지지층의 단면적의 비율은 1:3 내지 2:5인 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the ratio of the cross-sectional area of the first upper support layer to the second upper support layer is 1: 3 to 2: 5.
제1 항에 있어서,
상기 절연체는 실리콘(Si), 수지(Resin) 또는 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC:Epoxy Molding Compound) 중 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the insulator comprises at least one of silicon (Si), resin (Resin), and epoxy molding compound (EMC).
제1 항에 있어서,
상기 제1 및 제2 금속층과 대향하는 상기 발광 구조물의 일면에서 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 노출시키면서 배치된 반사층을 더 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
And a reflective layer disposed on one surface of the light emitting structure opposite to the first and second metal layers while exposing the first electrode and the second electrode.
제9 항에 있어서,
상기 제1 금속층의 일면과 상기 반사층 사이 및 상기 제2 금속층의 일면과 상기 반사층 사이에 배치된 절연층을 더 포함하는 발광소자.
10. The method of claim 9,
Further comprising an insulating layer disposed between one side of the first metal layer and the reflective layer, and between one side of the second metal layer and the reflective layer.
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