KR20150092389A - Developing apparatus and developing method using the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 현상 장치, 이를 포함하는 사진 식각 장치 및 이를 이용한 현상 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 신뢰성을 향상시킬 수 있는 현상 장치, 이를 포함하는 사진 식각 장치 및 이를 이용한 현상 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a developing apparatus, a photolithography apparatus including the same, and a developing method using the same. More particularly, the present invention relates to a developing apparatus capable of improving reliability, a photolithography apparatus including the same, and a developing method using the same.
일반적으로 액정 표시 장치는 화상을 표시하는 표시 패널과 상기 표시 패널을 구동하기 위한 구동부로 나누어 진다. 상기 표시 패널은 제1 기판, 상기 제1 기판과 대향하는 제2 기판 및 상기 제1 기판 및 상기 제2 기판 사이에 형성된 액정층을 포함한다.In general, a liquid crystal display device is divided into a display panel for displaying an image and a driver for driving the display panel. The display panel includes a first substrate, a second substrate facing the first substrate, and a liquid crystal layer formed between the first substrate and the second substrate.
상기 제1 기판은 일정 방향으로 배열되는 복수의 게이트 라인, 상기 게이트 라인에 수직한 방향으로 배열되는 복수의 데이터 라인, 박막 트랜지스터 및 화소 전극 등을 포함할 수 있다. 상기 제2 기판은 컬러 필터 및 공통 전극 등을 포함할 수 있다. The first substrate may include a plurality of gate lines arranged in a predetermined direction, a plurality of data lines arranged in a direction perpendicular to the gate lines, a thin film transistor, a pixel electrode, and the like. The second substrate may include a color filter, a common electrode, and the like.
상기 액정 표시 장치는 유리 등의 투명 기판 상에 상기 게이트 라인, 상기 데이터 라인, 상기 박막 트랜지스터 등을 형성하기 위한 어레이 공정, 상기 액정층을 형성하기 위한 셀 공정 및 상기 표시 패널 및 구동부를 결합하기 위한 모듈 공정에 의해 제작된다. The liquid crystal display device includes an array process for forming the gate line, the data line, the thin film transistor and the like on a transparent substrate such as glass, a cell process for forming the liquid crystal layer, Module process.
상기 어레이 공정은 포토리소그래피(photolithography) 공정과 식각 공정을 포함한다. The array process includes a photolithography process and an etching process.
상기 포토리소그래피(photolithography) 공정은 투명 기판 상에 형성하고자 하는 패턴 물질과 포토레지스트(photoresist, PR)를 일정한 두께로 도포하는 코팅 공정, 포토레지스트가 도포된 유리 기판과 원하는 패턴 형상이 그려져 있는 마스크를 정렬시키고, 정렬된 마스크 위에 광원을 조사하여 PR을 감광시키는 노광(exposure) 공정 및 광원에 노광 된 PR을 현상액을 이용하여 선택적으로 녹이는 현상(develop) 공정을 포함한다.The photolithography process is a process in which a pattern material to be formed on a transparent substrate and a photoresist (PR) are coated to a predetermined thickness, a glass substrate coated with a photoresist, and a mask having a desired pattern shape An exposure process of aligning the photoresist to expose the photoresist by irradiating a light source onto the aligned photoresist, and a developing process of selectively exposing the photoresist exposed to the photoresist using a developing solution.
상기 식각 공정은 투명 기판 상에 형성된 포토레지스트의 패턴대로 상기 패턴 물질을 용해시킨다.The etching process dissolves the pattern material in the pattern of the photoresist formed on the transparent substrate.
상기 현상 공정에 있어서, 패턴의 밀도 차에 의한 현상액의 탁도 차이, 투명 기판의 진행 방향에 의한 현상액의 유동성 차이 및 현상액의 액버림 방향에 의한 현상액의 유동성 차이에 의해 현상액에 의한 현상 정도가 균일하게 되지 못하고, 이로 인해 크리티컬 디멘션(critical dimension, CD)이 증가하는 문제점이 있다.In the developing step, the degree of development by the developer is uniformly controlled by the difference in turbidity of the developer due to the density difference of the pattern, the difference in flowability of the developer due to the advancing direction of the transparent substrate, and the flowability of the developer due to the liquid- And the critical dimension (CD) is increased.
이에, 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에서 착안된 것으로 본 발명의 목적은 현상 공정에 있어서 크리티컬 디멘션을 감소시켜 신뢰성을 향상시킬 수 있는 현상 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made keeping in mind the above problems occurring in the prior art, and it is an object of the present invention to provide a developing apparatus capable of reducing a critical dimension and improving reliability in a developing process.
본 발명의 다른 목적은 상기 현상 장치를 이용한 현상 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a developing method using the developing apparatus.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 현상 장치는 피처리 기판을 제1 기간 동안 제1 방향으로 이송하고, 상기 제1 기간에 후속하는 제2 기간 동안 상기 제1 방향에 반대되는 제2 방향으로 이송하며 상기 제2 기간에 후속하는 제3 기간 동안 상기 제1방향으로 이송하는 이송부 및 상기 이송부와 이격되어 상기 이송부 상에 배치되고, 상기 피처리 기판 상에 현상액을 토출하는 제1 현상 노즐을 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a developing apparatus for transferring a substrate to be processed in a first direction for a first period of time and for opposing the first direction during a second period subsequent to the first period, A transporting unit for transporting the substrate in the first direction for a third period subsequent to the second period and a transporting unit for transporting the developing solution on the transporting unit, the transporting unit being spaced apart from the transporting unit, 1 development nozzle.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐과 상기 제1 방향으로 이격되어 배치되며, 상기 피처리 기판 상에 상기 현상액을 토출하는 제2 현상 노즐을 더 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the developing device may further include a second developing nozzle that is disposed apart from the first developing nozzle in the first direction, and discharges the developer on the substrate to be processed.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐은 상기 제1 기간에 상기 피처리 기판 상에 상기 현상액을 토출하고, 상기 제2 현상 노즐은 상기 제2 기간에 상기 피처리 기판 상에 상기 현상액을 토출할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the first developing nozzle discharges the developing solution onto the substrate in the first period, and the second developing nozzle discharges the developing solution on the substrate in the second period The developing solution can be discharged.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 현상 노즐은 상기 피처리 기판이 상기 제2 방향으로 이송되는 정도에 따라서 상기 현상액의 토출양을 점점 증가시킬 수 있다.In an embodiment of the present invention, the second developing nozzle may gradually increase the discharge amount of the developer depending on the degree to which the substrate is transferred in the second direction.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 현상 노즐은 상기 제1 현상 노즐로부터 상기 이송부의 상기 제1 방향 길이의 4분의1 이상 이격되어 배치될 수 있다.In an embodiment of the present invention, the second developing nozzle may be disposed at least one quarter of the length of the conveying portion in the first direction from the first developing nozzle.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐 및 제2 현상 노즐은 립(lip) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the first developing nozzle and the second developing nozzle may include nozzles in the form of lip.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐은 립(lip) 형태의 노즐을 포함하고, 상기 제2 현상 노즐은 스프레이(spray) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the first developing nozzle includes a nozzle in the form of a lip, and the second developing nozzle may include a nozzle in the form of a spray.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐은 상기 제1 기간 및 상기 제2 기간에 상기 피처리 기판에 상기 현상액을 토출할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the first developing nozzle may discharge the developer to the substrate to be processed in the first period and the second period.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐은 상기 제2 기간에 상기 피처리 기판이 상기 제2 방향으로 이송되는 정도에 따라서 상기 현상액의 토출양을 점점 증가시킬 수 있다.In one embodiment of the present invention, the first developing nozzle may gradually increase the discharge amount of the developer in accordance with the degree to which the substrate is transferred in the second direction in the second period.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 이송부는 롤러(roller)를 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the transfer unit may include a roller.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 이송부는 상기 제3 기간에 후속하는 제4 기간 동안 상기 피처리 기판을 상기 제1 방향에 수직한 제2 방향으로 기울여 상기 현상액을 제거할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the transfer unit may remove the developer by inclining the substrate to be processed in a second direction perpendicular to the first direction during a fourth period following the third period.
상기한 본 발명의 다른 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 현상방법은 제1 기간 동안 제1 방향으로 이송되는 피처리 기판 상에 제1 현상 노즐을 이용하여 현상액을 토출하는 단계, 상기 제1 기간에 후속하는 제2 기간 동안 상기 피처리 기판을 상기 제1 방향에 반대되는 제2 방향으로 이송하는 단계 및 상기 제2 기간에 후속하는 제3 기간 동안 상기 피처리 기판을 상기 제1 방향으로 이송하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a developing method including discharging a developer on a substrate to be transferred in a first direction using a first developing nozzle during a first period of time, Transferring the substrate to be processed in a second direction opposite to the first direction during a second period subsequent to the first period, and transferring the substrate to be processed in the first direction for a third period subsequent to the second period .
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 방향으로 이송하는 단계는In one embodiment of the present invention, the step of transferring in the second direction comprises
상기 제2 기간 동안 상기 제2 방향으로 이송되는 피처리 기판 상에 제2 현상 노즐을 이용하여 상기 현상액을 토출할 수 있다.The developer can be discharged using the second developing nozzle on the substrate to be transferred in the second direction during the second period.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 현상 노즐은 상기 제1 현상 노즐과 상기 제1 방향으로 이격되어 배치될 수 있다.In an embodiment of the present invention, the second developing nozzle may be disposed apart from the first developing nozzle in the first direction.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 현상 노즐을 이용하여 상기 현상액을 토출하는 단계는 상기 피처리 기판이 상기 제2 방향으로 이송되는 정도에 따라서 상기 현상액의 토출양을 점점 증가시킬 수 있다.In one embodiment of the present invention, the step of ejecting the developer using the second developing nozzle may gradually increase the ejection amount of the developer in accordance with the degree of conveyance of the substrate to be processed in the second direction .
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐 및 제2 현상 노즐은 립(lip) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the first developing nozzle and the second developing nozzle may include nozzles in the form of lip.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐은 립(lip) 형태의 노즐을 포함하고, 상기 제2 현상 노즐은 스프레이(spray) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the first developing nozzle includes a nozzle in the form of a lip, and the second developing nozzle may include a nozzle in the form of a spray.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 방향으로 이송하는 단계는In one embodiment of the present invention, the step of transferring in the second direction comprises
상기 제2 기간 동안 상기 제2 방향으로 이송되는 피처리 기판 상에 상기 제1 현상 노즐을 이용하여 상기 현상액을 토출할 수 있다.The developing solution can be discharged on the substrate to be transferred in the second direction during the second period by using the first developing nozzle.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 현상 노즐은 상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판이 상기 제2 방향으로 이송되는 정도에 따라서 상기 현상액의 토출양을 점점 증가시킬 수 있다.In one embodiment of the present invention, the first developing nozzle may gradually increase the discharge amount of the developer depending on the degree to which the substrate is transferred in the second direction during the second period.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제3 기간에 후속하는 제4 기간 동안 상기 피처리 기판을 상기 제1 방향에 수직한 제2 방향으로 기울여 상기 현상액을 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the method may further include removing the developer by inclining the substrate to be processed in a second direction perpendicular to the first direction during a fourth period subsequent to the third period.
이와 같은 현상 장치 및 이를 이용한 현상 방법에 따르면, 현상 공정에 있어서의 크리티컬 디멘션 산포를 개선하여 현상 공정의 신뢰성을 향상 시킬 수 있다.According to such a developing apparatus and a developing method using the same, the reliability of the developing process can be improved by improving the dispersion of the critical dimension in the developing process.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 포토리소그래피 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 실시예 1의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.
도 3a 내지 3d는 도 1의 현상 장치의 현상 과정을 나타내는 사시도이다.
도 4는 본 발명의 실시예 2의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.
도 5a 내지 5g는 도 4의 현상 장치의 현상 과정을 나타내는 사시도이다.
도 6은 본 발명의 실시예 3의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.
도 7은 본 발명의 실시예 4의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.
도 8은 본 발명의 실시예 5의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.
도 9a 내지 9d는 도 8의 현상 장치의 현상 과정을 나타내는 사시도이다.1 is a block diagram showing a photolithography apparatus according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is a perspective view showing the developing apparatus of Embodiment 1. Fig.
3A to 3D are perspective views showing a developing process of the developing apparatus of FIG.
4 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
FIGS. 5A to 5G are perspective views illustrating developing processes of the developing apparatus of FIG.
6 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention.
7 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 4 of the present invention.
8 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 5 of the present invention.
9A to 9D are perspective views showing developing processes of the developing apparatus in Fig.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will now be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 포토리소그래피 장치를 나타내는 블록도이다. 1 is a block diagram showing a photolithography apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 상기 포토리소그래피(photolithography) 장치는 코팅 장치(100), 노광 장치(200) 및 현상 장치(300)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the photolithography apparatus includes a
상기 코팅 장치(100)는 피처리 기판 상부에 형성하고자 하는 패턴 물질과 포토레지스트(photo resist, PR)를 일정한 두께로 도포한다. 상기 패턴 물질은 상기 피처리 기판과 상기 포토레지스트 사이에 형성된다. 상기 패턴이 컬럼 스페이서와 같이 표시 패널의 기판 간의 갭 유지 이외에 전기적 기능 등을 하지 않는 경우에는 상기 포토레지스트만이 도포되어 상기 포토레지스트로 패턴을 형성할 수도 있다. 상기 포토레지스트는 특정 파장대의 빛을 받으면 반응을 하는 일종의 감광 고분자 화합물을 포함한다.The
상기 노광 장치(200)는 상기 패턴 물질과 상기 포토레지스트 또는 상기포토레지스트만이 도포된 피처리 기판과 미리 정해진 패턴이 그려져 있는 마스크를 정렬시키고, 상기 정렬된 마스크 상에 광원을 비추어 상기 포토레지스트를 선택적으로 감광시킨다.The
상기 현상 장치(300)는 상기 마스크에 의해 선택적으로 감광된 포토레지스트를 현상액을 이용하여 선택적으로 용해시킨다. 상기 현상 장치에 대해서는 도 2 이후에서 자세하게 설명한다.The developing
상기 포토리소그래피 장치는 세정기, 건조장치, 진공 건조기, 프리 베이커, 패턴 검사기, 오븐기 및 쿨링기를 더 포함할 수 있다.The photolithography apparatus may further include a scrubber, a drying device, a vacuum drier, a prebaker, a pattern inspector, an oven, and a cooling device.
상기 세정기는 상기 코팅 장치(100) 이전에 상기 포토리소그래피 장치에 투입된 기판을 세정한다.The cleaner cleans the substrate that has been put into the photolithography apparatus before the
상기 건조장치는 상기 세정기에서 사용된 세정액을 열을 가하여 제거한다.The drying apparatus removes the cleaning liquid used in the cleaner by applying heat.
상기 진공 건조기는 상기 코팅 장치(100)와 상기 노광 장치(200) 사이에 위치하여 상기 코팅 장치(100)로부터 상기 포토레지스트가 도포된 피처리 기판을 건조시킨다.The vacuum dryer is positioned between the
상기 프리 베이커는 상기 노광 장치(200) 이전에 상기 포토레지스트의 용제를 제거한다. 상기 포토레지스트의 용제는 솔벤트를 포함할 수 있다.The pre-baker removes the solvent of the photoresist before the
상기 패턴 검사기는 상기 현상 장치(300)에서 상기 피처리 기판이 현상된 후에 상기 피처리 기판 상에 현상된 패턴을 검사한다.The pattern inspecting unit inspects the developed pattern on the substrate after the substrate is developed in the developing
상기 오븐기는 현상된 상기 피처리 기판을 열처리한다.The oven unit heat-treats the developed substrate.
상기 쿨링기는 상기 오븐기에서 열처리된 피처리 기판을 식혀준다.The cooling unit cools the substrate subjected to heat treatment in the oven.
이하에서는 상기 현상 장치(300)에 대해 자세하게 설명한다.Hereinafter, the developing
도 2는 실시예 1의 현상 장치를 나타내는 사시도이다. 도 3a 내지 3d는 도 1의 현상 장치의 현상 과정을 나타내는 사시도이다.Fig. 2 is a perspective view showing the developing apparatus of Embodiment 1. Fig. 3A to 3D are perspective views showing a developing process of the developing apparatus of FIG.
도 1 내지 도 3d를 참조하면, 상기 현상 장치(300)는 이송부(310), 제1 현상 노즐(320) 및 제2 현상 노즐(330)을 포함한다.1 to 3D, the developing
상기 이송부(310)는 상기 노광 장치(200)를 거친 피처리 기판(10)을 안착 시키고 제1 방향(D1)으로 이송시킨다. 상기 이송부(310)는 다수의 롤러를 포함할 수 있다. 상기 다수의 롤러는 상기 제1 방향(D1)에 수직한 제2 방향(D2)으로 연장되고, 상기 제1 방향(D1)으로 연속하여 배열된다.The
상기 제1 현상 노즐(320)은 상기 이송부(310) 상에 배치되어 상기 피처리 기판(10)에 현상액을 토출한다. 상기 제1 현상 노즐(320)은 상기 이송부(310)에 상기 피처리 기판(10)에 투입되는 일단에서 상기 이송부(310) 상에 형성될 수 있다. 이와는 달리 상기 제1 현상 노즐(320)은 상기 이송부(310)의 일단에서 상기 제1 방향(D1)으로 소정거리 이격되어 상기 이송부(310) 상에 형성될 수 있다.The first developing
상기 제1 현상 노즐(320)은 내부에 슬릿(slit)이 형성되어 상기 슬릿을 통해 상기 현상액을 토출하는 립(lip) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.The first developing
상기 피처리 기판(10)은 상기 제1 방향에 위치하는 제1 단부 및 상기 제1 단에 반대되는 제2 단부를 포함한다. 상기 피처리 기판(10)은 복수의 셀(cell)을 포함하며, 각각의 셀은 표시 패널의 기판을 형성한다.The
상기 제1 현상 노즐(320)은 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제1 단부에서부터 상기 제2 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The first developing
상기 제2 현상 노즐(330)은 상기 제1 현상 노즐(320)과 상기 제1 방향(D1)으로 이격되어 상기 이송부(310) 상에 배치된다. 더욱 상세하게는 상기 제2 현상 노즐(330)은 상기 제1 현상 노즐(320)로부터 상기 이송부(310)의 상기 제1 방향(D1) 길이의 4분의 1 이상 이격되어 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(330)은 상기 이송부(310)의 전체 길이의 25% 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(330)은 상기 이송부(310)가 4단으로 구성되어 있는 경우 2단 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(330)은 전체 현상 시간이 70초에 해당하는 경우 현상 시작 이후 20초 이후에 상기 현상액을 토출할 수 있는 위치에 배치될 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(330)은 상기 피처리 기판(10)에 상기 현상액을 토출한다. 상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 서로 상이할 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(330)은 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제1 단부에서부터 상기 제2 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The second developing
상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 상기 현상액의 양은 가변적일 수 있다. 예를 들어 상기 제2 현상 노즐(330)이 상기 피처리 기판(10)에 토출하는 상기 현상액의 양은 상기 제1 단부에서 상기 제2 단부 방향으로 진행될수록 증가할 수 있다. The amount of the developing solution discharged by the second developing
상기 제2 현상 노즐(330)은 내부에 슬릿(slit)이 형성되어 상기 슬릿을 통해 상기 현상액을 토출하는 립(lip) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.The second developing
상기 현상 장치(300)는 푸들(puddle) 방식으로 상기 피처리 기판(10)을 현상한다. 예를 들어, 상기 피처리 기판(10)은 상부에 상기 현상액이 토출된 상태로 이송된다. 상기 피처리 기판(10) 상의 포토레지스트는 이송되는 동안 상기 현상액에 의해 현상된다.The developing
상기 현상 장치(300)는 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송된 후 상기 피처리 기판(10)을 상기 제2 방향(D2)으로 기울여 상기 현상액을 버릴 수 있다. The developing
이하에서 상기 피처리 기판(10)의 진행에 따른 상기 현상 장치(300)의 동작을 검토한다.Hereinafter, the operation of the developing
도 3a 내지 3d를 참조하면, 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(320)과 상기 이송부(310) 사이를 통과할 때 상기 제1 현상 노즐(320)이 동작하여 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액(30a)을 토출한다. 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(320)을 통과하면 상기 제1 현상 노즐(320)은 동작을 멈춘다. 상기 피처리 기판(10)이 상기 이송부에 의해 상기 제1 방향(D1)으로 계속 이송되어 상기 제2 현상 노즐(330)과 상기 이송부(310) 사이를 통과할 때 상기 제2 현상 노즐(330)이 동작하여 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액(30b)을 토출한다. 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출한 현상액(30a)은 시간이 지남에 따라서 상기 포토레지스트가 용해되어 탁도가 높아진다. 탁도가 높아진 상기 현상액(30a)에 상기 제2 현상 노즐(330)이 추가적으로 상기 현상액(30b)을 토출하여 상기 피처리 기판 상의 현상액의 탁도가 낮아질 수 있다. 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 상기 현상액(30a) 및 상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 상기 현상액(30b)은 서로 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 상기 현상액(30a) 및 상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 상기 현상액(30b)은 서로 상이할 수 있다.3A through 3D, when the substrate to be processed 10 passes between the first developing
도 4는 본 발명의 실시예 2의 현상 장치를 나타내는 사시도이다. 도 5a 내지 5g는 도 4의 현상 장치의 현상 과정을 나타내는 사시도이다.4 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. FIGS. 5A to 5G are perspective views illustrating developing processes of the developing apparatus of FIG.
본 실시예에 따른 현상 장치(301)는 도 2 내지 도 3d의 현상 장치와 비교하여 이송부(311) 및 제2 현상 노즐(331)이 상이하다는 점을 제외하고는 도 2 내지 도 3d의 현상 장치와 실질적으로 동일하다. 따라서 도 2 내지 도 3d의 현상 장치와 동일한 부재는 동일한 참조 부호로 나타내고, 중복되는 자세한 설명은 생략될 수 있다.The developing
도 1, 도 4 내지 도 5g를 참조하면, 상기 현상 장치(301)는 이송부(311), 제1 현상 노즐(320) 및 제2 현상 노즐(331)을 포함한다.Referring to Figs. 1 and 4 to 5G, the developing
상기 이송부(311)는 상기 노광 장치(200)를 거친 피처리 기판(10)을 안착 시키고 제1 기간 동안 제1 방향(D1)으로 이송하고, 상기 제1 기간에 후속하는 제2 기간 동안 제2 방향(D2)으로 이송하며 상기 제2 기간에 후속하는 제3 기간 동안 다시 제1 방향(D1)으로 이송한다. The
상기 이송부(311)는 상기 제3 기간에 후속하는 제4 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송된 후 상기 피처리 기판(10)을 상기 제2 방향(D2)으로 기울여 상기 현상액을 버릴 수 있다. The
상기 이송부(311)는 다수의 롤러를 포함할 수 있다. 상기 다수의 롤러는 상기 제2 방향(D2)으로 연장되고, 상기 제1 방향(D1)으로 연속하여 배열된다. The
상기 제1 현상 노즐(320)은 상기 이송부(311) 상에 배치되어 상기 피처리 기판(10)에 현상액을 토출한다.The first developing
상기 제1 현상 노즐(320)은 상기 제1 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제1 단부에서부터 상기 제2 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The first developing
상기 제2 현상 노즐(331)은 상기 제1 현상 노즐(320)과 상기 제1 방향(D1)으로 이격되어 상기 이송부(311) 상에 배치된다. 더욱 상세하게는 상기 제2 현상 노즐(331)은 상기 제1 현상 노즐(320)로부터 상기 이송부(311)의 상기 제1 방향(D1) 길이의 4분의 1 이상 이격되어 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(331)은 상기 이송부(311)의 전체 길이의 25% 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(331)은 상기 이송부(311)가 4단으로 구성되어 있는 경우 2단 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(331)은 전체 현상 시간이 70초에 해당하는 경우 현상 시작 이후 20초 이후에 상기 현상액을 토출할 수 있는 위치에 배치될 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(331)은 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액을 토출한다. 상기 제2 현상 노즐(331)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제2 현상 노즐(331)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 서로 상이할 수 있다The second developing
상기 제2 현상 노즐(331)은 상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제2 방향(D2)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제2 단부에서부터 상기 제1 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The second developing
상기 제2 현상 노즐(331)이 토출하는 상기 현상액의 양은 가변적일 수 있다. 예를 들어 상기 제2 현상 노즐(331)이 상기 피처리 기판(10)에 토출하는 상기 현상액의 양은 상기 제2 단부에서 상기 제1 단부 방향으로 진행될수록 증가할 수 있다. The amount of the developing solution discharged by the second developing
상기 제2 현상 노즐(331)은 내부에 슬릿(slit)이 형성되어 상기 슬릿을 통해 상기 현상액을 토출하는 립(lip) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.The second developing
이하에서 상기 피처리 기판(10)의 진행에 따른 상기 현상 장치(301)의 동작을 검토한다.Hereinafter, the operation of the developing
도 5a 내지 도 5g를 참조하면, 도 5a 내지 도 5c는 상기 제1 기간에서의 상기 현상 장치(301)의 동작을 나타내고, 도 5d 및 도 5e는 상기 제2 기간에서의 상기 현상 장치(301)의 동작을 나타내면, 도 5f 및 도 5g는 상기 제3 기간에서의 상기 현상 장치(301)의 동작을 나타낸다.5A to 5C show the operation of the developing
상기 제1 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(320)과 상기 이송부(311) 사이를 통과할 때 상기 제1 현상 노즐(320)이 동작하여 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액(30a)을 토출한다. 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(320)을 통과하면 상기 제1 현상 노즐(320)은 동작을 멈춘다. 상기 피처리 기판(10)이 상기 이송부(311)에 의해 상기 제1 방향(D1)으로 계속 이송되어 상기 제2 현상 노즐(331)과 상기 이송부(311) 사이를 상기 제1 방향(D1)으로 통과할 때 상기 제2 현상 노즐(331)은 동작하지 않는다. The first developing
상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제2 현상 노즐(331)과 상기 이송부(311) 사이를 상기 제2 방향(D2)으로 통과할 때 상기 제2 현상 노즐(331)이 동작하여 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액(30b)을 토출한다. 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출한 현상액(30a)은 시간이 지남에 따라서 상기 포토레지스트가 용해되어 탁도가 높아진다. 탁도가 높아진 상기 현상액(30a)에 상기 제2 현상 노즐(331)이 추가적으로 상기 현상액(30b)을 토출하여 상기 피처리 기판 상의 현상액의 탁도가 낮아질 수 있다. 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 상기 현상액(30a) 및 상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 상기 현상액(30b)은 서로 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 상기 현상액(30a) 및 상기 제2 현상 노즐(330)이 토출하는 상기 현상액(30b)은 서로 상이할 수 있다.The second developing
상기 제3 기간 동안 상기 피처리 기판(10)은 다시 상기 제1 방향(D1)으로 이송된다. 상기 제3 기간 동안 상기 제1 현상 노즐(320) 및 상기 제2 현상 노즐(331)은 동작하지 않는다.During the third period, the
도 6은 본 발명의 실시예 3의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.6 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention.
본 실시예에 따른 현상 장치(302)는 도 2 내지 도 3d의 현상 장치와 비교하여 제2 현상 노즐(340)이 상이하다는 점을 제외하고는 도 2 내지 도 3d의 현상 장치와 실질적으로 동일하다. 따라서 도 2 내지 도 3d의 현상 장치와 동일한 부재는 동일한 참조 부호로 나타내고, 중복되는 자세한 설명은 생략될 수 있다.The developing
도 1 및 도 6을 참조하면, 상기 현상 장치(302)는 이송부(310), 제1 현상 노즐(320) 및 제2 현상 노즐(340)을 포함한다.1 and 6, the developing
상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 제1 현상 노즐(320)과 상기 제1 방향(D1)으로 이격되어 상기 이송부(310) 상에 배치된다. 더욱 상세하게는 상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 제1 현상 노즐(320)로부터 상기 이송부(310)의 상기 제1 방향(D1) 길이의 4분의 1 이상 이격되어 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 이송부(310)의 전체 길이의 25% 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 이송부(310)가 4단으로 구성되어 있는 경우 2단 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(340)은 전체 현상 시간이 70초에 해당하는 경우 현상 시작 이후 20초 이후에 상기 현상액을 토출할 수 있는 위치에 배치될 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 피처리 기판(10)에 상기 현상액을 토출한다. 상기 제2 현상 노즐(340)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제2 현상 노즐(340)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 서로 상이할 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제1 단부에서부터 상기 제2 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The second developing
상기 제2 현상 노즐(340)이 토출하는 상기 현상액의 양은 가변적일 수 있다. 예를 들어 상기 제2 현상 노즐(340)이 상기 피처리 기판(10)에 토출하는 상기 현상액의 양은 상기 제1 단부에서 상기 제2 단부 방향으로 진행될수록 증가할 수 있다. The amount of the developing solution discharged by the second developing
상기 제2 현상 노즐(340)은 상기 피처리 기판(10)의 전 영역에 분무형태로 상기 현상액을 토출하는 스프레이(spray) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.The second developing
상기 피처리 기판(10)의 진행에 따른 상기 현상 장치(302)의 동작은 도 3a 내지 도 3d에서 설명한 현상 장치(300)의 동작과 실질적으로 동일할 수 있다.The operation of the developing
도 7은 본 발명의 실시예 4의 현상 장치를 나타내는 사시도이다.7 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 4 of the present invention.
본 실시예에 따른 현상 장치(303)는 도 4 내지 도 5g의 현상 장치와 비교하여 제2 현상 노즐(341)이 상이하다는 점을 제외하고는 도 4 내지 도 5g의 현상 장치와 실질적으로 동일하다. 따라서 도 4 내지 도 5g의 현상 장치와 동일한 부재는 동일한 참조 부호로 나타내고, 중복되는 자세한 설명은 생략될 수 있다.The developing
도 1 및 도 7을 참조하면, 상기 현상 장치(303)는 이송부(311), 제1 현상 노즐(320) 및 제2 현상 노즐(341)을 포함한다.1 and 7, the developing
상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 제1 현상 노즐(320)과 상기 제1 방향(D1)으로 이격되어 상기 이송부(311) 상에 배치된다. 더욱 상세하게는 상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 제1 현상 노즐(320)로부터 상기 이송부(311)의 상기 제1 방향(D1) 길이의 4분의 1 이상 이격되어 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 이송부(311)의 전체 길이의 25% 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 이송부(311)가 4단으로 구성되어 있는 경우 2단 이후에 배치될 수 있다. 또는 상기 제2 현상 노즐(341)은 전체 현상 시간이 70초에 해당하는 경우 현상 시작 이후 20초 이후에 상기 현상액을 토출할 수 있는 위치에 배치될 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 피처리 기판(10)에 상기 현상액을 토출한다. 상기 제2 현상 노즐(341)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제2 현상 노즐(341)이 토출하는 현상액은 상기 제1 현상 노즐(320)이 토출하는 현상액과 서로 상이할 수 있다.The second developing
상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제2 방향(D2)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제2 단부에서부터 상기 제1 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The second developing
상기 제2 현상 노즐(341)이 토출하는 상기 현상액의 양은 가변적일 수 있다. 예를 들어 상기 제2 현상 노즐(341)이 상기 피처리 기판(10)에 토출하는 상기 현상액의 양은 상기 제2 단부에서 상기 제1 단부 방향으로 진행될수록 증가할 수 있다. The amount of the developing solution discharged by the second developing
상기 제2 현상 노즐(341)은 상기 피처리 기판(10)의 전 영역에 분무형태로 상기 현상액을 토출하는 스프레이(spray) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.The second developing
상기 피처리 기판(10)의 진행에 따른 상기 현상 장치(303)의 동작은 도 5a 내지 도 5g에서 설명한 현상 장치(301)의 동작과 실질적으로 동일할 수 있다.The operation of the developing
도 8은 본 발명의 실시예 5의 현상 장치를 나타내는 사시도이다. 도 9a 내지 9d는 도 8의 현상 장치의 현상 과정을 나타내는 사시도이다.8 is a perspective view showing a developing apparatus according to Embodiment 5 of the present invention. 9A to 9D are perspective views showing developing processes of the developing apparatus in Fig.
도 1, 도 8 내지 도 9d를 참조하면, 상기 현상 장치(304)는 이송부(312) 및 제1 현상 노즐(321)을 포함한다.Referring to Figs. 1 and 8 to 9D, the developing
상기 이송부(312)는 상기 노광 장치(200)를 거친 피처리 기판(10)을 안착 시키고 제1 기간 동안 제1 방향(D1)으로 이송하고, 상기 제1 기간에 후속하는 제2 기간 동안 제2 방향(D2)으로 이송하며 상기 제2 기간에 후속하는 제3 기간 동안 다시 제1 방향(D1)으로 이송한다. The
상기 이송부(312)는 상기 제3 기간에 후속하는 제4 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송된 후 상기 피처리 기판(10)을 상기 제2 방향(D2)으로 기울여 상기 현상액을 버릴 수 있다. The
상기 이송부(312)는 다수의 롤러를 포함할 수 있다. 상기 다수의 롤러는 상기 제2 방향(D2)으로 연장되고, 상기 제1 방향(D1)으로 연속하여 배열된다. The
상기 제1 현상 노즐(321)은 상기 이송부(312) 상에 배치되어 상기 피처리 기판(10)에 현상액을 토출한다.The first developing
상기 제1 현상 노즐(321)은 상기 제1 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 방향(D1)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제1 단부에서부터 상기 제2 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The first developing
상기 제1 현상 노즐(321)은 상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제2 방향(D2)으로 이송됨에 따라서, 상기 피처리 기판(10)의 상기 제2 단부에서부터 상기 제1 단부 방향으로 상기 현상액을 토출한다. The first developing
상기 제1 현상 노즐(321)이 토출하는 상기 현상액의 양은 가변적일 수 있다. 예를 들어 상기 제1 현상 노즐(321)이 상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판(10)에 토출하는 상기 현상액의 양은 상기 제2 단부에서 상기 제1 단부 방향으로 진행될수록 증가할 수 있다. The amount of the developing solution discharged by the first developing
상기 제1 현상 노즐(321)은 내부에 슬릿(slit)이 형성되어 상기 슬릿을 통해 상기 현상액을 토출하는 립(lip) 형태의 노즐을 포함할 수 있다.The first developing
이하에서 상기 피처리 기판(10)의 진행에 따른 상기 현상 장치(304)의 동작을 검토한다.Hereinafter, the operation of the developing
도 9a 내지 도 9d를 참조하면, 도 9a는 상기 제1 기간에서의 상기 현상 장치(304)의 동작을 나타내고, 도 9b 및 도 9c는 상기 제2 기간에서의 상기 현상 장치(304)의 동작을 나타내며, 도 9d는 상기 제3 기간에서의 상기 현상 장치(304)의 동작을 나타낸다.9A to 9D show the operation of the developing
상기 제1 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(321)과 상기 이송부(312) 사이를 통과할 때 상기 제1 현상 노즐(321)이 동작하여 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액(30a)을 토출한다. 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(321)을 통과하면 상기 제1 현상 노즐(321)은 동작을 멈춘다. 상기 피처리 기판(10)이 상기 이송부(312)에 의해 상기 제1 방향(D1)으로 계속 이송되는 동안 현상이 진행 된다.The first developing
상기 제2 기간 동안 상기 피처리 기판(10)이 상기 제1 현상 노즐(321)과 상기 이송부(312) 사이를 상기 제2 방향(D2)으로 통과할 때 상기 제1 현상 노즐(321)이 다시 동작하여 상기 피처리 기판(10) 상에 상기 현상액(30b)을 토출한다. 상기 제1 현상 노즐(321)이 토출한 현상액(30a)은 시간이 지남에 따라서 상기 포토레지스트가 용해되어 탁도가 높아진다. 탁도가 높아진 상기 현상액(30a)에 상기 제1 현상 노즐(321)이 추가적으로 상기 현상액(30b)을 토출하여 상기 피처리 기판 상의 현상액의 탁도가 낮아질 수 있다. 상기 제1 현상 노즐(321)이 토출하는 상기 현상액(30a) 및 상기 현상액(30b)은 서로 동일할 수 있다. 이와는 달리 상기 제1 현상 노즐(321)이 토출하는 상기 현상액(30a) 및 상기 현상액(30b)은 서로 상이할 수 있다.The first developing
상기 제3 기간 동안 상기 피처리 기판(10)은 다시 상기 제1 방향(D1)으로 이송된다. 상기 제3 기간 동안 상기 제1 현상 노즐(321)은 동작하지 않는다.During the third period, the
상기 이송부(312)는 상기 제1 기간 내지 상기 제3 기간의 시간 간격을 조절하기 위해서 상기 피처리 기판(10)의 이송 속도를 조절할 수 있다. 예를 들어 상기 제1 기간 동안의 상기 제1 방향(D1) 이송 속도, 상기 제2 기간 동안의 상기 제2 방향(D2) 이송 속도 및 상기 제3 기간 동안의 상기 제1 방향(D1) 이송 속도를 상기 현상액(30a) 및 상기 현상액(30b)의 현상 정도에 대응하여 서로 상이하게 조절할 수 있다.The
본 발명의 실시예들에 따르면, 현상액의 추가 공급으로 인해 추가 현상액 공급 시에는 노광 영역 중에서 현상액 탁도 증가에 의해 미현상된 부분만을 용해하기 때문에 크리티컬 디멘션(critical dimension, CD) 산포가 개선될 수 있다. 또한, 추가 현상액 공급 시 노즐에서 토출되는 현상액의 양을 다르게 하는 것과 피처리 기판을 반대 방향으로 반송 시키며 현상액을 공급함으로써 피처리 기판의 선단부와 말단부간의 CD 차이를 최소화 할 수 있다. 이로 인해 현상 공정의 신뢰성을 향상 시킬 수 있다.According to the embodiments of the present invention, critical dimension (CD) scattering can be improved because only the undeveloped portion is dissolved by the increase in developer turbidity in the exposure area when the additional developer is supplied due to the additional supply of developer . In addition, it is possible to minimize the CD difference between the distal end portion and the distal end portion of the substrate to be processed by changing the amount of the developing solution discharged from the nozzles when supplying the additional developing solution, transporting the target substrate in the opposite direction, and supplying the developing solution. This makes it possible to improve the reliability of the developing process.
본 발명의 일 실시예에 따른 현상 장치는 모바일폰, 노트북 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터 등과 같은 휴대용 표시 장치의 기판 또는 텔레비전, 데스크톱 모니터와 같은 고정형 표시 장치를 비롯하여 냉장고, 세탁기, 에어컨디셔너와 같은 일반 가전제품에 포함되는 표시 장치의 기판 현상에도 사용될 수 있다.The developing apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention may be incorporated in general household appliances such as a refrigerator, a washing machine, and an air conditioner as well as a fixed display device such as a television or a desktop monitor of a portable display device such as a mobile phone, a notebook computer, And can also be used for substrate development of a display device.
이상 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. It will be possible.
10: 피처리 기판
30a, 30b: 현상액
100: 코팅 장치
200: 노광 장치
300: 현상 장치
310, 311, 312: 이송부
320, 321: 제1 현상 노즐
330, 331, 340, 341: 제2 현상 노즐10: substrate to be processed 30a, 30b: developer
100: Coating device 200: Exposure device
300: developing
320, 321: first developing
Claims (20)
상기 이송부와 이격되어 상기 이송부 상에 배치되고, 상기 피처리 기판 상에 현상액을 토출하는 제1 현상 노즐을 포함하는 현상 장치.The substrate is transported in a first direction for a first period and transported in a second direction opposite to the first direction for a second period subsequent to the first period and during a third period subsequent to the second period A transporting unit for transporting the substrate in the first direction; And
And a first developing nozzle spaced apart from the conveying unit and disposed on the conveying unit, for discharging the developer on the substrate to be processed.
상기 제1 현상 노즐은 상기 제1 기간에 상기 피처리 기판 상에 상기 현상액을 토출하고,
상기 제2 현상 노즐은 상기 제2 기간에 상기 피처리 기판 상에 상기 현상액을 토출하는 것을 특징으로 하는 현상 장치.3. The method of claim 2,
The first developing nozzle discharges the developing solution onto the substrate to be processed in the first period,
And said second developing nozzle discharges said developer onto said substrate to be processed in said second period.
상기 제1 현상 노즐은 립(lip) 형태의 노즐을 포함하고,
상기 제2 현상 노즐은 스프레이(spray) 형태의 노즐을 포함하는 것을 특징으로 하는 현상 장치.3. The method of claim 2,
Wherein the first developing nozzle includes a nozzle in the form of a lip,
Wherein the second developing nozzle comprises a nozzle in the form of a spray.
상기 제1 기간에 후속하는 제2 기간 동안 상기 피처리 기판을 상기 제1 방향에 반대되는 제2 방향으로 이송하는 단계; 및
상기 제2 기간에 후속하는 제3 기간 동안 상기 피처리 기판을 상기 제1 방향으로 이송하는 단계를 포함하는 현상 방법.Discharging a developer on a substrate to be transferred in a first direction during a first period using a first developing nozzle;
Transferring the substrate to be processed in a second direction opposite to the first direction during a second period subsequent to the first period; And
And transferring the substrate to be processed in the first direction for a third period following the second period.
상기 제2 기간 동안 상기 제2 방향으로 이송되는 상기 피처리 기판 상에 제2 현상 노즐을 이용하여 상기 현상액을 토출하는 것을 특징으로 하는 현상 방법.13. The method of claim 12, wherein transferring in the second direction comprises:
And the developing solution is discharged using the second developing nozzle on the substrate to be transferred in the second direction during the second period.
상기 제2 현상 노즐을 이용하여 상기 현상액을 토출하는 단계는 상기 피처리 기판이 상기 제2 방향으로 이송되는 정도에 따라서 상기 현상액의 토출양을 점점 증가시키는 것을 특징으로 하는 현상 방법.14. The method of claim 13,
Wherein the step of ejecting the developer using the second developing nozzle gradually increases the ejection amount of the developer in accordance with the degree of conveyance of the substrate to be processed in the second direction.
상기 제1 현상 노즐은 립(lip) 형태의 노즐을 포함하고,
상기 제2 현상 노즐은 스프레이(spray) 형태의 노즐을 포함하는 것을 특징으로 하는 현상 방법.14. The method of claim 13,
Wherein the first developing nozzle includes a nozzle in the form of a lip,
Wherein the second developing nozzle includes a nozzle in the form of a spray.
상기 제2 기간 동안 상기 제2 방향으로 이송되는 상기 피처리 기판 상에 상기 제1 현상 노즐을 이용하여 상기 현상액을 토출하는 것을 특징으로 하는 현상 방법.13. The method of claim 12, wherein transferring in the second direction comprises:
And the developing solution is discharged using the first developing nozzle onto the substrate to be transferred in the second direction during the second period.
13. The developing method according to claim 12, further comprising the step of removing the developer by inclining the substrate to be processed in a second direction perpendicular to the first direction during a fourth period subsequent to the third period .
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