KR20160083341A - Liquid crystal display device - Google Patents

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Abstract

The present invention is to provide a liquid crystal display device which is capable of improving the test efficiency and reliability when testing the liquid crystal display and implementing a narrow bezel. The liquid crystal display device according to the present invention includes a liquid crystal display panel which is divided into a display area defined as a crossing area of gate and data lines and including a plurality of pixels and a non-display area surrounding an outer portion of the display area; a test pattern part disposed on an upper portion of the non-display area to be connected to the data line; first to third voltage supply lines disposed on one side of the non-display area to be connected to one end of the test pattern part; fourth to sixth voltage supply lines disposed on the other side of the non-display area to be connected to the other end of the test pattern part; a first test pattern part disposed at a lower end of the non-display area to be connected to the first to third test voltage supply line; and a second test pattern part connected to the fourth to sixth test voltage supply lines.

Description

액정표시장치{Liquid crystal display device}[0001] Liquid crystal display device [0002]

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 액정 표시패널 검사시 검사 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정표시장치에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display, and more particularly, to a liquid crystal display capable of improving inspection efficiency and reliability when inspecting a liquid crystal display panel.

최근, 퍼스널 컴퓨터, 휴대용 단말기, 및 모바일 통신기기 등에 사용되는 영상 표시장치로 경량 박형의 평판 표시장치(Flat Panel Display)가 주로 이용되고 있다. Description of the Related Art [0002] Lightweight thin flat panel displays (LCDs) are mainly used as image display devices used in personal computers, portable terminals, and mobile communication devices.

이러한, 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 유기 발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel), 전계방출 표시장치(Field Emission Display) 등이 대두되고 있다.Examples of such flat panel display devices include a liquid crystal display, an organic light emitting diode display, a plasma display panel, a field emission display, .

이러한 평판 표시장치를 이루는 각각의 영상 표시패널 즉, 액정 패널이나 유기 발광 표시패널 등은 별도의 구동회로부나 전원 공급부 등과 조립되는 모듈 조립공정에 들어가기에 앞서, 점등 검사과정을 통해 불량 여부를 판별하게 된다. Each of the image display panels constituting the flat panel display, that is, the liquid crystal panel and the organic light emitting display panel, may be judged to be defective through a lighting inspection process before the module assembly process is assembled with a separate driving circuit unit or a power supply unit do.

이러한 불량 검사는 오토 프로브 장치(Auto-Probe Apparatus) 등의 검사 장치를 이용하여 각 표시패널의 구동 및 화질 불량 유무를 판별하게 된다.Such defective inspection is carried out by using an inspection apparatus such as an auto-probe apparatus or the like to judge whether each display panel is driven and whether image quality is defective or not.

영상 표시패널의 검사장치는 완성된 영상 표시패널에 미리 셋팅된 구동회로나 백 라이트 유닛 등을 임시로 연결시키고, 영상 표시패널이 소정 시간 동안 구동되도록 함으로써 각 표시 패널들의 불량 유무를 판별한다.An inspection apparatus of an image display panel temporarily connects a drive circuit or a backlight unit set in advance to a completed image display panel and drives the image display panel for a predetermined period of time to discriminate the presence or absence of defects in each display panel.

이러한 영상 표시패널의 검사장치는 별도의 커넥터나 쇼팅바 등을 통해 영상 표시패널의 각 화소들에 검사 데이터 전압과 게이트 신호 등을 공급한다.  The inspection apparatus of the image display panel supplies the inspection data voltage and the gate signal to each pixel of the image display panel through a separate connector or a shuttle bar.

이는 검사 대상인 영상 표시패널의 종류나 각 영상 표시패널에 적용된 패드 타입에 따라 달리 이용된다.This is different depending on the type of image display panel to be inspected and the pad type applied to each image display panel.

검사시 커넥터를 이용하는 경우는 영상 표시패널을 구동하기 위한 구동 집적회로를 구비하여 FPC 케이블(Flexible Printed Circuit Cable)과 커넥터를 통해 영상 표시패널을 연결하고, 쇼팅바를 이용하는 경우는 FPC 케이블과 프로브 블록(Probe Block)을 통해 검사장치와 영상 표시패널을 연결한다.In case of using a connector at the time of inspection, a driving integrated circuit for driving an image display panel is provided and an image display panel is connected through an FPC cable (Flexible Printed Circuit Cable) and a connector. When a shorting bar is used, an FPC cable and a probe block Probe Block) to connect the test equipment to the video display panel.

종래 기술에 따른 액정 표시패널 검사시에는 게이트 라인들을 구동하기 위한 게이트 신호들 외에 정극성 및 부극성으로 조합된 직류 전압들을 데이터 전압으로 공급하였다.During the inspection of the liquid crystal display panel according to the related art, the gate voltages for driving the gate lines as well as the positive and negative polarities are supplied as the data voltages.

이때, 동일 색의 화소들에는 동일 극성의 직류 전압이 공급되도록 하면서도 서로 인접한 화소들에 다른 극성의 직류 전압이 공급되도록 하기 위해, 적색(+), 녹색(-), 청색(+) 순서 또는 적색(-), 녹색(+), 청색(-) 순서로 반복되어 극성이 반전되면, 매 프레임 단위의 정극성(+) 및 부극성(-) 직류전압 공급 비율이 2:1 또는 1:2가 되어 액정 표시패널의 공통전압 레벨이 왜곡되는 문제가 발생한다.In order to supply the DC voltage of the same polarity to the pixels of the same color but to supply the DC voltage of the different polarity to the adjacent pixels, the red (+), green (-), (+) And negative (-) DC voltage supply ratios per frame are 2: 1 or 1: 2 when the polarity is reversed in the order of (-), (+), Thereby causing a problem that the common voltage level of the liquid crystal display panel is distorted.

또한, 검사시 액정 표시패널의 공통전압 레벨이 어느 한 극성으로 치우치거나 흔들리게 되면 플리커 등의 불량 현상이 식별되어 검사 효율이 저하된다. In addition, if the common voltage level of the liquid crystal display panel during inspection is deviated or shaken to a certain polarity, a defective phenomenon such as flicker is identified to deteriorate inspection efficiency.

이에 따라, 액정 표시패널의 구동 주파수를 높여서 구동 및 검사하기도 하지만, 고 해상도 모델에서는 검사시 구동 주파수를 상승시키는데 한계가 있고, 액정 표시패널에도 악영향을 미치기 때문에 그 신뢰성 또한 크게 저하되는 문제점이 있다.
Accordingly, the driving frequency of the liquid crystal display panel may be increased to drive and inspect. However, in the high resolution model, there is a limitation in raising the driving frequency at the time of inspection and adversely affects the liquid crystal display panel.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 특히 액정 표시패널의 검사시 테스트 전압 공급 구조를 개선함과 아울러 제품화된 상태의 구동 조건과 동일한 조건으로 검사가 진행될 수 있도록 하여, 검사 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 한 액정표시장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to improve a test voltage supply structure during inspection of a liquid crystal display panel and to inspect the same under the same condition as a commercialized driving condition, And to provide a liquid crystal display device capable of improving reliability.

본 발명은 상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 게이트 배선 및 데이터 배선의 교차영역으로 정의되는 다수의 화소를 포함하는 표시영역과, 상기 표시영역의 외곽을 둘러싸며 배치되는 비표시영역으로 구분되는 액정 표시패널과 상기 비표시영역의 상단부에 배치되어 상기 데이터 배선과 연결되는 검사패턴부과 상기 비표시영역의 일측면에 배치되어 상기 검사패턴부의 일끝단과 연결되는 제1 내지 제3테스트전압 공급배선과, 상기 비표시영역의 타측면에 배치되어 상기 검사패턴부의 타끝단과 연결되는 제4 내지 제6테스트전압 공급배선 및 상기 비표시영역의 하단부에 각각 배치되며, 상기 제1 내지 제3테스트전압 공급배선과 연결되는 제1테스트 패드부와, 상기 제4 내지 제6테스트전압 공급배선과 연결되는 제2테스트 패드부를 포함하는 액정표시장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a display device including a display area including a plurality of pixels defined as intersecting areas of a gate line and a data line, and a non-display area surrounding the periphery of the display area, Display region and connected to the data line, and a first to a third test voltage supply lines arranged on one side of the non-display region and connected to one end of the test pattern portion, A fourth test voltage supply line arranged on the other side of the non-display area and connected to the other end of the inspection pattern part, and a fourth test voltage supply line arranged on the lower end of the non-display area, A first test pad portion connected to the supply wiring and a second test pad portion connected to the fourth through sixth test voltage supply wirings, It provides market value.

또한, 상기 검사패턴부는 상기 제1 내지 제6테스트전압 공급배선과 상기 데이터 배선을 각각 연결하는 제6n-5 내지 제6n(n은 1이상의 정수)테스트 배선을 포함한다.In addition, the inspection pattern portion includes sixth through n-5th to nth (n is an integer of 1 or more) test wirings connecting the first to sixth test voltage supply wirings and the data wirings, respectively.

또한, 상기 제1테스트전압 공급배선은 제6n-5테스트 배선과 연결되고, 상기 제2테스트전압 공급배선은 제6n-4테스트 배선과 연결되고, 상기 제3테스트전압 공급배선은 제6n-3테스트 배선과 연결되고, 상기 제4테스트전압 공급배선은 제6n-2테스트 배선과 연결되고, 상기 제5테스트전압 공급배선은 제6n-1테스트 배선과 연결되고, 상기 제6테스트전압 공급배선은 제6n테스트 배선과 연결된다.Further, the first test voltage supply line is connected to the 6n-5th test line, the second test voltage supply line is connected to the 6n-4th test line, and the third test voltage supply line is connected to the The sixth test voltage supply line is connected to the sixth test voltage supply line, the sixth test voltage supply line is connected to the sixth test voltage supply line, and the sixth test voltage supply line is connected to the sixth test voltage supply line, And connected to the sixth test wiring.

또한, 상기 제1테스트 패드부는 상기 제1 내지 제3테스트전압 공급배선 각각에 제1 내지 제3테스트전압을 공급하고, 상기 제2테스트 패드부는 상기 제4 내지 제6테스트전압 공급배선 각각에 제4 내지 제6테스트전압을 공급한다.The first test pad unit supplies first to third test voltages to the first to third test voltage supply lines, respectively, and the second test pad unit supplies the first to third test voltage supply lines to the first, 4 to the sixth test voltage.

또한, 상기 제1 내지 제3테스트전압 각각은 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압이고, 상기 제4 내지 제6테스트전압 각각은 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압이거나, 상기 제1 내지 제3테스트전압 각각은 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압이고, 상기 제4 내지 제6테스트전압 각각은 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압이다.Each of the first to third test voltages may include a positive (+) red test voltage, a negative (-) green test voltage, and a positive (+ Each of the fourth to sixth test voltages includes a negative (-) red test voltage, a positive (+) green test voltage, and a negative (-) blue (B) test voltage Or each of the first to third test voltages may have a negative (-) red test voltage, a positive (+) green test voltage, and a negative (- Each of the fourth to sixth test voltages includes a positive (+) red test voltage, a negative (-) green test voltage, and a positive (+) blue (B) test voltage to be.

또한, 상기 제1 내지 제6테스트전압의 극성은 매 프레임마다 반전된다.In addition, the polarities of the first to sixth test voltages are inverted every frame.

또한, 상기 비표시영역의 하단부의 상기 제1 및 제2 테스트 패드부 사이에 배치되며, 상기 데이터 배선과 연결되는 데이터 패드부를 더 포함한다.The data pad unit further includes a data pad unit disposed between the first and second test pad units at a lower end of the non-display area and connected to the data line.

또한, 검사시에는 상기 제1 및 제2테스트 패드부에서 상기 제1 내지 제6테스트전압이 출력되고, 검사 이후에는 상기 데이터 패드부에서 데이터 전압이 출력된다.
In addition, the first to sixth test voltages are output from the first and second test pad units at the time of the test, and the data voltages are output from the data pad unit after the test.

본 발명의 액정표시장치는 액정 표시패널의 검사시 테스트 전압 공급 구조를 개선함과 아울러 제품화된 상태의 구동 조건과 동일한 조건으로 검사가 진행될 수 있도록 하여, 검사 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The liquid crystal display of the present invention can improve the test voltage supply structure during the inspection of the liquid crystal display panel and allow the inspection to proceed under the same conditions as the commercialized driving conditions to improve the inspection efficiency and reliability.

또한, 액정 표시패널의 비표시영역의 양측면에 배치된 테스트전압 공급배선의 수를 줄여 액정 표시패널의 비표시영역의 양측면의 폭인 베젤(Bezel)을 줄일 수 있다.
In addition, the number of test voltage supply wirings disposed on both sides of the non-display area of the liquid crystal display panel can be reduced to reduce the number of bezels that are the widths of both sides of the non-display area of the liquid crystal display panel.

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 도1의 검사패턴부와 다수의 테스트전압 공급배선 및 테스트 패드부를 구체적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4는 도3의 검사패턴부와 다수의 테스트전압 공급배선 및 테스트 패드부를 구체적으로 나타낸 도면이다.1 is a schematic view of a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view showing the test pattern portion of FIG. 1 and a plurality of test voltage supply lines and test pad portions in detail.
3 is a schematic view of a liquid crystal display according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a view showing the test pattern portion of FIG. 3 and a plurality of test voltage supply lines and test pad portions in detail.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

<제 1 실시예>&Lt; Embodiment 1 >

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 2는 도1의 검사패턴부와 다수의 테스트전압 공급배선 및 테스트 패드부를 구체적으로 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a schematic view of a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view illustrating a test pattern portion, a plurality of test voltage supply lines, and a test pad portion of FIG.

도면에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 액정 표시패널(10)은 검사패턴부(50)와 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)과 제1 및 제2테스트 패드부(25a, 25b)를 포함한다.As shown in the figure, the liquid crystal display panel 10 according to the first embodiment of the present invention includes an inspection pattern portion 50, first to sixth test voltage supply lines L1 to L6, first and second And test pad portions 25a and 25b.

구체적으로, 액정 표시패널(10)은 게이트 배선(GL) 및 데이터 배선(DL)의 교차영역으로 정의되는 다수의 화소를 포함하는 표시영역(AA)과, 표시영역(AA)의 외곽을 둘러싸며 배치되는 비표시영역(NAA)으로 구분된다.Specifically, the liquid crystal display panel 10 includes a display area AA including a plurality of pixels defined as intersecting areas of the gate line GL and the data line DL, and a display area AA surrounding the display area AA And a non-display area (NAA) in which the pixels are arranged.

또한, 표시영역(AA)의 각 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT) 및 박막트랜지스터(TFT)와 접속된 액정 커패시터(Clc)가 구성되고, 액정 커패시터(Clc)에는 스토리지 커패시터(Cst)가 병렬로 접속된다.A liquid crystal capacitor Clc connected to a thin film transistor (TFT) and a thin film transistor TFT is formed in each pixel of the display area AA and a storage capacitor Cst is connected to the liquid crystal capacitor Clc And are connected in parallel.

검사 패턴부(50)는 비표시영역(NAA)의 상단부에 배치되어 데이터 배선(DL)과 연결되고, 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)은 비표시영역(NAA)의 좌우 양측면에 각각 배치되어 검사패턴부(50)의 양 끝단과 연결된다.The test pattern unit 50 is disposed at the upper end of the non-display area NAA and is connected to the data line DL. The first to sixth test voltage supply lines L1 to L6 are connected to the left and right sides of the non- And are connected to both ends of the inspection pattern part 50. [

제1 및 제2테스트 패드부(25a, 25b)는 비표시영역(NAA)의 양측면 하단부에 각각 배치되며, 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)과 각각 연결된다. The first and second test pad portions 25a and 25b are respectively disposed at the lower ends of both side surfaces of the non-display area NAA and are connected to the first to sixth test voltage supply lines L1 to L6, respectively.

도면에 도시한 바와 같이, 검사패턴부(50)는 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)과, 데이터 배선(DL)을 각각 연결하는 제6n-5(n은 1이상의 정수) 내지 제6n테스트 배선(TL6n-5~TL6n)을 포함한다.As shown in the drawing, the inspection pattern section 50 includes sixth through n-5th (n is an integer of 1 or more) connecting the first through sixth test voltage supply wirings L1 through L6 and the data wirings DL, To 6nth test wirings TL6n-5 to TL6n.

이 때, 제1테스트전압 공급배선(L1)은 제6n-5테스트 배선(TL6n-5)과 연결되고, 상기 제2테스트전압 공급배선(L2)은 제6n-4테스트 배선(TL6n-4)과 연결되고, 상기 제3테스트전압 공급배선(L3)은 제6n-3테스트 배선(TL6n-3)과 연결되고, 상기 제4테스트전압 공급배선(L4)은 제6n-2테스트 배선(TL6n-2)과 연결되고, 상기 제5테스트전압 공급배선(L5)은 제6n-1테스트 배선(TL6n-1)과 연결되고, 상기 제6테스트전압 공급배선(L6)은 제6n테스트 배선(TL6n)과 연결된다.In this case, the first test voltage supply line L1 is connected to the 6n-5th test line TL6n-5, the second test voltage supply line L2 is connected to the 6n-4th test line TL6n- The third test voltage supply line L3 is connected to the sixth n-3th test line TL6n-3 and the fourth test voltage supply line L4 is connected to the sixth n-2th test line TL6n- 2), the fifth test voltage supply line L5 is connected to the sixth n-1th test line TL6n-1, the sixth test voltage supply line L6 is connected to the sixth nth test line TL6n, Lt; / RTI &gt;

이 때, 제1 및 제2검사유닛(20a, 20b)을 통해, 제1 및 제2 테스트 패드부(25a, 25b)는 동시에 제1 내지 제3테스트전압 공급배선(L1~L3) 각각에 제1 내지 제3테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1)을 공급하고, 제4 내지 제6테스트전압 공급배선(L4~L6) 각각에 제4 내지 제6테스트전압(Rv2, Gv2, Bv2)을 공급한다.At this time, the first and second test pad portions 25a and 25b are simultaneously connected to the first to third test voltage supply lines L1 to L3 through the first and second inspection units 20a and 20b, respectively. 1 to the third test voltages Rv1, Gv1 and Bv1 and supplies the fourth to sixth test voltages Rv2, Gv2 and Bv2 to the fourth to sixth test voltage supply lines L4 to L6, respectively .

예를 들어, 제1 내지 제3테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1) 각각이 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압이고, 제4 내지 제6테스트전압(Rv2, Gv2, Bv2) 각각이 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압일 경우, 정극성(+) 및 부극성(-)의 테스트 전압 비율이 1:1로 동일해진다.For example, when the first to third test voltages Rv1, Gv1 and Bv1 each have positive (+) red test voltage, negative (-) green test voltage and positive (+ And the fourth to sixth test voltages Rv2, Gv2 and Bv2 are the red (R) test voltage and the positive (+) green (G) test voltage, respectively. The positive (+) and negative (-) test voltage ratios are equal to 1: 1 for a blue (B) test voltage of negative and negative (-).

또한, 제1 내지 제3테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1) 각각이 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압이고, 제4 내지 제6테스트전압(Rv2, Gv2, Bv2) 각각이 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압일 경우에도, 정극성(+) 및 부극성(-)의 테스트 전압 비율이 1:1로 동일해진다.Each of the first to third test voltages Rv1, Gv1 and Bv1 has a negative (-) red test voltage, a positive (+) green test voltage and a negative (- The red (R) test voltage of negative polarity, the green (G) test voltage of negative polarity, and the green (G) test voltage of positive polarity, and the second test voltage Rv2, Gv2, The test voltage ratio of the positive polarity (+) and the negative polarity (-) becomes 1: 1 even in the case of the positive (+) blue (B) test voltage.

이 때, 제1 내지 제6테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, Bv2)의 극성은 매 프레임마다 반전될 수 있다.At this time, the polarities of the first to sixth test voltages Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, and Bv2 may be reversed every frame.

이에 따라, 매 프레임 단위의 정극성(+) 및 부극성(-) 직류전압 공급 비율이 동일하게 되어, 검사시 액정 표시패널(10)의 공통전압 레벨이 어느 한 극성으로 치우치거나 흔들리게 되어 발생하는 플리커 등의 불량 현상을 방지할 수 있다.As a result, the positive polarity (+) and negative polarity (-) DC voltage supply ratios for each frame become the same, and the common voltage level of the liquid crystal display panel 10 during inspection is shifted to a certain polarity or shaken It is possible to prevent a defective phenomenon such as flickering that occurs.

또한, 제품화된 상태의 구동 조건과 동일한 조건으로 검사가 진행될 수 있도록 하여 검사 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In addition, inspection can be carried out under the same condition as the drive condition in the productized state, thereby improving inspection efficiency and reliability.

또한, 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치는 비표시영역(NAA)의 하단부의 제1 및 제2 테스트 패드부(25a, 25b) 사이에 배치되며, 데이터 배선(DL)과 연결되는 데이터 패드부(30)를 더 포함한다.The liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention is disposed between the first and second test pad portions 25a and 25b at the lower end of the non-display area NAA and is connected to the data line DL And a data pad unit 30.

이에 따라, 검사시에는 제1 및 제2테스트 패드부(25a, 25b)를 통하여 제1 내지 제6테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, Bv2)이 공급되고, 검사 이후 제품화되면 데이터 패드부(30)를 통하여 데이터 전압이 공급된다.Accordingly, the first to sixth test voltages Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, and Bv2 are supplied through the first and second test pad portions 25a and 25b during inspection, The data voltage is supplied through the pad portion 30. [

한편, 최근들어 액정표시장치는 경량박형을 추구하는 동시에 최종 제품 예를 들면, 모니터 또는 TV의 슬림한 디자인 구현을 위해 표시영역(AA) 외부의 비표시영역(NAA)의 폭이라 정의되는 베젤(Bezel)을 보다 작게 형성하는 것이 요구된다. In recent years, a liquid crystal display device has been used in a bezel (hereinafter, referred to as &quot; display device &quot;) which is defined as a width of a non-display area NAA outside a display area AA Bezel) is required to be smaller.

그러나, 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치의 경우, 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)이 비표시영역(NAA)의 좌우 양측면에 모두 배치됨으로써, 내로우 베젤(Narrow bezel) 구현에 한계가 있을 수 있다.
However, in the case of the liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention, the first to sixth test voltage supply wirings L1 to L6 are arranged on both right and left sides of the non-display area NAA, Narrow bezel) Implementation may be limited.

<제 2 실시예>&Lt; Embodiment 2 >

도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 4는 도3의 검사패턴부와 다수의 테스트전압 공급배선 및 테스트 패드부를 구체적으로 나타낸 도면이다.FIG. 3 is a schematic view of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a view illustrating a test pattern portion, a plurality of test voltage supply lines, and a test pad portion of FIG.

도면에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 액정 표시패널(100)과 검사패턴부(150)와 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)과 제1 및 제2테스트 패드부(125a, 125b)를 포함한다.As shown in the drawing, the liquid crystal display panel 100 according to the second embodiment of the present invention, the inspection pattern portion 150, the first to sixth test voltage supply lines L1 to L6, And test pad portions 125a and 125b.

구체적으로, 액정 표시패널(100)은 게이트 배선(GL) 및 데이터 배선(DL)의 교차영역으로 정의되는 다수의 화소를 포함하는 표시영역(AA)과, 표시영역(AA)의 외곽을 둘러싸며 배치되는 비표시영역(NAA)으로 구분된다.Specifically, the liquid crystal display panel 100 includes a display area AA including a plurality of pixels defined as intersecting areas of a gate line GL and a data line DL, and an outer area of the display area AA And a non-display area (NAA) in which the pixels are arranged.

또한, 표시영역(AA)의 각 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT) 및 박막트랜지스터(TFT)와 접속된 액정 커패시터(Clc)가 구성되고, 액정 커패시터(Clc)에는 스토리지 커패시터(Cst)가 병렬로 접속된다.A liquid crystal capacitor Clc connected to a thin film transistor (TFT) and a thin film transistor TFT is formed in each pixel of the display area AA and a storage capacitor Cst is connected to the liquid crystal capacitor Clc And are connected in parallel.

검사 패턴부(150)는 비표시영역(NAA)의 상단부에 배치되어 데이터 배선(DL)과 연결되고, 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6) 중, 제1 내지 제3테스트전압 공급배선(L1~L3)은 비표시영역(NAA)의 일측에 배치되어 검사패턴부(150)의 일끝단과 연결되고, 제4 내지 제6테스트전압 공급배선(L4~L6)은 비표시영역(NAA)의 타측에 배치되어 검사패턴부(150)의 타끝단과 연결된다.The inspection pattern unit 150 is disposed at the upper end of the non-display area NAA and is connected to the data line DL. Among the first to sixth test voltage supply lines L1 to L6, The supply lines L1 to L3 are disposed on one side of the non-display area NAA and connected to one end of the inspection pattern unit 150, and the fourth to sixth test voltage supply lines L4 to L6 are connected to the non- (NAA) and is connected to the other end of the inspection pattern unit 150.

또한, 제1 및 제2테스트 패드부(125a, 125b) 중, 제1테스트 패드부(125a)는 비표시영역(NAA)의 일측 하단부에 배치되어 제1 내지 제3테스트전압 공급배선(L1~L3)과 연결되고, 제2테스트 패드부(125b)는 비표시영역(NAA)의 타측 하단부에 배치되어 제4 내지 제6테스트전압 공급배선(L4~L6)과 연결된다.The first test pad portion 125a of the first and second test pad portions 125a and 125b is disposed at a lower end of one side of the non-display region NAA and is connected to the first through third test voltage supply lines L1- And the second test pad portion 125b is connected to the fourth to sixth test voltage supply lines L4 to L6 at the other lower end of the non-display area NAA.

도면에 도시한 바와 같이, 검사패턴부(150)는 제1 내지 제6테스트전압 공급배선(L1~L6)과, 데이터 배선(DL)을 각각 연결하는 제6n-5(n은 1이상의 정수) 내지 제6n테스트 배선(TL6n-5~TL6n)을 포함한다.As shown in the drawing, the inspection pattern unit 150 includes a sixth n-5 (n is an integer of 1 or more) connecting the first to sixth test voltage supply wirings L1 to L6 and the data wirings DL, To 6nth test wirings TL6n-5 to TL6n.

이 때, 제1테스트전압 공급배선(L1)은 제6n-5테스트 배선(TL6n-5)과 연결되고, 상기 제2테스트전압 공급배선(L2)은 제6n-4테스트 배선(TL6n-4)과 연결되고, 상기 제3테스트전압 공급배선(L3)은 제6n-3테스트 배선(TL6n-3)과 연결되고, 상기 제4테스트전압 공급배선(L4)은 제6n-2테스트 배선(TL6n-2)과 연결되고, 상기 제5테스트전압 공급배선(L5)은 제6n-1테스트 배선(TL6n-1)과 연결되고, 상기 제6테스트전압 공급배선(L6)은 제6n테스트 배선(TL6n)과 연결된다.In this case, the first test voltage supply line L1 is connected to the 6n-5th test line TL6n-5, the second test voltage supply line L2 is connected to the 6n-4th test line TL6n- The third test voltage supply line L3 is connected to the sixth n-3th test line TL6n-3 and the fourth test voltage supply line L4 is connected to the sixth n-2th test line TL6n- 2), the fifth test voltage supply line L5 is connected to the sixth n-1th test line TL6n-1, the sixth test voltage supply line L6 is connected to the sixth nth test line TL6n, Lt; / RTI &gt;

이 때, 제1검사유닛(120a)을 통해, 제1테스트 패드부(125a)는 제1 내지 제3테스트전압 공급배선(L1~L3) 각각에 제1 내지 제3테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1)을 공급하고, 제2검사유닛(120b)을 통해, 제2테스트 패드부(125b)는 제4 내지 제6테스트전압 공급배선(L4~L6) 각각에 제4 내지 제6테스트전압(Rv2, Gv2, Bv2)을 공급한다.At this time, the first test pad unit 125a applies the first to third test voltages Rv1, Gv1, and Rv2 to the first to third test voltage supply lines L1 to L3 through the first testing unit 120a, The second test unit 125b supplies the fourth to sixth test voltage Rv2 to the fourth to sixth test voltage supply lines L4 to L6 through the second test unit 120b, , Gv2, and Bv2).

예를 들어, 제1 내지 제3테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1) 각각이 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압이고, 제4 내지 제6테스트전압(Rv2, Gv2, Bv2) 각각이 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압일 경우, 정극성(+) 및 부극성(-)의 테스트 전압 비율이 1:1로 동일해진다.For example, when the first to third test voltages Rv1, Gv1 and Bv1 each have positive (+) red test voltage, negative (-) green test voltage and positive (+ And the fourth to sixth test voltages Rv2, Gv2 and Bv2 are the red (R) test voltage and the positive (+) green (G) test voltage, respectively. The positive (+) and negative (-) test voltage ratios are equal to 1: 1 for a blue (B) test voltage of negative and negative (-).

또한, 제1 내지 제3테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1) 각각이 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압이고, 제4 내지 제6테스트전압(Rv2, Gv2, Bv2) 각각이 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압일 경우에도, 정극성(+) 및 부극성(-)의 테스트 전압 비율이 1:1로 동일해진다.Each of the first to third test voltages Rv1, Gv1 and Bv1 has a negative (-) red test voltage, a positive (+) green test voltage and a negative (- The red (R) test voltage of negative polarity, the green (G) test voltage of negative polarity, and the green (G) test voltage of positive polarity, and the second test voltage Rv2, Gv2, The test voltage ratio of the positive polarity (+) and the negative polarity (-) becomes 1: 1 even in the case of the positive (+) blue (B) test voltage.

이 때, 제1 내지 제6테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, Bv2)의 극성은 매 프레임마다 반전될 수 있다.At this time, the polarities of the first to sixth test voltages Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, and Bv2 may be reversed every frame.

이에 따라, 매 프레임 단위의 정극성(+) 및 부극성(-) 직류전압 공급 비율이 동일하게 되어, 검사시 액정 표시패널(100)의 공통전압 레벨이 어느 한 극성으로 치우치거나 흔들리게 되어 발생하는 플리커 등의 불량 현상을 방지할 수 있다.As a result, the positive polarity (+) and the negative polarity (-) DC voltage supply ratios for each frame become the same, and the common voltage level of the liquid crystal display panel 100 during inspection is shifted to a certain polarity or shaken It is possible to prevent a defective phenomenon such as flickering that occurs.

또한, 제품화된 상태의 구동 조건과 동일한 조건으로 검사가 진행될 수 있도록 하여 검사 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In addition, inspection can be carried out under the same condition as the drive condition in the productized state, thereby improving inspection efficiency and reliability.

또한, 본 발명의 제2실시예에 따른 액정표시장치는 비표시영역(NAA)의 하단부의 제1 및 제2 테스트 패드부(125a, 125b) 사이에 배치되며, 데이터 배선(DL)과 연결되는 데이터 패드부(130)를 더 포함한다.The liquid crystal display device according to the second embodiment of the present invention is disposed between the first and second test pad portions 125a and 125b at the lower end of the non-display area NAA and is connected to the data line DL And a data pad unit 130.

이에 따라, 검사시에는 제1 및 제2테스트 패드부(125a, 125b)를 통하여 제1 내지 제6테스트전압(Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, Bv2)이 공급되고, 검사 이후 제품화되면 데이터 패드부(130)를 통하여 데이터 전압이 공급된다.Accordingly, during the inspection, the first to sixth test voltages Rv1, Gv1, Bv1, Rv2, Gv2, and Bv2 are supplied through the first and second test pad portions 125a and 125b, And the data voltage is supplied through the pad unit 130.

본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치는 제1 내지 제6 테스전압 공급배선(L1~L6)이 비표시영역(NAA)의 좌우 양측에 모두 배치되는데 반해, 제2실시예에 따른 액정표시장치의 경우, 제1 내지 제3테스트전압 공급배선(L1~L3)이 비표시영역(NAA)의 일측에 배치되고, 제4 내지 제6테스트전압 공급배선(L4~L6)이 비표시영역(NAA)의 타측에 배치됨으로써, 비표시영역(NAA)의 양측면의 폭을 줄여 내로우 베젤(Narrow bezel) 구현할 수 있다.
In the liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention, the first to sixth tess voltage supply lines L1 to L6 are arranged on both the right and left sides of the non-display area NAA, In the case of the display device, the first to third test voltage supply lines L1 to L3 are disposed on one side of the non-display area NAA and the fourth to sixth test voltage supply lines L4 to L6 are arranged on the non- A narrow bezel can be realized by reducing the width of both side surfaces of the non-display area NAA.

본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 아니하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 이상 다양한 변화와 변형이 가능하다.
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

100 : 액정 표시패널
120a, 120b : 제1 및 제2검사 유닛
125a, 125b : 제1 및 제2테스트 패드부
130 : 데이터 패드부
150 : 검사 패턴부100: liquid crystal display panel
120a, 120b: first and second inspection units
125a and 125b: first and second test pad portions
130: Data pad section
150: inspection pattern portion

Claims (8)

게이트 배선 및 데이터 배선의 교차영역으로 정의되는 다수의 화소를 포함하는 표시영역과, 상기 표시영역의 외곽을 둘러싸며 배치되는 비표시영역으로 구분되는 액정 표시패널;
상기 비표시영역의 상단부에 배치되어 상기 데이터 배선과 연결되는 검사패턴부;
상기 비표시영역의 일측면에 배치되어 상기 검사패턴부의 일끝단과 연결되는 제1 내지 제3테스트전압 공급배선과, 상기 비표시영역의 타측면에 배치되어 상기 검사패턴부의 타끝단과 연결되는 제4 내지 제6테스트전압 공급배선; 및
상기 비표시영역의 하단부에 각각 배치되며, 상기 제1 내지 제3테스트전압 공급배선과 연결되는 제1테스트 패드부와, 상기 제4 내지 제6테스트전압 공급배선과 연결되는 제2테스트 패드부
를 포함하는 액정표시장치.
A liquid crystal display panel divided into a display region including a plurality of pixels defined as intersecting regions of gate wirings and data wirings, and a non-display region arranged to surround an outer periphery of the display region;
An inspection pattern portion disposed at an upper end of the non-display region and connected to the data line;
A first test voltage supply line disposed on one side of the non-display area and connected to one end of the inspection pattern unit, and a second test voltage supply line disposed on the other side of the non-display area and connected to the other end of the inspection pattern unit, Fourth to sixth test voltage supply lines; And
A first test pad portion disposed at a lower end portion of the non-display region and connected to the first through third test voltage supply wirings, and a second test pad portion connected to the fourth through sixth test voltage supply wirings,
And the liquid crystal display device.
제 1 항에 있어서,
상기 검사패턴부는 상기 제1 내지 제6테스트전압 공급배선과 상기 데이터 배선을 각각 연결하는 제6n-5 내지 제6n(n은 1이상의 정수)테스트 배선을 포함하는 액정표시장치.
The method according to claim 1,
And the inspection pattern portion includes sixth through n-5th to nth (n is an integer of 1 or more) test wirings connecting the first to sixth test voltage supply wirings and the data wirings, respectively.
제 2 항에 있어서,
상기 제1테스트전압 공급배선은 제6n-5테스트 배선과 연결되고, 상기 제2테스트전압 공급배선은 제6n-4테스트 배선과 연결되고, 상기 제3테스트전압 공급배선은 제6n-3테스트 배선과 연결되고, 상기 제4테스트전압 공급배선은 제6n-2테스트 배선과 연결되고, 상기 제5테스트전압 공급배선은 제6n-1테스트 배선과 연결되고, 상기 제6테스트전압 공급배선은 제6n테스트 배선과 연결되는 액정표시장치.
3. The method of claim 2,
The first test voltage supply wiring is connected to the sixth n-5th test wiring, the second test voltage supply wiring is connected to the sixth n-4th test wiring, and the third test voltage supply wiring is connected to the The sixth test voltage supply wiring is connected to the sixth n-1th test wiring, and the sixth test voltage supply wiring is connected to the sixth n-2th test wiring, A liquid crystal display device connected to a test wiring.
제 3 항에 있어서,
상기 제1테스트 패드부는 상기 제1 내지 제3테스트전압 공급배선 각각에 제1 내지 제3테스트전압을 공급하고,
상기 제2테스트 패드부는 상기 제4 내지 제6테스트전압 공급배선 각각에 제4 내지 제6테스트전압을 공급하는 액정표시장치.
The method of claim 3,
The first test pad unit supplies first through third test voltages to the first through third test voltage supply lines, respectively,
And the second test pad unit supplies the fourth to sixth test voltages to the fourth to sixth test voltage supply lines, respectively.
제 4 항에 있어서,
상기 제1 내지 제3테스트전압 각각은 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압이고, 상기 제4 내지 제6테스트전압 각각은 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압이거나,
상기 제1 내지 제3테스트전압 각각은 부극성(-)의 적색(R) 테스트전압, 정극성(+)의 녹색(G) 테스트전압 및 부극성(-)의 청색(B) 테스트전압이고, 상기 제4 내지 제6테스트전압 각각은 정극성(+)의 적색(R) 테스트전압, 부극성(-)의 녹색(G) 테스트전압 및 정극성(+)의 청색(B) 테스트전압인 액정표시장치.
5. The method of claim 4,
Each of the first to third test voltages is a positive (+) red test voltage, a negative (-) green test voltage, and a positive (+) blue (B) test voltage, Each of the fourth to sixth test voltages may be a negative (-) red test voltage, a positive (+) green test voltage and a negative (-) blue (B) test voltage,
Each of the first to third test voltages is a negative (-) red test voltage, a positive (+) green test voltage, and a negative (-) blue (B) test voltage, Each of the fourth to sixth test voltages has a positive (+) red test voltage, a negative (-) green test voltage, and a positive (+) blue (B) Display device.
제 5 항에 있어서,
상기 제1 내지 제6테스트전압의 극성은 매 프레임마다 반전되는 액정표시장치.
6. The method of claim 5,
And the polarities of the first to sixth test voltages are inverted every frame.
제 1 항에 있어서,
상기 비표시영역의 하단부의 상기 제1 및 제2 테스트 패드부 사이에 배치되며, 상기 데이터 배선과 연결되는 데이터 패드부를 더 포함하는 액정표시장치.
The method according to claim 1,
And a data pad portion disposed between the first and second test pad portions at a lower end of the non-display region, the data pad portion being connected to the data line.
제 7 항에 있어서,
검사시에는 상기 제1 및 제2테스트 패드부에서 상기 제1 내지 제6테스트전압이 출력되고, 검사 이후에는 상기 데이터 패드부에서 데이터 전압이 출력되는 액정표시장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the first to sixth test voltages are output from the first and second test pad units during a test and the data voltages are output from the data pad unit after the test.
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