KR20160007492A - 듀티 사이클식 자이로스코프 - Google Patents

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Abstract

자이로스코프 시스템은 구동 시스템 및 감지 시스템에 결합되는 MEMS 자이로스코프를 포함한다. 구동 시스템은 진동 상태로 MEMS 자이로스코프를 유지하고, 감지 시스템은 회전 속도를 나타내는 MEMS 자이로스코프의 출력 신호를 수신하고, 증폭하고, 복조한다. 자이로스코프 시스템은 구동 시스템으로부터 기준 클럭(REFCLK)을 수신하고 시스템 클럭(CLK)을 생성하는 위상 동기 루프(PLL)를 더 포함한다. 마지막으로, 자이로스코프 시스템은 구동 시스템 및 감지 시스템의 작동 상태를 설정하고 또한 PLL의 상태를 제어하는 시스템 클럭 상에서 작동하는 제어기를 포함한다. 하나 이상의 시스템 상태 변수는 보호 모드 동안 실질적으로 고정 상태로 유지되어 자이로스코프 시스템의 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 빠른 전이를 가능하게 한다.

Description

듀티 사이클식 자이로스코프{DUTY-CYCLED GYROSCOPE}
관련 출원
본 출원은 미국 특허법 35조 119(e) 하에 "듀티 사이클식 자이로스코프(DUTY-CYCLED GYROSCOPE)"라는 명칭으로 2013년 3월 14일자로 출원된 미국 가출원 제 61/783,858호의 이익을 주장하며, 그 전체가 참조로 본원에 포함된다.
기술분야
본 발명은 일반적으로 자이로스코프에 관한 것으로, 보다 상세하게는 듀티 사이클식 자이로스코프에 관한 것이다.
일반적으로 자이로스코프 시스템의 전력 소모를 최소화하여 배터리로 움직이는 휴대용 디바이스 응용들에서 자이로스코프 시스템의 사용을 강화하는 것에 관심을 갖는다. 전력 소모를 절감하기 위해 관련 분야에 알려진 한가지 방법은 시스템을 듀티 사이클링하는 것이다. 듀티 사이클식 시스템에서, 시스템은 초기에 저전력 작동 모드로 있다. 주기적으로, 그것은 정상 작동 모드로 전이하고, 측정을 행하고, 그 다음 저전력 작동 모드로 복귀한다.
자이로스코프 시스템을 듀티 사이클링하는 것의 어려움은 일정 시스템 상태 변수가 시스템 상태의 변화에 매우 느리게 반응한다는 사실에 기인한다. 예를 들어, (AGC 루프에 의해 조절되는) 자이로스코프의 진동의 진폭은 MEMS 진동의 높은 큐 계수로 인해 빠르게 변화될 수 없다. 위상 동기 루프는 비교적 낮은 대역폭을 가질 수도 있으며, 위상 동기 루프가 위상 동기 루프의 VCO 동조 전압에 영향을 주는 임의의 방해물에 느리게 반응할 것이라는 것을 의미한다.
그러나, 모드 전이와 연관되는 오버헤드를 최소화하고 그것에 의해 듀티 사이클링하는 동안 유지될 수 있는 출력 데이터 속도를 최대화하기 위해 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이에서 시스템을 빠르게 전이하는 것이 바람직하다. 본 발명은 그러한 요구를 다룬다.
자이로스코프 시스템이 개시된다. 자이로스코프 시스템은 구동 시스템 및 감지 시스템에 결합되는 MEMS 자이로스코프를 포함한다. 구동 시스템은 진동의 상태로 MEMS 자이로스코프를 유지하고, 감지 시스템이 회전 속도를 나타내는 MEMS 자이로스코프의 출력 신호를 수신하고, 증폭하고, 복조한다. 자이로스코프 시스템은 구동 시스템으로부터 기준 클럭(REFCLK)을 수신하고 시스템 클럭(CLK)을 생성하는 위상 동기 루프(PLL)를 더 포함한다. 마지막으로, 자이로스코프 시스템은 구동 시스템 및 감지 시스템의 작동 상태를 설정하고 또한 PLL의 상태를 제어하는 시스템 클럭 상에서 작동하는 제어기를 포함한다. 하나 이상의 시스템 상태 변수는 보호 모드 동안 실질적으로 고정 상태로 유지되어 자이로스코프 시스템의 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 빠른 전이들을 가능하게 한다.
도 1은 MEMS 자이로스코프 시스템의 블록도를 도시한다.
도 1a는 MEMS 자이로스코프 시스템의 타이밍도를 도시한다.
도 2는 일 실시예에 따른 방법의 흐름도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 예시적인 AGC 시스템을 도시한다.
도 4는 일 실시예에 따른 예시적인 PLL 시스템을 도시한다.
본 발명은 일반적으로 자이로스코프에 관한 것으로, 보다 상세하게는 듀티 사이클식 자이로스코프에 관한 것이다. 이하의 설명은 당업자가 본 발명을 구성하고 사용하는 것을 가능하게 하기 위하여 제공되고 특허 출원 및 그것의 필요 요건의 맥락으로 제공된다. 바람직한 실시예들 그리고 본원에 설명된 일반적인 원리들 및 특징들에 대한 다양한 변경들이 당업자에게 손쉽게 자명할 것이다. 따라서, 본 발명은 도시된 실시예들에 제한되는 것으로 의도되지 않고, 본원에 설명된 원리들 및 특징들과 일치하는 가장 넓은 범위에 부합할 것이다.
도 1은 MEMS 자이로스코프 시스템(100)의 블록도를 도시한다. 시스템(100)에서, MEMS 자이로스코프(110)는 2개의 시스템: 구동 루프(120) 및 AGC 루프(130)를 포함하며, 그 기능이 진동 상태로 MEMS 자이로스코프(110)를 유지하는 것인 구동 시스템(135); 및 회전 속도를 나타내는 복조된 출력 신호(190)를 생성하기 위해 MEMS 자이로스코프(110)의 출력 신호(185)를 수신하고, 증폭하고, 복조하는 감지 시스템(140)에 결합된다. MEMS 구동 루프(120)는 구동 신호(196)를 제공함으로써 MEMS로부터 구동 감지 신호(195)를 수신하고 MEMS 자이로스코프(110) 주변의 피드백 루프를 폐쇄한다. 피드백 루프를 폐쇄함으로써, MEMS 구동 루프(120)는 MEMS 자이로스코프(110)를 진동시킨다. AGC 루프(130)는 구동 감지 신호(195)를 수신하고 구동 감지 신호(195)의 진동의 진폭을 모니터링한다. 구동 감지 신호(195)의 진폭을 원하는 레벨로 설정하기 위해, AGC 루프(130)는 곱셈(136)에 의해 구동 신호(196)의 진폭을 조정하도록 이득 제어 출력(197)을 제공한다. 위상 동기 루프(PLL)(150)는 MEMS 구동 시스템(135)으로부터 기준 클럭(REFCLK)(160)을 수신하고 시스템 클럭(CLK)(170)을 생성한다. 시스템 클럭(170) 상에서 작동하는 제어기(180)는 2개의 시스템(135 및 140)의 작동 상태를 설정하고 또한 PLL(150)의 상태를 제어한다. 다양한 실시예들에 따르면, 복조된 출력 신호(190)는 아날로그 또는 디지털일 수 있다. 디지털 MEMS 자이로스코프 실시예에서, 감지 시스템(140)은 또한 시스템 클럭(170)을 수신하고 복조된 출력 신호(190)를 생성하기 위해 A/D 변환을 수행한다.
일 실시예에 따른 시스템 및 방법에서, 느린 시스템 상태 변수들이 저전력 모드 대 정상 작동 모드 사이의 전이 동안 보존되는 - 또한 보호 모드로 지칭되는 - 중간 모드가 도입된다. 느린 시스템 상태 변수의 예로는 구동 루프 이득을 제어하는 AGC 루프의 이득 제어 출력 또는 PLL에서 전압 제어 발진기(VCO)의 동조 전압을 포함할 수 있다. 예를 들어, AGC 루프(130)는 (전압 또는 코드일 수 있는 이득 제어 출력(197)에 의해 설정되는) MEMS 진동의 목표 진폭이 보존되도록 보호 모드 동안 AGC 루프(130)의 입력들을 연결 해제함으로써 보호될 수 있다. 다른 예에서, PLL(150)은 출력 클럭(170)의 주파수가 유지되도록 PLL(150)이 입력 클럭 에지들에 응답하는 것을 일시적으로 방지함으로써 보호될 수 있다. 보호 모드가 관여되면, 구동 시스템(135) 및/또는 감지 시스템(140)은 이러한 느린 상태 변수들에 대한 방해물들을 생성하지 않고 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 전이를 행할 수 있다. 보호 모드를 제거하는 것은 전이가 완료되면, 정상 작동을 복원한다. 느린 시스템 상태 변수들에 대한 방해물들을 최소화함으로써, 전체 시스템은 작동 모드들 사이의 빠른 전이를 행할 수 있다.
이점은 다른 경우라면 듀티 사이클링하기 어려울 수 있는 시스템들이 이제 더 낮은 평균 전력 소모로 작동할 수 있다는 것이다. 예를 들어, 도 1에서의 MEMS 자이로스코프 시스템(100)의 구동 루프는 그 진폭이 AGC 루프(130)에 의해 조절되는 높은 Q 발진기 시스템일 수 있다. 구동 루프(120)가 저전력 모드에서 고전력 모드로 갑자기 전이하게 되면, AGC 루프(130) 작동 상태를 혼란스럽게 할 방해물이 있을 것이다. 이러한 방해된 상태는 높은 Q 발진기들에 대한 AGC 루프들의 낮은 대역폭 본질로 인해 회복이 느릴 것이다. 그러나, 전이 동안 보호 모드를 관여시킴으로써, AGC 작동 상태에 대한 방해물들이 실질적으로 제거되어 회복 시간이 최소화된다.
도 1a는 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 전이 시간을 최소화하도록 보호 모드를 사용하는 예시적인 시퀀스를 나타내는 타이밍도를 도시한다. 정상 작동 모드는 타이밍도에 나타내어지는 측정 구간에 상응한다. 이러한 구간 동안, 자이로스코프는 완전히 작동하고 회전 속도의 측정을 행하고 있고 전체 구동 및 감지 시스템들은 활성이다.
정상 작동 모드에 상응하는 측정 구간 이전에, 시스템은 초기에 신호(lp_모드)가 활성인 것으로 나타내어지는 바와 같이, 저전력 모드로 있다. 감지 경로는 신호(인에이블)가 비활성인 것으로 나타내어지는 바와 같이, 디스에이블되고, 감지 경로는 신호(리셋)가 활성인 것으로 나타내어지는 바와 같이, 추가로 리셋 상태로 있을 수 있다. 측정 구간에 대비하여 정상 모드로 전이하기 위해, 보호 신호가 어서팅(asserting)되어, 앞서 언급된 것들과 같은 느린 시스템 상태 변수들의 보호 및 보존에 관여한다.
보호 신호가 어서팅되는 동안, 저전력 모드 제어 신호(lp_모드)가 비활성화되고, 감지 경로가 인에이블 신호를 어서팅함으로써 인에이블되고, 이후에 감지 경로 리셋 신호가 제거되어, 적절한 측정을 위해 감지 경로를 초기화한다. 별개의 감지 경로 리셋 신호의 사용이 인에이블 신호가 감지 경로를 인에이블하고 초기화하는 것 둘 다를 달성하면, 일부 실시예들에서 선택적일 수 있다는 점을 주목해야 한다. 저전력 모드가 비활성화되고 감지 경로가 인에이블되고 초기화되면, 보호 신호는 비활성화되고 시스템은 측정들이 진행될 수 있는 시스템의 정상 작동 모드로 있다.
이벤트들의 유사 시퀀스는 다시 저전력 모드로의 정연한 전이를 가능하게 한다. 다시 도 1a를 참조하면, 측정 구간의 종료된 후 보호 신호를 어서팅하여, 앞서 언급된 것들과 같은 느린 시스템 상태 변수들의 보호 및 보존에 관여한다. 보호 신호가 어서팅되는 동안, 저전력 모드 제어 신호(lp_모드)가 활성화되고, 감지 경로가 리셋되고, 이후에 감지 경로가 인에이블 신호를 디어서팅함으로써 디스에이블된다. 이로 인해 시스템이 낮은 전류 상태가 된다.
이러한 상태로의 전이를 완료한 후에, 보호 신호가 디어서팅된다. 낮은 전류 상태 동안, AGC 및 PLL 시스템들은 계속해서 작동할 수 있어, 시스템 상태 변수들을 다음 측정 구간의 시작 이전에 준비가 된 상태로 유지한다. 따라서, (측정이 행해지는) 정상 모드와 (시스템이 미결인 측정에 대해 준비가 된 상태로 유지되는) 저전력 모드 사이의 전이 동안 느린 시스템 상태 변수들을 보호함으로써, 측정 구간들은 빠르게 듀티 사이클링될 수 있어, 상당한 전력 절감을 가능하게 한다.
도 2는 일 실시예에 따른 방법의 흐름도(200)이다. 방법(200)에 따른 단계들의 순서가 또한 도 1의 타이밍도에 도시된다. 도 2의 방법에서, 우선 자이로스코프는 단계(202)를 통하여 저전력 모드로 작동된다. 보호 모드는 그 다음 단계(204)를 통하여 인에이블되어 적어도 하나의 시스템 상태 변수를 실질적으로 고정 상태로 유지한다. 이어서, 자이로스코프는 저전력 모드를 디스에이블하고, 감지 시스템을 인에이블하고, 감지 시스템을 리셋 외로 가져옴으로써 단계(206)를 통하여 정상 전력 모드로 전이된다.
보호 모드는 그 다음 단계(208)를 통하여 디스에이블된다. 이어서, 측정이 단계(210)를 통하여 자이로스코프를 사용하여 수행된다. 그 후에, 보호 모드는 단계(212)를 통하여 다시 인에이블되어 적어도 하나의 시스템 상태 변수를 실질적으로 고정 상태로 유지한다. 자이로스코프는 감지 시스템을 리셋하고, 저전력 모드를 인에이블하고, 감지 시스템을 디스에이블함으로써 단계(214)를 통하여 저전력 모드로 다시 전이된다. 마지막으로, 보호 모드는 단계(216)를 통하여 디스에이블된다.
일반적으로, 하나 이상의 시스템 상태 변수(예를 들어, AGC 루프 이득 제어 출력 전압 또는 코드 또는 PLL VCO 동조 전압 또는 코드)는 보호 모드 동안 실질적으로 고정 상태로 유지되어 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 빠른 전이를 가능하게 한다. 구동 또는 감지 시스템들 또는 둘 다에 느린 상태 변수들이 있을 수 있다. 따라서, 본 기법은 시스템들 중 어느 하나 또는 둘 다를 듀티 사이클링할 때 적용 가능하다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 AGC 루프 이득 제어 전압과 같은 시스템 상태 변수를 보호하는 예시적인 수단을 도시한다. AGC 시스템(300)에서, MEMS 디바이스의 진동을 나타내는 구동 감지 전압(305)이 정류기(320)의 입력에 결합되는 저항기(310)를 통해 모니터링된다. 정류기(320)의 출력은 그 평균 값이 MEMS 디바이스의 진동의 진폭을 나타내는 정류된 전류(330)를 포함한다.
이러한 전류는 이러한 전류가 기준 전류(332)에 대하여 비교되는 스위치들(340) 중 하나를 통해 AGC 필터(350) 작동 증폭기(354)의 입력으로 흐른다. 정류된 전류(330)와 기준 전류(332) 사이의 임의의 차이가 커패시터(352) 상에 축적되어 이득 제어 출력 전압(360)으로의 조정을 야기한다. 이득 제어 출력 전압(360)은 진동의 안정된 진폭이 달성될 때까지, 곱셈기(136)를 통하여 구동 루프(120)의 이득을 조정하도록 도 1의 시스템에 의해 사용된다.
이러한 실시예에 대해 관심 있는 시스템 상태 변수는 이득 제어 출력 전압(360)이며, 이득 제어 출력 전압(360)은 커패시터(352) 상에 저장되는 전하에 의해 유지된다. 구동 루프(120) 또는 AGC 루프(130)의 모드 전이 동안, 이러한 전하는 방해될 수 있다. 이득 제어 출력 전압(360)의 회복 시간은 AGC 시스템(300)의 낮은 대역폭으로 인해 길어질 수 있다. 모드 전이들 동안 이득 제어 출력 전압(360)을 보호하기 위해, 스위치들(340)은 신호(보호_b)(370)에 따른 보호 모드 동안 일시적으로 연결 해제될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 스위치들은 신호(보호_b)(370)가 낮아, 보호 모드가 활성인 것을 나타낼 때, 전류(330) 및 기준 전류(332)를 연결 해제할 것이다. AGC 필터(350)로부터 전류(330) 및 기준 전류(332)를 연결 해제함으로써, 커패시터(352) 상에 저장되는 전하가 보호되고 보존되어, 저전력 모드에서 정상 모드로 또는 그 반대로의 전이 동안 시스템 상태의 변경을 방지한다.
도 3의 예가 아날로그 AGC 시스템을 도시하지만, 동일한 원리가 포함되는 신호들이 디지털 신호들이고 AGC 루프 필터가 AGC 이득 제어 출력 코드를 컴퓨팅하기 위해 진동의 진폭을 나타내는 신호와 기준 신호 사이의 차이의 이동 평균을 컴퓨팅하는 디지털 AGC 시스템에 적용될 것이다. 그러한 시스템에서, 이동 평균의 계산은 이동 평균에 대한 원하지 않는 변화들을 방지하기 위해 보호 모드 동안에는 정지될 것이다. 관련 분야에 알려진 다양한 아날로그, 디지털 또는 혼성 신호 AGC 위상 기하학에 이러한 기법의 적용 가능성은 당업자에게 분명할 것이므로 여기서 추가로 설명하지 않을 것이다.
도 4은 본 발명의 일 실시예에 따른 PLL VCO 동조 전압 또는 코드와 같은 시스템 상태 변수를 보호하는 예시적인 수단을 도시한다. PLL(400)은 위상 주파수 검출기(PFD)(420)로 기준 클럭(410)을 수신한다. PFD(420)는 기준 클럭(410)의 위상을 주파수 나눗셈기(460)를 통하여 VCO(450)에 의해 PFD(420)로 제공되는 피드백 클럭의 위상과 비교한다. 위상 차이가 검출되면, VCO(450)의 동조 전압(455)은 PFD(420)에 의해 생성되는 상/하 펄스들에 응하여 충전 펌프(430)에 의해 조정된다.
충전 펌프(430)는 PFD(420)로부터의 상/하 펄스들에 따라 전류원들(431 및 432)로부터 스위치들(435)을 통하여 전류 펄스들을 도입함으로써 동조 전압(455)을 조정한다. 기준 및 피드백 클럭 주파수들 및 위상들이 실질적으로 일치할 때까지, VCO 동조 전압(455)이 조정되는 것을 보장하기 위해, 상하 펄스들의 지속 기간은 위상 차이의 표시를 부여하고 루프는 피드백 작용에 의해 작동한다. 이러한 조건은 결국 출력 클럭(470)이 기준 클럭 주파수보다 N배 더 큰 주파수를 갖는 것을 필요로 한다.
PLL(400)에서 관심 있는 시스템 상태 변수는 VCO 동조 전압(455)이며, VCO 동조 전압(455)은 루프 필터(440)에 의해 유지된다. 이러한 상태 변수는 시스템 모드 전이들 동안 방해될 수 있고 회복 시간은 PLL(400)의 루프 대역폭에 의해 제한될 수 있다. 시스템 모드 전이 동안 동조 전압(455)의 방해를 피하기 위해, PFD(420)는 보호 신호(480)를 수신하는 보호 모드 입력을 포함한다. 보호 신호가 활성일 때, PFD는 어떤 전류도 루프 필터(440)에 진입하거나 루프 필터(440)를 떠날 수 없어, 시스템의 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 전이들 동안 VCO 동조 전압(455)을 보호하고 보존하도록 스위치들(435)의 작동을 억제할 것이다.
도 4의 예가 아날로그 PLL 시스템을 도시하지만, 동일한 원리가 포함되는 신호들이 디지털 신호들이고 PLL 루프 필터가 VCO 동조 코드를 생성하도록 기준 클럭과 피드백 클럭 사이의 위상 차이의 이동 평균을 컴퓨팅하는 디지털 PLL 시스템에 적용될 것이다. 그러한 시스템에서, 이동 평균의 계산은 이동 평균에 대한 원하지 않는 변화들을 방지하기 위해 보호 모드 동안에는 정지될 것이다. 관련 분야에 알려진 다양한 아날로그, 디지털 또는 혼성 신호 PLL 위상 기하학에 이러한 기법의 적용 가능성이 당업자에게 분명할 것이므로 여기서 추가로 설명하지 않을 것이다.
전술한 단락들은 (AGC 이득 제어 출력 전압 또는 PLL VCO 동조 전압과 같은) 시스템 상태 변수가 시스템 저전력 모드와 시스템 정상 작동 모드 사이의 정연하고 빠른 전이를 제공하도록 보호 모드 동안 보존되는 2개의 예시적인 서브시스템을 제공하였다. 본 기법은 방해물들로부터 회복이 느리고 그러므로 시스템 전력 모드 전이들 동안 보호로부터 이익을 얻을 시스템 상태 변수들을 포함하는 다른 서브시스템들에 적용 가능할 수 있다. 그러한 적용들은 당업자에게 분명할 것인 바와 같이 본 발명의 범위 및 사상 내에 있다.
전술한 설명은 당업자가 본 발명을 구성하고 사용하는 것을 가능하게 하기 위하여 제공되고 특허 출원 및 그것의 필요 요건의 맥락으로 제공된다. 바람직한 실시예들 그리고 본원에 설명된 일반적인 원리들 및 특징들에 대한 다양한 변경들이 당업자에게 손쉽게 자명할 것이다. 따라서, 본 발명은 도시된 실시예들에 제한되는 것으로 의도되지 않고, 본원에 설명된 원리들 및 특징들과 일치하는 가장 넓은 범위에 부합할 것이다.

Claims (20)

  1. 자이로스코프 시스템에 있어서,
    구동 모션을 갖고 회전 속도 및 상기 구동 모션의 속도에 비례하는 출력 신호를 생성하는 MEMS 자이로스코프;
    상기 구동 모션을 조절하는 구동 시스템;
    상기 출력 신호를 수신하고 복조된 출력 신호를 생성하는 감지 시스템;
    상기 구동 시스템으로부터 기준 클럭(REFCLK)을 수신하고 시스템 클럭(CLK)을 생성하는 위상 동기 루프(PLL); 및
    상기 구동 시스템 및 상기 감지 시스템의 작동 상태를 설정하고 또한 상기 PLL의 상태를 제어하는 상기 시스템 클럭 상에서 작동하는 제어기를 포함하며, 하나 이상의 시스템 상태 변수는 보호 모드 동안 실질적으로 고정 상태로 유지되어 상기 자이로스코프 시스템의 저전력 모드와 정상 작동 모드 사이의 빠른 전이들을 가능하게 하는, 자이로스코프 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 하나 이상의 시스템 상태 변수는 자동 이득 제어(AGC) 루프 상태 변수 및/또는 PLL 상태 변수를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 보호 모드가 인에이블될 때, 상기 구동 시스템 및/또는 상기 감지 시스템은 상기 하나 이상의 시스템 상태 변수에 대한 방해물들을 생성하지 않고 상기 저전력 모드와 상기 정상 작동 모드 사이의 전이를 행하는, 자이로스코프 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 AGC 루프 상태 변수는 이득 제어 출력 전압을 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 AGC 루프 상태 변수는 이득 제어 출력 코드를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 PLL 상태 변수는 전압 제어 발진기(VCO) 동조 전압을 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  7. 제3항에 있어서,
    상기 PLL 상태 변수는 발진기 동조 코드를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  8. 자이로스코프 시스템을 듀티 사이클링하는 방법으로서,
    상기 자이로스코프 시스템의 보호 모드를 인에이블하는 단계로서, 상기 보호 모드는 하나 이상의 시스템 상태 변수가 실질적으로 고정 상태로 유지되는 모드인 단계; 및
    필요에 따라 정상 전력 모드와 저전력 모드 사이에서 상기 자이로스코프 시스템을 전이하는 단계를 포함하는, 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 보호 모드가 인에이블되면, 상기 자이로스코프 시스템의 구동 시스템 및/또는 감지 시스템은 상기 하나 이상의 시스템 상태 변수에 대한 방해물들을 생성하지 않고 상기 저전력 모드와 상기 정상 작동 모드 사이의 전이를 행하는, 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 하나 이상의 시스템 상태 변수는 자동 이득 제어(AGC) 루프 상태 변수 및/또는 PLL 상태 변수를 포함하는, 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 AGC 루프 상태 변수는 이득 제어 출력 전압을 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 AGC 루프 상태 변수는 이득 제어 출력 코드를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 PLL 상태 변수는 전압 제어 발진기(VCO) 동조 전압을 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 PLL 상태 변수는 발진기 동조 코드를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  15. 저전력 모드로 자이로스코프를 작동시키는 단계;
    실질적으로 고정 상태로 하나 이상의 시스템 상태 변수를 유지하도록 보호 모드를 인에이블하는 단계;
    상기 자이로스코프를 정상 전력 모드로 전이하는 단계;
    상기 보호 모드를 디스에이블하는 단계;
    상기 자이로스코프를 사용하여 측정을 수행하는 단계;
    실질적으로 고정 상태로 상기 하나 이상의 시스템 상태 변수를 유지하도록 상기 보호 모드를 인에이블하는 단계;
    상기 자이로스코프를 다시 상기 저전력 모드로 전이하는 단계; 및
    상기 보호 모드를 디스에이블하는 단계를 순차적으로 포함하는, 자이로스코프 듀티 사이클링 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 하나 이상의 시스템 상태 변수는 자동 이득 제어(AGC) 루프 상태 변수 및/또는 PLL 상태 변수를 포함하는, 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 AGC 루프 상태 변수는 이득 제어 출력 전압을 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  18. 제16항에 있어서,
    상기 AGC 루프 상태 변수는 이득 제어 출력 코드를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  19. 제16항에 있어서,
    상기 PLL 상태 변수는 전압 제어 발진기(VCO) 동조 전압을 포함하는, 자이로스코프 시스템.
  20. 제16항에 있어서,
    상기 PLL 상태 변수는 발진기 동조 코드를 포함하는, 자이로스코프 시스템.
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